JP2023129047A - Visual inspection device and visual inspection method - Google Patents

Visual inspection device and visual inspection method Download PDF

Info

Publication number
JP2023129047A
JP2023129047A JP2022033808A JP2022033808A JP2023129047A JP 2023129047 A JP2023129047 A JP 2023129047A JP 2022033808 A JP2022033808 A JP 2022033808A JP 2022033808 A JP2022033808 A JP 2022033808A JP 2023129047 A JP2023129047 A JP 2023129047A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
camera
workpiece
inspection
axis
clamp member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2022033808A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
英浩 福沢
Hidehiro Fukuzawa
正 加藤
Tadashi Kato
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Juki Corp
Original Assignee
Juki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Juki Corp filed Critical Juki Corp
Priority to JP2022033808A priority Critical patent/JP2023129047A/en
Priority to CN202310228447.3A priority patent/CN116698841A/en
Publication of JP2023129047A publication Critical patent/JP2023129047A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

To efficiently inspect a plurality of inspection surfaces of a workpiece.SOLUTION: A visual inspection device comprises: a camera that picks up an image of a workpiece arranged at an inspection position; a first driving device that rotates the workpiece centered on a first axis at the inspection position; a second driving device that rotates the workpiece centered on a second axis at the inspection position; a drive control device that controls at least one of the first driving device and the second driving device so that a plurality of inspection surfaces of the workpiece are sequentially arranged in an imaging range of the camera; a camera control device that controls the camera so that images of the plurality of inspection surfaces are sequentially picked up; and an image processing device that detects a defect in the workpiece based on the images of the inspection surfaces picked up by the camera.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本明細書で開示する技術は、外観検査装置及び外観検査方法に関する。 The technology disclosed in this specification relates to a visual inspection device and a visual inspection method.

外観検査装置に係る技術分野において、特許文献1に開示されているような外観検査装置が知られている。 In the technical field related to visual inspection devices, a visual inspection device as disclosed in Patent Document 1 is known.

特開2021-120666号公報JP 2021-120666 Publication

本明細書で開示する技術は、ワークの複数の検査面を効率良く検査することを目的とする。 The technology disclosed in this specification aims to efficiently inspect multiple inspection surfaces of a workpiece.

本明細書は、外観検査装置を開示する。外観検査装置は、検査位置に配置されたワークを撮像するカメラと、検査位置において第1軸を中心にワークを回転させる第1駆動装置と、検査位置において第2軸を中心にワークを回転させる第2駆動装置と、ワークの複数の検査面がカメラの撮像範囲に順次配置されるように第1駆動装置及び第2駆動装置の少なくとも一方を制御する駆動制御装置と、複数の検査面が順次撮像されるようにカメラを制御するカメラ制御装置と、カメラで撮像された検査面の画像に基づいてワークの欠陥を検出する画像処理装置と、を備える。 This specification discloses a visual inspection device. The visual inspection device includes a camera that images a workpiece placed at an inspection position, a first drive device that rotates the workpiece around a first axis at the inspection position, and a first drive unit that rotates the workpiece around a second axis at the inspection position. a second drive device; a drive control device that controls at least one of the first drive device and the second drive device so that the plurality of inspection surfaces of the workpiece are sequentially arranged in the imaging range of the camera; The present invention includes a camera control device that controls a camera to take an image, and an image processing device that detects defects in a workpiece based on an image of an inspection surface taken by the camera.

本明細書で開示する技術によれば、ワークの複数の検査面を効率良く検査することができる。 According to the technology disclosed in this specification, multiple inspection surfaces of a workpiece can be efficiently inspected.

図1は、実施形態に係る外観検査装置を模式的に示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view schematically showing an appearance inspection apparatus according to an embodiment. 図2は、実施形態に係る外観検査装置を模式的に示す正面図である。FIG. 2 is a front view schematically showing the appearance inspection device according to the embodiment. 図3は、実施形態に係る外観検査装置を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing the appearance inspection device according to the embodiment. 図4は、実施形態に係る外観検査方法の一例を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart illustrating an example of the visual inspection method according to the embodiment. 図5は、実施形態に係る外観検査方法の一例を模式的に示す斜視図である。FIG. 5 is a perspective view schematically showing an example of the appearance inspection method according to the embodiment. 図6は、実施形態に係る外観検査方法の一例を模式的に示す斜視図である。FIG. 6 is a perspective view schematically showing an example of the appearance inspection method according to the embodiment.

以下、本開示に係る実施形態について図面を参照しながら説明するが、本開示は実施形態に限定されない。以下で説明する実施形態の構成要素は、適宜組み合わせることができる。また、一部の構成要素を用いない場合もある。 Hereinafter, embodiments according to the present disclosure will be described with reference to the drawings, but the present disclosure is not limited to the embodiments. The components of the embodiments described below can be combined as appropriate. Furthermore, some components may not be used.

実施形態においては、外観検査装置1に3次元直交座標系を設定し、3次元直交座標系を参照しながら各部の位置関係について説明する。X軸に平行な方向をX軸方向とする。X軸に直交するY軸に平行な方向をY軸方向とする。X軸及びY軸の両方に直交するZ軸に平行な方向をZ軸方向とする。X軸及びY軸を含む平面をXY平面とする。Y軸及びZ軸を含む平面をYZ平面とする。Z軸及びX軸を含む平面をZX平面とする。XY平面は、水平面に平行である。Z軸は、鉛直軸に平行である。+Z側は上側である。-Z側は下側である。 In the embodiment, a three-dimensional orthogonal coordinate system is set in the visual inspection apparatus 1, and the positional relationship of each part will be explained with reference to the three-dimensional orthogonal coordinate system. The direction parallel to the X-axis is defined as the X-axis direction. The direction parallel to the Y-axis perpendicular to the X-axis is defined as the Y-axis direction. The direction parallel to the Z-axis and perpendicular to both the X-axis and the Y-axis is defined as the Z-axis direction. A plane including the X-axis and the Y-axis is defined as an XY plane. A plane including the Y-axis and the Z-axis is defined as a YZ plane. Let the plane containing the Z-axis and the X-axis be the ZX plane. The XY plane is parallel to the horizontal plane. The Z axis is parallel to the vertical axis. The +Z side is the upper side. -Z side is the lower side.

[外観検査装置]
図1は、実施形態に係る外観検査装置1を模式的に示す斜視図である。図2は、実施形態に係る外観検査装置1を模式的に示す正面図である。図3は、実施形態に係る外観検査装置1を示すブロック図である。
[Appearance inspection device]
FIG. 1 is a perspective view schematically showing an appearance inspection apparatus 1 according to an embodiment. FIG. 2 is a front view schematically showing the appearance inspection apparatus 1 according to the embodiment. FIG. 3 is a block diagram showing the visual inspection apparatus 1 according to the embodiment.

外観検査装置1は、ワークWの外観を検査する。外観検査装置1に検査位置DPが規定される。外観検査装置1は、検査位置DPに配置されたワークWを検査する。ワークWは、複数の検査面を有する。検査面とは、外観検査装置1の検査対象であるワークWの表面をいう。複数の検査面は、相互に異なる方向を向く。外観検査装置1は、複数の検査面のそれぞれを検査する。 The appearance inspection device 1 inspects the appearance of the work W. An inspection position DP is defined in the appearance inspection apparatus 1. The appearance inspection device 1 inspects a workpiece W placed at an inspection position DP. The workpiece W has a plurality of inspection surfaces. The inspection surface refers to the surface of the workpiece W that is the object of inspection by the visual inspection device 1. The plurality of inspection planes face mutually different directions. The appearance inspection device 1 inspects each of a plurality of inspection surfaces.

実施形態において、ワークWの外形は、実質的に直方体状である。ワークWは、6つの検査面を有する。6つの検査面のうち、第1の検査面を、検査面C1、と称し、第2の検査面を、検査面C2、と称し、第3の検査面を、検査面C3、と称し、第4の検査面を、検査面C4、と称し、第5の検査面を、検査面C5、と称し、第6の検査面を、検査面C6、と称する。 In the embodiment, the outer shape of the workpiece W is substantially rectangular parallelepiped. The workpiece W has six inspection surfaces. Among the six inspection surfaces, the first inspection surface is referred to as inspection surface C1, the second inspection surface is referred to as inspection surface C2, the third inspection surface is referred to as inspection surface C3, and the third inspection surface is referred to as inspection surface C3. The fourth inspection surface is referred to as inspection surface C4, the fifth inspection surface is referred to as inspection surface C5, and the sixth inspection surface is referred to as inspection surface C6.

図1及び図2に示す例において、検査面C1は+X方向を向き、検査面C2は-X方向を向く。検査面C3は+Y方向を向き、検査面C4は-Y方向を向く。検査面C5は+Z方向を向き、検査面C6は-Z方向を向く。 In the example shown in FIGS. 1 and 2, the inspection surface C1 faces the +X direction, and the inspection surface C2 faces the -X direction. The inspection surface C3 faces the +Y direction, and the inspection surface C4 faces the -Y direction. The inspection surface C5 faces the +Z direction, and the inspection surface C6 faces the -Z direction.

外観検査装置1は、カメラ2と、第1駆動装置3と、第2駆動装置4と、カメラ移動装置5と、駆動制御装置6と、カメラ制御装置7と、画像処理装置8とを備える。 The visual inspection device 1 includes a camera 2, a first drive device 3, a second drive device 4, a camera movement device 5, a drive control device 6, a camera control device 7, and an image processing device 8.

カメラ2は、検査位置DPに配置されたワークWを撮像する。カメラ2は、カメラ本体2Aと、照明装置2Bとを有する。カメラ本体2Aは、光学系と、光学系を介して入射した光を電気信号に変換するイメージセンサとを有する。イメージセンサとして、CCD(Charge Coupled Device)イメージセンサ又はCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサが例示される。照明装置2Bは、ワークWを照明する照明光を射出する。実施形態において、カメラ2は、複数設けられる。 The camera 2 images the workpiece W placed at the inspection position DP. The camera 2 includes a camera body 2A and a lighting device 2B. The camera body 2A includes an optical system and an image sensor that converts light incident through the optical system into an electrical signal. Examples of the image sensor include a CCD (Charge Coupled Device) image sensor or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor. The illumination device 2B emits illumination light that illuminates the workpiece W. In the embodiment, a plurality of cameras 2 are provided.

実施形態において、カメラ2は、2つ設けられる。2つのカメラ2のうち、一方のカメラ2を、第1カメラ21、と称し、他方のカメラ2を、第2カメラ22、と称する。 In the embodiment, two cameras 2 are provided. Among the two cameras 2, one camera 2 will be referred to as a first camera 21, and the other camera 2 will be referred to as a second camera 22.

第1カメラ21は、検査位置DPよりも+Z側に配置される。第2カメラ22は、検査位置DPよりも+Y側に配置される。第1カメラ21は、ワークWよりも+Z側からワークWを撮像する。第2カメラ22は、ワークWよりも+Y側からワークWを撮像する。第1カメラ21の光学系の光軸AX1と第2カメラ22の光学系の光軸AX2とは、直交する。第1カメラ21は、第1カメラ21の光学系の光軸AX1とZ軸とが平行になるように配置される。第2カメラ22は、第2カメラ22の光学系の光軸AX2とY軸とが平行になるように配置される。 The first camera 21 is placed on the +Z side of the inspection position DP. The second camera 22 is arranged on the +Y side with respect to the inspection position DP. The first camera 21 images the workpiece W from the +Z side of the workpiece W. The second camera 22 images the workpiece W from the +Y side. The optical axis AX1 of the optical system of the first camera 21 and the optical axis AX2 of the optical system of the second camera 22 are orthogonal to each other. The first camera 21 is arranged so that the optical axis AX1 of the optical system of the first camera 21 and the Z axis are parallel to each other. The second camera 22 is arranged so that the optical axis AX2 of the optical system of the second camera 22 and the Y axis are parallel to each other.

第1駆動装置3は、検査位置DPにおいて第1回転軸RXを中心にワークWを回転させる。第1回転軸RXは、X軸に平行である。また、第1駆動装置3は、ワークWをX軸方向へ移動させる。 The first drive device 3 rotates the work W around the first rotation axis RX at the inspection position DP. The first rotation axis RX is parallel to the X axis. Further, the first drive device 3 moves the workpiece W in the X-axis direction.

第1駆動装置3は、スライド部材9と、クランプ部材10と、第1回転アクチュエータ11と、第1並進アクチュエータ12とを有する。 The first drive device 3 includes a slide member 9, a clamp member 10, a first rotation actuator 11, and a first translation actuator 12.

スライド部材9は、ベースプレート13の上面においてX軸方向へ移動可能である。ベースプレート13の中央部に開口131が設けられる。ベースプレート13の上面にガイド部材14が設けられる。ガイド部材14は、スライド部材9をX軸方向へガイドする。スライド部材9は、ガイド部材14にガイドされながらX軸方向へ移動する。 The slide member 9 is movable in the X-axis direction on the upper surface of the base plate 13. An opening 131 is provided in the center of the base plate 13. A guide member 14 is provided on the upper surface of the base plate 13. The guide member 14 guides the slide member 9 in the X-axis direction. The slide member 9 moves in the X-axis direction while being guided by the guide member 14.

実施形態において、スライド部材9は、2つ設けられる。2つのスライド部材9のうち、一方のスライド部材9を、スライド部材9A、と称し、他方のスライド部材9を、スライド部材9B、と称する。 In the embodiment, two slide members 9 are provided. Among the two slide members 9, one slide member 9 is referred to as a slide member 9A, and the other slide member 9 is referred to as a slide member 9B.

実施形態において、ガイド部材14は、2つ設けられる。2つのガイド部材14のうち、一方のガイド部材14を、ガイド部材14A、と称し、他方のガイド部材14を、ガイド部材14B、と称する。 In the embodiment, two guide members 14 are provided. Among the two guide members 14, one guide member 14 is referred to as a guide member 14A, and the other guide member 14 is referred to as a guide member 14B.

スライド部材9Aとスライド部材9Bとは、X軸方向に配置される。スライド部材9Aは、スライド部材9Bよりも+X側に配置される。スライド部材9Aとスライド部材9Bとは、対向するように配置される。 The slide member 9A and the slide member 9B are arranged in the X-axis direction. The slide member 9A is arranged on the +X side than the slide member 9B. The slide member 9A and the slide member 9B are arranged to face each other.

ガイド部材14Aとガイド部材14Bとは、X軸方向に配置される。ガイド部材14Aは、開口131よりも+X側のベースプレート13の上面に配置される。ガイド部材14Aは、開口131よりも-X側のベースプレート13の上面に配置される。ガイド部材14Aは、スライド部材9AをX軸方向へガイドする。ガイド部材14Bは、スライド部材9BをX軸方向へガイドする。スライド部材9Aとスライド部材9Bとは、相互に接近又は離隔するように移動することができる。 The guide member 14A and the guide member 14B are arranged in the X-axis direction. The guide member 14A is arranged on the upper surface of the base plate 13 on the +X side of the opening 131. The guide member 14A is arranged on the upper surface of the base plate 13 on the -X side with respect to the opening 131. The guide member 14A guides the slide member 9A in the X-axis direction. The guide member 14B guides the slide member 9B in the X-axis direction. The slide member 9A and the slide member 9B can move toward or away from each other.

クランプ部材10は、ワークWをクランプする。クランプ部材10は、スライド部材9に回転可能に支持される。クランプ部材10は、スライド部材9に支持された状態で第1回転軸RXを中心に回転することができる。 The clamp member 10 clamps the workpiece W. The clamp member 10 is rotatably supported by the slide member 9. The clamp member 10 can rotate about the first rotation axis RX while being supported by the slide member 9.

実施形態において、クランプ部材10は、2つ設けられる。2つのクランプ部材10のうち、一方のクランプ部材10を、クランプ部材10A、と称し、他方のクランプ部材10を、クランプ部材10B、と称する。 In the embodiment, two clamp members 10 are provided. Among the two clamp members 10, one clamp member 10 is referred to as a clamp member 10A, and the other clamp member 10 is referred to as a clamp member 10B.

クランプ部材10とクランプ部材10とは、X軸方向に配置される。クランプ部材10Aは、クランプ部材10Bよりも+X側に配置される。クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとは、対向するように配置される。クランプ部材10Aは、スライド部材9Aに回転可能に支持される。クランプ部材10Bは、スライド部材9Bに回転可能に支持される。 The clamp member 10 and the clamp member 10 are arranged in the X-axis direction. The clamp member 10A is arranged on the +X side more than the clamp member 10B. The clamp member 10A and the clamp member 10B are arranged to face each other. The clamp member 10A is rotatably supported by the slide member 9A. Clamp member 10B is rotatably supported by slide member 9B.

クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとは、相互に接近又は離隔するように移動することができる。実施形態において、スライド部材9Aとスライド部材9Bとが相互に接近するように移動することにより、クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとが相互に接近する。スライド部材9Aとスライド部材9Bとが相互に離隔するように移動することにより、クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとが相互に離隔する。 The clamp member 10A and the clamp member 10B can move toward or away from each other. In the embodiment, by moving the slide member 9A and the slide member 9B toward each other, the clamp member 10A and the clamp member 10B approach each other. By moving the slide member 9A and the slide member 9B so as to be separated from each other, the clamp member 10A and the clamp member 10B are separated from each other.

クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとは、ワークWを横側から挟む。実施形態において、クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとは、ワークWをX軸方向から挟む。クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとの間にワークWが配置された状態で、クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとが相互に接近することにより、ワークWは、クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとに挟まれる。ワークWは、クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとに挟まれることにより、クランプ部材10にクランプされる。クランプ部材10Aとクランプ部材10Bとが相互に離隔して、クランプ部材10がワークWから離れることにより、クランプ部材10によるワークWのクランプが解除される。 The clamp member 10A and the clamp member 10B sandwich the workpiece W from the sides. In the embodiment, the clamp member 10A and the clamp member 10B sandwich the workpiece W from the X-axis direction. With the workpiece W disposed between the clamping members 10A and 10B, the clamping members 10A and 10B approach each other, so that the workpiece W is pinched between the clamping members 10A and 10B. It will be done. The work W is clamped by the clamp member 10 by being sandwiched between the clamp member 10A and the clamp member 10B. When the clamp member 10A and the clamp member 10B are separated from each other and the clamp member 10 is separated from the work W, the clamping of the work W by the clamp member 10 is released.

第1回転アクチュエータ11は、第1回転軸RXを中心にクランプ部材10を回転させる動力を発生する。第1回転アクチュエータ11は、スライド部材9に支持される回転モータを含む。 The first rotation actuator 11 generates power to rotate the clamp member 10 around the first rotation axis RX. The first rotary actuator 11 includes a rotary motor supported by the slide member 9.

実施形態において、第1回転アクチュエータ11は、2つ設けられる。2つの第1回転アクチュエータ11のうち、一方の第1回転アクチュエータ11を、第1回転アクチュエータ11A、と称し、他方の第1回転アクチュエータ11を、第1回転アクチュエータ11B、と称する。 In the embodiment, two first rotary actuators 11 are provided. Among the two first rotary actuators 11, one of the first rotary actuators 11 is referred to as a first rotary actuator 11A, and the other first rotary actuator 11 is referred to as a first rotary actuator 11B.

第1回転アクチュエータ11Aは、スライド部材9Aに支持される。第1回転アクチュエータ11Aは、第1回転軸RXを中心にクランプ部材10Aを回転させる。第1回転アクチュエータ11Bは、スライド部材9Bに支持される。第1回転アクチュエータ11Bは、第1回転軸RXを中心にクランプ部材10Bを回転させる。 The first rotary actuator 11A is supported by the slide member 9A. The first rotation actuator 11A rotates the clamp member 10A around the first rotation axis RX. The first rotary actuator 11B is supported by the slide member 9B. The first rotation actuator 11B rotates the clamp member 10B around the first rotation axis RX.

第1回転アクチュエータ11は、ワークWをクランプしたクランプ部材10を、第1回転軸RXを中心に回転させる。第1回転アクチュエータ11Aと第1回転アクチュエータ11Bとは、ワークWを挟んだクランプ部材10Aとクランプ部材10Bとを同期して回転させる。ワークWをクランプしたクランプ部材10が第1回転軸RXを中心に回転することにより、ワークWが第1回転軸RXを中心に回転する。 The first rotation actuator 11 rotates the clamp member 10 that clamps the work W around the first rotation axis RX. The first rotary actuator 11A and the first rotary actuator 11B synchronously rotate the clamp member 10A and the clamp member 10B that sandwich the workpiece W therebetween. The clamp member 10 that clamps the work W rotates around the first rotation axis RX, thereby causing the work W to rotate around the first rotation axis RX.

第1並進アクチュエータ12は、スライド部材9をX軸方向へ移動させる動力を発生する。第1並進アクチュエータ12は、スライド部材9とガイド部材14とに配置されるリニアモータを含む。なお、第1並進アクチュエータ12は、スライド部材9に連結されるボールねじを回転させる回転モータを含んでもよい。第1並進アクチュエータ12が発生する動力により、スライド部材9は、ガイド部材14にガイドされながらX軸方向へ移動する。第1並進アクチュエータ12は、スライド部材9をX軸方向へ移動させることによって、クランプ部材10をX軸方向へ移動させる。 The first translation actuator 12 generates power to move the slide member 9 in the X-axis direction. The first translation actuator 12 includes a linear motor arranged on the slide member 9 and the guide member 14 . Note that the first translation actuator 12 may include a rotation motor that rotates a ball screw connected to the slide member 9. Due to the power generated by the first translation actuator 12, the slide member 9 moves in the X-axis direction while being guided by the guide member 14. The first translation actuator 12 moves the clamp member 10 in the X-axis direction by moving the slide member 9 in the X-axis direction.

実施形態において、第1並進アクチュエータ12は、2つ設けられる。2つの第1並進アクチュエータ12のうち、一方の第1並進アクチュエータ12を、第1並進アクチュエータ12A、と称し、他方の第1並進アクチュエータ12を、第1並進アクチュエータ12B、と称する。 In the embodiment, two first translation actuators 12 are provided. Among the two first translation actuators 12, one of the first translation actuators 12 is referred to as a first translation actuator 12A, and the other first translation actuator 12 is referred to as a first translation actuator 12B.

第1並進アクチュエータ12Aは、スライド部材9AをX軸方向へ移動させる。第1並進アクチュエータ12Bは、スライド部材9BをX軸方向へ移動させる。 The first translation actuator 12A moves the slide member 9A in the X-axis direction. The first translation actuator 12B moves the slide member 9B in the X-axis direction.

第1並進アクチュエータ12は、ワークWをクランプしたクランプ部材10を、X軸方向へ移動させる。第1並進アクチュエータ12Aと第1並進アクチュエータ12Bとは、ワークWを挟んだクランプ部材10Aとクランプ部材10Bとを同期して移動させる。ワークWをクランプしたクランプ部材10がX軸方向へ移動することにより、ワークWがX軸方向へ移動する。 The first translation actuator 12 moves the clamp member 10 that clamps the workpiece W in the X-axis direction. The first translation actuator 12A and the first translation actuator 12B synchronously move the clamp member 10A and the clamp member 10B that sandwich the workpiece W therebetween. When the clamp member 10 that clamps the workpiece W moves in the X-axis direction, the workpiece W moves in the X-axis direction.

第2駆動装置4は、検査位置DPにおいて第2回転軸TXを中心にワークWを回転させる。第2回転軸TXは、Z軸に平行である。また、第2駆動装置4は、ワークWをZ軸方向へ移動させる。 The second drive device 4 rotates the work W around the second rotation axis TX at the inspection position DP. The second rotation axis TX is parallel to the Z axis. Further, the second drive device 4 moves the workpiece W in the Z-axis direction.

第2駆動装置4は、ベース部材15と、支持部材16と、ターンテーブル17と、第2回転アクチュエータ18と、第2並進アクチュエータ19とを有する。 The second drive device 4 includes a base member 15 , a support member 16 , a turntable 17 , a second rotation actuator 18 , and a second translation actuator 19 .

ベース部材15は、ベースプレート13よりも-Z側に配置される。ベース部材15は、支持部材16を介してターンテーブル17を支持する。 The base member 15 is arranged on the −Z side with respect to the base plate 13. Base member 15 supports turntable 17 via support member 16 .

支持部材16は、ベース部材15に支持される。支持部材16の上端部は、Z軸方向へ移動可能である。支持部材16は、Z軸方向へ移動してもよいし、Z軸方向へ伸縮してもよい。 The support member 16 is supported by the base member 15. The upper end of the support member 16 is movable in the Z-axis direction. The support member 16 may move in the Z-axis direction, or may expand and contract in the Z-axis direction.

ターンテーブル17は、ワークWを下側から支持する。ターンテーブル17は、支持部材16の上端部に支持される。ターンテーブル17は、Z軸方向へ移動することができる。また、ターンテーブル17は、第2回転軸TXを中心に回転することができる。 The turntable 17 supports the workpiece W from below. The turntable 17 is supported by the upper end of the support member 16. The turntable 17 can move in the Z-axis direction. Further, the turntable 17 can rotate around the second rotation axis TX.

支持部材16の上端部がZ軸方向へ移動することにより、ターンテーブル17がZ軸方向へ移動する。ターンテーブル17は、ベースプレート13の開口131を通過することができる。ターンテーブル17は、ベースプレート13よりも+Z側へ移動することができる。ターンテーブル17は、ベースプレート13よりも-Z側へ移動することができる。ターンテーブル17は、ベースプレート13よりも+Z側へ移動することにより、ワークWを下側から支持することができる。ターンテーブル17がベースプレート13よりも+Z側に配置されている状態において、支持部材16の少なくとも一部がベースプレート13の開口131に配置される。ターンテーブル17が-Z側へ移動して、ターンテーブル17がワークWから離れることにより、ターンテーブル17によるワークWの支持が解除される。 When the upper end of the support member 16 moves in the Z-axis direction, the turntable 17 moves in the Z-axis direction. The turntable 17 can pass through the opening 131 in the base plate 13. The turntable 17 can move toward the +Z side relative to the base plate 13. The turntable 17 can move toward the -Z side relative to the base plate 13. The turntable 17 can support the workpiece W from below by moving toward the +Z side relative to the base plate 13. At least a portion of the support member 16 is placed in the opening 131 of the base plate 13 in a state where the turntable 17 is placed on the +Z side with respect to the base plate 13 . When the turntable 17 moves to the −Z side and moves away from the workpiece W, the support of the workpiece W by the turntable 17 is released.

支持部材16が第2回転軸TXを中心に回転することにより、ターンテーブル17が第2回転軸TXを中心に回転する。 When the support member 16 rotates around the second rotation axis TX, the turntable 17 rotates around the second rotation axis TX.

第2回転アクチュエータ18は、第2回転軸TXを中心にターンテーブル17を回転させる動力を発生する。第2回転アクチュエータ18は、ベース部材15に配置される回転モータを含む。実施形態において、第2回転アクチュエータ18は、支持部材16を回転させることにより、ターンテーブル17を回転させる。 The second rotation actuator 18 generates power to rotate the turntable 17 around the second rotation axis TX. Second rotary actuator 18 includes a rotary motor disposed on base member 15 . In the embodiment, the second rotary actuator 18 rotates the turntable 17 by rotating the support member 16 .

第2回転アクチュエータ18は、ワークWを支持したターンテーブル17を、第2回転軸TXを中心に回転させる。ワークWを支持したターンテーブル17が第2回転軸TXを中心に回転することにより、ワークWが第2回転軸TXを中心に回転する。 The second rotary actuator 18 rotates the turntable 17 supporting the work W around the second rotation axis TX. The turntable 17 supporting the work W rotates around the second rotation axis TX, thereby causing the work W to rotate around the second rotation axis TX.

第2並進アクチュエータ19は、ターンテーブル17をZ軸方向へ移動させる動力を発生する。第2並進アクチュエータ19は、支持部材16に設けられたラックに噛み合うピニオンを回転させる回転モータを含む。なお、第2並進アクチュエータ19は、ベース部材15に配置されるリニアモータを含んでもよい。第2並進アクチュエータ19は、支持部材16の上端部をZ軸方向へ移動させることにより、ターンテーブル17をZ軸方向へ移動させる。 The second translation actuator 19 generates power to move the turntable 17 in the Z-axis direction. The second translation actuator 19 includes a rotation motor that rotates a pinion that engages a rack provided on the support member 16 . Note that the second translation actuator 19 may include a linear motor disposed on the base member 15. The second translation actuator 19 moves the turntable 17 in the Z-axis direction by moving the upper end of the support member 16 in the Z-axis direction.

第2並進アクチュエータ19は、ワークWを支持したターンテーブル17を、Z軸方向へ移動させる。ワークWを支持したターンテーブル17がZ軸方向へ移動することにより、ワークWがZ軸方向へ移動する。 The second translation actuator 19 moves the turntable 17 supporting the workpiece W in the Z-axis direction. When the turntable 17 supporting the workpiece W moves in the Z-axis direction, the workpiece W moves in the Z-axis direction.

カメラ移動装置5は、カメラ2を移動させる。カメラ移動装置5は、カメラ2のボディに接続されるアクチュエータを含む。 The camera moving device 5 moves the camera 2. Camera moving device 5 includes an actuator connected to the body of camera 2.

実施形態において、カメラ移動装置5は、2つ設けられる。2つのカメラ移動装置5のうち、一方のカメラ移動装置5を、第1カメラ移動装置51、と称し、他方のカメラ移動装置5を、第2カメラ移動装置52、と称する。 In the embodiment, two camera moving devices 5 are provided. Among the two camera moving devices 5, one camera moving device 5 is called a first camera moving device 51, and the other camera moving device 5 is called a second camera moving device 52.

第1カメラ移動装置51は、検査位置DPよりも+Z側において第1カメラ21を移動させる。第1カメラ移動装置51は、第1カメラ21の光軸AX1とZ軸とが平行な状態を維持するように第1カメラ21を移動させる。実施形態において、第1カメラ21の光学系は、固定焦点光学系である。第1カメラ移動装置51は、少なくとも第1カメラ21の光軸AX1に平行な方向へ第1カメラ21を移動させる。すなわち、第1カメラ移動装置51は、少なくともZ軸方向へ第1カメラ21を移動させる。実施形態において、第1カメラ移動装置51は、X軸方向、Y軸方向、及びZ軸方向のそれぞれへ第1カメラ21を移動させる。 The first camera moving device 51 moves the first camera 21 on the +Z side from the inspection position DP. The first camera moving device 51 moves the first camera 21 so that the optical axis AX1 of the first camera 21 and the Z axis maintain a parallel state. In the embodiment, the optical system of the first camera 21 is a fixed focus optical system. The first camera moving device 51 moves the first camera 21 at least in a direction parallel to the optical axis AX1 of the first camera 21. That is, the first camera moving device 51 moves the first camera 21 at least in the Z-axis direction. In the embodiment, the first camera moving device 51 moves the first camera 21 in each of the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction.

第2カメラ移動装置52は、検査位置DPよりも+Y側において第2カメラ22を移動させる。第2カメラ移動装置52は、第2カメラ22の光軸AX2とY軸とが平行な状態を維持するように第2カメラ22を移動させる。実施形態において、第2カメラ22の光学系は、固定焦点光学系である。第2カメラ移動装置52は、少なくとも第2カメラ22の光軸AX2に平行な方向へ第2カメラ22を移動させる。すなわち、第2カメラ移動装置52は、少なくともY軸方向へ第2カメラ22を移動させる。実施形態において、第2カメラ移動装置52は、Y軸方向へ第2カメラ22を移動させ、X軸方向及びZ軸方向へは第2カメラ22を移動させない。 The second camera moving device 52 moves the second camera 22 on the +Y side with respect to the inspection position DP. The second camera moving device 52 moves the second camera 22 so that the optical axis AX2 and the Y axis of the second camera 22 maintain a parallel state. In the embodiment, the optical system of the second camera 22 is a fixed focus optical system. The second camera moving device 52 moves the second camera 22 at least in a direction parallel to the optical axis AX2 of the second camera 22. That is, the second camera moving device 52 moves the second camera 22 at least in the Y-axis direction. In the embodiment, the second camera moving device 52 moves the second camera 22 in the Y-axis direction, and does not move the second camera 22 in the X-axis direction or the Z-axis direction.

駆動制御装置6は、ワークWの複数の検査面がカメラ2の撮像範囲に順次配置されるように第1駆動装置3及び第2駆動装置4の少なくとも一方を制御する。実施形態において、カメラ2の光学系の光入射面と検査位置DPに配置されたワークWとは、対向する。駆動制御装置6は、ワークWの複数の検査面がカメラ2の光学系の光入射面に順次対向するように第1駆動装置3及び第2駆動装置4の少なくとも一方を制御する。 The drive control device 6 controls at least one of the first drive device 3 and the second drive device 4 so that a plurality of inspection surfaces of the workpiece W are sequentially arranged in the imaging range of the camera 2. In the embodiment, the light incident surface of the optical system of the camera 2 and the workpiece W placed at the inspection position DP face each other. The drive control device 6 controls at least one of the first drive device 3 and the second drive device 4 so that the plurality of inspection surfaces of the workpiece W sequentially face the light incident surface of the optical system of the camera 2.

カメラ制御装置7は、ワークWの複数の検査面が順次撮像されるようにカメラ2を制御する。カメラ制御装置7は、複数のカメラ2の撮像範囲のそれぞれに配置された複数の検査面が同時に撮像されるように、複数のカメラ2を制御する。カメラ2の撮像範囲は、カメラ2の光学系の視野範囲を含む。実施形態において、カメラ制御装置7は、第1カメラ21の撮像範囲に配置されたワークWの1つの検査面と第2カメラ22の撮像範囲に配置されたワークWの1つの検査面とが同時に撮像されるように、第1カメラ21及び第2カメラ22を制御する。 The camera control device 7 controls the camera 2 so that images of a plurality of inspection surfaces of the workpiece W are sequentially captured. The camera control device 7 controls the plurality of cameras 2 so that a plurality of inspection surfaces arranged in each of the imaging ranges of the plurality of cameras 2 are simultaneously imaged. The imaging range of the camera 2 includes the viewing range of the optical system of the camera 2. In the embodiment, the camera control device 7 simultaneously inspects one inspection surface of the workpiece W placed in the imaging range of the first camera 21 and one inspection surface of the workpiece W placed in the imaging range of the second camera 22. The first camera 21 and the second camera 22 are controlled so that images are captured.

画像処理装置8は、カメラ2で撮像されたワークWの検査面の画像に基づいてワークWの欠陥を検出する。 The image processing device 8 detects defects in the workpiece W based on the image of the inspection surface of the workpiece W taken by the camera 2.

[外観検査方法]
図4は、実施形態に係る外観検査方法の一例を示すフローチャートである。図5及び図6のそれぞれは、実施形態に係る外観検査方法の一例を模式的に示す斜視図である。
[Appearance inspection method]
FIG. 4 is a flowchart illustrating an example of the visual inspection method according to the embodiment. Each of FIGS. 5 and 6 is a perspective view schematically showing an example of the appearance inspection method according to the embodiment.

ワークWが外観検査装置1の搬入位置に搬入される。駆動制御装置6は、搬入位置において、ワークWをクランプ部材10にクランプさせる(ステップS1)。 The workpiece W is carried into the carrying position of the visual inspection apparatus 1 . The drive control device 6 causes the clamp member 10 to clamp the workpiece W at the carry-in position (step S1).

ワークWがクランプ部材10にクランプされた後、駆動制御装置6は、ワークWが検査位置DPに配置されるように第1駆動装置3及び第2駆動装置4の少なくとも一方を制御する。すなわち、駆動制御装置6は、ワークWが検査位置DPに配置されるように、X軸方向及びZ軸方向のワークWの位置を調整する。 After the workpiece W is clamped by the clamp member 10, the drive control device 6 controls at least one of the first drive device 3 and the second drive device 4 so that the workpiece W is placed at the inspection position DP. That is, the drive control device 6 adjusts the position of the workpiece W in the X-axis direction and the Z-axis direction so that the workpiece W is placed at the inspection position DP.

X軸方向のワークWの位置を調整するとき、駆動制御装置6は、ワークWからターンテーブル17が離れるように第2駆動装置4を制御した状態で、ワークWをクランプしたクランプ部材10がX軸方向に移動するように第1駆動装置3を制御する。 When adjusting the position of the work W in the X-axis direction, the drive control device 6 controls the second drive device 4 so that the turntable 17 moves away from the work W, and the clamp member 10 that clamps the work W The first drive device 3 is controlled to move in the axial direction.

Z軸方向のワークWの位置を調整するとき、駆動制御装置6は、ワークWからクランプ部材10が離れるように第1駆動装置3を制御した状態で、ワークWを支持したターンテーブル17がZ軸方向に移動するように第2駆動装置4を制御する。 When adjusting the position of the workpiece W in the Z-axis direction, the drive control device 6 controls the first drive device 3 so that the clamp member 10 separates from the workpiece W, and the turntable 17 supporting the workpiece W moves in the Z direction. The second drive device 4 is controlled to move in the axial direction.

実施形態において、図1及び図2に示したように、駆動制御装置6は、検査面C5が第1カメラ21に対向し、検査面C3が第2カメラ22に対向するように、クランプ部材10にクランプされたワークWを検査位置DPに配置する。図1及び図2に示す例において、ワークWは、検査面C1とクランプ部材10Aとが対向し、検査面C2とクランプ部材10Bとが対向するように、クランプ部材10にクランプされる。 In the embodiment, as shown in FIGS. 1 and 2, the drive control device 6 moves the clamp member 10 so that the inspection surface C5 faces the first camera 21 and the inspection surface C3 faces the second camera 22. The workpiece W clamped is placed at the inspection position DP. In the example shown in FIGS. 1 and 2, the work W is clamped by the clamp member 10 such that the inspection surface C1 and the clamp member 10A face each other, and the inspection surface C2 and the clamp member 10B face each other.

駆動制御装置6は、第1カメラ21と検査面C5とが対向している状態で、第1カメラ21の光学系の焦点と検査面C5とが一致するように、第1カメラ移動装置51を制御する。すなわち、駆動制御装置6は、第1カメラ21の光学系の焦点と検査面C5とが一致するように、第1カメラ21をZ軸方向に移動させる。また、駆動制御装置6は、第2カメラ22と検査面C3とが対向している状態で、第2カメラ22の光学系の焦点と検査面C3とが一致するように、第2カメラ移動装置52を制御する。すなわち、駆動制御装置6は、第2カメラ22の光学系の焦点と検査面C3とが一致するように、第2カメラ22をY軸方向に移動させる。 The drive control device 6 moves the first camera moving device 51 so that the focus of the optical system of the first camera 21 and the inspection surface C5 match with each other in a state where the first camera 21 and the inspection surface C5 are facing each other. Control. That is, the drive control device 6 moves the first camera 21 in the Z-axis direction so that the focal point of the optical system of the first camera 21 matches the inspection surface C5. The drive control device 6 also controls the second camera moving device so that the focal point of the optical system of the second camera 22 and the inspection surface C3 match with each other in a state where the second camera 22 and the inspection surface C3 are facing each other. 52. That is, the drive control device 6 moves the second camera 22 in the Y-axis direction so that the focal point of the optical system of the second camera 22 matches the inspection surface C3.

第1カメラ21の光学系の焦点と検査面C5とが一致し、第2カメラ22の光学系の焦点と検査面C3とが一致した後、カメラ制御装置7は、第1カメラ21に検査面C5を撮像させ、第2カメラ22に検査面C3を撮像させる。カメラ制御装置7は、第1カメラ21の撮像範囲に配置された検査面C5と、第2カメラ22の撮像範囲に配置された検査面C3とが同時に撮像されるように、第1カメラ21及び第2カメラ22を制御する(ステップS2)。 After the focus of the optical system of the first camera 21 and the inspection surface C5 match and the focus of the optical system of the second camera 22 and the inspection surface C3 match, the camera control device 7 causes the first camera 21 to C5 is imaged, and the second camera 22 is caused to image the inspection surface C3. The camera control device 7 controls the first camera 21 and The second camera 22 is controlled (step S2).

なお、第2カメラ22が検査面C3を撮像するとき、駆動制御装置6は、第2カメラ22の撮像範囲に対して検査面C3がX軸方向に移動するように、第1駆動装置3を制御してもよい。第2カメラ22の撮像範囲よりも検査面C3が大きい場合、検査面C3がX軸方向の複数の位置のそれぞれに配置されたときに第2カメラ22が検査面C3を撮像することにより、第2カメラ22は、検査面C3の全範囲を撮像することができる。 Note that when the second camera 22 images the inspection surface C3, the drive control device 6 controls the first drive device 3 so that the inspection surface C3 moves in the X-axis direction with respect to the imaging range of the second camera 22. May be controlled. When the inspection surface C3 is larger than the imaging range of the second camera 22, the second camera 22 images the inspection surface C3 when the inspection surface C3 is placed at each of a plurality of positions in the X-axis direction. The two cameras 22 can image the entire range of the inspection surface C3.

また、第1カメラ21が検査面C5を撮像するとき、駆動制御装置6は、検査面C5に対して第1カメラ21の撮像範囲がX軸方向及びY軸方向の少なくとも一方に移動するように、第1駆動装置3を制御してもよい。第1カメラ21の撮像範囲よりも検査面C5が大きい場合、第1カメラ21の撮像範囲がX軸方向及びY軸方向の複数の位置のそれぞれに配置されたときに第1カメラ21が検査面C5を撮像することにより、第1カメラ21は、検査面C5の全範囲を撮像することができる。 Further, when the first camera 21 images the inspection surface C5, the drive control device 6 controls the imaging range of the first camera 21 to move in at least one of the X-axis direction and the Y-axis direction with respect to the inspection surface C5. , the first drive device 3 may be controlled. When the inspection surface C5 is larger than the imaging range of the first camera 21, when the imaging range of the first camera 21 is arranged at each of a plurality of positions in the X-axis direction and the Y-axis direction, the first camera 21 By capturing an image of C5, the first camera 21 can image the entire range of the inspection surface C5.

なお、図1及び図2に示すように、検査面C5及び検査面C3を撮像するとき、クランプ部材10にクランプされたワークWを、ターンテーブル17が下側から支持してもよい。ワークWの重量が大きい場合、クランプ部材10Aとクランプ部材10BとでワークWを挟み付ける力だけでは、ワークWの位置を維持することが困難になる可能性がある。ワークWの重量が大きい場合、重力の作用により、クランプ部材10にクランプされたワークWが-Z側に移動してしまう可能性がある。ターンテーブル17がワークWを下側から支持することにより、クランプ部材10にクランプされたワークWが-Z側に移動することが抑制される。 In addition, as shown in FIG.1 and FIG.2, when imaging the inspection surface C5 and the inspection surface C3, the turntable 17 may support the work W clamped by the clamp member 10 from below. When the weight of the work W is large, it may be difficult to maintain the position of the work W only with the force of clamping the work W between the clamp member 10A and the clamp member 10B. When the weight of the workpiece W is large, the workpiece W clamped by the clamp member 10 may move toward the -Z side due to the action of gravity. Since the turntable 17 supports the work W from below, the work W clamped by the clamp member 10 is suppressed from moving toward the −Z side.

検査面C5及び検査面C3が撮像された後、駆動制御装置6は、検査面C6が第1カメラ21に対向し、検査面C4が第2カメラ22に対向するように、ワークWをクランプしたクランプ部材10を、第1回転軸RXを中心に回転させる(ステップS3)。 After the inspection surface C5 and the inspection surface C3 were imaged, the drive control device 6 clamped the work W so that the inspection surface C6 faced the first camera 21 and the inspection surface C4 faced the second camera 22. The clamp member 10 is rotated around the first rotation axis RX (step S3).

図5に示すように、第1回転軸RXを中心にクランプ部材10を回転させるとき、駆動制御装置6は、ワークWからターンテーブル17が離れるように第2駆動装置4を制御する。ワークWをクランプしたクランプ部材10を回転させるとき、ターンテーブル17がワークWから離れるように-Z側に移動することにより、第1駆動装置3は、ワークWを円滑に回転させることができる。 As shown in FIG. 5, when rotating the clamp member 10 around the first rotation axis RX, the drive control device 6 controls the second drive device 4 so that the turntable 17 moves away from the workpiece W. When rotating the clamp member 10 that has clamped the workpiece W, the first drive device 3 can rotate the workpiece W smoothly by moving the turntable 17 toward the -Z side away from the workpiece W.

検査面C6が第1カメラ21に対向し、検査面C4が第2カメラ22に対向した後、駆動制御装置6は、第1カメラ21の光学系の焦点と検査面C6とが一致するように、第1カメラ21をZ軸方向に移動させ、第2カメラ22の光学系の焦点と検査面C4とが一致するように、第2カメラ22をY軸方向に移動させる。 After the inspection surface C6 faces the first camera 21 and the inspection surface C4 faces the second camera 22, the drive control device 6 controls the inspection surface C6 so that the focus of the optical system of the first camera 21 and the inspection surface C6 coincide. , the first camera 21 is moved in the Z-axis direction, and the second camera 22 is moved in the Y-axis direction so that the focal point of the optical system of the second camera 22 coincides with the inspection surface C4.

第1カメラ21の光学系の焦点と検査面C6とが一致し、第2カメラ22の光学系の焦点と検査面C4とが一致した後、カメラ制御装置7は、第1カメラ21に検査面C6を撮像させ、第2カメラ22に検査面C4を撮像させる。カメラ制御装置7は、第1カメラ21の撮像範囲に配置された検査面C6と、第2カメラ22の撮像範囲に配置された検査面C4とが同時に撮像されるように、第1カメラ21及び第2カメラ22を制御する(ステップS4)。 After the focus of the optical system of the first camera 21 and the inspection surface C6 match and the focus of the optical system of the second camera 22 and the inspection surface C4 match, the camera control device 7 causes the first camera 21 to C6 is imaged, and the second camera 22 is caused to image the inspection surface C4. The camera control device 7 controls the first camera 21 and The second camera 22 is controlled (step S4).

なお、第2カメラ22が検査面C4を撮像するとき、駆動制御装置6は、第2カメラ22の撮像範囲に対して検査面C4がX軸方向に移動するように、第1駆動装置3を制御してもよい。また、第1カメラ21が検査面C6を撮像するとき、駆動制御装置6は、検査面C6に対して第1カメラ21の撮像範囲がX軸方向及びY軸方向の少なくとも一方に移動するように、第1駆動装置3を制御してもよい。 Note that when the second camera 22 images the inspection surface C4, the drive control device 6 controls the first drive device 3 so that the inspection surface C4 moves in the X-axis direction with respect to the imaging range of the second camera 22. May be controlled. Further, when the first camera 21 images the inspection surface C6, the drive control device 6 controls the imaging range of the first camera 21 to move in at least one of the X-axis direction and the Y-axis direction with respect to the inspection surface C6. , the first drive device 3 may be controlled.

なお、検査面C6及び検査面C4を撮像するとき、クランプ部材10にクランプされたワークWを、ターンテーブル17が下側から支持してもよい。 Note that when imaging the inspection surface C6 and the inspection surface C4, the workpiece W clamped by the clamp member 10 may be supported by the turntable 17 from below.

検査面C6及び検査面C4が撮像された後、駆動制御装置6は、ワークWを下側からターンテーブル17に支持させる(ステップS5)。 After the inspection surface C6 and the inspection surface C4 are imaged, the drive control device 6 causes the turntable 17 to support the workpiece W from below (step S5).

ターンテーブル17がワークWを下側から支持した後、駆動制御装置6は、クランプ部材10によるワークWのクランプを解除する(ステップS6)。 After the turntable 17 supports the workpiece W from below, the drive control device 6 releases the clamping of the workpiece W by the clamp member 10 (step S6).

駆動制御装置6は、検査面C1が第2カメラ22に対向するように、ワークWを支持したターンテーブル17を、第2回転軸TXを中心に回転させる(ステップS7)。 The drive control device 6 rotates the turntable 17 supporting the workpiece W around the second rotation axis TX so that the inspection surface C1 faces the second camera 22 (step S7).

図6に示すように、第2回転軸TXを中心にターンテーブル17を回転させるとき、駆動制御装置6は、ワークWからクランプ部材10が離れるように第1駆動装置3を制御する。ワークWを支持したターンテーブル17を回転させるとき、クランプ部材10AがワークWから離れるように+X側に移動し、クランプ部材10BがワークWから離れるように-X側に移動することにより、第2駆動装置4は、ワークWを円滑に回転させることができる。 As shown in FIG. 6, when rotating the turntable 17 around the second rotation axis TX, the drive control device 6 controls the first drive device 3 so that the clamp member 10 moves away from the workpiece W. When the turntable 17 supporting the work W is rotated, the clamp member 10A moves to the +X side away from the work W, and the clamp member 10B moves to the -X side away from the work W. The drive device 4 can rotate the workpiece W smoothly.

検査面C1が第2カメラ22に対向した後、駆動制御装置6は、ワークWをクランプ部材10にクランプさせる。また、駆動制御装置6は、第2カメラ22の光学系の焦点と検査面C1とが一致するように、第2カメラ22をY軸方向に移動させる。 After the inspection surface C1 faces the second camera 22, the drive control device 6 causes the clamp member 10 to clamp the workpiece W. Further, the drive control device 6 moves the second camera 22 in the Y-axis direction so that the focal point of the optical system of the second camera 22 and the inspection surface C1 match.

第2カメラ22の光学系の焦点と検査面C1とが一致した後、カメラ制御装置7は、第2カメラ22に検査面C1を撮像させる(ステップS8)。 After the focus of the optical system of the second camera 22 and the inspection surface C1 match, the camera control device 7 causes the second camera 22 to image the inspection surface C1 (step S8).

なお、第2カメラ22が検査面C1を撮像するとき、駆動制御装置6は、第2カメラ22の撮像範囲に対して検査面C1がX軸方向に移動するように、第1駆動装置3を制御してもよい。 Note that when the second camera 22 images the inspection surface C1, the drive control device 6 controls the first drive device 3 so that the inspection surface C1 moves in the X-axis direction with respect to the imaging range of the second camera 22. May be controlled.

なお、検査面C1を撮像するとき、クランプ部材10にクランプされたワークWをターンテーブル17が下側から支持してもよい。 Note that when imaging the inspection surface C1, the workpiece W clamped by the clamp member 10 may be supported by the turntable 17 from below.

検査面C1が撮像された後、駆動制御装置6は、ワークWを下側からターンテーブル17に支持させる。 After the inspection surface C1 is imaged, the drive control device 6 causes the turntable 17 to support the workpiece W from below.

ターンテーブル17がワークWを下側から支持した後、駆動制御装置6は、クランプ部材10によるワークWのクランプを解除する。 After the turntable 17 supports the workpiece W from below, the drive control device 6 releases the clamping of the workpiece W by the clamp member 10.

駆動制御装置6は、検査面C2が第2カメラ22に対向するように、ワークWを支持したターンテーブル17を、第2回転軸TXを中心に回転させる。 The drive control device 6 rotates the turntable 17 supporting the workpiece W around the second rotation axis TX so that the inspection surface C2 faces the second camera 22.

検査面C2が第2カメラ22に対向した後、駆動制御装置6は、ワークWをクランプ部材10にクランプさせる。また、駆動制御装置6は、第2カメラ22の光学系の焦点と検査面C2とが一致するように、第2カメラ22をY軸方向に移動させる。 After the inspection surface C2 faces the second camera 22, the drive control device 6 causes the clamp member 10 to clamp the workpiece W. Further, the drive control device 6 moves the second camera 22 in the Y-axis direction so that the focal point of the optical system of the second camera 22 matches the inspection surface C2.

第2カメラ22の光学系の焦点と検査面C2とが一致した後、カメラ制御装置7は、第2カメラ22に検査面C2を撮像させる(ステップS9)。 After the focus of the optical system of the second camera 22 and the inspection surface C2 match, the camera control device 7 causes the second camera 22 to image the inspection surface C2 (step S9).

なお、第2カメラ22が検査面C2を撮像するとき、駆動制御装置6は、第2カメラ22の撮像範囲に対して検査面C2がX軸方向に移動するように、第1駆動装置3を制御してもよい。 Note that when the second camera 22 images the inspection surface C2, the drive control device 6 controls the first drive device 3 so that the inspection surface C2 moves in the X-axis direction with respect to the imaging range of the second camera 22. May be controlled.

なお、検査面C2を撮像するとき、クランプ部材10にクランプされたワークWをターンテーブル17が下側から支持してもよい。 Note that when imaging the inspection surface C2, the workpiece W clamped by the clamp member 10 may be supported by the turntable 17 from below.

以上により、カメラ2による6つの検査面C1,C2,C3,C4,C5,C6の撮像が終了する。6つの検査面C1,C2,C3,C4,C5,C6の撮像が終了した後、ワークWが外観検査装置1から搬出される。 With the above, imaging of the six inspection surfaces C1, C2, C3, C4, C5, and C6 by the camera 2 is completed. After the imaging of the six inspection surfaces C1, C2, C3, C4, C5, and C6 is completed, the work W is carried out from the visual inspection apparatus 1.

カメラ2で撮像された6つの検査面C1,C2,C3,C4,C5,C6の画像は、画像処理装置8に送信される。画像処理装置8は、6つの検査面C1,C2,C3,C4,C5,C6の画像に基づいて、ワークWの欠陥を検出する。 Images of the six inspection surfaces C1, C2, C3, C4, C5, and C6 captured by the camera 2 are transmitted to the image processing device 8. The image processing device 8 detects defects in the workpiece W based on images of the six inspection surfaces C1, C2, C3, C4, C5, and C6.

なお、ワークWが6つの検査面を有する場合において、上述の外観検査方法は一例である。撮像回数が最少になるように、第1回転軸RXを中心とするワークWの回転角度又は回転回数、第2回転軸TXを中心とするワークWの回転角度又は回転回数、及び第1回転軸RX又は第2回転軸TXを中心とするワークWの回転順序などが最適化される。 In addition, in the case where the work W has six inspection surfaces, the above-mentioned appearance inspection method is an example. The rotation angle or number of rotations of the work W around the first rotation axis RX, the rotation angle or number of rotations of the work W around the second rotation axis TX, and the first rotation axis so that the number of imaging times is minimized. The rotation order of the workpiece W around RX or the second rotation axis TX is optimized.

また、6つの検査面C1,C2,C3,C4,C5,C6の全部が撮像されなくてもよく、例えば、4つの検査面C3,C4,C5,C6がカメラ2で撮像されてもよい。 Furthermore, all of the six inspection surfaces C1, C2, C3, C4, C5, and C6 do not need to be imaged; for example, the four inspection surfaces C3, C4, C5, and C6 may be imaged by the camera 2.

[効果]
以上説明したように、実施形態によれば、外観検査装置1は、検査位置DPに配置されたワークWを撮像するカメラ2と、検査位置DPにおいて第1回転軸RXを中心にワークWを回転させる第1駆動装置3と、検査位置DPにおいて第2回転軸TXを中心にワークWを回転させる第2駆動装置4と、ワークWの複数の検査面がカメラ2の撮像範囲に順次配置されるように第1駆動装置3及び第2駆動装置4の少なくとも一方を制御する駆動制御装置6と、複数の検査面が順次撮像されるようにカメラ2を制御するカメラ制御装置7と、カメラ2で撮像された検査面の画像に基づいてワークWの欠陥を検出する画像処理装置8と、を備える。ワークWが第1回転軸RX及び第2回転軸TXの少なくとも一方を中心に回転されることにより、カメラ2は、ワークWの複数の検査面を効率良く撮像することができる。1台の外観検査装置1で、ワークWの複数の検査面が効率良く検査される。
[effect]
As described above, according to the embodiment, the visual inspection apparatus 1 includes a camera 2 that images the workpiece W placed at the inspection position DP, and a camera 2 that rotates the workpiece W around the first rotation axis RX at the inspection position DP. A first drive device 3 that rotates the workpiece W around the second rotation axis TX at the inspection position DP, and a plurality of inspection surfaces of the workpiece W are sequentially arranged in the imaging range of the camera 2. A drive control device 6 that controls at least one of the first drive device 3 and the second drive device 4; a camera control device 7 that controls the camera 2 so that a plurality of inspection surfaces are sequentially imaged; It includes an image processing device 8 that detects defects in the workpiece W based on the captured image of the inspection surface. By rotating the work W around at least one of the first rotation axis RX and the second rotation axis TX, the camera 2 can efficiently image a plurality of inspection surfaces of the work W. A plurality of inspection surfaces of the workpiece W can be efficiently inspected by one appearance inspection apparatus 1.

第1駆動装置3は、ワークWをクランプするクランプ部材10と、ワークWをクランプしたクランプ部材10を、第1回転軸RXを中心に回転させる第1回転アクチュエータ11と、を有する。これにより、ワークWは、第1回転軸RXを中心に回転される。 The first drive device 3 includes a clamp member 10 that clamps the workpiece W, and a first rotation actuator 11 that rotates the clamp member 10 that has clamped the workpiece W around a first rotation axis RX. Thereby, the workpiece W is rotated about the first rotation axis RX.

第1駆動装置3は、ワークWをクランプしたクランプ部材10を、第1回転軸RXに平行なX軸方向へ移動させる第1並進アクチュエータ12を有する。これにより、ワークWは、X軸方向へ移動される。第1駆動装置3は、カメラ2の撮像範囲に対するワークWの位置を調整することができる。実施形態において、第1駆動装置3は、第1カメラ21の撮像範囲に対するワークWのX軸方向の位置及び第2カメラ22の撮像範囲に対するワークWのX軸方向の位置を調整することができる。 The first drive device 3 includes a first translation actuator 12 that moves the clamp member 10 that clamps the workpiece W in the X-axis direction parallel to the first rotation axis RX. Thereby, the workpiece W is moved in the X-axis direction. The first drive device 3 can adjust the position of the work W with respect to the imaging range of the camera 2. In the embodiment, the first driving device 3 can adjust the position of the workpiece W in the X-axis direction with respect to the imaging range of the first camera 21 and the position of the workpiece W in the X-axis direction with respect to the imaging range of the second camera 22. .

第2駆動装置4は、ワークWを下側から支持するターンテーブル17と、ワークWを支持したターンテーブル17を、第2回転軸TXを中心に回転させる第2回転アクチュエータ18と、を有する。これにより、ワークWは、第2回転軸TXを中心に回転される。 The second drive device 4 includes a turntable 17 that supports the workpiece W from below, and a second rotation actuator 18 that rotates the turntable 17 that supports the workpiece W around a second rotation axis TX. Thereby, the workpiece W is rotated around the second rotation axis TX.

第2駆動装置4は、ワークWを支持したターンテーブル17を、第2回転軸TXに平行なZ軸方向へ移動させる第2並進アクチュエータ19を有する。これにより、ワークWは、Z軸方向へ移動される。第2駆動装置4は、カメラ2の撮像範囲に対するワークWの位置を調整することができる。実施形態において、第2駆動装置4は、第1カメラ21の撮像範囲に対するワークWのZ軸方向の位置及び第2カメラ22の撮像範囲に対するワークWのZ軸方向の位置を調整することができる。 The second drive device 4 includes a second translation actuator 19 that moves the turntable 17 supporting the workpiece W in the Z-axis direction parallel to the second rotation axis TX. Thereby, the workpiece W is moved in the Z-axis direction. The second drive device 4 can adjust the position of the work W with respect to the imaging range of the camera 2. In the embodiment, the second drive device 4 can adjust the position of the workpiece W in the Z-axis direction with respect to the imaging range of the first camera 21 and the position of the workpiece W in the Z-axis direction with respect to the imaging range of the second camera 22. .

カメラ2の光学系の光軸に平行な方向へカメラ2を移動させるカメラ移動装置5が設けられる。これにより、カメラ2の光学系が固定焦点光学系である場合、カメラ2の光学系の焦点と検査面とを一致させることができる。実施形態において、第1カメラ移動装置51は、第1カメラ21を光軸AX1に平行なZ軸方向へ移動させることにより、第1カメラ21の光学系の焦点と検査面とを一致させることができる。第2カメラ移動装置52は、第2カメラ22を光軸AX2に平行なY軸方向へ移動させることにより、第2カメラ22の光学系の焦点と検査面とを一致させることができる。 A camera moving device 5 is provided that moves the camera 2 in a direction parallel to the optical axis of the optical system of the camera 2. Thereby, when the optical system of the camera 2 is a fixed focus optical system, the focal point of the optical system of the camera 2 can be made to coincide with the inspection surface. In the embodiment, the first camera moving device 51 can align the focus of the optical system of the first camera 21 with the inspection surface by moving the first camera 21 in the Z-axis direction parallel to the optical axis AX1. can. The second camera moving device 52 can align the focus of the optical system of the second camera 22 with the inspection surface by moving the second camera 22 in the Y-axis direction parallel to the optical axis AX2.

駆動制御装置6は、ワークWをクランプしたクランプ部材10を回転させるとき、ワークWからターンテーブル17が離れるように第2駆動装置4を制御する。これにより、ワークWは、第1回転軸RXを中心に円滑に回転することができる。駆動制御装置6は、ワークWを支持したターンテーブル17を回転させるとき、ワークWからクランプ部材10が離れるように第1駆動装置3を制御する。これにより、ワークWは、第2回転軸TXを中心に円滑に回転することができる。 The drive control device 6 controls the second drive device 4 so that the turntable 17 moves away from the work W when rotating the clamp member 10 that clamps the work W. Thereby, the workpiece W can smoothly rotate around the first rotation axis RX. The drive control device 6 controls the first drive device 3 so that the clamp member 10 is separated from the workpiece W when the turntable 17 supporting the workpiece W is rotated. Thereby, the work W can smoothly rotate around the second rotation axis TX.

駆動制御装置6は、第1並進アクチュエータ12及び第2並進アクチュエータ19の少なくとも一方を制御して、ワークWを検査位置DPに配置することができる。 The drive control device 6 can control at least one of the first translation actuator 12 and the second translation actuator 19 to place the workpiece W at the inspection position DP.

第1回転軸RXと第2回転軸TXとは直交する。第1カメラ移動装置51は、X軸方向、Y軸方向、及びZ軸方向のそれぞれへ第1カメラ21を移動させる。これにより、第1カメラ21とワークWとの相対位置が調整される。 The first rotation axis RX and the second rotation axis TX are orthogonal to each other. The first camera moving device 51 moves the first camera 21 in each of the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction. Thereby, the relative position between the first camera 21 and the workpiece W is adjusted.

カメラ2は、複数設けられる。カメラ制御装置7は、複数のカメラ2の撮像範囲のそれぞれに配置された複数の検査面が同時に撮像されるように、複数のカメラ2を制御する。これにより、ワークWの複数の検査面が効率良く撮像される。 A plurality of cameras 2 are provided. The camera control device 7 controls the plurality of cameras 2 so that a plurality of inspection surfaces arranged in each of the imaging ranges of the plurality of cameras 2 are simultaneously imaged. Thereby, multiple inspection surfaces of the work W can be efficiently imaged.

[その他の実施形態]
上述の実施形態において、カメラ制御装置7は、1つの検査面をカメラ2に複数回撮像させてもよい。例えば、第1カメラ21が1つの検査面を撮像するとき、駆動制御装置6は、クランプ部材10にクランプされたワークWが第1回転軸RXを中心とする傾斜方向に傾斜するように、第1駆動装置3を制御してもよい。検査面が複数の傾斜角度のそれぞれに傾いたときに照明装置2Bに照明された検査面が第1カメラ21に撮像されることにより、画像処理装置8は、第1カメラ21に撮像された画像に基づいて、検査面の欠陥を検出し易くなる可能性がある。検査面に欠陥が存在する場合、検査面の傾斜角度により、照明装置2Bから検査面に照射された照明光の反射状態が変化する可能性がある。画像処理装置8は、第1カメラ21により撮像された照明光の反射状態に基づいて、検査面の欠陥を高精度に検出することができる。
[Other embodiments]
In the embodiment described above, the camera control device 7 may cause the camera 2 to image one inspection surface multiple times. For example, when the first camera 21 images one inspection surface, the drive control device 6 controls the first camera 21 so that the work W clamped by the clamp member 10 is tilted in a tilt direction centered on the first rotation axis RX. 1 drive device 3 may be controlled. When the inspection surface is tilted at each of a plurality of inclination angles, the inspection surface illuminated by the illumination device 2B is imaged by the first camera 21, so that the image processing device 8 converts the image captured by the first camera 21 into an image. Based on this, it may become easier to detect defects on the inspection surface. When a defect exists on the inspection surface, the reflection state of the illumination light irradiated onto the inspection surface from the illumination device 2B may change depending on the inclination angle of the inspection surface. The image processing device 8 can detect defects on the inspection surface with high accuracy based on the reflection state of the illumination light captured by the first camera 21.

上述の実施形態において、複数のカメラ2は、同一の種類でもよい。複数のカメラ2の光学系の分解能は、同じでもよい。複数のカメラ2の光学系の画角は、同じでもよい。複数のカメラ2のイメージセンサの画素数は、同じでもよい。複数のカメラ2の解像度は、同じでもよい。 In the embodiments described above, the plurality of cameras 2 may be of the same type. The resolutions of the optical systems of the plurality of cameras 2 may be the same. The angles of view of the optical systems of the plurality of cameras 2 may be the same. The number of pixels of the image sensors of the plurality of cameras 2 may be the same. The resolutions of the plurality of cameras 2 may be the same.

上述の実施形態において、複数のカメラ2は、異なる種類でもよい。複数のカメラ2の光学系の分解能は、相互に異なってもよい。例えば、第1カメラ21の光学系の分解能が第2カメラ22の光学系の分解能よりも高くてもよい。高い分解能の第1カメラ21により、検査面の欠陥が高精度に検出される。低い分解能の第2カメラ22により、外観検査装置1のコストが抑制される。また、第1カメラ21の光学系の画角が、第2カメラ22の光学系の画角よりも小さくてもよい。また、第1カメラ21のイメージセンサの画素数が、第2カメラ22のイメージセンサの画素数よりも多くてもよい。第1カメラ21の解像度が、第2カメラ22の解像度よりも高くてもよい。 In the embodiments described above, the plurality of cameras 2 may be of different types. The resolutions of the optical systems of the plurality of cameras 2 may be different from each other. For example, the resolution of the optical system of the first camera 21 may be higher than the resolution of the optical system of the second camera 22. Defects on the inspection surface are detected with high precision by the first camera 21 with high resolution. The cost of the visual inspection apparatus 1 is suppressed by the second camera 22 having a low resolution. Further, the angle of view of the optical system of the first camera 21 may be smaller than the angle of view of the optical system of the second camera 22. Further, the number of pixels of the image sensor of the first camera 21 may be greater than the number of pixels of the image sensor of the second camera 22. The resolution of the first camera 21 may be higher than the resolution of the second camera 22.

上述の実施形態において、ワークWに孔が形成されてもよい。孔を有するワークWとして、シリンダブロックが例示される。孔を有するワークWをカメラ2が撮像する場合、ワークWが第1回転軸RXを中心とする傾斜方向に傾斜するように第1駆動装置3が制御されたり、ワークWが第2回転軸TXを中心とする傾斜方向に傾斜するように第2駆動装置4が制御されたりしてもよい。ワークWが傾斜されることにより、照明装置2Bから射出された照明光は、ワークWの孔の内面に満遍なく照射される。これにより、ワークWの孔の内面の欠陥が高精度に検出される。 In the embodiments described above, holes may be formed in the workpiece W. A cylinder block is exemplified as the workpiece W having holes. When the camera 2 images a workpiece W having a hole, the first drive device 3 is controlled so that the workpiece W is tilted in a tilting direction centered on the first rotational axis RX, or the workpiece W is tilted in a tilting direction centered on the first rotational axis RX. The second drive device 4 may be controlled to tilt in a tilting direction centered at . By tilting the work W, the illumination light emitted from the illumination device 2B is evenly irradiated onto the inner surface of the hole of the work W. Thereby, defects on the inner surface of the hole in the workpiece W can be detected with high precision.

上述の実施形態において、ワークWは、金属製品でもよいし、合成樹脂製品でもよいし、合成皮革製品でもよい。 In the embodiments described above, the workpiece W may be a metal product, a synthetic resin product, or a synthetic leather product.

1…外観検査装置、2…カメラ、2A…カメラ本体、2B…照明装置、3…第1駆動装置、4…第2駆動装置、5…カメラ移動装置、6…駆動制御装置、7…カメラ制御装置、8…画像処理装置、9…スライド部材、9A…スライド部材、9B…スライド部材、10…クランプ部材、10A…クランプ部材、10B…クランプ部材、11…第1回転アクチュエータ、11A…第1回転アクチュエータ、11B…第1回転アクチュエータ、12…第1並進アクチュエータ、12A…第1並進アクチュエータ、12B…第1並進アクチュエータ、13…ベースプレート、14…ガイド部材、14A…ガイド部材、14B…ガイド部材、15…ベース部材、16…支持部材、17…ターンテーブル、18…第2回転アクチュエータ、19…第2並進アクチュエータ、21…第1カメラ、22…第2カメラ、51…第1カメラ移動装置、52…第2カメラ移動装置、131…開口、AX1…光軸、AX2…光軸、C1…検査面、C2…検査面、C3…検査面、C4…検査面、C5…検査面、C6…検査面、DP…検査位置、RX…第1回転軸、TX…第2回転軸、W…ワーク。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Visual inspection device, 2... Camera, 2A... Camera body, 2B... Illumination device, 3... First drive device, 4... Second drive device, 5... Camera movement device, 6... Drive control device, 7... Camera control Device, 8... Image processing device, 9... Slide member, 9A... Slide member, 9B... Slide member, 10... Clamp member, 10A... Clamp member, 10B... Clamp member, 11... First rotation actuator, 11A... First rotation Actuator, 11B...first rotation actuator, 12...first translation actuator, 12A...first translation actuator, 12B...first translation actuator, 13...base plate, 14...guide member, 14A...guide member, 14B...guide member, 15 ... base member, 16 ... support member, 17 ... turntable, 18 ... second rotation actuator, 19 ... second translation actuator, 21 ... first camera, 22 ... second camera, 51 ... first camera moving device, 52 ... Second camera moving device, 131...Aperture, AX1...Optical axis, AX2...Optical axis, C1...Inspection surface, C2...Inspection surface, C3...Inspection surface, C4...Inspection surface, C5...Inspection surface, C6...Inspection surface, DP...Inspection position, RX...First rotation axis, TX...Second rotation axis, W...Work.

Claims (13)

検査位置に配置されたワークを撮像するカメラと、
前記検査位置において第1軸を中心に前記ワークを回転させる第1駆動装置と、
前記検査位置において第2軸を中心に前記ワークを回転させる第2駆動装置と、
前記ワークの複数の検査面が前記カメラの撮像範囲に順次配置されるように前記第1駆動装置及び前記第2駆動装置の少なくとも一方を制御する駆動制御装置と、
複数の前記検査面が順次撮像されるように前記カメラを制御するカメラ制御装置と、
前記カメラで撮像された前記検査面の画像に基づいて前記ワークの欠陥を検出する画像処理装置と、を備える、
外観検査装置。
A camera that images the workpiece placed at the inspection position;
a first drive device that rotates the workpiece around a first axis at the inspection position;
a second drive device that rotates the workpiece around a second axis at the inspection position;
a drive control device that controls at least one of the first drive device and the second drive device so that a plurality of inspection surfaces of the workpiece are sequentially arranged in an imaging range of the camera;
a camera control device that controls the camera so that the plurality of inspection surfaces are sequentially imaged;
an image processing device that detects defects in the workpiece based on an image of the inspection surface captured by the camera;
Appearance inspection equipment.
前記第1駆動装置は、前記ワークをクランプするクランプ部材と、前記ワークをクランプした前記クランプ部材を、前記第1軸を中心に回転させる第1回転アクチュエータと、を有する、
請求項1に記載の外観検査装置。
The first drive device includes a clamp member that clamps the workpiece, and a first rotation actuator that rotates the clamp member that has clamped the workpiece around the first axis.
The appearance inspection device according to claim 1.
前記第1駆動装置は、前記ワークをクランプした前記クランプ部材を、前記第1軸に平行な方向へ移動させる第1並進アクチュエータを有する、
請求項2に記載の外観検査装置。
The first drive device includes a first translation actuator that moves the clamp member that has clamped the workpiece in a direction parallel to the first axis.
The appearance inspection device according to claim 2.
前記第2駆動装置は、前記ワークを下側から支持するターンテーブルと、前記ワークを支持した前記ターンテーブルを、前記第2軸を中心に回転させる第2回転アクチュエータと、を有する、
請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の外観検査装置。
The second drive device includes a turntable that supports the workpiece from below, and a second rotation actuator that rotates the turntable that supports the workpiece around the second axis.
The appearance inspection device according to any one of claims 1 to 3.
前記第2駆動装置は、前記ワークを支持した前記ターンテーブルを、前記第2軸に平行な方向へ移動させる第2並進アクチュエータを有する、
請求項4に記載の外観検査装置。
The second drive device includes a second translation actuator that moves the turntable supporting the workpiece in a direction parallel to the second axis.
The appearance inspection device according to claim 4.
前記カメラの光軸に平行な方向へ前記カメラを移動させるカメラ移動装置を備える、
請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の外観検査装置。
comprising a camera moving device that moves the camera in a direction parallel to the optical axis of the camera;
The appearance inspection device according to any one of claims 1 to 5.
前記第1駆動装置は、前記ワークをクランプするクランプ部材と、前記ワークをクランプした前記クランプ部材を、前記第1軸を中心に回転させる第1回転アクチュエータと、を有し、
前記第2駆動装置は、前記ワークを下側から支持するターンテーブルと、前記ワークを支持した前記ターンテーブルを、前記第2軸を中心に回転させる第2回転アクチュエータと、を有し、
前記駆動制御装置は、前記クランプ部材を回転させるとき、前記ワークから前記ターンテーブルが離れるように前記第2駆動装置を制御し、前記ターンテーブルを回転させるとき、前記ワークから前記クランプ部材が離れるように前記第1駆動装置を制御する、
請求項1に記載の外観検査装置。
The first drive device includes a clamp member that clamps the workpiece, and a first rotation actuator that rotates the clamp member that has clamped the workpiece around the first axis,
The second drive device includes a turntable that supports the workpiece from below, and a second rotation actuator that rotates the turntable that supports the workpiece around the second axis,
The drive control device controls the second drive device so that the turntable moves away from the work when rotating the clamp member, and controls the second drive so that the clamp member moves away from the work when rotating the turntable. controlling the first drive device to
The appearance inspection device according to claim 1.
前記第1駆動装置は、前記ワークをクランプした前記クランプ部材を、前記第1軸に平行な方向へ移動させる第1並進アクチュエータを有し、
前記第2駆動装置は、前記ワークを支持した前記ターンテーブルを、前記第2軸に平行な方向へ移動させる第2並進アクチュエータを有し、
前記駆動制御装置は、前記ワークが前記検査位置に配置されるように前記第1駆動装置及び前記第2駆動装置の少なくとも一方を制御する、
請求項7に記載の外観検査装置。
The first drive device includes a first translation actuator that moves the clamp member that clamps the workpiece in a direction parallel to the first axis,
The second drive device includes a second translation actuator that moves the turntable supporting the workpiece in a direction parallel to the second axis,
The drive control device controls at least one of the first drive device and the second drive device so that the workpiece is placed at the inspection position.
The appearance inspection device according to claim 7.
前記第1軸と前記第2軸とは直交し、
前記第1軸及び前記第2軸のそれぞれに直交する第3軸に平行な方向へ前記カメラを移動させるカメラ移動装置を備える、
請求項7又は請求項8に記載の外観検査装置。
the first axis and the second axis are orthogonal to each other,
comprising a camera moving device that moves the camera in a direction parallel to a third axis perpendicular to each of the first axis and the second axis;
The appearance inspection device according to claim 7 or claim 8.
前記カメラ移動装置は、前記第1軸に平行な方向及び前記第2軸に平行な方向のそれぞれへ前記カメラを移動させる、
請求項9に記載の外観検査装置。
The camera moving device moves the camera in a direction parallel to the first axis and a direction parallel to the second axis, respectively.
The appearance inspection device according to claim 9.
前記カメラは、複数設けられ、
前記カメラ制御装置は、複数のカメラの撮像範囲のそれぞれに配置された複数の検査面が同時に撮像されるように、複数の前記カメラを制御する、
請求項1から請求項10のいずれか一項に記載の外観検査装置。
A plurality of cameras are provided,
The camera control device controls the plurality of cameras so that a plurality of inspection surfaces arranged in respective imaging ranges of the plurality of cameras are simultaneously imaged.
The visual inspection device according to any one of claims 1 to 10.
複数の前記カメラの分解能は、相互に異なる、
請求項11に記載の外観検査装置。
The resolutions of the plurality of cameras are different from each other,
The appearance inspection device according to claim 11.
検査位置に配置されたワークの複数の検査面がカメラの撮像範囲に順次配置されるように、第1軸及び第2軸の少なくとも一方を中心に前記ワークを回転させることと、
前記撮像範囲に配置された複数の前記検査面を前記カメラで順次撮像することと、
前記カメラで撮像された前記検査面の画像に基づいて前記ワークの欠陥を検出することと、を含む、
外観検査方法。
rotating the workpiece around at least one of a first axis and a second axis so that a plurality of inspection surfaces of the workpiece placed at an inspection position are sequentially placed in an imaging range of a camera;
Sequentially imaging the plurality of inspection surfaces arranged in the imaging range with the camera;
Detecting defects in the workpiece based on an image of the inspection surface captured by the camera;
Appearance inspection method.
JP2022033808A 2022-03-04 2022-03-04 Visual inspection device and visual inspection method Pending JP2023129047A (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022033808A JP2023129047A (en) 2022-03-04 2022-03-04 Visual inspection device and visual inspection method
CN202310228447.3A CN116698841A (en) 2022-03-04 2023-03-03 Appearance inspection device and appearance inspection method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022033808A JP2023129047A (en) 2022-03-04 2022-03-04 Visual inspection device and visual inspection method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2023129047A true JP2023129047A (en) 2023-09-14

Family

ID=87826512

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022033808A Pending JP2023129047A (en) 2022-03-04 2022-03-04 Visual inspection device and visual inspection method

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2023129047A (en)
CN (1) CN116698841A (en)

Also Published As

Publication number Publication date
CN116698841A (en) 2023-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI411773B (en) Visual inspection apparatus, visual inspection methdo, and circumference inspection unit attachable to visual inspection apparatus
JP5854501B2 (en) Automatic visual inspection equipment
KR100954360B1 (en) Automated optical inspection system
US20080225281A1 (en) Visual inspection apparatus
WO2018212058A1 (en) Appearance inspecting device
JP2007240264A (en) Observation device and flaw inspection device of edge face
WO2007120491A2 (en) Wafer bevel inspection mechanism
WO2014073262A1 (en) Apparatus for detecting position of image pickup element
CN112213328A (en) Wafer inspection apparatus
US8817089B2 (en) Inspection system
CN113316714B (en) Full-surface visual inspection system for flaky objects
KR20160103921A (en) Processing apparatus
JP2023129047A (en) Visual inspection device and visual inspection method
TWI661240B (en) Lens element conveying mechanism, controller, optical axis adjustment device, optical module manufacturing equipment and manufacturing method thereof
JPH07151522A (en) Electronic part inspecting device
KR101363083B1 (en) Apparatus for aligning plate
CN113777110B (en) Device and method for detecting flaws on glass surface of product
CN215179745U (en) Detection equipment
CN115436376A (en) Detection system and detection method
JP2007225431A (en) Visual inspection device
JP2000148219A (en) Tool correction quantity calculating device using image pickup device
JP2010286746A (en) Optical axis-adjusting device of stereo camera, and optical axis-adjusting method
KR100939541B1 (en) System and method for automatic visual inspection
JP2007183358A (en) Position adjusting device for optical element
CN214953101U (en) Detection system