JP2023551946A - スペクトル感知装置及び光放射線測定方法 - Google Patents

スペクトル感知装置及び光放射線測定方法 Download PDF

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Abstract

本発明は、光放射線(112)を測定するためのスペクトル感知装置(110)及び方法(160)に関する。スペクトル感知装置(110)は、- 少なくとも1つの感光検出器(120)であって、前記少なくとも1つの感光検出器(120)は光放射線(112)を受けるように指定された少なくとも1つの感光領域(122)を有し、前記少なくとも1つの感光検出器(120)によって生成された少なくとも1つの検出器信号は、前記少なくとも1つの感光領域(122)の照射に依存する、少なくとも1つの感光検出器(120)と;- 少なくとも1つの放射線放出要素(116)であって、前記少なくとも1つの放射線放出要素(116)は、光放射線(112)を放出するように指定されている、少なくとも1つの放射線放出要素(116)と;- 少なくとも1つの光学要素(124)であって、前記少なくとも1つの光学要素(124)は、前記光放射線(112)の第1部分(128)を前記少なくとも1つの感光検出器(120)に導くように指定されている、少なくとも1つの光学要素(124)と;- 少なくとも1つの評価ユニット(140)であって、前記少なくとも1つの評価ユニット(140)は、前記光放射線(128)の第1部分(128)による前記少なくとも1つの感光領域(122)の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器(120)によって生成される少なくとも1つの第1検出器信号を使用することによって、スペクトル感知装置(110)の較正を行うように構成され、前記較正は、前記スペクトル感知装置(110)内で発生するドリフト効果をときどき修正するプロセスを指し、前記ドリフト効果は、前記スペクトル感知装置(110)自体に関連する変更、又は前記スペクトル感知装置(110)に影響を及ぼす変更によって引き起こされる、評価ユニット(140)と、を備える。光放射線(112)を測定するためのスペクトル感知装置(110)及び方法(160)は、所定の反射ターゲットを必要とせずに、好ましくは完全に自動化された様式でスペクトル感知装置(110)の自己較正を行うように構成される。したがって、本スペクトル感知装置及び方法は、特に、ユーザの関与なしに自己較正を実行するように構成され得る。【選択図】図5

Description

本発明は、スペクトル感知装置及び光放射線を測定するための方法に関する。このような装置と方法は、一般に、調査又は監視目的のために、特に赤外線(IR)スペクトル領域、特に近赤外線(NIR)スペクトル領域にける調査又は監視目的のために、同様に、熱、炎、火又は煙の検出のために、使用されることができる。しかし、さらなる種類の用途が可能である。
既知のスペクトル感知装置、特に拡散反射分光法に使用され得る、分光計システムなどは、典型的には、スペクトル感知装置に含まれる少なくとも1つの検出器素子の波長依存感度に関して較正されている。例示的な分光計システムは、US2014/131578A1、WO2019/115594A1、WO2019/115595A1、又はWO2019/115596A1に開示されているが、さらなる種類のスペクトルル感知装置も知られている。
実際には、スペクトル感知装置は、主に、スペクトル感知装置自体に関連する可能性がある変更、又はスペクトル感知装置に影響を及ぼす可能性がある変更によって引き起こされ得るドリフト効果を受ける可能性がある。具体的には、この変更は、装置に含まれる放射線源又は検出器素子の少なくとも一方の劣化;放射線源又は検出器素子の少なくとも一方の温度ドリフト;装置に影響を与える周囲温度の変動;装置の温度、すなわち、少なくとも1つの検出器及び対応する電子機器が動作し得る温度の変動;装置に含まれる少なくとも1つの構成要素、特に機械的ハウジング、ホルダー、光学要素(特に分散要素、例えばプリズム、ビームスプリッタ、又は回折格子のうちの少なくとも1つ)のうちの少なくとも1つの機械的な伸び又は収縮、の少なくとも1つを含み得る。しかし、さらなる種類の変更も考えられる。
実際には、特にドリフト効果が、スペクトル感知装置によって決定される結果が決定的でなくなるような程度になるまで測定データを歪めることを回避することによって測定データの信頼性を維持するために、ドリフト効果は、通常、「較正」という用語で示されるプロセスを介してときどき修正される必要がある。この目的のために、好ましくは、光較正と暗較正がときどき実施され得る。ここで、異なるタイプの較正測定を実行することができるが、その測定は、特に反射放射線が少なくとも1つの検出器素子に到達することを避けるために、所定の反射ターゲット又は少なくとも1つの検出器素子の前の空の容積を必要とする。
特に、較正ターゲットは、暗較正のための「暗」測定では、暗電流、暗ノイズ、暗抵抗のうち少なくとも1つを再較正することが要求されない。暗較正のために、少なくとも1つの放射線源は、典型的には、オフにされる。これとは対照的に、既知の再現性のある較正信号を保証する所定の反射スペクトルを有する較正ターゲットは、「光」測定、特に反射分光法のために、通常、スペクトル測定に用いられる少なくとも1つの測定物体と同じ方法で、少なくとも1つの放射線源から少なくとも1つの検出器素子までの放射経路に配置され、それによって、特に、少なくとも1つの検出器素子の波長依存感度が較正されることができる。スペクトル感知装置の較正のために、ユーザは、典型的には、較正ターゲットを配置し、及び感知装置の感知範囲に置かれる可能性のある物体を除去しなければならない。
WO2018/203831A1は、分光器モジュールを較正することは、分光器モジュールの波長対動作パラメータ較正データを生成するために、分光器モジュールを使用して測定を実施することと、分光器モジュールの光クロストークと暗ノイズ較正データを生成するために、分光器モジュールを使用して測定を実施することと、分光器モジュールの既知の反射率標準に対して完全なシステム応答較正データを生成するために、分光器モジュールを使用して測定を実施することと、を含むことを開示している。この方法は、分光器モジュールに結合されたメモリに、波長対動作パラメータ較正データ、光クロストーク及び暗ノイズ較正データ、ならびに全システム応答較正データを組み込んだ較正記録、を記憶することと、較正記録を分光器モジュールによって測定に適用することと、をさらに含む。
EP3460509A1は、カバープレート(CP)の背後に位置する、飛行時間センサを有する飛行時間システムを較正する方法を開示している。この方法は、制御信号(CS1)のそれぞれのトリガーパルスに応答して複数の送信パルス(EP)を放出させることと、受信した光パルス(RP、RP’)を検出することと、を含む。送信パルス(EP)の1つと受信パルス(RP、RP’)の1つとの間の時間を代表するそれぞれの差分値が決定される。差分値は、少なくとも1つのヒストグラムのビン数(1、...、N)に蓄積される。この方法はさらに、ビン(1、...、M)の所定の範囲内のヒストグラムに少なくとも1つのクロストーク応答(CTP)を記録することと、記録されたクロストーク応答(CTP)を使用してヒストグラムを較正することと、を含む。最後に、較正されたヒストグラムの評価に基づく飛行時間を示す出力信号(OS)が生成される。
WO2019/215323A1は、分光器装置(110)を開示している。分光器装置(110)は:少なくとも1つの入射光ビームを構成波長のスペクトルに分離するように適合された少なくとも1つのフィルタ要素(114)と;光センサ(116、142)のマトリックスを有する少なくとも1つのセンサ要素(140)であって、光センサ(116、142)がそれぞれ感光エリアを有し、各光センサ(116、142)は、少なくとも1つの物体(112)から分光計に伝播する少なくとも1つの光ビームによる感光エリアの照射に応じて少なくとも1つのセンサ信号を生成するように構成され、前記光センサ(116、142)の少なくとも1つの第1光センサが、第1構成波長による照射に応答して第1センサ信号を生成するように適合され、前記光センサ(116、142)の少なくとも1つの第2光センサが、第1構成波長による照射に応答して第2センサ信号を生成するように適合されている、少なくとも1つのセンサ要素(140)と;第1センサ信号及び第2センサ信号からの結合信号Qを評価することによって、物体(112)の少なくとも1つの縦方向座標zを決定するように構成された少なくとも1つの評価装置(120)であって、前記評価装置(120)は、決定した縦方向座標zを考慮して少なくとも1つの分光分析を行うことによって、光センサのマトリックスの光センサ(116、142)によって生成された少なくとも1つのセンサ信号を評価するように構成される、少なくとも1つの評価装置(120)と;を備える。
上記の装置及び方法によって暗示されるような利点にもかかわらず、特に赤外線(IR)スペクトル範囲内で、監視又は調査の目的で、特に分光法、ガス感知、又は濃度測定に使用されることができる、簡単でコスト効率が良く、信頼性の高い光検出器に関する改善の必要性が依然として存在する。具体的には、測定中に実際に発生することが多い光検出器のドリフト効果は、依然として問題である。さらに、ユーザ、特に消費者レベルのユーザは、自分で十分な較正を行うための技術的な専門知識を有していないことが多い。
したがって、本発明によって対処される問題は、既知のこのタイプの既知の装置及び方法の欠点を少なくとも実質的に回避する、光放射線を測定するためのスペクトル感知装置及び方法を提供することである。
特に、所定の反射ターゲットを必要とせずに、好ましくは完全に自動化された様式で、スペクトル感知装置の自己較正を行うように構成されたスペクトル感知装置を有することが望ましい。
この問題は、独立特許請求項の特徴を備えた本発明によって解決される。個別に又は組み合わせて実現されることができる本発明の有利な展開は、従属請求項及び/又は以下の明細書及び詳細な実施形態に示されている。
本発明の第1の態様では、光放射線を測定するためのスペクトル感知装置が開示されている。したがって、スペクトル感知装置は:
- 少なくとも1つの感光検出器であって、前記少なくとも1つの感光検出器は光放射線を受けるように指定された少なくとも1つの感光領域を有し、前記少なくとも1つの感光検出器によって生成された少なくとも1つの検出器信号は、前記少なくとも1つの感光領域の照射に依存する、少なくとも1つの感光検出器と;
- 少なくとも1つの放射線放出要素であって、前記少なくとも1つの放射線放出要素は、前記光放射線を放出するように指定されている、少なくとも1つの放射線放出要素と;
- 少なくとも1つの光学要素であって、前記少なくとも1つの光学要素は、前記光放射線の第1部分を前記少なくとも1つの感光検出器に導くように指定されている、少なくとも1つの光学要素と;
- 少なくとも1つの評価ユニットであって、前記少なくとも1つの評価ユニットは、前記光放射線の前記第1部分による前記少なくとも1つの感光領域の照射時に、前記少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの第1検出器信号を使用することによって、スペクトル感知装置の較正を行うように構成される、評価ユニットと、
を備える。
本明細書で使用される場合、「光放射線」という用語は、一般に、通常「光スペクトル範囲」と呼ばれ、可視、紫外線、及び赤外線スペクトル範囲の少なくとも1つを含む電磁放射の区画を指す。「紫外線」という用語は、一般に、1nm~380nm、好ましくは100nm~380nmの波長を有する電磁放射を指す。さらに、「可視」という用語は、通常、380nm~760nmの波長を指す。さらに、IRと略される「赤外線」という用語は、一般に760nm~1000μmの波長を指し、該760nm~3μmの波長は通常「近赤外線」呼ばれ、NIRと略される。好ましくは、本発明の典型的な目的のために使用される光放射線は、IR放射線、より好ましくは、NIR放射線であり、特に760nm~3μm、好ましくは1μm~3μmの波長である。
本発明によれば、光放射線は、光放射線を放出すように指定された少なくとも1つの放射線放出要素によって提供される。この目的のために、スペクトル感知装置は、様々な方法で具現化することができる少なくとも1つの放射線放出要素を含んでいる。少なくとも1つの放射線放出要素は、ハウジング内のスペクトル感知装置の一部とすることができる。代替的又は追加的に、少なくとも1つの放射線放出要素は、ハウジングの外側に、例えば、別個の放射線放出要素として配置されることもできる。少なくとも1つの放射線放出要素は、所望のスペクトル範囲、好ましくは上記で定義された光スペクトル範囲又はその少なくとも1つの選択された部分(partition)において十分な放出を提供するように構成され得る。少なくとも1つの放射線放出要素は、特に、熱放射体又は半導体ベースの放射線源のうちの少なくとも1つに含まれる。ここで、半導体ベースの放射線源は、特に、発光ダイオード(LED)又はレーザ、特にレーザダイオードの少なくとも1つから選択されることができる。さらに、熱放射体は、特に、白熱ランプ又は熱赤外線エミッタの少なくとも1つから選択されることができる。本明細書でさらに使用される場合、「熱赤外線エミッタ」という用語は、監視される光放射線を放出する放射線放出要素としての放射線放出表面含むマイクロ機械加工された熱放射装置を指す。具体的には、熱赤外線エミッタは、Axetris AG,Schwarzen-bergstrasse 10,CH-6056Kaegiswil,Switzerlandから、「emirs 50」という名称で、又はLASER COMPONENTS GmbH,Werner-von-Siemens-Str.15 82140 Olching,ドイツから「熱赤外線エミッタ(thermal infrared emitters)」として、又はHawkeye Technologies,181 Research Drive #8,Milford CT 06460,米国から「赤外線エミッタ(infrared emitters)」として入手することができる。しかし、構造化光源などのさらなるタイプの放射線放出要素も可能である。
少なくとも1つの放射線放出要素は、連続光源であってよく、又は代替的に、パルス光源であってよく、該パルス光源は、少なくとも1Hz、少なくとも5Hz、少なくとも10Hz、少なくとも50Hz、少なくとも100Hz、少なくとも500Hz、少なくとも1kHz、又はそれ以上の変調周波数を有し得る。パルス光源を駆動するために、変調装置が使用されることができ、これは、好ましくは周期的変調を生成することによって、照射を変調するように指定され得る。一般的に使用される場合、「変調」という用語は、照射の総出力が変化され、好ましくは周期的に、特に少なくとも1つの変調周波数で変化されるプロセスを指す。特に、周期的な変調は、照射の総出力の最大値と最小値との間で行われることが可能である。最小値は、0であることができるが、>0であることもでき、したがって、例えば、完全な変調が行われる必要はない。変調は、好ましくは、所望の変調された照射を生成するように指定された放射源内で、好ましくは、それ自体変調された強度及び/又は総出力、例えば周期的に変調された総出力を有する少なくとも1つの放射線放出要素により、及び/又は、パルス放射源、例えばパルスレーザとして具現化された少なくとも1つの放射線放出要素により、行われることが可能である。さらなる例として、欧州特許出願19213277.7(2019年12月3日出願)は、電流によって加熱されると光放射線を生成するように指定された少なくとも1つの放射線放出要素と;マウントであって、少なくとも1つの放射線放出要素を担持し、該マウント又はその一部が可動である、マウントと;ヒートシンクであって、マウントが接触すると、マウントとマウントによって担持される少なくとも1つの放射線放出要素とを冷却するように指定されたヒートシンクと、を開示している。代替的に又は追加的に、異なるタイプの変調装置、例えば電気光学効果及び/又は音響光学効果に基づく変調装置も使用されることが可能である。さらに、周期的ビーム遮断装置、特に、ビームチョッパー、遮断ブレード、又は、遮断ホイールのうちの少なくとも1つ使用されることができる。
本明細書でさらに使用される場合、「スペクトル」という用語は、光スペクトル範囲の一部を指し、スペクトルは、信号波長及び対応する信号強度によって定義される光信号によって構成される。特に、スペクトルは、少なくとも1つの測定物体に関連するスペクトル情報、例えば、少なくとも1つの測定物体を形成する少なくとも1つの材料のタイプ及び組成、を含むことができ、この情報は、少なくとも1つの測定物体に関連する少なくとも1つのスペクトルの記録によって決定されることができる。「測定物体」という用語は、一般に、生物体及び非生物体から選択される任意の物体を指し、任意の物体はスペクトル感知装置による調査のための材料を含む。さらに、「スペクトル感知装置」という用語は、光放射線の少なくとも1つの対応する信号波長に関連する少なくとも1つの信号強度の少なくとも1つの測定値を記録することによって、及び、信号強度に関連する少なくとも1つの検出器信号を評価することによって、スペクトル情報を決定するように構成される装置に関する。
さらに本発明によれば、スペクトル感知装置は、少なくとも1つの感光検出器を備えている。一般に使用されるように、「感光検出器」という用語は、少なくとも1つの感光領域を含む光検出器を指し、該少なくとも1つの感光領域は、その少なくとも1つの感光領域の照射に応じて少なくとも1つの検出器信号を生成するように指定され、該少なくとも1つの検出器信号は、特に、評価のために評価ユニットに提供されてよい。少なくとも1つの感光検出器に含まれる少なくとも1つの感光領域は、均一な感光エリアであり得、該均一な感光エリアは、感光エリアに入射する放出された光放射線を受けるように構成される。しかしながら、ピクセルサイズの感光エリアのエリアなど、1つ以上の感光エリアも可能である。少なくとも1つの感光検出器は、検出器信号、好ましくは光学信号又は電子信号を生成するように指定され、これらは少なくとも1つの感光検出器に衝突する放出された光放射線の強度に関連する。検出器信号は、アナログ信号及び/又はデジタル信号であってよい。特定の実施形態では、少なくとも1つの感光検出器は、例えば外部評価ユニットに提供する前に電子信号を増幅するように適合されたアクティブセンサであってよく、又はそれを含んでいてよい。この目的のために、少なくとも1つの感光検出器は、1つ以上の信号処理装置、特に電子信号を処理及び/又は前処理するための1つ以上のフィルタ及び/又はアナログ-デジタル-変換器を備えることができる。
少なくとも1つの感光検出器は、任意の既知の光センサから、特に無機カメラ要素から、好ましくは無機カメラチップから、より好ましくは、今日、一般的に、様々なカメラで使用されているCCDチップ又はCMOSチップから選択されることができる。代替として、少なくとも1つの感光検出器、特に少なくとも1つの感光領域は、光導電性材料、特に硫化鉛(PbS)、セレン化鉛(PbSe)、ゲルマニウム(Ge)、インジウムガリウムヒ素(拡張InGaAsを含むが、これらに限定されない、InGaAs)、アンチモン化インジウム(InSb)又はテルル化水銀カドミウム(HgCdTe又はMCT)から選択される無機光導電性材料を含むことができる。一般に使用されるように、「拡張InGaAs」という用語は、最大2.6μmのスペクトル応答を示す特定のタイプのInGaAsを指す。しかし、異なる種類の材料又は他のタイプの感光検出器も可能であり得る。
さらに本発明によれば、スペクトル感知装置は、少なくとも1つの光学要素を備え、少なくとも1つの光学要素は、少なくとも1つの放射線放出要素によって放出された光放射線の第1部分を、少なくとも1つの感光検出器に導くように指定されている。特に好ましい実施形態では、少なくとも1つの光学要素は、少なくとも1つの放射線放出要素によって放出された光放射線の第2部分を、少なくとも1つの測定物体に導くようにさらに指定され得る。本明細書で使用される場合、「第1」又は「第2」という用語は、順序又は時系列を特定することなく、また同じタイプの他の要素が存在する可能性を排除することなく、要素の説明として考慮される。言い換えれば、少なくとも1つの放射線放出要素、少なくとも1つの光学要素、及び少なくとも1つの感光検出器は、少なくとも1つの光学要素が、少なくとも1つの放射線放出要素によって放出される光放射線を、少なくとも1つの感光検出器に向かって直接的に導かれる第1部分と、少なくとも1つの感光検出器に向かって少なくとも1つの測定物体を介して間接的に導かれる第2部分と、に分割するように指定されているビームスプリッタ要素として機能し得るように、スペクトル感知装置内に組み立てられることができる。一般に使用されるように、「導く」という用語又はその文法上の変形は、特に光放射線の一部を反射又は透過させることによって、所望の方向への光放射線の伝播させるように作用することを指す。好ましい実施形態では、少なくとも1つの光学要素は、光放射線の第1部分を、少なくとも1つの感光検出器に反射させ、第2部分を少なくとも1つの測定物体に透過させるように指定することができる。その結果、少なくとも1つの光学要素は、このように、既に反射ターゲットとして機能することができ、したがって、別個の反射ターゲットを必ずとも必要としない。好ましい代替実施形態では、少なくとも1つの光学要素は、光放射線の第1部分を少なくとも1つの感光検出器に送信(transmit)し、第2部分を少なくとも1つの測定物体に反射するように指定され得る。
選択された実施形態とは無関係に、少なくとも1つの測定物体に導かれる光放射線の第2部分に対して、少なくとも1つの感光検出器に導かれる光放射線の第1部分の比率Rは、特に、式1による関係:
Figure 2023551946000002
を示すことができ、ここで、noptical elementは、少なくとも1つの光学要素の屈折率に対応し、nmediumは、少なくとも1つの放射線放出要素から少なくとも1つの光学要素への経路を伝播する光放射線によって横断される少なくとも1つの光学的に透明な媒体の屈折率に対応する。
特に、比Rは、光放射線の第1部分が少なくとも1つの光学要素によって反射されるか又は少なくとも1つの光学要素を透過した後に、少なくとも1つの感光検出器の少なくとも1つの感光領域によって受けられる光放射線の第1部分による照射の強度が、光放射線の第2部分が少なくとも1つの測定物体によって反射され、及び/又は少なくとも1つの測定物体を介して少なくとも1つの感光検出器の少なくとも1つの感光領域に向かって透過した後に、少なくとも1つの感光検出器によって受けられる光放射線の第2部分による少なくとも1つの感光領域の照射の強度と同じ桁の大きさを想定するように、選択され得る。一般的に使用される「同じ桁の大きさ」という用語は、0.1を超え10未満の2つの数値の商を指す。特に、比Rは、少なくとも0.15、好ましくは少なくとも0.2、より好ましくは少なくとも0.28から、7まで、好ましくは5まで、より好ましくは4.1までであり得る。
特に、少なくとも1つの感光検出器に導かれる、少なくとも1つの光学要素における光放射線の第1部分の反射のタイプは、いわゆる「フレネル反射」であり得る。一般的に使用されるように「フレネル反射」という用語は、異なる屈折率を有する少なくとも2つの媒体間の界面の結果としての光反射の一種を指す。例として、フレネル反射は、典型的には、ガラスの層に隣接する周囲空気の層との間の境界面で発生する。その結果、放射線放出要素によって放出される光放射線は、周囲空気の層、不活性ガス、又は真空などの光学的に透明な媒体を通って伝播し、光学的に透明な媒体と少なくとも1つの光学要素の間の界面で反射され得る。一般に、フレネル反射は、上に示したように、少なくとも1つの光学的に透明な媒体と少なくとも1つの光学要素の両方の屈折率に依存するという利点を有する。特に、少なくとも1つの光学要素の屈折率noptical elementは、少なくとも、スペクトル感知装置が通常家庭用電化製品で使用され得る温度範囲内で、少なくとも1つの光学要素に含まれる材料の波長及び温度に対してわずかな変化しか示さない。例として、一般的にこのような目的に使用される光学ガラスタイプBK7は、2.5μmの波長で1.4860、2μmの波長で1.4945の屈折率を有する。
少なくとも1つの光学要素の表面への光放射線の垂直入射という特別な場合、フレネル反射の比Rは、式(2)に従って
Figure 2023551946000003
決定されることができる。
好ましくは、少なくとも1つの光学要素は、少なくとも1つの光学窓であってよく、又は少なくとも1つの光学窓を備えてよい。
一般的に使用されるように、「光学窓」という用語は、少なくとも1つの透明材料を含む光学要素を指し、少なくとも1つの透明材料は、好ましくは、光放射線によってカバーされる波長範囲の少なくとも1つの部分(partition)において少なくとも部分的に透明であってよい。特に、少なくとも1つの光学窓は:シリカ、アルミノシリケートガラス、ゲルマニウム、ヒ化ガリウム、リン化ガリウム、ゲルマニウムシリケートガラス、セレン化亜鉛、硫化亜鉛、フッ化カルシウム、フッ化マグネシウム、フッ化バリウム、塩化ナトリウム、臭化カリウム、方解石、フルオロジルコン酸塩、希土類ドープガラス、フッ化物ガラス、カルコゲニドガラス、サファイア、ネオジムドープオルトバナジン酸イットリウム、ドープされた変種、特にシリカガラス、リン酸塩ガラス、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、又はポリ(パーフルオロブテニルビニルエーテル)などのフルオロポリマー、からなる群から選択される少なくとも1つの材料を含むことができる。しかしながら、さらなるタイプの光学要素、好ましくは少なくとも1つのビームスプリッタも可能であり得る。
具体的には、少なくとも1つの光学要素は、追加的又は代替的に、少なくとも1つの内部光学要素であってよく、又はそれを含んでよい。一例として、少なくとも1つの内部光学要素は、少なくとも1枚の紙及び/又はテフロン(商標)とも呼ばれるポリテトラフルオロエチレン(PTFE)を含んでよい。少なくとも1つの内部光学要素は、スペクトル感知装置内、具体的には、少なくとも1つの放射線放出要素と少なくとも1つの感光検出器との間の光放射線のビーム経路に配置されてよい。一例として、少なくとも1つの内部光学要素は、スペクトル感知装置の少なくとも1つの光学窓の内側に取り付けられ、好ましくは接着され得る。具体的には、少なくとも1つの内部光学要素は、スペクトル感知装置内のビームスプリッタとして機能してよく、又はビームスプリッタの一部であってよい。したがって、少なくとも1つの内部光学要素は、光放射線を少なくとも部分的に反射するように構成され得る。一例として、少なくとも1つの内部光学要素は、スペクトル感知装置の少なくとも1つの光学窓の一部を覆っていてよく、少なくとも1つの内部光学要素は、少なくとも1つの感光検出器に向かって光放射線を反射するように構成されてよく、少なくとも1つの光学窓は、少なくとも1つの測定物体に向かって光放射線を透過(transmit)させるように構成され得る。
少なくとも1つの光学要素は、既知の光学特性を有することができる。追加的に又は代替的に、少なくとも1つの光学要素の少なくとも1つの光学特性と少なくとも1つの外部較正ターゲットの少なくとも1つの光学特性との間の少なくとも1つの関係は、例えば、少なくとも1つの伝達関数の形式で知られていてよい。少なくとも1つの外部較正ターゲットは、特に正確に知られた光学特性を有することができる。一例として、スペクトル感知装置の製造後、工場較正が、少なくとも1つの外部較正ターゲットを使用することによって、行われることができる。初期の工場較正の後、スペクトル感知装置の較正が、少なくとも1つの光学要素と、少なくとも1つの光学要素の少なくとも1つの光学特性と少なくとも1つの外部較正ターゲットの少なくとも1つの光学特性との間の少なくとも1つの既知の関係と、を使用することによって、実行されてよい。言い換えれば、評価ユニットは、少なくとも1つの光学要素の少なくとも1つの光学特性と少なくとも1つの外部較正ターゲットの少なくとも1つの光学特性との間の少なくとも1つの関係を使用することによってスペクトル感知装置の較正を行うように構成され得る。前述のように、少なくとも1つの光学要素は、具体的には、少なくとも1つの内部光学要素の場合のように、スペクトル感知装置内に組み立てられてよい。したがって、少なくとも1つの光学要素は、例えば、スペクトル感知装置のハウジングによって保護され得る。したがって、少なくとも1つの光学要素は、具体的には、安定した光学特性を有することができる。したがって、少なくとも1つの光学要素の少なくとも1つの光学特性と、少なくとも1つの外部較正ターゲットの少なくとも1つの光学特性との間の少なくとも1つの関係は、安定的であり得る。本明細書で使用されるように、「安定」という用語は、一定の期間にわたって所定の閾値内で一定に保たれる特性又は関係の値を指す。
さらに、少なくとも1つの放射線放出要素から少なくとも1つの光学要素への経路の光放射線によって横断される少なくとも1つの光学的に透明な媒体は、特に:空気、液浸油、シリカ、アルミノシリケートガラス、ゲルマニウム、ヒ化ガリウム、リン化ガリウム、ゲルマニウムシリケートガラス、セレン化亜鉛、硫化亜鉛、フッ化カルシウム、フッ化マグネシウム、フッ化バリウム、塩化ナトリウム、臭化カリウム、方解石、フルオロジルコン酸塩、希土類ドープガラス、フッ化物ガラス、カルコゲニドガラス、サファイア、ネオジムドープオルトバナジン酸イットリウム、ドープされた変種、特にシリカガラス、リン酸塩ガラス、ポリメチルメタクリレート、ポリスチレン、又はポリ(パーフルオロブテニルビニルエーテル)などのフルオロポリマー、又は真空、からなる群から選択されることができる。しかしながら、さらなる種類の光学的に透明な媒体も可能であり得る。
例えば、屈折率nmedium=1を有する大気は、光学的に透明な媒体として選択され得、光学要素は、「BK7」と示されるタイプの光学ガラスを含むことができる。ここで、光放射線の反射部分は、2μmの波長で界面に衝突する全入射光放射波の≒3.9%の値、2.5μmの波長で界面に衝突する全入射光放射波の≒3.82%の値を想定しており、したがって、波長依存の反射変化が約2%となる。その結果、入射光放射線の約96%が少なくとも1つの測定物体に伝送される。
さらなる例では、少なくとも1つの光学要素は、シリコン(Si)を含む光学窓であってよい。シリコンの屈折率noptical elementは、2.5μmの波長で3.4394、2μmの波長で3.4527と想定され、周囲空気が光学的に透明な媒体として使用された場合、シリコンにおける全入射放射線の約30%の反射が導かれる。したがって、入射光放射線の約70%しか、少なくとも1つの測定物体に透過(transmit)しない。反射の30%の割合における波長依存性の変化はわずか約0.5%であるため、シリコン窓は、好ましくは、実質的に波長依存しない反射ターゲットとして使用されることができる。
ビームスプリッタが、一般に、入射光放射線の波長に対する反射及び透過の依存性を示さないため、既に上に示したさらなる例として、ビームスプリッタは特に有利に使用されることができる。
一般に、検出器信号は、少なくとも1つの測定物体の反射率によって変化することがある。一方、弱い反射率グレードを有する測定物体の場合、少なくとも1つの光学要素は、好ましくは、測定物体への入射光放射線の約96%を透過する光学ガラスタイプBK7を備える。結果として、光学ガラスタイプBK7を備える少なくとも1つの光学要素は、一種の補償として測定物体を集中的に照射することを可能にする。一方、高い反射率を示す測定物体の場合、シリコン窓が好ましいと考えられる。しかしながら、少なくとも1つの光学要素のためのさらなるタイプの材料もまた、可能であり得る。
好ましい実施形態では、スペクトル感知装置は、少なくとも1つのスペクトル伝達要素をさらに備えることができる。本明細書で使用される場合、「スペクトル伝達要素」という用語は、少なくとも1つの感光検出器の少なくとも1つの感光領域を照射するために、第1部分、第2部分のいずれか、又はその両方の部分の光放射線の少なくとも1つの波長を選択するように構成されている光学要素を指す。特に、少なくとも1つのスペクトル伝達要素は具体的には:少なくとも1つの回折光学要素;少なくとも1つの角度依存性反射要素;少なくとも1つの回折格子要素、特にブレーズ回折格子要素;少なくとも1つのプリズム;少なくとも1つのレンズアレイ、特に少なくとも1つのマイクロレンズアレイ;少なくとも1つの光フィルタ;少なくとも1つの偏光フィルタ;少なくとも1つのバンドパスフィルタ;少なくとも1つの液晶フィルタ、特に液晶チューナブルフィルタ;少なくとも1つのショートパスフィルタ;少なくとも1つのロングパスフィルタ;少なくとも1つのノッチフィルタ;少なくとも1つの干渉フィルタ;少なくとも1つの透過回折格子;少なくとも1つの非線形光学要素、特に少なくとも1つの複屈折光学要素、又は少なくとも1つのチューナブルファブリペロー干渉計;少なくとも1つのチューナブルマイケルソン干渉計;又は少なくとも1つの線形可変フィルタ、からなる群から選択され得る。しかしながら、さらなる種類のスペクトル伝達要素も可能である。
さらに本発明によれば、スペクトル感知装置は、少なくとも1つの評価ユニットを備える。一般的に使用されるように、「評価ユニット」という用語は、スペクトル情報、すなわち、スペクトルが特に本明細書に記載の少なくとも1つの感光検出器を使用することによって記録された測定物体のスペクトルに関連する情報を決定するように、指定された装置を指し、該情報は、少なくとも1つの感光検出器によって生成された少なくとも1つの検出器信号を評価することによって取得される。評価ユニットは、集積回路の少なくとも1つ、特に特定用途向け集積回路(ASIC)、又は、データ処理装置、特にデジタル信号プロセッサ(DSP)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、マイクロコントローラ、マイクロコンピュータ、コンピュータ、又は電子通信ユニット、具体的にはスマートフォン又はタブレットの少なくとも1つ、のうちの少なくとも1つであってよく、又はそれらを備えることができる。さらなる構成要素、特に少なくとも1つの前処理装置及び/又はデータ収集装置が可能であり得る。さらに、評価ユニットは、特に少なくとも1つの電子テーブル、例えば少なくとも1つのルックアップテーブルを保存するための少なくとも1つのデータ保存ユニットを備えることができる。さらに、評価ユニットは、1つ以上のインタフェース、特に無線インタフェース又は有線インタフェースのうちの少なくとも1つを備えることができる。さらに、評価ユニットは、スペクトル感知装置又はその一部を完全に又は部分的に制御又は駆動するように設計されることができる。評価ユニットは、特に、複数の検出器信号がピックアップされ得る少なくとも1つの測定サイクルを実行するように設計され得る。評価ユニットによって決定されたスペクトル情報は、特に、電子的な、視覚的な、音響的な、又は触覚的な方式のうちの少なくとも1つで、さらなる装置又はユーザのうちの少なくとも1つに提供され得る。さらに、情報は、少なくとも1つのデータ保存ユニット、具体的にはスペクトル感知装置、特に少なくとも1つの評価装置に含まれる内部データ保存ユニット、又は少なくとも1つのインタフェースを介して情報が送信され得る外部保存装置に保存されてよい。
評価ユニットは、好ましくは、少なくとも1つのコンピュータプログラム、特に、スペクトル情報を生成するステップを実行又はサポートする少なくとも1つのコンピュータプログラムを実行するように構成されてよい。例として、少なくとも1つの検出器信号を少なくとも1つの入力変数として使用することによって、スペクトル情報の一部への変換を実行することができる1つ以上のアルゴリズムが実装され得る。この目的のために、評価ユニットは、特に、少なくとも1つの検出器信号を評価することによってスペクトル情報を生成するように設計され得る少なくとも1つのデータ処理装置、特に電子又は光学データ処理装置の少なくとも1つを備えることができる。したがって、評価ユニットは、少なくとも1つの検出器信号を少なくとも1つの入力変数として使用し、少なくとも1つの入力変数を処理することによってスペクトル情報を生成するように設計される。処理は、連続して、並行して、又は組み合わされた形で行われてよい。評価ユニットは、特に計算によって、及び/又は少なくとも1つの保存された及び/又は既知の関係を用いて、スペクトル情報を生成するための任意のプロセスを使用することができる。
特に、少なくとも1つの評価ユニットは、好ましくは、光放射線の第2部分が少なくとも1つの測定物体によって反射され、及び/又は少なくとも1つの測定物体を介して少なくとも1つの感光検出器の少なくとも1つの感光領域に向かって透過した後に、少なくとも1つの感光検出器によって受信された該光放射線の第2部分による少なくとも1つの感光領域の照射時に、少なくとも1つの検出器によって生成された少なくとも1つの第2検出器の信号を使用することによって、少なくとも1つの測定物体と関連するスペクトル情報を決定するよう構成され、それによって、少なくとも1つの較正情報が、以下により詳細に説明するように、考慮され得る。
本発明によると、少なくとも1つの評価ユニットは、スペクトル感知装置の較正を実行するように構成される。一般的に使用されるように、「較正」という用語は、主に、スペクトル感知装置自体に関連する変更、又はスペクトル感知装置に影響を及ぼす変更によって引き起こされる、スペクトル感知装置で実際に発生し得るドリフト効果をときどき補正するプロセスを指す。この変更は、放射線放出要素又は感光検出器の少なくとも1つの劣化;放射線放出要素又は感光検出器の少なくとも1つの温度ドリフト;スペクトル感知装置に影響を与える周囲温度の変動;スペクトル感知装置に関連する温度、すなわち、少なくとも1つの感光検出器及び対応する電子機器が動作し得る温度の変動;スペクトル感知装置に含まれる少なくとも1つの構成要素の、特に機械的ハウジング、ホルダー、又は光学要素の少なくとも1つの、具体的に少なくとも1つの光学窓の、機械の拡張又は収縮の少なくとも1つを含み得る。しかし、さらなる種類の変更も考えられる。
さらに、「較正を行う」という用語又はその任意の文法上の変形は、具体的には、ドリフト効果が、スペクトル感知装置によって決定される結果が決定的でなくなる程度に測定データを歪めることを回避することによって、特に、測定データの信頼性を維持するために、ドリフト効果を修正することによって、少なくとも1つの較正情報を生成するプロセスを行うことを指す。較正を行うことによって、少なくとも1つの較正情報は、特に、好ましくはデータ保存ユニットに、較正ファイルとして、具体的には、テーブル、値とパラメータ化された関連関数のセット、のうちの少なくとも1つの形式、又は関数方程式として、保存され得る較正係数、較正曲線、又は較正関数の形で決定され得る。特に、少なくとも1つの較正情報は、好ましくは、少なくとも1つの測定物体に関連するスペクトル情報を決定する際に使用され得る。しかしながら、較正を実行し、少なくとも1つの較正情報を保存又は使用するさらなる態様も考えられ得る。
較正を実行する目的のために、評価ユニットは、少なくとも1つの感光検出器に向かって導かれる光放射線の第1部分による少なくとも1つの感光領域の照射時に、少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの第1検出器信号を使用するように構成される。特に好ましくは、スペクトル感知装置の較正は、光放射線の第1部分のみが、少なくとも1つの第1検知器信号を生成するために、少なくとも1つの感光領域の照射のための少なくとも1つの感光検知器に向かって導かれる様式で行われる。この特に好ましい実施形態のために、スペクトル感知装置は、少なくとも1つの測定物体によって反射され、及び/又は少なくとも1つの測定物体を透過するなどの、少なくとも1つの測定物体に由来する光放射線が、スペクトル感知装置の較正が実行され得る時間間隔中に、少なくとも1つの感光検知器の少なくとも1つの感光領域を照射することがないように、組み立てられることができる。
少なくとも1つの感光検出器の前の容積が占有されているか否かを決定する目的で、スペクトル感知装置は、特に好ましい実施形態では、少なくとも1つの測定ユニットをさらに備えることができる。一般的に使用されるように、「測定ユニット」という用語は、少なくとも1つの測定信号を生成するように指定される装置を指し、少なくとも1つの測定信号は、少なくとも1つの測定可能なパラメータに関する少なくとも1つの値に依存する。本明細書で使用される場合、「測定ユニット」という用語は、具体的には、少なくとも1つの感光検出器の前の容積の占有に依存する少なくとも1つの測定信号を生成するように指定されている装置を指す。本明細書で使用される場合、「容積」という用語は、少なくとも1つの測定物体によって反射され、及び/又は少なくとも1つの測定物体を介して透過する光放射線が、少なくとも1つの感光検出器の少なくとも1つの感光領域に衝突することができる態様で、少なくとも1つの測定物体を受け入れるように指定されているスペクトル感知装置の周辺部を指す。ここで、容積は、特に、実用的な目的のために、スペクトル感知装置のハウジングから少なくとも1つの距離範囲に限定され得る。少なくとも1つの感光検出器の前の容積が占有され得るか否かを決定することによって、少なくとも1つの測定物体から発する光放射線が少なくとも1つの感光検出器の少なくとも1つの感光領域に衝突し、スペクトル感知装置の較正に望ましくない影響を与え得ることを避けることができる。
この特に好ましい実施形態では、少なくとも1つの評価ユニットは、少なくとも1つの測定ユニットによって生成される少なくとも1つの測定信号を追加的に使用することによって、スペクトル感知装置の較正を実行するように構成され得る。具体的には、少なくとも1つの評価ユニットは、少なくとも1つの測定ユニットによって生成される少なくとも1つの測定信号が、少なくとも1つの感光検出器の前の容積が占有されていないことを示す時間間隔内にのみ、スペクトル感知装置の較正を実行するように構成され得る。この時間間隔は、少なくとも1つの測定ユニットによって示されるように測定物体が存在しないため、少なくとも1つの測定物体から発される光放射線が少なくとも1つの感光検出器の少なくとも1つの感光領域を照射しない、上記で定義された時間間隔と同一であることが特に好ましい。
少なくとも1つの感光検出器の前の容積の占有に依存する少なくとも1つの測定信号を生成する目的のために、少なくとも1つの測定ユニットは、少なくとも1つの存在センサであってよく、又はそれを備えてよい。一般的に使用されるように、「存在センサ」という用語は、特に、存在センサの前の所定の距離範囲内に位置する容積におけるヒト又は物品の存在を認識するように構成されたセンサ要素を指す。特に、少なくとも1つの存在センサは、近接センサ又は距離センサのうちの少なくとも1つから選択され得る。好ましくは、少なくとも1つの測定ユニットは、超音波センサ、光学センサ、誘導センサ、触覚センサ、レーダーセンサ、飛行時間センサ、三角測量センサ、ステレオセンサ、構造化光センサ、静電容量センサ、FIPセンサ、又はBPAセンサ、のうち少なくとも1つから選択され得る。FIPセンサについては、例えば、WO2012/110924A1、WO2014/097181A1、又はWO2016/120392A1を参照することができる。BPAセンサについては、例えば、WO2018/091640A2を参照することができる。
本発明のさらなる態様では、光放射線を測定するための方法が開示される。本明細書に開示される方法は、以下のステップa)~d)を含み、これらは、好ましくは続けて行われることができ、ステップa)~d)は、少なくとも部分的に、同時に行われ得る。さらに、本明細書に記載されているかどうかに関係なく追加のステップを実行することができる。
本発明による光放射線の測定方法は、以下のステップ:
a)少なくとも1つの放射線放出要素を使用することによって光放射線を放出するステップと、
b)少なくとも1つの光学要素を使用することによって、光放射線の第1部分を少なくとも1つの感光検出器に導くステップと;
c)少なくとも1つの感光検出器を使用することによって、少なくとも1つの検出器信号を生成するステップであって、前記少なくとも1つの感光検出器が、前記光放射線を受けるように指定された少なくとも1つの感光領域を有し、少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの検出器信号が、前記少なくとも1つの感光領域の照射に依存する、ステップと;
d)少なくとも1つの評価ユニットを使用することによって、前記光放射線の前記第1部分による前記少なくとも1つの感光領域の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの第1検出器信号を使用することによって、スペクトル感知装置の較正を実行するステップと、
を含む。
さらに、以下のさらなるステップe)~g):
e)少なくとも1つの測定ユニットを使用することによって、少なくとも1つの測定信号を生成するステップであって、前記少なくとも1つの測定信号は、前記少なくとも1つの感光検出器の前の容積の占有に依存する、ステップと;
f)少なくとも1つの光学要素を使用して光放射線の第2部分を少なくとも1つの測定物体に導くステップと;
g)前記光放射線の第2部分による前記少なくとも1つの感光領域の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの第2検出器信号を使用することによって、及び、ステップd)の間に得られる少なくとも1つの較正情報を考慮することによって、前記少なくとも1つの測定物体に関するスペクトル情報を決定するステップと、
のうちのいずれか1つのステップが、好ましくは、追加で実行されてよい。
ステップa)によれば、少なくとも1つの放射線放出要素、特に、上述した又は以下でより詳細に説明する放射線放出要素を使用することによって光放射線が放出される。
ステップb)によれば、少なくとも1つの放射線放出要素によって放出された光放射線の第1部分は、少なくとも1つの光学要素を使用することによって、少なくとも1つの感光検出器に導かれ、一方、ステップf)によれば、少なくとも1つの光学要素が追加で使用されて、少なくとも1つの放射線放出要素によって放出された光放射線の第2部分を少なくとも1つの測定物体に導くことができる。ここで、少なくとも1つの測定物体に関連する情報は、ステップg)によれば、少なくとも1つの感光検出器に導かれる光放射線の第2部分による少なくとも1つの感光領域の照射時に少なくとも1つの感光検出器によって生成された少なくとも1つの第2検出器信号と、ステップd)に従って決定された少なくとも1つの較正情報とを使用することによって決定されることができる。
ステップc)によれば、少なくとも1つの検出器信号は、少なくとも1つの感光検出器、特に、上述した又は以下でより詳細に説明する感光検出器を使用することによって生成され、少なくとも1つの感光検出器は、放出された光放射線を受けるように指定された少なくとも1つの感光領域を有し、少なくとも1つの検出器信号は少なくとも1つの感光領域の照射に依存する。
ステップd)によれば、スペクトル感知装置の較正は、少なくとも1つの感光検出器に向かって導かれる光放射線の第1部分による少なくとも1つの感光領域の照射時に、特に、好ましくは、ステップe)の間に決定された少なくとも1つの感光検出器の前の容積が占有されていないときに、特に少なくとも1つの測定物体によって占有されていないときに、少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの第1検出器信号を考慮することによって、決定される少なくとも1つの評価ユニットを使用することによって行われる。
ステップe)によれば、少なくとも1つの測定信号は、特に好ましくは、少なくとも1つの測定信号が少なくとも1つの感光検出器の前の容積、特に、スペクトル感知装置のハウジングの表面から少なくとも1つ所定の距離範囲内の容積の占有に依存するような態様で、少なくとも1つの測定ユニットを使用することによって、生成されることができる。
さらなる態様では、本発明は、コンピュータプログラムであって、プログラムがコンピュータによって実行されるときに、コンピュータに本明細書の他の箇所に記載された光放射線を測定するための方法のステップを実行させる実行可能な命令を含む、コンピュータプログラムを指す。実行可能な命令を含むコンピュータプログラムは、好ましくは、評価ユニット、特にデータ処理装置、特にコンピュータ又は電子通信ユニット、具体的にはスマートフォン又はタブレットに、完全に又は部分的に一体化されていてよい。コンピュータプログラムは、評価ユニット、特に電子通信ユニットに既に含まれる少なくとも1つのデータ処理ユニットを使用することによって、本方法を実行することが可能であり得る。例として、方法は、「アプリ」という用語によっても示されるアプリケーションとして、電子通信ユニット上で実行されてよい。
本発明のさらなる態様では、本発明によるスペクトル感知装置の使用が開示されている。そこでは、少なくとも1つの測定物体に関する情報、特にスペクトル情報を決定する目的でスペクトル感知装置の使用が提案されている。ここで、スペクトル感知装置は、好ましくは、以下の:赤外線検出用途;分光法用途;排ガス監視用途;燃焼プロセス監視用途;汚染監視用途;工業プロセス監視用途;混合又はブレンドプロセス監視;化学プロセス監視用途;食品処理プロセス監視用途;食品調製プロセス監視;水質監視用途;大気品質監視用途;品質管理用途;温度制御用途;動作制御用途;排気制御用途;ガス検知用途;ガス分析用途;動作感知用途;化学感知用途;モバイル用途;医療用途;モバイル分光法用途;食品分析用途;特に、土壌、サイレージ、飼料、作物又は農産物の特性評価、植物の健康状態の監視などの農業用途;プラスチックの識別及び/又はリサイクル用途、からなる群から選択される使用目的のために使用される。しかしながら、さらなる用途もが可能であり得る。
本発明による光放射線の測定方法、対応するコンピュータプログラム、及びスペクトル感知装置のそれぞれの使用に関するさらなる詳細については、本明細書中の他の箇所で提供される光放射線を測定するためのスペクトル感知装置の説明を参照することができる。
本明細書に開示されるスペクトル感知装置及び光放射線を測定するための方法は、先行技術に対してかなりの利点を有する。本発明によるスペクトル感知装置及び方法は、所定の反射ターゲットを必要とせずに、好ましくは完全に自動化された様式で、自己較正を行うように構成される。したがって、本スペクトル感知装置及び方法は、特に、ユーザの関与なしに自己較正を実行するように構成され得る。特に、本スペクトル感知装置及び方法は、スペクトル感知装置及びマルチピクセル感知ソリューションの測定結果の信頼性を高めるために使用され得、特に、マルチピクセルソリューションに基づくIR感知モジュールの自己較正を可能にするために使用され得る。具体的には、本スペクトル感知装置及び方法は、スペクトル感知装置において実際に発生し得るドリフト効果を修正するように構成され得る。その結果、本明細書に開示されるスペクトル感知装置及び方法は、ユーザによる装置の使用及び較正を容易にし得る。したがって、この種のスペクトル感知装置は、家庭用電化製品における日常的なユーザによって使用され得る。
本明細書で使用される場合、「有する」、「備える」、又は「含む」という用語、又はそれらの任意の文法上の変形は、非排他的な方法で使用される。したがって、これらの用語は、これらの用語によって導入された特徴の他に、この文脈で説明されている実体にさらなる特徴が存在しない状況と、1つ以上のさらなる特徴が存在する状況の両方を指し得る。一例として、「AはBを有する」、「AはBを備える」、及び「AはBを含む」という表現は、B以外にAに他の要素が存在しない状況(つまり、Aは専らかつ排他的にBを構成する状況)と、Bに加えて、1つ以上のさらなる要素、例えば要素C、要素CとD、又はさらなる要素などが実体Aに存在する状況の両方を指し得る。
さらに、本明細書で使用される場合、「好ましくは」、「より好ましくは」、「特に」、「より特に」、「具体的に」、「より具体的に」という用語、又は、同様の用語は、代替の可能性を制限することなく、任意の特徴に関連して使用される。したがって、これらの用語によって導入される特徴は、任意の特徴であり、いかなる意味でも特許請求の範囲を限定することを意図するものではない。本発明は、当業者であれば認識するように、代替的特徴を用いて実施することができる。同様に、「本発明の一実施形態では」又は同様の表現によって導入される特徴は、本発明の代替実施形態に関するいかなる制限もなく、本発明の範囲に関するいかなる制限もなく、及び、そのような方法で導入される特徴を本発明の他の任意の又は非任意の特徴と組み合わせる可能性に関するいかなる制限もなく、任意の特徴であることが意図されている。
要約すると、本発明の文脈では、以下の実施形態が特に好ましいと考えられる:
実施形態1:光放射線を測定するためのスペクトル感知装置であって、
- 少なくとも1つの感光検出器であって、前記少なくとも1つの感光検出器は、光放射線を受けるように指定された少なくとも1つの感光領域を有し、前記少なくとも1つの感光検出器によって生成された少なくとも1つの検出器信号は、前記少なくとも1つの感光領域の照射に依存する、少なくとも1つの感光検出器と;
- 少なくとも1つの放射線放出要素であって、前記少なくとも1つの放射線放出要素は、光放射線を放出するように指定されている、少なくとも1つの放射線放出要素と;
- 少なくとも1つの光学要素であって、前記少なくとも1つの光学要素は、前記光放射線の第1部分を前記少なくとも1つの感光検出器に導くように指定されている、少なくとも1つの光学要素と;
- 少なくとも1つの評価ユニットであって、前記少なくとも1つの評価ユニットは、前記光放射線の前記第1部分による前記少なくとも1つの感光領域の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの第1検出器信号を使用することによって、スペクトル感知装置の較正を行うように構成されている、評価ユニットと、
を備える、スペクトル感知装置。
実施形態2:前記較正とは、前記スペクトル感知装置内で発生するドリフト効果をときどき修正するプロセスを指し、前記ドリフト効果は、前記スペクトル感知装置自体に関連する変更、又は前記スペクトル感知装置に影響を及ぼす変更によって引き起こされる、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態3:前記少なくとも1つの感光検出器に導かれる前記光放射線の第1部分の前記少なくとも1つの光学要素における反射のタイプは、フレネル反射である、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態4:前記少なくとも1つの光学要素は、前記スペクトル感知装置内に組み立てられる、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態5:前記少なくとも1つの光学要素の少なくとも1つの光学特性と少なくとも1つの外部較正ターゲットの少なくとも1つの光学特性との間の少なくとも1つの関係は既知であり、少なくとも1つの評価ユニットは、前記少なくとも1つの光学要素の少なくとも1つの光学特性と前記少なくとも1つの外部較正ターゲットの少なくとも1つの光学特性との間の少なくとも1つの関係を使用することによって、前記スペクトル感知装置の較正を行うように構成される、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態6:前記少なくとも1つの評価ユニットは、前記光放射線の第1部分のみによる前記少なくとも1つの感光領域の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器によって生成される前記少なくとも1つの第1検出器信号を使用することによって、前記スペクトル感知装置の較正を行うように構成される、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態7:先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置であって、
- 少なくとも1つの測定ユニットであって、前記少なくとも1つの測定ユニットは、少なくとも1つの測定信号を生成するように指定され、前記少なくとも1つの測定信号は、前記少なくとも1つの感光検出器の前の容積の占有に依存する、少なくとも1つの測定ユニット、
をさらに備える、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態8:前記少なくとも1つの評価ユニットは、前記少なくとも1つの測定ユニットによって生成される少なくとも1つの測定信号をさらに使用することによって、前記スペクトル感知装置の較正を行うように構成される、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態9:前記少なくとも1つの評価ユニットは、前記少なくとも1つの測定ユニットによって生成される少なくとも1つの測定信号が、前記少なくとも1つの感光検出器の前の容積が占有されていないことを示す場合にのみ、前記スペクトル感知装置の較正を実行するように構成される、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態10:前記少なくとも1つの測定ユニットは、少なくとも1つの存在センサであるか、又はそれを備えている、先行する3つの実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態11:前記少なくとも1つの存在センサは、近接センサ又は距離センサのうちの少なくとも1つから選択される、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態12:前記少なくとも1つの測定ユニットは、超音波センサ、光学センサ、誘導センサ、触覚センサ、レーダーセンサ、飛行時間センサ、三角測量センサ、ステレオセンサ、構造化光センサ、静電容量センサ、FIPセンサ、又はBPAセンサ、のうち少なくとも1つから選択される、先行する5つの実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態13:前記少なくとも1つの光学要素は、前記光放射線の第2部分を少なくとも1つの測定物体に導くようにさらに指定されている、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態14:前記少なくとも1つの光学要素は、前記光放射線の第1部分を前記少なくとも1つの感光検出器に反射し、前記光放射線の第2部分を前記少なくとも1つの測定物体に透過するように指定される、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態15:前記少なくとも1つの光学要素は、前記光放射線の第1部分を少なくとも1つの感光検出器に透過し、前記光放射線の第2部分を前記少なくとも1つの測定物体に反射するように指定されている、先行する2つの実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態16:前記光放射線の第2部分に対する、前記光放射線の第1部分の比率Rは、前記少なくとも1つの放射線放出要素から前記少なくとも1つの光学要素への経路の前記光放射線によって横断される少なくとも1つの光学的に透明な媒体の屈折率nmediumに対する前記少なくとも1つの光学要素の屈折率noptical elementの関係に依存している、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態17:前記少なくとも1つの光学要素は、光学窓又はビームスプリッタの少なくとも1つであるか、又はそれを備える、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態18:前記少なくとも1つの光学要素は、少なくとも1つの透明材料を含む、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態19:前記少なくとも1つの透明材料は、前記光放射線によってカバーされる波長範囲の少なくとも一部分において少なくとも部分的に透明である、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態20:前記少なくとも1つの評価ユニットは、前記光放射線の第2部分による前記少なくとも1つの感光領域の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器によって生成される前記少なくとも1つの第2検出器信号を使用することによって、前記少なくとも1つの測定物体に関するスペクトル情報を決定するようにさらに構成される、先行する7つの実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態21:前記少なくとも1つの放射線放出要素は、熱放射体又は半導体ベースの放射線源のうちの少なくとも1つに含まれる、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態22:前記少なくとも1つの半導体ベースの放射線源は、発光ダイオード(LED)又はレーザ、特にレーザダイオードの少なくとも1つから選択される、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態23:前記少なくとも1つの感光検出器は、既知の光センサから、特に無機カメラ要素から、好ましくは無機カメラチップから、より好ましくはCCDチップ又はCMOSチップから選択される、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態24:前記少なくとも1つの感光検出器、特に前記少なくとも1つの感光領域は、少なくとも1つの光導電性材料を含む、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態25:前記少なくとも1つの光導電性材料は、PbS、PbSe、Ge、InGaAs、InSb、又はHgCdTeのうちの少なくとも1つから選択される、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態26:少なくとも1つのスペクトル伝達要素をさらに備え、少なくとも1つのスペクトル伝達要素は、前記少なくとも1つの感光検出器の前記少なくとも1つの感光領域を照射するための前記光放射線の少なくとも1つの波長を選択するように構成される、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態27:前記少なくとも1つのスペクトル伝達要素は:少なくとも1つの回折光学要素;少なくとも1つの角度依存性反射要素;少なくとも1つの回折格子要素、特にブレーズ回折格子要素;少なくとも1つのプリズム;少なくとも1つのレンズアレイ、特に少なくとも1つのマイクロレンズアレイ;少なくとも1つの光フィルタ;少なくとも1つの偏光フィルタ;少なくとも1つのバンドパスフィルタ;少なくとも1つの液晶フィルタ、特に液晶チューナブルフィルタ;少なくとも1つのショートパスフィルタ;少なくとも1つのロングパスフィルタ;少なくとも1つのノッチフィルタ;少なくとも1つの干渉フィルタ;少なくとも1つの透過回折格子;少なくとも1つの非線形光学要素、特に少なくとも1つの複屈折光学要素、又は少なくとも1つのチューナブルファブリペロー干渉計;少なくとも1つのチューナブルマイケルソン干渉計;又は少なくとも1つの線形可変フィルタ、からなる群から選択される、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態28:前記少なくとも1つの感光検出器のスペクトル感度は、前記少なくとも1つの放射線放出要素のスペクトル範囲によってカバーされる、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態29:放出された光放射線は、760nm~1000μm(赤外線スペクトル範囲)の波長を含む、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態30:前記放出された光放射線は、760nm~3μm(近赤外線スペクトル範囲)の波長を含む、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態31:前記放出された光放射線は、1μm~3μmの波長を含む、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態32:前記評価ユニットは、少なくとも1つの電子通信ユニットであるか、又はそれに含まれる、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態33:前記少なくとも1つの電子通信ユニットは、スマートフォン又はタブレットから選択される、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態34:前記評価ユニットは、前記スペクトル感知装置又はその一部を、完全に又は部分的に、制御又は駆動するようにさらに設計されている、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態35:前記評価ユニットは、前記少なくとも1つの放射線放出要素及び前記少なくとも1つの感光検出器のうちの少なくとも1つを制御するようにさらに構成されている、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態36:前記評価ユニットによって決定された情報は、電子的な、視覚的な、音響的な、又は触覚的な方式のうちの少なくとも1つで、さらなる装置又はユーザのうちの少なくとも1つに提供される、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態37:前記評価ユニットによって決定された情報は、少なくとも1つのデータ保存ユニットに保存される、先行する実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態38:前記少なくとも1つのデータ保存ユニットは、前記スペクトル感知装置によって、特に前記少なくとも1つの評価ユニットに含まれる、先行する実施形態によるスペクトル感知装置。
実施形態39:前記少なくとも1つのデータ保存ユニットは、別個の保存ユニットである、先行する2つの実施形態のいずれかに記載のスペクトル感知装置。
実施形態40:前記別個の保存ユニットは、前記少なくとも1つの電子通信ユニットに含まれる、先行する実施形態に記載のスペクトル感知装置。
実施形態41:前記情報は、少なくとも1つのインタフェース、特に無線インタフェース及び/又は有線インタフェースを介して前記別個の保存ユニットに送信される、先行する2つの実施形態のいずれか1つに記載のスペクトル感知装置。
実施形態42:光放射線の測定を測定するための方法であって、以下のステップ:
a)少なくとも1つの放射線放出要素を使用することによって光放射線を放出するステップと、
b)少なくとも1つの光学要素を使用することによって、前記光放射線の第1部分を少なくとも1つの感光検出器に導くステップと;
c)前記少なくとも1つの感光検出器を使用することによって、少なくとも1つの検出器信号を生成するステップであって、前記少なくとも1つの感光検出器は、前記光放射線を受けるように指定された少なくとも1つの感光領域を有し、前記少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの検出器信号は、前記少なくとも1つの感光領域の照射に依存する、ステップと;
d)少なくとも1つの評価ユニットを使用することによって、前記光放射線の第1部分による前記少なくとも1つの感光領域の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの第1検出器信号を使用することによって、スペクトル感知装置の較正を実行するステップと、
を含む、光放射線を測定するための方法。
実施形態43:以下のステップ:
e)少なくとも1つの測定ユニットを使用することによって、少なくとも1つの測定信号を生成するステップであって、前記少なくとも1つの測定信号は、前記少なくとも1つの感光検出器の前の容積の占有に依存するステップ、
を含む、先行する実施形態に記載の方法。
実施形態44:以下ステップ:
f)少なくとも1つの光学要素を使用して前記光放射線の第2部分を少なくとも1つの測定物体に導く、ステップと;
g)前記光放射線の第2部分による前記少なくとも1つの感光領域の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器によって生成される少なくとも1つの第2検出器信号を使用することによって、及び、ステップd)の間に得られる少なくとも1つの較正情報を考慮することによって、前記少なくとも1つの測定物体に関するスペクトル情報を決定するステップと、
をさらに含む、先行する2つの実施形態のいずれかに記載の方法。
実施形態45:プログラムがコンピュータによって実行されると、コンピュータに光放射線を測定するための方法のステップを実行させる命令を含む、コンピュータプログラム。
実施形態46:赤外線検出用途;分光法用途;排ガス監視用途;燃焼プロセス監視用途;汚染監視用途;工業プロセス監視用途;混合又はブレンドプロセス監視;化学プロセス監視用途;食品処理プロセス監視用途;食品調製プロセス監視;水質監視用途;大気品質監視用途;品質管理用途;温度制御用途;動作制御用途;排気制御用途;ガス感知用途;ガス分析用途;動作感知用途;化学感知用途;モバイル用途;医療用途;モバイル分光法用途;食品分析用途;特に、土壌、サイレージ、飼料、作物又は農産物の特性評価、植物の健康状態の監視の農業用途;プラスチックの識別及び/又はリサイクル用途、からなる群から選択される使用目的のための、スペクトル感知装置又はスペクトル感知装置を参照する先行する実施形態のいずれか1つによるスペクトル感知装置の使用。
本発明のさらなる任意の詳細及び特徴は、従属請求項と関連して続く好ましい例示的な実施形態の説明から明らかである。この文脈では、特定の特徴は、単独に実施されても、又は他の特徴と組み合わせて実施されてもよい。本発明は、例示的な実施形態に限定されない。例示的な実施形態は、図に概略的に示されている。個々の図における同一の符号は、同一の要素又は同一の機能を有する要素、又はそれら機能に関して互いに対応する要素を指している。
具体的には、以下の図の中で:
スペクトル感知装置の例示的な実施形態の概略図を示す。 スペクトル感知装置の例示的な実施形態の概略図を示す。 スペクトル感知装置の例示的な実施形態の概略図を示す。 スペクトル感知装置の例示的な実施形態の概略図を示す。 スペクトル感知装置の例示的な実施形態の概略図を示す。 本発明による光放射線を測定するための方法の例示的な実施形態の概略図を示す。
例示的な実施形態
図1~図5は、本発明によるスペクトル感知装置110の例示的な実施形態を非常に概略的にそれぞれ示している。スペクトル感知装置110は、光放射線112の少なくとも1つの対応する信号波長に関連する少なくとも1つの信号強度の少なくとも1つの測定値を記録することによって、及び、信号強度に関連する少なくとも1つの検出器信号を評価することによって、スペクトル情報を決定するように構成される装置である。本発明によれば、スペクトル感知装置110は、特に、赤外線(IR)スペクトル領域、好ましくは、近赤外線(NIR)、特に、760nm~3μm、好ましくは、1μm~3μmの波長に対して、スペクトルを記録するように適合され得る。したがって、スペクトル感知装置110は、熱、炎、火、又は煙の検知のためだけでなく、調査又は監視目的のために使用されることができる。しかしながら、スペクトル感知装置110のさらなる用途も可能であり得る。
図1~図5に示される実施形態では、スペクトル感知装置110は、スペクトル感知装置112の構成要素を取り囲むハウジング114を備える。この態様では、スペクトル感知装置110の構成要素は保護されることができ、外部光のアクセスは防ぐことができる。しかしながら、スペクトル感知装置110の構成要素のさらなる種類の配置も考えられ得る。
図1~図5に概略的に示される例示的なスペクトル感知装置110は、光放射線112を放出するように構成される放射線放出要素116を備える。特に、放射線放出要素116は、好ましくは、発光ダイオード(LED)又はレーザ、特にレーザダイオードの少なくとも1つから選択され得る半導体ベースの放射線源118に含まれ得る。しかしながら、さらなるタイプの放射線放出要素116も可能であり得る。放射線放出要素116は、より詳細に上述したように、連続的に放出するか、又は変調された光パルスを生成することができる。
さらに、図1~図5に概略的に示される例示的なスペクトル感知装置110は、感光検出器120を備える。そこに示されているように、感光検出器120は、光放射線112を受信するように指定されている単一の感光領域122を有する。感光領域120は、特に硫化鉛(PbS)、セレン化鉛(PbSe)、ゲルマニウム(Ge)、インジウムガリウムヒ素(拡張InGaAsを含むが、これらに限定されない、InGaAs)、アンチモン化インジウム(InSb)又はテルル化水銀カドミウム(HgCdTe又はMCT)から選択される少なくとも1つの光導電性材料を含むことができる。異なる種類の光導電性材料又は他のタイプの種類の感光検出器も可能であり得る。
図1~図5に示される例示的なスペクトル感知装置110は、さらに、光学要素124、特に、好ましくは、ガラス窓又はシリコン窓から選択される光学窓126を含んでいる。既に上に示した例として、有利には、ビームスプリッタが使用され得る。さらなる材料については、上記の説明を参照することができる。ここで、光学窓126に含まれる少なくとも1つの透明材料は、好ましくは、光放射線112によってカバーされる波長範囲の少なくとも1つの区画(partition)において少なくとも部分的に透明であってよい。光学要素124は、図2に示されるように、少なくとも1つの内部光学要素127であってよく、又はそれをさらに含んでもよい。一例として、内部光学要素127は、少なくとも1枚の紙及び/又はテフロン(商標)とも呼ばれるポリテトラフルオロエチレン(PTFE)を含んでよい。内部光学要素127は、スペクトル感知装置110内、具体的には、少なくとも1つの放射線放出要素116と少なくとも1つの感光検出器120との間の光放射線112のビーム経路に配置されてよい。少なくとも1つの内部光学要素127は、光放射線112を少なくとも部分的に反射するように構成されてよい。具体的には、内部光学要素127は、光放射線112を感光検出器120に少なくとも部分的に導くように構成されてよい。
そこに概略的に示されているように、光学要素124は、放射線放出要素116によって放出される光放射線112の第1部分128を感光検出器120に、特に感光領域122に導くように構成されている。図2~図4にさらに示されるように、光学要素124は、さらに、放射線放出要素116によって放出される光放射線112の第2部分130を測定物体132に導くように構成され得る。測定物体132は、生物体及び非生物体から選択される、スペクトル感知装置110による調査又は監視のための材料を含む任意の物体であってよく、又はそれを含んでいてよい。放射線放出要素116、光学要素124、及びスペクトル感知装置110内の感光検出器120のこの特定の組立の結果として、光学要素124は、放射線放出要素116によって放出される光放射線112を、感光検出器120に向かって直接的に導かれる第1部分128と、測定物体124を介して少なくとも1つの感光検出器120に向かって間接的に導かれる第2部分に分割するように指定されているビームスプリッタ要素として機能し得る。
図1~図5に示されるように、光学要素124は、光放射線112の第1部分128を感光検出器120、特に感光領域122に反射し、第2部分130を少なくとも1つの測定物体124に透過させる。しかしながら、代替の実施形態(ここでは示されていない)では、光学要素124は、光放射線112の第1部分128を感光検出器120、特に感光領域122に透過させ、第2部分130を測定物体124に反射させることができる。選択された実施形態とは無関係に、光放射線は、放射線放出要素116から光学要素124への経路で光学的に透明な媒体134を横断する。ここで、光学的に透明な媒体134は、特に、周囲空気、不活性ガス又は真空から選択され得るが、しかし、より詳細に上記に示されるようなさらなる材料も可能であり得る。
図1~図5にさらに示されるように、スペクトル感知装置110は、さらに、感光検出器120の感光領域122を照射するために、光放射線112、第1部分128及び/又は第2部分130のいずれか、の少なくとも1つの波長を選択するように構成されるスペクトル伝達要素136を含んでよい。ここに概略的に示されているように、スペクトル伝達要素136は、特に、偏光フィルタ;又はバンドパスフィルタなどの光学フィルタ138であってもよいが、しかし、さらなる種類のスペクトル伝達要素136も可能であり得る。さらなる実施形態(ここでは示されていない)では、スペクトル転送要素136は省略されることもできる。
図1~図5にさらに概略的に図示されているように、スペクトル感知装置110は、光学要素124を介して感光検出器120に直接的に導かれる光放射線112の第1部分128による感光領域122の照射時に感光検出器120によって生成される第1検出器信号を使用することによってスペクトル感知装置110の較正を行うように構成されている評価ユニット140をさらに含んでいる。図3~図5にさらに示されるように、評価ユニット140は、さらに、ここでは、測定物体132によって反射された、及び/又は少なくとも1つの測定物体132を介して感光検出器120の感光領域122に向かって透過する光放射線112の第2部分130による感光領域122の照射時に感光検出器120によってさらに生成される第2検出器信号を使用することによって、測定物体132に関するスペクトル情報を決定するように構成されている。
この目的のために、評価ユニット140は、インタフェース142を介して、具体的には有線又は無線方式で、第1検出器信号及び好ましくは第2検出器信号を受信するように構成される。一般に、評価ユニット140は、データ処理装置の一部であってよく、及び/又は、1つ以上のデータ処理装置を備えてもよい。評価ユニット140は、1つ以上の追加コンポーネント、特に1つ以上の電子ハードウェアコンポーネント及び/又は1つ以上のソフトウェアコンポーネント及び/又は1つ以上の制御ユニットを備えることができる。
ここに示されているように、評価ユニット140は、さらに、完全に又は部分的に、スペクトル感知装置112、又はそのコンポーネント、特に、感光検出器120を、特にインタフェース142を介して、及び/又は放射線放出要素116を、特にさらなるインタフェース144を介して、制御又は駆動するように設計されることができる。
図1~図5に示される例示的な実施形態では、評価ユニット140はハウジング114に完全に統合されているが、ハウジング114の外に位置する別個のエンティティとして提供され得る外部評価ユニット(ここでは示されていない)、例えば電子通信ユニット、具体的にはスマートフォン又はタブレットの一部も可能であり得る。
評価ユニット140によって決定された情報は、電子的な、視覚的な、音響的な、及び/又は触覚的な方式で、さらなる装置又はユーザに提供され得る。例として、情報は、スマートフォンのモニタを使用して表示されることができる。さらに、情報は、評価ユニット140に含まれ得るデータ保存ユニット(ここでは示されていない)、又はスマートフォンのような別の保存装置によって保存され得る。
本発明によれば、評価ユニット140は、スペクトル感知装置110の較正を実行するように構成される。上で定義したように、較正は、主に、スペクトル感知装置110自体に関連する変更、又はスペクトル感知装置110に影響を及ぼす変更によって引き起こされる、スペクトル感知装置110で実際に発生し得るドリフト効果を、ときどき修正するプロセスを指す。可能性のある代替は、上に挙げたとおりである。較正を行うことにより、スペクトル感知装置110のユーザは、特に、具体的にはドリフト効果により、スペクトル感知装置110によって決定される結果が決定的でなくなる程度までに測定データが歪められることを回避することによって、測定データの信頼性を維持することを熱望する。
較正を実行する目的のために、評価ユニット140は、感光検出器120、特に感光領域122に向かって導かれる光放射線112の第1部分128による感光領域122の照射時に感光検出器120によって生成される第1検出器信号を使用するように構成される。これにより、光放射線112の第1部分128のみが、第1検出器信号を生成するために、実際に感光検出器120に向かって導かれて感光領域122を照射する方式で、スペクトル感知装置110の較正を実行することが好ましい。この目的のために、図1及び図5に示されるようなスペクトル感知装置110は、測定物体132によって反射されるか及び/又は測定物体132を透過するかのいずれであっても、測定物体132から発せられる光放射線が、スペクトル感知装置110の較正が行われる時間間隔中に、実際に感光検出器120の感光領域122を照射しない様式で組み立てられている。
この目的のために、特に、感光検出器120の前の容積146が占有されているか否かを決定し得る。図4に示される実施形態では、感光検出器120の前の容積146は測定物体132によって占有されているのに対し、図5に概略的に示されている実施形態における感光検出器120の前の容積146は空いている、すなわち任意の物体、特に任意の測定物体132によって占有されていない。
感光検出器120の前の容積146が占有され得るか否かを自動的に決定する目的で、図4及び図5に示されるスペクトル感知装置110は、測定ユニット148をさらに備えている。示されているように、測定ユニット148は、少なくとも1つの感光検出器120の前の容積146の占有に依存する測定信号を生成するように指定されている。この目的のために、そこに図示されているように、測定ユニット148は、ビーム150を放出し、ビーム150の吸収が起こり得るか否かを観察するように構成されている。ここで、測定ユニット148は、存在センサ、好ましくは、近接センサ及び/又は距離センサ、特に、超音波センサ、光学センサ、レーダーセンサ、飛行時間センサから選択されるセンサであってよく、又はそれからを備えていてもよい。しかしながら、上記に示されるような、さらなる種類のセンサも可能である。そこでさらに示されるように、評価ユニット140は、さらに、完全に又は部分的に、特にさらなるインタフェース152を介して、測定ユニット148を制御又は駆動するように設計されることができる。
感光検出器120の前の容積146が占有され得るか否かを決定することによって、測定物体132から発生する光放射線130が感光検出器120の感光領域122に衝突し、スペクトル感知装置110の較正に望ましくない影響を与え得ることを回避することができる。
ここで評価ユニット140は、測定ユニット148によって生成される少なくとも1つの測定信号を追加的に使用することによって、スペクトル感知装置110の較正を実行するように、具体的には、評価ユニット140は、測定ユニット148によって生成される測定信号が、感光検出器120の前の容積146が占有されていないことを示す時間間隔内にのみ、スペクトル感知装置110の較正を実行するように構成され得る。
図6は、本発明による光放射線112を測定するための方法160の例示的な実施形態を非常に概略的に示した図である。
ステップa)による放出ステップ162では、所望の光放射線112は、放射線放出要素116を使用することによって放出される。
ステップb)による誘導ステップ164では、放射線放出要素116によって放出される光放射線112の第1部分128が、光学要素124、特に光学窓126を使用することによって、感光検出器120、特に感光領域122に導かれる。さらに、光学要素124、特に光学窓126は、ステップf)により、放射線放出要素116によって放出された光放射線112の第2部分130を測定物体132にさらに導くために使用され得る。
ステップc)による生成ステップ166では、第1検出器信号は、感光領域122を照射するために光学要素124、特に光学窓126から感光検出器120に向かって直接的に導かれる光放射線112の第1部分128を受信した時に感光検出器120によって生成され、ここで第1検出器信号は光放射線112の第1部分128による感光領域122の照射に依存している。さらに、ステップg)によれば、第2検出器信号は、感光領域122をさらに照射するために、光学要素124、特に光学窓126から測定物体132を介して感光検出器120に向かって間接的に導かれる光放射線112の第2部分130を受ける時に、感光検出器120を使用することによって生成され、ここで第2検出器信号は、光放射線112の第2部分130による感光領域122の照射に依存している。
ステップe)による任意の測定ステップ168では、測定信号は、特に好ましいように、測定ユニット148を使用することによって、特にスペクトル感知装置110のハウジング114の表面からの少なくとも1つの所定の距離範囲内で、感光検出器120の前の容積146が占有されている可能性があるか否かを示すように生成され得る。
ステップc)による較正ステップ170では、スペクトル感知装置110の較正は、感光検出器120によって提供される第1検出器信号を考慮して評価ユニット140を使用することによって行われる。特に好ましい実施形態では、較正ステップ170は、図4に概略的に示されるように、感光検出器120の前、特にスペクトル感知装置110のハウジング114の表面からの少なくとも1つの所定の距離範囲内で、容積146が測定ステップ168の間に確認されたように占有されていない場合にのみ、行われる。較正ステップ170の結果として、少なくとも1つの較正情報172が得られる。
任意の決定ステップ174では、測定物体132に関するスペクトル情報176は、さらにステップg)に従って、生成ステップ166の間に感光検出器120によって生成される第2検出器信号を使用することによって、及び、較正ステップ170の間に得られる少なくとも1つの較正情報172を考慮することによって決定され得る。
光放射線112を測定するための方法160に関するさらなる詳細については、上記で提供されたスペクトル感知装置110の説明を参照されたい。
110 スペクトル感知装置
112 (放出された)光放射線
114 ハウジング
116 放射線放出要素
118 半導体ベースの放射線源
120 感光検出器
122 感光領域
124 光学要素
126 光学窓
128 第1部分
127 内部光学要素
130 第2部分
132 測定物体
134 光学的に透明な媒体
136 スペクトル伝達要素
138 光フィルタ
140 評価装置
142 インタフェース
144 インタフェース
146 容積
148 測定ユニット
150 ビーム
152 インタフェース
160 光放射線測定方法
162 放出ステップ
164 誘導ステップ
166 生成ステップ
168 測定ステップ
170 較正ステップ
172 較正情報
174 決定ステップ
176 スペクトル情報

Claims (18)

  1. 光放射線(112)を測定するためのスペクトル感知装置(110)であって、
    - 少なくとも1つの感光検出器(120)であって、前記少なくとも1つの感光検出器(120)は光放射線(112)を受けるように指定された少なくとも1つの感光領域(122)を有し、前記少なくとも1つの感光検出器(120)によって生成された少なくとも1つの検出器信号は、前記少なくとも1つの感光領域(122)の照射に依存する、少なくとも1つの感光検出器(120)と;
    - 少なくとも1つの放射線放出要素(116)であって、前記少なくとも1つの放射線放出要素(116)は、光放射線(112)を放出するように指定されている、少なくとも1つの放射線放出要素(116)と;
    - 少なくとも1つの光学要素(124)であって、前記少なくとも1つの光学要素(124)は、前記光放射線(112)の第1部分(128)を前記少なくとも1つの感光検出器(120)に導くように指定されている、少なくとも1つの光学要素(124)と;
    - 少なくとも1つの評価ユニット(140)であって、前記少なくとも1つの評価ユニット(140)は、前記光放射線(112)の第1部分(128)による前記少なくとも1つの感光領域(122)の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器(120)によって生成される少なくとも1つの第1検出器信号を使用することによって、スペクトル感知装置(110)の較正を行うように構成され、前記較正は、前記スペクトル感知装置(110)内で発生するドリフト効果をときどき修正するプロセスを指し、前記ドリフト効果は、前記スペクトル感知装置(110)自体に関連する変更、又は前記スペクトル感知装置(110)に影響を及ぼす変更によって引き起こされる、評価ユニット(140)と、
    を備える、スペクトル感知装置(110)。
  2. 前記少なくとも1つの感光検出器(120)に導かれる前記光放射線(112)の第1部分(128)の前記少なくとも1つの光学要素(124)における反射のタイプは、フレネル反射である、請求項1に記載のスペクトル感知装置(110)。
  3. 前記少なくとも1つの光学要素(124)は、前記スペクトル感知装置(110)内に組み立てられる、請求項1又は2に記載のスペクトル感知装置(110)。
  4. 前記少なくとも1つの光学要素(124)の少なくとも1つの光学特性と少なくとも1つの外部較正ターゲットの少なくとも1つの光学特性との間の少なくとも1つの関係は既知であり、前記少なくとも1つの評価ユニット(140)は、前記少なくとも1つの光学要素(124)の少なくとも1つの光学特性と前記少なくとも1つの外部較正ターゲットの少なくとも1つの光学特性との間の少なくとも1つの関係を使用することによって、前記スペクトル感知装置(110)の較正を行うように構成される、請求項1~3のいずれか1項に記載のスペクトル感知装置(110)。
  5. 前記少なくとも1つの評価ユニット(140)は、前記光放射線(112)の第1部分(128)のみによる前記少なくとも1つの感光領域(122)の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器(120)によって生成される前記少なくとも1つの第1検出器信号を使用することによって、前記スペクトル感知装置(110)の較正を行うように構成される、請求項1~4のいずれか1項に記載のスペクトル感知装置(110)。
  6. 前記スペクトル感知装置(110)は、
    - 少なくとも1つの測定ユニット(148)であって、前記少なくとも1つの測定ユニット(148)は、少なくとも1つの測定信号を生成するように指定され、前記少なくとも1つの測定信号は、少なくとも1つの感光検出器(120)の前の容積(146)の占有に依存する、少なくとも1つの測定ユニット(148)、
    をさらに備える、請求項1~5のいずれか1項に記載のスペクトル感知装置(110)。
  7. 前記少なくとも1つの評価ユニット(140)は、前記少なくとも1つの測定ユニット(148)によって生成される前記少なくとも1つの測定信号をさらに使用することによって、前記スペクトル感知装置(110)の較正を行うように構成される、請求項6に記載のスペクトル感知装置(110)。
  8. 前記少なくとも1つの評価ユニット(140)は、前記少なくとも1つの測定ユニット(148)によって生成される前記少なくとも1つの測定信号が、前記少なくとも1つの感光検出器(120)の前の容積(146)が占有されていないことを示す場合にのみ、前記スペクトル感知装置(110)の較正を実行するように構成される、請求項7に記載のスペクトル感知装置(110)。
  9. 前記少なくとも1つの測定ユニット(148)は、少なくとも1つの存在センサであるか、又はそれを備え、前記少なくとも1つの存在センサは、近接センサ又は距離センサのうちの少なくとも1つから選択される、請求項6~8のいずれか1項に記載のスペクトル感知装置(110)。
  10. 前記少なくとも1つの測定ユニット(148)は、超音波センサ、光学センサ、誘導センサ、触覚センサ、レーダーセンサ、飛行時間センサ、三角測量センサ、ステレオセンサ、構造化光センサ、静電容量センサ、FIPセンサ、又はBPAセンサ、のうち少なくとも1つから選択される、請求項6~9のいずれか1項に記載のスペクトル感知装置(110)。
  11. 前記少なくとも1つの光学要素(124)は、前記光放射線(112)の第2部分(130)を少なくとも1つの測定物体に導くようにさらに指定されている、請求項1~10のいずれか1項に記載のスペクトル感知装置(110)。
  12. 前記少なくとも1つの光学要素(124)は、
    - 前記光放射線(112)の第1部分(128)を前記少なくとも1つの感光検出器(120)に反射し、前記光放射線(112)の第2部分(130)を前記少なくとも1つの測定物体(132)に透過すること、又は、
    - 前記光放射線(112)の第1部分(128)を前記少なくとも1つの感光検出器(120)に透過し、前記光放射線(112)の第2部分(130)を前記少なくとも1つの測定物体(132)に反射すること、
    の少なくとも1つを指定されている、請求項11に記載のスペクトル感知装置(110)。
  13. 前記光放射線(112)の第2部分(130)に対する、前記光放射線(112)の第1部分(128)の比率は、前記少なくとも1つの放射線放出要素(116)から前記少なくとも1つの光学要素(124)への経路で前記光放射線(112)によって横断される少なくとも1つの光学的に透明な媒体(134)の屈折率に対する前記少なくとも1つの光学要素(124)の屈折率の関係に依存している、請求項1~12のいずれか1項に記載のスペクトル感知装置。
  14. 前記少なくとも1つの光学要素(124)は、光学窓(126)又はビームスプリッタの少なくとも1つであるか、又はそれを備え、前記少なくとも1つの光学要素(124)は、少なくとも1つの透明材料を含み、前記少なくとも1つの透明材料は、前記光放射線(112)によってカバーされる波長範囲の少なくとも一部分において少なくとも部分的に透明である、請求項1~13のいずれか1項に記載のスペクトル感知装置(110)。
  15. 前記少なくとも1つの評価ユニット(140)は、前記光放射線(112)の第2部分(130)による前記少なくとも1つの感光領域(122)の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器(120)によって生成される少なくとも1つの第2検出器信号を使用することによって、及び、前記スペクトル感知装置(110)の較正中に得られる少なくとも1つの較正情報(172)を考慮することによって、少なくとも1つの測定物体(132)に関するスペクトル情報(176)を決定するようにさらに構成される、請求項11~14のいずれか1項に記載のスペクトル感知装置(110)。
  16. 光放射線(112)を測定するための方法(160)であって、以下のステップ:
    a)少なくとも1つの放射線放出要素(116)を使用することによって光放射線(112)を放出するステップと、
    b)少なくとも1つの光学要素(124)を使用することによって、前記光放射線(112)の第1部分(128)を少なくとも1つの感光検出器(120)に導くステップと;
    c)前記少なくとも1つの感光検出器(120)を使用することによって、少なくとも1つの検出器信号を生成するステップであって、前記少なくとも1つの感光検出器(120)は、前記光放射線(112)を受けるように指定された少なくとも1つの感光領域(122)を有し、前記少なくとも1つの感光検出器(120)によって生成される少なくとも1つの検出器信号は、前記少なくとも1つの感光領域(122)の照射に依存する、ステップと;
    d)少なくとも1つの評価ユニット(140)を使用することによって、前記光放射線(112)の第1部分(128)による前記少なくとも1つの感光領域(122)の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器(120)によって生成される少なくとも1つの第1検出器信号を使用することによって、スペクトル感知装置(110)の較正を実行するステップと、
    を含む、光放射線(112)を測定するための方法(160)。
  17. 前記方法は(160)、以下のステップ:
    e)少なくとも1つの測定ユニット(148)を使用することによって、少なくとも1つの測定信号を生成するステップであって、前記少なくとも1つの測定信号は、前記少なくとも1つの感光検出器(120)の前の容積(146)の占有に依存するステップと、;
    をさらに含む、請求項16に記載の方法(160)。
  18. 前記方法は(160)、以下のステップ:
    f)少なくとも1つの光学要素(124)を使用して前記光放射線(112)の第2部分(130)を少なくとも1つの測定物体(132)に導く、ステップと;
    g)前記光放射線(112)の第2部分(130)による前記少なくとも1つの感光領域(122)の照射時に前記少なくとも1つの感光検出器(120)によって生成される少なくとも1つの第2検出器信号を使用することによって、及び、ステップd)の間に得られる少なくとも1つの較正情報(172)を考慮することによって、少なくとも1つの測定物体(132)に関するスペクトル情報(176)を決定するステップと、
    をさらに含む、請求項16又は17に記載の方法(160)。
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EP3571522B1 (en) 2016-11-17 2023-05-10 trinamiX GmbH Detector for optically detecting at least one object
WO2018115073A1 (en) * 2016-12-21 2018-06-28 Trinamix Gmbh Detector for an optical detection
WO2018203831A1 (en) 2017-05-03 2018-11-08 Heptagon Micro Optics Pte. Ltd. Spectrometer calibration
EP3460509A1 (en) 2017-09-22 2019-03-27 ams AG Method for calibrating a time-of-flight system and time-of-flight system
JP2021507228A (ja) 2017-12-13 2021-02-22 トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 分光計装置および分光計システム
WO2019115595A1 (en) 2017-12-13 2019-06-20 Trinamix Gmbh Spectrometer device and system
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