JP2021143922A - Inspection method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被加工物の検査方法に関する。 The present invention relates to a method for inspecting a workpiece.
ウエーハのデバイス領域にバンプと呼ばれる金属突起物を複数形成し、これらのバンプを配線基板に形成された電極に対向させて直接接合するフリップチップボンディングと呼ばれる実装方法が実用化されている。このようなバンプが表面に形成されているウエーハの裏面を研削すると、バンプの段差により生じる応力の影響で、研削中にウエーハが破損することがある。このため、ウエーハの表面に表面保護部材を貼着し、その表面保護部材の糊層にバンプを埋めこんだ状態でウエーハの裏面を研削する対策がとられている。 A mounting method called flip-chip bonding has been put into practical use in which a plurality of metal protrusions called bumps are formed in the device region of the wafer, and these bumps are directly bonded to the electrodes formed on the wiring board. When the back surface of a wafer having such bumps formed on the front surface is ground, the wafer may be damaged during grinding due to the influence of stress generated by the step of the bumps. For this reason, measures are taken to attach a surface protection member to the surface of the wafer and grind the back surface of the wafer with bumps embedded in the glue layer of the surface protection member.
しかし、バンプを埋め込むような厚い糊層を有する表面保護部材を用いた場合、表面保護部材を剥がした後のデバイスに糊が残留するおそれがある。デバイスに残留した糊を取り除く作業は煩雑であり、デバイスの生産性を高める上で障害となる。 However, when a surface protection member having a thick glue layer for embedding bumps is used, the glue may remain on the device after the surface protection member is peeled off. The work of removing the glue remaining on the device is complicated and hinders the productivity of the device.
そこで、バンプが形成されていないウエーハの外周余剰領域のみに対応する糊層を有する表面保護部材(表面保護テープ)が提案されている(例えば、特許文献1参照)。この表面保護部材を使用することで、ウエーハのデバイス領域に糊が残留するのを防ぐことができる。 Therefore, a surface protection member (surface protection tape) having a glue layer corresponding only to an outer peripheral surplus region of a wafer on which bumps are not formed has been proposed (see, for example, Patent Document 1). By using this surface protection member, it is possible to prevent the glue from remaining in the device region of the wafer.
ところが、特許文献1に示された表面保護部材をウエーハに貼り付ける際に、ウエーハと表面保護部材との間にエアの噛み込みが生じる場合がある。エアが噛み込んだ状態で研削を行うと、研削中に負荷がかかりバンプが折れて生産性を低下させてしまう。
However, when the surface protection member shown in
また、研削後にそのまま裏面側からダイシングする場合にも、エアが噛み込んだ部分から表面保護部材が剥がれてしまい、チッピングやバンプの汚染に繋がるという問題がある。 Further, even when dicing from the back surface side as it is after grinding, there is a problem that the surface protection member is peeled off from the portion where the air is caught, which leads to chipping and contamination of bumps.
本発明は、上記事実に鑑みてなされたものであり、その目的は、保護部材とウエーハとの貼着状態を検査することができる検査方法を提供することである。 The present invention has been made in view of the above facts, and an object of the present invention is to provide an inspection method capable of inspecting a sticking state between a protective member and a wafer.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の検査方法は、表面にバンプを有するデバイスが形成された被加工物の表面側に保護部材を貼着し、該被加工物と該保護部材との貼着状態を検査する検査方法であって、該被加工物の該表面側に保護部材を貼着する貼着ステップと、該貼着ステップの後、該被加工物の裏面側から、該被加工物の表面側に超音波が収束するように超音波を発信する超音波発信ステップと、該超音波発信ステップの後、該被加工物の表面側から反射してきた超音波の反射波を受信する超音波受信ステップと、該超音波受信ステップで受信した超音波の反射波の強度を濃淡として画像化する画像化ステップと、該画像に基づいて該保護部材の該被加工物への貼着状態を判定する判定ステップと、を含み、該判定ステップで合格と判定された場合は、該被加工物の表面側への保護部材の貼着を終了し、該判定ステップで不合格と判定された場合は、該貼着ステップを再度実施することを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the object, the inspection method of the present invention attaches a protective member to the surface side of the workpiece on which the device having bumps on the surface is formed, and the device and the workpiece. An inspection method for inspecting the state of attachment to the protective member, which is a method of attaching the protective member to the front surface side of the workpiece, and after the attachment step, the back surface of the workpiece. An ultrasonic transmission step of transmitting ultrasonic waves from the side so that the ultrasonic waves converge on the surface side of the work piece, and an ultrasonic wave reflected from the surface side of the work piece after the ultrasonic wave transmission step. An ultrasonic receiving step for receiving the reflected wave of the above, an imaging step for imaging the intensity of the reflected wave of the ultrasonic wave received in the ultrasonic receiving step as shading, and the processing of the protective member based on the image. A determination step for determining the attachment state to the object is included, and if it is determined to pass in the determination step, the attachment of the protective member to the surface side of the work piece is completed, and the determination step ends. If it is determined to be unacceptable, the sticking step is performed again.
前記検査方法において、該貼着ステップは、該被加工物のデバイス領域に糊層が形成されていない保護部材を該被加工物に貼着しても良い。 In the inspection method, the sticking step may stick a protective member having no glue layer formed in the device region of the work piece to the work piece.
前記検査方法において、該被加工物は、表面に分割予定ラインが設定され、該分割予定ラインによって区画された領域にバンプを有するデバイスが形成され、該判定ステップは、該被加工物の分割予定ラインにおける該被加工物と該保護部材との貼着状態に基づいて合否を判定しても良い。 In the inspection method, a scheduled division line is set on the surface of the work piece, a device having bumps is formed in a region partitioned by the planned division line, and the determination step is scheduled to divide the work piece. Pass / fail may be determined based on the state of attachment between the workpiece and the protective member on the line.
本発明は、保護部材とウエーハとの貼着状態を検査することができるという効果を奏する。 The present invention has the effect of being able to inspect the state of attachment between the protective member and the wafer.
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 An embodiment (embodiment) for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited to the contents described in the following embodiments. In addition, the components described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art and those that are substantially the same. Further, the configurations described below can be combined as appropriate. In addition, various omissions, substitutions or changes of the configuration can be made without departing from the gist of the present invention.
〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係る検査方法を図面に基づいて説明する。実施形態1に係る検査方法は、図1に示す被加工物1の表面5側に図2に示す保護部材10を貼着し、被加工物1と保護部材10との貼着状態を検査する方法である。まず、検査方法の検査対象の被加工物1と、保護部材10の構成を説明する。図1は、実施形態1に係る検査方法の検査対象の被加工物の構成例を示す斜視図である。図2は、図1に示された被加工物に保護部材を貼着する状態を示す斜視図である。
[Embodiment 1]
The inspection method according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the inspection method according to the first embodiment, the
(被加工物)
実施形態1に係る検査方法の検査対象の被加工物1は、シリコン(Si)、サファイア(Al2O3)、ガリウムヒ素(GaAs)または炭化ケイ素(SiC)等を基板2とする円板状の半導体ウエーハ、光デバイスウエーハ等のウエーハである。被加工物1は、図1に示すように、デバイス領域3と、外周余剰領域4とを表面5に備える。
(Workpiece)
The
デバイス領域3は、表面5に互いに交差する複数の分割予定ライン6が設定され、分割予定ライン6によって区画された各領域にデバイス7が形成されている。各デバイス7は、各デバイス7の電極に接続して、表面5よりも突出したバンプ8を有している。デバイス領域3は、表面5よりも突出したバンプ8を有しているために、表面5に凹凸が形成されている。デバイス7は、例えば、IC(Integrated Circuit)、あるいはLSI(Large Scale Integration)等の集積回路、CCD(Charge Coupled Device)、あるいはCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等のイメージセンサ、またはMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)等である。外周余剰領域4は、デバイス領域3を全周に亘って囲繞し、デバイス7等が形成されていない領域である。バンプ8は、導電性の金属により構成され、実施形態1では、球状に形成されている。
In the
また、被加工物1は、基板2の表面に機能層9が積層されている。機能層9は、SiOF、BSG(SiOB)等の無機物系の膜やポリイミド系、パリレン系等のポリマー膜である有機物系の膜からなる低誘電率絶縁体被膜(以下、Low−k膜と呼ぶ)と、導電性の金属により構成された導電体膜とを備えている。Low−k膜は、導電体膜と積層されて、デバイス7を形成する。導電体膜は、デバイス7の回路を構成する。このために、デバイス7は、互いに積層されたLow−k膜と、Low−k膜間に積層された導電体膜とにより構成される。なお、分割予定ライン6及び外周余剰領域4の機能層16は、Low−k膜により構成され、TEG(Test Element Group)を除いて導電体膜を備えていない。TEGは、デバイス7に発生する設計上や製造上の問題を見つけ出すための評価用の素子である。
Further, in the
実施形態1において、被加工物1は、裏面19側が研削されて、所定の仕上げ厚さまで薄化された後、分割予定ライン6に沿って個々のデバイス7に分割される。被加工物1から分割されたデバイス7は、バンプ8が配線基板の電極に対向されて直接電極に接合される、所謂フリップチップボンディングと呼ばれる実装方法により配線基板に実装される。
In the first embodiment, the
(保護部材)
保護部材10は、図2に示すように、被加工物1の表面5側に貼着されて、裏面19が研削される際に被加工物1の破損を抑制するものである。実施形態1では、保護部材10は、被加工物1と同径の円板状に形成されている。
(Protective member)
As shown in FIG. 2, the
保護部材10は、図2に示すように、円板状の基材シート11のみで構成されて、被加工物1の表面5及びバンプ8に貼着するものである。実施形態1では、保護部材10の基材シート11は、ポリオレフィン系の熱圧着性を有する合成樹脂により構成される。即ち、実施形態1では、保護部材10は、基材シート11のみで構成されて、被加工物1のデバイス領域3に対応した糊層が形成されていない熱圧着シートである。
As shown in FIG. 2, the
(検査方法)
次に、検査方法を説明する。図3は、実施形態1に係る検査方法の流れを示すフローチャートである。検査方法は、被加工物1の表面5側に保護部材10を貼着し、被加工物1と保護部材10との貼着状態を検査する方法である。実施形態1では、検査方法は、被加工物1を研削、デバイス7毎への分割などの実際の加工を施す前に、保護部材10を表面5側に貼着するときの貼着条件を定めるために実施される。検査方法は、図3に示すように、貼着ステップ1001と、超音波発信ステップ1002と、超音波受信ステップ1003と、画像化ステップ1004と、判定ステップ1005とを備える。次に、検査方法の各ステップを説明する。
(Inspection method)
Next, the inspection method will be described. FIG. 3 is a flowchart showing the flow of the inspection method according to the first embodiment. The inspection method is a method in which the
(貼着ステップ)
まず、貼着ステップ1001を説明する。図4は、図3に示された検査方法の貼着ステップにおいて保護部材を被加工物の表面と対向させた状態を模式的に示す断面図である。図5は、図3に示された検査方法の貼着ステップにおいて保護部材を被加工物の表面に貼着した状態を模式的に示す断面図である。
(Attachment step)
First, the sticking
貼着ステップ1001は、被加工物1の表面5側に保護部材10を貼着するステップである。実施形態1において、貼着ステップ1001では、図4に示すように、被加工物1の裏面19側をチャックテーブル50のポーラスセラミック等から形成され開閉弁51を介して吸引源52に接続された保持面53に載置する。実施形態1において、貼着ステップ1001では、被加工物1と保護部材10とを互いに同軸となる位置に位置付けて、保護部材10を被加工物1の表面5に対向させる。
The sticking
その後、実施形態1において、貼着ステップ1001では、図5に示すように、チャックテーブル50内の加熱手段54の発熱体55を発熱させて、発熱体55の熱を金属プレート56などを介して保持面53上の被加工物1に伝達し、保護部材10を加熱して、保護部材10を被加工物1の表面5及びバンプ8に熱圧着する。実施形態1に係る検査方法は、こうして、被加工物1の表面5側に保護部材10を貼着して、超音波発信ステップ1002に進む。なお、実施形態1では、加熱手段54は、発熱体55の保持面53側に金属プレート56を積層し、発熱体55の保持面53から離れた側に断熱材57を積層している。
After that, in the first embodiment, in the
(超音波検出装置)
次に、超音波発信ステップ1002及び超音波受信ステップ1003で用いられる超音波検出装置の構成を説明する。図6は、図3に示された検査方法の超音波発信ステップ及び超音波受信ステップで用いられる超音波検出装置の構成を模式的に示す断面図である。図7は、図6に示された超音波検出装置の要部の構成を模式的に示す断面図である。図8は、図7に示された超音波検出装置の受信器が受信した超音波の反射波を模式的に示す図である。図9は、図7に示された超音波検出装置の制御ユニットの画像化部が形成した画像の一例を示す図である。図10は、図7に示された超音波検出装置の制御ユニットの画像化部が形成した画像の他の例を示す図である。図11は、図7に示された超音波検出装置の制御ユニットの記憶部が記憶した正規画像の一例を示す図である。
(Ultrasonic detector)
Next, the configuration of the ultrasonic wave detection device used in the ultrasonic
まず、超音波検出装置20の構成を説明する。超音波検出装置20は、被加工物1の裏面19側から被加工物1の表面5側に超音波200が収束するように超音波200を発信し、超音波200の反射波201を受信するものである。超音波検出装置20は、図6に示すように、収容槽21と、超音波トランスデューサ30と、図示しない移動ユニットと、図示しない位置検出ユニットと、制御ユニット40とを備える。
First, the configuration of the
収容槽21は、上部に開口22を有し、液体である純水23を収容する容器である。実施形態1では、収容槽21は、底部に保持手段である載置テーブル24を設けている。載置テーブル24は、表面上に被加工物1の表面5側が保護部材10を介して載置される。収容槽21は、載置テーブル24の表面上に表面5側が保護部材10を介して載置された被加工物1を純水23内に浸漬する。
The
超音波トランスデューサ30は、収容槽21内で純水23に浸漬された被加工物1の裏面19側と対向して配置される。超音波トランスデューサ30は、パルス状の電圧が印加されることにより、20kHz以上かつ数GHz以下の周波数の超音波200を先端面31から発信させるための圧電振動子を備えている。なお、超音波トランスデューサ30の先端面31は、収容槽21内の純水23に浸漬される。
The
超音波トランスデューサ30は、図7に示すように、先端面31から発信する超音波200を収束させるために先端面31が球面状に形成されているが、本発明では、先端面31から発信する超音波200を収束する音響レンズを備えてもよい。また、実施形態では、超音波トランスデューサ30が収束する超音波200のスポットの直径は、10μm程度である。また、超音波トランスデューサ30は、超音波200の反射波201を受信する。
As shown in FIG. 7, in the
移動ユニットは、収容槽21の載置テーブル24に載置された被加工物1と超音波トランスデューサ30を、被加工物1の表面5に沿って相対的に移動させるとともに、被加工物1の厚さ方向に相対的に移動させるものである。
The moving unit relatively moves the
位置検出ユニットは、超音波トランスデューサ30の先端面31が対向する載置テーブル24に載置された被加工物1の表面5の位置を検出し、検出結果を制御ユニット40に出力する。超音波トランスデューサ30の先端面31が対向する載置テーブル24に載置された被加工物1の表面5の位置とは、先端面31が被加工物1の厚さ方向に沿って対向する表面5上の位置である。
The position detection unit detects the position of the
制御ユニット40は、図7に示すように、パルス発生器41と、受信器42と、画像化部43と、記録部44と、判定部45とを備える。パルス発生器41は、前述した周波数のパルス状の電圧を発生し、発生したパルス状の電圧を超音波トランスデューサ30の圧電振動子に印加することで、載置テーブル24に保持された被加工物1の裏面19と対向する超音波トランスデューサ30の先端面31から超音波200を発信する。先端面31から発信された超音波200は、収容槽21内の純水23内を透過する。超音波トランスデューサ30とパルス発生器41とは、載置テーブル24に載置された被加工物1の裏面19側から被加工物1に対して超音波200を発信する。
As shown in FIG. 7, the
受信器42は、超音波トランスデューサ30の先端面31から発信されかつ超音波トランスデューサ30から受信した超音波200の反射波201(図6及び図8に示す)に応じた電圧信号を画像化部43に出力する。なお、先端面31から発信されて収容槽21内の純水23を透過する超音波200は、音響インピーダンスが変化する界面で反射されるとともに、音響インピーダンスの差が大きな界面ほど反射波201の強度が強くなる。
The
実施形態1では、超音波200は、純水23と被加工物1との界面である被加工物1の裏面19及び被加工物1と保護部材10との界面である被加工物1の表面5から反射される。超音波トランスデューサ30は、図8に示すように、超音波200の裏面19からの反射波201(以下、符号201−1で示す)と、超音波200の表面5からの反射波201(以下、符号201−2で示す)とを受信する。なお、図3の横軸は、超音波トランスデューサ30から超音波200を発信してから経過した時間を示し、図中右側に向かうにしたがって時間が経過することを示している。また、図3の縦軸は、超音波トランスデューサ30が受信した反射波201の強度を示し、図中上側に向かうにしたがって強度が強くなることを示している。
In the first embodiment, the
受信器42は、被加工物1の表面5からの超音波200の反射波201−1に応じた電圧信号と、被加工物1の裏面19からの超音波200の反射波201−2に応じた電圧信号とを超音波トランスデューサ30から受信する。こうして、超音波トランスデューサ30と受信器42とは、載置テーブル24に載置された被加工物1から反射してきた超音波200の反射波201を受信する。また、実施形態1では、超音波200は、表面5に収束するように照射されるため、被加工物1の表面5からの超音波200の反射波201−1に応じた電圧信号の方が、被加工物1の裏面19からの超音波200の反射波201−2に応じた電圧信号よりも信号強度が大きくなる。
The
画像化部43は、超音波受信ユニット33によって受信された被加工物1の裏面19側からの超音波200の反射波201を強度に応じて濃淡として画像化する。即ち、画像化部43を備える制御ユニット40は、超音波受信ユニット33によって受信された被加工物1の裏面19側からの超音波200の反射波201を強度に応じて濃淡として画像化する画像化ユニットである。画像化部43は、反射波201を強度に応じて濃淡として画像化し、図9及び図10に示す画像300−1,300−2を形成する。画像化部43は、受信器42から電圧信号を受信する。
The
なお、受信器42から画像化部43が受信する電圧信号は、電圧値の大きさが複数の段階(例えば256段階)の階調で規定されている。受信器42から画像化部43が受信する電圧信号は、反射波201の強度に応じた段階で電圧値が規定され、反射波201の強度が強いほど電圧値が高くかつ反射波201の強度が弱いほど電圧値が低く規定されている。画像化部43は、受信器42から受信する電圧信号と、各位置検出ユニットの検出結果とに基づいて、検査対象の被加工物1のX軸方向及びY軸方向の各位置の電圧信号の電圧値の強弱を濃淡として示す画像300−1,300−2(図9及び図10に示す)、即ち、濃淡を有する画像300−1,300−2を形成する。実施形態1では、画像300−1,300−2は、電圧値が高くなる位置を弱い位置よりも薄く表示する。画像300−1,300−2は、主に超音波トランスデューサ30が被加工物1の表面5からの超音波200の反射波201−1を受信することで形成されるために、表面5と保護部材100との界面の状態、即ち被加工物1と保護部材10との貼着状態を示すこととなる。
In the voltage signal received from the
なお、実施形態1では、画像300−1,300−2では、表面5と保護部材100との界面の気泡301の位置の電圧信号が最も高く、気泡301以外の位置の電圧信号が気泡301の位置の電圧信号よりも低い。実施形態1では、図9及び図10は、画像300−1,300−2の表面5と保護部材100との界面の気泡301を最も薄く示し、バンプ8を最も濃く示し、表面5と保護部材10とが接触している箇所302を気泡301とバンプ8の中間色で示している。
In the first embodiment, in the images 300-1 and 300-2, the voltage signal at the position of the
記録部44は、図11に示す正規画像400を記憶している。正規画像400は、貼着状態が正規の状態で保護部材10が貼着されて、表面5側が載置テーブル24上に載置され、収容槽21内の純水で浸漬された被加工物1に、表面5側に収束するように超音波トランスデューサ30の先端面31から超音波200を照射し、受信器42が受信した反射波201の電圧信号を、反射波201の強度に応じて濃淡として画像化部43が画像化して得られた画像である。即ち、正規画像400は、貼着状態が正規の状態で保護部材10が貼着された被加工物1の超音波200の反射波201を、反射波201の強度を濃淡として画像化された画像である。
The
なお、実施形態1では、正規画像400では、表面5と保護部材100との界面の気泡301の位置の電圧信号が最も高く、気泡301以外の位置の電圧信号が気泡301の位置の電圧信号よりも低い。実施形態1では、図11は、正規画像400の表面5と保護部材100との界面の気泡401を最も薄く示し、バンプ8を最も濃く示し、表面5と保護部材10とが接触している箇所402を気泡401とバンプ8の中間色で示している。
In the first embodiment, in the
実施形態1では、正規画像400は、各バンプ8の周囲に気泡401が生じているが、隣り合うバンプ8間には、被加工物1の表面5と保護部材10とが接触している箇所402が生じている。
In the first embodiment, in the
判定部45は、画像化部43が形成した画像300−1,300−2に基づいて、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態を判定するものである。実施形態1では、判定部45は、画像化部43が形成した画像300−1,300−2と記録部44に記憶した正規画像400とを正規化相関などのパターンマッチング等で照合し、両者の相関値が所定値以上であると、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態が合格であると判定し、両者の相関値が所定未満であると、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態が不合格であると判定する。
The
また、制御ユニット40は、超音波検出装置20の各構成要素をそれぞれ制御して、被加工物1に対する検査動作を超音波検出装置20に実施させるものである。なお、制御ユニット40は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有するコンピュータである。制御ユニット40の演算処理装置は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施して、超音波検出装置20を制御するための制御信号を、入出力インターフェース装置を介して超音波検出装置20の各構成要素に出力する。
Further, the
なお、パルス発生器41、受信器42、画像化部43及び判定部45の機能は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムを演算処理装置が実行することで実現される。また、記録部44の機能は、記憶装置により実現される。また、本発明では、パルス発生器41、受信器42、画像化部43、記録部44及び判定部45は、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサー、又は並列プログラム化したプロセッサー等の専用の処理回路(ハードウェア)で構成されても良い。特に、パルス発生器41と受信器42とは、単一のプログラム化したプロセッサー等の専用の処理回路(ハードウェア)で構成されても良い。
The functions of the
また、制御ユニット40は、検査動作の状態や画像などを表示する液晶表示装置などにより構成される図示しない表示ユニットと、オペレータが検査内容情報などを登録する際に用いる入力ユニットとオペレータに報知する報知ユニットに接続されている。入力ユニットは、表示ユニットに設けられたタッチパネルと、キーボード等の外部入力装置とのうち少なくとも一つにより構成される。報知ユニットは、音と光のうち少なくとも一方を発して、オペレータに報知する。
Further, the
(超音波発信ステップ、超音波受信ステップ)
超音波発信ステップ1002は、貼着ステップ1001の後、図6に示す超音波検出装置20が被加工物1の裏面19側から被加工物1の表面5側に超音波200が収束するように超音波200を発信するステップである。また、超音波受信ステップ1003は、超音波発信ステップ1002の後、被加工物1の表面5側から反射してきた超音波200の反射波201を受信する超音波検出装置20が受信するステップである。
(Ultrasonic wave transmission step, ultrasonic wave reception step)
In the ultrasonic
超音波発信ステップ1002では、載置テーブル24に保護部材10を介して被加工物1の表面5側が載置され、収容槽21内に純水23が供給されて、純水23により被加工物1及び超音波トランスデューサ30の先端面31が純水23により浸漬される。超音波発信ステップ1002では、オペレータが、検査内容情報を制御ユニット40に登録し、オペレータから加工動作の開始指示があると、超音波検出装置20が開始する。
In the ultrasonic
超音波発信ステップ1002及び超音波受信ステップ1003では、超音波検出装置20が移動ユニットにより被加工物1と超音波トランスデューサ30とを相対的に移動させながら、被加工物1の表面5側に収束するように先端面31から超音波200を発信して、被加工物1の検査内容情報で定められた各位置からの反射波201を超音波トランスデューサ30で受信する。
In the ultrasonic
実施形態1において、超音波発信ステップ1002及び超音波受信ステップ1003では、超音波検出装置20が、被加工物1の検査内容情報で定められた位置のうち一の位置にパルス状の超音波200を照射し、前述した一の位置からのパルス状の反射波201を受信する。実施形態1では、超音波発信ステップ1002及び超音波受信ステップ1003では、超音波検出装置20が、前述した一の位置からのパルス状の反射波201を受信すると、移動ユニットにより被加工物1と超音波トランスデューサ30とを相対的に移動させて被加工物1の他の位置に超音波200を照射し、反射波201を受信する。こうして、実施形態1では、検査内容情報で定められた被加工物1の各位置に順に超音波200を発信し、反射波201の受信を繰り返すことで、超音波発信ステップ1002後に、超音波受信ステップ1003を実施することを繰り返す。
In the first embodiment, in the ultrasonic
実施形態1において、超音波発信ステップ1002及び超音波受信ステップ1003では、超音波検出装置20が、受信した反射波201の強度を先端面31が対向して超音波200を照射した被加工物1の表面5の位置と対応付けて一旦記憶する。超音波検出装置20が、検査内容情報で定められた全ての位置に超音波200を照射し、反射波201を受信すると、画像化ステップ1004に進む。
In the first embodiment, in the ultrasonic
(画像化ステップ)
画像化ステップ1004は、超音波受信ステップ1003で受信した超音波200の反射波201の強度を濃淡として画像化するステップである。実施形態1において、画像化ステップ1004では、超音波検出装置20は、画像化部43が超音波受信ステップ1003で受信し、位置と対応付けて一旦記憶した反射波201の強度に応じて濃淡として画像化し、図9及び図10に示す画像300−1,300−2を形成する。画像化ステップ1004では、図9及び図10に示す画像300−1,300−2を形成すると、判定ステップ1005に進む。
(Imaging step)
The
(判定ステップ)
判定ステップ1005は、画像300−1,300−2に基づいて保護部材10の被加工物1への貼着状態を判定するステップである。実施形態1において、超音波検出装置20は、判定部45が、画像化ステップ1004において画像化部43が形成した画像300−1,300−2と記録部44に記憶した正規画像400とを照合し、両者の相関値を算出する。画像化部43が形成した画像300−1,300−2と記録部44に記憶した正規画像400との相関値が所定値以上であると、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態が合格であると判定して、検査方法を終了し、相関値が所定未満であると、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態が不合格であると判定して、貼着ステップ1001に戻る。
(Judgment step)
The
実施形態1において、例えば、判定ステップ1005では、画像化ステップ1004において画像化部43が図9に示す画像300−1を形成した場合、画像300−1の隣り合うバンプ8間に被加工物1の表面5と保護部材10とが接触している箇所302が生じているので、両者の相関値が所定値以上となり、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態が合格であると判定する。
In the first embodiment, for example, in the
実施形態1において、例えば、判定ステップ1005では、画像化ステップ1004において画像化部43が図10に示す画像300−2を形成した場合、画像300−2の隣り合うバンプ8間に被加工物1の表面5と保護部材10とが接触している箇所302が生じていないので、両者の相関値が所定値未満となって、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態が不合格であると判定して、貼着ステップ1001に戻る。
In the first embodiment, for example, in the
実施形態1において、戻った貼着ステップ1001では、被加工物1の表面5から保護部材10を剥がした後、貼着条件を前回と異ならせて、被加工物1の表面5に再度、保護部材10を貼着して、超音波発信ステップ1002に進む。こうして、実施形態1に係る検査方法は、判定ステップ1005で合格と判定された場合は、被加工物1の表面5側への保護部材10の貼着を終了し、判定ステップ1005で不合格と判定された場合は、貼着ステップ1001を再度実施する。実施形態1において、判定ステップ1005で合格と判定された貼着条件は、被加工物1を実際に研削し、個々のデバイス7に分割する、被加工物1の実際の加工で用いられる。
In the first embodiment, in the returned
以上説明したように、実施形態1に係る検査方法は、超音波発信ステップ1002において保護部材10が貼着された被加工物1の裏面19側から表面5に収束するように超音波200を照射し、超音波受信ステップ1003において超音波200の反射波201を受信し、画像化ステップ1004において、反射波201の強度を濃淡として画像化する。このために、検査方法は、被加工物1と保護部材10の界面、即ち被加工物1と保護部材10との貼着状態を示す画像300−1,300−2を取得することができる。
As described above, in the inspection method according to the first embodiment, the
また、検査方法は、判定ステップ1005において、画像化ステップ1004で形成した画像300−1,300−2に基づいて貼着状態を判定する。その結果、検査方法は、被加工物1に保護部材10を貼着した状態のまま、保護部材10の被加工物1への貼着状態を判定することができ、保護部材10と被加工物1との貼着状態を短時間で正確に検査することができるという効果を奏する。
Further, in the inspection method, in the
また、検査方法は、判定ステップ1005で不合格とされた場合には、貼着ステップ1001を再度実施して、被加工物1の表面5に保護部材10を再度貼着するので、表面5と保護部材10との間にエアや埃を噛み込んだ状態の被加工物1を次の工程即ち実際の加工工程に流すことを抑制することができる。その結果、検査方法は、デバイス7を破損する可能性を抑制できて、デバイス7の生産性の向上に貢献することができる。
Further, in the inspection method, if the
〔実施形態2〕
本発明の実施形態2に係る検査方法を図面に基づいて説明する。図12は、実施形態2に係る検査方法の流れを示すフローチャートである。なお、図12は、実施形態1と同一部分に同一符号を付して説明を省略する。
[Embodiment 2]
The inspection method according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 12 is a flowchart showing the flow of the inspection method according to the second embodiment. In FIG. 12, the same parts as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.
実施形態2に係る検査方法は、判定ステップ1005の実施後に第2判定ステップ1006を実施すること以外、実施形態1に係る検査方法と同じである。第2判定ステップ1006は、被加工物1の分割予定ライン6における被加工物1と保護部材10との貼着状態に基づいて、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態の合否を判定する判定ステップである。
The inspection method according to the second embodiment is the same as the inspection method according to the first embodiment except that the
実施形態2において、第2判定ステップ1006では、超音波検出装置20は、判定部45が、判定ステップ1005において、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態が合格であると判定すると、画像化ステップ1004において画像化部43が形成した画像300−1,300−2から分割予定ライン6の画像を抽出し、記録部44に記憶した正規画像400から分割予定ライン6の画像を抽出し、両者の分割予定ライン6の画像同士を照合し、両者の相関値を算出する。
In the second embodiment, in the
実施形態2において、第2判定ステップ1006では、超音波検出装置20は、判定部45が、算出した相関値が所定値以上であると、検査対象の分割予定ライン6における被加工物1と保護部材10との貼着状態が合格であると判定し、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態が合格であると判定して、検査方法を終了する。実施形態2において、第2判定ステップ1006では、超音波検出装置20は、判定部45が、算出した相関値が所定未満であると、検査対象の分割予定ライン6における被加工物1と保護部材10との貼着状態が不合格であると判定し、検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態が不合格であると判定して、貼着ステップ1001に戻る。
In the second embodiment, in the
実施形態2に係る検査方法は、超音波発信ステップ1002において保護部材10が貼着された被加工物1の裏面19側から表面5に収束するように超音波200を照射し、超音波受信ステップ1003において超音波200の反射波201を受信し、画像化ステップ1004において、反射波201の強度を濃淡として画像化する。このために、検査方法は、被加工物1と保護部材10の界面、即ち被加工物1と保護部材10との貼着状態を示す画像300−1,300−2を取得することができる。その結果、検査方法は、被加工物1に保護部材10を貼着した状態のまま、保護部材10の被加工物1への貼着状態を判定することができ、保護部材10と被加工物1との貼着状態を短時間で正確に検査することができるという効果を奏する。
In the inspection method according to the second embodiment, the
また、実施形態2に係る検査方法は、第2判定ステップ1006において、検査対象の分割予定ライン6における被加工物1と保護部材10との貼着状態に基づいて検査対象の被加工物1への保護部材10の貼着状態の合否を判定するので、保護部材10と被加工物1との貼着状態をより正確に検査することができるという効果を奏する。
Further, in the
なお、実施形態2に係る検査方法は、第2判定ステップ1006では、画像化ステップ1004において画像化部43が形成した画像300−1,300−2からデバイス7の特徴部分を抽出して、分割予定ライン6を抽出しても良い。また、本発明では、判定ステップ1005を実施後に第2判定ステップ1006を実施する流れではなく、判定ステップ1005が、分割予定ライン6における保護部材10の貼着状態を確認するステップでもよい。
In the inspection method according to the second embodiment, in the
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。例えば、本発明は、貼着ステップ1001では、通常のチャックテーブルに被加工物1を載置し、被加工物1の上に熱圧着シートである保護部材10をかぶせた状態でその上から熱を付与することで、被加工物1の表面5及びバンプ8に保護部材10を貼着しても良い。
The present invention is not limited to the above embodiment. That is, it can be modified in various ways without departing from the gist of the present invention. For example, in the
1 被加工物
3 デバイス領域
5 表面
6 分割予定ライン
7 デバイス
8 バンプ
10 保護部材
19 裏面
200 超音波
201,201−1,201−2 反射波
300−1,300−2 画像
1001 貼着ステップ
1002 超音波発信ステップ
1003 超音波受信ステップ
1004 画像化ステップ
1005 判定ステップ
1006 第2判定ステップ(判定ステップ)
1
Claims (3)
該被加工物の該表面側に保護部材を貼着する貼着ステップと、
該貼着ステップの後、該被加工物の裏面側から、該被加工物の表面側に超音波が収束するように超音波を発信する超音波発信ステップと、
該超音波発信ステップの後、該被加工物の表面側から反射してきた超音波の反射波を受信する超音波受信ステップと、
該超音波受信ステップで受信した超音波の反射波の強度を濃淡として画像化する画像化ステップと、
該画像に基づいて該保護部材の該被加工物への貼着状態を判定する判定ステップと、
を含み、
該判定ステップで合格と判定された場合は、該被加工物の表面側への保護部材の貼着を終了し、
該判定ステップで不合格と判定された場合は、該貼着ステップを再度実施することを
特徴とする、
被加工物と保護部材との貼着状態を検査する検査方法。 This is an inspection method in which a protective member is attached to the surface side of a work piece on which a device having bumps on the surface is formed, and the state of attachment between the work piece and the protective member is inspected.
A sticking step of sticking a protective member on the surface side of the work piece,
After the bonding step, an ultrasonic wave transmission step of transmitting ultrasonic waves from the back surface side of the workpiece to the front surface side of the workpiece so that the ultrasonic waves converge.
After the ultrasonic wave transmission step, an ultrasonic wave reception step for receiving the reflected wave of the ultrasonic wave reflected from the surface side of the workpiece, and the ultrasonic wave reception step.
An imaging step in which the intensity of the reflected wave of the ultrasonic wave received in the ultrasonic wave receiving step is imaged as a shade, and an imaging step.
A determination step of determining the state of attachment of the protective member to the work piece based on the image, and
Including
If it is determined to pass in the determination step, the attachment of the protective member to the surface side of the work piece is completed.
If it is determined that the determination step has failed, the attachment step is performed again.
An inspection method that inspects the state of attachment between the work piece and the protective member.
該被加工物のデバイス領域に糊層が形成されていない保護部材を該被加工物に貼着することを特徴とする、
請求項1に記載の被加工物と保護部材との貼着状態を検査する検査方法。 The sticking step is
A protective member having no glue layer formed in the device region of the work piece is attached to the work piece.
The inspection method for inspecting the state of attachment between the workpiece and the protective member according to claim 1.
該判定ステップは、
該被加工物の分割予定ラインにおける該被加工物と該保護部材との貼着状態に基づいて合否を判定することを特徴とする、
請求項1または請求項2に記載の被加工物と保護部材との貼着状態を検査する検査方法。 A device to be divided is set on the surface of the workpiece, and a device having bumps is formed in the area partitioned by the planned division line.
The determination step is
It is characterized in that a pass / fail judgment is made based on a sticking state between the work piece and the protective member in the planned division line of the work piece.
The inspection method for inspecting the adhered state between the workpiece and the protective member according to claim 1 or 2.
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