JP2021139842A - High temperature processing device - Google Patents

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伸一郎 比企
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伸一郎 比企
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Abstract

To reduce a change in the internal temperature and to prevent contamination in a high temperature processing device for pretreating an analyte at a protein denaturation temperature.SOLUTION: A rotor 82 includes: a rotary table 84; a plurality of partition walls 88; and an inner peripheral wall 90. A plurality of cuvettes 98 housing a plurality of specimens therein is held by the rotary table 84. A plurality of small rooms 94 is defined by the plurality of partition walls 88. A cover 73 covering the rotor 82 has a plurality of ceiling surfaces 75A corresponding to the plurality of small rooms 94. Each ceiling surface 75A is an inclined surface.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本発明は高温処理装置に関し、特に、検体分析装置において検体を高温で処理する高温処理装置に関する。 The present invention relates to a high temperature processing apparatus, and more particularly to a high temperature processing apparatus that processes a sample at a high temperature in a sample analyzer.

検体分析装置として、免疫測定装置、生化学分析装置等が知られている。検体は、生体から採取された血液、尿、組織等である。以下においては、免疫測定装置について説明する。 Immunoassay devices, biochemical analyzers, and the like are known as sample analyzers. The sample is blood, urine, tissue, etc. collected from a living body. The immunoassay device will be described below.

免疫測定装置は、免疫反応(具体的には抗体抗原反応)を利用して、検体を分析する装置である。免疫測定装置においては、例えば、第1反応処理、第2反応処理、化学発光処理、及び、発光測定が順次実施される。第1反応処理及び第2反応処理では、それぞれ、試薬分注工程、検体分注工程、反応工程、及び、BF(Bound / Free)洗浄工程が順次実施される。化学発光処理では、基質液分注工程、及び、酵素反応工程、が順次実施される。第1反応処理の実施前に、必要に応じて、検体に対して前処理が適用される。 The immunoassay device is a device that analyzes a sample by utilizing an immune reaction (specifically, an antibody-antigen reaction). In the immunoassay device, for example, a first reaction treatment, a second reaction treatment, a chemiluminescence treatment, and a luminescence measurement are sequentially performed. In the first reaction treatment and the second reaction treatment, the reagent dispensing step, the sample dispensing step, the reaction step, and the BF (Bound / Free) washing step are sequentially carried out, respectively. In the chemiluminescence treatment, a substrate liquid dispensing step and an enzyme reaction step are sequentially carried out. Prior to performing the first reaction treatment, the pretreatment is applied to the sample, if necessary.

特許文献1には、検体分析装置に設けられる前処理機構が開示されている。前処理機構は、希釈及び前処理を実施するものである。前処理機構は、リング状に並ぶ複数の希釈ディスクユニットを有する。各希釈ディスクユニットの温度が個別的に管理されている。特許文献1には、検体に対する高温処理は開示されていない。 Patent Document 1 discloses a pretreatment mechanism provided in a sample analyzer. The pretreatment mechanism is to carry out dilution and pretreatment. The pretreatment mechanism has a plurality of dilution disk units arranged in a ring shape. The temperature of each dilution disk unit is controlled individually. Patent Document 1 does not disclose high-temperature treatment of a sample.

特開2011−232212号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-232212

検体分析装置において、高温での検体の前処理、つまりタンパク質を変性させる高い温度での検体の処理(以下、高温処理という。)を行うことが考えられる。高温処理は、例えば、特定の抗体の不活性化や抗原の単分子化を目的とするものである。 In the sample analyzer, it is conceivable to perform pretreatment of the sample at a high temperature, that is, processing of the sample at a high temperature that denatures the protein (hereinafter referred to as high temperature treatment). The high temperature treatment is aimed at, for example, inactivating a specific antibody or monomolecularizing an antigen.

検体分析装置に高温処理部(以下、場合により、高温処理装置ともいう。)を設ける場合、高温処理部での加熱温度の安定化が望まれる。例えば、高温処理部へ検体を投入する場合や高温処理部から検体を取り出す際に、高温処理部の内部の温度の変動を小さくすることが求められる。また、高温処理部においては、不可避的に検体の蒸発が生じることから、コンタミネーション(特に他の検体の混入)を防止することが求められる。 When the sample analyzer is provided with a high temperature processing unit (hereinafter, also referred to as a high temperature processing unit in some cases), it is desired to stabilize the heating temperature in the high temperature processing unit. For example, when the sample is put into the high temperature processing unit or when the sample is taken out from the high temperature processing unit, it is required to reduce the fluctuation of the temperature inside the high temperature processing unit. Further, in the high temperature processing section, since the sample inevitably evaporates, it is required to prevent contamination (particularly, contamination with other samples).

本発明の目的は、内部温度の安定化を図れる高温処理装置を提供することにある。あるいは、本発明の目的は、コンタミネーションを防止できる高温処理装置を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a high temperature processing apparatus capable of stabilizing the internal temperature. Alternatively, an object of the present invention is to provide a high temperature processing apparatus capable of preventing contamination.

本発明に係る高温処理装置は、複数個の検体容器を保持する複数の保持孔を有する保持部材と、前記複数の保持孔に保持された複数の検体容器を加熱することにより、前記複数の検体容器に収容された複数の液体の温度をタンパク質変性温度に引き上げる加熱部と、前記複数の保持孔の上側に存在する空間を、前記複数の保持孔に対応した複数の部分空間に仕切る複数の仕切り壁と、を含むことを特徴とする。 The high-temperature processing apparatus according to the present invention heats a holding member having a plurality of holding holes for holding a plurality of sample containers and a plurality of sample containers held in the plurality of holding holes, thereby causing the plurality of samples. A heating unit that raises the temperature of a plurality of liquids contained in a container to a protein denaturation temperature, and a plurality of partitions that partition a space existing above the plurality of holding holes into a plurality of subspaces corresponding to the plurality of holding holes. It is characterized by including a wall.

本発明によれば、高温処理装置において、内部温度の安定化を図れる。あるいは、本発明によれば、高温処理装置において、コンタミネーションを防止できる。 According to the present invention, the internal temperature can be stabilized in the high temperature processing apparatus. Alternatively, according to the present invention, contamination can be prevented in the high temperature processing apparatus.

実施形態に係る検体分析装置を示す上面図である。It is a top view which shows the sample analyzer which concerns on embodiment. 開状態にある高温処理部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the high temperature processing part in an open state. 閉状態にある高温処理部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the high temperature processing part in a closed state. 高温処理部の内部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the inside of the high temperature processing part. 高温処理部の断面図である。It is sectional drawing of the high temperature processing part. 高温処理部の拡大断面図である。It is an enlarged cross-sectional view of a high temperature processing part. 高温処理部の他の拡大断面図である。It is another enlarged sectional view of the high temperature processing part. 高温処理部の動作例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the operation example of a high temperature processing part.

以下、実施形態を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.

(1)実施形態の概要
実施形態に係る高温処理装置は、保持部材、加熱部、及び、複数の仕切り壁を有する。保持部材は、複数個の検体容器を保持する複数の保持孔を有する。加熱部は、複数の保持孔に保持された複数の検体容器を加熱することにより、複数の検体容器に収容された複数の液体の温度をタンパク質変性温度に引き上げる。複数の仕切り壁は、複数の保持孔の上側に存在する空間を、複数の保持孔に対応した複数の部分空間に仕切るものである。
(1) Outline of the Embodiment The high temperature treatment apparatus according to the embodiment has a holding member, a heating portion, and a plurality of partition walls. The holding member has a plurality of holding holes for holding a plurality of sample containers. The heating unit raises the temperature of the plurality of liquids contained in the plurality of sample containers to the protein denaturation temperature by heating the plurality of sample containers held in the plurality of holding holes. The plurality of partition walls partition the space existing above the plurality of holding holes into a plurality of subspaces corresponding to the plurality of holding holes.

上記構成によれば、保持部材の上側の空間が複数の部分空間に仕切られており、隣接する部分空間の間での気体、液体等の自由な流通が制限されているので、検体容器の出し入れによる内部温度変化を抑制でき、また、コンタミネーションを抑制できる。 According to the above configuration, the space above the holding member is divided into a plurality of subspaces, and the free flow of gas, liquid, etc. between adjacent subspaces is restricted, so that the sample container can be taken in and out. It is possible to suppress the internal temperature change due to the above, and also to suppress the contamination.

具体的に説明する。検体容器の出し入れ時に特定の部分空間が外界と連通する。その際、特定の部分空間の温度が変化しても、特定の部分空間を画定する複数の仕切り壁により、特定の部分空間に隣接する他の部分空間への熱的な影響は小さくなる。一方、高温処理により検体容器内の液体(通常、検体及び前処理薬)が蒸発する。検体容器に栓が設けられていない場合、蒸発で生じた気体が当該検体容器の開口を通じて、その開口を含む特定の部分空間に放出される。特定の部分空間を画定する複数の仕切り壁により、放出された気体が他の部分空間へ自由に移動することは制限される。万が一、高熱処理により検体容器から特定の部分空間へ液体の噴出が生じても、特定の部分空間を画定する複数の仕切り壁により、噴出した液体が他の部分空間へ自由に飛散することはない。 This will be described in detail. A specific subspace communicates with the outside world when the sample container is taken in and out. At that time, even if the temperature of the specific subspace changes, the thermal influence on other subspaces adjacent to the specific subspace becomes small due to the plurality of partition walls defining the specific subspace. On the other hand, the liquid (usually the sample and the pretreatment drug) in the sample container evaporates due to the high temperature treatment. When the sample container is not provided with a stopper, the gas generated by evaporation is released through the opening of the sample container to a specific subspace including the opening. Multiple partition walls that demarcate a particular subspace limit the free movement of the released gas into other subspaces. In the unlikely event that liquid is ejected from the sample container to a specific subspace due to high heat treatment, the ejected liquid will not freely scatter to other subspaces due to the multiple partition walls that define the specific subspace. ..

実施形態においては、個々の部分空間が準密閉空間とされる。例えば、検体容器の出し入れ時を除き、部分空間の表面の例えば90%以上又は95%以上が常時、壁によって囲まれている場合、その空間は準密閉空間であるといえる。個々の部分空間を密閉空間として構成してもよい。隣接する部分空間の間に生じる隙間にパッキン等が設けられてもよい。 In the embodiment, each subspace is a semi-enclosed space. For example, when, for example, 90% or more or 95% or more of the surface of a subspace is always surrounded by a wall except when the sample container is taken in and out, the space can be said to be a semi-enclosed space. Each subspace may be configured as a closed space. Packing or the like may be provided in the gap generated between the adjacent subspaces.

個々の部分空間に臨む壁面においては結露が生じ得る。実施形態においては、結露により生じた結露水の排出を促す構造や設備が設けられている。実施形態においては、各部分空間に臨む面の全部又は一部に結露水の移動を促す加工又は処理が施されている。結露水の移動を促す加工又は処理の概念には、撥水作用や排水促進作用をもたらす加工や処理が含まれ、具体的には、凹凸形成、溝形成、膜形成、化学的処理、等が含まれる。タンパク質変性温度は、一般に、60℃以上である。実施形態においては、各検体の温度が、例えば、80〜98℃の範囲内の所定温度まで引き上げられる。 Condensation can occur on the walls facing the individual subspaces. In the embodiment, a structure or equipment for promoting the discharge of dew condensation water generated by dew condensation is provided. In the embodiment, all or a part of the surface facing each subspace is processed or treated to promote the movement of condensed water. The concept of processing or treatment that promotes the movement of condensed water includes processing or treatment that brings about water-repellent action or drainage promoting action, and specifically includes unevenness formation, groove formation, film formation, chemical treatment, and the like. included. The protein denaturation temperature is generally 60 ° C. or higher. In the embodiment, the temperature of each sample is raised to a predetermined temperature in the range of, for example, 80-98 ° C.

実施形態において、保持部材は回転テーブルである。複数の仕切り壁は回転テーブル上において放射状に配列されている。回転テーブルを利用することにより、検体容器の出し入れを行う位置を固定することが可能となる。保持部材の概念には、固定設置されたテーブル、二次元運動するテーブル等が含まれ得る。 In the embodiment, the holding member is a rotary table. The plurality of partition walls are arranged radially on the turntable. By using the rotary table, it is possible to fix the position where the sample container is taken in and out. The concept of a holding member may include a fixedly installed table, a table that moves in two dimensions, and the like.

実施形態においては、高温処理装置が、内周壁、外周壁及び天井壁を含む。内周壁は、回転テーブル上において複数の部分空間の径方向内側に設けられており、内周壁には複数の仕切り壁が連結されている。外周壁は、複数の部分空間の径方向外側に設けられている。天井壁は、複数の部分空間を覆うものである。この構成によれば、個々の部分空間が回転テーブル、内周壁、外周壁及び天井壁によって囲まれる。 In embodiments, the high temperature treatment apparatus includes an inner peripheral wall, an outer peripheral wall and a ceiling wall. The inner peripheral wall is provided on the rotary table in the radial direction of a plurality of subspaces, and a plurality of partition walls are connected to the inner peripheral wall. The outer peripheral wall is provided on the radial outer side of the plurality of subspaces. The ceiling wall covers a plurality of subspaces. According to this configuration, individual subspaces are surrounded by a turntable, an inner peripheral wall, an outer peripheral wall and a ceiling wall.

実施形態においては、高温処理装置が、回転テーブルを覆う非回転部材としてのカバーを含む。カバーが外周壁及び天井壁を備える。この構成によれば、回転テーブルを含む回転体の構成を簡易化して回転テーブルの駆動源を小型化できる。もっとも、カバーを回転体の一部として構成してもよい。その場合、個々の部分空間の密閉度を上げられる。 In an embodiment, the high temperature processing apparatus includes a cover as a non-rotating member covering the rotary table. The cover comprises an outer wall and a ceiling wall. According to this configuration, the configuration of the rotating body including the rotary table can be simplified and the drive source of the rotary table can be miniaturized. However, the cover may be configured as a part of the rotating body. In that case, the degree of sealing of each subspace can be increased.

実施形態において、天井壁は、複数の部分空間を覆う複数の天井面を含む。各天井面は傾斜面である。この構成によれば、天井面において蒸発した気体が結露し、結露水が生じた場合、結露水の移動を促せる。結露水の不用意な滴下を防止又は軽減できる。 In an embodiment, the ceiling wall includes a plurality of ceiling surfaces covering a plurality of subspaces. Each ceiling surface is an inclined surface. According to this configuration, when the vaporized gas condenses on the ceiling surface and dew condensation water is generated, the movement of the dew condensation water can be promoted. It is possible to prevent or reduce the careless dripping of condensed water.

実施形態において、各天井面における径方向内側の高さよりも、各天井面における径方向外側の高さの方が低い。実施形態において、複数の天井面は外周壁の壁面に連なっている。外周壁の壁面の直下には壁面から滴下する結露水を捕集する溝が設けられている。この構成によれば、天井面及び外周壁の壁面で生じた結露水が溝に集められ、その溝を通じて外部へ排出される。 In the embodiment, the radial outer height of each ceiling surface is lower than the radial inner height of each ceiling surface. In the embodiment, the plurality of ceiling surfaces are continuous with the wall surface of the outer peripheral wall. Immediately below the wall surface of the outer peripheral wall, a groove is provided to collect the condensed water dripping from the wall surface. According to this configuration, the condensed water generated on the ceiling surface and the wall surface of the outer peripheral wall is collected in the groove and discharged to the outside through the groove.

実施形態において、天井壁は、高温処理前及び高温処理後の検体容器を通過させる開口を有する。開口を開閉するシャッタ部材が設けられている。シャッタ部材により開口を閉状態にすれば、内部温度の変化を防止又は低減でき、また、開口を通じた異物進入を防止できる。部分空間ごとにシャッタ部材を設けてもよい。 In the embodiment, the ceiling wall has an opening through which the sample container before and after the high temperature treatment is passed. A shutter member that opens and closes the opening is provided. If the opening is closed by the shutter member, the change in the internal temperature can be prevented or reduced, and foreign matter can be prevented from entering through the opening. A shutter member may be provided for each subspace.

実施形態において、シャッタ部材は下面を有する。下面は傾斜面である。この構成によれば、下面に結露水が生じてもその移動、排出を促せる。結果として、結露水の滴下を防止できる。 In an embodiment, the shutter member has a lower surface. The lower surface is an inclined surface. According to this configuration, even if dew condensation water is generated on the lower surface, its movement and discharge can be promoted. As a result, dripping of condensed water can be prevented.

(2)実施形態の詳細
図1には、実施形態に係る免疫測定装置が示されている。免疫測定装置は、検体分析装置の一種であり、具体的には、化学発光酵素免疫測定法(CLEIA:Chemiluminescent Enzyme Immunoassay)に従う全自動免疫測定装置である。
(2) Details of the Embodiment FIG. 1 shows an immunoassay device according to the embodiment. The immunoassay is a kind of sample analyzer, and specifically, it is a fully automatic immunoassay according to chemiluminescent enzyme immunoassay (CLEIA).

実施形態に係る免疫測定装置は、後に詳述するように、前処理用の試薬を用いつつ高温で検体を前処理する機能(高温処理機能)を備えている。前処理として様々な処理を挙げることができる。その中には、検体中のタンパク質に作用する処理が含まれ、また、検体中の複合体に乖離を生じさせる処理が含まれる。具体例を挙げると、例えば、HBV(B型肝炎ウイルス)抗原に対する抗体の不活性化や抗原の単分子化等の目的で高温処理が実施される。高温処理の条件にも依るが、高温処理により、感度を飛躍的に向上し得る。様々な抗体や様々な抗原が高温処理対象になり得る。 The immunoassay apparatus according to the embodiment has a function of pretreating a sample at a high temperature (high temperature treatment function) while using a reagent for pretreatment, as will be described in detail later. Various processes can be mentioned as pre-processes. This includes a process that acts on the protein in the sample, and also includes a process that causes the complex in the sample to dissociate. To give a specific example, for example, high-temperature treatment is carried out for the purpose of inactivating an antibody against an HBV (hepatitis B virus) antigen, making the antigen monomolecular, or the like. Although it depends on the conditions of high temperature treatment, the sensitivity can be dramatically improved by high temperature treatment. Various antibodies and various antigens can be subject to high temperature treatment.

図1において、装置本体12の上面には、検体ラック供給部14、検体ラック排出部16、搬送路20、搬送路22等が設けられている。検体ラック供給部14上に複数の検体ラック18が載置される。個々の検体ラック18により複数の検体(正確には検体を収容した検体容器)が保持されている。各検体は、生体から採取された血液(血清又は血漿)、尿等である。検体ラック供給部14から搬送路20へ個々の検体ラック18が送り込まれる。送り込まれた各検体ラック18が搬送路20によって搬送される。 In FIG. 1, a sample rack supply unit 14, a sample rack discharge unit 16, a transport path 20, a transport path 22, and the like are provided on the upper surface of the apparatus main body 12. A plurality of sample racks 18 are placed on the sample rack supply unit 14. A plurality of samples (to be exact, a sample container containing the samples) are held by the individual sample racks 18. Each sample is blood (serum or plasma), urine, etc. collected from a living body. Individual sample racks 18 are sent from the sample rack supply unit 14 to the transport path 20. Each of the fed sample racks 18 is transported by the transport path 20.

搬送路20の途中には、図示されていないバーコードラベルリーダー(BCR)が設けられている。BCRにより、各検体に貼付されたバーコードラベルの内容つまりバーコードが光学的に読み取られる。これにより、検体ごとに、1つ又は複数の分析項目が特定される。図1において、符号18Aは、検体吸引ポジションに位置決められた検体ラックを示している。 A barcode label reader (BCR) (not shown) is provided in the middle of the transport path 20. The BCR optically reads the contents of the barcode label attached to each sample, that is, the barcode. Thereby, one or a plurality of analysis items are specified for each sample. In FIG. 1, reference numeral 18A indicates a sample rack positioned in the sample suction position.

搬送路20は送り搬送路であり、搬送路22は戻し搬送路である。それらの搬送路20,22は、それぞれベルトコンベアにより構成される。搬送路20,22の間には、横送り機構24が設けられている。搬送路22から検体ラック排出部16へ検体ラックが送り出される。検体ラック排出部16上には、分析後の複数の検体ラックが蓄積される。 The transport path 20 is a feed transport path, and the transport path 22 is a return transport path. The transport paths 20 and 22 are each composed of a belt conveyor. A lateral feed mechanism 24 is provided between the transport paths 20 and 22. The sample rack is sent out from the transport path 22 to the sample rack discharge unit 16. A plurality of sample racks after analysis are accumulated on the sample rack discharge unit 16.

装置本体12には、反応処理部26、キュベット供給部32、第1試薬保冷庫34、第2試薬保冷庫36、前処理部37、及び、測定部44が設けられている。 The apparatus main body 12 is provided with a reaction processing unit 26, a cuvette supply unit 32, a first reagent cold storage 34, a second reagent cold storage 36, a pretreatment unit 37, and a measuring unit 44.

反応処理部26は、回転テーブルを有する。回転テーブルには、図示の例では、リング状の第1孔列28及びリング状の第2孔列30が設けられており、それらは同心円状に配置されている。第1孔列28は、リング状に並んだ複数の保持孔により構成され、第2孔列30も、リング状に並んだ複数の保持孔により構成される。個々の保持孔には、検体容器であるキュベットが差し込まれる(符号50を参照)。第1孔列28及び第2孔列30は、互いに独立して回転運動する。反応処理部26においては、例えば、検体分注、試薬分注、基質液分注、BF洗浄(BF分離)、酵素処理、攪拌、等が実行される。符号52は検体分注を示している。反応処理部26は、恒温機能を備えており、各検体の温度を例えば37℃に維持する。 The reaction processing unit 26 has a rotary table. In the illustrated example, the rotary table is provided with a ring-shaped first hole row 28 and a ring-shaped second hole row 30, which are arranged concentrically. The first hole row 28 is composed of a plurality of holding holes arranged in a ring shape, and the second hole row 30 is also composed of a plurality of holding holes arranged in a ring shape. A cuvette, which is a sample container, is inserted into each holding hole (see reference numeral 50). The first hole row 28 and the second hole row 30 rotate independently of each other. In the reaction processing unit 26, for example, sample dispensing, reagent dispensing, substrate liquid dispensing, BF washing (BF separation), enzyme treatment, stirring, and the like are executed. Reference numeral 52 indicates sample dispensing. The reaction processing unit 26 has a constant temperature function, and maintains the temperature of each sample at, for example, 37 ° C.

前処理部37においては、前処理が実施される。分析対象となった検体群の内で、前処理の実施が指定されている検体が前処理対象となる。前処理部37は、図示の構成例では、高温処理部38、低温処理部40、及び、撹拌部42を有する。図1においては、前処理部37が反応処理部26の左側に設けられているが、それが他の位置に設けられてもよい。 In the pretreatment unit 37, pretreatment is performed. Among the sample group to be analyzed, the sample for which the pretreatment is specified is the pretreatment target. In the illustrated configuration example, the pretreatment section 37 includes a high temperature treatment section 38, a low temperature treatment section 40, and a stirring section 42. In FIG. 1, the pretreatment unit 37 is provided on the left side of the reaction processing unit 26, but it may be provided at another position.

高温処理部38は、前処理液を用いて検体に対して高温処理を実施するものである。高温処理では、検体の温度が、タンパク質変性温度に引き上げられる。タンパク質変性温度は60℃以上である。実施形態においては、検体の温度が80〜98℃の範囲内における指定温度まで引き上げられ、その温度が、指定された処理時間にわたって維持される。例えば、1〜5分の範囲内において高温処理時間が指定される。高温処理での温度も指定される。高温処理部38は、複数のキュベットを保持する複数の保持孔を有する。高温処理部38の構造及び動作については後に詳述する。 The high temperature treatment unit 38 performs high temperature treatment on the sample using the pretreatment liquid. In the high temperature treatment, the temperature of the sample is raised to the protein denaturation temperature. The protein denaturation temperature is 60 ° C. or higher. In an embodiment, the temperature of the specimen is raised to a designated temperature within the range of 80-98 ° C., which temperature is maintained for a designated processing time. For example, the high temperature processing time is specified within the range of 1 to 5 minutes. The temperature for high temperature processing is also specified. The high temperature processing unit 38 has a plurality of holding holes for holding a plurality of cuvettes. The structure and operation of the high temperature processing unit 38 will be described in detail later.

低温処理部40は、高温処理後の検体を冷却するためのものである。低温処理部40は、例えば、10〜30℃の範囲内において指定された温度を有する冷却部材を備える。その冷却部材を媒介として各検体が冷却される。低温処理の時間は、例えば、1〜2分の範囲内において指定される。高温処理後の低温処理が省略されてもよい。低温処理部40は、複数のキュベットを保持する複数の保持孔を有する。 The low temperature treatment unit 40 is for cooling the sample after the high temperature treatment. The low temperature processing unit 40 includes, for example, a cooling member having a specified temperature within the range of 10 to 30 ° C. Each sample is cooled through the cooling member. The time of the low temperature treatment is specified, for example, in the range of 1 to 2 minutes. The low temperature treatment after the high temperature treatment may be omitted. The low temperature treatment unit 40 has a plurality of holding holes for holding a plurality of cuvettes.

撹拌部42は、キュベット内の液体(検体及び前処理液)の撹拌を行うものである。例えば、キュベットに対して振動を与え、又は、キュベットに運動を行わせることにより、キュベット内の液体が撹拌される。高温処理前、高温処理後、及び、低温処理後において、必要に応じて、撹拌が実施される。図示の例では、撹拌部42は、複数のキュベットを保持する複数の保持孔を有している。 The stirring unit 42 stirs the liquid (sample and pretreatment liquid) in the cuvette. For example, the liquid in the cuvette is agitated by vibrating the cuvette or causing the cuvette to move. If necessary, stirring is performed before the high temperature treatment, after the high temperature treatment, and after the low temperature treatment. In the illustrated example, the stirring unit 42 has a plurality of holding holes for holding a plurality of cuvettes.

図1においては、反応処理部26から撹拌部42へのキュベットの移送が符号58で示されている。撹拌部42から高温処理部38へのキュベットの移送が符号60で示されている。高温処理部38から撹拌部42へのキュベットの移送が符号62で示されている。撹拌部42から低温処理部40へのキュベットの移送が符号64で示されている。低温処理部40から反応処理部26へのキュベットの移送が符号66で示されている。図示された移送経路は例示である。 In FIG. 1, the transfer of the cuvette from the reaction processing unit 26 to the stirring unit 42 is indicated by reference numeral 58. The transfer of the cuvette from the stirring unit 42 to the high temperature processing unit 38 is indicated by reference numeral 60. The transfer of the cuvette from the high temperature processing unit 38 to the stirring unit 42 is indicated by reference numeral 62. The transfer of the cuvette from the stirring unit 42 to the low temperature processing unit 40 is indicated by reference numeral 64. The transfer of the cuvette from the low temperature processing unit 40 to the reaction processing unit 26 is indicated by reference numeral 66. The illustrated transfer route is exemplary.

第1試薬保冷庫34は、恒温槽として構成されており、その内部には、複数の試薬を収容する複数の試薬ボトルが設けられている。複数の試薬は、それぞれ、抗体又は抗原が結合した磁性粒子を含む試薬である。それらの試薬は免疫反応処理で使用されるものである。試薬分注が符号54で示されている。 The first reagent cool box 34 is configured as a constant temperature bath, and a plurality of reagent bottles for accommodating a plurality of reagents are provided inside the first reagent cool box 34. Each of the plurality of reagents is a reagent containing magnetic particles to which an antibody or an antigen is bound. These reagents are those used in immune response processing. Reagent dispensing is indicated by reference numeral 54.

第2試薬保冷庫36は、第1試薬保冷庫34と同様に、恒温槽として構成されており、その内部には、複数の試薬を収容した複数の試薬ボトルが設けられている。それらの複数の試薬には、免疫反応処理で使用される試薬、前処理で使用される試薬、酵素反応処理で使用される試薬、等が含まれ得る。試薬分注が符号56で示されている。 Like the first reagent cool box 34, the second reagent cool box 36 is configured as a constant temperature bath, and a plurality of reagent bottles containing a plurality of reagents are provided inside the second reagent cool box 36. The plurality of reagents may include reagents used in an immune reaction treatment, reagents used in a pretreatment, reagents used in an enzymatic reaction treatment, and the like. Reagent dispensing is indicated by reference numeral 56.

測定部44は、酵素反応処理後の検体中で生じる光を測定するユニットである。事前に作成される検量線に基づいて、発光量から分析対象物質の濃度が演算される。符号68は、反応処理部26から測定部44へのキュベットの移送を示している。 The measuring unit 44 is a unit that measures the light generated in the sample after the enzyme reaction treatment. The concentration of the substance to be analyzed is calculated from the amount of light emitted based on the calibration curve created in advance. Reference numeral 68 indicates the transfer of the cuvette from the reaction processing unit 26 to the measuring unit 44.

なお、図1においては、キュベット移送機構や分注機構の図示が省略されており、また、反応処理部26に設けられたBF洗浄機構及び撹拌機構の図示が省略されている。図1においては、複数の回転テーブルが示されているが、それらの一部を統合してもよいし、更に、回転テーブルを増やしてもよい。図1に示されている各構成要素の動作は、図示されていない制御部により制御される。制御部は、プロセッサ、具体的には、プログラムに従って動作するCPU、を備える。 In FIG. 1, the cuvette transfer mechanism and the dispensing mechanism are omitted, and the BF cleaning mechanism and the stirring mechanism provided in the reaction processing unit 26 are omitted. Although a plurality of turntables are shown in FIG. 1, some of them may be integrated or the number of turntables may be increased. The operation of each component shown in FIG. 1 is controlled by a control unit (not shown). The control unit includes a processor, specifically, a CPU that operates according to a program.

図2及び図3には高温処理部38の外観が示されている。高温処理部38は高温処理装置として機能するものである。図2において、高温処理部38は、ハウジング70を有する。ハウジング70は、内部に設けられている回転体、カバー73及びヒーターブロックを包み込む部材であり、それは下部71及び上部72により構成される。ハウジング70は断熱部材により構成される。断熱部材により外界への熱流出が制限され、ハウジング70内の温度が維持される。ハウジング70内に又はその表面に、外部への輻射を防止するためのシールド層を設けてもよい。ハウジング70に真空断熱層を形成してもよい。 2 and 3 show the appearance of the high temperature processing unit 38. The high temperature processing unit 38 functions as a high temperature processing device. In FIG. 2, the high temperature processing unit 38 has a housing 70. The housing 70 is a member that encloses a rotating body, a cover 73, and a heater block provided inside, and is composed of a lower portion 71 and an upper portion 72. The housing 70 is composed of a heat insulating member. The heat insulating member limits the outflow of heat to the outside world and maintains the temperature inside the housing 70. A shield layer may be provided in or on the surface of the housing 70 to prevent radiation to the outside. A vacuum insulation layer may be formed on the housing 70.

ハウジング70の上部にシャッタ機構76が設けられている。シャッタ機構76は、カバー73に形成された開口78を開閉する機構である。図2においては、閉状態にあるシャッタ機構76が示されている。上部72には、径方向に伸長したスリット77が形成されている。シャッタ機構76は、スリット77内を運動するシャッタ部材80及びそれを駆動して運動させるアクチュエータを有する。アクチュエータの図示が省略されている。 A shutter mechanism 76 is provided on the upper part of the housing 70. The shutter mechanism 76 is a mechanism for opening and closing the opening 78 formed in the cover 73. In FIG. 2, the shutter mechanism 76 in the closed state is shown. A slit 77 extending in the radial direction is formed in the upper portion 72. The shutter mechanism 76 includes a shutter member 80 that moves in the slit 77 and an actuator that drives and moves the shutter member 80. The actuator is not shown.

開口78は、マニピュレータによってキュベットを出し入れする際に通路として機能する。その際には、開口78内を、キュベットを掴んだマニピュレータが通過する。シャッタ部材80が径方向外側の端に位置している場合、開口78が閉止され、開口78を通じた気体の流通が制限される。シャッタ部材80が径方向の内側の端に位置している場合、開口78が開放される(図3を参照)。その開状態でキュベットが出し入れされる。開口78は、特定の方位に形成されている。 The opening 78 functions as a passage when the cuvette is taken in and out by the manipulator. At that time, the manipulator holding the cuvette passes through the opening 78. When the shutter member 80 is located at the radial outer end, the opening 78 is closed and the flow of gas through the opening 78 is restricted. When the shutter member 80 is located at the inner end in the radial direction, the opening 78 is opened (see FIG. 3). The cuvette is put in and out in the open state. The opening 78 is formed in a specific direction.

マニピュレータの運動力を利用してシャッタ部材80を運動させてもよい。図示されたスライド方式に代えて、回転方式が採用されてもよい。後述する複数の小部屋に対応する複数のシャッタ機構を設けてもよい。 The shutter member 80 may be moved by utilizing the kinetic force of the manipulator. Instead of the illustrated slide method, a rotation method may be adopted. A plurality of shutter mechanisms corresponding to a plurality of small rooms described later may be provided.

図4には、高温処理部の内部構造が示されている。高温処理部は、回転体82を有する。下部71の内部には、回転体82を駆動するモータを含む駆動機構が設けられている。 FIG. 4 shows the internal structure of the high temperature processing unit. The high temperature processing unit has a rotating body 82. Inside the lower portion 71, a drive mechanism including a motor for driving the rotating body 82 is provided.

回転体82は、回転テーブル84、仕切り構造86、及び、内周壁90を有する。回転体82は、高温に耐え得る材料で構成され、具体的には、金属、樹脂、セラミック等により構成される。 The rotating body 82 has a rotating table 84, a partition structure 86, and an inner peripheral wall 90. The rotating body 82 is made of a material that can withstand high temperatures, and specifically, is made of metal, resin, ceramic, or the like.

回転テーブル84は、回転運動する円板である。回転テーブル84には、環状に並ぶ複数の保持孔96が形成されている。それらの保持孔96には、複数のキュベット98が挿入される。各キュベット98の保持状態においては、その頭部のみが回転テーブル84上に現れる。各キュベット98の本体は、回転テーブル84の下方に位置する。 The rotary table 84 is a rotating disk. A plurality of holding holes 96 arranged in an annular shape are formed in the rotary table 84. A plurality of cuvettes 98 are inserted into the holding holes 96. In the holding state of each cuvette 98, only its head appears on the turntable 84. The body of each cuvette 98 is located below the turntable 84.

仕切り構造86は、回転テーブル84上において径方向に沿って放射状に設置された複数の仕切り壁88により構成される。複数の仕切り壁88の径方向内側の端部は内周壁90に連結されている。 The partition structure 86 is composed of a plurality of partition walls 88 arranged radially along the radial direction on the rotary table 84. The radial inner ends of the plurality of partition walls 88 are connected to the inner peripheral wall 90.

回転テーブル84の上側の空間が複数の仕切り壁88により複数の小部屋(複数の部分空間)94に均等に分割されている。内周壁90は円筒状の起立壁である。各仕切り壁88は平板状の起立壁である。各仕切り壁88の上面は、径方向内側から径方向外側へ傾斜している。各仕切り壁88の形状は、円周方向から見て台形である。各仕切り壁88の径方向外側の端面は、回転テーブル84の円筒面状の端面に揃っている。各小部屋94の底面中央に保持孔96が形成されている。 The space above the rotary table 84 is evenly divided into a plurality of small rooms (plurality of subspaces) 94 by a plurality of partition walls 88. The inner peripheral wall 90 is a cylindrical upright wall. Each partition wall 88 is a flat plate-shaped upright wall. The upper surface of each partition wall 88 is inclined from the inside in the radial direction to the outside in the radial direction. The shape of each partition wall 88 is trapezoidal when viewed from the circumferential direction. The radial outer end faces of the partition walls 88 are aligned with the cylindrical end faces of the rotary table 84. A holding hole 96 is formed in the center of the bottom surface of each small room 94.

回転体82において複数の小部屋94に臨む各面に対しては結露水の排出を促すための加工又は処理が施される。例えば、撥水のための表面加工、撥水作用を有する膜の形成、等が実施される。表面加工として多数の溝、微細な凹凸等が形成されてもよい。膜の形成として撥水効果をもつ化学物質による塗膜が形成されてもよい。回転テーブル84の上面を傾斜面としてもよい。 Each surface of the rotating body 82 facing the plurality of small chambers 94 is processed or treated to promote the discharge of condensed water. For example, surface processing for water repellency, formation of a film having a water repellent action, and the like are carried out. As surface processing, a large number of grooves, fine irregularities and the like may be formed. As the film formation, a coating film made of a chemical substance having a water-repellent effect may be formed. The upper surface of the rotary table 84 may be an inclined surface.

図5には、高温処理部の断面が示されている。ハウジングを構成する下部71及び上部72の内部に、回転体82、カバー73、加熱ブロック100等が設けられている。回転体82は、上記のように、回転テーブル84、複数の仕切り壁88、及び、内周壁90を有する。それらの部材が一体化されてもよい。1つの保持孔96当たり1つの小部屋94が形成されている。 FIG. 5 shows a cross section of the high temperature processing section. A rotating body 82, a cover 73, a heating block 100, and the like are provided inside the lower portion 71 and the upper portion 72 that constitute the housing. As described above, the rotating body 82 has a rotating table 84, a plurality of partition walls 88, and an inner peripheral wall 90. Those members may be integrated. One small chamber 94 is formed per one holding hole 96.

カバー73により回転体82が覆われている。カバー73は、カバー本体74及び天井壁75により構成されている。カバー本体74は、一端側(上側)が閉じられ他端側(下側)が開放された円筒状の形態を有する。具体的には、カバー本体74は、円形の上壁74Aと筒状の外周壁74Bとにより構成される。 The rotating body 82 is covered with the cover 73. The cover 73 is composed of a cover main body 74 and a ceiling wall 75. The cover body 74 has a cylindrical shape in which one end side (upper side) is closed and the other end side (lower side) is open. Specifically, the cover main body 74 is composed of a circular upper wall 74A and a cylindrical outer peripheral wall 74B.

複数の小部屋94の上側に環状の天井壁75が設けられている。天井壁75は、上壁74A及び外周壁74Bに固定されている。カバー73は、耐熱性を有する部材で構成され、例えば、金属、樹脂、セラミック等により構成され得る。カバー73において複数の小部屋94に臨む各面には、上記のように、結露水の排出を促すための加工又は処理が施されている。 An annular ceiling wall 75 is provided above the plurality of small rooms 94. The ceiling wall 75 is fixed to the upper wall 74A and the outer peripheral wall 74B. The cover 73 is made of a heat-resistant member, and may be made of, for example, metal, resin, ceramic, or the like. As described above, each surface of the cover 73 facing the plurality of small rooms 94 is processed or treated to promote the discharge of condensed water.

天井壁75は円周方向から見てくさび形の断面を有する。天井壁75は、複数の小部屋94に臨む複数の天井面75Aを有する。各天井面75Aは傾斜面である。各天井面75Aにおける径方向内側の高さよりも、その径方向外側の高さの方が小さい。これにより、各天井面75Aにおいて生じた結露水の径方向外側への移動が促される。 The ceiling wall 75 has a wedge-shaped cross section when viewed from the circumferential direction. The ceiling wall 75 has a plurality of ceiling surfaces 75A facing the plurality of small rooms 94. Each ceiling surface 75A is an inclined surface. The radial outer height of each ceiling surface 75A is smaller than the radial inner height. As a result, the dew condensation water generated on each ceiling surface 75A is promoted to move outward in the radial direction.

外周壁74Bにおける複数の小部屋94に臨む壁面は、回転体82の端面(回転テーブル84の端面及び複数の仕切り壁88の端面)に対して、若干の隙間を介して、近接対向している。傾斜した天井面75Aから外周壁74Bの壁面へ移動した結露水は、壁面に沿って下方に運動し、上記の隙間を経て、下方へ流れる。 The wall surface of the outer peripheral wall 74B facing the plurality of small rooms 94 is close to the end face of the rotating body 82 (the end face of the rotary table 84 and the end face of the plurality of partition walls 88) with a slight gap. .. The condensed water that has moved from the inclined ceiling surface 75A to the wall surface of the outer peripheral wall 74B moves downward along the wall surface and flows downward through the above-mentioned gap.

シャッタ部材80の下面80Aは傾斜面である。下面80Aにおける径方向内側の高さよりも、下面80Aにおける径方向外側の高さの方が大きい。勾配方向を逆転させてもよいし、径方向に直交する方向を勾配方向としてもよい。上壁74Aには開口78が形成されている。天井壁75には、開口78と重合関係をもって、開口75Bが形成されている。開口78及び開口75Bは、それぞれ、キュベットを掴んだマニピュレータが通過する通路である。 The lower surface 80A of the shutter member 80 is an inclined surface. The radial outer height of the lower surface 80A is larger than the radial inner height of the lower surface 80A. The gradient direction may be reversed, or the direction orthogonal to the radial direction may be the gradient direction. An opening 78 is formed in the upper wall 74A. An opening 75B is formed in the ceiling wall 75 in a polymerization relationship with the opening 78. The opening 78 and the opening 75B are passages through which the manipulator holding the cuvette passes, respectively.

加熱ブロック100は、アルミニウムや銅等の金属で構成され、それは図示されていないヒーターを備えている。加熱ブロック100には、環状の溝102が形成されている。複数の保持孔96に保持された円形で並ぶ複数のキュベット98が溝102の中に差し込まれる。加熱ブロック100の作用により、各キュベット98の液体の温度が所定の温度まで引き上げられる。これにより検体に対する高温処理が実施される。なお、回転体82は、1サイクルタイムごとに1ステップ回転する。1サイクルタイムは例えば15〜20秒の範囲内である。回転体82に対してカバー73を連結して両者を一体化させてもよい。すなわち、回転体82と共にカバー73を回転させてもよい。 The heating block 100 is made of a metal such as aluminum or copper, which includes a heater (not shown). An annular groove 102 is formed in the heating block 100. A plurality of circular cuvettes 98 held in the plurality of holding holes 96 are inserted into the groove 102. By the action of the heating block 100, the temperature of the liquid of each cuvette 98 is raised to a predetermined temperature. As a result, the sample is subjected to high temperature treatment. The rotating body 82 rotates one step every cycle time. One cycle time is, for example, in the range of 15 to 20 seconds. The cover 73 may be connected to the rotating body 82 to integrate the two. That is, the cover 73 may be rotated together with the rotating body 82.

図6は、図5においてVIで示す部分の拡大断面図である。上壁74Aの上をシャッタ部材80がスライド運動する。シャッタ部材80の下面80Aは上記のように傾斜面である。シャッタ部材80の内部空間に臨む壁面80Cは、シャッタ機構の閉状態において、すなわち開口78をシャッタ部材80が完全に覆った状態において、符号106で示す地点に位置する。その位置には、壁面80Cから滴下する結露水を捕集する溝108が形成されている。シャッタ部材80の内部空間に臨む壁面80Bは、シャッタ機構の閉状態において符号104で示す地点に位置する。その位置には、壁面80Bから滴下する結露水を捕集する溝110が形成されている。溝108,110に捕集された結露水を外部へ排出する機構が設けられているが、その図示は省略されている。 FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view of a portion shown by VI in FIG. The shutter member 80 slides on the upper wall 74A. The lower surface 80A of the shutter member 80 is an inclined surface as described above. The wall surface 80C facing the internal space of the shutter member 80 is located at the point indicated by reference numeral 106 in the closed state of the shutter mechanism, that is, in the state where the shutter member 80 completely covers the opening 78. At that position, a groove 108 is formed to collect the dew condensation water dripping from the wall surface 80C. The wall surface 80B facing the internal space of the shutter member 80 is located at a point indicated by reference numeral 104 in the closed state of the shutter mechanism. At that position, a groove 110 for collecting the condensed water dripping from the wall surface 80B is formed. A mechanism for discharging the condensed water collected in the grooves 108 and 110 to the outside is provided, but the illustration thereof is omitted.

図7は、図5においてVIIで示す部分の拡大断面図である。天井面75Aの下端が壁面75Cに連絡している。天井面75Aの上端は、内周壁の上端に近接している。内周壁の壁面が符号75Dで示されている。外周壁の壁面75Cの直下には、壁面75Cから滴下する結露水を捕集する環状の溝112が形成されている。溝112に入った結露水は、排水経路114を介して外部に排出される。その際には図示されていない排出用ポンプが動作する。 FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view of a portion shown by VII in FIG. The lower end of the ceiling surface 75A is in contact with the wall surface 75C. The upper end of the ceiling surface 75A is close to the upper end of the inner peripheral wall. The wall surface of the inner peripheral wall is indicated by reference numeral 75D. Immediately below the wall surface 75C of the outer peripheral wall, an annular groove 112 for collecting dew condensation water dripping from the wall surface 75C is formed. The condensed water that has entered the groove 112 is discharged to the outside through the drainage path 114. At that time, a discharge pump (not shown) operates.

内周壁とカバーとの間の隙間、及び、複数の仕切り壁の上面とカバーとの間の隙間は、非常に小さく、それらの隙間を介した気体流通は僅かである。それらの隙間にパッキンを設けるようにしてもよい。内周壁の壁面や回転テーブルの上面に付着した結露水の排出を促進する構造を付加するようにしてもよい。 The gap between the inner peripheral wall and the cover and the gap between the upper surface of the plurality of partition walls and the cover are very small, and the gas flow through these gaps is small. Packing may be provided in those gaps. A structure that promotes the discharge of condensed water adhering to the wall surface of the inner peripheral wall or the upper surface of the rotary table may be added.

図8には、高温処理部の動作が例示されている。S10では、取り出し対象となるキュベットの有無が判断される。キュベットの取り出しが必要な場合、S12以降の工程が実行され、キュベットの取り出しが不要な場合、S20以降の工程が実行される。S12では、シャッタ機構が開動作し、開口を露出した状態が形成される。S14では、その開口を通じて、開口直下の小部屋からキュベットが取り出され、そのキュベットが搬送先へ搬送される。その後、S16において、シャッタ機構が閉動作する。S18では、回転体が1ステップ回転運動する。 FIG. 8 illustrates the operation of the high temperature processing unit. In S10, it is determined whether or not there is a cuvette to be taken out. If the cuvette needs to be taken out, the steps after S12 are executed, and if the cuvette does not need to be taken out, the steps after S20 are executed. In S12, the shutter mechanism is opened to form a state in which the opening is exposed. In S14, the cuvette is taken out from the small room immediately below the opening through the opening, and the cuvette is transported to the transport destination. After that, in S16, the shutter mechanism closes. In S18, the rotating body rotates one step.

S20では、本処理を終了させるか否かが判定される。本処理を終了させない場合、S22において、取り込み対象となるキュベットの有無が判定される。キュベットの取り込みが必要な場合、S24以降の工程が実行され、キュベットの取り込みが不要な場合、S30が実行される。S24では、シャッタ機構が開動作する。これにより露出した開口を利用して、S26において、キュベットが開口直下の保持孔へ差し込まれる。その後、S28で、シャッタ機構が閉動作する。 In S20, it is determined whether or not to end this process. If this process is not terminated, the presence or absence of a cuvette to be incorporated is determined in S22. When the cuvette uptake is required, the steps after S24 are executed, and when the cuvette uptake is not required, S30 is executed. In S24, the shutter mechanism opens. Using the exposed opening, the cuvette is inserted into the holding hole immediately below the opening in S26. After that, in S28, the shutter mechanism closes.

S30では、必要な排水が実施され、また、次のサイクルまで待機状態となる。排水は、例えば、所定サイクル数ごとに実施され、あるいは、所定の排水条件が満たされた場合に実施される。 In S30, the necessary drainage is carried out, and the standby state is maintained until the next cycle. Drainage is performed, for example, every predetermined number of cycles, or when predetermined drainage conditions are met.

上記実施形態によれば、回転テーブル上の空間が複数の仕切り壁によって複数の小部屋に区画されているので、コンタミネーションを効果的に防止できる。また特定の小部屋が外界と連通しても、他の複数の小部屋にその影響が及び難い。すなわち、内部温度の安定化を図れる。 According to the above embodiment, since the space on the turntable is divided into a plurality of small rooms by a plurality of partition walls, contamination can be effectively prevented. Moreover, even if a specific small room communicates with the outside world, the influence is unlikely to affect a plurality of other small rooms. That is, the internal temperature can be stabilized.

上記実施形態において、キュベット取り出し後に空になった小部屋を洗浄する設備を付加してもよい。また、シャッタ機構を開動作させる前に、開放対象となる小部屋に対して吸引を行う設備を設けてもよい。あるいは、小部屋ごとに吸引設備を設けてもよい。 In the above embodiment, equipment for cleaning a small room that has been emptied after taking out the cuvette may be added. Further, before opening the shutter mechanism, a facility for sucking the small room to be opened may be provided. Alternatively, a suction facility may be provided for each small room.

37 前処理部、38 高温処理部(高温処理装置)、40 低温処理部、42 撹拌部、73 カバー、82 回転体、84 回転テーブル、88 仕切り壁、90 内周壁、74B 外周壁。
37 Pretreatment section, 38 high temperature treatment section (high temperature treatment device), 40 low temperature treatment section, 42 stirring section, 73 cover, 82 rotating body, 84 rotary table, 88 partition wall, 90 inner peripheral wall, 74B outer peripheral wall.

Claims (10)

複数個の検体容器を保持する複数の保持孔を有する保持部材と、
前記複数の保持孔に保持された複数の検体容器を加熱することにより、前記複数の検体容器に収容された複数の液体の温度をタンパク質変性温度に引き上げる加熱部と、
前記複数の保持孔の上側に存在する空間を、前記複数の保持孔に対応した複数の部分空間に仕切る複数の仕切り壁と、
を含むことを特徴とする高温処理装置。
A holding member having a plurality of holding holes for holding a plurality of sample containers,
A heating unit that raises the temperature of the plurality of liquids contained in the plurality of sample containers to the protein denaturation temperature by heating the plurality of sample containers held in the plurality of holding holes.
A plurality of partition walls that partition the space existing above the plurality of holding holes into a plurality of subspaces corresponding to the plurality of holding holes.
A high temperature processing apparatus comprising.
請求項1記載の高温処理装置において、
前記保持部材は回転テーブルであり、
前記複数の仕切り壁は前記回転テーブル上において放射状に配列されている、
ことを特徴とする高温処理装置。
In the high temperature processing apparatus according to claim 1,
The holding member is a rotary table.
The plurality of partition walls are arranged radially on the turntable.
A high temperature processing device characterized by the fact that.
請求項2記載の高温処理装置において、
前記回転テーブル上において前記複数の部分空間の径方向内側に設けられ、前記複数の仕切り壁が連結された内周壁と、
前記複数の部分空間の径方向外側に設けられた外周壁と、
前記複数の部分空間を覆う天井壁と、
を含むことを特徴とする高温処理装置。
In the high temperature processing apparatus according to claim 2.
An inner peripheral wall provided on the rotary table in the radial direction of the plurality of subspaces and to which the plurality of partition walls are connected.
An outer peripheral wall provided on the radial outer side of the plurality of subspaces,
The ceiling wall covering the plurality of subspaces and
A high temperature processing apparatus comprising.
請求項3記載の高温処理装置において、
前記回転テーブルを覆う非回転部材としてのカバーが設けられ、
前記カバーが前記外周壁及び前記天井壁を備える、
ことを特徴とする高温処理装置。
In the high temperature processing apparatus according to claim 3,
A cover as a non-rotating member is provided to cover the rotary table.
The cover comprises the outer peripheral wall and the ceiling wall.
A high temperature processing device characterized by the fact that.
請求項4記載の高温処理装置において、
前記天井壁は前記複数の部分空間を覆う複数の天井面を含み、
前記各天井面は傾斜面である、
ことを特徴とする高温処理装置。
In the high temperature processing apparatus according to claim 4,
The ceiling wall includes a plurality of ceiling surfaces covering the plurality of subspaces.
Each of the ceiling surfaces is an inclined surface.
A high temperature processing device characterized by the fact that.
請求項5記載の高温処理装置において、
前記各天井面における径方向内側の高さよりも前記各天井面における径方向外側の高さの方が低い、
ことを特徴とする高温処理装置。
In the high temperature processing apparatus according to claim 5.
The radial outer height of each ceiling surface is lower than the radial inner height of each ceiling surface.
A high temperature processing device characterized by the fact that.
請求項6記載の高温処理装置において、
前記複数の天井面は前記外周壁の壁面に連なっており、
前記外周壁の壁面の直下には前記外周壁の壁面から滴下する結露水を捕集する溝が設けられている、
ことを特徴とする高温処理装置。
In the high temperature processing apparatus according to claim 6,
The plurality of ceiling surfaces are connected to the wall surface of the outer peripheral wall.
Immediately below the wall surface of the outer peripheral wall, a groove for collecting condensed water dripping from the wall surface of the outer peripheral wall is provided.
A high temperature processing device characterized by the fact that.
請求項3記載の高温処理装置において、
前記天井壁は、高温処理前及び高温処理後の検体容器を通過させる開口を有し、
前記開口を開閉するシャッタ部材が設けられた、
ことを特徴とする高温処理装置。
In the high temperature processing apparatus according to claim 3,
The ceiling wall has an opening through which the sample container before and after the high temperature treatment can pass.
A shutter member for opening and closing the opening is provided.
A high temperature processing device characterized by the fact that.
請求項8記載の高温処理装置において、
前記シャッタ部材は下面を有し、
前記下面は傾斜面である、
ことを特徴とする高温処理装置。
In the high temperature processing apparatus according to claim 8.
The shutter member has a lower surface and has a lower surface.
The lower surface is an inclined surface.
A high temperature processing device characterized by the fact that.
請求項1記載の高温処理装置において、
前記各部分空間に臨む面の全部又は一部に結露水の移動を促す加工又は処理が施されている、
ことを特徴とする高温処理装置。
In the high temperature processing apparatus according to claim 1,
All or part of the surface facing each subspace is processed or treated to promote the movement of condensed water.
A high temperature processing device characterized by the fact that.
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