JP2022082450A - Resin composition - Google Patents

Resin composition Download PDF

Info

Publication number
JP2022082450A
JP2022082450A JP2021187427A JP2021187427A JP2022082450A JP 2022082450 A JP2022082450 A JP 2022082450A JP 2021187427 A JP2021187427 A JP 2021187427A JP 2021187427 A JP2021187427 A JP 2021187427A JP 2022082450 A JP2022082450 A JP 2022082450A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
polyimide
resin composition
carbon atoms
independently
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2021187427A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
友裕 頼末
Tomohiro Yorisue
隆志 岩田
Takashi Iwata
昌樹 米谷
Masaki Yonetani
隆行 金田
Takayuki Kaneda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei Corp
Original Assignee
Asahi Kasei Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei Corp filed Critical Asahi Kasei Corp
Publication of JP2022082450A publication Critical patent/JP2022082450A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

To provide a polyimide film that excels in both of the properties required for the production process of a polyimide precursor and/or a polyimide-containing resin composition and other properties required for displays, and a resin composition for forming the same.SOLUTION: Constitutional units of a polyimide precursor and/or a polyimide include a divalent organic group P1 and a tetravalent organic group P2, each of which includes a constitutional unit derived from a compound represented by any of general formulae (3), (4), (5), (12).SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、ポリイミド前駆体/ポリイミド含有樹脂組成物及びポリイミドフィルムに関する。本発明はさらに、ポリイミド前駆体/ポリイミド含有樹脂組成物の製造方法、並びにポリイミドフィルム、ディスプレイ、積層体及びフレキシブルデバイスの製造方法にも関する。 The present invention relates to a polyimide precursor / polyimide-containing resin composition and a polyimide film. The present invention further relates to a method for producing a polyimide precursor / polyimide-containing resin composition, and a method for producing a polyimide film, a display, a laminate, and a flexible device.

ポリイミド樹脂は、不溶、不融の超耐熱性樹脂であり、耐熱酸化性、耐熱特性、耐放射線性、耐低温性、耐薬品性等に優れた特性を有している。このため、ポリイミド樹脂は、電子材料を含む広範囲な分野で用いられている。電子材料分野におけるポリイミド樹脂の適用例としては、例えば絶縁コーティング材、絶縁膜、半導体、薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ(TFT-LCD)の電極保護膜等を挙げることができる。最近は、ポリイミドフィルムの軽さ、柔軟性などを利用して、ディスプレイ材料の分野において従来使用されていたガラス基板に代わり、フレキシブル基板としても採用が検討されている。 The polyimide resin is an insoluble and infusible super heat resistant resin, and has excellent properties such as heat oxidation resistance, heat resistance, radiation resistance, low temperature resistance, and chemical resistance. Therefore, polyimide resins are used in a wide range of fields including electronic materials. Examples of applications of the polyimide resin in the field of electronic materials include an insulating coating material, an insulating film, a semiconductor, an electrode protective film of a thin film transistor liquid crystal display (TFT-LCD), and the like. Recently, taking advantage of the lightness and flexibility of the polyimide film, adoption as a flexible substrate is being considered in place of the glass substrate conventionally used in the field of display materials.

特許文献1には、モノマーとして、3,5-ジアミノベンズアミド(以下、DABAともいう)と、ピロメリット酸無水物(以下、PMDAともいう)又は、4,4’-(ヘキサフルオロイソプロピリデン)ジフタル酸無水物(以下、6FDAともいう)と、特定の構造を有するケイ素含有化合物とを用いて、ポリイミドを合成し、得られたポリイミドワニスに架橋剤を添加し、塗布、乾燥して得られるポリイミドフィルムが記載されている。また、特許文献1には、このフィルムは、ガス分離性能が優れることも記載されている。 Patent Document 1 describes 3,5-diaminobenzamide (hereinafter, also referred to as DABA) and pyromellitic acid anhydride (hereinafter, also referred to as PMDA) or 4,4'-(hexafluoroisopropylidene) diphthal as monomers. A polyimide obtained by synthesizing a polyimide using an acid anhydride (hereinafter, also referred to as 6FDA) and a silicon-containing compound having a specific structure, adding a cross-linking agent to the obtained polyimide varnish, applying and drying the polyimide. The film is described. Further, Patent Document 1 also describes that this film has excellent gas separation performance.

特許文献2には、ジアミンとしてDABA,TFMB(2,2’-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン)、酸二無水物としてPMDA,6FDAを用いたポリイミドワニスを塗布、乾燥して得られる透明ポリイミドフィルムが記載されている。 Patent Document 2 is a transparent polyimide film obtained by applying and drying a polyimide varnish using DABA, TFMB (2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine) as a diamine and PMDA, 6FDA as an acid dianhydride. Is described.

特開2020-084067号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2020-084067 中国特許第111205645号明細書Chinese Patent No. 111205645

特許文献1に記載のポリイミドフィルムは、その用途がコーティング剤、粘着剤等の塗料であり、光学材料として検討が為されていない。 The polyimide film described in Patent Document 1 is used as a paint such as a coating agent and an adhesive, and has not been studied as an optical material.

また、本発明者らは、DABA,TFMBとPMDA,6FDAをモノマーとして用いて、特許文献2に記載されたものと同様にポリイミドワニスを合成したところ、そのポリイミドワニスを塗布、加熱して得られるポリイミドフィルムは、ディスプレイ用途に求められる特性(例えば、引張伸度、残留応力等)が不十分であることを見出した。他方、本発明者らは、DABAとPMDA及び/または6FDAと、特定の量のケイ素含有化合物等をモノマーとして用いて得られたポリイミドは、ディスプレイ用途に求められる特性が優れることを見出した。 Further, the present inventors synthesized a polyimide varnish in the same manner as described in Patent Document 2 using DABA, TFMB and PMDA, 6FDA as monomers, and obtained the polyimide varnish by applying and heating the polyimide varnish. It has been found that the polyimide film has insufficient properties (for example, tensile elongation, residual stress, etc.) required for display applications. On the other hand, the present inventors have found that a polyimide obtained by using DABA, PMDA and / or 6FDA and a specific amount of a silicon-containing compound or the like as a monomer has excellent properties required for display applications.

したがって、本発明は、上記の事情に鑑みて為されたものであり、ポリイミド前駆体及び/又はポリイミド含有樹脂組成物の製造プロセスに求められる特性、及びディスプレイ用途に求められるその他の特性の双方に優れるポリイミドフィルム、及びこれを形成するための樹脂組成物を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention has been made in view of the above circumstances, and has both the characteristics required for the manufacturing process of the polyimide precursor and / or the polyimide-containing resin composition and other characteristics required for display applications. It is an object of the present invention to provide an excellent polyimide film and a resin composition for forming the same.

上記課題は、以下の技術的手段により解決されることができる。
[1]
下記一般式(1)又は(2):

Figure 2022082450000002
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつpは、正の整数を示す。}
Figure 2022082450000003
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、pは、かつ正の整数を示す。}
で表される構造単位を含む、ポリイミド前駆体又はポリイミドを含む、樹脂組成物であって、
前記Pは、下記一般式(3):
Figure 2022082450000004
で表される化合物に由来する構成単位を含み、かつ
前記P又Pは、下記一般式(5):
Figure 2022082450000005
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50であり、かつ官能基当量が800以上である。}
で表されるケイ素含有化合物に由来する構成単位を含み、かつ
下記(ア)及び(イ):
(ア)前記Pは、下記一般式(4):
Figure 2022082450000006
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
(イ)前記Pは、下記一般式(12):
Figure 2022082450000007
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
を満たし、
そして前記ケイ素含有化合物が、
全ジアミンを100mol%としたとき、20mol%以下、または、
全酸二無水物を100mol%としたとき、20mol%以下
である、樹脂組成物。
[2]
前記L及びLが、それぞれ独立に、アミノ基である、項目1に記載の樹脂組成物。
[3]
下記一般式(6)及び(7):
Figure 2022082450000008
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつpは、正の整数を示す。}
Figure 2022082450000009
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつqは、正の整数を示す。}
で表される構造単位を含む、ポリイミド前駆体及びポリイミドを含む、樹脂組成物であって、
前記P又はPが、下記一般式(10):
Figure 2022082450000010
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50である。}
で表されるケイ素含有化合物に由来する構成単位を含み、かつ
前記P及び/又はPは、下記一般式(8):
Figure 2022082450000011
で表される化合物に由来する構成単位を含み、かつ
下記(ウ)及び(エ):
(ウ)前記P及び/又はPは、下記一般式(9):
Figure 2022082450000012
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
(エ)前記P及び/又はPは、下記一般式(13):
Figure 2022082450000013
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
を満たす、樹脂組成物。
[4]
前記ケイ素含有化合物が、
全ジアミンを100mol%としたとき、20mol%以下、または、
全酸二無水物を100mol%としたとき、20mol%以下
である、項目3に記載の樹脂組成物。
[5]
前記L及びLが、それぞれ独立に、アミノ基である、項目3又は4に記載の樹脂組成物。
[6]
前記P,P,Pが、TFMB(2,2’-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン)に由来する基を含まない、項目1~5のいずれか一項に記載の樹脂組成物。
[7]
前記一般式(3)又は(8)で表される化合物が、全ジアミン(前記一般式(5)又は(10)で表される化合物を除く)を100mol%としたとき、50mol%より多い、項目1~6のいずれか一項に記載の樹脂組成物。
[8]
前記ポリイミド前駆体又は前記ポリイミドを加熱して得られるポリイミド樹脂膜が、フレキシブル基板に用いられる、項目1~7のいずれか一項に記載の樹脂組成物。
[9]
前記ポリイミド前駆体を硬化して得られるポリイミド樹脂膜が、フレキシブルディスプレイに用いられる、項目1~8のいずれか一項に記載の樹脂組成物。
[10]
下記一般式(3):
Figure 2022082450000014
で表される化合物と、
下記一般式(4):
Figure 2022082450000015
で表される化合物及び、
下記一般式(12):
Figure 2022082450000016
で表される化合物と、
下記一般式(5):
Figure 2022082450000017
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50である。}
で表されるケイ素含有化合物と、その他の化合物とを重縮合反応させてポリイミド前駆体及び/又はポリイミドを提供することを含む、樹脂組成物の製造方法。
[11]
下記一般式(3):
Figure 2022082450000018
で表される化合物と、
下記一般式(4):
Figure 2022082450000019
で表される化合物及び、
下記一般式(12):
Figure 2022082450000020
で表される化合物と、
その他の化合物とを重縮合反応させてポリイミドを得た後、
下記一般式(5):
Figure 2022082450000021
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50である。}
で表されるケイ素含有化合物と、その他の化合物とを重縮合反応させて、ポリイミド前駆体及びポリイミドを含む樹脂組成物を提供することを含む、樹脂組成物の製造方法。
[12]
支持体の表面上に、項目1~9のいずれか一項に記載の樹脂組成物、又は項目10若しくは11に記載の方法により得られた樹脂組成物を塗布する塗布工程と、
該樹脂組成物を加熱してポリイミド樹脂膜を形成する膜形成工程と、
該ポリイミド樹脂膜を該支持体から剥離する剥離工程と、
を含む、ポリイミド樹脂膜の製造方法。
[13]
前記剥離工程に先立って、前記支持体側から前記樹脂組成物にレーザーを照射する照射工程を含む、項目12に記載のポリイミド樹脂膜の製造方法。
[14]
支持体の表面上に、項目1~9のいずれか一項に記載の樹脂組成物、又は項目10若しくは11に記載の方法により得られた樹脂組成物を塗布する塗布工程と、
該樹脂組成物を加熱してポリイミド樹脂膜を形成する膜形成工程と、
該ポリイミド樹脂膜上に素子を形成する素子形成工程と、
該素子が形成された該ポリイミド樹脂膜を該支持体から剥離する剥離工程と、
を含む、ディスプレイの製造方法。
[15]
支持体の表面上に、項目1~9のいずれか一項に記載の樹脂組成物、又は項目10若しくは11に記載の方法により得られた樹脂組成物を塗布する塗布工程と、
該樹脂組成物を加熱してポリイミド樹脂膜を形成する膜形成工程と、
該ポリイミド樹脂膜上に素子を形成する素子形成工程と、
を含む、積層体の製造方法。
[16]
前記素子が形成された前記ポリイミド樹脂膜を前記支持体から剥離する工程をさらに含む、項目15に記載の積層体の製造方法。
[17]
項目15又は16に記載の方法により積層体を製造することを含む、フレキシブルデバイスの製造方法。 The above problems can be solved by the following technical means.
[1]
The following general formula (1) or (2):
Figure 2022082450000002
{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer. }
Figure 2022082450000003
{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer. }
A polyimide precursor or a resin composition containing a polyimide, which comprises a structural unit represented by.
The P 1 is the following general formula (3):
Figure 2022082450000004
It contains a structural unit derived from the compound represented by the above, and the P1 or P2 is the following general formula ( 5 ) :.
Figure 2022082450000005
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers of 0 to 200, 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50, and the functional group equivalent is 800 or more. }
It contains a structural unit derived from a silicon-containing compound represented by, and the following (a) and (b):
(A) The P 2 is the following general formula (4):
Figure 2022082450000006
Includes structural units derived from the compounds represented by;
(A) The P 2 is the following general formula (12):
Figure 2022082450000007
Includes structural units derived from the compounds represented by;
The filling,
And the silicon-containing compound
When the total diamine is 100 mol%, it is 20 mol% or less, or
A resin composition having a total acid dianhydride of 20 mol% or less when the total acid dianhydride is 100 mol%.
[2]
The resin composition according to item 1, wherein L 1 and L 2 are independently amino groups.
[3]
The following general formulas (6) and (7):
Figure 2022082450000008
{In the formula, P 3 represents a divalent organic group, P 4 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer. }
Figure 2022082450000009
{In the formula, P 5 represents a divalent organic group, P 6 represents a tetravalent organic group, and q represents a positive integer. }
A resin composition comprising a polyimide precursor and a polyimide, which comprises a structural unit represented by.
The above P 3 or P 4 is the following general formula (10):
Figure 2022082450000010
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers of 0 to 200, and 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50. }
It contains a structural unit derived from a silicon-containing compound represented by, and the P 3 and / or P 5 is the following general formula (8) :.
Figure 2022082450000011
It contains a structural unit derived from the compound represented by, and the following (c) and (d):
(C) The P4 and / or P6 is expressed by the following general formula (9):
Figure 2022082450000012
Includes structural units derived from the compounds represented by;
(D) The above P4 and / or P6 is expressed by the following general formula (13):
Figure 2022082450000013
Includes structural units derived from the compounds represented by;
A resin composition that meets the requirements.
[4]
The silicon-containing compound
When the total diamine is 100 mol%, it is 20 mol% or less, or
The resin composition according to item 3, wherein the total acid dianhydride is 20 mol% or less when the total acid dianhydride is 100 mol%.
[5]
The resin composition according to item 3 or 4, wherein L 1 and L 2 are independently amino groups.
[6]
The resin composition according to any one of items 1 to 5, wherein P 1 , P 3 , and P 5 do not contain a group derived from TFMB (2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine).
[7]
The compound represented by the general formula (3) or (8) is more than 50 mol% when the total diamine (excluding the compound represented by the general formula (5) or (10)) is 100 mol%. The resin composition according to any one of items 1 to 6.
[8]
The resin composition according to any one of items 1 to 7, wherein the polyimide precursor or the polyimide resin film obtained by heating the polyimide is used for a flexible substrate.
[9]
The resin composition according to any one of items 1 to 8, wherein the polyimide resin film obtained by curing the polyimide precursor is used for a flexible display.
[10]
The following general formula (3):
Figure 2022082450000014
And the compound represented by
The following general formula (4):
Figure 2022082450000015
Compounds represented by and
The following general formula (12):
Figure 2022082450000016
And the compound represented by
The following general formula (5):
Figure 2022082450000017
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers of 0 to 200, and 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50. }
A method for producing a resin composition, which comprises subjecting a silicon-containing compound represented by (1) and another compound to a polycondensation reaction to provide a polyimide precursor and / or a polyimide.
[11]
The following general formula (3):
Figure 2022082450000018
And the compound represented by
The following general formula (4):
Figure 2022082450000019
Compounds represented by and
The following general formula (12):
Figure 2022082450000020
And the compound represented by
After polycondensation reaction with other compounds to obtain polyimide,
The following general formula (5):
Figure 2022082450000021
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers of 0 to 200, and 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50. }
A method for producing a resin composition, which comprises subjecting a silicon-containing compound represented by (1) to a polycondensation reaction of another compound to provide a resin composition containing a polyimide precursor and a polyimide.
[12]
A coating step of applying the resin composition according to any one of items 1 to 9 or the resin composition obtained by the method according to item 10 or 11 onto the surface of the support.
A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,
A peeling step of peeling the polyimide resin film from the support,
A method for producing a polyimide resin film, including.
[13]
The method for producing a polyimide resin film according to item 12, further comprising an irradiation step of irradiating the resin composition with a laser from the support side prior to the peeling step.
[14]
A coating step of applying the resin composition according to any one of items 1 to 9 or the resin composition obtained by the method according to item 10 or 11 onto the surface of the support.
A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,
An element forming step of forming an element on the polyimide resin film and
A peeling step of peeling the polyimide resin film on which the element is formed from the support,
How to make a display, including.
[15]
A coating step of applying the resin composition according to any one of items 1 to 9 or the resin composition obtained by the method according to item 10 or 11 onto the surface of the support.
A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,
An element forming step of forming an element on the polyimide resin film and
A method for manufacturing a laminate, including.
[16]
The method for producing a laminate according to item 15, further comprising a step of peeling the polyimide resin film on which the element is formed from the support.
[17]
A method for manufacturing a flexible device, which comprises manufacturing a laminate by the method according to item 15 or 16.

本発明によれば、DABAとPMDA及び6FDAと、特定の量のケイ素含有化合物とをモノマーとして用いて、ディスプレイ用途に求められる特性に優れるポリイミド前駆体又はポリイミド樹脂組成物を提供することができる。
なお、上述の記載は、本発明の全ての実施形態及び本発明に関する全ての利点を開示したものと見なしてはならない。本発明の更なる実施形態及びその利点は、以下の記載を参照することにより明らかとなる。
According to the present invention, it is possible to provide a polyimide precursor or a polyimide resin composition having excellent properties required for display applications by using DABA, PMDA, 6FDA, and a specific amount of a silicon-containing compound as monomers.
It should be noted that the above description shall not be deemed to disclose all the embodiments of the present invention and all the advantages relating to the present invention. Further embodiments of the present invention and their advantages will become apparent with reference to the following description.

図1は、本実施形態のディスプレイの例として、トップエミッション型フレキシブル有機ELディスプレイの、ポリイミド基板より上部の構造を示す模式図である。FIG. 1 is a schematic view showing the structure of a top-emission type flexible organic EL display above the polyimide substrate as an example of the display of the present embodiment.

以下、本発明の例示の実施の形態(以下、「本実施形態」と略記する。)について、詳細に説明する。本発明は、本実施形態に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々変形して実施することができる。本願明細書において、各数値範囲の上限値及び下限値は任意に組み合わせることができる。 Hereinafter, embodiments of the present invention (hereinafter, abbreviated as “the present embodiment”) will be described in detail. The present invention is not limited to the present embodiment, and can be variously modified and implemented within the scope of the gist thereof. In the present specification, the upper limit value and the lower limit value of each numerical range can be arbitrarily combined.

《樹脂組成物》
〈ポリイミド前駆体/ポリイミド〉
本実施形態の樹脂組成物は、
下記一般式(1)又は(2):

Figure 2022082450000022
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつpは、正の整数を示す。}
Figure 2022082450000023
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつpは、正の整数を示す。}
で表される構造を含むポリイミド前駆体(以下、全ポリイミド前駆体ともいう)又はポリイミド(以下、全ポリイミドともいう)を含み、Pは、下記一般式(3):
Figure 2022082450000024
で表される化合物に由来する構成単位を含み、
又Pは、下記一般式(5):
Figure 2022082450000025
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50であり、かつ官能基当量が8000以上である}
で表されるケイ素含有化合物に由来する構成単位を含み、
そして、下記(ア)及び(イ):
(ア)前記Pは、下記一般式(4):
Figure 2022082450000026
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
(イ)前記Pは、下記一般式(12):
Figure 2022082450000027
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
を満たす。 << Resin composition >>
<Polyimide precursor / Polyimide>
The resin composition of this embodiment is
The following general formula (1) or (2):
Figure 2022082450000022
{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer. }
Figure 2022082450000023
{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer. }
A polyimide precursor containing a structure represented by (hereinafter, also referred to as a total polyimide precursor) or a polyimide (hereinafter, also referred to as a total polyimide) is included, and P 1 is the following general formula (3) :.
Figure 2022082450000024
Containing structural units derived from the compound represented by
P 1 or P 2 is the following general formula (5):
Figure 2022082450000025
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers from 0 to 200, 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50, and the functional group equivalent is 8000 or more}.
Containing structural units derived from silicon-containing compounds represented by
And the following (a) and (b):
(A) The P 2 is the following general formula (4):
Figure 2022082450000026
Includes structural units derived from the compounds represented by;
(A) The P 2 is the following general formula (12):
Figure 2022082450000027
Includes structural units derived from the compounds represented by;
Meet.

樹脂組成物において、前記一般式(5)で表されるケイ素含有化合物は:
全ジアミンを100mol%としたとき、20mol%以下;または、
全酸二無水物を100mol%としたとき、20mol%以下
である。ケイ素含有化合物が上記の範囲であると、得られるポリイミド前駆体又はポリイミド樹脂組成物のろ過性の観点で好ましい。ろ過性をさらに向上させるという観点から、ケイ素含有化合物は、樹脂組成物の全ジアミン又は全酸二無水物を100モル%としたとき、20.0モル%以下、19.0モル%以下、18.0モル%以下、17.0モル%以下、16.0モル%以下、15.0モル%以下、又は14.0モル%以下であることがより好ましい。ケイ素含有化合物は、樹脂組成物の全ジアミン又は全酸二無水物を100モル%としたとき、0モル%を超えることができる。
In the resin composition, the silicon-containing compound represented by the general formula (5) is:
When the total diamine is 100 mol%, it is 20 mol% or less; or
When the total acid dianhydride is 100 mol%, it is 20 mol% or less. When the silicon-containing compound is in the above range, it is preferable from the viewpoint of the filterability of the obtained polyimide precursor or the polyimide resin composition. From the viewpoint of further improving the filterability, the silicon-containing compound is 20.0 mol% or less, 19.0 mol% or less, 18 when the total diamine or total acid dianhydride in the resin composition is 100 mol%. It is more preferably 9.0 mol% or less, 17.0 mol% or less, 16.0 mol% or less, 15.0 mol% or less, or 14.0 mol% or less. The silicon-containing compound can exceed 0 mol% when the total diamine or total acid dianhydride of the resin composition is 100 mol%.

本実施形態におけるポリイミド前駆体は、上記式(1)で表される構造とともに、上記式(2)で表される構造を有していてもよい。ポリイミド前駆体中の、式(2)で表される構造の含有割合は、ポリイミド前駆体の質量を基準として、5質量%以上40質量%以下であることが好ましい。ポリイミド前駆体が式(2)で表される構造をこの数値範囲内で含むと、得られるポリイミドフィルムにおいて、低い残留応力と、高度の透明性及び耐熱性とを両立することができるため好ましい。式(2)で表される構造の含有割合は、ポリイミド前駆体の質量を基準として、6質量%以上、又は7質量%以上であってもよく、また30質量%以下、又は25質量%以下であってもよい。 The polyimide precursor in the present embodiment may have a structure represented by the above formula (1) as well as a structure represented by the above formula (2). The content ratio of the structure represented by the formula (2) in the polyimide precursor is preferably 5% by mass or more and 40% by mass or less based on the mass of the polyimide precursor. It is preferable that the polyimide precursor contains the structure represented by the formula (2) within this numerical range because it is possible to achieve both low residual stress and high transparency and heat resistance in the obtained polyimide film. The content ratio of the structure represented by the formula (2) may be 6% by mass or more, 7% by mass or more, and 30% by mass or less, or 25% by mass or less, based on the mass of the polyimide precursor. May be.

ポリイミドは、ポリイミド前駆体を熱イミド化することで得られ、化学イミド化することもできる。得られるポリイミドフィルムの透明性の観点から、熱イミド化が好ましい。 The polyimide can be obtained by thermally imidizing a polyimide precursor and can also be chemically imidized. Thermal imidization is preferable from the viewpoint of transparency of the obtained polyimide film.

また、ポリイミド樹脂組成物は、組成物の粘度安定性の観点から、ポリイミド前駆体樹脂組成物と比較して好ましい。 Further, the polyimide resin composition is preferable as compared with the polyimide precursor resin composition from the viewpoint of the viscosity stability of the composition.

また、本発明の別の実施形態に係る樹脂組成物は、下記一般式(6)及び(7):

Figure 2022082450000028
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつpは、正の整数を示す。}
Figure 2022082450000029
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつqは、正の整数を示す。}
で表される構造単位を含む、一部がイミド化されたポリイミド前駆体を含むこともでき、
前記P又はPが、下記一般式(10):
Figure 2022082450000030
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50である。}
で表されるケイ素含有化合物に由来する構成単位を含み、
前記P及び/又はPは、下記一般式(8):
Figure 2022082450000031
で表される化合物に由来する構成単位を含むこともでき、
下記(ウ)及び(エ):
(ウ)前記P及び/又はPは、下記一般式(9):
Figure 2022082450000032
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
(エ)前記P及び/又はPは、下記一般式(13):
Figure 2022082450000033
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
を満たす。このような一部がイミド化されたポリイミド前駆体の場合、前述の全ポリイミド前駆体と比較して、組成物の粘度安定性に優れ、前述の全ポリイミドと比較すると、ポリイミド(ポリイミド前駆体)の合成のし易さの観点で優れる。 Further, the resin composition according to another embodiment of the present invention has the following general formulas (6) and (7):
Figure 2022082450000028
{In the formula, P 3 represents a divalent organic group, P 4 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer. }
Figure 2022082450000029
{In the formula, P 5 represents a divalent organic group, P 6 represents a tetravalent organic group, and q represents a positive integer. }
It can also contain a partially imidized polyimide precursor, including structural units represented by.
The above P 3 or P 4 is the following general formula (10):
Figure 2022082450000030
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers of 0 to 200, and 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50. }
Containing structural units derived from silicon-containing compounds represented by
The above P 3 and / or P 5 is expressed by the following general formula (8):
Figure 2022082450000031
It can also contain structural units derived from the compounds represented by
The following (c) and (d):
(C) The P4 and / or P6 is expressed by the following general formula (9):
Figure 2022082450000032
Includes structural units derived from the compounds represented by;
(D) The above P4 and / or P6 is expressed by the following general formula (13):
Figure 2022082450000033
Includes structural units derived from the compounds represented by;
Meet. In the case of such a partially imidized polyimide precursor, the viscosity stability of the composition is excellent as compared with the above-mentioned all polyimide precursor, and compared with the above-mentioned all polyimide, the polyimide (polyimide precursor) It is excellent in terms of ease of synthesis.

得られるポリイミド前駆体又はポリイミド樹脂組成物のろ過性の観点から、樹脂組成物において、一般式(10)で表されるケイ素含有化合物が:
全ジアミンを100mol%としたとき、20mol%以下;または、
全酸二無水物を100mol%としたとき、20mol%以下
であることが好ましい。ろ過性をさらに向上させるという観点から、ケイ素含有化合物は、樹脂組成物の全ジアミン又は全酸二無水物を100モル%としたとき、20.0モル%以下、19.0モル%以下、18.0モル%以下、17.0モル%以下、16.0モル%以下、15.0モル%以下、又は14.0モル%以下であることがより好ましい。ケイ素含有化合物は、樹脂組成物の全ジアミン又は全酸二無水物を100モル%としたとき、0モル%を超えることができる。
From the viewpoint of the filterability of the obtained polyimide precursor or the polyimide resin composition, in the resin composition, the silicon-containing compound represented by the general formula (10) is:
When the total diamine is 100 mol%, it is 20 mol% or less; or
When the total acid dianhydride is 100 mol%, it is preferably 20 mol% or less. From the viewpoint of further improving the filterability, the silicon-containing compound is 20.0 mol% or less, 19.0 mol% or less, 18 when the total diamine or total acid dianhydride in the resin composition is 100 mol%. It is more preferably 9.0 mol% or less, 17.0 mol% or less, 16.0 mol% or less, 15.0 mol% or less, or 14.0 mol% or less. The silicon-containing compound can exceed 0 mol% when the total diamine or total acid dianhydride of the resin composition is 100 mol%.

ポリイミド前駆体及び/又はポリイミド含有樹脂組成物の製造プロセスに求められる特性とディスプレイ用途に求められる特性の双方に優れるという観点から、樹脂組成物において、一般式(3)又は(8)で表される化合物が、全ジアミン(一般式(5)又は(10)で表される化合物を除く)を100mol%としたとき、50mol%より多いことが好ましい。 The resin composition is represented by the general formula (3) or (8) from the viewpoint of being excellent in both the characteristics required for the manufacturing process of the polyimide precursor and / or the polyimide-containing resin composition and the characteristics required for the display application. The amount of the compound is preferably more than 50 mol% when the total diamine (excluding the compound represented by the general formula (5) or (10)) is 100 mol%.

(ジアミン)
樹脂組成物は、下記一般式(3):

Figure 2022082450000034
で表されるジアミン化合物に由来する構成単位を含む。一般式(3)で表されるジアミン化合物の中でも、ポリイミドフィルムの透明性、YIの観点から、3,5-ジアミノ安息香酸(DABA)が好ましい。この構造単位を有すると、得られるポリイミドフィルムの機械特性(特に引張伸度)が向上し、耐熱性を向上することができるため好ましい。このような特性が向上する理由は明確ではないが、カルボキシル基の作用によって、分子間相互作用が働いているためと考えられる。 (Diamine)
The resin composition has the following general formula (3):
Figure 2022082450000034
Contains structural units derived from the diamine compound represented by. Among the diamine compounds represented by the general formula (3), 3,5-diaminobenzoic acid (DABA) is preferable from the viewpoint of transparency of the polyimide film and YI. Having this structural unit is preferable because the mechanical properties (particularly the tensile elongation) of the obtained polyimide film can be improved and the heat resistance can be improved. The reason for the improvement of such properties is not clear, but it is considered that the intramolecular interaction is working due to the action of the carboxyl group.

全ジアミン(上記一般式(5),(10)においてL及びLがアミノ基の化合物を含む)中のDABAの含有量は、50モル%超、55モル%超、又は70モル%以上、又は90モル%以上、又は95モル%以上であってよい。DABAの量が多いほど、ポリイミドフィルムの引張伸度が大きくなるため好ましい。 The content of DABA in the total diamine (including the compound in which L 1 and L 2 are amino groups in the above general formulas (5) and (10)) is more than 50 mol%, more than 55 mol%, or more than 70 mol%. , Or 90 mol% or more, or 95 mol% or more. The larger the amount of DABA, the larger the tensile elongation of the polyimide film, which is preferable.

樹脂組成物は、所望により、一般式(3)で表されるジアミン化合物以外のジアミンを含んでよい。一般式(3)以外のジアミンとしては、ジアミノジフェニルスルホン(例えば4,4’-ジアミノジフェニルスルホン、3,3’-ジアミノジフェニルスルホン)、p-フェニレンジアミン(PDA)、m-フェニレンジアミン、2,2’-ジメチルベンジジン(mTB)、4,4’-ジアミノジフェニルスルフィド、3,4’-ジアミノジフェニルスルフィド、3,3’-ジアミノジフェニルスルフィド、4,4’-ジアミノビフェニル、3,4’-ジアミノビフェニル、3,3’-ジアミノビフェニル、4,4’-ジアミノベンゾフェノン、3,4’-ジアミノベンゾフェノン、3,3’-ジアミノベンゾフェノン、4,4’-ジアミノジフェニルメタン、3,4’-ジアミノジフェニルメタン、3,3’-ジアミノジフェニルメタン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、ビス〔4-(4-アミノフェノキシ)フェニル〕スルホン、4,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、4,4-ビス(3-アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス〔4-(4-アミノフェノキシ)フェニル〕エーテル、ビス〔4-(3-アミノフェノキシ)フェニル〕エーテル、1,4-ビス(4-アミノフェニル)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェニル)ベンゼン、9,10-ビス(4-アミノフェニル)アントラセン、2,2-ビス(4-アミノフェニル)プロパン、2,2-ビス(4-アミノフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2-ビス〔4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、2,2-ビス〔4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン、及び1,4-ビス(3-アミノプロピルジメチルシリル)ベンゼン,9,9-ビス(4-アミノフェニル)フルオレン(BAFL)、1,3-ビス[1-(4-アミノフェニル)-1-メチルエチル]ベンゼン](BiSAM)等が挙げられる。 If desired, the resin composition may contain a diamine other than the diamine compound represented by the general formula (3). Examples of the diamine other than the general formula (3) include diaminodiphenyl sulfone (for example, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,3'-diaminodiphenyl sulfone), p-phenylenediamine (PDA), m-phenylenediamine, 2, 2'-dimethylbenzidine (mTB), 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 3,4'-diaminodiphenyl sulfide, 3,3'-diaminodiphenyl sulfide, 4,4'-diaminobiphenyl, 3,4'-diamino Biphenyl, 3,3'-diaminobiphenyl, 4,4'-diaminobenzophenone, 3,4'-diaminobenzophenone, 3,3'-diaminobenzophenone, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 3,3'-Diaminodiphenylmethane, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (3-aminophenoxy) benzene, bis [4 -(4-Aminophenoxy) phenyl] sulfone, 4,4-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 4,4-bis (3-aminophenoxy) biphenyl, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] ether , Bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] ether, 1,4-bis (4-aminophenyl) benzene, 1,3-bis (4-aminophenyl) benzene, 9,10-bis (4-amino) Phenyl) anthracene, 2,2-bis (4-aminophenyl) propane, 2,2-bis (4-aminophenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl) propane, 2,2-Bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl) hexafluoropropane, 1,4-bis (3-aminopropyldimethylsilyl) benzene, 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene (BAFL) ), 1,3-Bis [1- (4-aminophenyl) -1-methylethyl] benzene] (BiSAM) and the like.

一般式(3)以外のジアミンは、4,4’-ジアミノジフェニルスルホン(4,4’-DAS)、9,9-ビス(4-アミノフェニル)フルオレン(BAFL)、1,3-ビス[1-(4-アミノフェニル)-1-メチルエチル]ベンゼン](BiSAM)、及び1,4-シクロヘキサンジアミン(CHDA)から成る群から選択される少なくとも1つであることが好ましい。 Diamines other than the general formula (3) are 4,4'-diaminodiphenyl sulfone (4,4'-DAS), 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene (BAFL), 1,3-bis [1. -(4-Aminophenyl) -1-methylethyl] benzene] (BiSAM), and preferably at least one selected from the group consisting of 1,4-cyclohexanediamine (CHDA).

得られるポリイミド樹脂膜の耐熱性と機械強度の観点から、一般式(3)以外のジアミンは、9,9-ビス(4-アミノフェニル)フルオレン(BAFL)、1,3-ビス[1-(4-アミノフェニル)-1-メチルエチル]ベンゼン](BiSAM)から成る群から選択される少なくとも一以上であることがより好ましい。
ここで、樹脂組成物は、一般式(3)で表されるジアミン化合物以外としては、TFMB(2,2’-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン)を含まないことが好ましい。一般式(1)、(2)、(6)又は(7)中のP,P,Pの少なくとも一つがTFMBに由来する基を含むと、樹脂組成物の粘度安定性、ろ過性が悪くなる傾向があるからである。
From the viewpoint of heat resistance and mechanical strength of the obtained polyimide resin film, diamines other than the general formula (3) are 9,9-bis (4-aminophenyl) fluorene (BAFL) and 1,3-bis [1- ( It is more preferably at least one selected from the group consisting of 4-aminophenyl) -1-methylethyl] benzene] (BiSAM).
Here, it is preferable that the resin composition does not contain TFMB (2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine) other than the diamine compound represented by the general formula (3). When at least one of P 1 , P 3 , and P 5 in the general formulas (1), (2), (6) or (7) contains a group derived from TFMB, the viscosity stability and filterability of the resin composition are high. This is because it tends to get worse.

(酸二無水物)
樹脂組成物は、下記一般式(4):

Figure 2022082450000035
で表される化合物(PMDAともいう)に由来する構成単位を含む。この構造単位を有すると、得られるポリイミドフィルムの耐熱性、及び/又は機械特性(例えば、伸度、残留応力、他の機械的性質など)を向上することができるため好ましい。 (Acid dianhydride)
The resin composition has the following general formula (4):
Figure 2022082450000035
It contains a structural unit derived from a compound represented by (also referred to as PMDA). Having this structural unit is preferable because it can improve the heat resistance and / or mechanical properties (for example, elongation, residual stress, other mechanical properties, etc.) of the obtained polyimide film.

全酸二無水物(上記一般式(5),(10)においてL及びLが酸無水物基の化合物を含む)中のPMDAの含有量は、50モル%以上、60モル%以上、又は70モル%以上、又は90モル%以上、又は95モル%以上であってよい。PMDAの量が多いほど、ポリイミドフィルムの耐熱性、機械特性が向上するため好ましい。 The content of PMDA in the total acid dianhydride (where L 1 and L 2 include the compound having an acid anhydride group in the above general formulas (5) and (10)) is 50 mol% or more, 60 mol% or more, Or it may be 70 mol% or more, 90 mol% or more, or 95 mol% or more. The larger the amount of PMDA, the better the heat resistance and mechanical properties of the polyimide film, which is preferable.

樹脂組成物は、前記一般式(4)とともに、下記一般式(12):

Figure 2022082450000036
で表される化合物に由来する(6FDAともいう)に由来する構成単位を含む。この構造単位を有すると、得られるポリイミドフィルムの透明性(例えば、透過率、YI等)を向上することができるため好ましい。また、一般式(1)、(2)、(6)又は(7)においてP、P、又はPが、前記一般式(4)及び(12)に由来する構成単位を有すると、得られるポリイミドフィルムの耐熱性、機械特性、透明性を両立できるため、さらに好ましい。 The resin composition, together with the general formula (4), has the following general formula (12):
Figure 2022082450000036
It contains a structural unit derived from the compound represented by (also referred to as 6FDA). Having this structural unit is preferable because the transparency (for example, transmittance, YI, etc.) of the obtained polyimide film can be improved. Further, when P 2 , P 4 , or P 6 in the general formulas (1), (2), (6) or (7) has a structural unit derived from the general formulas (4) and (12), It is more preferable because the obtained polyimide film can have both heat resistance, mechanical properties, and transparency.

全酸二無水物(上記一般式(5),(10)においてL及びLが酸無水物基の化合物を含む)中の6FDAの含有量は、50モル%以上、60モル%以上、又は70モル%以上、又は90モル%以上、又は95モル%以上であってよい。6FDAの量が多いほど、ポリイミドフィルムの透明性が向上するため好ましい。 The content of 6FDA in the total acid dianhydride (where L 1 and L 2 include the compound having an acid anhydride group in the above general formulas (5) and (10)) is 50 mol% or more, 60 mol% or more, Or it may be 70 mol% or more, 90 mol% or more, or 95 mol% or more. A larger amount of 6FDA is preferable because the transparency of the polyimide film is improved.

樹脂組成物は、所望により、一般式(4)及び(12)で表される化合物以外の酸二無水物を含んでよい。一般式(4),(12)以外の酸二無水物としては、3,3’,4,4’-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(BPDA)、2,2’,3,3’-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、5-(2,5-ジオキソテトラヒドロ-3-フラニル)-3-メチル-シクロヘキセン-1,2ジカルボン酸無水物、1,2,3,4-ベンゼンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’-ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無水物、3,3’,4,4’―ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、メチレン-4,4’-ジフタル酸二無水物、1,1-エチリデン-4,4’-ジフタル酸二無水物、2,2-プロピリデン-4,4’-ジフタル酸二無水物、1,2-エチレン-4,4’-ジフタル酸二無水物、1,3-トリメチレン-4,4’-ジフタル酸二無水物、1,4-テトラメチレン-4,4’-ジフタル酸二無水物、1,5-ペンタメチレン-4,4’-ジフタル酸二無水物、4,4’-オキシジフタル酸二無水物、p-フェニレンビス(トリメリテート酸無水物)、チオ-4,4’-ジフタル酸二無水物、スルホニル-4,4’-ジフタル酸二無水物、1,3-ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)ベンゼン二無水物、1,3-ビス(3,4-ジカルボキシフェノキシ)ベンゼン二無水物、1,4-ビス(3,4-ジカルボキシフェノキシ)ベンゼン二無水物、1,3-ビス[2-(3,4-ジカルボキシフェニル)-2-プロピル]ベンゼン二無水物、1,4-ビス[2-(3,4-ジカルボキシフェニル)-2-プロピル]ベンゼン二無水物、ビス[3-(3,4-ジカルボキシフェノキシ)フェニル]メタン二無水物、ビス[4-(3,4-ジカルボキシフェノキシ)フェニル]メタン二無水物、2,2-ビス[3-(3,4-ジカルボキシフェノキシ)フェニル]プロパン二無水物、2,2-ビス[4-(3,4-ジカルボキシフェノキシ)フェニル]プロパン二無水物、ビス(3,4-ジカルボキシフェノキシ)ジメチルシラン二無水物、1,3-ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)-1,1,3,3-テトラメチルジシロキサン二無水物、2,3,6,7-ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、1,4,5,8-ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、1,2,5,6-ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、3,4,9,10-ペリレンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7-アントラセンテトラカルボン酸二無水物、及び1,2,7,8-フェナントレンテトラカルボン酸二無水物、9,9-ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)フルオレン二酸無水物(BPAF)、4,4’-オキシジフタル酸無水物(ODPA)、1,2,4,5-シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物(HPMDA)、及び1,2,3,4-シクロブタンテトラカルボン酸二無水物(CBDA)、下記構造:

Figure 2022082450000037
の化合物(BzDA);下記構造:
Figure 2022082450000038
の化合物(BNBDA)等が挙げられる。 If desired, the resin composition may contain an acid dianhydride other than the compounds represented by the general formulas (4) and (12). Examples of the acid dianhydride other than the general formulas (4) and (12) include 3,3', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA), 2,2', 3,3'-biphenyl. Tetracarboxylic dianhydride, 5- (2,5-dioxotetrahydro-3-franyl) -3-methyl-cyclohexene-1,2 dicarboxylic acid anhydride, 1,2,3,4-benzenetetracarboxylic dianhydride Anhydride, 3,3', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride, 2,2', 3,3'-benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride, 3,3', 4,4'-diphenyl Sulfontetracarboxylic dianhydride, methylene-4,4'-diphthalic acid dianhydride, 1,1-ethylidene-4,4'-diphthalic acid dianhydride, 2,2-propyridene-4,4'-diphthalide Acid dianhydride, 1,2-ethylene-4,4'-diphthalic acid dianhydride, 1,3-trimethylethylene-4,4'-diphthalic acid dianhydride, 1,4-tetramethylene-4,4' -Diphthalic acid dianhydride, 1,5-pentamethylene-4,4'-diphthalic acid dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic acid dianhydride, p-phenylenebis (trimeritate acid anhydride), thio-4 , 4'-diphthalic acid dianhydride, sulfonyl-4,4'-diphthalic acid dianhydride, 1,3-bis (3,4-dicarboxyphenyl) benzene dianhydride, 1,3-bis (3, 4-Dicarboxyphenoxy) benzene dianhydride, 1,4-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) benzene dianhydride, 1,3-bis [2- (3,4-dicarboxyphenyl) -2- Propyl] benzene dianhydride, 1,4-bis [2- (3,4-dicarboxyphenyl) -2-propyl] benzene dianhydride, bis [3- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] methane Dianhydride, bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] methane dianhydride, 2,2-bis [3- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride, 2, 2-Bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenoxy) dimethylsilane dianhydride, 1,3-bis (3,4-dicarboxy) Phenyl) -1,1,3,3-tetramethyldisiloxane dianhydride, 2,3,6,7-naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride , 1,2,5,6-naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, 3,4 , 9,10-Perylenetetracarboxylic acid dianhydride, 2,3,6,7-anthracentetracarboxylic acid dianhydride, and 1,2,7,8-phenanthrentetracarboxylic acid dianhydride, 9,9- Bis (3,4-dicarboxyphenyl) fluorene diacid anhydride (BPAF), 4,4'-oxydiphthalic acid anhydride (ODPA), 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid dianhydride (HPMDA) , And 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid dianhydride (CBDA), the following structure:
Figure 2022082450000037
Compound (BzDA); structure below:
Figure 2022082450000038
(BNBDA) and the like.

上記一般式(4)、(12)以外の酸二無水物は、4,4’-オキシジフタル酸無水物(ODPA)、9,9-ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)フルオレン二酸無水物(BPAF)、BzDA、BNBDA、および1,2,4,5-シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物(HPMDA)から成る群から選択される少なくとも1つであることが好ましい。酸二無水物は、一種を単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。 Acid dianhydrides other than the above general formulas (4) and (12) are 4,4'-oxydiphthalic acid anhydride (ODPA) and 9,9-bis (3,4-dicarboxyphenyl) fluorene dianhydride. It is preferably at least one selected from the group consisting of (BPAF), BzDA, BNBDA, and 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid anhydride (HPMDA). The acid dianhydride may be used alone or in combination of two or more.

〈ケイ素含有化合物〉 <Silicon-containing compound>

本実施形態におけるポリイミド/ポリイミド前駆体は、ケイ素含有化合物に由来する構造を有する。したがって、本実施形態におけるポリイミド前駆体の合成に用いられるケイ素含有化合物は、テトラカルボン酸二無水物及びジアミンのうちの少なくとも一方と共縮合し得る反応性基とを有する化合物であってよい。 The polyimide / polyimide precursor in this embodiment has a structure derived from a silicon-containing compound. Therefore, the silicon-containing compound used in the synthesis of the polyimide precursor in the present embodiment may be a compound having a reactive group capable of cocondensing with at least one of tetracarboxylic acid dianhydride and diamine.

このようなケイ素含有化合物は、例えば、下記式(5),(10)(以下単に(5)ともいう):

Figure 2022082450000039
Figure 2022082450000040
{式中、
は、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の2価の有機基であり、
及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の1価の有機基であって、R及びRのうちの少なくとも1つは、炭素数1~5の1価の脂肪族炭化水素基であり、
及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の1価の有機基であって、R及びRのうちの少なくとも1つは、炭素数6~10の1価の芳香族基であり、
及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の1価の有機基であって、R及びRのうちの少なくとも1つは、炭素数2~10の不飽和脂肪族炭化水素基を含む有機基であることが好ましく、
及びLは、それぞれ独立に、酸無水物構造を含む1価の有機基、アミノ基、イソシアネート基、カルボキシル基、アルコキシカルボニル基、ハロゲン化カルボニル基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、
iは、1~200の整数であり、
j及びkは、それぞれ独立に0~200の整数であり、jは、1~200の整数であることが好ましく、そして、
0≦j/(i+j+k)≦0.50であり、0.05≦j/(i+j+k)≦0.50の関係を満たすことが好ましい。}で表される化合物が挙げられる。 Such a silicon-containing compound may be, for example, the following formulas (5) and (10) (hereinafter, also simply referred to as (5)):
Figure 2022082450000039
Figure 2022082450000040
{In the ceremony,
R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms.
R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and at least one of R 2 and R 3 is a monovalent aliphatic group having 1 to 5 carbon atoms. It is a hydrocarbon group and
R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and at least one of R 4 and R 5 is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms. Is the basis and
R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and at least one of R 6 and R 7 is an unsaturated aliphatic hydrocarbon having 2 to 10 carbon atoms. It is preferably an organic group containing a hydrogen group, preferably
L 1 and L 2 are each independently a monovalent organic group containing an acid anhydride structure, an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group, an alkoxycarbonyl group, a halogenated carbonyl group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group. And
i is an integer from 1 to 200,
j and k are each independently an integer of 0 to 200, preferably an integer of 1 to 200, and
It is preferable that 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50 and the relationship of 0.05 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50 is satisfied. } Can be mentioned.

式(5)中のRは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の2価の有機基である。炭素数1~10の2価の有機基は、直鎖状、環状、及び分枝状のいずれでもよく、飽和していても不飽和であってもよい。炭素数1~10の2価の脂肪族炭化水素基としては、例えば、メチレン基、エチレン基、n-プロピレン基、i-プロピレン基、n-ブチレン基、s-ブチレン基、t-ブチレン基、n-ペンチレン基、ネオペンチレン基、n-ヘキシレン基、n-ヘプチレン基、n-オクチレン基、n-ノニレン基、n-デシレン基等の直鎖又は分岐鎖アルキレン基;シクロプロピレン基、シクロブチレン基、シクロペンチレン基、シクロヘキシレン基、シクロヘプチレン基、シクロオクチレン基等のシクロアルキレン基が挙げられる。炭素数1~10の2価の脂肪族炭化水素基としては、エチレン基、n-プロピレン基、及びi-プロピレン基からなる群から選択される少なくとも1種であることが好ましい。 R 1 in the formula (5) is a single bond or a divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, respectively. The divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms may be linear, cyclic, or branched, and may be saturated or unsaturated. Examples of the divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms include a methylene group, an ethylene group, an n-propylene group, an i-propylene group, an n-butylene group, an s-butylene group and a t-butylene group. Linear or branched alkylene groups such as n-pentylene group, neopentylene group, n-hexylene group, n-heptylene group, n-octylene group, n-nonylene group, n-decylene group; cyclopropylene group, cyclobutylene group, Examples thereof include a cycloalkylene group such as a cyclopentylene group, a cyclohexylene group, a cycloheptylene group and a cyclooctylene group. The divalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms is preferably at least one selected from the group consisting of an ethylene group, an n-propylene group and an i-propylene group.

式(5)中のR及びRそれぞれ独立に、炭素数1~10の1価の有機基であり、少なくとも1つは炭素数1~5の1価の脂肪族炭化水素基である。
炭素数1~10の1価の有機基は、直鎖状、環状、分枝状のいずれでもよく、飽和していても不飽和であってもよい。例えば、炭素数1~10の1価の有機基としては、メチル基、エチル基、n-プロピル基i-プロピル基、n-ブチル基、s-ブチル基、t-ブチル基、n-ペンチル基、ネオペンチル基、n-ヘキシル基、n-ヘプチル基、n-オクチル基、n-ノニル基、n-デシル基等の直鎖又は分岐鎖アルキル基;シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等のシクロアルキル基;フェニル基、トリル基、キシリル基、α-ナフチル基、β-ナフチル基等の芳香族基等が挙げられる。
炭素数1~5の1価の脂肪族炭化水素基は、直鎖状、環状、分枝状のいずれでもよく、飽和していても不飽和であってもよい。例えば、炭素数1~5の1価の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n-プロピル基、i-プロピル基、n-ブチル基、s-ブチル基、t-ブチル基、n-ペンチル基、ネオペンチル基等の直鎖または分岐鎖アルキル基;シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基等のシクロアルキル基等が挙げられる。炭素数1~5の1価の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、及びn-プロピル基からなる群から選択される少なくとも1種であることが好ましい。
R 2 and R 3 in the formula (5) are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms.
The monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms may be linear, cyclic or branched, and may be saturated or unsaturated. For example, the monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms includes a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an i-propyl group, an n-butyl group, an s-butyl group, a t-butyl group, and an n-pentyl group. , Neopentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, n-nonyl group, n-decyl group and other linear or branched alkyl groups; cyclopropyl group, cyclobutyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group. , Cycloalkyl group such as cycloheptyl group, cyclooctyl group; aromatic group such as phenyl group, tolyl group, xsilyl group, α-naphthyl group, β-naphthyl group and the like.
The monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms may be linear, cyclic or branched, and may be saturated or unsaturated. For example, the monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms includes a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an i-propyl group, an n-butyl group, an s-butyl group, and a t-butyl group. Linear or branched alkyl groups such as n-pentyl group and neopentyl group; cycloalkyl groups such as cyclopropyl group, cyclobutyl group and cyclopentyl group can be mentioned. The monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms is preferably at least one selected from the group consisting of a methyl group, an ethyl group, and an n-propyl group.

式(5)中のR及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の1価の有機基であり、少なくとも1つは炭素数6~10の1価の芳香族基である。炭素数1~10の1価の有機基は、直鎖状、環状、分枝状のいずれでもよく、飽和していても不飽和であってもよい。例えば、炭素数1~10の1価の有機基としては、メチル基、エチル基、n-プロピル基、i-プロピル基、n-ブチル基、s-ブチル基、t-ブチル基、n-ペンチル基、ネオペンチル基、n-ヘキシル基、n-ヘプチル基、n-オクチル基、n-ノニル基、n-デシル基等の直鎖又は分岐鎖アルキル基;シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等のシクロアルキル基;フェニル基、トリル基、キシリル基、α-ナフチル基、β-ナフチル基等の芳香族基等が挙げられる。炭素数6~10の1価の芳香族基としては、例えば、フェニル基、トリル基、キシリル基、α-ナフチル基、β-ナフチル基等が挙げられ、フェニル基、トリル基、又はキシリル基であることが好ましい。 R 4 and R 5 in the formula (5) are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and at least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms. The monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms may be linear, cyclic or branched, and may be saturated or unsaturated. For example, the monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms includes a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an i-propyl group, an n-butyl group, an s-butyl group, a t-butyl group and an n-pentyl group. Linear or branched alkyl group such as group, neopentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, n-nonyl group, n-decyl group; cyclopropyl group, cyclobutyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl. Cycloalkyl groups such as groups, cycloheptyl groups and cyclooctyl groups; aromatic groups such as phenyl group, trill group, xylyl group, α-naphthyl group and β-naphthyl group can be mentioned. Examples of the monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms include a phenyl group, a tolyl group, a xsilyl group, an α-naphthyl group, a β-naphthyl group and the like, and may be a phenyl group, a tolyl group, or a xsilyl group. It is preferable to have.

式(5)中のR及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の1価の有機基であり、少なくとも1つは不飽和脂肪族炭化水素基を有する有機基であることが好ましい。炭素数1~10の1価の有機基は、直鎖状、環状、分枝状のいずれでもよい。炭素数1~10の1価の有機基としては、例えば、メチル基、エチル基、n-プロピル基、i-プロピル基、n-ブチル基、s-ブチル基、t-ブチル基、n-ペンチル基、ネオペンチル基、n-ヘキシル基、n-ヘプチル基、n-オクチル基、n-ノニル基、n-デシル基等の直鎖又は分岐鎖アルキル基;シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等のシクロアルキル基;フェニル基、トリル基、キシリル基、α-ナフチル基、β-ナフチル基等の芳香族基等が挙げられる。炭素数1~10の1価の有機基としては、メチル基、エチル基、及び基フェニルから成る群から選択される少なくとも1種であることが好ましい。
不飽和脂肪族炭化水素基を有する有機基は、炭素数3~10の不飽和脂肪族炭化水素基であってよく、直鎖状、環状、分枝状のいずれでもよい。炭素数3~10の不飽和脂肪族炭化水素基としては、例えば、ビニル基、アリル基、1-プロペニル基、3-ブテニル基、2-ブテニル基、ペンテニル基、シクロペンテニル基、ヘキセニル基、シクロヘキセニル基、ヘプテニル基、オクテニル基、ノネニル基、デセニル基、エチニル基、プロピニル基、ブチニル基、ペンチニル基、ヘキシニル基等が挙げられる。炭素数3~10の不飽和脂肪族炭化水素基としては、ビニル基、アリル基、及び3-ブテニル基から成る群から選択される少なくとも1種であることが好ましい。
R 6 and R 7 in the formula (5) are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and at least one of them is an organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group. preferable. The monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms may be linear, cyclic or branched. Examples of the monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an i-propyl group, an n-butyl group, an s-butyl group, a t-butyl group and an n-pentyl group. Linear or branched alkyl group such as group, neopentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, n-nonyl group, n-decyl group; cyclopropyl group, cyclobutyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl. Cycloalkyl groups such as groups, cycloheptyl groups and cyclooctyl groups; aromatic groups such as phenyl group, trill group, xylyl group, α-naphthyl group and β-naphthyl group can be mentioned. The monovalent organic group having 1 to 10 carbon atoms is preferably at least one selected from the group consisting of a methyl group, an ethyl group, and a group phenyl.
The organic group having an unsaturated aliphatic hydrocarbon group may be an unsaturated aliphatic hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms, and may be linear, cyclic or branched. Examples of the unsaturated aliphatic hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms include a vinyl group, an allyl group, a 1-propenyl group, a 3-butenyl group, a 2-butenyl group, a pentenyl group, a cyclopentenyl group, a hexenyl group and a cyclo. Examples thereof include a hexenyl group, a heptenyl group, an octenyl group, a nonenyl group, a decenyl group, an ethynyl group, a propynyl group, a butynyl group, a pentynyl group and a hexynyl group. The unsaturated aliphatic hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms is preferably at least one selected from the group consisting of a vinyl group, an allyl group, and a 3-butenyl group.

式(5)中のR~Rの水素原子の一部又は全部は、F、Cl、Br等のハロゲン原子等の置換基で置換されていてもよく、非置換であってもよい。 A part or all of the hydrogen atoms of R 1 to R 7 in the formula (5) may be substituted with a substituent such as a halogen atom such as F, Cl, Br or the like, or may be unsubstituted.

式(5)中のL及びLは、それぞれ独立に、酸無水物構造を含む1価の有機基(酸無水物基ともいう)、アミノ基、イソシアネート基、カルボキシル基、アルコキシカルボニル基、ハロゲン化カルボニル基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基である。
酸無水物構造を含む1価の有機基としては、例えば、下記式:

Figure 2022082450000041
{上記式中、「*」は、結合手を表す。}で表される、2,5-ジオキソテトラヒドロフラン-3-イル基が挙げられる。これらの中でもアミノ基、酸無水物基が好ましく、樹脂組成物の粘度安定性の観点から、アミノ基がより好ましい。
アルコキシカルボニル基におけるアルコキシル基は、炭素数1~6のアルコキシル基であってよく、例えば、メトキシル基、エトキシル基、n-プロポキシル基、i-プロポキシル基、n-ブトキシル基、i-ブトキシル基、t-ブトキシル基等であってよい。
ハロゲン化カルボニル基におけるハロゲン原子は、フッ素原子以外のハロゲン原子が好ましく、より好ましくは、塩素原子又はヨウ素原子である。 L 1 and L 2 in the formula (5) are each independently a monovalent organic group (also referred to as an acid anhydride group) containing an acid anhydride structure, an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group, an alkoxycarbonyl group, and the like. It is a halogenated carbonyl group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group.
Examples of the monovalent organic group containing an acid anhydride structure include the following formula:
Figure 2022082450000041
{In the above formula, "*" represents a bond. }, Examples thereof include a 2,5-dioxotetrahydrofuran-3-yl group. Among these, an amino group and an acid anhydride group are preferable, and an amino group is more preferable from the viewpoint of viscosity stability of the resin composition.
The alkoxyl group in the alkoxycarbonyl group may be an alkoxyl group having 1 to 6 carbon atoms, for example, a methoxyl group, an ethoxyl group, an n-propoxyl group, an i-propoxyl group, an n-butoxyl group, or an i-butoxyl group. , T-butoxyl group and the like.
The halogen atom in the halogenated carbonyl group is preferably a halogen atom other than a fluorine atom, and more preferably a chlorine atom or an iodine atom.

式(5)で表されるケイ素含有化合物の官能基当量は、樹脂組成物のろ過性の観点から800以上が好ましく、1000以上がより好ましく、1500以上がさらに好ましい。他方、官能基当量が500以下の場合は、ろ過性が悪くなることがある。ここで官能基当量とは、官能基1mol当たりのケイ素含有化合物の分子量である(単位:g/mol)。官能基当量は、公知の方法によって測定できる。また、ケイ素含有化合物の官能基当量が800以上である場合は、ポリイミドフィルムの窒素雰囲気下の残留応力が小さいため好ましい。この理由としては、官能基当量が特定の値以上の場合、シリコーンドメインが増え、応力緩和されるためと考えられる。
なお、官能基当量は、既存の規格等に従って、測定することができる。
The functional group equivalent of the silicon-containing compound represented by the formula (5) is preferably 800 or more, more preferably 1000 or more, still more preferably 1500 or more, from the viewpoint of the filterability of the resin composition. On the other hand, when the functional group equivalent is 500 or less, the filterability may deteriorate. Here, the functional group equivalent is the molecular weight of the silicon-containing compound per 1 mol of the functional group (unit: g / mol). The functional group equivalent can be measured by a known method. Further, when the functional group equivalent of the silicon-containing compound is 800 or more, the residual stress of the polyimide film under the nitrogen atmosphere is small, which is preferable. The reason for this is considered to be that when the functional group equivalent is equal to or more than a specific value, the silicone domain is increased and stress is relaxed.
The functional group equivalent can be measured according to existing standards and the like.

式(5)中のiは、1~200の整数であり、好ましくは2~100の整数、より好ましくは4~80の整数、更に好ましくは8~40の整数である。j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、jは1~200の整数でもよく、j及びkは、好ましくは0~50の整数、より好ましくは0~20の整数、更に好ましくは0~50の整数である。 I in the formula (5) is an integer of 1 to 200, preferably an integer of 2 to 100, more preferably an integer of 4 to 80, and even more preferably an integer of 8 to 40. j and k are independently integers of 0 to 200, j may be an integer of 1 to 200, and j and k are preferably integers of 0 to 50, more preferably integers of 0 to 20, and further. It is preferably an integer of 0 to 50.

樹脂組成物中のポリイミドは、式(5)に由来する構造を有していると、ポリイミドフィルムの窒素雰囲気下で測定した残留応力が良好(小さい)であるため、好ましい。窒素雰囲気下で測定する理由としては、ディスプレイのプロセスにおいて、ポリイミドフィルム上にSiO,SiN等の無機膜を形成する際、窒素雰囲気下に曝される場合があり、窒素雰囲気下の残留応力が小さいことが求められるからである。 It is preferable that the polyimide in the resin composition has a structure derived from the formula (5) because the residual stress measured in the nitrogen atmosphere of the polyimide film is good (small). The reason for measuring in a nitrogen atmosphere is that when an inorganic film such as SiO, SiN is formed on a polyimide film in the display process, it may be exposed to the nitrogen atmosphere, and the residual stress in the nitrogen atmosphere is small. This is because it is required.

モノマーの種類、コストの観点、および得られるポリイミド前駆体の分子量の観点から、一般式(5),(10)の、ケイ素含有化合物は、ケイ素含有ジアミンであることが好ましい。ケイ素含有ジアミンとしては、例えば、下記式(11):

Figure 2022082450000042
{式中、Pは、それぞれ独立に、二価の炭化水素基を示し、同一でも異なっていてもよく、P及びPは、一般式(5)において定義したR、Rと同様であり、lは、1~200の整数を表す。}
で表されるジアミノ(ポリ)シロキサンが好ましい。 From the viewpoint of the type of monomer, cost, and the molecular weight of the obtained polyimide precursor, the silicon-containing compound of the general formulas (5) and (10) is preferably a silicon-containing diamine. Examples of the silicon-containing diamine include the following formula (11):
Figure 2022082450000042
{In the formula, P 5 independently represents a divalent hydrocarbon group and may be the same or different, and P 3 and P 4 are R 2 and R 3 defined in the general formula (5). Similarly, l represents an integer from 1 to 200. }
The diamino (poly) siloxane represented by is preferable.

上記一般式(11)中のP及びPの好ましい構造としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、及びフェニル基等が挙げられる。これらの中でも好ましいのは、メチル基である。 Preferred structures of P3 and P4 in the general formula (11) include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a phenyl group and the like. Of these, the methyl group is preferable.

上記一般式(11)中のlは、1~200の整数であり、式(11)で表されるケイ素含有ジアミンを用いて得られるポリイミドの耐熱性の観点から、3~200の整数であることが好ましい。 L in the general formula (11) is an integer of 1 to 200, and is an integer of 3 to 200 from the viewpoint of the heat resistance of the polyimide obtained by using the silicon-containing diamine represented by the formula (11). Is preferable.

一般式(11)で表される化合物の官能基当量の好ましい範囲は、前述した一般式(5)で表されるケイ素含有化合物と同様である。 The preferable range of the functional group equivalent of the compound represented by the general formula (11) is the same as that of the silicon-containing compound represented by the general formula (5) described above.

ケイ素含有ジアミンの共重合割合は、ポリイミド前駆体/ポリイミドの全質量に対して、好ましくは0.5~30質量%、より好ましくは1.0質量%~25質量%、更に好ましくは1.5質量%~20質量%である。ケイ素含有ジアミンが0.5質量%以上である場合、支持体との間に発生する残留応力を効果的に低下することができる。ケイ素含有ジアミンが30質量%以下である場合、得られるポリイミドフィルムの透明性(特に低HAZE)が良好であり、高い全光線透過率の実現、及び高いガラス転移温度の観点から好ましい。 The copolymerization ratio of the silicon-containing diamine is preferably 0.5 to 30% by mass, more preferably 1.0% by mass to 25% by mass, and further preferably 1.5 with respect to the total mass of the polyimide precursor / polyimide. It is from% by mass to 20% by mass. When the silicon-containing diamine is 0.5% by mass or more, the residual stress generated between the silicon-containing diamine and the support can be effectively reduced. When the silicon-containing diamine is 30% by mass or less, the transparency (particularly low HAZE) of the obtained polyimide film is good, which is preferable from the viewpoint of achieving high total light transmittance and high glass transition temperature.

ポリイミド前駆体/ポリイミドに用いる単量体としてのケイ素含有化合物は、上述のとおり、出願時の技術常識を用いて合成してもよいし、市販品を用いてもよい。市販品としては、両末端アミン変性メチルフェニルシリコーンオイル(信越化学社製:X22-1660B-3(官能基当量2200)、X22-9409(官能基当量670))、両末端酸無水物変性メチルフェニルシリコーンオイル(信越化学社製:X22-168-P5-B(官能基当量2100))、両末端エポキシ変性メチルフェニルシリコーンオイル(信越化学社製:X22-2000(官能基当量620))、両末端アミノ変性ジメチルシリコーン(信越化学社製:PAM-E(官能基当量130)、X22-161A(官能基当量800)、X22-161B(官能基当量1500)、KF8012(官能基当量2200)、東レダウコーニング製:BY16-853U(官能基当量450)、JNC社製:サイラプレーンFM3311(数平均分子量1000))、両末端エポキシ変性ジメチルシリコーン(信越化学社製:X-22-163A(官能基当量1750)、両末端脂環式エポキシ変性ジメチルシリコーン(信越化学社製:X-22-169B(官能基当量1700))、両末端ヒドキシ基変性ジメチルシリコーン(信越化学社製:KF-6000)、両末端メルカプト変性ジメチルシリコーン(信越化学社製:X-22-167B(官能基当量1700))、両末端酸無水物変性ジメチルシリコーン(信越化学社製:X-22-168A(官能基当量1000))等が挙げられる。これらの中でも、価格、耐薬品性向上、及びTgの向上の観点から、両末端アミン変性ジメチルシリコーンオイルが好ましい。 As described above, the silicon-containing compound as the monomer used in the polyimide precursor / polyimide may be synthesized by using the common general technical knowledge at the time of filing, or a commercially available product may be used. Commercially available products include both-terminal amine-modified methylphenyl silicone oil (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-1660B-3 (functional group equivalent 2200), X22-9409 (functional group equivalent 670)), both-terminal acid anhydride-modified methylphenyl. Silicone oil (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-168-P5-B (functional group equivalent 2100)), both-ended epoxy-modified methylphenyl silicone oil (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X22-2000 (functional group equivalent 620)), both ends Amino-modified dimethyl silicone (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: PAM-E (functional group equivalent 130), X22-161A (functional group equivalent 800), X22-161B (functional group equivalent 1500), KF8012 (functional group equivalent 2200), Toledau Made by Corning: BY16-853U (functional group equivalent 450), JNC: Silaplane FM3311 (number average molecular weight 1000)), both-ended epoxy-modified dimethyl silicone (made by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X-22-163A (functional group equivalent 1750) ), Both-ended alicyclic epoxy-modified dimethyl silicone (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X-22-169B (functional group equivalent 1700)), both-ended hydroxy group-modified dimethyl silicone (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: KF-6000), both ends Mercapto-modified dimethyl silicone (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X-22-167B (functional group equivalent 1700)), bi-terminal acid anhydride-modified dimethyl silicone (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: X-22-168A (functional group equivalent 1000)), etc. Among these, both-terminal amine-modified dimethyl silicone oil is preferable from the viewpoint of price, improvement of chemical resistance, and improvement of Tg.

〈溶媒〉
樹脂組成物は典型的に溶媒を含む。溶媒としては、ポリイミド/ポリイミド前駆体の溶解性が良好で、かつ樹脂組成物の溶液粘度を適切に制御できるものが好ましく、ポリイミド前駆体の反応溶媒を、組成物の溶媒として用いることができる。その中でも、N-メチル-2-ピロリドン(NMP)、γ-ブチロラクトン(GBL)、下記エクアミドM100、エクアミドB100等が好ましい。溶媒組成の具体例としては、N-メチル-2-ピロリドン(NMP)単独、又はN-メチル-2-ピロリドン(NMP)とγ-ブチロラクトン(GBL)との混合溶媒等が挙げられる。NMPとGBLとの質量比は、例えば、NMP:GBL(質量比)=10:90~90:10であってよい。
<solvent>
The resin composition typically contains a solvent. As the solvent, those having good solubility of the polyimide / polyimide precursor and capable of appropriately controlling the solution viscosity of the resin composition are preferable, and the reaction solvent of the polyimide precursor can be used as the solvent of the composition. Among them, N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), γ-butyrolactone (GBL), the following Equamid M100, Equamid B100 and the like are preferable. Specific examples of the solvent composition include N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) alone, or a mixed solvent of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) and γ-butyrolactone (GBL). The mass ratio of NMP to GBL may be, for example, NMP: GBL (mass ratio) = 10: 90 to 90:10.

〈追加の成分〉
本実施形態の樹脂組成物は、ポリイミド/ポリイミド前駆体、低分子環状シロキサン、及び溶媒に加えて、追加の成分を更に含んでもよい。追加の成分としては、例えば、界面活性剤、及びアルコキシシラン化合物等が挙げられる。
<Additional ingredients>
The resin composition of the present embodiment may further contain additional components in addition to the polyimide / polyimide precursor, small molecule cyclic siloxane, and solvent. Additional components include, for example, surfactants, alkoxysilane compounds and the like.

(界面活性剤)
本実施形態の樹脂組成物に界面活性剤を添加することによって、樹脂組成物の塗布性を向上することができる。具体的には、塗工膜におけるスジの発生を防ぐことができる。
(Surfactant)
By adding a surfactant to the resin composition of the present embodiment, the coatability of the resin composition can be improved. Specifically, it is possible to prevent the occurrence of streaks in the coating film.

このような界面活性剤は、例えば、シリコーン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤、これら以外の非イオン界面活性剤等を挙げることができる。シリコーン系界面活性剤としては、例えば、オルガノシロキサンポリマーKF-640、642、643、KP341、X-70-092、X-70-093(商品名、信越化学工業社製);SH-28PA、SH-190、SH-193、SZ-6032、SF-8428、DC-57、DC-190(商品名、東レ・ダウコーニング・シリコーン社製);SILWET L-77,L-7001,FZ-2105,FZ-2120,FZ-2154,FZ-2164,FZ-2166,L-7604(商品名、日本ユニカー社製);DBE-814、DBE-224、DBE-621、CMS-626、CMS-222、KF-352A、KF-354L、KF-355A、KF-6020、DBE-821、DBE-712(Gelest)、BYK-307、BYK-310、BYK-378、BYK-333(商品名、ビックケミー・ジャパン製);グラノール(商品名、共栄社化学社製)等が挙げられる。フッ素系界面活性剤としては、例えば、メガファックF171、F173、R-08(大日本インキ化学工業株式会社製、商品名);フロラードFC4430、FC4432(住友スリーエム株式会社、商品名)等が挙げられる。これら以外の非イオン界面活性剤としては、例えば、ポリオキシエチレンウラリルエーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエーテル、ポリオキシエチレンオクチルフェノールエーテル等が挙げられる。 Examples of such a surfactant include silicone-based surfactants, fluorine-based surfactants, and nonionic surfactants other than these. Examples of the silicone-based surfactant include organosiloxane polymers KF-640, 642, 643, KP341, X-70-092, X-70-093 (trade name, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.); SH-28PA, SH. -190, SH-193, SZ-6032, SF-8428, DC-57, DC-190 (trade name, manufactured by Toray Dow Corning Silicone Co., Ltd.); SILWET L-77, L-7001, FZ-2105, FZ -2120, FZ-214, FZ-2164, FZ-2166, L-7604 (trade name, manufactured by Nippon Unicar Co., Ltd.); DBE-814, DBE-224, DBE-621, CMS-626, CMS-222, KF- 352A, KF-354L, KF-355A, KF-6020, DBE-821, DBE-712 (Gelest), BYK-307, BYK-310, BYK-378, BYK-333 (trade name, manufactured by Big Chemie Japan); Granol (trade name, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.) and the like can be mentioned. Examples of the fluorine-based surfactant include Megafuck F171, F173, R-08 (manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc., trade name); Florard FC4430, FC4432 (Sumitomo 3M Ltd., trade name) and the like. .. Examples of the nonionic surfactant other than these include polyoxyethylene uralyl ether, polyoxyethylene stearyl ether, polyoxyethylene oleyl ether, polyoxyethylene octylphenol ether and the like.

これらの界面活性剤の中でも、樹脂組成物の塗工性(スジ抑制)の観点から、シリコーン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤が好ましく、キュア工程時の酸素濃度によるYI値及び全光線透過率への影響を低減する観点から、シリコーン系界面活性剤が好ましい。界面活性剤を用いる場合、その配合量は、樹脂組成物中のポリイミド前駆体100質量部に対して、好ましくは0.001~5質量部、より好ましくは0.01~3質量部である。 Among these surfactants, silicone-based surfactants and fluorine-based surfactants are preferable from the viewpoint of coatability (streak suppression) of the resin composition, and the YI value and total light transmittance depending on the oxygen concentration during the curing step are preferable. A silicone-based surfactant is preferable from the viewpoint of reducing the influence on the rate. When a surfactant is used, the blending amount thereof is preferably 0.001 to 5 parts by mass, and more preferably 0.01 to 3 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the polyimide precursor in the resin composition.

(アルコキシシラン化合物)
本実施形態の樹脂組成物から得られるポリイミドフィルムをフレキシブル基板等に用いる場合、製造プロセスにおける支持体とポリイミドフィルムとの良好な密着性を得る観点から、樹脂組成物は、ポリイミド前駆体100質量部に対して、アルコキシシラン化合物を0.01~20質量部含有することができる。ポリイミド前駆体100質量部に対するアルコキシシラン化合物の含有量が0.01質量部以上であることにより、支持体とポリイミドフィルムとの間に良好な密着性を得ることができる。またアルコキシシラン化合物の含有量が20質量部以下であることが、樹脂組成物の保存安定性の観点から好ましい。アルコキシシラン化合物の含有量は、ポリイミド前駆体100質量部に対して、好ましくは0.02~15質量部、より好ましくは0.05~10質量部、更に好ましくは0.1~8質量部である。アルコキシシラン化合物を用いることにより、上記の密着性の向上に加えて、樹脂組成物の塗工性が向上し(スジムラ抑制)、及びキュア時の酸素濃度によるポリイミドフィルムのYI値への影響を低減することもできる。
(Alkoxysilane compound)
When the polyimide film obtained from the resin composition of the present embodiment is used for a flexible substrate or the like, the resin composition is 100 parts by mass of the polyimide precursor from the viewpoint of obtaining good adhesion between the support and the polyimide film in the manufacturing process. On the other hand, 0.01 to 20 parts by mass of the alkoxysilane compound can be contained. When the content of the alkoxysilane compound with respect to 100 parts by mass of the polyimide precursor is 0.01 parts by mass or more, good adhesion between the support and the polyimide film can be obtained. Further, it is preferable that the content of the alkoxysilane compound is 20 parts by mass or less from the viewpoint of storage stability of the resin composition. The content of the alkoxysilane compound is preferably 0.02 to 15 parts by mass, more preferably 0.05 to 10 parts by mass, and further preferably 0.1 to 8 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the polyimide precursor. be. By using the alkoxysilane compound, in addition to the above-mentioned improvement of the adhesiveness, the coatability of the resin composition is improved (sujimura suppression), and the influence of the oxygen concentration at the time of curing on the YI value of the polyimide film is reduced. You can also do it.

アルコキシシラン化合物としては、例えば、3-ウレイドプロピルトリエトキシシラン、ビス(2-ヒドロキシエチル)-3-アミノプロピルトリエトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ-アミノプロピルトリメトキシシラン、γ-アミノプロピルトリプロポキシシラン、γ-アミノプロピルトリブトキシシラン、γ-アミノエチルトリエトキシシラン、γ-アミノエチルトリプロポキシシラン、γ-アミノエチルトリブトキシシラン、γ-アミノブチルトリエトキシシラン、γ-アミノブチルトリメトキシシラン、γ-アミノブチルトリプロポキシシラン、γ-アミノブチルトリブトキシシラン、フェニルシラントリオール、トリメトキシフェニルシラン、トリメトキシ(p-トリル)シラン、ジフェニルシランジオール、ジメトキシジフェニルシラン、ジエトキシジフェニルシラン、ジメトキシジ-p-トリルシラン、トリフェニルシラノール、及び下記構造:

Figure 2022082450000043
のそれぞれで表されるアルコキシシラン化合物等を挙げることができる。アルコキシシラン化合物は、一種を単独で用いても二種以上を組み合わせて使用してもよい。 Examples of the alkoxysilane compound include 3-ureidopropyltriethoxysilane, bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, and γ-aminopropyltrimethoxysilane. γ-Aminopropyltripropoxysilane, γ-aminopropyltributoxysilane, γ-aminoethyltriethoxysilane, γ-aminoethyltripropoxysilane, γ-aminoethyltributoxysilane, γ-aminobutyltriethoxysilane, γ- Aminobutyltrimethoxysilane, γ-aminobutyltripropoxysilane, γ-aminobutyltributoxysilane, phenylsilanetriol, trimethoxyphenylsilane, trimethoxy (p-tolyl) silane, diphenylsilanediol, dimethoxydiphenylsilane, diethoxydiphenyl Silane, dimethoxydi-p-tolylsilane, triphenylsilanol, and the following structures:
Figure 2022082450000043
Examples thereof include an alkoxysilane compound represented by each of the above. The alkoxysilane compound may be used alone or in combination of two or more.

《樹脂組成物の製造方法》
本実施形態における樹脂組成物の製造方法は、特に限定されるものではなく、例えば、以下の方法によることができる。
<< Manufacturing method of resin composition >>
The method for producing the resin composition in the present embodiment is not particularly limited, and for example, the following method can be used.

〈ケイ素含有化合物の精製〉
本実施形態の樹脂組成物は、酸二無水物、ジアミン、及びケイ素含有化合物を含む重縮合成分を重縮合反応させることにより製造することができる。本実施形態の樹脂組成物中に含まれる、環状のケイ素含有化合物の総量を低減する方法としては、例えば、重縮合反応の前に、ケイ素含有化合物を精製して、環状のケイ素含有化合物の総量を低減することが挙げられる。あるいは、重縮合反応の後に、樹脂組成物を精製して、環状のケイ素含有化合物の総量を低減してもよい。
<Purification of silicon-containing compounds>
The resin composition of the present embodiment can be produced by subjecting a polycondensation component containing an acid dianhydride, a diamine, and a silicon-containing compound to a polycondensation reaction. As a method for reducing the total amount of the cyclic silicon-containing compound contained in the resin composition of the present embodiment, for example, the silicon-containing compound is purified before the polycondensation reaction to obtain the total amount of the cyclic silicon-containing compound. Is mentioned. Alternatively, after the polycondensation reaction, the resin composition may be purified to reduce the total amount of cyclic silicon-containing compounds.

ケイ素含有化合物を精製する方法としては、例えば、任意の容器内でケイ素含有化合物に不活性ガス、例えば窒素ガスを吹き込みながらストリッピングを行うことが挙げられる。ストリッピングの温度としては、好ましくは200℃以上300℃以下、より好ましくは220℃以上300℃以下、更に好ましくは240℃以上300℃以下である。ストリッピングの蒸気圧としては、低いほど好ましく、1000Pa以下、より好ましくは300Pa以下、更に好ましくは200Pa以下、より更に好ましくは133.32Pa(1mmHg)Pa以下である。ストリッピングの時間としては、好ましくは4時間以上12時間以下、より好ましくは6時間以上10時間以下である。上記の条件に調整することにより、一環状のケイ素含有化合物を効率的に除去することができ、また、環状のケイ素含有化合物の総量を好ましい範囲に制御することができる。 As a method for purifying the silicon-containing compound, for example, stripping may be performed while blowing an inert gas, for example, nitrogen gas, into the silicon-containing compound in an arbitrary container. The stripping temperature is preferably 200 ° C. or higher and 300 ° C. or lower, more preferably 220 ° C. or higher and 300 ° C. or lower, and further preferably 240 ° C. or higher and 300 ° C. or lower. The vapor pressure of stripping is preferably 1000 Pa or less, more preferably 300 Pa or less, still more preferably 200 Pa or less, still more preferably 133.32 Pa (1 mmHg) Pa or less. The stripping time is preferably 4 hours or more and 12 hours or less, and more preferably 6 hours or more and 10 hours or less. By adjusting to the above conditions, the monocyclic silicon-containing compound can be efficiently removed, and the total amount of the cyclic silicon-containing compound can be controlled within a preferable range.

〈ポリイミド/ポリイミド前駆体の合成〉
本実施形態のポリイミド前駆体は、酸二無水物、ジアミン、及びケイ素含有化合物を含む重縮合成分を重縮合反応させることにより合成することができる。ポリイミド/ポリイミド前駆体の合成と関連して、例えば、次のいずれかの工程:
・上記で説明された一般式(3)で表される化合物と、一般式(4)及び(12)で表される化合物と、一般式(5)で表されるケイ素含有化合物と、その他の化合物とを重縮合反応させてポリイミド前駆体及び/又はポリイミドを提供する工程;
・上記で説明された一般式(3)で表される化合物とその他の化合物と、一般式(4)及び(12)で表される化合物とその他の化合物とを重縮合反応させてポリイミドを得た後、上記で説明された一般式(5)で表されるケイ素含有化合物と、その他の化合物とを重縮合反応させてポリイミド前駆体を提供する工程;又は
・上記で説明されたジアミンと酸二無水物とを重縮合反応させてポリイミドを得た後、一般式(5)で表されるケイ素含有化合物と、その他の化合物とを重縮合反応させてポリイミド前駆体を提供する工程;
を含む樹脂組成物の製造方法が提供される。また、ケイ素含有化合物は、上記の精製したものを用いることが好ましい。好ましい態様において、重縮合成分は、酸二無水物と、ジアミンと、ケイ素含有化合物とからなる。重縮合反応は、適当な溶媒中で行うことが好ましい。具体的には、例えば、溶媒に所定量のジアミン成分及びケイ素含有化合物を溶解させた後、得られたジアミン溶液に、酸二無水物を所定量添加し、撹拌する方法が挙げられる。
<Synthesis of polyimide / polyimide precursor>
The polyimide precursor of the present embodiment can be synthesized by subjecting a polycondensation component containing an acid dianhydride, a diamine, and a silicon-containing compound to a polycondensation reaction. In connection with the synthesis of polyimide / polyimide precursor, for example, one of the following steps:
-The compound represented by the general formula (3) described above, the compound represented by the general formulas (4) and (12), the silicon-containing compound represented by the general formula (5), and other compounds. A step of polycondensing a compound with a compound to provide a polyimide precursor and / or a polyimide;
-The compound represented by the general formula (3) and other compounds described above, and the compounds represented by the general formulas (4) and (12) and other compounds are subjected to a polycondensation reaction to obtain a polyimide. After that, a step of subjecting the silicon-containing compound represented by the general formula (5) described above to a polycondensation reaction with another compound to provide a polyimide precursor; or-diamine and acid described above. (2) A step of subjecting a polyimide to a polyimide by subjecting it to a polycondensation reaction with an anhydride, and then subjecting the silicon-containing compound represented by the general formula (5) to a polycondensation reaction of another compound to provide a polyimide precursor;
A method for producing a resin composition containing the above is provided. Further, it is preferable to use the above-mentioned purified compound as the silicon-containing compound. In a preferred embodiment, the polycondensation component comprises an acid dianhydride, a diamine, and a silicon-containing compound. The polycondensation reaction is preferably carried out in a suitable solvent. Specific examples thereof include a method in which a predetermined amount of a diamine component and a silicon-containing compound are dissolved in a solvent, a predetermined amount of acid dianhydride is added to the obtained diamine solution, and the mixture is stirred.

ポリイミド/ポリイミド前駆体を合成する際の酸二無水物とジアミンとのモル比は、ポリイミド前駆体樹脂の高分子量化、樹脂組成物のスリットコーティング特性の観点から、酸二無水物:ジアミン=100:90~100:110(酸二無水物1モル部に対してジアミン0.90~1.10モル部)の範囲が好ましく、100:95~100:105(酸二無水物1モル部に対してジアミン0.95~1.05モル部)の範囲が更に好ましい。 The molar ratio of acid dianhydride to diamine when synthesizing the polyimide / polyimide precursor is determined from the viewpoint of increasing the molecular weight of the polyimide precursor resin and the slit coating characteristics of the resin composition: acid dianhydride: diamine = 100. The range is preferably 90 to 100: 110 (0.90 to 1.10 parts of diamine with respect to 1 mol of acid dianhydride), and 100: 95 to 100: 105 (with respect to 1 mol of acid dianhydride). The range of diamine 0.95 to 1.05 mol part) is more preferable.

ポリイミド/ポリイミド前駆体の分子量は、酸二無水物、ジアミン及びケイ素含有化合物の種類、酸二無水物とジアミンとのモル比の調整、末端封止剤の添加、反応条件の調整等によってコントロールすることが可能である。酸二無水物成分とジアミン成分とのモル比が1:1に近いほど、及び末端封止剤の使用量が少ないほど、ポリイミド前駆体を高分子量化することができる。 The molecular weight of the polyimide / polyimide precursor is controlled by adjusting the types of acid dianhydride, diamine and silicon-containing compounds, adjusting the molar ratio of acid dianhydride and diamine, adding an end-capping agent, adjusting reaction conditions, and the like. It is possible. The closer the molar ratio of the acid dianhydride component to the diamine component is to 1: 1 and the smaller the amount of the end-capping agent used, the higher the molecular weight of the polyimide precursor can be.

酸二無水物成分及びジアミン成分として、高純度品を使用することが推奨される。その純度としては、それぞれ、好ましくは98質量%以上、より好ましくは99質量%以上、更に好ましくは99.5質量%以上である。酸二無水物成分及びジアミン成分における水分含量を低減することによって高純度化することもできる。複数種類の酸二無水物成分、及び/又は複数種類のジアミン成分を使用する場合には、酸二無水物成分全体として、及びジアミン成分全体として上記の純度を有することが好ましく、使用する全種類の酸二無水物成分及びジアミン成分が、それぞれ上記の純度を有していることがより好ましい。 It is recommended to use high-purity products as the acid dianhydride component and the diamine component. The purity is preferably 98% by mass or more, more preferably 99% by mass or more, and further preferably 99.5% by mass or more, respectively. High purity can also be achieved by reducing the water content in the acid dianhydride component and the diamine component. When a plurality of types of acid dianhydride components and / or a plurality of types of diamine components are used, it is preferable that the acid dianhydride components as a whole and the diamine components as a whole have the above-mentioned purity, and all types to be used. It is more preferable that the acid dianhydride component and the diamine component of the above have the above-mentioned purity, respectively.

反応の溶媒としては、酸二無水物成分及びジアミン成分、並びに生じるポリイミド/ポリイミド前駆体を溶解することができ、高分子量の重合体が得られる溶媒であれば特に限定されない。このような溶媒としては、例えば、非プロトン性溶媒、フェノール系溶媒、エーテル及びグリコール系溶媒等が挙げられる。 The solvent for the reaction is not particularly limited as long as it can dissolve the acid dianhydride component and the diamine component, and the resulting polyimide / polyimide precursor, and can obtain a high molecular weight polymer. Examples of such a solvent include an aprotic solvent, a phenol-based solvent, an ether and a glycol-based solvent, and the like.

非プロトン性溶媒としては、例えば、N,N-ジメチルホルムアミド(DMF)、N,N-ジメチルアセトアミド(DMAc)、N-メチル-2-ピロリドン(NMP)、N-メチルカプロラクタム、1,3-ジメチルイミダゾリジノン、テトラメチル尿素、及び下記一般式のアミド系溶媒:

Figure 2022082450000044
{式中、R12=メチル基で表されるエクアミドM100(商品名:KJケミカルズ社製)、及び、R12=n-ブチル基で表されるエクアミドB100(商品名:KJケミカルズ社製)};γ-ブチロラクトン、γ-バレロラクトン等のラクトン系溶媒;ヘキサメチルホスホリックアミド、ヘキサメチルホスフィントリアミド等の含リン系アミド系溶媒;ジメチルスルホン、ジメチルスルホキシド、スルホラン等の含硫黄系溶媒;シクロヘキサノン、メチルシクロヘキサノン等のケトン系溶媒;ピコリン、ピリジン等の3級アミン系溶媒;酢酸(2-メトキシ-1-メチルエチル)等のエステル系溶媒等が挙げられる。 Examples of the aprotic solvent include N, N-dimethylformamide (DMF), N, N-dimethylacetamide (DMAc), N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), N-methylcaprolactam, 1,3-dimethyl. Imidazolidinone, tetramethylurea, and amide solvents of the following general formula:
Figure 2022082450000044
{In the formula, R 12 = Equamid M100 represented by a methyl group (trade name: manufactured by KJ Chemicals) and R 12 = Equamid B100 represented by an n-butyl group (trade name: manufactured by KJ Chemicals)} Lactone-based solvents such as γ-butyrolactone and γ-valerolactone; phosphorus-containing amide-based solvents such as hexamethylphosphoric amide and hexamethylphosphintriamide; sulfur-containing solvents such as dimethylsulfone, dimethylsulfoxide and sulfolane; cyclohexanone , A ketone solvent such as methylcyclohexanone; a tertiary amine solvent such as picolin and pyridine; an ester solvent such as acetic acid (2-methoxy-1-methylethyl) and the like.

フェノ-ル系溶媒としては、例えば、フェノール、o-クレゾール、m-クレゾール、p-クレゾール、2,3-キシレノール、2,4-キシレノール、2,5-キシレノール、2,6-キシレノール、3,4-キシレノール、3,5-キシレノール等が挙げられる。 Examples of the phenolic solvent include phenol, o-cresol, m-cresol, p-cresol, 2,3-xylenol, 2,4-xylenol, 2,5-xylenol, 2,6-xylenol, 3, Examples thereof include 4-xylenol and 3,5-xylenol.

エーテル及びグリコール系溶媒としては、例えば、1,2-ジメトキシエタン、ビス(2-メトキシエチル)エーテル、1,2-ビス(2-メトキシエトキシ)エタン、ビス[2-(2-メトキシエトキシ)エチル]エーテル、テトラヒドロフラン、1,4-ジオキサン等が挙げられる。 Examples of the ether and glycol-based solvent include 1,2-dimethoxyethane, bis (2-methoxyethyl) ether, 1,2-bis (2-methoxyethoxy) ethane, and bis [2- (2-methoxyethoxy) ethyl. ] Ether, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane and the like can be mentioned.

これらの溶媒は、単独で又は2種類以上混合して用いてもよい。 These solvents may be used alone or in combination of two or more.

ポリイミド/ポリイミド前駆体の合成に用いられる溶媒の常圧における沸点は、好ましくは60~300℃、より好ましくは140~280℃、更に好ましくは170~270℃である。溶媒の沸点が300℃より低いことにより、乾燥工程が短時間になる。溶媒の沸点が60℃以上であると、乾燥工程中に、樹脂膜の表面における荒れの発生、樹脂膜中への気泡の混入等が起こり難く、より均一なフィルムを得ることができる。特に、沸点が170~270℃であり、及び/又は20℃における蒸気圧が250Pa以下である溶媒を使用することが、溶解性及び塗工時のエッジ異常の低減の観点から好ましい。より具体的には、N-メチル-2-ピロリドン(NMP)、γ-ブチロラクトン(GBL)、及び一般式(6)で表される化合物から成る群より選択される1種以上が好ましい。 The boiling point of the solvent used for the synthesis of the polyimide / polyimide precursor at normal pressure is preferably 60 to 300 ° C, more preferably 140 to 280 ° C, still more preferably 170 to 270 ° C. Since the boiling point of the solvent is lower than 300 ° C., the drying step is shortened. When the boiling point of the solvent is 60 ° C. or higher, roughening of the surface of the resin film, mixing of air bubbles in the resin film, and the like are less likely to occur during the drying step, and a more uniform film can be obtained. In particular, it is preferable to use a solvent having a boiling point of 170 to 270 ° C. and / or a vapor pressure of 250 Pa or less at 20 ° C. from the viewpoint of solubility and reduction of edge abnormality during coating. More specifically, one or more selected from the group consisting of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), γ-butyrolactone (GBL), and a compound represented by the general formula (6) is preferable.

溶媒中の水分含量は、重縮合反応を良好に進行させるために、例えば3,000質量ppm以下であることが好ましい。本実施形体における樹脂組成物中、分子量1,000未満の分子の含有量が5質量%未満であることが好ましい。樹脂組成物中に分子量1,000未満の分子が存在するのは、合成時に使用する溶媒や原料(酸二無水物、ジアミン)の水分量が関与しているためと考えられる。すなわち、一部の酸二無水物モノマーの酸無水物基が水分によって加水分解してカルボキシル基になり、高分子量化することなく低分子の状態で残存することによると考えられる。従って、上記の重縮合反応に使用する溶媒の水分量は少ないほど好ましい。溶媒の水分量は、3,000質量ppm以下とすることが好ましく、1,000質量ppm以下とすることがより好ましい。同様に、原料に含まれる水分量についても、3,000質量ppm以下とすることが好ましく、1,000質量ppm以下とすることがより好ましい。 The water content in the solvent is preferably, for example, 3,000 mass ppm or less in order to allow the polycondensation reaction to proceed satisfactorily. In the resin composition of the present embodiment, the content of molecules having a molecular weight of less than 1,000 is preferably less than 5% by mass. It is considered that the reason why the molecule having a molecular weight of less than 1,000 is present in the resin composition is that the water content of the solvent and the raw material (acid dianhydride, diamine) used at the time of synthesis is involved. That is, it is considered that the acid anhydride group of some acid anhydride monomers is hydrolyzed by water to become a carboxyl group and remains in a low molecular weight state without increasing the molecular weight. Therefore, it is preferable that the water content of the solvent used for the above polycondensation reaction is small. The water content of the solvent is preferably 3,000 mass ppm or less, more preferably 1,000 mass ppm or less. Similarly, the amount of water contained in the raw material is preferably 3,000 mass ppm or less, and more preferably 1,000 mass ppm or less.

溶媒の水分量は、使用する溶媒のグレード(脱水グレード、汎用グレード等)、溶媒容器(ビン、18L缶、キャニスター缶等)、溶媒の保管状態(希ガス封入の有無等)、開封から使用までの時間(開封後すぐ使用するか、開封後経時した後に使用するか等)等が関与すると考えられる。合成前の反応器の希ガス置換、合成中の希ガス流通の有無等も関与すると考えられる。従って、ポリイミド前駆体の合成時には、原料として高純度品を用い、水分量の少ない溶媒を用いるとともに、反応前および反応中に系内に環境からの水分が混入しないような措置を講ずることが推奨される。 The water content of the solvent is the grade of the solvent used (dehydration grade, general-purpose grade, etc.), solvent container (bottle, 18L can, canister can, etc.), storage state of the solvent (presence or absence of rare gas filling, etc.), from opening to use. It is considered that the time (whether it is used immediately after opening or after a lapse of time after opening, etc.) is involved. It is considered that the replacement of rare gas in the reactor before synthesis and the presence or absence of rare gas flow during synthesis are also involved. Therefore, when synthesizing the polyimide precursor, it is recommended to use a high-purity product as a raw material, use a solvent with a low water content, and take measures to prevent water from the environment from entering the system before and during the reaction. Will be done.

溶媒中に各重縮合成分を溶解させるときには、必要に応じて加熱してもよい。重合度の高いポリイミド前駆体を得る観点から、ポリイミド前駆体合成時の反応温度としては、好ましくは0℃~120℃、40℃~100℃、又は60~100℃であってよく、重合時間としては、好ましくは1~100時間、又は2~10時間であってよい。重合時間を1時間以上とすることによって均一な重合度のポリイミド前駆体となり、100時間以下とすることによって重合度の高いポリイミド前駆体を得ることができる。 When dissolving each polycondensation component in a solvent, it may be heated if necessary. From the viewpoint of obtaining a polyimide precursor having a high degree of polymerization, the reaction temperature at the time of synthesizing the polyimide precursor may be preferably 0 ° C to 120 ° C, 40 ° C to 100 ° C, or 60 to 100 ° C, and the polymerization time may be set. Is preferably 1 to 100 hours, or 2 to 10 hours. When the polymerization time is 1 hour or more, a polyimide precursor having a uniform degree of polymerization can be obtained, and when the polymerization time is 100 hours or less, a polyimide precursor having a high degree of polymerization can be obtained.

本実施形態の樹脂組成物は、本実施形態におけるポリイミド/ポリイミド前駆体以外に、他の追加のポリイミド前駆体を含んでもよい。しかしながら、追加のポリイミド/ポリイミド前駆体の質量割合は、ポリイミドフィルムのYI値及び全光線透過率の酸素依存性を低減する観点から、樹脂組成物中のポリイミド/ポリイミド前駆体の総量に対して、好ましくは30質量%以下、更に好ましくは10質量%以下である。 The resin composition of the present embodiment may contain other additional polyimide precursors in addition to the polyimide / polyimide precursor of the present embodiment. However, the weight ratio of the additional polyimide / polyimide precursor is relative to the total amount of polyimide / polyimide precursor in the resin composition from the viewpoint of reducing the oxygen dependence of the YI value and the total light transmittance of the polyimide film. It is preferably 30% by mass or less, more preferably 10% by mass or less.

本実施形態におけるポリイミド前駆体は、その一部がイミド化されていてもよい(部分イミド化)。ポリイミド前駆体を部分イミド化することにより、樹脂組成物を保存する際の粘度安定性を向上できる。この場合のイミド化率は、樹脂組成物中のポリイミド前駆体の溶解性と溶液の保存安定性とのバランスをとる観点から、好ましくは5%以上、より好ましくは8%以上であり、好ましくは80%以下、より好ましくは70%以下、更に好ましくは50%以下である。この部分イミド化は、ポリイミド前駆体を加熱して脱水閉環することにより得られる。この加熱は、好ましくは120~200℃、より好ましくは150~185℃、さらに好ましくは150~180℃の温度において、好ましくは15分~20時間、より好ましくは30分~10時間行うことができる。 The polyimide precursor in the present embodiment may be partially imidized (partially imidized). By partially imidizing the polyimide precursor, the viscosity stability when the resin composition is stored can be improved. In this case, the imidization ratio is preferably 5% or more, more preferably 8% or more, and preferably 8% or more, from the viewpoint of balancing the solubility of the polyimide precursor in the resin composition and the storage stability of the solution. It is 80% or less, more preferably 70% or less, still more preferably 50% or less. This partial imidization is obtained by heating the polyimide precursor to dehydrate and ring closure. This heating can be carried out at a temperature of preferably 120 to 200 ° C., more preferably 150 to 185 ° C., still more preferably 150 to 180 ° C., preferably for 15 minutes to 20 hours, more preferably 30 minutes to 10 hours. ..

上述の反応によって得られたポリイミド/ポリイミド前駆体に、N,N-ジメチルホルムアミドジメチルアセタール又はN,N-ジメチルホルムアミドジエチルアセタールを加えて加熱することでカルボン酸の一部又は全部をエステル化したものを、本実施形態のポリイミド前駆体として用いてもよい。エステル化によって、保存時の粘度安定性を向上することができる。これらエステル変性ポリアミド酸は、上述の酸二無水物成分を、酸無水物基に対して1当量の1価のアルコール、及び塩化チオニル、ジシクロヘキシルカルボジイミド等の脱水縮合剤と順次に反応させた後、ジアミン成分と縮合反応させる方法によっても得ることができる。 A part or all of the carboxylic acid is esterified by adding N, N-dimethylformamide dimethylacetal or N, N-dimethylformamide diethylacetal to the polyimide / polyimide precursor obtained by the above reaction and heating. May be used as the polyimide precursor of the present embodiment. Esterification can improve viscosity stability during storage. In these ester-modified polyamic acids, the above-mentioned acid dianhydride component is sequentially reacted with 1 equivalent of a monohydric alcohol with respect to the acid anhydride group and a dehydration condensing agent such as thionyl chloride and dicyclohexylcarbodiimide. It can also be obtained by a method of conducting a condensation reaction with a diamine component.

上述の反応によって得られたポリイミド/ポリイミド前駆体は、TFMB(2,2’-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン)に由来する基を含まないことが好ましい。TFMBに由来する基を含む場合、例えば、上記一般式(1)、(2)、(6)又は(7)中のP,P,Pの少なくとも一つがTFMBに由来する基を含むと、ポリイミド/ポリイミド前駆体を含む樹脂組成物の粘度安定性、ろ過性が悪くなる傾向があるからである。樹脂組成物の粘度安定性及びろ過性の観点から、ポリイミド/ポリイミド前駆体の合成において、原料として、例えば、上記一般式(3)で表されるジアミン化合物以外のジアミン原料として、TFMBを使用しないことが好ましく、又は原料からTFMBを除去・精製することが好ましい。 The polyimide / polyimide precursor obtained by the above reaction preferably does not contain a group derived from TFMB (2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine). When a group derived from TFMB is contained, for example, at least one of P 1 , P 3 , P 5 in the above general formula (1), (2), (6) or (7) contains a group derived from TFMB. This is because the viscosity stability and the filterability of the resin composition containing the polyimide / polyimide precursor tend to deteriorate. From the viewpoint of viscosity stability and filterability of the resin composition, TFMB is not used as a raw material in the synthesis of the polyimide / polyimide precursor, for example, as a diamine raw material other than the diamine compound represented by the above general formula (3). It is preferable, or it is preferable to remove and purify the TFMB from the raw material.

〈ポリイミドの合成〉
より好ましい様態としては、ポリイミドワニスは、酸二無水物成分及びジアミン成分を、溶媒、例えば有機溶媒に溶解し、トルエンなどの共沸溶媒を加え、イミド化の際に発生する水を系外に除去することでポリイミド及び溶媒を含有するポリイミド溶液(ポリイミドワニスとも言う)として製造することが出来る。ここで、反応時の条件は特に限定されないが、例えば、反応温度は0℃~180℃、反応時間は3~72時間である。スルホン基含有ジアミン類との反応を充分に進めるために、180℃で12時間程度加熱反応させることが好ましい。また、反応時、アルゴンや窒素などの不活性雰囲気であることが好ましい。
<Synthesis of polyimide>
In a more preferable mode, in the polyimide varnish, the acid dianhydride component and the diamine component are dissolved in a solvent, for example, an organic solvent, a co-boiling solvent such as toluene is added, and water generated during imidization is removed from the system. By removing it, it can be produced as a polyimide solution (also referred to as polyimide varnish) containing a polyimide and a solvent. Here, the conditions at the time of reaction are not particularly limited, but for example, the reaction temperature is 0 ° C. to 180 ° C. and the reaction time is 3 to 72 hours. In order to sufficiently proceed with the reaction with the sulfone group-containing diamines, it is preferable to carry out a heating reaction at 180 ° C. for about 12 hours. Further, during the reaction, it is preferable that the atmosphere is an inert atmosphere such as argon or nitrogen.

〈樹脂組成物の調製〉
ポリイミド前駆体を合成した際に用いた溶媒と、樹脂組成物に含有させる溶媒とが同一の場合には、合成したポリイミド/ポリイミド前駆体溶液をそのまま樹脂組成物として使用することができる。必要に応じて、室温(25℃)~80℃の温度範囲で、ポリイミド前駆体に更なる溶媒及び追加の成分の1種以上を添加して、攪拌混合することにより、樹脂組成物を調製してもよい。この攪拌混合は、撹拌翼を備えたスリーワンモータ(新東化学株式会社製)、自転公転ミキサー等の適宜の装置を用いて行うことができる。必要に応じて樹脂組成物を40℃~100℃に加熱してもよい。
<Preparation of resin composition>
When the solvent used when synthesizing the polyimide precursor and the solvent contained in the resin composition are the same, the synthesized polyimide / polyimide precursor solution can be used as it is as the resin composition. If necessary, a resin composition is prepared by adding one or more of a further solvent and an additional component to the polyimide precursor and stirring and mixing them in a temperature range of room temperature (25 ° C.) to 80 ° C. You may. This stirring and mixing can be performed by using an appropriate device such as a three-one motor (manufactured by Shinto Chemical Co., Ltd.) equipped with a stirring blade, a rotation / revolution mixer, and the like. If necessary, the resin composition may be heated to 40 ° C to 100 ° C.

他方、ポリイミド/ポリイミド前駆体を合成した際に用いた溶媒と、樹脂組成物に含有させる溶媒とが異なる場合には、合成したポリイミド前駆体溶液中の溶媒を、例えば再沈殿、溶媒留去等の適宜の方法により除去してポリイミド/ポリイミド前駆体を単離してもよい。次いで、室温(25℃)~80℃の温度範囲で、単離したポリイミド前駆体に、所望の溶媒及び必要に応じて追加の成分を添加して、攪拌混合することにより、樹脂組成物を調製してもよい。 On the other hand, if the solvent used when synthesizing the polyimide / polyimide precursor is different from the solvent contained in the resin composition, the solvent in the synthesized polyimide precursor solution is, for example, reprecipitated, distilled off, etc. The polyimide / polyimide precursor may be isolated by removing it by an appropriate method. Then, in the temperature range of room temperature (25 ° C.) to 80 ° C., a desired solvent and, if necessary, additional components are added to the isolated polyimide precursor, and the mixture is stirred and mixed to prepare a resin composition. You may.

上述のように樹脂組成物を調製した後、樹脂組成物を、例えば130~200℃で、例えば5分~2時間加熱することにより、ポリマーが析出を起こさない程度にポリイミド前駆体の一部を脱水イミド化してもよい(部分イミド化)。加熱温度及び加熱時間をコントロールすることにより、イミド化率を制御することができる。ポリイミド前駆体を部分イミド化することにより、樹脂組成物を保存する際の粘度安定性を向上することができる。 After preparing the resin composition as described above, the resin composition is heated at, for example, 130 to 200 ° C. for, for example, 5 minutes to 2 hours to remove a part of the polyimide precursor to the extent that the polymer does not precipitate. Dehydration imidization may be carried out (partial imidization). The imidization rate can be controlled by controlling the heating temperature and the heating time. By partially imidizing the polyimide precursor, it is possible to improve the viscosity stability when the resin composition is stored.

樹脂組成物の溶液粘度は、スリットコート性能の観点においては、好ましくは500~100,000mPa・s、より好ましくは1,000~50,000mPa・s、更に好ましくは3,000~20,000mPa・sである。具体的には、スリットノズルから液漏れし難い点で、好ましくは500mPa・s以上、より好ましくは1,000mPa・s以上、更に好ましくは3,000mPa・s以上である。スリットノズルが目詰まりし難い点で、好ましくは100,000mPa・s以下、より好ましくは50,000mPa・s以下、更に好ましくは20,000mPa・s以下である。 The solution viscosity of the resin composition is preferably 500 to 100,000 mPa · s, more preferably 1,000 to 50,000 mPa · s, still more preferably 3,000 to 20,000 mPa · s from the viewpoint of slit coat performance. s. Specifically, it is preferably 500 mPa · s or more, more preferably 1,000 mPa · s or more, and further preferably 3,000 mPa · s or more in terms of preventing liquid leakage from the slit nozzle. The slit nozzle is less likely to be clogged, and is preferably 100,000 mPa · s or less, more preferably 50,000 mPa · s or less, and further preferably 20,000 mPa · s or less.

ポリイミド/ポリイミド前駆体合成時における樹脂組成物の溶液粘度については、200,000mPa・sより高いと、合成時の撹拌が困難になるという問題が生じるおそれがある。ただし、合成する際に溶液が高粘度になったとしても、反応終了後に溶媒を添加して撹拌することにより、取扱い性のよい粘度の樹脂組成物を得ることが可能である。本実施形態における樹脂組成物の溶液粘度は、E型粘度計(例えばVISCONICEHD、東機産業製)を用い、23℃で測定される値である。 If the solution viscosity of the resin composition during the synthesis of the polyimide / polyimide precursor is higher than 200,000 mPa · s, there may be a problem that stirring during the synthesis becomes difficult. However, even if the solution becomes highly viscous during synthesis, it is possible to obtain a resin composition having a viscosity that is easy to handle by adding a solvent and stirring after the reaction is completed. The solution viscosity of the resin composition in this embodiment is a value measured at 23 ° C. using an E-type viscometer (for example, VISCONICEHD, manufactured by Toki Sangyo).

本実施形態の樹脂組成物の水分量は、樹脂組成物を保存する際の粘度安定性の観点から、好ましくは3,000質量ppm以下、より好ましくは2,500質量ppm以下、更に好ましくは2,000質量ppm以下、より更に好ましくは1,500質量ppm以下、特に好ましくは1,000質量ppm以下、特に好ましくは500質量ppm以下、特に好ましくは300質量ppm以下、特に好ましくは100質量ppm以下である。 The water content of the resin composition of the present embodiment is preferably 3,000 mass ppm or less, more preferably 2,500 mass ppm or less, still more preferably 2 from the viewpoint of viscosity stability when the resin composition is stored. 000 mass ppm or less, more preferably 1,500 mass ppm or less, particularly preferably 1,000 mass ppm or less, particularly preferably 500 mass ppm or less, particularly preferably 300 mass ppm or less, particularly preferably 100 mass ppm or less. Is.

上述の方法により調製された樹脂組成物は、粘度安定性及びろ過性の観点から、TFMBを含まないことが好ましい。同様の観点から、本実施形態に係る樹脂組成物の製造方法において、原料として、例えば、上記一般式(3)で表されるジアミン化合物以外のジアミン原料として、TFMBを使用しないことが好ましく、又は原料からTFMBを除去・精製することが好ましい。 The resin composition prepared by the above method preferably does not contain TFMB from the viewpoint of viscosity stability and filterability. From the same viewpoint, in the method for producing a resin composition according to the present embodiment, it is preferable not to use TFMB as a raw material, for example, as a diamine raw material other than the diamine compound represented by the general formula (3). It is preferable to remove and purify TFMB from the raw material.

《ポリイミドフィルム及びその製造方法》
本実施形態の樹脂組成物を用いて、ポリイミドフィルム(以下、ポリイミド樹脂膜ともいう)を提供することができる。本実施形態のポリイミドフィルムの製造方法は、支持体の表面上に、本実施形態の樹脂組成物を塗布する塗布工程と;上記樹脂組成物を加熱してポリイミド樹脂膜を形成する膜形成工程と;上記ポリイミド樹脂膜を上記支持体から剥離する剥離工程とを含む。
<< Polyimide film and its manufacturing method >>
A polyimide film (hereinafter, also referred to as a polyimide resin film) can be provided by using the resin composition of the present embodiment. The method for producing the polyimide film of the present embodiment includes a coating step of applying the resin composition of the present embodiment on the surface of the support; and a film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film. Includes a peeling step of peeling the polyimide resin film from the support.

〈塗布工程〉
塗布工程では、支持体の表面上に本実施形態の樹脂組成物を塗布する。支持体は、その後の膜形成工程(加熱工程)における加熱温度に対する耐熱性を有し、かつ剥離工程における剥離性が良好であれば特に限定されない。支持体としては、例えば、ガラス基板、例えば無アルカリガラス基板;シリコンウェハー;PET(ポリエチレンテレフタレート)、OPP(延伸ポリプロピレン)、ポリエチレングリコールテレフタレート、ポリエチレングリコールナフタレート、ポリカーボネート、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンスルホン、ポリフェニレンスルフィド等の樹脂基板;ステンレス、アルミナ、銅、ニッケル等の金属基板等が挙げられる。
<Applying process>
In the coating step, the resin composition of the present embodiment is coated on the surface of the support. The support is not particularly limited as long as it has heat resistance to the heating temperature in the subsequent film forming step (heating step) and has good peeling property in the peeling step. Examples of the support include a glass substrate, for example, a non-alkali glass substrate; a silicon wafer; PET (polyethylene terephthalate), OPP (stretched polypropylene), polyethylene glycol terephthalate, polyethylene glycol naphthalate, polycarbonate, polyimide, polyamideimide, and polyetherimide. , Resin substrates such as polyether ether ketone, polyether sulfone, polyphenylene sulfone, polyphenylene sulfide; and metal substrates such as stainless steel, alumina, copper, and nickel.

薄膜状のポリイミド成形体を形成する場合には、例えば、ガラス基板、シリコンウェハー等が好ましく、厚膜状のフィルム状又はシート状のポリイミド成形体を形成する場合には、例えばPET(ポリエチレンテレフタラート)、OPP(延伸ポリプロピレン)等からなる支持体が好ましい。 When forming a thin film-shaped polyimide molded body, for example, a glass substrate, a silicon wafer, etc. are preferable, and when forming a thick film-shaped film-shaped or sheet-shaped polyimide molded body, for example, PET (polyethylene terephthalate) is used. ), OPP (stretched polypropylene) and the like are preferable.

塗布方法としては、一般には、ドクターブレードナイフコーター、エアナイフコーター、ロールコーター、ロータリーコーター、フローコーター、ダイコーター、バーコーター等の塗布方法、スピンコート、スプレイコート、ディップコート等の塗布方法;スクリーン印刷及びグラビア印刷等に代表される印刷技術等が挙げられる。本実施形態の樹脂組成物には、スリットコートによる塗布が好ましい。塗布厚は、所望の樹脂フィルムの厚さと樹脂組成物中のポリイミド前駆体の含有量に応じて適宜調整するべきであるが、好ましくは1~1,000μm程度である。塗布工程における温度は室温でもよく、粘度を下げて作業性をよくするために、樹脂組成物を例えば40℃~80℃に加温してもよい。 As a coating method, generally, a doctor blade knife coater, an air knife coater, a roll coater, a rotary coater, a flow coater, a die coater, a bar coater, etc., a spin coat, a spray coat, a dip coat, etc. are applied; screen printing. And printing technology typified by gravure printing and the like. The resin composition of the present embodiment is preferably coated with a slit coat. The coating thickness should be appropriately adjusted according to the desired thickness of the resin film and the content of the polyimide precursor in the resin composition, but is preferably about 1 to 1,000 μm. The temperature in the coating step may be room temperature, and the resin composition may be heated to, for example, 40 ° C. to 80 ° C. in order to reduce the viscosity and improve the workability.

〈任意の乾燥工程〉
塗布工程に続いて乾燥工程を行ってもよく、又は乾燥工程を省略して直接次の膜形成工程(加熱工程)に進んでもよい。乾燥工程は、樹脂組成物中の有機溶剤除去の目的で行われる。乾燥工程を行う場合、例えば、ホットプレート、箱型乾燥機、コンベヤー型乾燥機等の適宜の装置を使用することができる。乾燥工程の温度は、好ましくは80℃~200℃、より好ましくは100℃~150℃である。乾燥工程の実施時間は、好ましくは1分~10時間、より好ましくは3分~1時間である。上記のようにして、支持体上にポリイミド前駆体を含有する塗膜が形成される。
<Arbitrary drying process>
The drying step may be performed after the coating step, or the drying step may be omitted and the process may be directly proceeded to the next film forming step (heating step). The drying step is performed for the purpose of removing the organic solvent in the resin composition. When performing the drying step, for example, an appropriate device such as a hot plate, a box-type dryer, or a conveyor-type dryer can be used. The temperature of the drying step is preferably 80 ° C. to 200 ° C., more preferably 100 ° C. to 150 ° C. The implementation time of the drying step is preferably 1 minute to 10 hours, more preferably 3 minutes to 1 hour. As described above, a coating film containing the polyimide precursor is formed on the support.

〈膜形成工程〉
続いて、膜形成工程(加熱工程)を行う。加熱工程は、上記の塗膜中に含まれる有機溶剤の除去を行うとともに、塗膜中のポリイミド前駆体のイミド化反応を進行させ、ポリイミド樹脂膜を得る工程である。この加熱工程は、例えば、イナートガスオーブン、ホットプレート、箱型乾燥機、コンベヤー型乾燥機等の装置を用いて行うことができる。この工程は乾燥工程と同時に行っても、両工程を逐次的に行なってもよい。
<Membrane formation process>
Subsequently, a film forming step (heating step) is performed. The heating step is a step of removing the organic solvent contained in the coating film and advancing the imidization reaction of the polyimide precursor in the coating film to obtain a polyimide resin film. This heating step can be performed using, for example, an apparatus such as an inert gas oven, a hot plate, a box-type dryer, and a conveyor-type dryer. This step may be carried out at the same time as the drying step, or both steps may be carried out sequentially.

加熱工程は、空気雰囲気下で行なってもよいが、安全性と、得られるポリイミドフィルムの良好な透明性、低い厚み方向レタデーション(Rth)及び低いYI値を得る観点から、不活性ガス雰囲気下で行うことが好ましい。不活性ガスとしては、例えば、窒素、アルゴン等が挙げられる。加熱温度は、ポリイミド前駆体の種類、及び樹脂組成物中の溶媒の種類に応じて適宜に設定されてよいが、好ましくは250℃~550℃、より好ましくは300℃~450℃である。250℃以上であればイミド化が良好に進行し、550℃以下であれば得られるポリイミドフィルムの透明性の低下、耐熱性の悪化等の不都合を回避できる。加熱時間は、好ましくは0.1時間~10時間程度である。 The heating step may be carried out in an air atmosphere, but from the viewpoint of safety, good transparency of the obtained polyimide film, low thickness direction retardation (Rth) and low YI value, it is carried out in an inert gas atmosphere. It is preferable to do so. Examples of the inert gas include nitrogen, argon and the like. The heating temperature may be appropriately set depending on the type of the polyimide precursor and the type of the solvent in the resin composition, but is preferably 250 ° C to 550 ° C, more preferably 300 ° C to 450 ° C. If the temperature is 250 ° C. or higher, imidization proceeds satisfactorily, and if the temperature is 550 ° C. or lower, inconveniences such as deterioration of transparency and heat resistance of the obtained polyimide film can be avoided. The heating time is preferably about 0.1 hour to 10 hours.

本実施形態では、上記の加熱工程における周囲雰囲気の酸素濃度は、得られるポリイミドフィルムの透明性及びYI値の観点から、好ましくは2,000質量ppm以下、より好ましくは100質量ppm以下、更に好ましくは10質量ppm以下である。酸素濃度が2,000質量ppm以下の雰囲気中で加熱を行うことにより、得られるポリイミドフィルムのYI値を30以下にすることができる。 In the present embodiment, the oxygen concentration in the ambient atmosphere in the heating step is preferably 2,000 mass ppm or less, more preferably 100 mass ppm or less, still more preferably 100 mass ppm or less, from the viewpoint of the transparency and YI value of the obtained polyimide film. Is 10 mass ppm or less. By heating in an atmosphere having an oxygen concentration of 2,000 mass ppm or less, the YI value of the obtained polyimide film can be reduced to 30 or less.

〈剥離工程〉
剥離工程では、支持体上のポリイミド樹脂膜を、例えば室温(25℃)~50℃程度まで冷却した後に剥離する。この剥離工程としては、例えば下記の(1)~(4)の態様が挙げられる。
<Peeling process>
In the peeling step, the polyimide resin film on the support is cooled to, for example, room temperature (25 ° C.) to about 50 ° C. and then peeled off. Examples of the peeling step include the following aspects (1) to (4).

(1)上記の方法によりポリイミド樹脂膜/支持体を含む構成体を作製した後、構造体の支持体側からレーザーを照射して、支持体とポリイミド樹脂膜との界面をアブレーション加工することにより、ポリイミド樹脂を剥離する方法。レーザーの種類としては、固体(YAG)レーザー、ガス(UVエキシマー)レーザー等が挙げられる。波長308nm等のスペクトルを用いることが好ましい(特表2007-512568号公報、特表2012-511173号公報等を参照)。 (1) After producing a structure including a polyimide resin film / support by the above method, a laser is irradiated from the support side of the structure to ablate the interface between the support and the polyimide resin film. A method of peeling off the polyimide resin. Examples of the laser include a solid (YAG) laser and a gas (UV excimer) laser. It is preferable to use a spectrum having a wavelength of 308 nm or the like (see Japanese Patent Publication No. 2007-512568, Japanese Patent Publication No. 2012-511173, etc.).

(2)支持体に樹脂組成物を塗工する前に、支持体に剥離層を形成し、その後ポリイミド樹脂膜/剥離層/支持体を含む構成体を得て、ポリイミド樹脂膜を剥離する方法。剥離層としては、パリレン(登録商標、日本パリレン合同会社製)、酸化タングステンが挙げられ;植物油系、シリコーン系、フッ素系、アルキッド系等の離型剤を用いてもよい(特開2010-067957号公報、特開2013-179306号公報等を参照)。
この方法(2)と方法(1)のレーザー照射とを併用してもよい。
(2) A method in which a release layer is formed on a support before the resin composition is applied to the support, and then a structure including a polyimide resin film / release layer / support is obtained and the polyimide resin film is peeled off. .. Examples of the release layer include parylene (registered trademark, manufactured by Japan Parylene GK) and tungsten oxide; and a release agent such as vegetable oil-based, silicone-based, fluorine-based, and alkyd-based may be used (Japanese Patent Laid-Open No. 2010-067957). No., Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-179306, etc.).
This method (2) and the laser irradiation of the method (1) may be used in combination.

(3)支持体としてエッチング可能な金属基板を用いて、ポリイミド樹脂膜/支持体を含む構成体を得た後、エッチャントで金属をエッチングすることにより、ポリイミド樹脂フィルムを得る方法。金属としては、例えば、銅(具体例としては、三井金属鉱業株式会社製の電解銅箔「DFF」)、アルミニウム等を使用することができる。エッチャントとしては、銅に対しては塩化第二鉄等を、アルミニウムに対しては希塩酸等を使用することができる。 (3) A method of obtaining a polyimide resin film by using an etchable metal substrate as a support, obtaining a structure including a polyimide resin film / support, and then etching the metal with an etchant. As the metal, for example, copper (specifically, electrolytic copper foil "DFF" manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.), aluminum and the like can be used. As the etchant, ferric chloride or the like can be used for copper, and dilute hydrochloric acid or the like can be used for aluminum.

(4)上記方法によりポリイミド樹脂膜/支持体を含む構成体を得た後、ポリイミド樹脂膜表面に粘着フィルムを貼り付けて、支持体から粘着フィルム/ポリイミド樹脂膜を分離し、その後粘着フィルムからポリイミド樹脂膜を分離する方法。 (4) After obtaining a structure including a polyimide resin film / support by the above method, an adhesive film is attached to the surface of the polyimide resin film, the adhesive film / polyimide resin film is separated from the support, and then from the adhesive film. A method for separating a polyimide resin film.

これらの剥離方法の中でも、得られるポリイミド樹脂フィルムの表裏の屈折率差、YI値及び伸度の観点から、方法(1)又は(2)が好ましい。得られるポリイミド樹脂フィルムの表裏の屈折率差の観点から方法(1)、すなわち、剥離工程に先立って、支持体側からレ-ザ-を照射する照射工程を行うことがより好ましい。なお、方法(3)において、支持体として銅を用いた場合は、得られるポリイミド樹脂フィルムのYI値が大きくなり、伸度が小さくなる傾向が見られる。これは、銅イオンの影響であると考えられる。 Among these peeling methods, the method (1) or (2) is preferable from the viewpoint of the difference in refractive index between the front and back surfaces of the obtained polyimide resin film, the YI value and the elongation. From the viewpoint of the difference in refractive index between the front and back of the obtained polyimide resin film, it is more preferable to perform the method (1), that is, the irradiation step of irradiating the laser from the support side prior to the peeling step. When copper is used as the support in the method (3), the YI value of the obtained polyimide resin film tends to be large and the elongation tends to be small. This is considered to be the effect of copper ions.

得られるポリイミドフィルムの厚さは、限定されないが、好ましくは1~200μm、より好ましくは5~100μmである。 The thickness of the obtained polyimide film is not limited, but is preferably 1 to 200 μm, more preferably 5 to 100 μm.

《ポリイミドフィルムの用途》
本実施形態の樹脂組成物から得られるポリイミドフィルムは、例えば、半導体絶縁膜、薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ(TFT-LCD)絶縁膜、電極保護膜として、また、液晶ディスプレイ、有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ、フィールドエミッションディスプレイ、電子ペーパー等の表示装置の透明基板等として適用できる。特に、本実施形態の樹脂組成物から得られるポリイミドフィルムは、フレキシブルデバイスの製造において、薄膜トランジスタ(TFT)基板、カラーフィルタ基板、タッチパネル基板、透明導電膜(ITO、Indium Thin Oxide)の基板として好適に使用することができる。本実施形態におけるポリイミドフィルムを適用可能なフレキシブルデバイスとしては、例えば、フレキシブルディスプレイ用TFTデバイス、フレキシブル太陽電池、フレキシブルタッチパネル、フレキシブル照明、フレキシブルバッテリー、フレキシブルプリント基板、フレキシブルカラーフィルター、スマートフォン向け表面カバーレンズ等を挙げることができる。
<< Applications of polyimide film >>
The polyimide film obtained from the resin composition of the present embodiment can be used as, for example, a semiconductor insulating film, a thin film transistor liquid crystal display (TFT-LCD) insulating film, an electrode protective film, a liquid crystal display, an organic electroluminescence display, a field emission display, or the like. It can be applied as a transparent substrate of a display device such as electronic paper. In particular, the polyimide film obtained from the resin composition of the present embodiment is suitable as a substrate for a thin film transistor (TFT) substrate, a color filter substrate, a touch panel substrate, and a transparent conductive film (ITO, Indium Thin Oxide) in the manufacture of a flexible device. Can be used. Examples of the flexible device to which the polyimide film in this embodiment can be applied include a TFT device for a flexible display, a flexible solar cell, a flexible touch panel, a flexible lighting, a flexible battery, a flexible printed substrate, a flexible color filter, a surface cover lens for a smartphone, and the like. Can be mentioned.

ポリイミドフィルムを使ったフレキシブル基板上にTFTを形成する工程は、典型的には、150℃~650℃の広い範囲の温度で実施される。具体的にはアモルファスシリコンを使用したTFTデバイスを作製する場合には、一般的に250℃~350℃のプロセス温度が必要となり、本実施形態のポリイミドフィルムはその温度に耐えうる必要があるため、具体的にはプロセス温度以上のガラス転移温度、熱分解開始温度を有するポリマー構造を適宜選択する必要がある。 The step of forming a TFT on a flexible substrate using a polyimide film is typically carried out at a temperature in a wide range of 150 ° C to 650 ° C. Specifically, when manufacturing a TFT device using amorphous silicon, a process temperature of 250 ° C to 350 ° C is generally required, and the polyimide film of the present embodiment needs to be able to withstand that temperature. Specifically, it is necessary to appropriately select a polymer structure having a glass transition temperature equal to or higher than the process temperature and a thermal decomposition start temperature.

金属酸化物半導体(IGZO等)を使用したTFTデバイスを作製する場合には、一般的に320℃~400℃のプロセス温度が必要となり、本実施形態のポリイミドフィルムはその温度に耐えうる必要があるため、TFT作製プロセス最高温度以上のガラス転移温度、熱分解開始温度を有するポリマー構造を適宜選択する必要がある。 When manufacturing a TFT device using a metal oxide semiconductor (IGZO or the like), a process temperature of 320 ° C. to 400 ° C. is generally required, and the polyimide film of the present embodiment must be able to withstand that temperature. Therefore, it is necessary to appropriately select a polymer structure having a glass transition temperature equal to or higher than the maximum temperature of the TFT manufacturing process and a thermal decomposition start temperature.

低温ポリシリコン(LTPS)を使用したTFTデバイスを作製する場合には、一般的に380℃~520℃のプロセス温度が必要となり、本実施形態のポリイミドフィルムはその温度に耐えうる必要があるため、TFT作製プロセス最高温度以上のガラス転移温度、熱分解開始温度を適宜選択有する必要がある。他方で、これら熱履歴により、ポリイミドフィルムの光学特性(特に、光線透過率、レタデーション特性及びYI値)は高温プロセスにさらされるほどに低下する傾向にある。しかし、本実施形態のポリイミド前駆体から得られるポリイミドは、熱履歴を経ても良好な光学特性を有する。 When manufacturing a TFT device using low temperature polysilicon (LTPS), a process temperature of 380 ° C to 520 ° C is generally required, and the polyimide film of the present embodiment needs to be able to withstand that temperature. It is necessary to appropriately select the glass transition temperature and the thermal decomposition start temperature above the maximum temperature of the TFT fabrication process. On the other hand, due to these thermal histories, the optical properties of the polyimide film (particularly the light transmittance, retardation properties and YI value) tend to decrease as they are exposed to high temperature processes. However, the polyimide obtained from the polyimide precursor of the present embodiment has good optical properties even after undergoing thermal history.

以下に、本実施形態のポリイミドフィルムの用途例として、ディスプレイ及び積層体の製造方法について説明する。 Hereinafter, a method for manufacturing a display and a laminate will be described as an example of application of the polyimide film of the present embodiment.

〈ディスプレイの製造方法〉
本実施形態のディスプレイの製造方法は、支持体の表面上に、本実施形態の樹脂組成物を塗布する塗布工程と;上記樹脂組成物を加熱してポリイミド樹脂膜を形成する膜形成工程と;上記ポリイミド樹脂膜上に素子を形成する素子形成工程と;上記素子が形成された上記ポリイミド樹脂膜を上記支持体から剥離する剥離工程とを含む。
<Manufacturing method of display>
The method for manufacturing the display of the present embodiment includes a coating step of applying the resin composition of the present embodiment on the surface of the support; and a film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film. It includes an element forming step of forming an element on the polyimide resin film; and a peeling step of peeling the polyimide resin film on which the element is formed from the support.

フレキシブル有機ELディスプレイの製造例
図1は、本実施形態のディスプレイの例として、トップエミッション型フレキシブル有機ELディスプレイのポリイミド基板より上部の構造を示す模式図である。図1の有機EL構造部25について説明する。例えば、赤色光を発光する有機EL素子250aと、緑色光を発光する有機EL素子250bと、青色光を発光する有機EL素子250cと1単位として、マトリクス状に配列されており、隔壁(バンク)251により、各有機EL素子の発光領域が画定されている。各有機EL素子は、下部電極(陽極)252、正孔輸送層253、発光層254、上部電極(陰極)255から構成されている。窒化ケイ素(SiN)や酸化ケイ素(SiO)からなるCVD複層膜(マルチバリヤーレイヤー)を示す下部層2a上には、有機EL素子を駆動するためのTFT256(低温ポリシリコン(LTPS)や金属酸化物半導体(IGZO等)から選択される)、コンタクトホール257を備えた層間絶縁膜258、及び下部電極259が複数設けられている。有機EL素子は封止基板2bで封入されており、各有機EL素子と封止基板2bとの間に中空部261が形成されている。
Manufacturing Example of Flexible Organic EL Display FIG. 1 is a schematic view showing a structure above a polyimide substrate of a top emission type flexible organic EL display as an example of the display of the present embodiment. The organic EL structure portion 25 of FIG. 1 will be described. For example, an organic EL element 250a that emits red light, an organic EL element 250b that emits green light, and an organic EL element 250c that emits blue light are arranged in a matrix as one unit, and are arranged in a matrix. The light emitting region of each organic EL element is defined by 251. Each organic EL element is composed of a lower electrode (anode) 252, a hole transport layer 253, a light emitting layer 254, and an upper electrode (cathode) 255. On the lower layer 2a showing the CVD multilayer film (multi-barrier layer) made of silicon nitride (SiN) or silicon oxide (SiO), TFT 256 (low temperature polysilicon (LTPS)) for driving an organic EL element and metal oxidation (Selected from physical semiconductors (IGZO, etc.)), an interlayer insulating film 258 provided with contact holes 257, and a plurality of lower electrodes 259 are provided. The organic EL element is enclosed by a sealing substrate 2b, and a hollow portion 261 is formed between each organic EL element and the sealing substrate 2b.

フレキシブル有機ELディスプレイの製造工程は、ガラス基板支持体上にポリイミドフィルムを作製し、その上部に図1に示される有機EL基板を製造する工程と、封止基板を製造する工程と、両基板を貼り合わせる組み立て工程と、ガラス基板支持体からポリイミドフィルム上に作製された有機ELディスプレイを剥離する剥離工程とを含む。有機EL基板製造工程、封止基板製造工程、及び組み立て工程は、周知の製造工程を適用することができる。以下ではその一例を挙げるが、これに限定されるものではない。剥離工程は、上述したポリイミドフィルムの剥離工程と同一である。 The manufacturing process of the flexible organic EL display consists of a step of manufacturing a polyimide film on a glass substrate support and a step of manufacturing an organic EL substrate shown in FIG. 1 and a step of manufacturing a sealed substrate on the polyimide film. The assembly step of bonding and the peeling step of peeling the organic EL display produced on the polyimide film from the glass substrate support are included. A well-known manufacturing process can be applied to the organic EL substrate manufacturing process, the sealed substrate manufacturing process, and the assembling process. The following is an example, but the present invention is not limited to this. The peeling step is the same as the peeling step of the polyimide film described above.

例えば、図1を参照すれば、まず、上記の方法によりガラス基板支持体上にポリイミドフィルムを作製し、その上部にCVD法やスパッタ法により窒化ケイ素(SiN)と酸化ケイ素(SiO)の複層構造からなるマルチバリアレイヤー(図1中の下部基板2a)を作製し、その上部にTFTを駆動するためのメタル配線層を、フォトレジスト等を使用して作製する。その上部にCVD法を用いてSiO等のアクティブバッファー層を作製し、その上部に金属酸化物半導体(IGZO)や低温ポリシリコン(LTPS)などのTFTデバイス(図1中のTFT256)を作製する。フレキシブルディスプレイ用TFT基板を作製後、感光性アクリル樹脂等でコンタクトホール257を備えた層間絶縁膜258を形成する。スパッタ法等にてITO膜を成膜し、TFTと対をなすように下部電極259を形成する。 For example, referring to FIG. 1, first, a polyimide film is formed on a glass substrate support by the above method, and a multilayer layer of silicon nitride (SiN) and silicon oxide (SiO) is formed on the polyimide film by a CVD method or a sputtering method. A multi-barrier layer having a structure (lower substrate 2a in FIG. 1) is manufactured, and a metal wiring layer for driving a TFT is manufactured on the upper portion by using a photoresist or the like. An active buffer layer such as SiO is formed on the upper portion by a CVD method, and a TFT device (TFT256 in FIG. 1) such as a metal oxide semiconductor (IGZO) or low-temperature polysilicon (LTPS) is formed on the upper portion. After manufacturing the TFT substrate for a flexible display, an interlayer insulating film 258 having a contact hole 257 is formed with a photosensitive acrylic resin or the like. An ITO film is formed by a sputtering method or the like, and a lower electrode 259 is formed so as to form a pair with the TFT.

次に、感光性ポリイミド等で隔壁(バンク)251を形成した後、隔壁で区画された各空間内に、正孔輸送層253、発光層254を形成する。発光層254及び隔壁(バンク)251を覆うように上部電極(陰極)255を形成する。その後、ファインメタルマスク等をマスクにして、赤色光を発光する有機EL材料(図1中の、赤色光を発光する有機EL素子250aに対応)、緑色光を発光する有機EL材料(図1中の、緑色光を発光する有機EL素子250bに対応)及び青色光を発光する有機EL材料(図1中の、青色光を発光する有機EL素子250cに対応)を公知の方法にて蒸着することで、有機EL基板を作製する。有機EL基板を封止フィルム等(図1中の封止基板2b)で封止し、ガラス基板支持体からポリイミド基板より上部のデバイスをレーザー剥離等の公知の剥離方法で剥離することで、トップエミッション形フレキシブル有機ELディスプレイを作製することができる。本実施形態のポリイミドを使用する場合は、シースルー型のフレキシブル有機ELディスプレイを作製することができる。公知の方法でボトムエミッション形のフレキシブル有機ELディスプレイを作製してもよい。 Next, after forming the partition wall (bank) 251 with photosensitive polyimide or the like, the hole transport layer 253 and the light emitting layer 254 are formed in each space partitioned by the partition wall. The upper electrode (cathode) 255 is formed so as to cover the light emitting layer 254 and the partition wall (bank) 251. After that, using a fine metal mask or the like as a mask, an organic EL material that emits red light (corresponding to the organic EL element 250a that emits red light in FIG. 1) and an organic EL material that emits green light (in FIG. 1). (Corresponding to the organic EL element 250b that emits green light) and the organic EL material that emits blue light (corresponding to the organic EL element 250c that emits blue light in FIG. 1) are vapor-deposited by a known method. Then, an organic EL substrate is manufactured. The organic EL substrate is sealed with a sealing film or the like (sealed substrate 2b in FIG. 1), and the device above the polyimide substrate is peeled from the glass substrate support by a known peeling method such as laser peeling to obtain a top. Emission type flexible organic EL display can be manufactured. When the polyimide of the present embodiment is used, a see-through type flexible organic EL display can be manufactured. A bottom emission type flexible organic EL display may be manufactured by a known method.

フレキシブル液晶ディスプレイの製造例
本実施形態のポリイミドフィルムを使用してフレキシブル液晶ディスプレイを作製することができる。具体的な作製方法としては、上記の方法でガラス基板支持体上にポリイミドフィルムを作製し、上記の方法を用いて、例えばアモルファスシリコン、金属酸化物半導体(IGZO等)、及び低温ポリシリコンからなるTFT基板を作製する。別途、本実施形態の塗布工程及び膜形成工程に従って、ガラス基板支持体上にポリイミドフィルムを作製し、公知の方法に従ってカラーレジスト等を使用して、ポリイミドフィルムを備えたカラーフィルターガラス基板(CF基板)を作製する。TFT基板およびCF基板の一方に、スクリーン印刷により、熱硬化性エポキシ樹脂などからなるシール材料を液晶注入口の部分を欠いた枠状パターンに塗布し、他方の基板に液晶層の厚さに相当する直径を持ち、プラスチックまたはシリカからなる球状のスペーサーを散布する。
Manufacturing Example of Flexible Liquid Crystal Display A flexible liquid crystal display can be manufactured using the polyimide film of the present embodiment. As a specific production method, a polyimide film is produced on a glass substrate support by the above method, and the above method is used, for example, composed of amorphous silicon, a metal oxide semiconductor (IGZO, etc.), and low-temperature polysilicon. A TFT substrate is manufactured. Separately, a polyimide film is produced on a glass substrate support according to the coating step and the film forming step of the present embodiment, and a color resist or the like is used according to a known method to provide a color filter glass substrate (CF substrate) with the polyimide film. ) Is prepared. A sealing material made of thermosetting epoxy resin or the like is applied to one of the TFT substrate and the CF substrate by screen printing to a frame-shaped pattern lacking the liquid crystal injection port portion, and the other substrate corresponds to the thickness of the liquid crystal layer. A spherical spacer made of plastic or silica is sprayed.

次いで、TFT基板とCF基板とを貼り合わせ、シール材料を硬化させる。そして、TFT基板及びCF基板並びにシール材料で囲まれる空間に、減圧法により液晶材料を注入し、液晶注入口に熱硬化樹脂を塗布し、加熱によって液晶材料を封止することで液晶層を形成する。最後に、CF側のガラス基板とTFT側のガラス基板とをレーザー剥離法などでポリイミドフィルムとガラス基板の界面で剥離することで、フレキシブル液晶ディスプレイを作製することができる。 Next, the TFT substrate and the CF substrate are bonded together to cure the sealing material. Then, the liquid crystal material is injected into the space surrounded by the TFT substrate, the CF substrate, and the sealing material by the decompression method, the heat-curable resin is applied to the liquid crystal injection port, and the liquid crystal material is sealed by heating to form a liquid crystal layer. do. Finally, a flexible liquid crystal display can be manufactured by peeling the glass substrate on the CF side and the glass substrate on the TFT side at the interface between the polyimide film and the glass substrate by a laser peeling method or the like.

〈積層体の製造方法〉
本実施形態の積層体の製造方法は、支持体の表面上に、本実施形態の樹脂組成物を塗布する塗布工程と;上記樹脂組成物を加熱してポリイミド樹脂膜を形成する膜形成工程と;上記ポリイミド樹脂膜上に素子を形成する素子形成工程とを含む。
<Manufacturing method of laminated body>
The method for producing the laminate of the present embodiment includes a coating step of applying the resin composition of the present embodiment on the surface of the support; and a film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film. Includes an element forming step of forming an element on the polyimide resin film.

積層体における素子としては、上記のフレキシブルディスプレイ等のフレキシブルデバイスの製造について例示したものが挙げられる。支持体としては、例えばガラス基板を用いることができる。塗布工程及び膜形成工程の好ましい具体的手順は、上記のポリイミドフィルムの製造方法に関して記載したものと同様である。素子形成工程においては、支持体上に形成された、フレキシブル基板としてのポリイミド樹脂膜の上に、上記の素子を形成する。その後、任意に剥離工程においてポリイミド樹脂膜及び素子を支持体から剥離してもよい。 Examples of the element in the laminated body include those exemplifying the manufacture of a flexible device such as the above-mentioned flexible display. As the support, for example, a glass substrate can be used. The preferred specific procedure of the coating step and the film forming step is the same as that described with respect to the above-mentioned method for producing a polyimide film. In the element forming step, the above-mentioned element is formed on a polyimide resin film as a flexible substrate formed on a support. Then, optionally, the polyimide resin film and the element may be peeled from the support in the peeling step.

以下、実施例及び比較例により本発明の実施形態を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例及び比較例に限定されるものではない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to these Examples and Comparative Examples.

《測定及び評価方法》
〈重量平均分子量〉
重量平均分子量(Mw)及び数平均分子量(Mn)は、ゲルパーミエ-ションクロマトグラフィー(GPC)にて、下記の条件により測定した。
溶媒として、NMP(和光純薬工業社製、高速液体クロマトグラフ用、測定直前に24.8mmol/Lの臭化リチウム一水和物(和光純薬工業社製、純度99.5%)及び63.2mmol/Lのリン酸(和光純薬工業社製、高速液体クロマトグラフ用)を加えて溶解したもの)を使用した。重量平均分子量を算出するための検量線は、スタンダ-ドポリスチレン(東ソ-社製)を用いて作製した。
カラム:Shodex KD-806M(昭和電工社製)
流速:1.0mL/分
カラム温度:40℃
ポンプ:PU-2080Plus(JASCO社製)
検出器:RI-2031Plus(RI:示差屈折計、JASCO社製)及びUV-2075Plus(UV-VIS:紫外可視吸光計、JASCO社製)
<< Measurement and evaluation method >>
<Weight average molecular weight>
The weight average molecular weight (Mw) and the number average molecular weight (Mn) were measured by gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions.
As solvents, NMP (Wako Pure Chemical Industries, Ltd., for high-speed liquid chromatograph, 24.8 mmol / L lithium bromide monohydrate (Wako Pure Chemical Industries, Ltd., purity 99.5%) immediately before measurement) and 63. .2 mmol / L phosphoric acid (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., for high-speed liquid chromatograph) was added and dissolved) was used. The calibration curve for calculating the weight average molecular weight was prepared using standard polystyrene (manufactured by Toso Co., Ltd.).
Column: Shodex KD-806M (manufactured by Showa Denko KK)
Flow velocity: 1.0 mL / min Column temperature: 40 ° C
Pump: PU-2080Plus (manufactured by JASCO)
Detector: RI-2031Plus (RI: differential refractometer, manufactured by JASCO) and UV-2075Plus (UV-VIS: ultraviolet-visible spectrophotometer, manufactured by JASCO)

<組成物(ワニス)の粘度安定性の評価>
実施例、及び比較例において調製した樹脂組成物を23℃、50%RHの雰囲気下で24時間放置し、樹脂組成物の初期(0日)の粘度を、温調機付粘度計(東機産業械社製VISCOMATER TVE-35H)を用いて測定した。そして、樹脂組成物を23℃、50%RHの雰囲気下で7日間放置し、初期と同様にして、7日後の粘度を測定した。続いて、下記式で表される粘度安定性を算出した。
粘度安定性(%/day)=|(初期の粘度(mPa・s))―(7日後の粘度(mPa・s))|/(初期粘度(mPa・s))*100/7(day)
粘度安定性は下記基準で評価を行った。
A:粘度安定性1%/day以下 「優良」
B:粘度安定性1%/day超3%/day以下 「良」
C:粘度安定性3%/day超5%/day以下 「可」
D:粘度安定性5%/day超 「可」
<Evaluation of viscosity stability of composition (varnish)>
The resin compositions prepared in Examples and Comparative Examples were left to stand in an atmosphere of 23 ° C. and 50% RH for 24 hours, and the initial (0 day) viscosity of the resin composition was measured by a viscometer with a temperature controller (Toki). It was measured using VISCOMATER TVE-35H) manufactured by Sangyo Kikai. Then, the resin composition was left to stand in an atmosphere of 23 ° C. and 50% RH for 7 days, and the viscosity after 7 days was measured in the same manner as in the initial stage. Subsequently, the viscosity stability represented by the following formula was calculated.
Viscosity stability (% / day) = | (Initial viscosity (mPa · s))-(Viscosity after 7 days (mPa · s)) | / (Initial viscosity (mPa · s)) * 100/7 (day)
Viscosity stability was evaluated according to the following criteria.
A: Viscosity stability 1% / day or less "excellent"
B: Viscosity stability 1% / day over 3% / day or less "Good"
C: Viscosity stability 3% / day over 5% / day or less "OK"
D: Viscosity stability 5% / day over "OK"

<組成物(ワニス)のろ過性の評価>
実施例、及び比較例において調製した樹脂組成物を23℃、50%RHの雰囲気下で、目付0.2μmのポリエチレン製のメンブレンフィルターを用いて、0.25MPaの圧力で加圧ろ過を行った。この時のろ過された樹脂組成物の質量を測定し、ろ過速度を計算した。ろ過性は下記基準で評価を行った。
A:ろ過速度2000g/hr以上 「優」
B:ろ過速度2000g/hr未満1500g/hr以上 「良」
C:ろ過速度1500g/hr未満1000g/hr以上 「可」
D:ろ過速度1000g/hr未満 「不可」
<Evaluation of the filterability of the composition (varnish)>
The resin compositions prepared in Examples and Comparative Examples were pressure-filtered under an atmosphere of 23 ° C. and 50% RH at a pressure of 0.25 MPa using a polyethylene membrane filter having a basis weight of 0.2 μm. .. The mass of the filtered resin composition at this time was measured, and the filtration rate was calculated. The filterability was evaluated according to the following criteria.
A: Filtration speed 2000g / hr or more "excellent"
B: Filtration rate less than 2000 g / hr 1500 g / hr or more "Good"
C: Filtration rate less than 1500 g / hr 1000 g / hr or more "OK"
D: Filtration rate less than 1000 g / hr "impossible"

<ポリイミド樹脂膜の引張伸度の評価>
支持体として、表面にアルミニウム蒸着層を設けた6インチシリコンウェハー基板を用い、そのアルミニウム蒸着層の面上に、実施例及び比較例において調製した樹脂組成物を、ポリイミド樹脂膜の膜厚が10μmになるようにスピンコートして、塗膜を形成した。この塗膜を、100℃、6分間プリベークした後、庫内の酸素濃度が10質量ppm以下に調整された縦型キュア炉(光洋サーモシステム(株)製、型式名「VF-2000B」)を用いて、400℃にて1時間加熱し、ウェハー上にポリイミドフィルムを形成した。続いて、ダイシングソー((株)ディスコ製、品名「DAD 3350」)を用いて、得られたポリイミドフィルムに3mm幅の切れ目を入れた後、ポリイミドフィルム付きウェハーを、希塩酸水溶液に一晩浸して、ポリイミドフィルム片を剥離して、乾燥させて、幅3mmのポリイミド片を得た。これを長さ50mmにカットして、幅3mm、長さ50mmのポリイミド測定試料を得た。TENSILON((株)オリエンテック社製、型式名「UTM-II-20」)を用いて、試験速度40mm/分、初期加重0.5fsにて、ポリイミド樹脂膜の引張伸度を測定した。引張伸度は下記基準で評価を行った。
A:引張伸度が50%超 「優良」
B:引張伸度が40%超50%以下 「良」
C:引張伸度が30%超40%以下 「可」
D:引張伸度が30%未満 「不可」
<Evaluation of tensile elongation of polyimide resin film>
As a support, a 6-inch silicon wafer substrate having an aluminum-deposited layer on its surface is used, and the resin compositions prepared in Examples and Comparative Examples are placed on the surface of the aluminum-deposited layer, and the thickness of the polyimide resin film is 10 μm. A coating film was formed by spin coating so as to be. After prebaking this coating film at 100 ° C. for 6 minutes, a vertical curing furnace (manufactured by Koyo Thermo System Co., Ltd., model name "VF-2000B") in which the oxygen concentration in the refrigerator was adjusted to 10 mass ppm or less was used. It was heated at 400 ° C. for 1 hour to form a polyimide film on the wafer. Subsequently, using a dicing saw (manufactured by Disco Co., Ltd., product name "DAD 3350"), a 3 mm wide cut was made in the obtained polyimide film, and then the wafer with the polyimide film was immersed in a dilute aqueous hydrochloric acid solution overnight. , The polyimide film piece was peeled off and dried to obtain a polyimide piece having a width of 3 mm. This was cut into a length of 50 mm to obtain a polyimide measurement sample having a width of 3 mm and a length of 50 mm. Using TENSILON (manufactured by Orientec Co., Ltd., model name "UTM-II-20"), the tensile elongation of the polyimide resin film was measured at a test speed of 40 mm / min and an initial load of 0.5 fs. The tensile elongation was evaluated according to the following criteria.
A: Tensile elongation exceeds 50% "excellent"
B: Tensile elongation is more than 40% and 50% or less "Good"
C: Tensile elongation is more than 30% and 40% or less "OK"
D: Tensile elongation is less than 30% "impossible"

<ポリイミド樹脂膜の残留応力の評価>
予め「反り量」を測定しておいた、厚み625μm±25μmの6インチシリコンウェハー上に、実施例及び比較例において調製した樹脂組成物をスピンコーターにより塗布し、100℃において7分間プリベークした。その後、縦型キュア炉(光洋リンドバーグ社製、型式名VF-2000B)を用いて、庫内の酸素濃度が10質量ppm以下になるように調整して、400℃において1時間の加熱硬化処理(キュア処理)を施し、硬化後膜厚10μmのポリイミド樹脂膜のついたシリコンウェハーを作製した。
このウェハーの反り量を、残留応力測定装置(テンコール社製、型式名FLX-2320)を用いて測定し、“窒素雰囲気下において”シリコンウェハーと樹脂膜との間に生じた残留応力を評価した。
A:残留応力が30MPa未満 「良」
B:残留応力が30MPa以上40MPa未満 「可」
C:引張伸度が40MPa以上 「不可」
<Evaluation of residual stress of polyimide resin film>
The resin compositions prepared in Examples and Comparative Examples were applied on a 6-inch silicon wafer having a thickness of 625 μm ± 25 μm for which the “warp amount” had been measured in advance by a spin coater, and prebaked at 100 ° C. for 7 minutes. After that, using a vertical curing furnace (manufactured by Koyo Lindbergh Co., Ltd., model name VF-2000B), the oxygen concentration in the refrigerator was adjusted to 10% by mass or less, and heat curing treatment was performed at 400 ° C. for 1 hour. After curing, a silicon wafer with a polyimide resin film having a thickness of 10 μm was produced.
The amount of warpage of this wafer was measured using a residual stress measuring device (model name FLX-2320 manufactured by Tencor), and the residual stress generated between the silicon wafer and the resin film was evaluated "under a nitrogen atmosphere". ..
A: Residual stress is less than 30 MPa "Good"
B: Residual stress is 30 MPa or more and less than 40 MPa "Yes"
C: Tensile elongation is 40 MPa or more "impossible"

《参考例1》
撹拌棒付き3Lセパラブルフラスコに、窒素ガスを導入しながら、表1及び2に記載するように、溶媒としてNMP(128g)、ジアミンとしてDABA(13.6g)、及びケイ素含有化合物(2)(7.3g)を撹拌しながら加え、続いて酸二無水物としてPMDA(21.8g)を加えた。酸二無水物:ジアミンのモル比は、100:98であった。混合物を室温で48時間撹拌し、透明なポリイミド前駆体(ケイ素含有化合物以外の官能基:アミド基、ケイ素含有化合物の官能基:アミド基)のNMP溶液(以下、ワニスともいう)を得た。得られたワニスを冷凍庫(設定-20℃、以下同様)で保管し、評価をする際は解凍して使用した。
<< Reference example 1 >>
As shown in Tables 1 and 2, NMP (128 g) as a solvent, DABA (13.6 g) as a diamine, and a silicon-containing compound (2) (2) while introducing nitrogen gas into a 3 L separable flask with a stirring rod. 7.3 g) was added with stirring, followed by PMDA (21.8 g) as acid dianhydride. The molar ratio of acid dianhydride: diamine was 100:98. The mixture was stirred at room temperature for 48 hours to obtain an NMP solution (hereinafter, also referred to as varnish) of a transparent polyimide precursor (functional group other than silicon-containing compound: amide group, functional group of silicon-containing compound: amide group). The obtained varnish was stored in a freezer (setting -20 ° C, the same applies hereinafter), and was thawed and used for evaluation.

《参考例2,実施例3,4》
参考例1において、溶媒、酸二無水物、ジアミン、ケイ素含有化合物の種類及び量を表1及び2に記載したものに変更したことを除いて、参考例1と同様に行った。
<< Reference Example 2, Examples 3, 4 >>
In Reference Example 1, the same procedure as in Reference Example 1 was carried out, except that the types and amounts of the solvent, acid dianhydride, diamine, and silicon-containing compound were changed to those shown in Tables 1 and 2.

《参考例5》
ディーン・スターク管及び還流管を上部に備えた撹拌棒付きセパラブルフラスコに、窒素ガスを導入しながら、表1及び2に記載する様に、溶媒としてNMP(152g)、トルエン(15g)、ジアミンとしてDABA(11.9g)、及びケイ素含有化合物(2)(16.9g)を撹拌しながら加え、続いて酸二無水物としてPMDA(21.8g)を室温で加えた。酸二無水物:ジアミンのモル比は、100:98であった。その後、内温160℃まで昇温し、160℃で1時間加熱還流を行い、イミド化を行った。イミド化完了後、180℃まで昇温し、トルエンを抜き出しながら反応を続けた。12時間反応後、オイルバスを外して室温に戻し、ポリイミド樹脂(ケイ素含有化合物以外の官能基:イミド基、ケイ素含有化合物の官能基:イミド基)のNMP溶液を得た。得られたワニスを冷凍庫(設定-20℃、以下同様)で保管し、評価をする際は解凍して使用した。
<< Reference example 5 >>
As shown in Tables 1 and 2, NMP (152 g), toluene (15 g), and diamine were used as solvents while introducing nitrogen gas into a separable flask with a stirring rod equipped with a Dean-Stark tube and a reflux tube at the top. DABA (11.9 g) and the silicon-containing compound (2) (16.9 g) were added with stirring, and then PMDA (21.8 g) as an acid dianhydride was added at room temperature. The molar ratio of acid dianhydride: diamine was 100:98. Then, the temperature was raised to an internal temperature of 160 ° C., and the mixture was heated under reflux at 160 ° C. for 1 hour to perform imidization. After the imidization was completed, the temperature was raised to 180 ° C., and the reaction was continued while extracting toluene. After the reaction for 12 hours, the oil bath was removed and the temperature was returned to room temperature to obtain an NMP solution of a polyimide resin (functional group other than silicon-containing compound: imide group, functional group of silicon-containing compound: imide group). The obtained varnish was stored in a freezer (setting -20 ° C, the same applies hereinafter), and was thawed and used for evaluation.

《参考例6,実施例7,8》
参考例5において、溶媒、酸二無水物、ジアミン、ケイ素含有化合物の種類及び量を表1及び2に記載したものに変更したことを除いて、参考例5と同様に行った。
<< Reference Example 6, Examples 7, 8 >>
In Reference Example 5, the same procedure as in Reference Example 5 was carried out, except that the types and amounts of the solvent, acid dianhydride, diamine, and silicon-containing compound were changed to those shown in Tables 1 and 2.

《参考例9》
ディーン・スターク管及び還流管を上部に備えた撹拌棒付きセパラブルフラスコに、窒素ガスを導入しながら、表1及び2に記載する様に、溶媒としてNMP(131g)、トルエン(13g)、ジアミンとしてDABA(14.5g)を撹拌しながら加え、続いて酸二無水物としてPMDA(21.8g)を室温で加えた。その後、内温160℃まで昇温し、160℃で1時間加熱還流を行い、イミド化を行った。イミド化完了後、180℃まで昇温し、トルエンを抜き出しながら反応を続けた。12時間反応後、オイルバスを外して室温に戻した。次に、ケイ素含有化合物(1)(7.4g)を撹拌しながら加えた。酸二無水物:ジアミンのモル比は、100:98であった。そして、混合物を室温で48時間撹拌し、一部がイミド化されたポリイミド前駆体(ケイ素含有化合物以外の官能基:アミド基又はイミド基、ケイ素含有化合物の官能基:アミド基)のNMP溶液(以下、ワニスともいう)を得た。
<< Reference example 9 >>
As shown in Tables 1 and 2, NMP (131 g), toluene (13 g), and diamine were used as solvents while introducing nitrogen gas into a separable flask with a stirring rod equipped with a Dean-Stark tube and a reflux tube at the top. DABA (14.5 g) was added with stirring, and then PMDA (21.8 g) as an acid dianhydride was added at room temperature. Then, the temperature was raised to an internal temperature of 160 ° C., and the mixture was heated under reflux at 160 ° C. for 1 hour to perform imidization. After the imidization was completed, the temperature was raised to 180 ° C., and the reaction was continued while extracting toluene. After the reaction for 12 hours, the oil bath was removed and the temperature was returned to room temperature. Next, the silicon-containing compound (1) (7.4 g) was added with stirring. The molar ratio of acid dianhydride: diamine was 100:98. Then, the mixture was stirred at room temperature for 48 hours, and an NMP solution of a partially imidized polyimide precursor (functional group other than silicon-containing compound: amide group or imide group, functional group of silicon-containing compound: amide group) ( Hereinafter, it is also referred to as varnish).

《参考例10,実施例11,12》
参考例9において、溶媒、酸二無水物、ジアミン、ケイ素含有化合物の種類及び量を表1及び2に記載したものに変更したことを除いて、参考例9と同様に行った。
<< Reference Example 10, Examples 11 and 12 >>
In Reference Example 9, the same procedure as in Reference Example 9 was carried out, except that the types and amounts of the solvent, acid dianhydride, diamine, and silicon-containing compound were changed to those shown in Tables 1 and 2.

《比較例1》
攪拌機、温度計、還流冷却器、ガス導入管を備えた反応容器に、溶媒としてトリエチレングリコールジメチルエーテル77.5部、カルボン酸二無水物としてPMDA3.8部を仕込み、窒素雰囲気下、80℃に昇温した。次いで、ケイ素含有化合物(3)45.4部、DABA0.8部、溶剤としてトリエチレングリコールジメチルエーテル122.5部を予め混合した溶液を1時間かけて滴下し、続けて1時間撹拌を実施した。
反応容器の還流冷却器へディーン・スターク管を取り付け、トルエン20部、トリエチルアミン5部を加え、180℃に昇温することにより脱水が確認された。理論収量と同量の水が出たことを確認し、50℃まで放冷した。別の反応容器にメタノール1000部を入れ撹拌しながら、反応液を滴下することにより、固体の析出を確認した。固体をろ別し、適当量のメタノールで振りかけ洗浄を行った後、80℃下真空オーブンで乾燥を実施することにより、ポリイミド組成物を得た。
<< Comparative Example 1 >>
A reaction vessel equipped with a stirrer, a thermometer, a reflux condenser, and a gas introduction tube was charged with 77.5 parts of triethylene glycol dimethyl ether as a solvent and 3.8 parts of PMDA as a carboxylic acid dianhydride, and heated to 80 ° C. under a nitrogen atmosphere. The temperature was raised. Then, a solution prepared by mixing 45.4 parts of the silicon-containing compound (3), 0.8 parts of DABA, and 122.5 parts of triethylene glycol dimethyl ether as a solvent was added dropwise over 1 hour, followed by stirring for 1 hour.
Dean-Stark tube was attached to the reflux condenser of the reaction vessel, 20 parts of toluene and 5 parts of triethylamine were added, and the temperature was raised to 180 ° C. to confirm dehydration. After confirming that the same amount of water as the theoretical yield was produced, the mixture was allowed to cool to 50 ° C. Precipitation of the solid was confirmed by adding 1000 parts of methanol to another reaction vessel and dropping the reaction solution while stirring. The solid was separated by filtration, sprinkled with an appropriate amount of methanol for washing, and then dried in a vacuum oven at 80 ° C. to obtain a polyimide composition.

《比較例2》
比較例1において、溶媒、酸二無水物、ジアミン、ケイ素含有化合物の種類及び量を表1及び2に記載したものに変更したことを除いて、比較例1と同様に行った。
<< Comparative Example 2 >>
In Comparative Example 1, the same procedure as in Comparative Example 1 was carried out, except that the types and amounts of the solvent, acid dianhydride, diamine, and silicon-containing compound were changed to those shown in Tables 1 and 2.

《比較例3》
室温で、反応器に840gのN,N-ジメチルアセトアミドを加え、均一に分散するまで迅速に撹拌して反応系を形成した。5℃窒素ガス雰囲気下で、系に28.8gのTFMB及び1.5gのDABAを加え、溶解した後に40.0gの6FDA、2.2gのPMDAを加え、24hr.に亘って反応させた後にポリアミド酸溶液を製造した。
<< Comparative Example 3 >>
At room temperature, 840 g of N, N-dimethylacetamide was added to the reactor and stirred rapidly until uniformly dispersed to form a reaction system. Under a 5 ° C. nitrogen gas atmosphere, 28.8 g of TFMB and 1.5 g of DABA were added to the system, and after dissolution, 40.0 g of 6FDA and 2.2 g of PMDA were added, and 24 hr. After the reaction was carried out, a polyamic acid solution was produced.

《比較例4》
1Lの三口フラスコを氷-メタノール冷媒により、-15℃まで冷却しておき、ここにN-メチルピロリドン123ml、PMDA10.9g及び6FDA22.2gを加えて窒素気流下で攪拌しているところに、2,3,5,6-テトラメチルフェニレンジアミン(4MPDともいう)28.8g及びDABA1.5gのN-メチルピロリドン溶液84.0mlを30分掛けて滴下した。滴下終了後、反応液を40℃で2.5時間攪拌した後、ピリジン(和光純薬株式会社製)2.94g(0.037mol)、及び無水酢酸(和光純薬株式会社製)31.58g(0.31mol)をそれぞれ加えて、さらに80℃で3時間攪拌し、ポリイミド溶液を製造した。
<< Comparative Example 4 >>
A 1 L three-necked flask was cooled to -15 ° C with an ice-methanol refrigerant, 123 ml of N-methylpyrrolidone, 10.9 g of PMDA and 22.2 g of 6FDA were added thereto, and the mixture was stirred under a nitrogen stream. , 3,5,6-Tetramethylphenylenediamine (also referred to as 4MPD) 28.8 g and DABA 1.5 g of N-methylpyrrolidone solution 84.0 ml were added dropwise over 30 minutes. After completion of the dropping, the reaction solution was stirred at 40 ° C. for 2.5 hours, and then 2.94 g (0.037 mol) of pyridine (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) and 31.58 g of acetic anhydride (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.). (0.31 mol) was added, and the mixture was further stirred at 80 ° C. for 3 hours to prepare a polyimide solution.

《比較例5》
PMDA5.0ミリモルと、6FDA50.0ミリモルと、BPDA44.0ミリモルと、DABA10.0ミリモルと、TSN90.0ミリモルとを、NMP323gと共に、攪拌機と窒素ガス導入管とが付設されたセパラブルフラスコに入れて、窒素ガスを流通させて、反応液を攪拌しながら、180℃で16時間、両モノマーを重合させて、ポリイミド溶液を製造した。
<< Comparative Example 5 >>
5.0 mmol of PMDA, 50.0 mmol of 6FDA, 44.0 mmol of BPDA, 10.0 mmol of DABA, and 90.0 mmol of TSN are placed in a separable flask equipped with a stirrer and a nitrogen gas introduction pipe together with 323 g of NMP. Then, nitrogen gas was circulated and both monomers were polymerized at 180 ° C. for 16 hours while stirring the reaction solution to produce a polyimide solution.

《比較例6》
ステンレス製攪拌棒を備えた撹拌機及び窒素導入管を装着した300mlのガラス製セパラブルフラスコに、NMP(39.6g)を仕込み、TFMB(4.7g)を添加して攪拌した。この溶液にPMDA(1.7g)を加え、10分以上攪拌後に、6FDA(3.5g)を加え、室温で12時間攪拌した。この溶液(固形分濃度25重量%)にNMPを加えて固形分濃度15重量%に希釈し、80℃のオイルバスで5分間加熱した後、ジエチレングリコールジエチルエーテルで10重量%に希釈したケイ素化合物(3)(1.98g)(仕込んだTFMB、PMDA、6FDAの合計100重量部に対して20重量部)を緩やかに滴下した。30分攪拌した後、氷水で急冷して均一で透明なポリアミド酸溶液を得た。
<< Comparative Example 6 >>
NMP (39.6 g) was charged into a 300 ml glass separable flask equipped with a stirrer equipped with a stainless stir bar and a nitrogen introduction tube, and TFMB (4.7 g) was added and stirred. PMDA (1.7 g) was added to this solution, and after stirring for 10 minutes or more, 6 FDA (3.5 g) was added and the mixture was stirred at room temperature for 12 hours. NMP was added to this solution (solid content concentration 25% by weight) to dilute it to a solid content concentration of 15% by weight, heated in an oil bath at 80 ° C. for 5 minutes, and then diluted to 10% by weight with diethylene glycol diethyl ether (a silicon compound (solid content concentration 25% by weight)). 3) (1.98 g) (20 parts by weight based on 100 parts by weight of the charged TFMB, PMDA, and 6FDA) was slowly added dropwise. After stirring for 30 minutes, the mixture was rapidly cooled with ice water to obtain a uniform and transparent polyamic acid solution.

《比較例7》
還流窒素ガス導入管、冷却器、トルエンを満たしたディーン・スターク凝集器及び撹拌機を備えた4つ口フラスコに、DABA(2.1g)、ジアミノジフェニルエーテル(9.3g)、6FDA(26.1g)、N,N-ジメチルアセトアミド(112g)、トルエン(22.5g)を加え、190℃のオイルバスで12時間加熱還流した。その後トルエンを常圧留去し、ポリイミド溶液を得た。
<< Comparative Example 7 >>
DABA (2.1 g), diaminodiphenyl ether (9.3 g), 6FDA (26.1 g) in a four-necked flask equipped with a reflux nitrogen gas introduction tube, a cooler, a Dean-Stark aggregator filled with toluene and a stirrer. ), N, N-dimethylacetamide (112 g) and toluene (22.5 g) were added, and the mixture was heated under reflux in an oil bath at 190 ° C. for 12 hours. Then, toluene was distilled off under normal pressure to obtain a polyimide solution.

《表1及び2中の略号の説明》
〈酸二無水物〉
PMDA:ピロメリット酸無水物
6FDA:4,4’-(ヘキサフルオロイソプロピリデン)ジフタル酸無水物
BPDA:3,3’,4,4’-ビフェニルテトラカルボン酸ニ無水物
<< Explanation of abbreviations in Tables 1 and 2 >>
<Acid dianhydride>
PMDA: pyromellitic acid anhydride 6FDA: 4,4'-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic acid anhydride BPDA: 3,3', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride

〈ジアミン〉
DABA:3,5-ジアミノ安息香酸
TFMB:ジアミノビス(トリフルオロメチル)ビフェニル
4MPD:2,3,5,6-テトラメチルフェニレンジアミン(
TSN:3,7-ジアミノジメチルジフェニレンスルホン
DAE:ジアミノジフェニルエーテル
<Diamine>
DABA: 3,5-diaminobenzoic acid TFMB: diaminobis (trifluoromethyl) biphenyl 4MPD: 2,3,5,6-tetramethylphenylenediamine (
TSN: 3,7-diaminodimethyldiphenylene sulfone DAE: diaminodiphenyl ether

〈ケイ素含有化合物〉
ケイ素含有化合物(1):(一般式(5),(10)において、L及びLがアミノ基(-NH)、Rがトリメチレン基(-CHCHCH-)であり、R、Rがメチル基、j,kが0であり、官能基当量1500の化合物)
ケイ素含有化合物(2):(一般式(5),(10)において、L及びLがアミノ基(-NH)、Rがトリメチレン基(-CHCHCH-)であり、R、Rがメチル基、j,kが0であり、官能基当量430の化合物)
ケイ素含有化合物(3):(一般式(5),(10)において、L及びLがアミノ基(-NH)、Rがトリメチレン基(-CHCHCH-)であり、R、Rがメチル基、j,kが0であり、官能基当量2200の化合物)
ケイ素含有化合物(4):(一般式(5),(10)において、L及びLがアミノ基(-NH)、Rがトリメチレン基(-CHCHCH-)であり、R、Rがメチル基、j,kが0であり、官能基当量800の化合物)
ケイ素含有化合物(5):(一般式(5),(10)において、L及びLが酸無水物基(―CH(C=O)O)、Rがトリメチレン基(-CHCHCH-)であり、R、Rがメチル基、j,kが0であり、官能基当量1000の化合物)
<Silicon-containing compound>
Silicon-containing compound (1): (in the general formulas (5) and (10), L 1 and L 2 are amino groups (-NH 2 ) and R 1 is a trimethylene group (-CH 2 CH 2 CH 2- ). , R 2 and R 3 are methyl groups, j and k are 0, and the functional group equivalent is 1500).
Silicon-containing compound (2): (In the general formulas (5) and (10), L 1 and L 2 are amino groups (-NH 2 ), and R 1 is a trimethylene group (-CH 2 CH 2 CH 2- ). , R 2 and R 3 are methyl groups, j and k are 0, and the functional group equivalent is 430).
Silicon-containing compound (3): (in the general formulas (5) and (10), L 1 and L 2 are amino groups (-NH 2 ) and R 1 is a trimethylene group (-CH 2 CH 2 CH 2- ). , R 2 and R 3 are methyl groups, j and k are 0, and the functional group equivalent is 2200).
Silicon-containing compound (4): (In the general formulas (5) and (10), L 1 and L 2 are amino groups (-NH 2 ), and R 1 is a trimethylene group (-CH 2 CH 2 CH 2- ). , R 2 and R 3 are methyl groups, j and k are 0, and the functional group equivalent is 800).
Silicon-containing compound (5): (In the general formulas (5) and (10), L 1 and L 2 are acid anhydride groups (-CH (C = O) 2 O), and R 1 is a trimethylene group (-CH 2 ). CH 2 CH 2- ), R 2 and R 3 are methyl groups, j and k are 0, and the functional group equivalent is 1000).

〈溶媒〉
NMP:N-メチルピロリドン
MTM:トリエチレングリコールジメチルエーテル
DMAc:N,N-ジメチルアセトアミド
〈ポリマー〉
PAA:ポリアミック酸(ポリイミド前駆体)
PI:ポリイミド
PAI:ポリアミドイミド
<solvent>
NMP: N-methylpyrrolidone MTM: Triethylene glycol dimethyl ether DMAc: N, N-dimethylacetamide <polymer>
PAA: Polyamic acid (polyimide precursor)
PI: Polyimide PAI: Polyamide-imide

Figure 2022082450000045
Figure 2022082450000045

Figure 2022082450000046
Figure 2022082450000046

2a 下部基板
2b 封止基板
25 有機EL構造部
250a 赤色光を発光する有機EL素子
250b 緑色光を発光する有機EL素子
250c 青色光を発光する有機EL素子
251 隔壁(バンク)
252 下部電極(陽極)
253 正孔輸送層
254 発光層
255 上部電極(陰極)
256 TFT
257 コンタクトホール
258 層間絶縁膜
259 下部電極
261 中空部
2a Lower substrate 2b Encapsulation substrate 25 Organic EL structure 250a Organic EL element that emits red light 250b Organic EL element that emits green light 250c Organic EL element that emits blue light 251 Partition (bank)
252 Lower electrode (anode)
253 Hole transport layer 254 Light emitting layer 255 Upper electrode (cathode)
256 TFT
257 Contact hole 258 Interlayer insulating film 259 Lower electrode 261 Hollow part

Claims (17)

下記一般式(1)又は(2):
Figure 2022082450000047
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつpは、正の整数を示す。}
Figure 2022082450000048
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、pは、かつ正の整数を示す。}
で表される構造単位を含む、ポリイミド前駆体又はポリイミドを含む、樹脂組成物であって、
前記Pは、下記一般式(3):
Figure 2022082450000049
で表される化合物に由来する構成単位を含み、かつ
前記P又Pは、下記一般式(5):
Figure 2022082450000050
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50であり、かつ官能基当量が800以上である。}
で表されるケイ素含有化合物に由来する構成単位を含み、かつ
下記(ア)及び(イ):
(ア)前記Pは、下記一般式(4):
Figure 2022082450000051
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
(イ)前記Pは、下記一般式(12):
Figure 2022082450000052
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
を満たし、
そして前記ケイ素含有化合物が、
全ジアミンを100mol%としたとき、20mol%以下、または、
全酸二無水物を100mol%としたとき、20mol%以下
である、樹脂組成物。
The following general formula (1) or (2):
Figure 2022082450000047
{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer. }
Figure 2022082450000048
{In the formula, P 1 represents a divalent organic group, P 2 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer. }
A polyimide precursor or a resin composition containing a polyimide, which comprises a structural unit represented by.
The P 1 is the following general formula (3):
Figure 2022082450000049
It contains a structural unit derived from the compound represented by the above, and the P1 or P2 is the following general formula ( 5 ) :.
Figure 2022082450000050
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers of 0 to 200, 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50, and the functional group equivalent is 800 or more. }
It contains a structural unit derived from a silicon-containing compound represented by, and the following (a) and (b):
(A) The P 2 is the following general formula (4):
Figure 2022082450000051
Includes structural units derived from the compounds represented by;
(A) The P 2 is the following general formula (12):
Figure 2022082450000052
Includes structural units derived from the compounds represented by;
The filling,
And the silicon-containing compound
When the total diamine is 100 mol%, it is 20 mol% or less, or
A resin composition having a total acid dianhydride of 20 mol% or less when the total acid dianhydride is 100 mol%.
前記L及びLが、それぞれ独立に、アミノ基である、請求項1に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to claim 1, wherein L 1 and L 2 are independently amino groups. 下記一般式(6)及び(7):
Figure 2022082450000053
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつpは、正の整数を示す。}
Figure 2022082450000054
{式中、Pは、2価の有機基を示し、Pは、4価の有機基を示し、かつqは、正の整数を示す。}
で表される構造単位を含む、ポリイミド前駆体及びポリイミドを含む、樹脂組成物であって、
前記P又はPが、下記一般式(10):
Figure 2022082450000055
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50である。}
で表されるケイ素含有化合物に由来する構成単位を含み、かつ
前記P及び/又はPは、下記一般式(8):
Figure 2022082450000056
で表される化合物に由来する構成単位を含み、かつ
下記(ウ)及び(エ):
(ウ)前記P及び/又はPは、下記一般式(9):
Figure 2022082450000057
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
(エ)前記P及び/又はPは、下記一般式(13):
Figure 2022082450000058
で表される化合物に由来する構成単位を含む;
を満たす、樹脂組成物。
The following general formulas (6) and (7):
Figure 2022082450000053
{In the formula, P 3 represents a divalent organic group, P 4 represents a tetravalent organic group, and p represents a positive integer. }
Figure 2022082450000054
{In the formula, P 5 represents a divalent organic group, P 6 represents a tetravalent organic group, and q represents a positive integer. }
A resin composition comprising a polyimide precursor and a polyimide, which comprises a structural unit represented by.
The above P 3 or P 4 is the following general formula (10):
Figure 2022082450000055
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers of 0 to 200, and 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50. }
It contains a structural unit derived from a silicon-containing compound represented by, and the P 3 and / or P 5 is the following general formula (8) :.
Figure 2022082450000056
It contains a structural unit derived from the compound represented by, and the following (c) and (d):
(C) The P4 and / or P6 is expressed by the following general formula (9):
Figure 2022082450000057
Includes structural units derived from the compounds represented by;
(D) The above P4 and / or P6 is expressed by the following general formula (13):
Figure 2022082450000058
Includes structural units derived from the compounds represented by;
A resin composition that meets the requirements.
前記ケイ素含有化合物が、
全ジアミンを100mol%としたとき、20mol%以下、または、
全酸二無水物を100mol%としたとき、20mol%以下
である、請求項3に記載の樹脂組成物。
The silicon-containing compound
When the total diamine is 100 mol%, it is 20 mol% or less, or
The resin composition according to claim 3, wherein the total acid dianhydride is 20 mol% or less when the total acid dianhydride is 100 mol%.
前記L及びLが、それぞれ独立に、アミノ基である、請求項3又は4に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to claim 3 or 4, wherein L 1 and L 2 are independently amino groups. 前記P,P,Pが、TFMB(2,2’-ビス(トリフルオロメチル)ベンジジン)に由来する基を含まない、請求項1~5のいずれか一項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 5, wherein P 1 , P 3 , and P 5 do not contain a group derived from TFMB (2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine). .. 前記一般式(3)又は(8)で表される化合物が、全ジアミン(前記一般式(5)又は(10)で表される化合物を除く)を100mol%としたとき、50mol%より多い、請求項1~6のいずれか一項に記載の樹脂組成物。 The compound represented by the general formula (3) or (8) is more than 50 mol% when the total diamine (excluding the compound represented by the general formula (5) or (10)) is 100 mol%. The resin composition according to any one of claims 1 to 6. 前記ポリイミド前駆体又は前記ポリイミドを加熱して得られるポリイミド樹脂膜が、フレキシブル基板に用いられる、請求項1~7のいずれか一項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 7, wherein the polyimide precursor or the polyimide resin film obtained by heating the polyimide is used for a flexible substrate. 前記ポリイミド前駆体を硬化して得られるポリイミド樹脂膜が、フレキシブルディスプレイに用いられる、請求項1~8のいずれか一項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 8, wherein the polyimide resin film obtained by curing the polyimide precursor is used for a flexible display. 下記一般式(3):
Figure 2022082450000059
で表される化合物と、
下記一般式(4):
Figure 2022082450000060
で表される化合物及び、
下記一般式(12):
Figure 2022082450000061
で表される化合物と、
下記一般式(5):
Figure 2022082450000062
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50である。}
で表されるケイ素含有化合物と、その他の化合物とを重縮合反応させてポリイミド前駆体及び/又はポリイミドを提供することを含む、樹脂組成物の製造方法。
The following general formula (3):
Figure 2022082450000059
And the compound represented by
The following general formula (4):
Figure 2022082450000060
Compounds represented by and
The following general formula (12):
Figure 2022082450000061
And the compound represented by
The following general formula (5):
Figure 2022082450000062
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers of 0 to 200, and 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50. }
A method for producing a resin composition, which comprises subjecting a silicon-containing compound represented by (1) and another compound to a polycondensation reaction to provide a polyimide precursor and / or a polyimide.
下記一般式(3):
Figure 2022082450000063
で表される化合物と、
下記一般式(4):
Figure 2022082450000064
で表される化合物及び、
下記一般式(12):
Figure 2022082450000065
で表される化合物と、
その他の化合物とを重縮合反応させてポリイミドを得た後、
下記一般式(5):
Figure 2022082450000066
{式中、Rは、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1~10の二価の有機基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数1~5の一価の脂肪族炭化水素基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、少なくとも一つは炭素数6~10の一価の芳香族基であり、R及びRは、それぞれ独立に、炭素数1~10の一価の有機基であり、L及びLは、それぞれ独立に、アミノ基、酸無水物基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸エステル基、酸ハライド基、ヒドロキシ基、エポキシ基、又はメルカプト基であり、iは、1~200の整数であり、j及びkは、それぞれ独立に、0~200の整数であり、0≦j/(i+j+k)≦0.50である。}
で表されるケイ素含有化合物と、その他の化合物とを重縮合反応させて、ポリイミド前駆体及びポリイミドを含む樹脂組成物を提供することを含む、樹脂組成物の製造方法。
The following general formula (3):
Figure 2022082450000063
And the compound represented by
The following general formula (4):
Figure 2022082450000064
Compounds represented by and
The following general formula (12):
Figure 2022082450000065
And the compound represented by
After polycondensation reaction with other compounds to obtain polyimide,
The following general formula (5):
Figure 2022082450000066
{In the formula, R 1 is an independently single-bonded or divalent organic group having 1 to 10 carbon atoms, and R 2 and R 3 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms. It is a group, at least one is a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms, and R 4 and R 5 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, respectively. At least one is a monovalent aromatic group having 6 to 10 carbon atoms, R 6 and R 7 are independently monovalent organic groups having 1 to 10 carbon atoms, and L 1 and L 2 are independent groups. Independently, each is an amino group, an acid anhydride group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxy group, an epoxy group, or a mercapto group, and i is an integer of 1 to 200. j and k are independently integers of 0 to 200, and 0 ≦ j / (i + j + k) ≦ 0.50. }
A method for producing a resin composition, which comprises subjecting a silicon-containing compound represented by (1) to a polycondensation reaction of another compound to provide a resin composition containing a polyimide precursor and a polyimide.
支持体の表面上に、請求項1~9のいずれか一項に記載の樹脂組成物、又は請求項10若しくは11に記載の方法により得られた樹脂組成物を塗布する塗布工程と、
該樹脂組成物を加熱してポリイミド樹脂膜を形成する膜形成工程と、
該ポリイミド樹脂膜を該支持体から剥離する剥離工程と、
を含む、ポリイミド樹脂膜の製造方法。
A coating step of applying the resin composition according to any one of claims 1 to 9 or the resin composition obtained by the method according to claim 10 or 11 onto the surface of the support.
A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,
A peeling step of peeling the polyimide resin film from the support,
A method for producing a polyimide resin film, including.
前記剥離工程に先立って、前記支持体側から前記樹脂組成物にレーザーを照射する照射工程を含む、請求項12に記載のポリイミド樹脂膜の製造方法。 The method for producing a polyimide resin film according to claim 12, further comprising an irradiation step of irradiating the resin composition with a laser from the support side prior to the peeling step. 支持体の表面上に、請求項1~9のいずれか一項に記載の樹脂組成物、又は請求項10若しくは11に記載の方法により得られた樹脂組成物を塗布する塗布工程と、
該樹脂組成物を加熱してポリイミド樹脂膜を形成する膜形成工程と、
該ポリイミド樹脂膜上に素子を形成する素子形成工程と、
該素子が形成された該ポリイミド樹脂膜を該支持体から剥離する剥離工程と、
を含む、ディスプレイの製造方法。
A coating step of applying the resin composition according to any one of claims 1 to 9 or the resin composition obtained by the method according to claim 10 or 11 onto the surface of the support.
A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,
An element forming step of forming an element on the polyimide resin film and
A peeling step of peeling the polyimide resin film on which the element is formed from the support,
How to make a display, including.
支持体の表面上に、請求項1~9のいずれか一項に記載の樹脂組成物、又は請求項10若しくは11に記載の方法により得られた樹脂組成物を塗布する塗布工程と、
該樹脂組成物を加熱してポリイミド樹脂膜を形成する膜形成工程と、
該ポリイミド樹脂膜上に素子を形成する素子形成工程と、
を含む、積層体の製造方法。
A coating step of applying the resin composition according to any one of claims 1 to 9 or the resin composition obtained by the method according to claim 10 or 11 onto the surface of the support.
A film forming step of heating the resin composition to form a polyimide resin film,
An element forming step of forming an element on the polyimide resin film and
A method for manufacturing a laminate, including.
前記素子が形成された前記ポリイミド樹脂膜を前記支持体から剥離する工程をさらに含む、請求項15に記載の積層体の製造方法。 The method for producing a laminate according to claim 15, further comprising a step of peeling the polyimide resin film on which the element is formed from the support. 請求項15又は16に記載の方法により積層体を製造することを含む、フレキシブルデバイスの製造方法。 A method for manufacturing a flexible device, which comprises manufacturing a laminate by the method according to claim 15 or 16.
JP2021187427A 2020-11-20 2021-11-17 Resin composition Pending JP2022082450A (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020193223 2020-11-20
JP2020193223 2020-11-20

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2022082450A true JP2022082450A (en) 2022-06-01

Family

ID=81801749

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021187427A Pending JP2022082450A (en) 2020-11-20 2021-11-17 Resin composition

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2022082450A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7152381B2 (en) Resin precursor, resin composition containing the same, polyimide resin film, resin film, and method for producing the same
JP7055832B2 (en) Polyimide precursor, resin composition, resin film and its manufacturing method
JP7436606B2 (en) Polyimide, resin composition, polyimide film, and manufacturing method thereof
JP2024028330A (en) Polyimide precursor resin composition
JP2022167930A (en) Polyimide precursor resin composition
KR102593077B1 (en) Polyimide precursor and resin composition containing same, polyimide resin film, resin film and method of producing same
WO2020241523A1 (en) Polyimide precursor and polyimide resin composition
JP2023082676A (en) Resin composition and method for producing the same
JP2022087023A (en) Polyimide precursor and polyimide resin composition
JP7053807B2 (en) Silicon-containing compound
TW202229411A (en) Polyimide precursor and polyimide resin composition wherein the polyimide precursor includes a structural unit represented by a specific general formula which is partially imidized
WO2021241763A1 (en) Resin composition
JP2022082450A (en) Resin composition
WO2024048740A1 (en) Resin composition
TWI836943B (en) Resin composition
JP7376274B2 (en) Polyimide precursor resin composition
TWI836221B (en) Resin composition
JP2024035165A (en) resin composition
JP7483480B2 (en) Polyimide precursor, polyimide resin composition, polyimide resin film, and method for producing the same
JP2023008996A (en) resin composition
JP2023008995A (en) resin composition
JP7433007B2 (en) Polyimide precursor resin composition
JP2023008992A (en) resin composition
JP2023016028A (en) resin composition
JP2021172734A (en) Polyimide precursor, polyimide resin composition, and polyimide resin film, and method for producing the same