JP2020159797A - Circuit verification device and circuit verification method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、回路検証装置、回路検証方法に関する。 The present invention relates to a circuit verification device and a circuit verification method.
図9に検証対向回路120を用いた検証環境10を示す。当該検証環境10において、機能検証データ生成回路110は機能検証データを生成する。検証対向回路120は、被検証回路20を検証するために設けられた回路であり、被検証回路20が値aを入力した場合に値bを出力する回路である場合、検証対向回路120は値bを入力した場合に値aを出力する回路である。
FIG. 9 shows a
今、機能検証データ生成回路110が値aを生成して検証対向回路120へ出力したとする。この場合、検証対向回路120は値aを入力して、被検証回路20と解析回路130へ値bを出力する。被検証回路20は値bを入力して値aを出力する。解析回路130は、検証対向回路120から入力した値bと、被検証回路20から入力した値aとの関係が正しいかを判定し、正しい場合に、被検証回路20の動作が正しいと判定する。表示装置30は解析回路130の判定結果を出力する。このような検証環境10の場合、被検証回路20に入力された値と、被検証回路20が出力した値の関係が正しいか否かの解析(判定)しか行えない。このため、回路規模が大きく、複数の機能が組み込まれた回路を検証する場合、被検証回路20内の機能誤りの箇所を特定するのに時間を要していた。
Now, suppose that the function verification
特許文献1には、機能を検証する対象となる被検証回路が有する複数の機能回路それぞれの対向機能回路を用いて、被検証回路の各機能回路それぞれの機能を検証する機能検証方法が記載されている。
また特許文献2には、被検証回路のインタフェース障害を検出可能とする診断回路が記載されている。
Patent Document 1 describes a function verification method for verifying the function of each functional circuit of the verified circuit by using the opposite functional circuits of each of the plurality of functional circuits of the verified circuit whose function is to be verified. ing.
Further,
ここで、特許文献1に記載の技術では被検証回路内の複数の機能回路それぞれについての検証をすることはできるが、被検証回路が有する複数の機能回路のうち選択した複数の回路により構成される回路群を一度に検証することができない。すなわち、選択した複数の機能回路を接続して1つの回路とみなし、その回路を一度に検証することができない。よって被検証回路が有する複数の回路のうち任意の複数接続された機能回路の連携による入力と出力の関係の正しさを一度に確認することができない。 Here, the technique described in Patent Document 1 can verify each of a plurality of functional circuits in the circuit to be verified, but is composed of a plurality of circuits selected from the plurality of functional circuits included in the circuit to be verified. It is not possible to verify a group of circuits at once. That is, it is not possible to connect a plurality of selected functional circuits and regard them as one circuit, and verify the circuits at once. Therefore, it is not possible to confirm the correctness of the relationship between the input and the output by linking any plurality of connected functional circuits among the plurality of circuits of the circuit to be verified at once.
そこでこの発明は、上述の課題を解決する回路検証装置、回路検証方法を提供することを目的としている。 Therefore, an object of the present invention is to provide a circuit verification device and a circuit verification method that solve the above-mentioned problems.
本発明の第1の態様によれば、回路検証装置は、複数の機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路と、に接続する接続部と、前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する解析回路と、を備え、前記解析回路は、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数nのうち、選択したn−1の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定することを特徴とする。 According to the first aspect of the present invention, the circuit verification device includes a circuit to be verified having a plurality of functional circuits and the functional circuit having a function in which the input and output of the functional circuit have an opposite relationship. The verified opposed circuit having the corresponding opposed circuit, the connection portion connected to, the output of the verified circuit, and the output of the opposed circuit which ideally outputs the same output as the said output are compared with each other. The analysis circuit includes an analysis circuit for determining whether or not the functional circuit included in the circuit is normal, and the analysis circuit is the number of n-1 selected from the total number n of the functional circuits included in the circuit to be verified. Comparing the outputs of the plurality of functional circuits connected in series below with the outputs of the circuits in which the opposite circuits of the functional circuits are connected in series, the series circuit by the selected functional circuit is normal. It is characterized in that it is determined whether or not.
本発明の第2の態様によれば、回路検証方法は、複数の機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路とに接続し、前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定し、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数nのうち、選択したn−1の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定することを特徴とする。 According to the second aspect of the present invention, the circuit verification method is applied to each of the verified circuit having a plurality of functional circuits and the functional circuit having a function in which the input and output relationships of the functional circuits are opposite to each other. The output of the circuit to be verified is included in the circuit to be verified by connecting to a verification facing circuit having a corresponding counter circuit and comparing the output of the circuit to be verified with the output of the counter circuit which ideally outputs the same output as the output. It is determined whether or not the functional circuit is normal, and the output of the plurality of functional circuits connected in series equal to or less than the number of selected n-1 among the total number n of the functional circuits included in the verified circuit. The present invention is characterized in that it is determined whether or not the series circuit by the selected functional circuit is normal or not by comparing the output of the circuit in which each opposite circuit of the functional circuits is connected in series.
本発明によれば、被検証回路が有する複数の機能回路のうち選択した複数を接続した回路を検証することができる。 According to the present invention, it is possible to verify a circuit in which a plurality of selected functional circuits included in the circuit to be verified are connected.
以下、本発明の一実施形態による回路検証装置を図面を参照して説明する。
図1は同実施形態による回路検証装置を備えた回路検証システムの構成を示すブロック図である。
図1で示すように回路検証システム100は、一例としては、回路検証装置1、被検証回路2、第1表示装置3、第2表示装置4を含んで構成される。
Hereinafter, a circuit verification device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a circuit verification system including a circuit verification device according to the same embodiment.
As shown in FIG. 1, the
被検証回路2は、機能を検証する対象となる機能検証対象回路の一例である。被検証回路2は、機能Aを実行する機能A回路21Aと、機能Bを実行する機能B回路21Bと、機能Cを実行する機能C回路21Cとの複数の機能回路、第1セレクタ24、及び第2セレクタ25を有する。また被検証回路2は、機能A回路21Aと、機能B回路21Bと、機能C回路21Cとをその順番で直列に接続した第一直列回路を構成する。以下、説明の便宜を図るため、機能A回路21A、機能B回路21B、及び機能C回路21Cを総称して機能回路21と称することがある。
The circuit to be verified 2 is an example of a circuit to be verified for function, which is a target for verifying the function. The circuit to be verified 2 includes a plurality of functional circuits of a
機能回路21(機能A回路21A、機能B回路21B、及び機能C回路21C)は、入力した入力値を他の値である出力値に変換する変換機能に加えて、当該変換機能の入力値と出力値のうちの当該出力値を入力した場合には当該出力値を変換して当該入力値を出力する機能(以下、「対向機能」とする。)を更に有する。つまり機能回路21の変換機能が値aを第一入力部において入力し、その値aを変換して第一出力部から値bを出力する場合、機能回路21は第二入力部において値bを入力して第二出力部から値aを出力する対向機能を有する。なお本実施形態において機能回路21(機能A回路21A、機能B回路21B、及び機能C回路21C)は、回路図中、回路検証装置側(図中左側)から第一入力部(A11,B11,C11)において入力した値を他方側(図中右側)の第一出力部(A12,B12,C12)から出力する際に変換機能によりデータを変換し、解析回路13側(図中右側)から第二入力部(A21,B21,C21)において入力した値を回路検証装置1側(図中左側)の第二出力部(A22,B22,C22)からに出力する際に対向機能によりデータを変換する。
The function circuit 21 (function A
第1セレクタ24は、機能A回路21Aの第二入力部A21へ折り返し入力するデータを選択するセレクタ回路である。第1セレクタ24が選択するデータは、スイッチ制御により切り替えることができる。本実施形態では、一例として機能A回路21Aが変換機能により変換し第一出力部A12から出力したデータ、または機能B回路21Bが対向機能により変換し第二出力部B22から出力したデータの何れかを選択する。第1セレクタ24は、機能A回路21Aが変換機能により変換し第一出力部A12から出力したデータを選択した場合、そのデータを機能A回路21Aの第二入力部A21へ出力する。また第1セレクタ24は、機能B回路21Bが対向機能により変換し第二出力部B22から出力したデータを選択した場合、そのデータを機能A回路21Aへの第二入力部A21へ出力する。なお第1セレクタ24が選択したデータは、第1解析回路131にも出力される。
The
第2セレクタ25は、機能B回路21Bの第二入力部B21へ折り返し入力するデータを選択するセレクタ回路である。第2セレクタ25が選択するデータは、スイッチ制御により切り替えることができる。本実施形態では、第2セレクタ25は、一例として機能B回路21Bが変換機能により変換し第一出力部B12から出力したデータ、または機能C回路21Cが対向機能により変換し第二出力部C22から出力したデータの何れかを選択する。第2セレクタ25は、機能B回路21Bが変換機能により変換し第一出力部B12から出力したデータを選択した場合、そのデータを機能B回路21Bの第二入力部B21へ出力する。また第2セレクタ25は、機能C回路21Cが対向機能により変換し第二出力部C22から出力したデータを選択した場合、そのデータを機能B回路21Bの第二入力部B21へ出力する。なお第2セレクタ25が選択したデータは、第1解析回路131にも出力される。
The
回路検証装置1は、複数の機能回路21を有する被検証回路2の機能を検証する。回路検証装置1は、機能検証データ生成回路11と、検証対向回路12と、解析回路13と、接続部14とを含んで構成される。
The circuit verification device 1 verifies the function of the circuit to be verified 2 having the plurality of functional circuits 21. The circuit verification device 1 includes a function verification
機能検証データ生成回路11は、被検証回路2を検証するための機能検証データを生成する。機能検証データは、例えば単純な数字列等のテストパターン等であってもよい。機能検証データ生成回路11は、生成した機能検証データを検証対向回路12及び第1解析回路131に出力する。
The function verification
検証対向回路12は、被検証回路2が有する機能C回路21Cの入力値を変換して出力値を出力する場合の逆変換を行う機能c(機能Cの対向機能)を有する機能c対向回路121cと、機能B回路21Bの入力値を変換して出力値を出力する場合の逆変換を行う機能b(機能Bの対向機能)を有する機能b対向回路121bと、機能A回路21Aの入力値を変換して出力値を出力する場合の逆変換を行う機能a(機能Aの対向機能)を有する機能a対向回路121aと、を有する。以下、説明の便宜を図るため、機能c対向回路121c、機能b対向回路121b、及び機能a対向回路121aを総称して対向回路121と称することがある。また検証対向回路12は、被検証回路2の第一直列回路における機能回路21の直列の順番と、それら機能回路21に対応する対向回路121を第一直列回路における対応する機能回路21の順番と逆の順番で直列に接続した第二直列回路を構成する。すなわち検証対向回路12は、機能c対向回路121cと、機能b対向回路121bと、機能a対向回路121aとをその順番で直列に接続した第二直列回路を構成する。
The
検証対向回路12に入力された機能検証データは、機能c対向回路121cに入力される。機能c対向回路121cは、機能検証データに対して機能Cの対向機能を実行し、実行結果を機能b対向回路121b及び第1解析回路131に出力する。
機能b対向回路121bは、機能c対向回路121cから入力されたデータに対して機能Bの対向機能を実行し、実行結果を機能a対向回路121a及び第1解析回路131に出力する。
機能a対向回路121aは、機能b対向回路121bから入力されたデータに対して機能Aの対向機能を実行し、実行結果を被検証回路2、第1解析回路131及び第2解析回路132に出力する。
The functional verification data input to the
The function
The function a facing
解析回路13は、第1解析回路131、及び第2解析回路132を備える。
第1解析回路131は、被検証回路2の各機能回路21の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う対向回路121の出力とを比較して、被検証回路2に含まれる機能回路21が正常か否かを判定する。また、第1解析回路131は、被検証回路2に含まれる機能回路21の総数nのうち、選択したn−1の数以下の直列に接続された複数の機能回路21の出力と、それら機能回路21の各対向回路121が直列に接続された回路の出力とを比較して、選択された機能回路21による直列の回路が正常か否かを判定する。また、第1解析回路131は、被検証回路2の出力を被検証回路2に折り返し入力したときの出力と、検証対向回路12の出力とを比較して、被検証回路2に含まれる機能回路21が正常か否かを判定する。また、第1解析回路131は、機能回路21の出力を当該機能回路21に折り返して入力したときの出力と、当該機能回路21に対応する対向回路121の出力とを比較して、被検証回路2に含まれる機能回路21が正常か否かを判定する。また、第1解析回路131は、被検証回路2に含まれる機能回路21の総数nのうち、選択したn−1の数以下の直列に接続された複数の機能回路21の出力を当該複数の機能回路21による直列の回路に第2入力したときの出力と、それら機能回路21の各対向回路121が直列に接続された回路の出力とを比較して、選択された機能回路21による直列の回路が正常か否かを判定する。
The
The
第2解析回路132は、被検証回路2の出力と、検証対向回路12の出力とを比較して、被検証回路2に含まれる機能回路21が正常か否かを判定する。
The
第1表示装置3は、液晶ディスプレイや有機EL(Electro-Luminescence)ディスプレイ等であり、第1解析回路131における検証結果(OKまたはNG)を表示する。
第2表示装置4は、液晶ディスプレイや有機ELディスプレイ等であり、第2解析回路132における検証結果(OKまたはNG)を表示する。
The
The
図2は回路検証装置の処理フローを示す第一の図である。
図3は各機能回路及び各対向回路の出力データの一例を示す第一の図である。
次に、回路検証装置1による処理を説明する。
まず、被検証回路2が有する各機能回路21それぞれを個別に検証する場合について説明する。ここで第1セレクタ24のスイッチは機能A回路21Aの第一出力部A21から出力されるデータを選択し、第2セレクタ25のスイッチは、機能B回路21Bの第一出力部B12から出力されるデータを選択している。
FIG. 2 is a first diagram showing a processing flow of the circuit verification device.
FIG. 3 is a first diagram showing an example of output data of each functional circuit and each opposite circuit.
Next, the processing by the circuit verification device 1 will be described.
First, a case where each functional circuit 21 of the circuit to be verified 2 is individually verified will be described. Here, the switch of the
まず機能検証データ生成回路11が、機能検証データD0を生成する(ステップS101)。続いて機能検証データ生成回路11は、機能検証データD0を検証対向回路12の機能c対向回路121cに入力する(ステップS102)。また機能検証データ生成回路11は、機能検証データD0を第1解析回路131に出力する。
First, the function verification
機能c対向回路121cは、機能検証データD0に対して機能Cの対向機能を実行し、実行結果である出力データD1を機能b対向回路121b及び第1解析回路131に出力する。機能b対向回路121bは、入力データD1に対して機能Bの対向機能を実行し、実行結果である出力データD2を機能a対向回路121a及び第1解析回路131に出力する。機能a対向回路121aは、入力データD2に対して機能Aの対向機能を実行し、実行結果である出力データD3を被検証回路2、第1解析回路131及び第2解析回路132に出力する。すなわち、検証対向回路12は、機能検証データD0を入力とする出力データD3を被検証回路2に入力する(ステップS103)。
The function
検証対向回路12の出力データD3は、被検証回路2の機能A回路21Aに入力される。機能A回路21Aは、入力データD3に対して機能Aを実行し、実行結果である出力データD10を機能B回路21B及び第1セレクタ24に出力する。第1セレクタ24は、機能A回路21Aの出力データD10を第1解析回路131に出力する。また第1セレクタ24は、機能A回路21Aの出力データD10を機能A回路21Aに折り返し入力する。機能A回路21Aは、折り返し入力されたデータD10に対して機能Aの対向機能を実行し、実行結果である出力データD11を第1解析回路131に出力する。
The output data D3 of the
機能B回路21Bは、機能A回路21Aの出力データD10に対して機能Bを実行し、実行結果である出力データD20を機能C回路21C及び第2セレクタ25に出力する。第2セレクタ25は、機能B回路21Bの出力データD20を第1解析回路131に出力する。また第2セレクタ25は、機能B回路21Bの出力データD20を機能B回路21Bに折り返し入力する。機能B回路21Bは、折り返し入力されたデータD20に対して機能Bの対向機能を実行し、実行結果である出力データD21を第1セレクタ24に出力する。第1セレクタ24は、機能B回路21Bから入力されたデータD21を第1解析回路131に出力する。
The
機能C回路21Cは、機能B回路21Bの出力データD20に対して機能Cを実行し、実行結果である出力データD30を第2解析回路132に出力する。第2解析回路132は、機能C回路21Cの出力データD30を第1解析回路131に出力する。
The
また第2解析回路132は、被検証回路2の出力データD30を被検証回路2に折り返し入力する(ステップS104)。被検証回路2の機能C回路21Cは、折り返し入力されたデータD30に対して機能Cの対向機能を実行し、実行結果である出力データD31を第2セレクタ25に出力する。第2セレクタ25は、機能C回路21Cから入力されたデータD31を第1解析回路131に出力する。
Further, the
第1解析回路131は、各機能回路21の出力データと、対応する各対向回路121への入力データとを比較し、その結果を第1表示装置3に表示することにより通知する(ステップS105)。より具体的には、第1解析回路131は、機能A回路21Aの出力データD10と、機能a対向回路121aへの入力データD2(機能b対向回路121bの出力データD2)とを比較し、一致する場合に機能A回路21Aの検証OKとし、一致しない場合に機能A回路21Aの検証NGとする。また、第1解析回路131は、機能B回路21Bの出力データD20と、機能b対向回路121bへの入力データD1(機能c対向回路121cの出力データD1)とを比較し、一致する場合に機能B回路21Bの検証OKとし、一致しない場合に機能B回路21Bの検証NGとする。また、第1解析回路131は、機能C回路21Cの出力データD30と、機能c対向回路121cへの入力データD0(機能検証データD0)とを比較し、一致する場合に機能C回路21Cの検証OKとし、一致しない場合に機能C回路21Cの検証NGとする。
The
さらに第1解析回路131は、各機能回路21の出力データを当該機能回路21に折り返し入力したときの出力データ(以下、「折り返し出力データ」とする。)と、対応する各対向回路121の出力データとを比較し、その結果を第1表示装置3に表示することにより通知する(ステップS106)。より具体的には、第1解析回路131は、機能A回路21Aの折り返し出力データD11と、機能a対向回路121aの出力データD3とを比較し、一致する場合に機能A回路21Aの検証OKとし、一致しない場合に機能A回路21Aの検証NGとする。また、第1解析回路131は、機能B回路21Bの折り返し出力データD21と、機能b対向回路121bの出力データD2とを比較し、一致する場合に機能B回路21Bの検証OKとし、一致しない場合に機能B回路21Bの検証NGとする。また、第1解析回路131は、機能C回路21Cの折り返し出力データD31と、機能c対向回路121cの出力データD1とを比較し、一致する場合に機能C回路21Cの検証OKとし、一致しない場合に機能C回路21Cの検証NGとする。
Further, the
また第2解析回路132は、検証対向回路12の出力データD3(被検証回路2への入力データ)と、被検証回路2の出力データD30とを比較し、その結果を第2表示装置4に表示することにより通知する(ステップS107)。例えば、第2解析回路132には、被検証回路2への入力データに対する出力データが予め設定されている。第2解析回路132は、設定されている情報に基づいて検証を行う。その後処理を終了する。
Further, the
上述の処理により、第1解析回路131は、被検証回路2に含まれる機能A回路21A、機能B回路21B、及び機能C回路21Cの出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う機能c対向回路121c、機能b対向回路121b、及び機能a対向回路121aの出力とを比較して、被検証回路2に含まれる機能A回路21A、機能B回路21B、及び機能C回路21Cそれぞれを個別に正常か否かを判定する。すなわち、被検証回路2を構成する機能回路21ごとに動作判定が可能になる。これにより、被検証回路2を構成する機能の誤り箇所(機能回路21)を特定することが容易になる。また、解析回路13が出力データの検証を自動で行うため、被検証回路2の出力データを人が解析する必要がない。
By the above processing, the
また、検証対向回路12及び被検証回路2を構成する各回路の出力を機能検証(解析)のためのデータとして適用することができるため、被検証回路2に含まれる各機能回路21を検証するためのデータをそれぞれ新たに作成する必要がない。
Further, since the outputs of the circuits constituting the verification opposed
図4は回路検証装置の処理フローを示す第二の図である。
図5は各機能回路及び各対向回路の出力データの一例を示す第二の図である。
続いて、被検証回路2に含まれる機能A回路21A、機能B回路21B、及び機能C回路21Cの総数3のうち、選択した2の直列に接続された機能回路21による直列の回路が正常か否かを検証する場合について説明する。以下、機能A回路21A及び機能B回路21Bによる直列の回路を検証する場合を例に説明する。ここで被検証回路2は、第1セレクタ24のスイッチは機能B回路21Bの第二出力部B22から出力されたデータを選択し、第2セレクタ25のスイッチは機能B回路21Bの第一出力部B12から出力されたデータを選択するよう制御する。
FIG. 4 is a second diagram showing a processing flow of the circuit verification device.
FIG. 5 is a second diagram showing an example of output data of each functional circuit and each opposite circuit.
Subsequently, out of the total of 3 of the
ステップS201〜ステップS203までの処理は、上述したステップS101〜ステップS103までの処理と同様であるため、その説明を省略する。 Since the processes from step S201 to step S203 are the same as the processes from steps S101 to S103 described above, the description thereof will be omitted.
検証対向回路12の出力データD3は、被検証回路2の機能A回路21Aに入力される。機能A回路21Aは、入力データD3に対して機能Aを実行し、第一出力部A12から実行結果である出力データD10を出力する。
The output data D3 of the
機能B回路21Bは、機能A回路21Aの出力データD10に対して機能Bを実行し、実行結果である出力データD20を機能C回路21C及び第2セレクタ25に出力する。第2セレクタ25は、機能B回路21Bの出力データD20を第1解析回路131に出力する。また第2セレクタ25は、機能B回路21Bの出力データD20を機能B回路21Bの第二入力部B21へ折り返し入力する。機能B回路21Bは、折り返し入力されたデータD20に対して機能Bの対向機能を実行し、実行結果である出力データD21を第1セレクタ24に出力する。第1セレクタ24は、機能B回路21Bから入力されたデータD21を機能A回路21Aの第二入力部A21へ折り返し入力する。機能A回路21Aは、折り返し入力されたデータD21に対して機能Aの対向機能を実行し、実行結果である出力データD22を第二出力部A22から第1解析回路131へ出力する。
The
機能C回路21Cは、機能B回路21Bの出力データD20に対して機能Cを実行し、実行結果である出力データD30を第2解析回路132に出力する。第2解析回路132は、機能C回路21Cの出力データD30を第1解析回路131に出力する。
The
また第2解析回路132は、被検証回路2の出力データD30を被検証回路2に折り返し入力する(ステップS204)。被検証回路2の機能C回路21Cは、第二入力部C21において折り返し入力されたデータD30に対して機能Cの対向機能を実行し、実行結果である出力データD31を第二出力部C22から第2セレクタ25に出力する。第2セレクタ25のスイッチは機能B回路21Bの第一出力部B12から出力されたデータD20を選択しているため、機能C回路21Cから入力されたデータD31を入力しない。
Further, the
第1解析回路131は、機能A回路21A及び機能B回路21Bによる直列の回路の出力データと、対応する機能b対向回路121b及び機能a対向回路121aによる直列の回路への入力データとを比較し、その結果を第1表示装置3に表示することにより通知する(ステップS205)。より具体的には、第1解析回路131は、機能B回路21Bの出力データD20と、機能b対向回路121bへの入力データD1(機能c対向回路121cの出力データD1)とを比較し、一致する場合に機能A回路21A及び機能B回路21Bによる直列の回路の検証OKとし、一致しない場合に機能A回路21A及び機能B回路21Bによる直列の回路の検証NGとする。また、第1解析回路131は、機能C回路21Cの出力データD30と、機能c対向回路121cへの入力データD0(機能検証データD0)とを比較し、一致する場合に機能C回路21Cの検証OKとし、一致しない場合に機能C回路21Cの検証NGとする。
The
さらに第1解析回路131は、機能A回路21A及び機能B回路21Bによる直列の回路の折り返し出力データと、対応する機能b対向回路121b及び機能a対向回路121aによる直列の回路の出力データとを比較し、その結果を第1表示装置3に表示することにより通知する(ステップS206)。より具体的には、第1解析回路131は、機能A回路21A及び機能B回路21Bによる直列の回路の折り返し出力データD22と、機能b対向回路121b及び機能a対向回路121aによる直列の回路の出力データD3とを比較し、一致する場合に機能A回路21A及び機能B回路21Bによる直列の回路の検証OKとし、一致しない場合に機能A回路21A及び機能B回路21Bによる直列の回路の検証NGとする。また、第1解析回路131は、機能C回路21Cの折り返し出力データD31と、機能c対向回路121cの出力データD1とを比較し、一致する場合に機能C回路21Cの検証OKとし、一致しない場合に機能C回路21Cの検証NGとする。
Further, the
ステップS207の処理は上述したステップS107の処理と同様であるため、説明を省略する。 Since the process of step S207 is the same as the process of step S107 described above, the description thereof will be omitted.
なお、上述した例では、直列に接続された機能A回路21A及び機能B回路21Bによる直列の回路が正常か否かを検証しているが、第1セレクタ24のスイッチを上に設定し、第2セレクタ25のスイッチを下に設定することにより、同様の処理で機能B回路21B及び機能C回路21Cによる直列の回路が正常か否かを検証することもできる。
In the above-mentioned example, it is verified whether or not the series circuit by the
上述の処理により、第1解析回路131は、被検証回路2に含まれる複数の機能回路21が直列に接続された回路の出力と、それら機能回路21の各対向回路121が直列に接続された回路の出力とを比較して、選択された複数の機能回路21による直列の回路が正常か否かを判定する。これにより、選択された複数の機能回路21による直列の回路ごとに動作判定が可能になるため、複数の機能回路21の連携を検証することが可能になる。
By the above processing, in the
図6は回路検証装置の処理フローを示す第三の図である。
図7は各機能回路及び各対向回路の出力データの一例を示す第三の図である。
続いて、被検証回路2全体が正常か否かを検証する場合について説明する。ここで第1セレクタ24のスイッチが、機能B回路21Bの第二出力部B22の出力したデータを選択し、第2セレクタ25のスイッチが、機能C回路21Cの第二出力部C22の出力したデータを選択するよう制御されているとする。
FIG. 6 is a third diagram showing a processing flow of the circuit verification device.
FIG. 7 is a third diagram showing an example of output data of each functional circuit and each opposite circuit.
Subsequently, a case of verifying whether or not the entire circuit to be verified 2 is normal will be described. Here, the switch of the
ステップS301〜ステップS303までの処理は、上述したステップS101〜ステップS103までの処理と同様であるため、その説明を省略する。 Since the processes from step S301 to step S303 are the same as the processes from steps S101 to S103 described above, the description thereof will be omitted.
検証対向回路12の出力データD3は、被検証回路2の機能A回路21Aに入力される。機能A回路21Aは、第一入力部A11において入力データD3を入力し、とうがい入力データD3に対して機能Aを実行し、実行結果である出力データD10を第一出力部A12から機能B回路21B及び第1セレクタ24に出力する。
The output data D3 of the
機能B回路21Bは、機能A回路21Aの出力データD10を第一入力部B11において入力し、この出力データD10に対して機能Bを実行し、実行結果である出力データD20を第一出力部B12から機能C回路21C及び第2セレクタ25に出力する。
The
機能C回路21Cは、機能B回路21Bの出力データD20を第一入力部C11において入力し、この出力データ20に対して機能Cを実行し、実行結果である出力データD30を第2解析回路132に出力する。第2解析回路132は、機能C回路21Cの出力データD30を機能C回路21Cの第二入力部C21と第1解析回路131とへ出力する。
The
被検証回路2の機能C回路21Cは、被検証回路2の出力データD30を第二入力部C21において折り返し入力する(ステップS304)。被検証回路2の機能C回路21Cは、折り返し入力されたデータD30に対して機能Cの対向機能を実行し、実行結果である出力データD31を第二出力部C22から第2セレクタ25へ出力する。第2セレクタ25は、機能C回路21Cから入力されたデータD31を機能B回路21Bに折り返し入力する。また第2セレクタ25は機能C回路21Cから入力されたデータD31を選択し、第1解析回路131へ出力する。機能B回路21Bは、折り返し入力されたデータD31に対して機能Bの対向機能を実行し、実行結果である出力データD32を第1セレクタ24に出力する。第1セレクタ24は、機能B回路21Bから入力されたデータD32を機能A回路21Aに折り返し入力する。また第1セレクタ24は、機能B回路21Bから入力されたデータD32を選択して第1解析回路131へ出力する。機能A回路21Aは、折り返し入力されたデータD32に対して機能Aの対向機能を実行し、実行結果である出力データD33を第1解析回路131に出力する。
The
第1解析回路131は、被検証回路2の出力データD30と、検証対向回路12への入力データD0(機能検証データD0)とを比較し、その結果を第1表示装置3に表示することにより通知する(ステップS305)。より具体的には、第1解析回路131は、被検証回路2の出力データD30と、機能検証データD0とを比較し、一致する場合に被検証回路2全体の検証OKとし、一致しない場合に被検証回路2全体の検証NGとする。
The
さらに第1解析回路131は、被検証回路2の折り返し出力データD33と、検証対向回路12の出力データD3とを比較し、その結果を第1表示装置3に表示することにより通知する(ステップS306)。より具体的には、第1解析回路131は、被検証回路2の折り返し出力データD33と、検証対向回路12の出力データD3とを比較し、一致する場合に被検証回路2全体の検証OKとし、一致しない場合に被検証回路2全体の検証NGとする。
Further, the
ステップS307の処理は上述したステップS107の処理と同様であるため、説明を省略する。 Since the process of step S307 is the same as the process of step S107 described above, the description thereof will be omitted.
上述の処理により、第1解析回路131は、被検証回路2の出力と、検証対向回路12の出力とを比較して、被検証回路2全体が正常か否かを判定する。これにより、被検証回路2全体としての動作判定が可能になる。
By the above-mentioned processing, the
なお、上述したステップS105〜ステップS107の処理、ステップS205〜ステップS207の処理、及びステップS305〜ステップS307の処理は、この処理順でなくともよい。例えば第1解析回路131及び第2解析回路132の処理を並列に実行してもよい。
The processing of steps S105 to S107, the processing of steps S205 to S207, and the processing of steps S305 to S307 described above do not have to be in this processing order. For example, the processes of the
上述した実施形態では、被検証回路2が有する機能回路21の総数nが3である場合を例に説明したが、これに限らず、被検証回路2が有する機能回路21は複数であればよく、2であってもよいし4以上であってもよい。
In the above-described embodiment, the case where the total number n of the functional circuits 21 included in the verified
また、上述した実施形態では、第1セレクタ24及び第2セレクタ25は、手動で操作可能なスイッチにより選択するデータを切り替えているが、これに限らず、例えば信号を第1セレクタ24及び第2セレクタ25に入力することにより選択するデータを切り替えてもよい。
Further, in the above-described embodiment, the
図8は回路検証装置の最小構成を示す図である。
回路検証装置1は、少なくとも接続部14、解析回路13の機能を発揮する。
接続部14は、複数の機能回路21を有する被検証回路2と、機能回路21の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する機能回路21それぞれに対応する対向回路121を有する検証対向回路12と、に接続する。
解析回路13は、被検証回路2の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う対向回路121の出力とを比較して、被検証回路2に含まれる機能回路21が正常か否かを判定する。また解析回路13は、被検証回路2に含まれる機能回路21の総数nのうち、選択したn−1の数以下の直列に接続された複数の機能回路21の出力と、それら機能回路21の各対向回路121が直列に接続された回路の出力とを比較して、選択された機能回路21による直列の回路が正常か否かを判定する。
FIG. 8 is a diagram showing the minimum configuration of the circuit verification device.
The circuit verification device 1 exhibits at least the functions of the
The
The
上述の回路検証装置1は内部に、コンピュータシステムを有していてもよい。そして、上述した各処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここでコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、DVD−ROM、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。 The circuit verification device 1 described above may have a computer system inside. The process of each process described above is stored in a computer-readable recording medium in the form of a program, and the process is performed by the computer reading and executing this program. Here, the computer-readable recording medium refers to a magnetic disk, a magneto-optical disk, a CD-ROM, a DVD-ROM, a semiconductor memory, or the like. Further, this computer program may be distributed to a computer via a communication line, and the computer receiving the distribution may execute the program.
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル(差分プログラム)であっても良い。 Further, the above program may be for realizing a part of the above-mentioned functions. Further, a so-called difference file (difference program) may be used, which can realize the above-mentioned functions in combination with a program already recorded in the computer system.
100・・・回路検証システム
1・・・回路検証装置
11・・・機能検証データ生成回路
12・・・検証対向回路
121a・・・機能a対向回路
121b・・・機能b対向回路
121c・・・機能c対向回路
13・・・解析回路
131・・・第1解析回路
132・・・第2解析回路
14・・・接続部
2・・・被検証回路
21A・・・機能A回路
21B・・・機能B回路
21C・・・機能C回路
24・・・第1セレクタ
25・・・第2セレクタ
3・・・第1表示装置
4・・・第2表示装置
100 ... Circuit verification system 1 ...
本発明の第1の態様によれば、回路検証装置は、機能回路であって入力した入力値を出力値に変換して出力する変換機能と入力した自回路の前記出力値を前記入力値に変換して出力する対向機能とを実行する複数の前記機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路と、に接続する接続部と、前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する解析回路と、を備え、前記解析回路は、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数nのうち、選択したn−1の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力値を当該機能回路に入力した場合に前記対向機能を用いて変換した出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定することを特徴とする。 According to the first aspect of the present invention, the circuit verification device is a functional circuit and has a conversion function of converting an input input value into an output value and outputting the output value of the input own circuit into the input value. a circuit to be verified with a plurality of said functional circuitry to perform the opposite function of converting and outputting, opposing circuit relation between the input and output of the functional circuit respectively corresponding to said functional circuit having a function as a reverse relationship The output of the circuit to be verified is included in the circuit to be verified by comparing the output of the circuit to be verified and the output of the counter circuit which ideally outputs the same output as the output. The analysis circuit includes an analysis circuit for determining whether or not the functional circuit is normal, and the analysis circuit is connected in series of n-1 or less selected from the total number n of the functional circuits included in the verified circuit. When the output values of a plurality of connected functional circuits are input to the functional circuit, the output converted by using the opposite function is compared with the output of the circuit in which the opposite circuits of the functional circuits are connected in series. Then, it is characterized in that it is determined whether or not the circuit in series by the selected functional circuit is normal.
本発明の第2の態様によれば、回路検証方法は、機能回路であって入力した入力値を出力値に変換して出力する変換機能と入力した自回路の前記出力値を前記入力値に変換して出力する対向機能とを実行する複数の前記機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路と、に接続し、前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定し、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数nのうち、選択したn−1の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力値を当該機能回路に入力した場合に前記対向機能を用いて変換した出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定することを特徴とする。 According to the second aspect of the present invention, the circuit verification method is a functional circuit having a conversion function of converting an input input value into an output value and outputting the output value of the input own circuit into the input value. a circuit to be verified with a plurality of said functional circuitry to perform the opposite function of converting and outputting, opposing circuit relation between the input and output of the functional circuit respectively corresponding to said functional circuit having a function as a reverse relationship The functional circuit included in the verified circuit is included in the verified circuit by comparing the output of the tested circuit with the output of the counter circuit that ideally outputs the same output as the output. Is normal or not, and among the total number n of the functional circuits included in the verified circuit, the output values of a plurality of the functional circuits connected in series equal to or less than the number of selected n-1s are used as the function. The output converted by using the opposite function when input to the circuit is compared with the output of the circuit in which each opposite circuit of those functional circuits is connected in series, and the series circuit by the selected functional circuit is obtained. It is characterized by determining whether or not it is normal.
Claims (7)
前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する解析回路と、
を備え、
前記解析回路は、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数nのうち、選択したn−1の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定する
回路検証装置。 A connection unit connected to a circuit to be verified having a plurality of functional circuits and a verification counter circuit having a counter circuit corresponding to each of the functional circuits having a function in which the input and output of the functional circuit have a reverse relationship. When,
An analysis circuit that compares the output of the circuit to be verified with the output of the counter circuit that ideally outputs the same output as the output to determine whether or not the functional circuit included in the circuit to be verified is normal. ,
With
In the analysis circuit, the outputs of a plurality of the functional circuits connected in series equal to or less than the number of selected n-1 among the total number n of the functional circuits included in the verified circuit, and each of the functional circuits facing each other. A circuit verification device that compares the output of a circuit in which circuits are connected in series with the output of a circuit in which the circuits are connected in series to determine whether or not the circuit in series by the selected functional circuit is normal.
前記機能回路を直列に接続した第一直列回路を構成する前記被検証回路と、
前記第一直列回路における前記機能回路の直列の順番と、それら機能回路に対応する対向回路を前記第一直列回路における対応する前記機能回路の順番と逆の順番で直列に接続した第二直列回路を構成する前記検証対向回路と、
に接続する
請求項1に記載の回路検証装置。 The connection part
The circuit to be verified, which constitutes the first series circuit in which the functional circuits are connected in series,
A second series in which the order of the functional circuits in the first series circuit and the opposite circuits corresponding to those functional circuits are connected in series in the reverse order of the order of the corresponding functional circuits in the first series circuit. The verification opposed circuit constituting the series circuit and
The circuit verification device according to claim 1, which is connected to.
請求項1または請求項2に記載の回路検証装置。 Claim 1 or claim 2 that the analysis circuit compares the output of the verified circuit with the output of the verified opposed circuit to determine whether or not the functional circuit included in the verified circuit is normal. The circuit verification device described in 1.
前記解析回路は、前記被検証回路の出力を前記被検証回路に前記出力値を入力した場合に前記対向機能を用いて変換した出力と、前記検証対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する
請求項1から請求項3の何れか一項に記載の回路検証装置。 The functional circuit further has an opposite function in which the relationship between the input and the output of the functional circuit is opposite, and has a conversion function of converting the input input value into an output value and outputting the input value, and the input output value. Execute the opposite function that converts to the input value and outputs it,
The analysis circuit compares the output of the verified circuit with the output converted by using the opposite function when the output value is input to the verified circuit, and compares the output of the verified circuit with the output of the verified circuit. The circuit verification device according to any one of claims 1 to 3, which determines whether or not the functional circuit included in the verification circuit is normal.
請求項4に記載の回路検証装置。 When the output of the functional circuit is input to the functional circuit, the analysis circuit compares the output of the opposite function with the output of the opposite circuit corresponding to the functional circuit, and includes the said circuit to be verified. The circuit verification device according to claim 4, wherein it determines whether or not the functional circuit is normal.
請求項4または請求項5に記載の回路検証装置。 In the analysis circuit, out of the total number n of the functional circuits included in the circuit to be verified, the outputs of a plurality of the functional circuits connected in series equal to or less than the number of selected n-1s are serialized by the plurality of functional circuits. The output of the opposite function when input to the circuit of is compared with the output of the circuit in which each opposite circuit of those functional circuits is connected in series, and whether or not the circuit in series by the selected functional circuit is normal or not. The circuit verification device according to claim 4 or 5.
前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定し、
前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数nのうち、選択したn−1の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定する
回路検証方法。 It is connected to a verification circuit having a plurality of functional circuits and a verification counter circuit having a counter circuit corresponding to each of the functional circuits having a function in which the input and output of the functional circuit have an opposite relationship.
The output of the circuit to be verified is compared with the output of the opposite circuit that ideally outputs the same output as the output to determine whether or not the functional circuit included in the circuit to be verified is normal.
Of the total number n of the functional circuits included in the circuit to be verified, the outputs of a plurality of the functional circuits connected in series equal to or less than the number of selected n-1, and the opposite circuits of the functional circuits are connected in series. A circuit verification method for determining whether or not a series of circuits based on the selected functional circuit is normal by comparing with the output of the selected circuit.
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