JP2023127192A - Wiring board and manufacturing method thereof - Google Patents

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淳一 小池
Junichi Koike
ホアン・チ・ハイ
Tri Hai Hoang
友可 芳村
Tomoka Yoshimura
麻里 田原
Mari Tawara
祐介 田中
Yusuke Tanaka
卓也 井頭
Takuya IGASHIRA
修三 小田
Shuzo Oda
晋司 川野
Shinji Kawano
康平 藤原
Kohei Fujiwara
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Abstract

To provide a method capable of manufacturing, without employing a photolithography step, a novel wiring board in which adhesiveness of a metal wire and an insulative resin substrate is improved and peeling or disconnection hardly occurs when the resin substrate is bent, while having flexibility derived from the resin substrate and high electric conductivity derived from the metal wire.SOLUTION: A manufacturing method of a wiring board includes the steps of: forming a polymer compound layer containing a thermoplastic resin having a glass transition temperature Tg on a heat resistant resin substrate; applying or printing metal containing paste in which an average particle diameter of primary particles is 150 nm or more and which contains metal particles selected from among copper, silver and nickel, on the polymer compound layer; performing heating at a temperature T1 of 150°C or higher and 450°C or lower under an oxidation atmosphere having an oxygen concentration of 500 ppm or higher; and performing heating at 150°C or higher and 450°C or lower under a reduction atmosphere, wherein Tg and T1 satisfy an inequality:Tg<T1.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、配線基板及びその製造方法に関する。 The present invention relates to a wiring board and a method for manufacturing the same.

フレキシブル配線基板は、可撓性のある有機物絶縁フィルムを基板として、このフィルム上に金属配線を形成したものである。 A flexible wiring board uses a flexible organic insulating film as a substrate, and metal wiring is formed on this film.

金属配線の形成方法としては、サブトラクティブ法、セミアディティブ法及びアディティブ法の3種類が挙げられる。 There are three types of methods for forming metal wiring: a subtractive method, a semi-additive method, and an additive method.

具体的に、サブトラクティブ法では、金属箔を基板に張り付けて、フォトリソグラフィー工程によって配線を形成させる。また、セミアディティブ法では、シード層となる薄膜をスパッタ法等で基板上に被着した後に、電解めっきを行って配線を形成させる(例えば、特許文献1、2)。しかしながら、サブトラクティブ法とセミアディティブ法はいずれもフォトリソグラフィー工程が必要であり、工程数が多いことに加えて、廃液処理が必要となる等、コストと環境に対する負荷が大きい。 Specifically, in the subtractive method, metal foil is attached to a substrate and wiring is formed by a photolithography process. In the semi-additive method, a thin film serving as a seed layer is deposited on a substrate by sputtering or the like, and then electrolytic plating is performed to form wiring (for example, Patent Documents 1 and 2). However, both the subtractive method and the semi-additive method require a photolithography process, and in addition to the large number of steps, waste liquid treatment is required, resulting in large costs and environmental burdens.

一方で、アディティブ法では、インクジェットやスクリーン印刷によって金属配線を基板上に直接描画する。このアディティブ法はフォトリソグラフィー工程が不要であるという利点がある。しかしながら、基板上に金属配線を形成しただけでは、金属配線の密着強度が弱いため金属配線が容易に剥離するという問題がある。そこで、金属配線と基板の密着強度を高めるために、基板上に予めNi-Cr合金薄膜を密着層として形成し、その後に金属配線を形成する方法がある(例えば、非特許文献1参照)。しかし、この方法を用いれば、やはりNi-Cr合金薄膜を配線形状にエッチングする必要が生じ、フォトリソグラフィー工程が必要となる。このような方法では、サブトラクティブ法とセミアディティブ法と同様に、工程数が多く、廃液処理が必要となるため、高価且つ環境負荷が大きいという課題がある。 On the other hand, in the additive method, metal wiring is drawn directly onto the substrate using inkjet or screen printing. This additive method has the advantage of not requiring a photolithography process. However, simply forming metal wiring on a substrate has a problem in that the metal wiring easily peels off because the adhesion strength of the metal wiring is weak. Therefore, in order to increase the adhesion strength between the metal wiring and the substrate, there is a method of forming a Ni--Cr alloy thin film as an adhesion layer on the substrate in advance, and then forming the metal wiring (for example, see Non-Patent Document 1). However, if this method is used, it is still necessary to etch the Ni--Cr alloy thin film into a wiring shape, and a photolithography process is required. Similar to the subtractive method and the semi-additive method, this method involves a large number of steps and requires waste liquid treatment, so it is expensive and has a large environmental impact.

特開昭62-72200号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 62-72200 特開平5-136547号公報Japanese Patent Application Publication No. 5-136547

Y.Cao,J.Tian,and X.Hu,This Solid Films,Vol.365(1),pp.49-52(2000)Y. Cao, J. Tian, and X. Hu, This Solid Films, Vol. 365(1), pp. 49-52 (2000)

本発明は、以上のような実情に鑑みてなされたものであり、樹脂基板に由来する柔軟性と金属配線に由来する高い電気伝導性を兼ね備えながら、金属配線と絶縁性の樹脂基板との間の密着性が高く、樹脂基板を曲げたときに剥離や断線を生じにくい新たな配線基板を、フォトリソグラフィー工程を用いることなく製造することができる方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and has the flexibility derived from a resin substrate and the high electrical conductivity derived from a metal wiring, while also providing a structure that allows the connection between the metal wiring and the insulating resin substrate. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a new wiring board that has high adhesion and is less likely to peel or break when a resin board is bent, without using a photolithography process.

本発明者らは、上述した課題を解決するために、鋭意検討を重ねた。その結果、耐熱性樹脂基板の上に、熱可塑性樹脂を含む高分子化合物層と、金属粒子を含む金属含有ペーストとを積層すること、得られた積層体を酸化雰囲気下で加熱し、次いで、還元雰囲気下で加熱すること、これらの加熱処理を特定条件で行うことにより、樹脂基板に由来する柔軟性と金属配線に由来する高い電気伝導性とを兼ね備えながら、金属配線と絶縁性の樹脂基板との間の密着性が高く、樹脂基板を曲げたときに剥離や断線を生じにくい新たな配線基板を製造することができることを見出し、本発明を完成するに至った。具体的には、本発明は、以下の実施形態を提供する。 The present inventors have made extensive studies in order to solve the above-mentioned problems. As a result, a polymer compound layer containing a thermoplastic resin and a metal-containing paste containing metal particles are laminated on a heat-resistant resin substrate, the resulting laminate is heated in an oxidizing atmosphere, and then, By heating in a reducing atmosphere and performing these heat treatments under specific conditions, it is possible to combine metal wiring and insulating resin substrates with the flexibility derived from resin substrates and the high electrical conductivity derived from metal wiring. The present inventors have discovered that it is possible to manufacture a new wiring board that has high adhesion between resin substrates and is less prone to peeling or disconnection when the resin substrate is bent, and has completed the present invention. Specifically, the present invention provides the following embodiments.

(1)配線基板の製造方法において、少なくとも、耐熱性樹脂基板の上に、ガラス転移温度Tgを有する熱可塑性樹脂を含む高分子化合物層を形成して積層体を得る高分子化合物層形成工程と、一次粒子の平均粒子径が150nm以上であり、且つ銅、銀及びニッケルからなる群から選択される1種以上の金属粒子を少なくとも含む金属含有ペーストを前記高分子化合物層の上に塗布又は印刷するペースト塗布又は印刷工程と、前記金属含有ペーストが塗布又は印刷された前記積層体を、500ppm以上の酸素濃度を有する酸化雰囲気下、150℃以上450℃以下の範囲に含まれる第1加熱温度Tで加熱する第1加熱工程と、前記第1加熱温度Tで加熱された前記積層体を、還元雰囲気下、150℃以上450℃以下の範囲で加熱する第2加熱工程と、を備え、前記ガラス転移温度Tg及び前記第1加熱温度Tが、下記式(I)を満たす、配線基板の製造方法。
Tg<T ・・・式(I)
(1) The method for manufacturing a wiring board includes at least a step of forming a polymer compound layer containing a thermoplastic resin having a glass transition temperature Tg on a heat-resistant resin substrate to obtain a laminate. , Coating or printing a metal-containing paste on the polymer compound layer, the average particle diameter of the primary particles being 150 nm or more, and containing at least one metal particle selected from the group consisting of copper, silver, and nickel. a paste coating or printing step, and a first heating temperature T in a range of 150°C or more and 450°C or less in an oxidizing atmosphere having an oxygen concentration of 500 ppm or more. a second heating step of heating the laminate heated at the first heating temperature T1 at a temperature of 150° C. or higher and 450° C. or lower in a reducing atmosphere; A method for manufacturing a wiring board, wherein the glass transition temperature Tg and the first heating temperature T1 satisfy the following formula (I).
Tg<T 1 ...Formula (I)

(2)前記高分子化合物層形成工程は、前記耐熱性樹脂基板の上に、原料溶液を塗布した後、前記原料溶液を塗布した前記耐熱性樹脂基板を、酸素含有雰囲気下または不活性ガス雰囲気下、層形成加熱温度Tで加熱し、前記層形成加熱温度T及び前記ガラス転移温度Tgが、下記式(II)を満たす、上記(1)請求項1に記載の配線基板の製造方法。
<Tg ・・・式(II)
(2) In the polymer compound layer forming step, after applying a raw material solution onto the heat-resistant resin substrate, the heat-resistant resin substrate coated with the raw material solution is placed under an oxygen-containing atmosphere or an inert gas atmosphere. The method for manufacturing a wiring board according to (1) above, wherein the wiring board is heated at a layer forming heating temperature T0 , and the layer forming heating temperature T0 and the glass transition temperature Tg satisfy the following formula (II). .
T 0 <Tg...Formula (II)

(3)前記還元雰囲気は、1体積%以上の還元性ガスを含む、上記(1)または上記(2)に記載の配線基板の製造方法。 (3) The method for manufacturing a wiring board according to (1) or (2) above, wherein the reducing atmosphere contains a reducing gas of 1% by volume or more.

(4)耐熱性樹脂基板の上の少なくとも一部に熱可塑性樹脂層を備え、前記熱可塑性樹脂層の少なくとも一部に銅、銀及びニッケルからなる群から選択される1種以上を含む金属粒子の焼結体を備え、前記焼結体は、合計で5体積%以上40体積%以下の複数の空隙を有し、前記空隙の少なくとも一部は、前記熱可塑性樹脂層に向けて開口部を有し、前記開口部から、前記熱可塑性樹脂層の一部が屈曲して入り込んでいる、配線基板。 (4) Metal particles comprising a thermoplastic resin layer on at least a portion of a heat-resistant resin substrate, and at least a portion of the thermoplastic resin layer containing one or more selected from the group consisting of copper, silver, and nickel. The sintered body has a plurality of voids having a total amount of 5% by volume or more and 40% by volume or less, and at least some of the voids have openings toward the thermoplastic resin layer. A wiring board, wherein a part of the thermoplastic resin layer is bent and entered from the opening.

本発明によれば、樹脂基板に由来する柔軟性と金属配線に由来する高い電気伝導性とを兼ね備えながら、金属配線と絶縁性の樹脂基板との間の密着性が高く、樹脂基板を曲げたときに剥離や断線を生じにくい新たな配線基板を提供することができる。そして、本発明によれば、フォトリソグラフィー工程を用いることなく、当該配線基板を製造することができる。 According to the present invention, the flexibility derived from the resin substrate and the high electrical conductivity derived from the metal wiring are combined, and the adhesion between the metal wiring and the insulating resin substrate is high, and the resin substrate can be bent. It is possible to provide a new wiring board that is less prone to peeling and disconnection. According to the present invention, the wiring board can be manufactured without using a photolithography process.

本実施形態に係る配線基板の焼結体を備える部分の縦断面図である。FIG. 2 is a longitudinal cross-sectional view of a portion of the wiring board according to the present embodiment that includes a sintered body. 本実施形態に係る配線基板の製造方法を説明するための模式図であり、(a)及び(b)は、高分子化合物層形成工程を示し、(c)は、ペースト塗布又は印刷工程を示し、(d)は、第1加熱工程を示し、(e)は、第2加熱工程を示す図である。FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the method for manufacturing a wiring board according to the present embodiment, in which (a) and (b) show a polymer compound layer forming step, and (c) show a paste coating or printing step. , (d) shows the first heating process, and (e) shows the second heating process.

以下、本発明の具体的な実施形態について、詳細に説明する。本発明は、以下の実施形態に何ら限定されるものではなく、本発明の目的の範囲内において、適宜変更を加えて実施することができる。 Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail. The present invention is not limited to the following embodiments, and can be implemented with appropriate modifications within the scope of the purpose of the present invention.

1.配線基板
以下、本実施形態に係る配線基板について、図1を用いて詳細に説明する。図1は、本実施形態に係る配線基板の焼結体を備える部分の縦断面図である。
1. Wiring Board The wiring board according to this embodiment will be described in detail below with reference to FIG. FIG. 1 is a longitudinal cross-sectional view of a portion of the wiring board according to the present embodiment that includes a sintered body.

本実施形態に係る配線基板1は、耐熱性樹脂基板2の上の少なくとも一部に熱可塑性樹脂層3を備え、熱可塑性樹脂層3の少なくとも一部に銅、銀及びニッケルからなる群から選択される1種以上を含む金属粒子の焼結体4を備えるものである。そして、焼結体4は、合計で5体積%以上40体積%以下の複数の空隙5(5a,5b,5c,5d)を有し、空隙5の少なくとも一部は、熱可塑性樹脂層3に向けて開口部51a,51b,51c,51dを有し、このうち開口部51a,51b,51cから、熱可塑性樹脂層3の一部31a,31b,31cが屈曲して入り込んでいることを特徴とするものである。このように、熱可塑性樹脂層3の一部31a,31b,31cが、空隙5a,5b,5cに屈曲して入り込んでいることにより、絶縁性の樹脂基板が焼結体に入り込んで、それらの間で接触部が増加するともに、焼結体4と熱可塑性樹脂層3が剥離する際に、屈曲して入り込んだ樹脂の変形を必要とするため、焼結体4と熱可塑性樹脂層3との間の密着性を高めることができる。 The wiring board 1 according to the present embodiment includes a thermoplastic resin layer 3 on at least a portion of a heat-resistant resin substrate 2, and at least a portion of the thermoplastic resin layer 3 is selected from the group consisting of copper, silver, and nickel. The present invention includes a sintered body 4 of metal particles containing one or more types of metal particles. The sintered body 4 has a plurality of voids 5 (5a, 5b, 5c, 5d) with a total amount of 5% by volume or more and 40% by volume or less, and at least a part of the voids 5 are formed in the thermoplastic resin layer 3. The thermoplastic resin layer 3 has openings 51a, 51b, 51c, and 51d, and parts 31a, 31b, and 31c of the thermoplastic resin layer 3 are bent into the openings 51a, 51b, and 51c. It is something to do. In this way, the parts 31a, 31b, 31c of the thermoplastic resin layer 3 are bent into the voids 5a, 5b, 5c, so that the insulating resin substrate enters the sintered body and The number of contact areas between the sintered body 4 and the thermoplastic resin layer 3 increases, and when the sintered body 4 and the thermoplastic resin layer 3 are peeled off, it is necessary to deform the resin that has been bent and entered. It is possible to improve the adhesion between the two.

また、熱可塑性樹脂層3に向けて開口部51a,51b,51cを有する空隙5(5a,5b,5c)のうち、複数の空隙5a,5bが焼結体4の内部で連結しており、複数の異なる開口部51a,51bから入り込んだ熱可塑性樹脂層3の一部31a,31b同士が連結していることが好ましい。このように、複数の異なる開口部51a,51bから入り込んだ熱可塑性樹脂層3の一部31a,31b同士が連結していることにより、接触部分が増加するとともに、入り込んで連結した熱可塑性樹脂層3の一部31a,31bを切断しなければ剥離が生じなくなるため、絶縁性の樹脂基板との間の密着性を高めることができる。 Further, among the voids 5 (5a, 5b, 5c) having openings 51a, 51b, 51c toward the thermoplastic resin layer 3, a plurality of voids 5a, 5b are connected inside the sintered body 4, It is preferable that the portions 31a and 31b of the thermoplastic resin layer 3 entered through a plurality of different openings 51a and 51b are connected to each other. In this way, by connecting the parts 31a and 31b of the thermoplastic resin layer 3 that have entered through a plurality of different openings 51a and 51b, the contact area increases and the thermoplastic resin layers that have entered and are connected Since peeling will not occur unless parts 31a and 31b of 3 are cut, it is possible to improve the adhesion with the insulating resin substrate.

上述したとおり、焼結体4は、合計で5体積%以上40体積%以下の空隙を有するものである。空隙率が1体積%以上であることにより、熱可塑性樹脂層3の一部31a,31b,31cが入り込むことができる開口部を有することができる。また、空隙率が40体積%以下であることにより、焼結体4の破断耐性を高めることができる。なお、「空隙率」とは、焼結体4の断面を走査型電子顕微鏡で観察し、断面の外周で縁取られる内部の面積を「全断面積」とし、その内部にある空隙の面積を「空隙面積」とし、以下に示す式(A)で与えられる数値を、10個の断面で平均したものとする。
空隙率(%)=(空隙面積/全断面積)×100 ・・・式(A)
As described above, the sintered body 4 has voids of 5% by volume or more and 40% by volume or less in total. By having a porosity of 1% by volume or more, it is possible to have openings into which portions 31a, 31b, and 31c of the thermoplastic resin layer 3 can enter. Further, by having a porosity of 40% by volume or less, the fracture resistance of the sintered body 4 can be increased. Note that "porosity" refers to the area of the sintered body 4 observed with a scanning electron microscope. The void area is the average value given by the following formula (A) for 10 cross sections.
Porosity (%) = (void area/total cross-sectional area) x 100...Formula (A)

(耐熱性樹脂基板)
耐熱性樹脂基板2は、樹脂を主として含む基板であり、耐熱性樹脂基板2の上に熱可塑性樹脂3を形成する。
(Heat-resistant resin substrate)
The heat-resistant resin substrate 2 is a substrate mainly containing resin, and the thermoplastic resin 3 is formed on the heat-resistant resin substrate 2.

耐熱性樹脂基板2を構成する樹脂としては、特に限定されないが、ポリイミド、液晶性ポリマー、フッ素樹脂、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等の可撓性を有する樹脂を用いて構成することができる。 The resin constituting the heat-resistant resin substrate 2 is not particularly limited, but it can be constructed using a flexible resin such as polyimide, liquid crystal polymer, fluororesin, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, or the like.

耐熱性樹脂基板2には、配線基板1の用途に応じて、樹脂以外に、酸化防止剤、難燃剤、無機物粒子からなるフィラー等を含むことができる。 The heat-resistant resin substrate 2 can contain, in addition to resin, an antioxidant, a flame retardant, a filler made of inorganic particles, etc., depending on the use of the wiring board 1.

耐熱性樹脂基板2の厚さは、特に限定されないが、例えば、5μm以上であることが好ましく、10μm以上であることがより好ましく、15μm以上であることがさらに好ましい。一方で、耐熱性樹脂基板2の厚さは、100μm以下であることが好ましく、75μm以下であることがより好ましく、50μm以下であることがさらに好ましい。なお、耐熱性樹脂基板2がPET基材の場合、その厚さは、100μm超であってもよい。耐熱性樹脂基板2の厚さが5μm以上であることにより、曲げや引張変形に対する基板の破断をより強く防止することができる。また、耐熱性樹脂基板2の厚さが100μm以下であることにより、樹脂材料に由来する優れた可撓性を配線基板1に付与することができる。 The thickness of the heat-resistant resin substrate 2 is not particularly limited, but for example, it is preferably 5 μm or more, more preferably 10 μm or more, and even more preferably 15 μm or more. On the other hand, the thickness of the heat-resistant resin substrate 2 is preferably 100 μm or less, more preferably 75 μm or less, and even more preferably 50 μm or less. In addition, when the heat-resistant resin substrate 2 is a PET base material, its thickness may be more than 100 μm. When the thickness of the heat-resistant resin substrate 2 is 5 μm or more, it is possible to more strongly prevent the substrate from breaking due to bending or tensile deformation. In addition, since the thickness of the heat-resistant resin substrate 2 is 100 μm or less, the wiring board 1 can be provided with excellent flexibility derived from the resin material.

(熱可塑性樹脂層)
熱可塑性樹脂層3は、熱可塑性樹脂を主として含む。
(Thermoplastic resin layer)
Thermoplastic resin layer 3 mainly contains thermoplastic resin.

熱可塑性樹脂層3を構成する樹脂は、特に限定されないが、ポリイミド、ポリアミドイミド、アクリル系樹脂、シクロオレフィン系樹脂、ポリカーボネート等の可撓性を有する熱可塑性樹脂を用いて構成することができる。なお、耐熱性樹脂基板2と熱可塑性樹脂層3とは、区別可能な状態で2つの層が形成されていればよい。ここでいう「区別可能」とは、耐熱性樹脂基板2を構成する樹脂と熱可塑性樹脂層3を構成する熱可塑性樹脂とが、異なる樹脂から構成されている場合や、同じ樹脂であっても、数平均分子量若しくは質量平均分子量が異なっていたり、(層として)樹脂の配向が異なっていたりする場合において、2層が区別可能な状態であることをいう。 The resin constituting the thermoplastic resin layer 3 is not particularly limited, but it can be constructed using a flexible thermoplastic resin such as polyimide, polyamideimide, acrylic resin, cycloolefin resin, polycarbonate, or the like. Note that the heat-resistant resin substrate 2 and the thermoplastic resin layer 3 only need to be formed as two distinct layers. "Distinguishable" here means that the resin constituting the heat-resistant resin substrate 2 and the thermoplastic resin constituting the thermoplastic resin layer 3 are composed of different resins, or even if they are the same resin. , when the number average molecular weight or mass average molecular weight is different, or the orientation of the resin (as a layer) is different, the two layers are in a distinguishable state.

熱可塑性樹脂層3には、配線基板1の用途に応じて、熱可塑性樹脂以外に、酸化防止剤、難燃剤、無機物粒子からなるフィラー等を含むことができる。 The thermoplastic resin layer 3 can contain, in addition to the thermoplastic resin, an antioxidant, a flame retardant, a filler made of inorganic particles, etc., depending on the use of the wiring board 1.

熱可塑性樹脂層3の厚さは、特に限定されないが、例えば0.05μm以上であることが好ましく、0.1μm以上であることがより好ましく、0.2μm以上であることがさらに好ましい。一方で、熱可塑性樹脂層3の厚さは、5μm以下であることが好ましく、2μm以下であることがより好ましく、1μm以下であることがさらに好ましい。熱可塑性樹脂層3の厚さが5μm以上であることにより、曲げや引張変形に対する基板の破断をより強く防止することができる。また、熱可塑性樹脂層3の厚さが100μm以下であることにより、樹脂材料に由来する優れた可撓性を配線基板1に付与することができる。 The thickness of the thermoplastic resin layer 3 is not particularly limited, but is preferably, for example, 0.05 μm or more, more preferably 0.1 μm or more, and even more preferably 0.2 μm or more. On the other hand, the thickness of the thermoplastic resin layer 3 is preferably 5 μm or less, more preferably 2 μm or less, and even more preferably 1 μm or less. When the thickness of the thermoplastic resin layer 3 is 5 μm or more, it is possible to more strongly prevent the substrate from breaking due to bending or tensile deformation. Furthermore, by having the thickness of the thermoplastic resin layer 3 of 100 μm or less, the wiring board 1 can be provided with excellent flexibility derived from the resin material.

(焼結体)
焼結体4は、銅、銀及びニッケルからなる群から選択される1種以上を含む金属粒子の焼結体から構成されるものであり、配線基板1において導電経路として作用するものである。この焼結体は、前記金属粒子を焼結することによって形成される。
(sintered body)
The sintered body 4 is composed of a sintered body of metal particles containing one or more selected from the group consisting of copper, silver, and nickel, and acts as a conductive path in the wiring board 1. This sintered body is formed by sintering the metal particles.

焼結体4として、銅粒子を用いることにより、低抵抗を示す配線を低コストで提供できる。また、焼結体4として、銀粒子を用いることにより、高温焼結時においても配線が酸化しない。さらに、焼結体4として、ニッケル粒子を用いることにより、高電流密度の負荷状態で発生するエレクトロマイグレーション不良を抑制できる。 By using copper particles as the sintered body 4, wiring exhibiting low resistance can be provided at low cost. Further, by using silver particles as the sintered body 4, the wiring does not oxidize even during high temperature sintering. Furthermore, by using nickel particles as the sintered body 4, it is possible to suppress electromigration failures that occur under a high current density load state.

金属粒子は、銅、銀及びニッケルからなる群から選択される複数の金属粒子から構成されてもよい。この場合において、焼結体4は、その一部または全部が合金化していてもよい。 The metal particles may be comprised of a plurality of metal particles selected from the group consisting of copper, silver, and nickel. In this case, part or all of the sintered body 4 may be alloyed.

焼結体4の空隙率は、合計で5体積%以上40体積%以下であれば、特に限定されない。空隙率は、6体積%以上であることが好ましく、7体積%以上であることがより好ましく、8体積%以上であることがさらに好ましく、9体積%以上であることが特に好ましい。空隙率が5体積%以上であることにより、開口部51a,51b,51c,51dを有する空隙5a,5b,5c,5dが増加して、熱可塑性樹脂層3が入り込みやすくなり、その結果、熱可塑性樹脂層3と焼結体4との間の密着性を高めることができる。一方、焼結体4の空隙率は、37体積%以下であることが好ましく、35体積%以下であることがより好ましい。空隙率が40体積%以下であることにより、強度に加えて焼結体4の導電性を高めることができる。 The porosity of the sintered body 4 is not particularly limited as long as it is 5% by volume or more and 40% by volume or less in total. The porosity is preferably 6 vol% or more, more preferably 7 vol% or more, even more preferably 8 vol% or more, and particularly preferably 9 vol% or more. When the porosity is 5% by volume or more, the voids 5a, 5b, 5c, and 5d having the openings 51a, 51b, 51c, and 51d increase, making it easier for the thermoplastic resin layer 3 to enter. Adhesion between the plastic resin layer 3 and the sintered body 4 can be improved. On the other hand, the porosity of the sintered body 4 is preferably 37% by volume or less, more preferably 35% by volume or less. When the porosity is 40% by volume or less, the conductivity of the sintered body 4 can be improved in addition to the strength.

焼結体4としては、フレーク状、球状、多面体状、不定形状等の金属粒子が焼結されてなるものを特に限定されずに用いることができる。フレーク状の金属粒子と球状の金属粒子が焼結されてなるものを用いることが好ましい。フレーク状の金属粒子と球状の金属粒子が焼結されてなるものを用いる場合において、フレーク状の金属粒子の割合が、フレーク状の金属粒子及び球状の金属粒子の総質量に対し、20%以上80%以下であることが好ましく、30%以上70%以下であることがより好ましい。フレーク状の金属粒子の割合が、20%以上80%以下であることにより、上述した空隙率を有する焼結体4を形成しやすくなる。 As the sintered body 4, those formed by sintering metal particles having a flake shape, a spherical shape, a polyhedral shape, an irregular shape, etc. can be used without particular limitation. It is preferable to use a material formed by sintering flaky metal particles and spherical metal particles. When using sintered flake metal particles and spherical metal particles, the ratio of flake metal particles to the total mass of flake metal particles and spherical metal particles is 20% or more. It is preferably 80% or less, and more preferably 30% or more and 70% or less. When the proportion of flaky metal particles is 20% or more and 80% or less, it becomes easier to form the sintered body 4 having the above-mentioned porosity.

このような焼結体4においては、その内部に空隙5a、5b、5c、5dが存在するため、機械的強度が低い部分が存在する。このような部分として、例えば、金属粒子同士が焼結した箇所が細く形成される「ネック」と呼ばれる部位が挙げられる。配線基板1がフレキシブル回路として用いられる場合、その用途に応じた変形に伴って焼結体4が変形すると、このようなネックに力が集中し、局所破壊を起こしやすくなる。 In such a sintered body 4, since voids 5a, 5b, 5c, and 5d exist inside the sintered body 4, there are portions with low mechanical strength. An example of such a portion is a portion called a “neck,” which is a thin portion formed by sintering metal particles together. When the wiring board 1 is used as a flexible circuit, when the sintered body 4 is deformed as a result of the deformation depending on its use, force is concentrated on such necks, and local breakage is likely to occur.

そこで、焼結体が多孔質構造を有する場合には、焼結体4がその多孔質構造の間隙に、導電性を有する金属元素、特に焼結体4を構成する金属元素と同じ金属(銅、銀及びニッケルからなる群から選択される1種以上)のめっきを含むことが好ましい。このようにして多孔質構造の間隙に、金属のめっきが存在することで、変形によりネックに集中する力を分散することができ、屈曲や伸縮等の変形に対する耐久性が向上する。さらに、導電性を有する金属によって空隙が充填されることから、電気抵抗率が低下する。 Therefore, when the sintered body has a porous structure, the sintered body 4 is filled with a metal element having conductivity, especially the same metal as the metal element constituting the sintered body 4 (copper), in the gaps of the porous structure. , silver, and nickel). In this way, the presence of metal plating in the gaps of the porous structure makes it possible to disperse the force that concentrates on the neck due to deformation, and improves durability against deformation such as bending and expansion/contraction. Furthermore, since the voids are filled with conductive metal, the electrical resistivity decreases.

なお、焼結体4を構成する金属の種類や、配線基板1が置かれる環境によっては、不可避的に焼結体4中の金属元素が酸化することがある。したがって、焼結体4は、導電性が担保される限りにおいて、例えば、原子数換算で最大20%以下の金属原子が酸化していてもよい。また、焼結体4は、銅、銀及びニッケル以外の各種添加物や、(酸化物における酸素も含む)不可避的不純物を、焼結体4(100質量%)に対し、30質量%程度含んでいてもよい。 Note that depending on the type of metal constituting the sintered body 4 and the environment in which the wiring board 1 is placed, the metal elements in the sintered body 4 may inevitably be oxidized. Therefore, in the sintered body 4, up to 20% or less of metal atoms in terms of the number of atoms may be oxidized, as long as the conductivity is ensured. In addition, the sintered body 4 contains various additives other than copper, silver, and nickel, and unavoidable impurities (including oxygen in oxides) at about 30% by mass based on the sintered body 4 (100% by mass). It's okay to stay.

2.配線基板の製造方法
本実施形態に係る配線基板の製造方法は、少なくとも、耐熱性樹脂基板の上に、ガラス転移温度Tgを有する熱可塑性樹脂を含む高分子化合物層を形成して積層体を得る高分子化合物層形成工程と、一次粒子の平均粒子径が150nm以上であり、且つ銅、銀及びニッケルからなる群から選択される1種以上の金属粒子を少なくとも含む金属含有ペーストを高分子化合物層の上に塗布又は印刷するペースト塗布又は印刷工程と、金属含有ペーストが塗布又は印刷された積層体を、500ppm以上の酸素濃度を有する酸化雰囲気下、150℃以上450℃以下の範囲に含まれる第1加熱温度Tで加熱する第1加熱工程と、第1加熱温度Tで加熱された積層体を、還元雰囲気下、150℃以上450℃以下の範囲で加熱する第2加熱工程と、を備え、ガラス転移温度Tg及び第1加熱温度温度Tが、下記式(I)を満たすことを特徴とするものである。
Tg<T ・・・式(I)
そして、このような配線基板の製造方法によれば、上述したような特徴を有する配線基板が得られる。
2. Method for manufacturing a wiring board The method for manufacturing a wiring board according to the present embodiment includes forming at least a polymer compound layer containing a thermoplastic resin having a glass transition temperature Tg on a heat-resistant resin substrate to obtain a laminate. A polymer compound layer forming step, and a metal-containing paste whose primary particles have an average particle diameter of 150 nm or more and which contains at least one metal particle selected from the group consisting of copper, silver, and nickel, is formed into a polymer compound layer. A paste coating or printing step in which the metal-containing paste is coated or printed on the laminate is coated or printed on the metal-containing paste in an oxidizing atmosphere having an oxygen concentration of 500 ppm or more, and a temperature in the range of 150°C or more and 450°C or less. 1. A first heating step of heating at a heating temperature T1 , and a second heating step of heating the laminate heated at a first heating temperature T1 at a temperature of 150° C. or higher and 450° C. or lower in a reducing atmosphere. The glass transition temperature Tg and the first heating temperature T1 satisfy the following formula (I).
Tg<T 1 ...Formula (I)
According to such a method of manufacturing a wiring board, a wiring board having the above-mentioned characteristics can be obtained.

以下、図2を用いて、本実施形態に係る配線基板の製造方法について説明する。図2は、本実施形態に係る配線基板の製造方法を説明するための模式図である。 Hereinafter, a method for manufacturing a wiring board according to this embodiment will be described using FIG. 2. FIG. 2 is a schematic diagram for explaining the method for manufacturing a wiring board according to this embodiment.

(1)高分子化合物層形成工程
高分子化合物層形成工程(図2(a)及び(b))は、少なくとも、耐熱性樹脂基板6の上に、ガラス転移温度Tgを有する熱可塑性樹脂を含む高分子化合物層7を形成して積層体を得る工程である。
(1) Polymer compound layer forming step The polymer compound layer forming step (FIGS. 2(a) and (b)) includes at least a thermoplastic resin having a glass transition temperature Tg on the heat-resistant resin substrate 6. This is a step of forming a polymer compound layer 7 to obtain a laminate.

(耐熱性樹脂基板)
耐熱性樹脂基板6は、耐熱性樹脂基板6を構成する樹脂のガラス転移温度TG(℃)が式:TG+50℃>第1加熱温度Tを満たすものが好ましい。耐熱性樹脂基板6を構成する樹脂は、ガラス転移温度TGにおいて軟化を開始するもののTGより50℃高い温度までは、耐熱性樹脂基板の形状をほぼ維持できる。第1加熱温度TをTG+50℃より低い範囲に設定することにより、第1加熱工程の加熱において耐熱性樹脂基板の変形や劣化を防止することができる。
(Heat-resistant resin substrate)
The heat-resistant resin substrate 6 is preferably one in which the glass transition temperature TG (° C.) of the resin constituting the heat-resistant resin substrate 6 satisfies the formula: TG+50° C.>first heating temperature T1 . Although the resin constituting the heat-resistant resin substrate 6 starts to soften at the glass transition temperature TG, it can maintain almost the shape of the heat-resistant resin substrate up to a temperature 50° C. higher than TG. By setting the first heating temperature T1 to a range lower than TG+50°C, it is possible to prevent deformation and deterioration of the heat-resistant resin substrate during heating in the first heating step.

耐熱性樹脂基板6としては、そのガラス転移温度TGが上述した式を満たす限りにおいて、上述した樹脂から構成されるものを特に限定されず用いることができる。 As the heat-resistant resin substrate 6, one made of the above-mentioned resin can be used without particular limitation, as long as its glass transition temperature TG satisfies the above-mentioned formula.

(高分子化合物層の形成方法)
高分子化合物層7の形成方法としては、例えば、耐熱性樹脂基板6の上に熱可塑性樹脂の溶液やその前駆体物質の溶液を塗布する方法が挙げられる。ここで、「前駆体物質」とは、何らかの処理を施すことにより、硬化して、可撓性を有する樹脂が得られる物質をいう。前駆体物質としては、例えば、樹脂としてポリイミドを用いる場合のポリアミック酸が挙げられる。詳細は後述するが、このポリアミック酸は、イミド化処理を施すことによりポリイミドに変化するものであり、すなわち、ポリイミドの前駆体物質であるといえる。
(Method for forming a polymer compound layer)
A method for forming the polymer compound layer 7 includes, for example, a method of applying a solution of a thermoplastic resin or a solution of a precursor thereof onto the heat-resistant resin substrate 6. Here, the term "precursor substance" refers to a substance that can be cured to obtain a flexible resin through some treatment. Examples of the precursor substance include polyamic acid when polyimide is used as the resin. Although the details will be described later, this polyamic acid is converted into polyimide by imidization treatment, and can be said to be a precursor substance of polyimide.

高分子化合物の溶液は、上述した高分子化合物が溶媒に溶解してなる溶液である。溶媒の種類や高分子化合物の濃度としては、高分子化合物の溶解度や高分子化合物の溶液の塗布又は印刷しやすさ等を考慮して適宜選択すればよい。 The polymer compound solution is a solution in which the above-described polymer compound is dissolved in a solvent. The type of solvent and the concentration of the polymer compound may be appropriately selected in consideration of the solubility of the polymer compound, the ease of applying or printing a solution of the polymer compound, and the like.

塗布方法としては、厚さ数μmの膜厚を均一に形成できる方法であれば、特に限定されないが、スピンコート、バーコート、スリットコート等を用いることができる。 The coating method is not particularly limited as long as it can uniformly form a film with a thickness of several μm, but spin coating, bar coating, slit coating, etc. can be used.

この高分子化合物層形成工程は、耐熱性樹脂基板の上に、原料溶液を塗布した後、原料溶液を塗布した耐熱性樹脂基板を、酸素含有雰囲気下または不活性ガス雰囲気下、層形成加熱温度Tで加熱し、層形成加熱温度T及びガラス転移温度Tgが、式(II):T<Tgを満たすことが好ましい。 This polymer compound layer forming process involves applying a raw material solution onto a heat-resistant resin substrate, and then heating the heat-resistant resin substrate coated with the raw material solution under an oxygen-containing atmosphere or an inert gas atmosphere at a layer-forming temperature. It is preferable that the layer forming heating temperature T 0 and the glass transition temperature Tg satisfy the formula (II): T 0 <Tg.

酸素含有雰囲気としては、例えば、酸素又は大気等を含むガスを用いることができる。また、酸素ガスに酸素以外のガス(例えば、不活性ガス)を混合して用いることができる。不活性ガス雰囲気としては、例えば、窒素ガス。アルゴンガス等を用いることができる。 As the oxygen-containing atmosphere, for example, a gas containing oxygen or the atmosphere can be used. Further, a gas other than oxygen (for example, an inert gas) can be mixed with the oxygen gas. Examples of the inert gas atmosphere include nitrogen gas. Argon gas or the like can be used.

(高分子化合物層としてポリイミドを形成する場合)
具体的に、高分子化合物層としてポリイミドを形成する方法について説明する。
(When forming polyimide as a polymer compound layer)
Specifically, a method of forming polyimide as a polymer compound layer will be explained.

まず、耐熱性樹脂基板6の上にポリイミドの前駆体物質としてのポリアミック酸の溶液を塗布する。 First, a solution of polyamic acid as a precursor of polyimide is applied onto the heat-resistant resin substrate 6 .

ポリアミック酸の溶液を形成するための溶剤としては、N-メチル-2-ピロリドン、N,N-ジメチルアセトアミド、γ-ブチロラクトン、シクロヘキサノン、安息香酸メチル、安息香酸エチル、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、水等を用いることができる。 Solvents for forming the polyamic acid solution include N-methyl-2-pyrrolidone, N,N-dimethylacetamide, γ-butyrolactone, cyclohexanone, methyl benzoate, ethyl benzoate, toluene, xylene, methyl ethyl ketone, water, etc. can be used.

次いで、耐熱性樹脂基板6の上の溶剤を除去するため、大気雰囲気下で乾燥させる。乾燥方法としては、特に限定されず、加熱や減圧等の操作を行ってもよいし、静置していてもよい。 Next, in order to remove the solvent on the heat-resistant resin substrate 6, it is dried in an atmospheric atmosphere. The drying method is not particularly limited, and operations such as heating and depressurization may be performed, or may be left standing.

その後、例えば、ポリアミック酸溶液を塗布した耐熱性樹脂基板6を大気雰囲気下、150℃以上300℃以下で加熱すると、イミド化反応が進行して耐熱性樹脂基板6の上に熱可塑性樹脂を含む高分子化合物層としてのポリイミドの層が形成される。 Thereafter, for example, when the heat-resistant resin substrate 6 coated with the polyamic acid solution is heated at 150° C. or more and 300° C. or less in an air atmosphere, the imidization reaction proceeds and the thermoplastic resin is contained on the heat-resistant resin substrate 6. A layer of polyimide is formed as a polymer compound layer.

(2)ペースト塗布又は印刷工程
ペースト塗布又は印刷工程(図2(c))は、金属含有ペースト8を高分子化合物層7の上に塗布又は印刷する工程である。
(2) Paste application or printing process The paste application or printing process (FIG. 2(c)) is a process of applying or printing the metal-containing paste 8 on the polymer compound layer 7.

(金属含有ペースト)
金属含有ペーストは、銅、銀又はニッケルからなる群から選択される1種以上を含む金属の焼結体を形成するために用いるものである。金属含有ペーストは、一次粒子の平均粒子径が150nm以上であり、且つ銅、銀及びニッケルからなる群から選択される1種以上の金属粒子を少なくとも含む。また、金属含有ペーストは、例えば、バインダー樹脂及び溶媒を含むものである。
(metal-containing paste)
The metal-containing paste is used to form a sintered body of metal containing one or more selected from the group consisting of copper, silver, and nickel. The metal-containing paste has primary particles having an average particle size of 150 nm or more, and contains at least one metal particle selected from the group consisting of copper, silver, and nickel. Further, the metal-containing paste contains, for example, a binder resin and a solvent.

金属粒子の一次粒子の平均粒子径としては、150nm以上であれば特に限定されないが、250nm以上であることが好ましく、350nm以上であることがより好ましい。なお、金属粒子の一次粒子の平均粒子径は、金属含有ペーストを溶剤に溶かしてフィルターで金属粒子を分離し、乾燥した後にレーザー回折式粒度分布計を用いて測定したメジアン径をいう。 The average particle diameter of the primary particles of the metal particles is not particularly limited as long as it is 150 nm or more, but it is preferably 250 nm or more, and more preferably 350 nm or more. Note that the average particle diameter of the primary particles of the metal particles refers to the median diameter measured using a laser diffraction particle size distribution meter after dissolving the metal-containing paste in a solvent, separating the metal particles with a filter, and drying the paste.

金属粒子は、銅、銀又はニッケル以外の金属元素を含んでもよい。銅、銀及びニッケル以外の金属元素の含有量は、金属焼結体中に含まれる全ての金属元素に対し、その状態にかかわらず金属換算で、0(非含有)~30質量%以下であることが好ましく、0(非含有)~20質量%以下であることが好ましい。 The metal particles may contain metal elements other than copper, silver or nickel. The content of metal elements other than copper, silver and nickel is from 0 (not contained) to 30% by mass or less in terms of metal, regardless of the state of all metal elements contained in the metal sintered body. The content is preferably from 0 (not contained) to 20% by mass or less.

金属粒子の含有量としては、特に限定されないが、例えば、金属含有ペースト100質量%に対し、80質量%以上95質量%以下であることが好ましい。 The content of the metal particles is not particularly limited, but is preferably, for example, 80% by mass or more and 95% by mass or less based on 100% by mass of the metal-containing paste.

(バインダー樹脂)
バインダー樹脂としては、焼結によって分解される樹脂であれば特に限定されず、例えば、メチルセルロース、エチルセルロース、カルボキシメチルセルロース等のセルロース樹脂、アクリル樹脂、ブチラール樹脂、アルキド樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂等が挙げられる。
(binder resin)
The binder resin is not particularly limited as long as it is a resin that can be decomposed by sintering, and examples include cellulose resins such as methyl cellulose, ethyl cellulose, and carboxymethyl cellulose, acrylic resins, butyral resins, alkyd resins, epoxy resins, and phenol resins. It will be done.

バインダー樹脂の含有量としては、特に限定されないが、例えば、金属含有ペースト100質量%に対し、0.1質量%以上5質量%以下であることが好ましい。大気下で焼結を行う場合には、バインダー樹脂が大気中の酸素と反応して燃焼させることにより、焼結体に残留する樹脂量を極力低減し、樹脂の残留による焼結体の電気抵抗率を低減させることができる。特に、バインダー樹脂の含有量が5質量%以下であることにより、バインダー樹脂成分が配線中に残留することを抑制して、焼結体の電気抵抗率に与える影響を無視できるようにすることができる。一方で、有機ビヒクル中のバインダー樹脂の質量%が0.1以上であることにより、導電性ペーストの粘度を高め、ペーストの塗布性又は印刷性を高めることができる。 The content of the binder resin is not particularly limited, but is preferably, for example, 0.1% by mass or more and 5% by mass or less based on 100% by mass of the metal-containing paste. When sintering is performed in the atmosphere, the binder resin reacts with oxygen in the atmosphere and burns, reducing the amount of resin remaining in the sintered body as much as possible, and reducing the electrical resistance of the sintered body due to the residual resin. rate can be reduced. In particular, by setting the binder resin content to 5% by mass or less, it is possible to suppress the binder resin component from remaining in the wiring and to make the effect on the electrical resistivity of the sintered body negligible. can. On the other hand, when the mass % of the binder resin in the organic vehicle is 0.1 or more, the viscosity of the conductive paste can be increased and the applicability or printability of the paste can be improved.

(溶剤)
金属含有ペーストに含有される溶剤としては、適正な沸点、蒸気圧、粘性を有するものであれば、特に限定されるものではないが、例えば、炭化水素系溶剤、塩素化炭化水素系溶剤、環状エーテル系溶剤、アミド系溶剤、スルホキシド系溶剤、ケトン系溶剤、アルコール系化合物、多価アルコールのエステル系溶剤、多価アルコールのエーテル系溶剤、テルペン系溶剤及びこれらの混合物が挙げられる。これらの中で、沸点が200℃近傍にあるテキサノール、ブチルカルビトール、ブチルカルビトールアセテート、テルピネオール等を用いることが好ましい。
(solvent)
The solvent contained in the metal-containing paste is not particularly limited as long as it has an appropriate boiling point, vapor pressure, and viscosity, but examples include hydrocarbon solvents, chlorinated hydrocarbon solvents, and cyclic solvents. Examples include ether solvents, amide solvents, sulfoxide solvents, ketone solvents, alcohol compounds, ester solvents of polyhydric alcohols, ether solvents of polyhydric alcohols, terpene solvents, and mixtures thereof. Among these, it is preferable to use texanol, butyl carbitol, butyl carbitol acetate, terpineol, etc. whose boiling point is around 200°C.

溶剤の含有量としては、特に限定されないが、例えば、金属含有ペースト100質量%に対し、2質量%以上25質量%以下であることが好ましい。溶剤の含有量が25質量%以下であることにより、金属含有ペーストの粘度が減少し、狙いの印刷形状より拡大することを抑制できる。一方で、溶剤の含有量が2質量%以上であることにより、金属含有ペーストの印刷性を高めることができる。 The content of the solvent is not particularly limited, but, for example, it is preferably 2% by mass or more and 25% by mass or less based on 100% by mass of the metal-containing paste. When the content of the solvent is 25% by mass or less, the viscosity of the metal-containing paste decreases, and it can be suppressed from expanding beyond the intended printed shape. On the other hand, when the content of the solvent is 2% by mass or more, the printability of the metal-containing paste can be improved.

(その他の有機ビヒクル中の成分)
「有機ビヒクル」とは、バインダー樹脂、溶媒及びその他必要に応じて添加される有機物を全て混合した液体のことをいう。有機ビヒクルとしては、通常、バインダー樹脂と溶剤をのみを混合して得たものを用いることができるが、これらの成分以外に、有機ビヒクルに金属塩とポリオールを混合して用いることができる。
(Other ingredients in organic vehicle)
The term "organic vehicle" refers to a liquid containing a binder resin, a solvent, and other organic substances added as necessary. As an organic vehicle, one obtained by mixing only a binder resin and a solvent can usually be used, but in addition to these components, a metal salt and a polyol can also be mixed with the organic vehicle.


金属含有ペーストの製造方法としては、特に限定されないが、例えば上述したバインダー樹脂と溶媒を混合し、さらに金属粒子を添加して、遊星ミキサー等の装置を用いて混練することができる。さらに、必要に応じて三本ロールミルを用いて金属粒子の分散性を高めることもできる。

The method for producing the metal-containing paste is not particularly limited, but for example, the above-mentioned binder resin and solvent may be mixed, metal particles may be further added, and the mixture may be kneaded using a device such as a planetary mixer. Furthermore, if necessary, a three-roll mill can be used to improve the dispersibility of the metal particles.

(塗布又は印刷の方法)
高分子化合物層7の上に、金属含有ペーストを塗布又は印刷して、配線や電極等の形状を形成する。具体的に、塗布又は印刷の方法としては、スクリーン印刷、ディスペンサー印刷、グラビア印刷、オフセット印刷、インクジェット印刷等が挙げられる。
(Coating or printing method)
A metal-containing paste is applied or printed on the polymer compound layer 7 to form the shapes of wiring, electrodes, and the like. Specifically, examples of the coating or printing method include screen printing, dispenser printing, gravure printing, offset printing, inkjet printing, and the like.

(3)第1加熱工程
第1加熱工程(図2(d))は、金属含有ペーストを塗布又は印刷された積層体を、500ppm以上の酸素濃度を有する酸化雰囲気下、150℃以上450℃以下の範囲に含まれる第1加熱温度Tで加熱する工程である。そして、このとき、第1加熱温度Tで加熱する前の熱可塑性樹脂のガラス転移温度Tgが式:Tg<Tを満たす。
(3) First heating step In the first heating step (FIG. 2(d)), the laminate coated with or printed with the metal-containing paste is heated in an oxidizing atmosphere having an oxygen concentration of 500 ppm or more at 150°C or more and 450°C or less. This is a step of heating at a first heating temperature T1 included in the range of. At this time, the glass transition temperature Tg of the thermoplastic resin before heating at the first heating temperature T1 satisfies the formula: Tg< T1 .

このようにして、第1加熱工程では、第1加熱温度Tで加熱する前の熱可塑性樹脂のガラス転移温度Tgが式:Tg<Tを満たすものを、第1加熱温度Tで加熱することにより、高分子化合物が軟化する。一方で、金属粒子は、酸化雰囲気で焼結されてその内部に屈曲した空隙を複数有する焼結体を形成する。第1加熱温度Tでの加熱により軟化した高分子化合物層7中の高分子化合物は、焼結体の空隙の高分子化合物層側の開口部からその一部が空隙に沿って屈曲して入り込む。このようにして、高分子化合物の一部が焼結体の空隙の高分子化合物層側の開口部から空隙に沿って屈曲して入り込んだ高分子化合物層7Aにより、金属配線と絶縁性の樹脂基板との間の密着性が高く、樹脂基板を曲げたときに剥離や断線を生じにくい配線基板が得られる。 In this way, in the first heating step, the glass transition temperature Tg of the thermoplastic resin before heating at the first heating temperature T1 satisfies the formula: Tg< T1 , and is heated at the first heating temperature T1 . By doing so, the polymer compound is softened. On the other hand, the metal particles are sintered in an oxidizing atmosphere to form a sintered body having a plurality of curved voids therein. The polymer compound in the polymer compound layer 7 softened by heating at the first heating temperature T1 is partially bent along the gap from the opening on the polymer compound layer side of the gap in the sintered body. Get into it. In this way, a part of the polymer compound bends and enters along the gap from the opening on the polymer compound layer side of the gap in the sintered body, and the metal wiring and the insulating resin are bonded together. A wiring board that has high adhesion to the substrate and is less likely to peel or break when the resin substrate is bent can be obtained.

また、第1加熱工程では、酸化雰囲気で加熱することにより、金属粒子に含まれる金属元素が酸化して、金属粒子の体積が膨張し、得られる焼結体8Aにおいて粒子同士の接触が強固になる。そしてこれに続く第2加熱工程で還元して得られる焼結体8Bも、粒子同士が強固に接触して強固なものとなる。 In addition, in the first heating step, by heating in an oxidizing atmosphere, the metal elements contained in the metal particles are oxidized, the volume of the metal particles expands, and the contact between the particles becomes strong in the obtained sintered body 8A. Become. The sintered body 8B obtained by reduction in the subsequent second heating step also becomes strong because the particles are in strong contact with each other.

なお、上述したように高分子化合物として、ポリアミック酸からポリイミドを形成した場合、アニールだけでは、ポリアミック酸が僅かに残存することもある。このような場合に、第1加熱工程における加熱により、残存したポリアミック酸がポリアミドに変換される。または、ポリイミドのTgを調整するために、あえて一部未反応のポリアミック酸を残しておき、第1加熱工程における加熱により、残存したポリアミック酸をポリアミドに変換することもできる。 Note that, as described above, when polyimide is formed from polyamic acid as a polymer compound, a small amount of polyamic acid may remain even after annealing alone. In such a case, the remaining polyamic acid is converted into polyamide by heating in the first heating step. Alternatively, in order to adjust the Tg of the polyimide, some unreacted polyamic acid may be intentionally left, and the remaining polyamic acid may be converted into polyamide by heating in the first heating step.

第1加熱温度Tとしては、100℃以上500℃以下であれば特に限定されないが、120℃以上400℃以下であることが好ましい。 The first heating temperature T1 is not particularly limited as long as it is 100°C or more and 500°C or less, but it is preferably 120°C or more and 400°C or less.

酸化雰囲気中の酸化性ガスとしては、例えば酸素、又は大気等を用いることができる。また、酸化性ガス以外のガスと酸化性ガスとを混合して用いることができる。酸化性ガス以外のガスとしては、不活性ガス(例えば、窒素ガス、アルゴンガス)を用いることができる。 As the oxidizing gas in the oxidizing atmosphere, for example, oxygen, air, or the like can be used. Furthermore, a mixture of a gas other than the oxidizing gas and the oxidizing gas can be used. As the gas other than the oxidizing gas, an inert gas (for example, nitrogen gas, argon gas) can be used.

酸化雰囲気中の酸素の濃度としては、特に限定されないが、酸素分圧にして50Pa以上であることが好ましく、60Pa以上であることが好ましく、70Pa以上であることがさらに好ましい。雰囲気の圧力が大気圧(10Pa)である場合にこれらの酸素分圧を体積比の濃度に換算すると、500ppm以上である。また、酸素の濃度としては、600ppm以上であることが好ましく、700ppm以上であることがより好ましい。 The concentration of oxygen in the oxidizing atmosphere is not particularly limited, but the oxygen partial pressure is preferably 50 Pa or more, preferably 60 Pa or more, and more preferably 70 Pa or more. When the pressure of the atmosphere is atmospheric pressure (10 5 Pa), when these oxygen partial pressures are converted into a volume ratio concentration, it is 500 ppm or more. Further, the oxygen concentration is preferably 600 ppm or more, more preferably 700 ppm or more.

酸素の濃度が500ppm以上であることにより、バインダー樹脂を十分に燃焼することができる。一方で、酸素の濃度が8000ppm以下であることにより、金属含有ペーストの表面近傍でのみ急速に反応が生じることを防止して、焼結体内部まで十分に焼結させることができる。 When the oxygen concentration is 500 ppm or more, the binder resin can be sufficiently burned. On the other hand, by setting the oxygen concentration to 8000 ppm or less, rapid reaction can be prevented from occurring only near the surface of the metal-containing paste, and sufficient sintering can be carried out to the inside of the sintered body.

なお、第1加熱工程では、少なくとも1つの加熱温度及び酸素濃度条件で加熱すればよく、また、複数の加熱温度及び酸素濃度条件に分けて加熱してもよい。 In the first heating step, heating may be performed under at least one heating temperature and oxygen concentration condition, or heating may be performed under multiple heating temperatures and oxygen concentration conditions.

(4)第2加熱工程
第2加熱工程(図2(e))は、第1加熱温度Tで加熱された積層体を、還元雰囲気下、150℃以上450℃以下の範囲(以下、「第2加熱温度T」ということもある。)で加熱する工程である。
(4) Second heating step In the second heating step (FIG. 2(e)), the laminate heated at the first heating temperature T1 is heated in a reducing atmosphere at a temperature of 150° C. or more and 450° C. or less (hereinafter referred to as “ This is a step of heating at a second heating temperature T 2 ).

第2加熱工程では、第1加熱工程において、酸化雰囲気で焼結されて酸化物として得られた焼結体を、還元することで導電性を有する金属の焼結体8Bとして得る。 In the second heating step, the sintered body obtained as an oxide by sintering in an oxidizing atmosphere in the first heating step is reduced to obtain a conductive metal sintered body 8B.

第2加熱工程における第2加熱温度Tとしては、150℃以上450℃以下であれば特に限定されないが、170℃以上450℃以下であることが好ましい。 The second heating temperature T2 in the second heating step is not particularly limited as long as it is 150°C or more and 450°C or less, but is preferably 170°C or more and 450°C or less.

還元雰囲気を構成する還元性ガスとしては、水素、一酸化炭素、ギ酸、アンモニア、アルコール等を用いることができる。また、還元性ガス以外のガスとしては、不活性ガス、例えば窒素ガスやアルゴンガスを用いることができる。 As the reducing gas constituting the reducing atmosphere, hydrogen, carbon monoxide, formic acid, ammonia, alcohol, etc. can be used. Further, as the gas other than the reducing gas, an inert gas such as nitrogen gas or argon gas can be used.

還元性ガスの濃度としては、特に限定されないが、還元雰囲気の圧力が大気圧(10Pa)であるとすると、1体積%以上であることが好ましく、2体積%以上であることがより好ましく、5体積%以上であることがさらに好ましい。体積比で1%未満であると、焼結体における銅、銀又はニッケルの酸化物の還元が充分に行われず、金属酸化物が残存し、焼成後の金属配線は、高い電気抵抗率を呈するおそれがある。 The concentration of the reducing gas is not particularly limited, but assuming that the pressure of the reducing atmosphere is atmospheric pressure (10 5 Pa), it is preferably 1% by volume or more, more preferably 2% by volume or more. , more preferably 5% by volume or more. If the volume ratio is less than 1%, the reduction of copper, silver or nickel oxides in the sintered body will not be sufficient, the metal oxides will remain, and the metal wiring after firing will exhibit high electrical resistivity. There is a risk.

なお、第2加熱工程では、少なくとも1つの加熱温度及び還元性ガス濃度条件で加熱すればよく、また、複数の加熱温度及び還元性ガス濃度条件に分けて加熱してもよい。 In the second heating step, heating may be performed under at least one heating temperature and reducing gas concentration condition, or heating may be performed under a plurality of heating temperatures and reducing gas concentration conditions.

本発明は、以上の具体的な実施形態に何ら限定されず、本発明の効果を阻害しない限りにおいて適宜変更を加えて行うことができる。 The present invention is not limited to the above-described specific embodiments, and can be modified as appropriate as long as the effects of the present invention are not impaired.

以下に実施例を挙げて、本発明についてさらに詳細に説明する。本発明は、これらの実施例により限定されるものではない。 EXAMPLES The present invention will be explained in more detail with reference to Examples below. The present invention is not limited to these examples.

(試験1)第1加熱温度Tによる影響
耐熱性樹脂基板として、ガラス転移温度がTG=413℃のポリイミド基板を用いた。また、ガラス転移温度がT=225℃のブロック共重合ポリイミドからなる溶剤可溶性ポリイミドをN-メチル-2-ピロリドンに溶解して、ポリイミドワニスを作製した。バーコーターを用いて、ポリイミド基板上にポリイミドワニスを均一な厚さ(約6μm)に塗布した後、窒素ガス雰囲気中で層形成加熱温度T=200℃、20分の加熱処理を行い、溶媒を除去して厚さが0.5μmの熱可塑性の高分子化合物層を形成した。さらに、この高分子化合物層の上に一次粒子の平均粒径が0.6μmの銅粒子を含む銅ペーストを印刷した後、大気中のT=130~475℃で10分の加熱処理を行った。続いて、N+5体積%Hの還元ガス雰囲気中でT=400℃、30分の加熱処理を行って、高分子化合物層の上に銅電極を形成し、サンプルを作製した。
(Test 1) Effect of first heating temperature T1 A polyimide substrate with a glass transition temperature of TG=413° C. was used as the heat-resistant resin substrate. Further, a polyimide varnish was prepared by dissolving a solvent-soluble polyimide made of a block copolymerized polyimide having a glass transition temperature T g =225° C. in N-methyl-2-pyrrolidone. After applying polyimide varnish to a uniform thickness (approximately 6 μm) on a polyimide substrate using a bar coater, heat treatment was performed in a nitrogen gas atmosphere at a layer formation heating temperature T 0 = 200°C for 20 minutes, and the solvent was removed to form a thermoplastic polymer compound layer with a thickness of 0.5 μm. Furthermore, after printing a copper paste containing copper particles with an average primary particle diameter of 0.6 μm on this polymer compound layer, heat treatment was performed for 10 minutes at T 1 = 130 to 475°C in the atmosphere. Ta. Subsequently, heat treatment was performed at T 2 =400° C. for 30 minutes in a reducing gas atmosphere of N 2 +5% by volume H 2 to form a copper electrode on the polymer compound layer, thereby producing a sample.

得られたサンプルを用いて、テープテストにより高分子化合物層と銅電極との密着性を調べた。具体的には、サンプルの銅電極の表面に粘着力が35N/cmの粘着テープを貼り付けた後に、粘着テープを引き剥がして、粘着テープとともに剥離するか否かを評価した。得られた結果を表1に示す。評価基準は、ASTM D3359-79に準拠して、最高値のレベル5である場合を合格とし、表中に「Y」で示した。一方、レベル5未満である場合を不合格とし、「N」で示した。当該レベルは、粘着テープとともに剥離する面積が小さいことに対応する。当該レベルの数値が大きいほど、剥離面積が小さく、密着性が良いことを示す。レベル5は剥離する面積がゼロの場合である。 Using the obtained sample, the adhesion between the polymer compound layer and the copper electrode was examined by a tape test. Specifically, an adhesive tape with an adhesive force of 35 N/cm was attached to the surface of a sample copper electrode, and then the adhesive tape was peeled off to evaluate whether the adhesive tape was peeled off along with the adhesive tape. The results obtained are shown in Table 1. The evaluation criteria were based on ASTM D3359-79, and the highest level of 5 was considered a pass, which is indicated by "Y" in the table. On the other hand, if the test was less than level 5, it was judged as a failure and marked with "N". This level corresponds to the fact that the area to be peeled off together with the adhesive tape is small. The larger the numerical value of the level, the smaller the peeled area and the better the adhesion. Level 5 is a case where the area to be peeled off is zero.

さらに、サンプルにおける銅電極の電気抵抗率(R)を直流四探針法で測定した。得られた結果を表1に示す。Rが10μΩ・cm以下の場合を合格とし、表中に「Y」で示した。Rが10μΩ・cmより大きい場合を不合格とし、「N」で示した。総合判定は、電気抵抗率及びテープテストの両方が合格(Y)である場合を合格(Y)とし、それ以外の場合を不合格(N)とした。 Furthermore, the electrical resistivity (R) of the copper electrode in the sample was measured using a DC four-probe method. The results obtained are shown in Table 1. A case where R was 10 μΩ·cm or less was considered to be a pass, and was indicated by “Y” in the table. If R was larger than 10 μΩ·cm, it was judged as a failure and marked with “N”. In the overall judgment, the case where both the electrical resistivity and the tape test were passed (Y) was judged as a pass (Y), and the other cases were judged as a failure (N).

Figure 2023127192000002
Figure 2023127192000002

表1に示すように、Tが150℃以上であれば、電気抵抗率は、十分に低いものとなることが分かった。また、式:T>Tgを満たすと、テープテストによる密着性が高まることが分かった。ただし、T=475℃においては、ポリイミド基板が高温環境下で変質して密着性を損なうことが分かった。 As shown in Table 1, it was found that when T 1 was 150° C. or higher, the electrical resistivity was sufficiently low. Furthermore, it was found that when the formula: T 1 >Tg was satisfied, the adhesion by tape test increased. However, it was found that at T 1 =475° C., the polyimide substrate deteriorated in a high-temperature environment and the adhesion was impaired.

(試験2)層形成加熱温度Tによる影響
Tg=225℃、T=300℃、T=400℃に固定し、Tを150~300℃の範囲で変化させて、試験1と同様の手順で試験を行った。この結果を表2に示す。
(Test 2) Effect of layer formation heating temperature T 0 Same as Test 1, fixing Tg = 225°C, T 1 = 300°C, T 2 = 400°C, varying T 0 in the range of 150 to 300°C. The test was conducted using the following procedure. The results are shown in Table 2.

Figure 2023127192000003
Figure 2023127192000003

が300℃であるため、Tの値にかかわらず10μΩ・cm以下の低抵抗となることが分かった。さらに式:Tg>Toを満たすと、テープテストによる密着性が高まることが分かった。 It was found that since T 1 is 300° C., the resistance is as low as 10 μΩ·cm or less regardless of the value of T 0 . Furthermore, it was found that when the formula: Tg>To is satisfied, the adhesion as determined by the tape test increases.

(試験3)金属粒子の平均粒子径及び焼結体の空隙率による影響
Tg=285℃、T=200℃、T=300℃、T=400℃に固定し、銅粒子の平均粒子径を0.1~10μmの範囲で変更して、試験1と同様の手順でサンプルを作製し、テープテストを行った。さらに、銅電極の空隙率を測定した。銅電極の焼結体の断面を走査型電子顕微鏡で観察し、断面の外周で縁取られる内部の面積である「全断面積」と、その内部における「空隙面積」とを測定し、「(空隙面積/全断面積)×100」の式により「空隙率」を算出した。サンプルにおいて10個の断面で空隙率を測定し、その平均値を得た。これらの結果を表3に示す。
(Test 3) Effect of average particle diameter of metal particles and porosity of sintered body Fixed at Tg = 285°C, T 0 = 200°C, T 1 = 300°C, T 2 = 400°C, average particle size of copper particles Samples were prepared in the same manner as in Test 1, with the diameter varied in the range of 0.1 to 10 μm, and a tape test was conducted. Furthermore, the porosity of the copper electrode was measured. Observe the cross section of the sintered body of the copper electrode with a scanning electron microscope, measure the "total cross-sectional area" which is the internal area bordered by the outer periphery of the cross-section, and the "void area" inside it. "Porosity" was calculated using the formula "area/total cross-sectional area) x 100". The porosity of the sample was measured at 10 cross sections, and the average value was obtained. These results are shown in Table 3.

Figure 2023127192000004
Figure 2023127192000004

銅粒子の平均粒子径が0.1μmの場合は、Tの温度における酸化加熱時に急激に焼結が生じて空隙の体積分率が5%より小さい緻密な焼結組織を形成するため、T>Tgであっても、熱可塑性樹脂が焼結体内部に侵入することが困難となり、密着性が悪化することが分かった。 When the average particle diameter of the copper particles is 0.1 μm, sintering occurs rapidly during oxidation heating at a temperature of T1 , forming a dense sintered structure with a volume fraction of voids smaller than 5%. 1 >Tg, it was found that it became difficult for the thermoplastic resin to penetrate into the inside of the sintered body, and the adhesion deteriorated.

(試験4)酸化雰囲気による影響
Tg=285℃、T=200℃、T=300℃、T=400℃に固定し、第1加熱工程における加熱炉内の酸素濃度を100ppmから大気(200,000ppm)の範囲で変更し、試験1と同様の手順でサンプルを作製し、電気抵抗率を測定した。さらに、試験5と同様の手順で空隙率を測定した。これらの結果を表4に示す。
(Test 4) Effect of oxidizing atmosphere Tg = 285°C, T 0 = 200°C, T 1 = 300°C, T 2 = 400°C, and the oxygen concentration in the heating furnace in the first heating step was changed from 100 ppm to atmospheric air ( 200,000 ppm), samples were prepared in the same manner as Test 1, and the electrical resistivity was measured. Furthermore, the porosity was measured using the same procedure as Test 5. These results are shown in Table 4.

Figure 2023127192000005
Figure 2023127192000005

酸素濃度が500ppmより低いと、酸化が不十分となり、T=300℃の第1加熱工程における空隙率が40%超となり焼結が不十分となる結果、還元後の電気抵抗率が10μΩ・cmより大きくなることが分かった。よって、第1加熱工程における酸化雰囲気中の酸素濃度は、500ppm以上であることが好ましいことが分かった。また、空隙率は、40%以下であることが好ましいことが分かった。 If the oxygen concentration is lower than 500 ppm, oxidation will be insufficient, and the porosity in the first heating step at T 1 = 300°C will exceed 40%, resulting in insufficient sintering, and as a result, the electrical resistivity after reduction will be 10 μΩ・It was found that it was larger than cm. Therefore, it was found that the oxygen concentration in the oxidizing atmosphere in the first heating step is preferably 500 ppm or more. Further, it was found that the porosity is preferably 40% or less.

(試験5)第2加熱温度Tによる影響
Tg=285℃、T=200℃、T=300℃に固定し、Tを120~475℃の範囲で変更し、加熱時間を30~120分の範囲で変更して、試験1と同様の手順で試験を行った。この結果を表5に示す。
(Test 5) Effect of second heating temperature T 2 Fixing Tg = 285°C, T 0 = 200°C, T 1 = 300°C, changing T 2 in the range of 120 to 475°C, heating time from 30 to A test was conducted using the same procedure as Test 1, with the time being changed within the range of 120 minutes. The results are shown in Table 5.

Figure 2023127192000006
Figure 2023127192000006

が140℃以上では、電気抵抗率は10μΩ・cm以下と低くなり、密着性も良好である一方、Tが475℃であると、ポリイミド基板が変質して密着性が劣化することが分かった。よって、還元温度Tは、140℃以上450℃以下が好ましいことが分かった。また、140℃における加熱時間は90分、450℃における加熱時間は30分が適している。 When T 2 is 140°C or higher, the electrical resistivity is as low as 10 μΩ・cm or less, and the adhesion is good. On the other hand, when T 2 is 475°C, the polyimide substrate may change in quality and the adhesion may deteriorate. Do you get it. Therefore, it was found that the reduction temperature T2 is preferably 140°C or more and 450°C or less. Also, suitable heating time at 140°C is 90 minutes, and heating time at 450°C is 30 minutes.

(試験6)還元雰囲気による影響
試験5において第2加熱工程の温度Tを300℃、加熱時間を30分とし、還元雰囲気を、N+3%H、N+1%H、N+0.5%H、N+0.1%Hに変更して、電気抵抗率を測定した。その試験結果によると、水素ガス濃度が1%以上である場合に10μΩ・cm以下の値を示した。よって、還元性ガス濃度は、1体積%以上が好ましいことが分かった。
(Test 6) Influence of reducing atmosphere In Test 5, the temperature T2 of the second heating step was 300°C, the heating time was 30 minutes, and the reducing atmosphere was N 2 + 3% H 2 , N 2 + 1% H 2 , N 2 The electrical resistivity was measured by changing the atmosphere to +0.5% H 2 and N 2 +0.1% H 2 . According to the test results, a value of 10 μΩ·cm or less was shown when the hydrogen gas concentration was 1% or more. Therefore, it was found that the reducing gas concentration is preferably 1% by volume or more.

1 配線基板
2 耐熱性樹脂基板
3 熱可塑性樹脂層
31a,31b,31c 熱可塑性樹脂層の一部
4 焼結体
5,5a,5b,5c,5d 空隙
51a,51b,51c,51d 開口部
6 耐熱性樹脂基板
7,7A 高分子化合物層
8 金属含有ペースト
8A,8B 焼結体
1 Wiring board 2 Heat-resistant resin substrate 3 Thermoplastic resin layer 31a, 31b, 31c Part of thermoplastic resin layer 4 Sintered body 5, 5a, 5b, 5c, 5d Gap 51a, 51b, 51c, 51d Opening 6 Heat resistant Polymer compound layer 8 Metal-containing paste 8A, 8B Sintered body

Claims (4)

配線基板の製造方法において、
少なくとも、耐熱性樹脂基板の上に、ガラス転移温度Tgを有する熱可塑性樹脂を含む高分子化合物層を形成して積層体を得る高分子化合物層形成工程と、
一次粒子の平均粒子径が150nm以上であり、且つ銅、銀及びニッケルからなる群から選択される1種以上の金属粒子を少なくとも含む金属含有ペーストを前記高分子化合物層の上に塗布又は印刷するペースト塗布又は印刷工程と、
前記金属含有ペーストが塗布又は印刷された前記積層体を、500ppm以上の酸素濃度を有する酸化雰囲気下、150℃以上450℃以下の範囲に含まれる第1加熱温度Tで加熱する第1加熱工程と、
前記第1加熱温度Tで加熱された前記積層体を、還元雰囲気下、150℃以上450℃以下の範囲で加熱する第2加熱工程と、を備え、
前記ガラス転移温度Tg及び前記第1加熱温度Tが、下記式(I)を満たす、
配線基板の製造方法。
Tg<T ・・・式(I)
In a method for manufacturing a wiring board,
A polymer compound layer forming step of forming at least a polymer compound layer containing a thermoplastic resin having a glass transition temperature Tg on a heat-resistant resin substrate to obtain a laminate;
Coating or printing on the polymer compound layer a metal-containing paste whose primary particles have an average particle diameter of 150 nm or more and which includes at least one metal particle selected from the group consisting of copper, silver, and nickel. paste application or printing process;
A first heating step of heating the laminate on which the metal-containing paste is applied or printed at a first heating temperature T1 within a range of 150° C. or more and 450° C. or less in an oxidizing atmosphere having an oxygen concentration of 500 ppm or more. and,
a second heating step of heating the laminate heated at the first heating temperature T 1 in a range of 150° C. or more and 450° C. or less in a reducing atmosphere;
The glass transition temperature Tg and the first heating temperature T1 satisfy the following formula (I),
A method of manufacturing a wiring board.
Tg<T 1 ...Formula (I)
前記高分子化合物層形成工程は、前記耐熱性樹脂基板の上に、原料溶液を塗布した後、前記原料溶液を塗布した前記耐熱性樹脂基板を、酸素含有雰囲気下または不活性ガス雰囲気下、層形成加熱温度Tで加熱し、
前記層形成加熱温度T及び前記ガラス転移温度Tgが、下記式(II)を満たす、
請求項1に記載の配線基板の製造方法。
<Tg ・・・式(II)
In the polymer compound layer forming step, a raw material solution is applied onto the heat-resistant resin substrate, and then the heat-resistant resin substrate coated with the raw material solution is layered under an oxygen-containing atmosphere or an inert gas atmosphere. Heating at a forming heating temperature T 0 ,
The layer forming heating temperature T0 and the glass transition temperature Tg satisfy the following formula (II),
The method for manufacturing a wiring board according to claim 1.
T 0 <Tg...Formula (II)
前記還元雰囲気は、1体積%以上の還元性ガスを含む、請求項1または2に記載の配線基板の製造方法。 3. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the reducing atmosphere contains a reducing gas of 1% by volume or more. 耐熱性樹脂基板の上の少なくとも一部に熱可塑性樹脂層を備え、
前記熱可塑性樹脂層の少なくとも一部に銅、銀及びニッケルからなる群から選択される1種以上を含む金属粒子の焼結体を備え、
前記焼結体は、合計で5体積%以上40体積%以下の複数の空隙を有し、前記空隙の少なくとも一部は、前記熱可塑性樹脂層に向けて開口部を有し、前記開口部から、前記熱可塑性樹脂層の一部が屈曲して入り込んでいる、配線基板。


A thermoplastic resin layer is provided on at least a portion of the heat-resistant resin substrate,
At least a part of the thermoplastic resin layer is provided with a sintered body of metal particles containing one or more selected from the group consisting of copper, silver and nickel,
The sintered body has a plurality of voids having a total amount of 5% by volume or more and 40% by volume or less, and at least a part of the voids has an opening toward the thermoplastic resin layer, and from the opening . A wiring board, in which a part of the thermoplastic resin layer is bent and inserted.


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