JP2023008854A - 2つのシーソーを有する加速度計 - Google Patents

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Abstract

【課題】加速度測定を妨げる不都合を軽減する装置を提供すること。【解決手段】xy平面に垂直なz軸の方向の加速度を測定するための加速度計であって、第1の試験質量は、第1の試験質量が第1の回転軸を中心とした回転を受けることを可能にする第1の懸架構造を用いて第1の側部アンカー点から懸架される、加速度計。第2の試験質量は、第2の懸架構造によって第2の側部アンカー点から懸架される。第2の懸架構造は、第2の試験質量が第2の回転軸を中心とした回転を受けることを可能にする。第1の懸架構造及び第2の懸架構造内のねじれ要素は、質量が懸架される対応する側部アンカー点よりも加速度計の中心から離れて位置する。【選択図】図1a

Description

本開示は、加速度を測定するための微小電気機械(MEMS)デバイスに関し、より詳細には、加速度計がデバイス平面に垂直な方向に加速度を受けたときにデバイス平面外でシーソー運動において回転することができる試験質量を備える加速度計に関する。
MEMS加速度計は、典型的には、エッチングによって微小機械構造が形成される基板上に堆積されたデバイスウェハ又は代替的にデバイス層を備える。デバイスウェハ又は層は、デバイス平面を画定する。本開示では、デバイス平面をxy平面として例示する。
デバイスウェハ又は層内に形成された試験質量は、xy平面内にある回転軸を中心にシーソー運動において回転することによって、(xy平面に垂直な)z軸の方向の加速度に応答するように構成することができる。試験質量は、その質量中心が回転軸上に存在しないように、この回転軸に対して非対称である必要がある。試験質量は、加速度計がz方向の加速度を受け、試験質量がxy平面外に回転し始めたときにねじれ捻転を受けるのに十分に薄い懸架装置によって固定アンカー点から懸架することができる。
微小電気機械デバイスにおける一般的な問題は、特定の運動モードを可能にするように設計された懸架構成が他のモードも可能にすることである。これらの追加のモードの多くは、加速度測定を妨げるため、望ましくない。
特許文献1は、2つの試験質量が並んで懸架されてシーソー運動においてデバイス平面外に回転する加速度計を開示している。この懸架構成では、試験質量は、外部振動の影響により寄生振動を受けやすい。このような寄生振動は、面外測定を妨げる可能性がある。
米国特許第8539836号明細書
本開示の目的は、上記の不都合を軽減する装置を提供することである。
本開示の目的は、独立請求項に述べられている事項によって達成される。本開示の好ましい実施形態が、従属請求項に開示されている。
本開示は、互いに離れているねじれ要素を用いて面外シーソー運動のために2つの隣接する試験質量を懸架するという着想に基づいている。この構成の利点は、懸架構造がデバイス平面内の振動により強く抵抗することができることである。
以下において、添付の図面を参照しながら、好ましい実施形態によって、本開示をより詳細に説明する。
2つの異なる設計のうちの1つを有する加速度計を示す図である。 2つの異なる設計のうちの1つを有する加速度計を示す図である。 第1の回転軸及び第2の回転軸が一致する加速度計及び対応する中央固定構成を示す図である。 第1の回転軸及び第2の回転軸が一致する加速度計及び対応する中央固定構成を示す図である。 加速度計の様々な寸法を示す図である。 第1の回転軸のy座標が第2の回転軸のy座標よりも大きい加速度計及び対応する中央固定構成を示す図である。 第1の回転軸のy座標が第2の回転軸のy座標よりも大きい加速度計及び対応する中央固定構成を示す図である。 代替的な中央固定構成を示す図である。 代替的な中央固定構成を示す図である。 代替的な中央固定構成を示す図である。 x軸及び/又はy軸の方向の加速度を測定するための追加の要素を有する加速度計を示す図である。 x軸及び/又はy軸の方向の加速度を測定するための追加の要素を有する加速度計を示す図である。 第1の回転軸及び第2の回転軸が一致しない場合に使用することができる測定幾何形状を示す図である。 第1の回転軸及び第2の回転軸が一致しない場合に使用することができる測定幾何形状を示す図である。 第1の回転軸及び第2の回転軸が一致しない場合に使用することができる測定幾何形状を示す図である。
本開示は、xy平面に垂直なz軸の方向の加速度を測定するための加速度計を説明する。加速度計は、第1の試験質量と、第2の試験質量とを備える。第1の試験質量は、第2の試験質量に隣接している。加速度計は、実質的に第1の試験質量と第2の試験質量との間に位置する1つ以上の中央アンカー点をさらに備える。加速度計は、第1の側部アンカー点及び第2の側部アンカー点をさらに備える。
第1の試験質量は、第1の懸架構造によって第1の側部アンカー点及び1つ以上の中央アンカー点から懸架される。第1の懸架構造は、第1の試験質量が第1の回転軸を中心とした回転を受けることを可能にする。第2の試験質量は、第2の懸架構造によって1つ以上の中央アンカー点及び第2の側部アンカー点から懸架される。第2の懸架構造は、第2の試験質量が第2の回転軸を中心とした回転を受けることを可能にする。第1の回転軸及び第2の回転軸は互いに平行であり、第1の回転軸及び第2の回転軸に平行なx方向及びx方向に垂直なy方向を規定する。
第2の側部アンカー点のx座標は、第1の側部アンカー点のx座標よりも大きい。第1の試験質量の質量中心のy座標は、第1の回転軸のy座標よりも大きい。第2の試験質量の質量中心のy座標は、第2の回転軸のy座標よりも小さい。
第1の懸架構造は、第1の側部アンカー点と第1の試験質量との間に取り付けられた第1のねじれ要素を備える。第1の懸架構造はまた、1つ以上の中央アンカー点のうちの1つと第1の試験質量との間に取り付けられた第2のねじれ要素も備える。
第2の懸架構造は、1つ以上の中央アンカー点のうちの1つと第2の試験質量との間に取り付けられた第3のねじれ要素を備える。第2の懸架構造はまた、第2の側部アンカー点と第2の試験質量との間に取り付けられた第4のねじれ要素も備える。
第1のねじれ要素の中心のx座標は、第1の側部アンカー点のx座標よりも小さい。第4のねじれ要素の中心のx座標は、第2の側部アンカー点のx座標よりも大きい。
本開示では、デバイス平面が例示され、xy平面と称される。デバイス平面は、試験質量及び懸架構造がエッチングによって形成されるデバイスウェハ又は層によって決定される。垂直z軸はxy平面に垂直である。試験質量の重心が垂直方向に移動する運動は、面外運動又はデバイス平面外運動として参照される場合がある。試験質量の重心がxy平面内で移動する運動は、面内運動又はデバイス平面内運動として参照される場合がある。各試験質量の重心は、試験質量がその静止位置にあるときにデバイス平面内にあり得る。
加速度計の可動部分(試験質量及び可撓性懸架装置など)を形成する微小機械構造は、ウェハをエッチングすることによってデバイスウェハ内に作成することができる。構造が完成すると、デバイスウェハの固定部分は、典型的にはデバイス平面内で可動部分を取り囲む支持体を形成する。デバイスウェハは、シリコンウェハであってもよい。部分的に可動な部分は、ウェハをエッチングすることによってデバイスウェハから製造することができる。デバイスウェハは、製造中及び/又は完成した構成要素内で、別個のはるかに厚いウェハからの構造的支持を必要とする場合がある。これらのより厚いウェハは、ハンドルウェハ又は支持ウェハと呼ばれる場合がある。デバイス層がエッチングされるとき、同様の構成を使用することができる。
第1の試験質量及び第2の試験質量の各々はシーソーを形成し、シーソーはティータトッタとも呼ばれ得る。各シーソーは、面外回転によるz軸方向の加速度に応答する。シーソーが互いに結合されていない場合、各シーソーの応答は、他方の応答から独立している。加速度計は、それらがz軸に沿った加速度に応答して一斉に動くように、2つを互いに結合することによってより堅牢にすることができる。
アンカー点は、デバイスが加速を受けるときに加速度計の固定された周囲に対していかなる動きも受けない固定構造である。試験質量は、懸架構造によってこれらのアンカー点から懸架される。これらの懸架構造は、ねじり方向に可撓性のねじれ要素などの少なくともいくつかの可撓性部分を含む。懸架構造はまた、一端をアンカー点に固定することができる実質的に剛性の延長部分も含むことができる。延長バーは、デバイスが作動しているときに可撓性部分よりもはるかに少ない弾性変形を受けるように寸法決めされる。
面外運動を柔軟に可能にする懸架構造の部分は、本開示において、ねじれ要素として参照される。本開示の図に示すように、それらは、対応する回転軸に垂直な方向に狭いトーションバーであってもよい。例えば蛇行ばねのような他のねじり可撓性構造を代替的に使用することができる。本開示の図では、懸架構造内の各ねじれ要素は、対応する回転軸上にある。しかしながら、ねじれ要素は、代替的に、軸の異なる側に2つ以上のねじり可撓性部分を備えてもよく、その場合、これらの部分のいずれも回転軸上に正確に位置する必要はない。この選択肢は図示されていないが、任意のねじれ要素に対して実施されてもよい。
第1のねじれ要素は第1の回転軸上に整列されてもよく、第2のねじれ要素は第1の回転軸上に整列されてもよく、第3のねじれ要素は第2の回転軸上に整列されてもよく、第4のねじれ要素は第2の回転軸上に整列されてもよい。しかしながら、上に提示した理由から、これらの整列は任意選択である。これらのねじれ要素のいずれも、代替的に、対応する回転軸上に整列しないように実装されてもよい。各試験質量の重心は、その回転軸から離れている。懸架装置は、回転軸を中心としたねじれ捻転を可能にするように構成することができる。懸架装置を適切に寸法決めすることにより、所与の最小量のz軸加速度を超えたときに試験質量が回転することが可能になる。試験質量は、特定の大きさのz軸加速度に応答して、予め設計された量の面外回転を受ける。懸架装置のねじり剛性は、センサが動作すると予測されるz軸加速度値の範囲内で適切な傾斜角が得られるように選択することができる。試験質量の傾斜角は、試験質量及び対向する固定構造に取り付けられた検知電極を用いて容量的に測定することができる。この測定値から加速度の大きさを算出することができる。
図1aは、加速度計を示す。図示のx軸は、ここでは正のx方向、すなわちx座標が増加する方向を示す。第1の試験質量11が、第1の側部アンカー点171及び中央アンカー点145から懸架されている。第2の試験質量12が、第2の側部アンカー点172及び中央アンカー点145から懸架されている。図1aには1つの中央アンカー点145のみが示されているが、複数の中央アンカー点が代替的に使用されてもよく、第1の試験質量11及び第2の試験質量12を異なる中央アンカー点から懸架してもよい。加速度計が2つ以上の中央アンカー点を備える場合、当該2つ以上の中央アンカー点は互いに隣接していてもよく、それらは第1の試験質量と第2の試験質量との間に位置してもよい。
図1aでは、y軸は正のy方向、すなわちy座標が増加する方向を示す。したがって、第1の試験質量11の質量中心111のy座標は、第1の回転軸191のy座標よりも大きく、一方、第2の試験質量12の質量中心121のy座標は、第2の回転軸192のy座標よりも小さい。したがって、加速度計がxy平面に垂直なz方向に加速度を受けると、第1の試験質量及び第2の試験質量は反対の面外方向に回転する。
ここで第1の試験質量を懸架する第1の懸架構造は、第1の側部アンカー点171と第1の試験質量11との間に延在する第1のねじれ要素131を備える。第1の懸架構造はまた、中央アンカー点145と第1の試験質量11との間に延在する第2のねじれ要素132も備える。
第2の試験質量を懸架する第2の懸架構造は、それに対応して、中央アンカー点145と第2の試験質量12との間に延在する第3のねじれ要素133を備える。第2の懸架構造はまた、第2の側部アンカー点172と第2の試験質量12との間に取り付けられた第4のねじれ要素134も備える。
図1aはまた、第1の試験質量11の質量中心111及び第2の試験質量12の質量中心121を示す。第1の回転軸及び第2の回転軸は、それぞれ参照番号191及び192で示されている。
第1のねじれ要素131の中心のx座標は、第1の側部アンカー点171のx座標よりも小さい。第4のねじれ要素134の中心のx座標は、第2の側部アンカー点172のx座標よりも大きい。これには、第1のねじれ要素131を第2のねじれ要素132からx方向に遠くに配置することができ、第3のねじれ要素133を第4のねじれ要素134からx方向に遠くに配置することができるという利点がある。これらの部分を互いに遠くに配置すると、寄生振動モード、例えば試験質量がz軸又はy軸を中心に回転するモードの共振周波数が上昇する。また、それによって、加速度計がy方向又はz方向の運動を受けるときに試験質量に生じる可能性がある曲げも低減する。これにより、外乱又は試験質量の曲げがz加速度測定に影響を及ぼすリスクが低減される。
典型的には、第1の側部アンカー点及び第2の側部アンカー点並びに1つ以上の中央アンカー点を互いに近接して配置することが有利である。このとき、機械的応力が、ほぼ同じ様式で試験質量に影響を及ぼす。このとき、このような応力の影響は、多くの場合、差分測定において(少なくともある程度)相殺することができる。
第1の懸架構造は、第1の側部アンカー点から第1のねじれ要素まで延在する実質的に剛性の第1の延長バーを備えることができる。第2の懸架構造は、第2の側部アンカー点から第4のねじれ要素まで延在する実質的に剛性の第2の延長バーを備えることができる。図1bは、第1の懸架構造が、第1の回転軸191上にあり、第1の側部アンカー点171から第1のねじれ要素131まで延在する実質的に剛性の延長バー151を備える加速度計を示す。第2の懸架構造はまた、第2の回転軸192上にあり、第2の側部アンカー点172から第4のねじれ要素134まで延在する第2の実質的に剛性の延長バー152を備える。側部アンカー点及び延長バーは、図1aのように、対応する試験質量の開口161/162内に配置することができる。より一般的には、第1の懸架構造の一部は、第1の試験質量11の開口161内に配置されてもよく、第2の懸架構造の一部は、第2の試験質量12の開口162内に配置されてもよい。代替的に、第1の試験質量11及び第2の試験質量12は、試験質量が対応する懸架構造を完全には取り囲んでいなくても、ねじれ要素131及び134が回転軸上に配置されることを可能にする形状を有することができる。
図1bはまた、延長バーとは独立して実施することができる別の選択肢をも示しており、第1の懸架装置及び第2の懸架装置は、1辺、2辺、3辺、又は4つすべての辺において1つ以上の中央アンカー点145に隣接する追加の剛性バー153~154を備えてもよい。これらの追加の剛性バー153から154は、それぞれ第2のねじれ要素132及び第3のねじれ要素133に接続されてもよい。これらのねじれ要素は、それぞれの第1の試験質量11及び第2の試験質量12内の突出部112及び122に接続されてもよい。各突出部112及び122は、他方の試験質量に向かって延在する。
図1aでは、第3のねじれ要素133の中心のx座標は、第2のねじれ要素132の中心のx座標よりも大きい。図1bは、追加の剛性バー153から154並びに突出部112及び122を用いることによって、第3のねじれ要素133の中心のx座標を、代替的に、第2のねじれ要素132の中心のx座標よりも小さくすることができることを示している。
図1bはまた、第1の懸架構造及び第2の懸架構造の、1つ以上の中央アンカー点の周りに位置する半分が追加の延長バー及び突出部を含む場合、第1の回転軸191及び第2の回転軸192が必ずしも一致する必要はないことを示す。
追加の延長バー及び突出部が使用されない場合でも、第1の回転軸191及び第2の回転軸192は、第1の回転軸191上の第1の中央アンカー点19(第1の懸架構造のための)及び第2の回転軸192上の第2の中央アンカー点(第2の懸架構造のための)を実装することによって、依然として異なるy座標に設定され得る。この選択肢は図示されていない。
第1の回転軸は、第1の試験質量及び第2の試験質量の両方と交差してもよい。同様に、第2の回転軸は、第2の試験質量及び第1の試験質量の両方と交差してもよい。
図1a及び図1bを参照して上述した選択肢は、以下に提示するすべての実施形態に適用される。
図2aは、加速度計を示し、参照符号21,211,212,22,221,222,231~234,251~252,271~272,291~292がそれぞれ図1a及び図1bの参照符号11,111,112,12,121,122,131~134,151~152,171~172,191~192に対応する。
図2aでは、1つ以上の中央アンカー点は1つの中央アンカー点241を含み、1つの中央アンカー点241のx座標は、第2のねじれ要素232の中心のx座標と第3のねじれ要素233の中心のx座標との間にある。第3のねじれ要素233の中心のx座標は、第2のねじれ要素232の中心のx座標よりも小さいが、代替的に、第2のねじれ要素232の中心のx座標よりも大きくてもよい。この後者の選択肢は図2bに示されている。さらに、1つ以上の中央アンカー点は、代替的に、2つの中央アンカー点を含んでもよく、その結果、第2のねじれ要素及び第3のねじれ要素は、異なるアンカー点に取り付けられる。当該選択肢は別個には示されていない。
さらに、図2aでは、第1の回転軸(291)と第2の回転軸(292)とが一致している。第1の試験質量21は、第2の試験質量22に向かって、中央アンカー点241を過ぎて第1の回転軸291へと延在する突出部212を備える。第2の試験質量22は、第1の試験質量21に向かって、中央アンカー点241を過ぎて第2の回転軸292へと延在する突出部222を備える。しかしながら、突出部は必ずしも必要ではなく、これは試験質量のサイズ及び形状、並びにそれらの間の開口に依存する。
第1の側部アンカー点、第2の側部アンカー点、及び1つの中央アンカー点はすべて、図2aの第1の回転軸及び第2の回転軸上にある。代替的に、第1の側部アンカー点271及び第2の側部アンカー点272は、第1の回転軸291及び第2の回転軸292から離れて配置されてもよく、ただし、剛性延長バー251及び252は、図2aのように、第1のねじれ要素231及び第4のねじれ要素234が依然として第1の回転軸291及び第2の回転軸292上に位置するように成形されてもよい。この代替案は、本開示に記載された任意の実施形態で採用することができる。
図2cは、距離を示す。第1のねじれ要素231から第2のねじれ要素232までのx方向の距離238は、第1の試験質量21の最大幅219と比較することができる。これに対応して、第3のねじれ要素233から第4のねじれ要素239までのx方向の距離239は、第2の試験質量22の最大幅229と比較することができる。比238/219及び239/229は、例えば、0.5より大きくてもよく、0.75より大きくてもよく、又は1より大きくてもよい。さらに、幅219の、第1のねじれ要素231のx座標と第2のねじれ要素232のx座標との間に入る部分は、50%より大きくてもよく、75%より大きくてもよく、又は90%より大きくてもよい。同様に、幅229の、第3のねじれ要素233のx座標と第4のねじれ要素234のx座標との間に入る部分は、50%より大きくてもよく、75%より大きくてもよく、又は90%より大きくてもよい。これらの距離の選択肢は、本開示で提示されるすべての実施形態に適用される。
剛性延長バー251及び252は、第1の側部アンカー点271及び第2の側部アンカー点272を1つ以上の中央アンカー点からそれほど遠くに配置する必要なく、距離238及び239を増加させることを可能にする。図2cに示す、第1の側部アンカー点271と第2のアンカー点272との間の距離248は、例えば、第1の側部アンカー点271と回転軸上の第1の試験質量の縁部との間の距離249、及び第2の試験質量と第2の側部アンカー点との間の対応する距離よりも小さくてもよい。代替的に、距離248は、距離249の2倍未満又は3倍未満であってもよい。
第1の試験質量21の左縁から第2の試験質量22の右縁までのx方向における加速度計構造全体の幅は、図2cにおいて参照番号259で示されている。この図では、両方の試験質量の左縁及び右縁が一致するため、幅259は、両方の試験質量の最大幅219及び229に等しいが、試験質量縁がこのように一致しない場合、幅259は幅219及び229の各々よりも大きくもなり得る。比248/259は、例えば、70%未満、60%未満、50%未満、40%未満、又は40%未満であってもよい。
上記で提示したすべての距離の選択肢は、本開示で提示されるすべての実施形態に適用可能である。
図3は加速度計を示し、参照符号31,311,32,321,331~334,351~352,371~372及び391~392は、それぞれ図1a~図1bの参照符号11,111,12,121,131~134,151~152,171~172,191~192に対応する。
図2aにあるように、1つ以上の中央アンカー点は1つの中央アンカー点341を含み、1つの中央アンカー点341のx座標は、第2のねじれ要素332の中心のx座標と第3のねじれ要素333の中心のx座標との間にある。第3のねじれ要素333の中心のx座標は、第2のねじれ要素332の中心のx座標よりも小さいが、代替的に、(図1aにあるように)第2のねじれ要素332の中心のx座標よりも大きくてもよい。
図3の装置は、第1の回転軸391のy座標が第2の回転軸392のy座標よりも大きいという点で、図2aの装置とは異なる。中央アンカー点341のy座標は、第1の回転軸391のy座標と第2の回転軸392のy座標との間にある。第1の懸架装置は、中央アンカー点341から第1の回転軸391まで延在する剛性の第3の延長バー353を備える。第2のねじれ要素332は、第3の延長バー353から第1の試験質量31まで延在する。これに対応して、第2の懸架装置は、中央アンカー点341から第2の回転軸392まで延在する剛性の第4の延長バー354を備える。第3のねじれ要素333は、第4の延長バー354から第2の試験質量32まで延在する。
第1の回転軸のy座標が第2の回転軸のy座標よりも小さくなるように回転軸を配置することも可能である。この選択肢は図4に示されており、参照符号41,411,42,421,431~434,471~472及び491~492がそれぞれ図1a~図1bの参照符号11,111,12,121,131~134,171~172及び191~192に対応する。正のy方向は、この図では下方向である。この配置では、中央アンカー点441のy座標は、回転軸491~492のy座標の間にあり得る。第1の懸架装置及び第2の懸架装置は、上述したように、第1の試験質量及び第2の試験質量内の対応する回転軸及び突出部へと延在する第3の延長バー及び第4の延長バーを備えることができる。
一般に、第1の側部アンカー点は第1の回転軸上にあり得、第2の側部アンカー点は第2の回転軸上にあり得、1つの中央アンカー点のy座標は、第1の回転軸のy座標と第2の回転軸のy座標との間にあり得る。
図5a~図5cは加速度計を示し、参照符号51~52,511,521,532~533,571~572及び591~592は、それぞれ図1aの参照符号11~12,111,121,132~133,171~172及び191~192に対応する。これらの図のすべてにおいて、1つ以上の中央アンカー点は、第1の中央アンカー点541及び第2の中央アンカー点542を含む。第2のねじれ要素532は、第1の中央アンカー点541と第1の試験質量51との間に取り付けられている。第3のねじれ要素533は、第2の中央アンカー点542と第2の試験質量52との間に取り付けられている。
図5aでは、第1の回転軸591及び第2の回転軸592は一致している。第1の側部アンカー点571、第2の側部アンカー点572、第1の中央アンカー点541及び第2の中央アンカー点542はすべて、第1の回転軸591及び第2の回転軸592上にある。第2のねじれ要素532のx座標は、第1の中央アンカー点541のx座標よりも小さく、第3のねじれ要素533のx座標は、第2の中央アンカー点542のx座標よりも大きい。代替的に、第1の中央アンカー点及び第2の中央アンカー点は、第1の回転軸591及び第2の回転軸592から離れて配置されてもよく、剛性延長バーは、これらの中央アンカー点から第1の回転軸及び第2の回転軸まで延在してもよい。
図5bでは、第1の回転軸591のy座標は、第2の回転軸592のy座標よりも大きい。図5cでは、第1の回転軸のy座標は、第2の回転軸のy座標よりも小さい。両方の図において、第1の側部アンカー点571は第1の回転軸591上にあり、第2の側部アンカー点572は第2の回転軸592上にあり、第1の中央アンカー点(541)及び第2の中央アンカー点(542)のy座標は、第1の回転軸591のy座標と第2の回転軸592のy座標との間にある。延長バーは、これらの中央アンカー点から対応する回転軸まで延在する。さらに、図5bと図5cの両方において、第2のねじれ要素532のx座標は、第1の中央アンカー点541のx座標よりも小さく、第3のねじれ要素533のx座標は、第2の中央アンカー点542のx座標よりも大きい。
図5b及び図5cに示される配置の代わりに、第1の中央アンカー点541が第1の回転軸591上に配置されてもよく、第2のねじれ要素532が第1の中央アンカー点541と第1の試験質量51との間に直接取り付けられてもよく、第2の中央アンカー点542が第2の回転軸592上に配置されてもよく、第3のねじれ要素533が第2の中央アンカー点542と第2の試験質量52との間に直接取り付けられてもよい。
図6aは、x軸及び/又はy軸の方向の加速度を測定するための第1の要素(681)及び第2の要素(682)を備える加速度計を示す。第1の要素681は、第1の試験質量61の第1の開口内に配置されてもよく、第2の要素(682)は、第2の試験質量62の第1の開口内に配置されてもよい。言い換えれば、第1の試験質量61は、すべての辺上で第1の要素681を取り囲み、第2の試験質量62は、すべての辺上で第2の要素682を取り囲んでいる。第1の要素681は、第1の試験質量61の外(左)縁の近くに位置してもよく、第1の試験質量61は、x方向に狭く、第1の要素681の外側に延在し、第1の試験質量(第1の回転軸の近くにある)の中間部を第1の試験質量61の一端に接続する接続部614を備えてもよい。第2の要素682は、対応して、第2の試験質量62の外(右)縁の近くに位置してもよく、第2の試験質量62は、第2の要素682の外側に延在し、第2の試験質量の中間部を第2の試験質量の一端に接続する接続部624を備えてもよい。第1の要素681及び第2の要素682は、x軸方向、y軸方向、又はこれらの両方の方向の加速度を測定するように構成された任意の種類の加速度センサであってもよい。
図6bは、x軸及び/又はy軸の方向の加速度を測定するための第3の要素(683)及び第4の要素(684)を備える加速度計を示す。第3の要素(683)は、第1の試験質量61の第2の開口内に位置している。第4の要素(684)は、第2の試験質量62の第2の開口内に位置している。言い換えれば、第1の試験質量61は、すべての辺上で第3の要素683を取り囲み、第2の試験質量62は、すべての辺上で第4の要素684を取り囲んでいる。第1の要素681及び第3の要素683は、第1の試験質量61の外(左)縁の近くに位置してもよく、第1の試験質量61は、x方向に狭く、それぞれ第1の要素681及び第3の要素683の外側に延在し、第1の試験質量61の中間部を第1の試験質量の2つの対向する端部に接続する接続部614~615を備えてもよい。第2の要素682及び第4の要素684は、第2の試験質量62の外(右)縁の近くに位置してもよく、第2の試験質量62は、それぞれ第2の要素682及び第4の要素684の外側に延在し、第2の試験質量62の中間部を第2の試験質量の2つの対向する端部に接続する接続部624~625を備えてもよい。第3の要素683及び第4の要素684も、x軸方向、y軸方向、又はこれらの両方の方向の加速度を測定するように構成された任意の種類の加速度センサであってもよい。図6a~図6bに示す実施形態は、本開示で提示される任意の他の実施形態と組み合わせることができる。
上記で言及したように、試験質量の傾斜角は、試験質量及び対向する固定構造795に取り付けられた検知電極(中央電極と呼ばれる場合もある)を用いて容量的に測定することができる。図7a~図7bは、第1の回転軸及び第2の回転軸が一致しない任意の実施形態において、検出電極を試験質量に対してどのように配置することができるかについての1つの代替案を示している。アンカー点及び懸架構造は省略されており、試験質量の幾何学的形状は明確にするために単純化されている。参照符号71,72,791及び792は、それぞれ図1bの参照符号11,12,191及び192に対応する。図7bは、図7aの線A-Aに沿ったyz断面を示す。
図7a~図7bでは、第1の回転軸791のy座標は、非ゼロ距離Dだけ第2の回転軸792のy座標よりも大きい。加速度計は、z方向において第1の試験質量71に隣接する第1の対電極771及び第2の対電極772を備える。第1の対電極771のサイズ及び幾何学的形状は、第1の回転軸791の第1の側の第1の試験質量71上に第1の測定領域711を画定する。第2の対電極772のサイズ及び幾何学的形状は、第1の回転軸791の第2の側の第1の試験質量71上に第2の測定領域712を画定する。
加速度計はまた、第2の試験質量72にz方向に隣接する第3の対電極及び第4の対電極(図示せず)を備える。第3の対電極のサイズ及び幾何学的形状は、第2の回転軸792の第1の側の第2の試験質量72上に第3の測定領域721を画定する。第4の対電極のサイズ及び幾何学的形状は、第2の回転軸792の第2の側の第2の試験質量72上に第4の測定領域722を画定する。
第1の測定領域、第2の測定領域、第3の測定領域及び第4の測定領域711~712及び721~722の面積及び形状は、すべてxy平面において実質的に等しくてもよい。第1の測定領域711及び第2の測定領域712は、第1の回転軸791に対して実質的に反射対称であってもよい。回転軸から2つの対応する測定領域の縁部までの図7bに示される距離761及び762は、等しくてもよい。第3の測定領域721及び第4の測定領域722は、第2の回転軸792に対して実質的に反射対称であってもよい。第1の測定領域711の中心のy座標(線751で示す)は、第3の測定領域721の中心のy座標(線753で示す)よりも距離Dだけ大きくてもよい。
図7cは、図6bに示す実施形態において測定領域711~712及び721~722をどのように配置することができるかを示している。他の実施形態でも同様の構成を使用することができる。図7a~図7cに示す幾何学的形状は、例えば、出力信号が二重示差測定(各対711+712及び721+722内の、及びまた2つの対の間の示差測定)において測定される用途において有益であり得る。
回転軸間の距離Dは、測定領域を回転軸から遠くに配置することができ、試験質量がそれぞれの回転軸に対して非対称であるが、試験質量が依然として可能な限り表面積をほとんど消費しない配置を容易にする。
測定領域711~712及び721~722は、試験質量上に堆積された電極を含むことができる。各電極は、隣接する対電極と同じサイズ及び形状を有することができる。しかしながら、試験質量は、シリコンなどの半導体材料から作成することができ、この場合、測定は、追加の電極を使用せずに質量自体を介して直接行うことができる。このとき、対電極のサイズ及び形状が、試験質量上の測定領域のサイズ及び形状を決定する。

Claims (15)

  1. xy平面に垂直なz軸の方向の加速度を測定するための加速度計であって、第1の試験質量及び第2の試験質量を備え、前記第1の試験質量は前記第2の試験質量に隣接し、前記加速度計は、前記第1の試験質量と前記第2の試験質量との間に実質的に位置する1つ以上の中央アンカー点をさらに備え、前記加速度計が、第1の側部アンカー点及び第2の側部アンカー点をさらに備え、
    前記第1の試験質量が、第1の懸架構造によって前記第1の側部アンカー点及び前記1つ以上の中央アンカー点から懸架され、前記第1の懸架構造が、前記第1の試験質量が第1の回転軸を中心とした回転を受けることを可能にし、
    前記第2の試験質量が、第2の懸架構造によって前記1つ以上の中央アンカー点及び前記第2の側部アンカー点から懸架され、前記第2の懸架構造が、前記第2の試験質量が第2の回転軸を中心とした回転を受けることを可能にし、前記第1の回転軸及び前記第2の回転軸が互いに平行であり、前記第1の回転軸及び前記第2の回転軸に平行なx方向、及び、前記x方向に垂直なy方向を画定し、
    前記第2の側部アンカー点のx座標が、前記第1の側部アンカー点のx座標よりも大きく、前記第1の試験質量の質量中心のy座標が、前記第1の回転軸のy座標よりも大きく、前記第2の試験質量の質量中心のy座標が、前記第2の回転軸のy座標よりも小さく、
    前記第1の懸架構造が、前記第1の側部アンカー点と前記第1の試験質量との間に取り付けられた第1のねじれ要素を備え、前記第1の懸架構造がまた、前記1つ以上の中央アンカー点のうちの1つと前記第1の試験質量との間に取り付けられた第2のねじれ要素を備え、
    前記第2の懸架構造が、前記1つ以上の中央アンカー点のうちの1つと前記第2の試験質量との間に取り付けられた第3のねじれ要素を備え、前記第2の懸架構造がまた、前記第2の側部アンカー点と前記第2の試験質量との間に取り付けられた第4のねじれ要素を備え、
    前記第1のねじれ要素の中心のx座標が、前記第1の側部アンカー点のx座標よりも小さく、前記第4のねじれ要素の中心のx座標が、前記第2の側部アンカー点のx座標よりも大きいことを特徴とする、加速度計。
  2. 前記第1の懸架構造がまた、前記第1の側部アンカー点から前記第1のねじれ要素まで延在する実質的に剛性の第1の延長バーを備え、前記第2の懸架構造が、前記第2の側部アンカー点から前記第4のねじれ要素まで延在する実質的に剛性の第2の延長バーを備えることを特徴とする、請求項1に記載の加速度計。
  3. 前記第3のねじれ要素の中心のx座標が、前記第2のねじれ要素の中心のx座標よりも小さいことを特徴とする、請求項1に記載の加速度計。
  4. 前記第3のねじれ要素の中心のx座標が、前記第2のねじれ要素の中心のx座標よりも大きいことを特徴とする、請求項1に記載の加速度計。
  5. 前記1つ以上の中央アンカー点が1つの中央アンカー点を含み、前記1つの中央アンカー点のx座標が、前記第2のねじれ要素の中心のx座標と前記第3のねじれ要素の中心のx座標との間にあることを特徴とする、請求項3又は4に記載の加速度計。
  6. 前記第1の回転軸及び前記第2の回転軸が一致することを特徴とする、請求項3又は4に記載の加速度計。
  7. 前記第1の側部アンカー点、前記第2の側部アンカー点、及び前記1つの中央アンカー点がすべて、前記第1の回転軸及び前記第2の回転軸上にあることを特徴とする、請求項6に記載の加速度計。
  8. 前記1つ以上の中央アンカー点が、第1の中央アンカー点及び第2の中央アンカー点を含み、前記第2のねじれ要素が、前記第1の中央アンカー点と前記第1の試験質量との間に取り付けられ、前記第3のねじれ要素が、前記第2の中央アンカー点と前記第2の試験質量との間に取り付けられることを特徴とする、請求項3又は4に記載の加速度計。
  9. 前記第1の回転軸及び前記第2の回転軸が一致することを特徴とする、請求項8に記載の加速度計。
  10. 前記第1の側部アンカー点、前記第2の側部アンカー点、前記第1の中央アンカー点及び前記第2の中央アンカー点がすべて、前記第1の回転軸及び前記第2の回転軸上にあることを特徴とする、請求項9に記載の加速度計。
  11. 前記第1の回転軸のy座標が前記第2の回転軸のy座標よりも大きいことを特徴とする、請求項8に記載の加速度計。
  12. 前記第1の回転軸のy座標が前記第2の回転軸のy座標よりも小さいことを特徴とする、請求項8に記載の加速度計。
  13. 前記第1の側部アンカー点が前記第1の回転軸上にあり、前記第2の側部アンカー点が前記第2の回転軸上にあり、前記第1の中央アンカー点及び前記第2の中央アンカー点のy座標が、前記第1の回転軸のy座標と前記第2の回転軸のy座標との間にあることを特徴とする、請求項8に記載の加速度計。
  14. 前記加速度計が、x軸及び/又はy軸の方向の加速度を測定するための第1の要素及び第2の要素をさらに備え、前記第1の要素が前記第1の試験質量の第1の開口内に配置され、前記第2の要素が前記第2の試験質量の第1の開口内に配置されることを特徴とする、請求項1に記載の加速度計。
  15. 前記加速度計が、前記x軸及び/又は前記y軸の方向の加速度を測定するための第3の要素及び第4の要素をさらに備え、前記第3の要素が前記第1の試験質量の第2の開口内に配置され、前記第4の要素が前記第2の試験質量の第2の開口内に配置されることを特徴とする、請求項14に記載の加速度計。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4116718A1 (en) * 2021-07-05 2023-01-11 Murata Manufacturing Co., Ltd. Seesaw accelerometer

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100024554A1 (en) * 2008-07-30 2010-02-04 Johannes Classen Triaxial acceleration sensor
JP2015509189A (ja) * 2012-01-12 2015-03-26 ムラタ エレクトロニクス オサケユキチュア 耐振動性の加速度センサー構造体

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5716149B2 (ja) 2009-11-24 2015-05-13 パナソニックIpマネジメント株式会社 加速度センサ
US8539836B2 (en) 2011-01-24 2013-09-24 Freescale Semiconductor, Inc. MEMS sensor with dual proof masses
WO2014151370A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-25 Invensense, Inc. Magnetometer using magnetic materials on accelerometer
US20190049482A1 (en) * 2017-08-10 2019-02-14 Analog Devices, Inc. Differential z-axis resonant mems accelerometers and related methods
US10732196B2 (en) 2017-11-30 2020-08-04 Invensense, Inc. Asymmetric out-of-plane accelerometer
WO2019209659A1 (en) 2018-04-26 2019-10-31 Invensense, Inc. Deformation rejection mechanism for offset minimization of out-of-plane sensing mems device
US10794701B2 (en) * 2018-05-01 2020-10-06 Nxp Usa, Inc. Inertial sensor with single proof mass and multiple sense axis capability
EP3598146B1 (en) * 2018-07-16 2022-05-11 Murata Manufacturing Co., Ltd. Microelectromechanical device for out-of-plane motion detection

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100024554A1 (en) * 2008-07-30 2010-02-04 Johannes Classen Triaxial acceleration sensor
JP2015509189A (ja) * 2012-01-12 2015-03-26 ムラタ エレクトロニクス オサケユキチュア 耐振動性の加速度センサー構造体

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