JP2020160240A - Method and device for manufacturing optical film - Google Patents

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JP2020160240A JP2019058938A JP2019058938A JP2020160240A JP 2020160240 A JP2020160240 A JP 2020160240A JP 2019058938 A JP2019058938 A JP 2019058938A JP 2019058938 A JP2019058938 A JP 2019058938A JP 2020160240 A JP2020160240 A JP 2020160240A
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optical film
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勇治 福田
Yuji Fukuda
勇治 福田
靖真 吉冨
Yasumasa Yoshitomi
靖真 吉冨
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Nippon Zeon Co Ltd
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Abstract

To provide a method of manufacturing an optical film, which allows for suppressing thickness irregularity of a coating layer formed on a base material and preventing generation of spots and stripes on the optical film.SOLUTION: A method of manufacturing an optical film is provided, comprising steps of: coating a surface of a base material with a coating liquid using a die coater while conveying the base material along a peripheral surface of a backup roller; and forming a gas layer with a thickness in a range of 1 to 20 μm, inclusive, between the peripheral surface of the backup roller and the base material at a position where the base material is coated with the coating liquid.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、光学フィルムの製造方法及び光学フィルムの製造装置に関する。 The present invention relates to an optical film manufacturing method and an optical film manufacturing apparatus.

長尺の基材の表面に、連続的に塗布液を塗布して塗布層を形成する方法としては、長尺の基材をバックアップロールに巻き掛けて連続的に搬送しながら、ダイコータが有するスリットから塗布液を吐出させて、スリットの先端にビード(液溜まり)を形成させ、ビードを基材の表面に接触させて塗布液を塗布する方法が知られている(特許文献1〜5)。 As a method of continuously applying a coating liquid to the surface of a long base material to form a coating layer, a slit of the die coater is provided while the long base material is wound around a backup roll and continuously conveyed. A method is known in which a coating liquid is discharged from a bead (liquid pool) at the tip of a slit, and the bead is brought into contact with the surface of a base material to apply the coating liquid (Patent Documents 1 to 5).

特開2003−010765号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2003-010765 特開2009−241019号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-241019 特開2013−169498号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2013-169948 特開2007−75797号公報JP-A-2007-75797 特開2005−144414号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2005-144414

近年、モバイル電子機器の更なる薄型化が求められており、これに搭載される画像表示装置も更なる薄型化が進められている。画像表示装置に組み込まれる、偏光板、位相差板などの光学フィルムを薄型化するため、基材上に塗布層を形成して光学フィルムを製造する場合、塗布層の厚みは薄いことが好ましい。 In recent years, further thinning of mobile electronic devices has been required, and image display devices mounted on the mobile electronic devices have also been further thinned. In order to reduce the thickness of optical films such as polarizing plates and retardation plates incorporated in image display devices, when an optical film is produced by forming a coating layer on a base material, the thickness of the coating layer is preferably thin.

しかし、塗布層を薄くするのに伴い、塗布層の厚みにムラが生じて、光学フィルムの面状が不良になる場合がある。例えば、光学フィルムに、斑点(スポットムラ)が生じたり、光学フィルムの幅方向に、周期的に厚みの大きいスジ(横段)が生じたりする場合がある。
これらの面状不良が光学フィルムに存在すると、光学フィルムを画像表示装置に組み込んだ場合に表示不良などを引き起こす場合があるため、通常不良部分は光学フィルムから除去される。面状不良の発生が多いほど、光学フィルムの歩留まりは低くなり、製造コストが上昇するため、塗布層における厚みムラの発生は、少ない方が好ましい。
However, as the coating layer becomes thinner, the thickness of the coating layer becomes uneven, and the surface condition of the optical film may become poor. For example, spots (spot unevenness) may occur on the optical film, or thick streaks (horizontal steps) may periodically occur in the width direction of the optical film.
If these surface defects are present in the optical film, they may cause display defects when the optical film is incorporated into the image display device. Therefore, the defective portions are usually removed from the optical film. The higher the occurrence of surface defects, the lower the yield of the optical film and the higher the manufacturing cost. Therefore, it is preferable that the occurrence of thickness unevenness in the coating layer is small.

したがって、基材に形成される塗布層の厚みムラを抑制して、光学フィルムの斑点及びスジの発生を抑制できる、光学フィルムの製造方法;及び、基材に形成される塗布層の厚みムラを抑制して、光学フィルムの斑点及びスジの発生を抑制できる、光学フィルムの製造装置;が求められている。 Therefore, a method for producing an optical film capable of suppressing uneven thickness of the coating layer formed on the base material and suppressing the occurrence of spots and streaks on the optical film; and uneven thickness of the coating layer formed on the base material. There is a demand for an optical film manufacturing apparatus that can suppress the occurrence of spots and streaks on the optical film.

本発明者らは、光学フィルムの斑点及びスジといった面状不良は、基材がバックアップロールに密着するほど、顕著に出現することを見出した。本発明者らは、この知見に基づき、前記課題を解決するべく鋭意検討した。その結果、塗布液が塗布される基材の位置において、バックアップロールの周面と前記基材との間に厚み1μm以上20μm以下の気体層を形成させることにより、前記課題が解決できることを見出し、本発明を完成させた。
すなわち、本発明は、以下を提供する。
The present inventors have found that surface defects such as spots and streaks on an optical film become more prominent as the substrate adheres to the backup roll. Based on this finding, the present inventors have diligently studied to solve the above-mentioned problems. As a result, they have found that the problem can be solved by forming a gas layer having a thickness of 1 μm or more and 20 μm or less between the peripheral surface of the backup roll and the base material at the position of the base material to which the coating liquid is applied. The present invention has been completed.
That is, the present invention provides the following.

[1] 基材をバックアップロールの周面に沿って搬送しながら、前記基材の表面に塗布液をダイコータにより塗布する工程を含む、光学フィルムの製造方法であって、
前記塗布液が塗布される前記基材の位置において、前記バックアップロールの周面と前記基材との間に厚み1μm以上20μm以下の気体層を形成させる、光学フィルムの製造方法。
[2] 前記バックアップロールの周面と前記基材との間に気体を供給することにより前記気体層を形成させる、[1]に記載の光学フィルムの製造方法。
[3] 前記基材が沿い始める前記バックアップロールの周面と前記基材との間に前記気体を吹き付けることにより前記気体を供給する、[2]に記載の光学フィルムの製造方法。
[4] 前記バックアップロールの周面から前記気体を噴出させることにより前記気体を供給する、[2]に記載の光学フィルムの製造方法。
[5] 前記基材が離れ始める前記バックアップロールの周面と前記基材との間から前記基材の搬送方向下流へ向かう、気体の流れを制限する、[1]〜[4]のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造方法。
[6] 前記基材が離れ始める前記バックアップロールの周面と前記基材との間に、第1補助ロール及び第2補助ロールからなるロール対を設け、前記ロール対により前記バックアップロールの周面と前記基材との間を塞ぎ、
前記第1補助ロールは、前記バックアップロールの回転軸と平行な回転軸を有し、前記バックアップロールの周面に接し、
前記第2補助ロールは、前記バックアップロールの回転軸と平行であり、前記第1補助ロールの回転軸よりも、前記バックアップロールの回転軸から離れた位置にある回転軸を有し、前記第1補助ロールの周面及び前記基材に接し、
前記第1補助ロールの周面における硬度が、前記第2補助ロールの周面における硬度よりも低い、[5]に記載の光学フィルムの製造方法。
[7] 前記バックアップロールの周面に、少なくとも一つの凸部を設ける、[1]〜[6]のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造方法。
[8] 前記少なくとも一つの凸部が、1μm以上20μm以下の高さを有する、[7]に記載の光学フィルムの製造方法。
[9] 前記バックアップロールが、自由に回転可能である、[1]〜[8]のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造方法。
[10] 前記基材は、鉄との静摩擦係数が、0.7以上である、[1]〜[9]のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造方法。
[11] 周面に沿って基材を搬送するバックアップロールと、
前記基材の表面に塗布液を塗布するダイコータと、
前記バックアップロールの周面と前記基材との間に気体を供給する気体供給装置と、
前記塗布液が塗布される前記基材の位置における、前記バックアップロールの周面と前記基材との間の気体層の厚みが1μm以上20μm以下となるように、前記気体供給装置から供給される前記気体の量を調整する調整装置と、
を含む、光学フィルムの製造装置。
[12] 第1補助ロール及び第2補助ロールからなるロール対を更に含み、
前記第1補助ロールは、前記バックアップロールの回転軸と平行な回転軸を有し、前記バックアップロールの周面に接し、
前記第2補助ロールは、前記バックアップロールの回転軸と平行であり、前記第1補助ロールの回転軸よりも、前記バックアップロールの回転軸から離れた位置にある回転軸を有し、前記第1補助ロールの周面及び搬送される前記基材に接するように設けられ、
前記第1補助ロールの周面における硬度が、前記第2補助ロールの周面における硬度よりも低い、[11]に記載の光学フィルムの製造装置。
[13] 前記バックアップロールの周面に、少なくとも一つの凸部が設けられている、[11]又は[12]に記載の光学フィルムの製造装置。
[14] 前記バックアップロールが、自由に回転可能である、[11]〜[13]のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造装置。
[1] A method for producing an optical film, which comprises a step of applying a coating liquid to the surface of the base material with a die coater while transporting the base material along the peripheral surface of the backup roll.
A method for producing an optical film, wherein a gas layer having a thickness of 1 μm or more and 20 μm or less is formed between a peripheral surface of the backup roll and the base material at a position of the base material to which the coating liquid is applied.
[2] The method for producing an optical film according to [1], wherein the gas layer is formed by supplying a gas between the peripheral surface of the backup roll and the base material.
[3] The method for producing an optical film according to [2], wherein the gas is supplied by blowing the gas between the peripheral surface of the backup roll on which the base material starts to run and the base material.
[4] The method for producing an optical film according to [2], wherein the gas is supplied by ejecting the gas from the peripheral surface of the backup roll.
[5] Any of [1] to [4], which restricts the flow of gas from between the peripheral surface of the backup roll where the base material starts to separate and the base material toward the downstream in the transport direction of the base material. The method for producing an optical film according to item 1.
[6] A roll pair composed of a first auxiliary roll and a second auxiliary roll is provided between the peripheral surface of the backup roll at which the base material starts to separate and the base material, and the peripheral surface of the backup roll is provided by the roll pair. And the base material,
The first auxiliary roll has a rotation axis parallel to the rotation axis of the backup roll, and is in contact with the peripheral surface of the backup roll.
The second auxiliary roll has a rotation axis that is parallel to the rotation axis of the backup roll and is located at a position farther from the rotation axis of the backup roll than the rotation axis of the first auxiliary roll. In contact with the peripheral surface of the auxiliary roll and the base material,
The method for producing an optical film according to [5], wherein the hardness of the peripheral surface of the first auxiliary roll is lower than the hardness of the peripheral surface of the second auxiliary roll.
[7] The method for producing an optical film according to any one of [1] to [6], wherein at least one convex portion is provided on the peripheral surface of the backup roll.
[8] The method for producing an optical film according to [7], wherein the at least one convex portion has a height of 1 μm or more and 20 μm or less.
[9] The method for producing an optical film according to any one of [1] to [8], wherein the backup roll is freely rotatable.
[10] The method for producing an optical film according to any one of [1] to [9], wherein the base material has a coefficient of static friction with iron of 0.7 or more.
[11] A backup roll that conveys the base material along the peripheral surface, and
A die coater that applies a coating solution to the surface of the base material,
A gas supply device that supplies gas between the peripheral surface of the backup roll and the base material,
It is supplied from the gas supply device so that the thickness of the gas layer between the peripheral surface of the backup roll and the base material at the position of the base material to which the coating liquid is applied is 1 μm or more and 20 μm or less. An adjusting device that adjusts the amount of gas,
Optical film manufacturing equipment, including.
[12] Further including a roll pair consisting of a first auxiliary roll and a second auxiliary roll,
The first auxiliary roll has a rotation axis parallel to the rotation axis of the backup roll, and is in contact with the peripheral surface of the backup roll.
The second auxiliary roll has a rotation axis that is parallel to the rotation axis of the backup roll and is located at a position farther from the rotation axis of the backup roll than the rotation axis of the first auxiliary roll. It is provided so as to be in contact with the peripheral surface of the auxiliary roll and the base material to be conveyed.
The optical film manufacturing apparatus according to [11], wherein the hardness of the peripheral surface of the first auxiliary roll is lower than the hardness of the peripheral surface of the second auxiliary roll.
[13] The optical film manufacturing apparatus according to [11] or [12], wherein at least one convex portion is provided on the peripheral surface of the backup roll.
[14] The optical film manufacturing apparatus according to any one of [11] to [13], wherein the backup roll is freely rotatable.

本発明によれば、基材に形成される塗布層の厚みムラを抑制して、光学フィルムの斑点及びスジの発生を抑制できる、光学フィルムの製造方法;及び、基材に形成される塗布層の厚みムラを抑制して、光学フィルムの斑点及びスジの発生を抑制できる、光学フィルムの製造装置;を提供できる。 According to the present invention, a method for producing an optical film capable of suppressing uneven thickness of a coating layer formed on a base material and suppressing the occurrence of spots and streaks on the optical film; and a coating layer formed on the base material. It is possible to provide an optical film manufacturing apparatus capable of suppressing the occurrence of spots and streaks of the optical film by suppressing the thickness unevenness of the optical film.

図1は、第1実施形態に係る光学フィルムの製造方法を実施しうる、光学フィルムの製造装置の一例を示す概略図である。FIG. 1 is a schematic view showing an example of an optical film manufacturing apparatus capable of carrying out the optical film manufacturing method according to the first embodiment. 図2は、第2実施形態の光学フィルムの製造方法を実施しうる、光学フィルムの製造装置の一例を示す概略図である。FIG. 2 is a schematic view showing an example of an optical film manufacturing apparatus capable of carrying out the optical film manufacturing method of the second embodiment. 図3は、第3実施形態に係る光学フィルムの製造方法を実施しうる、光学フィルムの製造装置の一例を示す概略図である。FIG. 3 is a schematic view showing an example of an optical film manufacturing apparatus capable of carrying out the optical film manufacturing method according to the third embodiment.

以下、本発明について実施形態及び例示物を示して詳細に説明する。ただし、本発明は以下に示す実施形態及び例示物に限定されるものではなく、本発明の特許請求の範囲及びその均等の範囲を逸脱しない範囲において任意に変更して実施しうる。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to embodiments and examples. However, the present invention is not limited to the embodiments and examples shown below, and can be arbitrarily modified and implemented without departing from the scope of claims of the present invention and the equivalent scope thereof.

以下の説明において、同一の要素には同一の符号を付して、その説明を省略することがある。 In the following description, the same elements may be designated by the same reference numerals and the description thereof may be omitted.

以下の説明において、「長尺」のフィルムとは、幅に対して、5倍以上の長さを有するフィルムをいい、好ましくは10倍若しくはそれ以上の長さを有し、具体的にはロール状に巻き取られて保管又は運搬される程度の長さを有するフィルムをいう。フィルムの長さの上限は、特に制限は無く、例えば、幅に対して10万倍以下としうる。 In the following description, the "long" film means a film having a length of 5 times or more with respect to the width, preferably having a length of 10 times or more, and specifically a roll. A film that has a length that allows it to be rolled up and stored or transported. The upper limit of the length of the film is not particularly limited, and may be, for example, 100,000 times or less the width.

以下の説明において、要素の方向が「平行」及び「垂直」とは、別に断らない限り、本発明の効果を損ねない範囲内、例えば±3°、±2°又は±1°の範囲内での誤差を含んでいてもよい。 In the following description, the directions of the elements are "parallel" and "vertical", unless otherwise specified, within a range that does not impair the effect of the present invention, for example, within a range of ± 3 °, ± 2 °, or ± 1 °. May include the error of.

長尺のフィルムにおいて、幅方向とは、通常長尺のフィルムの製造時における搬送方向と垂直な方向を意味する。 In a long film, the width direction usually means a direction perpendicular to the transport direction at the time of manufacturing the long film.

[1.光学フィルムの製造方法]
本発明の一実施形態に係る光学フィルムの製造方法について、以下図面を参照しながら説明する。本実施形態に係る光学フィルムの製造方法は、基材をバックアップロールの周面に沿って搬送しながら、前記基材の表面に塗布液をダイコータにより塗布する工程を含む。
本実施形態に係る光学フィルムの製造方法は、従来のいわゆるエクストルージョン型塗布方法を用いた光学フィルムの製造方法に好ましく適用されうる。
[1. Optical film manufacturing method]
A method for producing an optical film according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The method for producing an optical film according to the present embodiment includes a step of applying a coating liquid to the surface of the base material with a die coater while transporting the base material along the peripheral surface of the backup roll.
The method for producing an optical film according to the present embodiment can be preferably applied to a method for producing an optical film using a conventional so-called extrusion type coating method.

[1.1.基材]
基材は、通常長尺であって可撓性を有するフィルムである。基材の材料の例としては、は特に限定されず、樹脂、金属が挙げられ、好ましくは、樹脂である。樹脂は通常重合体を含む。樹脂に含まれる重合体の例としては、ポリオレフィン(例、ポリエチレン、ポリプロピレン)、脂環式構造含有重合体、ポリエステル(例、ポリエチレンテレフタレート(PET))、セルロース系重合体(例、トリアセチルセルロース)、及びアクリル重合体(例、ポリメチルメタクリレート)が挙げられる。
[1.1. Base material]
The substrate is usually a long, flexible film. Examples of the material of the base material are not particularly limited, and examples thereof include resin and metal, and resin is preferable. The resin usually contains a polymer. Examples of polymers contained in the resin include polyolefins (eg, polyethylene, polypropylene), alicyclic structure-containing polymers, polyesters (eg, polyethylene terephthalate (PET)), cellulose-based polymers (eg, triacetyl cellulose). , And acrylic polymers (eg, polymethylmethacrylate).

脂環式構造含有重合体は、繰り返し単位中に脂環式構造を含有する重合体である。脂環式構造含有重合体の例としては、環状オレフィンを単量体として用いた重合反応によって得られうる重合体又はその水素化物が挙げられる。更に具体的な例としては、ノルボルネン構造を有する単量体の開環重合体及びその水素化物が挙げられる。 The alicyclic structure-containing polymer is a polymer containing an alicyclic structure in a repeating unit. Examples of the alicyclic structure-containing polymer include a polymer obtained by a polymerization reaction using a cyclic olefin as a monomer or a hydride thereof. More specific examples include a ring-opening polymer of a monomer having a norbornene structure and a hydride thereof.

基材は、鉄板との静摩擦係数が0.7以上であることが好ましい。本発明者らは、鉄板との静摩擦係数が大きい基材は、従来のエクストルージョン型塗布方法を用いると光学フィルムの面状が不良となりやすいことを見出した。本実施形態の製造方法では、鉄板との静摩擦係数が大きく、0.7以上である基材を用いた場合にも、塗布層の厚みムラを抑制して、光学フィルムの斑点及びスジの発生を抑制できる。 The base material preferably has a coefficient of static friction with the iron plate of 0.7 or more. The present inventors have found that a substrate having a large coefficient of static friction with an iron plate tends to have a poor surface shape of an optical film when a conventional extrusion type coating method is used. In the manufacturing method of the present embodiment, even when a base material having a large coefficient of static friction with the iron plate and 0.7 or more is used, uneven thickness of the coating layer is suppressed and spots and streaks of the optical film are generated. Can be suppressed.

基材は、鉄板との静摩擦係数が、より好ましくは0.8以上であり、更に好ましくは1.0以上であり、好ましくは1.5以下であり、より好ましくは1.4以下であり、更に好ましくは1.3以下である。 The base material has a coefficient of static friction with the iron plate of more preferably 0.8 or more, further preferably 1.0 or more, preferably 1.5 or less, and more preferably 1.4 or less. More preferably, it is 1.3 or less.

基材と鉄板との静摩擦係数は、鉄板としては、表面にハードクロムメッキを施した(メッキ厚100μm)、最大表面粗さRy=0.6μm(JIS B 0601−1994)であるものを用い、摩擦測定器(例、東洋精機製作所社製「FRICTION TESTER TR−2」)を用いて、速度20mm/min、測定距離30mm、荷重レンジ10N、スレッド質量200gの条件で測定されうる。
最大表面粗さRyは、JIS B 0601−1994に従って測定しうる。測定装置としては、表面粗さ測定機(例、小型表面粗さ測定機「サーフテストSJ−310」(株式会社ミツトヨ製)を用い、評価長さ4.0mm(カットオフ値λc 0.8mm×5)とし、ダイヤモンド探針で表面をなぞることにより測定しうる。
As the coefficient of static friction between the base material and the iron plate, a steel plate having a hard chrome plating on the surface (plating thickness 100 μm) and a maximum surface roughness Ry = 0.6 μm (JIS B 0601-1994) was used. It can be measured using a friction measuring instrument (eg, "FRICTION TESTER TR-2" manufactured by Toyo Seiki Seisakusho Co., Ltd.) under the conditions of a speed of 20 mm / min, a measuring distance of 30 mm, a load range of 10 N, and a thread mass of 200 g.
The maximum surface roughness Ry can be measured according to JIS B 0601-1994. As a measuring device, a surface roughness measuring machine (eg, small surface roughness measuring machine "Surftest SJ-310" (manufactured by Mitutoyo Co., Ltd.) is used, and the evaluation length is 4.0 mm (cutoff value λc 0.8 mm ×). 5), and it can be measured by tracing the surface with a diamond probe.

基材の厚みは特に限定されず、任意の厚みを有する基材を用いうる。基材の厚みは、例えば、10μm以上100μm以下としうる。
基材の幅も特に限定されず、任意の幅を有する基材を用いうる。基材の幅は、例えば100mm以上3000mm以下としうる。
The thickness of the base material is not particularly limited, and a base material having an arbitrary thickness can be used. The thickness of the base material can be, for example, 10 μm or more and 100 μm or less.
The width of the base material is not particularly limited, and a base material having an arbitrary width can be used. The width of the base material can be, for example, 100 mm or more and 3000 mm or less.

[1.2.塗布液]
基材の表面に塗布される塗布液は、任意の成分を含む。例えば、塗布液は、重合性を有する液晶性化合物、重合開始剤、カイラル剤、モノマー、酸化防止剤、界面活性剤などの機能性材料を含みうる。また塗布液は、有機溶媒、水などの溶媒を含みうる。塗布液は、分散媒中に、機能性材料が分散した分散液であってもよく、コロイド状液であってもよい。塗布液としては、E型粘度計コーンロータ、23℃、100rpmにより測定された粘度が、0.5〜70mPa・sの範囲にあるものが好ましい。
[1.2. Coating liquid]
The coating liquid applied to the surface of the base material contains any component. For example, the coating liquid may contain functional materials such as polymerizable liquid crystal compounds, polymerization initiators, chiral agents, monomers, antioxidants, and surfactants. Further, the coating liquid may contain a solvent such as an organic solvent and water. The coating liquid may be a dispersion liquid in which a functional material is dispersed in a dispersion medium, or may be a colloidal liquid. As the coating liquid, it is preferable that the viscosity measured by an E-type viscometer cone rotor at 23 ° C. and 100 rpm is in the range of 0.5 to 70 mPa · s.

[1.3.第1実施形態]
本発明の第1実施形態に係る製造方法を、図を用いて以下詳細に説明する。
図1は、第1実施形態に係る光学フィルムの製造方法を実施しうる、光学フィルムの製造装置の一例を示す概略図である。
光学フィルムの製造装置100は、バックアップロール110と、ダイコータ120と、気体供給装置130と、調整装置131と、ロール対140とを備える。
[1.3. First Embodiment]
The manufacturing method according to the first embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic view showing an example of an optical film manufacturing apparatus capable of carrying out the optical film manufacturing method according to the first embodiment.
The optical film manufacturing apparatus 100 includes a backup roll 110, a die coater 120, a gas supply apparatus 130, an adjusting apparatus 131, and a roll pair 140.

バックアップロール110は、略円筒形の部材であり、回転軸110Rを中心として、方向D1(基材150を搬送する方向)に回転するように、図示されない駆動装置により駆動される。
本実施形態では、バックアップロール110は、回転軸110Rを中心として、方向D1に回転するように駆動されるが、別の実施形態では、バックアップロール110は駆動されず回転軸110Rを中心として自由に回転可能に製造装置100に取り付けられていてもよく、更に別の実施形態では、バックアップロール110は、方向D1とは逆の方向に、回転軸110Rを中心として回転するように、駆動されてもよい。
The backup roll 110 is a substantially cylindrical member, and is driven by a drive device (not shown) so as to rotate in the direction D1 (direction in which the base material 150 is conveyed) about the rotation shaft 110R.
In the present embodiment, the backup roll 110 is driven so as to rotate in the direction D1 about the rotation shaft 110R, but in another embodiment, the backup roll 110 is not driven and is freely driven around the rotation shaft 110R. It may be rotatably attached to the manufacturing apparatus 100, and in yet another embodiment, the backup roll 110 may be driven so as to rotate about the rotation shaft 110R in the direction opposite to the direction D1. Good.

ダイコータ120は、管路122により、塗布液160を押し出す押出装置121と連結されている。ダイコータ120は、バックアップロール110に対向するリップ123を備え、リップ123先端に形成されたスリット124から、塗布液160を吐出し、搬送される基材150の位置P150において、基材150の表面に連続的に塗布液160を塗布する。これにより、基材150の表面に、塗布液160からなる塗布層161が形成される。 The die coater 120 is connected to an extruder 121 that extrudes the coating liquid 160 by a pipe line 122. The die coater 120 includes a lip 123 facing the backup roll 110, discharges the coating liquid 160 from the slit 124 formed at the tip of the lip 123, and is conveyed to the surface of the base material 150 at the position P150 of the base material 150. The coating liquid 160 is continuously applied. As a result, the coating layer 161 made of the coating liquid 160 is formed on the surface of the base material 150.

ダイコータ120のサイズは特に限定されず、例えば、バックアップロール110に対応する大きさとしうる。ダイコータ120が有するマニホールド部の形状及びサイズも特に限定されず、任意の形状及びサイズとしうる。
リップ123を形成する材料は、特に限定されず、任意の材料(例、ステンレス鋼材)を用いうる。スリット124の大きさは、特に限定されず、例えば塗布液160の粘度、所望とする塗布層161の厚みなどにより適宜調節しうるが、例えば、0.05mm以上2mm以下の範囲としうる。
The size of the die coater 120 is not particularly limited, and may be, for example, a size corresponding to the backup roll 110. The shape and size of the manifold portion of the die coater 120 are not particularly limited, and may be any shape and size.
The material forming the lip 123 is not particularly limited, and any material (eg, stainless steel material) can be used. The size of the slit 124 is not particularly limited and can be appropriately adjusted depending on, for example, the viscosity of the coating liquid 160, the desired thickness of the coating layer 161 and the like, and can be, for example, in the range of 0.05 mm or more and 2 mm or less.

製造装置100は、ダイコータ120を移動させて、ダイコータ120のリップ123先端とバックアップロール110との距離を調整する、ダイコータ移動装置を含んでいてもよい。
また製造装置100は、塗布液160中の異物等を除去するための濾過装置を含んでいてもよい。
さらに、製造装置100は、ダイコータ120による塗布液160の塗布を、減圧下で行うための、減圧装置を含んでいてもよい。
The manufacturing apparatus 100 may include a die coater moving device that moves the die coater 120 to adjust the distance between the tip of the lip 123 of the die coater 120 and the backup roll 110.
Further, the manufacturing apparatus 100 may include a filtration apparatus for removing foreign matters and the like in the coating liquid 160.
Further, the manufacturing apparatus 100 may include a decompression device for applying the coating liquid 160 by the die coater 120 under reduced pressure.

気体供給装置130は、バックアップロール110の周面S1と搬送される基材150との間に気体を吹き付けるように、バックアップロール110の近傍に配置されている。
周面S1は、バックアップロール110において、搬送される基材150が沿い始める範囲の周面である。基材150がバックアップロール110に沿うとは、略平面形状で、好ましくは平面形状で搬送される基材150が、曲面形状となってバックアップロール110の周面上部を搬送されることを意味する。ここで、バックアップロール110について上方向とは、バックアップロール110の半径方向外側方向を意味する。
The gas supply device 130 is arranged in the vicinity of the backup roll 110 so as to blow gas between the peripheral surface S1 of the backup roll 110 and the base material 150 to be conveyed.
The peripheral surface S1 is the peripheral surface of the backup roll 110 in a range where the base material 150 to be conveyed starts to follow. The fact that the base material 150 is along the backup roll 110 means that the base material 150, which is conveyed in a substantially planar shape, preferably in a planar shape, has a curved surface shape and is conveyed on the upper peripheral surface of the backup roll 110. .. Here, the upward direction of the backup roll 110 means the radial outward direction of the backup roll 110.

気体供給装置130としては、例えば、ブロワー、エアーコンプレッサーなどを用いうる。
気体供給装置130には、周面S1と基材150との間に吹き付ける気体の量を調整するための、調整装置131が連結されている。調整装置131は、例えば、気体流量調節弁を備え、気体流量調節弁の開度を、手動で、又は自動で調整することにより、気体供給装置130から吹き付ける気体の量を調整する。
As the gas supply device 130, for example, a blower, an air compressor, or the like can be used.
An adjusting device 131 for adjusting the amount of gas to be blown between the peripheral surface S1 and the base material 150 is connected to the gas supply device 130. The adjusting device 131 includes, for example, a gas flow rate adjusting valve, and adjusts the amount of gas blown from the gas supply device 130 by manually or automatically adjusting the opening degree of the gas flow rate adjusting valve.

気体供給装置130が供給する気体の例としては、特に限定されず、空気及び不活性ガス(例、窒素ガス)が挙げられる。気体の湿度は特に限定されず、気体は、乾燥処理が行われていてもよい。また気体の温度は、特に限定されず、気体は、室温である気体、室温よりも高温である気体、又は室温よりも低温である気体であってもよい。 Examples of the gas supplied by the gas supply device 130 are not particularly limited, and examples thereof include air and an inert gas (eg, nitrogen gas). The humidity of the gas is not particularly limited, and the gas may be dried. The temperature of the gas is not particularly limited, and the gas may be a gas having a room temperature, a gas having a temperature higher than the room temperature, or a gas having a temperature lower than the room temperature.

ロール対140は、バックアップロール110の周面S2と基材150との間に設けられている。周面S2は、バックアップロール110において、基材150が離れ始める範囲の周面である。基材150が、バックアップロール110から離れ始めるとは、バックアップロール110の周面上部を曲面形状で搬送されてきた基材150が、略平面形状で、好ましくは平面形状で搬送され始めることを意味する。 The roll pair 140 is provided between the peripheral surface S2 of the backup roll 110 and the base material 150. The peripheral surface S2 is the peripheral surface of the backup roll 110 in a range where the base material 150 starts to separate. The fact that the base material 150 starts to separate from the backup roll 110 means that the base material 150 that has been conveyed in a curved shape on the upper peripheral surface of the backup roll 110 starts to be conveyed in a substantially planar shape, preferably in a planar shape. To do.

ロール対140は、第1補助ロール141と第2補助ロール142とから構成されている。第1補助ロール141の回転軸141Rは、バックアップロール110の回転軸110Rと平行である。第2補助ロール142の回転軸142Rは、バックアップロール110の回転軸110Rと平行である。したがって、第1補助ロール141の回転軸141Rと、第2補助ロール142の回転軸142Rとは、互いに平行である。 The roll pair 140 is composed of a first auxiliary roll 141 and a second auxiliary roll 142. The rotation shaft 141R of the first auxiliary roll 141 is parallel to the rotation shaft 110R of the backup roll 110. The rotation shaft 142R of the second auxiliary roll 142 is parallel to the rotation shaft 110R of the backup roll 110. Therefore, the rotating shaft 141R of the first auxiliary roll 141 and the rotating shaft 142R of the second auxiliary roll 142 are parallel to each other.

第1補助ロール141は、バックアップロール110の周面110Sの一部に接している。第2補助ロール142は、第1補助ロール141の周面141Sの一部に接している。第2補助ロール142の回転軸142Rは、第1補助ロール141の回転軸141Rよりも、バックアップロール110の回転軸110Rから離れた位置にある。そのため、第2補助ロール142は、バックアップロール110の周面110Sに沿って搬送される基材150の一方の面に接する。 The first auxiliary roll 141 is in contact with a part of the peripheral surface 110S of the backup roll 110. The second auxiliary roll 142 is in contact with a part of the peripheral surface 141S of the first auxiliary roll 141. The rotation shaft 142R of the second auxiliary roll 142 is located at a position farther from the rotation shaft 110R of the backup roll 110 than the rotation shaft 141R of the first auxiliary roll 141. Therefore, the second auxiliary roll 142 comes into contact with one surface of the base material 150 conveyed along the peripheral surface 110S of the backup roll 110.

ロール対140がこのような構成を備えることで、ロール対140により、バックアップロール110の周面S2と基材150との間が塞がれる。その結果、バックアップロール110の周面S2と基材150との間から、基材150の搬送方向下流へ向かう気体の流れを制限し、基材150を介してダイコータ120と向き合うバックアップロール110の周面S3と、基材150との間に、気体層170を形成させる。 When the roll pair 140 has such a configuration, the roll pair 140 closes the space between the peripheral surface S2 of the backup roll 110 and the base material 150. As a result, the circumference of the backup roll 110 that restricts the flow of gas from between the peripheral surface S2 of the backup roll 110 and the base material 150 toward the downstream in the transport direction of the base material 150 and faces the die coater 120 via the base material 150. A gas layer 170 is formed between the surface S3 and the base material 150.

第1補助ロール141の周面141Sにおける硬度は、第2補助ロール142の周面142Sにおける硬度よりも低い。硬度は、例えばJIS K 6253−3に従い、測定しうる。
例えば、第1補助ロール141の周面141Sが、ゴムで形成され、第2補助ロール142の周面142Sが、金属(例、アルミニウム材、ステンレス鋼材)で形成されていてもよい。
The hardness of the first auxiliary roll 141 on the peripheral surface 141S is lower than the hardness of the second auxiliary roll 142 on the peripheral surface 142S. Hardness can be measured according to, for example, JIS K 6253-3.
For example, the peripheral surface 141S of the first auxiliary roll 141 may be formed of rubber, and the peripheral surface 142S of the second auxiliary roll 142 may be formed of metal (eg, aluminum material, stainless steel material).

本発明の第1実施形態に係る製造方法では、塗布液160が塗布される基材150の位置P150において、基材150を介してダイコータ120と向き合うバックアップロール110の周面S3と基材150との間に気体層170を形成させる。気体層170の厚みは、通常1μm以上、好ましくは1.5μm以上、より好ましくは2μm以上であり、通常20μm以下、好ましくは15μm以下、より好ましくは13μm以下である。
気体層170の厚みを、前記下限値以上とすることにより、バックアップロール110の振れ及び速度ムラの影響を少なくできる。また、基材150とバックアップロール110との摩擦を低減することができる。さらに、バックアップロール110に付着した異物の影響を少なくできる。これらの結果、光学フィルムの斑点及びスジの発生を抑制できる。
また、気体層170の厚みを、前記上限値以下とすることによって、基材150がバックアップロール110上でばたつくことを抑制できる。その結果、搬送中の基材150がダイコータ120のリップ123などに接触して、基材150に傷が生じたり、基材150が破断したりして基材150が損傷することを抑制できる。
In the manufacturing method according to the first embodiment of the present invention, the peripheral surface S3 of the backup roll 110 and the base material 150 facing the die coater 120 via the base material 150 at the position P150 of the base material 150 to which the coating liquid 160 is applied. A gas layer 170 is formed between the two. The thickness of the gas layer 170 is usually 1 μm or more, preferably 1.5 μm or more, more preferably 2 μm or more, and usually 20 μm or less, preferably 15 μm or less, more preferably 13 μm or less.
By setting the thickness of the gas layer 170 to be equal to or greater than the lower limit, the influence of runout and speed unevenness of the backup roll 110 can be reduced. Further, the friction between the base material 150 and the backup roll 110 can be reduced. Further, the influence of foreign matter adhering to the backup roll 110 can be reduced. As a result, the occurrence of spots and streaks on the optical film can be suppressed.
Further, by setting the thickness of the gas layer 170 to be equal to or less than the upper limit value, it is possible to prevent the base material 150 from fluttering on the backup roll 110. As a result, it is possible to prevent the base material 150 during transportation from coming into contact with the lip 123 of the die coater 120, causing damage to the base material 150 or breaking the base material 150 to damage the base material 150.

塗布液160が塗布される基材150の位置P150における気体層170の厚みは、基材150を介してダイコータ120と向き合うバックアップロール110の周面S3と基材150との間の気体層170の厚みを測定することにより測定されうる。
具体的には、下記の方法で測定されうる。
ダイコータ120をバックアップロール110から後退させて、基材150を、ダイコータ120による塗布液160の塗布の際と同一条件で搬送する。分光干渉式膜厚計(例えば、浜松ホトニクス社製「Optical NanoGauge C13027−11」)を用いて、周面S3と基材150との間の気体層170の厚みを、複数地点で測定し、その平均値を、塗布液160が塗布される基材150の位置P150における気体層170の厚みとしうる。
The thickness of the gas layer 170 at the position P150 of the base material 150 to which the coating liquid 160 is applied is the thickness of the gas layer 170 between the peripheral surface S3 of the backup roll 110 facing the die coater 120 via the base material 150 and the base material 150. It can be measured by measuring the thickness.
Specifically, it can be measured by the following method.
The die coater 120 is retracted from the backup roll 110, and the base material 150 is conveyed under the same conditions as when the coating liquid 160 is applied by the die coater 120. Using a spectroscopic interference type film thickness meter (for example, "Optical NanoGauge C13027-11" manufactured by Hamamatsu Photonics Co., Ltd.), the thickness of the gas layer 170 between the peripheral surface S3 and the base material 150 was measured at a plurality of points, and the thickness thereof was measured. The average value can be the thickness of the gas layer 170 at the position P150 of the base material 150 to which the coating liquid 160 is applied.

更に具体的には、例えば、塗布液160の塗布の際にダイコータ120のリップ123が対向する、基材150の位置において、幅方向に並ぶ3地点で気体層170の厚みを測定し、さらに、この測定を、ダイコータ120のリップ123の先端が対向する基材150の位置から、搬送方向上流にある位置において6地点と、ダイコータ120のリップ123の先端が対向する基材150の位置から、搬送方向下流にある位置において6地点とについて行って、合計15地点で気体層170の厚みを測定し、これら15地点における気体層170の厚みの平均値を、塗布液160が塗布される基材150の位置P150における気体層170の厚みとしうる。 More specifically, for example, at the position of the base material 150 where the lip 123 of the die coater 120 faces when the coating liquid 160 is applied, the thickness of the gas layer 170 is measured at three points arranged in the width direction, and further. This measurement is carried out from the position of the base material 150 where the tip of the lip 123 of the die coater 120 faces, 6 points at the position upstream in the transport direction, and the position of the base material 150 where the tip of the lip 123 of the die coater 120 faces. The thickness of the gas layer 170 is measured at a total of 15 points at 6 points downstream in the direction, and the average value of the thickness of the gas layer 170 at these 15 points is the base material 150 to which the coating liquid 160 is applied. It can be the thickness of the gas layer 170 at position P150.

隣接する測定地点の、基材150の搬送方向における間隔は、使用されるダイコータ120の大きさなどにより適宜設定しうるが、例えば、30mm以上70mm以下、好ましくは40mm以上60mm以下としうる。
隣接する測定地点の、基材150の幅方向における間隔は、搬送される基材150の幅などにより適宜設定しうるが、例えば、100mm以上300mm以下としうる。好ましくは150mm以上250mm以下としうる。
The distance between the adjacent measurement points in the transport direction of the base material 150 can be appropriately set depending on the size of the die coater 120 used and the like, and may be, for example, 30 mm or more and 70 mm or less, preferably 40 mm or more and 60 mm or less.
The distance between the adjacent measurement points in the width direction of the base material 150 can be appropriately set depending on the width of the base material 150 to be transported and the like, and may be, for example, 100 mm or more and 300 mm or less. It can be preferably 150 mm or more and 250 mm or less.

気体層170の厚みは、2つのレーザー変位計を用いて測定してもよい。具体的には、下記方法により測定してもよい。2つのレーザー変位計の測定基準位置を一致させる。一方のレーザー変位計により、測定基準位置からバックアップロール110の周面S3までの距離Aを測定する。他方のレーザー変位計により、測定基準位置から基材150のダイコータ120と対向する面までの距離Bを測定する。更に基材150の厚みTを膜厚計などで測定する。距離Aから、距離B及び厚みTを減ずることにより、気体層170の厚みを求めうる。 The thickness of the gas layer 170 may be measured using two laser displacement meters. Specifically, it may be measured by the following method. Match the measurement reference positions of the two laser displacement meters. The distance A from the measurement reference position to the peripheral surface S3 of the backup roll 110 is measured by one of the laser displacement meters. The distance B from the measurement reference position to the surface of the base material 150 facing the die coater 120 is measured by the other laser displacement meter. Further, the thickness T of the base material 150 is measured with a film thickness meter or the like. The thickness of the gas layer 170 can be obtained by subtracting the distance B and the thickness T from the distance A.

また、気体層170の厚みは、微圧接触式変位計を用いて測定してもよい。具体的には、あらかじめ、バックアップロール110の周面S3における変位値を測定してこれを零値とし、基材150のダイコータ120と対向する面の変位値Aを測定し、変位値Aから基材150の厚みTを減ずることにより、求めてもよい。 Further, the thickness of the gas layer 170 may be measured using a micropressure contact type displacement meter. Specifically, the displacement value of the backup roll 110 on the peripheral surface S3 is measured in advance, and this is set as a zero value. The displacement value A of the surface of the base material 150 facing the die coater 120 is measured, and the displacement value A is used as the basis. It may be obtained by reducing the thickness T of the material 150.

本実施形態の製造方法では、気体層170を形成させるために、バックアップロール110の周面110Sと基材150との間に気体を供給する。
より具体的には、本実施形態の製造方法では、製造装置100が備える気体供給装置130が、基材150が沿い始めるバックアップロール110の周面S1と、基材150との間に、気体を吹き付けることにより気体を供給する。製造装置100は、調整装置131を備える。調整装置131は、気体供給装置130から供給される気体の量を調整できる。そのため、製造装置100は、塗布液160が塗布される基材150の位置P150における、バックアップロール110の周面S3と基材150との間の気体層170の厚みを、1μm以上20μm以下としうる。
In the manufacturing method of the present embodiment, gas is supplied between the peripheral surface 110S of the backup roll 110 and the base material 150 in order to form the gas layer 170.
More specifically, in the manufacturing method of the present embodiment, the gas supply device 130 included in the manufacturing device 100 creates a gas between the peripheral surface S1 of the backup roll 110 on which the base material 150 starts to run and the base material 150. Gas is supplied by spraying. The manufacturing apparatus 100 includes an adjusting apparatus 131. The adjusting device 131 can adjust the amount of gas supplied from the gas supply device 130. Therefore, the manufacturing apparatus 100 can set the thickness of the gas layer 170 between the peripheral surface S3 of the backup roll 110 and the base material 150 at the position P150 of the base material 150 to which the coating liquid 160 is applied to be 1 μm or more and 20 μm or less. ..

[1.4.第2実施形態]
第2実施形態に係る光学フィルムの製造方法では、バックアップロールの周面から気体を噴出させることにより、塗布液が塗布される基材の位置において、バックアップロールの周面と基材との間に、厚み1μm以上20μm以下の気体層を形成させる。
[1.4. Second Embodiment]
In the method for manufacturing an optical film according to the second embodiment, gas is ejected from the peripheral surface of the backup roll so that the coating liquid is applied between the peripheral surface of the backup roll and the base material at the position of the base material. , A gas layer having a thickness of 1 μm or more and 20 μm or less is formed.

図2は、第2実施形態の光学フィルムの製造方法を実施しうる、光学フィルムの製造装置の一例を示す概略図である。図2に示すように、光学フィルムの製造装置200は、バックアップロール210と、ダイコータ120とを備える。 FIG. 2 is a schematic view showing an example of an optical film manufacturing apparatus capable of carrying out the optical film manufacturing method of the second embodiment. As shown in FIG. 2, the optical film manufacturing apparatus 200 includes a backup roll 210 and a die coater 120.

バックアップロール210は、中空であり、内部に気体室211が設けられている。バックアップロール210の周面210Sには、バックアップロール210の内部に設けられた気体室211と通じる通気孔210hが複数設けられている。バックアップロール210の気体室211にポンプなどの気体圧縮機(図示せず)から気体を圧送することにより、通気孔210hから気体を噴出させうる。バックアップロール210の周面210Sを、多孔質材料で形成することにより、通気孔210hを設けてもよい。
通気孔210hから噴出された気体は、基材150をバックアップロール210の周面210Sから浮上させ、その結果、塗布液160が塗布される基材150の位置P150における、バックアップロール210の周面S3と基材150との間に気体層170を形成しうる。気体圧縮機から圧送される気体量を調整することにより、気体層170の厚みを1μm以上20μm以下としうる。
The backup roll 210 is hollow and has a gas chamber 211 inside. The peripheral surface 210S of the backup roll 210 is provided with a plurality of ventilation holes 210h that communicate with the gas chamber 211 provided inside the backup roll 210. By pumping gas into the gas chamber 211 of the backup roll 210 from a gas compressor (not shown) such as a pump, the gas can be ejected from the ventilation holes 210h. Vents 210h may be provided by forming the peripheral surface 210S of the backup roll 210 with a porous material.
The gas ejected from the ventilation holes 210h causes the base material 150 to float from the peripheral surface 210S of the backup roll 210, and as a result, the peripheral surface S3 of the backup roll 210 at the position P150 of the base material 150 to which the coating liquid 160 is applied. A gas layer 170 can be formed between the substrate 150 and the substrate 150. By adjusting the amount of gas pumped from the gas compressor, the thickness of the gas layer 170 can be 1 μm or more and 20 μm or less.

本実施形態では、バックアップロール210は、回転しないように製造装置200に取り付けられているが、別の実施形態では、バックアップロール210は、方向D1に、軸210Rを中心として回転するように、駆動されてもよく、更に別の実施形態では、バックアップロール210は、駆動されずに軸210Rを中心として自由に回転可能に製造装置200に取り付けられていてもよく、更に別の実施形態では、バックアップロール210は、方向D1とは逆の方向に、軸210Rを中心として回転するように、駆動されてもよい。 In this embodiment, the backup roll 210 is attached to the manufacturing apparatus 200 so as not to rotate, but in another embodiment, the backup roll 210 is driven in the direction D1 so as to rotate about the shaft 210R. In yet another embodiment, the backup roll 210 may be attached to the manufacturing apparatus 200 so as to be freely rotatable about the shaft 210R without being driven, and in yet another embodiment, the backup roll 210 may be attached to the manufacturing apparatus 200. The roll 210 may be driven so as to rotate about the shaft 210R in the direction opposite to the direction D1.

製造装置200は、気体供給装置130及び調整装置131を更に備えていてもよい。
これにより、バックアップロール210の周面210Sから気体を噴出させると共に、気体供給装置130及び調整装置131により、基材150が沿い始めるバックアップロール210の周面S1と基材150との間に気体を吹き付けて、バックアップロール210の周面210Sと基材150との間に気体を供給しうる。
The manufacturing apparatus 200 may further include a gas supply apparatus 130 and an adjusting apparatus 131.
As a result, gas is ejected from the peripheral surface 210S of the backup roll 210, and the gas supply device 130 and the adjusting device 131 allow the gas to flow between the peripheral surface S1 of the backup roll 210 and the base material 150 where the base material 150 starts to follow. By spraying, gas can be supplied between the peripheral surface 210S of the backup roll 210 and the base material 150.

製造装置200は、ロール対140を更に備えていてもよい。
これにより、基材150が離れ始めるバックアップロール210の周面S2と基材150との間から、基材150の搬送方向下流へ向かう、気体の流れを制限する。
The manufacturing apparatus 200 may further include roll pairs 140.
As a result, the flow of gas from between the peripheral surface S2 of the backup roll 210 where the base material 150 starts to separate and the base material 150 toward the downstream in the transport direction of the base material 150 is restricted.

[1.5.第3実施形態]
第3実施形態に係る光学フィルムの製造方法では、バックアップロールの周面に、少なくとも一つの凸部を設ける。図3は、第3実施形態に係る光学フィルムの製造方法を実施しうる、光学フィルムの製造装置の一例を示す概略図である。
光学フィルムの製造装置300は、バックアップロール310と、ダイコータ120とを備える。
[1.5. Third Embodiment]
In the method for manufacturing an optical film according to the third embodiment, at least one convex portion is provided on the peripheral surface of the backup roll. FIG. 3 is a schematic view showing an example of an optical film manufacturing apparatus capable of carrying out the optical film manufacturing method according to the third embodiment.
The optical film manufacturing apparatus 300 includes a backup roll 310 and a die coater 120.

バックアップロール310は、周面310Sに複数の凸部311が設けられている以外は、バックアップロール110と同様の構成を有する。凸部311の形状、数は、特に限定されず、例えば、格子状の凸部;バックアップロール310の軸方向と平行な線状である、複数の凸部;ドット状に配置された複数の凸部であってもよい。凸部311の形状は、周期的形状であっても非周期的形状であってもよい。 The backup roll 310 has the same configuration as the backup roll 110 except that a plurality of convex portions 311 are provided on the peripheral surface 310S. The shape and number of the convex portions 311 are not particularly limited, and for example, a grid-like convex portion; a plurality of convex portions that are linear parallel to the axial direction of the backup roll 310; and a plurality of convex portions arranged in a dot shape. It may be a department. The shape of the convex portion 311 may be a periodic shape or a non-periodic shape.

周面310Sに凸部311が設けられたバックアップロール310が回転軸310Rを中心として回転して基材150を搬送すると、搬送される基材150とバックアップロール310の周面310Sとの間に、気体層170が形成される。塗布液160が塗布される基材150の位置P150において、バックアップロール310の周面S3と基材150との間に形成される気体層170の厚みが1μm以上20μm以下となるように、凸部311の高さを設定することにより、塗布層の厚みムラを抑制して、光学フィルムの斑点及びスジの発生を抑制できる。 When the backup roll 310 having the convex portion 311 provided on the peripheral surface 310S rotates around the rotation shaft 310R to convey the base material 150, the base material 150 to be conveyed and the peripheral surface 310S of the backup roll 310 are placed between the backup roll 310. The gas layer 170 is formed. At the position P150 of the base material 150 to which the coating liquid 160 is applied, the convex portion so that the thickness of the gas layer 170 formed between the peripheral surface S3 of the backup roll 310 and the base material 150 is 1 μm or more and 20 μm or less. By setting the height of 311 it is possible to suppress uneven thickness of the coating layer and suppress the occurrence of spots and streaks on the optical film.

本実施形態では、バックアップロール310の周面310Sに設けられた凸部311の高さは、好ましくは1μm以上、より好ましくは1.2μm以上、更に好ましくは1.5μm以上であり、好ましくは20μm以下、より好ましくは15μm以下、更に好ましくは12μm以下である。ここで、バックアップロール310の周面310S上に複数の凸部311を設ける場合、凸部311の高さは、複数の凸部311の高さの平均値である。
凸部の高さは、バックアップロール310の周長を評価長さとして測定しうる。測定装置としては、接触式の変位計(例、小型電気マイクロメータ「ミニコム−M」(東京精密社製、微圧接触ヘッドを備える))及び非接触式の変位計(例、分光干渉レーザー変位計「SI−F10」(キーエンス社製))を用いうる。
In the present embodiment, the height of the convex portion 311 provided on the peripheral surface 310S of the backup roll 310 is preferably 1 μm or more, more preferably 1.2 μm or more, still more preferably 1.5 μm or more, and preferably 20 μm. Hereinafter, it is more preferably 15 μm or less, still more preferably 12 μm or less. Here, when a plurality of convex portions 311 are provided on the peripheral surface 310S of the backup roll 310, the height of the convex portions 311 is an average value of the heights of the plurality of convex portions 311.
The height of the convex portion can be measured by using the peripheral length of the backup roll 310 as the evaluation length. Measuring devices include contact type displacement meters (eg, small electric micrometer "Minicom-M" (manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd., equipped with a micropressure contact head)) and non-contact type displacement meters (eg, spectroscopic interference laser displacement). A total "SI-F10" (manufactured by Keyence)) can be used.

隣接する凸部311同士の間隔(ピッチ)は、好ましくは20mm以上、より好ましくは30mm以上であり、好ましくは70mm以下、より好ましくは50mm以下である。 The distance (pitch) between adjacent convex portions 311 is preferably 20 mm or more, more preferably 30 mm or more, preferably 70 mm or less, and more preferably 50 mm or less.

所定の高さを有する凸部311をバックアップロール310の周面310Sに形成する方法の例としては、特に限定されないが、例えば、バックアップロールの周面に、サンドブラスト処理を行う方法、グラインダ研磨により砥石がビビり振動を発生する条件でバックアップロール表面を研磨する方法が挙げられる。 The example of the method of forming the convex portion 311 having a predetermined height on the peripheral surface 310S of the backup roll 310 is not particularly limited, but for example, a method of sandblasting the peripheral surface of the backup roll and a grindstone by grinder polishing. There is a method of polishing the surface of the backup roll under the condition that the chattering vibration occurs.

本実施形態では、バックアップロール310は、方向D1に、軸310Rを中心として回転するように、駆動されるが、別の実施形態では、バックアップロール310は、駆動されずに軸310Rを中心として自由に回転可能に製造装置300に取り付けられていてもよく、更に別の実施形態では、バックアップロール310は、方向D1とは逆の方向に、軸310Rを中心として回転するように、駆動されてもよい。 In this embodiment, the backup roll 310 is driven in direction D1 so as to rotate about the shaft 310R, but in another embodiment the backup roll 310 is not driven and is free around the shaft 310R. The backup roll 310 may be rotatably attached to the manufacturing apparatus 300, and in yet another embodiment, the backup roll 310 may be driven to rotate about the shaft 310R in the direction opposite to the direction D1. Good.

[2.光学フィルムの製造方法及び製造装置の作用]
以上の実施形態に係る光学フィルムの製造方法及び光学フィルムの製造装置では、塗布液が塗布される基材の位置において、バックアップロールの周面と前記基材との間に厚み1μm以上20μm以下の気体層を形成させる。これにより、基材に形成される塗布層の厚みムラを抑制して、光学フィルムの斑点及びスジの発生を抑制できる。また、光学フィルムにおける斑点の発生を抑制できるので、付着した異物を除去するための、バックアップロールのクリーニング頻度を小さくできる。その結果、高品質の光学フィルムを、製造装置を長期間停止せずに製造することができ、光学フィルムの生産性が向上する。
[2. Optical film manufacturing method and operation of manufacturing equipment]
In the optical film manufacturing method and the optical film manufacturing apparatus according to the above embodiments, the thickness between the peripheral surface of the backup roll and the base material is 1 μm or more and 20 μm or less at the position of the base material to which the coating liquid is applied. Form a gas layer. As a result, uneven thickness of the coating layer formed on the base material can be suppressed, and the occurrence of spots and streaks on the optical film can be suppressed. Further, since the generation of spots on the optical film can be suppressed, the cleaning frequency of the backup roll for removing the adhered foreign matter can be reduced. As a result, a high-quality optical film can be manufactured without stopping the manufacturing apparatus for a long period of time, and the productivity of the optical film is improved.

以下、実施例を示して本発明について具体的に説明する。ただし、本発明は以下に示す実施例に限定されるものではなく、本発明の特許請求の範囲及びその均等の範囲を逸脱しない範囲において任意に変更して実施しうる。 Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples. However, the present invention is not limited to the examples shown below, and can be arbitrarily modified and implemented without departing from the scope of claims of the present invention and the equivalent scope thereof.

以下に説明する操作は、別に断らない限り、常温及び常圧の条件において行った。 Unless otherwise specified, the operations described below were performed under normal temperature and pressure conditions.

[評価方法]
(幅方向のスジ(横段)の評価方法)
得られた長尺の光学フィルムから幅0.7m×長さ2mの大きさのフィルム片を切り出した。切り出しの際は、フィルム片の各辺が、光学フィルムの搬送方向又は幅方向に平行となるようにした。切り出したフィルム片を、2枚の偏光フィルムの間に挟み、クロスニコル状態として、評価サンプルを作成した。評価サンプルの背後から面光源を当て、評価サンプルを通過した光の状態を目視にて観察し、横段の有無、横段の強度、及び強い横段があった場合は横段のピッチを確認した。
横段があった場合の、横段の強度は、横段部及び横段部以外の部分における、色のコントラスト(白色と黒色とのコントラスト)を目視により観察することにより評価した。コントラストが強い場合を横段の強度が強いと評価し、コントラストが弱い場合を横段の強度が弱いと評価した。
横段のピッチについては、強い横段上に、フェルトペンで線を引き、10本の線と線との間隔について平均値を求め、光学フィルムの横段のピッチとした。
[Evaluation method]
(Evaluation method of streaks (horizontal) in the width direction)
A film piece having a width of 0.7 m and a length of 2 m was cut out from the obtained long optical film. At the time of cutting out, each side of the film piece was made parallel to the transport direction or the width direction of the optical film. The cut out film piece was sandwiched between two polarizing films, and an evaluation sample was prepared in a cross Nicol state. A surface light source is applied from behind the evaluation sample, and the state of the light passing through the evaluation sample is visually observed, and the presence or absence of the horizontal stage, the intensity of the horizontal stage, and the pitch of the horizontal stage if there is a strong horizontal stage are confirmed. did.
The intensity of the horizontal stage when there was a horizontal stage was evaluated by visually observing the color contrast (contrast between white and black) in the portion other than the horizontal stage portion and the horizontal stage portion. When the contrast was strong, the strength of the horizontal row was evaluated as strong, and when the contrast was weak, the strength of the horizontal row was evaluated as weak.
Regarding the pitch of the horizontal row, a line was drawn on the strong horizontal row with a felt-tip pen, and the average value was calculated for the interval between the 10 lines and used as the pitch of the horizontal row of the optical film.

(斑点(スポットムラ)の評価方法)
得られた長尺の光学フィルムから幅0.7m×長さ2mの大きさのフィルム片を切り出した。切り出しの際は、フィルム片の各辺が、光学フィルムの搬送方向又は幅方向に平行となるようにした。切り出したフィルム片を、2枚の偏光フィルムの間に挟み、クロスニコル状態として、評価サンプルを作成した。評価サンプルの背後から面光源を当て、評価サンプルを通過した光の状態を目視にて観察し、丸い斑点状(スポット状)欠陥の有無を確認した。幅0.7m×長さ2mの範囲に存在するスポット状欠陥の個数を数え、光学フィルム1m当たりの個数に換算した。
(Evaluation method of spot unevenness)
A film piece having a width of 0.7 m and a length of 2 m was cut out from the obtained long optical film. At the time of cutting out, each side of the film piece was made parallel to the transport direction or the width direction of the optical film. The cut out film piece was sandwiched between two polarizing films, and an evaluation sample was prepared in a cross Nicol state. A surface light source was applied from behind the evaluation sample, and the state of the light passing through the evaluation sample was visually observed to confirm the presence or absence of round spot-like defects. The number of spot-like defects existing in the range of 0.7 m in width × 2 m in length was counted and converted into the number per 1 m 2 of the optical film.

[実施例1]
液晶性化合物、カイラル剤、酸化防止剤、界面活性剤、重合開始剤、及び溶媒を含む塗布液を調製した。条件:E型粘度計コーンロータ、23℃、100rpmにより測定された塗布液の粘度は、2.8〜3mPa・sであった。
[Example 1]
A coating solution containing a liquid crystal compound, a chiral agent, an antioxidant, a surfactant, a polymerization initiator, and a solvent was prepared. Conditions: The viscosity of the coating liquid measured by an E-type viscometer cone rotor at 23 ° C. and 100 rpm was 2.8 to 3 mPa · s.

基材として、脂環式構造含有重合体を含む樹脂からなる、長尺の延伸フィルム(日本ゼオン社製「ゼオノアフィルム」、厚み77μm、幅700mm)を用意した。
基材と鉄板(最大表面粗さRy=0.6μm)との静摩擦係数を、摩擦測定器(東洋精機製作所社製「FRICTION TESTER TR−2」)を用いて、速度20mm/min、測定距離30mm、荷重レンジ10N、スレッド質量200gの条件で測定したところ、1.0であった。
鉄板の最大表面粗さRyは、JIS B 0601−1994に従い測定した。具体的には、測定装置としては、小型表面粗さ測定機「サーフテストSJ−310」(株式会社ミツトヨ製)を用い、評価長さ4.0mm(カットオフ値λc 0.8mm×5)とし、ダイヤモンド探針で表面をなぞることにより測定した。
なお、鉄板としては、表面にハードクロムメッキを施した、メッキ厚が100μmのものを用いた。
As a base material, a long stretched film (“Zeonor film” manufactured by Zeon Corporation, thickness 77 μm, width 700 mm) made of a resin containing an alicyclic structure-containing polymer was prepared.
The static friction coefficient between the base material and the iron plate (maximum surface roughness Ry = 0.6 μm) was measured using a friction measuring instrument (“FRICTION TESTER TR-2” manufactured by Toyo Seiki Seisakusho Co., Ltd.) at a speed of 20 mm / min and a measuring distance of 30 mm. When measured under the conditions of a load range of 10 N and a thread mass of 200 g, it was 1.0.
The maximum surface roughness Ry of the iron plate was measured according to JIS B 0601-1994. Specifically, as a measuring device, a small surface roughness measuring machine "Surftest SJ-310" (manufactured by Mitutoyo Co., Ltd.) was used, and the evaluation length was 4.0 mm (cutoff value λc 0.8 mm × 5). , Measured by tracing the surface with a diamond probe.
As the iron plate, a plate having a hard chrome plating on the surface and a plating thickness of 100 μm was used.

光学フィルムの製造装置として、図1に示される、バックアップロール110と、ダイコータ120と、気体供給装置130と、調整装置131と、ロール対140とを備える製造装置100を用意した。バックアップロール110の直径は、150mmである。
気体供給装置130から吹き付ける気体の量を、150L/minに調整した。
ロール対140を構成する第1補助ロール141は、直径が10mmであり、その周面141Sがゴムで形成されている。また第2補助ロール142は、直径が10mmであり、その周面142Sが、金属(アルミニウム材)で形成されている。
基材の搬送速度を、10m/minとした。
基材の張力を、60Nとした。
バックアップロール110に、駆動装置(図示せず)を取り付け、バックアップロール110を方向D1に回転させた。
As an optical film manufacturing apparatus, a manufacturing apparatus 100 including a backup roll 110, a die coater 120, a gas supply apparatus 130, an adjusting apparatus 131, and a roll pair 140 shown in FIG. 1 was prepared. The diameter of the backup roll 110 is 150 mm.
The amount of gas blown from the gas supply device 130 was adjusted to 150 L / min.
The first auxiliary roll 141 constituting the roll pair 140 has a diameter of 10 mm, and its peripheral surface 141S is formed of rubber. The second auxiliary roll 142 has a diameter of 10 mm, and its peripheral surface 142S is made of metal (aluminum material).
The transport speed of the base material was set to 10 m / min.
The tension of the base material was 60 N.
A drive device (not shown) was attached to the backup roll 110, and the backup roll 110 was rotated in the direction D1.

前記条件で、製造装置100により基材を搬送しながら、気体層170の厚みを分光干渉式膜厚計(浜松ホトニクス社製「Optical NanoGauge C13027−11」)により測定した。測定は、ダイコータ120を塗布位置から後退させて、以下のとおりにして行った。
塗布液160の塗布の際にダイコータ120のリップ123の先端が対向する、基材150の位置において、幅方向に並ぶ3地点で気体層170の厚みを測定し、さらに、この測定を、ダイコータ120のリップ123の先端が対向する基材150の位置から、搬送方向上流にある位置において6地点と、ダイコータ120のリップ123の先端が対向する基材150の位置から、搬送方向下流にある位置において6地点とについて行って、これら15地点における気体層170の厚みの平均値を求めた。すなわち、気体層の厚みを、バックアップロール110の幅方向に並ぶ3地点で測定し、この測定をバックアップロール110の周方向であって基材の搬送方向上流に向かって更に2回、バックアップロール110の周方向であって基材の搬送方向下流に向かって更に2回、繰り返し、得られた気体層の厚みの平均値を求めた。基材の幅方向における測定地点の間隔は、200mmとした。基材の搬送方向における測定地点の間隔は、50mmとした。
Under the above conditions, the thickness of the gas layer 170 was measured by a spectroscopic interference type film thickness meter (“Optical NanoGauge C13027-11” manufactured by Hamamatsu Photonics Co., Ltd.) while transporting the base material by the manufacturing apparatus 100. The measurement was carried out as follows with the die coater 120 retracted from the coating position.
At the position of the base material 150 where the tips of the lips 123 of the die coater 120 face each other when the coating liquid 160 is applied, the thickness of the gas layer 170 is measured at three points arranged in the width direction, and this measurement is further performed on the die coater 120. At 6 points upstream from the position of the base material 150 facing the tip of the lip 123 of the die coater 120 and at a position downstream from the position of the base material 150 facing the tip of the lip 123 of the die coater 120. The average value of the thickness of the gas layer 170 at these 15 points was calculated for each of the 6 points. That is, the thickness of the gas layer is measured at three points arranged in the width direction of the backup roll 110, and this measurement is performed twice more in the circumferential direction of the backup roll 110 toward the upstream in the transport direction of the base material, and the backup roll 110. The average value of the thickness of the obtained gas layer was obtained by repeating the process twice more in the circumferential direction of the substrate toward the downstream in the transport direction of the base material. The distance between the measurement points in the width direction of the base material was 200 mm. The distance between the measurement points in the transport direction of the base material was 50 mm.

製造装置100を用いて、基材に塗布液を塗布した。ダイコータ120のスリット124を、120μmに調整し、リップ123とバックアップロール110との間隔は、100μmとして、塗布液の乾燥膜厚が2.5μmとなるようにした。 The coating liquid was applied to the base material using the manufacturing apparatus 100. The slit 124 of the die coater 120 was adjusted to 120 μm, the distance between the lip 123 and the backup roll 110 was set to 100 μm, and the dry film thickness of the coating liquid was 2.5 μm.

基材に塗布液を塗布して塗布層を形成した後、塗布層を40℃で1分間、次いで110で1分間乾燥させ、次いで乾燥された塗布層に紫外線を照射することにより塗布層を硬化させて、光学フィルムを得た。 After applying the coating liquid to the substrate to form a coating layer, the coating layer is dried at 40 ° C. for 1 minute and then at 110 for 1 minute, and then the dried coating layer is irradiated with ultraviolet rays to cure the coating layer. And obtained an optical film.

得られた光学フィルムについて、スジ(横段)及び斑点(スポットムラ)を、前記方法により評価した。結果を表1に示す。 With respect to the obtained optical film, streaks (horizontal steps) and spots (spot unevenness) were evaluated by the above method. The results are shown in Table 1.

[実施例2]
下記事項以外は、実施例1と同様にして光学フィルムを得て、これを評価した。
・バックアップロール110に取り付けられていた駆動装置を取り外し、バックアップロール110が自由に回転できるようにした。
・基材の搬送速度を、10m/minとした。
・基材の張力を、60N以下とした。
結果を表1に示す。
[Example 2]
An optical film was obtained in the same manner as in Example 1 except for the following items, and this was evaluated.
-The drive device attached to the backup roll 110 has been removed so that the backup roll 110 can rotate freely.
-The transport speed of the base material was set to 10 m / min.
-The tension of the base material was set to 60 N or less.
The results are shown in Table 1.

[実施例3]
下記事項以外は、実施例1と同様にして光学フィルムを得て、これを評価した。
・製造装置100の代わりに、図3に示す、バックアップロール310と、ダイコータ120とを備える製造装置300を用いた。バックアップロール310は、バックアップロール310の軸方向と平行な線状である、複数の凸部311を有する。JIS B 0601−1994に従い測定された、評価長さ4.0mmにおけるバックアップロール310の最大表面粗さRyは、1.2μmである。最大表面粗さは、測定装置としては、小型表面粗さ測定機「サーフテストSJ−310」(株式会社ミツトヨ製)を用い、評価長さ4.0mm(カットオフ値λc 0.8mm×5)とし、ダイヤモンド探針で表面をなぞることにより測定した。
バックアップロール310の周長を評価長さとして測定した、凸部311の高さは、1.5μmであり、隣り合う凸部311の間隔(ピッチ)は、20mmである。ここで、凸部311の高さ及びピッチは、キーエンス社製 分光干渉レーザー変位計「SI−F10」により測定した。バックアップロール310の直径は、150mmである。
・基材の搬送速度を、10m/mimとした。
・基材の張力を、150Nとした。
・バックアップロール310に、駆動装置(図示せず)を取り付け、バックアップロール310を方向D1に回転させた。
結果を表1に示す。
[Example 3]
An optical film was obtained in the same manner as in Example 1 except for the following items, and this was evaluated.
-Instead of the manufacturing apparatus 100, the manufacturing apparatus 300 including the backup roll 310 and the die coater 120 shown in FIG. 3 was used. The backup roll 310 has a plurality of convex portions 311 that are linear in parallel with the axial direction of the backup roll 310. The maximum surface roughness Ry of the backup roll 310 at an evaluation length of 4.0 mm, measured according to JIS B 0601-1994, is 1.2 μm. For the maximum surface roughness, a small surface roughness measuring machine "Surftest SJ-310" (manufactured by Mitutoyo Co., Ltd.) was used as the measuring device, and the evaluation length was 4.0 mm (cutoff value λc 0.8 mm × 5). The measurement was performed by tracing the surface with a diamond probe.
The height of the convex portion 311 measured by measuring the peripheral length of the backup roll 310 as the evaluation length is 1.5 μm, and the distance (pitch) between the adjacent convex portions 311 is 20 mm. Here, the height and pitch of the convex portion 311 were measured by a spectroscopic interference laser displacement meter "SI-F10" manufactured by KEYENCE CORPORATION. The diameter of the backup roll 310 is 150 mm.
-The transport speed of the base material was set to 10 m / mim.
-The tension of the base material was set to 150 N.
A drive device (not shown) was attached to the backup roll 310, and the backup roll 310 was rotated in the direction D1.
The results are shown in Table 1.

[実施例4]
下記事項以外は、実施例1と同様にして光学フィルムを得て、これを評価した。
・製造装置100の代わりに、図2に示す、バックアップロール210と、ダイコータ120とを備える製造装置200を用いた。バックアップロール210は、周面210Sが、多孔質材料で形成されている。
・バックアップロール210の周面210Sから、気体(空気)を噴出させながら基材の搬送を行った。
結果を表1に示す。
[Example 4]
An optical film was obtained in the same manner as in Example 1 except for the following items, and this was evaluated.
-Instead of the manufacturing apparatus 100, the manufacturing apparatus 200 provided with the backup roll 210 and the die coater 120 shown in FIG. 2 was used. The peripheral surface 210S of the backup roll 210 is made of a porous material.
The base material was conveyed while ejecting gas (air) from the peripheral surface 210S of the backup roll 210.
The results are shown in Table 1.

[実施例5]
下記事項以外は、実施例1と同様にして光学フィルムを得て、これを評価した。
・製造装置100から、気体供給装置130、調整装置131、及びロール対140を取り外した。
・バックアップロール110を、方向D1とは逆の方向に回転させた。
結果を表1に示す。
[Example 5]
An optical film was obtained in the same manner as in Example 1 except for the following items, and this was evaluated.
-The gas supply device 130, the adjusting device 131, and the roll pair 140 were removed from the manufacturing device 100.
The backup roll 110 was rotated in the direction opposite to the direction D1.
The results are shown in Table 1.

[比較例1]
下記事項以外は、実施例1と同様にして光学フィルムを得て、これを評価した。
・製造装置100から、気体供給装置130、調整装置131、及びロール対140を取り外した。
・基材の搬送速度を、4m/mimとした。
・基材の張力を、130Nとした。
結果を表2に示す。
[Comparative Example 1]
An optical film was obtained in the same manner as in Example 1 except for the following items, and this was evaluated.
-The gas supply device 130, the adjusting device 131, and the roll pair 140 were removed from the manufacturing device 100.
-The transport speed of the base material was set to 4 m / mim.
-The tension of the base material was set to 130 N.
The results are shown in Table 2.

[比較例2]
下記事項以外は、実施例1と同様にして光学フィルムを得て、これを評価した。
・製造装置100から、気体供給装置130、調整装置131、及びロール対140を取り外した。
・基材の搬送速度を、10m/mimとした。
・基材の張力を、0Nとした。
結果を表2に示す。
[Comparative Example 2]
An optical film was obtained in the same manner as in Example 1 except for the following items, and this was evaluated.
-The gas supply device 130, the adjusting device 131, and the roll pair 140 were removed from the manufacturing device 100.
-The transport speed of the base material was set to 10 m / mim.
-The tension of the base material was set to 0N.
The results are shown in Table 2.

Figure 2020160240
Figure 2020160240

Figure 2020160240
Figure 2020160240

以上の結果から、以下の事項が分かる。
厚み1μm以上20μm以下の気体層を形成させる、実施例1〜5に係る光学フィルムの製造方法によれば、光学フィルムの幅方向に生じる厚みの大きいスジ(横段)の発生を抑制し、かつ斑点(スポットムラ)の発生を抑制できることが分かる。
一方、気体層の厚みが1μmに満たない比較例1に係る製造方法では、光学フィルムに強いスジ(横段)が発生し、斑点(スポットムラ)の発生が顕著に多いことが分かる。
また、気体層の厚みが20μmより大きい比較例2に係る製造方法では、斑点の発生は抑制されるものの、強いスジが発生していることが分かる。
From the above results, the following matters can be understood.
According to the method for producing an optical film according to Examples 1 to 5, which forms a gas layer having a thickness of 1 μm or more and 20 μm or less, the generation of thick streaks (horizontal steps) generated in the width direction of the optical film is suppressed, and It can be seen that the occurrence of spots (spot unevenness) can be suppressed.
On the other hand, in the manufacturing method according to Comparative Example 1 in which the thickness of the gas layer is less than 1 μm, it can be seen that strong streaks (horizontal steps) are generated on the optical film and spots (spot unevenness) are remarkably generated.
Further, it can be seen that in the production method according to Comparative Example 2 in which the thickness of the gas layer is larger than 20 μm, the occurrence of spots is suppressed, but strong streaks are generated.

100 :製造装置
110 :バックアップロール
110R :回転軸
110S :周面
120 :ダイコータ
121 :押出装置
122 :管路
123 :リップ
124 :スリット
130 :気体供給装置
131 :調整装置
140 :ロール対
141 :第1補助ロール
141R :回転軸
141S :周面
142 :第2補助ロール
142R :回転軸
142S :周面
150 :基材
160 :塗布液
161 :塗布層
170 :気体層
200 :製造装置
210 :バックアップロール
210R :軸
210S :周面
210h :通気孔
211 :気体室
300 :製造装置
310 :バックアップロール
310R :回転軸
310S :周面
311 :凸部
D1 :方向
S1 :周面
S2 :周面
S3 :周面
100: Manufacturing equipment 110: Backup roll 110R: Rotating shaft 110S: Peripheral surface 120: Die coater 121: Extruding device 122: Pipe line 123: Lip 124: Slit 130: Gas supply device 131: Adjusting device 140: Roll pair 141: First Auxiliary roll 141R: Rotating shaft 141S: Peripheral surface 142: Second auxiliary roll 142R: Rotating shaft 142S: Peripheral surface 150: Base material 160: Coating liquid 161: Coating layer 170: Gas layer 200: Manufacturing equipment 210: Backup roll 210R: Shaft 210S: Peripheral surface 210h: Vent hole 211: Gas chamber 300: Manufacturing equipment 310: Backup roll 310R: Rotating shaft 310S: Peripheral surface 311: Convex part D1: Direction S1: Peripheral surface S2: Peripheral surface S3: Peripheral surface

Claims (14)

基材をバックアップロールの周面に沿って搬送しながら、前記基材の表面に塗布液をダイコータにより塗布する工程を含む、光学フィルムの製造方法であって、
前記塗布液が塗布される前記基材の位置において、前記バックアップロールの周面と前記基材との間に厚み1μm以上20μm以下の気体層を形成させる、光学フィルムの製造方法。
A method for producing an optical film, which comprises a step of applying a coating liquid to the surface of the base material with a die coater while transporting the base material along the peripheral surface of the backup roll.
A method for producing an optical film, wherein a gas layer having a thickness of 1 μm or more and 20 μm or less is formed between a peripheral surface of the backup roll and the base material at a position of the base material to which the coating liquid is applied.
前記バックアップロールの周面と前記基材との間に気体を供給することにより前記気体層を形成させる、請求項1に記載の光学フィルムの製造方法。 The method for producing an optical film according to claim 1, wherein the gas layer is formed by supplying a gas between the peripheral surface of the backup roll and the base material. 前記基材が沿い始める前記バックアップロールの周面と前記基材との間に前記気体を吹き付けることにより前記気体を供給する、請求項2に記載の光学フィルムの製造方法。 The method for producing an optical film according to claim 2, wherein the gas is supplied by spraying the gas between the peripheral surface of the backup roll and the base material on which the base material starts to run. 前記バックアップロールの周面から前記気体を噴出させることにより前記気体を供給する、請求項2に記載の光学フィルムの製造方法。 The method for producing an optical film according to claim 2, wherein the gas is supplied by ejecting the gas from the peripheral surface of the backup roll. 前記基材が離れ始める前記バックアップロールの周面と前記基材との間から前記基材の搬送方向下流へ向かう、気体の流れを制限する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造方法。 The invention according to any one of claims 1 to 4, wherein the flow of gas is restricted from between the peripheral surface of the backup roll where the base material starts to separate and the base material toward the downstream in the transport direction of the base material. A method for manufacturing an optical film. 前記基材が離れ始める前記バックアップロールの周面と前記基材との間に、第1補助ロール及び第2補助ロールからなるロール対を設け、前記ロール対により前記バックアップロールの周面と前記基材との間を塞ぎ、
前記第1補助ロールは、前記バックアップロールの回転軸と平行な回転軸を有し、前記バックアップロールの周面に接し、
前記第2補助ロールは、前記バックアップロールの回転軸と平行であり、前記第1補助ロールの回転軸よりも、前記バックアップロールの回転軸から離れた位置にある回転軸を有し、前記第1補助ロールの周面及び前記基材に接し、
前記第1補助ロールの周面における硬度が、前記第2補助ロールの周面における硬度よりも低い、請求項5に記載の光学フィルムの製造方法。
A roll pair composed of a first auxiliary roll and a second auxiliary roll is provided between the peripheral surface of the backup roll at which the base material starts to separate and the base material, and the peripheral surface of the backup roll and the base are provided by the roll pair. Close the gap with the material,
The first auxiliary roll has a rotation axis parallel to the rotation axis of the backup roll, and is in contact with the peripheral surface of the backup roll.
The second auxiliary roll has a rotation axis that is parallel to the rotation axis of the backup roll and is located at a position farther from the rotation axis of the backup roll than the rotation axis of the first auxiliary roll. In contact with the peripheral surface of the auxiliary roll and the base material,
The method for producing an optical film according to claim 5, wherein the hardness of the peripheral surface of the first auxiliary roll is lower than the hardness of the peripheral surface of the second auxiliary roll.
前記バックアップロールの周面に、少なくとも一つの凸部を設ける、請求項1〜6のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造方法。 The method for producing an optical film according to any one of claims 1 to 6, wherein at least one convex portion is provided on the peripheral surface of the backup roll. 前記少なくとも一つの凸部が、1μm以上20μm以下の高さを有する、請求項7に記載の光学フィルムの製造方法。 The method for producing an optical film according to claim 7, wherein the at least one convex portion has a height of 1 μm or more and 20 μm or less. 前記バックアップロールが、自由に回転可能である、請求項1〜8のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造方法。 The method for producing an optical film according to any one of claims 1 to 8, wherein the backup roll is freely rotatable. 前記基材は、鉄との静摩擦係数が、0.7以上である、請求項1〜9のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造方法。 The method for producing an optical film according to any one of claims 1 to 9, wherein the base material has a coefficient of static friction with iron of 0.7 or more. 周面に沿って基材を搬送するバックアップロールと、
前記基材の表面に塗布液を塗布するダイコータと、
前記バックアップロールの周面と前記基材との間に気体を供給する気体供給装置と、
前記塗布液が塗布される前記基材の位置における、前記バックアップロールの周面と前記基材との間の気体層の厚みが1μm以上20μm以下となるように、前記気体供給装置から供給される前記気体の量を調整する調整装置と、
を含む、光学フィルムの製造装置。
A backup roll that conveys the base material along the peripheral surface,
A die coater that applies a coating solution to the surface of the base material,
A gas supply device that supplies gas between the peripheral surface of the backup roll and the base material,
It is supplied from the gas supply device so that the thickness of the gas layer between the peripheral surface of the backup roll and the base material at the position of the base material to which the coating liquid is applied is 1 μm or more and 20 μm or less. An adjusting device that adjusts the amount of gas,
Optical film manufacturing equipment, including.
第1補助ロール及び第2補助ロールからなるロール対を更に含み、
前記第1補助ロールは、前記バックアップロールの回転軸と平行な回転軸を有し、前記バックアップロールの周面に接し、
前記第2補助ロールは、前記バックアップロールの回転軸と平行であり、前記第1補助ロールの回転軸よりも、前記バックアップロールの回転軸から離れた位置にある回転軸を有し、前記第1補助ロールの周面及び搬送される前記基材に接するように設けられ、
前記第1補助ロールの周面における硬度が、前記第2補助ロールの周面における硬度よりも低い、請求項11に記載の光学フィルムの製造装置。
Further including a roll pair consisting of a first auxiliary roll and a second auxiliary roll,
The first auxiliary roll has a rotation axis parallel to the rotation axis of the backup roll, and is in contact with the peripheral surface of the backup roll.
The second auxiliary roll has a rotation axis that is parallel to the rotation axis of the backup roll and is located at a position farther from the rotation axis of the backup roll than the rotation axis of the first auxiliary roll. It is provided so as to be in contact with the peripheral surface of the auxiliary roll and the base material to be conveyed.
The optical film manufacturing apparatus according to claim 11, wherein the hardness of the peripheral surface of the first auxiliary roll is lower than the hardness of the peripheral surface of the second auxiliary roll.
前記バックアップロールの周面に、少なくとも一つの凸部が設けられている、請求項11又は12に記載の光学フィルムの製造装置。 The optical film manufacturing apparatus according to claim 11 or 12, wherein at least one convex portion is provided on the peripheral surface of the backup roll. 前記バックアップロールが、自由に回転可能である、請求項11〜13のいずれか1項に記載の光学フィルムの製造装置。 The optical film manufacturing apparatus according to any one of claims 11 to 13, wherein the backup roll is freely rotatable.
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