JP2021156813A - ガス検出装置 - Google Patents

ガス検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2021156813A
JP2021156813A JP2020059612A JP2020059612A JP2021156813A JP 2021156813 A JP2021156813 A JP 2021156813A JP 2020059612 A JP2020059612 A JP 2020059612A JP 2020059612 A JP2020059612 A JP 2020059612A JP 2021156813 A JP2021156813 A JP 2021156813A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
chamber
concentration
unit
pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020059612A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7388269B2 (ja
JP2021156813A5 (ja
Inventor
克彦 荒谷
Katsuhiko Araya
克彦 荒谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2020059612A priority Critical patent/JP7388269B2/ja
Priority to CN202110333530.8A priority patent/CN113466164B/zh
Publication of JP2021156813A publication Critical patent/JP2021156813A/ja
Publication of JP2021156813A5 publication Critical patent/JP2021156813A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7388269B2 publication Critical patent/JP7388269B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

【課題】簡単な構成で、第1ガスの濃度を検出することができるガス検出装置を提供すること。【解決手段】ガス検出装置1は、赤外線IFを照射する光源2と、赤外線IFの光路LP上に配置され、赤外線IFが通過するとともに、第1波長帯の赤外線IFを吸収する第1ガスGS1を含むサンプルガスGS0が通過する第1チャンバ5と、光路LP上に配置され、赤外線IFが通過するとともに、第1波長帯と一部重なる第2波長帯の赤外線IFを吸収する第2ガスGS2が充填された第2チャンバ7と、第1チャンバ5および第2チャンバ7を順に通過した赤外線IFを受光し、その受光量を検出する受光量検出部9と、第2チャンバ7内の圧力を検出する圧力検出部10と、受光量に基づいて、サンプルガスGS0中の第1ガスGS1の濃度を演算する演算部とを備え、演算部は、圧力に基づいて、第1ガスGS1の濃度を補正する。【選択図】図1

Description

本発明は、ガス検出装置に関する。
煙道ガス中の二酸化硫黄や窒素酸化物等の濃度を測定する非分散型赤外線吸収方式(NDIR)のガス分析計が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載のガス分析計は、赤外線を照射する光源と、赤外線が交互に入射する試料セルおよび補償セルと、赤外線強度を検出する検出器と、対象ガス成分(例えば二酸化硫黄)の濃度を検出する指示計とを備える。
補償セルには、赤外線を吸収しない窒素ガスが封入されており、ここを透過する赤外線は、強度が減衰しない。一方、試料セルには、対象ガス成分を含む測定ガスが通過可能となっており、ここを透過する赤外線は、対象ガス成分によって一部が吸収されることにより、強度が減衰する。このように試料セルおよび補償セルにそれぞれ独立してガスが導入させることができる構造を、以下「2系統構造」と言う。また、補償セルは、連続測定の安定性を増す(例えば、ドリフトや周囲温度変化影響を低減する)ために設けられている。
また、特許文献1に記載のガス分析計は、2つチャンバを有する干渉セルを備える。特許文献1に記載のガス分析計では、干渉セルの2つチャンバの間に差圧センサを設けることができる。
特開2003−014591号公報
例えば、赤外線を吸収する波長帯が一部重なり合う二酸化硫黄とメタンとを含むガスを測定ガスとする場合、干渉セルにメタンを封入して、特許文献1に記載のガス分析計を用いることが考えられるが、二酸化硫黄の濃度を正確に検出するのが困難となる場合がある。
本発明の目的は、簡単な構成で、第1ガスの濃度を検出することができるガス検出装置を提供することにある。
本発明の態様は、赤外線を照射する光源と、前記光源から照射された赤外線の光路上に配置され、赤外線が通過するとともに、赤外線のうち、第1波長帯の赤外線を吸収する第1ガスを含むサンプルガスが通過する第1チャンバと、前記光路上の前記第1チャンバよりも下流側に配置され、赤外線が通過するとともに、赤外線のうち、前記第1波長帯と一部重なる第2波長帯の赤外線を吸収する第2ガスが充填された第2チャンバと、前記第1チャンバおよび前記第2チャンバを順に通過した赤外線を受光し、その受光量を検出する受光量検出部と、前記第2チャンバ内に存在する気体の圧力を検出する圧力検出部と、前記受光量に基づいて、前記サンプルガス中の前記第1ガスの濃度を演算する演算部とを備え、前記演算部は、前記圧力に基づいて、前記第1ガスの濃度を補正するガス検出装置に関する。
本発明によれば、サンプルガス中の第2ガスの濃度の大小に関わらず、当該サンプルガス中の第1ガスの濃度を正確に検出することができる。また、ガス検出装置は、前述したような2系統構造になってはおらず、簡単な構成の装置となっている。
図1は、本発明のガス検出装置の第1実施形態を示す概略構成図である。 図2は、図1に示すガス検出装置のブロック図である。 図3は、第2チャンバ内の圧力と、サンプルガスに含まれる第2ガスの濃度との関係を示す検量線の一例である。 図4は、サンプルガスに含まれる第2ガスの濃度と、演算部で演算された第1ガスの濃度に対する補正値との関係を示す検量線の一例である。 図5は、第1ガスで吸収される赤外線の第1波長帯を示すグラフと、第2ガスで吸収される赤外線の第2波長帯を示すグラフである。 図6は、本発明のガス検出装置の第2実施形態を示す概略構成図である。 図7は、第2チャンバ内の圧力(圧力変動の実効値)と、サンプルガスに含まれる第2ガスの濃度との関係を示す検量線の一例である。 図8は、サンプルガスに含まれる第2ガスの濃度と、演算部で演算された第1ガスの濃度に対する補正値との関係を示す検量線の一例である。
以下、本発明のガス検出装置を添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。
<第1実施形態>
以下、図1〜図5を参照して、本発明のガス検出装置の第1実施形態について説明する。なお、以下では、説明の都合上、図1中(図6についても同様)では、互いに直交するX軸、Y軸、Z軸を設定し、XY平面が水平面と平行となり、Z軸方向が鉛直方向と平行となっている。また、図1中(図6についても同様)の上側を「上」、下側を「下」、左側を「左」、右側を「右」と言うことがある。また、図3、図4に示す検量線は、いずれも、模式図である。
図1に示すガス検出装置1は、「JIS K0151:1983」規定の赤外線ガス分析計であり、非分散赤外線吸収法(NDIR)を用いて、サンプルガスGS0中に含まれる特定のガスである第1ガスGS1の濃度を測定することができる。
煙道ガスには、例えば、硫黄酸化物等の二酸化硫黄(SO)や、その他、窒素酸化物(NO)、一酸化炭素(CO)等の様々なガス成分が含まれている。本実施形態では、煙道ガスをサンプルガスGS0とし、二酸化硫黄ガスを第1ガスGS1とする。従って、本実施形態では、ガス検出装置1は、二酸化硫黄濃度測定装置として使用される。また、煙道ガスには、メタンガスも含まれている場合があり、このメタンガスを第2ガスGS2とする。
図1に示すように、ガス検出装置1は、光源2と、セクタ3と、回転駆動部4と、第1チャンバ5と、第1ガス供給部6と、第2チャンバ7と、第2ガス供給部8と、受光量検出部9と、圧力検出部10と、操作部11と、表示部12と、制御部13とを備える。
光源2は、赤外線IFをX軸方向正側に向かって照射することができる。光源2としては、特に限定されず、例えば、ニクロム線を有し、ニクロム線を通電状態とすることにより、赤外線を照射可能な構成となっている。
光源2のX軸方向正側には、セクタ3が配置されている。セクタ3は、X軸方向正側への赤外線IFの照射(投光)と照射停止(遮光)とを切り換える切換部である。セクタ3は、円板状をなす部材で構成され、その中心から偏心した位置にスリット31を有する。スリット31は、セクタ3を厚さ方向(X軸方向)に貫通して形成されている。
また、セクタ3には、回転駆動部4が接続されている。回転駆動部4は、例えば、モータを有する。そして、このモータが作動することにより、セクタ3をその中心軸回りに回転させることができる。これにより、スリット31が光源2に臨んだ、すなわち、対向した状態では、赤外線IFがスリット31を通過して、X軸方向正側への赤外線IFの照射が行われる。また、セクタ3が回転して、スリット31が光源2からズレた、すなわち、退避した状態では、赤外線IFが遮断されて、X軸方向正側への赤外線IFの照射が停止する。
セクタ3のX軸方向正側には、第1チャンバ5が配置されている。第1チャンバ5は、チャンバ本体51と、供給ポート52と、排出ポート53とを有する。
チャンバ本体51は、光源2から照射された赤外線IFのX軸方向に沿った光路LP上に配置されている。チャンバ本体51は、例えば、中空の直方体で構成され、その内部空間(空間512)を介して互いに対向するX軸方向正側の壁部と、負側の壁部とに赤外線IFが透過する窓部511を有する。これにより、赤外線IFは、チャンバ本体51を、X軸方向負側の窓部511、空間512、X軸方向正側の窓部511の順に通過する(透過する)ことができる。なお、窓部511は、フッ化カルシウム(CaF)等で構成されるのが好ましい。
チャンバ本体51のX軸方向正側には、管状をなす供給ポート52が突出形成されている。供給ポート52は、空間512に連通している。そして、第1ガス供給部6からのサンプルガスGS0を、供給ポート52を介して、チャンバ本体51に供給することができる。
チャンバ本体51のX軸方向負側には、管状をなす排出ポート53が突出形成されている。排出ポート53は、空間512に連通している。チャンバ本体51内のサンプルガスGS0は、排出ポート53を介して、排出される。これにより、サンプルガスGS0は、チャンバ本体51を、供給ポート52から排出ポート53に向かって、すなわち、X軸方向に沿って通過することができる。
第1ガス供給部6は、供給源61と、連結菅62と、切換弁63とを有する。
供給源61は、例えば、サンプルガスGS0が充填されたタンクを有する。
連結菅62は、供給源61と第1チャンバ5の供給ポート52とを連結する。これにより、供給源61と第1チャンバ5とが連通する。
連結菅62の途中には、切換弁63が設けられている。切換弁63は、連結菅62を開閉する。そして、開状態では、供給源61内のサンプルガスGS0を第1チャンバ5に供給することができる。閉状態では、第1チャンバ5へのサンプルガスGS0の供給を停止することができる。なお、切換弁63は、省略されていてもよい。
第1チャンバ5のX軸方向正側には、第2チャンバ7が配置されている。第2チャンバ7の構成については、後述する。
第2チャンバ7のX軸方向正側には、受光量検出部9が配置されている。受光量検出部9は、例えば、光導電素子を有する。光導電素子は、第1チャンバ5のチャンバ本体51と、第2チャンバ7のチャンバ本体71とを順に通過した赤外線IFを受光することができる。そして、光導電素子では、光導電効果を利用して、赤外線IFの受光量が検出される。また、この赤外線IFの受光量は、制御部13の記憶部132に記憶される。なお、赤外線IFは、非分散なので、受光検出部9は、対象ガス成分(第1成分)の赤外線吸収波長だけに感応する。
図1に示すように、ガス検出装置1では、受光量検出部9と、制御部13と、操作部11と、表示部12とがユニット化されており、制御ユニット14を構成している。
図2に示すように、制御部13は、光源2、回転駆動部4、第1ガス供給部6、第2ガス供給部8、受光量検出部9、圧力検出部10、操作部11および表示部12と電気的に接続されており、各部の作動を制御することができる。制御部13は、CPU131と、記憶部132とを有する。CPU131は、例えば、記憶部132に予め記憶されている制御プログラムを実行することができる。また、CPU131は、受光量検出部9で検出された赤外線IFの受光量に基づいて、サンプルガスGS0中の第1ガスGS1の濃度を演算する演算部133としての機能も有する。記憶部132は、例えば、制御プログラムや、後述する検量線CC1(図3参照)、検量線CC2(図4参照)等の各種情報を記憶することができる。
操作部11は、ガス検出装置1を操作して使用するユーザからの入力を受け付ける部分である。操作部11としては、特に限定されず、例えば、キーボードやマウス等が挙げられる。
表示部12は、例えば、第1ガスGS1の濃度を測定する際の測定条件や、その他、第1ガスGS1の濃度等を表示することができる。表示部12としては、特に限定されず、例えば、例えば、液晶、有機EL等で構成することができる。
前述したように、本実施形態では、煙道ガスをサンプルガスGS0とし、煙道ガスに含まれている二酸化硫黄ガスを第1ガスGS1とする。また、煙道ガスには、メタンガスも含まれている場合があり、このメタンガスを第2ガスGS2とする。
図5に示すように、第1ガスGS1は、赤外線IFのうち、第1波長帯の赤外線IFを吸収する特性を有する。第1ガスGS1が二酸化硫黄ガスである場合、当該第1ガスGS1は、波長が7.4μmの赤外線IFを吸収のピークとして、その前後の範囲内にある波長の赤外線IFを吸収する。
また、第2ガスGS2は、赤外線IFのうち、第1波長帯と一部重なる第2波長帯の赤外線IFを吸収する特性を有する。第2ガスGS2がメタンガスである場合、当該第2ガスGS2は、波長が7.6μmの赤外線IFを吸収のピークとして、その前後の範囲内にある波長の赤外線IFを吸収する。
そして、第1波長帯と第2波長帯とが重なる重複波長帯には、第1ガスGS1が最大に吸収する赤外線IFのピーク波長と、第2ガスGS2が最大に吸収する赤外線IFのピーク波長とを含まれる。なお、各ピーク波長は、本実施形態では重複波長帯に含まれているが、これに限定されず、例えば第1ガスGS1や第2ガスGS2の種類によっては、重複波長帯から外れる場合もある。
受光量検出部9では、赤外線IFの吸収量の大小に応じて、赤外線IFの受光量が検出される。例えば、吸収量が大の場合には、受光量が小で検出される。反対に、吸収量が小の場合には、受光量が大で検出される。
また、演算部133では、赤外線IFの受光量に基づいて、サンプルガスGS0中の第1ガスGS1の濃度が演算される。
そして、サンプルガスGS0中に第2ガスGS2が混在している場合、第1チャンバ5内では、赤外線IFは、重複波長帯が第1ガスGS1の他に、第2ガスGS2にも吸収されることとなる。従って、受光量検出部9での受光量は、第2ガスGS2で吸収された分も影響を受けて検出される。その結果、受光量に基づいて演算される第1ガスGS1の濃度(実測値)は、第2ガスGS2も含まれた濃度となり、その分の誤差が生じて不正確となる。
また、ガス検出装置1を前述した2系統構造とした場合、その分、ガス検出装置1の装置構成が複雑となる。
そこで、ガス検出装置1は、このような不具合を解消可能に構成されている。以下、この構成および作用について説明する。なお、以下では、第2チャンバ7、第2ガス供給部8および圧力検出部10で構成された部分を「補正ユニット15」と言うことがある。
第1チャンバ5と受光量検出部9との間には、第2チャンバ7が配置されている。第2チャンバ7は、チャンバ本体71と、供給ポート72とを有する。なお、第2チャンバ7は、予め第2ガスGS2が充填された密閉状態でもよい。
チャンバ本体71は、光路LP上の第1チャンバ5のチャンバ本体51よりも下流側、すなわち、X軸方向正側に配置されている。チャンバ本体71は、例えば、中空の直方体で構成されている。
また、第2チャンバ7は、チャンバ本体71(第2チャンバ7)内を上下に2つの空間に仕切る仕切り部74と、2つの空間を連通させる連通部75とを有する。以下、2つの空間のうちの一方(下側)の空間を「第1空間712」と言い、他方(上側)の空間を「第2空間713」と言う。仕切り部74は、板状をなし、連通部75は、仕切り部74を厚さ方向(Z軸方向)に貫通する貫通孔で構成されている。
チャンバ本体71は、第1空間712を介して互いに対向するX軸方向正側の壁部と、負側の壁部とに赤外線IFが透過する窓部711を有する。これにより、赤外線IFは、チャンバ本体71を、X軸方向負側の窓部711、第1空間712、X軸方向正側の窓部711の順に通過することができる。なお、窓部711は、窓部511と同様に、フッ化カルシウム等で構成されるのが好ましい。
なお、第1空間712のY軸方向に沿った横断面形状と、第1チャンバ5における空間512のY軸方向に沿った横断面形状とは、同じであるのが好ましく、第1空間712の横断面積S712と、空間512の横断面積S512とは、同じであるのが好ましい。これにより、赤外線IFを受光量検出部9まで十分に到達させることができる。
また、第2空間713は、第1空間712よりも容積が小さく、圧力検出部10が配置されている。圧力検出部10が第2空間713に配置されていることにより、赤外線IFが第1空間712を通過する際、圧力検出部10が赤外線IFを妨げるのを防止することができる。これにより、受光量検出部9で赤外線IFを十分に受光することができる。
チャンバ本体71のX軸方向正側には、管状をなす供給ポート72が突出形成されている。供給ポート72は、第2空間713に連通している。そして、第2ガス供給部8からの第2ガスGS2を、供給ポート72を介して、チャンバ本体71内に供給することができる。これにより、第2ガスGS2をチャンバ本体71内、すなわち、第1空間712および第2空間713に充填することができる。
第2ガス供給部8は、供給源81と、連結菅82と、切換弁83とを有する。
供給源81は、例えば、第2ガスGS2が充填されたタンクを有する。
連結菅82は、供給源81と第2チャンバ7の供給ポート72とを連結する。これにより、供給源81と第2チャンバ7とが連通する。
連結菅82の途中には、切換弁83が設けられている。切換弁83は、連結菅82を開閉する。そして、開状態では、供給源81内の第2ガスGS2を第2チャンバ7に供給することができる。閉状態では、第2チャンバ7への第2ガスGS2の供給を停止することができる。
なお、ガス検出装置1は、本実施形態では第2ガス供給部8を有する構成となっているが、これに限定されず、例えば、第2ガス供給部8(供給ポート72)が省略された構成となっていてもよい。この場合、第2チャンバ7は、密閉されており、第2ガスGS2が予め充填された状態となっている。
第2チャンバ7の第2空間713には、圧力検出部10が配置されている。圧力検出部10は、第2チャンバ7内に存在する気体の圧力(以下単に「圧力」または「第2チャンバ7内の圧力」と言う)を検出する。この圧力は、実際には、圧力変化の実効値である。
図2に示すように、圧力検出部10は、圧力の変化を電気的に検出する圧電変換部101を有する。圧電変換部101としては、特に限定されず、例えば、コンデンサマイクロホンやフローセンサ(例えばくし形熱線マイクロセンサ)等のセンサが挙げられる。
光源2から赤外線IFが照射されて、第2チャンバ7を通過した際、第2チャンバ7内では、メタンガスである第2ガスGS2が第2波長帯の赤外線IFが吸収する。これにより、第2チャンバ7内の温度が上昇し、それに伴って、圧力も上昇する、すなわち、圧力が変化することとなる。圧力検出部10は、圧電変換部101によって圧力の変化分を検出して、赤外線照射時における第2チャンバ7内の圧力を正確に検出することができる。
なお、第1チャンバ5の空間512内のX軸方向に沿った長さLX512は、例えば、200mm程度が好ましい。また、第2チャンバ7の第1空間712内のX軸方向(光路LP)に沿った長さLX712は、5mm以上50mm以下であるのが好ましい。
また、第2チャンバ7内の第2ガスGS2の濃度は、20g/Nm以上700g/Nm以下であるのが好ましく、40g/Nm以上300g/Nm以下であるのがより好ましい。
このような数値範囲により、赤外線IFが第2チャンバ7を通過した際、第2チャンバ7内の第2ガスGS2が第2波長帯の赤外線IFが過不足なく吸収することができる。これにより、第2チャンバ7内の圧力をより正確に検出可能な程度に、第2チャンバ7内の圧力変化を生じさせることができる。
記憶部132には、図3に示す検量線CC1と、図4に示す検量線CC2とが予め記憶されている。
検量線CC1は、第2チャンバ7内の圧力(圧力変動の実効値)と、サンプルガスGS0に含まれる、すなわち、第1チャンバ5内の第2ガスGS2の濃度との関係を示すグラフである。前述したように、検量線CC1は、あくまでも模式図である。なお、傾向として、第2チャンバ7内の圧力は、ベースは一定ある(通常は大気圧)。また、赤外線IF(赤外光)の断続照射にあわせて、同じ周波数で微変動する。第1チャンバ5内の第2ガスGS2の濃度が大きくなると、その圧力の微変動の振幅(実効値)が小さくなる。
検量線CC2は、サンプルガスGS0に含まれる第2ガスGS2の濃度と、第1ガスGS1の濃度(実測値)に対する補正値との関係を示すグラフである。
なお、検量線CC1および検量線CC2は、例えば、実験的にまたはシミュレーションによって予め求められている。
また、検量線CC1および検量線CC2としては、本実施形態ではグラフとなっているが、これに限定されず、例えば、表や数式等であってもよい。
演算部133は、受光量検出部9で検出された赤外線IFの受光量に基づいて、サンプルガスGS0中の第1ガスGS1の濃度を演算する。
前述したように、サンプルガスGS0(煙道ガス)に第2ガスGS2(メタンガス)が混在している場合、受光量に基づいた第1ガスGS1の濃度の実測値には、誤差が生じるおそれがある。演算部133は、この誤差を解消して、正確な濃度に補正することができる。
具体的には、演算部133は、圧力に基づいて、第1ガスGS1の濃度を補正する。特に、本実施形態では、演算部133は、検量線CC1および検量線CC2に基づいて、第1ガスGS1の濃度を補正する。
ガス検出装置1では、まず、受光量検出部9での受光量に基づいて、一旦、第1ガスGS1の濃度を演算する。これにより、第1ガスGS1の濃度の実測値が得られる。
また、このとき、圧力検出部10によって、第2チャンバ7内の圧力が検出される。演算部133は、検量線CC1を用いて、圧力検出部10で検出された圧力に対応する第2ガスGS2の濃度を求める。例えば、図3に示すように、圧力検出部10で検出された圧力が「圧力P」だった場合、検量線CC1により、第2ガスGS2の濃度は、「濃度Q」として求められる。
次いで、演算部133は、検量線CC2を用いて、前記で求められた第2ガスGS2の濃度に対応する第1ガスGS1の濃度の補正値を求める。例えば、図4に示すように、第2ガスGS2の濃度が「濃度Q」だった場合、検量線CC2により、補正値は、「補正値R」として求められる。
次いで、演算部133は、第1ガスGS1の濃度の実測値に補正値Rを反映させた、すなわち、加味した値を演算する。これにより、第1ガスGS1の濃度は、正確な値に補正される。そして、この補正後の第1ガスGS1の濃度は、表示部12に表示される。これにより、正確な第1ガスGS1の濃度を確認することができる。
例えば、サンプルガスGS0中に、濃度が26mg/Nmの二酸化硫黄ガス(第1ガスGS1)が含まれおり、さらに、濃度が300mg/Nmのメタンガス(第2ガスGS2)が混在している場合の実験例について述べる。なお、サンプルガスGS0中の二酸化硫黄ガスの濃度、メタンガスの濃度は、いずれも既知とする。
ガス検出装置1を用いた場合には、二酸化硫黄ガスの濃度は、26mg/Nmで検出された。この検出結果は、既知の値と同じである。
一方、ガス検出装置1から補正ユニット15を省略した場合には、二酸化硫黄ガスの濃度は、66mg/Nmで検出された。この検出結果は、既知の値から著しく外れている。
以上のように、ガス検出装置1は、補正ユニット15により、サンプルガスGS0中の第2ガスGS2の濃度の大小に関わらず、当該サンプルガスGS0中の第1ガスGS1の濃度を正確に検出することができる。また、ガス検出装置1は、2系統構造になってはおらず、簡単な構成の装置となっている。
<第2実施形態>
以下、図6〜図8を参照して本発明のガス検出装置の第2実施形態について説明するが、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項はその説明を省略する。
本実施形態は、補正ユニットの構成が異なること以外は前記第1実施形態と同様である。
図6に示すように、本実施形態では、第2チャンバ7は、チャンバ本体71および供給ポート72の他に、さらに、排出ポート73を有する。
排出ポート73は、管状をなし、チャンバ本体71のX軸方向負側に突出形成されている。排出ポート73は、第2空間713に連通している。
また、補正ユニット15(ガス検出装置1)は、第2チャンバ7内の第2ガスGS2の濃度を調整する調整部16を備える。調整部16は、連結菅161と、切換弁162とを有する。
連結菅161は、排出ポート73に連結されている。これにより、排出ポート73を介して、連結菅161とチャンバ本体71とが連通する。
連結菅161の途中には、切換弁162が設けられている。切換弁162は、連結菅161を開閉する。そして、切換弁162の開度を調整することにより、チャンバ本体71内の第2ガスGS2を連結菅161から排出して、チャンバ本体71内を大気開放することができる。これにより、第2ガスGS2の濃度を段階的に(例えば3段階に)調整することができる。
また、記憶部132には、図7に示す検量線CC1−1、検量線CC1−2および検量線CC1−3と、図8に示す検量線CC2−1、検量線CC2−2および検量線CC2−3とが予め記憶されている。
検量線CC1−1〜検量線CC1は、第2チャンバ7内の圧力と、サンプルガスGS0に含まれる、すなわち、第1チャンバ5内の第2ガスGS2の濃度との関係を示すグラフであり、第2ガスGS2の濃度の大小に応じて使い分けられる。
検量線CC2−1〜検量線CC2−3は、サンプルガスGS0に含まれる第2ガスGS2の濃度と、第1ガスGS1の濃度(実測値)に対する補正値との関係を示すグラフであり、検量線CC1−1〜検量線CC1と同様に、第2ガスGS2の濃度の大小に応じて使い分けられる。
第1ガスGS1の濃度を検出する際、例えば、検量線CC1−1を用いた場合には、検量線CC2−1が用いられる。また、検量線CC1−2を用いた場合には、検量線CC2−2が用いられる。また、検量線CC1−3を用いた場合には、検量線CC2−3が用いられる。
このように、ガス検出装置1では、第2ガスGS2の濃度の大小に応じて、検量線CC1−1〜検量線CC1のうちの1つ選択するとともに、検量線CC2−1〜検量線CC2−3のうちの1つを選択して用いることができる。これにより、第1ガスGS1の濃度をより正確に検出することができる。
以上、本発明のガス検出装置を図示の実施形態について説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、ガス検出装置を構成する各部は、同様の機能を発揮し得る任意の構成のものと置換することができる。また、任意の構成物が付加されていてもよい。
また、本発明のガス検出装置は、前記各実施形態のうちの、任意の2以上の構成(特徴)を組み合わせたものであってもよい。
また、前記各実施形態では、第1ガスGS1として、二酸化硫黄ガスを挙げ、第2ガスGS2として、メタンガスを挙げているが、これに限定されない。例えば、窒素酸化物や一酸化炭素を第1ガスGS1とし、二酸化炭素を第2ガスGS2としてもよい。
また、第1チャンバ5は、サンプルガスGS0をポンプで吸引して、チャンバ本体51に連続的にサンプルガスを流通させるよう構成されていてもよい。
また、第1チャンバ5と第2チャンバ7との位置関係は、前記実施形態では第1チャンバ5が上流側、第2チャンバ7が下流側に配置された関係となっているが、これに限定されず、例えば、第2チャンバ7が上流側、第1チャンバ5が下流側に配置された関係となっていてもよい。
[態様]
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
(第1項)一態様に係るガス検出装置は、
赤外線を照射する光源と、
前記光源から照射された赤外線の光路上に配置され、赤外線が通過するとともに、赤外線のうち、第1波長帯の赤外線を吸収する第1ガスを含むサンプルガスが通過する第1チャンバと、
前記光路上に配置され、赤外線が通過するとともに、赤外線のうち、前記第1波長帯と一部重なる第2波長帯の赤外線を吸収する第2ガスが充填された第2チャンバと、
前記第1チャンバおよび前記第2チャンバを順に通過した赤外線を受光し、その受光量を検出する受光量検出部と、
前記第2チャンバ内に存在する気体の圧力を検出する圧力検出部と、
前記受光量に基づいて、前記サンプルガス中の前記第1ガスの濃度を演算する演算部とを備え、
前記演算部は、前記圧力に基づいて、前記第1ガスの濃度を補正する。
第1項に記載のガス検出装置によれば、サンプルガス中の第2ガスの濃度の大小に関わらず、当該サンプルガス中の第1ガスの濃度を正確に検出することができる。また、ガス検出装置は、前述したような2系統構造になってはおらず、簡単な構成の装置となっている。
(第2項)第1項に記載のガス検出装置において、
前記圧力と、前記サンプルガスに含まれる前記第2ガスの濃度との関係を示す検量線を記憶する記憶部を備え、
前記演算部は、前記検量線に基づいて、前記第1ガスの濃度を補正する。
第2項に記載のガス検出装置によれば、検量線を用いるという簡単な構成で、第1ガスの濃度を正確に検出することができる。
(第3項)第1項または第2項に記載のガス検出装置において、
前記第2チャンバは、該第2チャンバ内を2つの空間に仕切る仕切り部と、前記2つの空間を連通させる連通部とを有し、
前記2つの空間のうちの一方の空間を赤外線が通過し、他方の空間に前記圧力検出部が配置される。
第3項に記載のガス検出装置によれば、赤外線が一方の空間を通過する際、圧力検出部が赤外線を妨げるのを防止することができ、よって、受光量検出部で赤外線を十分に受光することができる。
(第4項)第1項〜第3項のいずれか1項に記載のガス検出装置において、
前記第2チャンバ内の前記光路に沿った長さは、5mm以上50mm以下である。
第4項に記載のガス検出装置によれば、赤外線が第2チャンバを通過した際、第2チャンバ内の第2ガスが第2波長帯の赤外線が過不足なく吸収することができる。これにより、第2チャンバ内の圧力をより正確に検出可能な程度に、第2チャンバ内の圧力変化を生じさせることができる。
(第5項)第1項〜第4項のいずれか1項に記載のガス検出装置において、
前記第2チャンバ内の前記第2ガスの濃度は、20g/Nm以上700g/Nm以下である。
第5項に記載のガス検出装置によれば、赤外線が第2チャンバを通過した際、第2チャンバ内の第2ガスが第2波長帯の赤外線が過不足なく吸収することができる。これにより、第2チャンバ内の圧力をより正確に検出可能な程度に、第2チャンバ内の圧力変化を生じさせることができる。
(第6項)第1項〜第5項のいずれか1項に記載のガス検出装置において、
前記圧力検出部は、前記圧力の変化を電気的に検出する圧電変換部を有する。
第6項に記載のガス検出装置によれば、圧電変換部を用いるという簡単な構成で、圧力を正確に検出することができる。
(第7項)第1項〜第6項のいずれか1項に記載のガス検出装置において、
前記第2チャンバ内の前記第2ガスの濃度を調整する調整部を備える。
第7項に記載のガス検出装置によれば、例えば、第2ガスの濃度の大小に応じて、検量線を使い分けることができる。
(第8項)第1項〜第7項のいずれか1項に記載のガス検出装置において、
前記第1ガスは、二酸化硫黄ガスであり、前記第2ガスは、メタンガスである。
第8項に記載のガス検出装置によれば、当該ガス検出装置を、二酸化硫黄ガスの濃度を測定する二酸化硫黄濃度測定装置として使用することができる。
1 ガス検出装置
2 光源
3 セクタ
31 スリット
4 回転駆動部
5 第1チャンバ
51 チャンバ本体
511 窓部
512 空間
52 供給ポート
53 排出ポート
6 第1ガス供給部
61 供給源
62 連結菅
63 切換弁
7 第2チャンバ
71 チャンバ本体
711 窓部
712 第1空間
713 第2空間
72 供給ポート
73 排出ポート
74 仕切り部
75 連通部
8 第2ガス供給部
81 供給源
82 連結菅
83 切換弁
9 受光量検出部
10 圧力検出部
101 圧電変換部
11 操作部
12 表示部
13 制御部
131 CPU
132 記憶部
133 演算部
14 制御ユニット
15 補正ユニット
16 調整部
161 連結菅
162 切換弁
CC1 検量線
CC1−1 検量線
CC1−2 検量線
CC1−3 検量線
CC2 検量線
CC2−1 検量線
CC2−2 検量線
CC2−3 検量線
GS0 サンプルガス
GS1 第1ガス
GS2 第2ガス
IF 赤外線
LP 光路
LX512 長さ
LX712 長さ
P 圧力
Q 濃度
R 補正値
S512 横断面積
S712 横断面積

Claims (8)

  1. 赤外線を照射する光源と、
    前記光源から照射された赤外線の光路上に配置され、赤外線が通過するとともに、赤外線のうち、第1波長帯の赤外線を吸収する第1ガスを含むサンプルガスが通過する第1チャンバと、
    前記光路上に配置され、赤外線が通過するとともに、赤外線のうち、前記第1波長帯と一部重なる第2波長帯の赤外線を吸収する第2ガスが充填された第2チャンバと、
    前記第1チャンバおよび前記第2チャンバを順に通過した赤外線を受光し、その受光量を検出する受光量検出部と、
    前記第2チャンバ内に存在する気体の圧力を検出する圧力検出部と、
    前記受光量に基づいて、前記サンプルガス中の前記第1ガスの濃度を演算する演算部とを備え、
    前記演算部は、前記圧力に基づいて、前記第1ガスの濃度を補正するガス検出装置。
  2. 前記圧力と、前記サンプルガスに含まれる前記第2ガスの濃度との関係を示す検量線を記憶する記憶部を備え、
    前記演算部は、前記検量線に基づいて、前記第1ガスの濃度を補正する請求項1に記載のガス検出装置。
  3. 前記第2チャンバは、該第2チャンバ内を2つの空間に仕切る仕切り部と、前記2つの空間を連通させる連通部とを有し、
    前記2つの空間のうちの一方の空間を赤外線が通過し、他方の空間に前記圧力検出部が配置される請求項1または2に記載のガス検出装置。
  4. 前記第2チャンバ内の前記光路に沿った長さは、5mm以上50mm以下である請求項1〜3のいずれか1項に記載のガス検出装置。
  5. 前記第2チャンバ内の前記第2ガスの濃度は、20g/Nm以上700g/Nm以下である請求項1〜4のいずれか1項に記載のガス検出装置。
  6. 前記圧力検出部は、前記圧力の変化を電気的に検出する圧電変換部を有する請求項1〜5のいずれか1項に記載のガス検出装置。
  7. 前記第2チャンバ内の前記第2ガスの濃度を調整する調整部を備える請求項1〜6のいずれか1項に記載のガス検出装置。
  8. 前記第1ガスは、二酸化硫黄ガスであり、前記第2ガスは、メタンガスである請求項1〜7のいずれか1項に記載のガス検出装置。

JP2020059612A 2020-03-30 2020-03-30 ガス検出装置 Active JP7388269B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020059612A JP7388269B2 (ja) 2020-03-30 2020-03-30 ガス検出装置
CN202110333530.8A CN113466164B (zh) 2020-03-30 2021-03-29 气体检测装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020059612A JP7388269B2 (ja) 2020-03-30 2020-03-30 ガス検出装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2021156813A true JP2021156813A (ja) 2021-10-07
JP2021156813A5 JP2021156813A5 (ja) 2022-07-13
JP7388269B2 JP7388269B2 (ja) 2023-11-29

Family

ID=77868391

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020059612A Active JP7388269B2 (ja) 2020-03-30 2020-03-30 ガス検出装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7388269B2 (ja)
CN (1) CN113466164B (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117250166B (zh) * 2023-09-21 2024-07-05 江苏舒茨测控设备股份有限公司 一种非分光红外气体检测方法及传感器

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012068164A (ja) * 2010-09-24 2012-04-05 Horiba Ltd 赤外線ガス分析計
JP2019020230A (ja) * 2017-07-14 2019-02-07 株式会社堀場製作所 ガス分析装置、ガス分析装置用プログラム、及びガス分析方法
WO2020059100A1 (ja) * 2018-09-21 2020-03-26 大塚電子株式会社 測定装置、および測定方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5360053B2 (ja) * 2008-04-15 2013-12-04 株式会社島津製作所 校正用ガスセルを搭載したガス分析装置
JP6651126B2 (ja) * 2015-09-08 2020-02-19 富士電機株式会社 ガス分析計
CN206300896U (zh) * 2016-10-28 2017-07-04 株式会社岛津制作所 二氧化硫测量装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012068164A (ja) * 2010-09-24 2012-04-05 Horiba Ltd 赤外線ガス分析計
JP2019020230A (ja) * 2017-07-14 2019-02-07 株式会社堀場製作所 ガス分析装置、ガス分析装置用プログラム、及びガス分析方法
WO2020059100A1 (ja) * 2018-09-21 2020-03-26 大塚電子株式会社 測定装置、および測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN113466164B (zh) 2024-06-21
CN113466164A (zh) 2021-10-01
JP7388269B2 (ja) 2023-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9234905B2 (en) Method of calibrating and calibration apparatus for a moisture concentration measurement apparatus
EP3674689B1 (en) Gas analyzer and gas analyzing method
US8143581B2 (en) Absorption biased NDIR gas sensing methodology
US20160084757A1 (en) Analytes monitoring by differential swept wavelength absorption spectroscopy methods
CN107709972B (zh) Ndir式气体传感器、气体分析仪、光合成速度测定装置、以及光合成速度测定方法
CN105067564B (zh) 一种具有温度补偿能力的光纤气体浓度检测方法
US8143580B1 (en) Crossed biased filtering NDIR gas sensing methodology
KR101487226B1 (ko) 대기중 오존 측정을 위한 표준 교정 방법 및 표준 교정 장치
JP2013117517A (ja) レーザ式ガス分析計
CN103398964A (zh) 一种基于腔增强技术的气体探测方法
JP7388269B2 (ja) ガス検出装置
US8217355B1 (en) Self-commissioning NDIR gas sensors
TW201335581A (zh) 用於量測生物氣體中之矽氧烷的方法及裝置
JP6543645B2 (ja) 透明容器内の気体成分を判定するための方法およびデバイス
Wong et al. Zero drift NDIR gas sensors
FI130319B (en) Method and apparatus for measuring the spectrum of a gas sample
RU2596035C1 (ru) Инфракрасный оптический газоанализатор
Kan et al. Large scale gas leakage monitoring with tunable diode laser absorption spectroscopy
Dinh et al. Limitations of gas filter correlation: A case study on carbon monoxide non-dispersive infrared analyzer
US20220236175A1 (en) Nondispersive infrared-type carbon dioxide gas sensor
JP5421148B2 (ja) ガス濃度算出装置およびガス濃度計測モジュール
Ageev et al. Remote detector of hazardous substances based on a tunable 13 С 16 О 2 laser
WO2024034487A1 (ja) ガス測定装置
WO2024034488A1 (ja) ガス測定装置、および対象成分の濃度を求める方法
JP5325137B2 (ja) ガス濃度算出装置およびガス濃度計測モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220705

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220705

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230315

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230411

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20230609

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230802

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230808

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231003

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20231017

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20231030

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7388269

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151