JP2022029980A - Wiring board - Google Patents

Wiring board Download PDF

Info

Publication number
JP2022029980A
JP2022029980A JP2020133637A JP2020133637A JP2022029980A JP 2022029980 A JP2022029980 A JP 2022029980A JP 2020133637 A JP2020133637 A JP 2020133637A JP 2020133637 A JP2020133637 A JP 2020133637A JP 2022029980 A JP2022029980 A JP 2022029980A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
wiring board
wide
narrow width
trimming groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020133637A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP7373471B2 (en
Inventor
潤也 真面
Junya Sanatsura
揚介 園原
Yosuke Sonohara
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Niterra Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Spark Plug Co Ltd filed Critical NGK Spark Plug Co Ltd
Priority to JP2020133637A priority Critical patent/JP7373471B2/en
Publication of JP2022029980A publication Critical patent/JP2022029980A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7373471B2 publication Critical patent/JP7373471B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Abstract

To provide a configuration that allows an increased number of resistors per unit area to be arranged on a wiring board having resistors with a trimming groove formed thereon.SOLUTION: An inspection wiring board 1 as one example of a wiring boards includes an insulation board 11, a first resistor 20R which is arranged on a surface (a first surface) 11a of the insulation board 11 and extends along a first direction, and a second resistor 30R which is arranged adjacent to the first resistor 20R in a second direction Y crossing the first direction X. The first resistor 20R has a first large width section 21 with a trimming groove 25, and a first small width section 22 having a narrower width than the first large width section 21. The second resistor 30R has a second large width section 31 with a trimming groove 35 and a second small width section 32 having a narrower width than the second large width section 31. The large width section 21 and the second small width section 32 are arranged adjacent to each other, and the second large width section 31 and the first small section 22 are arranged adjacent to each other.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、抵抗体を有している配線基板に関する。 The present invention relates to a wiring board having a resistor.

電気回路には、電流値の調整などの目的で抵抗体が備えられている。抵抗体は、チップ抵抗器などの電子部品の素子として利用される。抵抗体には、目的とする抵抗値に設定するためにトリミング溝が形成されている。 The electric circuit is provided with a resistor for the purpose of adjusting the current value and the like. The resistor is used as an element of an electronic component such as a chip resistor. A trimming groove is formed on the resistor in order to set the target resistance value.

例えば、特許文献1には、絶縁基板上に設けられた抵抗体にトリミング溝を形成することで抵抗値が調整されるチップ抵抗器が開示されている。特許文献1に開示されているチップ抵抗器1は、矩形状の調整部8を挟んで第1蛇行部6と第2蛇行部7が連続するように印刷形成された抵抗体5を有しており、調整部8に第1トリミング溝9を形成することにより、抵抗体5の電流経路を長くしてサージ特性を向上させた上で、抵抗体5の抵抗値が目標抵抗値に近づくように粗調整されている。また、第2蛇行部7における電流分布の少ない領域に第2トリミング溝10を形成することにより、第2トリミング溝10の切込み量に伴って抵抗体5の抵抗値が目標抵抗値と一致するように微調整されている。 For example, Patent Document 1 discloses a chip resistor whose resistance value is adjusted by forming a trimming groove in a resistor provided on an insulating substrate. The chip resistor 1 disclosed in Patent Document 1 has a resistor 5 formed by printing so that the first meandering portion 6 and the second meandering portion 7 are continuous with the rectangular adjusting portion 8 interposed therebetween. By forming the first trimming groove 9 in the adjusting portion 8, the current path of the resistor 5 is lengthened to improve the surge characteristics, and then the resistance value of the resistor 5 approaches the target resistance value. It has been roughly adjusted. Further, by forming the second trimming groove 10 in the region where the current distribution is small in the second meandering portion 7, the resistance value of the resistor 5 matches the target resistance value according to the depth of cut of the second trimming groove 10. It has been fine-tuned to.

特開2019-201142号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2019-20142

上記のように、トリミングによって抵抗値の調整を行うためには、抵抗体にトリミング溝を形成するための領域を確保することが必要となる。一方、近年の配線基板の技術分野では、各種回路素子のパターンを基板上に高密度に配置することへの要望が高まっている。そのため、基板上に複数の抵抗体を配置する際に、隣り合う抵抗体の間隔をできるだけ小さくすることが望まれている。 As described above, in order to adjust the resistance value by trimming, it is necessary to secure a region for forming a trimming groove in the resistor. On the other hand, in the technical field of wiring boards in recent years, there is an increasing demand for arranging patterns of various circuit elements on a board at high density. Therefore, when arranging a plurality of resistors on a substrate, it is desired to make the distance between adjacent resistors as small as possible.

そこで、本発明では、トリミング溝が形成されている抵抗体を有する配線基板において、単位面積当たりの抵抗体の数をより多く配置することのできる構成を提供することを目的とする。 Therefore, it is an object of the present invention to provide a configuration in which a larger number of resistors per unit area can be arranged in a wiring board having a resistor in which a trimming groove is formed.

本発明の一局面にかかる配線基板は、絶縁基板と、前記絶縁基板の第1面上に設けられており、前記第1面上の第1の方向に沿って延びる第1抵抗体と、前記第1面上で前記第1の方向に沿って延びており、前記第1の方向と交差する第2の方向に前記第1抵抗体と隣り合って配置されている第2抵抗体とを備えている。前記第1抵抗体は、トリミング溝を有している第1太幅部と、前記第1太幅部よりも幅の狭い第1狭幅部とを有している。前記第2抵抗体は、トリミング溝を有している第2太幅部と、前記第2太幅部よりも幅の狭い第2狭幅部とを有している。この配線基板では、前記第1面上で、前記第1太幅部と前記第2狭幅部とが隣り合って配置され、前記第2太幅部と前記第1狭幅部とが隣り合って配置されている。 The wiring board according to one aspect of the present invention includes an insulating substrate, a first resistor provided on the first surface of the insulating substrate and extending along the first direction on the first surface, and the above-mentioned. A second resistor extending along the first direction on the first surface and arranged adjacent to the first resistor in a second direction intersecting the first direction is provided. ing. The first resistor has a first wide portion having a trimming groove and a first narrow width portion narrower than the first wide portion. The second resistor has a second wide portion having a trimming groove and a second narrow width portion narrower than the second wide portion. In this wiring board, the first wide portion and the second narrow width portion are arranged adjacent to each other on the first surface, and the second wide width portion and the first narrow width portion are adjacent to each other. Are arranged.

上記の構成によれば、絶縁基板の第1面上にトリミング溝を有する複数の抵抗体を配置する際に、隣り合って配置される第1抵抗体と第2抵抗体との間にできる隙間を小さくすることができる。これにより、絶縁基板の第1面において、複数の抵抗体の配置に要する占有面積を縮小することができる。また、各抵抗体の太幅部にトリミング溝を設けることで、トリミング溝の形成領域も確保することができる。したがって、トリミング溝が形成されている抵抗体を有する配線基板において、第1面の所定面積内により多くの抵抗体を配置することができる。 According to the above configuration, when a plurality of resistors having trimming grooves are arranged on the first surface of the insulating substrate, a gap formed between the first resistor and the second resistor arranged adjacent to each other. Can be made smaller. As a result, the occupied area required for arranging the plurality of resistors on the first surface of the insulating substrate can be reduced. Further, by providing the trimming groove in the wide portion of each resistor, it is possible to secure the formation region of the trimming groove. Therefore, in a wiring board having a resistor in which a trimming groove is formed, more resistors can be arranged within a predetermined area of the first surface.

上記の本発明の一局面にかかる配線基板において、前記第1太幅部の前記トリミング溝は、前記第2抵抗体に隣り合う側とは反対側の端部から切り込みが形成されており、前記第2太幅部の前記トリミング溝は、前記第1抵抗体に隣り合う側とは反対側の端部から切り込みが形成されていてもよい。 In the wiring board according to one aspect of the present invention, the trimming groove of the first wide portion is formed with a notch from the end on the side opposite to the side adjacent to the second resistor. The trimming groove of the second wide portion may have a notch formed from an end portion on the side opposite to the side adjacent to the first resistor.

上記の構成によれば、隣り合って配置されている第1抵抗体および第2抵抗体のうちの一方にトリミング溝を形成する場合に、溝の形成に用いられるレーザー光が他方の抵抗体に誤って照射されることを抑制することができる。そのため、隣り合って配置されている第1抵抗体および第2抵抗体の間隔をより狭めることができる。 According to the above configuration, when a trimming groove is formed in one of the first resistor and the second resistor arranged adjacent to each other, the laser beam used for forming the groove is applied to the other resistor. Accidental irradiation can be suppressed. Therefore, the distance between the first resistor and the second resistor arranged adjacent to each other can be further narrowed.

上記の本発明の一局面にかかる配線基板は、前記第1抵抗体において、前記第2抵抗体に隣り合う側とは反対側では、前記第1太幅部の端部と前記第1狭幅部の端部とが一つの直線上に配置されており、前記第2抵抗体において、前記第1抵抗体に隣り合う側とは反対側では、前記第2太幅部の端部と前記第2狭幅部の端部とが一つの直線上に配置されていてもよい。 The wiring board according to one aspect of the present invention has the end portion of the first wide portion and the first narrow width portion of the first resistor on the side opposite to the side adjacent to the second resistor. The end portion of the portion is arranged on one straight line, and in the second resistor, on the side opposite to the side adjacent to the first resistor, the end portion of the second wide portion and the second resistance portion are arranged. 2 The end portion of the narrow width portion may be arranged on one straight line.

上記の構成によれば、第1抵抗体と第2抵抗体とが向かい合う側とは反対側において、各抵抗体の形状が直線的となるため、絶縁基板の第1面におけるこの領域(1抵抗体と第2抵抗体とが向かい合う側とは反対側の領域)に他の素子を配置しやすくすることができる。また、絶縁基板上により多くの(例えば、3個以上の)抵抗体を配置する場合に、各抵抗体を効率良く配置することができる。 According to the above configuration, since the shape of each resistor is linear on the side opposite to the side where the first resistor and the second resistor face each other, this region (1 resistance) on the first surface of the insulating substrate. It is possible to facilitate the placement of other elements in the region on the side opposite to the side where the body and the second resistor face each other). Further, when a larger number of resistors (for example, three or more) are arranged on the insulating substrate, each resistor can be efficiently arranged.

上記の本発明の一局面にかかる配線基板において、前記第1抵抗体は、前記第1太幅部と前記第1狭幅部との間に、前記第1太幅部から前記第1狭幅部へ向かって徐々に幅が狭くなる第1傾斜部をさらに有しており、前記第2抵抗体は、前記第2太幅部と前記第2狭幅部との間に、前記第2太幅部から前記第2狭幅部へ向かって徐々に幅が狭くなる第2傾斜部をさらに有していてもよい。 In the wiring board according to one aspect of the present invention, the first resistor has the first wide width portion to the first narrow width portion between the first wide width portion and the first narrow width portion. The second inclined portion further has a first inclined portion whose width gradually narrows toward the portion, and the second resistor has the second thick portion between the second wide portion and the second narrow portion. It may further have a second inclined portion whose width gradually narrows from the width portion toward the second narrow width portion.

上記の構成によれば、同じ面積の金属層で抵抗体を形成した場合に、抵抗体の太幅部から形成されるトリミング溝を第1傾斜部または第2傾斜部にまで延ばすことができる。そして、トリミング溝の先端部から抵抗体の端部までの距離を長くすることができる。したがって、トリミング溝の先端部から発生するおそれのある金属層のクラックの可能性を低減することができる。 According to the above configuration, when the resistor is formed of a metal layer having the same area, the trimming groove formed from the wide portion of the resistor can be extended to the first inclined portion or the second inclined portion. Then, the distance from the tip of the trimming groove to the end of the resistor can be increased. Therefore, it is possible to reduce the possibility of cracks in the metal layer that may occur from the tip of the trimming groove.

本発明の一局面によれば、トリミング溝が形成されている抵抗体を有する配線基板において、単位面積当たりの抵抗体の数をより多く配置することのできる構成を提供することができる。 According to one aspect of the present invention, it is possible to provide a configuration in which a larger number of resistors per unit area can be arranged in a wiring board having a resistor in which a trimming groove is formed.

第1の実施形態にかかる検査用配線基板の一部の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of a part of the inspection wiring board which concerns on 1st Embodiment. 図1に示す配線基板の内部構成を示す断面模式図である。It is sectional drawing which shows the internal structure of the wiring board shown in FIG. 検査用配線基板の表面により多くの抵抗体が配置されている構成例を示す平面図である。It is a top view which shows the configuration example in which more resistors are arranged on the surface of a wiring board for inspection. 第2の実施形態にかかる検査用配線基板の一部の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of a part of the inspection wiring board which concerns on 2nd Embodiment. 第3の実施形態にかかる検査用配線基板の一部の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of a part of the inspection wiring board which concerns on 3rd Embodiment. 第4の実施形態にかかる検査用配線基板の一部の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of a part of the inspection wiring board which concerns on 4th Embodiment.

以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについての詳細な説明は繰り返さない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description, the same parts are designated by the same reference numerals. Their names and functions are the same. Therefore, the detailed description of them will not be repeated.

〔第1の実施形態〕
本実施形態では、本発明にかかる配線基板の一例として、電子部品の電気特性検査に用いられる検査用配線基板1を例に挙げて説明する。この検査用配線基板1は、複数の半導体素子が形成されたウエハの電気検査を一括して行うためのプローブカードなどの試験治具の一部品として用いられる。
[First Embodiment]
In the present embodiment, as an example of the wiring board according to the present invention, the inspection wiring board 1 used for inspecting the electrical characteristics of electronic components will be described as an example. The inspection wiring board 1 is used as a component of a test jig such as a probe card for collectively performing an electrical inspection of a wafer on which a plurality of semiconductor elements are formed.

なお、本発明にかかる配線基板は、検査用配線基板に限定はされない。本発明は、例えば、フォトリソグラフィなどの薄膜形成法によって形成される高抵抗の導電パターン(すなわち、抵抗体)を有する配線基板に適用することができる。 The wiring board according to the present invention is not limited to the inspection wiring board. The present invention can be applied to, for example, a wiring board having a high resistance conductive pattern (that is, a resistor) formed by a thin film forming method such as photolithography.

(検査用配線基板の概略構成)
図1には、検査用配線基板1の一部分の表面11a(第1面)上の構成を示す。本実施形態では、便宜上、略平板状の検査用配線基板1におけるプローブパッド(図示せず)などが形成されている側の面を表面11aとし、その反対側の面を裏面(第2面)11bとする。但し、検査用配線基板1の表面および裏面の定義はこれに限定はされず、任意に決めることができる。
(Rough configuration of inspection wiring board)
FIG. 1 shows a configuration on the surface 11a (first surface) of a part of the inspection wiring board 1. In the present embodiment, for convenience, the surface on the side of the substantially flat plate-shaped inspection wiring board 1 on which the probe pad (not shown) or the like is formed is the front surface 11a, and the surface on the opposite side is the back surface (second surface). It is set to 11b. However, the definitions of the front surface and the back surface of the inspection wiring board 1 are not limited to this, and can be arbitrarily determined.

検査用配線基板1は、絶縁基板11を有している。絶縁基板11は、複数のセラミックシートを積層して形成されている。セラミックシートは、例えば、アルミナ(Al)を主成分とする高温焼成セラミックで形成することができる。また、別の態様では、セラミックシートは、ガラス-セラミックなどの中温焼成セラミック(MTCC)および低温焼成セラミック(LTCC)などで形成されていてもよい。 The inspection wiring board 1 has an insulating board 11. The insulating substrate 11 is formed by laminating a plurality of ceramic sheets. The ceramic sheet can be formed of, for example, a high temperature fired ceramic containing alumina (Al 2 O 3 ) as a main component. In another aspect, the ceramic sheet may be formed of a medium temperature fired ceramic (MTCC) such as glass-ceramic and a low temperature fired ceramic (LTCC).

絶縁基板11の表面11aには、例えば、プローブパッド(図示せず)、キャパシタパッド(図示せず)、カバーパッド(図示せず)、抵抗体R(例えば、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)などが設けられている。これらは、検査用配線基板1内に含まれる電子回路の構成要素となっている。これらの各構成要素は、導電性を有する配線12によって、電気的に接続されている。 On the surface 11a of the insulating substrate 11, for example, a probe pad (not shown), a capacitor pad (not shown), a cover pad (not shown), and a resistor R (for example, a first resistor 20R and a second resistor) are formed. Body 30R) and the like are provided. These are the components of the electronic circuit included in the inspection wiring board 1. Each of these components is electrically connected by a conductive wiring 12.

プローブパッドは、電気特性検査時に、検査対象となる半導体ウエハなどの電子部品の検査用プローブを当接させる導電性のパッドである。通常、検査用配線基板1には、複数のプローブパッドが設けられている。検査用配線基板1の表面11a上におけるプローブパッドの個数および配置位置は、検査対象となる電子部品の検査用プローブの構成に応じて決められる。プローブパッドは、配線12を介してカバーパッドなどの他の素子と電気的に接続されている。 The probe pad is a conductive pad that abuts an inspection probe of an electronic component such as a semiconductor wafer to be inspected at the time of electrical property inspection. Usually, the inspection wiring board 1 is provided with a plurality of probe pads. The number and placement positions of the probe pads on the surface 11a of the inspection wiring board 1 are determined according to the configuration of the inspection probe of the electronic component to be inspected. The probe pad is electrically connected to another element such as a cover pad via the wiring 12.

キャパシタパッドは、コンデンサ(キャパシタ)接続用の導電性のパッドである。キャパシタパッド上には、チップコンデンサが接続される。キャパシタパッドへのチップコンデンサの接続は、ハンダ付けによって行われる。 The capacitor pad is a conductive pad for connecting a capacitor (capacitor). A chip capacitor is connected on the capacitor pad. The connection of the chip capacitor to the capacitor pad is done by soldering.

通常、検査用配線基板1には、複数のキャパシタパッドが設けられている。キャパシタパッドは、配線12を介してプローブパッドなどの他の素子と電気的に接続されている。また、キャパシタパッドは、絶縁基板11内を貫通するいくつかの接続ビアを介して、絶縁基板11の裏面11b側に設けられている裏面側パッド(図示せず)と電気的に接続されている。 Usually, the inspection wiring board 1 is provided with a plurality of capacitor pads. The capacitor pad is electrically connected to another element such as a probe pad via the wiring 12. Further, the capacitor pad is electrically connected to the back surface side pad (not shown) provided on the back surface 11b side of the insulating substrate 11 via some connection vias penetrating the inside of the insulating substrate 11. ..

カバーパッドは、配線12を介してプローブパッドおよびキャパシタパッドと電気的に接続されている。通常、検査用配線基板1には、複数のカバーパッドが設けられている。 The cover pad is electrically connected to the probe pad and the capacitor pad via the wiring 12. Usually, the inspection wiring board 1 is provided with a plurality of cover pads.

また、カバーパッドは、絶縁基板11内を貫通するいくつかの接続ビアを介して、絶縁基板11の裏面11b側に設けられている裏面側パッドと電気的に接続されている。カバーパッドは、検査用配線基板1の出荷前の導通検査時に、検査用のピンを当接させる箇所などとして利用される。カバーパッドは、キャプチャーパッドとも呼ばれる。なお、別の実施態様では、検査用配線基板1は、カバーパッドを有していなくてもよい。 Further, the cover pad is electrically connected to the back surface side pad provided on the back surface 11b side of the insulating substrate 11 via some connection vias penetrating the inside of the insulating substrate 11. The cover pad is used as a place where the inspection pin is brought into contact with the inspection wiring board 1 at the time of continuity inspection before shipment. The cover pad is also called a capture pad. In another embodiment, the inspection wiring board 1 does not have to have a cover pad.

抵抗体Rは、検査用配線基板1内の電子回路内に含まれる素子の一つである。抵抗体Rは、電子回路内を流れる電流値を調整するために設けられている。抵抗体Rは、配線12を介してプローブパッド、キャパシタパッド、およびカバーパッドなどの他の素子と電気的に接続されている。通常、検査用配線基板1の表面11aには、複数の抵抗体Rが設けられている。 The resistor R is one of the elements included in the electronic circuit in the inspection wiring board 1. The resistor R is provided to adjust the value of the current flowing in the electronic circuit. The resistor R is electrically connected to other elements such as a probe pad, a capacitor pad, and a cover pad via the wiring 12. Normally, a plurality of resistors R are provided on the surface 11a of the inspection wiring board 1.

配線12は、プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、および抵抗体Rなどの各素子を、絶縁基板11の表面11aで電気的に接続させている。 In the wiring 12, each element such as a probe pad, a capacitor pad, a cover pad, and a resistor R is electrically connected on the surface 11a of the insulating substrate 11.

プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、および配線12は、主として、高い導電性を有する材料(導電性材料)で形成されている。このような導電性材料としては、例えば、銅(Cu)、チタン(Ti)、タングステン(W)、銀(Ag)、パラジウム(Pd)、金(Au)、白金(Pt)、モリブデン(Mo)、ニッケル(Ni)、またはマンガン(Mn)などの金属材料、あるいはこれらの金属材料を主成分とする合金材料などが挙げられる。 The probe pad, the capacitor pad, the cover pad, and the wiring 12 are mainly made of a material having high conductivity (conductive material). Examples of such conductive materials include copper (Cu), titanium (Ti), tungsten (W), silver (Ag), palladium (Pd), gold (Au), platinum (Pt), and molybdenum (Mo). , Nickel (Ni), or a metal material such as manganese (Mn), or an alloy material containing these metal materials as a main component.

抵抗体Rは、導電性材料よりも導電性の低い材料(抵抗性材料とも呼ばれる)で形成されている。このような抵抗性材料としては、例えば、窒化タンタル(TaN、TaNなど)、酸化ルテニウム、Cu-Ni合金などが挙げられる。 The resistor R is made of a material (also referred to as a resistant material) having a lower conductivity than the conductive material. Examples of such a resistant material include tantalum nitride (Ta 2N, TaN, etc.), ruthenium oxide, Cu Ni alloy, and the like.

抵抗体Rの大まかな抵抗値は、抵抗体Rを形成している金属層(例えば、TaN層41)の面積で規定される。また、抵抗体Rには、抵抗値を微調整するためのトリミング溝(例えば、トリミング溝25または35)が形成されている。トリミング溝の量(長さ)を規定することで、抵抗体Rの抵抗値を微調整することができる。例えば、トリミング溝の長さを長くすると、抵抗値は大きくなる。トリミング溝は、抵抗体Rを形成している金属層に切り込みを入れることによって形成される。 The rough resistance value of the resistor R is defined by the area of the metal layer (for example, Ta 2 N layer 41) forming the resistor R. Further, the resistor R is formed with a trimming groove (for example, a trimming groove 25 or 35) for finely adjusting the resistance value. By specifying the amount (length) of the trimming groove, the resistance value of the resistor R can be finely adjusted. For example, if the length of the trimming groove is increased, the resistance value increases. The trimming groove is formed by making a notch in the metal layer forming the resistor R.

プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、配線12、および抵抗体Rは、絶縁基板11上に、上述の導電性材料または抵抗性材料を所定の形状にパターニングすることによって形成される。各素子のパターンの形成には、例えば、薄膜形成法(例えば、フォトリソグラフィなど)、印刷ペーストによるメタライズ法、金属層をエッチングしてパターン化する方法、パターン状の金属層を転写する方法などの従来公知の方法が用いられる。これらの各方法の中でも、例えば、フォトリソグラフィなどの薄膜形成法を用いることが好ましい。これにより、より微細な素子のパターンを形成することができる。 The probe pad, the capacitor pad, the cover pad, the wiring 12, and the resistor R are formed by patterning the above-mentioned conductive material or resistance material in a predetermined shape on the insulating substrate 11. The pattern formation of each element includes, for example, a thin film forming method (for example, photolithography), a metallizing method using a print paste, a method of etching and patterning a metal layer, a method of transferring a patterned metal layer, and the like. Conventionally known methods are used. Among these methods, it is preferable to use, for example, a thin film forming method such as photolithography. This makes it possible to form a finer element pattern.

また、プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、および配線12の表面は、メッキ層で覆われている。 Further, the surfaces of the probe pad, the capacitor pad, the cover pad, and the wiring 12 are covered with a plating layer.

図2には、検査用配線基板1における抵抗体Rの形成領域の断面構成を示す。図2は、図1に示す検査用配線基板1のA-A線部分の断面構成を示す図である。抵抗体Rは、絶縁基板11の表面11aに形成されたTaN層41で形成されている。 FIG. 2 shows a cross-sectional configuration of a region where the resistor R is formed in the inspection wiring board 1. FIG. 2 is a diagram showing a cross-sectional configuration of an AA line portion of the inspection wiring board 1 shown in FIG. The resistor R is formed of a Ta 2N layer 41 formed on the surface 11a of the insulating substrate 11.

また、配線12は、表面11aに形成されたTaN層41上に、複数の導電性材料の層が積層された積層構造を有している。具体的には、配線12は、TaN層41上に、Ti層42、Cu層43、Cuメッキ層44、Niメッキ層45、およびAuメッキ層46が順に積層された積層構造を有している。なお、図2には示されていないが、プローブパッド、キャパシタパッド、およびカバーパッドなどの各素子の内部構成は、配線12の内部構成と概ね同様である。 Further, the wiring 12 has a laminated structure in which a plurality of layers of conductive materials are laminated on the Ta 2N layer 41 formed on the surface 11a. Specifically, the wiring 12 has a laminated structure in which a Ti layer 42, a Cu layer 43, a Cu plating layer 44, a Ni plating layer 45, and an Au plating layer 46 are sequentially laminated on a Ta 2 N layer 41. ing. Although not shown in FIG. 2, the internal configuration of each element such as the probe pad, the capacitor pad, and the cover pad is substantially the same as the internal configuration of the wiring 12.

このような抵抗体Rおよび配線12などを形成する場合には、先ず、絶縁基板11の表面11a上に、TaN層41と、Ti層42と、Cu層43とを順次スパッタリングによって形成する。次に、Cu層43の上に感光性樹脂からなるレジスト層(図示せず)を形成した後、フォトリソグラフィ技術を用いてTaN層41、Ti層42、およびCu層43を所定の形状にパターニングする。 When forming such a resistor R, wiring 12, or the like, first , a Ta 2N layer 41, a Ti layer 42, and a Cu layer 43 are sequentially formed by sputtering on the surface 11a of the insulating substrate 11. .. Next, after forming a resist layer (not shown) made of a photosensitive resin on the Cu layer 43, the Ta 2N layer 41, the Ti layer 42, and the Cu layer 43 have a predetermined shape using photolithography technology. Patterning.

その後、例えば、従来公知の電解めっき法などを用いて、Cu層43を覆うようにメッキ層を形成する。メッキ層は、単層のメッキ層で構成されていてもよいし、図2に示すように複数のメッキ層(具体的には、Cuメッキ層44、Niメッキ層45、およびAuメッキ層46)で構成されていてもよい。 Then, for example, a plating layer is formed so as to cover the Cu layer 43 by using a conventionally known electrolytic plating method or the like. The plating layer may be composed of a single plating layer, or as shown in FIG. 2, a plurality of plating layers (specifically, Cu plating layer 44, Ni plating layer 45, and Au plating layer 46). It may be composed of.

以上のようにして、検査用配線基板1の表面11a上に、抵抗体Rおよび配線12などが形成される。図2に示すように、配線12は複数の金属層を積層して形成されているのに対して、抵抗体RはTaN層41のみで形成されている。このような構成により、抵抗体Rは、配線12および検査用配線基板1に含まれる他の素子と比較して高い抵抗値を有することができる。 As described above, the resistor R, the wiring 12, and the like are formed on the surface 11a of the inspection wiring board 1. As shown in FIG. 2, the wiring 12 is formed by laminating a plurality of metal layers, whereas the resistor R is formed only by the Ta 2 N layer 41. With such a configuration, the resistor R can have a high resistance value as compared with other elements included in the wiring 12 and the inspection wiring board 1.

なお、図2では示されていないが、抵抗体Rの表面には、抵抗体を覆うように樹脂コート層が設けられていてもよい。樹脂コート層は、例えば、ポリイミド樹脂などの絶縁性を有する樹脂材料で形成されている。抵抗体Rの表面が樹脂コート層で覆われていることで、抵抗体Rの酸化を抑制したり、抵抗体Rを保護したりすることができる。樹脂コート層は、抵抗体Rの端部よりも約100μm程度外側にまで形成されている。 Although not shown in FIG. 2, a resin coat layer may be provided on the surface of the resistor R so as to cover the resistor. The resin coat layer is formed of an insulating resin material such as a polyimide resin. Since the surface of the resistor R is covered with the resin coat layer, it is possible to suppress the oxidation of the resistor R and protect the resistor R. The resin coat layer is formed up to about 100 μm outside the end of the resistor R.

本実施形態にかかる検査用配線基板1は、プローブパッド、キャパシタパッド、カバーパッド、および抵抗体Rなどの素子で構成される回路構造を複数個有している。これらの各素子は、配線12によって互いに接続されている。これにより、複数の検査用プローブを検査用配線基板1に同時に当接させて、半導体ウエハなどの電子部品の電気特性の検査を行うことができる。 The inspection wiring board 1 according to the present embodiment has a plurality of circuit structures composed of elements such as a probe pad, a capacitor pad, a cover pad, and a resistor R. Each of these elements is connected to each other by wiring 12. As a result, a plurality of inspection probes can be brought into contact with the inspection wiring board 1 at the same time to inspect the electrical characteristics of electronic components such as semiconductor wafers.

(抵抗体周辺の構成)
続いて、検査用配線基板1における抵抗体R周辺のより詳細な構成について、図1を参照しながら説明する。
(Structure around the resistor)
Subsequently, a more detailed configuration around the resistor R in the inspection wiring board 1 will be described with reference to FIG.

図1に示すように、本実施形態にかかる検査用配線基板1の表面11aには、隣り合って配置されている2つの抵抗体(すなわち、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)が形成されている。これら2つの抵抗体は、検査用配線基板1に設けられている電子回路の構成要素の一つである。 As shown in FIG. 1, two resistors (that is, a first resistor 20R and a second resistor 30R) arranged adjacent to each other are arranged on the surface 11a of the inspection wiring board 1 according to the present embodiment. It is formed. These two resistors are one of the components of the electronic circuit provided on the inspection wiring board 1.

これら2つの抵抗体のうちの一方(すなわち、第1抵抗体20R)は、第1の方向X(図1では、横方向)に沿って延びる配線12aの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。これら2つの抵抗体のうちの他方(すなわち、第2抵抗体30R)は、配線12aに対して略平行に配置されている配線12bの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとは、第1の方向Xと交差する(より具体的には、直交する)第2の方向Y(図1では、縦方向)に隣り合って配置されている。 One of these two resistors (ie, the first resistor 20R) is located between the wirings 12a extending along the first direction X (lateral in FIG. 1) and is located in the first direction X. Extends along. The other of these two resistors (ie, the second resistor 30R) is located between the wires 12b arranged substantially parallel to the wires 12a and extends along the first direction X. There is. The first resistor 20R and the second resistor 30R are arranged adjacent to each other in the second direction Y (longitudinal direction in FIG. 1) that intersects (more specifically, orthogonally) the first direction X. Has been done.

第1抵抗体20Rは、第1太幅部21と、第1狭幅部22とを有している。第1太幅部21は、平面視で略長方形状を有している。第1太幅部21には、トリミング溝25が形成されている。また、第1狭幅部22は、平面視で第1太幅部21よりも幅の狭い略長方形状を有している。ここで、第1太幅部21および第1狭幅部22の幅とは、第1太幅部21および第1狭幅部22における第2の方向Yの寸法のことを意味する。 The first resistor 20R has a first wide portion 21 and a first narrow width portion 22. The first wide portion 21 has a substantially rectangular shape in a plan view. A trimming groove 25 is formed in the first wide portion 21. Further, the first narrow width portion 22 has a substantially rectangular shape having a width narrower than that of the first wide width portion 21 in a plan view. Here, the width of the first wide portion 21 and the first narrow width portion 22 means the dimension of the first wide width portion 21 and the first narrow width portion 22 in the second direction Y.

第2抵抗体30Rは、第2太幅部31と、第2狭幅部32とを有している。第2太幅部31は、平面視で略長方形状を有している。第2太幅部31には、トリミング溝35が形成されている。また、第2狭幅部32は、平面視で第2太幅部31よりも幅の狭い略長方形状を有している。ここで、第2太幅部31および第2狭幅部32の幅とは、第2太幅部31および第2狭幅部32における第2の方向Yの寸法のことを意味する。 The second resistor 30R has a second wide portion 31 and a second narrow width portion 32. The second wide portion 31 has a substantially rectangular shape in a plan view. A trimming groove 35 is formed in the second wide portion 31. Further, the second narrow width portion 32 has a substantially rectangular shape having a width narrower than that of the second wide width portion 31 in a plan view. Here, the width of the second wide portion 31 and the second narrow width portion 32 means the dimension of the second wide width portion 31 and the second narrow width portion 32 in the second direction Y.

本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体20Rの第1太幅部21と、第2抵抗体30Rの第2太幅部31とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体20Rの第1狭幅部22と、第2抵抗体30Rの第2狭幅部32とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。 In the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, the first wide portion 21 of the first resistor 20R and the second wide portion 31 of the second resistor 30R have the same shape and the same dimensions. .. Further, in the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, the first narrow width portion 22 of the first resistor 20R and the second narrow width portion 32 of the second resistor 30R have the same shape and the same dimensions. ing.

そして、図1に示すように、絶縁基板11の表面11a上で、第1抵抗体20Rの第1太幅部21と第2抵抗体30Rの第2狭幅部32とが第2の方向Yに隣り合って配置され、第2抵抗体30Rの第2太幅部31と第1抵抗体20Rの第1狭幅部22とが第2の方向Yに隣り合って配置されている。すなわち、第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとは、同じ形状を有しており、互いに点対称となる位置関係で配置されているということもできる。 Then, as shown in FIG. 1, on the surface 11a of the insulating substrate 11, the first wide portion 21 of the first resistor 20R and the second narrow portion 32 of the second resistor 30R are in the second direction Y. The second wide portion 31 of the second resistor 30R and the first narrow width portion 22 of the first resistor 20R are arranged adjacent to each other in the second direction Y. That is, it can be said that the first resistor 20R and the second resistor 30R have the same shape and are arranged in a positional relationship that is point-symmetrical to each other.

第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとを、上記のような形状とし、上記のような位置関係で配置することで、絶縁基板11上に複数の抵抗体を配置する際に、絶縁基板11の表面11aにおける複数の抵抗体の配置に要する占有面積を縮小することができる。 By arranging the first resistor 20R and the second resistor 30R in the above-mentioned shape and in the above-mentioned positional relationship, the insulating substrate can be arranged when a plurality of resistors are arranged on the insulating substrate 11. The area occupied for the arrangement of the plurality of resistors on the surface 11a of 11 can be reduced.

続いて、各抵抗体Rに設けられているトリミング溝について、より具体的に説明する。 Subsequently, the trimming groove provided in each resistor R will be described more specifically.

トリミング溝25は、第1抵抗体20Rを形成している金属層(例えば、TaN層41)に形成されている切り込みである。また、トリミング溝35は、第2抵抗体30Rを形成している金属層(例えば、TaN層41)に形成されている切り込みである。 The trimming groove 25 is a notch formed in the metal layer (for example, Ta 2N layer 41) forming the first resistor 20R. Further, the trimming groove 35 is a notch formed in the metal layer (for example, Ta 2N layer 41) forming the second resistor 30R.

各トリミング溝25および35の切り込みの長さを調整することで、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rの抵抗値を微調整することができる。これらのトリミング溝25および35は、抵抗体を形成している金属層(例えば、TaN層41)にレーザー光を照射することによって形成される。 By adjusting the notch lengths of the trimming grooves 25 and 35, the resistance values of the first resistor 20R and the second resistor 30R can be finely adjusted. These trimming grooves 25 and 35 are formed by irradiating a metal layer ( for example, Ta 2N layer 41) forming a resistor with laser light.

本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1太幅部21に設けられているトリミング溝25は、第2抵抗体30Rに隣り合う側の端部(すなわち、端部21b)とは反対側の端部(すなわち、端部21a)から切り込みが形成されている。また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第2太幅部31に設けられているトリミング溝35は、第1抵抗体20Rに隣り合う側の端部(すなわち、端部31b)とは反対側の端部(すなわち、端部31a)から切り込みが形成されている。 In the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, the trimming groove 25 provided in the first wide portion 21 is opposite to the end portion (that is, the end portion 21b) on the side adjacent to the second resistor 30R. A notch is formed from the side end (ie, end 21a). Further, in the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, the trimming groove 35 provided in the second wide portion 31 is the end portion (that is, the end portion 31b) on the side adjacent to the first resistor 20R. Is formed from the opposite end (ie, end 31a).

このように、各トリミング溝25および35の切り込みは、隣接して配置された2つの抵抗体(例えば、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)における隣り合う側の端部(すなわち、端部21bおよび31b)ではなく、その反対側の端部(すなわち、端部21aおよび31a)に形成されていることが好ましい。 Thus, the notches in the trimming grooves 25 and 35 are adjacent ends (ie, ends) in two adjacent resistors (eg, first resistor 20R and second resistor 30R). It is preferable that the portions 21b and 31b) are formed on the opposite end portion (that is, the end portions 21a and 31a) instead of the portions 21b and 31b).

これにより、隣接して配置されている2つの抵抗体のうちの一方にトリミング溝を形成する場合に、溝の形成に用いられるレーザー光が他方の抵抗体に誤って照射されることを抑制することができる。そのため、隣接して配置された2つの抵抗体(例えば、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)同士の間隔を狭めることが可能となる。第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとの隙間を狭めることで、これら2つの抵抗体を覆うように設けられる樹脂コート層の面積も小さくすることができる。 This prevents the laser beam used for forming the groove from being erroneously irradiated to the other resistor when the trimming groove is formed in one of the two resistors arranged adjacent to each other. be able to. Therefore, it is possible to narrow the distance between the two resistors arranged adjacent to each other (for example, the first resistor 20R and the second resistor 30R). By narrowing the gap between the first resistor 20R and the second resistor 30R, the area of the resin coat layer provided so as to cover these two resistors can also be reduced.

本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体20Rにおいて、第2抵抗体30Rに隣り合う側(図1中、Y2側)とは反対側(図1中、Y1側)では、第1太幅部21の端部21aと第1狭幅部22の端部22aとが一つの直線上に配置されている。 In the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, in the first resistor 20R, on the side opposite to the side adjacent to the second resistor 30R (Y2 side in FIG. 1) (Y1 side in FIG. 1), The end portion 21a of the first wide width portion 21 and the end portion 22a of the first narrow width portion 22 are arranged on one straight line.

また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第2抵抗体30Rにおいて、第1抵抗体20Rに隣り合う側(図1中、Y1側)とは反対側(図1中、Y2側)では、第2太幅部31の端部31aと第2狭幅部32の端部32aとが一つの直線上に配置されている。 Further, in the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, in the second resistor 30R, the side opposite to the side adjacent to the first resistor 20R (Y1 side in FIG. 1) (Y2 side in FIG. 1). Then, the end portion 31a of the second wide width portion 31 and the end portion 32a of the second narrow width portion 32 are arranged on one straight line.

以上のように、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rはともに、上面視で略L字形状を有する金属層(例えば、TaN層41)のパターンで形成されている。そして、2つの略L字状のパターンが、互いに点対称となる位置関係で配置されている。 As described above, both the first resistor 20R and the second resistor 30R are formed by a pattern of a metal layer (for example, Ta 2N layer 41) having a substantially L - shape when viewed from above. Then, the two substantially L-shaped patterns are arranged in a positional relationship that is point-symmetrical to each other.

これにより、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rの各狭幅部22および32の側方(図1中、Y方向の側方)にできる空いたスペースに、他方の抵抗体の太幅部31および21の張り出し部分を配置することができる。したがって、絶縁基板11の表面11a上に、2つの抵抗体(例えば、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30R)を効率良く配置することができる。 As a result, the width of the other resistor is wide in the vacant space created on the side (side in the Y direction in FIG. 1) of the narrow portions 22 and 32 of the first resistor 20R and the second resistor 30R. Overhanging portions of portions 31 and 21 can be arranged. Therefore, two resistors (for example, the first resistor 20R and the second resistor 30R) can be efficiently arranged on the surface 11a of the insulating substrate 11.

上記のような構成は、表面11aに多数の抵抗体Rが配置されている検査用配線基板1に適用することがより好ましい。この点について、図3を参照しながら説明する。 The above configuration is more preferably applied to the inspection wiring board 1 in which a large number of resistors R are arranged on the surface 11a. This point will be described with reference to FIG.

図3には、絶縁基板11上により多くの抵抗体が配置されている検査用配線基板1の構成を示す。図3に示す例では、検査用配線基板1の表面11aに、4つの抵抗体R(すなわち、第1抵抗体20R-1、第2抵抗体30R-1、第1抵抗体20R-2、および第2抵抗体30R-2)が略平行に並んで配置されている。 FIG. 3 shows the configuration of the inspection wiring board 1 in which more resistors are arranged on the insulating substrate 11. In the example shown in FIG. 3, four resistors R (that is, a first resistor 20R-1, a second resistor 30R-1, a first resistor 20R-2, and a first resistor 20R-2) are formed on the surface 11a of the inspection wiring board 1. The second resistors 30R-2) are arranged side by side substantially in parallel.

4つの抵抗体RのうちのY1側の2つ(すなわち、第1抵抗体20R-1および第2抵抗体30R-1)は、より近接して配置されている2つの配線12aおよび12b上に配置されている。ここで、2つの配線12aおよび12bの間隔をG1とする。第1抵抗体20R-1および第2抵抗体30R-1の形状および配置は、図1に示す第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rと同じである。 Two of the four resistors R on the Y1 side (ie, first resistor 20R-1 and second resistor 30R-1) are on two wires 12a and 12b that are placed closer together. Have been placed. Here, the distance between the two wires 12a and 12b is G1. The shapes and arrangements of the first resistor 20R-1 and the second resistor 30R-1 are the same as those of the first resistor 20R and the second resistor 30R shown in FIG.

4つの抵抗体RのうちのY2側の2つ(すなわち、第1抵抗体20R-2および第2抵抗体30R-2)は、より近接して配置されている2つの配線12cおよび12d上に配置されている。ここで、2つの配線12cおよび12dの間隔をG1とする。第1抵抗体20R-2および第2抵抗体30R-2の形状および配置は、図1に示す第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rと同じである。 Two of the four resistors R on the Y2 side (ie, first resistor 20R-2 and second resistor 30R-2) are on two wires 12c and 12d that are placed closer together. Have been placed. Here, the distance between the two wires 12c and 12d is G1. The shapes and arrangements of the first resistor 20R-2 and the second resistor 30R-2 are the same as those of the first resistor 20R and the second resistor 30R shown in FIG.

また、4つの配線のうち中央寄りの2つの配線(すなわち、配線12bおよび配線12c)同士の間隔G2は、間隔G1よりも大きくなっている(G1<G2)。 Further, the distance G2 between the two wirings (that is, the wiring 12b and the wiring 12c) closer to the center among the four wirings is larger than the distance G1 (G1 <G2).

図3に示す検査用配線基板1では、より大きな間隔G2を隔てて並んで配置されている配線12bおよび配線12c上に形成されている各抵抗体(すなわち、第2抵抗体30R-1および第1抵抗体20R-2)の太幅部の端部(すなわち、端部31aおよび21a)から、トリミング溝35および25の切り込みが形成されている。 In the inspection wiring board 1 shown in FIG. 3, each resistor (that is, the second resistor 30R-1 and the second resistor 30R-1 and the second resistor) formed on the wiring 12b and the wiring 12c arranged side by side with a larger interval G2 is spaced apart from each other. Notches in the trimming grooves 35 and 25 are formed from the ends (that is, the ends 31a and 21a) of the wide portion of the resistor 20R-2).

そのため、多数の抵抗体のうちのより近接して配置されている2つの抵抗体の一方にトリミング溝を形成する場合に、レーザー光が他方の抵抗体に誤って照射されにくくすることができる。そのため、より近接して配置された2つの抵抗体(例えば、第1抵抗体20R-1および第2抵抗体30R-1、あるいは、第1抵抗体20R-2および第2抵抗体30R-2)同士の間隔を狭めることが可能となる。これにより、絶縁基板11の表面11aの領域を有効に活用して、より多くの抵抗体を配置することができる。 Therefore, when a trimming groove is formed in one of two resistors arranged closer to each other among a large number of resistors, it is possible to prevent the laser beam from being erroneously irradiated to the other resistor. Therefore, two resistors arranged closer to each other (for example, the first resistor 20R-1 and the second resistor 30R-1, or the first resistor 20R-2 and the second resistor 30R-2). It is possible to narrow the distance between each other. As a result, more resistors can be arranged by effectively utilizing the region of the surface 11a of the insulating substrate 11.

また、図3に示す検査用配線基板1では、トリミング溝25および35の切り込みが形成される側の各抵抗体の端部(すなわち、第2抵抗体30R-1の端部31aと端部32a、並びに、第1抵抗体20R-2の端部21aと端部22a)は、直線状になっている。これにより、対向するように位置する第2抵抗体30R-1の端部31aと第1抵抗体20R-2の端部22aとの間隔、および、対向するように位置する第2抵抗体30R-1の端部32aと第1抵抗体20R-2の端部21aとの間に、より広い領域を確保することができる。 Further, in the inspection wiring board 1 shown in FIG. 3, the ends of the resistors on the side where the cuts of the trimming grooves 25 and 35 are formed (that is, the ends 31a and the ends 32a of the second resistor 30R-1). , And the end 21a and the end 22a) of the first resistor 20R-2 are linear. As a result, the distance between the end 31a of the second resistor 30R-1 located so as to face each other and the end 22a of the first resistor 20R-2, and the second resistor 30R- located so as to face each other. A wider area can be secured between the end portion 32a of 1 and the end portion 21a of the first resistor 20R-2.

そのため、第2抵抗体30R-1の端部31aまたは第1抵抗体20R-2の端部21aにレーザー光を当てる際に、対向する側に位置する抵抗体に誤ってレーザー光が当たりにくくすることができる。 Therefore, when the laser beam is applied to the end portion 31a of the second resistor 30R-1 or the end portion 21a of the first resistor 20R-2, it is difficult for the laser beam to erroneously hit the resistor located on the opposite side. be able to.

(第1の実施形態のまとめ)
以上のように、本実施形態にかかる検査用配線基板1は、絶縁基板11と、絶縁基板11の表面(第1面)11a上に第1の方向Xに沿って延びる第1抵抗体20Rと、第1の方向Xと交差する第2の方向Yに第1抵抗体20Rと隣り合って配置されている第2抵抗体30Rとを備えている。第1抵抗体20Rは、トリミング溝25を有している第1太幅部21と、第1太幅部21よりも幅の狭い第1狭幅部22とを有している。第2抵抗体30Rは、トリミング溝35を有している第2太幅部31と、第2太幅部31よりも幅の狭い第2狭幅部32とを有している。
(Summary of the first embodiment)
As described above, the inspection wiring board 1 according to the present embodiment includes the insulating substrate 11 and the first resistor 20R extending along the first direction X on the surface (first surface) 11a of the insulating substrate 11. , A second resistor 30R arranged adjacent to the first resistor 20R is provided in the second direction Y intersecting the first direction X. The first resistor 20R has a first wide portion 21 having a trimming groove 25 and a first narrow width portion 22 having a width narrower than that of the first wide portion 21. The second resistor 30R has a second wide portion 31 having a trimming groove 35 and a second narrow width portion 32 having a width narrower than that of the second wide portion 31.

この検査用配線基板1において、第1太幅部21と第2狭幅部32とは、第2の方向Yに隣り合って配置され、第2太幅部31と第1狭幅部22とは、第2の方向Yに隣り合って配置されている。 In the inspection wiring board 1, the first wide portion 21 and the second narrow width portion 32 are arranged adjacent to each other in the second direction Y, and the second wide portion 31 and the first narrow width portion 22 are arranged. Are arranged adjacent to each other in the second direction Y.

この構成によれば、絶縁基板11の表面11a上にトリミング溝を有する複数の抵抗体を配置する際に、隣り合って配置される第1抵抗体20Rと第2抵抗体30Rとの間にできる隙間を小さくすることができる。これにより、絶縁基板11の表面11aに複数の抵抗体を配置する場合に必要となる占有面積を縮小することができる。また、第1抵抗体20Rの第1太幅部21および第2抵抗体30Rの第2太幅部31にトリミング溝25または35を設けることで、トリミング溝の形成領域も確保することができる。 According to this configuration, when a plurality of resistors having trimming grooves are arranged on the surface 11a of the insulating substrate 11, they can be formed between the first resistor 20R and the second resistor 30R arranged adjacent to each other. The gap can be reduced. As a result, the occupied area required when arranging a plurality of resistors on the surface 11a of the insulating substrate 11 can be reduced. Further, by providing the trimming groove 25 or 35 in the first wide portion 21 of the first resistor 20R and the second wide portion 31 of the second resistor 30R, a region for forming the trimming groove can be secured.

したがって、本実施形態にかかる構成によれば、トリミング溝が形成されている複数の抵抗体を有する配線基板において、絶縁基板11の表面11a上に各抵抗体を効率良く配置することができ、単位面積当たりに配置される抵抗体の数をより多くすることができる。 Therefore, according to the configuration according to the present embodiment, in a wiring board having a plurality of resistors in which trimming grooves are formed, each resistor can be efficiently arranged on the surface 11a of the insulating substrate 11, and the unit is The number of resistors placed per area can be increased.

なお、隣り合って配置される2つの抵抗体同士の間隔を狭めると、一方の抵抗体にレーザー光を照射してトリミング溝を形成する際に、誤って他方の抵抗体にもレーザー光が照射されてしまう可能性がある。そこで、本実施形態では、第1抵抗体20Rおよび第2抵抗体30Rに形成される各トリミング溝25および35の切り込みは、隣接して配置された2つの抵抗体における隣り合う側の端部(すなわち、端部21bおよび31b)ではなく、その反対側の端部(すなわち、端部21aおよび31a)に形成されていることが好ましい。 If the distance between two resistors arranged next to each other is narrowed, when one resistor is irradiated with laser light to form a trimming groove, the other resistor is also erroneously irradiated with laser light. There is a possibility that it will be done. Therefore, in the present embodiment, the notches of the trimming grooves 25 and 35 formed in the first resistor 20R and the second resistor 30R are the end portions on the adjacent sides of the two resistors arranged adjacent to each other. That is, it is preferably formed not at the ends 21b and 31b) but at the opposite end (that is, the ends 21a and 31a).

これにより、隣接して配置されている2つの抵抗体のうちの一方にトリミング溝を形成する場合に、溝の形成に用いられるレーザー光が他方の抵抗体に誤って照射されることを抑制することができる。そのため、隣接して配置された2つの抵抗体同士の間隔をより狭めることができる。 This prevents the laser beam used for forming the groove from being erroneously irradiated to the other resistor when the trimming groove is formed in one of the two resistors arranged adjacent to each other. be able to. Therefore, the distance between the two resistors arranged adjacent to each other can be further narrowed.

〔第2の実施形態〕
続いて、第2の実施形態にかかる検査用配線基板1について、図4を参照しながら説明する。図4には、第2の実施形態にかかる検査用配線基板1の一部分の表面11a(第1面)上の構成を示す。
[Second Embodiment]
Subsequently, the inspection wiring board 1 according to the second embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 4 shows a configuration on the surface 11a (first surface) of a part of the inspection wiring board 1 according to the second embodiment.

第1の実施形態と同様に、検査用配線基板1は、絶縁基板11を有している。絶縁基板11の表面11aには、例えば、プローブパッド(図示せず)、キャパシタパッド(図示せず)、カバーパッド(図示せず)、抵抗体Rなどが設けられている。 Similar to the first embodiment, the inspection wiring board 1 has an insulating board 11. The surface 11a of the insulating substrate 11 is provided with, for example, a probe pad (not shown), a capacitor pad (not shown), a cover pad (not shown), a resistor R, and the like.

図4には、検査用配線基板1内に含まれる電子回路における抵抗体R周辺の構成を示す。本実施形態では、各抵抗体Rを構成する金属層(例えば、TaN層41)のパターン形状が第1の実施形態とは異なっている。それ以外の構成については、第1の実施形態と同様の構成が適用できる。以下では、第1の実施形態にかかる検査用配線基板1とは異なる構成を中心に説明する。 FIG. 4 shows the configuration around the resistor R in the electronic circuit included in the inspection wiring board 1. In the present embodiment, the pattern shape of the metal layer (for example, Ta 2N layer 41) constituting each resistor R is different from that of the first embodiment. For other configurations, the same configuration as in the first embodiment can be applied. Hereinafter, a configuration different from that of the inspection wiring board 1 according to the first embodiment will be mainly described.

図4に示すように、検査用配線基板1の表面11aには、隣り合って配置されている2つの抵抗体(すなわち、第1抵抗体120Rおよび第2抵抗体130R)が形成されている。これら2つの抵抗体のうちの一方(すなわち、第1抵抗体120R)は、第1の方向X(図4では、横方向)に沿って延びる配線12aの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。これら2つの抵抗体のうちの他方(すなわち、第2抵抗体130R)は、配線12aに対して略平行に配置されている配線12bの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。第1抵抗体120Rと第2抵抗体130Rとは、第1の方向Xと交差する(より具体的には、直交する)第2の方向Y(図1では、縦方向)に隣り合って配置されている。 As shown in FIG. 4, two resistors (that is, a first resistor 120R and a second resistor 130R) arranged adjacent to each other are formed on the surface 11a of the inspection wiring board 1. One of these two resistors (ie, the first resistor 120R) is located between the wirings 12a extending along the first direction X (lateral in FIG. 4) and is located in the first direction X. Extends along. The other of these two resistors (ie, the second resistor 130R) is located between the wires 12b arranged substantially parallel to the wires 12a and extends along the first direction X. There is. The first resistor 120R and the second resistor 130R are arranged adjacent to each other in the second direction Y (longitudinal direction in FIG. 1) that intersects (more specifically, orthogonally) the first direction X. Has been done.

第1抵抗体120Rは、第1太幅部21と、第1狭幅部22と、第1台形部(第1傾斜部)123とを有している。第1太幅部21は、平面視で略長方形状を有している。第1太幅部21には、トリミング溝25が形成されている。また、第1狭幅部22は、平面視で第1太幅部21よりも幅の狭い略長方形状を有している。 The first resistor 120R has a first wide portion 21, a first narrow width portion 22, and a first trapezoidal portion (first inclined portion) 123. The first wide portion 21 has a substantially rectangular shape in a plan view. A trimming groove 25 is formed in the first wide portion 21. Further, the first narrow width portion 22 has a substantially rectangular shape having a width narrower than that of the first wide width portion 21 in a plan view.

第1台形部123は、第1太幅部21と第1狭幅部22との間に位置している。第1台形部123は、第1太幅部21から第1狭幅部22へ向かって徐々に幅が狭くなる台形状を有している。第1台形部123は、第1傾斜端部123bを有している。 The first trapezoidal portion 123 is located between the first wide width portion 21 and the first narrow width portion 22. The first trapezoidal portion 123 has a trapezoidal shape in which the width gradually narrows from the first wide width portion 21 toward the first narrow width portion 22. The first trapezoidal portion 123 has a first inclined end portion 123b.

第2抵抗体130Rは、第2太幅部31と、第2狭幅部32と、第2台形部(第2傾斜部)133とを有している。第2太幅部31は、平面視で略長方形状を有している。第2太幅部31には、トリミング溝35が形成されている。また、第2狭幅部32は、平面視で第2太幅部31よりも幅の狭い略長方形状を有している。 The second resistor 130R has a second wide portion 31, a second narrow width portion 32, and a second trapezoidal portion (second inclined portion) 133. The second wide portion 31 has a substantially rectangular shape in a plan view. A trimming groove 35 is formed in the second wide portion 31. Further, the second narrow width portion 32 has a substantially rectangular shape having a width narrower than that of the second wide width portion 31 in a plan view.

第2台形部133は、第2太幅部31と第2狭幅部32との間に位置している。第2台形部133は、第2太幅部31から第2狭幅部32へ向かって徐々に幅が狭くなる台形状を有している。第2台形部133は、第2傾斜端部133bを有している。 The second trapezoidal portion 133 is located between the second wide width portion 31 and the second narrow width portion 32. The second trapezoidal portion 133 has a trapezoidal shape in which the width gradually narrows from the second wide width portion 31 toward the second narrow width portion 32. The second trapezoidal portion 133 has a second inclined end portion 133b.

本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rの第1太幅部21と、第2抵抗体130Rの第2太幅部31とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rの第1狭幅部22と、第2抵抗体130Rの第2狭幅部32とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rの第1台形部123と、第2抵抗体130Rの第2台形部133とは、同じ形状かつ同じ寸法となっている。 In the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, the first wide portion 21 of the first resistor 120R and the second wide portion 31 of the second resistor 130R have the same shape and the same dimensions. .. Further, in the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, the first narrow width portion 22 of the first resistor 120R and the second narrow width portion 32 of the second resistor 130R have the same shape and the same dimensions. ing. Further, in the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, the first trapezoidal portion 123 of the first resistor 120R and the second trapezoidal portion 133 of the second resistor 130R have the same shape and the same dimensions. ..

そして、図4に示すように、絶縁基板11の表面11a上で、第1抵抗体120Rの第1太幅部21と第2抵抗体130Rの第2狭幅部32とが第2の方向Yに隣り合って配置され、第2抵抗体130Rの第2太幅部31と第1抵抗体20Rの第1狭幅部22とが第2の方向Yに隣り合って配置されている。また、第1抵抗体120Rの第1傾斜端部123bと、第2抵抗体130Rの第2傾斜端部133bとは、互いに向かい合うように配置されている。 Then, as shown in FIG. 4, on the surface 11a of the insulating substrate 11, the first wide portion 21 of the first resistor 120R and the second narrow portion 32 of the second resistor 130R are in the second direction Y. The second wide portion 31 of the second resistor 130R and the first narrow width portion 22 of the first resistor 20R are arranged adjacent to each other in the second direction Y. Further, the first inclined end portion 123b of the first resistor 120R and the second inclined end portion 133b of the second resistor 130R are arranged so as to face each other.

本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rにおいて、第2抵抗体130Rに隣り合う側(図4中、Y2側)とは反対側(図4中、Y1側)では、第1太幅部21の端部21aと第1台形部123の端部123aと第1狭幅部22の端部22aとが一つの直線上に配置されている。 In the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, in the first resistor 120R, on the side opposite to the side adjacent to the second resistor 130R (Y2 side in FIG. 4) (Y1 side in FIG. 4), The end portion 21a of the first wide width portion 21, the end portion 123a of the first trapezoidal portion 123, and the end portion 22a of the first narrow width portion 22 are arranged on one straight line.

また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第2抵抗体130Rにおいて、第1抵抗体120Rに隣り合う側(図4中、Y1側)とは反対側(図4中、Y2側)では、第2太幅部31の端部31aと第2台形部133の端部133aと第2狭幅部32の端部32aとが一つの直線上に配置されている。 Further, in the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, in the second resistor 130R, the side opposite to the side adjacent to the first resistor 120R (Y1 side in FIG. 4) (Y2 side in FIG. 4). Then, the end portion 31a of the second wide width portion 31, the end portion 133a of the second trapezoidal portion 133, and the end portion 32a of the second narrow width portion 32 are arranged on one straight line.

また、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1の実施形態と同様に、第1太幅部21に設けられているトリミング溝25は、第2抵抗体130Rに隣り合う側の端部(すなわち、端部21b)とは反対側の端部(すなわち、端部21a)から切り込みが形成されている。また、第2太幅部31に設けられているトリミング溝35は、第1抵抗体120Rに隣り合う側の端部(すなわち、端部31b)とは反対側の端部(すなわち、端部31a)から切り込みが形成されている。 Further, in the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, the trimming groove 25 provided in the first wide portion 21 is the end on the side adjacent to the second resistor 130R, as in the first embodiment. A notch is formed from the end (ie, end 21a) opposite to the portion (ie, end 21b). Further, the trimming groove 35 provided in the second wide portion 31 has an end portion (that is, an end portion 31a) opposite to the end portion (that is, the end portion 31b) on the side adjacent to the first resistor 120R. ), A notch is formed.

図4に示すように、トリミング溝25および35は、主として、各抵抗体の太幅部に形成されている。但し、トリミング溝の長さによっては、その一部(先端部)が台形部(すなわち、第1台形部123および第2台形部133)にまで到達していてもよい。 As shown in FIG. 4, the trimming grooves 25 and 35 are mainly formed in the wide portion of each resistor. However, depending on the length of the trimming groove, a part (tip portion) thereof may reach the trapezoidal portion (that is, the first trapezoidal portion 123 and the second trapezoidal portion 133).

以上のように、本実施形態にかかる検査用配線基板1では、第1抵抗体120Rは、第1太幅部21と第1狭幅部22との間に第1台形部123を有している。同様に、第2抵抗体130Rは、第2太幅部31と第2狭幅部32との間に第2台形部133を有している。 As described above, in the inspection wiring board 1 according to the present embodiment, the first resistor 120R has the first trapezoidal portion 123 between the first wide width portion 21 and the first narrow width portion 22. There is. Similarly, the second resistor 130R has a second trapezoidal portion 133 between the second wide width portion 31 and the second narrow width portion 32.

このような構成によれば、同じ面積の金属層(例えば、TaN層41)で抵抗体Rを形成した場合に、各トリミング溝25または35の先端部から抵抗体Rの端部までの距離(例えば、図4中で距離L)を長くすることができる。したがって、トリミング溝の先端部から発生するおそれのある金属層のクラックの可能性を低減することができる。 According to such a configuration, when the resistor R is formed by a metal layer having the same area (for example, Ta 2N layer 41), the tip portion of each trimming groove 25 or 35 to the end portion of the resistor R is formed. The distance (for example, the distance L in FIG. 4) can be increased. Therefore, it is possible to reduce the possibility of cracks in the metal layer that may occur from the tip of the trimming groove.

〔第3の実施形態〕
続いて、第3の実施形態にかかる検査用配線基板1について、図5を参照しながら説明する。図5には、第3の実施形態にかかる検査用配線基板1の一部分の表面11a(第1面)上の構成を示す。
[Third Embodiment]
Subsequently, the inspection wiring board 1 according to the third embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 5 shows a configuration on the surface 11a (first surface) of a part of the inspection wiring board 1 according to the third embodiment.

第1の実施形態と同様に、検査用配線基板1は、絶縁基板11を有している。絶縁基板11の表面11aには、例えば、プローブパッド(図示せず)、キャパシタパッド(図示せず)、カバーパッド15、抵抗体Rなどが設けられている。 Similar to the first embodiment, the inspection wiring board 1 has an insulating board 11. The surface 11a of the insulating substrate 11 is provided with, for example, a probe pad (not shown), a capacitor pad (not shown), a cover pad 15, a resistor R, and the like.

図5には、検査用配線基板1内に含まれる電子回路における抵抗体R周辺の構成を示す。本実施形態では、抵抗体Rに隣接してカバーパッド15が設けられている点が第1の実施形態とは異なっている。それ以外の構成については、第1の実施形態と同様の構成が適用できる。 FIG. 5 shows the configuration around the resistor R in the electronic circuit included in the inspection wiring board 1. The present embodiment is different from the first embodiment in that the cover pad 15 is provided adjacent to the resistor R. For other configurations, the same configuration as in the first embodiment can be applied.

図5に示すように、配線12a上には、2つのカバーパッド15が設けられている。カバーパッド15は、配線12aと同じ金属層の積層構造で形成されている。カバーパッド15は、配線12aよりも大きな幅(すなわち、図5中、Y方向の幅)を有している。2つのカバーパッド15のうちの一つは、第1抵抗体20Rの第1狭幅部22と、配線12aとの間に設けられている。2つのカバーパッド15のうちの別の一つは、第1抵抗体20Rの第1太幅部21と、配線12aとの間に設けられている。 As shown in FIG. 5, two cover pads 15 are provided on the wiring 12a. The cover pad 15 is formed of a laminated structure of the same metal layer as the wiring 12a. The cover pad 15 has a width larger than that of the wiring 12a (that is, the width in the Y direction in FIG. 5). One of the two cover pads 15 is provided between the first narrow width portion 22 of the first resistor 20R and the wiring 12a. Another one of the two cover pads 15 is provided between the first wide portion 21 of the first resistor 20R and the wiring 12a.

また、配線12b上には、2つのカバーパッド15が設けられている。カバーパッド15は、配線12bと同じ金属層の積層構造で形成されている。カバーパッド15は、配線12bよりも大きな幅(すなわち、図5中、Y方向の幅)を有している。2つのカバーパッド15のうちの一つは、第2抵抗体30Rの第2狭幅部32と、配線12bとの間に設けられている。2つのカバーパッド15のうちの別の一つは、第2抵抗体30Rの第2太幅部31と、配線12bとの間に設けられている。 Further, two cover pads 15 are provided on the wiring 12b. The cover pad 15 is formed of a laminated structure of the same metal layer as the wiring 12b. The cover pad 15 has a width larger than that of the wiring 12b (that is, the width in the Y direction in FIG. 5). One of the two cover pads 15 is provided between the second narrow width portion 32 of the second resistor 30R and the wiring 12b. Another one of the two cover pads 15 is provided between the second wide portion 31 of the second resistor 30R and the wiring 12b.

カバーパッド15は、検査用配線基板1の出荷前の導通検査時に、検査用のピンを当接させる箇所などとして利用される。 The cover pad 15 is used as a place where the inspection pin is brought into contact with the inspection wiring board 1 at the time of continuity inspection before shipment.

なお、図5に示す例では、配線12aに沿って延びる第1抵抗体20Rの両側にカバーパッド15がそれぞれ設けられているが、別の構成例では、配線12aに沿って延びる第1抵抗体20Rの何れか一方の側にのみカバーパッド15が設けられていてもよい。同様に、配線12bに沿って延びる第2抵抗体30Rの何れか一方の側にのみカバーパッド15が設けられていてもよい。 In the example shown in FIG. 5, cover pads 15 are provided on both sides of the first resistor 20R extending along the wiring 12a, but in another configuration example, the first resistor extending along the wiring 12a is provided. The cover pad 15 may be provided only on either side of the 20R. Similarly, the cover pad 15 may be provided only on one side of the second resistor 30R extending along the wiring 12b.

〔第4の実施形態〕
続いて、第4の実施形態にかかる検査用配線基板1について、図6を参照しながら説明する。図6には、第4の実施形態にかかる検査用配線基板1の一部分の表面11a(第1面)上の構成を示す。
[Fourth Embodiment]
Subsequently, the inspection wiring board 1 according to the fourth embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 6 shows a configuration on the surface 11a (first surface) of a part of the inspection wiring board 1 according to the fourth embodiment.

第1の実施形態と同様に、検査用配線基板1は、絶縁基板11を有している。絶縁基板11の表面11aには、例えば、プローブパッド(図示せず)、キャパシタパッド(図示せず)、カバーパッド(図示せず)、抵抗体Rなどが設けられている。 Similar to the first embodiment, the inspection wiring board 1 has an insulating board 11. The surface 11a of the insulating substrate 11 is provided with, for example, a probe pad (not shown), a capacitor pad (not shown), a cover pad (not shown), a resistor R, and the like.

図6には、検査用配線基板1内に含まれる電子回路における抵抗体R周辺の構成を示す。本実施形態では、各抵抗体Rを構成する金属層(例えば、TaN層41)の配置が第1の実施形態とは異なっている。それ以外の構成については、第1の実施形態と同様の構成が適用できる。以下では、第1の実施形態にかかる検査用配線基板1とは異なる構成を中心に説明する。 FIG. 6 shows the configuration around the resistor R in the electronic circuit included in the inspection wiring board 1. In the present embodiment, the arrangement of the metal layer (for example, Ta 2 N layer 41) constituting each resistor R is different from that of the first embodiment. For other configurations, the same configuration as in the first embodiment can be applied. Hereinafter, a configuration different from that of the inspection wiring board 1 according to the first embodiment will be mainly described.

図6に示すように、検査用配線基板1の表面11aには、隣り合って配置されている2つの抵抗体(すなわち、第1抵抗体220Rおよび第2抵抗体230R)が形成されている。これら2つの抵抗体のうちの一方(すなわち、第1抵抗体220R)は、第1の方向X(図6では、横方向)に沿って延びる配線12aの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。これら2つの抵抗体のうちの他方(すなわち、第2抵抗体230R)は、配線12aに対して略平行に配置されている配線12bの間に配置され、第1の方向Xに沿って延びている。 As shown in FIG. 6, two resistors (that is, a first resistor 220R and a second resistor 230R) arranged adjacent to each other are formed on the surface 11a of the inspection wiring board 1. One of these two resistors (ie, the first resistor 220R) is located between the wirings 12a extending along the first direction X (lateral in FIG. 6) and is located in the first direction X. Extends along. The other of these two resistors (ie, the second resistor 230R) is located between the wires 12b arranged substantially parallel to the wires 12a and extends along the first direction X. There is.

第1の実施形態の第1抵抗体20Rと同様に、第1抵抗体220Rは、第1太幅部21と、第1狭幅部22とを有している。また、第1の実施形態の第2抵抗体30Rと同様に、第2抵抗体230Rは、第2太幅部31と、第2狭幅部32とを有している。 Similar to the first resistor 20R of the first embodiment, the first resistor 220R has a first wide width portion 21 and a first narrow width portion 22. Further, similarly to the second resistor 30R of the first embodiment, the second resistor 230R has a second wide portion 31 and a second narrow width portion 32.

第1の実施形態では、第1抵抗体20Rの第1太幅部21と第2抵抗体30Rの第2狭幅部32とが第2の方向Yに隣り合って配置され、第2抵抗体30Rの第2太幅部31と第1抵抗体20Rの第1狭幅部22とが第2の方向Yに隣り合って配置されている。 In the first embodiment, the first wide portion 21 of the first resistor 20R and the second narrow width portion 32 of the second resistor 30R are arranged adjacent to each other in the second direction Y, and the second resistor is formed. The second wide portion 31 of the 30R and the first narrow width portion 22 of the first resistor 20R are arranged adjacent to each other in the second direction Y.

一方、本実施形態では、第1抵抗体220Rの第1太幅部21と第2抵抗体230Rの第2狭幅部32とが第1の方向Xに隣り合って配置されている。すなわち、第1抵抗体220Rの第1太幅部21におけるX2側の端部21cと、第2抵抗体230Rの第2狭幅部32におけるX1側の端部32cとが、隣り合って配置されている。 On the other hand, in the present embodiment, the first wide portion 21 of the first resistor 220R and the second narrow width portion 32 of the second resistor 230R are arranged adjacent to each other in the first direction X. That is, the end portion 21c on the X2 side of the first wide portion 21 of the first resistor 220R and the end portion 32c on the X1 side of the second narrow width portion 32 of the second resistor 230R are arranged next to each other. ing.

また、本実施形態では、第2抵抗体230Rの第2太幅部31と第1抵抗体220Rの第1狭幅部22とが第1の方向Xに隣り合って配置されている。すなわち、第2抵抗体230Rの第2太幅部31におけるX1側の端部31cと、第1抵抗体220Rの第1狭幅部22におけるX2側の端部22cとが、隣り合って配置されている。 Further, in the present embodiment, the second wide portion 31 of the second resistor 230R and the first narrow width portion 22 of the first resistor 220R are arranged adjacent to each other in the first direction X. That is, the end 31c on the X1 side of the second wide portion 31 of the second resistor 230R and the end 22c on the X2 side of the first narrow width portion 22 of the first resistor 220R are arranged next to each other. ing.

上記の構成によれば、第1抵抗体220Rの第1太幅部21と第2抵抗体230Rの第2太幅部31とが、第2の方向Yに隣り合うことが回避されるため、絶縁基板11の表面11a上に2つの抵抗体を効率良く配置することができる。また、隣り合って配置されている2つの抵抗体(第1抵抗体220Rおよび第2抵抗体230R)同士の間隔を狭くすることができる。 According to the above configuration, the first wide portion 21 of the first resistor 220R and the second wide portion 31 of the second resistor 230R are prevented from being adjacent to each other in the second direction Y. Two resistors can be efficiently arranged on the surface 11a of the insulating substrate 11. Further, the distance between the two resistors (first resistor 220R and second resistor 230R) arranged adjacent to each other can be narrowed.

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。また、本明細書で説明した異なる実施形態の構成を互いに組み合わせて得られる構成についても、本発明の範疇に含まれる。 It should be considered that the embodiments disclosed this time are exemplary in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is shown by the scope of claims rather than the above description, and is intended to include all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of claims. Further, a configuration obtained by combining the configurations of different embodiments described in the present specification with each other is also included in the scope of the present invention.

1 :検査用配線基板(配線基板)
11 :絶縁基板
11a :(検査用配線基板または絶縁基板の)表面(第1面)
12 :配線
15 :カバーパッド
20R :第1抵抗体
21 :第1太幅部
22 :第1狭幅部
25 :トリミング溝
30R :第2抵抗体
31 :第2太幅部
32 :第2狭幅部
35 :トリミング溝
120R:第1抵抗体
123 :第1台形部(第1傾斜部)
130R:第2抵抗体
133 :第2台形部(第2傾斜部)
220R:第1抵抗体
230R:第2抵抗体
1: Wiring board for inspection (wiring board)
11: Insulated substrate 11a: Surface (first surface) (of inspection wiring board or insulated substrate)
12: Wiring 15: Cover pad 20R: 1st resistor 21: 1st wide portion 22: 1st narrow width portion 25: Trimming groove 30R: 2nd resistor 31: 2nd wide portion 32: 2nd narrow width Part 35: Trimming groove 120R: First resistor 123: First trapezoidal part (first inclined part)
130R: 2nd resistor 133: 2nd trapezoidal part (2nd inclined part)
220R: 1st resistor 230R: 2nd resistor

Claims (4)

絶縁基板と、
前記絶縁基板の第1面上に設けられており、前記第1面上の第1の方向に沿って延びる第1抵抗体と、
前記第1面上で前記第1の方向に沿って延びており、前記第1の方向と交差する第2の方向に前記第1抵抗体と隣り合って配置されている第2抵抗体と
を備えている配線基板であって、
前記第1抵抗体は、トリミング溝を有している第1太幅部と、前記第1太幅部よりも幅の狭い第1狭幅部とを有し、
前記第2抵抗体は、トリミング溝を有している第2太幅部と、前記第2太幅部よりも幅の狭い第2狭幅部とを有し、
前記第1面上で、前記第1太幅部と前記第2狭幅部とが隣り合って配置され、前記第2太幅部と前記第1狭幅部とが隣り合って配置されている、配線基板。
Insulated board and
A first resistor provided on the first surface of the insulating substrate and extending along the first direction on the first surface.
A second resistor extending along the first direction on the first surface and arranged adjacent to the first resistor in a second direction intersecting the first direction. It is a wiring board that is equipped
The first resistor has a first wide portion having a trimming groove and a first narrow width portion narrower than the first wide portion.
The second resistor has a second wide portion having a trimming groove and a second narrow width portion narrower than the second wide portion.
On the first surface, the first wide portion and the second narrow width portion are arranged next to each other, and the second wide width portion and the first narrow width portion are arranged next to each other. , Wiring board.
前記第1太幅部の前記トリミング溝は、前記第2抵抗体に隣り合う側とは反対側の端部から切り込みが形成されており、
前記第2太幅部の前記トリミング溝は、前記第1抵抗体に隣り合う側とは反対側の端部から切り込みが形成されている、
請求項1に記載の配線基板。
The trimming groove of the first wide portion is formed with a notch from the end on the side opposite to the side adjacent to the second resistor.
The trimming groove of the second wide portion is formed with a notch from the end on the side opposite to the side adjacent to the first resistor.
The wiring board according to claim 1.
前記第1抵抗体において、前記第2抵抗体に隣り合う側とは反対側では、前記第1太幅部の端部と前記第1狭幅部の端部とが一つの直線上に配置されており、
前記第2抵抗体において、前記第1抵抗体に隣り合う側とは反対側では、前記第2太幅部の端部と前記第2狭幅部の端部とが一つの直線上に配置されている、
請求項1または2に記載の配線基板。
In the first resistor, on the side opposite to the side adjacent to the second resistor, the end portion of the first wide width portion and the end portion of the first narrow width portion are arranged on one straight line. And
In the second resistor, on the side opposite to the side adjacent to the first resistor, the end portion of the second wide width portion and the end portion of the second narrow width portion are arranged on one straight line. ing,
The wiring board according to claim 1 or 2.
前記第1抵抗体は、前記第1太幅部と前記第1狭幅部との間に、前記第1太幅部から前記第1狭幅部へ向かって徐々に幅が狭くなる第1傾斜部をさらに有し、
前記第2抵抗体は、前記第2太幅部と前記第2狭幅部との間に、前記第2太幅部から前記第2狭幅部へ向かって徐々に幅が狭くなる第2傾斜部をさらに有している、
請求項1から3の何れか1項に記載の配線基板。
The first resistance has a first inclination in which the width gradually narrows from the first wide portion toward the first narrow width portion between the first wide portion and the first narrow width portion. Has more parts,
The second resistance has a second inclination in which the width gradually narrows from the second wide portion toward the second narrow portion between the second wide portion and the second narrow portion. Has more parts,
The wiring board according to any one of claims 1 to 3.
JP2020133637A 2020-08-06 2020-08-06 wiring board Active JP7373471B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020133637A JP7373471B2 (en) 2020-08-06 2020-08-06 wiring board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020133637A JP7373471B2 (en) 2020-08-06 2020-08-06 wiring board

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022029980A true JP2022029980A (en) 2022-02-18
JP7373471B2 JP7373471B2 (en) 2023-11-02

Family

ID=80323848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020133637A Active JP7373471B2 (en) 2020-08-06 2020-08-06 wiring board

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7373471B2 (en)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07302704A (en) * 1994-05-10 1995-11-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Resistor

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002033203A (en) 2000-07-13 2002-01-31 K-Tech Devices Corp Composite electronic component

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07302704A (en) * 1994-05-10 1995-11-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Resistor

Also Published As

Publication number Publication date
JP7373471B2 (en) 2023-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8138609B2 (en) Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device
KR101550484B1 (en) Wiring board for electronic component inspection device, and its manufacturing method
JP5323435B2 (en) Multi-layer wiring board for differential transmission
JP2012502274A (en) MEMS probe card and manufacturing method thereof
JP2024015453A (en) Resistor
JP5777997B2 (en) Wiring board for electronic component inspection apparatus and manufacturing method thereof
JP7373471B2 (en) wiring board
JP2003031945A (en) Wiring board, manufacturing method therefor and electric circuit assembly
JP2012198190A5 (en)
JP4564820B2 (en) Multi-piece wiring board and manufacturing method thereof
JP2000306711A (en) Multiple chip resistor and production thereof
JP2005079144A (en) Multilayer wiring board and probe card
US10410772B2 (en) Chip resistor
JP2006275579A (en) Test substrate and test device
JP2004134559A (en) Chip-type electronic component and method of manufacturing the same
JP7386138B2 (en) wiring board
JP7386139B2 (en) wiring board
KR102400749B1 (en) Wiring board
WO2022114078A1 (en) Wiring board and probe card
KR20170073400A (en) Resistor element and board having the same mounted thereon
JP7237474B2 (en) Ceramic wiring board and probe board
JP2007150201A (en) Chip resistor
JP3308448B2 (en) Terminating resistor array and substrate having the same
JP3679677B2 (en) Circuit board with resistor and manufacturing method thereof
JP2020064999A (en) Wiring board

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220614

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230427

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230509

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230626

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20231010

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20231023

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7373471

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150