JP2023141299A - memory system - Google Patents
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Abstract
Description
本実施形態は、メモリシステムに関する。 This embodiment relates to a memory system.
ホスト装置と接続可能なメモリシステムが知られている。メモリシステムは、データが記録されるメモリと、メモリに接続され、メモリを制御するためのコントローラと、コントローラに接続され、外部のホスト装置に接続可能なコネクタとを備える。メモリシステムは、例えばSSDなどであり、メモリは、例えば不揮発性メモリなどである。メモリシステムは、低電圧動作に対応するため、ホスト装置からの入力信号を検出し、適切な電圧に切り替え可能とすることが求められる。 Memory systems that can be connected to a host device are known. A memory system includes a memory in which data is recorded, a controller connected to the memory to control the memory, and a connector connected to the controller and connectable to an external host device. The memory system is, for example, an SSD, and the memory is, for example, a nonvolatile memory. In order to support low voltage operation, memory systems are required to be able to detect an input signal from a host device and switch to an appropriate voltage.
一つの実施形態は、ホスト装置からの入力信号を検出し、適切な電圧に切り替え可能とするメモリシステムを提供することを目的とする。 One embodiment aims to provide a memory system that can detect an input signal from a host device and switch to an appropriate voltage.
一つの実施形態によれば、コネクタと不揮発性メモリとコントローラとを有するメモリシステムが提供される。コネクタは、それぞれがホスト装置に接続可能である第1の端子及び第2の端子を有する。コントローラは、コネクタと不揮発性メモリとの間に接続される。周辺回路は、コネクタとコントローラとの間に接続される。コントローラは、制御回路と第1の信号ラインと第2の信号ラインと第1の抵抗素子とを有する。制御回路は、第1のノード及び第2のノードを有する。第1の信号ラインは、第1の端子と第1のノードとの間に接続される。第1の信号ラインは、第1の電源レベル又は第2の電源レベルにプルアップ可能である。第2の信号ラインは、第2の端子に接続される。第1の抵抗素子は、一端が第1の信号ラインに接続され、他端が第2の信号ラインに接続される。 According to one embodiment, a memory system is provided that includes a connector, non-volatile memory, and a controller. The connector has a first terminal and a second terminal, each of which is connectable to a host device. A controller is connected between the connector and the nonvolatile memory. A peripheral circuit is connected between the connector and the controller. The controller includes a control circuit, a first signal line, a second signal line, and a first resistance element. The control circuit has a first node and a second node. A first signal line is connected between the first terminal and the first node. The first signal line is pullable to a first power level or a second power level. A second signal line is connected to the second terminal. One end of the first resistance element is connected to the first signal line, and the other end is connected to the second signal line.
以下に添付図面を参照して、実施形態にかかるメモリシステムを詳細に説明する。なお、この実施形態により本発明が限定されるものではない。 A memory system according to an embodiment will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. Note that the present invention is not limited to this embodiment.
(実施形態)
図1は、実施形態にかかるメモリシステム1と、メモリシステム1に接続可能なホスト装置101とを含む情報処理システム200の構成を示すブロック図である。実施形態にかかるメモリシステム1を含む情報処理システム200は、図1に示すように構成され得る。
(Embodiment)
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an
情報処理システム200は、ホスト装置101及びメモリシステム1を含む。情報処理システム200において、ホスト装置101には、メモリシステム1が通信可能に接続され得る。
The
ホスト装置101は、例えば、サーバー、パーソナルコンピュータなどの情報処理装置や、タブレット、スマートフォンなどの携帯端末であってもよい。また、ゲーム機器、撮像装置、或いはカーナビゲーションシステムなど車載端末であってもよい。
The
メモリシステム1は、例えば、SSD(Solid State Drive)などのメモリデバイスである。メモリシステム1は、本実施形態では、例えば、比較的小型のモジュールを想定し、その外形寸法(サイズ)の一例は、22mm×80mmとする。しかしながら、メモリシステム1のサイズはこれに限られるものではない。
The
ホスト装置101は、コネクタ部102を有し、メモリシステム1は、コネクタ部10を有する。コネクタ部10は、基板8の端部に配され、エッジコネクタ3として構成され得る。コネクタ部102は、ホスト装置101におけるマザーボード(図示せず)上又は端部に配され、エッジコネクタ3に対応したソケット103として構成され得る。
The
メモリシステム1側のコネクタ部10とホスト装置101側のコネクタ部102とは、フォームファクタの規格(例えば、M.2フォームファクタ)に従った形状を有している。コネクタ部10のエッジコネクタ3には、基板8の短手方向に沿った中心位置からずれた位置にノッチ3aが形成されている。エッジコネクタ3におけるノッチ3aが形成されている位置は、例えば図1に示すような、M.2フォームファクタにおける「Mキー」の位置であってもよいし、図示しない、M.2フォームファクタにおける「B&Mキー」の位置であってもよい。コネクタ部102のソケット103には、エッジコネクタ3のノッチ3aに対応した位置に突起103aが設けられている。
The
ノッチ3a及び突起103aは、エッジコネクタ3をソケット103に接続する際に、互いに嵌まり合うように構成されている。
The
これにより、ホスト装置101のコネクタ部102には、複数種のフォームファクタのうち所望のフォームファクタ(例えば、M.2フォームファクタ)が選択され、所望のフォームファクタの規格に従った複数種のタイプのコネクタのうち所望のタイプ(例えば、「Mキー」に対応したタイプM、「B&Mキー」に対応したタイプB+M)のメモリシステム1のコネクタ部10が選択されて接続されるようになっている。また、ノッチ3aと突起103aが設けられる位置は、ホスト装置101に対してメモリシステム1が表裏逆に取り付けられることを防ぐようになっている。
As a result, a desired form factor (for example, M.2 form factor) is selected from among the plurality of form factors for the
エッジコネクタ3とソケット103とには、互いに対応した複数の端子が配されている。エッジコネクタ3がソケット103に接続された際に、エッジコネクタ3の各端子は、対応するソケット103の端子に接触し電気的に接続される。これにより、ホスト装置101には、メモリシステム1が通信可能に接続され得る。
A plurality of terminals corresponding to each other are arranged on the
なお、図1では、エッジコネクタ3が物理的コネクタとして実装される構成が例示されるが、エッジコネクタ3は、基板8の端部に、規格に沿った形で配置されたパターンにメッキ処理を行った端子群として実装されてもよい。
Although FIG. 1 shows an example of a configuration in which the
ホスト装置101は、通信コントローラ110、DRAM106、バス109、及びCPU107をさらに有する。通信コントローラ110、DRAM106、及びCPU107は、バス109を介して互いに接続されている。CPU107は、ホスト装置101の各部を統括的に制御する。DRAM106は、メモリシステム1との間で信号(例えば、コマンド、データなど)を送受信する際にバッファとして機能したり、CPU107の作業領域として機能したりする。
The
メモリシステム1は、周辺回路20、コントローラ30、DRAM6、不揮発性メモリ40をさらに有する。周辺回路20は、コネクタ部10とコントローラ30との間に電気的に接続される。周辺回路20は、例えば、基板上に形成された銅箔によるパターンで配線が形成され抵抗やコンデンサ、FETなどを含む回路として実装され得る。コントローラ30は、メモリシステム1の各部を統括的に制御する。コントローラ30は、システムオンチップ(SoC)として実装され得る。DRAM6は、ホスト装置101又はNANDメモリ5-1~5-nとの間で信号(例えば、コマンド、データなど)を送受信する際にバッファとして機能したり、コントローラ30の作業領域として機能したりする。不揮発性メモリ40は、例えば複数のNAND型フラッシュメモリ(以下、NANDメモリと称する)5-1~5-n(nは2以上の整数)を含む。各NANDメモリ5-1~5-nは、データを不揮発に記憶する。NANDメモリ5-1~5-nは、複数のメモリセルがマトリクス状に配列されたメモリセルアレイを有し、個々のメモリセルは、例えば上位ページ及び下位ページを使用して多値記憶が可能であってもよい。NANDメモリ5-1~5-nは、複数のメモリチップによって構成され、また、NANDメモリ5-1~5-nでは、ブロック単位でデータの消去が行われ、ページごとにデータの書き込み及びデータの読み出しが行われる。ブロックは、複数のページによって構成されている。
The
メモリシステム1のコネクタ部10がホスト装置101のコネクタ部102に接続されると、通信コントローラ110は、CPU107による制御に従い、コネクタ部102、コネクタ部10、周辺回路20経由でコントローラ30と通信可能になる。通信コントローラ110は、CPU107からバス109経由で受けたコマンド・データ等を、コネクタ部102、コネクタ部10、周辺回路20経由でコントローラ30に送信できる。コントローラ30は、DRAM6をバッファーメモリとして用いながら、コマンドに従い、NANDメモリ5-1~5-nにデータを書き込んだりNANDメモリ5-1~5-nからデータを読み出したりし、その後、応答・データ等を通信コントローラ110へ送信する。通信コントローラ110は、コントローラ30から周辺回路20、コネクタ部10、コネクタ部102経由で応答・データ等を受信し、受信された応答・データ等をバス109経由でCPU107へ転送できる。
When the
図2は、本実施形態にかかるメモリシステム1の構成を示す回路ブロック図である。メモリシステム1は、ホスト装置101から受ける信号の電源レベルについて、異なる複数の電源レベルに対応可能に構成される。
FIG. 2 is a circuit block diagram showing the configuration of the
複数の電源レベルは、例えば、2つの電源レベルVDD1及び電源レベルVDD2を含む。例えば、電源レベルVDD1は、1.8Vであり、電源レベルVDD2は、3.3Vである。ここでは、低い電源レベルVDD1に対応した信号を低電圧信号と呼び、高い電源レベルVDD2に対応した信号を高電圧信号と呼ぶことにする。 The plurality of power levels includes, for example, two power levels VDD1 and VDD2. For example, power level VDD1 is 1.8V, and power level VDD2 is 3.3V. Here, the signal corresponding to the low power supply level VDD1 will be referred to as a low voltage signal, and the signal corresponding to the high power supply level VDD2 will be referred to as a high voltage signal.
図2に示すコネクタ部10は、複数の端子11~15を有する。各端子11~15のそれぞれは、ホスト装置101のソケット103にある複数の端子(図示せず)に対応して接続可能である。各端子11~15は、例えばエッジコネクタ3の端子(図1参照)として実装され得る。
The
端子11は、ホスト装置101から第1の信号を受信するための端子である。第1の信号は、例えば第1のイベントの発生を通知するための信号である。第1のイベントは、例えば、電源断を含む。第1の信号は、ローアクティブの信号であり、第1のイベントの発生を通知しないときにHレベルに維持され、第1のイベントの発生を通知するときにLレベルに維持される。第1の信号は、規格により、制御信号の電圧レベルに従った電源レベルでメモリシステム1側がプルアップするように決められている。
The terminal 11 is a terminal for receiving a first signal from the
端子12は、ホスト装置101から第2の信号を受信するための端子である。第2の信号は、例えばホスト装置101と送受信される信号が低電圧信号か否かを示す信号である。第2の信号は、ハイアクティブの信号であり、ホスト装置101と送受信される第1~第6の信号が低電圧信号であるときにHレベルに維持され、ホスト装置101と送受信される第1~6の信号が低電圧信号でない(すなわち、高電圧信号である)ときにホスト装置101から端子12に第2の信号が出力されないのでLレベルに維持される。
The terminal 12 is a terminal for receiving a second signal from the
端子13は、ホスト装置101へ第3の信号を送信するための端子である。第3の信号は、例えば第1のイベントに対応した動作の完了を通知するための信号である。第1のイベントに対応した動作は、例えば、電源断に応じたデータの退避動作を含む。第3の信号は、ローアクティブの信号であり、第1のイベントに対応した動作の完了を通知しないときにHレベルに維持され、第1のイベントに対応した動作の開始を通知するときにLレベルに維持され、第1のイベントの完了を通知するときに再びHレベルに維持される。
The terminal 13 is a terminal for transmitting a third signal to the
端子14は、ホスト装置101から第4の信号を受信するための端子である。第4の信号は、例えば第2のイベントの実行を要求するための信号である。第2のイベントは、例えば、初期化動作を含む。第4の信号は、ローアクティブの信号であり、第2のイベントの実行を要求するときにLレベルに維持され、第2のイベントの実行を解除するときにHレベルに維持される。
The terminal 14 is a terminal for receiving the fourth signal from the
端子15は、ホスト装置101へ第5の信号を送信するとともに第6の信号を受信するための端子である。第5の信号は、例えば第3のイベントの実行を要求するための信号である。第3のイベントは、例えば、高速クロック信号の供給を含む。第5の信号は、ローアクティブの信号であり、第3のイベントの実行を要求するときにLレベルに維持され、第3のイベントの実行を要求しないときにHレベルに維持される。第6の信号は、例えば第3のイベントに関連した信号である。第3のイベントに関連した信号は、例えば、第3のイベントの停止で高速クロック信号が供給されない状態の解除を含む。第6の信号は、ローアクティブの信号であり、第3のイベントが停止中Hレベルを維持している第5の信号をLレベルにする事で、メモリシステム1が高速クロック信号を基準とした通信を停止した状態を解除する。
The terminal 15 is a terminal for transmitting a fifth signal to the
周辺回路20及びコントローラ30は、基本的に電源レベルVDD2を用いて動作可能であるが、電源レベルVDD1を用いた動作も対応可能である。周辺回路20は、信号ラインL11~L15、レベルシフタ21,23~25、抵抗素子R1,R11~R15を有する。レベルシフタ21,23~25は、トランジスタNM1,NM3~NM5を含む。
Although the
コントローラ30は、例えばSoCで実装され、図2において〇で示すような電極N31~N35を有する。本実施形態では、電極N31~N35を上位概念的にノードN31~N35と呼ぶことにする。用語「ノード」は、電極に限定されず、ライン上の接続点でもよいし、ライン上における任意の点でもよいし、ライン自身でもよいし、その他の形態の電気的な接続要素であってもよい。
The
例えば、周辺回路20の出力とコントローラ30の入力が直接接続して、コントローラ30が、周辺回路20からの出力を、電極を介さずに入力するように構成してもよい。この場合、ノードN31~N35は、周辺回路20の出力若しくはコントローラ30の入力に相当する。コントローラ30がSoCとして構成され周辺回路20が基板上の配線として構成される場合、ノードN31~N35はSoCの電極パッドであってもよい。周辺回路20及びコントローラ30を含む構成がSoCとして構成される場合、周辺回路20及びコントローラ30がそれぞれSoC上に搭載される回路であってもよく、ノードN31~N35は回路間を接続するラインであってもよい。あるいは、周辺回路20及びコントローラ30を含む構成がSoC以外で構成される場合、例えば、周辺回路20及びコントローラ30を含む構成がパッケージとして構成される場合、周辺回路20及びコントローラ30がそれぞれパッケージ内に実装されるチップであってもよく、ノードN31~N35はチップ間を接続するボンディングワイヤ、ボール電極、貫通ビア(TSV)などであってもよい。以下では、ノードN31~N35が電極である場合について例示する。
For example, the output of the
コネクタ10に含まれる各端子は、通常、周辺回路20を介して、あるいは直接的に配線を介して、コントローラ30に接続される。各端子11、12、13、14、15は、図2に示されるように周辺回路20を経由してコントローラ30に接続される箇所にそれぞれノードN31、N32、N33、N34、N35を有する。信号ラインL11は、端子11とノードN31との間に接続される。信号ラインL11における端子11側の位置に抵抗素子R11が配される。信号ラインL11における抵抗素子R11とノードN31との間の位置にトランジスタNM1が配される。信号ラインL11は、電源レベルVDD1又は電源レベルVDD2にプルアップ可能である。
Each terminal included in the
トランジスタNM1は、例えばNMOSトランジスタであり、ソースが信号ラインL11を介して抵抗素子R1,R11に接続され、ドレインがノードN31に接続されている。トランジスタNM1は、寄生ダイオードD1及びゲート保護ダイオードGD1を有する。寄生ダイオードD1は、アノードがトランジスタNM1のソースに接続され、カソードがトランジスタNM1のドレインに接続されている。ゲート保護ダイオードGD1は、一端がトランジスタNM1のゲートに接続され、他端がトランジスタNM1のソースに接続されている。 The transistor NM1 is, for example, an NMOS transistor, and has a source connected to the resistance elements R1 and R11 via a signal line L11, and a drain connected to the node N31. Transistor NM1 has a parasitic diode D1 and a gate protection diode GD1. The parasitic diode D1 has an anode connected to the source of the transistor NM1, and a cathode connected to the drain of the transistor NM1. The gate protection diode GD1 has one end connected to the gate of the transistor NM1, and the other end connected to the source of the transistor NM1.
トランジスタNM1は、レベル変換が可能である。トランジスタNM1は、信号ラインL11に低電圧信号のLレベルが供給されるとオンして、Lレベルをコントローラ30のノードN31へ転送する。トランジスタNM1は、信号ラインL11に低電圧信号のHレベルが供給されるとオフして、ノードN31側をハイインピーダンスにする。ノードN31の電位は、抵抗素子R31でプルアップされ、高電圧信号のHレベルに変換され伝達される。トランジスタNM1は、信号ラインL11に高電圧信号のLレベルが供給されるとオンして、Lレベルをコントローラ30のノードN31へ転送する。トランジスタNM1は、信号ラインL11に高電圧信号のHレベルが供給されるとオフして、ノードN31側をハイインピーダンスにする。ノードN31の電位は、抵抗素子R31でプルアップされ、高電圧信号のHレベルとして伝達される。
Transistor NM1 is capable of level conversion. The transistor NM1 is turned on when the L level low voltage signal is supplied to the signal line L11, and transfers the L level to the node N31 of the
信号ラインL12は、端子12とノードN32との間に接続される。信号ラインL12における端子12側の位置に抵抗素子R12が配される。
Signal line L12 is connected between
信号ラインL13は、端子13とノードN33との間に接続される。信号ラインL13における端子13側の位置に抵抗素子R13が配される。信号ラインL13における抵抗素子R13とノードN33との間の位置にトランジスタNM3が配される。
Signal line L13 is connected between
トランジスタNM3は、例えばNMOSトランジスタであり、ソースが信号ラインL13を介して抵抗素子R13に接続され、ドレインがノードN33に接続されている。トランジスタNM3は、寄生ダイオードD3及びゲート保護ダイオードGD3を有する。寄生ダイオードD3は、アノードがトランジスタNM3のソースに接続され、カソードがトランジスタNM3のドレインに接続されている。ゲート保護ダイオードGD3は、一端がトランジスタNM3のゲートに接続され、他端がトランジスタNM3のソースに接続されている。 The transistor NM3 is, for example, an NMOS transistor, and has a source connected to the resistance element R13 via the signal line L13, and a drain connected to the node N33. Transistor NM3 has a parasitic diode D3 and a gate protection diode GD3. The parasitic diode D3 has an anode connected to the source of the transistor NM3, and a cathode connected to the drain of the transistor NM3. The gate protection diode GD3 has one end connected to the gate of the transistor NM3, and the other end connected to the source of the transistor NM3.
トランジスタNM3は、レベル変換が可能である。トランジスタNM3は、信号ラインL13に低電圧信号のLレベルが供給されるとオンして、Lレベルをコントローラ30のノードN33へ転送する。トランジスタNM3は、信号ラインL13に低電圧信号のHレベルが供給されるとオフして、ノードN33側をハイインピーダンスにする。ノードN33の電位は、抵抗素子R33でプルアップされ、高電圧信号のHレベルに変換され伝達される。トランジスタNM3は、信号ラインL13に高電圧信号のLレベルが供給されるとオンして、Lレベルをコントローラ30のノードN33へ転送する。トランジスタNM3は、信号ラインL13に高電圧信号のHレベルが供給されるとオフして、ノードN33側をハイインピーダンスにする。ノードN33の電位は、抵抗素子R33でプルアップされ、高電圧信号のHレベルとして伝達される。
Transistor NM3 is capable of level conversion. The transistor NM3 is turned on when the low voltage signal at the low level is supplied to the signal line L13, and transfers the low level to the node N33 of the
信号ラインL14は、端子14とノードN34との間に接続される。信号ラインL14における端子14側の位置に抵抗素子R14が配される。信号ラインL14における抵抗素子R14とノードN34との間の位置にトランジスタNM4が配される。
Signal line L14 is connected between
トランジスタNM4は、例えばNMOSトランジスタであり、ソースが信号ラインL14を介して抵抗素子R14に接続され、ドレインがノードN34に接続されている。トランジスタNM4は、寄生ダイオードD4及びゲート保護ダイオードGD4を有する。寄生ダイオードD4は、アノードがトランジスタNM4のソースに接続され、カソードがトランジスタNM4のドレインに接続されている。ゲート保護ダイオードGD4は、一端がトランジスタNM4のゲートに接続され、他端がトランジスタNM4のソースに接続されている。 The transistor NM4 is, for example, an NMOS transistor, and has a source connected to the resistance element R14 via the signal line L14, and a drain connected to the node N34. Transistor NM4 has a parasitic diode D4 and a gate protection diode GD4. The parasitic diode D4 has an anode connected to the source of the transistor NM4, and a cathode connected to the drain of the transistor NM4. The gate protection diode GD4 has one end connected to the gate of the transistor NM4, and the other end connected to the source of the transistor NM4.
トランジスタNM4は、レベル変換が可能である。トランジスタNM4は、信号ラインL14に低電圧信号のLレベルが供給されるとオンして、Lレベルをコントローラ30のノードN34へ転送する。トランジスタNM4は、信号ラインL14に低電圧信号のHレベルが供給されるとオフして、ノードN34側をハイインピーダンスにする。ノードN34の電位は、抵抗素子R34でプルアップされ、高電圧信号のHレベルに変換され伝達される。トランジスタNM4は、信号ラインL14に高電圧信号のLレベルが供給されるとオンして、Lレベルをコントローラ30のノードN34へ転送する。トランジスタNM4は、信号ラインL14に高電圧信号のHレベルが供給されるとオフして、ノードN34側をハイインピーダンスにする。ノードN34の電位は、抵抗素子R34でプルアップされ、高電圧信号のHレベルとして伝達される。
Transistor NM4 is capable of level conversion. The transistor NM4 is turned on when the low voltage signal at the low level is supplied to the signal line L14, and transfers the low level to the node N34 of the
信号ラインL15は、端子15とノードN35との間に接続される。信号ラインL15における端子15側の位置に抵抗素子R15が配される。信号ラインL15における抵抗素子R15とノードN35との間の位置にトランジスタNM5が配される。
Signal line L15 is connected between
トランジスタNM5は、例えばNMOSトランジスタであり、ソースが信号ラインL15を介して抵抗素子R15に接続され、ドレインがノードN35に接続されている。トランジスタNM5は、寄生ダイオードD5及びゲート保護ダイオードGD5を有する。寄生ダイオードD5は、アノードがトランジスタNM5のソースに接続され、カソードがトランジスタNM5のドレインに接続されている。ゲート保護ダイオードGD5は、一端がトランジスタNM5のゲートに接続され、他端がトランジスタNM5のソースに接続されている。 The transistor NM5 is, for example, an NMOS transistor, and has a source connected to the resistance element R15 via the signal line L15, and a drain connected to the node N35. Transistor NM5 has a parasitic diode D5 and a gate protection diode GD5. The parasitic diode D5 has an anode connected to the source of the transistor NM5, and a cathode connected to the drain of the transistor NM5. The gate protection diode GD5 has one end connected to the gate of the transistor NM5, and the other end connected to the source of the transistor NM5.
トランジスタNM5は、レベル変換が可能である。トランジスタNM5は、信号ラインL15に低電圧信号のLレベルが供給されるとオンして、Lレベルをコントローラ30のノードN35へ転送する。トランジスタNM5は、信号ラインL15に低電圧信号のHレベルが供給されるとオフして、ノードN35側をハイインピーダンスにする。ノードN35の電位は、抵抗素子R35でプルアップされ、高電圧信号のHレベルに変換され伝達される。トランジスタNM5は、信号ラインL15に高電圧信号のLレベルが供給されるとオンして、Lレベルをコントローラ30のノードN35へ転送する。トランジスタNM5は、信号ラインL15に高電圧信号のHレベルが供給されるとオフして、ノードN35側をハイインピーダンスにする。ノードN35の電位は、抵抗素子R35でプルアップされ、高電圧信号のHレベルとして伝達される。
Transistor NM5 is capable of level conversion. Transistor NM5 turns on when the low voltage signal at L level is supplied to signal line L15, and transfers the L level to node N35 of
抵抗素子R1は、信号ラインL11及び信号ラインL12の間に接続される。抵抗素子R1は、一端が信号ラインL11における抵抗素子R11とトランジスタNM1との間のノードに接続され、他端が信号ラインL12における抵抗素子R12とノードN32との間のノードに接続される。これにより、信号ラインL11は、信号ラインL12から抵抗素子R1を介して電源レベルVDD1又は電源レベルVDD2にプルアップされ得る。 Resistance element R1 is connected between signal line L11 and signal line L12. One end of the resistance element R1 is connected to a node between the resistance element R11 and the transistor NM1 on the signal line L11, and the other end is connected to a node between the resistance element R12 and the node N32 on the signal line L12. Thereby, the signal line L11 can be pulled up from the signal line L12 to the power supply level VDD1 or the power supply level VDD2 via the resistance element R1.
コントローラ30は、端子12が電源レベルVDD1(例えば、1.8V)に対応したHレベルである場合、ノードN32をハイインピーダンスにする。コントローラ30は、端子12がLレベルである場合、ノードN32を電源レベルVDD2(例えば、3.3V)に対応したHレベルにする。これにより、信号ラインL11は、端子12がHレベルである場合、電源レベルVDD1にプルアップされる。信号ラインL11は、端子12がLレベルである場合、電源レベルVDD2にプルアップされる。
The
コントローラ30は、抵抗素子R31,R2,R33,R34,R35、入力回路31a,32a,34a,35a、出力回路32b,33b,35b、制御部36をさらに有する。
The
抵抗素子R31は、一端が電源レベルVDD2に接続され、他端がラインL31に接続される。ラインL31は、ノードN31と入力回路31aの入力ノードとを接続する。抵抗素子R31は、プルアップ抵抗として機能しラインL31をプルアップさせ得る。
One end of resistance element R31 is connected to power supply level VDD2, and the other end is connected to line L31. Line L31 connects node N31 and the input node of
抵抗素子R2は、一端がグランドレベルに接続され、他端がラインL32に接続される。ラインL32は、ノードN32と入力回路32aの入力ノードと出力回路32bの出力ノードとを接続する。抵抗素子R2は、プルダウン抵抗として機能しラインL32をプルダウンさせ得る。
One end of the resistance element R2 is connected to the ground level, and the other end is connected to the line L32. Line L32 connects node N32, the input node of
例えば、ラインL32がプルアップ抵抗を介して電源レベルVDD2に接続される場合、ホスト装置101からの低電圧信号のHレベルをコントローラ30で受けることが困難になる。すなわち、低電圧信号のHレベルは電源レベルVDD1に対応するが、ラインL32がより高い電源レベルVDD2にプルアップされているため、低電圧信号のHレベルが端子12からコントローラ30のノードN32へ伝達されない。
For example, if the line L32 is connected to the power supply level VDD2 via a pull-up resistor, it becomes difficult for the
それに対して、本実施形態では、ラインL32が抵抗素子R2でプルダウンされるので、ホスト装置101からの低電圧信号のHレベルをコントローラ30で受けることが容易である。すなわち、低電圧信号のHレベルは電源レベルVDD1に対応するが、ラインL32がより低いグランドレベルにプルダウンされているため、低電圧信号のHレベルが端子12からコントローラ30のノードN32へ伝達され得る。
In contrast, in this embodiment, the line L32 is pulled down by the resistive element R2, so that the
抵抗素子R33は、一端が電源レベルVDD2に接続され、他端がラインL33に接続される。ラインL33は、ノードN33と出力回路33bの出力ノードとを接続する。抵抗素子R33は、プルアップ抵抗として機能しラインL33をプルアップさせ得る。
One end of resistance element R33 is connected to power supply level VDD2, and the other end is connected to line L33. Line L33 connects node N33 and the output node of
抵抗素子R34は、一端が電源レベルVDD2に接続され、他端がラインL34に接続される。ラインL34は、ノードN34と入力回路34aの入力ノードとを接続する。抵抗素子R34は、プルアップ抵抗として機能しラインL34をプルアップさせ得る。
One end of resistance element R34 is connected to power supply level VDD2, and the other end is connected to line L34. Line L34 connects node N34 and the input node of
抵抗素子R35は、一端が電源レベルVDD2に接続され、他端がラインL35に接続される。ラインL35は、ノードN35と出力回路35bの出力ノードと入力回路35aの入力ノードとを接続する。抵抗素子R35は、プルアップ抵抗として機能しラインL35をプルアップさせ得る。
One end of resistance element R35 is connected to power supply level VDD2, and the other end is connected to line L35. Line L35 connects node N35, the output node of
入力回路31aは、ノードN31と制御部36との間に接続される。入力回路31aは、入力ノードがラインL31を介してノードN31及び抵抗素子R31に接続され、出力ノードが制御部36に接続される。
図3は、実施形態にかかるメモリシステム1のコントローラ30の入力回路及び出力回路の構成を示す回路図である。図3(a)に示すように、入力回路31aは、プッシュプル型で構成され得る。入力回路31aは、トランジスタNM11及びトランジスタPM11を含む。トランジスタNM11及びトランジスタPM11は、ノードN31と制御部36との間でインバータ接続される。トランジスタNM11は、例えばNMOSトランジスタであり、ソースが基準レベル(例えば、グランドレベル)に接続される。トランジスタPM11は、例えばPMOSトランジスタであり、ソースが電源レベルVDD2に接続される。トランジスタNM11及びトランジスタPM11は、ゲートが共通接続されて入力ノードを構成し、ドレインが共通接続されて出力ノードを構成する。
FIG. 3 is a circuit diagram showing the configuration of the input circuit and output circuit of the
図2に示す入力回路31aは、ノードN31にHレベルの信号を受けた際にトランジスタPM11がオフしトランジスタNM11がオンし、Lレベルを制御部36へ出力する。入力回路31aは、ノードN31にLレベルの信号を受けた際にトランジスタPM11がオンしトランジスタNM11がオフし、Hレベルを制御部36へ出力する。
When the
入力回路32a及び出力回路32bは、それぞれ、ノードN32と制御部36との間に接続される。入力回路32aは、入力ノードがラインL32を介してノードN32及び抵抗素子R2に接続され、出力ノードが制御部36に接続される。出力回路32bは、入力ノードが制御部36に接続され、出力ノードがラインL321,L32を介してノードN32及び抵抗素子R2に接続される。ラインL321は、一端がラインL32に接続され、他端が出力回路32bの出力ノードに接続される。
The
図3(b)に示すように、入力回路32aは、プッシュプル型、出力回路32bは、オープンドレイン型で構成され得る。
As shown in FIG. 3(b), the
入力回路32aは、プッシュプル型で構成され得る。入力回路32aは、トランジスタNM12及びトランジスタPM12を含む。トランジスタPM12は、例えばPMOSトランジスタであり、ソースが電源レベルVDD1に接続される。それ以外の点は、入力回路32aは、図3(a)に示す入力回路31aと同様に構成される。
The
入力回路32aは、ノードN32にHレベルの信号を受けた際にトランジスタPM12がオフしトランジスタNM12がオンし、Lレベルを制御部36へ出力する。入力回路32aは、ノードN32にLレベルの信号を受けた際にトランジスタPM12がオンしトランジスタNM12がオフし、Hレベルを制御部36へ出力する。
When the
出力回路32bは、オープンドレイン型で構成され得る。出力回路32bは、トランジスタPM13を含む。トランジスタPM13は、例えばPMOSトランジスタであり、ソースが電源レベルVDD2に接続され、ドレインがラインL32を介してノードN32及び抵抗素子R2に接続され、ゲートが制御部36に接続される。
The
出力回路32bは、制御部36からLレベルの信号を受けた際にトランジスタPM13がオンし、HレベルをノードN32へ出力する。出力回路32bは、制御部36からHレベルの信号を受けた際にトランジスタPM13がオフし、ノードN32をハイインピーダンスにする。
When the
図2に示す出力回路33bは、ノードN33と制御部36との間に接続される。出力回路33bは、入力ノードが制御部36に接続され、出力ノードがラインL33を介してノードN33及び抵抗素子R33に接続される。
図3(c)に示すように、出力回路33bは、オープンドレイン型で構成され得る。出力回路33bは、トランジスタNM21を含む。トランジスタNM21は、例えばNMOSトランジスタであり、ソースが基準レベル(例えば、グランドレベル)に接続され、ドレインがラインL33を介してノードN33及び抵抗素子R33に接続され、ゲートが制御部36に接続される。
As shown in FIG. 3(c), the
出力回路33bは、制御部36からHレベルの信号を受けた際にトランジスタNM21がオンして、ノードN33をLレベルに引き込む。出力回路33bは、制御部36からLレベルの信号を受けた際にトランジスタNM21がオフして、ノードN33をハイインピーダンスにする。
When the
図2に示す入力回路34aは、ノードN34と制御部36との間に接続される。入力回路34aは、入力ノードがラインL34を介してノードN34及び抵抗素子R34に接続され、出力ノードが制御部36に接続される。
入力回路34aは、図3(a)に示す構成と同様なプッシュプル型で構成され得る。
The
図2に示す出力回路35b及び入力回路35aは、それぞれ、ノードN35と制御部36との間に接続される。出力回路35bは、入力ノードが制御部36に接続され、出力ノードがラインL35を介してノードN35及び抵抗素子R35に接続される。入力回路35aは、入力ノードがラインL351,L35を介してノードN35及び抵抗素子R35に接続され、出力ノードが制御部36に接続される。ラインL351は、一端がラインL35に接続され、他端が入力回路35aの入力ノードに接続される。
The
図3(d)に示すように、出力回路35bは、オープンドレイン型、入力回路35aは、プッシュプル型で構成され得る。
As shown in FIG. 3(d), the
出力回路35bは、図3(c)に示す構成と同様なオープンドレイン型で構成され得る。
The
出力回路35bは、制御部36からHレベルの信号を受けた際にトランジスタNM22がオンして、ノードN35をLレベルに引き込む。出力回路35bは、制御部36からLレベルの信号を受けた際にトランジスタNM22がオフして、ノードN35をハイインピーダンスにする。
When the
入力回路35aは、図3(a)に示す構成と同様なプッシュプル型で構成され得る。
The
入力回路35aは、ノードN35からHレベルの信号を受けた際にトランジスタPM15がオフしトランジスタNM15がオンし、Lレベルを制御部36へ出力する。入力回路35aは、ノードN35からLレベルの信号を受けた際にトランジスタPM15がオンしトランジスタNM15がオフし、Hレベルを制御部36へ出力する。
When the
図4は、実施形態にかかるメモリステムの入出力回路の信号電圧範囲を説明する図である。各入力回路31a,32a,34a,35aは、図4に示すように、その回路閾値が低電圧信号と高電圧信号との両方に対応可能に設定される。
FIG. 4 is a diagram illustrating the signal voltage range of the input/output circuit of the memory system according to the embodiment. As shown in FIG. 4, each of the
例えば、低電圧信号は、電源レベルVDD1に対応する電圧範囲を有する。低電圧信号は、HレベルVLHの電圧範囲が電源レベルVDD1(例えば、1.8V)を含む電圧範囲VLH(min)~VLH(max)であり、LレベルVLLの電圧範囲がグランドレベルGNDを含む電圧範囲VLL(min)~VLL(max)である。例えば、HレベルVLHの上限は1.95Vであり、HレベルVLHの下限は1.7Vであり、LレベルVLLの上限はVDD1×0.3=0.54Vであり、LレベルVLLの下限は-0.3Vであってもよい。 For example, the low voltage signal has a voltage range corresponding to power supply level VDD1. The low voltage signal has an H level V LH voltage range V LH (min) to V LH (max) that includes the power supply level VDD1 (for example, 1.8 V), and an L level V LL voltage range that includes ground. The voltage range is V LL (min) to V LL (max) including level GND. For example, the upper limit of H level V LH is 1.95V, the lower limit of H level V LH is 1.7V, the upper limit of L level V LL is VDD1×0.3=0.54V, and the upper limit of H level V LH is VDD1×0.3=0.54V. The lower limit of LL may be -0.3V.
高電圧信号は、電源レベルVDD2に対応する電圧範囲を有する。高電圧信号は、電圧範囲を取り得る。高電圧信号は、HレベルVHHの電圧範囲が電源レベルVDD2(例えば、3.3V)を含む電圧範囲VHH(min)~VHH(max)であり、LレベルVHLの電圧範囲がグランドレベルGNDを含む電圧範囲VHL(min)~VHL(max)である。例えば、HレベルVHHの上限は3.456Vであり、HレベルVHHの下限は2.7Vであり、LレベルVHLの上限はVDD2×0.25=0.825Vであり、LレベルVHLの下限は-0.3Vであってもよい。 The high voltage signal has a voltage range corresponding to power supply level VDD2. The high voltage signal can span a voltage range. In the high voltage signal, the voltage range of the H level V HH is the voltage range V HH (min) to V HH (max) including the power supply level VDD2 (for example, 3.3 V), and the voltage range of the L level V HL is the ground The voltage range is V HL (min) to V HL (max) including level GND. For example, the upper limit of H level V HH is 3.456V, the lower limit of H level V HH is 2.7V, the upper limit of L level V HL is VDD2×0.25=0.825V, The lower limit of HL may be -0.3V.
入力回路32aは、低電圧信号と高電圧信号との両方に対応可能な動作電圧範囲を有する。入力回路32aは、HレベルVIHの電圧範囲VIH(min)~VIH(max)を有する。入力回路32aのHレベルVIHの電圧範囲VIH(min)~VIH(max)は、低電圧信号のHレベルVLHの電圧範囲VLH(min)~VLH(max)及び高電圧信号のHレベルVHHの電圧範囲VHH(min)~VHH(max)を含む。入力回路32aのHレベルVHHの上限は3.456Vであり、HレベルVIHの下限はVDD2×0.5=1.65Vであってもよい。
The
入力回路32aは、LレベルVILの電圧範囲VIL(min)~VIL(max)を有する。入力回路32aのLレベルVILの電圧範囲VIL(min)~VIL(max)は、低電圧信号のLレベルVLLの電圧範囲VLL(min)~VLL(max)及び高電圧信号のLレベルVHLの電圧範囲VHL(min)~VHL(max)を含む。入力回路32aのLレベルVILの上限はVDD2×0.25=0.825Vであり、LレベルVHLの下限は-0.3Vであってもよい。
The
なお、他の入力回路31a,34a,35aの電圧範囲は、高電圧信号の電圧範囲と同様であってもよい。
Note that the voltage ranges of the
図5は、実施形態にかかるメモリシステムの動作の説明をするためのフローチャートである。図6は、実施形態にかかるメモリシステム1の動作を示す図である。図6は、周辺回路20における信号ラインL11が電源レベルVDD1にプルアップされる場合の動作を示す。図7は、実施形態にかかるメモリシステム1の動作を示す図である。図7は、周辺回路20における信号ラインL11が電源レベルVDD2にプルアップされる場合の動作を示す。メモリシステム1の動作について図5~図7を用いて説明する。
FIG. 5 is a flowchart for explaining the operation of the memory system according to the embodiment. FIG. 6 is a diagram showing the operation of the
メモリシステム1において、コントローラ30は、ホスト装置101が送信すべき信号が低電圧信号か否かを示す信号をホスト装置101から受信し(S1)、信号のレベルがHレベルか否かを確認する(S2)。
In the
例えば、図6(a)、図7(a)に示すように、コントローラ30における制御部36は、ホスト装置101から端子12、信号ラインL12、入力回路32a経由で第2の信号を受け、入力回路32aの出力に応じて、第2の信号のレベルがHレベルか否かを判断する。第2の信号は、ハイアクティブの信号であり、ホスト装置101と送受信される第1~第6の信号が低電圧信号であるときにHレベルに維持され、ホスト装置101が送受信する第1~6の信号が低電圧信号でない(すなわち、高電圧信号である)ときにホスト装置101は第2の信号を出力しないためLレベルに維持される。このとき、制御部36は、出力回路32bをオフしており、出力回路32bの出力ノードがハイインピーダンスになっている。すなわち、制御部36は、図3(b)に示す出力回路32bにおけるトランジスタPM13のゲートにHレベルを供給しており、トランジスタPM13がオフ状態に維持される。これにより、トランジスタPM13のドレインがハイインピーダンスに維持される。
For example, as shown in FIGS. 6(a) and 7(a), the
図5に戻り、S1で受信された信号のレベルがHレベルであれば(S2でYes)、コントローラ30は、ハイインピーダンスを出力する(S3)。これにより、周辺回路20は、信号ラインL11を電源レベルVDD1にプルアップする。
Returning to FIG. 5, if the level of the signal received in S1 is H level (Yes in S2), the
例えば、図6(b)に示すように、コントローラ30における制御部36は、第2の信号がHレベルであることに応じて、出力回路32bをオフ状態に維持し、出力回路32bの出力ノードがハイインピーダンスに維持する。すなわち、コントローラ30は、信号ラインL12にハイインピーダンスを出力する。これにより、抵抗素子R1は、一端で電源レベルVDD1に対応するHレベルVLH(すなわち、低電圧信号のHレベルVLH)を有する第2の信号を受けるので、他端に接続された信号ラインL11を実質的に電源レベルVDD1にプルアップできる。これに応じて、ホスト装置101は、端子11に低電圧信号を送信でき、周辺回路20は、端子11を介して低電圧信号を受信でき、コントローラ30における制御部36は、端子11、信号ラインL11及び入力回路31aを介して低電圧信号を受けることができる。
For example, as shown in FIG. 6B, the
図5に戻り、S1で受信された信号のレベルがLレベルであれば(S2でNo)、コントローラ30は、HレベルVHHを出力する(S4)。HレベルVHHは、高電圧信号のHレベルVHHであり、電源レベルVDD2に応じた電圧範囲を有する(図4参照)。これにより、周辺回路20は、信号ラインL11を実質的に電源レベルVDD2にプルアップする。
Returning to FIG. 5, if the level of the signal received in S1 is L level (No in S2),
例えば、図7(b)に示すように、コントローラ30における制御部36は、第2の信号がLレベルであることに応じて、出力回路32bをオンし、出力回路32bの出力ノードをHレベルVHHに維持する。すなわち、コントローラ30は、信号ラインL12に高電圧信号のHレベルVHHを出力する。これにより、抵抗素子R1は、一端で電源レベルVDD2に対応するHレベルを有する信号を出力回路32bから受けるので、他端に接続された信号ラインL11を実質的に電源レベルVDD2にプルアップできる。これに応じて、図7(c)に示すように、ホスト装置101は、端子11に高電圧信号を送信でき、周辺回路20は、端子11を介して高電圧信号を受信でき、コントローラ30における制御部36は、端子11、信号ラインL11及び入力回路31aを介して高電圧信号を受けることができる。
For example, as shown in FIG. 7B, the
以上のように、実施形態では、メモリシステム1の周辺回路20において、信号ラインL11と信号ラインL12とを抵抗素子R1で接続する。この構成において、コントローラ30は、信号ラインL12を介してホスト装置101から第2の信号を受ける。第2の信号は、ホスト装置101が低電圧信号を送受信すべき場合にHレベルになり、ホスト装置101が高電圧信号を送受信すべき場合にLレベルになる。コントローラ30は、第2の信号が(電源レベルVDD1に対応する)HレベルVLHであればハイインピーダンスを信号ラインL12に出力し、第2の信号がLレベルであれば(電源レベルVDD2に対応する)HレベルVHHを信号ラインL12に出力する。これにより、ホスト装置101が送信すべき信号に応じて信号ラインL11を電源レベルVDD1又は電源レベルVDD2にプルアップできる。
As described above, in the embodiment, in the
なお、実施形態では、周辺回路20がコントローラ30の外部に配される構成が例示されるが、周辺回路20はコントローラ30の内部に配されてもよい。この場合、ノードN31~N35が電極であってもよいし、ノードN31~N35が電極以外(例えば、ライン自身)であってもよい。また、周辺回路20がコントローラ30の内部に配される場合、コントローラ30は、信号ラインL11~L15、レベルシフタ21,23~25、抵抗素子R1,R11~R15、電極N31~N35、抵抗素子R31,R2,R33,R34,R35、入力回路31a,32a,34a,35a、出力回路32b,33b,35b、制御部36を有することになる。
Note that in the embodiment, a configuration in which the
例えば、信号ラインL11を電源レベルVDD1又は電源レベルVDD2にプルアップするために、信号ラインL12とコントローラ30との間に電圧切換回路を追加的に設けると、周辺回路20におけるコネクタ部10側の回路規模が増大し、周辺回路20のコストが増大する可能性がある。
For example, if a voltage switching circuit is additionally provided between the signal line L12 and the
それに対して、実施形態では、電圧切換回路を追加的に設けることなく、信号ラインL11を電源レベルVDD1又は電源レベルVDD2にプルアップできるので、周辺回路20のコスト増大を抑制できる。
In contrast, in the embodiment, the signal line L11 can be pulled up to the power supply level VDD1 or the power supply level VDD2 without additionally providing a voltage switching circuit, so it is possible to suppress an increase in the cost of the
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 Although several embodiments of the invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, substitutions, and changes can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and their modifications are included within the scope and gist of the invention, as well as within the scope of the invention described in the claims and its equivalents.
1 メモリシステム、10 コネクタ、20 周辺回路、30 コントローラ、31a,32a,34a,35a 入力回路、32b,33b,35b 出力回路、36 制御部、40 不揮発性メモリ、101 ホスト装置L11~L15 信号ライン、R1,R2,R11~R15,R31,R33~R35 抵抗素子。 1 memory system, 10 connector, 20 peripheral circuit, 30 controller, 31a, 32a, 34a, 35a input circuit, 32b, 33b, 35b output circuit, 36 control unit, 40 nonvolatile memory, 101 host device L11 to L15 signal line, R1, R2, R11~R15, R31, R33~R35 Resistance element.
Claims (7)
不揮発性メモリと、
前記コネクタと前記不揮発性メモリとの間に接続されるコントローラと、
を備え、
前記コントローラは、
第1のノード及び第2のノードを有する制御回路と、
前記第1の端子と前記第1のノードとの間に接続され、第1の電源レベル又は第2の電源レベルにプルアップ可能である第1の信号ラインと、
前記第2の端子に接続される第2の信号ラインと、
一端が前記第1の信号ラインに接続され、他端が前記第2の信号ラインに接続される第1の抵抗素子と、
を有する
メモリシステム。 a connector having a first terminal and a second terminal, each of which is connectable to a host device;
non-volatile memory,
a controller connected between the connector and the nonvolatile memory;
Equipped with
The controller includes:
a control circuit having a first node and a second node;
a first signal line connected between the first terminal and the first node and capable of being pulled up to a first power level or a second power level;
a second signal line connected to the second terminal;
a first resistance element having one end connected to the first signal line and the other end connected to the second signal line;
A memory system with
請求項1に記載のメモリシステム。 The memory system according to claim 1, wherein the second signal line is connected between the second terminal and the second node.
一端が前記第2のノードに接続され、他端が基準レベルに接続される第2の抵抗素子をさらに有する
請求項2に記載のメモリシステム。 The control circuit includes:
3. The memory system according to claim 2, further comprising a second resistive element having one end connected to the second node and the other end connected to a reference level.
一端が前記第1のノードに接続され、他端が前記第2の電源レベルに接続される第3の抵抗素子をさらに有する
請求項3に記載のメモリシステム。 The control circuit includes:
4. The memory system according to claim 3, further comprising a third resistance element having one end connected to the first node and the other end connected to the second power supply level.
請求項2に記載のメモリシステム。 The control circuit sets the second node to high impedance when the second terminal is at a first level, and sets the second node to a high impedance when the second terminal is at a second level. 3. The memory system of claim 2, having three levels.
前記第2のノードに接続されるプッシュプル型の入力回路と、
前記第2のノードに接続されるオープンドレイン型の出力回路と、
をさらに有する
請求項5に記載のメモリシステム。 The control circuit includes:
a push-pull input circuit connected to the second node;
an open-drain output circuit connected to the second node;
6. The memory system according to claim 5, further comprising:
前記第2のレベルは、基準レベルであり、
前記第3のレベルは、前記第2の電源レベルに対応する
請求項5に記載のメモリシステム。 the first level corresponds to the first power level;
the second level is a reference level;
6. The memory system of claim 5, wherein the third level corresponds to the second power level.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022047537A JP2023141299A (en) | 2022-03-23 | 2022-03-23 | memory system |
US17/896,828 US20230307065A1 (en) | 2022-03-23 | 2022-08-26 | Memory system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022047537A JP2023141299A (en) | 2022-03-23 | 2022-03-23 | memory system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023141299A true JP2023141299A (en) | 2023-10-05 |
Family
ID=88096359
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022047537A Pending JP2023141299A (en) | 2022-03-23 | 2022-03-23 | memory system |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20230307065A1 (en) |
JP (1) | JP2023141299A (en) |
-
2022
- 2022-03-23 JP JP2022047537A patent/JP2023141299A/en active Pending
- 2022-08-26 US US17/896,828 patent/US20230307065A1/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20230307065A1 (en) | 2023-09-28 |
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