JP2021044966A - ストレージ制御装置およびストレージシステム - Google Patents

Abstract

【課題】セルバランスにかかる時間を短縮するストレージ制御装置及びストレージシステムを提供する。【解決手段】ストレージ装置において、記憶装置を制御するＳＣＵは、バックアップ電源である複数のリチウムイオンキャパシタ１６４−１〜１６４−６と、複数のリチウムイオンキャパシタのそれぞれの残充電量を測定し、異常キャパシタと正常キャパシタとを決定する決定部と、正常キャパシタに対して第１の充電量となるまで放電を行なわせる１次セルバランス処理を実施する１次セルバランス処理部、異常キャパシタに対して第１の充電量となるまで充電を行なわせる補充電処理を実施する補充電処理部、１次セルバランス処理が実施された正常キャパシタと、補充電処理が実施された異常キャパシタとに対して、第１の充電量より多い第２の充電量となるまで充電を行なわせる２次セルバランス処理を実施する２次セルバランス処理部を有するＣＰＵと、を備える。【選択図】図２

Description

本発明は、ストレージ制御装置およびストレージシステムに関する。

一般に、ストレージ装置は、ＣＭ（Controller Module）内にメモリを備える。メモリは、キャッシュメモリとして使用される他、制御用データの保持にも使用される。

また、停電時におけるメモリの内容の喪失を防ぐために、バックアップ用電源を搭載し、停電時には、このバックアップ用電源から電力供給を行ない、その間にハードディスク等の記憶装置へメモリのデータを退避することでデータロストを防いでいる。バックアップ用電源には、ＳＣＵ（System Capacitor Unit）が用いられる。

ＳＣＵには複数のＬＩＣ（Lithium Ion Capacitor）が搭載される。ＳＣＵにおいては、装置起動時に、これらのＬＩＣに対して充放電を行なうことで診断が実施される。

特開２０１４−７８８５号公報 特開２０１２−６０６９１号公報

ＳＣＵに搭載される複数のＬＩＣ間においては、電圧のバラツキが生じる場合がある。ＬＩＣは過充電により破壊し易い特性を持つため、ＳＣＵ内の各ＬＩＣの残充電量を揃えることで充電時のＬＩＣの過充電を防止する処理（セルバランス）が行なわれる。

従来のＳＣＵにおいては、セルバランスは、残充電量が多いＬＩＣに抵抗を接続して放電させることで行なわれる。

しかしながら、ＬＩＣ間の電圧バラツキが大きい場合には、セルバランスに時間がかかり、監視制御によるタイムアウトが生じる場合がある。タイムアウトが生じると、ストレージ装置に備えられた監視制御システムからリセット信号（Reset）が発行され、ＳＣＵのマイコンが動作不可となる。その結果、ＳＣＵが故障したとの誤検出が行なわれるとともに、装置起動にかかる時間が延伸するという課題がある。

１つの側面では、本発明は、セルバランスにかかる時間を短縮できるようにすることを目的とする。

このため、このストレージ制御装置は、記憶装置を制御するストレージ制御装置において、バックアップ電源である複数のキャパシタと、前記複数のキャパシタのそれぞれの残充電量を測定し、異常キャパシタと正常キャパシタとを決定する決定部と、前記正常キャパシタに対して第１の充電量となるまで放電を行なわせる１次セルバランス処理を実施する１次セルバランス処理部と、前記異常キャパシタに対して前記第１の充電量となるまで充電を行なわせる補充電処理を実施する補充電処理部と、前記１次セルバランス処理が実施された前記正常キャパシタと、前記補充電処理が実施された前記異常キャパシタとに対して、前記第１の充電量より多い第２の充電量となるまで充電を行なわせる２次セルバランス処理を実施する２次セルバランス処理部とを備える。

一実施形態によれば、セルバランスにかかる時間を短縮することができる。

実施形態の一例としてのストレージ装置のハードウェア構成を例示する図である。 実施形態の一例としてのストレージ装置のＳＣＵのハードウェア構成を例示する図である。 実施形態の一例としてのストレージ装置のＳＣＵ制御ユニットの機能構成を例示する図である。 実施形態の一例としてのストレージ装置に備えられた複数のＣＭ間における補充電の処理順序を例示する図である。 実施形態の一例としてのストレージ装置の各ＣＭの処理を説名するためのフローチャートである。 実施形態の一例としてのストレージ装置のマスタＣＭによる処理を説明するためのフローチャートである。 実施形態の一例としてのストレージ装置のＳＣＵ制御ユニットによるセルバランス処理を説明するための図である。 実施形態の一例としてのストレージ装置のＳＣＵ制御ユニットによるセルバランス処理を説明するための図である。 実施形態の一例としてのストレージ装置のＳＣＵ制御ユニットによるセルバランス処理を説明するための図である。 実施形態の一例としてのストレージ装置のＳＣＵ制御ユニットによるセルバランス処理を説明するための図である。 実施形態の一例としてのストレージ装置のＳＣＵ制御ユニットによるセルバランス処理を説明するための図である。

以下、図面を参照して本ストレージ制御装置およびストレージシステムに係る実施の形態を説明する。ただし、以下に示す実施形態はあくまでも例示に過ぎず、実施形態で明示しない種々の変形例や技術の適用を排除する意図はない。すなわち、本実施形態を、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。また、各図は、図中に示す構成要素のみを備えるという趣旨ではなく、他の機能等を含むことができる。

（Ａ）構成
図１は実施形態の一例としてのストレージ装置１のハードウェア構成を例示する図である。

本実施形態のストレージ装置１は、図示しないホスト装置に接続され、このホスト装置に対して記憶領域を提供する。ホスト装置は、例えば、サーバ機能をそなえたコンピュータ（ホストコンピュータ）であり、ＬＡＮ（Local Area Network）等のネットワーク（図示省略）を介して、本ストレージ装置１と通信可能に接続される。

ストレージ装置１は、図１に示すように、１つ以上（図１に示す例では２つ）のＣＭ（Controller Module）１０−１，１０−２，１つ以上（図１に示す例では４つを図示）の記憶装置２０およびＰＳＵ２１（Power Supply Unit）を備える。

記憶装置２０は、ハードディスクドライブ（Hard Disk Drive：ＨＤＤ）やＳＳＤ（Solid State Drive）等のデータを読み書き可能に格納する記憶装置であり、ホスト装置から受信したデータを記憶可能な記憶部として機能する。

図１に例示するストレージ装置１においては、ＣＭ１０−１とＣＭ１０−２とにそれぞれ２つの記憶装置２０が接続されている。

なお、図１中においては、便宜上、ストレージ装置１に４つの記憶装置２０を示しているが、これに限定されるものではなく、３つ以下もしくは５つ以上の記憶装置２０を備えてもよい。そして、ストレージ装置１は、これらの複数の記憶装置２０を組み合わせて、冗長化された１つのストレージとして管理する、ＲＡＩＤ（Redundant Arrays of Inexpensive Disks）装置であってもよい。本実施形態においては、ストレージ装置１が、これらの複数の記憶装置２０を用いてＲＡＩＤを形成するＲＡＩＤ装置である例について説明する。

ＰＳＵ２１は、例えば、ＣＭ１０−１，１０−２に電力を供給する。ＰＳＵ２１から供給される電力は、ＣＭ１０−１，１０−２に備えられるＳＣＵ１６（詳細は後述）に対しても供給される。

ＣＭ１０−１，１０−２は、記憶装置２０に対するデータのリードやライトの制御を行なうストレージ制御装置である。ＣＭ１０−１とＣＭ１０−２とは同様の構成を有する。以下、２つのＣＭ１０−１，１０−２を特に区別しない場合には、ＣＭ１０と表記する。

また、本ストレージ装置１に備えられた複数のＣＭ１０−１，１０−２のうち、一のＣＭ１０（例えば、ＣＭ１０−１）はマスタとして機能し、他のＣＭ１０（例えば、ＣＭ１０−２）はスレーブとして機能する。以下、ＣＭ１０−１をマスタＣＭ１０−１といい、ＣＭ１０−２をスレーブＣＭ１０−２といってもよい。また、ＣＭ１０−１をＣＭ＃０と表してもよく、ＣＭ１０−２をＣＭ＃１と表してもよい。

ＣＭ１０は、図１に示すように、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１１，ＦＣ（Fibre Channel）コントローラ１２，ＳＡＳ（Serial Attached Small Computer System Interface）コントローラ１３，ＰＣＨ（Platform Controller Hub）１４，Ｉ２Ｃ（Inter-Integrated Circuit）スイッチ１５，ＳＣＵ１６およびエキスパンダ１７を備える。

ＦＣコントローラ１２は、光通信インタフェースであり、ＣＰＵ１１とホスト装置とを通信可能に接続する。ＣＭ１０はこのＦＣコントローラ１２を介して、ホスト装置との間でデータや各種コマンド等の送受信を行なう。

ＳＡＳコントローラ１３は、ＳＡＳ規格に沿った通信を実現するための通信インタフェースであり、ＣＰＵ１１と記憶装置２０とを通信可能に接続する。ＣＭ１０は、このＳＡＳコントローラ１３を介して、記憶装置２０との間でデータやコマンド等の送受信を行なう。

ＰＣＨ１４は、周辺Ｉ／Ｏ制御用プロセッサであり、いわゆるサウスブリッジとして機能する。ＰＣＨ１４は、ＣＰＵ１１とＩ２Ｃスイッチ１５とを通信可能に接続する。

Ｉ２Ｃスイッチ１５は、Ｉ２Ｃバスの切替えを行なうスイッチであり、ＳＣＵ１６とＰＣＨ１４とを接続する。

エキスパンダ１７は、通信インタフェースであり、他のＣＭ１０に備えられたエキスパンダ１７と通信ケーブルを介して接続される。これにより、ＣＭ１０はエキスパンダ１７を介して他のＣＭ１０と通信可能に接続される。エキスパンダ１７は、例えば、ＳＡＳ規格に沿った通信を実現するＳＡＳエキスパンダであってもよい。エキスパンダ１７をＥＸＰ１７と表す場合もある。

ＤＩＭＭ１８は、複数のＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）チップをプリント基板上に搭載したメモリモジュールである。ＤＩＭＭ１８は、ＣＰＵ１１が演習処理を行なうに際して主記憶装置として使用される。ＣＭ１０には１つ以上のＤＩＭＭ１８が備えられる。図１に示す例においては、各ＣＭ１０にそれぞれ４つのＤＩＭＭ１８が示されている。

ＣＰＵ１１は、種々の制御や演算を行なう処理装置であり、ＤＩＭＭ１８に格納されたＯＳ（Operating System）やプログラムを実行することにより、種々の機能を実現する。例えば、ＣＰＵ１１は、ホスト装置から送信されるＩ／Ｏ要求に従って、記憶装置２０に対してデータのリードやライトを実現する。また、ＣＰＵ１１はＲＡＩＤの制御を行なってもよい。

ＳＣＵ１６は、停電時に、ＤＩＭＭ１８の内容を不揮発性の記憶装置等に退避させるための電源を供給するバックアップ電源装置であり、例えば、当該ＳＣＵ１６と同一のＣＭ１０上に備えられたＤＩＭＭ１８，ＰＣＨ１４およびＩ２Ｃスイッチ１５に対して電力（バックアップ電力）の供給を行なう。図１においては、ＳＣＵ１６によるＣＭ１０内におけるバックアップ電力供給対象を破線で示している。

図２は実施形態の一例としてのストレージ装置１のＳＣＵ１６のハードウェア構成を例示する図である。

図２に例示するＳＣＵ１６は、ＳＣＵ制御ユニット１６０およびＬＩＣユニット１６５を備える。

ＬＩＣユニット１６５は、複数（図２に示す例では６つ）のＬＩＣ（キャパシタ）１６４−１〜１６４−６を備える。以下、ＬＩＣ１６４−１をＬＩＣ＃１と表す場合がある。同様に、ＬＩＣ１６４−２〜１６４−６を、ＬＩＣ＃１〜＃６とそれぞれ表す場合がある。

また、以下、６つのＬＩＣ１６４−２〜１６４−６を特に区別しない場合には、ＬＩＣ１６４と表記する。

なお、図２中においては、ＬＩＣユニット１６５に６つのＬＩＣ１６４を示しているが、これに限定されるものではなく、５つ以下もしくは７つ以上のＬＩＣ１６４を備えてもよい。

各ＬＩＣ１６４は放電経路１６８に接続されている。放電経路１６８は、ＬＩＣ１６４を放電させるための電子回路である。後述するＳＣＵ制御ユニット１６０は、個々のＬＩＣ１６４に対して任意に、それぞれ図示しない抵抗器（負荷）を電気的に接続させる制御を行なうことで、個々のＬＩＣ１６４を任意に放電させる。

なお、ＬＩＣ１６４の放電は既知の手法により実現することができ、放電経路１６８についての詳細な説明は省略する。

また、ＬＩＣ１６４−１はスイッチ１６３−１を介して充電経路１６７にも接続されている。同様に、ＬＩＣ１６４−２，１６４-３，１６４−４，１６４−５，１６４−６は、スイッチ１６３−２，１６３−３，１６３−４，１６３−５，１６３−６を介して、それぞれ充電経路１６７に接続されている。

以下、６つのスイッチ１６３−１〜１６３−６を特に区別しない場合には、スイッチ１６３と表記する。また、スイッチ１６３−１をＳＷ＃１と表す場合がある。同様に、スイッチ１６３−２〜１６３−６をＳＷ＃２〜＃６と表す場合がある。

各ＬＩＣ１６４は、それぞれ対応するスイッチ１６３を介して充電経路１６７に接続されている。

充電経路１６７は、ＬＩＣ１６４を充電させるための電子回路である。スイッチ１６３−１をオン状態にすることで充電経路１６７からＬＩＣ１６４−１に対して電力供給が行なわれ、ＬＩＣ１６４−１の充電が行なわれる。

同様に、スイッチ１６３−２〜１６３−６をそれぞれオン状態にすることで、充電経路１６７からＬＩＣ１６４−２〜１６４−６に対して電力供給が行なわれ、ＬＩＣ１６４−２〜１６４−６の充電がそれぞれ行なわれる。

すなわち、スイッチ１６３は、複数のＬＩＣ１６４のそれぞれに対応して備えられ、対応するＬＩＣ１６４を充電経路１６７に接続する。

ＳＣＵ制御ユニット１６０は、各スイッチ１６３のオン／オフを制御することで、各ＬＩＣ１６４を任意に充電させる機能を実現する。なお、充電経路１６７の回路構成は適宜実施することができ、その詳細な説明は省略する。

ＳＣＵ制御ユニット１６０は、本ストレージ装置１の停電時にバックアップ電力供給対象に対する電力供給の制御を行なう。

また、ＳＣＵ制御ユニット１６０は、ＬＩＣユニット１６５の各ＬＩＣ１６４のセルバランスを制御するものであり、これらのＬＩＣ１６４の充電および放電（以下、充放電という場合がある）を制御する。

ＳＣＵ制御ユニット１６０は、図２に示すように、マイコンユニット１６１を備える。マイコンユニット１６１は、Ｉ２Ｃバスを介してＩ２Ｃスイッチ１５に接続され、このＩ２Ｃスイッチ１５およびＰＣＨ１４を介してＣＰＵ１１に接続されている。

また、マイコンユニット１６１には、例えば１２Ｖの直流電源（ＤＣ電源）が接続されている。

マイコンユニット１６１は、ＣＰＵ１６２およびフラッシュメモリ１６６を備える。フラッシュメモリ１６６には、ＣＰＵ１６２が実行するプログラムが格納されている。また、ＣＰＵ１６２はプログラムを実行する際に、フラッシュメモリ１６６を主記憶装置として使用し、プログラムの少なくとも一部や使用するデータを、このフラッシュメモリ１６６に展開（格納）してもよい。

ＣＰＵ１６２は、ＳＣＵ制御ユニット１６０全体を制御する。ＣＰＵ１６２は、複数のプロセッサを有するマルチプロセッサであってもよい。なお、ＣＰＵ１６２に代えて、ＭＰＵ（Micro Processing Unit），ＤＳＰ（Digital Signal Processor），ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit），ＰＬＤ（Programmable Logic Device），ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）のいずれか一つであってもよい。また、ＣＰＵ１６２に代えて、ＣＰＵ，ＭＰＵ，ＤＳＰ，ＡＳＩＣ，ＰＬＤ，ＦＰＧＡのうちの２種類以上の要素の組み合わせであってもよい。

図３は実施形態の一例としてのストレージ装置１のＳＣＵ制御ユニット１６０の機能構成を例示する図である。

ＣＰＵ１６２は、フラッシュメモリ１６６に格納されたスレーブ用制御プログラムを実行することで、図３に示すように、異常ＬＩＣ数計数部１０１，１次セルバランス処理部１０２，補充電処理部１０３，２次セルバランス処理部１０４および診断試験部１０５として機能する。

すなわち、本ストレージ装置１におけるスレーブＣＭ１０に搭載されたＳＣＵ制御ユニット１６０が、異常ＬＩＣ数計数部１０１，１次セルバランス処理部１０２，補充電処理部１０３，２次セルバランス処理部１０４および診断試験部１０５として機能する。

なお、これらの異常ＬＩＣ数計数部１０１，１次セルバランス処理部１０２，補充電処理部１０３，２次セルバランス処理部１０４および診断試験部１０５としての機能を実現するためのプログラム（スレーブ用制御プログラム）は、例えばフレキシブルディスク，ＣＤ（ＣＤ−ＲＯＭ，ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ等），ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋ＲＷ，ＨＤ ＤＶＤ等），ブルーレイディスク，磁気ディスク，光ディスク，光磁気ディスク等の、コンピュータ読取可能な記録媒体に記録された形態で提供される。そして、コンピュータはその記録媒体からプログラムを読み取って内部記憶装置または外部記憶装置に転送し格納して用いる。また、そのプログラムを、例えば磁気ディスク，光ディスク，光磁気ディスク等の記憶装置（記録媒体）に記録しておき、その記憶装置から通信経路を介してコンピュータに提供するようにしてもよい。

異常ＬＩＣ数計数部１０１，１次セルバランス処理部１０２，補充電処理部１０３，２次セルバランス処理部１０４および診断試験部１０５としての機能を実現する際には、内部記憶装置（本実施形態ではフラッシュメモリ１６６）に格納されたプログラムがコンピュータのマイクロプロセッサ（本実施形態ではＣＰＵ１６２）によって実行される。このとき、記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータが読み取って実行するようにしてもよい。

異常ＬＩＣ数計数部１０１は、当該ＳＣＵ制御ユニット１６０が搭載されたＳＣＵ１６（自ＳＣＵ１６といってもよい）に備えられた各ＬＩＣ１６４のそれぞれに対して、正常であるか異常であるかの判断を行なう。そして、異常ＬＩＣ数計数部１０１は、自ＳＣＵ１６に備えられたＬＩＣ１６４のうち異常であると判断したＬＩＣ１６４の数（異常ＬＩＣ数）を、マスタＣＭ１０−１のＳＣＵ１６に通知する。なお、異常ＬＩＣ数を充電残量少ＬＩＣ数という場合がある。

具体的には、異常ＬＩＣ数計数部１０１は、自ＳＣＵ１６に備えられた各ＬＩＣ１６４の電圧をそれぞれ測定し、この測定した電圧値を予め規定した閾値と比較する。ここで、閾値は、例えば、満充電の状態を１００％とした場合における８０％の充電状態に対応する電圧値であり、例えば、３．３２Ｖである。

異常ＬＩＣ数計数部１０１は、電圧値が閾値以上であるＬＩＣ１６４を正常と判断し、電圧値が閾値未満であるＬＩＣ１６４を異常であると判断する。

異常ＬＩＣ数計数部１０１は、複数のＬＩＣ１６４のそれぞれの残充電量（電圧，放電量）を測定し、異常ＬＩＣ１６４と正常ＬＩＣ１６４とを決定する決定部として機能する。

一般に、ＬＩＣ１６４は、その電圧と残充電量とがリニア（線形）な関係にあるという特性を有する。従って、ＬＩＣ１６４の電圧を用いて残充電量を求めることができ、ＬＩＣ１６４の電圧を残充電量とみなしてもよい。また、ＬＩＣ１６４において、残充電量と放電量とは対応関係を有し、ＬＩＣ１６４の総容量から残充電量を減算した値が放電量に相当する。

異常ＬＩＣ数計数部１０１は、電圧値が閾値未満であるＬＩＣ（異常ＬＩＣ）１６４の数（異常ＬＩＣ数）をマスタＣＭ１０−１に通知する。

なお、ＬＩＣ１６４が正常であるか異常であるかの判断の基準となる閾値は、３．３２Ｖに限定されるものではなく、適宜変更して実施することができる。

１次セルバランス処理部１０２は、１次セルバランス処理として、異常ＬＩＣ数計数部１０１によって正常と判断されたＬＩＣ１６４（正常ＬＩＣ１６４，正常キャパシタ）に対して、第１の充電量となるまで放電させる。ここで、第１の充電量は、例えば、満充電の状態を１００％とした場合における８０％の充電状態であってもよく、例えば、電圧値３．３２Ｖであってもよい。

１次セルバランス処理部１０２は、異常ＬＩＣ数計数部１０１によって正常と判断されたＬＩＣ１６４（正常ＬＩＣ１６４）に対して、放電経路１６８を用いて図示しない抵抗器を接続させて、その電圧が３．３２Ｖ（第１の充電量）となるまで放電させる。

１次セルバランス処理部１０２は、制御対象のＬＩＣ１６４の電圧が３．３２Ｖになると、抵抗器との接続を解除して放電を停止させる。

以下、１次セルバランス処理部１０２によるＬＩＣ１６４の放電を１次放電という場合がある。１次セルバランス処理部１０２は、自ＳＣＵ１６のＬＩＣ１６４に対する１次放電を行なう。

補充電処理部１０３は、異常ＬＩＣ数計数部１０１によって異常と判断されたＬＩＣ１６４（異常ＬＩＣ１６４）に対して、第１の充電量となるまで充電を行なわせる。以下、異常ＬＩＣ数計数部１０１により電圧値が閾値未満であると判断された異常ＬＩＣ１６４に対して、第１の充電量となるまで充電させることを補充電もしくは補充電処理という場合がある。

ここで、第１の充電量は、例えば、満充電の状態を１００％とした場合における８０％程度の充電状態であってもよく、例えば、電圧値３．３２Ｖであってもよい。

補充電処理部１０３は、異常ＬＩＣ数計数部１０１によって異常と判断されたＬＩＣ１６４（異常ＬＩＣ１６４，異常キャパシタ）に対して、当該ＬＩＣ１６４に対応して備えられたスイッチ１６３をオン状態にして充電経路１６７に接続させて、その電圧が３．３２Ｖ（第１の充電量）となるまで充電させる。

補充電処理部１０３は、後述するマスタＣＭ１０−１の補充電指示部１０７から異常ＬＩＣ１６４への補充電の開始指示を受信すると、異常ＬＩＣ１６４に対する補充電を開始する。

補充電処理部１０３が、異常ＬＩＣ１６４に対応するスイッチ１６３を接続制御して、この異常ＬＩＣ１６４を充電経路１６７に接続させることで、異常ＬＩＣ１６４に対する補充電処理を行なうことができる。

１次セルバランス処理部１０２は、補充電の対象のＬＩＣ１６４の電圧が３．３２Ｖになると、スイッチ１６３をオフにして充電を停止させる。

以下、補充電処理部１０３による異常ＬＩＣ１６４に対する充電を１次充電という場合がある。補充電処理部１０３は、自ＳＣＵ１６の異常ＬＩＣ１６４に対する１次充電を行なう。

２次セルバランス処理部１０４は、１次セルバランス処理部１０２もしくは補充電処理部１０３により第１の充電量とされたＬＩＣ１６４に対して、第２の充電量となるように充電させる。

ここで、第２の充電量は、第１の充電量より高い値であり、例えば、満充電の状態（１００％）であってもよい。本ストレージ装置１においては、２次セルバランス処理部１０４は当該ＳＣＵ１６に備えられた各ＬＩＣ１６４を満充電にする制御を行なう。

２次セルバランス処理部１０４は、当該ＳＣＵ１６のＬＩＣユニット１６５に備えられた各ＬＩＣ１６４に対して、各ＬＩＣ１６４に対応して備えられたスイッチ１６３をオン状態にして充電経路１６７に接続させて、満充電（第２の充電量）になるまで充電させる。

以下、２次セルバランス処理部１０４によるＬＩＣ１６４への充電を２次充電という場合がある。２次セルバランス処理部１０４は、自ＳＣＵ１６のＬＩＣ１６４に対する２次充電を行なう。２次セルバランス処理部１０４による２次充電処理は、当該ＣＭ＃１のＳＣＵ１６に備えられた、正常ＬＩＣ１６４（正常ＬＩＣグループ）と異常ＬＩＣ１６４（異常ＬＩＣグループ）との両方に対して行なわれる。

診断試験部１０５は、ＬＩＣ１６４に対する診断試験を行なう。診断試験部１０５は、例えば、２次セルバランス処理部１０４により第２の充電量にとなるように充電されたＬＩＣ１６４が第２の充電量となっているかを確認する。例えば、診断試験部１０５は、ＬＩＣ１６４の電圧が第２の充電量に相当する電圧値であるかを確認する。

診断試験部１０５は、試験対象のＬＩＣ１６４に負荷を接続して放電させ、充電量や寿命の診断を行なってもよい。

また、特に、マスタＣＭ１０−１に備えられたＳＣＵ制御ユニット１６０においては、ＣＰＵ１６２は、フラッシュメモリ１６６に格納されたマスタ用制御プログラムを実行することで、図３に示すように、要補充電ＬＩＣ数計数部１０６，補充電指示部１０７および充電指示部１０８として機能する。

なお、これらの要補充電ＬＩＣ数計数部１０６，補充電指示部１０７および充電指示部１０８としての機能を実現するためのプログラム（マスタ用制御プログラム）は、例えばフレキシブルディスク，ＣＤ（ＣＤ−ＲＯＭ，ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ等），ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋ＲＷ，ＨＤ ＤＶＤ等），ブルーレイディスク，磁気ディスク，光ディスク，光磁気ディスク等の、コンピュータ読取可能な記録媒体に記録された形態で提供される。そして、コンピュータはその記録媒体からプログラムを読み取って内部記憶装置または外部記憶装置に転送し格納して用いる。また、そのプログラムを、例えば磁気ディスク，光ディスク，光磁気ディスク等の記憶装置（記録媒体）に記録しておき、その記憶装置から通信経路を介してコンピュータに提供するようにしてもよい。

要補充電ＬＩＣ数計数部１０６，補充電指示部１０７および充電指示部１０８としての機能を実現する際には、内部記憶装置（本実施形態ではフラッシュメモリ１６６）に格納されたプログラムがコンピュータのマイクロプロセッサ（本実施形態ではＣＰＵ１６２）によって実行される。このとき、記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータが読み取って実行するようにしてもよい。

要補充電ＬＩＣ数計数部１０６は、本ストレージ装置１のスレーブＣＭ１０から通知される異常ＬＩＣ数に基づき、補充電が必要なＬＩＣ１６４の数（要補充電ＬＩＣ数）を求める。補充電が必要なＬＩＣ１６４とは、異常ＬＩＣ数計数部１０１によって異常と判断されたＬＩＣ１６４（異常ＬＩＣ１６４）である。

要補充電ＬＩＣ数計数部１０６は、スレーブＣＭ１０から送信される異常ＬＩＣ数を合計することで、補充電が必要なＬＩＣ１６４の数を求める。

補充電指示部１０７は、スレーブＣＭ１０の補充電処理部１０３に対して、異常ＬＩＣ１６４への補充電の開始指示を発行する。

補充電指示部１０７は、要補充電ＬＩＣ数計数部１０６により求められた要補充電ＬＩＣ数が基準数以上となった場合に、これらの異常ＬＩＣ１６４を備えるＣＭ１０の補充電処理部１０３に、異常ＬＩＣ１６４への補充電の実行指示（補充電開始指示）を通知する。

ここで基準数は、ＰＳＵ２１の電源供給能力によって決定される値であり、ＰＳＵ２１が同時に電力供給可能なＬＩＣ１６４の数の上限値（限界値）である。本実施形態においては、基準数が６個である例について示す。

上述の如く、本ストレージ装置１において、ＰＳＵ２１が同時に電力供給可能なＬＩＣ１６４の数の上限値（基準数）は６である。従って、２つのＣＭ＃０，＃１の各異常ＬＩＣ数の合計が６以下である場合には、これらのＣＭ＃０，＃１における全ての異常ＬＩＣ１６４に対する補充電を同時に実行することができる。

これに対して、２つのＣＭ＃０，＃１の各異常ＬＩＣ数の合計が７以上である場合には、これらのＣＭ＃０，＃１における全ての異常ＬＩＣ１６４に対する補充電を同時に実行することはできない。

そこで、本ストレージ装置１においては、各ＣＭ１０において異常ＬＩＣ数計数部１０１により検出された異常ＬＩＣ１６４の数に応じて、補充電の処理順序を決定する。すなわち、補充電指示部１０７は、本ストレージ装置１に備えられた複数のＣＭ１０に対して補充電の実施順序を規定し、この実施順序に従って、各ＣＭ１０に備えられた補充電処理部１０３へ補充電開始指示を通知する。

図４は実施形態の一例としてのストレージ装置１に備えられた複数のＣＭ１０間における補充電の処理順序を例示する図である。

この図４に示す例においては、縦方向にＣＭ＃１において検出された異常ＬＩＣ数を並べるとともに、横方向にＣＭ＃０において検出された異常ＬＩＣ数を並べるマトリクスが構成されている。そして、ＣＭ＃０において検出された異常ＬＩＣ数とＣＭ＃１において検出された異常ＬＩＣ数との組み合わせに応じて、ＣＭ＃０，＃１に備えられた各異常ＬＩＣ１６４の補充電の処理順序を規定している。

この図４に例示するマトリクスにおいては、いずれかのＣＭ１０の異常ＬＩＣ数が０である場合（異常ＬＩＣ×０）には、異常ＬＩＣ数が１〜６である他方のＣＭ１０に備えられた異常ＬＩＣ１６４に対してのみ補充電が行なわれることを示す（図４中の符号Ｐ１，Ｐ２参照）。

また、異常ＬＩＣ数が１以上の組み合わせであって、ＣＭ＃０の異常ＬＩＣ数とＣＭ＃１の異常ＬＩＣ数との合計が６以下である場合には、ＣＭ＃０，ＣＭ＃１の両方の異常ＬＩＣ１６４に対して同時に補充電が行なわれることを示す（図４の符号Ｐ３参照）。

そして、これら以外の組み合わせにおいては、ＣＭ＃０の異常ＬＩＣ１６４後にＣＭ＃１の異常ＬＩＣ１６４の補充電が行なわれることを示す（図４の符号Ｐ４参照）。すなわち、２つのＣＭ１０のうち、予め設定された優先順位に従って選択されたＣＭ１０（図４に示す例ではマスタＣＭ＃０）の異常ＬＩＣ１６４を優先して補充電を行なう。なお、複数のＣＭ１０間における補充電の優先順位は、これに限定されるものではなく、種々変形して実施することができる。

充電指示部１０８は、本ストレージ装置１の全てのＣＭ１０においてＬＩＣ１６４への補充電が完了した後に、各ＣＭ１０のＳＣＵ制御ユニット１６０（２次セルバランス処理部１０４）に、各ＬＩＣ１６４に対する２次充電を行なわせる。充電指示部１０８は、ＬＩＣ１６４の充電を行なわせるＣＭ１０に対して、充電可能通知を送信する。

（Ｂ）動作
上述の如く構成された実施形態の一例としてのストレージ装置１の各ＣＭ１０の処理を、図５に示すフローチャート（ステップＡ１〜Ａ８）に従って説明する。

以下の処理は、例えば、本ストレージ装置１の起動時に行なってもよい。

ステップＡ１において、ＣＭ１０において、異常ＬＩＣ数計数部１０１は、自ＳＣＵ１６に備えられた各ＬＩＣ１６４の電圧（残充電量）を測定する。

ステップＡ２において、異常ＬＩＣ数計数部１０１は、測定したＬＩＣ１６４の電圧を閾値（例えば、３．３２Ｖ）と比較することで、当該ＬＩＣ１６４が正常であるか異常（異常ＬＩＣ１６４）であるかを判断する（グループ分け）。

ステップＡ３において、異常ＬＩＣ数計数部１０１は、異常ＬＩＣ数をマスタＣＭ１０−１（要補充電ＬＩＣ数計数部１０６）に通知する。

ステップＡ４において、１次セルバランス処理として、異常ＬＩＣ数計数部１０１によって正常と判断されたＬＩＣ１６４（正常ＬＩＣ１６４）に対して、第１の充電量となるように放電させる。

また、ステップＡ５において、補充電処理部１０３は、マスタＣＭ１０−１の補充電指示部１０７からの指示に従って、異常ＬＩＣ数計数部１０１によって異常と判断されたＬＩＣ１６４（異常ＬＩＣ１６４）に対して、第１の充電量となるように補充電を行なわせる。補充電処理部１０３は、マスタＣＭ１０−１から送信される補充電指示に従って、複数の異常ＬＩＣ１６４に対して、順次、補充電処理を実行する。

上述したステップＡ４，Ａ５の処理は並行して行なうことが望ましい。ただし、これに限定されるものではなく、ステップＡ４の処理の終了後にステップＡ５の処理を行なってもよく、また、逆に、ステップＡ５の処理の終了後にステップＡ４の処理を行なってもよい。

ステップＡ６において、２次セルバランス処理部１０４が、当該ＣＭ＃１のＳＣＵ１６に備えられた、正常なＬＩＣ１６４（正常ＬＩＣグループ）と異常ＬＩＣ１６４（異常ＬＩＣグループ）との両方に対して、２次充電を行なう（２次セルバランス処理）。

これにより、当該ＣＭ＃１のＳＣＵ１６に備えられた、全てのＬＩＣ１６４を満充電する２次充電が行なわれる（ステップＡ７）。２次セルバランス処理部１０４は、２次充電が完了すると、マスタＣＭ１０−１の充電指示部１０８に対してＬＩＣ１６４への２次充電が完了したことを通知する充電完了通知を送信する。

ステップＡ８において、診断試験部１０５が、当該ＣＭ＃１のＳＣＵ１６に備えられた、全てのＬＩＣ１６４に対して診断試験を行なう。その後、処理を終了する。

上記のステップＡ１〜Ａ８に示した処理は、マスタＣＭ１０−１においても、スレーブＣＭ１０−２と同様に行なわれる。ただし、ステップＡ３に示した、異常ＬＩＣ数計数部１０１からマスタＣＭ１０−１（要補充電ＬＩＣ数計数部１０６）への異常ＬＩＣ数の通知は、自ＣＭ１０−１内において行なわれる。

次に、実施形態の一例としてのストレージ装置１のマスタＣＭ１０−１による処理を、図６に示すフローチャート（ステップＢ１〜Ｂ１５）に従って説明する。

以下の処理は、例えば、本ストレージ装置１の起動時に行なってもよい。

ステップＢ１において、本ストレージ装置１に備えられた全ＣＭ１０のうち、異常ＬＩＣ１６４を有するＣＭ１０から、マスタＣＭ１０−１の要補充電ＬＩＣ数計数部１０６へ異常ＬＩＣ数が送信され、要補充電ＬＩＣ数計数部１０６は、この送信された異常ＬＩＣ数を受信する。

ステップＢ２において、変数ｎ，ｎ’を初期化する（ｎ＝０，ｎ’＝１）。なお、ｎは本ストレージ装置１に備えられたＣＭ１０の数である。本実施形態においてはｎ＝２である。

ステップＢ３において、要補充電ＬＩＣ数計数部１０６は、マスタＣＭ１０（ＣＭｎ’，ＣＭ＃０）の異常ＬＩＣ数（充電残量少ＬＩＣ数）を変数Ｓに設定する。

ステップＢ４において、要補充電ＬＩＣ数計数部１０６は、ステップＢ３において算出した変数Ｓに、スレーブＣＭ＃１（ＣＭ（ｎ＋１））の異常ＬＩＣ数（充電残量少ＬＩＣ数）を加算する。

すなわち、ステップＢ３，Ｂ４において、要補充電ＬＩＣ数計数部１０６は、本ストレージ装置１における充電が必要なＬＩＣ（異常ＬＩＣ）１６４の合計数を求める。

ステップＢ５において、補充電処理部１０３は、変数Ｓの値が、ＰＳＵ２１が同時に電力供給可能なＬＩＣ１６４の数の上限値（基準数；本実施形態では６）よりも大きいかを確認する。

確認の結果、変数Ｓの値が基準数以下の場合に（ステップＢ５のＮＯルート参照）、ステップＢ６に移行し、ｎをインクリメントする（ｎ＝ｎ＋１）。その後、ステップＢ４に戻る。

また、ステップＢ５における確認の結果、変数Ｓの値が基準数よりも大きい場合に（ステップＢ５のＹＥＳルート参照）、すなわち、異常ＬＩＣ数の合計が基準値より多い場合に、処理はステップＢ７に移行する。

ステップＢ７において、補充電処理部１０３は、ＣＭｎ′〜ＣＭｎ（ＣＭ＃０，＃１）に対して、補充電開始指示を通知する。

ステップＢ８において、補充電指示部１０７は、補充電開始指示を通知した各ＣＭ１０における補充電の完了を待つ。ステップＢ９において、補充電指示部１０７は、本ストレージ装置１に備えられた全ＣＭ１０において補充電が完了したかを確認する。

全ＣＭ１０における補充電が完了していない場合には（ステップＢ９のＮＯルート参照）、ステップＢ１０に移行する。ステップＢ１０においては、ｎ′にｎを設定する（ｎ′＝ｎ）。その後、ステップＢ３に戻る。

ステップＢ９における確認の結果、全ＣＭ１０において補充電が完了した場合には（ステップＢ９のＹＥＳルート参照）、ステップＢ１１に移行する。ステップＢ１１においては、ｎに０を設定する（ｎ＝０）。

その後、ステップＢ１２に移行する。ステップＢ１２において、充電指示部１０８は、ＣＭｎに対して充電可能通知を送信する。この充電可能通知を受信したＣＭ１０においては、２次セルバランス処理部１０４が、自ＳＣＵ１６に備える全ＬＩＣ１６４を満充電にする２次充電を行なう。

ステップＢ１３において、充電指示部１０８は、充電可能通知の送信先のＣＭ１０における２次充電の完了を待つ。

ステップＢ１４において、充電指示部１０８は、本ストレージ装置１に備えられた全ＣＭ１０においてＬＩＣ１６４の２次充電が完了したかを確認する。例えば、充電指示部１０８は、全ＣＭ１０から充電完了通知が応答されたかを確認する。

全ＣＭ１０におけるＬＩＣ１６４の充電（２次充電指示部１０８）が完了していない場合には（ステップＢ１４のＮＯルート参照）、ステップＢ１５においてｎをインクリメントし（ｎ＝ｎ＋１）、ステップＢ１２に戻る。

一方、全ＣＭ１０におけるＬＩＣ１６４の充電（２次充電）が完了した場合には（ステップＢ１４のＹＥＳルート参照）、処理を終了する。

次に、実施形態の一例としてのストレージ装置１のＳＣＵ１６におけるＬＩＣ１６４の放充電制御を、図７〜図１１を用いて説明する。

図７〜図１１は実施形態の一例としてのストレージ装置１のＳＣＵ制御ユニット１６０によるセルバランス処理を説明するための図である。

図７は本ストレージ装置１の電源オフ時における各ＬＩＣ１６４の状態を例示する図である。この図７に示す例において、ＬＩＣ１６４−４（ＬＩＣ＃４）の残充電量が他のＬＩＣ１６４に比べて少なくなっている。

本ストレージ装置１の電源オフ時においては、全スイッチ１６３はオフの状態である。これにより、各ＬＩＣ１６４が互いに切り離され独立した状態となる。従って、ＬＩＣ＃４の放電量が大きい場合であっても、他のＬＩＣ１６４（特にＬＩＣ＃３）に影響を与えることがない。

次に、本ストレージ装置１が電源オン状態になると、異常ＬＩＣ数計数部１０１は、自ＳＣＵ１６の各ＬＩＣ１６４の電圧を測定する。異常ＬＩＣ数計数部１０１は、スイッチ１６３−１〜１６３−６（ＳＷ＃１〜＃６）を、順次、個別にオン状態にして、各ＬＩＣ１６４の電圧を測定する。図８に示す例においては、スイッチ１６３−１がオン状態となっている。

異常ＬＩＣ数計数部１０１は、測定した電圧値が予め規定された閾値よりも小さいＬＩＣ１６４−４を異常ＬＩＣ１６４と認定する。補充電処理部１０３は、異常ＬＩＣ１６４−４に対して補充電を行なう。

異常ＬＩＣ１６４−４は、他のＬＩＣ１６４−１〜１６４−３，１６４−５，１６４−６に比べて電圧差が大きい状態であったが（図７参照）、補充電処理部１０３が補充電処理を行なうことで、電圧差が小さくなる。

図９に示すように、補充電処理部１０３は、スイッチ１６３−４をオン状態にすることで、充電経路１６７を介してＬＩＣ１６４−４に電力供給を行ない補充電を行なう。補充電処理部１０３は、他のＬＩＣ１６４との電圧差が大きいＬＩＣ１６４に対して補充電を行なってもよい。

次に、１次セルバランス処理部１０２が、正常ＬＩＣ１６４に対して１次セルバランス処理（１次放電）を行なう。

図１０に示すように、１次セルバランス処理部１０２は、正常ＬＩＣ１６４−１〜１６４−３，１６４−５，１６４−６に対して図示しない抵抗器を接続させて、放電経路１６８を介して、その電圧が３．３２Ｖ（第１の充電量）となるまで放電させる。

その後、２次セルバランス処理部１０４が、ＬＩＣユニット１６５に備えられた全てのＬＩＣ１６４に対して２次セルバランス処理を行なう。

図１１に示すように、２次セルバランス処理部１０４は、スイッチ１６３−１〜１６３−６をそれぞれオン状態にすることで、充電経路１６７を介して各ＬＩＣ１６４−１〜１６４−６に電力供給を行ない、各ＬＩＣ１６４−１〜１６４−６を満充電状態にする。

ＬＩＣ１６４−４は、他のＬＩＣ１６４−１〜１６４−３，１６４−５，１６４−６に比べて電圧差が大きい状態であったが（図７参照）、補充電処理部１０３が個別に補充電処理を行なうことで、他のＬＩＣ１６４との電圧差が小さくなる。すなわち、ＬＩＣユニット１６５に備えられた各ＬＩＣ１６４間の充電量の差を無くすセルバランスに要する時間を短縮することができる。これにより、セルバランスにおいてタイムアウトが発生することがなく、本ストレージ装置１の起動に要する時間を短縮することができる。

（Ｃ）効果
このように、本発明の一実施形態としてのストレージ装置１によれば、異常ＬＩＣ数計数部１０１が、自ＳＣＵ１６に備えられたＬＩＣ１６４の電圧を閾値と比較することで、正常ＬＩＣ１６４と異常ＬＩＣ１６４とにグループ分けすることができる。

１次セルバランス処理部１０２が、正常ＬＩＣ１６４に対して１次セルバランス処理として、第１の充電量となるまで放電させる。これにより、正常ＬＩＣ１６４と判定されたＬＩＣ１６４を容易に第１の充電量の状態にすることができる。

また、補充電処理部１０３が、異常ＬＩＣ数計数部１０１によって異常と判断されたＬＩＣ１６４（異常ＬＩＣ１６４）に対して、第１の充電量となるまで充電（補充電）を行なわせる。これにより、異常ＬＩＣ１６４と判定されたＬＩＣ１６４を容易に第１の充電量の状態にすることができる。

また、ＬＩＣユニット１６５において、複数のＬＩＣ１６４のそれぞれに対応してスイッチ１６３を備え、これらのスイッチ１６３をオン／オフ制御することで、対応するＬＩＣ１６４を個別に充電経路１６７に接続することができる。これにより、ＬＩＣ１６４を個別に充電（補充電）することができる。すなわち、異常ＬＩＣ１６４と判定されたＬＩＣ１６４だけを充電（補充電）することができ、異常ＬＩＣ１６４を容易に第１の充電量となるまで補充電を行なうことができる。

そして、２次セルバランス処理部１０４が、第１の充電量の状態である各ＬＩＣ１６４に対して、それぞれ第２の充電量（満充電）に充電させる。この際、全ＬＩＣ１６４が第１の充電量となっているので、全ＬＩＣ１６４を短時間で第２の充電量の状態にすることができる。すなわち、２次セルバランス処理において短時間で第２の充電量（満充電）の状態にすることができる。

従来のストレージ装置においては、電圧が低いＬＩＣに揃えるように、他のＬＩＣを放電させるセルバランス放電を行なっており、ＬＩＣ間の電圧差が大きい場合には、セルバランス放電に長時間を要する。これに対して、本ストレージ装置１においては、異常ＬＩＣ１６４に対して、第１の充電量となるまで補充電を行なうことで、セルバランス放電に長時間を要する必要がない。

従って、本ストレージ装置１においては、セルバランス処理に要する時間を短縮し、本ストレージ装置１の起動時間を短縮することができる。

（Ｄ）その他
開示の技術は上述した実施形態に限定されるものではなく、本実施形態の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。本実施形態の各構成および各処理は、必要に応じて取捨選択することができ、あるいは適宜組み合わせてもよい。

例えば、ＳＣＵ１６のＬＩＣユニット１６５に備えられるＬＩＣ１６４の数は６つに限定されるものではなく、種々変形して実施することができる。

また、上述した実施形態においては、ストレージ装置１に２つのＣＭ１０−１，１０−２が備えられる例を示したが、これに限定されるものではない。ストレージ装置１に３つ以上のＣＭ１０を備えてもよい。

ＣＭ１０が３つ以上である場合には、これらの３つ以上のＣＭ１０に優先順位を設定してもよい。そして、各ＣＭ１０の異常ＬＩＣ数の合計が、ＰＳＵ２１が同時に電力供給可能なＬＩＣ１６４の数の上限値（基準数）より多い場合に、この設定した優先順位に従ってＣＭ１０を順次選択して、各ＣＭ１０の異常ＬＩＣ１６４に対する補充電を順次行なってもよい。すなわち、補充電指示部１０７は、本ストレージ装置１に備えられた複数のＣＭ１０間において、補充電の実施順序を規定し、この実施順序に従って、各ＣＭ１０に備えられた補充電処理部１０３へ補充電開始指示を通知する。

また、上述した開示により本実施形態を当業者によって実施・製造することが可能である。

（Ｅ）付記
以上の実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。

（付記１）
記憶装置を制御するストレージ制御装置において、
バックアップ電源である複数のキャパシタと、
前記複数のキャパシタのそれぞれの残充電量を測定し、異常キャパシタと正常キャパシタとを決定する決定部と、
前記正常キャパシタに対して第１の充電量となるまで放電を行なわせる１次セルバランス処理を実施する１次セルバランス処理部と、
前記異常キャパシタに対して前記第１の充電量となるまで充電を行なわせる補充電処理を実施する補充電処理部と、
前記１次セルバランス処理が実施された前記正常キャパシタと、前記補充電処理が実施された前記異常キャパシタとに対して、前記第１の充電量より多い第２の充電量となるまで充電を行なわせる２次セルバランス処理を実施する２次セルバランス処理部と
を備えることを特徴とする、ストレージ制御装置。

（付記２）
前記２次セルバランス処理が実施された前記正常キャパシタおよび前記異常キャパシタに対する診断試験を行なう診断試験部
を備えることを特徴とする、付記１記載のストレージ制御装置。

（付記３）
前記複数のキャパシタのそれぞれに対応して備えられ、対応する前記キャパシタを充電経路に接続する複数のスイッチを備え、
前記補充電処理部が、前記異常キャパシタに対応する前記スイッチを接続制御して前記異常キャパシタを前記充電経路に接続させることで、前記異常キャパシタに対する前記補充電処理を行なう
ことを特徴とする、付記１または２記載のストレージ制御装置。

（付記４）
記憶装置を制御する複数のストレージ制御装置を備えるストレージシステムにおいて、
前記ストレージ制御装置がバックアップ電源である複数のキャパシタを備え、
前記複数のストレージ制御装置が、１つ以上のスレーブストレージ制御装置と、前記スレーブストレージ制御装置を制御するマスタストレージ制御装置とを備え、
前記スレーブストレージ制御装置が、
前記複数のキャパシタのそれぞれの残充電量を測定し、異常キャパシタと正常キャパシタとを決定する決定部と、
前記正常キャパシタに対して第１の充電量となるまで放電を行なわせる１次セルバランス処理を実施する１次セルバランス処理部と、
前記異常キャパシタに対して前記第１の充電量となるまで充電を行なわせる補充電処理を実施する補充電処理部と、
前記１次セルバランス処理が実施された前記正常キャパシタと、前記補充電処理が実施された前記異常キャパシタとに対して、前記第１の充電量より多い第２の充電量となるまで充電を行なわせる２次セルバランス処理を実施する２次セルバランス処理部と
を備え、
前記マスタストレージ制御装置が、
前記異常キャパシタを備える前記スレーブストレージ制御装置の前記補充電処理部に対して、前記補充電処理の開始指示を通知する補充電指示部と、
前記スレーブストレージ制御装置の前記２次セルバランス処理部に対して、前記２次セルバランス処理の開始指示を通知する充電指示部と
を備えることを特徴とする、ストレージシステム。

（付記５）
前記スレーブストレージ制御装置が、
前記２次セルバランス処理が実施された前記正常キャパシタおよび前記異常キャパシタに対する診断試験を行なう診断試験部
を備えることを特徴とする、付記４記載のストレージシステム。

（付記６）
前記複数のストレージ制御装置が、
前記複数のキャパシタのそれぞれに対応して備えられ、対応する前記キャパシタを充電経路に接続する複数のスイッチを備え、
前記補充電処理部が、前記異常キャパシタに対応する前記スイッチを接続制御して前記異常キャパシタを前記充電経路に接続させることで、前記異常キャパシタに対する前記補充電処理を行なう
ことを特徴とする、付記４または５記載のストレージシステム。

（付記７）
前記補充電指示部が、
前記異常キャパシタの合計数が、電力供給装置が同時に電力供給可能なキャパシタの数の上限値に到達したことを確認してから前記補充電処理部に対して、前記補充電処理の開始指示を通知する
ことを特徴とする、付記４〜６のいずれか１項に記載のストレージシステム。

１ ストレージ装置（ストレージシステム）
１０−１，１０ ＣＭ，マスタＣＭ（マスタストレージ制御装置，ストレージ制御装置）
１０−２，１０ ＣＭ，スレーブＣＭ（スレーブストレージ制御装置，ストレージ制御装置）
１１，１６２ ＣＰＵ
１２ ＦＣコントローラ
１３ ＳＡＳコントローラ
１４ ＰＣＨ
１５ Ｉ２Ｃスイッチ
１６ ＳＣＵ
１７ ＥＸＰ
１８ ＤＩＭＭ
２０ 記憶装置
２１ ＰＳＵ
１０１ 異常ＬＩＣ数計数部
１０２ １次セルバランス処理部
１０３ 補充電処理部
１０４ ２次セルバランス処理部
１０５ 診断試験部
１０６ 要補充電ＬＩＣ数計数部
１０７ 補充電指示部
１０８ 充電指示部
１６０ ＳＣＵ制御ユニット
１６１ マイコンユニット
１６２ ＣＰＵ
１６３−１〜１６３−６，１６３ スイッチ
１６４−１〜１６４−６，１６４ ＬＩＣ（キャパシタ）
１６５ ＬＩＣユニット
１６６ フラッシュメモリ
１６７ 充電経路
１６８ 放電経路

Claims (4)

1. 記憶装置を制御するストレージ制御装置において、
   バックアップ電源である複数のキャパシタと、
   前記複数のキャパシタのそれぞれの残充電量を測定し、異常キャパシタと正常キャパシタとを決定する決定部と、
   前記正常キャパシタに対して第１の充電量となるまで放電を行なわせる１次セルバランス処理を実施する１次セルバランス処理部と、
   前記異常キャパシタに対して前記第１の充電量となるまで充電を行なわせる補充電処理を実施する補充電処理部と、
   前記１次セルバランス処理が実施された前記正常キャパシタと、前記補充電処理が実施された前記異常キャパシタとに対して、前記第１の充電量より多い第２の充電量となるまで充電を行なわせる２次セルバランス処理を実施する２次セルバランス処理部と
   を備えることを特徴とする、ストレージ制御装置。
2. 前記２次セルバランス処理が実施された前記正常キャパシタおよび前記異常キャパシタに対する診断試験を行なう診断試験部
   を備えることを特徴とする、請求項１記載のストレージ制御装置。
3. 前記複数のキャパシタのそれぞれに対応して備えられ、対応する前記キャパシタを充電経路に接続する複数のスイッチを備え、
   前記補充電処理部が、前記異常キャパシタに対応する前記スイッチを接続制御して前記異常キャパシタを前記充電経路に接続させることで、前記異常キャパシタに対する前記補充電処理を行なう
   ことを特徴とする、請求項１または２記載のストレージ制御装置。
4. 記憶装置を制御する複数のストレージ制御装置を備えるストレージシステムにおいて、
   前記ストレージ制御装置がバックアップ電源である複数のキャパシタを備え、
   前記複数のストレージ制御装置が、１つ以上のスレーブストレージ制御装置と、前記スレーブストレージ制御装置を制御するマスタストレージ制御装置とを備え、
   前記スレーブストレージ制御装置が、
   前記複数のキャパシタのそれぞれの残充電量を測定し、異常キャパシタと正常キャパシタとを決定する決定部と、
   前記正常キャパシタに対して第１の充電量となるまで放電を行なわせる１次セルバランス処理を実施する１次セルバランス処理部と、
   前記異常キャパシタに対して前記第１の充電量となるまで充電を行なわせる補充電処理を実施する補充電処理部と、
   前記１次セルバランス処理が実施された前記正常キャパシタと、前記補充電処理が実施された前記異常キャパシタとに対して、前記第１の充電量より多い第２の充電量となるまで充電を行なわせる２次セルバランス処理を実施する２次セルバランス処理部と
   を備え、
   前記マスタストレージ制御装置が、
   前記異常キャパシタを備える前記スレーブストレージ制御装置の前記補充電処理部に対して、前記補充電処理の開始指示を通知する補充電指示部と、
   前記スレーブストレージ制御装置の前記２次セルバランス処理部に対して、前記２次セルバランス処理の開始指示を通知する充電指示部と
   を備えることを特徴とする、ストレージシステム。

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