KR100314089B1 - System of monitoring developed state of glass disk photoresist for manufacturing optical disk - Google Patents

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KR100314089B1 KR1019940018933A KR19940018933A KR100314089B1 KR 100314089 B1 KR100314089 B1 KR 100314089B1 KR 1019940018933 A KR1019940018933 A KR 1019940018933A KR 19940018933 A KR19940018933 A KR 19940018933A KR 100314089 B1 KR100314089 B1 KR 100314089B1
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    • G11B7/26Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
    • G11B7/268Post-production operations, e.g. initialising phase-change recording layers, checking for defects

Abstract

PURPOSE: A system of monitoring a developed state of a glass disk photoresist for manufacturing an optical disk is provided to use a CCD to sense information on a diffracted light passing through a glass disk, and to calculate the developed state of the photoresist as data by a controller on the basis of the information. CONSTITUTION: A reflector(22) is set between a light source and a glass disk(12). A CCD(20) senses information on a diffracted light, which is irradiated from the light source and passes through the glass disk(12). A controller(25) calculates a developed state of a photoresist applied to the glass disk(12) as data by the sensed information.

Description

광디스크 제조용 글래스 원반 감광제의 현상상태 검사시스템Development status inspection system of glass disk photoresist for optical disc manufacturing

제1도는 일반적인 컴팩트 디스크의 일부를 절개하여 발췌 도시한 개략적 사시도,1 is a schematic perspective view showing an excerpt of a portion of a typical compact disc;

제2도는 일반적인 광디스크 제조 프로세스를 개략적으로 나타내 보인 제조 정도,2 is a manufacturing degree schematically showing a general optical disc manufacturing process,

제3도는 종래의 일반적인 광디스크 제조용 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상 중 현상상태를 측정하기 위한 시스템의 개략도,3 is a schematic diagram of a system for measuring the development state of the development of the photosensitive agent applied to the glass disk for manufacturing a conventional general optical disk,

제4도는 종래의 일반적인 광디스크 제조용 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상 후 현상정도의 균일도를 검사하기 위한 시스템의 개략도,4 is a schematic diagram of a system for inspecting the uniformity of development degree after development of a photosensitive agent applied to a glass disk for manufacturing a conventional general optical disk,

제5도는 본 발명에 따른 광디스크 제조용 글래스 원반 감광제의 현상상태를 측정, 검사하기 위한 시스템의 개략적 구성도,5 is a schematic configuration diagram of a system for measuring and inspecting a developing state of a glass disk photoresist for manufacturing optical discs according to the present invention;

제6도는 제5도에서 광 파장(λ)이 413 일때 각 트랙 피치에 따른 1차 회절광과 2차 회절광의 회절각도 및 CCD상의 위치를 나타내 보인도표,FIG. 6 is a diagram showing the diffraction angles of the first and second diffraction light beams according to the respective track pitches and the positions on the CCD when the optical wavelength λ is 413 in FIG.

제7도는 제5도에서 CCD와 제어부의 중앙처리 프로세서를 연결하는 인터페이스 회로에 대한 블럭도이다.FIG. 7 is a block diagram of an interface circuit connecting the CCD and the central processing processor of the controller in FIG.

제8도는 제5도에서 감광제의 현상상태를 측정, 검사하기 위한 시스템의 제어부에 포함한 중앙처리 프로세서 프로그램의 플로우차트도.FIG. 8 is a flowchart of the central processing processor program included in the controller of the system for measuring and inspecting the developing state of the photosensitive agent in FIG.

* 도면 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of drawings

11 : 발광원 12 : 글래스 원반11: light emitting source 12: glass disk

13 : 감광제막 14 : 현상액13: photosensitive film 14: developer

15 : 0차 회절광 16. 17 : 1차 회절광15: 0th order diffracted light 16.17: 1st order diffracted light

18, 19 : 2차 회절광 15',16' : 포토 디텍터 (Photo Detector)18, 19: 2nd diffracted light 15 ', 16': Photo Detector

17', 18', 19' : 포토 디텍터 20 : 고체촬상소자(CCD)17 ', 18', 19 ': photo detector 20: solid state image pickup device (CCD)

21 : 구동부 22 : 반사경21: drive unit 22: reflector

23 : Kr레이저 24 : 지그23: Kr laser 24: Jig

30 : 컨트롤러 31,32 : A/D변환기30: controller 31,32: A / D converter

33 : 멀티플렉서 34,35,38,39 : 버퍼(Buffer)33: Multiplexer 34,35,38,39: Buffer

36,37 : RAM36,37: RAM

본 발명은 광디스크 제조용 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상상태의 검사시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 광디스크 제조공정에 있어서 디스크 마스터 공정 상의 스탬퍼를 얻기 위한 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상상태를 고체촬상소자(CCD)를 이용하여 검사하는 시스템에 관한것이다.The present invention relates to an inspection system for developing a photosensitive agent applied to a glass disk for optical disk manufacturing, and more particularly, to a solid state image of a developing state of a photosensitive agent applied to a glass disk for obtaining a stamper on a disk master process in an optical disk manufacturing process. It relates to a system for inspecting using a device (CCD).

일반적으로, 컴팩트 디스크(CD)나 레이저 디스크(LD) 및 광자기 디스크(MOD)등과 같이 음성정보나 영상정보를 기록 및/또는 재생하기 위한 매체로 사용되는 광디스크는 종래의 접촉식 기록/재생 매체인 레코더 플레이어(LP)나 테이프 레코더에 비하여 휠씬 많은 대용량의 정보저장이 가능하고, 정보재생의 질적인 효과가 뛰어나다는 점 등 그 성능이 훨씬 우수한 것으로서 최근 각광을 받고 있으며, 특히 그 주류를 이루고 있는 컴팩트 디스크는 날로 그 보급이 확대되고 있는 추세에 있다.In general, an optical disc used as a medium for recording and / or playing back audio information or video information, such as a compact disc (CD), a laser disc (LD) and a magneto-optical disc (MOD), is a conventional contact recording / reproducing medium. Compared to LP recorders and tape recorders, it has a much higher capacity for storing large amounts of information and has excellent quality of information reproduction. Compact discs are becoming more and more popular.

상기한 컴팩트 디스크는 레이저를 이용한 비접촉식 레코딩방식을 채용한 것으로서, 제1도에 개략적으로 도시한 바와 같이 투명한 플라스틱을 기본재료로 하여 된 직경 120mm, 두께 1.2mm로 된 원반의 편면에 타원형의 홈으로 된 피트(pit; 1)가 다수 형성되어 트랙(2)을 이루고 있으며, 이 피트에 음성신호를 디지탈화하여 기록하는 동시에 피트면에서 레이저광을 반사하기 위한 알루미늄막이 증착되어 있고, 그 위에 알루미늄을 보호하기 위한 부호 코팅이 형성되어 있는 구조로 되어 있다, 그리고 재생시에는 광디스크를 고속으로 회전시켜 피트에 레이저광을 비추어 반사된 광신호응을 재현함으로써 기록된 정보를 재생하게 된다.The compact disc is a non-contact recording method using a laser. As shown in FIG. 1, the compact disc has an elliptical groove on one side of a disk having a diameter of 120 mm and a thickness of 1.2 mm made of transparent plastic as a base material. A plurality of pits 1 are formed to form a track 2, and an aluminum film is deposited on the pit to digitally record and record an audio signal and to reflect the laser light on the pit surface, thereby protecting aluminum. In order to reproduce the recorded information, the optical disk is rotated at a high speed to reproduce the reflected optical signal response by illuminating the laser light on the pit during reproduction.

이러한 광디스크의 제조는 제2도에 개략적으로 도시한 제조공정도에 나타나 있는 바와 같이, 글래스 원판을 초청장, 초정밀 연마를 통하여 글래스 원반으로 가공한 다음, 이 글래스 원반 위에 감광제(photoresister)를 소정 두께로 일정하게 코팅하여 레이저빔 레코더에 장착한다.As shown in the manufacturing process diagram schematically shown in FIG. 2, such an optical disk is manufactured by processing a glass disc into a glass disc through an invitation letter and ultra-precision polishing, and then fixing a photoresister to a predetermined thickness on the glass disc. Coated on the laser beam recorder.

그런 다음 기록하고자 하는 음성 및 영상정보의 신호를 디지탈화하여 기록한 고밀도 자기테이프를 테이프 마스터링 즉, 상기 고밀도 자기테이프에 기록된 신호를 광학적으로 기록 및 재생하기가 용이하도록 EMF(Eight-to-Fourteen Modulation) 변조과정을 거쳐서 상기 레이저 빔 레코더에 입력하게 된다. 이때, 상기 신호는 고출력 레이저 빔을 개폐하여 회전하는 상기 글래스 원반 위에 형성된 감광제막을 부분적으로 노광시킨다.Then, the high-density magnetic tape recorded by digitalizing the signal of the audio and video information to be recorded is tape mastered, that is, the EMF (Eight-to-Fourteen Modulation) to facilitate the optical recording and reproduction of the signal recorded on the high-density magnetic tape. Input to the laser beam recorder through a modulation process. In this case, the signal partially exposes the photoresist film formed on the glass disk which rotates by opening and closing the high power laser beam.

그리고나서, 상기한 바와 같이 하여 레이저빔 레코딩이 끝나면 상기 글라스 원반 위에 현상액을 뿌려 노광된 부분의 감광제를 녹여냄으로써, 피트라고 하는 미세한 타원형 홈을 형성시키고, 이 피트 위에 금속박막을 진공 증착하여 소위 디스크 마스터 (Disc Master)를 완성하게 된다.Then, as described above, after the laser beam recording is completed, a developer is sprayed onto the glass disc to dissolve the photosensitive agent in the exposed portion, thereby forming a fine elliptical groove called a pit, and vacuum depositing a metal thin film on the pit to form a so-called disc. This completes the Master.

이후, 상기한 바와 같은 프로세서에 의해 완성된 디스크 마스터로부터 동일한 신호를 가진 다수의 컴팩트 디스크를 복제하기 위하여 매트릭싱(Matrixing) 리플리케이션(Replication)공정을 거치게되는데, 상기 메트릭싱 공정에서는 상기 디스크 마스터의 신호면 위에 니켈(Ni)을 일렉트로포밍(Electroforming)으로 형성, 분리시켜 신호가 음각으로 전사된 니켈-파더 (Ni-Father)를 형성시킨다. 그런 다음, 상기 니켈-파더에 똑같은 과정을 반복하여 마더(Mother)및 스탬퍼(Stamper)를 형성시킨다.Subsequently, a matrixing replication process is performed to copy a plurality of compact disks having the same signal from the disk master completed by the processor as described above. In the metric process, the signal of the disk master is performed. Nickel (Ni) is formed and separated on the surface by electroforming to form a nickel-father in which a signal is negatively transferred. Then, the same process is repeated on the nickel-fader to form a mother and a stamper.

그리고, 상기 리플리케이션 공정에서는 상기 스탬퍼를 원판으로 투명수지를 사출성형하여 원래의 디스크 마스터와 똑같은 신호를 갖는 투명수지 기판을 형성한 다음, 그 신호면 위에 진공증착으로 얇은 금속반사막을 형성하고, 그 위에 보호막을 코팅함으러써 컴팩트 디스크의 제조가 완성된다.In the replication process, a transparent resin substrate having the same signal as that of the original disk master is formed by injection molding the transparent resin into the original plate, and then a thin metal reflective film is formed on the signal surface by vacuum deposition. The coating of the protective film completes the manufacture of the compact disc.

상기한 바와 같은 광디스크 제조공정의 대부분은 클린룸 등에서 실내에 미세한 먼지나 온도, 습도 및 진동 등 그 제조환경에 대한 엄격한 관리를 통하여 이루어지며, 이러한 환경관리는 오히려 반도체 제조공정에서 보다 더 염격한 정도가 요구된다고 할 수 있다.Most of the optical disc manufacturing process as described above is performed through strict management of the manufacturing environment such as fine dust, temperature, humidity and vibration in the room in a clean room, and such environmental management is more severe than the semiconductor manufacturing process. It can be said that is required.

특히, 상기한 광디스크 제조 공정 중에서 스탬퍼를 얻기 위한 디스크 마스터링 공정에서는 감광제의 막 두께에 대한 오차의 범위가 ±5nm 정도의 초정밀 제어를 필요로 하고 있는 반면에 감광제는 단시간내에 현상되기 때문에, 소정 장치를 통하여 상기 감광제의 현상과정 중에 감광제가 현상되는 상태를 측정하고, 현상 후에는 감광제가 현상된 상태의 균일한 정도를 검사하여, 이를 토대로 현상액의 주입량과 시간등을 조절해 줌으로써 감광제의 최적 현상조건을 설정해 주고 있다.Particularly, in the above-described disc mastering process for obtaining a stamper in the optical disc manufacturing process, an error range for the film thickness of the photosensitive agent requires ultra-precision control of about ± 5 nm, while the photosensitive agent is developed within a short time, so that a predetermined apparatus By measuring the state in which the photosensitive agent is developed during the development process of the photosensitive agent, and after the development, by checking the uniformity of the state in which the photosensitive agent is developed, by adjusting the injection amount and time, etc. of the developing solution based on the optimal development conditions of the photosensitive agent Is setting.

본 발명은 상기와 같은 감광제 현상 상태와 정도의 측정 및 검사장치에 관하여 개시하고자 한다.The present invention is directed to an apparatus for measuring and inspecting the state and degree of development of the photosensitive agent as described above.

제3도 및 제4도에 종래의 광디스크 제조용 글래스 원반에 감광제 현상상태의 측정 및 검사시스템에 대한 구성을 개략적으로 나타내었는데, 제3도는 종래의 일반적인 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상중의 현상상태를 측정하기 위한 시스템의 개략도이고, 제4도는 종래의 일반적인 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상 후 현상정도의 균일도를 검사하기 위한 시스템의 개략도이다.FIG. 3 and FIG. 4 schematically show the configuration of the photosensitive agent measuring and inspection system of the conventional optical disk manufacturing glass disk. FIG. 3 shows the developing state of the conventional optical disk manufacturing glass disk during photosensitive agent development. 4 is a schematic diagram of a system for inspecting the uniformity of the degree of development after photoresist development of a conventional general optical disk manufacturing glass disk.

제3도 및 제4도를 참조하면, 종래의 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상상태의 측정 및 검사시스템은 글래스 원반(12) 하부에 구비되어 있는 발광원(11)으로부터 출사된 레이저빔이 글래스 원반(12) 하부에 구비되어 있는 발강원(11)으로부터 출사된 레이저빔이 글래스 원반(12)으로 수직 입사되어 감광제막(13)을 통과하게 되면, 다음식(1)에 따라 일정한 각도를 유지하며 0차 회절광(15)과 1차(회절광(16, 17) 및 2차 회절광(18,19)으로 회절하게 된다.Referring to FIGS. 3 and 4, in the conventional photosensitive agent measurement and inspection system of the optical disk manufacturing glass disk, the laser beam emitted from the light emitting source 11 provided under the glass disk 12 is the glass disk. (12) When the laser beam emitted from the luminescent source 11 provided below is vertically incident on the glass disk 12 and passes through the photoresist film 13, it maintains a constant angle according to the following equation (1). The diffracted light is diffracted into the 0th order diffracted light 15 and the 1st order (diffraction lights 16 and 17 and the 2nd order diffracted light 18 and 19).

상기 식 (1)에서, m은 0차, 1차, 2차... 등의 회절차수를 나타내며, θm는 회절각, λ는 입사광의 파장, p는 글래스 원반 상에 도포된 감광제를 기록용 레이저로 감광시킬때 피트의 트랙 피치를 나타낸다.In the formula (1), m represents diffraction orders such as 0th order, 1st order, 2nd order ... etc., θ m is the diffraction angle, λ is the wavelength of incident light, p is the photosensitive agent applied on the glass disk. The track pitch of the pit when exposed to a recording laser is shown.

제3도 및 제4도에 도시된 시스템에서 1차 회절광(16, 17)과 2차 회절광(18, 19)은 상기 식(1)에서 알 수 있는 바와 같이 피트의 트랙피치(p)와 입사광의 파장( λ)에 대한 함수관계를 이루는 회절각(θm)을 갖게되며, 이러한 회절광을 종래의 시스템에서는 포토 디텍터(Photo Detector;15', 16', 17', 18', 19')를 이용하여 감지함으로써 광디스크 제조용 글래스 원반에 감광제 현상상태를 다음 식 (2) 및 (3)에 의해 측정 및 검사하였다.In the systems shown in FIGS. 3 and 4, the primary diffracted light 16, 17 and the secondary diffracted light 18, 19 are track pitches p of pits as shown in equation (1) above. And a diffraction angle (θ m ) forming a functional relationship with the wavelength of the incident light (λ), and the photodetector (15 Detector, 15 ', 16', 17 ', 18', 19) is used in a conventional system. The photosensitive agent development state on the glass disk for optical disc manufacturing was measured and inspected by following formula (2) and (3) by sensing using ').

즉, In other words,

상기 식 (Z) 및 (3)에서, W는 피트의 폭, D는 피트의 깊이 (감광제가 현상된 깊이 )를 나타내며, nr는 감광제의 리플랙티브 인덱스(Refractive Index), na는 공기의 리플랙티브 인덱스(Refractive Index)를 나타내고, I1은 1차 회절광의 세기, I2는 2차 회절광의 세기를 나타내는 것이다.In the above formulas (Z) and (3), W denotes the width of the pit, D denotes the depth of the pit (depth of the photosensitive agent developed), n r denotes the reflective index of the photosensitive agent, and n a denotes air. Refractive Index of is represented, I 1 is the intensity of the first diffraction light, I 2 is the intensity of the second diffraction light.

여기서, 최근의 광디스크 제조기술에 있어서 피트의 트랙 피치(p)는 1.6㎛에서 1.0㎛, 0,8㎛로 점차 줄어드는 고밀도화로 진행되고 있는 추세에 있다. 따라서, 이러한 피트의 트랙 피치 변화는 회절광의 회절각도( θm)를 변하게 하므로 상술한 종래의 시스템으로 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상상태를 정확히 측정하기 어려운 문제점이 있었다.Here, in the recent optical disc manufacturing technology, the track pitch p of the pit is in a trend of increasing in density, gradually decreasing from 1.6 µm to 1.0 µm and 0,8 µm. Therefore, the track pitch change of the pit causes the diffraction angle (? M) of the diffracted light to change, which makes it difficult to accurately measure the photosensitive agent development state of the glass disc for manufacturing optical discs using the conventional system described above.

또한, 제3도에 도시된 광디스크 제조용 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상 중 현상상태를 측정하는 경우에 있어서는 측정 결과에 따라 현상액의 양과 시간을 조절해야 하므로 매우 정밀한 측정이 이루어져야 한다 그러나, 1차 및 2차 회절광은 현상액 (14)의 양에 따라 현상액 통과시에 재차 회절되며, 이때 회절되는 거 리 역시 현상액의 양에 따라 변하게 되므로 현상액이 일정치 않은 경우에는 일정한 위치에서 고정된 상태로 현상상태를 측정하는 종래의 고정식 포토 디택터로는 측정 이 어려운 문제점이 있었다.In addition, in the case of measuring the developing state of the photosensitive agent coated on the optical disk manufacturing glass disk shown in FIG. 3, the amount and time of the developing solution should be adjusted according to the measurement result. The second diffracted light is diffracted again when passing through the developer according to the amount of the developer 14, and the diffracted distance also changes according to the amount of the developer, so that when the developer is not constant, the developing state is fixed at a fixed position. The conventional fixed photodetector for measuring the problem was difficult to measure.

그리고 현상액을 디스크 상에 뿌려 줄때 현상액이 디스크 상을 흘러내릴 경우 파도와 같은 모양을 형성하게 되는데, 이로 인하여 회절광의 위치가 임으로 변하게 되므로 종래의 고정식 포토 디택터로는 감광제의 현상상태의 측정이 어렵거나 측정하더라고 그 정확도가 떨어지는 문제점이 있었다.In addition, when the developer is sprayed onto the disk, when the developer flows down the disk, the developer forms a wave-like shape. As a result, the position of the diffracted light is changed randomly. Therefore, it is difficult to measure the developing state of the photosensitive agent using a conventional photodetector. Even if you measure or measure the accuracy was poor.

따라서, 본 발명은 상기한 바와 같은 문제점들을 감안하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 광디스크 제조공정에 있어서 디스크 마스터 공정 상의 스탬퍼를 얻기 위한 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상상태를 고체촬상소자(CCD)를 이용하여 보다 정밀하게 검사할 수 있도록 된 광디스크 제조용 글래스 원반 감광제의 현상상태 검사시스템을 제공하는 것이다.Accordingly, the present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a solid state image pickup device (CCD) for a developing state of a photosensitive agent coated on a glass disc for obtaining a stamper on a disc master process in an optical disc manufacturing process. It is to provide a development status inspection system of glass disk photoresist for optical disk manufacturing that can be inspected more precisely using

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 광디스크 제조용 글래스 원반 감광제의 현상상태 검사시스템은, 감광제가 도포된 고아디스크 제조용 글래스 원반을 외전시키는 구동부와, 상기 글래스 원반에 광을 조사하는 광원을 구비하여 된 감광제 현상상태 검사시스템에 있어서, 상기 광원과 상기 글래스 원반 사이에는 광진로 변경수단이 마련되며, 상기 글래스 원반의 상부에는 상기 광원으로부터 조사되어 상기 글래스를 투과한 회절광을 감지하여 광 정보를 저장하는 회절광 감지수단이 구비되어 있고, 상기 회절광 감지수단에 의해 감지된 광 정보를 읽고 해석하여 상기 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상상태를 데이타로 산출하는 제어부를 포함하여 된 것을 특징으로 한다.The development state inspection system of the glass disk photosensitive agent for optical disk manufacturing of the present invention for achieving the above object is provided with a drive unit for turning the glass disk for manufacturing an orphan disk coated with the photosensitive agent and a light source for irradiating light to the glass disk In the photosensitive agent developing state inspection system, an optical path changing means is provided between the light source and the glass disk, and on the upper portion of the glass disk to detect the diffracted light transmitted from the light source and to store the optical information. Diffracted light sensing means is provided, and includes a control unit for reading and interpreting the light information sensed by the diffracted light sensing means to calculate the developing state of the photosensitive agent applied to the glass disk as data.

상기 본 발명의 광디스크 제조용 글래스 원반 감광제의 현상상태 검사시스템에 있어서, 상기 광진로 변경수단은 반사경인 것이 바람직하며, 상기 회절광 감지수단은 고체촬상소자(CCD)인 것이 바람직하다. 그리고, 상기 제어부는 상기 회절광 감지수단에 의해 저장된 광정보 신호를 디지털화하기 위한, A/D변환기와, 상기 A/D변환기에 의해 디지털화된 신호를 저장하고 기억하기 위한 RAM 및 이 RAM에 의해 기억된 신호를 감광제의 현상상태에 대한 데이터로 산출하는 중앙처리 프로세서를 포함하여 된 것이 바람직하다.In the developing state inspection system of the glass disk photosensitive agent for optical disc manufacturing of the present invention, the optical path changing means is preferably a reflector, and the diffraction light detecting means is preferably a solid state imaging device (CCD). The control section stores therein an A / D converter for digitizing the optical information signal stored by the diffraction light detecting means, a RAM for storing and storing the digitized signal by the A / D converter, and the RAM. It is preferred to include a central processing processor for calculating the received signal as data on the developing state of the photosensitive agent.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제5도는 본 발명에 따른 광디스크 제조용 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상상태를 검사하기 위한 시스템의 개략적 구성을 나타내 보인것으로서, 이를 참조하면 본 발명에 의한 시스템은 감광제가 도포된 장디스크 제조용 글래스 원반(12)을 회전시키는 구동부(21)와 상기 글래스 원반(12)에 광을 조사하는 광원인 Kr레이저(23)를 구비하고 있으며, 상기 글래스 원반(12)과 상기 Kr레이저 (23) 사이에는 광원에서 출사된 광의 진로를 소정 각도로 변경시켜 주는 반사경 (22)이 마련되어 있다. 그리고, 상기 글래스 원반(12)의 상부에는 상기 Kr레이저(23)로부터 출사된 광이 상기 글래스 원반(12)을 투과하면서 회절되는 회절광에 대한 정보를 감지하는 감지수단인 고체촬상소자(CCD;20)가 지그(24)에 의해 지지된채 상기 글래스 원반(12)의 상면으로부터 소정 높이 이격된 상태로 설치되어 있으며, 상기 고체촬상소자(CCD;20)에는 감지된 회절광에 대한 정보를 읽고 해석하여 상기 글래스 원반(12)에 도포된 감광제의 현상상태를 데이타로 산출하는 제어부(25)가 연결되어 있다.5 shows a schematic configuration of a system for inspecting a developing state of a photosensitive agent applied to an optical disk manufacturing glass disk according to the present invention. Referring to this, the system according to the present invention is a glass disk for manufacturing a long disk coated with a photosensitive agent. A driving unit 21 for rotating 12 and a Kr laser 23 which is a light source for irradiating light to the glass disc 12, and between the glass disc 12 and the Kr laser 23 in a light source. A reflecting mirror 22 is provided to change the course of the emitted light at a predetermined angle. On the top of the glass disk 12, a solid state imaging device (CCD), which is a sensing means for sensing information about diffracted light diffracted while the light emitted from the Kr laser 23 passes through the glass disk 12; 20 is supported by the jig 24 and is spaced apart from the upper surface of the glass disc 12 by a predetermined height. The solid state imaging device (CCD) 20 reads information on the detected diffracted light. The control part 25 which analyzes and computes the developed state of the photosensitive agent apply | coated to the said glass disk 12 as data is connected.

한편, 본 발명의 바람직한 실시예에 의하면, 상기 고체촬상소자는 그 폭이 70mm이며, 글래스 원반의 상면으로부터 15mm 이격되어 설치되는 것이 바람직하다.On the other hand, according to a preferred embodiment of the present invention, the solid-state imaging device is preferably 70mm in width and 15mm away from the upper surface of the glass disk.

그리고, 상기 제어부(25)는 상기 고체촬상소자(이하, CCD;20)에 의해 감지된 회절광 정보에 대한 신호를 디지탈화하기 위한 A/D변환기 (31, 32)와 이 A/D변환기(31, 32)에 의해 디지탈화 된 신호를 저장하고 기억하기 위한 RAM(36, 37) 및 이 RAM(36 37)에 의해 기억된 신호를 감광제의 현상상태에 대한 데이타로 산출하는 중앙처리프로세서를 포함한다.Then, the control unit 25 is an A / D converter (31, 32) and the A / D converter (31) for digitizing the signal for the diffracted light information detected by the solid state image pickup device (hereinafter referred to as CCD; 20) And RAM (36, 37) for storing and storing the signal digitized by 32) and a central processing processor for calculating the signal stored by the RAM (36 37) as data on the developing state of the photosensitive agent.

상기와 같은 구조를 가지는 본 발명의 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상상태의 검사시스템은 다음과 같은 작용원리에 의한 감광제 현상상태를 측정, 검사하게 된다.The inspection system of the photosensitive agent developing state of the glass disk for manufacturing optical disc of the present invention having the structure as described above is to measure and inspect the photosensitive agent developing state by the following working principle.

즉, 회절광은 피트의 트랙 피치(p)의 규격과 현상액의 양에 따라 상기 CCD(20)상의 임의의 위치에 맺히게 된다.In other words, the diffracted light is formed at an arbitrary position on the CCD 20 according to the specification of the track pitch p of the pit and the amount of the developer.

제6도는 각 트랙 피치(p)에 따른 1차 회절광과 2차 회절광의 회절각 및 CCD상의 위치를 나타낸 표이다.FIG. 6 is a table showing the diffraction angles of the first and second diffracted light and the positions on the CCD according to the track pitch p.

여기서, 본 발명의 실시예에 사용된 광원은 트랙 피치 0.85㎛까지 2차 회절광 측정이 가능하도록 413Kr레이저를 사용하였고, CCD는 14㎛×14㎛×5.000 엘리먼츠(Elements)로 된 블루칼라(Blue Color)용 CCD를 사용한다.Here, the light source used in the embodiment of the present invention used a 413Kr laser to measure the second-order diffracted light up to a track pitch of 0.85㎛, the CCD is 14㎛ × 14㎛ × 5.000 Elements (Blue) Color CCD is used.

상기 한 바와 같이 CCD를 통해 저장된 데이터 즉, 회절광의 세기, 각도 등의 정보는 제7도에 예시한 본 발명 시스템의 CCD와 제어부에 포함된 중앙처리 프로세서를 연결하는 인터페이스 회로 블록도에 나타나 있는 바와 같이 A/D변환기(31, 32)를 통하여 디지탈화한 후, 멀티플렉서(33)와 버퍼(Buffer: 34, 35)를 통하여 RAM(36, 37)에 저장되고, 이 데이터를 다시 RAM에서 읽어내어 버퍼(38, 39)를 통해 중앙처리 프로세서 (미도시)로 보내진다.As described above, the data stored through the CCD, that is, the information such as the intensity and angle of the diffracted light, are shown in the block diagram of the interface circuit connecting the CCD and the central processing processor included in the controller of the present invention illustrated in FIG. After the digitalization through the A / D converters 31 and 32, the data is stored in the RAMs 36 and 37 through the multiplexer 33 and the buffers 34 and 35, and the data is read back from the RAM and buffered. It is sent to a central processing processor (not shown) via (38, 39).

여기서, 상기 CCD에 의해 입력된 정보의 출력이 이븐(Even), 오드(Odd)로 나뉘어 나오는 경우에 CCD의 출력이 순차적으로 하나의 아웃풋(out put)으로 나오게 되면, 상기 A/D변환기(31)를 통하여 디지탈화한 후, 버퍼(38)를 통하여 데이터를 곧 바로 중앙처리 프로세서로 보내면 된다. 이와 같이, CCD에 의한 정보 출력이 이븐(Even), 오드(Odd)로 구분되어 나오는 경우에 이를, A/D변환을 통해 디지탈화하고 순차적으로 재배치하기 위해서 멀티플렉서(33) 및 RAM(36, 37)을 구비하여 이들을 중앙처리 프로세서와 동기시켜 조절하도록 컨트롤러(30)가 클록(CLDCK)과 컨트를 신호를 각 CCD소자에 보내게 된다.In this case, when the output of the information input by the CCD is divided into Even and Odd, when the output of the CCD is sequentially outputted to one output, the A / D converter 31 is used. After digitization, the data is sent directly to the central processing processor through the buffer 38. As such, when the information output by the CCD is divided into Even and Odd, the multiplexer 33 and the RAM 36 and 37 are digitized and sequentially rearranged through A / D conversion. The controller 30 sends a clock CLDCK and a control signal to each CCD element so as to adjust and synchronize them with the central processing processor.

상기와 같이 하여 중앙처리 프로세서로 보내진 데이터는 제8도에 예시된 본 발명 시스템의 제어부에 포함된 중앙처리 프로세서 프로그램의 플로우차트에 나타나 있는 흐름을 따라 CCD로부터 읽어 온 0차 회절광의 CCD상의 위치와 세기, 1차 및 2차 회절광의 CCD상의 위치와 세기를 산출하고, 이 결과 데이터를 이용하여 측정 디스크의 회절각(θm)을 산출하여, 이 θm으로부터 측정 디스크의 트랙 피치를 산출한다(θm는 회절각, m은 광의 회절차수).The data sent to the central processing processor in this manner is the position on the CCD of the zero-order diffracted light read from the CCD along the flow shown in the flowchart of the central processing processor program included in the controller of the system of the present invention illustrated in FIG. Intensity, the position and intensity of the CCD image of the first and second diffracted light are calculated, and the diffraction angle [theta] m of the measuring disk is calculated using the resultant data, and the track pitch of the measuring disk is calculated from this [theta] m ([theta] m is Diffraction angle, m is the diffraction order of light).

그런 다음, 상기 식 (2) 및 (3)과 측정된 회절광의 세기를 이용하여 감광제의 현상상태를 측정하게 된다 이때, CCD소자에 CCD보호용 글래스가 있다면 이에 따른 회절편차를 보상해 줌으로써 사기와 같이 감광제의 현상상태를 측정할 수 있게 된다.Then, using the formula (2) and (3) and the measured intensity of the diffracted light is measured the development state of the photosensitive agent. At this time, if there is a CCD protective glass in the CCD element, by compensating for the diffraction deviation according to the The developing state of the photosensitizer can be measured.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 광디스크 제조용 글래스 원반 감광제 현상상태의 검사시스템은, 광디스크 제조공정에 있어서 디스크 마스터 공정 상의 스탬퍼를 얻기 위한 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상상태를 측정, 검사하기 위하여 CCD를 이용한다. 그리하여 CCD에 의해 글래스 원반을 통과한 회절광에 대한 정보를 감지하고, 이에 대한 정보를 토대로 제어부가 감광제의 현상상태를 데이터로 산출함으로써, 디스크상에 기록된 신호 트랙의 피치 변동이나 현상액의 투입량, 현상공정에서 발생하는 현상액의 파도무의 발생 현상에 관계없이 보다 정밀한 측정을 통하여 현상공정을 조절할 수 있고, 현상결과에 대한 정확한 평가를 할 수 있는 동시에 현상공정 중 트랙피치의 측정도 가능한 매우 효과적인 발명이다.As described above, the inspection system of the glass disk photosensitive agent developing state for manufacturing an optical disk according to the present invention is used to measure and inspect the developing state of the photosensitive agent applied to the glass disk for obtaining a stamper on the disk master process in the optical disk manufacturing process. Use a CCD. Thus, the CCD detects the information on the diffracted light that has passed through the glass disk, and based on the information, the control unit calculates the developing state of the photosensitive agent as data, so that the pitch fluctuation of the signal track recorded on the disk, the input amount of the developer, Regardless of the phenomenon of wave development in the developing process, it is possible to control the developing process through more precise measurement, to make accurate evaluation of the developing result, and to measure the track pitch during the developing process. to be.

Claims (4)

(정정) 감광제가 도포된 광디스크 제조용 글래스 원반을 회전시키는 구동부와, 상기 글래스 원반에 광을 조사하는 광원을 구비하여 된 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상상태 검사시스템에 있어서, 상기 광원과 상기 글래스 원반 사이에는 장진로 변경수단이 마련되며, 상기 글래스 원반의 상부에는 상기 광원으로부터 조사되어 상기 글래스를 투과한 회절광에 대한 정보를 감지하는 회절광 감지수단이 구비되어 있고, 상기 회절광 감지수단에 의해 감지된 광 정보에 의해 상기 글래스 원반에 도포된 감광제의 현상상태를 데이터로 산출하는 제어부를 포함하여 돈 것을 특징으로 하는 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상상태 검사시스템.(Correction) A photosensitive agent developing state inspection system of an optical disk manufacturing glass disk, comprising: a driving unit for rotating a glass disk for optical disk production coated with a photosensitive agent; and a light source for irradiating light to the glass disk; It is provided with a long path changing means, the upper portion of the glass disk is provided with diffracted light detecting means for detecting information about the diffracted light transmitted from the light source and transmitted through the glass, the diffraction light detecting means And a control unit for calculating, as data, the developing state of the photosensitive agent applied to the glass master based on the received optical information. 제1항에 있어서, 상기 광진로 변경수단은 반사경인 것을 특징으로 하는 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상상태 검사시스템.The system of claim 1, wherein the optical path changing means is a reflecting mirror. 제1항에 있어서, 상기 회절광 감지수단은 고체촬상소자(CCD)인 것을 특징으로 하는 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상상태 검사시스템.The system of claim 1, wherein the diffracted light detecting means is a solid state image pickup device (CCD). 제1항에 있어서, 상기 제어부는 상기 회절광 감지수단에 의해 저장된 광정보 신호를 디지탈화하기 위한 A/D변환기와, 상기 A/D변환기에 의해 디지탈화된 신호를 저장하고 기억하기 위한 RAM 및 이 RAM에 의해 기억된 신호를 감광제의 현상상태에 대한 데이타로 산출하는 중앙처리 프로세서를 포함하여 된 것을 특징으로 하는 광디스크 제조용 글래스 원반의 감광제 현상상태 검사시스템.2. The RAM according to claim 1, wherein the control unit includes an A / D converter for digitizing the optical information signal stored by the diffraction light detecting means, a RAM for storing and storing the digitized signal by the A / D converter, and the RAM. And a central processing processor for calculating the signal stored by the data as the data on the developing state of the photosensitive agent.
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