JP2022029980A - Wiring board - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、抵抗体を有している配線基板に関する。 The present invention relates to a wiring board having a resistor.
電気回路には、電流値の調整などの目的で抵抗体が備えられている。抵抗体は、チップ抵抗器などの電子部品の素子として利用される。抵抗体には、目的とする抵抗値に設定するためにトリミング溝が形成されている。 The electric circuit is provided with a resistor for the purpose of adjusting the current value and the like. The resistor is used as an element of an electronic component such as a chip resistor. A trimming groove is formed on the resistor in order to set the target resistance value.
例えば、特許文献1には、絶縁基板上に設けられた抵抗体にトリミング溝を形成することで抵抗値が調整されるチップ抵抗器が開示されている。特許文献1に開示されているチップ抵抗器1は、矩形状の調整部8を挟んで第1蛇行部6と第2蛇行部7が連続するように印刷形成された抵抗体5を有しており、調整部8に第1トリミング溝9を形成することにより、抵抗体5の電流経路を長くしてサージ特性を向上させた上で、抵抗体5の抵抗値が目標抵抗値に近づくように粗調整されている。また、第2蛇行部7における電流分布の少ない領域に第2トリミング溝10を形成することにより、第2トリミング溝10の切込み量に伴って抵抗体5の抵抗値が目標抵抗値と一致するように微調整されている。
For example,
上記のように、トリミングによって抵抗値の調整を行うためには、抵抗体にトリミング溝を形成するための領域を確保することが必要となる。一方、近年の配線基板の技術分野では、各種回路素子のパターンを基板上に高密度に配置することへの要望が高まっている。そのため、基板上に複数の抵抗体を配置する際に、隣り合う抵抗体の間隔をできるだけ小さくすることが望まれている。 As described above, in order to adjust the resistance value by trimming, it is necessary to secure a region for forming a trimming groove in the resistor. On the other hand, in the technical field of wiring boards in recent years, there is an increasing demand for arranging patterns of various circuit elements on a board at high density. Therefore, when arranging a plurality of resistors on a substrate, it is desired to make the distance between adjacent resistors as small as possible.
そこで、本発明では、トリミング溝が形成されている抵抗体を有する配線基板において、単位面積当たりの抵抗体の数をより多く配置することのできる構成を提供することを目的とする。 Therefore, it is an object of the present invention to provide a configuration in which a larger number of resistors per unit area can be arranged in a wiring board having a resistor in which a trimming groove is formed.
本発明の一局面にかかる配線基板は、絶縁基板と、前記絶縁基板の第1面上に設けられており、前記第1面上の第1の方向に沿って延びる第1抵抗体と、前記第1面上で前記第1の方向に沿って延びており、前記第1の方向と交差する第2の方向に前記第1抵抗体と隣り合って配置されている第2抵抗体とを備えている。前記第1抵抗体は、トリミング溝を有している第1太幅部と、前記第1太幅部よりも幅の狭い第1狭幅部とを有している。前記第2抵抗体は、トリミング溝を有している第2太幅部と、前記第2太幅部よりも幅の狭い第2狭幅部とを有している。この配線基板では、前記第1面上で、前記第1太幅部と前記第2狭幅部とが隣り合って配置され、前記第2太幅部と前記第1狭幅部とが隣り合って配置されている。 The wiring board according to one aspect of the present invention includes an insulating substrate, a first resistor provided on the first surface of the insulating substrate and extending along the first direction on the first surface, and the above-mentioned. A second resistor extending along the first direction on the first surface and arranged adjacent to the first resistor in a second direction intersecting the first direction is provided. ing. The first resistor has a first wide portion having a trimming groove and a first narrow width portion narrower than the first wide portion. The second resistor has a second wide portion having a trimming groove and a second narrow width portion narrower than the second wide portion. In this wiring board, the first wide portion and the second narrow width portion are arranged adjacent to each other on the first surface, and the second wide width portion and the first narrow width portion are adjacent to each other. Are arranged.
上記の構成によれば、絶縁基板の第1面上にトリミング溝を有する複数の抵抗体を配置する際に、隣り合って配置される第1抵抗体と第2抵抗体との間にできる隙間を小さくすることができる。これにより、絶縁基板の第1面において、複数の抵抗体の配置に要する占有面積を縮小することができる。また、各抵抗体の太幅部にトリミング溝を設けることで、トリミング溝の形成領域も確保することができる。したがって、トリミング溝が形成されている抵抗体を有する配線基板において、第1面の所定面積内により多くの抵抗体を配置することができる。 According to the above configuration, when a plurality of resistors having trimming grooves are arranged on the first surface of the insulating substrate, a gap formed between the first resistor and the second resistor arranged adjacent to each other. Can be made smaller. As a result, the occupied area required for arranging the plurality of resistors on the first surface of the insulating substrate can be reduced. Further, by providing the trimming groove in the wide portion of each resistor, it is possible to secure the formation region of the trimming groove. Therefore, in a wiring board having a resistor in which a trimming groove is formed, more resistors can be arranged within a predetermined area of the first surface.
上記の本発明の一局面にかかる配線基板において、前記第1太幅部の前記トリミング溝は、前記第2抵抗体に隣り合う側とは反対側の端部から切り込みが形成されており、前記第2太幅部の前記トリミング溝は、前記第1抵抗体に隣り合う側とは反対側の端部から切り込みが形成されていてもよい。 In the wiring board according to one aspect of the present invention, the trimming groove of the first wide portion is formed with a notch from the end on the side opposite to the side adjacent to the second resistor. The trimming groove of the second wide portion may have a notch formed from an end portion on the side opposite to the side adjacent to the first resistor.
上記の構成によれば、隣り合って配置されている第1抵抗体および第2抵抗体のうちの一方にトリミング溝を形成する場合に、溝の形成に用いられるレーザー光が他方の抵抗体に誤って照射されることを抑制することができる。そのため、隣り合って配置されている第1抵抗体および第2抵抗体の間隔をより狭めることができる。 According to the above configuration, when a trimming groove is formed in one of the first resistor and the second resistor arranged adjacent to each other, the laser beam used for forming the groove is applied to the other resistor. Accidental irradiation can be suppressed. Therefore, the distance between the first resistor and the second resistor arranged adjacent to each other can be further narrowed.
上記の本発明の一局面にかかる配線基板は、前記第1抵抗体において、前記第2抵抗体に隣り合う側とは反対側では、前記第1太幅部の端部と前記第1狭幅部の端部とが一つの直線上に配置されており、前記第2抵抗体において、前記第1抵抗体に隣り合う側とは反対側では、前記第2太幅部の端部と前記第2狭幅部の端部とが一つの直線上に配置されていてもよい。 The wiring board according to one aspect of the present invention has the end portion of the first wide portion and the first narrow width portion of the first resistor on the side opposite to the side adjacent to the second resistor. The end portion of the portion is arranged on one straight line, and in the second resistor, on the side opposite to the side adjacent to the first resistor, the end portion of the second wide portion and the second resistance portion are arranged. 2 The end portion of the narrow width portion may be arranged on one straight line.
上記の構成によれば、第1抵抗体と第2抵抗体とが向かい合う側とは反対側において、各抵抗体の形状が直線的となるため、絶縁基板の第1面におけるこの領域(1抵抗体と第2抵抗体とが向かい合う側とは反対側の領域)に他の素子を配置しやすくすることができる。また、絶縁基板上により多くの(例えば、3個以上の)抵抗体を配置する場合に、各抵抗体を効率良く配置することができる。 According to the above configuration, since the shape of each resistor is linear on the side opposite to the side where the first resistor and the second resistor face each other, this region (1 resistance) on the first surface of the insulating substrate. It is possible to facilitate the placement of other elements in the region on the side opposite to the side where the body and the second resistor face each other). Further, when a larger number of resistors (for example, three or more) are arranged on the insulating substrate, each resistor can be efficiently arranged.
上記の本発明の一局面にかかる配線基板において、前記第1抵抗体は、前記第1太幅部と前記第1狭幅部との間に、前記第1太幅部から前記第1狭幅部へ向かって徐々に幅が狭くなる第1傾斜部をさらに有しており、前記第2抵抗体は、前記第2太幅部と前記第2狭幅部との間に、前記第2太幅部から前記第2狭幅部へ向かって徐々に幅が狭くなる第2傾斜部をさらに有していてもよい。 In the wiring board according to one aspect of the present invention, the first resistor has the first wide width portion to the first narrow width portion between the first wide width portion and the first narrow width portion. The second inclined portion further has a first inclined portion whose width gradually narrows toward the portion, and the second resistor has the second thick portion between the second wide portion and the second narrow portion. It may further have a second inclined portion whose width gradually narrows from the width portion toward the second narrow width portion.
上記の構成によれば、同じ面積の金属層で抵抗体を形成した場合に、抵抗体の太幅部から形成されるトリミング溝を第1傾斜部または第2傾斜部にまで延ばすことができる。そして、トリミング溝の先端部から抵抗体の端部までの距離を長くすることができる。したがって、トリミング溝の先端部から発生するおそれのある金属層のクラックの可能性を低減することができる。 According to the above configuration, when the resistor is formed of a metal layer having the same area, the trimming groove formed from the wide portion of the resistor can be extended to the first inclined portion or the second inclined portion. Then, the distance from the tip of the trimming groove to the end of the resistor can be increased. Therefore, it is possible to reduce the possibility of cracks in the metal layer that may occur from the tip of the trimming groove.
本発明の一局面によれば、トリミング溝が形成されている抵抗体を有する配線基板において、単位面積当たりの抵抗体の数をより多く配置することのできる構成を提供することができる。 According to one aspect of the present invention, it is possible to provide a configuration in which a larger number of resistors per unit area can be arranged in a wiring board having a resistor in which a trimming groove is formed.
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰り返さない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description, the same parts are designated by the same reference numerals. Their names and functions are the same. Therefore, the detailed description of them will not be repeated.
〔第1の実施形態〕
本実施形態では、本発明にかかる配線基板の一例として、電子部品の電気特性検査に用いられる検査用配線基板1を例に挙げて説明する。この検査用配線基板1は、複数の半導体素子が形成されたウエハの電気検査を一括して行うためのプローブカードなどの試験治具の一部品として用いられる。
[First Embodiment]
In the present embodiment, as an example of the wiring board according to the present invention, the
なお、本発明にかかる配線基板は、検査用配線基板に限定はされない。本発明は、例えば、フォトリソグラフィなどの薄膜形成法によって形成される高抵抗の導電パターン(すなわち、抵抗体)を有する配線基板に適用することができる。 The wiring board according to the present invention is not limited to the inspection wiring board. The present invention can be applied to, for example, a wiring board having a high resistance conductive pattern (that is, a resistor) formed by a thin film forming method such as photolithography.
(検査用配線基板の概略構成)
図1には、検査用配線基板1の一部分の表面11a(第1面)上の構成を示す。本実施形態では、便宜上、略平板状の検査用配線基板1におけるプローブパッド(図示せず)などが形成されている側の面を表面11aとし、その反対側の面を裏面(第2面)11bとする。但し、検査用配線基板1の表面および裏面の定義はこれに限定はされず、任意に決めることができる。
(Rough configuration of inspection wiring board)
FIG. 1 shows a configuration on the
検査用配線基板1は、絶縁基板11を有している。絶縁基板11は、複数のセラミックシートを積層して形成されている。セラミックシートは、例えば、アルミナ(Al2O3)を主成分とする高温焼成セラミックで形成することができる。また、別の態様では、セラミックシートは、ガラス-セラミックなどの中温焼成セラミック(MTCC)および低温焼成セラミック(LTCC)などで形成されていてもよい。
The
絶縁基板11の表面11aには、例えば、プローブパッド(図示せず)、キャパシタパッド(図示せず)、カバーパッド(図示せず)、抵抗体R(例えば、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)などが設けられている。これらは、検査用配線基板1内に含まれる電子回路の構成要素となっている。これらの各構成要素は、導電性を有する配線12によって、電気的に接続されている。
On the
プローブパッドは、電気特性検査時に、検査対象となる半導体ウエハなどの電子部品の検査用プローブを当接させる導電性のパッドである。通常、検査用配線基板1には、複数のプローブパッドが設けられている。検査用配線基板1の表面11a上におけるプローブパッドの個数および配置位置は、検査対象となる電子部品の検査用プローブの構成に応じて決められる。プローブパッドは、配線12を介してカバーパッドなどの他の素子と電気的に接続されている。
The probe pad is a conductive pad that abuts an inspection probe of an electronic component such as a semiconductor wafer to be inspected at the time of electrical property inspection. Usually, the
キャパシタパッドは、コンデンサ(キャパシタ)接続用の導電性のパッドである。キャパシタパッド上には、チップコンデンサが接続される。キャパシタパッドへのチップコンデンサの接続は、ハンダ付けによって行われる。 The capacitor pad is a conductive pad for connecting a capacitor (capacitor). A chip capacitor is connected on the capacitor pad. The connection of the chip capacitor to the capacitor pad is done by soldering.
通常、検査用配線基板1には、複数のキャパシタパッドが設けられている。キャパシタパッドは、配線12を介してプローブパッドなどの他の素子と電気的に接続されている。また、キャパシタパッドは、絶縁基板11内を貫通するいくつかの接続ビアを介して、絶縁基板11の裏面11b側に設けられている裏面側パッド(図示せず)と電気的に接続されている。
Usually, the
カバーパッドは、配線12を介してプローブパッドおよびキャパシタパッドと電気的に接続されている。通常、検査用配線基板1には、複数のカバーパッドが設けられている。
The cover pad is electrically connected to the probe pad and the capacitor pad via the
また、カバーパッドは、絶縁基板11内を貫通するいくつかの接続ビアを介して、絶縁基板11の裏面11b側に設けられている裏面側パッドと電気的に接続されている。カバーパッドは、検査用配線基板1の出荷前の導通検査時に、検査用のピンを当接させる箇所などとして利用される。カバーパッドは、キャプチャーパッドとも呼ばれる。なお、別の実施態様では、検査用配線基板1は、カバーパッドを有していなくてもよい。
Further, the cover pad is electrically connected to the back surface side pad provided on the
抵抗体Rは、検査用配線基板1内の電子回路内に含まれる素子の一つである。抵抗体Rは、電子回路内を流れる電流値を調整するために設けられている。抵抗体Rは、配線12を介してプローブパッド、キャパシタパッド、およびカバーパッドなどの他の素子と電気的に接続されている。通常、検査用配線基板1の表面11aには、複数の抵抗体Rが設けられている。
The resistor R is one of the elements included in the electronic circuit in the
配線12は、プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、および抵抗体Rなどの各素子を、絶縁基板11の表面11aで電気的に接続させている。
In the
プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、および配線12は、主として、高い導電性を有する材料(導電性材料)で形成されている。このような導電性材料としては、例えば、銅(Cu)、チタン(Ti)、タングステン(W)、銀(Ag)、パラジウム(Pd)、金(Au)、白金(Pt)、モリブデン(Mo)、ニッケル(Ni)、またはマンガン(Mn)などの金属材料、あるいはこれらの金属材料を主成分とする合金材料などが挙げられる。
The probe pad, the capacitor pad, the cover pad, and the
抵抗体Rは、導電性材料よりも導電性の低い材料(抵抗性材料とも呼ばれる)で形成されている。このような抵抗性材料としては、例えば、窒化タンタル(Ta2N、TaNなど)、酸化ルテニウム、Cu-Ni合金などが挙げられる。 The resistor R is made of a material (also referred to as a resistant material) having a lower conductivity than the conductive material. Examples of such a resistant material include tantalum nitride (Ta 2N, TaN, etc.), ruthenium oxide, Cu — Ni alloy, and the like.
抵抗体Rの大まかな抵抗値は、抵抗体Rを形成している金属層(例えば、Ta2N層41)の面積で規定される。また、抵抗体Rには、抵抗値を微調整するためのトリミング溝(例えば、トリミング溝25または35)が形成されている。トリミング溝の量(長さ)を規定することで、抵抗体Rの抵抗値を微調整することができる。例えば、トリミング溝の長さを長くすると、抵抗値は大きくなる。トリミング溝は、抵抗体Rを形成している金属層に切り込みを入れることによって形成される。
The rough resistance value of the resistor R is defined by the area of the metal layer (for example, Ta 2 N layer 41) forming the resistor R. Further, the resistor R is formed with a trimming groove (for example, a trimming
プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、配線12、および抵抗体Rは、絶縁基板11上に、上述の導電性材料または抵抗性材料を所定の形状にパターニングすることによって形成される。各素子のパターンの形成には、例えば、薄膜形成法(例えば、フォトリソグラフィなど)、印刷ペーストによるメタライズ法、金属層をエッチングしてパターン化する方法、パターン状の金属層を転写する方法などの従来公知の方法が用いられる。これらの各方法の中でも、例えば、フォトリソグラフィなどの薄膜形成法を用いることが好ましい。これにより、より微細な素子のパターンを形成することができる。
The probe pad, the capacitor pad, the cover pad, the
また、プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、および配線12の表面は、メッキ層で覆われている。
Further, the surfaces of the probe pad, the capacitor pad, the cover pad, and the
図2には、検査用配線基板1における抵抗体Rの形成領域の断面構成を示す。図2は、図1に示す検査用配線基板1のA-A線部分の断面構成を示す図である。抵抗体Rは、絶縁基板11の表面11aに形成されたTa2N層41で形成されている。
FIG. 2 shows a cross-sectional configuration of a region where the resistor R is formed in the
また、配線12は、表面11aに形成されたTa2N層41上に、複数の導電性材料の層が積層された積層構造を有している。具体的には、配線12は、Ta2N層41上に、Ti層42、Cu層43、Cuメッキ層44、Niメッキ層45、およびAuメッキ層46が順に積層された積層構造を有している。なお、図2には示されていないが、プローブパッド、キャパシタパッド、およびカバーパッドなどの各素子の内部構成は、配線12の内部構成と概ね同様である。
Further, the
このような抵抗体Rおよび配線12などを形成する場合には、先ず、絶縁基板11の表面11a上に、Ta2N層41と、Ti層42と、Cu層43とを順次スパッタリングによって形成する。次に、Cu層43の上に感光性樹脂からなるレジスト層(図示せず)を形成した後、フォトリソグラフィ技術を用いてTa2N層41、Ti層42、およびCu層43を所定の形状にパターニングする。
When forming such a resistor R, wiring 12, or the like, first , a
その後、例えば、従来公知の電解めっき法などを用いて、Cu層43を覆うようにメッキ層を形成する。メッキ層は、単層のメッキ層で構成されていてもよいし、図2に示すように複数のメッキ層(具体的には、Cuメッキ層44、Niメッキ層45、およびAuメッキ層46)で構成されていてもよい。
Then, for example, a plating layer is formed so as to cover the
以上のようにして、検査用配線基板1の表面11a上に、抵抗体Rおよび配線12などが形成される。図2に示すように、配線12は複数の金属層を積層して形成されているのに対して、抵抗体RはTa2N層41のみで形成されている。このような構成により、抵抗体Rは、配線12および検査用配線基板1に含まれる他の素子と比較して高い抵抗値を有することができる。
As described above, the resistor R, the
なお、図2では示されていないが、抵抗体Rの表面には、抵抗体を覆うように樹脂コート層が設けられていてもよい。樹脂コート層は、例えば、ポリイミド樹脂などの絶縁性を有する樹脂材料で形成されている。抵抗体Rの表面が樹脂コート層で覆われていることで、抵抗体Rの酸化を抑制したり、抵抗体Rを保護したりすることができる。樹脂コート層は、抵抗体Rの端部よりも約100μm程度外側にまで形成されている。 Although not shown in FIG. 2, a resin coat layer may be provided on the surface of the resistor R so as to cover the resistor. The resin coat layer is formed of an insulating resin material such as a polyimide resin. Since the surface of the resistor R is covered with the resin coat layer, it is possible to suppress the oxidation of the resistor R and protect the resistor R. The resin coat layer is formed up to about 100 μm outside the end of the resistor R.
本実施形態にかかる検査用配線基板1は、プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、および抵抗体Rなどの素子で構成される回路構造を複数個有している。これらの各素子は、配線12によって互いに接続されている。これにより、複数の検査用プローブを検査用配線基板1に同時に当接させて、半導体ウエハなどの電子部品の電気特性の検査を行うことができる。
The
(抵抗体周辺の構成)
続いて、検査用配線基板1における抵抗体R周辺のより詳細な構成について、図1を参照しながら説明する。
(Structure around the resistor)
Subsequently, a more detailed configuration around the resistor R in the
図1に示すように、本実施形態にかかる検査用配線基板1の表面11aには、隣り合って配置されている2つの抵抗体(すなわち、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)が形成されている。これら2つの抵抗体は、検査用配線基板1に設けられている電子回路の構成要素の一つである。
As shown in FIG. 1, two resistors (that is, a
これら2つの抵抗体のうちの一方(すなわち、第1抵抗体20R)は、第1の方向X(図1では、横方向)に沿って延びる配線12aの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。これら2つの抵抗体のうちの他方(すなわち、第2抵抗体30R)は、配線12aに対して略平行に配置されている配線12bの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとは、第1の方向Xと交差する(より具体的には、直交する)第2の方向Y(図1では、縦方向)に隣り合って配置されている。
One of these two resistors (ie, the
第1抵抗体20Rは、第1太幅部21と、第1狭幅部22とを有している。第1太幅部21は、平面視で略長方形状を有している。第1太幅部21には、トリミング溝25が形成されている。また、第1狭幅部22は、平面視で第1太幅部21よりも幅の狭い略長方形状を有している。ここで、第1太幅部21および第1狭幅部22の幅とは、第1太幅部21および第1狭幅部22における第2の方向Yの寸法のことを意味する。
The
第2抵抗体30Rは、第2太幅部31と、第2狭幅部32とを有している。第2太幅部31は、平面視で略長方形状を有している。第2太幅部31には、トリミング溝35が形成されている。また、第2狭幅部32は、平面視で第2太幅部31よりも幅の狭い略長方形状を有している。ここで、第2太幅部31および第2狭幅部32の幅とは、第2太幅部31および第2狭幅部32における第2の方向Yの寸法のことを意味する。
The
本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体20Rの第1太幅部21と、第2抵抗体30Rの第2太幅部31とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体20Rの第1狭幅部22と、第2抵抗体30Rの第2狭幅部32とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。
In the
そして、図1に示すように、絶縁基板11の表面11a上で、第1抵抗体20Rの第1太幅部21と第2抵抗体30Rの第2狭幅部32とが第2の方向Yに隣り合って配置され、第2抵抗体30Rの第2太幅部31と第1抵抗体20Rの第1狭幅部22とが第2の方向Yに隣り合って配置されている。すなわち、第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとは、同じ形状を有しており、互いに点対称となる位置関係で配置されているということもできる。
Then, as shown in FIG. 1, on the
第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとを、上記のような形状とし、上記のような位置関係で配置することで、絶縁基板11上に複数の抵抗体を配置する際に、絶縁基板11の表面11aにおける複数の抵抗体の配置に要する占有面積を縮小することができる。
By arranging the
続いて、各抵抗体Rに設けられているトリミング溝について、より具体的に説明する。 Subsequently, the trimming groove provided in each resistor R will be described more specifically.
トリミング溝25は、第1抵抗体20Rを形成している金属層(例えば、Ta2N層41)に形成されている切り込みである。また、トリミング溝35は、第2抵抗体30Rを形成している金属層(例えば、Ta2N層41)に形成されている切り込みである。
The trimming
各トリミング溝25および35の切り込みの長さを調整することで、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rの抵抗値を微調整することができる。これらのトリミング溝25および35は、抵抗体を形成している金属層(例えば、Ta2N層41)にレーザー光を照射することによって形成される。
By adjusting the notch lengths of the trimming
本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1太幅部21に設けられているトリミング溝25は、第2抵抗体30Rに隣り合う側の端部(すなわち、端部21b)とは反対側の端部(すなわち、端部21a)から切り込みが形成されている。また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第2太幅部31に設けられているトリミング溝35は、第1抵抗体20Rに隣り合う側の端部(すなわち、端部31b)とは反対側の端部(すなわち、端部31a)から切り込みが形成されている。
In the
このように、各トリミング溝25および35の切り込みは、隣接して配置された2つの抵抗体(例えば、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)における隣り合う側の端部(すなわち、端部21bおよび31b)ではなく、その反対側の端部(すなわち、端部21aおよび31a)に形成されていることが好ましい。
Thus, the notches in the trimming
これにより、隣接して配置されている2つの抵抗体のうちの一方にトリミング溝を形成する場合に、溝の形成に用いられるレーザー光が他方の抵抗体に誤って照射されることを抑制することができる。そのため、隣接して配置された2つの抵抗体(例えば、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)同士の間隔を狭めることが可能となる。第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとの隙間を狭めることで、これら2つの抵抗体を覆うように設けられる樹脂コート層の面積も小さくすることができる。
This prevents the laser beam used for forming the groove from being erroneously irradiated to the other resistor when the trimming groove is formed in one of the two resistors arranged adjacent to each other. be able to. Therefore, it is possible to narrow the distance between the two resistors arranged adjacent to each other (for example, the
本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体20Rにおいて、第2抵抗体30Rに隣り合う側(図1中、Y2側)とは反対側(図1中、Y1側)では、第1太幅部21の端部21aと第1狭幅部22の端部22aとが一つの直線上に配置されている。
In the
また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第2抵抗体30Rにおいて、第1抵抗体20Rに隣り合う側(図1中、Y1側)とは反対側(図1中、Y2側)では、第2太幅部31の端部31aと第2狭幅部32の端部32aとが一つの直線上に配置されている。
Further, in the
以上のように、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rはともに、上面視で略L字形状を有する金属層(例えば、Ta2N層41)のパターンで形成されている。そして、2つの略L字状のパターンが、互いに点対称となる位置関係で配置されている。
As described above, both the
これにより、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rの各狭幅部22および32の側方(図1中、Y方向の側方)にできる空いたスペースに、他方の抵抗体の太幅部31および21の張り出し部分を配置することができる。したがって、絶縁基板11の表面11a上に、2つの抵抗体(例えば、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)を効率良く配置することができる。
As a result, the width of the other resistor is wide in the vacant space created on the side (side in the Y direction in FIG. 1) of the
上記のような構成は、表面11aに多数の抵抗体Rが配置されている検査用配線基板1に適用することがより好ましい。この点について、図3を参照しながら説明する。
The above configuration is more preferably applied to the
図3には、絶縁基板11上により多くの抵抗体が配置されている検査用配線基板1の構成を示す。図3に示す例では、検査用配線基板1の表面11aに、4つの抵抗体R(すなわち、第1抵抗体20R-1、第2抵抗体30R-1、第1抵抗体20R-2、および第2抵抗体30R-2)が略平行に並んで配置されている。
FIG. 3 shows the configuration of the
4つの抵抗体RのうちのY1側の2つ(すなわち、第1抵抗体20R-1および第2抵抗体30R-1)は、より近接して配置されている2つの配線12aおよび12b上に配置されている。ここで、2つの配線12aおよび12bの間隔をG1とする。第1抵抗体20R-1および第2抵抗体30R-1の形状および配置は、図1に示す第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rと同じである。
Two of the four resistors R on the Y1 side (ie,
4つの抵抗体RのうちのY2側の2つ(すなわち、第1抵抗体20R-2および第2抵抗体30R-2)は、より近接して配置されている2つの配線12cおよび12d上に配置されている。ここで、2つの配線12cおよび12dの間隔をG1とする。第1抵抗体20R-2および第2抵抗体30R-2の形状および配置は、図1に示す第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rと同じである。
Two of the four resistors R on the Y2 side (ie,
また、4つの配線のうち中央寄りの2つの配線(すなわち、配線12bおよび配線12c)同士の間隔G2は、間隔G1よりも大きくなっている(G1<G2)。
Further, the distance G2 between the two wirings (that is, the
図3に示す検査用配線基板1では、より大きな間隔G2を隔てて並んで配置されている配線12bおよび配線12c上に形成されている各抵抗体(すなわち、第2抵抗体30R-1および第1抵抗体20R-2)の太幅部の端部(すなわち、端部31aおよび21a)から、トリミング溝35および25の切り込みが形成されている。
In the
そのため、多数の抵抗体のうちのより近接して配置されている2つの抵抗体の一方にトリミング溝を形成する場合に、レーザー光が他方の抵抗体に誤って照射されにくくすることができる。そのため、より近接して配置された2つの抵抗体(例えば、第1抵抗体20R-1および第2抵抗体30R-1、あるいは、第1抵抗体20R-2および第2抵抗体30R-2)同士の間隔を狭めることが可能となる。これにより、絶縁基板11の表面11aの領域を有効に活用して、より多くの抵抗体を配置することができる。
Therefore, when a trimming groove is formed in one of two resistors arranged closer to each other among a large number of resistors, it is possible to prevent the laser beam from being erroneously irradiated to the other resistor. Therefore, two resistors arranged closer to each other (for example, the
また、図3に示す検査用配線基板1では、トリミング溝25および35の切り込みが形成される側の各抵抗体の端部(すなわち、第2抵抗体30R-1の端部31aと端部32a、並びに、第1抵抗体20R-2の端部21aと端部22a)は、直線状になっている。これにより、対向するように位置する第2抵抗体30R-1の端部31aと第1抵抗体20R-2の端部22aとの間隔、および、対向するように位置する第2抵抗体30R-1の端部32aと第1抵抗体20R-2の端部21aとの間に、より広い領域を確保することができる。
Further, in the
そのため、第2抵抗体30R-1の端部31aまたは第1抵抗体20R-2の端部21aにレーザー光を当てる際に、対向する側に位置する抵抗体に誤ってレーザー光が当たりにくくすることができる。
Therefore, when the laser beam is applied to the
(第1の実施形態のまとめ)
以上のように、本実施形態にかかる検査用配線基板1は、絶縁基板11と、絶縁基板11の表面(第1面)11a上に第1の方向Xに沿って延びる第1抵抗体20Rと、第1の方向Xと交差する第2の方向Yに第1抵抗体20Rと隣り合って配置されている第2抵抗体30Rとを備えている。第1抵抗体20Rは、トリミング溝25を有している第1太幅部21と、第1太幅部21よりも幅の狭い第1狭幅部22とを有している。第2抵抗体30Rは、トリミング溝35を有している第2太幅部31と、第2太幅部31よりも幅の狭い第2狭幅部32とを有している。
(Summary of the first embodiment)
As described above, the
この検査用配線基板1において、第1太幅部21と第2狭幅部32とは、第2の方向Yに隣り合って配置され、第2太幅部31と第1狭幅部22とは、第2の方向Yに隣り合って配置されている。
In the
この構成によれば、絶縁基板11の表面11a上にトリミング溝を有する複数の抵抗体を配置する際に、隣り合って配置される第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとの間にできる隙間を小さくすることができる。これにより、絶縁基板11の表面11aに複数の抵抗体を配置する場合に必要となる占有面積を縮小することができる。また、第1抵抗体20Rの第1太幅部21および第2抵抗体30Rの第2太幅部31にトリミング溝25または35を設けることで、トリミング溝の形成領域も確保することができる。
According to this configuration, when a plurality of resistors having trimming grooves are arranged on the
したがって、本実施形態にかかる構成によれば、トリミング溝が形成されている複数の抵抗体を有する配線基板において、絶縁基板11の表面11a上に各抵抗体を効率良く配置することができ、単位面積当たりに配置される抵抗体の数をより多くすることができる。
Therefore, according to the configuration according to the present embodiment, in a wiring board having a plurality of resistors in which trimming grooves are formed, each resistor can be efficiently arranged on the
なお、隣り合って配置される2つの抵抗体同士の間隔を狭めると、一方の抵抗体にレーザー光を照射してトリミング溝を形成する際に、誤って他方の抵抗体にもレーザー光が照射されてしまう可能性がある。そこで、本実施形態では、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rに形成される各トリミング溝25および35の切り込みは、隣接して配置された2つの抵抗体における隣り合う側の端部(すなわち、端部21bおよび31b)ではなく、その反対側の端部(すなわち、端部21aおよび31a)に形成されていることが好ましい。
If the distance between two resistors arranged next to each other is narrowed, when one resistor is irradiated with laser light to form a trimming groove, the other resistor is also erroneously irradiated with laser light. There is a possibility that it will be done. Therefore, in the present embodiment, the notches of the trimming
これにより、隣接して配置されている2つの抵抗体のうちの一方にトリミング溝を形成する場合に、溝の形成に用いられるレーザー光が他方の抵抗体に誤って照射されることを抑制することができる。そのため、隣接して配置された2つの抵抗体同士の間隔をより狭めることができる。 This prevents the laser beam used for forming the groove from being erroneously irradiated to the other resistor when the trimming groove is formed in one of the two resistors arranged adjacent to each other. be able to. Therefore, the distance between the two resistors arranged adjacent to each other can be further narrowed.
〔第2の実施形態〕
続いて、第2の実施形態にかかる検査用配線基板1について、図4を参照しながら説明する。図4には、第2の実施形態にかかる検査用配線基板1の一部分の表面11a(第1面)上の構成を示す。
[Second Embodiment]
Subsequently, the
第1の実施形態と同様に、検査用配線基板1は、絶縁基板11を有している。絶縁基板11の表面11aには、例えば、プローブパッド(図示せず)、キャパシタパッド(図示せず)、カバーパッド(図示せず)、抵抗体Rなどが設けられている。
Similar to the first embodiment, the
図4には、検査用配線基板1内に含まれる電子回路における抵抗体R周辺の構成を示す。本実施形態では、各抵抗体Rを構成する金属層(例えば、Ta2N層41)のパターン形状が第1の実施形態とは異なっている。それ以外の構成については、第1の実施形態と同様の構成が適用できる。以下では、第1の実施形態にかかる検査用配線基板1とは異なる構成を中心に説明する。
FIG. 4 shows the configuration around the resistor R in the electronic circuit included in the
図4に示すように、検査用配線基板1の表面11aには、隣り合って配置されている2つの抵抗体(すなわち、第1抵抗体120Rおよび第2抵抗体130R)が形成されている。これら2つの抵抗体のうちの一方(すなわち、第1抵抗体120R)は、第1の方向X(図4では、横方向)に沿って延びる配線12aの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。これら2つの抵抗体のうちの他方(すなわち、第2抵抗体130R)は、配線12aに対して略平行に配置されている配線12bの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。第1抵抗体120Rと第2抵抗体130Rとは、第1の方向Xと交差する(より具体的には、直交する)第2の方向Y(図1では、縦方向)に隣り合って配置されている。
As shown in FIG. 4, two resistors (that is, a
第1抵抗体120Rは、第1太幅部21と、第1狭幅部22と、第1台形部(第1傾斜部)123とを有している。第1太幅部21は、平面視で略長方形状を有している。第1太幅部21には、トリミング溝25が形成されている。また、第1狭幅部22は、平面視で第1太幅部21よりも幅の狭い略長方形状を有している。
The
第1台形部123は、第1太幅部21と第1狭幅部22との間に位置している。第1台形部123は、第1太幅部21から第1狭幅部22へ向かって徐々に幅が狭くなる台形状を有している。第1台形部123は、第1傾斜端部123bを有している。
The first
第2抵抗体130Rは、第2太幅部31と、第2狭幅部32と、第2台形部(第2傾斜部)133とを有している。第2太幅部31は、平面視で略長方形状を有している。第2太幅部31には、トリミング溝35が形成されている。また、第2狭幅部32は、平面視で第2太幅部31よりも幅の狭い略長方形状を有している。
The
第2台形部133は、第2太幅部31と第2狭幅部32との間に位置している。第2台形部133は、第2太幅部31から第2狭幅部32へ向かって徐々に幅が狭くなる台形状を有している。第2台形部133は、第2傾斜端部133bを有している。
The second
本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rの第1太幅部21と、第2抵抗体130Rの第2太幅部31とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rの第1狭幅部22と、第2抵抗体130Rの第2狭幅部32とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rの第1台形部123と、第2抵抗体130Rの第2台形部133とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。
In the
そして、図4に示すように、絶縁基板11の表面11a上で、第1抵抗体120Rの第1太幅部21と第2抵抗体130Rの第2狭幅部32とが第2の方向Yに隣り合って配置され、第2抵抗体130Rの第2太幅部31と第1抵抗体20Rの第1狭幅部22とが第2の方向Yに隣り合って配置されている。また、第1抵抗体120Rの第1傾斜端部123bと、第2抵抗体130Rの第2傾斜端部133bとは、互いに向かい合うように配置されている。
Then, as shown in FIG. 4, on the
本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rにおいて、第2抵抗体130Rに隣り合う側(図4中、Y2側)とは反対側(図4中、Y1側)では、第1太幅部21の端部21aと第1台形部123の端部123aと第1狭幅部22の端部22aとが一つの直線上に配置されている。
In the
また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第2抵抗体130Rにおいて、第1抵抗体120Rに隣り合う側(図4中、Y1側)とは反対側(図4中、Y2側)では、第2太幅部31の端部31aと第2台形部133の端部133aと第2狭幅部32の端部32aとが一つの直線上に配置されている。
Further, in the
また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1の実施形態と同様に、第1太幅部21に設けられているトリミング溝25は、第2抵抗体130Rに隣り合う側の端部(すなわち、端部21b)とは反対側の端部(すなわち、端部21a)から切り込みが形成されている。また、第2太幅部31に設けられているトリミング溝35は、第1抵抗体120Rに隣り合う側の端部(すなわち、端部31b)とは反対側の端部(すなわち、端部31a)から切り込みが形成されている。
Further, in the
図4に示すように、トリミング溝25および35は、主として、各抵抗体の太幅部に形成されている。但し、トリミング溝の長さによっては、その一部(先端部)が台形部(すなわち、第1台形部123および第2台形部133)にまで到達していてもよい。
As shown in FIG. 4, the trimming
以上のように、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rは、第1太幅部21と第1狭幅部22との間に第1台形部123を有している。同様に、第2抵抗体130Rは、第2太幅部31と第2狭幅部32との間に第2台形部133を有している。
As described above, in the
このような構成によれば、同じ面積の金属層(例えば、Ta2N層41)で抵抗体Rを形成した場合に、各トリミング溝25または35の先端部から抵抗体Rの端部までの距離(例えば、図4中で距離L)を長くすることができる。したがって、トリミング溝の先端部から発生するおそれのある金属層のクラックの可能性を低減することができる。
According to such a configuration, when the resistor R is formed by a metal layer having the same area (for example, Ta 2N layer 41), the tip portion of each trimming
〔第3の実施形態〕
続いて、第3の実施形態にかかる検査用配線基板1について、図5を参照しながら説明する。図5には、第3の実施形態にかかる検査用配線基板1の一部分の表面11a(第1面)上の構成を示す。
[Third Embodiment]
Subsequently, the
第1の実施形態と同様に、検査用配線基板1は、絶縁基板11を有している。絶縁基板11の表面11aには、例えば、プローブパッド(図示せず)、キャパシタパッド(図示せず)、カバーパッド15、抵抗体Rなどが設けられている。
Similar to the first embodiment, the
図5には、検査用配線基板1内に含まれる電子回路における抵抗体R周辺の構成を示す。本実施形態では、抵抗体Rに隣接してカバーパッド15が設けられている点が第1の実施形態とは異なっている。それ以外の構成については、第1の実施形態と同様の構成が適用できる。
FIG. 5 shows the configuration around the resistor R in the electronic circuit included in the
図5に示すように、配線12a上には、2つのカバーパッド15が設けられている。カバーパッド15は、配線12aと同じ金属層の積層構造で形成されている。カバーパッド15は、配線12aよりも大きな幅(すなわち、図5中、Y方向の幅)を有している。2つのカバーパッド15のうちの一つは、第1抵抗体20Rの第1狭幅部22と、配線12aとの間に設けられている。2つのカバーパッド15のうちの別の一つは、第1抵抗体20Rの第1太幅部21と、配線12aとの間に設けられている。
As shown in FIG. 5, two
また、配線12b上には、2つのカバーパッド15が設けられている。カバーパッド15は、配線12bと同じ金属層の積層構造で形成されている。カバーパッド15は、配線12bよりも大きな幅(すなわち、図5中、Y方向の幅)を有している。2つのカバーパッド15のうちの一つは、第2抵抗体30Rの第2狭幅部32と、配線12bとの間に設けられている。2つのカバーパッド15のうちの別の一つは、第2抵抗体30Rの第2太幅部31と、配線12bとの間に設けられている。
Further, two
カバーパッド15は、検査用配線基板1の出荷前の導通検査時に、検査用のピンを当接させる箇所などとして利用される。
The
なお、図5に示す例では、配線12aに沿って延びる第1抵抗体20Rの両側にカバーパッド15がそれぞれ設けられているが、別の構成例では、配線12aに沿って延びる第1抵抗体20Rの何れか一方の側にのみカバーパッド15が設けられていてもよい。同様に、配線12bに沿って延びる第2抵抗体30Rの何れか一方の側にのみカバーパッド15が設けられていてもよい。
In the example shown in FIG. 5,
〔第4の実施形態〕
続いて、第4の実施形態にかかる検査用配線基板1について、図6を参照しながら説明する。図6には、第4の実施形態にかかる検査用配線基板1の一部分の表面11a(第1面)上の構成を示す。
[Fourth Embodiment]
Subsequently, the
第1の実施形態と同様に、検査用配線基板1は、絶縁基板11を有している。絶縁基板11の表面11aには、例えば、プローブパッド(図示せず)、キャパシタパッド(図示せず)、カバーパッド(図示せず)、抵抗体Rなどが設けられている。
Similar to the first embodiment, the
図6には、検査用配線基板1内に含まれる電子回路における抵抗体R周辺の構成を示す。本実施形態では、各抵抗体Rを構成する金属層(例えば、Ta2N層41)の配置が第1の実施形態とは異なっている。それ以外の構成については、第1の実施形態と同様の構成が適用できる。以下では、第1の実施形態にかかる検査用配線基板1とは異なる構成を中心に説明する。
FIG. 6 shows the configuration around the resistor R in the electronic circuit included in the
図6に示すように、検査用配線基板1の表面11aには、隣り合って配置されている2つの抵抗体(すなわち、第1抵抗体220Rおよび第2抵抗体230R)が形成されている。これら2つの抵抗体のうちの一方(すなわち、第1抵抗体220R)は、第1の方向X(図6では、横方向)に沿って延びる配線12aの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。これら2つの抵抗体のうちの他方(すなわち、第2抵抗体230R)は、配線12aに対して略平行に配置されている配線12bの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。
As shown in FIG. 6, two resistors (that is, a
第1の実施形態の第1抵抗体20Rと同様に、第1抵抗体220Rは、第1太幅部21と、第1狭幅部22とを有している。また、第1の実施形態の第2抵抗体30Rと同様に、第2抵抗体230Rは、第2太幅部31と、第2狭幅部32とを有している。
Similar to the
第1の実施形態では、第1抵抗体20Rの第1太幅部21と第2抵抗体30Rの第2狭幅部32とが第2の方向Yに隣り合って配置され、第2抵抗体30Rの第2太幅部31と第1抵抗体20Rの第1狭幅部22とが第2の方向Yに隣り合って配置されている。
In the first embodiment, the first
一方、本実施形態では、第1抵抗体220Rの第1太幅部21と第2抵抗体230Rの第2狭幅部32とが第1の方向Xに隣り合って配置されている。すなわち、第1抵抗体220Rの第1太幅部21におけるX2側の端部21cと、第2抵抗体230Rの第2狭幅部32におけるX1側の端部32cとが、隣り合って配置されている。
On the other hand, in the present embodiment, the first
また、本実施形態では、第2抵抗体230Rの第2太幅部31と第1抵抗体220Rの第1狭幅部22とが第1の方向Xに隣り合って配置されている。すなわち、第2抵抗体230Rの第2太幅部31におけるX1側の端部31cと、第1抵抗体220Rの第1狭幅部22におけるX2側の端部22cとが、隣り合って配置されている。
Further, in the present embodiment, the second
上記の構成によれば、第1抵抗体220Rの第1太幅部21と第2抵抗体230Rの第2太幅部31とが、第2の方向Yに隣り合うことが回避されるため、絶縁基板11の表面11a上に2つの抵抗体を効率良く配置することができる。また、隣り合って配置されている2つの抵抗体(第1抵抗体220Rおよび第2抵抗体230R)同士の間隔を狭くすることができる。
According to the above configuration, the first
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。また、本明細書で説明した異なる実施形態の構成を互いに組み合わせて得られる構成についても、本発明の範疇に含まれる。 It should be considered that the embodiments disclosed this time are exemplary in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is shown by the scope of claims rather than the above description, and is intended to include all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of claims. Further, a configuration obtained by combining the configurations of different embodiments described in the present specification with each other is also included in the scope of the present invention.
1 :検査用配線基板(配線基板)
11 :絶縁基板
11a :(検査用配線基板または絶縁基板の)表面(第1面)
12 :配線
15 :カバーパッド
20R :第1抵抗体
21 :第1太幅部
22 :第1狭幅部
25 :トリミング溝
30R :第2抵抗体
31 :第2太幅部
32 :第2狭幅部
35 :トリミング溝
120R:第1抵抗体
123 :第1台形部(第1傾斜部)
130R:第2抵抗体
133 :第2台形部(第2傾斜部)
220R:第1抵抗体
230R:第2抵抗体
1: Wiring board for inspection (wiring board)
11:
12: Wiring 15:
130R: 2nd resistor 133: 2nd trapezoidal part (2nd inclined part)
220R:
Claims (4)
前記絶縁基板の第1面上に設けられており、前記第1面上の第1の方向に沿って延びる第1抵抗体と、
前記第1面上で前記第1の方向に沿って延びており、前記第1の方向と交差する第2の方向に前記第1抵抗体と隣り合って配置されている第2抵抗体と
を備えている配線基板であって、
前記第1抵抗体は、トリミング溝を有している第1太幅部と、前記第1太幅部よりも幅の狭い第1狭幅部とを有し、
前記第2抵抗体は、トリミング溝を有している第2太幅部と、前記第2太幅部よりも幅の狭い第2狭幅部とを有し、
前記第1面上で、前記第1太幅部と前記第2狭幅部とが隣り合って配置され、前記第2太幅部と前記第1狭幅部とが隣り合って配置されている、配線基板。 Insulated board and
A first resistor provided on the first surface of the insulating substrate and extending along the first direction on the first surface.
A second resistor extending along the first direction on the first surface and arranged adjacent to the first resistor in a second direction intersecting the first direction. It is a wiring board that is equipped
The first resistor has a first wide portion having a trimming groove and a first narrow width portion narrower than the first wide portion.
The second resistor has a second wide portion having a trimming groove and a second narrow width portion narrower than the second wide portion.
On the first surface, the first wide portion and the second narrow width portion are arranged next to each other, and the second wide width portion and the first narrow width portion are arranged next to each other. , Wiring board.
前記第2太幅部の前記トリミング溝は、前記第1抵抗体に隣り合う側とは反対側の端部から切り込みが形成されている、
請求項1に記載の配線基板。 The trimming groove of the first wide portion is formed with a notch from the end on the side opposite to the side adjacent to the second resistor.
The trimming groove of the second wide portion is formed with a notch from the end on the side opposite to the side adjacent to the first resistor.
The wiring board according to claim 1.
前記第2抵抗体において、前記第1抵抗体に隣り合う側とは反対側では、前記第2太幅部の端部と前記第2狭幅部の端部とが一つの直線上に配置されている、
請求項1または2に記載の配線基板。 In the first resistor, on the side opposite to the side adjacent to the second resistor, the end portion of the first wide width portion and the end portion of the first narrow width portion are arranged on one straight line. And
In the second resistor, on the side opposite to the side adjacent to the first resistor, the end portion of the second wide width portion and the end portion of the second narrow width portion are arranged on one straight line. ing,
The wiring board according to claim 1 or 2.
前記第2抵抗体は、前記第2太幅部と前記第2狭幅部との間に、前記第2太幅部から前記第2狭幅部へ向かって徐々に幅が狭くなる第2傾斜部をさらに有している、
請求項1から3の何れか1項に記載の配線基板。 The first resistance has a first inclination in which the width gradually narrows from the first wide portion toward the first narrow width portion between the first wide portion and the first narrow width portion. Has more parts,
The second resistance has a second inclination in which the width gradually narrows from the second wide portion toward the second narrow portion between the second wide portion and the second narrow portion. Has more parts,
The wiring board according to any one of claims 1 to 3.
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