JP2022090265A - Input lot organization device, input lot organization method and program for input lot organization - Google Patents

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Abstract

To provide an input lot organization device, an input lot organization method and a computer program for input lot organization which are capable of properly organizing input lots that are processed together by a processing device even if there are multiple matching degree evaluation conditions.SOLUTION: To organize an input lot, it is determined whether each combination of a lot and a processing device matches conditions for determining whether or not to input; for each combination of the lot and the processing device determined to be ready for input, an individual matching degree for each of multiple matching degree evaluation conditions is calculated for each matching degree evaluation condition; a matching degree evaluation value in the case of processing the lot by the processing device is calculated based on multiple individual matching degrees; a combination being most suitable to input is identified based on multiple matching degree evaluation values of multiple combinations; the lot in the combination is allocated to the processing device; then, the input lot are organized for unallocated lots by repeating the determination of whether or not to input and the calculation of the matching degree evaluation value.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、処理装置において一度にまとめて処理が行われる複数のロットのまとまりを投入ロットとして編成する、投入ロット編成装置、投入ロットの編成方法および投入ロット編成用プログラムに関する。 The present invention relates to an input lot knitting device, an input lot knitting method, and an input lot knitting program that organizes a group of a plurality of lots to be processed at once in the processing device as an input lot.

従来、性能の異なる複数の炉を備え熱処理を行う熱処理工程において、一度にまとめて熱処理を行う複数種類の製品の組み合わせであるロットを編成するロット編成方法であって、計算機の演算部により実行される処理が、熱処理を行う複数種類の製品と各製品の単位製品あたりの物量とを製品情報として登録する製品情報記憶ステップと、 熱処理を行う複数の炉を炉情報として登録する炉情報記憶ステップと、炉毎に、1ロットに積載可能な最大物量であるロット編成制約条件をロット編成制約情報として登録するロット編成制約情報記憶ステップと、炉毎に、燃料量と処理物量との関係から定義された、処理物量当たりの燃料量である燃料原単位と処理物量との燃料関係式を燃料関係式情報として登録する燃料式情報記憶ステップと、炉毎に、製品情報に基づいて算出される製品情報に基づいて算出されるロット編成制約条件を満たしながら、燃料関係式に基づいて算出される燃料原単位を最小にする製品の組み合わせをロットとして編成するロット編成ステップと、を有することを特徴とするロット編成方法が知られている(特許文献1)。 Conventionally, in a heat treatment process in which a plurality of furnaces having different performances are provided and heat treatment is performed, a lot knitting method for knitting a lot, which is a combination of a plurality of types of products for which heat treatment is performed at once, is executed by a calculation unit of a computer. The process is a product information storage step that registers multiple types of products to be heat-treated and the quantity of each product per unit product as product information, and a furnace information storage step that registers multiple furnaces to be heat-treated as furnace information. It is defined from the lot formation constraint information storage step that registers the lot formation constraint condition, which is the maximum quantity that can be loaded in one lot, as lot formation constraint information for each furnace, and the relationship between the fuel amount and the processed quantity for each furnace. In addition, the fuel formula information storage step for registering the fuel relation formula between the fuel intensity, which is the fuel quantity per processed quantity, and the processed quantity as fuel relation formula information, and the product information calculated based on the product information for each furnace. It is characterized by having a lot knitting step of knitting as a lot a combination of products that minimizes the fuel intensity calculated based on the fuel relational expression while satisfying the lot knitting constraint condition calculated based on. A lot knitting method is known (Patent Document 1).

特開2016-018498号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-018498

特許文献1では、炉毎の最大物量以内であり、かつ、各製品が複数個のロットに分かれないことという制約条件を満たす製品と炉との組み合わせの中で、燃料原単位が最小になるという適合条件において、最も適合度の高い製品群と炉との組み合わせを、整数計画法を用いて求めているが、適合条件(特許文献1では燃料原単位が最小であること)が複数ある場合に、最適な編成を行う方法については開示されていなかった。 According to Patent Document 1, the fuel intensity is the smallest among the combinations of products and furnaces that satisfy the constraint condition that each product is not divided into a plurality of lots and is within the maximum quantity for each furnace. In the conforming condition, the combination of the product group with the highest degree of conformity and the furnace is obtained by using the integer programming method, but when there are a plurality of conforming conditions (the fuel intensity is the minimum in Patent Document 1). , The method of optimal organization was not disclosed.

本発明は、適合度評価条件が複数ある場合でも、処理装置で一度にまとめて処理が行われる投入ロットを適正に編成することができる、投入ロット編成装置、投入ロットの編成方法および投入ロット編成用のコンピュータープログラムを提供することを目的とする。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can appropriately organize the input lots to be processed at once by the processing device even when there are a plurality of goodness-of-fit evaluation conditions, the input lot knitting device, the input lot knitting method, and the input lot organization. The purpose is to provide a computer program for.

本発明に係る投入ロット編成装置は、要求される処理条件が異なる複数のロットを、異なる処理条件の処理を実行する複数の処理装置を用いて処理する場合において、前記処理装置で同時に処理する前記複数のロットのまとまりを投入ロットとして前記処理装置ごとに編成することが可能な投入ロット編成装置であって、前記ロットに関するロット情報、および、前記処理装置に関する装置情報を取得する取得手段と、前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記ロットと前記処理装置との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定する投入可否判定手段と、前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記投入可否判定手段により投入可能と判定された前記ロットと前記処理装置との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として前記適合度評価条件ごとに算出し、前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の適合度評価値を算出する前記適合度評価手段と、前記適合度評価手段により判定された複数の前記組み合わせの複数の前記適合度評価値に基づいて、前記複数の組み合わせのうち投入に最も適した組み合わせを特定し、当該組み合わせにおける前記ロットを前記処理装置に割り当てた後、再度、未割り当ての前記ロットについて、前記投入可否判定手段による投入可否判定と、前記適合度評価手段による前記適合度評価値の算出とを繰り返すことで、前記処理装置ごとに、前記投入ロットを編成する編成手段と、を有する。
上記投入ロット編成装置において、前記投入可否判定手段は、前記処理装置が稼働しているか、前記ロットが指定する前記処理装置であるか、前記処理装置の処理条件と前記ロットの処理条件とが一致するか、前記ロットを構成するワークのサイズが前記処理装置で処理可能なサイズであるか、前記処理装置のライフ内において前記ロットを処理できるか、前記処理装置で前記ロットの納期に間に合うか、および、前記処理装置に対してロットの投入保留指示があるかのうち、いずれか1つ以上の前記投入可否判定条件に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理可能か否かを判定する、構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記適合度評価手段は、前記ロットを前記処理装置で処理した場合の処理終了時刻の早さ、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の前記処理装置の充填率の高さ、前記ロットを前記処理装置で処理する場合に段取りが必要であるか、前記処理装置が前記ロットの指定する処理装置であるか、前記処理装置のライフが前記ロットに適したライフ帯であるか、前記ロットの納期の近さまたは滞留日数の長さ、前記処理装置への割り当て済み数の少なさ、前記ロットを処理した後の前記処理装置の残りバッチ数の多さ、のうちいずれか2つ以上の前記適合度評価条件について、前記個別適合度を評価する構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記投入可否判定条件および前記適合度評価条件が、同一の事項に関する共通条件を有する構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記適合度評価手段は、前記適合度評価条件に対する前記個別適合度に、前記適合度評価条件ごとに定めた重み付けを行い、前記重み付けした前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の前記適合度評価値を算出する構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記適合度評価手段は、階層分析法に基づいて、前記適合度評価条件ごとの重み付けを設定する構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記ロットの全てのワークを前記処理装置の1回のバッチ処理で処理できない場合に、前記ロットをサブロットに分割するロット分割手段をさらに有し、前記投入可否判定手段は、前記サブロットの全てを前記処理装置で処理可能である場合に、前記ロットを前記処理装置に投入可能であると判定し、前記適合度評価手段は、前記サブロットの全てを前記処理装置で処理する場合の前記適合度評価値を算出する構成とすることができる。
The input lot knitting device according to the present invention processes a plurality of lots having different required processing conditions at the same time by the processing device when the plurality of lots are processed by using a plurality of processing devices that execute processing under different processing conditions. An input lot knitting device capable of knitting a group of a plurality of lots as an input lot for each processing device, and an acquisition means for acquiring lot information regarding the lot and device information regarding the processing device, and the above-mentioned. Based on the input availability determination means for determining whether or not each combination of the lot and the processing apparatus meets the input availability determination condition based on the lot information and the device information, and based on the lot information and the device information. Then, for each combination of the lot and the processing device determined to be loadable by the loading availability determination means, the conformity to each of a plurality of goodness-of-fit evaluation conditions is calculated as the individual goodness of fit for each goodness-of-fit evaluation condition. Then, the goodness-of-fit evaluation means for calculating the goodness-of-fit evaluation value when the lot is processed by the processing apparatus based on the plurality of individual goodness-of-fits, and the plurality of combinations determined by the goodness-of-fit evaluation means. Based on the plurality of goodness-of-fit evaluation values, the most suitable combination for input is specified from the plurality of combinations, the lot in the combination is assigned to the processing device, and then the unallocated lot is again used. It has a knitting means for knitting the input lot for each processing apparatus by repeating the input possibility determination by the input possibility determination means and the calculation of the goodness-of-fit evaluation value by the goodness-of-fit evaluation means.
In the input lot knitting device, whether the processing device is operating or the processing device designated by the lot matches the processing conditions of the processing device with the processing conditions of the lot. Whether the size of the work constituting the lot is a size that can be processed by the processing device, the lot can be processed within the life of the processing device, or the processing device can meet the delivery date of the lot. Further, it is determined whether or not the lot can be processed by the processing apparatus based on any one or more of the input possibility determination conditions among whether or not the processing apparatus is instructed to suspend the input of the lot. It can be configured.
In the input lot knitting apparatus, the goodness-of-fit evaluation means determines the speed of the processing end time when the lot is processed by the processing apparatus and the filling rate of the processing apparatus when the lot is processed by the processing apparatus. Height, whether setup is required when processing the lot with the processing device, whether the processing device is the processing device specified by the lot, or the life of the processing device is a life zone suitable for the lot. Either there is a lot close to the delivery date or the length of staying days, the number allocated to the processing device is small, or the number of remaining batches of the processing device after processing the lot is large. The individual goodness of fit can be evaluated for two or more of the goodness of fit evaluation conditions.
In the charging lot knitting device, the charging possibility determination condition and the goodness-of-fit evaluation condition may be configured to have common conditions regarding the same items.
In the input lot knitting device, the goodness-of-fit evaluation means weights the individual goodness of fit with respect to the goodness-of-fit evaluation condition as determined for each goodness-of-fit evaluation condition, and is based on the plurality of weighted individual goodness of fit. Therefore, the goodness-of-fit evaluation value when the lot is processed by the processing apparatus can be calculated.
In the input lot knitting device, the goodness-of-fit evaluation means may be configured to set weighting for each goodness-of-fit evaluation condition based on the analytic hierarchy process.
The input lot knitting apparatus further includes a lot dividing means for dividing the lot into sub-lots when all the workpieces of the lot cannot be processed by one batch processing of the processing apparatus, and the input availability determination means When all of the sub-lots can be processed by the processing apparatus, it is determined that the lot can be put into the processing apparatus, and the goodness-of-fit evaluation means processes all of the sub-lots by the processing apparatus. It can be configured to calculate the goodness-of-fit evaluation value of the case.

本発明に係る投入ロット編成方法は、要求される処理条件が異なる複数のロットを、異なる処理条件で処理する複数の処理装置を用いて処理する場合において、前記処理装置で同時に処理する前記複数のロットのまとまりを投入ロットとして前記処理装置ごとに編成することが可能な投入ロット編成方法であって、前記ロットに関するロット情報、および、前記処理装置に関する装置情報に基づいて、前記ロットと前記処理装置との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定する投入可否判定工程と、前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記投入可否判定工程において投入可能と判定された前記ロットと前記処理装置との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として前記適合度評価条件ごとに算出し、前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の適合度評価値を算出する適合度評価工程と、前記適合度評価工程において判定された複数の前記組み合わせの複数の前記適合度評価値に基づいて、前記複数の組み合わせのうち投入に最も適した組み合わせを特定し、当該組み合わせにおける前記ロットを前記処理装置に割り当てた後、再度、未割り当ての前記ロットについて、前記投入可否判定工程による投入可否判定と、前記適合度評価工程による前記適合度評価値の評価とを繰り返すことで、前記処理装置ごとに、前記投入ロットを編成する編成工程と、を有する。 In the input lot knitting method according to the present invention, when a plurality of lots having different required processing conditions are processed by using a plurality of processing devices that process under different processing conditions, the plurality of lots that are simultaneously processed by the processing device. It is an input lot knitting method that can organize a group of lots as an input lot for each processing apparatus, and is based on lot information about the lot and device information about the processing apparatus, and the lot and the processing apparatus. The lot determined to be able to be loaded in the loading possibility determination step based on the loading possibility determination step of determining whether or not each combination of and is satisfied with the loading possibility determination condition and the lot information and the device information. For each combination of the product and the processing apparatus, the goodness of fit for each of the plurality of goodness-of-fit evaluation conditions is calculated as the individual goodness of fit for each of the goodness-of-fit evaluation conditions, and the lot is obtained based on the plurality of individual goodness of fit. Based on the goodness-of-fit evaluation process for calculating the goodness-of-fit evaluation value in the case of processing by the processing apparatus, and the plurality of goodness-of-fit evaluation values of the plurality of the combinations determined in the goodness-of-fit evaluation step, the plurality of combinations Of these, the most suitable combination for charging is specified, the lot in the combination is assigned to the processing device, and then the unallocated lot is again determined by the charging possibility determination step and the conformity evaluation step. By repeating the evaluation of the goodness-of-fit evaluation value according to the above, each processing apparatus has a knitting step of knitting the input lot.

本発明に係る投入ロット編成用プログラムは、コンピューターを用いて、要求される処理条件が異なる複数のロットを、異なる処理条件で処理する複数の処理装置を用いて処理する場合において、前記処理装置で同時に処理する前記複数のロットのまとまりを投入ロットとして前記処理装置ごとに編成することが可能な投入ロット編成用プログラムであって、前記ロットに関するロット情報、および、前記処理装置に関する装置情報に基づいて、前記ロットと前記処理装置との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定する投入可否判定ステップと、前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記投入可否判定ステップにおいて投入可能と判定された前記ロットと前記処理装置との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として前記適合度評価条件ごとに算出し、前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の適合度評価値を算出する適合度評価ステップと、前記適合度評価ステップにおいて判定された複数の前記組み合わせの複数の前記適合度評価値に基づいて、前記複数の組み合わせのうち投入に最も適した組み合わせを特定し、当該組み合わせにおける前記ロットを前記処理装置に割り当てた後、再度、未割り当ての前記ロットについて、前記投入可否判定ステップによる投入可否判定と、前記適合度評価ステップによる前記適合度評価値の評価とを繰り返すことで、前記処理装置ごとに、前記投入ロットを編成する編成ステップと、を有する。 The input lot knitting program according to the present invention uses a computer to process a plurality of lots having different required processing conditions using a plurality of processing devices that process under different processing conditions. It is an input lot knitting program capable of organizing a group of a plurality of lots to be processed at the same time as an input lot for each processing apparatus, and is based on lot information about the lot and device information about the processing apparatus. , The loading possibility determination step for determining whether or not each combination of the lot and the processing device meets the loading possibility determination condition, and the charging possibility determination step based on the lot information and the device information. For each combination of the lot determined to be possible and the processing apparatus, the goodness of fit for each of the plurality of goodness-of-fit evaluation conditions is calculated as the individual goodness of fit for each goodness-of-fit evaluation condition, and the goodness of fit is calculated for each of the plurality of individual goodness of fit. Based on the goodness-of-fit evaluation step for calculating the goodness-of-fit evaluation value when the lot is processed by the processing apparatus, and the plurality of goodness-of-fit evaluation values of the plurality of combinations determined in the goodness-of-fit evaluation step. Then, the most suitable combination for loading is specified from the plurality of combinations, the lot in the combination is assigned to the processing device, and then the unallocated lot is again determined by the loading permission determination step. And the knitting step of knitting the input lot for each of the processing devices by repeating the evaluation of the goodness-of-fit evaluation value by the goodness-of-fit evaluation step.

本発明によれば、適合度評価条件が複数ある場合でも、処理装置で一度にまとめて処理が行われる投入ロットを適正に編成することができる、投入ロット編成装置、投入ロットの編成方法および投入ロット編成用のコンピュータープログラムを提供することができる。 According to the present invention, even when there are a plurality of goodness-of-fit evaluation conditions, the input lot knitting device, the input lot knitting method, and the input lot can appropriately organize the input lots to be processed at once by the processing device. A computer program for lot formation can be provided.

本実施形態にかかる投入ロット編成装置の構成図である。It is a block diagram of the input lot knitting apparatus which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る投入ロット編成処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the input lot organization process which concerns on this embodiment. ステップS4の投入可否判定処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the input possibility determination process of a step S4. ステップS5の適合度評価処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the goodness-of-fit evaluation process of step S5. 本実施形態に係る投入ロット編成処理と従来の投入ロット編成処理での処理装置の充填率を示すグラフである。It is a graph which shows the filling rate of the processing apparatus in the input lot knitting process and the conventional input lot knitting process which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る投入ロット編成処理と従来の投入ロット編成処理での編成時間を示すグラフである。It is a graph which shows the knitting time in the input lot knitting process and the conventional input lot knitting process which concerns on this embodiment.

本実施形態に係る投入ロット編成装置1は、要求される処理条件が異なる複数のロットLを、異なる処理条件の処理を実行する複数の処理装置2を用いて処理する場合に、処理装置2で同時に処理する複数のロットLのまとまりを投入ロットILとして、処理装置2ごとに編成することができる装置である。本実施形態においては、処理が行われる対象物をワークW、複数のワークWから構成される管理上のまとまりをロットLとして説明する。また、本実施形態では、1つの処理装置2に、複数のロットLを投入して同時に処理を行う場合があり、1つの処理装置2で同時に処理する複数のロットLのまとまりを投入ロットILと称す。さらに、本実施形態では、ロットLを構成する全てのワークWが処理装置2内に投入できない場合に、ロットLを複数のサブロットSLに分割し、分割したサブロットSLを同一の処理装置2において、連続して、バッチ処理する場合もある。 The input lot knitting device 1 according to the present embodiment is a processing device 2 when a plurality of lots L having different required processing conditions are processed by using a plurality of processing devices 2 that execute processing under different processing conditions. It is an apparatus that can organize a group of a plurality of lots L to be processed at the same time for each processing apparatus 2 as an input lot IL. In the present embodiment, the object to be processed will be described as a work W, and the management unit composed of a plurality of work Ws will be described as a lot L. Further, in the present embodiment, a plurality of lots L may be input to one processing device 2 and processed at the same time, and a group of a plurality of lots L to be processed simultaneously by one processing device 2 is referred to as an input lot IL. Call it. Further, in the present embodiment, when all the workpieces W constituting the lot L cannot be put into the processing device 2, the lot L is divided into a plurality of sub-lot SLs, and the divided sub-lot SLs are divided into the same processing device 2. In some cases, batch processing may be performed continuously.

また、以下においては、ワークWである半導体ウエハを、加熱処理装置である処理装置2を用いて加熱処理する場面を例示して説明するが、ワークWは半導体ウエハWに限定されず、また、処理装置2も加熱処理装置に限定されるものではない。 Further, in the following, a scene in which the semiconductor wafer as the work W is heat-treated by using the processing device 2 as the heat treatment device will be described as an example, but the work W is not limited to the semiconductor wafer W, and the work W is not limited to the semiconductor wafer W. The processing device 2 is also not limited to the heat processing device.

まず、処理装置2に投入されるロットLについて説明する。本実施形態では、処理装置2で処理される複数のワークWをロットL単位で管理しており、ワークWを処理装置2に投入する際に、ロットL単位で編成処理が行われる。本実施形態において、ワークWは、加熱処理の対象となる半導体ウエハであり、1つのインゴットから製造された半導体ウエハが1つのロットLとして管理されている。また、ロットLにおけるワークWの枚数(ロットサイズ)は、一律ではなく、ロットごとに決められる。たとえば、ロットLAは、170枚の半導体ウエハ(ワークW)からなるロット単位で管理され、ロットLBは、140枚の半導体ウエハからなるロット単位で管理され、ロットLCは、180枚の半導体ウエハからなるロット単位で管理される。ワークWはロットL単位で処理装置2に投入され、ロット単位で処理される(ただし、後述するように、ロットLの全てのワークWを処理装置2に投入できない場合、ロットLをサブロットSLに分割し、サブロットSL単位で処理装置2に投入する場合もある。)。 First, the lot L charged into the processing device 2 will be described. In the present embodiment, a plurality of work W processed by the processing device 2 are managed in lot L units, and when the work W is put into the processing device 2, the knitting process is performed in lot L units. In the present embodiment, the work W is a semiconductor wafer to be heat-treated, and the semiconductor wafer manufactured from one ingot is managed as one lot L. Further, the number of works W (lot size) in lot L is not uniform and is determined for each lot. For example, lot LA is managed in lot units consisting of 170 semiconductor wafers (work W), lot LB is managed in lot units consisting of 140 semiconductor wafers, and lot LC is managed in lot units consisting of 180 semiconductor wafers. It is managed in lot units. The work W is charged into the processing device 2 in units of lot L, and is processed in units of lot (however, as will be described later, if all the work W of lot L cannot be charged into the processing device 2, the lot L is transferred to the sub lot SL. It may be divided and charged into the processing apparatus 2 in units of sub-lot SL).

また、本実施形態では、ロットLごとに、ロットLを構成するワークWの大きさ、ワークWの枚数(ロットサイズ)、加熱温度や加熱時間などのワークWの処理条件、ワークWの処理に適した処理装置2のライフ帯、ロットLの納期が決められており、これらの情報が、ロット情報として投入ロット編成装置1の記憶装置20に記憶されている。なお、処理条件には、上記加熱温度や加熱時間の他、ワークWのサイズや形状、ドーパントの種類、ドープ量(抵抗幅)、ガス組成や流量などを含めることができる。また、処理装置2のライフ情報とは、たとえば、処理装置2における治具の劣化度や処理装置2自体の劣化の状態をいい、傷が付きやすいロットLAにおいては治具の劣化度が低い方が適しており、このような場合、ロットLAのワークWに適した処理装置2のライフ帯は「初期」などのように設定される。さらに、本実施形態では、受注時、加工指示時、あるいは前工程終了時などの時点から現時点までのロットLの滞留時間の情報も、ロット情報として記憶装置20に記憶される。ロットLの滞留時間も「長い」、「普通」、「短い」など段階的に設定され、適宜更新される。なお、本実施形態において、複数のロットLは、要求される処理条件が異なる2以上の品種のロットLを有するが、処理条件が同じ同品種のロットLを複数含む場合もある。 Further, in the present embodiment, for each lot L, the size of the work W constituting the lot L, the number of works W (lot size), the processing conditions of the work W such as the heating temperature and the heating time, and the processing of the work W A suitable life zone of the processing device 2 and a delivery date of the lot L are determined, and these information are stored in the storage device 20 of the input lot knitting device 1 as lot information. In addition to the heating temperature and heating time, the treatment conditions can include the size and shape of the work W, the type of dopant, the doping amount (resistance width), the gas composition, the flow rate, and the like. Further, the life information of the processing device 2 means, for example, the degree of deterioration of the jig in the processing device 2 or the state of deterioration of the processing device 2 itself, and in the lot LA which is easily scratched, the degree of deterioration of the jig is low. In such a case, the life zone of the processing device 2 suitable for the work W of the lot LA is set to "initial" or the like. Further, in the present embodiment, information on the residence time of the lot L from the time when the order is received, the time when the processing is instructed, or the time when the previous process is completed to the present time is also stored in the storage device 20 as lot information. The residence time of lot L is also set in stages such as "long", "normal", and "short", and is updated as appropriate. In the present embodiment, the plurality of lots L have lots L of two or more varieties having different required processing conditions, but may include a plurality of lots L of the same varieties having the same processing conditions.

次に、処理装置2について説明する。本実施形態において、処理装置2は、少なくとも異なる処理条件で処理を実施する2以上の処理装置を含み、処理装置2ごとに設定された処理条件で、処理装置2内に投入された複数のロットLのまとまりである投入ロットILの処理を実行する。たとえば、本実施形態において、処理装置2は、半導体ウエハの加熱処理を行う加熱処理装置であり、異なる処理条件(たとえば異なる加熱温度や加熱時間)で加熱処理を実行する。この場合に、処理装置2Aは、1200℃で10時間、投入ロットILを加熱する処理を実行し、処理装置2Bは、1300℃で10時間、投入ロットILを加熱する処理を実行する構成とすることができる。なお、複数の処理装置2のうち一部は、他の処理装置2と同じ処理条件で処理を行う構成としてもよい。たとえば上述の例において、処理装置2Aと同じく、1200℃で10時間、投入ロットILを加熱する処理装置2A’をさらに有する構成とすることもできる。また、処理装置2は2以上の処理条件を選択的に実行できる構成とすることもできる。たとえば、処理装置2Aは、1200℃で10時間、投入ロットILを加熱する加熱処理と、1300℃で10時間、投入ロットILを加熱する加熱処理とを選択的に実行する構成とすることができる。さらに、本実施形態では、処理装置2ごとに、処理可能なワークWの大きさ、1回の処理当たり(1バッチ当たり)の投入可能枚数、1バッチ当たりの処理時間、処理装置2のライフ情報、実行可能な処理条件(たとえば加熱温度や加熱時間など)が決まっており、これらの情報を装置情報として、投入ロット編成装置1の記憶装置20に記憶している。なお、処理装置2のライフ情報とは、処理装置2における治具の劣化度や処理装置2自体の劣化の状態であり、処理装置2の最大ライフ分のバッチ処理を実行した場合に、治具の交換やメンテナンス作業などが行われる。また、処理装置2のライフ情報は、処理装置2が加熱処理を行ったバッチ回数やバッチ処理を実行した延べ時間に応じて、「初期」、「中期」、「末期」のように複数の段階に分けて設定される。以下においては、処理装置2が加熱処理を行ったバッチ回数に基づいて、処理装置2のライフを判定する構成を例示する。 Next, the processing device 2 will be described. In the present embodiment, the processing device 2 includes two or more processing devices that perform processing under at least different processing conditions, and a plurality of lots put into the processing device 2 under the processing conditions set for each processing device 2. The processing of the input lot IL, which is a group of L, is executed. For example, in the present embodiment, the processing apparatus 2 is a heat processing apparatus that heat-treats a semiconductor wafer, and executes the heat treatment under different processing conditions (for example, different heating temperatures and heating times). In this case, the processing apparatus 2A is configured to execute the process of heating the input lot IL at 1200 ° C. for 10 hours, and the processing device 2B is configured to execute the process of heating the input lot IL at 1300 ° C. for 10 hours. be able to. In addition, a part of the plurality of processing devices 2 may be configured to perform processing under the same processing conditions as the other processing devices 2. For example, in the above example, the same as the processing device 2A, the processing device 2A'that heats the input lot IL at 1200 ° C. for 10 hours may be further provided. Further, the processing device 2 may be configured to selectively execute two or more processing conditions. For example, the processing apparatus 2A can be configured to selectively execute a heat treatment for heating the input lot IL at 1200 ° C. for 10 hours and a heat treatment for heating the input lot IL at 1300 ° C. for 10 hours. .. Further, in the present embodiment, the size of the work W that can be processed for each processing device 2, the number of sheets that can be input per one processing (per batch), the processing time per batch, and the life information of the processing device 2. , Executable processing conditions (for example, heating temperature, heating time, etc.) are determined, and these information are stored in the storage device 20 of the input lot knitting device 1 as device information. The life information of the processing device 2 is the degree of deterioration of the jig in the processing device 2 and the state of deterioration of the processing device 2 itself, and when batch processing for the maximum life of the processing device 2 is executed, the jig Replacement and maintenance work are performed. Further, the life information of the processing device 2 has a plurality of stages such as "initial stage", "middle stage", and "end stage" according to the number of batches in which the processing device 2 has performed heat treatment and the total time in which the batch processing has been executed. It is set separately for. In the following, a configuration for determining the life of the processing device 2 based on the number of batches in which the processing device 2 has performed heat treatment will be illustrated.

次に、本実施形態に係る投入ロット編成装置1について説明する。図1は、本実施形態に係る投入ロット編成装置1の構成図である。投入ロット編成装置1は、図1に示すように、演算装置10と、記憶装置20と、外部出力装置30と、入力装置40と、を有する。 Next, the input lot knitting device 1 according to the present embodiment will be described. FIG. 1 is a configuration diagram of an input lot knitting device 1 according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, the input lot knitting device 1 includes an arithmetic unit 10, a storage device 20, an external output device 30, and an input device 40.

演算装置10は、記憶装置20に記憶されている、投入ロットILを編成するためのプログラムを実行することで、ロットLに関するロット情報を取得するロット情報取得機能と、処理装置2に関する装置情報を取得する装置情報取得機能と、投入ロットILの編成を行う投入ロット編成機能と、投入ロット編成機能による編成結果をユーザに出力する出力機能とを実行する。 The arithmetic unit 10 has a lot information acquisition function for acquiring lot information regarding lot L by executing a program for organizing input lot IL stored in the storage device 20, and device information regarding processing device 2. The device information acquisition function to be acquired, the input lot organization function for organizing the input lot IL, and the output function for outputting the organization result by the input lot organization function to the user are executed.

演算装置10のロット情報取得機能は、ロットLに関するロット情報を取得する。上述したように、ロット情報には、ロットLを構成するワークWの大きさ、ロットサイズ(1ロット当たりのワークの枚数)、加熱温度や加熱時間などのワークWの処理条件、ワークWの処理に適した処理装置2のライフ帯、ロットLの納期、ロットLの滞留時間の情報が含まれ、記憶装置20に記憶されている。そのため、ロット情報取得機能は、記憶装置20を参照することで、これらロット情報を取得することができる。また、外部装置または外部媒体にロット情報を記憶しておき、ロット情報取得機能が、外部装置または外部媒体にアクセスすることで、外部装置または外部媒体からロット情報を取得する構成としてもよい。 The lot information acquisition function of the arithmetic unit 10 acquires lot information regarding lot L. As described above, the lot information includes the size of the work W constituting the lot L, the lot size (the number of works per lot), the processing conditions of the work W such as the heating temperature and the heating time, and the processing of the work W. Information on the life zone of the processing device 2 suitable for the above, the delivery date of the lot L, and the residence time of the lot L is included and stored in the storage device 20. Therefore, the lot information acquisition function can acquire these lot information by referring to the storage device 20. Further, the lot information may be stored in the external device or the external medium, and the lot information acquisition function may acquire the lot information from the external device or the external medium by accessing the external device or the external medium.

演算装置10の装置情報取得機能は、処理装置2に関する装置情報を取得する。上述したように、装置情報には、処理装置2が処理可能なワークWの大きさ、1回の処理当たり(1バッチ当たり)の投入可能枚数、1バッチ当たりの処理時間、処理装置2のライフ情報、処理装置2が実行可能な処理条件(たとえば加熱温度や加熱時間)、などの処理装置2の仕様に関する情報が装置情報として含まれ、記憶装置20に記憶されている。 The device information acquisition function of the arithmetic unit 10 acquires device information related to the processing device 2. As described above, the device information includes the size of the work W that can be processed by the processing device 2, the number of sheets that can be input per processing (per batch), the processing time per batch, and the life of the processing device 2. Information regarding the specifications of the processing device 2, such as information and processing conditions (for example, heating temperature and heating time) that can be executed by the processing device 2, is included as device information and stored in the storage device 20.

さらに、本実施形態において、装置情報は、処理装置2のコンディションに関する情報を含む。処理装置2のコンディションに関する情報としては、処理装置2が稼働しているか否かを示す稼働状況や、処理装置2に既に割り当てられたワークWの通算枚数の情報が挙げられる。また、本実施形態に係る投入ロット編成処理では、ロットLの全てのワークWを一度のバッチ処理で処理できない場合には、同じロットLのワークWを、同一の処理装置2で複数回に分けて処理する場合があり、このような場合、同一の処理装置2について複数回分のバッチ処理を行うように投入ロットILが編成される。そのため、同一の処理装置2においてバッチ処理を複数回行う場合は、上記処理装置2に割り当てられたワークWの通算枚数として、全てのバッチ処理において割り当てられたワークWの合計枚数が記録される。さらに、バッチ処理を複数回行う場合の最終回のバッチ処理を「最終バッチ処理」と称した場合の、最終バッチ処理におけるワークWの割り当て済み枚数、最終バッチ処理における処理条件、最終バッチ処理の開始時刻、最終バッチ処理の終了時刻、最終バッチ処理終了時の処理装置2のライフ帯の情報が、装置情報(処理装置2のコンディションに関する情報)として記憶装置20に記憶される。 Further, in the present embodiment, the device information includes information regarding the condition of the processing device 2. Examples of the information regarding the condition of the processing device 2 include an operating status indicating whether or not the processing device 2 is operating, and information on the total number of work Ws already assigned to the processing device 2. Further, in the input lot knitting process according to the present embodiment, if all the work W of the lot L cannot be processed by one batch process, the work W of the same lot L is divided into a plurality of times by the same processing device 2. In such a case, the input lot IL is organized so as to perform batch processing for a plurality of times for the same processing device 2. Therefore, when batch processing is performed a plurality of times in the same processing device 2, the total number of work W assigned in all batch processing is recorded as the total number of work W assigned to the processing device 2. Further, when the final batch processing when the batch processing is performed multiple times is called "final batch processing", the number of work W allocated in the final batch processing, the processing conditions in the final batch processing, and the start of the final batch processing. Information on the time, the end time of the final batch processing, and the life zone of the processing device 2 at the end of the final batch processing is stored in the storage device 20 as device information (information regarding the condition of the processing device 2).

装置情報取得機能は、記憶装置20を参照することで、これら装置情報を取得することができる。また、ロット情報と同様に、外部装置または外部媒体に装置情報を記憶しておき、装置情報取得機能が、外部装置または外部媒体にアクセスすることで、外部装置または外部媒体から装置情報を取得する構成としてもよい。 The device information acquisition function can acquire these device information by referring to the storage device 20. Further, as with the lot information, the device information is stored in the external device or the external medium, and the device information acquisition function acquires the device information from the external device or the external medium by accessing the external device or the external medium. It may be configured.

演算装置10の投入ロット編成機能は、ロット情報取得機能により取得したロット情報と、装置情報取得機能により取得した装置情報とに基づいて、処理装置2に投入する投入ロットILの編成を行う。具体的には、投入ロット編成機能は、まず、ロットLを処理装置2に投入できるか否かを、ロットLごと、処理装置2ごとに判定する投入可否判定処理を行う。より具体的には、投入ロット編成機能は、処理装置2が稼働しているか(投入可否判定条件1)、処理装置2の処理終了時刻がロットLの処理終了期限前であるか(投入可否判定条件2)、ロットLに処理装置2の指定がある場合に、処理装置2が当該ロットLの指定する処理装置であるか(投入可否判定条件3)、処理装置2のライフ内においてロットLを処理できるか(投入可否判定条件4)、および、処理装置2の処理条件とロットLの処理条件とが一致するか(投入可否判定条件5)、の投入可否判定条件をそれぞれ判定し、1つの投入可否判定条件でも満たさない場合には、ロットLを処理装置2に投入しないと判定する。なお、投入可否判定処理の詳細については後述する。 The input lot organization function of the arithmetic unit 10 organizes the input lot IL to be input to the processing device 2 based on the lot information acquired by the lot information acquisition function and the device information acquired by the device information acquisition function. Specifically, the input lot knitting function first performs an input propriety determination process for determining whether or not the lot L can be input to the processing device 2 for each lot L and each processing device 2. More specifically, in the input lot knitting function, whether the processing device 2 is operating (input availability determination condition 1) or whether the processing end time of the processing device 2 is before the processing end deadline of the lot L (input availability determination). Condition 2), when the lot L is designated as the processing device 2, whether the processing device 2 is the processing device specified by the lot L (input availability determination condition 3), or whether the lot L is specified in the life of the processing device 2. It is determined whether the processing is possible (input availability determination condition 4) and whether the processing condition of the processing device 2 and the processing condition of the lot L match (input availability determination condition 5), respectively, and one is determined. If the condition for determining whether or not the lot can be input is not satisfied, it is determined that the lot L is not input to the processing device 2. The details of the input availability determination process will be described later.

また、投入ロット編成機能は、投入可否判定処理において投入可能と判定されたロットLと処理装置2との組み合わせについて、ロットLを処理装置2に投入する際の適合度を評価する適合度評価処理を行う。具体的には、投入ロット編成機能は、投入可能と判定されたロットLと処理装置2との組み合わせについて、ロットLを処理装置2で処理した場合の処理終了時刻(適合度評価条件1)、ロットLを処理装置2に投入した場合の処理装置2の最終バッチ処理における充填率(適合度評価条件2)、いずれかのロットLから指定されている処理装置2について、判定対象のロットLが、処理装置2を指定するロットLであるか(適合度評価条件3)、処理装置2のライフ帯がロットLに適したライフ帯であるか(適合度評価条件4)、ロットLを処理装置2に投入する場合に段取りが必要であるか(適合度評価条件5)、のいずれか2つ以上の適合度評価条件について判定を行い、適合度評価条件ごとに個別適合度を算出する。さらに、投入ロット編成機能は、算出した個別適合度の合計値や当該合計値を相対化した値を、適合度評価値として算出する。なお、適合度評価処理の詳細については後述する。 Further, the input lot knitting function is a goodness-of-fit evaluation process for evaluating the goodness of fit when the lot L is input to the processing device 2 for the combination of the lot L determined to be capable of input in the input availability determination process and the processing device 2. I do. Specifically, in the input lot knitting function, for the combination of the lot L determined to be input and the processing device 2, the processing end time when the lot L is processed by the processing device 2 (goodness of fit evaluation condition 1). The filling rate (goodness-of-fit evaluation condition 2) in the final batch processing of the processing device 2 when the lot L is input to the processing device 2, and the lot L to be determined is the processing device 2 designated from any of the lot L. , Whether the lot L designates the processing device 2 (goodness of fit evaluation condition 3), whether the life zone of the processing device 2 is a life zone suitable for the lot L (goodness of fit evaluation condition 4), and the lot L is processed by the processing device. Judgment is made on any two or more goodness-of-fit evaluation conditions of whether setup is necessary when inputting to 2 (goodness-of-fit evaluation condition 5), and the individual goodness-of-fit degree is calculated for each goodness-of-fit evaluation condition. Further, the input lot knitting function calculates the total value of the calculated individual goodness of fit and the value obtained by relativizing the total value as the goodness of fit evaluation value. The details of the goodness-of-fit evaluation process will be described later.

そして、投入ロット編成機能は、投入可否判定処理において投入可能と判定されたロットLと処理装置2との複数の組み合わせのうち、適合度評価値が最も高い組み合わせを選出し、当該組み合わせにおけるロットLを、当該組み合わせにおける処理装置2に割り当てる。そして、投入ロット編成機能は、処理装置2に未だ割り当てられていないロットLについて、上述した投入可否判定処理と、適合度評価処理とを繰り返すことで、生産計画などで必要とされる分のロットLの処理装置2への割り当てを行う。 Then, the input lot knitting function selects the combination having the highest goodness-of-fit evaluation value from the plurality of combinations of the lot L determined to be inputtable in the input availability determination process and the processing device 2, and the lot L in the combination. Is assigned to the processing device 2 in the combination. Then, the input lot knitting function repeats the above-mentioned input possibility determination process and the goodness-of-fit evaluation process for the lot L that has not been assigned to the processing device 2, so that the lot required in the production plan or the like is repeated. Allocate L to the processing device 2.

演算装置10の出力機能は、投入ロット編成機能により生成された投入ロットILの編成情報を、外部出力装置30に出力する。外部出力装置30は、特に限定されず、モニターやタッチパネルディスプレイなどの表示装置、音声を出力する音声出力装置、プリンターなど編成情報を印刷する印刷装置など、ユーザに編成情報を把握させることができる装置が一例として挙げられる。また、外部出力装置30は、編成情報を外部媒体に記憶するものや、搬送システムなどの外部システムに編成情報を伝達する装置であってもよい。本実施形態において、外部出力装置30は、ディスプレイであり、投入ロットILの編成情報を表示することで、どのロットLをどの処理装置2に投入すればよいかをユーザに迅速に把握させることができる。 The output function of the arithmetic unit 10 outputs the organization information of the input lot IL generated by the input lot organization function to the external output device 30. The external output device 30 is not particularly limited, and is a device that allows the user to grasp the organization information, such as a display device such as a monitor or a touch panel display, an audio output device that outputs sound, and a printing device that prints organization information such as a printer. Is given as an example. Further, the external output device 30 may be a device that stores the knitting information in an external medium or a device that transmits the knitting information to an external system such as a transfer system. In the present embodiment, the external output device 30 is a display, and by displaying the organization information of the input lot IL, the user can quickly grasp which lot L should be input to which processing device 2. can.

次に、本実施形態に係る投入ロット編成処理について説明する。図2は、本実施形態に係る投入ロット編成処理を示すフローチャートである。なお、以下に示す投入ロット編成処理は、投入ロット編成装置1の演算装置10により実行される。また、以下に示す例では、ロットLA~LCを、処理装置2A~2Cで処理する場面を例示して説明する。 Next, the input lot knitting process according to the present embodiment will be described. FIG. 2 is a flowchart showing an input lot knitting process according to the present embodiment. The input lot knitting process shown below is executed by the arithmetic unit 10 of the input lot knitting device 1. Further, in the example shown below, a scene in which the lots LA to LC are processed by the processing devices 2A to 2C will be illustrated and described.

図2に示すように、ステップS1では、演算装置10のロット情報取得機能により、ロット情報の取得が行われる。本実施形態において、ロット情報には、ロットLを構成するワークWの大きさ、ロットサイズ(1ロット当たりのワークの枚数)、加熱温度や加熱時間などのワークWの処理条件、ワークWの処理に適した処理装置2のライフ帯、ロットLの納期、ロットLの滞留時間の情報が含まれる。 As shown in FIG. 2, in step S1, lot information is acquired by the lot information acquisition function of the arithmetic unit 10. In the present embodiment, the lot information includes the size of the work W constituting the lot L, the lot size (the number of works per lot), the processing conditions of the work W such as the heating temperature and the heating time, and the processing of the work W. Information on the life zone of the processing apparatus 2, the delivery date of the lot L, and the residence time of the lot L is included.

ここで、下記表1は、ロットLA~LCのロット情報の一例を示す表である。たとえば、表1に示すように、ロットLAのロット情報に関し、ロットLAを構成するワークWの大きさ(直径)が150mmであり、1ロット当たりのワークWの枚数が170枚であり、加熱温度や加熱時間などの処理条件が「処理条件1」であり、治具などのライフが「初期」である処理装置2で処理されることが望ましく、処理装置2の指定はないとの情報が得られる。また、ロットLAは、現在までの滞留時間が「長く」、納期が「8月3日12時」となっているとのロット情報が得られる。

Figure 2022090265000002
Here, Table 1 below is a table showing an example of lot information of lots LA to LC. For example, as shown in Table 1, regarding the lot information of the lot LA, the size (diameter) of the work W constituting the lot LA is 150 mm, the number of the work W per lot is 170, and the heating temperature. It is desirable that the processing condition such as the heating time is "processing condition 1" and the life of the jig or the like is "initial", and the processing device 2 is not specified. Be done. In addition, lot information can be obtained that the residence time up to now is "long" and the delivery date is "12:00 on August 3" for the lot LA.
Figure 2022090265000002

ステップS2では、演算装置10の装置情報取得機能により、処理装置2に関する装置情報が、記憶装置20から取得される。本実施形態において、装置情報には、処理装置2が処理可能なワークWの大きさ、1回の処理当たり(1バッチ当たり)の投入可能枚数、1バッチ当たりの処理時間、処理装置2のライフ情報、処理装置2が実行可能な処理条件(たとえば加熱温度や加熱時間など)などの、処理装置2の仕様を示す情報が含まれる。 In step S2, the device information related to the processing device 2 is acquired from the storage device 20 by the device information acquisition function of the arithmetic unit 10. In the present embodiment, the device information includes the size of the work W that can be processed by the processing device 2, the number of sheets that can be input per one processing (per batch), the processing time per batch, and the life of the processing device 2. Information and information indicating the specifications of the processing apparatus 2 such as processing conditions (for example, heating temperature and heating time) that can be executed by the processing apparatus 2 are included.

ここで、下記表2は、処理装置2A~2Cの装置情報の一例を示す表である。たとえば、表2に示すように、処理装置2Aの装置情報のうち、処理装置2Aの仕様を示す情報として、処理装置2Aが処理可能なワークWの大きさ(直径)が「150mm」であり、1バッチ当たりの投入可能なワークWの枚数が「120枚」であり、1バッチ当たりの処理時間が「3時間」であり、最大ライフ「NA」とライフ帯との関係(たとえば、バッチ回数が0.3×NA未満であればライフは「初期」であり、バッチ回数が0.3×NA以上かつ0.6×NA未満であればライフは「中期」であり、バッチ回数が0.6NA以上であればライフは「末期」である)、処理装置2Aが実行可能な処理条件が「条件1」および「条件2」であるとの装置情報が得られる。なお、1バッチ当たりの処理時間は、処理装置2へのワークWの出し入れの時間を含めた時間とすることができる。

Figure 2022090265000003
Here, Table 2 below is a table showing an example of device information of the processing devices 2A to 2C. For example, as shown in Table 2, among the device information of the processing device 2A, the size (diameter) of the work W that can be processed by the processing device 2A is "150 mm" as the information indicating the specifications of the processing device 2A. The number of work Ws that can be input per batch is "120", the processing time per batch is "3 hours", and the relationship between the maximum life "NA" and the life zone (for example, the number of batches is If it is less than 0.3 x NA, the life is "initial", and if the number of batches is 0.3 x NA or more and less than 0.6 x NA, the life is "medium term" and the number of batches is 0.6 NA. If it is the above, the life is "end stage"), and the device information that the processing conditions that can be executed by the processing device 2A are "condition 1" and "condition 2" can be obtained. The processing time per batch can be the time including the time for putting the work W in and out of the processing device 2.
Figure 2022090265000003

また、装置情報取得機能は、処理装置2のコンディションを示す情報も、装置情報として、記憶装置20から取得する。処理装置2のコンディション示す情報としては、処理装置2の稼働状態、処理装置2に割り当てられたワークWの通算枚数、最後バッチ処理におけるワークWの割り当て済み枚数、最終バッチ処理における処理条件、最終バッチ処理の開始時刻、最終バッチ処理の終了時刻、最終バッチ処理終了時の処理装置2のライフ帯の情報が含まれる。 Further, the device information acquisition function also acquires information indicating the condition of the processing device 2 from the storage device 20 as device information. The information indicating the condition of the processing device 2 includes the operating state of the processing device 2, the total number of work W assigned to the processing device 2, the number of work W allocated in the final batch processing, the processing conditions in the final batch processing, and the final batch. Information on the start time of processing, the end time of final batch processing, and the life zone of the processing device 2 at the end of final batch processing is included.

たとえば、表2に示す例において、装置情報取得機能は、処理装置2Aについて、処理装置2の稼働状態が「稼働中」であり、割り当て済みのワークWの通算枚数が「300枚」であり、最後バッチ処理におけるワークWの割り当て済み枚数が「60枚」であり、最終バッチ処理における処理条件が「条件1」であり、最終バッチ処理の開始時刻が「8月1日2時」であり、最終バッチ処理の終了時刻が「8月1日5時」であり、最終バッチ処理終了時の処理装置2Aのライフ帯が「初期」であるとの装置情報を取得することができる。 For example, in the example shown in Table 2, in the device information acquisition function, the operating state of the processing device 2 is "operating" and the total number of assigned work Ws is "300" for the processing device 2A. The number of work W allocated in the final batch processing is "60", the processing condition in the final batch processing is "condition 1", and the start time of the final batch processing is "2 o'clock on August 1". It is possible to acquire device information that the end time of the final batch processing is "5 o'clock on August 1st" and the life zone of the processing device 2A at the end of the final batch processing is "initial".

ステップS3では、投入ロット編成機能により、ステップS1で取得したロット情報およびステップS2で取得した装置情報に基づいて、ロット分割シミュレーションが行われる。ロット分割シミュレーションとは、ロットLのロットサイズが、処理装置2の最終バッチの投入可能枚数よりも大きい場合などに、投入ロットILを編成するために、ロットLを複数のサブロットSLに分割することである。なお、ロット分割シミュレーションは、ロットLと処理装置2との組み合わせごとに行われる。 In step S3, the input lot knitting function performs a lot division simulation based on the lot information acquired in step S1 and the device information acquired in step S2. The lot division simulation is to divide the lot L into a plurality of sub-lot SLs in order to organize the input lot IL when the lot size of the lot L is larger than the number of sheets that can be input in the final batch of the processing device 2. Is. The lot division simulation is performed for each combination of the lot L and the processing device 2.

たとえば、上記表1に示すロットLA、および、上記表2に示す処理装置2Aとの組み合わせについてロット分割シミュレーションを行う場面を説明する。上記表1に示すように、ロットLAはロットサイズが170枚である。また、上記表2に示すように、処理装置2Aは1バッチ当たりの投入可能枚数が120枚であり、最終バッチ処理の割り当て済み枚数が60枚である。そのため、処理装置2Aには、ロットLAを投入することができるスペースがあることがわかる。 For example, a scene in which a lot division simulation is performed for the combination of the lot LA shown in Table 1 and the processing apparatus 2A shown in Table 2 will be described. As shown in Table 1 above, the lot LA has a lot size of 170 sheets. Further, as shown in Table 2 above, the processing apparatus 2A has 120 sheets that can be input per batch and 60 sheets that have been allocated for the final batch processing. Therefore, it can be seen that the processing apparatus 2A has a space in which the lot LA can be charged.

この場合、投入ロット編成機能は、ロットLAを処理装置2Aに混成させることができるか否かを判定する。具体的には、投入ロット編成機能は、まず、処理装置2Aに別のロットLが既に投入されているかを判定する。そして、投入ロット編成機能は、処理装置2Aに別のロットLが既に投入されている場合には、たとえば下記に示す条件を満たす場合に、ロットLAを処理装置2Aに混成できると判定することができる。すなわち、投入ロット編成機能は、たとえば、(1)処理装置2Aが、ロットLAが要求する処理条件で処理を実行可能であり、(2)ロットLAのワークWの大きさと処理装置2Aの最終バッチ処理において処理可能なワークWの大きさが一致し、(3)処理装置2Aの最終バッチ処理に空きがあり(最終バッチ処理の充填率が100%未満であり)、(4)ロットLAの処理条件と処理装置2Aの最終バッチにおける処理条件とが一致する場合に、既に投入された別のロットLと、ロットLAとは混成可能であると判定することができる。また、上記条件に加えて、加熱温度が一致する、加熱時間が一致する、ドーパント種が一致する、あるいは、抵抗が所定範囲内である場合に、混成可能であると判定する構成としてもよい。 In this case, the input lot knitting function determines whether or not the lot LA can be mixed with the processing device 2A. Specifically, the input lot knitting function first determines whether another lot L has already been input to the processing device 2A. Then, the input lot knitting function determines that if another lot L has already been input to the processing device 2A, for example, if the conditions shown below are satisfied, the lot LA can be mixed with the processing device 2A. can. That is, in the input lot knitting function, for example, (1) the processing device 2A can execute processing under the processing conditions required by the lot LA, and (2) the size of the work W of the lot LA and the final batch of the processing device 2A. The sizes of the workpieces W that can be processed in the processing match, (3) there is a vacancy in the final batch processing of the processing device 2A (the filling rate of the final batch processing is less than 100%), and (4) the processing of the lot LA. When the conditions and the processing conditions in the final batch of the processing apparatus 2A match, it can be determined that another lot L already charged and the lot LA can be mixed. Further, in addition to the above conditions, if the heating temperature is the same, the heating time is the same, the dopant types are the same, or the resistance is within a predetermined range, it may be determined that the mixture is possible.

そして、投入ロット編成機能は、処理装置2AにおいてロットLAを混成できると判定した場合には、処理装置2Aの投入可能枚数の120枚から、既に割り当てられている最終バッチ処理のロットLの60枚を差し引いた、60枚分のスペースにロットLAを割り当てる。また、ロットLAはロットサイズが170枚であるため、残りの110枚については、次回のバッチ処理として、処理装置2Aに割り当てる。これにより、投入ロット編成機能は、下記表3に示すように、ロットLAを処理装置2Aに投入する場合には、ロットLAを、1バッチ目の60枚と、2バッチ目の110枚の2つのサブロットに分割するものとして算出し、そのシミュレーション結果を、記憶装置20に記憶する。

Figure 2022090265000004
Then, when the input lot knitting function determines that the lot LA can be mixed in the processing device 2A, the number of sheets that can be input from the processing device 2A is 120, and the number of the lot L of the final batch processing that has already been allocated is 60. Allocate lot LA to the space for 60 sheets after deducting. Further, since the lot LA has a lot size of 170 sheets, the remaining 110 sheets are allocated to the processing device 2A as the next batch processing. As a result, as shown in Table 3 below, when the lot LA is charged into the processing device 2A, the input lot knitting function performs 2 lot LAs, 60 sheets in the first batch and 110 sheets in the second batch. It is calculated as being divided into one sub-lot, and the simulation result is stored in the storage device 20.
Figure 2022090265000004

また、ロットLAを処理装置2Bに投入する場合のシミュレーションについて説明する。上記表2に示すように、処理装置2Bは、1バッチ当たりの投入可能枚数が100枚であり、最終バッチ処理における割り当て済み枚数は50枚であるため、最終バッチ処理におけるスペースに余裕があるが、処理装置2Bの最終バッチにおける処理条件が「条件2」でありロットLAの処理条件が「条件1」であるため、最終バッチ処理において割り当て済みのロットLと投入候補のロットLAとを混成して処理することができない。そのため、投入ロット編成機能は、最終バッチ処理の次のバッチ処理から、ロットLAを処理装置2Bに投入する。この場合、処理装置2Bの1バッチ当たりの投入可能枚数は100枚であるため、投入ロット編成機能は、1バッチ目のサブロットを100枚と設定し、2バッチ目のサブロットを70枚と設定する。このように、ロットLAを処理装置2Bに投入する場合、投入ロット編成機能は、ロットLAを、1バッチ目の100枚と、2バッチ目の70枚の2つのサブロットに分割するシミュレーションを行うこととなる。同様に、ロットLAと処理装置2Cとの組み合わせ、並びに、ロットLB,LCと処理装置2A~2Cの各組み合わせについてもシミュレーションを行い、必要な場合に、サブロットSLへの分割を行う。 Further, a simulation in which the lot LA is charged into the processing device 2B will be described. As shown in Table 2 above, the processing apparatus 2B has 100 sheets that can be input per batch and 50 sheets that have been allocated in the final batch processing, so that there is a margin in the final batch processing. Since the processing condition in the final batch of the processing apparatus 2B is "Condition 2" and the processing condition of the lot LA is "Condition 1", the lot L allocated in the final batch processing and the lot LA of the input candidate are mixed. Cannot be processed. Therefore, the input lot knitting function inputs the lot LA to the processing apparatus 2B from the batch processing next to the final batch processing. In this case, since the number of sheets that can be input per batch of the processing device 2B is 100, the input lot knitting function sets the sub-lot of the first batch to 100 sheets and the sub-lot of the second batch to 70 sheets. .. In this way, when the lot LA is charged into the processing device 2B, the input lot knitting function performs a simulation of dividing the lot LA into two sublots, 100 sheets in the first batch and 70 sheets in the second batch. It becomes. Similarly, the combination of the lot LA and the processing device 2C, and each combination of the lot LB, LC and the processing devices 2A to 2C are also simulated, and if necessary, they are divided into sub-lot SLs.

さらに、ステップS3のロット分割シミュレーションにおいて、投入ロット編成機能は、ロットLを複数のサブロットSLに分割した場合の、1バッチ目の処理開始時刻、最終バッチの処理開始時刻、最終バッチの処理終了時刻、最終バッチのサブロットSLを投入した際の処理装置2の充填率、および最終バッチ終了時の処理装置2のライフ帯についても、シミュレーションを行う。 Further, in the lot division simulation in step S3, the input lot knitting function performs the processing start time of the first batch, the processing start time of the final batch, and the processing end time of the final batch when the lot L is divided into a plurality of sublot SLs. , The filling rate of the processing device 2 when the sub-lot SL of the final batch is input, and the life zone of the processing device 2 at the end of the final batch are also simulated.

たとえば、ロットLAを処理装置2Aに投入する場合、上述したように、ロットLAは2つのサブロットSLA1,SLA2に分割され、1バッチ目のサブロットSLA1が、表2に示す処理装置2Aの最終バッチ処理において処理される。そのため、投入ロット編成機能は、ロットLAの1バッチ目の処理開始時刻を、表2に示す処理装置2Aの最終バッチ処理の開始時刻である「8月1日2時」と算出することができる。また、ロットLAの2バッチ目のサブロットSLA2は、ロットLAの最終バッチ目のサブロットとなる。表2に示すように、処理装置2Aの1バッチ当たりの処理時間は3時間であるため、投入ロット編成機能は、ロットLAの最終バッチ目(2バッチ目)のサブロットSLA2の処理開始時刻を、1バッチ目の処理開始時刻から3時間後の「8月1日5時」と算出し、また、最終バッチ目(2バッチ目)のサブロットSLA2の処理終了時刻をさらに3時間後の「8月1日8時」と算出する。さらに、投入ロット編成機能は、ロットLAの最終バッチ目(2バッチ目)のサブロットSLA2を投入した後の処理装置2Aの充填率を110/120=91.7%と算出する。 For example, when the lot LA is charged into the processing device 2A, as described above, the lot LA is divided into two sub-lots SLA1 and SLA2, and the first batch of sub-lot SLA1 is the final batch processing of the processing device 2A shown in Table 2. Is processed in. Therefore, the input lot knitting function can calculate the processing start time of the first batch of the lot LA as "2 o'clock on August 1", which is the start time of the final batch processing of the processing apparatus 2A shown in Table 2. .. Further, the sub-lot SLA2 of the second batch of the lot LA becomes the sub-lot of the final batch of the lot LA. As shown in Table 2, since the processing time per batch of the processing device 2A is 3 hours, the input lot knitting function sets the processing start time of the sub-lot SLA2 of the final batch (second batch) of the lot LA. It is calculated as "5 o'clock on August 1st" 3 hours after the processing start time of the first batch, and the processing end time of the sublot SLA2 of the final batch (second batch) is further 3 hours later "August". It is calculated as "8 o'clock a day". Further, the input lot knitting function calculates the filling rate of the processing device 2A after charging the sub-lot SLA2 of the final batch (second batch) of the lot LA as 110/120 = 91.7%.

さらに、ロット分割シミュレーションにおいて、投入ロット編成機能は、上記表3に示すように、ロットLAの最終バッチ終了時のライフ帯も算出する。ここで、処理装置2のライフ帯は、図2に示すように、ライフの最大値を所定のバッチ回数NAで定めており、実行したバッチ回数に応じてライフが3段階で判断される。たとえば、表2に示す処理装置2Aにおいては、最大ライフのバッチ回数NAに対して、バッチ回数が0.3×NA回までを「初期(<0.3NA)」、0.6×NA回までを「中期(<0.6NA)、0.6×LA回以上を「末期(≧0.6NA)」としている。そのため、たとえば、処理装置2Aの最大ライフがバッチ処理100回である場合において、処理装置2AでロットLAを処理した後の処理装置2Aのバッチ処理の通算回数が、30回までである場合は「初期」と設定し、60回までである場合は「中期」と設定し、60回以上は「末期」と設定される。なお、ライフは治具の交換やメンテナンスで回復し、回復後は再度、バッチ処理の通算回数を0回としてライフが評価される。また、上記例では、ライフを3段階で評価する構成を例示したが、この構成に限定されず、2段階または4段階以上で評価する構成としてもよい。 Further, in the lot division simulation, the input lot knitting function also calculates the life zone at the end of the final batch of the lot LA, as shown in Table 3 above. Here, in the life zone of the processing device 2, as shown in FIG. 2, the maximum value of the life is determined by the predetermined number of batches NA, and the life is determined in three stages according to the number of executed batches. For example, in the processing device 2A shown in Table 2, the batch number is "initial (<0.3NA)" up to 0.3 × NA times and up to 0.6 × NA times for the batch number NA of the maximum life. Is defined as "mid-term (<0.6NA)", and 0.6 x LA times or more is defined as "terminal stage (≧ 0.6 NA)". Therefore, for example, when the maximum life of the processing device 2A is 100 times of batch processing, the total number of batch processing of the processing device 2A after processing the lot LA by the processing device 2A is up to 30 times. It is set as "initial", if it is up to 60 times, it is set as "mid-term", and if it is 60 times or more, it is set as "end-stage". The life is recovered by replacing the jig and maintenance, and after the recovery, the life is evaluated again with the total number of batch processes being 0. Further, in the above example, a configuration in which the life is evaluated in three stages is illustrated, but the configuration is not limited to this configuration, and a configuration in which the life is evaluated in two stages or four or more stages may be used.

ステップS4では、投入ロット編成機能により、投入可否判定処理が行われる。ここで、図3は、ステップS4の投入可否判定処理を示すフローチャートである。図3に示す投入可否判定処理では、各ロットLについて、各処理装置2に投入できるか否かを、ロットLごと、処理装置2ごとに判定される。そのため、ステップS41では、まず、投入ロット編成機能により、投入可否判定処理の処理対象となるロットLと処理装置2との組み合わせが特定される。なお、本実施形態では、投入可否判定処理の対象となるロットLを判定対象ロットLT1と称し、投入可否判定処理の対象となる処理装置2を判定対象装置2T1と称す。 In step S4, the input availability determination process is performed by the input lot knitting function. Here, FIG. 3 is a flowchart showing the input possibility determination process of step S4. In the charging possibility determination process shown in FIG. 3, it is determined for each lot L and each processing device 2 whether or not each lot L can be charged into each processing device 2. Therefore, in step S41, first, the input lot knitting function specifies the combination of the lot L to be processed for the input availability determination process and the processing device 2. In this embodiment, the lot L that is the target of the input availability determination process is referred to as the determination target lot LT1, and the processing device 2 that is the target of the input availability determination process is referred to as the determination target device 2 T1 .

ステップS42では、投入ロット編成機能により、ステップS2で取得された判定対象装置2T1の装置情報に基づいて、判定対象装置2T1が稼働しているか否か(投入可否判定条件1)の判定が行われる。たとえば、判定対象装置2T1が上記表2に示す処理装置2Aである場合、稼働状態が「稼働中」であるため、投入ロット編成機能は、判定対象装置2T1は稼働していると判定する。また、判定対象装置2T1が上記表2に示す処理装置2Cである場合、稼働状態は「停止中」であるため、投入ロット編成機能は、判定対象装置2T1は稼働していないと判定する。そして、投入ロット編成機能は、判定対象装置2T1が稼働していると判定した場合は、投入可否判定条件1のステータスを「YES」に設定し、判定対象装置2T1が稼働していないと判定した場合は、投入可否判定条件1のステータスを「NO」に設定し、判定結果を記憶装置20に記憶する。 In step S42, the input lot knitting function determines whether or not the determination target device 2 T1 is operating (input availability determination condition 1) based on the device information of the determination target device 2 T1 acquired in step S2. Will be done. For example, when the determination target device 2 T1 is the processing device 2A shown in Table 2 above, the input lot organization function determines that the determination target device 2 T1 is operating because the operating state is “operating”. .. Further, when the determination target device 2 T1 is the processing device 2C shown in Table 2 above, the operation state is "stopped", so that the input lot knitting function determines that the determination target device 2 T1 is not operating. .. Then, when the input lot knitting function determines that the determination target device 2 T1 is operating, the status of the input availability determination condition 1 is set to "YES", and the determination target device 2 T1 is not operating. When the determination is made, the status of the input availability determination condition 1 is set to "NO", and the determination result is stored in the storage device 20.

ステップS43では、投入ロット編成機能により、判定対象ロットLT1を判定対象装置2T1で処理した場合に、判定対象ロットLT1の納期に間に合うか否か(投入可否判定条件2)の判定が行われる。具体的には、投入ロット編成機能は、ステップS3のロット分割シミュレーションで算出した判定対象ロットLT1の複数のサブロットSLのうち最終バッチ目のサブロットSLの処理終了時刻と、ステップS1で取得したロット情報にある判定対象ロットLT1の納期に応じた処理終了期限とを比較する。そして、投入ロット編成機能は、判定対象ロットLT1の最終バッチ目のサブロットSLの処理終了時刻が判定対象ロットLT1の処理終了期限よりも早い場合に、判定対象ロットLT1の納期に間に合うと判定する。そして、投入ロット編成機能は、判定対象ロットLT1を判定対象装置2T1で処理した場合に、判定対象ロットLT1の納期に間に合うと判定した場合は、投入可否判定条件2のステータスを「YES」に設定し、一方、判定対象ロットLT1の納期に間に合わないと判定した場合は、投入可否判定条件2のステータスを「NO」に設定し、設定した投入不可判定条件2のステータスを記憶装置20に記憶する。 In step S43, when the determination target lot LT1 is processed by the determination target device 2 T1 by the input lot knitting function, it is determined whether or not the determination target lot LT1 is in time for the delivery date (input availability determination condition 2). Will be. Specifically, the input lot knitting function includes the processing end time of the sub-lot SL of the final batch among the plurality of sub-lot SLs of the determination target lot LT1 calculated by the lot division simulation in step S3, and the lot acquired in step S1. Compare with the processing end deadline according to the delivery date of the judgment target lot LT1 in the information. Then, when the processing end time of the sub-lot SL of the final batch of the judgment target lot LT1 is earlier than the processing end deadline of the judgment target lot LT1 , the input lot knitting function is in time for the delivery date of the judgment target lot LT1 . judge. Then, when the input lot knitting function determines that the determination target lot LT1 is processed by the determination target device 2 T1 and the determination target lot LT1 is in time for the delivery date, the status of the input availability determination condition 2 is set to "YES". On the other hand, if it is determined that the delivery date of the determination target lot LT1 cannot be met, the status of the input availability determination condition 2 is set to "NO", and the status of the set input disapproval determination condition 2 is stored in the storage device. Store in 20.

たとえば、上記表3に示す例において、判定対象ロットLT1がロットLAであり、判定対象装置2T1が処理装置2Aである場合、表3に示すように、ロットLAの最終バッチ目のサブロットSLA2の処理終了時刻が「8月1日8時」であり、表2に示す、ロットLAの納期である「8月3日12時」よりも早い。そのため、投入ロット編成機能は、ロットLAを処理装置2Aで処理した場合に、ロットLAの納期に間に合うと判定し、投入可否判定条件2のステータスを「YES」に設定する。 For example, in the example shown in Table 3 above, when the determination target lot LT1 is the lot LA and the determination target device 2 T1 is the processing device 2A, as shown in Table 3, the sublot SLA2 of the final batch of the lot LA The processing end time of is "8 o'clock on August 1st", which is earlier than the delivery date of lot LA "12:00 on August 3rd" shown in Table 2. Therefore, the input lot knitting function determines that the lot LA is in time for the delivery date when the lot LA is processed by the processing device 2A, and sets the status of the input availability determination condition 2 to "YES".

また、ステップS44では、投入ロット編成機能により、判定対象ロットLT1について処理装置2の指定があるか否か、および、判定対象装置2T1が判定対象ロットLT1の指定する処理装置2であるか否か(投入可否判定条件3の判定)の判定が行われる。具体的に、投入ロット編成機能は、ステップS1で取得したロット情報に基づいて、判定対象ロットLT1に、処理装置2の指定があるか判定する。また、判定対象ロットLT1に処理装置2の指定がある場合には、投入ロット編成機能は、判定対象装置2T1が、判定対象ロットLT1の指定する処理装置2であるか否かを判定する。そして、投入ロット編成機能は、判定対象ロットLT1に処理装置2の指定がない場合、あるいは、判定対象装置2T1が判定対象ロットLT1の指定する処理装置2である場合、投入可否判定条件3のステータスを「YES」に設定し、一方、判定対象ロットLT1に処理装置2の指定があり、かつ、判定対象装置2T1が判定対象ロットLT1の指定する処理装置2ではない場合には、投入可否判定条件3のステータスを「NO」に設定し、設定した投入不可判定条件3のステータスを記憶装置20に記憶する。 Further, in step S44, whether or not the processing device 2 is designated for the determination target lot LT1 by the input lot knitting function, and the determination target device 2 T1 is the processing device 2 designated by the determination target lot LT1 . Whether or not (determination of input availability determination condition 3) is determined. Specifically, the input lot knitting function determines whether or not the determination target lot LT1 has the designation of the processing device 2 based on the lot information acquired in step S1. Further, when the determination target lot LT1 is designated as the processing device 2, the input lot knitting function determines whether or not the determination target device 2 T1 is the processing device 2 designated by the determination target lot LT1 . do. Then, the input lot knitting function is a condition for determining whether or not the input is possible when the determination target lot LT1 does not have the processing device 2 specified, or when the determination target device 2 T1 is the processing device 2 designated by the determination target lot LT1 . When the status of 3 is set to "YES", while the determination target lot LT1 has the processing device 2 specified, and the determination target device 2 T1 is not the processing device 2 specified by the determination target lot LT1 . Sets the status of the input availability determination condition 3 to "NO", and stores the set status of the input disapproval determination condition 3 in the storage device 20.

たとえば、判定対象ロットLT1がロットLAである場合、上記表1に示すように、ロットLAは処理装置2の指定がないため、投入ロット編成機能は、判定対象装置2T1が処理装置2A~2Cのいずれについても、投入可否判定条件3のステータスを「YES」に設定する。同様に、判定対象ロットLT1がロットLBである場合も、処理装置2の指定がないため、処理装置2A~2Cのいずれについても、投入可否判定条件3のステータスが「YES」に設定される。一方、判定対象ロットLT1がロットLCである場合、表1に示すように、ロットLCは処理装置2の指定があり、ロットLCを処理するための処理装置2として処理装置2Aを指定している。そのため、投入ロット編成機能は、判定対象ロットLT1がロットLCであり、判定対象装置2T1が処理装置2Aである場合には、投入可否判定条件3のステータスを「YES」に設定し、判定対象装置2T1が処理装置2B,2Cの場合には、投入可否判定条件3のステータスを「NO」に設定する。 For example, when the determination target lot LT1 is a lot LA, as shown in Table 1 above, since the lot LA is not designated by the processing device 2, the input lot organization function is such that the determination target device 2 T1 is the processing device 2A to For any of the 2Cs, the status of the input availability determination condition 3 is set to "YES". Similarly, even when the determination target lot LT1 is the lot LB, since the processing device 2 is not specified, the status of the input availability determination condition 3 is set to “YES” for any of the processing devices 2A to 2C. .. On the other hand, when the determination target lot LT1 is a lot LC, as shown in Table 1, the lot LC is designated as the processing device 2, and the processing device 2A is designated as the processing device 2 for processing the lot LC. There is. Therefore, in the input lot knitting function, when the determination target lot LT1 is the lot LC and the determination target device 2 T1 is the processing device 2A, the status of the input availability determination condition 3 is set to "YES" and the determination is made. When the target device 2 T1 is the processing devices 2B and 2C, the status of the input availability determination condition 3 is set to "NO".

ステップS45では、投入ロット編成機能により、判定対象装置2T1のライフ内において判定対象ロットLT1を処理できるか否かの判定(投入可否判定条件4の判定)が行われる。具体的に、投入ロット編成機能は、まず、ステップS2で取得した装置情報に基づいて、判定対象装置2T1のライフを確認し、判定対象装置2T1で判定対象ロットLT1を処理した場合に、判定対象装置2T1の処理回数が判定対象装置2T1の最大ライフを超えない場合には、判定対象装置2T1のライフ内において判定対象ロットLT1を処理できると判定し、一方、判定対象装置2T1の処理回数が判定対象装置2T1の最大ライフを超える場合には、判定対象装置2T1のライフ内において判定対象ロットLT1を処理できないと判定する。特に、本実施形態において、投入ロット編成機能は、判定対象ロットLT1をサブロットSLに分割する場合は、複数のサブロットの全てを判定対象装置2T1のライフ内で処理可能であるかを判定する。そして、投入ロット編成機能は、判定対象装置2T1のライフ内において判定対象ロットLT1を処理できると判定した場合には、投入可否判定条件4のステータスを「YES」と設定し、一方、判定対象装置2T1のライフ内において判定対象ロットLT1を処理できないと判定した場合には、投入可否判定条件4のステータスを「NO」と設定し、設定した投入可否判定条件4のステータスを記憶装置20に記憶する。 In step S45, the input lot knitting function determines whether or not the determination target lot LT1 can be processed within the life of the determination target device 2 T1 (determination of the input availability determination condition 4). Specifically, the input lot knitting function first confirms the life of the determination target device 2 T1 based on the device information acquired in step S2, and processes the determination target lot LT1 by the determination target device 2 T1 . If the number of processes of the determination target device 2 T1 does not exceed the maximum life of the determination target device 2 T1 , it is determined that the determination target lot LT1 can be processed within the life of the determination target device 2 T1 , while the determination target. When the number of processes of the device 2 T1 exceeds the maximum life of the determination target device 2 T1 , it is determined that the determination target lot LT1 cannot be processed within the life of the determination target device 2 T1 . In particular, in the present embodiment, when the input lot knitting function divides the determination target lot LT1 into sublot SLs, it determines whether all of the plurality of sublots can be processed within the life of the determination target device 2 T1 . .. Then, when the input lot knitting function determines that the determination target lot LT1 can be processed within the life of the determination target device 2 T1 , the status of the input availability determination condition 4 is set to "YES", while the determination is made. If it is determined that the determination target lot LT1 cannot be processed within the life of the target device 2 T1 , the status of the input availability determination condition 4 is set to "NO", and the status of the set input availability determination condition 4 is stored in the storage device. Store in 20.

たとえば、上記表3に示す例において、判定対象ロットLT1がロットLAであり、判定対象装置2T1が処理装置2Aである場合、ステップS3のロット分割シミュレーションの結果、ロットLAを分割した複数のサブロットSLA1,SLA2の最終バッチ処理における処理装置2Aのライフは最大ライフNAに達していない「中期(<0.6×NA)」として予測されている。この場合、投入ロット編成機能は、ロットLAの全てのサブロットSLA1,SLA2を処理しても、処理装置2Aの処理回数が最大ライフNAを超えないため、処理装置2Aのライフ内でロットLAを処理可能であると判定し、投入可否判定条件4を「YES」に設定する。 For example, in the example shown in Table 3 above, when the determination target lot LT1 is the lot LA and the determination target device 2 T1 is the processing device 2A, as a result of the lot division simulation in step S3, a plurality of lot LAs are divided. The life of the processing apparatus 2A in the final batch processing of the sublots SLA1 and SLA2 is predicted to be "medium term (<0.6 × NA)" which has not reached the maximum life NA. In this case, the input lot knitting function processes the lot LA within the life of the processing device 2A because the number of processing of the processing device 2A does not exceed the maximum life NA even if all the sub-lots SLA1 and SLA2 of the lot LA are processed. It is determined that it is possible, and the input possibility determination condition 4 is set to "YES".

ステップS46では、投入ロット編成機能により、判定対象装置2T1の処理条件と、判定対象ロットLT1の処理条件とが一致するか否かの判定が行われる。たとえば、本実施形態において、投入ロット編成機能は、加熱温度や加熱時間、ドーパントの種類、ドープ量(抵抗幅)、ガス組成や流量などの処理条件が一致するかを判定することができる。また、本実施形態において、投入ロット編成機能は、判定対象ロットLT1のワークWの大きさや形状と、判定対象装置2T1が処理可能なワークWの大きさや形状とが一致するかも処理条件として判定することができる。投入ロット編成機能は、判定対象装置2T1の処理条件と判定対象ロットLT1の処理条件とが一致すると判定した場合には、投入可否判定条件5のステータスを「YES」に設定し、一方、判定対象装置2T1の処理条件と判定対象ロットLT1の処理条件とが一致しない場合には、投入可否判定条件5のステータスを「NO」に設定し、設定した投入可否判定条件5のステータスを記憶装置20に記憶する。 In step S46, the input lot knitting function determines whether or not the processing conditions of the determination target device 2 T1 and the processing conditions of the determination target lot LT 1 match. For example, in the present embodiment, the input lot knitting function can determine whether the processing conditions such as the heating temperature, the heating time, the type of dopant, the doping amount (resistance width), the gas composition, and the flow rate match. Further, in the present embodiment, as a processing condition, the input lot knitting function may match the size and shape of the work W of the determination target lot LT1 with the size and shape of the work W that can be processed by the determination target device 2 T1 . It can be determined. When the input lot knitting function determines that the processing conditions of the determination target device 2 T1 and the processing conditions of the determination target lot LT1 match, the status of the input availability determination condition 5 is set to "YES", while the input lot formation function sets the status to "YES". If the processing conditions of the determination target device 2 T1 and the processing conditions of the determination target lot LT1 do not match, the status of the input availability determination condition 5 is set to "NO", and the status of the set input availability determination condition 5 is set. Store in the storage device 20.

たとえば、判定対象ロットLT1がロットLAであり、判定対象装置2T1が処理装置2Aである場合、表1に示すように、ロットLAの処理条件は「条件1」であり、表2に示すように、処理装置2Aが実施可能な処理条件は「条件1、2」であるため、処理条件は一致し、また、ロットLAのワークWの大きさが150mmであり、処理装置2Aの処理可能なワークWの大きさも150mmで一致するため、投入ロット編成機能は、ロットLAの処理条件と処理装置2Aの処理条件とが一致すると判定し、投入可否判定条件5のステータスを「YES」に設定する。 For example, when the determination target lot LT1 is the lot LA and the determination target device 2 T1 is the processing device 2A, the processing condition of the lot LA is “condition 1” as shown in Table 1, and is shown in Table 2. As described above, since the processing conditions that can be implemented by the processing device 2A are "conditions 1 and 2", the processing conditions are the same, and the size of the work W of the lot LA is 150 mm, so that the processing device 2A can process. Since the size of the work W also matches at 150 mm, the input lot knitting function determines that the processing conditions of the lot LA and the processing conditions of the processing device 2A match, and sets the status of the input availability determination condition 5 to "YES". do.

このように、ステップS42~S46において、投入可否判定条件1~5の判定を行うことで、下記表4に示すように、判定対象ロットLT1における、処理装置2ごとの投入可否判定条件1~5のステータスが記憶装置20に記憶されることとなる。なお、下記表4は、ロットLAにおける、処理装置2A~2Cの投入可否判定条件1~5のステータスを示している。

Figure 2022090265000005
In this way, by determining the input availability determination conditions 1 to 5 in steps S42 to S46, as shown in Table 4 below, the input availability determination conditions 1 to 1 for each processing device 2 in the determination target lot LT1 . The status of 5 will be stored in the storage device 20. In addition, Table 4 below shows the status of the input possibility determination conditions 1 to 5 of the processing devices 2A to 2C in the lot LA.
Figure 2022090265000005

そして、ステップS47では、投入ロット編成機能により、ステップS41で特定された判定対象ロットLT1について、全ての処理装置2を判定対象装置2T1として、ステップS41~S46の処理が行われたか否かの判定が行われる。ステップS41で特定された判定対象ロットLT1について、全ての処理装置2を判定対象装置2T1としてステップS41~S46の処理が行われた場合は、ステップS48に進み、一方、全ての処理装置2を判定対象装置2T1としてステップS41~S46の処理が行われていない場合は、ステップS41に戻り、処理が行われてない処理装置2が新たに判定対象装置2T1として特定され、ステップS42~S46の処理が行われる。 Then, in step S47, whether or not the processing of steps S41 to S46 has been performed for the determination target lot LT1 specified in step S41 by using the input lot knitting function with all the processing devices 2 as the determination target devices 2 T1 . Is determined. When the processing of steps S41 to S46 is performed with all the processing devices 2 as the judgment target devices 2 T1 for the determination target lot L T1 specified in step S41, the process proceeds to step S48, while all the processing devices 2 If the processing of steps S41 to S46 has not been performed as the determination target device 2 T1 , the process returns to step S41, the processing device 2 for which processing has not been performed is newly specified as the determination target device 2 T1 , and steps S42 to S42 to The processing of S46 is performed.

ステップS48では、投入ロット編成機能により、全てのロットLを判定対象ロットLT1として、ステップS41~S47の処理が行われたか否かの判定が行われる。全てのロットLを判定対象ロットLT1としてステップS41~S47の処理が行われた場合は、図3に示す投入可否判定処理を終了し、図2に示すステップS5に進む。一方、全てのロットLを判定対象ロットLT1としてステップS41~S47の処理が行われていない場合は、ステップS41に戻り、処理が行われてないロットLが新たに判定対象ロットLT1として特定され、ステップS41~S47の処理が行われる。 In step S48, the input lot knitting function determines whether or not the processes of steps S41 to S47 have been performed, with all lots L as the determination target lots LT1 . When the processes of steps S41 to S47 are performed with all the lots L as the determination target lots LT1, the input possibility determination process shown in FIG. 3 is terminated, and the process proceeds to step S5 shown in FIG. On the other hand, if all the lots L are set as the determination target lot L T1 and the processing of steps S41 to S47 is not performed, the process returns to step S41, and the unprocessed lot L is newly specified as the determination target lot LT1 . Then, the processes of steps S41 to S47 are performed.

図2に戻り、ステップS5では、投入ロット編成機能により、各ロットLについて、各処理装置2に投入した場合の適合度を評価する適合度算出処理が行われる。ここで、図4は、ステップS5の適合度評価処理を示すフローチャートである。図4に示す適合度評価処理では、複数の適合度評価条件のそれぞれについて、ロットLを処理装置2に投入した際の個別適合度を求め、求めた各個別適合度に重み付けを行った後、重み付けした複数の個別適合度の合計値や、当該合計値を相対化した値(たとえば、0~1の範囲内となるようにシグモイド関数を用いて導出した値)を、適合度評価値として算出する。 Returning to FIG. 2, in step S5, the goodness-of-fit calculation process for evaluating the goodness of fit when the lot L is charged into each processing device 2 is performed by the input lot knitting function. Here, FIG. 4 is a flowchart showing the goodness-of-fit evaluation process of step S5. In the goodness-of-fit evaluation process shown in FIG. 4, for each of the plurality of goodness-of-fit evaluation conditions, the individual goodness of fit when the lot L is put into the processing device 2 is obtained, and each of the obtained individual goodness of fit is weighted. The total value of multiple weighted individual goodness of fit and the value obtained by relativizing the total value (for example, the value derived by using the sigmoid function so as to be in the range of 0 to 1) are calculated as the goodness-of-fit evaluation value. do.

図4に示すように、ステップS51では、まず、投入ロット編成機能により、各適合度評価条件に重み付けを行うための重みの取得が行われる。本実施形態において、適合度評価条件の重みは、階層分析法により、適合度評価条件ごとに予め決定され、記憶装置20に記憶されている。ここで、本実施形態では、適合度評価条件として、(1)ロットLを処理装置2で処理した場合の処理終了時刻、(2)ロットLを処理装置2に投入した場合の処理装置2の最終バッチ処理における充填率、(3)いずれかのロットLから指定されている処理装置2について、判定対象のロットLが、処理装置2を指定するロットLであるか、(4)処理装置2のライフ帯がロットLに適したライフ帯であるか、(5)ロットLを処理装置2に投入する場合に段取りが必要であるか、の5つの適合度評価条件が評価される。そのため、本実施形態では、階層分析法により、(1)~(5)の適合度評価条件1~5を1:1でそれぞれ比較し、比較する適合度評価条件のどちらを優先するかを5段階で評価することで、各適合度評価条件の重みを決定している。 As shown in FIG. 4, in step S51, first, the input lot knitting function acquires weights for weighting each goodness-of-fit evaluation condition. In the present embodiment, the weight of the goodness-of-fit evaluation condition is determined in advance for each goodness-of-fit evaluation condition by the analytic hierarchy process and stored in the storage device 20. Here, in the present embodiment, as the goodness-of-fit evaluation conditions, (1) the processing end time when the lot L is processed by the processing device 2, and (2) the processing device 2 when the lot L is charged into the processing device 2. Regarding the filling rate in the final batch processing, (3) the lot L designated from any lot L, whether the lot L to be determined is the lot L designated by the processing device 2 or (4) the processing device 2 Five goodness-of-fit evaluation conditions are evaluated: whether the life zone of is suitable for the lot L, and (5) whether setup is necessary when the lot L is put into the processing apparatus 2. Therefore, in the present embodiment, the goodness-of-fit evaluation conditions 1 to 5 of (1) to (5) are compared 1: 1 by the analytic hierarchy process, and which of the goodness-of-fit evaluation conditions to be compared is prioritized 5 The weight of each goodness-of-fit evaluation condition is determined by evaluating in stages.

たとえば、下記表5の先頭行に示すように、(1)の処理終了時刻に関する適合度評価条件1と(2)の最終バッチの充填率に関する適合度評価条件2とを比較する場合に、(1)の処理終了時刻に関する適合度評価条件1よりも、(2)の最終バッチの充填率に関する適合度評価条件2を大きく優先する場合には、(1)の適合度評価条件1について1点を付与し、(2)の適合度評価条件2について5点を付与する。また、下記表5の先頭から2行目に示すように、(1)の処理終了時刻に関する適合度評価条件1と(3)の処理装置2の指定に関する適合度評価条件3とを比較する場合に、(1)の処理終了時刻に関する適合度評価条件1よりも、(3)の処理装置2の指定に関する適合度評価条件3を小さく優先する場合には、(1)の適合度評価条件1について2点を付与し、(2)の適合度評価条件2について3点を付与する。

Figure 2022090265000006
For example, as shown in the first row of Table 5 below, when comparing the goodness-of-fit evaluation condition 1 regarding the processing end time of (1) and the goodness-of-fit evaluation condition 2 regarding the filling rate of the final batch of (2), ( When the goodness-of-fit evaluation condition 2 regarding the filling rate of the final batch of (2) is given higher priority than the goodness-of-fit evaluation condition 1 regarding the processing end time of 1), one point is given for the goodness-of-fit evaluation condition 1 of (1). Is given, and 5 points are given for the goodness-of-fit evaluation condition 2 of (2). Further, as shown in the second row from the beginning of Table 5 below, when comparing the goodness-of-fit evaluation condition 1 regarding the processing end time of (1) and the goodness-of-fit evaluation condition 3 regarding the designation of the processing device 2 of (3). In addition, when the goodness-of-fit evaluation condition 3 regarding the designation of the processing device 2 of (3) is given a smaller priority than the goodness-of-fit evaluation condition 1 regarding the processing end time of (1), the goodness-of-fit evaluation condition 1 of (1) is given. 2 points are given for, and 3 points are given for the goodness-of-fit evaluation condition 2 in (2).
Figure 2022090265000006

そして、適合度評価条件ごとに付与した点数の合計点に応じて、(1)~(5)の適合度評価条件1~5の重みを決定する。本実施形態では、合計点が最も高い適合度評価条件の重みを1となるように、各適合度評価条件1~5の重みを調整する。その結果、下記表6に示すように、(1)~(5)の適合度評価条件1~5の重みW1~W5が決定され、記憶装置20に記憶される。

Figure 2022090265000007
Then, the weights of the goodness-of-fit evaluation conditions 1 to 5 of (1) to (5) are determined according to the total points of the points given for each goodness-of-fit evaluation condition. In the present embodiment, the weights of the goodness-of-fit evaluation conditions 1 to 5 are adjusted so that the weight of the goodness-of-fit evaluation condition having the highest total score is 1. As a result, as shown in Table 6 below, the weights W1 to W5 of the goodness-of-fit evaluation conditions 1 to 5 of (1) to (5) are determined and stored in the storage device 20.
Figure 2022090265000007

続いて、ステップS52では、投入ロット編成機能により、評価対象ロットLT2および評価対象装置2T2の選定が行われる。すなわち、図4に示す適合度評価処理でも、図3に示す投入可否判定処理と同様に、各ロットLを各処理装置2に投入する場合の適合度が、ロットLごと、処理装置2ごとに判定される。そのため、ステップS52では、適合度評価処理の処理対象となるロットLを評価対象ロットLT2として特定し、適合度評価処理の処理対象となる処理装置2を評価対象装置2T2として特定する。 Subsequently, in step S52, the evaluation target lot LT2 and the evaluation target device 2 T2 are selected by the input lot knitting function. That is, in the goodness-of-fit evaluation process shown in FIG. 4, the goodness of fit when the lot L is charged into each processing device 2 is different for each lot L and each processing device 2, as in the input possibility determination process shown in FIG. It is judged. Therefore, in step S52, the lot L to be processed in the goodness-of-fit evaluation process is specified as the evaluation target lot LT2, and the processing device 2 to be processed in the goodness-of-fit evaluation process is specified as the evaluation target device 2 T2 .

ステップS53では、投入ロット編成機能により、ステップS4の投入可否判定処理の判定結果に基づいて、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入できるか否かの判定が行われる。投入ロット編成機能は、上記表4に示すように、記憶装置20に記憶した、各評価対象ロットLT2に対する各評価対象装置2T2の投入可否判定条件1~5のステータスを参照し、投入可否判定条件1~5のうち1つでもステータスが「NO」の条件がある場合には「投入不可」と判定し、投入可否判定条件1~5の全てのステータスが「YES」の場合に「投入可」と判定する。そして、投入ロット編成機能は、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入できないと判定した場合には、適合度評価値を評価せずに、あるいは、適合度評価値を0と評価して、ステップS510に進み、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入できると判定した場合には、ステップS54に進む。 In step S53, the input lot knitting function determines whether or not the evaluation target lot LT2 can be input to the evaluation target device 2 T2 based on the determination result of the input availability determination process in step S4. As shown in Table 4 above, the input lot knitting function refers to the status of input availability determination conditions 1 to 5 of each evaluation target device 2 T2 for each evaluation target lot LT2 stored in the storage device 20, and whether or not the input is possible. If any one of the judgment conditions 1 to 5 has a status of "NO", it is judged as "cannot be input", and if all the statuses of the judgment conditions 1 to 5 are "YES", "input is not possible". It is judged as "OK". Then, when the input lot knitting function determines that the evaluation target lot LT2 cannot be input to the evaluation target device 2 T2 , the conformity evaluation value is not evaluated or the conformity evaluation value is evaluated as 0. If it is determined that the evaluation target lot LT2 can be put into the evaluation target device 2 T2 , the process proceeds to step S510.

ここで、上記表4では、ロットLAにおける処理装置2A~2Cの投入可否判定条件1~5のステータスを示している。評価対象ロットLT2がロットLAであり、評価対象装置2T2が処理装置2Aまたは処理装置2Bである場合、投入ロット編成機能は、上記表4に基づいて、ロットLAを処理装置2Aおよび処理装置2Bに投入できると判定し、ステップS54に進む。一方、評価対象ロットLT2がロットLAであり、評価対象装置2T2が処理装置2Cである場合に、投入ロット編成機能は、上記表4に基づいて、ロットLAを処理装置2Cに投入できないと判定し、ステップS510に進む。 Here, in Table 4 above, the statuses of the input availability determination conditions 1 to 5 of the processing devices 2A to 2C in the lot LA are shown. When the evaluation target lot L T2 is the lot LA and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2A or the processing device 2B, the input lot knitting function converts the lot LA into the processing device 2A and the processing device 2A based on the above Table 4. It is determined that it can be put into 2B, and the process proceeds to step S54. On the other hand, when the evaluation target lot LT2 is the lot LA and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2C, the input lot knitting function cannot input the lot LA to the processing device 2C based on Table 4 above. The determination is made, and the process proceeds to step S510.

ステップS54では、投入ロット編成機能により、評価対象ロットLT2の最終バッチの処理終了時刻(適合度評価条件1)に基づいて、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入した場合の個別適合度F1が評価される。具体的には、投入ロット編成機能は、まず、ステップS3でシミュレーションした、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入する場合における、評価対象ロットLT2の最終バッチ処理の終了時間を参照し、最終バッチ処理の終了時刻が早いほど評価値E1を高く評価する。たとえば、投入ロット編成機能は、処理装置2として3つの処理装置がある場合、最終バッチ処理の終了時刻が最も早い処理装置2の評価値E1を1.0と評価し、最終バッチ処理の終了時刻が次に早い処理装置2の評価値E1を0.5と評価し、最終バッチ処理の終了時刻が最も遅い処理装置2の評価値E1を0.0と評価することができる。そして、投入ロット編成機能は、評価した評価値E1に、ステップS51で取得した適合度評価条件1の重みW1を乗じることで、適合度評価条件1の個別適合度F1を算出する。 In step S54, the individual evaluation target lot LT2 is input to the evaluation target device 2 T2 based on the processing end time (conformity evaluation condition 1) of the final batch of the evaluation target lot LT2 by the input lot organization function. The degree of conformity F1 is evaluated. Specifically, for the input lot knitting function, first, refer to the end time of the final batch processing of the evaluation target lot LT2 when the evaluation target lot LT2 simulated in step S3 is input to the evaluation target device 2 T2 . Then, the earlier the end time of the final batch processing is, the higher the evaluation value E1 is evaluated. For example, the input lot knitting function evaluates the evaluation value E1 of the processing device 2 having the earliest end time of the final batch processing as 1.0 when there are three processing devices as the processing device 2, and the end time of the final batch processing. The evaluation value E1 of the processing device 2 having the next earliest can be evaluated as 0.5, and the evaluation value E1 of the processing device 2 having the latest end time of the final batch processing can be evaluated as 0.0. Then, the input lot knitting function calculates the individual goodness of fit F1 of the goodness of fit evaluation condition 1 by multiplying the evaluated evaluation value E1 by the weight W1 of the goodness of fit evaluation condition 1 acquired in step S51.

たとえば、上記表3に示す例において、評価対象ロットLT2がロットLAである場合の最終バッチ処理の終了時刻は、処理装置2Aが「8月1日8時」であり、処理装置2Bが「8月1日8時30分」であり、処理装置2Cが「8月1日9時」である。そのため、投入ロット編成機能は、下記表7に示すように、最終バッチ処理の終了時刻が最も早い処理装置2Aに投入する場合の適合度評価条件1の評価値E1を「1」と評価し、最終バッチ処理の終了時刻が次に早い処理装置2Bに投入する場合の適合度評価条件1の評価値E1を「0.5」と評価し、最終バッチ処理の終了時刻が最も遅い処理装置2Cに投入する場合の適合度評価条件1の評価値E1を「0」と評価する。さらに、投入ロット編成機能は、上記表6に示すように、適合度評価条件1の重みW1である0.72を記憶装置20から取得し、算出した評価値E1に、取得した適合度評価条件1の重みW1を乗じて、個別適合度F1を算出する。たとえば、下記表7に示すように、評価対象ロットLT2がロットLAである場合において、評価対象装置2T2が処理装置2Aである場合の適合度評価条件1の個別適合度F1は1×0.72=0.72と算出され、評価対象装置2T2が処理装置2Bである場合には適合度評価条件1の個別適合度F1は0.5×0.72=0.36と算出される。一方、評価対象装置2T2が処理装置2Cである場合には、上記表4に示すように、ロットLAを処理装置2Cに投入できないため(ステップS53=No)、個別適合度F1は算出されない(他の個別適合度F2~F5も同様)。なお、表7は、ロットLAを処理装置2A~2Cに投入する場合の評価値E1~E5、個別適合度F1~F5および適合度評価値σの一例を示す。

Figure 2022090265000008
For example, in the example shown in Table 3 above, when the evaluation target lot LT2 is the lot LA, the end time of the final batch processing is “8 o'clock on August 1” for the processing device 2A and “8 o'clock on August 1” for the processing device 2B. It is "8:30 on August 1st", and the processing device 2C is "9:00 on August 1st". Therefore, as shown in Table 7 below, the input lot knitting function evaluates the evaluation value E1 of the goodness-of-fit evaluation condition 1 when charging to the processing device 2A having the earliest end time of the final batch processing as "1". The evaluation value E1 of the goodness-of-fit evaluation condition 1 when the final batch processing is input to the processing device 2B having the earliest end time is evaluated as "0.5", and the processing device 2C having the latest final batch processing end time is evaluated. The evaluation value E1 of the goodness-of-fit evaluation condition 1 at the time of input is evaluated as "0". Further, as shown in Table 6 above, the input lot knitting function acquires 0.72, which is the weight W1 of the goodness-of-fit evaluation condition 1, from the storage device 20, and obtains the acquired goodness-of-fit evaluation condition in the calculated evaluation value E1. Multiply the weight W1 of 1 to calculate the individual goodness of fit F1. For example, as shown in Table 7 below, when the evaluation target lot LT2 is a lot LA, the individual conformity F1 of the conformity evaluation condition 1 when the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2A is 1 × 0. It is calculated as .72 = 0.72, and when the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2B, the individual conformity F1 of the conformity evaluation condition 1 is calculated as 0.5 × 0.72 = 0.36. .. On the other hand, when the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2C, as shown in Table 4 above, the lot LA cannot be charged into the processing device 2C (step S53 = No), so that the individual goodness of fit F1 is not calculated (step S53 = No). The same applies to other individual goodness of fit F2 to F5). Table 7 shows an example of the evaluation values E1 to E5, the individual goodness of fit F1 to F5, and the goodness of fit evaluation value σ when the lot LA is charged into the processing devices 2A to 2C.
Figure 2022090265000008

なお、適合度評価条件1の評価値E1は、上述したように、最終バッチ処理の終了時刻が早いほど高い評価値E1を付与するものであれば、上記構成に限定されず、たとえば、処理装置2がN台ある場合に最終バッチ処理の終了時刻がi番目に早い処理装置2の評価値E1を(N-i)/(N-1)として算出する構成としてもよいし、あるいは、現在時刻から所定時間t1後(たとえば24時間後)までに終了する処理装置2の評価値E1を1.0と評価し、t1よりも遅いt2後(たとえば48時間後)までに終了する処理装置2の評価値E1を0.5と評価し、それ以上遅い処理装置2の評価値E1を0.0と評価することで、評価した適合度に適合度評価条件1の重みW1を乗じて、個別適合度F1を算出する構成とすることもできる。 As described above, the evaluation value E1 of the conformity evaluation condition 1 is not limited to the above configuration as long as the evaluation value E1 that is higher as the end time of the final batch processing is earlier is given, and is not limited to the above configuration. When there are N units of 2, the evaluation value E1 of the processing device 2 having the i-th earliest end time of the final batch processing may be calculated as (Ni) / (N-1), or the current time. The evaluation value E1 of the processing device 2 that finishes after a predetermined time t1 (for example, 24 hours later) is evaluated as 1.0, and the processing device 2 that finishes after t2 (for example, 48 hours later) later than t1. By evaluating the evaluation value E1 as 0.5 and evaluating the evaluation value E1 of the processing device 2 slower than that as 0.0, the evaluated conformity is multiplied by the weight W1 of the conformity evaluation condition 1 to be individually matched. It can also be configured to calculate the degree F1.

ステップS55では、投入ロット編成機能により、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入した場合の評価対象装置2T2の最終バッチ処理の充填率(適合度評価条件2)に基づいて、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入した場合の個別適合度F2が評価される。たとえば、本実施形態において、投入ロット編成機能は、ステップS3でシミュレーションした評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入した場合の最終バッチ処理の充填率を、適合度評価条件2の評価値E2として算出する。そして、投入ロット編成機能は、評価した評価値E2に、ステップS51で取得した適合度評価条件2の重みW2を乗じることで、適合度評価条件2の個別適合度F2を算出する。 In step S55, the evaluation target lot LT2 is evaluated based on the filling rate (conformity evaluation condition 2) of the final batch processing of the evaluation target device 2 T2 when the evaluation target lot LT2 is charged into the evaluation target device 2 T2 by the input lot knitting function. The individual conformity degree F2 when the target lot L T2 is put into the evaluation target device 2 T2 is evaluated. For example, in the present embodiment, the input lot knitting function sets the filling rate of the final batch processing when the evaluation target lot LT2 simulated in step S3 is input to the evaluation target device 2 T2 as the evaluation value of the goodness of fit evaluation condition 2. Calculated as E2. Then, the input lot knitting function calculates the individual goodness of fit F2 of the goodness of fit evaluation condition 2 by multiplying the evaluated evaluation value E2 by the weight W2 of the goodness of fit evaluation condition 2 acquired in step S51.

たとえば、上記表3に示す例において、評価対象ロットLT2がロットLAであり、評価対象装置2T2が処理装置2Aである場合、最終バッチ処理の充填率は91.7%であるため、投入ロット編成機能は、上記表7に示すように、0.917を適合度評価条件2の評価値E2として算出し、これに適合度評価条件2の重みW2である1.0を乗じて、適合度評価条件2の個別適合度F2を0.917として算出することができる。 For example, in the example shown in Table 3 above, when the evaluation target lot LT2 is the lot LA and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2A, the filling rate of the final batch processing is 91.7%, so that the input is input. As shown in Table 7 above, the lot knitting function calculates 0.917 as the evaluation value E2 of the goodness-of-fit evaluation condition 2, and multiplies this by 1.0, which is the weight W2 of the goodness-of-fit evaluation condition 2, to match. The individual goodness of fit F2 of the degree evaluation condition 2 can be calculated as 0.917.

ステップS56では、投入ロット編成機能により、評価対象装置2T2を指定するロットLの有無(適合度評価条件3)に基づいて、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入した場合の個別適合度F3が評価される。具体的に、投入ロット編成機能は、評価対象装置2T2を指定するロットLがある場合に、当該ロットLを評価対象装置2T2に優先して投入できるように、評価対象装置2T2を指定するロットLがあるか、また、評価対象装置2T2を指定するロットLがある場合には当該評価対象装置2T2が評価対象ロットLT2の指定する処理装置2であるかを判定する。そして、投入ロット編成機能は、評価対象装置2T2を指定するロットLがあり、かつ、評価対象装置2T2が評価対象ロットLT2の指定する処理装置2である場合には、適合度評価条件3の評価値E3を「1」と評価する。また、投入ロット編成機能は、評価対象ロットLT2に処理装置2の指定がない場合には、適合度評価条件3の評価値E3を「0」と評価する。そして、投入ロット編成機能は、評価した適合度評価条件3の評価値E3に、ステップS51で取得した適合度評価条件3の重みW3を乗じることで、適合度評価条件3の個別適合度F3を算出する。 In step S56, the individual evaluation target lot LT2 is input to the evaluation target device 2 T2 based on the presence / absence of the lot L that designates the evaluation target device 2 T2 by the input lot knitting function (conformity evaluation condition 3). The degree of conformity F3 is evaluated. Specifically, the input lot knitting function specifies the evaluation target device 2 T2 so that when there is a lot L that specifies the evaluation target device 2 T2 , the lot L can be input in preference to the evaluation target device 2 T2 . It is determined whether there is a lot L to be evaluated, and if there is a lot L to specify the evaluation target device 2 T2 , whether the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2 designated by the evaluation target lot L T2 . The input lot knitting function has a conformity evaluation condition when there is a lot L that designates the evaluation target device 2 T2 and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2 designated by the evaluation target lot LT2 . The evaluation value E3 of 3 is evaluated as "1". Further, the input lot knitting function evaluates the evaluation value E3 of the goodness-of-fit evaluation condition 3 as "0" when the processing device 2 is not specified in the evaluation target lot LT2 . Then, the input lot knitting function multiplies the evaluation value E3 of the evaluated goodness of fit evaluation condition 3 by the weight W3 of the goodness of fit evaluation condition 3 acquired in step S51 to obtain the individual goodness of fit F3 of the goodness of fit evaluation condition 3. calculate.

たとえば、上記表1に示すように、ロットLAは処理装置2の指定がないが、ロットLBは処理を実施する処理装置2として処理装置2Aを指定している。そのため、評価対象ロットLT2がロットLAであり、評価対象装置2T2が処理装置2Aである場合、投入ロット編成機能は、ロットLAに処理装置2の指定がないと判定し、上記表7に示すように、適合度評価条件3の評価値E3を「0」として算出し、これに適合度評価条件3の重みW3である0.60を乗じて、適合度評価条件3の個別適合度F3を「0」として算出する。一方、評価対象ロットLT2がロットLBであり、評価対象装置2T2が処理装置2Aである場合、投入ロット編成機能は、処理装置2Aを指定するロットLがあり、かつ、処理装置2AがロットLBの指定する処理装置2であると判定し、適合度評価条件3の評価値E3として「1」を算出し、これに適合度評価条件3の重みW3である0.60を乗じて、適合度評価条件3の個別適合度F3を0.6として算出する。 For example, as shown in Table 1 above, the lot LA does not specify the processing device 2, but the lot LB designates the processing device 2A as the processing device 2 for performing the processing. Therefore, when the evaluation target lot LT2 is the lot LA and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2A, the input lot knitting function determines that the lot LA does not have the processing device 2 specified, and is shown in Table 7 above. As shown, the evaluation value E3 of the conformity evaluation condition 3 is calculated as "0", and this is multiplied by 0.60, which is the weight W3 of the conformity evaluation condition 3, to obtain the individual conformity F3 of the conformity evaluation condition 3. Is calculated as "0". On the other hand, when the evaluation target lot LT2 is the lot LB and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2A, the input lot knitting function has a lot L that specifies the processing device 2A, and the processing device 2A is a lot. It is determined that the processing device 2 is designated by the LB, "1" is calculated as the evaluation value E3 of the goodness-of-fit evaluation condition 3, and this is multiplied by 0.60, which is the weight W3 of the goodness-of-fit evaluation condition 3, to match. Calculated with the individual goodness of fit F3 of the degree evaluation condition 3 as 0.6.

なお、評価対象ロットLT2に処理装置2の指定があり、評価対象ロットLT2が評価対象ロットLT2の指定する処理装置2でない場合は、ステップS44において、投入可否判定条件3のステータスが「NO」に設定されるため、当該評価対象ロットLT2と当該評価対象装置2T2との組み合わせについて、適合度の評価は行われない(ステップS53=No)。よって、たとえば、評価対象ロットLT2がロットLBであり、評価対象装置2T2が処理装置2Bである場合には、適合度は評価されないこととなる。 If the evaluation target lot LT2 is designated as the processing device 2 and the evaluation target lot LT2 is not the processing device 2 designated by the evaluation target lot LT2 , the status of the input availability determination condition 3 is "" in step S44. Since it is set to "NO", the degree of conformity is not evaluated for the combination of the evaluation target lot LT2 and the evaluation target device 2 T2 ( step S53 = No). Therefore, for example, when the evaluation target lot LT2 is the lot LB and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2B, the goodness of fit is not evaluated.

ステップS57では、投入ロット編成機能により、評価対象装置2T2のライフが評価対象ロットLT2に適したライフ帯であるか(適合度評価条件4)の評価が行われる。たとえば、投入ロット編成機能は、評価対象装置2T2のライフが評価対象ロットLT2に適したライフ帯である場合は、適合度評価条件4の評価値E4を「1」として評価し、評価対象装置2T2のライフが評価対象ロットLT2に適したライフ帯ではない場合には、適合度評価条件4の評価値E4を「0」として評価する。そして、投入ロット編成機能は、評価した適合度評価条件4の評価値E4に、ステップS51で取得した適合度評価条件4の重みW4を乗じて、適合度評価条件4の個別適合度F4を算出する。 In step S57, the input lot knitting function evaluates whether the life of the evaluation target device 2 T2 is a life zone suitable for the evaluation target lot LT 2 (goodness of fit evaluation condition 4). For example, when the life of the evaluation target device 2 T2 is a life zone suitable for the evaluation target lot LT2 , the input lot knitting function evaluates the evaluation value E4 of the conformity evaluation condition 4 as “1” and evaluates it. When the life of the device 2 T2 is not a life zone suitable for the lot LT2 to be evaluated, the evaluation value E4 of the conformity evaluation condition 4 is evaluated as “0”. Then, the input lot knitting function calculates the individual goodness of fit F4 of the goodness of fit evaluation condition 4 by multiplying the evaluation value E4 of the evaluated goodness of fit evaluation condition 4 by the weight W4 of the goodness of fit evaluation condition 4 acquired in step S51. do.

たとえば、上記表3に示す例において、評価対象ロットLT2がロットLAであり、評価対象装置2T2が処理装置2Aである場合、上記表2に示す処理装置2Aのライフが「初期」であり、上記表1に示すロットLAに適したライフ帯が「初期」であるため、投入ロット編成機能は、処理装置2AはロットLAに適したライフ帯であると判定し、上記表7に示すように、適合度評価条件4の評価値E4を「1」として評価し、これに適合度評価条件4の重みW4である0.56を乗じて適合度評価条件4の個別適合度F4を0.56と算出する。一方、評価対象ロットLT2がロットLAであり、評価対象装置2T2が処理装置2Bである場合、上記表2に示す処理装置2Bのライフが「中期」であり、ロットLAに適したライフ帯が「初期」であるため、投入ロット編成機能は、処理装置2BはロットLAに適したライフ帯ではないと判定し、上記表7に示すように、適合度評価条件4の評価値E4を「0」として評価し、これに適合度評価条件4の重みW4である0.56を乗じて適合度評価条件4の個別適合度F4を「0」と算出する。 For example, in the example shown in Table 3 above, when the evaluation target lot LT2 is the lot LA and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2A, the life of the processing device 2A shown in the above table 2 is “initial”. Since the life zone suitable for lot LA shown in Table 1 above is "initial", the input lot knitting function determines that the processing device 2A is a life zone suitable for lot LA, and as shown in Table 7 above. The evaluation value E4 of the conformity evaluation condition 4 is evaluated as "1", and this is multiplied by 0.56, which is the weight W4 of the conformity evaluation condition 4, to obtain the individual conformity F4 of the conformity evaluation condition 4. Calculated as 56. On the other hand, when the evaluation target lot LT2 is the lot LA and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2B, the life of the processing device 2B shown in Table 2 above is “medium term”, and the life zone suitable for the lot LA is Is "initial", so the input lot knitting function determines that the processing device 2B is not a life zone suitable for lot LA, and as shown in Table 7 above, sets the evaluation value E4 of the conformity evaluation condition 4 to ". It is evaluated as "0", and this is multiplied by 0.56, which is the weight W4 of the conformity evaluation condition 4, to calculate the individual conformity F4 of the conformity evaluation condition 4 as "0".

なお、本実施形態では、上記表2を参照し、評価対象装置2T2のライフが、評価対象ロットLT2に適したライフ帯であるか否かを判定しているが、この構成に限定されず、ステップS3でシミュレーションした最終バッチ処理の終了時のライフ帯の情報に基づいて、評価対象ロットLT2のサブロットSLの最終バッチ処理の終了時のライフ帯が、評価対象ロットLT2に適したライフ内である場合に、適合度評価条件4の評価値E4を「1」として評価する構成とすることもできる。 In this embodiment, referring to Table 2 above, it is determined whether or not the life of the evaluation target device 2 T2 is a life zone suitable for the evaluation target lot LT 2, but the configuration is limited to this. Instead, the life zone at the end of the final batch processing of the sublot SL of the evaluation target lot LT2 is suitable for the evaluation target lot LT2 based on the information of the life zone at the end of the final batch processing simulated in step S3. When it is within the life, the evaluation value E4 of the conformity evaluation condition 4 may be evaluated as “1”.

ステップS58では、投入ロット編成機能により、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入する場合に、連続して処理を実行できるか(適合度評価条件5)が評価される。たとえば、投入ロット編成機能は、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入する場合、評価対象装置2T2の最終バッチ処理の処理条件に対して、処理条件を変える必要がある、段取りが必要であるなどの場合には、連続して処理できないと判定し、適合度評価条件5の評価値E5を「0」として評価する。一方、投入ロット編成機能は、評価対象装置2T2の最終バッチ処理の処理条件に対して、加熱温度が一致する、加熱時間が一致する、ドーパント種が一致する、抵抗が所定範囲内である、ガス組成および流量が一致するなど、連続して処理が行える場合には、適合度評価条件5の評価値E5を「1」として評価する。そして、投入ロット編成機能は、評価した適合度評価条件5の評価値E5に、ステップS51で取得した適合度評価条件5の重みW5を乗じて、適合度評価条件5の個別適合度F5を算出する。 In step S58, when the evaluation target lot LT2 is charged to the evaluation target device 2 T2 by the input lot knitting function, it is evaluated whether the processing can be continuously executed (goodness of fit evaluation condition 5). For example, in the input lot organization function, when the evaluation target lot LT2 is input to the evaluation target device 2 T2 , it is necessary to change the processing conditions with respect to the processing conditions of the final batch processing of the evaluation target device 2 T2 . When it is necessary, it is determined that continuous processing is not possible, and the evaluation value E5 of the conformity evaluation condition 5 is evaluated as “0”. On the other hand, in the input lot knitting function, the heating temperature is the same, the heating time is the same, the dopant type is the same, and the resistance is within the predetermined range with respect to the processing conditions of the final batch processing of the evaluation target device 2 T2 . When the treatment can be performed continuously, such as when the gas composition and the flow rate match, the evaluation value E5 of the conformity evaluation condition 5 is evaluated as “1”. Then, the input lot knitting function calculates the individual goodness of fit F5 of the goodness of fit evaluation condition 5 by multiplying the evaluation value E5 of the evaluated goodness of fit evaluation condition 5 by the weight W5 of the goodness of fit evaluation condition 5 acquired in step S51. do.

たとえば、上記表3に示す例において、評価対象ロットLT2がロットLAであり、評価対象装置2T2が処理装置2Aである場合、上記表2に示す処理装置2Aの最終バッチ処理の処理条件が「条件1」であり、ロットLAの処理条件が「条件1」であるため、投入ロット編成機能は、ロットLAをそのまま連続して処理できると判定し、上記表7に示すように、適合度評価条件5の評価値E5を「1」として評価し、これに適合度評価条件5の重みW5である0.69を乗じて適合度評価条件5の個別適合度F5を「0.69」と算出する。一方、評価対象ロットLT2がロットLAであり、評価対象装置2T2が処理装置2Bである場合、上記表2に示す処理装置2Bの最終バッチ処理の処理条件が「条件2」であり、ロットLAの処理条件が「条件1」であるため、投入ロット編成機能は、ロットLAをそのまま連続して処理できないと判定し、上記表7に示すように、適合度評価条件5の評価値E5を「0」として評価し、これに適合度評価条件5の重みW5である0.69を乗じて適合度評価条件5の個別適合度F5を「0」と算出する。 For example, in the example shown in Table 3 above, when the lot LT2 to be evaluated is the lot LA and the device 2 T2 to be evaluated is the processing device 2A, the processing conditions for the final batch processing of the processing device 2A shown in Table 2 above are Since it is "condition 1" and the processing condition of lot LA is "condition 1", the input lot knitting function determines that the lot LA can be continuously processed as it is, and as shown in Table 7 above, the goodness of fit. The evaluation value E5 of the evaluation condition 5 is evaluated as "1", and this is multiplied by 0.69, which is the weight W5 of the goodness of fit evaluation condition 5, to set the individual conformity F5 of the goodness of fit evaluation condition 5 to "0.69". calculate. On the other hand, when the evaluation target lot LT2 is the lot LA and the evaluation target device 2 T2 is the processing device 2B, the processing condition of the final batch processing of the processing device 2B shown in Table 2 above is “Condition 2”, and the lot. Since the LA processing condition is "Condition 1", the input lot knitting function determines that the lot LA cannot be continuously processed as it is, and as shown in Table 7 above, the evaluation value E5 of the conformity evaluation condition 5 is set. It is evaluated as "0", and this is multiplied by 0.69, which is the weight W5 of the conformity evaluation condition 5, to calculate the individual conformity F5 of the conformity evaluation condition 5 as "0".

ステップS59では、投入ロット編成機能により、ステップS54~S58で算出された、評価対象ロットLT2を評価対象装置2T2に投入する場合の適合度評価条件1~5の個別適合度F1~F5に基づいて、評価対象ロットLT2および評価対象装置2T2の組み合わせでの適合度評価値σが算出される。本実施形態において、投入ロット編成機能は、適合度評価条件1~5の個別適合度F1~F5の合計値Σ(Fi)をシグモイド関数fに入力することで、上記表7に示すように、個別適合度F1~F5の合計値が高いほど数値が高くなるように、適合度評価値σを0~1の数値で算出する。そして、投入ロット編成機能は、評価対象ロットLT2および評価対象装置2T2の組み合わせに、当該組み合わせについて算出した適合度評価値T2を紐付けて、記憶装置20に記憶する。なお、投入ロット編成機能は、適合度評価条件1~5の個別適合度F1~F5の合計値Σ(Fi)をそのまま適合度評価値σとして算出する構成することもできる。 In step S59, the individual goodness of fit F1 to F5 of the conformity evaluation conditions 1 to 5 when the evaluation target lot LT2 calculated in steps S54 to S58 is input to the evaluation target device 2 T2 by the input lot knitting function is set. Based on this, the goodness-of-fit evaluation value σ for the combination of the evaluation target lot LT2 and the evaluation target device 2 T2 is calculated. In the present embodiment, the input lot knitting function inputs the total value Σ (Fi) of the individual goodness of fits F1 to F5 of the goodness of fit evaluation conditions 1 to 5 into the sigmoid function f, as shown in Table 7 above. The goodness-of-fit evaluation value σ is calculated as a numerical value of 0 to 1 so that the higher the total value of the individual goodness of fits F1 to F5, the higher the numerical value. Then, the input lot knitting function associates the combination of the evaluation target lot LT2 and the evaluation target device 2 T2 with the goodness-of-fit evaluation value T2 calculated for the combination, and stores it in the storage device 20. The input lot knitting function can also be configured to calculate the total value Σ (Fi) of the individual goodness of fit F1 to F5 of the goodness of fit evaluation conditions 1 to 5 as the goodness of fit evaluation value σ as it is.

そして、ステップS510では、投入ロット編成機能により、ステップS52で特定された評価対象ロットLT2について、全ての処理装置2を評価対象装置2T2として、ステップS52~S59の処理が行われたか否かの判定が行われる。ステップS52で特定された評価対象ロットLT2と、全ての処理装置2との組み合わせにおいて、ステップS52~S59の処理が行われた場合は、ステップS511に進む。一方、ステップS52で特定された評価対象ロットLT2と、全ての処理装置2との組み合わせについて、ステップS52~S59の処理が行われていない場合は、ステップS52に戻り、処理が行われてない処理装置2が新たに評価対象装置2T2として特定され、ステップS52~S59の処理が行われる。 Then, in step S510, whether or not the processing of steps S52 to S59 is performed for the evaluation target lot LT2 specified in step S52 by using the input lot knitting function with all the processing devices 2 as the evaluation target devices 2 T2 . Is determined. If the processing of steps S52 to S59 is performed in the combination of the evaluation target lot LT2 specified in step S52 and all the processing devices 2, the process proceeds to step S511. On the other hand, if the processing of steps S52 to S59 is not performed for the combination of the evaluation target lot LT2 specified in step S52 and all the processing devices 2, the process returns to step S52 and the processing is not performed. The processing device 2 is newly specified as the evaluation target device 2 T2 , and the processing of steps S52 to S59 is performed.

ステップS511では、投入ロット編成機能により、全てのロットLについて、ステップS52~S59の処理が行われたか否かの判定が行われる。全てのロットLについてステップS52~S59の処理が行われた場合は、図4に示す適合度評価処理を終了し、図2に示すステップS6に進む。一方、全てのロットLについてステップS52~S59の処理が行われていない場合は、ステップS52に戻り、処理が行われてないロットLが新たに評価対象ロットLT2として特定され、ステップS52~S59の処理が行われる。 In step S511, the input lot knitting function determines whether or not the processes of steps S52 to S59 have been performed for all lots L. When the processes of steps S52 to S59 are performed for all lots L, the goodness-of-fit evaluation process shown in FIG. 4 is terminated, and the process proceeds to step S6 shown in FIG. On the other hand, if the processing of steps S52 to S59 has not been performed for all lots L, the process returns to step S52, the unprocessed lot L is newly specified as the evaluation target lot LT2 , and steps S52 to S59 are performed. Is processed.

図2に戻り、ステップS6では、投入ロット編成機能により、記憶装置20に記憶したステップS5の適合度評価処理の結果を参照し、適合度評価値が最も高かったロットLと処理装置2との組み合わせが特定される。そして、ステップS7は、投入ロット編成機能により、ステップS6で特定した組み合わせにおけるロットLを処理装置2に割り当てる処理が行われる。 Returning to FIG. 2, in step S6, the result of the goodness-of-fit evaluation process of step S5 stored in the storage device 20 is referred to by the input lot knitting function, and the lot L having the highest goodness-of-fit evaluation value and the processing device 2 are combined. The combination is specified. Then, in step S7, the input lot knitting function performs a process of allocating the lot L in the combination specified in step S6 to the processing device 2.

ステップS8では、投入ロット編成機能により、生産計画などにおいて必要とされる分のロットLを処理装置2に割り当てたか否かの判断が行われる。必要な分のロットLを処理装置2に割り当てた場合には、ステップS9に進む。一方、必要な分のロットLを処理装置2に割り当てていない場合には、ステップS3に戻り、残りのロットLについて、上述したロット分割シミュレーション処理(ステップS3)、投入可否判定処理(ステップS4)、および適合度評価処理(ステップS5)を含むステップS3~S7の処理が繰り返し実行される。 In step S8, the input lot knitting function determines whether or not the lot L required in the production plan or the like has been allocated to the processing device 2. When the required lot L is allocated to the processing device 2, the process proceeds to step S9. On the other hand, when the required lot L is not allocated to the processing device 2, the process returns to step S3, and the remaining lot L is subjected to the above-mentioned lot division simulation process (step S3) and input availability determination process (step S4). , And the processes of steps S3 to S7 including the goodness-of-fit evaluation process (step S5) are repeatedly executed.

ステップS9では、投入ロット編成機能により、納期に間に合わないロットLがあるか否かの判断が行われる。納期に間に合わないロットLがない場合には(ステップS9=No)、ステップS10に進み、演算装置10の出力機能により、この投入ロット編成処理により生成した投入ロットILの編成情報が、外部出力装置30に出力される。本実施形態では、外部出力装置30はモニターなどの表示装置であるため、外部出力装置30により投入ロットILの編成結果を表示することで、ユーザは、投入ロットILの編成結果を把握することができる。一方、納期に間に合わないロットLがある場合(ステップS9=Yes)、ステップS11に進み、全てのロットLが納期に間に合うように、この投入ロット編成処理により生成した投入ロットILの編成情報を調整する。この場合、作業者が、投入ロットILの編成を手動で調整することができる。 In step S9, the input lot knitting function determines whether or not there is a lot L that is not in time for delivery. If there is no lot L that is not in time for the delivery date (step S9 = No), the process proceeds to step S10, and the output function of the arithmetic unit 10 displays the formation information of the input lot IL generated by this input lot organization process to the external output device. It is output to 30. In the present embodiment, since the external output device 30 is a display device such as a monitor, the user can grasp the formation result of the input lot IL by displaying the formation result of the input lot IL by the external output device 30. can. On the other hand, if there is a lot L that is not in time for the delivery date (step S9 = Yes), the process proceeds to step S11, and the organization information of the input lot IL generated by this input lot organization process is adjusted so that all the lot L are in time for the delivery date. do. In this case, the operator can manually adjust the formation of the input lot IL.

以上のように、本実施形態に係る投入ロット編成装置1は、要求される処理条件が異なる複数のロットLを、異なる処理条件の処理を実行する複数の処理装置2を用いて処理する場合において、処理装置2で同時に処理する複数のロットLのまとまりを投入ロットILとして処理装置ごとに編成するものであり、ロット情報および装置情報に基づいて、ロットLと処理装置2との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定し、投入可能と判定されたロットLと処理装置2との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として適合度評価条件ごとに算出し、複数の個別適合度に基づいて、ロットLを処理装置2で処理する場合の適合度評価値を算出し、適合度評価値が最も高い組み合わせにおけるロットLを処理装置2に割り当てた後、再度、未割り当てのロットLについて、投入可否判定と適合度評価値の算出とを繰り返すことで、処理装置2ごとの投入ロットILを編成する。これにより、本実施形態に係る投入ロット編成装置1では、複数の適合度評価条件に適した投入ロットILを迅速かつ高充填率で編成することができるという効果を奏することができる。ここで、図5は、本実施形態に係る投入ロット編成処理と従来の投入ロット編成処理での処理装置2の充填率を示すグラフであり、図6は、本実施形態に係る投入ロット編成処理および従来の投入ロット編成処理での編成時間を示すグラフである。従来は、作業者が手作業で投入ロットILの編成を行っていたため、処理装置2の平均充填率は89%と高い値となったが、投入ロットILを編成するための編成時間は1時間以上かかっていた。これに対して、本実施形態に係る投入ロット編成処理では、処理装置2の充填率は従来よりもさらに高い96%と向上することができたとともに、投入ロットILを編成するための編成時間を10分以内と大幅に低減することができた。 As described above, the input lot knitting device 1 according to the present embodiment processes a plurality of lots L having different required processing conditions by using a plurality of processing devices 2 that execute processing under different processing conditions. , A group of a plurality of lots L to be processed simultaneously by the processing device 2 is organized as an input lot IL for each processing device, and each combination of the lot L and the processing device 2 is input based on the lot information and the device information. It is determined whether or not the goodness of fit is met, and for each combination of the lot L determined to be ready for input and the processing device 2, the goodness of fit for each of the plurality of goodness-of-fit evaluation conditions is defined as the goodness of fit. Calculated for each evaluation condition, the goodness-of-fit evaluation value when the lot L is processed by the processing device 2 is calculated based on a plurality of individual goodness-of-fits, and the lot L in the combination having the highest goodness-of-fit evaluation value is processed by the processing device 2. After allocating to, the input lot IL for each processing device 2 is organized by repeating the determination of whether to input or not and the calculation of the goodness-of-fit evaluation value for the unallocated lot L again. As a result, the charging lot knitting device 1 according to the present embodiment can achieve the effect that the charging lot IL suitable for a plurality of goodness-of-fit evaluation conditions can be quickly knitted at a high filling rate. Here, FIG. 5 is a graph showing the filling rate of the processing apparatus 2 in the input lot knitting process and the conventional input lot knitting process according to the present embodiment, and FIG. 6 is a graph showing the input lot knitting process according to the present embodiment. It is a graph which shows the knitting time in the conventional input lot knitting process. In the past, since the operator manually knitted the input lot IL, the average filling rate of the processing device 2 was as high as 89%, but the knitting time for knitting the input lot IL was 1 hour. It took more than that. On the other hand, in the input lot knitting process according to the present embodiment, the filling rate of the processing apparatus 2 could be improved to 96%, which is higher than the conventional one, and the knitting time for knitting the input lot IL was increased. It was possible to significantly reduce it within 10 minutes.

また、本実施形態では、投入可否判定条件として「判定対象ロットLT1が指定する判定対象装置2T1であるか」や「判定対象装置2T1のライフ内で判定対象ロットLT1を処理できるか」という、ロットLによる処理装置2の指定や処理装置2のライフに関する条件を判定するとともに、適合度評価条件として「評価対象装置2T2を指定するロットLがあるか、また、評価対象装置2T2が評価対象ロットLT2の指定する処理装置2であるか」や「評価対象装置2T2のライフが評価対象ロットLT2に適したライフ帯であるか」という、ロットLによる処理装置2の指定や処理装置2のライフに関する条件を判定する。このように、本実施形態では、投入可否判定条件と適合度評価条件とが、同一の事項(たとえば、ロットLによる処理装置2の指定や処理装置2のライフなどの事項)に関する条件を共通条件として有しており、これら共通条件をそれぞれ投入可否判定条件および適合度評価条件において判定することで、共通条件を満たすロットLを、共通条件を満たす処理装置2に優先的に割り当てることが可能となる。 Further, in the present embodiment, as the input availability judgment condition, "whether the judgment target lot LT1 is the judgment target device 2 T1 " or "whether the judgment target lot LT1 can be processed within the life of the judgment target device 2 T1 " . The condition related to the designation of the processing device 2 by the lot L and the life of the processing device 2 is determined, and as the conformity-of-fit evaluation condition, "whether there is a lot L that specifies the evaluation target device 2 T2 , and the evaluation target device 2". "Is T2 the processing device 2 designated by the evaluation target lot L T2 ?" Or "Is the life of the evaluation target device 2 T2 a life zone suitable for the evaluation target lot L T2 ?" Determine the conditions related to the designation and the life of the processing device 2. As described above, in the present embodiment, the input availability determination condition and the goodness-of-fit evaluation condition are common conditions regarding the same items (for example, items such as the designation of the processing device 2 by the lot L and the life of the processing device 2). By determining these common conditions in the input availability judgment condition and the goodness-of-fit evaluation condition, respectively, it is possible to preferentially allocate the lot L satisfying the common condition to the processing device 2 satisfying the common condition. Become.

以上、本発明の好ましい実施形態例について説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態の記載に限定されるものではない。上記実施形態例には様々な変更・改良を加えることが可能であり、そのような変更または改良を加えた形態のものも本発明の技術的範囲に含まれる。 Although the preferred embodiment of the present invention has been described above, the technical scope of the present invention is not limited to the description of the above embodiment. Various changes and improvements can be added to the above-described embodiments, and those in which such changes or improvements have been made are also included in the technical scope of the present invention.

たとえば、上述した実施形態における投入可否判定条件に加えて、処理装置2についてワークWの投入保留指示がある場合、当該処理装置2については、投入不可と判定する構成とすることができる。 For example, in addition to the condition for determining whether or not the work W can be input in the above-described embodiment, if there is an instruction to suspend the input of the work W for the processing device 2, the processing device 2 can be configured to determine that the processing device 2 cannot be input.

また、上述した実施形態における適合度評価条件に代えて、あるいは上述した実施形態に係る適合度評価条件に加えて、評価対象ロットLT2の納期の近さ、滞留日数の長さ、評価対象装置2T2への割り当て済み数の少なさ、または、評価対象ロットLT2を処理した後に評価対象装置2T2で実行可能な残りバッチ数の多さ、を適合度評価条件として個別適合度を算出し、これら個別適合度をさらに加味して、適合度評価値を算出する構成とすることができる。具体的には、納期が近い、あるいは、滞留日数が長い評価対象ロットLT2は、早めに処理することが好ましいため、投入ロット編成機能は、このような評価対象ロットLT2の個別適合度を高く評価することができる。また、投入ロット編成機能は、割り当て済みのワークWの数が少ない評価対象装置2T2ほど個別適合度を高く算出することで、処理装置2間の平準化を図ることができる。さらに、投入ロット編成機能は、評価対象ロットLT2を投入した後に評価対象装置2T2が実行可能なバッチ数が多いほど、個別適合度を高く算出することができる。これにより、評価対象ロットLT2を投入した後の充填率が低いが次の評価対象ロットLT2を処理するにはバッチ数が足りず、充填率が少ないまま処理を実施しなくてはいけなくなってしまう事態を有効に防止することができる。さらに、投入ロット編成機能は、評価対象ロットLT2を投入した後に、投入した評価対象ロットLT2と同じ品種であり、かつ、未割り当てのロットLを検索し、投入した評価対象ロットLT2と同じ品種かつ未割り当てのロットLがある場合には、このロットLを評価対象装置2T2に投入した場合の評価対象装置2T2の充填率を算出し、充填率が低い場合には、個別適合度を低く設定する構成とすることもできる。これにより、同品種かつ未割り当てのロットLが当該評価対象装置2T2に投入されるとは限らず、充填率の低い状態で次回の割り付け待ちになることを有効に防止することができる。 Further, instead of the conformity evaluation conditions in the above-described embodiment, or in addition to the conformity evaluation conditions according to the above-described embodiment, the closeness of delivery date, the length of residence days, and the evaluation target device of the evaluation target lot LT2 . 2 The individual conformity is calculated based on the small number allocated to T2 or the large number of remaining batches that can be executed by the evaluation target device 2 T2 after processing the evaluation target lot LT2 . , These individual conformance degrees can be further added to calculate the conformity evaluation value. Specifically, since it is preferable to process the evaluation target lot LT2 having a close delivery date or a long residence period as soon as possible, the input lot knitting function determines the individual suitability of such an evaluation target lot LT2 . Can be highly evaluated. Further, the input lot knitting function can achieve leveling between the processing devices 2 by calculating the individual goodness of fit higher for the evaluation target device 2 T2 having a smaller number of allocated work W. Further, the input lot knitting function can calculate the individual goodness of fit higher as the number of batches that can be executed by the evaluation target device 2 T2 after the evaluation target lot LT2 is input is larger. As a result, the filling rate after charging the evaluation target lot LT2 is low, but the number of batches is insufficient to process the next evaluation target lot LT2 , and the processing must be performed with the filling rate low. It is possible to effectively prevent the situation where the situation occurs. Further, the input lot knitting function searches for the lot L that is the same type as the input evaluation target lot LT2 and has not been allocated after the evaluation target lot LT2 is input, and is combined with the input evaluation target lot LT2 . If there is a lot L of the same type and unallocated, the filling rate of the evaluation target device 2 T2 when this lot L is put into the evaluation target device 2 T2 is calculated, and if the filling rate is low, it is individually adapted. It is also possible to set the degree low. As a result, the lot L of the same type and unallocated is not always put into the evaluation target device 2 T2 , and it is possible to effectively prevent waiting for the next allocation in a state where the filling rate is low.

1…投入ロット編成装置
10…演算装置
20…記憶装置
30…外部出力装置
40…入力装置
1 ... Input lot knitting device 10 ... Arithmetic unit 20 ... Storage device 30 ... External output device 40 ... Input device

本発明に係る投入ロット編成装置は、要求される処理条件が異なる複数のロットを、異なる処理条件の処理を実行する複数の処理装置を用いて処理する場合において、前記処理装置で同時に処理する前記複数のロットのまとまりを投入ロットとして前記処理装置ごとに編成することが可能な投入ロット編成装置であって、前記ロットに関するロット情報、および、前記処理装置に関する装置情報を取得する取得手段と、前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記ロットと前記処理装置との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定する投入可否判定手段と、前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記投入可否判定手段により投入可能と判定された前記ロットと前記処理装置との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として前記適合度評価条件ごとに算出し、前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の適合度評価値を算出する前記適合度評価手段と、前記適合度評価手段により判定された複数の前記組み合わせの複数の前記適合度評価値に基づいて、前記複数の組み合わせのうち投入に最も適した単一の組み合わせを特定し、当該組み合わせにおける前記ロットを前記処理装置に割り当てた後、再度、未割り当ての前記ロットと前記ロットを割り当てた後の状態の前記処理装置との組み合わせについて、前記投入可否判定手段による投入可否判定と、前記適合度評価手段による前記適合度評価値の算出とを繰り返すことで、前記処理装置ごとに、前記投入ロットを編成する編成手段と、を有する。
上記投入ロット編成装置において、前記投入可否判定手段は、前記処理装置が稼働しているか、前記ロットが指定する前記処理装置であるか、前記処理装置の処理条件と前記ロットの処理条件とが一致するか、前記ロットを構成するワークのサイズが前記処理装置で処理可能なサイズであるか、前記処理装置のライフ内において前記ロットを処理できるか、前記処理装置で前記ロットの納期に間に合うか、および、前記処理装置に対してロットの投入保留指示があるかのうち、いずれか1つ以上の前記投入可否判定条件に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理可能か否かを判定する、構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記適合度評価手段は、前記ロットを前記処理装置で処理した場合の処理終了時刻の早さ、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の前記処理装置の充填率の高さ、前記ロットを前記処理装置で処理する場合に段取りが必要であるか、前記処理装置が前記ロットの指定する処理装置であるか、前記処理装置のライフが前記ロットに適したライフ帯であるか、前記ロットの納期の近さまたは滞留日数の長さ、前記処理装置への割り当て済み数の少なさ、前記ロットを処理した後の前記処理装置の残りバッチ数の多さ、のうちいずれか2つ以上の前記適合度評価条件について、前記個別適合度を評価する構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記投入可否判定条件および前記適合度評価条件が、同一の事項に関する共通条件を有する構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記適合度評価手段は、前記適合度評価条件に対する前記個別適合度に、前記適合度評価条件ごとに定めた重み付けを行い、前記重み付けした前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の前記適合度評価値を算出する構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記適合度評価手段は、前記ロット情報に含まれる前記ロットに要求される処理条件および前記装置情報に含まれる前記処理装置が実行可能な処理条件に基づいて、前記ロットが当該ロットに適した処理装置で処理されるように、前記適合度評価条件ごとに前記複数の個別適合度を算出する構成とすることができる。
上記投入ロット編成装置において、前記ロットの全てのワークを前記処理装置の1回のバッチ処理で処理できない場合に、前記ロットをサブロットに分割するロット分割手段をさらに有し、前記投入可否判定手段は、前記サブロットの全てを前記処理装置で処理可能である場合に、前記ロットを前記処理装置に投入可能であると判定し、前記適合度評価手段は、前記サブロットの全てを前記処理装置で処理する場合の前記適合度評価値を算出する構成とすることができる。
The input lot knitting device according to the present invention processes a plurality of lots having different required processing conditions at the same time by the processing device when the plurality of lots are processed by using a plurality of processing devices that execute processing under different processing conditions. An input lot knitting device capable of knitting a group of a plurality of lots as an input lot for each processing device, and an acquisition means for acquiring lot information regarding the lot and device information regarding the processing device, and the above-mentioned. Based on the input availability determination means for determining whether or not each combination of the lot and the processing apparatus meets the input availability determination condition based on the lot information and the device information, and based on the lot information and the device information. Then, for each combination of the lot and the processing device determined to be loadable by the loading availability determination means, the conformity to each of a plurality of goodness-of-fit evaluation conditions is calculated as the individual goodness of fit for each goodness-of-fit evaluation condition. Then, the goodness-of-fit evaluation means for calculating the goodness-of-fit evaluation value when the lot is processed by the processing apparatus based on the plurality of individual goodness-of-fits, and the plurality of combinations determined by the goodness-of-fit evaluation means. Based on the plurality of goodness-of-fit evaluation values, a single combination most suitable for input is identified among the plurality of combinations, the lot in the combination is allocated to the processing device, and then the unallocated one is again unallocated. With respect to the combination of the lot and the processing apparatus in the state after the lot is assigned, the goodness of fit determination by the goodness-of-fit determination means and the calculation of the goodness-of-fit evaluation value by the goodness-of-fit evaluation means are repeated. Each processing apparatus has a knitting means for knitting the input lot.
In the input lot knitting device, whether the processing device is operating or the processing device designated by the lot matches the processing conditions of the processing device with the processing conditions of the lot. Whether the size of the work constituting the lot is a size that can be processed by the processing device, the lot can be processed within the life of the processing device, or the processing device can meet the delivery date of the lot. Further, it is determined whether or not the lot can be processed by the processing apparatus based on any one or more of the input possibility determination conditions among whether or not the processing apparatus is instructed to suspend the input of the lot. It can be configured.
In the input lot knitting apparatus, the goodness-of-fit evaluation means determines the speed of the processing end time when the lot is processed by the processing apparatus and the filling rate of the processing apparatus when the lot is processed by the processing apparatus. Height, whether setup is required when processing the lot with the processing device, whether the processing device is the processing device specified by the lot, or the life of the processing device is a life zone suitable for the lot. Either there is a lot close to the delivery date or the length of staying days, the number allocated to the processing device is small, or the number of remaining batches of the processing device after processing the lot is large. The individual goodness of fit can be evaluated for two or more of the goodness of fit evaluation conditions.
In the charging lot knitting device, the charging possibility determination condition and the goodness-of-fit evaluation condition may be configured to have common conditions regarding the same items.
In the input lot knitting device, the goodness-of-fit evaluation means weights the individual goodness of fit with respect to the goodness-of-fit evaluation condition as determined for each goodness-of-fit evaluation condition, and is based on the plurality of weighted individual goodness of fit. Therefore, the goodness-of-fit evaluation value when the lot is processed by the processing apparatus can be calculated.
In the input lot knitting device, the goodness-of -fit evaluation means is based on the processing conditions required for the lot included in the lot information and the processing conditions included in the device information that can be executed by the processing device. Can be configured to calculate the plurality of individual goodness of fit for each goodness of fit evaluation condition so that the product is processed by a processing device suitable for the lot .
The input lot knitting apparatus further includes a lot dividing means for dividing the lot into sub-lots when all the workpieces of the lot cannot be processed by one batch processing of the processing apparatus, and the input availability determination means When all of the sub-lots can be processed by the processing apparatus, it is determined that the lot can be put into the processing apparatus, and the goodness-of-fit evaluation means processes all of the sub-lots by the processing apparatus. It can be configured to calculate the goodness-of-fit evaluation value of the case.

本発明に係る投入ロット編成方法は、要求される処理条件が異なる複数のロットを、異なる処理条件で処理する複数の処理装置を用いて処理する場合において、前記処理装置で同時に処理する前記複数のロットのまとまりを投入ロットとして前記処理装置ごとに編成することが可能な投入ロット編成方法であって、前記ロットに関するロット情報、および、前記処理装置に関する装置情報に基づいて、前記ロットと前記処理装置との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定する投入可否判定工程と、前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記投入可否判定工程において投入可能と判定された前記ロットと前記処理装置との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として前記適合度評価条件ごとに算出し、前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の適合度評価値を算出する適合度評価工程と、前記適合度評価工程において判定された複数の前記組み合わせの複数の前記適合度評価値に基づいて、前記複数の組み合わせのうち投入に最も適した単一の組み合わせを特定し、当該組み合わせにおける前記ロットを前記処理装置に割り当てた後、再度、未割り当ての前記ロットと前記ロットを割り当てた後の状態の前記処理装置との組み合わせについて、前記投入可否判定工程による投入可否判定と、前記適合度評価工程による前記適合度評価値の評価とを繰り返すことで、前記処理装置ごとに、前記投入ロットを編成する編成工程と、を有する。 In the input lot knitting method according to the present invention, when a plurality of lots having different required processing conditions are processed by using a plurality of processing devices that process under different processing conditions, the plurality of lots that are simultaneously processed by the processing device. It is an input lot knitting method that can organize a group of lots as an input lot for each processing apparatus, and is based on lot information about the lot and device information about the processing apparatus, and the lot and the processing apparatus. The lot determined to be able to be loaded in the loading possibility determination step based on the loading possibility determination step of determining whether or not each combination of and is satisfied with the loading possibility determination condition and the lot information and the device information. For each combination of the product and the processing apparatus, the goodness of fit for each of the plurality of goodness-of-fit evaluation conditions is calculated as the individual goodness of fit for each of the goodness-of-fit evaluation conditions, and the lot is obtained based on the plurality of individual goodness of fit. Based on the goodness-of-fit evaluation process for calculating the goodness-of-fit evaluation value in the case of processing by the processing apparatus, and the plurality of goodness-of-fit evaluation values of the plurality of the combinations determined in the goodness-of-fit evaluation step, the plurality of combinations Of these, a single combination most suitable for input is identified, the lot in the combination is assigned to the processing apparatus, and then the unallocated lot and the processing apparatus in the state after the lot is allocated are used again. Regarding the combination , the charging step of knitting the charging lot for each processing device by repeating the charging possibility determination by the charging possibility determination step and the evaluation of the conformity evaluation value by the conformity evaluation step. Have.

本発明に係る投入ロット編成用プログラムは、コンピューターを用いて、要求される処理条件が異なる複数のロットを、異なる処理条件で処理する複数の処理装置を用いて処理する場合において、前記処理装置で同時に処理する前記複数のロットのまとまりを投入ロットとして前記処理装置ごとに編成することが可能な投入ロット編成用プログラムであって、前記ロットに関するロット情報、および、前記処理装置に関する装置情報に基づいて、前記ロットと前記処理装置との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定する投入可否判定ステップと、前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記投入可否判定ステップにおいて投入可能と判定された前記ロットと前記処理装置との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として前記適合度評価条件ごとに算出し、前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の適合度評価値を算出する適合度評価ステップと、前記適合度評価ステップにおいて判定された複数の前記組み合わせの複数の前記適合度評価値に基づいて、前記複数の組み合わせのうち投入に最も適した単一の組み合わせを特定し、当該組み合わせにおける前記ロットを前記処理装置に割り当てた後、再度、未割り当ての前記ロットと前記ロットを割り当てた後の状態の前記処理装置との組み合わせについて、前記投入可否判定ステップによる投入可否判定と、前記適合度評価ステップによる前記適合度評価値の評価とを繰り返すことで、前記処理装置ごとに、前記投入ロットを編成する編成ステップと、を有する。 The input lot knitting program according to the present invention uses a computer to process a plurality of lots having different required processing conditions using a plurality of processing devices that process under different processing conditions. It is an input lot knitting program capable of organizing a group of a plurality of lots to be processed at the same time as an input lot for each processing apparatus, and is based on lot information about the lot and device information about the processing apparatus. , The loading possibility determination step for determining whether or not each combination of the lot and the processing device meets the loading possibility determination condition, and the charging possibility determination step based on the lot information and the device information. For each combination of the lot determined to be possible and the processing apparatus, the goodness of fit for each of a plurality of goodness-of-fit evaluation conditions is calculated as the individual goodness of fit for each goodness-of-fit evaluation condition, and the goodness of fit is calculated for each of the plurality of individual goodness-of-fit conditions. Based on the goodness-of-fit evaluation step for calculating the goodness-of-fit evaluation value when the lot is processed by the processing apparatus, and the plurality of goodness-of-fit evaluation values of the plurality of combinations determined in the goodness-of-fit evaluation step. After identifying a single combination most suitable for input from the plurality of combinations, allocating the lot in the combination to the processing apparatus, and then allocating the unallocated lot and the lot again. With respect to the combination with the processing device in the state, the loading lot is determined for each processing device by repeating the charging possibility determination by the loading availability determination step and the evaluation of the goodness-of-fit evaluation value by the conformity-of-fit evaluation step. It has a knitting step to knit.

Claims (9)

要求される処理条件が異なる複数のロットを、異なる処理条件の処理を実行する複数の処理装置を用いて処理する場合において、前記処理装置で同時に処理する前記複数のロットのまとまりを投入ロットとして前記処理装置ごとに編成することが可能な投入ロット編成装置であって、
前記ロットに関するロット情報、および、前記処理装置に関する装置情報を取得する取得手段と、
前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記ロットと前記処理装置との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定する投入可否判定手段と、
前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記投入可否判定手段により投入可能と判定された前記ロットと前記処理装置との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として前記適合度評価条件ごとに算出し、前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の適合度評価値を算出する適合度評価手段と、
前記適合度評価手段により判定された複数の前記組み合わせの複数の前記適合度評価値に基づいて、前記複数の組み合わせのうち投入に最も適した組み合わせを特定し、当該組み合わせにおける前記ロットを前記処理装置に割り当てた後、再度、未割り当ての前記ロットについて、前記投入可否判定手段による投入可否判定と、前記適合度評価手段による前記適合度評価値の算出とを繰り返すことで、前記処理装置ごとに、前記投入ロットを編成する編成手段と、を有する、投入ロット編成装置。
When a plurality of lots having different required processing conditions are processed by using a plurality of processing devices that execute processing under different processing conditions, the group of the plurality of lots simultaneously processed by the processing device is used as an input lot. It is an input lot knitting device that can be knitted for each processing device.
An acquisition means for acquiring lot information regarding the lot and device information regarding the processing device, and
Based on the lot information and the apparatus information, the input propriety determination means for determining whether or not each combination of the lot and the processing apparatus meets the input propriety determination condition, and the input propriety determination means.
Based on the lot information and the device information, the goodness of fit for each of the plurality of goodness-of-fit evaluation conditions for each combination of the lot and the processing device determined to be loadable by the loading availability determination means is individually conformed. A goodness-of-fit evaluation means for calculating the goodness-of-fit evaluation value for each of the goodness-of-fit evaluation conditions and calculating the goodness-of-fit evaluation value when the lot is processed by the processing apparatus based on the plurality of individual goodness-of-fits.
Based on the plurality of goodness-of-fit evaluation values of the plurality of the combinations determined by the goodness-of-fit evaluation means, the most suitable combination among the plurality of combinations is specified, and the lot in the combination is used as the processing apparatus. After being assigned to the lot, the unallocated lot is repeatedly determined by the goodness-of-fit determination means and the goodness-of-fit evaluation value is calculated by the goodness-of-fit evaluation means. An input lot knitting device having a knitting means for knitting the input lot.
前記投入可否判定手段は、前記処理装置が稼働しているか、前記ロットが指定する前記処理装置であるか、前記処理装置の処理条件と前記ロットの処理条件とが一致するか、前記ロットを構成するワークのサイズが前記処理装置で処理可能なサイズであるか、前記処理装置のライフ内において前記ロットを処理できるか、前記処理装置で前記ロットの納期に間に合うか、および、前記処理装置に対してロットの投入保留指示があるかのうち、いずれか1つ以上の前記投入可否判定条件に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理可能か否かを判定する、請求項1に記載の投入ロット編成装置。 The input possibility determination means constitutes the lot, whether the processing device is operating, the processing device specified by the lot, the processing conditions of the processing device match the processing conditions of the lot, or the lot. Whether the size of the work to be processed is a size that can be processed by the processing apparatus, whether the lot can be processed within the life of the processing apparatus, whether the processing apparatus can meet the delivery date of the lot, and the processing apparatus. The input according to claim 1, wherein it is determined whether or not the lot can be processed by the processing apparatus based on one or more of the input hold instructions for the lot. Lot knitting equipment. 前記適合度評価手段は、前記ロットを前記処理装置で処理した場合の処理終了時刻の早さ、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の前記処理装置の充填率の高さ、前記ロットを前記処理装置で処理する場合に段取りが必要であるか、前記処理装置が前記ロットの指定する処理装置であるか、前記処理装置のライフが前記ロットに適したライフ帯であるか、前記ロットの納期の近さまたは滞留日数の長さ、前記処理装置への割り当て済み数の少なさ、前記ロットを処理した後の前記処理装置の残りバッチ数の多さ、のうちいずれか2つ以上の前記適合度評価条件について、前記個別適合度を評価する、請求項1または2に記載の投入ロット編成装置。 The goodness-of-fit evaluation means includes the speed of the processing end time when the lot is processed by the processing apparatus, the high filling rate of the processing apparatus when the lot is processed by the processing apparatus, and the lot. Whether setup is required when processing with the processing device, whether the processing device is the processing device specified by the lot, whether the life of the processing device is a life zone suitable for the lot, and the delivery date of the lot. Two or more of the goodness-of-fit: the closeness or length of staying days, the small number allocated to the processing device, and the large number of remaining batches of the processing device after processing the lot. The input lot knitting apparatus according to claim 1 or 2, which evaluates the individual goodness of fit with respect to the degree evaluation conditions. 前記投入可否判定条件および前記適合度評価条件が、同一の事項に関する共通条件を有する、請求項1ないし3のいずれかに記載の投入ロット編成装置。 The charging lot knitting apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the charging possibility determination condition and the conformity evaluation condition have common conditions regarding the same matters. 前記適合度評価手段は、前記適合度評価条件に対する前記個別適合度に、前記適合度評価条件ごとに定めた重み付けを行い、前記重み付けした前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の前記適合度評価値を算出する、請求項1ないし4のいずれかに記載の投入ロット編成装置。 The goodness-of-fit evaluation means weights the individual goodness of fit with respect to the goodness-of-fit evaluation condition as determined for each goodness-of-fit evaluation condition, and processes the lot based on the plurality of weighted individual goodness of fit. The input lot knitting apparatus according to any one of claims 1 to 4, which calculates the goodness-of-fit evaluation value when processed by the apparatus. 前記適合度評価手段は、階層分析法に基づいて、前記適合度評価条件ごとの重み付けを設定する、請求項5に記載の投入ロット編成装置。 The input lot knitting device according to claim 5, wherein the goodness-of-fit evaluation means sets weighting for each goodness-of-fit evaluation condition based on the analytic hierarchy process. 前記ロットの全てのワークを前記処理装置の1回のバッチ処理で処理できない場合に、前記ロットをサブロットに分割するロット分割手段をさらに有し、
前記投入可否判定手段は、前記サブロットの全てを前記処理装置で処理可能である場合に、前記ロットを前記処理装置に投入可能であると判定し、
前記適合度評価手段は、前記サブロットの全てを前記処理装置で処理する場合の前記適合度評価値を算出する、請求項1ないし6のいずれかに記載の投入ロット編成装置。
Further, it has a lot dividing means for dividing the lot into sub-lots when all the workpieces of the lot cannot be processed by one batch processing of the processing apparatus.
When all of the sub-lots can be processed by the processing device, the charging possibility determination means determines that the lot can be charged to the processing device.
The input lot knitting apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the fitness evaluation means calculates the fitness evaluation value when all of the sublots are processed by the processing apparatus.
要求される処理条件が異なる複数のロットを、異なる処理条件で処理する複数の処理装置を用いて処理する場合において、前記処理装置で同時に処理する前記複数のロットのまとまりを投入ロットとして前記処理装置ごとに編成することが可能な投入ロット編成方法であって、
前記ロットに関するロット情報、および、前記処理装置に関する装置情報に基づいて、前記ロットと前記処理装置との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定する投入可否判定工程と、
前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記投入可否判定工程において投入可能と判定された前記ロットと前記処理装置との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として前記適合度評価条件ごとに算出し、前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の適合度評価値を算出する適合度評価工程と、
前記適合度評価工程において判定された複数の前記組み合わせの複数の前記適合度評価値に基づいて、前記複数の組み合わせのうち投入に最も適した組み合わせを特定し、当該組み合わせにおける前記ロットを前記処理装置に割り当てた後、再度、未割り当ての前記ロットについて、前記投入可否判定工程による投入可否判定と、前記適合度評価工程による前記適合度評価値の評価とを繰り返すことで、前記処理装置ごとに、前記投入ロットを編成する編成工程と、を有する、投入ロット編成方法。
When a plurality of lots having different required processing conditions are processed by using a plurality of processing devices that process under different processing conditions, the processing device uses a group of the plurality of lots to be processed simultaneously by the processing device as an input lot. It is an input lot knitting method that can be knitted for each.
Based on the lot information related to the lot and the device information related to the processing device, an input availability determination step for determining whether or not each combination of the lot and the processing apparatus meets the input enable / disable determination condition, and an input availability determination step.
Based on the lot information and the device information, the goodness of fit for each of the plurality of goodness-of-fit evaluation conditions is individually determined for each combination of the lot and the processing device determined to be ready for loading in the loading availability determination step. A goodness-of-fit evaluation step of calculating the goodness-of-fit evaluation value for each of the goodness-of-fit evaluation conditions and calculating the goodness-of-fit evaluation value when the lot is processed by the processing apparatus based on the plurality of individual goodness-of-fits.
Based on the plurality of goodness-of-fit evaluation values of the plurality of the combinations determined in the goodness-of-fit evaluation step, the most suitable combination among the plurality of combinations is specified, and the lot in the combination is used as the processing apparatus. After being assigned to, the unallocated lot is repeatedly determined by the input availability determination step and the evaluation of the goodness-of-fit evaluation value by the conformity-of-fit evaluation step. A method for knitting an input lot, comprising a knitting step for knitting the input lot.
コンピューターを用いて、
要求される処理条件が異なる複数のロットを、異なる処理条件で処理する複数の処理装置を用いて処理する場合において、前記処理装置で同時に処理する前記複数のロットのまとまりを投入ロットとして前記処理装置ごとに編成することが可能な投入ロット編成用プログラムであって、
前記ロットに関するロット情報、および、前記処理装置に関する装置情報に基づいて、前記ロットと前記処理装置との各組み合わせが投入可否判定条件に合致するか否かをそれぞれ判定する投入可否判定ステップと、
前記ロット情報および前記装置情報に基づいて、前記投入可否判定ステップにおいて投入可能と判定された前記ロットと前記処理装置との各組み合わせについて、複数の適合度評価条件のそれぞれに対する適合度を個別適合度として前記適合度評価条件ごとに算出し、前記複数の個別適合度に基づいて、前記ロットを前記処理装置で処理する場合の適合度評価値を算出する適合度評価ステップと、
前記適合度評価ステップにおいて判定された複数の前記組み合わせの複数の前記適合度評価値に基づいて、前記複数の組み合わせのうち投入に最も適した組み合わせを特定し、当該組み合わせにおける前記ロットを前記処理装置に割り当てた後、再度、未割り当ての前記ロットについて、前記投入可否判定ステップによる投入可否判定と、前記適合度評価ステップによる前記適合度評価値の評価とを繰り返すことで、前記処理装置ごとに、前記投入ロットを編成する編成ステップと、を有する、投入ロット編成用プログラム。
Using a computer,
When a plurality of lots having different required processing conditions are processed by using a plurality of processing devices that process under different processing conditions, the processing device uses a group of the plurality of lots to be simultaneously processed by the processing device as an input lot. It is a program for input lot organization that can be organized for each.
Based on the lot information related to the lot and the device information related to the processing device, an input availability determination step for determining whether or not each combination of the lot and the processing apparatus meets the input availability determination condition, and an input availability determination step.
Based on the lot information and the device information, the goodness of fit for each of the plurality of goodness-of-fit evaluation conditions is individually determined for each combination of the lot and the processing device determined to be ready for loading in the loading availability determination step. A goodness-of-fit evaluation step for calculating the goodness-of-fit evaluation value for each of the goodness-of-fit evaluation conditions and calculating the goodness-of-fit evaluation value when the lot is processed by the processing apparatus based on the plurality of individual goodness-of-fits.
Based on the plurality of goodness-of-fit evaluation values of the plurality of the combinations determined in the goodness-of-fit evaluation step, the most suitable combination among the plurality of combinations to be input is specified, and the lot in the combination is used as the processing apparatus. After allocating to, again, for the unallocated lot, the input availability determination by the input availability determination step and the evaluation of the goodness-of-fit evaluation value by the conformity evaluation step are repeated for each processing device. A program for knitting an input lot, comprising a knitting step for knitting the input lot.
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