JP2023120690A - Powder amount measuring apparatus, powder amount measuring method, powder supply device, thermal spraying equipment, substrate polishing device, and three-dimensional printer - Google Patents

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儀彦 内藤
Yoshihiko Naito
賢也 伊藤
Kenya Ito
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Abstract

To provide a powder amount measuring apparatus and a powder amount measuring method, which enable measurement of a supplied powder amount, and provide a powder supply device capable of controlling the supplied powder amount, thermal spraying equipment having the powder supply device like that, a substrate polishing device and a three-dimensional printer.SOLUTION: A powder amount measuring apparatus comprises a charge quantity adjustment part for adjusting the charge quantity of conductive powder supplied from a powder supply source, and a charge quantity measuring part for measuring the charge quantity of the powder, the charge quantity of which is adjusted and which corresponds to a powder amount per unit time, supplied from the powder supply source.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、粉体量測定装置、粉体量測定方法、粉体供給装置、溶射装置、基板研磨装置および3次元プリンタに関する。 The present invention relates to a powder quantity measuring device, a powder quantity measuring method, a powder supply device, a thermal spraying device, a substrate polishing device and a three-dimensional printer.

金属粉溶射装置は、銅などの金属粉体を液体化し、基板に膜を形成するものである。単位時間当たりに液体化する金属粉体の量がばらつくと、形成される膜に凹凸が生じてしまう。そのため、金属粉体の量をリアルタイムにその場で(すなわちin-situで)測定し、制御することが望まれる。なお、粉体量の測定および制御の必要性は金属粉溶射装置に限られない。 A metal powder spraying apparatus liquefies metal powder such as copper to form a film on a substrate. If the amount of metal powder liquefied per unit time varies, the formed film will have unevenness. Therefore, it is desirable to measure and control the amount of metal powder in situ in real time. The need for measuring and controlling the amount of powder is not limited to metal powder spraying equipment.

特開平8-258952号公報JP-A-8-258952

本発明の課題は、供給される粉体量を測定可能な粉体量測定装置および粉体量測定方法を提供すること、供給される粉体量を制御可能な粉体供給装置、ならびに、そのような粉体供給装置を有する溶射装置、基板研磨装置および3次元プリンタを提供することである。 An object of the present invention is to provide a powder amount measuring apparatus and a powder amount measuring method capable of measuring the amount of powder supplied, a powder supply apparatus capable of controlling the amount of powder supplied, and the It is an object of the present invention to provide a thermal spraying apparatus, a substrate polishing apparatus, and a three-dimensional printer having such a powder supply device.

本発明の一態様によれば、
粉体供給源から供給される導電性の粉体の帯電量を調整する帯電量調整部と、
帯電量が調整された粉体の帯電量であって、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量に対応する帯電量を測定する帯電量測定部と、を備える粉体量測定装置が提供される。
According to one aspect of the invention,
a charge amount adjusting unit that adjusts the charge amount of the conductive powder supplied from the powder supply source;
a charge amount measuring unit that measures the charge amount of the powder whose charge amount has been adjusted and corresponds to the charge amount of the powder supplied from the powder supply source per unit time. A measurement device is provided.

前記帯電量調整部は、前記粉体の帯電量が所定範囲に収まるよう、前記粉体の帯電量を調整してもよい。 The charge amount adjustment unit may adjust the charge amount of the powder so that the charge amount of the powder falls within a predetermined range.

前記所定範囲は、前記帯電量測定部による測定可能範囲に対応してもよい。 The predetermined range may correspond to a measurable range of the charge amount measuring section.

前記帯電量調整部は、金属部材を有し、
粉体が前記金属部材に触れることによって粉体の帯電量が減少してもよい。
The charge amount adjustment unit has a metal member,
A charge amount of the powder may be reduced by contacting the metal member with the powder.

前記帯電量調整部は、可変抵抗素子および可変容量素子を有し、
前記金属部材は、前記可変抵抗素子を介して接地され、かつ、前記可変容量素子を介して接地されてもよい。
The charge amount adjustment unit has a variable resistance element and a variable capacitance element,
The metal member may be grounded via the variable resistance element and grounded via the variable capacitance element.

前記可変抵抗素子の抵抗値および前記可変容量素子の容量値は、前記粉体に応じて定められてもよい。 A resistance value of the variable resistance element and a capacitance value of the variable capacitance element may be determined according to the powder.

本発明の一態様によれば、導電性の粉体を供給する粉体供給源と、
前記粉体供給源から供給される粉体の帯電量を調整する帯電量調整部と、
帯電量が調整された粉体の帯電量を測定する帯電量測定部と、
前記帯電量測定部からの出力に基づいて、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量を制御する制御部と、を備える粉体供給装置が提供される。
According to one aspect of the present invention, a powder supply source that supplies electrically conductive powder;
a charge amount adjustment unit that adjusts the charge amount of the powder supplied from the powder supply source;
a charge amount measuring unit for measuring the charge amount of the powder whose charge amount has been adjusted;
and a control unit for controlling the amount of powder supplied from the powder supply source per unit time based on the output from the charge amount measuring unit.

前記帯電量測定部からの出力は、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量に対応してもよい。 The output from the charge amount measuring section may correspond to the amount of powder per unit time supplied from the powder supply source.

前記制御部は、前記帯電量測定部からの出力に基づいて、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量が一定となるよう制御してもよい。 The control unit may control the amount of powder supplied from the powder supply source per unit time to be constant based on the output from the charge amount measurement unit.

前記粉体供給源は、
前記粉体を収容したボールと、
前記ボールを振動させる振動子と、を有し、
前記制御部は、前記振動子の振動量を制御してもよい。
The powder source is
a ball containing the powder;
a vibrator that vibrates the ball,
The control section may control a vibration amount of the vibrator.

本発明の一態様によれば、請求項7乃至10のいずれかに記載の粉体供給装置と、
第1空洞が設けられており、前記粉体供給装置からの粉体が前記第1空洞を通過する第1電極と、
第2空洞が設けられており、前記第1電極からの粉体が前記第2空洞を通過する第2電極と、を備え、
前記第1電極と前記第2電極との間に生じるプラズマにより粉体を溶射することによってターゲット上に成膜を行う溶射装置が提供される。
According to one aspect of the present invention, a powder supply device according to any one of claims 7 to 10;
a first electrode provided with a first cavity through which powder from the powder feeder passes;
a second electrode provided with a second cavity through which powder from said first electrode passes;
A thermal spraying apparatus is provided for forming a film on a target by thermally spraying powder with plasma generated between the first electrode and the second electrode.

本発明の一態様によれば、請求項7乃至10のいずれかに記載の粉体供給装置と、
液体供給装置と、
前記粉体供給装置からの粉体と、前記液体供給装置からの液体と、を混合してスラリーを生成するスラリー混合機と、
研磨テーブルと、
生成されたスラリーを前記研磨テーブルに供給するノズルと、
研磨対象の基板を保持して回転させる基板保持部と、を備える基板研磨装置が提供される。
According to one aspect of the present invention, a powder supply device according to any one of claims 7 to 10;
a liquid supply;
a slurry mixer that mixes the powder from the powder supply device and the liquid from the liquid supply device to generate slurry;
a polishing table;
a nozzle for supplying the generated slurry to the polishing table;
and a substrate holder that holds and rotates a substrate to be polished.

本発明の一態様によれば、請求項7乃至10のいずれかに記載の粉体供給装置と、
前記粉体供給装置からの粉体にレーザ光を照射するレーザ装置と、を備える3次元プリンタが提供される。
According to one aspect of the present invention, a powder supply device according to any one of claims 7 to 10;
and a laser device for irradiating the powder from the powder supply device with a laser beam.

本発明の一態様によれば、粉体供給源から供給される粉体の帯電量を調整するステップと、
帯電量が調整された粉体の帯電量であって、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量に対応する帯電量を測定するステップと、を含む粉体量測定方法。
が提供される。
According to one aspect of the present invention, adjusting the charge amount of powder supplied from a powder supply source;
and measuring the charge amount of the powder whose charge amount is adjusted, the charge amount corresponding to the amount of powder supplied from the powder supply source per unit time.
is provided.

供給される粉体量を測定できる。 The amount of powder fed can be measured.

第1実施形態に係る粉体量測定装置2を有する粉体供給装置100の概略構成図。1 is a schematic configuration diagram of a powder supply device 100 having a powder amount measuring device 2 according to a first embodiment; FIG. センサ出力と粉体量との関係を模式的に示す図。The figure which shows typically the relationship between a sensor output and a powder amount. 第2実施形態に係る溶射装置の概略構成図。The schematic block diagram of the thermal spraying apparatus which concerns on 2nd Embodiment. 第3実施形態に係る基板研磨装置の概略構成図。The schematic block diagram of the board|substrate polisher which concerns on 3rd Embodiment. 第4実施形態に係る3次元プリンタの概略構成図。FIG. 11 is a schematic configuration diagram of a three-dimensional printer according to a fourth embodiment;

以下、本発明に係る実施形態について、図面を参照しながら具体的に説明する。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments according to the present invention will be specifically described with reference to the drawings.

(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係る粉体量測定装置2を有する粉体供給装置100の概略構成図である。粉体供給装置100は、粉体供給源1と、粉体量測定装置2と、制御部3とを備えている。この粉体供給装置100によれば、単位時間当たりに供給される粉体量を粉体量測定装置2によってin-situで測定できる。また、測定結果に基づき、供給される単位当たりの粉体量が所望の一定値となるよう、制御部3によって制御できる。
(First embodiment)
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a powder supply device 100 having a powder amount measuring device 2 according to the first embodiment. The powder supply device 100 includes a powder supply source 1 , a powder amount measuring device 2 and a controller 3 . According to this powder supply device 100, the amount of powder supplied per unit time can be measured in-situ by the powder amount measuring device 2. FIG. Further, based on the measurement result, the controller 3 can control the amount of powder supplied per unit to be a desired constant value.

粉体供給源1は粉体を供給する。本実施形態では、粉体の帯電量に基づいて粉体量を測定するため、供給される粉体は帯電可能な導電性の粉体(例えば銅粉)であるとする。粉体供給源1の具体的な構成例として、粉体供給源1は、ボール11と、仕切り板12と、振動子13と、ロート14と、筐体15と、粉体搬送ガス供給源16とを有する。 A powder supply source 1 supplies powder. In this embodiment, since the powder amount is measured based on the charge amount of the powder, it is assumed that the powder to be supplied is a chargeable conductive powder (for example, copper powder). As a specific configuration example of the powder supply source 1, the powder supply source 1 includes a ball 11, a partition plate 12, a vibrator 13, a funnel 14, a housing 15, and a powder carrier gas supply source 16. and

ボール11は粉体を収容する。ボール11の底面には開口が形成されており、この開口に仕切り板12が配置される。振動子13は制御部3からの制御に応じて振動する。この振動がボール11に伝わることにより、ボール11内の粉体が開口からロート14に落下する。ロート14はボール11の開口からの粉体を粉体量測定装置2に導く。筐体15は、ボール11、仕切り板12、振動子13およびロート14を収容する。粉体搬送ガス供給源16は、粉体が円滑に流れるよう、気流用チューブを介して窒素ガスなどの粉体搬送ガスを筐体15内に供給する。 Ball 11 contains powder. An opening is formed in the bottom surface of the ball 11, and the partition plate 12 is arranged in this opening. The vibrator 13 vibrates under the control of the controller 3 . As this vibration is transmitted to the ball 11 , the powder in the ball 11 drops from the opening into the funnel 14 . The funnel 14 guides the powder from the opening of the ball 11 to the powder quantity measuring device 2 . The housing 15 accommodates the balls 11 , the partition plate 12 , the oscillator 13 and the funnel 14 . A powder carrier gas supply source 16 supplies a powder carrier gas such as nitrogen gas into the housing 15 through an airflow tube so that the powder flows smoothly.

ここで、仕切り板12は制御部3による制御に応じて可動であり、仕切り板12の位置によって粉体供給源1から単位時間当たりに供給される粉体量(以下、特に断らない限り、単に「粉体量」といった場合には単位時間当たりに供給される粉体量を意味することとする。)を調整できる。また、振動子13の振動量は制御部3による制御に応じて可変であり、振動量が大きいほど供給される粉体量が多くなる。 Here, the partition plate 12 is movable according to the control by the control unit 3, and depending on the position of the partition plate 12, the amount of powder supplied from the powder supply source 1 per unit time (hereinafter, unless otherwise specified, simply When the term "amount of powder" is used, it means the amount of powder supplied per unit time.) can be adjusted. Further, the amount of vibration of the vibrator 13 is variable according to the control by the control section 3, and the greater the amount of vibration, the greater the amount of powder supplied.

このように、粉体供給源1は供給される粉体量を制御可能である。しかし、ボール11内に収容される粉体は10kg程度であるのに対し、供給される粉体量は毎分1g程度であるので、粉体量の厳密な制御は難しい。 In this way, the powder supply source 1 can control the amount of powder supplied. However, while the amount of powder contained in the ball 11 is about 10 kg, the amount of powder supplied is about 1 g per minute, so it is difficult to strictly control the amount of powder.

そこで、本実施形態では、粉体量を測定するための粉体量測定装置2が設けられる。この粉体量測定装置2は粉体供給源1からの粉体の帯電量を測定することによって粉体量を把握する。 Therefore, in this embodiment, a powder amount measuring device 2 for measuring the amount of powder is provided. The powder amount measuring device 2 measures the charge amount of the powder supplied from the powder supply source 1 to grasp the powder amount.

粉体量測定装置2は、帯電量測定部21として、粉体誘導路211、その少なくとも一部が金属部材(不図示)から構成される金属チューブ212、および、センサ213を有する。 The powder amount measuring device 2 has, as the charge amount measuring section 21 , a powder guide path 211 , a metal tube 212 at least part of which is made of a metal member (not shown), and a sensor 213 .

粉体誘導路211は粉体供給源1からの粉体を金属チューブ212に導く。粉体誘導路211の表面および粉体誘導路211と金属チューブ212との接続部(材)の表面は、例えばテフロン、塩ビ、ビニールその他一般的な絶縁性化学物質である。粉体が粉体誘導路211を流れる際、粉体と粉体誘導路211の表面との接触摩擦によって粉体は帯電する。 Powder guide path 211 guides powder from powder source 1 to metal tube 212 . The surface of the powder guide path 211 and the surface of the connecting portion (material) between the powder guide path 211 and the metal tube 212 are made of, for example, Teflon, PVC, vinyl or other general insulating chemical substances. When the powder flows through the powder guide path 211 , the powder is charged due to contact friction between the powder and the surface of the powder guide path 211 .

金属チューブ212は、上端が粉体誘導路211に接続され、下端から供給対象へ粉体を供給する。また、金属チューブ212の金属部材にセンサ213が電気的に接続される。 The upper end of the metal tube 212 is connected to the powder guide path 211, and the lower end of the metal tube 212 supplies the powder to the supply target. Also, the sensor 213 is electrically connected to the metal member of the metal tube 212 .

センサ213は金属チューブ212を流れる粉体の帯電量(粉体に帯電した電荷量)を電気信号に変換して出力する。具体的には、センサ213は、粉体が金属チューブ212の金属部材に接触したときに粉体に帯電した電荷を検知し、帯電量に対応した値の電気信号を制御部3に出力する。よって、センサ213の出力(以下、単に「センサ出力」という。)は粉体の帯電量に対応している。そして、粉体の供給量が多いほど帯電量も大きくなるから、粉体の帯電量は粉体量と対応している。 The sensor 213 converts the amount of charge of the powder flowing through the metal tube 212 (the amount of charge charged to the powder) into an electric signal and outputs the electric signal. Specifically, the sensor 213 detects an electric charge on the powder when the powder comes into contact with the metal member of the metal tube 212 and outputs an electric signal corresponding to the charge amount to the control unit 3 . Therefore, the output of the sensor 213 (hereinafter simply referred to as "sensor output") corresponds to the charge amount of the powder. Since the amount of charge increases as the amount of powder supplied increases, the amount of charge of powder corresponds to the amount of powder.

このように、センサ出力と粉体の帯電量が対応しており、粉体の帯電量と粉体量が対応しているから、センサ出力は粉体量と対応している。 In this way, the sensor output corresponds to the powder amount, and the powder charge amount corresponds to the powder amount, so the sensor output corresponds to the powder amount.

図2は、センサ出力と粉体量との関係を模式的に示す図である。図示のように、粉体量とセンサ出力はほぼ比例する。このような関係を事前に較正直線として取得しておくことで、制御部3はセンサ出力に基づいて粉体量を把握できる。 FIG. 2 is a diagram schematically showing the relationship between the sensor output and the amount of powder. As shown, the amount of powder and the sensor output are almost proportional. By obtaining such a relationship in advance as a calibration straight line, the controller 3 can grasp the amount of powder based on the sensor output.

ここで、粉体の種類によって比例定数が異なる。例えば、粉体Bより粉体Aの方が高密度である場合、粉体量が共通であっても粉体Bの方が帯電しやすい。よって、粉体量は共通であっても、粉体Bに対するセンサ出力の方が大きくなる。 Here, the constant of proportionality differs depending on the type of powder. For example, if the powder A has a higher density than the powder B, the powder B is more likely to be charged even if the powder amounts are the same. Therefore, even if the amount of powder is the same, the sensor output for powder B is larger.

そして、粉体の種類によってはセンサ213が検知可能な電荷を超えることがある(図2の粉体C)。詳細には、供給量として想定されるのが1~6gであるのに対し、供給量が3gでセンサ出力が検知可能な最大値を超えている。この場合、粉体量が3g以上である場合に、センサ出力から粉体量を正確に把握できない。 Depending on the type of powder, the charge may exceed the detectable charge of the sensor 213 (powder C in FIG. 2). Specifically, while the supply amount is assumed to be 1 to 6 g, the supply amount is 3 g and the sensor output exceeds the maximum detectable value. In this case, when the amount of powder is 3 g or more, the amount of powder cannot be accurately grasped from the sensor output.

そこで、本実施形態では、図1の粉体量測定装置2はセンサ213が接続される金属チューブ212と粉体供給源1との間に設けられた帯電量調整部22を有する。 Therefore, in this embodiment, the powder quantity measuring apparatus 2 of FIG.

帯電量調整部22は粉体供給源1からの粉体の帯電量を調整する。そして、帯電量が調整された粉体の帯電量を帯電量測定部21のセンサ213が測定する。この粉体の帯電量が粉体量と対応している。 The charge amount adjusting section 22 adjusts the charge amount of the powder supplied from the powder supply source 1 . Then, the sensor 213 of the charge amount measuring unit 21 measures the charge amount of the powder whose charge amount has been adjusted. The charge amount of this powder corresponds to the amount of powder.

ここで、帯電量調整部22は粉体の帯電量を減らすものであるが、どの程度減らすかを可変調整する。より具体的には、帯電量調整部22は、想定される供給量の範囲において、粉体の帯電量が所定範囲に収まるよう粉体の帯電量を調整する。この所定範囲とは、帯電量測定部21のセンサ213による測定(検知)可能範囲に対応する。詳細には、帯電量調整部22は、粉体の帯電量がセンサ213による検知可能な電荷を超えないよう、粉体の帯電量を減らす。 Here, the charge amount adjusting unit 22 reduces the charge amount of the powder, and the degree of reduction is variably adjusted. More specifically, the charge amount adjustment unit 22 adjusts the charge amount of the powder so that the charge amount of the powder falls within a predetermined range within the assumed supply amount range. This predetermined range corresponds to a measurable (detectable) range by the sensor 213 of the charge amount measuring section 21 . Specifically, the charge amount adjustment unit 22 reduces the charge amount of the powder so that the charge amount of the powder does not exceed the charge detectable by the sensor 213 .

以下、帯電量調整部22の具体的な構成例を述べる。 A specific configuration example of the charge amount adjusting section 22 will be described below.

帯電量調整部22は、その少なくとも一部が金属部材(不図示)から構成される金属チューブ221と、感度調整部222とを有する。 The charge amount adjusting section 22 has a metal tube 221 , at least a part of which is made of a metal member (not shown), and a sensitivity adjusting section 222 .

金属チューブ221は粉体供給源1からの粉体を帯電量測定部21の粉体誘導路211に導く。帯電量が調整された粉体が粉体誘導路211にて再度帯電する。 The metal tube 221 guides the powder from the powder supply source 1 to the powder guiding path 211 of the charge quantity measuring section 21 . The powder whose charge amount has been adjusted is charged again in the powder guide path 211 .

感度調整部222は可変抵抗素子Rおよび可変容量素子Cを有する。可変抵抗素子Rの一端は金属チューブ221の金属部材に電気的に接続され、他端は接地される。可変容量素子Cの一端は金属チューブ221の金属部材に電気的に接続され、他端は(必要に応じて別の可変抵抗素子(不図示)を介して)接地される。 The sensitivity adjustment section 222 has a variable resistance element R and a variable capacitance element C. As shown in FIG. One end of the variable resistance element R is electrically connected to the metal member of the metal tube 221, and the other end is grounded. One end of the variable capacitance element C is electrically connected to the metal member of the metal tube 221, and the other end is grounded (via another variable resistance element (not shown) if necessary).

粉体が金属チューブ221の金属部材に触れることによって、粉体に帯電した電荷の一部が可変抵抗素子Rあるいは可変容量素子Cを介して接地へ流れ、消失する(すなわち、帯電量が減少する)。可変抵抗素子Rの抵抗値が小さいほど帯電した電荷の直流成分の消失量が大きい。また、可変容量素子Cの容量値が大きいほど帯電した電荷の交流成分の消失量が大きい。このように、可変抵抗素子Rの抵抗値および可変容量素子Cの容量値を調整することによって、帯電量を可変調整できる。 When the powder touches the metal member of the metal tube 221, part of the charge charged in the powder flows to the ground via the variable resistance element R or the variable capacitance element C and disappears (that is, the amount of charge is reduced). ). The smaller the resistance value of the variable resistance element R, the larger the amount of the DC component of the charged charge that is lost. Also, the greater the capacitance value of the variable capacitance element C, the greater the loss of the AC component of the charged charge. By adjusting the resistance value of the variable resistance element R and the capacitance value of the variable capacitance element C in this manner, the charge amount can be variably adjusted.

例えば、図2に示す粉体Cは帯電量が大きく、センサ出力が検知可能な最大値を超えている。よって、帯電量調整部22は粉体Cの帯電量を大きく減らす必要がある。そこで、可変抵抗素子Rの抵抗値を小さくし(感度を最大限下げるには帯電量調整部22を短絡させる)、可変容量素子Cの容量値を大きくする。これにより、センサ213の感度を下げることができる(図2の破線参照)。また、積極的に電位を印可して粉体の帯電量をコントロールすることができる。可変抵抗素子Rや可変容量素子Cの接続では最大値を超えた感度を調整しきれない場合には、帯電量調整部22にプラスの電位を与え帯電量調整部22に接触した粉体から積極的に電荷を除去し感度を下げる。また、粉体の感度が足りない場合には帯電量調整部22にマイナスの電位を与え、帯電量調整部22に接触した粉体に積極的に電荷を与え、感度を上げることもできる。 For example, powder C shown in FIG. 2 has a large amount of charge, and the sensor output exceeds the detectable maximum value. Therefore, the charge amount adjusting section 22 needs to reduce the charge amount of the powder C greatly. Therefore, the resistance value of the variable resistance element R is decreased (the charge amount adjusting section 22 is short-circuited to reduce the sensitivity to the maximum), and the capacitance value of the variable capacitance element C is increased. Thereby, the sensitivity of the sensor 213 can be lowered (see the dashed line in FIG. 2). In addition, it is possible to positively apply a potential to control the charge amount of the powder. If the sensitivity exceeding the maximum value cannot be adjusted by connecting the variable resistance element R or the variable capacitance element C, a positive potential is applied to the charge amount adjustment unit 22 to remove the powder that is in contact with the charge amount adjustment unit 22. removes the charge and lowers the sensitivity. Further, when the sensitivity of the powder is insufficient, a negative potential can be applied to the charge amount adjusting section 22 to positively charge the powder in contact with the charge amount adjusting section 22, thereby increasing the sensitivity.

一方、図2に示す粉体Aは帯電量が小さい。よって、帯電量調整部22は粉体Aの帯電量をあまり減らす必要がない。そこで、可変抵抗素子Rの抵抗値を大きくし、可変容量素子Cの容量値を小さくする。これにより、センサ213の感度を上げることができる。 On the other hand, the powder A shown in FIG. 2 has a small charge amount. Therefore, the charge amount adjusting section 22 does not need to reduce the charge amount of the powder A so much. Therefore, the resistance value of the variable resistance element R is increased and the capacitance value of the variable capacitance element C is decreased. Thereby, the sensitivity of the sensor 213 can be increased.

このように、供給する粉体(の種類)に応じて、適切な可変抵抗素子Rの抵抗値および可変容量素子Cの容量値を予め定めておけばよい。そして、供給する粉体(の種類)に応じて、ユーザまたは制御部3が可変抵抗素子Rの抵抗値および可変容量素子Cの容量値を設定する。 In this manner, the resistance value of the variable resistance element R and the capacitance value of the variable capacitance element C may be determined in advance according to the powder (type) to be supplied. Then, the user or the control section 3 sets the resistance value of the variable resistance element R and the capacitance value of the variable capacitance element C according to the powder (type) to be supplied.

なお、金属チューブ221を鉛直方向ではなく斜めに設置することで、粉体が金属チューブ221に触れる確率が高くなる。よって、金属チューブ221の設置角度によって帯電量を調整することもできる。また、金属チューブ221における粉体が接触し得る部分の面積が大きいほど(例えば、金属チューブ221が長いほど)、粉体が金属チューブ221に触れる確率が高くなる。よって、金属チューブ221の面積によって帯電量を調整することもできる。 In addition, by installing the metal tube 221 obliquely instead of vertically, the probability that the powder comes into contact with the metal tube 221 increases. Therefore, the amount of charge can be adjusted by changing the installation angle of the metal tube 221 . Also, the larger the area of the metal tube 221 that can be contacted by the powder (for example, the longer the metal tube 221 is), the higher the probability that the powder will come into contact with the metal tube 221 . Therefore, the charge amount can be adjusted by the area of the metal tube 221 .

このように、粉体量測定装置2が帯電量調整部22および帯電量測定部21を有することで、粉体供給装置100は粉体量をリアルタイムに計測できる。 Thus, the powder supply device 100 can measure the powder amount in real time because the powder amount measuring device 2 has the charge amount adjusting unit 22 and the charge amount measuring unit 21 .

そして、粉体供給装置100は制御部3を備えている。制御部3は、センサ出力から粉体量を把握し、粉体量に基づいて粉体供給源1から供給される粉体量を制御する。具体的には、制御部3はセンサ出力から把握される粉体量が所望の一定値となるよう粉体供給源1からの粉体量を制御する。 The powder feeder 100 has a controller 3 . The control unit 3 grasps the amount of powder from the sensor output, and controls the amount of powder supplied from the powder supply source 1 based on the amount of powder. Specifically, the controller 3 controls the amount of powder supplied from the powder supply source 1 so that the amount of powder ascertained from the sensor output becomes a desired constant value.

なお、上述したように粉体量とセンサ出力は対応していることから、制御部3はセンサ出力に基づいて粉体供給源1から供給される粉体量を制御するとも言える。具体的には、制御部3はセンサ出力が所望の一定値となるよう粉体供給源1からの粉体量を制御するとも言える。 Since the amount of powder and the sensor output correspond to each other as described above, it can be said that the control unit 3 controls the amount of powder supplied from the powder supply source 1 based on the sensor output. Specifically, it can be said that the controller 3 controls the amount of powder from the powder supply source 1 so that the sensor output becomes a desired constant value.

粉体量制御の具体例として、制御部3は粉体供給源1における振動子13の振動量を制御する。より具体的には、粉体量が所望の値より大きいことをセンサ出力が示す場合、制御部3は振動子13の振動量が小さくなるよう制御する。一方、粉体量が所望の値より小さいことをセンサ出力が示す場合、制御部3は振動子13の振動量が大きくなるよう制御する。制御部3による制御はフィードバック制御でもよいしフィードフォワード制御でもよい。 As a specific example of powder amount control, the control unit 3 controls the vibration amount of the vibrator 13 in the powder supply source 1 . More specifically, when the sensor output indicates that the amount of powder is greater than a desired value, the control unit 3 controls the vibration amount of the vibrator 13 to decrease. On the other hand, when the sensor output indicates that the amount of powder is smaller than the desired value, the control unit 3 controls the vibration amount of the vibrator 13 to increase. The control by the controller 3 may be feedback control or feedforward control.

また、粉体量が大きいほど、粉体搬送ガス供給源16からのガス供給量を多くするのが望ましい。そのため、制御部3は粉体量の制御に応じてガス供給量を制御してもよい。 Further, it is desirable to increase the amount of gas supplied from the powder carrier gas supply source 16 as the amount of powder increases. Therefore, the controller 3 may control the gas supply amount in accordance with the control of the powder amount.

このように、第1実施形態では、粉体供給装置100に粉体量測定装置2を設ける。そのため、粉体の供給量をリアルタイムで測定できる。 Thus, in the first embodiment, the powder quantity measuring device 2 is provided in the powder supply device 100 . Therefore, the amount of powder supplied can be measured in real time.

また、粉体量測定装置2は、帯電量調整部22が粉体供給源1から供給される粉体の帯電量を調整した上で、帯電量測定部21が粉体の帯電量を測定する。そのため、粉体の帯電量が帯電量測定部21におけるセンサ213の測定可能範囲内に収まった状態でセンサ213が粉体の帯電量を測定でき、粉体の供給量を精度よく測定できる。 In the powder amount measuring device 2, the charge amount adjusting unit 22 adjusts the charge amount of the powder supplied from the powder supply source 1, and then the charge amount measuring unit 21 measures the charge amount of the powder. . Therefore, the sensor 213 can measure the charge amount of the powder while the charge amount of the powder is within the measurable range of the sensor 213 in the charge amount measurement unit 21, and the supply amount of the powder can be accurately measured.

そして、精度よく粉体の供給量を測定できることから、制御部3は精度よく粉体の供給量が一定になるよう制御できる。 Since the powder supply amount can be measured with high accuracy, the control unit 3 can control the powder supply amount to be constant with high accuracy.

(第2実施形態)
次に述べる第2実施形態は、第1実施形態で述べた粉体供給装置100を溶射装置に適用するものである。より具体的には、粉体供給装置100から供給される導電性粉体をターゲット上に成膜する溶射装置に適用する。
(Second embodiment)
A second embodiment described below applies the powder supply device 100 described in the first embodiment to a thermal spraying apparatus. More specifically, the present invention is applied to a thermal spraying apparatus that forms a film on a target with conductive powder supplied from a powder supply apparatus 100 .

図3は、第2実施形態に係る溶射装置の概略構成図である。この溶射装置は、粉体供給装置100と、溶射ノズル30と、プラズマ発生支援ガス供給部40と、チャンバ50と、ホルダ60と、圧力調整用ガス供給部70と、排気用ポンプ80と、冷却風供給部90とを備え、チャンバ50内のホルダ60上に保持されたターゲットTに成膜を行う。 FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a thermal spraying apparatus according to the second embodiment. This thermal spraying apparatus includes a powder supply device 100, a thermal spraying nozzle 30, a plasma generation support gas supply unit 40, a chamber 50, a holder 60, a pressure adjustment gas supply unit 70, an exhaust pump 80, a cooling A wind supply unit 90 is provided, and film formation is performed on the target T held on the holder 60 in the chamber 50 .

粉体供給装置100は、その金属チューブ212(図1)から粉体誘導路20に導電性粉体を供給する。この導電性粉体に由来する材料がターゲットT上に成膜される。一例として、導電性粉体は銅粉であり、ターゲットT上に銅薄膜が形成される。第1実施形態で述べたように、この粉体供給装置100は粉体の供給量を精度よく一定に保つことができる。 The powder supply device 100 supplies conductive powder to the powder guide path 20 from its metal tube 212 (FIG. 1). A material derived from this conductive powder is deposited on the target T. As shown in FIG. As an example, the conductive powder is copper powder, and a copper thin film is formed on the target T. As described in the first embodiment, this powder feeder 100 can accurately keep the feed amount of powder constant.

溶射ノズル30は溶射ガンとも呼ばれ、導電性粉体を溶融してターゲットTに吹き付ける(溶射する)。溶射ノズル30は、筐体31と、カソード32と、アノード33とを有する。 The thermal spray nozzle 30 is also called a thermal spray gun, and melts the conductive powder and sprays it onto the target T (thermally sprays). The thermal spray nozzle 30 has a housing 31 , a cathode 32 and an anode 33 .

筐体31はカソード32およびアノード33を収容している。そして、粉体供給装置100からカソード32へ粉体を導く粉体誘導路20が筐体31の上面を貫通している。また、筐体31の下面には開口が設けられ、ホルダ60と対向している。 Housing 31 houses cathode 32 and anode 33 . A powder guide path 20 that guides powder from the powder feeder 100 to the cathode 32 penetrates the upper surface of the housing 31 . An opening is provided in the lower surface of the housing 31 and faces the holder 60 .

カソード32は粉体供給装置100の下流側(下方)に配置される。カソード32は内部に空洞が形成されており、粉体供給装置100からの導電性粉体が粉体誘導路20を介して空洞を通過する。 The cathode 32 is arranged on the downstream side (lower side) of the powder feeder 100 . A cavity is formed inside the cathode 32 , and the conductive powder from the powder feeder 100 passes through the cavity via the powder guide path 20 .

アノード33はカソード32の下流側(下方)においてカソード32から離間して配置される。アノード33は内部に空洞が形成されている。この空洞は、カソード32の空洞の下方に位置し、かつ、筐体31の下面の開口の上方に位置する。そして、カソード32からの導電性粉体がアノード33における空洞の内側を通過する。 The anode 33 is arranged downstream (below) the cathode 32 and spaced from the cathode 32 . Anode 33 has a cavity formed therein. This cavity is located below the cavity of cathode 32 and above the opening in the lower surface of housing 31 . Conductive powder from the cathode 32 then passes inside the cavity in the anode 33 .

プラズマ発生支援ガス供給部40は使用目的に必要なプラズマを生成するガスであってArガス、ArとH2の混合ガス、Heガス、Xeガス、Neガス、N2ガスなどのプラズマ発生支援ガスを溶射ノズル30の筐体31内に供給する。 The plasma generation support gas supply unit 40 supplies plasma generation support gas such as Ar gas, mixed gas of Ar and H 2 , He gas, Xe gas, Ne gas, N 2 gas, etc. for generating plasma necessary for the purpose of use. is supplied into the housing 31 of the thermal spray nozzle 30 .

チャンバ50は溶射ノズル30の下方に配置される。チャンバ50の上面には開口が設けられ、溶射ノズル30における筐体31の下面の開口に位置合わせされている。この開口の下方に、ターゲットTを保持するホルダ60が配置される。ホルダ60はXYスライダ61(ステージ)上に載置され、XYスライダ61はホルダ60を水平面内で移動させることができる。また、ホルダ60には熱電対62が設けられ、熱電対62によりXYスライダ61の温度(直接的、間接的にステージ上のサンプルの温度)を測定し、当該サンプルを熱によって破損させない様予め設定した温度になった場合、プラズマ溶射をいったん中断するためのコントロール信号として用いる。 Chamber 50 is positioned below thermal spray nozzle 30 . An opening is provided in the upper surface of the chamber 50 and aligned with the opening in the lower surface of the housing 31 of the thermal spray nozzle 30 . A holder 60 for holding the target T is arranged below this opening. The holder 60 is mounted on an XY slider 61 (stage), and the XY slider 61 can move the holder 60 within a horizontal plane. A thermocouple 62 is provided in the holder 60, and the temperature of the XY slider 61 (directly and indirectly the temperature of the sample on the stage) is measured by the thermocouple 62, and preset so as not to damage the sample by heat. It is used as a control signal to interrupt the plasma spraying once when the temperature reaches the desired temperature.

チャンバ50は溶融した導電性粉体をターゲットTに溶射する際の溶射環境を適切に制御すべく、圧力調整用ガス供給部70、排気用ポンプ80および冷却風供給部90が接続される。圧力調整用ガス供給部70はサンプルの酸化を防ぐための不活性気体であるArガス、Heガス、Neガス、N2ガスなどの圧力調整用ガスをチャンバ50内に供給し、チャンバ50内の圧力を一定値(例えば、300Torr)に維持する。排気用ポンプ80はチャンバ50内を真空引きする。冷却風供給部90は冷却風をチャンバ50内に配置された冷却プレート51に供給する。 The chamber 50 is connected to a pressure adjusting gas supply section 70, an exhaust pump 80, and a cooling air supply section 90 in order to properly control the thermal spraying environment when the molten conductive powder is thermally sprayed onto the target T. FIG. The pressure adjusting gas supply unit 70 supplies a pressure adjusting gas such as an inert gas such as Ar gas, He gas, Ne gas, or N 2 gas into the chamber 50 to prevent oxidation of the sample. Maintain the pressure at a constant value (eg, 300 Torr). The evacuation pump 80 evacuates the inside of the chamber 50 . The cooling air supply unit 90 supplies cooling air to the cooling plate 51 arranged inside the chamber 50 .

このような溶射装置において、溶射ノズル30の筐体31内にプラズマ発生支援ガスが供給された状態で、カソード32およびアノード33に高電位差が生じるよう電圧が印加される。これにより、カソード32とアノード33との間にアーク放電が生じる。アーク放電に起因してカソード32とアノード33との間にプラズマが生じ、その熱によって粉体供給装置100からの導電性粉体が溶融(液状化)する。溶融した導電性粉体(液体粉)がターゲットT上に吹き付けられ、成膜される。 In such a thermal spraying apparatus, a voltage is applied to generate a high potential difference between the cathode 32 and the anode 33 while the plasma generation supporting gas is supplied into the housing 31 of the thermal spraying nozzle 30 . This causes an arc discharge between cathode 32 and anode 33 . Plasma is generated between the cathode 32 and the anode 33 due to the arc discharge, and the heat melts (liquefies) the conductive powder from the powder feeder 100 . Molten conductive powder (liquid powder) is sprayed onto the target T to form a film.

第1実施形態で述べた粉体供給装置100を用いることで、粉体供給量を一定に保つことができ、膜厚を一定にできる。 By using the powder supply device 100 described in the first embodiment, the powder supply amount can be kept constant, and the film thickness can be made constant.

(第3実施形態)
次に述べる第3実施形態は、第1実施形態で述べた粉体供給装置100を化学的研磨装置(Chemical Mechanical Polisher)などの基板研磨装置に適用するものである。より具体的には、粉体供給装置100から供給される導電性粉体を用いてスラリーを生成し、生成されたスラリーで基板を研磨する基板研磨装置に適用する。
(Third Embodiment)
A third embodiment described below applies the powder supply apparatus 100 described in the first embodiment to a substrate polishing apparatus such as a chemical mechanical polisher. More specifically, the present invention is applied to a substrate polishing apparatus that generates slurry using conductive powder supplied from a powder supply device 100 and polishes a substrate with the generated slurry.

図4は、第3実施形態に係る基板研磨装置の概略構成図である。この基板研磨装置は、粉体供給装置100と、液体供給装置101と、スラリー混合機制御装置102と、スラリー混合機103と、研磨テーブル104と、ノズル105と、基板保持部106とを備えている。 FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a substrate polishing apparatus according to the third embodiment. This substrate polishing apparatus includes a powder feeder 100, a liquid feeder 101, a slurry mixer controller 102, a slurry mixer 103, a polishing table 104, a nozzle 105, and a substrate holder 106. there is

粉体供給装置100はセリアなどのスラリーの素となる粉体を供給する。液体供給装置101は純水などの液体を供給する。スラリー混合機制御装置102は、粉体供給装置100の制御部3(図1)を制御して粉体供給量を制御したり、液体供給装置101からの液体供給量を制御したりする。スラリー混合機103は、粉体供給装置100からの粉体および液体供給装置101からの液体を受けてこれらを混合し、スラリーを生成する。 The powder feeder 100 feeds powder, such as ceria, which is a source of slurry. A liquid supply device 101 supplies a liquid such as pure water. The slurry mixer control device 102 controls the control unit 3 ( FIG. 1 ) of the powder supply device 100 to control the powder supply amount and the liquid supply amount from the liquid supply device 101 . The slurry mixer 103 receives the powder from the powder feeder 100 and the liquid from the liquid feeder 101 and mixes them to produce slurry.

研磨テーブル104は、その表面に研磨パッド104aが設けられており、下方に延びる支持軸(不図示)が回転されることによって回転する。ノズル105はスラリー混合機103によって生成されたスラリーを研磨パッド104a上に供給する。基板保持部106は、その下部に基板を保持し、上方に延びる支持軸106aが回転することによって基板を回転する。また、支持軸106aが下降することによって保持された基板が研磨パッド104aに接触する(押し付けられる)。 The polishing table 104 is provided with a polishing pad 104a on its surface and is rotated by rotating a downwardly extending support shaft (not shown). A nozzle 105 supplies the slurry produced by the slurry mixer 103 onto the polishing pad 104a. The substrate holding part 106 holds the substrate in its lower part, and rotates the substrate by rotating the support shaft 106a extending upward. Further, the supported substrate comes into contact with (is pressed against) the polishing pad 104a by descending the support shaft 106a.

スラリーが供給された研磨パッド104a上に、基板保持部106が保持した基板を接触させることによって基板が研磨される。 The substrate is polished by bringing the substrate held by the substrate holder 106 into contact with the polishing pad 104a supplied with slurry.

(第4実施形態)
次に述べる第4実施形態は、第1実施形態で述べた粉体供給装置100を3次元プリンタに適用するものである。
(Fourth embodiment)
A fourth embodiment described below applies the powder supply device 100 described in the first embodiment to a three-dimensional printer.

図5は、第4実施形態に係る3次元プリンタの概略構成図である。この3次元プリンタは、粉体供給装置100と、レーザ装置110と、XYステージ111と、Zステージ112とを備えている。 FIG. 5 is a schematic configuration diagram of a three-dimensional printer according to the fourth embodiment. This three-dimensional printer includes a powder supply device 100 , a laser device 110 , an XY stage 111 and a Z stage 112 .

粉体供給装置100は金属材料であるSUS630,SUS316L,SKD61(H13スチール)などを供給する。レーザ装置110は与えられた3次元モデルに基づいて粉体供給装置100から供給される金属材料にレーザ光を照射する。 The powder supply device 100 supplies metal materials such as SUS630, SUS316L, and SKD61 (H13 steel). The laser device 110 irradiates the metal material supplied from the powder supply device 100 with laser light based on the given three-dimensional model.

XYステージ111は水平面内で移動するステージである。Zステージ112はXYステージを鉛直方向に移動させる。XYステージ111およびZステージ112は3次元モデルに基づいて移動が制御される。 The XY stage 111 is a stage that moves within a horizontal plane. The Z stage 112 moves the XY stage vertically. Movement of the XY stage 111 and Z stage 112 is controlled based on the three-dimensional model.

このような構成により、金属材料製であり、3次元モデルに応じた形状の3次元オブジェクトが形成される。 With such a configuration, a three-dimensional object made of a metallic material and having a shape corresponding to the three-dimensional model is formed.

上述した実施形態は、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者が本発明を実施できることを目的として記載されたものである。上記実施形態の種々の変形例は、当業者であれば当然になしうることであり、本発明の技術的思想は他の実施形態にも適用しうることである。したがって、本発明は、記載された実施形態に限定されることはなく、特許請求の範囲によって定義される技術的思想に従った最も広い範囲とすべきである。 The above-described embodiments are described for the purpose of enabling a person having ordinary knowledge in the technical field to which the present invention belongs to implement the present invention. Various modifications of the above-described embodiments can be naturally made by those skilled in the art, and the technical idea of the present invention can also be applied to other embodiments. Therefore, the present invention should not be limited to the described embodiments, but should have the broadest scope in accordance with the spirit defined by the claims.

100 粉体供給装置
1 粉体供給源
11 ボール
12 仕切り板
13 振動子
14 ロート
15 筐体
16 粉体搬送ガス供給源
2 粉体量測定装置
21 帯電量測定部
211 粉体誘導路
212 金属チューブ
213 センサ
22 帯電量調整部
221 金属チューブ
222 感度調整部
R 可変抵抗素子
C 可変容量素子
3 制御部
20 粉体誘導路
30 溶射ノズル
31 筐体
32 カソード
33 アノード
40 プラズマ発生支援ガス供給部
50 チャンバ
51 冷却プレート
60 ホルダ
61 XYスライダ
62 熱電対
70 圧力調整用ガス供給部
80 排気用ポンプ
90 冷却風供給部
101 液体供給装置
102 スラリー混合機制御部
103 スラリー混合機
104 研磨テーブル
104a 研磨パッド
105 ノズル
106 基板保持部
106a 支持軸
110 レーザ装置
111 XYステージ
112 Zステージ
100 Powder supply device 1 Powder supply source 11 Ball 12 Partition plate 13 Oscillator 14 Funnel 15 Case 16 Powder carrier gas supply source 2 Powder amount measuring device 21 Charge amount measuring unit 211 Powder guiding path 212 Metal tube 213 Sensor 22 Charge amount adjustment unit 221 Metal tube 222 Sensitivity adjustment unit R Variable resistance element C Variable capacitance element 3 Control unit 20 Powder guide path 30 Thermal spray nozzle 31 Case 32 Cathode 33 Anode 40 Plasma generation support gas supply unit 50 Chamber 51 Cooling Plate 60 Holder 61 XY Slider 62 Thermocouple 70 Pressure Adjusting Gas Supply Unit 80 Exhaust Pump 90 Cooling Air Supply Unit 101 Liquid Supply Device 102 Slurry Mixer Control Unit 103 Slurry Mixer 104 Polishing Table 104a Polishing Pad 105 Nozzle 106 Substrate Holding Part 106a Support shaft 110 Laser device 111 XY stage 112 Z stage

Claims (14)

粉体供給源から供給される導電性の粉体の帯電量を調整する帯電量調整部と、
帯電量が調整された粉体の帯電量であって、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量に対応する帯電量を測定する帯電量測定部と、を備える粉体量測定装置。
a charge amount adjusting unit that adjusts the charge amount of the conductive powder supplied from the powder supply source;
a charge amount measuring unit that measures the charge amount of the powder whose charge amount has been adjusted and corresponds to the charge amount of the powder supplied from the powder supply source per unit time. measuring device.
前記帯電量調整部は、前記粉体の帯電量が所定範囲に収まるよう、前記粉体の帯電量を調整する、請求項1に記載の粉体量測定装置。 The powder amount measuring device according to claim 1, wherein the charge amount adjusting section adjusts the charge amount of the powder so that the charge amount of the powder falls within a predetermined range. 前記所定範囲は、前記帯電量測定部による測定可能範囲に対応する、請求項2に記載の粉体量測定装置。 3. The powder amount measuring device according to claim 2, wherein said predetermined range corresponds to a measurable range of said charge amount measuring section. 前記帯電量調整部は、金属部材を有し、
粉体が前記金属部材に触れることによって粉体の帯電量が減少する、請求項1乃至3のいずれかに記載の粉体量測定装置。
The charge amount adjustment unit has a metal member,
4. The powder amount measuring device according to claim 1, wherein the charge amount of the powder is reduced by contacting the metal member with the powder.
前記帯電量調整部は、可変抵抗素子および可変容量素子を有し、
前記金属部材は、前記可変抵抗素子を介して接地され、かつ、前記可変容量素子を介して接地される、請求項4に記載の粉体量測定装置。
The charge amount adjustment unit has a variable resistance element and a variable capacitance element,
5. The powder amount measuring device according to claim 4, wherein said metal member is grounded via said variable resistance element and grounded via said variable capacitance element.
前記可変抵抗素子の抵抗値および前記可変容量素子の容量値は、前記粉体に応じて定められる、請求項5に記載の粉体量測定装置。 6. The powder amount measuring device according to claim 5, wherein the resistance value of said variable resistance element and the capacitance value of said variable capacitance element are determined according to said powder. 導電性の粉体を供給する粉体供給源と、
前記粉体供給源から供給される粉体の帯電量を調整する帯電量調整部と、
帯電量が調整された粉体の帯電量を測定する帯電量測定部と、
前記帯電量測定部からの出力に基づいて、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量を制御する制御部と、を備える粉体供給装置。
a powder supply source that supplies electrically conductive powder;
a charge amount adjustment unit that adjusts the charge amount of the powder supplied from the powder supply source;
a charge amount measuring unit for measuring the charge amount of the powder whose charge amount has been adjusted;
and a control unit that controls the amount of powder supplied from the powder supply source per unit time based on the output from the charge amount measurement unit.
前記帯電量測定部からの出力は、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量に対応する、請求項7に記載の粉体供給装置。 8. The powder supply device according to claim 7, wherein the output from said charge amount measuring section corresponds to the amount of powder supplied from said powder supply source per unit time. 前記制御部は、前記帯電量測定部からの出力に基づいて、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量が一定となるよう制御する、請求項7または8に記載の粉体供給装置。 9. The powder according to claim 7, wherein the control unit controls the amount of powder supplied from the powder supply source per unit time to be constant based on the output from the charge amount measurement unit. body feeder. 前記粉体供給源は、
前記粉体を収容したボールと、
前記ボールを振動させる振動子と、を有し、
前記制御部は、前記振動子の振動量を制御する、請求項7乃至9のいずれかに記載の粉体供給装置。
The powder source is
a ball containing the powder;
a vibrator that vibrates the ball,
10. The powder feeder according to any one of claims 7 to 9, wherein said controller controls the amount of vibration of said vibrator.
請求項7乃至10のいずれかに記載の粉体供給装置と、
第1空洞が設けられており、前記粉体供給装置からの粉体が前記第1空洞を通過する第1電極と、
第2空洞が設けられており、前記第1電極からの粉体が前記第2空洞を通過する第2電極と、を備え、
前記第1電極と前記第2電極との間に生じるプラズマにより粉体を溶射することによってターゲット上に成膜を行う溶射装置。
a powder supply device according to any one of claims 7 to 10;
a first electrode provided with a first cavity through which powder from the powder feeder passes;
a second electrode provided with a second cavity through which powder from said first electrode passes;
A thermal spraying apparatus for forming a film on a target by thermally spraying powder with plasma generated between the first electrode and the second electrode.
請求項7乃至10のいずれかに記載の粉体供給装置と、
液体供給装置と、
前記粉体供給装置からの粉体と、前記液体供給装置からの液体と、を混合してスラリーを生成するスラリー混合機と、
研磨テーブルと、
生成されたスラリーを前記研磨テーブルに供給するノズルと、
研磨対象の基板を保持して回転させる基板保持部と、を備える基板研磨装置。
a powder supply device according to any one of claims 7 to 10;
a liquid supply;
a slurry mixer that mixes the powder from the powder supply device and the liquid from the liquid supply device to generate slurry;
a polishing table;
a nozzle for supplying the generated slurry to the polishing table;
A substrate polishing apparatus, comprising: a substrate holder that holds and rotates a substrate to be polished.
請求項7乃至10のいずれかに記載の粉体供給装置と、
前記粉体供給装置からの粉体にレーザ光を照射するレーザ装置と、を備える3次元プリンタ。
a powder supply device according to any one of claims 7 to 10;
and a laser device that irradiates the powder from the powder supply device with a laser beam.
粉体供給源から供給される粉体の帯電量を調整するステップと、
帯電量が調整された粉体の帯電量であって、前記粉体供給源から供給される単位時間当たりの粉体量に対応する帯電量を測定するステップと、を含む粉体量測定方法。
adjusting the charge amount of the powder supplied from the powder supply source;
and measuring the charge amount of the powder whose charge amount is adjusted, the charge amount corresponding to the amount of powder supplied from the powder supply source per unit time.
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