JP2024011128A - センサユニット、制御方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】センサユニットの周囲のダストの有無を正確に把握する。【解決手段】センサユニットは、物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定可能なセンサと、前記センサが所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強度に基づいて、前記センサの測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定部と、前記判定部により前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成部と、を備え、前記判定部は、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定する。【選択図】図１

Description

本発明は、物体で反射された光を受光することにより測距を行う反射型のセンサユニットに関する。

光を照射し、物体で反射された反射光を受光することにより、物体までの距離を測定する方式の反射型センサが知られている。特許文献１には、ＴｏＦ（Time of Flight）方式により、物体までの距離を検出する検出装置が開示されている。

特開２０２０－６７２９４号公報

ＦＡ（Factory Automation）の分野においても、ヒトやモノを検出するために反射型センサが広く利用されている。例えば、セーフティレーザスキャナと呼ばれるセンサユニットは、所定の監視範囲内にヒトやモノが侵入したことを検知する、安全センサの一種である。センサユニットは、空中を漂う埃や霧などのダストの影響を受けて測距データの精度が低下する。例えば、ダストが誤ってターゲットである物体と判定されたり、ダスト付近にある物体の距離が誤って測定されたりすることにより、測距データの精度が低下する。測距データの精度が低下すると、測距データに基づいて作成したマップの精度が下がる。そのため、センサユニットの周囲のダストの有無を正確に把握する必要がある。

本発明は上記実情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、センサユニットの周囲のダストの有無を正確に把握することが可能な技術を提供することにある。

本発明の一観点に係るセンサユニットは、物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定可能なセンサと、前記センサが所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強度に基づいて、前記センサの測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定部と、前記判定部により前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成部と、を備え、前記判定部は、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定する、センサユニットである。センサの測定範囲内にダストが存在する場合、ダストに関する情報が生成され、センサの測定範囲内にダストが存在しない場合、ダストに関する情報が生成されない。判定部は、複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の受光強度が閾値以上であり、かつ、閾値以上の受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、測定範囲内にダストが存在すると判定する。これにより、センサユニットの周囲のダストの有無を正確に把握することができる。

上記センサユニットは、前記ダストに関する情報を前記センサユニットと通信可能な外部装置及び情報処理装置の少なくとも一方に送信する送信部を更に備えてもよい。前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、前記送信
部は、前記複数の領域ごとの前記ダストに関する情報を前記外部装置及び前記情報処理装置の少なくとも一方に送信してもよい。外部装置及び情報処理装置の少なくとも一方は、ダストに関する情報を取得することにより、ダストに関する情報の解析及びダストに関する情報に基づく処理を行うことが可能である。

前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、
前記複数の領域ごとの前記ダストに関する情報は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値を含み、前記送信部は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値のうちの最大値を前記外部装置及び前記情報処理装置の少なくとも一方に送信してもよい。外部装置及び情報処理装置の少なくとも一方は、複数の領域ごとのダストの量に対応する数値のうちの最大値を取得することができる。

上記センサユニットは、前記ダストに関する情報を表示する表示部を更に備えてもよい。前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、前記表示部は、前記複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を表示してもよい。ユーザーは、表示部に表示されたダストに関する情報を視認することで、センサユニットの周囲のダストの有無を含むダスト状況を正確に把握することができる。前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、前記複数の領域ごとの前記ダストに関する情報は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値を含み、前記表示部は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値のうちの最大値を表示してもよい。ユーザーは、表示部を視認することで、センサユニットの測定範囲内の複数の領域ごとのダストの量に対応する数値のうちの最大値を把握することができる。

上記センサユニットは、前記ダストに関する情報に基づいて、前記測定範囲内にダストが存在するか否かを示す情報を表示する表示灯を更に備えてもよい。前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、前記表示灯は、前記複数の領域ごとに前記測定範囲内に前記ダストが存在するか否かを示す情報を表示してもよい。ユーザーは、表示灯を視認することで、センサユニットの周囲のダストの有無を正確に把握することができる。前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、前記複数の領域ごとの前記ダストに関する情報は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値を含み、前記表示灯は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値のうちの最大値を表示してもよい。ユーザーは、表示灯を視認することで、センサユニットの測定範囲内の複数の領域ごとのダストの量に対応する数値のうちの最大値を把握することができる。前記ダストに関する情報は、前記測定範囲内における前記ダストの量に対応する数値を含んでもよい。

前記判定部は、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が前記閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って前記所定回数以上連続して受光された場合、前記測定範囲内に前記物体が存在すると判定してもよい。これにより、センサユニットの周囲の物体の有無を正確に把握することができる。

本発明の一観点に係るセンサユニットの制御方法は、センサを用いて物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定する測定ステップと、前記センサが所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強度に基づいて、前記センサの測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定ステップと、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成ステップと、を有し、前記判定ステップは、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角
度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定することを含む、センサユニットの制御方法である。

本発明の一観点に係るプログラムは、プロセッサに、センサを用いて物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定する測定ステップと、前記センサが所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強度に基づいて、前記センサの測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定ステップと、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成ステップと、を実行させるためのプログラムであって、前記判定ステップは、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定することを含む、プログラムである。

本発明は、上記手段ないし機能の少なくとも一部を有するセンサシステムとして捉えてもよいし、このセンサシステムを有するセーフティシステムやＦＡシステムとして捉えてもよい。また、本発明は、上記処理の少なくとも一部を含むセンサユニットの制御方法として捉えてもよいし、センサユニットの検知方法として捉えてもよい。さらに、本発明は、かかる方法を実現するためのプログラムやそのプログラムを非一時的に記録したコンピュータ読取可能な記録媒体として捉えることもできる。なお、上記手段および処理の各々は可能な限り互いに組み合わせて本発明を構成することができる。

本発明によれば、センサユニットの周囲のダストの有無を正確に把握することが可能である。

図１は、センサユニットの構成を示す図である。 図２は、センサのブロック図である。 図３は、処理装置の機能ブロック図である。 図４（Ａ）は、センサユニットの模式図である。図４（Ｂ）は、センサによって受光された光の波形を示す図である。 図５（Ａ）は、センサユニットの模式図である。図５（Ｂ）は、センサによって受光された光の波形を示す図である。 図６は、センサの周囲に設定された防護エリアの説明図である。 図７は、センサユニットの第１の動作例を示すフローチャートである。 図８は、記憶部に記憶された各セクターについての検出ダストビーム数を示す図である。 図９は、防護エリアの各領域に含まれる各セクターの最小ビーム数のうちの最大数を求める処理の説明図である。 図１０は、ダストレベルの説明図である。 図１１は、情報処理装置の表示装置にダストに関する情報を表示した場合の一例を示す図である。 図１２は、センサユニットの第２の動作例を示すフローチャートである。 図１３は、センサユニットの第３の動作例を示すフローチャートである。 図１４は、測距データの精度の低下の説明図である。

以下、適用例及び実施形態について図を参照しながら説明する。以下に示す適用例及び実施形態は、本願の一態様であり、本願の権利範囲を限定するものではない。

＜適用例＞
図１及び図２を参照して、本発明の適用例の一つについて説明する。図１は、センサユニット（センサシステム）１の構成を示す図である。センサユニット１は、反射型のセンサ１０、本体部１１、所定処理を行う処理装置１２、所定情報を表示可能な表示装置１３、及び、単色又は複数色を表示可能な表示灯１４を有する。センサユニット１は、処理装置１２、表示装置１３及び表示灯１４を一つの筐体内に備える一体型の構成でもよいし、処理装置１２と表示装置１３とを分離して有線又は無線で接続した構成でもよい。図１に示す構成例では、本体部１１内に処理装置１２が設けられ、本体部１１の外表面に表示装置１３が設けられている。表示装置１３は、表示部の一例である。

本明細書において、「反射型のセンサ」は、物体で反射された光を受光することにより物体までの距離を測定可能なセンサを意味し、例えば、レーザ光を用いた測距センサ（ＬｉＤＡＲなど）が含まれる。反射型のセンサの測定方式はいずれでもよく、例えば、ＴｏＦ方式、三角測距方式などがある。複数の方位の物体を測定するため、２次元の測定エリア（視野）又は３次元の測定エリア（視野）をもつエリアセンサが利用される。

センサユニット１は、セーフティレーザスキャナ又はレーザスキャナとも呼ばれ、ＩＳＯ１３８４９－１などの安全規格に準拠した安全センサである。センサ１０は、概略、本体部１１の上に逆円錐台形状のウィンドウ１０１が設けられた構造を有する。図１に示す構成例では、ウィンドウ１０１の上方に表示灯１４が設けられている。本体部１１には、処理装置１２、表示装置１３及び表示灯１４の他に、センサ１０の一部である光源、光学系、受光装置などが設けられている。ウィンドウ１０１はレーザ光を透過する材質からなり、ガルバノミラーなどの光学系を保護するための部材である。光源から出力されるレーザ光を、ウィンドウ１０１内部で高速回転するポリゴンミラーで反射することにより、センサ１０は、周囲約２７０度の方位をスキャンすることができる。なおセンサ１０がスキャンできる方位は周囲２７０度に限らず、センサ１０は、周囲２７０度以上３６０度以下の方位をスキャンしてもよい。このように、センサ１０は、複数の方位を測定することが可能である。すなわち、センサ１０は、複数の方位における物体までの距離を測定可能である。また、センサ１０は、所定間隔（規則的又は不規則的な間隔）で、物体までの距離を測定する。処理装置１２は、センサ１０によって測定された物体までの距離と設定された所定距離とを比較し、比較結果に基づいて所定処理を行う。また、センサ１０は、所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して複数の方位の光を受光することにより、複数の方位の光の受光強度を得る。

図２は、センサ１０のブロック図である。センサ１０は、信号処理部２１と、発光部２２と、受光部２３と、駆動回路２４と、を有する。発光部２２は、例えば、レーザーダイオードである。信号処理部２１が駆動回路２４を制御することで、発光部２２に駆動電流が印加され、発光部２２が発光する。発光部２２から光が出射され、光がレンズ、ポリゴンミラーなどの光学部品２５を介して外部に出射される。

受光部２３は、例えば、フォトダイオードである。発光部２２から外部へ出射されて、測定対象である物体で反射された光が、光学部品２５を介して受光部２３に入力される。受光部２３は、入力された光の強度に応じた電気信号を出力する。受光部２３から出力された電気信号は、信号処理部２１に入力される。

信号処理部２１は、ＴｏＦ方式により、物体までの距離を測定してもよい。例えば、信号処理部２１は、光を出射したときの時刻と、反射光を受光したときの時刻と、光の速度とに基づいて、物体までの距離を測定する。また、信号処理部２１は、受光部２３が受光した光の強度（受光強度）を測定する。信号処理部２１は、測定データを処理装置１２に
送る。このように、センサ１０は、発光部２２から出射されて物体で反射された光が受光部２３によって受光されることにより物体までの距離を測定すると共に、受光強度を測定する。処理装置１２は、センサ１０によって測定された物体までの距離及び受光強度を取得する。

センサ１０は、空中を漂うダストの影響により、物体までの距離の測定精度が低下する可能性がある。本明細書において、「ダスト」とは、埃や霧等の微小な物体であり、センサ１０により本来検知したいヒトやモノではない。例えば発光部２２から出射された光がダストにより反射され、受光部２３により受光された影響により、ダストが誤ってターゲットであると判定されたり、ダスト付近にある物体の距離が誤って測定されたりする。そのため、センサ１０の測定範囲内のダストの有無を把握し、必要な対策を講じる必要がある。しかしながら、ダストがセンサ１０の測定にどのような影響を及ぼすかをユーザーが正確に把握することは難しい。そこで、処理装置１２は、センサ１０が所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して複数の方位の光を受光することにより得られた複数の方位の光の受光強度に基づいて、センサ１０の測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する。処理装置１２は、センサ１０の測定範囲内にダストが存在すると判定された場合、ダストに関する情報を生成する。センサ１０の測定範囲内にダストが存在する場合、ダストに関する情報が生成され、センサ１０の測定範囲内にダストが存在しない場合、ダストに関する情報が生成されない。処理装置１２は、複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の受光強度が閾値以上であり、かつ、閾値以上の受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、センサ１０の測定範囲内にダストが存在すると判定する。これにより、センサユニット１の周囲のダストの有無を正確に把握することができる。

処理装置１２は、複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の受光強度が閾値以上であり、かつ、閾値以上の受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光された場合、センサ１０の測定範囲内に物体が存在すると判定する。これにより、センサユニット１の周囲の物体の有無を正確に把握することができる。

＜実施形態＞
本発明の実施形態を説明する。処理装置１２は、センサユニット１の動作全体を制御すると共に、表示装置１３及び表示灯１４を制御する機器（コントローラ）である。処理装置１２は、専用の機器により構成してもよいし、汎用のコンピュータにより構成してもよい。処理装置１２は、プロセッサ（ＣＰＵ）、メモリ、ストレージ、通信Ｉ／Ｆなどのハードウェア資源を備えている。メモリは、ＲＡＭであってもよい。ストレージは、不揮発性の記憶装置（例えばＲＯＭ、フラッシュメモリなど）であってもよい。

図３は、処理装置１２の機能ブロック図である。処理装置１２は、主な機能として、設定部３０と、取得部３１と、判定部３２と、生成部３３と、送信部３４と、表示制御部３５と、記憶部３６と、を有する。図３に示す処理装置１２の構成要素の全てが必須というわけではなく、適宜、処理装置１２の構成要素の追加又は削除がなされてもよい。例えば、処理装置１２は、生成部３３によって生成されたデータや情報を出力する出力部を有してもよい。また、処理装置１２が、信号処理部２１としての機能を備えてもよい。処理装置１２の各処理部（機能部）としての機能は、ストレージに格納されたプログラムをメモリに展開しプロセッサによって実行することにより実現される。なお、処理装置１２の構成はこれらに限られない。例えば、機能の全部又は一部をＡＳＩＣやＦＰＧＡなどの回路で構成してもよいし、あるいは、機能の全部又は一部をクラウドサーバや他の装置で実行してもよい。

設定部３０は、各種の設定を行う。設定部３０は、センサ１０の周囲に防護エリアを設
定する。取得部３１は、センサ１０によって測定された測定対象物体までの距離の測定データ（測距データ）と、センサ１０によって測定された受光強度の測定データとをセンサ１０から取得する。取得部３１は、複数の方位の測定データをセンサ１０から取得する。判定部３２は、センサ１０により複数の方位を測定することにより得られた測定データに基づいて、センサ１０の測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する。

図４及び図５を参照して、判定部３２によるダストの検出処理を説明する。図４（Ａ）は、センサユニット１の模式図である。図４（Ａ）に示すように、センサ１０が複数の方位をスキャンすることにより、センサ１０から複数の光が出射され、複数の光が物体に照射される。センサ１０は、物体で反射された複数の光を受光する。図４（Ｂ）は、センサ１０によって受光された光の波形を示す図である。図４（Ｂ）の横軸は、物体までの距離を示し、図４（Ｂ）の縦軸は、光の受光強度を示す。センサ１０は、所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して複数の方位の光を受光する。センサ１０が、複数の方位の光を受光した場合、図４（Ｂ）に示すように、複数の方位の光のそれぞれがピークを有する。光のピークは、光の波形の急峻な部分である。光の受光強度が閾値以上である場合、センサ１０は光がピークを有すると判断する。判定部３２でピークの波形を分析することによってピーク位置や幅などの物体の状態と相関のある特徴を捉えることができる。

図５（Ａ）は、センサユニット１の模式図である。図５（Ａ）に示すように、センサ１０が複数の方位をスキャンすることにより、センサ１０から複数の光が出射され、複数の光がダストに照射される。センサ１０は、ダストで反射された複数の光を受光する。図５（Ｂ）は、センサ１０によって受光された光の波形を示す図である。図５（Ｂ）の横軸は、ダストまでの距離を示し、図５（Ｂ）の縦軸は、光の受光強度を示す。センサ１０は、所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して複数の方位の光を受光する。複数の光のうちの一部がダストにより反射され、複数の光のうちの他の一部がダストにより反射されない場合、図５（Ｂ）に示すように、複数の光の一部がピークを有し、複数の光の他の一部はピークを有しない。

複数の光が物体により反射された場合、センサ１０は、ピークを有する光を複数の所定角度に沿って連続して受光する。そのため、図４（Ｂ）に示すように、複数の光のピークの連続が途切れない。一方、複数の光のうちの一部がダストにより反射された場合、センサ１０は、ピークを有する光を複数の所定角度に沿って連続して受光しない。すなわち、センサ１０は、ピークを有する光を複数の所定角度に沿って離散的に受光する。そのため、図５（Ｂ）に示すように、複数の光のピークの連続が途切れる。

判定部３２は、センサ１０から取得した測定データに基づいて、複数の光のうちの少なくとも一つがピークを有するか否かを判定する。換言すれば、判定部３２は、複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の受光強度が閾値以上であるか否かを判定する。複数の光のうちの少なくとも一つがピークを有する場合、判定部３２は、センサ１０から取得した測定データに基づいて、光のピークの連続回数を記録する。判定部３２は、光のピークの連続回数が所定回数以上であるか否かを判定する。換言すれば、判定部３２は、閾値以上の受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されたか否かを判定する。所定回数は、任意の回数を設定することが可能であり、例えば、２回を設定してもよいし、３回を設定してもよい。光のピークの連続回数が所定回数以上である場合、判定部３２は、センサ１０の測定範囲内に物体が存在すると判定する。換言すれば、閾値以上の受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光された場合、判定部３２は、センサ１０の測定範囲内に物体が存在すると判定する。光のピークの連続回数が所定回数未満である場合、判定部３２は、センサ１０の測定範囲内にダストが存在すると判定する。換言すれば、閾値以上の受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数
以上連続して受光されなかった場合、判定部３２は、センサ１０の測定範囲内にダストが存在すると判定する。

生成部３３は、判定部３２によりセンサ１０の測定範囲内にダストが存在すると判定された場合、ダストに関する情報を生成する。送信部３４は、ダストに関する情報をセンサユニット１と通信可能な外部装置に送信する。外部装置は、ダストに関する情報を取得することにより、ダストに関する情報の解析及びダストに関する情報に基づく処理を行うことが可能である。外部装置は、ＰＬＣ（Programmable Logic Controller）、ロボット制
御コントローラなどである。ＰＬＣは、自動機械などの機器を制御する。ロボット制御コントローラは、自動算出されたルートを自律走行するＡＭＲ（Autonomous Mobile Robot
）、予め指定されたルートを誘導走行するＡＧＶ（Automatic Guided Vehicle）を制御する。外部装置は、ダストに関する情報をデータベースに蓄積してもよいし、ダストに関する情報に基づくデータ解析や他の処理を行ってもよい。

また、送信部３４は、ダストに関する情報をセンサユニット１と通信可能な情報処理装置に送信する。情報処理装置は、ダストに関する情報を取得することにより、ダストに関する情報の解析及びダストに関する情報に基づく処理を行うことが可能である。情報処理装置は、例えば、パーソナルコンピュータ、タブレット又はスマートフォンである。情報処理装置には、センサユニット１の設定ツール（ソフトウェアプログラム）がインストールされており、ユーザーは、設定ツールを用いて、ダストに関する情報を確認することができる。ダストに関する情報は、情報処理装置の表示装置に表示される。

表示制御部３５は、ダストに関する情報に基づいて、表示装置１３及び表示灯１４の少なくとも一方を制御する。表示制御部３５が、ダストに関する情報に基づいて表示装置１３を制御することにより、表示装置１３は、センサ１０の測定範囲内におけるダストに関する情報を表示する。表示制御部３５が、ダストに関する情報に基づいて表示灯１４を制御することにより、表示灯１４は、センサ１０の測定範囲内におけるダストに関する情報を表示する。

記憶部３６は、各種のデータや情報を記憶する。記憶部３６は、ＲＡＭ、不揮発性の記憶装置（例えばＲＯＭ、フラッシュメモリなど）などにより構成してもよい。

表示装置１３は、各種のデータや情報を表示する機器である。表示装置１３は、例えば、液晶ディスプレイ、有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイなどである。また、センサユニット１は、操作ボタン及びタッチパネルなどの入力機器を備えてもよい。タッチパネルは、表示装置１３と一体型の構成でもよい。表示灯１４は、複数のＬＥＤ（Light Emitting Diode）を有し、明滅パターンや点滅パターンを変えることで情報を表示する。

図６は、センサ１０の周囲に設定された防護エリア２００の説明図である。図６に示すように、センサ１０の周囲に防護エリア２００が設定されている。防護エリア２００は、物体の侵入を検知するための仮想的な２次元領域である。防護エリア２００は、センサ１０の測定範囲であり、センサ１０の周囲の少なくとも一部に設定される。防護エリア２００は、複数の領域を有する。図６では、防護エリア２００は、領域２１０、領域２１１、領域２１２、領域２１３、領域２１４及び領域２１５を有する。領域２１０～２１５のそれぞれの内角は４５度である。また、防護エリア２００の各領域は、複数のセクターに区分されている。図６では、領域２１０～２１５のそれぞれが７個のセクターに区分されている。したがって、図６では、防護エリア２００は、４２個のセクターに区分されている。図６に示す防護エリア２００の構成例に限定されず、防護エリア２００の領域の数やセクターの数は任意の数に設定することが可能である。

図７は、センサユニット１の動作の一例（第１の動作例）を示すフローチャートである。センサ１０が周囲約２７０度の方位を１回以上スキャンし、取得部３１がセンサ１０から測定データを取得する。測定データに含まれる複数の光のうちの少なくとも一つがピークを有する場合、図７に示すフローチャートが開始される。Ｓ１において、取得部３１又は判定部３２は、防護エリア２００の各セクターについて、ピークを有する光の数を記録する。すなわち、取得部３１又は判定部３２は、ピークを有する光の数をセクターごとに記録する。Ｓ２において、判定部３２は、物体を検出したのか、又は、ダストを検出したのかを判定する。判定部３２が物体を検出した場合、Ｓ３に進む。判定部３２がダストを検出した場合、Ｓ４に進む。

Ｓ３において、設定部３０は、ダスト検知に関する履歴をリセットし、かつ、ダスト検知関連パラメータをリセットする。Ｓ４において、設定部３０は、各セクターについて、検出ダストビーム数の履歴を更新する。検出ダストビーム数は、ピークを有する光（光ビーム）の数である。例えば、設定部３０は、各セクターについての検出ダストビーム数を記憶部３６に記憶し、セクターごとの検出ダストビーム数の履歴を更新してもよい。

Ｓ５において、判定部３２は、記憶部３６を参照し、各セクターについての検出ダストビーム数の最小値を抽出する。センサ１０が所定回数のスキャンを行うことにより、記憶部３６には、各セクターについての所定回数分の検出ダストビーム数が記憶される。図８は、記憶部３６に記憶された各セクターについての検出ダストビーム数を示す図である。図８に示す例では、４回分のスキャンについての検出ダストビーム数が記憶部３６に記憶されている。判定部３２は、第１のセクター（セクター００１）の検出ダストビーム数の最小値として“３”を記憶部３６から抽出する。判定部３２は、第２のセクター（セクター００２）の検出ダストビーム数の最小値として“２”を記憶部３６から抽出する。図８には、領域２１０の各セクターに関するデータが示されているが、記憶部３６には、領域２１１～２１６の各セクターに関するデータも記憶されている。

Ｓ６において、判定部３２は、記憶部３６を参照して各セクターを含む領域を特定する。図８に示す例では、領域２１０が、第１のセクター（セクター００１）及び第２のセクター（セクター００２）を含む領域として特定される。また、Ｓ６において、判定部３２は、各セクターについての検出ダストビーム数の最小値を領域ごとに算出する。以下において、各セクターについての検出ダストビーム数の最小値を、各セクターの最小ビーム数と表記する。

Ｓ７において、判定部３２は、Ｓ６で特定した各領域に含まれる各セクターの最小ビーム数のうちの最大数を求める。図９は、防護エリア２００の各領域に含まれる各セクターの最小ビーム数のうちの最大数を求める処理の説明図である。図８に示す例では、判定部３２は、領域２１０に含まれる各セクターの最小ビーム数のうちの最大数として“５”を算出し、領域２１１に含まれる各セクターの最小ビーム数のうちの最大数として“６”を算出する。

Ｓ８において、判定部３２は、Ｓ７で求めた最大数に基づいて、ダストレベルを決定する。例えば、４段階のダストレベルを設定してもよい。Ｓ７で求めた最大数が多くなるに従って、ダストレベルが高くなるように設定してもよい。判定部３２は、Ｓ７で求めた最大数と一つ又は複数の所定値とを比較することにより、ダストレベルを決定してもよい。各所定値は、設計、実験又はシミュレーションによって予め求められており、記憶部３６に記憶されている。図１０は、ダストレベルの説明図である。図１０に示す例では、４段階のダストレベルが設定されている。図１０に示す例では、ダストレベルが“０”又は“１”である場合、ダストが警報を必要としない状態であることを示しており、ダストレベ
ルが“２”又は“３”である場合、ダストが警報を必要とする状態であることを示している。このように、ダストレベルは、センサ１０の測定範囲内におけるダストの量に応じた数値である。

Ｓ９において、生成部３３は、ダストに関する情報を生成し、送信部３４は、ダストに関する情報を外部装置及び情報処理装置の少なくとも一方に送信する。ダストに関する情報は、防護エリア２００内にダストが存在することを示す情報、及び、ダストレベル、の少なくとも一つを含む。

生成部３３は、防護エリア２００における複数の領域ごとにダストに関する情報を生成してもよく、送信部３４は、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストに関する情報を外部装置及び情報処理装置の少なくとも一方に送信してもよい。この場合、ダストに関する情報は、防護エリア２００の各領域内にダストが存在することを示す情報、及び、防護エリア２００の各領域内のダストレベル、の少なくとも一つを含む。

ユーザーは、情報処理装置の設定ツールを用いて、情報処理装置の表示装置にダストに関する情報を表示することで、ダストに関する情報を確認する。これにより、ユーザーは、情報処理装置の表示装置に表示されたダストに関する情報を視認することで、センサユニット１の周囲のダストの有無を含むダスト状況を正確に把握することができる。図１１は、情報処理装置の表示装置にダストに関する情報を表示した場合の一例を示す図である。図１１に示す例では、情報処理装置の表示装置に領域２１０～２１６内のダストレベルが表示されている。ユーザーは、防護エリア２００の領域２１０～２１６内のダストレベルを把握することができる。ダストに関する情報は、文字、数字、記号、文字列、数字列、ピクトグラム、及びグラフのうちの少なくとも一つを含んでもよい。また、ダストに関する情報は、色情報を含んでもよい。

送信部３４は、外部装置との通信方法として、EtherNet/IPなどの通信プロトコルを用
いてもよい。EtherNet/IPでは、データ制約があるため、送信部３４は、防護エリア２０
０の複数の領域ごとのダストに関する情報を外部装置に送信する。

また、ダストに関する情報は、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストレベルのうちの最大値を含んでもよい。これにより、外部装置及び情報処理装置の少なくとも一方は、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストレベルのうちの最大値を取得することができる。情報処理装置の表示装置は、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストレベルのうちの最大値を表示してもよい。ユーザーは、情報処理装置の表示装置を視認することで、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストの量に対応する数値のうちの最大値を把握することができる。

図１２は、センサユニット１の動作の一例（第２の動作例）を示すフローチャートである。図１２に示すフローチャートのＳ１１～Ｓ１５の各処理は、図７に示すフローチャートのＳ１～Ｓ５の各処理と同様であるので、その説明を省略する。

Ｓ１６において、判定部３２は、記憶部３６を参照し、表示灯１４の複数のＬＥＤについて、各セクターに対応する各ＬＥＤを特定する。表示灯１４の複数のＬＥＤと防護エリア２００の各セクターとは対応付けられている。表示灯１４の複数のＬＥＤと防護エリア２００の各セクターとの対応関係を示す情報は、記憶部３６に記憶されている。また、Ｓ１６において、判定部３２は、各セクターについての検出ダストビーム数の最小値を領域ごとに算出する。以下において、各セクターについての検出ダストビーム数の最小値を、各セクターの最小ビーム数と表記する。

Ｓ１７において、判定部３２は、Ｓ１６で特定した各ＬＥＤに対応する各セクターの最小ビーム数のうちの最大数を求める。Ｓ１８において、判定部３２は、Ｓ１７で求めた最大数に基づいて、ダストレベルを決定する。例えば、４段階のダストレベルを設定してもよい。Ｓ１７で求めた最大数が多くなるに従って、ダストレベルが高くなるように設定してもよい。判定部３２は、Ｓ１７で求めた最大数と一つ又は複数の所定値とを比較することにより、ダストレベルを決定してもよい。各所定値は、設計、実験又はシミュレーションによって予め求められており、記憶部３６に記憶されている。

Ｓ１９において、生成部３３は、ダストに関する情報を生成し、送信部３４は、ダストに関する情報を情報処理装置に送信する。ダストに関する情報は、防護エリア２００内にダストが存在することを示す情報、及び、ダストレベル、の少なくとも一つを含む。

生成部３３は、表示灯１４の複数のＬＥＤごとにダストに関する情報を生成してもよく、送信部３４は、表示灯１４の複数のＬＥＤごとのダストに関する情報を情報処理装置に送信してもよい。すなわち、生成部３３は、防護エリア２００の複数の領域ごとにダストに関する情報を生成し、送信部３４は、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストに関する情報を情報処理装置に送信してもよい。この場合、ダストに関する情報は、表示灯１４の各ＬＥＤに対応する各セクター内にダストが存在することを示す情報、及び、表示灯１４の各ＬＥＤに対応する各セクター内のダストレベル、の少なくとも一つを含む。

ユーザーは、情報処理装置の設定ツールを用いて、情報処理装置の表示装置にダストに関する情報を表示することで、ダストに関する情報を確認する。例えば、情報処理装置の表示装置に、表示灯１４の各ＬＥＤの図形を表示し、ダストレベルに応じて、表示灯１４の各ＬＥＤの図形を明滅させたり、点滅させたりしてもよい。ダストに関する情報は、文字、数字、記号、文字列、数字列、ピクトグラム、及びグラフのうちの少なくとも一つを含んでもよい。また、ダストに関する情報は、色情報を含んでもよい。また、ダストに関する情報は、表示灯１４の各ＬＥＤに対応する各セクター内のダストレベルのうちの最大値を含んでもよい。情報処理装置の表示装置は、表示灯１４の各ＬＥＤに対応する各セクター内のダストレベルのうちの最大値を表示してもよい。ユーザーは、情報処理装置の表示装置を視認することで、表示灯１４の各ＬＥＤに対応する各セクター内のダストレベルのうちの最大値を把握することができる。

図１３は、センサユニット１の動作の一例（第３の動作例）を示すフローチャートである。図１３に示すフローチャートのＳ２１～Ｓ２５の各処理は、図７に示すフローチャートのＳ１～Ｓ５の各処理と同様であるので、その説明を省略する。

Ｓ２６において、判定部３２は、記憶部３６を参照し、表示灯１４の複数のＬＥＤについて、各セクターに対応する各ＬＥＤを特定する。表示灯１４の複数のＬＥＤと防護エリア２００の各セクターとは対応付けられている。表示灯１４の複数のＬＥＤと防護エリア２００の各セクターとの対応関係を示す情報は、記憶部３６に記憶されている。また、Ｓ２６において、判定部３２は、各セクターについての検出ダストビーム数の最小値を領域ごとに算出する。以下において、各セクターについての検出ダストビーム数の最小値を、各セクターの最小ビーム数と表記する。

Ｓ２７において、判定部３２は、Ｓ２６で特定した各ＬＥＤに対応する各セクターの最小ビーム数のうちの最大数を求める。Ｓ２８において、判定部３２は、表示灯１４の各ＬＥＤについて、Ｓ２７で求めた最大数と閾値とを比較する。表示灯１４の全てのＬＥＤについて、Ｓ２７で求めた最大数が閾値未満である場合（Ｓ２８；ＮＯ）、図１３に示すフローチャートが終了する。閾値は、設計、実験又はシミュレーションによって予め求められており、記憶部３６に記憶されている。一方、表示灯１４の複数のＬＥＤのうちの少な
くとも一つについて、Ｓ２７で求めた最大数が閾値以上である場合（Ｓ２８；ＹＥＳ）、Ｓ２９に進む。

Ｓ２９において、判定部３２は、ダストレベルを決定し、生成部３３は、ダストに関する情報を生成する。例えば、４段階のダストレベルを設定してもよい。Ｓ２７で求めた最大数が多くなるに従って、ダストレベルが高くなるように設定してもよい。判定部３２は、Ｓ２７で求めた最大数と一つ又は複数の所定値とを比較することにより、ダストレベルを決定してもよい。各所定値は、設計、実験又はシミュレーションによって予め求められており、記憶部３６に記憶されている。ダストに関する情報は、防護エリア２００内にダストが存在することを示す情報、及び、ダストレベル、の少なくとも一つを含む。

生成部３３は、表示灯１４の複数のＬＥＤごとにダストに関する情報を生成してもよい。すなわち、生成部３３は、防護エリア２００における複数の領域ごとにダストに関する情報を生成してもよい。ダストに関する情報は、表示灯１４の各ＬＥＤについて、対応する各セクター内にダストが存在することを示す情報、及び、表示灯１４の各ＬＥＤについて、各セクター内のダストレベル、の少なくとも一つを含んでもよい。

Ｓ３０において、表示制御部３５は、ダストに関する情報に基づいて、表示装置１３及び表示灯１４の少なくとも一方を制御する。表示制御部３５が、ダストに関する情報に基づいて表示装置１３を制御することにより、表示装置１３は、防護エリア２００内におけるダストに関する情報を表示する。また、表示装置１３は、防護エリア２００の複数の領域ごとにダストに関する情報を表示してもよい。ダストに関する情報は、防護エリア２００の各領域内にダストが存在することを示す情報、及び、防護エリア２００の各領域内のダストレベル、の少なくとも一つを含んでもよい。

表示制御部３５が、ダストに関する情報に基づいて表示灯１４を制御することにより、表示灯１４は、防護エリア２００内におけるダストに関する情報を表示する。表示灯１４は、複数のＬＥＤの少なくとも一つを明滅又は点滅させることで、防護エリア２００内におけるダストに関する情報を表示してもよい。表示灯１４は、防護エリア２００内にダストが存在するか否かを示す情報を表示してもよい。複数のＬＥＤの少なくとも一つが点灯又は点滅することで、ユーザーは、防護エリア２００内にダストが存在することを把握することができる。表示灯１４は、防護エリア２００内のダストレベルに関する情報を表示してもよい。表示灯１４は、防護エリア２００内におけるダストレベルを表示してもよい。防護エリア２００内におけるダストレベルに応じて、一つ又は複数のＬＥＤを明滅又は点滅させることで、表示灯１４は、防護エリア２００内のダストレベルに関する情報を表示してもよい。表示灯１４は、防護エリア２００の複数の領域のうちダストが存在する領域に対応するＬＥＤを明滅又は点滅させてもよい。表示灯１４は、防護エリア２００の各領域のダストレベルに応じて、ＬＥＤの明滅パターンや点滅パターンを変更してもよい。表示灯１４は、防護エリア２００の各領域のダストレベルに応じて、ＬＥＤの発光色を変えてもよい。

表示灯１４は、複数のＬＥＤのそれぞれを明滅又は点滅させてもよい。例えば、表示灯１４は、Ｓ２７で求めた最大数が閾値以上である当該ＬＥＤを点灯又は点滅させてもよい。これにより、ユーザーは、点灯又は点滅しているＬＥＤを視認することで、ダストが存在する場所の方向を把握することができる。表示灯１４は、複数のＬＥＤのそれぞれの発光色を変化させてもよい。例えば、表示灯１４は、Ｓ２７で求めた最大数が閾値以上である当該ＬＥＤの発光色と、Ｓ２７で求めた最大数が閾値未満である当該ＬＥＤの発光色とを異なるようにしてもよい。これにより、ユーザーは、複数のＬＥＤのそれぞれの発光色を視認することで、ダストが存在する場所の方向を把握することができる。このように、表示灯１４は、複数の領域ごとにセンサ１０の測定範囲内にダストが存在するか否かを示
す情報を表示してもよい。

また、ダストに関する情報は、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストレベルのうちの最大値を含んでもよい。表示装置１３は、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストレベルのうちの最大値を表示してもよい。ユーザーは、表示装置１３を視認することで、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストレベルのうちの最大値を把握することができる。表示灯１４は、一つ又は複数のＬＥＤを明滅又は点滅させることで、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストレベルのうちの最大値を表示してもよい。ユーザーは、表示灯１４を視認することで、防護エリア２００の複数の領域ごとのダストレベルのうちの最大値を把握することができる。

センサユニット１の第１の動作例、第２の動作例及び第３の動作例は、適宜組み合わせて用いてもよい。また、ダストに関する情報は、測距データの精度が低下していることを示す信頼性フラグを有してもよい。送信部３４は、信頼性フラグが付加されたダストに関する情報を外部装置及び情報処理装置の少なくとも一方に送信してもよい。また、送信部３４は、測距データ及び信頼性フラグを外部装置及び情報処理装置の少なくとも一方に送信してもよい。外部装置及び情報処理装置は、信頼性フラグが付加された測距データを使用しないことで、正常な測距データを使用したデータ解析や他の処理を行うことができる。

図１４を参照して、測距データの精度の低下について説明する。図１４（Ａ）に示すように、センサ１０が複数の方位をスキャンすることにより、センサ１０から複数の光ビームが出射され、複数の光ビームが物体及びダストに照射される場合がある。センサ１０は、物体で反射された光ビームを受光するが、センサ１０によって受光された光ビームは複数のピークを有する場合がある。図１４（Ｂ）は、センサ１０によって受光された光ビームの波形を示す図である。図１４（Ｂ）の横軸は、物体までの距離を示し、図１４（Ｂ）の縦軸は、光ビームの受光強度を示す。図１４（Ｂ）に示すように、センサ１０によって受光された光ビームの一部は複数のピークを有する。このような複数のピークを有する光ビームに基づく測距データの精度が低下している。また、物体が高反射体の近傍に存在している場合や、物体が他の物体のエッジの近傍に存在している場合、センサ１０によって受光された光ビームが複数のピークを有する可能性がある。また、複数のピークが重なり、光ビームのピークが変化することで、測距データの精度が低下する場合もある。センサユニット１は、光ビームに複数のピークが含まれていることを検出した場合、信頼性フラグを作成するようにしてもよい。

＜その他＞
上記実施形態は、本発明の構成例を例示的に説明するものに過ぎない。本発明は上記の具体的な形態には限定されることはなく、その技術的思想の範囲内で種々の変形が可能である。

上記で説明した各処理は、コンピュータが実行する方法として捉えてもよい。また、上記で説明した各処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを、ネットワークを通じて、又は、非一時的にデータを保持するコンピュータ読取可能な記録媒体等からコンピュータに提供してもよい。

＜付記１＞
物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定可能なセンサ（１０）と、
前記センサ（１０）が所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強
度に基づいて、前記センサ（１０）の測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定部（３２）と、
前記判定部（３２）により前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成部（３３）と、を備え、
前記判定部（３２）は、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定する、
センサユニット（１）。

＜付記２＞
センサ（１０）を用いて物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定する測定ステップと、
前記センサ（１０）が所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強度に基づいて、前記センサ（１０）の測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定ステップと、
前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成ステップと、を有し、
前記判定ステップは、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定することを含む、
センサユニット（１）の制御方法。

＜付記３＞
プロセッサに、
センサ（１０）を用いて物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定する測定ステップと、
前記センサ（１０）が所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強度に基づいて、前記センサ（１０）の測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定ステップと、
前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成ステップと、
を実行させるためのプログラムであって、
前記判定ステップは、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定することを含む、
プログラム。

１・・・センサユニット
１０・・・センサ
１１・・・本体部
１２・・・処理装置
１３・・・表示装置
１４・・・表示灯
２１・・・信号処理部
２２・・・発光部
２３・・・受光部
２４・・・駆動回路
２５・・・光学部品
３０・・・設定部
３１・・・取得部
３２・・・判定部
３３・・・生成部
３４・・・送信部
３５・・・表示制御部
３６・・・記憶部
１０１・・・ウィンドウ

Claims (14)

1. 物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定可能なセンサと、
   前記センサが所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強度に基づいて、前記センサの測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定部と、
   前記判定部により前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成部と、を備え、
   前記判定部は、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定する、
   センサユニット。
2. 前記ダストに関する情報を前記センサユニットと通信可能な外部装置及び情報処理装置の少なくとも一方に送信する送信部を更に備える、
   請求項１に記載のセンサユニット。
3. 前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、
   前記送信部は、前記複数の領域ごとの前記ダストに関する情報を前記外部装置及び前記情報処理装置の少なくとも一方に送信する、
   請求項２に記載のセンサユニット。
4. 前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、
   前記複数の領域ごとの前記ダストに関する情報は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値を含み、
   前記送信部は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値のうちの最大値を前記外部装置及び前記情報処理装置の少なくとも一方に送信する、
   請求項２に記載のセンサユニット。
5. 前記ダストに関する情報を表示する表示部を更に備える、
   請求項１に記載のセンサユニット。
6. 前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、
   前記表示部は、前記複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を表示する、
   請求項５に記載のセンサユニット。
7. 前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、
   前記複数の領域ごとの前記ダストに関する情報は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値を含み、
   前記表示部は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値のうちの最大値を表示する、
   請求項５に記載のセンサユニット。
8. 前記ダストに関する情報に基づいて、前記測定範囲内に前記ダストが存在するか否かを示す情報を表示する表示灯を更に備える、
   請求項１に記載のセンサユニット。
9. 前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、
   前記表示灯は、前記複数の領域ごとに前記測定範囲内に前記ダストが存在するか否かを
   示す情報を表示する、
   請求項８に記載のセンサユニット。
10. 前記生成部は、前記測定範囲内の複数の領域ごとに前記ダストに関する情報を生成し、
    前記複数の領域ごとの前記ダストに関する情報は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値を含み、
    前記表示灯は、前記複数の領域ごとの前記ダストの量に対応する数値のうちの最大値を表示する、
    請求項８に記載のセンサユニット。
11. 前記ダストに関する情報は、前記測定範囲内における前記ダストの量に対応する数値を含む、
    請求項１に記載のセンサユニット。
12. 前記判定部は、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が前記閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って前記所定回数以上連続して受光された場合、前記測定範囲内に前記物体が存在すると判定する、
    請求項１から１１の何れか一項に記載のセンサユニット。
13. センサを用いて物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定する測定ステップと、
    前記センサが所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強度に基づいて、前記センサの測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定ステップと、
    前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成ステップと、を有し、
    前記判定ステップは、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定することを含む、
    センサユニットの制御方法。
14. プロセッサに、
    センサを用いて物体で反射された光を受光することにより前記物体までの距離を測定する測定ステップと、
    前記センサが所定タイミングで光の照射角度を変更しながら複数の方位に光を照射して前記複数の方位の光を受光することにより得られた前記複数の方位の光の受光強度に基づいて、前記センサの測定範囲内にダストが存在するか否かを判定する判定ステップと、
    前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定された場合、前記ダストに関する情報を生成する生成ステップと、
    を実行させるためのプログラムであって、
    前記判定ステップは、前記複数の方位のうちの少なくとも一つの方位の光の前記受光強度が閾値以上であり、かつ、前記閾値以上の前記受光強度の光が複数の所定角度に沿って所定回数以上連続して受光されなかった場合、前記測定範囲内に前記ダストが存在すると判定することを含む、
    プログラム。
    

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