JP2023037328A - センサモジュール、およびセンサモジュールを備える表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】近接する入力手段の位置を正確に特定することが可能な非接触式センサ、および当該非接触式センサを備える表示装置を提供すること。【解決手段】センサモジュールは、センサ基板、複数のセンサ電極、および複数のセンサ配線を備える。センサ基板は、センサ領域とセンサ領域を囲むセンサ額縁領域を有する。複数のセンサ電極は、センサ領域上に位置し、複数の行と複数の列に配列される。複数のセンサ配線は、複数のセンサ電極にそれぞれ対応し、それぞれ対応するセンサ電極と電気的に接続され、センサ額縁領域上にそれぞれ端子を有する。複数の端子は、センサ領域の一辺側に配列される。各列において、センサ電極に接続されるセンサ配線の少なくとも一つは、抵抗調整部を有する。抵抗調整部を有するセンサ配線において、抵抗調整部は、他の部分よりも抵抗が高い。【選択図】図7
Description
本発明の実施形態の一つは、センサモジュール、およびセンサモジュールを備える表示装置に関する。例えば、本発明の実施形態の一つは、非接触式センサモジュール、および非接触式センサモジュールを備える表示装置に関する。
情報端末に情報を入力するためのインターフェースの一つとして、タッチセンサが広く用いられている。現在主流のタッチセンサは、人の指や手がタッチセンサに直接接触した位置を特定する。これに対し、近年、人の指や掌、あるいはタッチペンなどの入力用治具(以下、これらを入力手段とも記す。)をタッチセンサに接触させず、タッチセンサの近傍に位置させるだけで情報入力が可能な非接触式センサ(ホバーセンサ)が開発されている(特許文献1から3参照。)。
本発明の実施形態の一つは、新しい構造を有する非接触式センサ、および当該非接触式センサを備える表示装置を提供することを課題の一つとする。あるいは、本発明の実施形態の一つは、近接する入力手段の位置を正確に特定することが可能な非接触式センサ、および当該非接触式センサを備える表示装置を提供することを課題の一つとする。
本発明の実施形態の一つは、センサモジュールである。このセンサモジュールは、センサ基板、複数のセンサ電極、および複数のセンサ配線を備える。センサ基板は、センサ領域とセンサ領域を囲むセンサ額縁領域を有する。複数のセンサ電極は、センサ領域上に位置し、複数の行と複数の列に配列される。複数のセンサ配線は、複数のセンサ電極にそれぞれ対応し、それぞれ対応するセンサ電極と電気的に接続され、センサ額縁領域上にそれぞれ端子を有する。複数の端子は、センサ領域の一辺側に配列される。各列において、センサ電極に接続されるセンサ配線の少なくとも一つは、抵抗調整部を有する。抵抗調整部を有するセンサ配線において、抵抗調整部は、他の部分よりも抵抗が高い。
本発明の実施形態の一つは、センサモジュールである。このセンサモジュールは、センサ基板、複数のセンサ電極、および複数のセンサ配線を備える。センサ基板は、センサ領域とセンサ領域を囲むセンサ額縁領域を有する。複数のセンサ電極は、センサ領域上に位置し、複数の行と複数の列に配列される。複数のセンサ配線は、複数のセンサ電極にそれぞれ対応し、それぞれ対応するセンサ電極と電気的に接続され、センサ額縁領域上にそれぞれ端子を有する。複数の端子は、センサ領域の一辺側に配列される。各列において、複数のセンサ電極の少なくとも一つは、少なくとも一つの切り欠きを有する。
本発明の実施形態の一つは、表示装置である。この表示装置は、複数の画素を有するアレイ基板を含む表示モジュール、および表示モジュール上のセンサモジュールを備える。センサモジュールは、センサ基板、複数のセンサ電極および複数のセンサ配線を備える。センサ基板は、センサ領域とセンサ領域を囲むセンサ額縁領域を有する。複数のセンサ電極は、センサ領域上に位置し、複数の行と複数の列に配列される。複数のセンサ配線は、複数のセンサ電極にそれぞれ対応し、それぞれ対応するセンサ電極と電気的に接続され、センサ額縁領域上にそれぞれ端子を有する。複数の端子は、センサ領域の一辺側に配列される。各列において、センサ電極に接続されるセンサ配線の少なくとも一つは、抵抗調整部を有する。抵抗調整部を有するセンサ配線において、抵抗調整部は、他の部分よりも抵抗が高い。
本発明の実施形態の一つは、表示装置である。この表示装置は、複数の画素を有するアレイ基板を含む表示モジュール、および表示モジュール上のセンサモジュールを備える。センサモジュールは、センサ基板、複数のセンサ電極、および複数のセンサ配線を備える。センサ基板は、センサ領域とセンサ領域を囲むセンサ額縁領域を有する。複数のセンサ電極は、センサ領域上に位置し、複数の行と複数の列に配列される。複数のセンサ配線は、複数のセンサ電極にそれぞれ対応し、それぞれ対応するセンサ電極と電気的に接続され、センサ額縁領域上にそれぞれ端子を有する。複数の端子は、センサ領域の一辺側に配列される。各列において、複数のセンサ電極の少なくとも一つは、少なくとも一つの切り欠きを有する。
以下、本発明の各実施形態について、図面などを参照しつつ説明する。ただし、本発明は、その要旨を逸脱しない範囲において様々な態様で実施することができ、以下に例示する実施形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
図面は、説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状などについて模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。本明細書と各図において、既出の図に関して説明したものと同様の機能を備えた要素には、同一の符号を付して、重複する説明を省略することがある。同一、あるいは類似する複数の構造を総じて表す際にはこの符号が用いられ、これらを個々に表す際には符号の後にハイフンと自然数が加えられる。また、一つの構造の一部を示す際には、符号の後に小文字のアルファベットを付すことがある。
本明細書および請求項において、ある構造体の上に他の構造体を配置する態様を表現するにあたり、単に「上に」と表記する場合、特に断りの無い限りは、ある構造体に接するように、直上に他の構造体を配置する場合と、ある構造体の上方に、さらに別の構造体を介して他の構造体を配置する場合との両方を含むものとする。
本明細書および請求項において、「ある構造体が他の構造体から露出する」という表現は、ある構造体の一部が他の構造体によって覆われていない態様を意味し、この他の構造体によって覆われていない部分は、さらに別の構造体によって覆われる態様も含む。また、この表現で表される態様は、ある構造体が他の構造体と接していない態様も含む。
本発明の実施形態において、複数の膜が同一の工程で同時に形成された場合、これらの膜は同一の層構造、同一の材料、同一の組成を有する。したがって、これら複数の膜は同一層内に存在しているものと定義する。
以下、本発明の実施形態の一つであるセンサモジュール200、およびセンサモジュール200を備える表示装置100の構造について説明する。
1.全体構造
表示装置100の模式的展開斜視図を図1に示す。表示装置100は、表示モジュール110、および表示モジュール110の上に配置されるセンサモジュール200を含む。表示モジュール110とセンサモジュール200は、図1では示されない接着層によって互いに固定される。
表示装置100の模式的展開斜視図を図1に示す。表示装置100は、表示モジュール110、および表示モジュール110の上に配置されるセンサモジュール200を含む。表示モジュール110とセンサモジュール200は、図1では示されない接着層によって互いに固定される。
2.表示モジュール
表示モジュール110は、映像を表示する機能を有するデバイスであり、アレイ基板112、アレイ基板112上に形成される複数の画素116、アレイ基板112上の対向基板114を基本的な構成として備える。複数の画素116を囲む矩形の最小領域は表示領域120と呼ばれる。各画素116は表示素子を備えており、色情報を提供する最小単位として機能する。表示素子としては、液晶素子をはじめ、有機電界発光素子(OLED)に例示される電界発光素子などを用いることができる。液晶素子を用いる場合には、表示モジュール110には、図示しない光源(バックライト)がさらに設けられる。各画素116は、フレキシブル印刷回路(FPC)基板などのコネクタ118を介して供給される電源と映像信号に従って動作し、映像信号に基づく階調で特定の色の光を提供する。画素116の動作を映像信号に基づいて制御することで、表示領域120上に映像を表示することができる。
表示モジュール110は、映像を表示する機能を有するデバイスであり、アレイ基板112、アレイ基板112上に形成される複数の画素116、アレイ基板112上の対向基板114を基本的な構成として備える。複数の画素116を囲む矩形の最小領域は表示領域120と呼ばれる。各画素116は表示素子を備えており、色情報を提供する最小単位として機能する。表示素子としては、液晶素子をはじめ、有機電界発光素子(OLED)に例示される電界発光素子などを用いることができる。液晶素子を用いる場合には、表示モジュール110には、図示しない光源(バックライト)がさらに設けられる。各画素116は、フレキシブル印刷回路(FPC)基板などのコネクタ118を介して供給される電源と映像信号に従って動作し、映像信号に基づく階調で特定の色の光を提供する。画素116の動作を映像信号に基づいて制御することで、表示領域120上に映像を表示することができる。
表示モジュール110の大きさには制約はなく、例えば12.1インチ(31cm)サイズと呼ばれる携帯通信端末などに利用される大きさでもよく、コンピュータに接続されるモニタやテレビ、サイネージなどに好適な大きさ(例えば、14.1インチ(36cm)サイズから32インチ(81cm)サイズ)でもよく、さらに大きなサイズであってもよい。
3.センサモジュール
3-1.全体構成
センサモジュール200は、表示モジュール110からの光を透過させるとともに、表示装置100に情報を入力するためのインターフェースとして機能するデバイスである。センサモジュール200は所謂非接触式センサモジュールであり、指や掌、先端に樹脂が配置されたタッチペンなどの入力手段がセンサモジュール200に接触したときのみならず、入力手段がセンサモジュール200に接することなく近傍(例えば、センサモジュール200の最外表面から5mm以内、10mm以内、または20mm以内の範囲)に配置された際にも入力手段を検出し、センサモジュール200上における入力手段の位置を特定する機能を備える。
3-1.全体構成
センサモジュール200は、表示モジュール110からの光を透過させるとともに、表示装置100に情報を入力するためのインターフェースとして機能するデバイスである。センサモジュール200は所謂非接触式センサモジュールであり、指や掌、先端に樹脂が配置されたタッチペンなどの入力手段がセンサモジュール200に接触したときのみならず、入力手段がセンサモジュール200に接することなく近傍(例えば、センサモジュール200の最外表面から5mm以内、10mm以内、または20mm以内の範囲)に配置された際にも入力手段を検出し、センサモジュール200上における入力手段の位置を特定する機能を備える。
具体的には、図1や模式的上面図(図2)に示すように、センサモジュール200は、センサ基板202とセンサ基板202に対向するカバー基板204を備え、センサ基板202とカバー基板204の間に複数のセンサ電極206が設けられる。複数のセンサ電極206は複数の行と複数の列に配置される。図2に示された例では、4行6列のマトリクス状に配置された24のセンサ電極206がセンサモジュール200に設けられている。センサ電極206の数や大きさは、表示装置100の大きさ、センサモジュール200に要求される検出精度などに応じて適宜設定すればよい。ここで、全てのセンサ電極206を囲む矩形の最小領域をセンサ領域210と呼び、センサ領域210を囲む領域をセンサ額縁領域と呼ぶ。
センサ基板202とカバー基板204は、表示モジュール110によって表示される映像を視認させるため、可視光を透過する材料で構成される。このため、センサ基板202とカバー基板204は、ガラスや石英、ポリイミドやポリアミド、ポリカーボネートなどの高分子材料などで構成される。
センサ電極206の各々は、複数の画素116と重なり、少なくも表示領域120の一部と重なるように配置される。例えば図2に示すように、鎖線で示されるセンサ領域210が表示領域120の全てと重なるようにセンサ電極206が配置される。図示しないが、センサ領域210と表示領域120は同一の形状を有してもよい。あるいは、センサ領域210は表示領域120よりも小さくてもよい。この場合には、センサ領域210の全体が表示領域120と重なるようにセンサ電極206が配置される。
センサ電極206は、例えばインジウム-スズ酸化物(ITO)やインジウム-亜鉛酸化物(IZO)などの可視光を透過する導電性酸化物、あるいは、モリブデンやタングステン、タンタル、アルミニウム、銅などの金属(0価の金属)を含む。センサ電極206は、単層構造を有してもよく、積層構造を有してもよい。例えば、センサ電極206は、導電性酸化物を含む層と金属を含む層が積層した構造を備えてもよい。後述するように、各センサ電極206には、それぞれセンサ配線が設けられる。すなわち、複数のセンサ電極206にそれぞれ対応する複数のセンサ配線がセンサ基板202上に設けられる。各センサ配線は、センサ基板202上で露出して端子208aを形成する。
端子208aにはFPC基板などの第1のコネクタ218が電気的に接続され、第1のコネクタ218は図示しない外部回路に接続される。第1のコネクタ218には、電源回路220、検出器222、演算素子224、インターフェース226などを配置することができる。電源回路220は、外部回路から供給される電源をパルス状の交流電圧に変換し、この交流電圧を端子208aとセンサ配線を介して各センサ電極206に供給する。検出器222はアナログフロントエンド(AFE:Analog Front End)とも呼ばれ、センサ電極206の容量の変化を電位変動として検出し、この電位変動をデジタル化して検出信号に変換する。演算素子224には検出器222によって生成された検出信号が入力され、この検出信号に基づき、演算素子224によって入力手段の位置を表す座標が生成される。検出器222と演算素子224は、一つの集積回路(IC)チップとして構成してもよい。インターフェース226は外部回路との接続に用いられ、ユニバーサル・シリアル・バス(USB)やシリアル・ペリフェラル・インタフェース(SPI)などの規格に基づいて構成される。
3-2.各構成の配置
図3にセンサモジュール200の一部の模式的拡大上面図を示す。この図に示すように、各センサ電極206には、対応するセンサ配線208が設けられる。すなわち、センサモジュール200にはセンサ電極206と同数のセンサ配線208が設けられ、一つのセンサ配線208は一つのセンサ電極206と電気的に接続される。これにより、センサ電極206が端子208aと電気的に接続される。また、各センサ配線208は、対応するセンサ電極206を、他のセンサ電極206を介することなく、対応する端子208aに接続する。換言すると、一つのセンサ配線208は、複数のセンサ電極206とは接続されず、同様に、一つのセンサ電極206は、複数のセンサ配線208と接続されない。図3に示される例では、センサ配線208-1から224-4がそれぞれセンサ電極206-1から206-4に対応し、電気的に接続される。
図3にセンサモジュール200の一部の模式的拡大上面図を示す。この図に示すように、各センサ電極206には、対応するセンサ配線208が設けられる。すなわち、センサモジュール200にはセンサ電極206と同数のセンサ配線208が設けられ、一つのセンサ配線208は一つのセンサ電極206と電気的に接続される。これにより、センサ電極206が端子208aと電気的に接続される。また、各センサ配線208は、対応するセンサ電極206を、他のセンサ電極206を介することなく、対応する端子208aに接続する。換言すると、一つのセンサ配線208は、複数のセンサ電極206とは接続されず、同様に、一つのセンサ電極206は、複数のセンサ配線208と接続されない。図3に示される例では、センサ配線208-1から224-4がそれぞれセンサ電極206-1から206-4に対応し、電気的に接続される。
上述したように、センサ電極206にはセンサ配線208を介して同相のパルス状交流電圧が印加される。入力手段がセンサ電極206に近づくと、入力手段とセンサ電極206の間に仮想的な容量素子が形成され、その結果、各センサ電極206の電位が変動する。この電位変動は検出器222によって検出されてデジタル変換され、演算素子224において、電位の変動量と各センサ電極206の位置(座標)に基づいて入力手段が近接した位置の座標が特定される。このように、センサモジュール200は、静電容量式(自己容量式)の非接触センサ(ホバーセンサ)として機能する。
任意の構成として、センサモジュールにシールド配線238を配置してもよい。具体的には、図3に示すように、全体として列方向に延伸し、複数の行を貫通する一つまたは複数のシールド配線238をセンサモジュール200に配置してもよい。各シールド配線238は、センサ電極206から離隔する。複数のシールド配線238を設ける場合には、例えば、列の数と同数のシールド配線238を、各行においてセンサ電極206とシールド配線238が交互するように配置してもよい。各シールド配線238は、それぞれセンサ基板202の端部付近で露出してセンサ額縁領域に端子238aを形成する。端子238aは、センサ配線208の端子208aが配置される、センサ領域210の一辺側に形成される。この端子238aを介し、電源回路220からセンサ電極206と同相のパルス状交流電圧がシールド配線238に印加される。シールド配線238は入力手段の座標決定に寄与する必要は無いため、シールド配線238は検出器222に接続されなくてもよい。シールド配線238を配置することにより、センサ配線208と隣接する列に配置されるセンサ電極206との間にシールド配線238が存在することになり、隣接する列のセンサ電極206の電位変動の影響を低減することができる。その結果、入力手段の座標をより正確に特定することができる。
図4(A)に図3の鎖線A-A´に沿った端面の模式図を示す。図4(A)には、表示モジュール110の対向基板114も示されている。図4(A)に示すように、表示モジュール110とセンサモジュール200は可視光を透過する接着層102によって互いに固定される。なお、表示モジュール110が液晶表示装置の場合には、対向基板114の上に偏光板などが設けられる。
任意の構成として、センサ基板202と対向基板114の間には、表示モジュール110からの電気的な影響を遮蔽するためのノイズシールド層230を設けてもよい。ノイズシールド層230は、接着層102の上に設けてもよく、接着層102の下に設けてもよい。ノイズシールド層230は、導電性を有するITOやIZOなどの透光性酸化物、あるいは金属を含む。後者の場合には、可視光の透過を許容するよう、複数の開口を有するメッシュ状の金属膜をノイズシールド層230として用いればよい。ノイズシールド層230は、複数のセンサ電極206と重なるように設けられる。ノイズシールド層230には、FPC基板などの第2のコネクタ216が電気的に接続され(図1参照。)、センサ電極206に印加される電位と同相のパルス状交流電圧が印加される。このため、ノイズシールド層230はセンサ電極206と常時等電位となる。
センサ基板202上には、直接、または図示しない絶縁性のアンダーコートを介してセンサ配線208やシールド配線238が設けられ、これらの上にセンサ電極206が配置される。この時、センサ電極206はセンサ配線208の上に直接設けてもよく、あるいは図4(A)に示すように、酸化ケイ素や窒化ケイ素などのケイ素含有無機化合物などを含む層間絶縁膜232を介して配置してもよい。後者の場合には、層間絶縁膜232に設けられる開口を介してセンサ電極206とセンサ配線208が互いに電気的に接続される。なお、センサ電極206とセンサ配線208の上下関係に制約はなく、図4(B)に示すように、センサ電極206の上にセンサ配線208を配置してもよい。また、シールド配線238はセンサ配線208と同一の層に存在してもよく、図示しないが、センサ電極206と同一の層に位置してもよい。
あるいは、図5に示すように、センサ電極206やセンサ配線208、シールド配線238は、これらが同一の層内に存在するように設けてもよい。すなわち、同一の組成を有するセンサ電極206とセンサ配線208を同時に同一の工程で形成してもよい。この場合には、抵抗の増大を防ぐため、センサ電極206やセンサ配線208は金属を含むことが好ましく、例えば導電性を有する透光性酸化物を含む膜と金属を含む膜の積層構造を有してもよい。
センサ電極206が金属を含む場合、表示モジュール110によって表示される映像への影響を防ぐため、センサ電極206をメッシュ状に形成することが好ましい。センサ電極206が導電性を有する透光性酸化物を含む膜と金属を含む膜の積層構造を有する場合には、両方の膜または後者の膜をメッシュ状に形成すればよい。具体的には、図5の一部の拡大図である図6に示すように、フレーム206cによって形成される複数の開口206bを有し、開口206bを通して映像を視認できるように各センサ電極206をメッシュ状に構成する。これにより、センサ電極206に十分な導電性を確保しつつ、表示モジュール110からの映像を視認することができる。さらに、図6に示すように、センサ配線208もメッシュ形状を有するように構成してもよい。センサ電極206とセンサ配線208のメッシュパターンは同一または実質的に同一であることが好ましい。すなわち、センサ電極206のメッシュを構成するフレーム206cの幅はセンサ配線208のメッシュ形状を構成するフレーム208eの幅と同一または実質的に同一であることが好ましい。同様に、センサ電極206のメッシュの開口206bの形状、大きさ、およびピッチは、センサ配線208のメッシュの開口208fの形状、大きさ、およびピッチとそれぞれ同一または実質的に同一であることが好ましい。同様に、シールド配線238もセンサ電極206やセンサ配線208と同様のメッシュ状の形状を有するように構成してもよい。センサ配線208やシールド配線238にセンサ電極206と同様のメッシュ形状を付与することで、モアレの発生を防ぐことができる。
さらに、図6に示すように、隣接するセンサ電極206の間やセンサ電極206とセンサ配線208の間、センサ電極206とシールド配線238の間にも、センサ電極206とセンサ配線208と同一の層に存在する複数のダミー電極209を配置することが好ましい。複数のダミー電極209は互いに接続されず、センサ電極206やセンサ配線208、シールド配線238からも電気的に絶縁され、電気的にフローティング状態を取る。複数のダミー電極209は、フレーム206cやフレーム208eと同一または実質的に同一の幅を有し、各ダミー電極209の少なくとも一部が延伸する方向は、フレーム206cの一部とフレーム208eの一部と平行であることが好ましい。また、複数のダミー電極209のピッチは、開口206bや208fのピッチと同一または実質的に同一であることが好ましい。このような構成を採用することで、センサ電極206やセンサ配線208が形成される層では、センサ領域210の全体に亘ってほぼ均一な光学特性を得ることができるので、モアレの発生を効果的に防止することができる。なお、図6では、センサ電極206とセンサ配線208、シールド配線238、ダミー電極209に付されたハッチングは互いに異なるが、これらは同一の組成を有し、同一の層構造を有することができる。また、図6に示すダミー電極209は屈曲して所謂「へ」の字状を呈しているが、ダミー電極209を屈曲部にてさらに分断してもよい。また、このような形状に留まらず、ダミー電極209を形成する直線状細線をその中途部にて分断する構成を採用することも可能である。
図3、図4(A)、および図4(B)から理解されるように、各センサ配線208は、少なくとも当該センサ配線208に接続されるセンサ電極206を除く全てのセンサ電極206と重ならないように配置される。換言すると、各センサ配線208は、少なくとも当該センサ配線208に接続されるセンサ電極206を除く全てのセンサ電極206から完全に露出するように配置される。あるいは、図3と図5から理解されるように、各センサ配線208は、当該センサ配線208に接続されるセンサ電極206を含む全てのセンサ電極206と重ならないように配置される。換言すると、各センサ配線208は、当該センサ配線208に接続されるセンサ電極206を含む全てのセンサ電極206から完全に露出するように配置される。このようにセンサ電極206とセンサ配線208を構成、配置することで、センサ配線208とセンサ電極206の間の容量(寄生容量)形成を防ぐことができる。このため、センサ電極206-1に入力手段が近づいてセンサ配線208-1の電位が変動しても、この電位変動は他のセンサ電極206に影響を与えない。その結果、センサ電極206-1の検出信号が他のセンサ電極206に分散されず、入力手段の検出位置(座標)を正確に特定することができる。
センサ配線208とセンサ電極206上には、任意の構成として保護膜234を設けてもよい(図4(A)から図5参照。)。保護膜234は単層または積層構造を有し、ケイ素含有無機化合物やエポキシ樹脂やアクリル樹脂、シリコーン樹脂などの樹脂を含む膜で構成される。図4(A)から図5では、無機化合物を含む第1の保護膜234-1と樹脂を含む第2の保護膜234-2が積層された保護膜234が例示されている。第1の保護膜234-1と第2の保護膜234-2の積層順に制約はなく、第2の保護膜234-2上に第1の保護膜234-1を積層してもよい。樹脂を含む第1の保護膜234-1は、平坦化膜としても機能する。保護膜234の上には、可視光を透過する接着層236を介してカバー基板204が固定される。
3-3.抵抗調整
(1)センサ配線による抵抗調整
上述したように、センサ配線208の端子208aは、第1のコネクタ218と接続されるため、センサ額縁領域上に、センサ領域210の一辺側に配列するように設けられる(図2、図3参照。)。このため、センサ電極206から端子208aまでの距離は、センサ電極206の位置に依存して変化する。より具体的には、一つの列に注目すると、端子208aから最も遠いセンサ電極206-1に接続されるセンサ配線208-1が最も長く、端子208aに最も近いセンサ電極206-4に接続されるセンサ配線208-4が最も短い。このため、各列では、行ごとにセンサ配線208の抵抗が変化し、その結果、センサとして機能するセンサ電極206の時定数が行(すなわち、端子208aとセンサ電極206間の距離。以下、同様。)によって変化し、入力手段に対する検出感度が行または端子208aとセンサ電極206間の距離に依存して変化する。
(1)センサ配線による抵抗調整
上述したように、センサ配線208の端子208aは、第1のコネクタ218と接続されるため、センサ額縁領域上に、センサ領域210の一辺側に配列するように設けられる(図2、図3参照。)。このため、センサ電極206から端子208aまでの距離は、センサ電極206の位置に依存して変化する。より具体的には、一つの列に注目すると、端子208aから最も遠いセンサ電極206-1に接続されるセンサ配線208-1が最も長く、端子208aに最も近いセンサ電極206-4に接続されるセンサ配線208-4が最も短い。このため、各列では、行ごとにセンサ配線208の抵抗が変化し、その結果、センサとして機能するセンサ電極206の時定数が行(すなわち、端子208aとセンサ電極206間の距離。以下、同様。)によって変化し、入力手段に対する検出感度が行または端子208aとセンサ電極206間の距離に依存して変化する。
そこで、センサモジュール200では、このような検出感度の変化を抑制するために、センサ配線208に抵抗調整部208bが形成される。具体的には、図7(A)に示すように、各列において、複数のセンサ配線208の少なくとも一つに抵抗調整部208bを設ける。抵抗調整部208bが設けられるセンサ配線208においては、抵抗調整部208bの抵抗が他の部分の抵抗よりも高い。センサ配線208の抵抗は、材料と厚さ、幅が同一であれば長さの増大に比例して抵抗が増大する。このため、センサ配線208の抵抗を同一または実質的に同一にするため、端子208aに最も近いセンサ電極206に接続されるセンサ配線(ここではセンサ配線208-4)の抵抗調整部208bが最大の抵抗を有し、端子208aからの距離が大きいセンサ電極206ほど、それに接続されるセンサ配線208の抵抗調整部208bの抵抗が減少するように、抵抗調整部208bが形成される。換言すると、センサ配線208の長さが増大するに従って抵抗調整部208bの抵抗が減少するように、抵抗調整部208bが形成される。これにより、各列において、複数のセンサ配線208の抵抗を同一または実質的に同一に調整することができる。
例えば、最大長のセンサ配線208-1には抵抗調整部208bを設けず、第2行、第3行、第4行に配置されるセンサ電極206-2、206-3、206-4にそれぞれ接続されるセンサ配線208-2、208-3、208-4の順に抵抗調整部208bの抵抗が増大するよう、抵抗調整部208bを設けてもよい。あるいは、図示しないが、最大長のセンサ配線208-1にも抵抗調整部208bを設けてもよい。この場合には、第1行、第2行、第3行、第4行に配置されるセンサ電極206-1、206-2、206-3、206-4にそれぞれ接続されるセンサ配線208-1、208-2、208-3、208-4の順に抵抗調整部208bの抵抗が増大するよう、抵抗調整部208bが形成される。なお、図7(A)では、抵抗調整部208bの全てがセンサ額縁領域212に設けられる例が示されているが、全てまたは一部の抵抗調整部208bをセンサ領域210内に設けてもよい。
抵抗調整部208bは、センサ配線208の形状を調整することで形成すればよい。例えば図7(B)に示すように、抵抗調整部208bの幅(センサ配線208が延伸する方向に対して垂直方向の長さ)が他の部分の幅よりも小さく設定することで抵抗調整部208bを形成してもよい。あるいは、図8(A)に示すように、センサ配線208と抵抗調整部208bの幅は同一とし、センサ配線208を屈曲させることでこの屈曲部を抵抗調整部208bとして用いてもよい。あるいは、センサ配線208の一部にメッシュ形状を形成し、この部分を抵抗調整部208bとして用いてもよい(図8(B))。メッシュ状の部分では単位長さ当たりの面積が低減するため、他の部分と比較して抵抗を大きくすることができる。単位長さ当たりの面積を低減する形状としてはメッシュ形状に限られず、図8(C)に示すようなスリット208cでもよく、あるいは図8(D)や図8(E)に示す切り欠き208dでもよい。切り欠き208dの延伸方向はセンサ配線208が延伸する方向に対して任意の角度を有することができ、切り欠き208dは屈曲してもよい。あるいは、センサ配線208にジグザグ形状を付与し、この部分を抵抗調整部208bとして利用してもよい(図8(F))。ここで、スリットとは閉じた形状を有する開口であり、切り欠きとは開いた形状を有する開口である。閉じた形状とは、その形状を定義する輪郭線が末端を持たない形状であり、少なくとも一つの閉じた平面を与える。一方、開いた形状とは、その形状を定義する輪郭線が少なくとも二つの末端を有する形状である。
(2)センサ電極による抵抗調整
上述したセンサ配線208による抵抗調整に替えて、あるいはこれとともに、センサ電極206を用いて抵抗調整を行ってもよい。具体的には、図9に示すように、センサ電極206に少なくとも一つまたは複数の直線状若しくは屈曲した切り欠き206aを設け、センサ電極206内で抵抗を付与して抵抗調整してもよい。ここで、切り欠き206aとは、上面視においてセンサ電極206と全体が重なり、センサ電極206に外接し、かつ、行方向に平行な二つの辺と列方向に平行な二つの辺で形成される仮想の四角形207を考慮した際、この四角形207とセンサ配線208の間の領域に形成される、開いた形状を有する開口である(図10)。
上述したセンサ配線208による抵抗調整に替えて、あるいはこれとともに、センサ電極206を用いて抵抗調整を行ってもよい。具体的には、図9に示すように、センサ電極206に少なくとも一つまたは複数の直線状若しくは屈曲した切り欠き206aを設け、センサ電極206内で抵抗を付与して抵抗調整してもよい。ここで、切り欠き206aとは、上面視においてセンサ電極206と全体が重なり、センサ電極206に外接し、かつ、行方向に平行な二つの辺と列方向に平行な二つの辺で形成される仮想の四角形207を考慮した際、この四角形207とセンサ配線208の間の領域に形成される、開いた形状を有する開口である(図10)。
切り欠き206aは、センサ電極206間において、センサ電極206のうちセンサとして機能する部分(すなわち、仮想の四角形207と重なる部分、および仮想の四角形207以外のセンサ配線208と接続されていない部分)以外の部分とセンサ配線208の抵抗の和(以下、総抵抗と記す。)を互いに同一または実質的に同一にするために設けられる。したがって、例えば図9に示すように、端子208aからの距離が最大となるセンサ電極206-1には切り欠き206aを設けず、端子208aにより近い第2行、第3行、第4行に配置されるセンサ電極206-2、206-3、206-4の順に総抵抗が増大するよう、切り欠き206aの数や長さ、幅(すなわち、切り欠き206aの面積)を調整すればよい。あるいは、図示しないが、各列において全てのセンサ電極206に切り欠き206aを設け、端子208aからの距離が減少するに従って(すなわち、第1行、第2行、第3行、第4行の順で)総抵抗が増大するよう、切り欠き206aの面積を調整すればよい。
センサ電極206やセンサ配線208がメッシュ形状を有する場合には、図11に示すように、切り欠き206aは、切り欠き206aが延伸する方向に垂直な方向で隣接する開口206b間でフレーム206cを切断して絶縁するギャップとして形成すればよい(図11中の拡大図参照。)。これにより、図11の矢印で示すように、幅の狭い屈曲した導電パスが形成され、総抵抗を増大させることができる。
切り欠き206aの形状には制約はなく、例えば行方向に延伸するように切り欠き206aを設けてもよい(図12)。図示しないが、切り欠き206aに替えて、または切り欠き206aとともに、スリットを設けてもよい。
なお、センサ電極206とセンサ配線208が同一層内に存在する場合、センサ電極206とセンサ配線208の組成が同一となるため、これらの間の境界が明確に定義できない場合がある。この場合には、センサ電極206のうち、仮想の四角形207以外の部分であり、かつ、センサ配線208と接続される部分は、センサ電極206の一部と認識してもよく、上述した抵抗調整部208bと認識してもよい。
4.変形例
センサモジュール200の構造は上述した構造に限られず、種々の構造を採用することができる。以下に幾つかの変形例を述べる。以下の説明では、センサ配線208に抵抗調整部208bを設ける例を中心に示すが、抵抗調整部208bに替えて、または抵抗調整部208bとともにセンサ電極206に切り欠き206aを形成し、時定数の行依存性を抑制または解消してもよい。
センサモジュール200の構造は上述した構造に限られず、種々の構造を採用することができる。以下に幾つかの変形例を述べる。以下の説明では、センサ配線208に抵抗調整部208bを設ける例を中心に示すが、抵抗調整部208bに替えて、または抵抗調整部208bとともにセンサ電極206に切り欠き206aを形成し、時定数の行依存性を抑制または解消してもよい。
(1)変形例1
図3に示す例では、各列において、端子208aからの距離が増大するに従ってセンサ電極206の面積が増大するようにセンサモジュール200が構成される。このような配置を採用することで、センサ配線208のレイアウトが簡素化され、かつ、高密度でセンサ電極206を配置することができる。
図3に示す例では、各列において、端子208aからの距離が増大するに従ってセンサ電極206の面積が増大するようにセンサモジュール200が構成される。このような配置を採用することで、センサ配線208のレイアウトが簡素化され、かつ、高密度でセンサ電極206を配置することができる。
しかしながら、センサモジュール200の構成はこれに限られず、図13に示すように、全てのセンサ電極206が互いに同一の形状と面積を有するようにセンサモジュール200を構成してもよい。センサ電極206の面積を互いに同一にすることで、入力手段の近接に起因する電位変動量の行依存性が低減するため、抵抗調整部208bや切り欠き206aの設計が容易になるとともに、より正確に入力手段の座標を特定することができる。
このような配置では、図13から理解されるように、端子208aからの距離が増大するに従って、行方向において隣接するセンサ電極206間でセンサ配線208が占める面積が減少する。したがって、シールド配線238を配置する場合には、端子208aから離れるに従ってその幅(すなわち、行方向における長さ)が段階的にまたは連続的に増大するようにシールド配線238を構成してもよい。このように、列方向で幅が可変するシールド配線238を配置することにより、隣接するセンサ電極206間に近接する入力手段とセンサ領域210間の電界が歪むことなく均一となり、この電界のうちセンサ電極206と重なる電界が容量変化として検出されるため、行に依存せずにばらつきの無い検出が可能となる。
(2)変形例2
センサモジュール200では、図14に示すように、各センサ電極206に対し、センサ配線208とは異なる補助配線240を設けてもよい。具体的には、複数のセンサ電極206にそれぞれ対応する複数の補助配線240を設ける。一つの補助配線240は、一つのセンサ電極206と選択的に接続され、端子208aに対して反対側の方向へ延伸する。補助配線240は、それが接続されるセンサ電極206を除き、他の導電性の構成要素と接続されない。したがって、補助配線240にもセンサ電極206と同相のパルス状の交流電圧が印加される。各補助配線240も導電性を有する透光性酸化物または金属を含むように構成することができる。後者の場合には、センサ電極206と補助配線240の両者をメッシュ状の形状を備えるように構成することで、映像がセンサ電極206や補助配線240を通して視認できるとともに、モアレの発生を防ぐことができる。
このように補助配線240を設けることで、配線の密度、すなわち、センサ配線208と補助配線240の面積の和が列方向においてがほぼ一定となる。このため、例えば端子208aに近い位置P2に入力手段が近接した場合、その座標に最も近い第4行のセンサ電極206-4に最も大きな電位変動が生じるとともに、第4行のセンサ電極206-4の近くに配置されるセンサ配線208、およびこれらに接続される第1から第3行のセンサ電極206にも副次的な電位変動が生じる。同様に、端子208aから離れた位置P1に入力手段が近接した場合、その座標に最も近い第1行のセンサ電極206に最も大きな電位変動が生じるとともに、第2行から第4行のセンサ電極206に接続される補助配線240に副次的な電位変動が生じ、その結果、第2行から第4行のセンサ電極206にも副次的な電位変動が生じる。すなわち、入力手段の座標に依存することなく、入力手段に近接するセンサ電極206における大きな電位変動を検知しつつ、そのセンサ電極206が配置された列の他のセンサ電極206に対してほぼ同じ副次的電位変動を引き起こすことができる。その結果、入力手段が行方向において隣接するセンサ電極206の間に近接した場合でも、副次的電位変動の入力手段の座標依存性が解消され、入力手段の座標を正確に特定することができる。
好ましくは、補助配線240の端子208aに対して反対側の端部(センサ電極206に接続される端部と反対側の端部)がセンサ額縁領域212に位置するように補助配線240を配置する(図14)。あるいは、この端部がセンサ額縁領域212に存在し、かつ、表示領域120の外側(すなわち、額縁領域)に位置するように補助配線240を配置する。補助配線240がセンサ領域210または表示領域120の端部から端子208aに対して反対側に延伸する部分の長さLは、好ましくは1mm以上1cm以下である。このように補助配線240の端部の位置を制御することにより、表示領域120の端部に入力手段が近接しても、補助配線240と入力手段との間で形成される仮想的な容量が確保される。このため、センサ領域210の他の領域(例えば中心付近)と同様の検出精度を維持することができる。
また、センサ配線208はその幅が小さいものの、パルス状交流電圧が印可されることによってセンサ電極としても機能することとなる。このように、センサ電極206とセンサ配線208を合わせて一つのセンサ電極と見做した場合、図13の構成であってもなお行方向で見た場合にセンサ電極206の大きさに違いが生じる。これに対し、図14の構成では、上記センサ電極206にさらに補助配線240が追加され、当該補助配線240は端子208aから離間する方向に延在する。すなわち、最も検出器222に近いセンサ電極206-4に接続される補助配線240-4は、検出器222から離間する方向に延在して他のセンサ電極206の間を通過する一方、最も検出器222から遠い位置にあるセンサ電極206-1に接続される補助配線240-1は極めて短い。このような構成とすることで、センサ配線208と補助配線240もセンサ電極206(検出器222に接続されるセンサ電極)の一部として機能するため、センサ電極206間においてセンサ電極として機能する部分の面積はほぼ同じとなり、検出器222からの距離の差によって生じる容量差が低減されることとなる。なお、検出器222からから最も遠い位置にあるセンサ電極206-1については、補助配線を不要とする構成も採用可能である。
(3)変形例3
非接触式センサは、従来の接触式センサと比較し、表示モジュール110からの電気的影響を受け易い。この影響を低減するために、センサ領域210の周辺に複数のシールド電極を配置してもよい。具体的な構成を図15と図16に示す。図15はセンサ基板202の二つの辺を含む模式的上面図であり、図16は、センサ領域210を基準として図15に示した領域に対向する領域の模式的上面図である。
非接触式センサは、従来の接触式センサと比較し、表示モジュール110からの電気的影響を受け易い。この影響を低減するために、センサ領域210の周辺に複数のシールド電極を配置してもよい。具体的な構成を図15と図16に示す。図15はセンサ基板202の二つの辺を含む模式的上面図であり、図16は、センサ領域210を基準として図15に示した領域に対向する領域の模式的上面図である。
これらの図に示すように、各列に一つのシールド電極(第1のシールド電極)242を設けることができる。シールド電極242は、端子208aが配置されるセンサ領域210の一辺側とは反対側のセンサ額縁領域212に設けられる。シールド電極242は、表示領域120と重ならないように設けられる。換言すると、複数の画素116の全てがシールド電極242から露出する。センサ電極206に接続される補助配線240の端部をセンサ額縁領域212に配置する場合、この端部が同じ列に設けられるシールド電極242と行方向と列方向において重なるよう、シールド電極242の形状や配置を調整してもよい。シールド電極242もセンサ電極206と同相のパルス状の交流電圧が印加される。したがって、複数のシールド電極242を、シールド配線(第1のシールド配線)としてそれぞれ上述した複数のシールド配線238に電気的に接続してもよい。シールド電極242は入力手段の座標の特定には寄与しないので、シールド配線238は検出器222と接続されなくてもよい。
あるいは、シールド電極242とともに、またはシールド電極242に替えて、各行に一対のシールド電極(第2のシールド電極)244を配置してもよい。一対のシールド電極244は、各行において全てのセンサ電極206を挟むように配置される。シールド電極244も表示領域120と重ならないように設けられる。したがって、複数の画素116の全てがシールド電極244から露出する。各シールド電極244にはシールド配線(第2のシールド配線)246がそれぞれ電気的に接続される。シールド配線246は、センサ配線208の端子208aが形成される一辺側のセンサ額縁領域212において端子246aを形成する。端子246aは第1のコネクタ218と接続され、これにより、シールド配線246は電源回路220からの電圧供給を受けることができる。各シールド電極244には、センサ電極206と同相のパルス状の交流電圧が印加される。シールド電極242と同様、シールド電極244も入力手段の座標の特定には寄与しないので、シールド配線246は検出器222と接続されなくてもよい。図示しないが、センサ配線208と同様、各シールド配線246は、少なくともそれが接続されるシールド電極244を除き全てのシールド配線246と重ならず、露出する。あるいは、各シールド配線246は、全てのシールド配線246と重ならず、露出する。
センサ電極206と同様、シールド電極244にも補助配線(補助シールド配線)248を接続してもよい。すなわち、複数のシールド電極244にそれぞれ対応する補助シールド配線248をセンサ額縁領域212に設けてもよい。各補助シールド配線248の一端は、対応するシールド電極244と電気的に接続され、端子246aに対して反対方向に延伸する。補助シールド配線248の他端は、他の導電性の構成要素と接続されない。
このように、変形例3では、センサ額縁領域212に互いにシールド電極242および/またはシールド電極244を設けられる。このため、センサ領域210の端部に入力手段が近接しても、する入力手段とセンサ領域210間で均一に電界が発生し、この電界のうちセンサ電極206と重なる電界が容量変化として検出されるため、ばらつきの無い検出が可能となる。また、センサ領域210の外側と入力手段との容量形成を抑制することができるため、検出精度の低下を招かない。また、シールド電極242および/またはシールド電極244を設けることで、表示領域120の外側にもセンサ領域210と同様の構成を構築することができるので、表示領域120の端部における検出感度が維持できるだけでなく、表示モジュール110からの影響を効果的に遮蔽することができる。
また、シールド電極242および/またはシールド電極244は、それぞれ複数設けられる。単一のシールド電極をセンサ額縁領域212に設置する場合、センサ領域210の端部に入力手段が近接すると、その影響がセンサ領域210の外周全体に及ぶ。しかしながら、複数のシールド電極242および/または複数のシールド電極244を設けることで、入力手段がセンサ領域210の端部に近接した場合に生じるセンサ電極206の電位変動量の低下を局所的な領域に留めることができるため、センサ領域210の端部においても検出精度を維持することができる。このため、より正確に入力手段の座標を特定することができる。
ここで、シールド電極242に対してパルス状の交流電圧をシールド配線238を介して供給する場合には、図17(A)に示すように、シールド配線238にも抵抗調整部238bを端子238aとシールド電極242の間に形成してもよい。抵抗調整部238bはセンサ領域210内に設けてもよく、センサ額縁領域212に設けてもよい。抵抗調整部238bは、シールド電極242の時定数が他のセンサ電極206の時定数と同一または実質的に同一になるように、シールド電極242の容量を考慮して形成すればよい。あるいは、シールド配線238には抵抗調整部238bを設けず、全てのセンサ電極206に接続されるセンサ配線208に抵抗調整部208bを形成し、各列においてシールド電極242とセンサ電極206の時定数を一致させてもよい。
同様に、図17(B)に示すように、シールド電極244に接続されるシールド配線246に対しても、シールド電極244と端子246aの間に抵抗調整部246bを設けてもよい。抵抗調整部246bも、抵抗調整部238bと同様に、シールド電極244の時定数が他のセンサ電極206の時定数と同一または実質的に同一になるように、シールド電極244の容量を考慮して形成すればよい。あるいは、図18に示すように、抵抗調整部246bの形成に替わり、あるいは抵抗調整部246bとともに、全て、または少なくとも一つのシールド電極244にそれぞれ少なくとも一つの切り欠き244aを設けてもよい。シールド配線246の端子246aも、端子208aが設けられるセンサ領域210の一辺側に配置される。このため、切り欠き244aは、端子246aからの距離が大きいシールド電極244ほどその面積が小さくなるように形成される。
図示しないが、抵抗調整部238bに替えて、あるいは抵抗調整部238bとともに、シールド電極242に切り欠きを設けることでシールド電極242の抵抗を調整してもよい。抵抗の調整は、センサ電極206と同一または実質的に同一の時定数を有するよう、切り欠きの面積を調整することで行えばよい。なお、シールド電極242に接続されるシールド配線238に抵抗調整部238bを設けず、かつ、シールド電極242に切り欠きなどを形成しない場合には、シールド電極242の時定数と同一または実質的に同一の時定数を有するよう、全てのセンサ電極206に接続されるセンサ配線208に抵抗調整部208bを設けてもよく、あるいは抵抗調整部208bとともに若しくは抵抗調整部208bに替えて全てのセンサ電極206に切り欠き206aを形成してもよい。
本発明の実施形態として上述した各実施形態は、相互に矛盾しない限りにおいて、適宜組み合わせて実施することができる。また、各実施形態の表示装置を基にして、当業者が適宜構成要素の追加、削除もしくは設計変更を行ったもの、又は、工程の追加、省略もしくは条件変更を行ったものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に含まれる。
上述した各実施形態の態様によりもたらされる作用効果とは異なる他の作用効果であっても、本明細書の記載から明らかなもの、又は、当業者において容易に予測し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。
100:表示装置、102:接着層、110:表示モジュール、112:アレイ基板、114:対向基板、116:画素、118:コネクタ、120:表示領域、200:センサモジュール、202:センサ基板、204:カバー基板、206:センサ電極、206-1:センサ電極、206-2:センサ電極、206-3:センサ電極、206-4:センサ電極、206a:切り欠き、206b:開口、206c:フレーム、206d:ダミー電極、207:四角形、208:センサ配線、208-1:センサ配線、208-2:センサ配線、208-3:センサ配線、208-4:センサ配線、208a:端子、208b:抵抗調整部、208c:スリット、208d:切り欠き、208e:フレーム、208f:開口、209:ダミー電極、210:センサ領域、212:センサ額縁領域、216:第2のコネクタ、218:第1のコネクタ、220:電源回路、222:検出器、224:演算素子、226:インターフェース、230:ノイズシールド層、232:層間絶縁膜、234:保護膜、234-1:第1の保護膜、234-2:第2の保護膜、236:接着層、238:シールド配線、238a:端子、238b:抵抗調整部、240:補助配線、242:シールド電極、244:シールド電極、244a:切り欠き、246:シールド配線、246a:端子、246b:抵抗調整部、248:補助シールド配線、
Claims (8)
- センサ領域と前記センサ領域を囲むセンサ額縁領域を有するセンサ基板、
前記センサ領域上に位置し、複数の行と複数の列に配列された複数のセンサ電極、および
前記複数のセンサ電極にそれぞれ対応し、それぞれ対応する前記センサ電極と電気的に接続され、前記センサ額縁領域上にそれぞれ端子を有する複数のセンサ配線を備え、
前記複数の端子は、前記センサ領域の一辺側に配列され、
各列において、前記センサ電極に接続される前記センサ配線の少なくとも一つは、抵抗調整部を有し、
前記抵抗調整部を有する前記センサ配線において、前記抵抗調整部は、他の部分よりも抵抗が高い、センサモジュール。 - 各列において、
前記複数のセンサ電極にそれぞれ接続される前記複数のセンサ配線は、最大長の前記センサ配線を除き、いずれも前記抵抗調整部を有し、
前記抵抗調整部の前記抵抗は、前記端子と前記センサ電極間の距離が大きい前記センサ配線ほど小さい、請求項1に記載のセンサモジュール。 - 各列において、
前記複数のセンサ電極にそれぞれ接続される前記複数のセンサ配線は、いずれも前記抵抗調整部を有し、
前記抵抗調整部の前記抵抗は、前記端子と前記センサ電極間の距離の増大に従って減少する、請求項1に記載のセンサモジュール。 - 前記複数のセンサ配線は、互いに抵抗が同一である、請求項1に記載のセンサモジュール。
- センサ領域と前記センサ領域を囲むセンサ額縁領域を有するセンサ基板、
前記センサ領域上に位置し、複数の行と複数の列に配列された複数のセンサ電極、および
前記複数のセンサ電極にそれぞれ対応し、それぞれ対応する前記センサ電極と電気的に接続され、前記センサ額縁領域上にそれぞれ端子を有する複数のセンサ配線を備え、
前記複数の端子は、前記センサ領域の一辺側に配列され、
各列において、前記複数のセンサ電極の少なくとも一つは、少なくとも一つの切り欠きを有する、センサモジュール。 - 各列において、
前記複数のセンサ電極は、最大長の前記センサ配線に接続される前記センサ電極を除き、いずれも前記少なくとも一つの切り欠きを有し、
前記少なくとも一つの切り欠きの面積は、前記端子からの距離が大きいセンサ電極ほど小さい、請求項5に記載のセンサモジュール。 - 各列において、
前記複数のセンサ電極は、いずれも少なくとも一つの前記切り欠きを有し、
前記少なくとも一つの切り欠きの面積は、前記端子からの距離が大きいセンサ電極ほど小さい、請求項5に記載のセンサモジュール。 - 複数の画素を有するアレイ基板を含む表示モジュール、および
前記表示モジュール上のセンサモジュールを備え、
前記センサモジュールは、
センサ領域と前記センサ領域を囲むセンサ額縁領域を有するセンサ基板、
前記センサ領域上に位置し、複数の行と複数の列に配列された複数のセンサ電極、および
前記複数のセンサ電極にそれぞれ対応し、それぞれ対応する前記センサ電極と電気的に接続され、前記センサ額縁領域上にそれぞれ端子を有する複数のセンサ配線を備え、
前記複数の端子は、前記センサ領域の一辺側に配列され、
各列において、前記センサ電極に接続される前記センサ配線の少なくとも一つは、抵抗調整部を有し、
前記抵抗調整部を有する前記センサ配線において、前記抵抗調整部は、他の部分よりも抵抗が高い、表示装置。
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