JP2024012972A

JP2024012972A - Card test system and card test device

Info

Publication number: JP2024012972A
Application number: JP2022114846A
Authority: JP
Inventors: 祐介岸; Yusuke Kishi; 花手　知寿; Tomohisa Hanate
Original assignee: PFU Ltd
Current assignee: PFU Ltd
Priority date: 2022-07-19
Filing date: 2022-07-19
Publication date: 2024-01-31

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve an efficiency of a test corresponding to a slave card that is connected to a daisy chain.

SOLUTION: In a card test system 1, a master card 11 and each of slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D are connected to a daisy chain via each of connection switching devices 40A, 40B, 40C, and 40D. A card test device 10 switches over between a connection state of a first switching device as a connection switching device provided between a faulty card as a slave card in which a failure occurs and a slave card at a stage preceding to the failure card and a connection state of a second switching device as a connection switching device provided between the failure card and a slave card at a stage subsequent to the failure card, when it is determined that the failure occurs in any one of slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D, and connects the first switching device and the second switching device without an interposition of the failure card, thereby removing the failure card from the connection of the daisy chain.

SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本開示は、カード試験システム及びカード試験装置に関する。 The present disclosure relates to a card testing system and a card testing device.

ＥｔｈｅｒＣＡＴ（Ethernet for Control Automation Technology）等のリングトポロジを用いてマスタカードと複数のスレーブカードとがデイジーチェーン接続されている場合、複数のスレーブカードのうちの一枚でも故障するとカード間の全通信が停止する。 When a master card and multiple slave cards are connected in a daisy chain using a ring topology such as EtherCAT (Ethernet for Control Automation Technology), if one of the slave cards fails, all communication between the cards will be interrupted. Stop.

国際公開第２０１９／１２４２７５号International Publication No. 2019/124275

このため、デイジーチェーン接続された複数のスレーブカード（以下では「デイジーチェーン接続カード」と呼ぶことがある）の各々に対する試験がマスタカードを用いて行われる場合、故障が発生したスレーブカード（以下では「故障カード」と呼ぶことがある）がデイジーチェーン接続カードの中に含まれていると、試験が中断してしまう。また、デイジーチェーン接続カードにおいて故障カードの１つ前段のスレーブカードにて強制的に終端させて試験を継続させる場合には、故障カードの後段のスレーブカードに対する試験を行うことが困難になってしまう。 Therefore, when a master card is used to test each of multiple daisy-chained slave cards (hereinafter sometimes referred to as "daisy-chained cards"), a failed slave card (hereinafter referred to as "daisy-chained cards") must be tested. If a daisy-chained card (sometimes referred to as a "faulty card") is included in the daisy-chained cards, the test will be interrupted. In addition, if a daisy chain connected card is forcibly terminated at the slave card one stage before the faulty card and the test is continued, it becomes difficult to test the slave card after the faulty card. .

よって、デイジーチェーン接続カードのうちの故障が発生していないスレーブカード（以下では「非故障カード」と呼ぶことがある）に対する試験を継続するには、デイジーチェーン接続カードの中から故障カードを手作業で取り除いた後に試験を再開させる必要があるため、試験の効率が低下する。 Therefore, in order to continue testing a slave card (hereinafter sometimes referred to as a "non-faulty card") that is not faulty among the daisy-chained cards, remove the faulty card from the daisy-chained cards by hand. Testing efficiency is reduced because the test must be restarted after removal.

そこで、本開示では、デイジーチェーン接続されたスレーブカードに対する試験の効率を向上できる技術を提案する。 Therefore, the present disclosure proposes a technique that can improve the efficiency of testing daisy-chained slave cards.

本開示のカード試験システムは、マスタカードを有するカード試験装置と、複数のスレーブカードと、複数の接続切替器とを有する。前記マスタカード及び前記複数のスレーブカードの各々は、前記複数の接続切替器の各々を介してデイジーチェーン接続される。前記カード試験装置は、前記複数のスレーブカードの何れかに故障が発生したと判定したときに、故障が発生したスレーブカードである故障カードと前記故障カードの前段のスレーブカードとの間にある前記接続切替器である第一切替器の接続状態と、前記故障カードと前記故障カードの後段のスレーブカードとの間にある前記接続切替器である第二切替器の接続状態とを切り替えて、前記第一切替器と前記第二切替器とを前記故障カードを介さずに接続することにより、前記故障カードを前記デイジーチェーン接続から除外する。 The card testing system of the present disclosure includes a card testing device having a master card, multiple slave cards, and multiple connection switches. The master card and each of the plurality of slave cards are connected in a daisy chain via each of the plurality of connection switchers. When the card testing device determines that a failure has occurred in any one of the plurality of slave cards, the card testing device determines that a failure has occurred in any of the plurality of slave cards, and the card testing device detects the failure in the slave card that is between the failure card, which is the slave card in which the failure has occurred, and the slave card in the preceding stage of the failure card. Switching the connection state of a first switch, which is a connection switch, and the connection state of a second switch, which is the connection switch, located between the faulty card and a slave card subsequent to the faulty card, and By connecting the first switch and the second switch without using the faulty card, the faulty card is excluded from the daisy chain connection.

本開示によれば、デイジーチェーン接続されたスレーブカードに対する試験の効率を向上できる。 According to the present disclosure, it is possible to improve the efficiency of testing daisy-chained slave cards.

図１は、本開示のカード試験システムの構成例を示す図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a card testing system of the present disclosure. 図２は、本開示のスレーブカードの構成例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration example of a slave card of the present disclosure. 図３は、本開示のカード試験システムにおける処理手順の一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a processing procedure in the card testing system of the present disclosure. 図４は、本開示のデイジーチェーンの接続状態の一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a daisy chain connection state of the present disclosure. 図５は、本開示のデイジーチェーンの接続状態の一例を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a daisy chain connection state of the present disclosure. 図６は、本開示のデイジーチェーンの接続状態の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a daisy chain connection state of the present disclosure.

以下、本開示の実施例を図面に基づいて説明する。図面において同一の構成には同一の符号を付す。 Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described based on the drawings. In the drawings, the same components are given the same reference numerals.

［実施例］
＜カード試験システムの構成＞
図１は、本開示のカード試験システムの構成例を示す図である。図１において、カード試験システム１は、カード試験装置１０と、判定ユニット２０と、複数のスレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄと、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄと同数の複数の接続切替器４０Ａ，４０Ｂ，４０Ｃ，４０Ｄとを有する。以下では、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄを「スレーブカード３０」と総称することがある。また以下では、接続切替器４０Ａ，４０Ｂ，４０Ｃ，４０Ｄを「接続切替器４０」と総称することがある。 [Example]
<Card test system configuration>
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a card testing system of the present disclosure. In FIG. 1, a card testing system 1 includes a card testing device 10, a determination unit 20, a plurality of slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D, and a plurality of connection switches of the same number as the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D. It has containers 40A, 40B, 40C, and 40D. In the following, the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D may be collectively referred to as "slave cards 30." Furthermore, hereinafter, the connection switching devices 40A, 40B, 40C, and 40D may be collectively referred to as "connection switching devices 40."

カード試験装置１０は、マスタカード１１と、制御部１２とを有する。マスタカード１１は、入力端子ＩＮと出力端子ＯＵＴとを有する。制御部１２の一例として、プロセッサが挙げられる。プロセッサの一例として、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）が挙げられる。 The card testing device 10 includes a master card 11 and a control section 12. Master card 11 has an input terminal IN and an output terminal OUT. An example of the control unit 12 is a processor. Examples of processors include a CPU (Central Processing Unit), a DSP (Digital Signal Processor), and an FPGA (Field Programmable Gate Array).

判定ユニット２０の一例として、ＪＴＡＧ（Joint Test Action Group）ユニットが上げられる。 An example of the determination unit 20 is a JTAG (Joint Test Action Group) unit.

スレーブカード３０は、入力端子ＩＮと出力端子ＯＵＴとを有する。 Slave card 30 has an input terminal IN and an output terminal OUT.

接続切替器４０は、第一入力端子ＩＮ＃１と、第二入力端子ＩＮ＃２と、第一出力端子ＯＵＴ＃１と、第二出力端子ＯＵＴ＃２とを有する。接続切替器４０の内部において、第一入力端子ＩＮ＃１及び第二入力端子ＩＮ＃２の各々は、第一出力端子ＯＵＴ＃１または第二出力端子ＯＵＴ＃２の何れか一方に接続可能である。 The connection switch 40 has a first input terminal IN#1, a second input terminal IN#2, a first output terminal OUT#1, and a second output terminal OUT#2. Inside the connection switch 40, each of the first input terminal IN#1 and the second input terminal IN#2 can be connected to either the first output terminal OUT#1 or the second output terminal OUT#2. be.

図１に示すように、カード試験システム１において、マスタカード１１及びスレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの各々が接続切替器４０Ａ，４０Ｂ，４０Ｃ，４０Ｄの各々を介してデイジーチェーン接続される。すなわち、マスタカード１１とスレーブカード３０Ａとが接続切替器４０Ａを介して接続され、スレーブカード３０Ａとスレーブカード３０Ｂとが接続切替器４０Ｂを介して接続され、スレーブカード３０Ｂとスレーブカード３０Ｃとが接続切替器４０Ｃを介して接続され、スレーブカード３０Ｃとスレーブカード３０Ｄとが接続切替器４０Ｄを介して接続される。 As shown in FIG. 1, in the card testing system 1, a master card 11 and slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D are connected in a daisy chain via connection switches 40A, 40B, 40C, and 40D, respectively. That is, master card 11 and slave card 30A are connected via connection switch 40A, slave card 30A and slave card 30B are connected via connection switch 40B, and slave card 30B and slave card 30C are connected. The slave card 30C and the slave card 30D are connected via the connection switch 40D.

また、マスタカード１１の出力端子ＯＵＴと接続切替器４０Ａの第一入力端子ＩＮ＃１とが接続され、接続切替器４０Ａの第一出力端子ＯＵＴ＃１とスレーブカード３０Ａの入力端子ＩＮとが接続される。また、スレーブカード３０Ａの出力端子ＯＵＴと接続切替器４０Ｂの第一入力端子ＩＮ＃１とが接続され、接続切替器４０Ｂの第一出力端子ＯＵＴ＃１とスレーブカード３０Ｂの入力端子ＩＮとが接続される。また、スレーブカード３０Ｂの出力端子ＯＵＴと接続切替器４０Ｃの第一入力端子ＩＮ＃１とが接続され、接続切替器４０Ｃの第一出力端子ＯＵＴ＃１とスレーブカード３０Ｃの入力端子ＩＮとが接続される。また、スレーブカード３０Ｃの出力端子ＯＵＴと接続切替器４０Ｄの第一入力端子ＩＮ＃１とが接続され、接続切替器４０Ｄの第一出力端子ＯＵＴ＃１とスレーブカード３０Ｄの入力端子ＩＮとが接続される。 Further, the output terminal OUT of the master card 11 and the first input terminal IN#1 of the connection switch 40A are connected, and the first output terminal OUT#1 of the connection switch 40A and the input terminal IN of the slave card 30A are connected. be done. Further, the output terminal OUT of the slave card 30A and the first input terminal IN#1 of the connection switch 40B are connected, and the first output terminal OUT#1 of the connection switch 40B and the input terminal IN of the slave card 30B are connected. be done. Further, the output terminal OUT of the slave card 30B and the first input terminal IN#1 of the connection switch 40C are connected, and the first output terminal OUT#1 of the connection switch 40C and the input terminal IN of the slave card 30C are connected. be done. Further, the output terminal OUT of the slave card 30C and the first input terminal IN#1 of the connection switch 40D are connected, and the first output terminal OUT#1 of the connection switch 40D and the input terminal IN of the slave card 30D are connected. be done.

また、接続切替器４０Ａの第二出力端子ＯＵＴ＃２と接続切替器４０Ｂの第二入力端子ＩＮ＃２とが接続され、接続切替器４０Ｂの第二出力端子ＯＵＴ＃２と接続切替器４０Ｃの第二入力端子ＩＮ＃２とが接続され、接続切替器４０Ｃの第二出力端子ＯＵＴ＃２と接続切替器４０Ｄの第二入力端子ＩＮ＃２とが接続される。 Further, the second output terminal OUT#2 of the connection switch 40A and the second input terminal IN#2 of the connection switch 40B are connected, and the second output terminal OUT#2 of the connection switch 40B and the second input terminal IN#2 of the connection switch 40C are connected. A second input terminal IN#2 is connected, and a second output terminal OUT#2 of the connection switch 40C and a second input terminal IN#2 of the connection switch 40D are connected.

また、カード試験装置１０は、接続切替器４０Ａ，４０Ｂ，４０Ｃ，４０Ｄに接続され、判定ユニット２０は、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄ及びカード試験装置１０に接続される。 Further, the card testing device 10 is connected to the connection switches 40A, 40B, 40C, and 40D, and the determination unit 20 is connected to the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D and the card testing device 10.

なお、図１では、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの４枚のスレーブカードがデイジーチェーン接続される場合を一例として示す。しかし、デイジーチェーン接続されるスレーブカードの枚数は４枚に限定されず、本開示の技術は、２枚以上のスレーブカードがデイジーチェーン接続される場合に適用可能である。 Note that FIG. 1 shows, as an example, a case where four slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D are connected in a daisy chain. However, the number of slave cards connected in a daisy chain is not limited to four, and the technology of the present disclosure is applicable when two or more slave cards are connected in a daisy chain.

＜スレーブカードの構成＞
図２は、本開示のスレーブカードの構成例を示す図である。図２において、スレーブカード３０は、ＣＰＵ３１と、メモリ３２と、ＰＨＹチップ３３と、第一コネクタ３４と、第二コネクタ３５とを有する。第一コネクタ３４は、入力端子ＩＮ及び出力端子ＯＵＴを有する。スレーブカード３０は、第一コネクタ３４を介して接続切替器４０に接続され、第二コネクタ３５を介して判定ユニット２０に接続される。メモリ３２の一例として、ＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、フラッシュメモリが挙げられる。 <Slave card configuration>
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration example of a slave card of the present disclosure. In FIG. 2, the slave card 30 includes a CPU 31, a memory 32, a PHY chip 33, a first connector 34, and a second connector 35. The first connector 34 has an input terminal IN and an output terminal OUT. The slave card 30 is connected to the connection switch 40 via the first connector 34 and to the determination unit 20 via the second connector 35 . Examples of the memory 32 include RAM (Random Access Memory), ROM (Read Only Memory), and flash memory.

判定ユニット２０は、ＣＰＵ３１の故障、メモリ３２の故障、ＰＨＹチップ３３の故障、または、第二コネクタ３５の故障に起因する故障Ｔ１がスレーブカード３０に発生したか否かを判定することが可能である。一方で、カード試験装置１０は、ＰＨＹチップ３３の故障、または、第一コネクタ３４の故障に起因する故障Ｔ２がスレーブカード３０に発生したか否かを判定することが可能である。つまり、スレーブカード３０に発生する大部分の故障は判定ユニット２０により検出可能であり、判定ユニット２０によって検出困難な一部の故障がカード試験装置１０により検出される。 The determination unit 20 is capable of determining whether a failure T1 caused by a failure of the CPU 31, a failure of the memory 32, a failure of the PHY chip 33, or a failure of the second connector 35 has occurred in the slave card 30. be. On the other hand, the card testing device 10 can determine whether a failure T2 caused by a failure of the PHY chip 33 or a failure of the first connector 34 has occurred in the slave card 30. In other words, most of the failures that occur in the slave card 30 can be detected by the determination unit 20, and some failures that are difficult to detect by the determination unit 20 are detected by the card testing apparatus 10.

判定ユニット２０は、故障Ｔ１の検出用のコマンドＣ１をスレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの各々へ送信し、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０ＤのうちコマンドＣ１に対する応答Ｒ１が返信されないスレーブカード３０に故障Ｔ１が発生したと判定する。 The determination unit 20 transmits a command C1 for detecting a failure T1 to each of the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D, and among the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D, the slave card that does not receive a response R1 to the command C1 It is determined that failure T1 has occurred at 30.

また、カード試験装置１０のマスタカード１１は、一定の時間間隔で、故障Ｔ２の検出用のコマンドＣ２を接続切替器４０Ａを介してスレーブカード３０Ａへ送信する。スレーブカード３０Ａに故障Ｔ２が発生していないときには、コマンドＣ２はスレーブカード３０Ａから接続切替器４０Ｂを介してスレーブカード３０Ｂへ転送され、スレーブカード３０Ｂに故障Ｔ２が発生していないときには、コマンドＣ２はスレーブカード３０Ｂから接続切替器４０Ｃを介してスレーブカード３０Ｃへ転送され、スレーブカード３０Ｃに故障Ｔ２が発生していないときには、コマンドＣ２はスレーブカード３０Ｃから接続切替器４０Ｄを介してスレーブカード３０Ｄへ転送される。このように、コマンドＣ２は、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの順に転送される。 Further, the master card 11 of the card testing device 10 transmits a command C2 for detecting failure T2 to the slave card 30A via the connection switch 40A at regular time intervals. When the failure T2 has not occurred in the slave card 30A, the command C2 is transferred from the slave card 30A to the slave card 30B via the connection switch 40B, and when the failure T2 has not occurred in the slave card 30B, the command C2 is The command C2 is transferred from the slave card 30B to the slave card 30C via the connection switch 40C, and when the failure T2 has not occurred in the slave card 30C, the command C2 is transferred from the slave card 30C to the slave card 30D via the connection switch 40D. be done. In this way, the command C2 is transferred to the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D in this order.

一方で、スレーブカード３０Ａに故障Ｔ２が発生していないときには、スレーブカード３０ＡはコマンドＣ２に対する応答Ｒ２Ａをマスタカード１１へ返信し、スレーブカード３０Ｂに故障Ｔ２が発生していないときには、スレーブカード３０ＢはコマンドＣ２に対する応答Ｒ２Ｂをマスタカード１１へ返信し、スレーブカード３０Ｃに故障Ｔ２が発生していないときには、スレーブカード３０ＣはコマンドＣ２に対する応答Ｒ２Ｃをマスタカード１１へ返信し、スレーブカード３０Ｄに故障Ｔ２が発生していないときには、スレーブカード３０ＤはコマンドＣ２に対する応答Ｒ２Ｄをマスタカード１１へ返信する。応答Ｒ２Ａは、接続切替器４０Ａを介してマスタカード１１へ返信され、応答Ｒ２Ｂは、接続切替器４０Ｂ、スレーブカード３０Ａ及び接続切替器４０Ａを介してマスタカード１１へ返信され、応答Ｒ２Ｃは、接続切替器４０Ｃ、スレーブカード３０Ｂ、接続切替器４０Ｂ、スレーブカード３０Ａ及び接続切替器４０Ａを介してマスタカード１１へ返信され、応答Ｒ２Ｄは、接続切替器４０Ｄ、スレーブカード３０Ｃ、接続切替器４０Ｃ、スレーブカード３０Ｂ、接続切替器４０Ｂ、スレーブカード３０Ａ及び接続切替器４０Ａを介してマスタカード１１へ返信される。 On the other hand, when no failure T2 has occurred in the slave card 30A, the slave card 30A returns a response R2A to the command C2 to the master card 11, and when no failure T2 has occurred in the slave card 30B, the slave card 30B The slave card 30C returns a response R2B to the command C2 to the master card 11, and when the slave card 30C does not have a failure T2, the slave card 30C returns a response R2C to the command C2 to the master card 11, indicating that the slave card 30D has a failure T2. When no command has occurred, the slave card 30D returns a response R2D to the master card 11 in response to the command C2. The response R2A is returned to the master card 11 via the connection switch 40A, the response R2B is returned to the master card 11 via the connection switch 40B, the slave card 30A, and the connection switch 40A, and the response R2C is The response R2D is returned to the master card 11 via the switching device 40C, slave card 30B, connection switching device 40B, slave card 30A, and connection switching device 40A, and the response R2D is sent to the connection switching device 40D, slave card 30C, connection switching device 40C, slave card 30A, and connection switching device 40A. It is returned to the master card 11 via the card 30B, connection switch 40B, slave card 30A, and connection switch 40A.

よって、スレーブカード３０Ａに故障Ｔ２が発生したときは、マスタカード１１には応答Ｒ２Ａ，Ｒ２Ｂ，Ｒ２Ｃ，Ｒ２Ｄが受信されず、スレーブカード３０Ｂに故障Ｔ２が発生したときは、マスタカード１１には応答Ｒ２Ｂ，Ｒ２Ｃ，Ｒ２Ｄが受信されず、スレーブカード３０Ｃに故障Ｔ２が発生したときは、マスタカード１１には応答Ｒ２Ｃ，Ｒ２Ｄが受信されず、スレーブカード３０Ｄに故障Ｔ２が発生したときは、マスタカード１１には応答Ｒ２Ｄが受信されない。そこで、マスタカード１１は、応答Ｒ２Ａ，Ｒ２Ｂ，Ｒ２Ｃ，Ｒ２Ｄが受信されたときは、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの何れにも故障Ｔ２が発生していないと判定する。一方で、マスタカード１１は、応答Ｒ２Ａ，Ｒ２Ｂ，Ｒ２Ｃ，Ｒ２Ｄの何れもが受信されないときは、スレーブカード３０Ａに故障Ｔ２が発生したと判定し、応答Ｒ２Ａが受信された一方で応答Ｒ２Ｂ，Ｒ２Ｃ，Ｒ２Ｄが受信されないときは、スレーブカード３０Ｂに故障Ｔ２が発生したと判定し、応答Ｒ２Ａ，Ｒ２Ｂが受信された一方で応答Ｒ２Ｃ，Ｒ２Ｄが受信されないときは、スレーブカード３０Ｃに故障Ｔ２が発生したと判定し、応答Ｒ２Ａ，Ｒ２Ｂ，Ｒ２Ｃが受信された一方で応答Ｒ２Ｄが受信されないときは、スレーブカード３０Ｄに故障Ｔ２が発生したと判定する。 Therefore, when the failure T2 occurs in the slave card 30A, the master card 11 does not receive the responses R2A, R2B, R2C, and R2D, and when the failure T2 occurs in the slave card 30B, the master card 11 receives no response. When R2B, R2C, and R2D are not received and a failure T2 occurs in the slave card 30C, the master card 11 does not receive responses R2C and R2D, and when a failure T2 occurs in the slave card 30D, the master card 11 11, no response R2D is received. Therefore, when the master card 11 receives the responses R2A, R2B, R2C, and R2D, it determines that failure T2 has not occurred in any of the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D. On the other hand, when the master card 11 does not receive any of the responses R2A, R2B, R2C, and R2D, it determines that a failure T2 has occurred in the slave card 30A, and while the response R2A is received, the master card 11 does not receive the responses R2B, R2C. , R2D is not received, it is determined that a failure T2 has occurred in the slave card 30B, and when responses R2A and R2B are received but responses R2C and R2D are not received, a failure T2 has occurred in the slave card 30C. If the responses R2A, R2B, and R2C are received but the response R2D is not received, it is determined that a failure T2 has occurred in the slave card 30D.

＜カード試験システムにおける処理手順＞
図３は、本開示のカード試験システムにおける処理手順の一例を示す図である。 <Processing procedure in card testing system>
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a processing procedure in the card testing system of the present disclosure.

ステップＳ１００では、判定ユニット２０が、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの何れに故障Ｔ１が発生しているか否かを判定し、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄのうちの故障カードを示す情報（以下では「故障カード情報」と呼ぶことがある）と、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄのうちの非故障カードを示す情報（以下では「非故障カード情報」と呼ぶことがある）とをカード試験装置１０へ送信する。判定ユニット２０によってスレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの何れかに故障Ｔ１が発生していると判定されたときは（ステップＳ１０５：Ｙｅｓ）、処理はステップＳ１１０へ進み、判定ユニット２０によってスレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの何れにも故障が発生していないと判定されたときは（ステップＳ１０５：Ｎｏ）、ステップＳ１１０の処理が行われることなく、処理はステップＳ１１５へ進む。 In step S100, the determination unit 20 determines whether the failure T1 has occurred in any of the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D, and indicates which of the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D has failed. information (hereinafter sometimes referred to as "faulty card information") and information indicating a non-faulty card among the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D (hereinafter sometimes referred to as "non-faulty card information") and is sent to the card testing device 10. When the determination unit 20 determines that failure T1 has occurred in any of the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D (step S105: Yes), the process advances to step S110, and the determination unit 20 determines that the slave card If it is determined that no failure has occurred in any of 30A, 30B, 30C, and 30D (step S105: No), the process proceeds to step S115 without performing the process of step S110.

ステップＳ１１０では、制御部１２が、判定ユニット２０から送信された故障カード情報に示された故障カードに接続された接続切替器４０の接続状態を切り替える。制御部１２は、故障カードと故障カードの前段のスレーブカード３０との間にある接続切替器４０（以下では「故障カード前段切替器」と呼ぶことがある）の接続状態と、故障カードと故障カードの後段のスレーブカード３０との間にある接続切替器４０（以下では「故障カード後段切替器」と呼ぶことがある）の接続状態とを切り替えて、故障カード前段切替器と故障カード後段切替器とを故障カードを介さずに接続する。これにより、故障Ｔ１が発生した故障カードがデイジーチェーン接続から除外されるため、故障Ｔ１が発生した故障カードが試験対象から除外される。ステップＳ１１０の処理後、処理はステップＳ１１５へ進む。 In step S110, the control unit 12 switches the connection state of the connection switch 40 connected to the failed card indicated by the failed card information transmitted from the determination unit 20. The control unit 12 controls the connection state of a connection switch 40 (hereinafter sometimes referred to as a "failure card pre-stage switch") between the faulty card and the slave card 30 in front of the faulty card, and the connection status between the faulty card and the faulty card. The connection state of the connection switch 40 (hereinafter sometimes referred to as a "faulty card back-stage switch") between the slave card 30 at the rear stage of the card is switched, and the faulty card front-stage switch and the faulty card rear-stage switch are switched. connection to the device without using a faulty card. As a result, the faulty card in which the fault T1 has occurred is excluded from the daisy chain connection, and therefore the faulty card in which the fault T1 has occurred is excluded from the test target. After the process in step S110, the process advances to step S115.

ステップＳ１１５では、カード試験装置１０のマスタカード１１が、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの何れに故障Ｔ２が発生しているか否かを判定し、故障カード情報と非故障カード情報とを制御部１２へ出力する。マスタカード１１によってスレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの何れかに故障Ｔ２が発生していると判定されたときは（ステップＳ１２０：Ｙｅｓ）、処理はステップＳ１２５へ進み、マスタカード１１によってスレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの何れにも故障が発生していないと判定されたときは（ステップＳ１２０：Ｎｏ）、ステップＳ１２５の処理が行われることなく、処理はステップＳ１３０へ進む。 In step S115, the master card 11 of the card testing device 10 determines whether a failure T2 has occurred in any of the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D, and controls the failure card information and non-failure card information. output to section 12. When the master card 11 determines that failure T2 has occurred in any of the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D (step S120: Yes), the process proceeds to step S125, and the master card 11 determines that the slave card If it is determined that no failure has occurred in any of 30A, 30B, 30C, and 30D (step S120: No), the process proceeds to step S130 without performing the process of step S125.

ステップＳ１２５では、制御部１２が、マスタカード１１から出力された故障カード情報に示された故障カードに接続された接続切替器４０の接続状態を切り替える。制御部１２は、故障カード前段切替器の接続状態と故障カード後段切替器の接続状態とを切り替えて、故障カード前段切替器と故障カード後段切替器とを故障カードを介さずに接続する。これにより、故障Ｔ２が発生した故障カードがデイジーチェーン接続から除外されるため、故障Ｔ２が発生した故障カードが試験対象から除外される。ステップＳ１２５の処理後、処理はステップＳ１３０へ進む。 In step S125, the control unit 12 switches the connection state of the connection switch 40 connected to the faulty card indicated by the faulty card information output from the master card 11. The control unit 12 switches the connection state of the faulty card front-stage switch and the connection state of the faulty card back-stage switch, and connects the faulty card front-stage switch and the faulty card back-stage switch without using the faulty card. As a result, the faulty card in which the fault T2 has occurred is excluded from the daisy chain connection, and therefore the faulty card in which the fault T2 has occurred is excluded from the test target. After the process in step S125, the process proceeds to step S130.

ステップＳ１３０では、カード試験装置１０のマスタカード１１が、非故障カードに対する試験を行う。非故障カードに対する試験の一例として、マスタカード１１がＣＰＵ３１に所定の処理負荷を与えた場合にＣＰＵ３１が安定して動作するか否かを確かめる負荷試験や、メモリ３２でのライト及びリードが正しく行われるか否かを確かめるメモリアクセス試験等が挙げられる。試験対象の非故障カードの中に試験に不合格の非故障カード（以下では「不合格カード」と呼ぶことがある）が存在するときは（ステップＳ１３５：Ｎｏ）、処理はステップＳ１４０へ進み、試験対象の非故障カードの中に不合格カードが存在しないときは（ステップＳ１３５：Ｙｅｓ）、図３に示す処理手順は終了する。 In step S130, the master card 11 of the card testing device 10 tests a non-faulty card. An example of a test for a non-faulty card is a load test to check whether the CPU 31 operates stably when the master card 11 applies a predetermined processing load to the CPU 31, and a test to check whether writing and reading in the memory 32 are performed correctly. An example of this is a memory access test to see if the If there is a non-faulty card that fails the test (hereinafter sometimes referred to as a "failure card") among the non-faulty cards to be tested (step S135: No), the process proceeds to step S140, If there is no failed card among the non-faulty cards to be tested (step S135: Yes), the processing procedure shown in FIG. 3 ends.

ステップＳ１４０では、制御部１２が、不合格カードに接続された接続切替器４０の接続状態を切り替える。制御部１２は、不合格カードと不合格カードの前段のスレーブカード３０との間にある接続切替器４０（以下では「不合格カード前段切替器」と呼ぶことがある）の接続状態と、不合格カードと不合格カードの後段のスレーブカード３０との間にある接続切替器４０（以下では「不合格カード後段切替器」と呼ぶことがある）の接続状態とを切り替えて、不合格カード前段切替器と不合格カード後段切替器とを不合格カードを介さずに接続する。これにより、不合格カードがデイジーチェーン接続から除外されるため、不合格カードが試験対象から除外される。ステップＳ１４０の処理後、処理はステップＳ１３０に戻る。つまり、試験対象の非故障カードの中に不合格カードが存在しなくなるまで、ステップＳ１３０での試験が繰り返し実行される。 In step S140, the control unit 12 switches the connection state of the connection switch 40 connected to the rejected card. The control unit 12 controls the connection status of a connection switch 40 (hereinafter sometimes referred to as a "failure card front-stage switch") between a failed card and a slave card 30 in the previous stage of the failed card, and the failure card. Switching the connection state of the connection switch 40 (hereinafter sometimes referred to as "reject card rear switch") between the passing card and the slave card 30 after the reject card, To connect a switching device and a rejection card subsequent stage switching device without going through a rejection card. As a result, the failed cards are excluded from the daisy chain connection, and therefore the failed cards are excluded from the test target. After the process in step S140, the process returns to step S130. That is, the test in step S130 is repeatedly executed until there are no failed cards among the non-faulty cards to be tested.

＜デイジーチェーンの接続状態＞
図４、図５及び図６は、本開示のデイジーチェーンの接続状態の一例を示す図である。図４には、接続状態例１として、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの中に故障カード及び不合格カードが存在しない場合のデイジーチェーンの接続状態を示す。また、図５には、接続状態例２として、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄのうちスレーブカード３０Ｂが故障カードまたは不合格カードである場合のデイジーチェーンの接続状態を示す。また、図６には、接続状態例３として、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄのうちスレーブカード３０Ａ，３０Ｃが故障カードまたは不合格カードである場合のデイジーチェーンの接続状態を示す。 <Daisy chain connection status>
4, 5, and 6 are diagrams illustrating an example of a daisy chain connection state of the present disclosure. FIG. 4 shows, as connection state example 1, a daisy chain connection state when there are no faulty cards or failed cards among the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D. Further, FIG. 5 shows, as connection state example 2, a daisy chain connection state in which slave card 30B among slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D is a faulty card or a failed card. Further, FIG. 6 shows, as connection state example 3, a daisy chain connection state when slave cards 30A, 30C among slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D are faulty cards or failed cards.

＜接続状態例１（図４）＞
スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄの中に故障カード及び不合格カードが存在しない場合は、図４に示すように、制御部１２は、接続切替器４０Ａの内部において第一入力端子ＩＮ＃１と第一出力端子ＯＵＴ＃１とを接続し、接続切替器４０Ｂの内部において第一入力端子ＩＮ＃１と第一出力端子ＯＵＴ＃１とを接続し、接続切替器４０Ｃの内部において第一入力端子ＩＮ＃１と第一出力端子ＯＵＴ＃１とを接続し、接続切替器４０Ｄの内部において第一入力端子ＩＮ＃１と第一出力端子ＯＵＴ＃１とを接続する。これにより、マスタカード１１と、スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄとがデイジーチェーン接続される。 <Connection status example 1 (Figure 4)>
If there is no faulty card or failed card among the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D, as shown in FIG. and the first output terminal OUT#1, connect the first input terminal IN#1 and the first output terminal OUT#1 inside the connection switch 40B, and connect the first input terminal IN#1 and the first output terminal OUT#1 inside the connection switch 40C. The terminal IN#1 and the first output terminal OUT#1 are connected, and the first input terminal IN#1 and the first output terminal OUT#1 are connected inside the connection switch 40D. Thereby, the master card 11 and the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D are connected in a daisy chain.

＜接続状態例２（図５）＞
スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄのうちスレーブカード３０Ｂが故障カードまたは不合格カードである場合は、制御部１２によって、接続切替器４０の接続状態が、図４に示す接続状態から図５に示す接続状態に切り替えられる。 <Connection state example 2 (Figure 5)>
If the slave card 30B among the slave cards 30A, 30B, 30C, and 30D is a faulty card or a failed card, the control unit 12 changes the connection state of the connection switch 40 from the connection state shown in FIG. 4 to that shown in FIG. The connection state can be switched to the one shown below.

図５において、スレーブカード３０Ｂが故障カードまたは不合格カードであるため、制御部１２は、マスタカード１１とスレーブカード３０Ａとの間にある接続切替器４０Ａの接続状態、及び、スレーブカード３０Ｃとスレーブカード３０Ｄとの間にある接続切替器４０Ｄの接続状態を図４に示す接続状態に維持する。 In FIG. 5, since the slave card 30B is a faulty card or a failed card, the control unit 12 controls the connection state of the connection switch 40A between the master card 11 and the slave card 30A, and the connection status between the slave card 30C and the slave card 30A. The connection state of the connection switch 40D between the card 30D and the card 30D is maintained as shown in FIG.

一方で、図５に示すように、制御部１２は、スレーブカード３０Ｂとスレーブカード３０Ａとの間にある接続切替器４０Ｂの接続状態、及び、スレーブカード３０Ｂとスレーブカード３０Ｃとの間にある接続切替器４０Ｃの接続状態を、図４に示す接続状態から図５に示す接続状態に切り替える。 On the other hand, as shown in FIG. 5, the control unit 12 controls the connection state of the connection switch 40B between the slave card 30B and the slave card 30A, and the connection state between the slave card 30B and the slave card 30C. The connection state of the switch 40C is switched from the connection state shown in FIG. 4 to the connection state shown in FIG. 5.

図５において、制御部１２は、接続切替器４０Ｂの内部において第一入力端子ＩＮ＃１と第二出力端子ＯＵＴ＃２とを接続し、接続切替器４０Ｃの内部において第二入力端子ＩＮ＃２と第一出力端子ＯＵＴ＃１とを接続する。 In FIG. 5, the control unit 12 connects the first input terminal IN#1 and the second output terminal OUT#2 inside the connection switch 40B, and connects the second input terminal IN#2 inside the connection switch 40C. and the first output terminal OUT#1.

これにより、接続切替器４０Ｂと接続切替器４０Ｃとがスレーブカード３０Ｂを介さずに接続されるため、スレーブカード３０Ｂをデイジーチェーン接続から除外することができる。その結果、スレーブカード３０Ｂが故障カードまたは不合格カードである場合でも、デイジーチェーン接続カードの中からスレーブカード３０Ｂを手作業で取り除くことなしに、残りのスレーブカード３０Ａ，３０Ｃ，３０Ｄに対する試験を継続することができる。 Thereby, the connection switch 40B and the connection switch 40C are connected without going through the slave card 30B, so the slave card 30B can be excluded from the daisy chain connection. As a result, even if slave card 30B is a failed or failed card, testing continues on the remaining slave cards 30A, 30C, and 30D without manually removing slave card 30B from among the daisy-chained cards. can do.

＜接続状態例３（図６）＞
スレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄのうちスレーブカード３０Ａ，３０Ｃが故障カードまたは不合格カードである場合は、制御部１２によって、接続切替器４０の接続状態が、図４に示す接続状態から図６に示す接続状態に切り替えられる。 <Connection state example 3 (Figure 6)>
If the slave card 30A, 30C among the slave cards 30A, 30B, 30C, 30D is a faulty card or a failed card, the control unit 12 changes the connection state of the connection switch 40 from the connection state shown in FIG. The connection state is switched to the one shown in 6.

図６において、スレーブカード３０Ａ，３０Ｃが故障カードまたは不合格カードであるため、制御部１２は、スレーブカード３０Ａとマスタカード１１との間にある接続切替器４０Ａの接続状態、スレーブカード３０Ａとスレーブカード３０Ｂとの間にある接続切替器４０Ｂの接続状態、スレーブカード３０Ｃとスレーブカード３０Ｂとの間にある接続切替器４０Ｃの接続状態、及び、スレーブカード３０Ｃとスレーブカード３０Ｄとの間にある接続切替器４０Ｄの接続状態を、図４に示す接続状態から図６に示す接続状態に切り替える。 In FIG. 6, since the slave cards 30A and 30C are faulty cards or failed cards, the control unit 12 controls the connection state of the connection switch 40A between the slave card 30A and the master card 11, and the connection status of the slave card 30A and slave card 30A. The connection state of the connection switch 40B between the card 30B, the connection state of the connection switch 40C between the slave card 30C and the slave card 30B, and the connection between the slave card 30C and the slave card 30D. The connection state of the switch 40D is switched from the connection state shown in FIG. 4 to the connection state shown in FIG. 6.

図６において、制御部１２は、接続切替器４０Ａの内部において第一入力端子ＩＮ＃１と第二出力端子ＯＵＴ＃２とを接続し、接続切替器４０Ｂの内部において第二入力端子ＩＮ＃２と第一出力端子ＯＵＴ＃１とを接続し、接続切替器４０Ｃの内部において第一入力端子ＩＮ＃１と第二出力端子ＯＵＴ＃２とを接続し、接続切替器４０Ｄの内部において第二入力端子ＩＮ＃２と第一出力端子ＯＵＴ＃１とを接続する。 In FIG. 6, the control unit 12 connects the first input terminal IN#1 and the second output terminal OUT#2 inside the connection switch 40A, and connects the second input terminal IN#2 inside the connection switch 40B. and the first output terminal OUT#1, connect the first input terminal IN#1 and the second output terminal OUT#2 inside the connection switch 40C, and connect the second input terminal IN#1 and the second output terminal OUT#2 inside the connection switch 40D. Connect terminal IN#2 and first output terminal OUT#1.

これにより、接続切替器４０Ａと接続切替器４０Ｂとがスレーブカード３０Ａを介さずに接続されるとともに、接続切替器４０Ｃと接続切替器４０Ｄとがスレーブカード３０Ｃを介さずに接続されるため、スレーブカード３０Ａ，３０Ｃをデイジーチェーン接続から除外することができる。その結果、スレーブカード３０Ａ，３０Ｃが故障カードまたは不合格カードである場合でも、デイジーチェーン接続カードの中からスレーブカード３０Ａ，３０Ｃを手作業で取り除くことなしに、残りのスレーブカード３０Ｂ，３０Ｄに対する試験を継続することができる。 As a result, the connection switch 40A and the connection switch 40B are connected without going through the slave card 30A, and the connection switch 40C and the connection switch 40D are connected without going through the slave card 30C. Cards 30A, 30C can be excluded from the daisy chain connection. As a result, even if the slave card 30A, 30C is a failed or failed card, the remaining slave cards 30B, 30D can be tested without manually removing the slave card 30A, 30C from among the daisy-chained cards. can be continued.

以上、実施例について説明した。 The embodiments have been described above.

以上のように、本開示のカード試験システム（実施例のカード試験システム１）は、マスタカード（実施例のマスタカード１１）を有するカード試験装置（実施例のカード試験装置１０）と、複数のスレーブカード（実施例のスレーブカード３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄ）と、複数の接続切替器（実施例の接続切替器４０Ａ，４０Ｂ，４０Ｃ，４０Ｄ）とを有する。カード試験システムにおいて、マスタカード及び複数のスレーブカードの各々が複数の接続切替器の各々を介してデイジーチェーン接続される。カード試験装置は、複数のスレーブカードの何れかに故障が発生したと判定したときに、故障が発生したスレーブカードである故障カードと故障カードの前段のスレーブカードとの間にある接続切替器である第一切替器（実施例の故障カード前段切替器）の接続状態と、故障カードと故障カードの後段のスレーブカードとの間にある接続切替器である第二切替器（実施例の故障カード後段切替器）の接続状態とを切り替えて、第一切替器と第二切替器とを故障カードを介さずに接続することにより、故障カードをデイジーチェーン接続から除外する。 As described above, the card testing system of the present disclosure (card testing system 1 of the embodiment) includes a card testing device (card testing device 10 of the embodiment) having a master card (master card 11 of the embodiment), and a plurality of It has a slave card (slave cards 30A, 30B, 30C, 30D in the embodiment) and a plurality of connection switchers (connection switchers 40A, 40B, 40C, 40D in the embodiment). In the card testing system, a master card and each of a plurality of slave cards are connected in a daisy chain via each of a plurality of connection switchers. The card test device is a connection switch located between the faulty card, which is the slave card in which the fault has occurred, and the slave card in the previous stage of the faulty card, when it is determined that a fault has occurred in one of multiple slave cards. The connection state of a first switch (failure card pre-stage switch in the example) and the second switch (failure card in the example) which is a connection switch between the failure card and the slave card downstream of the failure card. The faulty card is excluded from the daisy chain connection by switching the connection state of the second switch and connecting the first switch and the second switch without using the faulty card.

こうすることで、デイジーチェーン接続カードの中から故障カードを手作業で取り除くことなく試験を継続することができるため、デイジーチェーン接続カードに対する試験の効率を向上できる。 In this way, testing can be continued without manually removing a faulty card from among the daisy-chained cards, thereby improving the efficiency of testing the daisy-chained cards.

また、複数のスレーブカードの各々は、ＣＰＵ（実施例のＣＰＵ３１）とメモリ（実施例のメモリ３２）とを有する。また、カード試験システムは、判定ユニット（実施例の判定ユニット２０）を有する。判定ユニットは、複数のスレーブカードの何れかにＣＰＵの故障またはメモリの故障に起因する故障が発生したか否かを判定する。カード試験装置は、判定ユニットによって複数のスレーブカードの何れかに故障が発生したと判定されたときに、故障が発生したスレーブカードである故障カードと第一切替器の接続状態と、故障カードと第二切替器の接続状態とを切り替えて、第一切替器と第二切替器とを故障カードを介さずに接続することにより、故障カードをデイジーチェーン接続から除外する。 Further, each of the plurality of slave cards has a CPU (CPU 31 in the embodiment) and a memory (memory 32 in the embodiment). The card testing system also includes a determination unit (determination unit 20 in the embodiment). The determination unit determines whether a failure due to a CPU failure or a memory failure has occurred in any of the plurality of slave cards. When the determination unit determines that a failure has occurred in any one of the plurality of slave cards, the card testing device determines the connection state between the failure card, which is the slave card where the failure has occurred, and the first switch, and the connection state between the failure card and the first switch. By switching the connection state of the second switch and connecting the first switch and the second switch without using the faulty card, the faulty card is excluded from the daisy chain connection.

こうすることで、スレーブカードに発生する大部分の故障を効率良く検出することができる。 By doing so, most failures that occur in slave cards can be efficiently detected.

また、カード試験システムは、カード試験装置によるスレーブカードの故障の判定を行う前に、判定ユニットによるスレーブカードの故障の判定を行う。 Furthermore, in the card testing system, before the card testing device determines whether the slave card is malfunctioning, the determination unit determines whether the slave card is malfunctioning.

こうすることで、スレーブカードに発生する大部分の故障が判定ユニットによって検出された後に、判定ユニットによって検出困難な一部の故障がカード試験装置により検出されるため、スレーブカードの故障判定を効率良く行うことができる。 By doing this, after most of the faults that occur in the slave card are detected by the judgment unit, some faults that are difficult to detect by the judgment unit are detected by the card testing equipment, making the fault judgment of the slave card more efficient. can do well.

１カード試験システム
１０カード試験装置
１１マスタカード
１２制御部
２０判定ユニット
３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｄスレーブカード
４０Ａ，４０Ｂ，４０Ｃ，４０Ｄ接続切替器 1 Card testing system 10 Card testing device 11 Master card 12 Control unit 20 Judgment unit 30A, 30B, 30C, 30D Slave card 40A, 40B, 40C, 40D Connection switch

Claims

a card testing device having a master card;
multiple slave cards and
multiple connection switchers,
Equipped with
The master card and each of the plurality of slave cards are daisy-chain connected via each of the plurality of connection switchers,
When the card testing device determines that a failure has occurred in any one of the plurality of slave cards, the card testing device determines that a failure has occurred in any of the plurality of slave cards, and the card testing device detects the failure in the slave card that is between the failure card, which is the slave card in which the failure has occurred, and the slave card in the preceding stage of the failure card. Switching the connection state of a first switch, which is a connection switch, and the connection state of a second switch, which is the connection switch, located between the faulty card and a slave card subsequent to the faulty card, and Excluding the faulty card from the daisy chain connection by connecting the first switch and the second switch without using the faulty card;
Card examination system.

Each of the plurality of slave cards has a CPU and a memory,
further comprising a determination unit that determines whether a failure due to a failure of the CPU or a failure of the memory has occurred in any of the plurality of slave cards,
When the determination unit determines that a failure has occurred in any of the plurality of slave cards, the card testing device determines the connection state between the failed card, which is the slave card in which the failure has occurred, and the first switch. By switching the connection state of the faulty card and the second switching device and connecting the first switching device and the second switching device without going through the faulty card, the faulty card is connected to the daisy switch. exclude from chain connection,
The card testing system according to claim 1.

Before the card testing device determines whether the slave card is malfunctioning, the determination unit determines whether the slave card is malfunctioning;
The card testing system according to claim 2.

A card testing device used in a card testing system in which a master card and each of a plurality of slave cards are connected in a daisy chain via each of a plurality of connection switchers, the card testing device comprising:
The MasterCard;
When it is determined that a failure has occurred in any one of the plurality of slave cards, the connection switch, which is the failure card, which is the slave card in which the failure has occurred, and the slave card in the preceding stage of the failure card; The first switch and the second switch are switched between the connection state of the first switch and the second switch, which is the connection switch between the faulty card and the slave card subsequent to the faulty card. a control unit that excludes the faulty card from the daisy chain connection by connecting the faulty card to a second switching device without using the faulty card;
A card testing device comprising: