JP2022126355A - Fine particle removal device and fine particle removal method - Google Patents

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JP2022126355A JP2021024382A JP2021024382A JP2022126355A JP 2022126355 A JP2022126355 A JP 2022126355A JP 2021024382 A JP2021024382 A JP 2021024382A JP 2021024382 A JP2021024382 A JP 2021024382A JP 2022126355 A JP2022126355 A JP 2022126355A
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洋一 田中
Yoichi Tanaka
秀章 飯野
Hideaki Iino
侑 藤村
Yu FUJIMURA
孝博 川勝
Takahiro Kawakatsu
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Kurita Water Industries Ltd
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Abstract

To maintain fine particle removal performance of a size exclusion film over a long period of time, and extend its use life.SOLUTION: A fine particle removal device for removing fine particles in a liquid has a filtration film having charging property, and a size exclusion film arranged at a rear stage of the filtration film having the charging property, wherein the liquid is made to pass through the filtration film having the charging property and the size exclusion film in this order. Fine particle removal performance is maintained over a long period of time by reducing a fine particle integral load of the size exclusion film, and its use life can be extended.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、純水や超純水製造プロセス、あるいは電子部品製造および半導体洗浄プロセス等における液中の微粒子を除去する微粒子除去装置及び微粒子除去方法と、この微粒子除去装置を備える純水又は超純水製造装置に関する。本発明は、特に、超純水製造・供給システムにおけるユースポイント前のサブシステムや給水系路、および電子部品製造プロセスおよび半導体洗浄プロセス等のシステムにおいて、液体中の粒子径50nm以下の微粒子を高度に除去する技術として有用である。 The present invention relates to a microparticle removal apparatus and a microparticle removal method for removing microparticles in a liquid in a pure water or ultrapure water manufacturing process, or in an electronic component manufacturing process, a semiconductor cleaning process, or the like, and a pure water or ultrapure It relates to water production equipment. In particular, the present invention is highly effective in removing fine particles with a particle diameter of 50 nm or less in liquids in systems such as subsystems and water supply lines before the point of use in ultrapure water production and supply systems, and electronic component manufacturing processes and semiconductor cleaning processes. It is useful as a technique for removing

半導体・電子部品製造用の濾過フィルタや、半導体・電子部品製造プロセスで使用される濾過フィルタとしては、精密濾過膜や限外濾過膜等のサイズ排除膜が一般的である。
また、サイズ排除膜とは別に、正荷電を帯びた膜、具体的には、ポリケトン膜に、1級アミノ基、2級アミノ基、3級アミノ基、及び4級アンモニウム塩からなる群から選ばれる1つ以上のカチオン性の官能基を有する膜を使用する方法がある(特許文献1)。
一方、負荷電を帯びた膜として、ポリケトン膜に、スルホン酸基、スルホン酸エステル基、カルボン酸基、カルボン酸エステル基、リン酸基、リン酸エステル基、及び水酸基からなる群から選ばれる1つ以上のアニオン性の官能基を有する膜を使用する方法もある(特許文献2)。
Size exclusion membranes such as microfiltration membranes and ultrafiltration membranes are generally used as filtration filters for manufacturing semiconductors and electronic parts and as filtration filters used in semiconductor and electronic part manufacturing processes.
In addition to the size exclusion membrane, a positively charged membrane, specifically a polyketone membrane, may be added to the group consisting of primary amino groups, secondary amino groups, tertiary amino groups, and quaternary ammonium salts. There is a method of using a membrane having one or more cationic functional groups (Patent Document 1).
On the other hand, as the negatively charged membrane, 1 selected from the group consisting of a polyketone membrane, a sulfonic acid group, a sulfonic acid ester group, a carboxylic acid group, a carboxylic acid ester group, a phosphoric acid group, a phosphoric acid ester group, and a hydroxyl group There is also a method of using a membrane with one or more anionic functional groups (Patent Document 2).

特開2014-173013号公報JP 2014-173013 A 特開2014-171979号公報JP 2014-171979 A

一般的に精密濾過膜や限外濾過膜といったサイズ排除膜は、除去対象の微粒子が小さくなるほど孔径を小さくする必要があり、処理水量が低下してしまうことや微粒子の積算負荷量が多くなると、微粒子の除去率が低下することが問題であった。 In general, size exclusion membranes such as microfiltration membranes and ultrafiltration membranes need to have smaller pore diameters as the particles to be removed become smaller. The problem was that the removal rate of fine particles decreased.

本発明は、このようなサイズ排除膜における欠点を改善し、サイズ排除膜の微粒子除去性能を長期に亘り維持してその使用寿命を延ばすことができる微粒子除去装置及び微粒子除去方法と、この微粒子除去装置を備える純水又は超純水製造装置を提供することを目的とする。 The present invention provides a particle removing apparatus and a particle removing method capable of improving such drawbacks of the size exclusion membrane, maintaining the particle removing performance of the size exclusion membrane for a long period of time, and prolonging the service life of the particle removing apparatus and the particle removing method. An object of the present invention is to provide a pure water or ultra-pure water production device including the device.

本発明者は、上記課題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、サイズ排除膜の前段に荷電性を有する濾過膜を直列に設けることで、サイズ排除膜の微粒子積算負荷量を低減して微粒子除去性能を長期に亘り維持し、その使用寿命を延ばす手法を見出した。
即ち、本発明は以下を要旨とする。
As a result of intensive studies to solve the above problems, the inventors of the present invention have found that by providing an electrically charged filtration membrane in series in front of the size exclusion membrane, the integrated fine particle load of the size exclusion membrane can be reduced and fine particles can be collected. We have found a method to maintain the removal performance for a long period of time and extend the service life.
That is, the gist of the present invention is as follows.

[1] 液体中の微粒子を除去する微粒子除去装置において、荷電性を有する濾過膜と、該荷電性を有する濾過膜の後段に配置されたサイズ排除膜とを有し、該液体が該荷電性を有する濾過膜、該サイズ排除膜の順に通水されることを特徴とする微粒子除去装置。 [1] A microparticle removal apparatus for removing microparticles in a liquid, comprising a chargeable filtration membrane and a size exclusion membrane disposed downstream of the chargeable filtration membrane, wherein the liquid is the chargeable , and a fine particle removal device characterized in that water is passed through the size exclusion membrane in this order.

[2] [1]において、前記荷電性を有する濾過膜が正荷電膜又は負荷電膜であることを特徴とする微粒子除去装置。 [2] The microparticle removal device according to [1], wherein the chargeable filtration membrane is a positively charged membrane or a negatively charged membrane.

[3] [1]において、前記荷電性を有する濾過膜として、異なる荷電性を有する2以上の濾過膜が前記サイズ排除膜とは別のサイズ排除膜を介して或いはサイズ排除膜を介さずに直列に配置され、この直列に配置された膜群の後段に前記サイズ排除膜を有することを特徴とする微粒子除去装置。 [3] In [1], as the chargeable filtration membranes, two or more chargeable filtration membranes are used via a size exclusion membrane different from the size exclusion membrane or without a size exclusion membrane. 1. A particle removing device, characterized in that it is arranged in series and has the size exclusion membrane in the rear stage of the membrane group arranged in series.

[4] [1]ないし[3]のいずれかに記載の微粒子除去装置を備える純水又は超純水製造装置。 [4] A pure water or ultrapure water production apparatus comprising the particle removal device according to any one of [1] to [3].

[5] [1]ないし[3]のいずれかに記載の微粒子除去装置を用いる液体中の微粒子除去方法。 [5] A method for removing particles in a liquid using the particle removing apparatus according to any one of [1] to [3].

本発明によれば、微粒子を除去するサイズ排除膜の微粒子積算負荷量を低減して微粒子除去性能を長期に亘り維持し、その使用寿命を延ばすことができる。
本発明によれば、水系全般、特に純水や超純水製造プロセス、あるいは電子部品製造および半導体洗浄プロセスにおける各種の液体から微粒子を長期に亘り安定且つ効率的に高度に除去して高純度化を図ることができる。
According to the present invention, it is possible to reduce the cumulative particle load of the size exclusion membrane that removes particles, maintain the particle removal performance over a long period of time, and extend the service life of the membrane.
According to the present invention, fine particles are stably and efficiently removed over a long period of time from water systems in general, particularly pure water and ultrapure water production processes, or from various liquids used in electronic component production and semiconductor cleaning processes to achieve high purification. can be achieved.

本発明の微粒子除去装置の実施の形態を示す系統図である。1 is a system diagram showing an embodiment of a particle removing device of the present invention; FIG. カチオン性官能基又はアニオン性官能基を有する膜による微粒子捕捉機構を説明する模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining a fine particle trapping mechanism by a membrane having a cationic functional group or an anionic functional group. 参考例及び比較例で用いた試験装置を示す系統図である。FIG. 2 is a system diagram showing test equipment used in a reference example and a comparative example; 実施例で用いた試験装置を示す系統図である。It is a systematic diagram which shows the test apparatus used in the Example.

以下に本発明の実施の形態を詳細に説明する。 Embodiments of the present invention will be described in detail below.

[メカニズム]
本発明では、サイズ排除膜の前段に荷電性を有する濾過膜(以下、「荷電性膜」と称す。)を直列に配置することで、被処理液体中の微粒子をサイズ排除膜の前段で予め除去することができ、後段のサイズ排除膜の微粒子負荷を軽減し、積算負荷量を低減することができる。
[mechanism]
In the present invention, by arranging in series a filtration membrane having chargeability (hereinafter referred to as "chargeable membrane") in front of the size exclusion membrane, fine particles in the liquid to be treated are removed in advance in front of the size exclusion membrane. It is possible to reduce the particulate load on the subsequent size exclusion membrane and reduce the cumulative load.

例えば、図2(a)に示すように、カチオン官能基を有する膜は、正電荷に帯電した微粒子は吸着し難いが、負電荷に帯電した微粒子を吸着し易く、負電荷に帯電した微粒子を効率的に捕捉除去できる。
逆に、図2(b)に示すように、アニオン性官能基を有する膜は、負電荷に帯電した微粒子は吸着し難いが、正電荷に帯電した微粒子を吸着し易く、正電荷に帯電した微粒子を効率的に捕捉除去できる。
For example, as shown in FIG. 2(a), a film having a cationic functional group does not easily adsorb positively charged fine particles, but easily adsorbs negatively charged fine particles. Can be efficiently captured and removed.
Conversely, as shown in FIG. 2(b), the film having an anionic functional group does not easily adsorb negatively charged fine particles, but easily adsorbs positively charged fine particles. Fine particles can be efficiently captured and removed.

一般的に、液体中の微粒子は正又は負のいずれかに帯電している場合が多く、従って、サイズ排除膜の前段に荷電性膜を設けることで、これらの微粒子を予め効率的に除去してサイズ排除膜の微粒子負荷を軽減し、その使用寿命を延長することができる。 In general, fine particles in a liquid are often positively or negatively charged. Therefore, by providing a chargeable membrane in front of the size exclusion membrane, these fine particles can be efficiently removed in advance. can reduce the particle loading of the size exclusion membrane and extend its service life.

サイズ排除膜については、膜面積全体を100%としたとき、10%以下の積算微粒子負荷量に抑えることが、微粒子除去性能を高く維持する上で望ましいとされていることから、本発明では、サイズ排除膜の前段に荷電性膜を設けることで、積算微粒子負荷量の割合(膜面積に対して負荷した微粒子総量が膜面積を覆う割合)が膜面積全体の10%以下となるように処理を行うことが好ましい。 Regarding the size exclusion membrane, it is desirable to suppress the integrated particle load to 10% or less when the entire membrane area is 100%, in order to maintain high particle removal performance. By providing a chargeable membrane in front of the size exclusion membrane, the ratio of the cumulative particle load (the ratio of the total amount of particles loaded to the membrane area covering the membrane area) to 10% or less of the entire membrane area. It is preferable to

[微粒子除去装置]
以下、図1を参照して本発明の微粒子除去装置の実施の形態を詳細に説明するが、本発明の微粒子除去装置は何ら図1に示すものに限定されるものではない。
[Particle removal device]
An embodiment of the particle removing apparatus of the present invention will be described in detail below with reference to FIG. 1, but the particle removing apparatus of the present invention is not limited to that shown in FIG.

例えば、図1では、荷電性膜モジュール1とサイズ排除膜モジュール2が直列に設けられているが、この荷電性膜モジュール1の前段に更に別の荷電性膜モジュール又はサイズ排除膜モジュールを配してもよく、荷電性膜モジュール1とサイズ排除膜モジュール2との間に更に別の膜モジュールを配してもよい。 For example, in FIG. 1, the chargeable membrane module 1 and the size exclusion membrane module 2 are provided in series. Alternatively, another membrane module may be arranged between the chargeable membrane module 1 and the size exclusion membrane module 2 .

図1の微粒子除去装置は、配管10より導入された被処理液体が、荷電性膜モジュール1に導入されて微粒子除去処理された後、配管11よりサイズ排除膜モジュール2に導入され、ここで更に微粒子除去処理された後、配管12より処理水として系外へ排出される。 In the particle removal apparatus of FIG. 1, the liquid to be treated introduced through the pipe 10 is introduced into the chargeable membrane module 1 and subjected to particle removal treatment, and then introduced through the pipe 11 into the size exclusion membrane module 2. After the fine particle removal treatment, the treated water is discharged out of the system through the pipe 12 .

<被処理液体>
本発明において、微粒子を除去する被処理液体としては特に制限はなく、例えば、純水、イソプロピルアルコール等のアルコール、硫酸水溶液、塩酸水溶液等の無機酸水溶液、水酸化ナトリウム水溶液、アンモニア水溶液等のアルカリ水溶液、シンナー、炭酸水、過酸化水素水、フッ化水素溶液などが挙げられ、pH7以上のアルカリ性液体の代表としてはアンモニア水、水酸化ナトリウム水溶液などがあるが、この限りではない。
本発明はpH1~14のすべてのpH領域の液体の処理に適用することができる。
なお、pH中性域の液体としては超純水が挙げられ、pH7以下の酸性液体の代表としては炭酸水、塩酸水溶液、フッ化水素溶液などが挙げられ、pH7以上のアルカリ性液体の代表としてはアンモニア水、水酸化ナトリウム水溶液などがあるが、この限りではない。
<Liquid to be treated>
In the present invention, the liquid to be treated from which fine particles are removed is not particularly limited. Aqueous solution, thinner, carbonated water, hydrogen peroxide solution, hydrogen fluoride solution, etc., and typical alkaline liquids with a pH of 7 or higher include ammonia water, sodium hydroxide solution, etc., but not limited to these.
The present invention can be applied to the treatment of liquids in all pH ranges of pH 1-14.
Liquids in the neutral pH range include ultrapure water, typical acidic liquids with a pH of 7 or less include carbonated water, aqueous hydrochloric acid, and hydrogen fluoride solutions, and typical alkaline liquids with a pH of 7 or higher include Ammonia water, aqueous sodium hydroxide solution, etc. are available, but are not limited to these.

本発明は、これらの液体中の粒径50nm以下、例えば3~30nm程度の極微小粒子の除去に有効である。 The present invention is effective in removing ultrafine particles having a particle size of 50 nm or less, for example, about 3 to 30 nm, in these liquids.

なお、微粒子としては特に制限はないが、シリカ、アルミナ、チタニア、酸化鉄等の無機酸化物微粒子、フッ素系微粒子、有機系樹脂微粒子等が挙げられる。
また、上記被処理液体中の微粒子濃度についても特に制限はないが、通常100μg/L以下、或いは1~1010個/mLである。
Although the fine particles are not particularly limited, fine particles of inorganic oxides such as silica, alumina, titania, and iron oxide, fluorine-based fine particles, organic resin fine particles, and the like can be mentioned.
Also, the fine particle concentration in the liquid to be treated is not particularly limited, but is usually 100 μg/L or less, or 1 to 10 10 particles/mL.

なお、被処理液体のpHは、液体中の微粒子のゼータ電位が反転しない領域(等電点をまたがない領域)であることが好ましい。例えばpH8を境に正電荷又は負電荷を帯びるアルミナ微粒子では、常にpH8以下又は常にpH8以上の領域であり、また、pH3を境に負電荷又は正電荷を帯びるシリカ微粒子は常にpH3以下若しくはpH3以上であることが好ましい。 The pH of the liquid to be treated is preferably in a region where the zeta potential of fine particles in the liquid is not reversed (a region where the isoelectric point is not crossed). For example, for alumina fine particles that are positively or negatively charged at pH 8, the range is always pH 8 or lower or always pH 8 or higher, and silica fine particles that are negatively or positively charged at pH 3 are always pH 3 or lower or pH 3 or higher. is preferably

<荷電性膜>
以下に、本発明に好適に用いられる荷電性膜について説明する。
以下において、正荷電の荷電性膜を「正荷電膜」と称し、負荷電の荷電性膜を「負荷電膜」と称す。
<Chargeable membrane>
The chargeable membrane preferably used in the present invention will be described below.
In the following, a positively charged film is referred to as a "positively charged film" and a negatively charged film is referred to as a "negatively charged film".

荷電性膜の形態としては、中空糸膜、平膜、ファイバーなどいずれでもよい。一般的に、超純水製造プロセスにおいて、微粒子を除去するための末端膜モジュールとしては、中空糸膜が用いられている。一方、プロセス洗浄機に装着するフィルタはプリーツ状の平膜を用いることもできる。 The form of the chargeable membrane may be hollow fiber membrane, flat membrane, fiber, or the like. Hollow fiber membranes are generally used as terminal membrane modules for removing fine particles in ultrapure water production processes. On the other hand, a pleated flat membrane can also be used for the filter attached to the process washing machine.

<多孔性膜>
荷電性膜の母材となる多孔性膜としては、高分子膜、無機膜、金属膜のいずれでもよい。
<Porous membrane>
The porous membrane that serves as the base material of the chargeable membrane may be a polymer membrane, an inorganic membrane, or a metal membrane.

高分子膜としては、ポリエチレン、ポリプロピレンなどのポリオレフィン、ポリエチレンオキサイド、ポリプロピレンオキサイドなどのポリエーテル、PTFE、CTFE、PFA、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)などのフッ素樹脂、ポリ塩化ビニルなどのハロゲン化ポリオレフィン、ナイロン-6、ナイロン-66などのポリアミド、ユリア樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、ポリスチレン、セルロース、酢酸セルロース、硝酸セルロース、ポリエーテルケトン、ポリエーテルケトンケトン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリスルホン、ポリアリールスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリイミド、ポリエーテルイミド、ポリアミドイミド、ポリベンゾイミダゾール、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリフェニレンサルファイド、ポリアクリルニトリル、ポリエーテルニトリル、ポリビニルアルコールおよびこれらの共重合体などの素材が使用できるが、この限りではない。特に1種類の素材に限定されることはなく、必要に応じて種々の素材を選択できる。
荷電性や導電性のポリマーにポリオレフィン、ポリエーテル等の他のポリマーを混合してもよい。
Polymer membranes include polyolefins such as polyethylene and polypropylene, polyethers such as polyethylene oxide and polypropylene oxide, fluororesins such as PTFE, CTFE, PFA, and polyvinylidene fluoride (PVDF), halogenated polyolefins such as polyvinyl chloride, and nylon. -6, polyamides such as nylon-66, urea resins, phenolic resins, melamine resins, polystyrene, cellulose, cellulose acetate, cellulose nitrate, polyetherketones, polyetherketoneketones, polyetheretherketones, polysulfones, polyarylsulfones, poly Materials such as ethersulfone, polyimide, polyetherimide, polyamideimide, polybenzimidazole, polycarbonate, polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyphenylene sulfide, polyacrylonitrile, polyethernitrile, polyvinyl alcohol, and copolymers thereof can be used. However, it is not limited to this. There is no particular limitation to one type of material, and various materials can be selected as required.
Other polymers such as polyolefins and polyethers may be mixed with the chargeable or conductive polymer.

無機膜としては、アルミナ、ジルコニア、チタニアなどの素材が使用できるが、この限りではない。 Materials such as alumina, zirconia, and titania can be used as the inorganic film, but the materials are not limited to these.

金属膜としては、ステンレスなどの素材が使用できるが、この限りではない。 A material such as stainless steel can be used as the metal film, but the material is not limited to this.

<荷電性官能基>
上記の多孔性膜に導入する荷電性官能基としては、スルホン酸基、リン酸基、ホスホン酸基、ホスフィン酸基、カルボン酸基、水酸基、フェノール基、4級アンモニウム基、1~3級アミン基、ピリジン基、アミド基などがあるがこの限りではない。これらの官能基はH型、OH型だけでなく、Naなどの塩型であってもよい。
<Chargeable functional group>
The charged functional groups to be introduced into the porous membrane include sulfonic acid groups, phosphoric acid groups, phosphonic acid groups, phosphinic acid groups, carboxylic acid groups, hydroxyl groups, phenol groups, quaternary ammonium groups, and primary to tertiary amines. groups, pyridine groups, amide groups, etc., but are not limited to these. These functional groups may be not only H-type and OH-type but also salt-type such as Na.

<荷電性官能基導入方法>
荷電性官能基の導入方法は、特に限定されるものではなく、各種の方法を採用することができる。例えば、ポリスチレンの場合、硫酸溶液中にパラホルムアルデヒドを適量添加し、加熱架橋することで、スルホン酸基の導入が可能である。ポリビニルアルコールの場合は、水酸基に、トリアルコキシシラン基やトリクロロロシラン基、あるいはエポキシ基などを作用させることなどにより、官能基を導入することができる。材質によって直接官能基を導入できない場合は、まず、スチレンなどの反応性の高いモノマー(反応性モノマーと呼ぶ)を導入した上で、官能基を導入するといったような、2段階以上の導入操作を経て、目的とする官能基を導入しても良い。これらの反応性モノマーとしては、グリシジルメタクリレート、スチレン、クロロメチルスチレン、アクロレイン、ビニルピリジン、アクリロニトリルなどがあるが、この限りではない。
<Method for Introducing Chargeable Functional Group>
A method for introducing the chargeable functional group is not particularly limited, and various methods can be adopted. For example, in the case of polystyrene, sulfonic acid groups can be introduced by adding an appropriate amount of paraformaldehyde to a sulfuric acid solution and heat-crosslinking. In the case of polyvinyl alcohol, a functional group can be introduced by reacting a hydroxyl group with a trialkoxysilane group, a trichlorosilane group, an epoxy group, or the like. If it is not possible to directly introduce a functional group depending on the material, first introduce a highly reactive monomer (called a reactive monomer) such as styrene, and then introduce the functional group in two or more steps. The target functional group may be introduced through the process. These reactive monomers include, but are not limited to, glycidyl methacrylate, styrene, chloromethylstyrene, acrolein, vinylpyridine, acrylonitrile, and the like.

<カチオン化の方法と官能基>
正荷電性官能基を導入するカチオン化の方法については特に制限はないが、コーティングによる方法、さらにこれらを組み合わせた方法などが挙げられる。化学反応による方法は、脱水縮合反応などが挙げられる。また、プラズマ処理やコロナ処理などが挙げられる。コーティングによる方法はポリマーを含む水溶液などに含浸させる方法が挙げられる。
<Cationization Method and Functional Group>
The cationization method for introducing the positively charged functional group is not particularly limited, but examples include a coating method and a combination of these methods. A dehydration condensation reaction etc. are mentioned as the method by a chemical reaction. Plasma treatment, corona treatment and the like can also be used. The coating method includes a method of impregnating with an aqueous solution containing a polymer.

(1) 化学修飾により直接多孔性膜にカチオン性官能基を導入する場合
例えば、ポリケトン膜にカチオン性アミノ基を付与する化学修飾方法として、1級アミンとの化学反応などが挙げられる。エチレンジアミン、1,3-プロパンジアミン、1,4-ブタンジアミン、1,2-シクロヘキサンジアミン、N-メチルエチレンジアミン、N-メチルプロパンジアミン、N,N-ジメチルエチレンジアミン、N,N-ジメチルプロパンジアミン、N-アセチルエチレンジアミン、イソホロンジアミン、N,N-ジメチルアミノ-1,3-プロパンジアミンなどのように1級アミンを含むジアミン、トリアミン、テトラアミン、ポリエチレンイミン等の多官能化アミンであれば、多くの活性点を付与することができるので好ましい。
(1) Direct introduction of cationic functional groups into porous membrane by chemical modification For example, chemical modification methods for imparting cationic amino groups to polyketone membranes include chemical reaction with primary amines. ethylenediamine, 1,3-propanediamine, 1,4-butanediamine, 1,2-cyclohexanediamine, N-methylethylenediamine, N-methylpropanediamine, N,N-dimethylethylenediamine, N,N-dimethylpropanediamine, N Polyfunctionalized amines such as diamines, triamines, tetraamines, polyethylenimines, including primary amines such as acetylethylenediamine, isophoronediamine, N,N-dimethylamino-1,3-propanediamine, etc., have many activities. It is preferable because points can be given.

(2) 正のゼータ電位を付与するという観点で、多孔性膜を構成する少なくとも1つの水素原子を他の基に置換する場合
置換方法としては、例えば、電子線、γ線、プラズマ等の照射によってラジカルを発生させた後、グラフト重合により、グリシジルメタクリレートなどの反応性の側鎖を有するモノマーを重合し、望みの機能を発現する官能基を有する反応性モノマーを付加させる方法が挙げられる。反応性モノマーの例としては、1級アミン、2級アミン、3級アミン、4級アンモニウム塩を含むアクリル酸、メタクリル酸、ビニルスルホン酸の誘導体、アリルアミン、p-ビニルベンジルトリメチルアンモニウムクロライド等が挙げられる。より具体的な例としては、アクリル酸3-(ジメチルアミノ)プロピル、メタクリル酸3-(ジメチルアミノ)プロピル、N-[3-(ジメチルアミノ)プロピル]アクリルアミド、N-[3-(ジメチルアミノ)プロピル]メタクリルアミド、(3-アクリルアミドプロピル)トリメチルアンモニウムクロリド、トリメチル[3-(メタクリロイルアミノ)プロピル]アンモニウムクロリドなどが挙げられる。
(2) Substitution of at least one hydrogen atom constituting the porous membrane with another group from the viewpoint of imparting a positive zeta potential Substitution methods include, for example, irradiation with electron beams, γ-rays, plasma, etc. After generating radicals by graft polymerization, a monomer having a reactive side chain such as glycidyl methacrylate is polymerized, and a reactive monomer having a functional group that expresses the desired function is added. Examples of reactive monomers include derivatives of acrylic acid, methacrylic acid, vinylsulfonic acid including primary amines, secondary amines, tertiary amines, quaternary ammonium salts, allylamine, p-vinylbenzyltrimethylammonium chloride, and the like. be done. More specific examples include 3-(dimethylamino)propyl acrylate, 3-(dimethylamino)propyl methacrylate, N-[3-(dimethylamino)propyl]acrylamide, N-[3-(dimethylamino) propyl]methacrylamide, (3-acrylamidopropyl)trimethylammonium chloride, trimethyl[3-(methacryloylamino)propyl]ammonium chloride and the like.

(3) 正のゼータ電位を有するポリマー
正のゼータ電位を付与するためのポリマーとしては、PSQ(ポリシルセスキオキサン)、ポリエチレンイミン、ポリジアリルジメチルアンモニウムクロリド、アミノ基含有カチオン性ポリ(メタ)アクリル酸エステル、アミノ基含有カチオン性ポリ(メタ)アクリルアミド、ポリアミンアミド-エピクロロヒドリン、ポリアリルアミン、ポリジシアンジアミド、キトサン、カチオン化キトサン、アミノ基含有カチオン化デンプン、アミノ基含有カチオン化セルロース、アミノ基含有カチオン化ポリビニルアルコール及び上記ポリマーの酸塩が挙げられる。また、上記ポリマーあるいはポリマーの酸塩は、他のポリマーとの共重合体であってもよい。
(3) Polymers having a positive zeta potential Examples of polymers for imparting a positive zeta potential include PSQ (polysilsesquioxane), polyethyleneimine, polydiallyldimethylammonium chloride, amino group-containing cationic poly(meth) Acrylic acid ester, amino group-containing cationic poly(meth)acrylamide, polyamineamide-epichlorohydrin, polyallylamine, polydicyandiamide, chitosan, cationized chitosan, amino group-containing cationized starch, amino group-containing cationized cellulose, amino Group-containing cationized polyvinyl alcohols and acid salts of the above polymers are included. Further, the polymer or the acid salt of the polymer may be a copolymer with another polymer.

<アニオン化の方法と官能基>
負荷電性の官能基を導入するアニオン化の方法については、特に制限はないが、以下の方法が挙げられる。
<Anionization method and functional group>
The anionization method for introducing the negatively chargeable functional group is not particularly limited, but the following methods may be mentioned.

(1) 負のゼータ電位を付与するという観点から、負荷電性の官能基としては、スルホン酸基、スルホン酸エステル基、カルボン酸基、カルボン酸エステル基、リン酸基、リン酸エステル基、水酸基からなる群から選ばれる一つ以上の官能基が挙げられる。
これらの官能基を有する形態の例としては、化学結合や物理的に結合した状態が挙げられる。化学結合としては、共有結合のようなものであってもよい。共有結合としては、C-C結合、C=N結合、ピロール環を介する結合などが挙げられる。化学結合する物質としては、ポリマーであってもよいし、分子量の小さいモノマーのようなものであってもよい。一方、物理的に結合した状態としては、水素結合、ファンデルワールス力、静電引力、疎水相互作用のような分子間力によって化学結合を介さずに結合した吸着や付着の様な状態が挙げられる。
(1) From the viewpoint of imparting a negative zeta potential, negatively chargeable functional groups include a sulfonic acid group, a sulfonic acid ester group, a carboxylic acid group, a carboxylic acid ester group, a phosphoric acid group, a phosphoric acid ester group, One or more functional groups selected from the group consisting of hydroxyl groups are included.
Examples of forms having these functional groups include chemical bonding and physical bonding states. A chemical bond may be such as a covalent bond. A covalent bond includes a CC bond, a C=N bond, a bond via a pyrrole ring, and the like. A chemically bonding substance may be a polymer or a monomer having a small molecular weight. On the other hand, the physically bonded state includes states such as adsorption and adhesion in which intermolecular forces such as hydrogen bonding, van der Waals force, electrostatic attraction, and hydrophobic interaction are bonded without chemical bonding. be done.

負のゼータ電位を付与するためのポリマーとしては、ポリスチレンスルホン酸、ポリスチレンスルホン酸ナトリウム、ポリビニルスルホン酸、ポリビニルスルホン酸ナトリウム、ポリ(メタ)アクリル酸、ポリ(メタ)アクリル酸ナトリウム、アニオン性ポリアクリルアミド、ポリ(2-アクリルアミド-2-メチル基プロパンスルホン酸)、ポリ(2-アクリルアミド-2-メチル基プロパンスルホン酸ナトリウム)、カルボキシメチルセルロース、アニオン化ポリビニルアルコール、ポリビニルホスホン酸等が挙げられる。 Polymers for imparting negative zeta potential include polystyrenesulfonic acid, sodium polystyrenesulfonate, polyvinylsulfonic acid, sodium polyvinylsulfonate, poly(meth)acrylic acid, sodium poly(meth)acrylate, anionic polyacrylamide , poly(2-acrylamido-2-methyl group propanesulfonic acid), poly(2-acrylamido-2-methyl group sodium propanesulfonate), carboxymethylcellulose, anionized polyvinyl alcohol, polyvinyl phosphonic acid and the like.

(2) 負のゼータを付与するという観点で、多孔性膜に負のゼータ電位を有するポリマーなどを付着又はコーティングさせてもよい。負のゼータ電位を有するポリマーとしては、前述の通り、ポリスチレンスルホン酸、ポリスチレンスルホン酸、ポリスチレンスルホン酸ナトリウム、ポリビニルスルホン酸、ポリビニルスルホン酸ナトリウム、ポリ(メタ)アクリル酸、ポリ(メタ)アクリル酸ナトリウム、アニオン性ポリアクリルアミド、ポリ(2-アクリルアミド-2-メチル基プロパンスルホン酸)、ポリ(2-アクリルアミド-2-メチル基プロパンスルホン酸ナトリウム)、カルボキシメチルセルロース、アニオン化ポリビニルアルコール、ポリビニルホスホン酸等が挙げられる。また、上記ポリマーあるいはポリマーの酸塩は、他のポリマーとの共重合体であってもよい。 (2) From the viewpoint of imparting negative zeta, the porous membrane may be attached or coated with a polymer having a negative zeta potential. As described above, polymers having a negative zeta potential include polystyrenesulfonic acid, polystyrenesulfonic acid, sodium polystyrenesulfonate, polyvinylsulfonic acid, sodium polyvinylsulfonate, poly(meth)acrylic acid, and sodium poly(meth)acrylate. , anionic polyacrylamide, poly(2-acrylamide-2-methyl group propanesulfonic acid), poly(2-acrylamido-2-methyl group sodium propanesulfonate), carboxymethylcellulose, anionized polyvinyl alcohol, polyvinyl phosphonic acid, etc. mentioned. Further, the polymer or the acid salt of the polymer may be a copolymer with another polymer.

(3) 多孔膜に負のゼータ電位を付与するという観点で、多孔膜を構成するポリマーの少なくとも1つの水素原子を他の基に置換する場合、置換方法としては、例えば電子線、γ線、プラズマ等の照射によってラジカルを発生させた後、望みの機能を発現する官能基を有する反応性モノマーを付加させる方法が挙げられる。
反応性モノマーの例としては、スルホン酸基、スルホン酸エステル基、カルボン酸基、カルボン酸エステル基、リン酸基、リン酸エステル基、水酸基を含むアクリル酸、メタクリル酸、ビニルスルホン酸の誘導体等が挙げられる。より具体的な例としては、アクリル酸、メタクリル酸、ビニルスルホン酸、スチレンスルホン酸、及びそれらのナトリウム塩、2-アクリルアミド-2-メチルプロパンスルホン酸、2-メタクリルアミド-2-メチルプロパンスルホン酸、2-アクリルアミド-2-メチルプロパンカルボン酸、2-メタクリルアミド-2-メチルプロパンカルボン酸などが挙げられる。
(3) From the viewpoint of imparting a negative zeta potential to the porous membrane, when at least one hydrogen atom of the polymer constituting the porous membrane is replaced with another group, examples of the replacement method include electron beams, gamma rays, A method of generating radicals by irradiation with plasma or the like and then adding a reactive monomer having a functional group that exhibits a desired function can be mentioned.
Examples of reactive monomers include sulfonic acid groups, sulfonic acid ester groups, carboxylic acid groups, carboxylic acid ester groups, phosphoric acid groups, phosphoric acid ester groups, acrylic acid containing hydroxyl groups, methacrylic acid, vinyl sulfonic acid derivatives, and the like. is mentioned. More specific examples include acrylic acid, methacrylic acid, vinylsulfonic acid, styrenesulfonic acid and sodium salts thereof, 2-acrylamido-2-methylpropanesulfonic acid, 2-methacrylamido-2-methylpropanesulfonic acid , 2-acrylamido-2-methylpropanecarboxylic acid, 2-methacrylamido-2-methylpropanecarboxylic acid, and the like.

<サイズ排除フィルタ>
本発明の微粒子除去装置は、荷電性膜モジュール1の後段にサイズ排除膜モジュール2を直列に設けたものである。
サイズ排除膜とは、前述したアニオン性もしくはカチオン性の官能基を意図的に導入しない多孔性膜、もしくは意図的に荷電性を持たせるために改質しない多孔性膜であり、所定の粒径以上の微粒子を排除することを目的とするものである。
膜の素材自体が荷電を有する場合は、サイズ排除膜に含まれる。
<Size exclusion filter>
The fine particle removal apparatus of the present invention comprises a chargeable membrane module 1 followed by a size exclusion membrane module 2 in series.
The size exclusion membrane is a porous membrane that does not intentionally introduce the anionic or cationic functional group described above, or a porous membrane that is not intentionally modified to have chargeability, and has a predetermined particle size. The object is to eliminate the fine particles described above.
If the membrane material itself has an electric charge, it is included in the size exclusion membrane.

サイズ排除膜を構成する多孔性膜については、前述の荷電性膜におけると同様のものを採用することができる。 As for the porous membrane that constitutes the size exclusion membrane, the same ones as in the chargeable membrane described above can be employed.

<荷電性膜とサイズ排除膜の配置構成例>
本発明の微粒子除去装置は、荷電性膜とサイズ排除膜とがこの順で直列に接続されていればよく、荷電性膜の前段、荷電性膜とサイズ排除膜との間、サイズ排除膜の後段に異なる膜が設けられていてもよい。
<Example of Arrangement Configuration of Chargeable Membrane and Size Exclusion Membrane>
In the microparticle removing apparatus of the present invention, the chargeable membrane and the size exclusion membrane are connected in series in this order. A different membrane may be provided in the subsequent stage.

本発明で採用し得る膜の配置形態としては、以下のようなものが挙げられるが、本発明は何ら以下の配置形態に限定されるものではない。
負荷電膜→サイズ排除膜
正荷電膜→サイズ排除膜
負荷電膜→正荷電膜→サイズ排除膜
正荷電膜→負荷電膜→サイズ排除膜
正荷電膜→サイズ排除膜→負荷電膜→サイズ排除膜
負荷電膜→サイズ排除膜→正荷電膜→サイズ排除膜
負荷電膜→サイズ排除膜→正荷電膜
正荷電膜→サイズ排除膜→負荷電膜
The arrangement of the films that can be employed in the present invention includes the following, but the present invention is not limited to the following arrangement.
Negatively charged membrane → Size exclusion membrane Positively charged membrane → Size exclusion membrane Negatively charged membrane → Positively charged membrane → Size exclusion membrane Positively charged membrane → Negatively charged membrane → Size exclusion membrane Positively charged membrane → Size exclusion membrane → Negatively charged membrane → Size exclusion Membrane Negatively charged membrane → Size exclusion membrane → Positively charged membrane → Size exclusion membrane Negatively charged membrane → Size exclusion membrane → Positively charged membrane Positively charged membrane → Size exclusion membrane → Negatively charged membrane

<好適な適用領域>
本発明の微粒子除去装置は、超純水製造・供給システムにおいて、一次純水システムから超純水を製造するサブシステム、特にそのサブシステムの最後段の微粒子除去装置として好適に用いられる。また、サブシステムからユースポイントに超純水を送給する給水系路に設けられてもよい。更に、ユースポイントにおける最終微粒子除去装置として用いることもできる。
<Preferred application area>
INDUSTRIAL APPLICABILITY The particle removal apparatus of the present invention is suitably used as a subsystem for producing ultrapure water from a primary pure water system in an ultrapure water production/supply system, particularly as a particle removal apparatus at the final stage of the subsystem. It may also be provided in a water supply line that delivers ultrapure water from the subsystem to the point of use. Furthermore, it can also be used as a final particle removal device at the point of use.

以下に実施例を挙げて本発明をより具体的に説明する。 EXAMPLES The present invention will be described more specifically with reference to examples below.

以下においては、図3又は図4に示す試験装置を用いて微粒子除去試験を実施した。
図3に示す試験装置は、被処理液体の流路11に、微粒子タンク12からポンプPにより微粒子を注入して微粒子含有試験水を調製し、微粒子除去膜モジュール13で試験水中の微粒子を除去するものであり、微粒子除去膜モジュール13の入口と出口に設けた微粒子モニター14,15で入口水と出口水の微粒子濃度を計測し、これらの結果から微粒子除去率を算出するように構成されている。
図4に示す試験装置は、被処理液体の流路11に、微粒子タンク12からポンプPにより微粒子を注入して微粒子含有試験水を調製し、直列に配置された微粒子除去膜モジュール13A及び13Bで試験水中の微粒子を順次除去するものであり、微粒子除去膜モジュール13Aの入口と微粒子除去膜モジュール13Bの出口にそれぞれ設けられた微粒子モニター14,15で微粒子濃度を計測し、これらの結果から微粒子除去率を算出するように構成されている。
なお、被処理液体の通水条件(通水速度)は10m/dとした。
微粒子モニターとしては以下のものを用いた。
微粒子モニター:UDI20(PMS社製)
In the following, a fine particle removal test was performed using the test apparatus shown in FIG. 3 or FIG.
The test apparatus shown in FIG. 3 prepares fine particle-containing test water by injecting fine particles from a fine particle tank 12 into a flow path 11 of a liquid to be treated by a pump P, and removes fine particles in the test water with a fine particle removal membrane module 13. The microparticle monitors 14 and 15 provided at the inlet and outlet of the microparticle removal membrane module 13 measure the concentration of microparticles in the inlet water and the outlet water, and the microparticle removal rate is calculated from these results. .
The test apparatus shown in FIG. 4 prepares fine particle-containing test water by injecting fine particles from a fine particle tank 12 into a flow path 11 of a liquid to be treated by a pump P, and using fine particle removal membrane modules 13A and 13B arranged in series. Fine particles in the test water are sequentially removed, and the fine particle concentration is measured by fine particle monitors 14 and 15 provided at the inlet of the fine particle removal membrane module 13A and the outlet of the fine particle removal membrane module 13B, respectively. configured to calculate a rate.
The water flow condition (water flow rate) of the liquid to be treated was set to 10 m/d.
The following microparticle monitors were used.
Particle monitor: UDI20 (manufactured by PMS)

正荷電膜、負荷電膜、サイズ排除膜としては、以下のものを用いた。
正荷電膜:旭化成メディカル社製「Qyu speed D」
ポリエチレン多孔性膜にDEA-diol(ジエチルアミン-ジオール)が
導入された膜
負荷電膜:ポール社製:「ABDIUPW3EH1」
ポリエチレン多孔性膜にスルホン基が導入された膜
サイズ排除膜:日本ポール社製「APDG1HSVH3EH1K13CウルチプリーツG2SPDR」、排除径10nm
As the positively charged membrane, the negatively charged membrane, and the size exclusion membrane, the following were used.
Positively charged membrane: "Qyu speed D" manufactured by Asahi Kasei Medical
DEA-diol (diethylamine-diol) is added to the polyethylene porous membrane
Membrane introduced Negatively charged membrane: Pall: "ABDIUPW3EH1"
Membrane in which a sulfone group is introduced into a polyethylene porous membrane Size exclusion membrane: "APDG1HSVH3EH1K13C Ulti-pleated G2SPDR" manufactured by Nippon Pall Co., Ltd., exclusion diameter 10 nm

微粒子としては以下のものを用いた。
シリカ微粒子:シグマアルドリッチ社製、平均粒径22nm
アルミナ微粒子:シグマアルドリッチ社製、平均粒径22nm
The following microparticles were used.
Silica fine particles: manufactured by Sigma-Aldrich, average particle size 22 nm
Alumina fine particles: manufactured by Sigma-Aldrich, average particle size 22 nm

以下の参考例1~3では、いずれも図3の試験装置を用いた微粒子除去試験を行った。 In each of Reference Examples 1 to 3 below, a fine particle removal test was performed using the test apparatus shown in FIG.

[参考例1]
被処理液体として、pH中性の超純水、pH4.5の炭酸水、又はpH10.5のアンモニア水を用い、それぞれシリカ微粒子又はアルミナ微粒子を注入して負荷電膜モジュールに通水し、微粒子除去率をそれぞれ調べた。
結果を表1に示す。
[Reference example 1]
Ultrapure water with a neutral pH, carbonated water with a pH of 4.5, or ammonia water with a pH of 10.5 is used as the liquid to be treated. The removal rate was examined for each.
Table 1 shows the results.

[参考例2]
負荷電膜モジュールの代りに正荷電膜モジュールを用い、参考例1と同様にしてそれぞれ微粒子除去率を調べた。
結果を表1に示す。
[Reference example 2]
A positively charged membrane module was used in place of the negatively charged membrane module, and the fine particle removal rate was examined in the same manner as in Reference Example 1.
Table 1 shows the results.

[参考例3]
負荷電膜モジュールの代りにサイズ排除膜モジュールを用い、参考例1と同様にしてそれぞれ微粒子除去率を調べた。
結果を表1に示す。
[Reference example 3]
A size exclusion membrane module was used in place of the negatively charged membrane module, and the fine particle removal rate was examined in the same manner as in Reference Example 1.
Table 1 shows the results.

Figure 2022126355000002
Figure 2022126355000002

表1より、いずれの通水条件(使用微粒子、液体pH)においても、正荷電膜及び負荷電膜の微粒子除去性能は、サイズ排除膜の微粒子除去性能と同等かそれ以上であり、荷電性膜が液体中の微粒子を効率的に除去できることが分かる。 From Table 1, regardless of the water flow conditions (particles used, liquid pH), the particle removal performance of the positively charged membrane and the negatively charged membrane is equal to or higher than the particle removal performance of the size exclusion membrane. can efficiently remove fine particles in the liquid.

[実施例1]
図4に示す試験装置を用い、微粒子除去膜モジュール13Aとして正荷電膜モジュールを、微粒子除去膜モジュール13Bとしてサイズ排除膜モジュールを配置して、超純水にシリカ微粒子を1×10個/mL注入した試験水について微粒子除去試験を行い、微粒子除去率の経時変化を調べた。
結果を表2に示す。
[Example 1]
Using the test apparatus shown in FIG. 4, a positively charged membrane module was arranged as the particle removal membrane module 13A, and a size exclusion membrane module was arranged as the particle removal membrane module 13B, and 1×10 7 particles/mL of silica particles were added to the ultrapure water. A fine particle removal test was performed on the injected test water, and changes over time in the fine particle removal rate were investigated.
Table 2 shows the results.

[実施例2]
実施例1において、正荷電膜モジュールの代りに負荷電膜モジュールを用い、シリカ微粒子の代りにアルミナ微粒子を注入したこと以外は同様にして微粒子除去試験を行い、結果を表2に示した。
[Example 2]
A particle removal test was conducted in the same manner as in Example 1, except that a negatively charged membrane module was used instead of the positively charged membrane module, and alumina particles were injected instead of the silica particles.

[比較例1]
図3の試験装置を用い、サイズ排除膜モジュールのみを用いたこと以外は実施例1と同様の試験水について微粒子除去試験を行い、結果を表2に示した。
[Comparative Example 1]
Using the test apparatus of FIG. 3, a fine particle removal test was performed on the same test water as in Example 1, except that only the size exclusion membrane module was used, and the results are shown in Table 2.

[比較例2]
図3の試験装置を用い、サイズ排除膜モジュールのみを用いたこと以外は実施例2と同様の試験水について微粒子除去試験を行い、結果を表2に示した。
[Comparative Example 2]
Using the test apparatus of FIG. 3, a fine particle removal test was performed on the same test water as in Example 2, except that only the size exclusion membrane module was used, and the results are shown in Table 2.

Figure 2022126355000003
Figure 2022126355000003

表2より明らかなように、サイズ排除膜単独では、5日ほどで微粒子の除去性能の低下が認められたが、前段に荷電性膜を設けた場合は、100日経過後も微粒子の除去性能の低下が認められなかった。
サイズ排除膜の前段に荷電性膜を配置することで、サイズ排除膜の微粒子除去性能の低下を抑え、使用寿命を延ばせることができることが分かる。
As is clear from Table 2, when the size exclusion membrane alone was used, the performance of removing fine particles decreased after about 5 days. No decrease was observed.
It can be seen that placing the chargeable membrane in front of the size exclusion membrane suppresses deterioration of the fine particle removal performance of the size exclusion membrane and extends the service life.

1 荷電性膜モジュール
2 サイズ排除膜モジュール
12 微粒子タンク
13A,13B 微粒子除去膜モジュール
14,15 微粒子モニター
1 Chargeable Membrane Module 2 Size Exclusion Membrane Module 12 Particle Tank 13A, 13B Particle Removal Membrane Module 14, 15 Particle Monitor

Claims (5)

液体中の微粒子を除去する微粒子除去装置において、荷電性を有する濾過膜と、該荷電性を有する濾過膜の後段に配置されたサイズ排除膜とを有し、該液体が該荷電性を有する濾過膜、該サイズ排除膜の順に通水されることを特徴とする微粒子除去装置。 A particle removal device for removing particles in a liquid, comprising a chargeable filtration membrane and a size exclusion membrane disposed downstream of the chargeable filtration membrane, wherein the liquid has the chargeability A fine particle removing device, wherein water is passed through a membrane and said size exclusion membrane in this order. 請求項1において、前記荷電性を有する濾過膜が正荷電膜又は負荷電膜であることを特徴とする微粒子除去装置。 2. The fine particle removing apparatus according to claim 1, wherein the chargeable filtration membrane is a positively charged membrane or a negatively charged membrane. 請求項1において、前記荷電性を有する濾過膜として、異なる荷電性を有する2以上の濾過膜が前記サイズ排除膜とは別のサイズ排除膜を介して或いはサイズ排除膜を介さずに直列に配置され、この直列に配置された膜群の後段に前記サイズ排除膜を有することを特徴とする微粒子除去装置。 2. According to claim 1, as the chargeable filtration membranes, two or more chargeable filtration membranes are arranged in series via a size exclusion membrane separate from the size exclusion membrane or without a size exclusion membrane. and having the size exclusion membrane in the rear stage of the group of membranes arranged in series. 請求項1ないし3のいずれか1項に記載の微粒子除去装置を備える純水又は超純水製造装置。 A pure water or ultrapure water producing apparatus comprising the fine particle removing apparatus according to any one of claims 1 to 3. 請求項1ないし3のいずれか1項に記載の微粒子除去装置を用いる液体中の微粒子除去方法。
A method for removing fine particles in a liquid using the fine particle removing apparatus according to any one of claims 1 to 3.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10216721A (en) * 1997-02-07 1998-08-18 Kurita Water Ind Ltd Ultrapure water producing device
JP2016155052A (en) * 2015-02-23 2016-09-01 栗田工業株式会社 Device for removing fine particle in water, and system for producing and supplying ultrapure water
JP2020062620A (en) * 2018-10-19 2020-04-23 日東電工株式会社 Water treatment system and water treatment method
WO2020203142A1 (en) * 2019-03-29 2020-10-08 栗田工業株式会社 Particle removal device and particle removal method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10216721A (en) * 1997-02-07 1998-08-18 Kurita Water Ind Ltd Ultrapure water producing device
JP2016155052A (en) * 2015-02-23 2016-09-01 栗田工業株式会社 Device for removing fine particle in water, and system for producing and supplying ultrapure water
JP2020062620A (en) * 2018-10-19 2020-04-23 日東電工株式会社 Water treatment system and water treatment method
WO2020203142A1 (en) * 2019-03-29 2020-10-08 栗田工業株式会社 Particle removal device and particle removal method

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