JP2022154232A - socket - Google Patents

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秀明 長岡
Hideaki Nagaoka
昌治 古山
Seiji Furuyama
雄基 星野
Yuki Hoshino
健治 福園
Kenji Fukusono
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Abstract

To make small a wiping quantity of a top part of a contact pin.SOLUTION: There is provided a socket that comprises a plurality of contact pins, a retention part which retains the plurality of contact pins, and a first projection part which projects upward from a first surface of the retention part, wherein the plurality of contact pins each comprise a raised part which penetrates the retention part from the first surface to a second surface, an inclined part which extends obliquely from an end of the raised part on the side of the first surface of the retention part to the first surface, and an extension part which has a top part coming into contact with a terminal of an electronic component and extends from the opposite end from the raised part of the inclined part to the top part obliquely upward to the first surface of the retention part toward the center axis of the raised part. The first projection part is provided between the inclined part and the first surface of the retention part.SELECTED DRAWING: Figure 7

Description

本発明は、ソケットに関する。 The present invention relates to sockets.

電子部品と回路基板とを電気的に接続するためのソケットが知られている。例えば、コンタクトピンの曲げ頂部の両側に一対の接点を設けることで、電子部品の接続方向に垂直な方向への接点の変位を抑制し、かつ、電子部品との間の接触力を強くすることが知られている(例えば、特許文献1)。 A socket for electrically connecting an electronic component and a circuit board is known. For example, by providing a pair of contacts on both sides of the bent apex of the contact pin, the displacement of the contacts in the direction perpendicular to the connection direction of the electronic component can be suppressed and the contact force between the electronic component and the electronic component can be strengthened. is known (for example, Patent Document 1).

特開平11-307209号公報JP-A-11-307209

接触性を向上させて電気抵抗を安定にするために、コンタクトピンの頂部を電子部品の端子でワイピングさせることが行われている。しかしながら、電子部品の高機能化に伴ってコンタクトピン数の増加およびコンタクトピンの狭ピッチ化が進んでいるため、コンタクトピンの頂部をワイピングさせることが可能な領域が小さくなっている。 In order to improve contactability and stabilize electrical resistance, the top of the contact pin is wiped with the terminal of the electronic component. However, as the number of contact pins increases and the pitch of the contact pins becomes narrower as electronic components become more sophisticated, the area where the tops of the contact pins can be wiped becomes smaller.

1つの側面では、コンタクトピンの頂部のワイピング量を小さく抑えることを目的とする。 One aspect aims at minimizing the amount of wiping of the top of the contact pin.

1つの態様では、複数のコンタクトピンと、前記複数のコンタクトピンを保持する保持部と、前記保持部の第1面から上方に突出した第1突起部と、を備え、前記複数のコンタクトピンは、前記保持部を前記第1面から第2面に貫通した起立部と、前記保持部の前記第1面側における前記起立部の端から前記第1面に対して斜め上方に延びた傾斜部と、電子部品の端子に接触する頂部を有し、前記傾斜部の前記起立部とは反対の端から前記頂部まで前記起立部の中心軸に向かって前記保持部の前記第1面に対して斜め上方に延びた延在部と、を備え、前記第1突起部は、前記傾斜部と前記保持部の前記第1面との間に設けられている、ソケットである。 In one aspect, the contact pin includes a plurality of contact pins, a holding portion that holds the plurality of contact pins, and a first protrusion that protrudes upward from a first surface of the holding portion, and the plurality of contact pins are: an upright portion passing through the holding portion from the first surface to the second surface; and an inclined portion extending obliquely upward with respect to the first surface from an end of the upright portion on the first surface side of the holding portion. , having a top portion that contacts a terminal of an electronic component, and is inclined with respect to the first surface of the holding portion toward the central axis of the upright portion from the end of the inclined portion opposite to the upright portion to the top portion. an upwardly extending extension, wherein the first projection is a socket provided between the ramp and the first surface of the retainer.

1つの側面として、コンタクトピンの頂部のワイピング量を小さく抑えることができる。 As one aspect, the amount of wiping at the top of the contact pin can be kept small.

図1(a)は、実施例1に係るソケットの断面図、図1(b)は、図1(a)の領域Aの拡大図である。FIG. 1(a) is a cross-sectional view of a socket according to Example 1, and FIG. 1(b) is an enlarged view of a region A in FIG. 1(a). 図2は、実施例1に係るソケットを用いて回路基板と電子部品とを電気的に接続させる場合を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a case of electrically connecting a circuit board and an electronic component using the socket according to the first embodiment. 図3(a)は、比較例1に係るソケットの断面図、図3(b)は、図3(a)の領域Aの拡大図である。3(a) is a cross-sectional view of a socket according to Comparative Example 1, and FIG. 3(b) is an enlarged view of region A in FIG. 3(a). 図4(a)および図4(b)は、比較例1におけるコンタクトピンのワイピングについて示す断面図である。4A and 4B are cross-sectional views showing wiping of contact pins in Comparative Example 1. FIG. 図5(a)は、比較例2に係るソケットの断面図、図5(b)は、図5(a)の領域Aの拡大図である。FIG. 5(a) is a cross-sectional view of a socket according to Comparative Example 2, and FIG. 5(b) is an enlarged view of region A in FIG. 5(a). 図6(a)および図6(b)は、比較例2におけるコンタクトピンのワイピングについて示す断面図である。6A and 6B are cross-sectional views showing wiping of contact pins in Comparative Example 2. FIG. 図7(a)から図7(c)は、実施例1におけるコンタクトピンのワイピングについて示す断面図である。7A to 7C are cross-sectional views showing wiping of the contact pin in Example 1. FIG. 図8(a)は、シミュレーションをした比較例2に相当するモデルの断面、図8(b)は、シミュレーションをした実施例1に相当するモデルの断面である。FIG. 8(a) is a cross section of a simulated model corresponding to Comparative Example 2, and FIG. 8(b) is a cross section of a simulated model corresponding to Example 1. FIG. 図9(a)は、比較例2に相当するモデルのシミュレーション結果であり、図9(b)は、実施例1に相当するモデルのシミュレーション結果である。9A shows the simulation result of the model corresponding to Comparative Example 2, and FIG. 9B shows the simulation result of the model corresponding to Example 1. FIG. 図10(a)から図10(c)は、突起部の位置を異ならせた場合における曲げ頂部のワイピングについて検証したシミュレーション結果である。FIGS. 10(a) to 10(c) are simulation results of verifying the wiping of the bending top when the positions of the protrusions are changed. 図11(a)は、実施例2に係るソケットの断面図、図11(b)は、図11(a)の領域Aの拡大図である。11(a) is a cross-sectional view of a socket according to Example 2, and FIG. 11(b) is an enlarged view of region A in FIG. 11(a). 図12(a)から図12(c)は、実施例2におけるコンタクトピンのワイピングについて示す断面図であるFIGS. 12(a) to 12(c) are cross-sectional views showing wiping of contact pins in Example 2. FIG.

以下、図面を参照して、本発明の実施例について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1(a)は、実施例1に係るソケット100の断面図、図1(b)は、図1(a)の領域Aの拡大図である。図1(a)のように、ソケット100は、複数のコンタクトピン10と、複数のコンタクトピン10を束ねて保持する保持部30と、保持部30の上面32から突出する突起部40と、を備える。 FIG. 1(a) is a cross-sectional view of a socket 100 according to Example 1, and FIG. 1(b) is an enlarged view of a region A in FIG. 1(a). As shown in FIG. 1A, the socket 100 includes a plurality of contact pins 10, a holding portion 30 that bundles and holds the plurality of contact pins 10, and a projection portion 40 that protrudes from an upper surface 32 of the holding portion 30. Prepare.

図1(b)のように、コンタクトピン10は、起立部12と、起立部12の一端から延びた傾斜部14と、傾斜部14の一端から延びた延在部16と、起立部12の他端から延びた接合部18と、を含んで形成されている。起立部12は、保持部30を上面32から下面34にかけて貫通し、直線状に真っ直ぐ延びている。起立部12は、例えば、保持部30の上面32と下面34が対向する方向に延び、上面32および下面34に直交している。傾斜部14は、保持部30の上面32側における起立部12の端13aから、上面32に対して斜め上方に直線状に真っ直ぐ延びている。延在部16は、傾斜部14の起立部12とは反対の端15から起立部12の中心軸22に向かって保持部30の上面32に対して斜め上方に延び、かつ、曲げ頂部17を境に斜め下方に延びている。曲げ頂部17は、電子部品の端子に接触する接点となる部分である。中心軸22は、起立部12が保持部30を上面32から下面34にかけて貫通して延びた方向に平行で、起立部12の中心を通る中心線である。接合部18は、保持部30の下面34側における起立部12の端13bから、下面34に平行に延びている。接合部18は、回路基板等の端子に例えばはんだ等によって接合される。 As shown in FIG. 1B, the contact pin 10 includes an upright portion 12, an inclined portion 14 extending from one end of the upright portion 12, an extending portion 16 extending from one end of the inclined portion 14, and and a joint portion 18 extending from the other end. The standing portion 12 penetrates the holding portion 30 from the upper surface 32 to the lower surface 34 and extends straight in a straight line. The standing portion 12 extends, for example, in a direction in which the upper surface 32 and the lower surface 34 of the holding portion 30 face each other, and is orthogonal to the upper surface 32 and the lower surface 34 . The inclined portion 14 straightly extends obliquely upward with respect to the upper surface 32 from the end 13 a of the standing portion 12 on the upper surface 32 side of the holding portion 30 . The extending portion 16 extends obliquely upward from the upper surface 32 of the holding portion 30 toward the central axis 22 of the standing portion 12 from the end 15 of the inclined portion 14 opposite to the standing portion 12 , and It extends obliquely downward to the boundary. The bent top portion 17 is a portion that becomes a point of contact that contacts the terminal of the electronic component. The center axis 22 is parallel to the direction in which the standing portion 12 extends through the holding portion 30 from the top surface 32 to the bottom surface 34 and is a center line passing through the center of the standing portion 12 . The joint portion 18 extends parallel to the lower surface 34 from the end 13 b of the standing portion 12 on the lower surface 34 side of the holding portion 30 . The joint portion 18 is joined to a terminal of a circuit board or the like by soldering or the like, for example.

このように、コンタクトピン10は、起立部12と傾斜部14の間で屈曲し、傾斜部14と延在部16の間で屈曲している。 Thus, the contact pin 10 is bent between the upright portion 12 and the inclined portion 14 and bent between the inclined portion 14 and the extension portion 16 .

突起部40は、コンタクトピン10の傾斜部14と保持部30の上面32との間に位置している。すなわち、突起部40と傾斜部14は平面視にて重ねっている。突起部40は、少なくとも一部が傾斜部14の端15と保持部30の上面32との間に位置することが好ましい。突起部40と傾斜部14の間には空隙が形成されている。 The projecting portion 40 is located between the inclined portion 14 of the contact pin 10 and the upper surface 32 of the holding portion 30 . That is, the projecting portion 40 and the inclined portion 14 overlap each other in plan view. Preferably, at least a portion of the projection 40 is located between the end 15 of the inclined portion 14 and the upper surface 32 of the holding portion 30 . A gap is formed between the protrusion 40 and the inclined portion 14 .

突起部40の上面42は、少なくとも起立部12の中心軸22側において、中心軸22に近い側が低く、遠い側に向かって徐々に高くなる傾斜面44となっている場合が好ましい。突起部40の上面42の全面が傾斜面44となっていてもよい。傾斜面44は、コンタクトピン10の傾斜部14と平行になっている場合が好ましい。 The upper surface 42 of the protrusion 40 preferably forms an inclined surface 44 that is lower on the side closer to the central axis 22 and gradually higher on the side closer to the central axis 22 at least on the side of the central axis 22 of the upright portion 12 . The entire upper surface 42 of the protrusion 40 may be the inclined surface 44 . The inclined surface 44 is preferably parallel to the inclined portion 14 of the contact pin 10 .

コンタクトピン10の曲げ頂部17は、起立部12の中心軸22よりも突起部40側に位置し、側面視にて起立部12の中心軸22と突起部40との間の領域を中心軸22に平行な方向に伸ばした領域24内に位置している。例えば、曲げ頂部17は、起立部12の中心軸22と突起部40の起立部12の中心軸22側の側面との中間の中間線26よりも起立部12の中心軸22に寄って位置している。 The bent top portion 17 of the contact pin 10 is located closer to the protrusion 40 than the central axis 22 of the standing portion 12 , and the region between the central axis 22 of the standing portion 12 and the protrusion 40 is defined as the central axis 22 when viewed from the side. is located within a region 24 extending in a direction parallel to the . For example, the bending top portion 17 is located closer to the central axis 22 of the standing portion 12 than the intermediate line 26 between the central axis 22 of the standing portion 12 and the side surface of the protruding portion 40 on the central axis 22 side of the standing portion 12 . ing.

コンタクトピン10は、銅または金などの金属により形成される。保持部30は、樹脂(例えばポリエーテルサルフォン樹脂(PES樹脂)、ポリエーテルイミド樹脂(PEI樹脂)、ポリアミドイミド樹脂(PAI樹脂))等の絶縁材により形成される。突起部40は、例えば保持部30の上面32を突起状に加工することで形成されているが、保持部30の上面32に絶縁材を接着することで形成されてもよい。 Contact pin 10 is made of metal such as copper or gold. The holding portion 30 is made of an insulating material such as resin (for example, polyethersulfone resin (PES resin), polyetherimide resin (PEI resin), polyamideimide resin (PAI resin)). The projecting portion 40 is formed by processing the upper surface 32 of the holding portion 30 into a projecting shape, for example, but may be formed by adhering an insulating material to the upper surface 32 of the holding portion 30 .

図2は、実施例1に係るソケット100を用いて回路基板70と電子部品80とを電気的に接続させる場合を示す断面図である。図2のように、保持部30に保持された複数のコンタクトピン10の接合部18が、回路基板70の端子72にはんだ60によって接合される。この状態で、半導体装置等の電子部品80の端子82がコンタクトピン10の曲げ頂部17に接するように電子部品80を上方から押し付け、ネジなどの固定部材62で回路基板70に固定する。これにより、回路基板70と電子部品80がコンタクトピン10を介して電気的に接続する。 FIG. 2 is a cross-sectional view showing a case of electrically connecting the circuit board 70 and the electronic component 80 using the socket 100 according to the first embodiment. As shown in FIG. 2 , joint portions 18 of a plurality of contact pins 10 held by holding portion 30 are joined to terminals 72 of circuit board 70 by solder 60 . In this state, the electronic component 80 such as a semiconductor device is pressed from above so that the terminal 82 of the electronic component 80 contacts the bent top portion 17 of the contact pin 10, and is fixed to the circuit board 70 with the fixing member 62 such as a screw. Thereby, the circuit board 70 and the electronic component 80 are electrically connected through the contact pins 10 .

[比較例1]
図3(a)は、比較例1に係るソケット500の断面図、図3(b)は、図3(a)の領域Aの拡大図である。図3(a)および図3(b)のように、比較例1のソケット500におけるコンタクトピン110は、起立部112と、延在部116と、接合部118と、を備える。起立部112は、保持部130を上面132から下面134にかけて貫通し、直線状に真っ直ぐ延びている。延在部116は、保持部130の上面132側における起立部112の端113aから斜め上方に延び、電子部品の端子に接触する曲げ頂部117を境に斜め下方に延びている。したがって、曲げ頂部117は、起立部112の中心軸122からずれている。接合部118は、保持部130の下面134側における起立部112の端113bから、下面134に平行に延びている。
[Comparative Example 1]
3(a) is a cross-sectional view of a socket 500 according to Comparative Example 1, and FIG. 3(b) is an enlarged view of region A in FIG. 3(a). As shown in FIGS. 3A and 3B, the contact pin 110 in the socket 500 of Comparative Example 1 includes an upright portion 112, an extension portion 116, and a joint portion 118. As shown in FIGS. The standing portion 112 penetrates the holding portion 130 from the upper surface 132 to the lower surface 134 and extends straight in a straight line. The extending portion 116 extends obliquely upward from the end 113a of the standing portion 112 on the side of the upper surface 132 of the holding portion 130, and extends obliquely downward from the bent top portion 117 that contacts the terminal of the electronic component. Therefore, the bend apex 117 is offset from the central axis 122 of the upright portion 112 . Joint portion 118 extends parallel to lower surface 134 from end 113b of upstanding portion 112 on lower surface 134 side of holding portion 130 .

図4(a)および図4(b)は、比較例1におけるコンタクトピン110のワイピングについて示す断面図である。図4(a)は、ワイピングが行われる前の状態を示し、図4(b)は、ワイピングが行われた後の状態を示している。図4(a)のように、コンタクトピン110の接合部118がはんだ60によって回路基板70の端子72に接合された状態で、電子部品80の端子82がコンタクトピン110の曲げ頂部117に接触し始める。曲げ頂部117は起立部112の中心軸122からずれて位置しているため、電子部品80の端子82が曲げ頂部117を押していくと、図4(b)のように、曲げ頂部117は電子部品80の端子82上をワイピング(矢印参照)する。これにより、コンタクトピン110と電子部品80の端子82との接触性が向上して、電気抵抗を安定させることができる。 4A and 4B are sectional views showing wiping of contact pin 110 in Comparative Example 1. FIG. FIG. 4(a) shows the state before wiping is performed, and FIG. 4(b) shows the state after wiping is performed. As shown in FIG. 4A, the terminal 82 of the electronic component 80 is brought into contact with the bent top portion 117 of the contact pin 110 while the joint portion 118 of the contact pin 110 is joined to the terminal 72 of the circuit board 70 by the solder 60. start. Since the bent top portion 117 is located deviated from the central axis 122 of the upright portion 112, when the terminal 82 of the electronic component 80 pushes the bent top portion 117, the bent top portion 117 will move toward the electronic component as shown in FIG. wiping (see arrow) on terminal 82 of 80; As a result, the contact between the contact pin 110 and the terminal 82 of the electronic component 80 is improved, and the electrical resistance can be stabilized.

電子部品80の高機能化に伴って、コンタクトピン110の数が増加し、コンタクトピン110のピッチ間隔が狭くなっている。このため、ワイピングができる領域が小さくなっている。例えば、ワイピングが所定の領域を超えて行われると、コンタクトピン110の曲げ頂部117が電子部品80の端子82から外れて位置して電気的導通が取れなくなる場合がある。また、隣接するコンタクトピン110同士が接触してしまう場合もある。 As the electronic component 80 becomes more sophisticated, the number of contact pins 110 increases and the pitch between the contact pins 110 becomes narrower. Therefore, the area where wiping can be performed is reduced. For example, if wiping is performed beyond a predetermined area, the bent top portion 117 of the contact pin 110 may be positioned away from the terminal 82 of the electronic component 80 and electrical continuity may not be established. Also, adjacent contact pins 110 may come into contact with each other.

比較例1におけるコンタクトピン110では、ワイピング量が大きくなってしまい、ワイピング可能な所定の領域を超えてワイピングが行われてしまうことがある。 In the contact pin 110 of Comparative Example 1, the wiping amount becomes large, and wiping may be performed beyond the predetermined wiping area.

[比較例2]
図5(a)は、比較例2に係るソケット600の断面図、図5(b)は、図5(a)の領域Aの拡大図である。図5(a)および図5(b)のように、比較例2に係るソケット600におけるコンタクトピン110aは、実施例1に係るソケット100おけるコンタクトピン10と同様の形状をしている。すなわち、コンタクトピン110aは、起立部112と、傾斜部114と、電子部品の端子と接触する曲げ頂部117を有する延在部116と、回路基板等の端子に接合される接合部118と、を有する。しかしながら、比較例2に係るソケット600では、コンタクトピン110aの傾斜部114と保持部130の上面132との間に突起部は設けられていない。
[Comparative Example 2]
FIG. 5(a) is a cross-sectional view of a socket 600 according to Comparative Example 2, and FIG. 5(b) is an enlarged view of region A in FIG. 5(a). As shown in FIGS. 5A and 5B, the contact pin 110a in the socket 600 according to Comparative Example 2 has the same shape as the contact pin 10 in the socket 100 according to Example 1. FIG. That is, the contact pin 110a includes an upright portion 112, an inclined portion 114, an extending portion 116 having a bent top portion 117 that contacts a terminal of an electronic component, and a joint portion 118 that is joined to a terminal of a circuit board or the like. have. However, in the socket 600 according to Comparative Example 2, no protrusion is provided between the inclined portion 114 of the contact pin 110 a and the upper surface 132 of the holding portion 130 .

図6(a)および図6(b)は、比較例2におけるコンタクトピン110aのワイピングについて示す断面図である。図6(a)は、ワイピングが行われる前の状態を示し、図6(b)は、ワイピングが行われた後の状態を示している。図6(a)および図6(b)のように、コンタクトピン110aの曲げ頂部117が起立部112の中心軸122からずれて位置しているため、電子部品80の端子82が曲げ頂部117を押していくと、曲げ頂部117は電子部品80の端子82上をワイピング(矢印参照)する。これにより、コンタクトピン110aと電子部品80の端子82との接触性が向上して、電気抵抗を安定させることができる。 6(a) and 6(b) are cross-sectional views showing wiping of the contact pin 110a in Comparative Example 2. FIG. FIG. 6(a) shows the state before wiping is performed, and FIG. 6(b) shows the state after wiping is performed. As shown in FIGS. 6(a) and 6(b), the bent top portion 117 of the contact pin 110a is positioned away from the central axis 122 of the upright portion 112, so that the terminal 82 of the electronic component 80 bends over the bent top portion 117. As it is pushed, the bend top 117 wipes (see arrow) over the terminals 82 of the electronic component 80 . As a result, the contact between the contact pin 110a and the terminal 82 of the electronic component 80 is improved, and the electrical resistance can be stabilized.

比較例2におけるコンタクトピン110aは、比較例1におけるコンタクトピン110に比べて、屈曲箇所が増えている。すなわち、コンタクトピン110では起立部112と延在部116の間の1カ所で屈曲していたのに対し、コンタクトピン110aでは起立部112と傾斜部114の間および傾斜部114と延在部116の間の2カ所で屈曲している。屈曲数が増えることで、屈曲変形によってワイピング量が抑えられることが期待されたが、コンタクトピン110aにおいても、ワイピング量が大きくなって、ワイピング可能な所定の領域を超えてワイピングが行われてしまうことがある。 The contact pin 110a in Comparative Example 2 has more bending points than the contact pin 110 in Comparative Example 1. FIG. That is, while the contact pin 110 is bent at one point between the standing portion 112 and the extending portion 116, the contact pin 110a is bent between the standing portion 112 and the inclined portion 114 and between the inclined portion 114 and the extending portion 116. It is bent at two places between It was expected that the wiping amount would be suppressed due to bending deformation by increasing the number of bends. Sometimes.

ワイピングする前の状態で曲げ頂部117が起立部112の中心軸122から離れているほどワイピング量が大きくなり易いことから、ワイピング量を抑えるために、曲げ頂部117を中心軸122の近くに持ってくることが考えられる。しかしながら、コンタクトピン110aの製造誤差や、電子部品80および/または回路基板70の反り等のために、起立部112の中心軸122に対する曲げ頂部117の位置を制御することで、ワイピング量を小さく抑えることは難しい。 Since the wiping amount tends to increase as the bending top portion 117 is further away from the central axis 122 of the standing portion 112 before wiping, the bending top portion 117 is held closer to the central axis 122 in order to suppress the wiping amount. It is conceivable that However, due to manufacturing errors of the contact pins 110a, warping of the electronic component 80 and/or the circuit board 70, etc., the wiping amount is suppressed by controlling the position of the bending top portion 117 with respect to the central axis 122 of the standing portion 112. It is difficult.

[実施例1の効果の説明]
図7(a)から図7(c)は、実施例1におけるコンタクトピン10のワイピングについて示す断面図である。図7(a)は、ワイピングが行われる前の状態を示し、図7(b)および図7(c)は、ワイピングが行われた後の状態を示している。図7(a)のように、コンタクトピン10の接合部18がはんだ60によって回路基板70の端子72に接合された状態で、電子部品80の端子82がコンタクトピン10の曲げ頂部17に接触し始める。
[Description of the effects of Example 1]
7A to 7C are cross-sectional views showing wiping of the contact pin 10 in Example 1. FIG. FIG. 7(a) shows the state before wiping is performed, and FIGS. 7(b) and 7(c) show the states after wiping is performed. As shown in FIG. 7A, the terminal 82 of the electronic component 80 is brought into contact with the bent top portion 17 of the contact pin 10 while the joint portion 18 of the contact pin 10 is joined to the terminal 72 of the circuit board 70 by the solder 60. start.

曲げ頂部17が起立部12の中心軸22からずれて位置しているため、電子部品80の端子82が曲げ頂部17を押していくと、図7(b)のように、曲げ頂部17は電子部品80の端子82上を起立部12の中心軸22から離れる方向にワイピング(矢印参照)する。傾斜部14と保持部30の上面32との間に突起部40があるため、電子部品80の端子82が曲げ頂部17を押していくと、傾斜部14が突起部40の上面に形成された傾斜面44に当接するようになる。 Since the bent top portion 17 is positioned deviated from the central axis 22 of the upright portion 12, when the terminal 82 of the electronic component 80 pushes the bent top portion 17, the bent top portion 17 will move toward the electronic component as shown in FIG. 7(b). The terminal 82 of 80 is wiped away from the central axis 22 of the upright portion 12 (see arrow). Since the protrusion 40 is between the inclined portion 14 and the upper surface 32 of the holding portion 30 , when the terminal 82 of the electronic component 80 pushes the bent top portion 17 , the inclined portion 14 is formed on the upper surface of the protrusion 40 . It comes to abut against surface 44 .

図7(c)のように、電子部品80の端子82が曲げ頂部17を更に押していくと、傾斜部14が突起部40に当接しているため、延在部16が傾斜部14に対して変形する。これにより、曲げ頂部17は、これまでとは反対方向となる起立部12の中心軸22に向かってワイピング(矢印参照)する。これにより、最終的なワイピング量を小さく抑えることができる。 As shown in FIG. 7C , when the terminal 82 of the electronic component 80 further pushes the bent top portion 17 , the inclined portion 14 abuts against the projection 40 , so that the extension portion 16 is bent against the inclined portion 14 . transform. As a result, the bending top 17 wipes (see the arrow) toward the central axis 22 of the upright portion 12 in the opposite direction. As a result, the final wiping amount can be kept small.

[シミュレーション1]
図8(a)は、シミュレーションをした比較例2に相当するモデルの断面、図8(b)は、シミュレーションをした実施例1に相当するモデルの断面である。図8(a)および図8(b)において、保持部230と剛体280が対向する方向をY軸方向とし、Y軸方向に直交しかつ起立部212に対して傾斜部214が折れ曲がる方向をX軸方向とする。シミュレーションは、保持部230に底部が固定されたコンタクトピン210を剛体280により4MPaの圧力で上から押したときのコンタクトピン210のX軸方向の変位量を測定した。コンタクトピン210は銅で形成され、保持部230はPES樹脂で形成され、剛体280は変形しない部材であるとした。
[Simulation 1]
FIG. 8(a) is a cross section of a simulated model corresponding to Comparative Example 2, and FIG. 8(b) is a cross section of a simulated model corresponding to Example 1. FIG. 8A and 8B, the direction in which the holding portion 230 and the rigid body 280 face each other is defined as the Y-axis direction, and the direction perpendicular to the Y-axis direction and in which the inclined portion 214 is bent with respect to the upright portion 212 is defined as the X direction. Axial direction. In the simulation, the displacement amount of the contact pin 210 in the X-axis direction was measured when the contact pin 210 whose bottom was fixed to the holding portion 230 was pressed from above with a pressure of 4 MPa by the rigid body 280 . It is assumed that the contact pin 210 is made of copper, the holding portion 230 is made of PES resin, and the rigid body 280 is a non-deformable member.

コンタクトピン210の形状は以下とした。なお、コンタクトピン210の各寸法を示す符号(L1等)は、図8(a)にのみ図示し、図の明瞭化のために、図8(b)では図示を省略している。
起立部212のY軸方向の長さL1:0.28mm
起立部212から傾斜部214の端までのX軸方向の長さL2:0.22mm
傾斜部214から曲げ頂部217の頂点までのY軸方向の長さL3:0.31mm
曲げ頂部217の頂点から延在部216の先端までのX軸方向の長さL4:0.12mm
コンタクトピン210の幅W1:0.05mm
コンタクトピン210の紙面奥行き方向(X軸とY軸に直交する方向)の長さ:0.2mm
起立部212と傾斜部214の間の角度α:110°
傾斜部214と延在部216の間の角度β:98°
延在部216の曲げ頂部217での角度γ:90°
The shape of the contact pin 210 is as follows. Note that the reference numerals (L1, etc.) indicating each dimension of the contact pin 210 are shown only in FIG. 8(a), and are omitted in FIG. 8(b) for the sake of clarity.
Y-axis length L1 of standing portion 212: 0.28 mm
Length L2 in the X-axis direction from the standing portion 212 to the end of the inclined portion 214: 0.22 mm
Length L3 in the Y-axis direction from the inclined portion 214 to the vertex of the bending top portion 217: 0.31 mm
Length L4 in the X-axis direction from the vertex of the bending top portion 217 to the tip of the extension portion 216: 0.12 mm
Width W1 of contact pin 210: 0.05 mm
The length of the contact pin 210 in the depth direction of the paper surface (the direction perpendicular to the X-axis and the Y-axis): 0.2 mm
Angle α between standing portion 212 and inclined portion 214: 110°
Angle β between inclined portion 214 and extended portion 216: 98°
Angle γ at bending top 217 of extension 216: 90°

また、図8(b)の実施例1に相当するモデルにおいて、傾斜部214と保持部230との間の突起部240は、保持部230と同じPES樹脂で形成され、上面全面が傾斜面であるとし、形状を以下とした。
突起部240と起立部212との間の空隙の幅W2:0.02mm
突起部240のX軸方向の幅W3:0.2mm
突起部240のY軸方向における最短部の長さL5:0.24mm
突起部240のY軸方向における最長部の長さL6:0.3mm
In the model corresponding to the first embodiment shown in FIG. 8B, the protrusion 240 between the inclined portion 214 and the holding portion 230 is made of the same PES resin as the holding portion 230, and the entire upper surface is an inclined surface. and the shape is as follows.
Width W2 of gap between protrusion 240 and standing portion 212: 0.02 mm
Width W3 of projection 240 in X-axis direction: 0.2 mm
Length L5 of the shortest part of the protrusion 240 in the Y-axis direction: 0.24 mm
Length L6 of the longest part of the protrusion 240 in the Y-axis direction: 0.3 mm

図9(a)は、比較例2に相当するモデルのシミュレーション結果であり、図9(b)は、実施例1に相当するモデルのシミュレーション結果である。図9(a)および図9(b)において、コンタクトピン210が剛体280に押される前の初期状態における曲げ頂部217の位置を一点鎖線で示している。X軸方向の変位量はこの初期状態からの変位量であり、ハッチングが濃い領域ほどX軸方向の変位量が大きくなっている。 9A shows the simulation result of the model corresponding to Comparative Example 2, and FIG. 9B shows the simulation result of the model corresponding to Example 1. FIG. 9(a) and 9(b), the position of the bending top 217 in the initial state before the contact pin 210 is pushed by the rigid body 280 is indicated by a dashed line. The amount of displacement in the X-axis direction is the amount of displacement from this initial state, and the darker the hatched area, the greater the amount of displacement in the X-axis direction.

図9(a)および図9(b)のように、実施例1に相当するモデルは、比較例2に相当するモデルに比べて、曲げ頂部217近傍のX軸方向の変位量が小さい結果となった。これは、上述した理由によるものと考えられる。すなわち、剛体280がコンタクトピン210を押していくと、曲げ頂部217は+X方向にワイピングする。実施例1に相当するモデルでは、傾斜部214と保持部230の間に突起部240があるため、剛体280がコンタクトピン210を押していくと、傾斜部214は突起部240に当接して支えられるようになる。これにより、曲げ頂部217はこれまでのワイピング方向とは反対の-X方向にワイピングするようになり、その結果、実施例1に相当するモデルでは、曲げ頂部217のX軸方向の変位量が小さい結果になったと考えられる。 As shown in FIGS. 9A and 9B, the model corresponding to Example 1 has a smaller amount of displacement in the X-axis direction near the bending top 217 than the model corresponding to Comparative Example 2. became. It is considered that this is due to the reason described above. That is, when the rigid body 280 pushes the contact pin 210, the bend top 217 wipes in the +X direction. In the model corresponding to the first embodiment, since there is a projection 240 between the inclined portion 214 and the holding portion 230, when the rigid body 280 pushes the contact pin 210, the inclined portion 214 abuts against and is supported by the projection 240. become. As a result, the bend top 217 is wiping in the -X direction, which is the opposite of the wiping direction up to now, and as a result, in the model corresponding to Example 1, the displacement of the bend top 217 in the X-axis direction is small. presumably resulted in

以上説明したように、実施例1によれば、図1(b)のように、コンタクトピン10は、起立部12と傾斜部14と延在部16とを備える。起立部12は、保持部30を上面32(第1面)から下面34(第2面)に貫通して延びている。傾斜部14は、保持部30の上面32側における起立部12の端13aから上面32に対して斜め上方に延びている。延在部16は、電子部品80の端子82に接触する曲げ頂部17を有し、傾斜部14の起立部12とは反対の端15から曲げ頂部17まで起立部12の中心軸22に向かって保持部30の上面32に対して斜め上方に延びている。そして、傾斜部14と保持部30の上面32との間に突起部40(第1突起部)が設けられている。これにより、図7(a)から図7(c)のように、曲げ頂部17が電子部品80の端子82に押されると、傾斜部14が突起部40に当接して、曲げ頂部17のワイピング方向が今までとは反対の方向に反転するようになる。よって、曲げ頂部17の最終的なワイピング量を小さく抑えることができる。また、曲げ頂部17が電子部品80の端子82上をワイピングするため、曲げ頂部17と電子部品80の端子82との接触性が向上して、電気抵抗を安定させることができる。 As described above, according to the first embodiment, the contact pin 10 includes the standing portion 12, the inclined portion 14, and the extending portion 16, as shown in FIG. 1(b). The standing portion 12 extends through the holding portion 30 from an upper surface 32 (first surface) to a lower surface 34 (second surface). The inclined portion 14 extends obliquely upward with respect to the upper surface 32 from the end 13 a of the standing portion 12 on the upper surface 32 side of the holding portion 30 . The extension 16 has a bent top 17 that contacts a terminal 82 of the electronic component 80 and extends from the end 15 of the ramp 14 opposite the upright 12 to the bent top 17 toward the central axis 22 of the upright 12 . It extends obliquely upward with respect to the upper surface 32 of the holding portion 30 . A projecting portion 40 (first projecting portion) is provided between the inclined portion 14 and the upper surface 32 of the holding portion 30 . 7(a) to 7(c), when the bent top portion 17 is pushed by the terminal 82 of the electronic component 80, the inclined portion 14 comes into contact with the projection portion 40, thereby wiping the bent top portion 17. The direction will now flip in the opposite direction. Therefore, the final wiping amount of the bending top portion 17 can be kept small. Moreover, since the bent top portion 17 wipes the top of the terminal 82 of the electronic component 80, the contact between the bent top portion 17 and the terminal 82 of the electronic component 80 is improved, and the electrical resistance can be stabilized.

また、実施例1では、図1(b)のように、曲げ頂部17は、起立部12の中心軸22よりも突起部40側に位置している。これにより、曲げ頂部17を起立部12の中心軸22から離れる方向にワイピングさせた後、傾斜部14が突起部40に当接することで中心軸22の方向にワイピングさせることをより確実に行わせることができる。 In addition, in Example 1, as shown in FIG. 1B, the bending top portion 17 is located closer to the protrusion 40 than the central axis 22 of the standing portion 12 . As a result, after the bending top portion 17 is wiped in the direction away from the central axis 22 of the standing portion 12, the inclined portion 14 abuts against the projection portion 40, thereby wiping in the direction of the central axis 22 more reliably. be able to.

[シミュレーション2]
図10(a)から図10(c)は、突起部240の位置を異ならせた場合における曲げ頂部217のワイピングについて検証したシミュレーション結果である。図10(a)から図10(c)の上図は、コンタクトピン210が剛体280に押されてワイピングし始めてから突起部240に接触した瞬間の状態を示している。図10(a)から10(c)の下図は、上図の状態から剛体280がコンタクトピン210を更に押していったときの状態を示している。各図において、曲げ頂部217と剛体280が接触している位置を一点鎖線で示し、図10(b)および図10(c)の下図においては、上図のときに接触していた位置を破線で示している。
[Simulation 2]
FIGS. 10A to 10C are simulation results of wiping of the bending top portion 217 when the positions of the protrusions 240 are changed. 10(a) to 10(c) show the state at the moment when the contact pin 210 contacts the projection 240 after being pushed by the rigid body 280 and starting wiping. 10(a) to 10(c) show the state when the rigid body 280 further pushes the contact pin 210 from the state shown in the upper drawing. In each figure, the position where the bending top 217 and the rigid body 280 are in contact is indicated by a dashed line, and in the lower drawings of FIGS. is shown.

シミュレーション2においても、コンタクトピン210は上記シミュレーション1と同じ形状とし、剛体280は上記シミュレーション1と同じくコンタクトピン210を4MPaの圧力で押したとした。 In Simulation 2, the contact pin 210 had the same shape as in Simulation 1 above, and the rigid body 280 pressed the contact pin 210 with a pressure of 4 MPa as in Simulation 1 above.

図10(a)では、突起部240をコンタクトピン210の起立部212に寄せて配置し、形状を以下とした。
突起部240と起立部212との間の空隙の幅W2:0.01mm
突起部240のX軸方向の幅W3:0.1mm
突起部240のY軸方向における最短部の長さL5:0.24mm
突起部240のY軸方向における最長部の長さL6:0.27mm
In FIG. 10(a), the protrusion 240 is placed closer to the upright portion 212 of the contact pin 210 and has the following shape.
Width W2 of gap between protrusion 240 and standing portion 212: 0.01 mm
Width W3 of projection 240 in X-axis direction: 0.1 mm
Length L5 of the shortest part of the protrusion 240 in the Y-axis direction: 0.24 mm
Length L6 of the longest part in the Y-axis direction of the protrusion 240: 0.27 mm

図10(b)では、突起部240を傾斜部214の起立部212とは反対側の端215に寄せて配置し、形状を以下とした。
突起部240と起立部212との間の空隙の幅W2:0.11mm
突起部240のX軸方向の幅W3:0.1mm
突起部240のY軸方向における最短部の長さL5:0.27mm
突起部240のY軸方向における最長部の長さL6:0.3mm
In FIG. 10(b), the protrusion 240 is arranged near the end 215 of the inclined portion 214 opposite to the upright portion 212, and has the following shape.
Width W2 of gap between protrusion 240 and standing portion 212: 0.11 mm
Width W3 of projection 240 in X-axis direction: 0.1 mm
Length L5 of the shortest part of the protrusion 240 in the Y-axis direction: 0.27 mm
Length L6 of the longest part of the protrusion 240 in the Y-axis direction: 0.3 mm

図10(c)では、図10(b)と同様に突起部240を傾斜部214の起立部212とは反対側の端215に寄せて配置し、形状を以下とした。
突起部240と起立部212との間の空隙の幅W2:0.17mm
突起部240のX軸方向の幅W3:0.05mm
突起部240のY軸方向における最短部の長さL5:0.29mm
突起部240のY軸方向における最長部の長さL6:0.3mm
In FIG. 10(c), similarly to FIG. 10(b), the protruding portion 240 is placed closer to the end 215 of the inclined portion 214 opposite to the upright portion 212, and the shape is as follows.
Width W2 of gap between protrusion 240 and standing portion 212: 0.17 mm
Width W3 of projection 240 in X-axis direction: 0.05 mm
Length L5 of the shortest part of the protrusion 240 in the Y-axis direction: 0.29 mm
Length L6 of the longest part of the protrusion 240 in the Y-axis direction: 0.3 mm

図10(a)のように、突起部240が傾斜部214の端215と保持部230との間に位置していない場合では、剛体280が曲げ頂部217を押していったときに、曲げ頂部217が-X方向にワイピングし難い結果となった。一方、図10(b)および図10(c)のように、突起部240の少なくとも一部が傾斜部214の端215と保持部230との間に位置することで、剛体280が曲げ頂部217を押していったときに、傾斜部214の端215が突起部240によって支えられる。このため、曲げ頂部217が-X方向にワイピングし易くなる結果となった。 As shown in FIG. 10( a ), when the protrusion 240 is not positioned between the end 215 of the inclined portion 214 and the holding portion 230 , when the rigid body 280 pushes the top of the bend 217 , the top of the bend 217 was difficult to wipe in the -X direction. On the other hand, as shown in FIGS. 10(b) and 10(c), at least a portion of the protrusion 240 is positioned between the end 215 of the inclined portion 214 and the holding portion 230 so that the rigid body 280 is bent at the top portion 217. The end 215 of the ramp 214 is supported by the projection 240 when the is pushed. As a result, the bend top 217 is easily wiped in the -X direction.

この結果から、曲げ頂部217のワイピング方向を反転させてワイピング量を少なく抑えるには、突起部240の少なくとも一部を傾斜部214の端215と保持部230との間に配置することが好ましいことが分かる。 From this result, in order to reverse the wiping direction of the bending top portion 217 and suppress the wiping amount, it is preferable to arrange at least a part of the projection portion 240 between the end 215 of the inclined portion 214 and the holding portion 230 . I understand.

実施例1では、図1(b)のように、突起部40は、少なくとも一部が傾斜部14の端15と保持部30の上面32との間に位置している。これにより、曲げ頂部17が電子部品80の端子82に押されて傾斜部14が突起部40に当接したときに、傾斜部14の端15が突起部40に支えられるため、曲げ頂部17のワイピング方向が反転し易くなる。よって、曲げ頂部17の最終的なワイピング量を小さく抑えることができる。 In Example 1, as shown in FIG. 1B, at least a portion of the protrusion 40 is located between the end 15 of the inclined portion 14 and the upper surface 32 of the holding portion 30 . As a result, when the bent top portion 17 is pushed by the terminal 82 of the electronic component 80 and the inclined portion 14 comes into contact with the projection portion 40 , the end 15 of the inclined portion 14 is supported by the projection portion 40 . The wiping direction is easily reversed. Therefore, the final wiping amount of the bending top portion 17 can be kept small.

また、実施例1では、図1(b)のように、突起部40の傾斜面44と傾斜部14との間に空隙が形成されている。これにより、図7(a)から図7(c)のように、電子部品80の端子82が曲げ頂部17を押したときに、曲げ頂部17は起立部12の中心軸22から離れる方向に最初移動した後に、中心軸22に近づく方向に移動し易くなる。このため、曲げ頂部17の最終的なワイピング量を小さく抑えることができる。 Further, in Example 1, a gap is formed between the inclined surface 44 of the protrusion 40 and the inclined portion 14 as shown in FIG. 1B. 7(a) to 7(c), when the terminal 82 of the electronic component 80 presses the bent top portion 17, the bent top portion 17 initially moves away from the central axis 22 of the upright portion 12. After moving, it becomes easier to move toward the center axis 22 . Therefore, the final wiping amount of the bending top portion 17 can be kept small.

また、実施例1では、図1(b)のように、突起部40の上面42は、起立部12に近い側が低い傾斜面44を有する。これにより、曲げ頂部17が電子部品80の端子82に押されて、傾斜部14が突起部40に当接したときに、傾斜部14は傾斜面44に当接するようになる。このため、傾斜部14が突起部40に当接することにより受けるダメージを低減することができる。傾斜部14が受けるダメージを低減する点から、突起部40の傾斜面44は、傾斜部14に平行である場合が好ましい。平行とは、完全に平行な場合に限られず、製造誤差程度に平行から外れている場合も含む。 Moreover, in Example 1, as shown in FIG. As a result, when the bent top portion 17 is pushed by the terminal 82 of the electronic component 80 and the inclined portion 14 abuts against the projecting portion 40 , the inclined portion 14 comes into contact with the inclined surface 44 . Therefore, it is possible to reduce the damage caused by the inclined portion 14 coming into contact with the protrusion 40 . It is preferable that the inclined surface 44 of the protrusion 40 is parallel to the inclined portion 14 in order to reduce damage to the inclined portion 14 . The term "parallel" is not limited to being completely parallel, but also includes deviation from parallel due to a manufacturing error.

図11(a)は、実施例2に係るソケット200の断面図、図11(b)は、図11(a)の領域Aの拡大図である。図11(a)および図11(b)のように、ソケット200では、保持部30の上面32から突出する突起部50を備える。保持部30の上面32から突起部50の上面52までの高さは、保持部30の上面32から突起部40の上面42までの高さより高く、かつ、保持部30の上面32から曲げ頂部17までの高さより低くなっている。突起部50は、例えば保持部30の上面32を突起状に加工することで形成されているが、保持部30の上面32に絶縁材を接着することで形成されてもよい。その他の構成は、実施例1と同じであるため説明を省略する。 11(a) is a cross-sectional view of a socket 200 according to Example 2, and FIG. 11(b) is an enlarged view of area A in FIG. 11(a). As shown in FIGS. 11( a ) and 11 ( b ), the socket 200 has projections 50 projecting from the upper surface 32 of the holding portion 30 . The height from the upper surface 32 of the holding portion 30 to the upper surface 52 of the protrusion 50 is higher than the height from the upper surface 32 of the holding portion 30 to the upper surface 42 of the protrusion 40, and the height from the upper surface 32 of the holding portion 30 to the bent top portion 17. lower than the height of The projecting portion 50 is formed by processing the upper surface 32 of the holding portion 30 into a projecting shape, for example, but may be formed by adhering an insulating material to the upper surface 32 of the holding portion 30 . Since other configurations are the same as those of the first embodiment, description thereof is omitted.

図12(a)から図12(c)は、実施例2におけるコンタクトピン10のワイピングについて示す断面図である。図12(a)から図12(c)のように、実施例2においても実施例1と同じく、電子部品80の端子82が曲げ頂部17を押していくと、曲げ頂部17のワイピング方向が途中で反転する。よって、曲げ頂部17の最終的なワイピング量を低減することができる。また、保持部30の上面32に突起部50が設けられているため、電子部品80によってコンタクトピン10を押し込むときの押し込み量が突起部50により制限される。 FIGS. 12(a) to 12(c) are cross-sectional views showing wiping of the contact pin 10 in Example 2. FIG. As shown in FIGS. 12A to 12C, in the second embodiment, as in the first embodiment, when the terminal 82 of the electronic component 80 pushes the bent top portion 17, the wiping direction of the bent top portion 17 changes halfway. Flip. Therefore, the final wiping amount of the bending top portion 17 can be reduced. In addition, since the projection 50 is provided on the upper surface 32 of the holding portion 30 , the projection 50 limits the pushing amount when the contact pin 10 is pushed by the electronic component 80 .

実施例2によれば、図11(b)のように、保持部30の上面32から突出した突起部50(第2突起部)が設けられている。そして、保持部30の上面32からの高さが突起部40の上面42、突起部50の上面52、曲げ頂部17の順に高くなっている。これにより、図12(a)から図12(c)のように、電子部品80によるコンタクトピン10の押し込み量が突起部50により制限されるため、電子部品80と保持部30の間隔を適切な大きさに容易に制御できる、 According to the second embodiment, as shown in FIG. 11B, a protrusion 50 (second protrusion) protruding from the upper surface 32 of the holding section 30 is provided. The height from the upper surface 32 of the holding portion 30 increases in the order of the upper surface 42 of the protrusion 40, the upper surface 52 of the protrusion 50, and the bent top portion 17. As shown in FIG. As a result, as shown in FIGS. 12A to 12C, the amount of pushing of the contact pin 10 by the electronic component 80 is limited by the protrusion 50, so that the distance between the electronic component 80 and the holding portion 30 is appropriately set. easily controllable in size,

以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明はかかる特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to such specific embodiments, and various modifications and variations can be made within the scope of the gist of the present invention described in the scope of claims. Change is possible.

10 コンタクトピン
12 起立部
13a、13b 端
14 傾斜部
15 端
16 延在部
17 曲げ頂部
18 接合部
22 中心軸
24 領域
26 中間線
30 保持部
32 上面
34 下面
40 突起部
42 上面
44 傾斜面
50 突起部
52 上面
60 はんだ
62 固定部材
70 回路基板
72 端子
80 電子部品
82 端子
110、110a、210 コンタクトピン
112、212 起立部
114、214 傾斜部
116、216 延在部
117、217 曲げ頂部
118 接合部
122 中心軸
130、230 保持部
240 突起部
280 剛体
100、200、500、600 ソケット
REFERENCE SIGNS LIST 10 contact pin 12 upright portion 13a, 13b end 14 inclined portion 15 end 16 extended portion 17 bent top portion 18 joint portion 22 central axis 24 area 26 intermediate line 30 holding portion 32 upper surface 34 lower surface 40 protrusion 42 upper surface 44 inclined surface 50 protrusion Part 52 Upper surface 60 Solder 62 Fixing member 70 Circuit board 72 Terminal 80 Electronic component 82 Terminal 110, 110a, 210 Contact pin 112, 212 Upright part 114, 214 Inclined part 116, 216 Extension part 117, 217 Bent top part 118 Joint part 122 Central shaft 130, 230 Holding part 240 Protruding part 280 Rigid body 100, 200, 500, 600 Socket

Claims (8)

複数のコンタクトピンと、
前記複数のコンタクトピンを保持する保持部と、
前記保持部の第1面から上方に突出した第1突起部と、を備え、
前記複数のコンタクトピンは、前記保持部を前記第1面から第2面に貫通した起立部と、前記保持部の前記第1面側における前記起立部の端から前記第1面に対して斜め上方に延びた傾斜部と、電子部品の端子に接触する頂部を有し、前記傾斜部の前記起立部とは反対の端から前記頂部まで前記起立部の中心軸に向かって前記保持部の前記第1面に対して斜め上方に延びた延在部と、を備え、
前記第1突起部は、前記傾斜部と前記保持部の前記第1面との間に設けられている、ソケット。
a plurality of contact pins;
a holding portion that holds the plurality of contact pins;
a first projecting portion projecting upward from the first surface of the holding portion;
The plurality of contact pins includes an upright portion passing through the holding portion from the first surface to the second surface, and an end of the upright portion on the first surface side of the holding portion that is inclined with respect to the first surface. The holder has an upwardly extending sloping portion and a top portion that contacts a terminal of an electronic component, and extends from the end of the sloping portion opposite to the upright portion to the top portion toward the central axis of the upright portion. an extension extending obliquely upward with respect to the first surface,
The socket, wherein the first protrusion is provided between the inclined portion and the first surface of the holding portion.
前記頂部は、前記起立部の中心軸よりも前記第1突起部側に位置する、請求項1に記載のソケット。 2. The socket according to claim 1, wherein said top portion is located closer to said first projection than a central axis of said standing portion. 前記第1突起部は、少なくとも一部が前記傾斜部の前記端と前記保持部の前記第1面との間に位置する、請求項1または2に記載のソケット。 3. The socket according to claim 1 or 2, wherein at least a portion of said first protrusion is located between said end of said inclined portion and said first surface of said holding portion. 前記第1突起部の上面と前記傾斜部との間に空隙が形成されている、請求項1から3のいずれか一項に記載のソケット。 4. The socket according to any one of claims 1 to 3, wherein a gap is formed between the upper surface of the first protrusion and the inclined portion. 前記第1突起部の上面は、前記起立部に近い側が低い傾斜面を有する、請求項1から4のいずれか一項に記載のソケット。 5. The socket according to any one of claims 1 to 4, wherein the upper surface of the first protrusion has a sloped surface that is lower on the side closer to the upright portion. 前記第1突起部の前記傾斜面は、前記傾斜部と平行である、請求項5に記載のソケット。 6. The socket according to claim 5, wherein said slanted surface of said first protrusion is parallel to said slanted portion. 前記保持部の前記第1面から上方に突出した第2突起部を備え、
前記保持部の前記第1面から、前記第1突起部の上面、前記第2突起部の上面、前記頂部の順に離れている、請求項1から6のいずれか一項に記載のソケット。
comprising a second projecting portion projecting upward from the first surface of the holding portion;
The socket according to any one of claims 1 to 6, wherein the upper surface of the first protrusion, the upper surface of the second protrusion, and the top are separated from the first surface of the holding portion in this order.
前記複数のコンタクトピンは、金または銅により形成されている、請求項1から7のいずれか一項に記載のソケット。 8. The socket according to any one of claims 1 to 7, wherein said plurality of contact pins are made of gold or copper.
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