JP2021133465A - Spectacle lens shape measuring apparatus, spectacle lens processing apparatus comprising the same, and spectacle lens shape measuring program - Google Patents

Spectacle lens shape measuring apparatus, spectacle lens processing apparatus comprising the same, and spectacle lens shape measuring program Download PDF

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Abstract

To provide a spectacle lens shape measuring apparatus that shortens the measuring time of the refraction surface shape of a lens.SOLUTION: A spectacle lens shape measuring apparatus comprises: holding means for holding a spectacle lens; a probe brought into contact with a refraction surface of the spectacle lens; moving means for relatively changing the positional relation between the spectacle lens and the probe; detection means for detecting the position of the probe in a holding axis direction of the holding means; measurement locus determination means for determining a reference locus ST1 for one circumference of the spectacle lens based on a lens shape, and determining a measurement locus so as to have a component partially varied in a radial direction with respect to the reference locus; and control means for controlling the moving means based on the measurement locus and acquiring the refraction surface shape of the spectacle lens in the holding axis direction of the holding means based on the detection result of the detection means.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本開示は、眼鏡レンズの屈折面の形状を測定する眼鏡レンズ形状測定装置、これを備える眼鏡レンズ加工装置及び眼鏡レンズの屈折面の形状を測定する眼鏡レンズ形状測定プログラムに関する。 The present disclosure relates to a spectacle lens shape measuring device for measuring the shape of the refracting surface of the spectacle lens, a spectacle lens processing device including the spectacle lens shape measuring device, and a spectacle lens shape measuring program for measuring the shape of the refracting surface of the spectacle lens.

眼鏡レンズの屈折面(屈折力を持つレンズ前面及びレンズ後面)の形状を測定する眼鏡レンズ形状測定装置は、例えば、眼鏡レンズの周縁を加工具によって加工する眼鏡レンズ加工装置に備えられている。眼鏡レンズ形状測定装置は、眼鏡レンズの前屈折面(レンズ前面)及び後屈折面(レンズ後面)に接触する測定子を有する(例えば、特許文献1参照)。 An spectacle lens shape measuring device for measuring the shape of the refracting surface (front surface of the lens having a refractive force and the rear surface of the lens) of the spectacle lens is provided in, for example, a spectacle lens processing device for processing the peripheral edge of the spectacle lens with a processing tool. The spectacle lens shape measuring device has a stylus that comes into contact with the anterior refracting surface (front surface of the lens) and the posterior refracting surface (rear surface of the lens) of the spectacle lens (see, for example, Patent Document 1).

特開2014−004678号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-004678

眼鏡レンズ形状測定装置によるレンズの屈折面の測定は、例えば、玉型(目標とするレンズの外径形状)に基づいて測定子を屈折面に接触させながらレンズを1回転し、眼鏡レンズを保持するレンズチャック軸の軸方向における測定子の位置を検知することによって行われる。眼鏡レンズの周縁加工にあたり、レンズの仕上げ加工後に予定するコバ位置情報(玉型に応じたコバ位置と、そのコバ位置における屈折面の傾斜情報、等)を得るために、従来においては、1つの屈折面について異なる測定軌跡で少なくとも2回(2周)の測定が行われていた。 In the measurement of the refraction surface of the lens by the spectacle lens shape measuring device, for example, the lens is rotated once while the stylus is in contact with the refraction surface based on the lens shape (the outer diameter shape of the target lens) to hold the spectacle lens. This is done by detecting the position of the stylus in the axial direction of the lens chuck axis. In order to obtain edge position information (edge position according to the lens shape and inclination information of the refracting surface at the edge position, etc.) scheduled after finishing the lens in peripheral processing of the spectacle lens, conventionally, one is used. The refracting surface was measured at least twice (two times) with different measurement trajectories.

しかし、1つの屈折面について2回(2周)の測定は、測定時間が長くなる問題があった。 However, there is a problem that the measurement time becomes long when the measurement is performed twice (two times) for one refracting surface.

本開示は、上記従来技術に鑑み、レンズの屈折面形状の測定時間を短縮することを技術課題とする。 In view of the above-mentioned prior art, it is a technical subject of the present disclosure to shorten the measurement time of the shape of the refracting surface of the lens.

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) 本開示の第1態様に係る眼鏡レンズ形状測定装置は、眼鏡レンズの屈折面の形状を玉型に基づいて測定する眼鏡レンズ形状測定装置であって、眼鏡レンズを保持する保持手段と、眼鏡レンズの屈折面に接触させる測定子と、前記保持手段に保持された眼鏡レンズと前記測定子との位置関係を相対的に変化させる移動手段と、前記保持手段の保持軸方向における前記測定子の位置を検知する検知手段と、玉型を基に眼鏡レンズの1周の基準軌跡を決定し、前記基準軌跡に対して部分的に動径方向に変動させた成分を持つように測定軌跡を決定する測定軌跡決定手段と、前記測定軌跡に基づいて前記移動手段を制御し、前記検知手段の検知結果に基づいて前記保持手段の保持軸方向における眼鏡レンズの屈折面形状を取得する制御手段と、を備えることを特徴とする。
(2) 本開示の第2態様に係る眼鏡レンズ加工装置は、(1)の眼鏡レンズ形状測定装置を備えることを特徴とする。
(3) 本開示の第3態様に係る眼鏡レンズ形状測定プログラムは、保持手段に保持された眼鏡レンズと測定子との位置関係を玉型に基づいて相対的に変化させる移動手段と、前記保持手段の保持軸方向における測定子の位置を検知する検知手段と、を備え、前記検知手段の検知結果に基づいて眼鏡レンズの屈折面の形状を測定する眼鏡レンズ形状測定装置で実行される眼鏡レンズ形状測定プログラムであって、玉型を基に眼鏡レンズの1周の基準軌跡を決定する基準軌跡決定ステップと、前記基準軌跡に対して部分的に動径方向に変動させた成分を持つように測定軌跡を決定する測定軌跡決定ステップと、前記測定軌跡に基づいて前記移動手段を制御し、前記検知手段の検知結果に基づいて前記保持手段の保持軸方向における眼鏡レンズの屈折面形状を得る制御ステップと、を眼鏡レンズ形状測定装置に実行させることを特徴とする。
In order to solve the above problems, the present invention is characterized by having the following configurations.
(1) The spectacle lens shape measuring device according to the first aspect of the present disclosure is a spectacle lens shape measuring device that measures the shape of the refracting surface of the spectacle lens based on a lens shape, and serves as a holding means for holding the spectacle lens. , A stylus that comes into contact with the refractive plane of the spectacle lens, a moving means that relatively changes the positional relationship between the spectacle lens held by the holding means and the stylus, and the measurement in the holding axial direction of the holding means. A detection means for detecting the position of the child and a reference locus for one circumference of the spectacle lens are determined based on the lens shape, and the measurement locus has a component partially changed in the radial direction with respect to the reference locus. A measurement locus determining means for determining the above, and a control means for controlling the moving means based on the measurement locus and acquiring the shape of the refractory surface of the spectacle lens in the holding axis direction of the holding means based on the detection result of the detecting means. It is characterized by having and.
(2) The spectacle lens processing apparatus according to the second aspect of the present disclosure is characterized by including the spectacle lens shape measuring apparatus of (1).
(3) The spectacle lens shape measuring program according to the third aspect of the present disclosure includes a moving means that relatively changes the positional relationship between the spectacle lens held by the holding means and the stylus based on the lens shape, and the holding means. A spectacle lens executed by a spectacle lens shape measuring device including a detecting means for detecting the position of a stylus in the holding axis direction of the means and measuring the shape of the refracting surface of the spectacle lens based on the detection result of the detecting means. It is a shape measurement program and has a reference locus determination step for determining a reference locus around one circumference of a spectacle lens based on a lens shape, and a component partially changed in the radial direction with respect to the reference locus. A measurement locus determination step for determining a measurement locus and a control for controlling the moving means based on the measurement locus and obtaining the shape of the refracting surface of the spectacle lens in the holding axis direction of the holding means based on the detection result of the detecting means. It is characterized in that the step and the spectacle lens shape measuring device are executed.

実施例に係る眼鏡レンズ加工装置における加工機構部の構成を説明する図である。It is a figure explaining the structure of the processing mechanism part in the spectacle lens processing apparatus which concerns on Example. 眼鏡レンズ形状測定装置が備えるレンズ形状測定ユニットの概略構成を説明する図である。It is a figure explaining the schematic structure of the lens shape measuring unit included in the spectacle lens shape measuring apparatus. 眼鏡レンズ加工装置及び眼鏡レンズ形状測定装置に関する制御系ブロック図である。It is a control system block diagram concerning the spectacle lens processing apparatus and the spectacle lens shape measuring apparatus. 従来のレンズ形状測定における2周の測定軌跡の例を説明する図である。It is a figure explaining the example of the measurement locus of two rounds in the conventional lens shape measurement. 従来におけるヤゲン加工の場合と溝掘り加工の場合の2周の測定軌跡を決定する方法の例を説明する図である。It is a figure explaining the example of the method of determining the measurement locus of two rounds in the case of the conventional bevel processing and the case of grooving processing. 実施例に係る典型的な測定軌跡の例である。This is an example of a typical measurement trajectory according to an embodiment. 基準軌跡に対して動径方向に変動させた変動成分を説明する図である。It is a figure explaining the fluctuation component which changed in the radial direction with respect to the reference locus. コバ動径軌跡を保持軸の軸方向に沿って球に投影する方法を説明する図である。It is a figure explaining the method of projecting an edge radial trajectory on a sphere along an axial direction of a holding axis. 測定軌跡の他の例を示す図である。It is a figure which shows another example of a measurement locus. 測定軌跡の他の例を示す図である。It is a figure which shows another example of a measurement locus.

以下、本実施形態を図面に基づいて説明する。図1〜10は本実施形態に係る眼鏡レンズ形状測定装置、これを備える眼鏡レンズ加工装置及び眼鏡レンズ形状測定プログラムの構成について説明する図である。 Hereinafter, this embodiment will be described with reference to the drawings. 1 to 10 are diagrams for explaining the configuration of the spectacle lens shape measuring device according to the present embodiment, the spectacle lens processing device including the spectacle lens shape measuring device, and the spectacle lens shape measuring program.

[概要]
本開示の実施形態に係る眼鏡レンズ形状測定装置、これを備える眼鏡レンズ加工装置及び眼鏡レンズ形状測定プログラムの構成について説明する図である。
[Overview]
It is a figure explaining the structure of the spectacle lens shape measuring apparatus which concerns on embodiment of this disclosure, the spectacle lens processing apparatus provided with this, and the spectacle lens shape measuring program.

例えば、眼鏡レンズ形状測定装置は、眼鏡レンズ(以下、レンズ)LEを保持するために構成された保持手段(例えば、レンズ保持ユニット100)を備える。例えば、保持手段は、レンズLEを保持するために構成された保持軸(例えば、レンズチャック軸102)を備える。例えば、眼鏡レンズ形状測定装置は、レンズLEの屈折面(屈折力を持つレンズ前面及びレンズ後面の少なくとも一方)に接触させる測定子(例えば、測定子260)を備える。例えば、眼鏡レンズ形状測定装置は、保持手段に保持されたレンズLEと測定子との位置関係を相対的に変化させる移動手段(例えば、移動ユニット300)を備える。例えば、眼鏡レンズ形状測定装置は、保持手段の保持軸の軸方向(例えば、図1の軸L1方向)における測定子の位置を検知する検知手段(例えば、センサ280)を備える。この測定子の位置は、保持軸の軸方向における所定の基準位置に対する位置(例えば、軸L1におけるレンズLEの前屈折面の位置)である。検知手段は、移動手段によってレンズLEと測定子との軸方向における位置関係を変える際の制御情報(例えば、制御ユニット50)を含んでいてもよい。 For example, the spectacle lens shape measuring device includes a holding means (for example, a lens holding unit 100) configured to hold the spectacle lens (hereinafter, lens) LE. For example, the holding means includes a holding shaft (for example, a lens chuck shaft 102) configured to hold the lens LE. For example, the spectacle lens shape measuring device includes a stylus (for example, stylus 260) that comes into contact with the refracting surface of the lens LE (at least one of the front surface and the rear surface of the lens having a refractive power). For example, the spectacle lens shape measuring device includes a moving means (for example, a moving unit 300) that relatively changes the positional relationship between the lens LE held by the holding means and the stylus. For example, the spectacle lens shape measuring device includes a detecting means (for example, a sensor 280) for detecting the position of the stylus in the axial direction of the holding shaft of the holding means (for example, the axis L1 direction in FIG. 1). The position of the stylus is a position with respect to a predetermined reference position in the axial direction of the holding shaft (for example, the position of the front refracting surface of the lens LE on the shaft L1). The detecting means may include control information (for example, the control unit 50) when changing the positional relationship between the lens LE and the stylus in the axial direction by the moving means.

例えば、眼鏡レンズ形状測定装置は、玉型(目標とするレンズの二次元の外径形状)を取得する取得手段(例えば、データ取得ユニット10)を備える。例えば、眼鏡レンズ形状測定装置は、玉型に基づいてレンズLEの屈折面の形状を測定するための測定軌跡を決定する測定軌跡決定手段(例えば、制御ユニット50)を備える。測定軌跡決定手段は、玉型を基にレンズLEの1周の基準軌跡(例えば、図6のST1)を決定し、基準軌跡に対して部分的に動径方向に変動させた変動成分(例えば、図7のΔd)を持つように測定軌跡を決定するように構成されている。例えば、測定軌跡決定手段はレンズLEの1周の測定軌跡を決定する。 For example, the spectacle lens shape measuring device includes an acquisition means (for example, a data acquisition unit 10) for acquiring a lens shape (two-dimensional outer diameter shape of a target lens). For example, the spectacle lens shape measuring device includes a measuring locus determining means (for example, a control unit 50) for determining a measuring locus for measuring the shape of the refracting surface of the lens LE based on the lens shape. The measurement locus determining means determines a reference locus (for example, ST1 in FIG. 6) around the lens LE based on the lens shape, and a variable component (for example, ST1 in FIG. 6) that is partially varied in the radial direction with respect to the reference locus. , It is configured to determine the measurement locus so as to have Δd) in FIG. For example, the measurement locus determining means determines the measurement locus of one round of the lens LE.

例えば、基準軌跡は、玉型と一定の関係を持つ軌跡であり、動径角と動径長のデータで定義される。例えば、基準軌跡は、玉型と同一の軌跡であってもよいし、玉型に対して内側又は外側へ一定距離を変動させた軌跡であってもよいし、あるいは、基準軌跡は、玉型の各点に対して法線方向に一定距離を内側又は外側へ変動させた軌跡であってもよい。例えば、レンズ周縁にヤゲンを形成するヤゲン加工の場合、ヤゲンの肩の軌跡(例えば、玉型に対して0.8mm内側に変化させた軌跡)を基準軌跡としてもよい。例えば、レンズ周縁に溝を形成するために平加工する場合、玉型に一致した軌跡としてもよい。また、測定子の材質が硬い場合等でレンズLEの屈折面に傷がつく危惧がある場合は、ヤゲンの肩の軌跡又は玉型と一致した軌跡に対して、一定距離(例えば、0.3mm)だけ外側に変動させた軌跡としてもよい。 For example, the reference locus is a locus having a certain relationship with the lens shape, and is defined by the data of the radius angle and the radius length. For example, the reference locus may be the same locus as the ball shape, may be a locus in which a certain distance is changed inward or outward with respect to the ball shape, or the reference locus may be a ball shape. It may be a locus in which a certain distance is changed inward or outward in the normal direction with respect to each point of. For example, in the case of bevel processing in which a bevel is formed on the peripheral edge of the lens, the locus of the shoulder of the bevel (for example, a locus changed 0.8 mm inward with respect to the lens shape) may be used as a reference locus. For example, when flattening is performed to form a groove on the peripheral edge of the lens, the locus may match the shape of the lens. If the material of the stylus is hard and there is a risk that the refracting surface of the lens LE will be scratched, a certain distance (for example, 0.3 mm) will be applied to the trajectory of the shoulder of the bevel or the trajectory that matches the shape of the lens. ) May be a locus that is varied outward.

例えば、「動径方向に変動させた変動成分」とは、測定軌跡の動径長が基準軌跡の動径長に対して変動した部分である。例えば、変動成分は、レンズのコバ位置でのレンズ屈折面の傾斜を得ることができるように、基準軌跡から動径方向に部分的に0.3mm以上離れた距離を持つ。 For example, the "variable component varied in the radial direction" is a portion in which the radial length of the measurement locus fluctuates with respect to the radial length of the reference locus. For example, the variable component has a distance of 0.3 mm or more in the radial direction from the reference locus so that the inclination of the lens refracting surface at the edge position of the lens can be obtained.

例えば、測定軌跡は、基準軌跡に対して動径方向に周期的に変動させた成分を持つ軌跡であってもよい。これにより、測定精度を確保しつつ、1周の測定で測定時間を短縮できる。また、例えば、測定軌跡は、基準軌跡に対して動径方向に曲線的に変動させた成分と直線的に変動させた成分の少なくとも一方を持つものであってもよい。例えば、測定軌跡は、基準軌跡に対して一部が動径方向に変動成分を持って蛇行する蛇行軌跡であってもよい。これにより、1周測定でありながら、より精度よくレンズの屈折面形状の情報を取得でき、測定時間も短縮できる。 For example, the measurement locus may be a locus having a component periodically changed in the radial direction with respect to the reference locus. As a result, the measurement time can be shortened in one round of measurement while ensuring the measurement accuracy. Further, for example, the measurement locus may have at least one of a component that is curvedly changed in the radial direction and a component that is linearly changed with respect to the reference locus. For example, the measurement locus may be a meandering locus in which a part of the measurement locus meanders with a variable component in the radial direction with respect to the reference locus. As a result, the information on the shape of the refracting surface of the lens can be acquired more accurately and the measurement time can be shortened even though the measurement is performed once.

例えば、測定軌跡決定手段は、基準軌跡に対して全周に亘って動径方向に一定距離を変動させた補助軌跡を決定し、この補助軌跡を通るように測定軌跡を決定する。これにより、測定精度を確保するための測定軌跡を決定できる。 For example, the measurement locus determining means determines an auxiliary locus in which a constant distance is varied in the radial direction with respect to the reference locus over the entire circumference, and determines the measurement locus so as to pass through the auxiliary locus. Thereby, the measurement locus for ensuring the measurement accuracy can be determined.

例えば、眼鏡レンズ形状測定装置は、測定軌跡に基づいて移動手段を制御し、検知手段の検知結果に基づいて保持手段の保持軸方向におけるレンズLEの屈折面形状を得る制御手段(例えば、制御ユニット50)を備える。これにより、レンズLEの1周の測定でレンズLEの仕上げ加工後のコバ位置と、そのコバ位置におけるレンズ屈折面の傾斜情報を得ることが可能になるため、従来の少なくとも2周測定より測定時間を短縮できる。 For example, the spectacle lens shape measuring device controls the moving means based on the measurement locus, and obtains the refracting surface shape of the lens LE in the holding axis direction of the holding means based on the detection result of the detecting means (for example, a control unit). 50) is provided. This makes it possible to obtain the edge position of the lens LE after finishing and the inclination information of the lens refracting surface at the edge position by measuring one circumference of the lens LE, so that the measurement time is longer than that of the conventional measurement of at least two circumferences. Can be shortened.

例えば、制御手段は、検知手段の検知結果に基づいて測定軌跡が載る球を求め、求めた球にレンズLEの仕上げ加工後に予定するコバ動径軌跡を投影することによって、投影した軌跡に関するレンズ屈折面の形状情報を取得する。例えば、制御手段は、レンズ屈折面の形状情報として、投影した軌跡に対応した保持軸の軸方向におけるコバ位置情報と、そのコバ位置におけるレンズ屈折面の傾斜情報を取得する。 For example, the control means obtains a sphere on which the measurement locus is placed based on the detection result of the detection means, and projects the edge radial trajectory scheduled after the finishing process of the lens LE on the obtained sphere, thereby refracting the lens with respect to the projected locus. Acquire surface shape information. For example, the control means acquires the edge position information in the axial direction of the holding axis corresponding to the projected locus and the inclination information of the lens refracting surface at the edge position as the shape information of the lens refracting surface.

例えば、眼鏡レンズ形状測定装置は、玉型に基づいてレンズLEの少なくとも2周の異なる測定軌跡を決定する2周軌跡決定手段(例えば、制御ユニット50)と、制御手段が移動手段を制御するときの測定軌跡を選択するために構成された選択手段(例えば、選択ユニット52)であって、測定軌跡を測定軌跡決定手段によって決定された測定軌跡とするか、2周軌跡決定手段によって決定された少なくとも2周の測定軌跡とするか、を選択する選択手段と、を備える。例えば、2周軌跡決定手段は、1周目の第1測定軌跡を玉型に基づいて決定し、2周目の第2測定軌跡を第1測定軌跡に対して動径方向に一定距離だけ変動させた軌跡として決定する。例えば、選択手段は、作業者が選択信号を入力するための信号入力手段を備えていてもよいし、選択信号が制御手段によって自動的に入力される構成であってもよい。 For example, the spectacle lens shape measuring device includes a two-circle locus determining means (for example, a control unit 50) that determines different measurement loci of at least two rounds of the lens LE based on a lens shape, and when the control means controls the moving means. The selection means (for example, the selection unit 52) configured to select the measurement locus of the above, and the measurement locus is the measurement locus determined by the measurement locus determining means, or is determined by the two-round locus determining means. It is provided with a selection means for selecting whether or not the measurement trajectory is at least two laps. For example, the two-lap locus determining means determines the first measurement locus of the first lap based on the lens shape, and fluctuates the second measurement locus of the second lap by a certain distance in the radial direction with respect to the first measurement locus. Determined as the trajectory that was made. For example, the selection means may include a signal input means for the operator to input the selection signal, or may have a configuration in which the selection signal is automatically input by the control means.

1周のレンズ形状測定ではコバ位置の傾斜情報等の精度が悪くなる可能性がある場合(例えば、レンズLEが乱視の高度数を持つ場合等)には、少なくとも2周のレンズ形状測定を選択することで、精度の低下を招かない情報を得ることができる。 If there is a possibility that the accuracy of the edge position tilt information etc. may deteriorate in the lens shape measurement of one circumference (for example, when the lens LE has the altitude number of astigmatism), select the lens shape measurement of at least two circumferences. By doing so, it is possible to obtain information that does not cause a decrease in accuracy.

例えば、眼鏡レンズ形状測定装置は、レンズLEの周縁を加工具によって加工する眼鏡レンズ加工装置に備えられていてもよい。例えば、保持手段は眼鏡レンズ加工装置が備える保持手段(例えば、レンズ保持ユニット100)と共用されていてもよい。例えば、移動手段は、眼鏡レンズ加工装置が備えるレンズ移動手段(例えば、移動ユニット300)と共用されていてもよい。 For example, the spectacle lens shape measuring device may be provided in the spectacle lens processing device that processes the peripheral edge of the lens LE with a processing tool. For example, the holding means may be shared with the holding means (for example, the lens holding unit 100) included in the spectacle lens processing apparatus. For example, the moving means may be shared with the lens moving means (for example, the moving unit 300) included in the spectacle lens processing apparatus.

なお、本開示においては、本実施形態に記載した装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う眼鏡レンズ形状測定プログラム(ソフトウェア)をネットワーク又は各種記憶媒体等を介して、システムあるいは装置に供給する。そして、システムあるいは装置の制御装置(例えば、CPU等)がプログラムを読み出し、実行することも可能である。 The present disclosure is not limited to the apparatus described in the present embodiment. For example, a spectacle lens shape measurement program (software) that performs the functions of the following embodiments is supplied to a system or an apparatus via a network or various storage media. Then, a system or a control device of the device (for example, a CPU or the like) can read and execute the program.

例えば、眼鏡レンズ形状測定プログラムは、保持手段に保持されたレンズLEと測定子との位置関係を玉型に基づいて相対的に変化させる移動手段と、前記保持手段の保持軸方向における測定子の位置を検知する検知手段と、を備え、前記検知手段の検知結果に基づいてレンズLEの屈折面の形状を測定する眼鏡レンズ形状測定装置で実行される。例えば、眼鏡レンズ形状測定プログラムは、玉型を基にレンズLEの1周の基準軌跡を決定する基準軌跡決定ステップを備える。例えば、眼鏡レンズ形状測定プログラムは、基準軌跡に対して部分的に動径方向に変動させた成分を持つように測定軌跡を決定する測定軌跡決定ステップを備える。例えば、眼鏡レンズ形状測定プログラムは、測定軌跡に基づいて移動手段を制御し、検知手段の検知結果に基づいて保持手段の保持軸方向における眼鏡レンズの屈折面形状を得る制御ステップを備える。 For example, the spectacle lens shape measurement program includes a moving means that relatively changes the positional relationship between the lens LE held by the holding means and the stylus based on the lens shape, and a stylus in the holding axis direction of the holding means. It is executed by a spectacle lens shape measuring device that includes a detecting means for detecting a position and measures the shape of the refracting surface of the lens LE based on the detection result of the detecting means. For example, the spectacle lens shape measurement program includes a reference locus determination step for determining a reference locus for one round of the lens LE based on the lens shape. For example, the spectacle lens shape measurement program includes a measurement locus determination step of determining a measurement locus so as to have a component partially varied in the radial direction with respect to a reference locus. For example, the spectacle lens shape measurement program includes a control step of controlling the moving means based on the measurement locus and obtaining the shape of the refracting surface of the spectacle lens in the holding axis direction of the holding means based on the detection result of the detecting means.

例えば、眼鏡レンズ形状測定プログラムの制御ステップは、検知手段の検知結果に基づいて測定軌跡が載る球を求め、求めた球にレンズLEの仕上げ加工後に予定するコバ動径軌跡を投影することによって、投影した軌跡に関するレンズの屈折面形状を得る。 For example, in the control step of the spectacle lens shape measurement program, a sphere on which the measurement trajectory is placed is obtained based on the detection result of the detection means, and the edge radial trajectory scheduled after the finishing process of the lens LE is projected on the obtained sphere. Obtain the shape of the refracting surface of the lens with respect to the projected trajectory.

[実施例]
本開示の典型的な実施例の一つについて、図面を参照して説明する。図1は、実施例に係る眼鏡レンズ加工装置1における加工機構部の構成を説明する図である。例えば、本実施例においては、眼鏡レンズ形状測定装置200を備える眼鏡レンズ加工装置1を例に挙げて説明する。図2は、眼鏡レンズ形状測定装置200が備えるレンズ形状測定ユニット200Aの概略構成を説明する図である。
[Example]
One of the typical embodiments of the present disclosure will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a processing mechanism portion in the spectacle lens processing apparatus 1 according to the embodiment. For example, in this embodiment, the spectacle lens processing device 1 including the spectacle lens shape measuring device 200 will be described as an example. FIG. 2 is a diagram illustrating a schematic configuration of a lens shape measuring unit 200A included in the spectacle lens shape measuring device 200.

例えば、眼鏡レンズ形状測定装置200は、保持手段の例であるレンズ保持ユニット100を備える。本実施例においては、レンズ保持ユニット100は、眼鏡レンズ加工装置1が備える保持手段と共用されている。例えば、眼鏡レンズ形状測定装置200は、レンズLEの屈折面に接触させる測定子260(261,262)が設けられたレンズ形状測定ユニット200Aを備える(図2参照)。本実施例においては、レンズ形状測定ユニット200Aは、眼鏡レンズ加工装置1のベース2に設けられている。例えば、眼鏡レンズ形状測定装置200は、移動手段の例である移動ユニット300を備える。移動ユニット300はレンズ保持ユニット100に保持されたレンズLEと測定子260(261,262)との位置関係を相対的に変化させるために構成されている。 For example, the spectacle lens shape measuring device 200 includes a lens holding unit 100 which is an example of holding means. In this embodiment, the lens holding unit 100 is shared with the holding means included in the spectacle lens processing device 1. For example, the spectacle lens shape measuring device 200 includes a lens shape measuring unit 200A provided with a stylus 260 (261,262) that comes into contact with the refracting surface of the lens LE (see FIG. 2). In this embodiment, the lens shape measuring unit 200A is provided on the base 2 of the spectacle lens processing device 1. For example, the spectacle lens shape measuring device 200 includes a moving unit 300 which is an example of moving means. The moving unit 300 is configured to relatively change the positional relationship between the lens LE held by the lens holding unit 100 and the stylus 260 (261,262).

例えば、眼鏡レンズ加工装置1は第1加工具ユニット150を備える。第1加工具ユニット150は、レンズLEの周縁を加工する加工具を回転させるために構成されている。例えば、眼鏡レンズ加工装置1は第2加工具ユニット400を備える。第2加工具ユニット400は、レンズLEの周縁に溝を加工する加工具等を回転させるために構成されている。本実施例においては、移動ユニット300は眼鏡レンズ加工装置1が備える移動手段と共用されている。移動ユニット300はレンズLEと第1加工具ユニット150が持つ加工具との相対的な位置関係を変える(調整する)ために構成されている。また、移動ユニット300はレンズLEと第2加工具ユニット400が持つ加工具との相対的な位置関係を変える(調整する)ために構成されている。 For example, the spectacle lens processing device 1 includes a first processing tool unit 150. The first processing tool unit 150 is configured to rotate the processing tool that processes the peripheral edge of the lens LE. For example, the spectacle lens processing device 1 includes a second processing tool unit 400. The second processing tool unit 400 is configured to rotate a processing tool or the like for processing a groove on the peripheral edge of the lens LE. In this embodiment, the moving unit 300 is shared with the moving means included in the spectacle lens processing device 1. The moving unit 300 is configured to change (adjust) the relative positional relationship between the lens LE and the processing tool of the first processing tool unit 150. Further, the moving unit 300 is configured to change (adjust) the relative positional relationship between the lens LE and the processing tool of the second processing tool unit 400.

例えば、レンズ保持ユニット100は、レンズLEを保持(挟持)して回転させるためのレンズチャック軸102と、キャリッジ101と、を備える。レンズチャック軸102は、一対のレンズチャック軸102L及び102Rを備える。キャリッジ101の左腕101Lにレンズチャック軸102Lが回転可能に保持され、キャリッジ101の右腕101Rにレンズチャック軸102Rが回転可能に保持されている。レンズチャック軸102(すなわち、レンズLE)は、レンズ回転手段の例であるモータ120によって回転される。また、右腕101Rには右チャック軸102Rを左チャック軸102L側に移動するためのモータ110が配置されている。右チャック軸102Rが左チャック軸102L側に移動されることにより、レンズLEが2つのレンズチャック軸102L、102Rによって保持される。 For example, the lens holding unit 100 includes a lens chuck shaft 102 for holding (holding) and rotating the lens LE, and a carriage 101. The lens chuck shaft 102 includes a pair of lens chuck shafts 102L and 102R. The lens chuck shaft 102L is rotatably held by the left arm 101L of the carriage 101, and the lens chuck shaft 102R is rotatably held by the right arm 101R of the carriage 101. The lens chuck shaft 102 (that is, the lens LE) is rotated by a motor 120, which is an example of a lens rotating means. Further, a motor 110 for moving the right chuck shaft 102R to the left chuck shaft 102L side is arranged on the right arm 101R. By moving the right chuck shaft 102R to the left chuck shaft 102L side, the lens LE is held by the two lens chuck shafts 102L and 102R.

第1加工具ユニット150は、加工具回転軸161を回転するためのモータ160を備える。加工具回転軸161は、レンズチャック軸102と平行な位置関係で、ベース2に回転可能に保持されている。加工具回転軸161にレンズLEの周縁を加工するための複数の加工具163が取り付けられている。例えば、加工具163は、プラスチック用の粗加工具163a、高カーブレンズの仕上げ用加工具163b、鏡面仕上げ用加工具163c、低カーブ用の仕上げ加工具163d、ガラス用の粗加工具163eの少なくとも何れか一つを備える。鏡面仕上げ用加工具163c及び仕上げ加工具163dは、それぞれヤゲン加工用のV溝と、平加工用の平仕上げ面と、の少なくとも何れかを備える。例えば、加工具163には砥石が利用されるが、カッターが使用されてもよい。なお、「鏡面仕上げ」、「ヤゲン加工」、「平加工」の用語は、当業者には周知であるので、詳細な説明は省略する。 The first machining tool unit 150 includes a motor 160 for rotating the machining tool rotation shaft 161. The processing tool rotation shaft 161 is rotatably held by the base 2 in a positional relationship parallel to the lens chuck shaft 102. A plurality of processing tools 163 for processing the peripheral edge of the lens LE are attached to the processing tool rotation shaft 161. For example, the processing tool 163 is at least one of a roughing tool 163a for plastic, a finishing tool 163b for a high curve lens, a mirror finishing tool 163c, a finishing tool 163d for low curve, and a roughing tool 163e for glass. It has any one. The mirror-finishing tool 163c and the finishing tool 163d each include at least one of a V-groove for beveling and a flat-finished surface for flattening. For example, a grindstone is used for the processing tool 163, but a cutter may be used. Since the terms "mirror finish", "brush processing", and "flat processing" are well known to those skilled in the art, detailed description thereof will be omitted.

例えば、第2加工具ユニット400は、キャリッジ101の後方に配置されている。第2加工具ユニット400は、例えば、レンズLEの周縁に溝を形成するための溝堀り加工具413を備える。溝堀り加工具413は回転軸410に取り付けられている。回転軸410はモータ415によって回転される。また、第2加工具ユニット400は、穴加工具423を備える。また、第2加工具ユニット400は、面取り加工具(図示を略す)を備える。穴加工具423及び面取り加工具は回転伝達機構を介してモータ415によって回転される。なお、第2加工具ユニット400は、例えば、特開2017−177234号公報に記載された構成を採用できるので、詳細はこれを参照されたい。「溝堀り加工」、「穴加工」、「面取り加工」の用語は、当業者には周知であるので、詳細な説明は省略する。 For example, the second processing tool unit 400 is arranged behind the carriage 101. The second processing tool unit 400 includes, for example, a grooving processing tool 413 for forming a groove on the peripheral edge of the lens LE. The grooving tool 413 is attached to the rotating shaft 410. The rotating shaft 410 is rotated by the motor 415. Further, the second processing tool unit 400 includes a hole processing tool 423. Further, the second processing tool unit 400 includes a chamfering processing tool (not shown). The hole drilling tool 423 and the chamfering tool are rotated by the motor 415 via a rotation transmission mechanism. As the second processing tool unit 400, for example, the configuration described in JP-A-2017-177234 can be adopted, so refer to this for details. The terms "grooving", "hole drilling", and "chamfering" are well known to those skilled in the art, and detailed description thereof will be omitted.

例えば、移動ユニット300は、レンズチャック軸102と測定子260との距離方向の位置関係を相対的に変える第1移動ユニット310と、レンズチャック軸102の軸L1方向におけるレンズLEと測定子260との位置関係を相対的に変える第2移動ユニット330と、を備える。実施例ではレンズチャック軸102の軸L1方向をX方向とする。レンズチャック軸102と測定子260との距離を変える方向をY方向とする。 For example, the moving unit 300 includes a first moving unit 310 that relatively changes the positional relationship between the lens chuck shaft 102 and the stylus 260 in the distance direction, and a lens LE and stylus 260 in the axis L1 direction of the lens chuck shaft 102. A second moving unit 330, which relatively changes the positional relationship between the lenses, is provided. In the embodiment, the axis L1 direction of the lens chuck axis 102 is the X direction. The direction in which the distance between the lens chuck shaft 102 and the stylus 260 is changed is defined as the Y direction.

第1移動ユニット310は、レンズLEの加工時にレンズチャック軸102と加工具回転軸161及び回転軸410との軸間距離を変動させるためにも使用される。第2移動ユニット330は、レンズLEの加工時にレンズチャック軸102の軸方向にレンズLEを移動させるためにも使用される。 The first moving unit 310 is also used to change the distance between the lens chuck shaft 102, the tool rotating shaft 161 and the rotating shaft 410 during processing of the lens LE. The second moving unit 330 is also used to move the lens LE in the axial direction of the lens chuck shaft 102 during processing of the lens LE.

第1移動ユニット310は、モータ315を備える。モータ315の回転により移動支基301がX方向に移動される。これにより、移動支基301に搭載されたキャリッジ101及びレンズチャック軸102(レンズLE)がX方向に移動される。なお、第1移動ユニット310の構成は、測定子260をX方向に移動させる構成でもよい。また、加工具回転軸161をX方向に移動させる構成でもよい。 The first moving unit 310 includes a motor 315. The movement support 301 is moved in the X direction by the rotation of the motor 315. As a result, the carriage 101 and the lens chuck shaft 102 (lens LE) mounted on the moving support base 301 are moved in the X direction. The configuration of the first moving unit 310 may be such that the stylus 260 is moved in the X direction. Further, the processing tool rotation shaft 161 may be moved in the X direction.

第2移動ユニット330は、キャリッジ101(レンズチャック軸102)をY方向に移動するためのモータ335を備える。移動支基301にはY方向に延びるシャフト333が取り付けられている。移動支基301にはモータ335が固定されている。モータ335の回転はY方向に延びるボールネジ337に伝達され、ボールネジ337の回転によりキャリッジ101(レンズチャック軸102とレンズLE)はY方向に移動される。 The second moving unit 330 includes a motor 335 for moving the carriage 101 (lens chuck shaft 102) in the Y direction. A shaft 333 extending in the Y direction is attached to the moving support base 301. A motor 335 is fixed to the moving support base 301. The rotation of the motor 335 is transmitted to the ball screw 337 extending in the Y direction, and the carriage 101 (lens chuck shaft 102 and lens LE) is moved in the Y direction by the rotation of the ball screw 337.

なお、実施例では第2移動ユニット330はレンズチャック軸102をY方向に移動する構成であるが、測定子260をY方向に移動させる構成でもよい。また、加工具回転軸161及び回転軸410をY方向に移動させる構成でもよい。 In the embodiment, the second moving unit 330 is configured to move the lens chuck shaft 102 in the Y direction, but the stylus 260 may be moved in the Y direction. Further, the processing tool rotation shaft 161 and the rotation shaft 410 may be moved in the Y direction.

図2において、例えば、レンズ形状測定ユニット200Aは、レンズLEの屈折面に接触させる測定子260として、レンズ前面(前屈折面)に接触させる測定子261と、レンズ後面(後屈折面)に接触させる測定子262と、を備える。測定子262は円筒状の側面を有していてもよい。測定子262の側面は、レンズLEの外径形状を測定するために、レンズLE(デモレンズ)の外周に接触される測定子として利用されてもよい。 In FIG. 2, for example, the lens shape measuring unit 200A is in contact with the stylus 261 in contact with the front surface (front refraction surface) of the lens and the rear surface (rear refraction surface) of the lens as the stylus 260 in contact with the refraction surface of the lens LE. It is provided with a stylus 262 and a stylus 262. The stylus 262 may have a cylindrical side surface. The side surface of the stylus 262 may be used as a stylus that is in contact with the outer circumference of the lens LE (demo lens) in order to measure the outer diameter shape of the lens LE.

例えば、測定子261、262は、X方向に移動可能なアーム265によって保持されている。本実施例では、アーム265はU字上の形状を有する。また、アーム265は支柱267に取付けられ、支柱267がX方向に移動可能にブロック269に保持されている。例えば、実施例では、ブロック269に保持された軸受け270を介して支持軸271を中心に支柱267がX方向に傾斜可能にされている。支柱267は図示を略すバネ(付勢部材)によって、図2の状態を中立位置として、レンズの前面側方向及び後面側方向にそれぞれ付勢されている。測定子261、262のX方向の位置は、アーム265及び支柱267を介して、検知手段の例であるセンサ(検知器)280によって検知される。センサ280の構成は周知のものが使用される。 For example, the stylus 261 and 262 are held by an arm 265 that can move in the X direction. In this embodiment, the arm 265 has a U-shaped shape. Further, the arm 265 is attached to the support column 267, and the support column 267 is held by the block 269 so as to be movable in the X direction. For example, in the embodiment, the support column 267 can be tilted in the X direction about the support shaft 271 via the bearing 270 held by the block 269. The support column 267 is urged by a spring (a urging member) (not shown) in the front side direction and the rear side side direction of the lens, respectively, with the state shown in FIG. 2 as the neutral position. The positions of the stylus 261 and 262 in the X direction are detected by the sensor (detector) 280, which is an example of the detection means, via the arm 265 and the support column 267. A well-known configuration of the sensor 280 is used.

なお、測定子260(261、262)をX方向に移動可能に保持する構成は、実施例に限られない。例えば、測定子260(261、262)をX方向に直線的に移動可能に保持する構成であってもよい。また、測定子261と測定子262を別々にX方向に移動可能に保持する構成であってもよい。また、本装置では測定中もレンズチャック軸102のX方向の移動制御も利用してレンズLEの前屈折面の形状測定が行われるが、これに限られない。測定中はレンズチャック軸102のX方向の移動は行わず、レンズLEの屈折面の変化にともなって移動する測定子260の位置の変化を検知することで測定が行われる構成であってもよい
図3は眼鏡レンズ加工装置1及び眼鏡レンズ形状測定装置200に関する制御系ブロック図である。眼鏡レンズ形状測定装置200は制御ユニット50を備える。制御ユニット50に、図1及び2に示した各ユニットの電気系構成要素(モータ等)が接続されている。制御ユニット50は、眼鏡レンズ加工装置1の制御ユニットを兼ねる。制御ユニット50は装置全体の制御を司るために構成されている。また、制御ユニット50はレンズLEの屈折面形状を測定するための各種の演算、及びレンズ加工のための各種の演算を行うように構成されている。
The configuration for holding the stylus 260 (261, 262) so as to be movable in the X direction is not limited to the embodiment. For example, the stylus 260 (261, 262) may be held so as to be linearly movable in the X direction. Further, the stylus 261 and the stylus 262 may be separately held so as to be movable in the X direction. Further, in this apparatus, the shape of the front refracting surface of the lens LE is measured by using the movement control of the lens chuck shaft 102 in the X direction during the measurement, but the present invention is not limited to this. The lens chuck shaft 102 may not move in the X direction during the measurement, and the measurement may be performed by detecting a change in the position of the stylus 260 that moves with a change in the refracting surface of the lens LE. FIG. 3 is a control system block diagram relating to the spectacle lens processing device 1 and the spectacle lens shape measuring device 200. The spectacle lens shape measuring device 200 includes a control unit 50. The control unit 50 is connected to the electrical system components (motors and the like) of each unit shown in FIGS. 1 and 2. The control unit 50 also serves as a control unit for the spectacle lens processing device 1. The control unit 50 is configured to control the entire device. Further, the control unit 50 is configured to perform various calculations for measuring the shape of the refracting surface of the lens LE and various calculations for processing the lens.

例えば、眼鏡レンズ加工装置1及び眼鏡レンズ形状測定装置200は、データ取得ユニット10を備える。データ取得ユニット10はデータ入力ユニットの機能を兼ねていてもよい。例えば、データ取得ユニット10はディスプレイ12を備える。例えば、データ取得ユニット10はデータ入力ユニット13を備える。例えば、ディスプレイ12はタッチパネルの機能を備え、データ入力ユニット13を含むように構成されていてもよい。 For example, the spectacle lens processing device 1 and the spectacle lens shape measuring device 200 include a data acquisition unit 10. The data acquisition unit 10 may also function as a data input unit. For example, the data acquisition unit 10 includes a display 12. For example, the data acquisition unit 10 includes a data input unit 13. For example, the display 12 may have a touch panel function and may be configured to include a data input unit 13.

例えば、眼鏡レンズ加工装置1及び眼鏡レンズ形状測定装置200は、記憶手段の例であるメモリ20を備える。メモリ20はデータ取得ユニット10によって取得された各種データが記憶される。また、メモリ20には、眼鏡レンズ形状測定装置200及び眼鏡レンズ加工装置1の動作を制御するための各種プログラムが記憶されている。例えば、メモリ20にはレンズLEの屈折面形状を測定するためのプログラムが記憶されている。また、メモリ20にはレンズLEの周縁加工に関するプログラムが記憶されている。 For example, the spectacle lens processing device 1 and the spectacle lens shape measuring device 200 include a memory 20 which is an example of a storage means. The memory 20 stores various data acquired by the data acquisition unit 10. Further, the memory 20 stores various programs for controlling the operations of the spectacle lens shape measuring device 200 and the spectacle lens processing device 1. For example, the memory 20 stores a program for measuring the shape of the refracting surface of the lens LE. Further, the memory 20 stores a program related to peripheral processing of the lens LE.

例えば、眼鏡レンズ形状測定装置200は、測定軌跡を1周測定で行う軌跡とするか、少なくとも2周測定で行う軌跡とするか、を選択するために構成された選択手段の例である選択ユニット52を備える。選択ユニット52は、制御ユニット50が兼ねるように構成されていてもよい。選択ユニット52は、データ入力ユニット13に含まれるように構成されていてもよい。 For example, the spectacle lens shape measuring device 200 is an example of a selection unit configured to select whether the measurement locus is a locus performed by one-lap measurement or a locus performed by at least two-lap measurement. 52 is provided. The selection unit 52 may be configured so that the control unit 50 also serves as the selection unit 52. The selection unit 52 may be configured to be included in the data input unit 13.

データ取得ユニット10、メモリ20、選択ユニット52は、制御ユニット50に接続されている。データ取得ユニット10は玉型形状測定装置30に接続されていてもよい。例えば、玉型形状測定装置30は、眼鏡フレームのリムを測定することで、レンズLEの玉型(レンズを周縁加工するための目標の外径形状)を得る。また、玉型はメモリ20に記憶されているものを使用してもよい。データ取得ユニット10は玉型形状測定装置30又はメモリ20から玉型データを取得する。「玉型」は動径長と動径角で定義される二次元の形状であって、当業者には自明・公知であるので詳細な説明は略す。 The data acquisition unit 10, the memory 20, and the selection unit 52 are connected to the control unit 50. The data acquisition unit 10 may be connected to the ball shape measuring device 30. For example, the lens shape measuring device 30 measures the rim of the spectacle frame to obtain a lens LE lens shape (target outer diameter shape for peripheral processing of the lens). Further, as the lens shape, the one stored in the memory 20 may be used. The data acquisition unit 10 acquires the ball shape data from the ball shape measuring device 30 or the memory 20. The "ball shape" is a two-dimensional shape defined by the radius length and the radius angle, and is obvious and well known to those skilled in the art, so detailed description thereof will be omitted.

<動作>
以上のような構成を備える眼鏡レンズ形状測定装置200及び眼鏡レンズ加工装置1における動作を説明する。
<Operation>
The operation of the spectacle lens shape measuring device 200 and the spectacle lens processing device 1 having the above configuration will be described.

初めに、データ取得ユニット10によってレンズLEの玉型データ(動径長r、動径角θ)が取得される。例えば、玉型形状測定装置30によって測定された眼鏡フレームのリムの輪郭形状がデータ取得ユニット10に入力される。玉型データはメモリ20に記憶されていたデータが呼び出されることで、データ取得ユニット10によって取得されてもよい。 First, the data acquisition unit 10 acquires the lens shape data (radial length r, radial angle θ) of the lens LE. For example, the contour shape of the rim of the spectacle frame measured by the ball shape measuring device 30 is input to the data acquisition unit 10. The ball-shaped data may be acquired by the data acquisition unit 10 by recalling the data stored in the memory 20.

玉型データが取得されたら、作業者はレンズLEの周縁を加工するための加工条件をディスプレイ12によって設定(入力)する。例えば、レンズLEの周縁加工のために、玉型に対するレンズLEの光学中心位置を配置するためのレイアウトデータが入力される。例えば、レイアウトデータは、左右の玉型中心間距離FPDと、瞳孔間距離PDと、玉型中心に対する光学中心の高さ距離と、を含む。また、加工条件として、レンズの材質、フレームのタイプ(メタル、セル、リムレス、等)、レンズ周縁の加工タイプ(ヤゲン加工、平加工、溝堀加工、等)、鏡面加工の有無、等が入力される。 When the lens shape data is acquired, the operator sets (inputs) the processing conditions for processing the peripheral edge of the lens LE on the display 12. For example, layout data for arranging the optical center position of the lens LE with respect to the lens shape is input for peripheral processing of the lens LE. For example, the layout data includes the left and right lens-shaped center distance FPD, the interpupillary distance PD, and the height distance of the optical center with respect to the lens-shaped center. In addition, as processing conditions, the lens material, frame type (metal, cell, rimless, etc.), lens peripheral processing type (bevel processing, flat processing, groove processing, etc.), presence / absence of mirror surface processing, etc. are input. Will be done.

加工条件の入力が完了したら、作業者はレンズLEをレンズチャック軸102(102L、102R)に保持させ、眼鏡レンズ加工装置1の動作を開始させる。レンズLEの周縁加工に先立ち、制御ユニット50によって眼鏡レンズ形状測定プログラムが実行され、眼鏡レンズ形状測定装置200によるレンズLEの形状測定が行われる。 When the input of the processing conditions is completed, the operator holds the lens LE on the lens chuck shaft 102 (102L, 102R) and starts the operation of the spectacle lens processing device 1. Prior to the peripheral processing of the lens LE, the spectacle lens shape measurement program is executed by the control unit 50, and the shape of the lens LE is measured by the spectacle lens shape measuring device 200.

制御ユニット50によって玉型に基づいて測定軌跡が決定される。例えば、玉型は円形であるとする。例えば、レンズチャック軸102でレンズLEをチャックする位置は、枠中心(玉型の幾何中心)とする。 The control unit 50 determines the measurement trajectory based on the lens shape. For example, assume that the lens shape is circular. For example, the position where the lens LE is chucked by the lens chuck shaft 102 is set to the center of the frame (the geometric center of the lens).

ここで、従来のレンズ形状測定は、図4のように、レンズLEの前屈折面及び後屈折面で、それぞれ第1測定軌跡CT1と第2測定軌跡CT2の2周の測定が行われていた。第1測定軌跡CT1と第2測定軌跡CT2は異なる軌跡である。例えば、第1測定軌跡CT1は玉型に基づいて決定され、第2測定軌跡CT2は第1測定軌跡CT1に対して一定距離だけ動径方向に変動した軌跡として決定される。例えば、ヤゲン加工の場合、図5(a)のように、第1測定軌跡CT1はヤゲン肩Vsの位置とされ、第2測定軌跡CT2は第1測定軌跡CT1より一定距離外側(例えば、0.8mm外側の位置で、ヤゲン頂点Vtが含まれる位置)とされていた。例えば、溝掘り加工の場合、図5(b)のように、第1測定軌跡CT1はレンズLEのコバ位置Lcとされ、第2測定軌跡CT2は第1測定軌跡CT1より一定距離外側(例えば、0.3mm外側)とされていた。第1測定軌跡CT1の測定結果によってレンズLEの周縁加工後(仕上げ加工後)のコバ位置の情報が得られ、これと第2測定軌跡CT2の測定結果とによって、コバ位置でのレンズ面の傾斜情報が得られる。これにより、面取り加工を精度よく行える。しかし、少なくとも2周のレンズ形状測定は測定時間が長引いていた。 Here, in the conventional lens shape measurement, as shown in FIG. 4, two rounds of the first measurement locus CT1 and the second measurement locus CT2 are measured on the front refraction surface and the back refraction surface of the lens LE, respectively. .. The first measurement locus CT1 and the second measurement locus CT2 are different loci. For example, the first measurement locus CT1 is determined based on the lens shape, and the second measurement locus CT2 is determined as a locus that fluctuates in the radial direction by a certain distance with respect to the first measurement locus CT1. For example, in the case of bevel processing, as shown in FIG. 5A, the first measurement locus CT1 is set to the position of the bevel shoulder Vs, and the second measurement locus CT2 is a certain distance outside the first measurement locus CT1 (for example, 0. At a position 8 mm outside, the position including the bevel apex Vt) was defined. For example, in the case of grooving, as shown in FIG. 5B, the first measurement locus CT1 is set to the edge position Lc of the lens LE, and the second measurement locus CT2 is a certain distance outside the first measurement locus CT1 (for example,). It was supposed to be 0.3 mm outside). Information on the edge position after peripheral processing (after finishing processing) of the lens LE is obtained from the measurement result of the first measurement trajectory CT1, and the inclination of the lens surface at the edge position is obtained from this and the measurement result of the second measurement trajectory CT2. Information is available. As a result, chamfering can be performed with high accuracy. However, the measurement time of the lens shape measurement of at least two laps was prolonged.

そこで、本実施例では、例えば、レンズLEの1周の基準軌跡を決定し、この基準軌跡に対して部分的に動径方向に変動させた成分を持つように測定軌跡を決定し、1周の測定結果からレンズLEの周縁加工後のコバ位置の情報と、コバ位置でのレンズ面の傾斜情報と、を得ることを可能にする。なお、以下では玉型データが円形であるものとして説明する。 Therefore, in this embodiment, for example, the reference locus of one round of the lens LE is determined, the measurement locus is determined so as to have a component partially varied in the radial direction with respect to the reference locus, and one round is determined. It is possible to obtain information on the edge position after peripheral processing of the lens LE and information on the inclination of the lens surface at the edge position from the measurement result of. In the following, it will be described assuming that the lens shape data is circular.

図6は、実施例に係る典型的な測定軌跡の例である。制御ユニット50により、玉型データ(r、θ)に基づいてレンズLEの1周の基準軌跡ST1が決定される。基準軌跡ST1は、玉型と一定の関係を持つ軌跡であり、動径角と動径長のデータで定義される。例えば、基準軌跡ST1は、玉型の軌跡であってもよいし、玉型に対して動径方向(内側又は外側)に一定距離を変動させた軌跡であってもよい。あるいは、基準軌跡ST1は、玉型の各点に対して法線方向に一定距離を内側又は外側へ変動させた軌跡であってもよい。基準軌跡ST1は従来の第1測定軌跡CT1(図4参照)と同じように定められる
次に、制御ユニット50により、基準軌跡ST1に対して部分的に動径方向に変動させた成分を持つように測定軌跡MTが決定される。例えば、測定軌跡MTは基準軌跡ST1に対して動径方向に正弦波状に変動した変動成分Δdを上乗せするように決定される(図7参照)。例えば、変動成分Δdは、レンズのコバ位置でのレンズ屈折面の傾斜を得ることができる距離を持つ。例えば、変動成分Δdは少なくとも0.3mm以上である。実用的には0.5mm以上あるとよい。
FIG. 6 is an example of a typical measurement locus according to the embodiment. The control unit 50 determines the reference locus ST1 for one round of the lens LE based on the lens shape data (r, θ). The reference locus ST1 is a locus having a certain relationship with the lens shape, and is defined by the data of the radius angle and the radius length. For example, the reference locus ST1 may be a ball-shaped locus, or may be a locus in which a certain distance is varied in the radial direction (inside or outside) with respect to the ball shape. Alternatively, the reference locus ST1 may be a locus in which a certain distance is varied inward or outward in the normal direction with respect to each point of the lens shape. The reference locus ST1 is determined in the same manner as the conventional first measurement locus CT1 (see FIG. 4). Next, the control unit 50 has a component partially changed in the radial direction with respect to the reference locus ST1. The measurement trajectory MT is determined. For example, the measurement locus MT is determined to add a fluctuation component Δd that fluctuates in a sinusoidal shape in the radial direction to the reference locus ST1 (see FIG. 7). For example, the fluctuation component Δd has a distance at which the inclination of the lens refracting surface at the edge position of the lens can be obtained. For example, the variable component Δd is at least 0.3 mm or more. Practically, it should be 0.5 mm or more.

例えば、測定軌跡MTは基準軌跡ST1に対して動径方向に周期的に変動させた変動成分Δdの軌跡が出現するように決定されてもよい。図6の測定軌跡MTの例は、図7の正弦波状の変動成分Δdの軌跡が一定距離毎に全周に亘って出現するように決定された例であり、また、基準軌跡ST1に対して一部が動径方向に変動成分を持って蛇行する軌跡の例である。変動成分Δdの数、周期は、測定精度と測定速度との関係を考慮して決めればよい。また、変動成分の高さも測定精度と測定速度との関係を考慮して決めればよい。 For example, the measurement locus MT may be determined so that the locus of the fluctuation component Δd which is periodically changed in the radial direction with respect to the reference locus ST1 appears. The example of the measurement locus MT in FIG. 6 is an example in which the locus of the sinusoidal fluctuation component Δd in FIG. 7 is determined to appear over the entire circumference at regular intervals, and is also an example with respect to the reference locus ST1. This is an example of a trajectory in which a part meanders with a variable component in the radial direction. The number and period of the fluctuating component Δd may be determined in consideration of the relationship between the measurement accuracy and the measurement speed. Further, the height of the fluctuating component may be determined in consideration of the relationship between the measurement accuracy and the measurement speed.

また、例えば、変動成分Δdの軌跡は、基準軌跡ST1に対して動径方向に一定距離Δrを変動させた補助軌跡ST2を通過するように決定されるとよい。例えば、一定距離Δrは、従来の第2測定軌跡CT2(図4参照)と同様な距離で定められている。図6及び図7の例では、変動成分Δdの軌跡の最大が補助軌跡ST2に位置するように決定された例である。 Further, for example, the locus of the fluctuation component Δd may be determined to pass through the auxiliary locus ST2 in which the reference locus ST1 is varied by a constant distance Δr in the radial direction. For example, the constant distance Δr is defined by the same distance as the conventional second measurement locus CT2 (see FIG. 4). In the examples of FIGS. 6 and 7, the maximum locus of the variable component Δd is determined to be located in the auxiliary locus ST2.

制御ユニット50は、測定軌跡MTに基づいて移動ユニット300を制御し、センサ280の検知結果に基づいてレンズLEの屈折面の形状を測定する。例えば、初めに、レンズLEの前屈折面の形状が測定される。レンズLEの前屈折面の測定開始時には、測定軌跡MTに基づいてレンズチャック軸102がY方向に移動された後、レンズLEの前屈折面に測定子261が接触するようにレンズチャック軸102がX方向に移動される。測定子261が前屈折面に接触したことはセンサ280の出力に基づいて検知される。そして、レンズチャック軸102の回転によってレンズLEが回転されると共に、測定軌跡MTに基づいてレンズチャック軸102がY方向に移動される。このときのセンサ280の出力に基づき、測定軌跡MTに対応したレンズLEの前屈折面の形状(レンズチャック軸102の軸L1方向であるX方向における形状)が測定される。なお、本装置では、測定中もレンズチャック軸102のX方向の移動制御も利用してレンズLEの前屈折面の形状測定が行われ、レンズ形状の情報取得はレンズチャック軸102のX方向の移動情報も利用される。レンズLEの後屈折面の形状測定も同様に行われるので、その説明は省略する。 The control unit 50 controls the moving unit 300 based on the measurement locus MT, and measures the shape of the refracting surface of the lens LE based on the detection result of the sensor 280. For example, first, the shape of the anterior refracting surface of the lens LE is measured. At the start of measurement of the front refraction surface of the lens LE, the lens chuck shaft 102 is moved in the Y direction based on the measurement locus MT, and then the lens chuck shaft 102 is brought into contact with the stylus 261 so that the stylus 261 comes into contact with the front refraction surface of the lens LE. It is moved in the X direction. The contact of the stylus 261 with the anterior refracting surface is detected based on the output of the sensor 280. Then, the lens LE is rotated by the rotation of the lens chuck shaft 102, and the lens chuck shaft 102 is moved in the Y direction based on the measurement locus MT. Based on the output of the sensor 280 at this time, the shape of the front refracting surface of the lens LE corresponding to the measurement locus MT (the shape of the lens chuck shaft 102 in the X direction, which is the axis L1 direction) is measured. In this device, the shape of the front refracting surface of the lens LE is measured by using the movement control of the lens chuck shaft 102 in the X direction during the measurement, and the lens shape information is acquired in the X direction of the lens chuck shaft 102. Movement information is also used. Since the shape measurement of the rear refracting surface of the lens LE is also performed in the same manner, the description thereof will be omitted.

レンズ形状測定の実行により、制御ユニット50はレンズLEの屈折面の形状情報を得る。例えば、レンズ前屈折面の測定結果を(mr,mθ,mz)とする。mrは測定軌跡MTの動径長であり、mθは動径角であり、mzはレンズチャック軸102の軸L1方向におけるレンズ屈折面の位置データ(所定の基準位置に対する距離データ)である。 By executing the lens shape measurement, the control unit 50 obtains the shape information of the refracting surface of the lens LE. For example, let the measurement result of the refracting surface in front of the lens be (mr, mθ, mz). Mr is the radius length of the measurement locus MT, mθ is the radius angle, and mz is the position data of the lens refracting surface in the axis L1 direction of the lens chuck shaft 102 (distance data with respect to a predetermined reference position).

レンズLEの屈折面形状の測定結果が得られたら、制御ユニット50は、レンズLEの仕上げ加工後に予定するコバ動径軌跡KAに関し、レンズチャック軸102の軸L1方向におけるコバ位置と、そのコバ位置におけるレンズ屈折面の傾斜情報と、を演算して求める(取得する)。本実施例でのコバ動径軌跡KAとは、仕上げ加工後のコバが位置する二次元形状の動径情報(動径長と動径角の情報)であり、例えば、従来の第1測定軌跡CT1である。コバ動径軌跡KAに対応したレンズLEの前屈折面及び後屈折面におけるコバ位置が得られることにより、仕上げ加工後のレンズLEのコバ厚が得られる。これにより、ヤゲン加工の場合にはレンズLEの厚み方向(X方向)におけるヤゲン頂点位置を決定することができ、溝掘り加工の場合にはレンズLEの厚み方向における溝中心位置を決定することができる。例えば、ヤゲン頂点位置及び溝中心位置がレンズLEの厚みに対して3:7の比率で位置するように決定される。 Once the measurement result of the refraction surface shape of the lens LE is obtained, the control unit 50 determines the edge position of the lens chuck shaft 102 in the axis L1 direction and the edge position thereof with respect to the edge radial trajectory KA scheduled after the finishing process of the lens LE. The inclination information of the lens refracting surface in the above is calculated (acquired). The edge radial trajectory KA in this embodiment is two-dimensional radial radius information (radial length and radial angle information) in which the edge after finishing is located. For example, the conventional first measurement trajectory. It is CT1. By obtaining the edge positions on the front refracting surface and the rear refracting surface of the lens LE corresponding to the edge radial trajectory KA, the edge thickness of the lens LE after the finishing process can be obtained. Thereby, in the case of bevel processing, the bevel apex position in the thickness direction (X direction) of the lens LE can be determined, and in the case of grooving processing, the groove center position in the thickness direction of the lens LE can be determined. can. For example, the bevel apex position and the groove center position are determined to be located at a ratio of 3: 7 with respect to the thickness of the lens LE.

コバ動径軌跡KAに関する軸L1方向におけるコバ位置と、そのコバ位置におけるレンズ屈折面の傾斜情報とを得る方法を説明する。例えば、制御ユニット50は、レンズ前屈折面の測定結果(mr,mθ,mz)に基づき、測定軌跡MTが載る球Sc(図8参照)を数学的に求める。例えば、測定結果(mr,mθ,mz)のデータから任意の4点を取り、この4点が通る球を求める。例えば、任意の4点は、測定軌跡MTの幾何中心を通り、直交する方向に位置する点とする。そして、任意の4点の取り方を変え、球を求める演算を複数回行う。例えば、測定点が1,000個であれば、250個の球を求める演算を行う。そして、最小二乗法等を利用し、測定軌跡MTが載る、最も近似した球Scの半径と中心を求める。なお、球Scの中心はレンズチャック軸102上に位置するものとして求める。 A method of obtaining the edge position in the axis L1 direction with respect to the edge radial trajectory KA and the inclination information of the lens refracting surface at the edge position will be described. For example, the control unit 50 mathematically obtains a sphere Sc (see FIG. 8) on which the measurement locus MT is placed based on the measurement result (mr, mθ, mz) of the refracting surface in front of the lens. For example, an arbitrary four points are taken from the data of the measurement results (mr, mθ, mz), and a sphere through which these four points pass is obtained. For example, any four points are points that pass through the geometric center of the measurement locus MT and are located in orthogonal directions. Then, the calculation for finding the sphere is performed a plurality of times by changing the method of taking arbitrary four points. For example, if the number of measurement points is 1,000, an operation for obtaining 250 spheres is performed. Then, using the least squares method or the like, the radius and center of the closest sphere Sc on which the measurement locus MT is placed are obtained. The center of the sphere Sc is determined to be located on the lens chuck shaft 102.

球Scを求めることができたなら、図8のように、コバ動径軌跡KA(動径長、動径角)をレンズチャック軸102の軸L1方向に沿って球Scに投影する。球Scに投影された軌跡(コバ投影軌跡)をKpとする。これにより、軌跡Kpに対応した軸L1方向におけるコバ位置を数学的に求めることができる。また、球Scの半径が分かっているので、軌跡Kpに対応した各コバ位置における傾斜情報(すなわち、レンズチャック軸102に対するレンズ屈折面の傾斜情報)が得られる。この傾斜情報は、例えば、レンズLEのコバの面取り加工の幅を決定するために利用される。 If the sphere Sc can be obtained, the edge radial trajectory KA (radial length, radial angle) is projected onto the sphere Sc along the axis L1 direction of the lens chuck shaft 102, as shown in FIG. Let Kp be the locus projected on the sphere Sc (edge projection locus). Thereby, the edge position in the axis L1 direction corresponding to the locus Kp can be mathematically obtained. Further, since the radius of the sphere Sc is known, the inclination information at each edge position corresponding to the locus Kp (that is, the inclination information of the lens refracting surface with respect to the lens chuck axis 102) can be obtained. This tilt information is used, for example, to determine the width of the chamfering of the edge of the lens LE.

レンズLEの後屈折面についても、同様な方法によって、コバ動径軌跡KAに関する軸L1方向におけるコバ位置と、そのコバ位置におけるレンズ屈折面の傾斜情報が制御ユニット50によって取得される。 With respect to the posterior refracting surface of the lens LE, the control unit 50 acquires the edge position in the axis L1 direction with respect to the edge radial trajectory KA and the inclination information of the lens refracting surface at the edge position.

以上のように、レンズLEの屈折面の片面について、1周のレンズ形状測定でレンズLEの加工に必要な情報(例えば、仕上げ加工後のコバ位置と、そのコバ位置におけるレンズ面の傾斜情報)が取得されるため、従来の2周以上の測定よりも測定時間を短縮できる。また、1周の測定時間で従来の1周測定よりも多くの測定データを得ること可能になり、加工に必要な情報の精度が向上する。 As described above, with respect to one side of the refracting surface of the lens LE, information necessary for processing the lens LE in one round of lens shape measurement (for example, the edge position after finishing processing and the inclination information of the lens surface at the edge position). Is acquired, so that the measurement time can be shortened as compared with the conventional measurement of two or more laps. In addition, it becomes possible to obtain more measurement data than the conventional one-lap measurement in the measurement time of one round, and the accuracy of the information required for processing is improved.

なお、玉型が長四角形状である場合のように、動径長(玉型の幾何中心を基準として動径長)が動径角によって大きく異なれば、従来の2周測定の内の1周測定(例えば、第1測定軌跡CT1)のみであっても、図8に示した球Scを推定することは可能かもしれない。しかし、玉型が球に近いと、球Scの推定精度が低下し、仕上げ加工後に予定するコバ位置情報(軸L1方向におけるコバ位置とそのコバ位置における傾斜情報)の精度が低下する。これに対して、本実施態様の測定軌跡の決定方法を用いれば、1周測定の測定時間で、2周測定に相当する測定データが得られ、コバ位置情報の精度の向上が図られる。 If the radius length (radius length based on the geometric center of the lens) differs greatly depending on the radius angle, as in the case where the lens shape has a long square shape, one of the conventional two-lap measurements is performed. It may be possible to estimate the sphere Sc shown in FIG. 8 only by the measurement (for example, the first measurement locus CT1). However, if the ball shape is close to a sphere, the estimation accuracy of the sphere Sc is lowered, and the accuracy of the edge position information (edge position in the axis L1 direction and inclination information at the edge position) scheduled after finishing is lowered. On the other hand, if the method for determining the measurement locus of the present embodiment is used, the measurement data corresponding to the two-lap measurement can be obtained in the measurement time of the one-lap measurement, and the accuracy of the edge position information can be improved.

なお、レンズLEが乱視の高度数を持つ場合、後屈折面は球面から外れた非球面形状となる。この場合、上記の球Scを基に求めた軌跡Kpのコバ位置及び傾斜情報は精度が低下する可能性がある。このような場合は、レンズの少なくとも2周測定を実行できるように、選択手段の例である選択ユニット52によって、選択可能にしておいてもよい。例えば、2周の測定軌跡は玉型に基づいて異なる軌跡として制御ユニット50によって決定される。例えば、従来の2周測定の測定軌跡C1、CT2のように、1周目の第1測定軌跡が玉型に基づいて決定され、2周目の第2測定軌跡が第1測定軌跡に対して動径方向に一定距離だけ変動させた軌跡として決定される。 When the lens LE has an altitude of astigmatism, the posterior refracting surface has an aspherical shape deviated from the spherical surface. In this case, the accuracy of the edge position and inclination information of the locus Kp obtained based on the above sphere Sc may decrease. In such a case, the lens may be made selectable by the selection unit 52, which is an example of the selection means, so that the measurement of at least two turns of the lens can be performed. For example, the measurement loci of two laps are determined by the control unit 50 as different loci based on the lens shape. For example, as in the conventional measurement loci C1 and CT2 of the two-lap measurement, the first measurement locus of the first lap is determined based on the lens shape, and the second measurement locus of the second lap is relative to the first measurement locus. It is determined as a locus that is changed by a certain distance in the radial direction.

例えば、選択ユニット52に作業者が選択信号を入力するための選択スイッチを設け、この選択スイッチの信号入力がある場合に制御ユニット50は2周測定を実行する。また、この選択信号の入力は、制御ユニット50によって自動的に行われるようにしてもよい。例えば、データ入力ユニット13によってレンズLEの乱視度数が入力され、乱視度数に基づいて制御ユニット50は1周測定とするか、2周測定とするかを選択する。 For example, the selection unit 52 is provided with a selection switch for an operator to input a selection signal, and when the selection switch has a signal input, the control unit 50 executes two-lap measurement. Further, the input of the selection signal may be automatically performed by the control unit 50. For example, the astigmatic power of the lens LE is input by the data input unit 13, and the control unit 50 selects whether to perform one-lap measurement or two-lap measurement based on the astigmatic power.

またさらに、玉型が或る基準より円形に近い場合にレンズの2周測定を選択できるようにしてもよい。例えば、基準軌跡ST1に対する測定軌跡MTの変動成分Δdの設定によっては、玉型が円形に近過ぎると、コバ位置情報の取得の精度が悪くなることもあり得る。例えば、玉型が円形に近い場合とは、玉型の幾何中心に対する動径長の最大値と最小値の差が所定値以下である場合とし、この場合には2周測定とするように選択ユニット52で選択可能(作業者による手動選択と制御ユニット50による自動選択の少なくとも一方)にしておいてもよい。 Furthermore, when the lens shape is closer to a circle than a certain reference, it may be possible to select the two-circle measurement of the lens. For example, depending on the setting of the fluctuation component Δd of the measurement locus MT with respect to the reference locus ST1, if the lens shape is too close to a circle, the accuracy of acquiring the edge position information may deteriorate. For example, the case where the lens shape is close to a circle means that the difference between the maximum value and the minimum value of the radius length with respect to the geometric center of the lens shape is less than or equal to a predetermined value. It may be selectable by the unit 52 (at least one of manual selection by the operator and automatic selection by the control unit 50).

レンズLEの仕上げ加工後に予定する形状情報が得られたら、レンズLEの周縁加工が行われる。レンズLEの周縁加工について簡単に説明する。以下では、ヤゲン加工する場合を説明する。初めに、粗加工が行われる。制御ユニット50により、玉型に基づいて粗加工データが取得され、粗加工データに基づいて移動ユニット300が制御され、レンズLEが粗加工具163aによって粗加工される。続いて、ヤゲンの仕上げ加工が行われる。制御ユニット50により、レンズLEの仕上げ加工後に予定する形状情報に基づいてヤゲン軌跡(動径情報と軸L1方向におけるヤゲン頂点の位置の情報)の演算が行われ、これに基づいて移動ユニット300が制御され、粗加工後のレンズLEの周縁が仕上げ加工具163dによってヤゲン加工される。面取りが有る場合は、軌跡Kpのコバ位置情報とコバ位置における傾斜情報とに基づいて移動ユニット300が制御され、第2加工具ユニット400が持つ面取り加工具によってレンズLEのコバが面取り加工される。 When the desired shape information is obtained after the finishing process of the lens LE, the peripheral edge processing of the lens LE is performed. The peripheral processing of the lens LE will be briefly described. In the following, the case of bevel processing will be described. First, roughing is performed. The control unit 50 acquires roughing data based on the lens shape, the moving unit 300 is controlled based on the roughing data, and the lens LE is roughed by the roughing tool 163a. Subsequently, the bevel finish processing is performed. The control unit 50 calculates the bevel locus (radius information and information on the position of the bevel apex in the axis L1 direction) based on the shape information scheduled after finishing the lens LE, and the moving unit 300 is based on this calculation. The peripheral edge of the lens LE after being controlled and rough-processed is beveled by the finishing tool 163d. When there is chamfering, the moving unit 300 is controlled based on the edge position information of the locus Kp and the inclination information at the edge position, and the edge of the lens LE is chamfered by the chamfering tool possessed by the second processing tool unit 400. ..

以上で説明した図6の測定軌跡MTは例示に過ぎない。図9、図10は、測定軌跡MTの他の例を示す図である。図9(a)は、図6の例に対して、変動成分Δdの軌跡が直線的に変化する例である。図9(b)は、図6の例に対して、測定軌跡MTは、一部の軌跡が基準軌跡ST1に沿い、一部の軌跡が補助軌跡ST2に沿い、この2つの間は直線又は曲線で結んだ軌跡となるように変動成分Δdの軌跡を決めた例である。また、図9(a)及び図9(b)は、変動成分Δdの軌跡が周期的に現れる例である。なお、複数の変動成分Δdを出現させる場合、その高さ(基準軌跡ST1に対する動径方向の距離)は、場所によって異なっていてもよい。 The measurement locus MT of FIG. 6 described above is merely an example. 9 and 10 are diagrams showing another example of the measurement locus MT. FIG. 9A is an example in which the locus of the variable component Δd changes linearly with respect to the example of FIG. 9 (b) shows that, with respect to the example of FIG. 6, in the measurement locus MT, a part of the locus is along the reference locus ST1 and a part of the locus is along the auxiliary locus ST2, and a straight line or a curve is formed between the two. This is an example in which the locus of the variable component Δd is determined so as to be a locus connected by. Further, FIGS. 9 (a) and 9 (b) are examples in which the locus of the variable component Δd appears periodically. When a plurality of variable components Δd appear, their heights (distance in the radial direction with respect to the reference locus ST1) may differ depending on the location.

なお、円形の玉型(基準軌跡ST1)であっても、少なくとも円形から一部が動径方向に変動した成分を持てば、原理的には測定軌跡MTが載る球Scを求めることができるので、必ずしも周期的に出現させる必要性はない。例えば、図9(c)のように、基準軌跡ST1に対して変動成分Δdの軌跡が一つのみ出現する場合であってもよい。 Even if it is a circular lens shape (reference locus ST1), in principle, a sphere Sc on which the measurement locus MT is placed can be obtained as long as it has a component in which at least a part of the circular shape fluctuates in the radial direction. , It is not always necessary to make it appear periodically. For example, as shown in FIG. 9C, only one locus of the variable component Δd may appear with respect to the reference locus ST1.

また、図9(d)は、変動成分Δdの軌跡が2つ出現する場合であって、一つの変動成分Δdにおいて、測定軌跡MTの1/4が補助軌跡ST2に沿った変動成分を持つ軌跡であり、2つ目の変動成分Δdを180度対象に配置した例である。 Further, FIG. 9D shows a case where two loci of the fluctuation component Δd appear, and in one fluctuation component Δd, 1/4 of the measurement locus MT has a locus having a fluctuation component along the auxiliary locus ST2. This is an example in which the second variable component Δd is arranged in a 180-degree target.

図10は、変動成分Δdが測定軌跡MTの動径角0度、90度、180度及び270度の4箇所で補助軌跡ST2に一致し、動径角45度、135度、225度及び315度の4箇所で基準軌跡ST1に一致し、各点を曲線で繋げた測定軌跡MTの例である。 In FIG. 10, the fluctuation component Δd coincides with the auxiliary locus ST2 at four points of the radial angles of the measurement locus MT, which are 0 degrees, 90 degrees, 180 degrees, and 270 degrees, and the radial angles are 45 degrees, 135 degrees, 225 degrees, and 315. This is an example of a measurement locus MT that matches the reference locus ST1 at four points and connects each point with a curve.

このように、測定軌跡MTは様々なパターンがあり、基準軌跡ST1に対して部分的に動径方向に変動させた成分Δdを持つものであればよい。変動成分Δdは少なくとも1つであればよく、好ましくは複数であるとよい。 As described above, the measurement locus MT has various patterns, and may have a component Δd that is partially varied in the radial direction with respect to the reference locus ST1. The variable component Δd may be at least one, and preferably a plurality.

以上、本開示の典型的な実施例を説明したが、本開示はここに示した実施例に限られず、本開示の技術思想を同一にする範囲において種々の変容が可能である。 Although the typical examples of the present disclosure have been described above, the present disclosure is not limited to the examples shown here, and various modifications can be made within the scope of making the technical idea of the present disclosure the same.

1 眼鏡レンズ加工装置
50 制御ユニット
52 選択ユニット
100 レンズ保持ユニット
150 第1加工具ユニット
102 レンズチャック軸
200 眼鏡レンズ形状測定装置
200A レンズ形状測定ユニット
260 測定子
280 センサ
300 移動ユニット
ST1 基準軌跡
MT 測定軌跡
Δd 変動成分
1 Eyeglass lens processing device 50 Control unit 52 Selection unit 100 Lens holding unit 150 1st processing tool unit 102 Lens chuck axis 200 Eyeglass lens shape measuring device 200A Lens shape measuring unit 260 Stylus 280 Sensor 300 Moving unit ST1 Reference trajectory MT measurement trajectory Δd variable component

Claims (8)

眼鏡レンズの屈折面の形状を玉型に基づいて測定する眼鏡レンズ形状測定装置であって、
眼鏡レンズを保持する保持手段と、
眼鏡レンズの屈折面に接触させる測定子と、
前記保持手段に保持された眼鏡レンズと前記測定子との位置関係を相対的に変化させる移動手段と、
前記保持手段の保持軸方向における前記測定子の位置を検知する検知手段と、
玉型を基に眼鏡レンズの1周の基準軌跡を決定し、前記基準軌跡に対して部分的に動径方向に変動させた成分を持つように測定軌跡を決定する測定軌跡決定手段と、
前記測定軌跡に基づいて前記移動手段を制御し、前記検知手段の検知結果に基づいて前記保持手段の保持軸方向における眼鏡レンズの屈折面形状を取得する制御手段と、
を備えることを特徴とする眼鏡レンズ形状測定装置。
A spectacle lens shape measuring device that measures the shape of the refracting surface of a spectacle lens based on a lens shape.
A holding means for holding the spectacle lens and
A stylus that comes into contact with the refracting surface of the spectacle lens,
A moving means that relatively changes the positional relationship between the spectacle lens held by the holding means and the stylus.
A detecting means for detecting the position of the stylus in the holding axis direction of the holding means, and
A measurement locus determining means for determining a reference locus for one circumference of the spectacle lens based on the lens shape and determining a measurement locus so as to have a component partially varied in the radial direction with respect to the reference locus.
A control means that controls the moving means based on the measurement locus and acquires the shape of the refracting surface of the spectacle lens in the holding axis direction of the holding means based on the detection result of the detecting means.
A spectacle lens shape measuring device comprising.
請求項1の眼鏡レンズ形状測定装置おいて、前記測定軌跡は、前記基準軌跡に対して動径方向に周期的に変動させた成分を持つ軌跡であることを特徴とする眼鏡レンズ形状測定装置。 The spectacle lens shape measuring device according to claim 1, wherein the measurement locus is a locus having a component periodically changed in the radial direction with respect to the reference locus. 請求項1又は2の眼鏡レンズ形状測定装置において、前記測定軌跡は、前記基準軌跡に対して動径方向に曲線的に変動させた成分と直線的に変動させた成分の少なくとも一方を持つことを特徴とする眼鏡レンズ形状測定装置。 In the spectacle lens shape measuring device according to claim 1 or 2, the measurement locus has at least one of a component that is curvedly changed in the radial direction and a component that is linearly changed with respect to the reference locus. A featured spectacle lens shape measuring device. 請求項1〜3の何れかの眼鏡レンズ形状測定装置において、前記測定軌跡決定手段は、前記基準軌跡に対して全周に亘って動径方向に一定距離を変動させた補助軌跡を決定し、前記補助軌跡を通るように測定軌跡を決定することを特徴とする眼鏡レンズ形状測定装置。 In the spectacle lens shape measuring device according to any one of claims 1 to 3, the measurement locus determining means determines an auxiliary locus in which a constant distance is varied in the radial direction over the entire circumference with respect to the reference locus. A spectacle lens shape measuring device, characterized in that a measurement locus is determined so as to pass through the auxiliary locus. 請求項1の眼鏡レンズ形状測定装置において、前記制御手段は、前記検知手段の検知結果に基づいて前記測定軌跡が載る球を求め、求めた球に眼鏡レンズの仕上げ加工後に予定するコバ動径軌跡を投影することによって、前記投影した軌跡に関するレンズ屈折面の形状を取得することを特徴とする眼鏡レンズ形状測定装置。 In the spectacle lens shape measuring device of claim 1, the control means obtains a sphere on which the measurement locus is placed based on the detection result of the detection means, and the edge moving diameter locus scheduled after finishing the spectacle lens on the obtained sphere. A spectacle lens shape measuring device, characterized in that the shape of a lens refracting surface with respect to the projected locus is acquired by projecting. 請求項1の眼鏡レンズ形状測定装置において、玉型に基づいて眼鏡レンズの少なくとも2周の異なる測定軌跡を決定する2周軌跡決定手段と、
前記制御手段が前記移動手段を制御するときの測定軌跡を選択するために構成された選択手段であって、測定軌跡を前記測定軌跡決定手段によって決定された測定軌跡とするか、前記2周軌跡決定手段によって決定された少なくとも2周の測定軌跡とするか、を選択する選択手段と、
を備えることを特徴する眼鏡レンズ形状測定装置。
In the spectacle lens shape measuring device of claim 1, a two-circumferential trajectory determining means for determining different measurement trajectories of at least two laps of the spectacle lens based on a lens shape,
The control means is a selection means configured to select a measurement locus when controlling the moving means, and the measurement locus is a measurement locus determined by the measurement locus determining means, or the two-lap locus. A selection means for selecting whether to use a measurement trajectory of at least two laps determined by the determination means,
A spectacle lens shape measuring device characterized by comprising.
請求項1〜6の何れかの眼鏡レンズ形状測定装置を備えることを特徴とする眼鏡レンズ加工装置。 A spectacle lens processing apparatus comprising the spectacle lens shape measuring apparatus according to any one of claims 1 to 6. 保持手段に保持された眼鏡レンズと測定子との位置関係を玉型に基づいて相対的に変化させる移動手段と、前記保持手段の保持軸方向における測定子の位置を検知する検知手段と、を備え、前記検知手段の検知結果に基づいて眼鏡レンズの屈折面の形状を測定する眼鏡レンズ形状測定装置で実行される眼鏡レンズ形状測定プログラムであって、
玉型を基に眼鏡レンズの1周の基準軌跡を決定する基準軌跡決定ステップと、
前記基準軌跡に対して部分的に動径方向に変動させた成分を持つように測定軌跡を決定する測定軌跡決定ステップと、
前記測定軌跡に基づいて前記移動手段を制御し、前記検知手段の検知結果に基づいて前記保持手段の保持軸方向における眼鏡レンズの屈折面形状を得る制御ステップと、
を眼鏡レンズ形状測定装置に実行させることを特徴とする眼鏡レンズ形状測定プログラム。
A moving means that relatively changes the positional relationship between the spectacle lens held by the holding means and the stylus based on the lens shape, and a detecting means that detects the position of the stylus in the holding axis direction of the holding means. A spectacle lens shape measurement program executed by a spectacle lens shape measuring device that measures the shape of the refracting surface of the spectacle lens based on the detection result of the detection means.
A reference trajectory determination step that determines the reference trajectory for one round of the spectacle lens based on the lens shape, and
A measurement locus determination step of determining a measurement locus so as to have a component partially varied in the radial direction with respect to the reference locus, and a measurement locus determination step.
A control step of controlling the moving means based on the measurement locus and obtaining the shape of the refracting surface of the spectacle lens in the holding axis direction of the holding means based on the detection result of the detecting means.
A spectacle lens shape measuring program characterized by causing a spectacle lens shape measuring device to execute.
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