JP2023503435A - Euvレチクル・ストッカ及びその操作方法 - Google Patents
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Abstract
EUVレチクル・ストッカのための締付けデバイス(200、500)、貯蔵システム(300、600)及び操作方法(400、410)が提供される。EUVレチクルを貯蔵するために必要な空間が著しく低減され、その一方で、貯蔵されるEUVレチクルのための高品質貯蔵環境を保証する。本発明の更なる態様は、EUVレチクルを貯蔵するためのストッカ(700)を提供する。
Description
本発明は、EUVレチクルのためのストッカ及び前記レチクル・ストッカの操作方法に関する。
フォトリソグラフィ・プロセスは、集積回路(IC)並びに他の半導体関連デバイス及び/又は構造の製造における重要なステップのうちの一つとして広く使用されている。しかしながらこのようなプロセスによって製造される特徴の寸法が小さくなると、小形IC又は他のデバイス及び/若しくは構造を製造するためのフォトリソグラフィの重要性が増す。
フォトリソグラフィでは、光、感光性層及び後続するエッチング・ステップを使用して、形状パターンがフォトマスク(一般にはレチクルと呼ばれる)から基板、例えば半導体ウェーハの上に転写される。基板上の所望の特徴サイズに応じてレチクルの特徴サイズを適合させなければならず、また、パターン転写のために使用される光の波長をレイリー規準を考慮して適合させなければならない。
達成可能な最小特徴サイズを小さくするために、極紫外線(EUV)放射の使用が提案されている。EUV放射は、5~20nmの範囲内、例えば5~10nmの範囲内の波長を有する電磁放射である。
レチクルのあらゆる汚染はフォトリソグラフィ・プロセスの画像化性能を低下させることがあり、また、より深刻な事例では、レチクルの交換が必要となる場合がある。レチクルは一般には高価であり、したがってレチクルを交換しなければならない頻度の低減は有利である。更に、レチクルの交換は時間の掛かるプロセスであり、レチクルを交換している間、フォトリソグラフィ・プロセスをサポートしなければならず、したがってフォトリソグラフィ・プロセスの効率が低下することがあり、これは望ましくない。
EUV用途の場合、10nm未満の粒径の粒子汚染、並びに例えば揮発性有機化合物の吸着による化学汚染が関連し得る。
したがってこのようなEUV用途のために使用されるレチクルは、一般には貯蔵ストッカの中で貯蔵され、リソグラフィ露光機器と関連して、必要なときに回収される。通常、レチクルは、いわゆるEUV外部ポッド(EOP)及びEUV内部ポッド(EIP)を備えた二重シェル容器(二重ポッド)の中に含まれている。
このような二重ポッドは、例えばUS2019/0214287A1により詳細に記載されている。
粒子汚染の許容可能なレベルは極端に低いため、容器に対するレチクルの摩擦(これは摩耗をもたらし、したがって粒子を生成する)、並びに容器構成要素同士の摩擦を回避しなければならない。したがって一般的なEIPは、中で移動する可能性がほとんどないように一つのレチクルを収納するように設計されている。また、EIPは、レチクルをEIPの内側に固定するための追加のレチクル固定手段を備えている。汚染を防止するために、EIPは、レチクルに保護ガス又は真空を加えることができるように設計されている。そのために、一般には、保護ガスをEOPからそれぞれのEIPに含まれているレチクルの周囲に入れるために、フィルタ材料を備えたオリフィスが提供されている。
EOPは、EIPのレチクル固定手段を保持位置へバイアスさせるように適合された駆動手段を備えており、それによりEOPがEIPに取り付けられると、レチクルをEIPの内側に固定する。EOPは、摩擦誘導摩耗を防止するために、一般には二片のEIPを互いに対して固定するように同じく機能している。
EIP構成要素は、それらが外側から固定されていない限り、互いに対して移動可能であることを理解されたい。このような移動によって生じる摩擦誘導摩耗を回避するために、EOPは、従来、このような固定機能性をEIPに提供すると同時に、例えば貯蔵位置と、操作のためにレチクルを必要とするプロセス・ツールとの間の輸送中に必要な周囲の大気に対する保護も提供している。
EOPはどちらかと言えば嵩張り、EUVレチクルを貯蔵するストッカのための高い空間要件即ち「フットプリント」をもたらしている。更に、EOPは、同じく摩耗しやすく、また、揮発性有機化合物のガスを放出しやすい高分子材料でできている。
本発明は、独立請求項による特徴を有する方法、デバイス及びシステムを提供することによってこれらの問題を解決するべく試行している。有利な実施形態及び追加特徴は従属請求項で提供されており、また、以下の説明の中で考察される。
本発明により、レチクルを貯蔵するために必要な空間を小さくすることができ、その一方で、従来のシステムによって提供される汚染保護及び損傷保護のレベルと少なくとも同じレベルの汚染保護及び損傷保護を保証することができる。ガスを放出するEOPによる貯蔵中の化学汚染が防止され、また、二重ポッドの中でのレチクルの貯蔵に対する機械的損傷保護が改善される。例えばEOPは地震の際に容易に損傷し得るが、本発明によるデバイスは、以下の説明から理解されるように、このような困難な条件の下であっても、そう簡単には壊れない。
このような改良型貯蔵概念を開発する際に考慮すべき側面としては、レチクルがフォトリソグラフィ・プロセス機器に提供される方法を変えることは非常に望ましくなく、これは、一般には半導体製造設備の最も複雑で、最も費用が掛かる部分であることが挙げられる。
したがってフォトリソグラフィ・プロセス機器は、一般には二重ポッドを受け取るように適合されているため、従来の二重ポッドをフォトリソグラフィ・プロセス機器に提供するための手段は、改良型レチクル・ストッカを備えることが有利である。
本発明の一態様では、EUV内部ポッド(EIP)のための締付けデバイスが提供され、EIPは二つ以上の構成要素を備え、また、EUVレチクルを含むか、或いはEUVレチクルを含むように適合され、且つ、構成され、締付けデバイスは、EIPの二つ以上の構成要素及びレチクルを互いに対して固定するように構成され、また、EIPをごく部分的に覆うように構成される。例えばEIPの外部表面の90%、80%、75%、50%、25%、20%又は10%未満までのごく一部のみが本発明による締付けデバイスによって覆われる。したがって締付けデバイスは、例えば締付けデバイスの周囲の大気をEIPと接触させることができ、したがって例えば保護ガスのための高度に複雑な供給手段の必要性を除去する。
締付けデバイスは、たとえレチクルを保持しない場合であっても、EIPの構成要素をまとめて締め付けるために同じく使用することができることに留意されたい。この場合、EIPの構成要素のみが互いに対して固定される。
有利には、締付けデバイスはEIPの保持手段に作用するように更に構成され、保持手段は、EIP内のレチクルを固定するためにEIPの外側から作用されると、レチクルを中に固定するように構成される。したがってEIP内のレチクルの固定は、EIPに設けられた保持手段に作用する締付けデバイスを介して実施される。これは、レトロフィットの必要なく、既存のシステムをそのまま使用することができ、したがって費用の掛かる投資を回避することができるという利点を提供する。
有利には、締付け要素は主として金属材料でできており、金属材料は、総デバイス体積及び/又は質量に関して少なくとも75%、80%、90%、95%又は99%を含むことが好ましい。これは、上で言及した、高分子材料のガス放出による化学汚染の問題を軽減する。したがってパージング・ガスの必要な量及び必要なレチクル交換の頻度を低減することができる。同様の利点を有する他の可能な材料は、例えばポリカーボネート(PC)、ポリエチルエーテルケトン(PEEK)又はシクロオレフィン(共)重合体(COC/COP)である。これらの材料の結束特徴は、とりわけガス放出特性が低いことである。
有利な実施形態では、締付けデバイスは、上部締付け要素及び下部締付け要素を備えた二つの締付け要素を備え、これらは、それらの間にEIPを収納しつつ互いに取り付け可能に構成される。詳細には、このような締付けデバイスをEIPの周りに組み立てるために必要な動きは、EIPの主表面に向かって実質的に垂直であり、また、EIPに対して横方向の動きは実質的に不要である。これは、組立てプロセスを容易にし、また、摩擦誘導粒子生成(摩耗)の危険を小さくする。
有利には、上部締付け要素は、EIPの保持手段に作用して、その中にレチクルを固定するように構成される。したがって上部締付け要素は、従来、EOPが果たしている固定機能を、化学汚染及び空間フットプリントに関する欠点を有することなく置換することができ、又は模倣することができる。
他の実施形態では、締付けデバイスは、一つの締付け要素及び一つ、二つ又はそれ以上の固着手段を備え、これらの固着手段は閉位置に向かってバイアスされ、また、開位置へ移動するように構成され、締付けデバイスは、固着手段が開位置に位置するとEIPに取り付けることができ、また、固着手段が閉位置に位置し、及び/又は閉位置にもたらされると、EIP構成要素及びレチクルを互いに対して固定するように構成される。言い換えると、締付けデバイスは、固着手段を備えた単一の締付け要素、即ち一片の締付け要素として提供される。固着手段は、締付けデバイスがEIPに取り付けられるとEIPの下側に作用し、また、締付け要素の上側に作用する。他の点ではこの単一の締付け要素は、上で説明した上部締付け要素と同じ機能性を提供する。この一片実施形態は、同じ機能性を提供するのに一片しか必要としないため、取扱いの点で有利である。この一片は、EIPの上側からEIPに取り付けられる。したがって上で説明した二片実施形態と比較すると、締付けデバイスをEIPに取り付けるために必要な取扱いステップがより少ない。
有利には、締付けデバイスは、締付けデバイスがEIPに取り付けられると保持手段に作用するように構成されたアクチュエータを備える。
有利には、締付けデバイスは、締付けデバイスを取り付けることができるEIPの包囲体積の130%、120%、110%、105%未満、更には100%未満の包囲体積を有する。
詳細には締付けデバイスは、EIPの包囲体積の130%、120%、110%又は105%未満の包囲体積を有し、したがってEIP及びEOPを備える二重ポッド内の貯蔵と比較すると、レチクルを貯蔵する空間フットプリントが実質的に小さい。これにより、上で言及したパージング・ガスの必要な量が同じく少なくなり得る。包囲体積は、例えばそれぞれの対象を完全に包含する最小可能立方形の体積を表すものとして理解され得る。
いくつかの実施形態による締付けデバイスは、RFIDデバイス或いはバー・コード、QRコード又は他の形態の1D若しくは2Dコードなどの視覚検出可能コードなどの情報伝達要素を備えることができる。これは、レチクルに関する情報を対応する締付けデバイスと関連付けることができるという利点を提供する。したがって例えばレチクルと関連付けられた締付けデバイスを識別するだけで、貯蔵されているレチクルを識別することが可能になり得る。
更に、このような情報を追跡目的で使用して、例えば所与の締付けデバイスを使用して実施された貯蔵操作の数を数えることができる。浄化若しくは交換手順又は機能性試験のための適切な時期を決定するためにはこれは有用である。
いくつかの実施形態では、貯蔵中及び取扱い中における、貯蔵大気中の湿度、温度、圧力、加速度又は特定の化学種の濃度などの特定の状態を監視するためのセンサが締付けデバイスに含まれる。これは、レチクルが経験した影響要因についての知識をそれらの貯蔵履歴全体を通して得ることができるという利点を提供し、したがって本発明が使用される製造設備の総合生産性を改善することができる。
このような情報は、締付けデバイスに設けられたメモリ及び/若しくはプロセッサの中、又は本発明による貯蔵システムを取り扱う機械若しくはツールの構成要素の中に記憶し、処理することができる。
別の態様では、本発明は、上で説明した締付けデバイスと、EIPとを備えた貯蔵システムを提供する。EIPは二つ以上の構成要素を備え、EUVレチクルを収納するように構成され、また、保持手段を備え、保持手段は、保持手段がEIPの外側から作用されると、EIP内に含まれているレチクルを固定するように構成される。締付けデバイスは、EIPの二つ以上の構成要素を互いに対して固定するためにEIPに取り付けられ、保持手段に作用し、したがってEIP内のレチクルを固定する。したがって摩耗を実質的に回避することができ、また、関連するサイズ範囲の粒子によるレチクルの汚染を最小化することができる。
一般には、保持手段は、EIP構成要素のうちの一つに侵入する一つ又は複数のピストンの形態で提供される。これらのピストンの各々は、後退した位置に弾性的にバイアスされ、また、EIPの外側から作用されると、レチクルに垂直方向の力を加えるように適合される。それと同時に、保持手段は、EIP内に貯蔵されているレチクルをEIPの外側からの汚染物質による汚染から保護するために侵入すると、EIP構成要素と封止係合する。
好ましい実施形態では、貯蔵システムは、EIPの包囲体積と比較して、130%、120%、110%又は105%未満の包囲体積を有する。したがってEIP及びEOPを備えた二重ポッドの形態の従来の貯蔵システムに対して、レチクルを貯蔵するために必要な空間が著しく低減される。
本発明の別の態様は、EUVレチクル・ストッカを操作する方法を提供し、方法は、レチクルをレチクル・ストッカの中に貯蔵するステップと、レチクルをレチクル・ストッカから回収するステップとを含み、貯蔵するステップは、レチクルを含んだ本発明による貯蔵システムをEUVレチクル・ストッカ内の貯蔵位置へ移動させるステップを含み、回収するステップは、レチクルを含んだ本発明による貯蔵システムをその貯蔵位置から除去するステップを含む。これは、従来の貯蔵方法と比較すると、レチクルを貯蔵するために必要な空間を小さくする。
詳細には、貯蔵するステップは、貯蔵位置へ移動させるステップの前に、EUV外部ポッド(EOP)及びEUVレチクルを含んだEIPを備えた二重ポッドをストッカの外側から受け取るステップであって、EIPがEOP内に完全に含まれる、ステップと、EOPを開けるステップと、貯蔵システムを提供するために、EIP構成要素を互いに対して固定し、且つ、レチクルをEIPに対して固定するためにEIPに設けられた保持手段に作用するために、締付けデバイスをEIPに取り付けるステップとを更に含む。このような実施形態では、貯蔵システムは改良型ストッカ自体によって提供され、ストッカの外部で実施される何らかのプロセス・ステップを実質的に変更することなく、既存の製造プロセスと関連してストッカを直接利用することができる。
好ましい実施形態では、二重ポッドを受け取るステップは、エアーロックを備えた入口ターミナルの外側に面している側で二重ポッドを受け入れるステップと、エアーロックの第1のシャッタを開けるステップと、二重ポッドをエアーロックの中へ移動させるステップと、第1のシャッタを閉じるステップと、エアーロックの内部体積の汚染を除去するステップと、エアーロックの第2のシャッタを開けるステップと、二重ポッドを第2のシャッタを通って入口ターミナルの内側に面している側へ移動させるステップと、第2のシャッタを閉じるステップとを含む。言い換えると、二重ポッドは、エアーロックを通って、入口ターミナルの外側に面している側から内側に面している側へ通過し、二重ポッドがエアーロックの内側に存在している間、エアーロックの内部体積の汚染を除去することを含む。これは、ストッカの汚染を回避するという利点を提供する。
EOPを開けるステップは、EOPをアンロックするステップと、EOPをEIPの周りから除去するステップと、EOPをEOPバッファ・ストックの中に貯蔵するステップとを含むことができる。EOPバッファ・ストックは、EOPの外側からEIPへの相互汚染を防止するために、上で説明した貯蔵システムのための貯蔵位置から分離されることが好ましい。したがって厳格な清浄度要件を満足することができ、その一方でレチクルを貯蔵するために必要な空間が小さくなる。
貯蔵システムをその貯蔵位置から除去するステップの後のレチクルを回収するステップは、締付けデバイスをEIPから切り離すステップと、EIP構成要素及びEIP内に含まれているレチクルを互いに対して固定するためにEIPの周りにEOPを組み立てるステップと、二重ポッドを形成するステップと、ストッカ大気の汚染を防止するために、好ましくはエアーロックを通過させることによって二重ポッドをストッカの外側に引き渡すステップとを更に含むことが好ましい。これは、設備の製造プロセスを使用して標準の二重ポッドを使用することができ、したがって本発明に関連して提供される改善された貯蔵状態を従来のプロセス機器が利用することができるという利点を提供する。
この組立てのために使用されるEOPは、上で言及したEOPバッファ・ストックから回収され得ることが好ましい。これは、レチクルを貯蔵する毎にEOPを必要とせず、その一方で、製造プロセスのために必要なすべてのレチクルの時宜を得た供給を保証するという利点を提供する。言い換えると、貯蔵されるレチクルの数は、提供されるEOPの数を著しく超過し得る。言い換えると、任意の所与の時間の間、EOPを必要とするのは、その時間にストッカの外部で必要なレチクルのみである。
摩耗及び対応する粒子生成を防止するためには、レチクルがEIPに対して固定されていないときに何らかのステップが一度に実施されている間、レチクル及び/又はEIP構成要素が互いに対して移動しないことが保証されることが好ましい。
締付けデバイスが上で説明した情報伝達要素を備えている場合、方法は、有利には、締付けデバイスによって伝達される情報が読み取られ、書き込まれ、削除され、又は変更される一つ若しくは複数のステップを含むことができる。このようなステップでは、製造設備の改善された総合性能を提供するために、取り扱われた締付けデバイスと関連付けられたレチクルの識別に関する情報、レチクルが経験した貯蔵状態又は他の情報を使用して、レチクル・ストッカ若しくは他のツール、機械又はデバイスを制御することができる。
方法は、レチクルが経験した貯蔵状態の履歴を監視するために、任意選択で締付けデバイスに設けられた一つ又は複数のセンサによって提供される情報を読み取り、受け取り、さもなければ収集するステップを更に含むことができる。これは、品質に関する不良がある可能性がより高いレチクルを例えば半導体製品の製造に使用する前に検査し、それによりそれらの完全性を保証することができるという利点を提供する。したがって欠陥のある製品の産出が最小化される。
本発明の更なる態様では、少なくとも一つのEUVレチクルを貯蔵するためのストッカが提供され、少なくとも一つのレチクルの各々は、一つのそれぞれのEUV内部ポッド(EIP)の中に貯蔵されるか、或いはそのように適合され、また、そのように構成され、EIPは、締付けデバイスによって互いに対して固定される二つ以上のEIP構成要素を備え、EIPは保持手段を備え、保持手段は、EIPの外側から作用されると、EIPの内側に貯蔵されているレチクルをEIPに対して固定するように構成され、締付けデバイスは保持手段に作用して、EIP内に貯蔵されているレチクルを固定し、ストッカは、エアーロック及びアセンブラを備えた装荷ポート(本開示の言語では入口ターミナルとも呼ばれる)と、それぞれ一つの締付けデバイスによって固定され、また、それぞれ一つのレチクルを含んだEIPを貯蔵するように構成された貯蔵ユニットと、締め付けられた、レチクルを含んだEIPをストッカ内の貯蔵位置へ、また、貯蔵位置から移動させるように構成されたハンドラとを備え、エアーロックは、EUV外部ポッド(EOP)及びレチクルを含んだEIPを備えた二重ポッドをストッカの外側から受け取るように構成され、EOPは保持手段に作用し、また、アセンブラは、EIP構成要素及びレチクルを互いに対して移動させることなくEOPを開けるように構成され、アセンブラは、EIP構成要素及びレチクルを互いに対して移動させることなく前記締付けデバイスを前記EIPに取り付け、また、締付けデバイスを前記EIPから除去するように構成され、また、アセンブラは、締め付けられていないEIPの周りにEOPを組み立てるように構成される。
有利には、ストッカは、取扱い手段を使用して、多数のEOPを制御された大気中で貯蔵するように構成されたEOPバッファ・ストックを更に備え、取扱い手段は、EOPをEOPバッファ・ストックの中に置き、また、EOPをEOPバッファ・ストックから回収するように構成される。
言い換えると、ストッカは、上で説明した方法を実現し、したがって上で説明した方法の利点と同じ利点を利用するように適合される。
次に、本発明の利点及び更なる態様について、添付の図面を参照してより詳細に考察する。
包括して100で示される、従来のEIPの二つの実施形態A、Bが図1に示されている。個々のEIP100は、上部構成要素110及び下部構成要素120を備えている。上部構成要素110は、一つ又は複数のオリフィス112、保持手段114及び圧力点116を備えている。
保持手段114は、弾性要素によって後退位置にバイアスされ、また、微粒汚染物質がEIPの内側に入るのを防止するために弾性封止手段によって封止方式で上部構成要素110に接続された四つのピストンの形態で提供されている。
オリフィス112は、微粒汚染物質がEIPの内側に入るのを同じく防止し、その一方で窒素などのパージング及び/又は保護ガスのためのアクセスを提供するフィルタ材料を備えている。
圧力点116は、二つの構成要素110、120を互いに対して固定するために提供されており、また、保持手段は、EIPの外側から作用されると、レチクルをEIPの内側に固定するために提供されている。
下部構成要素120も上部構成要素110の圧力点116と同様の圧力点を備えることができる。
EIP100の実施形態Aでは、圧力点116は保持手段114から空間的に分離されており、一方、実施形態Bでは、保持手段114は圧力点116と同じ領域に提供され、圧力点116を通って展開している。
図2及び図2Aには、EIP100の実施形態A、Bと関連して使用することができる締付けデバイス200が概略的に示されている。
締付けデバイス200は、シート金属でできた二つの要素210、220を備えており、そのうちの一方は、場所の点でEIPの一つ又は複数のオリフィス112に実質的に対応するオリフィス212を特徴とする上部締付け要素210であり、EIP100の上に篏合するように形成されている。EIP100の表面の、場所の点でオリフィス212に対応する部分は、本開示の言語では「覆われていない」と呼ばれ、一方、とりわけEIP100の表面の、締付けデバイスの材料表面と接触している部分、即ち締付けデバイスの材料表面の真向かい又は真下の部分は「覆われている」と見なされる。したがって本発明によれば、締付けデバイス200はEIP100をごく部分的に覆うように構成される。オリフィス212は、とりわけ上部締付け要素210の表面積の10%、20%、25%、50%、75%、80%又は90%を超える面積を占めることができる。更に、下部締付け要素220にも同様のオリフィスを提供することができる(図には示されていない)。更に、上部締付け要素210又は下部締付け要素220のいずれとも対応しないEIP100の横向きに面している表面も同じく「覆われていない」と見なされる。
下部締付け要素を形成している第2の要素220は本質的に平らであり、そのサイズ及び形状並びに輪郭は上部締付け要素210に対応している。
上部締付け要素210及び下部締付け要素220は互いに取り付けることができ、また、それらが互いに取り付けられると、それらの間にEIP100を収納し、且つ、固定するように構成されている。そのために、上部締付け要素及び下部締付け要素はいずれも押付け手段216を備えており、押付け手段216は、EIP100の上部構成要素及び下部構成要素110、120のそれぞれの圧力点116に押し付けて、EIP構成要素110、120を互いに対して固定するように構成されている。
更に、EIP100の実施形態Aの場合、アクチュエータ214は上部締付け要素210に設けられており、アクチュエータ214は、締付けデバイス200がEIP100に取り付けられると、EIP100の実施形態Aの上部構成要素110の保持手段114に作用するように構成されている。
EIP100の実施形態Bと共に使用するために適合された締付けデバイス200では、押付け手段216はアクチュエータ214の機能を同時に果たす。したがって個々の押付け手段216はアクチュエータ214を同じく構成する。
示されているいずれの実施形態の場合も、EIP100の保持手段114に作用することにより、締付けデバイス200は、EIP100内に含まれているレチクルをEIP100に対して固定する。
押付け手段216及びアクチュエータ214は、舌の形の切欠きの形態で提供されており、それぞれ圧力点116及び保持手段114に所定の力を加えるように構成することができる。有利には、押付け手段216は、圧力点116の各々に所定の力を加えるように構成されている。EIP100の実施形態Aと共に使用するための締付けデバイスでは、圧力点に加えられるこの力は、アクチュエータ214が保持手段114に加える所定の力とは異なっていてもよい。したがって保持手段114及び圧力点116に加えられる力は、それぞれの部品を互いに対して固定するために必要な要求力に適合させることができる。一般には、EIP内のレチクルを固定するために必要な力は、上部構成要素110を下部構成要素120に対して固定するために必要な力より小さい。したがってアクチュエータ214を形成している舌の形の切欠きは、押付け手段216を形成している切欠きより長くすることができ、及び/又は細くすることができる。
EIP100の実施形態Bと共に使用することができるように適合された締付けデバイスでは、例えば舌の形の追加切欠き(図には示されていない)を押付け手段216内に提供することにより、それぞれ圧力点116及び保持手段114に異なる力を加えることが同じく可能であり、したがって圧力点116に加えられる力と比較して、より小さい力を保持手段114に加えることができる。言い換えると、EIP100の実施形態Bにおける圧力点116及び保持手段114は近接してはいるが、互いに間隔を隔てた押付け手段216及びアクチュエータ214を提供することが依然として可能である。
上部締付け要素210は、締付けデバイス200を提供するために、上部締付け要素210を下部締付け要素220に固定して取り付けるように構成される固着手段202を備えている。図2及び図2Aに示されている例では、固着手段202はラッチの形態で提供されているが、他の形態の固着手段も同じく可能である。
図3には、EIP100と、上部締付け要素210及び下部締付け要素220を有する二片締付けデバイス200とを備えた貯蔵システム300が、組み立てられた状態で示されている。下部締付け要素220はEIP100によって覆われているため、図3では下部締付け要素220を見ることはできない。
図5A及び図5Bには、締付けデバイス500の更なる有利な実施形態が斜視図及び平面図で概略的に示されている。
図2及び図2Aに示されている締付けデバイス200とは対照的に、締付けデバイス500は、少なくとも二つの固着手段502を有する締付け要素を一つしか備えていない。更に、一つ又は複数の押付け手段516が提供されており、これらは、EIP100の上部構成要素110のそれぞれの圧力点116に押し付けて、EIP構成要素110、120を互いに対して固定するように構成されている。固着手段502は、締付けデバイス500がEIP100に取り付けられると、締付け要素500の上側及びEIP100の下部構成要素120の下側に押し付けるように構成されている。締付けデバイス200と同様、締付けデバイス500では、アクチュエータ514は、EIP100内のレチクルを固定するために提供されている。EIP100内のレチクルの固定は、締付けデバイス500がEIP100に取り付けられる際の、アクチュエータ514とEIP100の保持手段114との間の相互作用によって実施される。
図5A及び図5Bに示されている締付けデバイス500は、EIP100の実施形態Aと共に使用することができるように適合されていることに留意されたい。しかしながら同様の一片締付けデバイス500をEIP100の実施形態Bに提供することも可能であることを理解されたい。
図5Aには、閉位置における固着手段502が示されている。この特定の実施形態では、固着手段502は、取扱い要素及び固定要素を有し、本質的に板バネの形態で、締付けデバイス500の二つの側に提供されている。EIP100に取り付けられると、固着手段502の固定要素は、上で説明した、締付け要素の上側及びEIP100の下部構成要素120の下側に押し付ける機能を果たす。
図5Bには、開位置における固着手段502が示されている。この位置では固着手段502は、締付けデバイス500の二つの互いに反対側の固定要素502の間の空間が、EIP100がそれらの間を移動するだけの十分な大きさになる方法で締付け要素から間隔を隔てる。したがって固着手段502が開位置に位置すると、締付けデバイス500をEIP100に取り付けることができる。
板バネの形態の固着手段502は閉位置に対してバイアスされ、したがって固着手段502をEIP100に取り付けるためには、それらを開位置にもたらすために横方向の力を固着手段502に加えなければならない。
締付けデバイス500の締付け要素は、本質的にシート金属でできていることが好ましく、一方、固着手段502は、金属、プラスチック又は任意の他の適切な単一の材料若しくは材料の組合せの板バネの形態で提供することができる。
アクチュエータ514及び押付け手段516は、本質的に図2の実施形態に関連して上で説明したように、舌の形の切欠きの形態で提供されることが好ましい。
締付けデバイス500をEIP100に取り付ける場合、固着手段502が開位置へ強制される。これは、固着手段の取扱い要素を締付けデバイス500に対して実質的に横方向に引っ張ることによって達成することができる。次に、固着手段502が開位置に保持された締付けデバイス500がEIPの上に置かれ、また、予荷重力を使用してEIPに対して下向きに押し付けられる。それにより締付けデバイス500の押付け手段516及びアクチュエータ514がそれぞれEIP100の押付け点116及び保持手段114と接触する。したがって予荷重力が加えられると、締付けデバイス500とEIP100の相互作用により、直ちにEIP構成要素110、120及びEIP100内に含まれているレチクルが互いに対して固定される。
予荷重力は、締付けデバイス500がその主延長平面に対して垂直の方向にEIP100に向かって、固着手段502がEIP100の何らかの部分と接触することなく固着手段502を閉位置へ解放することができる範囲まで移動するように選択される。したがって予荷重力が加えられている限り、固着手段502が閉位置へ移動することによって摩擦が誘導されることはない。したがって事実上、粒子生成が防止される。
締付けデバイス500に予荷重力が加えられている限り、固着手段502は、EIP100から、また、締付けデバイス500の上側から垂直の方向に間隔を隔てた状態を維持する。
固着手段502が閉位置に到達すると、加えられた予荷重力が解放され、したがって締付けデバイス500は、固着手段502が締付けデバイスの上側及びEIP100の下部構成要素120の下側に押し付けることによってEIP100に対する締付けデバイス500のそれ以上の変位を制限するまで、EIP100から遠ざかる方向に移動する。
予荷重力が締付けデバイス500の上側から除去された後でも、アクチュエータ514及び押付け手段516は、垂直方向の固定力を依然としてそれぞれ保持手段114及び押付け点116に加える。これらの固定力は予荷重力より幾分か小さい。しかしながらアクチュエータ516及び保持手段514は、それぞれ、それらの各々によってもたらされる固定力がEIP100内のレチクル、及びEIP100の構成要素110、120を互いに対して固定するのに十分であるように設計されている。例えば一つの締付け要素500の押付け手段516は、1Nから100Nの範囲、好ましく5Nから50Nの範囲、例えば約20N±5N、例えば17Nの垂直方向の固定力を押付け点116に集合的にもたらし、或いは個々の個別の押付け点116にもたらす。この集合固定力は、単一の押付け手段516全体にわたって均等に分散されることが好ましい。示されている例では、四つの押付け手段516が締付けデバイス500に設けられているため、集合固定力の四分の一が押付け点116の各々に加えられる。
上で考察したように、保持手段114を介してレチクルに加えられる固定力は、押付け点116を介してEIP構成要素110、120に加えられる固定力より小さいことが好ましい。例えば保持手段114に集合的に加えられる、或いは個々の個別の保持手段114に加えられる固定力は、1Nから100Nの範囲、好ましくは5Nから50Nの範囲から選択することができ、また、例えば約20N±5N、例えば17Nに及び得る。この力は、押付け手段516を参照して説明した方法と同様の方法で、提供されるアクチュエータ514のすべてにわたって均等に分散されることが好ましい。
上で言及したように、この一片締付けデバイス500は、EIP100の実施形態Aとの使用に限定されない。本開示によれば、異なる構成、例えば一片締付けデバイス500をEIP100の実施形態Bと共に同じく使用することができる構成が同じく提供される。EIP100の実施形態Bと共に使用することができる締付けデバイス500のこれらの実施形態は、本質的に、上で説明したEIP100の実施形態Bと共に使用することができる締付けデバイス200に対応しているが、説明した一片締付けデバイス500の形態と同様の一片締付けデバイスの形態で提供される。
二片締付けデバイス200と比較すると、一片締付けデバイス500は、EIP100の下部構成要素120の実質的に全体を覆わない状態で残すため、EIP100の表面を覆う部分が少ないことを理解されたい。したがって締付けデバイス200のオリフィス212のサイズと同じサイズのオリフィスを有する締付けデバイス500は、EIP100を覆う部分が実質的に少ない。例えばEIP100に取り付けられると、締付けデバイス500は、EIP100の少なくとも50%、60%、70%、80%又は90%を覆わない状態で残す。いくつかの実施形態では、締付けデバイス500(又は200)は、EIP100の少なくともオリフィス112を覆わない状態で残し、したがって締付けデバイス500(又は200)を取り囲んでいる大気からオリフィス112に向かう流体アクセスが実質的に妨げられない。
図6は、上で説明したEIP100及び締付けデバイス500を個々に備える貯蔵システム600の略図である。締付けデバイス500の固着手段502は閉位置に位置しており、また、押付け手段516は押付け点116に作用して、EIP構成要素110、120を互いに対して固定している。アクチュエータ514は保持手段114に作用して、EIP100内のレチクルを固定している。
二片締付けデバイス200の場合と同様、EIP100の実施形態Bと共に使用することができるように適合された一片締付けデバイス500も、アクチュエータ514として同時に機能する押付け手段516を特徴としている。締付けデバイス200と同様、押付け手段516とは別に、例えば押付け手段516内の舌の形の切欠きの形態、又は押付け手段516とは反対方向に展開している切欠きの形態で、締付けデバイス500のアクチュエータ514を同じく提供することができる。これらの修正は図には示されていないが、押付け点116に加えられる力をEIP100の保持手段114に作用する力とは別に調整することができるという利点を提供する。
図3及び図6から推論され得るように、締付けデバイス200、500は小さいサイズの締付けデバイスである。したがって貯蔵システム300、600は、本質的にEIP100自体の体積と同じ体積を占有する。
図4Aには、レチクルを貯蔵するためのレチクル・ストッカ700の好ましい操作方法が流れ図で示されており、一括して参照番号400で参照されている。対応するレチクル・ストッカは図7に概略的に示されている。
以下、この方法について、図2及び図2Aに関連して考察した締付けデバイス200に関して説明する。しかしながら対応するステップは、締付けデバイス500を使用して、上で説明した貯蔵システム600を得る場合に実施されることを理解されたい。
ステップ401で、EUV外部ポッド(EOP)150及びEOP150内に含まれたEIP100を備えた二重ポッドがストッカ700の外側から受け取られる。二重ポッドは、エアーロック710を備えた入口ターミナルの外側に面している側で受け入れられ、エアーロック710を通って、入口ターミナルの内側に面している側へ通される。エアーロック710を通過している間、エアーロック710の内部体積の汚染が除去され、それにより二重ポッドを受け取ることによってレチクル・ストッカ700の内側の大気が悪影響を受けていないことを保証する。
エアーロック710の汚染除去は、エアーロック710を排気し、エアーロック710をガス、とりわけ不活性ガスなどの流体を使用してフラッシュし、及び/又はエアーロック710を流体、とりわけ不活性ガスを使用してパージすることを含むことができる。
ステップ402で二重ポッドが開けられる。二重ポッドを開けることは、この例ではEOP150をアンロックし、EIP100を取り囲んでいるその位置からEOP150を除去し、また、再び必要になるまでEOP150を貯蔵することができるEOPバッファ・ストック750へEOP150を移動させることを含む。EOP150がEIP100から除去されると、圧力点116及び保持手段114はもはや作用されない。したがってその時点でEIP構成要素110、120、及びその中に含まれているレチクルは、もはや互いに対して固定されない。
ステップ403で締付けデバイス200がEIP100に取り付けられる。それにより図3に示されているような貯蔵システム300が提供される。締付けデバイス200を取り付けることは、とりわけ、EIP100を下部締付け要素220の上に置き、次に上部締付け要素210でEIP100を覆い、また、下部締付け要素及び上部締付け要素を互いに取り付けることによって実施される。EIP100を下部締付け要素220の上に置き、また、上部締付け要素210でEIP100を覆うことは、本質的に垂直方向の力のみがEIP100に加えられ、また、ねじり力及び横方向の力が回避される方法で実施されることが好ましい。締付けデバイス200がEIP100に取り付けられると、二重ポッドを開ける前にEOP150によって実施された固定機能が締付けデバイス200によって事実上回復され、或いは模倣される。
一片締付けデバイス500が使用される場合、締付けデバイスを取り付けるステップ403は若干異なる方法で実施される。このような場合、締付けデバイス500の固着手段502は、図5Bに示されているように開位置へ強制される。次に締付けデバイス500がEIP100の上に移動され、定義済み予荷重力を使用して、締付けデバイス500の主延長平面に対して直角の方向(「垂直方向」)にEIP100に向かって押し付けられる。次に固着手段502が閉位置に解放され、締付けデバイス500から予荷重力が解放される。それにより、上で説明した貯蔵システム600が形成される。
ステップ404で、貯蔵システム300、600がレチクル・ストッカ内の貯蔵位置へ移動される。
ステップのすべて、とりわけステップ402及び403は、上で説明したように摩擦誘導粒子生成を防止するために、EIP100と共に含まれているレチクルがEIP100に対して移動しない方法で実施される。
図4Bには、レチクルを回収するためのレチクル・ストッカの好ましい操作方法が流れ図で示されており、一括して参照番号410で参照されている。
ステップ411で、貯蔵システム300がその貯蔵位置から除去される。
ステップ412で、貯蔵システム300を分解するために締付けデバイス200がEIP100から除去される。そのために、上部締付け要素及び下部締付け要素210、220が互いに切り離され、上部締付け要素210がEIP100から持ち上げられ、それにより圧力点116及び保持手段114を解放する。その時点でもはやEIP100内のレチクルの固定は有効ではない。
貯蔵システム600が分解される場合、この場合もステップ412は若干修正された方法で実施され、締付けデバイス500は、最初に、固着手段502がもはやEIP100又は締付けデバイス500の上側と接触しないよう、締付けデバイス500に予荷重力を加えることによってEIP100から除去される。次に固着手段502が開位置へ強制され、予荷重力が解放される。次に締付けデバイス500がEIP100から持ち上げられ、それにより圧力点116及び保持手段114を解放する。
一片締付けデバイス500が使用されている場合、ステップ403及び412は、EIP100を全く移動させることなく実施することができる。これは、それぞれ、締付けデバイス500をEIP100に取り付ける際にEIP100をEOP150の下部構成要素の上に残すか、又は締付けデバイス500を切り離す前にEIP100をEOP150の下部構成要素の上に置くことによって達成することができる。これは、事実上、それぞれEIP構成要素110、120及びレチクルの相対移動を防止するため、とりわけ有利である。
ステップ413で、EOP150がEOPバッファ・ストック750から回収され、また、二重ポッドを提供するためにEIP100の周りに組み立てられる。二重ポッドが完全に組み立てられると、貯蔵時間の間、締付けデバイス200によって実施された固定機能がEOPによって提供される。
ステップ414で、ステップ413で形成された二重ポッドがストッカ700の外側に引き渡される。これは、二重ポッドを上で言及したエアーロック710を通って、入口ターミナルの外側に面している側へ通過させることを含むことができる。エアーロック710は、汚染物質が入口ターミナルに入るのを防止するために、二重ポッドが通過している間、パージ又はフラッシュすることができる。
図7に示されているように、レチクル・ストッカ700は、既に言及したエアーロック710、上で説明した方法400、410のステップ402、403、412及び413を実施するように構成されるアセンブラ720、多数のEOP150を貯蔵することができるEOPバッファ・ストック750、及び貯蔵システム300、600を多数の貯蔵位置742で貯蔵することができる貯蔵ユニット740を備えている。貯蔵システム300、600をそれらのそれぞれの貯蔵位置742へ、また、それらのそれぞれの貯蔵位置742から移動させるためのハンドラ730が、ストッカ700に設けられている。
貯蔵位置742の数は、EOPバッファ・ストック750の中に貯蔵することができるEOP150の数を実質的に超過し得ることに留意されたい。上で説明したように、EOP150を必要とするのは、ストッカ700の外部で必要なレチクルのみである。したがって(少数の)EOP150がEOPバッファ・ストック750の中に貯蔵され、したがってレチクルを必要とするときに二重ポッドを組み立てることができる。しかしながら一般にはすべてのレチクルが同時に要求されることは全くないため、貯蔵ユニット740内に貯蔵されているレチクル毎にEOP150を貯蔵する必要はない。
図2、図2A及び図5Aでは、締付けデバイス200、500は、追加で、RFIDデバイスなどの識別デバイス及び一つ又は複数のセンサを備えたロギング要素218、518(概略的に示されている)を備えている。RFIDデバイス218、518は、識別番号を備えた情報伝達要素であり、したがってRFIDデバイス218、518を読み取ることによって個々の締付けデバイス200、500を他の締付けデバイス200、500から区別することができる。
ロギング要素218、518の中に含まれている一つ又は複数のセンサは、例えば締付けデバイス200、500に作用する温度、締付けデバイス200、500を取り囲んでいる大気の組成、圧力及び/又は加速度を検出又は測定するように構成されている。この例におけるロギング要素218、518は、一つ若しくは複数のセンサの読値を記憶し、及び/又はこれらの読値を更なる処理のために利用可能にするように更に構成されている。
締付けデバイス200、500が例えばRFIDデバイス218、518を備えている場合、方法400は、特定の締付けデバイス200、500と組み合わせて貯蔵されているレチクルと、使用されている締付けデバイス200、500のRFIDデバイス218、518に設けられた識別番号との関連性を提供するステップを含むことができる。この関連性は、例えばレチクル・ストッカの中央メモリに記憶することができ、及び/又は製造設備の中央計算デバイス内に記憶することができる。これは、その貯蔵のために使用されている締付けデバイス200、500によってレチクルを識別することができ、したがって依然としてそれぞれのEIP100内に安全に含まれている間に識別することができるという利点を提供する。
方法は、一つ又は複数のセンサからデータを収集するステップ、及び例えば更なるアクション、例えば回収したレチクルの検査が必要であるかどうかを評価するためにこのデータを使用するステップを更に含むことができる。
有利には、方法410は、次に、締付けデバイス200、500と関連付けられたレチクルを回収するために、締付けデバイス200、500のこのRFIDデバイス218、518を使用する。それにより検証機構を実現することができる。例えばストッカ700内の所与のレチクルの貯蔵位置742を使用して、ストッカ700から回収すべきレチクルを識別することが可能である。その貯蔵位置742からレチクルを回収する場合、締付けデバイス200、500のRFIDデバイス218、518を読み取ることができ、また、正しいレチクルが回収されたことを検証するために、締付けデバイス200、500の識別番号と、貯蔵されているレチクルとの関連性をチェックすることができる。特定の貯蔵場所に貯蔵されているレチクルと、締付けデバイス200、500と関連付けられたレチクルの識別が異なる場合、識別手順がトリガされ、警報信号を生成することができ、したがってその識別が検証される前に製造がレチクルを使用することはない。これは、レチクル識別の総合信頼性がより高くなるという利点を提供する。
レチクルと、それぞれの締付けデバイス200、500とのこの関連性の別の利点は、レチクルがそれらのそれぞれの貯蔵位置から無作為に除去されても、それらを依然として識別することができることである。これは、例えば地震又は同様の制御不可能な状況の間に生じ得る。このような状況では、従来の方法及びシステムであれば、レチクルは識別のためにそれらのそれぞれのEIPから除去されたかもしれず、或いは従来の貯蔵システムは、更には破壊されたかもしれない。したがってここで開示された発明は、EUVレチクルのための、追跡可能性が改善されたより安全な貯蔵環境を提供する。
Claims (17)
- EUV内部ポッド(EIP)のための締付けデバイスであって、前記EIP(100)が二つ以上の構成要素を備え、また、EUVレチクルを含み、前記締付けデバイス(200、500)が、
前記EIP(100)の前記二つ以上の構成要素(110、120)及び前記レチクルを互いに対して固定するように構成され、また、
前記EIP(100)をごく部分的に覆うように構成される、
締付けデバイス。 - 前記EIP(100)の保持手段(114)に作用するように更に構成され、前記保持手段(114)が、前記EIP(100)内の前記レチクルを固定するために前記EIP(100)の外側から作用されると、前記レチクルを中に固定するように構成される、請求項1に記載の締付けデバイス(200、500)。
- その質量及び/又は体積に関して少なくとも75%、80%、90%、95%又は99%の金属材料を含む、請求項1又は2に記載の締付けデバイス(200、500)。
- 上部締付け要素(210)及び下部締付け要素(220)を備え、前記上部締付け要素(210)及び前記下部締付け要素(220)がそれらの間に前記二つ以上のEIP構成要素(110、120)を収納しつつ互いに取り付け可能に構成される、請求項1、2又は3に記載の締付けデバイス(200)。
- 一つ、二つ又はそれ以上の固着手段(502)を有する一つの締付け要素を備え、前記固着手段(502)が閉位置に向かってバイアスされ、また、開位置へ移動するように構成され、前記締付けデバイス(500)が、前記固着手段が前記開位置に位置するとEIP(100)に取り付けることができ、また、前記固着手段(502)が前記閉位置に位置すると、前記EIP構成要素(110、120)及び前記レチクルを互いに対して固定するように構成される、請求項1、2又は3に記載の締付けデバイス(500)。
- 一つの締付け要素(210)が、前記締付けデバイス(200、500)が前記EIP(100)に取り付けられると前記保持手段(114)に作用するように構成されたアクチュエータ(214、514)を備える、請求項4又は5に記載の締付けデバイス(200、500)。
- 前記締付けデバイス(200、500)を取り付けることができるEIP(100)の包囲体積の130%、120%、110%、105%未満又は100%未満の包囲体積を有する、請求項1乃至6のいずれか一項に記載の締付けデバイス(200、500)。
- 前記締付けデバイス(200、500)を識別するように構成された情報伝達要素、
温度センサ、
圧力センサ、
前記締付けデバイス(200、500)を取り囲んでいる大気中の一つ若しくは複数の化学物質の濃度を検出若しくは測定するように構成された濃度センサ、及び/又は
加速度センサ
を含む一つ又は複数の構成要素を備えるロギング要素(218、518)を更に備え、
前記ロギング要素が、前記ロギング要素(218、518)の前記一つ若しくは複数の構成要素を使用して生成された情報を記憶及び/又は利用可能にするように構成される、請求項1乃至7のいずれか一項に記載の締付けデバイス(200、500)。 - 請求項1乃至8のいずれか一項に記載の締付けデバイス(200、500)及びEUV内部ポッド(EIP)(100)を備えた貯蔵システム(300、600)であって、前記EIP(100)が、
EUVレチクルを収納するように構成され、また、
二つ以上の構成要素(110、120)と、保持手段(114)であって、前記保持手段(114)が前記EIP(100)の外側から作用されると、前記レチクルを固定するように構成された保持手段(114)とを備え、
前記締付けデバイス(200、500)は、前記二つ以上の構成要素(110、120)を互いに対して固定し、前記保持手段(114)に作用するために前記EIP(100)に取り付けることができる、貯蔵システム(300、600)。 - 前記EIP(100)の包囲体積の130%、120%、110%又は105%未満の包囲体積を有する、請求項9に記載の貯蔵システム(300、600)。
- EUVレチクル・ストッカ(700)を操作する方法であって、EUVレチクルを前記レチクル・ストッカの中に貯蔵するステップ(400)と、レチクルを前記レチクル・ストッカ(700)から回収するステップ(410)とを含み、
前記貯蔵するステップ(400)が、レチクルを含んだ請求項9又は10に記載の貯蔵システム(300、600)を前記EUVレチクル・ストッカ(700)内の貯蔵位置(742)へ移動させるステップ(404)を含み、
前記回収するステップ(410)が、レチクルを含んだ請求項9又は10に記載の貯蔵システム(300、600)をその貯蔵位置(742)から除去するステップ(411)を含む、
方法。 - 前記貯蔵するステップ(400)が、貯蔵位置(742)へ移動させる前記ステップ(404)の前に、
EUV外部ポッド(EOP)(150)及びEUVレチクルを含んだEIP(100)を備えた二重ポッドを前記ストッカ(700)の外側から受け取るステップ(401)であって、前記EIP(100)が前記EOP(150)内に完全に含まれる、ステップ(401)と、
前記EOPを開けるステップ(402)と、
前記貯蔵システム(300、600)を提供するために、EIP構成要素(110、120)を互いに対して固定し、且つ、前記レチクルを前記EIP(100)に対して固定するために前記EIP(100)の中に含まれている保持手段(114)に作用するために、締付けデバイス(200、500)を前記EIP(100)に取り付けるステップ(403)と
を更に含む、請求項11に記載の方法。 - 二重ポッドを受け取るステップ(401)が、
エアーロック(710)を備えた入口ターミナルの外側に面している側で前記二重ポッドを受け入れるステップと、
前記エアーロック(710)の第1のシャッタを開けるステップと、
前記二重ポッドを前記エアーロック(710)の中へ移動させるステップと、
前記第1のシャッタを閉じるステップと、
前記エアーロック(710)の内部体積の汚染を除去するステップと、
前記エアーロック(710)の第2のシャッタを開けるステップと、
前記二重ポッドを前記第2のシャッタを通って前記入口ターミナルの内側に面している側へ移動させるステップと、
前記第2のシャッタを閉じるステップと
を含む、請求項11又は12に記載の方法。 - 前記EOP(150)を開けるステップ(402)が、
前記EOP(150)をアンロックするステップと、
前記EOP(150)を前記EIP(100)の周りから除去するステップと、
前記EOP(150)をEOPバッファ・ストック(750)の中に貯蔵するステップと
を含む、請求項11乃至13のいずれか一項に記載の方法。 - 前記貯蔵位置(742)から前記除去するステップ(411)の後の前記回収するステップ(410)が、
前記締付けデバイス(200、500)を前記EIP(100)から切り離すステップ(412)と、
前記EIP構成要素(110、120)及び前記EIP(100)内に含まれている前記レチクルを互いに対して固定するために前記EIP(100)の周りにEOP(150)を組み立てるステップ(413)と、二重ポッドを形成するステップと、
前記二重ポッドを前記ストッカ(700)の外側に引き渡すステップ(414)と
を更に含む、請求項11乃至14のいずれか一項に記載の方法。 - 少なくとも一つのEUVレチクルを貯蔵するためのストッカ(700)であって、前記少なくとも一つのレチクルの各々が一つのそれぞれのEUV内部ポッド(EIP)(100)の中に貯蔵され、前記EIP(100)が、締付けデバイス(200、500)によって互いに対して固定される二つ以上のEIP構成要素(110、120)を備え、前記EIP(100)が保持手段(114)を備え、前記保持手段(114)が、前記EIP(100)の外側から作用されると、前記EIP(100)の内側に貯蔵されている前記レチクルを前記EIP(100)に対して固定するように構成され、前記締付けデバイス(200、500)が前記保持手段(114)に作用して、前記EIP(100)内に貯蔵されている前記レチクルを固定し、前記ストッカ(700)が、
エアーロック(710)及びアセンブラ(720)を備えた装荷ポートと、
それぞれ一つの締付けデバイス(200、500)によって固定され、また、それぞれ一つのレチクルを含んだEIP(100)をそれぞれの貯蔵位置(742)に貯蔵するように構成された貯蔵ユニット(740)と、
締め付けられた、前記レチクルを含んだ前記EIP(100)を前記ストッカ(700)の前記貯蔵ユニット(740)内のそれぞれの貯蔵位置(742)へ、また、それぞれの貯蔵位置(742)から移動させるように構成されたハンドラ(730)と
を備え、
前記エアーロック(710)が、EUV外部ポッド(EOP)(150)及びレチクルを含んだEIP(100)を備えた二重ポッドを前記ストッカ(700)の外側から受け取るように構成され、前記EOP(150)が前記保持手段(114)に作用し、また、
前記アセンブラ(720)が、EIP構成要素(110、120)及び前記レチクルを互いに対して移動させることなく前記EOP(150)を開けるように構成され、前記アセンブラ(720)が、前記EIP構成要素(110、120)及び前記レチクルを互いに対して移動させることなく前記締付けデバイス(200、500)を前記EIP(100)に取り付け、また、前記締付けデバイス(200、500)を前記EIP(100)から除去するように構成され、また、前記アセンブラ(720)が、締め付けられていない前記EIP(100)の周りにEOP(150)を組み立てるように構成される、
ストッカ(700)。 - 取扱い手段を使用して、多数のEOP(150)を制御された大気中で貯蔵するように構成されたEOPバッファ・ストック(750)を更に備え、前記取扱い手段が、EOP(150)を前記EOPバッファ・ストック(750)の中に置き、また、EOP(150)を前記EOPバッファ・ストック(750)から回収するように構成される、請求項16に記載のストッカ(700)。
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