JP2502054Y2 - Stamper and disk inspection equipment - Google Patents

Stamper and disk inspection equipment

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JP2502054Y2
JP2502054Y2 JP5796989U JP5796989U JP2502054Y2 JP 2502054 Y2 JP2502054 Y2 JP 2502054Y2 JP 5796989 U JP5796989 U JP 5796989U JP 5796989 U JP5796989 U JP 5796989U JP 2502054 Y2 JP2502054 Y2 JP 2502054Y2
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JP
Japan
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stamper
optical pickup
disc
rotary table
correction plate
Prior art date
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高広 鈴木
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Kenwood KK
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Kenwood KK
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この考案はコンパクトディスク等のディスクの製造工
程で用いられるスタンパと光ディスクの検査装置に係わ
り、特に、スタンパとそれにより製造されたディスクの
相関関係の計測に好適なスタンパおよびディスクの検査
装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of application] The present invention relates to a stamper used in a manufacturing process of a disc such as a compact disc and an optical disc inspection apparatus, and in particular, a correlation between the stamper and the disc produced by the stamper. The present invention relates to a stamper and a disk inspection device suitable for measuring the.

[従来の技術] 従来のスタンパおよびディスクの検査装置では、第5
図(a)に示すような対物レンズの前に補正板の配置さ
れたスタンパ再生専用ピックアップと、第5図(b)に
示すようなディスク専用ピックアップとが用いられ、ス
タンパ再生用とディスク再生用とで別の光学式ピックア
ップが用いられていた。
[Prior Art] In the conventional stamper and disk inspection device,
A stamper reproduction-only pickup having a correction plate arranged in front of the objective lens as shown in FIG. 5A and a disc-dedicated pickup as shown in FIG. 5B are used for stamper reproduction and disc reproduction. Another optical pickup was used in.

[考案が解決しようとする問題点] 上記した従来のものにおいては、光学式ピックアップ
の光学的および電気的特性のバラツキにより、スタンパ
とディスクとの相関を計測することができなかった。
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional device described above, the correlation between the stamper and the disk could not be measured due to variations in the optical and electrical characteristics of the optical pickup.

この考案は上記した点に鑑みてなされたものであっ
て、その目的とするところは、同一の光学式ピックアッ
プによりスタンパおよびディスクを計測することが可能
なスタンパおよびディスクの検査装置を提供することに
ある。
The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to provide a stamper / disk inspection device capable of measuring a stamper / disk with the same optical pickup. is there.

[課題を解決するための手段] この考案のスタンパおよびディスクの検査装置は、光
学式ピックアップと回転テーブルと光学式ピックアップ
と回転テーブルとの相対移動を行う送り機構とを備えた
ディスク検査装置に、光学式ピックアップと回転テーブ
ルとの間に補正板を出入させる機構を設け補正板が光学
式ピックアップと回転テーブルとの間に挿入された状態
で姿勢を調整可能としたものである。
[Means for Solving the Problems] A stamper and a disc inspection device according to the present invention include a disc inspection device including an optical pickup, a rotary table, and a feeding mechanism that relatively moves the optical pickup and the rotary table. A mechanism for moving the correction plate in and out is provided between the optical pickup and the rotary table, and the posture can be adjusted with the correction plate inserted between the optical pickup and the rotary table.

[作用] この考案のスタンパおよびディスクの検査装置によれ
ば、ディスクを検査するときは、回転テーブルにディス
クを載置し光学式ピックアップの下に補正板が入らない
状態でディスクを回転させ光学式ピックアップにより再
生し検査または計測を行う。
[Operation] According to the stamper and the disc inspection apparatus of the present invention, when the disc is inspected, the disc is placed on the rotary table and the disc is rotated under the condition that the correction plate is not inserted under the optical pickup. Play back with a pickup for inspection or measurement.

スタンパの検査を行うときは、回転テーブルにスタン
パを載置し、補正板を光学式ピックアップとスタンパの
間に挿入してスタンパの再生を行う。
When inspecting the stamper, the stamper is placed on the rotary table and the correction plate is inserted between the optical pickup and the stamper to reproduce the stamper.

透明保護膜で被覆されたディスクと保護膜のないスタ
ンパとで対物レンズから反射面までの光路長が等しくな
るように補正板の厚みおよび屈折率が合わせられてお
り、反射光はスタンパおよびディスクに対し同様に受光
素子に集光される。
The thickness and refractive index of the compensator are adjusted so that the optical path length from the objective lens to the reflecting surface is the same for the disc covered with the transparent protective film and the stamper without the protective film. Similarly, the light is focused on the light receiving element.

また、補正板により光の向きがかわらないように補正
板の姿勢は対物レンズと平行となるように合わせられ
る。このようにしてスタンパおよびディスクに対し同一
の光学式ピックアップで再生が行われるので光学式ピッ
クアップの特性のバラツキに影響されることがなく、ス
タンパとディスクの相関関係が得られる。
Further, the posture of the correction plate is adjusted to be parallel to the objective lens so that the direction of the light is not changed by the correction plate. In this way, since reproduction is performed on the stamper and the disc by the same optical pickup, the correlation between the stamper and the disc can be obtained without being affected by variations in the characteristics of the optical pickup.

[実施例] この考案の実施例であるスタンパおよびディスクの検
査装置を図面に基づいて説明する。
[Embodiment] A stamper and disk inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図はこの考案の実施例である検査装置のディスク
検査状態を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a disk inspection state of an inspection device according to an embodiment of the present invention.

図において1はスピンドルモータの回転軸であるスピ
ンドル軸であり回転テーブル2を一体に回転させる。
In the figure, reference numeral 1 is a spindle shaft which is a rotary shaft of a spindle motor, and integrally rotates a rotary table 2.

回転テーブル2に載置されるディスクまたはスタンパ
と対向する位置に光学式ピックアップ3が調整ステージ
4により姿勢調整可能に支持されており、ディスクまた
はスタンパと光学式ピックアップ3との相対運動は回転
テーブル2を載置しているスライドテーブル5により行
われる。
An optical pickup 3 is supported by an adjusting stage 4 at a position facing a disk or stamper mounted on the rotary table 2 so that the attitude of the optical pickup 3 can be adjusted. Is performed by the slide table 5 on which is mounted.

光学式ピックアップ3の光軸がディスクまたはスタン
パの反射面に垂直になるように調整ステージ4により光
学式ピックアップの姿勢が調整される。
The attitude of the optical pickup 3 is adjusted by the adjustment stage 4 so that the optical axis of the optical pickup 3 is perpendicular to the reflecting surface of the disk or stamper.

ディスクとスタンパとの反射面から対物レンズまでの
光路長が等しくなるように厚みおよび屈折率が合わせら
た補正板6が補正板保持部材7に支持されており、補正
板保持部材7はスライド機構8に固定されている。
A correction plate 6 whose thickness and refractive index are adjusted so that the optical paths from the reflecting surfaces of the disc and the stamper to the objective lens are equal is supported by the correction plate holding member 7, and the correction plate holding member 7 is a slide mechanism. It is fixed at 8.

また、スライド機構8は補正板6を光学式ピックアッ
プの対物レンズと平行になるように調整するための調整
ステージ9に支持されている。
The slide mechanism 8 is supported by an adjustment stage 9 for adjusting the correction plate 6 so as to be parallel to the objective lens of the optical pickup.

ディスクを検査するときは第1図に示すようにスライ
ド機構8が後退し、補正板6が光学式ピックアップ3と
回転テーブル2に載置されたディスクの間に入らない状
態で回転テーブル2が回転しスライドテーブル5が移動
し光学式ピックアップによりディスクを再生し検査また
は計測が行われる。
When inspecting a disc, the slide mechanism 8 retracts as shown in FIG. 1, and the rotary table 2 rotates with the correction plate 6 not entering between the optical pickup 3 and the disc mounted on the rotary table 2. Then, the slide table 5 moves and the disc is reproduced by the optical pickup to perform inspection or measurement.

スタンパを検査するときは第2図に示すようにスライ
ド機構8が突出し、補正板6が光学式ピックアップ3と
回転テーブル2に載置されたスタンパの間に挿入された
状態で回転テーブル2が回転しスライドテーブル5が移
動し光学式ピックアップによりスタンパを再生し検査ま
たは計測が行われる。
When inspecting the stamper, as shown in FIG. 2, the slide mechanism 8 projects and the rotary table 2 rotates while the correction plate 6 is inserted between the optical pickup 3 and the stamper placed on the rotary table 2. Then, the slide table 5 moves and the stamper is reproduced by the optical pickup to perform inspection or measurement.

第3図はこの考案の他の実施例を示す斜視図であり、
この実施例では回転テーブル2にスタンパ12が載置され
たときにスタンパ12と対向する位置に金属センサー10が
配置されており、スタンパ12が載置されると金属センサ
ー10により検知されアクチュエータ11が自動的に作動し
補正板6が光学式ピックアップ3とスタンパ12の間に挿
入される。
FIG. 3 is a perspective view showing another embodiment of the present invention,
In this embodiment, the metal sensor 10 is arranged at a position facing the stamper 12 when the stamper 12 is placed on the rotary table 2, and when the stamper 12 is placed, the metal sensor 10 detects the actuator and the actuator 11 moves. It operates automatically and the correction plate 6 is inserted between the optical pickup 3 and the stamper 12.

第4図に示すように金属センサー10の出力がラッチ回
路でラッチされ、ラッチ回路の出力がレーザパワー制御
回路とアクチュエータ制御回路に入力される。
As shown in FIG. 4, the output of the metal sensor 10 is latched by the latch circuit, and the output of the latch circuit is input to the laser power control circuit and the actuator control circuit.

レーザパワー制御回路はその入力に従い、光学式ピッ
クアップのレーザパワーをディスクまたはスタンパの最
適パワーに設定する。
According to the input, the laser power control circuit sets the laser power of the optical pickup to the optimum power of the disc or stamper.

また、アクチュエータ制御回路により、スタンパの場
合とディスクの場合のアクチュエータの作動が制御され
る。
Further, the actuator control circuit controls the operation of the actuator for the stamper and the disk.

他の構成部分は第1図に示すものと同様である。 The other components are the same as those shown in FIG.

[考案の効果] この考案のスタンパおよびディスクの検査装置によれ
ば、スタンパおよびディスクが同一の光学式ピックアッ
プにより再生されるので光学式ピックアップの特性のバ
ラツキに影響されることなくスタンパとディスクの相関
関係が計測できる。
[Effect of the Invention] According to the stamper and disk inspection apparatus of the present invention, since the stamper and the disk are reproduced by the same optical pickup, the correlation between the stamper and the disk is not affected by the variation in the characteristics of the optical pickup. The relationship can be measured.

また、スタンパとディスクとを再生するときに光学式
ピックアップの調整が不要となるという効果を得ること
ができる。
Further, it is possible to obtain the effect that the optical pickup does not need to be adjusted when reproducing the stamper and the disc.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの考案の実施例であるスタンパおよびディス
クの検査装置のディスク検査状態を示す斜視図、第2図
はこの考案の実施例であるスタンパおよびディスクの検
査装置のスタンパ検査状態を示す斜視図、第3図はこの
考案他の実施例であるスタンパおよびディスクの検査装
置を示す斜視図、第4図は同実施例の制御回路を示すブ
ロック図、第5図(a)および(b)は従来の検査装置
の光学式ピックアップを示す斜視図である。 1……スピンドル軸、2……回転テーブル、3……光学
式ピックアップ、4……調整ステージ、5……スライド
テーブル、6……補正板、7……補正板保持部材、8…
…スライド機構、9……調整ステージ、10……金属セン
サー、11……アクチュエータ、12……スタンパ。
FIG. 1 is a perspective view showing a disk inspection state of a stamper and disk inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view showing a stamper inspection state of a stamper and disk inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a perspective view showing a stamper and disk inspection apparatus according to another embodiment of the present invention, FIG. 4 is a block diagram showing a control circuit of the same embodiment, and FIGS. 5A and 5B. FIG. 6 is a perspective view showing an optical pickup of a conventional inspection device. 1 ... Spindle axis, 2 ... Rotation table, 3 ... Optical pickup, 4 ... Adjustment stage, 5 ... Slide table, 6 ... Correction plate, 7 ... Correction plate holding member, 8 ...
… Sliding mechanism, 9 …… Adjustment stage, 10 …… Metal sensor, 11 …… Actuator, 12 …… Stamper.

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of utility model registration request] 【請求項1】光学式ピックアップと回転テーブルと光学
式ピックアップと回転テーブルとの相対移動を行う送り
機構とを備えたディスク検査装置に、光学式ピックアッ
プと回転テーブルとの間に補正板を出入させる機構を設
け補正板が光学式ピックアップと回転テーブルとの間に
挿入された状態で姿勢を調整可能としたスタンパおよび
ディスクの検査装置。
1. A disc inspection apparatus having an optical pickup, a rotary table, and a feeding mechanism for moving the optical pickup and the rotary table relative to each other, and a correction plate is inserted into and removed from the optical pickup and the rotary table. An inspection device for a stamper and a disc, in which a mechanism is provided and a posture can be adjusted while a correction plate is inserted between an optical pickup and a rotary table.
JP5796989U 1989-05-19 1989-05-19 Stamper and disk inspection equipment Expired - Lifetime JP2502054Y2 (en)

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JPH02149120U JPH02149120U (en) 1990-12-19
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