JP2022505898A - 質量分析計のサンプラーコーンおよびインターフェース、ならびにそれらを互いに密封する方法 - Google Patents
質量分析計のサンプラーコーンおよびインターフェース、ならびにそれらを互いに密封する方法 Download PDFInfo
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- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 152
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 152
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 29
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 27
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 27
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 25
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 claims description 8
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 20
- 230000006837 decompression Effects 0.000 abstract description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 10
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 7
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 230000036541 health Effects 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 4
- 210000002381 plasma Anatomy 0.000 description 4
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 4
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 4
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 3
- 239000006199 nebulizer Substances 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 241000894007 species Species 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 241000699670 Mus sp. Species 0.000 description 1
- 241000282320 Panthera leo Species 0.000 description 1
- 241000282374 Puma concolor Species 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 238000000451 chemical ionisation Methods 0.000 description 1
- 230000001149 cognitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000000132 electrospray ionisation Methods 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 238000004817 gas chromatography Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000004513 sizing Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000004885 tandem mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/068—Mounting, supporting, spacing, or insulating electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/067—Ion lenses, apertures, skimmers
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16J—PISTONS; CYLINDERS; SEALINGS
- F16J15/00—Sealings
- F16J15/02—Sealings between relatively-stationary surfaces
- F16J15/06—Sealings between relatively-stationary surfaces with solid packing compressed between sealing surfaces
- F16J15/08—Sealings between relatively-stationary surfaces with solid packing compressed between sealing surfaces with exclusively metal packing
- F16J15/0881—Sealings between relatively-stationary surfaces with solid packing compressed between sealing surfaces with exclusively metal packing the sealing effect being obtained by plastic deformation of the packing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/105—Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation, Inductively Coupled Plasma [ICP]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/24—Vacuum systems, e.g. maintaining desired pressures
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Gasket Seals (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
【解決手段】サンプラーコーンの特定の構成、およびサンプラーコーンを質量分析計インターフェースに密封するための金属ガスケットとの使用方法が説明される。サンプラーコーン、インターフェース、またはその両方は、1つ以上の表面特徴部を含み得る。サンプラーコーンをインターフェースに結合することにより、金属ガスケットが圧縮または圧潰され、サンプラーコーンとインターフェースとの間にシールが提供され得る。例えば、サンプラーコーンおよびインターフェースの表面特徴部によって与えられる圧潰力により、ガスケットを圧潰し、サンプラーコーンとインターフェースとの間に実質的に液密なシールを提供することができる。
【選択図】図14
Description
本出願は、2018年10月24日に提出された米国特許仮出願第62/750,114号の優先権および利益を主張し、その開示全体は、あらゆる目的のために参照により本明細書に組み込まれる。
図13を参照すると、サンプラーコーン1300の断面が示されている。サンプラーコーン1300は、本体1305と、サンプラーコーン1300へのサンプルの進入を可能にし得るサンプルオリフィス1310と、を含む。サンプラーコーン1300のベースは、概して環状の凹部またはカット1320部を含み、これは、金属ガスケットを介してインターフェース(図示せず)上の凸部と係合し得る。サンプラーコーン1300がインターフェースにネジ付けされると、インターフェースの溝が環状の凹部に押し込まれるにつれ、金属ガスケットが溝/凹部の表面の間で圧潰され、サンプラーコーン1300とインターフェースとの間にシールが提供される。圧潰シールは、サンプラーコーンをインターフェースに結合するために使用される従来のデバイスおよび方法のように、サンプラーコーンおよびインターフェースの表面仕上げに依存することはない。
図14を参照すると、サンプラーコーンおよびインターフェースの図が示されている。サンプラーコーン1410は、サンプラーコーンの底面から離れて延在する凸部1412を含む。インターフェース1420は、溝1422を含み、溝1422は、サンプラーコーン1410の凸部1412と係合し得る。金属ガスケット1415は、溝1422と凸部1412との間に位置決めされ得る。サンプラーコーン1410が、インターフェース上の内ネジ1420およびサンプラーコーン1420上のネジ山(図示せず)を使用してインターフェースに締め付けられると、凸部1412が溝1422に押し込まれ、ガスケット1415を圧潰する。このガスケット1015の圧潰により、サンプラーコーン1410とインターフェース1420との間に実質的に液密なシールが提供される。
図15Aを参照すると、サンプラーコーン1510、インターフェース1520、およびガスケット1530の分断図が示されている。サンプラーコーン1510は、三角形の凸部として構成された表面特徴部1512を含む。インターフェース1520はまた、三角形の凸部1522として構成された表面特徴部1522を含む。コーン1510がインターフェース1520に結合されると(図15Bを参照)、凸部1512、1522の先端は、ガスケット1530の表面に圧縮力を与えて、これらの領域でガスケット1530を圧潰する。点状部分または先端を有するように凸部1512、1522を選択することにより、ガスケットの小さな領域に選択された量の力を与えることができ、これにより、結果として形成される流体シールを強化することができる。
Claims (41)
- 質量分析計アセンブリであって、
イオンを含む流体ビームをサンプルオリフィスに提供するイオン化源に流体的に結合するように構成された前記サンプルオリフィスを含むサンプラーコーンであって、前記サンプラーコーンが、前記サンプラーコーンの表面上の第1の表面特徴部を含む、サンプラーコーンと、
前記サンプラーコーンに結合するように構成された質量分析器インターフェースであって、前記質量分析器インターフェースが、前記インターフェースの表面上の第2の表面特徴部を含む、質量分析器インターフェースと、
前記第1の表面特徴部と前記第2の表面特徴部との間のガスケットであって、前記第1の表面特徴部が、前記ガスケットの第1の表面に力を与え、前記第2の表面特徴部が、前記ガスケットの第2の表面に力を与え、前記サンプラーコーンが前記インターフェースに結合されている場合に、前記サンプラーコーンと前記インターフェースとの間に実質的に液密なシールを提供する、ガスケットと、を含む、質量分析計アセンブリ。 - 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、凹部を含み、前記質量分析器インターフェースの前記第2の表面特徴部が、凸部を含み、前記凹部が、前記凸部と係合し、前記凹部と前記凸部との間の前記ガスケットを圧潰して、前記サンプラーコーンが前記質量分析器インターフェースに結合されるときに、前記サンプラーコーンと前記インターフェースとの間に前記実質的に液密なシールを提供するように構成されている、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、凸部を含み、前記インターフェースの前記第2の表面特徴部が、凹部を含み、前記凸部が、前記凹部と係合し、前記凹部と前記凸部との間の前記ガスケットを圧潰して、前記サンプラーコーンが前記質量分析器インターフェースに結合されるときに、前記サンプラーコーンと前記インターフェースとの間に前記実質的に液密なシールを提供するように構成されている、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記サンプラーコーンが、前記質量分析器インターフェース上のネジ山に結合するように構成されたネジ山をさらに含む、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、第1の凸部を含み、前記質量分析器インターフェースの前記第2の表面特徴部が、第2の凸部を含み、前記第1の凸部が、前記ガスケットの前記第1の表面に前記力を与えるように構成され、前記第2の凸部が、前記ガスケットの前記第2の表面に前記力を与えるように構成されて、前記ガスケットを圧縮して、前記サンプラーコーンと前記質量分析器インターフェースとの間に前記実質的に液密なシールを提供する、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記サンプラーコーンおよび前記質量分析器インターフェースのうちの少なくとも1つが、追加の表面特徴部をさらに含む、請求項5に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記ガスケットが、約0.1mm~約0.5mmの厚さの金属ガスケットを含む、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記第1の表面特徴部、前記第2の表面特徴部、および前記ガスケットが各々、実質的に同様の熱膨張係数を有する材料を含む、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記ガスケットが、多層金属ガスケットである、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記ガスケットが、約0.2mm~約0.25mmの厚さを含み、前記第1の表面特徴部が、1mm未満の高さを有する三角形の凸部として構成され、前記第2の表面特徴部が、1mm未満の高さを有する三角形の凸部として構成されている、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記ガスケットが、約0.2mm~約0.25mmの厚さを含み、前記第1の表面特徴部が、1mm未満の高さを有する三角形の凸部として構成され、前記第2の表面特徴部が、1mm未満の深さを有する三角形の凹部として構成されている、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- 前記ガスケットが、約0.2mm~約0.25mmの厚さを含み、前記第1の表面特徴部が、1mm未満の深さを有する三角形の凹部として構成され、前記第2の表面特徴部が、1mm未満の高さを有する三角形の凸部として構成されている、請求項1に記載の質量分析計アセンブリ。
- サンプラーコーンを質量分析器インターフェースに密封する方法であって、前記方法が、
サンプラーコーンの第1の表面特徴部と前記質量分析器インターフェースの第2の表面特徴部との間の金属ガスケットを圧潰して、前記サンプラーコーンと前記質量分析器インターフェースとの間に実質的に液密なシールを提供することにより、前記サンプラーコーンを前記質量分析器インターフェースに結合して、前記サンプラーコーンと前記質量分析器インターフェースとの間に前記実質的に液密なシールを提供することを含む、方法。 - 前記サンプラーコーンの第1のネジ山を前記質量分析器インターフェースの第2のネジ山に締め付けることにより、前記第1の表面特徴部と前記第2の表面特徴部との間の前記金属ガスケットが圧潰される、請求項13に記載の方法。
- 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、凹部を含み、前記質量分析器インターフェースの前記第2の表面特徴部が、凸部を含み、前記凹部が、前記凸部と係合し、前記凹部と前記凸部との間の前記ガスケットを圧潰して、前記サンプラーコーンが前記インターフェースに結合されるときに、前記サンプラーコーンと前記インターフェースとの間に前記実質的に液密なシールを提供するように構成されている、請求項13に記載の方法。
- 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、凸部を含み、前記質量分析器インターフェースの前記第2の表面特徴部が、凹部を含み、前記凸部が、前記凹部と係合し、前記凹部と前記凸部との間の前記ガスケットを圧潰して、前記サンプラーコーンが前記質量分析器インターフェースに結合されるときに、前記サンプラーコーンと前記インターフェースとの間に前記実質的に液密なシールを提供するように構成されている、請求項13に記載の方法。
- 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、第1の凸部を含み、前記質量分析器インターフェースの前記第2の表面特徴部が、第2の凸部を含み、前記第1の凸部が、前記ガスケットの前記第1の表面に力を与えるように構成され、前記第2の凸部が、前記ガスケットの前記第2の表面に力を与えるように構成されて、前記ガスケットを圧縮して、前記実質的に液密なシールを提供する、請求項13に記載の方法。
- 前記ガスケットが、約0.2mm~約0.25mmの厚さを含み、前記第1の表面特徴部が、1mm未満の高さを有する三角形の凸部として構成され、前記第2の表面特徴部が、1mm未満の高さを有する三角形の凸部として構成されている、請求項17に記載の方法。
- 前記第1の表面特徴部、前記第2の表面特徴部、および前記ガスケットが各々、実質的に同様の熱膨張係数を有する材料を含む、請求項18に記載の方法。
- 前記ガスケットが、多層金属ガスケットである、請求項19に記載の方法。
- 質量分析計であって、
イオンを含む流体ビームをサンプルオリフィスに提供するイオン化源に流体的に結合するように構成された前記サンプルオリフィスを含むサンプラーコーンであって、前記サンプラーコーンが、前記サンプラーコーンの表面上の第1の表面特徴部を含む、サンプラーコーンと、
前記サンプラーコーンに結合するように構成された質量分析器インターフェースであって、前記質量分析器インターフェースが、前記質量分析器インターフェースの表面上の第2の表面特徴部を含む、質量分析器インターフェースと、
前記第1の表面特徴部と前記第2の表面特徴部との間のガスケットであって、前記第1の表面特徴部が、前記ガスケットの第1の表面に力を与え、前記第2の表面特徴部が、前記ガスケットの第2の表面に力を与え、前記サンプラーコーンが前記質量分析器インターフェースに結合されている場合に、前記サンプラーコーンと前記インターフェースとの間に実質的に液密なシールを提供する、ガスケットと、
質量分析器と、を含む、質量分析計。 - イオン化源に流体的に結合されたサンプル導入デバイスをさらに含み、前記イオン化源が、前記サンプラーコーンの前記オリフィスに流体的に結合されている、請求項21に記載の質量分析計。
- 検出器をさらに含む、請求項22に記載の質量分析計。
- 前記イオン化源が、誘導結合プラズマを含む、請求項23に記載の質量分析計。
- 前記質量分析器が、少なくとも1つの四重極を含む、請求項24に記載の質量分析計。
- 前記検出器が、電子増倍管を含む、請求項25に記載の質量分析計。
- 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、凹部を含み、前記質量分析器インターフェースの前記第2の表面特徴部が、凸部を含み、前記凹部が、前記凸部と係合し、前記凹部と前記凸部との間の前記ガスケットを圧潰して、前記サンプラーコーンが前記質量分析器インターフェースに結合されるときに、前記サンプラーコーンと前記質量分析器インターフェースとの間に前記実質的に液密なシールを提供するように構成されている、請求項21に記載の質量分析計。
- 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、凸部を含み、前記質量分析器インターフェースの前記第2の表面特徴部が、凹部を含み、前記凸部が、前記凹部と係合し、前記凹部と前記凸部との間の前記ガスケットを圧潰して、前記サンプラーコーンが前記質量分析器インターフェースに結合されるときに、前記サンプラーコーンと前記インターフェースとの間に前記実質的に液密なシールを提供するように構成されている、請求項21に記載の質量分析計。
- 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、第1の凸部を含み、前記質量分析器インターフェースの前記第2の表面特徴部が、第2の凸部を含み、前記第1の凸部が、前記ガスケットの前記第1の表面に前記力を与えるように構成され、前記第2の凸部が、前記ガスケットの前記第2の表面に前記力を与えるように構成されて、前記ガスケットを圧縮して、前記サンプラーコーンと前記質量分析器インターフェースとの間に前記実質的に液密なシールを提供する、請求項21に記載の質量分析計。
- 前記ガスケットが、約0.1mm~約0.5mmの厚さを含む、請求項29に記載の質量分析計。
- キットであって、
イオンを含む流体ビームをサンプルオリフィスに提供するイオン化源に流体的に結合するように構成された前記サンプルオリフィスを含むサンプラーコーンであって、前記サンプラーコーンが、質量分析計のインターフェース上の第2の表面特徴部と係合するように構成された第1の表面特徴部を含む、サンプラーコーンと、
前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部と前記インターフェースの前記第2の表面特徴部との間に載置されるようにサイズ設定および配置され、前記サンプラーコーンが前記質量分析計の前記インターフェースに結合される場合に、前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部と前記インターフェースの前記第2の表面特徴部との間で圧潰されるように構成されている、金属ガスケットと、
前記サンプラーコーンおよび前記金属ガスケットを使用して前記サンプラーコーンを前記質量分析計の前記インターフェースに結合し、前記サンプラーコーンと前記質量分析計の前記インターフェースとの間に実質的に液密なシールを提供するためのインストラクションと、を含む、キット。 - 前記インターフェースをさらに含む、請求項31に記載のキット。
- 前記サンプラーコーンのネジ山を前記インターフェースのネジ山に締め付けて前記金属ガスケットを圧潰し、前記実質的に液密なシールを提供するためのプリセットトルクを含むツールをさらに含む、請求項32に記載のキット。
- 質量分析計サンプラーコーンであって、
サンプルオリフィスであって、イオンを含む流体ビームを前記サンプルオリフィスに提供するイオン化源に流体的に結合するように構成された、サンプルオリフィスと、
前記サンプラーコーンの表面上の第1の表面特徴部であって、前記第1の表面特徴部が、金属ガスケットの表面に力を与えて、前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部と質量分析器インターフェースの第2の表面特徴部との間で前記金属ガスケットを圧潰して、前記サンプラーコーンと前記質量分析器との間に実質的に液密なシールを提供するように構成されている、第1の表面特徴部と、を含む、質量分析計サンプラーコーン。 - 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、凹部を含む、請求項34に記載の質量分析計サンプラーコーン。
- 前記サンプラーコーンの前記第1の表面特徴部が、凸部を含む、請求項34に記載の質量分析計サンプラーコーン。
- 前記サンプラーコーンが、前記質量分析器インターフェース上のネジ山に結合するように構成されたネジ山をさらに含む、請求項34に記載の質量分析計サンプラーコーン。
- サンプラーコーンに結合するように構成された質量分析計インターフェースであって、前記質量分析計インターフェースが、第1の表面特徴部を含み、前記第1の表面特徴部が、金属ガスケットの表面に力を与えて、前記質量分析計インターフェースの前記第1の表面特徴部とサンプラーコーンの第2の表面特徴部との間で前記金属ガスケットを圧潰して、前記サンプラーコーンと前記質量分析計インターフェースとの間に実質的に液密なシールを提供するように構成されている、質量分析計インターフェース。
- 前記質量分析計インターフェースの前記第1の表面特徴部が、凹部を含む、請求項38に記載の質量分析計インターフェース。
- 前記質量分析計インターフェースコーンの前記第1の表面特徴部が、凸部を含む、請求項38に記載の質量分析計インターフェース。
- 前記質量分析計インターフェースが、前記サンプラーコーン上のネジ山に結合するように構成されたネジ山をさらに含む、請求項38に記載の質量分析計インターフェース。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201862750114P | 2018-10-24 | 2018-10-24 | |
US62/750,114 | 2018-10-24 | ||
PCT/IB2019/059140 WO2020084570A1 (en) | 2018-10-24 | 2019-10-24 | Mass spectrometer sampler cones and interfaces and methods of sealing them to each other |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022505898A true JP2022505898A (ja) | 2022-01-14 |
Family
ID=70330678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021522983A Pending JP2022505898A (ja) | 2018-10-24 | 2019-10-24 | 質量分析計のサンプラーコーンおよびインターフェース、ならびにそれらを互いに密封する方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20200144042A1 (ja) |
EP (1) | EP3871248A4 (ja) |
JP (1) | JP2022505898A (ja) |
KR (1) | KR20210079349A (ja) |
CN (1) | CN113228227A (ja) |
CA (1) | CA3117565A1 (ja) |
WO (1) | WO2020084570A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112834676A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-05-25 | 杭州谱育科技发展有限公司 | 质谱和色谱的接口装置及安装方法 |
US11667992B2 (en) | 2021-07-19 | 2023-06-06 | Agilent Technologies, Inc. | Tip for interface cones |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0469846U (ja) * | 1990-10-29 | 1992-06-19 | ||
CA2220577A1 (en) * | 1997-11-10 | 1999-05-10 | National Research Council Of Canada | Mass spectrometry detection of atomic and molecular ions from an atmospheric pressure rf plasma |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3521910A (en) * | 1968-11-12 | 1970-07-28 | Cajon Co | Tube coupling |
US4358302A (en) * | 1980-11-24 | 1982-11-09 | The University Of Rochester | Apparatus for separation of gas borne particles |
US4650227B1 (en) * | 1982-08-23 | 2000-11-28 | Cajon Co | Fluid coupling |
JPH0211766A (ja) * | 1988-06-29 | 1990-01-16 | Kawasaki Steel Corp | 真空中で長尺物を加熱搬送する内部が大気圧である加熱ロール構造 |
FR2639416B1 (fr) * | 1988-11-24 | 1991-06-28 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication d'un joint a vide a faces metalliques d'appui de bride electriquement isolees |
GB8901975D0 (en) * | 1989-01-30 | 1989-03-22 | Vg Instr Group | Plasma mass spectrometer |
US5504327A (en) * | 1993-11-04 | 1996-04-02 | Hv Ops, Inc. (H-Nu) | Electrospray ionization source and method for mass spectrometric analysis |
US5997049A (en) * | 1997-08-29 | 1999-12-07 | Furon Company | Adjustable leak-tight coupling system |
JP2002008584A (ja) * | 2000-06-27 | 2002-01-11 | Hitachi Ltd | プラズマイオン質量分析装置及びその方法 |
CN2510862Y (zh) * | 2001-12-27 | 2002-09-11 | 北京有色金属研究总院 | 电感耦合等离子体质谱接口装置 |
JP4636800B2 (ja) * | 2002-03-08 | 2011-02-23 | ヴァリアン オーストラリア ピーティーワイ.エルティーディー. | プラズマ質量分析計 |
JP2013545243A (ja) * | 2010-11-26 | 2013-12-19 | ブルーカー バイオサイエンシズ プロプライアタリー リミティド | 質量分析法における改良及び質量分析法に関係する改良 |
JP5875306B2 (ja) * | 2011-09-22 | 2016-03-02 | 東京エレクトロン株式会社 | 管継手 |
JP3182750U (ja) * | 2013-01-28 | 2013-04-11 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置用治具セット |
GB201316697D0 (en) * | 2013-09-20 | 2013-11-06 | Micromass Ltd | Tool free gas cone retaining device for mass spectrometer ion block assembly |
WO2015040392A1 (en) * | 2013-09-20 | 2015-03-26 | Micromass Uk Limited | Ion inlet assembly |
EP3047513B1 (en) * | 2013-09-20 | 2020-03-11 | Micromass UK Limited | Gasket seal for a mass spectrometer |
EP3047510B1 (en) * | 2013-09-20 | 2020-03-18 | Micromass UK Limited | Tool free gas cone retaining device for mass spectrometer ion block assembly |
-
2019
- 2019-10-24 WO PCT/IB2019/059140 patent/WO2020084570A1/en unknown
- 2019-10-24 US US16/662,545 patent/US20200144042A1/en not_active Abandoned
- 2019-10-24 CN CN201980085651.6A patent/CN113228227A/zh active Pending
- 2019-10-24 CA CA3117565A patent/CA3117565A1/en active Pending
- 2019-10-24 EP EP19876751.9A patent/EP3871248A4/en active Pending
- 2019-10-24 KR KR1020217015279A patent/KR20210079349A/ko unknown
- 2019-10-24 JP JP2021522983A patent/JP2022505898A/ja active Pending
-
2023
- 2023-10-26 US US18/384,075 patent/US20240055248A1/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0469846U (ja) * | 1990-10-29 | 1992-06-19 | ||
CA2220577A1 (en) * | 1997-11-10 | 1999-05-10 | National Research Council Of Canada | Mass spectrometry detection of atomic and molecular ions from an atmospheric pressure rf plasma |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020084570A1 (en) | 2020-04-30 |
US20240055248A1 (en) | 2024-02-15 |
US20200144042A1 (en) | 2020-05-07 |
EP3871248A1 (en) | 2021-09-01 |
CA3117565A1 (en) | 2020-04-30 |
KR20210079349A (ko) | 2021-06-29 |
CN113228227A (zh) | 2021-08-06 |
EP3871248A4 (en) | 2022-07-13 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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|
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