JP2023010622A - エラストグラフィデバイスおよび方法 - Google Patents

Abstract

【課題】エラストグラフィデバイスおよび方法を提供すること。【解決手段】エラストグラフィデバイスは、単一の超音波トランスデューサ（６）；または複数の超音波トランスデューサを備えたプローブと、組織（８）に向かって単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位を誘導するように配置された低周波振動器（５）とを含む。このデバイスは、超音波パルスのシーケンスを放射し、変位によって誘導された弾性波が組織内をどのように進むかを追跡するために、それに応答して受信されたエコー信号を取得するように構成される。デバイスは、放射された超音波パルスの１つまたは複数について、その差が２．ｄ／ｖＵＳ（ｄは単一トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位、ｖＵＳは組織内の超音波の速度）に応じて変化するように、放射時の時間的オフセット（δｔＴＸ）、および／または受信時の時間的オフセット（δｔＲＸ）を生成するように構成される。【選択図】図７

Description

開示される技術は、エラストグラフィデバイスおよび方法に関する。より詳細には：
－ 組織と接触している先端部を移動させることによって、特徴付けられるべき前記組織内を移動する弾性波を生成し、
－ 組織の硬さを特徴付けるために、超音波パルスを送信し、対応するエコーを受信し、この弾性波がこの組織内をどのように移動するかを追跡する、
ように構成されたデバイスに関する。

例えば振動制御トランジェントエラストグラフィによって測定される肝臓の硬さは、医療専門家が肝臓疾患または損傷を検出するためまたは特徴付けるために、およびより一般的には被験者の肝臓の状態を監視するために非常に有用なツールであることが示されている。図１は、振動制御トランジェントエラストグラフィによって肝臓の硬さを測定するように構成された、先行技術のエラストグラフィデバイス１ａを模式的に表している。このデバイスは：
－ 手で持つことができるケーシング３ａと、
－ 低周波振動器５ａによってケーシング３ａに対して相対的に移動させることができる先端部４ａと、
－ 先端部４ａの端部に取り付けられた超音波トランスデューサ６ａ（場合によっては、超音波トランスデューサを覆う封止膜を有する）と、
を備えるプローブ２ａを含む。

測定時には、超音波トランスデューサ６ａが被検者の体８にわずかに押し付けられるようにプローブケーシング３ａを手持ちする。その後、先端部４ａの過渡的な変位をトリガとして、超音波トランスデューサ６ａを被検者の身体に向かって移動させたり、戻したりし、それによって組織内に低周波弾性波（特に、低周波せん断波）を発生させる。超音波トランスデューサ６ａの対応する変位ｄ（ｔ）は、図２において時間ｔにわたって概略的に表されており、ｄ（ｔ）は、より正確には、トランスデューサ６ａの初期位置（この過渡振動をトリガする直前の位置である）に対する、時間ｔにおける被験者の身体（図１参照）に向けられた軸ｚに沿ったトランスデューサ６ａの位置に対応している。図２に表されるように、低周波振動がトリガされたときから始まる超音波パルスＵＳＰのシーケンスＳが、超音波トランスデューサ６ａから放射される。これらの超音波パルスは、プローブに面する組織に誘導された弾性波が、この組織内をどのように移動するかを追跡することを可能にする。この目的のために、このシーケンスの２つの連続する超音波ショットに対応する２つのエコー信号が、組織内の異なる深さについて、組織がこれらの２つのパルスの間に移動した距離を決定するために一緒に相関される。

各時刻において、組織における歪みマップ（エラストグラムまたは変位またはせん断波伝播マップと呼ばれることもある）が、この組織における深さｚに応じて、このようにして決定される。図３は、図２に表されるような低周波振動を付与した結果生じる、被験者の肝臓における歪みマップを、時間ｔと深さｚに応じて表したものである。このように、検査対象組織内を伝播する弾性波を時空間的に表現したものをエラストグラムと呼ぶ。エラストグラムは、このような弾性波が組織中をどのように伝播していくかを非常に明確に視覚化することができる。この組織におけるせん断波の伝播速度は、この図に表される時間と深さに応じての波面の位置を示す直線の傾きから求めることができる。そして、この伝播速度から組織の硬さを推測することができる。

このような測定プロセス中に記録されたエコー信号を分析し処理する場合、超音波トランスデューサ６ａの変位ｄ（ｔ）を補償することが望ましい。実際、このようなデバイスでは、超音波トランスデューサ６ａは、移動する先端部４ａ自体に固定されている。そのため、先端部４ａが移動すると、トランスデューサ６ａとそのような組織またはそのような組織の部分との間の距離が変化する。補正を行わない場合、そのようなまたはそのような歪みが観察される見かけの深さは、したがって、この歪みが実際に発生する深さとはわずかに異なることになる。

その上、所与の時間における組織の歪みを決定するために（２つの対応するエコー信号を相関させることによって）放射される２つの連続するショットのカップルについて、これらの２つのパルス間の超音波トランスデューサの変位は、中を伝わる弾性波によって生じる実際の組織の変位に重畳して、組織全体の見かけ上の全体的な変位をもたらす。このオフセットは、各深度において同じであるが、「Ｓｈｅａｒ ｅｌａｓｔｉｃｉｔｙ ｐｒｏｂｅ ｆｏｒ ｓｏｆｔ ｔｉｓｓｕｅｓ ｗｉｔｈ １－Ｄ ｔｒａｎｓｉｅｎｔ ｅｌａｓｔｏｇｒａｐｈｙ」 Ｌ． Ｓａｎｄｒｉｎ ｅｔ ａｌ， ＩＥＥＥ Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ ｏｎ Ｕｌｔｒａｓｏｎｉｃｓ， Ｆｅｒｒｏｅｌｅｃｔｒｉｃｓ， ａｎｄ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｃｏｎｔｒｏｌ， ｖｏｌ． ４９， ｎｏ． ４， ４３６‐４４６頁、２００２年４月、の論文のセクションＩＩＩ．Ａ（４４０頁）で説明されているように、考慮した時間に決定された組織変位のｚ微分を計算することにより、容易に抑制することが可能である。それでも、この論文で説明されているように、記録された２つのエコー信号を相関させる前にトランスデューサの変位を補償することは非常に望ましい。実際、トランスデューサの移動の補償がない場合、相関によって測定される変位は著しくより大きくなり、したがって、ノイズであり、決定する時間がよりかかる。

エコー信号の相関を実施する前にトランスデューサの変位ｄ（ｔ）を補償するために、通常、以下の技法が採用される。上記で説明したように、超音波パルスのシーケンスＳを放射し、それに応答して受信されたエコー信号が記録される。次に、これらのエコー信号は、コンピュータの構造を有し、プローブ２ａに動作可能に接続されている中央電子ユニット７ａによって後処理される。この後処理は、例えば上記の論文に記載されているが：
ａ） エコー信号自体からトランスデューサの変位ｄ（ｔ）を推定することと、
ｂ） 各エコー信号について、周波数領域において、このエコー信号のフーリエ変換にｅｘｐ（ｊ２πｆΔｔ）（ｆは周波数、Δｔは２．ｄ／ｖ_ＵＳ（ｖ_ＵＳは組織における超音波の速度）に相当）を掛けることによって、（ステップａ）で推定された）トランスデューサの変位ｄ（ｔ）を補償することと、
ｃ） エコー信号を相関させ、各時間ｔについて、深さｚに応じて組織の変位を決定することと、
ｄ） 任意選択で、ステップｃ）で得られた時空間変位マップのｚ－微分∂＊／∂_Ｚを計算することと
を含む。

ステップａ）において、トランスデューサの変位ｄ（ｔ）は、各エコー信号において、組織内の固定位置を有すると仮定された要素に関連する強い後方反射を識別することによって推定され得る。また、組織の変位は組織の非常に深いところでは無視でき、組織の深いところで観察される変位は実際には２つのパルスの間のトランスデューサの変位に対応すると仮定して、トランスデューサの変位ｄ（ｔ）を推定することも可能である。

この手順は、一般に満足のいくものである。それでも、本発明者らは、記録されたエコー信号のいくつかについて、ステップａ）が失敗することがあり、その結果、問題のエコー信号についてトランスデューサの変位ｄ（ｔ）に対して誤った値を提供することに気付いた。したがって、これらのエコー信号は、不正確に再調整され、最終的に得られるエラストグラムを損なう少数のノイズの多い破壊的な列をもたらす。さらに、この手順は、記憶、データ転送、および計算の面で、多くの計算資源を必要とし、したがって、超音波パルスのパルス繰返し率が制限される。この制約は、振動制御ハーモニックエラストグラフィの場合、振動（例えば正弦波振動）を繰り返し連続的に特徴付ける組織に作用させ、この振動によって生じる組織の変形をリアルタイムで監視する場合に、さらに制限される。

欧州特許出願公開第３３１５０７４号明細書 欧州特許出願公開第３７６９６９１号明細書

「Ｓｈｅａｒ ｅｌａｓｔｉｃｉｔｙ ｐｒｏｂｅ ｆｏｒ ｓｏｆｔ ｔｉｓｓｕｅｓ ｗｉｔｈ １－Ｄ ｔｒａｎｓｉｅｎｔ ｅｌａｓｔｏｇｒａｐｈｙ」 Ｌ． Ｓａｎｄｒｉｎ ｅｔ ａｌ， ＩＥＥＥ Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ ｏｎ Ｕｌｔｒａｓｏｎｉｃｓ， Ｆｅｒｒｏｅｌｅｃｔｒｉｃｓ， ａｎｄ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｃｏｎｔｒｏｌ， ｖｏｌ． ４９， ｎｏ． ４， ４３６‐４４６頁、２００２年４月 Ｈ．Ｌｏｒｅｅら、２０２０年９月「Ｖｉｂｒａｔｉｏｎ－Ｇｕｉｄｅｄ Ｔｒａｎｓｉｅｎｔ Ｅｌａｓｔｏｇｒａｐｈｙ： Ａ Ｎｏｖｅｌ Ｆｉｂｒｏｓｃａｎ（Ｒ） Ｅｘａｍｉｎａｔｉｏｎ ｗｉｔｈ Ｉｍｐｒｏｖｅｄ Ｇｕｉｄａｎｃｅ ｆｏｒ Ｌｉｖｅｒ Ｓｔｉｆｆｎｅｓｓ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」、Ｕｌｔｒａｓｏｕｎｄ Ｉｎ Ｍｅｄｉｃｉｎｅ ａｎｄ Ｂｉｏｌｏｇｙ， Ｖｏｌｕｍｅ ４６， ２１９３－２２０６頁

上記の問題を少なくとも部分的に解決するために、エラストグラフィデバイスが提供され、このエラストグラフィデバイスは、
－ 被験者の身体に対して保持されるプローブであって、
単一の超音波トランスデューサ、または複数の超音波トランスデューサであって、特徴付けられるべき組織において超音波パルスを放射するように配置されるプローブの全ての超音波トランスデューサは、互いに対して動かない、超音波トランスデューサと、
低周波振動器であって、前記組織に向かって単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位を誘導するように配置された、低周波振動器と、
を含む、プローブと、
－ 単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサを制御して超音波パルスのシーケンスを放射するように構成され、単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位によって組織内に誘導された弾性波が組織内でどのように進むかを追跡するために、放射された超音波パルスに応答して単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサによって受信されたエコー信号を取得するように構成された、電子ユニットと、
を含み、
－ 電子ユニットは、放射された超音波パルスの１つまたは複数について、
超音波パルスの放射がシフトされる放射時の時間的オフセット、
および／または、放射された超音波パルスに応答して取得されたエコー信号がシフトされる受信時の時間的オフセット、
を生成するようにさらに構成され、
放射時の時間的オフセットおよび／または受信時の時間的オフセットは、単一のトランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位に応じて調整される。

特に、放射時の時間的オフセットおよび／または受信時の時間的オフセットは、その差が２．ｄ／ｖ_ＵＳに応じて変化するように調整されてもよく、ｄは、例えば放射時の単一のトランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位であり、ｖ_ＵＳは組織内の超音波の速度である。

放射時の時間的オフセットおよび／または受信時の時間的オフセットは、したがって、超音波パルスの前記シーケンスの間に生じる超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位によって生じる、取得した他のエコー信号に関するエコー信号の時間的シフトを補償するように生成されてもよい。

当該超音波パルスの放射は、例えばプローブの超音波パルサの上流に接続された制御可能な遅延を使用して、これらの放射を制御可能な方法で遅延させることによって、前記放射時の時間的オフセットによって時間的にシフトされる。言い換えれば、この時間的なシフトは、時間領域において、放射時に実現される。

各エコー信号は、当該パルスの放射後にトランスデューサによって経時的に受信された信号によって形成される。それは、より正確には、この放射の後に始まり、所定の持続時間（例えば、７．５ｃｍの深さにわたって組織を探索したい場合、超音波ｖ_ＵＳの速度が１．５ｍｍ／μｓでなければならない１００μｓの持続時間）を有する所定の時間窓（例えば、図４を参照）内で受信される信号である。実際には、この時間窓内で受信された信号のうち、当該エコー信号を形成するものを記録する、つまりプローブのメモリに書き込む。受信時の時間的オフセットは、この時間窓（上記で説明したように、取得および記録の時間窓であってもよい）の開始をシフトさせることによって得られる。いずれにしても、この時間的なシフトは、ここでは、時間領域で実現される。

上記に示したエラストグラフィデバイスでは、測定中の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの移動に起因する、異なるエコー信号間の時間的シフトは、最初に、放射時および／または受信時に、リアルタイムで、つまりエコー信号を記録する前または遠隔計算ユニットにそれらを転送する前に補償される。この補償スキームは、背景のセクションで上述した後処理方法と比較して、計算負担を大幅に軽減する。その結果、開示された補償スキームは、エラストグラフィデバイスの計算ユニットの動作を改善する。

トランスデューサまたは複数のトランスデューサの変位ｄ（ｔ）は、プローブに装着された変位センサによって直接測定することができる。また、振動器を制御する指令信号から推測してもよく、振動器によって誘導される変位は、変位センサと制御ループ（制御ループ電子回路によって実装される）とによって、この指令信号に一致するように制御される。いずれにせよ、このデバイスでは、変位ｄ（ｔ）、または少なくともそれを代表する信号がすぐに利用可能であり、エコー信号自体を後処理することによってそれを決定する必要はない。この場合も、上記の背景のセクションで紹介した後処理方法と比較して、計算負担が大幅に軽減される。その上、エコー信号自体からの変位ｄの推定の起こり得る失敗（すなわち：上記ステップａ）の起こり得る失敗）に関連する問題が、開示されたデバイスにおいて、回避される。

開示されたデバイスでは、エコー信号は、超音波シーケンサおよび超音波受信機レベルで直接、互いに時間的に再調整され得る（上述の複雑な後処理手順がもはや必要でないため）。再調整されたエコー信号は、超音波受信機のすぐ下流で利用できるので、連続するエコー信号間の相関計算は、専用の電子回路（適切にプログラムされたＦＰＧＡ回路など）により、その直後に達成することができる。このため、転送および記憶するデータ量が直接ソースから大幅に削減され、リアルタイムアプリケーションに非常に適している。例えば、典型的なエコー信号は、それぞれ２バイトの５０００点を含む（典型的なエコー持続時間１００μｓ、サンプリングレート５０ＭＨｚの場合）が、相関によって得られる対応する歪み線は、それぞれ４バイトの約１００点を含むであろう。したがって、ソースで直接実行されるデータ量の削減は、通常、２５分の１以上の削減である。このようなデータ量の削減が有効なリアルタイムアプリケーションには、２０２０年９月に発行されたＨ．Ｌｏｒｅｅらによる論文「Ｖｉｂｒａｔｉｏｎ－Ｇｕｉｄｅｄ Ｔｒａｎｓｉｅｎｔ Ｅｌａｓｔｏｇｒａｐｈｙ： Ａ Ｎｏｖｅｌ Ｆｉｂｒｏｓｃａｎ（Ｒ） Ｅｘａｍｉｎａｔｉｏｎ ｗｉｔｈ Ｉｍｐｒｏｖｅｄ Ｇｕｉｄａｎｃｅ ｆｏｒ Ｌｉｖｅｒ Ｓｔｉｆｆｎｅｓｓ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ」、Ｕｌｔｒａｓｏｕｎｄ Ｉｎ Ｍｅｄｉｃｉｎｅ ａｎｄ Ｂｉｏｌｏｇｙ， Ｖｏｌｕｍｅ ４６， ２１９３－２２０６頁に説明されているような技術、特に振動制御ハーモニックエラストグラフィや振動誘導型トランジェントエラストグラフィ技術などがある。

時間的オフセット調整に関しては、超音波トランスデューサ（または複数の超音波トランスデューサ）が、基準位置に対するその変位をｄとして、組織に向かって移動されるとき（トランスデューサが組織に近づけられるときｄは正）、放射される超音波パルスの飛行時間は、プローブされるべき組織の部分に向かう往復のために、量２．ｄ／ｖ_ＵＳによって短くなることに注意されたい。したがって、図４に示されるように、トランスデューサ（または複数のトランスデューサ）の変位にもかかわらず、他のエコー信号と整列したままのエコー信号を得るために、超音波パルスの放射と、対応するエコー信号の取得との間の遅延を２．ｄ／ｖ_ＵＳに応じて減少させることが望ましい。それはまさに、開示されたデバイスにおいて、その差が２．ｄ／ｖ_ＵＳに応じて変化するように、放射時の時間的オフセットおよび／または受信時の時間的オフセットを調整することによって達成される。

特に、デバイスの電子ユニットは、受信時の時間的オフセットと放射時の時間的オフセットとの間の差がΔｔ_０＝－２．ｄ／ｖ_ＵＳ（Δｔ_０は超音波パルスの放射とそれに応答して受信されるエコー信号の取得との間の一定の遅延である）に等しくなるように、放射時の時間的オフセットおよび／または受信時の時間的オフセットを調整するように構成されてもよい。「等しい」とは、所与の精度内で等しいことを意味し（絶対的な精度は実際には達成できないため）、例えば、２０％の精度内で等しい（これにより、変位に起因する時間シフトの大部分を除去できるため）、または１０％の精度内で等しい、または５％の精度内で等しいことがより好ましい。

電子ユニットは、放射される超音波パルスの少なくともいくつかについて、
放射時の時間的オフセットがδｔ_ＴＸ，ｏ＋Ｃ．ｄ／ｖ_ＵＳ（δｔ_ＴＸ，ｏは放射時の一定の遅延である）に等しくなるように、放射時の時間的オフセット、および、
受信時の時間的オフセットがδｔ_ＲＸ，ｏ－（２－Ｃ)．ｄ／ｖ_ＵＳ（δｔ_ＲＸ，ｏは受信時の一定の遅延であり、Ｃは、０と２の間の一定の係数である）に等しくなるように、受信時の時間的オフセット
を調整するようにさらに構成されてもよい。

特に、Ｃは１に等しくてもよく、その場合、放射時の時間的オフセットは、δｔ_ＴＸ，ｏ＋ｄ／ｖ_ＵＳに等しく、一方、受信時の時間的オフセットは、δｔ_ＲＸ，ｏ－ｄ／ｖ_ＵＳに等しくなる。言い換えれば、電子ユニットは、放射時の時間的オフセットと受信時の時間的オフセットとの間に適用される全体的な時間シフト補正（つまり、－２．ｄ／ｖ_ＵＳ）を均等に分配するように構成されてもよい。このため、放射時のみ補正を適用する（放射時の時間的オフセットを２．ｄ／ｖ_ＵＳとして変化させる）、または受信時のみ補正を適用する（受信時の時間的オフセットを－２．ｄ／ｖ_ＵＳとして変化させる）よりも専用の電子機器および／またはプログラミングが必要である。しかし、その見返りとして、組織の経時的な変形の最適で正確なサンプリングが可能となる。

実際、深さｚと時間ｔにおける組織の変位δをプローブするためには、超音波パルスの放射を理想的にはｄ／ｖ_ＵＳだけ遅らせ、トランスデューサの変位ｄにもかかわらず、放射されたパルスが最初に計画した時間にプローブするべき位置に到達するようにする必要がある。

比較してみると、受信したエコー信号が－２．ｄ／ｖ_ＵＳだけ時間シフトされる一方、放射が時間シフトされない場合、トランスデューサの変位によるエコー信号のｚシフトは十分に抑制されるが、最終的に得られる組織の変形は、時刻ｔではなく、時刻ｔ－ｄ／ｖ_ＵＳのものであろう。言い換えれば、このように再調整されたエコー信号の相関によって得られる組織変位δは、変位オフセットのない（すなわち、適切なｚ補正のある）実際の深さｚにおける組織変位となるが、わずかな時間的誤差がある。実際には、組織の変形のこの完全には正確でない時間サンプリングは、エラストグラムにおいて、波面をわずかに歪ませることがある。したがって、上記のようにｄに応じて放射と受信との両方を時間シフトさせることが望ましい。この点で、上に示した先行技術の後処理補償技術は、組織の変形のそのような正確な時間サンプリングを可能にしないことに留意されたい。

既に述べたように、即席（ｉｎｓｔａｎｔ）デバイスに実装された補償技術は、当該先行技術の後処理技術よりもはるかに少ない計算しか必要としない。特に、ＦＰＧＡに実装された超音波シーケンサによってその場で実行することができる。

しかし、それと引き換えに、この技術は特定の設備を必要とする。実際、超音波パルサまたは変換器、および／またはそれを制御する電子モジュールは、可変入力信号（例えば、変位信号）に応じて、リアルタイムで、放射および／または受信を時間シフトさせることを可能にしなければならない。そして、本発明者らの知る限り、今日市販されている超音波パルサまたは変換器および関連する制御電子機器は、一般に、外部信号に基づいて、放射／受信時の遅延のそのような制御を可能にしない：それらは、可変入力信号に応じてリアルタイムで調整されるシーケンスではなく、予め決定された（実際には、予め記録された）固定シーケンス（時には非常に複雑になり得るシーケンスだが、それでも予め決まっている）のパルスを送信するように設計されている。したがって、ここに開示された技術を実装するには、このような特定の電子モジュールを開発する必要があり、これは、かなりの開発作業を必要とした。

放射時の時間的オフセットおよび／または受信時の時間的オフセットは、（この変位による時間シフトを適切に補償するために）考慮される超音波パルスの放射時における単一トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位ｄに基づいて調整される。それでも、変位センサのゼロでない応答時間および放射／受信時の時間的オフセットを制御する電子機器の応答時間（通常「パイプライン時間」と呼ばれる小さな遅延）のためだけなら、わずかな時間的余裕が許容される（考慮される変位ｄはこの超音波パルスの放射時に正確ではない変位かもしれない）ことが指摘され得る。例えば、時間ｔに放射されたパルスに対して、このパルスをシフトするために（または対応するエコー信号をシフトするために）考慮される変位は、０．２ｍｓ精度の同じ時間ｔにおける変位、または低周波機械振動器によって誘導される変位の周期（または典型的な変動時間）の１／３０よりも優れた時間精度の変位であり得る。

デバイスの電子ユニットは、増幅器、パルサ、スイッチまたは変換器などの、プローブのアクチュエータ、トランスデューサおよびセンサを駆動／インターフェースするための電子機器を含み得る。この電子ユニットは、適切な制御信号を生成し、取得した信号を処理するための制御電子機器も含み得る。これらの制御電子機器は、例としてマイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）、システムオンチップ、または複数のシステムオンチップ、あるいはこれらの組み合わせなど、１つまたは複数の電子論理回路を含み得る。当該電子論理回路は、例えば、ＦＰＧＡ（フィールドプログラマブルゲートアレイ）であってもよい。

上記に提示されたエラストグラフィデバイスは、個別に、または技術的に可能な全ての組み合わせに従って考慮される、以下の補完的かつ非限定的な特徴のうちの１つまたは複数を含み得る：
－ デバイスは、前記単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位を表す測定信号を出力するように配置された変位センサをさらに含み、電子ユニットは、前記測定信号に基づいて放射時の時間的オフセットおよび／または受信時の時間的オフセットを生成するようにさらに構成される；
－ 前記変位センサは、出力する測定信号が慣性基準フレームに対する前記単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位を表すように配置された慣性センサ（加速度計など）である；
－ プローブは、手で持つことができるプローブケーシングを含み、前記単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサは、プローブケーシングに対して動かない状態で、プローブケーシングに結合され、振動器は、単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの前記変位を、被験者の身体に向かって誘導するために、プローブケーシング内のマスを動かすように配置される；
－ プローブは、プローブケーシングを含み、前記単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサは、プローブケーシングに対して移動可能であり、変位センサは、それが提供する測定信号が、プローブケーシングに対する前記単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位を表すように配置される。

上記説明のように、変位ｄに基づいて放射時の時間的オフセットを調整すると、この変位が超音波パルスごとに経時的に変化するため、ｄの経時的変化に応じて、連続して放射される２つのパルス間の持続時間（すなわち：パルス繰り返し周期）も変化することに留意されたい（例えば、図９を参照されたい）。このことは、ｄの経時変化に基づいてパルス繰返し周期を調整することによっても、上記補償技術を実施できることを示している。

このように、即席の技術は、以下を含むエラストグラフィデバイスにも関する：
－ 被験者の身体に対して保持されるプローブであって、
単一の超音波トランスデューサ；または複数の超音波トランスデューサであって、特徴付けられるべき組織において超音波パルスを放射するように配置されるプローブの全ての超音波トランスデューサは、互いに対して動かない、超音波トランスデューサと、
低周波振動器であって、前記組織に向かって前記単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位を誘導するように配置された、低周波振動器と、
を含む、プローブと、
－ 単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサを制御して超音波パルスのシーケンスを放射するように構成され、単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位によって組織内に誘導された弾性波が前記組織内でどのように進むかを追跡するために、放射された超音波パルスに応答して単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサによって受信されたエコー信号を取得するように構成された、電子ユニットと、
を含み、
－ 電子ユニットは、放射される超音波パルスの少なくともいくつかについて、放射される次の超音波パルスから超音波パルスを分離するパルス繰返し周期が、単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位に応じて変化するようにさらに構成され、パルス繰返し周期は：
単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサが前記組織から遠ざかるとき、基準となるパルス繰返し周期Ｔ_ｏと比較して短くなり、
単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサが前記組織に向かって移動するときに、基準となるパルス繰返し周期Ｔ_ｏと比較して長くなる。

特に、パルス繰返し周期は、ｖ／ｖ_ＵＳに基づいて調整されてもよく、ここでｖは、単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位の速度、すなわち変位ｄの

の時間微分である。

このようにパルス繰返し周期を調整することは、ｄ／ｖ_ＵＳに応じて放射時の時間的オフセットを調整するのと同じ結果、または実質的に同じ結果を生じることに留意されたい。実際、このようにパルス繰返し周期を調整することは、ｄに基づいてオフセット自体を調整するのではなく、ｄの時間微分に応じて、放射時のこのオフセットの時間微分を調整することと等価である。

特に、電子ユニットは、パルス繰返し周期が（所与の精度内、例えば２０％または１０％の精度で）

と等しくなるように、パルス繰返し周期を調整するように構成されてもよく、これは、放射時の時間的オフセットがδｔ_ＴＸ，_ｏ＋ｄ／ｖ_ＵＳに等しくなるように放射時の時間的オフセットを調整するのと実質的に同じ時間シフト補償を生じさせる。

また、電子ユニットは、パルス繰返し周期がＴ_ｏ×（１＋２．ｖ／ｖ_ＵＳ）に等しくなるようにパルス繰返し周期を調整するように構成してもよく、これは、導入すべき時間シフトが放射時に完全に導入される（受信時に時間シフトがない）場合に相当する。

より一般的には、電子ユニットは、パルス繰返し周期がＴ_ｏ×（１＋Ｃ．ｖ／ｖ_ＵＳ）に等しくなるようにパルス繰返し周期を調整するように構成されてもよく、Ｃは０と２の間の定数係数である。

即席の技術はまた、以下を備えたプローブを含むデバイスによって実施されるエラストグラフィ法にも関する：
－ 単一の超音波トランスデューサ；または複数の超音波トランスデューサであって、特徴付けられるべき組織において超音波パルスを放射するように配置されるプローブの全ての超音波トランスデューサは、互いに対して動かない、超音波トランスデューサ、および
－ 前記超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位を組織に向かって誘導するように配置された、低周波振動器、
方法は、以下のステップを含む：
－ 前記超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位を前記組織に向かって誘導するように、低周波振動器を制御するステップ、
－ 超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサを制御して、超音波パルスのシーケンスを放射し、超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位によって組織内に誘導された弾性波が組織内でどのように進むかを追跡するために、放射された超音波パルスに応答して超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサによって受信されたエコー信号を取得するステップ
－ 方法は、放射された超音波パルスの１つまたは複数について、
超音波パルスのシーケンス中に発生する超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位によって引き起こされる、取得された他のエコー信号に対する前記エコー信号の時間的なシフトを補償するように、
超音波パルスの放射がシフトされる放射時の時間的オフセットを発生させるステップ、
および／または、放射された超音波パルスに応答して取得されたエコー信号がシフトされる受信時の時間的オフセットを生成するステップ、をさらに含み、
放射時の時間的オフセットおよび／または受信時の時間的オフセットは、その差が２．ｄ／ｖ_ＵＳに応じて変化するように調整され、ｄは放射時のトランスデューサまたは複数のトランスデューサの変位であり、ｖ_ＵＳは組織における超音波の速度である。

上述したデバイスの異なる実施形態の特徴は、このエラストグラフィ方法にも適用することができる。

開示された技術の他の特徴および利点は、例示のために非制限的に、図を参照しながら、以下に与えられる説明から明らかになるであろう。

図１は、先行技術のエラストグラフィデバイスを模式的に表す図である。 図２は、トランジェントエラストグラフィ測定中の、図１のデバイスの超音波トランスデューサの変位と、この変位に応答して組織がどのように移動するかを追跡するためにこの測定中に送信される超音波パルスシーケンスとを表す図である。 図３は、図１のデバイスによって得られたエラストグラムを概略的に表す図である。 図４は、トランスデューサの変位に応じて時間的にシフトされた、放射および受信時間を概略的に表す図である。 図５は、典型的なトランジェントエラストグラフィ測定中の超音波トランスデューサの変位と超音波パルスの放射の時間をクロノグラムとして概略的に表す図である。 図６は、第１の実施形態によるエラストグラフィデバイスを模式的に表す図である。 図７は、ブロック図として、図６のデバイスの電子ユニットを概略的に表す図である。 図８は、トランスデューサの変位に基づいて、図７の電子ユニットによって生成される放射時および受信時の時間的オフセットを概略的に表す図である。 図９は、典型的なエラストグラフィ測定中に、図６のデバイスによって経時的に放射される超音波パルスのシーケンスを概略的に示す図である。 図１０は、第２の実施形態によるエラストグラフィデバイスを概略的に、かつ部分的に表す図である。 図１１は、第３の実施形態によるエラストグラフィデバイスを模式的に、かつ部分的に表す図である。

上述のように、即席の技術は、振動制御エラストグラフィデバイス：―すなわち、プローブ先端のような媒体の表面に接触する要素を動かすことによって、探査すべき媒体中を伝播する弾性波を生成し、―媒体中で超音波パルスを送信し、それに応答して受信したエコー信号を記録することによって、弾性波が媒体中でどのように移動するか（言い換えれば、それに及ぼされた振動によって媒体がどのように移動するか）を追跡するように構成されたエラストグラフィデバイスに関する。

超音波パルスおよび対応するエコー信号は、１つまたは複数の超音波トランスデューサによって送受信され、このトランスデューサは、当該移動要素（例えば、プローブの先端の端部）、プローブされる媒体の近くまたは接触さえして固定される。弾性測定の過程で、これらのトランスデューサは、移動要素と同様に変位し、これにより、取得されるエコー信号の時間的なずれが、互いに対して引き起こされる。ここに提示するエラストグラフィデバイスは、受信した異なるエコー信号を時間的に再調整させるように、超音波トランスデューサまたはトランスデューサの変位を補償するように構成されている。

この目的のために、放射時の時間的オフセット（または、同等に、連続するパルス間のパルス繰返し周期）、および／または受信時の時間的オフセットが、超音波トランスデューサまたはトランスデューサの変位に応じてリアルタイムで調整される（例えば、図７を参照されたい）。

参照番号１；１´および１´´でそれぞれ識別されるこのようなデバイスの３つの実施形態は、図６、１０および１１にそれぞれ表されている。

これらの３つの実施形態において、デバイス１；１´；１´´は、単一の超音波トランスデューサ６を含む。それでも、他の実施形態では、エラストグラフィデバイスは、複数の超音波トランスデューサを含み得る。しかし、いずれにせよ、ここに開示された技術によるデバイスでは、特徴付けされるべき組織において超音波パルスを放射するように配置される全ての超音波トランスデューサは、互いに対して動かない。そこで、それらは一緒に動き、それらの運動は、全てのトランスデューサに対して同じである変位ｄによって特徴付けられる。

「組織」という表現は、被験者（人間または動物のいずれか）の身体の一部を意味すると理解される。この表現は、必ずしも器官全体または単一の器官を指定するものではない。機械的な振動が与えられ、その変形が超音波パルスによって追跡される組織８は、デバイスのプローブの近傍に、プローブの軸ｚに沿って位置する被験者の身体の一部である。以下では、略語のＵ／Ｓは「超音波」を意味する。

第１の実施形態によるデバイス１（図６および図７）は、Ｕ／Ｓトランスデューサ６の変位ｄに応じて、放射時の時間的オフセットδｔ_ＴＸおよび受信時の時間的オフセットδｔ_ＲＸを調整することにより、上述の時間シフトを補償するように構成される。

第２の実施形態によるデバイス１´は、第１の実施形態のものと同様であるが、連続するＵ／Ｓパルス間のパルス繰返し周期Ｔを直接調整し、任意選択で、受信時の時間的オフセットδｔ_ＲＸも調整することによって、問題の時間シフトを補償するように構成される。

デバイス１および１´において、Ｕ／Ｓトランスデューサ６は、デバイスのプローブ２のケーシング３に対して移動可能である。そして、プローブは、Ｕ／Ｓトランスデューサ６をケーシング３（オペレータが手で持つケーシング）に対して移動させて、組織８に低周波振動を与えるように配置された低周波振動器５を含む。

これに対し、第３実施形態によるデバイス１´´では、Ｕ／Ｓトランスデューサ６はプローブケーシングに対して運動しない状態でプローブケーシング３に結合されている。プローブ２´´は、プローブケーシング３内のマス１２を移動させてプローブ全体を振動させるように配置された振動器５´´を含む。

しかしながら、これら３つの実施形態は互いに類似しており、デバイス１；１´；１´´の同一または対応する要素は、全体的に同じ参照番号で識別される。

次に、第１の実施形態によるデバイス１を、図６から図９を参照して、より詳細に説明する。

このエラストグラフィデバイス１は、上述したプローブ２、プローブのケーシング３、振動器５およびＵ／Ｓトランスデューサ６を含む。Ｕ／Ｓトランスデューサ６は、プローブの先端４の端部に固定されており、低周波振動器によって作動する（図６参照）。

このデバイスでは、振動器５は、プローブ軸ｚと一致する振動器軸の周りに回転対称である。振動器５が振動すると、主にその軸に平行な縦方向の変位が誘導される。

ここで、振動器５は、シャフトを動かすように配置され、その先端がプローブの先端４を形成している。このシャフトは、軸ｚに中心を合わせており、振動器５は、このシャフトを軸ｚに沿って移動させるように配置されている。振動器５は、５００ヘルツより小さい、あるいは１００ヘルツよりさらに小さい中心、平均周波数で先端を移動させるという点で、低周波振動器である（その中心周波数が通常１メガヘルツより高い、例えば１から５メガヘルツである超音波ショットまたはエコー信号と対照的である）。振動器は、例えば、ラウドスピーカーのアクチュエータと同様に、１つまたは複数のコイルと磁石を備えた低周波の電気機械アクチュエータである。代替案として、ブラシレスＤＣモータまたは電子整流モータなどの電気モータを含んでもよい。このような代替案は、例えば、振動誘導型トランジェントエラストグラフィによく適合する。

超音波トランスデューサ６は、トランスデューサ軸の周りに回転対称であり、この軸を中心とする超音波ビームを放射する。トランスデューサ軸は、振動器の軸と一致し、したがってプローブ軸ｚとも一致する。超音波トランスデューサ６は、例えば円形のセクションを有し、振動器の軸はこのセクションの中心を通過する。このセクションは小さく、典型的には１平方センチメートルより小さい（１センチメートルより小さい直径を有してもよいし、８ミリメートル、あるいは５ミリメートルより小さい直径を有してもよい）。トランスデューサ６は、密封膜によって覆われていてもよく、この密封膜は、プローブ２が所定の位置に保持されたときに、被験者の身体に接触して、測定を行う。

実際には、振動器５によって誘導される超音波トランスデューサ６の変位は、０．１ｍｍから１０ｍｍの間のピークトゥピーク振幅を有する（例えば、それ自体のトランジェントエラストグラフィ測定に対して０．５から１０ｍｍの間、および、例えばオペレータを誘導するために採用される調和振動に対してより小さい可能性がある）。図２および図５の例では、この振幅は２ｍｍである。

プローブ２は、超音波トランスデューサ６の変位を表す測定信号Ｓ_ｄを出力するように配置された変位センサ１１を含む。本実施形態では、測定信号Ｓ_ｄは、プローブケーシング３に対する超音波トランスデューサ６の変位を表す。変位センサ１１の一部は、上記シャフトに固定され、センサの他の一部は、ケーシング３に対して動かないように、プローブ内に嵌め込まれている。変位センサ１１は、ホール効果センサ、誘導変位センサ、不透明／透明交互ゾーンを有するルーラーを含む光学センサ、または他の任意の適切なセンサであってもよい。

プローブ２は、コンピュータの構造を有する（そして、ラップトップ、スマートフォン、またはプローブを制御し、インターフェースし、取得した信号を処理するために配置された専用の電子デバイスであり得る）中央ユニット７に動作可能に接続されている。中央ユニットは、少なくともメモリとプロセッサを含む。中央ユニットは、ここでは、タッチスクリーンのようなユーザインターフェースも含む。プローブは、接続ケーブル９によって、または無線リンクによって、中央ユニット７に接続されてもよい。

デバイス１はまた、電子ユニット１０を含む。この電子ユニットのブロック図は図７に表されている。

この電子ユニット１０の要素の一部（例えば、信号調整モジュール３２など）は、プローブ２に収容することができ、このユニット１０の他の要素は、中央ユニット７の一部であってもよい。あるいは、電子ユニット１０全体をプローブ２に収容することもでき、逆に、中央ユニット７に完全に統合することもできる。

図７に表されるように、電子ユニット１０は、制御モジュール２０と、超音波フロントエンド４０と、振動器５を制御するためのモーションコントローラ３０と、を含む。超音波フロントエンド４０とモーションコントローラ３０は、いずれも制御モジュール２０に接続されている（つまり、制御モジュール２０から命令または制御信号を受信したり、データまたは測定信号を送信したりすることができる）。電子ユニットはまた、変位センサ１１によって出力された測定信号Ｓ_ｄを調整しデジタル化するための、信号調整モジュール３２も含む。この信号調整モジュール３２は、ここでは、モーションコントローラ３０の一部である。

モーションコントローラ３０は、振動器５を駆動するための、増幅器３１も含む。増幅器３１は、電気的観点から、制御信号を、振動器を駆動するのに適した形態に変換するように構成されている。したがって、増幅器３１は、例えば、電流増幅器であってもよいし、電力増幅器（例えば、ｔｅｘａｓ ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ社のＬＭ３８８６電力増幅器など）であってもよい。

制御モジュール２０は、機械実行可能な命令を含む不揮発性メモリに結合されたマイクロプロセッサ、および／またはＦＰＧＡ（フィールドプログラマブルゲートアレイ）などのプログラマブルマイクロ回路、または他のプログラマブル回路のような、データを処理する電気回路を含むデバイスまたはシステムである。制御モジュール２０はまた、１つまたは複数のＲＡＭメモリまたはレジスタを含み得る。制御モジュール２０は、例えば、ＦＰＧＡキャリアボードの形態とすることができる。

制御モジュール２０は、エラストグラフィ測定がトリガされたときに、シャフト４０を変位させるために（したがって、Ｕ／Ｓトランスデューサ６を変位させるために）モーションコントローラ３０を制御するように構成（例えば、メモリに記憶された命令を介してプログラム）される。この測定は、オペレータによって（例えば、押しボタンまたは上述のユーザインターフェースによって）手動でトリガされてもよいし、自動的にトリガされてもよい。シャフトの変位は、所定のコマンド信号に従って制御される。ここでは、この変位は、増幅器３１、変位センサ１１、信号調整モジュール３２、およびＰＩＤ補正器などの振動制御モジュール２４を含む制御ループによって制御される（なお、別の実施形態では、振動器は、オープンループ、すなわちセンサフィードバックなしで制御されてもよい）。ここで考慮される実施形態では、振動器によって誘導されるシャフトの変位は、例えば、５ｍｓから５０ｍｓの間の持続時間を有する正弦波の１周期に対応する過渡的な変位である。

超音波フロントエンド４０は、超音波（Ｕ／Ｓ）パルサ４１と、Ｕ／Ｓ受信モジュール４２と、超音波信号を交互に送受信するためのスイッチ４３とを含む。Ｕ／Ｓパルサ４１は、制御モジュール２０が出力する送信制御信号Ｓ_ＴＸに基づいて、Ｕ／Ｓトランスデューサ６の駆動に適した電気超音波信号を生成するように構成された電気回路を含む。この電気回路は、増幅器およびデジタル－アナログ変換器（ＤＡＣ）、例えば１０から１０００メガサンプル／秒のレートの８から１６ビットのＤＡＣを含み得る。Ｕ／Ｓ受信モジュール４２は、Ｕ／Ｓトランスデューサ６によって事前に受信された（スイッチ４３を介してＵ／Ｓ受信モジュール４２に送信された）電気超音波信号（エコー信号）を取得するように構成された電気回路を含む。超音波受信モジュール４２の電気回路は、電圧増幅器、１つまたは複数のフィルタ、およびアナログ－デジタル変換器（ＡＤＣ）、例えば１０から１００メガサンプル／秒のレートを有する８から１６ビットＡＤＣを含み得る。

制御モジュール２０は、エラストグラフィ測定がトリガされたときに、Ｕ／Ｓトランスデューサ６が、図２に表されるシーケンスＳのような超音波パルスＵＳＰのシーケンスを放射するように、Ｕ／Ｓフロントエンド４０を制御するように構成される（例えば、メモリに記憶された命令を介してプログラムされる）。制御モジュール２０は、Ｕ／Ｓトランスデューサ６の変位によって組織８内に誘導された弾性波が組織内をどのように移動するかを追跡するために、放射されたパルスに応答してＵ／Ｓトランスデューサ６によって受信されたエコー信号を取得するようにも構成される。

各超音波パルスＵＳＰの中心周波数は、例えば０．５から１０メガヘルツの間に含まれる。上述したシーケンスの超音波パルスは１回ずつ送信されてもよく、２つの連続するパルスはパルス繰返し周期Ｔで分離され、このパルス繰返し周期は典型的には５０マイクロ秒と２ミリ秒の間（これは０．５キロヘルツと２０キロヘルツの間のパルス繰返しレートに相当する）である。上述のシーケンスの超音波パルスはまたグループによって、例えば２つのパルスのグループによって送信されてもよい（２つの対応するエコー信号の間の相関を計算するために）。各グループの２つのパルスは、５０から２００マイクロ秒の間の持続時間によって分離されてもよく、一方、パルスのグループ自体は、より長い持続時間、例えば０．５ミリ秒よりも長い持続時間によって分離される。様々な実施形態において、異なる送信シーケンスも考慮され得ることが理解されよう。

（図２、３および５のような）振動制御トランジェントエラストグラフィの場合、このＵ／ｓパルスのシーケンスの総持続時間は、５０ｍｓと２００ｍｓとの間であり得る。この持続時間は、より遅い弾性波の伝播速度に応じて、また、観察する部位の深さに応じて選択することができる。例えば、８０ｍｍの深さおよび１ｍ／ｓの伝播速度（被験者の肝臓におけるせん断波の典型）の場合、シーケンスは、８０ｍｓの持続時間を有し得る。

デバイス１によって送信されるＵ／Ｓパルスのシーケンスは、固定された所定の基準シーケンスに基づいて、シーケンスの各パルスを、Ｕ／Ｓトランスデューサ６の変位に応じてリアルタイムで調整される、放射時の時間的オフセットδｔ_ＴＸだけ時間的にシフトさせることによって生成される。

この目的のために、制御モジュール２０は、エラストグラフィ測定がトリガされたときに、（例えば制御モジュールのメモリに記憶された所定の送信シーケンスに基づいて）基準送信制御信号Ｓ_ＴＸ，ｏを生成してもよく、この信号は次に、制御可能遅延２３によって、制御された方法で遅延されて、Ｕ／Ｓフロントエンド４０に送られる送信制御信号Ｓ_ＴＸを生成する。

取得された各エコー信号は、シーケンス中に放射されたＵ／Ｓパルスのうちの１つの放射後にＵ／Ｓトランスデューサ６によって時間ｔにわたって受信された信号によって形成される。より正確には、この放射の後に開始し、所定の持続時間ｔ_ｅｃｈｏを有する所定の時間窓（図４参照）内で受信される信号である。Ｕ／Ｓトランスデューサ６が移動しないとき、Ｕ／Ｓパルス放射と、この時間的窓の開始との間の遅延は、Δｔ_ｏである。例えば、組織８（より一般的には、特徴付けされるべき媒体）が、最小深度ｚ_ｍｉｎから、最大深度ｚ_ｍａｘまでプローブされる場合、一定の遅延Δｔ_ｏは、２．ｚ_ｍｉｎ／ｖ_ＵＳに設定されてよく、一方、窓持続時間ｔ_ｅｃｈｏは、２．（ｚ_ｍａｘ－ｚ_ｍｉｎ）／ｖ_ＵＳに設定される。例えば、ｚ_ｍｉｎ＝２０ｍｍおよびｚ_ｍｉｎ＝１００ｍｍ（ｚ＝２０ｍｍから８０ｍｍまで延びる関心領域ＲＯＩ）の場合、Δｔ_ｏおよびｔ_ｅｃｈｏは、それぞれ２７μｓおよび１０７μｓに設定されてもよい。

送信されたＵ／Ｓパルスに応答してＵ／Ｓトランスデューサ６によって受信されるエコー信号は、Ｕ／Ｓトランスデューサの変位に応じて時間的にシフトされる。それらは、Ｕ／Ｓトランスデューサの変位に応じて変化する受信時の時間的オフセットδｔ_ＲＸによってシフトされる。より正確には、各エコー信号について、トランスデューサの変位がないと仮定してこのパルスについて最初に計画された受信時刻（言い換えれば、受信の参照時刻）に対して、上記の時間窓の開始がδｔ_ＲＸだけシフトされる。

受信時の時間的シフトδｔ_ＲＸは、制御可能なシーケンサ２２により、増幅器およびＡＤＣ４２が出力するデジタル化信号中の適切な一連の値を、シフトレジスタまたは別の種類のデジタルバッファを使用して選択することにより得てもよい。また、ＡＤＣ動作の開始のためのトリガリング時間を制御することによっても得ることができる。この点に関して、放射時および／または受信時にそのような制御可能な遅延を実施するために、おそらく上に提示されたものとは異なる様々な解決策が考えられることに留意されたい。特に、放射時および／または受信時の時間的オフセットの制御は、制御モジュール２０によって実現されるのではなく、Ｕ／Ｓフロントエンド自体によって（受信された調整信号に応じて）実現され得る。

いずれにしても、放射時の時間的オフセットδｔ_ＴＸと受信時の時間的オフセットδｔ_ＲＸの両方は、トランスデューサの変位に依存しないクロック信号などの（同じ）安定した時間的基準に関するオフセットである。

電子ユニット１０は、超音波パルス放射のシーケンスの間に生じる超音波トランスデューサ６の変位によって生じる、他方に関して受信したエコー信号の時間的シフトを補償するように、放射時の時間的オフセットδｔ_ＴＸおよび受信時の時間的オフセットδｔ_ＲＸを調整するように構成される。

実際、図５に表されるように、トランスデューサ６が測定中に移動すると、Ｕ／Ｓトランスデューサと組織内の所定の深さｚに位置する要素との間の距離（したがって、飛行時間）は、考慮する瞬間によって変化する。図５は、典型的なトランジェントエラストグラフィ測定中の、Ｕ／Ｓトランスデューサ６の変位と、Ｕ／Ｓパルスまたはパルスのグループ（例えばペア）の放射の時間とを、クロノグラムの形態で、模式的に表している。この例では、（パルス繰返し周波数のグループの）パルス繰返し周波数は５００Ｈｚであり、トランスデューサに付与される過渡振動は、２０ｍｓの持続時間と２ｍｍのピークトゥピーク振幅を有する１周期の正弦波である。

ここで、図７および図８に表されるように、電子ユニット１０は、より具体的には：
－ 放射時の時間的オフセットδｔ_ＴＸがδｔ_ＴＸ，ｏ＋ｄ／ｖ_ｕｓに等しくなるように、放射時の時間的オフセットδｔ_ＴＸを調整し（δｔ_ＴＸ，ｏは放射時の一定の遅延である）、および
－ 受信時の時間的オフセットがδｔ_ＲＸ，ｏ－ｄ／ｖ_ｕｓに等しくなるように、受信時の時間的オフセットを調整する（δｔ_ＲＸ，ｏは受信時の一定の遅延である）、
ように構成される。

ここで、これら２つの時間的オフセットの間の差Δｔ＝δｔ_ＲＸ－δｔ_ＴＸは、放射されたＵ／Ｓパルスの１つの放射と、それに応答して記録されるエコー信号の開始との間の遅延Δｔに等しい（これらの時間的オフセットは、同じ時間基準またはクロックに対する２つの時間的オフセットとなる）。そして、この時間差Δｔは、△ｔ_ｏ＝δｔ_ＲＸ，ｏ－δｔ_ＴＸ，ｏで、△ｔ_ｏ－２．ｄ／ｖ_ｕｓに等しい。

放射時の一定の遅延δｔ_ＴＸ，ｏは、δｔ_ＴＸが正のままであるように、トランスデューサに期待される最大変位に応じて設定することができる。例えば２ｍｍ（組織に向かって１ｍｍ、後方に向かって１ｍｍ）の最大ピークトゥピーク変位振幅が予想される場合、δｔ_ＴＸ，ｏは０．７μｓより高く選択されてよい（組織内の超音波の速度は１．５ｍｍ／μｓに等しいはずである）。また、放射時の一定の遅延δｔ_ＲＸ，ｏについては、△ｔ_ｏ＝２．ｚ_ｍｉｎ／ｖ_ｕｓとなるように設定してもよい。

図７に表されるように、補正モジュール２１は、信号調整モジュール３２が出力したデジタル化信号（変位センサ１１が出力した信号を表すデジタル化信号）から、可変遅延ｄ／ｖ_ｕｓを決定する。本実施形態では、トランスデューサ６の変位ｄは、プローブのケーシング３に対するその変位である。補正モジュール２１は、可変遅延ｄ／ｖ_ｕｓを決定する電子回路を含む。この変位は、トランスデューサの基準位置に対するトランスデューサ６の変位に相当する。この基準位置は、例えば、エラストグラフィ測定をトリガする直前に、プローブを被験者の身体に押し当てたときのトランスデューサの位置（ケーシングに対する位置）である。また、ハーモニックエラストグラフィの場合には、トランスデューサの平均位置であってもよい。ｄの値（正または負の代数値である）は、超音波トランスデューサが組織に向かって（被験者の身体に向かって）移動すると増加する。ｄは、組織に向かって向けられた軸ｚに沿った位置の変動に相当する。

「課題を解決するための手段」と題するセクションで説明したように、放射時のＵ／Ｓトランスデューサ６の変位ｄに応じて、このように放射および受信を時間的にシフトさせると、この一連のエコー信号の取得中にトランスデューサの変位によって生じるエコー信号間の時間的不整合を補償することが可能となる。

この遅延補償のおかげで、記録された異なるエコー信号は、一時的に互いに再調整される。これは、各エコー信号において、エコー信号の開始後の与えられた時間ｔにおけるエコー信号の部分が、異なるエコー信号について、媒体中の同じ深さｚに対応する（すなわち：媒体中の同じ深さｚに位置する組織の部分によって後方散乱される信号に対応する）ことを意味する。

また、電子ユニット１０は：
－ 記録されたエコー信号（これらのエコー信号は、この相関の前に時間的に再調整されている）を相関させ、各時間ｔについて、深さｚに応じて組織変位を決定し（すなわち：「背景技術」のセクションで上述したステップｃ）、および
－ こうして得られた時空間変位マップのｚ微分∂＊／∂_Ｚを計算する（トランスデューサの変位の完全でない補償のために残り得る、補償されない残留の小さなｚシフトを除去する）、
ように構成されてもよい。

図７の場合、放射時および受信時の時間的オフセットδｔ_ＴＸおよびδｔ_ＲＸは、それぞれδｔ_ＴＸ，ｏ＋ｄ／ｖ_ｕｓおよびδｔ_ＲＸ，ｏ－ｄ／ｖ_ｕｓに等しくなるように調整される。

なお、代替案では、これらの時間的オフセットは、それらの差Δｔ＝δｔ_ＲＸ－δｔ_ＴＸが２．ｄ／ｖ_ｕｓに応じて変化する限り、異なるように調整され得る。

例えば、補償は放射時に完全に達成され、δｔ_ＴＸはその後、δｔ´_ＴＸ，ｏ＋２．ｄ／ｖ_ｕｓに等しくなるように調整され、一方δｔ_ＲＸは時間的に一定のまま（受信時に調整なし）とすることが可能である。

逆に、補償は完全に受信時に達成され、δｔ_ＲＸはその後δｔ´_ＲＸ，ｏ－２．ｄ／ｖ_ｕｓに等しくなるように調整され、一方δｔ_ＴＸは時間的に一定のまま（放射時に調整なし）とすることが可能である。

より一般的には、電子ユニット１０は：
－ 放射時の時間的オフセットδｔ_ＴＸがδｔ_ＴＸ，ｏ＋Ｃ．ｄ／ｖ_ｕｓに等しくなるように、放射時の時間的オフセットを調整し、および
－ 受信時の時間的オフセットがδｔ_ＲＸ，ｏ－（２－Ｃ）．ｄ／ｖ_ｕｓに等しくなるように、受信時の時間的オフセットを調整する（Ｃは０と２との間の定数係数である）、
ように構成することができる。

図７と図８を参照して上に示した場合は、Ｃ＝１に対応する。この場合、適用される全体的な時間シフト補正（つまり－２．ｄ／ｖ_ｕｓ）は、放射時の時間的オフセットと受信時の時間的オフセットとの間で均等に分配される。「課題を解決するための手段」のセクションで説明したように、この特定の補正は、組織変形の時間サンプリング精度の観点から、最適である。

図９は、Ｕ／Ｓトランスデューサ６の変位ｄ（ｔ）の例について、上に示したデバイス１によって放射されるＵ／ＳパルスのシーケンスＳ（クロノグラムｂ））を模式的に表す図である。また、変位なしで放射されたであろうシーケンスＳ_ｏを表している（クロノグラムａ）。この例では、遅延のない、基準シーケンスＳ_ｏにおいて、Ｕ／Ｓパルスは、一定のパルス繰返し周波数ＰＲＦ０で、周期的に、規則的に繰り返される。パルス繰返し周期、すなわち、これらのパルスのいずれかとその直後のパルスとの間の持続時間は、Ｔ_ｏと記されており、一定である。これに対し、デバイス１が放射するシーケンスでは、図９に見られるように、パルス繰返し周期Ｔは時間的に一定ではない。

２つのパルス間の経過時間のこの変動は、考慮される２つのパルスに適用される放射時の遅延の結果であり、変位ｄ（ｔ）の値が第１のパルスが放射されるときと第２のパルスが放射されるときとで異なるので、これらの２つのパルスに対して異なる遅延である。

そこで、図９に示すように、Ｕ／Ｓトランスデューサ６が移動しないとき（すなわち、ｄ（ｔ）がゼロ、すなわち一定のとき）、パルス繰返し周波数ＰＲＦは一定で、ＰＲＦ０に等しい。しかし、Ｕ／Ｓトランスデューサ６が組織に向かって移動すると（ｄが増加するとき、これは図９の時刻ｔ１と時刻ｔ２との間の場合）、パルス繰返し周波数ＰＲＦはＰＲＦ０よりも小さくなり、パルス繰返し周期ＴはＴ_ｏよりも大きくなる。逆に、Ｕ／Ｓトランスデューサ６が後方に移動する場合（ｄが減少するとき、これは図９の０から時刻ｔ１までの間、および時刻ｔ２から時刻ｔ３までの間の場合）、パルス繰返し周波数ＰＲＦはＰＲＦ０よりも高くなり、パルス繰返し周期ＴはＴ_ｏよりも小さくなる。

エラストグラフィデバイス１´の第２の実施形態では、変位ｄに基づいて、基準で遅延のないシーケンスＳ_ｏの異なるパルスを時間シフトする代わりに、変位ｄに応じて、直接調整されるのは、生成されるシーケンスのパルス繰返し周期Ｔである。パルス繰返し周期Ｔは、より具体的にはｄの時間微分、すなわちＵ／Ｓトランスデューサの

の変位速度に依存して調整される。

第２の実施形態では、図１０にブロック図として概略的に表されるデバイス１´の電子ユニット１０´は、このように、放射時の変位ｄに基づいて、Ｔ＝Ｔ_ｏ×（１＋ｖ／ｖ_ｕｓ）となるようにリアルタイムで調整されるパルス繰返し周期Ｔで放射すべきパルスのシーケンスを生成するように構成される。前述したように、Ｔ_ｏは基礎となる基準の繰返し周期である。これは、Ｕ／Ｓトランスデューサ６が移動しないときの２つの連続するパルスの間の持続時間に等しい。Ｔ_ｏは、図９の場合のように、時間的に一定であってもよい。

「課題を解決するための手段」のセクションで説明したように、このようにパルス繰返し周期Ｔを調整すると、（第１の実施形態の場合のように）放射時の時間的オフセットδｔ_ＴＸｏがδｔ_ＴＸ，ｏ＋ｄ／ｖ_ｕｓに等しくなるように放射時の時間的オフセットδｔ_ＴＸを調整するのと同じ結果、または実質的に同じ結果が得られる。実際、このようにパルス繰返し周期Ｔを調整することは、ｄに基づいてオフセット自体を調整するのではなく、ｄの時間微分に依存して放射時のオフセットδｔ_ＴＸの時間微分を調整することと同等、または実質的に同等である。

第２の実施形態によるデバイス１´（図１０に部分的に表されているデバイス）の異なる要素は、電子ユニット１０´がＵ／Ｓパルス放射制御に関して異なるように構成されている（ｄに依存して放射時に各時間的オフセットを調整するのではなく、

に応じて放射時のパルス繰返し周期を調整するように構成されている）以外は、第１の実施形態によるデバイス１と同一または少なくとも同様である。

より具体的には、第２の実施形態によるデバイス１´において、プローブ２および中央ユニット７は、制御モジュール２０´が異なって構成されることを除いて、第１の実施形態のデバイス１のものと同一であってよい。第１の実施形態の制御可能な遅延２３は、Ｕ／Ｓトランスデューサ６の変位ｄに基づいて、Ｕ／Ｓパルサ４１を制御する信号を生成する制御可能なＵ／Ｓパルスシーケンス生成器２３´に置き換えられている。この信号は、この信号内のパルス繰返し周期ＴがＴ_ｏ×（１＋ｖ／ｖ_ｕｓ）に等しくなるように生成される。

このような制御可能なパルス繰返し周期生成を実施するために、おそらく上に示したものとは異なる他の電子的実装を考えることができる。特に、上に提示された電子ユニットの異なる機能が、デバイスの要素およびモジュールの間で異なって分配される。

その上、パルス繰返し周期ＴがＴ_ｏ×（１＋ｖ／ｖ_ｕｓ）に等しくなるようにパルス繰返し周期Ｔを調整するように構成される代わりに、電子ユニット１０´は：
－ ＴがＴ_ｏ×（１＋Ｃ．ｖ／ｖ_ｕｓ）に等しくなるようにＴを調整し（Ｃは０と２の間の定数係数である）、および
－ 受信時の時間的オフセットδｔ_ＲＸがδｔ_ＲＸ，ｏ－（２－Ｃ)．ｄ／ｖ_ｕｓに等しくなるように、受信時の時間的オフセットδｔ_ＲＸを調整する、
ように構成することができる。

第１の実施形態について以上説明したように、Ｃ＝１の場合は、適用すべき全体の時間シフト補正（Ｕ／Ｓトランスデューサの変位を補償する）が放射と受信の間で均等に配分される場合であり、組織変形の時間サンプリング精度の観点から、最適である。

なお、他の場合にも、Ｕ／Ｓトランスデューサの移動の影響の大部分を補償することが可能である。

例えば、補償は放射時に完全に達成され、パルス繰返し周期ＴはＴ_ｏ×（１＋２．ｖ／ｖ_ｕｓ）に等しくなるように調整され、一方δδｔ_ＲＸは時間的に一定のままであり（受信時に調整なし）、これはＣ＝２に相当する。

上に示した例では、Ｕ／Ｓパルスは一度に１つずつ送信され、トランスデューサの動きがないときには、２つの連続するパルスがＴ_ｏによって分離される。それでも、上に示したパルス繰返し周期調整技術は、他の種類のＵ／Ｓパルスシーケンスに適用することも可能である。例えば、遅延のない、基準シーケンスＳ_ｏは、周期的に繰り返されるパルスの対（より一般的には、パルスのグループ）で構成され、パルスの２つの連続した対の間に周期Ｔ_ｏがあり、各対の２つのパルスの間に持続時間ｔ_{ｉｎｔｒａ}があり得る。このような場合、パルス繰返し周期は、上述のようにｄに依存して調整され、量ｔ_{ｉｎｔｒａ}もＴ_ｏと同様に補正係数（１＋Ｃ．ｖ／ｖ_ｕｓ）が乗算される。より一般的には、周期的に繰り返されるＵ／ＳベースシーケンスＳ_ｏの全ての時間的パターンは、係数（１＋Ｃ．ｖ／ｖ_ｕｓ）だけ時間的に拡大（またはｖの符号に依存して縮小）される。

図１１は、第３の実施形態に係るエラストグラフィデバイス１´´を模式的に表す図である。上述したように、本実施形態では、Ｕ／Ｓトランスデューサ６は、プローブケーシング３に対して動かないように、プローブケーシング３に結合されている。Ｕ／Ｓトランスデューサ６は、先端部４´´の端部に固定されており、ケーシング３に対して運動しない状態でケーシング３に装着されている。プローブ２´´は、ケーシングに対して、ケーシングの軸ｚに沿って移動できるように配置されたマス１２を含む。先端部４´´およびＵ／Ｓトランスデューサ６は、この軸に中心を合わせて配置されている。振動器５´´、マス１２およびＵ／Ｓトランスデューサ６は、軸ｚを中心に回転対称である。振動器５´´は、ケーシングに対してマス１２を移動させ（言い換えれば、慣性マス１２に対してケーシング３を移動させ）、反跳効果により、プローブ全体を組織に向かって移動させたり戻したりするように配置されている。この慣性プローブ２´´は、ＳａｎｄｒｉｎとＡｕｄｉｅｒｅによる特許ＥＰ３３１５０７４号に記載されたものと同様である。

この実施形態では、変位センサ１１´´は、プローブに装着された慣性センサであり、プローブに対して運動しないので、Ｕ／Ｓトランスデューサ６に対して運動しない。したがって、変位センサ１１´´から出力される測定信号は、慣性基準フレーム（この基準フレームは、測定が行われる部屋または場所に関連する）に対する単一の超音波トランスデューサ６の変位を表すものである。変位センサ１１´´は、加速度計、例えばＭＥＭＳ加速度計である。

この第３の実施形態では、電子ユニットは、加速度信号を位置信号に変換するために、二重時間積分器を含むことを除いて、第１の実施形態の電子ユニット１０（図７参照）と同一、または少なくとも同様である。

第３の実施形態では、変位ｄは一種の絶対変位であり、第１および第２の実施形態では、一種の相対変位（すなわち、プローブのケーシングに対するトランスデューサの変位）であることに注意されたい。

そこで、第３の実施形態では、放射および／または受信時の時間的オフセットを調整するために考慮される変位ｄは、被験者の身体に対するＵ／Ｓトランスデューサの実際の変位に正確に、またはほぼ正確に対応する（このような検査中に、被験者は安静であるため）。この場合、時間シフト補償は、したがって、原理的に最適である（測定がバイアスまたはノイズによって損なわれないと仮定した場合）。

第１および第２の実施形態において、考慮される変位がプローブに対する変位のみであっても、実際、適切な時間シフト補償が得られることが判明した。一見すると、かなり意外な感じがするかもしれない。確かに、第１および第２の実施形態では、振動器が先端を被検体に向けて押し出すと、たとえプローブがしっかりと保持されていたとしても、通常、プローブのわずかな反動が観察される。それで、時間シフトを補償するために考慮される量である、プローブのケーシングに対するトランスデューサ６の変位は、被験者の身体に対するトランスデューサの変位（理想的には、考慮されるべきもの）と正確に一致しない。

両方の技術（慣性センサによる絶対変位の測定、またはケーシングに対する変位の測定）が適切な結果をもたらすという事実の説明は、その電子ユニットが、両方の場合において、最終的に得られた時空間変位マップ（上述の技術を使用して再調整されたエコー信号を相関させて得られる）のｚ微分∂＊／∂ｚを計算するように構成されるという点である。したがって、トランスデューサの変位の補償が完全に正確でない場合（上述のプローブの反動のため、または慣性センサによって提供される信号から推測される変位のノイズおよび／またはバイアスのため）でも、可能な残留、補償されない小さなｚシフトは、ｚ微分によって除去される。言い換えれば、時間シフト補償の主な目的は、実際には、エコー信号間の大きな一定のオフセットを有するエコー信号の相関を計算しなければならないこと（これは、時間がかかり、結果を損なうノイズを増加させる）を避けるために、変位に起因する時間シフトの大部分を除去すること（これは、第１および第３実施形態の両方において達成される）である。

以上から、本発明の特定の実施形態が例示の目的で本明細書に記載されたが、既に述べたものに加えて、上記に提示されたデバイスに対して様々な変更がなされ得ることが理解されよう。

例えば、プローブは、１つだけでなく、複数のＵ／Ｓトランスデューサを含み得る。この場合、特徴付けられる組織において超音波パルスを放射するように配置されるプローブの全ての超音波トランスデューサは、既に述べたように、互いに対して動かないようにする。これらのトランスデューサは、プローブの回転対称性が維持されるように、プローブ軸ｚに関して互いに対して対称に分布され得る。また、それらは、互いに関して正確に対称である代わりに、この軸の周りに規則的に分布されてもよい。

その上、第１および第２の実施形態（ケーシングに対して移動可能なトランスデューサ）の場合、変位センサは、例えば、シャフト４０上に固定された慣性センサであってもよい。あるいは、デバイスは、ケーシングに対して動かない慣性センサと、上述したセンサ１１のような変位センサの両方を含み得る（両方のセンサが、被験者の身体に対するトランスデューサの変位を決定するために採用される）。

別の実施形態では、トランスデューサの変位ｄ（ｔ）は、測定信号Ｓ_ｄから推測される代わりに、振動器を制御するコマンド信号から推測され得る。

代替の実施形態では、変位に起因する時間シフトを補償するために考慮されるトランスデューサの変位ｄ（ｔ）は、デバイスのメモリに記憶された予め記録された変位データを読み取ることによって得られ得る。この変位データは、典型的なエラストグラフィ測定シーケンスの間にトランスデューサの変位を表す信号を取得することによって得られ得る。この変位データは、デバイスが試験され特性評価される予備試験段階において取得され得る。このような予め記録されたデータを使用することにより（エラストグラフィ測定が再びトリガされるたびにトランスデューサの変位をその場で測定する代わりに）、特に振動器が制御ループによって制御される場合に、信頼性の高い時間シフト補正が可能になる（実際、このような場合、得られる変位は、制御ループのおかげで、行われる各エラストグラフィ測定について同じか少なくとも同様であり、したがって同じ、予め記録された変位信号が採用され得る）。

上記に示した時間シフト補償技術は、振動制御トランジェントエラストグラフィの場合について詳細に説明したが、例えばＥＰ３７６９６９１号として公開された特許出願に記載されているような振動制御ハーモニックエラストグラフィにも同様に適用することが可能である。

先に説明した様々な実施形態は、技術的に許容される任意の組み合わせに従って組み合わせ可能であることが理解されるであろう。

１、１´、１´´ エラストグラフィデバイス
２、２´´ プローブ
３ プローブケーシング
５、５´´ 低周波振動器
６ 超音波トランスデューサ
８ 組織
１０、１０´ 電子ユニット
１１、１１´´ 変位センサ
１２ マス
δｔ_ＴＸ 放射時の時間的オフセット
δｔ_ＲＸ 受信時の時間的オフセット
ＵＳＰ 超音波パルス

Claims (14)

1. － 被験者の身体に対して保持されるプローブ（２；２´´）であって、
   単一の超音波トランスデューサ（６）、または複数の超音波トランスデューサであって、特徴付けられるべき組織（８）において超音波パルスを放射するように配置されるプローブの全ての超音波トランスデューサが、互いに対して動かない、超音波トランスデューサと、
   低周波振動器（５；５´´）であって、前記組織（８）に向かって前記単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位を誘導するように配置された、低周波振動器と
   を含む、プローブ（２；２´´）と、
   － 単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサを制御して超音波パルス（ＵＳＰ）のシーケンス（Ｓ）を放射するように構成され、単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位によって組織（８）内に誘導された弾性波が前記組織内でどのように進むかを追跡するために、放射された超音波パルス（ＵＳＰ）に応答して単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサによって受信されたエコー信号を取得するように構成された、電子ユニット（１０）と
   を含み、
   － 電子ユニット（１０）が、放射された超音波パルスの１つまたは複数について、
   超音波パルスの放射がシフトされる放射時の時間的オフセット（δｔ_ＴＸ）、
   および／または、前記放射された超音波パルスに応答して取得されたエコー信号がシフトされる受信時の時間的オフセット（δｔ_ＲＸ）
   を生成するようにさらに構成され、
   放射時の時間的オフセット（δｔ_ＴＸ）および／または受信時の時間的オフセット（δｔ_ＲＸ）が、単一のトランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位に応じて調整される、エラストグラフィデバイス（１；１´´）。
2. 放射時の時間的オフセット（δｔ_ＴＸ）および／または受信時の時間的オフセット（δｔ_ＲＸ）が、その差が２．ｄ／ｖ_ＵＳに応じて変化するように調整され、ｄが放射時の単一のトランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位であり、ｖ_ＵＳが前記組織（８）内の超音波の速度である、請求項１に記載のエラストグラフィデバイス（１；１´´）。
3. 電子ユニットが、前記差がΔｔ_ｏ＝－２．ｄ／ｖ_ＵＳ（Δｔ_ｏが超音波パルス（ＵＳＰ）の放射とそれに応答して受信されるエコー信号の取得との間の一定の遅延である）に等しくなるように構成される、請求項２に記載のエラストグラフィデバイス（１；１´´）。
4. 電子ユニット（１０）が、前記放射される超音波パルス（ＵＳＰ）の１つまたは複数について、
   放射時の時間的オフセットがδｔ_ＴＸ，ｏ＋Ｃ．ｄ／ｖ_ＵＳ（δｔ_ＴＸ，ｏが放射時の一定の遅延である）に等しくなるように、放射時の時間的オフセット、および、
   受信時の時間的オフセットがδｔ_ＲＸ，ｏ－（２－Ｃ)．ｄ／ｖ_ＵＳ（δｔ_ＲＸ，ｏが受信時の一定の遅延であり、Ｃが０と２の間の一定の係数である）に等しくなるように、受信時の時間的オフセット、
   を調整するように構成される、請求項３に記載のエラストグラフィデバイス（１；１´´）。
5. Ｃ＝１である、請求項４に記載のエラストグラフィデバイス（１；１´´）。
6. 前記単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位を表す測定信号を出力するように配置された変位センサ（１１；１１´´）をさらに含み、電子ユニット（１０）が、前記測定信号に基づいて放射時の時間的オフセット（δｔ_ＴＸ）および／または受信時の時間的オフセット（δｔ_ＲＸ）を生成するようにさらに構成される、請求項１から５のいずれか一項に記載のエラストグラフィデバイス（１；１´´）。
7. 前記変位センサ（１１´´）が、出力する測定信号が慣性基準フレームに対する前記単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位を表すように配置された慣性センサである、請求項６に記載のエラストグラフィデバイス（１´´）。
8. プローブ（２´´）が、手で持つことができるプローブケーシング（３）を含み、前記単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサが、プローブケーシングに対して動かない状態で、プローブケーシング（３）に結合され、振動器（５´´）が、単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの前記変位を、被験者の身体に向かって誘導するために、プローブケーシング内のマス（１２）を動かすように配置される、請求項７に記載のエラストグラフィデバイス（１´´）。
9. プローブ（２）は、プローブケーシング（３）を含み、前記単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサが、プローブケーシング（３）に対して移動可能であり、変位センサ（１１）が、それが提供する測定信号が、プローブケーシング（３）に対する前記単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位を表すように配置される、請求項１から７のいずれか一項に記載のエラストグラフィデバイス（１）。
10. － 被験者の身体に対して保持されるプローブであって、
    単一の超音波トランスデューサ（６）、または複数の超音波トランスデューサであって、特徴付けられるべき組織（８）において超音波パルスを放射するように配置されるプローブの全ての超音波トランスデューサが、互いに対して動かない、超音波トランスデューサと、
    低周波振動器（５）であって、前記組織（８）に向かって前記単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位を誘導するように配置された、低周波振動器（５）と
    を含む、プローブと、
    － 単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサを制御して超音波パルス（ＵＳＰ）のシーケンスを放射するように構成され、単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位によって組織（８）内に誘導された弾性波が前記組織内でどのように進むかを追跡するために、放射された超音波パルスに応答して単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサによって受信されたエコー信号を取得するように構成された、電子ユニット（１０´）と
    を含み、
    － 電子ユニット（１０´）が、放射される超音波パルスの少なくともいくつかについて、放射される次の超音波パルス（ＵＳＰ）から超音波パルス（ＵＳＰ）を分離するパルス繰返し周期（Ｔ）が、単一の超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位（ｄ）に応じて変化するようにさらに構成され、パルス繰返し周期（Ｔ）が、
    単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサが前記組織から遠ざかるとき、基準となるパルス繰返し周期Ｔ_ｏと比較して短くなり、
    単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサが前記組織に向かって移動するときに、基準となるパルス繰返し周期Ｔ_ｏと比較して長くなる、エラストグラフィデバイス（１´）。
11. 電子ユニット（１０´）が、パルス繰返し周期がＴ_ｏ×（１＋Ｃ．ｖ／ｖ_ＵＳ）に等しくなるように、単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位（ｄ）に応じて、パルス繰返し周期（Ｔ）を調整するように構成され、ｖが、単一の超音波トランスデューサまたは複数の超音波トランスデューサの変位速度であり、ｖ_ＵＳが、前記組織における超音波の速度であり、Ｃが、０から２の間の一定の係数である、請求項１０に記載のエラストグラフィデバイス（１´）。
12. Ｃ＝１である、請求項１１に記載のエラストグラフィデバイス（１´）。
13. － 単一の超音波トランスデューサ（６）、または複数の超音波トランスデューサであって、特徴付けられるべき組織（６）において超音波パルスを放射するように配置されるプローブの全ての超音波トランスデューサが、互いに対して動かない、超音波トランスデューサと、
    － 前記超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位を前記組織（８）に向かって誘導するように配置された、低周波振動器（５；５´´）と
    を含むプローブ（２；２´´）を含むデバイス（１；１´´）によって実施されるエラストグラフィ方法であって、
    － 前記超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位を前記組織に向かって誘導するように、低周波振動器（５；５´´）を制御することと、
    － 前記超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサを制御して、超音波パルス（ＵＳＰ）のシーケンス（Ｓ）を放射し、超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサの変位によって組織（８）内に誘導された弾性波が組織内でどのように進むかを追跡するために、放射された超音波パルス（ＵＳＰ）に応答して超音波トランスデューサ（６）または複数の超音波トランスデューサによって受信されたエコー信号を取得することと
    を含み、
    放射された超音波パルスの１つまたは複数について、
    超音波パルスの放射がシフトされる放射時の時間的オフセット（δｔ_ＴＸ）を発生させること、
    および／または、放射された超音波パルスに応答して取得されたエコー信号がシフトされる受信時の時間的オフセット（δｔ_ＲＸ）を生成すること
    をさらに含み、
    放射時の時間的オフセット（δｔ_ＴＸ）および／または受信時の時間的オフセット（δｔ_ＲＸ）が、トランスデューサまたは複数のトランスデューサの変位に応じて調整される、エラストグラフィ方法。
14. 放射時の時間的オフセット（δｔ_ＴＸ）および／または受信時の時間的オフセット（δｔ_ＲＸ）が、その差が２．ｄ／ｖ_ＵＳに応じて変化するように調整され、ｄが放射時のトランスデューサまたは複数のトランスデューサの変位であり、ｖ_ＵＳが前記組織における超音波の速度である、請求項１３に記載のエラストグラフィ方法。

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