JP2024020937A - processing equipment - Google Patents

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Abstract

【課題】生産現場の汚染を防止しつつ、ウエーハを効率的に廃棄し、生産性を向上させる処理装置を提供すること。【解決手段】処理装置1は、ウエーハユニット200のテープ202を上方に露出させた状態で保持する保持部2と、保持部2に保持されたウエーハユニット200を上方から覆うように開閉可能に構成された蓋部3と、を備え、蓋部3は、閉状態において、保持部2に保持されたウエーハユニット200のテープ202に対して紫外線を照射してテープ202を硬化させる紫外線照射部33と、環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間のテープ202を環状に切断することで、環状フレーム203とウエーハ201とを分離するテープカットユニット32と、を有し、環状フレーム203とウエーハ201とを分離することで、環状フレーム203からテープ202を容易に剥離することが可能である。【選択図】図1An object of the present invention is to provide a processing device that efficiently discards wafers and improves productivity while preventing contamination of a production site. A processing apparatus 1 includes a holding part 2 that holds a tape 202 of a wafer unit 200 in an upwardly exposed state, and is configured to be openable and closable so as to cover the wafer unit 200 held by the holding part 2 from above. The lid part 3 includes an ultraviolet ray irradiation part 33 that irradiates the tape 202 of the wafer unit 200 held in the holding part 2 with ultraviolet rays to cure the tape 202 in the closed state. , a tape cutting unit 32 that separates the annular frame 203 and the wafer 201 by cutting the tape 202 between the inner peripheral edge of the annular frame 203 and the outer peripheral edge of the wafer 201 into an annular shape, and the annular frame 203 By separating the tape 202 from the annular frame 203, the tape 202 can be easily peeled off from the annular frame 203. [Selection diagram] Figure 1

Description

本発明は、処理装置に関する。 The present invention relates to a processing device.

半導体ウエーハをチップ化する方法として、切削ブレードを回転させながら被加工物の分割予定ラインに沿って当接し、被加工物と切削ブレードとを相対移動させることで被加工物を分割する切削装置が知られている。 As a method for converting semiconductor wafers into chips, there is a cutting device that divides the workpiece by rotating a cutting blade and abutting the workpiece along the dividing line and moving the workpiece and the cutting blade relative to each other. Are known.

こうした加工装置で用いられる切削ブレードは、実際に加工を行う前に目立てボードやダミーウエーハ等を事前加工(プリカット)することで、砥粒の目立て状態を最適にする(例えば、特許文献1参照)。 The cutting blade used in such processing equipment optimizes the sharpening state of the abrasive grains by pre-processing (pre-cutting) a sharpening board, dummy wafer, etc. before actual processing (for example, see Patent Document 1) .

特許第2628256号公報Patent No. 2628256

プリカットに使用されるダミーウエーハは、テープを介してフレームに支持されている。したがって、使用後のダミーウエーハを廃棄する際には、フレームをテープから剥離しなければならず、紫外線照射装置にて紫外線を照射することでテープの粘着層を硬化させた後、フレームに貼り付けられたテープを剥離して廃棄していた。 The dummy wafer used for pre-cutting is supported by a frame via tape. Therefore, when disposing of the dummy wafer after use, the frame must be peeled off from the tape, and after curing the adhesive layer of the tape by irradiating it with ultraviolet light using an ultraviolet irradiation device, it is attached to the frame. The tape was peeled off and discarded.

ところが、紫外線照射装置が近くにない場合には、紫外線照射装置への移動に時間がかかるため生産性が低下してしまう。また、手作業でフレームからテープを剥離する際に、ウエーハが割れて屑が飛散してしまう恐れがあり、生産現場の汚染に繋がるリスクがある。 However, if there is no ultraviolet irradiation device nearby, it takes time to move to the ultraviolet irradiation device, which reduces productivity. Furthermore, when the tape is manually peeled off from the frame, there is a risk that the wafer will crack and debris will be scattered, leading to the risk of contaminating the production site.

本願発明は、上記事実に鑑みてなされたものであり、生産現場の汚染を防止しつつ、ウエーハを効率的に廃棄し、生産性を向上させる処理装置を提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above facts, and aims to provide a processing device that efficiently discards wafers and improves productivity while preventing contamination of the production site.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の処理装置は、中央に開口を有する環状フレームの開口に紫外線硬化型テープを介してウエーハが支持されたウエーハユニットを処理する処理装置であって、該ウエーハユニットの該紫外線硬化型テープを上方に露出させた状態で保持する保持部と、該保持部に保持されたウエーハユニットを上方から覆うように開閉可能に構成された蓋部と、を備え、該蓋部は、閉状態において、該保持部に保持されたウエーハユニットの該紫外線硬化型テープに対して紫外線を照射して該紫外線硬化型テープを硬化させる紫外線照射部と、該環状フレームの内周縁と該ウエーハの外周縁との間の該紫外線硬化型テープを環状に切断することで、該環状フレームと該ウエーハとを分離するテープカットユニットと、を有し、該環状フレームと該ウエーハとを分離することで、該環状フレームから該紫外線硬化型テープを容易に剥離することが可能であることを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the objects, the processing apparatus of the present invention is a processing apparatus for processing a wafer unit in which a wafer is supported via an ultraviolet curing tape in the opening of an annular frame having an opening in the center. a holding part that holds the ultraviolet curing tape of the wafer unit in an upwardly exposed state; and a lid part configured to be openable and closable so as to cover the wafer unit held by the holding part from above. and an ultraviolet irradiation unit for curing the ultraviolet curable tape by irradiating the ultraviolet curable tape of the wafer unit held by the holding unit with ultraviolet rays when the lid is in the closed state; a tape cutting unit that separates the annular frame from the wafer by annularly cutting the ultraviolet curable tape between the inner peripheral edge of the annular frame and the outer peripheral edge of the wafer; By separating the frame and the wafer, the ultraviolet curable tape can be easily peeled off from the annular frame.

前記処理装置において、該保持部は、該ウエーハユニットの環状フレームを保持するフレーム保持部と、該テープカットユニットにより環状フレームから分離したウエーハを自由落下させる開口部と、を備え、任意の収容容器の上部に設置することでウエーハを回収することが可能でも良い。 In the processing apparatus, the holding section includes a frame holding section that holds the annular frame of the wafer unit, and an opening that allows the wafer separated from the annular frame by the tape cutting unit to freely fall, and is attached to any storage container. It may be possible to collect wafers by installing the device on top of the device.

前記処理装置において、該紫外線照射部は、該環状フレームの該紫外線硬化型テープが貼り付けられた領域に対向する位置に配設されても良い。 In the processing apparatus, the ultraviolet irradiation unit may be disposed at a position opposite to a region of the annular frame to which the ultraviolet curable tape is attached.

本発明は、生産現場の汚染を防止しつつ、ウエーハを効率的に廃棄し、生産性を向上させることができるという効果を奏する。 The present invention has the advantage of being able to efficiently dispose of wafers and improve productivity while preventing contamination of the production site.

図1は、実施形態1に係る処理装置の構成例を模式的に示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a configuration example of a processing apparatus according to a first embodiment. 図2は、図1に示された処理装置の処理対象のウエーハユニットを模式的に斜視図である。FIG. 2 is a schematic perspective view of a wafer unit to be processed by the processing apparatus shown in FIG. 図3は、図1に示された処理装置の処理中を模式的に示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing the processing apparatus shown in FIG. 1 during processing. 図4は、実施形態2に係る処理装置の構成例を模式的に示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view schematically showing a configuration example of a processing device according to the second embodiment. 図5は、図4に示された処理装置の処理中を模式的に示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view schematically showing the processing apparatus shown in FIG. 4 during processing.

本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Modes (embodiments) for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to the contents described in the following embodiments. Further, the constituent elements described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art and those that are substantially the same. Furthermore, the configurations described below can be combined as appropriate. Further, various omissions, substitutions, or changes in the configuration can be made without departing from the gist of the present invention.

〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係る処理装置を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る処理装置の構成例を模式的に示す断面図である。図2は、図1に示された処理装置の処理対象のウエーハユニットを模式的に斜視図である。図3は、図1に示された処理装置の処理中を模式的に示す断面図である。
[Embodiment 1]
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A processing device according to a first embodiment of the present invention will be described based on the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a configuration example of a processing apparatus according to a first embodiment. FIG. 2 is a schematic perspective view of a wafer unit to be processed by the processing apparatus shown in FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing the processing apparatus shown in FIG. 1 during processing.

実施形態1に係る図1に示す処理装置1は、図2に示すウエーハユニット200を処理するための装置である。図1に示された処理装置1の処理対象のウエーハユニット200は、図2に示すように、ウエーハ201と、紫外線硬化型テープであるテープ202と、環状フレーム203とを備える。 The processing apparatus 1 shown in FIG. 1 according to the first embodiment is an apparatus for processing the wafer unit 200 shown in FIG. 2. The wafer unit 200 to be processed by the processing apparatus 1 shown in FIG. 1 includes a wafer 201, a tape 202 that is an ultraviolet curable tape, and an annular frame 203, as shown in FIG.

ウエーハ201は、シリコン、サファイア、ガリウムなどを基板204とする円板状の半導体ウエーハや光デバイスウエーハ等のウエーハである。ウエーハ201は、図2に示すように、表面205に互いに交差する分割予定ライン206が複数設定され、分割予定ライン206によって区画された領域にデバイス207が形成されている。 The wafer 201 is a disk-shaped semiconductor wafer, an optical device wafer, or the like having a substrate 204 of silicon, sapphire, gallium, or the like. As shown in FIG. 2, the wafer 201 has a plurality of dividing lines 206 that intersect with each other on the surface 205, and devices 207 are formed in areas partitioned by the dividing lines 206.

デバイス207は、例えば、IC(Integrated Circuit)、又はLSI(Large Scale Integration)等の集積回路、CCD(Charge Coupled Device)、又はCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等のイメージセンサ、又はメモリ(半導体記憶装置)である。 The device 207 is, for example, an integrated circuit such as an IC (Integrated Circuit) or an LSI (Large Scale Integration), an image sensor such as a CCD (Charge Coupled Device), or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor), or a memory (semiconductor storage device). ).

テープ202は、ウエーハ201の外径よりも外径が大径な円板状に形成されている。テープ202は、可撓性と非粘着性を有する樹脂により構成された基材層と、基材層に積層されかつ可撓性と粘着性を有する樹脂により構成された粘着層とを有している。また、粘着層は、紫外線38(図3に示す)が照射されると、硬化し粘着力が低下する樹脂により構成されている。 The tape 202 is formed into a disk shape with an outer diameter larger than the outer diameter of the wafer 201 . The tape 202 has a base material layer made of a flexible and non-adhesive resin, and an adhesive layer laminated on the base material layer and made of a flexible and adhesive resin. There is. Further, the adhesive layer is made of a resin that hardens and loses adhesive strength when irradiated with ultraviolet rays 38 (shown in FIG. 3).

テープ202は、粘着層が紫外線38が照射されると硬化し粘着力が低下する樹脂により構成されている所謂紫外線硬化型テープである。環状フレーム203は、樹脂又は金属等の硬質な材料により構成され、内側の開口208の内径がウエーハ201の外径よりも大径な円板状に形成されている。 The tape 202 is a so-called ultraviolet curable tape whose adhesive layer is made of a resin that hardens and loses adhesive strength when irradiated with ultraviolet rays 38 . The annular frame 203 is made of a hard material such as resin or metal, and is formed into a disk shape in which the inner diameter of the inner opening 208 is larger than the outer diameter of the wafer 201 .

ウエーハユニット200は、ウエーハ201の表面205の裏側の裏面209にテープ202の中央部が貼着され、テープ202の外縁部に環状フレーム203が貼着されて、中央に開口208を有する環状フレーム203の開口208の内側にテープ202を介してウエーハ201が支持されている。なお、実施形態1において、ウエーハユニット200のウエーハ201は、切削ブレードによりプリカットされるものである。 The wafer unit 200 has a central part of a tape 202 attached to a back surface 209 on the back side of a front surface 205 of a wafer 201, an annular frame 203 attached to an outer edge of the tape 202, and an annular frame 203 having an opening 208 in the center. A wafer 201 is supported inside the opening 208 with a tape 202 interposed therebetween. In the first embodiment, the wafer 201 of the wafer unit 200 is pre-cut by a cutting blade.

なお、プリカットとは、切削ブレードがウエーハ201を個々のデバイス207に分割する前に、切削ブレードの砥粒の目立て状態を最適にするために、切削ブレードによりウエーハ201を切削加工することをいう。なお、本発明では、ウエーハ201は、表面205にデバイス207が形成されていない所謂ダミーウエーハでも良い。 Note that pre-cutting refers to cutting the wafer 201 with the cutting blade in order to optimize the sharpness of the abrasive grains of the cutting blade before the cutting blade divides the wafer 201 into individual devices 207. Note that in the present invention, the wafer 201 may be a so-called dummy wafer in which the device 207 is not formed on the surface 205.

(処理装置)
実施形態1に係る処理装置1は、処理として、ウエーハユニット200の環状フレーム203とウエーハ201とを分離する装置である。処理装置1は、図1に示すように、保持部2と、蓋部3とを備える。
(processing equipment)
The processing apparatus 1 according to the first embodiment is an apparatus that separates the annular frame 203 of the wafer unit 200 and the wafer 201 as a process. The processing device 1 includes a holding section 2 and a lid section 3, as shown in FIG.

保持部2は、ウエーハユニット200のテープ202を上方に露出させた状態で保持するものである。保持部2は、フレーム保持部21と、開口部22とを備える。フレーム保持部21は、内外径が環状フレーム203の内外径と同等の環状に形成され、上面にウエーハユニット200の環状フレーム203が載置されることで、ウエーハユニット200の環状フレーム203を保持する。保持部2は、フレーム保持部21が環状フレーム203を保持することで、テープ202を上方に露出させた状態でウエーハユニット200を保持する。 The holding section 2 holds the tape 202 of the wafer unit 200 in an upwardly exposed state. The holding part 2 includes a frame holding part 21 and an opening 22. The frame holding part 21 is formed into an annular shape whose inner and outer diameters are equal to the inner and outer diameters of the annular frame 203, and holds the annular frame 203 of the wafer unit 200 by placing the annular frame 203 of the wafer unit 200 on the upper surface. . The holding section 2 holds the wafer unit 200 with the tape 202 exposed upward by the frame holding section 21 holding the annular frame 203.

また、フレーム保持部21は、任意の収容容器4の上部に設置される。実施形態1では、収容容器4は、上部に開口5が設けられた容器である。収容容器4は、上部の内外径が環状フレーム203及びフレーム保持部21の内外径と同等でかつ底が閉塞された円筒状に形成されている。 Moreover, the frame holding part 21 is installed on the upper part of any container 4. In the first embodiment, the storage container 4 is a container provided with an opening 5 at the top. The storage container 4 is formed into a cylindrical shape with an upper part whose inner and outer diameters are equal to the inner and outer diameters of the annular frame 203 and the frame holding part 21, and whose bottom is closed.

開口部22は、フレーム保持部21の内側の空間であって、ウエーハユニット200の環状フレーム203から分離したウエーハ201を収容容器4内に向けて内側で自由落下させるものである。 The opening 22 is a space inside the frame holding part 21 and allows the wafer 201 separated from the annular frame 203 of the wafer unit 200 to freely fall into the container 4 .

蓋部3は、保持部2に保持されたウエーハユニット200を上方から覆うように開閉可能に構成されている。蓋部3は、蓋本体31と、テープカットユニット32と、紫外線照射部33とを有する。 The lid part 3 is configured to be openable and closable so as to cover the wafer unit 200 held by the holding part 2 from above. The lid section 3 includes a lid main body 31, a tape cutting unit 32, and an ultraviolet irradiation section 33.

蓋本体31は、外径がフレーム保持部21の外径と同等の円板状に形成されている。蓋本体31は、ウエーハユニット200の環状フレーム203を保持したフレーム保持部21上に設置されて、保持部2に保持されたウエーハユニット200の上方を覆って、保持部2の開口部22を閉じる。また、蓋本体31は、ウエーハユニット200の環状フレーム203を保持したフレーム保持部21上から取り外されて、保持部2の開口部22を開放する。 The lid main body 31 is formed into a disk shape with an outer diameter equal to the outer diameter of the frame holding portion 21 . The lid main body 31 is installed on the frame holding part 21 holding the annular frame 203 of the wafer unit 200, covers the upper part of the wafer unit 200 held by the holding part 2, and closes the opening 22 of the holding part 2. . Further, the lid main body 31 is removed from above the frame holding part 21 holding the annular frame 203 of the wafer unit 200, and the opening 22 of the holding part 2 is opened.

蓋本体31がフレーム保持部21上に設置又はフレーム保持部21上から取り外されることで、蓋部3が、保持部2の開口部22を開閉する。なお、実施形態1では、蓋本体31は、フレーム保持部21に設けられた位置決め部材23上に重ねられて、フレーム保持部21上に設置される。 When the lid main body 31 is installed on or removed from the frame holder 21 , the lid 3 opens and closes the opening 22 of the holder 2 . In the first embodiment, the lid main body 31 is installed on the frame holding part 21 so as to overlap the positioning member 23 provided on the frame holding part 21 .

テープカットユニット32は、環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間のテープ202を環状に切断することで、環状フレーム203とウエーハ201とを分離するものである。テープカットユニット32は、蓋本体31の下面に軸心回りに回転自在に支持された円板状のユニット本体34と、ユニット本体34の外縁部に設けられ、テープ202の環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間に切り込むことが可能な切り刃35と、ユニット本体34に取り付けられかつユニット本体34を蓋本体31に対して軸心回りに回転する取っ手36とを備える。 The tape cutting unit 32 separates the annular frame 203 and the wafer 201 by cutting the tape 202 between the inner peripheral edge of the annular frame 203 and the outer peripheral edge of the wafer 201 into an annular shape. The tape cutting unit 32 includes a disc-shaped unit main body 34 rotatably supported around an axis on the lower surface of the lid main body 31, and is provided at the outer edge of the unit main body 34, and the inner circumferential edge of the annular frame 203 of the tape 202. and a handle 36 that is attached to the unit body 34 and rotates the unit body 34 around the axis relative to the lid body 31.

ユニット本体34は、例えば、外径が環状フレーム203の外径よりも大径でかつ蓋本体31の外径よりも小径である。ユニット本体34は、蓋本体31と同軸に配置されている。ユニット本体34は、蓋本体31に対して軸心回りに回転自在に支持されている。ユニット本体34は、取っ手36がオペレータ等に把持されることで、蓋本体31に対して軸心回りに回転される。 The unit main body 34 has an outer diameter larger than the outer diameter of the annular frame 203 and smaller than the outer diameter of the lid main body 31, for example. The unit main body 34 is arranged coaxially with the lid main body 31. The unit main body 34 is rotatably supported around the axis with respect to the lid main body 31. The unit main body 34 is rotated around the axis relative to the lid main body 31 when the handle 36 is held by an operator or the like.

切り刃35は、蓋本体31がウエーハユニット200の環状フレーム203を保持したフレーム保持部21上に設置されて、保持部2の開口部22を閉じた閉状態において、テープ202の環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間に切り込む。切り刃35が、テープ202の環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間に切り込み、ユニット本体34が蓋本体31に対して軸心回りに回転されることで、テープカットユニット32は、環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間のテープ202を環状に切断する。 The cutting blade 35 is installed on the frame holding part 21 holding the annular frame 203 of the wafer unit 200, and the cutting blade 35 cuts the annular frame 203 of the tape 202 in the closed state where the opening 22 of the holding part 2 is closed. A cut is made between the inner peripheral edge and the outer peripheral edge of the wafer 201. The cutting blade 35 cuts between the inner peripheral edge of the annular frame 203 of the tape 202 and the outer peripheral edge of the wafer 201, and the unit main body 34 is rotated around the axis relative to the lid main body 31, thereby cutting the tape cutting unit 32. cuts the tape 202 between the inner peripheral edge of the annular frame 203 and the outer peripheral edge of the wafer 201 into an annular shape.

紫外線照射部33は、保持部2に保持されたウエーハユニット200のテープ202に対して紫外線38を照射してテープ202の粘着層を硬化させるものである。紫外線照射部33は、ユニット本体34の切り刃35よりも外周側に取り付けられた紫外線ランプ37を複数備える。紫外線ランプ37は、紫外線38を保持部2に保持されたウエーハユニット200のテープ202に対して紫外線38を照射する。紫外線照射部33は、紫外線ランプ37がユニット本体34の切り刃35よりも外周側に取り付けられることで、環状フレーム203のテープ202が貼り付けられた領域210に対向する位置に配設されることとなる。 The ultraviolet irradiation section 33 irradiates the tape 202 of the wafer unit 200 held by the holding section 2 with ultraviolet rays 38 to harden the adhesive layer of the tape 202 . The ultraviolet irradiation section 33 includes a plurality of ultraviolet lamps 37 attached to the outer peripheral side of the unit body 34 than the cutting blade 35. The ultraviolet lamp 37 irradiates the tape 202 of the wafer unit 200 held by the holding portion 2 with ultraviolet rays 38 . The ultraviolet irradiation unit 33 is arranged at a position facing the area 210 of the annular frame 203 to which the tape 202 is attached by attaching the ultraviolet lamp 37 to the outer circumferential side of the unit body 34 rather than the cutting blade 35. becomes.

実施形態1に係る処理装置1は、保持部2が収容容器4の上部に設置され、保持部2のフレーム保持部21上にウエーハユニット200の環状フレーム203を保持する。処理装置1は、紫外線照射部33の紫外線ランプ37を消灯した状態で、ウエーハユニット200の環状フレーム203を保持したフレーム保持部21上に蓋部3の蓋本体31が設置されて、蓋部3で開口部22を閉じる閉状態とされる。すると、図3に示すように、蓋部3の閉状態において、テープカットユニット32の切り刃35がテープ202の環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間に切り込む。また、実施形態1に係る処理装置1は、蓋部3で開口部22を閉じる閉状態とされると、図3に示すように、紫外線照射部33の紫外線ランプ37を点灯する。すると、紫外線照射部33がウエーハユニット200のテープ202の少なくとも領域210に紫外線38を照射し、少なくとも領域210の粘着層の粘着力が低下する。 In the processing apparatus 1 according to the first embodiment, the holding section 2 is installed on the upper part of the storage container 4, and the annular frame 203 of the wafer unit 200 is held on the frame holding section 21 of the holding section 2. In the processing apparatus 1, the lid body 31 of the lid part 3 is installed on the frame holding part 21 holding the annular frame 203 of the wafer unit 200 with the ultraviolet lamp 37 of the UV irradiation part 33 turned off. The opening 22 is closed in the closed state. Then, as shown in FIG. 3, when the lid part 3 is in the closed state, the cutting blade 35 of the tape cutting unit 32 cuts the tape 202 between the inner peripheral edge of the annular frame 203 and the outer peripheral edge of the wafer 201. Furthermore, when the processing apparatus 1 according to the first embodiment is brought into the closed state in which the opening 22 is closed by the lid 3, the ultraviolet lamp 37 of the ultraviolet irradiation unit 33 is turned on, as shown in FIG. Then, the ultraviolet irradiation unit 33 irradiates at least the area 210 of the tape 202 of the wafer unit 200 with ultraviolet rays 38, and the adhesive force of the adhesive layer in at least the area 210 decreases.

処理装置1は、テープカットユニット32のユニット本体34が蓋本体31に対して軸心回りに1回転以上回転されて、環状フレーム203とウエーハ201とを分離する。分離されたウエーハ201は、開口部22の内側を自由落下して、収容容器4内に回収される。 In the processing apparatus 1, the unit main body 34 of the tape cutting unit 32 is rotated one or more rotations around the axis relative to the lid main body 31 to separate the annular frame 203 and the wafer 201. The separated wafers 201 freely fall inside the opening 22 and are collected into the storage container 4 .

こうして、処理装置1の保持部2は、収容容器4の上部に設置されることで、ウエーハ201を収容容器4内に回収することが可能である。また、処理装置1は、テープ202に紫外線38を照射して、ウエーハユニット200の環状フレーム203とウエーハ201とを分離するので、環状フレーム203からテープ202を容易に剥離することが可能となる。 In this way, the holding unit 2 of the processing apparatus 1 is installed on the upper part of the storage container 4, so that the wafer 201 can be collected into the storage container 4. Further, since the processing apparatus 1 separates the annular frame 203 of the wafer unit 200 from the wafer 201 by irradiating the tape 202 with ultraviolet rays 38, the tape 202 can be easily peeled off from the annular frame 203.

以上説明した実施形態1に係る処理装置1は、保持部2のフレーム保持部21でウエーハユニット200の環状フレーム203を保持し、蓋部3で開口部22を閉状態とさせた後、紫外線照射部33の紫外線ランプ37を点灯して、テープカットユニット32でテープ202の環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間を環状に切断する。このために、実施形態1に係る処理装置1は、ウエーハユニット200のテープ202の少なくとも領域210に紫外線38を照射した後、ウエーハ201と環状フレーム203の間のテープ202を切り刃35で切断する構成としている。 The processing apparatus 1 according to the first embodiment described above holds the annular frame 203 of the wafer unit 200 with the frame holding part 21 of the holding part 2, closes the opening part 22 with the lid part 3, and then irradiates it with ultraviolet rays. The ultraviolet lamp 37 of the section 33 is turned on, and the tape cutting unit 32 cuts the tape 202 into an annular shape between the inner circumferential edge of the annular frame 203 and the outer circumferential edge of the wafer 201. For this purpose, the processing apparatus 1 according to the first embodiment irradiates at least the region 210 of the tape 202 of the wafer unit 200 with ultraviolet rays 38 and then cuts the tape 202 between the wafer 201 and the annular frame 203 with the cutting blade 35. It is structured as follows.

このように、実施形態1に係る処理装置1は、収容容器4の上部に設置される保持部2と、蓋部3とを備えるという簡易な構成のため、持ち運び可能なサイズに形成することが可能であり、既存の収容容器4等の上部に設置して使用できる。 As described above, the processing apparatus 1 according to the first embodiment has a simple configuration including the holding part 2 installed on the upper part of the storage container 4 and the lid part 3, so that it can be formed into a portable size. It is possible and can be used by installing it on the top of the existing storage container 4 or the like.

従って、実施形態1に係る処理装置1は、ウエーハ201を破棄するために紫外線照射装置の設置場所に移動する必要がなくなり、ウエーハ201を効率的に破棄でき、生産性が向上する。また、実施形態1に係る処理装置1は、ウエーハ201を収容容器4に回収するため、環状フレーム203からテープ202を剥離する際にウエーハ201の屑が飛散する恐れがなく、生産現場の汚染を防止することが可能となる。 Therefore, the processing apparatus 1 according to the first embodiment does not need to move to the installation location of the ultraviolet irradiation device in order to discard the wafer 201, and can efficiently discard the wafer 201, improving productivity. Furthermore, since the processing apparatus 1 according to the first embodiment collects the wafers 201 into the storage container 4, there is no fear that debris of the wafers 201 will be scattered when the tape 202 is peeled off from the annular frame 203, thereby preventing contamination of the production site. It becomes possible to prevent this.

その結果、実施形態1に係る処理装置1は、生産現場の汚染を防止しつつ、ウエーハ201を効率的に廃棄し、生産性を向上させることができるという効果を奏する。 As a result, the processing apparatus 1 according to the first embodiment has the effect of being able to efficiently discard the wafers 201 and improve productivity while preventing contamination of the production site.

〔実施形態2〕
実施形態2に係る処理装置を図面に基づいて説明する。図4は、実施形態2に係る処理装置の構成例を模式的に示す断面図である。図5は、図4に示された処理装置の処理中を模式的に示す断面図である。なお、図4及び図5は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
[Embodiment 2]
A processing device according to a second embodiment will be described based on the drawings. FIG. 4 is a cross-sectional view schematically showing a configuration example of a processing device according to the second embodiment. FIG. 5 is a cross-sectional view schematically showing the processing apparatus shown in FIG. 4 during processing. In addition, in FIGS. 4 and 5, the same parts as in Embodiment 1 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

実施形態2に係る処理装置1-2は、図4及び図5に示すように、保持部2のフレーム保持部21と蓋部3の蓋本体31とが蝶番6により連結されている事以外、実施形態1と同じである。蝶番6は、フレーム保持部21と蓋本体31とに取り付けられた平板状の一対の平板部61と、平板部61同士を回転自在に連結した連結軸62とを備える。 The processing device 1-2 according to the second embodiment has the following features, except that the frame holding part 21 of the holding part 2 and the lid main body 31 of the lid part 3 are connected by a hinge 6, as shown in FIGS. 4 and 5. This is the same as the first embodiment. The hinge 6 includes a pair of flat plate parts 61 attached to the frame holding part 21 and the lid main body 31, and a connecting shaft 62 that rotatably connects the flat plate parts 61 to each other.

実施形態2に係る処理装置1-2は、図4に示すように、保持部2が収容容器4の上部に設置され、蓋本体31がフレーム保持部21から離れた状態で保持部2のフレーム保持部21上にウエーハユニット200の環状フレーム203を保持する。実施形態2に係る処理装置1-2は、紫外線照射部33の紫外線ランプ37を消灯した状態で、ウエーハユニット200の環状フレーム203を保持したフレーム保持部21上に蓋部3の蓋本体31が設置されて、蓋部3で開口部22を閉じる閉状態とされる。すると、テープカットユニット32の切り刃35がテープ202の環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間に切り込む。また、実施形態2に係る処理装置1-2は、蓋部3で開口部22を閉じる閉状態とされると、図5に示すように、紫外線照射部33の紫外線ランプ37を点灯する。すると、テープ202の領域210に紫外線38が照射されて、少なくとも領域210の粘着層の粘着力が低下する。 As shown in FIG. 4, in the processing apparatus 1-2 according to the second embodiment, the holding part 2 is installed on the upper part of the storage container 4, and the frame of the holding part 2 is placed in a state where the lid main body 31 is separated from the frame holding part 21. The annular frame 203 of the wafer unit 200 is held on the holding part 21 . In the processing apparatus 1-2 according to the second embodiment, the lid main body 31 of the lid section 3 is placed on the frame holding section 21 holding the annular frame 203 of the wafer unit 200 with the ultraviolet lamp 37 of the ultraviolet irradiation section 33 turned off. Once installed, the opening 22 is closed with the lid 3 to be in a closed state. Then, the cutting blade 35 of the tape cutting unit 32 cuts between the inner peripheral edge of the annular frame 203 of the tape 202 and the outer peripheral edge of the wafer 201. Furthermore, when the processing apparatus 1-2 according to the second embodiment is placed in the closed state in which the opening 22 is closed with the lid 3, the ultraviolet lamp 37 of the ultraviolet irradiation unit 33 is turned on as shown in FIG. Then, the region 210 of the tape 202 is irradiated with ultraviolet light 38, and the adhesive strength of the adhesive layer at least in the region 210 is reduced.

実施形態2に係る処理装置1-2は、テープカットユニット32のユニット本体34が蓋本体31に対して軸心回りに1回転以上回転されて、環状フレーム203とウエーハ201とを分離する。分離されたウエーハ201は、開口部22の内側を自由落下して、収容容器4内に回収される。 In the processing apparatus 1-2 according to the second embodiment, the unit body 34 of the tape cutting unit 32 is rotated one or more rotations around the axis relative to the lid body 31 to separate the annular frame 203 and the wafer 201. The separated wafers 201 freely fall inside the opening 22 and are collected into the storage container 4 .

実施形態2に係る処理装置1-2は、保持部2のフレーム保持部21でウエーハユニット200の環状フレーム203を保持し、蓋部3で開口部22を閉状態とさせた後、紫外線照射部33の紫外線ランプ37を点灯して、テープカットユニット32でテープ202の環状フレーム203の内周縁とウエーハ201の外周縁との間を環状に切断する。その結果、実施形態2に係る処理装置1-2は、実施形態1と同様に、生産現場の汚染を防止しつつ、ウエーハ201を効率的に廃棄し、生産性を向上させることができるという効果を奏する。 The processing apparatus 1-2 according to the second embodiment holds the annular frame 203 of the wafer unit 200 with the frame holding part 21 of the holding part 2, closes the opening 22 with the lid part 3, and then closes the opening 22 with the ultraviolet irradiation part. 33 is turned on, and the tape cutting unit 32 cuts the tape 202 into an annular shape between the inner circumferential edge of the annular frame 203 and the outer circumferential edge of the wafer 201. As a result, similar to the first embodiment, the processing apparatus 1-2 according to the second embodiment has the effect of being able to efficiently dispose of the wafers 201 and improve productivity while preventing contamination of the production site. play.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。例えば、本発明は、実施形態1及び実施形態2において、蓋部3が開口部22を開放した状態で紫外線照射部33の紫外線ランプ37を点灯した後、蓋部3で開口部22を閉じる閉状態とされても良い。 Note that the present invention is not limited to the above embodiments. That is, various modifications can be made without departing from the gist of the invention. For example, in Embodiments 1 and 2, the present invention turns on the ultraviolet lamp 37 of the ultraviolet irradiation unit 33 with the lid 3 opening the opening 22, and then closes the opening 22 with the lid 3. It may be considered as a state.

1,1-2 処理装置
2 保持部
3 蓋部
4 収容容器
21 フレーム保持部
22 開口部
32 テープカットユニット
33 紫外線照射部
38 紫外線
200 ウエーハユニット
201 ウエーハ
202 テープ(紫外線硬化型テープ)
203 環状フレーム
208 開口
210 領域
1,1-2 Processing device 2 Holding section 3 Lid section 4 Container 21 Frame holding section 22 Opening section 32 Tape cutting unit 33 Ultraviolet irradiation section 38 Ultraviolet light 200 Wafer unit 201 Wafer 202 Tape (UV curing tape)
203 Annular frame 208 Opening 210 Area

Claims (3)

中央に開口を有する環状フレームの開口に紫外線硬化型テープを介してウエーハが支持されたウエーハユニットを処理する処理装置であって、
該ウエーハユニットの該紫外線硬化型テープを上方に露出させた状態で保持する保持部と、
該保持部に保持されたウエーハユニットを上方から覆うように開閉可能に構成された蓋部と、を備え、
該蓋部は、閉状態において、
該保持部に保持されたウエーハユニットの該紫外線硬化型テープに対して紫外線を照射して該紫外線硬化型テープを硬化させる紫外線照射部と、
該環状フレームの内周縁と該ウエーハの外周縁との間の該紫外線硬化型テープを環状に切断することで、該環状フレームと該ウエーハとを分離するテープカットユニットと、を有し、
該環状フレームと該ウエーハとを分離することで、該環状フレームから該紫外線硬化型テープを容易に剥離することが可能であることを特徴とする、処理装置。
A processing device for processing a wafer unit in which a wafer is supported via an ultraviolet curable tape in the opening of an annular frame having an opening in the center,
a holding part that holds the ultraviolet curable tape of the wafer unit in an upwardly exposed state;
a lid portion configured to be openable and closable so as to cover the wafer unit held by the holding portion from above;
When the lid is closed,
an ultraviolet irradiation unit that irradiates the ultraviolet curable tape of the wafer unit held by the holding unit with ultraviolet rays to cure the ultraviolet curable tape;
a tape cutting unit that separates the annular frame and the wafer by cutting the ultraviolet curable tape between the inner peripheral edge of the annular frame and the outer peripheral edge of the wafer into an annular shape;
A processing apparatus characterized in that by separating the annular frame and the wafer, the ultraviolet curing tape can be easily peeled off from the annular frame.
該保持部は、
該ウエーハユニットの環状フレームを保持するフレーム保持部と、
該テープカットユニットにより環状フレームから分離したウエーハを自由落下させる開口部と、を備え、
任意の収容容器の上部に設置することでウエーハを回収することが可能であることを特徴とする、請求項1に記載の処理装置。
The holding part is
a frame holding part that holds the annular frame of the wafer unit;
an opening for freely falling the wafer separated from the annular frame by the tape cutting unit;
The processing apparatus according to claim 1, wherein the processing apparatus can collect wafers by installing it on the upper part of any storage container.
該紫外線照射部は、該環状フレームの該紫外線硬化型テープが貼り付けられた領域に対向する位置に配設されることを特徴とする、請求項1または請求項2に記載の処理装置。 3. The processing apparatus according to claim 1, wherein the ultraviolet irradiation unit is disposed at a position opposite to a region of the annular frame to which the ultraviolet curable tape is attached.
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