JP2021093664A - Image processing system, image processing apparatus, program, control management system, and apparatus - Google Patents

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Abstract

To make it possible to change a control parameter in conformity with a standard.SOLUTION: An image processing system 100 comprises an image processing apparatus 200 and a server 300. The image processing apparatus 200 includes: an image forming unit; a machine learning execution unit that executes machine learning related to a control parameter of the image forming unit; a temporary determination unit that temporarily determines, based on a result of the machine learning, a new control parameter as a control parameter after change (post-change parameter); and a communication unit that transmits the post-change parameter to the server before updating the post-change parameter. The server 300 determines whether or not the post-change parameter has passed a standard test and transmits a result to the image processing apparatus. The image processing apparatus 200 includes an update unit that updates the post-change parameter in accordance with the test result.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、画像処理システム、画像処理装置、プログラム、制御管理システムおよび装置に関する。 The present invention relates to image processing systems, image processing devices, programs, control management systems and devices.

家庭やオフィスで利用される電気製品や電子機器、工場に設置される製造装置、医療機器に対して、安全確保や環境保護などに係る規制(規格)がある。一例として、電磁妨害波の規制がある。複合機などの電子写真方式の画像処理装置に備わる現像器には、高電圧の直流成分と、高周波矩形波の交流成分とを含む電圧が掛かっている。交流成分は矩形波であるため多くの高周波成分を含み、電圧が高いため電磁妨害波が発生しやすい。このため、画像処理装置の製造者は、電磁妨害波の規制をクリアしていること(電磁妨害波の電波強度が規制の限度値以下であること)を試験して確認した後に出荷している。 There are regulations (standards) related to ensuring safety and environmental protection for electrical products and electronic devices used in homes and offices, manufacturing equipment installed in factories, and medical equipment. One example is the regulation of electromagnetic interference. A voltage including a high-voltage DC component and a high-frequency square wave AC component is applied to a developing device provided in an electrophotographic image processing device such as a multifunction device. Since the AC component is a square wave, it contains many high-frequency components, and because the voltage is high, electromagnetic interference waves are likely to be generated. For this reason, the manufacturer of the image processing device ships after testing and confirming that the regulation of the electromagnetic interference wave is cleared (the radio wave intensity of the electromagnetic interference wave is less than the regulation limit value). ..

一方、画像処理装置に対しては、画像の高画質化、高耐久化、多くの紙種への対応が求められており、出荷後も電圧や周波数の調整が求められている。さらに、画像処理装置が設置された環境(温度や湿度など)に対応するための調整も求められる。なお、高耐久化とは、画像処理装置が経年変化を起こしても、電圧や周波数などの制御パラメータを調整することで、使用期間を長くすることを意味する。このような出荷後の制御パラメータの調整は、画像処理装置に限らず、製造装置や医療機器などを含めさまざまな装置や機器で求められる。 On the other hand, image processing devices are required to have high image quality, high durability, and support for many paper types, and adjustment of voltage and frequency is required even after shipment. Further, adjustments are required to cope with the environment (temperature, humidity, etc.) in which the image processing device is installed. In addition, high durability means that even if the image processing device changes over time, the usage period is extended by adjusting control parameters such as voltage and frequency. Such adjustment of control parameters after shipment is required not only for image processing devices but also for various devices and devices including manufacturing devices and medical devices.

一般には、装置や機器の製造ないしは販売業者が、保守サービスの一環として制御パラメータの調整を行っている。また、機械学習技術の進展にともない、装置や機器がその状態に応じて制御パラメータを調整する技術が現れている。例えば、特許文献1に記載の発明は、工作機械において、加工誤差量、機械稼働率の観点から工具補正間隔を、強化学習を用いて最適化している。また、特許文献2に記載の発明は、ロボットの制御装置において、動作時間、目標位置からの乖離、振動などの観点からロボットの動作パラメータを、強化学習を用いて最適化している。 In general, manufacturers or distributors of equipment and devices adjust control parameters as part of maintenance services. In addition, with the progress of machine learning technology, a technology has emerged in which devices and devices adjust control parameters according to their states. For example, in the invention described in Patent Document 1, in a machine tool, the tool correction interval is optimized by using reinforcement learning from the viewpoint of the amount of machining error and the machine operating rate. Further, in the invention described in Patent Document 2, in the control device of the robot, the operation parameters of the robot are optimized by using reinforcement learning from the viewpoints of operation time, deviation from the target position, vibration and the like.

特許第5969676号公報Japanese Patent No. 5996676 特開2018−126796号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2018-126796

特許文献1,2に記載の発明では、機械の動作精度や動作時間、効率などの観点から制御パラメータの最適化が行われている。一方、装置や機器には、国や業界の規制、規格への準拠が求められる。例えば、電磁妨害波に関する情報処理装置等電波障害自主規制協議会(略称VCCI(Voluntary Control Council for Interference by Information Technology Equipment))が定める規制やEUのEMC(ElectroMagnetic Compatibility)指令、電気製品の安全性に関するEUの低電圧指令などを遵守する必要がある。 In the inventions described in Patent Documents 1 and 2, control parameters are optimized from the viewpoints of machine operation accuracy, operation time, efficiency, and the like. On the other hand, devices and equipment are required to comply with national and industry regulations and standards. For example, regarding regulations established by the Voluntary Control Council for Interference by Information Technology Equipment (VCCI) (abbreviated as VCCI (Voluntary Control Council for Interference by Information Technology Equipment)), EU's EMC (ElectroMagnetic Compatibility) directive, and safety of electrical products. It is necessary to comply with EU low voltage directives.

制御パラメータが変更されると、規制の対象となる値(例えば、EMC指令における装置が発する電磁妨害波の電波強度)が変化し、限度値を超える可能性がある。しかしながら、上記発明には規制に関する記載はなく、考慮されていない。 When the control parameter is changed, the value subject to regulation (for example, the radio field intensity of the electromagnetic interference wave emitted by the device in the EMC directive) changes and may exceed the limit value. However, the above invention has no description regarding regulation and is not considered.

本発明は、このような背景を鑑みてなされたものであり、機械学習で算出された制御パラメータの規格に準拠した範囲内での変更を可能とする画像処理システム、画像処理装置、プログラム、制御管理システムおよび装置を提供することを課題とする。 The present invention has been made in view of such a background, and an image processing system, an image processing device, a program, and a control capable of changing within a range conforming to a standard of control parameters calculated by machine learning. The subject is to provide a management system and equipment.

(1)画像処理装置とサーバとを備える画像処理システムであって、前記画像処理装置は、画像形成部と、前記画像形成部の所定の制御パラメータに関する機械学習を実行する機械学習実行部と、前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定する仮決定部と、前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する前に、前記変更後の制御パラメータを前記サーバに送信する通信部と、を備え、前記サーバは、前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果を判定して前記画像処理装置に送信する合否結果送信部を備え、前記画像処理装置はさらに、前記合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する更新部を備える、ことを特徴とする画像処理システム。 (1) An image processing system including an image processing device and a server, wherein the image processing device includes an image forming unit, a machine learning executing unit that executes machine learning related to a predetermined control parameter of the image forming unit, and an image processing unit. A tentative determination unit that tentatively determines a new control parameter as a changed control parameter based on the result of the machine learning, and the change before updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the image processing apparatus. The server includes a communication unit that transmits the later control parameters to the server, and the server includes a pass / fail result transmission unit that determines the pass / fail result of the standard test in the changed control parameters and transmits the pass / fail result to the image processing device. The image processing system further includes an update unit that updates the changed control parameter as a control parameter executed by the image processing device according to the pass / fail result.

(2)前記サーバには、前記画像処理装置と同型の画像処理装置が接続されており、前記合否結果送信部は、当該同型の画像処理装置の制御パラメータを前記変更後の制御パラメータに変更し、当該同型の画像処理装置を使って前記規格試験を行わせる、ことを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (2) An image processing device of the same type as the image processing device is connected to the server, and the pass / fail result transmission unit changes the control parameter of the image processing device of the same type to the changed control parameter. The image processing system according to (1), wherein the standard test is performed using the same type of image processing apparatus.

(3)前記サーバの記憶部には、前記規格試験に合格した制御パラメータが記憶され、前記合否結果送信部は、前記変更後の制御パラメータが前記合格した制御パラメータに含まれる場合には、前記規格試験に合格と送信する、ことを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (3) The control parameter that has passed the standard test is stored in the storage unit of the server, and the pass / fail result transmission unit is described when the changed control parameter is included in the passed control parameter. The image processing system according to (1), characterized in that it passes a standard test and transmits it.

(4)前記画像処理装置の記憶部には、前記規格試験の合否に影響する制御パラメータ群と、前記規格試験に影響しない制御パラメータ群とが記憶され、前記更新部は、前記規格試験の合否に影響する制御パラメータ群に含まれる制御パラメータについては、前記通信部によって前記サーバからの合格を受信した後に変更し、前記規格試験の合否に影響しない制御パラメータ群に含まれる制御パラメータについては、前記合否結果によらずに変更する、ことを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (4) A control parameter group that affects the pass / fail of the standard test and a control parameter group that does not affect the standard test are stored in the storage unit of the image processing device, and the update unit stores the pass / fail of the standard test. The control parameters included in the control parameter group that affect the standard test are changed after receiving the pass from the server by the communication unit, and the control parameters included in the control parameter group that does not affect the pass / fail of the standard test are described above. The image processing system according to (1), wherein the image processing system is changed regardless of the pass / fail result.

(5)前記画像処理装置の記憶部には、前記規格試験に影響しない制御パラメータの範囲が記憶され、前記更新部は、前記規格試験に影響しない制御パラメータの範囲外に含まれる制御パラメータについては、前記通信部によって前記サーバからの合格を受信した後に変更し、前記規格試験に影響しない制御パラメータの範囲内に含まれる制御パラメータについては、前記合否結果によらずに変更する、ことを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (5) The storage unit of the image processing device stores a range of control parameters that do not affect the standard test, and the update unit stores control parameters that are included outside the range of control parameters that do not affect the standard test. The control parameters are changed after receiving the pass from the server by the communication unit, and the control parameters included in the range of the control parameters that do not affect the standard test are changed regardless of the pass / fail result. The image processing system according to (1).

(6)前記サーバの記憶部には、前記規格試験に合格した制御パラメータの範囲である合格範囲と、前記規格試験に不合格であった制御パラメータの範囲である不合格範囲とが記憶され、前記合否結果送信部は、前記変更後の制御パラメータが前記合格範囲に含まれる場合には、前記規格試験に合格と送信し、前記変更後の制御パラメータが前記不合格範囲に含まれる場合には、前記規格試験に不合格と送信し、前記変更後の制御パラメータが前記合格範囲にも前記不合格範囲にも含まれない場合には、前記合格範囲のなかで前記変更後の制御パラメータに対応する制御パラメータに最も近い制御パラメータ値を送信する、または、前記同型の画像処理装置の制御パラメータを前記変更後の制御パラメータに対応するように変更して前記規格試験の合否結果を判定して送信し、前記更新部は、前記通信部が前記制御パラメータ値を受信した場合には、当該制御パラメータ値に変更する、ことを特徴とする(2)に記載の画像処理システム。 (6) In the storage unit of the server, a pass range, which is a range of control parameters that have passed the standard test, and a fail range, which is a range of control parameters that have failed the standard test, are stored. The pass / fail result transmission unit transmits that the changed control parameter has passed the standard test when it is included in the pass range, and the changed control parameter is included in the fail range. If the changed control parameter is not included in the pass range or the fail range, the changed control parameter corresponds to the changed control parameter in the pass range. The control parameter value closest to the control parameter to be used is transmitted, or the control parameter of the image processing device of the same type is changed so as to correspond to the changed control parameter, and the pass / fail result of the standard test is determined and transmitted. The image processing system according to (2), wherein the updating unit changes the control parameter value when the communication unit receives the control parameter value.

(7)前記画像処理装置の通信部は、前記変更後の制御パラメータとともに前記サーバに環境情報および使用履歴情報の何れか1つまたは両方を送信し、前記サーバの記憶部には、前記環境情報と前記使用履歴情報と関連付けて前記規格試験に合格したときの制御パラメータが記憶され、前記合否結果送信部は、前記変更後の制御パラメータが、前記画像処理装置が送信した環境情報および使用履歴情報の何れか1つまたは両方に関連付けられた前記規格試験に合格したときの制御パラメータに対応する場合には、前記規格試験に合格と送信する、ことを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (7) The communication unit of the image processing device transmits either one or both of the environment information and the usage history information to the server together with the changed control parameters, and the environment information is sent to the storage unit of the server. The control parameters when the standard test is passed are stored in association with the usage history information, and the pass / fail result transmission unit uses the changed control parameters as the environmental information and usage history information transmitted by the image processing apparatus. The image processing according to (1), wherein when the control parameter when the standard test is passed, which is associated with any one or both of the above, is transmitted, the result is transmitted as passing the standard test. system.

(8)前記サーバの記憶部には、前記画像処理装置の型ごとに前記規格試験に合格した制御パラメータ、およびファームウェアが記憶され、前記合否結果送信部は、当該型における前記規格試験に合格した制御パラメータ値が、当該型のファームウェアの規定値となるように当該型のファームウェアを変更する、ことを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (8) The storage unit of the server stores the control parameters and firmware that have passed the standard test for each type of the image processing device, and the pass / fail result transmission unit has passed the standard test for the type. The image processing system according to (1), wherein the firmware of the type is changed so that the control parameter value becomes a specified value of the firmware of the type.

(9)前記サーバの記憶部には、前記画像処理装置の型ごと、使用履歴ごと、および環境ごとに前記規格試験に合格したときの制御パラメータ、およびファームウェアが記憶され、前記合否結果送信部は、前記型、前記使用履歴、および前記環境における前記規格試験に合格した制御パラメータ値が、当該型、当該使用履歴、および当該環境のファームウェアの規定値となるように当該ファームウェアを変更する、ことを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (9) The storage unit of the server stores the control parameters and the firmware when the standard test is passed for each model of the image processing device, each usage history, and each environment, and the pass / fail result transmission unit stores the firmware. , The firmware is changed so that the control parameter values that have passed the standard test in the type, the usage history, and the environment are the specified values of the firmware of the type, the usage history, and the environment. The image processing system according to (1), which is a feature.

(10)前記制御パラメータは、前記画像処理装置を制御する物理パラメータであることを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (10) The image processing system according to (1), wherein the control parameter is a physical parameter that controls the image processing apparatus.

(11)前記規格試験の規格は、法規制および安全規制の少なくとも一方に対応する規格であることを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (11) The image processing system according to (1), wherein the standard of the standard test is a standard corresponding to at least one of a legal regulation and a safety regulation.

(12)前記機械学習は、所定の報酬判定を伴う強化学習であることを特徴とする(1)に記載の画像処理システム。 (12) The image processing system according to (1), wherein the machine learning is reinforcement learning accompanied by a predetermined reward determination.

(13)画像処理装置であって、画像形成部と、前記画像形成部の所定の制御パラメータに関する機械学習を実行する機械学習実行部と、前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定する仮決定部と、前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する前に、前記変更後の制御パラメータをサーバに送信する通信部と、前記サーバから受信した前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する更新部と、を備えることを特徴とする画像処理装置。 (13) After changing the image processing unit, the machine learning execution unit that executes machine learning related to a predetermined control parameter of the image forming unit, and a new control parameter based on the result of the machine learning. A tentative determination unit that tentatively determines as a control parameter of the above, a communication unit that transmits the changed control parameter to a server before updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the image processing device, and the above. An image characterized by comprising an update unit that updates the changed control parameter as a control parameter executed by the image processing device according to a pass / fail result of a standard test in the changed control parameter received from a server. Processing equipment.

(14)前記制御パラメータは、前記画像処理装置を制御する物理パラメータであることを特徴とする(13)に記載の画像処理装置。 (14) The image processing apparatus according to (13), wherein the control parameter is a physical parameter that controls the image processing apparatus.

(15)前記規格試験の規格は、法規制および安全規制の少なくとも一方に対応する規格であることを特徴とする(13)に記載の画像処理装置。 (15) The image processing apparatus according to (13), wherein the standard of the standard test is a standard corresponding to at least one of a legal regulation and a safety regulation.

(16)コンピュータである画像処理装置に実行させるためのプログラムであって、画像を形成するステップと、前記画像の形成に係る制御パラメータに関する機械学習を実行するステップと、前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定するステップと、前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する前に、前記変更後の制御パラメータをサーバに送信するステップと、前記サーバから受信した前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新するステップと、を実行させるためのプログラム。 (16) A program for being executed by an image processing device that is a computer, based on a step of forming an image, a step of executing machine learning related to control parameters related to the formation of the image, and a result of the machine learning. A step of tentatively determining a new control parameter as a changed control parameter and transmitting the changed control parameter to a server before updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the image processing apparatus. To execute the step and the step of updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the image processing device according to the pass / fail result of the standard test in the changed control parameter received from the server. program.

(17)前記制御パラメータは、前記画像処理装置を制御する物理パラメータであることを特徴とする(16)に記載のプログラム。 (17) The program according to (16), wherein the control parameter is a physical parameter that controls the image processing apparatus.

(18)前記規格試験の規格は、法規制および安全規制の少なくとも一方に対応する規格であることを特徴とする(16)に記載のプログラム。 (18) The program according to (16), wherein the standard of the standard test is a standard corresponding to at least one of a legal regulation and a safety regulation.

(19)制御パラメータを備える装置の前記制御パラメータの変更を管理する制御管理システムであって、前記制御パラメータに関する機械学習を実行する機械学習実行手段と、前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定する仮決定手段と、前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果を判定する合否判定手段と、前記合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを前記装置で実行する制御パラメータとして更新する更新手段と、を備える制御管理システム。 (19) A control management system that manages changes in the control parameters of a device having control parameters, a machine learning execution means for executing machine learning related to the control parameters, and new control parameters based on the result of the machine learning. As a tentative determination means for tentatively determining the changed control parameter, a pass / fail determination means for determining the pass / fail result of the standard test in the changed control parameter, and the changed control parameter according to the change result. A control management system equipped with an update means for updating as a control parameter to be executed in.

(20)制御パラメータに関する機械学習を実行する機械学習実行部と、前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定する仮決定部と、前記変更後の制御パラメータを自装置で実行する制御パラメータとして更新する前に、前記変更後の制御パラメータをサーバに送信する通信部と、前記サーバから受信した前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを自装置で実行する制御パラメータとして更新する更新部と、を備える装置。 (20) A machine learning execution unit that executes machine learning related to control parameters, a tentative determination unit that tentatively determines a new control parameter as a changed control parameter based on the result of the machine learning, and a changed control parameter. Before updating as a control parameter to be executed by the own device, the change is made according to the pass / fail result of the standard test in the communication unit that transmits the changed control parameter to the server and the changed control parameter received from the server. A device including an update unit that updates later control parameters as control parameters to be executed by the own device.

本発明によれば、機械学習で算出された制御パラメータの規格に準拠した範囲内での変更を可能とする画像処理システム、画像処理装置、プログラム、制御管理システムおよび装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an image processing system, an image processing device, a program, a control management system and a device capable of changing a control parameter calculated by machine learning within a range conforming to a standard.

本実施形態に係る画像処理システムの全体構成図である。It is an overall block diagram of the image processing system which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る画像処理装置の内部構成図である。It is an internal block diagram of the image processing apparatus which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る画像処理装置の機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the image processing apparatus which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る画像処理装置の現像器に加わる電圧を例示する図である。It is a figure which illustrates the voltage applied to the developer of the image processing apparatus which concerns on this embodiment. 電磁妨害波の規格限度値の一例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating an example of the standard limit value of an electromagnetic interference wave. 本実施形態に係るサーバの機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the server which concerns on this embodiment. 本実施形態に係るサーバが記憶する試験用画像処理装置データベースのデータ構成図である。It is a data structure diagram of the test image processing apparatus database stored in the server which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る画像処理システムの制御パラメータ変更処理のシーケンス図(1)である。It is a sequence diagram (1) of the control parameter change processing of the image processing system which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る画像処理システムの制御パラメータ変更処理のシーケンス図(2)である。It is a sequence diagram (2) of the control parameter change processing of the image processing system which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る画像処理装置(ユーザ機)の印刷処理のフローチャート(1)である。It is a flowchart (1) of the printing process of the image processing apparatus (user machine) which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る画像処理装置(ユーザ機)の印刷処理のフローチャート(2)である。It is a flowchart (2) of the printing process of the image processing apparatus (user machine) which concerns on this embodiment. 本実施形態の変形例1に係るサーバの機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the server which concerns on the modification 1 of this embodiment. 本実施形態の変形例1に係るサーバが記憶する合格値パラメータデータベースのデータ構成図である。It is a data structure diagram of the pass value parameter database stored in the server which concerns on the modification 1 of this embodiment. 本実施形態の変形例1に係る画像処理システムの制御パラメータ変更処理のシーケンス図(1)である。It is a sequence diagram (1) of the control parameter change processing of the image processing system which concerns on the modification 1 of this embodiment. 本実施形態の変形例1に係る画像処理システムの制御パラメータ変更処理のシーケンス図(2)である。It is a sequence diagram (2) of the control parameter change processing of the image processing system which concerns on the modification 1 of this embodiment. 本実施形態の変形例2に係る画像処理装置が記憶するパラメータ種別データベースのデータ構成図である。It is a data structure diagram of the parameter type database stored in the image processing apparatus which concerns on modification 2 of this embodiment. 本実施形態の変形例3に係る画像処理装置が記憶する試験免除パラメータデータベースのデータ構成図である。It is a data block diagram of the test exemption parameter database stored in the image processing apparatus which concerns on modification 3 of this embodiment. 本実施形態の変形例4に係るサーバが記憶する合否履歴パラメータデータベースのデータ構成図である。It is a data structure diagram of the pass / fail history parameter database stored in the server which concerns on the modification 4 of this embodiment. 本実施形態の変形例5に係るサーバが記憶する合格履歴パラメータデータベースのデータ構成図である。It is a data structure diagram of the pass history parameter database stored in the server which concerns on the modification 5 of this embodiment. 本実施形態の変形例6に係るサーバの機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the server which concerns on the modification 6 of this embodiment. 本実施形態の変形例6に係るサーバが記憶する平均合格値パラメータデータベースのデータ構成図である。It is a data structure diagram of the average pass value parameter database stored in the server which concerns on modification 6 of this embodiment. 本実施形態の変形例7に係るサーバが記憶する平均合格値パラメータデータベースのデータ構成図である。It is a data structure diagram of the average pass value parameter database stored in the server which concerns on the modification 7 of this embodiment.

以下に、本発明を実施するための形態(実施形態)における画像処理システムについて説明する。画像処理システムは、ユーザが利用する画像処理装置(ユーザ機)、サーバ、および試験室に設置される画像処理装置(試験対象機)を含む。ユーザ機は、テストチャートを印刷し、印刷結果を読み取って、現在の制御パラメータにおける画像を評価し、新しい制御パラメータを決定する。ユーザ機は、新しい制御パラメータをサーバに送信する。サーバは、試験対象機に新しい制御パラメータを設定して、試験対象機が電磁妨害波の規制を満たすか否かを試験して、合否をユーザ機に通知する。ユーザ機は、合格なら新しい制御パラメータを設定し、不合格なら現在の設定のままとする。 Hereinafter, the image processing system according to the embodiment (embodiment) for carrying out the present invention will be described. The image processing system includes an image processing device (user machine) used by the user, a server, and an image processing device (test target machine) installed in the test room. The user machine prints a test chart, reads the print result, evaluates the image under the current control parameters, and determines new control parameters. The user machine sends new control parameters to the server. The server sets new control parameters on the test target machine, tests whether the test target machine meets the electromagnetic interference regulation, and notifies the user machine of the pass / fail. The user machine sets a new control parameter if it passes, and keeps the current setting if it fails.

ユーザ機が新しい制御パラメータ値を決定する手法の一つとして、強化学習がある。制御パラメータの設定値を状態とし、設定値の変更を行動として、テストチャートの印刷結果に基づいて報酬を定めることで、強化学習による画像品質を向上するための制御パラメータの変更(最適化)が可能となる。強化学習以外の機械学習技術を用いてもよい。
試験対象機で制御パラメータの電磁妨害波の規制を満たすかの試験(規格試験)を実行することで、ユーザ機においても規制を満たすことが保証できるようなり、規制を満たす範囲内でのユーザ機ごとの画像品質向上が可能となる。画像処理装置(ユーザ機)の部品のばらつきやユーザ機が設置されている環境、経年変化まで考慮した制御パラメータの最適化が可能となる。
なお、以下の実施形態では、規制(規格)として電磁妨害波を例にして説明するが、他の規制や規格であってもよい。
Reinforcement learning is one of the methods for the user machine to determine a new control parameter value. By setting the set value of the control parameter as a state, changing the set value as an action, and determining the reward based on the print result of the test chart, the change (optimization) of the control parameter to improve the image quality by reinforcement learning can be performed. It will be possible. Machine learning techniques other than reinforcement learning may be used.
By executing a test (standard test) to see if the control parameter electromagnetic interference wave regulation is met on the test target machine, it is possible to guarantee that the user machine also meets the regulation, and the user machine within the range that meets the regulation. It is possible to improve the image quality for each. It is possible to optimize control parameters in consideration of variations in the parts of the image processing device (user machine), the environment in which the user machine is installed, and changes over time.
In the following embodiment, the electromagnetic interference wave will be described as an example of the regulation (standard), but other regulations and standards may be used.

≪画像処理システムの全体構成≫
図1は、本実施形態に係る画像処理システム100の全体構成図である。画像処理システム100は、画像処理装置200(ユーザ機)、サーバ300、および画像処理装置600(試験対象機)を含んで構成される。画像処理装置200は、ユーザが利用する画像処理装置であって、ネットワーク800を介してサーバ300と通信可能である。
画像処理装置600(試験対象機)は、試験室500(電波暗室)に設置され、規格試験器550により画像処理装置600が発する電磁妨害波の強度が測定される。規格試験器550の測定結果は、サーバ300に送信される。
≪Overall configuration of image processing system≫
FIG. 1 is an overall configuration diagram of the image processing system 100 according to the present embodiment. The image processing system 100 includes an image processing device 200 (user machine), a server 300, and an image processing device 600 (test target machine). The image processing device 200 is an image processing device used by the user, and can communicate with the server 300 via the network 800.
The image processing device 600 (test target machine) is installed in the test room 500 (anechoic chamber), and the intensity of the electromagnetic interference wave emitted by the image processing device 600 is measured by the standard tester 550. The measurement result of the standard tester 550 is transmitted to the server 300.

図1では、1つの試験室500に1つの画像処理装置600と1つの規格試験器550が設置されているが、これに限らず、複数の画像処理装置600や複数の規格試験器550が設置されてもよい。また、1つのサーバ300に複数の試験室500が接続されているが、1つの試験室500であってもよい。 In FIG. 1, one image processing device 600 and one standard tester 550 are installed in one test room 500, but the present invention is not limited to this, and a plurality of image processing devices 600 and a plurality of standard testers 550 are installed. May be done. Further, although a plurality of test rooms 500 are connected to one server 300, one test room 500 may be used.

≪画像処理装置(ユーザ機)の構成≫
図2は、本実施形態に係る画像処理装置200の内部構成図である。画像処理装置200は、給紙トレイ281,282,283、搬送路270、画像形成部260、スキャナ291、および排紙トレイ292を含んで構成される。給紙トレイ281,282,283には、用紙(記録媒体)がセットされる。用紙は、搬送路270上を搬送され、画像形成部260で印刷(画像が形成)されて、排紙トレイ292に排出される。画像形成部260と排紙トレイ292との間の搬送路270上にスキャナ291が備えられ、印刷された用紙上の画像を読み取る。
<< Configuration of image processing device (user machine) >>
FIG. 2 is an internal configuration diagram of the image processing device 200 according to the present embodiment. The image processing device 200 includes a paper feed tray 281,282,283, a transport path 270, an image forming unit 260, a scanner 291 and a paper ejection tray 292. Paper (recording medium) is set in the paper feed trays 281, 228, 283. The paper is conveyed on the transport path 270, printed (image is formed) by the image forming unit 260, and discharged to the paper ejection tray 292. A scanner 291 is provided on the transport path 270 between the image forming unit 260 and the output tray 292, and reads an image on the printed paper.

画像形成部260は、レーザ264、感光体261、現像器263、帯電極265、一次転写ローラ262、一次転写ベルト268、二次転写ローラ267、および定着器266を含んで構成される。レーザ264、感光体261、現像器263、帯電極265、および一次転写ローラ262は、YMCK4色に対応して、それぞれ4つずつ備わる。 The image forming unit 260 includes a laser 264, a photoconductor 261 and a developing device 263, a band electrode 265, a primary transfer roller 262, a primary transfer belt 268, a secondary transfer roller 267, and a fixing device 266. The laser 264, the photoconductor 261 and the developer 263, the band electrode 265, and the primary transfer roller 262 are provided with four each corresponding to four colors of YMCK.

画像形成部260は、電子写真方式により搬送路270を搬送される用紙に画像を形成する。詳しくは、感光体261が帯電極265で帯電され、レーザ264で感光体261上に潜像が形成され、現像器263によりトナーが感光体261にのる。感光体261上のトナーは、一次転写ローラ262により一次転写ベルト268に転写され、一次転写ベルト268上で4色のトナーが重なり、トナー像が形成される。一次転写ベルト268上のトナー像は、二次転写ローラ267により搬送路270上の用紙に転写される。 The image forming unit 260 forms an image on the paper conveyed along the conveying path 270 by the electrophotographic method. Specifically, the photoconductor 261 is charged by the band electrode 265, a latent image is formed on the photoconductor 261 by the laser 264, and the toner is applied to the photoconductor 261 by the developer 263. The toner on the photoconductor 261 is transferred to the primary transfer belt 268 by the primary transfer roller 262, and the toners of four colors are overlapped on the primary transfer belt 268 to form a toner image. The toner image on the primary transfer belt 268 is transferred to the paper on the transport path 270 by the secondary transfer roller 267.

図3は、本実施形態に係る画像処理装置200の機能ブロック図である。画像処理装置200は、全体制御CPU(Central Processing Unit)211、記憶部212、プリンタ制御部220、ネットワークインタフェース219(図3では「ネットI/F」と記載、通信部とも記す)、レーザ264、およびスキャナ291を備える。 FIG. 3 is a functional block diagram of the image processing device 200 according to the present embodiment. The image processing device 200 includes a general control CPU (Central Processing Unit) 211, a storage unit 212, a printer control unit 220, a network interface 219 (described as "net I / F" in FIG. 3, also referred to as a communication unit), a laser 264, and the like. And a scanner 291.

全体制御CPU211は、記憶部212が記憶するプログラム214を実行することで、画像処理装置200全体を制御する制御部として機能する。また、全体制御CPU211は、レーザ264のON/OFFを制御して、感光体261上に潜像を形成する。他の制御として、画質に係る制御パラメータの変更(調整)がある。画像処理装置200を含む画像処理システム100の制御パラメータ変更処理については、後記する図8Aおよび図8Bで説明する。 The overall control CPU 211 functions as a control unit that controls the entire image processing device 200 by executing the program 214 stored in the storage unit 212. Further, the overall control CPU 211 controls ON / OFF of the laser 264 to form a latent image on the photoconductor 261. Another control is changing (adjusting) control parameters related to image quality. The control parameter change processing of the image processing system 100 including the image processing device 200 will be described later with reference to FIGS. 8A and 8B.

記憶部212は、プログラム214の他に、後記する機械学習モデル213を記憶する。ネットワークインタフェース219(通信部)は、画像処理システム100の構成要素であるサーバ300との間で通信データを送受信する。また、ネットワークインタフェース219は、パソコンなどの他の装置との通信データを送受信し、印刷ジョブのデータを受信する。スキャナ291は、搬送路270上の用紙に形成された画像を読み取り、全体制御CPU211に出力する。 The storage unit 212 stores the machine learning model 213, which will be described later, in addition to the program 214. The network interface 219 (communication unit) transmits and receives communication data to and from the server 300, which is a component of the image processing system 100. In addition, the network interface 219 transmits and receives communication data with other devices such as a personal computer, and receives print job data. The scanner 291 reads the image formed on the paper on the transport path 270 and outputs it to the overall control CPU 211.

プリンタ制御部220は、プリンタ制御CPU221、ROM(Read Only Memory)222、RAM(Random Access Memory)224、I/O部225、D/A部226を備えて構成される。プリンタ制御CPU221は、ROM222に記憶されるファームウェア223に従って動作して画像形成部260を制御し、制御に必要な一時的なデータはRAM224に記憶する。プリンタ制御CPU221は、I/O部225を介して搬送路270に備わる搬送ローラ271と定着器266とを制御する。また、プリンタ制御CPU221は、D/A部226を介して、レーザ264、帯電極265、現像器263、一次転写ベルト268、および二次転写ローラ267を制御する。 The printer control unit 220 includes a printer control CPU 221, a ROM (Read Only Memory) 222, a RAM (Random Access Memory) 224, an I / O unit 225, and a D / A unit 226. The printer control CPU 221 operates according to the firmware 223 stored in the ROM 222 to control the image forming unit 260, and temporarily stores the temporary data required for the control in the RAM 224. The printer control CPU 221 controls the transfer roller 271 and the fuser 266 provided in the transfer path 270 via the I / O unit 225. Further, the printer control CPU 221 controls the laser 264, the band electrode 265, the developing device 263, the primary transfer belt 268, and the secondary transfer roller 267 via the D / A unit 226.

≪現像電圧と画像との関係≫
図4は、本実施形態に係る画像処理装置200の現像器263に加わる電圧を例示する図である。現像器263のトナーに電圧を印加することで、感光体261上の潜像にトナーが移動する。印加する電圧には、直流成分と交流成分とがある。
≪Relationship between development voltage and image≫
FIG. 4 is a diagram illustrating a voltage applied to the developing device 263 of the image processing device 200 according to the present embodiment. By applying a voltage to the toner of the developing device 263, the toner moves to the latent image on the photoconductor 261. The applied voltage includes a DC component and an AC component.

図4における直流成分の電圧(現像電圧)V1は800Vである。交流成分は矩形波であり、振幅V2は200V、周波数fは3KHzである。時刻t1以前、および時刻t2以後は、アイドリング状態であり、電圧は印加されない。時刻t1と時刻t2との間は、印刷状態であり、図示する電圧が現像器263に印加される。
直流成分の電圧V1を調整することによって、画像の最高濃度が変化する。また、交流成分の振幅V2を調整することで中間濃度が変化し、周波数fを調整することで画像ノイズ、ムラが変化する。これらの電圧や周波数を調整することで、画質を調整、向上させることができる。しかしながら、矩形波は高周波成分を含み電圧が高いので、電磁妨害波が発生しやすく、VCCIなどの規制の範囲内で、調整する必要がある。
The voltage (development voltage) V1 of the DC component in FIG. 4 is 800V. The AC component is a square wave, the amplitude V2 is 200 V, and the frequency f is 3 KHz. Before time t1 and after time t2, the engine is idling and no voltage is applied. The printing state is between time t1 and time t2, and the voltage shown in the figure is applied to the developing device 263.
By adjusting the voltage V1 of the DC component, the maximum density of the image changes. Further, adjusting the amplitude V2 of the AC component changes the intermediate density, and adjusting the frequency f changes the image noise and unevenness. By adjusting these voltages and frequencies, the image quality can be adjusted and improved. However, since the rectangular wave contains a high frequency component and has a high voltage, an electromagnetic interference wave is likely to be generated, and it is necessary to adjust the rectangular wave within the range of regulations such as VCSI.

図5は、電磁妨害波の規格限度値の一例を説明するための図である。図5のなかで、PK(peak)、QP(quasi-peak)、AV(average)は、それぞれ電磁妨害波の尖頭値、準尖頭値、平均値を示し、単位はdBμV/mである。図5において一番下の行は、3GHz〜6GHzの電磁妨害波の測定距離3mでの限度値は、平均値で54dBμV/mであり、尖頭値で74dBμV/mであることを示している。 FIG. 5 is a diagram for explaining an example of a standard limit value of an electromagnetic interference wave. In FIG. 5, PK (peak), QP (quasi-peak), and AV (average) indicate the peak value, the quasi-peak value, and the average value of the electromagnetic interference wave, respectively, and the unit is dBμV / m. .. The bottom row in FIG. 5 shows that the limit value of the electromagnetic interference wave of 3 GHz to 6 GHz at the measurement distance of 3 m is 54 dBμV / m on average and 74 dBμV / m on the peak value. ..

≪画像処理装置(試験対象機)の構成≫
画像処理装置600(試験対象機)の構成は、記憶部212(図3参照)を除いて画像処理装置200(ユーザ機)と同様である。画像処理装置600は機械学習モデル213を備えない。また、画像処理装置600は、サーバ300から制御パラメータを受信して印刷を実行する。規格試験器550は、印刷実行時の画像処理装置600が発する電磁妨害波を測定して、測定結果をサーバ300に送信する。画像処理装置600を含む画像処理システム100の制御パラメータ変更処理については、後記する図8Aおよび図8Bで説明する。
<< Configuration of image processing device (test target machine) >>
The configuration of the image processing device 600 (test target machine) is the same as that of the image processing device 200 (user machine) except for the storage unit 212 (see FIG. 3). The image processing device 600 does not include the machine learning model 213. Further, the image processing device 600 receives a control parameter from the server 300 and executes printing. The standard tester 550 measures the electromagnetic interference wave generated by the image processing device 600 at the time of printing, and transmits the measurement result to the server 300. The control parameter change processing of the image processing system 100 including the image processing device 600 will be described later with reference to FIGS. 8A and 8B.

≪サーバの構成≫
図6は、本実施形態に係るサーバ300の機能ブロック図である。サーバ300は、コンピュータであって、制御部310、記憶部320、および通信部340を備える。サーバ300は、画像処理装置200(ユーザ機)から制御パラメータの変更値を受信し、画像処理装置600(試験対象機)を利用して制御パラメータの変更値が規制(規格)に準拠するか否かを試験する。詳しくは、サーバ300の制御部310(合否結果送信部)は、画像処理装置600の制御パラメータを変更値に設定して規格試験の実施を指示する。制御部310は、規格試験器550から電磁妨害波の強度の測定結果を受信して、規格試験の合否を判定して、判定結果を画像処理装置200に通知する。サーバ300を含む画像処理システム100の制御パラメータ変更処理については、後記する図8Aおよび図8Bで説明する。
通信部340は、画像処理装置200,600や規格試験器550との通信データを送受する。記憶部320は、試験用画像処理装置データベース330(後記する図7参照)を記憶する。
≪Server configuration≫
FIG. 6 is a functional block diagram of the server 300 according to the present embodiment. The server 300 is a computer and includes a control unit 310, a storage unit 320, and a communication unit 340. The server 300 receives the change value of the control parameter from the image processing device 200 (user machine), and uses the image processing device 600 (test target machine) to determine whether the change value of the control parameter complies with the regulation (standard). To test. Specifically, the control unit 310 (pass / fail result transmission unit) of the server 300 sets the control parameter of the image processing device 600 to a changed value and instructs the execution of the standard test. The control unit 310 receives the measurement result of the intensity of the electromagnetic interference wave from the standard tester 550, determines the pass / fail of the standard test, and notifies the image processing device 200 of the determination result. The control parameter change processing of the image processing system 100 including the server 300 will be described later with reference to FIGS. 8A and 8B.
The communication unit 340 transmits and receives communication data with the image processing devices 200 and 600 and the standard tester 550. The storage unit 320 stores the test image processing device database 330 (see FIG. 7 described later).

図7は、本実施形態に係るサーバ300が記憶する試験用画像処理装置データベース330のデータ構成図である。試験用画像処理装置データベース330は、表形式のデータであり、1つの行(レコード)は、1つの画像処理装置600(試験対象機)を示す。試験用画像処理装置データベース330のレコードは、識別情報331、機種332、アドレス333、試験室334、および試験器335の列(属性)を含んで構成される。
識別情報331、機種332、およびアドレス333は、画像処理装置600の識別情報、機種名、ネットワークアドレスである。試験室334は、画像処理装置600が設置されている試験室500(図1参照)の識別情報である。試験器335は、画像処理装置600が発する電磁妨害波の強度を測定する規格試験器550(図1参照)の識別情報である。
FIG. 7 is a data structure diagram of the test image processing apparatus database 330 stored in the server 300 according to the present embodiment. The test image processing device database 330 is tabular data, and one row (record) indicates one image processing device 600 (test target machine). The record of the test image processing apparatus database 330 is configured to include columns (attributes) of identification information 331, model 332, address 333, test room 334, and tester 335.
The identification information 331, the model 332, and the address 333 are the identification information, the model name, and the network address of the image processing apparatus 600. The test room 334 is identification information of the test room 500 (see FIG. 1) in which the image processing device 600 is installed. The test device 335 is identification information of the standard test device 550 (see FIG. 1) for measuring the intensity of the electromagnetic interference wave generated by the image processing device 600.

機種332に含まれる機種名は、1つとは限らず、電磁妨害波の試験について同等と見なせるならば、複数の機種名を含んでも構わない。また、試験器335に含まれる規格試験器550の識別情報は、1つとは限らず、複数の規格試験器550で電磁妨害波を測定する場合には、複数の識別情報が含まれる。
レコード339は、識別情報331が「T1234」である画像処理装置600の情報であって、機種名は「C1234」であり、ネットワークアドレスは「111.22.3.4」である。また、この画像処理装置600は、「R34」の試験室500に設置され、識別情報が「A1234」である規格試験器550により測定される。
The model name included in the model 332 is not limited to one, and a plurality of model names may be included as long as they can be regarded as equivalent for the electromagnetic interference test. Further, the identification information of the standard tester 550 included in the tester 335 is not limited to one, and when the electromagnetic interference wave is measured by a plurality of standard testers 550, a plurality of identification information is included.
The record 339 is the information of the image processing apparatus 600 whose identification information 331 is "T1234", the model name is "C1234", and the network address is "111.22.23.4". Further, the image processing device 600 is installed in the test room 500 of "R34" and is measured by the standard tester 550 whose identification information is "A1234".

≪制御パラメータ変更処理≫
制御パラメータの変更処理を説明する前に、画像処理装置200(ユーザ機)の全体制御CPU211(制御部)が実行する制御パラメータの強化学習について説明する。本実施形態における強化学習の対象である制御パラメータは、直流成分の電圧V1、交流成分の振幅V2および周波数f(図4参照)を設定する制御パラメータであって、それぞれ別の強化学習によって最適になるように調整される。
≪Control parameter change processing≫
Before explaining the control parameter change process, the reinforcement learning of the control parameters executed by the overall control CPU 211 (control unit) of the image processing device 200 (user machine) will be described. The control parameters that are the targets of reinforcement learning in this embodiment are control parameters that set the voltage V1 of the DC component, the amplitude V2 of the AC component, and the frequency f (see FIG. 4), and are optimally optimized by different reinforcement learning. It is adjusted to be.

最適な状態とは、テストチャートの印刷結果が最良であるということである。詳しくは、テストチャートを印刷して、印刷結果の画像をスキャナ291が読み取り、読み取った画像における最高濃度の誤差、中間調濃度の誤差、および画像ノイズがないことが最適である。画像処理装置200は、強化学習を実行して、最適となる電圧V1、振幅V2、周波数fの設定値(制御パラメータ値)を求める。 The optimum condition is that the print result of the test chart is the best. Specifically, it is optimal that the test chart is printed, the image of the print result is read by the scanner 291 and there is no maximum density error, halftone density error, and image noise in the read image. The image processing device 200 executes reinforcement learning to obtain optimum voltage V1, amplitude V2, and frequency f set values (control parameter values).

電圧V1の強化学習(強化学習Aとも記す)における状態は電圧V1の設定値(制御パラメータ値)であり、行動は設定値の変更であって、報酬は変更前後における最高濃度の誤差の減少量(改善量)である。振幅V2の強化学習(強化学習Bとも記す)における状態は振幅V2の設定値であり、行動は設定値の変更であって、報酬は変更前後における中間調濃度の誤差の減少量である。周波数fの強化学習(強化学習Cとも記す)における状態は周波数fの設定値であり、行動は設定値の変更であって、報酬は変更前後における画像ノイズの減少量である。 The state in the reinforcement learning of the voltage V1 (also referred to as reinforcement learning A) is the set value (control parameter value) of the voltage V1, the action is the change of the set value, and the reward is the amount of decrease in the error of the maximum concentration before and after the change. (Amount of improvement). The state in the reinforcement learning of the amplitude V2 (also referred to as the reinforcement learning B) is the set value of the amplitude V2, the action is the change of the set value, and the reward is the amount of decrease in the error of the halftone density before and after the change. The state in the reinforcement learning (also referred to as reinforcement learning C) of the frequency f is the set value of the frequency f, the action is the change of the set value, and the reward is the amount of reduction of the image noise before and after the change.

画像処理装置200は、最高濃度の誤差改善の強化学習A(現像電圧V1に対応)、中間調濃度の誤差改善の強化学習B(振幅V2に対応)、画像ノイズ改善の強化学習C(周波数fに対応)の3つの強化学習を同時並行して実行する。詳しくは、画像処理装置200(全体制御CPU211)は、現在設定されている現像電圧V1(現像バイアスの直流成分)近傍の複数の現像電圧による複数のテストパッチ、振幅V2(現像バイアスの交流成分)近傍の複数の振幅による複数のテストパッチ、および周波数f近傍の複数の周波数による複数のテストパッチを含むテストチャートを印刷して(後記する図9AのステップS35参照)、印刷結果をスキャナ291で読み取る(ステップS36参照)。 The image processing device 200 includes reinforcement learning A for improving the error of the maximum density (corresponding to the developing voltage V1), reinforcement learning B for improving the error of the halftone density (corresponding to the amplitude V2), and reinforcement learning C for improving the image noise (frequency f). (Corresponding to), three reinforcement learnings are executed in parallel at the same time. Specifically, the image processing device 200 (overall control CPU 211) has a plurality of test patches with a plurality of development voltages near the currently set development voltage V1 (DC component of the development bias), and an amplitude V2 (AC component of the development bias). A test chart containing a plurality of test patches having a plurality of amplitudes in the vicinity and a plurality of test patches having a plurality of frequencies in the vicinity of the frequency f is printed (see step S35 in FIG. 9A described later), and the print result is read by the scanner 291. (See step S36).

続いて、画像処理装置200は、読み取った画像においける最高濃度の誤差の減少量、中間調濃度の誤差の減少量、画像ノイズの減少量から、報酬を算出し、上記強化学習A,B,Cを実行する(ステップS37参照)。なお、減少量が大きいほど報酬は大きい。強化学習としてQ学習を採用し、画像処理装置200は、報酬に基づいて状態(設定値)における行動(設定値の変更)の価値(行動価値)を更新するようにしてもよい。この報酬に基づき、画質向上のための機械学習モデル213が更新される。なお、機械学習モデル213(図3参照)は、この行動価値を示すデータである。その後、上述のように得られた機械学習モデル213に基づき、より画質を向上させるために制御パラメータの変更値(電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’)を仮決定する(ステップS38参照)。 Subsequently, the image processing apparatus 200 calculates a reward from the reduction amount of the error of the maximum density in the read image, the reduction amount of the error of the halftone density, and the reduction amount of the image noise, and the above-mentioned reinforcement learnings A and B are performed. , C are executed (see step S37). The larger the amount of decrease, the larger the reward. Q-learning may be adopted as reinforcement learning, and the image processing device 200 may update the value (action value) of the action (change of the set value) in the state (set value) based on the reward. Based on this reward, the machine learning model 213 for improving image quality is updated. The machine learning model 213 (see FIG. 3) is data showing this behavioral value. Then, based on the machine learning model 213 obtained as described above, the change values (voltage V1', amplitude V2', and frequency f') of the control parameters are tentatively determined in order to further improve the image quality (see step S38). ).

制御パラメータの変更処理では、画像処理装置200は、電圧V1、振幅V2、および周波数fの変更値を仮決定した(ステップS38参照)後に、変更値をサーバ300に送信する(ステップS39参照)。画像処理装置200は、変更値が電磁妨害波の試験に合格することを確認した後に変更する(後記する図9BのステップS41〜S47参照)。 In the control parameter change process, the image processing device 200 tentatively determines the change values of the voltage V1, the amplitude V2, and the frequency f (see step S38), and then transmits the change values to the server 300 (see step S39). The image processing apparatus 200 changes after confirming that the changed value passes the electromagnetic interference test (see steps S41 to S47 in FIG. 9B described later).

≪制御パラメータ変更処理:画像処理システム全体の動作≫
図8Aは、本実施形態に係る画像処理システム100の制御パラメータ変更処理のシーケンス図(1)である。図8Bは、本実施形態に係る画像処理システム100の制御パラメータ変更処理のシーケンス図(2)である。図8Aおよび図8Bを参照しながら、画像処理システム100が実行する制御パラメータの変更処理を説明する。なお、画像処理装置200(ユーザ機)が実行する強化学習については、後記する図9Aおよび図9Bを参照して説明する。
≪Control parameter change processing: Operation of the entire image processing system≫
FIG. 8A is a sequence diagram (1) of the control parameter change processing of the image processing system 100 according to the present embodiment. FIG. 8B is a sequence diagram (2) of the control parameter change processing of the image processing system 100 according to the present embodiment. The control parameter change process executed by the image processing system 100 will be described with reference to FIGS. 8A and 8B. The reinforcement learning executed by the image processing device 200 (user machine) will be described with reference to FIGS. 9A and 9B described later.

ステップS11において画像処理装置200(制御部または機械学習実行部として機能する全体制御CPU211)は、強化学習を実行する。このとき、画像処理装置200は、機械学習モデル213を仮に更新する。
ステップS12において画像処理装置200(仮決定部として機能する全体制御CPU211)は、電圧V1、振幅V2、および周波数fの変更値(制御パラメータ値)を仮に決定(仮決定)する。なお、ステップS11〜S12の処理の詳細は、後記する図9Aで説明する。
In step S11, the image processing device 200 (the overall control CPU 211 that functions as the control unit or the machine learning execution unit) executes reinforcement learning. At this time, the image processing device 200 tentatively updates the machine learning model 213.
In step S12, the image processing device 200 (the overall control CPU 211 that functions as a tentative determination unit) tentatively determines (tentatively determines) the changed values (control parameter values) of the voltage V1, the amplitude V2, and the frequency f. The details of the processes of steps S11 to S12 will be described later with reference to FIG. 9A.

ステップS13において画像処理装置200は、自身の機種名と3つの変更値をサーバ300に送信する。なお、電圧V1、振幅V2、および周波数fの変更値(変更後の制御パラメータとも記す)をそれぞれ電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’と記す。
ステップS14においてサーバ300は、電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’の組み合わせごとにステップS15〜S19を実行する。組み合わせとしては、3つの変更値の組み合わせが1つ、2つの変更値の組み合わせが3つ、および、1つの変更値の組み合わせが3つの合計7つの組み合わせがある。なお、1つの変更値は、変更値の組み合わせとは言えないが、便宜上組み合わせと記す。
In step S13, the image processing device 200 transmits its own model name and the three changed values to the server 300. The changed values of the voltage V1, the amplitude V2, and the frequency f (also referred to as the changed control parameters) are referred to as the voltage V1', the amplitude V2', and the frequency f', respectively.
In step S14, the server 300 executes steps S15 to S19 for each combination of voltage V1', amplitude V2', and frequency f'. As the combination, there are a total of seven combinations, one is a combination of three change values, three is a combination of two change values, and three is a combination of one change value. Although one changed value cannot be said to be a combination of changed values, it is described as a combination for convenience.

ステップS15においてサーバ300は、組み合わせに含まれる変更値を画像処理装置600(試験対象機)に送信して、画像処理装置600の制御パラメータの設定値を変更値に変更するように指示する。詳しくは、サーバ300は、試験用画像処理装置データベース330(図7参照)のなかで機種332に受信した機種名を含むレコードを検索して、画像処理装置200(ユーザ機)と同一機種の画像処理装置600(試験対象機)を特定する。次に、サーバ300は、特定した画像処理装置600に変更値を送信して、画像処理装置600の制御パラメータの設定値を送信した変更値に変更するように指示する。 In step S15, the server 300 transmits the changed value included in the combination to the image processing device 600 (test target machine), and instructs the image processing device 600 to change the set value of the control parameter to the changed value. Specifically, the server 300 searches the test image processing device database 330 (see FIG. 7) for a record including the model name received by the model 332, and obtains an image of the same model as the image processing device 200 (user machine). The processing device 600 (test target machine) is specified. Next, the server 300 transmits a change value to the specified image processing device 600, and instructs the server 300 to change the set value of the control parameter of the image processing device 600 to the transmitted change value.

ステップS16においてサーバ300(制御部310(合否結果送信部))は、画像処理装置600と規格試験器550とに試験を指示する。なお、規格試験器550は、ステップS15で特定された画像処理装置600に対応する試験器335(図7参照)に示される規格試験器550(図1参照)である。
ステップS17において画像処理装置600(試験対象機)は、ステップS15で受信した変更値を制御パラメータとして設定し、テストチャートを印刷する。この際、各パラメータでステップS15で受信した変更値(電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’の何れか)とデフォルト値を組み合わせて印刷を実行する。なお、印刷後に画像処理装置600は、設定を戻す。
ステップS18において規格試験器550は、上記印刷処理ごとに電磁妨害波を測定する。
ステップS19において規格試験器550は、測定結果をサーバ300に送信する。
In step S16, the server 300 (control unit 310 (pass / fail result transmission unit)) instructs the image processing device 600 and the standard tester 550 to perform the test. The standard tester 550 is the standard tester 550 (see FIG. 1) shown in the tester 335 (see FIG. 7) corresponding to the image processing device 600 specified in step S15.
In step S17, the image processing device 600 (test target machine) sets the change value received in step S15 as a control parameter, and prints a test chart. At this time, printing is executed by combining the changed value (any of the voltage V1', the amplitude V2', and the frequency f') received in step S15 with the default value for each parameter. After printing, the image processing device 600 returns the settings.
In step S18, the standard tester 550 measures the electromagnetic interference wave for each of the above printing processes.
In step S19, the standard tester 550 transmits the measurement result to the server 300.

ステップS20においてサーバ300は、電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’の組み合わせ全てについてステップS15〜S19を実行したならばステップS21に進み、未処理の組み合わせがあれば、ステップS15に戻る。
ステップS21においてサーバ300は、電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’の上記組み合わせ(7パターン)ごとに測定結果と規制の規格限度値(図5参照)とを比較して、合否を判定し、ぞれぞれの合否結果と測定結果を画像処理装置200に送信する。
In step S20, the server 300 proceeds to step S21 if steps S15 to S19 are executed for all combinations of voltage V1', amplitude V2', and frequency f', and returns to step S15 if there are unprocessed combinations.
In step S21, the server 300 compares the measurement result with the regulation standard limit value (see FIG. 5) for each of the above combinations (7 patterns) of the voltage V1', the amplitude V2', and the frequency f', and determines pass / fail. Then, the pass / fail result and the measurement result of each are transmitted to the image processing device 200.

図8Bに移って、画像処理装置200(更新部として機能する全体制御CPU211)は、受信した上記組み合わせごとの合否結果と測定結果に応じて、後記するステップS23,S25,S27,S28の何れか1つの処理を行う。
ステップS22において画像処理装置200は、電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’の3つの組み合わせが合格ならば(ステップS22→YES)ステップS23に進み、不合格ならば(ステップS22→NO)ステップS24に進む。
ステップS23において画像処理装置200は、電圧V1、振幅V2、および周波数fの制御パラメータを全て仮決定されている変更値(電圧V1’、振幅V2’、周波数f’)に更新する。また、画像処理装置200は、電圧V1、振幅V2、および周波数fの強化学習全て(強化学習A,B,C)に対し正の報酬を与えて機械学習モデル213を更新する。
Moving on to FIG. 8B, the image processing device 200 (overall control CPU 211 functioning as an update unit) has one of steps S23, S25, S27, and S28 described later according to the received pass / fail result and measurement result for each of the above combinations. Perform one process.
In step S22, the image processing apparatus 200 proceeds to step S23 if the three combinations of voltage V1', amplitude V2', and frequency f'pass (step S22 → YES), and if it fails (step S22 → NO). The process proceeds to step S24.
In step S23, the image processing apparatus 200 updates all the control parameters of the voltage V1, the amplitude V2, and the frequency f to the tentatively determined change values (voltage V1', amplitude V2', frequency f'). Further, the image processing device 200 updates the machine learning model 213 by giving a positive reward to all the reinforcement learnings (reinforcement learning A, B, C) of the voltage V1, the amplitude V2, and the frequency f.

ステップS24において画像処理装置200は、電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’のうちで2つの組み合わせに合格の組み合わせがあれば(ステップS24→YES)ステップS25に進み、2つの変更値の組み合わせ全てが不合格ならば(ステップS24→NO)ステップS26に進む。
ステップS25において画像処理装置200は、合格だった2つの変更値の組み合わせを抽出する。抽出された組み合わせが1つの場合、画像処理装置200は、制御パラメータをこの組み合わせの変更値に更新する。抽出された組み合わせが複数の場合、画像処理装置200は、測定結果が最もよかった(例えばステップS18の測定結果が最も低い)組み合わせを選択し、制御パラメータをこの組み合わせの変更値に更新する。次に画像処理装置200は、変更値に更新された2つの制御パラメータに対応する強化学習に対して正の報酬を与え、更新されなかった制御パラメータに対応する強化学習に対して負の報酬を与えて機械学習モデル213を更新する。
In step S24, the image processing apparatus 200 proceeds to step S25 if there is a passing combination of the two combinations of the voltage V1', the amplitude V2', and the frequency f'(step S24 → YES), and the two changed values If all the combinations are unacceptable (step S24 → NO), the process proceeds to step S26.
In step S25, the image processing apparatus 200 extracts a combination of two changed values that have passed. When there is only one extracted combination, the image processing apparatus 200 updates the control parameter to the changed value of this combination. When there are a plurality of extracted combinations, the image processing apparatus 200 selects the combination having the best measurement result (for example, the measurement result in step S18 is the lowest), and updates the control parameter to the changed value of this combination. Next, the image processing device 200 gives a positive reward for the reinforcement learning corresponding to the two control parameters updated to the changed value, and a negative reward for the reinforcement learning corresponding to the control parameter not updated. Give and update the machine learning model 213.

ステップS26において画像処理装置200は、電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’のうちで1つの組み合わせに合格の組み合わせがあれば(ステップS26→YES)ステップS27に進み、1つの変数値の組み合わせ全てが不合格ならば(ステップS26→NO)ステップS28に進む。
ステップS27において画像処理装置200は、合格だった1つの変更値の組み合わせを抽出する。抽出された組み合わせが1つの場合、画像処理装置200は、制御パラメータをこの組み合わせの変更値に更新する。抽出された組み合わせが複数の場合、画像処理装置200は、測定結果が最もよかった(例えばステップS18の測定結果が最も低い)組み合わせを選択し、制御パラメータをこの組み合わせの変更値に更新する。次に画像処理装置200は、変更値に更新された1つの制御パラメータに対応する強化学習に対して正の報酬を与え、更新されなかった制御パラメータに対応する強化学習に対して負の報酬を与えて機械学習モデル213を更新する。
ステップS28において画像処理装置200は、何れの制御パラメータについても更新は行わず、電圧V1、振幅V2、および周波数fの強化学習全て(強化学習A,B,C)に負の報酬を与えて機械学習モデル213を更新する。
In step S26, the image processing apparatus 200 proceeds to step S27 if there is a pass combination in one of the voltage V1', the amplitude V2', and the frequency f'(step S26 → YES), and the image processing apparatus 200 proceeds to step S27. If all the combinations are unsuccessful (step S26 → NO), the process proceeds to step S28.
In step S27, the image processing apparatus 200 extracts one combination of changed values that has passed. When there is only one extracted combination, the image processing apparatus 200 updates the control parameter to the changed value of this combination. When there are a plurality of extracted combinations, the image processing apparatus 200 selects the combination having the best measurement result (for example, the measurement result in step S18 is the lowest), and updates the control parameter to the changed value of this combination. Next, the image processing device 200 gives a positive reward for the reinforcement learning corresponding to one control parameter updated to the changed value, and a negative reward for the reinforcement learning corresponding to the control parameter not updated. Give and update the machine learning model 213.
In step S28, the image processing device 200 does not update any of the control parameters, and gives a negative reward to all the reinforcement learning (reinforcement learning A, B, C) of the voltage V1, the amplitude V2, and the frequency f, and the machine. The learning model 213 is updated.

≪制御パラメータ変更処理:画像処理装置の動作≫
図9Aは、本実施形態に係る画像処理装置200(ユーザ機)の印刷処理のフローチャート(1)である。図9Bは、本実施形態に係る画像処理装置200(ユーザ機)の印刷処理のフローチャート(2)である。図9Aおよび図9Bを参照しながら、図8Aおよび図8BのステップS11〜S13,S21〜S28に対応する画像処理装置200(全体制御CPU211(制御部))が実行する印刷処理を説明する。
ステップS31において画像処理装置200は、印刷指示があれば(ステップS31→YES)ステップS32に進み、印刷指示がなければ(ステップS31→NO)ステップS31に戻る。
<< Control parameter change processing: Operation of image processing device >>
FIG. 9A is a flowchart (1) of the printing process of the image processing device 200 (user machine) according to the present embodiment. FIG. 9B is a flowchart (2) of the printing process of the image processing device 200 (user machine) according to the present embodiment. The printing process executed by the image processing apparatus 200 (overall control CPU 211 (control unit)) corresponding to steps S11 to S13 and S21 to S28 of FIGS. 8A and 8B will be described with reference to FIGS. 9A and 9B.
In step S31, the image processing apparatus 200 proceeds to step S32 if there is a print instruction (step S31 → YES), and returns to step S31 if there is no print instruction (step S31 → NO).

ステップS32において画像処理装置200は、現在の制御パラメータの設定値に基づく設定電圧(現像電圧)を現像器263に加える。
ステップS33において画像処理装置200は、前回のテストチャート印刷から所定枚数印刷していれば(ステップS33→YES)ステップS35に進み、印刷していなければ(ステップS33→NO)ステップS34に進む。
ステップS34において画像処理装置200は、1枚印刷してステップS31に戻る。
In step S32, the image processing apparatus 200 applies a set voltage (development voltage) based on the set value of the current control parameter to the developer 263.
In step S33, the image processing apparatus 200 proceeds to step S35 if a predetermined number of sheets have been printed since the previous test chart printing (step S33 → YES), and proceeds to step S34 if not printing (step S33 → NO).
In step S34, the image processing apparatus 200 prints one sheet and returns to step S31.

ステップS35において画像処理装置200は、テストチャートを印刷する。
ステップS36において画像処理装置200は、スキャナ291が読み取ったテストチャート印刷の印刷結果を取得し、最高濃度の誤差、中間調濃度の誤差、および画像ノイズ量を算出する。
ステップS37において画像処理装置200は、まず強化学習を実行する。詳しくは、画像処理装置200は、ステップS36で算出した値から、前回の変更(強化学習の行動)における誤差やノイズ量の減少量(改善量)を報酬として算出し、行動価値(図3の機械学習モデル213)を仮に更新して強化学習を実行する。本更新は、ステップS41〜S47(図9B参照)で行う。
In step S35, the image processing apparatus 200 prints a test chart.
In step S36, the image processing apparatus 200 acquires the print result of the test chart print read by the scanner 291 and calculates the error of the maximum density, the error of the halftone density, and the amount of image noise.
In step S37, the image processing device 200 first executes reinforcement learning. Specifically, the image processing device 200 calculates from the value calculated in step S36 the amount of reduction (improvement amount) of the error and noise amount in the previous change (reinforcement learning action) as a reward, and the action value (FIG. 3). The machine learning model 213) is tentatively updated to execute reinforcement learning. This update is performed in steps S41 to S47 (see FIG. 9B).

ステップS38において画像処理装置200は、ステップS37で仮更新された機械学習モデルに基づき電圧V1、振幅V2、および周波数fの変更値(電圧V1’、振幅V2’、および周波数f’)を仮決定する。仮決定後には、画像処理装置200は、ステップS37における機械学習モデル213の仮の更新を元に戻す。
ステップS39において画像処理装置200は、ステップS38で仮決定した変更値をサーバ300に送信する。
ステップS40以降は図8Aおよび図8BのステップS21以降と同様である。
In step S38, the image processing apparatus 200 provisionally determines the changed values (voltage V1', amplitude V2', and frequency f') of the voltage V1, the amplitude V2, and the frequency f based on the machine learning model temporarily updated in the step S37. To do. After the tentative determination, the image processing apparatus 200 undoes the tentative update of the machine learning model 213 in step S37.
In step S39, the image processing device 200 transmits the change value tentatively determined in step S38 to the server 300.
The steps after step S40 are the same as those after step S21 in FIGS. 8A and 8B.

≪制御パラメータ変更処理の特徴≫
制御パラメータ変更処理において、画像処理装置200は、電圧V1、振幅V2、および周波数fの変更値を仮決定(図8AのステップS12、図9AのステップS38参照)する。続いて、画像処理装置200は、変更後の電磁妨害波が限度値を超えない(規格試験に合格した)変更値について、制御パラメータの変更や機械学習モデル213の更新(図8BのステップS23,S25,S27、図9BのステップS42,S44,S46参照)を行う。このため、画像処理装置200は、規格を守ったうえで、画像の品質向上(最高濃度の誤差や中間調濃度の誤差、画像ノイズの削減)を行うことができる。
≪Characteristics of control parameter change processing≫
In the control parameter changing process, the image processing device 200 tentatively determines the changed values of the voltage V1, the amplitude V2, and the frequency f (see step S12 in FIG. 8A and step S38 in FIG. 9A). Subsequently, the image processing apparatus 200 changes the control parameters and updates the machine learning model 213 (step S23 in FIG. 8B) with respect to the changed value that the electromagnetic interference wave after the change does not exceed the limit value (passes the standard test). S25, S27, see steps S42, S44, S46 of FIG. 9B). Therefore, the image processing apparatus 200 can improve the image quality (reduce the error of the maximum density, the error of the halftone density, and the image noise) while observing the standard.

なお、上記した実施形態では、直流成分の電圧V1、交流成分の振幅V2、および周波数fに係る制御パラメータの変更処理を説明した。画像処理装置200の制御パラメータには、この3つに限らず、他の制御パラメータも存在しており、強化学習による最適化の対象としてもよい。報酬については、画質に限らず、例えば、処理時間の短さ、騒音の低さ、消費電力の低さ、消費トナー量の少なさなどから算出されてもよい。 In the above-described embodiment, the process of changing the control parameters related to the voltage V1 of the DC component, the amplitude V2 of the AC component, and the frequency f has been described. The control parameters of the image processing device 200 are not limited to these three, and other control parameters also exist, and may be the target of optimization by reinforcement learning. The reward is not limited to the image quality, and may be calculated from, for example, short processing time, low noise, low power consumption, low toner consumption, and the like.

≪変形例1:サーバが合格値パラメータデータベース≫
上記した実施形態において、サーバ300は、画像処理装置200(ユーザ機)から送信された制御パラメータの変更値を画像処理装置600(試験対象機)に設定し試験して合否結果を通知している(図8AのステップS14〜S21参照)。これに対して、サーバ300は、合格した変更値(制御パラメータ値)を記憶しておき、合格実績のある変更値に対しては、試験なしに合格を通知してもよい。
≪Modification example 1: Server is pass value parameter database≫
In the above-described embodiment, the server 300 sets the change value of the control parameter transmitted from the image processing device 200 (user machine) in the image processing device 600 (test target machine), tests the image processing device 600 (test target machine), and notifies the pass / fail result. (See steps S14 to S21 of FIG. 8A). On the other hand, the server 300 may store the changed value (control parameter value) that has passed, and notify the changed value that has passed the test of passing without a test.

図10は、本実施形態の変形例1に係るサーバ300Aの機能ブロック図である。サーバ300(図6参照)と比較して、サーバ300Aは、合格値パラメータデータベース410(後記する図11参照)をさらに記憶する。 FIG. 10 is a functional block diagram of the server 300A according to the first modification of the present embodiment. Compared to the server 300 (see FIG. 6), the server 300A further stores the pass value parameter database 410 (see FIG. 11 below).

図11は、本実施形態の変形例1に係るサーバ300Aが記憶する合格値パラメータデータベース410のデータ構成図である。合格値パラメータデータベース410は、表形式のデータであり、機種とパラメータ別に合格値を記憶する。合格値パラメータデータベース410の列(属性)は、機種411、パラメータ412、および合格値413を含む。機種411は画像処理装置200の機種名であり、パラメータ412は当該機種の制御パラメータの名称を示し、合格値413は合格した制御パラメータ値を示す。 FIG. 11 is a data configuration diagram of the pass value parameter database 410 stored in the server 300A according to the first modification of the present embodiment. The pass value parameter database 410 is tabular data, and stores pass values for each model and parameter. The columns (attributes) of the pass value parameter database 410 include the model 411, the parameter 412, and the pass value 413. The model 411 is the model name of the image processing apparatus 200, the parameter 412 indicates the name of the control parameter of the model, and the pass value 413 indicates the pass control parameter value.

レコード419は、機種名が「C1234」である画像処理装置200において制御パラメータ「AC周波数」が「2.9KHz」で試験に合格したことを示す。
図12Aは、本実施形態の変形例1に係る画像処理システムの制御パラメータ変更処理のシーケンス図(1)である。図12Bは、本実施形態の変形例1に係る画像処理システムの制御パラメータ変更処理のシーケンス図(2)である。
ステップS51〜S53は、ステップS11〜S13(図8A参照)と同様である。
Record 419 indicates that the image processing apparatus 200 having the model name "C1234" passed the test with the control parameter "AC frequency" being "2.9 KHz".
FIG. 12A is a sequence diagram (1) of control parameter change processing of the image processing system according to the first modification of the present embodiment. FIG. 12B is a sequence diagram (2) of control parameter change processing of the image processing system according to the first modification of the present embodiment.
Steps S51 to S53 are the same as steps S11 to S13 (see FIG. 8A).

ステップS54においてサーバ300Aは、受信した変更値が合格値であるか否かを判断する。詳しくは、サーバ300Aは、合格値パラメータデータベース410のレコードであって、機種411が受信した機種名に一致して、変更値がパラメータ412と合格値413に対応するレコードを検索する。サーバ300Aは、レコードがあれば(ステップS54→YES)ステップS55に進み、レコードがなければ(ステップS54→NO)ステップS56に進む。 In step S54, the server 300A determines whether or not the received change value is a pass value. Specifically, the server 300A searches for a record of the pass value parameter database 410, which matches the model name received by the model 411 and whose changed values correspond to the parameter 412 and the pass value 413. If there is a record (step S54 → YES), the server 300A proceeds to step S55, and if there is no record (step S54 → NO), the server 300A proceeds to step S56.

ステップS55においてサーバ300Aは、合格を通知する。合格を受信した画像処理装置200は、ステップS66(図12B参照)に進む。
ステップS56〜S61は、ステップS14〜S19(図8A参照)と同様である。
ステップS62においてサーバ300Aは、測定結果と規制の規格限度値(図5参照)とを比較して、合否を判断し、合格ならば(ステップS62→YES)ステップS63に進み、不合格ならば(ステップS62→NO)ステップS64に進む。
In step S55, the server 300A notifies the pass. The image processing device 200 that has received the pass proceeds to step S66 (see FIG. 12B).
Steps S56 to S61 are the same as steps S14 to S19 (see FIG. 8A).
In step S62, the server 300A compares the measurement result with the standard limit value of the regulation (see FIG. 5), determines pass / fail, and if it passes (step S62 → YES), proceeds to step S63, and if it fails (see FIG. 5). Step S62 → NO) Proceed to step S64.

ステップS63においてサーバ300Aは、合格した変更値を合格値パラメータデータベース410に追加する。詳しくは、サーバ300Aは、合格値パラメータデータベース410にレコードを追加する。次に、サーバ300Aは、追加したレコードの機種411をステップS53で受信した機種名に更新し、パラメータ412と合格値413とをそれぞれ変更値のパラメータとその値に更新する。
ステップS64〜S72は、ステップS20〜S28(図8Aおよび図8B参照)とそれぞれ同様である。
In step S63, the server 300A adds the passed change value to the pass value parameter database 410. Specifically, the server 300A adds a record to the pass value parameter database 410. Next, the server 300A updates the model 411 of the added record to the model name received in step S53, and updates the parameter 412 and the pass value 413 to the parameter of the changed value and its value, respectively.
Steps S64 to S72 are the same as steps S20 to S28 (see FIGS. 8A and 8B), respectively.

サーバ300Aが、合格値パラメータデータベース410を備えることで、サーバ300Aの応答が速くなる。詳しくは、画像処理装置200が送信した変更値が、過去に合格した変更値であれば、サーバ300Aは、試験することなく合格を通知する(ステップS55参照)。このため、画像処理装置200の印刷処理(図9A参照)において、ステップS39〜S40における、変更値を送信してから合否結果を受信するまでの待ち時間が短縮される。また、合格実績がある無駄な試験を削減することができ、試験に必要な電力が削減される。また、同じ機種の複数の画像処理装置200(ユーザ機)から連続して変更値を受信した場合でも、サーバ300Aは、合格実績のある変更値の試験は省略でき、合格実績のない試験を早く開始することができ、画像処理システム100全体の性能が向上する。 Since the server 300A includes the pass value parameter database 410, the response of the server 300A becomes faster. Specifically, if the change value transmitted by the image processing apparatus 200 is a change value that has passed in the past, the server 300A notifies the pass without testing (see step S55). Therefore, in the printing process of the image processing apparatus 200 (see FIG. 9A), the waiting time from transmitting the changed value to receiving the pass / fail result in steps S39 to S40 is shortened. In addition, useless tests that have passed the test can be reduced, and the power required for the test is reduced. Further, even when the changed value is continuously received from a plurality of image processing devices 200 (user machines) of the same model, the server 300A can omit the test of the changed value having a passing record, and can quickly perform the test without a passing record. It can be started and the performance of the entire image processing system 100 is improved.

≪変形例2:画像処理装置のパラメータ種別データベース≫
本実施形態の変形例1では、サーバ300Aが合格値パラメータデータベース410を記憶しており、記憶している変更値に関する試験を行うことなく合格を通知している。これに対して、画像処理装置200(ユーザ機)が試験不要な制御パラメータを記憶して、変更値の問い合わせ(図12AのステップS53参照)を削減するようにしてもよい。
<< Modification 2: Image processing device parameter type database >>
In the first modification of the present embodiment, the server 300A stores the pass value parameter database 410, and notifies the pass without performing a test on the stored changed value. On the other hand, the image processing device 200 (user machine) may store the control parameters that do not need to be tested, and reduce the inquiry of the changed value (see step S53 in FIG. 12A).

図13は、本実施形態の変形例2に係る画像処理装置200が記憶するパラメータ種別データベース420のデータ構成図である。パラメータ種別データベース420は、制御パラメータ値の変更が、電磁妨害波の強度に影響のある制御パラメータと影響のない制御パラメータとを記憶する。図13では、電磁妨害波の強度に影響のあるパラメータとして交流成分の周波数fである「AC周波数」と、直流成分の電圧V1である「DC電圧」とが記憶されている。また、電磁妨害波の強度に影響のないパラメータとして定着器266(図2参照)に備わる定着ローラモータの回転数が記憶されている。 FIG. 13 is a data configuration diagram of the parameter type database 420 stored in the image processing apparatus 200 according to the second modification of the present embodiment. The parameter type database 420 stores the control parameters in which the change in the control parameter value affects the intensity of the electromagnetic interference wave and the control parameters in which the change does not affect the intensity of the electromagnetic disturbance. In FIG. 13, “AC frequency”, which is the frequency f of the AC component, and “DC voltage”, which is the voltage V1 of the DC component, are stored as parameters that affect the intensity of the electromagnetic interference wave. Further, the rotation speed of the fixing roller motor provided in the fixing device 266 (see FIG. 2) is stored as a parameter that does not affect the intensity of the electromagnetic interference wave.

画像処理装置200は、変更値を仮決定したとき(図8AのステップS12参照)に、当該変更値が電磁妨害波の強度に影響のあるパラメータの変更値ならば、サーバ300に問い合わせ(ステップS13参照)、影響なければサーバに問い合わせることなく変更する。このように、影響がない場合には、サーバ300への問い合わせをしないことで、画像処理装置200の制御パラメータの変更処理が高速化できる。また、サーバ300の負荷を減らすことができる。 When the image processing apparatus 200 tentatively determines the change value (see step S12 in FIG. 8A), if the change value is a change value of a parameter that affects the intensity of the electromagnetic interference wave, the image processing apparatus 200 inquires of the server 300 (step S13). (See), if there is no effect, change without contacting the server. As described above, when there is no influence, the process of changing the control parameter of the image processing device 200 can be speeded up by not making an inquiry to the server 300. Moreover, the load on the server 300 can be reduced.

≪変形例3:画像処理装置の試験免除パラメータデータベース≫
変形例1では、サーバ300Aが合格値パラメータデータベース410を記憶し、無駄な試験をしないようにしている。画像処理装置200(ユーザ機)が、試験不要な制御パラメータ値を記憶して、サーバ300に対して無駄な問い合わせをしないようにしてもよい。
<< Modification 3: Test exemption parameter database for image processing equipment >>
In the first modification, the server 300A stores the pass value parameter database 410 to prevent unnecessary tests. The image processing device 200 (user machine) may store control parameter values that do not require testing so as not to make unnecessary inquiries to the server 300.

図14は、本実施形態の変形例3に係る画像処理装置200が記憶する試験免除パラメータデータベース430のデータ構成図である。試験免除パラメータデータベース430は、表形式のデータであり、試験に合格すると判明していて試験が免除される(試験に影響のない)制御パラメータ値を記憶している。試験免除パラメータデータベース430は、試験が免除されるパラメータ名称を示すパラメータ431の属性と、パラメータ値を示す値432の属性を含んで構成される。レコード439は、交流成分の周波数fである「AC周波数」について、2.8KHz〜3.2KHzならば試験が免除されることを示す。 FIG. 14 is a data configuration diagram of the test exemption parameter database 430 stored in the image processing apparatus 200 according to the third modification of the present embodiment. The test exemption parameter database 430 is tabular data and stores control parameter values that are known to pass the test and are exempt from the test (does not affect the test). The test exemption parameter database 430 is configured to include an attribute of parameter 431 indicating the name of the parameter exempted from the test and an attribute of value 432 indicating the parameter value. Record 439 shows that the "AC frequency", which is the frequency f of the AC component, is exempt from the test if it is between 2.8 KHz and 3.2 KHz.

画像処理装置200は、仮決定した変更値(図8AのステップS12参照)に対応するレコードが試験免除パラメータデータベース430にあれば、サーバに問い合わせることなく変更し、なければサーバに問い合わせる。試験免除パラメータデータベース430を参照することで、サーバ300への問い合わせを削減でき、画像処理装置200の制御パラメータの変更処理が高速化できる。また、サーバ300の負荷を減らすことができる。 If the record corresponding to the tentatively determined change value (see step S12 in FIG. 8A) is in the test exemption parameter database 430, the image processing apparatus 200 changes it without inquiring the server, and inquires the server if it does not. By referring to the test exemption parameter database 430, the number of inquiries to the server 300 can be reduced, and the process of changing the control parameters of the image processing device 200 can be speeded up. Moreover, the load on the server 300 can be reduced.

≪変形例4:サーバの合否履歴パラメータデータベース≫
変形例1では、サーバ300Aは、問い合わせにある変更値が合格値パラメータデータベース410(図11参照)に含まれれば(図12AのステップS54→YES参照)、試験することなく合格を通知(ステップS55参照)している。これに対して、サーバ300Aは、合格値と不合格値とを記憶するようにしてもよい。
<< Modification 4: Server pass / fail history parameter database >>
In the first modification, if the changed value in the inquiry is included in the pass value parameter database 410 (see FIG. 11) (see step S54 → YES in FIG. 12A), the server 300A notifies the pass without testing (step S55). See). On the other hand, the server 300A may store the pass value and the fail value.

図15は、本実施形態の変形例4に係るサーバ300Aが記憶する合否履歴パラメータデータベース440のデータ構成図である。合否履歴パラメータデータベース440は、表形式のデータであり、機種と制御パラメータ別に制御パラメータ値の合格値と不合格値を記憶する。合否履歴パラメータデータベース440は、機種441、パラメータ442、合格履歴443、および不合格履歴444の属性を含む。 FIG. 15 is a data configuration diagram of the pass / fail history parameter database 440 stored in the server 300A according to the fourth modification of the present embodiment. The pass / fail history parameter database 440 is tabular data, and stores the pass value and the fail value of the control parameter value for each model and control parameter. The pass / fail history parameter database 440 includes attributes of model 441, parameter 442, pass history 443, and fail history 444.

機種441は画像処理装置200の機種名を含み、パラメータ442は、制御パラメータの名称を含む。合格履歴443(合格範囲)は、合格実績があり試験不要な制御パラメータ値が含まれる。不合格履歴444(不合格範囲)は、不合格実績があり試験不要な制御パラメータ値が含まれる。レコード449は、機種が「C1234」である画像処理装置200について、「AC周波数」の制御パラメータ値が2.9KHz〜3.1KHzであれば合格で試験不要であり、2.1KHz以下、または4.5KHz以上であれば不合格で試験不要であることを示す。 The model 441 includes the model name of the image processing apparatus 200, and the parameter 442 includes the name of the control parameter. The pass history 443 (pass range) includes control parameter values that have a pass record and do not require a test. The failure history 444 (failure range) includes control parameter values that have a failure record and do not require a test. Record 449 is a pass for the image processing device 200 whose model is "C1234" if the control parameter value of "AC frequency" is 2.9 KHz to 3.1 KHz, and no test is required. If it is 5.5 KHz or higher, it means that the test is not passed and the test is unnecessary.

サーバ300Aは、画像処理装置200からの問い合わせ(図12AのステップS53参照)にある変更値が合格履歴443に含まれれば合格を通知し、不合格履歴444に含まれれば不合格を通知する。変更値が合格履歴443と不合格履歴444の何れにも含まれない場合には、サーバ300Aは、試験を実行して合否結果を画像処理装置200に通知する。続いて、サーバ300Aは、合否に応じて変更値(制御パラメータ値)を合格履歴443または不合格履歴444に追加する。 The server 300A notifies the pass if the change value in the inquiry from the image processing device 200 (see step S53 in FIG. 12A) is included in the pass history 443, and notifies the fail if it is included in the fail history 444. If the changed value is not included in either the pass history 443 or the fail history 444, the server 300A executes the test and notifies the image processing device 200 of the pass / fail result. Subsequently, the server 300A adds a change value (control parameter value) to the pass history 443 or the fail history 444 according to the pass / fail.

変更値が合格履歴443と不合格履歴444の何れにも含まれない場合には、サーバ300Aは、試験を実行する替わりに変更値に最も近い合格履歴443の制御パラメータ値、または不合格履歴444の制御パラメータ値を、合否と合わせて通知するようにしてもよい。例えば、機種名が「C1234」である画像処理装置200から、「AC周波数」の制御パラメータ(交流成分の周波数f)が3.2KHzの問い合わせがあったとする。サーバ300Aは、合格履歴443と不合格履歴444に含まれる制御パラメータ値のなかで3.2KHzに最も近い制御パラメータ値を検索する。3.2KHzに最も近い制御パラメータ値は、合格履歴443に含まれる3.1KHzであり、サーバ300Aは、画像処理装置200に3.1KHzを条件付き合格の制御パラメータとして画像処理装置200に通知する。 If the change value is not included in either the pass history 443 or the fail history 444, the server 300A instead of executing the test, the control parameter value of the pass history 443 closest to the change value, or the fail history 444. The control parameter value of may be notified together with the pass / fail. For example, suppose that the image processing device 200 whose model name is "C1234" inquires about the control parameter (frequency f of the AC component) of the "AC frequency" of 3.2 KHz. The server 300A searches for the control parameter value closest to 3.2 KHz among the control parameter values included in the pass history 443 and the fail history 444. The control parameter value closest to 3.2 KHz is 3.1 KHz included in the pass history 443, and the server 300A notifies the image processing device 200 of 3.1 KHz as a conditional pass control parameter. ..

3.1KHzの条件付き合格を受信すると、画像処理装置200は、交流成分の周波数fを3.1KHzに変更する(図8BのステップS22以降参照)。問い合わせの変更値が4.3KHzならば、サーバ300Aは、画像処理装置200に4.3KHzを条件付き不合格の制御パラメータとして画像処理装置200に通知する。画像処理装置200は、変更値4.3KHzについて負の報酬で行動価値を更新する(図8BのステップS25,S27,S28参照)。 Upon receiving the conditional pass of 3.1 KHz, the image processing apparatus 200 changes the frequency f of the AC component to 3.1 KHz (see step S22 and subsequent steps in FIG. 8B). If the change value of the inquiry is 4.3 KHz, the server 300A notifies the image processing device 200 of 4.3 KHz as a conditionally rejected control parameter. The image processing device 200 updates the action value with a negative reward for the change value of 4.3 KHz (see steps S25, S27, and S28 in FIG. 8B).

≪変形例5:サーバの合格履歴パラメータデータベース≫
合格値パラメータデータベース410(図11参照)や合否履歴パラメータデータベース440(図15参照)は、合格した制御パラメータ値を記憶している。サーバ300Aは、画像処理装置200の周辺環境や使用履歴と関連付けて合格した制御パラメータ値を記憶するようにしてもよい。
<< Modification 5: Server pass history parameter database >>
The pass value parameter database 410 (see FIG. 11) and the pass / fail history parameter database 440 (see FIG. 15) store the pass control parameter values. The server 300A may store the passed control parameter value in association with the surrounding environment and usage history of the image processing device 200.

図16は、本実施形態の変形例5に係るサーバ300Aが記憶する合格履歴パラメータデータベース450のデータ構成図である。合格履歴パラメータデータベース450は、表形式のデータであり、機種の他に画像処理装置200の周辺環境や使用履歴も関連付けて合格履歴を記憶する。合格履歴パラメータデータベース450は、機種451、パラメータ452、環境453、使用履歴454、および合格履歴455の属性を含んで構成される。 FIG. 16 is a data configuration diagram of the pass history parameter database 450 stored in the server 300A according to the fifth modification of the present embodiment. The pass history parameter database 450 is tabular data, and stores the pass history in association with the surrounding environment and usage history of the image processing device 200 in addition to the model. The pass history parameter database 450 is configured to include attributes of model 451, parameter 452, environment 453, usage history 454, and pass history 455.

機種451、パラメータ452、および合格履歴455は、合否履歴パラメータデータベース440(図15参照)の機種441、パラメータ442、および合格履歴443とそれぞれ同様である。環境453は、画像処理装置200の周辺環境を示し、例えば、「高湿」や「低湿」などがある。使用履歴454は、累計の印刷枚数を示す。
レコード459は、設置された環境453が「高湿」で、累計印刷枚数が20万枚未満の機種451が「C1234」である画像処理装置200について、「AC周波数」の制御パラメータ値の合格履歴455が2.9KHz〜3.1KHzであることを示している。
The model 451 and the parameter 452 and the pass history 455 are the same as the model 441, the parameter 442, and the pass history 443 of the pass / fail history parameter database 440 (see FIG. 15), respectively. The environment 453 indicates the surrounding environment of the image processing apparatus 200, and includes, for example, "high humidity" and "low humidity". The usage history 454 indicates the cumulative number of prints.
The record 459 is a pass history of the control parameter value of the "AC frequency" for the image processing device 200 in which the installed environment 453 is "high humidity" and the model 451 with a cumulative print count of less than 200,000 is "C1234". It shows that 455 is 2.9 KHz to 3.1 KHz.

画像処理装置200は、問い合わせ(図8AのステップS13参照)の際に、機種に加えて自身の環境や使用履歴を含めて変更値を送信する。サーバ300Aは、変更値が合格履歴455に含まれるならば合格を通知し、含まれないならば試験を実行する。 When making an inquiry (see step S13 in FIG. 8A), the image processing device 200 transmits a changed value including its own environment and usage history in addition to the model. The server 300A notifies the pass if the change value is included in the pass history 455, and executes the test if it is not included.

≪変形例6,7:ファームウェアの更新≫
上記した実施形態では、画像処理装置200は、合格通知を受信してから自身の制御パラメータを変更する。これに加えて、ファームウェアに含まれる制御パラメータを更新するようにしてもよい。ファームウェアとは、プリンタ制御CPU221が実行するファームウェア223(図3参照)のことである。画像処理装置200は、定期的に、またはサーバが記憶するマスタのファームウェアの更新があるたびに、サーバからファームウェアをダウンロードして、ファームウェア223を更新する。
<< Modifications 6 and 7: Firmware update >>
In the above-described embodiment, the image processing apparatus 200 changes its own control parameters after receiving the acceptance notification. In addition to this, the control parameters included in the firmware may be updated. The firmware is the firmware 223 (see FIG. 3) executed by the printer control CPU 221. The image processing device 200 downloads the firmware from the server and updates the firmware 223 periodically or whenever there is a master firmware update stored in the server.

図17は、本実施形態の変形例6に係るサーバ300Bの機能ブロック図である。サーバ300(図6参照)と比較すると、サーバ300Bは、平均合格値パラメータデータベース460(後記する図18参照)およびファームウェアリポジトリ470をさらに記憶する。ファームウェアリポジトリ470は、プリンタ制御部220のファームウェア223のリポジトリであり、画像処理装置200の機種別にファームウェア223を記憶する。 FIG. 17 is a functional block diagram of the server 300B according to the sixth modification of the present embodiment. Compared to the server 300 (see FIG. 6), the server 300B further stores the average pass value parameter database 460 (see FIG. 18 below) and the firmware repository 470. The firmware repository 470 is a repository of the firmware 223 of the printer control unit 220, and stores the firmware 223 for each model of the image processing device 200.

図18は、本実施形態の変形例6に係るサーバ300Bが記憶する平均合格値パラメータデータベース460のデータ構成図である。平均合格値パラメータデータベース460は、表形式のデータであり、機種と制御パラメータ別に、現バージョンにファームウェアに含まれる制御パラメータの規定値と、規格試験に合格した制御パラメータの平均値を含む。平均合格値パラメータデータベース460は、機種461、パラメータ462、現規定値463、および合格平均値464の属性を含む。 FIG. 18 is a data configuration diagram of the average pass value parameter database 460 stored in the server 300B according to the modification 6 of the present embodiment. The average pass value parameter database 460 is tabular data, and includes the specified values of the control parameters included in the firmware in the current version and the average values of the control parameters that have passed the standard test for each model and control parameter. The average pass value parameter database 460 includes attributes of model 461, parameter 462, current default value 463, and pass average value 464.

機種461は画像処理装置200の機種名を含み、パラメータ462は制御パラメータの名称を含む。現規定値463は、現バージョンにファームウェアに含まれる制御パラメータの規定値であり、合格平均値464は、規格試験に合格した制御パラメータの平均値である。
レコード469は、機種が「C1234」である画像処理装置200について、現在のファームウェア223に含まれる「AC周波数」の制御パラメータの規定値が3.0KHであり、試験に合格した平均値は3.1KHzであることを示す。
The model 461 includes the model name of the image processing apparatus 200, and the parameter 462 includes the name of the control parameter. The current specified value 463 is the specified value of the control parameters included in the firmware in the current version, and the passing average value 464 is the average value of the control parameters that have passed the standard test.
In record 469, for the image processing device 200 whose model is "C1234", the specified value of the control parameter of "AC frequency" included in the current firmware 223 is 3.0 KH, and the average value that passed the test is 3. It indicates that it is 1 KHz.

サーバ300Bは、試験を実行し、その結果が合格ならば、合格平均値464を更新する。サーバ300Bは、定期的にファームウェアリポジトリ470に記憶される機種461用のファームウェアに含まれるパラメータ462を合格平均値464に更新する。次にサーバ300Bは、現規定値463を合格平均値464に更新する。更新以降、画像処理装置200がサーバ300Bからダウンロードするファームウェアに含まれる制御パラメータは、更新された合格平均値となっている。 The server 300B executes the test, and if the result is a pass, updates the pass average value 464. The server 300B periodically updates the parameter 462 included in the firmware for the model 461 stored in the firmware repository 470 to the pass average value 464. Next, the server 300B updates the current specified value 463 to the passing average value 464. After the update, the control parameters included in the firmware downloaded from the server 300B by the image processing apparatus 200 are the updated pass average values.

サーバ300Bは、現規定値463と合格平均値464との差が所定の値より大きくなったときに更新するようにしてもよい。また、平均合格値パラメータデータベース460は、環境や使用履歴と関連付けて現規定値や合格平均値を記憶するようにしてもよい。この場合、ファームウェアリポジトリ470は、機種に加え、環境および使用履歴と関連付けてファームウェア223を記憶する。 The server 300B may be updated when the difference between the current specified value 463 and the passing average value 464 becomes larger than a predetermined value. Further, the average pass value parameter database 460 may store the current specified value and the pass average value in association with the environment and usage history. In this case, the firmware repository 470 stores the firmware 223 in association with the environment and usage history in addition to the model.

図19は、本実施形態の変形例7に係るサーバ300Bが記憶する平均合格値パラメータデータベース460Aのデータ構成図である。平均合格値パラメータデータベース460(図18参照)と比較して、環境465および使用履歴466の属性が追加されている。環境465および使用履歴466は、合格履歴パラメータデータベース450(図16参照)の環境453および使用履歴454とそれぞれ同様である。サーバ300Bは、ファームウェアリポジトリ470に記憶される機種461、環境465および使用履歴466に関連付けられたファームウェアに含まれるパラメータ462を合格平均値464に更新する。 FIG. 19 is a data configuration diagram of the average pass value parameter database 460A stored in the server 300B according to the modification 7 of the present embodiment. Compared to the average pass value parameter database 460 (see FIG. 18), the attributes of environment 465 and usage history 466 have been added. The environment 465 and the usage history 466 are the same as the environment 453 and the usage history 454 of the pass history parameter database 450 (see FIG. 16), respectively. The server 300B updates the parameter 462 included in the firmware associated with the model 461, the environment 465, and the usage history 466 stored in the firmware repository 470 to the pass average value 464.

≪変形例8:画像処理装置からサーバへの送信データ≫
上記した実施形態では、画像処理装置200からサーバ300への送信データは、機種名と3つの変更値である(図8AのステップS13参照)。また、画像処理装置600(試験対象機)は、機械学習モデル213を記憶していなかった。
これに対して、画像処理装置600と画像処理装置200(ユーザ機)とが同じ構成になるようにしてもよい。詳しくは、画像処理装置200と同様に画像処理装置600も機械学習モデル213も記憶するようにする。さらに、変更値(制御パラメータ値)と機械学習モデル213との双方が、画像処理装置200からサーバへ、さらに、サーバから画像処理装置600に送信される(ステップS13,S15参照)。このようにして、画像処理装置600と画像処理装置200(ユーザ機)とが同じ構成になるようにしたうえで、試験する(ステップS15〜S18参照)ようにしてもよい。
このようにすることで、画像処理装置200(ユーザ機)と画像処理装置600(試験対象機)とが同じ構成になり、より正確な試験が実行できるようになる。
<< Modification 8: Data transmitted from the image processing device to the server >>
In the above-described embodiment, the data transmitted from the image processing device 200 to the server 300 is a model name and three changed values (see step S13 in FIG. 8A). Further, the image processing device 600 (test target machine) did not store the machine learning model 213.
On the other hand, the image processing device 600 and the image processing device 200 (user machine) may have the same configuration. Specifically, the image processing device 600 and the machine learning model 213 are stored in the same manner as the image processing device 200. Further, both the changed value (control parameter value) and the machine learning model 213 are transmitted from the image processing device 200 to the server, and further from the server to the image processing device 600 (see steps S13 and S15). In this way, the image processing device 600 and the image processing device 200 (user machine) may have the same configuration and then be tested (see steps S15 to S18).
By doing so, the image processing device 200 (user machine) and the image processing device 600 (test target machine) have the same configuration, and a more accurate test can be executed.

≪変形例9:複数の制御パラメータについての強化学習≫
上記した実施形態において、強化学習の対象は、直流成分の電圧V1、交流成分の振幅V2および周波数f(図4参照)であり、それぞれの制御パラメータごとに強化学習を実行している。これは、直流成分の電圧V1、交流成分の振幅V2および周波数fは独立しており、1つの制御パラメータの変更が他に影響を及ぼさないからである。例えば、電圧V1を変更しても、中間調濃度への影響がない。
<< Modification 9: Reinforcement learning for multiple control parameters >>
In the above-described embodiment, the targets of reinforcement learning are the voltage V1 of the DC component, the amplitude V2 of the AC component, and the frequency f (see FIG. 4), and the reinforcement learning is executed for each control parameter. This is because the voltage V1 of the DC component, the amplitude V2 of the AC component, and the frequency f are independent, and the change of one control parameter does not affect the other. For example, changing the voltage V1 does not affect the halftone density.

他の制御パラメータにおいて、複数の制御パラメータ間で相互影響がある場合には、これらの制御パラメータをセットとして強化学習を実行してもよい。この場合には、状態は制御パラメータ値のセットであり、行動は複数の制御パラメータ値の変更となる。また、変更値ごとに試験(図8AのステップS14〜S20)するのではなく、画像処理装置600(試験対象機)の複数の制御パラメータを同時に変更してから試験する。 If there is a mutual influence between a plurality of control parameters in other control parameters, reinforcement learning may be executed with these control parameters as a set. In this case, the state is a set of control parameter values, and the action is a change of a plurality of control parameter values. Further, instead of performing the test for each changed value (steps S14 to S20 in FIG. 8A), the test is performed after changing a plurality of control parameters of the image processing apparatus 600 (test target machine) at the same time.

≪変形例10:用紙種類ごとの強化学習≫
上記した実施形態では、テストチャートを印刷する用紙の区別はしていない。用紙種類(上質紙やマット紙など)に応じて制御パラメータの最適値を定めるために、画像処理装置200は、制御パラメータと用紙種類別に強化学習を実行してもよい。機械学習モデル213(行動価値)は、制御パラメータと用紙種類別に存在することになる。
≪Modification example 10: Reinforcement learning for each paper type≫
In the above-described embodiment, the paper on which the test chart is printed is not distinguished. In order to determine the optimum value of the control parameter according to the paper type (high-quality paper, matte paper, etc.), the image processing apparatus 200 may execute reinforcement learning for each control parameter and the paper type. The machine learning model 213 (behavioral value) exists for each control parameter and paper type.

≪その他の変形例≫
上記した実施形態では、画像処理装置200は、所定枚数出力するごとにテストチャートを印刷して、強化学習を実行している(図9AのステップS33〜S37参照)。画像処理装置200は、別のタイミングで強化学習を実行してもよい。例えば、画像処理装置200は、実行する印刷ジョブがないアイドリング時間中に制御パラメータ変更処理を実行してもよい。または、変形例10において、画像処理装置200は、新しい用紙種類を使用する印刷ジョブの開始時に制御パラメータ変更処理を実行してもよい。
≪Other variants≫
In the above-described embodiment, the image processing apparatus 200 prints a test chart every time a predetermined number of sheets are output to execute reinforcement learning (see steps S33 to S37 in FIG. 9A). The image processing device 200 may execute reinforcement learning at another timing. For example, the image processing device 200 may execute the control parameter change processing during the idling time when there is no print job to be executed. Alternatively, in the modification 10, the image processing apparatus 200 may execute the control parameter change processing at the start of the print job using the new paper type.

上記した実施形態は、画像処理装置200を含む画像処理システム100の実施例である。画像処理装置200に限らず、制御パラメータを有する製造装置や医療機器、家電製品などの装置であっても、同様に規制の範囲内で装置の制御パラメータの最適化が可能である。詳しくは、装置とサーバとを含んで構成される制御管理システムにおいて、装置が、機械学習を用いて制御パラメータの変更値を決定して、サーバに送信する。サーバは、装置と同型の装置の制御パラメータを変更値に設定して規格試験を実行して、合否結果を装置に通知する。装置は、合格ならば制御パラメータを変更する。 The above-described embodiment is an example of an image processing system 100 including an image processing device 200. Not only the image processing device 200, but also a manufacturing device having control parameters, a medical device, a home appliance, and the like, it is possible to optimize the control parameters of the device within the scope of the regulation. Specifically, in a control management system including a device and a server, the device determines a change value of a control parameter using machine learning and transmits it to the server. The server sets the control parameters of the device of the same type as the device to the changed value, executes the standard test, and notifies the device of the pass / fail result. The device changes the control parameters if it passes.

上記した実施形態では、機械学習技術を用いて制御パラメータの変更値を決定し、この変更値が規制を満たすか試験している。機械学習技術とは異なる技術を用いて制御パラメータの変更値を決定してもよい。例えば、山登り法などの局所探索アルゴリズムを用いて、最適となる制御パラメータの変更値を決定してもよい。 In the above-described embodiment, a machine learning technique is used to determine a change value of a control parameter, and it is tested whether the change value satisfies the regulation. The change value of the control parameter may be determined by using a technique different from the machine learning technique. For example, a local search algorithm such as a hill climbing method may be used to determine the optimum change value of the control parameter.

変形例6,7においてサーバ300Bは、制御パラメータの変更値の合否を判定するサーバであって、ファームウェアリポジトリ470を記憶している。これに対して、制御パラメータの変更値の合否を判定するサーバと、ファームウェアリポジトリ470を記憶し、画像処理装置200にファームウェアを送信するサーバとが、異なるサーバであってもよい。 In the modified examples 6 and 7, the server 300B is a server for determining the pass / fail of the change value of the control parameter, and stores the firmware repository 470. On the other hand, the server that determines the pass / fail of the change value of the control parameter and the server that stores the firmware repository 470 and transmits the firmware to the image processing device 200 may be different servers.

以上、本発明の実施形態やその変形例について説明したが、これらの実施形態は、例示に過ぎず、本発明の技術的範囲を限定するものではない。本発明はその他のさまざまな実施形態を取ることが可能であり、さらに、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、省略や置換等種々の変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、本明細書等に記載された発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 Although the embodiments of the present invention and variations thereof have been described above, these embodiments are merely examples and do not limit the technical scope of the present invention. The present invention can take various other embodiments, and various modifications such as omission and substitution can be made without departing from the gist of the present invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention described in the present specification and the like, and are also included in the scope of the invention described in the claims and the equivalent scope thereof.

100 画像処理システム(制御管理システム)
200 画像処理装置(ユーザ機、装置)
211 全体制御CPU(制御部、機械学習実行部、仮決定部、更新部、機械学習処実行段、仮決定手段、更新手段)
212 記憶部
213 機械学習モデル
214 プログラム
219 ネットワークインタフェース(通信部、通信手段)
223 ファームウェア
260 画像形成部
300,300A,300B サーバ
310 制御部(合否結果送信部、合否判定手段)
320 記憶部
330 試験用画像処理装置データベース
340 通信部
410 合格値パラメータデータベース
420 パラメータ種別データベース
430 試験免除パラメータデータベース
440 合否履歴パラメータデータベース
450 合格履歴パラメータデータベース
460,460A 平均合格値パラメータデータベース
470 ファームウェアリポジトリ(ファームウェア)
550 規格試験器
600 画像処理装置(試験対象機)
100 Image processing system (control management system)
200 Image processing device (user machine, device)
211 Overall control CPU (control unit, machine learning execution unit, provisional determination unit, update unit, machine learning processing execution stage, provisional determination means, update means)
212 Storage unit 213 Machine learning model 214 Program 219 Network interface (communication unit, communication means)
223 Firmware 260 Image forming unit 300, 300A, 300B Server 310 Control unit (pass / fail result transmission unit, pass / fail determination means)
320 Storage unit 330 Test image processing device database 340 Communication unit 410 Pass value parameter database 420 Parameter type database 430 Test exemption parameter database 440 Pass / fail history parameter database 450 Pass history parameter database 460, 460A Average pass value parameter database 470 Firmware repository (firmware) )
550 standard tester 600 image processing device (test target machine)

Claims (20)

画像処理装置とサーバとを備える画像処理システムであって、
前記画像処理装置は、
画像形成部と、
前記画像形成部の所定の制御パラメータに関する機械学習を実行する機械学習実行部と、
前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定する仮決定部と、
前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する前に、前記変更後の制御パラメータを前記サーバに送信する通信部と、を備え、
前記サーバは、
前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果を判定して前記画像処理装置に送信する合否結果送信部を備え、
前記画像処理装置はさらに、
前記合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する更新部を備える、
ことを特徴とする画像処理システム。
An image processing system equipped with an image processing device and a server.
The image processing device is
Image forming part and
A machine learning execution unit that executes machine learning related to a predetermined control parameter of the image forming unit, and a machine learning execution unit.
A tentative determination unit that tentatively determines a new control parameter as a changed control parameter based on the result of the machine learning,
A communication unit that transmits the changed control parameter to the server before updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the image processing apparatus is provided.
The server
It is provided with a pass / fail result transmission unit that determines the pass / fail result of the standard test in the changed control parameter and transmits it to the image processing apparatus.
The image processing device further
It is provided with an update unit that updates the changed control parameter as a control parameter executed by the image processing apparatus according to the pass / fail result.
An image processing system characterized by this.
前記サーバには、前記画像処理装置と同型の画像処理装置が接続されており、
前記合否結果送信部は、当該同型の画像処理装置の制御パラメータを前記変更後の制御パラメータに変更し、当該同型の画像処理装置を使って前記規格試験を行わせる、
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
An image processing device of the same type as the image processing device is connected to the server.
The pass / fail result transmission unit changes the control parameter of the image processing device of the same type to the changed control parameter, and causes the standard test to be performed using the image processing device of the same type.
The image processing system according to claim 1.
前記サーバの記憶部には、前記規格試験に合格した制御パラメータが記憶され、
前記合否結果送信部は、前記変更後の制御パラメータが前記合格した制御パラメータに含まれる場合には、前記規格試験に合格と送信する、
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
Control parameters that have passed the standard test are stored in the storage unit of the server.
When the changed control parameter is included in the passed control parameter, the pass / fail result transmitting unit transmits that the standard test has passed.
The image processing system according to claim 1.
前記画像処理装置の記憶部には、前記規格試験の合否に影響する制御パラメータ群と、前記規格試験に影響しない制御パラメータ群とが記憶され、
前記更新部は、
前記規格試験の合否に影響する制御パラメータ群に含まれる制御パラメータについては、前記通信部によって前記サーバからの合格を受信した後に変更し、
前記規格試験の合否に影響しない制御パラメータ群に含まれる制御パラメータについては、前記合否結果によらずに変更する、
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
In the storage unit of the image processing device, a control parameter group that affects the pass / fail of the standard test and a control parameter group that does not affect the standard test are stored.
The update part
The control parameters included in the control parameter group that affect the pass / fail of the standard test are changed after receiving the pass from the server by the communication unit.
The control parameters included in the control parameter group that does not affect the pass / fail of the standard test are changed regardless of the pass / fail result.
The image processing system according to claim 1.
前記画像処理装置の記憶部には、前記規格試験に影響しない制御パラメータの範囲が記憶され、
前記更新部は、
前記規格試験に影響しない制御パラメータの範囲外に含まれる制御パラメータについては、前記通信部によって前記サーバからの合格を受信した後に変更し、
前記規格試験に影響しない制御パラメータの範囲内に含まれる制御パラメータについては、前記合否結果によらずに変更する、
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
A range of control parameters that do not affect the standard test is stored in the storage unit of the image processing device.
The update part
Control parameters included outside the range of control parameters that do not affect the standard test are changed after receiving a pass from the server by the communication unit.
Control parameters included in the range of control parameters that do not affect the standard test are changed regardless of the pass / fail result.
The image processing system according to claim 1.
前記サーバの記憶部には、前記規格試験に合格した制御パラメータの範囲である合格範囲と、前記規格試験に不合格であった制御パラメータの範囲である不合格範囲とが記憶され、
前記合否結果送信部は、
前記変更後の制御パラメータが前記合格範囲に含まれる場合には、前記規格試験に合格と送信し、
前記変更後の制御パラメータが前記不合格範囲に含まれる場合には、前記規格試験に不合格と送信し、
前記変更後の制御パラメータが前記合格範囲にも前記不合格範囲にも含まれない場合には、前記合格範囲のなかで前記変更後の制御パラメータに対応する制御パラメータに最も近い制御パラメータ値を送信する、または、前記同型の画像処理装置の制御パラメータを前記変更後の制御パラメータに対応するように変更して前記規格試験の合否結果を判定して送信し、
前記更新部は、
前記通信部が前記制御パラメータ値を受信した場合には、当該制御パラメータ値に変更する、
ことを特徴とする請求項2に記載の画像処理システム。
In the storage unit of the server, a pass range, which is a range of control parameters that have passed the standard test, and a fail range, which is a range of control parameters that have failed the standard test, are stored.
The pass / fail result transmitter is
If the changed control parameter is included in the pass range, it is transmitted that the standard test has passed.
If the changed control parameter is included in the fail range, the standard test is transmitted as fail and the result is transmitted.
When the changed control parameter is not included in the pass range or the fail range, the control parameter value closest to the control parameter corresponding to the changed control parameter in the pass range is transmitted. Or, the control parameters of the image processing apparatus of the same type are changed so as to correspond to the changed control parameters, and the pass / fail result of the standard test is determined and transmitted.
The update part
When the communication unit receives the control parameter value, the control parameter value is changed to the control parameter value.
The image processing system according to claim 2, wherein the image processing system is characterized by the above.
前記画像処理装置の通信部は、前記変更後の制御パラメータとともに前記サーバに環境情報および使用履歴情報の何れか1つまたは両方を送信し、
前記サーバの記憶部には、前記環境情報と前記使用履歴情報と関連付けて前記規格試験に合格したときの制御パラメータが記憶され、
前記合否結果送信部は、前記変更後の制御パラメータが、前記画像処理装置が送信した環境情報および使用履歴情報の何れか1つまたは両方に関連付けられた前記規格試験に合格したときの制御パラメータに対応する場合には、前記規格試験に合格と送信する、
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
The communication unit of the image processing device transmits either one or both of the environmental information and the usage history information to the server together with the changed control parameters.
The storage unit of the server stores the control parameters when the standard test is passed in association with the environmental information and the usage history information.
The pass / fail result transmission unit sets the control parameter after the change to the control parameter when the control parameter passes the standard test associated with either one or both of the environment information and the usage history information transmitted by the image processing apparatus. If applicable, send that the standard test has passed.
The image processing system according to claim 1.
前記サーバの記憶部には、前記画像処理装置の型ごとに前記規格試験に合格した制御パラメータ、およびファームウェアが記憶され、
前記合否結果送信部は、当該型における前記規格試験に合格した制御パラメータ値が、当該型のファームウェアの規定値となるように当該型のファームウェアを変更する、
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
In the storage unit of the server, control parameters and firmware that have passed the standard test are stored for each type of the image processing device.
The pass / fail result transmitter changes the firmware of the type so that the control parameter value that has passed the standard test in the type becomes the specified value of the firmware of the type.
The image processing system according to claim 1.
前記サーバの記憶部には、前記画像処理装置の型ごと、使用履歴ごと、および環境ごとに前記規格試験に合格したときの制御パラメータ、およびファームウェアが記憶され、
前記合否結果送信部は、前記型、前記使用履歴、および前記環境における前記規格試験に合格した制御パラメータ値が、当該型、当該使用履歴、および当該環境のファームウェアの規定値となるように当該ファームウェアを変更する、
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
In the storage unit of the server, control parameters and firmware when the standard test is passed are stored for each model of the image processing device, for each usage history, and for each environment.
The pass / fail result transmitter uses the firmware so that the type, the usage history, and the control parameter values that have passed the standard test in the environment become the specified values of the type, the usage history, and the firmware of the environment. To change,
The image processing system according to claim 1.
前記制御パラメータは、前記画像処理装置を制御する物理パラメータである
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
The image processing system according to claim 1, wherein the control parameter is a physical parameter that controls the image processing apparatus.
前記規格試験の規格は、法規制および安全規制の少なくとも一方に対応する規格である
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
The image processing system according to claim 1, wherein the standard of the standard test is a standard corresponding to at least one of a legal regulation and a safety regulation.
前記機械学習は、所定の報酬判定を伴う強化学習である
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理システム。
The image processing system according to claim 1, wherein the machine learning is reinforcement learning accompanied by a predetermined reward determination.
画像処理装置であって、
画像形成部と、
前記画像形成部の所定の制御パラメータに関する機械学習を実行する機械学習実行部と、
前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定する仮決定部と、
前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する前に、前記変更後の制御パラメータをサーバに送信する通信部と、
前記サーバから受信した前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する更新部と、
を備えることを特徴とする画像処理装置。
It is an image processing device
Image forming part and
A machine learning execution unit that executes machine learning related to a predetermined control parameter of the image forming unit, and a machine learning execution unit.
A tentative determination unit that tentatively determines a new control parameter as a changed control parameter based on the result of the machine learning,
A communication unit that transmits the changed control parameter to the server before updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the image processing device.
An update unit that updates the changed control parameter as a control parameter to be executed by the image processing device according to the pass / fail result of the standard test in the changed control parameter received from the server.
An image processing device comprising.
前記制御パラメータは、前記画像処理装置を制御する物理パラメータである
ことを特徴とする請求項13に記載の画像処理装置。
The image processing apparatus according to claim 13, wherein the control parameter is a physical parameter that controls the image processing apparatus.
前記規格試験の規格は、法規制および安全規制の少なくとも一方に対応する規格である
ことを特徴とする請求項13に記載の画像処理装置。
The image processing apparatus according to claim 13, wherein the standard of the standard test is a standard corresponding to at least one of a legal regulation and a safety regulation.
コンピュータである画像処理装置に実行させるためのプログラムであって、
画像を形成するステップと、
前記画像の形成に係る制御パラメータに関する機械学習を実行するステップと、
前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定するステップと、
前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新する前に、前記変更後の制御パラメータをサーバに送信するステップと、
前記サーバから受信した前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを前記画像処理装置で実行する制御パラメータとして更新するステップと、
を実行させるためのプログラム。
It is a program to be executed by an image processing device that is a computer.
The steps to form an image and
A step of executing machine learning regarding control parameters related to the formation of the image, and
A step of tentatively determining a new control parameter as a changed control parameter based on the result of the machine learning, and
Before updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the image processing device, a step of transmitting the changed control parameter to the server and a step of transmitting the changed control parameter to the server.
A step of updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the image processing device according to a pass / fail result of a standard test in the changed control parameter received from the server.
A program to execute.
前記制御パラメータは、前記画像処理装置を制御する物理パラメータである
ことを特徴とする請求項16に記載のプログラム。
The program according to claim 16, wherein the control parameter is a physical parameter that controls the image processing apparatus.
前記規格試験の規格は、法規制および安全規制の少なくとも一方に対応する規格である
ことを特徴とする請求項16に記載のプログラム。
The program according to claim 16, wherein the standard of the standard test is a standard corresponding to at least one of a legal regulation and a safety regulation.
制御パラメータを備える装置の前記制御パラメータの変更を管理する制御管理システムであって、
前記制御パラメータに関する機械学習を実行する機械学習実行手段と、
前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定する仮決定手段と、
前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果を判定する合否判定手段と、
前記合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを前記装置で実行する制御パラメータとして更新する更新手段と、
を備える制御管理システム。
A control management system that manages changes in the control parameters of a device having control parameters.
A machine learning execution means for executing machine learning related to the control parameters, and
A tentative determination means for tentatively determining a new control parameter as a changed control parameter based on the result of the machine learning,
Pass / fail determination means for determining the pass / fail result of the standard test in the changed control parameters,
An update means for updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the apparatus according to the pass / fail result, and an update means.
Control management system equipped with.
制御パラメータに関する機械学習を実行する機械学習実行部と、
前記機械学習の結果に基づき新たな制御パラメータを変更後の制御パラメータとして仮決定する仮決定部と、
前記変更後の制御パラメータを自装置で実行する制御パラメータとして更新する前に、前記変更後の制御パラメータをサーバに送信する通信部と、
前記サーバから受信した前記変更後の制御パラメータにおける規格試験の合否結果に応じて前記変更後の制御パラメータを自装置で実行する制御パラメータとして更新する更新部と、
を備える装置。
A machine learning execution unit that executes machine learning related to control parameters,
A tentative determination unit that tentatively determines a new control parameter as a changed control parameter based on the result of the machine learning,
Before updating the changed control parameter as a control parameter to be executed by the own device, a communication unit that transmits the changed control parameter to the server, and a communication unit.
An update unit that updates the changed control parameter as a control parameter to be executed by the own device according to the pass / fail result of the standard test in the changed control parameter received from the server.
A device equipped with.
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