JP2022095442A5 - - Google Patents

Description

本明細書の開示の一実施態様に係る光干渉断層撮影装置は、測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た合波光を用いて、被検眼の断層画像を取得する光干渉断層撮影装置であって、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、前記光路長差変更手段を駆動する駆動手段と、前記駆動手段の駆動量を用いて、前記駆動手段を制御する制御手段とを備え、前記駆動量は、異なる光路長差で得られた複数の断層画像が学習済モデルに入力されることにより該学習済モデルから出力された複数の値を用いて決定される。

Claims (20)

1. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た合波光を用いて、被検眼の断層画像を取得する光干渉断層撮影装置であって、
   前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、
   前記光路長差変更手段を駆動する駆動手段と、
   前記駆動手段の駆動量を用いて、前記駆動手段を制御する制御手段と、
   を備え、
   前記駆動量は、異なる光路長差で得られた複数の断層画像が学習済モデルに入力されることにより該学習済モデルから出力された複数の値を用いて決定される、光干渉断層撮影装置。
2. 前記駆動量を決定する決定手段であって、前記光干渉断層撮影装置におけるプロセッサ、又は、前記光干渉断層撮影装置が通信可能に接続された外部のプロセッサである決定手段を更に備え、
   前記決定手段は、前記複数の断層画像が前記学習済モデルに入力されることにより前記学習済モデルから出力された複数の値を用いて得られた値を前記駆動量として決定する、請求項１に記載の光干渉断層撮影装置。
3. 前記駆動量を決定する決定手段であって、前記光干渉断層撮影装置におけるプロセッサ、又は、前記光干渉断層撮影装置が通信可能に接続された外部のプロセッサである決定手段を更に備え、
   前記決定手段は、前記複数の断層画像が前記学習済モデルに入力されることにより前記学習済モデルから出力された複数の値を用いて得られた値を前記駆動量に変換することにより、前記駆動量を決定する、請求項１に記載の光干渉断層撮影装置。
4. 前記決定手段は、撮影条件、被検眼の条件、及びオフセット量の少なくとも一つに基づいて、前記複数の断層画像が前記学習済モデルに入力されることにより前記学習済モデルから出力された複数の値を用いて得られた値を前記駆動手段の駆動量に変換することにより、前記駆動量を決定する、請求項３に記載の光干渉断層撮影装置。
5. 前記駆動量を決定する決定手段であって、前記光干渉断層撮影装置におけるプロセッサ、又は、前記光干渉断層撮影装置が通信可能に接続された外部のプロセッサである決定手段と、
   複数の撮影条件に対応する複数の学習済モデルのいずれかの学習済モデルであって、前記取得された断層画像に対応する学習済モデルを選択する選択手段と、を更に備え、
   前記決定手段は、前記選択された学習済モデルを用いて、前記複数の断層画像から、前記駆動量を決定する、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の光干渉断層撮影装置。
6. 前記光干渉断層撮影装置は、前記光路長差変更手段を用いてアライメント及びトラッキングの少なくとも一方を行い、
   前記学習済モデルは、アライメント用の学習済モデルとトラッキング用の学習済モデルとを個別に含む、請求項１乃至５のいずれか一項に記載の光干渉断層撮影装置。
7. 前記複数の断層画像の各々は、前記合波光を用いて得た画像を補正処理して得た断層画像であり、
   前記補正処理は、画像を２値化する処理と、画像の一部の領域を抽出する処理と、実像部分と鏡像部分の両方を含めた断層画像を生成する処理と、実像部分と鏡像部分の両方を含めた断層画像から一部の画像成分を抽出した画像を生成する処理とのいずれかの処理を含む、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の光干渉断層撮影装置。
8. 前記光路長差を変更する際の目標である前記光路長差変更手段の目標位置が、検者によって調整可能である、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の光干渉断層撮影装置。
9. 前記学習済モデルは、
   回帰モデルであり、
   測定光と参照光との光路長差であって、異なる光路長差で得られた複数の断層画像と連続値とを含む複数の学習データによる教師あり学習により得られる、請求項１乃至８のいずれか一項に記載の光干渉断層撮影装置。
10. ＳＬＯ画像、前眼画像、及び眼底写真の少なくとも１つを用いて推定された目標位置へ前記光路長差変更手段が駆動された後、
    前記駆動量は、前記複数の断層画像が前記学習済モデルに入力されることにより前記学習済モデルから出力された複数の値を用いて決定され、
    前記制御手段は、前記光路長差変更手段を前記駆動量だけ駆動させるように前記駆動手段を制御する、請求項１乃至９のいずれか一項に記載の光干渉断層撮影装置。
11. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た合波光を用いて、被検眼の断層画像を取得する光干渉断層撮影装置であって、
    前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、
    前記光路長差変更手段を駆動する駆動手段と、
    学習済モデルを用いて、前記取得された断層画像から、前記光路長差変更手段の現在位置から目標位置までの推定距離を決定する決定手段と、
    前記駆動手段を制御する制御手段であって、前記推定距離の大きさに基づいて、前記光路長差変更手段を駆動させるか否かを判断する制御手段と、
    を備える光干渉断層撮影装置。
12. 前記制御手段は、前記推定距離が目標距離よりも大きい場合に例外処理を行う、請求項１１に記載の光干渉断層撮影装置。
13. 前記例外処理は、検者によるマニュアル操作を含む、請求項１２に記載の光干渉断層撮影装置。
14. 前記例外処理は、断層画像の輝度値に基づいて前記光路長差変更手段を駆動させる処理を含む、請求項１２又は１３に記載の光干渉断層撮影装置。
15. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た合波光を用いて、被検眼の断層画像を取得する、眼底観察画像を取得可能な光干渉断層撮影装置であって、
    前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、
    前記光路長差変更手段を駆動する駆動手段と、
    前記駆動手段の駆動量を用いて、前記駆動手段を制御する制御手段と、
    を備え、
    前記駆動量は、異なる光路長差で得られた複数の眼底観察画像が学習済モデルに入力されることにより該学習済モデルから出力された複数の値を用いて決定される、光干渉断層撮影装置。
16. 前記制御手段は、前記学習済モデルからの出力に関する情報が前記駆動手段による駆動の終了に関する判定条件を満たさない場合には、例外処理を行う、請求項１乃至１５のいずれか一項に記載の光干渉断層撮影装置。
17. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た合波光を用いて、被検眼の断層画像を取得する光干渉断層撮影装置であって、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、前記光路長差変更手段を駆動する駆動手段とを備える光干渉断層撮影装置の制御方法であって、
    前記駆動手段の駆動量を用いて、前記駆動手段を制御すること、
    を含み、
    前記駆動量は、異なる光路長差で得られた複数の断層画像が学習済モデルに入力されることにより該学習済モデルから出力された複数の値を用いて決定される、制御方法。
18. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た合波光を用いて、被検眼の断層画像を取得する光干渉断層撮影装置であって、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、前記光路長差変更手段を駆動する駆動手段とを備える光干渉断層撮影装置の制御方法であって、
    学習済モデルを用いて、前記取得された断層画像から、前記光路長差変更手段の現在位置から目標位置までの推定距離を決定することと、
    前記推定距離の大きさに基づいて、前記光路長差変更手段を駆動させるか否かを判断することと、
    を含む制御方法。
19. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光とを合波して得た合波光を用いて、被検眼の断層画像を取得する、眼底観察画像を取得可能な光干渉断層撮影装置であって、前記測定光と前記参照光との光路長差を変更する光路長差変更手段と、前記光路長差変更手段を駆動する駆動手段とを備える光干渉断層撮影装置の制御方法であって、
    前記駆動手段の駆動量を用いて、前記駆動手段を制御することと、
    を含み、
    前記駆動量は、異なる光路長差で得られた複数の眼底観察画像が学習済モデルに入力されることにより該学習済モデルから出力された複数の値を用いて決定される、制御方法。
20. 請求項１７乃至１９のいずれか一項に記載の制御方法をコンピュータに実行させるプログラム。