JP2021092415A - Measurement instrument, measurement system and measurement method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、測定器、測定システム及び測定方法に関する。 The present invention relates to measuring instruments, measuring systems and measuring methods.
振動モニタリングシステムでは、建築構造物の複数地点の加速度を測定し、同時刻の加速度を比較し、建築構造物の測定点間の変位を算出することにより、建物への影響度を測定している。このように、複数地点の時刻を同期して測定する場合、同一の測定器に接続して同時測定するか、加速度等の測定値に測定時刻を付与して測定後に時刻同期をする方法がとられている。前者の場合、センサと測定器を接続するケーブル長が長くなり、配線抵抗による測定値の誤差が生じる。後者の場合、ケーブル長を短くすることができるため、配線抵抗による測定値の誤差は無視できる。 In the vibration monitoring system, the degree of influence on the building is measured by measuring the acceleration at multiple points of the building structure, comparing the accelerations at the same time, and calculating the displacement between the measurement points of the building structure. .. In this way, when measuring the time at multiple points in synchronization, the method is to connect to the same measuring instrument and measure at the same time, or to add the measurement time to the measured value such as acceleration and synchronize the time after measurement. Has been done. In the former case, the length of the cable connecting the sensor and the measuring instrument becomes long, and an error in the measured value occurs due to the wiring resistance. In the latter case, the cable length can be shortened, so that the error in the measured value due to the wiring resistance can be ignored.
しかし、測定値に付与される測定時刻の精度は、時刻を付与する手法に依存する。例えば、測定時刻を付与する装置のRTC(Real Time Clock)の時刻精度に依存する。RTCの時刻精度は、水晶振動子の精度に依存する。このため、水晶振動子の精度によっては、振動モニタリングシステムは、ばらつきの大きい測定時刻を測定値に付与することになる。振動モニタリングシステムでは、測定時刻のばらつきが大きくなるほど、測定値の算出誤差が大きくなる。振動モニタリングシステムでは、建築構造物に複数設置された測定器の測定値に基づいて、建築構造物への影響度を推定するため、前者の場合は測定値の算出誤差によって、後者の場合は測定器間の測定時刻のばらつきによって、影響度の推定精度が下がってしまうという問題があった。 However, the accuracy of the measurement time given to the measured value depends on the method of giving the time. For example, it depends on the time accuracy of the RTC (Real Time Clock) of the device that assigns the measurement time. The time accuracy of the RTC depends on the accuracy of the crystal unit. Therefore, depending on the accuracy of the crystal unit, the vibration monitoring system assigns a measurement time having a large variation to the measured value. In the vibration monitoring system, the larger the variation in the measurement time, the larger the calculation error of the measured value. In the vibration monitoring system, the degree of influence on the building structure is estimated based on the measurement values of multiple measuring instruments installed in the building structure. Therefore, in the former case, it is measured by the calculation error of the measured value, and in the latter case, it is measured. There is a problem that the estimation accuracy of the degree of influence is lowered due to the variation in the measurement time between the instruments.
上記事情に鑑み、本発明は、複数の測定器によって同時に取得された測定値に基づく工業量を測定する場合に、各測定器間の測定時刻のばらつきによって生じ得る当該工業量の算出誤差を抑制することができる技術の提供を目的としている。 In view of the above circumstances, the present invention suppresses an error in calculating the industrial amount that may occur due to variations in the measurement time between the measuring instruments when measuring the industrial amount based on the measured values acquired by a plurality of measuring instruments at the same time. The purpose is to provide the technology that can be used.
本発明の一態様は、自装置が設けられた測定対象から所定の測定データを測定する測定部と、前記測定データを所定の周期でサンプリングするサンプリング部と、前記サンプリングされた複数の前記測定データと前記測定データの測定時刻とに基づいて、前記測定対象の予め定められた時刻における測定データの近似データを推定する近似データ推定部と、を備える、測定器である。 One aspect of the present invention includes a measuring unit that measures predetermined measurement data from a measurement target provided with its own device, a sampling unit that samples the measurement data at a predetermined cycle, and a plurality of the sampled measurement data. The measuring instrument includes an approximate data estimation unit that estimates approximate data of the measurement data at a predetermined time of the measurement target based on the measurement data and the measurement time of the measurement data.
本発明の一態様は、上記の測定器であって、前記自装置内の時刻を外部の通信装置から取得された時刻に基づいて補正する時刻補正部をさらに備える。 One aspect of the present invention is the above-mentioned measuring instrument, further including a time correction unit that corrects the time in the own device based on the time acquired from an external communication device.
本発明の一態様は、上記の測定器であって、前記近似データ推定部は、前記サンプリングされた複数の前記測定データと前記測定時刻とに基づいて、前記近似データを推定する近似式を算出し、前記近似式と前記予め定められた時刻とに基づいて、前記近似データを推定する。 One aspect of the present invention is the above-mentioned measuring instrument, and the approximation data estimation unit calculates an approximation formula for estimating the approximation data based on the plurality of sampled measurement data and the measurement time. Then, the approximation data is estimated based on the approximation formula and the predetermined time.
本発明の一態様は、上記の測定器であって、前記近似データ推定部は、複数の測定データのうち一部の測定データに欠損が生じている場合、欠損した測定データの前後に測定された測定データと前記近似式とに基づいて、前記欠損した測定データの近似データを推定する。 One aspect of the present invention is the above-mentioned measuring instrument, and the approximate data estimation unit measures before and after the missing measurement data when some of the measurement data among the plurality of measurement data are missing. Based on the measured data and the approximate expression, the approximate data of the missing measurement data is estimated.
本発明の一態様は、複数の測定器を備える測定システムであって、前記測定器は、自装置が設けられた測定対象から所定の測定データを測定する測定部と、前記測定データを所定の周期でサンプリングするサンプリング部と、前記サンプリングされた複数の前記測定データと前記測定データの測定時刻とに基づいて、前記測定対象の予め定められた時刻における測定データの近似データを推定する近似データ推定部と、を備える、測定システムである。 One aspect of the present invention is a measurement system including a plurality of measuring instruments, wherein the measuring instrument has a measuring unit that measures predetermined measurement data from a measurement target provided with its own device, and a predetermined measurement data. Approximate data estimation that estimates the approximate data of the measurement data at a predetermined time of the measurement target based on the sampling unit that samples at a cycle, the plurality of sampled measurement data, and the measurement time of the measurement data. It is a measurement system including a unit.
本発明の一態様は、測定器が、自装置が設けられた測定対象から所定の測定データを測定する測定ステップと、測定器が、前記測定データを所定の周期でサンプリングするサンプリングステップと、測定器が、前記サンプリングされた複数の前記測定データと前記測定データの測定時刻とに基づいて、前記測定対象の予め定められた時刻における測定データの近似データを推定する近似データ推定ステップと、を有する、測定方法である。 One aspect of the present invention is a measurement step in which a measuring instrument measures a predetermined measurement data from a measurement target provided with its own device, a sampling step in which the measuring instrument samples the measurement data in a predetermined cycle, and measurement. The device has an approximate data estimation step for estimating approximate data of the measurement data at a predetermined time of the measurement target based on the plurality of sampled measurement data and the measurement time of the measurement data. , The measurement method.
本発明により、複数の測定器によって同時に取得された測定値に基づく工業量を測定する場合に、各測定器間の測定時刻のばらつきによって生じ得る当該工業量の算出誤差を抑制することが可能となる。 According to the present invention, when measuring an industrial quantity based on measured values acquired by a plurality of measuring instruments at the same time, it is possible to suppress a calculation error of the industrial quantity that may occur due to a variation in measurement time between the measuring instruments. Become.
図1は、実施形態の測定システム1のシステム構成を示すシステム構成図である。測定システム1は、複数の測定器100(測定器100a〜100d)、情報処理装置200及び時刻サーバ300を備える。測定システム1では、それぞれの測定器100a〜100dが、測定した測定値と測定時刻とに基づいて、予め定められた時刻における測定値を推定する。以下、本実施形態では、測定システム1は振動モニタリングシステムであるとして説明する。振動モニタリングシステムでは、各測定器100は、測定値として加速度を測定する。振動モニタリングシステムは、測定された加速度に基づいて地震等の振動の発生に伴うビル10の影響度を推定する。以下、いずれの測定器であるかを区別しないときは、測定器100a〜100dを単に測定器100と称して説明する。
FIG. 1 is a system configuration diagram showing a system configuration of the
図1では、測定システム1の測定器100は、ビル10に設けられる。ビル10は、振動の発生に伴う影響度の測定対象である。測定システム1の各測定器100は、振動の発生に伴うビル10の所望の時刻の加速度を推定する。測定システム1は、各測定器100によって推定された加速度に基づいて、ビル10の影響度を推定する。複数の測定器100は、それぞれ異なるフロアに設置される。なお、本実施形態では、測定対象はビルであるが、測定対象はビルに限定されない。例えば、測定対象は、マンションやタワー等の標高の高い建築物であってもよい。
In FIG. 1, the
情報処理装置200は、パーソナルコンピュータ、産業用コンピュータ又はサーバ等の情報処理装置を用いて構成される。情報処理装置200には、各測定器100から測定値を取得するための機能(以下「測定値要求処理」という。)が実装されている。測定値要求処理の機能は、ハードウェアによって情報処理装置200に実装されてもよいし、ソフトウェアのインストールによって実装されてもよい。
The
時刻サーバ300は、パーソナルコンピュータ、産業用コンピュータ又はサーバ等の情報処理装置を用いて構成される。時刻サーバ300は、ネットワークに接続される機器に、機器が持つ時刻を正しい時刻に同期するための機能を備えるサーバである。時刻サーバ300は、例えばNTP(Network Time Protocol)サーバである。
The
複数の測定器100、情報処理装置200及び時刻サーバ300は、いずれもネットワーク400を介して通信可能である。ネットワーク400は、例えばWAN(Wide Area Network)、LAN(Local Area Network)又はインターネット等の通信網である。ネットワーク400は、無線通信を用いたネットワークであってもよいし、有線通信を用いたネットワークであってもよい。ネットワーク400は、複数のネットワークが組み合わされて構成されてもよい。ネットワーク400は、VPN(Virtual Private Network)等の閉域通信網であってもよい。なお、ネットワーク400は、各装置の通信を実現するためのネットワークの具体例にすぎず、各装置の通信を実現するためのネットワークとして他の構成が採用されてもよい。例えば、特定の装置間の通信が他の装置間の通信に用いられるネットワークとは異なるネットワークを用いて実現されてもよい。具体的には、測定器100と情報処理装置200の間の通信は、情報処理装置200と時刻サーバ300との間の通信とは異なるネットワークで実現されてもよい。
The plurality of measuring
図2は、測定器100の機能構成を示す機能ブロック図である。測定器100は、例えばMEMS型加速度センサ等の加速度を測定する装置である。測定器100は、設置された場所の加速度を測定する。加速度は、X軸方向、Y軸方向及びZ軸方向の3軸方向でそれぞれ測定される。測定器100は、測定された加速度と測定時刻とに基づいて、所定の時刻(以下「推定対象時刻」という。)における加速度を推定する。測定器100は、通信部101、測定部102、X軸サンプリング部103、Y軸サンプリング部104、Z軸サンプリング部105、データ記憶部106及び制御部107を備える。
FIG. 2 is a functional block diagram showing a functional configuration of the measuring
通信部101は、ネットワークインタフェースである。通信部101はネットワーク400を介して、情報処理装置200と通信する。通信部101は、例えば無線LAN、有線LAN、Bluetooth(登録商標)又はLTE(Long Term Evolution)(登録商標)等の通信方式で通信してもよい。
The
測定部102は、加速度を測定する。測定部102は、加速度を測定する素子と、素子からの信号を増幅及び調整して出力する信号処理回路で構成される。測定部102は、X軸方向の加速度、Y軸方向の加速度及びZ軸方向の加速度をそれぞれ測定する。X軸とは、3次元直交座標系のX軸を示す。Y軸とは、3次元直交座標系のY軸を示す。Z軸とは、3次元直交座標系のZ軸を示す。測定部102は、X軸方向の加速度をX軸サンプリング部103に出力する。測定部102は、Y軸方向の加速度をY軸サンプリング部104に出力する。測定部102は、Z軸方向の加速度をZ軸サンプリング部105に出力する。このように、測定部102は、測定対象の測定値を測定する。
The measuring
X軸サンプリング部103は、出力されたX軸方向の加速度を所定のサンプリング周期でサンプリングする。X軸サンプリング部103は、例えばAD(Analog Digital)変換器である。具体的には、X軸サンプリング部103は、所定のサンプリング周期がくると、測定されたX軸方向の加速度からサンプリング周期が来たタイミングにおける加速度を取得することでサンプリングを行う。X軸サンプリング部103は、サンプリングされた加速度を制御部107に出力する。X軸サンプリング部103は、Y軸サンプリング部104及びZ軸サンプリング部105と同じタイミングでサンプリングする。所定のサンプリング周期とは、サンプリング間隔を示す周波数に基づいて決定される。例えば、サンプリング間隔を示す周波数が100Hzである場合、所定のサンプリング周期は10ミリ秒となる。この場合、X軸サンプリング部103は、10ミリ秒毎に加速度をサンプリングする。
The
Y軸サンプリング部104は、出力されたY軸方向の加速度を所定のサンプリング周期でサンプリングする。Y軸サンプリング部104は、例えばAD変換器である。具体的には、Y軸サンプリング部104は、所定のサンプリング周期がくると、測定されたY軸方向の加速度からサンプリング周期がきたタイミングにおける加速度を取得することでサンプリングを行う。Y軸サンプリング部104は、サンプリングされた加速度を制御部107に出力する。Y軸サンプリング部104は、X軸サンプリング部103及びZ軸サンプリング部105と同じタイミングでサンプリングする。所定のサンプリング周期とは、サンプリング間隔を示す周波数に基づいて決定される。例えば、サンプリング間隔を示す周波数が100Hzである場合、所定のサンプリング周期は10ミリ秒となる。この場合、Y軸サンプリング部104は、10ミリ秒毎に加速度をサンプリングする。
The Y-
Z軸サンプリング部105は、出力されたZ軸方向の加速度を所定のサンプリング周期でサンプリングする。Z軸サンプリング部105は、例えばAD変換器である。具体的には、Z軸サンプリング部105は、所定のサンプリング周期がくると、測定されたZ軸方向の加速度からサンプリング周期がきたタイミングにおける加速度を取得することでサンプリングを行う。Z軸サンプリング部105は、サンプリングされた加速度を制御部107に出力する。Z軸サンプリング部105は、X軸サンプリング部103及びY軸サンプリング部104と同じタイミングでサンプリングする。所定のサンプリング周期とは、サンプリング間隔を示す周波数に基づいて決定される。例えば、サンプリング間隔を示す周波数が100Hzである場合、所定のサンプリング周期は10ミリ秒となる。この場合、Z軸サンプリング部105は、10ミリ秒毎に加速度をサンプリングする。
The Z-
データ記憶部106は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置、SDカード等の記憶装置を用いて構成される。データ記憶部106は、測定部102によって測定された測定値や、近似データ推定部173によって推定された近似値を記憶する。データ記憶部106は、測定値が測定された測定時刻に測定値を対応付けて記憶する。データ記憶部106は、推定対象時刻に近似値を対応付けて記憶する。なお、近似値については、後述する。
The
制御部107は、測定器100の各部の動作を制御する。制御部107は、CPU(Central Processing Unit)等のプロセッサ及びRAM(Random Access Memory)を用いて構成される。制御部107は、プロセッサが特定のプログラムを実行することによって、測定データ記録部171、時刻管理部172及び近似データ推定部173として機能する。
The
測定データ記録部171は、サンプリングされた加速度をデータ記憶部106に記録する。具体的には、測定データ記録部171は、時刻管理部172から時刻を取得する。取得される時刻は、加速度の測定された時刻(以下「測定時刻」という。)を表す。測定データ記録部171は、加速度と測定時刻とを対応付けてデータ記憶部106に記録する。測定データ記録部171は、X軸方向の加速度、Y軸方向の加速度及びZ軸方向の加速度のそれぞれの加速度を測定時刻に対応付けて記録する。なお、測定データ記録部171は、加速度と測定時刻とを対応付けるにあたって、測定時刻に端数処理を行ってもよい。端数処理は、測定時刻を一定の丸め幅の整数倍の数値に置き換える処理である。
The measurement
時刻管理部172は、測定器100内の時刻を管理する。時刻管理部172は、情報処理装置200から時刻情報を受信する。時刻管理部172は、測定器100内の時刻と受信した時刻情報とに基づいて、測定器100内の時刻を補正する。例えば、時刻管理部172は、測定器100内の時刻と時刻情報との差分が所定の閾値よりも大きい場合、時刻情報によって示される時刻に測定器100内の時刻を近づけるように所定時間だけ補正してもよい。所定の閾値は、予め定められた値であってもよい。所定時間は、予め定められた一定の時間であってもよい。なお、時刻管理部172は、時刻情報を他の装置から取得してもよい。例えば、時刻管理部172は、時刻サーバ300等のNTPサーバから時刻情報を受信してもよい。時刻管理部172は、マイクロ秒単位等の細かい単位で時刻を管理するほど近似値の精度を向上させることができる。
The
近似データ推定部173は、複数の加速度と加速度に対応付けされた測定時刻とに基づいて、推定対象時刻における加速度の近似値を推定する。推定対象時刻は、他の測定器100によって推定された加速度の近似値に対応付けされた時刻と同じ時刻を示す。推定対象時刻は、情報処理装置200によって指定された時刻であってもよいし、予め定められた時刻であってもよい。推定対象時刻は、サンプリング間隔を示す周波数に基づいて定められてもよい。例えば、推定対象時刻は、周波数が100Hzである場合、1ミリ秒台の数値を0に固定した10ミリ秒間隔の時刻であってもよい。近似データ推定部173は、所定のタイミングで近似値を推定するように構成される。所定のタイミングとは、情報処理装置200からデータ要求を受信したタイミングであってもよいし、予め定められたタイミングであってもよい。
The approximate
以下、具体的に説明する。まず近似データ推定部173は、データ記憶部106から所定期間内に測定された加速度と、加速度に対応付けされた測定時刻とを取得する。所定期間は、近似値の推定対象となる期間である。所定期間は、情報処理装置200によって指定されてもよいし、測定器100によって決定されてもよい。
Hereinafter, a specific description will be given. First, the approximate
次に、近似データ推定部173は、取得された加速度と加速度に対応付けされた測定時刻とに基づいて、近似式を算出する。近似式は、所定期間における任意の時刻を定めると、その任意の時刻における加速度の近似値を推定できる数式である。近似式は、例えば多項式近似式である。近似データ推定部173は、ラグランジュ補間を用いて近似式を算出してもよいし、スプライン補間を用いて近似式を算出してもよい。近似データ推定部173は、近似式を算出できるならばどのような手段を用いて近似式を算出してもよい。
Next, the approximate
近似データ推定部173は、算出された近似式に基づいて、推定対象時刻における加速度を推定する。推定された加速度は、推定対象時刻における加速度の近似値である。近似データ推定部173は、推定された加速度の近似値と推定対象時刻とを対応付けて、データ記憶部106に記録する。近似データ推定部173は、X軸方向の加速度、Y軸方向の加速度及びZ軸方向の加速度毎に多項式近似を算出する。近似データ推定部173は、X軸方向の加速度、Y軸方向の加速度及びZ軸方向の加速度のそれぞれの加速度について近似値を推定する。近似データ推定部173は、X軸方向の加速度、Y軸方向の加速度及びZ軸方向の加速度について、推定された近似値と推定対象時刻とを対応付けてデータ記憶部106に記録する。
The approximate
このように、近似データ推定部173は、他の測定器100と同じ時刻を用いて近似値を推定することで、測定器100同士の測定時刻の差に伴う位相差の発生を防ぐことができる。また、近似データ推定部173は、端数処理によって生じた丸め誤差に伴う測定値の欠損の発生を防ぐことができる。また、近似データ推定部173は、サンプリング間隔が正確であるほど、より高い精度で近似値を推定することができる。また、近似データ推定部173は、測定時刻の粒度を細かくすることで、より高い精度で近似値を推定することができる。なお、多項式近似の次数は、測定対象に応じて定められてもよい。多項式近似の次数は、どのような数値であってもよく、2次、3次等であってもよい。
In this way, the approximate
図3は、情報処理装置200の機能構成を示す機能ブロック図である。情報処理装置200は、所定のプログラムを実行することで通信部201、入力部202、出力部203、データ記憶部204及び制御部205を備える。
FIG. 3 is a functional block diagram showing a functional configuration of the
通信部201は、ネットワークインタフェースである。通信部201はネットワーク400を介して、測定器100及び時刻サーバ300と通信する。通信部201は、例えば無線LAN、有線LAN、Bluetooth(登録商標)又はLTE等の通信方式で通信してもよい。
The
入力部202は、タッチパネル、マウス及びキーボード等の入力装置を用いて構成される。入力部202は、入力装置を情報処理装置200に接続するためのインタフェースであってもよい。この場合、入力部202は、入力装置において入力された入力信号から入力データ(例えば、情報処理装置200に対する指示を示す指示情報)を生成し、情報処理装置200に入力する。
The
出力部203は、情報処理装置200に接続された不図示の出力装置を介し、情報処理装置200のユーザに対してデータの出力を行う。出力部203は、ビル10への影響度推定の結果や、加速度の推定値をユーザに知らせる。出力装置は、例えば画像や文字を画面に出力する装置を用いて構成されても良い。例えば、出力装置は、液晶ディスプレイ、有機EL(Electro Luminescence)ディスプレイ、電子泳動方式ディスプレイ、CRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイ等の画像表示装置を用いて構成できる。また、出力装置は、画像や文字をシートに印刷(印字)する装置を用いて構成されても良い。例えば、出力装置は、インクジェットプリンタやレーザープリンタ等を用いて構成できる。また、出力装置は、文字を音声に変換して出力する装置を用いて構成されても良い。この場合、出力装置は、音声合成装置及び音声出力装置(スピーカー)を用いて構成できる。出力装置は、LED(Light Emitting Diode)等の発光装置を用いて構成されてもよい。出力部203は、情報処理装置200に設けられた通信装置を介して他の情報処理装置に対し判定結果を送信してもよい。なお、出力部203は、情報処理装置200と一体として構成された出力装置であってもよい。
The
データ記憶部204は、磁気ハードディスク装置や半導体記憶装置等の記憶装置を用いて構成される。データ記憶部204は、測定器100から送信された近似値を記憶する。データ記憶部106は、近似値と近似値に対応付けされた推定対象時刻とを対応付けて記憶する。データ記憶部204は、測定器100毎に近似値を記憶する。
The
制御部205は、情報処理装置200の各部の動作を制御する。制御部205は、例えばCPU等のプロセッサ及びRAMを備えた装置により実行される。制御部205は、プログラムを実行することによって、時刻管理部251、近似データ取得部252及び影響度推定部253として機能する。
The
時刻管理部251は、測定システム1が備える測定器100内の時刻を管理する。時刻管理部251は、所定のタイミングで時刻サーバ300から時刻を取得する。時刻管理部251は、取得された時刻を時刻情報として各測定器100に送信する。所定のタイミングとは、予め定められたタイミングであればどのようなタイミングであってもよい。所定のタイミングとは、例えば、10秒や20秒等の予め定められた周期であってもよいし、入力部202を介してユーザによって指定されたタイミングであってもよい。なお、本実施形態では、時刻管理部251は、時刻サーバ300から時刻を取得するように構成されているが、これに限定されない。例えば、時刻管理部251は、GPS(Global Positioning System)アンテナ等の時刻を取得可能な装置であればどのような装置から時刻を取得してもよい。
The
近似データ取得部252は、測定器100から近似値を取得する。具体的には、近似データ取得部252は、データ要求のタイミングになると、各測定器100にデータ要求を送信する。データ要求のタイミングとは、例えば、50秒や100秒等の予め定められた周期であってもよいし、入力部202を介してユーザによって指定されたタイミングであってもよい。データ要求には、期間を示す情報が含まれる。期間を示す情報は、測定器100によって推定される近似値に対応付けされた時刻(すなわち測定対象時刻)の範囲を表す。例えば、近似データ取得部252は、期間を示す情報の期間の範囲に含まれる測定時刻に対応付けされた近似値を測定器100に要求する。期間を示す情報は、前に送信されたデータ要求に含まれる期間を示す情報から、所定時間後までの期間を示してもよい。所定時間とは、データ要求のタイミングの周期を示す時間と同じ時間であってもよい。
The approximate
次に、近似データ取得部252は、データ要求を受信した測定器100から近似値と近似値に対応付けされた時刻とを受信する。近似データ取得部252は、近似値と近似値に対応付けされた時刻とをデータ記憶部204に記録する。近似データ取得部252は、測定器100毎に近似値をデータ記憶部204に記録する。近似データ取得部252は、X軸方向の加速度の近似値、Y軸方向の加速度の近似値及びZ軸方向の加速度の近似値毎に記録する。
Next, the approximate
影響度推定部253は、ビル10への影響度を推定する。影響度とは、振動がビル10へ与える影響の度合いを示す。影響度とは、例えば、ビル10へ与えたと推定されるダメージであってもよい。影響度とは、例えば、時刻毎の最大震度であってもよい。影響度とは、例えば、振動の状況を示すレポートであってもよい。具体的には、影響度推定部253は、データ記憶部204に記録された加速度の近似値と時刻とに基づいて、層間変形角を算出する。層間変形角は、測定器100間の変位量を示す。影響度推定部253は、算出された層間変形角に基づいて、ビル10に対する影響度を推定する。影響度推定部253は、既知の手段で影響度を推定してもよい。
The
図4は、多項式近似によって推定された加速度を示すグラフの一具体例を示す図である。図4は、図4(a)と図4(b)とで構成される。図4(a)は、第1測定器の測定値と第2測定器の測定値とをプロットしたグラフである。図4(a)が示すグラフの縦軸は加速度を表す。図4(a)が示すグラフの横軸は測定時刻を表す。図4(a)が示すグラフでは、多項式近似は行われていない。第1測定器と第2測定器とはそれぞれが独立して加速度を測定する。このため、測定システム1では、第1測定器と第2測定器との間で、測定タイミングを同期することが難しい。このため、符号500が示すように、第1測定器の測定時刻と第2測定器の測定時刻のずれが、位相差として現れる。また、測定データ記録部171が、加速度と測定時刻との対応付けの際に、測定時刻に端数処理を行った場合、測定時刻がドリフトする場合がある。ドリフトとは、測定時刻が端数処理によって他の測定時刻と同じ時刻になることである。符号501は、端数処理によって、第1測定器の加速度の測定時刻がドリフトによって、他の測定時刻と同じ時刻になった場合の例を示す。この場合、測定値が1つ欠損することになる。
FIG. 4 is a diagram showing a specific example of a graph showing acceleration estimated by polynomial approximation. FIG. 4 is composed of FIGS. 4 (a) and 4 (b). FIG. 4A is a graph in which the measured values of the first measuring instrument and the measured values of the second measuring instrument are plotted. The vertical axis of the graph shown in FIG. 4A represents acceleration. The horizontal axis of the graph shown in FIG. 4A represents the measurement time. In the graph shown in FIG. 4A, polynomial approximation is not performed. The first measuring instrument and the second measuring instrument each measure the acceleration independently. Therefore, in the
図4(b)は、多項式近似によって推定された近似値をプロットしたグラフである。図4(b)が示すグラフの縦軸は加速度を表す。図4(b)が示すグラフの横軸は測定時刻を表す。図4(b)にプロットされた近似値は、所定の測定時刻における加速度の近似値を示す。図4(b)では、ドリフトした時刻に関する加速度は、破棄される。破棄された加速度が測定された時刻における加速度は欠損する。破棄された加速度は、近似式に基づいて補間される。符号502は、破棄された加速度と補間された加速度との一例を示す。図4(b)では、近似データ推定部173は、破棄された加速度は、破棄された加速度の前後に測定された加速度と近似式とに基づいて、近似値を推定する。このように、多項式近似を用いることで、端数処理や測定器100間で測定時刻の同期がとれていないことによって生じる位相差を補間することができる。
FIG. 4B is a graph in which approximate values estimated by polynomial approximation are plotted. The vertical axis of the graph shown in FIG. 4B represents acceleration. The horizontal axis of the graph shown in FIG. 4B represents the measurement time. The approximate values plotted in FIG. 4B indicate the approximate values of acceleration at a predetermined measurement time. In FIG. 4B, the acceleration with respect to the drift time is discarded. The abandoned acceleration is lost at the time it was measured. The discarded acceleration is interpolated based on the approximate expression.
図5は、測定システム1の近似値の推定までの流れを示すシーケンスチャートである。情報処理装置200の時刻管理部251は、時刻を取得するタイミングであるか否かを判定する(ステップS101)。時刻を取得するタイミングでない場合(ステップS101:NO)、処理は、ステップS105に遷移する。時刻を取得するタイミングである場合(ステップS101:YES)、時刻管理部251は、時刻サーバ300から時刻を取得する(ステップS102)。時刻管理部251は、取得された時刻を時刻情報として各測定器100に送信する(ステップS103)。測定器100の時刻管理部172は、測定器100内の時刻と受信した時刻情報とに基づいて、測定器100内の時刻を補正する(ステップS104)。
FIG. 5 is a sequence chart showing a flow up to estimation of an approximate value of the
情報処理装置200の近似データ取得部252は、データ要求のタイミングであるか否かを判定する(ステップS105)。データ要求のタイミングでない場合(ステップS105:NO)、処理は、ステップS101に遷移する。データ要求のタイミングである場合(ステップS105:YES)、近似データ取得部252は、各測定器100に対してデータ要求を送信する(ステップS106)。測定器100の制御部107は、データ要求に含まれる期間を示す情報に基づいて、近似値と近似値に対応付けされた時刻(すなわち推定対象時刻)とをデータ記憶部106から取得する(ステップS107)。制御部107は、取得された近似値と近似値に対応付けされた時刻とをデータ応答として情報処理装置200に送信する(ステップS108)。近似データ取得部252は、近似値と近似値に対応付けされた時刻とをデータ記憶部204に記録する(ステップS109)。影響度推定部253は、データ記憶部204に記録された加速度の近似値と時刻とに基づいて、ビル10への影響度を推定する(ステップS110)。
The approximate
図6は、測定器100の近似値の算出の処理の流れを示すフローチャートである。図6に示すフローチャートでは、X軸方向の加速度を例にして説明する。なお、測定器100は他の方向の加速度(Y軸方向の加速度及びZ軸方向の加速度)についても、同様に近似値の算出の処理を行う。測定器100の測定部102は加速度を測定する(ステップS201)。X軸サンプリング部103は、サンプリング周期が来たか否かを判定する(ステップS202)。サンプリング周期が来ていない場合(ステップS202:NO)、処理は、ステップS201に遷移する。サンプリング周期が来た場合(ステップS202:YES)、X軸サンプリング部103は、測定されたX軸方向の加速度からサンプリング周期における加速度を取得することでサンプリングする(ステップS203)。
FIG. 6 is a flowchart showing a processing flow of calculating an approximate value of the measuring
測定器100の測定データ記録部171は、加速度の測定された測定時刻を時刻管理部172から取得する。測定データ記録部171は、加速度と測定時刻とを対応付けてデータ記憶部106に記録する(ステップS204)。測定器100の近似データ推定部173は、近似値を推定するタイミングであるか否かを判定する(ステップS205)。近似値を推定するタイミングではない場合(ステップS205:NO)、処理は、ステップS201に遷移する。近似値を推定するタイミングである場合(ステップS205:YES)、近似データ推定部173は、データ記憶部106から近似値の推定対象となる期間の加速度と、加速度に対応付けされた測定時刻とを取得する(ステップS206)。近似データ推定部173は、取得された加速度と加速度に対応付けされた測定時刻とに基づいて、近似式を算出する(ステップS207)。近似データ推定部173は、近似式に基づいて、推定対象時刻における加速度の近似値を推定する(ステップS208)。近似データ推定部173は、推定された加速度の近似値と推定対象時刻とを対応付けて、データ記憶部106に記録する(ステップS209)。
The measurement
図7は、測定器100にスイープ信号を入力した場合の伝達関数の位相特性を示したグラフである。図7は、図7(a)と図7(b)とで構成される。図7(a)及び図7(b)は、いずれも4台の測定器100に対して、同じスイープ信号を一斉に入力した場合の伝達関数の位相特性を示す。入力されたスイープ信号は、1〜50Hzの周波数を持つ。
FIG. 7 is a graph showing the phase characteristics of the transfer function when a sweep signal is input to the measuring
図7(a)は、多項式近似を行わなかった場合の伝達関数の位相特性を示したグラフである。図7(a)が示すグラフの縦軸はPhase[deg](位相)を表す。図7(a)が示すグラフの横軸はスイープ信号の周波数を表す。図7(a)のグラフは、100Hz以上のの周波数を持つスイープ信号が入力されると位相差が生じ始めることを示す。図7(a)のグラフは、101Hzの周波数を持つスイープ信号が入力されると、測定器100間で特に大きな位相差が生じることを示す。
FIG. 7A is a graph showing the phase characteristics of the transfer function when polynomial approximation is not performed. The vertical axis of the graph shown in FIG. 7A represents Phase [deg] (phase). The horizontal axis of the graph shown in FIG. 7A represents the frequency of the sweep signal. Graph of FIG. 7 (a) shows that the phase difference when the sweep signal is input having a frequency of more than 10 0 Hz begins to occur. Graph of FIG. 7 (a), the sweep signal having a frequency of 10 1 Hz is inputted, indicating that the particular large phase difference occurs between the
図7(b)は、多項式近似を行った場合の伝達関数の位相特性を示したグラフである。図7(b)が示すグラフの縦軸はPhase[deg](位相)を表す。図7(b)が示すグラフの横軸はスイープ信号の周波数を表す。図7(b)のグラフは、101Hzの周波数を持つスイープ信号が入力された場合であっても、測定器100間で位相差は殆ど生じていないことを示す。
FIG. 7B is a graph showing the phase characteristics of the transfer function when polynomial approximation is performed. The vertical axis of the graph shown in FIG. 7B represents Phase [deg] (phase). The horizontal axis of the graph shown in FIG. 7B represents the frequency of the sweep signal. Graph of FIG. 7 (b), even if the sweep signal having a frequency of 10 1 Hz is inputted, indicating that the phase difference is hardly generated between the measuring
このように構成された測定システムでは、測定器100において、測定部102が測定対象から測定値を測定する。近似データ推定部173は、所定の間隔でサンプリングされた複数の測定値と測定値を測定した測定時刻とに基づいて、予め定められた時刻における近似値を推定する。このように、測定システムでは、任意の時刻における測定値の近似値を推定することができる。このため、複数の測定器100がそれぞれ独立で動作して測定値を取得する場合であっても、測定器100間の測定時刻のばらつきによる影響を抑制することができ、測定値の同期精度を向上させることができる。このため、実施形態の測定システム1によれば、複数の測定器によって同時に取得された測定値に基づく工業量を測定する場合に、各測定器間の測定時刻のばらつきによって生じ得る当該工業量の算出誤差を抑制することが可能となる。
In the measuring system configured in this way, in the
従来の測定システムでは、情報処理装置200が各測定器100に同期パルスを送信することで、測定器100間の測定時刻の同期をとっていた。同期パルスは、遅延することが許されない。このため、従来の測定システムでは、情報処理装置200と測定器100とは、有線回線で接続されることが望ましかった。本実施形態の測定システム1では、近似式を用いることで、任意の時刻における測定値の近似値を推定する。このため、測定システム1は、通信回線が遅延した場合であっても、複数の測定器100間で同じ時刻における測定値を取得することが可能になる。このため、情報処理装置200と測定器100とは無線で接続しても、遅延することなく測定値を取得することが可能になる。情報処理装置200と測定器100とを無線で接続することによって、情報処理装置200と測定器100とを有線で接続する場合よりも、より安価に測定システム1を構築することが可能になる。また、より広範囲にわたる測定システム1を構築することが可能になる。
In the conventional measurement system, the
上述の実施形態では、測定システム1は、加速度を測定する場合を例として説明したが、加速度に限定されない。例えば、測定システム1は、加速度以外の情報を推定するように構成されてもよい。加速度以外の情報は、例えば温度、湿度、音量又は照度等の測定器を用いて測定できる情報であればどのような情報であってもよい。また、測定システム1は、振動モニタリングシステムに限定されない。例えば、測定システム1は、プラント内の状態を推定するプラントモニタリングシステムとして構成されてもよいし、天気の状態を推定する気象モニタリングシステムとして構成されてもよい。測定システム1は、測定値に基づいてモニタリングできる対象であればどのような対象のモニタリングシステムとして構成されてもよい。
In the above-described embodiment, the
上述の実施形態では、測定器100にて近似値を推定するように構成されたがこれに限定されない。例えば、情報処理装置200が近似値を推定するように構成されてもよい。この場合、情報処理装置200が近似データ推定部173を備える。測定器100は、測定値と測定時刻とを情報処理装置に送信する。情報処理装置200の近似データ推定部173が近似値を推定する。
In the above embodiment, the measuring
情報処理装置200は、ネットワークを介して通信可能に接続された複数台の情報処理装置を用いて実装されてもよい。この場合、情報処理装置200が備える各機能部は、複数の情報処理装置に分散して実装されてもよい。例えば、近似データ取得部252と影響度推定部253とはそれぞれ異なる情報処理装置に実装されてもよい。
The
上述した実施形態における測定器100及び情報処理装置200をコンピュータで実現するようにしてもよい。その場合、この機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することによって実現してもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD−ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含んでもよい。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであってもよく、FPGA(Field Programmable Gate Array)等のプログラマブルロジックデバイスを用いて実現されるものであってもよい。
The measuring
以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。 Although the embodiments of the present invention have been described in detail with reference to the drawings, the specific configuration is not limited to this embodiment, and includes designs and the like within a range that does not deviate from the gist of the present invention.
1…測定システム, 10…ビル, 100…測定器, 101…通信部, 102…測定部, 103…X軸サンプリング部, 104…Y軸サンプリング部, 105…Z軸サンプリング部, 106…データ記憶部, 107…制御部, 171…測定データ記録部, 172…時刻管理部, 173…近似データ推定部, 200…情報処理装置, 201…通信部, 202…入力部, 203…出力部, 204…データ記憶部, 205…制御部, 251…時刻管理部, 252…近似データ取得部, 253…影響度推定部, 300…時刻サーバ, 400…ネットワーク 1 ... Measuring system, 10 ... Building, 100 ... Measuring instrument, 101 ... Communication unit, 102 ... Measuring unit, 103 ... X-axis sampling unit, 104 ... Y-axis sampling unit, 105 ... Z-axis sampling unit, 106 ... Data storage unit , 107 ... Control unit, 171 ... Measurement data recording unit, 172 ... Time management unit, 173 ... Approximate data estimation unit, 200 ... Information processing device, 201 ... Communication unit, 202 ... Input unit, 203 ... Output unit, 204 ... Data Storage unit, 205 ... Control unit, 251 ... Time management unit, 252 ... Approximate data acquisition unit, 253 ... Impact estimation unit, 300 ... Time server, 400 ... Network
Claims (6)
前記測定データを所定の周期でサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリングされた複数の前記測定データと前記測定データの測定時刻とに基づいて、前記測定対象の予め定められた時刻における測定データの近似データを推定する近似データ推定部と、
を備える、測定器。 A measuring unit that measures predetermined measurement data from a measurement target provided with its own device,
A sampling unit that samples the measurement data at a predetermined cycle,
An approximation data estimation unit that estimates approximate data of measurement data at a predetermined time of the measurement target based on the plurality of sampled measurement data and measurement time of the measurement data.
A measuring instrument.
請求項1に記載の測定器。 A time correction unit that corrects the time in the own device based on the time acquired from the external communication device is further provided.
The measuring instrument according to claim 1.
請求項1又は2に記載の測定器。 The approximate data estimation unit calculates an approximate formula for estimating the approximate data based on the plurality of sampled measurement data and the measurement time, and is based on the approximate formula and the predetermined time. To estimate the approximate data,
The measuring instrument according to claim 1 or 2.
請求項3に記載の測定器。 When some of the measurement data among the plurality of measurement data are missing, the approximation data estimation unit is said to have lost the measurement data based on the measurement data measured before and after the missing measurement data and the approximation formula. Estimate approximate data of measurement data,
The measuring instrument according to claim 3.
前記測定器は、
自装置が設けられた測定対象から所定の測定データを測定する測定部と、
前記測定データを所定の周期でサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリングされた複数の前記測定データと前記測定データの測定時刻とに基づいて、前記測定対象の予め定められた時刻における測定データの近似データを推定する近似データ推定部と、
を備える、測定システム。 A measurement system with multiple measuring instruments
The measuring instrument is
A measuring unit that measures predetermined measurement data from a measurement target provided with its own device,
A sampling unit that samples the measurement data at a predetermined cycle,
An approximation data estimation unit that estimates approximate data of measurement data at a predetermined time of the measurement target based on the plurality of sampled measurement data and measurement time of the measurement data.
A measurement system.
測定器が、前記測定データを所定の周期でサンプリングするサンプリングステップと、
測定器が、前記サンプリングされた複数の前記測定データと前記測定データの測定時刻とに基づいて、前記測定対象の予め定められた時刻における測定データの近似データを推定する近似データ推定ステップと、
を有する、測定方法。 A measurement step in which the measuring instrument measures predetermined measurement data from a measurement target provided with its own device, and
A sampling step in which the measuring instrument samples the measured data at a predetermined cycle,
An approximation data estimation step in which the measuring instrument estimates approximate data of the measurement data at a predetermined time of the measurement target based on the plurality of sampled measurement data and the measurement time of the measurement data.
The measuring method having.
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