JP2023184316A - Analysis system, analysis method, and analysis program - Google Patents

Analysis system, analysis method, and analysis program Download PDF

Info

Publication number
JP2023184316A
JP2023184316A JP2022098386A JP2022098386A JP2023184316A JP 2023184316 A JP2023184316 A JP 2023184316A JP 2022098386 A JP2022098386 A JP 2022098386A JP 2022098386 A JP2022098386 A JP 2022098386A JP 2023184316 A JP2023184316 A JP 2023184316A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wall surface
analysis
surface information
range
deformation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2022098386A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP7466588B2 (en
Inventor
勇二 森
Yuji Mori
健一 須合
Kenichi Suai
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2022098386A priority Critical patent/JP7466588B2/en
Publication of JP2023184316A publication Critical patent/JP2023184316A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7466588B2 publication Critical patent/JP7466588B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)

Abstract

To provide an analysis system which reduces the time and cost required for analysis using structure wall surface information acquired at different times.SOLUTION: An analysis system 1 is provided, for analyzing wall surface information acquired at different times from a wall surface of the same structure to detect changes, the system comprising an analysis unit 31 configured to perform either of first processing for analyzing the wall surface information in a specific range of the wall surface and second processing for analyzing the wall surface information in a range greater than the specific range according to the time of acquisition.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本開示は、構造物の壁面情報を解析する解析システム、解析方法、および解析プログラムに関するものである。 The present disclosure relates to an analysis system, an analysis method, and an analysis program that analyze wall surface information of a structure.

トンネル、道路、または橋などの構造物の検査では、構造物の壁面を目視して壁面に発生している変状を検出することが行われていた。近年、構造物の検査の効率化のために計測装置を用いて構造物の壁面情報を取得し、取得した壁面情報を解析して構造物の変状を検出することが行われている。計測装置には、MMS(Mobile Mapping System)、ドローンなどの移動型計測装置、および人によって計測される計測装置が例示される。 In inspections of structures such as tunnels, roads, or bridges, the walls of the structures are visually inspected to detect deformations occurring on the walls. In recent years, in order to improve the efficiency of structural inspections, measurement devices have been used to acquire wall surface information of structures, and the acquired wall surface information has been analyzed to detect deformation of the structures. Examples of the measurement device include an MMS (Mobile Mapping System), a mobile measurement device such as a drone, and a measurement device measured by a person.

また、検出された変状の健全度を判定し、健全度に応じて経過観察、修理といった措置が取られていた。なお、計測装置を用いて得られる構造物の壁面情報には、レーザスキャナを用いて取得された3次元点群データ、撮像装置を用いて取得された画像データなどが例示される。また、構造物の変状には、ひび割れ、浮き、剥落、エフロレッセンス、鉄筋露出、腐食、漏水、滴水、欠損、コールドジョイント、析出物、ジャンカなどが例示される。 In addition, the soundness of the detected deformation was determined, and measures such as follow-up observation and repairs were taken depending on the soundness. Note that wall surface information of a structure obtained using a measuring device includes three-dimensional point group data obtained using a laser scanner, image data obtained using an imaging device, and the like. In addition, examples of structural deformations include cracks, floating, peeling, efflorescence, exposed reinforcing bars, corrosion, water leakage, dripping water, defects, cold joints, precipitates, junkers, and the like.

特許文献1には、異なる時期に取得された壁面情報を解析して得られた変状同士の差分を求めることにより、変状の進行の度合いを算出する解析システムが開示されている。変状の進行の度合いを把握することで、変状に対する修理といった措置の緊急度を把握することが可能となる。 Patent Document 1 discloses an analysis system that calculates the degree of progress of deformation by calculating the difference between deformations obtained by analyzing wall surface information acquired at different times. By understanding the degree of progress of the deformation, it becomes possible to grasp the urgency of measures such as repairs to the deformation.

特開2022-56085号公報JP2022-56085A

しかしながら、上記従来の技術によれば、構造物全体の変状の進行の度合いを把握するためには異なる時期に取得された壁面情報の全体を解析する必要がある。トンネル、道路、または橋といった大型の構造物全体の解析をするためには解析する情報が大きくなるため、解析にかかる時間、費用が増大してしまうという問題があった。 However, according to the above-mentioned conventional technology, in order to grasp the degree of progress of deformation of the entire structure, it is necessary to analyze the entire wall surface information acquired at different times. In order to analyze the entire large structure such as a tunnel, road, or bridge, the amount of information to be analyzed becomes large, which poses a problem in that the time and cost required for analysis increases.

本開示は、上記に鑑みてなされたものであって、異なる時期に取得された構造物の壁面情報を用いた解析に必要となる時間および費用の縮小を図ることができる解析システムを得ることを目的とする。 The present disclosure has been made in view of the above, and aims to provide an analysis system that can reduce the time and cost required for analysis using wall surface information of structures acquired at different times. purpose.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本開示は、同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析システムであって、取得された時期に応じて、壁面の特定の範囲について壁面情報を解析する第1の処理と、特定の範囲よりも広い範囲について壁面情報を解析する第2の処理とのいずれか一方を行う解析部を備える。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the purpose, the present disclosure is an analysis system that detects deformation by analyzing wall surface information obtained from the wall surface of the same structure at different times, an analysis unit that performs either a first process of analyzing wall surface information for a specific range of the wall surface or a second process of analyzing wall surface information for a wider range than the specific range, depending on the period of time. Be prepared.

本開示によれば、異なる時期に取得された構造物の壁面情報を用いた解析に必要となる時間および費用の縮小を図ることができる解析システムを得ることができるという効果を奏する。 According to the present disclosure, it is possible to obtain an analysis system that can reduce the time and cost required for analysis using wall surface information of a structure acquired at different times.

実施の形態1にかかる解析システムの機能構成を示す図A diagram showing the functional configuration of the analysis system according to Embodiment 1 実施の形態1における計測装置がトンネル内の壁面を計測している状態の一例を模式的に示す図A diagram schematically showing an example of a state in which the measuring device in Embodiment 1 measures a wall surface in a tunnel. 実施の形態1における計測装置によって生成された3次元点群データを示す図A diagram showing three-dimensional point cloud data generated by the measurement device in Embodiment 1 実施の形態1における記憶部に記憶された検査種別テーブルの一例を示す図A diagram showing an example of an examination type table stored in the storage unit in Embodiment 1. 実施の形態1における変状の健全度と、健全度に対する処置の対応関係を示す図A diagram showing the correspondence relationship between the soundness of deformation and the treatment for the soundness in Embodiment 1. 変状展開図の一例を示す図Diagram showing an example of a deformation development diagram 変状展開図の一例を示す図Diagram showing an example of a deformation development diagram 変状展開図の一例を示す図Diagram showing an example of a deformation development diagram コンター図の一例を示す図Diagram showing an example of a contour diagram コンター図の一例を示す図Diagram showing an example of a contour diagram コンター図の一例を示す図Diagram showing an example of a contour diagram 実施の形態1にかかる解析システムによる検査手順を説明するフローチャートFlowchart explaining the inspection procedure by the analysis system according to the first embodiment 実施の形態1にかかる解析システムのハードウェア構成を示す図A diagram showing a hardware configuration of an analysis system according to Embodiment 1.

以下に、実施の形態にかかる解析システム、解析方法、および解析プログラムを図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。 Below, an analysis system, an analysis method, and an analysis program according to an embodiment will be described in detail based on the drawings. Note that the present invention is not limited to this embodiment.

実施の形態1.
図1は、実施の形態1にかかる解析システムの機能構成を示す図である。実施の形態1では、解析システム1によって解析される構造物は道路または線路の途中に設けられるトンネルである場合を例示する。トンネルに例示される構造物は、定期的に検査が行われる。例えば、2年ごとに検査が行われ、検査で検出された変状の健全度が判定される。健全度に応じて経過観察するまたは修理するといった変状箇所への措置が決定される。実施の形態1にかかる解析システム1は、上述した構造物の検査に用いられる。
Embodiment 1.
FIG. 1 is a diagram showing a functional configuration of an analysis system according to a first embodiment. In the first embodiment, a case is illustrated in which the structure analyzed by the analysis system 1 is a tunnel provided in the middle of a road or a railroad. Structures, such as tunnels, are inspected regularly. For example, inspections are performed every two years, and the soundness of deformities detected during the inspection is determined. Measures to be taken to affected areas, such as follow-up observation or repair, are determined depending on the level of health. The analysis system 1 according to the first embodiment is used to inspect the structure described above.

解析システム1は、計測装置10と、記憶部20と、処理部30と、表示部40と、入力部50とを備える。計測装置10は、構造物の壁面情報を取得する装置である。例えば、道路上のトンネルの壁面情報を走行しながら取得するのであれば計測装置10には自動車、軌陸車が例示される。また、線路上のトンネルの壁面情報を走行しながら取得するのであれば計測装置10には鉄道車両、軌陸車が例示される。 The analysis system 1 includes a measuring device 10, a storage section 20, a processing section 30, a display section 40, and an input section 50. The measuring device 10 is a device that acquires wall surface information of a structure. For example, if information on the wall of a tunnel on a road is to be acquired while the vehicle is running, the measuring device 10 may be an automobile or a land rail vehicle. Furthermore, if information on the wall surface of a tunnel on a track is to be acquired while the vehicle is running, the measuring device 10 may be a railway vehicle or a land rail vehicle.

計測装置10は、レーザスキャナ装置11、撮像装置12、姿勢・位置計測装置13を有している。 The measuring device 10 includes a laser scanner device 11, an imaging device 12, and an attitude/position measuring device 13.

図2は、実施の形態1における計測装置がトンネル内の壁面を計測している状態の一例を模式的に示す図である。計測装置10は、図2に示すように、トンネルの壁面の3次元点群データを取得するレーザスキャナ装置11を有する。取得された3次元点群データは記憶部20に向けて送信される。図3は、実施の形態1における計測装置によって生成された3次元点群データを示す図である。3次元点群データは、計測装置10によって取得される壁面情報の1つである。 FIG. 2 is a diagram schematically showing an example of a state in which the measuring device according to Embodiment 1 measures a wall surface in a tunnel. As shown in FIG. 2, the measuring device 10 includes a laser scanner device 11 that acquires three-dimensional point group data on the wall surface of the tunnel. The acquired three-dimensional point group data is transmitted to the storage unit 20. FIG. 3 is a diagram showing three-dimensional point cloud data generated by the measuring device in the first embodiment. The three-dimensional point cloud data is one type of wall surface information acquired by the measuring device 10.

計測装置10は、トンネル内を走行しながらトンネルの壁面を撮影して画像データを取得する撮像装置12を有する。撮像装置12は、例えば8Kカメラである。画像データは記憶部20に向けて送信される。画像データは、計測装置10によって取得される壁面情報の1つである。 The measuring device 10 includes an imaging device 12 that photographs the wall surface of the tunnel and acquires image data while traveling inside the tunnel. The imaging device 12 is, for example, an 8K camera. The image data is transmitted toward the storage section 20. The image data is one type of wall surface information acquired by the measuring device 10.

姿勢・位置計測装置13は、例えばGPS(Grobal Positioning System)レシーバ、レーザードップラー速度計、パルス速度計、IMU(慣性計測装置:Inertial Measurement Unit)である。姿勢・位置計測装置13によって計測された計測装置10の姿勢を示す姿勢情報と計測装置10の位置を示す位置情報は、記憶部20に向けて送信される。 The attitude/position measuring device 13 is, for example, a GPS (Global Positioning System) receiver, a laser Doppler velocimeter, a pulse velocimeter, or an IMU (Inertial Measurement Unit). Posture information indicating the posture of the measuring device 10 measured by the posture/position measuring device 13 and position information indicating the position of the measuring device 10 are transmitted to the storage unit 20 .

記憶部20は、各種情報を記憶する記憶装置である。記憶部20には、計測装置10から送信された3次元点群データと画像データとが、両データの取得時期および取得位置と関連付けて記憶される。取得時期は、例えば計測装置10によって取得された年度である。両データの取得時期は、トンネルの検査が実施された時期を示す情報となる。実施の形態1では、検査が実施された時期を、検査年度とも称する。また、3次元点群データと画像データとをまとめて壁面情報とも称する。 The storage unit 20 is a storage device that stores various information. The storage unit 20 stores the three-dimensional point cloud data and image data transmitted from the measuring device 10 in association with the acquisition time and acquisition position of both data. The acquisition time is, for example, the year in which the measurement device 10 acquired the information. The acquisition time of both data is information indicating the time when the tunnel inspection was carried out. In the first embodiment, the time when the inspection was conducted is also referred to as the inspection year. In addition, the three-dimensional point group data and image data are collectively referred to as wall surface information.

記憶部20には、検査の種別を示す検査種別と検査年度とが関連付けられた検査種別テーブルが記憶されている。検査種別には詳細検査と簡易検査とが含まれる。後に詳説するが、処理部30において壁面情報への処理が検査種別によって異なる。 The storage unit 20 stores an examination type table in which the examination type indicating the type of examination and the examination year are associated with each other. The inspection types include a detailed inspection and a simple inspection. As will be explained in detail later, the processing performed on the wall surface information in the processing unit 30 differs depending on the type of inspection.

図4は、実施の形態1における記憶部に記憶された検査種別テーブルの一例を示す図である。図4に示す検査種別テーブルによれば、例えば、2022年に実施される検査は詳細検査(鉄道の場合、特別全般検査に相当)であり、2024年に実施される検査は簡易検査(鉄道の場合、通常全般検査に相当)である。また、図4に示す検査種別テーブルでは、2022年の詳細検査の後は、2年ごとに簡易検査が行われ、20年ごとに詳細検査が行われる。なお、検査年度と検査種別との関係はテーブル情報として予め記憶されていてもよいが、検査実施時に検査の実施者が都度入力するようにしてもよい。 FIG. 4 is a diagram showing an example of an examination type table stored in the storage unit in the first embodiment. According to the inspection type table shown in Figure 4, for example, the inspection to be carried out in 2022 is a detailed inspection (equivalent to a special general inspection in the case of railways), and the inspection to be carried out in 2024 is a simple inspection (equivalent to a special general inspection in the case of railways). (usually corresponds to a general examination). Furthermore, in the inspection type table shown in FIG. 4, after the detailed inspection in 2022, a simple inspection will be conducted every two years, and a detailed inspection will be conducted every 20 years. Note that the relationship between the inspection year and the inspection type may be stored in advance as table information, or may be input by the person conducting the inspection each time the inspection is performed.

記憶部20には、第1の判定結果が記憶される。第1の判定結果は、トンネルの健全度を示す情報である。第1の判定結果の取得手順などは後に詳説する。記憶部20には、第2の判定結果が記憶される。第2の判定結果は、簡易検査で得られる情報であり、壁面情報を詳細に解析する必要がある範囲を示す情報である。第2の判定結果の取得手順などは後に詳説する。 The first determination result is stored in the storage unit 20. The first determination result is information indicating the soundness of the tunnel. The procedure for obtaining the first determination result will be explained in detail later. The storage unit 20 stores the second determination result. The second determination result is information obtained through a simple inspection, and is information indicating a range in which wall surface information needs to be analyzed in detail. The procedure for obtaining the second determination result will be explained in detail later.

記憶部20には、壁面情報を解析した解析結果が記憶される。解析結果は例えば変状展開図およびコンター図である。なお、以下の説明では変状展開図およびコンター図の両方を解析結果として作成する例を挙げているが、いずれか一方のみが解析結果として作成されてもよい。 The storage unit 20 stores analysis results obtained by analyzing wall surface information. The analysis results are, for example, a deformation development diagram and a contour diagram. In the following description, an example is given in which both a deformation development diagram and a contour diagram are created as analysis results, but only one of them may be created as an analysis result.

処理部30は、解析部31、第1の判定部32、第2の判定部33、分析部34、表示処理部35を備える。解析部31は、計測装置10によって取得された壁面情報を解析する。解析部31は、処理種類判別部311、を有する。 The processing section 30 includes an analysis section 31 , a first determination section 32 , a second determination section 33 , an analysis section 34 , and a display processing section 35 . The analysis unit 31 analyzes wall surface information acquired by the measurement device 10. The analysis unit 31 includes a processing type determination unit 311.

処理種類判別部311は、記憶部20に記憶された検査種別テーブルを参照して、壁面情報に行う処理の種類を判別する。具体的には、詳細検査では広範囲解析処理(第2の処理)が行われ、簡易検査では部分解析処理(第1の処理)が行われる。次に、広範囲解析処理および部分解析処理の手順等について説明する。 The processing type determination unit 311 refers to the inspection type table stored in the storage unit 20 and determines the type of processing to be performed on the wall surface information. Specifically, a wide range analysis process (second process) is performed in a detailed examination, and a partial analysis process (first process) is performed in a simple examination. Next, the procedures of wide range analysis processing and partial analysis processing will be explained.

<広範囲解析処理について>
広範囲解析処理では、部分解析処理よりも広い範囲で壁面情報の詳細な解析が行われる。実施の形態1では、取得された壁面情報の全体で詳細な解析が行われる。広範囲解析処理では、解析処理部312は、記憶部20に記憶された壁面情報を取得する。解析処理部312は、取得した構造物全体の壁面情報を解析して変状を検出する。変状は、例えばひび割れ、浮き、剥落、エフロレッセンス、鉄筋露出、腐食、漏水、滴水、欠損、コールドジョイント、析出物、ジャンカなどが例示される。
<About wide range analysis processing>
In wide range analysis processing, detailed analysis of wall surface information is performed in a wider range than in partial analysis processing. In the first embodiment, a detailed analysis is performed on the entire acquired wall surface information. In the wide range analysis process, the analysis processing unit 312 acquires wall surface information stored in the storage unit 20. The analysis processing unit 312 analyzes the acquired wall surface information of the entire structure to detect deformation. Examples of deformations include cracks, floating, peeling, efflorescence, exposed reinforcing bars, corrosion, water leakage, dripping water, defects, cold joints, precipitates, junkers, and the like.

解析処理部312は、検出した変状に基づいて変状展開図を作成する。変状展開図とは、壁面情報を取得した壁面を平面状に展開した展開図を作成し、検出された変状を展開図上でその変状が検出された位置に表した図である。実施の形態1のように構造物がトンネルであれば、半円筒形状であるトンネルの壁面を平面状に展開した展開図を作成し、展開図上に検出された変状を反映させた図となる。作成された変状展開図は記憶部20に向けて送信される。 The analysis processing unit 312 creates a deformation development diagram based on the detected deformation. The deformation developed diagram is a diagram in which a developed diagram is created in which a wall surface from which wall surface information has been acquired is developed into a planar shape, and the detected deformation is expressed at the position where the deformation is detected on the developed diagram. If the structure is a tunnel as in Embodiment 1, a developed view is created in which the semi-cylindrical wall of the tunnel is expanded into a planar shape, and a diagram reflecting the deformation detected on the developed view is created. Become. The created deformation development diagram is transmitted to the storage unit 20.

解析処理部312は、取得した構造物全体の壁面情報を解析して壁面のひずみを算出する。解析処理部312は、異なる年度に取得された壁面情報同士の比較または基準となる壁面形状との比較によってひずみを算出する。解析処理部312は、算出されたひずみに基づいてコンター図を作成する。コンター図は、算出されたひずみを等高線(等値線)で示した図である。作成されたコンター図は記憶部20に向けて送信される。 The analysis processing unit 312 analyzes the acquired wall surface information of the entire structure and calculates the strain on the wall surface. The analysis processing unit 312 calculates distortion by comparing wall surface information acquired in different years or with a reference wall shape. The analysis processing unit 312 creates a contour diagram based on the calculated distortion. The contour diagram is a diagram showing the calculated strain using contour lines (isovalue lines). The created contour diagram is transmitted to the storage unit 20.

<部分解析処理について>
部分解析処理では、トンネルの特定の範囲で壁面情報の詳細な解析が行われる。部分解析処理では、解析処理部312は、前回の検査で取得された壁面情報に対する第1の判定部32による判定の結果で、健全度が中健全度(第2の健全度)であると判定された範囲を上述した特定の範囲に含める。なお、第1の判定部32による判定の結果が第1の判定結果であり、判定の手順などについては後に詳説する。また、前回の検査で中健全度と判定された範囲を前回中健全度範囲と称する。
<About partial analysis processing>
In the partial analysis process, detailed analysis of wall surface information is performed in a specific range of the tunnel. In the partial analysis process, the analysis processing unit 312 determines that the soundness is medium soundness (second soundness) based on the result of the judgment by the first judgment unit 32 on the wall surface information acquired in the previous inspection. The specified range is included in the specific range mentioned above. Note that the result of the determination by the first determination unit 32 is the first determination result, and the determination procedure and the like will be explained in detail later. Further, the range determined to be medium soundness in the previous inspection is referred to as the previous medium soundness range.

また、部分解析処理では今回の検査で取得した壁面情報について第2の判定部による判定が行われる。解析処理部312は、第2の判定部33による判定の結果で、要解析と判定された範囲を上述した特定の範囲に含める。なお、以下の説明において、要解析と判定された範囲を要解析範囲とも称する。また、第2の判定部33による判定の結果が第2の判定結果であり、判定の手順などについては後に詳説する。 In addition, in the partial analysis process, the second determination unit makes a determination on the wall surface information acquired in the current inspection. The analysis processing unit 312 includes the range determined to require analysis as a result of the determination by the second determination unit 33 into the above-mentioned specific range. In addition, in the following description, the range determined to require analysis is also referred to as the analysis required range. Further, the result of the determination by the second determination unit 33 is the second determination result, and the determination procedure and the like will be explained in detail later.

このように、部分解析処理では、構造物全体ではなく特定の範囲、すなわち広範囲解析処理よりも狭い範囲で壁面情報の解析が解析処理部312によって行われる。なお、部分解析処理での特定の範囲に対する解析は、広範囲解析処理と同様の解析が行われる。すなわち、特定の範囲で壁面情報を解析し、変状展開図およびコンター図が作成される。 In this way, in the partial analysis process, the analysis processing unit 312 analyzes the wall surface information not on the entire structure but in a specific range, that is, in a narrower range than in the wide range analysis process. Note that the analysis for a specific range in the partial analysis process is performed in the same way as the wide range analysis process. That is, wall surface information is analyzed in a specific range, and a deformation development diagram and a contour diagram are created.

次に、第1の判定部32および第2の判定部33による判定について説明する。 Next, the determination by the first determination section 32 and the second determination section 33 will be explained.

<第1の判定部32による判定について>
第1の判定部32は、今回の検査で取得された壁面情報に対して広範囲解析処理が行われた場合、すなわち今回の検査が詳細検査である場合には、広範囲解析処理によって作成された変状展開図およびコンター図を用いて変状の健全度の判定を行う。すなわち、構造物の全体に対して変状の健全度の判定が行われる。
<About the determination by the first determination unit 32>
The first determination unit 32 determines whether the wide-range analysis process is performed on the wall surface information acquired in the current inspection, that is, if the current inspection is a detailed inspection, the changes created by the wide-range analysis process are Determine the soundness of the deformation using the shape development diagram and contour diagram. That is, the soundness of deformation is determined for the entire structure.

第1の判定部32は、今回の検査で取得された壁面情報に対して部分解析処理が行われた場合、すなわち今回の検査が簡易検査である場合には、部分解析処理によって作成された変状展開図およびコンター図を用いて変状の健全度の判定を行う。すなわち、構造物の特定の範囲で変状の健全度の判定が行われる。 If the partial analysis process is performed on the wall surface information acquired in the current inspection, that is, if the current inspection is a simple inspection, the first determination unit 32 determines that the changes created by the partial analysis process are Determine the soundness of the deformation using the shape development diagram and contour diagram. That is, the soundness of deformation is determined in a specific range of the structure.

図5は、実施の形態1における変状の健全度と、健全度に対する処置の対応関係を示す図である。健全度は、変状の進行度合いおよび程度などに基づいて定められる指標である。健全度が低健全度(第1の健全度)と判定された場合には、当該箇所について過去の検査結果に遡って壁面情報の解析が行われる。また、健全度が中健全度と判定された場合には、将来的に低健全度になるおそれがあるものとして記録される。また、高健全度と判定された場合には、トンネルの機能に支障が生じていない状態であり、特別の措置は取られない。 FIG. 5 is a diagram illustrating the degree of soundness of deformation and the correspondence relationship between the degree of health and the treatment according to the first embodiment. The degree of health is an index determined based on the progress and degree of deformation. When the health level is determined to be low health level (first health level), wall surface information is analyzed retroactively to past inspection results for the location. Further, when the health level is determined to be medium health level, it is recorded as being likely to become low health level in the future. In addition, if the tunnel is determined to have high soundness, it means that there is no problem with the tunnel's functionality, and no special measures will be taken.

第1の判定部32は、判定された範囲と健全度とを対応付けた情報を記憶部20に送信する。判定された範囲と健全度とを対応付けた情報が第1の判定結果として記憶部20に記憶される。図5に示した例では健全度が3つに区分されて設定されているが、2つに区分されて設定されていてもよいし、より細かく区分されて設定されていてもよい。 The first determination unit 32 transmits information associating the determined range with the degree of health to the storage unit 20. Information associating the determined range with the degree of health is stored in the storage unit 20 as the first determination result. In the example shown in FIG. 5, the health level is divided into three categories and set, but it may be set in two categories, or may be set in more finely divided categories.

ここで、変状展開図と健全度の判定例およびコンター図と健全度の判定例を示す。図6から図8は、変状展開図の一例を示す図である。 Here, an example of a deformation development diagram and a determination of the degree of health, and an example of a contour diagram and a determination of the degree of health are shown. 6 to 8 are diagrams showing examples of deformation development diagrams.

図6に示す例では、変状は存在するものの、低健全度および中健全度と判定されるような変状は存在していない。図7に示す例では、変状として漏水、剥落が発生している範囲Aが中健全度と判定される。図8に示す例では、変状として漏水、ひび割れ、剥落が同時に発生している範囲Bが低健全度と判定される。 In the example shown in FIG. 6, although there is a deformation, there is no deformation that would be determined to be low or medium soundness. In the example shown in FIG. 7, range A in which water leakage and peeling have occurred as deformities is determined to have medium soundness. In the example shown in FIG. 8, range B in which water leakage, cracking, and peeling occur simultaneously as deformations is determined to have low soundness.

図9から図11は、コンター図の一例を示す図である。図9に示す例では、大きなひずみは見られず、低健全度および中健全度と判定されるひずみは存在していない。図10に示す例では、ひずみはあるもののその範囲は限定的である範囲Cが中健全度と判定される。図11に示す例では、ひずみのある範囲が大きく、その範囲Dが低健全度と判定される。 9 to 11 are diagrams showing examples of contour diagrams. In the example shown in FIG. 9, no large distortion is observed, and there is no distortion determined to be low or medium soundness. In the example shown in FIG. 10, range C, where there is distortion but the range is limited, is determined to be medium soundness. In the example shown in FIG. 11, the range with distortion is large, and the range D is determined to be low in soundness.

<第2の判定部33による判定について>
第2の判定部33は、今回の検査で取得された壁面情報に対して部分解析処理が行われる場合、すなわち今回の検査が簡易検査である場合には、解析処理部312による部分解析処理が必要となる要解析範囲を抽出する判定を行う。第2の判定部33による判定は部分解析処理の前に行われる。要解析範囲は、例えば、健全度が中健全度となる変状および低健全度となる変状が存在すると予想される範囲である。
<About the determination by the second determination unit 33>
The second determination unit 33 determines that when partial analysis processing is performed on the wall surface information acquired in the current inspection, that is, when the current inspection is a simple inspection, the partial analysis processing by the analysis processing unit 312 is performed. A judgment is made to extract the necessary analysis range. The determination by the second determination unit 33 is performed before the partial analysis process. The required analysis range is, for example, a range in which deformations with a medium soundness level and deformations with a low soundness level are expected to exist.

第2の判定部33による判定は、解析処理部312による解析が行われる前の壁面情報に基づいて行われる。そのため、解析処理部312による解析に基づいて行われる第1の判定部32による判定に比べて、その精度は低いものとなる。 The determination by the second determination unit 33 is performed based on the wall surface information before the analysis by the analysis processing unit 312 is performed. Therefore, the accuracy is lower than the determination made by the first determination section 32 based on the analysis by the analysis processing section 312.

そのため、部分解析処理では、要解析範囲に対して解析処理部312による解析を行い、その解析結果に対して第1の判定部32による判定を行うことで、解析を行う範囲を限定しつつ、その限定された範囲ではより正確な健全度の判定を行っている。 Therefore, in the partial analysis process, the analysis processing unit 312 performs analysis on the analysis range, and the first determination unit 32 makes a determination on the analysis result, thereby limiting the range to be analyzed. Within that limited range, more accurate health judgments are made.

<分析部34による分析処理について>
分析部34は、広範囲解析処理および部分解析処理における第1の判定部33による判定結果で低健全度となった範囲があった場合、過去の検査において未解析の壁面情報があるかを確認する。ここで、詳細検査で行われる広範囲解析処理では、構造物全体の壁面情報が解析されるので未解析の壁面情報はない。一方、簡易検査で行われる部分解析処理では特定の範囲のみ壁面情報が解析されるので、未解析の壁面情報が存在する。したがって、今回の検査と前回の詳細検査との間に簡易検査が行われていれば過去の検査において未解析の壁面情報があると判定される。
<About analysis processing by the analysis unit 34>
If there is a range in which the degree of soundness is low as a result of the judgment by the first judgment part 33 in the wide-range analysis process and the partial analysis process, the analysis part 34 checks whether there is wall surface information that has not been analyzed in past inspections. . Here, in the wide range analysis process performed in the detailed inspection, wall surface information of the entire structure is analyzed, so there is no unanalyzed wall surface information. On the other hand, in the partial analysis process performed in the simple inspection, wall surface information is analyzed only in a specific range, so there is unanalyzed wall surface information. Therefore, if a simple inspection was performed between the current inspection and the previous detailed inspection, it is determined that unanalyzed wall surface information exists in the past inspection.

分析部34は、部分解析処理において第1の判定部33による判定結果が低健全度となった範囲について、過去の未解析となった壁面情報を解析処理部312に解析させる。すなわち、部分解析処理において第1の判定部33による判定結果が低健全度となった範囲について過去の検査時の変状展開図およびコンター図が作成される。また、ここで作成された変状展開図およびコンター図は、解析結果として記憶部20に記憶される。 The analysis unit 34 causes the analysis processing unit 312 to analyze past unanalyzed wall surface information for the range in which the judgment result by the first judgment unit 33 is low soundness in the partial analysis process. That is, in the partial analysis process, a deformation development diagram and a contour diagram at the time of past inspections are created for the range in which the determination result by the first determination unit 33 was low soundness. Further, the deformation development diagram and contour diagram created here are stored in the storage unit 20 as analysis results.

過去の部分解析処理では第2の判定部33による判定では要解析範囲として抽出されなかったものの、実際には変状がすでに発生している場合がある。つまり、過去の部分解析処理では検出されなかった変状が存在している場合がある。このような変状がその後に低健全度と判定される状態に進行し、今回の検査で検出される場合がある。このような場合、従来であれば今回の検査で検出された変状の状態は把握できるものの、その進行の度合いまでは把握することが難しかった。一方、実施の形態1にかかる解析システムでは、変状が低健全度と判定された範囲について過去に遡って変状の検出が行われるので、変状の進行の度合いを把握することができる。 In past partial analysis processing, although the range was not extracted as an analysis range in the determination by the second determination unit 33, there are cases in which deformation has actually already occurred. In other words, there may be deformations that were not detected in past partial analysis processing. Such deformation may subsequently progress to a state where the state of health is determined to be low and may be detected during the current inspection. In such cases, conventionally, although it was possible to determine the state of the deformation detected by the current inspection, it was difficult to determine the extent of its progress. On the other hand, in the analysis system according to the first embodiment, deformation is detected retroactively in the range in which the deformation has been determined to have a low degree of health, so that the degree of progress of the deformation can be grasped.

例えば、図6に示した変状展開図が2024年の簡易検査で行われた部分解析処理の解析結果であり、図7に示した変状展開図が2026年の簡易検査で行われた部分解析処理の解析結果であり、図8に示した変状展開図が2028年の簡易検査で行われた部分解析処理の解析結果であるとする。そして、図7で示した範囲Aの変状が部分解析処理では要解析範囲として検出されず解析処理部312による解析は行われておらず、図8で示した範囲Bの変状が部分解析処理で要解析範囲と判定されて解析の結果で低健全度と判定されたとする。この場合、分析部34の指示で、2024年に取得された壁面情報の範囲Bに相当する範囲が解析処理部312によって解析される。また、2026年に取得された壁面情報の範囲Aが解析処理部312によって解析される。2024年の壁面情報の解析結果では変状は検出されないが、2026年の壁面情報の解析結果では範囲Aの変状が検出される。 For example, the deformation development diagram shown in Figure 6 is the analysis result of the partial analysis process performed in the simple inspection in 2024, and the deformation development diagram shown in Figure 7 is the part performed in the simple inspection in 2026. This is the analysis result of the analysis process, and it is assumed that the deformation development diagram shown in FIG. 8 is the analysis result of the partial analysis process performed in the simple inspection in 2028. The deformation in range A shown in FIG. 7 is not detected as a range requiring analysis in the partial analysis process and is not analyzed by the analysis processing unit 312, and the deformation in range B shown in FIG. Assume that the process determines that the range requires analysis, and the analysis results determine that the level of health is low. In this case, the analysis processing unit 312 analyzes a range corresponding to range B of the wall surface information acquired in 2024 according to instructions from the analysis unit 34 . Furthermore, the range A of the wall surface information acquired in 2026 is analyzed by the analysis processing unit 312. Although no deformation is detected in the analysis result of wall surface information in 2024, deformation in range A is detected in the analysis result of wall surface information in 2026.

表示処理部35は、解析結果を表示部40に表示させる。表示部40は、LCD(Liquid Crystal Display:液晶表示パネル)などで構成され、解析システム1のユーザに対して各種画面を表示する。表示部40はタッチパネルであってもよい。 The display processing section 35 causes the display section 40 to display the analysis results. The display unit 40 is composed of an LCD (Liquid Crystal Display) or the like, and displays various screens to the user of the analysis system 1. The display unit 40 may be a touch panel.

例えば、表示処理部35は、図7から図8に示した変状展開図を並べて表示部40に表示させる。これにより、解析システム1の使用者は、変状の進行度合いを把握することが可能となる。また、変状の進行度合いを把握することで、同じ低健全度と判定される変状であっても、修理などの必要な措置の緊急の度合いをより適切に判断しやすくなる。 For example, the display processing unit 35 causes the display unit 40 to display the deformation development diagrams shown in FIGS. 7 to 8 side by side. This allows the user of the analysis system 1 to grasp the degree of progress of the deformation. In addition, by understanding the degree of progress of deformation, it becomes easier to more appropriately judge the degree of urgency of necessary measures such as repairs, even for deformations that are determined to have the same low level of soundness.

入力部50は、ユーザが操作して情報を入力可能な装置であり、例えばキーボードである。表示部40がタッチパネルであれば表示部40を入力部50として機能させることができる。 The input unit 50 is a device that can be operated by a user to input information, and is, for example, a keyboard. If the display section 40 is a touch panel, the display section 40 can function as the input section 50.

次に、解析システム1による検査手順を、フローチャートを用いて説明する。図12は、実施の形態1にかかる解析システムによる検査手順を説明するフローチャートである。なお、図12に示す検査が行われる前にも検査が行われており、その結果が記憶部20に記憶されているものとする。 Next, the inspection procedure by the analysis system 1 will be explained using a flowchart. FIG. 12 is a flowchart illustrating an inspection procedure by the analysis system according to the first embodiment. It is assumed that a test has been performed before the test shown in FIG. 12 is performed, and the results are stored in the storage unit 20.

まず、計測装置10によって壁面情報が取得される(ステップS1)。取得される壁面情報は、詳細検査であっても簡易検査であっても差異はない。次に、取得された壁面情報が記憶部20に記憶される(ステップS2)。次に、今回の検査が、詳細検査であるか、簡易検査であるかが判別される(ステップS3)。 First, wall surface information is acquired by the measuring device 10 (step S1). There is no difference in the acquired wall surface information whether it is a detailed inspection or a simple inspection. Next, the acquired wall surface information is stored in the storage unit 20 (step S2). Next, it is determined whether the current inspection is a detailed inspection or a simple inspection (step S3).

今回の検査が詳細検査である場合には(ステップS3,Yes)、検査区間のすべての壁面情報に基づいた解析が行われ、変状展開図およびコンター図が作成され(ステップS4)、解析結果が記憶部20に記憶される(ステップS5)。 If the current inspection is a detailed inspection (Step S3, Yes), an analysis is performed based on all wall surface information in the inspection section, a deformation development diagram and a contour diagram are created (Step S4), and the analysis results are is stored in the storage unit 20 (step S5).

今回の検査が簡易検査である場合には(ステップS3,No)、壁面情報に基づいて第2の判定部33による判定が行われる(ステップS6)。第2の判定部による判定の結果で要解析範囲と判定された範囲、または前回の検査において中健全度と判定された前回中健全度範囲があった場合には(ステップS7,Yes)、その範囲に対して壁面情報の解析が行われ(ステップS8)、解析結果が記憶部20に記憶される(ステップS9)。なお、要解析範囲および前回中健全度範囲がなかった場合には(ステップS7,No)、処理が終了する。 If the current inspection is a simple inspection (step S3, No), the second determination unit 33 makes a determination based on the wall surface information (step S6). If there is a range that is determined to be an analysis range as a result of the determination by the second determination unit, or a previous medium-soundness range that was determined to be medium-soundness in the previous inspection (step S7, Yes), Wall surface information is analyzed for the range (step S8), and the analysis results are stored in the storage unit 20 (step S9). Note that if there is no required analysis range or previous health range (step S7, No), the process ends.

ステップS5の次に、またはステップS9の次に、解析結果に基づいて第1の判定部32による健全度の判定が行われる(ステップS10)。ここで、低健全度と判定された範囲がある場合には(ステップS11,Yes)、過去の検査において未解析であった壁面情報の有無が判別される(ステップS12)。なお、詳細検査では広範囲解析処理が行われるので壁面情報の全体に対して解析が行われる。したがって、広範囲解析処理が行われる検査では過去の未解析の壁面情報はない。そのため、未解析であった壁面情報の有無の判別は、第2の処理が行われる過去の検査と今回の検査との間に第1の処理が行われる検査の有無によって判別される。 After step S5 or after step S9, the first determination unit 32 determines the degree of health based on the analysis result (step S10). Here, if there is a range determined to be low in soundness (Step S11, Yes), it is determined whether there is wall surface information that has not been analyzed in past inspections (Step S12). Note that in the detailed inspection, wide-range analysis processing is performed, so the entire wall surface information is analyzed. Therefore, in an inspection in which wide range analysis processing is performed, there is no past unanalyzed wall surface information. Therefore, the presence or absence of unanalyzed wall surface information is determined based on the presence or absence of an inspection in which the first process is performed between the past inspection in which the second process is performed and the current inspection.

ここで、未解析であった壁面情報があった場合には(ステップS13,Yes)、未解析の壁面情報について、今回の検査で低健全度と判定された範囲について解析処理部312による解析が行われ(ステップS14)、解析結果が記憶部20に記憶される(ステップS15)。 Here, if there is unanalyzed wall surface information (step S13, Yes), the analysis processing unit 312 analyzes the unanalyzed wall surface information for the range determined to be low in soundness in the current inspection. is performed (step S14), and the analysis result is stored in the storage unit 20 (step S15).

未解析であった壁面情報が無かった場合(ステップS13,No)、およびステップS15の後には、解析結果を表示部40に表示させ(ステップS16)、処理が終了する。表示部40に表示される内容は、例えば今回の検査における解析結果と以前の検査における解析結果である。なお、ステップS11において低健全度と判定された範囲が無かった場合にも(ステップS11,No)処理が終了する。 If there is no unanalyzed wall surface information (step S13, No), and after step S15, the analysis result is displayed on the display unit 40 (step S16), and the process ends. The contents displayed on the display unit 40 are, for example, the analysis results of the current examination and the analysis results of previous examinations. Note that the process also ends when there is no range determined to have a low degree of health in step S11 (step S11, No).

図13は、実施の形態1にかかる解析システムのハードウェア構成を示す図である。解析システム1は、図13に示したプロセッサ301およびメモリ302により実現することができる。プロセッサ301の例は、CPU(Central Processing Unit、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、プロセッサ、DSP(Digital Signal Processor)ともいう)またはシステムLSI(Large Scale Integration)である。メモリ302の例は、RAM(Random Access Memory)またはROM(Read Only Memory)である。 FIG. 13 is a diagram showing the hardware configuration of the analysis system according to the first embodiment. The analysis system 1 can be realized by the processor 301 and memory 302 shown in FIG. An example of the processor 301 is a CPU (Central Processing Unit, central processing unit, processing unit, arithmetic unit, microprocessor, microcomputer, processor, also referred to as a DSP (Digital Signal Processor)) or a system LSI (Large Scale Integration). An example of the memory 302 is a RAM (Random Access Memory) or a ROM (Read Only Memory).

解析システム1は、プロセッサ301が、メモリ302で記憶されている解析システム1の動作を実行するためのプログラムを読み出して実行することにより実現される。また、このプログラムは、解析システム1の手順または方法をコンピュータに実行させるものであるともいえる。メモリ302は、プロセッサ301が各種処理を実行する際の一時メモリにも使用される。 The analysis system 1 is realized by the processor 301 reading and executing a program for executing the operation of the analysis system 1 stored in the memory 302. It can also be said that this program causes a computer to execute the procedure or method of the analysis system 1. The memory 302 is also used as temporary memory when the processor 301 executes various processes.

プロセッサ301が実行するプログラムは、コンピュータで実行可能な、データ処理を行うための複数の命令を含むコンピュータ読取り可能かつ非遷移的な(non-transitory)記録媒体を有するコンピュータプログラムプロダクトであってもよい。プロセッサ301が実行するプログラムは、複数の命令がデータ処理を行うことをコンピュータに実行させる。 The program executed by the processor 301 may be a computer program product having a computer-readable non-transitory storage medium that is executable by a computer and includes a plurality of instructions for performing data processing. . The program executed by processor 301 causes the computer to execute a plurality of instructions to perform data processing.

また、解析システム1を専用のハードウェアで実現してもよい。また、解析システム1の機能について、一部を専用のハードウェアで実現し、一部をソフトウェアまたはファームウェアで実現するようにしてもよい。 Furthermore, the analysis system 1 may be realized by dedicated hardware. Moreover, some of the functions of the analysis system 1 may be realized by dedicated hardware, and some may be realized by software or firmware.

以上説明した解析システム1によれば、簡易検査では取得した壁面情報の一部のみ解析しているので、解析に必要となる時間および費用の縮小を図ることができる。また、低健全度と判定された範囲については過去に遡って壁面情報の解析をするので、変状の進行度合いなどもより正確に把握することができる。したがって、変状の修理など必要な措置を実施する緊急度もより正確かつより細やかに把握することが可能となる。また、過去に遡っての壁面情報の解析は、壁面情報の全体を解析するものではないので、解析に必要となる時間および費用の増大も防ぐことができる。ここで、詳細検査であっても簡易検査であっても取得する壁面情報について大きな差を設けていないため、過去に遡っての詳細な解析が可能となっている。 According to the analysis system 1 described above, only a part of the acquired wall surface information is analyzed in the simple inspection, so it is possible to reduce the time and cost required for analysis. In addition, since wall surface information is analyzed retroactively for areas determined to have low health, it is possible to more accurately grasp the degree of progress of deformation. Therefore, it becomes possible to grasp the degree of urgency for implementing necessary measures such as repairing deformities more accurately and in more detail. Further, since the analysis of wall information going back in the past does not analyze the entire wall information, it is possible to prevent an increase in the time and cost required for analysis. Here, since there is no major difference in the wall surface information obtained whether it is a detailed inspection or a simple inspection, detailed analysis retroactive to the past is possible.

なお、記憶部20は解析システム1の外部に設けられていてもよく、例えば解析システム1とネットワークで接続されたクラウドであってもよい。 Note that the storage unit 20 may be provided outside the analysis system 1, and may be, for example, a cloud connected to the analysis system 1 via a network.

また、簡易検査において第2の判定部33によって判定される要解析範囲は、第2の判定部33による判定に代えて、利用者が入力部50を操作して入力するように構成されていてもよい。例えば、変状展開図およびコンター図に変換される前の3次元点群データおよび画像データを利用者が目視して要解析範囲を抽出し、入力部50を操作してその範囲を入力してもよい。 Further, the analysis range determined by the second determination unit 33 in the simple test is configured to be input by the user by operating the input unit 50 instead of being determined by the second determination unit 33. Good too. For example, a user visually observes the three-dimensional point cloud data and image data before being converted into a deformation development diagram and a contour diagram, extracts the range to be analyzed, and inputs the range by operating the input unit 50. Good too.

また、実施の形態1にかかる解析システム1では、解析結果を表示部40に表示させて利用者が変状の進行度合いを把握しやすいようにしているが、解析システム1が解析結果に基づいて変状の進行度合いを判別し、判別した進行度を利用者に提示するようにしてもよい。例えば、健全度と同様に進行の度合いも指標で表して表示部40に表示させてもよい。 Further, in the analysis system 1 according to the first embodiment, the analysis results are displayed on the display unit 40 so that the user can easily understand the degree of progress of the deformation, but the analysis system 1 The degree of progress of the deformation may be determined and the determined degree of progress may be presented to the user. For example, like the health level, the degree of progress may also be expressed as an index and displayed on the display unit 40.

以上の実施の形態に示した構成は、本開示の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本開示の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。 The configurations shown in the embodiments described above are examples of the contents of the present disclosure, and can be combined with other known technologies, and the configurations can be modified without departing from the gist of the present disclosure. It is also possible to omit or change parts.

1 解析システム、10 計測装置、11 レーザスキャナ装置、12 撮像装置、13 姿勢・位置計測装置、20 記憶部、30 処理部、31 解析部、32 第1の判定部、33 第2の判定部、34 分析部、35 表示処理部、40 表示部、50 入力部、301 プロセッサ、302 メモリ、311 処理種類判別部、312 解析処理部。 1 analysis system, 10 measurement device, 11 laser scanner device, 12 imaging device, 13 posture/position measurement device, 20 storage unit, 30 processing unit, 31 analysis unit, 32 first determination unit, 33 second determination unit, 34 analysis section, 35 display processing section, 40 display section, 50 input section, 301 processor, 302 memory, 311 processing type determination section, 312 analysis processing section.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本開示は、同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析システムであって、壁面情報が取得された時期に対応づけられた検査種別に応じて、壁面の特定の範囲について壁面情報を解析する第1の処理と、特定の範囲よりも広い範囲について壁面情報を解析する第2の処理とのいずれか一方を行う解析部を備える。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the objectives, the present disclosure provides an analysis system that detects deformation by analyzing wall surface information obtained from the wall surface of the same structure at different times , A first process that analyzes wall surface information for a specific range of the wall surface, and a second process that analyzes wall surface information for a wider range than the specific range, according to the inspection type associated with the time when the wall surface was acquired. and an analysis section that performs either one of the following.

Claims (7)

同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析システムであって、
取得された時期に応じて、前記壁面の特定の範囲について前記壁面情報を解析する第1の処理と、前記特定の範囲よりも広い範囲について前記壁面情報を解析する第2の処理とのいずれか一方を行う解析部を備えることを特徴とする解析システム。
An analysis system that detects deformation by analyzing wall surface information obtained from the wall surface of the same structure at different times,
Depending on the time of acquisition, either a first process of analyzing the wall surface information for a specific range of the wall surface or a second process of analyzing the wall surface information for a wider range than the specific range. An analysis system characterized by comprising an analysis section that performs one of the following.
前記解析部による解析結果に基づいて前記変状の健全度を判定する第1の判定部をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の解析システム。 The analysis system according to claim 1, further comprising a first determination unit that determines the degree of soundness of the deformation based on the analysis result by the analysis unit. 前記解析部は、前記第1の判定部によって判定された前記健全度が第1の健全度である範囲に対して、以前に取得されて前記第1の処理が行われた前記壁面情報に遡って前記壁面情報を解析することを特徴とする請求項2に記載の解析システム。 The analysis unit is configured to retroactively analyze the wall surface information previously acquired and subjected to the first process for a range in which the health level determined by the first determination unit is a first health level. 3. The analysis system according to claim 2, wherein the wall surface information is analyzed using the following methods. 前記特定の範囲は、以前に前記第1の判定部によって判定された前記健全度が前記第1の健全度より健全である第2の健全度となる範囲であることを特徴とする請求項3に記載の解析システム。 3. The specific range is a range in which the degree of health previously determined by the first determination unit is a second degree of health that is healthier than the first degree of health. Analysis system described in. 前記第1の処理および前記第2の処理を行う前の前記壁面情報に基づいて前記壁面の状態を判定する第2の判定部をさらに備え、
前記特定の範囲には、前記第2の判定部によって要解析と判定された範囲が含まれることを特徴とする請求項4に記載の解析システム。
further comprising a second determination unit that determines the state of the wall surface based on the wall surface information before performing the first processing and the second processing,
5. The analysis system according to claim 4, wherein the specific range includes a range determined to require analysis by the second determination unit.
同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析方法であって、
取得された時期に応じて、前記壁面の特定の範囲について前記壁面情報を解析する第1の処理と、前記特定の範囲よりも広い範囲について前記壁面情報を解析する第2の処理とのいずれか一方を行うステップを備えることを特徴とする解析方法。
An analysis method for detecting deformation by analyzing wall surface information obtained from the wall surface of the same structure at different times, the method comprising:
Depending on the time of acquisition, either a first process of analyzing the wall surface information for a specific range of the wall surface or a second process of analyzing the wall surface information for a wider range than the specific range. An analysis method characterized by comprising a step of performing one of the following.
同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析プログラムであって、
取得された時期に応じて、前記壁面の特定の範囲について前記壁面情報を解析する第1の処理と、前記特定の範囲よりも広い範囲について前記壁面情報を解析する第2の処理とのいずれか一方を行うステップを、コンピュータに実行させることを特徴とする解析プログラム。
An analysis program that detects deformation by analyzing wall surface information obtained from the wall surface of the same structure at different times,
Depending on the time of acquisition, either a first process of analyzing the wall surface information for a specific range of the wall surface or a second process of analyzing the wall surface information for a wider range than the specific range. An analysis program characterized by causing a computer to execute steps for performing one of the above.
JP2022098386A 2022-06-17 2022-06-17 Analysis system, analysis method, and analysis program Active JP7466588B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022098386A JP7466588B2 (en) 2022-06-17 2022-06-17 Analysis system, analysis method, and analysis program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022098386A JP7466588B2 (en) 2022-06-17 2022-06-17 Analysis system, analysis method, and analysis program

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2023184316A true JP2023184316A (en) 2023-12-28
JP7466588B2 JP7466588B2 (en) 2024-04-12

Family

ID=89333477

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022098386A Active JP7466588B2 (en) 2022-06-17 2022-06-17 Analysis system, analysis method, and analysis program

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7466588B2 (en)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62203048A (en) * 1986-03-03 1987-09-07 Nippon Steel Corp Apparatus for inspecting shape
JPH11259656A (en) * 1998-03-10 1999-09-24 Teito Rapid Transit Authority Tunnel wall surface decision device
JP2007026255A (en) * 2005-07-20 2007-02-01 East Japan Railway Co Method for extracting progress of defective point inside image
JP2017071972A (en) * 2015-10-08 2017-04-13 株式会社ニコン Inspection support method and inspection support system
JP2020085546A (en) * 2018-11-19 2020-06-04 国立研究開発法人産業技術総合研究所 System for supporting inspection and repair of structure
JP2020139748A (en) * 2019-02-26 2020-09-03 ジオ・サーチ株式会社 Reinforced concrete structure evaluation equipment, method, and program
JP2022053927A (en) * 2020-09-25 2022-04-06 宇部興産株式会社 Method for monitoring, monitoring system, and monitoring program
JP2022056085A (en) * 2020-09-29 2022-04-08 キヤノン株式会社 Information processing device, information processing method, and program
JP2022062915A (en) * 2020-10-09 2022-04-21 キヤノン株式会社 Information processor, method for processing information, and program

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62203048A (en) * 1986-03-03 1987-09-07 Nippon Steel Corp Apparatus for inspecting shape
JPH11259656A (en) * 1998-03-10 1999-09-24 Teito Rapid Transit Authority Tunnel wall surface decision device
JP2007026255A (en) * 2005-07-20 2007-02-01 East Japan Railway Co Method for extracting progress of defective point inside image
JP2017071972A (en) * 2015-10-08 2017-04-13 株式会社ニコン Inspection support method and inspection support system
JP2020085546A (en) * 2018-11-19 2020-06-04 国立研究開発法人産業技術総合研究所 System for supporting inspection and repair of structure
JP2020139748A (en) * 2019-02-26 2020-09-03 ジオ・サーチ株式会社 Reinforced concrete structure evaluation equipment, method, and program
JP2022053927A (en) * 2020-09-25 2022-04-06 宇部興産株式会社 Method for monitoring, monitoring system, and monitoring program
JP2022056085A (en) * 2020-09-29 2022-04-08 キヤノン株式会社 Information processing device, information processing method, and program
JP2022062915A (en) * 2020-10-09 2022-04-21 キヤノン株式会社 Information processor, method for processing information, and program

Also Published As

Publication number Publication date
JP7466588B2 (en) 2024-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Farahani et al. A coupled 3D laser scanning and digital image correlation system for geometry acquisition and deformation monitoring of a railway tunnel
Adhikari et al. Image-based retrieval of concrete crack properties for bridge inspection
JP7319432B2 (en) LEARNING DATA COLLECTION DEVICE, LEARNING DATA COLLECTION METHOD, AND PROGRAM
JP2006337144A (en) Fatigue life diagnostic method and diagnostic support device of bridge
Safa et al. Rail corrosion forensics using 3D imaging and finite element analysis
Tzortzinis et al. Using 3D laser scanning for estimating the capacity of corroded steel bridge girders: Experiments, computations and analytical solutions
JP6619516B2 (en) Damage diagram editing apparatus and damage diagram editing method
Nagrodzka-Godycka et al. The method of analysis of damage reinforced concrete beams using terrestrial laser scanning
JP2021047197A (en) Damage data editing device, damage data editing method and program
JP2019020220A (en) Image processing apparatus, image processing method, and program
Dellenbaugh et al. Development of a distortion-induced fatigue crack characterization methodology using digital image correlation
CN106225702A (en) Fracture width detection apparatus and method
JP2019114146A (en) Rebar inspection support device
Wu et al. Visual measurement method for three-dimensional shape of underwater bridge piers considering multirefraction correction
JP6356579B2 (en) Eddy current flaw detector and eddy current flaw detection method
JP2023184316A (en) Analysis system, analysis method, and analysis program
KR20100003648A (en) Crack monitoring system, crack monitoring method and computer readable medium on which crack monitoring program is recorded
Shi et al. Automated change diagnosis of single-column-pier bridges based on 3d imagery data
Weinhuber et al. No second chance–monitoring destructive bridge load tests
JP3612293B2 (en) Method and apparatus for measuring residual stress in object
Yuan et al. Bridge Construction Monitoring Using LiDAR Data
Pereyra et al. Damage detection in a stiffened plate using modal strain energy differences
JP7433623B2 (en) Structure image management system
JP3043918B2 (en) Diagnosis method for corrosion of pipe inner surface
Azami et al. Developing a nondestructive test system using drone for aircraft inspection

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230718

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20230718

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230829

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231027

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20231226

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240216

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240305

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240402

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7466588

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150