JP2024016392A - 入力装置 - Google Patents

Abstract

【課題】操作部の位置を適切に特定することができる入力装置を提供する。【解決手段】入力装置１００は、被検出（例えば磁石３１）と、その被検出部を検出するための検出部と、予め定められた複数のポジションに変位自在に配置され、変位に伴って、被検出部と検出部との相対的な位置関係を変化させる操作部１０１とを備え、検出部は、複数の第１検出部（例えば６つの磁気センサ１１～１６）と、第２検出部（例えば３次元磁気センサ２１）とを備え、複数の第１検出部のそれぞれは、２種類の状態のうちの上述の位置関係に応じた一方の状態を示す第１検出信号を出力し、第２検出部は、それぞれ上述の位置関係に応じて変化する３成分の信号を含む第２検出信号を出力する。【選択図】図３

Description

本開示は、ユーザの操作を受け付ける入力装置に関する。

ユーザの操作を受け付ける入力装置として、例えば車両に搭載されたシフトレバー装置が知られている。また、特許文献１では、シフトレバーのポジションを検出するシフトレバー装置が提案されている。このシフトレバー装置は、それぞれホールＩＣ（Integrated Circuit）からなる７個の位置検出センサと、例えば磁石などを有するセンサ動作用部材とを備える。操作されるシフトレバーに連動して位置検出センサとセンサ動作用部材との相対的な位置関係が変化すると、７個の位置検出センサのそれぞれは、その位置関係に応じた信号を出力する。シフトレバー装置は、その７個の位置検出センサのそれぞれから出力される信号に基づいて、シフトレバーのポジションを検出する。

特許第４９１７４８３号公報

しかしながら、上記特許文献１のシフトレバー装置では、シフトレバーである操作部の位置を適切に特定することが難しいという課題がある。

そこで、本開示は、操作部の位置を適切に特定することができる入力装置を提供する。

本開示の一態様に係る入力装置は、被検出部と、前記被検出部を検出するための検出部と、予め定められた複数のポジションに変位自在に配置され、変位に伴って、前記被検出部と前記検出部との相対的な位置関係を変化させる操作部とを備え、前記検出部は、複数の第１検出部と、第２検出部とを備え、前記複数の第１検出部のそれぞれは、２種類の状態のうちの前記位置関係に応じた一方の状態を示す第１検出信号を出力し、前記第２検出部は、それぞれ前記位置関係に応じて変化する３成分の信号を含む第２検出信号を出力する。

本開示の入力装置は、操作部の位置を適切に特定することができる。

なお、本開示の一態様における更なる利点および効果は、明細書および図面から明らかにされる。かかる利点および／または効果は、いくつかの実施の形態並びに明細書および図面に記載された構成によって提供されるが、必ずしも全ての構成が必要とはされない。

図１は、実施の形態における入力装置の外観構成の一例を示す斜視図である。 図２は、実施の形態におけるセンサ基板と磁石との配置例を示す図である。 図３は、実施の形態における入力装置の構成例を示すブロック図である。 図４は、実施の形態における操作部が５つのポジションのそれぞれにあるときにおける、６つの磁気センサおよび３次元磁気センサと、磁石との位置関係の一例を示す図である。 図５は、実施の形態における６つの磁気センサのそれぞれの第１検出信号の一例を示す図である。 図６は、実施の形態における関連付けデータの一例を示す図である。 図７は、実施の形態における制御部による処理動作の一例を示すフローチャートである。

本開示の一態様に係る入力装置は、被検出部と、前記被検出部を検出するための検出部と、予め定められた複数のポジションに変位自在に配置され、変位に伴って、前記被検出部と前記検出部との相対的な位置関係を変化させる操作部とを備え、前記検出部は、複数の第１検出部と、第２検出部とを備え、前記複数の第１検出部のそれぞれは、２種類の状態のうちの前記位置関係に応じた一方の状態を示す第１検出信号を出力し、前記第２検出部は、それぞれ前記位置関係に応じて変化する３成分の信号を含む第２検出信号を出力する。例えば、前記被検出部は、磁石であり、前記複数の第１検出部のそれぞれは、磁気センサであり、前記第２検出部は、３次元磁気センサであってもよい。具体的な一例では、磁気センサは、磁束密度の大きさに応じた０または１を示す２値の第１検出信号を出力する。また、３次元磁気センサから出力される第２検出信号に含まれる３成分の信号は、互いに直交する３つの方向の信号である。３つの方向のそれぞれの信号は、その方向における磁束密度の大きさに応じた連続的な数値を示す。

これにより、複数の第１検出部からの出力だけでなく、第２検出部からの出力も用いることによって、被検出部と検出部との相対的な位置関係を正確に把握することができる。その結果、操作部が配置されている位置を高い精度で特定することができる。例えば、操作部が、予め定められた複数のポジションのうちの何れのポジションに配置されているのかを正確に特定することができるだけでなく、何れの２つのポジション間に配置されているかをも正確に特定することができる。したがって、操作部の位置を適切に特定することができる。

また、前記入力装置は、さらに、前記位置関係に応じて出力される前記第１検出信号と前記第２検出信号とを予め関連付けて示す関連付けデータを格納している記憶部と、前記第１検出部から前記第１検出信号を取得し、前記第２検出部から前記第２検出信号を取得し、取得された前記第１検出信号および前記第２検出信号と、前記関連付けデータとに基づいて、前記操作部の位置を特定する制御部とを備えてもよい。

これにより、関連付けデータによって、第１検出信号と第２検出信号とが予め関連付けられているため、その関連付けデータを参照すれば、第１検出部から出力される第１検出信号と、第２検出部から出力される第２検出信号とが整合しているか否かを判断することができる。例えば、第１検出部から出力される第１検出信号と、第２検出部から出力される第２検出信号とが同一の位置関係を示しているか否かを正確に判断することができる。したがって、操作部が配置されている位置をより高い精度で特定することができる。

また、前記複数のポジションは、５つのポジションであり、前記複数の第１検出部は、６つの第１検出部であり、前記操作部が前記５つのポジションのうちの何れか１つのポジションに変位するごとに、前記６つの第１検出部のうちの何れか２つの第１検出部のそれぞれは、出力される前記第１検出信号によって示される状態を切り替えてもよい。

例えば、５つのポジションは一方向に配列されてあって、操作部が現在のポジションから隣のポジションに変位するごとに、２つの第１検出部のそれぞれから出力される第１検出信号によって示される状態が切り替えられる。また、その２つの第１検出部からなる組は、変位前後のポジションによって異なる。

これにより、１つの第１検出部から出力される第１検出信号によって示される状態のみが切り替えられる場合と比べて、操作部の特定される位置の確からしさを向上することができる。

また、前記操作部が前記複数のポジションのうちの１つのポジションに配置され、前記磁石と、複数の前記磁気センサおよび前記３次元磁気センサとが一方向に互いに対向している場合、前記３次元磁気センサは、前記一方向から見て、前記磁石の中央から外れた位置に配置されていてもよい。

これにより、３次元磁気センサが磁石の中央から外れた位置にあるため、３次元磁気センサがその磁石から受ける磁束密度を、上述の位置関係の変化に応じて大きく変動させることができる。その結果、その３次元磁気センサから出力される第２検出信号を用いれば、操作部が配置されている位置をより高い精度で特定することができる。

以下、実施の形態について、図面を参照しながら具体的に説明する。

なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも包括的または具体的な例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置および接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本開示を限定する主旨ではない。また、以下の実施の形態における構成要素のうち、最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。

また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。また、各図において、同じ構成部材については同じ符号を付している。また、以下の実施の形態において、略平行などの表現を用いている。例えば、略平行は、完全に平行であることを意味するだけでなく、実質的に平行である、すなわち、例えば数％程度の誤差を含むことも意味する。また、略平行は、本開示による効果を奏し得る範囲において平行という意味である。他の「略」を用いた表現についても同様である。

（実施の形態）
図１は、本実施の形態における入力装置の外観構成の一例を示す斜視図である。

本実施の形態における入力装置１００は、車両のセンターコンソールなどに設けられる例えばシフトレバー装置として構成されている。この入力装置１００は、ドライバによって操作されるシフトレバーである操作部１０１と、操作部１０１の基端側を収容する収容ユニット１０２とを備える。なお、本開示において、操作部１０１の長手方向を、Ｚ軸方向または上下方向と称し、Ｚ軸方向に対して垂直な面における一方向をＸ軸方向または前後方向と称し、その垂直な面においてＸ軸方向と垂直な方向をＹ軸方向、左右方向または横方向と称す。また、本開示において、Ｚ軸方向のプラス側は、上向きまたは上であり、Ｚ軸方向のマイナス側は、下向きまたは下である。また、本開示において、Ｘ軸方向のマイナス側は、前側または前であり、Ｘ軸方向のプラス側は、後側または後である。また、本開示において、Ｙ軸方向のプラス側は、右側または右であり、Ｙ軸方向のマイナス側は、左側または左である。

収容ユニット１０２は、シフトパネル１０３を有する略矩形箱状の部材である。シフトパネル１０３は、ガイド溝１０４が形成されたパネルであって、収容ユニット１０２の上面に配置されている。ガイド溝１０４は、Ｘ軸方向に沿って直線状に形成され、シフトパネル１０３を貫通している。操作部１０１は、このガイド溝１０４に通された状態で、そのガイド溝１０４に沿って変位自在に配置されている。これにより、操作部１０１の操作方向（すなわち変位方向）は、そのガイド溝１０４によって規制されている。

つまり、操作部１０１は、ガイド溝１０４に沿って前後方向に変位自在であり、本実施の形態では予め定められた５つのポジションに配置される。具体的には、予め定められた５つのポジションは、Ｐポジション、Ｒポジション、Ｎポジション、Ｄポジション、およびＳポジションであり、これらは前側から後側へ向かってこの順で配置されている。入力装置１００は、操作部１０１が上記５つのポジションのうちの何れか１つのポジションに配置されると、そのポジションに応じた操作信号を出力する。その出力された操作信号に応じて、車両が制御される。なお、本開示におけるポジションは、上述のように予め定められた５つのポジションのうちの何れかである。

また、収容ユニット１０２は、センサ基板１０と、支持体３０とを収容している。支持体３０は、例えば操作部１０１の基端に取り付けられ、その操作部１０１の変位に応じて移動する。つまり、支持体３０は、操作部１０１の操作方向であるＸ軸方向に移動する。このような支持体３０は、板状の部材であって、後述の磁石を支持している。センサ基板１０は、その磁石を検出するための実装基板である。このようなセンサ基板１０と支持体３０とは、それぞれＸＹ平面に沿い、互いに略平行に配置され、Ｚ軸方向に離間して互いに対向している。なお、本実施の形態においては、操作部１０１は、例えば、収容ユニット１０２内において、Ｙ軸方向に沿った回動軸を有する。そのため、操作部１０１がＸ軸マイナス方向に移動した場合、支持体３０はＸ軸プラス方向に移動する。

図２は、センサ基板１０と磁石との配置例を示す図である。

センサ基板１０は、図２に示すように、基板１９と、その基板１９に実装されている６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１とを備える。

６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれは、ホール素子またはホールＩＣとして構成され、磁束密度を検出し、その磁束密度の大きさに応じて０または１を示す２値の信号を第１検出信号として出力する。例えば、６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれは、閾値以上の大きさの磁束密度を検出すると、１を示す第１検出信号を出力し、閾値未満の大きさの磁束密度を検出すると、０を示す第１検出信号を出力する。その磁束密度の大きさは、６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれと、磁石３１との位置関係によって変化する。したがって、６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれは、上述の位置関係に応じて０または１を示す２値の信号を第１検出信号として出力する。

３次元磁気センサ２１は、３Ｄホールセンサとも呼ばれ、磁束密度を検出し、磁束密度の大きさおよび向きに応じた値を示す信号を第２検出信号として出力する。具体的には、３次元磁気センサ２１は、３成分の信号を含む第２検出信号を出力する。３成分の信号は、互に直交する３つの軸のそれぞれの方向における磁束密度の大きさを示す。３つの軸は、上述のＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸であってもよい。また、３成分の信号のそれぞれは、例えば連続的な値を示し、アナログ信号であってもよい。

上述の支持体３０の下面には、図２に示す磁石３１が固定されている。磁石３１は、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１よりも上方に配置され、操作部１０１および支持体３０の変位に伴って、Ｘ軸方向に移動する。磁石３１の移動によって、６つの磁気センサ１１～１６のうちの磁石３１とＺ軸方向に対向する磁気センサが切り替えられる。また、磁石３１の移動によって、３次元磁気センサ２１と磁石３１との相対的な位置関係が変化する。

本実施の形態では、磁石３１が、被検出部の一例であって、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１を含むユニット群が、その被検出部を検出するための検出部の一例である。なお、センサ基板１０が検出部の一例であってもよい。したがって、本実施の形態における操作部１０１は、予め定められている例えば５つのポジションに変位自在に配置され、変位に伴って、被検出部と検出部との相対的な位置関係を変化させる。そして、本実施の形態における検出部は、６つの磁気センサ１１～１６である複数の第１検出部と、３次元磁気センサ２１である第２検出部とを備える。６つの磁気センサ１１～１６である複数の第１検出部のそれぞれは、２種類の状態のうちの上述の位置関係に応じた一方の状態を示す第１検出信号を出力する。本実施の形態では、第１検出信号は、２種類の状態のうちの一方の状態として０または１を示す。なお、第１検出信号は、ＯＮまたはＯＦＦを示してもよく、ＨｉｇｈまたはＬｏｗを示してもよい。そして、３次元磁気センサ２１である第２検出部は、それぞれ上述の位置関係に応じて変化する３成分の信号を含む第２検出信号を出力する。

図３は、本実施の形態における入力装置１００の構成例を示すブロック図である。

入力装置１００は、上述のように、操作部１０１、支持体３０、磁石３１、６つの磁気センサ１１～１６、および３次元磁気センサ２１を備える。さらに、入力装置１００は、制御部１１１と、第１電源系１２１と、第２電源系１２２と、第３電源系１２３と、記憶部１１２とを備える。なお、６つの磁気センサ１１、１２、１３、１４、１５、１６は、第１磁気センサ１１、第２磁気センサ１２、第３磁気センサ１３、第４磁気センサ１４、第５磁気センサ１５、第６磁気センサ１６ともそれぞれ呼ばれる。

本実施の形態では、６つの磁気センサ１１～１６は、第１検出系Ｄ１および第２検出系Ｄ２に分けられる。第１検出系Ｄ１は、Ｘ軸方向に沿って配列されている第１磁気センサ１１、第３磁気センサ１３、および第５磁気センサ１５を含む。第２検出系Ｄ２は、Ｘ軸方向に沿って配列されている第２磁気センサ１２、第４磁気センサ１４、および第６磁気センサ１６を含む。ここで、第１検出系Ｄ１の第１磁気センサ１１と、第２検出系Ｄ２の第２磁気センサ１２とは、Ｙ軸方向に沿って配列されている。同様に、第１検出系Ｄ１の第３磁気センサ１３と、第２検出系Ｄ２の第４磁気センサ１４とは、Ｙ軸方向に沿って配列され、第１検出系Ｄ１の第５磁気センサ１５と、第２検出系Ｄ２の第６磁気センサ１６とは、Ｙ軸方向に沿って配列されている。また、磁石３１は、６つの磁気センサ１１～１６の上方でＸ軸方向に沿って移動するため、第１検出系Ｄ１と第２検出系Ｄ２からは実質的に同一の信号が出力される。

第１電源系１２１は、第１検出系Ｄ１に電力を供給する。第１検出系Ｄ１に含まれる第１磁気センサ１１、第３磁気センサ１３、および第５磁気センサ１５のそれぞれは、第１電源系１２１から給電され、第１検出信号を制御部１１１に出力する。

第２電源系１２２は、第２検出系Ｄ２に電力を供給する。第２検出系Ｄ２に含まれる第２磁気センサ１２、第４磁気センサ１４、および第６磁気センサ１６のそれぞれは、第２電源系１２２から給電され、第１検出信号を制御部１１１に出力する。

第３電源系１２３は、第３検出系に相当する３次元磁気センサ２１に電力を供給する。３次元磁気センサ２１は、第３電源系１２３から給電され、第２検出信号を制御部１１１に出力する。

記憶部１１２は、上述の被検出部と検出部との相対的な位置関係に応じて出力される第１検出信号と第２検出信号とを予め関連付けて示す関連付けデータ１１２ａを格納している記録媒体である。例えば、記憶部１１２は、ハードディスクドライブ、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、または半導体メモリなどである。なお、このような記憶部１１２は、揮発性であっても不揮発性であってもよい。

制御部１１１は、６つの磁気センサ１１～１６から第１検出信号を取得し、３次元磁気センサ２１から第２検出信号を取得し、取得された第１検出信号および第２検出信号と、関連付けデータ１１２ａとに基づいて、操作部１０１の位置を特定する。例えば、制御部１１１は、上記５つのポジションのうちの操作部１０１が配置されているポジションを特定したり、操作部１０１が何れの２つのポジション間に配置されているかを特定する。例えば、制御部１１１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、処理回路またはプロセッサとして構成されている。

図４は、操作部１０１が５つのポジションのそれぞれに配置されているときにおける、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１と、磁石３１との位置関係の一例を示す図である。なお、図４では、０～６のうちの何れかの整数が記載された正方形は、６つの磁気センサ１１～１６のうちのその整数に対応する磁気センサの位置およびサイズを示す。また、グレーの正方形は、３次元磁気センサ２１の位置およびサイズを示し、斜線のハッチングが付された正方形は、磁石３１の位置およびサイズを示す。図４では、Ｚ軸方向のプラス側から６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１と、磁石３１とを見たときの、それらの位置関係が示されている。

例えば、操作部１０１がＳポジションにある場合には、図４の（ａ）に示すように、６つの磁気センサ１１～１６のうち、第５磁気センサ１５および第６磁気センサ１６のみが、Ｚ軸方向に磁石３１と対向する。つまり、第１磁気センサ１１、第２磁気センサ１２、第３磁気センサ１３、および第４磁気センサ１４は、Ｚ軸方向に磁石３１と対向していない。３次元磁気センサ２１も、Ｚ軸方向に磁石３１と対向していない。

操作部１０１がＤポジションにある場合には、図４の（ｂ）に示すように、６つの磁気センサ１１～１６のうち、第１磁気センサ１１および第２磁気センサ１２のみが、Ｚ軸方向に磁石３１と対向していない。つまり、第３磁気センサ１３、第４磁気センサ１４、第５磁気センサ１５、および第６磁気センサ１６は、Ｚ軸方向に磁石３１と対向している。３次元磁気センサ２１も、Ｚ軸方向に磁石３１と対向している。

操作部１０１がＮポジションにある場合には、図４の（ｃ）に示すように、６つの磁気センサ１１～１６の全てが、Ｚ軸方向に磁石３１と対向している。さらに、３次元磁気センサ２１も、Ｚ軸方向に磁石３１と対向している。

操作部１０１がＲポジションにある場合には、図４の（ｄ）に示すように、６つの磁気センサ１１～１６のうち、第５磁気センサ１５および第６磁気センサ１６のみが、Ｚ軸方向に磁石３１と対向していない。つまり、第１磁気センサ１１、第２磁気センサ１２、第３磁気センサ１３、および第４磁気センサ１４は、Ｚ軸方向に磁石３１と対向している。３次元磁気センサ２１も、Ｚ軸方向に磁石３１と対向している。

操作部１０１がＰポジションにある場合には、図４の（ｅ）に示すように、６つの磁気センサ１１～１６のうち、第１磁気センサ１１および第２磁気センサ１２のみが、Ｚ軸方向に磁石３１と対向している。つまり、第３磁気センサ１３、第４磁気センサ１４、第５磁気センサ１５、および第６磁気センサ１６は、Ｚ軸方向に磁石３１と対向していない。３次元磁気センサ２１も、Ｚ軸方向に磁石３１と対向していない。

ここで、操作部１０１は、Ｓポジション、Ｄポジション、Ｎポジション、Ｒポジション、Ｐポジションの順に変位する。この場合、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１と、磁石３１との位置関係は、図４の（ａ）に示す位置関係から、（ｂ）に示す位置関係、（ｃ）に示す位置関係、（ｄ）に示す位置関係、（ｅ）に示す位置関係の順に変化する。逆に、操作部１０１は、Ｐポジション、Ｒポジション、Ｎポジション、Ｄポジション、Ｓポジションの順に変位する。この場合、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１と、磁石３１との位置関係は、図４の（ｅ）に示す位置関係から、（ｄ）に示す位置関係、（ｃ）に示す位置関係、（ｂ）に示す位置関係、（ａ）に示す位置関係の順に変化する。

本実施の形態では、６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれは、Ｚ軸方向に磁石３１と対向しているときには、閾値以上の大きい磁束密度を検出し、その結果、１を示す第１検出信号を出力する。一方、６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれは、Ｚ軸方向に磁石３１と対向していないときには、閾値未満の小さい磁束密度を検出し、その結果、０を示す第１検出信号を出力する。

また、本実施の形態では、操作部１０１が複数のポジションのうちの１つのポジションに配置され、磁石３１と、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１とが一方向に互いに対向している場合、３次元磁気センサ２１は、その一方向から見て、磁石３１の中央から外れた位置に配置される。例えば、操作部１０１がＮポジションに配置されている場合には、図４の（ｃ）に示すように、磁石３１と、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１とがＺ軸方向に互いに対向している。そして、３次元磁気センサ２１は、Ｚ軸方向から見て、磁石３１の中央から外れた位置に配置される。例えば、３次元磁気センサ２１が磁石３１の中央に配置されていれば、上述の位置関係が変化しても、３次元磁気センサ２１がその磁石３１から受ける磁束密度は、大きく変動しない可能性がある。しかし、本実施の形態では、３次元磁気センサ２１が磁石３１の中央から外れた位置にあるため、３次元磁気センサ２１がその磁石３１から受ける磁束密度を、上述の位置関係の変化に応じて大きく変動させることができる。その結果、その３次元磁気センサから出力される第２検出信号を用いれば、操作部１０１が配置されている位置をより高い精度で特定することができる。

図５は、６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれの第１検出信号の一例を示す図である。具体的には、図５は、表を示し、その表の縦軸は、操作部１０１の位置を示し、横軸は、６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれから出力される第１検出信号によって示される値を示す。その値は、０または１である。したがって、６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれから出力される第１検出信号によって示される値の列（以下、第１検出信号列という）は、６ビットによって表現される。６ビットのうちの左から１番目のビットは、第１磁気センサ１１から出力される第１検出信号によって示される値を示す。このように、１番目のビットは、第１磁気センサ１１に対応している。同様に、左から２番目のビット、３番目のビット、４番目のビット、５番目のビット、および６番目のビットは、第２磁気センサ１２、第３磁気センサ１３、第４磁気センサ１４、第５磁気センサ１５、および第６磁気センサ１６にそれぞれ対応している。

操作部１０１がＰポジションにある場合には、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１と、磁石３１との位置関係は、図４の（ｅ）に示す位置関係である。したがって、第１磁気センサ１１および第２磁気センサ１２は、１を示す第１検出信号を出力し、第３磁気センサ１３、第４磁気センサ１４、第５磁気センサ１５、および第６磁気センサ１６は、０を示す第１検出信号を出力する。その結果、制御部１１１は、６つの磁気センサ１１～１６から「１１００００」を示す６ビットの第１検出信号列を取得する。制御部１１１は、その「１１００００」を示す６ビットの第１検出信号列を取得すると、操作部１０１の位置としてＰポジションを特定する。そして、操作部１０１は、その特定されたＰポジションを示す信号を上述の操作信号として入力装置１００の外部に出力する。

操作部１０１がＲポジションにある場合には、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１と、磁石３１との位置関係は、図４の（ｄ）に示す位置関係である。したがって、第１磁気センサ１１、第２磁気センサ１２、第３磁気センサ１３、および第４磁気センサ１４は、１を示す第１検出信号を出力し、第５磁気センサ１５および第６磁気センサ１６は、０を示す第１検出信号を出力する。その結果、制御部１１１は、６つの磁気センサ１１～１６から「１１１１００」を示す６ビットの第１検出信号列を取得する。制御部１１１は、その「１１１１００」を示す６ビットの第１検出信号列を取得すると、操作部１０１の位置としてＲポジションを特定する。そして、操作部１０１は、その特定されたＲポジションを示す信号を上述の操作信号として入力装置１００の外部に出力する。

操作部１０１がＮポジションにある場合には、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１と、磁石３１との位置関係は、図４の（ｃ）に示す位置関係である。したがって、６つの磁気センサ１１～１６は、１を示す第１検出信号を出力する。その結果、制御部１１１は、６つの磁気センサ１１～１６から「１１１１１１」を示す６ビットの第１検出信号列を取得する。制御部１１１は、その「１１１１１１」を示す６ビットの第１検出信号列を取得すると、操作部１０１の位置としてＮポジションを特定する。そして、操作部１０１は、その特定されたＮポジションを示す信号を上述の操作信号として入力装置１００の外部に出力する。

操作部１０１がＤポジションにある場合には、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１と、磁石３１との位置関係は、図４の（ｂ）に示す位置関係である。したがって、第１磁気センサ１１および第２磁気センサ１２は、０を示す第１検出信号を出力し、第３磁気センサ１３、第４磁気センサ１４、第５磁気センサ１５、および第６磁気センサ１６は、１を示す第１検出信号を出力する。その結果、制御部１１１は、６つの磁気センサ１１～１６から「００１１１１」を示す６ビットの第１検出信号列を取得する。制御部１１１は、その「００１１１１」を示す６ビットの第１検出信号列を取得すると、操作部１０１の位置としてＤポジションを特定する。そして、操作部１０１は、その特定されたＤポジションを示す信号を上述の操作信号として入力装置１００の外部に出力する。

操作部１０１がＳポジションにある場合には、６つの磁気センサ１１～１６および３次元磁気センサ２１と、磁石３１との位置関係は、図４の（ａ）に示す位置関係である。したがって、第１磁気センサ１１、第２磁気センサ１２、第３磁気センサ１３、および第４磁気センサ１４は、０を示す第１検出信号を出力し、第５磁気センサ１５および第６磁気センサ１６は、１を示す第１検出信号を出力する。その結果、制御部１１１は、６つの磁気センサ１１～１６から「００００１１」を示す６ビットの第１検出信号列を取得する。制御部１１１は、その「００００１１」を示す６ビットの第１検出信号列を取得すると、操作部１０１の位置としてＳポジションを特定する。そして、操作部１０１は、その特定されたＳポジションを示す信号を上述の操作信号として入力装置１００の外部に出力する。

このように、本実施の形態では、操作部１０１が５つのポジションのうちの何れか１つのポジションに変位するごとに、６つの磁気センサ１１～１６のうちの何れか２つの磁気センサのそれぞれは、出力される第１検出信号によって示される状態を切り替える。言い換えれば、本実施の形態における入力装置１００は、第１検出系Ｄ１と第２検出系Ｄ２とを有するため、操作部１０１が現在のポジションから隣のポジションに変位する場合には、第１検出系Ｄ１および第２検出系Ｄ２のそれぞれの出力が切り替えられる。つまり、第１検出系Ｄ１および第２検出系Ｄ２のそれぞれに含まれる１つの磁気センサから出力される第１検出信号の値が切り替えられる。例えば、操作部１０１がＰポジションからＲポジションに変位する場合には、第１検出系Ｄ１に含まれる第３磁気センサ１３と、第２検出系Ｄ２に含まれる第４磁気センサ１４とのそれぞれから出力される第１検出信号の値が０から１に切り替えられる。このように、入力装置１００は、２つの検出系を有するため、操作部１０１のポジションを正確に特定することができる。言い換えれば、ロバスト性を高めることができる。

ここで、操作部１０１が隣り合う２つのポジション間にある場合には、５つのポジションを特定するための正規の５種類の第１検出信号列は出力されず、非正規の第１検出信号列が出力される。なお、正規の５種類の第１検出信号列は、上述の「１１００００」を示す６ビットの信号、「１１１１００」を示す６ビットの信号、「１１１１１１」を示す６ビットの信号、「００１１１１」を示す６ビットの信号、および「００００１１」を示す６ビットの信号である。

例えば、操作部１０１がＰポジションとＲポジションとの間の位置にある場合には、「１１００００」または「１１１１００」を示す正規の第１検出信号列とは異なる、「１１０１００」または「１１１０００」などを示す非正規の第１検出信号列が出力される可能性がある。同様に、操作部１０１がＲポジションとＮポジションとの間の位置にある場合には、「１１１１００」または「１１１１１１」を示す正規の第１検出信号列とは異なる、「１１１１０１」または「１１１１１０」などを示す非正規の第１検出信号列が出力される可能性がある。

制御部１１１は、上述のような非正規の第１検出信号列を取得した場合には、その第１検出信号列だけからでは、故障が発生しているのか、何れか隣り合う２つのポジション間に操作部１０１があるのかを判断することができない。なお、操作部１０１が配置可能な範囲のうち、非正規の第１検出信号列が出力される可能性が高い領域は、操作部１０１の位置が不定とされる領域であって、不定領域とも呼ばれる。

そこで、本実施の形態における制御部１１１は、第１検出信号列と共に、３次元磁気センサ２１から出力される第２検出信号と、記憶部１１２に格納されている関連付けデータ１１２ａとを用いて、故障の有無を判断し、さらに、操作部１０１の位置を特定する。

図６は、関連付けデータ１１２ａの一例を示す図である。

関連付けデータ１１２ａは、磁石３１の各変位量に対して３次元磁気センサ２１から出力される第２検出信号と、磁石３１の各変位量に対して６つの磁気センサ１１～１６から出力される第１検出信号列とを関連付けて示す。磁石３１の変位量は、例えば、操作部１０１がＮポジションにあるときには０であって、操作部１０１のＰポジション側への移動とともに増加し、操作部１０１のＳポジション側への移動とともに減少する値である。つまり、磁石３１の変位量は、操作部１０１の位置に対応している。このような変位量は、上述の被検出部と検出部との相対的な位置関係を示しているとも言える。なお、このような関連付けデータ１１２ａは、例えば入力装置１００の工場出荷時などに行われるキャリブレーションによって生成されて、記憶部１１２に格納される。

具体的には、関連付けデータ１１２ａは、磁石３１の変位量と磁束密度との関係を示すグラフを含む。グラフの横軸は、磁石の変位量を示し、グラフの縦軸は、磁束密度を示す。第２検出信号に含まれる３成分の信号のそれぞれによって示される値である磁束密度は、このグラフによって表現されている。なお、３成分の信号は、互いに直交する３つの方向の信号であって、Ｘ成分の信号と、Ｙ成分の信号と、Ｚ成分の信号とからなる。Ｘ成分の信号は、Ｘ軸方向の磁束密度を示してもよく、Ｙ成分は、Ｙ軸方向の磁束密度を示していてもよく、Ｚ成分は、Ｚ軸方向の磁束密度を示していてもよい。

さらに、そのグラフの横軸には、５種類の正規の第１検出信号列が関連付けられている。例えば、変位量の全範囲のうちのＰポジションに対応する範囲には、正規の第１検出信号列「１１００００」が関連付けられ、Ｒポジションに対応する範囲には、正規の第１検出信号列「１１１１００」が関連付けられている。同様に、Ｎポジションに対応する範囲には、正規の第１検出信号列「１１１１１１」が関連付けられ、Ｄポジションに対応する範囲には、正規の第１検出信号列「００１１１１」が関連付けられている。さらに、Ｓポジションに対応する範囲には、正規の第１検出信号列「００００１１」が関連付けられている。

したがって、制御部１１１は、正規の第１検出信号列を取得すると、関連付けデータ１１２ａにおいてその正規の第１検出信号列に関連付けられているポジションを特定することによって、操作部１０１が配置されているポジションを特定することができる。

また、変位量の全範囲のうち、２つのポジション間の範囲（図６中のグレーの長方形が配置されている範囲）にも、その範囲に対応する１以上の非正規の第１検出信号列が関連付けられていてもよい。このような２つのポジション間の範囲は、上述の不定領域に相当する。例えば、ＲポジションとＰポジションとの間の範囲には、その範囲に対応する非正規の第１検出信号列として「１１０１００」および「１１１０００」などが関連付けられている。

制御部１１１は、非正規の第１検出信号列を取得した場合には、関連付けデータ１１２ａによって示される変位量の全範囲のうち、その取得された非正規の第１検出信号列に関連付けられている想定範囲を検索する。この想定範囲は、操作部１０１が配置されていると想定される範囲であって、上述の不定領域に相当する。そして、そのような想定範囲があれば、制御部１１１は、関連付けデータ１１２ａのグラフにおいて、その想定範囲に対して示されている３成分のそれぞれの磁束密度と、取得された第２検出信号に含まれる３成分の信号によって示される磁束密度とを比較する。制御部１１１は、それらの磁束密度が類似していなければ、故障が発生していると判断し、それらの磁束密度が類似していれば、操作部１０１の位置を、上述の想定範囲（すなわち不定領域）内の位置として決定する。つまり、操作部１０１の位置が特定される。具体的には、制御部１１１は、成分ごとに、グラフに示される当該成分の磁束密度と、第２検出信号に含まれる当該成分の信号によって示される磁束密度との差分を算出する。さらに、制御部１１１は、グラフに示される当該成分の磁束密度に対するその差分の割合を算出し、各成分から得られる差分の割合の平均値を算出する。そして、制御部１１１は、その平均値が閾値以上である場合には、磁束密度が類似していないと判断し、平均値が閾値未満である場合には、磁束密度が類似していると判断してもよい。

つまり、制御部１１１は、関連付けデータ１１２ａに基づいて、第１検出信号列と第２検出信号とが整合しているか否かを判定し、整合していなければ、故障が発生していると判断する。一方、制御部１１１は、第１検出信号列と第２検出信号とが整合していると判断すると、第１検出信号列および第２検出信号に基づいて、操作部１０１の位置を特定する。

なお、制御部１１１は、取得された非正規の第１検出信号列に関連付けられている想定範囲が２つ以上あれば、それらの想定範囲ごとに、上述のような磁束密度の比較を行ってもよい。この場合、制御部１１１は、全ての想定範囲のそれぞれで、磁束密度が類似していなければ、故障が発生していると判断してもよい。そして、制御部１１１は、何れか１つの想定範囲において磁束密度が類似していれば、操作部１０１の位置を、その想定範囲内の位置として決定してもよい。

また、制御部１１１は、取得された非正規の第１検出信号列に関連付けられている想定範囲が関連付けデータ１１２ａに示されていなければ、故障が発生じていると判断し、その非正規の第１検出信号列を用いなくてもよい。この場合、制御部１１１は、第２検出信号と関連付けデータ１１２ａとを用いて、操作部１０１の位置を特定してもよい。

また、制御部１１１は、正規の第１検出信号列を取得した場合にも、関連付けデータ１１２ａのグラフに示される磁束密度と、３次元磁気センサ２１から出力された第２検出信号によって示される磁束密度とを比較してもよい。つまり、制御部１１１は、関連付けデータ１１２ａによって示される変位量の全範囲のうち、その取得された正規の第１検出信号列に関連付けられているポジションを検索する。そして、制御部１１１は、関連付けデータ１１２ａのグラフにおいて、そのポジションに対して示されている３成分のそれぞれの磁束密度と、取得された第２検出信号に含まれる３成分の信号によって示される磁束密度とを比較する。制御部１１１は、磁束密度が類似していなければ、故障が発生していると判断し、磁束密度が類似していれば、操作部１０１の位置をそのポジションとして決定する。

図７は、本実施の形態における制御部１１１による処理動作の一例を示すフローチャートである。

制御部１１１は、６つの磁気センサ１１～１６のそれぞれから出力される第１検出信号を取得する（ステップＳ１）。さらに、制御部１１１は、３次元磁気センサ２１から出力される第２検出信号を取得する（ステップＳ２）。また、制御部１１１は、記憶部１１２から関連付けデータ１１２ａを読み出す（ステップＳ３）。

制御部１１１は、関連付けデータ１１２ａを参照することによって、ステップＳ１で取得された６つの第１検出信号（すなわち第１検出信号列）と、ステップＳ２で取得された第２検出信号とが整合しているか否かを判定する（ステップＳ４）。

ここで、制御部１１１は、整合していないと判定すると（ステップＳ４のＮｏ）、入力装置１００に故障が発生していると判断する（ステップＳ５）。言い換えれば、制御部１１１は、故障を検知する。一方、制御部１１１は、整合していると判定すると（ステップＳ４のＹｅｓ）、６つの第１検出信号、第２検出信号、および関連付けデータ１１２ａに基づいて、操作部１０１の位置を検出する（ステップＳ６）。

なお、図７に示す例では、第１検出信号と第２検出信号との整合性に基づいて、故障が検知されるが、第１検出信号のみから故障を検知してもよく、第２検出信号のみから検知を検知してもよい。例えば、制御部１１１は、取得された６つの第１検出信号からなる第１検出信号列が、図５における何れの数値列も示していない場合に、６つの磁気センサ１１～１６のうちの少なくとも１つの磁気センサに故障が発生していると判断してもよい。また、制御部１１１は、取得された第２検出信号が、図６におけるグラフの各変位量に対応付けられている３成分の信号の値を示していない場合に、３次元磁気センサ２１に故障が発生していると判断してもよい。

ここで、制御部１１１は、６つの磁気センサ１１～１６のうちの少なくとも１つの磁気センサに故障が発生していると判断した場合には、３次元磁気センサ２１の第２検出信号に基づいて、操作部１０１の位置を特定してもよい。この場合、制御部１１１は、第２検出信号に基づいて特定された操作部１０１の位置から、故障している少なくとも１つの磁気センサを特定してもよい。また、制御部１１１は、３次元磁気センサ２１に故障が発生していると判断した場合には、６つの磁気センサ１１～１６の第１検出信号に基づいて、操作部１０１の位置を特定してもよい。

以上のように、本実施の形態における入力装置１００は、６つの磁気センサ１１～１６からの出力だけでなく、３次元磁気センサ２１からの出力も用いることによって、磁石３１とセンサ基板１０との相対的な位置関係を正確に把握することができる。その結果、操作部１０１が配置されている位置を高い精度で特定することができる。例えば、操作部１０１が、予め定められた５つのポジションのうちの何れのポジションに配置されているのかを正確に特定することができるだけでなく、何れの２つのポジション間に配置されているかをも正確に特定することができる。したがって、操作部１０１の位置を適切に特定することができる。

ここで、例えば、以下の２種類の入力装置が、本実施の形態における入力装置１００の比較対象として想定される。１つ目の比較対象の入力装置は、それぞれ３次元磁気センサ２１のような複数（例えば３つ）の３次元磁気センサを備えて、磁気センサ１１～１６などの磁気センサを１つも備えていない入力装置である。このような、１つ目の比較対象の入力装置では、その複数の３次元磁気センサと磁石との配置が難しい。また、３次元磁気センサのコストが高いため、入力装置の全体のコストも高くなってしまう。また、操作部が微小に変位する場合にも、それらの３次元磁気センサから出力される検出信号によって示される値が連続的に変動する。したがって、操作部が予め定められているポジションに配置されているのか、２つのポジション間に配置されているのかを容易に判断することが難しく、広い範囲で不定領域が発生する可能性がある。２つ目の比較対象の入力装置は、上記特許文献１のシフトレバー装置に相当し、それぞれ３次元磁気センサ２１のような３次元磁気センサを備えず、磁気センサ１１～１６などの複数の磁気センサを備えている入力装置である。このような、２つ目の比較対象の入力装置では、操作部の連続的な移動量を検出することができないため、２つポジション間に操作部が配置されている場合には、２つのポジション間に操作部が配置されているのか、入力装置が故障しているのか、を判定することが難しい。

したがって、本実施の形態における入力装置１００では、これらの比較対象の入力装置と比べて、被検出部と検出部との配置構成を簡易にすることができ、高コスト化を抑制することができる。さらに、不定領域を抑えて、故障の発生の有無を適切に判定することができる。

また、本実施の形態では、関連付けデータ１１２ａによって、第１検出信号（または第１検出信号列）と第２検出信号とが予め関連付けられている。したがって、その関連付けデータ１１２ａを参照すれば、６つの磁気センサ１１～１６から出力される第１検出信号と、３次元磁気センサ２１から出力される第２検出信号とが整合しているか否かを判断することができる。例えば、６つの磁気センサ１１～１６から出力される第１検出信号と、３次元磁気センサ２１から出力される第２検出信号とが同一の位置関係を示しているか否かを正確に判断することができる。したがって、操作部１０１が配置されている位置をより高い精度で特定することができる。

また、本実施の形態では、５つのポジションが一方向に配列されてあって、操作部１０１が現在のポジションから隣のポジションに変位するごとに、２つの磁気センサのそれぞれから出力される第１検出信号によって示される状態が切り替えられる。また、その２つの磁気センサからなる組は、変位前後のポジションによって異なる。言い換えれば、操作部１０１の位置を特定するための構成が、第１検出系Ｄ１および第２検出系Ｄ２によって二重化されている。さらに、その構成は、３次元磁気センサ２１によって三重化されている。したがって、操作部１０１の特定される位置の確からしさを向上することができる。

また、本実施の形態では、３次元磁気センサ２１が磁石３１の中央から外れた位置にあるため、３次元磁気センサ２１がその磁石３１から受ける磁束密度を、上述の位置関係の変化に応じて大きく変動させることができる。その結果、その３次元磁気センサ２１から出力される第２検出信号を用いれば、操作部１０１が配置されている位置をより高い精度で特定することができる。

（その他の変形例）
以上、本開示の入力装置について、上記実施の形態に基づいて説明したが、本開示は、この実施の形態に限定されるものではない。本開示の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を上記実施の形態に施したものも、本開示に含まれてもよい。

例えば、本実施の形態における入力装置は、車両のセンターコンソールに設けられるシフトレバー装置として構成されているが、他の場所に設けられるシフトレバー装置として構成されていてもよい。また、本実施の形態における入力装置は、ユーザからの操作を受け付ける装置であれば、シフトレバー装置以外の装置であってもよい。

また、本実施の形態では、予め定められているポジションの数は、５つであるが、５つに限定されることなく、２つ以上の数であってもよい。また、本実施の形態では、第１検出部の数は、６つであるが、６つに限定されることなく、ポジションの数に応じた２以上の数であってもよい。

なお、上記実施の形態において、制御部１１１などは、専用のハードウェアで構成されるか、制御部１１１に適したソフトウェアプログラムを実行することによって実現されてもよい。制御部１１１は、ＣＰＵまたはプロセッサなどのプログラム実行部が、ハードディスクまたは半導体メモリなどの記録媒体に記録されたソフトウェアプログラムを読み出して実行することによって実現されてもよい。ここで、上記実施の形態の制御部１１１などを実現するソフトウェアは、例えば図７に示すフローチャートの各ステップをコンピュータに実行させる。

なお、以下のような場合も本開示に含まれる。

（１）制御部１１１は、具体的には、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ハードディスクユニット、ディスプレイユニット、キーボード、マウスなどから構成されるコンピュータシステムであってもよい。そのＲＡＭまたはハードディスクユニットには、コンピュータプログラムが記憶されている。マイクロプロセッサが、コンピュータプログラムにしたがって動作することにより、制御部１１１は、その機能を達成する。ここでコンピュータプログラムは、所定の機能を達成するために、コンピュータに対する指令を示す命令コードが複数個組み合わされて構成されたものである。

（２）制御部１１１は、１個のシステムＬＳＩ（Large Scale Integration：大規模集積回路）から構成されているとしてもよい。システムＬＳＩは、複数の構成部を１個のチップ上に集積して製造された超多機能ＬＳＩであり、具体的には、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを含んで構成されるコンピュータシステムである。前記ＲＡＭには、コンピュータプログラムが記憶されている。マイクロプロセッサが、コンピュータプログラムにしたがって動作することにより、システムＬＳＩは、その機能を達成する。

（３）制御部１１１は、脱着可能なＩＣカードまたは単体のモジュールから構成されているとしてもよい。ＩＣカードまたはモジュールは、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどから構成されるコンピュータシステムである。ＩＣカードまたはモジュールは、上記の超多機能ＬＳＩを含むとしてもよい。マイクロプロセッサが、コンピュータプログラムにしたがって動作することにより、ＩＣカードまたはモジュールは、その機能を達成する。このＩＣカードまたはこのモジュールは、耐タンパ性を有するとしてもよい。

（４）本開示は、上記に示す方法であるとしてもよい。また、これらの方法をコンピュータにより実現するコンピュータプログラムであるとしてもよいし、コンピュータプログラムからなるデジタル信号であるとしてもよい。

また、本開示は、コンピュータプログラムまたはデジタル信号をコンピュータ読み取り可能な記録媒体、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、ＣＤ（Compact Disc）－ＲＯＭ、ＤＶＤ、ＤＶＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ－ＲＡＭ、ＢＤ（Blu-ray（登録商標） Disc）、半導体メモリなどに記録したものとしてもよい。また、これらの記録媒体に記録されているデジタル信号であるとしてもよい。

また、本開示は、コンピュータプログラムまたはデジタル信号を、電気通信回線、無線または有線通信回線、インターネットを代表とするネットワーク、データ放送等を経由して伝送するものとしてもよい。

また、プログラムまたはデジタル信号を記録媒体に記録して移送することにより、またはプログラムまたはデジタル信号をネットワーク等を経由して移送することにより、独立した他のコンピュータシステムにより実施するとしてもよい。

本開示は、例えば車両に搭載されてユーザの操作を受け付ける入力装置などに利用可能である。

１０ センサ基板
１１ 第１磁気センサ（第１検出部）
１２ 第２磁気センサ（第１検出部）
１３ 第３磁気センサ（第１検出部）
１４ 第４磁気センサ（第１検出部）
１５ 第５磁気センサ（第１検出部）
１６ 第６磁気センサ（第１検出部）
２１ ３次元磁気センサ（第２検出部）
３０ 支持体
３１ 磁石（被検出部）
１００ 入力装置
１０１ 操作部
１０２ 収容ユニット
１０３ シフトパネル
１０４ ガイド溝
１１１ 制御部
１１２ 記憶部
１１２ａ 関連付けデータ
１２１ 第１電源系
１２２ 第２電源系
１２３ 第３電源系
Ｄ１ 第１検出系
Ｄ２ 第２検出系

Claims (5)

1. 被検出部と、
   前記被検出部を検出するための検出部と、
   予め定められた複数のポジションに変位自在に配置され、変位に伴って、前記被検出部と前記検出部との相対的な位置関係を変化させる操作部とを備え、
   前記検出部は、
   複数の第１検出部と、第２検出部とを備え、
   前記複数の第１検出部のそれぞれは、
   ２種類の状態のうちの前記位置関係に応じた一方の状態を示す第１検出信号を出力し、
   前記第２検出部は、
   それぞれ前記位置関係に応じて変化する３成分の信号を含む第２検出信号を出力する、
   入力装置。
2. 前記入力装置は、さらに、
   前記位置関係に応じて出力される前記第１検出信号と前記第２検出信号とを予め関連付けて示す関連付けデータを格納している記憶部と、
   前記第１検出部から前記第１検出信号を取得し、前記第２検出部から前記第２検出信号を取得し、取得された前記第１検出信号および前記第２検出信号と、前記関連付けデータとに基づいて、前記操作部の位置を特定する制御部とを備える、
   請求項１に記載の入力装置。
3. 前記複数のポジションは、５つのポジションであり、
   前記複数の第１検出部は、６つの第１検出部であり、
   前記操作部が前記５つのポジションのうちの何れか１つのポジションに変位するごとに、前記６つの第１検出部のうちの何れか２つの第１検出部のそれぞれは、出力される前記第１検出信号によって示される状態を切り替える、
   請求項２に記載の入力装置。
4. 前記被検出部は、磁石であり、
   前記複数の第１検出部のそれぞれは、磁気センサであり、
   前記第２検出部は、３次元磁気センサである、
   請求項１～３の何れか１項に記載の入力装置。
5. 前記操作部が前記複数のポジションのうちの１つのポジションに配置され、前記磁石と、複数の前記磁気センサおよび前記３次元磁気センサとが一方向に互いに対向している場合、
   前記３次元磁気センサは、前記一方向から見て、前記磁石の中央から外れた位置に配置される、
   請求項４に記載の入力装置。

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