JP2021179379A - Shape measurement device and control method therefor - Google Patents

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光 増田
Hikari Masuda
秀樹 森井
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Abstract

To provide a shape measurement device capable of storing measurement environment information for discriminating the cause of an abnormality occurrence of shape measurement at low cost during measuring the shape of a measurement object, and its control method.SOLUTION: A shape measurement device 10 for performing shape measurement of a measurement object by using a contact piece 34 brought into contact with the measurement object W includes a measurement environment information acquisition part 38 for repeatedly performing the acquisition of measurement environment information showing a measurement environment of shape measurement and temporary storage of the measurement environment information in a primary storage part while the shape measurement is performed, an abnormality determination part for determining the existence/nonexistence of abnormality of the shape measurement while the shape measurement is performed, and a first storage control part for storing the measurement environment information stored in the primary storage part in a secondary storage part each time the abnormality determination part determines that there is abnormality.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、接触子を用いて測定対象物の形状測定を行う形状測定機及びその制御方法に関する。 The present invention relates to a shape measuring machine that measures the shape of an object to be measured using a contactor and a control method thereof.

ワーク(被測定物)の表面の輪郭形状及び表面粗さ等の表面形状を測定する表面形状測定機(形状測定機)が知られている。このような表面形状測定機では、接触子をワーク表面に接触させた状態で接触子とワークとを水平方向に相対移動させることで、接触子でワーク表面をトレースしながら接触子の揺動による変位を変位検出器により検出し、この変位検出器から出力される変位検出信号に基づきワーク表面の表面形状を測定する(特許文献1参照)。 A surface shape measuring machine (shape measuring machine) for measuring a surface shape such as a contour shape and surface roughness of the surface of a work (object to be measured) is known. In such a surface shape measuring machine, the contact and the work are relatively moved in the horizontal direction while the contact is in contact with the surface of the work, and the contact is swung while tracing the surface of the work with the contact. Displacement is detected by a displacement detector, and the surface shape of the work surface is measured based on the displacement detection signal output from the displacement detector (see Patent Document 1).

特開2017−161548号公報JP-A-2017-161548

ところで、表面形状測定機を用いてワークの表面形状を測定する場合に、変位検出器から出力される変位検出信号の波形内に異常な波形が発生することがある。このような異常な波形が発生した場合に、この異常な波形がワーク表面の実形状に起因するのか、或いは外的な環境要因(ワーク表面に付着した埃、振動、環境温度変化等)に起因するのかを判別することは困難である。 By the way, when the surface shape of a work is measured by using a surface shape measuring machine, an abnormal waveform may be generated in the waveform of the displacement detection signal output from the displacement detector. When such an abnormal waveform occurs, is this abnormal waveform caused by the actual shape of the work surface, or due to external environmental factors (dust, vibration, environmental temperature change, etc. attached to the work surface)? It is difficult to determine whether to do so.

そこで、例えば、表面形状測定の測定環境の測定を行うセンサ類(カメラ、振動計、温度計等)を表面形状測定機に設け、表面形状測定機によるワーク表面形状の測定と並行して測定環境を示す測定環境情報の取得を連続的に行うことが考えられる。しかしながら、この場合には、測定環境情報のデータ量が膨大になるので測定環境情報を記憶するために大容量のストレージを用意する必要が生じ、コストが増加するという問題が発生する。特に測定環境情報にカメラによる撮影画像が含まれている場合には、全ての測定環境情報を記憶(保存)することはコストの観点から現実的ではない。 Therefore, for example, sensors (cameras, vibration meters, thermometers, etc.) that measure the measurement environment for surface shape measurement are provided in the surface shape measuring machine, and the measurement environment is measured in parallel with the measurement of the work surface shape by the surface shape measuring machine. It is conceivable to continuously acquire the measurement environment information indicating. However, in this case, since the amount of data of the measurement environment information becomes enormous, it becomes necessary to prepare a large-capacity storage for storing the measurement environment information, which causes a problem that the cost increases. In particular, when the measurement environment information includes an image taken by a camera, it is not realistic to store (save) all the measurement environment information from the viewpoint of cost.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、測定対象物の形状測定時において形状測定の異常発生の原因を判別するための測定環境情報を低コストに記憶可能な形状測定機及びその制御方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and is a shape measuring machine that can store measurement environment information for determining the cause of an abnormality in shape measurement at low cost when measuring the shape of an object to be measured. The purpose is to provide the control method.

本発明の目的を達成するための形状測定機は、測定対象物に接触する接触子を用いて測定対象物の形状測定を行う形状測定機において、形状測定が行われている間、形状測定の測定環境を示す測定環境情報の取得と、測定環境情報の一次記憶部への一時的な記憶と、を繰り返し行う測定環境情報取得部と、形状測定が行われている間、形状測定の異常の有無を判定する異常判定部と、異常判定部が異常有と判定するごとに、一次記憶部に記憶されている測定環境情報を二次記憶部に記憶させる第1記憶制御部と、を備える。 The shape measuring machine for achieving the object of the present invention is a shape measuring machine that measures the shape of an object to be measured by using a contactor that comes into contact with the object to be measured. The measurement environment information acquisition unit that repeatedly acquires the measurement environment information indicating the measurement environment and temporarily stores the measurement environment information in the primary storage unit, and the shape measurement abnormality during the shape measurement. It includes an abnormality determination unit for determining the presence / absence, and a first storage control unit for storing measurement environment information stored in the primary storage unit in the secondary storage unit each time the abnormality determination unit determines that there is an abnormality.

この形状測定機によれば、形状測定に異常が発生した場合にのみ測定環境情報を二次記憶部に記憶させることができるので、形状測定中の全ての測定環境情報を記憶させておく必要がなくなる。 According to this shape measuring machine, the measurement environment information can be stored in the secondary storage unit only when an abnormality occurs in the shape measurement, so it is necessary to store all the measurement environment information during the shape measurement. It disappears.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、測定環境情報取得部が、測定環境情報をリングバッファ形式で一次記憶部に記憶させる。これにより、形状測定時に常に最新の一定時間の測定環境情報を一時的に一次記憶部に記憶させることができる。 In the shape measuring machine according to another aspect of the present invention, the measurement environment information acquisition unit stores the measurement environment information in the primary storage unit in a ring buffer format. As a result, the latest measurement environment information for a certain period of time can be temporarily stored in the primary storage unit at the time of shape measurement.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、測定環境情報取得部が、測定環境情報として、接触子の撮影画像と、環境温度と、形状測定機の振動情報と、の少なくともいずれか1つを取得する。これにより、形状測定の異常の原因を確認することができる。 In the shape measuring machine according to another aspect of the present invention, the measurement environment information acquisition unit has at least one of a photographed image of the contactor, an environmental temperature, and vibration information of the shape measuring machine as the measurement environment information. To get. This makes it possible to confirm the cause of the abnormality in the shape measurement.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、接触子の変位を検出する変位検出器と、測定対象物に対して変位検出器を相対移動させて測定対象物の被測定面を接触子によりトレースさせる相対移動機構と、測定対象物に対する変位検出器の相対位置を検出する位置検出センサと、相対移動機構による相対移動が行われている間、位置検出センサの検出結果と変位検出器の検出結果とに基づき、相対位置ごとの接触子の変位を示す変位検出信号を出力する信号出力部と、を備え、異常判定部が、信号出力部から出力される変位検出信号に基づき、形状測定の異常の有無を判定する。これにより、形状測定に異常が発生した場合にのみ測定環境情報を二次記憶部に記憶させることができる。 In the shape measuring machine according to another aspect of the present invention, the displacement detector for detecting the displacement of the contact and the displacement detector are relatively moved with respect to the object to be measured so that the surface to be measured of the object to be measured is moved by the contact. The relative movement mechanism to be traced, the position detection sensor that detects the relative position of the displacement detector with respect to the object to be measured, and the detection result of the position detection sensor and the detection of the displacement detector while the relative movement is performed by the relative movement mechanism. Based on the result, a signal output unit that outputs a displacement detection signal indicating the displacement of the contactor for each relative position is provided, and the abnormality determination unit measures the shape based on the displacement detection signal output from the signal output unit. Determine if there is an abnormality. As a result, the measurement environment information can be stored in the secondary storage unit only when an abnormality occurs in the shape measurement.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、信号出力部から出力される変位検出信号に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタを備え、異常判定部が、ローパスフィルタ処理が施されていない変位検出信号に基づき、形状測定の異常の有無を判定する。これにより、形状測定の測定結果から外的な環境要因に起因する偽形状をより高精度に排除することができるので、測定結果の信頼性及び精度をより高めることができる。 The shape measuring machine according to another aspect of the present invention includes a low-pass filter that performs low-pass filter processing on the displacement detection signal output from the signal output unit, and the abnormality determination unit is not subjected to low-pass filter processing. Based on the detection signal, it is determined whether or not there is an abnormality in the shape measurement. As a result, the false shape caused by an external environmental factor can be excluded from the measurement result of the shape measurement with higher accuracy, so that the reliability and accuracy of the measurement result can be further improved.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、第1記憶制御部が、変位検出信号の信号波形の中で異常判定部が異常有と判定した異常波形領域に対応する変位検出器の相対位置を示す検出器位置情報と、異常波形領域に対応する測定環境情報と、を関連付けて二次記憶部に記憶させる。これにより、異常波形領域の発生原因を容易に確認(検索)することができる。 In the shape measuring machine according to another aspect of the present invention, the relative position of the displacement detector corresponding to the abnormal waveform region determined by the abnormality determination unit in the signal waveform of the displacement detection signal by the first storage control unit. The detector position information indicating the above and the measurement environment information corresponding to the abnormal waveform region are associated and stored in the secondary storage unit. This makes it possible to easily confirm (search) the cause of the occurrence of the abnormal waveform region.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、二次記憶部に記憶されている検出器位置情報に基づき、相対移動機構を駆動して、異常波形領域に対応する被測定面の測定領域を接触子によりトレースする再測定を実行する再測定制御部を備える。測定領域に限定して再測定を行うことで、被測定面の再測定に要する追加時間を最小にすることができる。 In the shape measuring machine according to another aspect of the present invention, the relative movement mechanism is driven based on the detector position information stored in the secondary storage unit to obtain the measurement area of the measured surface corresponding to the abnormal waveform area. It is provided with a remeasurement control unit that executes remeasurement traced by a contactor. By performing the remeasurement only in the measurement area, the additional time required for the remeasurement of the surface to be measured can be minimized.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、再測定制御部が、再測定の間、測定環境情報取得部と異常判定部と第1記憶制御部とを作動させる。これにより、測定領域の再測定においても形状測定の異常が発生した場合には、測定環境情報を確認することで異常の発生原因を特定することができる。 In the shape measuring machine according to another aspect of the present invention, the remeasurement control unit operates the measurement environment information acquisition unit, the abnormality determination unit, and the first storage control unit during the remeasurement. As a result, if an abnormality occurs in the shape measurement even in the remeasurement of the measurement area, the cause of the abnormality can be identified by checking the measurement environment information.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、初回の形状測定において相対移動機構による相対移動が行われている間、信号出力部から出力される変位検出信号を取得して二次記憶部に記憶させる第2記憶制御部を備え、再測定において信号出力部から出力された変位検出信号である再検出信号に基づき、二次記憶部に記憶されている変位検出信号の信号波形内の異常波形領域を、再検出信号の波形に置換する置換制御部と、を備える。これにより、より正確な表面の形状測定の結果が得られる。 In the shape measuring machine according to another aspect of the present invention, the displacement detection signal output from the signal output unit is acquired and stored in the secondary storage unit while the relative movement is performed by the relative movement mechanism in the initial shape measurement. It is equipped with a second storage control unit to be stored, and an abnormal waveform in the signal waveform of the displacement detection signal stored in the secondary storage unit based on the re-detection signal which is the displacement detection signal output from the signal output unit in the remeasurement. A replacement control unit that replaces the region with the waveform of the rediscovery signal is provided. As a result, more accurate surface shape measurement results can be obtained.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、異常判定部が、測定環境情報取得部により繰り返し取得される測定環境情報に基づき、形状測定の異常の有無を判定する。これにより、形状測定に異常が発生した場合にのみ測定環境情報を二次記憶部に記憶させることができる。 In the shape measuring machine according to another aspect of the present invention, the abnormality determination unit determines whether or not there is an abnormality in the shape measurement based on the measurement environment information repeatedly acquired by the measurement environment information acquisition unit. As a result, the measurement environment information can be stored in the secondary storage unit only when an abnormality occurs in the shape measurement.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、第1記憶制御部が、異常判定部により異常有との判定がなされるごとに、予め定めた遅延時間が経過してから一次記憶部に記憶されている測定環境情報を二次記憶部へ出力する。これにより、形状測定の異常の発生原因の判別が容易になる。 In the shape measuring machine according to another aspect of the present invention, each time the abnormality determination unit determines that an abnormality exists, the first storage control unit stores it in the primary storage unit after a predetermined delay time elapses. The measured measurement environment information is output to the secondary storage unit. This makes it easy to determine the cause of the abnormality in the shape measurement.

本発明の他の態様に係る形状測定機において、異常判定部が異常有と判定した場合に、一次記憶部に記憶されている測定環境情報又は警告情報を報知する報知部を備える。これにより、形状測定の異常の発生をオペレータに報知することができる。 The shape measuring machine according to another aspect of the present invention includes a notification unit that notifies measurement environment information or warning information stored in the primary storage unit when the abnormality determination unit determines that there is an abnormality. This makes it possible to notify the operator of the occurrence of an abnormality in shape measurement.

本発明の目的を達成するための形状測定機の制御方法は、測定対象物に接触する接触子を用いて測定対象物の形状測定を行う形状測定機の制御方法において、形状測定が行われている間、形状測定の測定環境を示す測定環境情報の取得と、測定環境情報の一次記憶部への一時的な記憶と、を繰り返し行う測定環境情報取得ステップと、形状測定が行われている間、形状測定の異常の有無を判定する異常判定ステップと、異常判定ステップで形状測定の異常有と判定するごとに、一次記憶部に記憶されている測定環境情報を二次記憶部に記憶させる記憶制御ステップと、を有する。 The control method of the shape measuring machine for achieving the object of the present invention is the control method of the shape measuring machine that measures the shape of the object to be measured by using a contactor that comes into contact with the object to be measured. During the measurement environment information acquisition step of repeatedly acquiring the measurement environment information indicating the measurement environment of the shape measurement and temporarily storing the measurement environment information in the primary storage unit, and while the shape measurement is being performed. , A storage that stores the measurement environment information stored in the primary storage unit in the secondary storage unit each time the abnormality determination step for determining the presence or absence of an abnormality in the shape measurement and the abnormality determination step for determining the presence or absence of an abnormality in the shape measurement. It has a control step and.

本発明は、測定対象物の形状測定時において形状測定の異常発生の原因を判別するための測定環境情報を低コストに記憶することができる。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can store measurement environment information for determining the cause of an abnormality in shape measurement at low cost when measuring the shape of an object to be measured.

第1実施形態の表面形状測定機の概略図である。It is a schematic diagram of the surface shape measuring machine of 1st Embodiment. 第1実施形態の制御装置の構成を示したブロック図である。It is a block diagram which showed the structure of the control device of 1st Embodiment. 異常判定部による判定方法の第1例を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating 1st example of the determination method by an abnormality determination part. 異常判定部による判定方法の第2例を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the 2nd example of the determination method by an abnormality determination part. 異常判定部による判定方法の第3例を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the 3rd example of the determination method by an abnormality determination part. リングバッファメモリの説明図である。It is explanatory drawing of the ring buffer memory. 記データストレージに記憶される保存データの概略図である。Note It is a schematic diagram of the stored data stored in the data storage. 表面形状測定機によるワークの表面の形状測定処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the shape measurement process of the surface of a work by a surface shape measuring machine. 第2実施形態の表面形状測定機の制御装置の構成を示したブロック図である。It is a block diagram which showed the structure of the control device of the surface shape measuring machine of 2nd Embodiment. 第2実施形態の異常判定部の判定方法を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the determination method of the abnormality determination part of 2nd Embodiment. 第3実施形態の制御装置の構成を示したブロック図である。It is a block diagram which showed the structure of the control device of 3rd Embodiment. 遅延部の機能を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the function of a delay part. 第4実施形態の表面形状測定機の概略図である。It is a schematic diagram of the surface shape measuring machine of 4th Embodiment. モニタによる報知画面の表示の一例を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating an example of the display of the notification screen by a monitor. モニタによる警告情報の表示の一例を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating an example of display of warning information by a monitor. 第5実施形態の表面形状測定機の概略図である。It is a schematic diagram of the surface shape measuring machine of 5th Embodiment. 表面の測定領域の形状の再測定を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the remeasurement of the shape of the measurement area of a surface. 第6実施形態の表面形状測定機の概略図である。It is a schematic diagram of the surface shape measuring machine of 6th Embodiment. 第6実施形態の異常判定部の判定方法を説明するための説明図である。It is explanatory drawing for demonstrating the determination method of the abnormality determination part of 6th Embodiment.

[第1実施形態]
図1は、本発明の形状測定機に相当する第1実施形態の表面形状測定機10の概略図である。図1に示すように、表面形状測定機10は、ワークWの表面Waの形状測定、具体的には輪郭形状又は表面粗さ等を測定する。ここで、ワークWは本発明の測定対象物に相当し、表面Waは本発明の被測定面に相当する。また、図中のXYZ方向は互いに直交し、さらに本実施形態ではXY方向を含むXY平面は水平方向に平行な面であり且つZ方向は水平方向に対して垂直な上下方向である。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a schematic view of the surface shape measuring machine 10 of the first embodiment corresponding to the shape measuring machine of the present invention. As shown in FIG. 1, the surface shape measuring machine 10 measures the shape of the surface Wa of the work W, specifically, the contour shape or the surface roughness. Here, the work W corresponds to the object to be measured of the present invention, and the surface Wa corresponds to the surface to be measured of the present invention. Further, the XYZ directions in the figure are orthogonal to each other, and in the present embodiment, the XY plane including the XY direction is a plane parallel to the horizontal direction, and the Z direction is a vertical direction perpendicular to the horizontal direction.

表面形状測定機10は、平板状の測定台12と、コラム14と、検出器移動機構16と、位置検出センサ18と、変位検出器20と、カメラ22と、温度計24と、振動計26と、制御装置28と、を備える。 The surface shape measuring machine 10 includes a flat plate-shaped measuring table 12, a column 14, a detector moving mechanism 16, a position detection sensor 18, a displacement detector 20, a camera 22, a thermometer 24, and a vibration meter 26. And a control device 28.

測定台12のXY平面に平行な上面にはワークWがセットされる。また、測定台12の上面にはZ方向に延びたコラム14が設けられている。このコラム14には、検出器移動機構16がZ方向に移動自在に取り付けられている。 The work W is set on the upper surface of the measuring table 12 parallel to the XY plane. Further, a column 14 extending in the Z direction is provided on the upper surface of the measuring table 12. A detector moving mechanism 16 is attached to the column 14 so as to be movable in the Z direction.

検出器移動機構16は、本発明の相対移動機構に相当するものであり、ホルダ17をX方向に移動自在に保持する公知のアクチュエータである。この検出器移動機構16を駆動することで、ワークWに対して変位検出器20(接触子34)をX方向に相対移動させることができる。また、検出器移動機構16には位置検出センサ18が設けられている。 The detector moving mechanism 16 corresponds to the relative moving mechanism of the present invention, and is a known actuator that holds the holder 17 so as to be movable in the X direction. By driving the detector moving mechanism 16, the displacement detector 20 (contactor 34) can be relatively moved in the X direction with respect to the work W. Further, the detector moving mechanism 16 is provided with a position detection sensor 18.

位置検出センサ18は、例えばX方向(左右方向)に延びたリニアスケール18aと、このリニアスケール18aを光学的又は磁気的等の各種方法で読み取る読取ヘッド18bとを有する。位置検出センサ18は、検出器移動機構16によりX方向に移動されるホルダ17のX方向の変位(変位方向及び変位量)を検出することで、後述の変位検出器20のX方向の位置、すなわちワークWに対する変位検出器20のX方向の相対位置を検出する。そして、位置検出センサ18よる変位検出器20の位置検出結果D1は、位置検出センサ18から制御装置28へ出力される。なお、位置検出センサ18として、スケール型検出器以外の公知の検出器を用いてもよい。 The position detection sensor 18 has, for example, a linear scale 18a extending in the X direction (left-right direction) and a reading head 18b that reads the linear scale 18a by various methods such as optical or magnetic. The position detection sensor 18 detects the displacement (displacement direction and displacement amount) of the holder 17 moved in the X direction by the detector moving mechanism 16 in the X direction, thereby detecting the position of the displacement detector 20 in the X direction, which will be described later. That is, the relative position of the displacement detector 20 with respect to the work W in the X direction is detected. Then, the position detection result D1 of the displacement detector 20 by the position detection sensor 18 is output from the position detection sensor 18 to the control device 28. As the position detection sensor 18, a known detector other than the scale type detector may be used.

ホルダ17には、変位検出器20及びカメラ22が設けられている。これにより、変位検出器20は、ホルダ17を介して検出器移動機構16によりX方向に移動自在に保持される。また、変位検出器20は、ホルダ17及び検出器移動機構16を介して、コラム14によりZ方向に位置調整自在に保持される。 The holder 17 is provided with a displacement detector 20 and a camera 22. As a result, the displacement detector 20 is movably held in the X direction by the detector moving mechanism 16 via the holder 17. Further, the displacement detector 20 is held by the column 14 so as to be adjustable in position in the Z direction via the holder 17 and the detector moving mechanism 16.

変位検出器20は、揺動支点30と、アーム32と、接触子34と、変位検出センサ36と、を備える。 The displacement detector 20 includes a swing fulcrum 30, an arm 32, a contactor 34, and a displacement detection sensor 36.

揺動支点30は、Y方向に平行な回転軸(揺動軸)を中心としてアーム32を揺動自在に支持する。 The swing fulcrum 30 swingably supports the arm 32 about a rotation shaft (swing shaft) parallel to the Y direction.

アーム32は、揺動支点30に揺動自在に支持されており、X方向の一方向側(コラム14とは反対側)に延びたアーム先端部32aと、X方向の他方向側に延びたアーム基端部32bと、を備える。 The arm 32 is swingably supported by the swing fulcrum 30, and extends in one direction side in the X direction (the side opposite to the column 14) and the arm tip portion 32a extending in the other direction side in the X direction. The arm base end portion 32b is provided.

アーム先端部32aの先端側には、接触子34(触針又は測定子ともいう)が設けられている。接触子34は表面Waに接触する。接触子34は、アーム32が揺動支点30を中心として揺動することでZ方向に変位する。また、接触子34は、検出器移動機構16により変位検出器20がX方向に移動されることで、表面WaをX方向に沿ってトレース(走査)する。 A contactor 34 (also referred to as a stylus or a stylus) is provided on the tip end side of the arm tip portion 32a. The contactor 34 comes into contact with the surface Wa. The contactor 34 is displaced in the Z direction by the arm 32 swinging around the swing fulcrum 30. Further, the contactor 34 traces (scans) the surface Wa along the X direction by moving the displacement detector 20 in the X direction by the detector moving mechanism 16.

アーム基端部32bは、不図示の付勢部材によりZ方向上方側に付勢される。これにより、アーム先端部32a及び接触子34は、揺動支点30を中心として、Z方向下方側に付勢される。これにより、接触子34が表面Waに接触した状態が維持される。 The arm base end portion 32b is urged upward in the Z direction by an urging member (not shown). As a result, the arm tip portion 32a and the contactor 34 are urged downward in the Z direction with the swing fulcrum 30 as the center. As a result, the state in which the contactor 34 is in contact with the surface Wa is maintained.

変位検出センサ36は、例えば線形可変差動変圧器(Linear Variable Differential Transformer:LVDT)が用いられる。この場合、変位検出センサ36は、図示は省略するが、アーム基端部32bに設けられたコアと、このコアが挿入されるコイルとを備える。変位検出センサ36は、アーム32及び接触子34の揺動によるZ方向の変位(変位方向及び変位量)を検出して、変位検出結果D2を制御装置28へ出力する。なお、変位検出センサ36として、LVDT以外の公知のセンサ(例えばスケール型のセンサ)を用いてもよい。 As the displacement detection sensor 36, for example, a linear variable differential transformer (LVDT) is used. In this case, although not shown, the displacement detection sensor 36 includes a core provided at the base end portion 32b of the arm and a coil into which the core is inserted. The displacement detection sensor 36 detects the displacement (displacement direction and displacement amount) in the Z direction due to the swing of the arm 32 and the contactor 34, and outputs the displacement detection result D2 to the control device 28. As the displacement detection sensor 36, a known sensor other than the LVDT (for example, a scale type sensor) may be used.

カメラ22、温度計24、及び振動計26は、後述の制御装置28の各部(画像取得部48、温度情報取得部50、及び振動情報取得部52)と共に本発明の測定環境情報取得部を構成するものであり、表面形状測定機10が表面Waの形状測定を行う際の測定環境を示す測定環境情報38を取得する。 The camera 22, the thermometer 24, and the vibration meter 26 constitute a measurement environment information acquisition unit of the present invention together with each unit (image acquisition unit 48, temperature information acquisition unit 50, and vibration information acquisition unit 52) of the control device 28 described later. The measurement environment information 38 indicating the measurement environment when the surface shape measuring machine 10 measures the shape of the surface Wa is acquired.

カメラ22は、ホルダ17に設けられており、接触子34の先端部を連続撮影(動画撮影)し、測定環境情報38として接触子34の撮影画像38A(画像データ)を制御装置28へ逐次出力する。撮影画像38Aに基づき、表面Waへの埃等の異物の付着の有無の確認と、表面Waの実形状の確認とを行うことができる。 The camera 22 is provided in the holder 17, continuously shoots the tip of the contact 34 (moving image shooting), and sequentially outputs the captured image 38A (image data) of the contact 34 as the measurement environment information 38 to the control device 28. do. Based on the captured image 38A, it is possible to confirm the presence or absence of foreign matter such as dust on the surface Wa and to confirm the actual shape of the surface Wa.

温度計24は、例えば測定台12の上面に設置されており、環境温度(接触子34の周囲環境温度等)を連続測定し、測定環境情報38として環境温度の温度情報38Bを制御装置28へ逐次出力する。温度情報38Bに基づき、環境温度に急激な変化が生じたか否かを確認することができる。なお、温度計24の配置位置は測定台12の上面に限定されるものではなく、変位検出器20等に設けてもよい。 The thermometer 24 is installed, for example, on the upper surface of the measuring table 12, continuously measures the ambient temperature (ambient ambient temperature of the contact 34, etc.), and transfers the temperature information 38B of the ambient temperature to the control device 28 as the measurement environment information 38. Output sequentially. Based on the temperature information 38B, it is possible to confirm whether or not a sudden change has occurred in the environmental temperature. The position of the thermometer 24 is not limited to the upper surface of the measuring table 12, and may be provided on the displacement detector 20 or the like.

振動計26は、例えば、測定台12の内部に設けられており、表面形状測定機10の振動(具体的にはワークWに対する接触子34の相対的な振動)を連続測定し、測定環境情報38として表面形状測定機10の振動情報38Cを制御装置28へ逐次出力する。振動情報38Cに基づき、例えば外部から表面形状測定機10に振動が加えられた否かを確認することができる。なお、振動計26の配置位置は測定台12の内部に限定されるものではなく、測定台12の上面或いは変位検出器20等に設けてもよい。 The vibration meter 26 is provided, for example, inside the measuring table 12, and continuously measures the vibration of the surface shape measuring machine 10 (specifically, the relative vibration of the contactor 34 with respect to the work W) to measure the measurement environment information. As 38, the vibration information 38C of the surface shape measuring machine 10 is sequentially output to the control device 28. Based on the vibration information 38C, it can be confirmed, for example, whether or not vibration is applied to the surface shape measuring machine 10 from the outside. The position of the vibration meter 26 is not limited to the inside of the measuring table 12, and may be provided on the upper surface of the measuring table 12 or the displacement detector 20 or the like.

制御装置28は、各種のプロセッサ(Processor)及びメモリ等から構成された演算回路を備える。各種のプロセッサには、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、及びプログラマブル論理デバイス[例えばSPLD(Simple Programmable Logic Devices)、CPLD(Complex Programmable Logic Device)、及びFPGA(Field Programmable Gate Arrays)]等が含まれる。なお、制御装置28の各種機能は、1つのプロセッサにより実現されてもよいし、同種または異種の複数のプロセッサで実現されてもよい。 The control device 28 includes an arithmetic circuit composed of various processors, memories, and the like. Various processors include CPU (Central Processing Unit), GPU (Graphics Processing Unit), ASIC (Application Specific Integrated Circuit), and programmable logic devices [for example, SPLD (Simple Programmable Logic Devices), CPLD (Complex Programmable Logic Device), And FPGA (Field Programmable Gate Arrays)] and the like. The various functions of the control device 28 may be realized by one processor, or may be realized by a plurality of processors of the same type or different types.

図2は、第1実施形態の制御装置28の構成を示したブロック図である。図2に示すように、制御装置28には、既述の検出器移動機構16、位置検出センサ18、変位検出器20の変位検出センサ36、カメラ22、温度計24、振動計26、及び不図示の操作部等が接続されており、表面形状測定機10の各部の動作を統括制御する。また、制御装置28は、位置検出センサ18から出力される位置検出結果D1と、変位検出センサ36から出力される変位検出結果D2とに基づき、表面Waを接触子34でトレースして得られた変位検出信号D3をデータストレージ58に記憶させる。さらに制御装置28は、詳しくは後述するが、表面Waの形状測定の異常の有無を判定し、異常が発生した場合に測定環境情報38をデータストレージ58に記憶させる。 FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the control device 28 of the first embodiment. As shown in FIG. 2, the control device 28 includes the detector moving mechanism 16, the position detection sensor 18, the displacement detection sensor 36 of the displacement detector 20, the camera 22, the thermometer 24, the vibration meter 26, and the non-existence. The illustrated operation unit and the like are connected to control the operation of each unit of the surface shape measuring machine 10. Further, the control device 28 is obtained by tracing the surface Wa with the contactor 34 based on the position detection result D1 output from the position detection sensor 18 and the displacement detection result D2 output from the displacement detection sensor 36. The displacement detection signal D3 is stored in the data storage 58. Further, although the details will be described later, the control device 28 determines whether or not there is an abnormality in the shape measurement of the surface Wa, and stores the measurement environment information 38 in the data storage 58 when the abnormality occurs.

制御装置28には、駆動制御部40、信号出力部42、ローパスフィルタ44(Low Pass Filter:LPF)、異常判定部46、画像取得部48、温度情報取得部50、振動情報取得部52、リングバッファメモリ54A,54B,54C、記憶制御部56、及びデータストレージ58が設けられている。 The control device 28 includes a drive control unit 40, a signal output unit 42, a low pass filter 44 (LPF), an abnormality determination unit 46, an image acquisition unit 48, a temperature information acquisition unit 50, a vibration information acquisition unit 52, and a ring. A buffer memory 54A, 54B, 54C, a storage control unit 56, and a data storage 58 are provided.

駆動制御部40は、検出器移動機構16の駆動を制御する。この駆動制御部40は、不図示の操作部に対する測定開始操作の入力に応じて、検出器移動機構16を駆動して変位検出器20等をX方向に移動させる。これにより、接触子34によりX方向に沿って表面Waがトレースされる、すなわち表面Waの形状測定が実行される。 The drive control unit 40 controls the drive of the detector moving mechanism 16. The drive control unit 40 drives the detector moving mechanism 16 to move the displacement detector 20 and the like in the X direction in response to an input of a measurement start operation to an operation unit (not shown). As a result, the contactor 34 traces the surface Wa along the X direction, that is, the shape measurement of the surface Wa is executed.

信号出力部42は、検出器移動機構16による変位検出器20のX方向の移動が実行されている間、すなわち表面形状測定機10による表面Waの形状測定が行われている間(以下、単に「表面形状測定中」と略す)、位置検出センサ18から出力された位置検出結果D1と、変位検出センサ36から出力された変位検出結果D2とを連続的に取得する。そして、信号出力部42は、連続的に取得した位置検出結果D1及び変位検出結果D2に基づき、変位検出器20(接触子34)のX方向の位置ごとの接触子34のZ方向の変位、すなわち表面Waの表面形状を示す変位検出信号D3をローパスフィルタ44へ連続的に出力する。 The signal output unit 42 is used while the displacement detector 20 is being moved in the X direction by the detector moving mechanism 16, that is, while the surface shape measuring machine 10 is performing shape measurement of the surface Wa (hereinafter, simply). (Abbreviated as "during surface shape measurement"), the position detection result D1 output from the position detection sensor 18 and the displacement detection result D2 output from the displacement detection sensor 36 are continuously acquired. Then, the signal output unit 42 determines the displacement of the contactor 34 in the Z direction for each position of the displacement detector 20 (contactor 34) in the X direction based on the continuously acquired position detection result D1 and displacement detection result D2. That is, the displacement detection signal D3 indicating the surface shape of the surface Wa is continuously output to the low-pass filter 44.

ローパスフィルタ44は、信号出力部42から出力される変位検出信号D3に対し、予め設定されたカットオフ値に基づきローパスフィルタ処理を行い、変位検出信号D3から高周波ノイズを除去する。ローパスフィルタ44から出力された変位検出信号D3は異常判定部46と記憶制御部56とに入力される。 The low-pass filter 44 performs low-pass filter processing on the displacement detection signal D3 output from the signal output unit 42 based on a preset cutoff value, and removes high-frequency noise from the displacement detection signal D3. The displacement detection signal D3 output from the low-pass filter 44 is input to the abnormality determination unit 46 and the storage control unit 56.

異常判定部46は、表面形状測定中において、信号出力部42からローパスフィルタ44を経て入力される変位検出信号D3に基づき、表面Waの形状測定の異常の有無を判定する。 The abnormality determination unit 46 determines whether or not there is an abnormality in the shape measurement of the surface Wa based on the displacement detection signal D3 input from the signal output unit 42 via the low-pass filter 44 during the surface shape measurement.

図3は、異常判定部46による判定方法の第1例を説明するための説明図である。図3に示すように、異常判定部46は、変位検出信号D3に基づき、接触子34のZ方向の変位量が予め定められた異常判定閾値ETよりも大きくなるか或いは正常範囲NR内(異常判定閾値ET内)に収まるかに基づき、表面Waの形状測定の異常の有無を判定する。そして、異常判定部46は、形状測定の異常有と判定した場合にその判定結果を示す保存トリガ信号TSを記憶制御部56へ出力する。 FIG. 3 is an explanatory diagram for explaining a first example of the determination method by the abnormality determination unit 46. As shown in FIG. 3, in the abnormality determination unit 46, the displacement amount of the contactor 34 in the Z direction becomes larger than the predetermined abnormality determination threshold value ET or within the normal range NR (abnormality) based on the displacement detection signal D3. It is determined whether or not there is an abnormality in the shape measurement of the surface Wa based on whether or not it falls within the determination threshold ET). Then, the abnormality determination unit 46 outputs a storage trigger signal TS indicating the determination result to the storage control unit 56 when it is determined that there is an abnormality in the shape measurement.

図4は、異常判定部46による判定方法の第2例を説明するための説明図である。図4に示すように、異常判定部46は、変位検出信号D3に基づき、接触子34のZ方向の変位量が異常判定閾値ETを超える状態が所定期間以上だけ連続した場合に形状測定の異常有と判定し、保存トリガ信号TSを記憶制御部56へ出力する。これにより、変位検出信号D3のノイズにより異常有との誤判定を行うことが防止される。 FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining a second example of the determination method by the abnormality determination unit 46. As shown in FIG. 4, the abnormality determination unit 46 has an abnormality in shape measurement when the displacement amount in the Z direction of the contactor 34 exceeds the abnormality determination threshold value ET continuously for a predetermined period or longer based on the displacement detection signal D3. It is determined to be present, and the storage trigger signal TS is output to the storage control unit 56. As a result, it is possible to prevent erroneous determination as having an abnormality due to the noise of the displacement detection signal D3.

図5は、異常判定部46による判定方法の第3例を説明するための説明図である。図5に示すように、異常判定部46は、変位検出信号D3に基づき、接触子34のZ方向の変位量の移動平均線MAを演算する。そして、異常判定部46は、移動平均線MAからの変位量の偏差が異常判定閾値ETを超えた状態から元の状態(異常判定閾値ET内の状態)に戻った場合に形状測定の異常有と判定し、保存トリガ信号TSを記憶制御部56へ出力する。これにより、変位検出信号D3のドリフトと形状測定の異常に伴う変化とを区別することができ、異常判定部46の判定精度を向上させることができる。 FIG. 5 is an explanatory diagram for explaining a third example of the determination method by the abnormality determination unit 46. As shown in FIG. 5, the abnormality determination unit 46 calculates the moving average line MA of the displacement amount in the Z direction of the contactor 34 based on the displacement detection signal D3. Then, the abnormality determination unit 46 has an abnormality in the shape measurement when the deviation amount of the displacement from the moving average line MA returns from the state where the deviation exceeds the abnormality determination threshold value ET to the original state (the state within the abnormality determination threshold value ET). Is determined, and the storage trigger signal TS is output to the storage control unit 56. As a result, it is possible to distinguish between the drift of the displacement detection signal D3 and the change due to the abnormality in the shape measurement, and it is possible to improve the determination accuracy of the abnormality determination unit 46.

図2に戻って画像取得部48は、表面形状測定中に、カメラ22からの撮影画像38Aの取得とリングバッファメモリ54Aへの撮影画像38Aの一時的な記憶とを繰り返し行う。 Returning to FIG. 2, the image acquisition unit 48 repeatedly acquires the captured image 38A from the camera 22 and temporarily stores the captured image 38A in the ring buffer memory 54A during the surface shape measurement.

温度情報取得部50は、表面形状測定中に、温度計24からの温度情報38Bの取得とリングバッファメモリ54Bへの温度情報38Bの一時的な記憶とを繰り返し行う。 The temperature information acquisition unit 50 repeatedly acquires the temperature information 38B from the thermometer 24 and temporarily stores the temperature information 38B in the ring buffer memory 54B during the surface shape measurement.

振動情報取得部52は、表面形状測定中に、振動計26からの振動情報38Cの取得とリングバッファメモリ54Cへの振動情報38Cの一時的な記憶とを繰り返し行う。 The vibration information acquisition unit 52 repeatedly acquires the vibration information 38C from the vibration meter 26 and temporarily stores the vibration information 38C in the ring buffer memory 54C during the surface shape measurement.

図6は、リングバッファメモリ54A,54B,54Cの説明図である。図6及び既述の図2に示すように、リングバッファメモリ54A,54B,54Cは、本発明の一次記憶部に相当するものであり、所謂リングバッファ形式でデータの記憶が可能な記憶媒体(メモリ、ストレージ等)である。 FIG. 6 is an explanatory diagram of the ring buffer memories 54A, 54B, 54C. As shown in FIG. 6 and FIG. 2 described above, the ring buffer memories 54A, 54B, 54C correspond to the primary storage unit of the present invention, and are storage media capable of storing data in a so-called ring buffer format (a storage medium capable of storing data in a so-called ring buffer format). Memory, storage, etc.).

リングバッファメモリ54A,54B,54Cは、例えば8個(8以外でも可)の保存領域55(リングバッファ長)を有している。画像取得部48は、図中の括弧付き数字(1)〜(8)に示すように、カメラ22から新たな撮影画像38Aを取得するごとに、新たに取得した撮影画像38Aを第1番目の保存領域55から第8番目の保存領域55に向かって順番に記憶させていく。そして、画像取得部48は、第8番目の保存領域55に撮影画像38Aを記憶させた後、カメラ22から新たな撮影画像38Aを取得するごとに、新たに取得した撮影画像38Aを図中の括弧付き数字(9)〜(12)、・・・に示すように各保存領域55に順番に上書き記憶させる。以下、画像取得部48は、カメラ22から新たな撮影画像38Aを取得するごとに、新たな撮影画像38Aを各保存領域55に順番且つ繰り返し上書き記憶させる。 The ring buffer memories 54A, 54B, 54C have, for example, eight (other than eight) storage areas 55 (ring buffer length). As shown by the numbers (1) to (8) in parentheses in the figure, the image acquisition unit 48 takes the newly acquired captured image 38A as the first image each time a new captured image 38A is acquired from the camera 22. The storage area 55 is stored in order from the storage area 55 to the eighth storage area 55. Then, the image acquisition unit 48 stores the captured image 38A in the eighth storage area 55, and then each time a new captured image 38A is acquired from the camera 22, the newly acquired captured image 38A is shown in the figure. As shown in the numbers (9) to (12) in parentheses, ..., Each storage area 55 is overwritten and stored in order. Hereinafter, each time the image acquisition unit 48 acquires a new captured image 38A from the camera 22, the new captured image 38A is sequentially and repeatedly overwritten and stored in each storage area 55.

また同様に、温度情報取得部50は、温度計24から新たな温度情報38Bを取得するごとに、新たな温度情報38Bをリングバッファメモリ54Bの各保存領域55に順番且つ繰り返し記憶(上書き記憶)させる。さらに、振動情報取得部52は、振動計26から新たな振動情報38Cを取得するごとに、新たな振動情報38Cをリングバッファメモリ54Cの各保存領域55に順番且つ繰り返し記憶(上書き記憶)させる。 Similarly, each time the temperature information acquisition unit 50 acquires new temperature information 38B from the thermometer 24, the temperature information acquisition unit 50 sequentially and repeatedly stores (overwrites) the new temperature information 38B in each storage area 55 of the ring buffer memory 54B. Let me. Further, each time the vibration information acquisition unit 52 acquires new vibration information 38C from the vibration meter 26, the vibration information acquisition unit 52 sequentially and repeatedly stores (overwrites) the new vibration information 38C in each storage area 55 of the ring buffer memory 54C.

このようにリングバッファメモリ54A,54B,54Cを用いることで、表面Waの形状測定時に常に最新の一定時間の測定環境情報38(撮影画像38A、温度情報38B、振動情報38C)を保存することができる。 By using the ring buffer memories 54A, 54B, 54C in this way, it is possible to always save the latest measurement environment information 38 (photographed image 38A, temperature information 38B, vibration information 38C) at the time of measuring the shape of the surface Wa. can.

図7は、記憶制御部56によりデータストレージ58に記憶される保存データ60の概略図である。図7及び既述の図2に示すように、データストレージ58は、本発明の二次記憶部に相当するものであり、データを永続的に記憶可能な記憶媒体(メモリ、ストレージ等)である。 FIG. 7 is a schematic diagram of the stored data 60 stored in the data storage 58 by the storage control unit 56. As shown in FIG. 7 and FIG. 2 described above, the data storage 58 corresponds to the secondary storage unit of the present invention, and is a storage medium (memory, storage, etc.) capable of permanently storing data. ..

記憶制御部56は、表面形状測定中に、データストレージ58に対する保存データ60の記憶を行う。この保存データ60は、ローパスフィルタ44から入力される変位検出信号D3と、リングバッファメモリ54A,54B,54Cに記憶されている測定環境情報38と、後述の異常波形領域タグリスト62と、を含む。 The storage control unit 56 stores the stored data 60 in the data storage 58 during the surface shape measurement. The stored data 60 includes a displacement detection signal D3 input from the low-pass filter 44, measurement environment information 38 stored in the ring buffer memories 54A, 54B, 54C, and an abnormal waveform region tag list 62 described later. ..

具体的には記憶制御部56は、表面形状測定中に、ローパスフィルタ44から連続的に入力される変位検出信号D3を保存データ60の一部としてデータストレージ58に連続的に記憶させる。この場合に記憶制御部56は本発明の第2記憶制御部として機能する。 Specifically, the storage control unit 56 continuously stores the displacement detection signal D3 continuously input from the low-pass filter 44 in the data storage 58 as a part of the stored data 60 during the surface shape measurement. In this case, the memory control unit 56 functions as the second memory control unit of the present invention.

また、記憶制御部56は、異常判定部46から保存トリガ信号TSが入力されるごと(表面Waの形状測定の異常有と判定するごと)に、本発明の検出器位置情報に相当する異常波形領域タグ62aを生成する。 Further, each time the storage trigger signal TS is input from the abnormality determination unit 46 (every time it is determined that there is an abnormality in the shape measurement of the surface Wa), the storage control unit 56 has an abnormality waveform corresponding to the detector position information of the present invention. Generate the area tag 62a.

具体的には記憶制御部56は、異常判定部46から入力される保存トリガ信号TSに基づき、変位検出信号D3の信号波形の中で異常判定部46が異常有と判定した異常波形領域ERを判別する。次いで、記憶制御部56は、異常波形領域ERの判別結果に基づき、異常波形領域ERに対応する変位検出器20のX方向の位置(以下、検出器位置と略す)を判別する。また、記憶制御部56は、異常波形領域ERの波形の形状に基づき、異常波形領域ERの異常内容(波形形状)を判別する。これにより、記憶制御部56は、異常波形領域ERごとに、「検出器位置」及び「異常内容」を含む異常波形領域タグ62aを生成する。そして、記憶制御部56は、異常波形領域タグ62aを生成するごとに、異常波形領域タグ62aを保存データ60の一部としてデータストレージ58の異常波形領域タグリスト62に記憶させる。 Specifically, the memory control unit 56 determines the abnormality waveform region ER that the abnormality determination unit 46 has determined as having an abnormality in the signal waveform of the displacement detection signal D3 based on the storage trigger signal TS input from the abnormality determination unit 46. Determine. Next, the storage control unit 56 determines the position of the displacement detector 20 corresponding to the abnormal waveform area ER in the X direction (hereinafter, abbreviated as the detector position) based on the determination result of the abnormal waveform area ER. Further, the storage control unit 56 determines the abnormal content (waveform shape) of the abnormal waveform area ER based on the shape of the waveform of the abnormal waveform area ER. As a result, the storage control unit 56 generates the abnormal waveform area tag 62a including the “detector position” and the “abnormal content” for each abnormal waveform area ER. Then, each time the storage control unit 56 generates the abnormal waveform area tag 62a, the storage control unit 56 stores the abnormal waveform area tag 62a in the abnormal waveform area tag list 62 of the data storage 58 as a part of the stored data 60.

さらに記憶制御部56は、異常判定部46から保存トリガ信号TSが入力されるごとに、リングバッファメモリ54A,54B,54Cから測定環境情報38(撮影画像38A、温度情報38B、振動情報38C)を取得する。そして、記憶制御部56は、測定環境情報38を保存データ60の一部として異常波形領域タグ62aに関連付けてデータストレージ58に記憶させる。この場合に記憶制御部56は本発明の第1記憶制御部として機能する。 Further, the storage control unit 56 obtains measurement environment information 38 (photographed image 38A, temperature information 38B, vibration information 38C) from the ring buffer memories 54A, 54B, 54C each time the storage trigger signal TS is input from the abnormality determination unit 46. get. Then, the storage control unit 56 associates the measurement environment information 38 with the abnormal waveform region tag 62a as a part of the stored data 60 and stores it in the data storage 58. In this case, the memory control unit 56 functions as the first memory control unit of the present invention.

なお、本実施形態では、異常波形領域タグ62aに「検出器位置」の他に「異常内容」が登録されているが、少なくとも「検出器位置」が登録されていればその内容については特に限定はされない。また、保存データ60の形式は、変位検出信号D3の他に「検出器位置」と「測定環境情報38」とが関連付けて記憶されていれば図7に示した形式に限定はされない。 In the present embodiment, the "abnormal content" is registered in the abnormal waveform region tag 62a in addition to the "detector position", but the content is particularly limited as long as the "detector position" is registered at least. Will not be done. Further, the format of the stored data 60 is not limited to the format shown in FIG. 7 as long as the “detector position” and the “measurement environment information 38” are stored in association with each other in addition to the displacement detection signal D3.

[第1実施形態の作用]
図8は、本発明の形状測定機の制御方法に係る表面形状測定機10によるワークWの表面Waの形状測定処理の流れを示すフローチャートである。図8に示すように、測定台12にワークWがセットされ且つ接触子34の先端を表面Waに接触させた後、オペレータが測定開始操作を行うと、駆動制御部40が検出器移動機構16を駆動して、変位検出器20をX方向に移動させる(ステップS1)。これにより、接触子34によりX方向に沿って表面Waがトレースされる。
[Action of the first embodiment]
FIG. 8 is a flowchart showing a flow of shape measurement processing of the surface Wa of the work W by the surface shape measuring machine 10 according to the control method of the shape measuring machine of the present invention. As shown in FIG. 8, after the work W is set on the measuring table 12 and the tip of the contactor 34 is brought into contact with the surface Wa, when the operator performs the measurement start operation, the drive control unit 40 moves the detector moving mechanism 16. To move the displacement detector 20 in the X direction (step S1). As a result, the contactor 34 traces the surface Wa along the X direction.

変位検出器20の移動が開始すると、信号出力部42は、位置検出センサ18から取得した位置検出結果D1と変位検出センサ36から取得した変位検出結果D2とに基づき、変位検出信号D3をローパスフィルタ44へ連続的に出力する(ステップS2)。これにより、ローパスフィルタ44を経て変位検出信号D3が記憶制御部56と異常判定部46とにそれぞれ入力される。そして、記憶制御部56は、ローパスフィルタ44から入力された変位検出信号D3を保存データ60としてデータストレージ58内に逐次記憶させる(ステップS3)。 When the movement of the displacement detector 20 starts, the signal output unit 42 filters the displacement detection signal D3 based on the position detection result D1 acquired from the position detection sensor 18 and the displacement detection result D2 acquired from the displacement detection sensor 36. It is continuously output to 44 (step S2). As a result, the displacement detection signal D3 is input to the storage control unit 56 and the abnormality determination unit 46, respectively, via the low-pass filter 44. Then, the storage control unit 56 sequentially stores the displacement detection signal D3 input from the low-pass filter 44 as the storage data 60 in the data storage 58 (step S3).

また、変位検出器20の移動開始に合わせて、画像取得部48がカメラ22からの撮影画像38Aの取得とリングバッファメモリ54Aへの撮影画像38Aの記憶とを繰り返し行う(ステップS4,S5)。さらに、温度情報取得部50が温度計24からの温度情報38Bの取得とリングバッファメモリ54Bへの温度情報38Bの記憶とを繰り返し行い、且つ振動情報取得部52が振動計26からの振動情報38Cの取得とリングバッファメモリ54Cへの振動情報38Cの記憶とを繰り返し行う(ステップS4,S5)。これにより、既述の図6に示したように、測定環境情報38が各リングバッファメモリ54A,54B,54Cの各保存領域55に順番且つ繰り返し記憶される。なお、ステップS4,S5は、本発明の測定環境情報取得ステップに相当する。 Further, in accordance with the start of movement of the displacement detector 20, the image acquisition unit 48 repeatedly acquires the captured image 38A from the camera 22 and stores the captured image 38A in the ring buffer memory 54A (steps S4 and S5). Further, the temperature information acquisition unit 50 repeatedly acquires the temperature information 38B from the thermometer 24 and stores the temperature information 38B in the ring buffer memory 54B, and the vibration information acquisition unit 52 repeatedly acquires the vibration information 38C from the vibration meter 26. And the storage of the vibration information 38C in the ring buffer memory 54C are repeated (steps S4 and S5). As a result, as shown in FIG. 6 described above, the measurement environment information 38 is sequentially and repeatedly stored in each storage area 55 of each ring buffer memory 54A, 54B, 54C. In addition, steps S4 and S5 correspond to the measurement environment information acquisition step of this invention.

さらにまた、変位検出器20の移動開始に合わせて、異常判定部46がローパスフィルタ44から入力される変位検出信号D3に基づき、既述の図3から図5に示したように形状測定の異常の有無の判定を開始する(ステップS6、本発明の異常判定ステップに相当)。そして、異常判定部46が異常無と判定した場合には、変位検出器20の移動が停止されるまでの間、既述のステップS2からステップS5までの処理が繰り返し実行される(ステップS6でNO、ステップS8でNO)。この際に、測定環境情報38を各リングバッファメモリ54A,54B,54Cに記憶させることで、大容量のストレージを用意する必要がなくなる。 Furthermore, when the displacement detector 20 starts moving, the abnormality determination unit 46 has an abnormality in shape measurement as shown in FIGS. 3 to 5 based on the displacement detection signal D3 input from the low-pass filter 44. (Step S6, corresponding to the abnormality determination step of the present invention). When the abnormality determination unit 46 determines that there is no abnormality, the processes from step S2 to step S5 described above are repeatedly executed until the movement of the displacement detector 20 is stopped (in step S6). NO, NO in step S8). At this time, by storing the measurement environment information 38 in the ring buffer memories 54A, 54B, 54C, it is not necessary to prepare a large-capacity storage.

一方、異常判定部46が異常有と判定すると、異常判定部46から記憶制御部56に対して保存トリガ信号TSが出力される(ステップS6でYES)。この保存トリガ信号TSを受けた記憶制御部56は、既述の図7に示したように異常波形領域タグ62aを生成すると共に、リングバッファメモリ54A,54B,54Cから測定環境情報38(撮影画像38A、温度情報38B、振動情報38C)を取得する。そして、記憶制御部56は、測定環境情報38を異常波形領域タグ62aに関連付けてデータストレージ58の保存データ60内に記憶させる(ステップS7、本発明の記憶制御ステップに相当)。これにより、形状測定に異常が発生した場合にのみ測定環境情報38をデータストレージ58に記憶させることができる。 On the other hand, when the abnormality determination unit 46 determines that there is an abnormality, the abnormality determination unit 46 outputs a storage trigger signal TS to the storage control unit 56 (YES in step S6). The storage control unit 56 that has received this storage trigger signal TS generates the abnormal waveform region tag 62a as shown in FIG. 7, and also measures the measurement environment information 38 (photographed image) from the ring buffer memories 54A, 54B, 54C. 38A, temperature information 38B, vibration information 38C) are acquired. Then, the storage control unit 56 associates the measurement environment information 38 with the abnormal waveform region tag 62a and stores it in the stored data 60 of the data storage 58 (step S7, corresponding to the storage control step of the present invention). As a result, the measurement environment information 38 can be stored in the data storage 58 only when an abnormality occurs in the shape measurement.

以下、変位検出器20の移動が終了するまで、すなわち表面形状測定機10による表面Waの形状測定が終了するまで、上述のステップS2からステップS8までの処理が繰り返し実行される(ステップS8)。 Hereinafter, the above-mentioned processes from step S2 to step S8 are repeatedly executed until the movement of the displacement detector 20 is completed, that is, until the shape measurement of the surface Wa by the surface shape measuring machine 10 is completed (step S8).

[第1実施形態の効果]
以上のように本実施形態では、測定環境情報38をリングバッファメモリ54A,54B,54Cに一時的に記憶させておき、異常波形領域ERに対応する測定環境情報38のみをデータストレージ58に記憶させるので、表面形状測定中の全ての測定環境情報38を記憶させておく必要がなくなる。その結果、大容量のストレージを用意する必要がなくなるので、低コストに測定環境情報38の記憶を行うことができる。特に本実施形態のように測定環境情報38に撮影画像38Aが含まれている場合に、データストレージ58への測定環境情報38の記憶量を減らすことができる。
[Effect of the first embodiment]
As described above, in the present embodiment, the measurement environment information 38 is temporarily stored in the ring buffer memories 54A, 54B, 54C, and only the measurement environment information 38 corresponding to the abnormal waveform area ER is stored in the data storage 58. Therefore, it is not necessary to store all the measurement environment information 38 during the surface shape measurement. As a result, it is not necessary to prepare a large-capacity storage, so that the measurement environment information 38 can be stored at low cost. In particular, when the captured image 38A is included in the measurement environment information 38 as in the present embodiment, the amount of the measurement environment information 38 stored in the data storage 58 can be reduced.

また本実施形態では、異常波形領域ERに対応する測定環境情報38をデータストレージ58に記憶させることで、異常波形領域ERが表面Waの実形状に起因するのか或いは外的な環境要因(ワーク表面に付着した埃、振動、環境温度変化等)に起因するのかを容易に判別することができる。その結果、表面Waの表面形状の測定結果(変位検出信号D3)から外的な環境要因に起因する偽形状を排除することができるので、測定結果の信頼性を高めることができる。さらに、ワークWの加工工程で付いた傷等の異常波形領域ERの発生の原因を確認することができるので、加工工程へのフィードバックが可能となる。 Further, in the present embodiment, by storing the measurement environment information 38 corresponding to the abnormal waveform region ER in the data storage 58, whether the abnormal waveform region ER is caused by the actual shape of the surface Wa or an external environmental factor (work surface). It can be easily determined whether it is caused by dust, vibration, environmental temperature change, etc. adhering to the surface. As a result, the false shape caused by an external environmental factor can be excluded from the measurement result (displacement detection signal D3) of the surface shape of the surface Wa, so that the reliability of the measurement result can be improved. Further, since the cause of the occurrence of the abnormal waveform region ER such as scratches made in the machining process of the work W can be confirmed, feedback to the machining process becomes possible.

さらに本実施形態では、測定環境情報38を異常波形領域タグ62aに関連付けた状態でデータストレージ58(保存データ60)に記憶させることにより、異常波形領域ERの発生原因を容易に確認(検索)することができる。 Further, in the present embodiment, the cause of the abnormal waveform region ER is easily confirmed (searched) by storing the measurement environment information 38 in the data storage 58 (stored data 60) in a state of being associated with the abnormal waveform region tag 62a. be able to.

さらにまた本実施形態では、リングバッファメモリ54A,54B,54Cに一時的に記憶される測定環境情報38のデータ量がリングバッファメモリ54A,54B,54Cの保存領域55の数(リングバッファ長)に制限されるので、仮に情報漏洩が発生した場合でも最小限度の情報漏洩で済ませることができる。 Furthermore, in the present embodiment, the amount of data of the measurement environment information 38 temporarily stored in the ring buffer memories 54A, 54B, 54C is the number of storage areas 55 (ring buffer length) of the ring buffer memories 54A, 54B, 54C. Since it is restricted, even if information leakage occurs, it is possible to minimize information leakage.

[第2実施形態]
図9は、第2実施形態の表面形状測定機10の制御装置28の構成を示したブロック図である。図10は、第2実施形態の異常判定部46による判定方法を説明するための説明図である。なお、第2実施形態の表面形状測定機10は、異常判定部46による判定方法が異なる点を除けば上記第1実施形態と基本的に同じ構成であるので、上記第1実施形態と機能又は構成上同一のものについては同一符号を付してその説明は省略する。
[Second Embodiment]
FIG. 9 is a block diagram showing the configuration of the control device 28 of the surface shape measuring machine 10 of the second embodiment. FIG. 10 is an explanatory diagram for explaining a determination method by the abnormality determination unit 46 of the second embodiment. The surface shape measuring machine 10 of the second embodiment has basically the same configuration as that of the first embodiment except that the determination method by the abnormality determination unit 46 is different. Those having the same configuration are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

上記第1実施形態の異常判定部46は、ローパスフィルタ処理後の変位検出信号D3に基づき形状測定の異常の有無を判定しているが、この場合に、表面Waに付着したゴミ等に起因する異常波形領域ERを変位検出信号D3の波形から識別することが困難である(図10参照)。 The abnormality determination unit 46 of the first embodiment determines whether or not there is an abnormality in the shape measurement based on the displacement detection signal D3 after the low-pass filter processing, but in this case, it is caused by dust or the like adhering to the surface Wa. It is difficult to identify the abnormal waveform region ER from the waveform of the displacement detection signal D3 (see FIG. 10).

そこで、図9及び図10に示すように第2実施形態の異常判定部46は、ローパスフィルタ処理されていない変位検出信号D3に基づき形状測定の異常の有無を判定する。 Therefore, as shown in FIGS. 9 and 10, the abnormality determination unit 46 of the second embodiment determines whether or not there is an abnormality in the shape measurement based on the displacement detection signal D3 that has not been low-pass filtered.

以上のように第2実施形態では、ローパスフィルタ処理されていない変位検出信号D3に基づき形状測定の異常の有無を判定することで、ローパスフィルタ処理により発見が困難になる異常波形領域ERを変位検出信号D3の波形から識別することができる。その結果、表面Waの表面形状の測定結果から外的な環境要因に起因する偽形状をより高精度に排除することができるので、測定結果の信頼性及び精度をより高めることができる。 As described above, in the second embodiment, by determining the presence or absence of an abnormality in the shape measurement based on the displacement detection signal D3 that has not been low-pass filtered, the displacement detection of the abnormal waveform region ER that is difficult to detect by the low-pass filter processing. It can be identified from the waveform of the signal D3. As a result, the false shape caused by an external environmental factor can be excluded from the measurement result of the surface shape of the surface Wa with higher accuracy, so that the reliability and accuracy of the measurement result can be further improved.

なお、第2実施形態では、異常判定部46がローパスフィルタ処理されていない変位検出信号D3に基づき形状測定の異常の有無を判定しているが、例えば、ローパスフィルタ44のカットオフ周波数を大きくする(カットオフ長を短くする)、すなわちローパスフィルタ44の利きを弱めてもよい。この場合にも第2実施形態と同様の効果が得られる。 In the second embodiment, the abnormality determination unit 46 determines whether or not there is an abnormality in the shape measurement based on the displacement detection signal D3 that has not been low-pass filtered. For example, the cutoff frequency of the low-pass filter 44 is increased. (The cutoff length may be shortened), that is, the low-pass filter 44 may be weakened. In this case as well, the same effect as that of the second embodiment can be obtained.

[第3実施形態]
図11は、第3実施形態の制御装置28の構成を示したブロック図である。上記各実施形態では、異常判定部46が既述の図3に示した第1例の方法で表面Waの形状測定の異常の有無を判定する場合において、接触子34のZ方向の変位量が異常判定閾値ETを超えた時点で異常判定部46による保存トリガ信号TSの出力と記憶制御部56による測定環境情報38のデータストレージ58への記憶とが実行される。これに対して第3実施形態では、接触子34のZ方向の変位量が異常判定閾値ETを超えてから測定環境情報38がデータストレージ58に記憶されるまでの間に遅延(ディレイ)を生じさせる。
[Third Embodiment]
FIG. 11 is a block diagram showing the configuration of the control device 28 of the third embodiment. In each of the above embodiments, when the abnormality determination unit 46 determines the presence or absence of an abnormality in the shape measurement of the surface Wa by the method of the first example shown in FIG. 3, the displacement amount of the contactor 34 in the Z direction is determined. When the abnormality determination threshold ET is exceeded, the abnormality determination unit 46 outputs the storage trigger signal TS and the storage control unit 56 stores the measurement environment information 38 in the data storage 58. On the other hand, in the third embodiment, a delay occurs between the time when the displacement amount of the contact 34 in the Z direction exceeds the abnormality determination threshold value ET and the time when the measurement environment information 38 is stored in the data storage 58. Let me.

図11に示すように、第3実施形態の表面形状測定機10は、制御装置28に遅延部70が設けられている点を除けば上記各実施形態と基本的に同じ構成であるので、上記各実施形態と機能又は構成上同一のものについては同一符号を付してその説明は省略する。 As shown in FIG. 11, the surface shape measuring machine 10 of the third embodiment has basically the same configuration as each of the above embodiments except that the control device 28 is provided with the delay portion 70. Those having the same function or configuration as each embodiment are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

第3実施形態の異常判定部46は、既述の図3に示した第1例の方法で形状測定の異常の有無を判定し、接触子34のZ方向の変位量が異常判定閾値ETを超えた場合に保存トリガ信号TSを遅延部70へ出力する。 The abnormality determination unit 46 of the third embodiment determines the presence or absence of an abnormality in the shape measurement by the method of the first example shown in FIG. 3 described above, and the displacement amount of the contactor 34 in the Z direction sets the abnormality determination threshold value ET. When it exceeds, the save trigger signal TS is output to the delay unit 70.

図12は、遅延部70の機能を説明するための説明図である。図12に示すように、遅延部70は、公知の遅延回路が用いられ、異常判定部46から出力された保存トリガ信号TSに対して一定の遅延時間ΔTを生じさせてから記憶制御部56へ出力する。これにより、記憶制御部56は、異常判定部46から保存トリガ信号TSが出力されるごとに、遅延時間ΔTが経過してから異常波形領域タグ62a及び測定環境情報38をデータストレージ58の保存データ60に記憶させる。 FIG. 12 is an explanatory diagram for explaining the function of the delay unit 70. As shown in FIG. 12, a known delay circuit is used for the delay unit 70, and a constant delay time ΔT is generated for the storage trigger signal TS output from the abnormality determination unit 46 before the storage control unit 56 is reached. Output. As a result, the storage control unit 56 stores the abnormal waveform region tag 62a and the measurement environment information 38 in the data storage 58 after the delay time ΔT has elapsed each time the storage trigger signal TS is output from the abnormality determination unit 46. Store in 60.

このように異常判定部46から記憶制御部56に入力される保存トリガ信号TSを遅延させることで、より広範囲の異常波形領域ERに対応した測定環境情報38等をデータストレージ58に記憶させることができる。その結果、異常波形領域ERの発生原因の判別が容易になる。 By delaying the storage trigger signal TS input from the abnormality determination unit 46 to the storage control unit 56 in this way, it is possible to store the measurement environment information 38 or the like corresponding to a wider range of abnormality waveform region ER in the data storage 58. can. As a result, it becomes easy to determine the cause of the occurrence of the abnormal waveform region ER.

上記実施形態では異常判定部46と記憶制御部56との間に遅延部70を設けているが、異常判定部46内又は記憶制御部56内に遅延部70を設けてもよい。また、遅延部70の機能をソフトウェア的に実現してもよい。 In the above embodiment, the delay unit 70 is provided between the abnormality determination unit 46 and the memory control unit 56, but the delay unit 70 may be provided in the abnormality determination unit 46 or in the memory control unit 56. Further, the function of the delay unit 70 may be realized by software.

[第4実施形態]
図13は、第4実施形態の表面形状測定機10の概略図である。図13に示すように、第4実施形態の表面形状測定機10は、異常判定部46が形状測定の異常有と判定した場合にオペレータに対して異常の報知を行う。なお、第4実施形態の表面形状測定機10は、制御装置28に報知制御部72が設けられ且つ制御装置28にモニタ74が接続されている点を除けば、上記各実施形態の表面形状測定機10と基本的に同じ構成である。このため、上記各実施形態と機能又は構成上同一のものについては同一符号を付してその説明は省略する。
[Fourth Embodiment]
FIG. 13 is a schematic view of the surface shape measuring machine 10 of the fourth embodiment. As shown in FIG. 13, the surface shape measuring machine 10 of the fourth embodiment notifies the operator of the abnormality when the abnormality determining unit 46 determines that the shape measurement has an abnormality. The surface shape measuring machine 10 of the fourth embodiment measures the surface shape of each of the above-described embodiments, except that the control device 28 is provided with the notification control unit 72 and the monitor 74 is connected to the control device 28. It has basically the same configuration as the machine 10. Therefore, those having the same function or configuration as each of the above embodiments are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

報知制御部72は、モニタ74と共に本発明の報知部を構成する。報知制御部72は、異常判定部46が形状測定の異常有と判定するごとに、記憶制御部56を介してリングバッファメモリ54A,54B,54Cから測定環境情報38(撮影画像38A、温度情報38B、振動情報38C)を取得すると共に、記憶制御部56から異常波形領域タグ62aを取得する。そして、報知制御部72は、測定環境情報38と異常波形領域タグ62aとに基づき報知画面76を生成してモニタ74へ出力する。 The notification control unit 72 constitutes the notification unit of the present invention together with the monitor 74. Each time the abnormality determination unit 46 determines that there is an abnormality in the shape measurement, the notification control unit 72 receives measurement environment information 38 (photographed image 38A, temperature information 38B) from the ring buffer memories 54A, 54B, 54C via the storage control unit 56. , Vibration information 38C) is acquired, and the abnormal waveform region tag 62a is acquired from the storage control unit 56. Then, the notification control unit 72 generates a notification screen 76 based on the measurement environment information 38 and the abnormal waveform region tag 62a, and outputs the notification screen 76 to the monitor 74.

図14は、モニタ74による報知画面76の表示の一例を説明するための説明図である。図14に示すように、モニタ74は、報知制御部72から入力された報知画面76を表示する。この報知画面76には、検出器位置、異常内容、及び測定環境情報38が含まれる。これにより、形状測定の異常の発生をオペレータに報知することができる。その結果、オペレータが異常の発生をリアルタイムに認識して、その異常の発生要因の確認を速やかに実行することができる。なお、測定環境情報38の中で温度情報38B及び振動情報38Cについては不図示のスピーカ(報知部に相当)から音声出力してもよい。 FIG. 14 is an explanatory diagram for explaining an example of the display of the notification screen 76 by the monitor 74. As shown in FIG. 14, the monitor 74 displays the notification screen 76 input from the notification control unit 72. The notification screen 76 includes a detector position, an abnormality content, and measurement environment information 38. This makes it possible to notify the operator of the occurrence of an abnormality in shape measurement. As a result, the operator can recognize the occurrence of the abnormality in real time and promptly confirm the cause of the abnormality. In the measurement environment information 38, the temperature information 38B and the vibration information 38C may be output by voice from a speaker (corresponding to a notification unit) (not shown).

図15は、モニタ74による警告情報77の表示の一例を説明するための説明図である。図15に示すように、報知制御部72は、異常判定部46が形状測定の異常有と判定するごとに、形状測定の異常を示す警告情報77をモニタ74に表示させてもよい。この場合においてもモニタ74に報知画面76を表示させるのと同様の効果が得られる。また、警告情報77をスピーカから音声出力してもよい。 FIG. 15 is an explanatory diagram for explaining an example of displaying the warning information 77 by the monitor 74. As shown in FIG. 15, the notification control unit 72 may display the warning information 77 indicating the abnormality of the shape measurement on the monitor 74 every time the abnormality determination unit 46 determines that the shape measurement is abnormal. In this case as well, the same effect as displaying the notification screen 76 on the monitor 74 can be obtained. Further, the warning information 77 may be output as voice from the speaker.

[第5実施形態]
図16は、第5実施形態の表面形状測定機10の概略図である。図16に示すように、第5実施形態の表面形状測定機10は、変位検出信号D3の異常波形領域ERに対応する表面Wa上の測定領域80(図17参照)の形状の再測定を行う。なお、第5実施形態の表面形状測定機10は、制御装置28に再測定制御部78が設けられている点を除けば、上記各実施形態の表面形状測定機10と基本的に同じ構成である。このため、上記各実施形態と機能又は構成上同一のものについては同一符号を付してその説明は省略する。
[Fifth Embodiment]
FIG. 16 is a schematic view of the surface shape measuring machine 10 of the fifth embodiment. As shown in FIG. 16, the surface shape measuring machine 10 of the fifth embodiment remeasures the shape of the measurement region 80 (see FIG. 17) on the surface Wa corresponding to the abnormal waveform region ER of the displacement detection signal D3. .. The surface shape measuring machine 10 of the fifth embodiment has basically the same configuration as the surface shape measuring machine 10 of each of the above embodiments, except that the control device 28 is provided with the remeasurement control unit 78. be. Therefore, those having the same function or configuration as each of the above embodiments are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

図17は、表面Waの測定領域80の形状の再測定を説明するための説明図である。図17の符号XVIIAに示すように、再測定制御部78は、表面Waの形状測定後の完了後、データストレージ58内の保存データ60の異常波形領域タグリスト62等を参照して、変位検出信号D3に異常波形領域ERが含まれる否かを確認する。そして、再測定制御部78は、変位検出信号D3に異常波形領域ERが含まれる場合には、異常波形領域ERに対応する異常波形領域タグ62aに基づき、異常波形領域ERに対応する「検出器位置」を判別する。 FIG. 17 is an explanatory diagram for explaining the remeasurement of the shape of the measurement region 80 of the surface Wa. As shown by reference numeral XVIIA in FIG. 17, the remeasurement control unit 78 detects the displacement by referring to the abnormal waveform region tag list 62 and the like of the data at rest 60 in the data storage 58 after the completion after the shape measurement of the surface Wa. It is confirmed whether or not the signal D3 includes the abnormal waveform region ER. Then, when the displacement detection signal D3 includes the abnormal waveform region ER, the remeasurement control unit 78 is based on the abnormal waveform region tag 62a corresponding to the abnormal waveform region ER, and the remeasurement control unit 78 corresponds to the abnormal waveform region ER. Determine the "position".

次いで、再測定制御部78は、図17の符号XVIIBに示すように、判別した検出器位置に基づき、駆動制御部40を介して検出器移動機構16を駆動して変位検出器20をX方向に移動させて異常波形領域ERに対応する表面Wa上の測定領域80の形状の再測定を実行する。これにより、異常波形領域ERごとに、異常波形領域ERに対応する測定領域80が接触子34で再トレースされる。その結果、測定領域80ごとその表面形状を示す変位検出信号D3(以下、再検出信号D3Rという)が信号出力部42から出力される。 Next, as shown by reference numeral XVIIB in FIG. 17, the remeasurement control unit 78 drives the detector moving mechanism 16 via the drive control unit 40 based on the determined detector position to move the displacement detector 20 in the X direction. The shape of the measurement region 80 on the surface Wa corresponding to the abnormal waveform region ER is remeasured. As a result, the measurement region 80 corresponding to the abnormal waveform region ER is retraced by the contactor 34 for each abnormal waveform region ER. As a result, the displacement detection signal D3 (hereinafter referred to as the re-detection signal D3R) indicating the surface shape of each measurement area 80 is output from the signal output unit 42.

再検出信号D3Rは、ローパスフィルタ44でローパスフィルタ処理された後、異常判定部46と記憶制御部56とにそれぞれ入力される。これにより、上記各実施形態と同様に異常判定部46による判定が実行される。 The rediscovery signal D3R is low-pass filtered by the low-pass filter 44, and then input to the abnormality determination unit 46 and the storage control unit 56, respectively. As a result, the determination by the abnormality determination unit 46 is executed as in each of the above embodiments.

第5実施形態の記憶制御部56は、再測定時には本発明の置換制御部として機能する。記憶制御部56は、図17の符号XVIICに示すように、ローパスフィルタ44から入力された測定領域80(異常波形領域ER)ごとの再検出信号D3Rに基づき、再測定前の初回の形状測定で保存データ60内に記憶された変位検出信号D3内の異常波形領域ERを、再検出信号D3Rの波形に置換する置換制御を行う。これにより、より正確な表面Waの形状測定の結果が得られる。 The memory control unit 56 of the fifth embodiment functions as the replacement control unit of the present invention at the time of remeasurement. As shown by the reference numeral XVIIC in FIG. 17, the storage control unit 56 performs the first shape measurement before the remeasurement based on the rediscovery signal D3R for each measurement area 80 (abnormal waveform area ER) input from the low-pass filter 44. Substitution control is performed to replace the abnormal waveform region ER in the displacement detection signal D3 stored in the stored data 60 with the waveform of the rediscovery signal D3R. As a result, more accurate surface Wa shape measurement results can be obtained.

また同時に、再測定制御部78は、再測定の間、上記各実施形態と同様に画像取得部48(カメラ22)、温度情報取得部50(温度計24)、振動情報取得部52(振動計26)、及び記憶制御部56を作動させる。これにより、上記各実施形態と同様に、リングバッファメモリ54A,54B,54Cによる測定環境情報38(撮影画像38A、温度情報38B、振動情報38C)の一時的な記憶と、異常波形領域ERに対応する測定環境情報38のデータストレージ58による記憶とが実行される。これにより、測定領域80の再測定においても形状測定の異常が発生した場合には、測定環境情報38を確認することで異常の発生原因を特定することができる。 At the same time, during the remeasurement, the remeasurement control unit 78 has the image acquisition unit 48 (camera 22), the temperature information acquisition unit 50 (thermometer 24), and the vibration information acquisition unit 52 (vibration meter) as in each of the above embodiments. 26) and the memory control unit 56 are operated. This corresponds to the temporary storage of the measurement environment information 38 (photographed image 38A, temperature information 38B, vibration information 38C) by the ring buffer memories 54A, 54B, 54C and the abnormal waveform area ER as in each of the above embodiments. The storage of the measurement environment information 38 by the data storage 58 is executed. As a result, if an abnormality in the shape measurement occurs even in the remeasurement of the measurement area 80, the cause of the abnormality can be identified by checking the measurement environment information 38.

以上のように、第5実施形態では、測定領域80に限定して再測定を行うことで、表面Waの再測定に要する追加時間を最小にすることができる。また、再測定を行うことで、異常波形領域ERが表面Waの実形状に起因するのか或いは外的な環境要因に起因するのかをより正確に判別することができる。 As described above, in the fifth embodiment, the additional time required for the remeasurement of the surface Wa can be minimized by performing the remeasurement only in the measurement area 80. Further, by performing the remeasurement, it is possible to more accurately determine whether the abnormal waveform region ER is caused by the actual shape of the surface Wa or due to an external environmental factor.

[第6実施形態]
図18は、第6実施形態の表面形状測定機10の概略図である。上記各実施形態の異常判定部46は、変位検出信号D3に基づき形状測定の異常の有無を判定しているが、図18に示すように第6実施形態の異常判定部46は、測定環境情報38に基づき形状測定の異常の有無を判定する。なお、第6実施形態の表面形状測定機10は、異常判定部46の判定方法が異なる点を除けば上記各実施形態の表面形状測定機10と基本的に同じ構成であるので、上記各実施形態と機能又は構成上同一のものについては同一符号を付してその説明は省略する。
[Sixth Embodiment]
FIG. 18 is a schematic view of the surface shape measuring machine 10 of the sixth embodiment. The abnormality determination unit 46 of each of the above embodiments determines the presence or absence of an abnormality in the shape measurement based on the displacement detection signal D3, but as shown in FIG. 18, the abnormality determination unit 46 of the sixth embodiment has measurement environment information. Based on 38, it is determined whether or not there is an abnormality in the shape measurement. The surface shape measuring machine 10 of the sixth embodiment has basically the same configuration as the surface shape measuring machine 10 of each of the above embodiments except that the determination method of the abnormality determination unit 46 is different. Those having the same form and function or configuration are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

図19は、第6実施形態の異常判定部46の判定方法を説明するための説明図である。図19及び既述の図18に示すように、異常判定部46は、撮影画像38Aを画像解析して表面Waに異物82が付着していたり或いは傷が付いていたりする場合には保存トリガ信号TSを記憶制御部56へ出力する。また、異常判定部46は、温度情報38B及び振動情報38Cに基づき、上記図3から図5で説明した判定方法と同様の方法を用いて異常有と判定した場合には保存トリガ信号TSを記憶制御部56へ出力する。 FIG. 19 is an explanatory diagram for explaining a determination method of the abnormality determination unit 46 of the sixth embodiment. As shown in FIG. 19 and FIG. 18 described above, the abnormality determination unit 46 analyzes the captured image 38A and if foreign matter 82 is attached or scratched on the surface Wa, a storage trigger signal is obtained. The TS is output to the storage control unit 56. Further, the abnormality determination unit 46 stores the storage trigger signal TS when it is determined that there is an abnormality by using the same method as the determination method described with reference to FIGS. 3 to 5 based on the temperature information 38B and the vibration information 38C. Output to the control unit 56.

以上のように第6実施形態においても、上記各実施形態と同様に異常波形領域ERに対応する測定環境情報38のみをデータストレージ58に記憶させることができる。その結果、上記各実施形態と同様の効果が得られる。 As described above, also in the sixth embodiment, only the measurement environment information 38 corresponding to the abnormal waveform region ER can be stored in the data storage 58 as in each of the above embodiments. As a result, the same effect as that of each of the above embodiments can be obtained.

[その他]
上記各実施形態では、制御装置28にリングバッファメモリ54A,54B,54C及びデータストレージ58が内蔵されているが、両者の少なくともいずれか一方(特にデータストレージ58)が表面形状測定機10と別体(例えば外部のサーバ或いはデータベース)に設けられていてもよい。
[others]
In each of the above embodiments, the control device 28 has the ring buffer memories 54A, 54B, 54C and the data storage 58 built-in, but at least one of the two (particularly the data storage 58) is separate from the surface shape measuring machine 10. It may be provided in (for example, an external server or database).

上記各実施形態では、表面形状測定機10による表面Waの形状測定時に変位検出器20をX方向に移動させているが、測定台12及びワークWをX方向に移動させてもよい。すなわち変位検出器20とワークWとをX方向に相対移動可能であればその移動方法は特に限定はされない。 In each of the above embodiments, the displacement detector 20 is moved in the X direction when the surface Wa shape is measured by the surface shape measuring machine 10, but the measuring table 12 and the work W may be moved in the X direction. That is, as long as the displacement detector 20 and the work W can be relatively moved in the X direction, the moving method is not particularly limited.

上記各実施形態ではXY平面が水平面に平行であるが、水平面に対して非平行であってもよい。 In each of the above embodiments, the XY plane is parallel to the horizontal plane, but it may be non-parallel to the horizontal plane.

上記各実施形態では、測定環境情報38をリングバッファメモリ54A,54B,54Cに記憶させているが、常に最新の一定時間の測定環境情報38を記憶可能であればその種類及び記憶形式は特に限定されず、各種の記憶部を用いてよい。 In each of the above embodiments, the measurement environment information 38 is stored in the ring buffer memories 54A, 54B, 54C, but the type and storage format thereof are particularly limited as long as the latest measurement environment information 38 for a certain period of time can always be stored. However, various storage units may be used.

上記各実施形態では、測定環境情報38として撮影画像38A、温度情報38B、及び振動情報38Cの取得及び記憶を行っているが、これらのうちの少なくともいずれか1つを取得及び記憶するようにしてもよい。 In each of the above embodiments, the captured image 38A, the temperature information 38B, and the vibration information 38C are acquired and stored as the measurement environment information 38, but at least one of these is acquired and stored. May be good.

上記各実施形態では、据置型の表面形状測定機10を例に挙げて説明したが、ハンディタイプの表面形状測定機10にも本発明を適用可能である。 In each of the above embodiments, the stationary surface shape measuring machine 10 has been described as an example, but the present invention can also be applied to the handy type surface shape measuring machine 10.

上記各実施形態では表面形状測定機10を例に挙げて説明したが、回転テーブル上に載置された円柱状又は円筒状のワークの周面(被測定面)に対して検出器の接触子を接触させた状態でワークと検出器とを回転中心の周りに相対回転させる真円度測定機(円筒形状測定機)にも本発明を適用可能である。すなわち本発明は、ワーク(測定対象物)に接触する接触子を用いてワーク又はその各種被測定面の形状測定を行う各種の形状測定機に適用可能である。 In each of the above embodiments, the surface shape measuring machine 10 has been described as an example, but the contactor of the detector with respect to the peripheral surface (measured surface) of the cylindrical or cylindrical workpiece placed on the rotary table. The present invention can also be applied to a roundness measuring machine (cylindrical shape measuring machine) that rotates the work and the detector relative to each other around the center of rotation in a state where the work and the detector are in contact with each other. That is, the present invention can be applied to various shape measuring machines that measure the shape of a work or its various surface to be measured by using a contactor that comes into contact with the work (measurement object).

10 表面形状測定機
12 測定台
14 コラム
16 検出器移動機構
17 ホルダ
18 位置検出センサ
18a リニアスケール
18b 読取ヘッド
20 変位検出器
22 カメラ
24 温度計
26 振動計
28 制御装置
30 揺動支点
32 アーム
32a アーム先端部
32b アーム基端部
34 接触子
36 変位検出センサ
38 測定環境情報
38A 撮影画像
38B 温度情報
38C 振動情報
40 駆動制御部
42 信号出力部
44 ローパスフィルタ
46 異常判定部
48 画像取得部
50 温度情報取得部
52 振動情報取得部
54A,54B,54C リングバッファメモリ
55 保存領域
56 記憶制御部
58 データストレージ
60 保存データ
62 異常波形領域タグリスト
62a 異常波形領域タグ
70 遅延部
72 報知制御部
74 モニタ
76 報知画面
77 警告情報
78 再測定制御部
80 測定領域
82 異物
D1 位置検出結果
D2 変位検出結果
D3 変位検出信号
D3R 再検出信号
ER 異常波形領域
ET 異常判定閾値
MA 移動平均線
NR 正常範囲
TS 保存トリガ信号
W ワーク
Wa 表面
ΔT 遅延時間
10 Surface shape measuring machine 12 Measuring table 14 Column 16 Detector moving mechanism 17 Holder 18 Position detection sensor 18a Linear scale 18b Reading head 20 Displacement detector 22 Camera 24 Thermometer 26 Vibration meter 28 Control device 30 Swing fulcrum 32 Arm 32a Arm Tip 32b Arm base 34 Contact 36 Displacement detection sensor 38 Measurement environment information 38A Photographed image 38B Temperature information 38C Vibration information 40 Drive control unit 42 Signal output unit 44 Low pass filter 46 Abnormality determination unit 48 Image acquisition unit 50 Temperature information acquisition Unit 52 Vibration information acquisition unit 54A, 54B, 54C Ring buffer memory 55 Storage area 56 Storage control unit 58 Data storage 60 Storage data 62 Abnormal waveform area tag list 62a Abnormal waveform area tag 70 Delay unit 72 Notification control unit 74 Monitor 76 Notification screen 77 Warning information 78 Remeasurement control unit 80 Measurement area 82 Foreign matter D1 Position detection result D2 Displacement detection result D3 Displacement detection signal D3R Redetection signal ER Abnormal waveform area ET Abnormality judgment threshold MA Moving average line NR Normal range TS Save trigger signal W Work Wa surface ΔT delay time

Claims (13)

測定対象物に接触する接触子を用いて前記測定対象物の形状測定を行う形状測定機において、
前記形状測定が行われている間、前記形状測定の測定環境を示す測定環境情報の取得と、前記測定環境情報の一次記憶部への一時的な記憶と、を繰り返し行う測定環境情報取得部と、
前記形状測定が行われている間、前記形状測定の異常の有無を判定する異常判定部と、
前記異常判定部が異常有と判定するごとに、前記一次記憶部に記憶されている前記測定環境情報を二次記憶部に記憶させる第1記憶制御部と、
を備える形状測定機。
In a shape measuring machine that measures the shape of the object to be measured using a contactor that comes into contact with the object to be measured.
While the shape measurement is being performed, the measurement environment information acquisition unit that repeatedly acquires measurement environment information indicating the measurement environment of the shape measurement and temporarily stores the measurement environment information in the primary storage unit. ,
While the shape measurement is being performed, an abnormality determination unit that determines the presence or absence of an abnormality in the shape measurement, and
Each time the abnormality determination unit determines that there is an abnormality, a first storage control unit that stores the measurement environment information stored in the primary storage unit in the secondary storage unit, and
A shape measuring machine equipped with.
前記測定環境情報取得部が、前記測定環境情報をリングバッファ形式で前記一次記憶部に記憶させる請求項1に記載の形状測定機。 The shape measuring machine according to claim 1, wherein the measurement environment information acquisition unit stores the measurement environment information in the primary storage unit in a ring buffer format. 前記測定環境情報取得部が、前記測定環境情報として、前記接触子の撮影画像と、環境温度と、形状測定機の振動情報と、の少なくともいずれか1つを取得する請求項1又は2に記載の形状測定機。 The invention according to claim 1 or 2, wherein the measurement environment information acquisition unit acquires at least one of a photographed image of the contactor, an environmental temperature, and vibration information of a shape measuring machine as the measurement environment information. Shape measuring machine. 前記接触子の変位を検出する変位検出器と、
前記測定対象物に対して前記変位検出器を相対移動させて前記測定対象物の被測定面を前記接触子によりトレースさせる相対移動機構と、
前記測定対象物に対する前記変位検出器の相対位置を検出する位置検出センサと、
前記相対移動機構による相対移動が行われている間、前記位置検出センサの検出結果と前記変位検出器の検出結果とに基づき、前記相対位置ごとの前記接触子の変位を示す変位検出信号を出力する信号出力部と、
を備え、
前記異常判定部が、前記信号出力部から出力される前記変位検出信号に基づき、前記形状測定の異常の有無を判定する請求項1から3のいずれか1項に記載の形状測定機。
A displacement detector that detects the displacement of the contact and
A relative movement mechanism that moves the displacement detector relative to the measurement object and traces the measured surface of the measurement object with the contactor.
A position detection sensor that detects the relative position of the displacement detector with respect to the measurement object, and
While the relative movement is performed by the relative movement mechanism, a displacement detection signal indicating the displacement of the contactor for each relative position is output based on the detection result of the position detection sensor and the detection result of the displacement detector. Signal output section and
Equipped with
The shape measuring machine according to any one of claims 1 to 3, wherein the abnormality determination unit determines the presence or absence of an abnormality in the shape measurement based on the displacement detection signal output from the signal output unit.
前記信号出力部から出力される前記変位検出信号に対してローパスフィルタ処理を施すローパスフィルタを備え、
前記異常判定部が、前記ローパスフィルタ処理が施されていない前記変位検出信号に基づき、前記形状測定の異常の有無を判定する請求項4に記載の形状測定機。
A low-pass filter that performs low-pass filter processing on the displacement detection signal output from the signal output unit is provided.
The shape measuring machine according to claim 4, wherein the abnormality determining unit determines the presence or absence of an abnormality in the shape measurement based on the displacement detection signal to which the low-pass filter processing is not applied.
前記第1記憶制御部が、前記変位検出信号の信号波形の中で前記異常判定部が異常有と判定した異常波形領域に対応する前記変位検出器の相対位置を示す検出器位置情報と、前記異常波形領域に対応する前記測定環境情報と、を関連付けて前記二次記憶部に記憶させる請求項4又は5に記載の形状測定機。 The detector position information indicating the relative position of the displacement detector corresponding to the abnormal waveform region determined by the abnormality determination unit in the signal waveform of the displacement detection signal by the first storage control unit, and the above. The shape measuring machine according to claim 4 or 5, wherein the measurement environment information corresponding to the abnormal waveform region is associated with the measurement environment information and stored in the secondary storage unit. 前記二次記憶部に記憶されている前記検出器位置情報に基づき、前記相対移動機構を駆動して、前記異常波形領域に対応する前記被測定面の測定領域を前記接触子によりトレースする再測定を実行する再測定制御部を備える請求項6に記載の形状測定機。 Based on the detector position information stored in the secondary storage unit, the relative movement mechanism is driven to remeasure the measurement area of the surface to be measured corresponding to the abnormal waveform area by the contactor. The shape measuring machine according to claim 6, further comprising a remeasurement control unit for executing the above. 前記再測定制御部が、前記再測定の間、前記測定環境情報取得部と前記異常判定部と前記第1記憶制御部とを作動させる請求項7に記載の形状測定機。 The shape measuring machine according to claim 7, wherein the remeasurement control unit operates the measurement environment information acquisition unit, the abnormality determination unit, and the first storage control unit during the remeasurement. 初回の前記形状測定において前記相対移動機構による相対移動が行われている間、前記信号出力部から出力される前記変位検出信号を取得して前記二次記憶部に記憶させる第2記憶制御部を備え、
前記再測定において前記信号出力部から出力された前記変位検出信号である再検出信号に基づき、前記二次記憶部に記憶されている前記変位検出信号の前記信号波形内の前記異常波形領域を、前記再検出信号の波形に置換する置換制御部と、
を備える請求項7又は8に記載の形状測定機。
A second storage control unit that acquires the displacement detection signal output from the signal output unit and stores it in the secondary storage unit while the relative movement is performed by the relative movement mechanism in the first shape measurement. Prepare,
Based on the re-detection signal which is the displacement detection signal output from the signal output unit in the re-measurement, the abnormal waveform region in the signal waveform of the displacement detection signal stored in the secondary storage unit can be obtained. A replacement control unit that replaces the waveform of the rediscovery signal,
The shape measuring machine according to claim 7 or 8.
前記異常判定部が、前記測定環境情報取得部により繰り返し取得される前記測定環境情報に基づき、前記形状測定の異常の有無を判定する請求項1から3のいずれか1項に記載の形状測定機。 The shape measuring machine according to any one of claims 1 to 3, wherein the abnormality determination unit determines the presence or absence of an abnormality in the shape measurement based on the measurement environment information repeatedly acquired by the measurement environment information acquisition unit. .. 前記第1記憶制御部が、前記異常判定部により異常有との判定がなされるごとに、予め定めた遅延時間が経過してから前記一次記憶部に記憶されている前記測定環境情報を二次記憶部へ出力する請求項1から10のいずれか1項に記載の形状測定機。 Each time the first storage control unit determines that an abnormality is present by the abnormality determination unit, the measurement environment information stored in the primary storage unit is secondarily stored after a predetermined delay time has elapsed. The shape measuring machine according to any one of claims 1 to 10 to be output to a storage unit. 前記異常判定部が異常有と判定した場合に、前記一次記憶部に記憶されている前記測定環境情報又は警告情報を報知する報知部を備える請求項1から11のいずれか1項に記載の形状測定機。 The shape according to any one of claims 1 to 11, further comprising a notification unit for notifying the measurement environment information or warning information stored in the primary storage unit when the abnormality determination unit determines that there is an abnormality. Measuring machine. 測定対象物に接触する接触子を用いて前記測定対象物の形状測定を行う形状測定機の制御方法において、
前記形状測定が行われている間、前記形状測定の測定環境を示す測定環境情報の取得と、前記測定環境情報の一次記憶部への一時的な記憶と、を繰り返し行う測定環境情報取得ステップと、
前記形状測定が行われている間、前記形状測定の異常の有無を判定する異常判定ステップと、
前記異常判定ステップで前記形状測定の異常有と判定するごとに、前記一次記憶部に記憶されている前記測定環境情報を二次記憶部に記憶させる記憶制御ステップと、
を有する形状測定機の制御方法。
In the control method of a shape measuring machine that measures the shape of the object to be measured by using a contactor that comes into contact with the object to be measured.
While the shape measurement is being performed, the measurement environment information acquisition step of repeatedly acquiring the measurement environment information indicating the measurement environment of the shape measurement and temporarily storing the measurement environment information in the primary storage unit. ,
During the shape measurement, an abnormality determination step for determining the presence or absence of an abnormality in the shape measurement and an abnormality determination step
Each time the abnormality determination step determines that the shape measurement has an abnormality, a storage control step for storing the measurement environment information stored in the primary storage unit in the secondary storage unit, and a storage control step.
Control method of shape measuring machine having.
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Cited By (1)

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