JP2022166154A - フォーマルフォールト伝搬分析のためのシステム及び方法 - Google Patents
フォーマルフォールト伝搬分析のためのシステム及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022166154A JP2022166154A JP2022127792A JP2022127792A JP2022166154A JP 2022166154 A JP2022166154 A JP 2022166154A JP 2022127792 A JP2022127792 A JP 2022127792A JP 2022127792 A JP2022127792 A JP 2022127792A JP 2022166154 A JP2022166154 A JP 2022166154A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fault
- computer
- implemented method
- path
- calculating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 90
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 26
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 claims abstract description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims description 4
- 239000003086 colorant Substances 0.000 claims description 3
- 230000010076 replication Effects 0.000 claims description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000003362 replicative effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 64
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 31
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 29
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 24
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 19
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 19
- 238000011161 development Methods 0.000 description 18
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 18
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 17
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 15
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 14
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 5
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 4
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 2
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 2
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 2
- 206010039203 Road traffic accident Diseases 0.000 description 1
- 208000027418 Wounds and injury Diseases 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003542 behavioural effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003090 exacerbative effect Effects 0.000 description 1
- 230000001976 improved effect Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 208000014674 injury Diseases 0.000 description 1
- 238000004643 material aging Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 230000007474 system interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318342—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences by preliminary fault modelling, e.g. analysis, simulation
- G01R31/31835—Analysis of test coverage or failure detectability
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
- G06F30/3323—Design verification, e.g. functional simulation or model checking using formal methods, e.g. equivalence checking or property checking
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
Description
本出願は、2017年6月19日に出願された「System and Method for Formal Circuit Verification」という名称の米国非仮特許出願15/626,674について優先権を主張するものである。本出願はさらに、2017年6月19日にルクセンブルグで出願された「Method for Formal Circuit Verification」という名称の特許出願LU100321について優先権を主張するものである。
なし。
1.フォールトが観測点でDUT値に影響を与えないこと(この場合、フォールトが伝搬されない(NPA)と言う)、又は
2.ある観測点、特に少なくとも1つの観測点において、フォールトにより異なる挙動に至るトレースを見つけること(この例では、フォールトが伝搬される(PA)と言う)、の一方を証明することである。
通常、デジタル設計の可観測挙動は、設計の入力が入力制約に則した値トレースによって刺激されることを条件として、その出力に関して生成され得る値トレースによって定義される。しかし、ときに設計の内部の信号の値に興味がある場合がある。また、幾つかの重要でない信号への潜在的伝搬を無視することを選択する場合がある。従って、出力の代わりに、任意定義信号(観測点)のセットへの潜在的フォールト伝搬に興味を持つであろう。内部観測点は、単に出力としてラベル付けすることができ、観測されない出力信号は、出力セットから除外することができるため、数学的観点から出力と観測点との間に真の違いはない。このため、出力という用語及び観測点という用語を同義に使用する。
フォーマルフォールト伝搬/検出の古典的実装は、順次等価性チェックにより行われる。本発明は、フォーマルツールにとって問題をより簡単にすることにより、大幅により効率的な手順をもたらす改良を提供する。
多くの場合、ハードウェアコンポーネントは、潜在的な誤った挙動をチェックする内部診断又は検出機構を包含している。このような挙動が観測されると、特別な出力(エラーフラグ)を使用して、エラーが外部に伝達される。ユーザ(通常、ソフトウェア又は他の接続ハードウェア)は、エラーから回復させる責任を負う。内部検出機構によって検出され、ユーザに知らされるエラーは、安全エラーと見なされる。代替的に、ISO26262の第5部もこのようなエラーをマルチポイント検出故障として分類する。内部検出機構によって検出されないエラーは、危険故障であり、ISO26262の第5部は、このような危険故障を残存として分類する。
基本フォールトモデル化は、回路において所与の信号の代わりに一定値を導入することからなる。これは、欠陥信号がシミュレーション又はフォーマルチェックにおいて常に同じ値を有することを意味する。このモデルは、注入された定数の値に基づいて0縮退又は1縮退と呼ばれるか、又は一般に、それは、固定値縮退(stuck-at-value)と呼ばれ得る。
Claims (18)
- フォールト伝搬の分析のために順次等価性チェックを行うためのコンピュータ実装方法であって、
フォールトを注入することと、
複数のレジスタの中で、前記注入されたフォールトが伝搬できない第1のレジスタのセット及び前記注入されたフォールトが伝搬できる第2のレジスタのセットを識別することであって、 前記複数のレジスタの各レジスタについて、更新関数を実行することと、前記レジスタが前記更新関数の結果として変化する場合に前記レジスタを前記第2のレジスタのセットに割り当てること及び前記レジスタが前記更新関数の結果として変化しない場合に前記レジスタを前記第1のレジスタのセットに割り当てることとを含む、識別することと、
等価性チェックを行うための減少した言明複製を得るために前記第2のレジスタのセットを複製することとを含む、コンピュータ実装方法。 - 前記第1のセット及び前記第2のセットを識別するステップは、各レジスタについて前記更新関数をチェックする組み合わせチェックを含む、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 前記識別するステップは、1つのクロックサイクルにおいて順次チェックを含む、請求項1に記載のコンピュータ実装方法。
- 前記各ステップは、反復的であり且つ繰り返される、請求項1~3のいずれか1項に記載のコンピュータ実装方法。
- トランジェントフォールトモデル化を用いてフォールトを注入することを含む、請求項1~4のいずれか1項に記載のコンピュータ実装方法。
- レジスタの前記第1のレジスタのセット又は前記第2のレジスタのセットへの前記割り当ては、前記更新関数を実行した後の一定のクロックサイクル数で行われ、前記一定のクロックサイクル数は、1よりも大きい、請求項1~5のいずれか1項に記載のコンピュータ実装方法。
- さらなるチェックを必要としないフォールトの検出に使用され、エラーが検出/診断された後に生じるフォールト伝搬は、安全であるか又はさらなるチェックを必要としないフォールトと見なされる、請求項1~6のいずれか1項に記載のコンピュータ実装方法。
- フォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法であって、
コンピューティングデバイスを用いて、電気回路におけるフォールト位置を識別することと、
前記コンピューティングデバイスを用いて、前記電気回路における観測点を識別することと、
前記コンピューティングデバイスを用いて、前記フォールト位置から前記観測点までのフォールト経路を算出することと、
波形ビューアにおいて、前記フォールト位置から前記観測点までの前記フォールト経路における全ての信号をその作成順に表示することとを含む、コンピュータ実装方法。 - 前記フォールト経路を算出するステップは、前記フォールト位置から前記観測点までの影響を受けた信号の最短経路を算出することを含む、請求項8に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法。
- 前記最短フォールト経路を算出するステップは、信号の数の観点から前記最短経路を算出することを含む、請求項9に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法。
- 前記最短フォールト経路を算出するステップは、インスタンスの数の観点から前記最短経路を算出することを含む、請求項9又は10に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法。
- 前記最短フォールト経路を算出するステップは、レジスタの数の観点から前記最短経路を算出することを含む、請求項9~11のいずれか1項に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法。
- 前記最短フォールト経路を算出するステップは、逸脱又は変更を前記最短経路に加えることを含む、請求項9~12のいずれか1項に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法。
- 波形ビューアにおいて、前記フォールト位置から前記観測点までの前記フォールト経路における全ての信号をその作成順に表示する、前記ステップは、
どのように前記フォールトが1つの信号から次の信号に前進するかを示すために、前記信号を前記表示において異なる色の「脚立」でタイミングドメインに表示することを含む、請求項8~13のいずれか1項に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法。 - 波形ビューアにおいて、前記フォールト位置から前記観測点までの前記フォールト経路における全ての信号をその作成順に表示する、前記ステップは、
異なる色、異なる線の太さ若しくは異なる種類の線の少なくとも1つを含む視覚的指標又は任意の他の視覚的指標を用いることを含む、請求項8~14のいずれか1項に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法。 - 前記コンピューティングデバイスを用いて、前記電気回路における複数の観測点を識別することと、
前記コンピューティングデバイスを用いて、前記フォールト位置から前記複数の観測点までの複数のフォールト経路を算出することと、
波形ビューアにおいて、前記複数のフォールト経路の各フォールト経路について、前記フォールト位置から前記観測点までの前記フォールト経路における全ての信号をその作成順に表示することであって、前記複数の観測点のデータ及びグラフが表示される、表示することとを含む、請求項8~15のいずれか1項に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法。 - 請求項1~7のいずれか1項に記載のフォールト伝搬の分析のために順次等価性チェックを行うためのコンピュータ実装方法を含む、請求項8~16のいずれか1項に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法。
- 請求項8~16のいずれか1項に記載のフォールト伝搬経路の計算及び表示のためのコンピュータ実装方法を含む、請求項1~7のいずれか1項に記載のフォールト伝搬の分析のために順次等価性チェックを行うためのコンピュータ実装方法。
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/626,674 US20180364298A1 (en) | 2017-06-19 | 2017-06-19 | System and method for formal circuit verification |
LU100321A LU100321B1 (en) | 2017-06-19 | 2017-06-19 | Method for formal circuit verification |
LULU100321 | 2017-06-19 | ||
US15/626,674 | 2017-06-19 | ||
JP2020519181A JP7145942B2 (ja) | 2017-06-19 | 2018-06-19 | フォーマルフォールト伝搬分析のためのシステム及び方法 |
PCT/EP2018/066315 WO2018234341A1 (en) | 2017-06-19 | 2018-06-19 | SYSTEM AND METHOD FOR FORMAL ANALYSIS OF DEFECT PROPAGATION |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020519181A Division JP7145942B2 (ja) | 2017-06-19 | 2018-06-19 | フォーマルフォールト伝搬分析のためのシステム及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022166154A true JP2022166154A (ja) | 2022-11-01 |
JP7362857B2 JP7362857B2 (ja) | 2023-10-17 |
Family
ID=62597532
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020519181A Active JP7145942B2 (ja) | 2017-06-19 | 2018-06-19 | フォーマルフォールト伝搬分析のためのシステム及び方法 |
JP2022127792A Active JP7362857B2 (ja) | 2017-06-19 | 2022-08-10 | フォーマルフォールト伝搬分析のためのシステム及び方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020519181A Active JP7145942B2 (ja) | 2017-06-19 | 2018-06-19 | フォーマルフォールト伝搬分析のためのシステム及び方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3642637B1 (ja) |
JP (2) | JP7145942B2 (ja) |
ES (1) | ES2947361T3 (ja) |
WO (1) | WO2018234341A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP4386614A1 (en) | 2022-12-12 | 2024-06-19 | Siemens Electronic Design Automation GmbH | Verification of a logic circuit |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07306881A (ja) * | 1994-05-12 | 1995-11-21 | Hitachi Ltd | 論理シミュレーション結果解析支援装置 |
JPH1166114A (ja) * | 1997-08-25 | 1999-03-09 | Nec Corp | シミュレーション解析装置及びシミュレーション解析方法 |
JPH11153646A (ja) * | 1997-11-19 | 1999-06-08 | Nec Corp | 故障伝搬経路抽出システム及びその方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 |
JP2007293589A (ja) * | 2006-04-25 | 2007-11-08 | Sharp Corp | 回路図描画プログラム |
US20160267216A1 (en) * | 2015-03-13 | 2016-09-15 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited | Methods and systems for circuit fault diagnosis |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6385750B1 (en) * | 1999-09-01 | 2002-05-07 | Synopsys, Inc. | Method and system for controlling test data volume in deterministic test pattern generation |
GB0519363D0 (en) * | 2005-09-22 | 2005-11-02 | Advanced Risc Mach Ltd | Error propagation in integrated circuits |
JP4562713B2 (ja) * | 2006-10-05 | 2010-10-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 論理回路における多重故障の故障箇所推定システム、故障箇所推定方法および故障箇所推定用プログラム |
US9477802B1 (en) | 2009-06-09 | 2016-10-25 | Cadence Design Systems, Inc. | Isolating differences between revisions of a circuit design |
WO2015062013A1 (en) | 2013-10-31 | 2015-05-07 | Jasper Design Automation, Inc. | Data propagation analysis for debugging a circuit design |
-
2018
- 2018-06-19 JP JP2020519181A patent/JP7145942B2/ja active Active
- 2018-06-19 WO PCT/EP2018/066315 patent/WO2018234341A1/en unknown
- 2018-06-19 ES ES18730807T patent/ES2947361T3/es active Active
- 2018-06-19 EP EP18730807.7A patent/EP3642637B1/en active Active
-
2022
- 2022-08-10 JP JP2022127792A patent/JP7362857B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07306881A (ja) * | 1994-05-12 | 1995-11-21 | Hitachi Ltd | 論理シミュレーション結果解析支援装置 |
JPH1166114A (ja) * | 1997-08-25 | 1999-03-09 | Nec Corp | シミュレーション解析装置及びシミュレーション解析方法 |
JPH11153646A (ja) * | 1997-11-19 | 1999-06-08 | Nec Corp | 故障伝搬経路抽出システム及びその方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 |
JP2007293589A (ja) * | 2006-04-25 | 2007-11-08 | Sharp Corp | 回路図描画プログラム |
US20160267216A1 (en) * | 2015-03-13 | 2016-09-15 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited | Methods and systems for circuit fault diagnosis |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3642637A1 (en) | 2020-04-29 |
JP7145942B2 (ja) | 2022-10-03 |
JP7362857B2 (ja) | 2023-10-17 |
WO2018234341A1 (en) | 2018-12-27 |
JP2020524351A (ja) | 2020-08-13 |
EP3642637B1 (en) | 2023-03-29 |
ES2947361T3 (es) | 2023-08-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11520963B2 (en) | System and method for formal fault propagation analysis | |
US11036604B2 (en) | Parallel fault simulator with back propagation enhancement | |
US11216606B1 (en) | Method and system for functional safety verification using fault relation rules | |
CN114065677A (zh) | 用于集成电路硬件设计的故障注入测试的方法和系统 | |
US11416662B1 (en) | Estimating diagnostic coverage in IC design based on static COI analysis of gate-level netlist and RTL fault simulation | |
US9760663B2 (en) | Automatic generation of properties to assist hardware emulation | |
US8650519B2 (en) | Automated functional coverage for an integrated circuit design | |
US10592623B2 (en) | Assertion statement check and debug | |
Fey et al. | A basis for formal robustness checking | |
JP7362857B2 (ja) | フォーマルフォールト伝搬分析のためのシステム及び方法 | |
US20180364298A1 (en) | System and method for formal circuit verification | |
US9404972B2 (en) | Diagnosis and debug with truncated simulation | |
Miele | A fault-injection methodology for the system-level dependability analysis of multiprocessor embedded systems | |
US10796047B2 (en) | Functional safety synthesis | |
Dehbashi et al. | Automated debugging from pre-silicon to post-silicon | |
Kritikakou et al. | Functional and timing implications of transient faults in critical systems | |
Jayakumar | Systematic model-based design assurance and property-based fault injection for safety critical digital systems | |
Marchese et al. | Formal fault propagation analysis that scales to modern automotive SoCs | |
Chen et al. | Practices and challenges for achieving functional safety of modern automotive SoCs | |
US11816410B2 (en) | System and method for formal fault propagation analysis | |
EP3553681B1 (en) | Method and apparatus for error test coverage determination for a circuit by simulation | |
Frehse et al. | A better-than-worst-case robustness measure | |
LU100321B1 (en) | Method for formal circuit verification | |
Bernardeschi et al. | UA2TPG: An untestability analyzer and test pattern generator for SEUs in the configuration memory of SRAM-based FPGAS | |
Abraham | Verification and validation spanning models to code |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220907 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220907 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220901 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230509 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20230807 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230821 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230905 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20231004 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7362857 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |