JP2022055652A - Curable resin composition for low dielectric constant material, and cured product and low dielectric constant material obtained from the resin composition - Google Patents

Curable resin composition for low dielectric constant material, and cured product and low dielectric constant material obtained from the resin composition Download PDF

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Kohei Anada
治 大西
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Abstract

To provide a curable resin composition for a low dielectric constant material from which a cured product having excellent film-forming property, and low dielectric characteristics and transparency is obtained.SOLUTION: A curable resin composition for a low dielectric constant material contains a polymer containing at least one structural unit a represented by the following general formula (1), and at least one structural unit b represented by the following general formula (2).SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、低誘電率材料用硬化性樹脂組成物、当該樹脂組成物から得られる硬化物および低誘電率材料に関する。 The present invention relates to a curable resin composition for a low dielectric constant material, a cured product obtained from the resin composition, and a low dielectric constant material.

これまで環状オレフィンポリマーにおいて様々な開発がなされてきた。この種の技術として、例えば、特許文献1に記載の技術が知られている。特許文献1には、ガラス転移温度が101~160℃の環状オレフィンポリマーと他のエラストマーとを混練して得られた樹脂組成物を、成形材料に使用することが記載されている(特許文献1請求項1、段落0042等)。 So far, various developments have been made in cyclic olefin polymers. As this kind of technique, for example, the technique described in Patent Document 1 is known. Patent Document 1 describes that a resin composition obtained by kneading a cyclic olefin polymer having a glass transition temperature of 101 to 160 ° C. and another elastomer is used as a molding material (Patent Document 1). Claim 1, paragraph 0042, etc.).

特開2013-231171号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2013-231171

しかしながら、上記特許文献1に記載の樹脂組成物において、低誘電性の点で改善の余地があった。
本発明者は検討したところ、環状オレフィンポリマーの構造単位の構造を適切に選択することで、成膜性に優れ、さらに得られた硬化物は低誘電性および透明性に優れることを見出し、本発明を完成するに至った。
本発明によれば、
However, in the resin composition described in Patent Document 1, there is room for improvement in terms of low dielectric property.
As a result of examination, the present inventor has found that by appropriately selecting the structure of the structural unit of the cyclic olefin polymer, the film forming property is excellent, and the obtained cured product is excellent in low dielectric property and transparency. The invention was completed.
According to the present invention

下記一般式(1)で表される構造単位aを少なくとも1種と、下記一般式(2)で表される構造単位bを少なくとも1種とを含むポリマーを含有する、低誘電率材料用硬化性樹脂組成物を提供することができる。

Figure 2022055652000001
(一般式(1)中、mは0、1または2である。
一般式(2)中、Xは炭素数3~20の直鎖または分岐のアルキル基、炭素数3~10のシクロアルキル基、またはアリール基を示す。nは0、1または2である。) Curing for low dielectric constant materials containing a polymer containing at least one structural unit a represented by the following general formula (1) and at least one structural unit b represented by the following general formula (2). A sex resin composition can be provided.
Figure 2022055652000001
(In the general formula (1), m is 0, 1 or 2.
In the general formula (2), X represents a linear or branched alkyl group having 3 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms, or an aryl group. n is 0, 1 or 2. )

本発明によれば、前記低誘電率材料用硬化性樹脂組成物を硬化してなる硬化物を提供することができる。
本発明によれば、前記硬化物からなる低誘電率材料を提供することができる。
According to the present invention, it is possible to provide a cured product obtained by curing the curable resin composition for a low dielectric constant material.
According to the present invention, it is possible to provide a low dielectric constant material made of the cured product.

本発明によれば、成膜性に優れ、さらに低誘電性および透明性に優れる硬化物が得られる低誘電率材料用硬化性樹脂組成物を提供することができる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is possible to provide a curable resin composition for a low dielectric constant material, which can obtain a cured product having excellent film forming property and further excellent low dielectric constant and transparency.

以下、本発明を実施の形態に基づいて説明する。また、「~」は特に断りがなければ「以上」から「以下」を表す。
本実施形態の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物(以下、硬化性樹脂組成物と称呼する場合もある)は、ポリマー(A)を含有する。
Hereinafter, the present invention will be described based on the embodiments. In addition, "-" represents "greater than or equal to" to "less than or equal to" unless otherwise specified.
The curable resin composition for a low dielectric constant material of the present embodiment (hereinafter, may be referred to as a curable resin composition) contains a polymer (A).

[ポリマー(A)]
本実施形態のポリマー(A)は、下記一般式(1)で表される構造単位aを少なくとも1種と、下記一般式(2)で表される構造単位bを少なくとも1種とを含む。
[Polymer (A)]
The polymer (A) of the present embodiment contains at least one structural unit a represented by the following general formula (1) and at least one structural unit b represented by the following general formula (2).

Figure 2022055652000002
Figure 2022055652000002

一般式(1)中、mは0、1または2であり、好ましくは0または1である。
一般式(2)中、Xは炭素数3~20の直鎖または分岐のアルキル基、炭素数3~10のシクロアルキル基、またはアリール基を示し、好ましくは炭素数3~20の直鎖または分岐のアルキル基である。ポリマー(A)中に複数存在するXは、同一でも異なっていてもよい。
In the general formula (1), m is 0, 1 or 2, preferably 0 or 1.
In the general formula (2), X represents a linear or branched alkyl group having 3 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms, or an aryl group, preferably a linear or branched alkyl group having 3 to 20 carbon atoms. It is a branched alkyl group. A plurality of Xs present in the polymer (A) may be the same or different.

炭素数3~20の直鎖または分岐のアルキル基としては、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシル基、ドデシル基、テトラデシル基、オクタデシル基、イソプロピル基、イソブチル基、sec-ブチル基、t-ブチル基、1-エチルペンチル基、2-エチルヘキシル基等が挙げられる。 Linear or branched alkyl groups having 3 to 20 carbon atoms include propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group, decyl group, dodecyl group, tetradecyl group, octadecyl group and isopropyl group. Examples thereof include a group, an isobutyl group, a sec-butyl group, a t-butyl group, a 1-ethylpentyl group, a 2-ethylhexyl group and the like.

炭素数3~10のシクロアルキル基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等が挙げられる。多環の環状のアルキル基としては、例えば、アダマンチル基、ノルボルニル基、ボルニル基、カンフェニル基、デカヒドロナフチル基、トリシクロデカニル基、テトラシクロデカニル基、カンホロイル基、ジシクロヘキシル基およびピネニル基が挙げられる。 Examples of the cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, a cyclooctyl group and the like. Examples of the polycyclic cyclic alkyl group include an adamantyl group, a norbornyl group, a bornyl group, a phenyl group, a decahydronaphthyl group, a tricyclodecanyl group, a tetracyclodecanyl group, a camphoroyl group, a dicyclohexyl group and a pinenyl group. Can be mentioned.

アリール基としてはフェニル基、ナフチル基、アントラセニル基、フェナントリル基、ピレニル基、ペリレニル基、フルオランテニル基、フルオランテニル基等が挙げられる。
nは0、1または2であり、好ましくは0または1である。
Examples of the aryl group include a phenyl group, a naphthyl group, an anthrasenyl group, a phenanthryl group, a pyrenyl group, a peryleneyl group, a fluoranthenyl group, a fluoranthenyl group and the like.
n is 0, 1 or 2, preferably 0 or 1.

本実施形態の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物は、前記構造単位aを少なくとも1種と、前記構造単位bを少なくとも1種とを含むポリマー(A)を含むことにより、光または加熱、または光と加熱を併用することにより硬化させることができ、成膜性に優れ、さらに低誘電性および透明性に優れ硬化物が得られる。当該硬化物は、耐熱性にも優れる。 The curable resin composition for a low dielectric constant material of the present embodiment is lightly or heated by containing a polymer (A) containing at least one structural unit a and at least one structural unit b. Alternatively, it can be cured by using light and heating in combination, and a cured product having excellent film forming property, low dielectric constant and transparency can be obtained. The cured product is also excellent in heat resistance.

本実施形態において、ポリマー(A)は、本発明の効果の観点から、さらに下記一般式(3)で表される構造単位cを少なくとも1種含むことができる。 In the present embodiment, the polymer (A) can further contain at least one structural unit c represented by the following general formula (3) from the viewpoint of the effect of the present invention.

Figure 2022055652000003
Figure 2022055652000003

一般式(3)中、Rは、それぞれ独立に、炭素数1~3のアルコキシ基または炭素数1~3のアルキル基を示し、少なくとも2つのRは炭素数1~3のアルコキシ基である。ポリマー(A)中に複数存在するRは、それぞれ同一でも異なっていてもよい。
pは0~3の整数を示す。
In the general formula (3), R independently represent an alkoxy group having 1 to 3 carbon atoms or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and at least two Rs are alkoxy groups having 1 to 3 carbon atoms. A plurality of Rs present in the polymer (A) may be the same or different from each other.
p indicates an integer from 0 to 3.

炭素数1~3のアルコキシ基は、メトキシ基、エトキシ基、およびプロポキシ基であり、炭素数1~3のアルキル基はメチル基、エチル基、およびプロピル基である。
lは0、1または2であり、好ましくは0または1である。
The alkoxy group having 1 to 3 carbon atoms is a methoxy group, an ethoxy group, and a propoxy group, and the alkyl group having 1 to 3 carbon atoms is a methyl group, an ethyl group, and a propyl group.
l is 0, 1 or 2, preferably 0 or 1.

本実施形態の硬化性樹脂組成物は誘電率材料用に用いるものであることから、ポリマー(A)は、マレイン酸またはマレイミドから誘導される構成単位を含まないことが好ましい。
さらに、ポリマー(A)は、カルボキシル基、エポキシ基、エステル基、アミノ基等の極性官能基を含まない。
Since the curable resin composition of the present embodiment is used for a dielectric constant material, it is preferable that the polymer (A) does not contain a structural unit derived from maleic acid or maleimide.
Furthermore, the polymer (A) does not contain polar functional groups such as a carboxyl group, an epoxy group, an ester group and an amino group.

ポリマー(A)を硬化させるためには、マレイン酸またはマレイミドから誘導される構成単位を含んでいたり、ポリマー(A)が構造中に極性官能基を含んでいた方が好ましいものの、得られる硬化物は誘電率が向上してしまうことから、硬化性と低誘電率とはトレードオフの関係にあった。本実施形態の構造単位aおよび構造単位bを含み、必要に応じて構造単位cを含むポリマー(A)は、マレイン酸またはマレイミドから誘導される構成単位や極性官能基を含まないものの硬化物を得ることができ、さらに極性官能基を含まないことから硬化物の低誘電率に優れ、透明性にも優れる。 In order to cure the polymer (A), it is preferable that the polymer (A) contains a structural unit derived from maleic acid or maleimide, or the polymer (A) contains a polar functional group in the structure, but the obtained cured product is obtained. Since the dielectric constant is improved, there is a trade-off relationship between curability and low dielectric constant. The polymer (A) containing the structural unit a and the structural unit b of the present embodiment, and optionally the structural unit c, is a cured product which does not contain a structural unit or a polar functional group derived from maleic acid or maleimide. Since it can be obtained and does not contain a polar functional group, the cured product has excellent low dielectric constant and excellent transparency.

本発明の効果の観点から、本実施形態の硬化性樹脂組成物100質量%に対して、ポリマー(A)の含有量の下限は、好ましくは50質量%以上、より好ましくは70質量%以上、さらに好ましくは90質量%以上である。これにより、樹脂材料の耐熱性をさらに向上させることもできる。一方、ポリマー(A)の含有量の上限は、例えば、好ましくは100質量%以下でもよく、より好ましくは99質量%以下でもよく、さらに好ましくは95質量%以下である。これにより、各種の特性バランスを図ることができる。 From the viewpoint of the effect of the present invention, the lower limit of the content of the polymer (A) is preferably 50% by mass or more, more preferably 70% by mass or more, based on 100% by mass of the curable resin composition of the present embodiment. More preferably, it is 90% by mass or more. Thereby, the heat resistance of the resin material can be further improved. On the other hand, the upper limit of the content of the polymer (A) may be, for example, preferably 100% by mass or less, more preferably 99% by mass or less, and further preferably 95% by mass or less. This makes it possible to balance various characteristics.

上記ポリマー(A)のガラス転移温度(Tg)の下限は、例えば、80℃以上であり、好ましくは100℃以上であり、より好ましくは120℃以上である。これにより、樹脂材料の熱時特性をさらに向上させることができる。一方で、上記ポリマー(A)のガラス転移温度の上限は、特に限定されないが、例えば、400℃以下、350℃以下、290℃以下でもよい。これにより、樹脂ワニスの塗膜性や、樹脂材料の成形性を高めることが可能になる。 The lower limit of the glass transition temperature (Tg) of the polymer (A) is, for example, 80 ° C. or higher, preferably 100 ° C. or higher, and more preferably 120 ° C. or higher. This makes it possible to further improve the thermal characteristics of the resin material. On the other hand, the upper limit of the glass transition temperature of the polymer (A) is not particularly limited, but may be, for example, 400 ° C. or lower, 350 ° C. or lower, 290 ° C. or lower. This makes it possible to improve the coating film property of the resin varnish and the moldability of the resin material.

また、本発明の効果の観点から、ポリマー(A)のMw(重量平均分子量)は、例えば、2×10~1.0×10、好ましくは3.0×10~8.0×10、より好ましくは4.0×10~7.0×10、さらに好ましくは5.0×10~5.0×10とすることができる。 Further, from the viewpoint of the effect of the present invention, the Mw (weight average molecular weight) of the polymer (A) is, for example, 2 × 10 3 to 1.0 × 10 5 , preferably 3.0 × 10 3 to 8.0 ×. It can be 10 4 , more preferably 4.0 × 10 3 to 7.0 × 10 4 , and even more preferably 5.0 × 10 3 to 5.0 × 10 4 .

上記ポリマー(A)のMw(重量平均分子量)/Mn(数平均分子量)は、例えば、1.0~6.0、好ましくは1.2~5.0、より好ましくは1.5~4.0、さらに好ましくは1.8~3.0とすることができる。なお、Mw/Mnは、分子量分布の幅を示す分散度である。 The Mw (weight average molecular weight) / Mn (number average molecular weight) of the polymer (A) is, for example, 1.0 to 6.0, preferably 1.2 to 5.0, and more preferably 1.5 to 4. It can be 0, more preferably 1.8 to 3.0. Mw / Mn is a degree of dispersion indicating the width of the molecular weight distribution.

なお、重量平均分子量(Mw)、数平均分子量(Mn)、および分子量分布(Mw/Mn)は、たとえばGPC(Gel Permeation Chromatography)測定により得られる標準ポリスチレン(PS)の検量線から求めた、ポリスチレン換算値を用いる。測定条件は、たとえば以下の通りである。 The weight average molecular weight (Mw), the number average molecular weight (Mn), and the molecular weight distribution (Mw / Mn) are obtained from the calibration curve of standard polystyrene (PS) obtained by, for example, GPC (Gel Permeation Chromatography) measurement. Use the converted value. The measurement conditions are as follows, for example.

東ソー社製ゲルパーミエーションクロマトグラフィー装置HLC-8320GPC
カラム:東ソー社製TSK-GEL Supermultipore HZ-M
検出器:液体クロマトグラム用RI検出器
測定温度:40℃
溶剤:THF
試料濃度:2.0mg/ミリリットル
Tosoh gel permeation chromatography device HLC-8320GPC
Column: Tosoh TSK-GEL Supermultipore HZ-M
Detector: RI detector for liquid chromatogram Measurement temperature: 40 ° C
Solvent: THF
Sample concentration: 2.0 mg / ml

また、ポリマー(A)中における低分子量成分量は、たとえばGPC測定により得られた分子量に関するデータに基づき、分子量分布全体の面積に占める、分子量1000以下に該当する成分の面積総和の割合から算出される。 Further, the low molecular weight component weight in the polymer (A) is calculated from the ratio of the total area of the components corresponding to the molecular weight of 1000 or less to the total area of the molecular weight distribution, based on the data on the molecular weight obtained by, for example, GPC measurement. To.

[ポリマー(A)の合成方法]
本実施形態のポリマー(A)は、たとえば、次のようにして合成することができる。
(重合工程(処理S1))
まず、モノマーとして、例えば、所定のノルボルネン系モノマーを用意する。
次いで、用意したモノマーを付加重合して重合体を得る。たとえば配位重合により、付加重合が行われる。
[Method for synthesizing polymer (A)]
The polymer (A) of the present embodiment can be synthesized, for example, as follows.
(Polymerization step (treatment S1))
First, for example, a predetermined norbornene-based monomer is prepared as the monomer.
Then, the prepared monomer is addition-polymerized to obtain a polymer. For example, addition polymerization is carried out by coordination polymerization.

本実施形態においては、上記モノマーと、有機金属触媒と、を溶剤に溶解した後、所定時間加熱することにより溶液重合を行うことができる。このとき、加熱温度は、たとえば60℃~200℃、好ましくは70℃~150℃、さらに好ましくは80℃~120℃とすることができる。本実施形態においては、従来よりも加熱温度を高温とすることでポリマー(A)の収率を向上させることができる。 In the present embodiment, solution polymerization can be carried out by dissolving the above-mentioned monomer and the organometallic catalyst in a solvent and then heating the mixture for a predetermined time. At this time, the heating temperature can be, for example, 60 ° C. to 200 ° C., preferably 70 ° C. to 150 ° C., and more preferably 80 ° C. to 120 ° C. In the present embodiment, the yield of the polymer (A) can be improved by raising the heating temperature higher than before.

また、加熱時間は、たとえば0.5時間~72時間とすることができる。なお、窒素バブリングにより溶剤中の溶存酸素を除去したうえで、溶液重合を行うことがより好ましい。 The heating time can be, for example, 0.5 hours to 72 hours. It is more preferable to perform solution polymerization after removing dissolved oxygen in the solvent by nitrogen bubbling.

また、必要に応じて分子量調整剤や連鎖移動剤を使用する事ができる。連鎖移動剤としては、例えば、トリメチルシラン、トリエチルシラン、トリブチルシラン、等のアルキルシラン化合物を挙げることができる。これらの連鎖移動剤は、1種単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。 In addition, a molecular weight modifier or a chain transfer agent can be used as needed. Examples of the chain transfer agent include alkylsilane compounds such as trimethylsilane, triethylsilane, and tributylsilane. These chain transfer agents may be used alone or in combination of two or more.

上記重合反応に用いられる溶剤としては、たとえば、メチルエチルケトン(MEK)、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン(THF)、トルエン、酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル、メチルアルコール、エチルアルコール、イソプロピルアルコールなどのアルコール類のうち一種または二種以上を使用することができる。 Examples of the solvent used in the above polymerization reaction include esters such as methyl ethyl ketone (MEK), propylene glycol monomethyl ether, diethyl ether, tetrahydrofuran (THF), toluene, ethyl acetate and butyl acetate, methyl alcohol, ethyl alcohol and isopropyl alcohol. One or more of the alcohols in the above can be used.

上記有機金属触媒としては、付加重合が進行すれば特に選ばないが、例えばパラジウム錯体およびニッケル錯体に対してホスフィン系や、ジイミン系などの配位子を配位させ、カウンターアニオンなどを用いても良い。このうちの一種または二種以上を使用できる。 The organometallic catalyst is not particularly selected as long as the addition polymerization proceeds, but for example, a phosphine-based or diimine-based ligand may be coordinated with the palladium complex and the nickel complex, and a counter anion may be used. good. One or more of these can be used.

上記パラジウム錯体としては、たとえば(アセタト-κ0)(アセトニトリル)ビス[トリス(1-メチルエチル)ホスフィン]パラジウム(I)テトラキス(2,3,4,5,6-ペンタフルオロフェニル)ボレート、π-アリルパラジウムクロリドダイマーなどのアリルパラジウム錯体、
パラジウムの酢酸塩、プロピオン酸塩、マレイン酸塩、ナフトエ酸塩などのパラジウムの有機カルボン酸塩、
酢酸パラジウムのトリフェニルホスフィン錯体、酢酸パラジウムのトリ(m-トリル)ホスフィン錯体、酢酸パラジウムのトリシクロヘキシルホスフィン錯体などのパラジウムの有機カルボン酸の錯体、
パラジウムのジブチル亜リン酸塩、p-トルエンスルホン酸塩などのパラジウムの有機スルフォン酸塩、
ビス(アセチルアセトナート)パラジウム、ビス(ヘキサフロロアセチルアセトナート)パラジウム、ビス(エチルアセトアセテート)パラジウム、ビス(フェニルアセトアセテート)パラジウムなどのパラジウムのβ-ジケトン化合物、
ジクロロビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム、ビス[トリ(m-トリルホスフィン)]パラジウム、ジブロモビス[トリ(m-トリルホスフィン)]パラジウム、アセトニルトリフェニルホスフォニウム錯体などのパラジウムのハロゲン化物錯体等が挙げられる。
Examples of the palladium complex include (acetato-κ0) (acetohydrate) bis [tris (1-methylethyl) phosphine] palladium (I) tetrakis (2,3,4,5,6-pentafluorophenyl) borate, π-. Allylpalladium complex, such as allylpalladium chloride dimer,
Organic carboxylates of palladium, such as acetate of palladium, propionate, maleate, naphthoate, etc.
Palladium organic carboxylic acid complexes such as palladium acetate triphenylphosphine complex, palladium acetate tri (m-tolyl) phosphine complex, palladium acetate tricyclohexylphosphine complex,
Dibutyl phosphite of palladium, organic sulfonate of palladium such as p-toluenesulfonate,
Palladium β-diketone compounds such as bis (acetylacetonate) palladium, bis (hexafluoroacetylacetonate) palladium, bis (ethylacetacetate) palladium, and bis (phenylacetacetate) palladium,
Examples include halide complexes of palladium such as dichlorobis (triphenylphosphine) palladium, bis [tri (m-tolylphosphine)] palladium, dibromobis [tri (m-tolylphosphine)] palladium, and acetnyltriphenylphosphonium complex. Be done.

上記ホスフィン配位子としては、トリフェニルホスフィン、ジシクロヘキシルフェニルホスフィン、シクロヘキシルジフェニルホスフィン、トリシクロヘキシルホスフィンなどが挙げられる。 Examples of the phosphine ligand include triphenylphosphine, dicyclohexylphenylphosphine, cyclohexyldiphenylphosphine, and tricyclohexylphosphine.

上記カウンターアニオンとしては、例えば、トリフェニルカルベニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、トリフェニルカルベニウムテトラキス[3,5-ビス(トリフルオロメチル)フェニル]ボレート、トリフェニルカルベニウムテトラキス(2,4,6-トリフルオロフェニル)ボレート、トリフェニルカルベニウムテトラフェニルボレート、トリブチルアンモニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、N,N-ジメチルアニリニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、N,N-ジエチルアニリニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、N,N-ジフェニルアニリニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート、リチウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレートなど挙げられる。 Examples of the counter anion include triphenylcarbenium tetrakis (pentafluorophenyl) borate, triphenylcarbenium tetrakis [3,5-bis (trifluoromethyl) phenyl] borate, and triphenylcarbenium tetrakis (2,4). 6-Trifluorophenyl) borate, triphenylcarbenium tetraphenyl borate, tributylammonium tetrakis (pentafluorophenyl) borate, N, N-dimethylanilinium tetrakis (pentafluorophenyl) borate, N, N-diethylanilinium tetrakis ( Examples thereof include pentafluorophenyl) borate, N, N-diphenylanilinium tetrakis (pentafluorophenyl) borate, and lithium tetrakis (pentafluorophenyl) borate.

有機金属触媒の量は、ノルボルネン系モノマーに対して300ppm~5000ppm、好ましくは1000ppm~3500ppm、さらに好ましくは1500ppm~2500ppmとすることができる。これにより、ポリマー(A)の収率を向上させることができる。 The amount of the organometallic catalyst can be 300 ppm to 5000 ppm, preferably 1000 ppm to 3500 ppm, more preferably 1500 ppm to 2500 ppm with respect to the norbornene-based monomer. Thereby, the yield of the polymer (A) can be improved.

前記有機金属触媒を用いて、一般式(1)で表される構造単位aの原料化合物であるビニルノルボルネンモノマーを重合する場合、従来反応が進行し難く収率が低かった。本実施形態においては、前記有機金属触媒を用いた場合であっても、上述のように加熱温度を従来よりも高温とし、さらに好ましくは上述のように有機金属触媒の量を所定の範囲とすることにより、前記有機金属触媒を用いた場合であってもビニルノルボルネンモノマーの重合反応が進行し、収率を向上させることができる。 When the vinyl norbornene monomer, which is the raw material compound of the structural unit a represented by the general formula (1), is polymerized using the organometallic catalyst, the conventional reaction is difficult to proceed and the yield is low. In the present embodiment, even when the organometallic catalyst is used, the heating temperature is set to a higher temperature than before as described above, and more preferably, the amount of the organometallic catalyst is set within a predetermined range as described above. As a result, even when the organometallic catalyst is used, the polymerization reaction of the vinyl norbornene monomer proceeds and the yield can be improved.

(洗浄工程(処理S2))
得られた重合体を含む反応液を、例えば、ヘキサンやメタノール等のアルコール中に添加してポリマー(A)を析出させる。次いで、ポリマー(A)を濾取し、例えば、ヘキサンやメタノール等のアルコール等により洗浄した後、これを乾燥させる。
本実施形態においては、たとえばこのようにしてポリマー(A)を合成することができる。
本実施形態の製造方法によれば、ポリマー(A)を、70%以上の高収率で得ることができる。
(Washing step (treatment S2))
The reaction solution containing the obtained polymer is added to an alcohol such as hexane or methanol to precipitate the polymer (A). Next, the polymer (A) is collected by filtration, washed with, for example, an alcohol such as hexane or methanol, and then dried.
In the present embodiment, the polymer (A) can be synthesized, for example, in this way.
According to the production method of the present embodiment, the polymer (A) can be obtained in a high yield of 70% or more.

[硬化触媒(B)]
本実施形態の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物は、さらに硬化触媒を含むことができる。硬化触媒は、本発明の効果を発揮しうる範囲で公知の硬化触媒を用いることができる。
[Curing catalyst (B)]
The curable resin composition for a low dielectric constant material of the present embodiment may further contain a curing catalyst. As the curing catalyst, a known curing catalyst can be used as long as the effect of the present invention can be exhibited.

硬化触媒(B)は、本発明の効果を発揮しうる範囲で、熱により硬化を促進する公知の硬化触媒または光により硬化を促進する公知の硬化触媒を用いることができる。硬化触媒(B)として、熱酸発生剤、光酸発生剤、または光ラジカル発生剤が挙げられる。
なお、ポリマー(A)に、上記の合成方法において用いられた触媒が所定量残留等している場合は、加熱により硬化するため硬化触媒は必須ではない。
As the curing catalyst (B), a known curing catalyst that promotes curing by heat or a known curing catalyst that promotes curing by light can be used to the extent that the effect of the present invention can be exhibited. Examples of the curing catalyst (B) include a thermal acid generator, a photoacid generator, and a photoradical generator.
If a predetermined amount of the catalyst used in the above synthesis method remains in the polymer (A), the polymer (A) is cured by heating, so that the curing catalyst is not essential.

熱酸発生剤としては、例えば、芳香族スルホニウム塩、芳香族ヨードニウム塩、アンモニウム塩、アルミニウムキレート、三フッ化ホウ素アミン錯体等が挙げられる。熱酸発生剤として、これらのうち1種又は2種以上を含んでもよい。
本実施形態の硬化性樹脂組成物は、ポリマー(A)100質量部に対し、熱酸発生剤を好ましくは1質量部以上20質量部以下、さらに好ましくは2質量部以上15質量部以下含むことができる。
Examples of the thermoacid generator include aromatic sulfonium salts, aromatic iodonium salts, ammonium salts, aluminum chelates, boron trifluoride amine complexes and the like. As the thermal acid generator, one or more of these may be contained.
The curable resin composition of the present embodiment contains, preferably 1 part by mass or more and 20 parts by mass or less, and more preferably 2 parts by mass or more and 15 parts by mass or less of a thermal acid generator with respect to 100 parts by mass of the polymer (A). Can be done.

光酸発生剤としては、例えばオニウム塩化合物が挙げられる。具体的には、ジアゾニウム塩、ジアリールヨードニウム塩等のヨードニウム塩、トリアリールスルホニウム塩のようなスルホニウム塩、トリアリールビリリウム塩、ベンジルピリジニウムチオシアネート、ジアルキルフェナシルスルホニウム塩、ジアルキルヒドロキシフェニルホスホニウム塩のようなカチオン型光重合開始剤等が挙げられる。 Examples of the photoacid generator include onium salt compounds. Specifically, iodonium salts such as diazonium salt and diaryliodonium salt, sulfonium salts such as triarylsulfonium salt, triarylvirylium salt, benzylpyridinium thiocyanate, dialkylphenacil sulfonium salt, dialkylhydroxyphenylphosphonium salt and the like. Examples thereof include a cationic photopolymerization initiator.

本実施形態の硬化性樹脂組成物は、ポリマー(A)100質量部に対し、光酸発生剤を好ましくは1質量部以上20質量部以下、さらに好ましくは2質量部以上15質量部以下含むことができる。
なお、光酸発生剤と熱酸発生剤を併用してもよい。
The curable resin composition of the present embodiment contains, preferably 1 part by mass or more and 20 parts by mass or less, and more preferably 2 parts by mass or more and 15 parts by mass or less of a photoacid generator with respect to 100 parts by mass of the polymer (A). Can be done.
A photoacid generator and a thermoacid generator may be used in combination.

光ラジカル発生剤としては、具体的には、例えば、2,2-ジエトキシアセトフェノン、2,2-ジメトキシー2-フェニルアセトフェノン、1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2-ヒドロキシ-2-メチル-1-フェニルプロパン-1-オン、1-〔4-(2-ヒドロキシエトキシ)フェニル〕-2-ヒドロキシ-2-メチル-1-プロパン-1-オン、2-ヒドロキシ-1-{4-〔4-(2-ヒドロキシ-2-メチルプロピオニル)ベンジル〕フェニル}-2-メチルプロパン-1-オン、2-メチル-1-(4-メチルチオフェニル)-2-モルフォリノプロパン1-オン、2-ベンジル-2-ジメチルアミノ-1-(4-モルフォリノフェニル)-ブタノン-1、2-(ジメチルアミノ)-2-〔(4-メチルフェニル)メチル〕-1-〔4-(4-モルホリニル)フェニル〕-1-ブタノン等のアルキルフェノン系化合物;
ベンゾフェノン、4,4'-ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、2-カルボキシベンゾフェノン等のベンゾフェノン系化合物;ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテ等のベンゾイン系化合物;
チオキサントン、2-エチルチオキサントン、2-イソプロピルチオキサントン、2-クロロチオキサントン、2,4-ジメチルチオキサントン、2,4-ジエチルチオキサントン等のチオキサントン系化合物;
2-(4-メトキシフェニル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(4-メトキシナフチル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(4-エトキシナフチル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン、2-(4-エトキシカルボキニルナフチル)-4,6-ビス(トリクロロメチル)-s-トリアジン等のハロメチル化トリアジン系化合物;
2-トリクロロメチル-5-(2'-ベンゾフリル)-1,3,4-オキサジアゾール、2-トリクロロメチル-5-〔β-(2'-ベンゾフリル)ビニル〕-1,3,4-オキサジアゾール、4-オキサジアゾール、2-トリクロロメチル-5-フリル-1,3,4-オキサジアゾール等のハロメチル化オキサジアゾール系化合物;
2,2'-ビス(2-クロロフェニル)-4,4',5,5'-テトラフェニル-1,2'-ビイミダゾール、2,2'-ビス(2,4-ジクロロフェニル)-4,4',5,5'-テトラフェニル-1,2'-ビイミダゾール、2,2'-ビス(2,4,6-トリクロロフェニル)-4,4',5,5'-テトラフェニル-1,2'-ビイミダゾール等のビイミダゾール系化合物;
1,2-オクタンジオン,1-〔4-(フェニルチオ)-2-(O-ベンゾイルオキシム)〕、エタノン,1-〔9-エチル-6-(2-メチルベンゾイル)-9H-カルバゾール-3-イル〕-,1-(O-アセチルオキシム)等のオキシムエステル系化合物;
ビス(η5-2,4-シクロペンタジエン-1-イル)-ビス(2,6-ジフルオロ-3-(1H-ピロール-1-イル)-フェニル)チタニウム等のチタノセン系化合物;
p-ジメチルアミノ安息香酸、p-ジエチルアミノ安息香酸等の安息香酸エステル系化合物;
9-フェニルアクリジン等のアクリジン系化合物;等を挙げることができる。
Specific examples of the photoradical generator include 2,2-diethoxyacetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 1-hydroxycyclohexylphenylketone, and 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl. Propane-1-one, 1- [4- (2-hydroxyethoxy) phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propane-1-one, 2-hydroxy-1-{4- [4- (2) -Hydroxy-2-methylpropionyl) benzyl] phenyl} -2-methylpropane-1-one, 2-methyl-1- (4-methylthiophenyl) -2-morpholinopropane-1-one, 2-benzyl-2- Dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1,2- (dimethylamino) -2-[(4-methylphenyl) methyl] -1- [4- (4-morpholinyl) phenyl] -1 -Alkylphenyl compounds such as butanone;
Benzophenone compounds such as benzophenone, 4,4'-bis (dimethylamino) benzophenone, 2-carboxybenzophenone; benzoin compounds such as benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether and benzoin isobutylate;
Thioxanthone compounds such as thioxanthone, 2-ethylthioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone;
2- (4-Methoxyphenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (4-methoxynaphthyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (4) -Halomethylated triazine compounds such as ethoxynaphthyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine and 2- (4-ethoxycarboquinylnaphthyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine ;
2-Trichloromethyl-5- (2'-benzofuryl) -1,3,4-oxadiazole, 2-trichloromethyl-5-[β- (2'-benzofuryl) vinyl] -1,3,4-oxa Halomethylated oxadiazole-based compounds such as diazole, 4-oxadiazole, 2-trichloromethyl-5-furyl-1,3,4-oxadiazole;
2,2'-bis (2-chlorophenyl) -4,4', 5,5'-tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2,2'-bis (2,4-dichlorophenyl) -4,4 ', 5,5'-Tetraphenyl-1,2'-biimidazole, 2,2'-bis (2,4,6-trichlorophenyl) -4,4', 5,5'-tetraphenyl-1, 2'-Bimidazole-based compounds such as biimidazole;
1,2-octanedione, 1- [4- (phenylthio) -2- (O-benzoyloxime)], etanone, 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazole-3-3 Oxime ester compounds such as-, 1- (O-acetyloxime);
Titanocene compounds such as bis (η5-2,4-cyclopentadiene-1-yl) -bis (2,6-difluoro-3- (1H-pyrrole-1-yl) -phenyl) titanium;
Benzoic acid ester compounds such as p-dimethylaminobenzoic acid and p-diethylaminobenzoic acid;
Acridine compounds such as 9-phenylacridine; and the like can be mentioned.

本実施形態の硬化性樹脂組成物は、ポリマー(A)100質量部に対し、光ラジカル発生剤を好ましくは1質量部以上20質量部以下、さらに好ましくは2質量部以上15質量部以下含むことができる。 The curable resin composition of the present embodiment contains, preferably 1 part by mass or more and 20 parts by mass or less, and more preferably 2 parts by mass or more and 15 parts by mass or less of a photoradical generator with respect to 100 parts by mass of the polymer (A). Can be done.

また、上記光ラジカル発生剤とともに、光増感剤や光ラジカル重合促進剤を使用する事により、感度や架橋度を更に向上させることができる。例えば、キサンテン色素、クマリン色素などの色素系化合物、4-ジメチルアミノ安息香酸エチル、4-ジメチルアミノ安息香酸2-エチルヘキシル等のジアルキルアミノベンゼン系化合物、2-メルカプトベンゾチアゾール、2-メルカプトベンゾイミダゾール等のメルカプト系水素供与体等があげられる。 Further, by using a photosensitizer or a photoradical polymerization accelerator together with the photoradical generator, the sensitivity and the degree of cross-linking can be further improved. For example, dye compounds such as xanthene dyes and coumarin dyes, dialkylaminobenzene compounds such as ethyl 4-dimethylaminobenzoate and 2-ethylhexyl 4-dimethylaminobenzoate, 2-mercaptobenzothiazole, 2-mercaptobenzimidazole and the like. Examples include mercapto-based hydrogen donors.

(その他の成分)
本実施形態の硬化性樹脂組成物は各用途の目的や要求特性に応じて、フィラー、ポリマー(A)以外の樹脂、架橋剤、酸発生剤、耐熱向上剤、現像助剤、可塑剤、重合禁止剤、紫外線吸収剤、酸化防止剤、艶消し剤、消泡剤、レベリング剤、帯電防止剤、分散剤、スリップ剤、表面改質剤、揺変化剤、揺変助剤、界面活性剤、シラン系やアルミニウム系、チタン系などのカップリング剤、多価フェノール化合物、有機溶剤等のその他の成分が配合されても良い。
(Other ingredients)
The curable resin composition of the present embodiment has a filler, a resin other than the polymer (A), a cross-linking agent, an acid generator, a heat resistance improver, a developing aid, a plasticizer, and a polymerization agent, depending on the purpose and required characteristics of each application. Banners, UV absorbers, Antioxidants, Matters, Defoamers, Leveling Agents, Antistatic Agents, Dispersants, Slip Agents, Surface Modifiers, Shaking Agents, Shaking Aids, Surfactants, Other components such as silane-based, aluminum-based, and titanium-based coupling agents, polyhydric phenol compounds, and organic solvents may be blended.

[低誘電率材料用硬化性樹脂組成物]
本実施形態の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物は、ポリマー(A)と、必要に応じて添加される硬化触媒(B)と、上記のその他の成分とを混合することにより調製することができる。
[Curable resin composition for low dielectric constant materials]
The curable resin composition for a low dielectric constant material of the present embodiment is prepared by mixing the polymer (A), the curing catalyst (B) added as needed, and the above-mentioned other components. Can be done.

本実施形態の硬化性樹脂組成物は、ポリマーが溶剤に溶解したポリマー溶液としてもよい。このポリマー溶液において、液温25℃で、少なくとも一部のポリマーが溶解していればよいが、全てのポリマーが溶解していることが好ましい。 The curable resin composition of the present embodiment may be a polymer solution in which the polymer is dissolved in a solvent. In this polymer solution, at least a part of the polymer may be dissolved at a liquid temperature of 25 ° C., but it is preferable that all the polymers are dissolved.

ここで、固形分濃度とは、液温25℃の樹脂ワニス100質量%に対する、溶剤に溶解したポリマーの質量比率(質量%)としてよい。上記ポリマーの含有量は、固形分濃度で表されてもよい。 Here, the solid content concentration may be the mass ratio (mass%) of the polymer dissolved in the solvent to 100% by mass of the resin varnish at a liquid temperature of 25 ° C. The content of the polymer may be expressed in terms of solid content concentration.

また、上記樹脂ワニス中に含まれるポリマーはポリマー(A)を含む。用途に応じた耐熱性が得られる範囲で、ポリマー中におけるポリマー(A)の含有比率を適宜調整し得る。具体的には、上記ポリマー(A)の含有量は、上記樹脂ワニス中に含まれるポリマー100質量%に対して、例えば、10質量%以上でもよく、50質量%でもよく、90質量%以上でもよく、100質量%でもよい。その他のポリマーとして、目的に応じて、各種の共重合体を使用してよい。 Further, the polymer contained in the resin varnish contains the polymer (A). The content ratio of the polymer (A) in the polymer can be appropriately adjusted as long as the heat resistance according to the application can be obtained. Specifically, the content of the polymer (A) may be, for example, 10% by mass or more, 50% by mass, or 90% by mass or more with respect to 100% by mass of the polymer contained in the resin varnish. It may be 100% by mass. As the other polymer, various copolymers may be used depending on the purpose.

樹脂ワニス中のポリマーの含有量の下限は、樹脂ワニス100質量%に対して、例えば、5質量%以上、好ましくは7質量%以上、より好ましくは10質量%以上、さらに好ましくは15質量%以上である。一方、樹脂ワニス中のポリマーの含有量の上限は、樹脂ワニス100質量%に対して、例えば、50質量%以下、好ましくは45質量%以下、より好ましくは40質量%以下、さらに好ましくは25質量%以下である。このような数値範囲内とすることで、樹脂ワニスのハンドリング性を向上でき、耐熱性に優れた樹脂材料を実現できる。 The lower limit of the polymer content in the resin varnish is, for example, 5% by mass or more, preferably 7% by mass or more, more preferably 10% by mass or more, still more preferably 15% by mass or more, based on 100% by mass of the resin varnish. Is. On the other hand, the upper limit of the polymer content in the resin varnish is, for example, 50% by mass or less, preferably 45% by mass or less, more preferably 40% by mass or less, still more preferably 25% by mass, based on 100% by mass of the resin varnish. % Or less. Within such a numerical range, the handling property of the resin varnish can be improved, and a resin material having excellent heat resistance can be realized.

上記樹脂ワニス中の不揮発分の主成分が、上記ポリマーで構成されてもよい。すなわち、上記ポリマーの含有量は、当該不揮発分100質量%に対して、例えば、90質量%以上、好ましくは95質量%以上、より好ましくは100質量%である。
ここで、不揮発分とは、樹脂ワニスから溶剤等の揮発成分を除いた残部を指す。
The main component of the non-volatile component in the resin varnish may be composed of the polymer. That is, the content of the polymer is, for example, 90% by mass or more, preferably 95% by mass or more, and more preferably 100% by mass with respect to 100% by mass of the non-volatile content.
Here, the non-volatile component refers to the balance obtained by removing volatile components such as a solvent from the resin varnish.

本実施形態のポリマー(A)を含む硬化性樹脂組成物を基板に塗布し、120℃で5分間乾燥して得られた20μmの樹脂膜Aを下記(1)または(2)の条件で加熱した後の残膜率が、下記数値を満たすことが好ましい。
(1)樹脂膜A(20μm)を150℃で1時間加熱し、次いでヘキサンに2分間浸漬した後の樹脂膜Bの膜厚から次式で算出される残膜率は50%以上、好ましくは60%以上である。上限値は特に限定されないが、80%以下、好ましくは70%以下である。
(2)樹脂膜A(20μm)を180℃で30分間加熱し、次いでヘキサンに2分間浸漬した後の樹脂膜B'の膜厚から次式で算出される残膜率は70%以上、好ましくは80%以上である。上限値は特に限定されないが、100%以下、好ましくは98%以下である。
(式)
残膜率(%)={(加熱後にヘキサン浸漬された樹脂膜B(またはB')の膜厚(μm))/(乾燥後の樹脂膜Aの膜厚:20μm)}×100
The curable resin composition containing the polymer (A) of the present embodiment is applied to a substrate, dried at 120 ° C. for 5 minutes, and the obtained 20 μm resin film A is heated under the conditions of (1) or (2) below. It is preferable that the residual film ratio after this is satisfied with the following numerical values.
(1) The residual film ratio calculated by the following formula from the film thickness of the resin film B after heating the resin film A (20 μm) at 150 ° C. for 1 hour and then immersing it in hexane for 2 minutes is preferably 50% or more. It is 60% or more. The upper limit is not particularly limited, but is 80% or less, preferably 70% or less.
(2) The residual film ratio calculated by the following formula from the film thickness of the resin film B'after heating the resin film A (20 μm) at 180 ° C. for 30 minutes and then immersing it in hexane for 2 minutes is preferable. Is 80% or more. The upper limit is not particularly limited, but is 100% or less, preferably 98% or less.
(formula)
Remaining film ratio (%) = {(Film thickness (μm) of resin film B (or B') immersed in hexane after heating) / (Film thickness of resin film A after drying: 20 μm)} × 100

本実施形態の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物は、所定のノルボルネン系モノマーを重合して得られるポリマー(A)を含むものであるが、樹脂膜は溶解特性(1)および(2)をいずれも満たすことから、成膜性に優れ、Bステージ状態およびCステージ状態が存在する。そのため、後述するように、半導体素子の多層配線構造を構成する層間絶縁膜、回路基板を構成するビルドアップ層もしくはコア層等の製造安定性に優れ、これらの半導体用途に好適に用いることができる。
なお、120℃で5分間乾燥して得られた20μmの樹脂膜Aのヘキサンに2分間浸漬した後の残膜率((浸漬後膜厚/浸漬前膜厚)×100)は0%以上20%以下、好ましくは5%以上15%以下である。当該残膜率を満たすことで、低誘電率材料用硬化性樹脂組成物のハンドリング性により優れる。
The curable resin composition for a low dielectric constant material of the present embodiment contains a polymer (A) obtained by polymerizing a predetermined norbornene-based monomer, but the resin film has any of the dissolution characteristics (1) and (2). Since the above conditions are also satisfied, the film forming property is excellent, and there are a B stage state and a C stage state. Therefore, as will be described later, the interlayer insulating film constituting the multilayer wiring structure of the semiconductor element, the build-up layer or the core layer constituting the circuit board, etc. are excellent in manufacturing stability and can be suitably used for these semiconductor applications. ..
The residual film ratio ((film thickness after immersion / film thickness before immersion) × 100) of the 20 μm resin film A obtained by drying at 120 ° C. for 5 minutes after being immersed in hexane for 2 minutes is 0% or more and 20. % Or less, preferably 5% or more and 15% or less. By satisfying the residual film ratio, the handleability of the curable resin composition for low dielectric constant materials is excellent.

[用途]
本実施形態の硬化性樹脂組成物は、必要に応じて有機溶剤を乾燥等により除去し、光または加熱、または光と加熱を併用することにより硬化させることにより硬化物を得ることができる。
[Use]
The curable resin composition of the present embodiment can be obtained as a cured product by removing the organic solvent by drying or the like, if necessary, and curing by light or heating, or by using light and heating in combination.

熱硬化は大気下、窒素雰囲気下、真空下等で行うことができる。得られる硬化物に透明性が要求される場合は、窒素雰囲気下や真空下で実施することが好ましく、または酸化防止剤を併用することが好ましい。 Thermosetting can be performed in an atmosphere, a nitrogen atmosphere, a vacuum, or the like. When transparency is required for the obtained cured product, it is preferable to carry out the process in a nitrogen atmosphere or in a vacuum, or it is preferable to use an antioxidant in combination.

硬化物の周波数1MHzにおける比誘電率は、好ましくは2.6以下、好ましくは2.4以下とすることができる。これにより、硬化物を低誘電率材料に適用することができる。
さらに、硬化物の周波数1MHzにおける誘電正接(tanδ)は、好ましくは0.005以下であり、より好ましくは0.003以下とすることができる。これにより、硬化物の誘電特性をより一層向上させることができる。
The relative permittivity of the cured product at a frequency of 1 MHz can be preferably 2.6 or less, preferably 2.4 or less. This makes it possible to apply the cured product to low dielectric constant materials.
Further, the dielectric loss tangent (tan δ) of the cured product at a frequency of 1 MHz is preferably 0.005 or less, and more preferably 0.003 or less. This makes it possible to further improve the dielectric properties of the cured product.

この低誘電率材料は、各種用途に用いることできるが、例えば、耐熱性や膜形態での使用が求められる用途に適用できる。また、低誘電率材料は、透明性に優れた樹脂膜(低誘電率膜)を提供できる。 This low dielectric constant material can be used for various purposes, and can be applied to, for example, applications that require heat resistance and use in a film form. Further, the low dielectric constant material can provide a resin film (low dielectric constant film) having excellent transparency.

具体的な用途として、プリント基板用途や永久膜等の樹脂膜形成用途等が挙げられる。
プリント基板は、ガラスクロス等の低誘電クロスに硬化性樹脂組成物を含侵し、硬化することにより得ることができる。
一方、樹脂膜は、層間膜、表面保護膜、ダム材などが代表例として知られているが、これに限定されない。樹脂膜は、後述のとおり、半導体素子等の電子部品・電子装置やその製造過程に用いられる。
Specific applications include applications for printed circuit boards and applications for forming resin films such as permanent films.
The printed circuit board can be obtained by impregnating a low-dielectric cloth such as glass cloth with a curable resin composition and curing the printed circuit board.
On the other hand, as the resin film, an interlayer film, a surface protective film, a dam material and the like are known as typical examples, but the resin film is not limited thereto. As will be described later, the resin film is used in electronic components and devices such as semiconductor devices and in the manufacturing process thereof.

層間膜は、多層構造中に設けられる絶縁膜を指し、その種類はとくに限定されない。層間膜としては、たとえば半導体素子の多層配線構造を構成する層間絶縁膜、回路基板を構成するビルドアップ層もしくはコア層等の半導体用途において用いられるものが挙げられる。また、層間膜としては、たとえば表示装置における薄膜トランジスタを覆う平坦化膜、液晶配向膜、MVA型液晶表示装置のカラーフィルタ基板上に設けられる突起、もしくは有機EL素子の陰極を形成するための隔壁等の表示素子用途において用いられるものも挙げられる。 The interlayer film refers to an insulating film provided in the multilayer structure, and the type thereof is not particularly limited. Examples of the interlayer film include those used in semiconductor applications such as an interlayer insulating film constituting a multilayer wiring structure of a semiconductor element, a build-up layer constituting a circuit board, or a core layer. The interlayer film may be, for example, a flattening film covering a thin film transistor in a display device, a liquid crystal alignment film, a protrusion provided on a color filter substrate of an MVA type liquid crystal display device, or a partition wall for forming a cathode of an organic EL element. The one used in the display element application of is also mentioned.

表面保護膜は、電子部品や電子装置あるいはこれらが形成された基板の表面に形成され、当該表面を保護するための膜を指す。このような表面保護膜の一例としては、たとえば半導体素子上に設けられるパッシベーション膜、バンプ保護膜もしくはバッファーコート層、またはフレキシブル基板上に設けられるカバーコートが挙げられ、有機材料または無機材料で構成される下地との密着性に優れるものである。
また、ダム材は、基板上に光学素子等を配置するための中空部分を形成するために用いられるスペーサである。
The surface protective film refers to a film formed on the surface of an electronic component, an electronic device, or a substrate on which these are formed, and for protecting the surface. Examples of such a surface protective film include a passivation film provided on a semiconductor element, a bump protective film or a buffer coat layer, or a cover coat provided on a flexible substrate, which is made of an organic material or an inorganic material. It has excellent adhesion to the substrate.
Further, the dam material is a spacer used for forming a hollow portion for arranging an optical element or the like on a substrate.

本実施形態の硬化性樹脂組成物は、このような永久膜を形成するために用いることが可能である。すなわち、硬化性樹脂組成物からなる樹脂膜(低誘電率膜)を永久膜に適用できる。なお、樹脂膜(低誘電率膜)を永久膜の一部に用いることもできる。例えば、従来公知の材料からなる永久膜の表面に硬化性樹脂組成物を塗布・硬化し、樹脂膜(低誘電率膜)でコーティングすることができる。 The curable resin composition of the present embodiment can be used to form such a permanent film. That is, a resin film (low dielectric constant film) made of a curable resin composition can be applied to a permanent film. A resin film (low dielectric constant film) can also be used as a part of the permanent film. For example, a curable resin composition can be applied and cured on the surface of a permanent film made of a conventionally known material, and coated with a resin film (low dielectric constant film).

本実施形態において、上記樹脂膜の厚みは、用途に応じて適切に調整され得る。上記樹脂膜の厚みの下限は、例えば、10μm以上、15μm以上、20μm以上でもよい。一方、上記樹脂膜の厚みの上限は、例えば、100μm以下、70μm以下、60μm以下、30μm以下でもよい。
本実施形態の硬化性樹脂組成物硬化性樹脂組成物を用いることにより、前記範囲の厚みである樹脂膜であってもクラックが生じない。
In the present embodiment, the thickness of the resin film can be appropriately adjusted according to the intended use. The lower limit of the thickness of the resin film may be, for example, 10 μm or more, 15 μm or more, or 20 μm or more. On the other hand, the upper limit of the thickness of the resin film may be, for example, 100 μm or less, 70 μm or less, 60 μm or less, and 30 μm or less.
Curable resin composition of the present embodiment By using the curable resin composition, cracks do not occur even in a resin film having a thickness within the above range.

以上、本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、本発明の効果を損なわない範囲で、上記以外の様々な構成を採用することができる。 Although the embodiments of the present invention have been described above, these are examples of the present invention, and various configurations other than the above can be adopted as long as the effects of the present invention are not impaired.

以下に、実施例により本発明を更に詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail by way of examples, but the present invention is not limited thereto.

(触媒溶液1の調製)
あらかじめ水分を除去済みの窒素雰囲気化にしたガラス製容器に、アリルパラジウム(II)クロリド(ダイマー)0.274g(0.00075mol)とジフェニルシクロヘキシルホスフィン0.403g(0.0015mol)、脱水トルエン200gを添加し、室温で1時間攪拌させて溶解させた後、次にN,N-ジメチルアニリニウムテトラキス(ペンタフルオロフェニル)ボレート1.502g(0.0019mol)を加えてさらに30分攪拌して、窒素気流下フィルターで溶液をろ過して触媒溶液1とした。
(Preparation of catalyst solution 1)
0.274 g (0.00075 mol) of allylpalladium (II) chloride (dimer), 0.403 g (0.0015 mol) of diphenylcyclohexylphosphine, and 200 g of dehydrated toluene are placed in a nitrogen-conditioned glass container from which water has been removed in advance. Add, stir at room temperature for 1 hour to dissolve, then add 1.502 g (0.0019 mol) of N, N-dimethylanilinium tetrakis (pentafluorophenyl) borate and stir for another 30 minutes to nitrogen. The solution was filtered with an under-air filter to give the catalyst solution 1.

<ポリマーの合成>
(合成例1:共重合体1)
撹拌機、冷却管を備えた適切なサイズの反応容器に、5-ブチルビシクロ[2.2.1]ヘプタ-2-エン(337.8g、2.25mol)、5-ビニルビシクロ[2.2.1]ヘプタ-2-エン(180g、1.50mol)、500gの脱水トルエンに溶解させた。この溶解液に対して、窒素バブリングにより系内の溶存酸素を除去した後、撹拌しつつ、100℃に到達した際、あらかじめ調整した触媒溶液1を窒素気流下で添加して100℃で3時間の条件で内温を保持させながら反応を行った後、トリエチルシランを2g添加した。これにより、以下の構造単位を有する共重合体1を得た。
次いで、室温まで冷却した上記溶解液を大量のメチルエチルケトンを用いて再沈させた後、析出物をろ取し、そのろ取物を大量のメチルエチルケトンを用いて洗浄し、固液分離にてポリマーを取り出し、真空乾燥機にて乾燥させ、373gの白色粉末ポリマーを得た。
このようにして得られた共重合体1の重量平均分子量(Mw)は15,000であり、分散度(Mw/Mn)は2.1であった。

Figure 2022055652000004
<Polymer synthesis>
(Synthesis Example 1: Copolymer 1)
In an appropriately sized reaction vessel equipped with a stirrer and a cooling tube, 5-butylbicyclo [2.2.1] hepta-2-ene (337.8 g, 2.25 mol), 5-vinylbicyclo [2.2]. .1] Hepta-2-ene (180 g, 1.50 mol) was dissolved in 500 g of dehydrated toluene. After removing the dissolved oxygen in the system by nitrogen bubbling with respect to this solution, when the temperature reaches 100 ° C. while stirring, the catalyst solution 1 prepared in advance is added under a nitrogen stream and the temperature is 100 ° C. for 3 hours. After carrying out the reaction while maintaining the internal temperature under the conditions of the above, 2 g of triethylsilane was added. As a result, a copolymer 1 having the following structural units was obtained.
Then, the above-mentioned solution cooled to room temperature was reprecipitated with a large amount of methyl ethyl ketone, the precipitate was collected by filtration, the sample was washed with a large amount of methyl ethyl ketone, and the polymer was separated by solid-liquid separation. It was taken out and dried in a vacuum dryer to obtain 373 g of a white powder polymer.
The weight average molecular weight (Mw) of the copolymer 1 thus obtained was 15,000, and the dispersity (Mw / Mn) was 2.1.
Figure 2022055652000004

(合成例2:共重合体2)
撹拌機、冷却管を備えた適切なサイズの反応容器に、5-ブチルビシクロ[2.2.1]ヘプタ-2-エン(675.6g、4.5mol)、5-ビニルビシクロ[2.2.1]ヘプタ-2-エン(360g、3.0mol)、[ビシクロ[2.2.1]ヘプタ-5-エン-2-イル]トリエトキシシラン(70g、0.29mol)1,000gの脱水トルエンに溶解させた。この溶解液に対して、窒素バブリングにより系内の溶存酸素を除去した後、撹拌しつつ、90℃に到達した際、あらかじめ調整した触媒溶液1を窒素気流下で添加して90℃で5時間の条件で内温を保持させながら反応を行った後、トリエチルシランを2g添加した。これにより、以下の構造単位を有する共重合体2を得た。次いで、室温まで冷却した上記溶解液を大量のメチルエチルケトンを用いて再沈させた後、析出物をろ取し、そのろ取物を大量のメチルエチルケトンを用いて洗浄し、固液分離にてポリマーを取り出し、真空乾燥機にて乾燥させ、890gの白色粉末ポリマーを得た。
このようにして得られた共重合体2の重量平均分子量(Mw)は24,000であり、分散度(Mw/Mn)は2.5であった。

Figure 2022055652000005
(Synthesis Example 2: Copolymer 2)
5-Butylbicyclo [2.2.1] hepta-2-ene (675.6 g, 4.5 mol), 5-vinylbicyclo [2.2] in an appropriately sized reaction vessel equipped with a stirrer and a condenser. .1] Dehydration of hepta-2-ene (360 g, 3.0 mol), [bicyclo [2.2.1] hepta-5-ene-2-yl] triethoxysilane (70 g, 0.29 mol) 1,000 g It was dissolved in toluene. After removing the dissolved oxygen in the system by nitrogen bubbling with respect to this solution, when the temperature reaches 90 ° C while stirring, the catalyst solution 1 prepared in advance is added under a nitrogen stream and the temperature is 90 ° C for 5 hours. After carrying out the reaction while maintaining the internal temperature under the conditions of the above, 2 g of triethylsilane was added. As a result, a copolymer 2 having the following structural units was obtained. Then, the above-mentioned solution cooled to room temperature was reprecipitated with a large amount of methyl ethyl ketone, the precipitate was collected by filtration, the sample was washed with a large amount of methyl ethyl ketone, and the polymer was separated by solid-liquid separation. It was taken out and dried in a vacuum dryer to obtain 890 g of a white powder polymer.
The weight average molecular weight (Mw) of the copolymer 2 thus obtained was 24,000, and the dispersity (Mw / Mn) was 2.5.
Figure 2022055652000005

(合成比較例1:ホモポリマー1)
撹拌機、冷却管を備えた適切なサイズの反応容器に、5-ブチルビシクロ[2.2.1]ヘプタ-2-エン(2,252g、15.0mol)、トリエチルシラン(1.0g、0.009mol)を計量し、8,000gの脱水トルエンに溶解させた。この溶解液に対して、窒素バブリングにより系内の溶存酸素を除去した後、撹拌しつつ、60℃に到達した際、あらかじめ調整した触媒溶液1を窒素気流下で添加して60℃で4時間の条件で内温を保持させながら反応を行った後、トリエチルシランを2g添加した。これにより、以下の構造単位を有するホモポリマー1を得た。次いで、室温まで冷却した上記溶解液を大量のメチルエチルケトンを用いて再沈させた後、析出物をろ取し、そのろ取物を大量のメチルエチルケトンを用いて洗浄し、固液分離にてホモポリマーを取り出し、真空乾燥機にて乾燥させ、1,800gの白色粉末ホモポリマーを得た。
このようにして得られたホモポリマー1の重量平均分子量(Mw)は450,000であり、分散度(Mw/Mn)は4.2であった。

Figure 2022055652000006
(Synthetic Comparative Example 1: Homopolymer 1)
5-Butylbicyclo [2.2.1] hepta-2-ene (2,252 g, 15.0 mol), triethylsilane (1.0 g, 0) in an appropriately sized reaction vessel equipped with a stirrer and a cooling tube. .009 mol) was weighed and dissolved in 8,000 g of dehydrated toluene. After removing the dissolved oxygen in the system by nitrogen bubbling with respect to this solution, when the temperature reaches 60 ° C. while stirring, the catalyst solution 1 prepared in advance is added under a nitrogen stream and the temperature is 60 ° C. for 4 hours. After carrying out the reaction while maintaining the internal temperature under the conditions of the above, 2 g of triethylsilane was added. As a result, a homopolymer 1 having the following structural units was obtained. Next, the above solution cooled to room temperature was reprecipitated with a large amount of methyl ethyl ketone, the precipitate was collected by filtration, the sample was washed with a large amount of methyl ethyl ketone, and homopolymer was separated by solid-liquid separation. Was taken out and dried in a vacuum dryer to obtain 1,800 g of white powder homopolymer.
The weight average molecular weight (Mw) of the homopolymer 1 thus obtained was 450,000, and the dispersity (Mw / Mn) was 4.2.
Figure 2022055652000006

(合成比較例2:ホモポリマー2)
撹拌機、冷却管を備えた適切なサイズの反応容器に、5-ビニルビシクロ[2.2.1]ヘプタ-2-エン(500g、4.17mol)を計量し、500gの脱水トルエンに溶解させた。この溶解液に対して、窒素バブリングにより系内の溶存酸素を除去した後、撹拌しつつ、100℃に到達した際、あらかじめ調整した触媒溶液1を窒素気流下で添加して100℃で8時間の条件で内温を保持させながら反応を行った後、トリエチルシランを2g添加した。これにより、以下の構造単位を有するホモポリマー2を得た。次いで、室温まで冷却した上記溶解液を大量のメチルエチルケトンを用いて再沈させた後、析出物をろ取し、そのろ取物を大量のメチルエチルケトンを用いて洗浄し、固液分離にてホモポリマーを取り出し、真空乾燥機にて乾燥させ、280gの白色粉末ホモポリマーを得た。
このようにして得られたホモポリマー2の重量平均分子量(Mw)は7,000であり、分散度(Mw/Mn)は2.2であった。

Figure 2022055652000007
(Synthetic Comparative Example 2: Homopolymer 2)
In a reaction vessel of appropriate size equipped with a stirrer and a cooling tube, 5-vinylbicyclo [2.2.1] hepta-2-ene (500 g, 4.17 mol) is weighed and dissolved in 500 g of dehydrated toluene. rice field. After removing the dissolved oxygen in the system by nitrogen bubbling with respect to this solution, when the temperature reaches 100 ° C. with stirring, the catalyst solution 1 prepared in advance is added under a nitrogen stream and the temperature is 100 ° C. for 8 hours. After carrying out the reaction while maintaining the internal temperature under the conditions of the above, 2 g of triethylsilane was added. As a result, a homopolymer 2 having the following structural units was obtained. Next, the above solution cooled to room temperature was reprecipitated with a large amount of methyl ethyl ketone, the precipitate was collected by filtration, the sample was washed with a large amount of methyl ethyl ketone, and homopolymer was separated by solid-liquid separation. Was taken out and dried in a vacuum dryer to obtain 280 g of white powder homopolymer.
The weight average molecular weight (Mw) of the homopolymer 2 thus obtained was 7,000, and the dispersity (Mw / Mn) was 2.2.
Figure 2022055652000007

得られたポリマーの重量平均分子量(Mw)、および数平均分子量(Mn)は、GPC測定により得られる標準ポリスチレン(PS)の検量線から求めた、ポリスチレン換算値を用いた。測定条件は、以下の通りである。
東ソー(株)社製ゲルパーミエーションクロマトグラフィー装置HLC-8320GPC
カラム:東ソー(株)社製TSK-GEL Supermultipore HZ-M
検出器:液体クロマトグラム用RI検出器
測定温度:40℃
溶剤:THF
試料濃度:2.0mg/ミリリットル
For the weight average molecular weight (Mw) and the number average molecular weight (Mn) of the obtained polymer, polystyrene-equivalent values obtained from the calibration curve of standard polystyrene (PS) obtained by GPC measurement were used. The measurement conditions are as follows.
Gel Permeation Chromatography Equipment HLC-8320GPC manufactured by Tosoh Corporation
Column: TSK-GEL Supermultipore HZ-M manufactured by Tosoh Corporation
Detector: RI detector for liquid chromatogram Measurement temperature: 40 ° C
Solvent: THF
Sample concentration: 2.0 mg / ml

<樹脂組成物>製膜性
(実施例1)
合成例1で得られた共重合体1を4gトルエン6gに溶解して樹脂溶液として、ポリマーが完全に溶解し、スピンコーターを用いてシリコンウエハに製膜して、120℃で5分乾燥を行い、20μmの樹脂膜を得た。
得られた樹脂膜を窒素雰囲気下で150℃1時間加熱し、常温に戻した。その樹脂膜をヘキサンに浸漬したところ、下記式で算出される残膜率は58%であった。
また、乾燥後の20μmの樹脂膜を窒素雰囲気下で180℃30分加熱し、常温に戻した。その樹脂膜をヘキサンに浸漬したところ、下記式で算出される残膜率は84%であった。
(式)
残膜率(%)={(加熱後にヘキサン浸漬された樹脂膜の膜厚(μm))/(乾燥後の樹脂膜の膜厚:20μm)}×100
<Resin composition> Film-forming property (Example 1)
The copolymer 1 obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in 4 g of toluene in 6 g to form a resin solution, the polymer was completely dissolved, a film was formed on a silicon wafer using a spin coater, and the mixture was dried at 120 ° C. for 5 minutes. This was performed to obtain a 20 μm resin film.
The obtained resin film was heated at 150 ° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere and returned to room temperature. When the resin film was immersed in hexane, the residual film ratio calculated by the following formula was 58%.
Further, the dried 20 μm resin film was heated at 180 ° C. for 30 minutes in a nitrogen atmosphere and returned to room temperature. When the resin film was immersed in hexane, the residual film ratio calculated by the following formula was 84%.
(formula)
Remaining film ratio (%) = {(Thickness of resin film immersed in hexane after heating (μm)) / (Film thickness of resin film after drying: 20 μm)} × 100

(実施例2)
合成例2で得られた共重合体2を4gトルエン6gに溶解して樹脂溶液として、ポリマーが完全に溶解し、スピンコーターを用いてシリコンウエハに製膜して、120℃で5分乾燥を行い、20μmの樹脂膜を得た。
得られた樹脂膜を窒素雰囲気下で150℃1時間加熱し、常温に戻した。その樹脂膜をヘキサンに浸漬したところ、上記式で算出される残膜率は63%であった。
また、乾燥後の20μmの樹脂膜を窒素雰囲気下で180℃30分加熱し、常温に戻した。その樹脂膜をヘキサンに浸漬したところ、上記式で算出される残膜率は94%であった。
(Example 2)
The copolymer 2 obtained in Synthesis Example 2 is dissolved in 4 g of toluene in 6 g to form a resin solution, the polymer is completely dissolved, a film is formed on a silicon wafer using a spin coater, and the mixture is dried at 120 ° C. for 5 minutes. This was performed to obtain a 20 μm resin film.
The obtained resin film was heated at 150 ° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere and returned to room temperature. When the resin film was immersed in hexane, the residual film ratio calculated by the above formula was 63%.
Further, the dried 20 μm resin film was heated at 180 ° C. for 30 minutes in a nitrogen atmosphere and returned to room temperature. When the resin film was immersed in hexane, the residual film ratio calculated by the above formula was 94%.

(比較例1)
合成比較例1で得られたホモポリマー1を2gトルエン8gに溶解して樹脂溶液として、ポリマーが完全に溶解し、スピンコーターを用いてシリコンウエハに製膜して、120℃で5分乾燥を行い、20μmの樹脂膜を得た。
得られた樹脂膜を窒素雰囲気下で150℃1時間加熱し、常温に戻した。その樹脂膜をヘキサンに浸漬したところ、上記式で算出される残膜率は0%であった。
(Comparative Example 1)
The homopolymer 1 obtained in Synthetic Comparative Example 1 was dissolved in 2 g of toluene in 8 g to form a resin solution, the polymer was completely dissolved, a film was formed on a silicon wafer using a spin coater, and the mixture was dried at 120 ° C. for 5 minutes. This was performed to obtain a 20 μm resin film.
The obtained resin film was heated at 150 ° C. for 1 hour in a nitrogen atmosphere and returned to room temperature. When the resin film was immersed in hexane, the residual film ratio calculated by the above formula was 0%.

(比較例2)
合成比較例2で得られたホモポリマー2を4gトルエン6gに溶解して樹脂溶液として、ポリマーが完全に溶解し、スピンコーターを用いてシリコンウエハに製膜して、120℃で5分乾燥を行い、10μmの樹脂膜を得たがクラックが入っており製膜は難しかった。
(Comparative Example 2)
The homopolymer 2 obtained in Synthetic Comparative Example 2 was dissolved in 4 g of toluene in 6 g to form a resin solution, the polymer was completely dissolved, a film was formed on a silicon wafer using a spin coater, and the mixture was dried at 120 ° C. for 5 minutes. A 10 μm resin film was obtained, but cracks were formed and it was difficult to form the film.

<1MHz誘電率の測定>
ポリマーをスピンコーターで4インチシリコンウエハに製膜して、120℃で10間分乾燥させ、30分180℃真空下で加熱を行い、2.0μmの製膜とした。
試験機はアジレント・テクノロジー社製HP-4284Aを用いて測定周波数1MHzで並列容量CpとコンダクタンスGを測定して、比誘電率、誘電正接を算出した結果を下表1に記載した。
<Measurement of 1MHz permittivity>
The polymer was formed into a 4-inch silicon wafer with a spin coater, dried at 120 ° C. for 10 minutes, and heated at 180 ° C. for 30 minutes under vacuum to obtain a film formation of 2.0 μm.
Table 1 below shows the results of calculating the relative permittivity and the dielectric loss tangent by measuring the parallel capacitance Cp and conductance G at a measurement frequency of 1 MHz using an HP-4284A manufactured by Agilent Technologies.

<透明性評価>
ポリマーをペットフィルム上に製膜して、100℃で60間分真空乾燥させ、ペットフィルムから剥がし、さらに30分180℃真空下で加熱を行い、50μmのフィルムを得た。JIS-K-7361をもとに得られたフィルムの全光線測定率を測定した。
<Transparency evaluation>
The polymer was formed on a pet film, vacuum dried at 100 ° C. for 60 minutes, peeled off from the pet film, and further heated under a vacuum at 180 ° C. for 30 minutes to obtain a 50 μm film. The total ray measurement rate of the film obtained based on JIS-K-7361 was measured.

Figure 2022055652000008
Figure 2022055652000008

前記一般式(1)で表される構造単位と、前記一般式(2)で表される構造単位とを含むポリマーを含有する、本発明の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物は、表1に記載のように、低誘電性に優れた透明な硬化物が得られることが明らかとなった。さらに、本発明の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物は、成膜性に優れ、Bステージ状態およびCステージ状態が存在することから、半導体素子の多層配線構造を構成する層間絶縁膜、回路基板を構成するビルドアップ層もしくはコア層等の製造安定性に優れ、当該半導体用途に好適に用いられることが明らかとなった。 The curable resin composition for a low dielectric constant material of the present invention containing a polymer containing the structural unit represented by the general formula (1) and the structural unit represented by the general formula (2) is shown in the table. As described in No. 1, it was clarified that a transparent cured product having excellent low dielectric constant can be obtained. Further, the curable resin composition for a low dielectric constant material of the present invention has excellent film forming properties and has a B-stage state and a C-stage state. Therefore, an interlayer insulating film and a circuit constituting a multilayer wiring structure of a semiconductor element. It has been clarified that the build-up layer or the core layer constituting the substrate has excellent manufacturing stability and is suitably used for the semiconductor application.

Claims (11)

下記一般式(1)で表される構造単位aを少なくとも1種と、下記一般式(2)で表される構造単位bを少なくとも1種とを含むポリマーを含有する、低誘電率材料用硬化性樹脂組成物。
Figure 2022055652000009
(一般式(1)中、mは0、1または2である。
一般式(2)中、Xは炭素数3~20の直鎖または分岐のアルキル基、炭素数3~10のシクロアルキル基、またはアリール基を示す。nは0、1または2である。)
Curing for low dielectric constant materials containing a polymer containing at least one structural unit a represented by the following general formula (1) and at least one structural unit b represented by the following general formula (2). Sex resin composition.
Figure 2022055652000009
(In the general formula (1), m is 0, 1 or 2.
In the general formula (2), X represents a linear or branched alkyl group having 3 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms, or an aryl group. n is 0, 1 or 2. )
前記ポリマーは、さらに下記一般式(3)で表される構造単位cを少なくとも1種含む、請求項1に記載の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物。
Figure 2022055652000010
(一般式(3)中、Rは、それぞれ独立に、炭素数1~3のアルコキシ基または炭素数1~3のアルキル基を示し、少なくとも2つのRは炭素数1~3のアルコキシ基である。lは0、1または2である。pは0~3の整数である。)
The curable resin composition for a low dielectric constant material according to claim 1, wherein the polymer further contains at least one structural unit c represented by the following general formula (3).
Figure 2022055652000010
(In the general formula (3), R independently represent an alkoxy group having 1 to 3 carbon atoms or an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and at least two Rs are alkoxy groups having 1 to 3 carbon atoms. .L is 0, 1 or 2. p is an integer from 0 to 3.)
前記ポリマーは、極性官能基を含まない、請求項1または2に記載の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物。 The curable resin composition for a low dielectric constant material according to claim 1 or 2, wherein the polymer does not contain a polar functional group. 前記ポリマーは、マレイン酸またはマレイミドから誘導される構成単位を含まない、請求項1~3のいずれかに記載の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物。 The curable resin composition for a low dielectric constant material according to any one of claims 1 to 3, wherein the polymer does not contain a structural unit derived from maleic acid or maleimide. さらに硬化触媒を含む、請求項1~4のいずれかに記載の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物。 The curable resin composition for a low dielectric constant material according to any one of claims 1 to 4, further comprising a curing catalyst. 前記硬化触媒は、光酸発生剤または光ラジカル発生剤である、請求項5に記載の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物。 The curable resin composition for a low dielectric constant material according to claim 5, wherein the curing catalyst is a photoacid generator or a photoradical generator. 前記低誘電率材料用硬化性樹脂組成物を塗布し、120℃で5分間乾燥して得られた20μmの樹脂膜Aを、
150℃で1時間加熱し、次いでヘキサンに2分間浸漬した後の樹脂膜Bの膜厚から次式で算出される残膜率は50%以上であり、
180℃で30分間加熱し、次いでヘキサンに2分間浸漬した後の樹脂膜B'の膜厚から次式で算出される残膜率は70%以上である、
請求項1~6のいずれかに記載の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物。
(式)
残膜率(%)={(加熱後にヘキサン浸漬された樹脂膜B(またはB')の膜厚(μm))/(乾燥後の樹脂膜Aの膜厚:20μm)}×100
The 20 μm resin film A obtained by applying the curable resin composition for a low dielectric constant material and drying at 120 ° C. for 5 minutes was applied.
The residual film ratio calculated by the following formula from the film thickness of the resin film B after heating at 150 ° C. for 1 hour and then immersing in hexane for 2 minutes is 50% or more.
The residual film ratio calculated by the following formula from the film thickness of the resin film B'after heating at 180 ° C. for 30 minutes and then immersing in hexane for 2 minutes is 70% or more.
The curable resin composition for a low dielectric constant material according to any one of claims 1 to 6.
(formula)
Remaining film ratio (%) = {(Film thickness (μm) of resin film B (or B') immersed in hexane after heating) / (Film thickness of resin film A after drying: 20 μm)} × 100
請求項1~7のいずれかに記載の低誘電率材料用硬化性樹脂組成物を硬化してなる硬化物。 A cured product obtained by curing the curable resin composition for a low dielectric constant material according to any one of claims 1 to 7. 周波数1MHzにおける比誘電率は2.6以下であり、誘電正接(tanδ)は0.005以下である、請求項8に記載の硬化物。 The cured product according to claim 8, wherein the relative permittivity at a frequency of 1 MHz is 2.6 or less, and the dielectric loss tangent (tan δ) is 0.005 or less. 請求項8または9に記載の前記硬化物からなり膜厚が10μm以上である、樹脂膜。 A resin film comprising the cured product according to claim 8 or 9, having a film thickness of 10 μm or more. 請求項8または9に記載の前記硬化物からなる低誘電率材料。 A low dielectric constant material comprising the cured product according to claim 8 or 9.
JP2020163196A 2020-09-29 2020-09-29 Curable resin composition for low dielectric constant material, and cured product and low dielectric constant material obtained from the resin composition Pending JP2022055652A (en)

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