JP2022531091A - 配向堆積のための装置及び方法 - Google Patents
配向堆積のための装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022531091A JP2022531091A JP2021561922A JP2021561922A JP2022531091A JP 2022531091 A JP2022531091 A JP 2022531091A JP 2021561922 A JP2021561922 A JP 2021561922A JP 2021561922 A JP2021561922 A JP 2021561922A JP 2022531091 A JP2022531091 A JP 2022531091A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filter
- deposition chamber
- gas
- deposition
- inlet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000008021 deposition Effects 0.000 title claims abstract description 193
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 71
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 212
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 13
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 239000002646 carbon nanobud Substances 0.000 claims description 6
- 229910021394 carbon nanobud Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 6
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 6
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 6
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 claims description 4
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 claims description 4
- 238000003892 spreading Methods 0.000 claims description 4
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 claims description 3
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000002042 Silver nanowire Substances 0.000 claims description 2
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 2
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 claims 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 claims 1
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 abstract 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 150
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000002730 additional effect Effects 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 2
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45502—Flow conditions in reaction chamber
- C23C16/45504—Laminar flow
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01D—SEPARATION
- B01D46/00—Filters or filtering processes specially modified for separating dispersed particles from gases or vapours
- B01D46/0039—Filters or filtering processes specially modified for separating dispersed particles from gases or vapours with flow guiding by feed or discharge devices
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D—PROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D1/00—Processes for applying liquids or other fluent materials
- B05D1/02—Processes for applying liquids or other fluent materials performed by spraying
- B05D1/04—Processes for applying liquids or other fluent materials performed by spraying involving the use of an electrostatic field
- B05D1/06—Applying particulate materials
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B32/00—Carbon; Compounds thereof
- C01B32/15—Nano-sized carbon materials
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/06—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/26—Deposition of carbon only
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/4412—Details relating to the exhausts, e.g. pumps, filters, scrubbers, particle traps
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45587—Mechanical means for changing the gas flow
- C23C16/45591—Fixed means, e.g. wings, baffles
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/52—Controlling or regulating the coating process
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/02—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
- C23C18/12—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
- C23C18/125—Process of deposition of the inorganic material
- C23C18/1262—Process of deposition of the inorganic material involving particles, e.g. carbon nanotubes [CNT], flakes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C24/00—Coating starting from inorganic powder
- C23C24/02—Coating starting from inorganic powder by application of pressure only
- C23C24/04—Impact or kinetic deposition of particles
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/20—Carbon compounds, e.g. carbon nanotubes or fullerenes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D—PROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D1/00—Processes for applying liquids or other fluent materials
- B05D1/02—Processes for applying liquids or other fluent materials performed by spraying
- B05D1/12—Applying particulate materials
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D—PROCESSES FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05D2401/00—Form of the coating product, e.g. solution, water dispersion, powders or the like
- B05D2401/30—Form of the coating product, e.g. solution, water dispersion, powders or the like the coating being applied in other forms than involving eliminable solvent, diluent or dispersant
- B05D2401/32—Form of the coating product, e.g. solution, water dispersion, powders or the like the coating being applied in other forms than involving eliminable solvent, diluent or dispersant applied as powders
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
Abstract
高アスペクト比の分子構造体、HARM構造体、の気相堆積のための装置及び方法が提示される。第1の態様は、フィルタ上でのHARM構造体の配向性のある気相堆積のために構成された装置に関する。第2の態様は、基材上でのHARM構造体の配向性のある気相堆積のために構成された装置に関する。また、複数の第2の態様に係る装置を含むシステムも提示される。これらの装置の要素は、HARM構造体を含むガスの層流を堆積領域に形成し、この流れを少なくとも部分的に堆積領域と平行に向けるように配置されている。本発明の別の態様は、フィルタ上及び基材上の両方に堆積するのに適した、HARM構造体の配向堆積の方法である。【選択図】なし
Description
本発明は、気相堆積に関する。特に、本発明は、高アスペクト比の分子構造体を配向堆積するための手段を含む堆積方法及び装置に関する。
カーボンナノチューブ、カーボンナノバッド、又は高アスペクト比の他のナノスケール構造体等の高アスペクト比の分子構造体(HARM構造体)は、ユニークな電気的、光学的、熱的、及び機械的特性を有しており、このため、HARM構造体は、多くの用途に有望な材料となっている。
HARM構造体を堆積(成膜)するには、通常、HARM構造体を含むエアロゾルやガスに、抗力(流体抵抗)、静電気力、慣性力、光泳動力、熱泳動力、又は音響力等の力が加えられる。この力は、1つ以上の物理的特性に基づいてHARM構造体の一部を、その加えられた力によってHARM構造体をパターンとして堆積させるための所定の場所に向かって移動させることができる。HARM構造体の特性は、異方性を有することができる。それゆえ、HARM構造体を配向して堆積させるための装置及び方法が望まれうる。
本発明に係る装置は、独立請求項1及び独立請求項17に示されていることを特徴とする。
本発明に係る方法は、独立請求項24に提示されていることを特徴とする。
本発明の第1の態様によれば、装置が提示される。この装置は、高アスペクト比分子(HARM)構造体の堆積(製膜)のための装置であってもよいし、HARM構造体の配向性のある堆積のための装置であってもよい。この装置は、堆積チャンバ(成膜室)と、フィルタと、入口と、出口と、制御システムとを含む。堆積チャンバは、水平方向に細長く、トップカバーを備えた上部分とボトムカバーを備えた下部分とを含む。フィルタは、堆積チャンバ内に水平に配置され、上記上部分と下部分とを隔てており、フィルタは堆積領域を含む。堆積領域は、フィルタ上の、ある条件で堆積が行われる可能性のある領域を指す。フィルタは、1つ以上の堆積領域を有していてもよい。
上記入口は、堆積チャンバの上部分に配置されており、HARM構造体を含むガスを堆積チャンバに供給するように構成されている。上記出口は、堆積チャンバの下部分に配置され、堆積チャンバからガスを回収するように構成されている。堆積チャンバから回収されたガスは、HARM構造体の堆積後又は堆積中のHARM構造体を含むガスであってもよい。上記制御システムは、入口及び出口におけるガス流(ガスの流れ)を制御するように構成されている。
本明細書では、用語「上部」、「下部」、「水平」、及び幾何学的位置を示す任意の他の用語は、装置を特定の幾何学的構成に限定するものと解釈してはならない。これらの用語は、請求項に係る発明の全体的な幾何学的構成を理解しやすくするために、明確にするためだけに使用され、デバイスの要素の相互関係を説明するものである。「水平」は、正確に水平又は地面に対して平行でなくてもよく、「上部」及び「下部」は交換可能であってもよく、単に構造体の任意の2つの対向する部分を指してもよい。
さらに第1の態様によれば、上記入口、出口、及びフィルタは、上記上部分の入口から上記下部分の出口に向かって、上記フィルタを通過するHARM構造体を含むガスのためのガス流路を形成するように配置されている。フィルタの堆積領域に近接する、(上記経路に従って流れるときの)HARM構造体を含むガスの流れの方向は、少なくとも部分的に上記フィルタと平行である。これは、入口及び出口がフィルタを挟んで反対側(フィルタの両側)に配置されている等、構成要素が互いに適切に配置されていることによって達成され、そして以下のいくつかの実施形態に係る堆積チャンバの寸法及び堆積チャンバ内の追加要素によって支援されてもよい。
加えて、制御システムと、入口、出口、トップカバー、ボトムカバー及びフィルタの相対的な位置とは、フィルタの堆積領域に近接するHARM構造体を含むガスの層流状態のガス流を維持するように配置される。制御システムは、HARM構造体を含むガスの層流状態のガス流を維持するために必要な範囲で、入口及び出口におけるガス流を維持するように配置されてもよい。
フィルタの堆積領域は、HARM構造体を含むガスからのHARM構造体が堆積されるフィルタの領域である。
第1の態様では、当該装置は、HARM構造体を含むガスの層流をフィルタの堆積領域に近接して形成するように配置されており、このガスは、フィルタを通過する前に、少なくとも部分的にフィルタと平行な経路に沿って流れる。これは、HARM構造体をフィルタ上に均一かつ配向性を持って堆積させるという効果に寄与する。HARM構造体は、一般的に、ガス流の方向と同じ方向に配向していてもよい。堆積チャンバの寸法は、層流状態のガス流をさらに最適化するために予め選択されていてもよい。
上記出口は、排気として機能するように構成されており、堆積のためにフィルタを通過した後のHARM構造体を含むガス等、堆積チャンバからの任意のガスを回収することができる。
上記制御システムは、流量を所定の範囲内に保つように構成された、コントローラと、複数のポンプ及び/又はコントローラとを含んでいてもよい。また、制御システムは、ガスを入口に供給するための圧縮ガス容器と、チャンバを通る最適なガス流のための様々な形状のガスチャネルとを含んでいてもよい。
HARM構造体を含むガスは、キャリアガスを含むことができ、このキャリアガスは、窒素、アルゴン又は二酸化炭素等の任意の不活性ガスであってもよい。
一実施形態によれば、制御システムと、入口、出口、トップカバー、ボトムカバー及びフィルタの相対的な位置とは、フィルタの堆積領域に近接するHARM構造体を含むガスの層流状態のガス流のレイノルズ数を10~3500に維持するように配置される。レイノルズ数が10~3500のガス流は、HARM構造体をフィルタの堆積領域に均一に配向して堆積させるという追加の効果を有する。上記ガス流は、この範囲のレイノルズ数でも層流のままである。
一実施形態では、上記入口及び出口は、水平面における(水平面視で)堆積チャンバの対向する側(反対側)に配置されている。この実施形態では、ガス流路は堆積チャンバにわたって水平に延びている。これにより、フィルタのより広い範囲で堆積が行われ、堆積領域が広がることが可能になる場合がある。
一実施形態によれば、上記フィルタは、水平方向に延び、堆積チャンバのトップカバー及びボトムカバーから所定の距離をおいて、上部分と下部分との間で堆積チャンバに埋め込まれている(組み込まれている)。水平方向に延びる埋め込まれたフィルタは、堆積チャンバの領域全体にわたって1つ以上の堆積領域を有していてもよい。上記ガスは、選択されたパラメータ、制御システムの追加要素構成、及び堆積チャンバの物理的寸法に応じて、フィルタのどこを通過してもよい。この構成は、より広い堆積領域が必要な実施形態、又は様々な追加の構造的特徴部が堆積チャンバ内のガス経路を決定するような実施形態では望ましいことがある。
別の実施形態では、当該装置は、フィルタを包囲し、水平方向に延び、上記上部分と上記下部分との間で堆積チャンバに埋め込まれた支持体を含む。この支持体は、ガスを通さず、それにより、支持体が取り囲むフィルタを通過するガス経路を制限する任意の材料の層であってもよい。その場合、支持体は、フィルタの外側の領域をシールしてもよい。このシールは、ガス経路に沿ってフィルタの前に沈降ゾーンを形成することができる。一実施形態では、HARM構造体を含むガスの流れの方向は、沈降ゾーンを通過する際に平行になる。これにより、沈降ゾーンを通過した後、フィルタ上にHARM構造体が配向して堆積する。支持体は、フィルタと一体化していてもよく、単一部品としての製造が容易であってもよい。
本明細書における沈降ゾーンは、例えば堆積領域の前に位置し、ガス流が安定し、層流になり、堆積面と実質的に平行になるゾーンを指す。
一実施形態によれば、当該装置は、少なくとも1つの突出部を備える第1のバッフルを含み、この第1のバッフルは、水平方向に延び、上記フィルタに隣接して配置され、そのため、入口から出口に向かうガス流路が、第1のバッフルの少なくとも1つの突出部に隣接するフィルタの部分を通過するようになっている。第1のバッフルは、少なくとも1つの突出部に隣接するフィルタの部分の前に、沈降ゾーンを形成してもよい。
さらなる実施形態によれば、当該装置は、少なくとも1つの突出部を備える第2のバッフルを含み、この第2のバッフルは、水平方向に延び、第1のバッフルの下方に所定の距離をおいて配置され、第1のバッフルと第2のバッフルとの間、及び堆積チャンバの上部分と下部分との間に空間を形成する。第1のバッフルと第2のバッフルの突出部は、水平面における堆積チャンバの対向する側に配置されている。これにより、HARM構造体を含むガスが移動する経路の長さが延長され、フィルタの所定の部分に配向して堆積する(配向堆積する)ための好条件が形成される。経路が長くなることで、より小さい堆積チャンバを使用することが可能になる可能性がある。
当該装置が1つ以上のバッフルを含む実施形態では、バッフルが移動され、変更され、又は完全に取り外されてもよいため、堆積チャンバ内の再構成が可能になるという効果が得られる。
一実施形態では、堆積チャンバのトップカバーからフィルタまでの距離は0.1~10ミリメートルであり、堆積チャンバのボトムカバーからフィルタまでの距離は5~20ミリメートルである。これらの寸法は、所望の位置で層流状態のガス流を形成するために最適であってもよい。トップカバーからの距離は、トップカバーの形状が平坦でない場合、トップカバー上の所定の点からの距離を指す場合がある。
一実施形態では、上記フィルタはメンブレンフィルタである。このメンブレンフィルタは、HARM構造体からガスを分離することにおいて、他のフィルタタイプよりも有利であることができる。
一実施形態によれば、上記制御システムは、反応チャンバ内の温度及び圧力を制御するようにさらに構成される。チャンバ内の温度及び圧力を制御することで、フィルタ上へのHARM構造体の堆積に有利な条件を作り出すことを支援することができる。
一実施形態では、上記入口は、断面が円形の形状を有し、5~100ミリメートルの直径を有する。円形の入口形状は、入口での広範囲のガス流速に適していることができる。
代替の実施形態では、入口はスリットの形状をしており、0.5~18ミリメートルの幅を有する。入口のスリット形状は、HARM構造体を含むガスの分布、ひいてはフィルタ上のHARM構造体の分布に対する制御性を向上させる効果をもたらすことができる。
一実施形態によれば、堆積チャンバは水平面において(水平面視で)矩形の形状をしており、入口及び出口は、水平面における堆積チャンバの対向する隅部に配置されている。この形状は、製造が容易であり、標準的な要件に適合する可能性がある。矩形にわたる入口及び出口の位置は、ガス及び潜在的な堆積領域をチャンバ内のほとんどの空間に水平方向に分布させる。しかしながら、本発明の上記実施形態によれば、任意の他の形状の堆積チャンバも使用することができる。
一実施形態では、当該装置は、水平方向に延び、堆積チャンバ内でフィルタの下方に配置される所定の細孔径を有する多孔質プレートを含む。この多孔質プレートは、堆積前又は堆積中に細孔の一部を塞いだり開けたりすることで形状を変化させることができる、調整可能な形状の追加のバッフルとして機能してもよい。
本明細書の目的のために、HARM構造体は、1次元の高アスペクト比を有する任意のマイクロスケール又はナノスケールの構造体を指し、例えば、カーボンナノチューブ分子、カーボンナノバッド分子、グラフェンリボン、炭素繊維フィラメント又はグラファイト繊維フィラメント、及び銀ナノワイヤの群から選択される。
一実施形態では、堆積チャンバの寸法は、高さが100~200mm、幅が390~1040mm、長さが515~1240mmである。これらの寸法は、様々なスケールのHARM構造体の堆積において好ましいと思われる堆積チャンバの範囲をカバーしている。
第2の態様によれば、装置が提示される。この装置は、HARM構造体を堆積する装置、HARM構造体を配向堆積する装置、又は、HARM構造体を基材(基板)上に配向堆積する装置であってもよい。
この装置は、堆積チャンバと、基材(基板)と、入口と、少なくとも1つの出口と、制御システムとを含む。この堆積チャンバは、水平方向に細長く、水平方向に伸びるトッププレートを備える上部分と水平方向に伸びるボトムプレートを備える下部分とを含む。これらのプレートは、様々な構造を有してもよく、様々な材料を含んでもよく、必ずしも中実である必要はなく、一体的に作られていてもよい。
上記基材は、堆積チャンバ内にトッププレートとボトムプレートの間に水平に配置される。この基材は、実施形態によっては、ボトムプレートの上に配置されてもよいし、所定の距離をおいて配置されてもよい。
上記入口は、堆積チャンバの上部分に配置されており、高アスペクト比の分子構造体、HARM構造体を含むガスを堆積チャンバに供給するように構成されている。上記少なくとも1つの出口も堆積チャンバの上部分に配置され、堆積チャンバから任意のガス、例えば堆積後のHARM構造体を含むガスを回収するように構成されている。
上記制御システムは、入口及び少なくとも1つの出口でのガス流を制御し、加えてトッププレート及びボトムプレートの温度と電位を制御するように構成されている。
上記トッププレート及び基材は、入口から少なくとも1つの出口に向かうHARM構造体を含むガスの流れが基材に対して実質的に平行になるように、トッププレートと基材の間にギャップを形成するように配置される。上記制御システムは、トッププレート及びボトムプレートの温度レベルを、基材に近接して温度勾配を形成するのに十分異なって維持するように構成されている。
上記制御システムは、トッププレート及びボトムプレートの電位を、基材に近接して均一な電界を形成するのに十分な値に維持するようにも構成されていてよい。
第2の態様に係る装置は、基材に近接して、かつ少なくとも部分的に基材と平行なHARM構造体を含むガスの流れを形成するように配置される。これは、HARM構造体を基材上に均一かつ配向性を持って堆積させるという効果に寄与する。HARM構造体は、一般的に、ガス流の方向と同じ方向に配向していてもよい。トッププレート及びボトムプレートの異なる温度レベルによって作り出される温度勾配は、HARM構造体に抗力(流体抵抗)を与えることができ、これは堆積に貢献する。トッププレート及びボトムプレートの異なる電位値によって作り出される均一な電界は、HARM構造体の堆積につながる電気泳動をもたらすことができる。堆積チャンバの寸法は、層流状態のガス流を最適化するために予め選択されていてもよい。
第1の態様に関連して説明したように、用語「上部」、「下部」、「水平」及び幾何学的位置を示す任意の他の用語は、装置を特定の幾何学的構成に限定するものと解釈してはならない。これらの用語は、請求項に係る発明の全体的な幾何学的構成を理解しやすくするために、明確にするためだけに使用され、デバイスの要素の相互関係を説明するものである。
第2の態様に係る装置は、実質的に平坦なトッププレート及びボトムプレートを有する堆積チャンバにおける平坦な基材への堆積に適していてもよい。しかしながら、第2の態様に係る装置は、様々な形状のチャンバ内で、湾曲した基材への堆積にも適していてもよい。例えば、当該装置は、ドラム状又は凹状の堆積チャンバにおけるHARM構造体の配向堆積に使用されてもよい。いくつかの実施形態では、基材とトッププレートの間のギャップは、堆積チャンバに沿って一定の高さである。
第2の態様の一実施形態では、制御システムと、入口、出口、トッププレート、ボトムプレート、及び基材の相対的な位置とは、基材に近接するHARM構造体を含むガスのガス流を、レイノルズ数が10~3500の層流に維持するように配置される。レイノルズ数が10~3500のガス流は層流のままであり、HARM構造体を基材上に均一に配向堆積することに追加の効果を有する。
本態様の一実施形態によれば、当該装置は、HARM構造体を含むガスが堆積チャンバ内でさらに広がるのを防ぐためにバリアガスを堆積チャンバ内に供給するように構成された、上記少なくとも1つの出口に近接して配置された少なくとも1つのバリアガス入口をさらに含む。バリアガスを備えた入口は、ガスが外側の境界線を通って逃げること、又は基材からさらに広がることを防ぐべきである実施形態において有効である可能性がある。
一実施形態では、上記入口は、堆積チャンバの上記上部分の中央領域に配置され、上記少なくとも1つの出口は、堆積チャンバの周辺領域に配置される。1つ以上のバリアガス入口を含む実施形態では、HARM構造体を含むガスが周辺領域に配置された出口よりもさらに広がるのを防ぐために、1つ以上のバリアガス入口が堆積チャンバの周囲にも配置されてよい。入口を中央部に、出口を周囲に配置する構造は、基材のロールツーロール(roll to roll)方式を採用した装置では、基材の幅にわたって均一な堆積が可能になり、望ましい可能性がある。また、この構造の装置は、必要に応じて、任意の構成で互いに隣接して配置されてもよい。
一実施形態によれば、トッププレートから基材までの距離は0.5~5ミリメートルであり、ボトムプレートから基材までの距離は0~5ミリメートルである。
一実施形態では、制御システムは、トッププレートの温度レベルを高く維持し、下側プレートの温度レベルを低く維持するように配置され、それにより、加熱されたプレートと冷却されたプレートとの間に温度勾配が形成される。
一実施形態では、基材はプラスチックフィルムである。プラスチックフィルムは、HARM構造体の配向堆積に適したアクセス可能な基材であってもよい。任意の他の基材の選択肢も、第2の態様の範囲内である。
本発明の第3の態様では、システムが提供される。当該システムは、互いに隣接して配置された、第2の態様の実施形態のいずれか1つの2つ以上の装置を含む。このシステムは、HARM構造体をより大規模に堆積するためのシステムであってもよい。
第4の態様によれば、HARM構造体の配向堆積の方法が提示される。当該方法は、入口を介して、HARM構造体を含むガスを堆積チャンバに所定のガス流量で供給する工程を含む。この所定のガス流量は、制御システムによって制御されてもよい。当該方法は、基材又はフィルタの堆積領域に近接して、HARM構造体を含むガスの層流を10~3500のレイノルズ数で維持する工程であって、このHARM構造体を含むガスの層流は、少なくとも部分的に基材又はフィルタと平行である工程も含む。当該方法は、HARM構造体を含むガスから、上記基材又はフィルタの堆積領域にHARM構造体を堆積させる工程、及び出口を介して、堆積チャンバから残りのガスを所定のガス流量で回収する工程をさらに含む。
当該方法は、HARM構造体を堆積するための任意の適切な装置、例えば、第1及び第2の態様に係る装置のいずれかによって実行されてもよい。当該方法は、基材又はフィルタと平行な層流状態のガス流が堆積の結果に与える驚くべき効果により、HARM構造体の配向性のある堆積の有利な均一性と効率性を提供する。
本発明に係る装置及び方法は、製造のための様々なデバイスに容易に組み込むことができる。
本明細書にこれまで記載された本発明の実施形態は、互いに任意の組み合わせで使用されてもよい。また、実施形態のいくつかが一緒に組み合わされて、本発明のさらなる実施形態が形成されてもよい。本発明が関連する生成物(製品)、方法、又は使用は、本明細書にこれまで記載された本発明の実施形態の少なくとも1つを含んでいてもよい。
本明細書は、添付の図面に照らして読まれる以下の詳細な説明から、よりよく理解されるであろう。
添付の図面では、同様の部品を指定するために同様の参照数字が使用されている。
以下では、添付の図を参照して、例示的な実施態様とともに本発明をより詳細に説明する。
本発明の実施形態は、HARM構造体を含むガスの層流が、平らなフィルタを通過する前に、その平らなフィルタ上をその表面と平行に移動する際に生じる効果を利用している。この効果は、フィルタ上のHARM構造体の配向した堆積に現れ、その配向は通常、ガス流の方向と一致する。同様の効果は、基材上に直接堆積する場合にも生じ、この場合、HARM構造体を含むガスの層流が平坦な基材上をその表面と平行に通過することにより、基材上にHARM構造体が配向して堆積されることが可能である。基材上への堆積のために、温度勾配又は電界も使用して、堆積チャンバ内でHARM構造体の配向堆積のための条件を作り出すことができる。
以下の例は、本発明のより良い理解のために提供されるものであり、限定的なものとして解釈されるべきではない。
図1~図3は、HARM構造体を堆積するための装置100を模式的に示す。図1の装置100は、水平方向に細長く、他の要素を包囲し、トップカバー(上部カバー)111を備えた上部分と、ボトムカバー(下部カバー)112を備えた下部分とを含む堆積チャンバ110を含む。トップカバー111は、上記上部分に配置され、HARM構造体を含むガスを堆積チャンバ110に供給するように構成された入口101を含み、ボトムカバー112は、上記下部分に配置され、堆積チャンバ110からガスを回収するように構成された出口102を含む。
装置100は、水平方向に延び、上部分と下部分とを隔てるフィルタ103をさらに含む。フィルタ103は、メンブレンフィルタ又は任意の他の適切なタイプのものであってもよい。フィルタ103は、楕円形で模式的にのみ図示されており、フィルタ103上に予め決められた位置を有していなくてもよい堆積領域113を含む。この堆積領域は、HARM構造体の配向した堆積が行われる領域であり、チャンバ110の寸法、ガス流速及び他の条件等の様々な要因に依存する可能性がある。入口101から出口102までのおおよそのガス流路は、図1~図3に矢印で示されている。
図1の装置100は、図2~図3の装置と同様に、入口及び出口におけるガス流を制御するように構成された制御システム(図には示されていない)をさらに含む。この制御システムは、ポンプと、入口及び出口での流量を制御するためのコンピュータベースのコントローラ等のコントローラと、いくつかの例では、所定の形状のガスチャネル及び圧縮ガス容器とを含んでいてもよい。この制御システムは、チャンバにガスを供給する前にこれらの特性を規定し、及び/又は、堆積中にガスの流量、温度、又は任意の他の特性を調整するように構成されてもよい。
堆積領域113は、ガスがフィルタ103を通過するフィルタ103の領域と一致してもよい。HARM構造体を含むガスのガス流路は、入口101、出口102、及びフィルタ103の配置によって形成され、矢印でおおよそ示されている。フィルタの堆積領域113に近接したHARM構造体を含むガス流の流れの方向は、少なくとも部分的にフィルタ103と平行である。制御システムと、入口101、出口102、トップカバー111、ボトムカバー112及びフィルタ103の相対的な位置とは、フィルタの堆積領域に近接するHARM構造体を含むガスの層流状態のガス流を維持するように配置されている。堆積領域113に近接してフィルタ103に少なくとも部分的に平行な方向を有する層流状態のガス流は、フィルタ103上にHARM構造体の配向した堆積をもたらす。特に、10~3500の範囲のレイノルズ数を有するHARM構造体を含むガスの層流状態のガス流は、効率的な配向堆積を提供することが示されている。
図1~図3の装置100、200、300は、フィルタとトップカバー111との間にギャップ106も設けて図示されており、その寸法は、ガス流量等のパラメータと組み合わせて、フィルタ103上の層流状態のガス流にさらに寄与する可能性がある。入口101及び出口102は、これらの例では、堆積チャンバ110の対向する(反対の)側に水平に配置されている。これにより、ガス流の方向の制御が容易になる。あるいは、入口101及び出口102は、水平面において互いに接近して配置されてもよく、少なくとも部分的にフィルタと平行であるガス流路は、本明細書に記載された他の手段によって形成されてもよい。
図1~図3のフィルタ103は、水平方向に延びており、所定の位置で上部分と下部分との間で堆積チャンバ110に埋め込まれている。他の例では、フィルタ103が支持要素に包囲されていてもよいし、又はフィルタ103は、フィルタ103の水平方向の端部(縁部)とチャンバ110の側壁との間に距離をおいて、堆積チャンバ110内に配置されていてもよい。フィルタ103が堆積チャンバ110に埋め込まれていない配置は、堆積チャンバ110の側壁に追加の排気が設けられている場合、製造コストが安く、及び/又は有益である可能性がある。追加の排気又は出口は、ガス流の方向にも影響を与えてよい。
フィルタ103の一部は、支持体(図示せず)によって包囲されていてもよく、そのため、HARM構造体を含むガスは、支持体によって包囲されていない部分のみを物理的に通過してもよい。支持体は、水平方向に延びて、堆積チャンバ110に埋め込まれていてもよく、その場合、フィルタは、例えば、支持体における突出部となる。ガスを通さない支持体は、ガス流路がフィルタ103を通過する前に、沈降ゾーンを形成してもよい。
図2は、装置200が、少なくとも1つの突出部を備えるバッフル204を含む例を示す。バッフル204は、水平方向に延び、フィルタ103に隣接して配置されており、入口101から出口102に向かうガス流路が、バッフル204の少なくとも1つの突出部に隣接するフィルタ103の部分を通過するようになっている。また、バッフル204は、楕円形でおおよそ示された堆積領域113の前に、沈降ゾーンを形成する。この沈降ゾーンでは、ガスの流れが安定し、層流になり、フィルタ103と平行になってもよく、その結果、ガスが沈降ゾーンを通過して堆積領域113に入るときに、HARM構造体の配向した堆積のための条件を提供してもよい。
図2の装置200は、加えて、多孔質プレート205を含む。多孔質プレート205は、所定の細孔径(細孔サイズ)を有し、水平方向に延び、堆積チャンバ110内でフィルタ103の下方に配置されてもよい。多孔質プレート205は、一部の細孔が塞がれたり開いたりするときに形状が変化する調整可能な形状の追加のバッフルとして機能してもよい。多孔質プレート205は、例示の目的のためだけに図2に示されており、他の例に示された装置のいずれに使用されてもよい。
図3は、2つのバッフル204、304を含む装置300の実施態様を模式的に示す。第1のバッフル204は、前の例のバッフル204と同様に配置されてもよい。第2のバッフル304も、少なくとも1つの突出部を含み、水平方向に延びている。第2のバッフル304は、第1のバッフル204の下方に所定の距離をおいて配置され、両者の間、及び堆積チャンバの上部分と下部分の間に空間を形成する。第1のバッフル及び第2のバッフルの突出部は、水平面において堆積チャンバ110の対向する側(反対側)に配置されている。これにより、矢印で描かれているように、HARM構造体を含むガスが移動する経路の長さが延長される。経路の長さが長くなることで、より小さい堆積チャンバ110を使用することが可能になる可能性がある。
一実施態様では、堆積チャンバ110に配置される要素の寸法は以下の通りである。堆積チャンバ110のトップカバー111からフィルタ103までの距離は0.1~10mmであり、堆積チャンバ110のボトムカバー112からフィルタ103までの距離は5~20mmである。
図4は、入口401及び出口402の長さが延長されて堆積チャンバ410の壁に沿って配置された装置400の実施態様を示す。図4は、フィルタ(図示せず)を備えた装置の模式的な上面図である。出口402は、垂直面内でフィルタの反対側に配置されている(図4の上面図では見えない)。この例では、HARM構造体を含むガスは、堆積チャンバ410の内部で水平面内に広がり、堆積チャンバ410は、ガス流の経路に沿って様々なゾーンに概略的に分割されることができる。沈降ゾーン420は、HARM構造体を含むガスのガス流が、堆積領域413に入る前に、層流となり堆積面と平行になるゾーンである。犠牲ゾーンとも呼ばれる側(脇部)421では、配向堆積が行われにくくなるため、それらは堆積領域413から除外されてもよい。
入口及び出口の代替的な位置を有する実施態様が、図5a~図5bに示されている。図5aの入口501及び出口502は、堆積チャンバの対向する隅部に配置されている。入口501は円形の形状であり、5~25ミリメートルの直径を有する。円形の形状は、入口501での幅広いガス流速に適したものであることができる。
図5bに描かれている入口511は、スリットの形状をしており、0.5~18ミリメートルの幅を有する。入口511のスリット形状は、HARM構造体を含むガスの分布、ひいてはフィルタ上のHARM構造体の分布に対する制御性を向上させる効果を有することができる。図4に描かれた例では、入口401もスリット状であってもよい。
本発明の範囲内で、入口、出口及び堆積チャンバの他の形状も使用可能であり、入口及び出口の位置が異なっていてもよい。
別の態様に係る装置が図6に示されている。この装置600は、図1~図3に示したようなフィルタとは対照的に、基材(基板)上にHARM構造体を配向堆積するために設計されたものである。装置600は、水平方向に延びるトッププレート611を備える上部分と、水平方向に延びるボトムプレート612を備える下部分とを含む、水平に細長い堆積チャンバ610を含む。図6に示された装置600は、堆積チャンバ610内にトッププレート611とボトムプレート612との間に水平に配置された基材603を含む。基材603は、プラスチックフィルムであってもよいし、任意の他の適切な基材であってもよい。堆積チャンバ610の上部分に配置され、トッププレート611を貫通する入口601は、HARM構造体を含むガスを堆積チャンバ610内に供給するように構成されている。出口602も、堆積チャンバ610の上部分に配置され、トッププレート611を貫通する。当該装置は、1つ以上の出口602を有していてもよく、図6の実施態様では2つを含んでいる。出口602は、堆積チャンバからガスを回収するように構成されている。
装置600は、入口601及び出口602でのガス流、並びに、トッププレート611及びボトムプレート612の温度及び電位を制御するように構成された制御システム(図示せず)も含む。この制御システムは、ポンプと、入口601及び出口602における流量を制御するためのコントローラとを含んでいてもよく、いくつかの例では、所定の形状のガスチャネル及び圧縮ガス容器を含んでいてもよい。この制御システムは、コンピュータベースのコントローラを含んでもよい。制御システムは、チャンバにガスを供給する前に特性を規定し、及び/又は、堆積中にガスの流量、温度、プレート611、612の電位、若しくは任意の他の特性を調整するように構成されている。
トッププレート611及び基材603は、トッププレート611と基材603との間にギャップが形成されるように配置され、入口601から出口602に向かうHARM構造体を含むガスの流れが、堆積領域613(楕円形でおおよそ図示されているにすぎない)において基材603に対して実質的に平行になるようになっている。制御システムは、トッププレート611及びボトムプレート612の異なる温度レベルを維持して、基材603に近接して温度勾配を形成するように構成されている。トッププレート611及びボトムプレート612の異なる温度レベルによって作り出される温度勾配は、HARM構造体に抗力を与えることができ、これにより配向した堆積のための条件を作り出す。制御システムは、温度レベルの維持に加えて、又はその代わりに、トッププレート611及びボトムプレート612の電位を、基材603に近接して均一な電界を形成するのに十分な値に維持するようにも構成することができる。均一な電界は、基材603へのHARM構造体の堆積につながる電気泳動のための条件を作り出す。
様々な条件でガス流を層流に維持し、それによって堆積領域613におけるHARM構造体の配向堆積の効果を強化するために、上記制御システムと、入口601、出口602、トッププレート611、ボトムプレート612及び基材603の相対的な位置とは、基材603に近接するHARM構造体を含むガスのガス流を、レイノルズ数が10~3500の層流に維持するように配置することができる。
図6に示す装置600は、出口602に近接して配置された任意のバリアガス入口620も含む。バリアガス入口620は、HARM構造体を含むガスが堆積チャンバ610内でさらに広がるのを防ぐために、バリアガスを堆積チャンバ610内に供給するように構成されている。図6に示す実施態様では、入口601は、堆積チャンバ610の上部分の中央領域に配置され、出口602、及びバリアガス入口620は、堆積チャンバ610の周辺領域に配置されている。バリアガスは、窒素、アルゴン、一酸化炭素、CO2、又は不活性ガス若しくは濾過可能なガス組成物のいずれかであってもよい。
例示の実施態様では、トッププレート611から基材603までの距離は、0.5~5ミリメートルであり、ボトムプレート612から基材603までの距離は、0~5ミリメートルである。トッププレート611は加熱されてもよく、ボトムプレート612が冷却されて、温度勾配が形成されてもよい。
図6に示す2つ以上の装置600を互いに隣接して配置して、システムを作成してもよい。このシステムは、互いに隣接して配置された複数の装置600を通過する基材を有していてもよい。
装置600は、実質的に平坦なトッププレート及びボトムプレート611、612並びに基材603を有するように図6に示されている。しかしながら、この態様に係る装置600は、湾曲した基材上の様々な形状のチャンバ内での堆積にも適していてもよい。例えば、装置600は、ドラム状又は凹状の堆積チャンバにおけるHARM構造体の配向堆積に使用されてもよい。
図7は、第1の態様の一実施態様に係る装置700の一例を示す。装置700は、堆積チャンバ710に接続された入口701及び出口701を含む。入口701は、チャンバ710の上部分に配置され、出口702は下部分に配置されている。入口701及び出口702は、この例では円錐形である。装置700は、上部分から0~10mmの位置に配置されたフィルタ703、及び有孔の多孔質プレート713をさらに含む。多孔質プレート713は、チャンバ710内のガス拡散を制御するために、突出部の大きさを調整可能なバッフルとして使用されてもよい。堆積チャンバ710は、ガス流路を、図7に示すチャンバ710の左側の入口701から多孔質プレート713に到達させる1つ以上のバッフルも含んでよい。この図の寸法はおおよそのものであり、装置700の要素の実際の相対的な大きさを反映していない可能性がある。
図8は、第2の態様の一実施態様に係る装置800の一例を示す。装置800は、加熱されたトッププレート811と、冷却されたボトムプレート812と、それらの間の堆積チャンバ(図示されていない、トッププレート811とボトムプレート812との間の薄いギャップ)とを含む。装置800は、ボトムプレート812上に配置された基材803も含む。さらには、当該装置は、中央入口801と、堆積チャンバの周辺位置に接続された2つの出口802とを含む。装置800は、ガスが出口802を通過するのを防ぐために、さらに周辺位置に接続されたバリアガス入口820も含む。図8の寸法はおおよそのものであり、装置700の要素の実際の相対的な大きさを反映していない可能性がある。
図9は、一態様に係る、HARM構造体の配向堆積の方法のフローチャートである。当該方法は、入口を介して、HARM構造体を含むガスを堆積チャンバに所定のガス流量で供給する工程901を含む。このガス流量は、制御ユニットによって決定されてもよい。当該方法は、基材又はフィルタの堆積領域に近接して、HARM構造体を含むガスの層流を10~3500のレイノルズ数で維持する工程902をさらに含む。工程902におけるHARM構造体を含むガスの層流は、少なくとも部分的に基材又はフィルタと平行である。層流状態のガス流は、堆積チャンバ内の入口、出口及びその他の要素の相対的な位置と組み合わせて、制御システムによって維持されてもよい。層流状態のガス流が902において適切な条件で維持されると、当該方法は、HARM構造体を含むガスから、基材又はフィルタの堆積領域にHARM構造体を堆積(成膜)する工程903をさらに含む。堆積903は、層流状態で実質的に平行なガス流が、フィルタ又は基材の堆積領域に到達したときに発生する。当該方法はその後、出口を介して、堆積チャンバから残りのガスを所定のガス流量で回収する工程904を含む。この所定の流量及び層流状態のガス流により、HARM構造体の配向堆積が可能になる。
当該方法は、HARM構造体を堆積させるための任意の適切な装置、例えば、第1及び第2の態様に係る装置のいずれかによって実施されてもよい。また、当該方法は、コンピュータを含む制御システムによって実行されてもよい。当該方法は、基材又はフィルタと平行な層流状態のガス流が堆積の結果に与える驚くべき効果により、HARM構造体の配向堆積の有利な均一性及び効率性を提供する。
上述の第1の態様の一例である、フィルタ上でHARM構造体を配向堆積するための装置は、160×390×515mm(高さ×幅×長さ)の堆積チャンバを備える。ガスの流量は20~50リットル/分に維持され、チャンバ内の温度は20~80℃である。入口から供給されるガスは、カーボンナノバッドを含むキャリアガスの窒素である。メンブレンフィルタが、上部分と下部分の間で、上部分から0.5~2mmの距離で堆積チャンバに埋め込まれている。このメンブレンフィルタは、カーボンナノバッドを約150×420mmの堆積領域に集める。上記の条件で堆積されたカーボンナノバッドの配向性は、配向指数(最大抵抗値と最小抵抗値の比)が1.3~2.2の範囲であることで推定できる。当該装置は、フィルタの下に配置された突出部を備えるバッフルをさらに含み、このバッフルは沈降ゾーンを形成し、その大きさは約150×420mmである。
当業者には明らかなように、本発明は上述の例に限定されるものではなく、実施形態は特許請求の範囲内で自由に変わることができる。
Claims (24)
- 装置であって、
トップカバーを備えた上部分及びボトムカバーを備えた下部分を含む、水平方向に細長い堆積チャンバと、
前記上部分と前記下部分とを隔てるように前記堆積チャンバ内に水平に配置されたフィルタであって、堆積領域を含むフィルタと、
前記堆積チャンバの前記上部分に配置され、高アスペクト比の分子構造体、HARM構造体を含むガスを前記堆積チャンバに供給するように構成されている入口と、
前記堆積チャンバの前記下部分に配置され、前記堆積チャンバからガスを回収するように構成されている出口と、
前記入口及び前記出口におけるガス流を制御するように構成されている制御システムと
を含み、
前記入口、前記出口及び前記フィルタは、前記上部分の前記入口から前記下部分の前記出口に向かって、前記フィルタを通過するHARM構造体を含む前記ガスのためのガス流路を形成するように配置されており、前記フィルタの前記堆積領域に近接するHARM構造体を含む前記ガスの流れの方向は、少なくとも部分的に前記フィルタと平行であり、
前記制御システムと、前記入口、前記出口、前記トップカバー、前記ボトムカバー及び前記フィルタの相対的な位置とが、前記フィルタの前記堆積領域に近接するHARM構造体を含む前記ガスの層流状態のガス流を維持するように配置されている装置。 - 前記制御システムと、前記入口、前記出口、前記トップカバー、前記ボトムカバー及び前記フィルタの相対的な位置とが、前記フィルタの前記堆積領域に近接するHARM構造体を含む前記ガスの層流状態のガス流のレイノルズ数を10~3500に維持するように配置されている請求項1に記載の装置。
- 前記入口及び前記出口が、水平面における前記堆積チャンバの対向する側に配置されている請求項1又は請求項2に記載の装置。
- 前記フィルタが水平方向に延び、前記堆積チャンバの前記トップカバー及び前記ボトムカバーから所定の距離をおいて、前記上部分と前記下部分との間で前記堆積チャンバに埋め込まれている請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の装置。
- 前記フィルタを包囲し、水平方向に延び、前記上部分と前記下部分との間で前記堆積チャンバに埋め込まれている支持体を含む請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の装置。
- 少なくとも1つの突出部を備える第1のバッフルを含み、前記第1のバッフルが、水平方向に延び、前記フィルタに隣接して配置され、前記入口から前記出口に向かう前記ガス流路が、前記第1のバッフルの少なくとも1つの突出部に隣接した前記フィルタの部分を通過するようになっている請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の装置。
- 少なくとも1つの突出部を備える第2のバッフルを含み、
前記第2のバッフルが、水平方向に延び、前記第1のバッフルの下方に所定の距離をおいて配置され、前記第1のバッフルと前記第2のバッフルの間、及び前記堆積チャンバの上部分と下部分との間に空間を形成し、
前記第1のバッフル及び前記第2のバッフルの前記突出部が、前記堆積チャンバの水平面における前記堆積チャンバの対向する側に配置されている請求項6に記載の装置。 - 前記堆積チャンバの前記トップカバーから前記フィルタまでの距離が0.1~10ミリメートルであり、前記堆積チャンバの前記ボトムカバーから前記フィルタまでの距離が5~20ミリメートルである請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の装置。
- 前記フィルタがメンブレンフィルタである請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の装置。
- 前記制御システムが、前記反応チャンバ内の温度及び圧力を制御するようにさらに構成されている請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の装置。
- 前記入口が、断面が円形であり、5~100ミリメートルの直径を有する請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の装置。
- 前記入口がスリットの形状をしており、0.5~18ミリメートルの幅を有する請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の装置。
- 前記堆積チャンバが水平面において矩形の形状をしており、前記入口及び前記出口が水平面における前記堆積チャンバの対向する隅部に配置されている請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の装置。
- 水平方向に延び、前記堆積チャンバ内で前記フィルタの下方に配置される所定の細孔径を有する多孔質プレートを含む請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の装置。
- 前記HARM構造体が、カーボンナノチューブ分子、カーボンナノバッド分子、グラフェンリボン、炭素繊維フィラメント又はグラファイト繊維フィラメント、及び銀ナノワイヤからなる群から選択される請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の装置。
- 前記堆積チャンバの寸法が、高さが100~200mm、幅が390~1040mm、長さが515~1240mmである請求項1から請求項15のいずれか1項に記載の装置。
- 装置であって、
水平方向に細長く、水平方向に伸びるトッププレートを備える上部分と水平方向に伸びるボトムプレートとを備える下部分を含む堆積チャンバと、
前記堆積チャンバ内にトッププレートと前記ボトムプレートの間に水平に配置された基材と、
前記堆積チャンバの前記上部分に配置され、高アスペクト比の分子構造体、HARM構造体を含むガスを前記堆積チャンバに供給するように構成されている入口と、
前記堆積チャンバの前記上部分に配置され、前記堆積チャンバからガスを回収するように構成されている少なくとも1つの出口と
前記入口及び前記少なくとも1つの出口でのガス流、並びに前記トッププレート及び前記ボトムプレートの温度並びに電位を制御するように構成されている制御システムと
を含み、
前記トッププレート及び前記基材は、前記入口から前記少なくとも1つの出口に向かうHARM構造体を含む前記ガスの流れが前記基材に対して実質的に平行になるように、前記トッププレートと前記基材との間にギャップを形成するように配置されており、
前記制御システムは、
前記トッププレート及び前記ボトムプレートの温度を、前記基材に近接して温度勾配を形成するのに十分異なるレベルに維持すること、並びに/又は
前記トッププレート及び前記ボトムプレートの前記電位を、前記基材に近接して均一な電界を形成するのに十分な値に維持すること
を行うように構成されている装置。 - 前記制御システムと、前記入口、前記出口、前記トッププレート、前記ボトムプレート及び前記基材の相対的な位置とが、前記基材に近接するHARM構造体を含む前記ガスのガス流を、レイノルズ数が10~3500の層流に維持するように配置されている請求項17に記載の装置。
- HARM構造体を含む前記ガスが前記堆積チャンバ内でさらに広がるのを防ぐためにバリアガスを前記堆積チャンバ内に供給するするように構成された、前記少なくとも1つの出口に近接して配置された少なくとも1つのバリアガス入口をさらに含む請求項17又は請求項18に記載の装置。
- 前記入口が、前記堆積チャンバの前記上部分の中央領域に配置され、前記少なくとも1つの出口が、前記堆積チャンバの周辺領域に配置されている請求項17から請求項19のいずれか1項に記載の装置。
- 前記トッププレートから前記基材までの距離が0.5~5ミリメートルであり、前記ボトムプレートから前記基材までの距離が0~5ミリメートルである請求項17から請求項20のいずれか1項に記載の装置。
- 前記基材がプラスチックフィルムである請求項17から請求項21のいずれか1項に記載の装置。
- 互いに隣接して配置された2つ以上の請求項17から請求項22のいずれか1項に記載の装置を含むシステム。
- HARM構造体の配向堆積の方法であって
入口を介して、HARM構造体を含むガスを堆積チャンバに所定のガス流量で供給する工程と、
基材又はフィルタの堆積領域に近接して、HARM構造体を含む前記ガスの層流を10~3500のレイノルズ数で維持する工程であって、HARM構造体を含む前記ガスの前記層流は、少なくとも部分的に前記基材又は前記フィルタと平行である工程と、
HARM構造体を含む前記ガスから、前記基材又は前記フィルタの前記堆積領域にHARM構造体を堆積させる工程と、
出口を介して、前記堆積チャンバから残りのガスを所定のガス流量で回収する工程と
を含む方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20195327A FI129565B (en) | 2019-04-24 | 2019-04-24 | Equipment and method for oriented deposition |
FI20195327 | 2019-04-24 | ||
PCT/FI2020/050259 WO2020216988A1 (en) | 2019-04-24 | 2020-04-20 | Apparatuses and method for oriented deposition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022531091A true JP2022531091A (ja) | 2022-07-06 |
Family
ID=70476248
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021561922A Pending JP2022531091A (ja) | 2019-04-24 | 2020-04-20 | 配向堆積のための装置及び方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20220195597A1 (ja) |
EP (1) | EP3959169A1 (ja) |
JP (1) | JP2022531091A (ja) |
KR (1) | KR20220018480A (ja) |
CN (1) | CN113825720B (ja) |
FI (1) | FI129565B (ja) |
TW (1) | TW202100457A (ja) |
WO (1) | WO2020216988A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7493389B2 (ja) * | 2020-06-10 | 2024-05-31 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜装置および成膜方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2365117B1 (en) * | 2005-07-28 | 2014-12-31 | Nanocomp Technologies, Inc. | Apparatus and method for formation and collection of nanofibrous non-woven sheet |
US9061913B2 (en) * | 2007-06-15 | 2015-06-23 | Nanocomp Technologies, Inc. | Injector apparatus and methods for production of nanostructures |
AU2008311234A1 (en) * | 2007-07-25 | 2009-04-16 | Nanocomp Technologies, Inc. | Systems and methods for controlling chirality of nanotubes |
US7897209B2 (en) * | 2008-04-16 | 2011-03-01 | Zeon Corporation | Apparatus and method for producing aligned carbon-nanotube aggregates |
US20110023775A1 (en) * | 2009-07-31 | 2011-02-03 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Apparatus for atomic layer deposition |
CN102328898A (zh) * | 2011-08-01 | 2012-01-25 | 东南大学 | 一种大面积排列纳米线的方法 |
CN102701185A (zh) * | 2012-06-21 | 2012-10-03 | 中国兵器工业集团第五三研究所 | 一种碳纳米管的取向方法及取向装置 |
CN104724670A (zh) * | 2014-09-03 | 2015-06-24 | 青岛科技大学 | 一种掺杂定向碳纳米管的复合材料制备方法 |
CN104575658A (zh) * | 2014-12-24 | 2015-04-29 | 中山大学 | 一种磁场及其磁性纳米线在透明导电薄膜中的应用及其透明导电膜和制备方法 |
US20230207426A1 (en) * | 2015-09-30 | 2023-06-29 | Microfabrica Inc. | Micro Heat Transfer Arrays, Micro Cold Plates, and Thermal Management Systems for Semiconductor Devices, and Methods for Using and Making Such Arrays, Plates, and Systems |
-
2019
- 2019-04-24 FI FI20195327A patent/FI129565B/en active IP Right Grant
-
2020
- 2020-04-20 TW TW109113173A patent/TW202100457A/zh unknown
- 2020-04-20 WO PCT/FI2020/050259 patent/WO2020216988A1/en active Search and Examination
- 2020-04-20 US US17/603,429 patent/US20220195597A1/en active Pending
- 2020-04-20 EP EP20722628.3A patent/EP3959169A1/en active Pending
- 2020-04-20 KR KR1020217038332A patent/KR20220018480A/ko active Search and Examination
- 2020-04-20 JP JP2021561922A patent/JP2022531091A/ja active Pending
- 2020-04-20 CN CN202080036289.6A patent/CN113825720B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202100457A (zh) | 2021-01-01 |
CN113825720B (zh) | 2022-12-27 |
FI129565B (en) | 2022-04-29 |
US20220195597A1 (en) | 2022-06-23 |
EP3959169A1 (en) | 2022-03-02 |
WO2020216988A1 (en) | 2020-10-29 |
FI20195327A1 (en) | 2020-10-25 |
CN113825720A (zh) | 2021-12-21 |
KR20220018480A (ko) | 2022-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2002508033A (ja) | 薄膜を成長させる方法および装置 | |
US7408186B2 (en) | Controlled alignment catalytically grown nanostructures | |
US6153012A (en) | Device for treating a substrate | |
KR101562327B1 (ko) | 가스분배판 및 이를 포함하는 기판처리장치 | |
KR101301967B1 (ko) | 플라즈마 나노 분말 합성 및 코팅 장치 와 그 방법 | |
JP2022531091A (ja) | 配向堆積のための装置及び方法 | |
KR20080075529A (ko) | 서셉터 홀더가 부유식으로 장착된 cvd 반응기 | |
JPH06509745A (ja) | 微小誘電粒子混合物の連続分離方法およびその方法を実施するための装置 | |
JP2024045188A (ja) | パターン形成された有機発光ダイオードの配合物を乾燥させるシステム | |
KR101753758B1 (ko) | 기화기 및 이를 포함하는 기판 처리장치 | |
US9702058B2 (en) | Apparatus for fabricating ingot | |
JP2024073388A (ja) | エピタキシャル成長装置及びそれに使用されるガス供給調節モジュール | |
JP4526969B2 (ja) | 気相成長装置 | |
US9540744B2 (en) | Apparatus for fabricating silicon carbide single crystal ingot and method for fabricating ingot | |
CN207418862U (zh) | 平板电极结构和等离子体沉积设备 | |
JPH01226798A (ja) | リボン状シリコン結晶の製造方法 | |
KR20120010667A (ko) | 그래핀 합성 챔버 및 이를 이용한 그래핀 합성 방법 | |
US20070084407A1 (en) | Apparatus and method for manufacturing carbon nanotubes | |
KR101262544B1 (ko) | 실리콘계나노입자 포집 및 보관용기,및 이를 이용한 실리콘계나노입자 박막 증착장치 및 방법 | |
KR20080014316A (ko) | 수직기판 증착용 선형 증착원 | |
JPS637620A (ja) | 揮発性物質の気化装置 | |
JPS61174624A (ja) | 半導体成長装置 | |
US5431965A (en) | Coreless refractory fibers | |
KR100788031B1 (ko) | 박막 증착용 선형 증착원 | |
JPS6265902A (ja) | メタノ−ル分解反応器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230329 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240304 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20240312 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20240531 |