JP2024039601A - 抵抗測定装置及び抵抗測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】温度補正精度の向上を可能とすることを目的とする。【解決手段】抵抗測定装置は、第一部材及び第二部材に接触する組をなす第一接触部、及び第二部材の異なる箇所に接触する組をなす第二接触部を備えた接続構造部を備える。抵抗測定装置は、組をなす第二接触部間の抵抗値と接合部の温度との関係を示す情報を記憶する記憶部を備える。抵抗測定装置は、測定部によって組をなす第一接触部間の第一抵抗値を測定する状態、及び組をなす第二接触部間の第二抵抗値を測定する状態を形成する測定制御部を備える。抵抗測定装置は、測定した第二抵抗値と記憶部に記憶された情報とに基づいて接合部の温度を取得する温度取得部と、取得した温度と測定した第一抵抗値とに基づいて基準抵抗値を演算する演算部とを備える。【選択図】図１

Description

本発明は、抵抗測定装置及び抵抗測定方法に関する。

特許文献１には、溶接部診断方法が開示されている。この溶接部診断方法では、電極間の電圧から得られた入熱量と、放射温度計で測定した溶接部の表面温度との関係から溶接状態を判断する。

特開平５－１１５９８１号公報

しかしながら、表面温度を測定する放射温度計は、測定対象が放射率の低い金属の場合、正確な温度測定が難しかった。また、放射温度計は、測定対象の表面温度しか測定することができない。

このため、例えば測定した接合部の抵抗値を測定対象の温度で補正して基準温度での接合部の基準抵抗値を取得する際に放射温度計で測定した温度に基づいて補正すると、補正された基準抵抗値の精度が低くなる虞がある。

本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、温度補正精度の向上を可能とすることを目的とする。

本発明のある態様の抵抗測定装置は、第一部材と第二部材とが互いに接合された対象物において予め定められた基準温度での接合部の基準抵抗値を測定する抵抗測定装置であって、前記第一部材及び前記第二部材にそれぞれ接触する組をなす第一接触部、及び前記第二部材のうち互いに異なる箇所に接触する組をなす第二接触部を備えた接続構造部と、前記組をなす第一接触部間の抵抗値及び前記組をなす第二接触部間の抵抗値を測定するための測定部と、前記組をなす第二接触部間の抵抗値と前記接合部の温度との関係を示す情報を記憶する記憶部と、前記測定部によって前記組をなす第一接触部間の第一抵抗値を測定する状態、及び前記組をなす第二接触部間の第二抵抗値を測定する状態を形成する測定制御部と、測定した前記第二抵抗値と前記記憶部に記憶された前記情報とに基づいて前記接合部の温度を取得する温度取得部と、取得した前記接合部の温度と測定した前記第一抵抗値とに基づいて前記基準抵抗値を演算する演算部と、を備える。

本発明のある態様において、第一部材及び第二部材に接触する組をなす第一接触部間の抵抗値と、第二部材の異なる箇所に接触する組をなす第二接触部間の抵抗値とは、測定部によって測定される。また、第二接触部間の抵抗値と、第一部材及び第二部材の接合部の温度との関係を示す情報は、記憶部に記憶されている。

そして、接合部の温度は、測定部によって測定された第二抵抗値と記憶部に記憶された情報とに基づいて取得され、基準抵抗値は、取得した接合部の温度と測定した第一抵抗値とに基づいて演算される。

このように、接合部の温度は、第二接触部間の抵抗値と接合部の温度との関係を示す情報に基づいて取得される。ここで、接合部の温度の取得に用いられる第二接触部間の抵抗値は、第二部材の内部を通過する電流に基づいて得られる。このため、接合部の温度は、表面温度しか測定できない放射温度計で測定する場合と比較して、精度良く測定される。

そして、基準抵抗値は、取得した接合部の温度と測定した第一接触部間の第一抵抗値とに基づいて演算される。したがって、抵抗測定装置は、放射温度計で取得した対象物の表面温度に基づいて第一抵抗値を温度補正する場合と比較して、温度補正精度の向上が可能となる。

図１は、第一実施形態に係る抵抗測定装置を示す模式図である。 図２は、抵抗測定装置のハードウエア構成の一例を示すブロック図である。 図３は、抵抗測定装置の機能構成の一例を示す機能ブロック図である。 図４は、抵抗測定装置の事前処理の動作の一例を示すフローチャートである。 図５は、図４に続く動作を示すフローチャートである。 図６は、図５に続く動作を示すフローチャートである。 図７は、接合部の温度と第二抵抗値との関係を示す線図である。 図８は、第一抵抗値を測定する前後に測定した第二抵抗値に基づいて第一抵抗値を測定したときの接合部の温度を取得する手順を示す説明図である。 図９は、接合部の温度と第一抵抗値との関係を示す線図である。 図１０は、抵抗測定装置の測定処理の動作の一例を示すフローチャートである。 図１１は、高温から低温に変化する際の時間に対する第二抵抗値の変化を示す説明図である。 図１２は、接合部の温度と第一抵抗値との関係から基準抵抗値を求める様子を示す説明図である。 図１３は、第二実施形態に係る抵抗測定装置を示す模式図である。

（第一実施形態）
以下、添付図面を参照しながら本発明の第一実施形態について説明する。

図１は、第一実施形態に係る抵抗測定装置１０を示す模式図である。図２は、抵抗測定装置１０のハードウエア構成の一例を示すブロック図である。

図１に示すように、抵抗測定装置１０は、第一部材１２と第二部材１４とが互いに接合された対象物１６において予め定められた基準温度ｔ_０での接合部１８の基準抵抗値Ｒ_Ａ０を測定する装置である。

（対象物）
第一部材１２及び第二部材１４は、金属製の部材であり、第一部材１２及び第二部材１４を構成する金属としては、例えば銅又はアルミニウムが挙げられる。第一部材１２及び第二部材１４は、同種の金属であっても、異なる金属であってもよい。

第一部材１２と第二部材１４とは、互いに重ねられた箇所が溶接によって接合され、第一部材１２と第二部材１４とを接合する接合部１８は、溶接部で構成される。接合部１８の抵抗値は、接合部１８の状態を示すことが知られており、基準温度ｔ_０での接合部１８の抵抗値を知ることで、第一部材１２と第二部材１４との接合状態を知ることができる。

（接続構造部）
抵抗測定装置１０は、対象物１６に電気的に接続される接続構造部２０を備えている。接続構造部２０は、第一部材１２及び第二部材１４にそれぞれ接触する組をなす第一接触部（２２、２６）と、第二部材１４において異なる箇所に接触する組をなす第二接触部（２４、２６）とを含んで構成される構造を有する。

なお、組をなす第一接触部（２２、２６）は、一組の第一接触部（２２、２６）と言い換えることができる。また、組をなす第二接触部（２４、２６）は、例えば、一組の第二接触部（２４、２６）と言い換えることができる。

第一実施形態においては、組をなす第一接触部（２２、２６）のうち第二部材１４に接触する一方の第一接触部（２６）は、組をなす第二接触部（２４、２６）のうちの一方の第二接触部（２６）と共用されている。また、一方の第一接触部（２６）と一方の第二接触部（２６）とは、共用接触部２６で構成される。

組をなす第一接触部（２２、２６）のうちの他方の第一接触部２２は、第一通電プローブ３０と第一測定プローブ３２とを含む。共用接触部２６は、共用第一プローブ３４と共用第二プローブ３６とを含む。組をなす第二接触部（２４、２６）のうちの他方の第二接触部２４は、第二通電プローブ４０と第二測定プローブ４２とを含む。

第一通電プローブ３０は、第一部材１２に接触され、第一部材１２と電気的に接続される。第一測定プローブ３２は、第一通電プローブ３０よりも接合部１８に近い位置において第一部材１２に接触され、第一部材１２と電気的に接続される。

共用第一プローブ３４は、第二部材１４に接触され、第二部材１４と電気的に接続される。共用第二プローブ３６は、共用第一プローブ３４よりも接合部１８から離れた位置において第二部材１４に接触され、第二部材１４と電気的に接続される。

第二測定プローブ４２は、第二部材１４に接触され、第二部材１４と電気的に接続される。第二通電プローブ４０は、第二測定プローブ４２よりも共用第二プローブ３６の接触位置から離れた位置において第二部材１４に接触され、第二部材１４と電気的に接続される。

これにより、第一通電プローブ３０と共用第二プローブ３６との間に、第一測定プローブ３２及び共用第一プローブ３４が所定の間隔をおいて配置される。また、共用第一プローブ３４と第二通電プローブ４０との間に、共用第二プローブ３６及び第二測定プローブ４２が所定の間隔をおいて配置される。

なお、第一実施形態では、接続構造部２０を、組をなす第一接触部（２２、２６）と組をなす第二接触部（２４、２６）とで構成する場合について説明するが、第一実施形態は、これに限定されるものではない。例えば、組をなす第三接触部を追加すれば、第二部材１４に接合部１８を介して第三部材が接合された対象物１６において、第二部材１４と第三部材との接合部１８の基準抵抗値の測定も可能となる。

（測定部）
抵抗測定装置１０は、組をなす第一接触部（２２、２６）間の抵抗値及び組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値を測定するための測定部５０を備える。

測定部５０は、対象物１６の測定箇所の抵抗値を測定するための構成を備える。抵抗値の測定方法としては、二端子法と四端子法とがあり、第一実施形態の測定部５０は、四端子法によって抵抗値を測定する。

測定部５０は、対象物１６に流す電流を供給する供給源５２と、対象物１６の所定の箇所の電圧値を測定する電圧測定部５４とを備える。供給源５２は、一定の電流を流す定電流源で構成される。例えば、供給源５２は、電流供給回路により実現される。

測定部５０は、供給源５２から対象箇所に定電流を流し、供給源５２からの電流が流れる箇所の電圧を電圧測定部５４で測定することで、電圧測定部５４で測定した電圧値と供給源５２から流れる電流の電流値とに基づいて対象箇所の抵抗値を測定可能とする。これにより、測定部５０は、組をなす第一接触部（２２、２６）間の抵抗値及び組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値の測定を可能とする測定回路を構成する。

なお、第一実施形態では、供給源５２を定電流源で構成する場合について説明するが、第一実施形態は、これに限定されるものではない。例えば、供給源５２は、電流を供給する電流源と、電流源から流れる電流を測定する電流測定部とで構成してもよい。

（切替部）
抵抗測定装置１０は、切替部６０を備える。例えば、切替部６０は切替回路により実現される。

切替部６０は、組をなす第一接触部（２２、２６）を測定部５０に接続する第一接続状態と、組をなす第二接触部（２４、２６）を測定部５０に接続する第二接続状態とを選択的に形成する。切替部６０は、第一スイッチ６２と第二スイッチ６４と第三スイッチ６６と第四スイッチ６８とを備えたリレーで構成される。

切替部６０の第一スイッチ６２には、供給源５２の一方の端子５２ａが接続されている。第一スイッチ６２の第一接点６２ａには、第一通電プローブ３０が接続されており、第一スイッチ６２の第二接点６２ｂには、共用第一プローブ３４が接続されている。

切替部６０の第二スイッチ６４には、電圧測定部５４の一方の端子５４ａが接続されている。第二スイッチ６４の第一接点６４ａには、第一測定プローブ３２が接続されており、第二スイッチ６４の第二接点６４ｂには、共用第二プローブ３６が接続されている。

切替部６０の第三スイッチ６６には、電圧測定部５４の他方の端子５４ｂが接続されている。第三スイッチ６６の第一接点６６ａには、共用第一プローブ３４が接続されており、第三スイッチ６６の第二接点６６ｂには、第二測定プローブ４２が接続されている。

切替部６０の第四スイッチ６８には、供給源５２の他方の端子５２ｂが接続されている。第四スイッチ６８の第一接点６８ａには、共用第二プローブ３６が接続されており、第四スイッチ６８の第二接点６８ｂには、第二通電プローブ４０が接続されている。

各スイッチ６２、６４、６６、６８が各第一接点６２ａ、６４ａ、６６ａ、６８ａに接続された状態で、組をなす第一接触部（２２、２６）を測定部５０に接続する第一接続状態が形成される。各スイッチ６２、６４、６６、６８が各第二接点６２ｂ、６４ｂ、６６ｂ、６８ｂに接続された状態で、組をなす第二接触部（２４、２６）を測定部５０に接続する第二接続状態が形成される。

図２に示すように、抵抗測定装置１０は、処理部１００を中心に構成されている。処理部１００には、前述した測定部５０と切替部６０とが接続されている。

処理部１００は、切替部６０を構成するリレーのコイルに出力される信号を制御することで各スイッチ６２、６４、６６、６８（図１参照）を作動して、切替部６０を第一接続状態又は第二接続状態に切り替える。また、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力するとともに、入力した電圧値と供給源５２から印加される電流の電流値とに基づいて抵抗値を算出する。

また、処理部１００には、記憶部１１０と、入力部１１２と、表示部１１４と、報知部１１６と、時計部１１８と、通信部１２０とが接続されている。

記憶部１１０は、処理部１００によってデータを読み出し可能に記憶する。記憶部１１０には、抵抗測定装置１０の動作を制御する処理プログラムが格納される。記憶部１１０は、抵抗測定装置１０の機能を実現する処理プログラムを格納する記憶媒体として機能する。

記憶部１１０は、不揮発性メモリ（ＲＯＭ：Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、及び揮発性メモリ（ＲＡＭ：Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）などにより構成される。また、記憶部１１０は、処理プログラムで使用するデータが読み出し可能に記憶される。

記憶部１１０には、処理プログラムで使用するデータとして、第一情報１４０（図７参照）と第二情報１５０（図９参照）と演算式等とが記憶される。

第一情報１４０（図７参照）は、組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値である第二抵抗値Ｒ_Ｂと接合部１８の温度ｔとの関係を示す情報である。第二情報１５０（図９参照）は、組をなす第一接触部（２２、２６）間の抵抗値である第一抵抗値Ｒ_Ａと接合部１８の温度ｔとの関係を示す情報である。

演算式は、第一抵抗値Ｒ_Ａと当該第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔとに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算するための式である（後述する（式６）参照）。この演算式を用いることで、接合部１８の抵抗温度係数α_Ａと基準温度ｔ_０とに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算することができる。

入力部１１２は、利用者が入力したデータを処理部１００に送る。入力部１１２は、利用者の入力操作を受け付ける入力インターフェースとして機能する。入力部１１２は、例えば、複数の操作ボタン及び数字ボタン、又はタッチパネルで構成される。

表示部１１４は、処理部１００からのデータに従って表示を行う。表示部１１４は、例えば、測定結果等を表示する。表示部１１４を構成する装置としては、発光ダイオード又はＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）等の表示パネルが挙げられる。第一実施形態の表示部１１４は、例えば、液晶パネルで構成される。

報知部１１６は、処理部１００からのデータに従って報知を行う。報知部１１６は、案内又は警告音等を利用者に音で報知可能とする。音で報知する装置としては、圧電ブザー又はスピーカなどが挙げられる。第一実施形態の報知部１１６は、例えば、スピーカで構成される。

時計部１１８は、現在の年月日及び時刻を示すととともに時間を測定する。時計部１１８は、現在の年月日及び時刻を処理部１００に出力する。時計部１１８が示す年月日及び時刻は、例えば、測定部５０によって抵抗値を測定した際に、各測定値を測定した時刻として各測定値に関連付けて記憶部１１０に記憶することができる。

通信部１２０は、処理部１００と外部装置との間でデータの送受信を可能とする。通信部１２０は、例えば、測定結果等を外部装置へ出力可能とする。通信部１２０は、データを送受信するためのインターフェースを構成する。通信部１２０は、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、無線ＬＡＮなどを用いて通信を行うハードウエアで構成される。

処理部１００は、例えば、プロセッサにより構成される。プロセッサとしては、例えば、中央演算処理装置（ＣＰＵ：Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）が挙げられる。処理部１００は、記憶部１１０に格納された処理プログラムを読み出すとともに、読み出した処理プログラムに従って動作する。これにより、処理部１００は、抵抗測定装置１０の各部を制御して抵抗測定方法を実施する。

また、処理部１００は、測定結果等を表示部１１４で表示したり、報知部１１６から報知したり、通信部１２０を介して外部装置へ送信したりすることができる。

（機能ブロック）
図３は、抵抗測定装置１０の機能構成の一例を示す機能ブロック図である。

図３に示すように、抵抗測定装置１０は、測定制御部１３０と、温度取得部１３２と、演算部１３４とを備える。抵抗測定装置１０における各部１３０、１３２、１３４の機能は、処理部１００が記憶部１１０から処理プログラムとして読み出したソフトウエアプログラムを実行することで実現される。

（測定制御部）
測定制御部１３０は、切替部６０を第一接続状態に制御して測定部５０によって組をなす第一接触部（２２、２６）間の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する。また、測定制御部１３０は、切替部６０を第二接続状態に制御して測定部５０によって組をなす第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する。

これにより、測定制御部１３０は、測定部５０によって組をなす第一接触部（２２、２６）間の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する状態、及び組をなす第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する状態を形成する。

なお、第一実施形態では、測定制御部１３０が切替部６０を制御して測定部５０で第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する状態と第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する状態とを形成する場合について説明するが、測定制御部１３０は、この構成に限定されるものではない。測定制御部１３０は、切替部６０を用いずに第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する状態と第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する状態とを形成すように構成してもよい。この場合、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する状態と第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する状態とは、同時に形成されてもよいし、個別に形成されてもよい。

また、測定制御部１３０は、切替部６０の接続状態を交互に切り替えて第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する前後に第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する。

具体的に説明すると、処理部１００は、切替部６０に出力される信号を制御して各スイッチ６２、６４、６６、６８を各第一接点６２ａ、６４ａ、６６ａ、６８ａに接続する。これにより、処理部１００は、切替部６０を第一接続状態にし、組をなす第一接触部（２２、２６）を構成する第一接触部２２と共用接触部２６とを測定部５０に接続する。

切替部６０を第一接続状態に設定した状態において、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力し、入力した電圧値と供給源５２からの電流の電流値とに基づいて、第一接触部２２と共用接触部２６との間の抵抗値を算出する。処理部１００は、算出した抵抗値を第一抵抗値Ｒ_Ａとして取得する。

また、処理部１００は、切替部６０に出力する信号を制御して各スイッチ６２、６４、６６、６８を各第二接点６２ｂ、６４ｂ、６６ｂ、６８ｂに接続する。これにより、処理部１００は、切替部６０を第二接続状態にして、組をなす第二接触部（２４、２６）を構成する共用接触部２６と第二接触部２４とを測定部５０に接続する。

切替部６０を第二接続状態にした状態において、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力する。また、処理部１００は、入力した電圧値と供給源５２からの電流の電流値とに基づいて、共用接触部２６と第二接触部２４との間の抵抗値を第二抵抗値Ｒ_Ｂとして算出する。

そして、処理部１００は、切替部６０を切り替えることによって、第一接触部２２及び共用接触部２６間の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する前後に、共用接触部２６及び第二接触部２４間の第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する。すなわち、処理部１００は、互いに異なるタイミングで第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定し、その間に第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する。

（温度取得部）
温度取得部１３２は、測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと、記憶部１１０に記憶された情報である第一情報１４０（図７参照）とに基づいて接合部１８の温度ｔを取得する。

また、温度取得部１３２は、記憶部１１０に記憶された情報を参照する。この情報により、温度取得部１３２は、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの関係に基づいて、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔを推定して取得する。

言い換えると、温度取得部１３２は、記憶部１１０に記憶された情報を参照する。この情報により、温度取得部１３２は、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの二値を少なくとも用いて、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔを推定して取得する。

具体的に説明すると、第一情報１４０（図７参照）は、組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値である第二抵抗値Ｒ_Ｂと接合部１８の温度ｔとの関係を示す情報である。処理部１００は、記憶部１１０に記憶された第一情報１４０（図７参照）を用いることで、取得した第二抵抗値Ｒ_Ｂに対応する接合部１８の温度ｔを取得する。

記憶部１１０に記憶された第一情報１４０（図７参照）を参照して第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度を取得する場合、処理部１００は、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの二値を少なくとも用いて、接合部１８の温度ｔを推定する。

その一例として、処理部１００は、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの平均値を取得する。そして、処理部１００は、この平均値と第一情報１４０（図７参照）とに基づいて、接合部１８の温度ｔを取得する。

（演算部）
演算部１３４は、取得した接合部１８の温度ｔと測定した第一抵抗値Ｒ_Ａとに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算する。この演算には、例えば、記憶部１１０に記憶された演算式（例えば後述する式６参照）が用いられる。

また、演算部１３４は、取得した接合部１８の温度ｔと、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａと、記憶部１１０に記憶された演算式とに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算する。

具体的に説明すると、処理部１００は、記憶部１１０に記憶された演算式に、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａと、当該第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔと入力して、基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算する。演算式に入力する接合部１８の温度ｔは、温度取得部１３２で取得した接合部１８の温度ｔを用いることができる。

（動作説明）
次に、抵抗測定装置１０の動作を処理部１００が実行する処理手順に従って説明する。

この抵抗測定装置１０は、測定を開始する前段階において、前述した第一情報１４０（図７参照）、第二情報１５０（図９参照）、及び演算式等を取得するための事前処理を行う。この事前処理について、図４から図９を用いて説明する。

図４は、抵抗測定装置１０の事前処理の動作の一例を示すフローチャートである。図５は、図４に続く動作を示すフローチャートである。図６は、図５に続く動作を示すフローチャートである。また、図７は、接合部１８の温度ｔと第二抵抗値Ｒ_Ｂとの関係を示す線図である。図８は、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する前後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂに基づいて第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔを取得する手順を示す説明図である。図９は、接合部１８の温度ｔと第一抵抗値Ｒ_Ａとの関係を示す線図である。

図４に示すように、処理部１００は、記憶部１１０に記憶された処理プログラムに従ってメインルーチンを実行するとともにメインルーチンから呼び出された事前処理を実行すると、データ入力処理を行う（ステップＳ１０）。

データ入力処理において、処理部１００は、例えば、任意の温度である基準温度ｔ_０（例えば、２０℃）と、既知である第二部材１４の抵抗温度係数α_Ｂとの入力を求めるための入力画面を表示部１１４に表示する。そして、処理部１００は、利用者によって基準温度ｔ_０と抵抗温度係数α_Ｂとが入力部１１２から入力された際に、入力された基準温度ｔ_０及び抵抗温度係数α_Ｂを記憶部１１０に記憶する。

また、処理部１００は、測定準備を行うための案内を表示部１１４に表示する（ステップＳ１２）。

具体的に説明すると、処理部１００は、第一通電プローブ３０を第一部材１２に接触させ、第一測定プローブ３２を第一通電プローブ３０よりも接合部１８に近い位置において第一部材１２に接触させるように案内する。また、処理部１００は、共用第一プローブ３４を第二部材１４に接触させ、共用第二プローブ３６を共用第一プローブ３４よりも接合部１８から離れた位置において第二部材１４に接触させるように案内する。さらに、処理部１００は、第二測定プローブ４２を第二部材１４に接触させ、第二通電プローブ４０を、第二測定プローブ４２よりも共用第二プローブ３６の接触位置から離れた位置において第二部材１４に接触させるように案内する。

また、処理部１００は、この対象物１６を室温が所定温度ｔ_１で安定した室内において所定時間放置するように案内する。この所定時間は、室内に放置された対象物１６が所定温度ｔ_１になるまでに要する時間が設定される。

そして、処理部１００は、対象物１６を所定温度ｔ_１の室内に放置してから所定時間が経過したか否かを判断する（ステップＳ１４）。ステップＳ１４において、所定時間経過したと判断した場合、処理部１００は、対象物１６の温度を所定温度ｔ_１として記憶部１１０に記憶する（ステップＳ１６）。

ここで、対象物１６を構成する第一部材１２及び第二部材１４は、銅又はアルミニウム等の熱伝導率の高い金属で構成されている。このため、対象物１６の温度と、第一部材１２の温度と、第二部材１４の温度と、第一部材１２及び第二部材１４を接合する接合部１８の温度とは、略同じ温度を示すものとする。また、共用接触部２６及び第二接触部２４間の温度と、第一接触部２２及び共用接触部２６間の温度も、対象物１６の温度と略同じ温度を示すものとする。

また、処理部１００は、切替部６０への出力信号を制御して切替部６０を第二接続状態とし、共用接触部２６と第二接触部２４とを測定部５０に接続する（ステップＳ１８）。

切替部６０を第二接続状態にした状態において、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力する。そして、処理部１００は、入力した電圧値と供給源５２から流れる電流の電流値とに基づいて、共用接触部２６と第二接触部２４との間の抵抗値を算出する（ステップＳ２０）。処理部１００は、算出した抵抗値を、温度が所定温度ｔ_１のときの第二部材１４の第二抵抗値Ｒ_Ｂ１として記憶部１１０に記憶する（ステップＳ２２）。

そして、処理部１００は、基準温度ｔ_０における第二部材１４の基準抵抗値Ｒ_Ｂ０を、抵抗温度係数を求める式を利用して演算する（ステップＳ２４）。ここで、抵抗温度係数とは、温度の変化とともに抵抗値が変化するときの変化の割合をいう。

具体的に説明すると、処理部１００は、抵抗温度係数を求める式から得られた次に示す（式１）を用いて、対象物１６の温度が基準温度ｔ_０のときの第二部材１４の基準抵抗値Ｒ_Ｂ０を演算する。

Ｒ_Ｂ０は、基準温度ｔ_０のときの第二部材１４の基準抵抗値を示す。α_Ｂは、第二部材１４の抵抗温度係数を示す。ｔ_１は、対象物１６の温度である所定温度を示す。ｔ_０は、ステップＳ１０で入力された基準温度を示す。Ｒ_Ｂ１は、所定温度ｔ_１のときに測定された第二部材１４の第二抵抗値を示す。

図７に示すように、処理部１００は、基準温度ｔ_０、抵抗温度係数α_Ｂ、所定温度ｔ_１、所定温度ｔ_１のときの第二抵抗値Ｒ_Ｂ１、及び基準抵抗値Ｒ_Ｂ０に基づいて、情報である第一情報１４０を生成して記憶部１１０に記憶する（ステップＳ２６）。

この図７において、Ｒ_Ｂは、共用接触部２６と第二接触部２４との間の抵抗値を示す。ｔは、共用接触部２６及び第二接触部２４間の温度を示す。

なお、記憶部１１０に記憶する第一情報１４０は、基準温度ｔ_０、抵抗温度係数α_Ｂ、所定温度ｔ_１、所定温度ｔ_１のときの第二抵抗値Ｒ_Ｂ１、及び基準抵抗値Ｒ_Ｂ０の関係を示すグラフ、データ群、又はデータテーブルで構成してもよい。

次に、処理部１００は、温度が変化する対象物１６において、第一接触部２２及び共用接触部２６間の第一抵抗値Ｒ_Ａと、共用接触部２６及び第二接触部２４間の第二抵抗値Ｒ_Ｂとを交互に測定して記憶部１１０に記憶する。

対象物１６の温度を変化させながら第一抵抗値Ｒ_Ａ及び第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する方法としては、例えば第一部材１２と第二部材１４との接合部１８を溶接した後の冷却期間に第一抵抗値Ｒ_Ａ及び第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する方法が挙げられる。冷却期間としては、第一部材１２と第二部材１４とを溶接した直後から対象物１６が特定の温度まで低下する期間が挙げられる。

図５に示すように、処理部１００は、記憶部１１０に確保した記憶領域ｎに数値「５」を入力する（ステップＳ３０）。そして、処理部１００は、切替部６０への出力信号を制御して切替部６０を第二接続状態とし、共用接触部２６と第二接触部２４とを測定部５０に接続する（ステップＳ３２）。

第二接続状態において、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力する。また、処理部１００は、この電圧値と供給源５２から流れる電流の電流値とに基づいて算出した共用接触部２６と第二接触部２４間の抵抗値を第二抵抗値Ｒ_{Ｂ（ｎ）－１}とする（ステップＳ３４）。

ここで、Ｒ_{Ｂ（ｎ）－１}の「_（ｎ）」には、記憶部１１０の記憶領域ｎに記憶された数値が入る。

また、処理部１００は、切替部６０への出力信号を制御して切替部６０を第一接続状態として、第一接触部２２と共用接触部２６とを測定部５０に接続する（ステップＳ３６）。

第一接続状態において、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力する。また、処理部１００は、この電圧値と供給源５２から流れる電流の電流値とに基づいて、算出した第一接触部２２及び共用接触部２６間の抵抗値を第一抵抗値Ｒ_Ａ（ｎ）とする（ステップＳ３８）。

ここで、Ｒ_Ａ（ｎ）の「_（ｎ）」には、記憶部１１０の記憶領域ｎに記憶された数値が入る。

さらに、処理部１００は、切替部６０への出力信号を制御して切替部６０を第二接続状態として、共用接触部２６と第二接触部２４とを測定部５０に接続する（ステップＳ４０）。

第二接続状態において、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力する。また、処理部１００は、この電圧値と供給源５２から流れる電流の電流値とに基づいて、算出した共用接触部２６及び第二接触部２４間の抵抗値を第二抵抗値Ｒ_{Ｂ（ｎ）－２}とする（ステップＳ４２）。

ここで、Ｒ_{Ｂ（ｎ）－２}の「_（ｎ）」には、記憶部１１０の記憶領域ｎに記憶された数値が入る。

そして、処理部１００は、記憶領域ｎに記憶された数値から「１」を減算し（ステップＳ４４）、記憶領域ｎに記憶された数値が「２」になったか否かに基づいて所定回数の測定が終了したか否かを判断する（ステップＳ４６）。

ステップＳ４６において、記憶領域ｎに記憶された数値が「２」でない場合、処理部１００は、ステップＳ３２に分岐して、測定回数（例えば４回）の測定が完了するまで、各ステップを実施する。

これにより、処理部１００は、第二抵抗値Ｒ_Ｂ５－１、第一抵抗値Ｒ_Ａ５、第二抵抗値Ｒ_Ｂ５－２、第二抵抗値Ｒ_Ｂ４－１、第一抵抗値Ｒ_Ａ４、第二抵抗値Ｒ_Ｂ４－２・・・を取得して記憶部１１０に記憶する。

ステップＳ４６で記憶領域ｎの数値が「２」であると判断した場合、処理部１００は、所定の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと所定の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの関係に基づいて、所定の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂを推定する。

これにより、処理部１００は、所定の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと所定の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの二値を少なくとも用いて、所定の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂを推定する。

図６に示すように、処理部１００は、各第一抵抗値Ｒ_Ａの前後に測定された第二抵抗値Ｒ_Ｂの平均値を算出し、算出した平均値を、各第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂとして推定する（ステップＳ５０）。

具体的に説明すると、処理部１００は、第一抵抗値Ｒ_Ａ５の前後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂ５－１及び第二抵抗値Ｒ_Ｂ５－２を加算した値を「２」で除算して平均値を算出し、算出した平均値を第一抵抗値Ｒ_Ａ５を測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂ５として推定する。処理部１００は、この第二抵抗値Ｒ_Ｂ２～Ｒ_Ｂ５の推定を、各第一抵抗値Ｒ_Ａ２～Ｒ_Ａ５に対して行う。

そして、処理部１００は、記憶部１１０に記憶した第一情報１４０に基づいて、推定した各第二抵抗値Ｒ_Ｂ２～Ｒ_Ｂ５から得られる接合部１８の温度ｔ_２～ｔ_５を、対応する第一抵抗値Ｒ_Ａ２～Ｒ_Ａ５を測定したときの接合部１８の温度ｔ_２～ｔ_５とする（ステップＳ５２）。

図８に示すように、対象物１６の温度ｔは、時間の経過と共に低下する。このため、第二抵抗値Ｒ_Ｂ５－１を測定したときの対象物１６の温度ｔと、第一抵抗値Ｒ_Ａ５を測定したときの対象物１６の温度ｔと、は異なる虞がある。

そこで、処理部１００は、第一抵抗値Ｒ_Ａ５の前後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂ５－１及び第二抵抗値Ｒ_Ｂ５－２の平均値を算出する。また、処理部１００は、算出した平均値を、第一抵抗値Ｒ_Ａ５を測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂ５として推定して、第一抵抗値Ｒ_Ａ５を測定したときの接合部１８の温度ｔ_５を取得する。

なお、第一実施形態では、第二抵抗値Ｒ_Ｂ、第一抵抗値Ｒ_Ａ、第二抵抗値Ｒ_Ｂの順で行う測定を一周期とし、この測定周期を四回繰り返す場合について説明したが、第一実施形態は、これに限定されるものではない。

例えば、第二抵抗値Ｒ_Ｂの測定と第一抵抗値Ｒ_Ａの測定とを交互に行う測定周期を複数回行ってもよく、この場合、第二抵抗値Ｒ_Ｂの測定回数を削減することができる。

また、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂは、先の第二抵抗値Ｒ_Ｂの測定から第一抵抗値Ｒ_Ａの測定までの時間と第一抵抗値Ｒ_Ａの測定から後の第二抵抗値Ｒ_Ｂの測定までの時間との関係に基づいて求めてもよい。

そして、処理部１００は、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａと取得した接合部１８の温度ｔとの関係から第二情報１５０（図９参照）を取得する（ステップＳ５４）。

具体的に説明すると、処理部１００は、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａと推定した接合部１８の温度ｔとの対応関係を取得して第二情報１５０（図９参照）を生成し、第二情報１５０を記憶部１１０に記憶する（ステップＳ５４）。

図９には、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａと推定した接合部１８の温度ｔとの対応関係を示す第二情報１５０の一例が示されている。

そして、処理部１００は、第二情報１５０に基づいて、共用接触部２６と第二接触部２４との間の抵抗温度係数を、共用接触部２６と第二接触部２４との間において支配的である接合部１８の抵抗温度係数α_Ａとして取得する（ステップＳ５６）。

これにより、切替部６０の接続状態を交互に切り替えることによって得られた複数の第一抵抗値Ｒ_Ａ及び複数の第二抵抗値Ｒ_Ｂの関係を時系列に示すデータに基づいて、接合部１８の抵抗温度係数α_Ａを算出する係数算出部が処理部１００の機能によって実現される。

具体的に説明すると、第一抵抗値Ｒ_Ａと接合部１８の温度ｔとの対応関係を示す第二情報１５０は、直線を示す次の（式２）で表すことができる。なお、（式２）で表される直線は、例えば最小二乗法などを用いることで取得することができる。

Ｒ_Ａ＝Ｃ_１×ｔ＋Ｃ_２ ・・・（式２）

Ｒ_Ａは、第一抵抗値を示す。Ｃ_１は、第二情報１５０を示す直線の傾きを示す（図９参照）。Ｃ_２は、第二情報１５０を示す直線の切片を示す（図９参照）。

また、抵抗温度係数を求める式から得られた直線式を次の（式３）に示す。

Ｒ_Ａ＝Ｒ_Ａ０×｛１＋α_Ａ×（ｔ－ｔ_０）｝ ・・・（式３）

Ｒ_Ａは、第一抵抗値を示す。Ｒ_Ａ０は、基準温度ｔ_０（例えば２０℃）における共用接触部２６及び第一接触部２２間において支配的である接合部１８の基準抵抗値を示す。α_Ａは、共用接触部２６及び第一接触部２２間において支配的である接合部１８の抵抗温度係数を示す。ｔは、共用接触部２６及び第一接触部２２間の接合部１８の温度を示す。ｔ_０は、共用接触部２６及び第一接触部２２間の接合部１８の基準温度を示す。

そして、（式２）及び（式３）の二式の連立方程式を解き、次に示す（式４）を取得する。

その計算過程を以下に示す。

Ｒ_Ａ＝Ｒ_Ａ０×｛１＋α_Ａ×（ｔ－ｔ_０）｝を変換して次に示す（式５）を取得する。

Ｒ_Ａ＝Ｒ_Ａ０×α_Ａ×ｔ＋Ｒ_Ａ０×（１－α_Ａ×ｔ_０）・・（式５）

この（式５）と（式２）の「Ｒ_Ａ＝Ｃ_１×ｔ＋Ｃ_２」とから、Ｃ_１は、「Ｒ_Ａ０×α_Ａ」を示すことが分かるので、「Ｒ_Ａ０＝Ｃ_１／α_Ａ」の式を求める。

また、Ｃ_２は、「Ｒ_Ａ０×（１－α_Ａ×ｔ_０）」を示すので、Ｃ_２の式に「Ｒ_Ａ０＝Ｃ_１／α_Ａ」を代入し、「Ｃ_２＝Ｃ_１／α_Ａ×（１－α_Ａ×ｔ_０）＝Ｃ_１／α_Ａ－Ｃ_１×ｔ_０」を求める。

この式を変形すると、「Ｃ_２＋Ｃ_１×ｔ_０＝Ｃ_１／α_Ａ」が得られ、この式をさらに変形することで、前述した（式４）が得られる。

ここで、温度ｔは、第二接触部２４及び共用接触部２６間の第二抵抗値Ｒ_Ｂに基づいて取得される。このため、温度ｔには、第二部材１４の内部の状態が反映される。

そして、処理部１００は、接合部１８の抵抗温度係数α_Ａと基準温度ｔ_０とに基づいて、基準抵抗値Ｒ_Ａ０を求めるための演算式を求め、求めた演算式を記憶部１１０に記憶して（ステップＳ５８）、事前処理を終了してメインルーチンに戻る。

具体的に説明すると、処理部１００は、抵抗温度係数を求める式を利用して、測定する第一抵抗値（Ｒ_Ａ６）と接合部１８の温度（ｔ_６）とから基準抵抗値Ｒ_Ａ０を求めるための演算式を求めて記憶部１１０に記憶する。この演算式を次の（式６）に示す。

Ｒ_Ａ０は、接合部１８が基準温度ｔ_０のときの基準抵抗値を示す。Ｒ_Ａ６は、測定した第一抵抗値を示す。ｔ_６は、第一抵抗値Ｒ_Ａ６を測定したときの接合部１８の温度を示す。α_Ａは、共用接触部２６及び第一接触部２２間において支配的である接合部１８の抵抗温度係数を示す。ｔ_０は、共用接触部２６及び第一接触部２２間の接合部１８の基準温度を示す。

（測定処理）
次に、対象物１６において接合部１８の基準抵抗値Ｒ_Ａ０’を測定する測定処理について説明する。

図１０は、抵抗測定装置１０の測定処理の動作の一例を示すフローチャートである。図１１は、高温から低温に変化する際の時間に対する第二抵抗値Ｒ_Ｂの変化を示す説明図である。図１２は、接合部１８の温度ｔと第一抵抗値Ｒ_Ａとの関係から基準抵抗値Ｒ_Ａ０’を求める様子を示す説明図である。

すなわち、メインルーチンから測定処理が呼び出されると、処理部１００は、切替部６０への出力信号を制御して切替部６０を第二接続状態として、共用接触部２６と第二接触部２４とを測定部５０に接続する（ステップＳＢ１０）。

第二接続状態において、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力する。また、処理部１００は、この電圧値と供給源５２から流れる電流の電流値とに基づいて、算出した共用接触部２６及び第二接触部２４間の抵抗値を第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－１とする（ステップＳＢ１２）。

また、処理部１００は、切替部６０への出力信号を制御して切替部６０を第一接続状態として、第一接触部２２と共用接触部２６とを測定部５０に接続する（ステップＳＢ１４）。

第一接続状態において、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力する。また、処理部１００は、この電圧値と供給源５２から流れる電流の電流値とに基づいて、算出した第一接触部２２及び共用接触部２６間の抵抗値を第一抵抗値Ｒ_Ａ６’とする（ステップＳＢ１６）。

さらに、処理部１００は、切替部６０への出力信号を制御して切替部６０を第二接続状態として、共用接触部２６と第二接触部２４とを測定部５０に接続する（ステップＳＢ１８）。

第二接続状態において、処理部１００は、測定部５０の電圧測定部５４で測定した電圧値を入力する。また、処理部１００は、この電圧値と供給源５２から流れる電流の電流値とに基づいて、算出した共用接触部２６及び第二接触部２４間の抵抗値を第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－２とする（ステップＳＢ２０）。

また、処理部１００は、第一抵抗値Ｒ_Ａ６’を測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－１と、第一抵抗値Ｒ_Ａ６’を測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－２との関係に基づいて、第一抵抗値Ｒ_Ａ６’を測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂ６を推定する（ステップＳＢ２２）。

これにより、処理部１００は、第一抵抗値Ｒ_Ａ６’を測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－１と、第一抵抗値Ｒ_Ａ６’を測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－２との二値を用いて、第一抵抗値Ｒ_Ａ６’を測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂ６を推定する。

具体的に説明すると、処理部１００は、第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－１と第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－２とを加算して、その加算値を「２」で除算した値を第二抵抗値Ｒ_Ｂ６とする。これにより、各第一抵抗値Ｒ_Ａ６’の前後に測定された第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－１と第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－２との平均値が算出され、算出された平均値を、第一抵抗値Ｒ_Ａ６’を測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂ６として推定する。

次に、処理部１００は、記憶部１１０に記憶した第一情報１４０（図８参照）を用いることによって、推定した第二抵抗値Ｒ_Ｂ６に基づいて、接合部１８の温度ｔ_６を取得する（ステップＳＢ２４）。なお、図８において第二抵抗値Ｒ_Ｂ６及び接合部１８の温度ｔ_６は不図示。

図１１に示すように、対象物１６が高い温度から低い温度へ移行する場合、対象物１６の温度変化は、高温領域Ｈにおいて大きくなる。このため、接合部１８の温度ｔを測定するための第二抵抗値Ｒ_Ｂの測定と、接合部１８の状態を検査するため第一抵抗値Ｒ_Ａの測定との間に時間差が生ずると、第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定したときの温度ｔと、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したとき温度ｔとに大きな差が生じ得る。

そこで、処理部１００は、第一抵抗値Ｒ_Ａ６’の前後に測定された第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－１と第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－２との平均値を算出する。そして、処理部１００は、算出した平均値を第一抵抗値Ｒ_Ａ６’を測定したときの第二抵抗値Ｒ_Ｂ６として接合部１８の温度ｔを取得することで、精度の高い測定を可能とする。

次に、処理部１００は、取得した接合部１８の温度ｔ_６と、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａ６’とを、記憶部１１０に記憶した演算式（式６参照）に代入することで、基準温度ｔ_０での接合部１８の基準抵抗値Ｒ_Ａ０’を演算して測定結果を求める（ステップＳＢ２６）。

図１２に示すように、接合部１８の温度ｔ_６と、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａ６’と、接合部１８の抵抗温度係数α_Ａとに基づいて、基準温度ｔ_０での接合部１８の基準抵抗値Ｒ_Ａ０’を求めることができる。

そして、処理部１００は、演算した基準抵抗値Ｒ_Ａ０’を表示部１１４に表示したり、報知部１１６から報知したり、通信部１２０を介して外部装置へ送信したりすることで、測定結果を出力し（ステップＳＢ２８）、メインルーチンへ戻る。

（作用及び効果）
次に、第一実施形態による作用効果について説明する。

第一実施形態に係る抵抗測定装置１０は、第一部材１２と第二部材１４とが互いに接合された対象物１６において予め定められた基準温度ｔ_０での接合部１８の基準抵抗値Ｒ_Ａ０を測定する装置である。抵抗測定装置１０は、第一部材１２及び第二部材１４にそれぞれ接触する組をなす第一接触部（２２、２６）、及び第二部材１４のうち互いに異なる箇所に接触する組をなす第二接触部（２４、２６）を備えた接続構造部２０を備える。抵抗測定装置１０は、組をなす第一接触部（２２、２６）間の抵抗値及び組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値を測定するための測定部５０を備える。抵抗測定装置１０は、組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値と接合部１８の温度ｔとの関係を示す情報（１４０）を記憶する記憶部１１０を備える。

そして、抵抗測定装置１０は、測定部５０によって組をなす第一接触部（２２、２６）間の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する状態、及び組をなす第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する測定制御部１３０を備える。抵抗測定装置１０は、測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと記憶部１１０に記憶された情報（１４０）とに基づいて接合部１８の温度ｔを取得する温度取得部１３２を備える。抵抗測定装置１０は、取得した接合部１８の温度ｔと測定した第一抵抗値Ｒ_Ａとに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算する演算部１３４とを備える。

また、第一実施形態に係る抵抗測定方法は、第一部材１２と第二部材１４とが互いに接合された対象物１６において予め定められた基準温度ｔ_０での接合部１８の基準抵抗値Ｒ_Ａ０を測定する測定方法である。抵抗測定方法は、第一部材１２及び第二部材１４にそれぞれ接触する組をなす第一接触部（２２、２６）、及び第二部材（１４）のうち互いに異なる箇所に接触する組をなす第二接触部（２４、２６）を備え、組をなす第一接触部（２２、２６）間の抵抗値及び組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値を測定部５０によって測定する工程と、組をなす第一接触部（２２、２６）を測定部５０に接続する第一接続状態と、組をなす第二接触部（２４、２６）を測定部５０に接続する第二接続状態と、を選択的に切り替える工程と、組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値と接合部１８の温度ｔとの関係を示す情報（１４０）を記憶する工程と、を実行する抵抗測定方法である。

そして、抵抗測定方法は、組をなす第一接触部（２２、２６）間の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定し、組をなす第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する測定制御工程（ステップＳＢ１０～ＳＢ２０）を備える。抵抗測定方法は、測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと記憶した情報とに基づいて接合部１８の温度ｔを取得する温度取得工程（ステップＳＢ２２～ＳＢ２４）を備える。抵抗測定方法は、取得した接合部１８の温度ｔと測定した第一抵抗値Ｒ_Ａとに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算する演算工程（ステップＳＢ２６）を備える。

これらの構成係る抵抗測定装置１０及び抵抗測定方法は、第一部材１２及び第二部材１４に接触する組をなす第一接触部（２２、２６）間の第一抵抗値Ｒ_Ａと、第二部材１４の異なる箇所に接触する組をなす第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂとは、測定部５０によって測定される。また、第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂと、第一部材１２及び第二部材１４の接合部１８の温度ｔとの関係を示す情報（１４０）は、例えば記憶部１１０に記憶されている。

そして、接合部１８の温度は、測定部５０によって測定された第二抵抗値Ｒ_Ｂと例えば記憶部１１０に記憶された情報（１４０）とに基づいて取得され、基準抵抗値Ｒ_Ａ０は、取得した接合部１８の温度と測定した第一抵抗値Ｒ_Ａとに基づいて演算される。

このように、接合部１８の温度は、第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂと接合部１８の温度ｔとの関係を示す情報（１４０）に基づいて取得される。ここで、接合部１８の温度の取得に用いられる第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂは、第二部材１４の内部を通過する電流に基づいて得られる。このため、接合部１８の温度は、表面温度しか測定することができない放射温度計で測定される場合と比較して、精度良く測定される。

ここで、第一実施形態において、対象物１６を構成する第一部材１２及び第二部材１４は、放射率の低い金属で形成されている。このように、金属で形成された対象物１６の温度を放射温度計で測定する場合、正確な温度測定を測定することは難しい。しかし、第一実施形態において、接合部１８の温度は、第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂと接合部１８の温度ｔとの関係を示す情報（１４０）に基づいて取得される。このため、接合部１８の温度は、放射温度計で測定する場合と比較して、精度良く測定される。

そして、基準抵抗値Ｒ_Ａ０は、取得した接合部１８の温度と測定した第一接触部（２２、２６）間の第一抵抗値Ｒ_Ａとに基づいて演算される。したがって、抵抗測定装置１０及び抵抗測定方法は、放射温度計で取得した対象物１６の表面温度に基づいて、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａを温度補正する場合と比較して、温度補正精度の向上が可能となる。

また、第一実施形態に係る抵抗測定装置１０は、組をなす第一接触部（２２、２６）を測定部５０に接続する第一接続状態と、組をなす第二接触部（２４、２６）を測定部５０に接続する第二接続状態と、を選択的に切り替える切替部６０をさらに備える。測定制御部１３０は、切替部６０を第一接続状態に制御して測定部５０で第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する状態を形成し、切替部６０を第二接続状態に制御して測定部５０で第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する状態を形成する。

この構成において、抵抗測定装置１０は、組をなす第一接触部（２２、２６）を測定部５０に接続する第一接続状態と、組をなす第二接触部（２４、２６）を測定部５０に接続する第二接続状態とを選択的に切り替える切替部６０を備える。

そして、抵抗測定装置１０は、組をなす第一接触部（２２、２６）間の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する際に、切替部６０を第一接続状態に制御して測定部５０からの電流を組をなす第一接触部（２２、２６）間に流すことで、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する。また、抵抗測定装置１０は、組をなす第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する際に、切替部６０を第二接続状態に制御して測定部５０からの電流を組をなす第二接触部（２４、２６）間に流すことで、第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する。

このように、抵抗測定装置１０は、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定するための電流と、第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定するための電流とを同時に対象物１６に流すことはない。

このため、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定するための電流と第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定するための電流とを同時に対象物１６に流す構造と比較して、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定するための電流と第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定するための電流との干渉が回避される。これにより、抵抗測定装置１０は、電流干渉に起因した影響の抑制が可能となる。

また、抵抗値を測定するための測定部５０が一つで済むので、複数の測定部５０を要する場合と比較して、コンパクト化及び低コスト化が可能となる。

さらに、第一抵抗値Ｒ_Ａと第二抵抗値Ｒ_Ｂとのそれぞれを異なる測定部５０で測定する場合と比較して、各測定部で生じ得る測定誤差の加算を防止することができ、測定精度の向上が可能となる。

これに加え、複数の測定部５０を備える構造上、第一抵抗値Ｒ_Ａ及び第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する際に各測定部による測定タイミングの調整が必要となる場合と比較して、制御の簡素化が可能となる。

また、第一実施形態の抵抗測定装置１０において、組をなす第一接触部（２２、２６）のうち第二部材１４に接触する一方の第一接触部（２６）は、組をなす第二接触部（２４、２６）のうちの一方の第二接触部（２６）と共用される。

この構成において、組をなす第一接触部（２２、２６）のうち第二部材１４に接触する一方（２６）と、組をなす第二接触部（２４、２６）のうちの一方（２６）とは共用される。このため、対象物１６に接する接触部の数を削減することができるので、低コスト化が可能となる。また、対象物１６への接触箇所が減るので、狭い場所であっても測定が可能となる。

第一実施形態の抵抗測定装置１０において、記憶部１１０は、第一抵抗値Ｒ_Ａと当該第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度とに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算する演算式（例えば（式６））を記憶する。演算部１３４は、取得した接合部１８の温度ｔと、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａと、記憶部１１０に記憶された演算式と、に基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算する。

この構成において、記憶部１１０に記憶された演算式を用いることによって、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａと、当該第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度とに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を算出することができる。

このため、基準抵抗値Ｒ_Ａ０を求めるためのデータテーブル又はグラフ等を用いて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を求める場合と比較して、記憶部１１０に記憶するデータ量の削減が可能となる。

第一実施形態の抵抗測定装置１０において、測定制御部１３０は、切替部６０の接続状態を交互に切り替えて第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する前後に第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する。温度取得部１３２は、記憶部１１０に記憶された情報（１４０）を参照することにより、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの関係に基づいて、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔを推定して取得する。

この構成において、対象物１６が高い温度から低い温度へ移行する場合、対象物１６の温度変化は、高温領域Ｈにおいて大きくなる。このため、接合部１８の温度ｔを測定するための第二抵抗値Ｒ_Ｂの測定と、接合部１８の状態を検査するため第一抵抗値Ｒ_Ａの測定との間に時間差が生ずると、第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定したときの温度ｔと、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したとき温度ｔとに大きな差が生じ得る。

そこで、第一抵抗値Ｒ_Ａ６の前後に測定された第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－１と第二抵抗値Ｒ_Ｂ６－２との関係に基づいて、第一抵抗値Ｒ_Ａ６を測定したときの接合部１８の温度ｔを推定することで、接合部１８の温度を高い精度で取得することができる。これにより、抵抗測定装置１０は、基準抵抗値Ｒ_Ａ０の測定精度の向上が可能となる。

第一実施形態の抵抗測定装置１０において、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの関係は、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する前後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂの平均値である。温度取得部１３２は、第二抵抗値Ｒ_Ｂの平均値を取得すると、記憶部１１０に記憶された情報（１４０）を参照して、当該平均値に対応する接合部１８の温度ｔを、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔとして取得する。

この構成において、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの平均値に基づいて、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔを取得することができる。このため、演算の簡素化を図りつつ、基準抵抗値Ｒ_Ａ０の測定精度の向上が可能となる。

第一実施形態の抵抗測定装置１０は、取得した複数の第一抵抗値Ｒ_Ａ及び複数の第二抵抗値Ｒ_Ｂの関係を時系列に示すデータに基づいて、接合部１８の抵抗温度係数α_Ａを算出する係数算出部をさらに備える。なお、前述したように係数算出部は、処理部１００が記憶部１１０に記憶された処理プログラムに従って動作することで処理部１００によって実現される。

この構成において、抵抗測定装置１０は、例えば切替部６０の接続状態を交互に切り替えて得た第一抵抗値Ｒ_Ａ及び第二抵抗値Ｒ_Ｂの時系列データに基づいて接合部１８の抵抗温度係数α_Ａを算出する。このため、異なる測定部５０で得られた第一抵抗値Ｒ_Ａ及び第二抵抗値Ｒ_Ｂに基づいて、接合部１８の抵抗温度係数を算出する場合と比較して、抵抗温度係数α_Ａの算出精度を高めることが可能となる。

第一実施形態の抵抗測定方法は、第二抵抗値Ｒ_Ｂと接合部１８の温度ｔとの関係を示す第一情報１４０を取得する第一情報取得工程（ステップＳ１４～Ｓ２６）を備える。抵抗測定方法は、第二接続状態にして、測定部５０によって第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する事前第一測定工程（ステップＳ３２～Ｓ３４）を備える。抵抗測定方法は、事前第一測定工程の後に第一接続状態に切り替えて、測定部５０によって第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する事前第二測定工程（ステップＳ３６～Ｓ３８）を備える。抵抗測定方法は、事前第二測定工程の後に第二接続状態に切り替えて、測定部５０によって第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する事前第三測定工程（ステップＳ４０～Ｓ４２）を備える。抵抗測定方法は、事前第一測定工程で測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと事前第三測定工程で測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの二値を少なくとも用いて、事前第二測定工程で第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの第二接触部（２４、２６）間の抵抗値を第二抵抗値Ｒ_Ｂとして推定する事前推定工程（ステップＳ５０）を備える。

この構成において、対象物１６が高い温度から低い温度へ移行する場合、対象物１６の温度変化は、高温領域Ｈにおいて大きくなる。このため、接合部１８の温度ｔを測定するための第二抵抗値Ｒ_Ｂの測定と、接合部１８の状態を検査するため第一抵抗値Ｒ_Ａの測定との間に時間差が生ずると、第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定したときの温度ｔと、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したとき温度ｔとに大きな差が生じ得る。

そこで、抵抗測定方法は、第一抵抗値Ｒ_Ａの前後に測定された第二抵抗値Ｒ_Ｂとの二値を少なくとも用いて、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの第二接触部（２４、２６）間の抵抗値を第二抵抗値Ｒ_Ｂとして推定する。これにより、この第二抵抗値Ｒ_Ｂを用いて第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度を取得することができるので、接合部１８の温度を高い精度で取得することができる。

第一実施形態の抵抗測定方法は、事前推定工程で推定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと第一情報１４０とに基づいて、事前第二測定工程で第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔを取得する事前温度取得工程（ステップＳ５２）を備える。抵抗測定方法は、第一抵抗値ＲＡと接合部１８の温度ｔとの関係を示す第二情報１５０に基づいて接合部１８の抵抗温度係数α_Ａを演算する抵抗温度係数演算工程（ステップＳ５６）を備える。抵抗測定方法は、抵抗温度係数演算工程で取得した接合部１８の抵抗温度係数α_Ａと基準温度ｔ_０とに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算する演算式を記憶する式記憶工程（ステップＳ５８）を備える。

この構成において、事前推定工程で推定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと第一情報１４０とに基づいて、事前第二測定工程で第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔを取得することができるので、接合部１８の温度を高い精度で取得することができる。

そして、抵抗測定方法は、第一抵抗値Ｒ_Ａと接合部１８の温度ｔとの関係を示す第二情報１５０に基づいて接合部１８の抵抗温度係数α_Ａを演算する。また、抵抗測定方法は、この抵抗温度係数α_Ａと基準温度ｔ_０とに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を演算する演算式を例えば記憶部１１０に記憶する。

このため、例えば記憶部１１０に記憶された演算式を用いることによって、測定した第一抵抗値Ｒ_Ａと、当該第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔとに基づいて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を算出することができる。したがって、基準抵抗値Ｒ_Ａ０を求めるためのデータテーブル又はグラフ等を用いて基準抵抗値Ｒ_Ａ０を求める場合と比較して、記憶部１１０に記憶するデータ量の削減が可能となる。

第一実施形態の抵抗測定方法において、第一情報取得工程は、対象物１６を所定温度ｔ_１にした状態で第二接続状態にして、測定部５０によって第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する所定温度測定工程（ステップＳ１４～Ｓ１２）を備える。抵抗測定方法は、所定温度測定工程で測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと所定温度ｔ_１と第二部材１４の抵抗温度係数α_Ａと基準温度ｔ_０とに基づいて第一情報１４０を生成する情報生成工程（ステップＳ２４～Ｓ２６）を備える。

この構成において、第一情報１４０は、例えば切替部６０を第二接続状態にすることによって測定された第二抵抗値Ｒ_Ｂに基づいて生成されるので、第一情報１４０を第二情報１５０と同じ測定環境で生成することができる。

このため、第一情報１４０と第二情報１５０とが異なる測定環境で測定された測定値に基づいて生成される場合と比較して、測定誤差によって生じ得る第一情報１４０及び第二情報１５０への影響を抑制することが可能となる。

第一実施形態の抵抗測定方法において、事前第一測定工程乃至事前第三測定工程は、第一部材１２と第二部材１４とが互いに接合された接合部１８を冷却する期間に取得される。

この構成において、例えば、第一部材１２と第二部材１４とを溶接によって接合する場合、溶接の熱で高温になった対象物１６の温度が低下する際に温度変化が生ずる。このため、溶接の熱で高温になった対象物１６が冷える過程を利用することで、対象物１６の温度を変化させながら、第一抵抗値Ｒ_Ａ及び第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定することができる。

これにより、溶接直後の時間の有効利用が可能となる。また、対象物１６に熱を加えたり、冷却したりする手間が省ける。

（第二実施形態）
次に、本発明の第二実施形態について説明する。

図１３は、第二実施形態に係る抵抗測定装置２００を示す模式図である。第二実施形態に係る抵抗測定装置２００において、第一実施形態と同一又は同等部分については、同符号を付して説明を割愛するとともに、異なる部分についてのみ説明する。

図１３に示すように、抵抗測定装置２００は、第一実施形態と比較して、測定部５０が第一測定部５０ａと第二測定部５０ｂとで構成された点が異なる。

抵抗測定装置２００の測定部５０は、組をなす第一接触部（２２、２６）間の抵抗値を測定する第一測定部５０ａと、組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値を測定する第二測定部５０ｂとを備える。第一測定部５０ａと第二測定部５０ｂとは、第一実施形態と同様に構成されている。

第一測定部５０ａにおける供給源５２の一方の端子５２ａは、第一通電プローブ３０に接続されている。第一測定部５０ａにおける供給源５２の他方の端子５２ｂは、共用第二プローブ３６に接続されている。

第一測定部５０ａにおける電圧測定部５４の一方の端子５４ａは、第一測定プローブ３２に接続されている。第一測定部５０ａにおける電圧測定部５４の他方の端子５４ｂは、共用第一プローブ３４に接続されている。

第二測定部５０ｂにおける供給源５２の一方の端子５２ａは、共用第一プローブ３４に接続されている。第二測定部５０ｂにおける供給源５２の他方の端子５２ｂは、第二通電プローブ４０に接続されている。

第二測定部５０ｂにおける電圧測定部５４の一方の端子５４ａは、共用第二プローブ３６に接続されている。第二測定部５０ｂにおける電圧測定部５４の他方の端子５４ｂは、第二測定プローブ４２に接続されている。

測定制御部１３０（図３参照）は、第一測定部５０ａ及び第二測定部５０ｂを交互に作動して、組をなす第一接触部（２２、２６）間の第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する前後に、組をなす第二接触部（２４、２６）間の第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する。第一測定部５０ａ及び第二測定部５０ｂは、処理部１００からの制御信号によって作動する。

第一測定部５０ａは、作動状態において、供給源５２から対象物１６に電流を供給する。また、第一測定部５０ａは、作動状態において、電圧測定部５４で対象物１６の所定の箇所の電圧値を測定するとともに、測定した電圧値を処理部１００（図２参照）へ送る。

第二測定部５０ｂは、作動状態において、供給源５２から対象物１６に電流を供給する。また、第二測定部５０ｂは、作動状態において、電圧測定部５４で対象物１６の所定の箇所の電圧値を測定するとともに、測定した電圧値を処理部１００（図２参照）へ送る。

温度取得部１３２（図３参照）は、記憶部１１０（図２参照）に記憶された情報（１４０）を参照する（図８参照）。これにより、温度取得部１３２（図３参照）は、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの平均値に基づいて、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔを推定して取得する。

測定制御部１３０及び温度取得部１３２（図３参照）の機能は、前述したように、処理部１００（図２参照）が記憶部１１０（図２参照）から読み出したソフトウエアプログラムを実行することで実現される。

（作用及び効果）
第二実施形態による作用効果について説明する。

第二実施形態においても、第一実施形態と同一又は同等部分については、第一実施形態と同様の作用効果を得ることできる。

そして、第二実施形態の抵抗測定装置２００において、測定部５０は、組をなす第一接触部（２２、２６）間の抵抗値を測定する第一測定部５０ａと、組をなす第二接触部（２４、２６）間の抵抗値を測定する第二測定部５０ｂと、を含む。測定制御部１３０は、第一測定部５０ａ及び第二測定部５０ｂを交互に作動して第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する前後に第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する。温度取得部１３２は、記憶部１１０に記憶された情報（１４０）を参照することにより、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直前に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂと第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する直後に測定した第二抵抗値Ｒ_Ｂとの平均値に基づいて、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定したときの接合部１８の温度ｔを推定して取得する。

この構成において、測定部５０は、第一接触部（２２、２６）間の抵抗値を測定する第一測定部５０ａと、第二接触部（２４、２６）間の抵抗値を測定する第二測定部５０ｂとを備えている。このため、測定部５０が一つで構成される場合と比較して、測定部５０に接続される第一接触部（２２、２６）と第二接触部（２４、２６）と切り替える切替部６０が不要となる。これにより、抵抗測定装置２００の低コスト化が可能となる。

また、測定制御部１３０は、第一測定部５０ａ及び第二測定部５０ｂを交互に作動して第一抵抗値Ｒ_Ａを測定する前後に第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定する。このため、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定するための電流と第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定するための電流とを同時に対象物１６に流す場合と比較して、第一抵抗値Ｒ_Ａを測定するための電流と第二抵抗値Ｒ_Ｂを測定するための電流との干渉を回避することができる。これにより、測定制御部１３０は、電流干渉に起因した影響の抑制が可能となる。

以上、本発明の実施形態について説明したが、上記実施形態は本発明の適用例の一部を示したに過ぎず、本発明の技術的範囲を上記実施形態の具体的構成に限定する趣旨ではない。

１０ 抵抗測定装置
１２ 第一部材
１４ 第二部材
１６ 対象物
１８ 接合部
２０ 接続構造部
２２ 第一接触部
２４ 第二接触部
２６ 共用接触部
５０ 測定部
５０ａ 第一測定部
５０ｂ 第二測定部
５４ 電圧測定部
６０ 切替部
１００ 処理部
１１０ 記憶部
１３０ 測定制御部
１３２ 温度取得部
１３４ 演算部
１４０ 第一情報
１５０ 第二情報
Ｒ_Ａ 第一抵抗値
Ｒ_Ａ０ 基準抵抗値
Ｒ_Ｂ 第二抵抗値
ｔ_０ 基準温度
ｔ_１ 所定温度

Claims (13)

1. 第一部材と第二部材とが互いに接合された対象物において予め定められた基準温度での接合部の基準抵抗値を測定する抵抗測定装置であって、
   前記第一部材及び前記第二部材にそれぞれ接触する組をなす第一接触部、及び前記第二部材のうち互いに異なる箇所に接触する組をなす第二接触部を備えた接続構造部と、
   前記組をなす第一接触部間の抵抗値及び前記組をなす第二接触部間の抵抗値を測定するための測定部と、
   前記組をなす第二接触部間の抵抗値と前記接合部の温度との関係を示す情報を記憶する記憶部と、
   前記測定部によって前記組をなす第一接触部間の第一抵抗値を測定する状態、及び前記組をなす第二接触部間の第二抵抗値を測定する状態を形成する測定制御部と、
   測定した前記第二抵抗値と前記記憶部に記憶された前記情報とに基づいて前記接合部の温度を取得する温度取得部と、
   取得した前記接合部の温度と測定した前記第一抵抗値とに基づいて前記基準抵抗値を演算する演算部と、
   を備えた抵抗測定装置。
2. 請求項１に記載の抵抗測定装置であって、
   前記組をなす第一接触部を前記測定部に接続する第一接続状態と、前記組をなす第二接触部を前記測定部に接続する第二接続状態と、を選択的に切り替える切替部をさらに備え、
   前記測定制御部は、前記切替部を前記第一接続状態に制御して前記測定部で前記第一抵抗値を測定する状態を形成し、前記切替部を前記第二接続状態に制御して前記測定部で前記第二抵抗値を測定する状態を形成する、
   抵抗測定装置。
3. 請求項２に記載の抵抗測定装置であって、
   前記組をなす第一接触部のうち前記第二部材に接触する一方の第一接触部は、前記組をなす第二接触部のうちの一方の第二接触部と共用される、
   抵抗測定装置。
4. 請求項３に記載の抵抗測定装置であって、
   前記記憶部は、前記第一抵抗値と当該第一抵抗値を測定したときの前記接合部の温度とに基づいて前記基準抵抗値を演算する演算式を記憶し、
   前記演算部は、取得した前記接合部の温度と、測定した前記第一抵抗値と、前記記憶部に記憶された前記演算式と、に基づいて前記基準抵抗値を演算する、
   抵抗測定装置。
5. 請求項４に記載の抵抗測定装置であって、
   前記測定制御部は、
   前記切替部の接続状態を交互に切り替えて前記第一抵抗値を測定する前後に前記第二抵抗値を測定し、
   前記温度取得部は、
   前記記憶部に記憶された前記情報を参照することにより、前記第一抵抗値を測定する直前に測定した前記第二抵抗値と前記第一抵抗値を測定する直後に測定した前記第二抵抗値との関係に基づいて、前記第一抵抗値を測定したときの前記接合部の温度を推定して取得する、
   抵抗測定装置。
6. 請求項５に記載の抵抗測定装置であって、
   前記第一抵抗値を測定する直前に測定した前記第二抵抗値と前記第一抵抗値を測定する直後に測定した前記第二抵抗値との関係は、前記第一抵抗値を測定する前後に測定した前記第二抵抗値の平均値であり、
   前記温度取得部は、前記第二抵抗値の平均値を取得すると、前記記憶部に記憶された前記情報を参照して、当該平均値に対応する前記接合部の温度を、前記第一抵抗値を測定したときの前記接合部の温度として取得する、
   抵抗測定装置。
7. 請求項１に記載の抵抗測定装置であって、
   前記測定部は、前記組をなす第一接触部間の抵抗値を測定する第一測定部と、前記組をなす第二接触部間の抵抗値を測定する第二測定部と、を含み、
   前記測定制御部は、
   前記第一測定部及び前記第二測定部を交互に作動して前記第一抵抗値を測定する前後に前記第二抵抗値を測定し、
   前記温度取得部は、
   前記記憶部に記憶された前記情報を参照することにより、前記第一抵抗値を測定する直前に測定した前記第二抵抗値と前記第一抵抗値を測定する直後に測定した前記第二抵抗値との平均値に基づいて、前記第一抵抗値を測定したときの前記接合部の温度を推定して取得する、
   抵抗測定装置。
8. 請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の抵抗測定装置であって、
   取得した複数の前記第一抵抗値及び複数の前記第二抵抗値の関係を時系列に示すデータに基づいて、前記接合部の抵抗温度係数を算出する係数算出部をさらに備える抵抗測定装置。
9. 第一部材と第二部材とが互いに接合された対象物において予め定められた基準温度での接合部の基準抵抗値を測定する抵抗測定方法であり、
   前記第一部材及び前記第二部材にそれぞれ接触する組をなす第一接触部、及び前記第二部材のうち互いに異なる箇所に接触する組をなす第二接触部を備え、
   前記組をなす第一接触部間の抵抗値及び前記組をなす第二接触部間の抵抗値を測定部によって測定する工程と、
   前記組をなす第一接触部を前記測定部に接続する第一接続状態と、前記組をなす第二接触部を前記測定部に接続する第二接続状態と、を選択的に切り替える工程と、
   前記組をなす第二接触部間の抵抗値と前記接合部の温度との関係を示す情報を記憶する工程と、
   を実行する抵抗測定方法であって、
   前記組をなす第一接触部間の第一抵抗値を測定し、前記組をなす第二接触部間の第二抵抗値を測定する測定制御工程と、
   測定した前記第二抵抗値と記憶した前記情報とに基づいて前記接合部の温度を取得する温度取得工程と、
   取得した前記接合部の温度と測定した前記第一抵抗値とに基づいて前記基準抵抗値を演算する演算工程と、
   を備えた抵抗測定方法。
10. 請求項９に記載の抵抗測定方法であって、
    前記第二抵抗値と前記接合部の温度との関係を示す第一情報を取得する第一情報取得工程と、
    前記第二接続状態にして、前記測定部によって前記第二抵抗値を測定する事前第一測定工程と、
    前記事前第一測定工程の後に前記第一接続状態に切り替えて、前記測定部によって前記第一抵抗値を測定する事前第二測定工程と、
    前記事前第二測定工程の後に前記第二接続状態に切り替えて、前記測定部によって前記第二抵抗値を測定する事前第三測定工程と、
    前記事前第一測定工程で測定した前記第二抵抗値と前記事前第三測定工程で測定した前記第二抵抗値との二値を少なくとも用いて、前記事前第二測定工程で前記第一抵抗値を測定したときの前記第二接触部間の抵抗値を前記第二抵抗値として推定する事前推定工程と、
    を備える抵抗測定方法。
11. 請求項１０に記載の抵抗測定方法であって、
    前記事前推定工程で推定した前記第二抵抗値と前記第一情報とに基づいて、前記事前第二測定工程で前記第一抵抗値を測定したときの前記接合部の温度を取得する事前温度取得工程と、
    前記第一抵抗値と前記接合部の温度との関係を示す第二情報に基づいて前記接合部の抵抗温度係数を演算する抵抗温度係数演算工程と、
    前記抵抗温度係数演算工程で取得した前記接合部の抵抗温度係数と前記基準温度とに基づいて前記基準抵抗値を演算する演算式を記憶する式記憶工程と、
    を備える抵抗測定方法。
12. 請求項１０に記載の抵抗測定方法であって、
    前記第一情報取得工程は、
    前記対象物を所定温度にした状態で前記第二接続状態にして、前記測定部によって前記第二抵抗値を測定する所定温度測定工程と、
    前記所定温度測定工程で測定した前記第二抵抗値と前記所定温度と前記第二部材の抵抗温度係数と前記基準温度とに基づいて前記第一情報を生成する情報生成工程と、
    を備える抵抗測定方法。
13. 請求項１０から請求項１２のいずれか一項に記載の抵抗測定方法であって、
    前記事前第一測定工程乃至前記事前第三測定工程は、前記第一部材と前記第二部材とが互いに接合された前記接合部を冷却する期間に取得される、
    抵抗測定方法。

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