JP2024021379A - Enamelled wire and its manufacturing method - Google Patents

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Abstract

【課題】導体の外周にエナメル被膜を有するエナメル線において、エナメル被膜の膨れを防ぐことが可能なエナメル線およびその製造方法を提供する。【解決手段】純銅または銅合金からなる導体2と、導体2の周囲を覆うように設けられたエナメル被膜4と、純銅からなり、導体2とエナメル被膜4との間に設けられ、エナメル被膜4が剥離することを抑制する剥離抑制層3と、を有する、エナメル線1を用いる。【選択図】図1The present invention provides an enameled wire having an enamel coating on the outer periphery of a conductor, which can prevent the enamel coating from blistering, and a method for manufacturing the same. [Solution] A conductor 2 made of pure copper or a copper alloy, an enamel coating 4 provided to cover the periphery of the conductor 2, and an enamel coating 4 made of pure copper provided between the conductor 2 and the enamel coating 4. An enameled wire 1 is used, which has a peeling suppressing layer 3 that suppresses peeling of the wire. [Selection diagram] Figure 1

Description

本発明は、エナメル線およびその製造方法に関するものである。 The present invention relates to an enameled wire and a method for manufacturing the same.

モータのコイルなどに利用される巻線、例えばエナメル線(エナメル被覆銅線)は、近年のモータ高容量化、小型化によってさらなる高信頼性が求められている。 Winding wires used in motor coils, such as enameled wires (enamel-coated copper wires), are required to have even higher reliability as motors have increased in capacity and become smaller in recent years.

エナメル線の製造方法としては、連続鋳造圧延装置などを用いて製造された銅からなる荒引線を伸線加工した導体(以下、銅導体または導体材料ともいう。)の外周を、ポリイミドなどの樹脂からなる絶縁被膜としてのエナメル被膜により被覆することが知られている。 The method for manufacturing enamelled wire is to wire-draw a conductor (hereinafter also referred to as a copper conductor or conductor material) made of copper wire manufactured using a continuous casting and rolling machine, etc., and then coat the outer periphery of a conductor with a resin such as polyimide. It is known to cover with an enamel film as an insulating film consisting of.

特許文献1(特開2020-191249号公報)には、導電性素線を、いずれも銅からなる内側芯線とその外層とにより構成することが記載されている。 Patent Document 1 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 2020-191249) describes that a conductive wire is composed of an inner core wire and an outer layer thereof, both of which are made of copper.

特許文献2(特開平1-167906号公報)には、ジルコニウム銅合金線の表面自体にめっき皮膜がある場合に、めっき皮膜に亀裂が発生することを防ぐため、芯材の周囲を無酸素銅からなる被覆材で覆うことが記載されている。 Patent Document 2 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 1-167906) discloses that when a zirconium copper alloy wire has a plating film on the surface itself, in order to prevent cracks from occurring in the plating film, the periphery of the core material is coated with oxygen-free copper. It is described that it is covered with a covering material consisting of.

特開2020-191249号公報Japanese Patent Application Publication No. 2020-191249 特開平1-167906号公報Japanese Patent Application Publication No. 1-167906

エナメル線の表面のエナメル被膜は、銅導体の割れや傷など、銅導体の表面の性状に起因して膨れる場合がある。エナメル線の表面に膨れなどがあると、絶縁不良などが生じ、モータの信頼性の低下につながる。 The enamel coating on the surface of an enameled wire may swell due to the surface properties of the copper conductor, such as cracks or scratches on the copper conductor. If there is a bulge on the surface of the enamelled wire, poor insulation may occur, leading to a decrease in motor reliability.

本発明の目的は、エナメル被膜の膨れを防ぐことが可能なエナメル線およびその製造方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide an enameled wire that can prevent blistering of the enamel coating and a method for manufacturing the same.

本願において開示される実施の形態のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。 A brief overview of typical embodiments disclosed in this application will be as follows.

一実施の形態であるエナメル線は、純銅または銅合金からなる導体と、導体の周囲を覆うように設けられたエナメル被膜と、純銅からなり、前記導体と前記エナメル被膜との間に設けられ、前記エナメル被膜が剥離することを抑制する剥離抑制層と、を有するものである。 An enameled wire according to one embodiment includes a conductor made of pure copper or a copper alloy, an enamel coating provided to cover the periphery of the conductor, and pure copper, provided between the conductor and the enamel coating, It has a peeling prevention layer that suppresses peeling of the enamel coating.

一実施の形態であるエナメル線の製造方法は、(a)延在する荒引線を用意する工程、(b)荒引線の外周を覆う剥離抑制層を溶射法によって形成する工程、(c)荒引線および剥離抑制層を伸線することで、伸線材を形成する工程、(d)(c)工程の後、剥離抑制層の外周に塗料を塗布する工程、(e)(d)工程の後、塗料を焼付けることで、剥離抑制層の外周にエナメル被膜を形成する工程、を有するものである。 A method for manufacturing an enameled wire according to an embodiment includes (a) a step of preparing an extending rough wire, (b) a step of forming a peeling suppressing layer covering the outer periphery of the rough wire by a thermal spraying method, and (c) a step of forming a peeling prevention layer covering the outer periphery of the rough wire. A step of forming a drawn wire material by drawing the drawing wire and the peeling suppressing layer, (d) After the (c) step, a step of applying paint to the outer periphery of the peeling suppressing layer, (e) After the (d) step , a step of forming an enamel film around the outer periphery of the anti-peeling layer by baking the paint.

本願において開示される一実施の形態によれば、エナメル被膜の膨れを防ぐことが可能なエナメル線およびその製造方法を提供することができる。 According to one embodiment disclosed in this application, it is possible to provide an enameled wire that can prevent blistering of an enamel coating and a method for manufacturing the same.

実施の形態であるエナメル線を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing an enameled wire according to an embodiment. 実施の形態であるエナメル線の製造方法を示すフローである。1 is a flowchart showing a method for manufacturing an enameled wire according to an embodiment. 実施の形態であるエナメル線の製造工程において銅線を製造する銅線製造装置の概略図である。1 is a schematic diagram of a copper wire manufacturing apparatus that manufactures copper wire in an enamelled wire manufacturing process according to an embodiment. 実施の形態であるエナメル線の製造工程において製造された銅線の断面図である。It is a sectional view of the copper wire manufactured in the manufacturing process of the enamelled wire which is an embodiment. 図4に続く製造工程を示す概略図である。5 is a schematic diagram showing a manufacturing process following FIG. 4. FIG. 図4に続く製造工程において剥離抑制層が形成された銅線の断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of a copper wire on which a peeling suppressing layer has been formed in a manufacturing process following FIG. 4; 図6に続く製造工程において伸線加工された後の伸線材の断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view of the wire drawn material after being wire drawn in the manufacturing process following FIG. 6 . 図7に続く製造工程においてエナメル被膜が形成されたエナメル線の断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view of an enameled wire on which an enamel coating has been formed in a manufacturing process following FIG. 7; 実施の形態の変形例であるエナメル線を示す断面図である。It is a sectional view showing an enamelled wire which is a modification of the embodiment. 比較例であるエナメル線を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing an enameled wire as a comparative example.

以下、実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の機能を有する部材には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。また、以下の実施の形態では、特に必要なとき以外は同一または同様な部分の説明を原則として繰り返さない。 Hereinafter, embodiments will be described in detail based on the drawings. In addition, in all the drawings for explaining the embodiment, members having the same function are given the same reference numerals, and repeated explanation thereof will be omitted. Furthermore, in the following embodiments, descriptions of the same or similar parts will not be repeated in principle unless particularly necessary.

本実施の形態では、エナメル線において、その断面における中心の導体の外周に、導体からエナメル被膜が剥離することを抑制するための剥離抑制層を介してエナメル被膜を形成することで、導体の表面に欠陥が存在している場合であっても、剥離抑制層によってエナメル被膜の内面が導体側から剥離することを抑制し、エナメル被膜が膨らむことを防ぐものである。エナメル線は、例えばモータのコイルなどの巻線として利用される。 In this embodiment, in an enameled wire, an enamel coating is formed on the outer periphery of the conductor at the center of the conductor through a peeling prevention layer for suppressing peeling of the enamel coating from the conductor. Even if there are defects in the enamel coating, the peeling suppressing layer suppresses the inner surface of the enamel coating from peeling off from the conductor side and prevents the enamel coating from swelling. Enamelled wire is used, for example, as a winding wire for motor coils.

<エナメル線の構造>
以下に、図1を用いて本実施の形態のエナメル線の構造について説明する。図1は、本実施の形態のエナメル線を示す断面図である。
<Structure of enameled wire>
The structure of the enameled wire of this embodiment will be explained below using FIG. 1. FIG. 1 is a sectional view showing the enameled wire of this embodiment.

図1に示すエナメル線1は、図1の奥行方向に延在するものであり、その短手方向(延在方向に直交する方向)に沿う断面は円形である。エナメル線1は、1本の芯線である導体2を有し、導体2の外周には、剥離抑制層(第1被膜)3が形成されており、剥離抑制層の外周にはエナメル被膜(第2被膜)4が形成されている。すなわち、エナメル線1は、導体2、剥離抑制層3およびエナメル被膜4により構成されている。剥離抑制層3は、後述する溶射法によって導体2の外周に形成された溶射被膜であることが好ましい。 The enameled wire 1 shown in FIG. 1 extends in the depth direction of FIG. 1, and has a circular cross section along the width direction (direction perpendicular to the extending direction). The enameled wire 1 has a conductor 2 which is a single core wire, and a peeling suppressing layer (first coating) 3 is formed on the outer periphery of the conductor 2, and an enamel coating (first coating) is formed on the outer periphery of the peeling suppressing layer. 2 coating) 4 is formed. That is, the enameled wire 1 is composed of a conductor 2, a peeling prevention layer 3, and an enamel coating 4. It is preferable that the peeling suppressing layer 3 is a thermally sprayed coating formed on the outer periphery of the conductor 2 by a thermal spraying method described below.

導体2は、無酸素銅、タフピッチ銅などの純銅(純度が99.9mass%以上の銅(Cu))または銅合金からなる。この銅合金は、例えば、前述した純銅に錫(Sn)、インジウム(In)、銀(Ag)、マグネシウム(Mg)などの銅以外の元素を添加したものである。導体2の直径は、例えば0.1mm以上、1.0mm以下である。剥離抑制層3は、純銅(純度が99.9mass%以上の銅)からなる。剥離抑制層3の厚さは、導体2の直径の1%以上10%以下であり、好ましくは1%以上5%以下である。ここでいう直径は、導体2の断面における最大の外径である。図示はしていないが、導体2と剥離抑制層3との界面部分には、銅の結晶粒が導体2から剥離抑制層3に亘って存在している部分がある。エナメル被膜4は、例えば、ポリアミドイミド、ポリイミドまたはポリエステルイミドのうちから選ばれる絶縁性の熱硬化性樹脂によって構成される絶縁被膜である。エナメル被膜4は、耐熱性を高くする観点から、ポリアミドイミドまたはポリイミドからなる熱硬化性樹脂によって構成されることが好ましい。また、エナメル被膜4は、例えば、厚さが20μm以上100μm以下である。エナメル被膜4の厚さは、耐電圧などの特性の変更に応じて適宜調整することができる。また、エナメル被膜4は、複数の空孔を有していてもよい。 The conductor 2 is made of pure copper (copper (Cu) with a purity of 99.9 mass% or more) such as oxygen-free copper or tough pitch copper, or a copper alloy. This copper alloy is, for example, made by adding elements other than copper, such as tin (Sn), indium (In), silver (Ag), and magnesium (Mg) to the above-mentioned pure copper. The diameter of the conductor 2 is, for example, 0.1 mm or more and 1.0 mm or less. The peeling suppressing layer 3 is made of pure copper (copper with a purity of 99.9 mass% or more). The thickness of the peeling suppressing layer 3 is 1% or more and 10% or less of the diameter of the conductor 2, preferably 1% or more and 5% or less. The diameter here is the maximum outer diameter in the cross section of the conductor 2. Although not shown, at the interface between the conductor 2 and the peel-off suppressing layer 3, there is a portion where copper crystal grains exist from the conductor 2 to the peel-off suppressing layer 3. The enamel coating 4 is an insulating coating made of an insulating thermosetting resin selected from, for example, polyamideimide, polyimide, or polyesterimide. From the viewpoint of increasing heat resistance, the enamel coating 4 is preferably composed of a thermosetting resin made of polyamideimide or polyimide. Further, the enamel coating 4 has a thickness of, for example, 20 μm or more and 100 μm or less. The thickness of the enamel coating 4 can be adjusted as appropriate depending on changes in characteristics such as withstand voltage. Further, the enamel coating 4 may have a plurality of pores.

剥離抑制層3は、導体2の外周の全部または一部を覆っている。ここでいう全部または一部とは、エナメル線1の延在方向における部分を指すのであり、導体2を剥離抑制層3が覆う箇所では、エナメル線1の径方向に沿う断面において導体2の外周全てを剥離抑制層3が連続的に覆っている。 The peeling suppressing layer 3 covers all or part of the outer periphery of the conductor 2 . The term "all or part" here refers to a portion in the extending direction of the enameled wire 1, and in the area where the conductor 2 is covered with the peeling suppressing layer 3, the outer periphery of the conductor 2 in the cross section along the radial direction of the enameled wire 1. The peeling suppressing layer 3 continuously covers everything.

本実施の形態の製造方法について詳しくは後述するが、エナメル線1は連続鋳造圧延装置により作製された、銅からなる荒引線または伸線の外周に、剥離抑制層3を溶射法などにより形成し、さらにエナメル被膜4を塗布したものである。剥離抑制層3が存在せず、かつ、導体2の表面に欠陥が存在する場合、導体2とエナメル被膜4との間のガスなどが膨張してエナメル被膜4が膨らんでエナメル被膜4が導体2の表面から剥離する虞がある(図10参照)。本実施の形態では、導体2の表面に上記欠陥がある場合であっても、剥離抑制層3が当該欠陥を覆うため、剥離抑制層3によってエナメル被膜4の内面が導体2側から剥離することを抑制し、欠陥の存在に起因してエナメル被膜4が膨らむことを防げる。 The manufacturing method of this embodiment will be described in detail later, but the enameled wire 1 is produced by forming a peeling suppressing layer 3 by thermal spraying or the like on the outer periphery of a rough drawn wire or drawn wire made of copper, which is produced by a continuous casting and rolling machine. , further coated with an enamel coating 4. If the peel-off suppressing layer 3 does not exist and there are defects on the surface of the conductor 2, the gas between the conductor 2 and the enamel coating 4 expands, causing the enamel coating 4 to swell, causing the enamel coating 4 to become attached to the conductor 2. There is a risk of peeling off from the surface (see Fig. 10). In this embodiment, even if the surface of the conductor 2 has the above-described defect, the peeling suppressing layer 3 covers the defect, so that the peeling suppressing layer 3 prevents the inner surface of the enamel coating 4 from peeling off from the conductor 2 side. This can prevent the enamel coating 4 from swelling due to the presence of defects.

<エナメル線の製造方法>
以下に、図2~図8を用いて、本実施の形態のエナメル線の製造方法について説明する。図2は本実施の形態のエナメル線の製造方法を示すフローであり、ここでは当該フローを参照しながら、図3~図8を用いて工程の説明を行う。
<Manufacturing method of enameled wire>
The method for manufacturing an enameled wire according to this embodiment will be described below with reference to FIGS. 2 to 8. FIG. 2 is a flowchart showing a method for manufacturing an enamelled wire according to the present embodiment, and the steps will be explained here with reference to the flow and FIGS. 3 to 8.

ここではまず、図3に示す銅線製造装置100を用いて、銅線(銅荒引線)2Aを製造する(図2のステップS1)。本実施の形態に係る銅線製造装置100は、銅線(銅荒引線)を連続鋳造圧延するための、所謂連続鋳造圧延装置である。具体的には、銅線製造装置100は、溶解炉210と、上樋220と、保持炉230と、添加材供給部240と、下樋260と、タンディッシュ300と、注湯ノズル320と、連続鋳造機500と、熱間圧延装置620と、巻取機(コイラー)640とを有している。 Here, first, using the copper wire manufacturing apparatus 100 shown in FIG. 3, a copper wire (copper rough wire) 2A is manufactured (step S1 in FIG. 2). The copper wire manufacturing apparatus 100 according to the present embodiment is a so-called continuous casting and rolling apparatus for continuous casting and rolling of copper wire (copper rough drawn wire). Specifically, the copper wire manufacturing apparatus 100 includes a melting furnace 210, an upper gutter 220, a holding furnace 230, an additive supply section 240, a lower gutter 260, a tundish 300, a pouring nozzle 320, It has a continuous casting machine 500, a hot rolling device 620, and a winding machine (coiler) 640.

溶解炉210は、銅原料を加熱して溶融し、溶銅110を生成するものであり、例えば、炉本体と、炉本体の下部に設けられるバーナーとを有している。銅原料が炉本体に投入され、バーナーで加熱されることで、溶銅110が連続的に生成される。銅材料としては、例えば、無酸素銅またはタフピッチ銅などを用いることができる。 The melting furnace 210 heats and melts a copper raw material to produce molten copper 110, and includes, for example, a furnace body and a burner provided at the lower part of the furnace body. Copper raw material is introduced into the furnace body and heated by a burner, so that molten copper 110 is continuously generated. As the copper material, for example, oxygen-free copper or tough pitch copper can be used.

上樋220は、溶解炉210の下流側に設けられ、溶解炉210と保持炉230との間を連結し、溶解炉210で生成された溶銅110を下流側の保持炉230に移送するものである。 The upper gutter 220 is provided on the downstream side of the melting furnace 210, connects the melting furnace 210 and the holding furnace 230, and transfers the molten copper 110 generated in the melting furnace 210 to the holding furnace 230 on the downstream side. It is.

保持炉230は、上樋220の下流側に設けられ、上樋220から移送される溶銅110を所定の温度で加熱して一時的に貯留するものである。また、保持炉230は、溶銅110を所定の温度に保持したまま、所定量の溶銅110を下樋260に移送するものである。保持炉230には、合金元素からなる添加材を溶銅110へ供給する(添加する)ための添加材供給部240が接続されている。図1に示す導体2に添加材を添加する場合は、添加材供給部240から、保持炉230内の溶銅110に、所定の合金元素を連続的に供給する。溶銅110に添加される合金元素としては、例えば、マグネシウム(Mg)、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)、ベリリウム(Be)、ジルコニウム(Zr)、セリウム(Ce)、マンガン(Mn)、シリコン(Si)またはイットリウム(Y)などが挙げられる。つまり、好ましくは、これらのうちの少なくとも1つから成る合金元素が、溶銅110に添加される。 The holding furnace 230 is provided on the downstream side of the upper gutter 220, and heats the molten copper 110 transferred from the upper gutter 220 at a predetermined temperature and temporarily stores it. Further, the holding furnace 230 transfers a predetermined amount of molten copper 110 to the lower gutter 260 while maintaining the molten copper 110 at a predetermined temperature. An additive supply section 240 for supplying (adding) additives made of alloying elements to the molten copper 110 is connected to the holding furnace 230 . When adding an additive to the conductor 2 shown in FIG. 1, a predetermined alloying element is continuously supplied from the additive supply section 240 to the molten copper 110 in the holding furnace 230. Examples of alloying elements added to the molten copper 110 include magnesium (Mg), aluminum (Al), titanium (Ti), beryllium (Be), zirconium (Zr), cerium (Ce), manganese (Mn), and silicon. (Si) or yttrium (Y). That is, preferably, an alloying element consisting of at least one of these is added to the molten copper 110.

下樋260は、保持炉230の下流側に設けられ、保持炉230から移送される溶銅110を下流側のタンディッシュ300に移送するものである。なお、添加材供給部240は、保持炉230に接続される態様に限定されず、例えば下樋260またはタンディッシュ300に接続される態様であってもよい。 The lower gutter 260 is provided on the downstream side of the holding furnace 230, and is used to transfer the molten copper 110 transferred from the holding furnace 230 to the tundish 300 on the downstream side. Note that the additive supply section 240 is not limited to the mode in which it is connected to the holding furnace 230, but may be connected to the lower gutter 260 or the tundish 300, for example.

タンディッシュ300は、下樋260の下流側に設けられ、下樋260から移送される溶銅110を一時的に貯留し、連続鋳造機500に対して所定量の溶銅110を連続的に供給するものである。このようにして、連続鋳造機500に対して供給するための溶銅110を用意する。 The tundish 300 is provided on the downstream side of the lower gutter 260, temporarily stores the molten copper 110 transferred from the lower gutter 260, and continuously supplies a predetermined amount of molten copper 110 to the continuous casting machine 500. It is something to do. In this way, molten copper 110 to be supplied to continuous casting machine 500 is prepared.

タンディッシュ300の下流側には、貯留する溶銅110を流出させるための注湯ノズル320が接続されている。注湯ノズル320は、例えば、ケイ素酸化物、ケイ素炭化物、ケイ素窒化物等の耐火物で形成されている。タンディッシュ300に溜まった溶銅110は、注湯ノズル320を介して、連続鋳造機500へと供給される。 A pouring nozzle 320 for flowing out the stored molten copper 110 is connected to the downstream side of the tundish 300. The pouring nozzle 320 is made of, for example, a refractory material such as silicon oxide, silicon carbide, or silicon nitride. Molten copper 110 accumulated in tundish 300 is supplied to continuous casting machine 500 via pouring nozzle 320.

連続鋳造機500は、所謂ベルトホイール式の連続鋳造を行う装置であり、例えば、リング鋳型20と、ベルト30とを有している。円筒状のリング鋳型20は、外周に溝を有している。リング鋳型20は銅線の製造工程において回転し、その回転軸は水平面に沿っている。円筒状のリング鋳型20の内側には、リング鋳型20を保持する円柱状の保持部50が配置されている。リング鋳型20は保持部50に固定されており、保持部50と共に回転する。なお、リング鋳型20は円柱状または円盤状であってもよい。 The continuous casting machine 500 is a device that performs so-called belt-wheel continuous casting, and includes, for example, a ring mold 20 and a belt 30. The cylindrical ring mold 20 has a groove on its outer periphery. The ring mold 20 rotates during the copper wire manufacturing process, and its axis of rotation is along a horizontal plane. A cylindrical holding part 50 that holds the ring mold 20 is arranged inside the cylindrical ring mold 20 . The ring mold 20 is fixed to the holding part 50 and rotates together with the holding part 50. Note that the ring mold 20 may be cylindrical or disc-shaped.

また、ベルト30は、リング鋳型20の外周面の一部に接触しながら周回移動するよう構成されている。リング鋳型20の溝とベルト30との間の空間に、タンディッシュ300から流出される溶銅110が注入される。つまり、タンディッシュ300および注湯ノズル320は、リング鋳型20の溝内に溶銅110を供給する供給部330である。また、リング鋳型20およびベルト30は、例えば冷却水により冷却されている。これにより、溶銅110が冷却・固化(凝固)されて、棒状の鋳造バー(鋳造材)120が連続的に鋳造される。 Further, the belt 30 is configured to move around while contacting a part of the outer peripheral surface of the ring mold 20. Molten copper 110 flowing out from the tundish 300 is poured into the space between the groove of the ring mold 20 and the belt 30. That is, the tundish 300 and the pouring nozzle 320 are a supply section 330 that supplies the molten copper 110 into the groove of the ring mold 20. Further, the ring mold 20 and the belt 30 are cooled by, for example, cooling water. As a result, the molten copper 110 is cooled and solidified (solidified), and rod-shaped casting bars (casting material) 120 are continuously cast.

熱間圧延装置620は、連続鋳造機500の下流側(鋳造バー排出側)に設けられ、連続鋳造機500から移送される鋳造バー120を連続的に圧延するものである。すなわち、熱間圧延装置620を用いて鋳造バー120をリング鋳型20の溝内から引き出し、連続鋳造機500外へ移送する。鋳造バー120が熱間圧延装置620によって圧延されて形成された圧延材を、熱間圧延装置620と巻取機640との間において表面清浄化処理することで、銅線(銅荒引線)2Aが成形加工される。ここでの銅線2Aの直径は例えば10mm程度である。 The hot rolling device 620 is provided on the downstream side (cast bar discharge side) of the continuous casting machine 500 and continuously rolls the cast bar 120 transferred from the continuous casting machine 500. That is, the hot rolling device 620 is used to pull out the casting bar 120 from the groove of the ring mold 20 and transfer it to the outside of the continuous casting machine 500. The rolled material formed by rolling the cast bar 120 by the hot rolling device 620 is surface-cleaned between the hot rolling device 620 and the winding machine 640, thereby producing copper wire (rough copper wire) 2A. is molded. The diameter of the copper wire 2A here is, for example, about 10 mm.

巻取機(コイラー)640は、熱間圧延装置620の下流側(銅合金材排出側)に設けられ、熱間圧延装置620から表面清浄化処理装置を経て移送される銅線(荒引線)2Aを巻き取るものである。以上の工程により、図4に示す荒引線である銅線2Aを製造できる。ここで、銅線2Aの表面はほぼ全体に亘って欠陥を有さないが、図4に示すように、一部の表面近傍には欠陥5が形成されている場合がある。この欠陥5は、銅線2Aの表面に生じた割れまたは傷などである。 A winding machine (coiler) 640 is provided on the downstream side (copper alloy material discharge side) of the hot rolling device 620, and is used to collect copper wire (rough wire) transferred from the hot rolling device 620 through a surface cleaning treatment device. It winds up 2A. Through the above steps, it is possible to manufacture the copper wire 2A, which is a rough wire shown in FIG. Here, the surface of the copper wire 2A has no defects over almost the entire surface, but as shown in FIG. 4, defects 5 may be formed near a part of the surface. The defect 5 is a crack or a scratch on the surface of the copper wire 2A.

次に、図5および図6に示すように、銅線2Aの外周に剥離抑制層3を形成する(図2のステップS2)。剥離抑制層3は、銅線2Aの延在方向における表面の全体または一部を覆うように形成する。剥離抑制層3の形成方法としては、例えば図5に示すように、溶射法を用いることが考えられる。具体的には、溶射法の一種であるコールドスプレー法を用いることができるが、その他の溶射法を用いてもよい。この場合、図5に示す矢印方向(銅線2Aの延在方向)に銅線2Aを走行させながら、溶融または軟化した純銅からなる金属材料を、銅線2Aの外周の表面に対して複数の方向から噴射装置6により吹き付ける。図5では噴射装置6を4つ用いて4方向から溶銅の吹き付けを行っているが、噴射装置6の数は4つより多くても少なくてもよい。 Next, as shown in FIGS. 5 and 6, a peeling suppressing layer 3 is formed around the outer periphery of the copper wire 2A (step S2 in FIG. 2). The peeling suppressing layer 3 is formed to cover the entire or part of the surface of the copper wire 2A in the extending direction. As a method for forming the peeling suppressing layer 3, for example, as shown in FIG. 5, a thermal spraying method may be used. Specifically, a cold spray method, which is a type of thermal spraying method, can be used, but other thermal spraying methods may also be used. In this case, while running the copper wire 2A in the direction of the arrow shown in FIG. The spray device 6 sprays from the direction. In FIG. 5, four injection devices 6 are used to spray molten copper from four directions, but the number of injection devices 6 may be greater or less than four.

また、上記の溶射法とは異なる剥離抑制層3の形成方法として、溶融めっき法または電解めっき法を用いてもよい。溶融めっき法は、溶融した銅の中に銅線2Aを通すことで、銅線2Aの周囲に銅被膜である剥離抑制層3を形成する方法である。電解めっき法は、電解液に銅線2Aを浸し、銅線2Aに電気を通すことで銅線2Aの周囲に金属を析出させ、これにより剥離抑制層3を形成する方法である。これらのうち、長尺の銅線2Aの周囲に純銅からなる剥離抑制層3を簡易に形成する観点からは、溶射法を用いることがよい。 Further, as a method for forming the peeling suppressing layer 3 that is different from the above-mentioned thermal spraying method, a hot-dip plating method or an electrolytic plating method may be used. The hot-dip plating method is a method of passing the copper wire 2A through molten copper to form a peeling suppressing layer 3, which is a copper coating, around the copper wire 2A. The electrolytic plating method is a method in which the copper wire 2A is immersed in an electrolytic solution and electricity is passed through the copper wire 2A to deposit metal around the copper wire 2A, thereby forming the peeling suppressing layer 3. Among these, it is preferable to use the thermal spraying method from the viewpoint of easily forming the peeling suppressing layer 3 made of pure copper around the long copper wire 2A.

これらの方法により、図6に示すように、銅線2Aの外周は剥離抑制層3によって覆われる。このとき、欠陥5が存在する場合、欠陥5の全体も剥離抑制層3によって覆われる。なお、ここでは伸線加工を行っていない荒引線である銅線2Aに対し剥離抑制層3の形成工程を行うことについて説明したが、荒引線に対し伸線加工を行った銅伸線である導体材料に対し剥離抑制層3の形成工程を行ってもよい。 By these methods, as shown in FIG. 6, the outer periphery of the copper wire 2A is covered with the peeling suppressing layer 3. At this time, if a defect 5 exists, the entire defect 5 is also covered by the peeling suppressing layer 3. Here, we have explained that the process of forming the peeling suppressing layer 3 is performed on the copper wire 2A, which is a rough drawn wire that has not been subjected to wire drawing, but it is a drawn copper wire that has been subjected to wire drawing on a rough drawn wire. A step of forming the peeling suppressing layer 3 may be performed on the conductive material.

次に、図7に示すように、剥離抑制層3に覆われた銅線2Aに対し伸線加工を行うことで、導体材料2Bの外周が剥離抑制層3に覆われた伸線材を形成する(図2のステップS3)。伸線加工は、例えば、ダイスと呼ばれる、銅線2Aよりも直径が小さい穴の開いた板を用意し、当該穴に銅線2Aを通し、これにより銅線2Aの直径を絞ることで行われる。伸線加工により導体材料2Bの直径および剥離抑制層3の厚さのそれぞれは銅線2Aに比べて小さくなる。また、導体材料2Bおよびこれを覆う剥離抑制層3の延在方向の長さは銅線2Aに比べて長くなる。伸線加工を行うことで、導体材料2Bと剥離抑制層3とが相互間の界面において密着し、金属結合により互いに接続される。伸線後の導体材料2Bの直径は、例えば0.1mm以上、1.0mm以下である。この伸線加工は、図2のステップS2において荒引線ではなく伸線材に対し剥離抑制層3を形成した場合であっても、導体材料2Bおよび剥離抑制層3を最終寸法に加工するために行う。 Next, as shown in FIG. 7, the copper wire 2A covered with the peeling suppressing layer 3 is subjected to a wire drawing process to form a drawn wire material in which the outer periphery of the conductor material 2B is covered with the peeling suppressing layer 3. (Step S3 in FIG. 2). The wire drawing process is performed by, for example, preparing a plate with a hole called a die that has a diameter smaller than the copper wire 2A, passing the copper wire 2A through the hole, and thereby reducing the diameter of the copper wire 2A. . Due to the wire drawing process, the diameter of the conductor material 2B and the thickness of the peeling suppressing layer 3 are each made smaller than that of the copper wire 2A. Further, the length of the conductive material 2B and the peeling suppressing layer 3 covering it in the extending direction is longer than that of the copper wire 2A. By performing the wire drawing process, the conductive material 2B and the peeling suppressing layer 3 are brought into close contact with each other at the interface between them, and are connected to each other by metallic bonding. The diameter of the conductor material 2B after wire drawing is, for example, 0.1 mm or more and 1.0 mm or less. This wire drawing process is performed in order to process the conductor material 2B and the peel suppressing layer 3 to the final dimensions even if the peel suppressing layer 3 is formed on the wire drawing material instead of the rough drawn wire in step S2 of FIG. .

次に、導体材料2Bおよび剥離抑制層3に対して熱処理を行う(図2のステップS4)。伸線加工(図2のステップS3)で伸線を行うと、導体材料2Bおよび剥離抑制層3を構成する銅が硬化する。このような硬化した導体材料2Bおよび剥離抑制層3を用いて形成したエナメル線は、延性が低いためコイルに巻き付けるには不向きである。このため、当該熱処理を行うことで、導体材料2Bおよび剥離抑制層3を軟化させる。 Next, heat treatment is performed on the conductor material 2B and the peeling suppressing layer 3 (step S4 in FIG. 2). When the wire is drawn in the wire drawing process (step S3 in FIG. 2), the copper constituting the conductive material 2B and the peeling suppressing layer 3 is hardened. An enameled wire formed using such a hardened conductor material 2B and peeling suppressing layer 3 has low ductility and is therefore unsuitable for winding around a coil. Therefore, by performing the heat treatment, the conductive material 2B and the peeling suppressing layer 3 are softened.

次に、導体材料2Bおよび剥離抑制層3を冷却する(図2のステップS5)。すなわち、上記熱処理(図2のステップS4)により高温となった導体材料2Bおよび剥離抑制層3を、冷却水の中に浸して冷却する。ここで、導体材料2Bの表面に欠陥5が生じている場合であっても、導体材料2Bは剥離抑制層3により保護されているため、欠陥5内に水が浸入することはない。 Next, the conductive material 2B and the peeling suppressing layer 3 are cooled (step S5 in FIG. 2). That is, the conductive material 2B and the peeling suppressing layer 3, which have become high in temperature due to the heat treatment (step S4 in FIG. 2), are immersed in cooling water to be cooled. Here, even if a defect 5 occurs on the surface of the conductor material 2B, water will not infiltrate into the defect 5 because the conductor material 2B is protected by the peeling suppressing layer 3.

次に、剥離抑制層3の外周に、塗装装置を用いて塗料を塗布する(図2のステップS6)。ここで塗布する塗料の材料としては、例えば、ポリアミドイミド、ポリイミドまたはポリエステルイミドのうちから選ばれる絶縁性の樹脂となる成分を含む塗料が挙げられる。なお、塗料には、エナメル被膜に空孔を形成するための空孔形成剤を含んでいてもよい。空孔形成剤としては、例えば、高沸点溶媒や熱分解性ポリマーなどが挙げられる。 Next, paint is applied to the outer periphery of the peeling suppressing layer 3 using a coating device (step S6 in FIG. 2). Examples of the material for the paint to be applied here include a paint containing a component that becomes an insulating resin selected from polyamideimide, polyimide, and polyesterimide. Note that the paint may contain a pore-forming agent for forming pores in the enamel coating. Examples of the pore forming agent include high boiling point solvents and thermally decomposable polymers.

次に、当該塗料および剥離抑制層3により覆われた導体材料2Bを走行させながら、350℃から500℃の炉内で、数秒から数分程度、加熱する熱処理(焼付け)を行う(図2のステップS7)。これにより、塗料を硬化させて、エナメル被膜4を形成する。実際には、上記した塗装工程(図2のステップS6)および焼付け工程(図2のステップS7)を繰り返し行うことで、複数の絶縁層からなる積層構造を有するエナメル被膜4を形成する。以上により、図8に示す導体材料2Bからなる導体2、剥離抑制層3およびエナメル被膜4を有するエナメル線1を製造する。 Next, while running the conductive material 2B covered with the paint and peeling suppressing layer 3, heat treatment (baking) is performed by heating it in a furnace at 350°C to 500°C for several seconds to several minutes (see Fig. 2). Step S7). Thereby, the paint is cured and an enamel coating 4 is formed. In practice, the above-described painting process (step S6 in FIG. 2) and baking process (step S7 in FIG. 2) are repeatedly performed to form the enamel coating 4 having a laminated structure consisting of a plurality of insulating layers. As described above, the enameled wire 1 having the conductor 2 made of the conductor material 2B, the peeling suppressing layer 3, and the enamel coating 4 shown in FIG. 8 is manufactured.

<本実施の形態の効果>
エナメル線の構造としては、比較例として、導体材料2Bの外周を直接エナメル被膜4で被覆するものが考えられる。しかし、図10に比較例として示すように、表面に欠陥5を有する導体材料2Bの表面をエナメル被膜4により覆うと、当該欠陥の存在に起因してエナメル被膜4が膨らむ場合がある。
<Effects of this embodiment>
As a comparative example, the structure of the enameled wire may be one in which the outer periphery of the conductive material 2B is directly covered with the enamel film 4. However, as shown as a comparative example in FIG. 10, when the surface of the conductive material 2B having defects 5 on its surface is covered with the enamel film 4, the enamel film 4 may swell due to the presence of the defects.

比較例のエナメル線11は、図2に示す工程のうち、ステップS2を除くステップS1、S3~S7を行って作製されるものである。銅線の作製工程またはその伸線工程において生じた割れまたは傷などの欠陥5がある場合、欠陥5内にガスが入り込む場合がある。また、伸線工程後に熱処理を経て行う冷却工程では、冷却水が欠陥5に侵入して残る場合がある。このような状態で導体材料2Bをエナメル被膜4で被覆し、焼付けのための熱処理を行うと、その熱により上記ガスまたは水が導体材料2Bとエナメル被膜4との間で膨張する。その結果、エナメル被膜4が導体材料2Bの表面から剥離して膨らむ場合がある。 The enameled wire 11 of the comparative example is manufactured by performing steps S1, S3 to S7 excluding step S2 among the steps shown in FIG. When there is a defect 5 such as a crack or a scratch caused in the copper wire manufacturing process or the wire drawing process, gas may enter the defect 5. Further, in the cooling process performed after the wire drawing process through heat treatment, cooling water may enter the defects 5 and remain. When the conductor material 2B is covered with the enamel film 4 in this state and heat treated for baking, the gas or water expands between the conductor material 2B and the enamel film 4 due to the heat. As a result, the enamel coating 4 may peel off from the surface of the conductive material 2B and swell.

エナメル被膜4にこのような膨れ(変形)による剥離が生じていると、例えばエナメル線11をコイルに巻き付けているときに当該膨れが生じている部分のエナメル被膜4が破れ、エナメル線11の絶縁性が損なわれる。すなわち、エナメル線の信頼性が低下する。 If peeling occurs in the enamel coating 4 due to such bulging (deformation), for example, when the enameled wire 11 is being wound around a coil, the enamel coating 4 in the area where the bulge has occurred will be torn, and the insulation of the enameled wire 11 will be damaged. Sexuality is impaired. That is, the reliability of the enamelled wire decreases.

このようなエナメル被膜4の膨れを防ぐ方法としては、銅線2Aの製造後に、銅線2Aの表面の欠陥を除去する皮剥き工程を行うことが考えられる。すなわち、銅線2Aの表面の一部を削り取る工程を行う方法がある。しかし、この場合は工程が増え、さらに銅屑が発生するため、歩留まりが低下する。また、銅屑を再利用しても廃棄しても、製造コストが増大する。 A possible method for preventing such blistering of the enamel coating 4 is to perform a peeling process to remove defects on the surface of the copper wire 2A after manufacturing the copper wire 2A. That is, there is a method in which a part of the surface of the copper wire 2A is scraped off. However, in this case, the number of steps increases and copper scraps are generated, resulting in a lower yield. Furthermore, manufacturing costs increase whether the copper scraps are reused or discarded.

これに対し、本実施の形態では、導体2とエナメル被膜4との間に、純銅からなる剥離抑制層3を形成している(図1参照)。したがって、導体2(導体材料2B)の表面に欠陥5が生じていたとしても、欠陥5に起因してエナメル被膜4の内面が剥離することを抑制できるため、エナメル被膜4の膨れを防げる。つまり、欠陥5の内部にガスが存在していたとしても、エナメル被膜4よりも硬い純銅からなる剥離抑制層3の存在によりガスの膨張を抑えられる。また、欠陥5を剥離抑制層3により覆うことで、欠陥5の露出を防いでいる。このため、欠陥5の内部に存在するガスが膨張することによってエナメル被膜4が導体2から剥離することを剥離抑制層によって抑制し、剥離抑制層3とエナメル被膜4との間でガスが膨張することを防げる。 On the other hand, in this embodiment, a peeling suppressing layer 3 made of pure copper is formed between the conductor 2 and the enamel coating 4 (see FIG. 1). Therefore, even if a defect 5 occurs on the surface of the conductor 2 (conductor material 2B), peeling of the inner surface of the enamel coating 4 due to the defect 5 can be suppressed, and therefore blistering of the enamel coating 4 can be prevented. That is, even if gas exists inside the defect 5, the expansion of the gas can be suppressed due to the presence of the peeling suppressing layer 3 made of pure copper, which is harder than the enamel film 4. Further, by covering the defect 5 with the peeling suppressing layer 3, the defect 5 is prevented from being exposed. Therefore, the peeling suppressing layer suppresses peeling of the enamel coating 4 from the conductor 2 due to expansion of the gas present inside the defect 5, and the gas expands between the peeling suppressing layer 3 and the enamel coating 4. You can prevent that from happening.

また、図2のステップS5で説明した冷却工程では、欠陥5は剥離抑制層3により覆われているため、欠陥5に水が浸入することを防げる。したがって、図2のステップS7にて水が膨張することを防げる。 Furthermore, in the cooling process described in step S5 of FIG. 2, since the defect 5 is covered with the peeling suppressing layer 3, water can be prevented from entering the defect 5. Therefore, it is possible to prevent the water from expanding in step S7 of FIG.

ここで、剥離抑制層3の厚さが導体2の直径の1%以上である場合、伸線加工(図2のステップS3)によって導体2の表面に存在する欠陥5が露出することを防げる。また、剥離抑制層3の厚さが当該直径の10%以下である場合には、当該厚さが当該直径の10%より大きい場合に比べて剥離抑制層3の形成が容易になり、またエナメル線1をコイル状に成形加工する際の加工性を良好とすることができる。 Here, when the thickness of the peeling suppressing layer 3 is 1% or more of the diameter of the conductor 2, it is possible to prevent the defects 5 existing on the surface of the conductor 2 from being exposed by the wire drawing process (step S3 in FIG. 2). In addition, when the thickness of the peeling suppressing layer 3 is 10% or less of the diameter, it is easier to form the peeling suppressing layer 3 than when the thickness is larger than 10% of the diameter, and It is possible to improve the workability when forming the wire 1 into a coil shape.

以上の結果、エナメル被膜4と導体2との間でガスまたは水などが膨張することを防げるため、エナメル被膜4の膨れを防ぐことができ、エナメル線1の絶縁性を保てる。すなわち、表面品質に優れたエナメル線1を提供でき、信頼性の高いエナメル線1を得られる。 As a result of the above, it is possible to prevent gas or water from expanding between the enamel coating 4 and the conductor 2, so that the enamel coating 4 can be prevented from blistering, and the insulation of the enameled wire 1 can be maintained. That is, it is possible to provide the enameled wire 1 with excellent surface quality and to obtain the highly reliable enameled wire 1.

また、ここでは欠陥5を除去する皮剥き工程を行う必要がないため、銅屑は発生しない。これにより、エナメル線1を製造するときの材料コストや製造コストの低減につながるため、エナメル線1を安価に提供できる。よって、工程増および銅屑発生による歩留まり低下と製造コストの増大とを防げる。 Furthermore, since there is no need to perform a peeling process to remove the defect 5, no copper scraps are generated. This leads to a reduction in material costs and manufacturing costs when manufacturing the enameled wire 1, so the enameled wire 1 can be provided at low cost. Therefore, it is possible to prevent a decrease in yield and an increase in manufacturing costs due to the increase in process steps and the generation of copper scraps.

<変形例>
図9に示すように、エナメル線10は平角線であってもよい。つまり、本変形例の導体2は短手方向(延在方向に直交する方向)に沿う断面における形状は矩形であり、導体2の外周は剥離抑制層3を介してエナメル被膜4により覆われている。すなわち、エナメル線10および導体2は、当該断面において、互いに平行な辺を2組有している。
<Modified example>
As shown in FIG. 9, the enameled wire 10 may be a rectangular wire. In other words, the conductor 2 of this modification has a rectangular shape in a cross section along the transverse direction (direction perpendicular to the extending direction), and the outer periphery of the conductor 2 is covered with the enamel coating 4 via the peeling suppressing layer 3. There is. That is, the enameled wire 10 and the conductor 2 have two sets of mutually parallel sides in the cross section.

導体2は、その断面において、長辺の長さ(幅)が1.0mm以上20mm以下であり、短辺の長さ(厚さ)が0.5mm以上5.0mm以下である。剥離抑制層3の厚さは、当該長辺の1%以上10%以下であり、好ましくは1%以上5%以下である。ここでいう長辺の長さは、導体2の断面における最大の外径である。 In its cross section, the conductor 2 has a long side length (width) of 1.0 mm or more and 20 mm or less, and a short side length (thickness) of 0.5 mm or more and 5.0 mm or less. The thickness of the peeling suppressing layer 3 is 1% or more and 10% or less of the long side, preferably 1% or more and 5% or less. The length of the long side here is the maximum outer diameter in the cross section of the conductor 2.

以上、本発明者らによってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。 As above, the invention made by the present inventors has been specifically explained based on the embodiments, but the present invention is not limited to the embodiments described above, and various modifications can be made without departing from the gist thereof. Needless to say.

1、10、11 エナメル線
2 導体
2A 銅線
2B 導体材料
3 剥離抑制層
4 エナメル被膜
5 欠陥
6 噴射装置
20 リング鋳型
30 ベルト
50 保持部
100 銅線製造装置
110 溶銅
120 鋳造バー
210 溶解炉
220 上樋
230 保持炉
240 添加材供給部
260 下樋
300 タンディッシュ
320 注湯ノズル
330 供給部
500 連続鋳造機
620 熱間圧延装置
640 巻取機
1, 10, 11 Enameled wire 2 Conductor 2A Copper wire 2B Conductor material 3 Peeling suppression layer 4 Enamel coating 5 Defect 6 Injection device 20 Ring mold 30 Belt 50 Holding section 100 Copper wire manufacturing device 110 Molten copper 120 Casting bar 210 Melting furnace 220 Upper gutter 230 Holding furnace 240 Additive supply section 260 Lower gutter 300 Tundish 320 Pouring nozzle 330 Supply section 500 Continuous casting machine 620 Hot rolling device 640 Winding machine

Claims (7)

純銅または銅合金からなる導体と、
前記導体の周囲を覆うように設けられたエナメル被膜と、
純銅からなり、前記導体と前記エナメル被膜との間に設けられ、前記エナメル被膜が剥離することを抑制する剥離抑制層と、
を有する、エナメル線。
A conductor made of pure copper or copper alloy,
an enamel coating provided to cover the periphery of the conductor;
a peeling suppressing layer made of pure copper, provided between the conductor and the enamel coating, and suppressing peeling of the enamel coating;
Enamelled wire.
請求項1に記載のエナメル線において、
前記導体の径方向に沿う断面における前記導体の形状は円形であり、
前記剥離抑制層の厚さは、当該断面における前記導体の直径の1%以上10%以下である、エナメル線。
The enameled wire according to claim 1,
The shape of the conductor in a cross section along the radial direction of the conductor is circular,
The thickness of the peeling suppressing layer is 1% or more and 10% or less of the diameter of the conductor in the cross section.
請求項1に記載のエナメル線において、
前記導体の短手方向に沿う断面における前記導体の形状は矩形であり、
前記剥離抑制層の厚さは、当該断面における前記導体の長辺の1%以上10%以下である、エナメル線。
The enameled wire according to claim 1,
The shape of the conductor in a cross section along the short direction of the conductor is rectangular,
The thickness of the peeling suppressing layer is 1% or more and 10% or less of the long side of the conductor in the cross section.
(a)荒引線を用意する工程、
(b)前記荒引線の外周を覆う剥離抑制層を溶射法によって形成する工程、
(c)前記荒引線および前記剥離抑制層を伸線することで、伸線材を形成する工程、
(d)前記(c)工程の後、前記剥離抑制層の外周に塗料を塗布する工程、
(e)前記(d)工程の後、前記塗料を焼付けることで、前記剥離抑制層の外周にエナメル被膜を形成する工程、
を有する、エナメル線の製造方法。
(a) The process of preparing rough lines,
(b) forming a peeling suppressing layer covering the outer periphery of the rough drawing line by thermal spraying;
(c) forming a drawn wire material by drawing the rough drawn wire and the peeling suppressing layer;
(d) after the step (c), applying a paint to the outer periphery of the peeling-inhibiting layer;
(e) After the step (d), baking the paint to form an enamel coating around the outer periphery of the peel-inhibiting layer;
A method for manufacturing an enameled wire, comprising:
請求項4に記載のエナメル線の製造方法において、
(c1)前記(c)工程の後、前記伸線材に対し熱処理を行う工程、
(c2)前記(c1)工程の後、前記(d)工程の前に、前記伸線材を冷却する工程、
をさらに有する、エナメル線の製造方法。
In the method for manufacturing an enameled wire according to claim 4,
(c1) After the step (c), heat-treating the drawn wire material;
(c2) After the step (c1) and before the step (d), cooling the drawn wire material;
A method for producing an enameled wire, further comprising:
請求項4または5に記載のエナメル線の製造方法において、
前記エナメル線は、純銅または銅合金からなる導体、前記導体の外周を覆う純銅からなる前記剥離抑制層およびエナメル皮膜を有し、
前記導体の径方向に沿う断面における前記導体の形状は円形であり、
前記剥離抑制層の厚さは、当該断面における前記導体の直径の1%以上10%以下である、エナメル線の製造方法。
In the method for manufacturing an enameled wire according to claim 4 or 5,
The enameled wire has a conductor made of pure copper or a copper alloy, the peeling suppressing layer made of pure copper covering the outer periphery of the conductor, and an enamel film,
The shape of the conductor in a cross section along the radial direction of the conductor is circular,
The method for manufacturing an enameled wire, wherein the thickness of the peeling suppressing layer is 1% or more and 10% or less of the diameter of the conductor in the cross section.
請求項4または5に記載のエナメル線の製造方法において、
前記エナメル線は、純銅または銅合金からなる導体、前記導体の外周を覆う純銅からなる前記剥離抑制層およびエナメル皮膜を有し、
前記導体の短手方向に沿う断面における前記導体の形状は矩形であり、
前記剥離抑制層の厚さは、当該断面における前記導体の長辺の1%以上10%以下である、エナメル線の製造方法。
In the method for manufacturing an enameled wire according to claim 4 or 5,
The enameled wire has a conductor made of pure copper or a copper alloy, the peeling suppressing layer made of pure copper covering the outer periphery of the conductor, and an enamel film,
The shape of the conductor in a cross section along the short direction of the conductor is rectangular,
The method for manufacturing an enameled wire, wherein the thickness of the peeling suppressing layer is 1% or more and 10% or less of the long side of the conductor in the cross section.
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