JP2023026306A - Automatic analysis device and automatic analysis method - Google Patents
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Abstract
Description
本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置および自動分析方法に関する。 Embodiments disclosed in the specification and drawings relate to an automatic analysis device and an automatic analysis method.
被検体から採取された被検試料(血液などの生体試料)(以下、試料と称する)の分析を行う自動分析装置では、一般的に、空きの反応容器を予め用意する必要があり、当該反応容器を反応ディスクなどの作業エリアに提供した後、試料と試薬とを混ぜた液体、又は、試料を反応容器の中に注入することで、血液凝固の分析などの様々な分析を行う。 In an automatic analyzer that analyzes a test sample (biological sample such as blood) (hereinafter referred to as a sample) collected from a subject, it is generally necessary to prepare an empty reaction container in advance. After providing the container to a work area such as a reaction disk, a liquid mixture of sample and reagents or injecting the sample into the reaction container performs various analyzes such as blood clotting analysis.
その故、自動分析装置は、キュベット搬送装置と、反応ディスクなどを有する分析装置とを備える。キュベット搬送装置は、試料の分析に用いられる反応容器であるキュベットを、分析装置内の反応ディスクまで搬送する。分析装置は、搬送されたキュベットに試料と試薬とを注入し、又は、搬送されたキュベットに試料を注入し、当該キュベット内の液体を測定することによって、試料に対する様々な分析を行う。 Therefore, an automated analyzer comprises a cuvette transporter and an analyzer with a reaction disk or the like. A cuvette transporter transports a cuvette, which is a reaction container used for sample analysis, to a reaction disk in the analyzer. The analyzer performs various analyzes on the sample by injecting the sample and reagents into the transported cuvette, or by injecting the sample into the transported cuvette and measuring the liquid in the cuvette.
血液凝固の分析を例に挙げると、図16は、従来の自動分析装置の構成を示す全体的概略図である。自動分析装置は、キュベット搬送装置100’と、反応ディスク60’を有する分析装置とを備える。キュベット搬送装置100’は、反応ディスク60’にキュベット1’を搬送する。図16に示すように、キュベット搬送装置100’は、一方側が開口した容器であるキュベット1’を反応ディスク60’に搬送し、図16中の点線で囲まれた部分に示すように、一般的に、点線でそれぞれ囲まれた収納ユニット10’、配置ユニット20’、および搬送ユニット30’を備える。
Taking the analysis of blood coagulation as an example, FIG. 16 is an overall schematic diagram showing the configuration of a conventional automatic analyzer. The automated analyzer comprises a cuvette transporter 100' and an analyzer with a reaction disk 60'. A cuvette transport device 100' transports the cuvette 1' to the reaction disk 60'. As shown in FIG. 16, the
キュベット1’が収納ユニット10’の中に投入された後、分離器40’経由で配置ユニット20’に投入される。配置ユニット20’は、収納ユニット10’によって搬送されたキュベット1’を、下流の搬送ユニット30’に配置するために、配置器50’によりキュベット1’を同じ向きに並べる。 After the cuvette 1' is introduced into the storage unit 10', it is introduced into the placement unit 20' via the separator 40'. The arranging unit 20' aligns the cuvettes 1' in the same direction by the arranging device 50' in order to arrange the cuvettes 1' conveyed by the storage unit 10' in the downstream conveying unit 30'.
配置ユニット20’で搬送ユニット30’に並べられたキュベット1’が、搬送ユニット30’のレール30A’により反応ディスク60’に搬送され、反応ディスク60’においてキュベット1’内に試料が注入されることで分析が行われる。上記構造により、収納ユニット10’の中に乱雑に投入されたキュベット1’を自動的に並べ、反応ディスク60’に搬送することができる。
The cuvettes 1' arranged in the transport unit 30' in the arrangement unit 20' are transported to the reaction disk 60' by the
しかし、キュベット1’は、プラスチックなどの粉塵が発生し易い材料からなる。例えば、上記のキュベット搬送装置100’を有する自動分析装置において、キュベット1’が反応ディスク60’に入る前、収納ユニット10’に乱雑に置かれ、キュベット搬送装置100’により反応ディスク60’に1つずつ搬送される。この過程において、キュベット1’同士の間や、キュベット1’と収納ユニット10’との間や、キュベット1’と配置ユニット20’との間では、相互的な摩擦がいずれも存在する。このため、例えばプラスチック材質のキュベット1’は粉塵が発生し易く、粉塵がキュベット1に入った場合、注入される試料と混ざって分析装置の分析結果に対し影響を及ぼし、最終的に評価結果に影響する可能性がある。このため、粉塵の発生により分析の精度が低下する可能性がある。キュベット中の粉塵を除去することは、非常に重要である。
However, the cuvette 1' is made of a dust-prone material such as plastic. For example, in the automatic analyzer having the
また、分離器40’は、上下方向に移動することにより、キュベット1’を小分けにして配置ユニット20’に供給する。具体的には、分離器40’の上部には、配置ユニット20’に向いて傾斜した斜面が設けられる。分離器40’が低い位置に下がった際に、一部のキュベット1’が分離器40’の斜面に落ち込み、分離器40’の位置が上がった際に、キュベット1’が分離器40’の斜面から配置ユニット20’に滑り落ちる。このような過程においては、分離器40’に入っていないキュベット1’が再び収納ユニット10’に滑り落ち戻る。このとき、キュベット1’が収納ユニット10’の各部分と複数回ぶつかり、粉塵が発生し易くなる。 Also, the separator 40' moves vertically to subdivide the cuvettes 1' and supply them to the arrangement unit 20'. Specifically, the upper portion of the separator 40' is provided with a slope that is inclined toward the arrangement unit 20'. When the separator 40' is lowered to a lower position, some of the cuvettes 1' fall on the slope of the separator 40', and when the position of the separator 40' is raised, the cuvettes 1' fall on the separator 40'. It slides down the slope onto the placement unit 20'. In this process, the cuvettes 1' not in the separator 40' slide back into the storage unit 10'. At this time, the cuvette 1' collides with each part of the storage unit 10' multiple times, and dust is likely to be generated.
また、配置器50’は、同様に、上下方向に移動することにより、キュベット1’を配置する。このような過程においても、キュベット1’が配置器50’に乱雑に滑り落ちる。例えば、配置器50’が低い位置に下がった際に、一部のキュベット1’が配置器50’に落ち込んで、配置器50’の位置が上昇した際に、配置器50’に入りきらないキュベット1’が再び配置ユニット20’に滑り落ち戻る。この過程においては、キュベット1’が配置ユニット20’の各部分と複数回ぶつかり、粉塵が発生し易くなる。 Similarly, the placement device 50' places the cuvette 1' by moving vertically. Also in this process, the cuvette 1' randomly slides down into the placement device 50'. For example, when the placement device 50' is lowered to a lower position, some cuvettes 1' fall into the placement device 50', and when the position of the placement device 50' rises, the cuvettes 1' do not fit into the placement device 50'. The cuvette 1' again slides back into the placement unit 20'. During this process, the cuvette 1' collides with each part of the placement unit 20' multiple times, which is likely to generate dust.
このように、図16に示すキュベット搬送装置100’は、粉塵が発生し易いため、自動分析装置において、粉塵の発生により分析精度が低下する可能性がある。 As described above, the cuvette transport apparatus 100' shown in FIG. 16 is likely to generate dust, and the generation of dust may reduce the analysis accuracy in the automatic analyzer.
本明細書及び図面に開示の実施形態の一つは、分析精度を向上させることである。 One of the embodiments disclosed in the specification and drawings is to improve analytical accuracy.
実施形態に係る自動分析装置は、収納部と、移送部と、測定部と、静電気除去部と、を備える。前記収納部は、分析対象となる試料を収容するための容器を収納する。前記移送部は、前記収納部から前記容器を移送する。前記測定部は、前記移送部から移送された前記容器に前記試料を注入し、当該容器内の液体を測定する。前記静電気除去部は、前記収納部及び前記移送部のうち少なくとも1つに設けられ、前記容器の静電気を除去する。 An automatic analyzer according to an embodiment includes a storage section, a transfer section, a measurement section, and a static electricity removal section. The storage part stores a container for storing a sample to be analyzed. The transfer section transfers the container from the storage section. The measurement unit injects the sample into the container transferred from the transfer unit, and measures the liquid in the container. The static remover is installed in at least one of the storage unit and the transfer unit, and removes static electricity from the container.
以下、図面を参照しながら、自動分析装置および自動分析方法の実施形態について説明する。また、各実施形態においては、実質的に同一の構成部材に対し同一の符号を表記して詳しい説明を適切に省略する。 Hereinafter, embodiments of an automatic analysis device and an automatic analysis method will be described with reference to the drawings. Further, in each embodiment, substantially the same constituent members are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is appropriately omitted.
また、実施形態に対して説明する際に、自動分析装置として、血液凝固分析装置が例に挙げられて説明されるが、本実施形態は血液凝固分析装置に限らず、容器を用いて、被検体から採取された試料(血液などの生体試料)に関する分析を行う装置さえであれば、本実施形態を応用しても良い。 In addition, when describing the embodiments, a blood coagulation analyzer is taken as an example of an automatic analyzer. The present embodiment may be applied as long as it is an apparatus that analyzes a sample (biological sample such as blood) collected from a specimen.
また、各図面では、説明の便宜上に概略的に示された構造であり、そのうちの部品の具体的な寸法および異なる部品間の比例関係および位置関係が必ずしも実際の製品と一致するとは限らず、適切な変形を行われたものである。 In addition, in each drawing, the structure is shown schematically for the convenience of explanation, and the specific dimensions of the parts and the proportional and positional relationships between different parts do not necessarily match the actual product. Appropriate modifications have been made.
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る自動分析装置200の構成を示す全体的概略図である。
(First embodiment)
FIG. 1 is an overall schematic diagram showing the configuration of an
自動分析装置200としての血液凝固分析装置は、キュベット1を反応ディスクに自動的に搬送するキュベット搬送装置を有し、キュベット1が反応ディスクに置かれた後、自動分析装置200の注入機構によって試料と試薬とを混ぜた液体又は試料を注入され、さらに、自動分析装置200の分析機構によってキュベット1における試料に対し様々な分析が行われる。本実施形態で、キュベット搬送装置を除いた注入機構、分析機構など他の構造としては、いずれも公知の構造を用いてもよく、図示と説明を省略する。図1では、キュベット1の搬送に関する構成のみを示して説明を行う。
The blood coagulation analyzer as the
図1に示すように、第1の実施形態に係る自動分析装置200は、キュベット搬送装置100を備える。キュベット搬送装置100は、順次に接続された収納ユニット10、配置ユニット20および搬送ユニット30を備え、キュベット1を収納ユニット10から、配置ユニット20および搬送ユニット30経由で反応ディスク60に搬送する。
As shown in FIG. 1, an
第1の実施形態に係る自動分析装置200は、更に、反応ディスク60を有する分析装置70と、制御回路を備える。制御回路は、収納ユニット10、配置ユニット20、搬送ユニット30、分析装置70を制御する。ここで、収納ユニット10は、「収納部」の一例であり、配置ユニット20および搬送ユニット30は、「移送部」の一例である。また、分析装置70は、「測定部」の一例であり、移送部(配置ユニット20、搬送ユニット30)から移送されたキュベット1に試料を注入し、当該キュベット1内の液体を測定することによって、試料の分析を行う。
The
キュベット搬送装置100の収納ユニット10の主体構造は、上方が開口したケージングであり、空きのキュベット1が収納ユニット10の上方にある開口から収納ユニット10に投入されることで、収納ユニット10で一時的に収納される。ケージングの下面には、配置ユニット20に向いて傾斜した斜面が形成されることで、ケージング内において、キュベット1は配置ユニット20側へ移動する。
The main structure of the
具体的には、収納ユニット10は、キュベット1が収納されるケージング13と、分離器と、分離器を上下方向に移動させる移動機構と、分離器及び移動機構を収納するケージングとを備える。分離器としては、例えば、図16に示すような分離器40’が用いられる分離器は、上下方向に移動することにより、収納ユニット10におけるキュベット1を小分けにして取り出す。例えば、分離器は、低い位置に下がった際に、キュベット1の進入を受け入れ、高い位置に上った際に、キュベット1を配置ユニット20に落とす。
Specifically, the
キュベット搬送装置100の配置ユニット20は、収納ユニット10と搬送ユニット30との間に接続され、収納ユニット10で収納されたキュベット1を搬送ユニット30に順次に配置する。
The
具体的には、配置ユニット20は、レール50と、レール50を上下方向に移動させる移動機構と、レール50及び移動機構を収納するケージングとを備える。レール50としては、例えば、図16に示すような配置器50’が用いられる。
Specifically, the
ここで、キュベット1は、例えば、上面が開口した部材で形成され、キュベット1の胴体部の開口側にはフランジが形成されている。レール50は、キュベット1を整列させるために、所定距離だけ離間して配置されたレールである。ここで、所定距離は、キュベット1のフランジよりも短く、キュベット1の胴体部の外径よりも長い。なお、キュベット1の形状は、これに限らず、上面が開口した容器であればよく、その断面形状および外観が反応ディスク60に応じて任意的に設定されても良い。
Here, the
そこで、レール50は、上下方向に移動することによりキュベット1を整列させることで、キュベット1を所定の姿勢で搬送ユニット30に供給する。例えば、配置ユニット20の移動機構は、低い位置に下がった際に、キュベット1をレール50に整列させ、高い位置に上った際に、レール50内のキュベット1を順次に搬送ユニット30に供給する。なお、配置ユニット20において、レール50に整列されないキュベット1は、レール50が高い位置に上った際に、収納ユニット10に落ちる。
Therefore, the
キュベット搬送装置100の搬送ユニット30は、キュベット1を整列させるために、所定距離だけ離間して配置されたレール30Aを備える。搬送ユニット30において、レール30Aの向きは、水平方向に対して傾いており、当該レール30Aは、始端から終端まで下方に傾斜する。これにより、搬送ユニット30が、配置ユニット20から供給されたキュベット1の姿勢をそのまま保持して反応ディスク60に搬送することで、キュベット1を開口が上へ向く状態で反応ディスク60の所定位置に搬送し、分析装置70が、反応ディスク60において分析を行うことが可能になる。
The
分析装置70は、例えば、反応ディスク60、試薬庫、注入機構および測定機構を備える。
The
反応ディスク60は、反応槽であり、円周上に配置された複数のキュベット1を回転可能に保持する。
The
試薬庫は、円周上に配置された複数の試薬容器を保冷して保持する。試薬庫内の試薬容器は、試料に含まれる各検査項目の成分と反応する成分を含有する試薬を収容する。試薬庫は、各検査項目の試薬容器を回転可能に保持するターンテーブルを有する。 The reagent storage keeps and retains a plurality of reagent containers arranged on a circumference. A reagent container in the reagent storage accommodates a reagent containing a component that reacts with the component of each test item contained in the sample. The reagent storage has a turntable that rotatably holds reagent containers for each test item.
注入機構は、例えば、試料分注プローブ、試薬分注プローブを備える。 The injection mechanism includes, for example, a sample dispensing probe and a reagent dispensing probe.
試料分注プローブは、例えば、試料吸引位置に移動された試料容器内の試料の分注を行う。具体的には、試料分注プローブは、試料吸引位置に位置する試料容器内の試料を検査項目毎に吸引して、当該検査項目の分析パラメータとして設定された量の試料を、反応ディスク60における試料吐出位置に位置するキュベット1内へ吐出する。その後、試料分注プローブは洗浄される。
The sample dispensing probe, for example, dispenses the sample in the sample container moved to the sample aspirating position. Specifically, the sample pipetting probe aspirates the sample in the sample container positioned at the sample aspirating position for each inspection item, and deposits the amount of sample set as the analysis parameter for the inspection item on the
試薬分注プローブは、例えば、試薬吸引位置に移動された試薬容器内の試薬の分注を行う。具体的には、試薬分注プローブは、試薬吸引位置に位置する試薬容器内の試薬を吸引して、当該検査項目の分析パラメータとして設定された量の試薬を、反応ディスク60における試薬吐出位置に位置するキュベット1内に吐出する。その後、試薬分注プローブは洗浄される。
For example, the reagent dispensing probe dispenses the reagent in the reagent container moved to the reagent aspirating position. Specifically, the reagent dispensing probe aspirates the reagent in the reagent container located at the reagent aspirating position, and dispenses the reagent in the amount set as the analysis parameter of the test item to the reagent dispensing position on the
測定機構は、例えば、試料と試薬との混合液を収容するキュベット1に、光を照射することによって混合液を測定する。具体的には、測定機構は、回転している測定位置のキュベット1に光を照射し、この照射によりキュベット1内の試料及び試薬の混合液を透過した光を検出する。そして、測定機構は、検出した信号を処理してデジタル信号で表される標準データや被検データを生成して制御回路に出力する。その後、キュベット1は洗浄される。
The measurement mechanism measures the liquid mixture by, for example, irradiating the
ここで、キュベット搬送装置100の収納ユニット10について説明する。収納ユニット10は、キュベット1が収納されるケージング13と、上下方向に移動することによりキュベット1を取り出して配置ユニット20に落とす分離器と、分離器を上下方向に移動させる移動機構と、分離器及び移動機構を収納するケージングとに加えて、キュベット1に付いた静電気を金属の伝導作用により除去するための静電気除去構造10Aを備える。図2Aは、第1の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の収納ユニット10に設けられた静電気除去構造10Aの一例を示す俯瞰図である。図2Bは、図2AにおけるA-A断面図である。図2Cは、静電気除去構造10Aの一例を示す斜視図である。ここで、収納ユニット10の静電気除去構造10Aは、「静電気除去部」の一例である。
Here, the
収納ユニット10の静電気除去構造10Aは、複数の仕切り板11、複数のブラシ12を備える。複数の仕切り板11、複数のブラシ12は、キュベット1が収納されるケージング13内に設けられる。図2A~図2Cでは、収納ユニット10のキュベット1を収容するためのケージング13が立方体として概略的且つ簡略化されている。ただし、図1には、収納ユニット10と配置ユニット20との間の、キュベット1が通過できる通路が示されていないが、実際には、収納ユニット10と配置ユニット20との間には、キュベット1が通過できる開口が設けられている。
The static
例えば、複数の仕切り板11は、金属からなる。具体的には、図2A~図2Cに示すように、ケージング13内に、複数の仕切り板11として3つの金属製の仕切り板11が、上下方向に沿って平行に設けられる。なお、図2A~図2Cでは3つの仕切り板11を示しているが、仕切り板11の数は3つでなくてもよく、収納ユニット10のケージング13の大きさに応じて適宜変更することができる。例えば、複数のブラシ12の各々は、仕切り板11に設けられる。具体的には、各ブラシ12は、一端部が仕切り板11の側面に固定されて、他端部が仕切り板11の側面から垂直方向に延びるように設けられる。ブラシ12は、例えば、導電性繊維、カーボンファイバーなどの導電性材料からなる。収納ユニット10の静電気除去構造10Aでは、ケージング13内において、仕切り板11は、キュベット1がブラシ12を通過するように設けられる。ここで、仕切り板11は、「板」の一例である。
For example, the
このような構造によれば、操作者又は投入装置によってキュベット1を収納ユニット10に投入する場合、キュベット1は、図2A、図2Bに示すように、下へ移動する過程においてブラシ12と接触することで、キュベット1に付いた静電気が金属の伝導作用により除去される。そのため、キュベット1に付着した粉塵などの不純物はキュベット1からより落ち易くなる。
According to this structure, when the
次に、キュベット搬送装置100の配置ユニット20について説明する。配置ユニット20は、上述したレール50と、レール50を上下方向に移動させる移動機構と、レール50及び移動機構を収納するケージングとに加えて、キュベット1に付いた静電気を金属の伝導作用により除去するための静電気除去機構20Aを備える。配置ユニット20の静電気除去機構は、キュベット1の粉塵を収集することで、キュベット1に付いた静電気を金属の伝導作用により除去する。図3は、第1の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の配置ユニット20に設けられた静電気除去機構20Aの一例を示す拡大概略図である。ここで、配置ユニット20の静電気除去構造20Aは、「静電気除去部」の一例である。
Next, the
図3の左側には、配置ユニット20において、レール50と、レール50を上下方向に移動させる移動機構と、レール50及び移動機構を収納するケージングとを除いた構造が示されている。配置ユニット20の静電気除去構造20Aは、収集ボックス21、放電回路22を備える。収集ボックス21は、キュベット1を移送する経路の少なくとも一部の下方に設けられ、放電回路22は、静電気を利用して収集ボックス21に粉塵を引き付ける。ここで、収集ボックス21は、「粉塵収集部」の一例であり、放電回路22は、「静電気引付ユニット」の一例である。
The left side of FIG. 3 shows the structure of the
例えば、収集ボックス21は、レール50及び移動機構を収納するケージングの下方に設けられる。具体的には、図3に示すように、配置ユニット20のケージングの下には、上方が開口した金属製の収集ボックス21が設けられ、収集ボックス21は、上から落ちた粉塵などの不純物を受け入れることが可能な形状に形成されている。
For example, the
また、収集ボックス21と放電回路22の放電ヘッド22Aとがワイヤーにより電気接続されることで、放電回路22が収集ボックス21に対して放電し、収集ボックス21に静電気を発生させる。このとき、静電気を発生した収集ボックス21が、粉塵などの不純物を引き付ける作用を発生させる。例えば、収集ボックス21の上に位置した配置ユニット20におけるキュベット1上の粉塵などの不純物を、配置ユニット20のケージングの底部に設けられた貫通孔経由で、収集ボックス21の中に引き付ける。
Also, the
図3の上部には、放電回路22の回路構成の一例が示されている。放電回路22は、一端が接地された高圧直流電源22Bと、高圧直流電源22Bの他端と直列に接続された抵抗素子R1、R2と、抵抗素子R1と抵抗素子R2の間に接続され、高圧直流電源22Bと並列に接続された容量素子であるコンデンサC1と、抵抗素子R1、R2と直列に接続され、放電のための電荷を蓄積する放電スイッチ22Cと、を有する。なお、高圧直流電源22Bと抵抗素子R1との間には、高圧直流電源22Bと抵抗素子R1とを接続するための電源スイッチ22Dが設けられる。制御回路が放電スイッチ22Cをオン/オフ制御することで、放電回路22が収集ボックス21に対して放電し、収集ボックス21に静電気を発生させる。図3に示した放電回路22の回路構成は、一例に過ぎず、放電可能な構成であれば、図3に示した回路構成でなくても良い。
An example of the circuit configuration of the
図4は、第1の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の配置ユニット20に設けられた静電気除去機構20Aの一例を示す簡単な概略図である。図4では、配置ユニット20がキュベット1を収容できる空間として簡単に表され、収集ボックス21は、レール50及び移動機構を収納するケージング20Bの下方に設けられる。ケージング20Bの底部には、複数の貫通孔23が設けられる。また、配置ユニット20のケージング20Bの下方には、放電回路22と接続された収集ボックス21が、配置ユニット20と距離を空けて設けられ、収集ボックス21と放電回路22とからなる静電気除去構造20Aにより、配置ユニット20の中に存在する粉塵などの不純物に対し静電気作用で引き付けることで、粉塵などの不純物が貫通孔23経由で収集ボックス21の中に引き付けられる。
FIG. 4 is a simple schematic diagram showing an example of the
次に、第1の実施形態に係る自動分析装置200の処理手順(自動分析方法)について説明する。図5は、第1の実施形態に係る自動分析装置200の処理手順を示すフローチャートである。
Next, a processing procedure (automatic analysis method) of the
まず、自動分析の開始時に、キュベット搬送装置100の収納ユニット10の中にキュベット1が投入され、収納ユニット10は、投入されたキュベット1を収納する。ここで、キュベット1が、収納ユニット10のケージング13に上方から投入されたとき、ケージング13と仕切り板11との間や、2つの仕切り板11の間に落ちて、ブラシ12と接触する(図5のステップS501)。この過程において、キュベット1上の不要な静電気が除去されるので、粉塵などの不純物がキュベット1に吸着されることなく、当該キュベット1が収納ユニット10から配置ユニット20に搬送される。
First, at the start of automatic analysis, the
次に、キュベット搬送装置100において、配置ユニット20は、収納ユニット10から供給されたキュベット1を、レール50により整列させることで、キュベット1を所定の姿勢で搬送ユニット30に供給する。例えば、配置ユニット20は、低い位置に下がった際に、キュベット1をレール50に整列させ、高い位置に上った際に、レール50内のキュベット1を順次に搬送ユニット30に供給する。ここで、配置ユニット20では、放電回路22を起動させることで、収集ボックス21を利用し、レール50により整列されたキュベット1から落ちた粉塵などの不純物を静電気で引き付け、収集ボックス21の中に引き込む(図5のステップS502)。
Next, in the
次に、粉塵などの不純物を除去されたキュベット1が搬送ユニット30のレール30Aに並べられることで(図5のステップS503)、搬送ユニット30が、配置ユニット20から供給されたキュベット1の姿勢をそのまま保持して反応ディスク60に搬送する(図5のステップS504)。次に、分析装置70では、注入機構により、反応ディスク60上のキュベット1に対し試料を注入し、測定機構により、キュベット1内の液体を測定することによって、試料に対する様々な分析を行う(図5のステップS505)。
Next, the
以上の説明により、第1の実施形態に係る自動分析装置200では、キュベット搬送装置100でキュベット1を搬送する過程において、粉塵などの不純物を除去することで、粉塵などの不純物がキュベット1に混入しない。このため、第1の実施形態に係る自動分析装置200では、分析装置70が行う分析結果に影響がなく、分析精度が向上する。
As described above, in the
例えば、第1の実施形態に係る自動分析装置200では、収納ユニット10のケージング13内に、キュベット1に付いた静電気を金属の伝導作用により除去するための静電気除去構造10A(仕切り板11およびブラシ12)を設けることにより、キュベット搬送装置100でキュベット1を搬送する過程において、粉塵などの不純物を除去することができる。
For example, in the
また、例えば、第1の実施形態に係る自動分析装置200では、配置ユニット20のキュベット1を移送する経路(レール50及び移動機構を収納するケージング20B)の下方に、静電気を利用して粉塵などの不純物を引き付ける作用を発生させる静電気除去構造20A(収集ボックス21および放電回路22)を設けることにより、キュベット搬送装置100でキュベット1を搬送する過程において、粉塵などの不純物を除去することができる。
Further, for example, in the
このように、第1の実施形態に係る自動分析装置200によれば、分析精度を向上させることができる。
Thus, according to the
(第1の実施形態の変形例1)
第1の実施形態に係る自動分析装置200では、キュベット搬送装置100の配置ユニット20において、キュベット1を移送する経路(レール50及び移動機構を収納するケージング20B)の下方に、静電気を利用して粉塵などの不純物を引き付ける作用を発生させる収集ボックス21および放電回路22を備える静電気除去構造20Aが設けられているが、これに限定されない。例えば、配置ユニット20の静電気除去構造20Aは、放電回路22を備えず、収集ボックス21のみを備えてもよい。この場合でも、静電気除去構造20Aは、収集ボックス21のみを利用して、キュベット1を搬送する過程においてキュベット1から落ちた粉塵などの不純物を収集することができる。
(
In the
また、第1の実施形態に係る自動分析装置200では、静電気除去構造20Aは、キュベット搬送装置100の配置ユニット20に設けられているが、収納ユニット10に設けられてもよい。具体的には、静電気除去構造20A(収集ボックス21と放電回路22)が、収納ユニット10における静電気除去構造10Aのキュベット1を収容するケージング13の下方に設けられ、当該ケージング13の底部には貫通孔が設けられる。この場合、収納ユニット10において、静電気除去構造10A(仕切り板11およびブラシ12)により、キュベット1から落ちた粉塵などの不純物を、静電気除去構造20A(収集ボックス21、放電回路22)内に引き付けることができる。
Moreover, in the
また、第1の実施形態に係る自動分析装置200では、キュベット搬送装置100に静電気除去構造10Aと静電気除去構造20Aとが設けられているが、例えば、静電気除去構造20A(収集ボックス21と放電回路22)が設けられなくてもよい。この場合でも、収納ユニット10において、静電気除去構造10A(金属製の仕切り板11および導電性のブラシ12)により、キュベット1に付いた静電気を金属の伝導作用により除去することができる。
Further, in the
また、第1の実施形態に係る自動分析装置200では、収納ユニット10の静電気除去構造10Aは、ブラシ12を備えず、仕切り板11のみを備えてもよい。この場合でも、静電気除去構造10Aは、金属製の仕切り板11のみを利用して、キュベット1を搬送する過程においてキュベット1が仕切り板11とぶつかることにより、キュベット1に付いた静電気を金属の伝導作用により除去することができる。
Moreover, in the
また、第1の実施形態に係る自動分析装置200では、例えば、静電気除去構造10Aが設けられなくてもよい。この場合、配置ユニット20において、静電気除去構造20A(収集ボックス21、放電回路22)により、キュベット1に付いた静電気を金属の伝導作用により除去する。
Moreover, in the
(第1の実施形態の変形例2)
さらに、第1の実施形態に係る自動分析装置200では、収納ユニット10の静電気除去構造10Aにおいて、キュベット1を収容するケージング13内に、互いに平行であり且つ上下に延びた金属製の仕切り板11が3つ設けられているが、静電気除去構造10Aは、静電気を除去することができれば、複数の仕切り板11が設けられた構造に限定されず、他の構造を用いても良い。
(Modification 2 of the first embodiment)
Furthermore, in the
例えば、図6Aは、第1の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の収納ユニット10に設けられた静電気除去構造10Aの変形例として、当該静電気除去構造10Aの一部を示す概略図である。図6Bは、図6Aの静電気除去構造10Aを示す斜視図である。
For example, FIG. 6A schematically shows a part of the static
収納ユニット10の静電気除去構造10Aは、複数の回転軸14、複数のブラシ15を備える。即ち、本変形例では、静電気除去構造10Aは、上述した複数の仕切り板11、複数のブラシ12に代えて、複数の回転軸14、複数のブラシ15を備える。複数の回転軸14、複数のブラシ15は、キュベット1が収納されるケージング13内に設けられる。
The static
例えば、複数の回転軸14は、金属からなる。具体的には、図6A、図6Bに示すように、ケージング13内に、複数の回転軸14として3つの金属製の回転軸14が、並行に設けられる。なお、図6Bでは3つの回転軸14を示しているが、回転軸14の数は3つでなくてもよく、収納ユニット10のケージング13の大きさに応じて適宜変更することができる。例えば、複数のブラシ15の各々は、回転軸14に設けられる。具体的には、各ブラシ15は、一端部が回転軸14に固定されて、他端部が回転軸14から回転軸14の周方向に外へ延びるように設けられる。ブラシ15は、例えば、導電性繊維、カーボンファイバーなどの導電性材料からなる。収納ユニット10の静電気除去構造10Aでは、ケージング13内において、回転軸14は、キュベット1がブラシ15を通過するように設けられる。
For example, the multiple
このような構造によれば、操作者又は投入装置によって収納ユニット10にキュベット1を投入する場合、キュベット1は、図6A、図6Bに示すように、下へ移動する過程において、ブラシ15と接触することで、キュベット1に付いた静電気が金属の伝導作用により除去される。よって、キュベット1に付着した粉塵などの不純物はキュベット1からより落ち易くなる。
According to this structure, when the
ここで、収納ユニット10の静電気除去構造10Aは、回転軸14に対して駆動機構を設置し、回転軸14を回転させても良い。具体的には、静電気除去構造10Aは、更に、キュベット1がブラシ15を通過する際に回転軸14が回転するように、回転軸14を駆動する駆動機構を備えてもよい。ここで、駆動機構は、「回転軸駆動部」の一例である。
Here, the static
これにより、静電気除去構造10Aは、キュベット1が、ケージング13と回転軸14との間や、2つの回転軸14の間に落ちることを促進し、キュベット1に付着した粉塵などの不純物を除去することも促進することができる。
As a result, the static
なお、収納ユニット10の静電気除去構造10Aにおいて、仕切り板11または回転軸14は、金属でなくてもよく、キュベット1に付いた静電気を除去することが可能であれば、他の材料であっても良い。
In addition, in the static
(第2の実施形態)
以下、図7~図11を参照しながら、第2の実施形態について説明する。
(Second embodiment)
The second embodiment will be described below with reference to FIGS. 7 to 11. FIG.
図7は、第2の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の構造を示す全体的概略図である。図7では、第2の実施形態におけるキュベット搬送装置100の各構成について説明を行い、分析装置70などの他の構成についての説明を省略する。
FIG. 7 is an overall schematic diagram showing the structure of the
図7に示すように、第2の実施形態に係るキュベット搬送装置100は、順次に接続された収納ユニット10a、配置ユニット20aおよび搬送ユニット30aを備え、キュベット1を収納ユニット10aから、配置ユニット20aおよび搬送ユニット30a経由で反応ディスク60に搬送する。
As shown in FIG. 7, the
ここで、収納ユニット10a、配置ユニット20aおよび搬送ユニット30aは、それぞれ、第1の実施形態における収納ユニット10、配置ユニット20および搬送ユニット30に相当する。
Here, the
まず、第2の実施形態における収納ユニット10aについて、図7を用いて説明する。
First, a
収納ユニット10aの主体構造は、上方が開口したケージング13であり、空きのキュベット1が収納ユニット10aの上方にある開口から収納ユニット10aに投入されることで、収納ユニット10aで一時的に収納される。ケージング13の下面には、配置ユニット20aに向いて傾斜した斜面が形成されることで、キュベット1は配置ユニット20a側へ移動する。
The main structure of the
具体的には、収納ユニット10aは、少なくとも、キュベット1が収納されるケージング13を備える。ここで、第2の実施形態では、以下に説明する配置ユニット20aの構成により、収納ユニット10aにおいて、上下方向に移動することによりキュベット1を取り出して配置ユニット20に落とす分離器と、分離器を上下方向に移動させる移動機構と、分離器及び移動機構を収納するケージングとが不要となる。
Specifically, the
次に、第2の実施形態における配置ユニット20aについて、図7、図8を用いて説明する。
Next, an
配置ユニット20aは、収納ユニット10aと搬送ユニット30aとの間に接続されている。配置ユニット20aの主体は、鉛直方向に沿う中心軸を周りに螺旋上昇することができるコンベヤーベルトであり、当該コンベヤーベルトは、収納ユニット10aに収納されたキュベット1を輸送ユニット30aに順次に並べるために用いられる。
The
具体的には、配置ユニット20aは、コンベヤーベルト24と、モータ24Aと、コンベヤーベルト24及びモータ24Aを収納するケージングとを備える。即ち、配置ユニット20aは、第1の実施形態におけるレール50と、レール50を上下方向に移動させる移動機構と、レール50及び移動機構を収納するケージングとに代えて、コンベヤーベルト24と、モータ24Aとを備える。
Specifically, the
コンベヤーベルト24の下方に、モータ24Aが接続されており、モータ24Aによる駆動に応じて、コンベヤーベルト24が中心軸を周りに螺旋上昇することができる。例えば、収納ユニット10aのケージング13と配置ユニット20aのケージングとの間には、キュベット1が通過できる開口が設けられ、収納ユニット10aのケージング13の下面には、配置ユニット20aに向いて傾斜した斜面が形成されることで、キュベット1が配置ユニット20a側へ移動する。このため、収納ユニット10aの中に乱雑に収納されたキュベット1が配置ユニット20aの下部に蓄積する。ここで、配置ユニット20a内でコンベヤーベルト24の上に落ちたキュベット1は、コンベヤーベルト24の螺旋上昇運動に従い、上に向かって螺旋移動する。
A
このように、第2の実施形態では、配置ユニット20aがコンベヤーベルト24、モータ24Aを備えることにより、例えば、収納ユニット10aは、少なくとも、キュベット1が収納されるケージング13を備えていればよく、上下方向に移動することによりキュベット1を取り出して配置ユニット20に落とす分離器と、分離器を上下方向に移動させる移動機構と、分離器及び移動機構を収納するケージングとが不要となる。
Thus, in the second embodiment, the
図8は、第2の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の配置ユニット20aの構造を示す概略図である。また、図8の右上には、コンベヤーベルト24の正面図が示されており、図8の左下には、コンベヤーベルト24の俯瞰図が示されている。
FIG. 8 is a schematic diagram showing the structure of the
コンベヤーベルト24は、モータ24Aによる作用の下で、鉛直方向の中心軸を周りに螺旋上昇な経路を形成する。ここで、コンベヤーベルト24が形成する経路は、螺旋上昇レールとして機能する。コンベヤーベルト24の表面には、一定の摩擦力を有する材料が用いられる。例えば、配置ユニット20aの下部に蓄積したキュベット1(例えば、図7のキュベット1A)がコンベヤーベルト24の螺旋上昇レールに乗ると、当該キュベット1がコンベヤーベルト24の螺旋上昇運動に従って螺旋上昇する。続いて、配置ユニット20aの下部に蓄積した別のキュベット1(例えば、図7のキュベット1B)がコンベヤーベルト24の螺旋上昇レールに乗った場合、当該キュベット1がコンベヤーベルト24の螺旋上昇運動に従って螺旋上昇する。一方、配置ユニット20aの下部に蓄積したキュベット1(例えば、図7のキュベット1C)がコンベヤーベルト24の螺旋上昇レールに乗れない場合には、当該キュベット1は、配置ユニット20aの下部に落ち戻る。
また、コンベヤーベルト24は、金属材料からなる、または、接地されることで、例えば第1の実施形態における静電気除去機構20Aと同様に、当該コンベヤーベルト24上に搬送されたキュベット1の静電気を除去することができる。
In addition, the
更に、配置ユニット20aは、所定の長さを有するレール25を備える。レール25は、コンベヤーベルト24の頂部に設けられる。レール25は、キュベット1を整列させるために、所定距離だけ離間して配置されたレール25a、25bである。ここで、所定距離は、キュベット1のフランジよりも短く、キュベット1の胴体部の外径よりも長い。この形状により、キュベット1が順次にコンベヤーベルト24の螺旋上昇運動に従ってコンベヤーベルト24の頂部に上昇した際に、キュベット1(例えば、図7、図8のキュベット1D)の胴体部は、一定の確率でレール25aとレール25bとの間に落ちて、レール25に挟まれ、キュベット1の開口が上へ向く状態として、当該キュベット1がレール25上を移動する。一方、レール25aとレール25bとの間に入っていないキュベット1(図8のキュベット1E)は、配置ユニット20aの下部に落ち戻る。
Furthermore, the
配置ユニット20aにおいて、レール25は、搬送ユニット30aのレールと繋げられている。これにより、配置ユニット20aは、キュベット1を、当該キュベット1の開口が上へ向く状態で、搬送ユニット30aに渡すことができる。即ち、配置ユニット20aは、コンベヤーベルト24、モータ24A、レール25を備えることにより、キュベット1が軸周りに螺旋上昇可能な経路を形成しており、当該経路上でキュベット1を螺旋上昇させた後、所定の姿勢で並べ、搬送ガイドレール31に順次に送ることができる。ここで、配置ユニット20aは、「容器配置機構」の一例である。
In the
次に、第2の実施形態における搬送ユニット30aについて、図7、図9を用いて説明する。
Next, a
搬送ユニット30aは、キュベット1を搬送することで、反応ディスク60内で分析が行われるように、キュベット1を、移送先である分析装置70の反応ディスク60の所定位置に移送する。
By transporting the
具体的には、搬送ユニット30aは、搬送ガイドレール31と、挟みユニット35とを備える。即ち、搬送ユニット30aは、第1の実施形態におけるレール30Aに代えて、搬送ガイドレール31と、挟みユニット35とを備える。
Specifically, the conveying
搬送ガイドレール31は、配置ユニット20aのレール25と繋がるレールである。搬送ガイドレール31は、キュベット1を移送先(反応ディスク60)に搬送する搬送経路において、配置ユニット20aからキュベット1の開口が上へ向く状態で当該キュベット1を受け取り、当該搬送経路による搬送により、キュベット1の姿勢を、当該キュベット1の開口が下へ向く状態へ転換させる。ここで、搬送ガイドレール31は、「容器方向転換ユニット」の一例である。
The
搬送ガイドレール31は、搬送経路において、キュベット1の開口が下へ向く状態にキュベット1の姿勢を転換することにより、キュベット1内の粉塵などの不純物を落ち易くする。また、搬送ガイドレール31は、接地されることで、静電気除去機構を構成する。即ち、搬送ガイドレール31は、搬送経路上のキュベット1の静電気を除去することができる。
The
挟みユニット35は、搬送ガイドレール31の搬送経路の末端に設けられる。挟みユニット35は、搬送ガイドレール31から、開口が下へ向く状態のキュベット1を受け取り、当該キュベット1を挟む。そして、挟みユニット35は、キュベット1の開口が上へ向く状態になるように、キュベット1を反転させる。その後、挟みユニット35は、反応ディスク60の所定位置に送り込む。
The clamping
図9は、第2の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の搬送ユニット30aの搬送経路を形成する搬送ガイドレール31を示す概略図である。図9に示すように、搬送ガイドレール31は、複数の搬送経路において、複数のガイドレールを有する。例えば、搬送ガイドレール31は、キュベット1を複数のガイドレールによって同時に当接することで、キュベット1を所定の姿勢で複数のガイドレールに沿って移動させる。
FIG. 9 is a schematic diagram showing the
図9に示す例では、搬送ガイドレール31は、複数のガイドレールとして、3本のガイドレール31a、31b、31cを有する。例えば、搬送ガイドレール31は、複数のガイドレールとして、キュベット1の開口位置に当接するガイドレール31c、および、キュベット1の頭部を挟む少なくとも2本のガイドレール31a、31bを含む。
In the example shown in FIG. 9, the
具体的には、ガイドレール31aとガイドレール31bとが配置ユニット20aのレール25と繋がっていることで、配置ユニット20aのコンベヤーベルト24から送られてきたキュベット1が、レール25を通って、ガイドレール31aとガイドレール31bとの間に落ちる。このとき、ガイドレール31aとガイドレール31bとがそれぞれキュベット1の頭部の両側で挟むことにより、キュベット1がガイドレール31aとガイドレール31bとの間から落ちることを防ぐ。ここで、図9のB-B断面に示すように、キュベット1の胴体部1aの開口側にはフランジ1bが形成されていて、ガイドレール31aとガイドレール31bとは、所定距離だけ離間して配置される。所定距離は、キュベット1のフランジ1bよりも短く、キュベット1の胴体部1aの外径よりも長い。キュベット1の頭部とは、例えば、キュベット1の胴体部1aのフランジ1b側の部分であり、ガイドレール31aとガイドレール31bとが、キュベット1の胴体部1aを挟みながら、当該キュベット1のフランジ1bに当接することで、キュベット1の頭部を挟む。
Specifically, since the
また、ガイドレール31aとガイドレール31bとが、キュベット1の胴体部1aを挟みながら、キュベット1のフランジ1bに当接する状態で、ガイドレール31cがキュベット1の開口位置に当接することで、キュベット1が傾斜または逆立ちになる時に落ちることを防ぐ。そのため、キュベット1が、開口が上へ向く状態でガイドレール31aとガイドレール31bとの間に位置した経路で、ガイドレール31cを設けず、キュベット1が落ちる可能性がある箇所のみに、ガイドレール31cを設けても良い。また、搬送経路全体をわたってガイドレール31cを設けることで、ガイドレール31a、31bおよび31cを合わせてキュベット1の位置を3本のガイドレール31a、31b、31cで囲まれた空間の中に固定しても良い。
The
また、3本のガイドレール31a、31b、31cは螺旋形状になっており、キュベット1が配置ユニット20aから離れるに従って、ガイドレール31a、31b、31cによって同時に当接されたキュベット1の姿勢が、順次に、図9のB-B断面、C-C断面、D-D断面、E-E断面で示された姿勢に転換する。
The three
図9のB-B断面は、ガイドレール31a、31b、31cの搬送経路の始端となる位置である。図9のB-B断面では、ガイドレール31a、31b、31cは、キュベット1の姿勢を、当該キュベット1の開口が上へ向くように当接しており、この姿勢が配置ユニット20aから離れたばかりの姿勢である。
The BB cross section in FIG. 9 is the starting end of the transport path of the
続いて、図9のC-C断面では、ガイドレール31a、31b、31cがキュベット1を時計回りに回転させ、当該キュベット1の開口が右上へ傾斜するような姿勢になる。
Subsequently, in the CC section of FIG. 9, the
次に、図9のD-D断面では、ガイドレール31a、31b、31cがキュベット1をさらに時計回りに回転させ、当該キュベット1の開口が右下へ傾斜するような姿勢になる。
Next, in the DD section of FIG. 9, the
また、図9のE-E断面は、ガイドレール31a、31b、31cの搬送経路の末端となる位置にある。図9のE-E断面では、ガイドレール31a、31b、31cがキュベット1の姿勢を、当該キュベット1の開口が下へ向く姿勢に当接している。即ち、キュベット1の開口が下へ向く状態にキュベット1の姿勢が転換される。
The EE section of FIG. 9 is at the end of the transport path of the
このように、第2の実施形態では、搬送ユニット30aが搬送ガイドレール31を備えることにより、キュベット1を搬送ガイドレール31で移送する際に、キュベット1の姿勢は、当該キュベット1の開口が下へ向く姿勢に転換されるので、キュベット1中の粉塵などの不純物をより落ち易くすることができる。
As described above, in the second embodiment, the
なお、ガイドレール31aがレール25aと繋がり、ガイドレール31bがレール25bと繋がり、両者も一体に形成された構造であっても良い。また、図9に示す例では、レール25の数がガイドレール31の数と一致していないが、レール25の数をガイドレール31の数と一致させることで、繋がりをよりスムーズにしても良い。
The
図7の説明に戻る。 Returning to the description of FIG.
搬送ユニット30aは、更に、静電気除去ユニット32と、開閉扉33とを備える。静電気除去ユニット32と開閉扉33とは、搬送ガイドレール31の搬送経路の末端に設けられる。
The conveying
静電気除去ユニット32は、図7における点線枠の拡大図に示すように、2つのブラシ付きの金属軸であり、複数の回転軸32A、複数のブラシ32Bを備える。なお、図7の静電気除去ユニット32を示す拡大図では、搬送ガイドレール31の図示を省略している。
As shown in the enlarged view of the dotted frame in FIG. 7, the
例えば、複数の回転軸32Aは、金属からなる。具体的には、図7に示すように、複数の回転軸32Aとして2つの金属製の回転軸32Aが、平行に設けられる。例えば、複数のブラシ32Bの各々は、回転軸32Aに設けられる。具体的には、各ブラシ32Bは、一端部が回転軸32Aに固定されて、他端部が回転軸32Aから回転軸32Aの周方向に外へ延びるように設けられる。静電気除去ユニット32では、搬送ガイドレール31の搬送経路の末端において、回転軸32Aは、キュベット1がブラシ32Bを通過するように設けられる。ここで、静電気除去ユニット32は、「静電気除去部」の一例である。
For example, the multiple
このような構造によれば、開口が下へ向く姿勢であるキュベット1は、2つの金属製の回転軸32Aの間を通過する過程において、ブラシ32Bと接触することにより、キュベット1に付いた静電気が金属の伝導作用により除去される。そのため、キュベット1に吸着した粉塵などの不純物がキュベット1からより落ち易くなる。
According to such a structure, the
ここで、静電気除去ユニット32は、回転軸32Aに対して駆動機構を設置し、回転軸32Aを回転させても良い。具体的には、静電気除去ユニット32は、更に、キュベット1がブラシ32Bを通過する際に回転軸32Aが回転するように、回転軸32Aを駆動する駆動機構を備えてもよい。ここで、駆動機構は、「回転軸駆動部」の一例である。
Here, the static
これにより、静電気除去ユニット32は、キュベット1に付着した粉塵などの不純物を除去することを促進することができる。
Thereby, the static
また、開閉扉33は、搬送ガイドレール31の搬送経路の末端に設けられ、例えば、静電気除去ユニット32の後段に設けられる。開閉扉33は、搬送ガイドレール31からキュベット1を受け取り、一時的に支持し、挟みユニット35が開閉扉33の対向する位置に来た際に、開閉扉33が開き、キュベット1が挟みユニット35の位置に落ちて挟みユニット35によって挟まれる。挟みユニット35が開閉扉33の対向する位置に来ていない場合、開閉扉33が閉じてキュベット1の落ちることを阻止する。
Further, the opening/closing
挟みユニット35は、キュベット1を挟み、挟まれたキュベット1を直径方向に沿って延びた状態で挟みユニット35の回転軸を周りに周方向に回転させることができる。挟みユニット35は、開閉扉33の下方に回転した際に、開き位置になって開閉扉33から落ちたキュベット1を受け取り、この受取位置から離れた後にキュベット1を挟んで回転する。挟みユニット35は、キュベット1の開口が上へ向くような位置に回転した際に、再び開き、キュベット1を解放することで、キュベット1が、下方にある反応ディスク60の所定位置に落ちる。
The clamping
図10A~図10Cは、第2の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の搬送ユニット30aの挟みユニット35の構造を示す概略図である。
10A to 10C are schematic diagrams showing the structure of the clamping
図10Aに示すように、挟みユニット35は、両側からキュベット1を挟むことが可能な受け板352と、伸縮可能で受け板352を支持する押付スプリング351と、受け板352の間で一方側から当接する支持部材353と、を有する。また、挟みユニット35が中心軸を周りに回転可能な円盤に設けられ、且つ、当該中心軸には、ブロック34が固定されることで、挟みユニット35が円盤の回転に従い中心軸を周りに回転して、ブロック34に対し移動するように形成される。
As shown in FIG. 10A, the clamping
図10Aでは、同図に示すL位置の近くに、挟みユニット35が下へ向くキュベット1の開口に対向する位置に回転した際に、支持部材353は、位置が固定されたブロック34と当接することで、押付スプリング351の圧力と抵抗して受け板352を外側へ押し開ける。よって、受け板352が開き、キュベット1が受け板352の間に落ちる。
In FIG. 10A,
挟みユニット35が反時計回りに回転すると、支持部材353がブロック34から離れ受け板352の間から抜き出すことで、押付スプリング351の付勢により受け板352がキュベット1を挟み保持する。図10Bには、挟みユニット35がキュベット1を挟んで回転した状態を示す。
When the clamping
次に、図10Cに示すように、挟みユニット35が更に反時計回りに、キュベット1の開口が上へ向き、底部が下方にある反応ディスク60の対応位置と合わせるように回転した際に、支持部材353が別箇の、位置が固定されたブロック34と当接することで、押付スプリング351の圧力と抵抗して受け板352を再び押し開ける。よって、受け板352が開き、キュベット1が反応ディスク60の対応位置に落ちる。そうすると、キュベット1の搬送が終了する。
Next, as shown in FIG. 10C, when the clamping
図10A~図10Cでは、挟みユニット35が固定された中心軸を周りに回転可能な円盤に設けられ、ブロック34が中心軸に設けられた例について示したが、挟みユニット35は、図10A~図10Cに示す構造に限らず、ブロック34を固定させて挟みユニット35をブロック34に対する所定の位置に移動させることが可能な構成さえであれば良く、具体的な位置決め構造は、任意的に設置しても良い。
10A to 10C show an example in which the
また、挟みユニット35の回転方向には、周方向に間隔をあけて複数の挟みユニット35を設けても良い。この場合、搬送ガイドレール31からキュベット1を順次に受け取り搬送することで、搬送の効率を向上させることが可能になる。図10A~図10Cには、周方向に4つの挟みユニット35が設けられた例のみについて示したが、挟みユニット35の数は4つに限らず、任意的に設定しても良い。
In addition, a plurality of pinching
次に、第2の実施形態に係る自動分析装置200の処理手順(自動分析方法)について説明する。図11は、第2の実施形態に係る自動分析装置200の処理手順を示すフローチャートである。
Next, a processing procedure (automatic analysis method) of the
まず、自動分析の開始時に、キュベット搬送装置100の収納ユニット10aの中にキュベット1が投入され、収納ユニット10aは、投入されたキュベット1を収納する。ここで、キュベット1が、収納ユニット10aのケージング13に上方から投入されたとき、収納ユニット10aの下方である斜面に沿って配置ユニット20a側へ移動する(図11のステップS111)。
First, at the start of automatic analysis, the
次に、キュベット1が配置ユニット20aのコンベヤーベルト24に進入し、配置ユニット20aのコンベヤーベルト24が駆動され螺旋上昇することにより、キュベット1が搬送ユニット30aに配置されるようにガイドされ、当該キュベット1の開口が上へ向く姿勢で搬送ユニット30aの搬送ガイドレール31に並べられる(図11のステップS112)。
Next, the
次に、搬送ガイドレール31は、複数本のガイドレールでキュベット1を挟んで搬送し、搬送ガイドレール31の搬送経路においてキュベット1を容器の開口が下へ向く姿勢に転換させる(図11のステップS113)。
Next, the
且つ、搬送ガイドレール31の搬送経路においては、キュベット1に静電気除去ユニット32を通過させることで、キュベット1の静電気を除去する。その後、キュベット1が反応ディスク60の上方に搬送されて、開閉扉33経由で挟みユニット35の中に落ちる(図11のステップS114)。
In addition, static electricity of the
挟みユニット35がキュベット1を挟んだ後、キュベット1を反転させ、反応ディスク60に入れる(図11のステップS115)。次に、分析装置70では、注入機構により、反応ディスク60上のキュベット1に試料を注入し、測定機構により、キュベット1内の液体を測定することによって、試料に対する様々な分析を行う(図11のステップS116)。
After the
以上の説明により、第2の実施形態に係る自動分析装置200では、キュベット搬送装置100でキュベット1を搬送する過程において、粉塵などの不純物を除去することで、粉塵などの不純物がキュベット1に混入しない。このため、第2の実施形態に係る自動分析装置200では、分析装置70が行う分析結果に影響がなく、分析精度が向上する。
As described above, in the
例えば、第2の実施形態に係る自動分析装置200では、搬送ユニット30aが、搬送ガイドレール31の搬送経路において、キュベット1の開口が下へ向く状態にキュベット1の姿勢を転換することにより、キュベット1内の粉塵などの不純物を落ち易くする。また、搬送ガイドレール31は、接地されることで、搬送経路上のキュベット1の静電気を除去することができる。
For example, in the
また、第2の実施形態に係る自動分析装置200では、搬送ユニット30aが、搬送ガイドレール31の搬送経路の末端において、静電気を利用して粉塵などの不純物を引き付ける作用を発生させる静電気除去構造20A(回転軸32A、ブラシ32B)を設けることにより、キュベット搬送装置100でキュベット1を搬送する過程において、粉塵などの不純物を除去することができる。
In addition, in the
また、第2の実施形態に係る自動分析装置200では、挟みユニット35がキュベット1を挟み、開口が上へ向く姿勢に再び反転することにより、キュベット1を反応ディスクの中にスムーズに入れることが可能になる。
In addition, in the
(第2の実施形態の変形例)
第2の実施形態に係る自動分析装置200では、ガイドレール31に、キュベット1に静電気除去ユニット32を通過させることでキュベット1の静電気を除去する構成が設けられたが、静電気を除去する方式がそれに限らず、ガイドレール31を接地させることでガイドレール31に搬送されたキュベット1の静電気を除去しても良い。
(Modification of Second Embodiment)
In the
また、第2の実施形態に係る自動分析装置200では、3本のガイドレール31a、31b、31cからガイドレール31が構成されたが、ガイドレールの数はそれに限らず、3本以上のガイドレールを用いキュベット1をガイドしてもよく、キュベット1の形状に応じてガイドレールの数を具体的に設計しても良く、キュベット1の姿勢を一定に保持し安定に搬送できれば良い。
In addition, in the
また、第2の実施形態に係る自動分析装置200では、挟みユニット35の回転方向および軌跡も、反時計回りの方向および円周の軌跡に限らず、キュベット1を開口が上へ向くように反転できれば良く、具体的な回転方向および軌跡を反応ディスクへの搬送に合わせて変更しても良い。
In addition, in the
(第3の実施形態)
以下、図12を参照しながら、第3の実施形態について説明する。
(Third Embodiment)
A third embodiment will be described below with reference to FIG.
第3の実施形態に係る自動分析装置200では、第1の実施形態における収納ユニット10と第2の実施形態における配置ユニット20aおよび搬送ユニット30aとを組み合わせてキュベット1の搬送を行う。
In the
図12は、第3の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の構造を示す全体的概略図である。図12に示すように、第3の実施形態に係るキュベット搬送装置100は、順次に接続された収納ユニット10b、配置ユニット20bおよび搬送ユニット30bを備え、キュベット1を収納ユニット10bから配置ユニット20bおよび搬送ユニット30b経由で反応ディスク60に搬送する。
FIG. 12 is an overall schematic diagram showing the structure of the
ここで、収納ユニット10b、配置ユニット20bおよび搬送ユニット30bは、それぞれ、第1の実施形態における収納ユニット10、第2の実施形態における配置ユニット20aおよび搬送ユニット30aに相当する。
Here, the
即ち、収納ユニット10bの構成は、第1の実施形態における収納ユニット10と同一であり、収納ユニット10bのケージング13の中には、通過したキュベット1に対し静電気を除去するように、ブラシ12付きの仕切り板11が設けられる。また、配置ユニット20bおよび搬送ユニット30bの構成は、それぞれ、第2の実施形態における配置ユニット20aおよび搬送ユニット30aと同一であり、配置ユニット20bでは、螺旋上昇したコンベヤーベルト24を利用してキュベット1を搬送する。搬送ユニット30bには、静電気を除去するための静電気除去ユニット32が設けられ、搬送ガイドレール31による搬送により、キュベット1の開口方向を下へ向く状態に反転した後、開閉扉33及び挟みユニット35により、キュベット1の開口方向を上へ向くように再び反転する。従って、ここで詳しい説明は省略する。
That is, the structure of the
第3の実施形態に係る自動分析装置200では、第1の実施形態と第2の実施形態とを組み合わせたため、以上に説明した第1の実施形態および第2の実施形態と同一の技術的効果を奏することができる。
Since the
また、第3の実施形態に係る自動分析装置200では、収納ユニット10bおよび搬送ユニット30bにキュベット1の静電気を除去する構成をそれぞれ設けることにより、キュベット1の各搬送過程において生じた粉塵などの不純物をさらに除去することができ、自動分析装置200の精度をさらに向上させることができる。
In addition, in the
(第4の実施形態)
以下、図13を参照しながら、第4の実施形態について説明する。
(Fourth embodiment)
A fourth embodiment will be described below with reference to FIG.
第4の実施形態に係る自動分析装置200では、第1~第3の実施形態に対して、搬送ユニットの搬送経路において、更に、以下に説明する清掃機構が設けられる。例えば、第4の実施形態では、第2の実施形態に対して、搬送ユニット30aの搬送経路において、図13に示す清掃機構が設けられる場合について説明する。
In the
図13は、第4の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の構造を示す全体的概略図である。
FIG. 13 is an overall schematic diagram showing the structure of the
図13に示すように、キュベット搬送装置100は、順次に接続された収納ユニット10c、配置ユニット20cおよび搬送ユニット30cを含み、キュベット1を収納ユニット10cから配置ユニット20cおよび搬送ユニット30c経由で反応ディスク60に搬送する。
As shown in FIG. 13, the
ここで、収納ユニット10c、配置ユニット20cおよび搬送ユニット30cは、それぞれ、第2の実施形態における収納ユニット10a、配置ユニット20aおよび搬送ユニット30aに相当する。更に、搬送ユニット30aは、搬送ガイドレール31の搬送経路において、清掃機構36を備える。従って、相違点のみについて説明し重複な説明を省略する。
Here, the
図13に示すように、清掃機構36が搬送ガイドレール31でキュベット1を移送する搬送経路に設けられ、その移送されたキュベット1に対し、キュベット1の内部を清掃する。
As shown in FIG. 13, the
図13の下方で示された拡大図のように、清掃機構36は、移動過程におけるキュベット1を順次に挟む挟み部材361と、挟み部材361で挟まれたキュベット1の中に伸びる吹管362および吸引管363と、吹管362および吸引管363がキュベット1の中に伸びた後、キュベット1の開口を密閉するシーリング材364と、を含む。
As shown in the enlarged view at the bottom of FIG. 13, the
吹管362がキュベット1の中に空気などのガスを吹き入れ、吸引管363の先端に、粉塵などの不純物を吸い込むための孔が複数設けられ、吹管362から吹き出されたガスが粉塵などの不純物を連れて吸引管363から排出される。
A
第4の実施形態では、吹管362がキュベット1に伸びた深さを吸引管363がキュベット1に伸びた深さよりも大きくすることで、キュベット1中の粉塵などをより全面的に吹き出すことができる。
In the fourth embodiment, the depth to which the
このように、第4の実施形態に係る自動分析装置200では、搬送ガイドレール31の搬送経路に清掃機構36を設けることにより、キュベット1の内部にある不純物をより綺麗に清掃することで、自動分析装置200の分析精度をより向上させることができる。
As described above, in the
(第5の実施形態)
以下、図14を参照しながら、第5の実施形態について説明する。
(Fifth embodiment)
The fifth embodiment will be described below with reference to FIG.
第5の実施形態に係る自動分析装置200では、第1~第3の実施形態に対して、搬送ユニットの搬送経路において、更に、以下に説明する清掃機構が設けられる。例えば、第5の実施形態では、第2の実施形態に対して、搬送ユニット30aの搬送経路において、図14に示す清掃機構が設けられる場合について説明する。
In the
図14は、第5の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の構造を示す全体的概略図である。
FIG. 14 is an overall schematic diagram showing the structure of the
図14に示すように、キュベット搬送装置100は、順次に接続された収納ユニット10d、配置ユニット20dおよび搬送ユニット30dを備え、キュベット1を収納ユニット10dから配置ユニット20dおよび搬送ユニット30d経由で反応ディスク60に搬送する。
As shown in FIG. 14, the
ここで、収納ユニット10d、配置ユニット20dおよび搬送ユニット30cは、それぞれ、第2の実施形態における収納ユニット10a、配置ユニット20aおよび搬送ユニット30aに相当する。更に、搬送ユニット30dは、搬送ガイドレール31の搬送経路において、清掃機構37を備える。従って、相違点のみについて説明し重複な説明を省略する。
Here, the
図14に示すように、清掃機構37が搬送ガイドレール31でキュベット1を移送する搬送経路に設けられ、特に、キュベット1の姿勢が、当該キュベット1の開口が下へ向く状態に転換された位置に設けられ、開口が下へ向く姿勢であるキュベット1に対し、キュベット1の内部を清掃する。
As shown in FIG. 14, the
図14の下方で示された拡大図のように、清掃機構37は、搬送経路におけるキュベット1を順次に挟む挟み部材371と、挟み部材371のキュベット1と反対側に設けられた圧電セラミック372と、を含む。
As shown in the enlarged view at the bottom of FIG. 14, the
圧電セラミック372は、振動を発生させることで、挟み部材371を振動させて、キュベット1中の粉塵などの不純物を落とすために用いられる。
The piezoelectric ceramic 372 is used to vibrate the pinching
このように、第5の実施形態に係る自動分析装置200では、搬送ガイドレール31の搬送経路に清掃機構37を設けることにより、キュベット1の内部にある不純物をより綺麗に清掃することで、自動分析装置200の分析精度をより向上させることができる。
As described above, in the
(第6の実施形態)
以下、図15を参照しながら、第6の実施形態について説明する。
(Sixth embodiment)
The sixth embodiment will be described below with reference to FIG.
第6の実施形態では、第4の実施形態における清掃機構36と第5の実施形態における清掃機構37とを組み合わせた清掃機構について説明する。ここで、清掃機構のみについて説明し、他の部分に対する説明を省略する。
In the sixth embodiment, a cleaning mechanism combining the
図15は、第6の実施形態に係る自動分析装置200におけるキュベット搬送装置100の清掃機構を示す概略図である。図15に示すように、第6の実施形態における清掃機構は、搬送経路におけるキュベット1を順次に挟む挟み部材361と、挟み部材361で挟まれたキュベット1の中に伸びる吹管362および吸引管363と、吹管362および吸引管363がキュベット1の中に伸びた後、キュベット1の開口を密閉するシーリング材364と、挟み部材361のキュベット1と反対側に設けられた圧電セラミック372と、を含む。
FIG. 15 is a schematic diagram showing the cleaning mechanism of the
吹管362がキュベット1の中に空気などのガスを吹き入れ、吸引管363の先端に、粉塵などの不純物を吸い込むための孔が複数設けられ、吹管362から吹き出されたガスが粉塵などの不純物を連れて吸引管363から排出される。
A
同時に、圧電セラミック372は、さらに、挟み部材361を振動させることで、キュベット1中の粉塵などの不純物を落とす。振動作用により落ちた粉塵などの不純物が、吹管362から吹き入れられた空気などによって吸引管363に連れられてガスとともに排出される。
At the same time, the piezoelectric ceramic 372 also shakes the clamping
第6の実施形態に係る自動分析装置200では、このような清掃機構を設けることにより、キュベット1の内部にある不純物をより綺麗に清掃することで、自動分析装置200の精度をより向上させることができる。
In the
以上説明した少なくとも1つの実施形態によれば、分析精度を向上させることができる。 According to at least one embodiment described above, analysis accuracy can be improved.
なお、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の主旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置換および変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 It should be noted that although several embodiments have been described, these embodiments are provided by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, substitutions, and modifications can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and spirit of the invention, as well as the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.
1 キュベット
10 収納ユニット
10A 静電気除去構造
20 配置ユニット
20A 静電気除去構造
30 搬送ユニット
32 静電気除去ユニット
100 キュベット搬送装置
Claims (17)
前記収納部から前記容器を移送する移送部と、
前記移送部から移送された前記容器に前記試料を注入し、当該容器内の液体を測定する測定部と、
前記収納部及び前記移送部のうち少なくとも1つに設けられ、前記容器の静電気を除去する静電気除去部と、
を備える自動分析装置。 a storage unit for storing a container for storing a sample to be analyzed;
a transfer unit that transfers the container from the storage unit;
a measurement unit that injects the sample into the container transferred from the transfer unit and measures the liquid in the container;
a static electricity removal unit provided in at least one of the storage unit and the transfer unit and removing static electricity from the container;
Automatic analyzer with
金属からなる板、
を備える請求項1に記載の自動分析装置。 The static electricity removing unit
a plate made of metal,
The automatic analyzer according to claim 1, comprising:
前記板に設けられたブラシ、
を備え、
前記板は、前記容器が前記ブラシを通過するように設けられる、
請求項2に記載の自動分析装置。 The static electricity removing unit
a brush provided on the plate;
with
the plate is provided so that the container passes through the brush;
The automatic analyzer according to claim 2.
金属からなる回転軸、
を備える請求項1に記載の自動分析装置。 The static electricity removing unit
a rotating shaft made of metal,
The automatic analyzer according to claim 1, comprising:
前記回転軸に設けられたブラシ、
を備え、
前記回転軸は、前記容器が前記ブラシを通過するように設けられる、
請求項4に記載の自動分析装置。 The static electricity removing unit
a brush provided on the rotating shaft;
with
The rotating shaft is provided so that the container passes through the brush.
The automatic analyzer according to claim 4.
前記容器が前記ブラシを通過する際に前記回転軸が回転するように、前記回転軸を駆動する回転軸駆動部、
を更に備える請求項4に記載の自動分析装置。 The static electricity removing unit
a rotary shaft drive for driving the rotary shaft such that the rotary shaft rotates when the container passes through the brush;
The automatic analyzer according to claim 4, further comprising:
請求項1に記載の自動分析装置。 The static electricity removal unit includes a brush, and the container is provided so as to pass through the brush.
The automatic analyzer according to claim 1.
前記容器を移送する経路の少なくとも一部の下方に設けられた粉塵収集部と、
静電気を利用して前記粉塵収集部に粉塵を引き付ける静電気引付ユニットと、
を備える請求項1に記載の自動分析装置。 The static electricity removing unit
a dust collector provided below at least part of the path for transferring the container;
an electrostatic attraction unit that uses static electricity to attract dust to the dust collector;
The automatic analyzer according to claim 1, comprising:
前記容器を前記測定部に搬送する搬送経路において、前記容器の姿勢を、当該容器の開口が下へ向く状態に転換させる容器方向転換ユニットと、
前記搬送経路の末端に設けられ、開口が下へ向く状態の前記容器を挟み、前記容器の開口が上へ向く状態になるように前記容器を反転させた後、前記測定部に送り込む挟みユニットと、
を備え、
前記容器方向転換ユニットは、接地されることにより前記静電気除去部を構成する、
請求項1に記載の自動分析装置。 The transfer section is
a container direction changing unit that changes the posture of the container to a state in which the opening of the container faces downward on the transport path that transports the container to the measuring unit;
a pinching unit provided at the end of the conveying path that pinches the container with the opening facing downward, inverts the container so that the opening of the container faces upward, and then feeds the container into the measuring unit; ,
with
The container direction changing unit constitutes the static electricity remover by being grounded,
The automatic analyzer according to claim 1.
前記容器を所定の姿勢で並べ、前記容器方向転換ユニットに順次に送る容器配置機構、
を備え、
前記容器方向転換ユニットは、前記容器配置機構が送ってきた前記容器を、前記搬送経路において、前記容器の姿勢を、当該容器の開口が下へ向く状態に順次に転換させる、
請求項9に記載の自動分析装置。 The transfer section is
a container arranging mechanism for arranging the containers in a predetermined posture and sequentially sending the containers to the container direction changing unit;
with
The container direction changing unit sequentially changes the orientation of the container sent by the container placement mechanism to a state in which the opening of the container faces downward on the transport path.
The automatic analyzer according to claim 9.
請求項10に記載の自動分析装置。 The container arranging mechanism forms a path that allows the container to spirally ascend around the axis, and after spirally ascending the container on the path, sends the container to the container direction changing unit in the predetermined posture.
The automatic analyzer according to claim 10.
前記搬送経路において複数のガイドレール、
を有し、
前記容器方向転換ユニットは、前記容器を前記複数のガイドレールによって同時に当接することで、前記容器を前記所定の姿勢で前記複数のガイドレールに沿って移動させる、
請求項10に記載の自動分析装置。 The container redirecting unit comprises:
a plurality of guide rails in the transport path;
has
The container direction changing unit moves the container along the plurality of guide rails in the predetermined posture by simultaneously contacting the container with the plurality of guide rails.
The automatic analyzer according to claim 10.
請求項12に記載の自動分析装置。 The plurality of guide rails include a guide rail that contacts the opening position of the container and at least two guide rails that sandwich the head of the container,
The automatic analyzer according to claim 12.
前記容器を清掃する清掃ユニット、
を有する請求項1に記載の自動分析装置。 The static electricity removing unit
a cleaning unit for cleaning the container;
The automatic analyzer according to claim 1, comprising:
前記容器内に空気を入れる吹管と
前記容器から空気を吸う吸引管と、
を有し、
前記吸引管の前記容器内に伸びた長さが、前記吹管の前記容器内に伸びた長さよりも短い、
請求項14に記載の自動分析装置。 The cleaning unit
a blowpipe for drawing air into the container; a suction pipe for sucking air from the container;
has
the length of the suction tube extending into the container is shorter than the length of the blowpipe extending into the container;
The automatic analyzer according to claim 14.
前記容器を挟む挟み機構と、
前記容器を振動させる振動機構と、
を有する請求項14に記載の自動分析装置。 The cleaning unit
a pinching mechanism that pinches the container;
a vibrating mechanism for vibrating the container;
The automatic analyzer according to claim 14, comprising:
前記収納部から前記容器を移送部により移送する移送ステップと、
前記移送部から移送された前記容器に前記試料を注入し、当該容器内の液体を測定する測定ステップと、
前記収納ステップ及び前記移送ステップのうち少なくとも1つにおいて、前記容器の静電気を除去する静電気除去ステップと、
を含む自動分析方法。 a storage step of storing a container for storing a sample to be analyzed in a storage unit;
a transfer step of transferring the container from the storage unit by a transfer unit;
a measurement step of injecting the sample into the container transferred from the transfer unit and measuring the liquid in the container;
a static electricity removing step of removing static electricity from the container in at least one of the storing step and the transferring step;
Automated analysis methods, including
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110929271.5 | 2021-08-13 | ||
CN202110929271.5A CN115932291A (en) | 2021-08-13 | 2021-08-13 | Subject inspection apparatus and subject inspection method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023026306A true JP2023026306A (en) | 2023-02-24 |
Family
ID=85252444
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022069260A Pending JP2023026306A (en) | 2021-08-13 | 2022-04-20 | Automatic analysis device and automatic analysis method |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2023026306A (en) |
CN (1) | CN115932291A (en) |
-
2021
- 2021-08-13 CN CN202110929271.5A patent/CN115932291A/en active Pending
-
2022
- 2022-04-20 JP JP2022069260A patent/JP2023026306A/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN115932291A (en) | 2023-04-07 |
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