JP2022006401A - X-ray image photographing apparatus and x-ray image generation method - Google Patents

X-ray image photographing apparatus and x-ray image generation method Download PDF

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Koichi Tanabe
幸久 和田
Yukihisa Wada
哲 佐野
Satoru Sano
日明 堀場
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Abstract

To provide an X-ray image photographing apparatus capable of suppressing deterioration in the quality of an acquired image when generating at least one of a phase contrast image and a dark field image.SOLUTION: An X-ray image photographing apparatus 100 includes: an X-ray source 1; a first grid 6 in which a first grid pattern is formed; a detector 2 for detecting a first X-ray that has arrived through the first grid 6 and a second X-ray that has arrived without passing through the first grid 6; a relative position moving part 3; and an image processing part 4 for correcting a plurality of first images 30 generated on the basis of the first X-ray acquired at a plurality of relative positions with respect to a subject 90 on the basis of a plurality of second images 31 generated on the basis of the second X-ray acquired at a plurality of relative positions with respect to the subject 90, and generating at least one of a phase contrast image 21 or a dark field image 23 on the basis of a plurality of first images 32 after correction.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

この発明は、X線源から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように格子パターンが形成された格子を備えるX線画像撮影装置およびX線画像の生成方法に関する。 The present invention relates to an X-ray imaging apparatus and an X-ray image having a grid in which a grid pattern is formed so as to diffract X-rays emitted from an X-ray source or to shield a part of the irradiated X-rays. Regarding the generation method.

従来、X線源から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように格子パターンが形成された格子を備えるX線位相撮像システムが知られている(たとえば、特許文献1参照)。 Conventionally, an X-ray phase imaging system including a grid in which a grid pattern is formed so as to diffract X-rays emitted from an X-ray source or to block a part of the irradiated X-rays is known (for example). , Patent Document 1).

上記特許文献1に開示されているX線位相撮像システムは、X線源と、第1格子と第2格子と第3格子とを含む格子群と、検出部と、被写体を移動させる搬送部と、画素演算部と、画像演算部とを備えている。上記特許文献1に開示されているX線位相撮像システムは、X線が照射された複数の格子によって生じさせたモアレ縞の周期方向に被写体を移動させながら複数枚の画像を撮像することにより、吸収像と、位相コントラスト画像と、暗視野像とを生成するように構成されている。なお、吸収像とは、X線が被写体を通過した際に生じるX線の減衰に基づいて画像化した像である。また、位相コントラスト画像とは、X線が被写体を通過した際に発生するX線の位相のずれをもとに画像化した像である。また、暗視野像とは、物体によるX線の小角散乱(屈折)に基づくVisibilityの変化によって得られる、Visibility像のことである。また、暗視野像は、小角散乱像とも呼ばれる。「Visibility」とは、鮮明度のことである。 The X-ray phase imaging system disclosed in Patent Document 1 includes an X-ray source, a grid group including a first grid, a second grid, and a third grid, a detection unit, and a transport unit for moving a subject. , A pixel calculation unit and an image calculation unit are provided. The X-ray phase imaging system disclosed in Patent Document 1 captures a plurality of images while moving the subject in the periodic direction of the moire fringes generated by the plurality of grids irradiated with X-rays. It is configured to generate an absorption image, a phase contrast image, and a dark field image. The absorption image is an image imaged based on the attenuation of the X-rays generated when the X-rays pass through the subject. The phase contrast image is an image imaged based on the phase shift of the X-rays generated when the X-rays pass through the subject. The dark field image is a Visibility image obtained by a change in Visibility based on small-angle scattering (refraction) of X-rays by an object. The dark field image is also called a small-angle scattered image. "Visibility" is sharpness.

特開2017-44603号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2017-44603

しかしながら、上記特許文献1のようなX線位相撮像システム(X線画像撮影装置)を用いたX線位相撮影では、X線源から照射されるX線の時間的な輝度の変化や、格子に照射されるX線の角度(照射角度)などによって、生成される位相コントラスト画像および暗視野像に偽像(アーチファクト)が生じる場合がある。位相コントラスト画像および暗視野像に偽像が生じた場合、各画像の画質が低下するという問題点がある。 However, in X-ray phase imaging using an X-ray phase imaging system (X-ray imaging apparatus) as in Patent Document 1, changes in the temporal brightness of X-rays emitted from the X-ray source and the lattice. Depending on the angle of the X-rays to be irradiated (irradiation angle) and the like, a false image (artifact) may occur in the generated phase contrast image and dark field image. When a false image occurs in the phase contrast image and the dark field image, there is a problem that the image quality of each image is deteriorated.

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、位相コントラスト画像および暗視野像の少なくとも一方を生成する場合に、得られる画像の画質が低下することを抑制することが可能なX線画像撮影装置を提供することである。 The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and one object of the present invention is to obtain image quality when at least one of a phase contrast image and a dark field image is generated. It is an object of the present invention to provide an X-ray image taking apparatus which can suppress the decrease.

上記目的を達成するために、この発明の第1の局面によるX線画像撮影装置は、X線源と、X線源から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように第1格子パターンが形成された第1格子と、第1格子を通過して到達した第1X線と、第1格子を通過せずに到達した第2X線と、を検出する検出器と、被写体に対する検出器の相対位置を移動させる相対位置移動部と、被写体に対する複数の相対位置で取得された第1X線に基づいて生成された複数の第1画像を、被写体に対する複数の相対位置で取得された第2X線に基づいて生成された複数の第2画像に基づいて補正するとともに、補正後の複数の第1画像に基づいて位相コントラスト画像または暗視野像の少なくとも一方を生成する画像処理部と、を備える。 In order to achieve the above object, the X-ray imaging apparatus according to the first aspect of the present invention diffracts or a part of the X-ray source emitted from the X-ray source and the X-ray emitted from the X-ray source. The first lattice in which the first lattice pattern is formed so as to shield the image, the first X-rays arriving through the first lattice, and the second X-rays arriving without passing through the first lattice are detected. A plurality of first images generated based on a detector, a relative position moving unit for moving the relative position of the detector with respect to the subject, and first X-rays acquired at a plurality of relative positions with respect to the subject, and a plurality of first images with respect to the subject. Corrected based on a plurality of second images generated based on the second X-rays acquired at relative positions, and at least one of a phase contrast image or a dark field image is generated based on the corrected first images. An image processing unit is provided.

また、上記目的を達成するために、この発明の第2の局面によるX線画像の生成方法は、X線源と、X線源から照射されたX線を回折または遮蔽するように格子パターンが形成された格子と、格子を通過して到達した第1X線と、格子を通過せずに到達した第2X線とを検出する検出器と、を備えるX線画像撮影装置を用いたX線画像の生成方法であって、被写体に対する検出器の相対位置を変更しながら複数の撮影位置において取得された第1X線に基づいて生成された複数の第1画像を取得するステップと、被写体に対する検出器の相対位置を変更しながら複数の撮影において取得された第2X線に基づいて生成された複数の第2画像を取得するステップと、複数の第2画像に基づいて、複数の第1画像の各々を補正するステップと、補正後の複数の第1画像に基づいて位相コントラスト画像または暗視野像の少なくとも一方を生成するステップとを備える。 Further, in order to achieve the above object, in the method for generating an X-ray image according to the second aspect of the present invention, the X-ray source and the lattice pattern so as to diffract or shield the X-rays emitted from the X-ray source are used. An X-ray image using an X-ray imaging apparatus including a formed lattice, a detector that detects a first X-ray that arrives through the lattice, and a second X-ray that arrives without passing through the lattice. The step of acquiring a plurality of first images generated based on the first X-rays acquired at a plurality of shooting positions while changing the relative position of the detector with respect to the subject, and the detector for the subject. A step of acquiring a plurality of second images generated based on the second X-rays acquired in a plurality of shootings while changing the relative position of the image, and each of the plurality of first images based on the plurality of second images. A step of generating at least one of a phase contrast image or a dark field image based on a plurality of corrected first images.

上記第1の局面におけるX線画像撮影装置では、上記のように、複数の第1画像を複数の第2画像に基づいて補正するとともに、補正後の複数の第1画像に基づいて位相コントラスト画像または暗視野像の少なくとも一方を生成する画像処理部を備える。ここで、X線源から照射されるX線は、X線源のターゲットの回転になどに起因して、照射強度が時間的に変化する。したがって、検出器で検出されるX線の輝度も時間的に変化する。この輝度変化が検出器の画像収集フレームレートより早い場合、検出画像内に縞状のアーチファクトを生じる。X線の輝度の時間的変化は、第1X線および第2X線の両方において生じる。第1X線は、格子を透過するため、X線の輝度の時間的な変化に加えて、X線が格子を透過することにより、格子内の領域で異なるX線の減衰やスペクトル変化が生じる。一方、第2X線は、格子を透過しないため、格子によるX線の変化が生じない。そこで、上記のように構成することにより、第2X線に基づいて生成された複数の第2画像に基づいてX線の時間的な輝度変化を推定することにより、格子によるX線の減衰が生じる複数の第1画像に基づいてX線の時間的な輝度変化を推定する構成と比較して、X線の時間的な輝度変化をより精度よく推定することができる。 In the X-ray imaging apparatus in the first aspect, as described above, the plurality of first images are corrected based on the plurality of second images, and the phase contrast image is corrected based on the corrected plurality of first images. Alternatively, it includes an image processing unit that generates at least one of the dark field images. Here, the irradiation intensity of the X-rays emitted from the X-ray source changes with time due to the rotation of the target of the X-ray source and the like. Therefore, the brightness of the X-rays detected by the detector also changes with time. If this change in brightness is faster than the image acquisition frame rate of the detector, striped artifacts will occur in the detected image. The temporal change in the brightness of X-rays occurs in both the first X-ray and the second X-ray. Since the first X-rays pass through the grid, in addition to the temporal change in the brightness of the X-rays, the X-rays pass through the grid, causing different X-ray attenuations and spectral changes in the regions within the grid. On the other hand, since the second X-ray does not pass through the grid, the X-ray does not change due to the grid. Therefore, by configuring as described above, the X-ray attenuation due to the lattice occurs by estimating the temporal luminance change of the X-ray based on the plurality of second images generated based on the second X-ray. Compared with the configuration in which the temporal luminance change of X-rays is estimated based on a plurality of first images, the temporal luminance change of X-rays can be estimated more accurately.

また、複数の第1画像は、格子を通過した後のX線に基づいて生成されているため、格子に起因した偽像が生じる場合がある。一方、複数の第2画像は、格子を通過せずに検出されたX線に基づいて生成されているため、格子に起因した偽像は生じない。したがって、複数の第1画像において格子に起因した偽像が生じている場合には、複数の第1画像と複数の第2画像とに基づいて、格子に照射されるX線の角度に起因して生じる偽像を推定することができる。したがって、複数の第2画像に基づいて補正された複数の第1画像に基づいて位相コントラスト画像または暗視野像が生成されるので、位相コントラスト画像または暗視野像に偽像(アーチファクト)が生じることを抑制することができる。その結果、位相コントラスト画像および暗視野像の少なくとも一方を生成する場合に、得られる画像の画質が低下することを抑制することができる。 Further, since the plurality of first images are generated based on the X-rays after passing through the lattice, a false image due to the lattice may occur. On the other hand, since the plurality of second images are generated based on the X-rays detected without passing through the grid, no false image due to the grid occurs. Therefore, when a false image due to the grid is generated in the plurality of first images, it is caused by the angle of the X-rays applied to the grid based on the plurality of first images and the plurality of second images. It is possible to estimate the false image that occurs. Therefore, since the phase contrast image or the dark field image is generated based on the plurality of first images corrected based on the plurality of second images, a false image (artifact) may occur in the phase contrast image or the dark field image. Can be suppressed. As a result, when at least one of the phase contrast image and the dark field image is generated, it is possible to suppress the deterioration of the image quality of the obtained image.

また、上記第2の局面におけるX線画像の生成方法では、上記のように、複数の第2画像に基づいて、複数の第1画像の各々を補正するステップと、補正後の複数の第1画像に基づいて位相コントラスト画像または暗視野像の少なくとも一方を生成するステップとを備える。これにより、上記第1の局面におけるX線画像撮影装置と同様に、位相コントラスト画像および暗視野像の少なくとも一方を生成する場合に、得られる画像の画質が低下することを抑制することが可能なX線画像の生成方法を提供することができる。 Further, in the method of generating an X-ray image in the second aspect, as described above, a step of correcting each of the plurality of first images based on the plurality of second images, and a plurality of corrected first images. It comprises a step of generating at least one of a phase contrast image or a darkfield image based on the image. Thereby, similarly to the X-ray imaging apparatus in the first aspect, it is possible to suppress deterioration of the image quality of the obtained image when at least one of the phase contrast image and the dark field image is generated. A method for generating an X-ray image can be provided.

一実施形態によるX線画像撮影装置の全体構成を示した模式図である。It is a schematic diagram which showed the whole structure of the X-ray image taking apparatus by one Embodiment. 一実施形態によるX線画像撮影装置の格子の配置を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the arrangement of the grid of the X-ray image taking apparatus by one Embodiment. 第1輝度変化に起因して生じる偽像(アーチファクト)を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the false image (artifact) caused by the 1st luminance change. 一実施形態による画像処理部が複数の第1画像と複数の第3画像とに基づいて位相コントラスト画像を生成する構成を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the structure which the image processing part by one Embodiment generates a phase contrast image based on a plurality of first images and a plurality of third images. 一実施形態による画像処理部が、複数の第2画像に基づいて、複数の第1画像を補正する構成を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the structure which the image processing part by one Embodiment corrects a plurality of first images based on a plurality of second images. 一実施形態による画像処理部が、複数の第4画像に基づいて、複数の第3画像を補正する構成を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the structure which the image processing part by one Embodiment corrects a plurality of third images based on a plurality of fourth images. 一実施形態による画像処理部が、第2画像に基づいて補正した第1画像と、第4画像に基づいて補正した第3画像とに基づいて位相コントラスト画像を生成する構成を説明するための模式図である。A schematic for explaining a configuration in which an image processing unit according to an embodiment generates a phase contrast image based on a first image corrected based on a second image and a third image corrected based on a fourth image. It is a figure. 一実施形態による画像処理部が第1輝度変化を取得する構成を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the structure which the image processing part by one Embodiment acquires the 1st luminance change. 第1輝度変化を示すグラフである。It is a graph which shows the 1st luminance change. 本実施形態による画像処理部が、第1輝度変化に基づいて第1画像を補正する構成を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the structure which the image processing part by this embodiment corrects a 1st image based on a 1st luminance change. 本実施形態による画像処理部が生成する位相コントラスト画像を示した模式図である。It is a schematic diagram which showed the phase contrast image generated by the image processing part by this embodiment. 吸収像に生じた第2輝度変化に起因する偽像(アーチファクト)を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the false image (artifact) caused by the 2nd luminance change which occurred in the absorption image. 暗視野像に生じた第2輝度変化に起因する偽像(アーチファクト)を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the false image (artifact) caused by the 2nd luminance change which occurred in the dark field image. 一実施形態による画像処理部が第2輝度変化を取得する構成を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the structure which the image processing part by one Embodiment acquires the 2nd luminance change. 一実施形態による画像処理部が暗視野像に生じた偽像(アーチファクト)を補正する構成を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating the structure which the image processing part by one Embodiment corrects a false image (artifact) generated in a dark field image. 一実施形態による画像処理部が位相コントラスト画像を生成する処理を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the process which the image processing part by one Embodiment generates a phase contrast image. 一実施形態による画像処理部が暗視野像を生成する処理を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the process which the image processing part by one Embodiment generate a dark field image.

以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments embodying the present invention will be described with reference to the drawings.

図1および図2を参照して、一実施形態によるX線画像撮影装置100の構成について説明する。なお、X線画像撮影装置100は、マンモグラフィにおける乳がんの診断に用いることが可能な撮影装置である。また、X線画像撮影装置100は、乳がん以外の医用検査における診断や非破壊検査における評価等にも用いることが可能な撮影装置である。 The configuration of the X-ray imaging apparatus 100 according to the embodiment will be described with reference to FIGS. 1 and 2. The X-ray imaging apparatus 100 is an imaging apparatus that can be used for diagnosing breast cancer in mammography. Further, the X-ray imaging apparatus 100 is an imaging apparatus that can be used for diagnosis in medical examinations other than breast cancer, evaluation in nondestructive examinations, and the like.

(X線画像撮影装置の構成)
X線画像撮影装置100は、図1に示すように、X線源1と、検出器2と、複数の格子と、相対位置移動部3と、画像処理部4と、制御部5と、コリメータ60と、を備える。
(Configuration of X-ray imaging device)
As shown in FIG. 1, the X-ray image capturing apparatus 100 includes an X-ray source 1, a detector 2, a plurality of grids, a relative position moving unit 3, an image processing unit 4, a control unit 5, and a collimator. 60 and.

X線画像撮影装置100では、X線源1と、コリメータ60と、複数の格子と、検出器2とが、X線の照射軸70方向(光軸方向、Z方向)に、この順に並んで配置されている。なお、本明細書において、X線の光軸方向(Z方向)は、水平方向である。また、X線の光軸方向と直交する水平方向および鉛直方向を、それぞれ、X方向およびY方向とする。 In the X-ray imaging apparatus 100, the X-ray source 1, the collimator 60, the plurality of grids, and the detector 2 are arranged in this order in the X-ray irradiation axis 70 direction (optical axis direction, Z direction). Have been placed. In the present specification, the optical axis direction (Z direction) of X-rays is the horizontal direction. Further, the horizontal direction and the vertical direction orthogonal to the optical axis direction of the X-ray are defined as the X direction and the Y direction, respectively.

複数の格子は、第1格子群と、第2格子群とを含む。第1格子群は、第1格子6と第2格子7と線源格子8とを含む。第2格子群は、第3格子9と、第4格子10と、線源格子11とを含む。第1格子群では、各格子は、X線源1から検出器2に向かう方向(Z1側からZ2側に向かう方向)において、線源格子8、第1格子6、および、第2格子7の順で並んでいる。また、第2格子群では、各格子は、X線源1から検出器2に向かう方向において、線源格子11、第3格子9、および、第4格子10の順で並んでいる。各格子の構成の詳細については、後述する。 The plurality of grids include a first grid group and a second grid group. The first grid group includes a first grid 6, a second grid 7, and a source grid 8. The second grid group includes a third grid 9, a fourth grid 10, and a source grid 11. In the first grid group, each grid of the source grid 8, the first grid 6, and the second grid 7 in the direction from the X-ray source 1 toward the detector 2 (direction from the Z1 side to the Z2 side). They are lined up in order. Further, in the second grid group, each grid is arranged in the order of the radiation source grid 11, the third grid 9, and the fourth grid 10 in the direction from the X-ray source 1 to the detector 2. The details of the configuration of each grid will be described later.

X線源1は、高電圧が印加されることにより、X線を発生させる。X線源1で発生されたX線は、検出器2が配置された方向(Z2方向)に照射されるように構成されている。図1に示す例では、X線源1は、直線71および直線72で囲まれた領域にX線を照射する。 The X-ray source 1 generates X-rays by applying a high voltage. The X-rays generated by the X-ray source 1 are configured to be emitted in the direction in which the detector 2 is arranged (Z2 direction). In the example shown in FIG. 1, the X-ray source 1 irradiates a region surrounded by a straight line 71 and a straight line 72 with X-rays.

検出器2は、X線源1から照射されたX線を検出するとともに、検出されたX線を電気信号に変換する。検出器2は、第1格子6を通過して到達した第1X線と、第1格子6を通過せずに到達した第2X線と、を検出する。本実施形態では、図1に示すように、第1X線が照射される領域76と、第2X線が照射される領域77とは、X線の照射軸70の方向と交差する所定の方向に並んで配置されている。本実施形態では、所定の方向は、X方向である。検出器2は、たとえば、FPD(Flat Panel Detector)である。検出器2は、X線源1側(Z1側)の検出面上に配置された複数の変換素子(図示せず)と、複数の変換素子上に配置された画素電極(図示せず)とにより構成されている。複数の変換素子および画素電極は、所定の周期(画素ピッチ)で、X方向およびY方向に並んで配置されている。検出器2の検出信号(画像信号)は、画像処理部4へと送られる。 The detector 2 detects the X-rays emitted from the X-ray source 1 and converts the detected X-rays into an electric signal. The detector 2 detects the first X-ray that arrived through the first grid 6 and the second X-ray that arrived without passing through the first grid 6. In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the region 76 irradiated with the first X-ray and the region 77 irradiated with the second X-ray are in a predetermined direction intersecting the direction of the irradiation axis 70 of the X-ray. They are arranged side by side. In this embodiment, the predetermined direction is the X direction. The detector 2 is, for example, an FPD (Flat Panel Detector). The detector 2 includes a plurality of conversion elements (not shown) arranged on the detection surface on the X-ray source 1 side (Z1 side), and pixel electrodes (not shown) arranged on the plurality of conversion elements. It is composed of. The plurality of conversion elements and pixel electrodes are arranged side by side in the X direction and the Y direction with a predetermined period (pixel pitch). The detection signal (image signal) of the detector 2 is sent to the image processing unit 4.

相対位置移動部3は、被写体90に対する検出器2の相対位置を移動させるように構成されている。本実施形態では、相対位置移動部3は、被写体90に対する第1X線が照射される領域76および第2X線が照射される領域77の相対位置を移動させるように構成されている。本実施形態では、相対位置移動部3は、図1の太線矢印で示すように、制御部5の制御の下、被写体90を所定の方向(X方向)に移動させるように構成されている。すなわち、本実施形態では、相対位置移動部3は、被写体90を移動させることにより、被写体90に対する検出器2(第1X線が照射される領域76および第2X線が照射される領域77)の相対位置を移動させるように構成されている。 The relative position moving unit 3 is configured to move the relative position of the detector 2 with respect to the subject 90. In the present embodiment, the relative position moving unit 3 is configured to move the relative positions of the region 76 irradiated with the first X-ray and the region 77 irradiated with the second X-ray with respect to the subject 90. In the present embodiment, the relative position moving unit 3 is configured to move the subject 90 in a predetermined direction (X direction) under the control of the control unit 5, as shown by the thick arrow in FIG. That is, in the present embodiment, the relative position moving unit 3 moves the subject 90 so that the detector 2 (the region 76 irradiated with the first X-ray and the region 77 irradiated with the second X-ray) with respect to the subject 90. It is configured to move the relative position.

画像処理部4は、検出器2から送られた検出信号に基づいて、位相コントラスト画像20(図3参照)または暗視野像23(図13参照)の少なくとも一方を生成するように構成されている。本実施形態では、画像処理部4は、位相コントラスト画像20および暗視野像23の両方を生成するように構成されている。また、本実施形態では、画像処理部4は、吸収像22(図12参照)を生成する。画像処理部4は、たとえば、GPU(Graphics Processing Unit)、または、画像処理用に構成されたFPGA(Field-Programmable Gate Array)などのプロセッサを含む。画像処理部4が位相コントラスト画像20、吸収像22、および、暗視野像23を生成する構成の詳細については、後述する。 The image processing unit 4 is configured to generate at least one of the phase contrast image 20 (see FIG. 3) and the dark field image 23 (see FIG. 13) based on the detection signal sent from the detector 2. .. In the present embodiment, the image processing unit 4 is configured to generate both the phase contrast image 20 and the dark field image 23. Further, in the present embodiment, the image processing unit 4 generates an absorption image 22 (see FIG. 12). The image processing unit 4 includes, for example, a processor such as a GPU (Graphics Processing Unit) or an FPGA (Field-Programmable Gate Array) configured for image processing. The details of the configuration in which the image processing unit 4 generates the phase contrast image 20, the absorption image 22, and the dark field image 23 will be described later.

制御部5は、相対位置移動部3の動作を制御するように構成されている。制御部5は、たとえば、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory)などを含む。 The control unit 5 is configured to control the operation of the relative position moving unit 3. The control unit 5 includes, for example, a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), and the like.

コリメータ60は、第1格子6および第3格子9と線源格子8および線源格子11との間に配置されている。コリメータ60は、X線を遮蔽する遮蔽部材により構成されており、開閉自在に構成されたコリメータ孔60aおよびコリメータ孔60bが形成されている。コリメータ孔60aを通過したX線は、直線73および直線74で囲まれた領域に照射される。コリメータ孔60aは、X線源1から照射されたX線の内、第1格子群および第2格子群を通過して検出器2に照射されるX線の照射範囲を調整することが可能である。コリメータ孔60bを通過したX線は、直線75および直線76で囲まれた領域に照射される。コリメータ孔60bは、第1格子群および第2格子群を通過せずに検出器2に照射されるX線の範囲を調整することが可能である。図1に示すように、コリメータ孔60aを通過して検出器2に到達したX線が照射される領域が、第1X線が照射される領域76である。また、コリメータ孔60bを通過して検出器2に到達したX線が照射される領域が、第2X線が照射される領域77である。 The collimator 60 is arranged between the first grid 6 and the third grid 9 and the source grid 8 and the source grid 11. The collimator 60 is composed of a shielding member that shields X-rays, and has a collimator hole 60a and a collimator hole 60b that are openable and closable. The X-rays that have passed through the collimator hole 60a are applied to the area surrounded by the straight lines 73 and 74. The collimator hole 60a can adjust the irradiation range of the X-rays emitted from the X-ray source 1, passing through the first lattice group and the second lattice group and irradiating the detector 2. be. The X-rays that have passed through the collimator hole 60b are applied to the area surrounded by the straight lines 75 and 76. The collimator hole 60b can adjust the range of X-rays emitted to the detector 2 without passing through the first grid group and the second grid group. As shown in FIG. 1, the region where the X-rays that have passed through the collimator hole 60a and reached the detector 2 are irradiated is the region 76 where the first X-rays are irradiated. Further, the region where the X-rays that have passed through the collimator hole 60b and reached the detector 2 are irradiated is the region 77 where the second X-rays are irradiated.

(複数の格子の構成)
図2に示すように、第1格子6は、X線源1から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように第1格子パターンが形成されている。本実施形態では、第1格子6は、X線源1から照射されたX線を回折するように格子パターンが形成されている。具体的には、第1格子6は、通過するX線の位相を変化させる回折格子(位相格子)として構成されている。第1格子6は、図2に示すように、略Y方向に所定の周期(格子ピッチ)6cで配列されるスリット6aおよびX線吸収部6bを有している。各スリット6aおよびX線吸収部6bは、略X方向に延びるように形成されている。
(Composition of multiple grids)
As shown in FIG. 2, in the first grid 6, the first grid pattern is formed so as to diffract the X-rays emitted from the X-ray source 1 or to shield a part of the irradiated X-rays. .. In the present embodiment, the first grid 6 has a grid pattern formed so as to diffract the X-rays emitted from the X-ray source 1. Specifically, the first grid 6 is configured as a diffraction grating (phase grid) that changes the phase of the passing X-rays. As shown in FIG. 2, the first grid 6 has slits 6a and an X-ray absorbing portion 6b arranged in a substantially Y direction with a predetermined period (lattice pitch) 6c. Each slit 6a and the X-ray absorbing portion 6b are formed so as to extend in the substantially X direction.

第1格子6は、X線源1と第2格子7との間に配置されており、X線源1から照射されたX線により(タルボ効果によって)自己像を形成するために設けられている。なお、タルボ効果とは、可干渉性を有するX線が、スリットが形成された格子を通過すると、格子から所定の距離(タルボ距離)離れた位置に、格子の像(自己像)が形成されることを意味する。 The first grid 6 is arranged between the X-ray source 1 and the second grid 7, and is provided to form a self-image (by the Talbot effect) by the X-rays emitted from the X-ray source 1. There is. The Talbot effect is that when X-rays with interfering properties pass through a grid on which slits are formed, a grid image (self-image) is formed at a position separated from the grid by a predetermined distance (Talbot distance). Means that.

第2格子7は、第1格子6と同様に、略Y方向に所定の周期(格子ピッチ)7cで配列される複数のスリット7aおよびX線吸収部7bを有している。各スリット7aおよびX線吸収部7bは、略X方向に延びるように形成されている。 Similar to the first grid 6, the second grid 7 has a plurality of slits 7a and an X-ray absorbing portion 7b arranged in a substantially Y direction with a predetermined period (lattice pitch) 7c. Each slit 7a and the X-ray absorbing portion 7b are formed so as to extend in the substantially X direction.

第2格子7は、第1格子6と検出器2との間に配置されており、第1格子6により形成された自己像と干渉させるために設けられている。第2格子7は、自己像と第2格子7とを干渉させるために、第1格子6からタルボ距離だけ離れた位置に配置されている。なお、第1格子6により形成された自己像と第2格子7とが干渉することにより、検出面上には、自己像の格子ピッチよりも大きい周期を有するモアレ(図示せず)が形成される。 The second grid 7 is arranged between the first grid 6 and the detector 2 and is provided to interfere with the self-image formed by the first grid 6. The second grid 7 is arranged at a position separated from the first grid 6 by the Talbot distance in order to interfere with the self-image and the second grid 7. By interfering between the self-image formed by the first grid 6 and the second grid 7, moire (not shown) having a period larger than the grid pitch of the self-image is formed on the detection surface. To.

線源格子8は、X線源1と第1格子6との間に配置されている。線源格子8は、略Y方向に所定の周期(格子ピッチ)8cで配列される複数のスリット8aおよびX線吸収部8bを有している。各スリット8aおよびX線吸収部8bは、略X方向に延びるように形成されている。線源格子8は、X線源1から照射されたX線を微小焦点化することが可能な格子(マルチスリット)として構成されている。言い換えると、線源格子8は、X線源1から照射されるX線の可干渉性を向上させるように構成されている。 The radiation source grid 8 is arranged between the X-ray source 1 and the first grid 6. The radiation source lattice 8 has a plurality of slits 8a and an X-ray absorption unit 8b arranged in a substantially Y direction with a predetermined period (lattice pitch) 8c. Each slit 8a and the X-ray absorbing portion 8b are formed so as to extend in the substantially X direction. The radiation source grid 8 is configured as a grid (multi-slit) capable of microfocusing the X-rays emitted from the X-ray source 1. In other words, the radiation source grid 8 is configured to improve the coherence of X-rays emitted from the X-ray source 1.

また、図2に示すように、第3格子9は、X線源1から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように第2格子パターンが形成されている。本実施形態では、第3格子9は、X線源1から照射されたX線を回折するように格子パターンが形成されている。具体的には、第3格子9は、通過するX線の位相を変化させる回折格子(位相格子)として構成されている。第3格子9は、図2に示すように、略X方向に所定の周期(格子ピッチ)9cで配列されるスリット9aおよびX線吸収部9bを有している。各スリット9aおよびX線吸収部9bは、略Y方向に延びるように形成されている。すなわち、第3格子9は、第2格子パターンの方向が、第1格子パターンの方向と直交する方向となるように配置されている。 Further, as shown in FIG. 2, in the third grid 9, a second grid pattern is formed so as to diffract the X-rays emitted from the X-ray source 1 or to shield a part of the irradiated X-rays. ing. In the present embodiment, the third grid 9 has a grid pattern formed so as to diffract the X-rays emitted from the X-ray source 1. Specifically, the third grid 9 is configured as a diffraction grating (phase grid) that changes the phase of the passing X-rays. As shown in FIG. 2, the third grid 9 has slits 9a and X-ray absorbing portions 9b arranged in a substantially X direction with a predetermined period (lattice pitch) 9c. Each slit 9a and the X-ray absorbing portion 9b are formed so as to extend in the substantially Y direction. That is, the third grid 9 is arranged so that the direction of the second grid pattern is orthogonal to the direction of the first grid pattern.

第3格子9は、X線源1と第4格子10との間に配置されており、X線源1から照射されたX線により(タルボ効果によって)自己像を形成するために設けられている。 The third grid 9 is arranged between the X-ray source 1 and the fourth grid 10, and is provided to form a self-image (by the Talbot effect) by the X-rays emitted from the X-ray source 1. There is.

第4格子10は、第3格子9と同様に、略X方向に所定の周期(格子ピッチ)10cで配列される複数のスリット10aおよびX線吸収部10bを有している。各スリット10aおよびX線吸収部10bは、略Y方向に延びるように形成されている。 Similar to the third grid 9, the fourth grid 10 has a plurality of slits 10a and an X-ray absorbing portion 10b arranged in a substantially X direction with a predetermined period (lattice pitch) 10c. Each slit 10a and the X-ray absorbing portion 10b are formed so as to extend in the substantially Y direction.

第4格子10は、第3格子9と検出器2との間に配置されており、第3格子9により形成された自己像と干渉させるために設けられている。第4格子10は、自己像と第4格子10とを干渉させるために、第3格子9からタルボ距離だけ離れた位置に配置されている。なお、第3格子9により形成された自己像と第4格子10とが干渉することにより、検出面上には、自己像の格子ピッチよりも大きい周期を有するモアレ(図示せず)が形成される。 The fourth grid 10 is arranged between the third grid 9 and the detector 2 and is provided to interfere with the self-image formed by the third grid 9. The fourth grid 10 is arranged at a position separated from the third grid 9 by a Talbot distance in order to interfere with the self-image and the fourth grid 10. By interfering between the self-image formed by the third grid 9 and the fourth grid 10, moire (not shown) having a period larger than the grid pitch of the self-image is formed on the detection surface. To.

線源格子11は、X線源1と第3格子9との間に配置されている。線源格子11は、略Y方向に所定の周期(格子ピッチ)11cで配列される複数のスリット11aおよびX線吸収部11bを有している。各スリット11aおよびX線吸収部11bは、略X方向に延びるように形成されている。線源格子11は、X線源1から照射されたX線を微小焦点化することが可能な格子(マルチスリット)として構成されている。言い換えると、線源格子11は、X線源1から照射されるX線の可干渉性を向上させるように構成されている。 The radiation source grid 11 is arranged between the X-ray source 1 and the third grid 9. The radiation source lattice 11 has a plurality of slits 11a and an X-ray absorption unit 11b arranged in a substantially Y direction with a predetermined period (lattice pitch) 11c. Each slit 11a and the X-ray absorbing portion 11b are formed so as to extend in the substantially X direction. The radiation source grid 11 is configured as a grid (multi-slit) capable of microfocusing the X-rays emitted from the X-ray source 1. In other words, the radiation source grid 11 is configured to improve the coherence of X-rays emitted from the X-ray source 1.

ここで、位相コントラスト画像20および暗視野像23では、格子パターンと直交する方向におけるX線の変化に対して感度を有しているため、被写体90のうち、格子パターンと直交する方向に延びる部分が画像化され、格子パターンに沿った方向に延びる部分は画像化されない。そこで、本実施形態では、第1格子群における格子パターンの方向と、第2格子群における格子パターンの方向とが、互いに直交する方向となるように、第1格子群に含まれる各格子、および、第2格子群に含まれる各格子を配置する。 Here, since the phase contrast image 20 and the dark field image 23 are sensitive to changes in X-rays in the direction orthogonal to the lattice pattern, the portion of the subject 90 that extends in the direction orthogonal to the lattice pattern. Is imaged, and the portion extending in the direction along the lattice pattern is not imaged. Therefore, in the present embodiment, each lattice included in the first lattice group and the direction of the lattice pattern in the second lattice group are orthogonal to each other so that the direction of the lattice pattern in the first lattice group and the direction of the lattice pattern in the second lattice group are orthogonal to each other. , Each grid included in the second grid group is arranged.

(位相コントラスト画像の生成)
次に、図3~図11を参照して、画像処理部4が位相コントラスト画像21(図7参照)を生成する構成について説明する。
(Generation of phase contrast image)
Next, with reference to FIGS. 3 to 11, the configuration in which the image processing unit 4 generates the phase contrast image 21 (see FIG. 7) will be described.

本実施形態では、図3に示すように、画像処理部4は、位相コントラスト画像20を生成する。具体的には、図4に示すように、画像処理部4は、複数の格子によってモアレ縞(図示せず)を生じさせた状態において、相対位置移動部3によって被写体90を移動させながら撮像された複数の第1画像30に基づいて、X線の第1強度信号曲線を取得する。複数の第1画像30は、第1X線が照射される領域76のそれぞれ異なる相対位置で撮影された第1画像30a~第1画像30dの4枚の第1画像30を含む。 In the present embodiment, as shown in FIG. 3, the image processing unit 4 generates the phase contrast image 20. Specifically, as shown in FIG. 4, the image processing unit 4 is imaged while moving the subject 90 by the relative position moving unit 3 in a state where moire fringes (not shown) are generated by a plurality of grids. Based on the plurality of first images 30, the first intensity signal curve of X-rays is acquired. The plurality of first images 30 include four first images 30 of the first image 30a to the first image 30d taken at different relative positions in the region 76 irradiated with the first X-ray.

また、画像処理部4は、被写体90を配置していない状態で撮像された複数の第3画像33(第3画像33a~第3画像33d)に基づいて、第2強度信号曲線を取得する。複数の第3画像33は、被写体90を配置していない状態において、第1X線が照射される領域76のそれぞれ異なる相対位置で撮影された第3画像33a~第3画像33dの4枚の第3画像33を含む。画像処理部4は、取得した第1強度信号曲線および第2強度信号曲線に基づいて、位相コントラスト画像20を生成する。なお、図4に示す例では、便宜上、画像処理部4が4枚の第1画像30を用いて第1強度信号曲線するとともに、4枚の第3画像33を用いて第2強度信号曲線を取得する例を示しているが、実際には、4枚以上の第1画像30を用いて第1強度信号曲線を取得するとともに、4枚以上の第3画像33を用いて第2強度信号曲線を取得する。たとえば、画像処理部4は、600枚程度の第1画像30を用いて第1強度信号曲線を取得するとともに、600枚程度の第3画像33を用いて第2強度信号曲線を取得する。 Further, the image processing unit 4 acquires a second intensity signal curve based on a plurality of third images 33 (third images 33a to 33d) captured in a state where the subject 90 is not arranged. The plurality of third images 33 are the four third images 33a to 33d taken at different relative positions in the region 76 irradiated with the first X-ray in a state where the subject 90 is not arranged. 3 Includes image 33. The image processing unit 4 generates a phase contrast image 20 based on the acquired first intensity signal curve and second intensity signal curve. In the example shown in FIG. 4, for convenience, the image processing unit 4 uses four first images 30 to form a first intensity signal curve, and uses four third images 33 to form a second intensity signal curve. An example of acquisition is shown, but in reality, the first intensity signal curve is acquired using four or more first images 30, and the second intensity signal curve is acquired using four or more third images 33. To get. For example, the image processing unit 4 acquires the first intensity signal curve using about 600 first images 30, and acquires the second intensity signal curve using about 600 third images 33.

ここで、X線源1から照射されるX線は、X線源1に生じるターゲットの回転などにより、時間とともに輝度が変化する。そのため、位相コントラスト画像20において偽像(アーチファクト)80(図3参照)が生じる。なお、偽像80とは、X線の輝度が変化することによって生じる明暗の縞模様のことである。 Here, the brightness of the X-rays emitted from the X-ray source 1 changes with time due to the rotation of the target generated in the X-ray source 1 and the like. Therefore, a false image (artifact) 80 (see FIG. 3) is generated in the phase contrast image 20. The false image 80 is a bright and dark striped pattern caused by a change in the brightness of X-rays.

そこで、本実施形態では、画像処理部4は、生成される位相コントラスト画像20に偽像80が生じることを抑制するように構成されている。 Therefore, in the present embodiment, the image processing unit 4 is configured to suppress the occurrence of a false image 80 in the generated phase contrast image 20.

具体的には、図5に示すように、画像処理部4は、被写体90に対する複数の相対位置で取得された第1X線に基づいて生成された複数の第1画像30(第1画像30a~第1画像30d)を、被写体90に対する複数の相対位置で取得された第2X線に基づいて生成された複数の第2画像31に基づいて補正するように構成されている。複数の第2画像31は、第2X線が照射される領域77のそれぞれ異なる相対位置で撮影された第2画像31a~第2画像31dの4枚の第2画像31を含む。画像処理部4が第2画像31に基づいて第1画像30を補正する構成の詳細については、後述する。 Specifically, as shown in FIG. 5, the image processing unit 4 has a plurality of first images 30 (first images 30a to 30a) generated based on the first X-rays acquired at a plurality of relative positions with respect to the subject 90. The first image 30d) is configured to be corrected based on a plurality of second images 31 generated based on the second X-rays acquired at a plurality of relative positions with respect to the subject 90. The plurality of second images 31 include four second images 31 of the second image 31a to the second image 31d taken at different relative positions in the region 77 irradiated with the second X-ray. The details of the configuration in which the image processing unit 4 corrects the first image 30 based on the second image 31 will be described later.

また、本実施形態では、図6に示すように、被写体90を配置していない状態において取得された第1X線に基づいて生成された複数の第3画像33(第3画像33a~第3画像33d)を、被写体90を配置していない状態において取得された第2X線に基づいて生成された複数の第4画像34に基づいて補正するように構成されている。複数の第4画像34は、被写体90を配置していない状態において、第2X線が照射される領域77のそれぞれ異なる相対位置で撮影された第4画像34a~第4画像34dの4枚の第4画像34を含む。画像処理部4は、第1輝度変化41に基づいて、第3画像33を補正する。画像処理部4が第4画像34に基づいて第3画像33を補正する構成の詳細については、後述する。 Further, in the present embodiment, as shown in FIG. 6, a plurality of third images 33 (third images 33a to third images) generated based on the first X-rays acquired in a state where the subject 90 is not arranged. 33d) is configured to be corrected based on a plurality of fourth images 34 generated based on the second X-rays acquired in a state where the subject 90 is not arranged. The plurality of fourth images 34 are the four fourth images 34a to 34d of the fourth image 34a to the fourth image 34d taken at different relative positions in the region 77 irradiated with the second X-ray in a state where the subject 90 is not arranged. 4 includes image 34. The image processing unit 4 corrects the third image 33 based on the first luminance change 41. The details of the configuration in which the image processing unit 4 corrects the third image 33 based on the fourth image 34 will be described later.

本実施形態では、図7に示すように、画像処理部4は、補正後の複数の第1画像32に基づいて位相コントラスト画像21を生成するように構成されている。具体的には、画像処理部4は、補正後の複数の第1画像32と、補正後の複数の第3画像35とに基づいて位相コントラスト画像21または暗視野像23の少なくとも一方を生成するように構成されていている。本実施形態では、画像処理部4は、補正後の複数の第1画像32と、補正後の複数の第3画像35とに基づいて位相コントラスト画像21を生成する。 In the present embodiment, as shown in FIG. 7, the image processing unit 4 is configured to generate the phase contrast image 21 based on the plurality of corrected first images 32. Specifically, the image processing unit 4 generates at least one of the phase contrast image 21 and the dark field image 23 based on the corrected first image 32 and the corrected third image 35. It is configured as follows. In the present embodiment, the image processing unit 4 generates the phase contrast image 21 based on the corrected first image 32 and the corrected third image 35.

本実施形態では、第1画像30aと、第2画像31aとは、同じタイミングで撮像された画像である。同様に、第1画像30bと第2画像31b、第1画像30cと第2画像31c、および、第1画像30dと第2画像31dとは、それぞれ、同じタイミングで撮像された画像である。また、第3画像33および第4画像34についても同様である。 In the present embodiment, the first image 30a and the second image 31a are images captured at the same timing. Similarly, the first image 30b and the second image 31b, the first image 30c and the second image 31c, and the first image 30d and the second image 31d are images taken at the same timing, respectively. The same applies to the third image 33 and the fourth image 34.

画像処理部4は、第1画像30a~第1画像30dの各々を、第2画像31a~第2画像31dの各々で補正することにより、補正後の第1画像32a~第1画像32dを取得する。また、画像処理部4は、補正後の第1画像32a~第1画像32dに基づいて、位相コントラスト画像21を生成する。 The image processing unit 4 acquires the corrected first image 32a to the first image 32d by correcting each of the first image 30a to the first image 30d with each of the second image 31a to the second image 31d. do. Further, the image processing unit 4 generates the phase contrast image 21 based on the corrected first image 32a to the first image 32d.

(第1輝度変化の取得)
図8に示すように、画像処理部4は、複数の第2画像31(第2画像31a~第2画像31d)に基づいて、X線の第1輝度変化40を取得するように構成されている。ここで、X線源1から照射されるX線の輝度は、経時的に変化する。また、第1輝度変化40は、暗部と明部とが所定の周期で繰り返すような輝度の変化となる。そのため、図8に示すように、複数の第2画像31a~第2画像31dの各々には、それぞれ異なる第1輝度変化40a~第1輝度変化40dが生じる。各第1輝度変化40a~第1輝度変化40dは、暗部(暗部43a~暗部43d)と明部(明部44a~明部44d)との周期が互いに異なる。
(Acquisition of first brightness change)
As shown in FIG. 8, the image processing unit 4 is configured to acquire the first luminance change 40 of X-rays based on a plurality of second images 31 (second images 31a to 31d). There is. Here, the brightness of the X-rays emitted from the X-ray source 1 changes with time. Further, the first luminance change 40 is a luminance change such that the dark part and the bright part repeat in a predetermined cycle. Therefore, as shown in FIG. 8, different first luminance changes 40a to first luminance changes 40d occur in each of the plurality of second images 31a to 31d. Each of the first luminance change 40a to the first luminance change 40d has a different period between the dark portion (dark portion 43a to dark portion 43d) and the bright portion (bright portion 44a to bright portion 44d).

そこで、本実施形態では、画像処理部4は、複数の第2画像31の各々に生じる第1輝度変化40を取得するように構成されている。しかしながら、各第2画像31には、被写体90が写っているため、第1輝度変化40を取得する際に、被写体90の写り方によって、第1輝度変化40を取得することが困難な場合がある。そこで、本実施形態では、画像処理部4は、第2画像31に写る被写体90の影響を抑制するために、複数の第2画像31において、被写体90の相対移動に基づいて決定される所定の領域に基づいて、複数の第2画像31の各々に生じる第1輝度変化40(第1輝度変化40a~第1輝度変化40d)を取得するように構成されている。 Therefore, in the present embodiment, the image processing unit 4 is configured to acquire the first luminance change 40 that occurs in each of the plurality of second images 31. However, since the subject 90 is captured in each second image 31, it may be difficult to acquire the first luminance change 40 depending on how the subject 90 is captured when acquiring the first luminance change 40. be. Therefore, in the present embodiment, the image processing unit 4 is determined based on the relative movement of the subject 90 in the plurality of second images 31 in order to suppress the influence of the subject 90 reflected in the second image 31. It is configured to acquire the first luminance change 40 (first luminance change 40a to first luminance change 40d) that occurs in each of the plurality of second images 31 based on the region.

図8に示すように、所定の領域は、複数の第2画像31の各々において、被写体90の同じ部分が写る領域42である。画像処理部4は、被写体90の同じ部分が写る領域42の画素値の平均値を取得するとともに、取得した平均値によって複数の第2画像31の各々を除算することにより、複数の第2画像31の各々に生じるX線の第1輝度変化40を取得するように構成されている。具体的には、画像処理部4は、各第2画像31の各々の領域42に基づいて、各領域42における平均画像(図示せず)を生成する。そして、画像処理部4は、取得した平均画像で、複数の第2画像31の各々の領域42を除算することによって各領域42に写る被写体90を除去することにより、複数の第2画像31の各々に生じるX線の第1輝度変化40を取得するように構成されている。 As shown in FIG. 8, the predetermined area is the area 42 in which the same portion of the subject 90 is captured in each of the plurality of second images 31. The image processing unit 4 acquires the average value of the pixel values of the region 42 in which the same portion of the subject 90 is captured, and divides each of the plurality of second images 31 by the acquired average value to obtain the plurality of second images. It is configured to acquire the first luminance change 40 of the X-ray generated in each of the 31. Specifically, the image processing unit 4 generates an average image (not shown) in each region 42 based on each region 42 of each second image 31. Then, the image processing unit 4 removes the subject 90 reflected in each region 42 by dividing each region 42 of the plurality of second images 31 from the acquired average image, thereby removing the subject 90 reflected in each region 42 of the plurality of second images 31. It is configured to acquire the first luminance change 40 of the X-ray generated in each.

なお、第2画像31において被写体90が写っていない場合には、被写体90を除去する必要がない。そのため、画像処理部4は、各第2画像31のうち、Y方向における所定のラインの輝度変化を第1輝度変化40として取得する。 If the subject 90 is not shown in the second image 31, it is not necessary to remove the subject 90. Therefore, the image processing unit 4 acquires the luminance change of a predetermined line in the Y direction of each second image 31 as the first luminance change 40.

また、検出器2において、検出画素ごとに感度のむらが生じる場合がある。そこで、本実施形態では、画像処理部4は、複数の第2画像31の各々に対して感度補正を行うとともに、感度補正を行った後の複数の第2画像31に基づいて、X線の第1輝度変化40を取得するように構成されている。 Further, in the detector 2, the sensitivity may be uneven for each detected pixel. Therefore, in the present embodiment, the image processing unit 4 performs sensitivity correction on each of the plurality of second images 31, and based on the plurality of second images 31 after the sensitivity correction, X-rays are obtained. It is configured to acquire the first luminance change 40.

図9に示すグラフ45は、第1輝度変化40のグラフである。グラフ45は、縦軸が輝度値であり、横軸がY方向における画素の位置である。グラフ45に示すように、第1輝度変化40には、輝度値が大きい部分と輝度値が小さい部分とが周期的に生じる。また、グラフ45に示すように、第1輝度変化40には、ノイズが含まれる。そこで、本実施形態では、画像処理部4は、第1輝度変化40に対して平滑化処理を行うように構成されている。 The graph 45 shown in FIG. 9 is a graph of the first luminance change 40. In the graph 45, the vertical axis is the luminance value and the horizontal axis is the position of the pixel in the Y direction. As shown in the graph 45, a portion having a large luminance value and a portion having a small luminance value are periodically generated in the first luminance change 40. Further, as shown in the graph 45, the first luminance change 40 includes noise. Therefore, in the present embodiment, the image processing unit 4 is configured to perform smoothing processing on the first luminance change 40.

ここで、第1輝度変化40は、Y方向に沿った方向の輝度は周期的に変化しているが、X方向については、輝度値の周期的な変化は生じない。そのため、第2画像31のうち、領域42のY方向における所定のラインの輝度の変化を、第2画像31全体の輝度の変化とみなすことができる。したがって、被写体90の同じ部分が写る領域42に生じている輝度の変化を取得することにより、第2画像31の第1輝度変化40を取得することが可能となる。 Here, in the first luminance change 40, the luminance in the direction along the Y direction changes periodically, but the luminance value does not change periodically in the X direction. Therefore, in the second image 31, a change in the brightness of a predetermined line in the Y direction of the region 42 can be regarded as a change in the brightness of the entire second image 31. Therefore, it is possible to acquire the first luminance change 40 of the second image 31 by acquiring the luminance change occurring in the region 42 in which the same portion of the subject 90 is captured.

上記のように、複数の第1画像30の各々と、複数の第2画像31の各々とは、同様のタイミングで撮像される。第1輝度変化40は、X線源1から照射されるX線の出力の変化に起因しているため、図10の矢印12に示すように、同一時点において、第1X線が照射される領域76および第2X線が照射される領域77において共通して検出される。すなわち、複数の第2画像31の各々に生じる第1輝度変化40は、同一時点において、複数の第1画像30の各々にも生じている。たとえば、第2画像31aに生じる第1輝度変化40aは、第1画像30aにも生じる。そのため、第1画像30aに生じるX線の輝度の変化は、第1輝度変化40aによって補正することができる。第1画像30b~第1画像30dについても、同様に、第2画像31b~第2画像31dによって補正することができる。 As described above, each of the plurality of first images 30 and each of the plurality of second images 31 are imaged at the same timing. Since the first luminance change 40 is caused by the change in the output of the X-rays emitted from the X-ray source 1, as shown by the arrow 12 in FIG. 10, the region where the first X-rays are irradiated at the same time point. It is commonly detected in the area 77 where the 76 and the second X-ray are irradiated. That is, the first luminance change 40 that occurs in each of the plurality of second images 31 also occurs in each of the plurality of first images 30 at the same time point. For example, the first luminance change 40a that occurs in the second image 31a also occurs in the first image 30a. Therefore, the change in the luminance of the X-rays that occurs in the first image 30a can be corrected by the first luminance change 40a. Similarly, the first image 30b to the first image 30d can be corrected by the second image 31b to the second image 31d.

本実施形態では、画像処理部4は、複数の第2画像31に基づいて、複数の第2画像31の面内において、所定の方向(X方向)と直交する方向(Y方向)に生じるX線の第1輝度変化40を取得するとともに、取得したX線の第1輝度変化40に基づいて、複数の第1画像30の各々を補正するように構成されている。画像処理部4は、複数の第1画像30の面内において所定の方向と直交する方向に生じる輝度の変化を、第1輝度変化40に基づいて、所定の方向に沿った方向に補正することにより、複数の第1画像30の各々を補正するように構成されている。 In the present embodiment, the image processing unit 4 generates X in a direction (Y direction) orthogonal to a predetermined direction (X direction) in the plane of the plurality of second images 31 based on the plurality of second images 31. It is configured to acquire the first luminance change 40 of the line and correct each of the plurality of first images 30 based on the acquired first luminance change 40 of the X-ray. The image processing unit 4 corrects a change in luminance that occurs in a direction orthogonal to a predetermined direction in the plane of a plurality of first images 30 in a direction along a predetermined direction based on the first luminance change 40. Is configured to correct each of the plurality of first images 30.

第1画像30を補正する方法としては、第1画像30の面内において、所定の方向(X方向)と直交する方向(Y方向)の各画素に対して、第1輝度変化40の各画素値を減算、または、除算することにより行う方法が考えられるが、第1画像30に生じる輝度の変化を、第1輝度変化40を用いて補正することができれば、どのような方法であってもよい。 As a method of correcting the first image 30, each pixel of the first luminance change 40 with respect to each pixel in the direction (Y direction) orthogonal to the predetermined direction (X direction) in the plane of the first image 30. A method of subtracting or dividing the value can be considered, but any method can be used as long as the change in brightness generated in the first image 30 can be corrected by using the first brightness change 40. good.

また、画像処理部4が、複数の第3画像33に生じる第1輝度変化41を複数の第4画像34によって補正することにより、補正後の複数の第3画像35を取得する構成は、画像処理部4が複数の第1画像30に生じる第1輝度変化40を複数の第2画像31によって補正することにより、補正後の複数の第1画像32を取得する構成と同様の構成であるため、詳細な説明は省略する。なお、補正後の複数の第3画像35は、予め取得しておき、記憶部(図示せず)などに記憶しておけば、被写体90を撮像する度に取得する必要はない。 Further, the configuration in which the image processing unit 4 acquires the corrected third image 35 by correcting the first brightness change 41 generated in the plurality of third images 33 by the plurality of fourth images 34 is an image. Since the processing unit 4 corrects the first brightness change 40 generated in the plurality of first images 30 by the plurality of second images 31, the configuration is similar to the configuration in which the corrected first images 32 are acquired. , Detailed explanation is omitted. If the plurality of corrected third images 35 are acquired in advance and stored in a storage unit (not shown) or the like, it is not necessary to acquire the corrected third image 35 each time the subject 90 is imaged.

画像処理部4は、上記のように、補正後の複数の第1画像32(図7参照)と、補正後の複数の第3画像35(図7参照)とに基づいて、位相コントラスト画像21(図7参照)を取得する。補正後の複数の第1画像32では、第1輝度変化40が補正されている。また、補正後の複数の第3画像35では、第1輝度変化41が補正されている。したがって、図11に示すように、補正後の複数の第1画像32および補正後の複数の第3画像35に基づいて生成された位相コントラスト画像21は、偽像80が除去された画像となる。 As described above, the image processing unit 4 has the phase contrast image 21 based on the corrected first image 32 (see FIG. 7) and the corrected third image 35 (see FIG. 7). (See FIG. 7) is acquired. In the plurality of corrected first images 32, the first luminance change 40 is corrected. Further, in the plurality of corrected third images 35, the first luminance change 41 is corrected. Therefore, as shown in FIG. 11, the phase contrast image 21 generated based on the corrected first image 32 and the corrected third image 35 is an image from which the false image 80 is removed. ..

(第2輝度変化)
本実施形態によるX線画像撮影装置100は、複数の格子として、少なくとも第1格子6を含む。X線は、X方向において照射軸70から離れるにつれて第1格子6に入射する際の角度が大きくなる。第1格子6に入射する角度によって、第1格子6のX線吸収部6bを通過するX線が減少する。
(2nd brightness change)
The X-ray imaging apparatus 100 according to the present embodiment includes at least the first grid 6 as a plurality of grids. The angle at which the X-rays are incident on the first lattice 6 increases as the distance from the irradiation axis 70 increases in the X direction. Depending on the angle incident on the first grid 6, the number of X-rays passing through the X-ray absorbing portion 6b of the first grid 6 is reduced.

第1格子6のX線吸収部6bでX線が減少した場合、図12に示すように、吸収像22において、第2輝度変化46に起因する偽像81が生じる。第2輝度変化46は、たとえば、Y方向において、吸収像22の中央部分に明部48が生じ、Y方向の両端部に、暗部47が生じる輝度の変化である。なお、画像処理部4は、上記第1強度信号曲線および第2強度信号曲線に基づいて、吸収像22および暗視野像23を生成する。 When the X-rays are reduced in the X-ray absorption unit 6b of the first grid 6, as shown in FIG. 12, a false image 81 due to the second luminance change 46 is generated in the absorption image 22. The second luminance change 46 is, for example, a luminance change in which a bright portion 48 is generated in the central portion of the absorption image 22 in the Y direction and a dark portion 47 is generated at both ends in the Y direction. The image processing unit 4 generates an absorption image 22 and a dark field image 23 based on the first intensity signal curve and the second intensity signal curve.

(暗視野像に生じる偽像)
また、吸収像22において、第2輝度変化46に起因する偽像81が生じている場合、図13に示すように、暗視野像23においても、偽像82が生じる。偽像82は、たとえば、Y方向において、暗視野像23の中央部分に暗部50が生じ、Y方向の両端部に、明部49が生じる。すなわち、暗視野像23に生じる輝度の変化は、第2輝度変化46の明部48と暗部47とが反転した対象的な輝度の変化である。
(False image generated in dark field image)
Further, when the false image 81 caused by the second luminance change 46 is generated in the absorption image 22, the false image 82 is also generated in the dark field image 23 as shown in FIG. In the false image 82, for example, in the Y direction, a dark portion 50 is formed in the central portion of the dark field image 23, and bright portions 49 are formed at both ends in the Y direction. That is, the change in luminance that occurs in the dark field image 23 is a symmetrical change in luminance in which the bright portion 48 and the dark portion 47 of the second luminance change 46 are inverted.

そこで、本実施形態では、画像処理部4は、複数の第1画像30および複数の第2画像31に基づいて、X線が複数の格子を通過することによって生じるX線の第2輝度変化46を取得するとともに、取得した第2輝度変化46に基づいて、暗視野像23の補正を行うように構成されている。 Therefore, in the present embodiment, the image processing unit 4 has a second luminance change 46 of the X-rays caused by the X-rays passing through the plurality of lattices based on the plurality of first images 30 and the plurality of second images 31. Is acquired, and the dark field image 23 is corrected based on the acquired second luminance change 46.

具体的には、図14に示すように、画像処理部4は、複数の第1画像30に基づいて第1吸収像22を生成し、複数の第2画像31に基づいて第2吸収像24を生成し、第1吸収像22と第2吸収像24とに基づいて第2輝度変化46を取得するように構成されている。 Specifically, as shown in FIG. 14, the image processing unit 4 generates the first absorption image 22 based on the plurality of first images 30, and the second absorption image 24 based on the plurality of second images 31. Is generated, and the second luminance change 46 is acquired based on the first absorption image 22 and the second absorption image 24.

ここで、第2輝度変化46は、X線が格子に照射される際の入射角度に起因して生じるX線の輝度の変化である。そのため、上記第1輝度変化40とは異なり、経時的な変化は少ないと考えられる。そのため、画像処理部4は、第2吸収像24として、複数の第2画像31のうちのいずれか選択することにより、第2吸収像24を生成する。なお、第1吸収像22と第2吸収像24とに基づいて第2輝度変化46を取得する場合には、各吸収像における被写体90が写る位置が同じであることが好ましい。そこで、画像処理部4は、第2吸収像24における被写体90は写る位置を、第1吸収像22における被写体90が写る位置と位置合わせする。 Here, the second luminance change 46 is a change in the luminance of the X-rays caused by the incident angle when the X-rays are applied to the grid. Therefore, unlike the first luminance change 40, it is considered that the change over time is small. Therefore, the image processing unit 4 generates the second absorption image 24 by selecting one of the plurality of second images 31 as the second absorption image 24. When the second luminance change 46 is acquired based on the first absorption image 22 and the second absorption image 24, it is preferable that the position where the subject 90 is captured in each absorption image is the same. Therefore, the image processing unit 4 aligns the position where the subject 90 in the second absorption image 24 is captured with the position where the subject 90 is captured in the first absorption image 22.

複数の第1画像30は、複数の格子を通過した後に検出器2によって検出されたX線に基づいて生成された画像である。したがって、複数の第1画像30には、X線が被写体90を通過することによる輝度の変化、および、X線が格子を通過することによって生じる第2輝度変化46の両方が生じる。そのため、複数の第1画像30に基づいて生成された第1吸収像22には、X線が被写体90を通過することにより生じる輝度の変化と、第2輝度変化46とに起因して偽像81が生じる。 The plurality of first images 30 are images generated based on the X-rays detected by the detector 2 after passing through the plurality of grids. Therefore, the plurality of first images 30 have both a change in luminance due to the passage of X-rays through the subject 90 and a second luminance change 46 caused by the passage of X-rays through the grid. Therefore, in the first absorption image 22 generated based on the plurality of first images 30, a false image is caused by the change in luminance caused by the passage of X-rays through the subject 90 and the change in second luminance 46. 81 occurs.

複数の第2画像31は、複数の格子を通過することなく検出器2によって検出されたX線に基づいて生成された画像である。したがって、複数の第2画像31には、X線が被写体90を通過することによる輝度の変化は生じるが、X線が格子を通過することによって生じる第2輝度変化46は生じない。すなわち、第2吸収像24は、格子を通過せずに検出されたX線に基づいて生成されているため、第2吸収像24には、被写体90に起因して生じるX線の輝度の変化が含まれる。 The plurality of second images 31 are images generated based on the X-rays detected by the detector 2 without passing through the plurality of grids. Therefore, in the plurality of second images 31, the change in luminance caused by the passage of X-rays through the subject 90 occurs, but the change in luminance 46 caused by the passage of X-rays through the grid does not occur. That is, since the second absorption image 24 is generated based on the X-rays detected without passing through the grid, the change in the brightness of the X-rays caused by the subject 90 is generated in the second absorption image 24. Is included.

そのため、図14に示すように、第1吸収像22から第2吸収像24を減算または除算することにより、被写体90に起因するX線の輝度変化が取り除かれ、X線が格子を通過することによって生じる第2輝度変化46を取得することができる。 Therefore, as shown in FIG. 14, by subtracting or dividing the second absorption image 24 from the first absorption image 22, the change in the luminance of the X-rays caused by the subject 90 is removed, and the X-rays pass through the grid. The second luminance change 46 caused by the above can be acquired.

本実施形態では、図15に示すように、画像処理部4は、第2輝度変化46に基づいて暗視野像23を補正することにより、偽像82が除去された暗視野像25を生成する。暗視野像23に生じる偽像82は、第2輝度変化46と対照的な輝度変化であるため、画像処理部4は、たとえば、第2輝度変化46を暗視野像23に加算することにより、暗視野像23の補正を行う。なお、第2輝度変化46を用いて暗視野像23から偽像82を除去することが可能であれば、補正方法はどのような方法であってもよい。 In the present embodiment, as shown in FIG. 15, the image processing unit 4 corrects the dark field image 23 based on the second luminance change 46 to generate the dark field image 25 from which the false image 82 is removed. .. Since the false image 82 generated in the dark field image 23 is a brightness change in contrast to the second luminance change 46, the image processing unit 4 can, for example, add the second luminance change 46 to the dark field image 23. The dark field image 23 is corrected. Any method may be used as the correction method as long as the false image 82 can be removed from the dark field image 23 by using the second luminance change 46.

次に、図16を参照して、本実施形態による画像処理部4が位相コントラスト画像21を生成する処理について説明する。 Next, with reference to FIG. 16, the process in which the image processing unit 4 according to the present embodiment generates the phase contrast image 21 will be described.

ステップ101において、画像処理部4は、被写体90に対する検出器2の相対位置を変更しながら複数の撮影位置において取得された第1X線に基づいて生成された複数の第1画像30を取得する。 In step 101, the image processing unit 4 acquires a plurality of first images 30 generated based on the first X-rays acquired at the plurality of shooting positions while changing the relative position of the detector 2 with respect to the subject 90.

ステップ102において、画像処理部4は、被写体90に対する検出器2の相対位置を変更しながら複数の撮影において取得された第2X線に基づいて生成された複数の第2画像31を取得する。 In step 102, the image processing unit 4 acquires a plurality of second images 31 generated based on the second X-rays acquired in the plurality of shootings while changing the relative position of the detector 2 with respect to the subject 90.

ステップ103において、画像処理部4は、被写体90を配置していない状態で複数の撮影位置において取得された第1X線に基づいて生成された複数の第3画像33を取得する。 In step 103, the image processing unit 4 acquires a plurality of third images 33 generated based on the first X-rays acquired at a plurality of shooting positions in a state where the subject 90 is not arranged.

ステップ104において、画像処理部4は、被写体90を配置していない状態で複数の撮影位置において取得された第2X線に基づいて生成された複数の第4画像34を取得する。 In step 104, the image processing unit 4 acquires a plurality of fourth images 34 generated based on the second X-rays acquired at a plurality of shooting positions in a state where the subject 90 is not arranged.

ステップ105において、画像処理部4は、複数の第2画像31および複数の第4画像34に対して感度補正を行う。 In step 105, the image processing unit 4 performs sensitivity correction on the plurality of second images 31 and the plurality of fourth images 34.

ステップ106において、画像処理部4は、複数の第2画像31に基づいて、複数の第1画像30の各々を補正する。 In step 106, the image processing unit 4 corrects each of the plurality of first images 30 based on the plurality of second images 31.

ステップ107において、画像処理部4は、複数の第4画像34に基づいて、複数の第3画像33の各々を補正する。 In step 107, the image processing unit 4 corrects each of the plurality of third images 33 based on the plurality of fourth images 34.

ステップ108において、補正後の複数の第1画像32に基づいて位相コントラスト画像21または暗視野像23の少なくとも一方を生成する。なお、本実施形態では、ステップ107の処理において、画像処理部4は、補正後の複数の第1画像32と、補正後の複数の第3画像35とに基づいて、位相コントラスト画像21を生成する。その後、処理は、終了する。 In step 108, at least one of the phase contrast image 21 and the dark field image 23 is generated based on the corrected first image 32. In the present embodiment, in the process of step 107, the image processing unit 4 generates the phase contrast image 21 based on the corrected first image 32 and the corrected third image 35. do. After that, the process ends.

なお、ステップ101~ステップ104の処理は、どの順で行われてもよい。また、複数の第4画像34によって補正された第3画像35を予め取得しておく場合には、ステップ103の処理、ステップ104の処理、およびステップ107の処理は省略される。 The processes of steps 101 to 104 may be performed in any order. Further, when the third image 35 corrected by the plurality of fourth images 34 is acquired in advance, the processing of step 103, the processing of step 104, and the processing of step 107 are omitted.

次に、図17を参照して、本実施形態による画像処理部4が暗視野像25を生成する処理について説明する。なお、上記位相コントラスト画像21を生成する処理におけるステップと同様の処理については、詳細な説明は省略する。 Next, with reference to FIG. 17, a process in which the image processing unit 4 according to the present embodiment generates a dark field image 25 will be described. A detailed description of the same process as the step in the process of generating the phase contrast image 21 will be omitted.

ステップ101において、画像処理部4は。複数の第1画像30を取得する。 In step 101, the image processing unit 4 is. A plurality of first images 30 are acquired.

ステップ201において、画像処理部4は、複数の第1画像30に基づいて、第1吸収像22を取得する。 In step 201, the image processing unit 4 acquires the first absorption image 22 based on the plurality of first images 30.

ステップ102において、画像処理部4は、複数の第2画像31を取得する。 In step 102, the image processing unit 4 acquires a plurality of second images 31.

ステップ202において、画像処理部4は、複数の第2画像31に基づいて、第2吸収像24を取得する。 In step 202, the image processing unit 4 acquires the second absorption image 24 based on the plurality of second images 31.

ステップ203において、画像処理部4は、第1吸収像22と第2吸収像24とに基づいて、第2輝度変化46を取得する。 In step 203, the image processing unit 4 acquires the second luminance change 46 based on the first absorption image 22 and the second absorption image 24.

ステップ204において、画像処理部4は、複数の第1画像30に基づいて、暗視野像23を生成する。 In step 204, the image processing unit 4 generates a dark field image 23 based on the plurality of first images 30.

ステップ205において、画像処理部4は、第2輝度変化46に基づいて、暗視野像23を補正することにより、偽像82が除去された暗視野像25を生成する。その後、処理は、終了する。なお、ステップ101およびステップ201の処理と、ステップ102およびステップ202の処理とは、どちらが先に行われてもよい。 In step 205, the image processing unit 4 corrects the dark field image 23 based on the second luminance change 46 to generate the dark field image 25 from which the false image 82 is removed. After that, the process ends. Either the process of step 101 and step 201 and the process of step 102 and step 202 may be performed first.

(本実施形態の効果)
本実施形態では、以下のような効果を得ることができる。
(Effect of this embodiment)
In this embodiment, the following effects can be obtained.

本実施形態では、上記のように、X線画像撮影装置100では、X線源1と、X線源1から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように第1格子パターンが形成された第1格子6と、第1格子6を通過して到達した第1X線と、第1格子6を通過せずに到達した第2X線と、を検出する検出器2と、被写体90に対する検出器2の相対位置を移動させる相対位置移動部3と、被写体90に対する複数の相対位置で取得された第1X線に基づいて生成された複数の第1画像30を、被写体90に対する複数の相対位置で取得された第2X線に基づいて生成された複数の第2画像31に基づいて補正するとともに、補正後の複数の第1画像32に基づいて位相コントラスト画像21または暗視野像23の少なくとも一方を生成する画像処理部4と、を備える。ここで、X線源1から照射されるX線は、X線源1のターゲットの回転になどに起因して、照射強度が時間的に変化する。したがって、検出器2で検出されるX線の輝度も時間的に変化する。この輝度変化が検出器2の画像収集フレームレートより早い場合、検出画像内に縞状のアーチファクトを生じる。X線の輝度の時間的変化は、第1X線および第2X線の両方において生じる。第1X線は、格子を透過するため、X線の輝度の時間的な変化に加えて、X線が格子を透過することにより、格子内の領域で異なるX線の減衰やスペクトル変化が生じる。一方、第2X線は、格子を透過しないため、格子によるX線の変化が生じない。そこで、上記のように構成することにより、第2X線に基づいて生成された複数の第2画像31に基づいてX線の時間的な輝度変化を推定することにより、格子によるX線の減衰が生じる複数の第1画像30に基づいてX線の時間的な輝度変化を推定する構成と比較して、X線の時間的な輝度変化をより精度よく推定することができる。 In the present embodiment, as described above, in the X-ray imaging apparatus 100, the X-ray source 1 and the X-rays emitted from the X-ray source 1 are diffracted or a part of the irradiated X-rays is shielded. The first lattice 6 in which the first lattice pattern is formed, the first X-rays arriving through the first lattice 6 and the second X-rays arriving without passing through the first lattice 6 are detected. The detector 2, the relative position moving unit 3 that moves the relative position of the detector 2 with respect to the subject 90, and a plurality of first images 30 generated based on the first X-rays acquired at the plurality of relative positions with respect to the subject 90. Is corrected based on the plurality of second images 31 generated based on the second X-rays acquired at the plurality of relative positions with respect to the subject 90, and the phase contrast image is corrected based on the corrected plurality of first images 32. An image processing unit 4 that generates at least one of 21 or a dark field image 23 is provided. Here, the irradiation intensity of the X-rays emitted from the X-ray source 1 changes with time due to the rotation of the target of the X-ray source 1 and the like. Therefore, the brightness of the X-rays detected by the detector 2 also changes with time. If this luminance change is faster than the image acquisition frame rate of the detector 2, striped artifacts are generated in the detected image. The temporal change in the brightness of X-rays occurs in both the first X-ray and the second X-ray. Since the first X-rays pass through the grid, in addition to the temporal change in the brightness of the X-rays, the X-rays pass through the grid, causing different X-ray attenuations and spectral changes in the regions within the grid. On the other hand, since the second X-ray does not pass through the grid, the X-ray does not change due to the grid. Therefore, by configuring as described above, by estimating the temporal luminance change of the X-ray based on the plurality of second images 31 generated based on the second X-ray, the attenuation of the X-ray by the lattice is reduced. The temporal luminance change of X-rays can be estimated more accurately as compared with the configuration of estimating the temporal luminance change of X-rays based on a plurality of generated first images 30.

また、複数の第1画像30は、格子を通過した後のX線に基づいて生成されているため、格子に起因した偽像82が生じる場合がある。一方、複数の第2画像31は、格子を通過せずに検出されたX線に基づいて生成されているため、格子に起因した偽像82は生じない。したがって、複数の第1画像30において格子に起因した偽像82が生じている場合には、第1画像30と第2画像31とに基づいて、格子に照射されるX線の角度に起因して生じる偽像82を推定することができる。したがって、複数の第2画像31に基づいて補正された複数の第1画像32に基づいて位相コントラスト画像21または暗視野像23が生成されるので、位相コントラスト画像21または暗視野像23に偽像(アーチファクト)80および偽像82が生じることを抑制することができる。その結果、位相コントラスト画像21および暗視野像23の少なくとも一方を生成する場合に、得られる画像の画質が低下することを抑制することができる。 Further, since the plurality of first images 30 are generated based on the X-rays after passing through the lattice, a false image 82 due to the lattice may occur. On the other hand, since the plurality of second images 31 are generated based on the X-rays detected without passing through the grid, the false image 82 caused by the grid does not occur. Therefore, when the false image 82 caused by the grid is generated in the plurality of first images 30, it is caused by the angle of the X-rays applied to the grid based on the first image 30 and the second image 31. The false image 82 generated by the above can be estimated. Therefore, since the phase contrast image 21 or the dark field image 23 is generated based on the plurality of first images 32 corrected based on the plurality of second images 31, the phase contrast image 21 or the dark field image 23 is a false image. It is possible to suppress the occurrence of (artifact) 80 and false image 82. As a result, when at least one of the phase contrast image 21 and the dark field image 23 is generated, it is possible to suppress the deterioration of the image quality of the obtained image.

また、上記実施形態では、以下のように構成したことによって、下記のような更なる効果が得られる。 Further, in the above embodiment, the following further effects can be obtained by configuring as follows.

すなわち、本実施形態では、上記のように、第1X線が照射される領域76と第2X線が照射される領域77とは、X線の照射軸70の方向と交差する所定の方向に並んで配置されており、画像処理部4は、複数の第2画像31に基づいて、複数の第2画像31の面内において、所定の方向と直交する方向に生じるX線の第1輝度変化40を取得するとともに、取得したX線の第1輝度変化40に基づいて、複数の第1画像30の各々を補正するように構成されている。これにより、X線源1からのターゲットの回転などによって生じるX線の時間的な輝度変化であるX線の第1輝度変化40が生じた場合でも、複数の第2画像31に基づいて取得した第1輝度変化40によって、複数の第1画像30の各々に生じる所定の方向と直交する方向の輝度変化を補正することができる。その結果、複数の第1画像30の各々が補正されるので、複数の第1画像30に基づいて生成される位相コントラスト画像21または暗視野像23において、X線の時間的な輝度変化によって偽像80が生じることを抑制することができる。 That is, in the present embodiment, as described above, the region 76 to be irradiated with the first X-ray and the region 77 to be irradiated with the second X-ray are arranged in a predetermined direction intersecting the direction of the irradiation axis 70 of the X-ray. The image processing unit 4 is arranged with, and based on the plurality of second images 31, the first brightness change 40 of X-rays generated in a direction orthogonal to a predetermined direction in the plane of the plurality of second images 31. Is obtained, and each of the plurality of first images 30 is corrected based on the acquired first brightness change 40 of the X-ray. As a result, even when the first luminance change 40 of the X-ray, which is the temporal luminance change of the X-ray caused by the rotation of the target from the X-ray source 1, occurs, it is acquired based on the plurality of second images 31. The first luminance change 40 can correct the luminance change in each of the plurality of first images 30 in the direction orthogonal to the predetermined direction. As a result, each of the plurality of first images 30 is corrected, so that the phase contrast image 21 or the dark field image 23 generated based on the plurality of first images 30 is false due to the temporal brightness change of the X-ray. It is possible to suppress the formation of the image 80.

また、本実施形態では、上記のように、画像処理部4は、複数の第1画像30の面内において所定の方向と直交する方向に生じる輝度の変化を、第1輝度変化40に基づいて、所定の方向に沿った方向に補正することにより、複数の第1画像30の各々を補正するように構成されている。ここで、X線の第1輝度変化40は、所定の方向(X方向)と直交する方向(Y方向)に生じており、所定の方向に沿った方向の輝度は変化していない。そこで、上記のように構成することにより、第1画像30の各々において、所定の方向と直交する方向に生じる輝度変化を、第1輝度変化40によって所定の方向に沿って補正していくことにより、第1画像30全体に生じる輝度の変化を容易に補正することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, the image processing unit 4 determines the change in luminance that occurs in the plane of the plurality of first images 30 in the direction orthogonal to the predetermined direction based on the first luminance change 40. , Each of the plurality of first images 30 is corrected by correcting in a direction along a predetermined direction. Here, the first luminance change 40 of the X-ray occurs in the direction (Y direction) orthogonal to the predetermined direction (X direction), and the luminance in the direction along the predetermined direction does not change. Therefore, by configuring as described above, in each of the first images 30, the luminance change that occurs in the direction orthogonal to the predetermined direction is corrected along the predetermined direction by the first luminance change 40. , The change in brightness that occurs in the entire first image 30 can be easily corrected.

また、本実施形態では、上記のように、画像処理部4は、複数の第2画像31において、被写体90の相対移動に基づいて決定される所定の領域に基づいて、複数の第2画像31の各々に生じる第1輝度変化40を取得するように構成されている。これにより、被写体90の相対移動に基づいて決定される所定の領域が決定されるので、第2画像31の所定の領域における被写体90の位置を、各第2画像31間で揃えることができる。したがって、所定の領域において被写体90が写る位置を揃えることが可能になるので、各第2画像31に写る被写体90を除去することができる。その結果、各第2画像31から被写体90が除去されるので、複数の第2画像31の各々に生じる第1輝度変化40を取得することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, the image processing unit 4 has a plurality of second images 31 based on a predetermined region determined based on the relative movement of the subject 90 in the plurality of second images 31. It is configured to acquire the first luminance change 40 that occurs in each of the above. As a result, a predetermined area determined based on the relative movement of the subject 90 is determined, so that the positions of the subject 90 in the predetermined area of the second image 31 can be aligned between the second images 31. Therefore, since it is possible to align the positions where the subject 90 is captured in a predetermined area, the subject 90 captured in each second image 31 can be removed. As a result, the subject 90 is removed from each of the second images 31, so that the first luminance change 40 that occurs in each of the plurality of second images 31 can be acquired.

また、本実施形態では、上記のように、所定の領域は、複数の第2画像31の各々において、被写体90の同じ部分が写る領域42であり、画像処理部4は、被写体90の同じ部分が写る領域42の画素値の平均値を取得するとともに、取得した平均値によって複数の第2画像31の各々を除算することにより、複数の第2画像31の各々に生じるX線の第1輝度変化40を取得するように構成されている。これにより、取得した平均値によって複数の第2画像31の各々を除算することによって、各第2画像31に写る被写体90を容易に除去することができる。その結果、各第2画像31から被写体90が除去されるので、複数の第2画像31の各々に生じる第1輝度変化40を容易に取得することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, the predetermined area is the area 42 in which the same part of the subject 90 is captured in each of the plurality of second images 31, and the image processing unit 4 is the same part of the subject 90. By acquiring the average value of the pixel values of the region 42 in which the image is captured and dividing each of the plurality of second images 31 by the acquired average value, the first luminance of the X-ray generated in each of the plurality of second images 31 It is configured to acquire change 40. Thereby, by dividing each of the plurality of second images 31 by the acquired average value, the subject 90 reflected in each second image 31 can be easily removed. As a result, the subject 90 is removed from each of the second images 31, so that the first luminance change 40 that occurs in each of the plurality of second images 31 can be easily obtained.

また、本実施形態では、上記のように、画像処理部4は、複数の第2画像31の各々に対して感度補正を行うとともに、感度補正を行った後の複数の第2画像31に基づいて、X線の第1輝度変化40を取得するように構成されている。これにより、複数の第2画像31において生じる検出器2に起因するノイズを除去することができる。したがって、検出器2に起因するノイズによって、補正後の第1画像32の画質が低下することを抑制することができる。その結果、補正後の第1画像32に基づいて生成される位相コントラスト画像21の画質、または、暗視野像23の画質が低下することをより抑制することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, the image processing unit 4 corrects the sensitivity of each of the plurality of second images 31, and is based on the plurality of second images 31 after the sensitivity correction. Therefore, it is configured to acquire the first luminance change 40 of the X-ray. Thereby, the noise caused by the detector 2 generated in the plurality of second images 31 can be removed. Therefore, it is possible to suppress the deterioration of the image quality of the corrected first image 32 due to the noise caused by the detector 2. As a result, it is possible to further suppress the deterioration of the image quality of the phase contrast image 21 or the image quality of the dark field image 23 generated based on the corrected first image 32.

また、本実施形態では、上記のように、画像処理部4は、第1輝度変化40に対して平滑化処理を行うように構成されている。これにより、第1輝度変化40に含まれる高周波ノイズを平滑化処理によって除去することができる。したがって、補正後の第1輝度変化によって複数の第1画像30を補正することにより、第1輝度変化40に含まれるノイズに起因して、補正後の第1画像32の画質が低下することを抑制することができる。その結果、補正後の第1画像32の画質が低下することをより抑制することが可能となるので、補正後の第1画像32に基づいて生成される位相コントラスト画像21の画質、または、暗視野像23の画質が低下することをより一層抑制することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, the image processing unit 4 is configured to perform smoothing processing on the first luminance change 40. Thereby, the high frequency noise included in the first luminance change 40 can be removed by the smoothing process. Therefore, by correcting the plurality of first images 30 by the corrected first luminance change, the image quality of the corrected first image 32 deteriorates due to the noise included in the first luminance change 40. It can be suppressed. As a result, it is possible to further suppress the deterioration of the image quality of the corrected first image 32, so that the image quality of the phase contrast image 21 generated based on the corrected first image 32 or the darkness is achieved. It is possible to further suppress the deterioration of the image quality of the field image 23.

また、本実施形態では、上記のように、画像処理部4は、被写体90を配置していない状態において取得された第1X線に基づいて生成された複数の第3画像33を、被写体90を配置していない状態において取得された第2X線に基づいて生成された複数の第4画像34に基づいて補正するとともに、補正後の複数の第1画像32と、補正後の複数の第3画像35とに基づいて位相コントラスト画像21または暗視野像23の少なくとも一方を生成するように構成されている。これにより、第1輝度変化40が補正された補正後の複数の第1画像32、および、第1輝度変化41が補正された補正後の複数の第3画像35に基づいて位相コントラスト画像21または暗視野像23が生成されるので、位相コントラスト画像21または暗視野像23に偽像80が生じることをより一層抑制することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, the image processing unit 4 uses the subject 90 as a plurality of third images 33 generated based on the first X-rays acquired in a state where the subject 90 is not arranged. A plurality of corrected first images 32 and a plurality of corrected third images are corrected based on a plurality of fourth images 34 generated based on the second X-rays acquired in a non-arranged state. It is configured to generate at least one of the phase contrast image 21 and the darkfield image 23 based on 35. As a result, the phase contrast image 21 or the phase contrast image 21 or the plurality of corrected first images 32 in which the first luminance change 40 is corrected and the plurality of corrected third images 35 in which the first luminance change 41 is corrected are used. Since the dark field image 23 is generated, it is possible to further suppress the occurrence of the false image 80 in the phase contrast image 21 or the dark field image 23.

また、本実施形態では、上記のように、第1X線が照射される領域76と第2X線が照射される領域77とは、所定の方向に並んで配置されており、画像処理部4は、複数の第1画像30および複数の第2画像31に基づいて、X線が第1格子6を通過することによって生じるX線の第2輝度変化46を取得するとともに、取得した第2輝度変化46に基づいて、暗視野像23の補正を行うように構成されている。これにより、複数の第1画像30と複数の第2画像31とに基づいて取得された第2輝度変化46によって暗視野像23が補正されるので、第2輝度変化46によって生じる偽像82が除去された暗視野像25を容易に取得することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, the region 76 to be irradiated with the first X-ray and the region 77 to be irradiated with the second X-ray are arranged side by side in a predetermined direction, and the image processing unit 4 is arranged. Based on the plurality of first images 30 and the plurality of second images 31, the second luminance change 46 of the X-rays caused by the passage of the X-rays through the first lattice 6 is acquired, and the acquired second luminance change is acquired. It is configured to correct the dark field image 23 based on 46. As a result, the dark field image 23 is corrected by the second luminance change 46 acquired based on the plurality of first images 30 and the plurality of second luminance 31, so that the false image 82 generated by the second luminance change 46 is generated. The removed dark field image 25 can be easily obtained.

また、本実施形態では、上記のように、画像処理部4は、複数の第1画像30に基づいて第1吸収像22を生成し、複数の第2画像31に基づいて第2吸収像24を生成し、第1吸収像22と第2吸収像24とに基づいて第2輝度変化46を取得するように構成されている。これにより、被写体90および格子に起因するX線の輝度変化を含む第1吸収像22と、被写体90に起因するX線の輝度変化を含む第2吸収像24とに基づいて第2輝度変化46を取得することにより、格子に起因して生じるX線の輝度変化(第2輝度変化46)のみを容易に取得することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, the image processing unit 4 generates the first absorption image 22 based on the plurality of first images 30, and the second absorption image 24 based on the plurality of second images 31. Is generated, and the second luminance change 46 is acquired based on the first absorption image 22 and the second absorption image 24. As a result, the second luminance change 46 is based on the first absorption image 22 including the X-ray luminance change caused by the subject 90 and the grid and the second luminance image 24 including the X-ray luminance change caused by the subject 90. By acquiring, only the luminance change (second luminance change 46) of the X-ray caused by the grid can be easily acquired.

また、本実施形態では、上記のように、第1格子6と検出器2との間に配置され、第1格子6の自己像と干渉させるための第2格子7をさらに備える。これにより、第1格子6の自己像と第2格子7とを干渉させることにより、第1格子6の自己像の周期(ピッチ)よりも大きい周期の干渉縞を形成することができる。その結果、形成された干渉縞を検出することにより、第1格子6の自己像を直接検出する場合と比較して、位相コントラスト画像21または暗視野像23の生成に要求される検出器2の検出精度が大きくなることを抑制することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, a second grid 7 is further provided, which is arranged between the first grid 6 and the detector 2 and for interfering with the self-image of the first grid 6. As a result, by interfering the self-image of the first grid 6 with the second grid 7, it is possible to form an interference fringe having a period larger than the period (pitch) of the self-image of the first grid 6. As a result, the detector 2 required to generate the phase contrast image 21 or the dark field image 23 is required to generate the phase contrast image 21 or the dark field image 23 as compared with the case where the self-image of the first grid 6 is directly detected by detecting the formed interference fringes. It is possible to suppress an increase in detection accuracy.

また、本実施形態では、上記のように、X線源1から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように第2格子パターンが形成され、第2格子パターンの方向が、第1格子パターンの方向と直交する方向となるように配置された第3格子9と、第3格子9と検出器2との間に配置され、第3格子9の自己像と干渉させるための第4格子10とをさらに備える。これにより、第1X線が照射される領域76において、第1格子パターンと第2格子パターンとが直交する方向となるように各格子が配置されているため、第1X線が照射される領域76において複数の相対位置において撮影することにより、格子の配置方向を変更することなく、互いに直交する格子パターンにおいて被写体90を撮像することができる。その結果、格子パターンの方向を変更して被写体90を撮像する構成とは異なり、格子の配置方向を変更せずに互いに直交する格子パターンにおいて撮像することが可能となるので、撮像時間が増加することを抑制することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, a second lattice pattern is formed so as to diffract the X-rays emitted from the X-ray source 1 or to shield a part of the irradiated X-rays, and the second grid pattern is formed. The third grid 9 is arranged so that the direction of the grid pattern is orthogonal to the direction of the first grid pattern, and the third grid 9 is arranged between the third grid 9 and the detector 2, and the third grid 9 is self. A fourth grid 10 for interfering with the image is further provided. As a result, in the region 76 where the first X-ray is irradiated, since each grid is arranged so that the first grid pattern and the second grid pattern are orthogonal to each other, the region 76 where the first X-ray is irradiated By photographing at a plurality of relative positions in the above, the subject 90 can be imaged in a lattice pattern orthogonal to each other without changing the arrangement direction of the lattice. As a result, unlike the configuration in which the direction of the grid pattern is changed to image the subject 90, it is possible to take an image in a grid pattern orthogonal to each other without changing the arrangement direction of the grid, so that the imaging time is increased. It can be suppressed.

また、本実施形態では、上記のように、X線画像の生成方法は、X線源1と、X線源1から照射されたX線を回折または遮蔽するように格子パターンが形成された第1格子6と、第1格子6を通過して到達した第1X線と第1格子6を通過せずに到達した第2X線とを検出する検出器2と、を備えるX線画像撮影装置を用いたX線画像の生成方法であって、被写体90に対する検出器2の相対位置を変更しながら複数の撮影位置において取得された第1X線に基づいて生成された複数の第1画像30を取得するステップと、被写体90に対する検出器2の相対位置を変更しながら複数の撮影において取得された第2X線に基づいて生成された複数の第2画像31を取得するステップと、複数の第2画像31に基づいて、複数の第1画像30の各々を補正するステップと、補正後の複数の第1画像32に基づいて位相コントラスト画像21または暗視野像23の少なくとも一方を生成するステップとを備える。これにより、上記実施形態におけるX線画像撮影装置100と同様に、位相コントラスト画像21および暗視野像23の少なくとも一方を生成する場合に、得られる画像の画質が低下することを抑制することが可能なX線画像の生成方法を提供することができる。 Further, in the present embodiment, as described above, in the method of generating an X-ray image, a lattice pattern is formed so as to diffract or shield the X-ray source 1 and the X-rays emitted from the X-ray source 1. An X-ray imaging apparatus including 1 grid 6 and a detector 2 for detecting first X-rays arriving through the first grid 6 and second X-rays arriving without passing through the first grid 6. In the X-ray image generation method used, a plurality of first images 30 generated based on the first X-rays acquired at a plurality of shooting positions are acquired while changing the relative position of the detector 2 with respect to the subject 90. A step of acquiring a plurality of second images 31 generated based on the second X-rays acquired in a plurality of shootings while changing the relative position of the detector 2 with respect to the subject 90, and a plurality of second images. A step of correcting each of the plurality of first images 30 based on 31 and a step of generating at least one of the phase contrast image 21 or the dark field image 23 based on the corrected plurality of first images 32 are provided. .. This makes it possible to suppress deterioration of the image quality of the obtained image when at least one of the phase contrast image 21 and the dark field image 23 is generated, similarly to the X-ray image capturing apparatus 100 in the above embodiment. It is possible to provide a method for generating an X-ray image.

[変形例]
今回開示された実施形態は、全ての点で例示であり制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内での全ての変更(変形例)が含まれる。
[Modification example]
The embodiments disclosed this time should be considered to be exemplary and not restrictive in all respects. The scope of the present invention is shown not by the description of the above embodiment but by the scope of claims, and further includes all modifications (modifications) within the meaning and scope equivalent to the scope of claims.

たとえば、上記実施形態では、相対位置移動部3が、被写体90を移動させることにより、被写体90に対する検出器2の相対位置を変更させた例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、相対位置移動部3は、X線源1と、複数の格子と、検出器2とを含む撮像系を、を移動させることにより、被写体90に対する検出器2の相対位置を変更してもよい。 For example, in the above embodiment, the relative position moving unit 3 has shown an example in which the relative position of the detector 2 with respect to the subject 90 is changed by moving the subject 90, but the present invention is not limited to this. In the present invention, the relative position moving unit 3 changes the relative position of the detector 2 with respect to the subject 90 by moving the image pickup system including the X-ray source 1, a plurality of grids, and the detector 2. You may.

また、上記実施形態では、複数の格子が、第1格子群および第2格子群の両方を含む構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、X線画像撮影装置100は、第1格子群および第2格子群のいずれか一方のみを含む構成であってもよい。 Further, in the above embodiment, an example of a configuration in which a plurality of lattices include both a first lattice group and a second lattice group is shown, but the present invention is not limited to this. For example, the X-ray imaging apparatus 100 may be configured to include only one of the first grid group and the second grid group.

また、上記実施形態では、線源格子8および線源格子11を備える例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、X線画像撮影装置100は、線源格子8および線源格子11を備えない構成としてもよい。その場合、線源格子8および線源格子11によるX線の微小焦点化ができないため、X線源1は、可干渉性の高いX線を照射することが可能な構成であることが好ましい。 Further, in the above embodiment, an example including the radiation source grid 8 and the radiation source grid 11 is shown, but the present invention is not limited to this. In the present invention, the X-ray imaging apparatus 100 may be configured not to include the radiation source grid 8 and the radiation source grid 11. In that case, since the X-rays cannot be micro-focused by the radiation source grid 8 and the radiation source grid 11, it is preferable that the X-ray source 1 has a configuration capable of irradiating X-rays having high coherence.

また、上記実施形態では、第1格子6および第3格子9として、X線を回折する格子を用いた例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、第1格子6および第3格子9として、X線を遮蔽する格子を用いてもよい。 Further, in the above embodiment, an example in which a grid for diffracting X-rays is used as the first grid 6 and the third grid 9, but the present invention is not limited to this. In the present invention, a grid that shields X-rays may be used as the first grid 6 and the third grid 9.

また、上記実施形態では、第1格子6(第3格子9)で回折されたX線を検出する手法として、第1格子6(第3格子9)で生じる自己像と干渉させるための第2格子7(第4格子10)を設ける手法を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、微細な画素を有する検出器を用いて自己像を直接検知する手法を用いてもよいし、格子状のシンチレータを有する検出器を用いて自己像と干渉させる手法を用いてもよい。 Further, in the above embodiment, as a method of detecting the X-rays diffracted by the first grid 6 (third grid 9), a second for interfering with the self-image generated by the first grid 6 (third grid 9). Although the method of providing the grid 7 (fourth grid 10) is shown, the present invention is not limited to this. In the present invention, a method of directly detecting a self-image using a detector having fine pixels may be used, or a method of interfering with the self-image using a detector having a grid-like scintillator may be used. ..

また、上記実施形態では、画像処理部4が、複数の第2画像31として、4枚の画像を取得する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、画像処理部4は、8枚の第2画像31を取得するように構成されていてもよい。画像処理部4が取得する複数の第2画像31の枚数は、4枚以上であれば、どのような枚数であってもよい。 Further, in the above embodiment, an example of the configuration in which the image processing unit 4 acquires four images as a plurality of second images 31 is shown, but the present invention is not limited to this. For example, the image processing unit 4 may be configured to acquire eight second images 31. The number of the plurality of second images 31 acquired by the image processing unit 4 may be any number as long as it is four or more.

また、上記実施形態では、画像処理部4が、第1輝度変化40に基づいて補正した複数の第1画像32に基づいて、位相コントラスト画像21を生成する構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、画像処理部4は、第1輝度変化40に基づいて補正した複数の第1画像32に基づいて、暗視野像を生成するように構成されていてもよい。 Further, in the above embodiment, an example of the configuration in which the image processing unit 4 generates the phase contrast image 21 based on the plurality of first images 32 corrected based on the first luminance change 40 is shown. Is not limited to this. For example, the image processing unit 4 may be configured to generate a dark field image based on a plurality of first images 32 corrected based on the first luminance change 40.

また、上記実施形態では、画像処理部4が、複数の第2画像31に対して、感度補正を行う構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、画像処理部4は、複数の第2画像31に対して感度補正を行わなくてもよい。しかしながら、複数の第2画像31に対して感度補正を行わない構成では、得られる位相コントラスト画像または暗視野像の画質が低下する場合があるので、画像処理部4は、複数の第2画像31に対して感度補正を行うように構成されることが好ましい。 Further, in the above embodiment, an example of a configuration in which the image processing unit 4 performs sensitivity correction on a plurality of second images 31 is shown, but the present invention is not limited to this. For example, the image processing unit 4 does not have to perform sensitivity correction on the plurality of second images 31. However, in a configuration in which the sensitivity correction is not performed on the plurality of second images 31, the image quality of the obtained phase contrast image or dark field image may deteriorate. Therefore, the image processing unit 4 may perform the plurality of second images 31. It is preferable that the sensitivity is corrected.

また、上記実施形態では、画像処理部4が、第1輝度変化40に対して、平滑化処理を行う構成の例を示したが、本発明はこれに限られない。たとえば、画像処理部4は、第1輝度変化40に対して平滑化処理を行わなくてもよい。しかしながら、画像処理部4が第1輝度変化40に対して平滑化処理を行わない場合、第1輝度変化40に含まれる高周波ノイズに起因して、得られる位相コントラスト画像または暗視野像の画質が低下する場合があるので、画像処理部4は、第1輝度変化40に対して平滑化処理を行うように構成されることが好ましい。 Further, in the above embodiment, an example of the configuration in which the image processing unit 4 performs smoothing processing on the first luminance change 40 is shown, but the present invention is not limited to this. For example, the image processing unit 4 does not have to perform smoothing processing on the first luminance change 40. However, when the image processing unit 4 does not perform the smoothing process on the first luminance change 40, the image quality of the obtained phase contrast image or dark field image is improved due to the high frequency noise included in the first luminance change 40. Since the image processing unit 4 may be lowered, it is preferable that the image processing unit 4 is configured to perform smoothing processing on the first luminance change 40.

[態様]
上記した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
[Aspect]
It will be understood by those skilled in the art that the above-mentioned exemplary embodiments are specific examples of the following embodiments.

(項目1)
X線源と、
前記X線源から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように第1格子パターンが形成された第1格子と、
前記第1格子を通過して到達した第1X線と、前記第1格子を通過せずに到達した第2X線と、を検出する検出器と、
被写体に対する前記検出器の相対位置を移動させる相対位置移動部と、
前記被写体に対する複数の前記相対位置で取得された前記第1X線に基づいて生成された複数の第1画像を、前記被写体に対する複数の前記相対位置で取得された前記第2X線に基づいて生成された複数の第2画像に基づいて補正するとともに、
補正後の前記複数の第1画像に基づいて位相コントラスト画像または暗視野像の少なくとも一方を生成する
画像処理部と、を備える、X線画像撮影装置。
(Item 1)
X-ray source and
A first grid in which a first grid pattern is formed so as to diffract X-rays emitted from the X-ray source or to shield a part of the irradiated X-rays.
A detector that detects the first X-ray that arrived through the first grid and the second X-ray that arrived without passing through the first grid.
A relative position moving unit that moves the relative position of the detector with respect to the subject,
A plurality of first images generated based on the first X-rays acquired at a plurality of the relative positions with respect to the subject are generated based on the second X-rays acquired at the plurality of the relative positions with respect to the subject. In addition to making corrections based on multiple second images
An X-ray imaging apparatus including an image processing unit that generates at least one of a phase contrast image or a dark field image based on the corrected first image.

(項目2)
前記第1X線が照射される領域と前記第2X線が照射される領域とは、X線の照射軸の方向と交差する所定の方向に並んで配置されており、
前記画像処理部は、
前記複数の第2画像に基づいて、前記複数の第2画像の面内において、前記所定の方向と直交する方向に生じるX線の第1輝度変化を取得するとともに、
取得した前記X線の第1輝度変化に基づいて、前記複数の第1画像の各々を補正するように構成されている、項目1に記載のX線画像撮影装置。
(Item 2)
The region irradiated with the first X-ray and the region irradiated with the second X-ray are arranged side by side in a predetermined direction intersecting the direction of the irradiation axis of the X-ray.
The image processing unit
Based on the plurality of second images, the first luminance change of X-rays occurring in a direction orthogonal to the predetermined direction in the plane of the plurality of second images is acquired, and at the same time.
The X-ray imaging apparatus according to item 1, which is configured to correct each of the plurality of first images based on the acquired first luminance change of the X-ray.

(項目3)
前記画像処理部は、前記複数の第1画像の面内において前記所定の方向と直交する方向に生じる輝度の変化を、前記第1輝度変化に基づいて、前記所定の方向に沿った方向に補正することにより、前記複数の第1画像の各々を補正するように構成されている、項目2に記載のX線画像撮影装置。
(Item 3)
The image processing unit corrects a change in brightness that occurs in a direction orthogonal to the predetermined direction in the plane of the plurality of first images in a direction along the predetermined direction based on the first brightness change. Item 2. The X-ray imaging apparatus according to item 2, which is configured to correct each of the plurality of first images.

(項目4)
前記画像処理部は、前記複数の第2画像において、前記被写体の相対移動に基づいて決定される所定の領域に基づいて、前記複数の第2画像の各々に生じる前記第1輝度変化を取得するように構成されている、項目2または3に記載のX線画像撮影装置。
(Item 4)
The image processing unit acquires the first luminance change that occurs in each of the plurality of second images based on a predetermined region determined based on the relative movement of the subject in the plurality of second images. The X-ray imaging apparatus according to item 2 or 3, which is configured as described above.

(項目5)
前記所定の領域は、前記複数の第2画像の各々において、前記被写体の同じ部分が写る領域であり、
前記画像処理部は、前記被写体の同じ部分が写る領域の画素値の平均値を取得するとともに、取得した前記平均値によって前記複数の第2画像の各々を除算することにより、前記複数の第2画像の各々に生じる前記第1輝度変化を取得するように構成されている、項目4に記載のX線画像撮影装置。
(Item 5)
The predetermined area is an area in which the same portion of the subject is captured in each of the plurality of second images.
The image processing unit acquires the average value of the pixel values of the region in which the same portion of the subject is captured, and divides each of the plurality of second images by the acquired average value to obtain the plurality of second images. The X-ray imaging apparatus according to item 4, which is configured to acquire the first luminance change that occurs in each of the images.

(項目6)
前記画像処理部は、前記複数の第2画像の各々に対して感度補正を行うとともに、感度補正を行った後の前記複数の第2画像に基づいて、前記第1輝度変化を取得するように構成されている、項目3~5のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。
(Item 6)
The image processing unit corrects the sensitivity of each of the plurality of second images, and acquires the first luminance change based on the plurality of second images after the sensitivity correction. The X-ray image capturing apparatus according to any one of items 3 to 5, which is configured.

(項目7)
前記画像処理部は、前記第1輝度変化に対して平滑化処理を行うように構成されている、項目3~6のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。
(Item 7)
The X-ray image capturing apparatus according to any one of items 3 to 6, wherein the image processing unit is configured to perform smoothing processing on the first luminance change.

(項目8)
前記画像処理部は、
被写体を配置していない状態において取得された前記第1X線に基づいて生成された複数の第3画像を、被写体を配置していない状態において取得された前記第2X線に基づいて生成された複数の第4画像に基づいて補正するとともに、
補正後の前記複数の第1画像と、補正後の前記複数の第3画像とに基づいて前記位相コントラスト画像または前記暗視野像の少なくとも一方を生成するように構成されている、項目1~6のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。
(Item 8)
The image processing unit
A plurality of third images generated based on the first X-rays acquired in a state where no subject is placed, and a plurality of images generated based on the second X-rays acquired in a state where no subject is placed. While making corrections based on the 4th image of
Items 1 to 6 configured to generate at least one of the phase contrast image or the dark field image based on the corrected first image and the corrected third image. The X-ray imaging apparatus according to any one of the above items.

(項目9)
前記第1X線が照射される領域と前記第2X線が照射される領域とは、所定の方向に並んで配置されており、
前記画像処理部は、前記複数の第1画像および前記複数の第2画像に基づいて、X線が前記第1格子を通過することによって生じるX線の第2輝度変化を取得するとともに、取得した前記第2輝度変化に基づいて、前記暗視野像の補正を行うように構成されている、項目1に記載のX線画像撮影装置。
(Item 9)
The region irradiated with the first X-ray and the region irradiated with the second X-ray are arranged side by side in a predetermined direction.
The image processing unit acquires and acquires the second luminance change of the X-ray caused by the X-ray passing through the first lattice based on the plurality of first images and the plurality of second images. The X-ray imaging apparatus according to item 1, which is configured to correct the dark field image based on the second luminance change.

(項目10)
前記画像処理部は、前記複数の第1画像に基づいて第1吸収像を生成し、前記複数の第2画像に基づいて第2吸収像を生成し、前記第1吸収像と前記第2吸収像とに基づいて前記第2輝度変化を取得するように構成されている、項目9に記載のX線画像撮影装置。
(Item 10)
The image processing unit generates a first absorption image based on the plurality of first images, generates a second absorption image based on the plurality of second images, and generates the first absorption image and the second absorption image. Item 9. The X-ray image photographing apparatus according to item 9, which is configured to acquire the second luminance change based on an image.

(項目11)
前記第1格子と前記検出器との間に配置され、前記第1格子の自己像と干渉させるための第2格子をさらに備える、項目1~10のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。
(Item 11)
Item 6. X-ray imaging according to any one of items 1 to 10, further comprising a second grid arranged between the first grid and the detector to interfere with the self-image of the first grid. Device.

(項目12)
前記X線源から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように第2格子パターンが形成され、前記第2格子パターンの方向が、前記第1格子パターンの方向と直交する方向となるように配置された第3格子と、
前記第3格子と前記検出器との間に配置され、前記第3格子の自己像と干渉させるための第4格子とをさらに備える、項目1~11のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。
(Item 12)
A second grid pattern is formed so as to diffract the X-rays emitted from the X-ray source or shield a part of the irradiated X-rays, and the direction of the second grid pattern is the direction of the first grid pattern. A third grid arranged so as to be orthogonal to the direction of
The X-ray image according to any one of items 1 to 11, further comprising a fourth grid arranged between the third grid and the detector to interfere with the self-image of the third grid. Shooting device.

(項目13)
X線源と、
前記X線源から照射されたX線を回折または遮蔽するように格子パターンが形成された格子と、
前記格子を通過して到達した第1X線と、前記格子を通過せずに到達した第2X線とを検出する検出器と、を備えるX線画像撮影装置を用いたX線画像の生成方法であって、
被写体に対する前記検出器の相対位置を変更しながら複数の撮影位置において取得された前記第1X線に基づいて生成された複数の第1画像を取得するステップと、
前記被写体に対する前記検出器の相対位置を変更しながら複数の撮影において取得された前記第2X線に基づいて生成された複数の第2画像を取得するステップと、
前記複数の第2画像に基づいて、前記複数の第1画像の各々を補正するステップと、
補正後の前記複数の第1画像に基づいて位相コントラスト画像または暗視野像の少なくとも一方を生成するステップとを備える、X線画像の生成方法。
(Item 13)
X-ray source and
A grid in which a grid pattern is formed so as to diffract or shield X-rays emitted from the X-ray source, and
A method for generating an X-ray image using an X-ray imaging apparatus including a detector for detecting a first X-ray that has passed through the grid and a second X-ray that has arrived without passing through the grid. There,
A step of acquiring a plurality of first images generated based on the first X-rays acquired at a plurality of shooting positions while changing the relative position of the detector with respect to the subject.
A step of acquiring a plurality of second images generated based on the second X-rays acquired in a plurality of shootings while changing the relative position of the detector with respect to the subject.
A step of correcting each of the plurality of first images based on the plurality of second images, and a step of correcting each of the plurality of first images.
A method for generating an X-ray image, comprising a step of generating at least one of a phase contrast image or a dark field image based on the corrected first image.

1 X線源
2 検出器
3 相対位置移動部
4 画像処理部
6 第1格子
7 第2格子
9 第3格子
10 第4格子
21 位相コントラスト画像
22 第1吸収像
24 第2吸収像
25 暗視野像
30、30a、30b、30c、30d 第1画像
31、31a、31b、31c、31d 第2画像
32 補正後の第1画像
33、33a、33b、33c、33d 第3画像
34、34a、34b、34c、34d 第4画像
35 補正後の第3画像
40 X線の第1輝度変化
42 被写体の同じ部分が写る領域
46 X線の第2輝度変化
76 第1X線が照射される領域
77 第2X線が照射される領域
90 被写体
100 X線画像撮影装置
1 X-ray source 2 Detector 3 Relative position moving part 4 Image processing part 6 1st grid 7 2nd grid 9 3rd grid 10 4th grid 21 Phase contrast image 22 1st absorption image 24 2nd absorption image 25 Dark field image 30, 30a, 30b, 30c, 30d First image 31, 31a, 31b, 31c, 31d Second image 32 Corrected first image 33, 33a, 33b, 33c, 33d Third image 34, 34a, 34b, 34c , 34d 4th image 35 3rd image after correction 40 1st brightness change of X-ray 42 Area where the same part of the subject is captured 46 2nd brightness change of X-ray 76 Area where 1st X-ray is irradiated 77 2nd X-ray Irradiated area 90 Subject 100 X-ray imaging device

Claims (13)

X線源と、
前記X線源から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように第1格子パターンが形成された第1格子と、
前記第1格子を通過して到達した第1X線と、前記第1格子を通過せずに到達した第2X線と、を検出する検出器と、
被写体に対する前記検出器の相対位置を移動させる相対位置移動部と、
前記被写体に対する複数の前記相対位置で取得された前記第1X線に基づいて生成された複数の第1画像を、前記被写体に対する複数の前記相対位置で取得された前記第2X線に基づいて生成された複数の第2画像に基づいて補正するとともに、
補正後の前記複数の第1画像に基づいて位相コントラスト画像または暗視野像の少なくとも一方を生成する
画像処理部と、を備える、X線画像撮影装置。
X-ray source and
A first grid in which a first grid pattern is formed so as to diffract X-rays emitted from the X-ray source or to shield a part of the irradiated X-rays.
A detector that detects the first X-ray that arrived through the first grid and the second X-ray that arrived without passing through the first grid.
A relative position moving unit that moves the relative position of the detector with respect to the subject,
A plurality of first images generated based on the first X-rays acquired at a plurality of the relative positions with respect to the subject are generated based on the second X-rays acquired at the plurality of the relative positions with respect to the subject. In addition to making corrections based on multiple second images
An X-ray imaging apparatus including an image processing unit that generates at least one of a phase contrast image or a dark field image based on the corrected first image.
前記第1X線が照射される領域と前記第2X線が照射される領域とは、X線の照射軸の方向と交差する所定の方向に並んで配置されており、
前記画像処理部は、
前記複数の第2画像に基づいて、前記複数の第2画像の面内において、前記所定の方向と直交する方向に生じるX線の第1輝度変化を取得するとともに、
取得した前記X線の第1輝度変化に基づいて、前記複数の第1画像の各々を補正するように構成されている、請求項1に記載のX線画像撮影装置。
The region irradiated with the first X-ray and the region irradiated with the second X-ray are arranged side by side in a predetermined direction intersecting the direction of the irradiation axis of the X-ray.
The image processing unit
Based on the plurality of second images, the first luminance change of X-rays occurring in a direction orthogonal to the predetermined direction in the plane of the plurality of second images is acquired, and at the same time.
The X-ray imaging apparatus according to claim 1, wherein each of the plurality of first images is corrected based on the acquired first luminance change of the X-ray.
前記画像処理部は、前記複数の第1画像の面内において前記所定の方向と直交する方向に生じる輝度の変化を、前記第1輝度変化に基づいて、前記所定の方向に沿った方向に補正することにより、前記複数の第1画像の各々を補正するように構成されている、請求項2に記載のX線画像撮影装置。 The image processing unit corrects a change in brightness that occurs in a direction orthogonal to the predetermined direction in the plane of the plurality of first images in a direction along the predetermined direction based on the first brightness change. The X-ray imaging apparatus according to claim 2, which is configured to correct each of the plurality of first images. 前記画像処理部は、前記複数の第2画像において、前記被写体の相対移動に基づいて決定される所定の領域に基づいて、前記複数の第2画像の各々に生じる前記第1輝度変化を取得するように構成されている、請求項2または3に記載のX線画像撮影装置。 The image processing unit acquires the first luminance change that occurs in each of the plurality of second images based on a predetermined region determined based on the relative movement of the subject in the plurality of second images. The X-ray imaging apparatus according to claim 2 or 3, which is configured as described above. 前記所定の領域は、前記複数の第2画像の各々において、前記被写体の同じ部分が写る領域であり、
前記画像処理部は、前記被写体の同じ部分が写る領域の画素値の平均値を取得するとともに、取得した前記平均値によって前記複数の第2画像の各々を除算することにより、前記複数の第2画像の各々に生じる前記第1輝度変化を取得するように構成されている、請求項4に記載のX線画像撮影装置。
The predetermined area is an area in which the same portion of the subject is captured in each of the plurality of second images.
The image processing unit acquires the average value of the pixel values of the region in which the same portion of the subject is captured, and divides each of the plurality of second images by the acquired average value to obtain the plurality of second images. The X-ray imaging apparatus according to claim 4, which is configured to acquire the first luminance change that occurs in each of the images.
前記画像処理部は、前記複数の第2画像の各々に対して感度補正を行うとともに、感度補正を行った後の前記複数の第2画像に基づいて、前記第1輝度変化を取得するように構成されている、請求項3~5のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。 The image processing unit corrects the sensitivity of each of the plurality of second images, and acquires the first luminance change based on the plurality of second images after the sensitivity correction. The X-ray imaging apparatus according to any one of claims 3 to 5, which is configured. 前記画像処理部は、前記第1輝度変化に対して平滑化処理を行うように構成されている、請求項3~6のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。 The X-ray image photographing apparatus according to any one of claims 3 to 6, wherein the image processing unit is configured to perform smoothing processing on the first luminance change. 前記画像処理部は、
被写体を配置していない状態において取得された前記第1X線に基づいて生成された複数の第3画像を、被写体を配置していない状態において取得された前記第2X線に基づいて生成された複数の第4画像に基づいて補正するとともに、
補正後の前記複数の第1画像と、補正後の前記複数の第3画像とに基づいて前記位相コントラスト画像または前記暗視野像の少なくとも一方を生成するように構成されている、請求項1~6のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。
The image processing unit
A plurality of third images generated based on the first X-rays acquired in a state where no subject is placed, and a plurality of images generated based on the second X-rays acquired in a state where no subject is placed. While making corrections based on the 4th image of
Claims 1 to 1, wherein at least one of the phase contrast image and the dark field image is generated based on the corrected first image and the corrected third image. 6. The X-ray imaging apparatus according to any one of 6.
前記第1X線が照射される領域と前記第2X線が照射される領域とは、所定の方向に並んで配置されており、
前記画像処理部は、前記複数の第1画像および前記複数の第2画像に基づいて、X線が前記第1格子を通過することによって生じるX線の第2輝度変化を取得するとともに、取得した前記第2輝度変化に基づいて、前記暗視野像の補正を行うように構成されている、請求項1に記載のX線画像撮影装置。
The region irradiated with the first X-ray and the region irradiated with the second X-ray are arranged side by side in a predetermined direction.
The image processing unit acquires and acquires the second luminance change of the X-ray caused by the X-ray passing through the first lattice based on the plurality of first images and the plurality of second images. The X-ray imaging apparatus according to claim 1, which is configured to correct the dark field image based on the second luminance change.
前記画像処理部は、前記複数の第1画像に基づいて第1吸収像を生成し、前記複数の第2画像に基づいて第2吸収像を生成し、前記第1吸収像と前記第2吸収像とに基づいて前記第2輝度変化を取得するように構成されている、請求項9に記載のX線画像撮影装置。 The image processing unit generates a first absorption image based on the plurality of first images, generates a second absorption image based on the plurality of second images, and generates the first absorption image and the second absorption image. The X-ray imaging apparatus according to claim 9, which is configured to acquire the second luminance change based on an image. 前記第1格子と前記検出器との間に配置され、前記第1格子の自己像と干渉させるための第2格子をさらに備える、請求項1~10のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。 The X-ray image according to any one of claims 1 to 10, further comprising a second grid arranged between the first grid and the detector to interfere with the self-image of the first grid. Shooting device. 前記X線源から照射されたX線を回折、または、照射されたX線の一部を遮蔽するように第2格子パターンが形成され、前記第2格子パターンの方向が、前記第1格子パターンの方向と直交する方向となるように配置された第3格子と、
前記第3格子と前記検出器との間に配置され、前記第3格子の自己像と干渉させるための第4格子とをさらに備える、請求項1~11のいずれか1項に記載のX線画像撮影装置。
A second grid pattern is formed so as to diffract the X-rays emitted from the X-ray source or shield a part of the irradiated X-rays, and the direction of the second grid pattern is the direction of the first grid pattern. A third grid arranged so as to be orthogonal to the direction of
The X-ray according to any one of claims 1 to 11, further comprising a fourth grid, which is arranged between the third grid and the detector and for interfering with the self-image of the third grid. Imaging device.
X線源と、
前記X線源から照射されたX線を回折または遮蔽するように格子パターンが形成された格子と、
前記格子を通過して到達した第1X線と、前記格子を通過せずに到達した第2X線とを検出する検出器と、を備えるX線画像撮影装置を用いたX線画像の生成方法であって、
被写体に対する前記検出器の相対位置を変更しながら複数の撮影位置において取得された前記第1X線に基づいて生成された複数の第1画像を取得するステップと、
前記被写体に対する前記検出器の相対位置を変更しながら複数の撮影において取得された前記第2X線に基づいて生成された複数の第2画像を取得するステップと、
前記複数の第2画像に基づいて、前記複数の第1画像の各々を補正するステップと、
補正後の前記複数の第1画像に基づいて位相コントラスト画像または暗視野像の少なくとも一方を生成するステップとを備える、X線画像の生成方法。
X-ray source and
A grid in which a grid pattern is formed so as to diffract or shield X-rays emitted from the X-ray source, and
A method for generating an X-ray image using an X-ray imaging apparatus including a detector for detecting a first X-ray that has passed through the grid and a second X-ray that has arrived without passing through the grid. There,
A step of acquiring a plurality of first images generated based on the first X-rays acquired at a plurality of shooting positions while changing the relative position of the detector with respect to the subject.
A step of acquiring a plurality of second images generated based on the second X-rays acquired in a plurality of shootings while changing the relative position of the detector with respect to the subject.
A step of correcting each of the plurality of first images based on the plurality of second images, and a step of correcting each of the plurality of first images.
A method for generating an X-ray image, comprising a step of generating at least one of a phase contrast image or a dark field image based on the corrected first image.
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