JP2024032350A - Visual inspection device and visual inspection method - Google Patents

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育彦 榊原
Ikuhiko Sakakibara
倖大 山本
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Abstract

To provide a visual inspection device and a visual inspection method that can stably detect flaws and other defects without detecting them as contamination.SOLUTION: A visual inspection device includes a bright-field illuminator, a dark-field illuminator, dimming means for adjusting the light intensity of the illumination of the bright-field illuminator and the light intensity of the illumination of the dark-field illuminator, imaging means for imaging the surface of a workpiece, and image processing means for creating a condition that eliminates contamination from the image by controlling the light intensity of the contamination to be the same as the light intensity of a normal area by adjusting the light intensity ratio between the illumination of the bright-field illuminator and the illumination of the dark-field illuminator by the dimming means.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、外観検査装置および外観検査方法に関する。 The present invention relates to a visual inspection device and a visual inspection method.

軸受部品を生産する場合、その製品(ワーク)に傷を有さないか異物が付着しているかの検査として外観検査方法がある。この検査方法として、画像処理にて行う方法がある。画像処理によるワークの外観検査では、洗浄液を用いてワークの汚れを落とした後に洗浄液を乾燥させてから、検査を行う場合がある。 When producing bearing parts, there is a visual inspection method to check whether the product (work) has any flaws or foreign matter attached to it. As this inspection method, there is a method using image processing. In visual inspection of a workpiece by image processing, the inspection may be performed after removing dirt from the workpiece using a cleaning liquid and then drying the cleaning liquid.

このような場合に、洗浄液中の残留成分が蒸発せずに汚れとして残った場合、欠陥として誤検出してしまう可能性がある。この誤検出を回避する手段としては、従来には、特許文献1に記載のように、画像における欠陥の濃度と汚れの濃度の違いを利用する方法がある。この場合、被検査面の照度を異ならせて、暗い照度に対応する第1の画像情報と、明るい照度に対応する第2の画像情報を取得し、そして、これらの画像情報の濃度差が所定値よりも小さいときに、欠陥ありと判定するものである。 In such a case, if the residual components in the cleaning liquid do not evaporate and remain as dirt, there is a possibility that they will be erroneously detected as a defect. As a means for avoiding this erroneous detection, there is a conventional method that utilizes the difference between the density of defects and the density of dirt in an image, as described in Patent Document 1. In this case, the illuminance of the surface to be inspected is varied to obtain first image information corresponding to dark illuminance and second image information corresponding to bright illuminance, and the density difference between these image information is set to a predetermined value. When it is smaller than the value, it is determined that there is a defect.

特開2002-116153号公報Japanese Patent Application Publication No. 2002-116153

前記特許文献1に記載されたものでは、キズ等の欠陥と汚れでは、照度による濃度変化が一定でないことが前提となっている。しかしながら、欠陥と汚れで、照度による濃度変化が一定の場合もある。このように、一定である場合、欠陥と汚れとを区別することができない。 The technique described in Patent Document 1 is based on the premise that density changes due to illuminance are not constant for defects such as scratches and stains. However, due to defects and dirt, there are cases where the density change due to illuminance is constant. Thus, if it is constant, it is not possible to distinguish between defects and dirt.

また、同一の位置条件で低照度と高照度の二つの画像を撮像する必要があり、動体の外観検査が不可である。しかも、同一の位置条件で低照度と高照度の二つの画像を撮像する場合、同時に行うことができず、作業時間が大となる欠点もあった。 Furthermore, it is necessary to capture two images of low illumination and high illumination under the same positional conditions, making it impossible to inspect the appearance of a moving object. Moreover, when capturing two images of low illuminance and high illuminance under the same positional conditions, it is impossible to do so at the same time, which has the drawback of requiring a large amount of work time.

そこで、本発明は、上記課題に鑑みて、洗浄液中の残留成分の汚れをキズ等の欠陥と誤検出することなく、キズ等の欠陥を安定して検出することができる外観検査装置および外観検査方法を提供するものである。 SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above-mentioned problems, the present invention provides an appearance inspection device and an appearance inspection device that can stably detect defects such as scratches without erroneously detecting stains from residual components in a cleaning liquid as defects such as scratches. The present invention provides a method.

本発明の外観検査装置は、ワーク表面の外観を検査する外観検査装置であって、前記ワーク表面に明視野用の光を照射する明視野照明器と、前記ワーク表面に暗視野用の光を照射する暗視野照明器と、前記明視野照明器の照明の光量と暗視野照明器の照明の光量との調整を行う調光手段と、前記各照明器にて照明されているワーク表面を撮像する撮像手段と、明視野照明器の照明と暗視野照明器の照明との光量比を前記調光手段にて調整して、汚れの光量と正常部の光量とを同じとしてこの汚れを画像から消去する状態を作る画像処理手段とを備え、前記画像処理手段にて決定された、汚れが正常部と同じ光量にて、ワーク表面を検査するものである。 The appearance inspection device of the present invention is an appearance inspection device for inspecting the appearance of the surface of a workpiece, and includes a brightfield illuminator that irradiates the workpiece surface with brightfield light, and a brightfield illuminator that irradiates the workpiece surface with darkfield light. a dark-field illuminator for illumination, a dimming means for adjusting the amount of illumination of the bright-field illuminator and the amount of illumination of the dark-field illuminator, and imaging a workpiece surface illuminated by each of the illuminators. The dirt is removed from the image by adjusting the light amount ratio between the illumination of the bright field illuminator and the illumination of the dark field illuminator using the light control means to make the light amount of the dirt the same as the light amount of the normal area. and an image processing means for creating a state to be erased, and the surface of the workpiece is inspected with the same light intensity as that of a normal area determined by the image processing means.

本発明の外観検査装置によれば、汚れの光量と正常部の光量とを同じとしてこの汚れを画像から消去する状態の光量にて、ワーク表面を検査するので、汚れが消された状態で、欠陥を観察することになる。 According to the appearance inspection apparatus of the present invention, the workpiece surface is inspected at a light intensity that erases the dirt from the image by making the light intensity of the dirt and the normal part the same, so that the surface of the workpiece is inspected with the light intensity that erases the dirt from the image. Defects will be observed.

明視野照明器がドーム照明で構成できる。ドーム照明とは、例えば、内面が凹曲面とされたドーム天板を備え、このドーム天板に照明を反射させ、光を平均的に照射させる照明である。また、暗視野照明器がローアングルリング照明で構成できる。ローアングルリング照明は、ワークに対してローアングルから均一拡散光を中心部に照射する照明である。 A bright field illuminator can be configured with a dome illuminator. Dome lighting is, for example, lighting that includes a dome top plate whose inner surface is a concave curved surface, and that reflects illumination onto the dome top plate to irradiate the light evenly. Further, the dark field illuminator can be configured with a low angle ring illumination. Low-angle ring lighting is lighting that irradiates a workpiece with uniformly diffused light from a low angle to the center.

前記画像処理手段は、撮像された画像に対して、2値化しきい値に応じて白黒の2値化に変換し、黒い部分の塊の面積が所定以上の部分を抽出するブロブ処理にて暗部の抽出を行うように構成できる。このように構成することによって、汚れ以外のキズを安定して検出することができる。 The image processing means converts the captured image into black and white binarization according to a binarization threshold, and performs blob processing to extract a part where the area of a black part is larger than a predetermined area. can be configured to extract With this configuration, it is possible to stably detect scratches other than dirt.

本発明の外観検査方法は、ワーク表面の外観を検査する外観検査方法であって、前記ワーク表面に明視野用の光を照射する明視野照明工程と、前記ワーク表面に暗視野用の光を照射する暗視野照明工程と、前記明視野工程の照明の光量と暗視野照明工程の照明の光量との調整を行う調光工程と、前記各照明器にて照明されているワーク表面を撮像する撮像工程と、前記調光工程にて、明視野照明器の照明と暗視野照明器の照明との光量比を調整して、汚れの光量と正常部の光量とを同じとしてこの汚れを画像から消去する画像処理工程と、画像処理工程にて決定された、汚れが正常部と同じ光量にて、ワーク表面を検査する検査工程とを備えたものである。 The appearance inspection method of the present invention is an appearance inspection method for inspecting the appearance of a workpiece surface, and includes a brightfield illumination step of irradiating the workpiece surface with brightfield light, and a brightfield illumination step of irradiating the workpiece surface with darkfield light. a dark-field illumination step for irradiating, a dimming step for adjusting the amount of illumination in the bright-field step and the amount of illumination in the dark-field illumination step, and imaging the work surface illuminated by each of the illuminators. In the imaging process and the dimming process, the light intensity ratio between the illumination of the bright field illuminator and the illumination of the dark field illuminator is adjusted to make the light intensity of the stain the same as that of the normal area, and remove this stain from the image. This process includes an image processing step for erasing the stain, and an inspection step for inspecting the surface of the workpiece using the same light intensity as that for a normal area determined in the image processing process.

本発明の外観検査方法によれば、汚れの光量と正常部の光量とを同じとしてこの汚れを画像から消去する状態の光量にて、ワーク表面を検査するので、汚れが消された状態で、欠陥を観察することになる。 According to the appearance inspection method of the present invention, the workpiece surface is inspected at a light intensity that erases the dirt from the image by making the light intensity of the dirt the same as the light intensity of the normal area. Defects will be observed.

前記明視野照明工程と前記暗視野照明工程とを同時に行って、明視野照明と暗視野照明の両者を点灯させて撮像した画像を前記検査工程で用いるものであってもよい。このように同時に行う場合、外観観察を短時間に行うことができ、さらには、ワーク側が移動するものであっても対応できる。 The bright field illumination step and the dark field illumination step may be performed simultaneously, and an image taken with both the bright field illumination and the dark field illumination turned on may be used in the inspection step. When performing these operations simultaneously in this manner, the external appearance can be observed in a short time, and furthermore, it can be used even if the workpiece side is moving.

前記暗視野照明工程での暗視野照明を消灯した状態で前記明視野照明工程での明視野照明を点灯して撮像された画像と、前記明視野照明工程での明視野照明を消灯した状態で前記暗視野照明工程での暗視野照明を点灯して撮像された画像との、ピクセル毎の輝度値を加算して、明視野照明工程での明視野照明と暗視野照明工程での暗視野照明とを同時に点灯させた場合と同等の画像を生成して、この画像を前記検査工程で用いるものであってもよい。 An image captured with the bright field illumination in the bright field illumination step turned on with the dark field illumination in the dark field illumination step turned off, and an image taken with the bright field illumination in the bright field illumination step turned off. The bright-field illumination in the bright-field illumination step and the dark-field illumination in the dark-field illumination step are obtained by adding the brightness values of each pixel with the image captured with the dark-field illumination turned on in the dark-field illumination step. An image equivalent to that obtained when both are turned on at the same time may be generated, and this image may be used in the inspection step.

外観検査装置及び外観検査方法で外観の検査を行うワークは、例えば、洗浄液を用いて洗浄して、その洗浄液を乾燥させたものである。このように、洗浄液(例えば、洗浄水)を使用すれば、洗浄液中の残留成分が蒸発せずに汚れとして残る場合が多い。しかしながら、本外観検査装置を用いた外観検査や外観検査方法での外観検査では、このような汚れをキズ等の欠陥と認識することがなく、安定した外観検査を行うことができ、本外観検査装置及び外観検査方法での外観検査に適したものとなる。 The workpiece whose appearance is inspected by the appearance inspection device and the appearance inspection method is, for example, one that has been cleaned using a cleaning liquid and then dried with the cleaning liquid. As described above, when a cleaning liquid (for example, cleaning water) is used, residual components in the cleaning liquid often do not evaporate and remain as stains. However, in the appearance inspection using this appearance inspection device or the appearance inspection using the appearance inspection method, such dirt is not recognized as a defect such as a scratch, and stable appearance inspection can be performed. This makes it suitable for visual inspection using equipment and visual inspection methods.

画像処理によるワーク表面の欠陥検出を行う際に、汚れの誤検出による廃棄品や再検査品を低減させることができ、生産性の向上に寄与する。 When detecting defects on the surface of a workpiece using image processing, it is possible to reduce the number of products to be discarded or re-inspected due to erroneous detection of dirt, contributing to improved productivity.

本発明に係る外観検査装置の全体簡略図である。1 is an overall simplified diagram of a visual inspection device according to the present invention. 検査対処のワークを示す簡略斜視図である。FIG. 2 is a simplified perspective view showing a workpiece to be inspected. 明視野照明による反射の説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of reflection due to bright field illumination. 暗視野照明による反射の説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of reflection due to dark field illumination. 本発明に係る外観検査方法のフローチャート図である。FIG. 2 is a flowchart of a visual inspection method according to the present invention. 各種照明での欠陥と汚れを示す画像図である。FIG. 3 is an image diagram showing defects and stains under various types of illumination. 光量の変化による汚れを示す画像図である。FIG. 3 is an image diagram showing stains caused by changes in light amount. ワークを観察した際の画像図を示し、(a)は明視野照明による画像図であり、(b)は明視野用の照明及び暗視野用の照明による画像図である。The images obtained when observing the workpiece are shown; (a) is an image obtained by bright-field illumination, and (b) is an image obtained by bright-field illumination and dark-field illumination.

以下本発明の実施の形態を図1~図8に基づいて説明する。図1は、本発明に係る外観観察装置を示し、この外観観察装置は、例えば、洗浄液(例えば、水)を用いてワーク2(図2参照)を洗浄した後、洗浄液を乾燥させ、その後、ワーク表面2aの外観検査を行うものである。ワーク2としては、この場合、平板リング体であるスラスト軸受の軌道輪であり、外観観察装置は、このような、スラスト軸受の軌道輪の外観検査(欠陥検査)を行うものである。この場合の欠陥検査とは、キズやへこみ等の欠陥を検出するための検査である。 Embodiments of the present invention will be described below based on FIGS. 1 to 8. FIG. 1 shows an appearance observation apparatus according to the present invention, and this appearance observation apparatus, for example, cleans a workpiece 2 (see FIG. 2) using a cleaning liquid (e.g., water), dries the cleaning liquid, and then, This is to perform an external appearance inspection of the workpiece surface 2a. In this case, the workpiece 2 is a bearing ring of a thrust bearing, which is a flat ring body, and the appearance observation device performs an appearance inspection (defect inspection) of such a bearing ring of a thrust bearing. The defect inspection in this case is an inspection for detecting defects such as scratches and dents.

外観観察装置は、ワーク2が載置保持される測定台(載置台)1と、この載置台1上のワーク2の被検査面であるワーク表面2aを照らす照明系3と、照明系3に照らされたワーク表面2aの撮像を行う撮像手段4を備えたものである。照明系3としては、ワーク表面2aに明視野用の光を照射する明視野照明器3aと、ワーク表面2aに暗視野用の光を照射する暗視野照明器3bとを備えものである。 The external appearance observation device includes a measurement table (mounting table) 1 on which a workpiece 2 is placed and held, an illumination system 3 that illuminates a workpiece surface 2a, which is a surface to be inspected, of the workpiece 2 on this mounting table 1, and an illumination system 3. It is equipped with an imaging means 4 that takes an image of the illuminated work surface 2a. The illumination system 3 includes a bright field illuminator 3a that irradiates bright field light onto the work surface 2a, and a dark field illuminator 3b that irradiates dark field light onto the work surface 2a.

明視野照明器3aは、この場合、いわゆるドーム照明を用いている。図例のドーム照明は、内面反射型のドーム照明であり、内面が凹曲面(反射面)10aとされたドーム10と、このドーム10の下方開口部の内部側に、周方向沿って配設される複数個のLED11とを備えたものである。この場合、LED11からの照明光をドーム内面10aに当てて、このドーム内面10aによって反射された反射光をワーク表面2aに当てるものである。 In this case, the bright field illuminator 3a uses so-called dome illumination. The dome lighting shown in the figure is an internal reflection type dome lighting, and includes a dome 10 whose inner surface is a concave curved surface (reflection surface) 10a, and is arranged along the circumferential direction inside the lower opening of this dome 10. It is equipped with a plurality of LEDs 11. In this case, the illumination light from the LED 11 is applied to the dome inner surface 10a, and the reflected light reflected by the dome inner surface 10a is applied to the workpiece surface 2a.

また、暗視野照明器3bは、ローアングル照明を用いている。ローアングル照明は、低いアングルからワーク2のエッジに照射できるものであり、ドーム照明の下方位置に配設される。このローアングル照明は、リング形状の本体枠12と、本体枠12の内周側傾斜面に周方向に沿って配設される複数のLED(図示省略)とを備えたものである。なお、内周側傾斜面は、上方から下方に向かって拡径する傾斜面である。 Further, the dark field illuminator 3b uses low angle illumination. The low-angle illumination can illuminate the edge of the workpiece 2 from a low angle, and is placed below the dome illumination. This low-angle illumination includes a ring-shaped main body frame 12 and a plurality of LEDs (not shown) disposed along the circumferential direction on the inner peripheral side inclined surface of the main body frame 12. Note that the inner peripheral side inclined surface is an inclined surface whose diameter increases from above to below.

撮像手段4は、この実施形態では、エリアカメラ(エリアセンサカメラ、エリアスキャンカメラ)13を用いている。ここで、エリアセンサとは、撮像素子は縦横に並ぶ、二次元的に画像(面状の像)の撮影ができるカメラである。 In this embodiment, the imaging means 4 uses an area camera (area sensor camera, area scan camera) 13. Here, the area sensor is a camera in which image pickup elements are arranged vertically and horizontally and can capture two-dimensional images (planar images).

明視野照明器3aの照明光および暗視野照明器3bの照明光は、調光手段(調光コントローラ:調光器)15によって調光される。ここで、調光とは、光の明るさを調整することであり、調光器には、PWM制御方式、位相制御方式、及びデジタル制御方式等がある。PWM(Pulse Width Modulation)制御方式とは、パルス変調を利用した調光制御システムであり、オンとオフの繰り返しスイッチングを行い、出力する電力を制御するものである。すなわち、LEDの点灯時間と消灯時間をコントロールするごとに光の明るさを調整するものである。また、位相制御方式とは、フィラメントに電圧を与える発熱を光に変換する方式であり、トライアックで交流電源の波長の一部を切断することで、明るさを調整する。デジタル制御方式とは、調光器から照明器具へデジタル信号を送って制御する方式で、電源線とデジタル制御用の信号線の2つが必要となるが、デジタルで制御するため、高度調光が可能となる。 The illumination light of the bright field illuminator 3 a and the illumination light of the dark field illuminator 3 b are dimmed by a dimming means (dimmer controller: dimmer) 15 . Here, dimming refers to adjusting the brightness of light, and dimmers include a PWM control method, a phase control method, a digital control method, and the like. The PWM (Pulse Width Modulation) control system is a dimming control system that uses pulse modulation, and controls output power by repeatedly switching on and off. In other words, the brightness of the light is adjusted each time the lighting time and extinguishing time of the LED are controlled. The phase control method is a method that converts the heat generated by applying voltage to the filament into light, and adjusts the brightness by cutting off part of the wavelength of the AC power source with a triac. The digital control method is a method that sends digital signals from the dimmer to the lighting equipment to control it, and requires two power lines and a signal line for digital control, but because it is digitally controlled, advanced dimming is possible. It becomes possible.

このため、調光手段15としては、PWM制御方式、位相制御方式、及びデジタル制御方式のいずれであってもよい。 Therefore, the dimming means 15 may be of any one of a PWM control method, a phase control method, and a digital control method.

また、撮像手段4を構成するカメラ13には、画像処理手段18を構成する演算装置16が接続される。ところで、照明系3、撮像手段4、調光手段15、及び画像処理手段18等はコンピュータにて制御(コンピュータ制御)される。ここで、コンピュータは、基本的には、入力機能を備えた入力手段と、出力機能を備えた出力手段と、記憶機能を備えた記憶手段と、演算機能を備えた演算手段と、制御機能を備えた制御手段にて構成される。入力機能は、外部からの情報を、コンピュータに読み取るためのものであって、読み込まれたデータやプログラムは、コンピュータシステムに適した形式の信号に変換される。出力機能は、演算結果や保存されているデータなどを外部に表示するものである。記憶手段は、プログラムやデータ、処理結果などを記憶して保存するものである。演算機能は、データをプログラムの命令に随って、計算や比較して処理するものである。制御機能は、プログラムの命令を解読し、各手段に指示を出すものであり、この制御機能はコンピュータの全手段の統括をする。入力手段には、キーボード、マウス、タブレット、マイク、ジョイスティック、スキャナ、キャプチャーボード等がある。また、出力手段には、モニタ、スピーカー、プリンタ等がある。記憶手段には、メモリ、ハードディスク、CD・CD-R,PD・MO等がある。演算手段には、CPU等があり、制御手段には、CPUやマザーボード等がある。この場合、モニタとして表示装置17が図示されている。 Furthermore, the camera 13 that constitutes the imaging means 4 is connected to the arithmetic unit 16 that constitutes the image processing means 18 . By the way, the illumination system 3, the imaging means 4, the light control means 15, the image processing means 18, etc. are controlled by a computer (computer control). Here, a computer basically includes an input means with an input function, an output means with an output function, a storage means with a memory function, a calculation means with a calculation function, and a control function. It is composed of a control means provided. The input function is for reading information from the outside into the computer, and the read data or program is converted into a signal in a format suitable for the computer system. The output function is to display calculation results, stored data, etc. externally. The storage means stores and saves programs, data, processing results, and the like. Arithmetic functions process data by calculating and comparing data in accordance with program instructions. The control function decodes the instructions of the program and issues instructions to each means, and this control function oversees all means of the computer. Input means include a keyboard, mouse, tablet, microphone, joystick, scanner, capture board, etc. Furthermore, output means include a monitor, speaker, printer, etc. Storage means include memory, hard disk, CD/CD-R, PD/MO, etc. The calculation means includes a CPU, and the control means includes a CPU, a motherboard, and the like. In this case, a display device 17 is shown as a monitor.

明視野照明器3aからワーク2に照明光L1を照射した場合の反射光L2を、図3に示す。ワーク表面2aが正常面(欠陥や汚れが無く平坦面)である場合、ワーク2の上方から、ワーク2に向けて照明光L1を照射した場合、図3(a)に示すように、ワーク表面2aからその反射光L2が上方に向けて反射され、多くの反射光L2はカメラ13に入光する。このため、正常面の画像は明るい状態となる。 FIG. 3 shows reflected light L2 when the workpiece 2 is irradiated with the illumination light L1 from the bright field illuminator 3a. When the workpiece surface 2a is a normal surface (a flat surface with no defects or dirt), when the illumination light L1 is irradiated from above the workpiece 2, the workpiece surface will change as shown in FIG. 3(a). The reflected light L2 is reflected upward from 2a, and much of the reflected light L2 enters the camera 13. Therefore, the image of the normal surface will be in a bright state.

また、図3(b)に示すように、ワーク表面2aに欠陥d1(図例では、断面V字形状の凹所のキズ)を有する場合、ワーク2の上方から、ワーク2に向けて照明光L1を照射した場合、欠陥d1にて、斜め上方に反射され、多くの反射光L2はカメラに入光しないことになる。すなわち、カメラ方向への反射光量が減少することになって、欠陥d1の画像が暗く映ることになる。 Further, as shown in FIG. 3(b), when the workpiece surface 2a has a defect d1 (in the example shown, a flaw in a recess with a V-shaped cross section), the illumination light is directed toward the workpiece 2 from above the workpiece 2. When the light L1 is irradiated, it is reflected diagonally upward at the defect d1, and much of the reflected light L2 does not enter the camera. That is, the amount of reflected light toward the camera is reduced, and the image of the defect d1 appears dark.

また、図3(c)に示すように、ワーク表面2aに汚れd2(洗浄液中の残留成分が蒸発せずに残った汚れ)を有する場合、ワーク2の上方から、ワーク2に向けて照明光L1を照射した場合、汚れd2に入射した照明光L1は、あらゆる方向に反射され、カメラ方向への反射光L2が減少し、汚れd2部分の画像が暗くなる。 Further, as shown in FIG. 3(c), when the workpiece surface 2a has dirt d2 (stains remaining without evaporation of residual components in the cleaning liquid), the illumination light is directed toward the workpiece 2 from above the workpiece 2. When the illumination light L1 is irradiated, the illumination light L1 incident on the dirt d2 is reflected in all directions, the reflected light L2 toward the camera is reduced, and the image of the dirt d2 becomes dark.

暗視野照明器3bからワーク2に照明光を照射した場合の反射光L2を、図4に示す。ワーク表面2aが正常面(欠陥や汚れが無く平坦面)である場合、図4(a)に示すように、ワーク表面2aに対して小さな角度からの照明光L1が正常面に当たれば、反射光L2はカメラの方向と大きくずれた方向に反射するため、正常面の画像は暗くなる。 FIG. 4 shows reflected light L2 when the workpiece 2 is irradiated with illumination light from the dark field illuminator 3b. When the workpiece surface 2a is a normal surface (a flat surface with no defects or dirt), as shown in FIG. Since the light L2 is reflected in a direction largely shifted from the direction of the camera, the image of the normal surface becomes dark.

図4(b)に示すように、ワーク表面2aにキズなどの欠陥d1が存在する場合、ワーク表面2aに対して小さな角度から欠陥d1部分に入射された照明光L1の多くはカメラ方向に反射せず、カメラに入光する反射光L2は少なく、欠陥d1の光量は正常面と変わらずに暗いままとなる。 As shown in FIG. 4(b), when a defect d1 such as a scratch exists on the workpiece surface 2a, most of the illumination light L1 incident on the defect d1 from a small angle with respect to the workpiece surface 2a is reflected toward the camera. Therefore, the amount of reflected light L2 that enters the camera is small, and the amount of light on the defect d1 remains dark, the same as on the normal surface.

図4(c)に示すように、ワーク表面2aに汚れd2(洗浄液中の残留成分が蒸発せずに残った汚れ)を有する場合、ワーク表面2aに対して小さな角度からの照明光L1が汚れd2に入光されれば、汚れd2に入射した照明光L1は、あらゆる方向に乱反射され、乱反射した光の一部(反射光L2)がカメラの方向に向かうことになり、汚れd2は周辺の正常部分と比べて明るく映る。 As shown in FIG. 4(c), when the workpiece surface 2a has dirt d2 (stain remaining without evaporation of residual components in the cleaning liquid), the illumination light L1 from a small angle with respect to the workpiece surface 2a will cause the dirt to become dirty. When the illumination light L1 enters the dirt d2, it is diffusely reflected in all directions, and a part of the diffusely reflected light (reflected light L2) heads toward the camera, and the dirt d2 is reflected in the surrounding area. It appears brighter than the normal part.

すなわち、図6に示すように、正反射用(明視野用)の照明で、欠陥d1や汚れd2を観察すれば、画面全体が明るく、欠陥d1及び汚れd2が黒く映り、拡散反射用(暗視野用)の照明で、欠陥d1を観察すれば、画面全体が暗く、欠陥d1が暗く映って、欠陥d1を検出することができない。しかしながら、拡散反射用(暗視野用)の照明で、汚れを観察すれば、画面全体が暗くなっているが、汚れd2の部分は周辺の正常部と比べて明るく映る。なお、正反射用(明視野用)の照明と拡散反射用(暗視野用)の照明とを同時に行えば、後述するように、画像から消す事ができ、欠陥d1のみを検出することが可能となる。 In other words, as shown in FIG. 6, when observing the defect d1 and dirt d2 using regular reflection (bright field) illumination, the entire screen is bright, the defect d1 and dirt d2 appear black, and the diffuse reflection (dark field) illumination shows that the entire screen is bright and the defect d1 and dirt d2 appear black. If the defect d1 is observed under illumination (for visual field), the entire screen is dark and the defect d1 appears dark, making it impossible to detect the defect d1. However, when observing the dirt with diffuse reflection (dark field) illumination, although the entire screen is dark, the part of the dirt d2 appears brighter than the surrounding normal area. Note that if the illumination for specular reflection (bright field) and the illumination for diffuse reflection (dark field) are performed at the same time, they can be erased from the image and only defect d1 can be detected, as described later. becomes.

次に、図1に示す外観検査装置を用いた外観検査方法を、図5を用いて説明する。まず明視野照明工程S1と、暗視野照明工程S2とを同時に行う。明視野照明工程S1とは、ワーク表面に明視野用の光を照射する工程であり、暗視野照明工程とは、ワーク表面に暗視野用の光を照射する工程である。 Next, a visual inspection method using the visual inspection apparatus shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG. 5. First, a bright field illumination step S1 and a dark field illumination step S2 are performed simultaneously. The bright field illumination step S1 is a step of irradiating the work surface with bright field light, and the dark field illumination step is a step of irradiating the work surface with dark field light.

明視野用の照明と暗視野用の照明を同時に点灯させた場合、汚れd2では明視野用の照明からの反射光L2は減少し、暗視野用の照明からの反射光L2は増加することとなる。そこで、明視野用の反射光L2の減少量と暗視野用の反射光の増加量が等しくなるように、ワーク表面2aを撮像手段4にて撮像しつつ(撮像工程3を行いつつ)、明視野用の照明と暗視野用の照明の光量比を調整する(調光工程S4を行う)。これによって、図6の(正反射用+拡散反射用)(明視野用+暗視野用)に示すように、汚れd2が正常部と同じ光量となり、画像から消す事ができる。一方、欠陥d1は明視野用の照明と暗視野用の照明を同時に点灯させた場合でも暗く残る為、結果として欠陥d1のみを検出することが可能となる。 When the bright-field illumination and the dark-field illumination are turned on at the same time, the reflected light L2 from the bright-field illumination decreases and the reflected light L2 from the dark-field illumination increases in the case of dirt d2. Become. Therefore, while imaging the workpiece surface 2a with the imaging means 4 (while performing the imaging step 3), so that the amount of decrease in the reflected light L2 for bright field and the amount of increase in the reflected light for dark field are equal, The light intensity ratio between the visual field illumination and the dark field illumination is adjusted (light adjustment step S4 is performed). As a result, as shown in (specular reflection + diffuse reflection) (bright field + dark field) in FIG. 6, the stain d2 has the same amount of light as the normal area, and can be erased from the image. On the other hand, since the defect d1 remains dark even when the bright field illumination and the dark field illumination are turned on at the same time, it is possible to detect only the defect d1 as a result.

すなわち、図7に示すように、光量比を適正に設定することにより、汚れd2が画像から消えた状態となり、この汚れd2が消えた状態から、暗視野用の照明の光量を明視野用の照明の光量よりも多くしていけば、汚れd2が白くなって、逆に、明視野用の照明の光量を暗視野用の照明の光量よりも多くしていけば、汚れd2が黒くなっていく。 In other words, as shown in FIG. 7, by appropriately setting the light intensity ratio, the dirt d2 disappears from the image, and from this state, the light intensity of the dark field illumination is changed to the light intensity of the bright field illumination. If the light intensity of the bright field illumination is made higher than the light intensity of the dark field illumination, the dirt d2 becomes white, and vice versa. go.

そこで、汚れd2が画像から消える状態となるように、光量比を適正に設定して、ワーク2の画像処理工程S5を行うことになる。すなわち、ワーク表面2aに明視野用の光を照射するとともに、ワーク表面2aに暗視野用の光を照射し、次の調光工程S4および画像処理工程S5に入る。この場合、撮像された画像をモニタ画面(表示装置17)で表示する。このモニタ画面を作業者が目視で確認しながら、汚れd2が見えなくなる状態となる適正な光量比となるように、調光コントローラ15にて各照明光の光量の変更を行う。そして、汚れd2が見ええなくなる状態となる適正な光量にて、ワーク表面2aの外観観察(検査工程S6)を行う。すなわち、検査工程S6として、作業者が表示装置17のモニタ画面を見て検査するものである。 Therefore, the image processing step S5 for the workpiece 2 is performed by appropriately setting the light amount ratio so that the dirt d2 disappears from the image. That is, the workpiece surface 2a is irradiated with bright-field light and the workpiece surface 2a is irradiated with dark-field light, and the next light adjustment step S4 and image processing step S5 are entered. In this case, the captured image is displayed on a monitor screen (display device 17). While visually checking this monitor screen, the operator changes the light intensity of each illumination light using the dimming controller 15 so as to achieve an appropriate light intensity ratio that makes the dirt d2 invisible. Then, the external appearance of the workpiece surface 2a is observed (inspection step S6) using an appropriate amount of light that makes the dirt d2 invisible. That is, in the inspection step S6, the operator inspects the monitor screen of the display device 17.

従来の照明で撮像された画像では、図8(a)に示すように、欠陥d1と汚れd2の両方が暗部として映り、区別をすることが出来ないが、本発明の照明で適切な光量比で撮像された画像では、図8(b)に示すように、欠陥d2のみ暗部として残る。これによって、欠陥d1を検出する検査工程S6を行うことができる。 In an image captured using conventional lighting, both the defect d1 and the dirt d2 appear as dark areas and cannot be distinguished, as shown in FIG. 8(a), but with the lighting of the present invention, an appropriate light intensity ratio In the captured image, only the defect d2 remains as a dark part, as shown in FIG. 8(b). Thereby, the inspection step S6 for detecting the defect d1 can be performed.

すなわち、このように得られた画像に対して、適切な2値化しきい値に応じて白黒の2値画像に変換した後、黒い部分の塊の面積が一定以上の部分を抽出するブロブ処理にて暗部の検出を行うことにより汚れd2を誤検出することなく、欠陥d1のみを検出することが可能である。 In other words, the image obtained in this way is converted into a black and white binary image according to an appropriate binarization threshold, and then blob processing is performed to extract areas where the area of the black part is larger than a certain value. By detecting the dark portion using the dark area, it is possible to detect only the defect d1 without erroneously detecting the stain d2.

本外観検査装置及び本外観検査方法で外観の検査を行えば、汚れd2の光量と正常部の光量とを同じとしてこの汚れd2を画像から消去する状態の光量にて、ワーク表面2aを検査するので、汚れd2が消された状態で、欠陥d1を観察することになる。このため、画像処理によるワーク表面の欠陥検出を行う際に、汚れd2の誤検出による廃棄品や再検査品を低減させることができ、生産性の向上に寄与する。 When the appearance is inspected using the present appearance inspection device and the present appearance inspection method, the workpiece surface 2a is inspected at a light intensity that erases the dirt d2 from the image by making the light intensity of the dirt d2 and the light intensity of the normal area the same. Therefore, the defect d1 is observed with the stain d2 erased. Therefore, when detecting defects on the surface of a workpiece by image processing, it is possible to reduce the number of discarded products and re-inspected products due to erroneous detection of the dirt d2, contributing to improved productivity.

画像処理手段18は、撮像された画像に対して、2値化しきい値に応じて白黒の2値化に変換し、黒い部分の塊の面積が所定以上の部分を抽出するブロブ処理にて暗部の抽出を行うように構成できる。このように構成することによって、汚れd2以外のキズ等の欠陥d1を安定して検出することができる。 The image processing means 18 converts the captured image into black and white binarization according to a binarization threshold, and performs blob processing to extract areas where the area of the black part is larger than a predetermined value. can be configured to extract With this configuration, it is possible to stably detect defects d1 such as scratches other than dirt d2.

外観検査装置及び外観検査方法で外観の検査を行うワーク2は、例えば、洗浄液を用いて洗浄して、その洗浄液を乾燥させたものである。このように、洗浄液(例えば、洗浄水)を使用すれば、洗浄液中の残留成分が蒸発せずに汚れとして残る場合が多い。しかしながら、本外観検査装置を用いた外観検査や外観検査方法での外観検査では、このような汚れd2をキズ等の欠陥d1と認識することがなくなる。このような汚れd2をキズ等の欠陥d1と認識することがなく、安定した外観検査を行うことができ、本外観検査装置及び外観検査方法での外観の検査に適したものとなる。 The workpiece 2 whose appearance is inspected by the appearance inspection device and the appearance inspection method is, for example, one that has been cleaned using a cleaning liquid and dried with the cleaning liquid. As described above, when a cleaning liquid (for example, cleaning water) is used, residual components in the cleaning liquid often do not evaporate and remain as stains. However, in the appearance inspection using the present appearance inspection apparatus or the appearance inspection using the appearance inspection method, such dirt d2 is not recognized as a defect d1 such as a scratch. Such dirt d2 is not recognized as a defect d1 such as a scratch, and a stable visual inspection can be performed, making the present visual inspection apparatus and method suitable for visual inspection.

明視野照明工程S1と暗視野照明工程S2とを同時に行って、明視野照明と暗視野照明の両者を点灯させて撮像した画像を画像処理工程S5で用いるものであれば、外観観察を短時間に行うことができ、さらには、ワーク側が移動するものであっても対応できる。 If the bright field illumination step S1 and the dark field illumination step S2 are performed simultaneously, and the image taken with both the bright field illumination and the dark field illumination turned on is used in the image processing step S5, the external appearance observation can be performed for a short time. Furthermore, it can be used even if the workpiece side is moving.

暗視野照明工程S2での暗視野照明を消灯した状態で明視野照明工程S1での明視野照明を点灯して撮像された画像と、明視野照明工程S1での明視野照明を消灯した状態で暗視野照明工程S2での暗視野照明を点灯して撮像された画像との、ピクセル毎の輝度値を加算して、明視野照明工程S1での明視野照明と暗視野照明工程S2での暗視野照明とを同時に点灯させた場合と同等の画像を生成して、この画像を検査工程S6で用いるものであってもよい。 An image taken with the dark-field illumination in the dark-field illumination step S2 turned off and the bright-field illumination turned on in the bright-field illumination step S1, and an image taken with the bright-field illumination turned off in the bright-field illumination step S1. The bright-field illumination in the bright-field illumination step S1 and the dark-field illumination in the dark-field illumination step S2 are calculated by adding the brightness values of each pixel with the image captured with the dark-field illumination turned on in the dark-field illumination step S2. An image equivalent to the case where the visual field illumination is turned on at the same time may be generated, and this image may be used in the inspection step S6.

暗視野照明工程S2での暗視野照明と、明視野照明工程S1での明視野照明とを時間的にずらせて行うものでは、暗視野照明工程S2での暗視野照明と明視野照明工程S1での明視野照明とがいずれもの照明が先であってもよい。 In the case where the dark field illumination in the dark field illumination step S2 and the bright field illumination in the bright field illumination step S1 are performed with a temporal shift, the dark field illumination in the dark field illumination step S2 and the bright field illumination in the bright field illumination step S1 are Bright field illumination may be used first.

以上、本発明の実施形態につき説明したが、本発明は前記実施形態に限定されることなく種々の変形が可能であって、例えば、本実施例ではエリアカメラ4は640×480画素のモノクロタイプのものを用いた。しかしながら、カメラの種類は本実施例の条件に限定されるものでは無く、例えば、1600×1200画素のカラータイプのエリアカメラなどを用いても良い。なお、外観検査を行う場合、一般的に、このようなエリアカメラ以外にラインカメラ(ラインセンサカメラ、ラインスキャンカメラ)がある。ここで、ラインセンサとは、撮像素子が1列で、カメラもしくはワークを移動させて、1列ずつ合成させて展開図のような画像を取り込むものである。このため、撮像手段4として、エリアカメラに替えて、ラインセンサを用いることも可能である。なお、ラインセンサを用いる場合、前記したように、ワーク側若しくはカメラ側を移動させる構成とする必要がある。すなわち、いずれか一方を固定し、他方を移動可能とすればよく、さらには、ワーク側及びカメラ側を移動させるものであってもよい。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments and can be modified in various ways. For example, in this embodiment, the area camera 4 is a monochrome type with 640 x 480 pixels. I used the one from However, the type of camera is not limited to the conditions of this embodiment, and for example, a color type area camera with 1600 x 1200 pixels may be used. Note that when performing a visual inspection, there are generally line cameras (line sensor cameras, line scan cameras) in addition to such area cameras. Here, the line sensor has a single line of image pickup elements, and captures an image like a developed view by moving a camera or a workpiece and composing the images one by one line by line. For this reason, it is also possible to use a line sensor as the imaging means 4 instead of the area camera. Note that when using a line sensor, as described above, it is necessary to have a configuration in which the work side or the camera side is moved. That is, one of them may be fixed and the other may be movable, and furthermore, the work side and the camera side may be moved.

本実施例では、明視野用の照明としてドーム照明を用いた。しかしながら、明視野用の照明は、明視野の状態を作り出すことができれば、ドーム照明に限定されるものでは無く、例えば、ハイアングルのリング照明や、同軸落射照明などを用いても良い。また、本実施例では、暗視野用の照明としてローアングルのリング照明を用いた。暗視野用の照明は、暗視野の状態を作り出すことが出来ればローアングルのリング照明に限定されるものでは無く、例えば、バー照明を用いて、ローアングルから照明光を照射しても良い。 In this example, dome illumination was used as bright field illumination. However, bright-field illumination is not limited to dome illumination as long as it can create a bright-field condition, and for example, high-angle ring illumination, coaxial epi-illumination, or the like may be used. Furthermore, in this example, low-angle ring illumination was used as dark field illumination. Dark-field illumination is not limited to low-angle ring illumination as long as it can create a dark-field condition; for example, bar illumination may be used to emit illumination light from a low angle.

本実施例では、欠陥の検出をブロブ処理(二値化処理を終えた画像を分析する手法のこと)で行っているが、暗部を検出できればブロブ処理に限定されるものではなく、例えば、暗部と明部の境界線を抽出する方法(エッジ検出処理)を用いても良い。 In this embodiment, defects are detected using blob processing (a method of analyzing images that have been binarized), but blob processing is not limited to this as long as dark areas can be detected. A method (edge detection processing) of extracting the boundary line between the bright area and the bright area may also be used.

ところで、外観検査を行うワーク2としては、実施形態には、スラスト軸受の軌道輪を記載したが、このような軌道輪に限るものでは、ボルトおよびナット等のねじ部品、歯車(ギア)、軸(シャフト)、ばね(スプリング)などの各種の機械部品であってもよいが、検査面が平坦面となっているのが好ましい。また、洗浄液としても水に限るものではなく、水以外の各種の洗浄液を使用したものであってもよく、洗浄液を使用して洗浄しないワークであってもよい。 By the way, as the workpiece 2 to be visually inspected, although the bearing ring of a thrust bearing is described in the embodiment, the bearing ring is not limited to such a bearing ring, but threaded parts such as bolts and nuts, gears, shafts, etc. The inspection surface may be a variety of mechanical parts such as a shaft or a spring, but it is preferable that the inspection surface be a flat surface. Further, the cleaning liquid is not limited to water, and various cleaning liquids other than water may be used, and the work may not be cleaned using a cleaning liquid.

また、前記実施形態では、欠陥d1として、断面V字形状の凹所のキズであったが、このような断面V字形状の凹所に限るものではなく、断面半多角面形状のものや、底面が凹曲面のものであってもよい。さらに、検査工程S6として、作業者が表示装置17のモニタ画面を見て検査するものであったが、表示装置17として、ワーク2に欠陥d1を有することを作業者に知らせることができるものであってもよい。すなわち、作業者はモニタ画面で観察することなく、欠陥d1を有することが表示されたり、欠陥d1を有することが音声で知らせたりするものであってもよい。 Further, in the above embodiment, the defect d1 is a flaw in a recess with a V-shaped cross section, but it is not limited to such a recess with a V-shaped cross section, but may be a recess with a semi-polygonal cross section, The bottom surface may be a concave curved surface. Furthermore, in the inspection step S6, the worker inspects the monitor screen of the display device 17, but the display device 17 is capable of informing the worker that the workpiece 2 has the defect d1. There may be. That is, the operator may be shown that the defect d1 exists, or may be notified by voice that the defect d1 is present, without having to observe it on the monitor screen.

2 ワーク
2a ワーク表面
3a 明視野照明器
3b 暗視野照明器
4 撮像手段
15 調光手段
18 画像処理手段
d1 欠陥
d2 汚れ
S1 明視野照明工程
S2 暗視野照明工程
S3 撮像工程
S4 調光工程
S5 画像処理工程
S6 検査工程
2 Work 2a Work surface 3a Bright field illuminator 3b Dark field illuminator 4 Imaging means 15 Light control means 18 Image processing means d1 Defect d2 Dirt S1 Bright field illumination process S2 Dark field illumination process S3 Imaging process S4 Light control process S5 Image processing Process S6 Inspection process

Claims (9)

ワーク表面の外観を検査する外観検査装置であって、
前記ワーク表面に明視野用の光を照射する明視野照明器と、
前記ワーク表面に暗視野用の光を照射する暗視野照明器と、
前記明視野照明器の照明の光量と暗視野照明器の照明の光量との調整を行う調光手段と、
前記各照明器にて照明されているワーク表面を撮像する撮像手段と、
明視野照明器の照明と暗視野照明器の照明との光量比を前記調光手段にて調整して、汚れの光量と正常部の光量とを同じとしてこの汚れを画像から消去する状態を作る画像処理手段とを備え、前記画像処理手段にて決定された、汚れが正常部と同じ光量にて、ワーク表面を検査することを特徴とする外観検査装置。
An appearance inspection device for inspecting the appearance of a workpiece surface,
a bright field illuminator that irradiates bright field light onto the work surface;
a dark field illuminator that irradiates the work surface with dark field light;
a dimming means for adjusting the amount of illumination of the bright-field illuminator and the amount of illumination of the dark-field illuminator;
imaging means for imaging the work surface illuminated by each of the illuminators;
The light intensity ratio between the illumination of the bright field illuminator and the illumination of the dark field illuminator is adjusted by the dimmer means to create a condition in which the light intensity of the dirt and the light intensity of the normal area are made the same and the dirt is erased from the image. 1. An appearance inspection apparatus comprising: an image processing means, and inspecting a workpiece surface with the same light intensity as that of a normal area determined by the image processing means.
前記明視野照明器がドーム照明であることを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。 The visual inspection apparatus according to claim 1, wherein the bright field illuminator is a dome illuminator. 前記暗視野照明器がローアングルリング照明であることを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。 The visual inspection apparatus according to claim 1, wherein the dark field illuminator is a low angle ring illuminator. 前記画像処理手段は、撮像された画像に対して、2値化しきい値に応じて白黒の2値化に変換し、黒い部分の塊の面積が所定以上の部分を抽出するブロブ処理にて暗部の抽出を行うことを特徴とする請求項1に記載の外観検査装置。 The image processing means converts the captured image into black and white binarization according to a binarization threshold, and performs blob processing to extract a part where the area of a black part is larger than a predetermined area. The external appearance inspection apparatus according to claim 1, wherein the external appearance inspection apparatus extracts the following. 外観の検査を行うワークは、洗浄液を用いて洗浄して、その洗浄液を乾燥させたものであることを特徴とする請求項1~請求項4のいずれか1項に記載の外観検査装置。 5. The appearance inspection apparatus according to claim 1, wherein the work whose appearance is to be inspected is one that has been cleaned using a cleaning liquid and dried with the cleaning liquid. ワーク表面の外観を検査する外観検査方法であって、
前記ワーク表面に明視野用の光を照射する明視野照明工程と、
前記ワーク表面に暗視野用の光を照射する暗視野照明工程と、
前記明視野工程の照明の光量と暗視野照明工程の照明の光量との調整を行う調光工程と、
前記各照明器にて照明されているワーク表面を撮像する撮像工程と、
前記調光工程にて、明視野照明器の照明と暗視野照明器の照明との光量比を調整して、 汚れの光量と正常部の光量とを同じとしてこの汚れを画像から消去する画像処理工程と、
画像処理工程にて決定された、汚れが正常部と同じ光量にて、ワーク表面を検査する検査工程とを備えたことを特徴とする外観検査方法。
An appearance inspection method for inspecting the appearance of a workpiece surface, the method comprising:
a bright field illumination step of irradiating the work surface with bright field light;
a dark field illumination step of irradiating the work surface with dark field light;
a dimming step of adjusting the light amount of the illumination in the bright field illumination step and the light amount of the illumination in the dark field illumination step;
an imaging step of imaging the work surface illuminated by each of the illuminators;
In the dimming process, image processing is performed to erase the dirt from the image by adjusting the light intensity ratio between the illumination of the bright field illuminator and the illumination of the dark field illuminator to make the light intensity of the dirt the same as that of the normal area. process and
1. An appearance inspection method comprising: an inspection step of inspecting the surface of a workpiece with the same light intensity as that of a normal section with dirt determined in an image processing step.
前記明視野照明工程と前記暗視野照明工程とを同時に行って、明視野照明と暗視野照明の両者を点灯させて撮像した画像を前記検査工程で用いることを特徴とする請求項6に記載の外観検査方法。 7. The method according to claim 6, wherein the bright-field illumination step and the dark-field illumination step are performed simultaneously, and an image taken with both the bright-field illumination and the dark-field illumination turned on is used in the inspection step. Appearance inspection method. 前記暗視野照明工程での暗視野照明を消灯した状態で前記明視野照明工程での明視野照明を点灯して撮像された画像と、前記明視野照明工程での明視野照明を消灯した状態で前記暗視野照明工程での暗視野照明を点灯して撮像された画像との、ピクセル毎の輝度値を加算して、明視野照明工程での明視野照明と暗視野照明工程での暗視野照明とを同時に点灯させた場合と同等の画像を生成して、この画像を前記検査工程で用いることを特徴とする請求項6に記載の外観検査方法。 An image captured with the bright field illumination in the bright field illumination step turned on with the dark field illumination in the dark field illumination step turned off, and an image taken with the bright field illumination in the bright field illumination step turned off. The bright-field illumination in the bright-field illumination step and the dark-field illumination in the dark-field illumination step are obtained by adding the brightness values of each pixel with the image captured with the dark-field illumination turned on in the dark-field illumination step. 7. The external appearance inspection method according to claim 6, wherein an image equivalent to that obtained when both are turned on at the same time is generated and this image is used in the inspection step. 外観の検査を行うワークは、洗浄液を用いて洗浄して、その洗浄液を乾燥させたものであることを特徴とする請求項6~請求項8のいずれか1項に記載の外観検査方法。 9. The method of visual inspection according to any one of claims 6 to 8, wherein the work whose appearance is to be inspected is one that has been cleaned using a cleaning liquid and dried with the cleaning liquid.
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