JP2023132561A - Method for calibrating light measuring device - Google Patents

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Abstract

To provide a method for calibrating a light measuring device capable of suppressing wavelength dependency from occurring to the measurement accuracy of an LED's light output.SOLUTION: The method for calibrating a light measuring device comprises: a determination step S1 of determining, for a plurality of emission wavelengths, a light emission condition group including a plurality of light emission conditions that emission wavelengths of an LED are equal to each other; a first acquisition step S2 of acquiring a first measurement result of measurement performed, using a prototype, on the light output of an LED that is caused to emit light in accordance with each light emission condition determined in the determination step S1; a second acquisition step S3 of acquiring a second measurement result of measurement performed, using the light measuring device to be calibrated, on the light output of an LED that is caused to emit light in accordance with each light emission condition determined in the determination step S1; and a sensitivity correction step S4 of correcting sensitivity of the light measuring device on the basis of the first and second measurement results.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、光測定装置の較正方法に関する。 The present invention relates to a method for calibrating a light measuring device.

特許文献1には、光源の光出力を測定する光測定装置(すなわち特許文献1に記載の光パワー測定装置)が開示されている。また、特許文献1には、被測定光の波長によって光測定装置の感度が変わることに起因して、光出力の測定精度が変わることを抑制すべく、光測定装置の感度を補正する方法が開示されている。特許文献1に記載の方法は、それぞれ異なる波長の光を発する複数の基準光源を準備し、この基準光源から発される光を用いて光測定装置の感度の補正が行われている。 Patent Document 1 discloses an optical measurement device that measures the optical output of a light source (that is, the optical power measurement device described in Patent Document 1). Furthermore, Patent Document 1 describes a method for correcting the sensitivity of an optical measuring device in order to suppress changes in the measurement accuracy of optical output due to changes in the sensitivity of the optical measuring device depending on the wavelength of the light to be measured. Disclosed. In the method described in Patent Document 1, a plurality of reference light sources each emitting light of a different wavelength is prepared, and the sensitivity of the optical measuring device is corrected using the light emitted from the reference light sources.

特開2005-195455号公報Japanese Patent Application Publication No. 2005-195455

ここで、LED(Light Emitting Diode)からの出射光にはある波長の範囲において連続した複数の波長の光が混在している。そのため、光測定装置にてLEDの光出力を正確に測定するためには、LEDの出射光に含まれるある波長の範囲において連続した複数の波長の光を考慮して光測定装置の感度が補正されるべきである。しかしながら、かかる観点については、特許文献1においては何ら考慮されていない。 Here, the light emitted from the LED (Light Emitting Diode) includes light of a plurality of continuous wavelengths within a certain wavelength range. Therefore, in order to accurately measure the light output of an LED with a light measurement device, the sensitivity of the light measurement device must be corrected by taking into account light of multiple consecutive wavelengths within a certain wavelength range included in the light emitted by the LED. It should be. However, such a viewpoint is not considered at all in Patent Document 1.

本発明は、前述の事情に鑑みてなされたものであり、LEDの光出力の測定精度に波長依存性が生じることを抑制できる光測定装置の較正方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and it is an object of the present invention to provide a method for calibrating a light measuring device that can suppress wavelength dependence in the measurement accuracy of the light output of an LED.

本発明は、前記の目的を達成するため、LEDの発光波長が互いに同等となる複数の発光条件を含む発光条件群を、複数の発光波長について決定する決定工程と、前記決定工程にて決定した各発光条件に従って発光させた前記LEDの光出力を原器を用いて測定した第1測定結果を取得する第1取得工程と、前記決定工程にて決定した各発光条件に従って発光させた前記LEDの光出力を較正対象の光測定装置を用いて測定した第2測定結果を取得する第2取得工程と、前記第1測定結果と前記第2測定結果とに基づき、前記光測定装置の感度を補正する感度補正工程と、を備える光測定装置の較正方法を提供する。 In order to achieve the above-mentioned object, the present invention includes a determination step of determining a light emission condition group including a plurality of light emission conditions under which the light emission wavelengths of LEDs are equivalent to each other, and a determination step in which a group of light emission conditions is determined for a plurality of light emission wavelengths. A first acquisition step of obtaining a first measurement result of measuring the light output of the LED emitted according to each light emitting condition using a prototype; and a second acquisition step of acquiring a second measurement result obtained by measuring the optical output using the optical measurement device to be calibrated; and correcting the sensitivity of the optical measurement device based on the first measurement result and the second measurement result. A method for calibrating an optical measuring device is provided.

本発明によれば、LEDの光出力の測定精度に波長依存性が生じることを抑制できる光測定装置の較正方法を提供することが可能となる。 According to the present invention, it is possible to provide a method for calibrating an optical measuring device that can suppress wavelength dependence in the measurement accuracy of the optical output of an LED.

実施の形態における、較正対象の光測定装置の構成を示す模式図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of an optical measurement device to be calibrated in an embodiment. 実施の形態における、原器の構成を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of a prototype in an embodiment. 実施の形態における、光測定装置の較正方法が実施する処理のフローチャートである。It is a flowchart of the process performed by the calibration method of the optical measuring device in embodiment. 実施の形態における、発光条件群1の第1測定結果P1及び第2測定結果P2の関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the 1st measurement result P1 and the 2nd measurement result P2 of the light emission condition group 1 in embodiment. 実施の形態における、傾きP1(λ)/P2(λ)と平均発光波長との関係を示すグラフ。A graph showing the relationship between the slope P1(λ)/P2(λ) and the average emission wavelength in the embodiment. 実施の形態における、傾きPc1(λ)/Pc2(λ)と平均発光波長との関係を示すグラフである。It is a graph showing the relationship between the slope Pc1 (λ)/Pc2 (λ) and the average emission wavelength in the embodiment. 実施の形態における、Pc1(λ)とPc2(λ)との関係を示すグラフである。It is a graph showing the relationship between Pc1 (λ) and Pc2 (λ) in the embodiment.

[実施の形態]
本発明の実施の形態について、図1乃至図7を参照して説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、本発明を実施する上での好適な具体例として示すものであり、技術的に好ましい種々の技術的事項を具体的に例示している部分もあるが、本発明の技術的範囲は、この具体的態様に限定されるものではない。
[Embodiment]
Embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 7. The embodiments described below are shown as preferred specific examples for carrying out the present invention, and some portions specifically illustrate various technical matters that are technically preferable. However, the technical scope of the present invention is not limited to this specific embodiment.

図1は、本形態における較正対象の光測定装置1の構成を示す模式図である。図2は、本形態における原器10の構成を示す模式図である。本形態の光測定装置1の較正方法は、光測定装置1と原器10とによるLED100の光出力の測定結果を参照して光測定装置1を較正する方法である。まず、光測定装置1と原器10とについて説明する。 FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of an optical measurement device 1 to be calibrated in this embodiment. FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of the prototype 10 in this embodiment. The method for calibrating the light measurement device 1 of this embodiment is a method of calibrating the light measurement device 1 with reference to the measurement results of the light output of the LED 100 by the light measurement device 1 and the prototype 10. First, the optical measuring device 1 and the prototype 10 will be explained.

光測定装置1は、測定可能波長範囲の各波長の光を測定したときに表示される測定結果が真の値となるよう較正がなされていない光測定装置である。測定可能波長範囲とは、較正後の光測定装置1において正確に光出力を測定可能となる波長範囲である。測定可能波長範囲は、例えば250nm以上320nm以下の波長範囲とすることができ、特に本形態においては265nm以上300nm以下の波長範囲である。なお、本明細書において、LED100からの出射光に関して発光波長といったときは、特に言及しない限り、LED100の出射光におけるピーク波長(中心波長)を意味するものとする。 The optical measurement device 1 is an optical measurement device that has not been calibrated so that the measurement results displayed when measuring light of each wavelength in the measurable wavelength range are true values. The measurable wavelength range is a wavelength range in which optical output can be accurately measured in the optical measuring device 1 after calibration. The measurable wavelength range can be, for example, a wavelength range of 250 nm or more and 320 nm or less, and particularly in this embodiment, a wavelength range of 265 nm or more and 300 nm or less. In addition, in this specification, when referring to the emission wavelength with respect to the light emitted from the LED 100, unless otherwise specified, it means the peak wavelength (center wavelength) of the light emitted from the LED 100.

光測定装置1は、積分球2、受光素子3及び処理部4を備える。積分球2は、内部が中空となるよう形成されているとともに、その内面が球面状に形成されている。積分球2の内面は、光を拡散反射可能な素材からなる。積分球2には、被測定対象の光を導入するための導入口21と、光を外部に取り出すための取出口22とが形成されている。導入口21から積分球2に光が入射されると、積分球2の内面において光が繰り返し拡散反射されることで、積分球2の内部における光強度の分布が均一化される。そして、取出口22から取り出された光は、受光素子3に送られる。光の伝搬は、例えば図示しない光ファイバを用いて行われる。また、受光素子3を取出口22に直接取り付けてもよい。 The optical measuring device 1 includes an integrating sphere 2, a light receiving element 3, and a processing section 4. The integrating sphere 2 is formed to be hollow inside and has a spherical inner surface. The inner surface of the integrating sphere 2 is made of a material that can diffusely reflect light. The integrating sphere 2 is formed with an inlet 21 for introducing light from an object to be measured and an outlet 22 for extracting the light to the outside. When light enters the integrating sphere 2 from the inlet 21, the light is repeatedly diffused and reflected on the inner surface of the integrating sphere 2, thereby making the distribution of light intensity inside the integrating sphere 2 uniform. The light extracted from the extraction port 22 is sent to the light receiving element 3. Light propagation is performed using, for example, an optical fiber (not shown). Alternatively, the light receiving element 3 may be directly attached to the opening 22.

受光素子3は、光を受光したときに、その光出力に応じた電流値を出力する。本形態において、受光素子3は、シリコンフォトダイオードである。受光素子3は、受光する波長の光によって感度が異なるため、例えば、受光素子3が同じ光出力の光を受光したとしても、波長が異なる場合は出力される電流値が異なる。このことを考慮し、処理部4は、光測定装置1による光出力の測定精度を上げるための処理を行う。 When the light receiving element 3 receives light, it outputs a current value according to the light output. In this embodiment, the light receiving element 3 is a silicon photodiode. Since the light receiving element 3 has different sensitivity depending on the wavelength of light it receives, for example, even if the light receiving element 3 receives light with the same optical output, the output current value will be different if the wavelength is different. Taking this into consideration, the processing unit 4 performs processing to increase the measurement precision of the optical output by the optical measuring device 1.

処理部4は、受光素子3の出力電流に基づき、受光素子3が受光した光の光出力を算出する。処理部4は、I/V変換部41、演算部42、記憶部43及び表示部44を備える。 The processing unit 4 calculates the light output of the light received by the light receiving element 3 based on the output current of the light receiving element 3. The processing section 4 includes an I/V conversion section 41, a calculation section 42, a storage section 43, and a display section 44.

I/V変換部41は、受光素子3から出力される電流を電圧信号に変換する。例えば、I/V変換部41は、オペアンプ及び抵抗を有する回路にて構成することができる。I/V変換部41から出力される電圧信号は、演算部42へ送られる。 The I/V converter 41 converts the current output from the light receiving element 3 into a voltage signal. For example, the I/V converter 41 can be configured with a circuit including an operational amplifier and a resistor. The voltage signal output from the I/V conversion section 41 is sent to the calculation section 42.

演算部42は、I/V変換部41から取得した電圧情報を、所定の規則に従って光出力情報に変換する処理を行う。例えば、演算部42は、I/V変換部41から取得した電圧情報を予め定められた規則に従って光出力に変換する。例えば、演算部42は、I/V変換部41から取得した電圧情報に、予め定められた係数を乗算することで、被測定光の光出力を算出する。しかしながら、光測定装置1が未較正の状態において、演算部42は、測定可能波長範囲の各波長のLED100の光について正確に光出力を算出できないことがある。そのため、本形態の較正方法にて光測定装置1が較正される。なお、本形態においては、受光素子3の出力電流の値をI/V変換部41にて電圧情報に変換し、さらにこれを最終的にワット又はミリワットに変換しているが、例えばI/V変換部41から取得した電圧情報を単位ボルト[V]又はミリボルト[mV]の単位の光出力として表示してもよいし、例えばI/V変換部41を排除し、受光素子3から出力される電流の情報をアンペア[A]又はミリアンペア[mA]の単位の光出力として表示してもよい。 The calculation unit 42 performs a process of converting the voltage information acquired from the I/V conversion unit 41 into optical output information according to a predetermined rule. For example, the calculation unit 42 converts the voltage information acquired from the I/V conversion unit 41 into optical output according to a predetermined rule. For example, the calculation unit 42 calculates the optical output of the light to be measured by multiplying the voltage information acquired from the I/V conversion unit 41 by a predetermined coefficient. However, in a state where the optical measurement device 1 is not calibrated, the calculation unit 42 may not be able to accurately calculate the light output of the light of the LED 100 at each wavelength in the measurable wavelength range. Therefore, the optical measurement device 1 is calibrated using the calibration method of this embodiment. In this embodiment, the value of the output current of the light receiving element 3 is converted into voltage information by the I/V converter 41, and this is finally converted into watts or milliwatts. The voltage information acquired from the converter 41 may be displayed as a light output in units of volts [V] or millivolts [mV], or, for example, the I/V converter 41 may be omitted and the voltage information is output from the light receiving element 3. Current information may be displayed as light output in units of amperes [A] or milliamps [mA].

演算部42は、CPU(すなわち演算処理装置)を有する。また、記憶部43は、CPU動作時の演算領域となるRAMと、CPUが実行するプログラムが記憶されたROMとを有する。演算部42にて算出された被測定光の光出力の結果は、表示部44へ送られる。 The calculation unit 42 includes a CPU (ie, a calculation processing unit). Furthermore, the storage unit 43 includes a RAM that serves as a calculation area when the CPU operates, and a ROM that stores programs executed by the CPU. The result of the optical output of the light to be measured calculated by the calculation section 42 is sent to the display section 44 .

表示部44は、例えば演算部42から受信した被測定光の光出力の結果を表示させる。表示部44は、例えば液晶ディスプレイ又は有機EL(すなわちElectro-Luminescence)ディスプレイ等にて構成することが可能である。 The display unit 44 displays, for example, the result of the optical output of the measured light received from the calculation unit 42. The display section 44 can be configured with, for example, a liquid crystal display or an organic EL (ie, Electro-Luminescence) display.

光測定装置1による光出力の測定対象となるLED100は、波長に幅がある光(例えば半値幅10nm以上の光)を出射する光源である。LED100は、例えばAlGaN系の組成を有する複数の半導体層が積層された発光素子がパッケージ化されたものであってもよいし、発光素子がパッケージ化される前の状態であってもよい。 The LED 100 whose light output is to be measured by the optical measurement device 1 is a light source that emits light with a wide range of wavelengths (for example, light with a half-value width of 10 nm or more). The LED 100 may be a packaged light-emitting element in which a plurality of semiconductor layers having an AlGaN-based composition are stacked, for example, or may be in a state before the light-emitting element is packaged.

次に、図2を用いて、原器10の構成について説明する。
原器10は、少なくとも光測定装置1の測定可能波長範囲の各波長の光を測定したときに、表示される測定結果が真の値となるよう較正されている光測定装置である。原器10の較正方法は、種々の方法を採用することが可能である。原器10は、分光器102を備えていること、及び、少なくとも光測定装置1の測定可能波長範囲において正確な光出力を算出できるよう較正されていることを除いて、光測定装置1と同様の構成を有する。図2においては、積分球を符号101、積分球の導入口を符号101a、積分球の取出口を符号101b、分光器を符号102、受光素子を符号103、処理部を符号104、I/V変換部を符号104a、演算部を符号104b、記憶部を符号104c、表示部を符号104dにて表している。
Next, the configuration of the prototype 10 will be explained using FIG. 2.
The prototype 10 is an optical measurement device that is calibrated so that the displayed measurement results are true values when at least light of each wavelength in the measurable wavelength range of the optical measurement device 1 is measured. Various methods can be used to calibrate the prototype 10. The prototype 10 is the same as the optical measurement device 1 except that it includes a spectrometer 102 and is calibrated so that accurate optical output can be calculated at least in the measurable wavelength range of the optical measurement device 1. It has the following configuration. In FIG. 2, the integrating sphere is denoted by 101, the inlet of the integrating sphere is denoted by 101a, the outlet of the integrating sphere is denoted by 101b, the spectrometer is denoted by 102, the light receiving element is denoted by 103, the processing section is denoted by 104, and the I/V The converter is represented by 104a, the calculation part by 104b, the storage part by 104c, and the display part by 104d.

原器10においては、積分球101の取出口101bから取り出された光は、光ファイバを通して分光器102に送られる。そして、分光器102は、入射される光を単色化して出力する。すなわち、分光器102は、入射される光のうちの特定の波長の光のみを取り出すことができるよう構成されている。分光器102にて単色化された光は、受光素子103に送られる。その他の原器10の構成は、光測定装置1と同様である。なお、原器10がマルチチャンネルの検出器である場合、分光器102は、ポリクロメータとして動作するものを使用する。 In the prototype 10, light extracted from the outlet 101b of the integrating sphere 101 is sent to the spectrometer 102 through an optical fiber. Then, the spectroscope 102 monochromates the incident light and outputs it. That is, the spectrometer 102 is configured to be able to extract only light of a specific wavelength from among the incident light. The light made monochromatic by the spectroscope 102 is sent to the light receiving element 103. The rest of the configuration of the prototype 10 is the same as that of the optical measuring device 1. Note that when the prototype 10 is a multi-channel detector, the spectrometer 102 is one that operates as a polychromator.

次に、光測定装置1の較正方法について詳説する。図3は、本形態の光測定装置1の較正方法が実施する処理のフローチャートである。光測定装置1の較正方法においては、決定工程S1、第1取得工程S2、第2取得工程S3、感度補正工程S4、確認工程S5、及び調整工程S6が行われる。 Next, a method for calibrating the optical measuring device 1 will be explained in detail. FIG. 3 is a flowchart of the process performed by the method for calibrating the optical measurement device 1 of this embodiment. In the method for calibrating the optical measurement device 1, a determination step S1, a first acquisition step S2, a second acquisition step S3, a sensitivity correction step S4, a confirmation step S5, and an adjustment step S6 are performed.

決定工程S1は、所望の発光波長及び光出力が得られる発光条件を複数決定する工程である。発光条件は、LEDを発光させるための条件であり、選択LEDと入力電流値とを含む。選択LEDは、種々のLEDから、波長及び光出力が所望のものとなるように選択したLEDである。同種のLEDであっても、個体差で光出力及び波長が変わり得るため、このことも考慮してLEDが選択される。入力電流値は、選択LEDを発光させるために選択LEDに入力する電流値である。なお、LEDは、入力電流値が高くなる程、発光出力が高くなる傾向がある。 The determining step S1 is a step of determining a plurality of light emitting conditions under which a desired light emitting wavelength and light output can be obtained. The light emission condition is a condition for causing the LED to emit light, and includes a selected LED and an input current value. The selected LED is an LED selected from various LEDs so as to have a desired wavelength and optical output. Even if the LEDs are of the same type, the light output and wavelength may vary depending on individual differences, so the LEDs are selected with this in mind. The input current value is a current value input to the selection LED to cause the selection LED to emit light. Note that the LED tends to have a higher light emission output as the input current value becomes higher.

決定工程S1においては、LEDの発光波長が互いに同等となる複数の発光条件を含む発光条件群が、複数(本形態においては6つ)の発光波長について決定される。このことを、下記表1を参照しつつ説明する。 In the determination step S1, a group of light emitting conditions including a plurality of light emitting conditions under which the light emitting wavelengths of the LEDs are equivalent to each other is determined for a plurality of (six in this embodiment) light emitting wavelengths. This will be explained with reference to Table 1 below.

Figure 2023132561000002
Figure 2023132561000002

表1に示すように、本形態においては、互いに発光波長が異なる6つの発光条件群1~6を決定した。表1に記載の記号λは、各発光条件群における狙いの発光波長である。例えば、発光条件群1は、発光波長が265nm又はその近傍となる4つの発光条件1.1~1.4を有する。本形態においては、6つの発光条件群1~6における発光波長は、5nmピッチ又は10nmピッチとなるようにした。例えば、発光条件群1における発光波長265nmと発光条件群2における発光波長270nmとの間は5nmピッチであり、発光条件群2における発光波長270nmと発光条件群3における発光波長280nmとの間は10nmピッチとなっている。 As shown in Table 1, in this embodiment, six light emission condition groups 1 to 6 having different emission wavelengths were determined. The symbol λ listed in Table 1 is the target emission wavelength in each emission condition group. For example, the emission condition group 1 has four emission conditions 1.1 to 1.4 in which the emission wavelength is 265 nm or around 265 nm. In this embodiment, the emission wavelengths in the six emission condition groups 1 to 6 are set to have a pitch of 5 nm or a pitch of 10 nm. For example, the pitch between the emission wavelength of 265 nm in the emission condition group 1 and the emission wavelength of 270 nm in the emission condition group 2 is 5 nm, and the pitch between the emission wavelength of 270 nm in the emission condition group 2 and the emission wavelength of 280 nm in the emission condition group 3 is 10 nm. It has become a pitch.

本形態において、1つの発光条件群における複数の発光条件の選択LEDは、互いに光出力特性が同等の5つのLED(例えば、発光条件群1におけるLED1.1~1.5)とした。光出力特性が同等の複数のLEDとは、入力される電流値が同じであるときの光出力が同等となる複数のLEDである。なお、1つの発光条件群の複数の発光条件の選択LEDは、本形態においては5つとしたが、その他の数、例えば1つでもよい。 In this embodiment, the selected LEDs for the plurality of light emitting conditions in one light emitting condition group are five LEDs (for example, LEDs 1.1 to 1.5 in light emitting condition group 1) having the same light output characteristics. The plurality of LEDs having the same light output characteristics are the plurality of LEDs that have the same light output when the input current value is the same. Note that although the number of selection LEDs for a plurality of light emission conditions in one light emission condition group is five in this embodiment, it may be any other number, for example one.

各発光条件群の入力電流値は、100mA、200mA、300mA、及び350mAの4つとした。これにより、各発光条件群の複数の発光条件を、入力電流値100mAのときの光出力水準、入力電流値200mAのときの光出力水準、入力電流値300mAのときの光出力水準、及び入力電流値350mAのときの光出力水準の4つの水準の光出力を発することができる条件とした。本形態において、各発光条件群は、選択LEDとして光出力特性が同等の5つのLEDを有していることから、各発光条件群は、各水準の光出力となる発光条件を5つずつ有することとなる。例えば、発光条件群1は、光出力特性が同等のLED1.1~1.5のそれぞれに100mAを入力する5つ発光条件1.1を有するが、これら5つの発光条件1.1は、いずれも同じ水準の光出力となる条件である。4つの光出力水準は、6つの発光条件群1~6において異なっていてもよいし、同じであってもよい。例えば、発光条件1.1、発光条件2.1、発光条件3.1、発光条件4.1、発光条件5.1及び発光条件6.1の光出力水準は、互いに異なっていてもよいし、互いに同じであってもよい。決定工程S1の後、第1取得工程S2及び第2取得工程S3が行われる。 The input current values for each light emitting condition group were 100 mA, 200 mA, 300 mA, and 350 mA. As a result, a plurality of light emitting conditions in each light emitting condition group can be set to the light output level when the input current value is 100 mA, the light output level when the input current value is 200 mA, the light output level when the input current value is 300 mA, and the input current. The conditions were such that four levels of light output could be emitted, including the light output level when the value was 350 mA. In this embodiment, each light emitting condition group has five LEDs with the same light output characteristics as selected LEDs, so each light emitting condition group has five light emitting conditions that provide each level of light output. That will happen. For example, the light emitting condition group 1 has five light emitting conditions 1.1 in which 100 mA is input to each of LEDs 1.1 to 1.5 with the same light output characteristics, but none of these five light emitting conditions 1.1 are also conditions for achieving the same level of light output. The four light output levels may be different or the same in the six light emission condition groups 1 to 6. For example, the light output levels of light emission condition 1.1, light emission condition 2.1, light emission condition 3.1, light emission condition 4.1, light emission condition 5.1, and light emission condition 6.1 may be different from each other. , may be the same as each other. After the determination step S1, a first acquisition step S2 and a second acquisition step S3 are performed.

第1取得工程S2は、表1に示した各発光条件に従って発光させたLEDの光出力を原器10を用いて測定した結果である第1測定結果P1(λ)を取得する工程である。記号(λ)は、その直前の記号(例えばP1(λ)の場合はP1)が、波長λに依存する関数であることを意味する。第1測定結果P1(λ)は、原器10の分光器102にてLEDの出射光が波長毎に分光され、原器10にて波長毎の光出力が測定されるとともに、測定された各波長の光出力が積算されることで得られる。第2取得工程S3は、表1に示した各発光条件に従って発光させたLEDの光出力を光測定装置1を用いて測定した結果である第2測定結果P2(λ)を取得する工程である。第1取得工程S2及び第2取得工程S3においては、本形態の較正方法を実施する者による測定で第1測定結果P1(λ)及び第2測定結果P2(λ)を得てもよいし、第三者によって測定されることで得られた第1測定結果P1(λ)及び第2測定結果P2(λ)を得てもよい。 The first acquisition step S2 is a step of acquiring a first measurement result P1 (λ) that is the result of measuring the light output of the LED emitted according to each light emission condition shown in Table 1 using the prototype 10. The symbol (λ) means that the symbol immediately before it (for example, P1 in the case of P1(λ)) is a function that depends on the wavelength λ. The first measurement result P1 (λ) is obtained by dividing the emitted light of the LED into wavelengths by the spectrometer 102 of the prototype 10, measuring the optical output of each wavelength by the prototype 10, It is obtained by integrating the optical output of each wavelength. The second acquisition step S3 is a step of acquiring a second measurement result P2 (λ) which is the result of measuring the light output of the LED emitted according to each light emission condition shown in Table 1 using the optical measuring device 1. . In the first acquisition step S2 and the second acquisition step S3, the first measurement result P1 (λ) and the second measurement result P2 (λ) may be obtained by measurement by a person who implements the calibration method of this embodiment, The first measurement result P1 (λ) and the second measurement result P2 (λ) obtained by being measured by a third party may be obtained.

ここで、一例として、発光条件群1の第1測定結果P1及び第2測定結果P2の関係を図4に示している。図4の各プロットは、同じ発光条件でLEDを発光させたときの出射光の光出力を原器10にて測定した第1測定結果P1と光測定装置1にて測定した第2測定結果P2との関係を表している。図4においては、入力電流値が100mAのときの光出力水準と、入力電流値が200mAのときの光出力水準と、入力電流値が300mAのときの光出力水準と、入力電流値が350mAのときの光出力水準との4つの水準の光出力が表れていることが分かる。第1取得工程S2にて取得された第1測定結果P1(λ)と第2取得工程S3にて取得された第2測定結果P2(λ)とは、記憶部43に記憶される。そして、第1取得工程S2及び第2取得工程S3の後、感度補正工程S4が行われる。 Here, as an example, the relationship between the first measurement result P1 and the second measurement result P2 of the light emission condition group 1 is shown in FIG. Each plot in FIG. 4 shows a first measurement result P1 obtained by measuring the optical output of the emitted light when the LED is emitted under the same emission conditions using the prototype 10, and a second measurement result P2 obtained by measuring the optical output using the optical measuring device 1. represents the relationship between In Figure 4, the optical output level when the input current value is 100 mA, the optical output level when the input current value is 200 mA, the optical output level when the input current value is 300 mA, and the optical output level when the input current value is 350 mA. It can be seen that four levels of light output are displayed, including the light output level at The first measurement result P1 (λ) acquired in the first acquisition step S2 and the second measurement result P2 (λ) acquired in the second acquisition step S3 are stored in the storage unit 43. Then, after the first acquisition step S2 and the second acquisition step S3, a sensitivity correction step S4 is performed.

感度補正工程S4は、第1測定結果P1(λ)と第2測定結果P2(λ)とに基づき、光測定装置1の感度の補正を行う工程である。感度補正工程S4は、演算部42にて実行される。感度補正工程S4においては、第1測定結果P1(λ)を第2測定結果P2(λ)で除して得られる傾きP1(λ)/P2(λ)を算出する。例えば、発光波長が265nmである発光条件群1に関し、第1測定結果P1を第2測定結果P2で除して得られる傾きは、図4のグラフにおける近似直線の傾きにて求めることができる。発光条件群1以外の発光条件群に関しても、同様に傾きP1(λ)/P2(λ)の算出を行うことで、図5のグラフのような結果が得られる。なお、図5の横軸は、各発光条件群を構成する複数の発光条件にてLEDを発光させたときのそれぞれの発光波長の平均値である。 The sensitivity correction step S4 is a step of correcting the sensitivity of the optical measuring device 1 based on the first measurement result P1 (λ) and the second measurement result P2 (λ). The sensitivity correction step S4 is executed by the calculation unit 42. In the sensitivity correction step S4, a slope P1(λ)/P2(λ) obtained by dividing the first measurement result P1(λ) by the second measurement result P2(λ) is calculated. For example, regarding the emission condition group 1 where the emission wavelength is 265 nm, the slope obtained by dividing the first measurement result P1 by the second measurement result P2 can be determined from the slope of the approximate straight line in the graph of FIG. By similarly calculating the slope P1(λ)/P2(λ) for light emission condition groups other than light emission condition group 1, results like the graph in FIG. 5 can be obtained. Note that the horizontal axis in FIG. 5 is the average value of each emission wavelength when the LED is caused to emit light under a plurality of emission conditions constituting each emission condition group.

図5において、プロットがない箇所の傾きについては、例えばプロット箇所に基づく多項式補間等の補間法を用いて補間することができる。そして、感度補正工程S4においては、光測定装置1によるLEDの光出力の測定結果に、LEDの出射光の波長のときの図5の傾きを乗算することで、光測定装置1の感度補正が行われる。図5で示されるような発光波長と傾きとの関係は、記憶部43に記憶される。 In FIG. 5, the slope of a portion where there is no plot can be interpolated using an interpolation method such as polynomial interpolation based on the plot portion, for example. Then, in the sensitivity correction step S4, the sensitivity correction of the light measurement device 1 is performed by multiplying the measurement result of the light output of the LED by the light measurement device 1 by the slope shown in FIG. 5 at the wavelength of the light emitted from the LED. It will be done. The relationship between the emission wavelength and the slope as shown in FIG. 5 is stored in the storage unit 43.

なお、図5に示す曲線は、感度補正前の光測定装置1における感度の逆数に比例する曲線に相当する。このことについて説明する。まず、ある光源からの光出力をP(λ)[W]とし、当該光源からの光を受光素子3に照射したときに受光素子3から出力される電流値をI(λ)[A]とし、光測定装置1の感度をS(λ)としたとき、これらはP(λ)=I(λ)/S(λ)・・・式(1)、の関係を満たす。式(1)の電流値I(λ)は、本形態の場合に当てはめるとk×P2(λ)に相当する。すなわち、光測定装置1による光出力の第2測定結果P2(λ)は、受光素子3から出力される電流値に所定の係数を乗算して光出力の値に変換したものであるため、電流値I(λ)は、前記所定の係数の逆数で表される係数kをP2(λ)に乗算した値に等しい。すなわち、I(λ)=k×P2(λ)が成立する。この式を用いて、式1を本形態に適した式に変形すると、P1(λ)/P2(λ)=k/S(λ)・・・式(2)、となる。この式から、図5のグラフの曲線は、感度S(λ)の逆数に比例する曲線であるとみなすことができる。そして、図5から、本形態における光測定装置1は、波長が280nm付近の光に関する感度が比較的低い状態であることが分かる。感度補正工程S4の後、確認工程S5が行われる。 Note that the curve shown in FIG. 5 corresponds to a curve proportional to the reciprocal of the sensitivity in the optical measuring device 1 before sensitivity correction. This will be explained. First, let the light output from a certain light source be P(λ)[W], and let the current value output from the light receiving element 3 when the light receiving element 3 is irradiated with light from the light source be I(λ)[A]. , when the sensitivity of the optical measuring device 1 is S(λ), these satisfy the relationship of P(λ)=I(λ)/S(λ)...Equation (1). The current value I(λ) in equation (1) corresponds to k×P2(λ) when applied to the present embodiment. In other words, the second measurement result P2(λ) of the optical output by the optical measuring device 1 is the current value output from the light receiving element 3 multiplied by a predetermined coefficient and converted into the optical output value. The value I(λ) is equal to the value obtained by multiplying P2(λ) by a coefficient k expressed as the reciprocal of the predetermined coefficient. That is, I(λ)=k×P2(λ) holds true. When formula 1 is transformed into a formula suitable for this embodiment using this formula, it becomes P1(λ)/P2(λ)=k/S(λ)...Formula (2). From this equation, the curve in the graph of FIG. 5 can be considered to be a curve proportional to the reciprocal of the sensitivity S(λ). Further, from FIG. 5, it can be seen that the optical measurement device 1 in this embodiment has a relatively low sensitivity to light having a wavelength of around 280 nm. After the sensitivity correction step S4, a confirmation step S5 is performed.

確認工程S5は、確認用LEDの光出力を、原器10と感度補正後の光測定装置1とで測定し、光測定装置1による測定結果が、原器10による測定結果に準拠しているかを確認する工程である。確認工程S5は、追加決定工程S51と第1確認測定工程S52と第2確認測定工程S53と比較工程S54とを有する。 In the confirmation step S5, the light output of the confirmation LED is measured using the prototype 10 and the optical measuring device 1 after sensitivity correction, and it is determined whether the measurement results by the optical measuring device 1 conform to the measurement results by the prototype 10. This is the process of checking. The confirmation step S5 includes an additional determination step S51, a first confirmation measurement step S52, a second confirmation measurement step S53, and a comparison step S54.

追加決定工程S51は、確認用LEDの発光波長が互いに同等となる複数の発光条件を含む追加発光条件群を、複数(本形態においては8つ)の発光波長について決定する工程である。確認用LEDは、前述の決定工程S1にて決定した各発光条件の選択LEDとは異なるLEDであることを意味しており、以後単にLEDということもある。追加決定工程S51において決定する各発光条件は、決定工程S1と同様に、選択LEDと入力電流値とを含む。追加決定工程S51において決定する各発光条件の選択LEDは、前述の決定工程S1にて用いたLEDとは異なるLEDとした。また、追加決定工程S51において決定する各発光条件の選択LEDは、すべて異なるLEDである。さらに、追加決定工程S51において決定する各発光条件の入力電流値は、それぞれ同じ電流値、具体的には350mAである。つまり、追加決定工程S51においては、互いに同じ電流値を印加したときに、発光波長及び光出力が異なる種々のLEDを選択する。追加決定工程S51にて決定した各発光条件に従ってLEDを発光させたときの発光波長及び光出力水準を表2に示す。 The additional determination step S51 is a step of determining an additional light emitting condition group including a plurality of light emitting conditions under which the light emitting wavelengths of the confirmation LEDs are equivalent to each other for a plurality of (eight in this embodiment) light emitting wavelengths. The confirmation LED means an LED different from the selection LED of each light emission condition determined in the above-described determination step S1, and may be simply referred to as an LED hereinafter. Each light emission condition determined in the additional determination step S51 includes the selected LED and the input current value, similarly to the determination step S1. The selected LED for each light emitting condition determined in the additional determination step S51 was different from the LED used in the aforementioned determination step S1. Furthermore, the selected LEDs for each light emission condition determined in the additional determination step S51 are all different LEDs. Furthermore, the input current values for each light emission condition determined in the additional determination step S51 are the same current value, specifically 350 mA. That is, in the additional determination step S51, various LEDs having different emission wavelengths and light outputs are selected when the same current value is applied to each other. Table 2 shows the emission wavelength and light output level when the LED is caused to emit light according to each emission condition determined in the additional determination step S51.

Figure 2023132561000003
Figure 2023132561000003

表2に示すように、各追加発光条件群は、発光波長が略50mWとなる光出力水準1と、略60mWとなる光出力水準2と、略70mWとなる光出力水準3との3つの光出力水準の光を発する3つの発光条件からなる。なお、表2に記載の「平均発光波長」は、1つの追加発光条件群の複数の発光条件に従ってLEDを発光させたときの発光波長の平均値である。 As shown in Table 2, each additional light emission condition group consists of three light output levels: light output level 1 where the emission wavelength is approximately 50 mW, light output level 2 where the emission wavelength is approximately 60 mW, and optical output level 3 where the emission wavelength is approximately 70 mW. It consists of three light emitting conditions that emit light at the output level. Note that the "average emission wavelength" listed in Table 2 is the average value of the emission wavelength when the LED is caused to emit light according to a plurality of emission conditions of one additional emission condition group.

複数の追加発光条件群における平均発光波長は、略1nmピッチとなるようにした。例えば、追加発光条件群1における平均発光波長と追加発光条件群2における平均発光波長との差は、0.8nmであり、略1nmになっている。また、各追加発光条件群における3つの光出力間の出力レンジ(すなわち表2に記載の「3水準間の出力レンジ」)は、25mW以下となるようにした。例えば、追加発光条件群1については、3つの光出力水準のうちの最大値である69.4mWと最小値である54.7mWとの差である3水準間の光レンジが、25mW以下の14.7mWとなっている。さらに、複数の追加発光条件群における同一の光出力水準の出力レンジ(すなわち表2に記載の「各水準内の出力レンジ」)は、10mW以下となるようにした。例えば、光出力水準1については、複数の追加発光条件群における光出力水準のうちの最大値である58.1mWと最小値である51.5mWとの差である各水準内の出力レンジは、10mW以下の6.6mWとなっている。また、表2へは記載していないが、各追加発光条件群は、3つの光出力水準1~3にて発光させたときの発光波長のレンジが1nmとなっている。すなわち、各追加発光条件群において、光出力水準1~3のそれぞれにてLEDを発光させたときの発光波長の最大値と最小値との差が1nm以下となる。追加決定工程S51の後、第1確認測定工程S52及び第2確認測定工程S53が行われる。 The average emission wavelength in the plurality of additional emission condition groups was set to approximately 1 nm pitch. For example, the difference between the average emission wavelength in additional emission condition group 1 and the average emission wavelength in additional emission condition group 2 is 0.8 nm, which is approximately 1 nm. Further, the output range between the three optical outputs in each additional light emission condition group (ie, the "output range between three levels" described in Table 2) was set to be 25 mW or less. For example, for additional light emission condition group 1, the light range between the three levels, which is the difference between the maximum value of 69.4 mW and the minimum value of 54.7 mW, is 14 mW or less. .7mW. Furthermore, the output range of the same optical output level in the plurality of additional light emission condition groups (ie, the "output range within each level" listed in Table 2) was set to be 10 mW or less. For example, for light output level 1, the output range within each level is the difference between the maximum value of 58.1 mW and the minimum value of 51.5 mW among the light output levels in the plurality of additional light emission condition groups. The power output is 6.6 mW, which is less than 10 mW. Although not listed in Table 2, each additional light emission condition group has a range of emission wavelengths of 1 nm when emitted at three light output levels 1 to 3. That is, in each additional light emission condition group, the difference between the maximum value and the minimum value of the emission wavelength when the LED is emitted at each of light output levels 1 to 3 is 1 nm or less. After the additional determination step S51, a first confirmation measurement step S52 and a second confirmation measurement step S53 are performed.

第1確認測定工程S52は、追加決定工程S51にて決定した各発光条件に従って発光させた確認用LEDの光出力を、原器10を用いて測定する工程である。第1確認測定工程S52においては、原器10の分光器102にてLEDの出射光が波長毎に分光され、原器10にて波長毎の光出力が測定されるとともに、測定された各波長の光出力が積算される。第2確認測定工程S53は、追加決定工程S51にて決定した各発光条件に従って発光させた確認用LEDの光出力を、感度補正後の光測定装置1を用いて測定する工程である。これらの測定結果は、記憶部43に記憶される。そして、第1確認測定工程S52の後、比較工程S54が行われる。 The first confirmation measurement step S52 is a step of measuring, using the prototype 10, the light output of the confirmation LED emitted according to each light emission condition determined in the additional determination step S51. In the first confirmation measurement step S52, the emitted light of the LED is separated into wavelengths by the spectrometer 102 of the prototype 10, the optical output of each wavelength is measured by the prototype 10, and each of the measured wavelengths is The light output is integrated. The second confirmation measurement step S53 is a step of measuring the light output of the confirmation LED emitted according to each light emission condition determined in the additional determination step S51 using the light measurement device 1 after sensitivity correction. These measurement results are stored in the storage section 43. After the first confirmation measurement step S52, a comparison step S54 is performed.

比較工程S54は、第1確認測定工程S52の測定結果と、第2確認測定工程S53の測定結果とを比較し、感度補正後の光測定装置1の光測定精度を確認する工程である。比較工程S54は、演算部42にて実行される。比較工程S54においては、第1確認測定工程S52の測定結果Pc1(λ)[mW]を、第2確認測定工程S53の測定結果Pc2(λ)[mW]にて除して得られる傾きPc1(λ)/Pc2(λ)を、発光波長毎に算出する。これをグラフ化したものを、図6に示す。 The comparison step S54 is a step of comparing the measurement results of the first confirmation measurement step S52 and the measurement results of the second confirmation measurement step S53 to confirm the optical measurement accuracy of the optical measurement device 1 after sensitivity correction. The comparison step S54 is executed by the calculation unit 42. In the comparison step S54, a slope Pc1( λ)/Pc2(λ) is calculated for each emission wavelength. A graph of this is shown in FIG.

図6のグラフは、図5のグラフに対応するものである。つまり、図5のグラフは、原器10を用いた第1測定結果P1(λ)と感度補正前の光測定装置1を用いた第2測定結果P2(λ)との関係を波長毎に示している一方、図6のグラフは、原器10を用いた第1確認測定工程S52の測定結果と、感度補正後の光測定装置1を用いた第2確認測定工程S53の測定結果との関係を波長毎に示している。図6から分かるように、感度補正後の光測定装置1を用いた場合は、各プロットがフラットになり、光測定装置1における波長毎の感度の違いが略なくなっていることが分かる。しかしながら、傾きPc1(λ)/Pc2(λ)の値が1からずれていることから、感度補正後の光測定装置1と原器10との間には光出力の測定結果に未だ差異があることが分かる。光測定装置1に必要な補正としては、分光感度補正と分光透過率の補正とがあるところ、前述の差異は、光測定装置1において分光透過率が未補正であることに起因して生じ得る。そこで、比較工程S54の後、調整工程S6が行われる。傾きPc1(λ)/Pc2(λ)の値が1にどの程度近ければ感度補正後の光測定装置1の測定精度が高いといえるかは、光測定装置1に要求される測定精度に応じて決めることができる。なお、比較工程S54は省略することも可能である。 The graph in FIG. 6 corresponds to the graph in FIG. In other words, the graph in FIG. 5 shows the relationship between the first measurement result P1 (λ) using the prototype 10 and the second measurement result P2 (λ) using the optical measuring device 1 before sensitivity correction for each wavelength. On the other hand, the graph in FIG. 6 shows the relationship between the measurement results of the first confirmation measurement step S52 using the prototype 10 and the measurement results of the second confirmation measurement step S53 using the optical measuring device 1 after sensitivity correction. are shown for each wavelength. As can be seen from FIG. 6, when the optical measuring device 1 after sensitivity correction is used, each plot becomes flat, and it can be seen that the difference in sensitivity for each wavelength in the optical measuring device 1 is almost eliminated. However, since the value of the slope Pc1(λ)/Pc2(λ) deviates from 1, there is still a difference in the optical output measurement results between the optical measuring device 1 and the prototype 10 after sensitivity correction. I understand that. Corrections necessary for the optical measurement device 1 include spectral sensitivity correction and spectral transmittance correction, but the above-mentioned difference may occur due to the spectral transmittance not being corrected in the optical measurement device 1. . Therefore, after the comparison step S54, the adjustment step S6 is performed. How close the value of the slope Pc1(λ)/Pc2(λ) to 1 is to say that the measurement accuracy of the optical measuring device 1 after sensitivity correction is high depends on the measurement accuracy required of the optical measuring device 1. You can decide. Note that the comparison step S54 can also be omitted.

調整工程S6は、光測定装置1による光出力の測定結果Pc2(λ)を、原器10による光出力の測定結果Pc1(λ)に近付ける工程であり、演算部42にて実行される。調整工程S6は、図7に示すような、第1確認測定工程S52の測定結果と、第2確認測定工程S53の測定結果との関係を作成する。図7の各プロットは、同じ発光条件でLEDを発光させたときの出射光の光出力を、原器10にて測定した測定結果Pc1(λ)と感度補正済の光測定装置1にて測定した測定結果Pc2(λ)との関係を表している。なお、図7に示すような、第1確認測定工程S52の測定結果と、第2確認測定工程S53の測定結果との関係は、確認工程S5にて作成してもよい。 The adjustment step S6 is a step of bringing the optical output measurement result Pc2 (λ) by the optical measurement device 1 closer to the optical output measurement result Pc1 (λ) by the prototype 10, and is executed by the calculation unit 42. The adjustment step S6 creates a relationship between the measurement results of the first confirmation measurement step S52 and the measurement results of the second confirmation measurement step S53, as shown in FIG. Each plot in FIG. 7 shows the optical output of the emitted light when the LED is emitted under the same light emission conditions, as measured by the measurement result Pc1 (λ) using the prototype 10 and the sensitivity-corrected optical measurement device 1. It shows the relationship with the measured result Pc2(λ). Note that the relationship between the measurement results of the first confirmation measurement step S52 and the measurement results of the second confirmation measurement step S53 as shown in FIG. 7 may be created in the confirmation step S5.

調整工程S6においては、図7の各プロットの近似直線が算出されるとともに記憶部43に記憶される。図7の例においては、Pc1=1.3229×Pc2+0.8136のように、Pc1とPc2との関係が得られている。この式に基づいて、感度補正後の光測定装置1による測定結果Pc2に、1.3229を乗算するとともに0.8136を加算することで、光測定装置1の出力結果と原器10の出力結果とを一致させ、光測定装置1の較正が完了する。 In the adjustment step S6, approximate straight lines for each plot in FIG. 7 are calculated and stored in the storage unit 43. In the example of FIG. 7, the relationship between Pc1 and Pc2 is obtained as Pc1=1.3229×Pc2+0.8136. Based on this formula, by multiplying the measurement result Pc2 by the optical measurement device 1 after sensitivity correction by 1.3229 and adding 0.8136, the output result of the optical measurement device 1 and the output result of the prototype 10 are calculated. The calibration of the optical measuring device 1 is completed.

(実施の形態の作用及び効果)
本形態の光測定装置1は、決定工程S1と第1取得工程S2と第2取得工程S3と感度補正工程S4とを備える。決定工程S1は、LEDの発光波長が互いに同等となる複数の発光条件を含む発光条件群を、複数の発光波長について決定する工程である。第1取得工程S2は、決定工程S1にて決定した各発光条件に従って発光させたLEDの光出力を原器10を用いて測定した第1測定結果P1(λ)を取得する工程である。第2取得工程S3は、決定工程S1にて決定した各発光条件に従って発光させたLEDの光出力を較正対象の光測定装置1を用いて測定した第2測定結果P2(λ)を取得する工程である。感度補正工程S4は、第1測定結果P1(λ)と第2測定結果P2(λ)とに基づき、光測定装置1の感度を補正する工程である。このように、本形態の光測定装置1の較正方法は、単色化された光源ではなく、波長の幅を有するLEDを用いて光測定装置1の感度補正を行っているため、本較正方法にて較正された光測定装置1は、LEDから発される波長の幅を有する光を高精度に測定可能となる。そのため、本形態の光測定装置1の構成方法により、LEDの光出力の測定精度に波長依存性が生じることを抑制できる。
(Actions and effects of embodiments)
The optical measurement device 1 of this embodiment includes a determination step S1, a first acquisition step S2, a second acquisition step S3, and a sensitivity correction step S4. The determination step S1 is a step of determining, for a plurality of light emission wavelengths, a light emission condition group including a plurality of light emission conditions under which the light emission wavelengths of the LEDs are equivalent to each other. The first acquisition step S2 is a step of acquiring a first measurement result P1 (λ) obtained by measuring the light output of the LED emitted according to each light emission condition determined in the determination step S1 using the prototype 10. The second acquisition step S3 is a step of acquiring a second measurement result P2 (λ) obtained by measuring the light output of the LED emitted according to each light emission condition determined in the determination step S1 using the optical measuring device 1 to be calibrated. It is. The sensitivity correction step S4 is a step of correcting the sensitivity of the optical measuring device 1 based on the first measurement result P1 (λ) and the second measurement result P2 (λ). As described above, the method for calibrating the light measuring device 1 of the present embodiment corrects the sensitivity of the light measuring device 1 using an LED having a wavelength width instead of a monochromatic light source. The calibrated optical measuring device 1 can measure the light emitted from the LED with a wide range of wavelengths with high precision. Therefore, by the method of configuring the optical measurement device 1 of this embodiment, it is possible to suppress wavelength dependence in the measurement accuracy of the light output of the LED.

また、各発光条件群の複数の発光条件は、各水準の光出力となる条件を複数ずつ有する。これにより、光測定装置1において、各波長に関する感度の補正精度を高めることができ、光測定装置1の感度の波長依存性が一層低減される。 Further, each of the plurality of light emission conditions in each light emission condition group has a plurality of conditions that result in light output of each level. As a result, in the optical measurement device 1, the sensitivity correction accuracy for each wavelength can be improved, and the wavelength dependence of the sensitivity of the optical measurement device 1 can be further reduced.

また、LEDの発光波長をλとし、第1測定結果をP1(λ)とし、第2測定結果をP2(λ)としたとき、感度補正工程S4は、P1(λ)/P2(λ)で表される感度補正係数に基づいて光測定装置1の感度を補正する。これにより、光測定装置1の感度の補正を簡易な処理で実現することができる。 Further, when the emission wavelength of the LED is λ, the first measurement result is P1 (λ), and the second measurement result is P2 (λ), the sensitivity correction step S4 is calculated by P1 (λ) / P2 (λ). The sensitivity of the optical measurement device 1 is corrected based on the expressed sensitivity correction coefficient. Thereby, correction of the sensitivity of the optical measuring device 1 can be realized with simple processing.

また、本形態の光測定装置1の較正方法は、確認工程S5と調整工程S6とをさらに備える。確認工程S5は、感度補正工程S4の後、確認用LEDの光出力を光測定装置1と原器10とで測定し、光測定装置1による測定結果と原器10による測定結果とを確認する工程である。調整工程S6は、確認工程S5において光測定装置1による出力結果と原器10による出力結果とが異なるとき、光測定装置1による光出力の測定結果を、原器10による光出力の測定結果に近付ける工程である。それゆえ、感度補正後の光測定装置1によるLEDの光出力の測定結果を、原器10によるLEDの光出力の測定結果に一層近付けることができる。 Furthermore, the method for calibrating the optical measuring device 1 of this embodiment further includes a confirmation step S5 and an adjustment step S6. In the confirmation step S5, after the sensitivity correction step S4, the light output of the confirmation LED is measured using the optical measurement device 1 and the prototype 10, and the measurement results by the optical measurement device 1 and the measurement results by the prototype 10 are confirmed. It is a process. In the adjustment step S6, when the output result by the optical measurement device 1 and the output result by the prototype 10 are different in the confirmation step S5, the measurement result of the optical output by the optical measurement device 1 is changed to the measurement result of the optical output by the prototype 10. This is the process of bringing it closer. Therefore, the measurement result of the light output of the LED by the optical measuring device 1 after sensitivity correction can be brought closer to the measurement result of the light output of the LED by the prototype 10.

また、各発光条件群の複数の発光条件は、LEDに入力する電流値を互いに異ならせた条件を含む。このように、1つのLEDに対して、入力する電流値を変えて光出力を変えることで、決定工程S1にて選択するLEDの数を少なくすることができる。決定工程S1においては、所望の特性のLEDを選択する必要があるため、選択すべきLEDが多数ある場合は、選択作業に長時間を要し、光測定装置1の較正のための時間がかかり過ぎるおそれがあるが、本形態においては光測定装置1の較正時間を短縮することができる。 Further, the plurality of light emission conditions in each light emission condition group include conditions in which the current values input to the LEDs are different from each other. In this way, by changing the input current value to change the light output for one LED, it is possible to reduce the number of LEDs selected in the determination step S1. In the determination step S1, it is necessary to select an LED with desired characteristics, so if there are a large number of LEDs to be selected, the selection process takes a long time, and it takes time to calibrate the light measurement device 1. However, in this embodiment, the calibration time of the optical measuring device 1 can be shortened.

また、較正対象の光測定装置1は、受光素子としてフォトダイオードを有しており、決定工程S1においては、265nm以上300nm以下の範囲のうちの複数の発光波長について発光条件群を決定する。すなわち、較正後の光測定装置1は、265nm以上300nm以下の範囲の波長を高精度に測定可能となる。フォトダイオードの感度曲線は、265nm以上300nm以下の波長範囲近辺において複雑な形状をしているため、特に工夫しなければ265nm以上300nm以下の波長範囲近辺においてフォトダイオードの感度補正を行うことは容易ではない。本形態の較正方法は、受光素子3の感度曲線の形状に関わらず容易に感度補正を行うことができるため、フォトダイオードの265nm以上300nm以下の波長範囲近辺の感度補正に好適に用いられる。 Further, the optical measurement device 1 to be calibrated has a photodiode as a light receiving element, and in the determination step S1, a group of light emission conditions is determined for a plurality of light emission wavelengths in the range of 265 nm or more and 300 nm or less. That is, the optical measuring device 1 after calibration can measure wavelengths in the range of 265 nm or more and 300 nm or less with high accuracy. The sensitivity curve of a photodiode has a complicated shape in the vicinity of the wavelength range of 265 nm to 300 nm, so it is not easy to correct the sensitivity of the photodiode in the vicinity of the wavelength range of 265 nm to 300 nm, unless special measures are taken. do not have. The calibration method of this embodiment can easily perform sensitivity correction regardless of the shape of the sensitivity curve of the light receiving element 3, and is therefore suitably used for sensitivity correction near the wavelength range of 265 nm to 300 nm of photodiodes.

以上のごとく、本形態によれば、LEDの光出力の測定精度に波長依存性が生じることを抑制できる光測定装置の較正方法を提供することができる。 As described above, according to the present embodiment, it is possible to provide a method for calibrating an optical measuring device that can suppress wavelength dependence in the measurement accuracy of the optical output of an LED.

なお、本形態において、各発光条件群の複数の発光条件は、LEDに入力する電流値を互いに異ならせた条件を含むが、これに限られない。例えば、各発光条件群の複数の発光条件は、各追加発光条件群の複数の発光条件と同様に、互いに異なる光出力特性の複数のLEDを用い、LEDに入力する電流値を互いに同じにした条件を含むものであってもよい。また、本形態において、各追加発光条件群の複数の発光条件は、LEDに入力する電流値を互いに異ならせた条件を含んでもよい。また、本形態においては、較正後の光測定装置1の測定可能波長範囲は、265nm以上300nm以下としたが、これとは異なる所望の波長範囲とすることも可能である。この場合、決定工程S1にて決定する波長範囲を所望の波長の範囲に設定するとよい。 Note that in this embodiment, the plurality of light emission conditions in each light emission condition group include conditions in which the current values input to the LEDs are different from each other; however, the present invention is not limited to this. For example, the plurality of light emission conditions in each light emission condition group, like the plurality of light emission conditions in each additional light emission condition group, use a plurality of LEDs with mutually different light output characteristics, and the current values input to the LEDs are set to be the same. It may also include conditions. Further, in this embodiment, the plurality of light emission conditions of each additional light emission condition group may include conditions in which the current values input to the LEDs are different from each other. Further, in this embodiment, the measurable wavelength range of the optical measuring device 1 after calibration is set to 265 nm or more and 300 nm or less, but it is also possible to set it to a desired wavelength range different from this. In this case, the wavelength range determined in the determination step S1 may be set to a desired wavelength range.

(実施の形態のまとめ)
次に、以上説明した実施の形態から把握される技術思想について、実施の形態における符号等を援用して記載する。ただし、以下の記載における各符号等は、特許請求の範囲における構成要素を実施の形態に具体的に示した部材等に限定するものではない。
(Summary of embodiments)
Next, technical ideas understood from the embodiments described above will be described using reference numerals and the like in the embodiments. However, each reference numeral in the following description does not limit the constituent elements in the claims to those specifically shown in the embodiments.

[1]本発明の第1の実施態様は、LED(100)の発光波長が互いに同等となる複数の発光条件を含む発光条件群を、複数の発光波長について決定する決定工程(S1)と、前記決定工程(S1)にて決定した各発光条件に従って発光させた前記LED(100)の光出力を、原器(10)を用いて測定した第1測定結果(P1(λ))を取得する第1取得工程(S2)と、前記決定工程(S1)にて決定した各発光条件に従って発光させた前記LED(100)の光出力を、較正対象の光測定装置(1)を用いて測定した第2測定結果(P2(λ))を取得する第2取得工程(S3)と、前記第1測定結果(P1(λ))と前記第2測定結果(P2(λ))とに基づき、前記光測定装置(1)の感度を補正する感度補正工程(S4)と、を備える光測定装置(1)の較正方法である。
これにより、LEDの光出力の測定精度に波長依存性が生じることを抑制できる。
[1] The first embodiment of the present invention includes a determining step (S1) of determining a group of light emitting conditions including a plurality of light emitting conditions under which the light emitting wavelengths of the LEDs (100) are equivalent to each other for a plurality of light emitting wavelengths; A first measurement result (P1 (λ)) is obtained by measuring the light output of the LED (100) that is emitted according to each light emission condition determined in the determination step (S1) using the prototype (10). The light output of the LED (100) that was emitted according to the light emission conditions determined in the first acquisition step (S2) and the determination step (S1) was measured using the light measurement device (1) to be calibrated. a second acquisition step (S3) of acquiring a second measurement result (P2(λ)); and a second acquisition step (S3) of acquiring a second measurement result (P2(λ)); This is a method for calibrating a light measuring device (1), comprising a sensitivity correction step (S4) for correcting the sensitivity of the light measuring device (1).
Thereby, it is possible to suppress wavelength dependence in the measurement accuracy of the light output of the LED.

[2]本発明の第2の実施態様は、第1の実施態様において、前記決定工程(S1)において決定する前記各発光条件群の前記複数の発光条件が、前記LED(100)の光出力が3水準以上となる条件であり、前記各発光条件群の前記複数の発光条件は、前記各水準の光出力となる発光条件を複数ずつ有することである。
これにより、光測定装置の感度の波長依存性が一層低減される。
[2] In a second embodiment of the present invention, in the first embodiment, the plurality of light emitting conditions of each light emitting condition group determined in the determining step (S1) are based on the light output of the LED (100). is three or more levels, and the plurality of light emission conditions of each light emission condition group has a plurality of light emission conditions that result in light output of each level.
This further reduces the wavelength dependence of the sensitivity of the optical measuring device.

[3]本発明の第3の実施態様は、第1又は第2の実施態様において、前記LED(100)の発光波長をλとし、前記第1測定結果(P1(λ))をP1(λ)とし、前記第2測定結果(P2(λ))をP2(λ)としたとき、前記感度補正工程(S4)が、P1(λ)/P2(λ)で表される感度補正係数に基づいて前記光測定装置(1)の感度を補正することである。
これにより、光測定装置の感度の補正を簡易な処理で実現することができる。
[3] In the third embodiment of the present invention, in the first or second embodiment, the emission wavelength of the LED (100) is λ, and the first measurement result (P1(λ)) is P1(λ ), and when the second measurement result (P2(λ)) is P2(λ), the sensitivity correction step (S4) is based on a sensitivity correction coefficient expressed by P1(λ)/P2(λ). to correct the sensitivity of the optical measuring device (1).
Thereby, correction of the sensitivity of the optical measuring device can be realized with simple processing.

[4]本発明の第4の実施態様は、第3の実施態様において、前記感度補正工程(S4)後、確認用LEDの光出力を、前記光測定装置(1)と前記原器(10)とで測定し、前記光測定装置(1)による測定結果と前記原器(10)による測定結果とを確認する確認工程(S5)と、前記確認工程(S5)において前記光測定装置(1)による出力結果と前記原器(10)による出力結果とが異なるとき、前記光測定装置(1)による光出力の測定結果を、前記原器(10)による光出力の測定結果に近付ける調整工程(S6)と、をさらに備えることである。
これにより、較正後の光測定装置の光測定精度を一層向上させることができる。
[4] In a fourth embodiment of the present invention, in the third embodiment, after the sensitivity correction step (S4), the light output of the confirmation LED is adjusted between the light measuring device (1) and the prototype (10). ) and confirming the measurement results by the optical measurement device (1) and the measurement results by the prototype (10); ) is different from the output result of the prototype (10), an adjustment step for bringing the measurement result of the light output by the optical measurement device (1) closer to the measurement result of the light output by the prototype (10). (S6).
Thereby, the optical measurement accuracy of the calibrated optical measuring device can be further improved.

[5]本発明の第5の実施態様は、第1乃至第4のいずれか1つの実施態様において、前記各発光条件群の前記複数の発光条件が、前記LED(100)に入力する電流値を互いに異ならせた条件を含むことである。
これにより、光測定装置の較正時間を短縮することができる。
[5] In a fifth embodiment of the present invention, in any one of the first to fourth embodiments, the plurality of light emission conditions of each light emission condition group is a current value input to the LED (100). It is to include conditions that are different from each other.
Thereby, the calibration time of the optical measurement device can be shortened.

[6]本発明の第6の実施態様は、第1乃至第4のいずれか1つの実施態様において、前記各発光条件群の前記複数の発光条件が、互いに異なる光出力特性の複数の前記LED(100)を用い、前記複数のLED(100)に入力する電流値を互いに同じにした条件を含むことである。
これにより、発光条件によってLEDへの入力電流値を種々変更する必要がなく、光測定装置の較正作業を容易にしやすい。
[6] In a sixth embodiment of the present invention, in any one of the first to fourth embodiments, the plurality of light emitting conditions of each light emitting condition group include a plurality of the LEDs having mutually different light output characteristics. (100) and includes a condition in which the current values input to the plurality of LEDs (100) are the same.
Thereby, there is no need to variously change the input current value to the LED depending on the light emission conditions, and it is easy to calibrate the optical measuring device.

[7]本発明の第7の実施態様は、第1乃至第6のいずれか1つの実施態様において、前記光測定装置(1)が、フォトダイオードを受光素子として備え、前記決定工程(S1)において、250nm以上320nm以下の範囲のうちの複数の発光波長について、前記発光条件群を決定することである。
第1乃至第6のいずれか1つの実施態様は、受光素子の感度曲線の形状に関わらず容易に感度補正を行うことが可能である。そのため、第1乃至第6のいずれか1つの実施態様は、フォトダイオードにおける感度曲線の形状が複雑となっている250nm以上320nm以下の波長範囲において、フォトダイオードの感度を補正するのに好適に用いられる。
[7] In a seventh embodiment of the present invention, in any one of the first to sixth embodiments, the light measuring device (1) includes a photodiode as a light receiving element, and the determining step (S1) In this method, the group of light emission conditions is determined for a plurality of light emission wavelengths within a range of 250 nm or more and 320 nm or less.
In any one of the first to sixth embodiments, sensitivity correction can be easily performed regardless of the shape of the sensitivity curve of the light receiving element. Therefore, any one of the first to sixth embodiments is preferably used to correct the sensitivity of the photodiode in the wavelength range from 250 nm to 320 nm, where the shape of the sensitivity curve in the photodiode is complex. It will be done.

(付記)
以上、本発明の実施の形態を説明したが、前述した実施の形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。また、実施の形態の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない点に留意すべきである。また、本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変形して実施することが可能である。
(Additional note)
Although the embodiments of the present invention have been described above, the embodiments described above do not limit the invention according to the claims. Furthermore, it should be noted that not all combinations of features described in the embodiments are essential for solving the problems of the invention. Moreover, the present invention can be implemented with appropriate modifications within a range that does not depart from the spirit thereof.

1…光測定装置
10…原器
100…LED
S1…決定工程
S2…第1取得工程
S3…第2取得工程
S4…感度補正工程
S5…確認工程
S6…調整工程
1...Light measurement device 10...Prototype 100...LED
S1...Determination process S2...First acquisition process S3...Second acquisition process S4...Sensitivity correction process S5...Confirmation process S6...Adjustment process

Claims (7)

LEDの発光波長が互いに同等となる複数の発光条件を含む発光条件群を、複数の発光波長について決定する決定工程と、
前記決定工程にて決定した各発光条件に従って発光させた前記LEDの光出力を原器を用いて測定した第1測定結果を取得する第1取得工程と、
前記決定工程にて決定した各発光条件に従って発光させた前記LEDの光出力を較正対象の光測定装置を用いて測定した第2測定結果を取得する第2取得工程と、
前記第1測定結果と前記第2測定結果とに基づき、前記光測定装置の感度を補正する感度補正工程と、
を備える光測定装置の較正方法。
a determination step of determining a group of light emitting conditions including a plurality of light emitting conditions under which the light emitting wavelengths of the LEDs are equivalent to each other for a plurality of light emitting wavelengths;
a first acquisition step of acquiring a first measurement result of measuring the light output of the LED emitted according to each light emission condition determined in the determination step using a prototype;
a second acquisition step of acquiring a second measurement result obtained by measuring the light output of the LED emitted according to each light emission condition determined in the determination step using a light measurement device to be calibrated;
a sensitivity correction step of correcting the sensitivity of the optical measurement device based on the first measurement result and the second measurement result;
A method for calibrating a light measuring device comprising:
前記決定工程において決定する前記各発光条件群の前記複数の発光条件は、前記LEDの光出力が3水準以上となる条件であり、
前記各発光条件群の前記複数の発光条件は、前記各水準の光出力となる発光条件を複数ずつ有する、
請求項1に記載の光測定装置の較正方法。
The plurality of light emission conditions of each of the light emission condition groups determined in the determination step are conditions under which the light output of the LED is three levels or more,
The plurality of light emission conditions of each of the light emission condition groups have a plurality of light emission conditions that result in light output of each of the levels,
A method for calibrating a light measuring device according to claim 1.
前記LEDの発光波長をλとし、前記第1測定結果をP1(λ)とし、前記第2測定結果をP2(λ)としたとき、前記感度補正工程は、P1(λ)/P2(λ)で表される感度補正係数に基づいて前記光測定装置の感度を補正する、
請求項1又は2に記載の光測定装置の較正方法。
When the emission wavelength of the LED is λ, the first measurement result is P1(λ), and the second measurement result is P2(λ), the sensitivity correction step is performed as follows: P1(λ)/P2(λ) correcting the sensitivity of the optical measurement device based on a sensitivity correction coefficient expressed by
A method for calibrating a light measuring device according to claim 1 or 2.
前記感度補正工程後、確認用LEDの光出力を、前記光測定装置と前記原器とで測定し、前記光測定装置による測定結果と前記原器による測定結果とを確認する確認工程と、
前記確認工程において前記光測定装置による出力結果と前記原器による出力結果とが異なるとき、前記光測定装置による光出力の測定結果を、前記原器による光出力の測定結果に近付ける調整工程と、をさらに備える
請求項3に記載の光測定装置の較正方法。
After the sensitivity correction step, a confirmation step of measuring the light output of the confirmation LED with the light measurement device and the prototype, and confirming the measurement results by the light measurement device and the measurement results by the prototype;
When the output result by the optical measurement device and the output result by the prototype are different in the confirmation step, an adjustment step of bringing the measurement result of the optical output by the optical measurement device closer to the measurement result of the optical output by the prototype; The method for calibrating an optical measurement device according to claim 3, further comprising:
前記各発光条件群の前記複数の発光条件は、前記LEDに入力する電流値を互いに異ならせた条件を含む、
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光測定装置の較正方法。
The plurality of light emission conditions in each of the light emission condition groups include conditions in which current values input to the LEDs are different from each other.
A method for calibrating a light measuring device according to any one of claims 1 to 4.
前記各発光条件群の前記複数の発光条件は、互いに異なる光出力特性の複数の前記LEDを用い、前記複数のLEDに入力する電流値を互いに同じにした条件を含む、
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光測定装置の較正方法。
The plurality of light emitting conditions in each of the light emitting condition groups include conditions in which a plurality of the LEDs having mutually different light output characteristics are used and the current values input to the plurality of LEDs are the same.
A method for calibrating a light measuring device according to any one of claims 1 to 4.
前記光測定装置は、フォトダイオードを受光素子として備え、
前記決定工程においては、250nm以上320nm以下の範囲のうちの複数の発光波長について、前記発光条件群を決定する、
請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光測定装置の較正方法。
The light measurement device includes a photodiode as a light receiving element,
In the determining step, the group of light emission conditions is determined for a plurality of light emission wavelengths in a range of 250 nm or more and 320 nm or less,
A method for calibrating a light measuring device according to any one of claims 1 to 6.
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