JP2023114298A - Substrate, liquid discharge head, and liquid discharge device - Google Patents

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Abstract

To provide a substrate which can efficiently obtain a temperature of a heating element mounted on a film, and to provide a liquid discharge head and a liquid discharge device.SOLUTION: A substrate according to an embodiment includes: a film substrate; a multilayer substrate; a solid pattern; and a thermistor. A heating element is mounted on the film substrate. The multilayer substrate has: a first layer which is connected with the film substrate and having a through hole formed; and a second layer laminated on the first layer. The solid pattern is provided between the first layer and the second layer. The solid pattern is formed of a metallic material. The thermistor is provided on the multilayer substrate and connected to the solid pattern through the through hole.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明の実施形態は、基板、液体吐出ヘッド及び液体吐出装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to substrates, liquid ejection heads, and liquid ejection apparatuses.

従来、基板上にあるカスタム品のICは、例えばCOF等のようにフィルム上に実装されている。ICは発熱体であることから、このICが発熱しやすかったり、または故障時に異常温度になったりすることがある。そこで、フィルム上のICの温度をモニターしたい、という要望がある。しかし、フィルム上にはサーミスタを実装できない等の理由から、別基板にサーミスタを実装する技術が知られている。 Conventionally, a custom IC on a substrate is mounted on a film, such as a COF. Since the IC is a heating element, the IC may easily generate heat, or may reach an abnormal temperature in the event of a failure. Therefore, there is a demand for monitoring the temperature of the IC on the film. However, for reasons such as the inability to mount a thermistor on a film, techniques for mounting the thermistor on a separate substrate are known.

しかしながら、このような技術では、温度をモニターする対象であるICとサーミスタとの物理的距離等の理由から、正確にICの温度を測定できないという問題点がある。そこで、フィルム上に実装されたIC等の発熱体の温度を効率的に取得することが求められている。 However, such a technique has the problem that the temperature of the IC cannot be accurately measured due to the physical distance between the IC whose temperature is to be monitored and the thermistor. Therefore, it is required to efficiently acquire the temperature of a heating element such as an IC mounted on a film.

特開2018-161787号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2018-161787

本発明が解決しようとする課題は、フィルム上に実装された発熱体の温度を効率的に取得できる基板、液体吐出ヘッド及び液体吐出装置を提供することである。 A problem to be solved by the present invention is to provide a substrate, a liquid ejection head, and a liquid ejection apparatus capable of efficiently obtaining the temperature of a heating element mounted on a film.

実施形態の基板は、フィルム基板と、多層基板と、ベタパターンと、サーミスタと、を備える。フィルム基板は、発熱体が実装される。多層基板は、前記フィルム基板が接続され、スルーホールが形成される第1層、及び、前記第1層に積層される第2層を有する。ベタパターンは、前記第1層及び前記第2層の間に設けられる。ベタパターンは、金属材料で形成される。サーミスタは、前記多層基板に設けられ、前記ベタパターンに前記スルーホールを介して接続される。 A substrate of an embodiment includes a film substrate, a multilayer substrate, a solid pattern, and a thermistor. A heating element is mounted on the film substrate. The multilayer substrate has a first layer to which the film substrate is connected and through holes are formed, and a second layer laminated on the first layer. A solid pattern is provided between the first layer and the second layer. A solid pattern is formed of a metal material. A thermistor is provided on the multilayer substrate and connected to the solid pattern through the through hole.

実施形態に係る液体吐出装置の構成を示す説明図。1 is an explanatory diagram showing the configuration of a liquid ejection device according to an embodiment; FIG. 実施形態に係る液体吐出装置の構成を示すブロック図。1 is a block diagram showing the configuration of a liquid ejection device according to an embodiment; FIG. 実施形態に係る液体吐出ヘッドの構成を示す斜視図。1 is a perspective view showing the configuration of a liquid ejection head according to an embodiment; FIG. 実施形態に係る基板の構成を模式的に示す斜視図。1 is a perspective view schematically showing the configuration of a substrate according to an embodiment; FIG. 実施形態に係る基板の構成を模式的に示す側面図。FIG. 2 is a side view schematically showing the configuration of the substrate according to the embodiment; 他の実施形態に係る液体吐出装置の構成を示す説明図。FIG. 5 is an explanatory diagram showing the configuration of a liquid ejection device according to another embodiment;

以下に、実施形態に係る基板26、液体吐出ヘッド10及び液体吐出装置1について、図1乃至図5を参照して説明する。図1は、実施形態に係る液体吐出装置1の構成を示す説明図であり、図2は、液体吐出装置1の構成を示すブロック図である。図3は、液体吐出装置1に用いられる液体吐出ヘッド10の構成を示す斜視図である。図4は、液体吐出ヘッド10に用いられる基板26の構成を模式的に示す斜視図であり、図5は、基板26の構成を模式的に示す側面図である。なお、各図において説明のため、適宜構成を拡大、縮小または省略して示している。 A substrate 26, a liquid ejection head 10, and a liquid ejection apparatus 1 according to embodiments will be described below with reference to FIGS. 1 to 5. FIG. FIG. 1 is an explanatory diagram showing the configuration of the liquid ejection device 1 according to the embodiment, and FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the liquid ejection device 1. As shown in FIG. FIG. 3 is a perspective view showing the structure of the liquid ejection head 10 used in the liquid ejection device 1. As shown in FIG. 4 is a perspective view schematically showing the configuration of the substrate 26 used in the liquid ejection head 10, and FIG. 5 is a side view schematically showing the configuration of the substrate 26. As shown in FIG. In each figure, for the sake of explanation, the configuration is shown enlarged, reduced, or omitted as appropriate.

図1及び図2に示すように、液体吐出装置1は、例えば、液体吐出ヘッド10と、液体供給装置11と、インターフェイス17と、制御基板18と、を備える。液体吐出装置1は、例えば、液体としてのインクを吐出するインクジェット記録装置等の画像形成装置である。なお、液体吐出装置1は、液体吐出ヘッド10の製造後に行う液体吐出ヘッド10の動作確認試験や性能試験等の出荷検査に用いる検査装置であってもよい。液体吐出装置1は、異なるインクを吐出可能に、複数の液体吐出ヘッド10及び複数の液体供給装置11を有する構成であってもよい。 As shown in FIGS. 1 and 2, the liquid ejection device 1 includes, for example, a liquid ejection head 10, a liquid supply device 11, an interface 17, and a control board . The liquid ejecting apparatus 1 is, for example, an image forming apparatus such as an inkjet recording apparatus that ejects ink as liquid. Note that the liquid ejection apparatus 1 may be an inspection apparatus used for shipping inspections such as operation confirmation tests and performance tests of the liquid ejection head 10 after the liquid ejection head 10 is manufactured. The liquid ejection device 1 may be configured to have a plurality of liquid ejection heads 10 and a plurality of liquid supply devices 11 capable of ejecting different inks.

液体吐出装置1は、例えば、液体吐出ヘッド10に対向する印字位置を含む搬送経路において記録媒体を移動させる搬送装置や、液体吐出ヘッド10のメンテナンスを行うメンテナンス装置、各種センサや調整装置を備える。 The liquid ejection apparatus 1 includes, for example, a transport device that moves a recording medium along a transport path including a print position facing the liquid ejection head 10, a maintenance device that performs maintenance of the liquid ejection head 10, various sensors, and an adjustment device.

液体吐出ヘッド10は、例えば、液体としてのインクを吐出する。液体吐出ヘッド10は、液体供給装置11に接続され、液体供給装置11からインクが供給される。液体吐出ヘッド10は、例えば、液体供給装置11からインクが供給される非循環型のヘッドであってもよく、また、液体供給装置11との間でインクが循環する循環型のヘッドであってもよい。 The liquid ejection head 10 ejects ink as liquid, for example. The liquid ejection head 10 is connected to a liquid supply device 11 and is supplied with ink from the liquid supply device 11 . The liquid ejection head 10 may be, for example, a non-circulating head in which ink is supplied from the liquid supply device 11, or a circulation head in which ink circulates between itself and the liquid supply device 11. good too.

液体吐出ヘッド10は、インクを吐出することで、対向して配置される記録媒体に所望の画像を形成する。 The liquid ejection head 10 ejects ink to form a desired image on a recording medium arranged opposite to it.

図3に示すように、液体吐出ヘッド10は、マニフォールド21と、ノズルが複数形成されたノズルプレート22と、アクチュエータ部23と、供給管24と、回収管25と、基板26と、温度センサであるサーミスタ27と、を備える。 As shown in FIG. 3, the liquid ejection head 10 includes a manifold 21, a nozzle plate 22 having a plurality of nozzles, an actuator section 23, a supply pipe 24, a recovery pipe 25, a substrate 26, and a temperature sensor. a thermistor 27;

マニフォールド21は、内部に形成され、液体供給装置11から供給されたインクをアクチュエータ部23に供給する供給流路、及び、アクチュエータ部23を通過し、液体供給装置11に排出するインクの供給流路を有する。なお、例えば、液体供給装置11が、アクチュエータ部23やインクの温度を温調水で調整する温調装置を有する構成の場合には、マニフォールド21は、温調水用の流路を備えていてもよい。 The manifold 21 is formed inside the manifold 21 , and includes a supply channel for supplying ink supplied from the liquid supply device 11 to the actuator section 23 , and a supply channel for ink passing through the actuator section 23 and being discharged to the liquid supply device 11 . have Note that, for example, when the liquid supply device 11 is configured to have the actuator section 23 or a temperature control device that adjusts the temperature of the ink with temperature control water, the manifold 21 is provided with a channel for temperature control water. good too.

ノズルプレート22は、例えば、矩形の板状に形成され、アクチュエータ部23に固定される。ノズルプレート22は、一方向に複数のノズルが配置されたノズル列を複数有する。 The nozzle plate 22 is formed in, for example, a rectangular plate shape and fixed to the actuator section 23 . The nozzle plate 22 has a plurality of nozzle rows in which a plurality of nozzles are arranged in one direction.

アクチュエータ部23は、ノズルプレート22の印刷側の面とは反対側に対向配置される。アクチュエータ部23は、マニフォールド21に固定される。アクチュエータ部23の内部には、例えば、ノズルプレート22のノズルに連通する複数の圧力室と、この複数の圧力室に連通する共通室とを含む所定の流路が形成される。アクチュエータ部23は、各圧力室に面するアクチュエータ231を備える。アクチュエータ231は、例えば、圧力室を構成する溝が形成された圧電素子を有する構成であってもよく、また、圧力室を構成する振動板と、振動板を変位させる圧電素子を有する構成であってもよい。例えば、圧電素子は例えばPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)等の圧電セラミック材料等で構成される。アクチュエータ231は、圧電素子に電極が形成され、この電極が基板26に電気的に接続される。なお、アクチュエータ231は、基板26に電気的に接続され、基板26から出力される駆動信号により駆動する構成であれば、種々の構成を適用することができる。 The actuator section 23 is arranged opposite to the print-side surface of the nozzle plate 22 . Actuator section 23 is fixed to manifold 21 . A predetermined flow path including, for example, a plurality of pressure chambers communicating with the nozzles of the nozzle plate 22 and a common chamber communicating with the plurality of pressure chambers is formed inside the actuator section 23 . The actuator section 23 comprises an actuator 231 facing each pressure chamber. The actuator 231 may have, for example, a piezoelectric element in which a groove forming the pressure chamber is formed, or may have a vibration plate forming the pressure chamber and a piezoelectric element for displacing the vibration plate. may For example, the piezoelectric element is made of a piezoelectric ceramic material such as PZT (lead zirconate titanate). The actuator 231 has an electrode formed on the piezoelectric element, and this electrode is electrically connected to the substrate 26 . Various configurations can be applied to the actuator 231 as long as the actuator 231 is electrically connected to the substrate 26 and driven by a drive signal output from the substrate 26 .

供給管24及び回収管25は、例えば、マニフォールド21に設けられる。供給管24及び回収管25は、液体供給装置11に接続される。供給管24及び回収管25は、金属又は他の熱伝導性材料で構成されるパイプと、パイプの外面を覆うチューブ、例えばPTFEチューブと、を備える。マニフォールド21、アクチュエータ部23、供給管24及び回収管25により、液体吐出ヘッド10内に液体供給装置11から供給されたインクの流路が形成される。 The supply pipe 24 and the recovery pipe 25 are provided in the manifold 21, for example. The supply pipe 24 and the recovery pipe 25 are connected to the liquid supply device 11 . The supply pipe 24 and the collection pipe 25 comprise pipes constructed of metal or other thermally conductive material and tubes, eg PTFE tubes, covering the outer surface of the pipes. The manifold 21 , the actuator section 23 , the supply pipe 24 and the recovery pipe 25 form a flow path for ink supplied from the liquid supply device 11 inside the liquid ejection head 10 .

図1に示すように、基板26は、アクチュエータ部23のアクチュエータ231に接続される。また、基板26は、制御基板18に、ハーネス31等を介して接続される。基板26は、例えば、1つのアクチュエータ231に対して、単数又は複数設けられる。本実施形態の図3に示す液体吐出ヘッド10の例では、ノズル列が4列設けられ、各ノズル列に対応するアクチュエータ231が4つ設けられ、そして、各アクチュエータ231に対応する基板26が4つ設けられる例を示す。 As shown in FIG. 1, substrate 26 is connected to actuator 231 of actuator section 23 . Also, the board 26 is connected to the control board 18 via a harness 31 or the like. For example, one substrate 26 or a plurality of substrates 26 are provided for one actuator 231 . In the example of the liquid ejection head 10 shown in FIG. 3 of this embodiment, four nozzle rows are provided, four actuators 231 corresponding to each nozzle row are provided, and four substrates 26 corresponding to each actuator 231 are provided. Here is an example of one provided.

基板26は、一端がアクチュエータ部23のアクチュエータ231に接続され、他端がハーネス31を介して制御基板18に接続される。図3乃至図5に示すように、基板26は、例えば、配線フィルム261と、配線フィルム261に搭載されたドライバIC262と、配線フィルム261に実装された多層基板263と、を備える。 The board 26 has one end connected to the actuator 231 of the actuator section 23 and the other end connected to the control board 18 via the harness 31 . As shown in FIGS. 3 to 5, the substrate 26 includes, for example, a wiring film 261, a driver IC 262 mounted on the wiring film 261, and a multilayer substrate 263 mounted on the wiring film 261. FIG.

基板26は、ドライバIC262により生成した駆動電圧をアクチュエータ231に印加することでアクチュエータ231を駆動し、圧力室の容積を増減させて、ノズルから液滴を吐出させる。 The substrate 26 applies a drive voltage generated by the driver IC 262 to the actuator 231 to drive the actuator 231, increase or decrease the volume of the pressure chamber, and eject droplets from the nozzle.

配線フィルム261は、所謂フィルム状に形成され、熱伝導率の高い金属材料、例えば銅で形成された配線パターンを有するフィルム基板である。配線フィルム261は、例えば、ドライバIC262が実装されたCOF(Chip on Film)である。配線フィルム261は、例えば、1つのアクチュエータ231に対して1つ又は複数設けられる。本実施形態において、配線フィルム261は、1つのアクチュエータ231に対して1つ設けられる例を説明する。 The wiring film 261 is a film substrate having a wiring pattern formed in a so-called film shape and made of a metal material with high thermal conductivity, such as copper. The wiring film 261 is, for example, a COF (Chip on Film) on which the driver IC 262 is mounted. One or more wiring films 261 are provided for one actuator 231, for example. In this embodiment, an example in which one wiring film 261 is provided for one actuator 231 will be described.

ドライバIC262は、配線フィルム261を介して圧力室に形成された配線パターンに電気的に接続される。ドライバIC262は、発熱する発熱体である。ドライバIC262は、例えば、配線フィルム261の外面に実装される。 The driver IC 262 is electrically connected through the wiring film 261 to the wiring pattern formed in the pressure chamber. The driver IC 262 is a heating element that generates heat. The driver IC 262 is mounted on the outer surface of the wiring film 261, for example.

ドライバIC262は、1つの配線フィルム261に対して1つ設けられる。なお、ドライバIC262は、1つのアクチュエータ231を駆動するために複数設けられ、これら複数のドライバIC262が1つの配線フィルム261に設けられて、ドライバIC列を構成してもよい。 One driver IC 262 is provided for one wiring film 261 . A plurality of driver ICs 262 may be provided to drive one actuator 231, and these plurality of driver ICs 262 may be provided on one wiring film 261 to form a driver IC array.

多層基板263は、ドライバIC262に接続されるヘッド基板である。多層基板263は、例えば、プリント配線基板である。多層基板263は、各種電子部品やコネクタが搭載されたPWA(Printing Wiring Assembly)である。多層基板263は、矩形板状に形成され、一方の主面の一辺に配線フィルム261の一端が実装される。多層基板263の配線フィルム261が実装される実装領域Bは、多層基板263の一辺の延設方向に沿って一方向に長い矩形状に形成される。また、多層基板263は、内部に設けられたベタパターン265と、ベタパターン265と連続するスルーホール266と、を有する。また、多層基板263は、外面の一部に実装された第1コネクタ267を備える。 A multilayer substrate 263 is a head substrate connected to the driver IC 262 . The multilayer board 263 is, for example, a printed wiring board. The multilayer board 263 is a PWA (Printing Wiring Assembly) on which various electronic components and connectors are mounted. The multilayer substrate 263 is formed in a rectangular plate shape, and one end of the wiring film 261 is mounted on one side of one main surface. A mounting region B in which the wiring film 261 of the multilayer substrate 263 is mounted is formed in a rectangular shape elongated in one direction along the extending direction of one side of the multilayer substrate 263 . Moreover, the multilayer substrate 263 has a solid pattern 265 provided therein and a through hole 266 that is continuous with the solid pattern 265 . The multilayer board 263 also has a first connector 267 mounted on a portion of the outer surface.

ベタパターン265は、例えば、熱伝導率の高い金属材料、例えば銅で形成されたパターンである。ベタパターン265は、例えば、多層基板263の内部に形成された所定の長さ及び幅の矩形状に形成される。ベタパターン265は、配線フィルム261から基板層30に伝わったドライバIC262の熱をスルーホール266に伝える温度伝搬用に、多層基板263に設けられる。 The solid pattern 265 is, for example, a pattern made of a metal material with high thermal conductivity, such as copper. The solid pattern 265 is formed, for example, in a rectangular shape with a predetermined length and width formed inside the multilayer substrate 263 . The solid pattern 265 is provided on the multilayer substrate 263 for temperature propagation to transfer the heat of the driver IC 262 , which has been transferred from the wiring film 261 to the substrate layer 30 , to the through holes 266 .

ベタパターン265は、例えば、多層基板263に設けられた実装領域Bと、多層基板263を構成する複数の基板層30のうち、最外層の基板層30を挟んで対向して設けられる。ベタパターン265は、複数の基板層30のうち外層側の二枚の基板層30の対向する主面間に形成される。 The solid pattern 265 is provided, for example, to face the mounting region B provided on the multilayer substrate 263 with the outermost substrate layer 30 of the plurality of substrate layers 30 constituting the multilayer substrate 263 interposed therebetween. The solid pattern 265 is formed between the opposing principal surfaces of the two substrate layers 30 on the outer layer side among the plurality of substrate layers 30 .

例えば、ベタパターン265は、実装領域Bと同形状に形成され、複数の基板層30の積層方向で重なる位置に配置される。換言すると、ベタパターン265の形状及び面積は、実装領域Bと同じか、又は、同程度の形状及び面積であり、実装領域B及びベタパターン265は、最外層の基板層30を挟んで、複数の基板層30の積層方向に並んで配置される。具体例として、ベタパターン265は、実装領域Bが設けられる基板層30の1つ下の基板層30の主面であって、且つ、複数の基板層30の積層方向で実装領域Bと対向する領域に配置される。 For example, the solid pattern 265 is formed in the same shape as the mounting region B, and arranged at a position where the plurality of substrate layers 30 overlap in the stacking direction. In other words, the shape and area of the solid pattern 265 are the same as or approximately the same as the shape and area of the mounting region B, and the mounting region B and the solid pattern 265 are formed into a plurality of layers with the outermost substrate layer 30 interposed therebetween. are arranged side by side in the stacking direction of the substrate layers 30 of the . As a specific example, the solid pattern 265 is the main surface of the substrate layer 30 immediately below the substrate layer 30 on which the mounting area B is provided, and faces the mounting area B in the stacking direction of the plurality of substrate layers 30. placed in the area.

スルーホール266は、内表面に、メッキ等により熱伝導率の高い金属材料、例えば銅で形成された金属膜を有する。スルーホール266は、ベタパターン265と連続する。より具体的には、スルーホール266の金属膜は、ベタパターン265と連続する。例えば、スルーホール266の金属膜とベタパターン265とは、同じ材料で形成される。 The through hole 266 has a metal film formed of a metal material with high thermal conductivity, such as copper, by plating or the like on the inner surface. Through hole 266 is continuous with solid pattern 265 . More specifically, the metal film of through hole 266 is continuous with solid pattern 265 . For example, the metal film of the through hole 266 and the solid pattern 265 are made of the same material.

第1コネクタ267には、制御基板18と多層基板263とを接続するためのハーネス31の一端が挿入される。第1コネクタ267は、ハーネス31の一端を固定する。 One end of a harness 31 for connecting the control board 18 and the multilayer board 263 is inserted into the first connector 267 . The first connector 267 fixes one end of the harness 31 .

以下、本実施形態の多層基板263の具体例を説明する。図4及び図5に示すように、多層基板263は、例えば、複数の基板層30を有する。本実施形態において、多層基板263は、基板層30が6層積層して形成される。複数の基板層30は、例えば、同じ材料により形成される。基板層30は、例えば、熱伝導率が高い材料が好ましい。以下の説明において、多層基板263の配線フィルム261が実装される層を第1基板層(第1層)301とし、積層方向から順に、第1基板層301、第2基板層(第2層)302、第3基板層303、第4基板層304、第5基板層305及び第6基板層306として以下説明する。 Specific examples of the multilayer substrate 263 of this embodiment will be described below. As shown in FIGS. 4 and 5, the multilayer substrate 263 has, for example, multiple substrate layers 30 . In this embodiment, the multilayer substrate 263 is formed by laminating six substrate layers 30 . The multiple substrate layers 30 are made of, for example, the same material. The substrate layer 30 is preferably made of, for example, a material with high thermal conductivity. In the following description, the layer on which the wiring film 261 of the multilayer substrate 263 is mounted is referred to as the first substrate layer (first layer) 301, and the first substrate layer 301 and the second substrate layer (second layer) are sequentially arranged from the stacking direction. 302 , third substrate layer 303 , fourth substrate layer 304 , fifth substrate layer 305 and sixth substrate layer 306 .

図5に示すように、第1基板層301~第6基板層306は、例えば、一体に接合される。第1基板層301~第6基板層306には、例えば、それぞれ配線パターンが形成される。第1基板層301及び第6基板層306は、多層基板263の最外層である。第1基板層301は、外面に配線フィルム261の実装領域Bを有する。ここで、第1基板層301の外面とは、第1基板層301の第2基板層302と接合される主面とは反対側の主面である。第1基板層301には、両主面を連続するスルーホール266が形成される。 As shown in FIG. 5, the first substrate layer 301 to the sixth substrate layer 306 are bonded together, for example. For example, wiring patterns are formed on the first to sixth substrate layers 301 to 306, respectively. The first substrate layer 301 and the sixth substrate layer 306 are the outermost layers of the multilayer substrate 263 . The first substrate layer 301 has a mounting area B for the wiring film 261 on its outer surface. Here, the outer surface of the first substrate layer 301 is the main surface of the first substrate layer 301 opposite to the main surface bonded to the second substrate layer 302 . A through-hole 266 is formed in the first substrate layer 301 so as to extend through both main surfaces.

第1基板層301及び第2基板層302の間に、ベタパターン265が形成される。換言すると、第1基板層301及び第2基板層302の一方は、第1基板層301及び第2基板層302の対向する主面に、ベタパターン265が形成される。本実施形態の例では、第2基板層302が、第2基板層302の第1基板層301と対向する主面に、ベタパターン265を有する。 A solid pattern 265 is formed between the first substrate layer 301 and the second substrate layer 302 . In other words, one of the first substrate layer 301 and the second substrate layer 302 has the solid pattern 265 formed on the opposing main surface of the first substrate layer 301 and the second substrate layer 302 . In the example of this embodiment, the second substrate layer 302 has a solid pattern 265 on the main surface of the second substrate layer 302 facing the first substrate layer 301 .

このような基板26は、配線フィルム261、ドライバIC262及び多層基板263により、液体吐出ヘッド10を駆動するヘッド駆動回路(駆動回路)を構成する。 The wiring film 261 , the driver IC 262 and the multilayer substrate 263 of the substrate 26 constitute a head driving circuit (driving circuit) for driving the liquid ejection head 10 .

サーミスタ27は、温度センサである。サーミスタ27は、基板26上であって、スルーホール266の近傍に設けられている。 The thermistor 27 is a temperature sensor. The thermistor 27 is provided on the substrate 26 and near the through hole 266 .

サーミスタ27は、チップ部品であり、基板26上に直接実装される。サーミスタ27は、スルーホール266の金属膜の温度を検出する。サーミスタ27は、第1コネクタ267に、配線パターンにより電気的に接続される。サーミスタ27は、第1コネクタ267に接続されたハーネス31を介して、検出した温度に対応する信号を制御基板18に出力する。 The thermistor 27 is a chip component and directly mounted on the board 26 . Thermistor 27 detects the temperature of the metal film in through hole 266 . The thermistor 27 is electrically connected to the first connector 267 by a wiring pattern. The thermistor 27 outputs a signal corresponding to the detected temperature to the control board 18 via the harness 31 connected to the first connector 267 .

ハーネス31は、例えば、可撓性を有するとともに一定の幅を有する帯状の配線板である。ハーネス31は、所謂フレキシブルケーブルである。ハーネス31は、ハーネス31の長手方向に沿って延びる配線パターンである複数の信号線を含む。ハーネス31は、例えば、FPC(Flexible printed circuits)である。 The harness 31 is, for example, a strip-shaped wiring board having flexibility and a certain width. The harness 31 is a so-called flexible cable. The harness 31 includes a plurality of signal lines, which are wiring patterns extending along the longitudinal direction of the harness 31 . The harness 31 is, for example, FPC (Flexible printed circuits).

液体供給装置11は、例えば、インクタンク14と、管路15と、ポンプ16と、を備える。 The liquid supply device 11 includes, for example, an ink tank 14, a pipe line 15, and a pump 16.

インクタンク14は、液体吐出ヘッド10へ供給されるインク等の液体を収容する液体収容部である。インクタンク14は、液体吐出ヘッド10に管路15を介して接続される。インクタンク14は例えば放熱フィンや、ヒータ、熱交換モジュールなどで構成される温調装置を備えている。温調装置は、インクタンク14内のインクを加熱又は冷却し、インクの温度を調節する。 The ink tank 14 is a liquid containing portion that contains liquid such as ink to be supplied to the liquid ejection head 10 . The ink tank 14 is connected to the liquid ejection head 10 via a conduit 15 . The ink tank 14 is equipped with a temperature control device composed of, for example, radiation fins, a heater, a heat exchange module, and the like. The temperature control device heats or cools the ink in the ink tank 14 to adjust the temperature of the ink.

管路15は、液体吐出ヘッド10及びインクタンク14を通る流路を形成する。管路15は、配管やチューブを備える。 The conduit 15 forms a flow path passing through the liquid ejection head 10 and the ink tank 14 . The pipeline 15 includes piping and tubes.

ポンプ16は、管路15に設けられる。ポンプ16は、液体を二次側に供給することで、管路15を介して、インクタンク14から液体吐出ヘッド10へ液体を供給する。ポンプ16は、例えば圧電ポンプである。ポンプ16は、配線により駆動回路に接続され制御基板18に設けられたプロセッサ35の制御によって制御される。ポンプ16は、フィルタを介して管路15の液体を液体吐出ヘッド10に送る。 A pump 16 is provided in the conduit 15 . The pump 16 supplies the liquid from the ink tank 14 to the liquid ejection head 10 via the conduit 15 by supplying the liquid to the secondary side. Pump 16 is, for example, a piezoelectric pump. The pump 16 is controlled by a processor 35 connected to a drive circuit by wiring and provided on the control board 18 . The pump 16 sends the liquid in the conduit 15 to the liquid ejection head 10 through the filter.

インターフェイス17は、電源171と、表示装置172と、入力装置173と、を備える。インターフェイス17は、制御部としてのプロセッサ35へ接続される。インターフェイス17は、ユーザが入力装置173を操作することで、プロセッサ35へ各種の動作の指示を行う。また、インターフェイス17は、制御基板18の例えばプロセッサ35の制御により、各種の情報や画像を表示装置に表示する。 The interface 17 includes a power source 171 , a display device 172 and an input device 173 . The interface 17 is connected to a processor 35 as a controller. The interface 17 instructs the processor 35 to perform various operations as the user operates the input device 173 . Further, the interface 17 displays various information and images on the display device under the control of the processor 35 of the control board 18, for example.

制御基板18は、制御装置である。図2に示すように、制御基板18は、各部の動作を制御する制御部であるプロセッサ35と、プログラムや各種データ等を格納するメモリ36と、アナログデータ(電圧値)をデジタルデータ(ビットデータ)に変換する回路であるAD変換部37と、を備える。また、制御基板18は、各要素を制御し駆動する各制御回路や各駆動回路を備える。 The control board 18 is a control device. As shown in FIG. 2, the control board 18 includes a processor 35 that is a control unit that controls the operation of each unit, a memory 36 that stores programs and various data, and analog data (voltage values) as digital data (bit data). ), and an AD conversion unit 37 that is a circuit for converting into . In addition, the control board 18 includes each control circuit and each drive circuit for controlling and driving each element.

また、制御基板18は、所定の部位に実装された第2コネクタ41を含む。第2コネクタ41は、基板26との接続のためのハーネス31の他端を挿入し、固定する。 The control board 18 also includes a second connector 41 mounted at a predetermined portion. The second connector 41 inserts and fixes the other end of the harness 31 for connection with the board 26 .

プロセッサ35は、例えば、CPU(Central Processing Unit)を含み、制御部の中枢部分に相当する。プロセッサ35は、オペレーティングシステムやアプリケーションプログラムに従って、液体吐出装置1の各種の機能を実現するべく、液体吐出装置1の各部を制御する。 The processor 35 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit) and corresponds to the central portion of the control unit. The processor 35 controls each part of the liquid ejecting apparatus 1 to implement various functions of the liquid ejecting apparatus 1 according to an operating system and application programs.

プロセッサ35は、液体吐出ヘッド10のドライバIC262により構成されるヘッド駆動回路を制御する。プロセッサ35は、各種駆動機構に接続され、AD変換部37、液体吐出ヘッド10、ヘッド用電源回路等の各制御回路及び各駆動回路を介して液体吐出装置1の各部の動作を制御する。また、プロセッサ35は、予めメモリ36に記録された制御プログラムに基づいて、制御処理を実行する。例えば、プロセッサ35は、液体吐出ヘッド10やポンプ16の動作を制御することで、印字動作を制御する。プロセッサ35は、ドライバIC262を介して、アクチュエータ231の電極に駆動電圧をかける。電極に駆動電圧がかけられると、アクチュエータが変形して、圧力室内の液体をノズルから吐出する。 The processor 35 controls a head driving circuit composed of the driver IC 262 of the liquid ejection head 10 . The processor 35 is connected to various drive mechanisms, and controls the operation of each part of the liquid ejection device 1 via each control circuit and drive circuit such as the AD converter 37, the liquid ejection head 10, and the head power supply circuit. The processor 35 also executes control processing based on a control program recorded in the memory 36 in advance. For example, the processor 35 controls printing operations by controlling the operations of the liquid ejection head 10 and the pump 16 . The processor 35 applies drive voltage to the electrodes of the actuator 231 via the driver IC 262 . When a driving voltage is applied to the electrodes, the actuator deforms and ejects the liquid in the pressure chamber from the nozzle.

また、プロセッサ35は、サーミスタ27から出力される信号、及び、予めメモリ36に記録されたエラー判定の閾値に基づいて、温度異常のエラー判定処理、及び、エラーを判定したときにエラー管理処理を行う。例えば、エラー管理処理として、プロセッサ35は、インターフェイス17の表示装置172に温度異常の情報を表示させる信号を出力する。 In addition, the processor 35 performs error determination processing for temperature abnormality based on the signal output from the thermistor 27 and the threshold value for error determination recorded in advance in the memory 36, and error management processing when an error is determined. conduct. For example, as an error management process, the processor 35 outputs a signal that causes the display device 172 of the interface 17 to display temperature abnormality information.

メモリ36は例えば不揮発性メモリであって、制御基板18上に実装される。メモリ36は、インクの循環動作、インクの供給動作、温度管理、液面管理、圧力管理、液体吐出ヘッド10の制御に要する電源の電圧制御、等の制御に必要な情報として、各種制御プログラムや動作条件が記憶される。 The memory 36 is, for example, a non-volatile memory and is mounted on the control board 18 . The memory 36 stores various control programs and information necessary for control such as ink circulation operation, ink supply operation, temperature control, liquid surface control, pressure control, and power supply voltage control required for controlling the liquid ejection head 10. Operating conditions are stored.

このように構成された基板26、液体吐出ヘッド10及び液体吐出装置1によれば、多層基板263のうち、最外層の基板層30(第1基板層301)の外面の実装領域Bに配線フィルム261が実装される。また、多層基板263のうち、実装領域Bが設けられる最外層の基板層30(第1基板層301)及び最外層と隣り合う基板層30(第2基板層302)の間に、ベタパターン265が設けられる。そして、最外層の基板層30に形成されたスルーホール266がベタパターン265と接続される。このため、サーミスタ27でスルーホール266の温度を検出することで、ドライバIC262の温度を検出することが可能となる。 According to the substrate 26 , the liquid ejection head 10 and the liquid ejection apparatus 1 configured as described above, the wiring film is formed on the mounting area B on the outer surface of the outermost substrate layer 30 (first substrate layer 301 ) of the multilayer substrate 263 . H.261 is implemented. Further, in the multilayer substrate 263, a solid pattern 265 is provided between the outermost substrate layer 30 (first substrate layer 301) where the mounting region B is provided and the substrate layer 30 (second substrate layer 302) adjacent to the outermost layer. is provided. A through hole 266 formed in the outermost substrate layer 30 is connected to the solid pattern 265 . Therefore, the temperature of the driver IC 262 can be detected by detecting the temperature of the through hole 266 with the thermistor 27 .

具体例として説明すると、先ず、ドライバIC262は、波形を生成、出力する点から、駆動条件によっては発熱する恐れがある。また正常時のドライバIC262の波形生成、出力だけでなく、ドライバIC262の故障などにより、異常時にもドライバIC262が発熱する場合がある。 As a specific example, first, the driver IC 262 may generate heat depending on driving conditions because it generates and outputs waveforms. In addition to the waveform generation and output of the driver IC 262 in the normal state, the driver IC 262 may generate heat even in an abnormal state due to a failure of the driver IC 262 or the like.

特に、ドライバIC262が配線フィルム261に実装されている場合、サーミスタ27を配線フィルム261に実装できないという問題がある。またドライバIC262を放熱するためにドライバIC262にシリコンなどを塗り、ヒートシンクなどへ放熱している場合、ドライバIC262に直接サーミスタ27を貼ることができないか、またはコストアップとなってしまう。また、多層基板263の表面(第1基板層301の外面)には配線フィルム261を実装するにあたり、端子、配線パターン、電子部品等の実装品等を設ける必要があることから、多層基板263の表面にベタパターンを設けることが困難である。 In particular, when the driver IC 262 is mounted on the wiring film 261 , there is a problem that the thermistor 27 cannot be mounted on the wiring film 261 . If the driver IC 262 is coated with silicon or the like to dissipate heat to a heat sink or the like, the thermistor 27 cannot be attached directly to the driver IC 262 or the cost increases. In addition, when the wiring film 261 is mounted on the surface of the multilayer substrate 263 (the outer surface of the first substrate layer 301), it is necessary to provide mounted products such as terminals, wiring patterns, and electronic components. It is difficult to provide a solid pattern on the surface.

しかしながら、本実施形態の基板26においては、配線フィルム261の実装領域Bと対向するベタパターン265を多層基板263の表層である第1基板層301と第1基板層301に接合される第2基板層302の間に設け、第1基板層301のスルーホール266とベタパターン265を接続する。これにより、サーミスタ27は、ドライバIC262から、配線フィルム261の配線パターン、基板層30、ベタパターン265及びスルーホール266を伝達した熱を検出できる。よって、基板26を用いた液体吐出装置1は、効率良くドライバIC262の温度をサーミスタ27で検出できる。また、ドライバIC262からスルーホール266に伝わった熱をサーミスタ27が検出するため、液体吐出装置1は、ドライバIC262の測定温度の精度を高めることができる。 However, in the substrate 26 of the present embodiment, the solid pattern 265 facing the mounting region B of the wiring film 261 is formed on the first substrate layer 301 which is the surface layer of the multilayer substrate 263 and the second substrate bonded to the first substrate layer 301 . It is provided between the layers 302 and connects the through hole 266 of the first substrate layer 301 and the solid pattern 265 . Thereby, the thermistor 27 can detect heat transferred from the driver IC 262 to the wiring pattern of the wiring film 261 , the substrate layer 30 , the solid pattern 265 and the through hole 266 . Therefore, the liquid ejection device 1 using the substrate 26 can efficiently detect the temperature of the driver IC 262 with the thermistor 27 . Further, since the thermistor 27 detects the heat transferred from the driver IC 262 to the through hole 266 , the liquid ejecting apparatus 1 can improve the accuracy of the measured temperature of the driver IC 262 .

これにより、液体吐出装置1は、ドライバIC262の温度を制御基板18により、常にモニターすることができる。即ち、液体吐出装置1は、ドライバIC262の実装された配線フィルム261上にサーミスタ27を実装することなく、ドライバIC262の接続先の多層基板263に実装されたサーミスタ27でドライバIC262の温度を測定することができる。また、液体吐出装置1は、ドライバIC262の放熱がうまくいっていない場合や、ドライバIC262の異常発熱時に、サーミスタ27を介してドライバIC262の状況を把握することができる。 Thereby, the liquid ejection apparatus 1 can always monitor the temperature of the driver IC 262 by the control board 18 . That is, the liquid ejecting apparatus 1 measures the temperature of the driver IC 262 by the thermistor 27 mounted on the multilayer substrate 263 to which the driver IC 262 is connected, without mounting the thermistor 27 on the wiring film 261 on which the driver IC 262 is mounted. be able to. In addition, the liquid ejecting apparatus 1 can grasp the status of the driver IC 262 via the thermistor 27 when heat dissipation from the driver IC 262 is not successful or when the driver IC 262 generates abnormal heat.

また、最外層である第1基板層301及び第2基板層302の間にベタパターン265を設けることから、ドライバIC262からサーミスタ27が温度を検出するスルーホール266までの物理的な距離を極力短くすることができる。また、基板26は、ベタパターン265を、第1基板層301の外面(多層基板263の表面)に設けられた配線フィルム261の実装領域Bと対向する領域に設ける。このため、配線フィルム261を伝わったドライバIC262の熱をベタパターン265に伝えやすくするとともに、ベタパターン265の熱容量を極力小さくすることができる。このため、基板は、サーミスタ27で熱を検出するスルーホール266における発熱したドライバIC262の熱に対する応答性を向上させることができる。 In addition, since the solid pattern 265 is provided between the first substrate layer 301 and the second substrate layer 302, which are the outermost layers, the physical distance from the driver IC 262 to the through hole 266 where the thermistor 27 detects the temperature is made as short as possible. can do. Further, the substrate 26 is provided with a solid pattern 265 in an area facing the mounting area B of the wiring film 261 provided on the outer surface of the first substrate layer 301 (the surface of the multilayer substrate 263). Therefore, the heat of the driver IC 262 transmitted through the wiring film 261 can be easily transferred to the solid pattern 265, and the heat capacity of the solid pattern 265 can be minimized. Therefore, the substrate can improve responsiveness to the heat generated by the driver IC 262 in the through hole 266 for detecting heat with the thermistor 27 .

上述した実施形態に係る液体吐出装置1の基板26は、多層基板263にサーミスタ27で温度を検出するスルーホール266を設け、多層基板263の表面に設けられる配線フィルム261の実装領域Bと基板層30を介して対向する温度伝搬用のベタパターン265をスルーホール266に接続させる。これにより、基板26、液体吐出ヘッド10及び液体吐出装置1は、多層基板263の表面に設けたサーミスタ27により、ドライバIC262の温度を効率良く検出することができる。 The substrate 26 of the liquid ejecting apparatus 1 according to the above-described embodiment has a multilayer substrate 263 provided with a through hole 266 for detecting the temperature with the thermistor 27, and a wiring film 261 mounting region B provided on the surface of the multilayer substrate 263 and the substrate layer. A solid pattern 265 for temperature propagation facing through 30 is connected to a through hole 266 . As a result, the substrate 26 , the liquid ejection head 10 and the liquid ejection device 1 can efficiently detect the temperature of the driver IC 262 by the thermistor 27 provided on the surface of the multilayer substrate 263 .

なお、実施形態は上述した構成に限定されない。例えば、上述した例では、1つのアクチュエータ231に対して1つの配線フィルム261及びドライバIC262を設ける構成を説明したがこれに限定されない。例えば、図6に示す他の実施形態のように、液体吐出ヘッド10の基板26は、1つのアクチュエータ231に対して、複数の配線フィルム261及び複数のドライバIC262を設ける構成としてもよい。図6に示す例においては、基板26は、1つのアクチュエータ231に対して、2つの配線フィルム261及び2つのドライバIC262を有する。このような基板26とした場合には、多層基板263に設けられる配線フィルム261の実装領域Bは、配線フィルム261と同数が設けられる。図6の例においては、実装領域Bは、多層基板263の2箇所に設けられる。このように、基板26は、実装領域B、ベタパターン265、スルーホール266及びサーミスタ27を、配線フィルム261と同数設ける構成とすればよい。 In addition, embodiment is not limited to the structure mentioned above. For example, in the above example, a configuration in which one wiring film 261 and driver IC 262 are provided for one actuator 231 has been described, but the present invention is not limited to this. For example, as in another embodiment shown in FIG. 6, the substrate 26 of the liquid ejection head 10 may have a configuration in which a plurality of wiring films 261 and a plurality of driver ICs 262 are provided for one actuator 231 . In the example shown in FIG. 6, the substrate 26 has two wiring films 261 and two driver ICs 262 for one actuator 231 . When such a substrate 26 is used, the mounting regions B for the wiring films 261 provided on the multilayer substrate 263 are provided in the same number as the wiring films 261 . In the example of FIG. 6, the mounting areas B are provided at two locations on the multilayer substrate 263 . In this manner, the substrate 26 may have the same number of mounting areas B, solid patterns 265 , through holes 266 and thermistors 27 as the wiring films 261 .

また、上述した例では、多層基板263は、6層の基板層30を有する構成を説明したがこれに限定されず、2層以上の基板層30を有する構成であればよい。また、上述した例では、ベタパターン265は、第2基板層302に設けられる例を説明したがこれに限定されず、第1基板層301に設けられる構成としてもよい。但し、ドライバIC262の温度を検出するためにベタパターン265が設けられることから、ベタパターン265は、多層基板263に設けられる配線フィルム261の実装領域Bが設けられる最外の基板層30と、該最外の基板層30の1つ下の基板層30との間に設けることが好ましい。 Also, in the above example, the multilayer substrate 263 has a structure having six substrate layers 30 , but is not limited to this, and may have a structure having two or more substrate layers 30 . Also, in the above example, the solid pattern 265 is provided on the second substrate layer 302 , but is not limited to this, and may be provided on the first substrate layer 301 . However, since the solid pattern 265 is provided in order to detect the temperature of the driver IC 262, the solid pattern 265 is formed between the outermost substrate layer 30 in which the mounting region B of the wiring film 261 provided in the multilayer substrate 263 is provided, and the It is preferably provided between the outermost substrate layer 30 and the substrate layer 30 one level below.

また、上述した例では、液体吐出装置1、液体吐出ヘッド10及び基板26は、検査装置、インクジェット記録装置に用いられる例を示したが、これに限られるものではなく、例えば3Dプリンタ、産業用の製造機械、医療用途にも用いることが可能である。また、基板26は、フィルム上に実装される発熱体の温度を検出する構成であれば、種々の装置に用いることができる。 In the above example, the liquid ejection device 1, the liquid ejection head 10, and the substrate 26 are used in an inspection device and an inkjet recording device. It can also be used for manufacturing machines and medical applications. Also, the substrate 26 can be used in various devices as long as it is configured to detect the temperature of a heating element mounted on a film.

以上のように構成された各実施形態に係る基板、液体吐出ヘッド及び液体吐出装置は、スルーホール及びベタパターンが形成された多層基板の表面に設けたサーミスタにより、ドライバICの温度を効率良く検出することができる。 The substrate, the liquid ejection head, and the liquid ejection device according to each embodiment configured as described above efficiently detect the temperature of the driver IC by the thermistor provided on the surface of the multilayer substrate in which the through holes and the solid pattern are formed. can do.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 While several embodiments of the invention have been described, these embodiments have been presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.

1…液体吐出装置、10…液体吐出ヘッド、11…液体供給装置、14…インクタンク、15…管路、16…ポンプ、17…インターフェイス、18…制御基板、21…マニフォールド、22…ノズルプレート、23…アクチュエータ部、24…供給管、25…回収管、26…基板、27…サーミスタ、30…基板層、31…ハーネス、35…プロセッサ、36…メモリ、37…AD変換部、41…第2コネクタ、171…電源、172…表示装置、173…入力装置、231…アクチュエータ、261…配線フィルム、262…ドライバIC(発熱体)、263…多層基板、265…ベタパターン、266…スルーホール、267…第1コネクタ、301…第1基板層(第1層)、302…第2基板層、(第2層)303…第3基板層、304…第4基板層、305…第5基板層、306…第6基板層、B…実装領域。 REFERENCE SIGNS LIST 1 liquid ejection device 10 liquid ejection head 11 liquid supply device 14 ink tank 15 pipeline 16 pump 17 interface 18 control board 21 manifold 22 nozzle plate 23 Actuator section 24 Supply pipe 25 Recovery pipe 26 Substrate 27 Thermistor 30 Substrate layer 31 Harness 35 Processor 36 Memory 37 AD converter 41 Second Connector 171 Power supply 172 Display device 173 Input device 231 Actuator 261 Wiring film 262 Driver IC (heating element) 263 Multilayer substrate 265 Solid pattern 266 Through hole 267 First connector 301 First substrate layer (first layer) 302 Second substrate layer (Second layer) 303 Third substrate layer 304 Fourth substrate layer 305 Fifth substrate layer 306... Sixth substrate layer, B... Mounting area.

Claims (5)

発熱体が実装されるフィルム基板と、
前記フィルム基板が接続され、スルーホールが形成される第1層、及び、前記第1層に積層される第2層を有する多層基板と、
前記第1層及び前記第2層の間に設けられる、金属材料で形成されるベタパターンと、
前記多層基板に設けられ、前記ベタパターンに前記スルーホールを介して接続されるサーミスタと、を備える基板。
a film substrate on which a heating element is mounted;
A multilayer substrate having a first layer to which the film substrate is connected and through holes are formed, and a second layer laminated on the first layer;
A solid pattern formed of a metal material provided between the first layer and the second layer;
a thermistor provided on the multilayer substrate and connected to the solid pattern through the through hole.
前記ベタパターンは、前記第2層に形成される、請求項1に記載の基板。 2. The substrate of claim 1, wherein the solid pattern is formed on the second layer. 前記ベタパターンは、前記第1層に実装された前記フィルム基板の実装領域と同形状であり、前記実装領域と前記第1層及び前記第2層の積層方向に並んで配置される、請求項1又は請求項2に記載の基板。 The solid pattern has the same shape as the mounting area of the film substrate mounted on the first layer, and is arranged side by side with the mounting area in the stacking direction of the first layer and the second layer. A substrate according to claim 1 or claim 2. 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の基板と、
前記基板が接続されるアクチュエータと、
を備える液体吐出ヘッド。
A substrate according to any one of claims 1 to 3;
an actuator to which the substrate is connected;
a liquid ejection head.
請求項4に記載の液体吐出ヘッドと、
前記基板及び前記サーミスタと接続される制御基板と、
を備える、液体吐出装置。
a liquid ejection head according to claim 4;
a control board connected to the board and the thermistor;
A liquid ejection device.
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