JP2020167276A - Method for manufacturing electronic device - Google Patents

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Abstract

To provide a method for manufacturing an electronic device capable of stably obtaining an electronic device with suppressed entry of water into an electronic component.SOLUTION: A method for manufacturing an electronic device includes: a step (A) of preparing a structure 50 comprising an electronic component 10 including an opening 15 of a first surface 10A, a first adhesive film 20 stuck to the first surface 10A of the electronic component 10 so as to cover the opening 15 and including a first adhesive resin layer whose adhesive force lowers due to external stimulation, and a second adhesive film 30 stuck to a second surface 10B of the electronic component 10 and including a second adhesive resin layer whose adhesive force lowers due to external stimulation; a step (B) of dicing the electronic component 10 together with the first adhesive film 20 while being stuck to the first adhesive film 20 and the second adhesive film 30; and a step (C) of lowering the adhesive force of the first adhesive resin layer by applying external stimulation and peeling the first adhesive film 20 from the individualized electronic component 10.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、電子装置の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing an electronic device.

電子装置の製造工程において、半導体基板等の電子部品を複数の電子部品にダイシングする工程がある。
このダイシング工程では、例えば、電子部品が粘着性フィルム上に貼り付けられた状態で、電子部品をダイシングして複数の電子部品を得る。
In the manufacturing process of an electronic device, there is a step of dicing an electronic component such as a semiconductor substrate into a plurality of electronic components.
In this dicing step, for example, a plurality of electronic components are obtained by dicing the electronic components in a state where the electronic components are attached on the adhesive film.

このようなダイシング工程に用いられる粘着性フィルムに関する技術としては、例えば、特許文献1(特開2019−16634号公報)に記載のものが挙げられる。 Examples of the technique relating to the adhesive film used in such a dicing step include those described in Patent Document 1 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 2019-16634).

特許文献1には、基材と粘着剤層とを含む積層構造を有し、幅20mmのダイシングテープ試験片について初期チャック間距離100mm、23℃、および引張速度10mm/分の条件で行われる引張試験において歪み値20%で生ずる第1引張応力に対する、幅20mmのダイシングテープ試験片について初期チャック間距 離100mm、23℃、および引張速度1000mm/分の条件で行われる引張試験において歪み値20%で生ずる第2引張応力の比の値が、1.4以上である、ダイシングテープが記載されている。 Patent Document 1 has a laminated structure including a base material and an adhesive layer, and tension is performed on a dicing tape test piece having a width of 20 mm under the conditions of an initial chuck distance of 100 mm, 23 ° C., and a tensile speed of 10 mm / min. With respect to the first tensile stress generated at a strain value of 20% in the test, a dicing tape test piece with a width of 20 mm was subjected to a tensile test conducted under the conditions of an initial chuck distance of 100 mm, 23 ° C. A dicing tape is described in which the value of the ratio of the generated second tensile stress is 1.4 or more.

特開2019−16634号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2019-16634

本発明者の検討によれば、従来の電子装置の製造方法に関し、以下のような課題を見出した。ダイシング工程では、ダイシングブレードやレーザー光を用いて電子部品をダイシングして複数の電子部品を得ている。ダイシングブレードを用いたダイシング工程では、電子部品の切断で生じる切りくずを除去するために、一般的に研削水を用いる。
ところで、ダイシングされる電子部品の中には、開口部を有するものがあり、ダイシング工程の際に、研削水等の水分が開口部から電子部品内に浸入してしまう懸念があった。
According to the study of the present inventor, the following problems have been found with respect to the conventional method for manufacturing an electronic device. In the dicing process, electronic components are diced using a dicing blade or laser light to obtain a plurality of electronic components. In the dicing process using a dicing blade, grinding water is generally used to remove chips generated by cutting electronic components.
By the way, some of the electronic components to be diced have an opening, and there is a concern that water such as grinding water may infiltrate into the electronic component through the opening during the dicing process.

本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、電子部品への水分の侵入が抑制された電子装置を安定的に得ることが可能な電子装置の製造方法を提供するものである。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a method for manufacturing an electronic device capable of stably obtaining an electronic device in which the intrusion of water into electronic components is suppressed.

本発明者らは、上記課題を達成するために鋭意検討を重ねた。その結果、外部刺激により粘着力が低下する粘着性フィルムにより電子部品の開口部を覆った状態で、電子部品のダイシング工程をおこなうことにより、電子部品への水分の侵入が抑制された電子装置を安定的に得ることができることを見出して、本発明を完成させた。 The present inventors have made extensive studies to achieve the above problems. As a result, an electronic device in which the intrusion of water into the electronic component is suppressed by performing the dicing process of the electronic component in a state where the opening of the electronic component is covered with an adhesive film whose adhesive strength is reduced by an external stimulus. The present invention has been completed by finding that it can be stably obtained.

本発明によれば、以下に示す電子装置の製造方法が提供される。 According to the present invention, the following method for manufacturing an electronic device is provided.

[1]
第1面に開口部を有する電子部品と、上記開口部を覆うように上記電子部品の上記第1面に貼り付けられ、かつ、外部刺激により粘着力が低下する第1粘着性樹脂層を有する第1粘着性フィルムと、上記電子部品の第2面に貼りつけられ、かつ、外部刺激により粘着力が低下する第2粘着性樹脂層を有する第2粘着性フィルムと、を備える構造体を準備する工程(A)と、
上記第1粘着性フィルムおよび上記第2粘着性フィルムに貼り付けられた状態で、上記電子部品を上記第1粘着性フィルムとともにダイシングする工程(B)と、
外部刺激を与えることにより上記第1粘着性樹脂層の粘着力を低下させ、次いで、個片化した上記電子部品から上記第1粘着性フィルムを剥離する工程(C)と、
含む電子装置の製造方法。
[2]
上記[1]に記載の電子装置の製造方法において、
上記工程(C)では、上記第2粘着性フィルムは上記電子部品の上記第2面に貼りついた状態を維持している電子装置の製造方法。
[3]
上記[1]または[2]に記載の電子装置の製造方法において、
外部刺激を与えることにより上記第2粘着性樹脂層の粘着力を低下させ、次いで、上記第2粘着性フィルムから、個片化した上記電子部品をピックアップする工程(D)をさらに含む電子装置の製造方法。
[4]
上記[1]乃至[3]のいずれか一つに記載の電子装置の製造方法において、
上記第1粘着性樹脂層が加熱により粘着力が低下する層であり、
上記第2粘着性樹脂層が光照射により粘着力が低下する層である電子装置の製造方法。
[5]
上記[1]乃至[4]のいずれか一つに記載の電子装置の製造方法において、
上記第1粘着性樹脂層および上記第2粘着性樹脂層は、それぞれ加熱により粘着力が低下する層であり、
上記第1粘着性樹脂層は上記第2粘着性樹脂層よりも低温で粘着力が低下する電子装置の製造方法。
[6]
上記[1]乃至[5]のいずれか一つに記載の電子装置の製造方法において、
上記第1粘着性樹脂層は、第1光の照射により粘着力が低下する層であり、
上記第2粘着性樹脂層は、第2光の照射により粘着力が低下する層であり、
上記第1光と上記第2光は波長が異なるか、または光を照射する面が異なる電子装置の製造方法。
[1]
It has an electronic component having an opening on the first surface and a first adhesive resin layer that is attached to the first surface of the electronic component so as to cover the opening and whose adhesive strength is reduced by an external stimulus. A structure including a first adhesive film and a second adhesive film having a second adhesive resin layer which is attached to the second surface of the electronic component and whose adhesive strength is reduced by an external stimulus is prepared. Step (A) and
A step (B) of dicing the electronic component together with the first adhesive film while being attached to the first adhesive film and the second adhesive film.
A step (C) of reducing the adhesive strength of the first adhesive resin layer by applying an external stimulus and then peeling the first adhesive film from the individualized electronic components.
Manufacturing method of electronic devices including.
[2]
In the method for manufacturing an electronic device according to the above [1],
In the step (C), a method for manufacturing an electronic device in which the second adhesive film is maintained in a state of being attached to the second surface of the electronic component.
[3]
In the method for manufacturing an electronic device according to the above [1] or [2].
An electronic device further comprising a step (D) of reducing the adhesive strength of the second adhesive resin layer by applying an external stimulus and then picking up the individualized electronic components from the second adhesive film. Production method.
[4]
In the method for manufacturing an electronic device according to any one of the above [1] to [3].
The first adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by heating.
A method for manufacturing an electronic device, wherein the second adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by light irradiation.
[5]
In the method for manufacturing an electronic device according to any one of the above [1] to [4].
The first adhesive resin layer and the second adhesive resin layer are layers whose adhesive strength is reduced by heating, respectively.
The method for manufacturing an electronic device in which the first adhesive resin layer has a lower adhesive strength at a lower temperature than the second adhesive resin layer.
[6]
In the method for manufacturing an electronic device according to any one of the above [1] to [5].
The first adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by irradiation with the first light.
The second adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by irradiation with second light.
A method for manufacturing an electronic device in which the first light and the second light have different wavelengths or different surfaces to be irradiated with light.

本発明によれば、電子部品への水分の侵入が抑制された電子装置を安定的に得ることが可能な電子装置の製造方法を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a method for manufacturing an electronic device capable of stably obtaining an electronic device in which the intrusion of water into an electronic component is suppressed.

本発明に係る実施形態の電子装置の製造方法の一例を模式的に示した断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the manufacturing method of the electronic apparatus of embodiment which concerns on this invention.

以下、本発明の実施形態について、図面を用いて説明する。なお、すべての図面において、同様な構成要素には共通の符号を付し、適宜説明を省略する。また、図は概略図であり、実際の寸法比率とは一致していない。また、数値範囲の「A〜B」は特に断りがなければ、A以上B以下を表す。また、本実施形態において、「(メタ)アクリル」とはアクリル、メタクリルまたはアクリルおよびメタクリルの両方を意味する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In all drawings, similar components are designated by a common reference numeral, and description thereof will be omitted as appropriate. Further, the figure is a schematic view and does not match the actual dimensional ratio. Further, "A to B" in the numerical range represents A or more and B or less unless otherwise specified. Further, in the present embodiment, "(meth) acrylic" means acrylic, methacrylic or both acrylic and methacrylic.

1.電子装置の製造方法
はじめに、本実施形態に係る電子装置の製造方法について説明する。図1は、本発明に係る実施形態の電子装置の製造方法の一例を模式的に示した断面図である。
本実施形態に係る電子装置の製造方法は、以下の3つの工程を少なくとも備えている。
(A)第1面10Aに開口部15を有する電子部品10と、開口部15を覆うように電子部品10の第1面10Aに貼り付けられ、かつ、外部刺激により粘着力が低下する第1粘着性樹脂層を有する第1粘着性フィルム20と、電子部品10の第2面10Bに貼りつけられ、かつ、外部刺激により粘着力が低下する第2粘着性樹脂層を有する第2粘着性フィルム30と、を備える構造体50を準備する工程
(B)第1粘着性フィルム20および第2粘着性フィルム30に貼り付けられた状態で、電子部品10を第1粘着性フィルム20とともにダイシングする工程
(C)外部刺激を与えることにより第1粘着性樹脂層の粘着力を低下させ、次いで、個片化した電子部品10から第1粘着性フィルム20を剥離する工程
1. 1. Manufacturing Method of Electronic Device First, a manufacturing method of the electronic device according to the present embodiment will be described. FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing an example of a method for manufacturing an electronic device according to an embodiment of the present invention.
The method for manufacturing an electronic device according to the present embodiment includes at least the following three steps.
(A) A first electronic component 10 having an opening 15 on the first surface 10A and a first one that is attached to the first surface 10A of the electronic component 10 so as to cover the opening 15 and whose adhesive strength is reduced by an external stimulus. A first adhesive film 20 having an adhesive resin layer and a second adhesive film having a second adhesive resin layer that is attached to the second surface 10B of the electronic component 10 and whose adhesive strength is reduced by an external stimulus. Step of preparing the structure 50 including the first adhesive film 20 (B) A step of dying the electronic component 10 together with the first adhesive film 20 while being attached to the first adhesive film 20 and the second adhesive film 30. (C) A step of reducing the adhesive strength of the first adhesive resin layer by giving an external stimulus, and then peeling the first adhesive film 20 from the individualized electronic component 10.

上述したように、本発明者の検討によれば、従来の電子装置の製造方法に関し、以下のような課題を見出した。ダイシング工程では、ダイシングブレードやレーザー光を用いて電子部品をダイシングして複数の電子部品を得ている。ダイシングブレードを用いたダイシング工程では、電子部品の切断で生じる切りくずを除去するために、一般的に研削水を用いる。
ところで、例えばマイクロフォンや圧力センサーはセンサー部が空気と接するために開口部がある。こうした開口部を有する電子部品は、ダイシング工程の際に、研削水等の水分が開口部から電子部品内に浸入してしまう懸念があった。
本発明者らは、上記課題を達成するために鋭意検討を重ねた。その結果、外部刺激により粘着力が低下する粘着性フィルムにより電子部品の開口部を覆った状態で、電子部品のダイシング工程をおこなうことにより、電子部品への水分の侵入が抑制された電子装置を安定的に得ることができることを見出して、本発明を完成させた。
すなわち、本実施形態に係る電子装置の製造方法によれば、第1粘着性フィルム20により電子部品10の開口部15を覆った状態で、電子部品10のダイシング工程をおこなうことにより、電子部品10への水分の侵入することができる。さらに、この第1粘着性フィルム20は外部刺激により粘着力が低下するため、ダイシング工程後に容易に剥離することができる。
以上のように、本実施形態に係る電子装置の製造方法によれば、電子部品への水分の侵入が抑制された電子装置を安定的に得ることが可能となる。
As described above, according to the study of the present inventor, the following problems have been found with respect to the conventional method for manufacturing an electronic device. In the dicing process, electronic components are diced using a dicing blade or laser light to obtain a plurality of electronic components. In the dicing process using a dicing blade, grinding water is generally used to remove chips generated by cutting electronic components.
By the way, for example, a microphone or a pressure sensor has an opening for the sensor portion to come into contact with air. In an electronic component having such an opening, there is a concern that moisture such as grinding water may infiltrate into the electronic component through the opening during the dicing process.
The present inventors have made extensive studies to achieve the above problems. As a result, an electronic device in which the intrusion of water into the electronic component is suppressed by performing the dicing process of the electronic component in a state where the opening of the electronic component is covered with an adhesive film whose adhesive strength is reduced by an external stimulus. The present invention was completed by finding that it can be obtained stably.
That is, according to the method for manufacturing an electronic device according to the present embodiment, the electronic component 10 is subjected to the dicing step of the electronic component 10 with the opening 15 of the electronic component 10 covered with the first adhesive film 20. Moisture can invade. Further, since the adhesive strength of the first adhesive film 20 is reduced by an external stimulus, it can be easily peeled off after the dicing step.
As described above, according to the method for manufacturing an electronic device according to the present embodiment, it is possible to stably obtain an electronic device in which the intrusion of water into electronic components is suppressed.

以下、本実施形態に係る電子装置の製造方法の各工程について説明する。 Hereinafter, each step of the method for manufacturing the electronic device according to the present embodiment will be described.

(工程(A))
工程(A)では、開口部15を有する電子部品10と、開口部15を覆うように電子部品10の第1面10Aに貼り付けられた第1粘着性フィルム20と、電子部品10の第2面10Bに貼りつけられた第2粘着性フィルム30と、を備える構造体50を準備する。
(Step (A))
In the step (A), the electronic component 10 having the opening 15, the first adhesive film 20 attached to the first surface 10A of the electronic component 10 so as to cover the opening 15, and the second electronic component 10. A structure 50 including a second adhesive film 30 attached to the surface 10B is prepared.

このような構造体50は、例えば、開口部15を有する電子部品10に第1粘着性フィルム20および第2粘着性フィルム30を貼り付けることにより得ることができる。
開口部15を有する電子部品10としては、例えば、シリコン、ゲルマニウム、ガリウム−ヒ素、ガリウム−リン、ガリウム−ヒ素−アルミニウム等の半導体基板(例えば、ウェハ)が挙げられる。
また、半導体基板としては、表面に回路が形成された半導体基板を用いることが好ましい。
本実施形態に係る電子装置の製造方法は、基板に機械要素部品のセンサ・アクチュエータ・電子回路などを集積化したデバイス、いわゆるMEMSの製造に好適に用いることができる。
また、開口部15を有する電子部品10としては、例えば、マイクロフォン、加速度センサー、角速度センサー、圧力センサー、フローセンサー、マイク、インクジェットプリンタヘッド等が挙げられる
Such a structure 50 can be obtained, for example, by attaching the first adhesive film 20 and the second adhesive film 30 to the electronic component 10 having the opening 15.
Examples of the electronic component 10 having the opening 15 include semiconductor substrates (for example, wafers) such as silicon, germanium, gallium-arsenide, gallium-phosphosphide, and gallium-arsenide-aluminum.
Further, as the semiconductor substrate, it is preferable to use a semiconductor substrate having a circuit formed on its surface.
The method for manufacturing an electronic device according to the present embodiment can be suitably used for manufacturing a device in which sensors, actuators, electronic circuits, and the like of machine element parts are integrated on a substrate, so-called MEMS.
Further, examples of the electronic component 10 having the opening 15 include a microphone, an acceleration sensor, an angular velocity sensor, a pressure sensor, a flow sensor, a microphone, an inkjet printer head, and the like.

第1粘着性フィルム20および第2粘着性フィルム30の貼り付けは、人の手で行なってもよいが、通常、ロール状の表面保護フィルムを取り付けた自動貼り機によって行なう。
貼り付け時の温度には特に制限はないが、25℃〜80℃が好ましい。
また、貼り付け時の圧力については特に制限はないが、0.3MPa〜0.5MPaが好ましい。
The first adhesive film 20 and the second adhesive film 30 may be attached by hand, but are usually attached by an automatic attaching machine to which a roll-shaped surface protective film is attached.
The temperature at the time of sticking is not particularly limited, but is preferably 25 ° C to 80 ° C.
The pressure at the time of sticking is not particularly limited, but is preferably 0.3 MPa to 0.5 MPa.

(工程(B))
次に、第1粘着性フィルム20および第2粘着性フィルム30に貼り付けられた状態で、電子部品10を第1粘着性フィルム20とともにダイシングする。
ここでいう「ダイシング」は、電子部品10に対してこの電子部品10の厚さと同じ深さの切れ込みを設けることによって電子部品10を分断し、複数の分断された電子部品10を得る操作(以下、「フルカットダイシング」ともいう)をいう。
上記ダイシングは、例えば、先端が先細り形状であるダイシングブレードを用いて行うことができる。
(Step (B))
Next, the electronic component 10 is diced together with the first adhesive film 20 while being attached to the first adhesive film 20 and the second adhesive film 30.
The "dicing" referred to here is an operation of dividing the electronic component 10 by providing a notch having the same depth as the thickness of the electronic component 10 in the electronic component 10 to obtain a plurality of divided electronic components 10 (hereinafter referred to as "dicing"). , Also called "full-cut dicing").
The dicing can be performed using, for example, a dicing blade having a tapered tip.

ダイシングがフルカットダイシングである場合には、ダイシングによって電子部品10が複数の電子部品10に分断される。
なお、工程(B)における電子部品10には、フルカットダイシングより得られる分断された複数の電子部品10を含む。
When the dicing is full-cut dicing, the electronic component 10 is divided into a plurality of electronic components 10 by the dicing.
The electronic component 10 in the step (B) includes a plurality of divided electronic components 10 obtained by full-cut dicing.

(工程(C))
次に、外部刺激を与えることにより第1粘着性樹脂層の粘着力を低下させ、次いで、個片化した電子部品10から第1粘着性フィルム20を剥離する。ここで、工程(C)では、第2粘着性フィルム30は電子部品10の第2面10Bに貼りついた状態を維持していることが好ましい。これにより、個片化した電子部品10から第1粘着性フィルム20を安定的に剥離することができる。また、後述の工程(D)において、電子部品10のピックアップ性を向上させることができる。
(Step (C))
Next, the adhesive strength of the first adhesive resin layer is reduced by applying an external stimulus, and then the first adhesive film 20 is peeled off from the individualized electronic component 10. Here, in the step (C), it is preferable that the second adhesive film 30 is maintained in a state of being attached to the second surface 10B of the electronic component 10. As a result, the first adhesive film 20 can be stably peeled off from the individualized electronic component 10. Further, in the step (D) described later, the pick-up property of the electronic component 10 can be improved.

外部刺激としては、例えば、熱や光等が挙げられる。
例えば、第1粘着性フィルム20に対して光(例えば、紫外線等の放射線)を照射し、第1粘着性樹脂層を架橋させることで、電子部品10に対する第1粘着性樹脂層の粘着力を低下させることができる。
あるいは、第1粘着性フィルム20を加熱し、第1粘着性樹脂層に含まれる膨張性球あるいは気体発生成分より発生する気体を膨張させて、第1粘着性樹脂層と電子部品10との接触面積を低下させること、または接着剤成分を架橋反応させることにより、電子部品10に対する第1粘着性樹脂層の粘着力を低下させることができる。
光は、例えば、第1粘着性フィルム20の第1粘着性樹脂層側の面とは反対側の面から照射される。
光として紫外線を用いる場合、第1粘着性フィルム20に対して照射する紫外線の線量は、100mJ/cm以上が好ましく、350mJ/cm以上がより好ましい。
紫外線の線量が上記下限値以上であると、第1粘着性フィルム20の粘着力を十分に低下させることができ、その結果、電子部品10表面に糊残りが発生することをより抑制することができる。
また、第1粘着性フィルム20に対して照射する紫外線の線量の上限は特に限定されないが、生産性の観点から、例えば、1500mJ/cm以下であり、好ましくは1200mJ/cm以下である。
紫外線照射は、例えば、高圧水銀ランプやLEDを用いておこなうことができる。
Examples of the external stimulus include heat and light.
For example, by irradiating the first adhesive film 20 with light (for example, radiation such as ultraviolet rays) and cross-linking the first adhesive resin layer, the adhesive force of the first adhesive resin layer to the electronic component 10 is increased. Can be lowered.
Alternatively, the first adhesive film 20 is heated to expand the gas generated from the expanding sphere or the gas generating component contained in the first adhesive resin layer, so that the first adhesive resin layer comes into contact with the electronic component 10. By reducing the area or cross-linking the adhesive component, the adhesive strength of the first adhesive resin layer to the electronic component 10 can be reduced.
Light is emitted from, for example, a surface of the first adhesive film 20 opposite to the surface on the first adhesive resin layer side.
When ultraviolet rays are used as the light, the dose of ultraviolet rays irradiated to the first adhesive film 20 is preferably 100 mJ / cm 2 or more, and more preferably 350 mJ / cm 2 or more.
When the dose of ultraviolet rays is at least the above lower limit value, the adhesive strength of the first adhesive film 20 can be sufficiently reduced, and as a result, the generation of adhesive residue on the surface of the electronic component 10 can be further suppressed. it can.
The upper limit of the dose of ultraviolet rays irradiated to the first adhesive film 20 is not particularly limited, from the viewpoint of productivity, for example, at 1500 mJ / cm 2 or less, preferably 1200 mJ / cm 2 or less.
Ultraviolet irradiation can be performed using, for example, a high-pressure mercury lamp or an LED.

(工程(D))
本実施形態に係る電子装置の製造方法において、工程(B)または工程(C)の後に、外部刺激を与えることにより第2粘着性樹脂層の粘着力を低下させ、次いで、第2粘着性フィルム30から、個片化した電子部品10をピックアップする工程(D)をさらにおこなってもよい。ここで、電子部品10から第1粘着性フィルム20を安定的に剥離する観点から、工程(D)は工程(C)の後に行うことが好ましい。
このピックアップにより、第2粘着性フィルム30から電子部品10を剥離することができる。電子部品10のピックアップは、公知の方法で行うことができる。
(Step (D))
In the method for manufacturing an electronic device according to the present embodiment, after the step (B) or step (C), an external stimulus is applied to reduce the adhesive strength of the second adhesive resin layer, and then the second adhesive film. The step (D) of picking up the individualized electronic component 10 from 30 may be further performed. Here, from the viewpoint of stably peeling the first adhesive film 20 from the electronic component 10, the step (D) is preferably performed after the step (C).
With this pickup, the electronic component 10 can be peeled off from the second adhesive film 30. The electronic component 10 can be picked up by a known method.

外部刺激としては、例えば、熱や光等が挙げられる。
例えば、第2粘着性フィルム30に対して光(例えば、紫外線等の放射線)を照射し、第2粘着性樹脂層を架橋させることで、電子部品10に対する第2粘着性樹脂層の粘着力を低下させることができる。
あるいは、第2粘着性フィルム30を加熱し、第2粘着性樹脂層に含まれる膨張性球あるいは気体発生成分より発生する気体を膨張させて、第2粘着性樹脂層と電子部品10との接触面積を低下させること、または接着剤成分を架橋反応させることにより、電子部品10に対する第2粘着性フィルム30の粘着力を低下させることができる。
光は、例えば、第2粘着性フィルム30の第2粘着性樹脂層側の面とは反対側の面から照射される。
光として紫外線を用いる場合、第2粘着性フィルム30に対して照射する紫外線の線量は、100mJ/cm以上が好ましく、350mJ/cm以上がより好ましい。
紫外線の線量が上記下限値以上であると、第2粘着性樹脂層の粘着力を十分に低下させることができ、その結果、電子部品10表面に糊残りが発生することをより抑制することができる。
また、第2粘着性フィルム30に対して照射する紫外線の線量の上限は特に限定されないが、生産性の観点から、例えば、1500mJ/cm以下であり、好ましくは1200mJ/cm以下である。
紫外線照射は、例えば、高圧水銀ランプやLEDを用いておこなうことができる。
Examples of the external stimulus include heat and light.
For example, by irradiating the second adhesive film 30 with light (for example, radiation such as ultraviolet rays) and cross-linking the second adhesive resin layer, the adhesive force of the second adhesive resin layer to the electronic component 10 is increased. Can be lowered.
Alternatively, the second adhesive film 30 is heated to expand the gas generated from the expanding sphere or the gas generating component contained in the second adhesive resin layer, so that the second adhesive resin layer comes into contact with the electronic component 10. By reducing the area or cross-linking the adhesive component, the adhesive force of the second adhesive film 30 to the electronic component 10 can be reduced.
Light is emitted from, for example, a surface of the second adhesive film 30 opposite to the surface on the second adhesive resin layer side.
When ultraviolet rays are used as the light, the dose of ultraviolet rays irradiated to the second adhesive film 30 is preferably 100 mJ / cm 2 or more, and more preferably 350 mJ / cm 2 or more.
When the dose of ultraviolet rays is at least the above lower limit value, the adhesive strength of the second adhesive resin layer can be sufficiently reduced, and as a result, the generation of adhesive residue on the surface of the electronic component 10 can be further suppressed. it can.
The upper limit of the dose of ultraviolet rays irradiated to the second adhesive film 30 is not particularly limited, from the viewpoint of productivity, for example, at 1500 mJ / cm 2 or less, preferably 1200 mJ / cm 2 or less.
Ultraviolet irradiation can be performed using, for example, a high-pressure mercury lamp or an LED.

工程(D)では、第2粘着性フィルム30における電子部品10が貼り付けられた領域をフィルムの面内方向に拡張させて、隣接する電子部品10間の間隔を拡大させた状態で、第2粘着性フィルム30から電子部品10を剥離することが好ましい。
こうすることにより、隣接する電子部品10間の間隔が拡大するため、第2粘着性フィルム30から電子部品10をピックアップし易くなる。さらに、第2粘着性フィルム30の面内方向の拡張によって生じる、電子部品10と第2粘着性フィルム30とのずり応力により、電子部品10と第2粘着性フィルム30との粘着力が低下するため、第2粘着性フィルム30から電子部品10をピックアップし易くなる。
In the step (D), the region of the second adhesive film 30 to which the electronic component 10 is attached is expanded in the in-plane direction of the film, and the distance between the adjacent electronic components 10 is expanded in the second state. It is preferable to peel off the electronic component 10 from the adhesive film 30.
By doing so, the distance between the adjacent electronic components 10 is increased, so that the electronic components 10 can be easily picked up from the second adhesive film 30. Further, the shear stress between the electronic component 10 and the second adhesive film 30 caused by the in-plane expansion of the second adhesive film 30 reduces the adhesive force between the electronic component 10 and the second adhesive film 30. Therefore, it becomes easy to pick up the electronic component 10 from the second adhesive film 30.

(その他の工程)
本実施形態に係る電子装置の製造方法は、上記以外のその他の工程を有していてもよい。その他の工程としては、電子装置の製造方法において公知の工程を用いることができる。
(Other processes)
The method for manufacturing an electronic device according to the present embodiment may include other steps other than the above. As another step, a step known in the method for manufacturing an electronic device can be used.

例えば、工程(D)を行った後、得られた電子部品10を回路基板に実装する工程や、ワイヤボンディング工程、封止工程等の電子装置の製造工程において一般的におこなわれている任意の工程をさらに行ってもよい。 For example, any arbitrary process that is generally performed in a process of mounting the obtained electronic component 10 on a circuit board after performing step (D), a wire bonding process, a sealing process, or other manufacturing process of an electronic device. Further steps may be performed.

2.粘着性フィルム
以下、本実施形態に係る第1粘着性フィルム20および第2粘着性フィルム30(以下、まとめて粘着性フィルムと呼ぶ。)について説明する。
2. Adhesive film Hereinafter, the first adhesive film 20 and the second adhesive film 30 (hereinafter collectively referred to as an adhesive film) according to the present embodiment will be described.

本実施形態に係る粘着性フィルムは、例えば、基材層と、基材層の一方の面に設けられた粘着性樹脂層(以下、第1粘着性樹脂層および第2粘着性樹脂層をまとめて粘着性樹脂層と呼ぶ。)と、を備える。 The adhesive film according to the present embodiment includes, for example, a base material layer and an adhesive resin layer provided on one surface of the base material layer (hereinafter, a first adhesive resin layer and a second adhesive resin layer are grouped together. It is referred to as an adhesive resin layer).

本実施形態に係る粘着性フィルム全体の厚さは、機械的特性と取扱い性のバランスの観点から、好ましくは10μm以上1000μm以下であり、より好ましくは20μm以上500μm以下である。 The thickness of the entire adhesive film according to the present embodiment is preferably 10 μm or more and 1000 μm or less, and more preferably 20 μm or more and 500 μm or less, from the viewpoint of the balance between mechanical properties and handleability.

次に、本実施形態に係る粘着性フィルムを構成する各層について説明する。 Next, each layer constituting the adhesive film according to the present embodiment will be described.

<基材層>
基材層は、粘着性フィルムの取り扱い性や機械的特性、耐熱性等の特性をより良好にすることを目的として設けられる層である。
基材層は特に限定されないが、例えば、樹脂フィルムが挙げられる。
上記樹脂フィルムを構成する樹脂としては、公知の熱可塑性樹脂を用いることができる。例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ(4−メチル−1−ペンテン)、ポリ(1−ブテン)等のポリオレフィン;ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル;ナイロン−6、ナイロン−66、ポリメタキシレンアジパミド等のポリアミド;ポリアクリレート;ポリメタアクリレート;ポリ塩化ビニル;ポリ塩化ビニリデン;ポリイミド;ポリエーテルイミド;エチレン・酢酸ビニル共重合体;ポリアクリロニトリル;ポリカーボネート;ポリスチレン;アイオノマー;ポリスルホン;ポリエーテルスルホン;ポリフェニレンエーテル等から選択される一種または二種以上を挙げることができる。
これらの中でも、透明性や機械的強度、価格等のバランスに優れる観点から、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアミド、ポリイミドから選択される一種または二種以上が好ましく、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートから選択される少なくとも一種がより好ましい。
<Base layer>
The base material layer is a layer provided for the purpose of improving the handleability, mechanical properties, heat resistance, and other properties of the adhesive film.
The base material layer is not particularly limited, and examples thereof include a resin film.
As the resin constituting the resin film, a known thermoplastic resin can be used. For example, polyolefins such as polyethylene, polypropylene, poly (4-methyl-1-pentene), poly (1-butene); polyesters such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate; nylon-6, nylon-66, poly. Polyesters such as metaxylene adipamide; polyacrylates; polymethacrylates; polyvinyl chlorides; polyvinylidene chlorides; polyimides; polyetherimides; ethylene / vinyl acetate copolymers; polyacrylonitrile; polycarbonates; polystyrenes; ionomers; polysulfones; poly Ether sulfone; one or more selected from polyphenylene ether and the like can be mentioned.
Among these, one or more selected from polypropylene, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyamide, and polyimide are preferable, and polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable from the viewpoint of excellent balance of transparency, mechanical strength, price, and the like. At least one selected from is more preferred.

基材層は、単層であっても、二種以上の層であってもよい。
また、基材層を形成するために使用する樹脂フィルムの形態としては、延伸フィルムであってもよいし、一軸方向または二軸方向に延伸したフィルムであってもよいが、基材層の機械的強度を向上させる観点から、一軸方向または二軸方向に延伸したフィルムであることが好ましい。
The base material layer may be a single layer or two or more types of layers.
Further, the form of the resin film used for forming the base material layer may be a stretched film or a film stretched in a uniaxial direction or a biaxial direction, but the machine of the base material layer From the viewpoint of improving the target strength, a film stretched in the uniaxial direction or the biaxial direction is preferable.

基材層の厚さは、良好なフィルム特性を得る観点から、好ましくは1μm以上500μm以下、より好ましくは5μm以上300μm以下、さらに好ましくは10μm以上250μm以下である。
基材層は、他の層との接着性を改良するために、表面処理を行ってもよい。具体的には、コロナ処理、プラズマ処理、アンダーコート処理、プライマーコート処理等を行ってもよい。
The thickness of the base material layer is preferably 1 μm or more and 500 μm or less, more preferably 5 μm or more and 300 μm or less, and further preferably 10 μm or more and 250 μm or less from the viewpoint of obtaining good film characteristics.
The base material layer may be surface-treated in order to improve the adhesiveness with other layers. Specifically, corona treatment, plasma treatment, undercoat treatment, primer coating treatment and the like may be performed.

<粘着性樹脂層>
粘着性樹脂層は、基材層の一方の面側に設けられる層であり、外部刺激により粘着力が低下する層である。
ここで、外部刺激により粘着力が低下する粘着性樹脂層としては、例えば、加熱により粘着力が低下する加熱剥離型の粘着性樹脂層や、光(例えば放射線)により粘着力が低下する光剥離型の粘着性樹脂層等が挙げられる。
<Adhesive resin layer>
The adhesive resin layer is a layer provided on one surface side of the base material layer, and is a layer whose adhesive strength is reduced by an external stimulus.
Here, examples of the adhesive resin layer whose adhesive strength is reduced by an external stimulus include a heat-peeling type adhesive resin layer whose adhesive strength is reduced by heating and photo-peeling whose adhesive strength is reduced by light (for example, radiation). Examples include a mold adhesive resin layer.

加熱剥離型の粘着性樹脂層としては、例えば、気体発生成分を含む加熱膨張型粘着剤、膨張して粘着力を低減できる熱膨張性の微小球を含む加熱膨張型粘着剤、熱により接着剤成分が架橋反応することで接着力が低下する加熱架橋型粘着剤等により構成された粘着性樹脂層が挙げられる。 Examples of the heat-peeling type adhesive resin layer include a heat-expandable pressure-sensitive adhesive containing a gas-generating component, a heat-expandable pressure-sensitive adhesive containing heat-expandable microspheres that can expand and reduce the adhesive force, and a heat-sensitive adhesive. Examples thereof include an adhesive resin layer composed of a heat-crosslinked pressure-sensitive adhesive or the like whose adhesive strength is reduced by a cross-linking reaction of the components.

本実施形態において、加熱剥離型の粘着性樹脂層に使用される粘着剤は、例えば150℃を超える温度で加熱することで接着力が低下または喪失する粘着剤である。例えば、150℃以下では剥離せず、150℃を超える温度で剥離する材料を選択することができ、電子装置の製造工程中に粘着性フィルムが電子部品から剥離しない程度の接着力を有していることが好ましい。
ここで、150℃を超える温度で加熱することで接着力が低下または喪失することは、例えば、粘着性樹脂層側をステンレス板に貼り付け、140℃で1時間の加熱処理をおこない、次いで、150℃を超える温度で2分間加熱した後に測定される、ステンレス板からの剥離強度により評価することができる。150℃を超える温度で加熱する際の具体的な加熱温度は、気体が発生する温度や熱膨張性の微小球が熱膨張する温度よりも高い温度に設定され、発生する気体や熱膨張性の微小球の種類によって適宜設定される。本実施形態において、接着力が喪失するとは、例えば、23℃、引張速度300mm/分の条件で測定される180°剥離強度が0.5N/25mm未満になる場合をいう。
In the present embodiment, the pressure-sensitive adhesive used for the heat-peeling type pressure-sensitive adhesive resin layer is, for example, a pressure-sensitive adhesive whose adhesive strength is reduced or lost when heated at a temperature exceeding 150 ° C. For example, it is possible to select a material that does not peel off at a temperature of 150 ° C. or lower and peels off at a temperature of more than 150 ° C. It is preferable to have.
Here, if the adhesive strength is reduced or lost by heating at a temperature exceeding 150 ° C., for example, the adhesive resin layer side is attached to a stainless steel plate, heat-treated at 140 ° C. for 1 hour, and then It can be evaluated by the peel strength from the stainless steel plate measured after heating at a temperature exceeding 150 ° C. for 2 minutes. The specific heating temperature when heating at a temperature exceeding 150 ° C. is set to a temperature higher than the temperature at which the gas is generated and the temperature at which the thermally expandable microspheres thermally expand, and the generated gas and the thermally expandable microspheres are heated. It is appropriately set depending on the type of microsphere. In the present embodiment, the loss of adhesive strength means, for example, a case where the 180 ° peel strength measured under the conditions of 23 ° C. and a tensile speed of 300 mm / min is less than 0.5 N / 25 mm.

加熱膨張型粘着剤に使用される気体発生成分としては、例えば、アゾ化合物、アジド化合物、メルドラム酸誘導体等を用いることができる。また、炭酸アンモニウム、炭酸水素アンモニウム、炭酸水素ナトリウム、亜硝酸アンモニウム、水酸化ホウ素ナトリウム、各種アジド類等の無機系発泡剤や、水;トリクロロモノフルオロメタン、ジクロロモノフルオロメタン等の塩フッ化アルカン系化合物;アゾビスイソブチロニトリル、アゾジカルボンアミド、バリウムアゾジカルボキシレート等のアゾ系化合物;パラトルエンスルホニルヒドラジド、ジフェニルスルホン−3,3’−ジスルホニルヒドラジド、4,4’−オキシビス(ベンゼンスルホニルヒドラジド)、アリルビス(スルホニルヒドラジド)等のヒドラジン系化合物;p−トルイレンスルホニルセミカルバジド、4,4’−オキシビス(ベンゼンスルホニルセミカルバジド)等のセミカルバジド系化合物;5−モルホリル−1,2,3,4−チアトリアゾール等のトリアゾール系化合物;N,N’−ジニトロソペンタメチレンテトラミン、N,N´−ジメチル−N,N’−ジニトロソテレフタルアミド等のN−ニトロソ系化合物等の有機系発泡剤等も用いることができる。気体発生成分は粘着性樹脂に添加されていてもよく、粘着性樹脂に直接結合されていてもよい。 As the gas generating component used in the heat-expandable pressure-sensitive adhesive, for example, an azo compound, an azide compound, a meldrum's acid derivative, or the like can be used. In addition, inorganic foaming agents such as ammonium carbonate, ammonium hydrogencarbonate, sodium hydrogencarbonate, ammonium nitrite, sodium boron hydroxide, and various azos, and water; alkane salt fluorides such as trichloromonofluoromethane and dichloromonofluoromethane. Compounds; Azo compounds such as azobisisobutyronitrile, azodicarboxylicamide, barium azodicarboxylate; paratoluenesulfonyl hydrazide, diphenylsulfone-3,3'-disulfonylhydrazide, 4,4'-oxybis (benzenesulfonyl) Hydrazine compounds such as hydrazide) and allylbis (sulfonylhydrazide); semicarbazide compounds such as p-toluylenesulfonyl semicarbazide and 4,4'-oxybis (benzenesulfonyl semicarbazide); 5-morpholyl-1,2,3,4- Triazole compounds such as thiatriazole; organic foaming agents such as N-nitroso compounds such as N, N'-dinitrosopentamethylenetetramine, N, N'-dimethyl-N, N'-dinitrosoterephthalamide Can be used. The gas generating component may be added to the adhesive resin or may be directly bonded to the adhesive resin.

加熱膨張型粘着剤に使用される熱膨張性の微小球としては、例えば、マイクロカプセル化されている発泡剤を用いることができる。このような熱膨張性の微小球としては、例えば、イソブタン、プロパン、ペンタン等の加熱により容易にガス化して膨張する物質を、弾性を有する殻内に内包させた微小球等が挙げられる。上記殻を構成する材料として、例えば、塩化ビニリデン−アクリロニトリル共重合体、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール、ポリメチルメタクリレート、ポリアクリロニトリル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスルホン等が挙げられる。熱膨張性の微小球は、例えば、コアセルベーション法や、界面重合法等により製造することができる。
熱膨張性の微小球は粘着性樹脂に添加することができる。
As the heat-expandable microspheres used in the heat-expandable pressure-sensitive adhesive, for example, a microencapsulated foaming agent can be used. Examples of such heat-expandable microspheres include microspheres in which a substance that easily gasifies and expands by heating, such as isobutane, propane, and pentane, is contained in an elastic shell. Examples of the material constituting the shell include vinylidene chloride-acrylonitrile copolymer, polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, polymethylmethacrylate, polyacrylonitrile, polyvinylidene chloride, polysulfone and the like. The heat-expandable microspheres can be produced, for example, by a coacervation method, an interfacial polymerization method, or the like.
The heat-expandable microspheres can be added to the adhesive resin.

気体発生成分および熱膨張性の微小球から選択される少なくとも一種の含有量は、加熱剥離型の粘着性樹脂層の膨張倍率や接着力の低下性等に応じて適宜設定することができ、特に限定されないが、例えば、加熱剥離型の粘着性樹脂層中の粘着性樹脂100質量部に対して、例えば1質量部以上150質量部以下、好ましくは10質量部以上130質量部以下、さらに好ましくは12質量部以上100質量部以下である。
気体が発生する温度や熱膨張性の微小球が熱膨張する温度が、150℃を超える温度になるように設計することが好ましい。
The content of at least one selected from the gas generating component and the heat-expandable microspheres can be appropriately set according to the expansion ratio of the heat-peeling type adhesive resin layer, the decrease in adhesive strength, and the like, and in particular, Although not limited, for example, with respect to 100 parts by mass of the adhesive resin in the heat-peeling type adhesive resin layer, for example, 1 part by mass or more and 150 parts by mass or less, preferably 10 parts by mass or more and 130 parts by mass or less, more preferably. It is 12 parts by mass or more and 100 parts by mass or less.
It is preferable to design so that the temperature at which the gas is generated and the temperature at which the thermally expandable microspheres thermally expand exceed 150 ° C.

加熱剥離型粘着剤を構成する粘着性樹脂としては、例えば、(メタ)アクリル系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂、ポリオレフィン系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリアミド系樹脂、フッ素系樹脂、スチレン−ジエンブロック共重合体系樹脂等を挙げることができる。これらの中でも(メタ)アクリル系樹脂が好ましい。 Examples of the adhesive resin constituting the heat-release type adhesive include (meth) acrylic resin, urethane resin, silicone resin, polyolefin resin, polyester resin, polyamide resin, fluorine resin, and styrene-diene. Block copolymerization system resin and the like can be mentioned. Among these, (meth) acrylic resin is preferable.

粘着性樹脂層に使用される(メタ)アクリル系粘着性樹脂としては、例えば、(メタ)アクリル酸アルキルエステルモノマー単位(a1)および架橋剤と反応し得る官能基を有するモノマー単位(a2)を含む共重合体が挙げられる。
本実施形態において、(メタ)アクリル酸アルキルエステルとは、アクリル酸アルキルエステル、メタクリル酸アルキルエステル、またはこれらの混合物を意味する。
Examples of the (meth) acrylic adhesive resin used for the adhesive resin layer include a (meth) acrylic acid alkyl ester monomer unit (a1) and a monomer unit (a2) having a functional group capable of reacting with a cross-linking agent. Examples include copolymers containing.
In the present embodiment, the (meth) acrylic acid alkyl ester means an acrylic acid alkyl ester, a methacrylic acid alkyl ester, or a mixture thereof.

本実施形態に係る(メタ)アクリル系粘着性樹脂は、例えば、(メタ)アクリル酸アルキルエステルモノマー(a1)および架橋剤と反応し得る官能基を有するモノマー(a2)を含むモノマー混合物を共重合することにより得ることができる。 The (meth) acrylic adhesive resin according to the present embodiment is copolymerized with, for example, a monomer mixture containing a (meth) acrylic acid alkyl ester monomer (a1) and a monomer (a2) having a functional group capable of reacting with a cross-linking agent. Can be obtained by

(メタ)アクリル酸アルキルエステルモノマー単位(a1)を形成するモノマー(a1)としては、炭素数1〜12程度のアルキル基を有する(メタ)アクリル酸アルキルエステルが挙げられる。好ましくは炭素数1〜8のアルキル基を有する(メタ)アクリル酸アルキルエステルである。具体的には、アクリル酸メチル、メタクリル酸メチル、アクリル酸エチル、メタクリル酸エチル、アクリル酸ブチル、メタクリル酸ブチル、アクリル酸−2−エチルヘキシル、メタクリル酸−2−エチルヘキシル等が挙げられる。これらは単独で使用してもよいし、2種以上を使用してもよい。
本実施形態に係る(メタ)アクリル系粘着性樹脂において、(メタ)アクリル酸アルキルエステルモノマー単位(a1)の含有量は、(メタ)アクリル系粘着性樹脂中の全モノマー単位の合計を100質量%としたとき、10質量%以上98.9質量%以下であることが好ましく、50質量%以上97質量%以下であることがより好ましく、85質量%以上95質量%以下であることがさらに好ましい。
Examples of the monomer (a1) forming the (meth) acrylic acid alkyl ester monomer unit (a1) include (meth) acrylic acid alkyl esters having an alkyl group having about 1 to 12 carbon atoms. A (meth) acrylic acid alkyl ester having an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms is preferable. Specific examples thereof include methyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl acrylate, ethyl methacrylate, butyl acrylate, butyl methacrylate, -2-ethylhexyl acrylate, and -2-ethylhexyl methacrylate. These may be used alone, or two or more kinds may be used.
In the (meth) acrylic adhesive resin according to the present embodiment, the content of the (meth) acrylic acid alkyl ester monomer unit (a1) is 100 mass by mass, which is the total of all the monomer units in the (meth) acrylic adhesive resin. In terms of%, it is preferably 10% by mass or more and 98.9% by mass or less, more preferably 50% by mass or more and 97% by mass or less, and further preferably 85% by mass or more and 95% by mass or less. ..

架橋剤と反応し得る官能基を有するモノマー(a2)を形成するモノマー(a2)としては、アクリル酸、メタクリル酸、イタコン酸、メサコン酸、シトラコン酸、フマル酸、マレイン酸、イタコン酸モノアルキルエステル、メサコン酸モノアルキルエステル、シトラコン酸モノアルキルエステル、フマル酸モノアルキルエステル、マレイン酸モノアルキルエステル、アクリル酸グリシジル、メタクリル酸グリシジル、アクリル酸−2−ヒドロキシエチル、メタクリル酸−2−ヒドロキシエチル、アクリルアミド、メタクリルアミド、ターシャル−ブチルアミノエチルアクリレート、ターシャル−ブチルアミノエチルメタクリレート等が挙げられる。好ましくは、アクリル酸、メタクリル酸、アクリル酸−2−ヒドロキシエチル、メタクリル酸−2−ヒドロキシエチル、アクリルアミド、メタクリルアミド等である。これらは単独で使用してもよいし、2種以上を使用してもよい。
本実施形態に係る(メタ)アクリル系粘着性樹脂において、モノマー単位(a2)の含有量は、(メタ)アクリル系粘着性樹脂中の全モノマー単位の合計を100質量%としたとき、1質量%以上40質量%以下であることが好ましく、1質量%以上20質量%以下であることがより好ましく、1質量%以上10質量%以下であることがさらに好ましい。
Examples of the monomer (a2) forming the monomer (a2) having a functional group capable of reacting with the cross-linking agent include acrylic acid, methacrylic acid, itaconic acid, mesaconic acid, citraconic acid, fumaric acid, maleic acid, and itaconic acid monoalkyl ester. , Methaconic acid monoalkyl ester, citraconic acid monoalkyl ester, fumaric acid monoalkyl ester, maleic acid monoalkyl ester, glycidyl acrylate, glycidyl methacrylate, -2-hydroxyethyl acrylate, -2-hydroxyethyl methacrylate, acrylamide , Methacrylic acid, itaconic-butylaminoethyl acrylate, itaconic-butylaminoethyl methacrylate and the like. Preferred are acrylic acid, methacrylic acid, -2-hydroxyethyl acrylate, -2-hydroxyethyl methacrylate, acrylamide, methacrylamide and the like. These may be used alone, or two or more kinds may be used.
In the (meth) acrylic adhesive resin according to the present embodiment, the content of the monomer unit (a2) is 1 mass when the total of all the monomer units in the (meth) acrylic adhesive resin is 100% by mass. % Or more and 40% by mass or less, more preferably 1% by mass or more and 20% by mass or less, and further preferably 1% by mass or more and 10% by mass or less.

本実施形態に係る(メタ)アクリル系粘着性樹脂は、モノマー単位(a1)、モノマー単位(a2)以外に、2官能性モノマー単位(a3)や界面活性剤としての性質を有する特定のコモノマー(以下、重合性界面活性剤と称する)単位をさらに含んでもよい。
重合性界面活性剤は、モノマー(a1)、モノマー(a2)およびモノマー(a3)と共重合する性質を有すると共に、乳化重合する場合には乳化剤としての作用を有する。
The (meth) acrylic adhesive resin according to the present embodiment has a bifunctional monomer unit (a3) and a specific comonomer having properties as a surfactant, in addition to the monomer unit (a1) and the monomer unit (a2). Hereinafter, a unit (hereinafter referred to as a polymerizable surfactant) may be further contained.
The polymerizable surfactant has a property of copolymerizing with the monomer (a1), the monomer (a2) and the monomer (a3), and also has an action as an emulsifier in the case of emulsion polymerization.

2官能性モノマー単位(a3)を形成するモノマー(a3)としては、メタクリル酸アリル、アクリル酸アリル、ジビニルベンゼン、メタクリル酸ビニル、アクリル酸ビニル、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレートや、例えば、両末端がジアクリレートまたはジメタクリレートで主鎖の構造がプロピレングリコール型(例えば、日本油脂(株)製、商品名;PDP−200、同PDP−400、同ADP−200、同ADP−400)、テトラメチレングリコール型(例えば、日本油脂(株)製、商品名;ADT−250、同ADT−850)およびこれらの混合型(例えば、日本油脂(株)製、商品名:ADET−1800、同ADPT−4000)であるもの等が挙げられる。 Examples of the monomer (a3) forming the bifunctional monomer unit (a3) include allyl methacrylate, allyl acrylate, divinylbenzene, vinyl methacrylate, vinyl acrylate, trimethylpropantri (meth) acrylate, and pentaerythritoltri (meth). Meta) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, for example, diacrylate or dimethacrylate at both ends and propylene glycol type (for example, Nippon Oil & Fats Co., Ltd.) Manufactured by, trade name: PDP-200, PDP-400, ADP-200, ADP-400), tetramethylene glycol type (for example, manufactured by Nippon Oil & Fats Co., Ltd., trade name: ADT-250, ADT-850 ) And a mixed type thereof (for example, manufactured by Nippon Oil & Fats Co., Ltd., trade name: ADET-1800, ADPT-4000) and the like.

本実施形態に係る(メタ)アクリル系粘着性樹脂において、モノマー単位(a3)の含有量は、(メタ)アクリル系粘着性樹脂中の全モノマー単位の合計を100質量%としたとき、0.1質量%以上30質量%以下であることが好ましく、0.1質量%以上15質量%以下であることがより好ましく、0.1質量%以上20質量%以下であることがさらに好ましく、0.1質量%以上5質量%以下であることが特に好ましい。 In the (meth) acrylic adhesive resin according to the present embodiment, the content of the monomer unit (a3) is 0. When the total of all the monomer units in the (meth) acrylic adhesive resin is 100% by mass. It is preferably 1% by mass or more and 30% by mass or less, more preferably 0.1% by mass or more and 15% by mass or less, further preferably 0.1% by mass or more and 20% by mass or less, and 0. It is particularly preferable that it is 1% by mass or more and 5% by mass or less.

重合性界面活性剤の例としては、例えば、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテルのベンゼン環に重合性の1−プロペニル基を導入したもの(第一工業製薬(株)製;商品名:アクアロンRN−10、同RN−20、同RN−30、同RN−50等)、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテルの硫酸エステルのアンモニウム塩のベンゼン環に重合性の1−プロペニル基を導入したもの(第一工業製薬(株)製;商品名:アクアロンHS−10、同HS−20、同HS−1025等)、および分子内に重合性二重結合を持つ、スルホコハク酸ジエステル系(花王(株)製;商品名:ラテムルS−120A、同S−180A等)等が挙げられる。
本実施形態に係る(メタ)アクリル系粘着性樹脂において、重合性界面活性剤の含有量は、(メタ)アクリル系粘着性樹脂中の全モノマー単位の合計を100質量%としたとき、0.1質量%以上30質量%以下であることが好ましく、0.1質量%以上15質量%以下であることがより好ましく、0.1質量%以上20質量%以下であることがさらに好ましく、0.1質量%以上5質量%以下であることが特に好ましい。
Examples of polymerizable surfactants include those in which a polymerizable 1-propenyl group is introduced into the benzene ring of polyoxyethylene nonylphenyl ether (manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd .; trade name: Aqualon RN-10). , RN-20, RN-30, RN-50, etc.), in which a polymerizable 1-propenyl group is introduced into the benzene ring of the ammonium salt of the sulfate ester of polyoxyethylene nonylphenyl ether (Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) Made by Co., Ltd .; Trade name: Aqualon HS-10, HS-20, HS-1025, etc.), and sulfosuccinic acid diester type having a polymerizable double bond in the molecule (manufactured by Kao Co., Ltd .; trade name) : Latemul S-120A, S-180A, etc.) and the like.
In the (meth) acrylic adhesive resin according to the present embodiment, the content of the polymerizable surfactant is 0. When the total of all the monomer units in the (meth) acrylic adhesive resin is 100% by mass. It is preferably 1% by mass or more and 30% by mass or less, more preferably 0.1% by mass or more and 15% by mass or less, further preferably 0.1% by mass or more and 20% by mass or less, and 0. It is particularly preferable that it is 1% by mass or more and 5% by mass or less.

本実施形態に係る(メタ)アクリル系粘着性樹脂は、さらに必要に応じて、酢酸ビニル、アクリロニトリル、スチレン等の重合性2重結合を有するモノマーにより形成されたモノマー単位をさらに含有してもよい。 The (meth) acrylic adhesive resin according to the present embodiment may further contain a monomer unit formed of a monomer having a polymerizable double bond such as vinyl acetate, acrylonitrile, and styrene, if necessary. ..

本実施形態に係る(メタ)アクリル系粘着性樹脂の重合反応機構としては、ラジカル重合、アニオン重合、カチオン重合等が挙げられる。(メタ)アクリル系粘着性樹脂の製造コスト、モノマーの官能基の影響および電子部品表面へのイオンの影響等を考慮すればラジカル重合によって重合することが好ましい。
ラジカル重合反応によって重合する際、ラジカル重合開始剤として、ベンゾイルパーオキサイド、ジ−t−ブチルパーオキサイド、ジクミルパーオキサイド、3,3,5−トリメチルヘキサノイルパーオキサイド、ジ−2−エチルヘキシルパーオキシジカーボネート、メチルエチルケトンパーオキサイド、t−ブチルパーオキシフタレート、t−ブチルパーオキシベンゾエート、ジ−t−ブチルパーオキシアセテート、t−ブチルパーオキシイソブチレート、t−ブチルパーオキシ−2−ヘキサノエート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシ−3,5,5−トリメチルヘキサノエート、アセチルパーオキサイド、イソブチリルパーオキサイド、オクタノイルパーオキサイド、t−ブチルパーオキサイド、ジ−t−アミルパーオキサイド等の有機過酸化物;過硫酸アンモニウム、過硫酸カリウム、過硫酸ナトリウム等の無機過酸化物;2,2'−アゾビスイソブチロニトリル、2,2'−アゾビス−2−メチルブチロニトリル、4,4'−アゾビス−4−シアノバレリックアシッド等のアゾ化合物が挙げられる。
Examples of the polymerization reaction mechanism of the (meth) acrylic adhesive resin according to the present embodiment include radical polymerization, anionic polymerization, and cationic polymerization. Considering the production cost of the (meth) acrylic adhesive resin, the influence of the functional group of the monomer, the influence of ions on the surface of the electronic component, and the like, it is preferable to polymerize by radical polymerization.
When polymerizing by a radical polymerization reaction, as a radical polymerization initiator, benzoyl peroxide, di-t-butyl peroxide, dicumyl peroxide, 3,3,5-trimethylhexanoyl peroxide, di-2-ethylhexyl peroxy Dicarbonate, methylethylketone peroxide, t-butylperoxyphthalate, t-butylperoxybenzoate, di-t-butylperoxyacetate, t-butylperoxyisobutyrate, t-butylperoxy-2-hexanoate, t -Butylperoxy-2-ethylhexanoate, t-butylperoxy-3,5,5-trimethylhexanoate, acetylperoxide, isobutyryl peroxide, octanoyl peroxide, t-butyl peroxide, di -Organic peroxides such as amylperoxide; Inorganic peroxides such as ammonium persulfate, potassium persulfate, sodium persulfate; 2,2'-azobisisobutyronitrile, 2,2'-azobis-2 Examples thereof include azo compounds such as −methylbutyronitrile and 4,4′-azobis-4-cyanovaleric acid.

乳化重合法により重合する場合には、これらのラジカル重合開始剤の中で、水溶性の過硫酸アンモニウム、過硫酸カリウム、過硫酸ナトリウム等の無機過酸化物、同じく水溶性の4,4'−アゾビス−4−シアノバレリックアシッド等の分子内にカルボキシル基を持ったアゾ化合物が好ましい。電子部品表面へのイオンの影響を考慮すれば、過硫酸アンモニウム、4,4'−アゾビス−4−シアノバレリックアシッド等の分子内にカルボキシル基を有するアゾ化合物がさらに好ましく、4,4'−アゾビス−4−シアノバレリックアシッド等の分子内にカルボキシル基を有するアゾ化合物が特に好ましい。 When polymerizing by the emulsion polymerization method, among these radical polymerization initiators, water-soluble inorganic peroxides such as ammonium persulfate, potassium persulfate, and sodium persulfate, and water-soluble 4,4'-azobis An azo compound having a carboxyl group in the molecule, such as -4-cyanovaleric acid, is preferable. Considering the influence of ions on the surface of electronic parts, azo compounds having a carboxyl group in the molecule such as ammonium persulfate and 4,4'-azobis-4-cyanovaleric acid are more preferable, and 4,4'-azobis An azo compound having a carboxyl group in the molecule, such as -4-cyanovaleric acid, is particularly preferable.

本実施形態に係る粘着性樹脂層は、粘着性樹脂に加えて、架橋性の官能基を1分子中に2個以上有する架橋剤をさらに含むことが好ましい。
架橋性の官能基を1分子中に2個以上有する架橋剤は、粘着性樹脂が有する官能基と反応させ、粘着力および凝集力を調整するために用いる。
このような架橋剤としては、ソルビトールポリグリシジルエーテル、ポリグリセロールポリグリシジルエーテル、ペンタエリスリトールポリグリシジルエーテル、ジグリセロールポリグリシジルエーテル、グリセロールポリグリシジルエーテル、ネオペンチルグリコールジグリシジルエーテル、レソルシンジグリシジルエーテル等のエポキシ系化合物;テトラメチレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、トリメチロールプロパンのトルエンジイソシアネート3付加物、ポリイソシアネート、ジフェニルメタンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート等のイソシアネート系化合物;トリメチロールプロパン−トリ−β−アジリジニルプロピオネート、テトラメチロールメタン−トリ−β−アジリジニルプロピオネート、N,N'−ジフェニルメタン−4,4'−ビス(1−アジリジンカルボキシアミド)、N,N'−ヘキサメチレン−1,6−ビス(1−アジリジンカルボキシアミド)、N,N'−トルエン−2,4−ビス(1−アジリジンカルボキシアミド)、トリメチロールプロパン−トリ−β−(2−メチルアジリジン)プロピオネート等のアジリジン系化合物;N,N,N',N'−テトラグリシジル−m−キシレンジアミン、1,3−ビス(N,N'−ジグリシジルアミノメチル)シクロヘキサン等の4官能性エポキシ系化合物;ヘキサメトキシメチロールメラミン等のメラミン系化合物等が挙げられる。これらは単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
これらの中でも、エポキシ系化合物、イソシアネート系化合物およびアジリジン系化合物から選択される一種または二種以上を含むことが好ましい。
The pressure-sensitive resin layer according to the present embodiment preferably further contains a cross-linking agent having two or more cross-linking functional groups in one molecule, in addition to the pressure-sensitive resin.
A cross-linking agent having two or more cross-linking functional groups in one molecule is used to react with the functional groups of the adhesive resin to adjust the adhesive force and the cohesive force.
Examples of such a cross-linking agent include sorbitol polyglycidyl ether, polyglycerol polyglycidyl ether, pentaerythritol polyglycidyl ether, diglycerol polyglycidyl ether, glycerol polyglycidyl ether, neopentyl glycol diglycidyl ether, and resorcin diglycidyl ether. Epoxy compounds; isocyanate compounds such as tetramethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, toluenediisocyanate 3 adduct of trimethylpropane, polyisocyanate, diphenylmethanediisocyanate, tolylene diisocyanate; Nate, tetramethylolmethane-tri-β-aziridinyl propionate, N, N'-diphenylmethane-4,4'-bis (1-aziridinecarboxyamide), N, N'-hexamethylene-1,6- Aziridine compounds such as bis (1-aziridine carboxylamide), N, N'-toluene-2,4-bis (1-aziridine carboxylamide), trimethylpropan-tri-β- (2-methylaziridine) propionate; Tetrafunctional epoxy compounds such as N, N, N', N'-tetraglycidyl-m-isocyanateamine, 1,3-bis (N, N'-diglycidylaminomethyl) cyclohexane; hexamethoxymethylol melamine and the like. Examples include melamine compounds. These may be used alone or in combination of two or more.
Among these, it is preferable to contain one or more selected from epoxy compounds, isocyanate compounds and aziridine compounds.

架橋剤の含有量は、通常、架橋剤中の官能基数が粘着性樹脂中の官能基数よりも多くならない程度の範囲が好ましい。しかし、架橋反応で新たに官能基が生じる場合や、架橋反応が遅い場合等、必要に応じて過剰に含有してもよい。
粘着性樹脂層中の架橋剤の含有量は、粘着性樹脂100質量部に対し、0.1質量部以上10質量部以下であることが好ましく、0.5質量部以上5質量部以下であることがより好ましい。
The content of the cross-linking agent is usually preferably in a range in which the number of functional groups in the cross-linking agent does not exceed the number of functional groups in the adhesive resin. However, when a new functional group is generated in the cross-linking reaction, or when the cross-linking reaction is slow, an excessive amount may be contained as needed.
The content of the cross-linking agent in the adhesive resin layer is preferably 0.1 part by mass or more and 10 parts by mass or less, and 0.5 parts by mass or more and 5 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the adhesive resin. Is more preferable.

また、光剥離型の粘着性樹脂層を構成する粘着剤としては、光により粘着力を低下させ光架橋型粘着剤を用いることができる。光架橋型粘着剤により構成された粘着性樹脂層は、光の照射により架橋して粘着力が著しく減少する。光としては、紫外線、電子線、赤外線等が挙げられる。
光架橋型粘着剤としては、紫外線架橋型粘着剤が好ましい。
Further, as the pressure-sensitive adhesive constituting the photo-peeling type pressure-sensitive adhesive resin layer, a photo-crosslinking type pressure-sensitive adhesive can be used in which the adhesive strength is reduced by light. The adhesive resin layer composed of the photocrosslinkable adhesive is crosslinked by irradiation with light, and the adhesive strength is remarkably reduced. Examples of light include ultraviolet rays, electron beams, and infrared rays.
As the photocrosslinkable adhesive, an ultraviolet crosslinkable adhesive is preferable.

光架橋型粘着剤を構成する粘着剤は、(メタ)アクリル系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ウレタン系粘着剤、オレフィン系粘着剤、スチレン系粘着剤等が挙げられる。これらの中でも、接着力の調整を容易にできる点等から、(メタ)アクリル系重合体をベースポリマーとする(メタ)アクリル系粘着剤が好ましい。
(メタ)アクリル系粘着剤に含まれる(メタ)アクリル系重合体としては、例えば、(メタ)アクリル酸エステル化合物の単独重合体、(メタ)アクリル酸エステル化合物とコモノマーとの共重合体等が挙げられる。(メタ)アクリル酸エステル化合物としては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、グリシジル(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらの(メタ)アクリル酸エステル化合物は一種単独で用いてもよく、二種以上を併用して用いてもよい。
また、(メタ)アクリル系共重合体を構成するコモノマーとしては、例えば、酢酸ビニル、(メタ)アクリルニトリル、(メタ)アクリルアマイド、スチレン、(メタ)アクリル酸、イタコン酸、(メタ)アクリルアマイド、メチロール(メタ)アクリルアマイド、無水マレイン酸等が挙げられる。これらのコモノマーは一種単独で用いてもよく、二種以上を併用して用いてもよい。
Examples of the pressure-sensitive adhesive constituting the photocrosslinking type pressure-sensitive adhesive include (meth) acrylic pressure-sensitive adhesive, silicone-based pressure-sensitive adhesive, urethane-based pressure-sensitive adhesive, olefin-based pressure-sensitive adhesive, and styrene-based pressure-sensitive adhesive. Among these, a (meth) acrylic pressure-sensitive adhesive using a (meth) acrylic polymer as a base polymer is preferable because the adhesive strength can be easily adjusted.
Examples of the (meth) acrylic polymer contained in the (meth) acrylic pressure-sensitive adhesive include a homopolymer of a (meth) acrylic acid ester compound, a copolymer of a (meth) acrylic acid ester compound and a comonomer, and the like. Can be mentioned. Examples of the (meth) acrylic acid ester compound include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, hydroxyethyl (meth) acrylate, and hydroxypropyl (meth). Examples thereof include acrylate, dimethylaminoethyl (meth) acrylate, and glycidyl (meth) acrylate. These (meth) acrylic acid ester compounds may be used alone or in combination of two or more.
Examples of the comonomer constituting the (meth) acrylic copolymer include vinyl acetate, (meth) acrylonitrile, (meth) acrylic amide, styrene, (meth) acrylic acid, itaconic acid, and (meth) acrylic amide. , Methylol (meth) acrylic amide, maleic anhydride and the like. These comonomer may be used alone or in combination of two or more.

光架橋型粘着剤は、例えば、上記(メタ)アクリル系粘着剤等の粘着剤と、架橋性化合物(炭素−炭素二重結合を有する成分)と、光重合開始剤または熱重合開始剤と、を含む。 The photocrosslinkable pressure-sensitive adhesive includes, for example, a pressure-sensitive adhesive such as the (meth) acrylic pressure-sensitive adhesive, a crosslinkable compound (a component having a carbon-carbon double bond), a photopolymerization initiator or a thermal polymerization initiator. including.

架橋性化合物としては、例えば、分子中に炭素−炭素二重結合を有し、ラジカル重合により架橋可能なモノマー、オリゴマーまたはポリマー等が挙げられる。このような架橋性化合物としては、例えば、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等の(メタ)アクリル酸と多価アルコールとのエステル;エステル(メタ)アクリレートオリゴマー;2−プロペニルジ−3−ブテニルシアヌレート、2−ヒドロキシエチルビス(2−(メタ)アクリロキシエチル)イソシアヌレート、トリス(2−メタクリロキシエチル)イソシアヌレート等のイソシアヌレートまたはイソシアヌレート化合物等が挙げられる。
なお、粘着剤が、ポリマーの側鎖に炭素−炭素二重結合を有する光架橋型ポリマーである場合は、架橋性化合物を加えなくてもよい。
Examples of the crosslinkable compound include a monomer, an oligomer, a polymer, etc., which has a carbon-carbon double bond in the molecule and can be crosslinked by radical polymerization. Examples of such crosslinkable compounds include trimethyl propantri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, and neo. Esters of (meth) acrylic acids such as pentylglycol di (meth) acrylates and dipentaerythritol hexa (meth) acrylates with polyhydric alcohols; ester (meth) acrylate oligomers; 2-propenyldi-3-butenyl cyanurate, 2 Examples thereof include isocyanurates such as −hydroxyethylbis (2- (meth) acryloxyethyl) isocyanurate and tris (2-methacryloxyethyl) isocyanurate, or isocyanurate compounds.
When the pressure-sensitive adhesive is a photocrosslinkable polymer having a carbon-carbon double bond in the side chain of the polymer, it is not necessary to add a crosslinkable compound.

架橋性化合物の含有量は、粘着剤100質量部に対して5〜100質量部が好ましく、10〜50質量部がより好ましい。架橋性化合物の含有量が上記範囲であることにより、上記範囲よりも少ない場合に比べて粘着力の調整がし易くなり、上記範囲よりも多い場合に比べて、熱や光に対する感度が高すぎることによる保存安定性の低下が起こりにくい。 The content of the crosslinkable compound is preferably 5 to 100 parts by mass, more preferably 10 to 50 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the pressure-sensitive adhesive. When the content of the crosslinkable compound is in the above range, the adhesive strength can be easily adjusted as compared with the case where the content is less than the above range, and the sensitivity to heat and light is too high as compared with the case where the content is more than the above range. As a result, the storage stability is unlikely to decrease.

光重合開始剤としては、光を照射することにより開裂しラジカルを生成する化合物であればよく、例えば、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル等のベンゾインアルキルエーテル類;ベンジル、ベンゾイン、ベンゾフェノン、α−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン等の芳香族ケトン類;ベンジルジメチルケタール等の芳香族ケタール類;ポリビニルベンゾフェノン;クロロチオキサントン、ドデシルチオキサントン、ジメチルチオキサントン、ジエチルチオキサントン等のチオキサントン類等が挙げられる。 The photopolymerization initiator may be any compound that cleaves and generates radicals when irradiated with light. For example, benzoin alkyl ethers such as benzoin methyl ether, benzoin isopropyl ether, and benzoin isobutyl ether; benzyl, benzoin, and benzophenone. , Α-Hydroxycyclohexylphenyl ketone and other aromatic ketones; benzyldimethyl ketal and other aromatic ketals; polyvinylbenzophenone; chlorothioxanthone, dodecylthioxanthone, dimethylthioxanthone, diethylthioxanthone and other thioxanthones and the like.

熱重合開始剤としては、例えば、有機過酸化物誘導体やアゾ系重合開始剤等が挙げられる。加熱時に窒素が発生しない点から、好ましくは有機過酸化物誘導体である。熱重合開始剤としては、例えば、ケトンパーオキサイド、パーオキシケタール、ハイドロパーオキサイド、ジアルキルパーオキサイド、ジアシルパーオキサイド、パーオキシエステルおよびパーオキシジカーボネート等が挙げられる。 Examples of the thermal polymerization initiator include organic peroxide derivatives and azo-based polymerization initiators. It is preferably an organic peroxide derivative because nitrogen is not generated during heating. Examples of the thermal polymerization initiator include ketone peroxides, peroxyketals, hydroperoxides, dialkyl peroxides, diacyl peroxides, peroxyesters, peroxydicarbonates and the like.

粘着剤には架橋剤を添加してもよい。架橋剤としては、例えば、ソルビトールポリグリシジルエーテル、ポリグリセロールポリグリシジルエーテル、ペンタエリストールポリグリシジルエーテル、ジグリセロールポリグリシジルエーテル等のエポキシ系化合物;テトラメチロールメタン−トリ−β−アジリジニルプロピオネート、トリメチロールプロパン-トリ-β-アジリジニルプロピオネート、N,N'−ジフェニルメタン−4,4'−ビス(1-アジリジンカルボキシアミド)、N,N'−ヘキサメチレン−1,6−ビス(1-アジリジンカルボキシアミド)等のアジリジン系化合物;テトラメチレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、ポリイソシアネート等のイソシアネート系化合物等が挙げられる。架橋剤の含有量は、粘着性樹脂層の耐熱性や密着力とのバランスを向上させる観点から、(メタ)アクリル系粘着性樹脂100質量部に対し、0.1質量部以上10質量部以下であることが好ましい。 A cross-linking agent may be added to the pressure-sensitive adhesive. Examples of the cross-linking agent include epoxy compounds such as sorbitol polyglycidyl ether, polyglycerol polyglycidyl ether, pentaeristol polyglycidyl ether, and diglycerol polyglycidyl ether; tetramethylolmethane-tri-β-aziridinyl propionate. , Trimethylolpropane-tri-β-aziridinyl propionate, N, N'-diphenylmethane-4,4'-bis (1-aziridine carboxylamide), N, N'-hexamethylene-1,6-bis Aziridine compounds such as (1-aziridine carboxylamide); isocyanate compounds such as tetramethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, and polyisocyanate can be mentioned. The content of the cross-linking agent is 0.1 part by mass or more and 10 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the (meth) acrylic adhesive resin from the viewpoint of improving the balance between the heat resistance and the adhesive force of the adhesive resin layer. Is preferable.

本実施形態に係る粘着性フィルムにおいて、第1粘着性樹脂層が加熱により粘着力が低下する層であり、第2粘着性樹脂層が光照射により粘着力が低下する層である態様が好ましい。こうすることで、工程(C)において、第2粘着性樹脂層の粘着力の低下を抑制しながらも、加熱により第1粘着性樹脂層の粘着力を低下させ、第1粘着性フィルム20から電子部品10をより安定的に剥離することができる。 In the adhesive film according to the present embodiment, it is preferable that the first adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by heating, and the second adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by light irradiation. By doing so, in the step (C), while suppressing the decrease in the adhesive force of the second adhesive resin layer, the adhesive force of the first adhesive resin layer is decreased by heating, and the adhesive force of the first adhesive resin layer is reduced from the first adhesive film 20. The electronic component 10 can be peeled off more stably.

また、本実施形態に係る粘着性フィルムにおいて、第1粘着性樹脂層および第2粘着性樹脂層は、それぞれ加熱により粘着力が低下する層であり、第1粘着性樹脂層は第2粘着性樹脂層よりも低温で粘着力が低下する態様であってもよい。こうすることで、工程(C)において第2粘着性樹脂層の粘着力の低下が起き難い加熱温度で第1粘着性樹脂層の粘着力を低下させることが可能となる。よって、工程(C)において、第2粘着性樹脂層の粘着力の低下を抑制することができ、第1粘着性フィルム20から電子部品10をより安定的に剥離することができる。 Further, in the adhesive film according to the present embodiment, the first adhesive resin layer and the second adhesive resin layer are layers whose adhesive strength is lowered by heating, respectively, and the first adhesive resin layer is the second adhesive. The adhesive strength may be lower than that of the resin layer at a lower temperature. By doing so, it is possible to reduce the adhesive strength of the first adhesive resin layer at a heating temperature at which the adhesive strength of the second adhesive resin layer is unlikely to decrease in the step (C). Therefore, in the step (C), the decrease in the adhesive force of the second adhesive resin layer can be suppressed, and the electronic component 10 can be more stably peeled from the first adhesive film 20.

また、本実施形態に係る粘着性フィルムにおいて、第1粘着性樹脂層と第2粘着性樹脂層がともに光照射により粘着力が低下する層であり、粘着力低下がおきる波長がそれぞれ異なる態様であってもよい。こうすることで、工程(C)において、第1光の照射により第1粘着性樹脂層は低下するが、第2粘着性樹脂層の粘着力低下は抑制され、第1粘着性フィルム20から電子部品10をより安定的に剥離することができる。続く工程で第2光の照射により、第2粘着性樹脂層の粘着力を低下させることができる。
また、第1粘着性樹脂層と第2粘着性樹脂層がともに光照射により粘着力が低下する層であり、光をあてる方向を変える態様であってもよい。すなわち、工程(C)は第1粘着性樹脂層側から光をあて、工程(D)は第2粘着性樹脂層側から光をあてることにより、照射する波長が同じであっても、工程(C)において第2粘着性樹脂層の粘着力の低下を抑制することができる。
Further, in the adhesive film according to the present embodiment, both the first adhesive resin layer and the second adhesive resin layer are layers whose adhesive strength is reduced by light irradiation, and the wavelengths at which the adhesive strength reduction occurs are different. There may be. By doing so, in the step (C), the first adhesive resin layer is lowered by the irradiation of the first light, but the decrease in the adhesive strength of the second adhesive resin layer is suppressed, and the electrons are transmitted from the first adhesive film 20. The component 10 can be peeled off more stably. In the subsequent step, the adhesive strength of the second adhesive resin layer can be reduced by irradiating with the second light.
Further, both the first adhesive resin layer and the second adhesive resin layer are layers whose adhesive strength is reduced by light irradiation, and may be in a mode of changing the direction of exposure to light. That is, the step (C) shines light from the first adhesive resin layer side, and the step (D) shines light from the second sticky resin layer side, so that even if the irradiation wavelength is the same, the step (D) In C), it is possible to suppress a decrease in the adhesive strength of the second adhesive resin layer.

粘着性樹脂層の厚さは特に制限されないが、例えば、5μm以上300μm以下であることが好ましく、20μm以上150μm以下であることがより好ましい。 The thickness of the adhesive resin layer is not particularly limited, but is preferably 5 μm or more and 300 μm or less, and more preferably 20 μm or more and 150 μm or less.

粘着性樹脂層は、例えば、基材層上に粘着剤塗布液を塗布する方法や、セパレータ上に形成した粘着性樹脂層を基材層上に移着する方法等により形成することができる。
粘着剤塗布液を塗布する方法としては、従来公知の塗布方法、例えば、ロールコーター法、リバースロールコーター法、グラビアロール法、バーコート法、コンマコーター法、ダイコーター法等が採用できる。塗布された粘着剤の乾燥条件には特に制限はないが、一般的には、80〜200℃の温度範囲において、10秒〜10分間乾燥することが好ましい。さらに好ましくは、80〜170℃において、15秒〜5分間乾燥する。架橋剤と粘着剤との架橋反応を十分に促進させるために、粘着剤塗布液の乾燥が終了した後、40〜80℃において5〜300時間程度加熱してもよい。
また、基材層と粘着性樹脂層とは共押出成形によって形成してもよいし、フィルム状の基材層とフィルム状の粘着性樹脂層とをラミネート(積層)して形成してもよい。
The adhesive resin layer can be formed by, for example, a method of applying a pressure-sensitive adhesive coating liquid on the base material layer, a method of transferring the adhesive resin layer formed on the separator onto the base material layer, or the like.
As a method for applying the pressure-sensitive adhesive coating liquid, conventionally known coating methods, for example, a roll coater method, a reverse roll coater method, a gravure roll method, a bar coat method, a comma coater method, a die coater method and the like can be adopted. The drying conditions of the applied pressure-sensitive adhesive are not particularly limited, but in general, it is preferable to dry the applied adhesive in a temperature range of 80 to 200 ° C. for 10 seconds to 10 minutes. More preferably, it is dried at 80 to 170 ° C. for 15 seconds to 5 minutes. In order to sufficiently promote the cross-linking reaction between the cross-linking agent and the pressure-sensitive adhesive, the pressure-sensitive adhesive coating liquid may be heated at 40 to 80 ° C. for about 5 to 300 hours after the drying is completed.
Further, the base material layer and the adhesive resin layer may be formed by coextrusion molding, or the film-like base material layer and the film-like adhesive resin layer may be laminated. ..

<その他の層>
本実施形態に係る粘着性フィルムは、本実施形態の効果を損なわない範囲で、基材層と粘着性樹脂層との間に、例えば凹凸吸収層、衝撃吸収層、易接着層等がさらに設けられていてもよい。
また、本実施形態に係る粘着性フィルムは、粘着性樹脂層上に離型フィルムをさらに積層させてもよい。離型フィルムとしては、例えば、離型処理が施されたポリエステルフィルム等が挙げられる。
<Other layers>
The adhesive film according to the present embodiment is further provided with, for example, an uneven absorption layer, a shock absorbing layer, an easy adhesive layer, etc. between the base material layer and the adhesive resin layer as long as the effects of the present embodiment are not impaired. It may have been.
Further, in the adhesive film according to the present embodiment, a release film may be further laminated on the adhesive resin layer. Examples of the release film include a polyester film that has undergone a release treatment.

以上、本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。 Although the embodiments of the present invention have been described above, these are examples of the present invention, and various configurations other than the above can be adopted.

なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and modifications, improvements, and the like within the range in which the object of the present invention can be achieved are included in the present invention.

10 電子部品
10A 第1面
10B 第2面
15 開口部
20 第1粘着性フィルム
30 第2粘着性フィルム
50 構造体
10 Electronic components 10A 1st surface 10B 2nd surface 15 Opening 20 1st adhesive film 30 2nd adhesive film 50 Structure

Claims (6)

第1面に開口部を有する電子部品と、前記開口部を覆うように前記電子部品の前記第1面に貼り付けられ、かつ、外部刺激により粘着力が低下する第1粘着性樹脂層を有する第1粘着性フィルムと、前記電子部品の第2面に貼りつけられ、かつ、外部刺激により粘着力が低下する第2粘着性樹脂層を有する第2粘着性フィルムと、を備える構造体を準備する工程(A)と、
前記第1粘着性フィルムおよび前記第2粘着性フィルムに貼り付けられた状態で、前記電子部品を前記第1粘着性フィルムとともにダイシングする工程(B)と、
外部刺激を与えることにより前記第1粘着性樹脂層の粘着力を低下させ、次いで、個片化した前記電子部品から前記第1粘着性フィルムを剥離する工程(C)と、
含む電子装置の製造方法。
It has an electronic component having an opening on the first surface and a first adhesive resin layer that is attached to the first surface of the electronic component so as to cover the opening and whose adhesive strength is reduced by an external stimulus. A structure including a first adhesive film and a second adhesive film having a second adhesive resin layer that is attached to the second surface of the electronic component and whose adhesive strength is reduced by an external stimulus is prepared. Step (A) and
A step (B) of dicing the electronic component together with the first adhesive film while being attached to the first adhesive film and the second adhesive film.
A step (C) of reducing the adhesive strength of the first adhesive resin layer by applying an external stimulus and then peeling the first adhesive film from the individualized electronic component.
Manufacturing method of electronic devices including.
請求項1に記載の電子装置の製造方法において、
前記工程(C)では、前記第2粘着性フィルムは前記電子部品の前記第2面に貼りついた状態を維持している電子装置の製造方法。
In the method for manufacturing an electronic device according to claim 1,
In the step (C), a method for manufacturing an electronic device in which the second adhesive film is maintained in a state of being attached to the second surface of the electronic component.
請求項1または2に記載の電子装置の製造方法において、
外部刺激を与えることにより前記第2粘着性樹脂層の粘着力を低下させ、次いで、前記第2粘着性フィルムから、個片化した前記電子部品をピックアップする工程(D)をさらに含む電子装置の製造方法。
In the method for manufacturing an electronic device according to claim 1 or 2.
An electronic device further comprising a step (D) of reducing the adhesive strength of the second adhesive resin layer by applying an external stimulus and then picking up the individualized electronic component from the second adhesive film. Production method.
請求項1乃至3のいずれか一項に記載の電子装置の製造方法において、
前記第1粘着性樹脂層が加熱により粘着力が低下する層であり、
前記第2粘着性樹脂層が光照射により粘着力が低下する層である電子装置の製造方法。
In the method for manufacturing an electronic device according to any one of claims 1 to 3.
The first adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by heating.
A method for manufacturing an electronic device, wherein the second adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by light irradiation.
請求項1乃至4のいずれか一項に記載の電子装置の製造方法において、
前記第1粘着性樹脂層および前記第2粘着性樹脂層は、それぞれ加熱により粘着力が低下する層であり、
前記第1粘着性樹脂層は前記第2粘着性樹脂層よりも低温で粘着力が低下する電子装置の製造方法。
In the method for manufacturing an electronic device according to any one of claims 1 to 4.
The first adhesive resin layer and the second adhesive resin layer are layers whose adhesive strength is reduced by heating, respectively.
A method for manufacturing an electronic device in which the first adhesive resin layer has a lower adhesive strength at a lower temperature than the second adhesive resin layer.
請求項1乃至5のいずれか一項に記載の電子装置の製造方法において、
前記第1粘着性樹脂層は、第1光の照射により粘着力が低下する層であり、
前記第2粘着性樹脂層は、第2光の照射により粘着力が低下する層であり、
前記第1光と前記第2光は波長が異なるか、または光を照射する面が異なる電子装置の製造方法。
In the method for manufacturing an electronic device according to any one of claims 1 to 5.
The first adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by irradiation with the first light.
The second adhesive resin layer is a layer whose adhesive strength is reduced by irradiation with second light.
A method for manufacturing an electronic device in which the first light and the second light have different wavelengths or different surfaces on which light is irradiated.
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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000223446A (en) * 1998-11-27 2000-08-11 Denso Corp Semiconductor device and manufacture thereof
JP2005175148A (en) * 2003-12-10 2005-06-30 Tokyo Seimitsu Co Ltd Dicing method
JP2006173153A (en) * 2004-12-13 2006-06-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacturing method of semiconductor device
JP2006228810A (en) * 2005-02-15 2006-08-31 Disco Abrasive Syst Ltd Method of partitioning wafer
JP2008193034A (en) * 2007-02-08 2008-08-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for manufacturing semiconductor chip
JP4151164B2 (en) * 1999-03-19 2008-09-17 株式会社デンソー Manufacturing method of semiconductor device
US20150311118A1 (en) * 2014-04-29 2015-10-29 Wei-Sheng Lei Dicing tape protection for wafer dicing using laser scribe process

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000223446A (en) * 1998-11-27 2000-08-11 Denso Corp Semiconductor device and manufacture thereof
JP4151164B2 (en) * 1999-03-19 2008-09-17 株式会社デンソー Manufacturing method of semiconductor device
JP2005175148A (en) * 2003-12-10 2005-06-30 Tokyo Seimitsu Co Ltd Dicing method
JP2006173153A (en) * 2004-12-13 2006-06-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacturing method of semiconductor device
JP2006228810A (en) * 2005-02-15 2006-08-31 Disco Abrasive Syst Ltd Method of partitioning wafer
JP2008193034A (en) * 2007-02-08 2008-08-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for manufacturing semiconductor chip
US20150311118A1 (en) * 2014-04-29 2015-10-29 Wei-Sheng Lei Dicing tape protection for wafer dicing using laser scribe process

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