JP2023104294A - 故障検出回路及びこれを含む点灯制御回路、並びに車両用灯具 - Google Patents
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Abstract
【課題】蛍光体の故障(例えば、欠損又は寿命)をより早く又はより簡素な回路構成で検出するニーズがある。【解決手段】故障検出回路は、レーザーダイオードLD1から放射されるレーザー光に基づいてレーザー光とは異なる波長の光を生成して放出する蛍光体PS1を抵抗器R1として含み、抵抗器R1の抵抗値の変化に応じてレーザーダイオードLD1を消灯させるための消灯信号を生成可能である。【選択図】図3
Description
本開示は、故障検出回路及びこれを含む点灯制御回路、並びに車両用灯具に関する。
高輝度化又は他の目的のため、半導体レーザー素子と蛍光体を組み合わせて光源とする車両用灯具(例えば、ハイビーム用灯具)が開発されている。半導体レーザー素子から放射されたレーザー光が蛍光体で波長変換されて白色光が放出される。半導体レーザー素子は、一般的に安全性の観点からクラス分けされている。高出力の半導体レーザー素子が採用される場合がある。
特許文献1,2には、波長変換部材の欠損を検出する回路が開示されており、波長変換部材からの放射光を光検出部で検出し、その検出値と閾値を比較する方法が開示されている。なお、特許文献3には、半導体光源のオープン異常を検出する回路が開示されている。
蛍光体の故障(例えば、欠損又は寿命)をより早く又はより簡素な回路構成で検出するニーズがある。
本開示の一態様に係る故障検出回路は、半導体レーザー素子から放射されるレーザー光に基づいて前記レーザー光とは異なる波長の光を生成して放出する蛍光体を抵抗器として含み、前記抵抗器の抵抗値の変化に応じて前記半導体レーザー素子を消灯させるための消灯信号を生成可能である。
幾つかの実施形態においては、故障検出回路は、前記抵抗器を介して入力電圧が電圧降下したサンプリング電圧と参照電圧を比較するように構成され得る。故障検出回路は、前記抵抗器の抵抗値の変化に応じて前記サンプリング電圧が低下して前記参照電圧未満になる時に前記消灯信号を生成可能である。
幾つかの実施形態においては、前記消灯信号は、前記消灯信号に応じて前記半導体レーザー素子を消灯させるスイッチに対して供給される。前記スイッチは、前記半導体レーザー素子に直列接続され得る。
幾つかの実施形態においては、故障検出回路は、前記サンプリング電圧と前記参照電圧を比較する第1比較器と、前記第1比較器の出力電圧を増幅する第1増幅器を含む。
幾つかの実施形態においては、故障検出回路は、前記第1比較器に対して並列に設けられ、前記サンプリング電圧と前記参照電圧を比較する第2比較器と、前記第2比較器の出力電圧を増幅する第2増幅器を更に含む。
幾つかの実施形態においては、前記サンプリング電圧は、前記蛍光体と前記蛍光体に直列に接続されたプルダウン抵抗の間の接点から供給される。
本開示の別態様に係る半導体レーザー素子の点灯制御回路は、半導体レーザー素子と、前記半導体レーザー素子を駆動するための駆動回路と、上述のいずれかの故障検出回路と、前記半導体レーザー素子に直列接続されたスイッチを含む。前記故障検出回路は、前記スイッチに対して前記消灯信号としてターンオフ信号を供給し得る。前記スイッチは、MOSFETであり得る。
本開示の更なる別態様に係る故障検出回路は、半導体レーザー素子から放射されるレーザー光に基づいて前記レーザー光とは異なる波長の光を生成して放出する蛍光体のための故障検出回路であって、前記故障検出回路に抵抗器として組み込まれた蛍光体と、前記抵抗器を介して入力電圧が電圧降下したサンプリング電圧と参照電圧を比較し、この比較に基づいて消灯信号を生成する消灯信号生成回路を含む。消灯信号生成回路は、前記抵抗器の抵抗値の変化に応じて前記サンプリング電圧が低下して前記参照電圧未満になる時に前記消灯信号を生成可能であり得る。
上述の故障検出回路(又は上述の点灯制御回路)を含む車両用灯具も開示されている。
本開示の一態様によれば、蛍光体の故障(例えば、欠損又は寿命)をより早く又はより簡素な回路構成で検出することが促進される。
以下、図面を参照しつつ、本発明の非限定の実施形態及び特徴について説明する。当業者は、過剰説明を要せず、各実施形態及び/又は各特徴を組み合わせることができ、この組み合わせによる相乗効果も理解可能である。実施形態間の重複説明は、原則的に省略する。参照図面は、発明の記述を主たる目的とするものであり、作図の便宜のために簡略化されている。各特徴は、本明細書に開示された故障検出回路のみに有効であるものではなく、本明細書に開示されていない他の様々な故障検出回路にも通用する普遍的な特徴として理解される。
図1に示すように、車両1には左右の前照灯2,3が設けられる。前照灯2,3は、ロービーム及びハイビームを投射可能であり、またターン信号に応じて点滅するターンランプを含む(更に他の種類のランプも含むこともできる)。前照灯2,3の構成について本分野において公知であり詳細な説明は省略する。
図2に示す光源モジュール4は、図1に示した前照灯2,3(例えば、ハイビーム用灯具)といった車両用灯具に内蔵され得る。図2に示すように、光源モジュール4は、(例えば、セラミックス製の)耐熱性パッケージ41、配線基板42、蛍光体PS1を保持する蛍光体ホルダー43、遮光性樹脂44、コンタクトC1~C4(図3参照)、レーザーダイオード(半導体レーザー素子)LD1、ダイ51、及びリフレクタ52を含む。配線基板42は、プリントパターンといった配線W1,W2が一面に形成された透明部材であり、これらの配線W1,W2の間に蛍光体PS1が(例えば、導電性樹脂を用いて)電気的に接続されている。配線W1とコンタクトC1がワイヤーボンドを介して電気的に接続され、配線W2とコンタクトC2がワイヤーボンドを介して電気的に接続され、従って、コンタクトC1,C2の間に蛍光体PS1が電気的に接続される。レーザーダイオードLD1も同様、周知の方法(ワイヤーボンド又はバンプ接続)によってコンタクトC3,C4の間に電気的に接続される。
図3に示す駆動回路6は、車両1又は前照灯2,3のECU(Electronic Control Unit)から受信した点灯指令に応じてレーザーダイオードLD1に所定の電流(例えば、目標電流値まで漸増する電流)を供給し、これによりレーザーダイオードLD1が発振してレーザー光が放射される。なお、光源モジュール4のコンタクトC3とコンタクトC4が、各々、駆動回路6の電流出力端子と電流帰端子に接続される。従って、レーザーダイオードLD1がこれらの端子間に接続される。
レーザーダイオードLD1から放射されたレーザー光は、リフレクタ52により反射されて蛍光体PS1に入射する。蛍光体PS1は、レーザー光を吸収してレーザー光とは異なる波長の光を生成して放出する。蛍光体PS1に複数種類の蛍光物質を含めることにより白色光を生成することができる。
本実施形態においては、蛍光体PS1が抵抗器として故障検出回路に組み込まれ、この抵抗器の抵抗値の変化に応じてレーザーダイオードを消灯させるための消灯信号を生成可能である。これにより蛍光体PS1からの放出光をフォトダイオードで受光することなく蛍光体PS1の故障を検出することができる。勿論、本開示の故障検出方法は、フォトダイオードによる光検出に基づく故障検出と併用可能である。
図3に示す形態では、光源モジュール4のコンタクトC1に入力電圧Vinが供給される。入力電圧Vinは、蛍光体PS1を介して電圧降下し、サンプリング電圧VAとしてコンタクトC2を介して消灯信号生成回路7に入力する。消灯信号生成回路7は、サンプリング電圧VAの変化に基づいて蛍光体PS1の故障を検出して消灯信号を生成することができる。消灯信号生成回路7からレーザーダイオードLD1に直列に接続されたスイッチSWに消灯信号が供給されて、スイッチSWがオン状態からオフ状態に切り替えられる。このようにして迅速かつ簡素な回路構成で蛍光体の故障を検出してレーザーダイオードLD1を消灯させることができる。
図4は、点灯制御回路の模範例を示す。図4に示すように、駆動回路6の電流出力端子と電流帰端子間にレーザーダイオードLD1とスイッチSWが直列接続される。スイッチSWは、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)であり、蛍光体PS1の故障が検出されない限り、オン状態にセットされる。即ち、蛍光体PS1の故障が検出されない限り、レーザーダイオードLD1が駆動回路6により専ら制御される。後述の説明から分かるように、蛍光体PS1の故障が検出されると、駆動回路6の動作状態に関わらずスイッチSWがオフ状態にセットされ、レーザーダイオードLD1が強制的に消灯する。なお、スイッチSWは、レーザーダイオードLD1のカソードと駆動回路6の間に接続される。
蛍光体PS1の抵抗器R1とプルダウン抵抗器R2が電圧入力端子(入力電圧Vin)とグランドの間で直列接続される。蛍光体PS1が故障して抵抗器R1がオープンにならない限り、抵抗器R1とプルダウン抵抗器R2は、入力電圧Vinのために分圧回路を形成する。消灯信号生成回路7は、抵抗器R1を介して入力電圧が電圧降下したサンプリング電圧VAと参照電圧Vrefを比較する。消灯信号生成回路7は、抵抗器R1の抵抗値の変化に応じてサンプリング電圧VAが低下して参照電圧Vref未満になる時に消灯信号を生成する。サンプリング電圧VAは、蛍光体PS1と蛍光体PS1に直列に接続されたプルダウン抵抗器R2の間の接点から供給され得る。
有利には、消灯信号生成回路7は、比較器COM1と増幅器BUF1を含む。比較器COM1は、サンプリング電圧VAと参照電圧Vrefを比較し、サンプリング電圧VAが参照電圧Vref未満になる時、その出力値をHレベルからLレベルに切り替える。増幅器BUF1は、比較器COM1の出力電圧を増幅し、(MOSFETのゲート寄生容量に関わらず)スイッチSWのターンオフへの円滑な切換を可能にする。比較器COM1のHレベルの出力電圧がスイッチSWのオンオフ間の切換に十分であれば増幅器BUF1を省略可能である。なお、参照電圧Vrefは、一定又は可変とすることができる。参照電圧Vrefは、例えば、灯具の正の電源電圧を分圧して生成することもできるし、又は、コンデンサーを用いて生成することもでき、又は、灯具内の他の回路の接点から流用することができる。
図5を参照して説明する。図5(a)に示すように、時刻t1において蛍光体PS1が故障し、抵抗器R1がオープンになる(即ち、抵抗値がかなり大きくなる)と、プルダウン抵抗器R2を介した放電に伴ってサンプリング電圧VAが徐々に低下し、時刻t2において参照電圧Vref未満になる。図5(b)に示すように、時刻t2において、比較器COM1の出力反転が開始し、即ち、その出力電圧VBがHレベルからLレベルに推移する。時刻t3において増幅器BUF1がHレベルからLレベルに変化する閾値電圧未満まで出力電圧VBが低下する。図5(c)に示すように、増幅器BUF1の出力電圧VCは、時刻t3から低下を開始し、時刻t4においてスイッチSW(MOSFET)のターンオン閾値電圧VTH未満となり(即ち、増幅器BUF1から消灯(ターンオフ)信号が出力され)、スイッチSWがオフ状態になる。図5(d)に示すように、時刻t4からレーザーダイオードLD1に流れる電流IDが漸減し、時刻t5においてゼロになる。このようにして蛍光体PS1(抵抗器R1)の抵抗値の変化に応じてレーザーダイオードLD1を強制的に消灯させることができる。時刻t1から時刻t5まで僅かな時間遅延があるものの、これは、許容範囲内である。参照電圧Vrefは、蛍光体PS1が故障していない時の定常のサンプリング電圧VAの60%~90%(好適には、70%~80%)の範囲内に設定することができる。
図6の消灯信号生成回路7’に示すように、比較器COM1と増幅器BUF1の直列回路に対して比較器COM2と増幅器BUF2の直列回路を並列に接続することができる。比較器COM2と増幅器BUF2は、比較器COM1と増幅器BUF1のバックアップとして機能し、故障検出回路をより堅牢にすることができる。比較器COM1,COM2の一方の出力が図5(a)に示したように反転すると、スイッチSWがオン状態からオフ状態に切り替えられる(即ち、この結果が得られるように、比較器COM1,COM2と増幅器BUF1,BUF2の出力が調整され得る)。従って、比較器COM1,COM2の一方が上手く作動しないとしても、レーザーダイオードLD1をより確実に消灯させることができる(増幅器についても同様である)。
上述の開示を踏まえ、当業者は、各実施形態及び各特徴に対して様々な変更を加えることができる。比較器を用いることなく消灯信号生成回路を構成することも可能である。レーザーダイオードLD1に直列接続されるスイッチSWを駆動回路の内部に設けることもできる。故障検出回路と駆動回路をモノリシックチップに組み込むこともできる。レーザーダイオードの個数は一つに限られない。蛍光体の数は一つに限られない。
LD1 :レーザーダイオード(半導体レーザー素子)
PS1 :蛍光体
R1 :抵抗器
PS1 :蛍光体
R1 :抵抗器
Claims (11)
- 半導体レーザー素子から放射されるレーザー光に基づいて前記レーザー光とは異なる波長の光を生成して放出する蛍光体を抵抗器として含み、前記抵抗器の抵抗値の変化に応じて前記半導体レーザー素子を消灯させるための消灯信号を生成可能である、故障検出回路。
- 前記抵抗器を介して入力電圧が電圧降下したサンプリング電圧と参照電圧を比較するように構成され、前記抵抗器の抵抗値の変化に応じて前記サンプリング電圧が低下して前記参照電圧未満になる時に前記消灯信号を生成可能である、請求項1に記載の故障検出回路。
- 前記消灯信号は、前記消灯信号に応じて前記半導体レーザー素子を消灯させるスイッチに対して供給される、請求項2に記載の故障検出回路。
- 前記スイッチは、前記半導体レーザー素子に直列接続される、請求項3に記載の故障検出回路。
- 前記サンプリング電圧と前記参照電圧を比較する第1比較器と、
前記第1比較器の出力電圧を増幅する第1増幅器を含む、請求項2乃至4のいずれか一項に記載の故障検出回路。 - 前記第1比較器に対して並列に設けられ、前記サンプリング電圧と前記参照電圧を比較する第2比較器と、
前記第2比較器の出力電圧を増幅する第2増幅器を更に含む、請求項5に記載の故障検出回路。 - 前記サンプリング電圧は、前記蛍光体と前記蛍光体に直列に接続されたプルダウン抵抗器の間の接点から供給される、請求項2乃至6のいずれか一項に記載の故障検出回路。
- 半導体レーザー素子と、
前記半導体レーザー素子を駆動するための駆動回路と、
請求項1乃至7のいずれか一項に記載の故障検出回路と、
前記半導体レーザー素子に直列接続されたスイッチを備え、
前記故障検出回路は、前記スイッチに対して前記消灯信号としてターンオフ信号を供給する、半導体レーザー素子の点灯制御回路。 - 前記スイッチは、MOSFETである、請求項8に記載の点灯制御回路。
- 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の故障検出回路を含む車両用灯具。
- 半導体レーザー素子から放射されるレーザー光に基づいて前記レーザー光とは異なる波長の光を生成して放出する蛍光体のための故障検出回路であって、
前記故障検出回路に抵抗器として組み込まれた蛍光体と、
前記抵抗器を介して入力電圧が電圧降下したサンプリング電圧と参照電圧を比較し、この比較に基づいて消灯信号を生成する消灯信号生成回路を含む、故障検出回路。
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