JP2021005103A - Slide glass for correcting microscopic image - Google Patents

Slide glass for correcting microscopic image Download PDF

Info

Publication number
JP2021005103A
JP2021005103A JP2020158527A JP2020158527A JP2021005103A JP 2021005103 A JP2021005103 A JP 2021005103A JP 2020158527 A JP2020158527 A JP 2020158527A JP 2020158527 A JP2020158527 A JP 2020158527A JP 2021005103 A JP2021005103 A JP 2021005103A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base material
protective base
calibration
calibration pattern
slide glass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020158527A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP7088250B2 (en
Inventor
千秋 初田
Chiaki Hatsuda
千秋 初田
中村 誠
Makoto Nakamura
誠 中村
邦雄 田口
Kunio Taguchi
邦雄 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2020158527A priority Critical patent/JP7088250B2/en
Publication of JP2021005103A publication Critical patent/JP2021005103A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7088250B2 publication Critical patent/JP7088250B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

To provide a slide glass for correcting microscopic images, used for reproducibility evaluation of an observation image by a microscope and having high workability of the reproducibility evaluation performed for each objective lens with a different magnification ratio.SOLUTION: A slide glass for correcting microscopic images includes: a first protective base material 1 having at least a light-transmitting part 6; a plurality of correction patterns 3 and 4 observable by transmitted light; and a second protective base material 2 having a spacer 5 and the light-transmitting part 6. Each of the correction patterns 3 and 4 corresponds to an objective lens with a different magnification ratio, has a thin plate-like shape within a range of a visual field, is clamped between the first protective base material 1 and the second protective base material 2 and is disposed not to be overlapped with each other. The spacer 5 is disposed between the first protective base material 1 and the second protective base material 2 so as to retain a gap between the first protective base material 1 and the second protective base material 2, and is disposed to fix the plurality of correction patterns 3 and 4 at an area excluding a plane view area where the at least correction patterns 3 and 4 are provided.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、顕微鏡による観察画像の再現性評価のために使用する顕微鏡画像校正用スライドガラスに関する。 The present invention relates to a microscope image calibration slide glass used for evaluating the reproducibility of an observed image with a microscope.

近年、顕微鏡による試料の観察は、顕微鏡に取り付けられた撮像装置を用いて行われ、この撮像装置付き顕微鏡によって、観察結果を記録することができることや、TVカメラ、デジタルカメラ等の撮像装置を介して、顕微鏡から入力された情報がディスプレイやプリンタに出力されて、試料を速やかに評価することができる利点があり、医療関係等広い分野において採用されている。
このような撮像装置付き顕微鏡においては、撮像装置自体の画像の再現性評価は行われているが、顕微鏡の対物レンズを介して撮像装置により撮像された画像の再現性については各装置固有の方法によって評価されており、評価方法の標準化が望まれている。
特許文献1は、顕微鏡を使用して撮像された測定試料の画像の色評価及び色補正に使用可能な比較基準となる色情報を提供するためのスライドガラス等に関するものである。このスライドガラスの上面には、顕微鏡の倍率が異なる対物レンズの各視野にそれぞれ対応するように色基準用マイクロカラーフィルタが形成されている。
しかしながら、特許文献1においては、ガラス板の面上に色基準用マイクロカラーフィルタを並置して形成することが開示されているが、再現性評価用として微小サイズでの色や濃度のムラの問題のない基準色を備えたスライドガラスについては開示されていない。
In recent years, observation of a sample with a microscope is performed using an imaging device attached to the microscope, and the observation result can be recorded by the microscope with the imaging device, or through an imaging device such as a TV camera or a digital camera. Therefore, the information input from the microscope is output to a display or a printer, which has an advantage that the sample can be evaluated quickly, and is adopted in a wide range of fields such as medical fields.
In such a microscope with an image pickup device, the reproducibility of the image of the image pickup device itself is evaluated, but the reproducibility of the image captured by the image pickup device via the objective lens of the microscope is a method unique to each device. It is evaluated by, and standardization of the evaluation method is desired.
Patent Document 1 relates to a slide glass or the like for providing color information as a comparison standard that can be used for color evaluation and color correction of an image of a measurement sample imaged using a microscope. On the upper surface of the slide glass, a color reference micro color filter is formed so as to correspond to each field of view of objective lenses having different magnifications of the microscope.
However, in Patent Document 1, although it is disclosed that micro color filters for color reference are juxtaposed on the surface of a glass plate, there is a problem of uneven color and density in a minute size for reproducibility evaluation. There is no disclosure of slide glass with a standard color without.

国際公開2004/044639号International Publication No. 2004/044639

顕微鏡による観察画像の再現性評価のために使用する顕微鏡画像校正用スライドガラスであって、校正用パターンとして色純度がよいカラーチャートや階調性に優れたグレイスケール等を有し、異なる倍率の対物レンズ毎に行う再現性評価の作業性がよい顕微鏡画像校正用スライドガラスが求められている。 A slide glass for microscope image calibration used for evaluating the reproducibility of images observed by a microscope. It has a color chart with good color purity and a gray scale with excellent gradation as a calibration pattern, and has different magnifications. There is a demand for a slide glass for microscope image calibration with good workability for reproducibility evaluation performed for each objective lens.

上記の問題を解決する第1の発明の要旨は、少なくとも透光部を有する第1の保護基材、顕微鏡の透過光により観察可能な複数の校正用パターン、スペーサー及び透光部を有する第2の保護基材により構成されてなる顕微鏡画像校正用スライドガラスであって、前記第1の保護基材および前記第2の保護基材は、薄板状で平面視矩形の形状を有し、前記校正用パターンの各々は、前記顕微鏡の倍率の異なる対物レンズに対応して設けられ、前記顕微鏡の前記対物レンズ毎の視野内に収め得るサイズの薄板状のものであり、前記第1の保護基材と前記第2の保護基材の間に挟持され重ならないように配置されてなり、前記スペーサーは、前記第1の保護基材と前記第2の保護基材の間にあって、前記第1の保護基材と前記第2の保護基材との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも前記校正用パターンが設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の前記校正用パターンを固定するように配置されてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第2の発明の要旨は、上記の第1の発明に記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記校正用パターンは、複数の独立した薄板状の校正用パターンチップにより構成されてなり、前記スペーサーは、少なくとも前記校正用パターンチップが設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の前記校正用パターンチップを固定するように配置されてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第3の発明の要旨は、上記の第1〜2の発明のいずれかに記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記第1の保護基材および前記第2の保護基材は、平面視上対応する同一位置にパターン状の前記透光部を有し、前記透光部は、前記第1の保護基材と前記第2の保護基材の間に挟み込まれた前記校正用パターンの観察領域に対応するように設けられてなり、前記第1の保護基材および前記第2の保護基材において前記透光部を除く部分に遮光部が設けられてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第4の発明の要旨は、上記の第1〜3の発明のいずれかに記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、接着層が、前記第1の保護基材と前記スペーサーとの間および前記第2の保護基材との前記スペーサーとの間の少なくとも一方に設けられてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第5の発明の要旨は、上記の第4の発明に記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記接着層が、前記第1の保護基材と前記校正用パターンの少なくとも一部分との間および前記第2の保護基材と前記校正用パターンの少なくとも一部分との間の少なくとも一方にも設けられてなることを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第6の発明の要旨は、上記の第1〜5の発明のいずれかに記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、請求項1〜5のいずれか1項に記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記校正用パターンが、カラーチャートを含むことを特徴とするものである。
上記の問題を解決する第7の発明の要旨は、上記の第1〜6の発明のいずれかに記載の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、前記校正用パターンが、グレイスケールを含むことを特徴とするものである。
The gist of the first invention for solving the above problems is that it has at least a first protecting group having a translucent portion, a plurality of calibration patterns observable by the transmitted light of a microscope, spacers, and a translucent portion. A slide glass for calibrating a microscope image composed of the protective base material of the above, wherein the first protective base material and the second protective base material have a thin plate shape and a rectangular shape in a plan view, and the calibration Each of the patterns is provided in correspondence with objective lenses having different magnifications of the microscope, and is in the form of a thin plate having a size that can be accommodated in the field of view of each objective lens of the microscope, and is the first protective base material. The spacer is sandwiched between the first protective base material and the second protective base material so as not to overlap with each other, and the spacer is between the first protective base material and the second protective base material, and the first protective base material is provided. A plurality of the calibration patterns arranged so as to hold a gap between the base material and the second protective base material, and at least in a region excluding the plan view region provided with the calibration pattern. It is characterized in that it is arranged so as to fix.
The gist of the second invention for solving the above problem is that in the microscope image calibration slide glass according to the first invention, the calibration pattern is composed of a plurality of independent thin plate-shaped calibration pattern chips. The spacer is characterized in that it is arranged so as to fix a plurality of the calibration pattern chips in a region excluding a plan view region in which the calibration pattern chips are provided. Is.
The gist of the third invention for solving the above problem is that in the slide glass for microscopic image calibration according to any one of the above first and second inventions, the first protective base material and the second protecting group. The material has the translucent portion in a pattern at the same position corresponding to each other in a plan view, and the transmissive portion is sandwiched between the first protective base material and the second protective base material. It is provided so as to correspond to the observation region of the calibration pattern, and is characterized in that a light-shielding portion is provided in a portion of the first protective base material and the second protective base material other than the translucent portion. Is to be.
The gist of the fourth invention for solving the above problem is that in the slide glass for microscopic image calibration according to any one of the first to third inventions, the adhesive layer is the first protective base material and the spacer. It is characterized in that it is provided at least one of the space between the two and the spacer with the second protective base material.
The gist of the fifth invention for solving the above problem is that in the microscope image calibration slide glass according to the fourth invention, the adhesive layer is at least the first protective substrate and the calibration pattern. It is characterized in that it is provided at least one of a part thereof and between the second protective base material and at least a part of the calibration pattern.
The gist of the sixth invention for solving the above problem is the microscope according to any one of claims 1 to 5 in the microscope image calibration slide glass according to any one of the above inventions. The image proofing slide glass is characterized in that the proofing pattern includes a color chart.
The gist of the seventh invention for solving the above problem is that in the microscope image calibration slide glass according to any one of the first to sixth inventions, the calibration pattern includes gray scale. To do.

本発明によれば、上記のように顕微鏡画像校正用スライドガラスが構成されていることによって、校正用パターンが、顕微鏡画像校正用スライドガラスの平面視上の特定の位置に精度良く配置されていること、倍率の異なる対物レンズに対応したサイズのパターンが同一の顕微鏡画像校正用スライドガラスに並置されていることにより、顕微鏡、及び撮像装置付き顕微鏡の色再現性の評価が、高精度で作業性良く行える効果を有する。
また、校正用パターンを構成する校正用パターンチップが各々の最適条件で作成されたものを所定の小サイズに切断して組込まれたものであるので、校正用パターンチップに色ムラや濃淡ムラがなく色純度のよいカラーチャートや階調性に優れたグレイスケール等を確保できる効果を有し、印刷法やインクジェット法、フォトリソグラフィ法などにより作成されたものに比べて、ムラ等が生じない効果を有する。
According to the present invention, by configuring the microscope image calibration slide glass as described above, the calibration pattern is accurately arranged at a specific position in the plan view of the microscope image calibration slide glass. By arranging patterns of sizes corresponding to objective lenses with different magnifications on the same microscope image calibration slide glass, the evaluation of color reproducibility of microscopes and microscopes with an imaging device can be performed with high accuracy and workability. It has a good effect.
In addition, since the calibration pattern chips that make up the calibration pattern are created by cutting them into a predetermined small size and incorporated under the optimum conditions, the calibration pattern chips have uneven colors and shades. It has the effect of ensuring a color chart with good color purity and gray scale with excellent gradation, and has the effect of not causing unevenness, etc., compared to those created by the printing method, inkjet method, photolithography method, etc. Has.

顕微鏡画像校正用スライドガラスの第1実施形態を示す平面図と断面図である。It is a top view and the cross-sectional view which shows the 1st Embodiment of the slide glass for microscopic image calibration. 顕微鏡画像校正用スライドガラスの第2実施形態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the 2nd Embodiment of the slide glass for microscopic image calibration. 図2におけるスペーサーと校正用パターンチップとの関係を示す平面図である。It is a top view which shows the relationship between a spacer and a pattern chip for calibration in FIG. 校正用パターンチップの他の配置例を示す平面図である。It is a top view which shows the other arrangement example of the pattern chip for calibration. 校正用パターンチップの他の配置例を示す平面図である。It is a top view which shows the other arrangement example of the pattern chip for calibration. 顕微鏡画像校正用スライドガラスの第3実施形態を示す断面図と部分図である。It is sectional drawing and partial view which shows 3rd Embodiment of the slide glass for microscope image calibration. 顕微鏡画像校正用スライドガラスの第4実施形態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows 4th Embodiment of the slide glass for microscopic image calibration. 顕微鏡画像校正用スライドガラスの第5実施形態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows 5th Embodiment of the slide glass for microscopic image calibration. 顕微鏡画像校正用スライドガラスの第6実施形態を示す断面図であるIt is sectional drawing which shows 6th Embodiment of the slide glass for microscopic image calibration. カラーチャートに用いられる基準色の特性を示す表である。It is a table which shows the characteristic of the reference color used in a color chart.

以下に本発明の顕微鏡画像校正用スライドガラスを実施するための形態について、図1〜6に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments for carrying out the microscope image calibration slide glass of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 6.

(第1実施形態)
第1実施形態は、少なくとも透光部を有する第1の保護基材、顕微鏡の透過光により観察可能な複数の校正用パターン、スペーサー及び透光部を有する第2の保護基材により構成されてなる顕微鏡画像校正用スライドガラスであって、第1の保護基材および第2の保護基材は、薄板状で平面視矩形の形状を有し、校正用パターンの各々は、顕微鏡の倍率の異なる対物レンズに対応して設けられ、顕微鏡の対物レンズ毎の視野内に収め得るサイズの薄板状のものであり、第1の保護基材と第2の保護基材の間に挟持され重ならないように配置されてなり、スペーサーは第1の保護基材と第2の保護基材の間にあって、第1の保護基材と第2の保護基材との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターンが設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の校正用パターンを固定するように配置されてなるものである。
図1は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第1実施形態の一例を示し、図1(a)は平面図、図1(b)はその部分断面図である。
図1(a)に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス10には、校正用パターン3が複数の箇所ここでは7箇所に配置されている。この顕微鏡画像校正用スライドガラス10を用いて顕微鏡測定する際には、対物レンズを変える毎に、同じ顕微画像校正用スライドガラス10上の校正用パターン3を各対物レンズに対応したものに変えることによって、即ち顕微画像校正用スライドガラス10を取り替えることなく、測定を行うことができるものである。
図1(a)において、校正用パターン3は7箇所にあるが、校正用パターン3の数は顕微鏡の対物レンズの数に対応した数である。したがって、7箇所に限定されるものではない。
また、図1(a)において校正用パターン3は、図中の左側から右側に向けてサイズが段階的に小さくなっており、パターンは相似的になるように設けられている。
校正用パターン3のサイズとしては、図1(a)に示されるような長方形の校正用パターン3の場合、顕微鏡の対物レンズ7種の各倍率を、例えば、2.5倍、5倍、10倍、20倍、40倍、60倍及び100倍とした場合、各対物レンズによる顕微鏡測定の視野内に収め得るサイズに設計されており、倍率2.5倍の対物レンズに対しては、長辺が5.7mmの長方形の校正用パターン3となり、倍率100倍の対物レンズに対しては、長辺が0.14mmの長方形の校正用パターン3となる。
校正用パターン3の形状は限定されないので、上記のような長方形の外に、正方形、多角形、円形などの形状の場合にも顕微鏡視野内に収め得るように校正用パターン3のサイズが適宜定められる。
図1(b)は、図1(a)の顕微鏡画像校正用スライドガラス10において校正用パターン3を2箇所に有する部分についての断面を示すものである。
図1(b)に示すように、校正用パターン3は、少なくとも可視光を透過する第1の保護基材1と第2の保護基材2の間に挟持され重ならないように配置されている。これら校正用パターン3は、第2の保護基材2の図中の下方に配置されており、下方からの顕微鏡光源からの光を透過させて観察を可能とするものである。
また、図1(b)において、スペーサー5は、第1の保護基材1と第2の保護基材2との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターン3が設けられた領域を除いた領域にあって複数の校正用パターン3を固定するように、校正用パターン3の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。
(First Embodiment)
The first embodiment is composed of at least a first protecting base having a translucent portion, a plurality of calibration patterns observable by the transmitted light of a microscope, a spacer, and a second protective base having a translucent portion. The first protective base material and the second protective base material have a thin plate-like shape and a rectangular shape in a plan view, and each of the calibration patterns has a different magnification of the microscope. It is a thin plate that is provided corresponding to the objective lens and has a size that can be accommodated in the field of view of each objective lens of the microscope, and is sandwiched between the first protective base material and the second protective base material so as not to overlap. The spacer is located between the first protecting base and the second protecting base so as to hold a gap between the first protecting base and the second protecting base. Moreover, it is arranged so as to fix a plurality of calibration patterns in a region excluding a plan view region in which at least a calibration pattern is provided.
FIG. 1 shows an example of a first embodiment of a microscope image calibration slide glass, FIG. 1A is a plan view, and FIG. 1B is a partial cross-sectional view thereof.
As shown in FIG. 1A, the microscope image calibration slide glass 10 has a plurality of calibration patterns 3 arranged at a plurality of locations, here at seven locations. When performing microscope measurement using this microscope image calibration slide glass 10, each time the objective lens is changed, the calibration pattern 3 on the same microscopic image calibration slide glass 10 is changed to one corresponding to each objective lens. That is, the measurement can be performed without replacing the microscope slide glass 10 for microscopic image calibration.
In FIG. 1A, there are seven calibration patterns 3, but the number of calibration patterns 3 corresponds to the number of objective lenses of the microscope. Therefore, the number is not limited to seven.
Further, in FIG. 1A, the calibration pattern 3 is gradually reduced in size from the left side to the right side in the drawing, and the patterns are provided so as to be similar.
As for the size of the calibration pattern 3, in the case of the rectangular calibration pattern 3 as shown in FIG. 1 (a), each magnification of the seven objective lenses of the microscope is set to, for example, 2.5 times, 5 times, and 10 times. It is designed to fit within the field of microscope measurement by each objective lens when it is set to Magnification, 20x, 40x, 60x, and 100x, and it is longer for an objective lens with a magnification of 2.5x. A rectangular calibration pattern 3 having a side of 5.7 mm is used, and a rectangular calibration pattern 3 having a long side of 0.14 mm is used for an objective lens having a magnification of 100 times.
Since the shape of the calibration pattern 3 is not limited, the size of the calibration pattern 3 is appropriately determined so that the shape such as a square, a polygon, or a circle can be accommodated in the field of view of the microscope in addition to the rectangle as described above. Be done.
FIG. 1 (b) shows a cross section of a portion of the microscope image calibration slide glass 10 of FIG. 1 (a) having a calibration pattern 3 at two locations.
As shown in FIG. 1 (b), the calibration pattern 3 is arranged so as not to be sandwiched and overlapped between the first protective base material 1 and the second protective base material 2 which transmit at least visible light. .. These calibration patterns 3 are arranged at the lower part of the second protective base material 2 in the drawing, and allow light from a microscope light source from below to be transmitted for observation.
Further, in FIG. 1B, the spacer 5 is arranged so as to hold a gap between the first protective base material 1 and the second protective base material 2, and at least a calibration pattern 3 is provided. It is provided so as to continuously or discontinuously surround the outer periphery of the calibration pattern 3 so as to fix the plurality of calibration patterns 3 in the region excluding the designated region.

本発明の校正用パターン3としては、撮像装置付き顕微鏡による測定画像の再現性評価のために使用するもので、カラーチャート、グレイスケール、解像度チャート、インメガチャート、クロスハッチチャート等を挙げることができる。 The calibration pattern 3 of the present invention is used for evaluating the reproducibility of a measurement image by a microscope equipped with an imaging device, and includes a color chart, a gray scale, a resolution chart, an inmega chart, a crosshatch chart, and the like. it can.

本発明の第1の保護基材1及び第2の保護基材2は、少なくとも可視光を透過する透光部を有し、薄板状で平面視矩形の形状を有するものであって、校正用パターン3の材料としては、傷や塵から保護するもので、ガラスやプラスチックが使える。好ましくは顕微鏡用スライドガラスとして通常使用されるものと同様の材料であるガラスが用いられる。またプラスチックの場合には顕微鏡測定の際に障害となる材料中にフィラーなどが含まれないものが好ましい。
また、第1の保護基材1及び第2の保護基材2の各々サイズとしては、限定されるものではないが、短辺が26±0.1mm、長辺が76±0.1mm、厚みが0.2〜0.4mmであることが好ましい。
これは、汎用の顕微鏡用スライドガラスのサイズが短辺26mm、長辺76mm、厚み1.2mmであるため、同様のサイズであることが顕微鏡観察の操作上好ましいためである。
The first protective base material 1 and the second protective base material 2 of the present invention have at least a translucent portion that transmits visible light, and have a thin plate shape and a rectangular shape in a plan view, and are used for calibration. As the material of pattern 3, it protects from scratches and dust, and glass or plastic can be used. Preferably, glass, which is a material similar to that normally used as a microscope slide glass, is used. Further, in the case of plastic, it is preferable that the material that hinders microscopic measurement does not contain a filler or the like.
The sizes of the first protective base material 1 and the second protective base material 2 are not limited, but the short side is 26 ± 0.1 mm, the long side is 76 ± 0.1 mm, and the thickness. Is preferably 0.2 to 0.4 mm.
This is because the size of the general-purpose microscope slide glass is 26 mm on the short side, 76 mm on the long side, and 1.2 mm in thickness, and therefore, the same size is preferable for the operation of microscope observation.

本発明のスペーサー5は、第1の保護基材1と第2の保護基材2の間にあって、第1の保護基材1と第2の保護基材2との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターン3が設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の校正用パターン3を固定するように、校正用パターン3の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。
スペーサー5の形状は、必ずしも校正用パターン3の平面視領域を除いた領域全体を占めるものである必要がなく、第1の保護基材1と第2の保護基材2との間隙を保持し、校正用パターン3の外周を連続的又は非連続的に囲むようなものであればよい。したがって、スペーサー5は、図1(b)に示すような第1、第2の保護基材の外周と同じサイズで設けられてもよく、その外に、第1、第2の保護基材の外周より小さいサイズで設けられてもよい。
スペーサー5の厚みは、総厚で0.02〜0.4mmであることが好ましい。スペーサー5は、一枚板で構成されたものの外に、総厚より薄いものを複数枚を重ね合わせられたものを使用することができる。校正用パターン3の厚みが異なる場合に、薄いものを重ねてその枚数によって総厚を調整することが可能となる。
スペーサー5の材料としては、金属、ガラス、プラスチックなどを用いることができ、薄板状で剛性があり、パターン状に貫通孔を設ける際に加工し易いものが好ましい。金属材料の場合には、ステンレス、鉄ニッケル合金(42合金)、銅などを用いることが好ましい。
スペーサー5の形成方法としては、金属板の打抜き加工やエッチング加工、プラスチック板の打抜き加工等による貫通孔加工や、プラスチック成型や印刷加工等など成形加工等の方法を用いることができる。
The spacer 5 of the present invention is arranged between the first protective base material 1 and the second protective base material 2 so as to hold a gap between the first protective base material 1 and the second protective base material 2. The outer circumference of the calibration pattern 3 is continuous or discontinuous so that a plurality of calibration patterns 3 are fixed in a region excluding the plan view region in which the calibration pattern 3 is provided. It is provided so as to surround it.
The shape of the spacer 5 does not necessarily occupy the entire region excluding the plan view region of the calibration pattern 3, and holds a gap between the first protective base material 1 and the second protective base material 2. , The outer circumference of the calibration pattern 3 may be continuously or discontinuously surrounded. Therefore, the spacer 5 may be provided in the same size as the outer periphery of the first and second protective base materials as shown in FIG. 1 (b), and in addition to the spacer 5, the first and second protective base materials may be provided. It may be provided in a size smaller than the outer circumference.
The total thickness of the spacer 5 is preferably 0.02 to 0.4 mm. As the spacer 5, in addition to the spacer 5 made of a single plate, a spacer 5 thinner than the total thickness can be used by stacking a plurality of spacers. When the thickness of the calibration pattern 3 is different, it is possible to stack thin ones and adjust the total thickness according to the number of the thin ones.
As the material of the spacer 5, metal, glass, plastic, or the like can be used, and it is preferable that the spacer 5 is a thin plate, has rigidity, and is easy to process when providing through holes in a pattern. In the case of a metal material, it is preferable to use stainless steel, iron-nickel alloy (42 alloy), copper or the like.
As a method for forming the spacer 5, a method such as punching or etching of a metal plate, through-hole processing by punching of a plastic plate, or molding such as plastic molding or printing can be used.

上記のような各部材が構成された顕微鏡画像校正用スライドガラス10を形成するために、全ての部材が積層された後に顕微鏡画像校正用スライドガラス10の外周の厚み方向の部分をシール接着する方法や、予め第1の保護基材1及び第2の保護基材に嵌合部を設けておき嵌め合わせて合体する方法や、スペーサー5自体が接着力を有するものを使用して貼り合せる方法等を用いることができる。
また、各部材を積層する際には、第1の保護基材1、第2の保護基材2及びスペーサー5の各部材に見当マークやピン孔を設けておくことにより位置合わせを正確に行うことができる。
A method of sealing and adhering a portion of the outer periphery of the microscope image calibration slide glass 10 in the thickness direction after all the members are laminated in order to form the microscope image calibration slide glass 10 in which each member is composed as described above. Alternatively, a method in which fitting portions are provided in advance on the first protective base material 1 and the second protective base material and then fitted together to be united, or a method in which the spacer 5 itself has adhesive strength is used for bonding. Can be used.
Further, when laminating each member, accurate alignment is performed by providing register marks and pin holes on each member of the first protective base material 1, the second protective base material 2, and the spacer 5. be able to.

(第2実施形態)
第2実施形態は、上記の第1実施形態の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、
校正用パターンは、複数の独立した薄板状の校正用パターンチップにより構成されてなり、スペーサーは、少なくとも校正用パターンチップが設けられた平面視領域を除いた領域にあって複数の校正用パターンチップを固定するように配置されてなるものである。
図2は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第2実施態様の一例を示すものである。
図2(a)は、顕微鏡画像校正用スライドガラス10において校正用パターン3を2箇所に有する部分についての断面を示すものである。
図2(b)は、図2(a)の断面図において顕微鏡画像校正用スライドガラス10の積層構成を説明するために、第1の保護基材1、校正用パターン3、校正用パターンチップ4、スペーサー5及び第2の保護基材を分離して示したものである。
図2(a)に示すように、校正用パターン3は、第1の保護基材1と第2の保護基材2の間に挟持され重ならないように配置されている。
校正用パターン3は、図2(b)に示すように、複数の、ここでは6つの校正用パターンチップ4から構成されている。
図2(a)において、スペーサー5は、第1の保護基材1と第2の保護基材2との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターンチップ4が設けられた領域を除いた領域にあって複数の校正用パターンチップ4を固定するように、校正用パターンチップ4の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。
(Second Embodiment)
The second embodiment is the slide glass for microscopic image calibration of the first embodiment described above.
The calibration pattern is composed of a plurality of independent thin plate-shaped calibration pattern chips, and the spacer is located in a region excluding at least a plan view region in which the calibration pattern chip is provided, and a plurality of calibration pattern chips are provided. It is arranged so as to fix.
FIG. 2 shows an example of the second embodiment of the microscope image calibration slide glass.
FIG. 2A shows a cross section of a portion of the microscope image calibration slide glass 10 having the calibration pattern 3 at two locations.
FIG. 2B shows a first protective base material 1, a calibration pattern 3, and a calibration pattern chip 4 in order to explain the laminated structure of the microscope image calibration slide glass 10 in the cross-sectional view of FIG. 2A. , Spacer 5 and the second protective base material are shown separately.
As shown in FIG. 2A, the calibration pattern 3 is arranged so as not to be sandwiched and overlapped between the first protective base material 1 and the second protective base material 2.
As shown in FIG. 2B, the calibration pattern 3 is composed of a plurality of, here, six calibration pattern chips 4.
In FIG. 2A, the spacer 5 is arranged so as to hold a gap between the first protective base material 1 and the second protective base material 2, and at least a calibration pattern chip 4 is provided. It is provided so as to continuously or discontinuously surround the outer periphery of the calibration pattern chip 4 so as to fix the plurality of calibration pattern chips 4 in the region excluding the area.

図3は、図2におけるスペーサー5と校正用パターンチップ4との平面視上の位置関係を示す平面図である。
頭3(a)は、図2に示す顕微鏡画像校正用スライドガラス10のスペーサー5のみを示したもので、スペーサー5の校正用パターンチップ4が配置され得る部分が、スペーサー5の表裏を貫通する空洞となっている。
図3(b)は、スペーサー5の空洞に校正用パターンチップ4を嵌めこんだ状態を示すものである。
スペーサー5は、校正用パターンチップ4の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。このスペーサー5によって、校正用パターンチップ4を顕微鏡画像校正用スライドガラス10内の所定の位置に精度よく配置することができる。
FIG. 3 is a plan view showing the positional relationship between the spacer 5 and the calibration pattern chip 4 in FIG. 2 in a plan view.
The head 3 (a) shows only the spacer 5 of the microscope image calibration slide glass 10 shown in FIG. 2, and the portion where the calibration pattern chip 4 of the spacer 5 can be arranged penetrates the front and back surfaces of the spacer 5. It is hollow.
FIG. 3B shows a state in which the calibration pattern chip 4 is fitted in the cavity of the spacer 5.
The spacer 5 is provided so as to continuously or discontinuously surround the outer periphery of the calibration pattern chip 4. With this spacer 5, the calibration pattern chip 4 can be accurately arranged at a predetermined position in the microscope image calibration slide glass 10.

ここで、校正用パターン3の一例としてのカラーチャートについて説明する。
カラーチャートは、色評価用の色として、例えば、赤(R)、緑(G)、青(B)、イエロー(Y)、シアン(C)、マゼンタ(M)から構成されているものである。
したがって校正用パターン3であるカラーチャートは、校正用パターンチップ4として色評価用の各色を配列したものであり、校正用パターンチップ4は、色評価用の各色を校正用パターンチップ4より大きいサイズで作成したものを切断して形成されたものである。
ここで色評価用の各色を校正用パターンチップ4より大きいサイズで作成したカラーチャートとしては、例えば、図10に示すような撮像装置用カラーチャートを基準色(大日本印刷(株)製:「スタンダードカラーバーチャート」)を用いることができる。
上記の「スタンダードカラーバーチャート」は、予め設計された赤(R)、緑(G)、青(B)、イエロー(Y)、シアン(C)、マゼンタ(M)からなるものである。有効サイズは175mm×245mmで6色のカラーバーにより構成されている。
上記の「スタンダードカラーバーチャート」の製造方法としては、ガラス板上に臭化カリウムを硝酸銀の溶液をゼラチンに加えて作製された銀塩乳剤を塗布し乾燥された銀塩写真乾板から脱銀されたものを基板として、その基板を各色に応じた染料により染色して形成する方法を用いることができる。
Here, a color chart as an example of the calibration pattern 3 will be described.
The color chart is composed of, for example, red (R), green (G), blue (B), yellow (Y), cyan (C), and magenta (M) as colors for color evaluation. ..
Therefore, the color chart which is the calibration pattern 3 is an arrangement of each color for color evaluation as the calibration pattern chip 4, and the calibration pattern chip 4 has a size larger than that of the calibration pattern chip 4 for each color for color evaluation. It is formed by cutting the one created in.
Here, as a color chart in which each color for color evaluation is created with a size larger than the calibration pattern chip 4, for example, a color chart for an imaging device as shown in FIG. 10 is used as a reference color (manufactured by Dainippon Printing Co., Ltd .: " A standard color bar chart ") can be used.
The above "standard color bar chart" is composed of pre-designed red (R), green (G), blue (B), yellow (Y), cyan (C), and magenta (M). The effective size is 175 mm x 245 mm and is composed of 6 color bars.
As a method for producing the above "standard color bar chart", a silver salt emulsion prepared by adding a solution of potassium bromide and silver nitrate to gelatin is applied on a glass plate and desilvered from a dried silver salt photographic plate. A method of forming the substrate by dyeing the substrate with a dye corresponding to each color can be used.

上記の「スタンダードカラーバーチャート」を校正用パターンチップ4としてのサイズに切断して、用いる場合には、校正用パターンチップ4に色ムラや濃淡ムラがなく安定した特性を確保できる効果を有する。校正用パターンチップ4が高倍率の対物レンズに対応した微小のサイズになっても再現性評価用の基準色として純度が保たれている。耐える例えば、「スタンダードカラーバーチャート」と同様の基準色の校正用パターンチップ4を、ガラス上に印刷法、インクジェット法、フォトリソグラフィ法などにより形成することを試みた場合に比べれば、印刷インキや塗布液の調整による色の純度の低下や、形成された膜の膜厚ムラなどによる色の純度の低下の問題がない効果を有する。 When the above "standard color bar chart" is cut to the size of the calibration pattern chip 4 and used, the calibration pattern chip 4 has the effect of ensuring stable characteristics without color unevenness or shading unevenness. Even if the calibration pattern chip 4 has a minute size corresponding to a high-magnification objective lens, its purity is maintained as a reference color for reproducibility evaluation. Withstand For example, compared to the case where an attempt is made to form a standard color proofing pattern chip 4 similar to the "standard color bar chart" on glass by a printing method, an inkjet method, a photolithography method, or the like, printing ink or It has the effect that there is no problem of deterioration of color purity due to adjustment of the coating liquid and reduction of color purity due to uneven film thickness of the formed film.

また、基準色としては、上記の赤(R)、緑(G)、青(B)、イエロー(Y)、シアン(C)、マゼンタ(M)の6色に限定されない。
観察対象に応じた色を基準色とする方法を採用することができる。例えば、生物組織や細胞を染色して観察する場合には、生物組織を標準の染色法、例えば、ヘマトキシリン・エオシン染色法やその他の染色法により染色された赤系色、緑系色、青系色、シアン系色、マゼンタ系色、イエロー系色、他の系統色などから選択されたものを基準色とすることができる。
The reference color is not limited to the above six colors of red (R), green (G), blue (B), yellow (Y), cyan (C), and magenta (M).
A method using a color corresponding to the observation target as a reference color can be adopted. For example, when observing a biological tissue by staining it, the biological tissue is stained with a standard staining method such as hematoxylin / eosin staining or other staining methods, such as reddish color, greenish color, and bluish color. A color selected from a color, a cyan color, a magenta color, a yellow color, another system color, or the like can be used as a reference color.

各校正用パターン3の中での校正用パターンチップ4の配列としては、図3(b)のように一列に配置されている場合の外に、格子状や円形状に配置されていてもよい。
図4は、上記のカラーチャートの校正用パターンチップ4が、2×3の格子状に配置されている例を示すものである。
図4に示すように、校正用パターン3において、校正用パターンチップ4は、例えば図中の上段右から左方向にの赤(R)、緑(G)、青(B)の順に配置され、図中の下段左から右方向にシアン(C)、マゼンタ(M)、イエロー(Y)が順に配置されている。また上段と下段の間に無色透光性のブランクの領域を有している。
The arrangement of the calibration pattern chips 4 in each calibration pattern 3 may be arranged in a grid pattern or a circular shape in addition to the case where the calibration pattern chips 4 are arranged in a row as shown in FIG. 3 (b). ..
FIG. 4 shows an example in which the calibration pattern chips 4 of the color chart are arranged in a 2 × 3 grid pattern.
As shown in FIG. 4, in the calibration pattern 3, for example, the calibration pattern chips 4 are arranged in the order of red (R), green (G), and blue (B) from the upper right to the left in the figure. Cyan (C), magenta (M), and yellow (Y) are arranged in this order from the lower left to the right in the figure. It also has a colorless and translucent blank area between the upper and lower tiers.

また、本発明の校正用パターン3の一例として、グレイスケールの場合について説明する。
グレイスケールは、反射型では、白から黒までその中間の灰色の範囲を段階的に反射濃度を変化させて諧調を表現したスケールであり、透過型では、透過率を段階的に変化させて諧調を表現したスケールである。ここでは、透過型のグレイスケールを使用する。
校正用パターン3であるグレイスケールは、透過率の異なる諧調毎の校正用パターンチップ4が配列して構成されている。配列の例としては、図3(b)のように一列に図中の左側から右側方向に透過率が段階的に小さくなるものの他に格子状のもの等がある。
図5は、上記グレイスケールの校正用パターンチップ4が2列に構成された例を示すものである。
図5に示すように、校正用パターン3において、校正用パターンチップ4は、例えば図中の下段右から左方向へ、透過率が1.86%から77.14%まで6諧調となり、上段右から左方向へ、透過率51.43%から83.57%まで6諧調となるように配列されている。
したがって校正用パターン3であるグレイスケールは、校正用パターンチップ4として透過率が小さいものから大きいものまで各諧調のチップを配列したものであり、校正用パターンチップ4は、校正用パターンチップ4より大きいサイズで作成したものを切断して形成されたものである。
グレイスケールとしては、例えばNDフィルター(減光フィルター)と同様の形成方法で、クロムニッケル合金をスパッタ法により形成することができる。
上記のNDフィルターを校正用パターンチップ4としてのサイズに切断して、用いる場合には、校正用パターンチップ4に濃淡ムラがなく安定した特性を確保できる効果を有する。校正用パターンチップ4が高倍率の対物レンズに対応した微小のサイズになっても再現性評価用の基準色として純度が保たれている。例えば、グレイスケールを上記のようにして得た校正用パターンチップ4を、ガラス上に直接、印刷法、インクジェット法、フォトリソグラフィ法などにより校正用パターンチップ4のサイズで形成することを試みた場合に比べれば、印刷インキや塗布液の配合や、形成された膜の膜厚ムラなどによる諧調性の低下の問題がない効果を有する。
Further, as an example of the calibration pattern 3 of the present invention, the case of gray scale will be described.
The gray scale is a scale that expresses the gradation by gradually changing the reflection density in the gray range in the middle from white to black in the reflection type, and the gradation by gradually changing the transmittance in the transmission type. It is a scale that expresses. Here, a transparent gray scale is used.
The gray scale, which is the calibration pattern 3, is configured by arranging calibration pattern chips 4 for each gradation having different transmittances. As an example of the arrangement, as shown in FIG. 3B, there is a grid-like arrangement in addition to the arrangement in which the transmittance gradually decreases from the left side to the right side in the drawing.
FIG. 5 shows an example in which the grayscale calibration pattern chip 4 is configured in two rows.
As shown in FIG. 5, in the calibration pattern 3, the calibration pattern chip 4 has a transmittance of 1.86% to 77.14% in 6 tones from the lower right to the left in the figure, and the upper right. From to the left, the transmittance is arranged in 6 tones from 51.43% to 83.57%.
Therefore, the gray scale, which is the calibration pattern 3, is an arrangement of chips of each gradation from the one having a small transmittance to the one having a large transmittance as the calibration pattern chip 4, and the calibration pattern chip 4 is more than the calibration pattern chip 4. It is formed by cutting a large size product.
As the gray scale, for example, a chromium nickel alloy can be formed by a sputtering method by the same forming method as an ND filter (neutral density filter).
When the above ND filter is cut to the size of the calibration pattern chip 4 and used, the calibration pattern chip 4 has an effect of ensuring stable characteristics without unevenness in shading. Even if the calibration pattern chip 4 has a small size corresponding to a high-magnification objective lens, its purity is maintained as a reference color for reproducibility evaluation. For example, when the calibration pattern chip 4 obtained by obtaining the gray scale as described above is attempted to be formed directly on the glass in the size of the calibration pattern chip 4 by a printing method, an inkjet method, a photolithography method, or the like. Compared with the above, there is an effect that there is no problem of deterioration of gradation due to blending of printing ink and coating liquid and uneven film thickness of the formed film.

以上のように顕微鏡画像校正用スライドガラス10が構成されていることによって、校正用パターン3が、顕微鏡画像校正用スライドガラス10の平面視上の特定の位置に精度良く、倍率の異なる対物レンズの視野に収まるサイズの複数の校正用パターンが配置されることにより、顕微鏡、及び撮像装置付き顕微鏡の色再現性の評価が、高精度で作業性良く行える効果を有する。
また、校正用パターン3がカラーチャートである場合、校正用パターチップ4としては、各色毎に校正用パターンチップ4のサイズより大きいサイズで作成されたものを切断して使用されるので、校正用パターンチップ4に色ムラや濃淡ムラがなく安定した特性を確保できる効果を有する。比較として顕微鏡画像校正用スライドガラス10上に、印刷法やインクジェット法、フォトリソグラフィ法などで、校正用パターンチップ4を作成する場合に生じ易い微小サイズでの色や濃度のムラの問題などがない効果を有する。
Since the microscope image calibration slide glass 10 is configured as described above, the calibration pattern 3 accurately positions the microscope image calibration slide glass 10 at a specific position in the plan view, and the objective lenses having different magnifications. By arranging a plurality of calibration patterns having a size that fits in the field of view, there is an effect that the color reproducibility of the microscope and the microscope with an imaging device can be evaluated with high accuracy and good workability.
When the calibration pattern 3 is a color chart, the calibration putter chip 4 is used by cutting a size larger than the size of the calibration pattern chip 4 for each color. The pattern chip 4 has the effect of ensuring stable characteristics without color unevenness or shading unevenness. As a comparison, there is no problem of color and density unevenness in a minute size that tends to occur when a calibration pattern chip 4 is produced on a microscope image calibration slide glass 10 by a printing method, an inkjet method, a photolithography method, or the like. Has an effect.

(第3実施形態)
第3実施形態は、上記の第1〜第2実施形態における顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、第1の保護基材および第2の保護基材は、平面視上対応する同一位置にパターン状の前記透光部を有し、透光部は、第1の保護基材と第2の保護基材の間に挟み込まれた校正用パターンの観察領域に対応するように設けられてなり、第1の保護基材および第2の保護基材において透光部を除く部分に遮光部が設けられてなるものである。
図6は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第3実施形態の一例を示す断面図と部分図である。
図6(a)は、顕微鏡画像校正用スライドガラス10において校正用パターン3を2箇所に有する部分についての断面を示すものである。
図6(b)は、図6(a)の断面図において顕微鏡画像校正用スライドガラス10の積層構成を説明するために、透光部6と遮光部7を有する第1の保護基材1、校正用パターン3、校正用パターンチップ4、スペーサー5及び透光部6と遮光部7を有する第2の保護基材を分離して示すものである。
図6(c)は、透光部6と遮光部7を有する第2の保護基材と校正用パターチップ4との構成上の関係を示す部分図である。
(Third Embodiment)
In the third embodiment, in the slide glass for microscopic image calibration according to the first to second embodiments, the first protective base material and the second protective base material are patterned at the same positions corresponding to each other in a plan view. It has the translucent portion, and the translucent portion is provided so as to correspond to the observation region of the calibration pattern sandwiched between the first protective base material and the second protective base material. A light-shielding portion is provided in a portion of the protective base material and the second protective base material other than the translucent portion.
FIG. 6 is a cross-sectional view and a partial view showing an example of the third embodiment of the microscope image calibration slide glass.
FIG. 6A shows a cross section of a portion of the microscope image calibration slide glass 10 having the calibration pattern 3 at two locations.
FIG. 6B is a first protective base material 1 having a light transmitting portion 6 and a light shielding portion 7 in order to explain the laminated structure of the microscope image calibration slide glass 10 in the cross-sectional view of FIG. 6A. The second protective base material having the calibration pattern 3, the calibration pattern chip 4, the spacer 5, the light transmitting portion 6 and the light shielding portion 7 is shown separately.
FIG. 6C is a partial view showing the structural relationship between the second protective base material having the light transmitting portion 6 and the light shielding portion 7 and the calibration putter chip 4.

図6(a)に示すように、校正用パターン3は、第1の保護基材1と第2の保護基材2の間に挟持され重ならないように配置されている。
校正用パターン3は、図6(b)に示すように、複数の、ここでは6つの校正用パターンチップ4から構成されている。
図6(a)において、スペーサー5は、第1の保護基材1と第2の保護基材2との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、少なくとも校正用パターンチップ4が設けられた領域を除いた領域にあって複数の校正用パターンチップ4を固定するように、校正用パターンチップ4の外周を連続的又は非連続的に囲むように設けられている。
図6(a)に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス10において、第1の保護基材1および第2の保護基材2の両方が、平面視上対応する同一位置にパターン状の透光部6と遮光部7(以下「遮光パターン」と称する。)とを有している。
図6(a)において、透光部6は、第1の保護基材1と第2の保護基材2の間に挟み込まれた校正用パターン3又は校正用パターンチップ4の観察領域に対応するように設けられており、顕微鏡画像校正用スライドガラス10を顕微鏡に設置した際に、校正用パターン3又は校正用パターンチップ4を顕微鏡に設けられた光源からの光が透過するように設けられている。
遮光部7は、第1の保護基材1および前記第2の保護基材2において透光部6を除く部分に設けられている。
図6(c)は、図6(a)において遮光パターンを有する第2の保護基材2と校正用パターンチップ4の積層された状態を、校正用パターンチップ4側から見た図である。
図6(c)に示すように、図6(a)に示す第2の保護基材2に形成された遮光パターンと校正用パターンチップ4との関係の一例を示している。
図6(c)に示すように校正用パターンチップ4と対応する遮光パターンの透光部6との関係において、校正用パターンチップ4は対応する透光部6よりサイズが大きく、校正用パターンチップ4は対応する透光部6を全て覆いさらに外周部を超えることが好ましい。
以上の実施形態は、第2実施形態において第1の保護基材及び第2の保護基材に遮光パターンを有する場合について記載したが、第1実施形態においても同様に行うことが可能である。その場合には、校正用パターン3を一体として取扱い、校正用パターン3と対応する遮光パターンの透光部6との関係において、校正用パターン3は対応する透光部6よりサイズが大きく、校正用パターン3は対応する透光部6を全て覆いさらに外周部を超えることが好ましい。
As shown in FIG. 6A, the calibration pattern 3 is arranged so as not to be sandwiched and overlapped between the first protective base material 1 and the second protective base material 2.
As shown in FIG. 6B, the calibration pattern 3 is composed of a plurality of, here, six calibration pattern chips 4.
In FIG. 6A, the spacer 5 is arranged so as to hold a gap between the first protective base material 1 and the second protective base material 2, and at least a calibration pattern chip 4 is provided. It is provided so as to continuously or discontinuously surround the outer periphery of the calibration pattern chip 4 so as to fix the plurality of calibration pattern chips 4 in the region excluding the area.
As shown in FIG. 6A, in the microscope image calibration slide glass 10, both the first protective base material 1 and the second protective base material 2 are transparent in a pattern at the same positions corresponding to each other in a plan view. It has a light unit 6 and a light-shielding unit 7 (hereinafter referred to as a “light-shielding pattern”).
In FIG. 6A, the translucent portion 6 corresponds to the observation region of the calibration pattern 3 or the calibration pattern chip 4 sandwiched between the first protective base material 1 and the second protective base material 2. When the microscope image calibration slide glass 10 is installed in the microscope, the calibration pattern 3 or the calibration pattern chip 4 is provided so that the light from the light source provided in the microscope can be transmitted. There is.
The light-shielding portion 7 is provided in a portion of the first protective base material 1 and the second protective base material 2 excluding the translucent portion 6.
FIG. 6C is a view of the laminated state of the second protective base material 2 having a light-shielding pattern and the calibration pattern chip 4 in FIG. 6A as viewed from the calibration pattern chip 4 side.
As shown in FIG. 6 (c), an example of the relationship between the light-shielding pattern formed on the second protective base material 2 shown in FIG. 6 (a) and the calibration pattern chip 4 is shown.
As shown in FIG. 6C, in the relationship between the calibration pattern chip 4 and the translucent portion 6 of the corresponding light-shielding pattern, the calibration pattern chip 4 is larger in size than the corresponding translucent portion 6 and is a calibration pattern chip. It is preferable that 4 covers all the corresponding translucent portions 6 and further exceeds the outer peripheral portion.
The above embodiment has described the case where the first protective base material and the second protective base material have a light-shielding pattern in the second embodiment, but the same can be performed in the first embodiment as well. In that case, the calibration pattern 3 is handled as one, and the calibration pattern 3 is larger in size than the corresponding light-transmitting portion 6 in the relationship between the calibration pattern 3 and the light-transmitting portion 6 of the corresponding light-shielding pattern, and is calibrated. It is preferable that the pattern 3 covers all the corresponding translucent portions 6 and further extends beyond the outer peripheral portion.

本発明の遮光パターンを有する第1の保護基材1及び第2の保護基材2は、銀塩写真法、印刷法、フォトリソ法などによって形成することができる。
銀塩写真法によれば、透明基材上の銀塩乳剤層面をレーザー描画法やフォトマスクを介した方法により露光し現像することによって、パターン状の透光部6と遮光部7とを有する第1の保護基材1および第の保護基材2を作成することができる。
また、印刷法によれば、透明基材上に黒色インキでグラビア印刷により黒色パターンを印刷することによって、パターン状の透光部6と遮光部7とを有している第1の保護基材1および第の保護基材2を作成することができる。
また、インクジェット法によれば、透明基材上に黒色インキでインクを吐出することによって、パターン状の透光部6と遮光部7とを有している第1の保護基材1および第の保護基材2を作成することができる。
The first protective base material 1 and the second protective base material 2 having the light-shielding pattern of the present invention can be formed by a silver salt photography method, a printing method, a photolithography method, or the like.
According to the silver salt photographic method, the silver salt emulsion layer surface on the transparent substrate is exposed and developed by a laser drawing method or a method via a photomask to have a patterned translucent portion 6 and a light-shielding portion 7. The first protective base material 1 and the first protective base material 2 can be prepared.
Further, according to the printing method, a first protective base material having a patterned light-transmitting portion 6 and a light-shielding portion 7 by printing a black pattern on a transparent base material by gravure printing with black ink. The first and the second protective base material 2 can be prepared.
Further, according to the inkjet method, the first protective base material 1 and the first protective base material 1 having the patterned light-transmitting portion 6 and the light-shielding portion 7 by ejecting ink with black ink onto the transparent base material. The protective base material 2 can be prepared.

以上のように顕微鏡画像校正用スライドガラス10が構成されていることによって、校正用パターン3又は校正用パターンチップ4が、顕微鏡画像校正用スライドガラス10の平面視上の特定の位置に精度良く配置されていること、第1の保護基材1および第2の保護基材2は、平面視上対応する同一位置にパターン状の透光部6と遮光部7とを有し、透光部6は、顕微鏡画像校正用スライドガラス10を前記顕微鏡に設置した際に、前記校正用パターン3又は校正用パターンチップ4を光が透過するように設けられていることにより、校正用パターン3又は校正用パターンチップ4の部分以外の顕微鏡の光が眼や撮像装置に間接的に眼や撮像装置に入り難くなるので、顕微鏡、及び撮像装置付き顕微鏡の色再現性の評価を高精度で作業効率良く行える効果を有する。 Since the microscope image calibration slide glass 10 is configured as described above, the calibration pattern 3 or the calibration pattern chip 4 is accurately arranged at a specific position in the plan view of the microscope image calibration slide glass 10. The first protective base material 1 and the second protective base material 2 have a patterned light-transmitting portion 6 and a light-shielding portion 7 at the same positions corresponding to each other in a plan view, and the light-transmitting portion 6 Is provided for transmitting the calibration pattern 3 or the calibration pattern chip 4 when the microscope image calibration slide glass 10 is installed in the microscope, so that the calibration pattern 3 or the calibration pattern chip 4 can transmit light. Since it becomes difficult for the light of the microscope other than the part of the pattern chip 4 to enter the eye or the imaging device indirectly into the eye or the imaging device, the color reproducibility of the microscope and the microscope with the imaging device can be evaluated with high accuracy and work efficiency. Has an effect.

(第4実施形態)
第4実施形態は、上記の第1〜第3実施形態の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、接着層8が、第1の保護基材1とスペーサー5との間、及び第2の保護基材とスペーサー5との間の少なくとも一方に設けられているものである。
図7は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第4実施形態の一例を示す断面図である。
図7(a)は断面図であり、図7(b)は、積層構成を判り易くするために、第1の保護基材1、校正用パターン3、スペーサー5、接着層8及び第2の保護基材2を分離して示したものである。
図7(a)及び(b)に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス10において、接着層8が、第1の保護基材1とスペーサー5との間、及び第2の保護基材2とスペーサー5との間の両方に設けられている。
(Fourth Embodiment)
In the fourth embodiment, in the slide glass for microscopic image calibration of the first to third embodiments, the adhesive layer 8 is between the first protective base material 1 and the spacer 5, and the second protective base material. It is provided on at least one of the spacer 5 and the spacer 5.
FIG. 7 is a cross-sectional view showing an example of the fourth embodiment of the microscope image calibration slide glass.
FIG. 7A is a cross-sectional view, and FIG. 7B shows a first protective base material 1, a calibration pattern 3, a spacer 5, an adhesive layer 8 and a second layer in order to make the laminated structure easy to understand. The protective base material 2 is shown separately.
As shown in FIGS. 7A and 7B, in the microscope image calibration slide glass 10, the adhesive layer 8 is between the first protective base material 1 and the spacer 5, and the second protective base material 2. It is provided both between the spacer 5 and the spacer 5.

接着層8は、第1の保護基材1とスペーサー5との間、及び第2の保護基材2とスペーサー5との間のいずれか一方又は両方にあって、各部材間を接着するものである。
接着層8は、接着された状態の顕微鏡画像校正用スライドガラス10に外観上の歪みがなく、顕微鏡台に載置されて観察される際に全体に焦点のズレがないように形成されている。
接着層8の材料としては、接着剤や粘着剤を、液状またはテープ状にしたものを用いることができる。なかでもテープ状のものが好ましく、校正用パターン3に接着剤が浸透する等により汚染することがない利点がある。
The adhesive layer 8 is located between the first protective base material 1 and the spacer 5, and either or both of the second protective base material 2 and the spacer 5, and adheres between the members. Is.
The adhesive layer 8 is formed so that the slide glass 10 for microscopic image calibration in the adhered state has no distortion in appearance and is not defocused as a whole when placed on a microscope table and observed. ..
As the material of the adhesive layer 8, a liquid or tape-shaped adhesive or adhesive can be used. Of these, tape-shaped ones are preferable, and there is an advantage that the calibration pattern 3 is not contaminated by permeation of the adhesive or the like.

以上のように顕微鏡画像校正用スライドガラス10が構成されていることによって、校正用パターン3が、顕微鏡画像校正用スライドガラス10の平面視上の特定の位置に精度良く配置されていること、接着層8を有する部分が、第1の保護基材1とスペーサー5との間、及び第2の保護基材2とスペーサー5との間のいずれか一方又は両方にあることにより、各部材間の固定を安定して行え、スペーサー5への校正用パターン3の嵌め込み等の高精度の加工がなくても容易に固定できる効果を有する。 Since the microscope image calibration slide glass 10 is configured as described above, the calibration pattern 3 is accurately arranged at a specific position in the plan view of the microscope image calibration slide glass 10, and is adhered. The portion having the layer 8 is located between the first protective base material 1 and the spacer 5, and either or both of the second protective base material 2 and the spacer 5, so that between the members. It can be fixed stably, and has the effect of being easily fixed without high-precision processing such as fitting the calibration pattern 3 into the spacer 5.

(第5実施形態)
第5実施形態は、上記の第4実施形態の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、接着層が、第1の保護基材と校正用パターンの一部分との間および第2の保護基材と校正用パターンの一部分との間の少なくとも一方にも設けられているものである。
図8は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第5実施形態の一例を示す断面図である。
図8(a)は断面図であり、図8(b)は、積層構成を判り易くするために、第1の保護基材1、校正用パターン3、スペーサー5、接着層8及び第2の保護基材2を分離して示したものである。
図8(a)及び(b)に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス10において、接着層8を有する部分が、第1の保護基材1と校正用パターン3の一部分との間、及び第2の保護基材2と校正用パターン3の一部分との間の両方にある。
接着層8は、校正用パターン3の一部分にも重なるように形成されており、校正用パターン3とスペーサー5との間に平面視上間隙がある場合でも各部材間を固定することができるものである。
接着層8の校正用パターン3の一部分に重なる部分は、顕微鏡観察の際に影響のない領域に設けられており、第1の保護基材1および第2の保護基材2の遮光部7に対応する領域に覆われて設けられていることが好ましい。
接着層8は、接着された顕微鏡画像校正用スライドガラス10の外観上の歪みがないように厚みを調整して設けられていることが好ましい。
(Fifth Embodiment)
In a fifth embodiment, in the microscope image calibration slide glass of the fourth embodiment, the adhesive layer is between the first protective base material and a part of the calibration pattern and between the second protective base material and the calibration. It is also provided on at least one of the patterns.
FIG. 8 is a cross-sectional view showing an example of the fifth embodiment of the microscope image calibration slide glass.
8 (a) is a cross-sectional view, and FIG. 8 (b) shows a first protective base material 1, a calibration pattern 3, a spacer 5, an adhesive layer 8 and a second layer in order to make the laminated structure easy to understand. The protective base material 2 is shown separately.
As shown in FIGS. 8A and 8B, in the microscope image calibration slide glass 10, the portion having the adhesive layer 8 is between the first protective base material 1 and a part of the calibration pattern 3 and It is both between the second protecting base 2 and a portion of the calibration pattern 3.
The adhesive layer 8 is formed so as to overlap a part of the calibration pattern 3, and can fix the members even if there is a gap in plan view between the calibration pattern 3 and the spacer 5. Is.
A portion of the adhesive layer 8 that overlaps a part of the calibration pattern 3 is provided in a region that is not affected by microscopic observation, and is formed on the light-shielding portion 7 of the first protective base material 1 and the second protective base material 2. It is preferable that the area is covered with the corresponding area.
It is preferable that the adhesive layer 8 is provided with an adjusted thickness so that the adhered slide glass 10 for microscopic image calibration is not distorted in appearance.

(第6実施形態)
第6実施形態は、上記の第4〜第5実施形態の顕微鏡画像校正用スライドガラスにおいて、接着層が、第1の保護基材と校正用パターンとの間および第2の保護基材と校正用パターンとの間の少なくとも一方にも設けられているものである。
図9は、顕微鏡画像校正用スライドガラスの第6実施形態の一例を示す断面図である。
図9(a)は断面図であり、図9(b)は、積層構成を判り易くするために、第1の保護基材1、校正用パターン3、スペーサー5、接着層8及び第2の保護基材2を分離して示したものである。
図9(a)及び(b)に示すように、顕微鏡画像校正用スライドガラス10において、接着層8が、第1の保護基材1と校正用パターン3との間、第1の保護基材とスペーサー5との間、第2の保護基材2と校正用パターン3との間、第2の保護基材とスペーサー5との間に設けられている。
接着層8は校正用パターン3上に形成されているので、顕微鏡観察の際には接着剤を通して測定される。したがって、接着剤8は、測定に影響のない材料からなり、光透過性に優れ、フィラー等が含まれないものが好ましい。
以上のような接着層8の構成によれば、顕微鏡画像校正用スライドガラス10の製造方法として、接着層8を第1の保護基材1の全面に形成しておき、その接着層側にスペーサー5を積層して、校正用パターン3を上記スペーサー5の所定位置に配置した後に、接着層が形成された第2の保護基材を積層する方法を用いることができる。
(Sixth Embodiment)
In the sixth embodiment, in the microscope image calibration slide glass of the fourth to fifth embodiments, the adhesive layer is calibrated between the first protective base material and the calibration pattern and with the second protective base material. It is also provided on at least one of the patterns.
FIG. 9 is a cross-sectional view showing an example of the sixth embodiment of the microscope image calibration slide glass.
9 (a) is a cross-sectional view, and FIG. 9 (b) shows a first protective base material 1, a calibration pattern 3, a spacer 5, an adhesive layer 8 and a second layer in order to make the laminated structure easy to understand. The protective base material 2 is shown separately.
As shown in FIGS. 9A and 9B, in the microscope image calibration slide glass 10, the adhesive layer 8 is between the first protective base material 1 and the calibration pattern 3, and the first protective base material. It is provided between the spacer 5 and the second protective base material 2 and the calibration pattern 3, and between the second protective base material and the spacer 5.
Since the adhesive layer 8 is formed on the calibration pattern 3, it is measured through an adhesive during microscopic observation. Therefore, it is preferable that the adhesive 8 is made of a material that does not affect the measurement, has excellent light transmittance, and does not contain a filler or the like.
According to the structure of the adhesive layer 8 as described above, as a method of manufacturing the slide glass 10 for microscopic image calibration, the adhesive layer 8 is formed on the entire surface of the first protective base material 1, and a spacer is provided on the adhesive layer side. A method can be used in which 5 are laminated, the calibration pattern 3 is placed at a predetermined position of the spacer 5, and then the second protective base material on which the adhesive layer is formed is laminated.

以上のように顕微鏡画像校正用スライドガラス10が構成されていることによって、校正用パターン3が、顕微鏡画像校正用スライドガラス10の平面視上の特定の位置に精度良く配置されていること、接着層8を有する部分が、第1の保護基材1とスペーサー5との間、及び第2の保護基材2とスペーサー5との間のいずれか一方又は両方にあり、第1の保護基材1と校正用パターン3の一部分との間、及び第2の保護基材2と校正用パターン3の一部分との間のいずれか一方又は両方にあることによって、スペーサー5への校正用パターン3の嵌め込み等の高精度の加工がなくても容易に固定できる効果を有する。 Since the microscope image calibration slide glass 10 is configured as described above, the calibration pattern 3 is accurately arranged at a specific position in the plan view of the microscope image calibration slide glass 10, and is adhered. The portion having the layer 8 is located between the first protective base material 1 and the spacer 5, and either or both of the second protective base material 2 and the spacer 5, and the first protective base material is provided. By being between 1 and a part of the calibration pattern 3 and / or both of the second protective substrate 2 and a part of the calibration pattern 3, the calibration pattern 3 to the spacer 5 It has the effect of being easily fixed without high-precision processing such as fitting.

1 第1の保護基材
2 第2の保護基材
3 校正用パターン
4 校正用パターンチップ
5 スペーサー
6 透光部
7 遮光部
8 接着層
10 顕微鏡画像校正用スライドガラス
1 First protective base material 2 Second protective base material 3 Calibration pattern 4 Calibration pattern chip 5 Spacer 6 Translucent part 7 Light-shielding part 8 Adhesive layer 10 Microscope image calibration slide glass

Claims (1)

少なくとも、透光部を有する第1の保護基材と、顕微鏡の透過光により観察可能な複数の校正用パターンと、スペーサーと、透光部を有する第2の保護基材とにより構成されてなる顕微鏡画像校正用スライドガラスであって、
前記第1の保護基材および前記第2の保護基材は、薄板状であり、
前記校正用パターンの各々は、前記顕微鏡の倍率の異なる対物レンズに対応して設けられ、前記顕微鏡の前記対物レンズ毎の視野内に収め得るサイズの薄板状のものであり、前記第1の保護基材と前記第2の保護基材との間に挟持され重ならないように配置されてなり、
前記スペーサーは、前記第1の保護基材と前記第2の保護基材との間にあって、前記第1の保護基材と前記第2の保護基材との間隙を保持するように配置されてなり、且つ、複数の前記校正用パターンを固定するように配置されてなり、
前記校正用パターンは、複数の独立した薄板状の校正用パターンチップにより構成されてなり、
前記校正用パターンにおいて、前記校正用パターンチップは、赤(R)、緑(G)、青(B)、シアン(C)、マゼンタ(M)およびイエロー(Y)が配置され、無色透光性のブランクの領域を有する、顕微鏡画像校正用スライドガラス。
It is composed of at least a first protective base material having a translucent portion, a plurality of calibration patterns observable by the transmitted light of a microscope, a spacer, and a second protective base material having a translucent portion. A slide glass for calibrating a microscope image
The first protective base material and the second protective base material are in the form of a thin plate.
Each of the calibration patterns is provided corresponding to objective lenses having different magnifications of the microscope, and is a thin plate having a size that can be accommodated in the field of view of each objective lens of the microscope, and the first protection. It is sandwiched between the base material and the second protective base material and arranged so as not to overlap.
The spacer is arranged between the first protective base material and the second protective base material so as to hold a gap between the first protective base material and the second protective base material. And are arranged so as to fix the plurality of the calibration patterns.
The calibration pattern is composed of a plurality of independent thin plate-shaped calibration pattern chips.
In the calibration pattern, the calibration pattern chip is arranged with red (R), green (G), blue (B), cyan (C), magenta (M) and yellow (Y), and is colorless and translucent. A glass slide for microscope image calibration, which has a blank area of.
JP2020158527A 2020-09-23 2020-09-23 Microscope image calibration slide glass Active JP7088250B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020158527A JP7088250B2 (en) 2020-09-23 2020-09-23 Microscope image calibration slide glass

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020158527A JP7088250B2 (en) 2020-09-23 2020-09-23 Microscope image calibration slide glass

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019161650A Division JP6769534B2 (en) 2019-09-05 2019-09-05 Slide glass for microscope image calibration

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021005103A true JP2021005103A (en) 2021-01-14
JP7088250B2 JP7088250B2 (en) 2022-06-21

Family

ID=74097673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020158527A Active JP7088250B2 (en) 2020-09-23 2020-09-23 Microscope image calibration slide glass

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7088250B2 (en)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5571310U (en) * 1978-11-10 1980-05-16
JPS57163802A (en) * 1982-01-18 1982-10-08 Toyo Alum Kk Ruler
JPS58184148A (en) * 1982-04-21 1983-10-27 Nec Corp Glass mask for manufacture of semiconductor
JPS5954805U (en) * 1981-12-28 1984-04-10 武田薬品工業株式会社 Marker plate for particle measurement using a microscope
JP2001292461A (en) * 2000-04-06 2001-10-19 Sony Corp Performance evaluation system for camera and performance evaluation method for camera
US20030109059A1 (en) * 2001-12-12 2003-06-12 Adrien Christopher L. Cover slip
WO2004044639A1 (en) * 2002-10-18 2004-05-27 Hamamatsu Photonics K.K. Slide glass, cover glass, and pathologic diagnosis system
US20040227937A1 (en) * 1997-06-25 2004-11-18 Richardson Timothy M. Test slide for microscopes and method for the production of such a slide
JP2013540286A (en) * 2010-09-29 2013-10-31 アプライド プレシジョン インコーポレイテッド Calibration targets for microscopic imaging

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5571310U (en) * 1978-11-10 1980-05-16
JPS5954805U (en) * 1981-12-28 1984-04-10 武田薬品工業株式会社 Marker plate for particle measurement using a microscope
JPS57163802A (en) * 1982-01-18 1982-10-08 Toyo Alum Kk Ruler
JPS58184148A (en) * 1982-04-21 1983-10-27 Nec Corp Glass mask for manufacture of semiconductor
US20040227937A1 (en) * 1997-06-25 2004-11-18 Richardson Timothy M. Test slide for microscopes and method for the production of such a slide
JP2001292461A (en) * 2000-04-06 2001-10-19 Sony Corp Performance evaluation system for camera and performance evaluation method for camera
US20030109059A1 (en) * 2001-12-12 2003-06-12 Adrien Christopher L. Cover slip
WO2004044639A1 (en) * 2002-10-18 2004-05-27 Hamamatsu Photonics K.K. Slide glass, cover glass, and pathologic diagnosis system
JP2013540286A (en) * 2010-09-29 2013-10-31 アプライド プレシジョン インコーポレイテッド Calibration targets for microscopic imaging

Also Published As

Publication number Publication date
JP7088250B2 (en) 2022-06-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6187190B2 (en) Microscope image calibration slide glass
US11371886B2 (en) Transmission type color calibration chart and calibration slide glass
JP6312241B2 (en) Transparent substrate
JP6769534B2 (en) Slide glass for microscope image calibration
JP7088250B2 (en) Microscope image calibration slide glass
JP7120363B2 (en) Calibration slide glass
JP6583361B2 (en) Microscope image calibration slide glass
TW469470B (en) Color cathode ray tube
US20220390283A1 (en) Transmission type color gradation chart, transmission type color gradation chart device and gray gradation chart
JP4984371B2 (en) Manufacturing method for multi-sided color filter substrate
JP5162976B2 (en) Photomask for on-chip color filter and on-chip color filter manufacturing method using the same
JP6907750B2 (en) Transparent print
US20220236499A1 (en) Integrated colour filter array and fibre optic plate
JP2007206186A (en) Nd filter, and manufacturing method therefor and attachment method of the same
JPH02210402A (en) Color filter with identification mark
JP4622395B2 (en) Spectral transmittance measurement method
JP2022164615A (en) Method of forming imaging calibration device
JP2006074556A (en) Inspection sheet of imaging apparatus and inspection method of imaging apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200923

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20201027

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210825

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211005

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220510

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220523

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7088250

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150