JP2021177155A - Coverage detection device, image forming apparatus, coverage detection method, and coverage detection program - Google Patents

Coverage detection device, image forming apparatus, coverage detection method, and coverage detection program Download PDF

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Abstract

To provide a coverage detection device that can accurately detect coverage of a grounding adhesive layer with powder.SOLUTION: A coverage detection device is to detect coverage of a grounding adhesive layer with powder adhered to the grounding adhesive layer, and comprises: a light source unit that irradiates an adhesion surface of the powder with rays of light different in reflectance on the grounding adhesive layer; a light receiving unit that individually receives rays of reflected light of the rays of light different in reflectance reflected on the adhesion surface of the powder; and a coverage detection unit that detects the coverage on the basis of quantities of the rays of reflected light received by the light receiving unit.SELECTED DRAWING: Figure 11

Description

本発明は、被覆率検出装置、画像形成装置、被覆率検出方法、および被覆率検出プログラムに関する。 The present invention relates to a coverage detection device, an image forming apparatus, a coverage detection method, and a coverage detection program.

記録媒体上に形成されたトナー画像を検査する技術として、下記特許文献1に記載の技術がある。この特許文献1には、「照射光源41からは、中間転写ベルト2上のブルートナー像43に、まず波長:550nmの光を照射し、次に波長650nmの光を照射する。…あらかじめ、中間転写ベルト2のみ(トナー像43がない状態)の検知信号強度と「既知の付着量」のマゼンタおよびシアントナー像の「検知信号強度の差」を、トナー付着量に対してプロットしたものを、トナーの色ごとに「検量線」として求めておく。中間転写ベルト2のみの熱弾性波信号強度と、それぞれの波長の光を照射されたときに検知された熱弾性波信号強度から、前記検量線を用いて付着量を算出し、現像プロセスにフィードバックして「画像濃度制御」を行う。」と記載されている。 As a technique for inspecting a toner image formed on a recording medium, there is a technique described in Patent Document 1 below. According to Patent Document 1, "From the irradiation light source 41, the blue toner image 43 on the intermediate transfer belt 2 is first irradiated with light having a wavelength of 550 nm, and then irradiated with light having a wavelength of 650 nm. The difference between the detection signal strength of only the transfer belt 2 (without the toner image 43) and the "difference in detection signal strength" of the magenta and cyan toner images of the "known adhesion amount" is plotted against the toner adhesion amount. Obtain as a "calibration line" for each toner color. From the thermoelastic wave signal intensity of only the intermediate transfer belt 2 and the thermoelastic wave signal intensity detected when irradiated with light of each wavelength, the amount of adhesion is calculated using the calibration curve and fed back to the development process. Then, "image density control" is performed. ".

特開2013−92691号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2013-92691

ところで、トナー画像を下地粘着層とし、この下地粘着層に粉末を付着させることによって光沢感が付与された画像を形成する技術がある。このようにした形成された画像が十分な光沢感を有するか否を検査するためには、トナー画像に対する粉末の付着量を検知する必要がある。しかしながら、上述した検査技術では、複数色のトナーの付着量を算出することができるものの、トナー画像に対する粉末の付着量(粉末による被覆率)を精度良く検知することができず、目視で光沢感の検査を実施することで被覆率を検知していた。 By the way, there is a technique in which a toner image is used as a base adhesive layer and an image having a glossy feeling is formed by adhering powder to the base adhesive layer. In order to inspect whether or not the image formed in this way has a sufficient glossiness, it is necessary to detect the amount of powder adhered to the toner image. However, although the above-mentioned inspection technique can calculate the amount of adhesion of toners of a plurality of colors, it is not possible to accurately detect the amount of adhesion of powder to the toner image (coverage by powder), and the glossiness is visually observed. The coverage was detected by carrying out the inspection of.

そこで本発明は、粉末による下地粘着層の被覆率を精度良く検出することが可能な被覆率検出装置、画像形成装置、被覆率検出方法、および被覆率検出プログラムを提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a coverage detection device, an image forming device, a coverage detection method, and a coverage detection program capable of accurately detecting the coverage of the underlying adhesive layer by powder.

このような目的を達成するための本発明は、下地粘着層に付着した粉末による前記下地粘着層の被覆率を検出するための被覆率検出装置であって、前記下地粘着層での反射率が異なる光を前記粉末の付着面に照射する光源部と、前記粉末の付着面で反射した前記反射率が異なる光の反射光を個別に受光する受光部と、前記受光部で受光した前記反射光の各受光量に基づいて、前記被覆率を検出する被覆率検出部を備えた構成である。 The present invention for achieving such an object is a coverage detection device for detecting the coverage of the undercoat adhesive layer by the powder adhering to the undercoat adhesive layer, and the reflectance of the undercoat adhesive layer is high. A light source unit that irradiates the adhering surface of the powder with different light, a light receiving unit that individually receives the reflected light of the light having different reflectances reflected by the adhering surface of the powder, and the reflected light received by the light receiving unit. The configuration is provided with a coverage detection unit that detects the coverage based on each light receiving amount.

本発明によれば、粉末による下地粘着層の被覆率を精度良く検出することが可能な被覆率検出装置、画像形成装置、被覆率検出方法、および被覆率検出プログラムを提供することできる。 According to the present invention, it is possible to provide a coverage detection device, an image forming apparatus, a coverage detection method, and a coverage detection program capable of accurately detecting the coverage of the underlying adhesive layer by powder.

実施形態に係る画像形成装置の構成図である。It is a block diagram of the image forming apparatus which concerns on embodiment. 実施形態に係る被覆率検出装置が有する第1センサーの構成図である。It is a block diagram of the 1st sensor which the coverage detection apparatus which concerns on embodiment has. 下地粘着層としての画像パターンの分光反射特性を示す図である。It is a figure which shows the spectroscopic reflection characteristic of an image pattern as a base adhesive layer. 実施形態に係る被覆率検出装置が有する第2センサーの構成図である。It is a block diagram of the 2nd sensor which the coverage detection apparatus which concerns on embodiment has. 下地粘着層としての粉末保持面の分光反射特性を示す図である。It is a figure which shows the spectral reflection characteristic of the powder holding surface as a base adhesive layer. 実施形態に係る被覆率検出装置が有する第1センサーの第1変形例を示す図である。It is a figure which shows the 1st modification of the 1st sensor which the coverage detection apparatus which concerns on embodiment has. 実施形態に係る被覆率検出装置が有する第1センサーの第2変形例を示す図である。It is a figure which shows the 2nd modification of the 1st sensor which the coverage detection apparatus which concerns on embodiment has. 実施形態に係る被覆率検出装置が有する第1センサーの第3変形例を示す図である。It is a figure which shows the 3rd modification of the 1st sensor which the coverage detection apparatus which concerns on embodiment has. 実施形態に係る被覆率検出装置が有する第1センサーの第4変形例を示す図である。It is a figure which shows the 4th modification of the 1st sensor which the coverage detection apparatus which concerns on embodiment has. 実施形態に係る粉末の被覆率の算出を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the calculation of the coverage of the powder which concerns on embodiment. 実施形態に係る被覆率検出装置が有する検査情報処理部の構成を説明するブロック図である。It is a block diagram explaining the structure of the inspection information processing part which the coverage detection apparatus which concerns on embodiment has. 粉末の被覆率に対する反射光量の被覆率特性を示す図である。It is a figure which shows the covering rate characteristic of the reflected light amount with respect to the covering rate of a powder. 粉末の被覆率に対する反射光量の差分特性を示す図である。It is a figure which shows the difference characteristic of the reflected light amount with respect to the covering rate of a powder. 各粉末の分光反射特性を示す図である。It is a figure which shows the spectral reflection characteristic of each powder. 被覆率の補正係数の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the correction coefficient of a coverage rate. 実施形態に係る被覆率検出方法の一例を示すフローチャート(その1)である。It is a flowchart (the 1) which shows an example of the coverage | coverage detection method which concerns on embodiment. 実施形態に係る被覆率検出方法の一例を示すフローチャート(その2)である。It is a flowchart (the 2) which shows an example of the coverage | coverage detection method which concerns on embodiment.

以下、本発明の被覆率検出装置、画像形成装置、被覆率検出方法、および被覆率検出プログラムに関する各実施形態を、図面に基づいて詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the coverage detection device, the image forming apparatus, the coverage detection method, and the coverage detection program of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

≪画像形成装置≫
図1は、本発明の実施形態に係る画像形成装置1の構成を示す概略図である。図1に示す画像形成装置1は、記録媒体Sの主面上に形成された画像パターンPに、光沢を有する粉末Pdを貼り付けることによって光沢画像P1を形成するためのものである。
≪Image forming device≫
FIG. 1 is a schematic view showing a configuration of an image forming apparatus 1 according to an embodiment of the present invention. The image forming apparatus 1 shown in FIG. 1 is for forming a glossy image P1 by attaching a glossy powder Pd to an image pattern P formed on the main surface of the recording medium S.

画像パターンPは、粉末Pdを接着するための下地粘着層でもある。このような画像パターンPは、加熱によって溶融して粘着性を発現しその後硬化することによって、粉末Pdを接着する材料からなる。また画像パターンPは、加熱によらずに粘着性を有するものであってもよい。この場合の画像パターンPは、粉末Pを画像パターンPに転写した後に、加熱または光照射によって硬化する材料からなることとする。このような画像パターンPは、例えばトナー画像であるか、またはインク画像である。 The image pattern P is also a base adhesive layer for adhering the powder Pd. Such an image pattern P is made of a material that adheres powder Pd by melting by heating to develop adhesiveness and then curing. Further, the image pattern P may have adhesiveness regardless of heating. The image pattern P in this case is made of a material that is cured by heating or light irradiation after the powder P is transferred to the image pattern P. Such an image pattern P is, for example, a toner image or an ink image.

したがって、ここでの図示は省略したが、この画像形成装置1は、記録媒体Sに画像パターンPを形成する画像パターン形成装置に連結され、の画像パターン形成装置を備えたものであってもよい。 Therefore, although not shown here, the image forming apparatus 1 may be connected to an image pattern forming apparatus that forms an image pattern P on the recording medium S, and may be provided with an image pattern forming apparatus. ..

以上のような画像パターンPに粉末Pdを貼り付けて光沢画像P1を形成するための画像形成装置1は、一例として予備加熱部材11、粉末保持部材12、粉末供給部材13、摺擦部材14、転写部材15、清掃部材16、媒体上粉末回収部材17、駆動制御部18、および操作部19を備えている。またこの画像形成装置1は、粉末Pdの被覆率を検出するための被覆率検出装置20を備えている。以下、画像形成装置1を構成する各部材の詳細を順次に説明し、次に画像形成装置1が取り扱う粉末Pdの構成、および画像形成装置1に設けられた被覆率検出装置20の詳細を説明する。
する。
As an example, the image forming apparatus 1 for attaching the powder Pd to the image pattern P as described above to form the glossy image P1 includes a preheating member 11, a powder holding member 12, a powder supply member 13, and a rubbing member 14. It includes a transfer member 15, a cleaning member 16, a powder recovery member 17 on a medium, a drive control unit 18, and an operation unit 19. Further, the image forming apparatus 1 includes a covering rate detecting device 20 for detecting the covering rate of the powder Pd. Hereinafter, the details of each member constituting the image forming apparatus 1 will be sequentially described, and then the configuration of the powder Pd handled by the image forming apparatus 1 and the details of the coverage detection apparatus 20 provided in the image forming apparatus 1 will be described. do.
do.

<予備加熱部材11>
予備加熱部材11は、記録媒体Sの主面上に形成された画像パターンPを加熱によって溶融させるためのものである。このような予備加熱部材11は、例えば画像パターンPの形成装置から搬送方向xに向かって供給される記録媒体Sの搬送経路上に配置されている。この予備加熱部材11によって加熱された画像パターンPは、溶融することによって粘着性を発現し、その後硬化することによって接着性を有することとなる。
<Preheating member 11>
The preheating member 11 is for melting the image pattern P formed on the main surface of the recording medium S by heating. Such a preheating member 11 is arranged on the transport path of the recording medium S supplied from the image pattern P forming apparatus in the transport direction x, for example. The image pattern P heated by the preheating member 11 develops adhesiveness by melting, and then has adhesiveness by curing.

なお、この予備加熱部材11は、必要に応じて設ければよく、画像パターンPが、加熱によって溶融させることなく粘着性を有するものである場合、予備加熱部材11を設ける必要はない。ただしこの場合、画像形成装置1は、以降に説明する転写部材15において粉末Pを画像パターンPに転写した後に、画像パターンPを硬化させるための加熱部または光照射部を備えていることとする。 The preheating member 11 may be provided as needed, and if the image pattern P has adhesiveness without being melted by heating, it is not necessary to provide the preheating member 11. However, in this case, the image forming apparatus 1 is provided with a heating unit or a light irradiation unit for curing the image pattern P after transferring the powder P to the image pattern P in the transfer member 15 described later. ..

<粉末保持部材12>
粉末保持部材12は、円筒状のものであって、駆動モーターによって円筒状の軸を中心として回転するものであり、円筒状の側周表面を粉末保持面12aとしている。この粉末保持部材12の粉末保持面12aは、粘着性を有する弾性層によって構成され、以降に説明する粉末Pdを粘着によって保持する。このため、粉末保持部材12の粉末保持面12aを構成する表面層は、粉末Pdを接着するための下地粘着層でもある。また粉末保持部材12は、円筒状の内部に加熱部材12bを備え、粉末保持面12aが加熱される構成となっている。
<Powder holding member 12>
The powder holding member 12 has a cylindrical shape and is rotated around a cylindrical shaft by a drive motor, and the cylindrical side peripheral surface is a powder holding surface 12a. The powder holding surface 12a of the powder holding member 12 is formed of an elastic layer having adhesiveness, and holds the powder Pd described below by adhesiveness. Therefore, the surface layer constituting the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 is also a base adhesive layer for adhering the powder Pd. Further, the powder holding member 12 is provided with a heating member 12b inside a cylindrical shape, and the powder holding surface 12a is heated.

このような粉末保持面12aを構成する材料としては、耐熱性を有することが好ましく、一例としてシリコンゴムが好適に用いられる。 As the material constituting such a powder holding surface 12a, it is preferable to have heat resistance, and silicon rubber is preferably used as an example.

またこのような粉末保持部材12は、記録媒体Sの搬送方向xにおける予備加熱部材11の下流側で、かつ記録媒体Sにおいて画像パターンPが形成された主面側に配置されている。粉末保持部材12は、記録媒体Sに向かう側において記録媒体Sの搬送方向xに沿った順方向に回転する構成となっている。なお、粉末保持部材12の粉末保持面12aに保持される粉末Pの構成は、以降に詳細に説明する。 Further, such a powder holding member 12 is arranged on the downstream side of the preheating member 11 in the transport direction x of the recording medium S and on the main surface side on which the image pattern P is formed in the recording medium S. The powder holding member 12 is configured to rotate in the forward direction along the transport direction x of the recording medium S on the side facing the recording medium S. The configuration of the powder P held on the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 will be described in detail below.

<粉末供給部材13>
粉末供給部材13は、粉末保持部材12の粉末保持面12aに粉末Pdを供給するためのものであって、円筒状の粉末保持部材12の軸方向に沿って設けられている。このような粉末供給部材13は、粉末Pdを貯蔵する貯蔵容器13aと、貯蔵容器13a内に収容された搬送部材13bとを有する。
<Powder supply member 13>
The powder supply member 13 is for supplying the powder Pd to the powder holding surface 12a of the powder holding member 12, and is provided along the axial direction of the cylindrical powder holding member 12. Such a powder supply member 13 has a storage container 13a for storing the powder Pd and a transport member 13b housed in the storage container 13a.

このうち貯蔵容器13aは、円筒状の粉末保持部材12の粉末保持面12aに向かう開口部が、粉末保持部材12の軸方向に沿って配置されたものである。 Of these, the storage container 13a has an opening of the cylindrical powder holding member 12 toward the powder holding surface 12a arranged along the axial direction of the powder holding member 12.

また搬送部材13bは、例えば回転する円柱形状のブラシやスポンジ、さらにはスクリュー形状のものである。この搬送部材13bは、粉末保持部材12と逆方向に回転することにより、貯蔵容器13a内に貯蔵された粉末Pdを貯蔵容器13aの開口部にまで搬送し、粉末保持部材12の粉末保持面12aに粉末Pdを供給する。 The transport member 13b is, for example, a rotating cylindrical brush or sponge, or a screw-shaped member. By rotating in the opposite direction to the powder holding member 12, the transport member 13b transports the powder Pd stored in the storage container 13a to the opening of the storage container 13a, and the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 Is supplied with powder Pd.

なお、粉末供給部材13は、このような構成に限定されることはなく、例えば貯蔵容器13a内に貯蔵された粉末Pdに、粉末保持部材12の粉末保持面12aを直接、接触させる構成のものであってもよい。 The powder supply member 13 is not limited to such a configuration. For example, the powder supply member 13 has a configuration in which the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 is in direct contact with the powder Pd stored in the storage container 13a. It may be.

<摺擦部材14>
摺擦部材14は、粉末保持部材12の粉末保持面12aを摺擦することにより、粉末保持部材12の粉末保持面12aにおいて粉末Pdを配向させるためのものである。このような摺擦部材14は、粉末保持部材12の回転方向に対して粉末供給部材13の下流側に配置されている。
<Rubbing member 14>
The rubbing member 14 is for orienting the powder Pd on the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 by rubbing the powder holding surface 12a of the powder holding member 12. Such a rubbing member 14 is arranged on the downstream side of the powder supply member 13 with respect to the rotation direction of the powder holding member 12.

この摺擦部材14は、円筒状を有し、粉末保持面12aに当接する状態で配置され、粉末保持部材12の回転速度に対して速度差を有して回転する。これにより、摺擦部材14は、回転する粉末保持部材12の粉末保持面12aを摺擦する構成となっている。また摺擦部材14の側周面であって、粉末保持面12aを摺擦する面は、粉末保持面12aにおける余剰の粉末Pdを収容するための空隙を有する材料で構成されていることが好ましい。このような材料としては、例えばブラシ、スポンジまたは不織布のような多孔質材料が用いられる。 The rubbing member 14 has a cylindrical shape, is arranged in a state of being in contact with the powder holding surface 12a, and rotates with a speed difference with respect to the rotation speed of the powder holding member 12. As a result, the rubbing member 14 is configured to rub the powder holding surface 12a of the rotating powder holding member 12. Further, the side peripheral surface of the rubbing member 14 that rubs the powder holding surface 12a is preferably made of a material having a gap for accommodating excess powder Pd on the powder holding surface 12a. .. As such a material, a porous material such as a brush, a sponge or a non-woven fabric is used.

このような摺擦部材14は、回転する粉末保持部材12の粉末保持面12aを摺擦することにより、粘着性を有する粉末保持面12aに供給された粉末Pdのうち、粉末保持面12aに粘着していない余分な粉末Pdを除去する。この際、摺擦部材14の側周面の空隙に、余分な粉末Pdを捕捉する。 Such a rubbing member 14 adheres to the powder holding surface 12a of the powder Pd supplied to the adhesive powder holding surface 12a by rubbing the powder holding surface 12a of the rotating powder holding member 12. Remove excess powder Pd that is not. At this time, excess powder Pd is captured in the voids on the side peripheral surface of the rubbing member 14.

これにより、粘着性を有する粉末保持面12aは、1層分の粉末Pdを直接粘着させた状態で保持することになる。この際、粉末Pdが非球形状であれば、非球形状の粉末Pdは、粉末保持面12aに対して平行となるように方向性を揃えて配向した状態となる。これにより、非球形状の粉末Pdは、粉末保持面12aに対する接触面積が大きくなり、粉末保持面12aに対する付着力が確保されるため、粉末保持面12aから記録媒体S上への粉末Pdの落下を防止することができる。なお、粉末Pdの構成については、以降に詳細に説明する。 As a result, the adhesive powder holding surface 12a holds one layer of powder Pd in a directly adhered state. At this time, if the powder Pd is non-spherical, the non-spherical powder Pd is in a state of being oriented in the same direction so as to be parallel to the powder holding surface 12a. As a result, the non-spherical powder Pd has a large contact area with respect to the powder holding surface 12a, and the adhesive force with respect to the powder holding surface 12a is secured. Therefore, the powder Pd falls from the powder holding surface 12a onto the recording medium S. Can be prevented. The composition of the powder Pd will be described in detail below.

また、摺擦部材14は、回収容器14aを備える。回収容器14aは、少なくとも摺擦部材14の下部に配置され、摺擦部材14によって粉末保持面12aから除去されて落下する粉末Pdを受け止めて貯留し、記録媒体S上への粉末Pdの落下を防止する。 Further, the rubbing member 14 includes a collection container 14a. The collection container 14a is arranged at least below the rubbing member 14, receives and stores the powder Pd that is removed from the powder holding surface 12a by the rubbing member 14 and falls, and causes the powder Pd to fall onto the recording medium S. To prevent.

<転写部材15>
転写部材15は、粉末保持部材12の粉末保持面12aに粘着保持された粉末Pdを、記録媒体Sの主面上に形成された画像パターンPに転写するためのものである。この転写部材15は、粉末保持部材12の回転方向に対して摺擦部材14の下流側に配置されている。
<Transfer member 15>
The transfer member 15 is for transferring the powder Pd adhesively held on the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 to the image pattern P formed on the main surface of the recording medium S. The transfer member 15 is arranged on the downstream side of the rubbing member 14 with respect to the rotation direction of the powder holding member 12.

この転写部材15は、円筒状のものであり、粉末保持部材12との間に記録媒体Sを挟持するニップ部を構成する。また転写部材15は、円筒状の内部に加熱部材15bを備えている。このような転写部材15は、金属ローラやゴムローラを用いて構成され、ゴムローラを用いる場合は耐熱性の観点からシリコンゴムやシリコンゴムの表面にフッ素層を設けたものであることが好ましい。 The transfer member 15 has a cylindrical shape, and constitutes a nip portion that sandwiches the recording medium S between the transfer member 15 and the powder holding member 12. Further, the transfer member 15 is provided with a heating member 15b inside a cylindrical shape. Such a transfer member 15 is configured by using a metal roller or a rubber roller, and when a rubber roller is used, it is preferable that a silicon rubber or a fluorine layer is provided on the surface of the silicon rubber from the viewpoint of heat resistance.

以上のような転写部材15は、粉末保持部材12との間にニップした記録媒体S上の画像パターンPを加熱し、画像パターンPを溶融させることによって画像パターンPに粘着性を発現させる。また転写部材15は、粉末保持部材12の粉末保持面12aに配向した状態で粘着保持された粉末Pdを、画像パターンPに対して押し圧する。これにより転写部材15は、粉末保持面12aから画像パターンPに、配向した状態の粉末Pdを転写する。 The transfer member 15 as described above heats the image pattern P on the recording medium S nipped between the transfer member 15 and the powder holding member 12 and melts the image pattern P to make the image pattern P sticky. Further, the transfer member 15 presses the powder Pd, which is adhesively held in a state of being oriented toward the powder holding surface 12a of the powder holding member 12, against the image pattern P. As a result, the transfer member 15 transfers the oriented powder Pd from the powder holding surface 12a to the image pattern P.

なお、画像パターンPは、粉末保持部材12と転写部材15との間のニップ部を通過した後に温度が低下して硬化し、粉末保持部材12から転写された粉末Pdを接着して保持する。これにより、画像形成装置1は、画像パターンPの表面に光沢を有する粉末Pdが貼り付けられた光沢画像P1を形成する。 The image pattern P passes through the nip portion between the powder holding member 12 and the transfer member 15, and then the temperature drops and hardens, and the powder Pd transferred from the powder holding member 12 is adhered and held. As a result, the image forming apparatus 1 forms a glossy image P1 in which the glossy powder Pd is attached to the surface of the image pattern P.

このようにして得られた光沢画像P1は、画像パターンPに対して粉末Pdが配向した状態で貼り付けられた状態となり、光沢性の高い画像となる。さらに光沢画像P1は、粉末Pdと画像パターンPとの接触面積が大きいものであるため、粉末Pdが剥がれ難いものとなる。 The glossy image P1 thus obtained is in a state of being attached with the powder Pd oriented with respect to the image pattern P, and becomes an image with high glossiness. Further, in the glossy image P1, since the contact area between the powder Pd and the image pattern P is large, the powder Pd is hard to be peeled off.

<清掃部材16>
清掃部材16は、転写部材15との間のニップ部を通過した粉末保持部材12の粉末保持面12a上に残された粉末Pdを回収し、粉末保持面12aを清掃するための部材である。このような清掃部材16は、例えば円筒状の側周をブラシやスポンジで構成したものであり、側周を粉末保持面12aに当接して配置されることで、粉末保持面12aに残された粉末Pdを掻き取る。またこの清掃部材16には、清掃部材16の側周面に対向して配置され、清掃部材16に掻き取られた粉末Pdを回収する粉末回収部材16aを有する。粉末回収部材16aは、例えばエアー吸引方式のものでもよい。さらに、清掃部材16は、回収容器16bを備える。回収容器16bは、少なくとも清掃部材16の下部に配置され、清掃部材16によって粉末保持面12aから除去されて落下する粉末Pdを受け止めて貯留し、記録媒体S上への粉末Pdの落下を防止する。
<Cleaning member 16>
The cleaning member 16 is a member for collecting the powder Pd remaining on the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 that has passed through the nip portion between the transfer member 15 and cleaning the powder holding surface 12a. Such a cleaning member 16 has, for example, a cylindrical side circumference made of a brush or a sponge, and is left on the powder holding surface 12a by arranging the side circumference in contact with the powder holding surface 12a. Scrape the powder Pd. Further, the cleaning member 16 has a powder recovery member 16a which is arranged so as to face the side peripheral surface of the cleaning member 16 and collects the powder Pd scraped by the cleaning member 16. The powder recovery member 16a may be, for example, an air suction type. Further, the cleaning member 16 includes a collection container 16b. The collection container 16b is arranged at least below the cleaning member 16, receives and stores the powder Pd that is removed from the powder holding surface 12a by the cleaning member 16 and falls, and prevents the powder Pd from falling onto the recording medium S. ..

<媒体上粉末回収部材17>
媒体上粉末回収部材17は、粉末保持部材12と転写部材15とのニップ部を通過した記録媒体S上の余分な粉末Pdを回収するためのものである。この媒体上粉末回収部材17は、記録媒体Sの搬送方向xにおける粉末保持部材12と転写部材15とのニップ部の下流側で、かつ記録媒体Sにおいて画像パターンPが形成された側に配置される。ここで、記録媒体S上の余分な粉末Pdとは、画像パターンPに接着保持されていない粉末Pdであることとする。
<Powder recovery member 17 on medium>
The powder recovery member 17 on the medium is for recovering excess powder Pd on the recording medium S that has passed through the nip portion between the powder holding member 12 and the transfer member 15. The powder recovery member 17 on the medium is arranged on the downstream side of the nip portion between the powder holding member 12 and the transfer member 15 in the transport direction x of the recording medium S, and on the side where the image pattern P is formed on the recording medium S. NS. Here, it is assumed that the extra powder Pd on the recording medium S is the powder Pd that is not adhered and held by the image pattern P.

このような媒体上粉末回収部材17は、例えばエアー吸引によって粉末Pdを吸引する構成のものが例示されるが、これに限定されることはない。 Examples of such a powder recovery member 17 on a medium have a configuration in which powder Pd is sucked by air suction, but the present invention is not limited to this.

<駆動制御部18>
駆動制御部18は、操作部19からの指示、および被覆率検出装置20での検査結果に基づいて、上述した各部および以降に説明する被覆率検出装置20の駆動を制御するドライバーであって、計算機によって構成されている。計算機は、いわゆるコンピューターとして用いられるハードウェアである。計算機は、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)、およびROM(Read Only Memory)やHDD(hard disk drive)のような不揮発性の記憶部、さらにはネットワークインターフェースを備えていてもよい。
<Drive control unit 18>
The drive control unit 18 is a driver that controls the drive of each of the above-described units and the coverage detection device 20 described below based on the instruction from the operation unit 19 and the inspection result of the coverage detection device 20. It is composed of a computer. A computer is hardware used as a so-called computer. The computer may include a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), a non-volatile storage unit such as a ROM (Read Only Memory) or an HDD (hard disk drive), and a network interface. ..

<操作部19>
操作部19は、例えばこの画像形成装置1を用いて実施されるジョブの設定を入力する部分である。この操作部19は、表示部と一体に設けたタッチパネルや操作ボタンであってよい。
<Operation unit 19>
The operation unit 19 is, for example, a part for inputting the setting of the job to be executed by using the image forming apparatus 1. The operation unit 19 may be a touch panel or operation buttons provided integrally with the display unit.

<粉末Pdの構成>
次に、粉末Pdの構成を説明する。粉末Pは、真球ではない非球形の形状を有する。このような粉末Pは、鱗片状であって扁平形状であることが、粉末保持面12aおよび画像パターンPに沿って配向させる観点から好ましい。
<Composition of powder Pd>
Next, the composition of the powder Pd will be described. The powder P has a non-spherical shape that is not a true sphere. It is preferable that such powder P has a scaly shape and a flat shape from the viewpoint of orientation along the powder holding surface 12a and the image pattern P.

粉末Pdが偏平形状であるとは、粉末Pにおける最大長さを長径[L]、長径[L]に直交する方向における最大長さを短径[W]、長径[L]および短径[W]に対して直交する方向の最少長さを厚み[t]とするときに、厚み[t]に対する短径[W]の比率が3以上である形状であることを言う。 The flat shape of the powder Pd means that the maximum length of the powder P is the major axis [L], and the maximum length in the direction orthogonal to the major axis [L] is the minor axis [W], the major axis [L], and the minor axis [W]. ], The ratio of the minor axis [W] to the thickness [t] is 3 or more, where the minimum length in the direction orthogonal to the thickness [t] is the thickness [t].

このような扁平形状の粉末Pの厚み[t]は、画像パターン100に粉末Pが配向した状態で接着した場合の粉末Pdによる光沢感を十分に発現させる観点から、0.2〜10μm程度であることが好ましく、0.2〜5.0μmであることがより好ましい。 The thickness [t] of such a flat-shaped powder P is about 0.2 to 10 μm from the viewpoint of sufficiently expressing the glossiness of the powder Pd when the powder P is adhered to the image pattern 100 in an oriented state. It is preferably 0.2 to 5.0 μm, and more preferably 0.2 to 5.0 μm.

粉末Pdの厚み[t]が小さすぎると、重なった粉末Pdを回収することが難しく、粉末保持面12aおよび画像パターンPに対する密着性を確保できない場合がある。また、画像形成装置1の内部で粉末Pdが破壊され、粉末Pの大きさにバラツキが発生し易くなる。これに対し、粉末Pdの厚み[t]が大きすぎると、画像パターン100に接着させた粉末Pが、画像パターン100から脱離し易くなる。 If the thickness [t] of the powder Pd is too small, it is difficult to recover the overlapped powder Pd, and the adhesion to the powder holding surface 12a and the image pattern P may not be ensured. In addition, the powder Pd is destroyed inside the image forming apparatus 1, and the size of the powder P tends to vary. On the other hand, if the thickness [t] of the powder Pd is too large, the powder P adhered to the image pattern 100 is likely to be separated from the image pattern 100.

また、扁平形状の粉末Pの長径[L]および短径[W]は、それぞれ1〜50μm程度であることが好ましく、15〜50μmであることがより好ましい。長径[L]および短径[W]が小さすぎるとハンドリングが困難になる。一方、長径[L]および短径[W]が大きすぎると、解像度の高い画像を形成することが困難になり、画像の階調性を低下させる要因となる。 The major axis [L] and minor axis [W] of the flat powder P are preferably about 1 to 50 μm, and more preferably 15 to 50 μm, respectively. If the major axis [L] and minor axis [W] are too small, handling becomes difficult. On the other hand, if the major axis [L] and the minor axis [W] are too large, it becomes difficult to form an image having a high resolution, which causes a factor of lowering the gradation of the image.

また粉末Pは、材料が限定されることはない。粉末Pは、光沢画像P1に所望の光沢を発現させる観点から、金属または金属酸化物を用いて構成されていること好ましい。また粉末Pは、二種以上の材料の粒子を混合して用いることも可能である。また粉末Pは、粒子を被覆したものであってもよく、例えば、金属酸化物または樹脂でその表面が被覆されている金属粉であってもよいし、樹脂または金属でその表面が被覆されている金属酸化物粉であってもよいし、金属、金属酸化物または樹脂でその表面が被覆されている樹脂粉であってもよい。 Further, the material of the powder P is not limited. The powder P is preferably composed of a metal or a metal oxide from the viewpoint of producing a desired gloss on the gloss image P1. Further, the powder P can be used by mixing particles of two or more kinds of materials. Further, the powder P may be a powder coated with particles, for example, a metal powder whose surface is coated with a metal oxide or a resin, or its surface is coated with a resin or a metal. It may be a metal oxide powder, or a resin powder whose surface is coated with a metal, a metal oxide or a resin.

また粉末は、合成品であってもよいし、市販品であってもよい。粉末Pとして用いられる市販品の例としては、サンシャインベビー クロムパウダー、オーロラパウダー、パールパウダー(いずれも株式会社GGコーポレーション製)、ICEGEL ミラーメタルパウダー(株式会社TAT製)、ピカエース MCシャインダスト 、エフェクトC(株式会社クラチ製、「ピカエース」は同社の登録商標)、PREGEL マジックパウダー、ミラーシリーズ(有限会社プリアンファ製、「PREGEL」は同社の登録商標)、Bonnailシャインパウダー(株式会社ケイズプランイング製、「BONNAIL」は同社の登録商標)、メタシャイン(日本板硝子株式会社製、「メタシャイン」は同社の登録商標)、エルジーneo(尾池工業株式会社製、「エルジーneo」は同社の登録商標)が含まれる。 Further, the powder may be a synthetic product or a commercially available product. Examples of commercially available products used as powder P are Sunshine Baby Chrome Powder, Aurora Powder, Pearl Powder (all manufactured by GG Corporation), ICEGEL Mirror Metal Powder (manufactured by TAT Co., Ltd.), Pika Ace MC Shine Dust, Effect C. (Made by Kurachi Co., Ltd., "Pika Ace" is a registered trademark of the company), PREGEL Magic Powder, Mirror Series (manufactured by Puri Anfa Co., Ltd., "PROGEL" is a registered trademark of the company), Bonnail Shine Powder (manufactured by K's Planning Co., Ltd., " "BONNAIL" is a registered trademark of the company), Metashine (manufactured by Nippon Sheet Glass Co., Ltd., "Metashine" is a registered trademark of the company), and LG neo (manufactured by Oike Kogyo Co., Ltd., "ELG neo" is a registered trademark of the company). included.

≪被覆率検出装置20≫
次に、画像形成装置1に設けられた被覆率検出装置20を説明する。被覆率検出装置20は、粉末Pdによる下地粘着層の被覆率を検出するためのものであって、下地粘着層が粉末Pで覆われている割合を算出する。本実施形態において、下地粘着層は、画像パターンPと、粉末保持部材12の粉末保持面12aである。このような被覆率検出装置20は、粉末Pdによる画像パターンPの被覆率を検知するための第1センサー100aと、粉末Pdによる粉末保持面12aの被覆率を検知するための第2センサー100bと、情報処理部200とを備えている。なお、第1センサー100aおよび第2センサー100bは、必要に応じて一方だけでもよい。
<< Coverage detection device 20 >>
Next, the coverage detection device 20 provided in the image forming device 1 will be described. The coverage detection device 20 is for detecting the coverage of the base adhesive layer by the powder Pd, and calculates the ratio of the base adhesive layer covered with the powder P. In the present embodiment, the base adhesive layer is the image pattern P and the powder holding surface 12a of the powder holding member 12. Such a coverage detection device 20 includes a first sensor 100a for detecting the coverage of the image pattern P by the powder Pd, and a second sensor 100b for detecting the coverage of the powder holding surface 12a by the powder Pd. , The information processing unit 200 is provided. The first sensor 100a and the second sensor 100b may be used alone, if necessary.

これらの部材を備えた被覆率検出装置20においては、異なる波長の光の反射率に基づいて、粉末Pdの被覆率を検知する。異なる波長の光は、下地粘着層に対して吸収される吸収波長光と、下地粘着層に対して非吸収であって下地粘着層で反射される非吸収波長光である。吸収波長光と非吸収波長光とは、下地粘着層毎にそれぞれ設定される波長光である。 In the coverage detection device 20 provided with these members, the coverage of the powder Pd is detected based on the reflectance of light having different wavelengths. Lights having different wavelengths are absorption wavelength light absorbed by the underlying adhesive layer and non-absorbent wavelength light that is non-absorbent to the underlying adhesive layer and reflected by the underlying adhesive layer. Absorption wavelength light and non-absorption wavelength light are wavelength light set for each underlying adhesive layer.

以下においては先ず、第1センサー100aの構成、第2センサー100bの構成を説明し、次に吸収波長光と非吸収波長光とを用いた被覆率検出の内容を説明し、その後、情報処理部200の構成を説明する。 In the following, first, the configuration of the first sensor 100a and the configuration of the second sensor 100b will be described, then the content of the coverage detection using the absorption wavelength light and the non-absorption wavelength light will be described, and then the information processing unit. The configuration of 200 will be described.

<第1センサー100a>
第1センサー100aは、光沢画像P1における粉末Pdの被覆率であって、粉末Pdによって画像パターンPが覆われている割合を算出するためのものである。このような第1センサー100aは、粉末保持部材12と転写部材15とのニップ部を通過した記録媒体Sに対向する位置に配置されている。
<First sensor 100a>
The first sensor 100a is the coverage of the powder Pd in the glossy image P1 and is for calculating the ratio of the image pattern P covered by the powder Pd. Such a first sensor 100a is arranged at a position facing the recording medium S that has passed through the nip portion of the powder holding member 12 and the transfer member 15.

図2は、実施形態に係る被覆率検出装置20が有する第1センサー100aの構成図である。この図に示すように、第1センサー100aは、光源部を構成する吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101nと、受光部を構成する2つの受光素子102とを備える。 FIG. 2 is a configuration diagram of the first sensor 100a included in the coverage detection device 20 according to the embodiment. As shown in this figure, the first sensor 100a includes an absorption wavelength light source 101a and a non-absorption wavelength light source 101n that form a light source unit, and two light receiving elements 102 that form a light receiving unit.

このうち吸収波長光源101aは、下地粘着層である画像パターンPに対して吸収される波長の光として、吸収波長光Haを発生する発光素子である。また非吸収波長光源101nは、下地粘着層である画像パターンPに対して非吸収である波長の光として、非吸収波長光Hnを発生する発光素子である。発光素子は例えばLEDであってよい。なお、吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnの波長の範囲は、ある程度の幅を有していてよい。 Of these, the absorption wavelength light source 101a is a light emitting element that generates absorption wavelength light Ha as light having a wavelength that is absorbed by the image pattern P that is the underlying adhesive layer. The non-absorbent wavelength light source 101n is a light emitting element that generates non-absorbent wavelength light Hn as light having a wavelength that is non-absorbent with respect to the image pattern P that is the underlying adhesive layer. The light emitting element may be, for example, an LED. The wavelength range of the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn may have a certain range.

吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnは、被覆率の算出精度の観点から、画像パターンPに対する分光反射率の差が大きいほうが好ましい。具体的には、分光反射率の差は40%以上が好ましく、70%以上であればさらに好ましい。このような吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnの波長は、光沢画像P1を構成する画像パターンPの分光反射特性に基づいて設定される。 From the viewpoint of the calculation accuracy of the coverage, it is preferable that the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn have a large difference in spectral reflectance with respect to the image pattern P. Specifically, the difference in spectral reflectance is preferably 40% or more, and more preferably 70% or more. The wavelengths of such absorption wavelength light Ha and non-absorption wavelength light Hn are set based on the spectral reflection characteristics of the image pattern P constituting the glossy image P1.

図3は、下地粘着層としての画像パターンPの分光反射特性を示す図であって、一例としてシアントナーを用いた画像パターンPの分光反射特性である。この図に示すように、シアントナーを用いた画像パターンPは、波長632nmの光の分光反射率が5.85%であり、波長870nmの光の分光反射率が96.66%である。これらの波長の光の分光反射率の差は90.81%であって、十分に大きな差を有する。 FIG. 3 is a diagram showing the spectral reflection characteristics of the image pattern P as the base adhesive layer, and is, as an example, the spectral reflection characteristics of the image pattern P using cyan toner. As shown in this figure, the image pattern P using cyan toner has a spectral reflectance of light having a wavelength of 632 nm of 5.85% and a spectral reflectance of light having a wavelength of 870 nm of 96.66%. The difference in spectral reflectance of light of these wavelengths is 90.81%, which is a sufficiently large difference.

このため、画像パターンPがシアントナーを用いたものである場合の一例として、波長632nmの光が吸収波長光Haとして設定され、波長870nmの光が非吸収波長光Hnとして設定される。 Therefore, as an example of the case where the image pattern P uses cyan toner, light having a wavelength of 632 nm is set as absorption wavelength light Ha, and light having a wavelength of 870 nm is set as non-absorption wavelength light Hn.

図2に戻り、吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101nは、記録媒体Sの主面に対して斜め方向から、光沢画像P1に対して吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnを照射するように配置される。また吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101nは、光沢画像P1におけるある程度の面積に対して吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnを照射する。吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnの照射面積は、被覆率の算出精度の観点から、粉末Pdに対して十分に広い面積で有ることとする。 Returning to FIG. 2, the absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n irradiate the glossy image P1 with the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn from an oblique direction with respect to the main surface of the recording medium S. Is placed in. Further, the absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n irradiate the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn on a certain area in the glossy image P1. The irradiation area of the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn is assumed to be a sufficiently large area with respect to the powder Pd from the viewpoint of the calculation accuracy of the coverage.

また吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101nは、記録媒体Sの搬送方向xに順次に配置され、駆動制御部18での制御により、光沢画像P1における同一の領域に対して吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnを照射するように駆動される。 Further, the absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n are sequentially arranged in the transport direction x of the recording medium S, and the absorption wavelength light Ha and the absorption wavelength light Ha and the absorption wavelength light Ha and the same region in the glossy image P1 are controlled by the drive control unit 18. It is driven to irradiate non-absorbent wavelength light Hn.

各受光素子102は、吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101nから照射され、光沢画像P1の画像パターンPおよびこれに平行な粉末Pdで正反射した正反射光Hra,Hrnを受光する位置に配置されている。つまり、一方の受光素子102は、吸収波長光源101aから照射された吸収波長光Haのうち、光沢画像P1で正反射した正反射光Hraを受光する位置に配置されている。またもう一方の受光素子102は、非吸収波長光源101nから照射された非吸収波長光Hnのうち、光沢画像P1で正反射した正反射光Hrnを受光する位置に配置されている。 Each light receiving element 102 is arranged at a position where it receives the specularly reflected light Hra and Hrn that are irradiated from the absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n and are specularly reflected by the image pattern P of the glossy image P1 and the powder Pd parallel thereto. Has been done. That is, one of the light receiving elements 102 is arranged at a position where it receives the specularly reflected light Hra that is specularly reflected by the glossy image P1 among the absorption wavelength light Ha emitted from the absorption wavelength light source 101a. The other light receiving element 102 is arranged at a position where it receives the specular reflected light Hrn that is specularly reflected by the glossy image P1 among the non-absorbing wavelength light Hn emitted from the non-absorbing wavelength light source 101n.

これらの各受光素子102は、受光した全波長の光を光電変換して出力するものであって、受光量に応じた電圧を出力するものである。このような受光素子102は、例えばフォトダイオードであってよい。なお、吸収波長光源101aに対応して設けられた受光素子102は、少なくとも吸収波長光Haの正反射光Hraに対応する波長を受光できればよい。また、非吸収波長光源101nに対応して設けられた受光素子102は、少なくとも非吸収波長光Hnの正反射光Hrnに対応する波長を受光できればよい。 Each of these light receiving elements 102 photoelectrically converts the received light of all wavelengths and outputs the light, and outputs a voltage corresponding to the amount of light received. Such a light receiving element 102 may be, for example, a photodiode. The light receiving element 102 provided corresponding to the absorption wavelength light source 101a may receive at least a wavelength corresponding to the specular reflection light Hra of the absorption wavelength light Ha. Further, the light receiving element 102 provided corresponding to the non-absorbing wavelength light source 101n may receive at least a wavelength corresponding to the specular reflected light Hrn of the non-absorbing wavelength light Hn.

このような構成の第1センサー100aであれば、記録媒体Sを一回搬送することで、同一箇所に非吸収波長光Hnと正反射光Hrnとを照射し、これらの正反射光Hra,Hrnを受光することができるため、精度の高い被覆率の検出を実施することができる。 With the first sensor 100a having such a configuration, the recording medium S is conveyed once to irradiate the same location with the non-absorbent wavelength light Hn and the specularly reflected light Hrn, and these specularly reflected lights Hra and Hrn. Can receive light, so it is possible to detect the coverage with high accuracy.

<第2センサー100b>
図1に戻り、第2センサー100bは、粉末保持部材12の粉末保持面12aにおける粉末Pdの被覆率であって、粉末Pdによって粉末保持面12aが覆われている割合を算出するためのものである。このような第2センサー100bは、粉末保持部材12の回転方向に対して、粉末保持部材12と転写部材15とのニップ部の上流側において、粉末保持面12aに対向する位置に配置されている。
<Second sensor 100b>
Returning to FIG. 1, the second sensor 100b is the coverage of the powder Pd on the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 for calculating the ratio of the powder Pd covering the powder holding surface 12a. be. Such a second sensor 100b is arranged at a position facing the powder holding surface 12a on the upstream side of the nip portion between the powder holding member 12 and the transfer member 15 with respect to the rotation direction of the powder holding member 12. ..

図4は、実施形態に係る被覆率検出装置20が有する第2センサー100bの構成図である。この第2センサー100bが、第1センサー100aと異なるところは、取り扱い波長にある。すなわち、第2センサー100bが、光源部を構成する吸収波長光源101a’および非吸収波長光源101n’と、受光部を構成する2つの受光素子102’とを備えることは、第1センサー100a(図2参照)と同様である。 FIG. 4 is a configuration diagram of the second sensor 100b included in the coverage detection device 20 according to the embodiment. The difference between the second sensor 100b and the first sensor 100a lies in the handling wavelength. That is, the fact that the second sensor 100b includes an absorption wavelength light source 101a'and a non-absorption wavelength light source 101n' that form a light source unit and two light receiving elements 102' that form a light receiving unit means that the first sensor 100a (FIG. 2) is the same.

このうち吸収波長光源101a’は、下地粘着層である粉末保持面12aに対して吸収される波長の光として、吸収波長光Ha’を発生する発光素子である。また非吸収波長光源101n’は、地粘着層である粉末保持面12aに対して非吸収である波長の光として非吸収波長光Hn’を発生する発光素子である。なお、吸収波長光Ha’および非吸収波長光Hn’の波長の範囲は、ある程度の幅を有していてよいことは、第1センサー100aと同様である。 Of these, the absorption wavelength light source 101a'is a light emitting element that generates absorption wavelength light Ha'as light having a wavelength that is absorbed by the powder holding surface 12a, which is the base adhesive layer. The non-absorbent wavelength light source 101n'is a light emitting element that generates non-absorbent wavelength light Hn'as light having a wavelength that is non-absorbent with respect to the powder holding surface 12a, which is a ground adhesive layer. It should be noted that the wavelength range of the absorption wavelength light Ha'and the non-absorption wavelength light Hn'may have a certain range, which is the same as that of the first sensor 100a.

吸収波長光Ha’および非吸収波長光Hn’は、粉末保持面12aに対する分光反射率の差が大きいほうが好ましいことは、第1センサー100aと同様である。このような吸収波長光Ha’および非吸収波長光Hn’の波長は、粉末保持面12aの分光反射特性に基づいて設定される。 As with the first sensor 100a, it is preferable that the absorption wavelength light Ha'and the non-absorption wavelength light Hn'have a large difference in spectral reflectance with respect to the powder holding surface 12a. The wavelengths of such absorption wavelength light Ha'and non-absorption wavelength light Hn'are set based on the spectral reflection characteristics of the powder holding surface 12a.

図5は、下地粘着層としての粉末保持面12aの分光反射特性を示す図であって、一例としてシリコンゴムからなる粉末保持面12aの分光反射特性である。図5中の実線は、劣化のないシリコンゴムからなる粉末保持面12aの分光反射特性である。一方、図5中の破線は、長期使用の影響によって劣化したシリコンゴムからなる粉末保持面12aの分光反射特性である FIG. 5 is a diagram showing the spectral reflection characteristics of the powder holding surface 12a as the base adhesive layer, and as an example, is the spectral reflection characteristics of the powder holding surface 12a made of silicon rubber. The solid line in FIG. 5 shows the spectral reflection characteristics of the powder holding surface 12a made of silicon rubber without deterioration. On the other hand, the broken line in FIG. 5 shows the spectral reflection characteristics of the powder holding surface 12a made of silicon rubber that has deteriorated due to the influence of long-term use.

この図に示すように、劣化のないシリコンゴムからなる粉末保持面12aは、波長520nmの光の分光反射率が2%であり、波長730nmの光の分光反射率が51%である。これらの波長の光の分光反射率の差は49%であって、十分に大きな差を有する。また劣化したシリコンゴムからなる粉末保持面12aは、波長520nmの光の分光反射率が4.8%であり、波長730nmの光の分光反射率が46%である。これらの波長の光の分光反射率の差は41.2%であって、十分に大きな差を有する。 As shown in this figure, the powder holding surface 12a made of non-deteriorated silicon rubber has a spectral reflectance of 2% for light having a wavelength of 520 nm and a spectral reflectance of 51% for light having a wavelength of 730 nm. The difference in spectral reflectance of light of these wavelengths is 49%, which is a sufficiently large difference. The powder holding surface 12a made of deteriorated silicon rubber has a spectral reflectance of 4.8% for light having a wavelength of 520 nm and a spectral reflectance of 46% for light having a wavelength of 730 nm. The difference in spectral reflectance of light of these wavelengths is 41.2%, which is a sufficiently large difference.

このため、粉末保持面12aがシリコンゴムからなる場合の一例として、波長520nmの光が吸収波長光Ha’として設定され、波長730nmの光が非吸収波長光Hn’として設定される。 Therefore, as an example of the case where the powder holding surface 12a is made of silicon rubber, light having a wavelength of 520 nm is set as absorption wavelength light Ha', and light having a wavelength of 730 nm is set as non-absorption wavelength light Hn'.

図4に戻り、吸収波長光源101a’および非吸収波長光源101n’は、粉末保持面12aの法線に対して斜め方向から、粉末保持面12aに対して吸収波長光Ha’および非吸収波長光Hn’を照射するように配置される。また吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101nは、粉末保持面12aにおけるある程度の面積であって、粉末Pdに対して十分に広い面積に対して吸収波長光Ha’および非吸収波長光Hn’を照射する。また吸収波長光源101a’および非吸収波長光源101n’は、粉末保持部材12の回転方向に順次に配置され、駆動制御部18での制御により、粉末保持面12aにおける同一の領域に対して吸収波長光Ha’および非吸収波長光Hn’を照射するように駆動される。 Returning to FIG. 4, the absorption wavelength light source 101a'and the non-absorption wavelength light source 101n' are oblique to the normal line of the powder holding surface 12a, and the absorption wavelength light Ha'and the non-absorption wavelength light Ha'and the non-absorption wavelength light with respect to the powder holding surface 12a. Arranged to irradiate Hn'. Further, the absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n provide absorption wavelength light Ha'and non-absorption wavelength light Hn'with respect to a certain area on the powder holding surface 12a and a sufficiently large area with respect to the powder Pd. Irradiate. Further, the absorption wavelength light source 101a'and the non-absorption wavelength light source 101n' are sequentially arranged in the rotation direction of the powder holding member 12, and are controlled by the drive control unit 18 to have an absorption wavelength with respect to the same region on the powder holding surface 12a. It is driven to irradiate light Ha'and non-absorbent wavelength light Hn'.

また各受光素子102’は、吸収波長光源101a’および非吸収波長光源101n’から照射され、粉末保持面12aおよび粉末保持面12aと平行な粉末Pdで正反射した正反射光Hra’,Hrn’を受光する位置に配置されている。つまり、一方の受光素子102’は、吸収波長光源101a’から照射された吸収波長光Ha’のうち、粉末保持面12aで正反射した正反射光Hra’を受光する位置に配置されている。またもう一方の受光素子102’は、非吸収波長光源101n’から照射された非吸収波長光Hn’のうち、粉末保持面12aで正反射した正反射光Hrn’を受光する位置に配置されている。 Further, each light receiving element 102'is irradiated from the absorption wavelength light source 101a'and the non-absorption wavelength light source 101n', and is specularly reflected by the powder Pd parallel to the powder holding surface 12a and the powder holding surface 12a. Is located at a position to receive light. That is, one of the light receiving elements 102'is arranged at a position where the specular reflected light Hra', which is regularly reflected by the powder holding surface 12a, is received from the absorbed wavelength light Ha' radiated from the absorption wavelength light source 101a'. The other light receiving element 102'is arranged at a position where it receives the specular reflected light Hrn'reflected by the powder holding surface 12a among the non-absorbing wavelength light Hn'irradiated from the non-absorbing wavelength light source 101n'. There is.

また第2センサー100bの各受光素子102’は、受光した全波長の光を光電変換して出力するものであって、受光量に応じた電圧を出力するものである。なお、吸収波長光源101a’に対応して設けられた受光素子102’は、少なくとも吸収波長光Ha’の正反射光Hra’に対応する波長を受光できればよい。また、非吸収波長光源101n’に対応して設けられた受光素子102’は、少なくとも非吸収波長光Hn’の正反射光Hrn’に対応する波長を受光できればよい。 Further, each light receiving element 102'of the second sensor 100b photoelectrically converts the received light of all wavelengths and outputs the light, and outputs a voltage corresponding to the received light amount. The light receiving element 102'provided corresponding to the absorption wavelength light source 101a' may receive at least a wavelength corresponding to the specular reflected light Hra'of the absorption wavelength light Ha'. Further, the light receiving element 102'provided corresponding to the non-absorbing wavelength light source 101n'is sufficient if it can receive at least a wavelength corresponding to the specular reflected light Hrn'of the non-absorbing wavelength light Hn'.

このような構成の第2センサー100bであれば、粉末保持部材12を一回転することで、同一箇所に非吸収波長光Hn’と正反射光Hrn’とを照射し、これらの正反射光Hra’,Hrn’を受光することができるため、精度の高い被覆率の検出を実施することができる。 With the second sensor 100b having such a configuration, the powder holding member 12 is rotated once to irradiate the same location with the non-absorbent wavelength light Hn'and the specularly reflected light Hrn', and these specularly reflected light Hra. Since', Hrn'can be received, it is possible to detect the coverage with high accuracy.

<第1センサーおよび第2センサーの変形例>
第1センサー100aおよび第2センサー100bは、以上説明したような構成に限定されることはなく、それぞれに設定した吸収波長光Haまたは吸収波長光Ha’と、非吸収波長光Hnまたは非吸収波長Hn’の各反射率を個別に検知可能な構成であればよい。以下に第1センサー100aを例示して、第1センサー100aの変形例を説明するが、説明する各変形例は第2センサー100bとしても同様に適用可能であり、それぞれ個別に適用可能である。
<Modification example of the first sensor and the second sensor>
The first sensor 100a and the second sensor 100b are not limited to the configurations as described above, and the absorption wavelength light Ha or absorption wavelength light Ha'set for each and the non-absorption wavelength light Hn or non-absorption wavelength. Any configuration may be used as long as each reflectance of Hn'can be detected individually. A modified example of the first sensor 100a will be described below by exemplifying the first sensor 100a, but each of the modified examples described can be similarly applied to the second sensor 100b, and can be applied individually.

[第1変形例]
図6は、実施形態に係る被覆率検出装置が有する第1センサーの第1変形例を示す図である。この図に示す第1変形例の第1センサー100a−1は、1つの白色光源101wと、2つの受光素子102と、吸収波長フィルター103aおよび非吸収波長フィルター103nを備える。
[First modification]
FIG. 6 is a diagram showing a first modification of the first sensor included in the coverage detection device according to the embodiment. The first sensor 100a-1 of the first modification shown in this figure includes one white light source 101w, two light receiving elements 102, an absorption wavelength filter 103a, and a non-absorption wavelength filter 103n.

白色光源101wは、白色光Hwを発光する発光素子であって、白色光は少なくとも上述した吸収波長光Haと非吸収波長光Hnとを含む。また白色光源101wは、光沢画像P1の法線に対して斜め方向から光沢画像P1に対して白色光Hwを照射するように配置され、光沢画像P1におけるある程度の面積に対して白色光Wを照射する。また白色光源101wは、光沢画像P1におけるある程度の面積であって、粉末Pdに対して十分に広い面積に対して白色光Wを照射する。 The white light source 101w is a light emitting element that emits white light Hw, and the white light includes at least the above-mentioned absorption wavelength light Ha and non-absorption wavelength light Hn. Further, the white light source 101w is arranged so as to irradiate the glossy image P1 with white light Hw from an oblique direction with respect to the normal of the glossy image P1, and irradiates the white light W with respect to a certain area of the glossy image P1. do. Further, the white light source 101w irradiates the white light W on a sufficiently large area with respect to the powder Pd, which is a certain area in the glossy image P1.

また2つの受光素子102は、白色光源101wから照射され光沢画像P1で正反射した正反射光Hrを受光する位置に配置されている。これらの受光素子102は、実施形態で説明した第1センサー100aの受光素子102と同様のものであってよい。 Further, the two light receiving elements 102 are arranged at positions that receive the specular reflected light Hr that is irradiated from the white light source 101w and is specularly reflected by the glossy image P1. These light receiving elements 102 may be the same as the light receiving elements 102 of the first sensor 100a described in the embodiment.

吸収波長フィルター103aおよび非吸収波長フィルター103nは、受光素子102の光入射面に配置され、各受光素子102に入射する光を制限する。このうち、吸収波長フィルター103aは、白色光源101wから照射され光沢画像P1で正反射した正反射光Hrのうち、吸収波長光Haを透過し非吸収波長光Hnを遮光する光フィルターである。吸収波長フィルター103aは、吸収波長光Haのみを、一方の受光素子102に入射させる。また非吸収波長フィルター103nは、白色光源101wから照射され光沢画像P1で正反射した正反射光Hrのうち、非吸収波長光Hnを透過し吸収波長光Haを遮光する光フィルターである。非吸収波長フィルター103nは、非吸収波長光Hnのみを、一方の受光素子102に入射させる。 The absorption wavelength filter 103a and the non-absorption wavelength filter 103n are arranged on the light incident surface of the light receiving element 102, and limit the light incident on each light receiving element 102. Of these, the absorption wavelength filter 103a is an optical filter that transmits the absorption wavelength light Ha and shields the non-absorption wavelength light Hn from the positively reflected light Hr that is irradiated from the white light source 101w and positively reflected by the glossy image P1. The absorption wavelength filter 103a causes only the absorption wavelength light Ha to be incident on one of the light receiving elements 102. The non-absorption wavelength filter 103n is an optical filter that transmits the non-absorption wavelength light Hn and shields the absorption wavelength light Ha from the positively reflected light Hr that is irradiated from the white light source 101w and positively reflected by the glossy image P1. The non-absorbent wavelength filter 103n causes only the non-absorbent wavelength light Hn to be incident on one of the light receiving elements 102.

このような第1変形例の構成は、1回のタイミングで、同一箇所から異なる波長の正反射光Hra,Hrnを受光することができるため、光照射位置が異なることや照射のタイミングが異なることによる被覆率の検出誤差を防止できる。 In the configuration of such a first modification, since the specularly reflected lights Hra and Hrn having different wavelengths can be received from the same location at one timing, the light irradiation positions are different and the irradiation timings are different. It is possible to prevent the detection error of the coverage rate due to.

なお、第1センサー100a−1のさらなる変形例として、吸収波長フィルター103aおよび非吸収波長フィルター103nと受光素子102に変えて、それぞれが特定の波長領域の光のみを受光して光電変換する2つの受光素子を設けた構成が例示される。この場合、一方の受光素子102は、非吸収波長光Hnを含まず、吸収波長光Haを含む波長範囲の光のみを受光する。また、もう一方の受光素子102は、吸収波長光Haを含まず、非吸収波長光Hnを含む波長範囲の光のみを受光する。 As a further modification of the first sensor 100a-1, two are changed to an absorption wavelength filter 103a, a non-absorption wavelength filter 103n, and a light receiving element 102, each of which receives only light in a specific wavelength region and performs photoelectric conversion. An example is a configuration in which a light receiving element is provided. In this case, one of the light receiving elements 102 does not include the non-absorption wavelength light Hn and receives only the light in the wavelength range including the absorption wavelength light Ha. Further, the other light receiving element 102 does not include the absorption wavelength light Ha and receives only the light in the wavelength range including the non-absorption wavelength light Hn.

[第2変形例]
図7は、実施形態に係る被覆率検出装置が有する第1センサーの第2変形例を示す図である。
この図に示す第2変形例の第1センサー100a−2は、吸収波長光源101aと、非吸収波長光源101nと、1つの受光素子102とを備える。
[Second modification]
FIG. 7 is a diagram showing a second modification of the first sensor included in the coverage detection device according to the embodiment.
The first sensor 100a-2 of the second modification shown in this figure includes an absorption wavelength light source 101a, a non-absorption wavelength light source 101n, and one light receiving element 102.

吸収波長光源101aは、上述した吸収波長光Haを発光する素子であり、非吸収波長光源101nは、上述した非吸収波長光Hnを発光する素子である。吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101nは、光沢画像P1の法線に対して斜め方向から光沢画像P1に対して吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnを照射するように配置される。また吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101nは、光沢画像P1におけるある程度の面積であって、粉末Pdに対して十分に広い面積に対して、吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnを順次に照射する。 The absorption wavelength light source 101a is an element that emits the above-mentioned absorption wavelength light Ha, and the non-absorption wavelength light source 101n is an element that emits the above-mentioned non-absorption wavelength light Hn. The absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n are arranged so as to irradiate the glossy image P1 with the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn from an oblique direction with respect to the normal line of the glossy image P1. Further, the absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n sequentially apply the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn to a certain area in the glossy image P1 and a sufficiently large area with respect to the powder Pd. Irradiate.

受光素子102は、少なくとも上述した吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hを含む波長領域の光を受光して光電変換するものである。このような受光素子102は、吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101nから順次に照射される吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnのうち、光沢画像P1で正反射した正反射光Hra,Hrnを受光する位置に配置されている。 The light receiving element 102 receives light in a wavelength region including at least the above-mentioned absorption wavelength light Ha and non-absorption wavelength light H and performs photoelectric conversion. Such a light receiving element 102 is a specularly reflected light Hra, Hrn that is specularly reflected by the glossy image P1 among the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn that are sequentially emitted from the absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n. Is arranged at a position to receive light.

[第3変形例]
図8は、実施形態に係る被覆率検出装置が有する第1センサーの第3変形例を示す図である。この図に示す第3変形例の第1センサー100a−3は、1つの白色光源101wと、1つの受光素子102と、吸収波長フィルター103aおよび非吸収波長フィルター103nを備える。
[Third variant]
FIG. 8 is a diagram showing a third modification of the first sensor included in the coverage detection device according to the embodiment. The first sensor 100a-3 of the third modification shown in this figure includes one white light source 101w, one light receiving element 102, an absorption wavelength filter 103a, and a non-absorption wavelength filter 103n.

白色光源101wは、第1変形例で説明した白色光Hwと同様のものであってよい。また受光素子102は、第2変形例で説明した受光素子102と同様のものであってよい。 The white light source 101w may be the same as the white light Hw described in the first modification. Further, the light receiving element 102 may be the same as the light receiving element 102 described in the second modification.

また吸収波長フィルター103aおよび非吸収波長フィルター103nは、第1変形例で説明したものと同様のものである。これらの吸収波長フィルター103aおよび非吸収波長フィルター103nは、受光素子102の光入射面において入れ替え自在に配置され、駆動制御部18での制御により受光素子102に入射する光を順次に制限する。 The absorption wavelength filter 103a and the non-absorption wavelength filter 103n are the same as those described in the first modification. These absorption wavelength filters 103a and non-absorption wavelength filters 103n are arranged so as to be interchangeable on the light incident surface of the light receiving element 102, and the light incident on the light receiving element 102 is sequentially limited by the control of the drive control unit 18.

[第4変形例]
図9は、実施形態に係る被覆率検出装置が有する第1センサーの第4変形例を示す図である。この図に示す第4変形例の第1センサー100a−4が、第3変形例のものと異なるところは、吸収波長フィルター103aおよび非吸収波長フィルター103nの配置箇所にある。
[Fourth variant]
FIG. 9 is a diagram showing a fourth modification of the first sensor included in the coverage detection device according to the embodiment. The difference between the first sensor 100a-4 of the fourth modification shown in this figure and that of the third modification is that the absorption wavelength filter 103a and the non-absorption wavelength filter 103n are arranged.

すなわち、第4変形例の第1センサー100a−4において、吸収波長フィルター103aおよび非吸収波長フィルター103nは、白色光源101wの光射出面において入れ替え自在に配置され、白色光源101wから射出する光を制限する。このうち、吸収波長フィルター103aは、白色光源101wから照射された光のうち、吸収波長光Haを透過し非吸収波長光Hnを遮光する光フィルターである。また非吸収波長フィルター103nは、白色光源101wから照射された光のうち、非吸収波長光Hnを透過し吸収波長光Haを遮光する光フィルターである。 That is, in the first sensor 100a-4 of the fourth modification, the absorption wavelength filter 103a and the non-absorption wavelength filter 103n are arranged interchangeably on the light emission surface of the white light source 101w to limit the light emitted from the white light source 101w. do. Of these, the absorption wavelength filter 103a is an optical filter that transmits the absorption wavelength light Ha and shields the non-absorption wavelength light Hn from the light emitted from the white light source 101w. The non-absorption wavelength filter 103n is an optical filter that transmits the non-absorption wavelength light Hn and shields the absorption wavelength light Ha from the light emitted from the white light source 101w.

これらの吸収波長フィルター103aおよび非吸収波長フィルター103nは、駆動制御部18での制御により、白色光源101wの光射出面において入れ替え自在に配置されている。 The absorption wavelength filter 103a and the non-absorption wavelength filter 103n are interchangeably arranged on the light emitting surface of the white light source 101w under the control of the drive control unit 18.

<吸収波長光と非吸収波長光とを用いた被覆率の算出について>
図10は、実施形態に係る粉末の被覆率の算出を説明するための図であって、下地粘着層が画像パターンPである場合を例示している。この図は、先に説明した吸収波長光源101aと非吸収波長光源101nとから、記録媒体S上に形成された画像パターンPと光沢画像P1とに対して、吸収皮波長光Haと非吸収波長光Hnを斜め方向から照射した場合の模式例(a)〜(d)を示す。またこの図には、吸収皮波長光Haと非吸収波長光Hnの入射光量を100とした場合の、各模式例(a)〜(d)においての吸収光、乱反射光、および正反射光の割合を模式的に示している。
<Calculation of coverage using absorption wavelength light and non-absorption wavelength light>
FIG. 10 is a diagram for explaining the calculation of the coverage of the powder according to the embodiment, and illustrates the case where the base adhesive layer is the image pattern P. In this figure, the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength are shown with respect to the image pattern P and the glossy image P1 formed on the recording medium S from the absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n described above. Schematic examples (a) to (d) when light Hn is irradiated from an oblique direction are shown. Further, in this figure, when the incident light amount of the absorption skin wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn is 100, the absorbed light, the diffusely reflected light, and the specularly reflected light in the respective schematic examples (a) to (d) are shown. The ratio is schematically shown.

この図10において、模式例(a)は、被覆率0%の画像パターンPに、吸収波長光Haを照射した場合を例示している。この場合、画像パターンPに照射された吸収波長光Haは、その大部分が画像パターンPでの吸収光(1)となり、一部が画像パターンPでの乱反射光(2)、または画像パターンPでの正反射光(3)となる。このうちの正反射光(3)が、受光素子102で受光される正反射光Hraとなる。 In FIG. 10, the schematic example (a) illustrates a case where an image pattern P having a coverage rate of 0% is irradiated with absorption wavelength light Ha. In this case, most of the absorption wavelength light Ha irradiated to the image pattern P is the absorption light (1) in the image pattern P, and a part is the diffusely reflected light (2) in the image pattern P or the image pattern P. It becomes the specularly reflected light (3) in. Of these, the specularly reflected light (3) becomes the specularly reflected light Hra received by the light receiving element 102.

模式例(b)は、被覆率0%の画像パターンPに、非吸収波長光Hnを照射した場合を例示している。この場合、画像パターンPに照射された非吸収波長光Hnは、画像パターンPでは吸収されず、その大部分が画像パターンPでの乱反射光(2)、または画像パターンPでの正反射光(3)となる。このうちの正反射光(3)が、受光素子102で受光される正反射光Hrnとなる。 The schematic example (b) exemplifies the case where the image pattern P having a coverage rate of 0% is irradiated with the non-absorbent wavelength light Hn. In this case, the non-absorption wavelength light Hn irradiated on the image pattern P is not absorbed by the image pattern P, and most of it is diffusely reflected light (2) in the image pattern P or specularly reflected light (2) in the image pattern P. 3). Of these, the specularly reflected light (3) becomes the specularly reflected light Hrn received by the light receiving element 102.

模式例(c)は、光沢画像P1に吸収波長光Haを照射した場合を例示している。この場合、画像パターンPの露出部分に照射された吸収波長光Haは、その大部分が画像パターンPでの吸収光(1)となり、一部が画像パターンPでの乱反射光(2)、または画像パターンPでの正反射光(3)となる。このうちの正反射光(3)が、正反射光Hraの一部として受光素子102で受光される。 The schematic example (c) illustrates the case where the glossy image P1 is irradiated with the absorption wavelength light Ha. In this case, most of the absorption wavelength light Ha irradiated to the exposed portion of the image pattern P is the absorption light (1) in the image pattern P, and a part is the diffusely reflected light (2) in the image pattern P, or It becomes the specularly reflected light (3) in the image pattern P. Of these, the specularly reflected light (3) is received by the light receiving element 102 as a part of the specularly reflected light Hra.

またこの場合、粉末Pdに照射された吸収波長光Haは、ほとんど粉末Pdでは吸収されずに、粉末Pdでの正反射光(4)、または粉末Pdでの乱反射光(5)となる。このうちの正反射光(4)が、正反射光Hraの一部として受光素子102で受光される。 Further, in this case, the absorption wavelength light Ha irradiated to the powder Pd is hardly absorbed by the powder Pd and becomes specular light (4) in the powder Pd or diffusely reflected light (5) in the powder Pd. Of these, the specularly reflected light (4) is received by the light receiving element 102 as a part of the specularly reflected light Hra.

模式例(d)は、光沢画像P1に非吸収波長光Hnを照射した場合を例示している。この場合、画像パターンPの露出部分に照射された非吸収波長光Hnは、画像パターンPでは吸収されず、その大部分が画像パターンPでの乱反射光(2)、または画像パターンPでの正反射光(3)となる。このうちの正反射光(3)の一部が、正反射光Hrnとして受光素子102で受光される。 The schematic example (d) exemplifies the case where the glossy image P1 is irradiated with the non-absorbent wavelength light Hn. In this case, the non-absorption wavelength light Hn applied to the exposed portion of the image pattern P is not absorbed by the image pattern P, and most of it is diffusely reflected light (2) in the image pattern P or positive in the image pattern P. It becomes the reflected light (3). A part of the specularly reflected light (3) is received by the light receiving element 102 as the specularly reflected light Hrn.

またこの場合、粉末Pdに照射された非吸収波長光Hnは、ほとんどが粉末Pdでは吸収されずに、粉末Pdでの正反射光(4)、または粉末Pdでの乱反射光(5)となる。このうちの正反射光(4)が、正反射光Hraの一部として受光素子102で受光される。これは、吸収波長光Haを照射した場合の模式例(c)と同様である。 Further, in this case, most of the non-absorbent wavelength light Hn irradiated on the powder Pd is not absorbed by the powder Pd and becomes specular light (4) on the powder Pd or diffusely reflected light (5) on the powder Pd. .. Of these, the specularly reflected light (4) is received by the light receiving element 102 as a part of the specularly reflected light Hra. This is the same as the schematic example (c) in the case of irradiating the absorption wavelength light Ha.

ここで、光沢を有する粉末Pdは、画像パターンPに対する吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnの両方ともを、殆ど吸収することなく反射する。このため、上述模式例(c),(d)間において、吸収波長光Haの正反射光Hraの合計の受光量と、非吸収波長光Hnの正反射光Hrnの合計の受光量との差分ΔHは、画像パターンPでの正反射光(3)の差分に相当することがわかる。この差分ΔHの大きさは、画像パターンPの露出面積の大きさに対応する値であって、粉末Pdによる被覆率に応じた値であるが、粉末Pdの配向状態には影響されない値となる。したがって、この差分ΔHに基づいて、粉末Pdの配向状態に由来する誤差を取り除いた粉末Pdの被覆率を検出することができる。 Here, the glossy powder Pd reflects both the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn with respect to the image pattern P with almost no absorption. Therefore, between the above-mentioned schematic examples (c) and (d), the difference between the total amount of light received by the specularly reflected light Hra of the absorbed wavelength light Ha and the total amount of light received by the specularly reflected light Hrn of the non-absorbed wavelength light Hn. It can be seen that ΔH corresponds to the difference of the specularly reflected light (3) in the image pattern P. The magnitude of this difference ΔH is a value corresponding to the magnitude of the exposed area of the image pattern P and is a value corresponding to the coverage by the powder Pd, but is a value that is not affected by the orientation state of the powder Pd. .. Therefore, based on this difference ΔH, the coverage of the powder Pd can be detected by removing the error due to the orientation state of the powder Pd.

つまり、粉末Pdでの乱反射光(5)の大部分は、画像パターンPに対しての配向が不十分で、画像パターンPの表面に対して斜めに接着された粉末Pdにおいて正反射した光であって、受光素子102で受光されない反射光である。このため、このような粉末Pdでの乱反射光(5)発生は、単一の波長光を用いた通常の被覆率の算出においては誤差成分となる。しかしながら、上述した差分ΔHは、この誤差成分も差し引いた値であるため、この差分ΔHに基づいて算出される粉末Pdによる被覆率は、粉末Pdの配向状態による誤差成分を含まない値となる。したがって、差分ΔHに基づいて、粉末Pdの被覆率を精度良好に検出することができるのである。 That is, most of the diffusely reflected light (5) on the powder Pd is light that is specularly reflected on the powder Pd that is not sufficiently oriented with respect to the image pattern P and is obliquely adhered to the surface of the image pattern P. Therefore, it is the reflected light that is not received by the light receiving element 102. Therefore, the generation of diffusely reflected light (5) in such powder Pd becomes an error component in the calculation of the normal coverage using single wavelength light. However, since the above-mentioned difference ΔH is a value obtained by subtracting this error component, the coverage by the powder Pd calculated based on this difference ΔH is a value that does not include the error component due to the orientation state of the powder Pd. Therefore, the coverage of the powder Pd can be detected with good accuracy based on the difference ΔH.

<情報処理部200>
図1に戻り、被覆率検出装置20を構成する情報処理部200の構成を説明する。この情報処理部200は、上述した差分ΔHに基づく被覆率の検出を実施する。このような情報処理部200は、第1センサー100aおよび第2センサー100bから得た信号と、操作部19から得た情報とに基づいて粉末Pdの被覆率を検出する。また情報処理部200は、算出した被覆率に基づいて画像形成装置1の各部に補正指示を行う。
<Information Processing Department 200>
Returning to FIG. 1, the configuration of the information processing unit 200 constituting the coverage detection device 20 will be described. The information processing unit 200 detects the coverage based on the difference ΔH described above. Such an information processing unit 200 detects the coverage of the powder Pd based on the signals obtained from the first sensor 100a and the second sensor 100b and the information obtained from the operation unit 19. Further, the information processing unit 200 gives a correction instruction to each unit of the image forming apparatus 1 based on the calculated coverage.

このような情報処理部200は、計算機によって構成されている。計算機は、いわゆるコンピューターとして用いられるハードウェアである。計算機は、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)、およびROM(Read Only Memory)やHDD(hard disk drive)のような不揮発性の記憶部、さらにはネットワークインターフェースを備えていてもよい。このような計算機によって構成された情報処理部200は、被覆率の算出および補正指示のための被覆率検出プログラムを不揮発性の記憶部に保存し、保存された被覆率検出プログラムに基づく処理を実行することにより、被覆率の算出および補正指示を実施する。 Such an information processing unit 200 is composed of a computer. A computer is hardware used as a so-called computer. The computer may include a CPU (Central Processing Unit), a RAM (Random Access Memory), a non-volatile storage unit such as a ROM (Read Only Memory) or an HDD (hard disk drive), and a network interface. .. The information processing unit 200 configured by such a computer stores a coverage detection program for calculating the coverage and a correction instruction in a non-volatile storage unit, and executes processing based on the stored coverage detection program. By doing so, the coverage rate is calculated and the correction instruction is performed.

図11は、実施形態に係る被覆率検出装置20が有する情報処理部200の構成を説明するブロック図である。この図に示すように、情報処理部200は、第1センサー100a、第2センサー100b、駆動制御部18、および操作部19と接続されている。このような情報処理部200は、保存された被覆率検出プログラムを実行する各機能部として、特性保持部201と、補正係数保持部202と、光源調整部203と、被覆率検出部204と、補正指示部205とを備える。これらの各機能部は、以下の通りである。 FIG. 11 is a block diagram illustrating the configuration of the information processing unit 200 included in the coverage detection device 20 according to the embodiment. As shown in this figure, the information processing unit 200 is connected to the first sensor 100a, the second sensor 100b, the drive control unit 18, and the operation unit 19. Such an information processing unit 200 includes a characteristic holding unit 201, a correction coefficient holding unit 202, a light source adjusting unit 203, a covering ratio detecting unit 204, and as each functional unit that executes a stored coverage detection program. A correction indicating unit 205 is provided. Each of these functional parts is as follows.

[特性保持部201]
特性保持部201は、粉末の被覆率に対する反射光量を被覆率特性として保持する。特性保持部201は、下地粘着層毎に、すなわち画像パターンPの種類毎、および粉末保持部材12の粉末保持面12aの構成毎に、それぞれの被覆率特性を保持する。これらの被覆率特性は、あらかじめ実験的に取得された情報であって、例えば操作部19から入力された情報であることとする。
[Characteristic holding unit 201]
The characteristic holding unit 201 holds the amount of reflected light with respect to the coating rate of the powder as the covering rate characteristic. The characteristic holding unit 201 holds the respective coverage characteristics for each base adhesive layer, that is, for each type of image pattern P, and for each configuration of the powder holding surface 12a of the powder holding member 12. These coverage characteristics are information acquired experimentally in advance, and are, for example, information input from the operation unit 19.

図12は、粉末の被覆率に対する反射光量の被覆率特性を示す図であって、下地粘着層が画像パターンPである場合の例である。図12における縦軸のセンサー出力値は、各正反射光Hra,Henを受光した受光素子の出力値であって、上述した受光量に相当する。このような被覆率特性は、次のようにして取得される。 FIG. 12 is a diagram showing the coverage characteristics of the amount of reflected light with respect to the coverage of the powder, and is an example in the case where the base adhesive layer is the image pattern P. The sensor output value on the vertical axis in FIG. 12 is the output value of the light receiving element that has received the specularly reflected light Hra and Hen, and corresponds to the above-mentioned light receiving amount. Such coverage characteristics are obtained as follows.

先の図1および図2を参照し、先ず、粉末Pdによる被覆率を変化させた複数種類の光沢画像P1を用意する。これらの光沢画像P1は、粉末供給部材13による粉末Pdの供給量、摺擦部材14の摺擦条件、清掃部材16の清掃条件を変更することによって、粉末Pdによる被覆率を変化させる。次に、用意した光沢画像P1を、画像読み取り装置を用いて読み取り、読取画像の観察により、粉末Pdが重なっておらず、画像パターンPの表面に対して粉末Pdが平行であって良好に配向した光沢画像P1のみを選択する。そして、読取画像を画像処理ソフトによって二値化し、選択した各光沢画像P1においての粉末Pdによる被覆率を検出する。 With reference to FIGS. 1 and 2 above, first, a plurality of types of glossy images P1 in which the coverage with the powder Pd is changed are prepared. In these glossy images P1, the coverage by the powder Pd is changed by changing the supply amount of the powder Pd by the powder supply member 13, the rubbing condition of the rubbing member 14, and the cleaning condition of the cleaning member 16. Next, the prepared glossy image P1 is read by using an image reading device, and by observing the scanned image, the powder Pd does not overlap and the powder Pd is parallel to the surface of the image pattern P and is well oriented. Only the glossy image P1 is selected. Then, the scanned image is binarized by image processing software, and the coverage of the powder Pd in each selected glossy image P1 is detected.

また、各光沢画像P1に対し、吸収波長光Haを照射してその正反射光Hraを検出し、また非吸収波長光Hnを照射してその正反射光Henを検出する。そして、各正反射光Hra,Henの検出値を、各光沢画像P1に対して算出した被覆率に対してプロットする。これにより、粉末Pdの被覆率と、各正反射光Hr,Henの検出値(つまり受光量であってセンサー出量値)との関係を得る。 Further, each glossy image P1 is irradiated with absorption wavelength light Ha to detect its specular reflection light Hra, and is irradiated with non-absorption wavelength light Hn to detect its specular reflection light Hen. Then, the detected values of the specularly reflected lights Hra and Hen are plotted against the coverage ratio calculated for each glossy image P1. As a result, the relationship between the coverage of the powder Pd and the detected values of the specularly reflected lights Hr and Hen (that is, the amount of received light and the amount of output from the sensor) is obtained.

なお、図12に示す関係は、以下の場合の実測例である。
記録媒体S:エスプリFP(日本製紙社製商品名)
下地粘着層(画像パターンP):シアントナー(コニカミノルタ社製プロダクションプリント製品向けトナー)
粉末Pd:シルバー粉末:エルジーneo#325(尾池工業株式会社製)
吸収波長光源101a:砲弾型LED(ニチコン社製:ピーク波長632nm:入射角20度)
非吸収波長光源101n:砲弾型LED(スタンレー社製:ピーク波長870nm:受光角20度)
The relationship shown in FIG. 12 is an actual measurement example in the following cases.
Recording medium S: Esprit FP (trade name manufactured by Nippon Paper Industries, Ltd.)
Base adhesive layer (image pattern P): Cyan toner (toner for production print products manufactured by Konica Minolta)
Powder Pd: Silver Powder: LG neo # 325 (manufactured by Oike Kogyo Co., Ltd.)
Absorption wavelength light source 101a: Bullet-shaped LED (manufactured by Nichicon: peak wavelength 632 nm: incident angle 20 degrees)
Non-absorbent wavelength light source 101n: Bullet-shaped LED (manufactured by Stanley: Peak wavelength 870 nm: Light receiving angle 20 degrees)

特性保持部201は、このようにして得られた各センサー出力値(受光量)の差分を、差分特性として保持していてもよい。この差分は、図10を参照した上述の差分ΔHに相当する。 The characteristic holding unit 201 may hold the difference between the sensor output values (light receiving amount) thus obtained as the difference characteristic. This difference corresponds to the above-mentioned difference ΔH with reference to FIG.

図13は、粉末の被覆率に対する反射光量の差分特性を示す図であって、下地粘着層が画像パターンPである場合の例である。図13における縦軸の出力差は、吸収波長光Haの正反射光Hraを受光した受光素子の出力値(センサー出力値)と、非吸収波長光Hnの正反射光Hrnを受光した受光素子の出力値(センサー出力値)との差分であって、上述した差分ΔHに相当する。 FIG. 13 is a diagram showing the difference characteristic of the amount of reflected light with respect to the coverage of the powder, and is an example in the case where the base adhesive layer is the image pattern P. The output difference on the vertical axis in FIG. 13 is the output value (sensor output value) of the light receiving element that receives the specularly reflected light Hra of the absorption wavelength light Ha and the light receiving element that receives the specularly reflected light Hrn of the non-absorption wavelength light Hn. It is a difference from the output value (sensor output value) and corresponds to the above-mentioned difference ΔH.

[補正係数保持部202]
図11に示す補正係数保持部202は、特性保持部201が保持する被覆率特性を補正するための補正係数を保持する。この補正係数は、粉末における吸収波長光・非吸収波長光の正反射光の受光量を同程度にするための数値であって、粉末毎、および吸収波長光・非吸収波長光の波長毎に予め取得され、例えば操作部19から入力された情報であることとする。次に、この補正係数の詳細を説明する。
[Correction coefficient holding unit 202]
The correction coefficient holding unit 202 shown in FIG. 11 holds a correction coefficient for correcting the coverage characteristic held by the characteristic holding unit 201. This correction coefficient is a numerical value for making the received amount of the positively reflected light of the absorbed wavelength light and the non-absorbed wavelength light in the powder about the same, and is for each powder and each wavelength of the absorbed wavelength light and the non-absorbed wavelength light. It is assumed that the information is acquired in advance and input from, for example, the operation unit 19. Next, the details of this correction coefficient will be described.

図14は、各粉末の反射率特性を示す図であって、赤色粉末、銀色粉末、および青色粉末の3種類の光沢を有する粉末の分光反射特性を、反射率の積分値が同等になるように規格化した図である。赤色粉末、銀色粉末、および青色粉末は、エルジーneo#325Blue、Silver、Red(尾池工業株式会社製商品名)である。 FIG. 14 is a diagram showing the reflectance characteristics of each powder so that the spectral reflectance characteristics of the three types of glossy powders, red powder, silver powder, and blue powder, have the same integrated reflectance values. It is a figure standardized to. The red powder, silver powder, and blue powder are Elgi neo # 325Blue, Silver, and Red (trade names manufactured by Oike Kogyo Co., Ltd.).

図14に示すように、各粉末は、その種類毎に特有の分光反射特性を有し、吸収波長光の反射率と、非吸収波長光の反射率とは、同一であるとは限らない。そして、上述した差分ΔHにおいて、粉末の配向状態を無視するためには、吸収波長光・非吸収波長光の正反射光の受光量を同程度にすることで、粉末での吸収波長光・非吸収波長光の正反射光の受光量に関する数値を、差分ΔHから排除する必要がある。 As shown in FIG. 14, each powder has a spectral reflection characteristic peculiar to each type, and the reflectance of absorbed wavelength light and the reflectance of non-absorbed wavelength light are not always the same. Then, in order to ignore the orientation state of the powder in the above-mentioned difference ΔH, the amount of light received by the positively reflected light of the absorption wavelength light and the non-absorption wavelength light is set to be about the same, so that the absorption wavelength light and the non-absorption wavelength light of the powder are not received. It is necessary to exclude the numerical value related to the received amount of the positively reflected light of the absorption wavelength light from the difference ΔH.

例えば下地粘着層に対する吸収波長光および非吸収波長光として、波長520nmの吸収波長光と、波長730nmの非吸収波長を用いて青色粉末の被覆率を検出する場合を想定する。 For example, it is assumed that the coverage of the blue powder is detected by using the absorption wavelength light having a wavelength of 520 nm and the non-absorption wavelength light having a wavelength of 730 nm as the absorption wavelength light and the non-absorption wavelength light for the underlying adhesive layer.

図14に示されるように、青色粉末に対する波長520nmの吸収波長光の反射率は19%であり、波長730nmの非吸収波長の反射率は11%である。したがって、粉末の被覆率が100%の場合、吸収波長光の正反射光の受光量は、非吸収波長の正反射光の受光量に対し、19%÷11%=1.73倍となり、相対的な受光量が大きく出力されることになる。これに対し、粉末の被覆率が0%の場合、吸収波長光の正反射光の受光量および非吸収波長の正反射光の受光量は、粉末の分光反射率特性の影響を受けないため、吸収波長光の正反射光の受光量は、非吸収波長の正反射光の受光量に対して1倍である。 As shown in FIG. 14, the reflectance of the absorption wavelength light having a wavelength of 520 nm is 19%, and the reflectance of the non-absorption wavelength light having a wavelength of 730 nm is 11% with respect to the blue powder. Therefore, when the coverage of the powder is 100%, the amount of light received by the specularly reflected light of the absorption wavelength is 19% ÷ 11% = 1.73 times the amount of light received by the specularly reflected light of the non-absorption wavelength, which is relative. The amount of light received is large. On the other hand, when the coverage of the powder is 0%, the received amount of the positively reflected light of the absorption wavelength light and the received amount of the positively reflected light of the non-absorption wavelength are not affected by the spectral reflectance characteristics of the powder. The amount of light received by the positively reflected light of the absorption wavelength light is one times the amount of light received by the positively reflected light of the non-absorption wavelength.

これらの値から、被覆率に依存せず、吸収波長光の正反射光の受光量と、非吸収波長の正反射光の受光量とが常に1倍となるような補正係数を算出しておく。図15は、被覆率の補正係数の一例を示す図であって、吸収波長光の正反射光の受光量が、非吸収波長の正反射光の受光量に対して1倍となるように算出した補正係数である。補正係数保持部202は、このような補正係数を、粉末毎、および吸収波長光・非吸収波長光の波長毎に保持する。 From these values, a correction coefficient is calculated so that the amount of light received by the specularly reflected light of the absorption wavelength and the amount of light received by the specularly reflected light of the non-absorption wavelength are always 1 times, regardless of the coverage. .. FIG. 15 is a diagram showing an example of the correction coefficient of the coverage, and is calculated so that the received amount of the specularly reflected light of the absorption wavelength light is 1 times the received amount of the specularly reflected light of the non-absorption wavelength. This is the correction coefficient. The correction coefficient holding unit 202 holds such a correction coefficient for each powder and for each wavelength of absorption wavelength light / non-absorption wavelength light.

ただし、図14の銀色粉末の分光反射特性に見られるように、吸収波長と非吸収波長とで分光反射率がほぼ一定の場合であれば、粉末の分光反射特性を考慮した補正を行う必要がない。このような粉末に対しては、補正係数を用意する必要はない。 However, as seen in the spectral reflection characteristics of the silver powder in FIG. 14, if the spectral reflectance is almost constant between the absorption wavelength and the non-absorption wavelength, it is necessary to make a correction in consideration of the spectral reflection characteristics of the powder. No. It is not necessary to prepare a correction coefficient for such a powder.

なお、補正係数保持部202は、粉末毎の分光反射特性を保持し、操作部19において、粉末の種類と、吸収波長光・非吸収波長光の波長とが入力された場合に、粉末毎の反射率特性から該当する反射率を読み出して補正係数を算出する構成であってもよい。 The correction coefficient holding unit 202 retains the spectral reflectance characteristics of each powder, and when the type of powder and the wavelengths of absorption wavelength light and non-absorption wavelength light are input in the operation unit 19, each powder The correction coefficient may be calculated by reading the corresponding reflectance from the reflectance characteristics.

また各粉末の分光反射特性は、粉末の製品化に際して、センサーの光源の照射面積よりも大面積の粉末を抜き取り、装置中のセンサーにおいて測定し、補正係数保持部202に保持させればよい。 Further, the spectral reflection characteristics of each powder may be obtained by extracting a powder having an area larger than the irradiation area of the light source of the sensor, measuring it with the sensor in the device, and holding it in the correction coefficient holding unit 202 at the time of commercializing the powder.

[光源調整部203]
図11に示す光源調整部203は、吸収波長光源101a,101a’および非吸収波長光源101n,101n’の出力を調整する。この光源調整部203は、粉末の被覆率が0%の場合の下地粘着層の反射率が所定の値となるように、吸収波長光源101a,101a’および非吸収波長光源101n,101n’の出力を調整する。この場合の下地粘着層の反射率とは、下地粘着層に対する吸収波長光と非吸収波長光の正反射光のセンサー出力値であってよい。
[Light source adjustment unit 203]
The light source adjusting unit 203 shown in FIG. 11 adjusts the outputs of the absorption wavelength light sources 101a and 101a'and the non-absorption wavelength light sources 101n and 101n'. The light source adjusting unit 203 outputs the absorption wavelength light sources 101a and 101a'and the non-absorption wavelength light sources 101n and 101n' so that the reflectance of the underlying adhesive layer becomes a predetermined value when the powder coverage is 0%. To adjust. In this case, the reflectance of the base adhesive layer may be the sensor output value of the specularly reflected light of the absorption wavelength light and the non-absorption wavelength light with respect to the base adhesion layer.

ここで、例えば図5に示したように、下地粘着層が粉末保持部材である場合、経時的な粉末保持部材の劣化や、装置環境により、粉末保持部材の分光反射特性が変動する。また下地粘着層が画像パターンである場合には、画像パターンを構成するトナーの種類、画像パターンの下地となる記録媒体の種類によって、画像パターンの分光反射特性が変動する。さらに、吸収波長光源および非吸収波長光源は、経時的な劣化、装置環境、および装置内の汚染などにより、同じ電流を印可しても実際に発光される光量が変動する。 Here, for example, as shown in FIG. 5, when the underlying adhesive layer is a powder holding member, the spectral reflection characteristics of the powder holding member vary depending on the deterioration of the powder holding member over time and the device environment. When the base adhesive layer is an image pattern, the spectral reflection characteristics of the image pattern vary depending on the type of toner constituting the image pattern and the type of the recording medium used as the base of the image pattern. Further, the absorption wavelength light source and the non-absorption wavelength light source vary in the amount of light actually emitted even if the same current is applied due to deterioration over time, the device environment, contamination in the device, and the like.

そこで、光源調整部203は、粉末の被覆率を0%とした下地粘着層においての吸収波長光および非吸収波長光の正反射光のセンサー出力値が、所定値となるように、吸収波長光源および非吸収波長光源の出力を調整するのである。例えば、図12を参照し、吸収波長光の正反射光のセンサー出力値が0.1[V]、非吸収波長光の正反射光のセンサー出力値が0.3[V]となるように、吸収波長光源および非吸収波長光源の出力を調整する。なお、このような光源調整部203による光源調整の手順は、以降の被覆率検出方法において説明する。 Therefore, the light source adjusting unit 203 sets the absorption wavelength light source so that the sensor output values of the positively reflected light of the absorption wavelength light and the non-absorption wavelength light in the base adhesive layer in which the coating ratio of the powder is 0% become a predetermined value. And adjust the output of the non-absorption wavelength light source. For example, referring to FIG. 12, the sensor output value of the positively reflected light of the absorption wavelength light is 0.1 [V], and the sensor output value of the positively reflected light of the non-absorption wavelength light is 0.3 [V]. , Adjust the output of absorption wavelength light source and non-absorption wavelength light source. The procedure for adjusting the light source by the light source adjusting unit 203 will be described later in the method for detecting the coverage.

[被覆率検出部204]
図11に示す被覆率検出部204は、操作部19、第1センサー100a、および第2センサー100bからの情報と、特性保持部201に保持された被覆率特性または差分特性と、補正係数保持部202に保持された補正係数とに基づいて、粉末による被覆率を検出する。被覆率検出部204による被覆率の検出の手順は、以降の被覆率検出方法において説明する。
[Coverage detection unit 204]
The coverage detection unit 204 shown in FIG. 11 includes information from the operation unit 19, the first sensor 100a, and the second sensor 100b, the coverage characteristic or difference characteristic held in the characteristic holding unit 201, and the correction coefficient holding unit. The coverage by the powder is detected based on the correction coefficient held in 202. The procedure for detecting the coverage by the coverage detection unit 204 will be described in the following method for detecting the coverage.

[補正指示部205]
補正指示部205は、被覆率検出部204で検出した被覆率に基づいて、粉末Pdによる画像パターンPの被覆率および粉末保持面12aの被覆率が、それぞれに設定された所望の被覆率となるように、駆動制御部18に対して各駆動部の駆動条件の補正を指示する。駆動条件の補正の対象は、一例として、粉末供給部材13による粉末Pdの供給量、摺擦部材14の摺擦条件、清掃部材16の清掃条件などである。補正指示部205による補正の指示は、被覆率検出部204で検出された被覆率によって、予め決められていることとする。
[Correction indicator 205]
Based on the coverage detected by the coverage detection section 204, the correction instruction unit 205 sets the coverage of the image pattern P by the powder Pd and the coverage of the powder holding surface 12a to the desired coverage set for each. As described above, the drive control unit 18 is instructed to correct the drive conditions of each drive unit. The target of the correction of the driving condition is, for example, the amount of powder Pd supplied by the powder supply member 13, the rubbing condition of the rubbing member 14, the cleaning condition of the cleaning member 16, and the like. It is assumed that the correction instruction by the correction instruction unit 205 is predetermined by the coverage rate detected by the coverage rate detection unit 204.

以上説明した被覆率検出装置20は、少なくとも特性保持部201と被覆率検出部204とを備えていればよく、説明した各部の全てを備えている必要はない。また、被覆率検出装置20は、画像形成装置1とは独立したパーソナルコンピューターや他の外部装置外部装置として設けられたものであってもよい。 The coverage detection device 20 described above may include at least the characteristic holding section 201 and the coverage detection section 204, and does not need to include all of the described sections. Further, the coverage detection device 20 may be provided as a personal computer or another external device external device independent of the image forming device 1.

≪被覆率検出方法≫
次に、以上のような被覆率検出装置20によって実施される被覆率検出方法を説明する。図16は、実施形態に係る被覆率検出方法の一例を示すフローチャート(その1)であって、光源調整の手順を示す。また図17は、実施形態に係る被覆率検出方法の一例を示すフローチャート(その2)であって、被覆率の検出の手順を示す。これらのフローチャートは、被覆率検出装置20が有する被覆率検出プログラムによって実施される被覆率検出方法の手順を示している。以下、図16および図17のフローチャートに沿って、先の図1〜図15を参照しつつ、実施形態の画像処理方法を説明する。
≪Coverage detection method≫
Next, the coverage detection method implemented by the coverage detection device 20 as described above will be described. FIG. 16 is a flowchart (No. 1) showing an example of the coverage detection method according to the embodiment, and shows a procedure for adjusting the light source. Further, FIG. 17 is a flowchart (No. 2) showing an example of the coverage detection method according to the embodiment, and shows the procedure for detecting the coverage. These flowcharts show the procedure of the coverage detection method carried out by the coverage detection program included in the coverage detection device 20. Hereinafter, the image processing method of the embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 15 with reference to the flowcharts of FIGS. 16 and 17.

<光源調整>
[ステップS101]
図16のステップS101において、光源調整部203(図11参照)は、粉末Pdの被覆率0%の画像パターンPに対して、吸収波長光Haと非吸収波長Hnとを照射した場合の、2つの受光素子102のセンサー出力値を取得する(図2参照)。同様に、光源調整部203は、粉末Pdの被覆率0%の粉末保持部材12の粉末保持面12aに対して、吸収波長光Ha’と非吸収波長Hn’とを照射した場合の、2つの受光素子102’のセンサー出力値を取得する(図4参照)。これらのセンサー出力値は、操作部19から入力された値であってもよい。
<Light source adjustment>
[Step S101]
In step S101 of FIG. 16, the light source adjusting unit 203 (see FIG. 11) irradiates the image pattern P having a coverage of 0% of the powder Pd with the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength Hn. The sensor output values of the two light receiving elements 102 are acquired (see FIG. 2). Similarly, the light source adjusting unit 203 irradiates the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 having a coverage of 0% of the powder Pd with the absorption wavelength light Ha'and the non-absorption wavelength Hn'. The sensor output value of the light receiving element 102'is acquired (see FIG. 4). These sensor output values may be values input from the operation unit 19.

なお、粉末Pdの被覆率0%の画像パターンPのセンサー出力は、画像形成装置1(図1参照)において、末保持部材12と転写部材15の熱源を停止した状態で、画像パターンPが形成された記録媒体Sを、第1センサー100aに供給することで得た値である。または粉末保持部材12の回転を停止させたり離間させた状態で、画像パターPが形成された記録媒体Sを、第1センサー100aに供給することで得た値である。 The sensor output of the image pattern P having a coverage of 0% of the powder Pd is formed in the image forming apparatus 1 (see FIG. 1) with the heat sources of the end holding member 12 and the transfer member 15 stopped. It is a value obtained by supplying the recorded recording medium S to the first sensor 100a. Alternatively, it is a value obtained by supplying the recording medium S on which the image putter P is formed to the first sensor 100a in a state where the rotation of the powder holding member 12 is stopped or separated.

また粉末Pdの被覆率0%の粉末保持部材12の粉末保持面12aのセンサー出力は、少なくとも下記の状態で粉末保持部材12を回転させた後に、第2センサー100bに対して粉末保持部材12を回転させることで得た値である。すなわち、画像形成装置1(図1参照)において、粉末供給部材13の搬送部材13bを停止し、粉末保持部材面12aへの粉末Pdの供給を停止した状態。また、画像形成装置1(図1参照)において、転写部材15にて粉末保持部材12の粉末保持面12aに粘着保持された粉末Pdを、記録媒体Sの主面上に形成された画像パターンPに転写する状態。さらに、画像形成装置1(図1参照)において、清掃部材16で粉末保持部材面12aに残留した粉末Pdを掻き取る状態。 Further, the sensor output of the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 having a coverage of 0% of the powder Pd is such that the powder holding member 12 is attached to the second sensor 100b after rotating the powder holding member 12 in at least the following states. It is a value obtained by rotating. That is, in the image forming apparatus 1 (see FIG. 1), the transport member 13b of the powder supply member 13 is stopped, and the supply of the powder Pd to the powder holding member surface 12a is stopped. Further, in the image forming apparatus 1 (see FIG. 1), the powder Pd adhesively held on the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 by the transfer member 15 is formed on the main surface of the recording medium S as an image pattern P. State to be transferred to. Further, in the image forming apparatus 1 (see FIG. 1), the cleaning member 16 scrapes the powder Pd remaining on the powder holding member surface 12a.

[ステップS102]
ステップS102において、光源調整部203は、取得したセンサー出力値が、予め設定した各センサー出力値となるように、駆動制御部18に対して光源調整を指示する。これにより、駆動制御部18は、粉末Pdの被覆率0%の場合のセンサー出力値が予め設定された出力値となるように、第1センサー100aの吸収波長光源101aおよび非吸収波長光源101n、さらには第2センサー100bの吸収波長光源101a’および非吸収波長光源101n’の出力を調整する。
[Step S102]
In step S102, the light source adjusting unit 203 instructs the drive control unit 18 to adjust the light source so that the acquired sensor output value becomes each preset sensor output value. As a result, the drive control unit 18 uses the absorption wavelength light source 101a and the non-absorption wavelength light source 101n of the first sensor 100a so that the sensor output value when the coverage of the powder Pd is 0% becomes a preset output value. Further, the outputs of the absorption wavelength light source 101a'and the non-absorption wavelength light source 101n' of the second sensor 100b are adjusted.

なお、このような光源調整は、次に説明する被覆率の検出に先立って、その都度に実施してもよく、所定のタイミングで実施してもよい。 It should be noted that such light source adjustment may be performed each time prior to the detection of the coverage rate described below, or may be performed at a predetermined timing.

<被覆率の検出>
[ステップS201]
ステップS201において、被覆率検出部204は、粉末Pdに関する情報と、波長情報とを取得する。粉末Pdに関する情報は、粉末Pdの種類であってよく、補正係数保持部202において補正係数が関連付けされている粉末Pdの種類である。波長情報は、第1センサー100aで取り扱う吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hn、さらには第2センサー100bで取り扱う吸収波長光Ha’および非吸収波長光Hn’の波長に対応する情報である。これらの情報は、例えば被覆率の検出に際して、操作部19から入力された情報であってよい。
<Detection of coverage>
[Step S201]
In step S201, the coverage detection unit 204 acquires information on the powder Pd and wavelength information. The information regarding the powder Pd may be the type of the powder Pd, and is the type of the powder Pd with which the correction coefficient is associated in the correction coefficient holding unit 202. The wavelength information is information corresponding to the wavelengths of the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn handled by the first sensor 100a, and further the absorption wavelength light Ha'and the non-absorption wavelength light Hn'handled by the second sensor 100b. These pieces of information may be, for example, information input from the operation unit 19 when detecting the coverage.

[ステップS202]
ステップS202において、被覆率検出部204は、補正係数の取得処理を実施する。この際、被覆率検出部204は、補正係数保持部202を参照し、ステップS201において取得した粉末Pdの種類および波長情報に対して関連付けされた補正係数を取得する。この補正係数は、第1センサー100aで取り扱う吸収波長光Haおよび非吸収波長光Hnに対応する補正係数と、第2センサー100bで取り扱う吸収波長光Ha’および非吸収波長光Hn’に対応する補正係数である。
[Step S202]
In step S202, the coverage detection unit 204 performs a correction coefficient acquisition process. At this time, the coverage detection unit 204 refers to the correction coefficient holding unit 202 and acquires the correction coefficient associated with the type and wavelength information of the powder Pd acquired in step S201. This correction coefficient corresponds to the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength light Hn handled by the first sensor 100a, and the correction coefficient corresponding to the absorption wavelength light Ha'and the non-absorption wavelength light Hn'handled by the second sensor 100b. It is a coefficient.

[ステップS203]
ステップS203において、被覆率検出部204は、被覆率特性の補正処理を実施する。この際、被覆率検出部204は、先ず、特性保持部201から、下地粘着層の被覆率特性を取得する。取得する被覆率特性は、画像パターンPの被覆率特性(図12参照)と、粉末保持部材12の粉末保持面12aの被覆率特性(図示省略)である。
[Step S203]
In step S203, the coverage detection unit 204 performs a correction process of the coverage characteristic. At this time, the coverage detection unit 204 first acquires the coverage characteristics of the underlying adhesive layer from the property holding unit 201. The coverage characteristics to be acquired are the coverage characteristics of the image pattern P (see FIG. 12) and the coverage characteristics of the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 (not shown).

被覆率検出部204は、取得した各被覆率特性を、ステップS202で取得した補正係数で補正する。例えば、図12に示した被覆率特性であれば、このうちの吸収波長の各値を図15の補正係数で補正する。 The coverage detection unit 204 corrects each of the acquired coverage characteristics with the correction coefficient acquired in step S202. For example, in the case of the coverage characteristic shown in FIG. 12, each value of the absorption wavelength is corrected by the correction coefficient of FIG.

[ステップS204]
ステップS204において、被覆率検出部204は、補正した被覆率特性から差分特性を算出する。この場合、画像パターンPの被覆率特性と、粉末保持部材12の粉末保持面12aの被覆率特性とについて、補正された吸収波長の被覆率特性から、非吸収波長の被覆率特性を差し引き、画像パターンPに関する差分特性と、粉末保持面12aに関する差分特性を得る。
[Step S204]
In step S204, the coverage detection unit 204 calculates the difference characteristic from the corrected coverage characteristic. In this case, with respect to the coverage characteristic of the image pattern P and the coverage characteristic of the powder holding surface 12a of the powder holding member 12, the coverage characteristic of the non-absorption wavelength is subtracted from the corrected coverage characteristic of the absorption wavelength, and the image is imaged. The difference characteristic regarding the pattern P and the difference characteristic regarding the powder holding surface 12a are obtained.

なお、例えば粉末が銀色粉末の場合のように、被覆率特性の補正が必要のない場合であれば、ステップS202およびステップS203は実施せず、本ステップS203においては、特性保持部201から該当する差分特性を取得すればよい。 If it is not necessary to correct the coverage characteristics, for example, when the powder is a silver powder, steps S202 and S203 are not performed, and in this step S203, the characteristics holding unit 201 corresponds to the above. The difference characteristic may be acquired.

[ステップS205]
ステップS205において、被覆率検出部204は、光沢画像P1に対して吸収波長光Haと非吸収波長Hnとを照射した場合の、2つの受光素子102のセンサー出力値を取得する(図2参照)。同様に、被覆率検出部204は、粉末保持部材12の粉末保持面12aに対して吸収波長光Ha’と非吸収波長Hn’とを照射した場合の、2つの受光素子102’のセンサー出力値を取得する(図4参照)。
[Step S205]
In step S205, the coverage detection unit 204 acquires the sensor output values of the two light receiving elements 102 when the glossy image P1 is irradiated with the absorption wavelength light Ha and the non-absorption wavelength Hn (see FIG. 2). .. Similarly, the coverage detection unit 204 irradiates the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 with the absorption wavelength light Ha'and the non-absorption wavelength Hn', and the sensor output values of the two light receiving elements 102'. (See Fig. 4).

この際、光沢画像P1は、ステップS101およびステップS102において、第1センサー100aおよび第2センサー100bの光源調整がなされた画像形成装置1で形成されたものであることとする。
At this time, it is assumed that the glossy image P1 is formed by the image forming apparatus 1 in which the light sources of the first sensor 100a and the second sensor 100b are adjusted in steps S101 and S102.

さらに粉末保持部材12の粉末保持面12aは、ステップS101およびステップS102において、第2センサー100bの光源調整がなされた粉末保持部材12の粉末保持面12aである。またこの際、粉末保持面12aにおいてのセンサー出力値の取得領域は、光源調整に際してセンサー出力の取得領域と一致していることが好ましい。これにより、粉末保持部材12の回転方向のばらつきを抑制することができる。 Further, the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 is the powder holding surface 12a of the powder holding member 12 in which the light source of the second sensor 100b is adjusted in steps S101 and S102. At this time, it is preferable that the acquisition region of the sensor output value on the powder holding surface 12a coincides with the acquisition region of the sensor output when adjusting the light source. Thereby, the variation in the rotation direction of the powder holding member 12 can be suppressed.

[ステップS206]
ステップS206において、被覆率検出部204は、ステップS205で取得したセンサー出力の差分の算出を実施する。この際、被覆率検出部204は、第1センサー100aの2つの受光素子102のセンサー出力値の差分を算出し、同様に第2センサー100bの2つの受光素子102’のセンサー出力値の差分を算出する。
[Step S206]
In step S206, the coverage detection unit 204 calculates the difference in the sensor output acquired in step S205. At this time, the coverage detection unit 204 calculates the difference between the sensor output values of the two light receiving elements 102 of the first sensor 100a, and similarly calculates the difference between the sensor output values of the two light receiving elements 102'of the second sensor 100b. calculate.

[ステップS207]
ステップS207において、被覆率検出部204は、ステップS204で算出した各差分特性(例えば図13)を参照し、ステップS206で算出したセンサー出力の差分に相当する被覆率を検出する。この際、被覆率検出部204は、画像パターンPに関する差分特性を参照して、第1センサー100aの2つの受光素子102のセンサー出力値の差分に相当する被覆率を、粉末Pdによる画像パターンPの被覆率として検出する。また、被覆率検出部204は、粉末保持面12aに関する差分特性を参照して、第2センサー100bの2つの受光素子102’のセンサー出力値の差分に相当する被覆率を、粉末Pdによる粉末保持面12aの被覆率として検出する。
[Step S207]
In step S207, the coverage detection unit 204 refers to each difference characteristic (for example, FIG. 13) calculated in step S204, and detects a coverage corresponding to the difference in the sensor output calculated in step S206. At this time, the coverage detection unit 204 refers to the difference characteristic regarding the image pattern P, and sets the coverage corresponding to the difference between the sensor output values of the two light receiving elements 102 of the first sensor 100a to the image pattern P by the powder Pd. Detected as the coverage of. Further, the covering ratio detection unit 204 refers to the difference characteristic regarding the powder holding surface 12a, and holds the covering ratio corresponding to the difference between the sensor output values of the two light receiving elements 102'of the second sensor 100b by the powder Pd. It is detected as the coverage of the surface 12a.

≪実施形態の効果≫
以上説明した実施形態によれば、図10を用いて説明したように、粉末Pdの配向状態に影響されることなく、粉末Pdによる被覆率を検出することができる。したがって、画像パターンPの表面や粉末保持面12aに対して斜めに傾いて接着した粉末があったとしても、その影響を受けることなく精度の高い被覆率の検出を実施することが可能である。特に、粉末Pdがメタリック様であって分光反射率の高いほど、異なる波長の光を用いない通常の反射型センサーを用いた場合の被覆率の検出では、粉末の配向状態の影響によって被覆率が低く検出されてしまう。このため本実施形態は、特に分光反射率が高い粉末Pdを用いた場合に対して効果が発揮される。
<< Effect of the embodiment >>
According to the embodiment described above, as described with reference to FIG. 10, the coverage of the powder Pd can be detected without being affected by the orientation state of the powder Pd. Therefore, even if there is powder adhered to the surface of the image pattern P or the powder holding surface 12a at an angle, it is possible to detect the coverage with high accuracy without being affected by the powder. In particular, the higher the spectral reflectance of the powder Pd being metallic, the higher the coverage due to the influence of the orientation state of the powder in the detection of the coverage when a normal reflective sensor that does not use light of different wavelengths is used. It will be detected low. Therefore, this embodiment is particularly effective when powder Pd having a high spectral reflectance is used.

本発明を適用し、図1に示す画像形成装置1を用いて光沢画像P1を形成した場合において、粉末Pdによる画像パターンPの被覆率と、粉末Pdによる粉末保持面12aの被覆率の検出を行った。 When the present invention is applied and the glossy image P1 is formed by using the image forming apparatus 1 shown in FIG. 1, the coverage of the image pattern P by the powder Pd and the coverage of the powder holding surface 12a by the powder Pd are detected. went.

被覆率の検出を行った試料1〜6の構成は、下記の表1に示す通りである。

Figure 2021177155
The configurations of the samples 1 to 6 for which the coverage was detected are as shown in Table 1 below.
Figure 2021177155

試料1〜3を構成する各材料は次の通りである。
・記録媒体:平滑な記録媒体(日本製紙製:エスプリFP)、表面凹凸な記録媒体(日本製紙製:npi上質紙)
・画像パターン:シアントナー(コニカミノルタ製プロダクションプリント製品向け)
The materials constituting Samples 1 to 3 are as follows.
-Recording medium: Smooth recording medium (Nippon Paper Industries: Esprit FP), recording medium with uneven surface (Nippon Paper Industries: npi woodfree paper)
-Image pattern: Cyan toner (for production print products made by Konica Minolta)

試料4〜6を構成する各材料は次の通りである。
・粉末保持部材:新品、劣化品ともシリコンゴム(昭和電線社製:シリコンゴムXH279)
・粉末種:シルバー、レッド(尾池工業株式会社製:エルジーneo#325)
The materials constituting Samples 4 to 6 are as follows.
-Powder holding member: Silicon rubber for both new and deteriorated products (manufactured by Showa Densen Co., Ltd .: Silicon rubber XH279)
-Powder type: silver, red (manufactured by Oike Kogyo Co., Ltd .: LG neo # 325)

以上のような構成の試料1〜6について、摺擦部材14での摺擦強度を変更することで、粉末Pdの配向状態と、被覆率とが異なる3水準のものを作成した。これらの3水準は、次の通りである。
・水準1:被覆率26%、斜めに傾いて接着した粉末少なめ
・水準2:被覆率49%、斜めに傾いて接着した粉末中程度
・水準3:被覆率50%、斜めに傾いて接着した粉末多め
なお、この被覆率は、読み取り画像の画像処理によって算出した値である。
By changing the rubbing strength of the rubbing member 14 for the samples 1 to 6 having the above-mentioned configurations, three levels of powder Pd having different orientation states and covering ratios were prepared. These three levels are as follows.
・ Level 1: Coverage 26%, less powder adhered diagonally ・ Level 2: Coverage 49%, powder adhered diagonally Medium ・ Level 3: Coverage 50%, adhered diagonally A large amount of powder This coverage is a value calculated by image processing of the scanned image.

第1センサー100aの構成は次の通りである。
・吸収波長光源101a:ピーク波長632nm(ニチコン社製砲弾型LED)
・非吸収波長光源101n:ピーク波長870nm(スタンレー社製砲弾型LED)
・入射角:20度
・受光角:20度
The configuration of the first sensor 100a is as follows.
Absorption wavelength light source 101a: Peak wavelength 632 nm (Nichicon bullet type LED)
Non-absorbent wavelength light source 101n: Peak wavelength 870 nm (Stanley bullet type LED)
・ Incident angle: 20 degrees ・ Light receiving angle: 20 degrees

第2センサー100bの構成は次の通りである。
・吸収波長光源101a’:ピーク波長520nm(Kingbright製:L-7113VGC-H)
・非吸収波長光源101n’:ピーク波長730nm(EverlightElectronics製:ELSH-Q61F1-0LPNM-JF3F8)
・入射角:20度
・受光角:20度
The configuration of the second sensor 100b is as follows.
-Absorption wavelength light source 101a': Peak wavelength 520 nm (Kingbright: L-7113VGC-H)
-Non-absorption wavelength light source 101n': Peak wavelength 730 nm (Everlight Electronics: ELSH-Q61F1-0LPNM-JF3F8)
・ Incident angle: 20 degrees ・ Light receiving angle: 20 degrees

試料1〜6の被覆率の検出に際し、実施例1〜実施例3においては、事前の光源調整と粉末種による補正の実施を下記の通りとした。
・実施例1:事前の光源調整なし/粉末種による補正なし
・実施例2:事前の光源調整なし/粉末種による補正あり
・実施例3:事前の光源調整あり/粉末種による補正あり
In the detection of the coverage of Samples 1 to 6, in Examples 1 to 3, the light source adjustment and the correction by the powder type were carried out in advance as follows.
-Example 1: No prior light source adjustment / no correction by powder type-Example 2: No prior light source adjustment / correction by powder type-Example 3: With prior light source adjustment / correction by powder type

また比較例として、一つの波長光のみを用いた被覆率の検出を実施した。用いた光は、ピーク波長870nm(スタンレー製砲弾型LED)であり、入射角および受光角ともに20度とした。事前の光源調整なし/粉末種による補正なしとした。 Further, as a comparative example, the coverage was detected using only one wavelength light. The light used had a peak wavelength of 870 nm (Stanley bullet-shaped LED), and both the incident angle and the light receiving angle were set to 20 degrees. No prior light source adjustment / no correction by powder type.

以上の実施例1〜実施例3および比較例のようにして検出した被覆率を、画像処理によって算出した被覆率と比較した。評価は、画像処理によって算出した被覆率と、実施例1〜実施例3または比較例で検出した被覆率との差が、5%以下である場合には、乖離が小さいとし、3水準ともに乖離が小さい場合のみ良好とした。この評価結果を、上記表1にあわせて示した。 The coverage detected as in Examples 1 to 3 and Comparative Examples described above was compared with the coverage calculated by image processing. In the evaluation, when the difference between the coverage calculated by image processing and the coverage detected in Examples 1 to 3 or Comparative Example is 5% or less, the deviation is considered to be small and the deviation is determined at all three levels. It was considered good only when was small. The evaluation results are shown in Table 1 above.

表1にあるように、比較例は、斜めに傾いて接着した粉末の影響を受けるため、全ての試料において被覆率の検出値が、画像処理による算出値と乖離していて、精度の高い被覆率の検出を行うことができなかった。 As shown in Table 1, since the comparative example is affected by the powder adhered at an oblique angle, the detected value of the covering ratio in all the samples deviates from the calculated value by the image processing, and the covering is highly accurate. The rate could not be detected.

これに対して、実施例1は、光源調整なし/粉末種による補正なしの条件ではあったものの、分光反射特性が一定であるシルバーの粉末を用いた試料1および試料4においては、被覆率の検出結果が、画像処理による算出値と乖離しておらず、良好な結果が得られた。これにより、本発明を適用して下地粘着層に対する吸収波長光と非吸収波長光とを用いて被覆率を検出する効果が確認された。 On the other hand, in Example 1, although the condition was that there was no light source adjustment / no correction by the powder type, the coverage of Sample 1 and Sample 4 using silver powder having constant spectral reflection characteristics had a higher coverage. The detection result did not deviate from the value calculated by the image processing, and good results were obtained. As a result, the effect of applying the present invention to detect the coverage using absorbed wavelength light and non-absorbed wavelength light for the underlying adhesive layer was confirmed.

また実施例2は、光源調整なし/粉末種による補正ありの条件での検出であり、下地粘着層の表面状態が平滑な試料1,2,4,5においては、被覆率の検出結果が、画像処理による算出値と乖離しておらず、良好な結果が得られた。これにより、粉末種による補正を行うことの効果が確認された。 Further, Example 2 is the detection under the condition that the light source is not adjusted and the powder type is corrected, and the detection result of the coverage is obtained in the samples 1, 2, 4 and 5 in which the surface state of the underlying adhesive layer is smooth. Good results were obtained with no deviation from the values calculated by image processing. As a result, the effect of correction by powder type was confirmed.

さらに実施例3は、事前の光源調整あり/粉末種による補正ありの条件での検出であり、試料1〜6の全てにおいて、被覆率の検出結果が、画像処理による算出値と乖離しておらず、良好な結果が得られた。ここで、試料3は、表面凹凸な記録媒体Sを用いており、その凹凸は数十μmであった。この上部に形成した画像パターンPは、厚み4μm程度であり、画像パターンPの表面も凹凸が大きかった。また試料6は、下地粘着層である粉末保持部材12が長期使用品であって凹凸が大きい表面状態のものであった。しかしながら、事前の光量調整を実施することにより、下地粘着層の表面状態に影響されずに、精度の高い被覆率の検出が可能となることが確認された。 Further, in Example 3, the detection is performed under the condition that the light source is adjusted in advance and the powder type is corrected, and the detection result of the covering ratio in all of the samples 1 to 6 deviates from the calculated value by the image processing. No, good results were obtained. Here, the sample 3 uses a recording medium S having an uneven surface, and the unevenness is several tens of μm. The image pattern P formed on the upper portion had a thickness of about 4 μm, and the surface of the image pattern P also had large irregularities. Further, in the sample 6, the powder holding member 12 which is the base adhesive layer was a long-term use product and had a surface state with large irregularities. However, it was confirmed that by adjusting the amount of light in advance, it is possible to detect the coating rate with high accuracy without being affected by the surface condition of the underlying adhesive layer.

1…画像形成装置
12…粉末保持部材
12a…粉末保持面(下地粘着層)
15…転写部材
20…被覆率検出装置
101a,101a’…吸収波長光源
101n,101n’…非吸収波長光源
101w…白色光源
102,102’…受光素子
103a…吸収波長フィルター
103n…非吸収波長フィルター
201…特性保持部
202…補正係数保持部
203…光源調整部
204…被覆率検出部
205…補正指示部
Ha,Ha’…吸収波長光(反射率が異なる光)
Hn,Hn’…非吸収波長光(反射率が異なる光)
Hra,Hra’…正反射光(吸収波長光)
Hrn,Hrn’…正反射光(非吸収波長光)
Pd…粉末
P…画像パターン(下地粘着層)
S…記録媒体
1 ... Image forming apparatus 12 ... Powder holding member 12a ... Powder holding surface (base adhesive layer)
15 ... Transfer member 20 ... Coverage detection device 101a, 101a'... Absorption wavelength light source 101n, 101n' ... Non-absorption wavelength light source 101w ... White light source 102, 102'... Light receiving element 103a ... Absorption wavelength filter 103n ... Non-absorption wavelength filter 201 ... Characteristic holding unit 202 ... Correction coefficient holding unit 203 ... Light source adjustment unit 204 ... Coverage detection unit 205 ... Correction indicator Ha, Ha'... Absorption wavelength light (light with different reflectance)
Hn, Hn'... Non-absorbent wavelength light (light with different reflectance)
Hra, Hra'... Specular reflected light (absorption wavelength light)
Hrn, Hrn'... Specular reflected light (non-absorbent wavelength light)
Pd ... Powder P ... Image pattern (base adhesive layer)
S ... Recording medium

Claims (15)

下地粘着層に付着した粉末による前記下地粘着層の被覆率を検出するための被覆率検出装置であって、
前記下地粘着層での反射率が異なる光を前記粉末の付着面に照射する光源部と、
前記粉末の付着面で反射した前記反射率が異なる光の反射光を個別に受光する受光部と、
前記受光部で受光した前記反射光の各受光量に基づいて、前記被覆率を検出する被覆率検出部を備えた
被覆率検出装置。
It is a coverage detection device for detecting the coverage of the base adhesive layer by the powder adhering to the base adhesive layer.
A light source unit that irradiates the adhesion surface of the powder with light having different reflectances in the base adhesive layer, and
A light receiving unit that individually receives reflected light of light having different reflectances reflected by the powder adhesion surface, and a light receiving portion.
A coverage detection device including a coverage detection unit that detects the coverage based on the amount of each reflected light received by the light receiving section.
前記反射率が異なる光は、前記下地粘着層に吸収される吸収波長光と、前記吸収波長光よりも前記下地粘着層に対する吸収量が少ない非吸収波長光とである
請求項1に記載の被覆率検出装置。
The coating according to claim 1, wherein the light having different reflectances is an absorption wavelength light absorbed by the base adhesive layer and a non-absorption wavelength light absorbed by the base adhesive layer less than the absorption wavelength light. Rate detector.
前記被覆率に対する前記各受光量の特性を保持する特性保持部を備え、
前記被覆率検出部は、前記各受光量の差分を算出し、前記算出した差分と前記特性保持部に保持された前記特性とに基づいて、前記被覆率を検出する
請求項1または2に記載の被覆率検出装置。
A characteristic holding unit that retains the characteristics of each received light amount with respect to the covering rate is provided.
The coating rate detecting unit calculates the difference between the received light amounts, and detects the covering rate based on the calculated difference and the characteristic held in the characteristic holding unit according to claim 1 or 2. Coverage detector.
前記被覆率に因らずに前記各反射光の受光量が1:1となる補正係数を、前記粉末の種類毎、前記反射率が異なる光の波長毎に保持する補正係数保持部を備え、
前記被覆率検出部は、
前記被覆率を検出する際の前記粉末の種類と前記反射率が異なる光の波長とに基づいて、前記補正係数保持部から前記被覆率の検出に用いる補正係数を取得し、
前記取得した補正係数によって前記特性保持部が保持する特性を補正し、前記補正した特性に基づいて前記被覆率を検出する
請求項3に記載の被覆率検出装置。
A correction coefficient holding unit for holding a correction coefficient in which the received amount of each reflected light is 1: 1 regardless of the covering ratio is provided for each type of powder and for each wavelength of light having different reflectance.
The coverage detection unit
Based on the type of the powder when detecting the coverage and the wavelength of light having different reflectances, the correction coefficient used for detecting the coverage is obtained from the correction coefficient holding unit.
The coverage detection device according to claim 3, wherein the characteristic held by the characteristic holding unit is corrected by the acquired correction coefficient, and the coverage is detected based on the corrected characteristic.
前記反射率が異なる光は、前記粉末の付着面に対して斜め方向から照射した光であり、
前記各反射光は、前記反射率が異なる光を前記粉末の付着面で正反射させた正反射光である
請求項1〜4のうちの何れか1項に記載の被覆率検出装置。
The light having different reflectances is light emitted from an oblique direction with respect to the adhesion surface of the powder.
The coverage detection device according to any one of claims 1 to 4, wherein each reflected light is specularly reflected light obtained by specularly reflecting the light having different reflectances on the adhesion surface of the powder.
前記光源部は、前記反射率が異なる光をそれぞれ照射する複数の光源を備えた
請求項1〜5のうちの何れか1項に記載の被覆率検出装置。
The coverage detection device according to any one of claims 1 to 5, wherein the light source unit includes a plurality of light sources that irradiate light having different reflectances.
前記光源部は、
前記反射率が異なる光の全てを照射する光源と、
前記反射率が異なる光をそれぞれ個別に通過させる複数のフィルターとを備え、
前記複数のフィルターは、前記光源の光射出面において入れ替え自在に設けられた
請求項1〜5のうちの何れか1項に記載の被覆率検出装置。
The light source unit
A light source that irradiates all of the light with different reflectances,
A plurality of filters for individually passing light having different reflectances are provided.
The coverage detection device according to any one of claims 1 to 5, wherein the plurality of filters are interchangeably provided on the light emitting surface of the light source.
前記受光部は、前記粉末の付着面で反射した前記各反射光を、それぞれ個別に受光する複数の受光素子を備えた
請求項1〜7のうちの何れか1項に記載の被覆率検出装置。
The coverage detection device according to any one of claims 1 to 7, wherein the light receiving unit includes a plurality of light receiving elements that individually receive the reflected light reflected by the powder adhering surface. ..
前記受光部は、前記粉末の付着面で反射した前記各反射光の全てを受光する受光素子と、
前記各反射光をそれぞれ個別に通過させる複数のフィルターとを備え、
前記複数のフィルターは、前記受光素子の受光面において入れ替え自在に設けられた
請求項1〜7のうちの何れか1項に記載の被覆率検出装置。
The light receiving portion includes a light receiving element that receives all of the reflected light reflected by the powder adhering surface.
A plurality of filters for individually passing each of the reflected light are provided.
The coverage detection device according to any one of claims 1 to 7, wherein the plurality of filters are interchangeably provided on the light receiving surface of the light receiving element.
前記粉末が付着していない前記下地粘着層に対して前記反射率が異なる光を照射して得られた前記各受光量が所定値となるように、前記受光量に対応する前記光源部からの出力を調整する光源調整部を備えた
請求項1〜9のうちの何れか1項に記載の被覆率検出装置。
From the light source unit corresponding to the light-receiving amount so that the light-receiving amount obtained by irradiating the base adhesive layer to which the powder does not adhere with light having different reflectances becomes a predetermined value. The coverage detection device according to any one of claims 1 to 9, further comprising a light source adjusting unit for adjusting the output.
前記被覆率検出部で検出した被覆率に基づいて、前記下地粘着層に前記粉末を付着させる装置の駆動制御部に対して駆動条件の補正を指示する補正指示部を備えた
請求項1〜10のうちの何れか1項に記載の被覆率検出装置。
Claims 1 to 10 include a correction instruction unit for instructing a drive control unit of an apparatus for adhering the powder to the base adhesive layer to correct driving conditions based on the coating ratio detected by the coverage detection unit. The coverage detection device according to any one of the above.
記録媒体の一主面上に形成された画像パターンに粉末を接着した画像を形成するための画像形成装置であって、
請求項1〜11のうちの何れか1項に記載の被覆率検出装置を備えた
画像形成装置。
An image forming apparatus for forming an image in which powder is adhered to an image pattern formed on one main surface of a recording medium.
An image forming apparatus including the coverage detection device according to any one of claims 1 to 11.
粘着によって粉末を保持する粉末保持面を有する粉末保持部材と、
前記粉末保持部材の粉末保持面と対向する位置に設けられ、前記粉末保持面との間に前記画像パターンが形成された記録媒体を挟持することにより、前記粉末保持面に粘着によって保持された前記粉末を前記画像パターンに対して転写する転写部材とを備え、
前記被覆率検出装置は、前記粉末保持面または前記画像パターンの少なくとも一方を前記下地粘着層として、前記粉末による被覆率を検出する
請求項12に記載の画像形成装置。
A powder holding member having a powder holding surface that holds the powder by adhesion,
By sandwiching a recording medium provided at a position facing the powder holding surface of the powder holding member and having the image pattern formed between the powder holding member, the powder holding member is held by adhesion on the powder holding surface. A transfer member for transferring powder to the image pattern is provided.
The image forming apparatus according to claim 12, wherein the covering rate detecting device detects the covering rate of the powder by using at least one of the powder holding surface or the image pattern as the base adhesive layer.
下地粘着層に付着した粉末による前記下地粘着層の被覆率を検出するための被覆率検出方法であって、
光源部が、前記下地粘着層での反射率が異なる光を前記粉末の付着面に照射し、
受光部が、前記粉末の付着面で反射した前記反射率が異なる光の反射光を個別に受光し、
被覆率検出部が、前記受光部で受光した前記反射光の各受光量に基づいて、前記被覆率を検出する
被覆率検出方法。
A coating rate detection method for detecting the coverage of the base adhesive layer by the powder adhering to the base adhesive layer.
The light source unit irradiates the adhesion surface of the powder with light having different reflectances in the base adhesive layer.
The light receiving unit individually receives the reflected light of the light having different reflectances reflected on the adhesion surface of the powder.
A coating rate detecting method in which the covering rate detecting unit detects the covering rate based on the amount of each received light of the reflected light received by the light receiving section.
下地粘着層に付着した粉末による前記下地粘着層の被覆率を検出するための被覆率検出プログラムであって、
光源部に対し、前記下地粘着層での反射率が異なる光を前記粉末の付着面に照射させ、
受光部に対し、前記粉末の付着面で反射した前記反射率が異なる光の反射光を個別に受光させ、
被覆率検出部に対し、前記受光部で受光した前記反射光の各受光量に基づいて、前記被覆率を検出させるための
被覆率検出プログラム。
It is a coverage detection program for detecting the coverage of the base adhesive layer by the powder adhering to the base adhesive layer.
The light source portion is irradiated with light having a different reflectance in the base adhesive layer on the adhesion surface of the powder.
The light receiving portion is individually received with the reflected light of the light having different reflectances reflected on the adhesion surface of the powder.
A coverage detection program for causing the coverage detection unit to detect the coverage based on the amount of each of the reflected light received by the light receiving section.
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