JP2021161378A - Fluorine-based resin, composition, light crosslinkable substance, and electronic device including the same - Google Patents

Fluorine-based resin, composition, light crosslinkable substance, and electronic device including the same Download PDF

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廷輝 李
Junghwi LEE
翔平 弓野
Shohei Yumino
史章 片桐
Fumiaki Katagiri
慎也 奥
Shinya OKU
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Abstract

To provide a fluorine-based resin which is soluble in a fluorine solvent, and is insolubilized in a solvent by being light crosslinked at normal temperatures and a low exposure dose.SOLUTION: A fluorine-based resin has a residue unit represented by the following formula (1), and an acrylic resin residue unit having at least one group selected from the group consisting of a group represented by formula (2), a group represented by formula (3), and a group represented by formula (4), in a side chain. In the formulae, R1 represents either a hydrogen atom or a methyl group; and Rf1 is selected from the group consisting of a linear fluoroalkyl group having 1 to 15 carbon atoms, a branched chain fluoroalkyl group having 3 to 15 carbon atoms and a cyclic fluoroalkyl group having 3 to 15 carbon atoms.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明はフッ素系樹脂に関する。より詳細には電子デバイスに好適に用いることができるフッ素系樹脂に関するものである。 The present invention relates to a fluororesin. More specifically, the present invention relates to a fluororesin that can be suitably used for electronic devices.

近年、低コストで生産性が高い全印刷法による有機電子デバイスの製造に関する技術開発が積極的に行われている。電子デバイスとして、例えば有機トランジスタの開発も進められている。この有機トランジスタは多数の工程を経て製造されるが、樹脂よりなる保護膜が有機トランジスタを保護し、EL発光部のパターンを形成する工程も含まれている。このパターンは、例えば、ソース電極、ドレイン電極および有機半導体層またはポリマー層を覆うように設けられていて、EL発光部を形成するところである電極上には存在しないようになっている。 In recent years, technological development related to the manufacture of organic electronic devices by the Zeninsatsukyoku method, which is low in cost and high in productivity, has been actively carried out. As electronic devices, for example, organic transistors are being developed. This organic transistor is manufactured through a number of steps, but also includes a step in which a protective film made of resin protects the organic transistor and forms a pattern of an EL light emitting portion. This pattern is provided, for example, to cover the source electrode, the drain electrode and the organic semiconductor layer or the polymer layer, and is not present on the electrode where the EL light emitting portion is formed.

通常、EL発光部は、感光性物質(レジスト)を塗布した基板面をフォトマスクまたはレチクル等を介しパターンに露光し、露光された部位と露光されていない部位からなるパターンを形成する技術であるフォトリソグラフィを用いて形成される。フォトリソグラフィではドライエッチング法、または、ウエットエッチングによりEL発光部を開口している。 Usually, the EL light emitting part is a technique of exposing a substrate surface coated with a photosensitive substance (resist) to a pattern through a photomask, a reticle, or the like to form a pattern consisting of an exposed part and an unexposed part. Formed using photolithography. In photolithography, the EL light emitting portion is opened by a dry etching method or wet etching.

パターン形成材料として、光反応性の高分子材料が用いられている。全印刷法のような塗布法には、該材料を溶媒によく溶解させたインク状で塗布を行い、溶媒を乾燥除去した後、常温かつ短時間の露光で該材料を光架橋反応させることにより溶媒に不溶化する性質を兼ね備えることが求められている。 A photoreactive polymer material is used as the pattern forming material. In a coating method such as the Zeninsatsu method, the material is applied in the form of an ink in which the material is well dissolved in a solvent, the solvent is dried and removed, and then the material is photocrosslinked at room temperature for a short time. It is required to have the property of being insoluble in a solvent.

有機電界ディスプレイや有機電界照明などに含まれる有機電界発光素子の製造方法を示す。まず基板上に、前記高分子材料を塗布しパターンを形成したい部分を光架橋反応させ、光架橋反応させていない部分を除去する。これにより残存した部分はパターンとなる。この高分子材料が除去されている部分(パターン内部)に、種々の機能層を積層する。該機能層はインク状の原料を用いて形成する技術が有望であるが、パターン内部へのインク付着や、高分子材料が除去されていない部分(パターン外部)を超えた領域外へのインク漏れ予防の観点から、パターンを構成する材料には撥液性能を有することが期待されている。 A method for manufacturing an organic electroluminescent element included in an organic field display, an organic electric field illumination, or the like is shown. First, the polymer material is applied onto the substrate, and the portion to which the pattern is to be formed is subjected to a photocrosslinking reaction, and the portion not subjected to the photocrosslinking reaction is removed. As a result, the remaining portion becomes a pattern. Various functional layers are laminated on the portion (inside the pattern) from which the polymer material has been removed. A technique for forming the functional layer using an ink-like raw material is promising, but ink adheres to the inside of the pattern and ink leaks to the outside of the region beyond the portion where the polymer material is not removed (outside the pattern). From the viewpoint of prevention, the materials constituting the pattern are expected to have liquid repellency.

このような材料として特許文献1の光反応性が高くパターニングが可能であるとともに、高く誘電特性に優れる被膜を形成できるネガ感光型樹脂組成物及びそれから製造される光硬化パターンが挙げられている。しかしながら、この樹脂はアルカリ可溶性ポリマーであり現像の際に水を使う必要がある。また、組成物の溶剤はPGMEA(1―methoxy―2―propanol acetate)のような有機溶剤を使う必要がある。有機溶剤と水はいずれも電子デバイスの性能を低下する原因となる。そこで電子デバイスの性能低下を防ぐために溶媒としてフッ素系の溶剤を採用できる材料の開発が求められていた。 Examples of such a material include a negative photosensitive resin composition which has high photoreactivity in Patent Document 1 and can be patterned, and which can form a film having high dielectric properties and excellent dielectric properties, and a photocurable pattern produced from the negative photosensitive resin composition. However, this resin is an alkali-soluble polymer and it is necessary to use water for development. In addition, it is necessary to use an organic solvent such as PGMEA (1-methoxy-2-propanol acetate) as the solvent of the composition. Both organic solvents and water cause deterioration in the performance of electronic devices. Therefore, in order to prevent deterioration of the performance of electronic devices, it has been required to develop a material that can use a fluorine-based solvent as a solvent.

そのような技術として、特許文献2及び非特許文献1で開示されているフッ素溶剤へ可溶なフッ素系樹脂を用いてパターンを形成する方法がある。しかしながら該フッ素系樹脂は光架橋しない問題がある。 As such a technique, there is a method of forming a pattern using a fluorine-based resin soluble in a fluorine solvent disclosed in Patent Document 2 and Non-Patent Document 1. However, the fluororesin has a problem that it does not photocrosslink.

フッ素溶剤に溶解し、光架橋するフッ素系樹脂としてアントラセン架橋基を用いた非特許文献2のようなフッ素系樹脂が挙げられる。しかしながら、該フッ素系樹脂は光架橋性が低く高照射量が必要であるため、高い光反応性を備えたフッ素系樹脂が期待されていた。 Examples of the fluorine-based resin that dissolves in a fluorine solvent and photocrosslinks include a fluorine-based resin such as Non-Patent Document 2 that uses an anthracene cross-linking group. However, since the fluorine-based resin has low photocrosslinkability and requires a high irradiation amount, a fluorine-based resin having high photoreactivity has been expected.

特開2017―167513号公報JP-A-2017-167513 特許第6281427号Patent No. 6281427

Appl. Phys. Express 7, 101602 (2014)Apple. Phys. Express 7, 101602 (2014) J Polym Sci A Polym Chem 53、1252(2015)J Polymer Sci A Polymer Chem 53, 1252 (2015)

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、常温かつ低露光量で光架橋させることにより溶剤に不溶化する性質と、光架橋させた際に撥液性を有するパターンとして好適に性能を兼ね備えたフッ素系樹脂を提供することにある。また、該樹脂はフッ素溶剤に可溶であり、かつ、光架橋後はフッ素溶媒に不溶であることにより、有機デバイスにおける機能層を保護する保護膜として好適に使用することができる。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a pattern that is insoluble in a solvent by photocrosslinking at room temperature and a low exposure amount and has liquid repellency when photocrosslinked. An object of the present invention is to provide a fluororesin having suitable performance. Further, since the resin is soluble in a fluorine solvent and insoluble in a fluorine solvent after photocrosslinking, it can be suitably used as a protective film for protecting a functional layer in an organic device.

本発明者らは、鋭意検討した結果、特定の構造を有するフッ素系樹脂が上記課題を解決することを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of diligent studies, the present inventors have found that a fluororesin having a specific structure solves the above-mentioned problems, and have completed the present invention.

即ち、本発明は下記式(1)で表される残基単位と、
側鎖に下記式(2)、下記式(3)、下記式(4)からなる群の少なくとも1種で表される基を有するアクリル系樹脂残基単位、
を含むフッ素系樹脂である。
That is, in the present invention, the residue unit represented by the following formula (1) and
An acrylic resin residue unit having a group represented by at least one of the following formula (2), the following formula (3), and the following formula (4) in the side chain.
It is a fluorine-based resin containing.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。Rfは炭素数1〜15の直鎖状フルオロアルキル基、炭素数3〜15の分岐鎖状フルオロアルキル基または炭素数3〜15の環状の含フッ素炭化水素基からなる群の1種を表す。) (Here, R 1 represents either a hydrogen atom or a methyl group. Rf 1 is a linear fluoroalkyl group having 1 to 15 carbon atoms, a branched chain fluoroalkyl group having 3 to 15 carbon atoms, or 3 carbon atoms. Represents one of a group consisting of ~ 15 cyclic fluorine-containing hydrocarbon groups.)

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、Aは水素原子、ヒドロキシル基、アミノ基、C〜Cのアルキル基、C〜Cの1級または2級アルキルアミノ基、C〜Cのアルコキシ基または単結合を示し、Aは同一または異なって、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、シクロアルキル基または単結合を表す。Bは同一または異なって水素原子またはC〜Cのアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、アリール基を表す。但し、1つのAおよび5つのAのうち、ただ1つが単結合で他の置換基と結合していることを示すものとする。) (Wherein, A 1 is a hydrogen atom, a hydroxyl group, an amino group, C 1 -C alkyl group of 6, C 1 -C 1 primary or secondary alkylamino group 6, C 1 -C 6 alkoxy group or a single Shows a bond, A 2 is the same or different, hydrogen atom, halogen atom, cyano group, nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, aryl ether group, alkyl group of C 1 to C 18 , fluoroalkyl group, cyclo alkyl or .B 1 represents a single bond are the same or different and each represents a hydrogen atom or an alkyl group of C 1 -C 6, halogen atom, a cyano group, an aryl group. However, one a 1 and five a 2 It is assumed that only one of them is a single bond and is bonded to another substituent.)

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、Aは同一または異なって、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、シクロアルキル基または単結合を表す。Bは同一または異なって水素原子またはC〜Cのアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、アリール基を表す。Lは単結合またはカルボニル基を表す。但し、10個のAのうち、ただ1つが単結合で他の置換基と結合していることを示すものとする。) (Wherein, A 3 are the same or different, a hydrogen atom, a halogen atom, a cyano group, a nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, an aryl ether group, an alkyl group of C 1 -C 18, fluoroalkyl group, a cycloalkyl alkyl or .B 2 represents a single bond are the same or different and each represents a hydrogen atom or an alkyl group of C 1 -C 6, halogen atom, a cyano group, .L representing the aryl group represents a single bond or a carbonyl group. However, of the 10 a 3, only one will be assumed that indicates that it is bound to other substituents with a single bond.)

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、Aは同一または異なって、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、シクロアルキル基または単結合を表す。Bは同一または異なって水素原子またはC〜Cのアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、アリール基を表す。但し、4つのAのうち、ただ1つが単結合で他の置換基と結合していることを示すものとする。) (Wherein, A 4 are the same or different, a hydrogen atom, a halogen atom, a cyano group, a nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, an aryl ether group, an alkyl group of C 1 -C 18, fluoroalkyl group, a cycloalkyl alkyl or .B 3 represents a single bond are the same or different and each represents a hydrogen atom or an alkyl group of C 1 -C 6, halogen atom, a cyano group, an aryl group. However, of the four a 4, only one of It shall indicate that it is bonded to another substituent by a single bond.)

本発明によれば、常温かつ低露光量で光架橋させることにより撥液性を有するパターンを形成可能なフッ素系樹脂を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a fluororesin capable of forming a liquid-repellent pattern by photocrosslinking at room temperature and a low exposure amount.

有機トランジスタの断面形状を示す図である。It is a figure which shows the cross-sectional shape of an organic transistor. 実施例2で製造したフッ素系樹脂2のH−NMRチャートを示す図である。It is a figure which shows the 1 H-NMR chart of the fluororesin 2 produced in Example 2.

以下に本発明の一態様であるフッ素系樹脂について詳細に説明する。 The fluororesin, which is one aspect of the present invention, will be described in detail below.

本発明のフッ素系樹脂は、前記式(1)で表される残基単位と、側鎖に前記式(2)で表される基、前記式(3)で表される基、前記式(4)で表される基を含むアクリル系樹脂残基単位を含む。 The fluororesin of the present invention has a residue unit represented by the formula (1), a group represented by the formula (2) in the side chain, a group represented by the formula (3), and the above formula ( It contains an acrylic resin residue unit containing a group represented by 4).

本発明のフッ素系樹脂は、式(1)で表される残基単位を含む。 The fluororesin of the present invention contains a residue unit represented by the formula (1).

式(1)中、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。 In formula (1), R 1 represents either a hydrogen atom or a methyl group.

式(1)中、Rfは炭素数1〜15の直鎖状フルオロアルキル、炭素数3〜14の分岐鎖状フルオロアルキル基または炭素数3〜13の環状フルオロアルキル基からなる群の1種である。ここで、フルオロアルキル基は、アルキル基中の水素原子が少なくとも1つフッ素原子で置換されているものを表す。 In the formula (1), Rf 1 is one of a group consisting of a linear fluoroalkyl group having 1 to 15 carbon atoms, a branched chain fluoroalkyl group having 3 to 14 carbon atoms, or a cyclic fluoroalkyl group having 3 to 13 carbon atoms. Is. Here, the fluoroalkyl group represents one in which at least one hydrogen atom in the alkyl group is substituted with a fluorine atom.

Rfがフルオロアルキル基であることにより、本発明のフッ素系樹脂はフッ素系溶剤との親和性を示す。また式(1)が主鎖に隣接して、極性基であるエステル結合を有しているために、フッ素系樹脂を塗布成膜したフッ素系樹脂膜は柔軟性に富み、平坦でひび割れのないフッ素系樹脂膜を得ることができる。 Since Rf 1 is a fluoroalkyl group, the fluorine-based resin of the present invention exhibits affinity with a fluorine-based solvent. Further, since the formula (1) has an ester bond which is a polar group adjacent to the main chain, the fluorine-based resin film coated with the fluorine-based resin is highly flexible, flat and has no cracks. A fluorine-based resin film can be obtained.

Rfが直鎖状のフルオロアルキル基である場合、具体的なRfとしてフッ素原子で置換されているメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基または炭素数10〜14のアルキル基を例示することができる。Rfにおいて、酸素に直接結合している炭素原子以外の炭素原子に結合している水素原子はフッ素原子で置換されていてもよい。 When Rf 1 is a linear fluoroalkyl group, the specific Rf 1 is a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, or an octyl group substituted with a fluorine atom. , Nonyl group or alkyl group having 10 to 14 carbon atoms can be exemplified. In Rf 1 , a hydrogen atom bonded to a carbon atom other than a carbon atom directly bonded to oxygen may be substituted with a fluorine atom.

Rfが直鎖状のフルオロアルキル基である場合、下記式(5)で表される基であることが好ましい。 When Rf 1 is a linear fluoroalkyl group, it is preferably a group represented by the following formula (5).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、Xは水素原子またはフッ素原子のいずれかである。nは1〜4の整数であり、mは1〜14の整数である。) (Here, X is either a hydrogen atom or a fluorine atom. N is an integer of 1 to 4, and m is an integer of 1 to 14.)

これにより、式(1)で表される残基単位の原料となる単量体の合成がより容易となる。 This makes it easier to synthesize a monomer as a raw material for each residue represented by the formula (1).

式(5)中、nは1〜4の整数であり、好ましくは1〜2である。 In the formula (5), n is an integer of 1 to 4, preferably 1 to 2.

式(5)中、mは1〜14の整数であり、好ましくは2〜10であり、さらに好ましくは4〜8である。 In the formula (5), m is an integer of 1 to 14, preferably 2 to 10, and more preferably 4 to 8.

Rfが分岐状のフルオロアルキル基である場合、具体的なRfとして、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロイソプロピル基、1−(トリフルオロメチル)−2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロピル基、1,1−ビス(トリフルオロメチル)−2,2,2−トリフルオロエチル基または1,1−ビス(トリフルオロメチル)エチル基を例示することができる。 When Rf 1 is a branched fluoroalkyl group, specific Rf 1 is 1,1,1,3,3,3-hexafluoroisopropyl group, 1- (trifluoromethyl) -2,2,3. , 3,3-Pentafluoropropyl group, 1,1-bis (trifluoromethyl) -2,2,2-trifluoroethyl group or 1,1-bis (trifluoromethyl) ethyl group can be exemplified. ..

式(1)で表される残基単位は、以下の式(6)で表される基であることが好ましい。 The residue unit represented by the formula (1) is preferably a group represented by the following formula (6).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。Xは水素原子またはフッ素原子のいずれかである。nは1〜4の整数であり、mは1〜14の整数である。) (Here, R 1 represents either a hydrogen atom or a methyl group. X is either a hydrogen atom or a fluorine atom. N is an integer of 1 to 4, and m is an integer of 1 to 14. .)

式(6)中、nは1〜4の整数であり、好ましくは1〜2である。 In formula (6), n is an integer of 1 to 4, preferably 1 to 2.

式(6)中、mは1〜14の整数であり、好ましくは2〜10であり、さらに好ましくは4〜8である。 In the formula (6), m is an integer of 1 to 14, preferably 2 to 10, and more preferably 4 to 8.

本発明のフッ素系樹脂は、式(1)で表わされる残基単位を1種含んでいてもよく、2種以上含んでもよい。例えば、前述した直鎖状のフルオロアルキル基と分岐上のフルオロアルキル基の両方の残基単位を含んでもよいし、炭素数の異なる2種以上の直鎖状フルオロアルキル基含む残基単位を含んでもよい。本発明のフッ素系樹脂は、好ましくは式(1)で表わされる残基単位を1種含む。 The fluororesin of the present invention may contain one kind of residue unit represented by the formula (1), or may contain two or more kinds. For example, it may contain residue units of both the linear fluoroalkyl group described above and the fluoroalkyl group on the branch, or may contain residue units containing two or more linear fluoroalkyl groups having different carbon atoms. But it may be. The fluororesin of the present invention preferably contains one residue unit represented by the formula (1).

本発明のフッ素系樹脂における式(1)で表される残基単位として、具体的に、以下の式(A−1)〜(A−33)で表される残基単位からなる群の少なくとも1種を挙げることができる。 As the residue unit represented by the formula (1) in the fluororesin of the present invention, specifically, at least a group consisting of the residue units represented by the following formulas (A-1) to (A-33). One type can be mentioned.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

Figure 2021161378
Figure 2021161378

Figure 2021161378
Figure 2021161378

式(1)で表される残基単位として、上記の式(A−1)〜(A−33)で表される残基単位からなる群の少なくとも1種が好ましく、式(A−9)〜(A−33)からなる群の少なくとも1種がさらに好ましく、またさらに好ましくは式(A−14)〜(A−21)または式(A−27)〜(A−33)からなる群の少なくとも1種が好ましい。 As the residue unit represented by the formula (1), at least one of the group consisting of the residue units represented by the above formulas (A-1) to (A-33) is preferable, and the formula (A-9). At least one of the groups consisting of ~ (A-33) is more preferable, and even more preferably, the group consisting of formulas (A-14) to (A-21) or formulas (A-27) to (A-33). At least one is preferable.

本発明のフッ素系樹脂は、側鎖に式(2)で表される基、式(3)で表される基、式(4)で表される基からなる群の少なくとも1種を有するアクリル系樹脂残基単位を含む。これにより、本発明のフッ素系樹脂は優れた光架橋性を有し、光照射した部位のみを選択的に不溶化させることが可能となる。 The fluororesin of the present invention is an acrylic having at least one of a group consisting of a group represented by the formula (2), a group represented by the formula (3), and a group represented by the formula (4) in the side chain. Contains system resin residue units. As a result, the fluororesin of the present invention has excellent photocrosslinkability, and it is possible to selectively insolubilize only the light-irradiated portion.

アクリル系樹脂残基単位は、好ましくは以下の式(7)で表される残基単位である。 The acrylic resin residue unit is preferably a residue unit represented by the following formula (7).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。Rは単結合、メチレン基、エチレン基のいずれかを表す。Gは水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、メチル基、エチル基、プロピル基、フルオロアルキル基、またはシクロアルキル基からなる群の1種を表す。Iは存在しないか、ハロゲン原子またはアリールエーテル基のいずれかを表す。Eは式(2)、(3)または(4)からなる群の1種で表される基である。) (Here, R 2 represents either a hydrogen atom or a methyl group. R 3 represents any of a single bond, a methylene group, and an ethylene group. G represents a hydrogen atom, a halogen atom, a cyano group, a nitro group, and a carboxy group. Represents one of a group consisting of an alkyl group, an alkyl ether group, an aryl ether group, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a fluoroalkyl group, or a cycloalkyl group. Represents either. E is a group represented by one of the groups consisting of formulas (2), (3) or (4).)

式(7)中、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。 In formula (7), R 2 represents either a hydrogen atom or a methyl group.

式(7)中、Rは単結合、メチレン基およびエチレン基からなる群の1種を表す。Rは単結合またはメチレン基が好ましく、単結合がさらに好ましい。 In formula (7), R 3 represents one of a group consisting of a single bond, a methylene group and an ethylene group. R 3 is preferably a single bond or a methylene group, more preferably a single bond.

式(7)中、Gは単結合、メチレン基、エチレン基からなる群の1種を表す。Gは単結合、メチレン基、からなる群の1種であることがより好ましい。 In formula (7), G represents one of a group consisting of a single bond, a methylene group, and an ethylene group. More preferably, G is one of a group consisting of a single bond and a methylene group.

式(7)中、Iは、水素原子、水酸基、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、メチル基、エチル基、プロピル基、フルオロアルキル基、またはシクロアルキル基、のいずれかを表す。Iは水酸基、ハロゲン原子、アリールエーテル基である古語が好ましく、Iは塩素原子であることがより好ましい。 In formula (7), I is a hydrogen atom, a hydroxyl group, a halogen atom, a cyano group, a nitro group, a carboxyalkyl group, an alkyl ether group, an aryl ether group, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a fluoroalkyl group, or a cyclo. Represents any of the alkyl groups. The old word that I is a hydroxyl group, a halogen atom, or an aryl ether group is preferable, and I is more preferably a chlorine atom.

式(7)中、Eは式(2)、(3)または(4)からなる群の1種で表される基である。Eは式式(2)または(3)のいずれかで表される基であることが好ましく、式(2)で表される基であることがさらに好ましい。 In formula (7), E is a group represented by one of the groups consisting of formulas (2), (3) or (4). E is preferably a group represented by either the formula (2) or (3), and more preferably a group represented by the formula (2).

具体的な式(2)で表される基としては、例えば、以下のものが挙げられる。式中、*は側鎖と結合する部分である。 Examples of the group represented by the specific formula (2) include the following. In the formula, * is the part that binds to the side chain.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

Figure 2021161378
Figure 2021161378

具体的な式(3)で表される基としては、例えば、以下のものが挙げられる。 Examples of the group represented by the specific formula (3) include the following.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

Figure 2021161378
Figure 2021161378

具体的な式(4)で表される基としては、例えば、以下のものが挙げられる。 Examples of the group represented by the specific formula (4) include the following.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

本発明のフッ素系樹脂におけるアクリル系樹脂残基単位は、側鎖に式(2)で表される基を有することが好ましい。そして、残基単位の原料となる単量体がより容易に合成が可能となることから、アクリル系樹脂残基単位は式(2)で表される側鎖を含む残基単位は、下記式(8)で表される残基単位であることが好ましい。 The acrylic resin residue unit in the fluororesin of the present invention preferably has a group represented by the formula (2) in the side chain. Since the monomer that is the raw material of the residue unit can be more easily synthesized, the acrylic resin residue unit is the residue unit containing the side chain represented by the formula (2), and the residue unit is the following formula. It is preferably a residue unit represented by (8).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、R2は水素原子またはメチル基のいずれかを表す。Bは同一または異なって、水素原子、C〜Cのアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、またはアリール基からなる群の1種を表す。Dは同一または異なって、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、またはシクロアルキル基からなる群の1種を表す。Mはハロゲン原子またはアリールエーテル基のいずれかを表す。) (Here, R 2 represents either a hydrogen atom or a methyl group. B 4 is the same or different and consists of a hydrogen atom, an alkyl group of C 1 to C 6 , a halogen atom, a cyano group, or an aryl group. D represents the same or different hydrogen atom, halogen atom, cyano group, nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, aryl ether group, alkyl group of C 1 to C 18 , fluoroalkyl group, Alternatively, it represents one of a group consisting of cycloalkyl groups. M represents either a halogen atom or an aryl ether group.)

式(8)中、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表し、好ましくはメチル基である。 In formula (8), R 2 represents either a hydrogen atom or a methyl group, preferably a methyl group.

式(8)中、Bは同一または異なって、水素原子、C〜Cのアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、またはアリール基からなる群の1種を表し、好ましくは水素原子またはC〜Cのアルキル基のいずれかであり、さらに好ましくは水素原子である。 Wherein (8), B 4 are the same or different, a hydrogen atom, an alkyl group of C 1 -C 6, halogen atom, represent one of the group consisting of cyano group, or an aryl group, preferably a hydrogen atom or a C It is any of the alkyl groups 1 to C 6 , and more preferably a hydrogen atom.

式(8)中、Dは同一または異なって、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、またはシクロアルキル基からなる群の1種を表し、好ましくは水素原子またはC〜C18のアルキル基のいずれかであり、さらに好ましくは水素原子である。 In formula (8), D is the same or different, hydrogen atom, halogen atom, cyano group, nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, aryl ether group, alkyl group of C 1 to C 18 , fluoroalkyl group, Alternatively, it represents one of a group consisting of cycloalkyl groups, preferably either a hydrogen atom or an alkyl group of C 1 to C 18 , and more preferably a hydrogen atom.

式(8)中、Mはハロゲン原子またはアリールエーテル基のいずれかを表し、好ましくはハロゲン原子である。 In formula (8), M represents either a halogen atom or an aryl ether group, and is preferably a halogen atom.

本発明のフッ素系樹脂におけるアクリル系樹脂残基単位として、具体的に、以下の式(B−1)〜(B−22)で表される残基単位からなる群の少なくとも1種を挙げることができる。 Specific examples of the acrylic resin residue unit in the fluororesin of the present invention include at least one of a group consisting of residue units represented by the following formulas (B-1) to (B-22). Can be done.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

Figure 2021161378
Figure 2021161378

アクリル系樹脂残基単位として、上記の式(B−1)〜(B−15)で表される残基単位からなる群の少なくとも1種が好ましく、式(B−1)〜(B−3)からなる群の少なくとも1種がさらに好ましい。 As the acrylic resin residue unit, at least one of the group consisting of the residue units represented by the above formulas (B-1) to (B-15) is preferable, and the formulas (B-1) to (B-3) are preferable. ) Are more preferred.

本発明のフッ素系樹脂は、式(1)で表される残基単位と、式(7)で表される残基単位を含む共重合体であることが好ましい。具体的には以下の式(9)で表される共重合体であることが好ましい。 The fluororesin of the present invention is preferably a copolymer containing a residue unit represented by the formula (1) and a residue unit represented by the formula (7). Specifically, it is preferably a copolymer represented by the following formula (9).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、R及びRはそれぞれ独立して、水素原子またはメチル基のいずれかを表す。Rfは炭素数1〜15の直鎖状フルオロアルキル基、炭素数3〜15の分岐鎖状フルオロアルキル基または炭素数3〜15の環状の含フッ素炭化水素基からなる群の1種を表す。Rは単結合、メチレン基、エチレン基のいずれかを表す。Gは水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、メチル基、エチル基、プロピル基、フルオロアルキル基、またはシクロアルキル基からなる群の1種を表す。Iは存在しないか、ハロゲン原子またはアリールエーテル基のいずれかを表す。Eは式(2)、(3)または(4)からなる群の1種で表される基である。) (Here, R 1 and R 2 independently represent either a hydrogen atom or a methyl group. Rf 1 is a linear fluoroalkyl group having 1 to 15 carbon atoms and a branched chain having 3 to 15 carbon atoms. Represents one of a group consisting of a fluoroalkyl group or a cyclic fluorine-containing hydrocarbon group having 3 to 15 carbon atoms. R 3 represents a single bond, a methylene group, or an ethylene group. G represents a hydrogen atom or a halogen. Represents one of a group consisting of an atom, a cyano group, a nitro group, a carboxyalkyl group, an alkyl ether group, an aryl ether group, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a fluoroalkyl group, or a cycloalkyl group. I is absent. Or represents either a halogen atom or an aryl ether group. E is a group represented by one of the group consisting of the formulas (2), (3) or (4).)

式(9)中、RおよびRfは、式(1)と同義である。 In formula (9), R 1 and Rf 1 are synonymous with formula (1).

式(9)中、R、R、G,I,Eは式(7)と同義である。 In equation (9), R 2 , R 3 , G, I, and E are synonymous with equation (7).

式(9)で表される共重合体はランダム共重合体であってもブロック共重合体であってもよい。 The copolymer represented by the formula (9) may be a random copolymer or a block copolymer.

本発明のフッ素系樹脂は、式(6)で表される残基単位と、式(8)で表される残基単位を含む共重合体であることが好ましい。具体的には以下の式(10)で表される共重合体であることが好ましい。 The fluororesin of the present invention is preferably a copolymer containing a residue unit represented by the formula (6) and a residue unit represented by the formula (8). Specifically, it is preferably a copolymer represented by the following formula (10).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、R、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。Xは水素原子またはフッ素原子のいずれかである。nは1〜4の整数であり、mは1〜14の整数である。Bは同一または異なって、水素原子、C〜Cのアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、またはアリール基からなる群の1種を表す。Dは同一または異なって、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、またはシクロアルキル基からなる群の1種を表す。Mはハロゲン原子またはアリールエーテル基のいずれかを表す。) (Here, R 1 and R 2 represent either a hydrogen atom or a methyl group. X is either a hydrogen atom or a fluorine atom. N is an integer of 1 to 4, and m is 1 to 14. It is an integer. B 4 is the same or different and represents one of a group consisting of a hydrogen atom, an alkyl group of C 1 to C 6 , a halogen atom, a cyano group, or an aryl group. D is the same or different and represents hydrogen. .M representing atom, a halogen atom, a cyano group, a nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, an aryl ether group, an alkyl group of C 1 -C 18, fluoroalkyl group, or one of the group consisting of cycloalkyl, Represents either a halogen atom or an aryl ether group.)

式(10)中、nは1〜4の整数であり、好ましくは1〜2である。 In formula (10), n is an integer of 1 to 4, preferably 1 to 2.

式(10)中、mは1〜14の整数であり、好ましくは2〜10であり、さらに好ましくは4〜8である。 In the formula (10), m is an integer of 1 to 14, preferably 2 to 10, and more preferably 4 to 8.

式(10)中、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表し、好ましくはメチル基である。 In formula (10), R 2 represents either a hydrogen atom or a methyl group, preferably a methyl group.

式(10)中、Bは同一または異なって、水素原子、C〜Cのアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、またはアリール基からなる群の1種を表し、好ましくは水素原子またはC〜Cのアルキル基のいずれかであり、さらに好ましくは水素原子である。 Wherein (10), B 4 are the same or different, a hydrogen atom, an alkyl group of C 1 -C 6, halogen atom, represent one of the group consisting of cyano group, or an aryl group, preferably a hydrogen atom or a C It is any of the alkyl groups 1 to C 6 , and more preferably a hydrogen atom.

式(10)中、Dは同一または異なって、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、またはシクロアルキル基からなる群の1種を表し、好ましくは水素原子またはC〜C18のアルキル基のいずれかであり、さらに好ましくは水素原子である。 In formula (10), D is the same or different, hydrogen atom, halogen atom, cyano group, nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, aryl ether group, alkyl group of C 1 to C 18 , fluoroalkyl group, Alternatively, it represents one of a group consisting of cycloalkyl groups, preferably either a hydrogen atom or an alkyl group of C 1 to C 18 , and more preferably a hydrogen atom.

式(10)中、Mはハロゲン原子またはアリールエーテル基のいずれかを表し、好ましくはハロゲン原子である。 In formula (10), M represents either a halogen atom or an aryl ether group, preferably a halogen atom.

本発明のフッ素系樹脂は、フッ素溶剤により溶解しやすくなるため、式(1)で表される残基単位を20mol%以上95%mol%以下含むことが好ましく、30mol%以上80%mol%以下含むことが好ましく、40mol%以上80mol%以下がこのましい。 Since the fluorine-based resin of the present invention is easily dissolved by a fluorine solvent, it is preferable that the residue unit represented by the formula (1) is contained in an amount of 20 mol% or more and 95% mol% or less, and 30 mol% or more and 80% mol% or less. It is preferably contained, and 40 mol% or more and 80 mol% or less is preferable.

また、式(2)、式(3)または式(4)で表される側鎖を有する残基単位、すなわちアクリル系樹脂残基単位を5mol%以上80mol%以下含むことが好ましく、20mol%以上70mol%以下含むことが好ましく、20mol%以上60mol%以下含むことが好ましい。また、式(1)で表される残基単位と式(2)、式(3)または式(4)で表される残基単位以外に残基単位を含んでもよい。式(1)で表される残基単位と、式(2)、式(3)または式(4)で表される残基単位からのみなり、それ以外の残基単位を含まないことが好ましい。 Further, it is preferable that the residue unit having a side chain represented by the formula (2), the formula (3) or the formula (4), that is, the acrylic resin residue unit is contained in an amount of 5 mol% or more and 80 mol% or less, preferably 20 mol% or more. It preferably contains 70 mol% or less, and preferably 20 mol% or more and 60 mol% or less. Further, a residue unit may be included in addition to the residue unit represented by the formula (1) and the residue unit represented by the formula (2), the formula (3) or the formula (4). It is preferable that the residue unit is composed only of the residue unit represented by the formula (1) and the residue unit represented by the formula (2), the formula (3) or the formula (4), and does not include any other residue units. ..

本発明のフッ素系樹脂の製造方法としては、前記式(1)で表される残基単位と、前記アクリル系樹脂残基単位を含む共重合体が得られる限り如何なる製造方法を用いることができる。具体的な製造方法としては、(i)前記アクリル系樹脂残基単位のモノマーを予め合成し、それを式(1)で表される残基単位のモノマーと共重合する方法、(ii)側鎖が式(2)〜(4)で表される基とは異なる他の官能基を有するアクリル系樹脂と式(1)で表される残基単位を有するフッ素系樹脂を合成してから、その官能基を光架橋性基に変換する方法が挙げられる。 As the method for producing the fluororesin of the present invention, any production method can be used as long as a copolymer containing the residue unit represented by the formula (1) and the acrylic resin residue unit can be obtained. .. Specific production methods include (i) a method of synthesizing a monomer of the acrylic resin residue unit in advance and copolymerizing it with a monomer of the residue unit represented by the formula (1), (ii) side. After synthesizing an acrylic resin having a chain having another functional group different from the group represented by the formulas (2) to (4) and a fluororesin having a residue unit represented by the formula (1), Examples thereof include a method of converting the functional group into a photocrosslinkable group.

(i)の場合、前記式(1)で表される残基単位を誘導するモノマーと、前記アクリル系樹脂残基単位を誘導するモノマーとをラジカル重合する方法が好ましく用いられる。 In the case of (i), a method of radically polymerizing the monomer for inducing the residue unit represented by the formula (1) and the monomer for inducing the acrylic resin residue unit is preferably used.

(ii)の場合、前記式(1)で表される残基単位と、化学変換可能な官能基を側鎖に有するアクリル系の単量体から誘導される残基単位とを含む共重合体(以下、「前駆体樹脂」という)を製造する方法としては、前記の前駆体樹脂が得られる限り、如何なる製造方法をも用いることができ、その中でも容易に製造可能であることからラジカル重合する方法が好ましく用いられる。 In the case of (ii), a copolymer containing a residue unit represented by the above formula (1) and a residue unit derived from an acrylic monomer having a chemically convertible functional group in the side chain. As a method for producing (hereinafter, referred to as "precursor resin"), any production method can be used as long as the precursor resin can be obtained, and among them, radical polymerization is carried out because it can be easily produced. The method is preferably used.

具体的な式(1)を誘導するモノマーとしては、下記式(11)で表される化合物を挙げることができる Examples of the monomer for inducing the specific formula (1) include compounds represented by the following formula (11).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(ここで、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。Rfは炭素数1〜15の直鎖状フルオロアルキル基、炭素数3〜15の分岐鎖状フルオロアルキル基または炭素数3〜15の環状のフルオロアルキル基からなる群の1種を表す。) (Here, R 1 represents either a hydrogen atom or a methyl group. Rf 1 is a linear fluoroalkyl group having 1 to 15 carbon atoms, a branched chain fluoroalkyl group having 3 to 15 carbon atoms, or 3 carbon atoms. Represents one of a group consisting of ~ 15 cyclic fluoroalkyl groups.)

具体的にRfが分岐鎖状の場合は、例えば、下記に示す、1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン−2−オール(分子式:CFCH(OH)CF)、1,1,1,3,3,4,4,4−オクタフルオロブタン−2−オール(分子式:CFCH(OH)CFCF)、2−トリフルオロメチル−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン−2−オール(分子式:(CFCOH)または2−トリフルオロメチル−1,1,1−トリフルオロプロパン−2−オール(分子式:(CF(CH)COH)からそれぞれ誘導されるアクリレート、メタクリレート、α−フルオロメタクリレートまたはα−トリフルオロメチルアクリレートを例示することができ、好ましく用いることができる。 Specifically, when Rf 1 is in the form of a branched chain, for example, 1,1,1,3,3,3-hexafluoropropan-2-ol (molecular formula: CF 3 CH (OH) CF 3 ) shown below. , 1,1,1,3,3,4,5,4-octafluorobutane-2-ol (molecular formula: CF 3 CH (OH) CF 2 CF 3 ), 2-trifluoromethyl-1,1,1 , 3,3,3-hexafluoropropan-2-ol (molecular formula: (CF 3 ) 3 COH) or 2-trifluoromethyl-1,1,1-trifluoropropan-2-ol (molecular formula: (CF 3)) ) 2 (CH 3 ) COH) can be exemplified by acrylate, methacrylate, α-fluoromethacrylate or α-trifluoromethyl acrylate, respectively, which can be preferably used.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

式(11)においてRfが直鎖状の場合は、具体例として、下記式(12)表される化合物であればよい。 When Rf 1 is linear in the formula (11), as a specific example, it may be a compound represented by the following formula (12).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

(式中、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。
Xは水素原子またはフッ素原子のいずれかである。nは1〜4の整数であり、mは1から14の整数である。)
(In the formula, R 1 represents either a hydrogen atom or a methyl group.
X is either a hydrogen atom or a fluorine atom. n is an integer of 1 to 4, and m is an integer of 1 to 14. )

式(12)において、単量体の合成の容易さから、nは1〜2の整数であることが好ましい。mは2〜10の整数であることが好ましく、4〜8の整数であることがさらに好ましい。 In the formula (12), n is preferably an integer of 1 to 2 from the viewpoint of easiness of synthesizing the monomer. m is preferably an integer of 2 to 10, and more preferably an integer of 4 to 8.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

Figure 2021161378
Figure 2021161378

前記ラジカル重合は公知の重合方法、例えば、塊状重合法、溶液重合法、懸濁重合法、沈殿重合法、乳化重合法のいずれも採用可能である。 As the radical polymerization, any known polymerization method, for example, a bulk polymerization method, a solution polymerization method, a suspension polymerization method, a precipitation polymerization method, or an emulsion polymerization method can be adopted.

ラジカル重合を行う際のラジカル重合開始剤としては、例えば、ベンゾイルパーオキサイド、ラウリルパーオキサイド、オクタノイルパーオキサイド、アセチルパーオキサイド、ジ−t−ブチルパーオキサイド、t−ブチルクミルパーオキサイド、ジクミルパーオキサイド、t−ブチルパーオキシアセテート、t−ブチルパーオキシベンゾエート、t−ブチルパーピバレート等の有機過酸化物;2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)、2,2’−アゾビス(2−ブチロニトリル)、2,2’−アゾビスイソブチロニトリル、ジメチル−2,2’−アゾビスイソブチレート、1,1’−アゾビス(シクロヘキサン−1−カルボニトリル)等のアゾ系開始剤等が挙げられる。 Examples of the radical polymerization initiator for radical polymerization include benzoyl peroxide, lauryl peroxide, octanoyl peroxide, acetyl peroxide, di-t-butyl peroxide, t-butyl cumyl peroxide, and dicumylper. Organic radicals such as oxides, t-butylperoxyacetate, t-butylperoxybenzoate, t-butylperpivalate; 2,2'-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile), 2,2'- Azo-based radicals such as azobis (2-butyronitrile), 2,2'-azobisisobutyronitrile, dimethyl-2,2'-azobisisobutyrate, 1,1'-azobis (cyclohexane-1-carbonitrile) An initiator and the like can be mentioned.

そして、溶液重合法、懸濁重合法、沈殿重合法、乳化重合法において使用可能な溶媒として特に制限はなく、例えば、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族溶媒;メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール等のアルコール系溶媒;シクロヘキサン;ジ
オキサン;テトラヒドロフラン;アセトン;メチルエチルケトン;ジメチルホルムアミド;酢酸イソプロピル;水等が挙げられ、これらの混合溶媒も挙げられる。
The solvent that can be used in the solution polymerization method, suspension polymerization method, precipitation polymerization method, and emulsion polymerization method is not particularly limited. For example, aromatic solvents such as benzene, toluene, and xylene; methanol, ethanol, propanol, butanol, etc. Alcohol-based solvent; cyclohexane; dioxane; tetrahydrofuran; acetone; methyl ethyl ketone; dimethylformamide; isopropyl acetate; water and the like, and a mixed solvent thereof is also mentioned.

また、ラジカル重合を行う際の重合温度は、ラジカル重合開始剤の分解温度に応じて適宜設定することができ、反応の制御が容易であることから、一般的には30〜150℃の範囲で行うことが好ましい。 Further, the polymerization temperature at the time of performing radical polymerization can be appropriately set according to the decomposition temperature of the radical polymerization initiator, and the reaction can be easily controlled. Therefore, the polymerization temperature is generally in the range of 30 to 150 ° C. It is preferable to do so.

また、前記した前駆体樹脂に含まれる光架橋性基に変換可能な官能基としては、例えば、カルボキシル基、ヒドロキシル基、アミノ基、酸クロリド基、ヒドロキシル基、エポキシ基、オキセタニル基、アジド基、クロスカップリング反応が可能なハロゲン化アリール基、フリーデルクラフツ反応が可能な芳香族基、アミノ基およびカルボキシル基等と反応可能なイソシアネート基が挙げられ、優れた反応性を有し、ラジカル共重合を阻害しないことからエポキシ基、イソシアネート基、カルボキシル基、酸クロリド基が好ましい。 Examples of the functional group that can be converted into the photocrossblinkable group contained in the precursor resin include a carboxyl group, a hydroxyl group, an amino group, an acid chloride group, a hydroxyl group, an epoxy group, an oxetanyl group and an azide group. Examples thereof include an aryl halide group capable of a cross-coupling reaction, an aromatic group capable of a Friedelcrafts reaction, an isocyanate group capable of reacting with an amino group and a carboxyl group, etc., which have excellent reactivity and undergo radical copolymerization. An epoxy group, an isocyanate group, a carboxyl group, and an acid chloride group are preferable because they do not inhibit the above.

前記の官能基を有する具体的な単量体としては、例えば、メタクリル酸、アクリル酸、ω−カルボキシ−ポリカプロラクトンモノアクリレート、こはく酸モノ(2−アクリロイルオキシエチル)、6−アクリルアミドヘキサン酸、4−ビニル安息香酸、アクリル酸3−ヒドロキシ−1−アダマンチル、アクリル酸2−ヒドロキシ−3−フェノキシプロピル、アクリル酸ヒドロキシプロピル、メタクリル酸ヒドロキシプロピル、アクリル酸2−ヒドロキシエチル、メタクリル酸2−ヒドロキシエチル、1,4−シクロヘキサンジメタノールモノアクリレート、4−ヒドロキシブチルアクリレート、メタクリル酸3−クロロ−2−ヒドロキシプロピル、メタクリル酸3-ヒドロキシ−1−アダマンチル、N−(2−ヒドロキシエチル)アクリルアミド、エチレングリコールモノビニルエーテル、ビニルフェノール、N−(4−ヒドロキシフェニル)メタクリルアミド、N-(ヒドロキシメチル)アクリルアミド、3−アミノスチレン、4−アミノスチレン、メタクリル酸2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル、アクリル酸クロリド、メタクリル酸クロリド、メタクリル酸グリシジル、アクリル酸グリシジル、4−ヒドロキシブチルアクリレートグリシジルエーテル、アクリル酸(3−エチルオキセタン−3−イル)メチル、メタクリル酸(3−エチルオキセタン−3−イル)メチル、3−ヨードスチレン、4−ヨードスチレン、3−ブロモスチレン、4−ブロモスチレン、3−クロロスチレン、4−クロロスチレン、アクリル酸フェニル、メタクリル酸フェニル、N−フェニルメタクリルアミド、N−フェニルアクリルアミド、N−ベンジルマレイミド、アクリル酸2−イソシアナトエチル、メタクリル酸2−イソシアナトエチル等が挙げられる。 Specific monomers having the above functional groups include, for example, methacrylic acid, acrylic acid, ω-carboxy-polycaprolactone monoacrylate, monosuccinate (2-acryloyloxyethyl), 6-acrylamidehexanoic acid, 4 -Vinyl benzoic acid, 3-hydroxy-1-adamantyl acrylate, 2-hydroxy-3-phenoxypropyl acrylate, hydroxypropyl acrylate, hydroxypropyl methacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 1,4-Cyclohexanedimethanol monoacrylate, 4-hydroxybutyl acrylate, 3-chloro-2-hydroxypropyl methacrylate, 3-hydroxy-1-adamantyl methacrylate, N- (2-hydroxyethyl) acrylamide, ethylene glycol mono Vinyl ether, vinylphenol, N- (4-hydroxyphenyl) methacrylicamide, N- (hydroxymethyl) acrylamide, 3-aminostyrene, 4-aminostyrene, methacrylic acid 2,2,6,6-tetramethyl-4-piperidyl , Acrylic acid chloride, methacrylic acid chloride, glycidyl methacrylate, glycidyl acrylate, 4-hydroxybutyl acrylate glycidyl ether, methyl acrylate (3-ethyloxetane-3-yl) methyl, methacrylic acid (3-ethyloxetane-3-yl) ) Methyl, 3-iodostyrene, 4-iodostyrene, 3-bromostyrene, 4-bromostyrene, 3-chlorostyrene, 4-chlorostyrene, phenylacrylic acid, phenylmethacrylate, N-phenylmethacrylicamide, N-phenyl Examples thereof include acrylamide, N-benzylmaleimide, 2-isocyanatoethyl acrylate, and 2-isocyanatoethyl methacrylate.

前駆体樹脂に含まれる官能基を光架橋性基に変換する方法としては、本発明のフッ素系樹脂が得られる限り如何なる方法を用いてもよいが、例えば、側鎖にエポキシ基を有する前駆体樹脂に対して、光架橋性基を有するカルボン酸、エステル、アミン、酸クロリド(以下、「光架橋性化合物」という)を作用させる(以下、「エポキシ変性反応」という)ことで、本発明のフッ素系樹脂を得ることができる。このとき、エポキシの開環架橋反応によるゲル化が進行しにくいことからエステル、酸クロリドを用いることが好ましく、酸クロリドを用いることが特に好ましい。 As a method for converting the functional group contained in the precursor resin into a photocrosslinkable group, any method may be used as long as the fluororesin of the present invention can be obtained. For example, a precursor having an epoxy group in the side chain. By allowing a carboxylic acid, an ester, an amine, and an acid chloride having a photocrosslinkable group (hereinafter, referred to as “photocrosslinkable compound”) to act on the resin (hereinafter, referred to as “epoxide modification reaction”), the present invention of the present invention. A fluororesin can be obtained. At this time, it is preferable to use an ester or an acid chloride, and it is particularly preferable to use an acid chloride, because gelation due to the ring-opening cross-linking reaction of the epoxy is difficult to proceed.

具体的な光架橋性化合物としては、例えば以下の化合物が挙げられる。 Specific examples of the photocrosslinkable compound include the following compounds.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

Figure 2021161378
Figure 2021161378

エポキシ変性反応は、反応触媒を用いて実施することができる。本発明では公知の触媒であるアンモニウム塩、ホスホニウム塩、アミン、クラウンエーテル錯体等を反応触媒として使用することが出き、具体的な反応触媒としては、例えば、トリエチルアミン、N,N−ジメチル−4−アミノピリジン、テトラメチルアンモニウムブロミド、テトラメチルアンモニウムクロリド、テトラエチルアンモニウムブロミド、テトラプロピルアンモニウムブロミド、テトラプロピルアンモニウムクロリド、テトラブチルアンモニウムブロミド、テトラブチルアンモニウムクロリド、テトラブチルホスホニウムブロミド、テトラブチルホスホニウムクロリド、18−クラウン6−エーテル/酢酸カリウム錯体、18−クラウン6−エーテル/フッ化カリウム錯体、18−クラウン6−エーテル/臭化カリウム錯体、18−クラウン6−エーテル/ヨウ化カリウム錯体等が挙げられる。触媒の添加量としては特に制限はないが、触媒の溶液への溶解性に限界があることや経済性の問題から前駆体樹脂が含有するエポキシ1モルに対し、0.01〜0.7モルが好ましく、0.1〜0.5モルが更に好ましい。 The epoxy modification reaction can be carried out using a reaction catalyst. In the present invention, known catalysts such as ammonium salts, phosphonium salts, amines, and crown ether complexes can be used as reaction catalysts, and specific reaction catalysts include, for example, triethylamine, N, N-dimethyl-4. -Aminopyridine, tetramethylammonium bromide, tetramethylammonium chloride, tetraethylammonium bromide, tetrapropylammonium bromide, tetrapropylammonium chloride, tetrabutylammonium bromide, tetrabutylammonium chloride, tetrabutylphosphonium bromide, tetrabutylphosphonium chloride, 18- Examples thereof include crown 6-ether / potassium acetate complex, 18-crown 6-ether / potassium fluoride complex, 18-crown 6-ether / potassium bromide complex, 18-crown 6-ether / potassium iodide complex and the like. The amount of the catalyst added is not particularly limited, but due to the limitation of the solubility of the catalyst in the solution and the problem of economy, 0.01 to 0.7 mol with respect to 1 mol of the epoxy contained in the precursor resin. Is preferable, and 0.1 to 0.5 mol is more preferable.

該エポキシ変性反応は、反応溶剤を用いて実施することができる。該反応溶剤はエポキシ変性反応に対して安定であれば何ら制限なく使用でき、反応に対し不活性である十分に脱水された脂肪族炭化水素溶剤、エーテル溶剤、含硫黄溶剤、アミド溶剤等が好適に用いられる。脂肪族炭化水素溶剤としてはシクロヘキサン等が、エーテル溶剤としてはジエチレングリコールジメチルエーテル、テトラヒドロフラン、アニソール等が、含硫黄溶剤としては、テトラヒドロチオフェン1,1−ジオキシド、スルホンジメチルスルホキシド等が、アミド溶剤としては、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等が例示される。 The epoxy modification reaction can be carried out using a reaction solvent. The reaction solvent can be used without any limitation as long as it is stable to the epoxy modification reaction, and a sufficiently dehydrated aliphatic hydrocarbon solvent, an ether solvent, a sulfur-containing solvent, an amide solvent, etc., which are inactive to the reaction, are preferable. Used for. Cyclohexane and the like are used as the aliphatic hydrocarbon solvent, diethylene glycol dimethyl ether, tetrahydrofuran, anisole and the like are used as the ether solvent, tetrahydrothiophene 1,1-dioxide, sulfonedimethylsulfoxide and the like are used as the sulfur-containing solvent, and N is used as the amide solvent. , N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone and the like.

該エポキシ変性反応において、反応温度に特に制限はないが、反応時間低減の観点から50℃から150℃が好ましい。該エポキシ変性反応において、反応時間は特に制限はなく、例えば、1時間から30時間が挙げられる。反応率および経済性の観点から、好ましくは1時間から15時間である。 In the epoxy modification reaction, the reaction temperature is not particularly limited, but is preferably 50 ° C. to 150 ° C. from the viewpoint of reducing the reaction time. In the epoxy modification reaction, the reaction time is not particularly limited, and examples thereof include 1 hour to 30 hours. From the viewpoint of reaction rate and economy, it is preferably 1 to 15 hours.

前記した(ii)(一旦、他の官能基を有するフッ素系ポリマーを合成してから、その官能基を光架橋性基に変換する方法)において、側鎖に後に化学変換可能な官能基を有する単量体から誘導される残基単位としてメタクリル酸グリシジルまたはアクリル酸グリシジルを用い、光架橋性化合物として前記したけい皮酸誘導体の酸クロリド(例えば、けい皮酸クロリド)またはけい皮酸誘導体のアリールエステルを用いて該エポキシ変性反応を行うことにより、式(6)で表される光架橋性基を有するエチレン性不飽和単量体残基単位を含む樹脂を合成することができる。 In the above-mentioned (ii) (a method of synthesizing a fluoropolymer having another functional group and then converting the functional group into a photocrosslinkable group), the side chain has a functional group that can be chemically converted later. Glycidyl methacrylate or glycidyl acrylate is used as the residue unit derived from the monomer, and the acid chloride of the silicate acid derivative (for example, silicate acid chloride) or aryl of the cerebral acid derivative described above is used as the photocrosslinkable compound. By carrying out the epoxy modification reaction using an ester, a resin containing an ethylenically unsaturated monomer residue unit having a photocrossblinking group represented by the formula (6) can be synthesized.

本発明のフッ素系樹脂には、本発明の目的を逸脱しない範囲において、他の単量体残基単位が含まれていても良く、他の単量体残基単位としては、例えば、エチレン残基、プロピレン残基、1−ブテン残基等のオレフィン類残基;アクリル酸メチル残基、アクリル酸エチル残基、アクリル酸ブチル残基等のアクリル酸アルキルエステル類残基;メタクリル酸メチル残基、メタクリル酸エチル残基、メタクリル酸ブチル残基等のメタクリル酸アルキルエステル類残基;スチレン残基、α−メチルスチレン残基等のビニル芳香族炭化水素類残基;酢酸ビニル残基、プロピオン酸ビニル残基、ピバル酸ビニル残基等のカルボン酸ビニルエステル類残基;メチルビニルエーテル残基、エチルビニルエーテル残基、ブチルビニルエーテル残基等のビニルエーテル類残基;N−メチルマレイミド残基、N−シクロヘキシルマレイミド残基、N−フェニルマレイミド残基等のN−置換マレイミド類残基;アクリロニトリル残基;メタクリロニトリル残基等が挙げられる。 The fluororesin of the present invention may contain other monomer residue units as long as the object of the present invention is not deviated, and examples of the other monomer residue units include ethylene residue. Olefins residues such as groups, propylene residues, 1-butene residues; acrylate alkyl ester residues such as methyl acrylate residues, ethyl acrylate residues, butyl acrylate residues; methyl methacrylate residues , Ethylene methacrylate residues, butyl methacrylate residues and other methacrylate alkyl ester residues; styrene residues, α-methylstyrene residues and other vinyl aromatic hydrocarbon residues; vinyl acetate residues, propionic acid Vinyl acid vinyl ester residues such as vinyl residues and vinyl pivalate residues; Vinyl ether residues such as methyl vinyl ether residues, ethyl vinyl ether residues and butyl vinyl ether residues; N-methylmaleimide residues and N-cyclohexyl Examples thereof include N-substituted maleimide residues such as maleimide residues and N-phenylmaleimide residues; acrylonitrile residues; and methacrylonitrile residues.

本発明のフッ素系樹脂において、分子量に対して何ら制限はなく、例えば、2000〜10,000,000(g/モル)のものを用いることが出来る。得られる樹脂の溶液粘度、および力学強度の観点から、好ましくは10,000〜1,000,000(g/モル)である。 In the fluororesin of the present invention, there is no limitation on the molecular weight, and for example, 2000 to 10,000,000 (g / mol) can be used. From the viewpoint of the solution viscosity of the obtained resin and the mechanical strength, it is preferably 10,000 to 1,000,000 (g / mol).

以下に本発明の一態様であるフッ素系樹脂とフッ素系溶剤を含む組成物について説明する。 Hereinafter, a composition containing a fluorinated resin and a fluorinated solvent, which is one aspect of the present invention, will be described.

本発明の別の態様としては、前記式(1)で表される残基単位と、側鎖に前記式(2)で表される基、前記式(3)で表される基、前記式(4)で表される基からなる群の少なくとも1種を有するアクリル系樹脂残基単位を有するフッ素系樹脂と、フッ素系溶剤との組成物である。換言すると、フッ素系樹脂とフッ素系溶剤を含む溶液である(以下、「本発明の溶液」ともいう。)。該組成物を用いることで、全印刷法による電子デバイスの作成の際に、有機物を主成分とするデバイス構成部材へのダメージを最小限に抑えることができ、電子デバイスの性能を十分に発揮することが可能となる。 As another aspect of the present invention, the residue unit represented by the formula (1), the group represented by the formula (2) in the side chain, the group represented by the formula (3), and the formula. It is a composition of a fluorine-based resin having an acrylic resin residue unit having at least one of the group consisting of the group represented by (4), and a fluorine-based solvent. In other words, it is a solution containing a fluorine-based resin and a fluorine-based solvent (hereinafter, also referred to as "solution of the present invention"). By using the composition, it is possible to minimize damage to the device constituents mainly composed of organic substances when producing an electronic device by the Zeninsatsu method, and the performance of the electronic device is fully exhibited. It becomes possible.

本発明の溶液を構成するフッ素系溶剤は、本発明のフッ素系樹脂を溶解させるものであればよい。 The fluorinated solvent constituting the solution of the present invention may be any one that dissolves the fluorinated resin of the present invention.

フッ素系溶剤の含有するフッ素系化合物中、フッ素原子含有量は、フッ素系化合物の全質量に対して、50質量%以上、70質量%以下、より好ましくは55質量%以上70質量%以下である。70質量%を超えると前述のフッ素系樹脂が十分溶解しなくなる。また、50質量%より少ないと、有機半導体膜上に塗布または印刷する際、有機半導体膜の表面を溶解または膨潤することがある。本発明の組成物が含むフッ素系溶剤として、以下に示す含フッ素炭化水素または含フッ素エーテルを好ましく用いることができる。 Among the fluorine-based compounds contained in the fluorine-based solvent, the fluorine atom content is 50% by mass or more, 70% by mass or less, more preferably 55% by mass or more and 70% by mass or less, based on the total mass of the fluorine-based compound. .. If it exceeds 70% by mass, the above-mentioned fluororesin will not be sufficiently dissolved. If it is less than 50% by mass, the surface of the organic semiconductor film may be melted or swollen when it is applied or printed on the organic semiconductor film. As the fluorine-based solvent contained in the composition of the present invention, the following fluorine-containing hydrocarbons or fluorine-containing ethers can be preferably used.

含フッ素炭化水素はオゾン破壊係数が低く、本発明の組成物が含むフッ素系溶剤として好ましい。特に、炭素数4〜8の、直鎖状、分岐鎖状または環状の炭化水素で、水素原子の少なくとも1個がフッ素原子で置換されているようなものは塗布しやすく好ましい。 Fluorine-containing hydrocarbons have a low ozone depletion potential and are preferable as the fluorine-based solvent contained in the composition of the present invention. In particular, linear, branched-chain or cyclic hydrocarbons having 4 to 8 carbon atoms in which at least one hydrogen atom is replaced with a fluorine atom are preferable because they are easy to apply.

このような含フッ素炭化水素として具体的には、ブタン、ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、シクロペンタンまたはシクロヘキサンの水素原子の少なくとも1個がフッ素原子で置換されたものを例示することができる。具体的に示せば、例えば、CHCFCHCF、CFCHFCHFCFCF、CFCFCFCFCFCHCHCH、ヘキサフルオロシクロペンタンの含フッ素炭化水素を例示することができる。 Specific examples of such fluorine-containing hydrocarbons include those in which at least one hydrogen atom of butane, pentane, hexane, heptane, octane, cyclopentane or cyclohexane is replaced with a fluorine atom. Specifically, for example, CH 3 CF 2 CH 2 CF 3 , CF 3 CHFCHFCF 2 CF 3 , CF 3 CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 CH 2 CH 2 CH 3 , Fluorine-containing hydrocarbons of hexafluorocyclopentane. Can be exemplified.

含フッ素炭化水素の沸点は、組成物を塗布する際の基板温度よりも高い必要があり、好ましくは塗布温度より20℃以上、さらに好ましくは50℃以上である。含フッ素炭化水素の沸点が、組成物を塗布する際の基板温度より低いと、塗布作業中に含フッ素炭化水素が急速に揮発し、形成されるフッ素系樹脂膜に十分な平坦性を得難い。また、用いられる含フッ素炭化水素は、沸点が200℃以下であることが好ましく、さらに好ましくは180℃以下である。含フッ素炭化水素の沸点が200℃以下であると、組成物を塗布形成したフッ素系樹脂膜から、加熱により含フッ素炭化水素を蒸発除去しやすい。 The boiling point of the fluorine-containing hydrocarbon needs to be higher than the substrate temperature at the time of coating the composition, and is preferably 20 ° C. or higher, more preferably 50 ° C. or higher than the coating temperature. If the boiling point of the fluorine-containing hydrocarbon is lower than the substrate temperature at the time of coating the composition, the fluorine-containing hydrocarbon rapidly volatilizes during the coating operation, and it is difficult to obtain sufficient flatness in the formed fluorine-based resin film. The fluorine-containing hydrocarbon used preferably has a boiling point of 200 ° C. or lower, more preferably 180 ° C. or lower. When the boiling point of the fluorine-containing hydrocarbon is 200 ° C. or lower, the fluorine-containing hydrocarbon can be easily evaporated and removed by heating from the fluorine-based resin film formed by applying the composition.

前記含フッ素炭化水素のうち、特に好ましい沸点を有する例として、以下を例示することができる。 Among the fluorine-containing hydrocarbons, the following can be exemplified as an example having a particularly preferable boiling point.

バートレルXF(三井・デュポンフロロケミカル株式会社製)、ゼオローラH(日本ゼオン株式会社製沸点)、アサヒクリンAC−6000、アサヒクリンAC−2000(旭硝子株式会社製)を例示することができる。 Examples thereof include Bertrel XF (manufactured by Mitsui-Dupont Fluorochemical Co., Ltd.), Zeolara H (boiling point manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd.), Asahiclean AC-6000, and Asahiclean AC-2000 (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.).

また、オゾン破壊係数の低さから、フッ素系溶剤として含フッ素エーテルを使用することができる。特に、含フッ素エーテルの沸点は、組成物を塗布する際の基板温度よりも高い必要があり、好ましくは塗布温度より20℃以上、さらに好ましくは50℃以上高い。含フッ素エーテルの沸点が、組成物を塗布する際の基板温度より低いと、塗布作業中に含フッ素脂肪族エーテルが急速に揮発し、形成されるフッ素系樹脂膜に十分な平坦性を得難い。また、用いられる含フッ素エーテルは、沸点が200℃以下であることが好ましく、さらに好ましくは180℃以下である。含フッ素エーテルの沸点が200℃以下であると、組成物を塗布形成したフッ素系樹脂膜から、加熱により含フッ素エーテルを蒸発除去しやすい。 Further, since the ozone depletion potential is low, a fluorine-containing ether can be used as the fluorine-based solvent. In particular, the boiling point of the fluorine-containing ether needs to be higher than the substrate temperature at the time of coating the composition, and is preferably 20 ° C. or higher, more preferably 50 ° C. or higher than the coating temperature. If the boiling point of the fluorine-containing ether is lower than the substrate temperature at the time of coating the composition, the fluorine-containing aliphatic ether rapidly volatilizes during the coating operation, and it is difficult to obtain sufficient flatness in the formed fluorine-based resin film. The fluorine-containing ether used preferably has a boiling point of 200 ° C. or lower, more preferably 180 ° C. or lower. When the boiling point of the fluorine-containing ether is 200 ° C. or lower, the fluorine-containing ether can be easily evaporated and removed by heating from the fluorine-based resin film formed by applying the composition.

好ましい含フッ素エーテルの例として、1,1,2,3,3,3−ヘキサフルオロ−1−(2,2,2−トリフルオロエトキシ)プロパン、1,1,2,3,3,3−ヘキサフルオロ−1−(2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロポキシ)プロパン、1,1,2,3,3,3−ヘキサフルオロ−1−(2,2,3,3−テトラフルオロプロポキシ)プロパンまたは2,2,3,3,3−ペンタフルオロ−1−(1,1,2,2−テトラフルオロエトキシ)プロパンを例示することができる。 Examples of preferred fluorine-containing ethers are 1,1,2,3,3,3-hexafluoro-1- (2,2,2-trifluoroethoxy) propane, 1,1,2,3,3,3- Hexafluoro-1- (2,2,3,3,3-pentafluoropropoxy) propane, 1,1,2,3,3,3-hexafluoro-1- (2,2,3,3-tetrafluoro) Propoxy) propane or 2,2,3,3,3-pentafluoro-1- (1,1,2,2-tetrafluoroethoxy) propane can be exemplified.

好ましい沸点を有する含フッ素エーテルとしてはノベック7000、ノベック7100、ノベック7200、ノベック7300、ノベック7500、ノベック7600等(住友スリーエム株式会社製)、アサヒクリンAE−3000(旭硝子株式会社製)を例示することができる。 Examples of the fluorine-containing ether having a preferable boiling point include Novec 7000, Novec 7100, Novec 7200, Novec 7300, Novec 7500, Novec 7600 (manufactured by Sumitomo 3M Ltd.), and Asahi Clean AE-3000 (manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.). Can be done.

また、塗布安定性が高いことから、フッ素系溶剤として含フッ素アルコールを使用することができる。特に、含フッ素アルコールの沸点は、組成物を塗布する際の基板温度よりも高い必要があり、好ましくは塗布温度より20℃以上、さらに好ましくは50℃以上高い。含フッ素アルコールの沸点が、組成物を塗布する際の基板温度より低いと、塗布作業中に含フッ素脂肪族アルコールが急速に揮発し、形成されるフッ素系樹脂膜に十分な平坦性を得難い。また、用いられる含フッ素アルコールは、沸点が200℃以下であることが好ましく、さらに好ましくは180℃以下である。含フッ素アルコールの沸点が200℃以下であると、組成物を塗布形成したフッ素系樹脂膜から、加熱により含フッ素アルコールを蒸発除去しやすい。 Further, since the coating stability is high, a fluorinated alcohol can be used as the fluorinated solvent. In particular, the boiling point of the fluorinated alcohol needs to be higher than the substrate temperature at the time of coating the composition, preferably 20 ° C. or higher, more preferably 50 ° C. or higher than the coating temperature. If the boiling point of the fluorinated alcohol is lower than the substrate temperature at the time of coating the composition, the fluorinated fatty alcohol rapidly volatilizes during the coating operation, and it is difficult to obtain sufficient flatness for the fluorinated resin film formed. The fluorinated alcohol used preferably has a boiling point of 200 ° C. or lower, more preferably 180 ° C. or lower. When the boiling point of the fluorinated alcohol is 200 ° C. or lower, the fluorinated alcohol can be easily evaporated and removed by heating from the fluorinated resin film formed by applying the composition.

好ましい含フッ素アルコールの例として、1H,1H―トリフルオロエタノール、1H1H−ペンタフルオロプロパノール、1H,1H−へプタフルオロブタノール、2−(パーフルオロブチル)エタノール、3−(パーフルオロブチル)プロパノール、2−(パーフルオロヘキシル)エタノール、3−(パーフルオロヘキシル)プロパノール、1H,1H,3H−テトラフルオロプロパノール、1H,1H,5H−オクタフルオロペンタノール、1H,1H,7H−ドデカフルオロヘプタノール、2H−ヘキサフルオロ−2−プロパノール、1H,1H,3H−ヘキサフルオロブタノールを例示することができる。 Examples of preferred fluoroalcohols include 1H, 1H-trifluoroethanol, 1H1H-pentafluoropropanol, 1H, 1H-heptafluorobutanol, 2- (perfluorobutyl) ethanol, 3- (perfluorobutyl) propanol, 2 -(Perfluorohexyl) ethanol, 3- (perfluorohexyl) propanol, 1H, 1H, 3H-tetrafluoropropanol, 1H, 1H, 5H-octafluoropentanol, 1H, 1H, 7H-dodecafluoroheptanol, 2H -Hexafluoro-2-propanol, 1H, 1H, 3H-hexafluorobutanol can be exemplified.

さらに、塗布した膜を平坦にするためにフッ素溶剤を2種類以上含んでいてもよい。 Further, two or more kinds of fluorine solvents may be contained in order to flatten the applied film.

本発明のフッ素系樹脂とフッ素系溶剤の組成物は、フッ素系樹脂を1wt%以上50wt%以下含み、かつ、前記のフッ素系溶剤を50wt%以上99wt%以下含むことが好ましく、より好ましくはフッ素系樹脂を1wt%以上30wt%以下含み、かつ、前記のフッ素系溶剤を70wt%以上99wt%以下含む組成物である。 The composition of the fluorine-based resin and the fluorine-based solvent of the present invention preferably contains 1 wt% or more and 50 wt% or less of the fluorine-based resin and 50 wt% or more and 99 wt% or less of the above-mentioned fluorine-based solvent, and more preferably fluorine. It is a composition containing 1 wt% or more and 30 wt% or less of a based resin and 70 wt% or more and 99 wt% or less of the above-mentioned fluorine-based solvent.

以下に本発明の一態様であるフッ素系樹脂と光増感剤との組成物について説明する。 The composition of the fluororesin and the photosensitizer, which is one aspect of the present invention, will be described below.

本発明のフッ素樹脂は光増感剤を含んでもよい。ここで光架橋性基の架橋反応を促進させるものであれば良い。光増感剤を含む場合、本発明のフッ素樹脂と光増感剤との組成物であってもよく、また、前述した本発明の溶液にさらに光増感剤を含んでいてもよい。 The fluororesin of the present invention may contain a photosensitizer. Here, any one that promotes the cross-linking reaction of the photocrosslinkable group may be used. When the photosensitizer is contained, the composition of the fluororesin of the present invention and the photosensitizer may be used, or the above-mentioned solution of the present invention may further contain the photosensitizer.

光増感剤としては、例えば、ベンゾイン、ベンゾインメチルエ─テル、ベンゾインイソプロピルエ─テル、ベンゾインイソブチルエ─テルなどのアシロイン類;アントラキノン、2─メチルアントラキノン、1,2-ベンズアントラキノン、1─クロロアントラキノン、シクロヘキサノンなどのカルボニル類;ジアセチル、ベンジルなどのジケトン類;ジフェニルモノサルファイド、ジフェニルジサルファイド、テトラメチルチウラムジサルファイドなどの有機サルファイド類;アセトフェノン、ベンゾフェノン、4,4’─ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4’─ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、o─メトキシベンゾフェノン、2,4,6─トリメトキシベンゾフエノンなどのフェノン類;p─トルエンスルホニルクロライド、1─ナフタレンスルホニルクロライド、1,3─ベンゼンスルホニルクロライド、2,4─ジニトロベンゼンスルホニルブロマイド、p─アセトアミドベンゼンスルホニルクロライドなどのスルホニルハライド類;5−ニトロフルオレン、5−ニトロアセナフテン、N−アセチル−4−ニトロ−1−ナフチルアミン、ビクラミド等の芳香族ニトロ化合物類;7−ジエチルアミノ−3−テノイルクマリン、3,3′―カルボニルビス(7―ジエチルアミノクマリン)などのクマリン類;四塩化炭素、ヘキサブロモエタン、1,1,2,2─テトラブロモエタンなどのハロゲン化炭化水素類;ジアゾメタン、アブビスイソブチロニトリル、ヒドラジン、トリメチルベンジルアンモニウムクロライドなどの窒素誘導体;エチオニン、チオニン、メチレンブル─などの色素類などがあげられる。光増感剤を添加することでより低露光量で本発明のフッ素系樹脂を架橋(不溶化)することができる。また、該増感剤は必要に応じて2種以上を組み合わせて使用できる。 Photosensitizers include, for example, hydrocarbons such as benzoin, benzoin methyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether; anthraquinone, 2-methylanthraquinone, 1,2-benzanthraquinone, 1-chloro. Carbonyls such as anthraquinone and cyclohexanone; diketones such as diacetyl and benzyl; organic sulfides such as diphenylmonosulfide, diphenyldisulfide and tetramethylthiuram disulfide; acetophenone, benzophenone, 4,4'-bis (dimethylamino) benzophenone , 4,4'-Bis (diethylamino) benzophenone, o-methoxybenzophenone, 2,4,6-trimethoxybenzophenone and other phenones; p-toluenesulfonyl chloride, 1-naphthalenesulfonyl chloride, 1,3-benzene Hydrocarbons such as sulfonyl chloride, 2,4-dinitrobenzenesulfonyl bromide, p-acetamidebenzenesulfonyl chloride; 5-nitrofluorene, 5-nitroacenaften, N-acetyl-4-nitro-1-naphthylamine, biclamide and the like. Aromatic nitro compounds; coumarins such as 7-diethylamino-3-tenoyl coumarin, 3,3'-carbonylbis (7-diethylamino coumarin); carbon tetrachloride, hexabromoethane, 1,1,2,2- Halogenated hydrocarbons such as tetrabromoethane; nitrogen derivatives such as diazomethane, abbisisobutyronitrile, hydrazine and trimethylbenzylammonium chloride; pigments such as ethionine, thionin and methylenebul. By adding a photosensitizer, the fluororesin of the present invention can be crosslinked (insolubilized) with a lower exposure amount. In addition, two or more kinds of the sensitizer can be used in combination as needed.

本発明のフッ素系樹脂と光増感剤の組成物は、フッ素系樹脂を70wt%以上99.99wt%以下含み、かつ、光増感剤を0.01wt%以上30wt%以下含むことが好ましく、より好ましくはフッ素系樹脂を80wt%以上99.9wt%以下含み、かつ、光増感剤を0.1wt%以上15wt%以下含む組成物である。 The composition of the fluorine-based resin and the photosensitizer of the present invention preferably contains 70 wt% or more and 99.99 wt% or less of the fluorine-based resin and 0.01 wt% or more and 30 wt% or less of the photosensitizer. More preferably, it is a composition containing 80 wt% or more and 99.9 wt% or less of a fluororesin and 0.1 wt% or more and 15 wt% or less of a photosensitizer.

本発明の溶液がさらに光増感剤を含む場合、フッ素系樹脂を1wt%以上50wt%以下、フッ素系溶剤を50wt%以上99wt%以下、増感剤を0.001wt%以上5wt%以下含むことが好ましく、フッ素系樹脂を1wt%以上30wt%以下、フッ素系溶剤を70wt%以上99wt%以下、増感剤を0.01wt%以上3wt%以下含むことが好ましい。 When the solution of the present invention further contains a photosensitizer, it contains 1 wt% or more and 50 wt% or less of a fluorine-based resin, 50 wt% or more and 99 wt% or less of a fluorine-based solvent, and 0.001 wt% or more and 5 wt% or less of a sensitizer. It is preferable that the fluorine-based resin is 1 wt% or more and 30 wt% or less, the fluorine-based solvent is 70 wt% or more and 99 wt% or less, and the sensitizer is 0.01 wt% or more and 3 wt% or less.

以下に本発明の一態様であるフッ素系樹脂で構成されるパターンについて説明する。 Hereinafter, a pattern composed of a fluororesin, which is one aspect of the present invention, will be described.

本発明のフッ素系樹脂はパターンを形成することができる。 The fluororesin of the present invention can form a pattern.

まず、本発明のフッ素系樹脂またはその組成物を用いたパターン形成方法について説明する。 First, a pattern forming method using the fluororesin of the present invention or a composition thereof will be described.

最初に、公知の塗膜形成方法によって、基材の表面にフッ素系樹脂の塗膜を形成する。
基材としては、例えば、各種ガラス板;ポリエチレンテレフタレート等のポリエステル;ポリプロピレン、ポリエチレン等のポリオレフィン;ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリスルホン、ポリイミドの熱可塑性プラスチックシート;エポキシ樹脂;ポリエステル樹脂;ポリ(メタ)アクリル樹脂等の熱硬化性プラスチックシート等を挙げることができる。
First, a coating film of a fluororesin is formed on the surface of the base material by a known coating film forming method.
Examples of the base material include various glass plates; polyester such as polyethylene terephthalate; polyolefin such as polypropylene and polyethylene; thermoplastic sheets of polycarbonate, polymethylmethacrylate, polysulfone, and polyimide; epoxy resin; polyester resin; poly (meth) acrylic. Examples thereof include a heat-curable plastic sheet such as a resin.

塗膜の形成方法としては、例えば、スピンコーティング、ドロップキャスト、ディップコーティング、ドクターブレードコーティング、パッド印刷、スキージコート、ロールコーティング、ロッドバーコーティング、エアナイフコーティング、ワイヤーバーコーティング、フローコーティング、グラビア印刷、フレキソ印刷、スーパーフレキソ印刷、スクリーン印刷、インクジェット印刷、凸版反転印刷、反転オフセット印刷、付着力コントラスト印刷等を用いることが出来る。 Examples of the coating film forming method include spin coating, drop casting, dip coating, doctor blade coating, pad printing, squeegee coating, roll coating, rod bar coating, air knife coating, wire bar coating, flow coating, gravure printing, and flexography. Printing, super flexographic printing, screen printing, inkjet printing, letterpress reversal printing, reversal offset printing, adhesive force contrast printing and the like can be used.

次に、塗膜は乾燥される。乾燥することによって、溶剤が揮発し、粘着性のない塗膜が得られる。乾燥条件は、用いる溶剤の沸点や配合割合などによっても異なるが、好ましくは50〜150℃、10〜2000秒間程度の幅広い範囲で使用できる。 The coating is then dried. By drying, the solvent is volatilized and a non-adhesive coating film is obtained. The drying conditions vary depending on the boiling point of the solvent used, the mixing ratio, and the like, but preferably, it can be used in a wide range of about 50 to 150 ° C. and 10 to 2000 seconds.

塗膜形成時に、印刷手法を用いて所定のパターンを形成した際は、露光を行うことでパターンが光架橋し、固定化され、パターンを形成できる。 When a predetermined pattern is formed by using a printing method at the time of forming a coating film, the pattern can be photocrosslinked and fixed by exposure to form the pattern.

一方、塗膜形成時にパターンを形成しなかった場合は、フォトリソグラフィ技術を用いて、塗膜に所定パターンを形成できる。フォトリソグラフィ技術を用いる場合、まず、乾燥された塗膜に所定パターンのマスクを介して露光し、光架橋させる。 On the other hand, when the pattern is not formed at the time of forming the coating film, a predetermined pattern can be formed on the coating film by using the photolithography technique. When the photolithography technique is used, first, the dried coating film is exposed through a mask having a predetermined pattern and photocrosslinked.

本発明のフッ素系樹脂を光架橋により硬化させる際、紫外線、可視光等の放射線が用いられ、例えば、波長245〜435nmの紫外線が例示される。照射量は樹脂の組成により適宜変更されるが、例えば、10〜5000mJ/cmが挙げられ、架橋度の低下を防止し、かつ、プロセスの短時間化による経済性の向上のため、好ましくは100〜4000mJ/cmである。具体的な光照射装置または光源としては、例えば、殺菌灯、紫外線用蛍光灯、カーボンアーク、キセノンランプ、複写用高圧水銀灯、中圧又は高圧水銀灯、超高圧水銀灯、無電極ランプ、メタルハライドランプ等が挙げられる。 When the fluororesin of the present invention is cured by photocrosslinking, radiation such as ultraviolet rays and visible light is used, and examples thereof include ultraviolet rays having a wavelength of 245 to 435 nm. The irradiation amount is appropriately changed depending on the composition of the resin, and examples thereof include 10 to 5000 mJ / cm 2, which is preferable in order to prevent a decrease in the degree of cross-linking and to improve economic efficiency by shortening the process. It is 100 to 4000 mJ / cm 2 . Specific light irradiation devices or light sources include, for example, germicidal lamps, fluorescent lamps for ultraviolet rays, carbon arcs, xenon lamps, high-pressure mercury lamps for copying, medium-pressure or high-pressure mercury lamps, ultra-high-pressure mercury lamps, electrodeless lamps, metal halide lamps, and the like. Can be mentioned.

紫外線の照射は通常大気中で行うが、必要に応じて不活性ガス中、または一定量の不活性ガス気流下で行うことも出来る。必要に応じて前記の光増感剤を添加して光架橋反応を促進させることも出来る。その後、現像液により現像し、未露光部分を除去する。現像液としては、未硬化のフッ素系樹脂が溶解する溶剤であれば如何なるものでもよく、例えばベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族溶剤;ジオキサン、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、ジエチレングリコールジメチルエーテル等のエーテル系溶剤;アセトン、メチルエチルケトン等のケトン系溶剤;酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸イソプロピル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のエステル系溶剤等を用いることができる。 The irradiation of ultraviolet rays is usually carried out in the atmosphere, but can also be carried out in an inert gas or in a constant amount of an inert gas stream, if necessary. If necessary, the above-mentioned photosensitizer can be added to promote the photocrosslinking reaction. Then, it is developed with a developing solution to remove an unexposed portion. The developing solution may be any solvent as long as it dissolves an uncured fluororesin, for example, an aromatic solvent such as benzene, toluene or xylene; an ether solvent such as dioxane, diethyl ether, tetrahydrofuran or diethylene glycol dimethyl ether; Ketone solvents such as acetone and methyl ethyl ketone; ester solvents such as ethyl acetate, butyl acetate, isopropyl acetate and propylene glycol monomethyl ether acetate can be used.

現像時間は、30〜300秒間が好ましい。また現像方法は液盛り法、ディッピング法などのいずれでもよい。現像後、溶剤で洗浄を行い、圧縮空気や圧縮窒素で風乾させることによって、基材上の溶剤を除去する。続いて、ホットプレート、オーブンなどの加熱装置により、好ましくは40〜150℃で、5〜90分間加熱処理をすることによって、パターンが形成される。 The development time is preferably 30 to 300 seconds. Further, the developing method may be any of a liquid filling method, a dipping method and the like. After development, the solvent on the substrate is removed by washing with a solvent and air-drying with compressed air or compressed nitrogen. Subsequently, a pattern is formed by heat-treating with a heating device such as a hot plate or an oven at preferably 40 to 150 ° C. for 5 to 90 minutes.

上記のフォトリソグラフィ工程を経て画素パターンを形成させた後、画素内の基材表面の汚れを除去してもよい。例えば、低圧水銀灯やエキシマUV等の短波長紫外線の照射や、光アッシング処理等により基材表面を洗浄することが挙げられる。光アッシング処理とはオゾンガス存在下、短波長紫外線を照射する処理である。前記短波長紫外線とは、100〜300nmの波長にメインピークを有する光である。 After forming the pixel pattern through the above photolithography step, dirt on the surface of the base material in the pixel may be removed. For example, the surface of the base material may be cleaned by irradiation with short-wavelength ultraviolet rays such as a low-pressure mercury lamp or excimer UV, or by light ashing treatment. The optical ashing process is a process of irradiating short-wavelength ultraviolet rays in the presence of ozone gas. The short-wavelength ultraviolet light is light having a main peak at a wavelength of 100 to 300 nm.

このように、本発明のフッ素系樹脂は、それ自体はフッ素系溶剤または有機溶剤に可溶であり、光照射により、側鎖に有する光架橋性基が架橋され硬化し、フッ素系溶剤または有機溶剤に不溶化する。この性質を利用し、本発明のフッ素系樹脂を光照射により架橋した際に、フッ素系溶剤または有機溶剤によって光の照射されていない部分が除去されるネガ型レジストとして使用できる。 As described above, the fluorine-based resin of the present invention is itself soluble in a fluorine-based solvent or an organic solvent, and by light irradiation, the photocrosslinkable groups in the side chains are crosslinked and cured, and the fluorine-based solvent or organic is obtained. Insoluble in solvent. Utilizing this property, when the fluorine-based resin of the present invention is crosslinked by light irradiation, it can be used as a negative resist in which a portion not irradiated with light by a fluorine-based solvent or an organic solvent is removed.

本発明のフッ素系樹脂をパターニングした後、フッ素系樹脂が架橋して残っている部分(パターン外部)はインクの濡れ広がりを避けるため、インクに対する接触角は50°以上であることが好ましい。 After patterning the fluororesin of the present invention, the contact angle with respect to the ink is preferably 50 ° or more in order to prevent the ink from spreading in the portion (outside the pattern) where the fluororesin is crosslinked and remains.

本発明のフッ素系樹脂は、優れた撥液特性を有し、有機トランジスタ素子、カラーフィルター、有機EL素子を製造する際のパターン材料に用いることができる。また、本発明のフッ素樹脂は前記の有機トランジスタ素子、カラーフィルター、有機EL素子を含む電子バイスに用いることができる。 The fluorine-based resin of the present invention has excellent liquid-repellent properties and can be used as a pattern material for manufacturing organic transistor elements, color filters, and organic EL elements. Further, the fluororesin of the present invention can be used for an electronic device including the above-mentioned organic transistor element, color filter, and organic EL element.

以下に本発明の一態様である電子デバイスについて詳細に説明する。 The electronic device according to one aspect of the present invention will be described in detail below.

本発明のフッ素樹脂は、電子デバイスを構成する部材として使用できる。電子デバイスとして、有機トランジスタを挙げることができる。 The fluororesin of the present invention can be used as a member constituting an electronic device. An organic transistor can be mentioned as an electronic device.

本発明のフッ素系樹脂を有機トランジスタに用いるとき、該有機トランジスタは、基板上にゲート絶縁層を有し、更にこのゲート絶縁層の上に有機半導体層を成膜し、ソース電極、ドレイン電極およびゲート電極を付設することにより得られる。 When the fluororesin of the present invention is used for an organic transistor, the organic transistor has a gate insulating layer on a substrate, and an organic semiconductor layer is further formed on the gate insulating layer to form a source electrode, a drain electrode, and a drain electrode. It can be obtained by attaching a gate electrode.

本発明の有機トランジスタは図1に示すボトムゲート−トップコンタクト型(A)、ボトムゲート−ボトムコンタクト型(B)、トップゲート−トップコンタクト型(C)、トップゲート−ボトムコンタクト型(D)のいずれの素子構造でもよい。ここで、1は有機半導体層、2は基板、3はゲート電極、4はゲート絶縁層、5はソース電極、6はドレイン電極を示す。 The organic transistor of the present invention is of the bottom gate-top contact type (A), bottom gate-bottom contact type (B), top gate-top contact type (C), and top gate-bottom contact type (D) shown in FIG. Any element structure may be used. Here, 1 is an organic semiconductor layer, 2 is a substrate, 3 is a gate electrode, 4 is a gate insulating layer, 5 is a source electrode, and 6 is a drain electrode.

該有機トランジスタにおいて、用いることが出来る基材は素子を作製できる十分な平坦性を確保できれば特に制限されず、例えば、ガラス、石英、酸化アルミニウム、ハイドープシリコン、酸化シリコン、二酸化タンタル、五酸化タンタル、インジウム錫酸化物等の無機材料基板;プラスチック;金、銅、クロム、チタン、アルミニウム等の金属;セラミックス;コート紙;表面コート不織布等が挙げられ、これらの材料からなる複合材料又はこれらの材料を多層化した材料であっても良い。また、表面張力を調整するため、これらの材料表面をコーティングすることも出来る。 In the organic transistor, the base material that can be used is not particularly limited as long as sufficient flatness that can fabricate the element can be ensured. , Inorganic material substrate such as indium tin oxide; Plastic; Metal such as gold, copper, chromium, titanium, aluminum; Ceramics; Coated paper; Surface coated non-woven fabric, etc. May be a multi-layered material. It is also possible to coat the surfaces of these materials in order to adjust the surface tension.

基材として用いるプラスチックとしては、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、トリアセチルセルロース、ポリカーボネート、ポリメチルアクリレート、ポリメチルメタクリレート、ポリ塩化ビニル、ポリエチレン、エチレン・酢酸ビニル共重合体、ポリメチルペンテン−1、ポリプロピレン、環状ポリオレフィン、フッ素化環状ポリオレフィン、ポリスチレン、ポリイミド、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール、ポリ(ジイソプロピルフマレート)、ポリ(ジエチルフマレート)、ポリ(ジイソプロピルマレエート)、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンスルフィド、ポリフェニレンエーテル、ポリエステルエラストマー、ポリウレタンエラストマー、ポリオレフィンエラストマー、ポリアミドエラストマー、スチレンブロック共重合体等が例示される。また、上記のプラスチックを2種以上用いて積層して基材として用いることができる。 The plastics used as the base material include polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, triacetyl cellulose, polycarbonate, polymethyl acrylate, polymethyl methacrylate, polyvinyl chloride, polyethylene, ethylene / vinyl acetate copolymer, polymethylpentene-1, and polypropylene. , Cyclic polyolefin, Fluorinated cyclic polyolefin, Polyester, Polyester, Polypolyphenol, Polyvinyl alcohol, Poly (diisopropyl fumarate), Poly (diethyl fumarate), Poly (diisopropyl maleate), Polyether sulfone, Polyphenylene sulfide, Polyphenylene ether, Examples thereof include polyester elastomers, polyurethane elastomers, polyolefin elastomers, polyamide elastomers, and styrene block copolymers. In addition, two or more of the above plastics can be laminated and used as a base material.

本発明で用いることが出来る有機半導体には何ら制限はなく、N型およびP型の有機半導体の何れも使用することができ、N型とP型を組み合わせたバイポーラトランジスタとしても使用できる。また、低分子および高分子の有機半導体の何れも用いることができ、これらを混合して使用することも出来る。具体的な化合物としては、例えば式(F−1)〜(F−11)等が例示される。 The organic semiconductor that can be used in the present invention is not limited in any way, and either N-type or P-type organic semiconductor can be used, and it can also be used as a bipolar transistor that combines N-type and P-type. Further, both small molecule and high molecular weight organic semiconductors can be used, and these can be mixed and used. Specific examples of the compounds include formulas (F-1) to (F-11).

Figure 2021161378
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本発明において、有機半導体層を形成する方法としては、有機半導体を真空蒸着する方法、または有機半導体を有機溶剤に溶解させて塗布、印刷する方法等が例示されるが、有機半導体層の薄膜を形成出来る方法であれば何らの制限もない。有機半導体層を有機溶剤に溶解させた溶液を用いて塗布、または印刷する場合の溶液濃度は有機半導体の構造および用いる溶剤により異なるが、より均一な半導体層の形成および層の厚みの低減の観点から、0.5%〜5重量%であることが好ましい。この際の有機溶剤としては有機半導体が製膜可能な一定の濃度で溶解する限り何ら制限はなく、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、デカン、ドデカン、テトラデカン、ヘキサデカン、デカリン、インダン、1−メチルナフタレン、2−エチルナフタレン、1,4−ジメチルナフタレン、ジメチルナフタレン異性体混合物、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、1,2,4−トリメチルベンゼン、メシチレン、イソプロピルベンゼン、ペンチルベンゼン、ヘキシルベンゼン、テトラリン、オクチルベンゼン、シクロヘキシルベンゼン、1,2−ジクロロベンゼン、1,3−ジクロロベンゼン、1,4−ジクロロベンゼン、トリクロロベンゼン、1,2−ジメトキシベンゼン、1,3−ジメトキシベンゼン、γ−ブチロラクトン、1,3−ブチレングリコール、エチレングリコール、ベンジルアルコール、グリセリン、シクロヘキサノールアセテート、3−メトキシブチルアセテート、エチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、アニソール、シクロヘキサノン、メシチレン、3−メトキシブチルアセテート、シクロヘキサノールアセテート、ジプロピレングリコールジアセテート、ジプロピレングリコールメチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、1,6−ヘキサンジオールジアセテート、1,3−ブチレングリコールジアセテート、1,4−ブタンジオールジアセテート、エチルアセテート、フェニルアセテート、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールメチル−N−プロピルエーテル、テトラデカヒドロフェナントレン、1,2,3,4,5,6,7,8−オクタヒドロフェナントレン、デカヒドロ−2−ナフトール、1,2,3,4−テトラヒドロ−1−ナフトール、α−テルピネオール、イソホロントリアセチンデカヒドロ−2−ナフトール、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、2,6−ジメチルアニソール、1,2−ジメチルアニソール、2,3−ジメチルアニソール、3,4−ジメチルアニソール、1−ベンゾチオフェン、3−メチルベンゾチオフェン、1,2−ジクロロエタン、1,1,2,2−テトラクロロエタン、クロロホルム、ジクロロメタン、テトラヒドロフラン、1,2−ジメトキシエタン、ジオキサン、シクロヘキサノン、アセトン、メチルエチルケトン、ジエチルケトン、ジイソプロピルケトン、アセトフェノン、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリドン、リモネン等が例示されるが、好ましい性状の結晶膜を得るためには有機半導体の溶解力が高く、沸点が100℃以上の溶剤が適しており、キシレン、イソプロピルベンゼン、アニソール、シクロヘキサノン、メシチレン、1,2−ジクロロベンゼン、3,4−ジメチルアニソール、ペンチルベンゼン、テトラリン、シクロヘキシルベンゼン、デカヒドロ−2−ナフトールが好ましい。また、前述の溶剤2種以上を適切な割合で混合した混合溶剤も用いることが出来る。 In the present invention, examples of the method for forming the organic semiconductor layer include a method of vacuum-depositing an organic semiconductor, a method of dissolving an organic semiconductor in an organic solvent, coating and printing, and the like. There are no restrictions as long as it can be formed. The solution concentration when coating or printing with a solution of an organic semiconductor layer in an organic solvent varies depending on the structure of the organic semiconductor and the solvent used, but from the viewpoint of forming a more uniform semiconductor layer and reducing the thickness of the layer. Therefore, it is preferably 0.5% to 5% by weight. The organic solvent at this time is not limited as long as the organic semiconductor is dissolved at a constant concentration capable of forming a film, and is hexane, heptane, octane, decane, dodecane, tetradecane, hexadecane, decalin, indan, 1-methylnaphthalene, 2 -Ethylnaphthalene, 1,4-dimethylnaphthalene, dimethylnaphthalene isomer mixture, toluene, xylene, ethylbenzene, 1,2,4-trimethylbenzene, mecitylene, isopropylbenzene, pentylbenzene, hexylbenzene, tetraline, octylbenzene, cyclohexylbenzene , 1,2-Dichlorobenzene, 1,3-dichlorobenzene, 1,4-dichlorobenzene, trichlorobenzene, 1,2-dimethoxybenzene, 1,3-dimethoxybenzene, γ-butyrolactone, 1,3-butylene glycol, Ethylene glycol, benzyl alcohol, glycerin, cyclohexanol acetate, 3-methoxybutyl acetate, ethylene glycol monomethyl ether acetate, ethylene glycol monobutyl ether acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, anisole, cyclohexanone, mesitylene, 3-methoxybutyl acetate, cyclohexanol Acetate, dipropylene glycol diacetate, dipropylene glycol methyl ether acetate, diethylene glycol monobutyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, 1,6-hexanediol diacetate, 1,3-butylene glycol diacetate, 1,4-butanediol Diacetate, ethylacetate, phenylacetate, dipropylene glycol dimethyl ether, dipropylene glycol methyl-N-propyl ether, tetradecahydrophenanthrene, 1,2,3,4,5,6,7,8-octahydrophenanthrene, decahydro -2-naphthol, 1,2,3,4-tetrahydro-1-naphthol, α-terpineol, isophorontriacetindecahydro-2-naphthol, dipropylene glycol dimethyl ether, 2,6-dimethylanisole, 1,2-dimethylanisole , 2,3-dimethylanisole, 3,4-dimethylanisole, 1-benzothiophene, 3-methylbenzothiophene, 1,2-dichloroethane, 1,1,2,2-tetrachloroethane, chloroform, dichloromethane, tet Examples thereof include lahydrofuran, 1,2-dimethoxyethane, dioxane, cyclohexanone, acetone, methyl ethyl ketone, diethyl ketone, diisopropyl ketone, acetophenone, N, N-dimethylformamide, N-methyl-2-pyrrolidone, limonene and the like. A solvent having a high dissolving power of an organic semiconductor and a boiling point of 100 ° C. or higher is suitable for obtaining the crystal film of, xylene, isopropylbenzene, anisole, cyclohexanone, mesitylene, 1,2-dichlorobenzene, 3,4-. Dimethylanisole, pentylbenzene, tetraline, cyclohexanbenzene and decahydro-2-naphthol are preferred. Further, a mixed solvent in which two or more of the above-mentioned solvents are mixed at an appropriate ratio can also be used.

有機半導体層には必要に応じて各種有機・無機の高分子若しくはオリゴマー、又は有機・無機ナノ粒子を固体若しくは、ナノ粒子を水若しくは有機溶剤に分散させた分散液として添加でき、上記絶縁層上に高分子溶液を塗布して保護膜を形成出来る。更に、必要に応じて本保護膜上に各種防湿コーティング、耐光性コーティング等を行うことが出来る。 Various organic / inorganic polymers or oligomers, or organic / inorganic nanoparticles can be added to the organic semiconductor layer as a solid or as a dispersion liquid in which the nanoparticles are dispersed in water or an organic solvent, if necessary, on the insulating layer. A protective film can be formed by applying a polymer solution to the solvent. Further, various moisture-proof coatings, light-resistant coatings and the like can be applied on the protective film as needed.

本発明で用いることが出来るゲート電極、ソース電極、又はドレイン電極としては、アルミニウム、金、銀、銅、ハイドープシリコン、ポリシリコン、シリサイド、スズ酸化物、酸化インジウム、インジウムスズ酸化物、クロム、白金、チタン、タンタル、グラフェン、カーボンナノチューブ等の無機電極、又はドープされた導電性高分子(例えば、PEDOT−PSS)等の有機電極等の導電性材料が例示され、これらの導電性材料を複数、積層して用いることもできる。また、キャリアの注入効率を上げるために、これらの電極に表面処理剤を用いて表面処理を実施することもできる。このような表面処理剤としては、例えば、ベンゼンチオール、ペンタフルオロベンゼンチオール等を挙げることができる。 Examples of the gate electrode, source electrode, or drain electrode that can be used in the present invention include aluminum, gold, silver, copper, high-doped silicon, polysilicon, VDD, tin oxide, indium oxide, indium tin oxide, and chromium. Examples of conductive materials such as inorganic electrodes such as platinum, titanium, tantalum, graphene, and carbon nanotubes, or organic electrodes such as a doped conductive polymer (for example, PEDOT-PSS) are exemplified, and a plurality of these conductive materials are used. , Can also be used in layers. Further, in order to increase the injection efficiency of carriers, it is also possible to carry out surface treatment using a surface treatment agent on these electrodes. Examples of such a surface treatment agent include benzenethiol, pentafluorobenzenethiol and the like.

また、前記の基材、絶縁層または有機半導体層の上に電極を形成する方法に特に制限はなく、蒸着、高周波スパッタリング、電子ビームスパッタリング等が挙げられ、前記導電性材料のナノ粒子を水又は有機溶剤に溶解させたインクを用いて、溶液スピンコート、ドロップキャスト、ディップコート、ドクターブレード、ダイコート、パッド印刷、ロールコーティング、グラビア印刷、フレキソ印刷、スーパーフレキソ印刷、スクリーン印刷、インクジェット印刷、凸版反転印刷等の方法を採用することも出来る。 Further, the method of forming an electrode on the base material, the insulating layer or the organic semiconductor layer is not particularly limited, and examples thereof include thin film deposition, high frequency sputtering, electron beam sputtering, etc., and the nanoparticles of the conductive material are water-based or Solution spin coating, drop casting, dip coating, doctor blade, die coating, pad printing, roll coating, gravure printing, flexo printing, super flexo printing, screen printing, inkjet printing, letterpress inversion using ink dissolved in an organic solvent. A method such as printing can also be adopted.

本発明の有機トランジスタは、有機トランジスタ素子の実用性の観点から、移動度が0.20cm/Vs以上であることが好ましい。 From the viewpoint of practicality of the organic transistor element, the organic transistor of the present invention preferably has a mobility of 0.20 cm 2 / Vs or more.

本発明の有機トランジスタは、有機トランジスタ素子の実用性の観点から、オン電流/オフ電流比が10以上であることが好ましい。 Organic transistor of the present invention, from the viewpoint of practicality of the organic transistor device, it is preferable on current / off current ratio of 10 5 or more.

本発明の有機トランジスタは、有機トランジスタ素子の実用性の観点から、ソース・ドレイン間電流のヒステリシスが無いことが好ましい。 From the viewpoint of practicality of the organic transistor element, the organic transistor of the present invention preferably has no hysteresis of the source-drain current.

以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。 Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples, but the present invention is not limited to these Examples.

実施例において、樹脂の組成、分子量、フッ素系溶剤への溶解性、スピンコート、膜厚測定、UV照射、光架橋(硬化)性の評価方法、パターン形成、撥液特性については、以下に示す条件・装置で実施した。 In the examples, the composition of the resin, the molecular weight, the solubility in a fluorosolvent, the spin coating, the film thickness measurement, the UV irradiation, the evaluation method of the photocrosslinking (curing) property, the pattern formation, and the liquid repellent property are shown below. It was carried out under the conditions and equipment.

<フッ素系樹脂の組成>
核磁気共鳴測定装置(日本電子製、商品名JNM−ECZ400S)を用い、プロトン核磁気共鳴分光(H−NMR)スペクトル分析より求めた。
<フッ素系溶剤への溶解性>
前記フッ素系樹脂と、比較例のための樹脂を各フッ素溶剤に3wt%または10wt%となるように加えて室温で混合し、不溶解分があるかを目視にて確認した。
<スピンコート>
ミカサ株式会社製MS―A100を用いた。
<膜厚測定>
ブルカー社製DektakXTスタイラスプロファイラーを用いて測定した。
<UV照射>
ウシオライティング(株)製UVマスクアライナ、UPE−1605MAを用い、UV強度13.0mW/cmの条件で、搬送速度を変えてUV照射時間を調整した。
<光架橋(硬化)性の評価方法>
洗浄、乾燥した30×30mmのガラス基材(コーニング社製EagleXG)上に、スピンコータ―を用いてフッ素系樹脂溶液をスピンコート製膜し、該膜を十分に乾燥させた。このフッ素系樹脂膜に100〜4000mJ/cmの紫外線を照射してフッ素系樹脂膜を光架橋した。光架橋後のフッ素樹脂膜の厚みをTとした。次に、この光架橋したフッ素系樹脂膜がコーティングされたガラス基材を、フッ素系樹脂の良溶剤であるキシレンまたはAE−3000(AGC社製)に1分浸漬した。取り出した基材をホットプレート用いて100℃で1分乾燥した。乾燥後のフッ素系樹脂膜の厚みをTとした。これらの膜厚測定値を用いて、残膜率(R)を下記の式により算出した。
R=T/T×100(%)
残膜率が残膜率95%以上を架橋の判断基準として、光架橋(硬化)性を評価した。以下、「光架橋性評価」という)。また、残膜率95%以上に達する紫外線を照射が低いほど光架橋性が高い(早い)ことを示す。
<パターン形成>
10cm×10cmの石英ガラスに、一辺が10ミクロンの正方形を縦に10個、横に10個配列した形状をクロムでパターニングしたマスク(パターン形成用マスク)を用いた。基材上に製膜した厚み500nmのフッ素系樹脂または組成物の膜上にマスクを配置し紫外線を照射した後、未架橋部分をアサヒクリンAE―3000(AGC社製)またはアセトンで洗浄除去することにより、膜上に50×50μmサイズの穴が100個空いた形状のパターンを形成した。
<撥液特性(撥水性・撥油性)の評価方法>
洗浄、乾燥した30×30mmのガラス(コーニング社製Eagle XG)にフッ素系樹脂の溶液(3wt%)を500rpm×5秒、1000rpm×20秒の条件でスピンコートした。UV照射を行った場合は、500mJ/cmの紫外線を照射した。基板をフッ素系樹脂の溶液に用いたものと同様の溶剤に1分間浸漬させ取り出し、アセトンにリンスし、窒素ガスでブローして乾燥させた。接触角計(協和界面化学社製、商品名DM−300)を使用して、θ/2法により水、ジヨードメタン、テトラリンに対する接触角を測定した(以下、「撥液特性評価」という)。
<Composition of fluororesin>
It was obtained by proton nuclear magnetic resonance spectroscopy (1 H-NMR) spectral analysis using a nuclear magnetic resonance measuring device (manufactured by JEOL Ltd., trade name JNM-ECZ400S).
<Solubility in fluorine-based solvent>
The fluorine-based resin and the resin for the comparative example were added to each fluorine solvent in an amount of 3 wt% or 10 wt% and mixed at room temperature, and it was visually confirmed whether or not there was an insoluble component.
<Spin coating>
MS-A100 manufactured by Mikasa Co., Ltd. was used.
<Film thickness measurement>
The measurement was performed using a Bruker Dectak XT stylus profiler.
<UV irradiation>
Using a UV mask aligner manufactured by Ushio Lighting Co., Ltd., UPE-1605MA, the UV irradiation time was adjusted by changing the transport speed under the condition of UV intensity of 13.0 mW / cm 2.
<Evaluation method of photocrosslinking (curing) property>
A fluororesin solution was spin-coated on a washed and dried 30 × 30 mm 2 glass substrate (EagleXG manufactured by Corning Inc.) using a spin coater, and the film was sufficiently dried. The fluorine-based resin film was irradiated with ultraviolet rays of 100 to 4000 mJ / cm 2 to photocrosslink the fluorine-based resin film. The thickness of the fluororesin film after photocrosslinking was T 0. Next, the glass substrate coated with the photocrosslinked fluororesin film was immersed in xylene or AE-3000 (manufactured by AGC), which is a good solvent for the fluororesin, for 1 minute. The removed base material was dried at 100 ° C. for 1 minute using a hot plate. The thickness of the fluororesin film after drying was defined as T 1 . Using these film thickness measurement values, the residual film ratio (R) was calculated by the following formula.
R = T 1 / T 0 x 100 (%)
The photocrosslinking (curing) property was evaluated using a residual film ratio of 95% or more as a criterion for crosslinking. Hereinafter referred to as "photocrosslinkability evaluation"). Further, it is shown that the lower the irradiation with ultraviolet rays having a residual film ratio of 95% or more, the higher (faster) the photocrosslinkability.
<Pattern formation>
A mask (pattern forming mask) in which 10 squares having a side of 10 microns were arranged vertically and 10 horizontally were patterned with chrome on a 10 cm × 10 cm quartz glass was used. A mask is placed on a film of a fluororesin or composition having a thickness of 500 nm formed on a substrate and irradiated with ultraviolet rays, and then the uncrosslinked portion is washed and removed with Asahiclean AE-3000 (manufactured by AGC) or acetone. As a result, a pattern having 100 holes of 50 × 50 μm 2 size was formed on the film.
<Evaluation method of liquid repellency (water repellency / oil repellency)>
A solution of a fluororesin (3 wt%) was spin-coated on a washed and dried 30 × 30 mm 2 glass (Eagle XG manufactured by Corning Inc.) under the conditions of 500 rpm × 5 seconds and 1000 rpm × 20 seconds. When UV irradiation was performed, ultraviolet rays of 500 mJ / cm 2 were irradiated. The substrate was immersed in a solvent similar to that used for the fluorine-based resin solution for 1 minute, taken out, rinsed with acetone, blown with nitrogen gas, and dried. The contact angle with respect to water, diiodomethane, and tetralin was measured by the θ / 2 method using a contact angle meter (manufactured by Kyowa Surface Chemistry Co., Ltd., trade name DM-300) (hereinafter referred to as “liquid repellent property evaluation”).

<フッ素系樹脂の合成>
実施例1
(フッ素系樹脂前駆体1の製造)
容量75mLのガラスアンプルにメタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル13.45g(25.3ミリモル)、メタクリル酸グリシジル1.54g(10.8ミリモル)、連鎖移動剤として2,4−ジフェニル−4−メチル−1−ペンテン0.10g(0.41ミリモル)、重合開始剤としてパーヘキシルND(日油製)0.14g(過酸化物分子として0.36ミリモル)を入れ、窒素置換と抜圧を繰り返したのち減圧状態で熔封した。このアンプルを45℃の恒温槽に入れ、8時間保持することによりラジカル重合を行った。重合反応終了後、アンプルから重合物を取り出し、ゼオローラH(日本ゼオン製)30gで溶解させた。このポリマー溶液を、メタノール300mL中に滴下して析出させた後、メタノール300mLで3回洗浄した。さらに30℃で8時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂前駆体1を7.5g得た(収率:50%)。また、H−NMR測定により、共重合体組成は、メタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル残基単位/メタクリル酸グリシジル残基単位=69.2/30.8(モル%)であることを確認した。
(フッ素系樹脂1の製造)
容量20mLのシュレンク管を加熱乾燥後、窒素雰囲気下、フッ素系樹脂前駆体1を1g、けい皮酸クロリド0.37g、触媒としてテトラエチルアンモニウムクロリド0.1g、脱水ヘキサフルオロベンゼン6mL加え、活栓で密封した。フッ素系樹脂前駆体1が溶解するまで室温で攪拌した後、80℃のオイルバス中8時間攪拌した。得られた樹脂溶液を、ヘキサン100mL中に滴下して析出させた後、メタノール50mLで2回洗浄した。さらに30℃で4時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂1を1.5g得た。また、H−NMR測定により、原料のメタクリル酸グリシジル残基単位が減少し、下記式(13)に表される残基単位に変換されていることを確認した。その結果、H−NMR測定によりフッ素系樹脂1の共重合組成は、メタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル残基単位(フッ素系単位1)/式(13)に表される残基単位(光架橋基単位)=72.5/27.5(モル%)の式(14)であることを確認した。
<Synthesis of fluororesin>
Example 1
(Manufacturing of Fluorine Resin Precursor 1)
13.45 g (25.3 mmol) of 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl methacrylate, 1.54 g (10.8 mmol) of glycidyl methacrylate, 2,4 as a chain transfer agent in a glass ampol with a capacity of 75 mL. Add 0.10 g (0.41 mmol) of -diphenyl-4-methyl-1-pentene and 0.14 g (0.36 mmol as peroxide molecule) of perhexyl ND (manufactured by Nichiyu) as a polymerization initiator, and replace with nitrogen. After repeating depressurization, the mixture was sealed under reduced pressure. This ampoule was placed in a constant temperature bath at 45 ° C. and held for 8 hours to carry out radical polymerization. After completion of the polymerization reaction, the polymer was taken out from the ampoule and dissolved in 30 g of Zeolola H (manufactured by ZEON CORPORATION). This polymer solution was added dropwise to 300 mL of methanol to precipitate, and then washed 3 times with 300 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 8 hours to obtain 7.5 g of the fluororesin precursor 1 (yield: 50%). In addition, by 1 H-NMR measurement, the copolymer composition was 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl methacrylate residue unit / glycidyl methacrylate residue unit = 69.2 / 30.8 (mol%). ) Was confirmed.
(Manufacturing of Fluorine Resin 1)
After heating and drying a Schlenk tube with a capacity of 20 mL, add 1 g of fluororesin precursor 1 and 0.37 g of fluorinated resin precursor, 0.1 g of tetraethylammonium chloride as a catalyst, and 6 mL of dehydrated hexafluorobenzene under a nitrogen atmosphere, and seal with a stopcock. bottom. After stirring at room temperature until the fluororesin precursor 1 was dissolved, the mixture was stirred in an oil bath at 80 ° C. for 8 hours. The obtained resin solution was added dropwise to 100 mL of hexane to precipitate, and then washed twice with 50 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 4 hours to obtain 1.5 g of a fluororesin 1. Further, by 1 1 H-NMR measurement, it was confirmed that the glycidyl methacrylate residue unit of the raw material was reduced and converted to the residue unit represented by the following formula (13). As a result, the copolymerization composition of the fluororesin 1 by 1H-NMR measurement is represented by methacrylic acid 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl residue unit (fluorine-based unit 1) / formula (13). It was confirmed that the formula (14) of the residue unit (photocrosslinking group unit) = 72.5 / 27.5 (mol%).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

Figure 2021161378
Figure 2021161378

実施例2
(フッ素系樹脂前駆体2の製造)
容量15mLのガラスアンプルにメタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル3.94g(7.4ミリモル)、メタクリル酸グリシジル1.05g(7.4ミリモル)、連鎖移動剤として2,4−ジフェニル−4−メチル−1−ペンテン0.04g(0.17ミリモル)、重合開始剤としてパーヘキシルND(日油製)0.06g(過酸化物分子として0.15ミリモル)を入れ、窒素置換と抜圧を繰り返したのち減圧状態で熔封した。このアンプルを45℃の恒温槽に入れ、8時間保持することによりラジカル重合を行った。重合反応終了後、アンプルから重合物を取り出し、ゼオローラH(日本ゼオン製)8gで溶解させた。このポリマー溶液を、メタノール100mL中に滴下して析出させた後、メタノール100mLで3回洗浄した。さらに30℃で8時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂前駆体2を1.6g得た。(収率:32%)。また、H−NMR測定により、共重合体組成は、メタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル残基単位/メタクリル酸グリシジル残基単位=50.1/49.9(モル%)であることを確認した。
(フッ素系樹脂2の製造)
容量20mLのシュレンク管を加熱乾燥後、窒素雰囲気下、フッ素系樹脂前駆体2を1g、けい皮酸クロリド0.74g、触媒としてテトラエチルアンモニウムクロリド0.2g、脱水ヘキサフルオロベンゼン6mL加え、活栓で密封した。フッ素系樹脂前駆体2が溶解するまで室温で攪拌した後、80℃のオイルバス中8時間攪拌した。得られた樹脂溶液を、ヘキサン100mL中に滴下して析出させた後、メタノール50mLで2回洗浄した。さらに30℃で4時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂2を1.5g得た。また、H−NMR測定により、原料のメタクリル酸グリシジル残基単位が減少し、式(12)に表される残基単位に変換されていることを確認した。その結果、H−NMR測定によりフッ素系樹脂2の共重合組成は、メタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル残基単位(フッ素系単位1)/式(13)に表される残基単位(光架橋基単位)=53.3/46.7(モル%)の式(15)であることを確認した。得られたフッ素系樹脂2のH−NMRチャートを図2に示す。
Example 2
(Manufacturing of Fluorine Resin Precursor 2)
1.94 g (7.4 mmol) of 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl methacrylate, 1.05 g (7.4 mmol) of glycidyl methacrylate, 2,4 as a chain transfer agent in a glass ampoule having a capacity of 15 mL. Add 0.04 g (0.17 mmol) of -diphenyl-4-methyl-1-pentene and 0.06 g (0.15 mmol as peroxide molecule) of perhexyl ND (manufactured by Nichiyu) as a polymerization initiator, and substitute with nitrogen. After repeating depressurization, the mixture was sealed under reduced pressure. This ampoule was placed in a constant temperature bath at 45 ° C. and held for 8 hours to carry out radical polymerization. After completion of the polymerization reaction, the polymer was taken out from the ampoule and dissolved in 8 g of Zeolola H (manufactured by ZEON CORPORATION). This polymer solution was added dropwise to 100 mL of methanol to precipitate, and then washed 3 times with 100 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 8 hours to obtain 1.6 g of a fluororesin precursor 2. (Yield: 32%). In addition, by 1 H-NMR measurement, the copolymer composition was 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl methacrylate residue unit / glycidyl methacrylate residue unit = 50.1 / 49.9 (mol%). ) Was confirmed.
(Manufacturing of Fluorine Resin 2)
After heating and drying a Schlenk tube with a capacity of 20 mL, add 1 g of fluororesin precursor 2 and 0.74 g of fluorinated resin precursor, 0.2 g of tetraethylammonium chloride as a catalyst, and 6 mL of dehydrated hexafluorobenzene under a nitrogen atmosphere, and seal with a stopcock. bottom. After stirring at room temperature until the fluororesin precursor 2 was dissolved, the mixture was stirred in an oil bath at 80 ° C. for 8 hours. The obtained resin solution was added dropwise to 100 mL of hexane to precipitate, and then washed twice with 50 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 4 hours to obtain 1.5 g of a fluororesin 2. In addition, 1 1 H-NMR measurement confirmed that the glycidyl methacrylate residue unit of the raw material was reduced and converted to the residue unit represented by the formula (12). As a result, 1 copolymer composition of the fluorine-based resin 2 by H-NMR measurement is represented in methacrylate IH, IH, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl residue unit (fluorine-based unit 1) / (13) It was confirmed that the formula (15) of the residue unit (photocrosslinking group unit) = 53.3 / 46.7 (mol%). The 1 H-NMR chart of the obtained fluororesin 2 is shown in FIG.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

実施例3
(フッ素系樹脂前駆体3の製造)
容量75mLのガラスアンプルにメタクリル酸 3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8−トリデカフルオロオクチル13.14g(30.4ミリモル)、メタクリル酸グリシジル1.85g(13.0ミリモル)、連鎖移動剤として2,4−ジフェニル−4−メチル−1−ペンテン0.12g(0.50ミリモル)、重合開始剤としてパーヘキシルND(日油製)0.17g(過酸化物分子として0.43ミリモル)を入れ、窒素置換と抜圧を繰り返したのち減圧状態で熔封した。このアンプルを45℃の恒温槽に入れ、8時間保持することによりラジカル重合を行った。重合反応終了後、アンプルから重合物を取り出し、ゼオローラH(日本ゼオン製)30gで溶解させた。このポリマー溶液を、メタノール300mL中に滴下して析出させた後、メタノール300mLで3回洗浄した。さらに30℃で8時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂前駆体3を7g得た。(収率:46.7%)。また、H−NMR測定により、共重合体組成は、メタクリル酸 3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8−トリデカフルオロオクチル残基単位(フッ素系単位2)/メタクリル酸グリシジル残基単位(光架橋基単位)=71.2/28.8(モル%)であることを確認した。
(フッ素系樹脂3の製造)
容量20mLのシュレンク管を加熱乾燥後、窒素雰囲気下、フッ素系樹脂前駆体3を1g、けい皮酸クロリド0.37g、触媒としてテトラエチルアンモニウムクロリド0.1g、脱水ヘキサフルオロベンゼン6mL加え、活栓で密封した。フッ素系樹脂前駆体3が溶解するまで室温で攪拌した後、80℃のオイルバス中8時間攪拌した。得られた樹脂溶液を、ヘキサン100mL中に滴下して析出させた後、メタノール50mLで2回洗浄した。さらに30℃で4時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂3を1.5g得た。また、H−NMR測定により、原料のメタクリル酸グリシジル残基単位が減少し、式(12)に表される残基単位に変換されていることを確認した。その結果、H−NMR測定によりフッ素系樹脂3の共重合組成は、メタクリル酸 3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8−トリデカフルオロオクチル残基単位(フッ素系単位2)/式(13)に表される残基単位(光架橋基単位)=73.7/26.3(モル%)の式(16)であることを確認した。
Example 3
(Manufacturing of Fluorine Resin Precursor 3)
13,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8-tridecafluorooctyl 13.14 g (30.4 mmol), methacrylic acid in a glass ampoule having a capacity of 75 mL. 1.85 g (13.0 mmol) of glycidyl, 0.12 g (0.50 mmol) of 2,4-diphenyl-4-methyl-1-pentene as a chain transfer agent, and perhexyl ND (manufactured by Nichiyu) 0 as a polymerization initiator. .17 g (0.43 mmol as peroxide molecule) was added, and after repeating nitrogen substitution and depressurization, the mixture was sealed under reduced pressure. This ampoule was placed in a constant temperature bath at 45 ° C. and held for 8 hours to carry out radical polymerization. After completion of the polymerization reaction, the polymer was taken out from the ampoule and dissolved in 30 g of Zeolola H (manufactured by ZEON CORPORATION). This polymer solution was added dropwise to 300 mL of methanol to precipitate, and then washed 3 times with 300 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 8 hours to obtain 7 g of a fluororesin precursor 3. (Yield: 46.7%). In addition, 1 H-NMR measurement revealed that the copolymer composition was methacrylic acid 3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8-tridecafluorooctyl residue unit. It was confirmed that (fluorine-based unit 2) / glycidyl methacrylate residue unit (photocrosslinking group unit) = 71.2 / 28.8 (mol%).
(Manufacturing of Fluorine Resin 3)
After heating and drying a Schlenk tube with a capacity of 20 mL, add 1 g of fluororesin precursor 3 and 0.37 g of fluorinated resin precursor, 0.1 g of tetraethylammonium chloride as a catalyst, and 6 mL of dehydrated hexafluorobenzene under a nitrogen atmosphere, and seal with a stopcock. bottom. After stirring at room temperature until the fluororesin precursor 3 was dissolved, the mixture was stirred in an oil bath at 80 ° C. for 8 hours. The obtained resin solution was added dropwise to 100 mL of hexane to precipitate, and then washed twice with 50 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 4 hours to obtain 1.5 g of a fluororesin 3. In addition, 1 1 H-NMR measurement confirmed that the glycidyl methacrylate residue unit of the raw material was reduced and converted to the residue unit represented by the formula (12). As a result, 1 H-NMR measurement revealed that the copolymer composition of the fluororesin 3 was 3,3,4,4,5,5,6,6,7,7,8,8,8-tridecafluoromethacrylate. Confirm that the octyl residue unit (fluorine-based unit 2) / residue unit (photocrosslinking group unit) represented by the formula (13) = 73.7 / 26.3 (mol%) formula (16). bottom.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

実施例4
(フッ素系樹脂前駆体4の製造)
容量75mLのガラスアンプルにメタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル20.70g(38.9ミリモル)、メタクリル酸メチル5.45g(54.5ミリモル)メタクリル酸グリシジル8.84g(62.2ミリモル)、連鎖移動剤として2,4−ジフェニル−4−メチル−1−ペンテン0.42g(1.7ミリモル)、重合開始剤としてパーヘキシルND(日油製)0.61g(過酸化物分子として2.2ミリモル)を入れ、窒素置換と抜圧を繰り返したのち減圧状態で熔封した。このアンプルを45℃の恒温槽に入れ、8時間保持することによりラジカル重合を行った。重合反応終了後、アンプルから重合物を取り出し、2−ブタノン50gで溶解させた。このポリマー溶液を、メタノール500mL中に滴下して析出させた後、メタノール500mLで3回洗浄した。さらに30℃で8時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂前駆体4を20g得た。(収率:57.1%)。また、H−NMR測定により、共重合体組成は、メタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル残基単位/メタクリル酸メチル/メタクリル酸グリシジル残基単位=23.9/33.0/43.1(モル%)であることを確認した。
(フッ素系樹脂4の製造)
容量20mLのシュレンク管を加熱乾燥後、窒素雰囲気下、フッ素系樹脂前駆体4を15g、けい皮酸クロリド9.0g、触媒としてテトラエチルアンモニウムクロリド2.4g、脱水酢酸ブチル150mL加え、活栓で密封した。フッ素系樹脂前駆体4が溶解するまで室温で攪拌した後、80℃のオイルバス中8時間攪拌した。得られた樹脂溶液を、メタノール500mL中に滴下して析出させた後、メタノール500mLで2回洗浄した。さらに30℃で4時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂4を20g得た。また、H−NMR測定により、原料のメタクリル酸グリシジル残基単位が減少し、式(12)に表される残基単位に変換されていることを確認した。その結果、H−NMR測定によりフッ素系樹脂4の共重合組成は、メタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル残基単位(フッ素系単位1)/メタクリル酸メチル(MMA単位)/式(13)に表される残基単位(光架橋基単位)=26.7/38.3/35.0(モル%)の式(17)であることを確認した。
Example 4
(Manufacturing of Fluorine Resin Precursor 4)
20.70 g (38.9 mmol) of 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl methacrylate, 5.45 g (54.5 mmol) methyl methacrylate, 8.84 g (62) of glycidyl methacrylate in a glass ampol with a capacity of 75 mL. .2 mmol), 0.42 g (1.7 mmol) of 2,4-diphenyl-4-methyl-1-pentene as a chain transfer agent, and 0.61 g (peroxide) of perhexyl ND (manufactured by Nichiyu) as a polymerization initiator. 2.2 mmol) was added as a molecule, and after repeating nitrogen substitution and depressurization, the mixture was sealed under reduced pressure. This ampoule was placed in a constant temperature bath at 45 ° C. and held for 8 hours to carry out radical polymerization. After completion of the polymerization reaction, the polymer was taken out from the ampoule and dissolved in 50 g of 2-butanone. This polymer solution was added dropwise to 500 mL of methanol to precipitate, and then washed 3 times with 500 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 8 hours to obtain 20 g of the fluororesin precursor 4. (Yield: 57.1%). Further, by 1 H-NMR measurement, the copolymer composition was determined to be methacrylic acid 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl residue unit / methyl methacrylate / glycidyl methacrylate residue unit = 23.9 / 33. It was confirmed that it was 0 / 43.1 (mol%).
(Manufacturing of Fluorine Resin 4)
After heating and drying a Schlenk tube having a capacity of 20 mL, 15 g of a fluororesin precursor 4 and 9.0 g of silicic acid chloride, 2.4 g of tetraethylammonium chloride as a catalyst and 150 mL of dehydrated butyl acetate were added under a nitrogen atmosphere, and the mixture was sealed with a stopcock. .. After stirring at room temperature until the fluororesin precursor 4 was dissolved, the mixture was stirred in an oil bath at 80 ° C. for 8 hours. The obtained resin solution was added dropwise to 500 mL of methanol to precipitate, and then washed twice with 500 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 4 hours to obtain 20 g of a fluororesin 4. In addition, 1 1 H-NMR measurement confirmed that the glycidyl methacrylate residue unit of the raw material was reduced and converted to the residue unit represented by the formula (12). As a result, 1 copolymer composition of the fluorine-based resin 4 by H-NMR measurement, methacrylic acid IH, IH, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl residue unit (fluorine-based unit 1) / methyl methacrylate (MMA units) / It was confirmed that the residue unit (photocrosslinking group unit) represented by the formula (13) was the formula (17) of 26.7 / 38.3 / 35.0 (mol%).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

実施例5
(フッ素系樹脂前駆体5の製造)
容量75mLのガラスアンプルにメタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル15.6g(29.3ミリモル)、メタクリル酸メチル5.43g(54.3ミリモル)、メタクリル酸グリシジル8.96g(63.0ミリモル)、連鎖移動剤として2,4−ジフェニル−4−メチル−1−ペンテン0.51g(2.19ミリモル)、重合開始剤としてパーヘキシルND(日油製)0.57g(過酸化物分子として1.46ミリモル)を入れ、窒素置換と抜圧を繰り返したのち減圧状態で熔封した。このアンプルを45℃の恒温槽に入れ、8時間保持することによりラジカル重合を行った。重合反応終了後、アンプルから重合物を取り出し、2−ブタノン50gで溶解させた。このポリマー溶液を、メタノール500mL中に滴下して析出させた後、メタノール500mLで3回洗浄した。さらに30℃で8時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂前駆体5を17g得た(収率:56.7%)。また、H−NMR測定により、フッ素系樹脂前駆体5の共重合体組成は、メタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル残基単位/メタクリル酸メチル残基単位/メタクリル酸グリシジル残基単位=18.0/34.5/47.6(モル%)であることを確認した。
(フッ素系樹脂5の製造)
容量50mLのシュレンク管を加熱乾燥後、窒素雰囲気下、フッ素系樹脂前駆体5を15g、けい皮酸クロリド9.02g、触媒としてテトラエチルアンモニウムクロリド2.39g、脱水酢酸ブチル150mL加え、活栓で密封した。フッ素系樹脂前駆体5が溶解するまで室温で攪拌した後、100℃のオイルバス中8時間攪拌した。得られた樹脂溶液を、メタノール500mL中に滴下して析出させた後、メタノール300mLで3回洗浄した。さらに45℃で4時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂5を17g得た。H−NMR測定により、原料のメタクリル酸グリシジル残基単位が消失し、式(13)に表される残基単位に変換されていることを確認した。その結果、H−NMR測定によりフッ素系樹脂5の共重合組成は、メタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル残基単位(フッ素系単位1)/メタクリル酸メチル残基単位(MMA単位)/式(13)に表される残基単位(光架橋基単位)=19.1/40.8/40.1(モル%)の式(18)であることを確認した。
Example 5
(Manufacturing of Fluorine Resin Precursor 5)
1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl 15.6 g (29.3 mmol), methyl methacrylate 5.43 g (54.3 mmol), glycidyl methacrylate 8.96 g (54.3 mmol) in a glass ampol with a capacity of 75 mL (1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl) 63.0 mmol), 0.51 g (2.19 mmol) of 2,4-diphenyl-4-methyl-1-pentene as a chain transfer agent, and 0.57 g (peroxide) of perhexyl ND (manufactured by Nichiyu) as a polymerization initiator. 1.46 mmol (1.46 mmol) was added as a polymer molecule, and after repeating nitrogen substitution and depressurization, the mixture was sealed under reduced pressure. This ampoule was placed in a constant temperature bath at 45 ° C. and held for 8 hours to carry out radical polymerization. After completion of the polymerization reaction, the polymer was taken out from the ampoule and dissolved in 50 g of 2-butanone. This polymer solution was added dropwise to 500 mL of methanol to precipitate, and then washed 3 times with 500 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 8 hours to obtain 17 g of the fluororesin precursor 5 (yield: 56.7%). Further, by 1 H-NMR measurement, the copolymer composition of the fluororesin precursor 5 was determined to be methacrylic acid 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl residue unit / methyl methacrylate residue unit / glycidyl methacrylate. It was confirmed that the residue unit = 18.0 / 34.5 / 47.6 (mol%).
(Manufacturing of Fluorine Resin 5)
After heating and drying a Schlenk tube having a capacity of 50 mL, 15 g of a fluororesin precursor 5 and 9.02 g of fluorinated resin precursor, 2.39 g of tetraethylammonium chloride as a catalyst, and 150 mL of dehydrated butyl acetate were added under a nitrogen atmosphere, and the mixture was sealed with a stopcock. .. After stirring at room temperature until the fluororesin precursor 5 was dissolved, the mixture was stirred in an oil bath at 100 ° C. for 8 hours. The obtained resin solution was added dropwise to 500 mL of methanol to precipitate, and then washed 3 times with 300 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 45 ° C. for 4 hours to obtain 17 g of a fluororesin 5. 1 It was confirmed by 1 H-NMR measurement that the glycidyl methacrylate residue unit of the raw material disappeared and was converted to the residue unit represented by the formula (13). As a result, 1 copolymer composition of the fluorine-based resin 5 by H-NMR measurement, methacrylic acid IH, IH, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl residue unit (fluorine-based unit 1) / methyl methacrylate residue unit ( It was confirmed that the residue unit (photocrosslinking group unit) represented by the MMA unit) / formula (13) = 19.1 / 40.8 / 40.1 (mol%) formula (18).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

比較例1
(フッ素系樹脂6の製造)
容量15mLのガラスアンプルにメタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル5.0g(9.4ミリモル)重合開始剤としてパーヘキシルND(日油製)0.04g(過酸化物分子として0.09ミリモル)を入れ、窒素置換と抜圧を繰り返したのち減圧状態で熔封した。このアンプルを45℃の恒温槽に入れ、6時間保持することによりラジカル重合を行った。重合反応終了後、アンプルから重合物を取り出し、ノベック7200(3M製)10gで溶解させた。このポリマー溶液を、ヘキサン100mL中に滴下して析出させた後、ヘキサン100mLで3回洗浄した。さらに30℃で8時間真空乾燥することにより、フッ素系樹脂6を4.0g得た(収率:80.0%)。
また、H−NMR測定により、組成は、メタクリル酸 1H,1H,2H,2H−ヘプタデカフルオロデシル残基単位(フッ素系単位1)=100.0(モル%)であることを確認した。
Comparative Example 1
(Manufacturing of Fluorine Resin 6)
1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl methacrylate 5.0 g (9.4 mmol) in a glass ampoule with a capacity of 15 mL Perhexyl ND (manufactured by Nichiyu) 0.04 g (0 as peroxide molecule) .09 mmol) was added, and after repeating nitrogen substitution and depressurization, the mixture was sealed under reduced pressure. This ampoule was placed in a constant temperature bath at 45 ° C. and held for 6 hours to carry out radical polymerization. After completion of the polymerization reaction, the polymer was taken out from the ampoule and dissolved in 10 g of Novec 7200 (manufactured by 3M). This polymer solution was added dropwise to 100 mL of hexane to precipitate, and then washed 3 times with 100 mL of hexane. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 8 hours to obtain 4.0 g of a fluororesin 6 (yield: 80.0%).
In addition, it was confirmed by 1 H-NMR measurement that the composition was methacrylic acid 1H, 1H, 2H, 2H-heptadecafluorodecyl residue unit (fluorine-based unit 1) = 100.0 (mol%).

比較例2
(非フッ素系樹脂前駆体1の製造)
容量75mLのガラスアンプルにメタクリル酸メチル17.9g(179.6ミリモル)、メタクリル酸グリシジル17.0g(119.7ミリモル)、連鎖移動剤として2,4−ジフェニル−4−メチル−1−ペンテン0.81g(3.4ミリモル)、重合開始剤としてパーヘキシルND(日油製)1.16g(過酸化物分子として4.3ミリモル)を入れ、窒素置換と抜圧を繰り返したのち減圧状態で熔封した。このアンプルを45℃の恒温槽に入れ、8時間保持することによりラジカル重合を行った。重合反応終了後、アンプルから重合物を取り出し、2−ブタノン50gで溶解させた。このポリマー溶液を、メタノール500mL中に滴下して析出させた後、メタノール500mLで3回洗浄した。さらに30℃で8時間真空乾燥することにより、非フッ素系樹脂前駆体1を20g得た(収率:71.4%)。
また、H−NMR測定により、共重合体組成は、メタクリル酸メチル残基単位/メタクリル酸グリシジル残基単位=62.7/37.3(モル%)であることを確認した。
(非フッ素系樹脂1の製造)
容量50mLのシュレンク管を加熱乾燥後、窒素雰囲気下、非フッ素系樹脂前駆体1を15g、けい皮酸クロリド9.02g、触媒としてテトラエチルアンモニウムクロリド2.39g、脱水酢酸ブチル150mL加え、活栓で密封した。非フッ素系樹脂前駆体1が溶解するまで室温で攪拌した後、100℃のオイルバス中8時間攪拌した。得られた樹脂溶液を、メタノール500mL中に滴下して析出させた後、メタノール300mLで3回洗浄した。さらに45℃で4時間真空乾燥することにより、非フッ素系樹脂1を17g得た。H−NMR測定により、原料のメタクリル酸グリシジル残基単位が消失し、式(13)に表される残基単位に変換されていることを確認した。その結果、H−NMR測定により非フッ素系樹脂1の共重合組成は、メタクリル酸メチル残基単位(MMA単位)/式(13)に表される残基単位(光架橋基単位)=61.1/38.9(モル%)の式(19)であることを確認した。
Comparative Example 2
(Manufacturing of non-fluorine resin precursor 1)
17.9 g (179.6 mmol) of methyl methacrylate, 17.0 g (119.7 mmol) of glycidyl methacrylate, and 2,4-diphenyl-4-methyl-1-pentene 0 as a chain transfer agent in a glass ampol having a capacity of 75 mL. Add .81 g (3.4 mmol) and 1.16 g (4.3 mmol as peroxide molecule) of perhexyl ND (manufactured by Nichiyu) as a polymerization initiator, repeat nitrogen substitution and depressurization, and then melt under reduced pressure. I sealed it. This ampoule was placed in a constant temperature bath at 45 ° C. and held for 8 hours to carry out radical polymerization. After completion of the polymerization reaction, the polymer was taken out from the ampoule and dissolved in 50 g of 2-butanone. This polymer solution was added dropwise to 500 mL of methanol to precipitate, and then washed 3 times with 500 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 30 ° C. for 8 hours to obtain 20 g of the non-fluorinated resin precursor 1 (yield: 71.4%).
Further, it was confirmed by 1 1 H-NMR measurement that the copolymer composition was methyl methacrylate residue unit / glycidyl methacrylate residue unit = 62.7 / 37.3 (mol%).
(Manufacturing of non-fluorine resin 1)
After heating and drying a Schlenk tube with a capacity of 50 mL, add 15 g of non-fluorine resin precursor 1 and 9.02 g of silicic acid chloride, 2.39 g of tetraethylammonium chloride as a catalyst, and 150 mL of dehydrated butyl acetate under a nitrogen atmosphere, and seal with a stopcock. bottom. After stirring at room temperature until the non-fluorinated resin precursor 1 was dissolved, the mixture was stirred in an oil bath at 100 ° C. for 8 hours. The obtained resin solution was added dropwise to 500 mL of methanol to precipitate, and then washed 3 times with 300 mL of methanol. Further, the mixture was vacuum dried at 45 ° C. for 4 hours to obtain 17 g of the non-fluorinated resin 1. 1 It was confirmed by 1 H-NMR measurement that the glycidyl methacrylate residue unit of the raw material disappeared and was converted to the residue unit represented by the formula (13). As a result, the copolymer composition of the non-fluorinated resin 1 was determined by 1 H-NMR measurement as a methyl methacrylate residue unit (MMA unit) / residue unit represented by the formula (13) (photocrosslinking group unit) = 61. It was confirmed that the formula (19) was .1 / 38.9 (mol%).

Figure 2021161378
Figure 2021161378

<撥液特性評価>
フッ素系樹脂4、フッ素系樹脂6、非フッ素系樹脂1の光架橋体の撥液性の評価結果を表1に示す。
<Evaluation of liquid repellent characteristics>
Table 1 shows the evaluation results of the liquid repellency of the photocrosslinked product of the fluororesin 4, the fluororesin 6, and the non-fluorine resin 1.

実施例6
フッ素系樹脂4をキシレン溶剤に3wt%溶解したものをガラス上にスピンコートし、500mJ/cmの紫外線を照射した。また、基板をキシレンに1分間浸漬させて取り出し、続けてアセトンでリンスし、窒素ガスでブローして乾燥させ評価した結果、水の接触角109.3°、ジヨードメタン接触角84.3°、テトラリン接触角66.0°であり優れた撥液性を示した。
Example 6
A 3 wt% solution of the fluororesin 4 in a xylene solvent was spin-coated on glass and irradiated with ultraviolet rays of 500 mJ / cm 2. Further, the substrate was immersed in xylene for 1 minute, taken out, subsequently rinsed with acetone, blown with nitrogen gas, dried and evaluated. As a result, the contact angle of water was 109.3 °, the contact angle of diiodomethane was 84.3 °, and tetralin. The contact angle was 66.0 ° and it showed excellent liquid repellency.

実施例7
フッ素系樹脂4と増感剤として4,4′−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン(増感剤1)をキシレン溶剤に各々3wt%、0.1wt%溶解したものをガラス上にスピンコートし、500mJ/cmの紫外線を照射した。また、基板をキシレンに1分間浸漬させて取り出し、続けてアセトンにリンスし、窒素ガスでブローして乾燥させ評価した結果、水の接触角108.1°、ジヨードメタン接触角83.8°テトラリン接触角65.5°であり優れた撥液性を示した。
Example 7
Fluorine resin 4 and 4,4'-bis (diethylamino) benzophenone (sensitizer 1) dissolved in a xylene solvent at 3 wt% and 0.1 wt%, respectively, were spin-coated on glass at 500 mJ / Irradiated with cm 2 of ultraviolet light. Further, the substrate was immersed in xylene for 1 minute, taken out, subsequently rinsed with acetone, blown with nitrogen gas, dried and evaluated. As a result, the contact angle of water was 108.1 ° and the contact angle of diiodomethane was 83.8 ° tetralin contact. The angle was 65.5 ° and it showed excellent liquid repellency.

比較例3
非フッ素系樹脂1をキシレン溶剤に3wt%溶解したものをガラス上にスピンコートし、500mJ/cmの紫外線を照射した。また、基板をキシレンに1分間浸漬させて取り出し、続けてアセトンにリンスし、窒素ガスでブローして乾燥させ評価した結果、水の接触角62.1°、ジヨードメタン接触角40.8°、テトラリン接触角7.1°であり優れた撥液性を示してなかった。
Comparative Example 3
A non-fluorinated resin 1 dissolved in a xylene solvent at 3 wt% was spin-coated on glass and irradiated with ultraviolet rays of 500 mJ / cm 2. Further, the substrate was immersed in xylene for 1 minute, taken out, subsequently rinsed with acetone, blown with nitrogen gas, dried and evaluated. As a result, the contact angle of water was 62.1 °, the contact angle of diiodomethane was 40.8 °, and tetralin. The contact angle was 7.1 ° and it did not show excellent liquid repellency.

比較例4
フッ素系樹脂6をゼオローラHとノベック7300の9:1混合した溶剤に3wt%溶解したものをガラス上にスピンコートし、500mJ/cmの紫外線を照射した。また、基板をゼオローラHとノベック7300の9:1混合した溶剤に1分間浸漬させて取り出し、続けてアセトンにリンスし、窒素ガスでブローして乾燥させ評価した結果、水の接触角64.5°、ジヨードメタン接触角54.3°、テトラリン接触角15.4°であり優れた撥液性を示してなかった。
Comparative Example 4
A 3 wt% solution of the fluororesin 6 in a 9: 1 mixed solvent of Zeolola H and Novec 7300 was spin-coated on glass and irradiated with ultraviolet rays of 500 mJ / cm 2. Further, the substrate was immersed in a 9: 1 mixed solvent of Zeolola H and Novec 7300 for 1 minute, taken out, subsequently rinsed with acetone, blown with nitrogen gas, dried and evaluated. As a result, the contact angle of water was 64.5. °, Diiodomethane contact angle 54.3 °, Tetralin contact angle 15.4 °, and did not show excellent liquid repellency.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

<光架橋性の評価、パターン形成評価>
実施例8
フッ素系樹脂1〜3を、それぞれゼオローラHとノベック7300を9:1の割合で混合した溶剤に溶解させ、3wt%溶液を調製した。各溶液を用いて光架橋(硬化)性評価を行った。UV照射量は100、250、500、2000、4000mJ/cmの水準を設定し、硬化の後AE−3000に1分間浸漬、それぞれの条件で試験を行った。フッ素系樹脂1〜3がそれぞれ架橋していることを確認した。
また、同じ溶液を用いてパターン形成試験を行った。UV照射量は残膜率95%以上であった照射量で行った。その後AE−3000に1分間浸漬した。該溶液を使用することでパターン形成が可能であること確認した。結果を表2に示す。
<Evaluation of photocrosslinkability, evaluation of pattern formation>
Example 8
Fluorine-based resins 1 to 3 were dissolved in a solvent in which Zeolola H and Novec 7300 were mixed at a ratio of 9: 1, respectively, to prepare a 3 wt% solution. Photocrosslinking (curing) property was evaluated using each solution. The UV irradiation dose was set to the level of 100, 250, 500, 2000, 4000 mJ / cm 2 , and after curing, it was immersed in AE-3000 for 1 minute, and the test was conducted under each condition. It was confirmed that the fluororesins 1 to 3 were crosslinked.
In addition, a pattern formation test was conducted using the same solution. The UV irradiation amount was an irradiation amount having a residual film ratio of 95% or more. Then, it was immersed in AE-3000 for 1 minute. It was confirmed that pattern formation was possible by using the solution. The results are shown in Table 2.

比較例5
フッ素系樹脂6を、ゼオローラHとノベック7300を9:1の割合で混合した溶剤に溶解させ、3wt%溶液を調製した。該溶液を用いて、光架橋(硬化)性評価を行った。UV照射量は100、250、500、2000、4000mJ/cmの水準を設定し、硬化の後AE−3000に1分間浸漬、それぞれの条件で試験を行った。フッ素系樹脂6は架橋していないことを確認した。
また、同じ溶液を用いてパターン形成試験を行った。UV照射量は同じ照射量で行った。その後AE−3000に1分間浸漬した。パターンは形成されなかった。結果を表2に示す。
Comparative Example 5
The fluororesin 6 was dissolved in a solvent in which Zeolola H and Novec 7300 were mixed at a ratio of 9: 1 to prepare a 3 wt% solution. The photocrosslinking (curing) property was evaluated using the solution. The UV irradiation dose was set to the level of 100, 250, 500, 2000, 4000 mJ / cm 2 , and after curing, it was immersed in AE-3000 for 1 minute, and the test was conducted under each condition. It was confirmed that the fluororesin 6 was not crosslinked.
In addition, a pattern formation test was conducted using the same solution. The UV irradiation amount was the same. Then, it was immersed in AE-3000 for 1 minute. No pattern was formed. The results are shown in Table 2.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

実施例9
フッ素系樹脂4をキシレンに溶解させ、3wt%溶液を調製した。各溶液を用いて光架橋(硬化)性評価を行った。UV照射量は100、250、500、2000、4000mJ/cmの水準を設定し、硬化の後キシレンに1分間浸漬、それぞれの条件で試験を行った。フッ素系樹脂1〜3がそれぞれ架橋していることを確認した。
また、同じ溶液を用いてパターン形成試験を行った。UV照射量は残膜率95%以上であった照射量で行った。その後アセトンに1分間浸漬した。該溶液を使用することでパターン形成が可能であること確認した。結果を表3に示す。
Example 9
The fluororesin 4 was dissolved in xylene to prepare a 3 wt% solution. Photocrosslinking (curing) property was evaluated using each solution. The UV irradiation dose was set to the level of 100, 250, 500, 2000, 4000 mJ / cm 2 , and after curing, it was immersed in xylene for 1 minute, and the test was conducted under each condition. It was confirmed that the fluororesins 1 to 3 were crosslinked.
In addition, a pattern formation test was conducted using the same solution. The UV irradiation amount was an irradiation amount having a residual film ratio of 95% or more. Then, it was immersed in acetone for 1 minute. It was confirmed that pattern formation was possible by using the solution. The results are shown in Table 3.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

実施例10
フッ素系樹脂2及び3に増感剤を添加した使用した場合の光架橋性とパターン形成を評価した。増感剤としては以下のものを使用した。
増感剤1:4,4′−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン(東京化成工業製)
増感剤2:5−ニトロアセナフテン(東京化成工業製)
増感剤3:3,3′―カルボニルビス(7―ジエチルアミノクマリン)(東京化成工業製)
フッ素溶剤としては、ゼオローラHとノベック7300を9:1の割合で混合した溶剤、または、1H,1H,5H−オクタフルオロペンタノールを使用した。それ以外の条件は実施例8と同じとした。結果を表4に示す。
Example 10
The photocrosslinkability and pattern formation when a sensitizer was added to the fluororesins 2 and 3 were evaluated. The following sensitizers were used.
Sensitizer 1: 4,4'-bis (diethylamino) benzophenone (manufactured by Tokyo Chemical Industry)
Sensitizer 2: 5-Nitro Asenaphthenic Acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry)
Sensitizer 3: 3,3'-carbonylbis (7-diethylaminocoumarin) (manufactured by Tokyo Chemical Industry)
As the fluorine solvent, a solvent obtained by mixing Zeolola H and Novec 7300 at a ratio of 9: 1 or 1H, 1H, 5H-octafluoropentanol was used. Other conditions were the same as in Example 8. The results are shown in Table 4.

比較例6
フッ素系樹脂としてフッ素系樹脂6を用いたこと以外は、実施例9と同じ条件で光架橋性とパターン形成を評価した。結果を表4に示す。
Comparative Example 6
Photocrosslinkability and pattern formation were evaluated under the same conditions as in Example 9 except that the fluororesin 6 was used as the fluororesin. The results are shown in Table 4.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

実施例11
フッ素系樹脂としてフッ素系樹脂4を用い、実施例9と同様にして、増感剤を添加した使用した場合の光架橋性とパターン形成を評価した。結果を表5に示す。
Example 11
When a fluororesin 4 was used as the fluororesin and a sensitizer was added in the same manner as in Example 9, the photocrosslinkability and pattern formation were evaluated. The results are shown in Table 5.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

<フッ素系溶剤への溶解性評価>
実施例12
フッ素系樹脂1〜3及び5のフッ素系樹脂の各フッ素溶剤への溶解性を評価した。結果を表6に示す。フッ素溶剤は以下のものを使用した。
フッ素系溶剤1:ノベック7200
フッ素系溶剤2:ゼオローラH
フッ素系溶剤3:ゼオローラHとノベック7300の1:1混合溶液
フッ素系溶剤4:アサヒクリンAE−3000
フッ素系溶剤5:1H,1H,5H−オクタフルオロペンタノール
フッ素系溶剤6:1H,1H,7H−ドデカフルオロヘプタノール
フッ素系溶剤7:1H,1H−ヘプタフルオロブタノール
フッ素系溶剤8:2−(パーフルオロブチル)エタノール
非アルコール系のフッ素溶剤1−4は、樹脂が3wt%になるように溶液を調製した。
アルコール系のフッ素溶剤5−8は、樹脂が10wt%になるように溶液を調製した。
<Evaluation of solubility in fluorine-based solvent>
Example 12
The solubility of the fluorine-based resins 1 to 3 and 5 in each fluorine solvent was evaluated. The results are shown in Table 6. The following fluorine solvents were used.
Fluorine solvent 1: Novec 7200
Fluorine-based solvent 2: Zeolara H
Fluorine-based solvent 3: 1: 1 mixed solution of Zeolola H and Novec 7300 Fluorine-based solvent 4: Asahiclean AE-3000
Fluorine Solvent 5: 1H, 1H, 5H-Octafluoropentanol Fluorine Solvent 6: 1H, 1H, 7H-DodecafluoroHeptanol Fluorine Solvent 7: 1H, 1H-Heptafluorobutanol Fluorine Solvent 8: 2-( Perfluorobutyl) Ethanol A non-alcoholic fluorine solvent 1-4 was prepared so that the resin content was 3 wt%.
The solution of the alcohol-based fluorine solvent 5-8 was prepared so that the resin content was 10 wt%.

比較例7
非フッ素系樹脂1の各フッ素溶剤への溶解性を評価した。条件は実施例12と同じとした。結果を表6に示す。
Comparative Example 7
The solubility of the non-fluorine resin 1 in each fluorine solvent was evaluated. The conditions were the same as in Example 12. The results are shown in Table 6.

Figure 2021161378
Figure 2021161378

Claims (11)

下記式(1)で表される残基単位と、
側鎖に下記式(2)で表される基、下記式(3)で表される基、下記式(4)で表される基からなる群の少なくとも1種を有するアクリル系樹脂残基単位、
を有するフッ素系樹脂。
Figure 2021161378
(ここで、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。Rfは炭素数1〜15の直鎖状フルオロアルキル基、炭素数3〜15の分岐鎖状フルオロアルキル基または炭素数3〜15の環状フルオロアルキル基からなる群の1種を表す。)
Figure 2021161378
(ここで、Aは水素原子、ヒドロキシル基、アミノ基、C〜Cのアルキル基、C〜Cの1級または2級アルキルアミノ基、C〜Cのアルコキシ基または単結合を示し、Aは同一または異なって、水素、ハロゲン、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、シクロアルキル基または単結合を表す。Bは同一または異なって水素またはC〜Cのアルキル基、ハロゲン、シアノ基、アリール基を表す。但し、1つのAおよび5つのAのうち、ただ1つが単結合で他の置換基と結合していることを示すものとする。)
Figure 2021161378
(ここで、Aは同一または異なって、水素、ハロゲン、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、シクロアルキル基または単結合を表す。Bは同一または異なって水素またはC〜Cのアルキル基、ハロゲン、シアノ基、アリール基を表す。Lは単結合、またはカルボニル基を表す。但し、10個のAのうち、ただ1つが単結合で他の置換基と結合していることを示すものとする。)
Figure 2021161378
(ここで、Aは同一または異なって、水素、ハロゲン、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、シクロアルキル基または単結合を表す。Bは同一または異なって水素またはC〜Cのアルキル基、ハロゲン、シアノ基、アリール基を表す。但し、4つのAのうち、ただ1つが単結合で他の置換基と結合していることを示すものとする。)
The residue unit represented by the following formula (1) and
Acrylic resin residue unit having at least one group consisting of a group represented by the following formula (2), a group represented by the following formula (3), and a group represented by the following formula (4) in the side chain. ,
Fluorine-based resin having.
Figure 2021161378
(Here, R 1 represents either a hydrogen atom or a methyl group. Rf 1 is a linear fluoroalkyl group having 1 to 15 carbon atoms, a branched chain fluoroalkyl group having 3 to 15 carbon atoms, or 3 carbon atoms. Represents one of a group consisting of ~ 15 cyclic fluoroalkyl groups.)
Figure 2021161378
(Wherein, A 1 is a hydrogen atom, a hydroxyl group, an amino group, C 1 -C alkyl group of 6, C 1 -C 1 primary or secondary alkylamino group 6, C 1 -C 6 alkoxy group or a single Shows a bond, A 2 is the same or different, hydrogen, halogen, cyano group, nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, aryl ether group, C 1 to C 18 alkyl group, fluoroalkyl group, cycloalkyl group. Or represents a single bond. B 1 represents the same or different hydrogen or an alkyl group, halogen, cyano group, or aryl group of hydrogen or C 1 to C 6 , except that only one of one A 1 and five A 2 is used. It shall indicate that one is a single bond and is bonded to another substituent.)
Figure 2021161378
(Wherein, A 3 are the same or different, hydrogen, halogen, a cyano group, a nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, an aryl ether group, an alkyl group of C 1 -C 18, fluoroalkyl group, a cycloalkyl group Or represents a single bond. B 2 represents the same or different hydrogen or C 1 to C 6 alkyl group, halogen, cyano group, aryl group. L represents a single bond or carbonyl group, except for 10 groups. of a 3, only one will be assumed that indicates that it is bound to other substituents with a single bond.)
Figure 2021161378
(Wherein, A 4 are the same or different, hydrogen, halogen, a cyano group, a nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, an aryl ether group, an alkyl group of C 1 -C 18, fluoroalkyl group, a cycloalkyl group or .B 3 represents a single bond the same or different and each is hydrogen or an alkyl group of C 1 -C 6, halogen, a cyano group, an aryl group. However, of the four a 4, only one is another single bond It shall indicate that it is bonded to the substituent of.)
式(1)で表される残基単位を20mol%以上95%mol%以下含む請求項1に記載のフッ素系樹脂 The fluororesin according to claim 1, which contains 20 mol% or more and 95% mol% or less of the residue unit represented by the formula (1). 側鎖に少なくとも前記式(2)で表される基を有するアクリル系樹脂残基単位を有する請求項1または2に記載のフッ素系樹脂。 The fluororesin according to claim 1 or 2, which has an acrylic resin residue unit having at least a group represented by the formula (2) in the side chain. 前記式(2)で表される基が下記式(5)で表される基である請求項3に記載のフッ素系樹脂。
Figure 2021161378
(ここで、Rは水素原子またはメチル基のいずれかを表す。
は、同一または相異なって、水素原子、C〜Cのアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、またはアリール基からなる群の1種を表す。Dは同一または相異なって、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、ニトロ基、カルボキシアルキル基、アルキルエーテル基、アリールエーテル基、C〜C18のアルキル基、フルオロアルキル基、またはシクロアルキル基からなる群の1種を表す。Mはハロゲン原子またはアリールエーテル基のいずれかを表す。)
The fluororesin according to claim 3, wherein the group represented by the formula (2) is a group represented by the following formula (5).
Figure 2021161378
(Here, R 2 represents either a hydrogen atom or a methyl group.
B 4 are the same or different and each represents a hydrogen atom, an alkyl group of C 1 -C 6, halogen atom, one of the group consisting of cyano group, or an aryl group. D is the same or different from hydrogen atom, halogen atom, cyano group, nitro group, carboxyalkyl group, alkyl ether group, aryl ether group, C 1 to C 18 alkyl group, fluoroalkyl group, or cycloalkyl group. Represents one of the groups. M represents either a halogen atom or an aryl ether group. )
請求項1乃至4いずれか一項に記載のフッ素系樹脂と、フッ素系溶剤を含む組成物。 A composition containing the fluorinated resin according to any one of claims 1 to 4 and a fluorinated solvent. フッ素系樹脂を1wt%以上50wt%以下含み、かつ、フッ素系溶剤を50wt%以上99wt%以下含む請求項5に記載の組成物。 The composition according to claim 5, which contains 1 wt% or more and 50 wt% or less of a fluorinated resin and 50 wt% or more and 99 wt% or less of a fluorinated solvent. フッ素系樹脂とフッ素系溶剤にさらに光増感剤を含む請求項5に記載の組成物。 The composition according to claim 5, further comprising a photosensitizer in a fluorine-based resin and a fluorine-based solvent. フッ素系樹脂を1wt%以上50wt%以下、フッ素系溶剤を50wt%以上99wt%以下、増感剤を0.001wt%以上5wt%以下含む請求項7に記載の組成物。 The composition according to claim 7, which contains 1 wt% or more and 50 wt% or less of a fluorine-based resin, 50 wt% or more and 99 wt% or less of a fluorine-based solvent, and 0.001 wt% or more and 5 wt% or less of a sensitizer. 請求項1乃至4いずれか一項に記載のフッ素系樹脂の光架橋物。 The photocrosslinked product of the fluororesin according to any one of claims 1 to 4. 請求項9に記載の光架橋物で構成されるパターン。 The pattern composed of the photocrosslinked product according to claim 9. 請求項9に記載の光架橋物を備える電子デバイス。 An electronic device comprising the photocrosslinked product according to claim 9.
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