JP2023512073A - 液体および蒸気ワイヤ曝露試験のためのデバイスおよび試験装置 - Google Patents

Abstract

試験デバイス（１）は、導電性ワイヤを支持するための足場（３０、２３０）を含む。足場は、流体の液相および気相が提供されるハウジングに配置され、その結果、第１の導電性ワイヤが、液体中に延在し、第２の導電性ワイヤが、試験全体を通して蒸気中に残る。足場は、複数の下部支持部材および複数の上部ワイヤ支持部材を含み得、支持部材の各々は、複数の配索支持体（５１、５３、６１、６３、２５１、２５３、２６１、２６３）を含み、試験ワイヤ（８、９）のそれぞれの１つを、周りに巻き付ける。デバイスは、試験ワイヤに対する測定を同時に行うことができる。【選択図】図１

Description

本開示および本明細書に記載の例示的な実施形態は、試験装置、方法およびシステム、具体的には、流体の液相および気相におけるワイヤ腐食を同時に測定するのに適した足場ならびに足場を組み込む試験デバイスおよび装置に関する。

腐食プロセスおよびメカニズムをリアルタイムで監視する従来の方法は、特に複数の温度での評価が所望される場合、時間がかかり、解釈が難しい場合がある。

腐食は、非常に複雑かつ混沌とした多成分の科学的問題であり、銅表面への潤滑添加剤によって引き起こされた腐食の量を評価する最も一般的な方法は、数時間の間、潤滑剤に浸漬された、銅試験クーポンを、標準のセットと比較する標準のＡＳＴＭ Ｄ１３０試験方法を使用することであり、レイティングは、色に基づいて、与えられる。クーポンまたはストリップ試験を拡張して、溶液中の銅の試験濃度の終了または質量損失／ゲイン情報などの追加情報を含めることができるが、これらのタイプの試験だけでは、腐食プロセスの化学反応速度または時間依存性に関する詳細は提供されない。この試験の適合性に関してはいくつかの問題があり、第１の問題は、もともと銅に対する石油製品（基油）の腐食性を試験するために設計されたということである。第２の問題は、この試験では視覚的なレイティングのみが与えられ、表面で何が起こっているかについての情報は提供されないということである。このような情報は、金属腐食に対する石油処方集の影響を評価するのに有用である。腐食試験を実行する目的は、使用中の潤滑剤の潤滑剤適合性および腐食性能に関する情報を提供することであり、これを達成する１つの方法は、長い持続時間の高温腐食試験を使用することである。このアプローチは、同じ腐食プロセスが高温で発生し、高温でのみ存続する新たな、または競合する反応の影響を受けない場合にのみ適切である。

以前の一設計によると、ワイヤ支持設計は、中央シャフトから延在する一連のペグを利用して、コンテナ内の蒸気ではなく液体において試験するために、公称長さ、例えば、１メートルのワイヤを巻き付ける。単一のワイヤペグの設計では、ペグ間にワイヤをジグザグに配置する必要があり、これにより、コンテナの空間内のワイヤの必要な長さが可能になる。単一のワイヤペグワイヤ支持体は、コンテナ内側の試験流体に浸漬され、流体下にワイヤの長さを保持し、それによって、ワイヤに腐食が発生することを可能にする。試験ワイヤは、ワイヤの端部を、単一のワイヤ支持体のヘッドの２つの上部の穴に位置する金メッキのコネクタ接点にはんだ付けすることによって終端される。試験用のサンプルを準備するために、ワイヤを配索するのは時間がかかる。

導電性ワイヤを同じハウジングにおいて支持できるようにする足場およびデバイスの必要性が残っており、溶液および溶液の気相のリアルタイムでの腐食試験結果の生成を促進する。

例示的な実施形態の一態様によれば、足場は、複数の離間した下部支持部材であって、複数の下部支持部材の各々は、関連付けられた第１の試験ワイヤが、複数の下部支持部材の周りに巻かれるときに、第１の試験ワイヤの複数の巻数を離間させるための複数の第１の配索支持体を含む、複数の離間した下部支持部材を含む。足場は、複数の離間した上部支持部材であって、複数の上部支持部材の各々は、関連付けられた第２の試験ワイヤが、複数の上部支持部材の周りに巻かれるときに、第２の試験ワイヤの複数の巻数を離間させるための複数の第２の配索支持体を含む、複数の離間した上部支持部材をさらに含む。閉鎖部材は、第１の試験ワイヤの端部と、それぞれの関連付けられた外部導体との間の接続を提供し、かつ第２の試験ワイヤの端部と、それぞれの関連付けられた外部導体との間の接続を提供する。閉鎖部材、またはそれに取り付けられた任意選択的な上部横部材が、複数の上部支持部材の各々の第１の端部に取り付けられている。第２の横部材が、閉鎖部材から長手方向に離間している。第２の横部材が、複数の下部支持部材の各々の第１の端部に取り付けられ、かつ複数の上部支持部材の各々の第２の端部に取り付けられて、複数の下部支持部材および複数の上部支持部材を横方向に離間させる。

様々な態様において、このように説明される足場は、第２の横部材によって、閉鎖部材から長手方向に離間された第３の横部材をさらに含み得、第３の横部材は、複数の下部支持部材の各々の第２の端部に取り付けられる。

第１の配索支持体のうちの少なくとも１つが、それを介して第１の試験ワイヤを受容するための開口部を含み得る。配索支持体の第１および第２のセットは、ノッチを含み得る。第１および第２の配索支持体は、それぞれの上部および下部支持部材上で長手方向に離間し得る。下部支持部材の各々が、第１の配索支持体のうちの少なくとも３つ、または少なくとも４つ、または少なくとも５つを含み、上部支持部材の各々が、第２の配索支持体のうちの少なくとも３つ、または少なくとも４つ、または少なくとも５つを含み得る。

閉鎖部材が、先細のリムを有し得る。

下部支持部材の各々が、それを介して第１の試験ワイヤを搬送するための開口部を含み得る。上部および下部支持部材が、互いに平行であり得る。少なくとも４つ、少なくとも５つ、または少なくとも６つの上部支持部材が存在し得る。少なくとも４つ、少なくとも５つ、または少なくとも６つの下部支持部材が存在し得る。上部支持部材が、下部支持部材から円弧状にオフセットされ得る。第２の横部材が、円弧状に離間したスロットを含み得、上部支持部材の第２の端部が、スロットの代替のものにおいて受容され、下部支持部材の第１の端部が、スロットの残りの代替のものにおいて受容される。

第２の横部材が、第１の試験ワイヤを閉鎖部材から下部支持部材に、および閉鎖部材に戻るよう誘導するための少なくとも１つの溝を含み得る。

閉鎖部材が、第１および第２の温度センサを受容するための穴を含み得る。

複数の下部支持部材、複数の上部支持部材、閉鎖部材、第２の横部材、および第１の横部材が、存在する場合、すべてプラスチックで形成され得る。

複数の下部支持部材、複数の上部支持部材、閉鎖部材、第２の横部材、および第１の横部材が、存在する場合、３Ｄ印刷および射出成形のうちの１つによって形成され得る。

複数の下部支持部材によって画定される各ワイヤ巻数の長さ、および第１の配索支持体の数のうちの少なくとも１つが、複数の上部支持部材によって画定される各ワイヤ巻数の長さ、および第２の配索支持体の数のうちの少なくとも１つと異なり、第１および第２の試験ワイヤに対して、等しい配索長を提供する。

複数の離間した下部支持部材が、足場の中心軸と長手方向に整列し得、複数の離間した上部支持部材が、中心軸と長手方向に整列し得る。

別の態様では、アセンブリは、上記の態様のいずれか１つ以上で説明したような足場を含み、第１および第２の試験ワイヤをさらに含み、第１および第２の試験ワイヤは、導電性である。

第１および第２の試験ワイヤが、等しい長さおよび／または等しい直径であり得る。

第１および第２の試験ワイヤのうちの１つ以上が、銅またはその合金で形成され得る。

別の態様では、試験デバイスは、上記の態様のいずれか１つ以上で説明されるような足場、または上記の態様のいずれか１つ以上で説明されるアセンブリを含む。試験デバイスは、足場を受容するように成形されたハウジングであって、足場の閉鎖部材が、ハウジングの上端部を閉鎖して、関連付けられた液体を、液体の気相が第２の試験ワイヤに接触するように、第１の試験ワイヤと接触して保持するための容器を形成する、ハウジングを、さらに含む。

様々な態様において、試験デバイスは、液体の温度を測定するようにハウジング内に位置付けられた、溶液相温度センサおよび／または蒸気の温度を測定するようにハウジング内に位置付けられた、気相温度センサをさらに含み得る。溶液相温度センサおよび気相温度センサは、閉鎖部材を介して外部導体と接続され得る。

試験デバイスは、ハウジング内で液体を加熱して蒸気を形成するように構成された、ヒータをさらに含み得る。

試験デバイスは、第１および第２の電気システムのうちの１つをさらに含み得る。第１の電気システムは、第１の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤを介して電流を供給する、第１の電流源と、第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤを介して電流を供給する、第２の電流源と、第１の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤにわたる電圧を測定する、第１の電圧計と、第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤにわたる電圧を測定する、第２の電圧計と、を含み得る。第２の電気システムは、第１の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤを介して電圧を生成する、第１の電圧源と、第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤを介して電圧を生成する、第２の電圧源と、第１の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤにわたる電流を測定する、第１の電流計と、第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤにわたる電流を測定する、第２の電流計と、を含み得る。

試験デバイスは、第１および第２の電極のうちの少なくとも１つであって、第１の電極が、溶液に浸漬されており、第２の電極が、蒸気に浸漬されている、第１および第２の電極のうちの少なくとも１つと、存在する場合、第１の電極に接続されており、第１の電極と第１のワイヤとの間に電流を流す、電圧または電流源と、存在する場合、第２の電極に接続されており、第２の電極と第２のワイヤとの間に電流を流す、電圧または電流源と、をさらに含み得る。

試験装置は、上記の態様のいずれかに記載の試験デバイスと、第１の電圧計および第２の電圧計から、または第１の電流計および第２の電流計から信号を受信し、それに基づいて情報を計算および出力する、監視システムと、を含み得る。

様々な態様において、監視システムは、経時的に、試験ワイヤを介して、電圧および電流のうちの少なくとも１つを取得する、データ取得コンポーネントと、電圧および電流のうちの取得された少なくとも１つを複数回処理し、それに基づいて情報を計算する、データ分析コンポーネントと、情報を出力する、出力コンポーネントと、を含み得る。情報が、試験ワイヤの各々の腐食の測定値を含み得る。試験ワイヤの各々の腐食の測定値が、試験ワイヤの直径または半径の計算された変化を含み得る。監視システムが、それぞれ、液体および蒸気に設けられた温度センサと通信し得る。情報が、液体の温度の関数としての腐食の測定値を含み得る。

例示的な実施形態の別の態様によれば、方法は、上記の態様のいずれかに記載の足場などの足場の複数の離間した下部支持部材の周りに、第１の試験ワイヤを巻き付けることを含む。第２の試験ワイヤは、足場の複数の離間した上部支持部材の周りに、巻き付けられる。試験流体は、ハウジングに導入される。足場ならびに第１および第２の試験ワイヤは、第２の試験ワイヤが、試験流体の液相から離間し、閉鎖部材が、ハウジングの開放端部を閉鎖するように、ハウジングに挿入される。ハウジングにおける試験流体は加熱されて、第２の試験ワイヤに接触する気相を生成する。経時的に変化する第１および第２の試験ワイヤの電気的特性が、測定される。情報は、各ワイヤの電気的特性の変化に基づいて、決定される。

様々な態様において、経時的な第１および第２の試験ワイヤの電気的特性の測定が、電流および電圧のうちの１つの測定を含む。情報は、試験ワイヤの腐食の測定値を含み得る。方法は、溶液相に接触するように、溶液相温度センサを設けることと、気相に接触するように、気相温度センサを設けることと、腐食の測定の温度依存性を計算することと、をさらに含み得る。方法において、試験流体が、潤滑剤、冷却剤、および／または腐食防止剤を含み得る。試験ワイヤのうちの少なくとも１つが、銅または銅合金で形成され得る。試験ワイヤが、等しい長さおよび／または等しい直径であり得る。試験ワイヤの長さが、各々少なくとも５０ｃｍ、または最大５００ｃｍの長さを有し得る。試験ワイヤが、各々少なくとも０．０５ｍｍ、または最大５ｍｍの直径を有し得る。

例示的な実施形態の別の態様によれば、試験デバイスは、関連付けられた第１および第２の試験ワイヤを支持するための足場と、足場を受容するように成形されたハウジングであって、足場の閉鎖部材が、ハウジングの上端部を閉鎖して、関連付けられた液体を、液体の気相が第２の試験ワイヤのみに接触するように、第１の試験ワイヤと接触して保持するための容器を形成する、ハウジングと、を、含む。

様々な態様において、試験デバイスは、液体の温度を測定するようにハウジング内に位置付けられた、溶液相温度センサおよび／または蒸気の温度を測定するようにハウジング内に位置付けられた、気相温度センサをさらに含み得る。溶液相および気相温度センサは各々、閉鎖部材を介してそれぞれの外部導体に接続され得る。試験デバイスは、ハウジングにおいて液体を加熱して蒸気を形成するように構成されたヒータをさらに含み得る。

試験デバイスは、第１および第２の電気システムのうちの１つをさらに含み得、第１の電気システムは、第１の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤを介して電流を供給する、第１の電流源と、第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤを介して電流を供給する、第２の電流源と、第１の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤにわたる電圧を測定する、第１の電圧測定デバイスと、第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤにわたる電圧を測定する、第２の電圧測定デバイスと、を含む。第２の電気システムは、第１の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤを介して電圧を生成する、第１の電圧源と、第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤを介して電圧を生成する、第２の電圧源と、第１の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤにわたる電流を測定する、第１の電流測定デバイスと、第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤにわたる電流を測定する、第２の電流測定デバイスと、を含み得る。

試験デバイスは、第１および第２の電極であって、電極のうちの１つが、溶液に浸漬されている、第１および第２の電極と、電極に接続されており、電極とワイヤとの間に電流を流す、電圧または電流源と、をさらに含み得る。

１つの例示的な実施形態による、溶液および蒸気ワイヤ腐食試験デバイスを含む試験装置の電気概略図である。 １つの例示的な実施形態による、図１の溶液相および気相ワイヤ腐食試験デバイスのための足場の第１の実施形態の第１の斜視図である。 図２の足場の第２の斜視図である。 図２の足場の正面図である。 図２の足場の上面図である。 図２の足場の第３の斜視図である。 図２の足場の第４の斜視図である。 寸法が、溶液空間ワイヤおよび蒸気空間ワイヤの計算された配索長を示す、図２の足場の例示的な寸法図である。 寸法が、溶液空間ワイヤおよび蒸気空間ワイヤの計算された配索長を示す、図２の足場の例示的な寸法図である。 配索されて巻き付けられた第１の試験ワイヤ、および配索されて巻き付けられた第２の試験ワイヤ、ならびにハウジング、溶液空間温度センサ、および蒸気空間温度センサを有する、図２の足場の第１のアセンブリを含む、図１の腐食試験デバイスの一実施形態の斜視断面図である。 図１０の腐食試験デバイスの斜視上面図である。 図１の試験装置での使用に適した別の例示的な実施形態による、第１および第２の試験ワイヤを支持する、射出成形に適した足場のアセンブリの第２の実施形態の正面図である。 図１２の足場の第１の斜視図である。 図１２の足場の第２の斜視図である。 図１２のアセンブリの斜視図である。 図１２のアセンブリの第２の斜視図である。 本開示の例示的な実施形態による、溶液空間温度センサおよび蒸気空間温度センサを有する、図１２の足場の正面図である。 寸法が、溶液空間の計算されたワイヤ配索長および蒸気空間の計算されたワイヤ配索長を示す、図１２の足場の寸法図である。 寸法が、溶液空間の計算されたワイヤ配索長および蒸気空間の計算されたワイヤ配索長を示す、図１２の足場の寸法図である。 例示的な寸法で、ハウジングと、図１２の足場と、巻き付けられたワイヤと、蓋を介する溶液空間ワイヤの配索と、蓋を介する蒸気空間ワイヤの配索と、を含む、溶液および気相ワイヤ腐食試験デバイスの斜視断面図である。 別の例示的な実施形態による、溶液および蒸気ワイヤ腐食試験デバイスを含む試験装置の電気概略図である。 図１の試験装置で実行され得る方法を示すフローチャートである。 図１の監視システムで実行され得る、図２の方法の部分を示すフローチャートである。 例示的な実施形態による、溶液および気相ワイヤ腐食試験における、ｎｍの半径減少（腐食を表す）対溶液空間ワイヤの時間プロットの例である。 図２４の溶液および気相ワイヤ腐食試験におけるｎｍの半径減少（腐食を表す）対蒸気空間ワイヤの時間プロットの例である。 例示的な実施形態による、溶液および気相ワイヤ腐食試験のためのアレニウスプロットの例である。 例示的な実施形態による、溶液および気相ワイヤ腐食試験のためのアレニウスプロットの例である。 ワイヤ腐食試験の出力報告の一例である。

例示的な実施形態の態様は、足場、足場を含む試験デバイス、デバイスを含む試験装置または「システム」、ならびに、それぞれ、流体の溶液相および気相において支持された導電性ワイヤに対してリアルタイムで同時に腐食試験結果を生成するために使用できる方法に関する。例示的な試験デバイスは、流体および足場を受容する共通のハウジング、例えば、ビーカなどのコンテナ内の単一の足場において、溶液空間ワイヤ支持体および気相空間ワイヤ支持体を統合するワイヤ腐食試験デバイスである。開示されたワイヤ腐食試験デバイスは、同じハウジング内で、同じ時に、すなわち同時に評価される溶液および蒸気空間ワイヤ腐食試験の両方を提供する。

図１を参照すると、１つの例示的な実施形態による、試験装置の電気的概略図が示されている。試験装置は、ビーカまたは他のコンテナなどの密封容器２を含む、溶液および蒸気ワイヤ腐食試験デバイスなどの試験デバイス１を含む。容器２は、潤滑剤などの試験流体を、溶液空間５において、液体（溶液）形態４で、および溶液空間５の上の容器の蒸気空間７において、蒸気（気体）６形態で、保持する。蒸気６は、液体の表面で、液体４と接触しており、少なくとも部分的に、液体から導出される。第１の導電性試験ワイヤ８（溶液試験ワイヤ）は、少なくとも部分的に、液体４に懸濁されている。第２の導電性試験ワイヤ９（蒸気試験ワイヤ）は、蒸気６に懸架されているが、液体４には懸濁されていない。試験ワイヤ８、９は、銅（例えば、少なくとも９５重量％の銅）またはその合金などの導電性材料から形成されている。銀、チタン、金、ニッケル、白金、ジルコニウム、ニオブ、またはタンタル、それらの合金などの他の導電性材料を、代替的または追加的に、ワイヤの一方または両方に使用し得る。各ワイヤは、ワイヤの長さに沿って、均一な直径を有し得る。図示の実施形態では、両方のワイヤは、同じ材料で形成され、同じ直径を有する（例えば、第１の試験ワイヤ８の直径は、第２の試験ワイヤ９の±５％以内である）。同じ既知の長さおよび直径のワイヤ８、９を有することは、腐食測定を簡単にする。

他の実施形態では、異なる材料および／または長さおよび／または直径で形成されたワイヤが、使用され得る。異種金属のワイヤ８、９を使用することは、ワイヤが電極（陰極および陽極、またはその逆）として作用することを可能にする。どのワイヤが陰極であるかは、実験条件に依存する。この構成は、ワイヤ間の流体を流れる電流による電気分解プロセスの影響を調べることを可能にする。

図示の実施形態では、２つのワイヤが使用されるが、他の実施形態では、２つの（またはそれより多い）第１の試験ワイヤ８および／または２つの（またはそれより多い）第２の試験ワイヤ９など、２つよりも少ない、またはそれより多いワイヤが、試験において使用され得る。試験ワイヤ８、９は、各々少なくとも５０ｃｍ、または最大５００ｃｍ、例えば、約１００ｃｍの長さを有し得る。試験ワイヤ８、９は、各々少なくとも０．０５ｍｍ、または最大５ｍｍの直径を有し得る。

例示的な試験装置は、試験ワイヤの電気的特性を測定する電気システム１５を含む。図示の実施形態では、第１の試験ワイヤ８にわたる電圧などの電気的特性は、第１の電圧計１０などの第１の電圧測定デバイスによって検出される。ＤＣまたはＡＣ源１２などの第１の電流源は、第１の試験ワイヤ８に電流を供給する。第２の試験ワイヤ９にわたる電圧は、第２の電圧計１６などの第２の（または同じ）電圧測定デバイスによって、検出される。ＤＣまたはＡＣ源１８などの第２の電流源は、第２の試験ワイヤ９に電流を供給する。いくつかの実施形態では、リレー制御１７、１９を用いて、ワイヤ８、９の電源状態と測定状態とを切り替え得る。

いくつかの実施形態では、第１の試験ワイヤ８は、溶液４に完全に浸漬されている。これは、蒸気空間に延在するワイヤ４の部分を、より大きなゲージのワイヤまたはシールドされた（例えば、コーティングされた）ワイヤ（図示せず）と交換することによって、達成され得る。

試験装置は、試験の過程で、電圧計１０、１６から電気信号（例えば、測定された電圧）を受信し、信号を処理して、情報２２を生成し、出力する監視システム２０をさらに含む。一実施形態では、情報２２は、腐食による、試験の過程での試験ワイヤ８、９の直径の変化に関連している。試験ワイヤ８、９の長さおよび直径は、監視システム２０によって包含することができる電気信号を提供するように選択され得る。図示の監視システム２０は、電気信号を取得するデータ取得コンポーネント２４と、取得された信号を処理して、情報２２を生成するデータ分析コンポーネント２６と、を含む。情報２２は、出力デバイス２７によって出力され得、例えば、ローカルまたはリモートメモリ、例えば、適切なデータベース２８、または他のデータ構造に記憶され、ディスプレイに出力されるか、または他の方法で出力され得る。

一実施形態では、デバイス１で試験される潤滑剤は、車両のエンジンまたはトランスミッションなどの機械を潤滑するのに適した組成物である。このタイプの潤滑剤の例は、例えば、潤滑剤の大部分としての潤滑粘度の基油と、洗浄剤、粘度向上剤、腐食防止剤、流動点降下剤、耐摩耗剤などの１つ以上の添加剤と、を含む。ワイヤ腐食試験デバイス１の潤滑剤の液相および気相４、６における試験ワイヤ８、９の腐食は、監視システム２０によって経時的に決定され、潤滑剤の液相および気相が存在し得る、温度で動作する、車両のエンジンまたはトランスミッションシステムなどの機械における使用のための所与の潤滑剤の適合性を査定するために使用することができる。添加剤の変更を査定して、腐食レートの低減を達成できるかどうかを決定することができる。同様に、機械コンポーネントの材料の変化を査定して、所与の潤滑剤による腐食に耐えるのにより適しているかどうかを決定できる。

別の実施形態では、デバイス１において試験される流体は、発熱デバイスを冷却するために使用するのに適した冷却液体である。別の実施形態では、デバイス１において試験される流体は、塩化ナトリウムなどの１つ以上の溶解塩を含む溶液などの水溶液である。一実施形態では、デバイス１において試験される流体は、電池酸などの電池における使用に適した液体である。

図２～１１も参照すると、試験ワイヤ８、９は、共通の支持構造（「足場」）３０上で支持され得る。足場３０は、第１および第２の端部３７、３８を介して接続され、溶液空間ワイヤ支持体３９を形成する、３つ、４つ、５つ、または６つまたは８つの下部支持部材３１、３２、３３、３４、３５、３６（６つの下部支持部材が示されている）などの複数の下部支持部材と、それぞれの第１および第２の端部４７、４８を介して接続され、気相空間ワイヤ支持体４９を形成する、３つ、４つ、５つ、または６つまたは８つの上部支持部材４１、４２、４３、４４、４５（５つの上部支持部材が示されている）などの複数の上部支持部材と、を含む。溶液および蒸気空間ワイヤ支持体３９、４９は、互いに接続されている。一実施形態では、支持部材３２および４２などの上部および下部支持部材の対は、接続され、例えば、単一の部品として形成されている。他の実施形態では、支持部材は、間接的に接続されている。下部および上部支持部材は各々、例えば、足場３０の円筒軸Ｙと平行に、長手方向に延在する（図６）。足場３０は、３Ｄ印刷または射出成形によって全体的または部分的に形成され、例えば、プラスチックまたは他の非導電性材料で形成され得る。

図示された支持部材は、それぞれの対向する端部３９、４０、４７、４９の間で略円筒形であるが、試験ワイヤとの接触の最小面積を提供する他の形状が企図されている。支持部材は、プラスチック、ガラス、もしくはセラミックなどの電気絶縁材料から、またはそのような材料の混合物もしくは組み合わせから、形成され得る。下部支持部材３１、３２、３３、３４、３５、３６および上部支持部材４１、４２、４３、４４、４５は、支持部材間のギャップ５０を確定するように、互いに離間している。ギャップ５０は、試験流体が、試験ワイヤの周りを循環し、試験ワイヤ８、９の露出表面積を最大化することを可能にする。

上部および下部支持部材の各々において、またはその上に形成された配索支持体は、少なくとも３つ、または少なくとも４つ、または少なくとも５つの完全な巻数などの試験ワイヤ８、９の複数の巻数５１、５２などを支持し、かつ離間させ、各完全な巻数が、それぞれの下部または上部の支持部材のすべてを周回する。一実施形態では、試験ワイヤ８、９は、ワイヤの巻数５１、５２が、互いに電気的に接触しないように維持するために、それぞれの下部および上部支持部材の各々において離間したノッチのセットにおいて支持され得る。例えば、配索支持体は、第１の試験ワイヤ８を支持する下部支持部材において画定される溶液ワイヤノッチのセット５３、５６などと、第２の試験ワイヤ９を支持する上部支持部材支持において画定される蒸気ワイヤノッチのセット６１、６３などと、を含み得る（図４）。別の実施形態（図示せず）では、配索支持体は、下部および上部支持部材から、横方向外向きに延在する突起を備える。

例示的な足場は、容器２の開放端部を密封する蓋などの閉鎖部材６４を含むか、またはそれに接続されている。各ワイヤ８、９（蓋６４から、支持部材の周りに、および蓋に戻るよう、足場によって支持された各ワイヤの長さ）の配索長ｌは、各ワイヤの異なる数の巻数５１、５２を有することによって（例えば、上部および下部支持部材上に異なる数のノッチを提供することによって）、等しくすることができる。追加的に、または代替的に、各巻数の長さは、例えば、各巻数５２のより大きな直径を提供するために、上部支持部材を離間させることによって、異なる可能性がある。等しい配索長によって、配索長が、５％以下、１％以下、または０．１％以下変動することが意味される。

図示の足場３０は、容器２の上部を閉鎖するように機能する閉鎖部材または蓋６４を含む。下部横部材（「ハブ」）７２、中間横部材（「ハブ」）７４、および上部横部材（「ハブ」）７６は、上部および下部支持部材を円弧状に離間させ、溶液および蒸気空間ワイヤ支持３９、４９を接続するように機能する（図２および３）。下部横部材７２および中間横部材７４は、互いに長手方向に離間しており、下部支持部材３１、３２、３３、３４、３５、３６に略垂直である。中間横部材７４および上部横部材７６は、互いに長手方向に離間しており、上部支持部材４１、４２、４３、４４、４５に略垂直である。上部横部材７６は、例えば、中央部材７７によって、ねじ切りされるか、または他の方法で、蓋６４に接続され得る。

図３および４に示されるように、溶液ワイヤ支持体（「ポスト」）７８は、下部横部材７２から上方に延在し、蒸気ワイヤ支持体（「ポスト」）８０は、蓋６４から入るときに、それぞれのワイヤを支持するために、上部横部材７６から下方に延在する。

図８および９に示されるように、垂直支持部材３１、３２、３３、３４、３５、３６および４１、４２、４３、４４、４５におけるノッチ５３、５６、６１、６３のセットは、それぞれのワイヤの各巻数について固定長（おおよその直径）を提供し、これは、例えば、５０～１００ｍｍ、例えば、６０～７０ｍｍであり得る。ノッチの各セットは、４つまたは５つのノッチなどの２～１０個のノッチを含み得、これらは、ワイヤの各巻数を、電気的接触および電界干渉の可能性を最小化するのに十分に離間させたままにしながら、それぞれのワイヤの（ほぼ）同等の数の巻数５１、５３を可能にするように協働する。足場の例では、上部支持部材の各々における各セット６１、６３には、５つのノッチが存在し、ノッチは、垂直方向に２．５ｍｍ離間し、下部支持部材の各セット５３、５６には、４つのノッチが存在する。この実施形態では、上部ノッチによって提供された固定配索直径は、各ワイヤの長さがほぼ等しくなるように、下部ノッチの固定配索直径よりも小さい（ワイヤ長＝２πｒ＋２ｌ、式中、ｒは、ノッチによって提供された半径であり、ｌは、ノッチから蓋６４のそれぞれのコネクタまでの長さである）。例えば、蓋におけるコネクタから２０ｍｍ離間している６２ｍｍの配索直径を有する５つのノッチは、長さ１０１３ｍｍの第２の試験ワイヤ９に支持を提供し、蓋におけるコネクタから９９ｍｍ離間している６４．８ｍｍの配索直径を有する４つのノッチは、長さ１０１１ｍｍの第１の試験ワイヤ８に支持を提供する。これは、各ワイヤ８、９がたるまないように、十分な張力がかけられていることを仮定している。一方、足場は、等しい長さ（例えば、±１０ｍｍ以内もしくは±５ｍｍ以内、または±１％以下もしくは±０．５％以下の長さの差）のワイヤを支持するように構成され得る。ここにあるように、同じ長さのワイヤを有することは、ワイヤ抵抗（またはＡＣ電圧もしくは電流源の場合は、インピーダンス）のより容易な計算を提供する。他の実施形態では、第１および第２の試験ワイヤ８、９は、異なる長さであり得る。

図５、６、および１０に示されるように、蓋６４は、１つ以上のフィードスルー穴９１、９２、９３、９４を含み、これにより、試験ワイヤ８、９のそれぞれの端部およびそれぞれの外部導体１０１、１０２、１０３、１０４との電気接続を行うことが可能になる。特に、フィードスルー穴９１、９２は、溶液空間５内のワイヤ８と、第１の電源１２および第１の電圧計１０との間の接続を提供する。フィードスルー穴９３、９４は、蒸気空間内のワイヤ９と、第２の電源１８および第２の電圧計１６との間の接続を提供する。穴は、試験ワイヤ８、９と、それぞれの電源および電圧計との間の簡単な接続および切断を可能にするプッシュインコネクタに嵌合し得る。追加の穴９５、９６は、それぞれ液相および気相に延在する温度センサ１０４、１０５などのセンサへの接続９７、９８のための電気的フィードスルーとして機能し得る。温度センサ１０４、１０５は、ＲＴＤ温度センサであり得る。蓋がハウジング１１０の上部内にぴったりと嵌合し、容器２を形成することを可能にするために、例示的な蓋６４は、先細のリム１１４を含む。

図１０および１１に示されるように、配索およびコイル状の第１の試験ワイヤ８、すなわち、溶液空間ワイヤ、ならびに配索および巻き付けられた第２の試験ワイヤ９、すなわち蒸気空間ワイヤが、足場３０に設けられた容器２内に示されている。外部導体１００、１０１の第１の対は、溶液相ワイヤ８の端部を第１の電源１２および第１の電圧計１０に接続する。外部導体１０６、１０７の第２の対は、気相ワイヤ９の端部を第２の電源１８および第２の電圧計１６に接続する。

図１および１０に示されるように、試験デバイス１は、溶液空間５における溶液の温度を測定するように位置付けられた、溶液空間温度センサ１０４と、蒸気空間７における蒸気の温度を測定するように位置付けられた、蒸気空間温度センサ１０５と、を含み得る。センサ１０４、１０５は、容器２のハウジング１１０内に設けられ、例えば、足場３０および／または蓋６４によって支持されている。センサ１０４、１０５は、データ取得デバイス２４に温度信号を提供する。例えば、プッシュインコネクタは、センサ１０４、１０５を、データ取得デバイスに接続されている外部ワイヤ１０６、１０７に接続する。例示的な実施形態では、接続は、蓋６４を介して行われるが、他の実施形態では、接続は、容器２のハウジング１１０の円筒形の側壁を介して行われ得る。試験デバイス１における流体は、油浴、グローブボックスなどのヒータ１１２によって加熱され得、これは、容器２を外部から加熱し得る。単一のヒータ１１２は、複数のデバイス１を同時に加熱するのに十分な大きさであり得る。あるいは、液体および／または蒸気に浸漬された内部ヒータが使用され得る。ヒータ１１２は、監視システム２０の制御下にあり得る。溶液相および気相のバルク流体温度範囲は同じかまたは異なっている可能性があり、２０℃～３００℃の範囲であり得る。ワイヤ８、９の表面の温度は、抵抗性の加熱のために、周囲の流体４、６よりも著しく高くなる可能性がある。いくつかの実施形態では、周囲の流体の冷却を使用して、ワイヤ温度を好適な範囲に制限し得る。

組み合わせて、足場３０およびワイヤ８、９は、アセンブリ１４０を形成し、これは、例えば、単一のユニットとして、ハウジング１１０に容易に挿入することができる。

図１２～１８を参照すると、図１の試験装置での使用に適した足場２３０の別の実施形態が示されている。足場２３０は、注記されている場合を除いて、足場３０と同様に構成され得る。

図１３および１４に示されるように、足場３０は、溶液空間ワイヤ支持体２３９を画定する、３つ、４つ、５つ、または６つまたは８つの下部支持部材２３１、２３２、２３３、２３４、２３５（５つの下部支持部材が示されている）などの複数の下部支持部材と、蒸気空間ワイヤ支持体３４９を画定する、３つ、４つ、５つ、または６つまたは８つの上部支持部材３４１、３４２、３４３、３４４、３４５（５つの上部支持部材が示されている）などの複数の上部支持部材と、を含む。図示された支持部材は湾曲しており、それらの厚さよりも広い幅を有するが、円筒形の支持部材もまた企図される。支持部材は、プラスチック（例えば、ＰＴＦＥ）、ガラス、もしくはセラミックなどの電気絶縁／非導電性の材料から、またはそのような材料の混合物もしくは組み合わせから、形成され得る。下部支持部材は、支持部材間のギャップ２５０を画定するように、互いに離間している。下部および上部支持部材は、それぞれ長手方向に、かつ平行に延在する（例えば、互いに±５°以内で）。図示の実施形態では、上部支持部材は、７２°間隔で、横部材２７４の周りに等間隔に離間し、下部支持部材は、７２°間隔で、横部材２７２の周りに等間隔で離間している。ただし、下部支持部材は、上部支持部材から３６°オフセットされているため、各下部支持部材は、隣接する２つの上部支持部材の中間にある。足場２３０は、３Ｄ印刷または射出成形によって全体的または部分的に形成され、例えば、プラスチックまたは他の非導電性材料で形成され得る。一実施形態では、足場は、ＳＯＬＩＤＷＯＲＫＳを使用して３Ｄでモデル化され、ナイロンでのＳＬＳ（選択的レーザ焼結）技術を使用して、３Ｄプリントされる。

試験ワイヤ８、９は、ワイヤコイルを電気的に接触しないように維持するために、それぞれの下部および上部支持部材の各々において離間したノッチ（または他の配索支持体）のセットにおいて支持され得る。例えば、下部支持部材の外面における溶液ワイヤ（第１の）ノッチのセット２５３、２５６などは、第１の試験ワイヤ８を支持し、上部支持部材の外面における蒸気ワイヤノッチのセット２６１、２６３などは、第２の試験ワイヤ９を支持する（図１５）。

図１２～１４に示されるように、足場２３０は、蓋２７０などの閉鎖部材を含み、下部横部材２７２と、中間横部材２７４と、を含む。この実施形態では、図１０の実施形態のように、別個の上部横部材（図示せず）を代替的に用いることができるが、蓋２７０は、上部横部材としても機能する。蓋２７０は、容器２の上部を閉鎖するように機能する。横部材２７２、２７４、および蓋２７０は、上部および下部支持部材を円弧状に離間させるように機能する。組み合わせて、足場２３０およびワイヤ８、９は、アセンブリ２４０（図１２）を形成し、これは、容器ハウジング１１０に挿入することができる。

図１３に示されるように、蓋は、コンテナの上部に受容されるように成形されている円形のベース部材２７６と、ベース部材から上方および外側に延在する先細のリム２７８と、を含む。ベース部材２７６は、（５つの）円弧状に離間したスロット２８０を画定し、１つが、各上部支持部材を受容するためのものである。上部支持部材の上端部３４８は、支持部材を、例えば、取り外し可能に蓋に取り付けるために、蓋２７０のスロット２８０を通して受容されるスナップインコネクタ２８１を含む。上部支持部材の下端部は、中間横部材２７４から上方に延在する。下部支持部材の上端部２３８は、中間横部材２７４のそれぞれのスロット２８２を介して受容され、下部支持部材を中間横部材２７４に、例えば、取り外し可能に取り付けるための同様のスナップインコネクタを含む。下部支持部材の下端部２３７は、下部横部材２７２から上方に延在する。下部横部材２７２は、中間および下部横部材が交換可能であるように、かつ／または追加の支持部材を可能にするように、同様の円弧状に離間したスロット２８４を含み得る。スロット２８２、２８４は、それぞれの横部材２７２、２７４の略円形の中央部分２８８から横方向外向きに延在するフランジ２８６において形成され得る。他の実施形態では、支持部材の下端部はまた、スロット２８２、２８４から円弧状にオフセットされている、それぞれの円弧状に離間したスロットにおいて受容され得る。

蓋２７０は、１つ以上のフィードスルー穴２９１、２９２、２９３、２９４を含み、これにより、試験ワイヤ８、９のそれぞれの端部との電気的接続を行うことが可能になる。特に、蓋ベース部材２７６のフィードスルー穴２９１、２９２は、溶液空間内のワイヤ８と、第１の電源１２および第１の電圧計１０との間の接続を提供する。蓋ベース部材２７６のフィードスルー穴２９３、２９４は、蒸気空間内のワイヤ９と、第２の電源１８および第２の電圧計１６との間の接続を提供する。穴は、試験ワイヤ８、９と、それぞれの電源および電圧計との間の簡単な接続および切断を可能にするプッシュインコネクタに嵌合し得る。追加の穴２９５、２９６は、それぞれ液相および気相に延在する温度センサ２９７、２９８などのセンサのための電気的フィードスルーとして機能し得る（図１７）。様々な穴２９１、２９２、２９３、２９４、２９５、２９６のサイズおよび／または形状の違いにより、ユーザは、プッシュインコネクタを介して試験ワイヤ８、９の端部と、対応する外部配線２２１、２２２、２２３、２２４などとの間を正しく接続し、溶液および気相温度センサ２９７、２９８（図１４）を正しく位置付けることが確実になる。接続ワイヤ２２１、２２２は、溶液相ワイヤ８の端部を、第１の電源１２および第１の電圧計１０に接続する。接続ワイヤ２２３、２２４は、気相ワイヤ９の端部を、第２の電源１８および第２の電圧計１６に接続する。温度センサ２９７、２９８は、例えば、外部配線を介してデータ取得デバイス２４に温度信号を提供する。例示的な実施形態では、接続は、蓋２７０を介して行われるが、他の実施形態では、接続は、容器２のハウジング２１０を介して行われ得る。

図１５に示されるように、第１の試験ワイヤ８は、スロット２８２のうちの１つに隣接する中間横部材２７４における第１の溝２９９によって誘導され、垂直支持部材２３４のうちの１つにおける開口部３００を通過する。次に、ワイヤは、長手方向に離間したノッチによって支持されて、下部支持部材の周りに巻かれる。図１６に示されるように、ワイヤ８は、次に、支持部材２３３のうちの別のものにおける開口部３０２を通過し、スロット２８２のうちの異なる１つに隣接する中間横部材２７４における第２の溝３０３によって蓋２７０に誘導される。同様の開口部を上部支持部材に設けて、第２の試験ワイヤ９を誘導し得る。別の実施形態では、横部材の離間した穴３０４は、ワイヤ８を搬送するためのフィードスルーとして使用され得る。使いやすさのために、上部および下部支持部材は、同じ数の開口部およびノッチで同じように構成され得、その結果、それらは交換可能になり得る。さらに、少なくとも各支持部材におけるノッチの上部および下部のものは、それらがどちらかとして機能することができるように、開口部のように成形され得る。

足場３０に関しては、足場２３０は、各ワイヤ８、９の固定長（同じまたは異なる長さであり得る）を提供する。足場２３０の例示的な寸法（ｍｍ単位）が、図１８～２０に示されている。図２０に示す例では、（６２．５ｍｍの等価直径を有する）溶液空間においてワイヤ８の４．２ラップが存在し、（６２．５ｍｍの等価直径を有する）蒸気空間においてワイヤ９の４．８ラップが存在する。溶液空間５から蓋２７０までのワイヤラップまでの距離は、蒸気空間７の場合よりもわずかに長いので、したがって、試験ワイヤ８、９は、等しい長さ（例えば、５または１０ｍｍ以内）である。

図２０に示されるように、足場２３０と、蓋２７０と、を備え、ワイヤ８および９が足場の周りに配索されて巻かれているアセンブリは、ハウジング２１０に挿入されて、試験デバイス２００を形成する。温度センサ２９７、２９８は、ハウジングに挿入する前に、蓋２７０に嵌挿されている。蓋の先細のリム２７８は、ハウジング２１０と堅密な密封を形成する。試験デバイス２００における流体は、ヒータ１１２に類似したヒータによって加熱され得、ヒータは、容器２を外部から加熱し得るか、または液体および／もしくは蒸気に浸漬された内部ヒータであり得る。

したがって、例示的な試験装置は、銅などの導電性材料から形成され、銅が、例えば、潤滑剤溶液および気相内の添加剤による、化学的攻撃と反応する（または、それによって不動態化される）ときの銅の界面での表面変化の検出を可能にするのに十分に小さい直径および十分な長さを有する、ワイヤ８、９が取り付けられた溶液および蒸気ワイヤ腐食試験デバイス１、２００を含む。このような測定には、一般に、（例えば、直径０．０６４ミリメートル、長さ１ｍの）細い銅ワイヤが適している。足場３０、２３０はワイヤを支持し、ワイヤの張力を最小限に抑える。これは、腐食試験用のワイヤの抵抗測定の正確性および精度を向上させることができる。張力の違いが、ワイヤ抵抗の変動をもたらし得、張力、つまり抵抗が変化するにつれて、ワイヤの腐食試験が不正確になる可能性があるためである。例示的な監視システム２０（図１）は、高温でそのような比較的小さいワイヤの抵抗および電圧を正確に測定するように構成されている。監視システム２０は、ワイヤの腐食のレートを推定するために、以下のように動作し得る。結果は、潤滑剤で動作する同様の金属で形成された機械における使用に対する特定の潤滑剤（または潤滑添加剤）の適合性か、または、逆に、潤滑剤との使用に対する機械部品の適合性を査定するために使用できる。例示的な実施形態によれば、（例えば、１ｍの長さおよび０．０６４ｍｍの直径の）固定長および断面直径の銅ワイヤは、自動車のギアボックスソレノイドコイルにおいて使用されるものに近いワイヤサイズを得るために使用され、測定の正確性を提供する。

図２１を参照すると、上記の試験デバイスと同様に構成することができる試験デバイス１の電気概略図を、上記の場合を除いて示す。試験デバイスは、図１に示されているように、試験装置において使用され得る。試験デバイスは、ビーカまたは他のコンテナなどの密封容器２を含む。容器２は、試験流体を、溶液空間５において、液体（溶液）形態４で、および溶液空間５の上の容器の蒸気空間７において、蒸気（気体）６形態で、保持する。液体は、蒸気と接触している。第１の導電性試験ワイヤ８（溶液試験ワイヤ）は、少なくとも部分的に、液体４に懸架されている。第２の導電性試験ワイヤ９（蒸気試験ワイヤ）は、蒸気６に懸架されているが、液体４には懸架されていない。第１の電流源１２は、第１の試験ワイヤ８の端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤを介して電流を供給する。第２の電流源１８は、第２の試験ワイヤ９の端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤを介して電流を供給する。第１の電圧計１０は、第１の試験ワイヤ８の端部にわたって接続されて、第１の試験ワイヤにわたる電圧を測定し、第２の電圧計１６は、第２の試験ワイヤ９の端部にわたって接続されて、第２の試験ワイヤにわたる電圧を測定する。別の実施形態では、構成要素１２、１８は、電流計などの電流測定デバイスであり、構成要素１０、１６は、ワイヤにわたって、電圧を供給する。この実施形態では、印加される電圧は、５～８００Ｖの範囲であり得る。電流範囲は、ワイヤ直径に依存する。

いくつかの実施形態では、第１の試験ワイヤ８は、溶液４に完全に浸漬されている。これは、蒸気空間に延在するワイヤ８の部分を、より大きなゲージの、またはシールドされた（例えば、コーティングされた）ワイヤ４００と交換することによって、達成され得る。より大きなゲージのワイヤ４００の場合、それは、ワイヤ８の少なくとも２倍、または少なくとも３倍の直径（または平均断面積）を有し得る。その結果、腐食は、主に試験ワイヤ８において発生する。ワイヤ８は、ワイヤ８の端部でワイヤ４００にはんだ付けされるか、または他の方法で、接合され得る。コーティングの場合、ワイヤ８の気相部分は、セラミックまたはポリマーコーティングなどでコーティングされ得、これは、試験中に、流体と領域７に位置するワイヤ８の部分との間の接触を制限する。この実施形態では、ワイヤ８の長さを決定する際に、シールドされていない／より細いワイヤ部分のみが考慮される。

ワイヤ８、９は、上記の足場３０または２３０などの足場（図示せず）上で支持され得る。センサ１０４、１０５、２９７、２９８に類似した液相および気相温度センサ（図示せず）を容器２に位置付けて、それぞれ液体４および蒸気６の温度を測定し得る。

第１の電極４０２は、液体４に接触するように、容器２において懸架されている。第２の電極４０４は、蒸気に接触するが、液体には接触しないように、容器２において懸架されている。第１および第２の電極４０２、４０４は、例えば、容器２の蓋６４を介して外部導体４０６、４０８に接続されている。

電極４０２、４０４はそれぞれ、電極とワイヤとの間を流れる電流の方向に応じて、陽極または陰極として機能し得る。第１および第２の電極４０２、４０４は、例えば、１つ以上の電流または電圧源４１０、４１２によって、ワイヤ８、９に対して一定または交互の電位差に維持され得、その結果、電流は、電極４０２と、隣接する第１のワイヤ８との間、および電極４０４と、隣接する第２のワイヤ９との間をそれぞれ流れる傾向にある。電極／ワイヤ間で溶液（および蒸気）を流れる電流は、ワイヤ８、９の一方または両方の電気分解を引き起こすことが可能であり、漂遊電流が、電気分解による成分の質量の損失（または場合によっては、質量の増加）を引き起こし得る実際の条件をシミュレートする。電極４０２、４０４は各々、銅、銀、チタン、金、ニッケル、白金、ジルコニウム、ニオブ、またはタンタル、炭素／黒鉛、それらの合金などの導電性材料から形成され得る。

監視システム２０は、電極４０２、４０４に接続されている。図１の装置に関しては、監視システム２０は、ワイヤ８、９の質量の変化の指標として、抵抗（またはＡＣ電源の場合はインピーダンス）、またはワイヤの他の電気的特性を測定する。この場合、監視システム２０はまた、電極４０２、４０４に印加された電流／電圧を制御し得る。

図２１の実施形態では、ワイヤの抵抗変化の測定により、電気分解および化学的腐食によるワイヤの質量変化の定量化が可能になる。この実施形態は、このプロセスが現実的な材料を用いた現実的な動作条件で詳細に研究されることを可能にする。

この構成はまた、印加された電力なしには発生しない電気化学反応のプロービングのためである。

図２２は、図１の試験装置で実行され得る例示的な方法を示す。方法はＳ１００から始まる。

Ｓ１０２では、例えば、同じ公称寸法および組成のワイヤ８、９が、提供される。

Ｓ１０４では、試験ワイヤ８、９は足場３０、２３０に設けられ、試験ワイヤの端部は蓋６４、２７０のコネクタに接続されている。これは、各ワイヤをそれぞれの溶液空間ワイヤ支持体３９、４９、２３９、２４９の周りに所定の回数巻き付け、試験ワイヤをノッチに載置することを含む。Ｓ１０４は、ワイヤの追加のセットおよび足場に対して繰り返され得る。

Ｓ１０６では、温度センサ１０４、１０５が、蓋に嵌挿されている。

Ｓ１０８では、測定された量の試験流体、例えば、潤滑剤などの液体が、ハウジング１１０に挿入される。潤滑剤または他の試験流体の量は、第１の試験ワイヤ８のコイル状部分を試験流体の液相４に浸漬するのに十分であるが、第２の試験ワイヤ９を液相から離間させるため、試験中にそれに接触しない。Ｓ１０８は、追加のハウジングおよび試験流体に対して繰り返され得る。

Ｓ１１０では、試験ワイヤが取り付けられた足場３０、２３０が、ハウジング１１０に挿入され、蓋がハウジング１１０、２１０の開放（上部）端部を密封する。Ｓ１０８は、追加のハウジングおよび足場に対して繰り返され得る。

Ｓ１１２では、試験ワイヤ８、９は、それぞれの電流源１２、１８および電圧計１０、１６、または代替的に、それぞれの電圧源および電流計に接続されている。電極４０２、４０４は、使用される場合、外部導体４０６、４０８を介して電源４１０、４１２に接続され得る。

Ｓ１１４では、監視システム２０との電気的接続が行われる。特に、電圧計１０、１６（または電流計）は、それぞれの試験ワイヤ８、９にわたる／における電圧（または電流）を記録するために、監視システム２０に接続されている。温度センサ１０４、１０５は、それぞれ液相および気相４、６の温度を記録するために、監視システム２０に接続されている。

Ｓ１１６では、ハウジング１１０を加熱して試験流体を加熱し、試験流体の液相４の上に気相６を作成し得る。ヒータ１１２は、液体および／または蒸気の温度が、温度センサによって測定されるように、選択された温度に達するように制御される。選択した温度に達すると、その温度は、試験全体を通して維持される。異なるハウジングが、異なる試験温度に加熱され得る。

Ｓ１１８では、時間のセットの各々について、監視システムでデータが取得される（例えば、液相および気相の温度および電圧）。複数の試験ワイヤ、例えば、４つまたは８つの試験ワイヤからのデータが、同じ時に取得され得る。いくつかの実施形態では、リレー制御１７、１９を用いて、一方または両方のワイヤの腐食のレートを決定するために、電源状態と測定状態とを切り替え得る。

Ｓ１２０では、情報が、監視システムで計算される。これは、各期間で、設定電流および測定された電圧に基づいて、各ワイヤ８、９の抵抗を計算することを含み得る（またはその逆）。抵抗は、ワイヤの既知の特性に基づいて、各ワイヤの半径（または直径）の対応する損失に変換され得る。溶液および蒸気の試験温度のセットの各々について、同等の研究が行われ得る。腐食のレート（例えば、試験の１時間当たりのワイヤ半径の平均損失）と、温度との関係が、決定され得る。

Ｓ１２２では、計算された情報２２が出力され、例えば、データベースに記憶され、印刷され、かつ／または、例えば、グラフ形式もしくは表形式でユーザに表示される。

Ｓ１２４では、試験されたワイヤ８、９が、ＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）で調べられ、ＳＥＭを使用して、溶液空間および蒸気空間を含む流体のワイヤ抵抗プロファイルをワイヤ表面の変化に相関させることができる。これらの条件およびデータログ記録を十分に高速で注意深く制御することにより、金属（例えば、銅）格子からの結合電子の除去が、表面からの金属の除去、すなわち、腐食を示す、電流がワイヤを流れるときのワイヤの抵抗を増加させるように観察される。

方法は、Ｓ１２６で終了する。

ステップＳ１１６からＳ１２２は、ソフトウェアを実装するコンピュータプロセッサによって、自動的に実行され得る。

腐食の測定理論
抵抗測定の背後にある原理理論はオームの法則であり、電圧（Ｖ）は、抵抗（Ｒ）に電流（Ｉ）を掛けたものに等しいと規定されている。式Ｖ＝Ｉ＊Ｒとして示されているように、この式は、電圧および電流が既知である場合、式Ｒ＝Ｖ／Ｉを使用して、結果として得られる抵抗を計算できるように再配置できる。

既知の定電流または定電圧を銅ワイヤなどの導電体に通過させ、得られた電圧または電流をそれぞれ測定することにより、抵抗を計算できる。これは、標準の抵抗測定と白金測定温度計（ＰＲＴ）の両方が動作する原理である。温度と抵抗の関係は、白金測定温度計（ＰＲＴ）の動作方法の基礎である。

例示的な設定では、定電流源１２、１８が、試験ワイヤ８、９に用いられるが、これは、電流がワイヤを通過するときに、測定において可視的なオフセットを生成するように、十分に大きな影響になる可能性がある自己発熱の影響を制限するためである。抵抗測定は、測定されている導体の温度の変化に直接影響され、したがって、関連している。

測定
例示的な監視システム２０は、データ取得、データ分析、およびデータ記憶を実行するための命令を記憶するメモリ、ならびに取得されたデータおよび処理された情報２２を有する１つ以上のコンピューティングデバイスを含み得る。

例示的な実施形態によれば、データ分析コンポーネント２６は、試験の開始時、試験の終了時および試験全体の定期的なポイントで銅ワイヤの抵抗を測定するためのＦＬＵＫＥ ８８４６Ａ（商標）高精度デジタルマルチメータ（ＤＭＭ）を含む。８８４６Ａ ＤＭＭは、英国認証機関認定審議会（ＵＫＡＳ）で校正された測定デバイスであり、最大解像度が１０μΩ（１０マイクロオーム）の６ １／２桁のデバイスである。測定ごとに、ＤＭＭおよび銅ワイヤを１９～２１℃の範囲内で安定した温度管理された部屋で安定化させてから測定を行う。抵抗は温度に直接関係するため、これは望ましいことである。したがって、抵抗の絶対的な変化を取得するために、測定は，毎回同じ温度で行われる。これについては、以下でさらに説明する。

ＦＬＵＫＥ ＤＭＭは非常に正確であり、好適な初期データを提供するが、腐食の可能性のある実験室環境において継続的に実行するようには好適ではなく、そのように設計もされていない。さらに、デバイスは、単一のチャネルに制限されており、生成されたデータの特定のログ記録能力はない。したがって、データ取得およびログ記録デバイス２４を使用して、前述の抵抗測定理論に基づいて、複数のチャネル上で正確な測定を提供し得る。

監視システム２０のデータ取得コンポーネント２４は、極めて正確な１ｍＡ／１００μＡの励起電流を提供する増幅器モジュールを含み得る。好適な増幅モジュールは、Ｎａｔｉｏｎａｌ Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓから入手可能なＮＩ－９２２６である。ＮＩ－９２２６は、測定範囲が０～４，０００オームの８チャネルＰＴ１０００モジュールである。

データ取得デバイス２４によってサンプリングされたデータは、生の測定された抵抗である。この抵抗は、必要に応じて、サンプリングが行われた後、公称温度での抵抗に変換できる。例示的な増幅器モジュールは、溶液相および気相銅ワイヤの抵抗範囲で使用され、データの最大８つまたは１６個のチャネルを同時にログ記録し得る。

温度測定については、Ｎａｔｉｏｎａｌ Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓから入手可能であるＮＩ－９２１６ ８チャネルＰＴ１００プラチナ測定温度計（ＰＲＴ）も、用いられ得る。そのような温度センサ１０４、１０５は、０～４００オームの測定範囲を有する。ＮＩ－９２２６モデルとＮＩ－９２１６モデルはどちらも、－２００℃～＋８５０℃の同じ温度測定範囲を有する。所望される測定チャネルの数を可能にするために、各モジュールの２つが、４スロットシャーシに設置され得、したがって、シャーシの４つのスロットすべてが利用される。両方のモジュールは、好適なデータ取得シャーシに動作可能に接続され、次いで、所望に応じて読み取り、ログ記録し、かつ制御するようにプログラムされる。モジュール／シャーシのプログラミングは、Ｎａｔｉｏｎａｌ Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ独自のデータ取得ソフトウェアであるＬａｂＶＩＥＷ（商標）ソフトウェアを使用して実行できる。好適なシャーシは、１つ、４つ、および８つのスロットにおいて利用可能であり、とりわけ、ＵＳＢ、ワイヤレス、およびイーサネット（登録商標）接続形式で利用可能である。

例示的な実施形態によれば、４スロットイーサネット（登録商標）シャーシを使用して、複数の溶液相および気相ワイヤ腐食試験デバイス１、２００の温度を制御するのに十分な大きさの加熱浴１１２を利用して、最大１６の抵抗測定、すなわち２×８チャネルを同時に実施することが可能になる。イーサネット（登録商標）通信を使用して、ラップトップコンピュータまたは他のコンピュータデバイスからの通信を提供し、１つの中央の場所から複数のシャーシに接続し得る。

一実施形態では、データ分析コンポーネント２６は、試験ワイヤの測定された抵抗をワイヤの直径に変換する。抵抗の変化は、ワイヤの直径（または半径）の変化を示し、これは、ワイヤの腐食のレートに対応すると仮定され得る。

抵抗とワイヤの直径／半径の関係は、試験において様々な抵抗を示すワイヤ８、９の直径を測定することによって、決定することができる。例えば、ワイヤの直径の測定は、ワイヤを切断し、顕微鏡で切断面を調べることによって、行われる。

初期試験は、Ｆｌｕｋｅ ＤＭＭを使用して、温度管理された部屋において実行される。試験がＵＳＢ ＤＡＱシャーシに移行し始めると、正確性試験が実行され、２つの取得コンポーネントの正確性が並べて比較される。

正確性要件に応じて、異なる監視システムの設定が存在する可能性がある。４ワイヤ設定は、ゼロ電流を効果的に引き出す２つの非常に高いインピーダンス入力に供給され、試験中のワイヤ抵抗にわたる電圧差を測定するときに、電圧の低下または生成を実質的にもたらさない２つの信号ワイヤを使用することによって、測定リード抵抗を考慮しているため、非常に正確である。したがって、生成された電圧は、抵抗の絶対電圧である。

励起リードおよび関連付けられたコネクタをゼロにすることも一般的な方法であり、リードは独自の抵抗を有するため、かつそれらが考慮されていない場合は、リードにわたって生成された電圧が、試験中の抵抗にわたる電圧差に追加される。リードおよびコネクタをゼロにするために、それらは可能な限り密接に接続されている。信号入力ワイヤによって測定された電圧差は、リードワイヤおよびコネクタの抵抗によるものであり、これは次いで、ソフトウェアに記憶され、オフセットとして使用される。この値はごくわずかであり、１～５ｍΩ（ミリオーム）であり、試験ワイヤが大きいほど、抵抗が低くなり、したがって、比例してオフセット電圧が低くなる。

測定値に影響を与える要因のうちの１つは、試験の初期開始（ＳＯＴ）読み取りが行われてからの環境温度のオフセット、ならびに測定デバイスおよびサンプルが安定化のために与えられる時間である。抵抗は、それを測定するために使用されたメカニズムに関係なく温度に直接関連するため、２つの測定間の温度差により、異なる抵抗測定値が得られ、したがって、抵抗の絶対変化を測定するために、試験装置のすべての部品を、第１の測定と同じ条件、例えば、温度管理された部屋において１２時間に、安定化することが可能になる。その他の測定は、それがさらされる環境およびＳＯＴ値が取得されるときの条件に関連している。

ソフトウェアシステム
一実施形態では、監視システムは、以下のソフトウェアシステムを使用する。
ＣＡＴＳ＝腐食分析ツールおよびサービス：３つの異なるプログラミング言語の組み合わせを利用して、ワイヤ腐食試験を自動化し、オペレータのために、複雑さを軽減する。
ＬＩＭＳ（検査情報管理システム）（任意選択的）は検査情報管理システムである。
ＣＡＴＳクライアントは、ＬＡＢＶＩＥＷ（商標）において開発されており、
ＣＡＴＳ Ｅｙｅは、ＳＨＩＮＹにおいて開発されており、これは、ＲＳＴの製品である。

アプリケーションのこの組み合わせは、生成された試験結果のデータ処理、解釈、およびレビューに不可欠である。ＣＡＴＳクライアントアプリケーションは、ハードウェア制御およびデータ取得を担当する。ＬＩＭＳは、サンプル管理および結果のアップロード、ならびにＣＡＴＳクライアントの試験固有の情報の提供を担当する。ＣＡＴＳ Ｅｙｅアプリケーションは、データの正規化およびチェック、報告（プロットを含む）の生成を担当し、ユーザがデータを探索して独自の比較を生成することを可能にする。

サンプル管理
ＣＡＴＳのＬＩＭＳエクスポートクライアント：ＣＡＴＳクライアントは、必要に応じて、ＬＩＭＳソリューションから標準のＣＳＶファイルを取得するように構成されている。これは、試験されるサンプルのソフトウェアインターフェイスへの自動ロードを駆動するためである。ＬＩＭＳは、試験空間の管理、サンプルバックログ、試験の定義、計算、検証、^サードパーティソフトウェアとの統合、およびデータのアップロードを提供する。次のようなバッチＩＤを含むファイル名が、ＬＩＭＳシステムによって作成される：空間のないＬＩＭＳにおける機器（ＣＡＴＳクライアントインスタンスにおけるような機器）、空間のないユニット名、ワークリスト番号、および＜ｔ＞の温度単位、ならびにｃｓｖが修正されている。

ＬＩＭＳからＣＡＴＳクライアントに送信される識別子のＣＳＶ形式および要約は以下のとおりである：
ＣＳＶファイルの第１の列は、親実行ＩＤであり、
ＣＳＶファイルの第２の列は、サブ試験実行ＩＤであり、
ＣＳＶファイルの第３の列は、内部マテリアル名、例えば、ＳＡＭＰＬＥＩＤＥＮＴＩＦＩＥＲ１、ＳＡＭＰＬＥＩＤＥＮＴＩＦＩＥＲ２、ＳＡＭＰＬＥＩＤＥＮＴＩＦＩＥＲ３などである。

ファイルの第１の行は、ＬＩＭＳアプリケーションにおいて第１の実行として選択される制御標準である。
ＰＡＲＥＮＴＲＵＮＩＤ，ＳＵＢＴＥＳＴＲＵＮＩＤ，ＳＡＭＰＬＥ
ＳＡＭＰＬＥ１，ＳＡＭＰＬＥ２，ＳＡＭＰＬＥ３

ＣＡＴＳクライアントがファイルを読み取るとき、制御実行である第１のサンプルを除いて、提供された各サンプル行の各々が、ＣＡＴＳクライアントインターフェイスにおいて２倍になることに留意されたい。これは、溶液および蒸気において実行されているサンプルを表すためのものである。各実行では、ＣＡＴＳ Ｅｙｅから２つの結果レートが予期される。１つは溶液用、もう１つは蒸気用である。

ＣＡＴＳクライアントからのＬＩＭＳインポート
試験が完了した後に、ＣＡＴＳクライアントから生データファイルが生成されると、ＣＳＶファイルが生成される。

例示的な監視システムでは、ＣＳＶファイルは、ＣＡＴＳクライアントおよびＣＡＴＳ Ｅｙｅを動作可能に接続し、かつ統合するために使用される。

例示的な監視システム２０では、ＳＱＬ（構造化照会言語）データベースが、ＬＩＭＳによって使用される。そのデータベースには、インポートされたデータを保持するためのバッチならびに溶液および蒸気ワイヤ腐食試験デバイスの表が作成される。これは、ＣＳＶファイルをネットワークにわたって移動させるのではなく、ＣＡＴＳクライアントとＣＡＴＳ Ｅｙｅとの間の接続を提供するための一時的な場所である。

別の例示的な実施形態によれば、データは、履歴結果のプロットを可能にするように、クロスサンプル分析のために、行ベースの構造に恒久的に記憶される。デフォルトでは、バッチが作成されると、ＣＡＴＳ Ｅｙｅが抽出するために利用不可なものとしてマークされる。

完全なデータのインポート
例示的な監視システムでは、データは一連の表にインポートされ、蒸気および溶液について構成された、すべてのワイヤ腐食試験デバイスの結果を保持する。試験の持続時間データのすべての行が表にインポートされ、ＣＡＴＳ Ｅｙｅによって、バッチＩＤを介してアクセス可能である。別の例示的な実施形態によれば、データはメモリにおいて処理され、データベースに記憶されない。

ダウンサンプリング
ＬＩＭＳインポートプロセスはまた、所与のサンプルレートで生のＣＳＶファイルからデータの行をインポートする。これはＬＩＭＳにおいて構成可能であり、値が指定されていない場合、デフォルトで１０００行ごとに設定される。ダウンサンプリングされたデータの構造は、クロスサンプル分析を行うためのアクセスを提供する。

例示的な一実施形態によれば、バッチがデータベースに正常にインポートされると、そのバッチは利用可能としてマークされ、その結果、ＣＡＴＳ Ｅｙｅは、表からデータを抽出することができる。別の例示的な実施形態によれば、データは即座に処理され、ダウンロードに利用可能である。

ＣＡＴＳ ＥＹＥインポート
内部ＣＡＴＳ Ｅｙｅ実装は、蒸気および溶液のレート結果を含むレートＣＳＶファイルを提供する。これらは、ＣＳＶファイルからＬＩＭＳに読み取られ、測定結果としてアップロードされる。

レート結果
溶液および蒸気ワイヤ腐食試験デバイスのレートファイルは、以下の列を含み得る：実行ＩＤ、流体ＩＤ（サンプル番号）、ＳｏｌＦｉｔｔｅｄＣＲＣ、ＳｏｌＴｉｍｅ、ＳｏｌＲａｔｅ、ＶａｐＦｉｔｔｅｄＣＲＣ、ＶａｐＴｉｍｅ、ＶａｐＲａｔｅ。

例示的な実施形態によれば、内部ＬＩＭＳ溶液は、ファイルからのレート値を、インポートのために選択されたユニットにおける関連する実行ＩＤにマッピングする。これらの結果は、ＬＩＭＳを介してマッピングされ、閲覧のために、データベースにアップロードされる。別の例示的な実施形態によれば、外部実装は、単にダウンロード可能なＰＤＦおよびＣＳＶファイルを提供する。

ＣＡＴＳ ＥＹＥ ＰＤＦ結果
内部ＣＡＴＳ Ｅｙｅ実装は、サブ試験の実行ごとに、ＰＤＦファイルのセットを提供する。これらのドキュメントは、ネットワーク共有上に位置し、支持ドキュメントとして実行される各サブ試験に添付される。

データ取得およびローカルストレージ
前述のように、試験をプログラミングし、かつ実行するために使用されるソフトウェアは、ＬａｂＶＩＥＷ（商標）であり、これは、従来のテキストベースの言語ではなく、グラフィカルベースのソフトウェアプログラミング言語である。このようなニッチなアプリケーションを試験するための単純だが強力なアプローチを維持しながら、ソフトウェアの能力およびユーザインターフェイスが大幅に改訂された。現在の改訂ｖ３．０において支持された機能の包括的なリストは、以下のとおりである：
１）リンクローカルまたはＤＨＣＰのいずれかのオンラインネットワークシャーシを選択し、接続する。
２）誤ったネットワークハードウェアデバイスが選択された場合に、試験の確認ダイアログボックスを表示する能力。
３）抵抗用に指定されたチャネルの数が、．ｉｎｉ設定ファイルに従って指定された温度チャネルの数と一致しない場合に、試験の確認ダイアログボックスを表示する能力。
４）物理ハードウェアチャネルの数が、ＬＩＭＳ．ｃｓｖファイルにおいて指定されたチャネルの数に対して十分でない場合に、試験の確認ダイアログボックスを表示する能力。
５）アプリケーションを終了せずに、試験を完全に停止して、異なるシャーシに接続する能力。
６）試験を完全に停止し、同じ試験または代替試験をリロードして、最後のデータログポイントから続行する能力。
７）ＬａｂＶＩＥＷハードウェア、ネットワーク接続、またはラップトップの障害（電源障害を含む）に続いて、試験をリロードし、最後のデータログポイントから続行する能力。
８）表示されたチャネル数を、ＬＩＭＳ．ｃｓｖファイルによって指定された数に動的に変化させる。
９）すべてのボタンテキストを動的に変更して、関連する説明を示す。
１０）ボタンを動的に有効／無効にして、安全で正しい動作を確実にする。
１１）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、必要以上のハードウェアチャネルが指定されている場合でも、ＬＩＭＳ．ｃｓｖファイルに基づいて、正しいチャネル数を動的にログ記録する。
１２）オペレータが、任意所望される間隔で、ただし最低６０秒／１分で、自動ログ記録レートを指定する能力。
１３）各ログ記録ファイルを、設定ファイルにおいてオペレータによって指定されたファイルサイズに自動的に分割する。
１４）新しい試験を作成するか、または古い試験を再ロードして再開することを可能にする。
１５）試験において、ログ記録を無効および有効にする能力。
１６）アプリケーションを終了せずに、試験を一時停止するか、または完全に停止する能力。
１７）ログ記録を有効または無効にして再開するオプションで、試験を一時停止する能力。
１８）オンデマンドでデータを別個のログファイルに手動でログ記録する能力。
１９）試験において発生するすべての試験固有のデータ、イベント、および出来事をログ記録するための別個の要約ファイル。
２０）指定された試験データの画面上指標。
２１）実行中の試験のタイプ（ある場合）の画面上指標。
２２）試験データファイルへのログ数の画面上指標。
２３）次の自動ログがいつ行われるかについての画面上カウントダウン。
２４）選択されたログ記録間隔の画面上指標。
２５）試験開始日時の画面上指標。
２６）合計試験経過時間の画面上指標。
２７）現在の日付、時刻、温度の画面上指標。
２８）画面上ログ記録アクティブ指標。
２９）接続されたネットワークデバイスのハードウェア属性の画面上指標。
３０）許可されたネットワーク接続の再試行回数の画面上指標。
３１）現在実行されているネットワーク接続の画面上指標。
３２）ネットワークデバイスが正常に接続されたことの画面上指標。
３３）チャネルごとの電流抵抗、試験抵抗の開始、変化率、および温度の画面上指標。
３４）画面上指標を有し、チャネルごとに要約ファイルにログ記録される開回路検出。
３５）オペレータによる正しい試験設定および開始のためのメッセージベースのステートマシン試験シーケンシング。
３６）コネクタおよびリードをゼロにして、オフセットエラーを除去する能力
３７）画面上カウントダウンで、シーケンスステップごとに安定化時間を適用することを可能にする。
３８）安定化カウントダウンが開始された後に、それが不要／所望でなくなった場合にスキップする能力。
３９）任意のポイントで、試験シーケンシングをキャンセルし、試験の開始に戻る能力。
４０）．ｉｎｉ設定ファイルを介してすべてのハードウェアおよび試験固有の設定の多くを定義する能力。
４１）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、ハードウェアチャネルタイプ、物理スロット、物理範囲、単位、キャリブレーションデータ、チャネル設定データ、および読み取り範囲を指定する能力。
４２）ログデータパスが絶対かまたは相対かを指定する能力。
４３）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、絶対のログデータパスを指定する能力。
４４）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、ＣＡＴＳのＬＩＭＳエクスポートのパスを指定する能力。
４５）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、ＣＡＴＳからのＬＩＭＳインポートのパスを指定する能力。
４６）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、データログファイルごとの最大ファイルサイズを指定する能力。
４７）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、ハードウェアサンプルレートを指定する能力。
４８）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、サンプル読み取りレートを指定する能力。
４９）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、開回路抵抗制限値を設定する能力。
５０）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、表示更新レートを指定する能力。
５１）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、表示画面解像度を指定する能力。
５２）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、サンプル読み取りタイムアウト値を指定する能力。
５３）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、ネットワークデバイス接続の再試行回数を指定する能力。
５４）．ｉｎｉ設定ファイルにおいて、ハードウェアクリアタスク時間の値を指定する能力。

アプリケーションの実行時に、メイン画面にすべての制御および指標が関連する状態に設定されて表示されるため、この時点で許可されているタスクは、所望のネットワークシャーシへの接続を試行することだけである。ユーザは、ボタンを押して関連する接続画面に切り替え、これにより、ユーザは、発見されたネットワークデバイス、すなわち、正しく設定されており、監視システムに、かつそれらが接続され得る状態で存在するデバイスを含むドロップダウンメニューから選択する。所望のシャーシが選択されると、予約ボタンが押され、接続を開始する。システムは、．ｉｎｉファイル設定で指定された数のシャーシへの接続を試みる。現在の接続試行番号が、画面上に表示される。

接続が成功すると、デバイス属性およびシャーシが正常に接続されたことを示す指標ライトが、画面上に表示される。成功した接続に続き、制御状態および指標状態も状態を変化させて、試験を進めることが可能になり、これは、最後にログ記録されたデータポイントから続行するために、新しい試験を作成するか、または前の試験をロードする能力を含む。試験が実行されていない場合にのみ、現在予約されているシャーシを予約解除できる。

接続が成功すると、論理チェックが実行され、抵抗チャネルの数が温度チャネルの数と一致することを確実にする。一致する場合は、試験が続行され、一致しない場合は、各々のチャネルの正確な数を示す確認ダイアログボックスがオペレータに提示される。提示された唯一のオプションは、チャネル数が一致することを確実にするように、設定ファイルを修正する必要があるときに、アプリケーションを終了するボタンである。

成功した接続に続き、新しい試験が選択される場合、データ入力画面が、オペレータに提示される。前述のように、ＬａｂＶＩＥＷシステムは、ＬＩＭＳによって生成される標準のｃｓｖベースのファイルを介して、試験固有のサンプル情報を読み取る。このファイルは、データ入力設定画面において、オペレータによって選択される。ＬＩＭＳファイルを選択すると、論理演算チェックが実行され、タスクにおいて現在設定されているハードウェアチャネルの総数に基づいて、ＬＩＭＳファイルにおいて要求されたチャネル数を実行できることを確実にする。十分存在する場合は、試験が妨げられずに続行されるが、十分なチャネルがない場合は、ダイアログボックスが提示され、これによって、ユーザは［キャンセル］または［試験の終了］のいずれかを選択できる。［キャンセル］を選択すると、ユーザは、より少ないチャネルで異なるＬＩＭＳファイルを選択できる。［試験の終了］は、現在接続されているシャーシを予約解除し、アプリケーションを閉じて、ユーザが所望のＬＩＭＳファイルを修正できるようにするか、可能であれば、設定．ｉｎｉファイルを介してハードウェア設定を再構成して、タスクにおいてより多くの数のハードウェアチャネルを可能にする。

このファイルを選択すると、データが解析され、関連情報が抽出され、コードの他の部分において更新される。試験ログファイル名である試験バッチ名に、Ｗｉｎｄｏｗｓ（登録商標）が処理できない不正な文字が含まれていないことを確実するためのチェックが実行される。次に、オペレータは、アスタリスクを有する残りのすべてのフィールドにデータを入力することに進む。所望のログ記録レートもここで指定され、６０未満の値が秒単位で選択された場合、６０秒は分析および解釈のための試験持続時間全体で十分なデータであることが合意されたため、値は６０に変換される。すべての必要なフィールドが入力され、チェックが完了したときのみ、続行ボタンが有効になる。キャンセルするオプションはいつでも利用可能であり、それにより、ユーザはメイン画面に戻る。

続行を押すと、試験ファイル名が現在存在しないことを確実にするためのチェックが行われる。そうでない場合は、試験は無視されて続行され、実行された場合は、オペレータがキャンセルまたは上書きを希望するかどうかを尋ねる確認ダイアログボックスが表示される。キャンセルすると、データ入力画面に戻り、上書きすると、アクションを元に戻すことができないため、オペレータにもう一度これを実行したいかどうかを確認するように尋ねる。

データ入力が完了すると、ライブチャネルデータがデータ入力画面において選択されたチャネル数と一致するチャネル数で示される。関連するボタンが有効または無効になり、試験を開始できる。

新しい試験が選択される代わりに、負荷試験が選択されると、確認ダイアログボックスは、ユーザに、その試験の要約ファイルとして知られるファイルに移動するか尋ねる。要約ファイルは、すべての主要なイベントデータおよび試験固有の情報を含む。オペレータによってファイルが選択されると、論理チェックが実行され、要約ファイルが実際に選択されていることを確実にする。有効なファイルが選択されると、すべての関連データが解析され、新しい試験を開始するときにデータ入力画面によって提供されたすべての関連情報で、監視システムが更新される。新しい試験が作成されたかのように同じポイントに到達するために、オペレータがしなければならないのはそれだけである。

この時点で、ユーザがこの実行を希望することを確認ボックスで確認した場合に、試験を完全にキャンセルするオプションが存在する。選択されると、すべての試験データがクリアされ、再初期化されるが、ネットワークシャーシへの接続は維持される。キャンセルするこのオプションは、試験が開始されるまで残り、それにより、説明および機能が動的に変化する。

この時点で試験の開始が押されると、メッセージベースのステートマシンは、ユーザがチャネルをゼロにするかどうか、ユーザが一定期間安定化を希望するかどうかを順次尋ね、すべてが接続されていることを確実にする。ここでも、全プロセスがいつでもキャンセルできる。試験が続行されると仮定する場合、最終確認メッセージが承認されると、試験はすべてのアラームを有効にし、ログ記録を有効にし、ボタンの状態および説明を動的に変化させ、ログ時間データおよびログ記録アクティブ指標を表示する。

自動ログデータは、指定されたレートでログ記録されるが、手動ログサンプルは、ボタンをクリックすると、いつでも何度でも実行できる。試験ログおよび時間データは、試験の開始日時、経過時間、ファイルタイプごとのログ数、および次のログまでのカウントダウンを示す。赤いＬＥＤは、設定．ｉｎｉファイルにおいて設定された表示更新レートに基づくこのための計算で、２Ｈｚのレートでオン／オフを交互にする。

この時点で、試験の実行中、すべてのライブチャネルデータが表示される。これは、ワイヤが開回路であるか、正常であるかに関するチャネルの現在のステータスを含む。これを決定する値は、ハードウェアモジュールの範囲であると同時に、設定．ｉｎｉファイルにおいて設定されている制限でもある。チャネル抵抗が制限を超えると、監視システムはこれを要約ファイルに書き込み、日付、時刻、チャネル、制限値、および実際に測定された抵抗などを含む。チャネルが開回路であると疑われる場合、日付および時刻は、メイン画面上に表示され、そのチャネルの指標が緑から赤に変わり、ワイヤが破断されたことを明確に示す。

試験の実行中は、ボタンを介して、ログ記録を一時停止できる。これを押すと、説明および他のボタンの状態が、動的に変化する。その後、オペレータは、試験を完全に停止するか、ログを再度有効にするかを決定できる。

試験停止が選択されている場合、試験の完全なアンロード、試験の一時停止、またはキャンセルが所望されるかどうかを尋ねる確認ダイアログボックスが提示される。完全なアンロードはログ記録を停止し、すべてのコントロールおよび説明を関連する状態に設定し、すべてのログファイルを閉じる。一時停止は、ログ記録およびアラームを単に無効にする。試験を一時停止してから再開すると、ログを有効にするかどうかに関係なく続行するオプションが与えられる。それらが有効になっていない場合、試験時間データおよびログ指標は表示されず、ログは有効にならないが、アラームは有効になる。

試験の任意のポイントで、または実際に試験が実行されていないか、ネットワークシャーシに接続されていない場合、メインパネルを閉鎖する試みが実行されるか、または終了ボタンが押された場合、確認により、そのアクションの実行を確実に希望するかどうかが尋ねられる。オペレータが「いいえ」を選択すると、イベントは無視され、オペレータはメイン画面に戻るが、「はい」が選択されると、有効になっている場合はすべてのログ記録を停止し、有効になっている場合はアラームを無効にし、すべてのファイルを保存し、それらを閉じ、監視システムにおけるすべての試験データをクリアし、すべてのパラメーターおよび制御および指標をデフォルトの状態に再初期化する、イベントのシーケンスが、動作する。次に、監視システムは、アプリケーションを閉じる停止コマンドを呼び出す。

エラーハンドラによって処理されないエラーが発生した場合、またはエラーが重大なエラーである場合、監視システムは、終了またはパネル閉ボタンが呼び出された場合と同様に挙動する。このシナリオでは、ファイルの破損およびデータの損失を軽減するように、ファイルを保存し、アプリケーションを可能な限り適切に閉鎖するためにすべての試みが行われる。

サンプリングレートおよび読み取りレートは、．ｉｎｉ設定ファイル内で設定される。すべてのログ間隔は、サンプルレートを読み取りレートで割った計算に基づいている。この数値の逆数は、相対的および決定論的なサンプリングおよびログ記録を可能にするために使用されるサンプル読み取り時間を示す。これは、ハードウェアサンプリング仕様の範囲内でのサンプルレートと読み取りレートの任意の組み合わせに当てはまる。

サンプリング速度は、ネットワークにプッシュされるデータの量にも直接影響し、これは、ネットワークトラフィックを最小限に維持し、サンプリングされたデータの量によるホスト側での潜在的な読み取りの問題を緩和するために、理想的には低く保つ必要がある。各チャネルは、２４ビットである。例として、１０Ｈｚのサンプリング速度で、ビットレートは、チャネル当たり毎秒２４０ビットである。最大３２チャネル（１６の抵抗と１６の温度、両方とも２４ビット）があるため、合計で１秒当たり７，６８０ビットになる。１バイトには８ビットがあるため、すべてのチャネルで１秒当たり７，６８０／８＝９６０バイトのデータがある。９６０バイト＝０．９６０ＫＢｐｓなので、１秒当たり１キロバイでもない。参考例として、ＹｏｕＴｕｂｅ（登録商標）上の標準ビデオは、約９４ＫＢｐｓでストリーミングされる。

別の例として、上記と同じ３２ｘ２４ビットチャネルの使用を仮定しているが、サンプリングレートが２ｋＨｚであるとすると、ビットレートは、チャネル当たり４８，０００ビット／秒、したがって、合計１，５３６，０００ビット／秒、つまり１．５３６Ｍｂｐｓになる。これは、１９２，０００バイト、つまりすべてのチャネルで１秒当たり１９２ＫＢｐｓのデータに相当する。

代替測定方法
ＰＲＴ方法論に基づく上記の手法は、抵抗を測定するシンプルでありながら非常に効果的な手段であり、容易に拡張可能であり、同じモジュールを介して温度を取得することもできるが、制限がある。前述のように、ＰＲＴタイプのシステムは、ＰＴ１００の動作範囲である０Ω～４００Ωの範囲内での測定に制限されるが、抵抗素子を励起して生成された電圧差を測定するのと同じ原理が、サーミスタの動作とまったく同じである。

サーミスタとＰＲＴの主な違いは、動作範囲および温度変化に対する感度である。通常、サーミスタは、はるかに小さい動作温度範囲を有するが、温度の非常に小さな変化に非常に敏感である。ＰＲＴは、はるかに低い感度レベルを有するが、動作温度範囲がはるかに大きくなる。ＰＲＴモジュールはオールインワンの補償モジュールであるが、センサを別途励起して読み取るには、別個の電流出力モジュールおよびアナログ入力電圧モジュールが必要である。次に、設定の真の正確性を理解するために、両方のモジュールの正確性を両極端で計算する必要がある。このアプリケーションにおけるＰＲＴモジュールは、設定された定電流出力および単一の補償モジュールに含まれるすべてを測定するための専用範囲を有するため、常により正確になる。

抵抗の変化を検出する別の方法は、ホイートストンブリッジの使用を介するものである。負荷、力、温度および抵抗などの測定に使用できるホイートストンブリッジの変形例が存在するが、すべて、互いに並列に配置された２対の抵抗を使用する４つの抵抗の基本原理で構成されている。抵抗のうちの３つは、静的な値である。第４の抵抗は、温度または実際の抵抗の変化に応じて変化する変数である。

ＰＲＴおよびサーミスタ設定と同様に、ブリッジは、電圧または電流（ＡＣまたはＤＣ）のいずれかで励起され、対応する差動信号が読み取られる。試験の開始時にすべての抵抗が等しい場合、ブリッジはバランスが取れていると見なされ、ゼロ入力として読み取られる。第４の抵抗が変化すると、温度によるものであっても、実際の抵抗の変化によるものであっても、ブリッジは比例して不平衡になり、差動信号はそれを励起する電圧に比例して測定される。

この場合のホイートストンブリッジの欠点は、非常に正確であるが、温度補償を行うために、ブリッジにおけるすべての抵抗を同じ環境温度に曝露する必要があることである。１つの抵抗の任意の温度変化は、ブリッジに、差動出力信号におけるエラーを経験させる。この場合の他の温度関連の問題は、高く、温度オフセットとして示されるが、実際の抵抗の変化として解釈される、自己発熱効果である。これを防ぐ唯一の方法は、はるかに高い抵抗を使用することであるが、励起電圧および信号測定の正確な制御のために特定のホイートストンブリッジアンプを使用することである。ＵＤＩＯおよびＲ（Ｒ開発コアチーム）。

データ分析および報告
記号
定数
ｒ_０＝初期ワイヤ半径（例えば、３．２×１０－５ｍに設定）。
ρ_標準＝標準温度でのワイヤ金属の抵抗率（銅の場合、２０℃で１．６８×１０－８Ωｍ）。
Ｔ_標準＝抵抗率に使用される標準温度（例えば、２０℃に設定）。
α＝抵抗率の温度係数（銅の場合は３．８６×１０^－３Ｋ^－１）
ｌ_標準＝ワイヤの標準長（例えば、１．０１ｍに設定）。
ε_ｔ＝油温で許容される許容誤差（例えば、５℃に設定）。
Ｔ_標的＝標的油温（例えば、８０、１００、１２０、１３０、１４０、１５０、１７０、および１８０℃のうちの１つ）。
変数
Ｒ＝測定された抵抗、オーム。
ｔ＝経過時間、秒。
Ｔ＝測定された油温、℃

入力データは、以下の入力値を含み得る（例えば、列単位、またはコンマ区切り値（ＣＳＶ）として）：日付および時刻、溶液相におけるワイヤ腐食試験デバイスごとの測定された温度、気相におけるワイヤ腐食試験デバイスごとの測定された温度、溶液相におけるワイヤ腐食試験デバイスごとの測定された抵抗、気相におけるワイヤ腐食試験デバイスごとの測定された抵抗。

以下のステップは、溶液相と気相の両方で、ワイヤ腐食試験デバイスごとに個別に実行され得る。
１）このポイントでは、温度が不安定であるため、最初の１時間のデータを削除する。トリミングされたデータの開始時にｔ＝０を設定する。
２）測定された温度での抵抗率を計算する。
ρ＝ρ_標準＋（（Ｔ－Ｔ_標準）×α×ρ_標準
３）ワイヤの長さｌを推定する。

ここで、Ｒ_０およびρ_０は、それぞれ時間ｔ＝０で測定された抵抗および計算された抵抗率である。
４）調整された抵抗を計算する。Ｒ_調整済みは以下のとおりである。

５）半径を次のように計算する。

６）腐食をナノメートル単位で、（ｒ－ｒ_０）×１０^９として計算する。
７）｜ＴＴ_標的｜＞ε_ｔであるすべてのデータを削除する

多数のデータが収集される場合、プロットされる前にデータがダウンサンプリングされ得る。例えば、データが１０秒ごとに１０日間収集されると、オイルごとに８６，４００行のデータが取得される。これらは、多くの情報を失うことなく、１００倍または１０００倍ものダウンサンプリングが可能である。

データは、時間対腐食（半径の損失）のグラフにプロットできるため、いくつかの潤滑剤を比較できる。または、複数の温度で同じオイルを比較することもできる。レススムーザは、各温度での各オイルのデータに個別に適合させることができる。オイルに２００を超えるデータポイントがある場合は、２００のサブセットを使用してレスを適合させ、計算速度を向上させることができる。ｔ＝０でのスムーザの適合値は、０に置き換えられる。

全体的な腐食レートは、試験終了時またはワイヤ破損直前のいずれかの最終的な適合腐食として計算され、それが観察された時間で除算することができる。一連の温度で同じ流体の全体的なレートを測定し、ケルビン目盛りでの１／ｌｎ（レート）対１／温度をプロットするアレニウスプロットで比較できる。

図２３は、一実施形態におけるデータ収集および処理を示している。Ｓ３００では、ＣＡＴＳクライアントで、以下のステップが実行される：Ｓ３０２では、方法が開始される。Ｓ３０４では、ＣＡＴＳが開かれる。３０６では、例えば、ユーザによって、サンプル名が入力され、記憶される。３０８では、ユニットがラックに配置されている。Ｓ３１０では、ユニットが接続されている。Ｓ３１２で、試験が開始される。Ｓ３１４で、試験が実行される。データを記憶するためのＳ４００では、共有された生データファイルが作成される（Ｓ４０２）。

Ｓ５００では、ＣＡＴＳ ｅｙｅクライアントで、以下のステップが実行される：Ｓ５０２では、ＣＡＴＳ ｅｙｅクラウドソリューションが、アクセスされ得る。Ｓ５０４では、ユーザ認証が、任意選択的に実行される。Ｓ５０６では、生データファイルが選択される。Ｓ５０８では、データは生データファイルからインポートされる。Ｓ５１０では、データがダウンサンプリングされ、計算が実行され得る。５１２では、報告２２が作成され、かつ出力され、Ｓ５１４では、データ処理方法が終了する。

開示された試験デバイス、足場、および試験装置は、以下の利点のうちの１つ以上を提供することができる：
１）試験されるワイヤの設置にかかる時間を短縮する。
２）後続の計算および補正における使用のために、溶液相および気相の両方の温度測定を容易にする。
３）既知の初期太さおよび長さのワイヤの測定された電気抵抗からの腐食生成物の自動定量計算など、溶液相および気相ワイヤ試験の両方のワイヤ腐食結果のデータ処理および自動報告を自動化することによる時間およびリソースの節約、温度依存性および熱膨張および長さの変動を説明するための測定されたデータの正規化、ならびに試験の報告にかかる時間の大幅な短縮。
４）完全に統合されたサンプル管理ならびに自動化されたデータ処理および解釈を有する、リアルタイムでの溶液相および気相腐食の同時測定。
５）腐食対時間などの複数の形式で生成されたデータの自動的な提示、および温度データが存在する場合は、アレニウスプロットなどの単純な動的プロットが生成され得る。
６）デバイスの蓋における迅速な接続を介した、試験ワイヤの外部ワイヤへの接続の容易さ。
７）溶液ワイヤと気相ワイヤの両方を支持する足場。
８）ワイヤ抵抗測定および温度測定を実行するための試験ワイヤおよび温度測定デバイスへの電気接続を提供するデバイスワイヤの蓋。
９）単一のワイヤジグザグペグ設計に対する、質量の減少。
１０）それぞれ、溶液相ワイヤおよび気相ワイヤの制御された配索ワイヤ長を提供するために、異なる直径である下部および上部ワイヤ支持部分。
１１）溶液相および気相ワイヤの画定された間隔を提供するための足場におけるワイヤ整列ノッチ。
１２）異なるサイズおよび／または形状のデバイスの蓋上の溶液ワイヤおよび蒸気ワイヤのワイヤ接続、これにより、オペレータのエラーが減少する。
１３）組み立て中およびハウジング内で足場に安定性を提供するための平らなベースを有する足場。
１４）コンテナに対して密封するためにすべて先細面を有する蓋（先細が、ガラス製品の寸法変動に対応する）、およびコンテナへの空気の流れを引き起こし、それによって溶液相および気相の不十分な温度制御を引き起こす可能性がある蓋とコンテナの上部との間のギャップの低減
１５）温度補正を可能にするための試験容器における２つのＲＴＤを使用した溶液および蒸気空間温度測定。一方のＲＴＤは、溶液相空間内で利用され、他方は、気相空間において利用される。

実施例１
自動車のギアボックスソレノイドのコイルの腐食をシミュレートするために、試験が実行される。このようなソレノイドは、多くの場合、約０．１２８ｍｍのワイヤ直径を有する。試験において使用される試験ワイヤ８、９は、実際のソレノイドワイヤに可能な限り近い直径を有するが、監視システム２０の範囲によって正確に測定可能な抵抗も有するように選択される。試験のために選択された値は、１ｍの公称長さで０．０６４ｍｍの直径を有する銅ワイヤである。これにより、所与の直径に対して以下の抵抗が得られる：

試験は、試験デバイス１（図１および１２～２０に示されているように）および対応する足場２３０、および上記のソフトウェアの複数のコピーを使用して実行される。

標準のイーサネット（登録商標）ベースのデータ取得シャーシは、本明細書に開示されるような試験装置の１つの実装に使用される。表１は、使用されるＮａｔｉｏｎａｌ Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓハードウェアのリストを含む。

別の方法として、８スロットＵＳＢシャーシおよび１つの９２１７ＰＲＴモジュールが、監視システムに使用される。これらにより、通信損失を心配することなく、数分以内にシャーシに直接かつ瞬時に接続できる。このシャーシは、１つの好適な加熱浴に適合する最大数のチャネルを実行するのにも好適である。各シャーシとラップトップ／ＰＣとの間の直接接続が使用される。ＵＳＢケーブルが長距離を走り、シャーシの数がラップトップ／ＰＣ上のＵＳＢポートの数に制限されるため、この配置は、商用アプリケーションには実用的でない場合がある。イーサネット（登録商標）ベースのシャーシは、これらの問題を用意に克服できる。

データは、例えば、コンマ区切り値として、データファイルにおいて収集される。その例を以下の表２に示す。

図２４は、複数の温度で経時的に溶液相においてワイヤ腐食試験を受けるワイヤの半径変化（ｎｍ）対時間のグラフの例を示している。図２５は、複数の温度で経時的に気相においてワイヤ腐食試験を受けるワイヤの半径変化（ｎｍ）対時間のグラフの例を示している。

図２６は、溶液相ワイヤの腐食特性、すなわち、温度の関数としての腐食レートのアレニウスプロットを示し、図２７は、図２４および２５のグラフから生成得る可能性のある気相ワイヤの腐食特性、すなわち、時間の関数としての腐食レートのアレニウスプロットを示している。所望に応じて、プロットを直線に適合させることができる。

ワイヤ腐食試験の出力報告２２は、図２４～２７のグラフのうちの１つ以上、および／または複数の温度に対する経時的な溶液相ワイヤおよび気相ワイヤの腐食特性の表形式の表現を含み得る。表３に、例示的な表を示す。

図２８は、ＬａｂＶｉｅｗの入力データ５００、温度およびワイヤ半径データ５０２、ならびに図２４および２５に示されるように、複数の温度での経時的な溶液相／気相ワイヤの１つ以上のプロット５０４、５０６、例えば、半径変化のプロット（または複数のプロット）５０４、ならびに図２６および２７に示すように、溶液相／気相ワイヤの温度の関数としての腐食レートを示すアレニウスプロット（または複数のプロット）５０６を含む、ワイヤ腐食試験の例示的な出力報告２２の例を示す。

別の試験では、銅に対して攻撃的なオイルに対する溶液相および気相ワイヤ腐食試験の腐食（半径の変化）対時間のプロットが生成され、異なる比率で４つの異なる添加剤パッケージを追加した場合の同様に取得されたプロットと比較される。得られた結果を表４に示す。

腐食防止剤を使用すると、銅の腐食量が最小限に抑えられているように見え（時間の経過に伴う抵抗の非常に少ない増加）、使用された防止剤層に起因する銅直径の増加を示す、銅ワイヤの試験後のＳＥＭ－ＥＤＸ（走査型電子顕微鏡－エネルギー分散型Ｘ線）分析と相関している。

ＡＳＴＭ Ｄ１３０腐食性ストリップ表面分析試験方法と比較すると、流体間の以前の目に見えない違いが容易に観察され、総抵抗と抵抗増加率の両方の差異は、異なる流体の銅腐食を定量化するために今は使用できるような現象の例である。実際には、ＡＳＴＭ Ｄ１３０方法を使用してレイティングされたときに、性能の良い化学製剤と性能の悪い化学製剤のみが互いに区別できる。しかしながら、本明細書に開示される方法およびシステムを使用して、異なる潤滑剤製剤間の区別を観察し、かつ定量化することができ、以前は銅ストリップ表面分析のみとしか区別できなかった腐食に関する情報を提供する。

本明細書の詳細な説明の一部は、中央処理装置（ＣＰＵ）、ＣＰＵ用のメモリ記憶デバイス、および接続された表示デバイスを含む従来のコンピュータコンポーネントによって実行されたデータビットに対する動作のアルゴリズムおよび記号表現に関して提示される。これらのアルゴリズムの説明および表現は、データ処理技術の当業者によって、他の当業者に作業の内容を最も効果的に伝えるために使用される手段である。アルゴリズムは一般に、所望される結果につながる自己矛盾のないステップのシーケンスとして認識される。ステップは、物理量の物理的な操作を必要とするステップである。通常、必ずしもそうとは限らないが、これらの量は、記憶、転送、組み合わせ、比較、およびその他の方法で操作できる電気信号または磁気信号の形式を取る。主に一般的な使用法の理由から、これらの信号をビット、値、要素、記号、文字、用語、数値などと呼ぶと便利な場合がある。

ただし、これらおよび類似の用語はすべて、適切な物理量に関連付けられ、これらの量に適用される便利なラベルにすぎないことを理解しておく必要がある。特に明記しない限り、本明細書の議論から明らかなように、説明全体を通して、「処理」または「コンピューティング」または「計算」または「決定」または「表示」などの用語を利用する議論は、コンピュータシステムのレジスタおよびメモリ内の物理的（電子）量として表されたデータを操作し、コンピュータシステムメモリもしくはレジスタまたは他のそのような情報記憶、送信または表示デバイス内の物理的量として同様に表された他のデータに変換するコンピュータシステムまたは同様の電子コンピューティングデバイスのアクションおよびプロセスを指す。

例示的な実施形態はまた、本明細書で論じられる動作を実行するための装置に関する。この装置は、必要な目的のために特別に構築され得るか、またはコンピュータに記憶されたコンピュータプログラムによって選択的に起動された、または再構成された汎用コンピュータを備え得る。このようなコンピュータプログラムは、フロッピー（登録商標）ディスク、光ディスク、ＣＤ－ＲＯＭ、および磁気光学ディスクを含む任意のタイプのディスク、読み取り専用メモリ（ＲＯＭ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、磁気カードもしくは光カード、または電子命令の刻に好適であり、各々がコンピュータシステムバスに接続されている任意のタイプの媒体などのコンピュータ可読記憶媒体に記憶され得るが、それに限定されない。

本明細書に提示されるアルゴリズムおよび表示は、任意の特定のコンピュータまたは他の装置に本質的に関連していない。様々な汎用システムが、本明細書の教示に従ったプログラムで使用され得るか、または本明細書に記載された方法を実行するためのより特殊な装置を構築することが便利であることが証明され得る。これらの様々なシステムの構造は、上記の説明から明らかである。さらに、例示的な実施形態は、任意の特定のプログラミング言語を参照して説明されていない。本明細書に記載されるような例示的な実施形態の教示を実施するために、様々なプログラミング言語が使用され得ることが理解されよう。

機械可読媒体は、機械（例えば、コンピュータ）によって、読み取り可能な形式で情報を記憶するか、または送信するための任意のメカニズムを含む。例えば、機械可読媒体は、いくつかの例を挙げれば、読み取り専用メモリ（「ＲＯＭ」）、ランダムアクセスメモリ（「ＲＡＭ」）、磁気ディスク記憶媒体、光記憶媒体、フラッシュメモリデバイス、および電気、光学、音響、またはその他の形式の伝搬信号（例えば、搬送波、赤外線信号、デジタル信号など）を含む。

仕様全体に示されている方法は、コンピュータ上で実行され得るコンピュータプログラム製品において、実装され得る。コンピュータプログラム製品は、ディスク、ハードドライブなどのような制御プログラムが記録される非一時的なコンピュータ可読記録媒体を備え得る。非一時的なコンピュータ可読媒体の一般的な形態は、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、フレキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、もしくは他の任意の磁気記憶媒体、ＣＤ－ＲＯＭ、ＤＶＤ、もしくは他の任意の光学媒体、ＲＡＭ、ＰＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、ＦＬＡＳＨ－ＥＰＲＯＭ、もしくはその他のメモリチップもしくはカートリッジ、またはコンピュータが読み取って使用できる任意の他の有形媒体を含む。

あるいは、方法は、制御プログラムが、電波および赤外線データ通信中に生成されるような音響波または光波などの送信媒体を使用するデータ信号として具体化される送信可能な搬送波などの一時的な媒体において実装され得る。

上記に開示された他の特徴および機能の変形例、またはそれらの代替物は、他の多くの異なるシステムまたはアプリケーションに組み合わされ得ることが理解されよう。以下の特許請求の範囲に含まれることも意図される、その中の様々な現在予期されない、または予想されない代替例、修正例、変形例または改善例が、当業者によって、その後行われ得る。

Claims (52)

1. 足場（３０、２３０）であって、
   複数の離間した下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）であって、前記複数の下部支持部材の各々は、関連付けられた第１の試験ワイヤ（８）が、前記複数の下部支持部材の周りに巻かれるときに、前記第１の試験ワイヤの複数の巻数（５１）を離間させるための複数の第１の配索支持体（５３、５６、２５３、２５６）を含む、複数の離間した下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）と、
   複数の離間した上部支持部材（４１、４２、４３、４４、４５、３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）であって、前記複数の上部支持部材の各々は、関連付けられた第２の試験ワイヤ（９）が、前記複数の上部支持部材の周りに巻かれるときに、前記第２の試験ワイヤの複数の巻数（５２）を離間させるための複数の第２の配索支持体（６１、６３、２６１、２６３）を含む、複数の離間した上部支持部材（４１、４２、４３、４４、４５、３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）と、
   閉鎖部材（６４、２７０）であって、前記第１の試験ワイヤ（８）の端部と、それぞれの関連付けられた外部導体（１００、１０１）との間の接続を提供し、かつ前記第２の試験ワイヤ（９）の端部と、それぞれの関連付けられた外部導体（１０２、１０３）との間の接続を提供し、
   前記閉鎖部材（６４、２７０）、またはそれに取り付けられた上部横部材（７６）であって、前記複数の上部支持部材の各々の第１の端部（４８、３４８）に取り付けられている、閉鎖部材（６４、２７０）、またはそれに取り付けられた上部横部材（７６）と、
   前記閉鎖部材（６４、２７０）から長手方向に離間された第２の横部材（７４、２７４）であって、前記第２の横部材が、前記複数の下部支持部材の各々の第１の端部（３８、２３８）に取り付けられ、かつ前記複数の上部支持部材の各々の第２の端部（４７、３４７）に取り付けられて、前記複数の下部支持部材および前記複数の上部支持部材を横方向に離間させる、第２の横部材（７４、２７４）と、を備える、足場（３０、２３０）。
2. 前記第２の横部材（７４、２７４）によって、前記閉鎖部材（６４、２７０）から長手方向に離間された、第３の横部材（７２、２７２）であって、前記複数の下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）の各々の第２の端部（３７、２３７）に取り付けられている、第３の横部材（７２、２７２）をさらに備える、請求項１に記載の足場（３０、２３０）。
3. 前記下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）上の前記第１の配索支持体（５３、５６、２５３、２５６）のうちの少なくとも１つが、それを介して前記第１の試験ワイヤ（８）を受容するための開口部（３００）を含む、請求項１または２に記載の足場（３０、２３０）。
4. 前記第１および第２の配索支持体（５３、５６、６１、６３、２５３、２５６、２６１、２６３）が、ノッチを備える、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
5. 前記第１および第２の配索支持体（５３、５６、６１、６３、２５３、２５６、２６１、２６３）が、それぞれの前記上部および下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）上で長手方向に離間されている、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
6. 前記下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）の各々が、前記第１の配索支持体（５３、５６、２５３、２５６）のうちの少なくとも３つ、または少なくとも４つ、または少なくとも５つを含み、前記上部支持部材の各々が、前記第２の配索支持体（６１、６３、２６１、２６３）のうちの少なくとも３つ、または少なくとも４つ、または少なくとも５つを含む、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
7. 前記下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）の各々が、それを介して前記第１の試験ワイヤ（８）を搬送するための開口部（３００）を含む、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
8. 前記閉鎖部材（６４、２７０）が、先細のリム（１１４、２７８）を含む、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
9. 前記上部および下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）が、互いに平行である、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
10. 少なくとも４つ、または少なくとも５つ、または少なくとも６つの上部支持部材（４１、４２、４３、４４、４５、３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）が存在する、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
11. 少なくとも４つ、または少なくとも５つ、または少なくとも６つの下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）が存在する、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
12. 前記上部支持部材（３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）が、前記下部支持部材（２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）から、円弧状にオフセットされている、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（２３０）。
13. 前記第２の横部材（２７４）が、円弧状に離間したスロット（２８２）を含み、前記上部支持部材（３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）の前記第２の端部（３４７）が、前記スロットの代替のものにおいて受容され、前記下部支持部材（２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）の前記第１の端部（２３８）が、前記スロットの残りの代替のものにおいて受容される、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（２３０）。
14. 前記第２の横部材（２７４）が、前記第１の試験ワイヤ（８）を、前記閉鎖部材（６４、２７０）から前記下部支持部材（２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）に、および前記閉鎖部材に戻るよう誘導するための少なくとも１つの溝（２９９、３０３）を含む、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（２３０）。
15. 前記閉鎖部材（６４、２７０）が、第１および第２の温度センサ（１０４、１０５、２９７、２９８）を受容するための穴（９５、９６、２９５、２９６）を含む、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
16. 前記複数の下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）、前記複数の上部支持部材（４１、４２、４３、４４、４５、３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）、前記閉鎖部材（６４、２７０）、第２の横部材（７４、２７４）、および第１の横部材（７２）が、存在する場合、プラスチックで形成される、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
17. 前記複数の下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）、前記複数の上部支持部材（４１、４２、４３、４４、４５、３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）、前記閉鎖部材（６４、２７０）、前記第２の横部材（７４、２７４）、および前記第１の横部材（７６）が、存在する場合、３Ｄ印刷および射出成形のうちの１つによって形成される、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
18. 前記複数の下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）によって画定される各ワイヤ巻数の長さ、および前記第１の配索支持体（５１、５３、２５１、２５３）の数のうちの少なくとも１つが、前記複数の上部支持部材（４１、４２、４３、４４、４５、３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）によって画定される各ワイヤ巻数の長さ、および前記第２の配索支持体（６１、６３、２６１、２６３）の数のうちの少なくとも１つと異なり、前記第１および第２の試験ワイヤ（８、９）に対して、等しい配索長を提供する、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
19. 前記複数の離間した下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）が、前記足場の中心軸と長手方向に整列しており、前記複数の離間した上部支持部材（４１、４２、４３、４４、４５、３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）が、前記中心軸と長手方向に整列している、先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）。
20. 先行請求項のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）と、
    導電性である、前記第１および第２の試験ワイヤ（８、９）と、を備える、アセンブリ（１４０、２４０）。
21. 前記第１および第２の試験ワイヤ（８、９）が、等しい長さである、請求項２０に記載のアセンブリ（１４０、２４０）。
22. 前記第１および第２の試験ワイヤ（８、９）が、等しい直径である、請求項２０または２１に記載のアセンブリ（１４０、２４０）。
23. 前記第１および第２の試験ワイヤ（８、９）のうちの少なくとも１つが、銅またはその合金で形成されている、請求項２０～２２のいずれか一項に記載のアセンブリ（１４０、２４０）。
24. 試験デバイス（１）であって、
    請求項１～１９のいずれか一項に記載の足場（３０、２３０）または請求項２０～２３のいずれか一項に記載のアセンブリ（１４０、２４０）と、
    前記足場を受容するように成形されたハウジング（１１０、２１０）であって、前記足場の前記閉鎖部材（６４、２７０）が、前記ハウジングの上端部を閉鎖して、関連付けられた液体（４）を、前記液体の気相が前記第２の試験ワイヤ（９）に接触するように、前記第１の試験ワイヤ（８）と接触して保持するための容器（２）を形成する、ハウジング（１１０、２１０）と、を備える、試験デバイス（１）。
25. 前記液体の温度を測定するように前記ハウジング内に位置付けられた、溶液相温度センサ（１０４、２９７）と、
    蒸気の温度を測定するように前記ハウジング内に位置付けられた、気相温度センサ（１０５、２９８）と、をさらに備える、請求項２４に記載の試験デバイス（１）。
26. 前記溶液相温度センサ（１０４、２９７）および気相温度センサ（１０５、２９８）が、前記閉鎖部材（６４、２７０）を介して外部導体（１０１、１０２、１０３、１０４）に接続されている、請求項２５に記載の溶液および蒸気ワイヤ腐食試験デバイス（１）。
27. 前記ハウジング内で前記液体を加熱して前記蒸気を形成するように構成された、ヒータ（１１２）をさらに備える、請求項２４～２６のいずれか一項に記載の試験デバイス（１）。
28. 第１および第２の電気システムのうちの１つをさらに備え、前記第１の電気システムが、
    前記第１の試験ワイヤ（８）の端部にわたって接続されて、前記第１の試験ワイヤを介して電流を供給する、第１の電流源（１２）と、
    前記第２の試験ワイヤ（９）の端部にわたって接続されて、前記第２の試験ワイヤを介して電流を供給する、第２の電流源（１８）と、
    前記第１の試験ワイヤ（８）の端部にわたって接続されて、前記第１の試験ワイヤにわたる電圧を測定する、第１の電圧計（１０）と、
    前記第２の試験ワイヤ（９）の端部にわたって接続されて、前記第２の試験ワイヤにわたる電圧を測定する、第２の電圧計（１６）と、を備え、
    前記第２の電気システムが、
    前記第１の試験ワイヤ（８）の端部にわたって接続されて、前記第１の試験ワイヤを介して電圧を生成する、第１の電圧源と、
    前記第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、前記第２の試験ワイヤを介して電圧を生成する、第２の電圧源と、
    前記第１の試験ワイヤ（８）の端部にわたって接続されて、前記第１の試験ワイヤにわたる電流を測定する、第１の電流計と、
    前記第２の試験ワイヤ（９）の端部にわたって接続されて、前記第２の試験ワイヤにわたる電流を測定する、第２の電流計と、を備える、請求項２４～２７のいずれか一項に記載の試験デバイス（１）。
29. 第１および第２の電極（４０２、４０４）うちの少なくとも１つであって、前記第１の電極が、前記溶液に浸漬されており、前記第２の電極が、前記蒸気に浸漬されている、第１および第２の電極（４０２、４０４）うちの少なくとも１つと、存在する場合、前記第１の電極に接続されており、前記第１の電極と前記第１のワイヤとの間に電流を流す、電圧または電流源（４１０）と、存在する場合、前記第２の電極に接続されており、前記第２の電極と前記第２のワイヤとの間に電流を流す、電圧または電流源（４１２）と、をさらに備える、請求項２４～２８のいずれか一項に記載の試験デバイス（１）。
30. 前記第１の電圧計（１０）および前記第２の電圧計（１６）から、または前記第１の電流計および前記第２の電流計から信号を受信し、それに基づいて情報（２２）を計算および出力する、監視システム（２０）をさらに備える、請求項２４～２９のいずれか一項に記載の試験デバイス（１）を備える、試験装置。
31. 前記監視システム（２０）が、
    経時的に、前記試験ワイヤを介して、電圧および電流のうちの少なくとも１つを取得する、データ取得コンポーネント（２４）と、
    前記電圧および前記電流のうちの前記取得された少なくとも１つを複数回処理し、それに基づいて前記情報（２２）を計算する、データ分析コンポーネント（２６）と、
    前記情報を出力する、出力コンポーネント（２７）と、を備える、請求項３０に記載の試験装置。
32. 前記情報（２２）が、前記試験ワイヤ（８、９）の各々の前記腐食の測定値を含む、請求項３１に記載の試験装置。
33. 前記試験ワイヤ（８、９）の各々の前記腐食の前記測定値が、前記試験ワイヤの直径または半径の計算された変化を含む、請求項３２に記載の試験装置。
34. 前記監視システム（２０）が、それぞれ、前記液体および前記蒸気に設けられた温度センサ（１０４、１０５、２９７、２９８）と通信している、請求項３１～３３のいずれか一項に記載の試験装置。
35. 前記情報（２２）が、前記液体の温度の関数としての腐食の測定値を含む、請求項３１～３４のいずれか一項に記載の試験装置。
36. 足場（３０、２３０）の複数の離間した下部支持部材（３１、３２、３３、３４、３５、３６、２３１、２３２、２３３、２３４、２３５）の周りに、第１の試験ワイヤ（８）を巻き付けることと、
    前記足場の複数の離間した上部支持部材（４１、４２、４３、４４、４５、３４１、３４２、３４３、３４４、３４５）の周りに、第２の試験ワイヤ（９）を巻き付けることと、
    試験流体を、ハウジング（１１０、２１０）に導入することと、
    前記第２の試験ワイヤ（９）が、前記試験流体の液相（４）から離間し、前記閉鎖部材（６４、２７０）が、前記ハウジングの開放端部を閉鎖するように、前記足場ならびに前記第１および第２の試験ワイヤを、前記ハウジングに挿入することと、
    前記ハウジングにおいて、前記試験流体を加熱して、前記第２の試験ワイヤ（９）に接触する気相（６）を生成することと、
    経時的に変化する前記第１および第２の試験ワイヤの電気的特性を測定することと、
    各ワイヤの前記電気的特性の変化に基づいて、情報（２２）を決定することと、を含む、方法。
37. 前記第１および第２の試験ワイヤ（８、９）の前記電気的特性の経時的な測定が、電流および電圧のうちの一方を含み、前記電流および電圧の他方が制御される、請求項３６に記載の方法。
38. 前記情報（２２）が、前記試験ワイヤ（８、９）の腐食の測定値を含む請求項３６または３７に記載の方法。
39. 前記液相に接触するように、溶液相温度センサ（１０４、２９７）を設けることと、
    前記気相に接触するように、気相温度センサ（１０５、２９８）を設けることと、
    前記腐食の測定値の温度依存性を計算することと、をさらに含む、請求項３６～３８のいずれか一項に記載の方法。
40. 前記試験流体が、潤滑剤を含む、請求項３６～３９のいずれか一項に記載の方法。
41. 前記試験流体が、冷却剤を含む、請求項３６～４０のいずれか一項に記載の方法。
42. 前記試験流体が、腐食防止剤を含む、請求項３６～４１のいずれか一項に記載の方法。
43. 前記試験ワイヤ（８、９）のうちの少なくとも１つが、銅または銅の合金で形成されている、請求項３６～４２のいずれか一項に記載の方法。
44. 前記試験ワイヤ（８、９）が、等しい長さおよび等しい直径である、請求項３６～４３のいずれか一項に記載の方法。
45. 前記試験ワイヤ（８、９）が、各々少なくとも５０ｃｍ、または最大５００ｃｍの長さを有する、請求項３６～４４のいずれか一項に記載の方法。
46. 前記試験ワイヤ（８、９）が、各々少なくとも０．０５ｍｍ、または最大５ｍｍの直径を有する、請求項３６～４５のいずれか一項に記載の方法。
47. 試験デバイス（１）であって、
    関連付けられた第１および第２の試験ワイヤ（８、９）を支持するための足場（３０、２３０）と、
    前記足場を受容するように成形されたハウジング（１１０、２１０）であって、前記足場の閉鎖部材（６４、２７０）が、前記ハウジングの上端部を閉鎖して、関連付けられた液体（４）を、前記液体の気相が前記第２の試験ワイヤ（９）のみに接触するように、前記第１の試験ワイヤ（８）と接触して保持するための容器（２）を形成する、ハウジング（１１０、２１０）と、を備える、試験デバイス（１）。
48. 前記液体の温度を測定するように前記ハウジング内に位置付けられた、溶液相温度センサ（１０４、２９７）と、
    蒸気の温度を測定するように前記ハウジング内に位置付けられた、気相温度センサ（１０５、２９８）と、をさらに備える、請求項４７に記載の試験デバイス（１）。
49. 前記溶液相温度センサ（１０４、２９７）および気相温度センサ（１０５、２９８）が、前記閉鎖部材（６４、２７０）を介して、外部導体（１０１、１０２、１０３、１０４）に接続されている、請求項４８に記載の溶液および蒸気ワイヤ腐食試験デバイス（１）。
50. 前記ハウジング内で前記液体を加熱して前記蒸気を形成するように構成された、ヒータ（１１２）をさらに備える、請求項４８または請求項４９に記載の試験デバイス（１）。
51. 第１および第２の電気システムのうちの１つをさらに備え、前記第１の電気システムが、
    前記第１の試験ワイヤ（８）の端部にわたって接続されて、前記第１の試験ワイヤを介して電流を供給する、第１の電流源（１２）と、
    前記第２の試験ワイヤ（９）の端部にわたって接続されて、前記第２の試験ワイヤを介して電流を供給する、第２の電流源（１８）と、
    前記第１の試験ワイヤ（８）の端部にわたって接続されて、前記第１の試験ワイヤにわたる電圧を測定する、第１の電圧計（１０）と、
    前記第２の試験ワイヤ（９）の端部にわたって接続されて、前記第２の試験ワイヤにわたる電圧を測定する、第２の電圧計（１６）と、を備え、
    前記第２の電気システムが、
    前記第１の試験ワイヤ（８）の端部にわたって接続されて、前記第１の試験ワイヤを介して電圧を生成する、第１の電圧源と、
    前記第２の試験ワイヤの端部にわたって接続されて、前記第２の試験ワイヤを介して電圧を生成する、第２の電圧源と、
    前記第１の試験ワイヤ（８）の端部にわたって接続されて、前記第１の試験ワイヤにわたる電流を測定する、第１の電流計と、
    前記第２の試験ワイヤ（９）の端部にわたって接続されて、前記第２の試験ワイヤにわたる電流を測定する、第２の電流計と、を備える、請求項４８～５３のいずれか一項に記載の試験デバイス（１）。
52. 試験デバイス（１）であって、
    第１および第２の電極（４０２、４０４）であって、前記第１の電極が、前記溶液に浸漬されており、前記第２の電極が、前記蒸気に浸漬されている、第１および第２の電極（４０２、４０４）と、
    前記第１の電極に接続されており、前記第１の電極と前記第１のワイヤとの間に電流を流す、電圧または電流源（４１０）と、
    前記第２の電極に接続されており、前記第２の電極と前記第２のワイヤとの間に電流を流す、電圧または電流源（４１２）と、をさらに備える、請求項４８～５１のいずれか一項に記載の試験デバイス（１）。

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