JP2022003493A - 解析装置、解析方法及びコンピュータプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (10)
- 施設で計測された複数項目の時系列の計測値をプロセスデータとして取得する第1取得部と、
前記施設に行われた操作の内容をイベントデータとして取得する第2取得部と、
前記プロセスデータにおける前記複数項目の計測値で表される状態を前記状態同士の類似度に基づいて、状態カテゴリに分類する分類部と、
前記プロセスデータと前記イベントデータとに基づき、操作によって状態カテゴリがどう遷移するかを解析する解析部と、
を備える解析装置。 - 前記分類部は、前記状態同士の類似度に基づいて、少なくとも1つ状態が属する複数のグループを前記状態カテゴリとして作成する、
請求項1に記載の解析装置。 - 前記分類部は、前記プロセスデータの前記状態をクラスタ分析することにより前記状態カテゴリを作成する、
請求項2に記載の解析装置。 - 前記解析部による解析結果において、操作前の状態カテゴリと行った操作とにより操作後の状態カテゴリが一意に定まるかどうかを評価する評価部を更に有し、
前記分類部は、前記評価部による評価結果において、操作前の状態カテゴリと行った操作とにより操作後の状態カテゴリが一意に定まると評価されるように、前記クラスタ分析のパラメータを探索する、
請求項3に記載の解析装置。 - さらに、前記解析装置は、前記解析部の算出結果を出力する出力部を備える
請求項1に記載の解析装置。 - 前記解析部は、前記分類部の分類結果をノードとし、前記イベントデータをリンクとする状態遷移図を生成し、
前記出力部は、前記状態遷移図を表示装置に表示させる
請求項5に記載の解析装置。 - 前記解析部は、複数の前記ノードが前記リンクによって分岐せずに一連に繋がる前記状態遷移図を生成する
請求項6に記載の解析装置。 - 前記分類部は、適応共鳴理論を用いる
請求項1に記載の解析装置。 - 施設で計測された複数項目の時系列の計測値をプロセスデータとして取得し、
前記施設に行われた操作の内容をイベントデータとして取得し、
前記プロセスデータにおける前記複数項目の計測値で表される状態を前記状態同士の類似度に基づいて、状態カテゴリに分類し、
前記プロセスデータと前記イベントデータとに基づき、操作によって状態カテゴリがどう遷移するかを解析する
解析方法。 - コンピュータをイベント解析装置として機能させるためのコンピュータプログラムであって、
前記コンピュータ上に
施設で計測された複数項目の時系列の計測値をプロセスデータとして取得する第1取得部と、
前記施設に行われた操作の内容をイベントデータとして取得する第2取得部と、
前記プロセスデータにおける前記複数項目の計測値で表される状態を前記状態同士の類似度に基づいて、状態カテゴリに分類する分類部と、
前記プロセスデータと前記イベントデータとに基づき、操作によって状態カテゴリがどう遷移するかを解析する解析部と、
をそれぞれ実現させるためのコンピュータプログラム。
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WO2018163488A1 (ja) * | 2017-03-08 | 2018-09-13 | 株式会社日立製作所 | プラントデータ分類装置、プラントデータ表示処理装置及びプラント制御システム |
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